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C 5201-6-1 : 1999 (IEC 60115-6-1 : 1983)

(1) 

まえがき

この規格は,工業標準化法に基づいて,日本工業標準調査会の審議を経て,通商産業大臣が制定した日

本工業規格である。

この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権(平成 5 年 12 月 31

日以前に出願された出願公開後の実用新案登録出願を含む。

,又は出願公開後の実用新案登録出願に抵触

する可能性があることに注意を喚起する。通商産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような技術的性

質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確

認について,責任はもたない。

部編成規格  この規格の部編成規格は,次による。

JIS

C

5201

  電子機器用固定抵抗器

JIS

C

5201-1

  第 1 部:品目別通則

JIS

C

5201-2

  第 2 部:品種別通則:低電力非巻線固定抵抗器

JIS

C

5201-2-1

  第 2 部:ブランク個別規格:低電力非巻線固定抵抗器  評価水準 E

JIS

C

5201-2-2

  第 2 部:ブランク個別規格:低電力非巻線固定抵抗器  評価水準 F

JIS

C

5201-4

  第 4 部:品種別通則:電力形固定抵抗器

JIS

C

5201-4-1

  第 4 部:ブランク個別規格:電力形固定抵抗器  評価水準 E

JIS

C

5201-4-2

  第 4 部:ブランク個別規格:電力形固定抵抗器  評価水準 F

JIS

C

5201-4-3

  第 4 部:ブランク個別規格:電力形固定抵抗器ヒートシンク付き  評価水準 H

JIS

C

5201-5

  第 5 部:品種別通則:精密級固定抵抗器

JIS

C

5201-5-1

  第 5 部:ブランク個別規格:精密級固定抵抗器  評価水準 E

JIS

C

5201-5-2

  第 5 部:ブランク個別規格:精密級固定抵抗器  評価水準 F

JIS

C

5201-6

  第 6 部:品種別通則:個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器

JIS

C

5201-6-1

  第 6 部:ブランク個別規格:個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器同一抵抗値及び

同一定格電力  評価水準 E

JIS

C

5201-6-2

  第 6 部:ブランク個別規格:個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器異種抵抗値又は

異種定格電力  評価水準 E

JIS

C

5201-8

  第 8 部:品種別通則:チップ固定抵抗器

JIS

C

5201-8-1

  第 8 部:ブランク個別規格:チップ固定抵抗器  評価水準 E


C 5201-6-1 : 1999 (IEC 60115-6-1 : 1983)

(2) 

目次

ページ

序文

1

1.0

  適用範囲

1

ブランク個別規格

1

個別規格の識別

2

抵抗器の識別

2

第 1 章  一般事項

1.

  一般事項

2

1.1

  推奨する取付方法

2

1.2

  寸法,定格及び特性

3

1.3

  引用規格

3

1.4

  表示

3

1.5

  発注情報

4

1.6

  出荷対象ロットの成績証明書

4

1.7

  追加事項

4

1.8

  品目別通則及び/又は品種別通則への追加,又はより厳しい要求事項

4

第 2 章  検査の要求事項

2.

  検査の要求事項

4

2.1

  手順

4


日本工業規格

JIS

 C

5201-6-1

: 1999

 (IEC 60115-6-1

: 1983

)

電子機器用固定抵抗器−

第 6 部:ブランク個別規格:

個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器

同一抵抗値及び同一定格電力

評価水準 E

Fixed resistors for use in electronic equipment

Part 6 : Blank detail specification :

Fixed resistor networks with individually measurable resistors,

all of equal value and equal dissipation

Assessment level E

序文  この規格は,1983 年に初版として発行された IEC 60115-6-1, Fixed resistors for use in electronic

equipment Part6 : Blank detail specification : Fixed resistor networks with individually measurable resistors, all of

equal value and equal dissipation Assessment level E

を基に,

技術的内容及び規格票の様式を変更することなく

作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,原国際規格にはない事項である。また,IEC 規格番号

は,1997 年 1 月 1 日から実施の IEC 規格新番号体系によるものであり,これより前に発行された規格に

ついても,規格番号に 60000 を加えた番号に切り替える。これは,番号だけの切替えであり,内容は同一

である。

1.0

適用範囲  この規格は,JIS C 5201-6(電子機器用固定抵抗器−第 6 部:品種別通則:個別測定可能

な固定ネットワーク抵抗器)を品種別通則とするブランク個別規格で,個別測定可能な固定ネットワーク

抵抗器−同一抵抗値及び同一定格電力評価水準 E について規定する。

備考  この規格の対応国際規格を次に示す。

IEC 60115-6-1 : 1983

  Fixed resistors for use in electronic equipment−Part 6 : Blank detail

specification : Fixed resistor networks with individually measurable resistors, all of equal value and

equal dissipation. Assessment level E

ブランク個別規格  この規格は品種別通則  (JIS C 5201-6)  の補足規格で,個別規格の様式及び最小限必要

な事項を規定したものである。これらの要求事項を満足しない個別規格は,日本工業規格には基づいてい

ないものとみなす。

個別規格を作成する場合には,JIS C 5201-6 の 1.4(個別規格に規定する事項)の内容を考慮に入れる。


2

C 5201-6-1 : 1999 (IEC 60115-6-1 : 1983)

個別規格の最初のページとなるこの規格の次の表の括弧内の数字は,指定の位置に記入する次の事項と

対応している。

個別規格の識別 

(1)

個別規格を管理する国内の標準化機関又は国際電気標準会議  [IEC  “International electrotechnical

commission”)

の名称。

(2)

個別規格の国内規格番号,発効年及び国内制度で要求される追加事項又は IEC 規格番号,版及び発行

年。

(3)

品目別通則の国内規格番号及び発効年又は IEC 規格番号,版及び発行年。

(4)

ブランク個別規格の国内規格番号又は IEC 規格番号。

抵抗器の識別 

(5)

抵抗器の品種についての要約説明。

(6)

抵抗器の抵抗値の配列,電気的回路及び端子ピン番号などの詳細な仕様を明記する。この図は,個別

規格の附属書で示してもよい。

(7)

代表的な構造の説明(適用する場合)

備考  抵抗器がプリント配線板用に設計されていない場合には,個別規格のこの欄にそのことを明記

する。

(8)

互換性の上で重要な主要寸法を記載した外形図,

及び/又は,

外形に関する国内又は国際規格の引用。

この図は,個別規格の附属書で示してもよい。

(9)

適用範囲又は適用グループの範囲,及び/又は評価水準。

備考  個別規格に規定する評価水準は,JIS C 5201-6 の 3.3.3(評価水準)から選択する。このブラン

ク個別規格の試験の群構成と同じであれば,個別規格に複数の評価水準を規定してもよい。

(10)

異なる品種の抵抗器について,対比できる重要な特性に関する参照データ。

例  日本工業標準調査会 (1)

個別規格の番号 (2)

JIS C 5201-6-1 

(ブランク個別規格番号)

(4)

電子機器用固定抵抗器

第 1 部:品目別通則

JIS C 5201-1 : 1998

(3)

個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器
同一抵抗値及び同一定格電力

(5)

 (6)

絶縁形/非絶縁形 (7)

外形図:

表 参照)

(第三角法)

(8)

評価水準:E

(9)

(規定寸法内であれば,外形は異なってもよい)

安定性クラス:... %

この個別規格で認証された抵抗器の詳しい内容は,
品質認証電子部品一覧表 (QPL) に示されている。

参考  この記載は,IECQ の場合に適用する。 (10)

第 1 章  一般事項 

1.

一般事項

1.1

推奨する取付方法(挿入用)


3

C 5201-6-1 : 1999 (IEC 60115-6-1 : 1983)

JIS C 5201-6 の 1.4.2(取付け)を参照]

1.2

寸法,定格及び特性

表 I  寸法,定格及び特性

寸法

形式  素子定格電力

(70

℃)

W

ネットワーク

定格電力

(70

℃)

W

素子最高電圧

(V d.c.又は a.c.

の実効値)

各抵抗素子間の
アイソレーショ

ン電圧 
(適用する場合)

寸法は,すべてミリメートル (mm)

抵抗値範囲* ...

Ω∼... Ω

定格抵抗値の許容差 ...

±... %

耐候性カテゴリ

- / - / -

減圧 8

kPa

安定性クラス ...

%

抵抗値変化の限界:

−長期試験

± (... %R+...

Ω)

−短期試験

± (... %R+...

Ω)

抵抗温度係数

α:...10

-6

/

*

推奨値は,JIS C 5063(抵抗器及びコンデンサの標準数列)の E 標準数列である。

参考  上記の “... %R”  の は,各試験の試験前の抵抗値を示す。

1.2.1

負荷軽減  この規格を適用する抵抗器は,次の軽減曲線によって負荷を軽減する(適切な軽減曲線

は,個別規格に規定する。

備考  JIS C 5201-6 の 2.2.3(定格電力)を参照。

1.3

引用規格  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成

し,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 5063

  抵抗器及びコンデンサの標準数列

備考  IEC 60063 : 1963, Preferred number series for resistors and capacitors 並びに Amendment 1 : 1967

及び Amendment 2 : 1977 からのすべての引用事項は,この規格と一致している。

JIS C 5201-1

  電子機器用固定抵抗器−第 1 部:品目別通則

備考  IEC 60115-1 : 1982, Fixed resistors for use in electronic equipment Part 1 : Generic specification 並

びに Amendment 2 : 1987, Amendment 3 : 1989 及び Amendment 4 : 1993 からのすべての引

用事項は,この規格の該当事項と同等である。

JIS C 5201-6

  電子機器用固定抵抗器−第 6 部:品種別通則:個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器

備考  IEC 60115-6 : 1983, Fixed resistors for use in electronic equipment Part 6 : Sectional specification :

Fixed resistor networks with individually measurable resistors

及び Amendment 1 : 1987 からの

すべての引用事項は,この規格の該当事項と同等である。

JIS Z 9015

  計数調整型抜取検査(供給者を選択できる場合の購入検査)

備考  IEC 60410 : 1973, Sampling plans and procedures for inspection by attributes からのすべての引用

事項は,この規格の該当事項と同等である。

1.4

表示  抵抗器及び包装への表示は,JIS C 5201-6 の 1.5(表示)による。


4

C 5201-6-1 : 1999 (IEC 60115-6-1 : 1983)

備考  抵抗器及び包装への表示の詳細は,個別規格による。

1.5

発注情報  この規格を適用する抵抗器を発注する場合には,少なくとも次の情報を明確に示すか,

又は記号の形で示す。

a)

素子定格抵抗値

b)

定格抵抗値の許容差

c)

個別規格の番号及び発効年又は版並びに形式

1.6

出荷対象ロットの成績証明書

要求する/要求しない

1.7

追加事項(検査目的以外のもの)

1.8

品目別通則及び/又は品種別通則への追加,又はより厳しい要求事項

備考  追加又はより厳しい要求事項は,不可欠な場合にだけ規定する。

第 2 章  検査の要求事項 

2.

検査の要求事項

2.1

手順

2.1.1

品質認証のための手順は,JIS C 5201-6 の 3.2(品質認証)による。

2.1.2

品質確認検査のための試験計画(

表 II)には,抜取方法,周期,厳しさ及び要求事項を規定する。

検査ロットの構成は,JIS C 5201-6 の 3.3.1(検査ロットの構成)による。

備考  乾燥が要求される場合には,JIS C 5201-1 の 4.3(乾燥)の手順 による。

表 II  品質確認検査の試験計画

備考1.  試験の項目番号及び要求性能は,JIS C 5201-1による。ただし,抵抗値変化の要求事項は,JIS 

C 5201-6

表 及び表 II から適切に選択する。

2.

検査水準及び合格品質水準は,JIS Z 9015 から選択する。

3.

この表で:

参考  表中の要求性能欄の “...%R”  の は,各試験の試験前の抵抗値を示す。


5

C 5201-6-1 : 1999 (IEC 60115-6-1 : 1983)

IL AQL

項目番号及び試験

備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

備考 1.参照)

備考 2.

参照)

要求性能

備考 1.参照)

群 検査 
(ロットごと)

副群 A1 ND

S-4

1.0%

4.4.1

外観

4.4.1

による。

表示が明りょうで,この
規格の 1.4 を満足する。

副群 A2 ND

S-4

1.0%

4.4.2

寸法

(ゲージ法)

 ...mm

のゲージ板を使用

この規格の

表 の規定に

よる。

4.5

抵抗値

4.5.2

による。

群 検査 
(ロットごと)

副群 B1 ND

S-3

1.0%

4.7

耐電圧(絶縁形抵
抗器だけに適用)

方法:...

絶縁破壊又はフラッシュ
オーバがない。

副群 B2 D

S-3

2.5%

4.17

はんだ付け性

エージングなし 
方法:...

端子のはんだのぬれは良
好でなければならない。

又ははんだ小球法を適用
する場合は,はんだの流
れは...秒間以内でなけれ

ばならない。

4.19

温度急変

θ

A

=カテゴリ下限温度

θ

B

=カテゴリ上限温度

外観

外観の損傷がない。

 

抵抗値

R

≦± (...%R+...

Ω)

副群 B3 ND

S-3

2.5%

4.8.4.2

抵抗温度係数

この試験は抵抗温度係数

が±50×10

-6

/

℃未満を要

求される場合だけに適用
する。20℃∼70℃∼20℃

の 1 サイクルだけ。

α

:...10

-6

/


6

C 5201-6-1 : 1999 (IEC 60115-6-1 : 1983)

表 II  品質確認検査の試験計画  (続き)

試料数及び合

格判定個数

備考 3.

参照)

項目番号及び試験

備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

備考 1.参照)

p

n

c

要求性能

備考 1.参照)

群 検査 
(定期的)

副群 C1A

副群 C1 の試料の半分

D

3

5

4.16

端子強度

JIS C 5201-6

の 2.3.9 

(端子強度)を参照

外観

外観の損傷がない。

抵抗値

R

≦± (...%R+...

Ω)

4.18

はんだ耐熱性

方法:...

  

外観

外観の損傷がなく,表示
は明りょうである。

抵抗値

R

≦± (...%R+...

Ω)

4.8

温 度 に よ る 抵 抗

値変化

カテゴリ下限温度/20℃

R

R

≦...%又は

α

:...10

-6

/

20

℃/カテゴリ上限温度

R

R

≦...%又は

α

:...10

-6

/

4.13

過負荷

JIS C 5201-6

の 2.3.4 

(過負荷)を参照

外観

外観の損傷がなく,表示
は明りょうである。

抵抗値

R

≦± (...%R+...

Ω)

副群 C1B 
副群 C1 の試料の残り
半分

D

3

5

4.19

温度急変

θ

A

=カテゴリ下限温度

θ

B

=カテゴリ上限温度

外観

外観の損傷がない。

抵抗値

R

≦± (...%R+...

Ω)

4.22

振動(正弦波)

取付方法: 
この規格の 1.1 を参照

掃引耐久試験

振動数範囲:      10Hz

∼500Hz

振幅:0.75mm

又 は 加 速 度

98m/s

2

(どちら

か緩い方)

総試験時間:6h

外観

外観の損傷がない。

抵抗値

R

≦± (...%R+...

Ω)

副群 C1 
副群 C1A 及び C1B の

全試料

D

3

10

1

4.23

一連耐候性


7

C 5201-6-1 : 1999 (IEC 60115-6-1 : 1983)

試料数及び合

格判定個数

備考 3.

参照)

項目番号及び試験

備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

備考 1.参照)

p

n

c

要求性能

備考 1.参照)

−高温(耐熱性)

− 温 湿 度 サ イ ク ル

(12+12 時間サイ
クル) 
最初のサイクル

−低温(耐寒性)

−減圧

8kPa

− 温 湿 度 サ イ ク ル

(12+12 時間サイ
クル) 
残りのサイクル

−直流負荷

外観

外観の損傷がなく,表示
は明りょうである。

抵抗値

R

≦± (...%R+...

Ω)

  抵 抗 素 子 間 絶 縁 抵 抗
(適用する場合)JIS C 

5201-6

の 2.3.6(隣接した

抵抗素子間の絶縁抵抗)
を参照

R

≧1G

  抵抗素子間耐電圧(適
用する場合)JIS C 5201-6
の 2.3.7(隣接した抵抗素

子間の耐電圧)を参照

絶縁破壊又はフラッシュ
オーバがない。

副群 C2 D

3

5

1

4.25.1 70

℃での耐久性

JIS C 5201-6

の 2.3.5 

(70℃での耐久性)を参

時間:1 000h 
検査:48h,500h 及び 
      1 000h

外観

外観の損傷がない。

抵抗値

R

≦± (...%R+...

Ω)

1

000h

での検査:

  抵抗素子間の絶縁抵抗
(適用する場合)JIS C 

5201-6

の 2.3.6(隣接した

抵抗素子間の絶縁抵抗)
を参照

 

R

≧1G

毎年 1 個の試料を 8 000h

まで延長検査する。

2 000h, 4 000h

及び 8 000h

での検査:

12

5

抵抗値

R

≦± (...%R+...

Ω)

(結果は,情報としてだ
け取り扱う。

群 検査 
(定期的)


8

C 5201-6-1 : 1999 (IEC 60115-6-1 : 1983)

試料数及び合

格判定個数

備考 3.

参照)

項目番号及び試験

備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

備考 1.参照)

p

n

c

要求性能

備考 1.参照)

副群 D1 D

12

12

1

4.24

高温高湿(定常)

JIS C 5201-6

の 2.3.8[高

温高湿(定常)

]を参照

外観

外観の損傷がなく,表示
は明りょうである。

抵抗値

R

≦± (...%R+...

Ω)

  抵 抗 素 子 間 絶 縁 抵 抗
(適用する場合)JIS C 

5201-6

の 2.3.6 を参照

R

≧1G

  抵抗素子間耐電圧(適
用する場合)JIS C 5201-6

の 2.3.7 を参照

絶縁破壊フラッシュオー
バがない。

副群 D2 D

36

10

1

4.4.3

寸法(詳細)

この規格の

表 による。

4.25.3

カテゴリ

上限温度での耐久性

時間:1 000h

48h, 500h

及び 1 000h での

検査:

外観

外観の損傷がない。

抵抗値

R

≦± (...%R+...

Ω)

1

000h

での検査:

 

  抵 抗 素 子 間 絶 縁 抵 抗
(適用する場合)JIS C 

5201-6

の 2.3.6 を参照

R

≧1G


9

C 5201-6-1 : 1999 (IEC 60115-6-1 : 1983)

電子部品 JIS 原案作成第 1 委員会構成表

氏名

所属

(委員長)

平  山  宏  之

東京都立科学技術大学

(委員)

吉  田  裕  道

東京都立産業技術研究所

寺  岡  憲  吾

防衛庁装備局管理課調達補給室

藤  倉  秀  美

財団法人電気安全環境研究所

岩  田      武

村  岡  桂次郎

曽我部  浩  二

永  松  荘  一

通商産業省機械情報産業局電子機器課

橋  爪  邦  隆

工業技術院標準部情報電気規格課

福  原      隆

沖電気工業株式会社

村  上  昭  次

株式会社ケンウッド

山  本  克  巳

ソニー株式会社

西  林  和  男

株式会社東芝

中  島  眞  人

日本電気株式会社

小  林      弘

日本電気株式会社

中  野      武

松下通信工業株式会社

三  宅  敏  明

松下電器産業株式会社

山  本  佳  久

三菱電機株式会社

三  浦  春  夫 TDK 株式会社

杉  岡  由  皓

日立エーアイシー株式会社

阿慈知  良  雄

ニチコン株式会社

栗  林  孝  志

松下電子部品株式会社

江  口  正  則

東京コスモス電機株式会社

豊  嶋  協  一 TDK 株式会社

平  野  芳  行

日本電気株式会社

秦      考  生

松下電子部品株式会社

山  本  圭  一

進工業株式会社

山  名  法  明

株式会社村田製作所

三  宅  邦  彦

松尾電機株式会社

尾  村  博  幸

日本ケミコン株式会社

佐  藤  広  志 TDK 株式会社

宮  島  明  美

多摩電気工業株式会社

(事務局)

塚  田  潤  二

社団法人日本電子機械工業会

中  山  正  美

社団法人日本電子機械工業会

JIS C 5201-6

分科会構成表

氏名

所属

(主査)

宮  島  明  美

多摩電気工業株式会社

(委員)

本  田  義  夫 KOA 株式会社

山  本  圭  一

進工業株式会社

嶋  田  真  人

北陸電気工業株式会社

秦      考  生

松下電子部品株式会社

笹  川  蔽  雄

理研電具製造株式会社

(事務局)

塚  田  潤  二

社団法人日本電子機械工業会

中  山  正  美

社団法人日本電子機械工業会