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C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

(1)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)から,

工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経

済産業大臣が制定した日本工業規格である。

制定に当たっては,日本工業規格と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日

本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために,IEC 61076-4-001:1996,Connectors with

assessed quality, for use in d.c., low-frequency analogue and in digital high-speed data applications - Part 4: Printed

board connectors - Section 001: Blank detail specification

を基礎として用いた。

この規格の一部が,技術的性格をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の

実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会

は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新

案登録出願にかかわる確認について,責任はもたない。

JIS C 5401-4-001

には,次に示す附属書がある。

附属書 A(規定)JIS C 6010-1 に基づく機械的構造物への適用に関する要求事項

附属書 B(規定)新規試験及び追加試験段階

JIS C 5401

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS

C

5401-0

規格群  電子機器用コネクタ

JIS

C

5401-1

第 1 部:品目別通則−能力認証

JIS

C

5401-2

第 2 部:品種別通則−丸形コネクタ−品質評価付

JIS

C

5401-2-001

第 2-001 部:丸形コネクタ−品質評価付−ブランク個別規格

JIS

C

5401-3

第 3 部:品種別通則−角形コネクタ−品質評価付

JIS

C

5401-3-001

第 3-001 部:角形コネクタ−品質評価付−ブランク個別規格

JIS

C

5401-4

第 4 部:品種別通則−プリント配線板用コネクタ−品質評価付

JIS

C

5401-4-001

第 4-001 部:プリント配線板用コネクタ−品質評価付−ブランク個別規格


C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

(2)

目  次

ページ

序文

1

1.

  一般情報

3

1.0

  適用範囲

3

1.1

  推奨する取付方法

3

1.2

  定格及び特性

3

1.3

  引用規格

4

1.4

  表示

4

1.5

  形名

6

1.6

  発注情報

6

2.

  技術情報

8

2.1

  定義

8

2.2

  形状(Style)及び類似品(Variant)の調査

8

2.3

  使用に関する情報

8

2.4

  コンタクトアレンジメント

10

3.

  寸法情報

12

3.1

  一般事項

12

3.2

  等角投影図及び共通の機構

12

3.3

  結合情報

16

3.4

  固定形プリント配線板用コネクタ

16

3.5

  可動形プリント配線板用コネクタ

18

3.6

  アクセサリ

18

3.7

  固定形プリント配線板用コネクタに関する取付情報

18

3.8

  可動形プリント配線板用コネクタに関する取付情報

20

3.9

  ゲージ

20

4.

  特性

24

4.1

  耐候性カテゴリ

24

4.2

  電気的特性

24

4.3

  機械的特性

26

5.

  試験計画

30

5.1

  一般

30

5.2

  試験計画

32

6.

  品質評価手順

50

6.1

  品質認証試験

50

6.2

  品質確認試験

52

6.3

  長期保管後の出荷,再検査

56


C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

(3)

ページ

附属書 A(規定)  JIS C 6010-1 に基づく機械的構造物への適用に関する要求事項

58

附属書 B(規定)新規試験及び追加試験段階

60


C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

(4)

 

白      紙


日本工業規格

JIS

 C

5401-4-001

:2005

(IEC 61076-4-001

:1996

)

電子機器用コネクタ―

第 4-001 部:プリント配線板用コネクタ―

品質評価付―ブランク個別規格

Connectors for electronic equipment

Part 4-001: Printed Board Connectors with assessed quality

Blank Detail Specification

序文  この規格は,1996 年に第 1 版として発行された IEC 61076-4-001,Connectors with assessed quality, for

use in d.c., low-frequency analogue and in digital high-speed data applications - Part 4: Printed board connectors -

Section 001: Blank detail specification

を翻訳し,技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した

日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,原国際規格にはない事項である。

ブランク個別規格

このブランク個別規格は,品種別通則  JIS C 5401-4 の補足規格であり,プリント配線板用コネクタの個

別規格のブランク様式及び手引きを備え,個別規格の表現を統一するために用いる。

なお,個別規格は,品目別通則  JIS C 5401-1 及び品種別通則 JIS C 5401-4 に基づいたブランク個別規格

を用いて作成する。


2

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

作成の手引き

次のページに個別規格に関する推奨レイアウトを示す。このページには,個別規格の冒頭ページに記載

することが望ましい情報についての手引を,適宜,記述する(IEC Guide 102  参照)

個別規格の冒頭ページとなるこの規格の次のページの表にある括弧内の番号は,次に示す情報と対応し

ている。

個別規格の識別

(1) 

個別規格案を立案した国際電気標準会議又は国内標準化機関の名称

(2) 

個別規格に関する  IEC 又は日本工業規格番号,発行日又は発効日,及び国のシステムが必要とする

情報

(3) IEC

又は国内品目別通則の番号及び版

(4) 

ブランク個別規格の日本工業規格番号及び版

コネクタの識別

(5) 

コネクタ形式に関する簡単な記述

(6) 

コネクタの代表的な構造を示す情報(

例  そのコネクタがプリント配線板の取付けに適しているか否

かを記述する。

(7) 

コネクタを明確に識別しうる外形図(等角投影図又は同様な投影図が望ましい。

(8) 

文書に規定する性能水準及び評価水準に関する情報

(9) 

各種のコネクタ間の形式を比較することができる最重要特性に関する参考データ


3

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

(1) 

個別規格番号

(2) 

品目別通則番号

(電子部品品質評価用)

(3) 

ブランク個別規格番号

(4) 

外形図

(7) 

製品説明

(5) 

(6) 

(8)

性能水準:

評価水準:

性能水準と評価水準との組合せ:

(9)

この個別規格で認証された部品の入手に関する情報を品質認証電子部品一覧表に示す。

1. 

一般

1.0 

適用範囲  この規格は,JIS C 5401-4 を品種別通則とするブランク個別規格で,電子機器及び電子機

器に使用するプリント配線板用コネクタについて規定する。

備考  この規格の対応国際規格を,次に示す。

なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21 に基づき,IDT(一致している)

,MOD

(修正している)

,NEQ(同等でない)とする。

IEC 61076-4-001:1996

,Connectors with assessed quality, for use in d.c., low-frequency analogue and in

digital high-speed data applications - Part 4: Printed board connectors - Section 001: Blank detail

specification (IDT)

1.1 

推奨する取付方法  JIS C 6010 に規定する機械構造物にこれらのコネクタを使用する場合の手引は,

附属書 による。

1.1.1 

コンタクト数又はコンタクトキャビティ数

1.2 

定格及び特性

定格電圧  : 70

℃での定格電圧

絶縁抵抗  :

耐候性カテゴリ

プリント配線板厚さ:  コンタクトスペーシング


4

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

作成の手引き

1.3 

引用規格

1.4 

表示  コネクタ及び包装の表示は,JIS C 5401-4 の 2.6(表示)による。


5

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

1.3 

引用規格  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成

する。これらの引用規格のうちで,発行年を付記してあるものは,記載の年の版だけがこの規格の規定を

構成するものであって,その後の改正版・追補には適用しない。発行年を付記していない引用規格は,そ

の最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS B 0031

  製図−面の肌の図示方法

備考 ISO 

1302:1992, Technical drawings - Method of indicating surface texture

からの引用事項は,こ

の規格の該当事項と同等である。

JIS C 60068-1

  環境試験方法−電気・電子−通則

備考 IEC 

60068-1:1998, Environmental testing - Part 1 General and guidance

が,この規格と一致して

いる。

JIS C 0048

  環境試験方法−電気・電子−混合ガス流腐食試験

備考 IEC 

60068-2-60:1995, Environmental testing - Part 2: Tests - Test Ke: Corrosion tests in artificial

atmosphere at very low concentration of polluting gas(es)

が,この規格と一致している。

JIS C 5401-1

  電子機器用コネクタ−第 1 部:品目別通則−能力認証

備考 IEC 

61076-1:1995, Connectors for electronic equipment with assessed quality - Part 1: Generic

specification, Amendment 1 (1996)

が,この規格と一致している。

JIS C 5401-4

  電子機器用コネクタ−第 4 部:品種別通則−プリント配線板用コネクタ-品質評価付−

備考 IEC 

61076-4:1995, Connectors for electronic equipment with assessed quality - Part 4: Sectional

specification - Printed board connector

が,この規格と一致している。

JIS C 5402-1-100

  電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 1-100 部:一般−試験一覧

備考 IEC 60512-1-100:2001, Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part

1-100: General - Applicable publications

が,この規格と一致している。

JIS C 6010-1

  電子機器用ラック及びユニットシャシのモジュラオーダ−第 1 部:通則  モジュラオー

ダ概念

備考 IEC 

60917-1:1998, Modular order for the development of mechanical structures for electronic

equipment practices - Part1: Generic standard

が,この規格と一致している。

JIS C 6010-2

  電子機器用ラック及びユニットシャシのモジュラオーダ−第 2 部:25mm 実装のインタ

フェイス整合寸法

備考 IEC 

60917-2-2:1994, Modular order for the development of mechanical structures for electronic

equipment practices Part 2: Sectional specification - Interface co-ordination dimensions for the 25

mm equipment practice - Section 2: Detail specification - Dimensions for subracks, chassis,

backplanes, front panels and plug-in units

が,この規格と一致している。

JIS Z 9015-1

  計数値検査に対する抜取検査手順−第 1 部:ロットごとの検査に対する AQL 指標型抜

取検査方式

備考 IEC 

60410:1973

Sampling plans and procedures for inspection by attributes

からの引用事項は,

この規格の該当事項と同等である。

IEC 60352-5:1995

  Solderless connections - Part 5: Solderless press-in connections - General requirements,

test method and practical guidance

1.4 

表示


6

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

作成の手引き

1.5 

形名  この形名は,JIS C 5401-4 の 2.5(形名)に従って決定する。

例:

1.6 

発注情報  この個別規格に従ってコネクタを発注する場合は,1.5 に規定した形名を用いる。

JIS C 540141XX


7

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

1.5 

形名

1.6 

発注情報


8

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

作成の手引き

2. 

技術情報  個別規格には,コネクタの適切な使用に役立つ情報を記載する。

個別規格をより深く理解するために更に詳細な情報も記載する。

2.1 

定義  個別規格に使用し,かつ同規格に適用可能な用語に加え,JIS C 5401-4 の 2.1(定義)及び個

別規格で規定するコネクタに特有な用語の定義も列挙することが望ましい。

2.2 

形状及び類似品の調査  個別規格がある範囲の形状及び/又は類似品に対して適用する場合には,

その範囲にある調査結果を表形式で個別規格に規定する。

表 は,これが形状及び類似品の記述に適用で

きる場合には,追加及び/又は代替の詳細を含めるために修正してもよい。

備考  個別規格で用いる表は一連番号にする。この規格における番号付けは,事例として用いている。

2.3 

使用に関する情報  必要とする場合,コネクタの使用に関する規則及び推奨事項は,寸法情報が 3.

に十分に規定されていない場合には,個別規格に次の事項を規定する。

2.3.1 

部品を完全に備えたコネクタ(対)

2.3.2 

固定形プリント配線板用コネクタ

2.3.3 

可動形プリント配線板用コネクタ


9

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

2. 

技術情報

2.1 

定義

2.2 

形状及び類似品の調査

  1  形状及び類似品

コネクタ形状及び

コンタクト数

形状を表す文字

2.3 

使用に関する情報

2.3.1 

部品を完全に備えたコネクタ(対)

2.3.2 

固定形プリント配線板用コネクタ

2.3.3 

可動形プリント配線板用コネクタ


10

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

作成の手引き

2.3.4 

アクセサリ  コネクタを使用する上でアクセサリを必要とする場合には,その特徴及び使用法の概

要を,個別規格に,適宜,規定する。

2.3.4.1 

特殊コンタクト  個別規格に規定するコンタクトと一緒に特殊コンタクトを使用する場合には,

特殊コンタクトに関する情報は,これらの特殊コンタクトに関する個別規格が未発行である旨の事実を示

した上で,

“参考用”として規定する。

特殊コンタクトとは,通常,高電流,高電圧,高周波,フィルタ又は光ファイバ用のリムーバブルコン

タクトをいう。

2.3.4.2 

コーディングデバイス  コネクタの一部を構成していないコーディングデバイスを使用する場

合には,個別規格に個々の情報を記載する。

2.3.4.3 

取付用デバイス  コネクタの一部を構成していない取付用デバイスを推奨する場合には,これら

のデバイスに関する情報は,参考のためにだけ個別規格に規定する。

2.3.5 

シールディング/グランディング  コネクタ又はアクセサリの一部を構成するとみなすことので

きないシールティング及び/又はグランディング機構がある場合には,

その情報は,

個別規格に規定する。

2.3.6 

ターミネーションの基本形式  各種のターミネーションが考えられる場合には,それらの使用に関

する情報を,表形式で,個別規格に規定する。

より詳細な寸法情報は,個別規格において固定形プリント配線板用コネクタ及び可動形プリント配線板

用コネクタの寸法を記述している箇所に規定してもよい。

固定形配線板用コネクタと可動形配線板用コネクタとのターミネーションに大幅な相違がない場合には,

むしろその情報をこの箇条に規定したほうがよい。

2.4 

コンタクトアレンジメント  コネクタインサートに対して各種のコンタクトアレンジメントが可能

であって,それがコネクタの使用に影響を及ぼす場合には,個別規格にその情報を図面又は表形式で規定

する。

これらのアレンジメントは,個別規格の 1.5 に規定する形名の適切な組合せによって規定する。


11

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

2.3.4 

アクセサリ

2.3.4.1 

特殊コンタクト

2.3.4.2 

コーディングデバイス

2.3.4.3 

取付用デバイス

2.3.5 

シールディング/グランディング

2.3.6 

ターミネーションの基本形式

2.4 

コンタクトアレンジメント


12

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

作成の手引き

3. 

寸法情報  各種規格の比較を容易にするために,JIS C 5401-1 の 2.7.1(図面及び寸法)に基づく図面

情報の統一表現を推奨する。

図面及び寸法には,次の事項を含める。

a)

関連コネクタとの共通特性を含む基本設計が分かる等角投影図

b)

固定形プリント配線板用コネクタ

c)

可動形プリント配線板用コネクタ及び/又はプリント配線板のエッジ

d)

結合情報

e)

アクセサリ

f)

固定形プリント配線板用コネクタに関する取付情報

g)

可動形プリント配線板用コネクタに関する取付情報(適用する場合)

h)

アクセサリ付コネクタに関する取付情報

i)

試験ゲージ,  プローブ及び試験パネル

3.1 

一般事項  オリジナル寸法がミリメートル又はインチであるかを個別規格に記載する。

図面が第一角法又は第三角法で描かれているかを個別規格に規定する。

レタリング方式は,JIS C 5401-1 の 2.7.1.1(レタリング方式)の規定による。

次の文言を個別規格に規定する。

“コネクタの形状は,規定する寸法が影響を受けない限り,次に示す図面と相違してもよい。

実行可能な場合には,固定形コネクタと可動形コネクタとの寸法が対応するように同一の図面文字を使

用する。

3.2 

等角投影図及び共通の機構  等角投影図を記載し,その等角投影図には,共通の機構を含む設計上

の主要特性を示す(適用する場合)

寸法参照記号,寸法及び共通の機構は,表形式で表すと便利である(

表 参照)。


13

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

3. 

寸法情報

3.1 

一般事項  コネクタの形状は,規定する寸法が影響を受けない限り,次に示す図面と相違してもよ

い。

3.2 

等角投影図及び共通の機構

  2  等角投影図及び共通の機構

寸法参照記号

寸法

共通の機構に関する記述


14

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

作成の手引き

3.2.1 

共通の機構  個別規格に規定するコネクタの形状に関連するすべての共通の機構について記述し

たものを含める。

規定可能なデータには,次の事項を含む。

a)

データムに対するデータム点又はデータム線

b)

固定形プリント配線板用コネクタの取付け孔の位置

c)

固定形プリント配線板用コネクタのターミネーションの位置

d)

可動形プリント配線板用コネクタ又はエッジソケットコネクタの位置

e)

可動形プリント配線板用コネクタの取付け孔の位置又はエッジソケットコネクタターミネーションの

位置

f)

プリント配線板の位置

g)

プリント配線板のグリッドの位置

3.2.2 

引用方式  個別規格には,コネクタ部品の(モジュラー)アレンジメントを可能にするために整合

寸法を規定する。引用方式が機械的構造物に関する指針に基づいている場合には,こうした情報を引用す

ることを推奨する。

3.2.3 

高さ寸法  多極コネクタ又はコネクタモジュールを,プリント配線板上に取り付ける場合には,バ

ックプレーン及びプリント配線板のデータム線までの高さ寸法を,個別規格に規定する。

3.2.4 

幅寸法  JIS C 6010-1 に基づく機械的構造物の一部である,バックプレーンのデータム線に関連す

る個々のプリント配線板の幅の位置決めを示すために,当該幅寸法は,個別規格に規定する。

3.2.5 

奥行寸法  プリント配線板のエッジの位置,又は固定形プリント配線板用コネクタと可動形プリン

ト配線板用コネクタとの相対位置について必要不可欠な情報を提供するために,奥行寸法を個別規格に規

定する。


15

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

3.2.1 

共通の機構

3.2.2 

引用方式  整合寸法とは,(モジュラー)アレンジメントを可能にする,公差を含まない境界又は

中心線の基準を示す寸法である。

3.2.3 

高さ寸法

3.2.4 

幅寸法

3.2.5 

奥行寸法


16

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

作成の手引き

3.3 

結合情報  制限する因子の詳細は,正しい結合を保証する範囲内で,次に示す寸法データと関連し

ている。

3.3.1 

電気的接触長  規定する接触抵抗値が挿入方向に対して保証される範囲

3.3.1.1 

コンタクト高さ及び配列  異なったコンタクト高さ及びそれらの配列に関する寸法のパラメー

タ(適用する場合)

3.3.2 

結合方向に対する垂直性  プリント配線板の遊びを吸収しうる垂直方向における最大許容変位

3.3.3 

傾斜角  適切な図面又は表の形で表した縦軸及び横軸に対する最大許容傾斜角

備考  明確さが保証される場合には,個別規格に図面を補助的に使ってもよい。

3.4 

固定形プリント配線板用コネクタ

3.4.1 

寸法  個別規格には,主要寸法及び関連する幾何公差を示す固定形プリント配線板用コネクタの外

形図を含める。

明確にするため,寸法は,すべての形状/類似品に共通な寸法と形状/類似品に特有の寸法とに分けて

表として規定してもよい。

コンタクト位置に関する表示の詳細

  一列の中は数字,各列は,文字によってコンタクト位置を図面に表示する。

3.4.2 

ターミネーション  ターミネーションの寸法詳細(長さ,厚さ,対角線など)及び個別規格の 1.5

に規定する形名の適切な組合せによって規定してもよい用途。


17

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

3.3 

結合情報

3.3.1

電気的接触長

3.3.1.1 

コンタクト高さ及び配列

3.3.2

結合方向に対する垂直性

3.3.3

傾斜角

3.4 

固定形プリント配線板用コネクタ

3.4.1 

寸法

3.4.2 

ターミネーション


18

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

作成の手引き

3.5 

可動形プリント配線板用コネクタ

備考  エッジソケットコネクタの場合,3.5 がプリント配線板に関係していることから,印刷パターン,

プリント配線板の面取り,板厚及び極性判別用溝に関する詳細を,個別規格の  3.5.1 に含める

3.5.2 には含めない。

3.5.1 

寸法  個別規格に主要寸法及び幾何公差を含む外形図を記載する。

3.5.2 

ターミネーション  ターミネーションの寸法詳細(長さ,厚さ,対角線など)及び個別規格の  1.5

に規定する形名の適切な組合せによって規定してもよい用途。

3.6 

アクセサリ  コネクタと共にアクセサリを使用する場合には,主要寸法を記入した外形図を個別規

格に規定する。

アクセサリは,取付用ハードウェア,コーディングデバイス,シールドコンタクト,大電流用コンタク

トなど,任意の形態をとり,通常は,コネクタに取り付けて供給しない。

アクセサリに関する情報は,コネクタの詳細寸法情報に類似した表形式データ付の外形図として表して

もよい。

3.7 

固定形プリント配線板用コネクタに関する取付情報

3.7.1 

プリント配線板上の孔パターン  個別規格に,コネクタの取付けに必要な取付け孔及びサイズ,並

びにプリント配線板に必要とする孔パターンを概略図で示す。

図がプリント配線板のどの側面から描かれているかを記述する。

寸法表を含める。

概略図は,その寸法表示に関して 3.4.1 で用いたものと同じ寸法基準を使用する。

公差付きの孔寸法を,ターミネーション及び取付け孔の両方に関し,適切な幾何公差と共に記述する。

プレスインターミネーション用めっき付スルーホール寸法は,IEC 60352-5 による。

寸法表には,可能な限り,3.4.1 で用いたものと同じ順序で寸法を記述する。


19

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

3.5 

可動形プリント配線板用コネクタ

3.5.1

寸法

3.5.2

ターミネーション

3.6 

アクセサリ

3.7 

固定形プリント配線板用コネクタに関する取付情報

3.7.1 

プリント配線板上の孔パターン


20

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

作成の手引き

3.7.2 

パネルへの取付け  個別規格に,必要とするパネル開口形状及び取付け孔の位置とサイズを概略図

で示す。

パネル開口寸法の最小サイズを,取付け孔に対するパネル開口の相対位置と共に規定する。

該当する場合,寸法基準は,3.4.1 で用いた基準と同一とする。

3.8 

可動形プリント配線板用コネクタに関する取付情報  個別規格に,プリント配線板に要求される孔

パターン及び取付け孔の位置とサイズを概略図で示す。

孔パターンとプリント配線板のエッジとの相対関係を明確にする(必要とする場合)

図がプリント配線板のどの側面から描かれているかを記述する。

寸法表を含める。

概略図は,その寸法表示に関して  3.5.1 で使用したものと同じ寸法基準を使用する。

公差付きの孔寸法を,ターミネーション及び取付け孔の両方に関し,適切な幾何公差と共に記述する。

プレスインターミネーション用めっき付スルーホール寸法は,IEC 60352-5 による。

寸法表には,可能な限り,3.5.1 で用いたものと同じ順序で,寸法を記述する。

3.9 

ゲージ

3.9.1 

サイジングゲージ及び保持力ゲージ  弾性コンタクトのサイジングを行い,保持力を測定するため

に必要なゲージ図面を個別規格に含める。

ゲージ図面に,ゲージの材質,ゲージの最小硬度値,JIS B 0031 による表面の肌及び適用する表面仕上

げを規定する(該当する場合)

寸法及び公差は,摩耗の許容差を考慮して規定する。

サイジングゲージは最大条件を,また,保持力ゲージは,最小条件をシミュレートする。

保持力ゲージの質量を規定する。


21

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

3.7.2 

パネルへの取付け

3.8 

可動形プリント配線板用コネクタに関する取付情報

3.9 

ゲージ

3.9.1 

サイジングゲージ及び保持力ゲージ


22

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

作成の手引き

3.9.2 

機械的動作,結合力/離脱力及び挿入力/引抜力ゲージ  該当する場合には,機械的動作試験及び

結合力/離脱力又は挿入力/引抜力を測定するために必要なゲージ図面を個別規格に含める。

ゲージ図面にゲージの材質,JIS B 0031 による表面の肌及び適用する表面仕上げを規定する。

ゲージは,公称条件をシミュレートする。

3.9.3 

プローブ  プローブダメージ試験は,めすコンタクトだけに適用する。

試験プローブは,JIS C 5402-1-100  試験 16a の要求事項に従って個別規格に規定する。

3.9.4 

接触抵抗ゲージ  エッジソケットコネクタ及びその他のワンパートコネクタの接触抵抗測定は,最

小厚さの銅合金製(若しくは他の適切な材質)ゲージ又は個別規格に規定する適切なプリント配線板を用

いて行う。

JIS B 0031

による表面の条件,及び試験するコネクタのコンタクトと互換性のある適切な表面仕上げを

規定する。

3.9.5 

試験パネル(耐電圧試験用)  試験パネルの図面に,パネル開口の最小許容値,取付け孔の位置と

サイズ及びパネル厚さを示す。

試験パネルは,適切な表面仕上げが施された導電性材料で製作する。


23

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

3.9.2 

機械的動作,結合力/離脱力及び挿入力/引抜力測定ゲージ

3.9.3 

プローブ

3.9.4 

接触抵抗ゲージ

3.9.5 

試験パネル(耐電圧試験用)


24

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

作成の手引き

4. 

特性  規定された電気的及び機械的基本特性に関する情報を提示するために,試験及び測定の推奨方

法を表にし,必要に応じて,追加特性を個別規格に加えてもよい(

例  試験群 HP)。JIS C 5401-4 の 4.(試

験及び試験計画)参照。

4.1 

耐候性カテゴリ  コネクタの耐候性カテゴリを  JIS C 5401-4 の  2.2(耐候性カテゴリによる分類)

に従って個別規格に規定する。

個別規格には,耐候性カテゴリに関連した二つ以上の性能水準を含めてもよい。

耐候性カテゴリと性能水準との関係は,次に示す表形式でその詳細を明らかにしてもよい。

  3  性能水準(例)

性能水準

耐候性カテゴリ

温度

高温高湿(定常)

(日数)

低温

高温

1 55/125/56

−55 125  56

2 25/85/10

−25 85  10

4.2 

電気的特性

4.2.1 

沿面及び空間距離  これらのパラメータを,例として,表 に示す。

これらの寸法がコネクタの形状ごとに異なる場合には,その形状に対する参考値を記述する。沿面及び

空間距離の減少がコネクタの使用において生じる可能性がある場合には,次に示す注記を個別規格に記載

する。

使用上の注意事項  許容定格電圧は,使用条件又は規定する安全性要求事項に依存する。沿面及び空間

距離は,使用するプリント配線板又は配線によって減少する場合があるので,十分に留意する。

定格電圧は,動作及び性能特性を参考にコネクタ製造業者が定めた電圧値である。この値を表に追加し

てもよい。

4.2.2 

耐電圧  個別規格に次の事項を規定する。

a)

コネクタを 3.9.5 に規定する試験パネルに取り付ける。

b)

適用する試験方法(A,B 又は C のいずれか)

c)

コンタクト対コンタクト間及びコンタクト対試験パネル間に印加する直流電圧又は交流電圧(実効値)

この情報は,表形式で示してもよい。


25

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

4. 

特性

4.1 

耐候性カテゴリ

  3  性能水準

性能水準

耐候性カテゴリ

温度

高温高湿(定常)

(日数)

低温

高温

4.2 

電気的特性

4.2.1 

沿面及び空間距離

  4  沿面及び空間距離

コネクタ形状及びコンタクト数

形状を表す文字

沿面及び空間距離最小値

使用上の注意事項  許容定格電圧は,使用条件又は規定する安全性要求事項に依存する。沿面及び空間

距離は,使用するプリント配線板又は配線によって減少する場合があるので,十分に留意する。

4.2.2 

耐電圧  試験は,標準大気条件下で,JIS C 5402-1-100  試験 4a による。


26

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

作成の手引き

4.2.3 

電流容量  個別規格に,試験手順に従って求めたコネクタ電流容量曲線を示す。

試料(

例  プリント配線板にはんだ付けされた試料),ケーブル/電線束の形式及びサイズは,5.1.4 

規定するとおりに準備する。

電流容量曲線の代わりに,最大動作温度と共に,電流容量曲線上に規定された温度での電流値を個別規

格に記載してもよい。

周囲温度及び最高温度を含む最低限 2 か所以上の温度が与えられる場合には,軽減値を表形式で示して

もよい。

重要な値(

例  70  ℃における電流値)を軽減曲線に示す。

4.2.4 

接触抵抗  個別規格には,結合したコネクタで測定するのか,又は  3.9.4 に規定する接触抵抗ゲー

ジで測定するのか,を規定する。

個別規格に  mΩ  単位で接触抵抗の最大許容値を規定する。初期抵抗,試験後の抵抗及びターミネーシ

ョンを含む抵抗を規定する(適用する場合)

。測定点は,5.1.1 に規定するとおりとする。

4.2.5 

絶縁抵抗  個別規格に次に示す事項を規定する。

a)

コネクタを 3.9.5 に規定する試験パネルに取り付ける。

b)

適用する試験方法(A,B 又は C のいずれか)

c)

コンタクト対コンタクト間及びコンタクト対試験パネル間に印加する直流電圧値。

d)

初期及び試験後の絶縁抵抗の最小許容値(単位  MΩ)

情報は,適切な順序で番号付けして表形式で示してもよい。

4.3 

機械的特性

4.3.1 

機械的動作  個別規格に次の事項を規定する。

a)

単位時間当たりの動作回数

b)

動作速度

c)

機械的動作回数

d)

休止時間,結合又は非結合(標準の試験方法との相違)

個別規格に動作回数と関連ある二つ以上の性能水準を含む場合には,機械的動作回数と性能水準との関

係は,表にその詳細を示すことにより明確になる。


27

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

4.2.3 

電流容量  試験は,すべてのコンタクトについて,JIS C 5402-1-100  試験 5b による。

70

℃における値を軽減曲線上に示す。

4.2.4 

接触抵抗  試験は,標準大気条件下で,JIS C 5402-1-100  試験 2a による。

4.2.5 

絶縁抵抗  試験は,標準大気条件下で,JIS C 5402-1-100  試験 3a による。

4.3 

機械的特性

4.3.1 

機械的動作  試験は,標準大気条件下で,JIS C 5402-1-100  試験 9a による。


28

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

作成の手引き

4.3.2 

結合力及び離脱力(又は挿入力及び引抜力)  個別規格に次の事項を規定する。

a)

結合力(又は挿入力)の最大許容値

b)

離脱力(又は引抜力)の最小許容値

c)

結合及び離脱の速度

コネクタが結合及び離脱動作を補助する機構をもつ場合には,通常,JIS C 5402-1-100  試験 13a(結合

力及び離脱力の測定)を適用する。

ロッキング機構又は類似機構の影響がない状態で測定を実施する場合には,通常,JIS C 5402-1-100  試

験 13b(挿入力及び引抜力の測定)を適用する。

個別規格に試験 13a 又は試験 13b のいずれを規定するかは,コネクタの設計に依存する(プリント配線

板用コネクタの場合,通常,試験 13b を適用する。

4.3.3 

インサート内のコンタクト保持  通常の使用中に発生する機械的ストレスに耐えるコンタクト保

持機構(存在する場合)の能力を評価するために,コンタクト保持力試験を実施する。

加える力及びその力を除去した後の軸方向の最大変位量を個別規格に規定する。

4.3.4 

極性試験  誤結合防止機構の能力を評価するため,間違った組合せによるコネクタの結合が,誤結

合防止機構によって防止できるか否かを確認する(適用する場合)


29

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

4.3.2 

結合力及び離脱力(又は挿入力及び引抜力)  試験は,JIS C 5402-1-100  試験 13a 又は試験 13b に

よる。

4.3.3 

インサート内のコンタクト保持  試験は,標準大気条件下で,JIS C 5402-1-100  試験 15a による。

力を加えている間の軸方向の変位測定は,要求しない。

4.3.4 

極性試験  試験は,標準大気条件下で,JIS C 5402-1-100  試験 13e による。


30

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

作成の手引き

5. 

試験計画

5.1 

一般  基本試験計画,中間試験計画又は全項目試験計画,試験段階番号及び試験の追加に関する指

針は,JIS C 5401-4 の 4.5(試験計画)による。

5.2

による試験群に属する試験段階の順序が,特定の形式又は形状に対して全く適さない場合には,規定

する順序を変更してもよいが[JIS C 5401-4 の 4.5(試験計画)参照]

,その順序については,個別規格に

規定する。

他に規定がない場合には,すべての試験は,JIS C 60068-1 及び  JIS C 5402-1 の当該規格群に規定する標

準大気条件下で実施する。

個別規格に,コネクタ形状がどの試験順序に適用できるかを規定する。

ほとんどの試験計画は,コンタクト(ハウジング)がないコネクタには適用できない。

すべての試験順序を実施する上で必要な試料数は,6.1.1 の表による。

5.1.1 

接触抵抗測定の準備  個別規格に,接触抵抗の測定点を示す結合したコネクタの実体図を含める。

5.1.2 

動的ストレス試験の準備  個別規格に,取付具への取付方法,プリント配線板の寸法,電線クラン

プの詳細などの実体図を含める。

5.1.3 

静的な力(軸方向)試験の準備  個別規格に,固定形プリント配線板用コネクタの取付方法,試験

ツールの寸法及びコネクタと試験ツールとの相対位置の詳細を規定する。

5.1.4 

試料の配線  個別規格に,選択された試験方法で絶縁抵抗,耐電圧及び電流容量が実施できるよう

に試料の配線方法を規定する。電線のサイズ(又は定格)及びその絶縁体の種類を規定する。

無はんだターミネーションの試験に用いる試料の配線に関しては,個別規格に,IEC 60352 の当該規格

群に従ってターミネーションの配線方法を規定する。


31

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

5. 

試験計画

5.1 

一般  この試験計画は,満足すべき要求事項だけでなく実施する試験及び順序も示す。

他に規定がない場合には,結合したコネクタで試験を実施する。試験順序が完了するまでの間,コネク

タの特定の組合せを変えないよう注意する(

例  ある試験に関してコネクタを非結合にする必要がある場

合には,次の試験でも同じコネクタを結合する)

以下,結合したコネクタを試料という。

5.1.1 

接触抵抗測定の準備  試験は,JIS C 5402-1-100  試験 2a による。

接触抵抗の測定は,規定するコンタクト数に対して実施する。以後実施する接触抵抗の測定も,同じコ

ンタクトで行う。

5.1.2 

動的ストレス試験の準備  試験は,JIS C 5402-1-100  試験 6a,試験 6b,試験 6c 又は試験 6d によ

る。

5.1.3 

静的な力(軸方向)試験の準備  試験は,JIS C 5402-1-100  試験 8b による。

5.1.4 

試料の配線


32

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

作成の手引き

5.2 

試験計画  個別規格が二つ以上の性能水準(PL)をもつコネクタに適用できる場合には,異なった

試験の厳しさ/条件及び/又は要求事項を,適切な試験段階の下で,当該試験計画表に記入する。

例:

試験 
段階

試験

測定

要求事項

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ又は条件

名称

JIS C 

5402-1-100

試験番号

PL

すべてのコネクタ形状

BP5

機械的動作 9a

速度: 2  mm/s 以下

休止:結合した状態で

10

1 250

2 125

3 75

BP6

5.2.1 

基本試験計画  基本試験計画を適用する場合には,全項目試験計画と同様に,次に示す試験及び厳

しさ/条件を各々の試験段階に適用する。

試験段階

1

試験 1a 及び試験 1b を適用するため,個別規格に次の項目を規定する。

−検査する特性

−ゲージの詳細(適用する場合)

−測定機器の形式及び測定倍率

−欠陥の基準

2.1

又は 2.2  試験 2.1 又は試験 2.2 の選択は,コネクタの設計に依存する。

結合/離脱動作を補助する機構がある場合には,試験 2.1 を選択する。この試験に対して最

大速度を“A”と規定する。

 2

mm/s

がこの測定の現実的な値である。

3

測定するコンタクト数を“B”と規定する。4.2.4 で示すとおり,初期接触抵抗の最大許容値を“C”

と規定する。

4

4.2.5

で規定するとおり,絶縁抵抗を測定するために印加する電圧値を“D”と規定する。適用する試

験方法を“E”

,試料当たりのコンタクト使用数を“F”と規定する。4.2.5 で示すとおり,初期絶縁抵

抗の許容最小値を“G”と規定する。

5

試験方法“H”は,試料当たり“J”コンタクトを試験するために用いる。コンタクト対コンタクト間,

コンタクト対試験パネル間に印加する耐電圧試験電圧を各々“K”及び“L”と規定する。

6.1

又は 6.2  該当する場合には,他の適切な接続試験を全項目試験計画の試験群 GP のように規定する試

験(

例  JIS C 5401-4 又は IEC 60352 の当該規格群による試験)に追加するか又はそれと置

き換える。


33

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

5.2 

試験計画

5.2.1 

基本試験計画

  5  基本試験

試験 
段階

試験

測定

要求事項

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ又は条件

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

PL

すべてのコネクタ形状

1

一般試験

結合していないコネク

外観

寸法及び質量

1a

1b

正常な動作を阻害する
欠陥があってはならな
い。

沿面及び空間距離を含
む寸法は各々の規定値
に適合しなければなら

ない。

2.1

2.2

速度“A”mm/s  以下

結合力及び

離脱力 
    又は 
挿入力及び

引抜力

13a

13b

4.3.2

参照

4.3.2

参照

3

5.1.1

に示す測定点

試料当たりのコンタク

ト数“B”

接触抵抗 2a 又は 2b

“C”mΩ  以下

4.2.4

参照

4

試験電圧“D”V d.c.

試験方法“E” 
試料当たりのコンタク
ト数“F”

絶縁抵抗 3a

“G”MΩ  以上

4.2.5

参照

5

試験方法“H” 
試料当たりのコンタク
ト数“J”

コンタクト間“K”V

d.c.

若しくは V r.m.s.

        又は

コンタクト対試験パネ
ル間“L”V d.c.若しく
は V r.m.s.

耐電圧 4a

絶縁破壊又はフラッシ
ュオーバがあってはな
らない。

6

はんだ付け 
    又は

他の適切な接
続方法

12

シリーズ(

1

)

ターミネーシ
ョンを含む

接触抵抗

2a

又は 2b

4.2.4

参照

(

1

)

コネクタがはんだ付ターミネーションをもつ場合には,適切な試験及び条件を JIS C 5402-1-100 から選択する。無

はんだターミネーションの場合には,

他の適切な接続試験を全項目試験計画の試験群 GP のように規定する試験

(例

JIS C 5401-4

又は IEC60352 の当該規格群による試験)に追加するか又はそれと置き換える。


34

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

作成の手引き

5.2.2 

全項目試験計画

5.2.2.1 

試験群 P−予備試験

P1

試験段階 1 参照。

P2

加える力は,最大規定結合力の 1.5 倍とし,

“M”と規定する。

P3

試験段階 3 参照。

P4

試験段階 4 参照。

P5

試験段階 5 参照。

備考 P4 及び P5 の場合には,コネクタの全体配線を避けるためには,方法及び試料当たりのコンタ

クト数を決める必要がある。


35

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

5.2.2 

全項目試験計画

5.2.2.1 

試験群 P−予備試験  すべての試料は,次の試験を実施する。

  6  試験群 P

試験

段階

試験

測定

要求事項

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ又は条件

名称

JIS C 

5402-1-100

試験番号

PL

すべてのコネクタ形状

P1

一般試験

試験段階 1 参照

外観

寸法及び

質量

1a

1b

試験段階 1 参照

P2(

1

)

極性試験(

1

) 13e

加える力“M”N

P3

試験段階 3 参照

接触抵抗

2a

試験段階 3 参照

P4

試験段階 4 参照

絶縁抵抗

3a

試験段階 4 参照

P5

試験段階 5 参照

耐電圧 4a    試験段階 5 参照

(

1

)

適用する場合


36

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

作成の手引き

5.2.2.2 

試験群 AP−動的/耐候性

AP1.1

又は AP1.2

試験段階 2.1 又は 2.2 参照。

AP2

この試験は,接触を確実にする弾性系を備え,丸形おすコンタクトと共に使用する弾性コンタクト

だけに適用できる。適用する場合には,加える曲げモーメント値を“N”と規定する。

この試験は,試料当たり“P”本のコンタクトについて実施し,その後にゲージ保持力を測定する。

この試験が適用できない場合でも,ゲージ保持力を測定する。

AP3

はんだ付け性試験は,コネクタのターミネーションの設計に適したはんだ付け工程に基づいて選択

する。

AP3.1

はんだバス法に基づくはんだ接続方法。ターミネーションを溶けたはんだに浸せきするまでの

深さを“Q”と規定する。

又は,

はんだごてに基づくはんだ接続方法。はんだごてのサイズを“R”とする。

AP3.2

他に“S”秒の規定がない限り,10 秒間の浸せき中にはんだ耐熱性試験を実施する。

又は,

サイズ“R”のはんだごてを用いて,はんだ耐熱性試験を実施する。

又は,

AP3.3

基本試験計画の試験段階 6.2 参照。

AP4

試験段階 5 参照。

AP5

コンタクトに加える軸方向の力を“T”

,その力を除去した(適用する場合)後のコンタクトの許容

変位を“V”と規定する。

この試験の直後に外観検査を実施する。

AP6

試験中に加える加速度を“W”

,試験中,3 軸に等分に加えるバンプの総数を“X”と規定する。

ディスターバンスの最大時間を“Y”μs と規定する。

この試験の直後に外観検査を実施し,接触抵抗を測定する(4.2.4 参照)


37

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

試料を必要な試験群に分ける(6.1 による。

各試験群のすべてのコネクタは,関連する試験群のために規定した試験を実施する。

5.2.2.2 

試験群 AP−動的/耐候性

  7  試験群 AP

試験 
段階

試験

測定

要求事項

名称

JIS C 

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ又は条件

名称

JIS C 

5402-1-100

試験番号

PL

すべてのコネクタ形状

AP1.1

AP1.2

試験段階 2.1 参照

試験段階 2.2 参照

結合力及び
離脱力 
    又は

挿入力及び
引抜力

13a

13b

4.3.2

参照

AP2(

1

)

プローブ 
ダメージ

16a

曲げモーメント   
      “N”Nm 
試料当たりのコンタク

ト数“P”

ゲージ保持
力(弾性コ
ンタクト)

16e

試料当たり同じ P 本の
コンタクト,ゲージは
保持していなければな

らない。

AP3.1

AP3.2

AP3.3(

2

)

はんだ付け

    又は 
はんだ耐熱

    又は 
未確定

12a

又は 12b

12d

又は 12e

未確定

浸せき深さ

“Q”mm

又ははんだごての 
サイズ“R” 
浸せき時間“S”  秒

未確定

外観 1a

試験段階 1 参照

AP4(

3

)

試験段階 5 参照

耐電圧 4a

試験段階 5 参照

AP5

インサート

内のコンタ
クト保持

15a

軸方向の力“T”N

力を除去したときの

変位の許容量

“V”mm 以下

外観 1a

試験段階 1 参照

AP6

バンプ 6b

“W”m/s

2

バンプの総数“X”

試験の準備については

5.1.2

による。

コンタクト
ディスター
バンス

2e

ディスターバンスの 
時間

“Y”μs 以下

外観 1a

試験段階 1 参照

接触抵抗 2a 又は 2b

試験段階 3 参照

(

1

)

適用する場合(適用できない場合には,  ゲージ保持力を測定する)

(

2

)

他の適用可能なターミネーション試験は,別な試験順序で規定してもよい。

(

3

)

コンタクトを取り付けた状態で,はんだ付け性試験を行う場合に限り,実施する。


38

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

作成の手引き

5.2.2.2 

試験群 AP−動的/耐候性(続き)

AP7

コネクタが受ける周波数範囲の最小値及び最大値を,各々“Z”及び“A1”と規定する。

変位振幅値及び加速度振幅値を,各々“B1”及び“C1”と規定する。また,耐久性の場合には,各

方向に対する掃引サイクル数を“D1”と規定する。

ディスターバンスの最大時間を“Y”μs と規定する。

この試験の直後に外観検査を実施し,接触抵抗を測定する(4.2.4 参照)

AP8

正弦半波パルスの加速度値を“E1”

,印加時間を“F1”と規定する。

ディスターバンスの最大時間を“Y”μs と規定する。

この試験の直後に外観検査を実施し,接触抵抗を測定する(4.2.4 参照)

AP9

正弦半波パルスの加速度値を“G1”,印加時間を“H1”と規定する。

ディスターバンスの最大時間を“Y”μs と規定する。

この試験の直後に外観検査を実施し,接触抵抗を測定する(4.2.4 参照)

AP10

低温カテゴリ及び高温カテゴリの温度を,各々“J1”

“K1”とし,また,各温度での暴露時間  t1

=L1 分,低温及び高温の両方に対するサイクル数“M1”も規定する。

この試験の後に,絶縁抵抗,耐電圧及び外観検査を実施する。

AP11

一連耐候性試験は,JIS C 5402-1-100  試験 11a に規定する試験数及び適切な測定方法から成り,結

合したコネクタで実施する。

AP11.1

高温を“N1”と規定し,また,暴露後の絶縁抵抗の最小許容値を  4.2.5 に規定する。

AP11.2

この試験の実施温度を“P1”と規定する。

使用する試験条件は“Q1”と規定する。

この試験の後に,外観検査を実施する。

AP11.3

低温を“R1”と規定する。

この試験後に,外観検査を実施する。

AP11.4

試験を実施する槽の圧力を“S1”

,供試条件の時間(5 分以外の場合)を“T1”と規定する。

この試験の後に,耐電圧試験を実施する。


39

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

5.2.2.2 

試験群 AP−動的/耐候性(続き)

表 7  試験群 AP (続き)

試験 
段階

試験

測定

要求事項

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ又は条件

名称

JIS C 

5402-1-100

試験番号

PL

すべてのコネクタ

形状

AP7

正弦波振動 6d

“Z”Hz  ∼“A1”Hz

“B1”mm

“C1”m/s

2

全期間,各方向“D1”
サイクル掃引による耐
久性。準備については

5.1.2

による。

コンタクトディ

スターバンス

2e

ディスターバンス

の時間

“Y”μs 以下

外観 1a

試験段階 1 参照

接触抵抗 2a 又は 2b   試験段階 3 参照

AP8

衝撃

正弦半波

“E1”m/s

2

“F1”ms

コンタクトディ

スターバンス

2e

ディスターバンス

の時間

“Y”μs 以下

外観 1a

試験段階 1 参照

接触抵抗 2a 又は 2b   試験段階 3 参照

AP9(

1

)

加速度

(定常)

6a

正弦半波

“G1”m/s

2

“H1”ms

外観 1a

試験段階 1 参照

接触抵抗 2a 又は 2b   試験段階 3 参照

AP10

温度急変 11d

“J1”℃  ∼“K1”℃

“t1=L1”分,

“M1”サイクル,

結合したコネクタ

絶縁抵抗 3a

試験段階 4 参照

耐電圧 4a

試験段階 5 参照

外観 1a

試験段階 1 参照

AP11

一連 
耐候性

11a

結合したコネクタ

AP11.1

高温 11i

“N1”℃

高温時の 
絶縁抵抗

3a

試験段階 4 参照

AP11.2

温湿度サイ
クル(最初
の サ イ ク

ル)

11m

“P1”℃

試験条件“Q1”

外観 1a

試験段階 1 参照

AP11.3

低温 11j

“R1”℃

外観 1a

試験段階 1 参照

AP11.4

減圧 11k

“S1”kPa

“t2=T1”分

耐電圧 4a

試験段階 5 参照

(

1

)

適用する場合

備考  試験段階 AP6,AP7 及び AP8 を実施した後,JIS C 5402-1-100 の第 14 部に規定する封止(気密性)試験も同様

に実施するとよい。ただし,同試験は,プリント配線板用コネクタには適用できない場合がある。


40

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

作成の手引き

5.2.2.2 

試験群 AP−動的/耐候性(続き)

AP11.5

試験段階 AP11.2 参照。

        ただし,この試験の後に,絶縁抵抗,耐電圧,及び接触抵抗を実施する。

5.2.2.3 

試験群 BP−機械的耐久性   

BP1

この試験群は,ゲージ保持力の試験から開始する。

BP2 4.3.1

に規定する値の半分の動作回数を“V1”と規定する。

動作速度及び休止時間(存在する場合)を,各々“W1”

“X1”と規定する。

この試験の直後に,次の試験を実施する。

−  外観

−  接触抵抗

−  絶縁抵抗

−  耐電圧

−  極性試験(適用する場合)


41

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

5.2.2.2 

試験群 AP−動的/耐候性(終)

表 7  試験群 AP(終)

試験 
段階

試験

測定

要求事項

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ又は条件

名称

JIS C 

5402-1-100

試験番号

PL

すべてのコネクタ形状

AP11.5

温湿度サイ
クル(残り
の サ イ ク

ル)

11m

“P1”℃

試験条件“Q1”

絶縁抵抗 3a  試験段階 4 参照

耐電圧 4a

試験段階 5 参照

接触抵抗 2a 又は 2b

試験段階 3 参照

AP12.1

AP12.2

試験段階 2.1 参照

試験段階 2.2 参照

結合力及び

離脱力 
    又は 
挿入力及び

引抜力

13a

13b

4.3.2

参照

AP13

外観 1a

試験段階 1 参照

5.2.2.3 

試験群 BP−機械的耐久性

  8  試験群 BP

試験 
段階

試験

測定

要求事項

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ又は条件

名称

JIS C 

5402-1-100

試験番号

PL

すべてのコネクタ形状

BP1

ゲージ保持

力(弾性コン

タクト)

16e

試 験 条 件 に つ い て は

3.9.1

による。

ゲージの振れはゼロで
なければならない。

BP2

機械的動作
(規定サイ

クル数の半
分)

9a

動作回数“V1”

速度“W1”mm/s

休止時間“X1”秒

外観 1a

試験段階 1 参照

接触抵抗 2a 又は 2b

試験段階 3 参照

絶縁抵抗 3a  試験段階 4 参照

耐電圧 4a

試験段階 5 参照

極性試験(

1

)

13e

4.3.4

参照

(

1

) BP2

終了後に測定する(適用する場合)


42

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

作成の手引き

5.2.2.3 

試験群 BP−機械的耐久性(終)

BP3.1

試験時間を Y1(時間)と規定する。

BP3.2

供試条件を適用する期間を“Z1”とする。試料は,半数を結合し,残りの半数を結合しない。

又は

BP3.3

試験段階 AP11 参照。

又は

BP3.4

プリント配線板用コネクタの場合,

“A2”の極性電圧は適用しない。

供試条件を適用する期間を“B2”と規定する。

又は

BP3.5

試験段階 AP11.5 参照。

又は

BP3.6

試験段階 AP11.1 参照。

BP4

試験段階 BP2 参照。ただし,規定動作回数の総数から試験した動作回数を差し引いた残りの動作回

数を“C2”と規定する。

BP5

試験段階 AP2 参照。

JIS C 5402-1-100

試験 16a(プローブダメージ)が適用できない場合には,  ゲージ保持力を測定す

る。

BP6

試験を受ける試料数を“D2”

,加える力の増加率を“E2”と規定する。

加える力,力を加えている時間及び試料の許容する曲がりを,各々“F2”

“G2”及び“H2”と規定

する。


43

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

5.2.2.3 

試験群 BP−機械的耐久性(終)

表 8  試験群 BP(終)

試験 
段階

試験

測定

要求事項

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ又は条件

名称

JIS C 

5402-1-100

試験番号

PL

すべてのコネクタ形状

BP3

BP3.1

BP3.2

BP3.3

BP3.4

BP3.5

BP3.6

耐候性試験 
腐食, 
塩水噴霧

    又は 
混合ガス流
腐食

    又は 
一連耐候性 
    又は

高温高湿 
(定常) 
    又は

温湿度サイ
クル 
    又は

高温

11f

11g

11a

11c

11m

11i

試験時間“Y1”時間

“Z1”日(試料の半分

を結合し,残りの半分を

結合しない)

AP11

参照

配線した試料

極性電圧“A2”V

“B2”日

AP11.5

参照

AP11.1

参照

接触抵抗

2a

又は 2b

試験段階 3 参照

BP4

機械的動作 
(規定動作

回数の残り 
半分)

9a

BP2

参照。ただし,

動作回数“C2”

外観 1a

試験段階 1 参照

接触抵抗

2a

又は 2b

試験段階 3 参照

絶縁抵抗

3a

試験段階 4 参照

耐電圧 4a   試験段階 5 参照

極性試験

13e

4.3.4

参照

BP5

プローブ

ダメージ(

1

)

16a AP2

参照

ゲージ 
保持力

16e

AP2

参照

BP6

静的な力

(軸方向)

8b

試料数“D2” 
準備は  5.1.3 による。

加える力の最大増加率  
“E2”N/s 
加える力“F2”N

力 を 加 え て い る 時 間  
“G2”秒

外観 1a

試験段階 1 参照 
許容する曲がり

“H2”以下

(

1

)

適用する場合(適用できない場合には,ゲージ保持力を測定する。


44

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

作成の手引き

5.2.2.4 

試験群 CP−耐湿性

CP1

試験段階 BP3.4 に関する手引書参照。ただし,試験期間は“J2”とする。

この試験の後に,次の試験を実施する。

−  絶縁抵抗

−  耐電圧

−  接触抵抗

−  結合力及び離脱力又は挿入力及び引抜力

−  結合しないコネクタの外観

5.2.2.5 

試験群 DP−電気的負荷

DP1

試験段階 BP2 の諸条件参照。ただし,動作回数は,

“K2”とする。

DP2

供試条件の時間を“L2”

,最大負荷電流を“M2”と規定する。

試験槽の温度は,コネクタの規定最大動作温度の 70%±5%  に維持する。

電流を印加して増加した後に測定した試料の温度“N2”は,規定最大動作温度の 105%  を超えては

ならない。

この試験の後,4.2.5 に従って絶縁抵抗(高温時)を測定する。

耐電圧も実施する。

外観検査は,結合しないコネクタについて実施する。


45

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

5.2.2.4 

試験群 CP−耐湿性

  9  試験群 CP

試験 
段階

試験

測定

要求事項

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ又は条件

名称

JIS C 

5402-1-100

試験番号

PL

すべてのコネクタ形状

CP1

高温高湿

(定常)

11c

BP3.4

参照。

ただし,試験期間

“J2”日

絶縁抵抗 3a  試験段階 4 参照

耐電圧 4a

試験段階 5 参照

接触抵抗 2a 又は 2b

試験段階 3 参照

結合力及び

離脱力 
    又は 
挿入力及び

引抜力

13a

13b

4.3.2

参照

外観 1a

試験段階 1 参照

5.2.2.5 

試験群 DP−電気的負荷

 10  試験群 DP

試験 
段階

試験

測定

要求事項

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ又は条件

名称

JIS C 

5402-1-100

試験番号

PL

すべてのコネクタ形状

DP1

機械的動作 
(BP2 の規
定数と同一

回数)

9a

BP2

参照。ただし,  動作

回数  “K2”

DP2

電気的負荷

及び温度

9b

“L2”時間

コンタクト負荷電流

“M2”A  以下

後処理時間    2 時間以上

試料の中心部に温度セン
サを取り付ける。

“N2”℃

接触抵抗 2a 又は 2b

試験段階 3 参照

絶縁抵抗 3a  試験段階 4 参照

耐電圧 4a

試験段階 5 参照

外観 1a

試験段階 1 参照


46

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

作成の手引き

5.2.2.6 

試験群 EP−機械的耐性

EP1.1

加える力を“P2”と規定する。

EP1.2  IEC 60352

で該当する“部”に規定する接続方法以外の無はんだターミネーション用の機械的特性

試験を実施する。

EP2

試験段階 AP5 参照。適用する場合には,この試験は,この試験群順序の最後に実施する。

EP3

試験段階 AP2 参照。

EP4 4.2.5

参照。

EP5

供試条件の期間を“Q2”と規定する。

EP6

試料数を“R2”

,接炎時間を“S2”

,許容最大燃焼時間を“T2”と規定し,また,接炎点(図示によ

る。

)を規定する。

コネクタの製造に用いる材料が規定する試験をあらかじめ受け,既に合格していることを示す証拠書類

が,国内監督検査機関(NSI)に提示できる場合には,試験段階 EP5 及び EP6 を省略してもよい。


47

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

5.2.2.6 

試験群 EP−機械的耐性

 11  試験群 EP

試験 
段階

試験

測定

要求事項

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ又は条件

名称

JIS C 

5402-1-100

試験番号

PL

すべてのコネクタ形状

EP1.1

EP1.2(

1

)

タ ー ミ ネ ー シ
ョン強度

又は 
無 は ん だ タ ー
ミ ネ ー シ ョ ン

の機械的試験

16f

審議中

試験 Ua1 及び Ua2 
試料当たり  6 ターミ
ネーション

“P2”N

外観 1a

試験段階 1 参照

EP2

イ ン サ ー ト 内

の コ ン タ ク ト
保持

15a AP5

参照

AP5

参照

外観 1a

試験段階 1 参照

EP3(

2

)

プローブ 
ダメージ

16a AP2

参照

ゲージ保持

力(弾性コ
ンタクト)

16e

AP2

参照

ゲージの振れはゼロで
なければならない。

EP4

絶縁抵抗 3a  試験段階 4 参照

EP5(

3

)

かびの成長 11e

“Q2”日

絶縁抵抗 3a  試験段階 4 参照

外観 1a

試験段階 1 参照

EP6(

3

)

ニ ー ド ル フ レ

ーム(注射針バ
ーナ)

20a

試料数  “R2”

接炎時間  “S2”秒

許 容 最 大 燃 焼 時 間 
“T2”秒

ティッシュペーパが発
火してはならない。

(

1

) IEC

にて審議中。

例  試験 16x−機械的強度(配線済みターミネーション)。

(

2

)

適用する場合には,この試験は,この試験群順序の最後に実施する。

(

3

)

コネクタの製造に用いる材料が規定する試験をあらかじめ受け,既に合格していることを示す証拠書類が,国内監

督検査機関(NSI)に提示できる場合には,試験段階 EP5 及び EP6 を省略してもよい。


48

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

作成の手引き

5.2.2.7 

試験群 FP−耐薬品性

FP1

汚染された液体(特に洗浄用として広く使用されている溶剤)に対するコネクタの耐液抵抗性を立

証するには,極めて適切な試験である。JIS C 5402-1-100 で該当する試験手順が入手できるまでは,

適切な試験方法を選択し,

附属書  B に示すようにこれを個別規格に追加することが可能である。

FP2

4.3.2

参照。

FP2

4.2.4

参照。

FP4

詳細については試験段階 4 を参照し,要求事項については,試験段階 AP13 による。

5.2.2.8 

試験群 GP−接続  無はんだターミネーションの形式に応じて,IEC 60352 で該当する規格群か

ら試験順序を選択する(適用する場合)

コネクタに用いる接続方法が  IEC 60352 に規定する試験をあらかじめ受け,  既に合格していることを

示す証拠書類が,国内監督検査機関に提示できる場合には,試験段階 GP1 から GPX までを省略してもよ

い。

5.2.2.9 

試験群 HP−追加試験  この試験群は,既定の試験群 P から GP に試験段階を追加するために使

用する。

その試験は,例えば,コネクタが高速デジタルデータ伝送用として適していることを証明するのが望ま

しい。

追加試験は,

附属書  B に記述する。


49

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

5.2.2.7 

試験群 FP−耐薬品性

 12  試験群 FP

試験 
段階

試験

測定

要求事項

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ又は条件

名称

JIS C 

5402-1-100

試験番号

PL

すべてのコネクタ形状

FP1

耐液性

審議中

FP2.1

FP2.2

結合力及び

離脱力 
    又は 
挿入力及び

引抜力

13a

13b

4.3.2

参照

FP3

接触抵抗 2a 又は 2b

試験段階 3 参照

FP4

絶縁抵抗 3a    試験段階 4 参照

FP5

一般試験

試験段階 1 参照

外観 1a

試験段階 1 参照

5.2.2.8 

試験群 GP−接続

 13  試験群 GP

試験 
段階

試験

測定

要求事項

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ又は条件

名称

JIS C 

5402-1-100

試験番号

PL

すべてのコネクタ形状

GP1

GPX(

1

)

IEC 60352

及び JIS C 5402-1-100 によって適用可能な接続方法試験

無はんだターミネーション/接続方法の形式に応じて(適用する場合)

IEC 60352 で該当する規格群から試

験順序を選択する。

(

1

)

コネクタに用いる接続方法が

IEC 60352

に規定する試験をあらかじめ受け

既に合格していることを確認する証

拠書類が国内監督検査機関に提示できる場合には

試験段階 GP1 から GPX までを省略してもよい

5.2.2.9 

試験群 HP−追加試験

 14  試験群 HP

試験 
段階

試験

測定

要求事項

名称

JIS C

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ又は条件

名称

JIS C 

5402-1-100

試験番号

PL

すべてのコネクタ形状

HP1

備考  既定の試験群及び試験段階がコネクタにおける特定の試験に対して対応できない場合には,この試験群

に追加試験として規定する。

附属書 にその内容を記述する。


50

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

作成の手引き

6. 

品質評価手順  JIS C 5401-1  3.6(品質認証/品質評価システム)及び JIS C 5401-4 の 3(品質評価

の手順)による。

6.1 

品質認証試験

6.1.1 

方法 1  表には 3 段階の性能水準を示す。個別規格のほうが厳しい又は緩い性能水準の場合には,

同表はそのことを考慮して拡張若しくは縮小してもよい。

表に記入するデータを,次に示す。

“V2”

(適宜,

“W2”

“X2”

)関連する性能水準を示すために選択したアラビア数字。

“n”

(  5 か所)

(適宜,

“n1”

“n2”

)試験群 AP から EP までを受ける試料数。

“m”

(適宜,

“m1”

“m2”

)試験段階 FP を受ける試料数。

“p”

(適宜,

“p1”

“p2”

)試験段階 GP を受ける試料数。

“q”

(適宜,

“q1”

“q2”

)試験段階 HP を受ける試料数。

“c1”∼“c8”

(適宜,

“c1a”∼“c8a”

“c1b”∼“c8b”

)試験群ごとに許容される各々の不良品数。

“cT”

(適宜,

“cTa”

“cTb”

)試験群全体の不良品許容数。

これは,通常,試験群ごとに許容される不良品の総数より少ない。

6.1.2 

方法 2  方法 1 の代わりとして,JIS C 5401-1 の  3.3.3(品質認証の認可)に示す第 2 の方法による

品質認証手順を用いてもよい。

品質認証試験には,次の検査を含める。

a)

連続する 3 ロットを対象とする  6.2.1 に従うロットごと試験

b)

その内の 1 ロットから選出した 1 個のサンプルを対象とする  6.2.2 に従う定期試験

c)

6.2.2

の検査群 D2 にかかわる補足的な品質認証試験


51

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

6. 

品質評価手順  JIS C 5401-1  3.6(品質認証/品質評価システム)及び JIS C 5401-4  3.(品質評

価の手順)による。

6.1 

品質認証試験

6.1.1 

方法 1  JIS C 5401-1  3.3.3(品質認証の認可)に示す第 1 の方法に従う認証試験手順。

次の試料数が に規定する条件の試験を受ける。

試料は,

表 15 に基づく許容不良品数以下でその要求事項を満たさなければならない。

 15  品質認証試験

5.2

の試験群 5.2 の試験段階

性能水準 V2

性能水準 W2

性能水準 X2

n

c n c n c

P

AP

BP

CP

DP

EP

FP

GP

HP

P1

−5

AP1

−13

BP1

−6

CP1

DP1

−2

EP1

−6

FP1

−5

GP1

HP1

5n

+m+p+q

n

n

n

n

n

m

p

q

0

c1

c2

c3

c4

c5

c6

c7

c8

5n1 + m1 + p1 +q1

n1

n1

n1

n1

n1

m1

p1

q1

0

c1a

c2a

c3a

c4a

c5a

c6a

c7a

c8a

5n2

+m2+p2+q2

n2

n2

n2

n2

n2

m2

p2

q2

0

c1b

c2b

c3b

c4b

c5b

c6b

c7b

c8b

試験群全体の許容不良品総数 cT

cTa

cTb

n =

最少試料数

c =

試験群ごとの許容不良品数

m =

試験群 FP を受ける最少試料数

p =

試験群 GP を受ける最少試料数

q =

試験群 HP を受ける最少試料数

6.1.2 

方法 2  方法 1 の代わりとして,JIS C 5401-1  3.3.3(品質認証の認可)に示す第 2 の方法による

品質認証手順を用いてもよい。

品質認証試験には,次の検査を含める。

a)

連続する 3 ロットを対象とする  6.2.1 に従うロットごと試験,及び

b)

その内の 1 ロットから選出した 1 個のサンプルを対象とする  6.2.2 に従う定期試験,及び

c)

6.2.2

の検査群 D2 にかかわる補足的な品質認証試験


52

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

作成の手引き

6.2 

品質確認試験

6.2.1 

ロットごと試験  表は,要求する検査水準(IL)及び JIS Z 9015-1 による合格品質水準(AQL)デ

ータを記入して完成する。

(    )内には,関連するインサート形式又は形状識別を記入する。

最低評価水準は JIS C 5401-4 の 4.5.4(品質確認試験,ロットごと試験)に示す。個別規格にはその最低

評価水準か,又はより厳しい評価水準を示してもよい。

個別規格に二つ以上の評価水準を含める場合には,これらの評価水準を含めるために表を拡張してもよ

い。適切な評価水準を示す識別文字を選択し,これらを“Y2”

“Z2”などと規定してもよい。


53

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

6.2 

品質確認試験

6.2.1 

ロットごと試験  ある検査ロットの中に一まとめにしてもよい構造的に類似なコネクタ[JIS C 

5401-1

 3.1.2(構造的に類似なコネクタ)参照]は,

(        )である。

性能水準と評価水準との適用可能な組合せを,次の表に示す(適切な組合せを記入)

 16  ロットごと試験

検査群

5.2

の試験段階

5.2

の要求事項及び厳し

さによる試験又は測定

JIS C

5402-1-00

試験番号

評価水準 Y2

評価水準 Z2

IL(

2

) AQL(

2

) IL(

2

) AQL(

2

)

A1 P1

外観 1a

A2 P1

寸法及び質量(

1

) 1b

B1

P4

P5

絶縁抵抗

耐電圧

3a

4a

B2

AP2

AP1.1

AP1.2

ゲージ保持力(弾性コン
タクト)

結合力及び離脱力

又は

挿入力及び引抜力

16e

13a

13b

(

1

)

当該ロットを製造するために用いた単体部品に関する検査結果記録は,  この要求事項のすべて又は一部を満たす
ために用いてもよい。

(

2

)  JIS Z 9015-1

による。


54

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

作成の手引き

6.2.2 

定期試験  表は,試料数(n)及び試験群ごとの許容不良品数(c)を記入して完成する。

最小試料数は JIS C 5401-4  4.5.5(品質確認試験,定期試験)に示す。個別規格にはその最小試料数か,

又はそれ以上の試料数を規定してもよい。

ターミナルのはんだ付け性を試験する場合には,ターミナル数を“a”と規定する。


55

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

6.2.2 

定期試験  試験群(検査群 D1 及び D2)による定期試験は,試験 P1∼P5 に合格し,かつ,ロット

ごと試験(6.2.1 参照)の要求事項を既に満たしている試料に対して実施する。

単一の試験段階(検査群 C1,C2 及び C3)に関する定期試験は,ロットごと試験(6.2.1 参照)に既に合

格している試料に対して実施する。

性能水準及び評価水準の適用可能な組合せを,次の表に示す(適切な組合せを記入する。

 17  定期試験

検査群

5.2

の試験段階

5.2

の要求事項及び厳しさ

による試験又は測定

JIS C

5402-1-100

試験番号

P

評価水準 Y2

評価水準 Z2

n c n c

C1 AP4.1

はんだ付け性 12a

1

ターミナ

ル数“a”

ターミナ

ル数“a”

ターミナ

ル数“a”

ターミナ

ル数“a”

C2 P3

接触抵抗

2a

3

 

C3 AP4.2

はんだ耐熱性  12d

12

 

D1

AP1.1

AP1.2

AP5

AP1

AP11

AP13

CP1

品質認証の維持

結合力及び離脱力

又は

挿入力及び引抜力

耐電圧

13a

13b

4a

36

36

36

36

36

36

D2

AP1.2

AP5

AP1

−13

BP1

−6

CP1

DP1

−2

EP1

−6

FP1

−5

GP1

HP1

初期品質認証試験(6.1.2
を適用する場合)

挿入力及び引抜力

耐電圧

13b

4a

p =

周期(月)

n =

最小試料数

c =

試験群ごとの許容不良品数


56

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

作成の手引き

6.3 

長期保管後の出荷,再検査  個別規格に含まれる長期保管後の出荷に関連する情報は,JIS C 5401-1

 4.4(長期保管後の出荷)による。

表は,適用する検査水準(IL)及び合格品質水準(AQL)を記入して完成する。

最長保管期間を“b”月と規定する。再検査後の効力は“c”月に延長される。

検査群 C1 に関し,試料数/ターミナル数を“d”,許容するターミナルの不良品数を“e”と規定する。


57

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

6.3 

長期保管後の出荷,再検査  ロットに出荷許可が下りた後 b か月以上保管されていたコネクタは,

出荷に先立って,次の表に従って試験を実施する。

あるロットが再検査にいったん合格すると,その品質は,更に c か月間有効とみなされる。

 18  再検査

検査群

5.2

の試験段階

5.2

の要求事項及び厳しさによる

試験又は測定

JIS C 

5402-1-100

試験番号

A1 P1

外観 1a

IL(

1

)

AQL

C1 AP4.1

はんだ付け性 12a

ターミナル数“d”

ターミナルの不良品数“e”

(

1

)  JIS Z 9015-1

による。


58

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

附属書 A(規定)

JIS C 6010-1

に基づく機械的構造物への適用に関する要求事項

A.1 

適用範囲  JIS C 6010-1 に基づく機械的構造物に関する規格を引用するか,又は同規格に適合してい

ることが要求される場合には,この附属書は,そうした構造物においてコネクタの適切な使用を裏付ける

のに必要な寸法に関する基本情報をコネクタ使用者に提供する。

この附属書は,  個別規格にその一部として追加する。

A.2 

コネクタの使用に関する要求事項  他に規定がない場合には,コネクタ使用者は,JIS による機械的

構造物を用いているとみなされる。これらの規格に要求寸法のすべてが規定されていない場合には,この

附属書にその残りの要求事項を列挙する。

A.3 

個別規格に規定する寸法

A.3.1

メートル法に基づく機械的構造物−JIS C 6010-1  JIS C 6010-1 によって個別規格は,JIS C 6010-2 

附属書 の要求事項に基づくすべての寸法の要求事項を規定する。同一の用語及び寸法レタリング方式を

使用する[JIS C 6010-2 

附属書  5.6(用語,定義及び寸法表)参照]。その中で三つの重要寸法(D

s3

D

s4

及び D

s5

)は

,“ = コネクタによって異なる”と定義してある。

D

s

:  サブラック深さに対する整合寸法( n ×  mp1 = n  × 25 mm であるものとする)

D

s1

:  プラグインユニット用サブラックの開口形状深さ( = 公差を含む  D

s

D

s3

:  プリント配線板の奥行寸法

D

s4

:  箱型又はフレーム型プラグインユニットの奥行総寸法

D

s5

:  プラグインユニットの奥行寸法(検査対象寸法)

これらの寸法は,  表形式で示すことを推奨する。

表 A.1  JIS C 6010-2  附属書 に基づく要求寸法

D

s

  175 225 250 300

D

s1

+1/−0

175.5 225.5 250.5 300.5

D

s3

(

1

) (

1

)

(

1

)

(

1

)

D

s4

(

1

) (

1

) (

1

) (

1

)

D

s5

(

1

) (

1

) (

1

) (

1

)

(

1

)

個別規格の主題コネクタ形式に適用する寸法及び公差


59

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

表 A.1 の寸法は,JIS C 6010-2  附属書 に定義する機械的構造物にコネクタが使用可能であることを要

求する個別規格の附属書に規定する。

図 A.1 を追加する。

図 A. 1  プラグインユニット寸法

A.3.2 

その他の機械的構造物

IEC

で審議中。

D

S3

D

S5

D

S1


60

C 5401-4-001

:2005 (IEC 61076-4-001:1996)

附属書 B(規定)新規試験及び追加試験段階

特性試験の追加が適切である場合は,JIS C 5401-4 の 4.(試験及び試験計画)による。

適用する試験段階は,試験群 HP に追加する。

これらの試験段階が JIS C 60068-1 又は JIS C 5402 に規定されていない場合には,その試験方法の詳細

をこの附属書に規定する。

この附属書を個別規格に追加する。


61

解  1