>サイトトップへ >このカテゴリの一覧へ

C 5101-17-1

:2009 (IEC 60384-17-1:2005)

(1)

目  次

ページ

序文

1

1

  一般事項

2

1.0

  適用範囲

2

1.1

  推奨する取付方法(挿入用)

3

1.2

  寸法

3

1.3

  定格及び性能

3

1.3A

  交流実効電流特性(適用する場合)

4

1.3B

  特殊な特性(適用する場合)

4

1.4

  引用規格

4

1.5

  表示

5

1.6

  発注情報

5

1.7

  出荷対象ロットの成績証明書

5

1.8

  追加情報(非検査目的)

5

1.9

  品目別通則及び/又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項

5

2

  検査要求事項

5

2.1

  手順

5


C 5101-17-1

:2009 (IEC 60384-17-1:2005)

(2)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 14 条によって準用する第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人電子情報

技術産業協会 (JEITA) から,工業標準原案を具して日本工業規格を改正すべきとの申出があり,日本工業

標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格である。

これによって,JIS C 5101-17-1 : 2000 は改正され,この規格に置き換えられた。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に

抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許

権,出願公開後の特許出願,実用新案権及び出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について,責

任はもたない。

JIS C 5101

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS

C

5101-1

第 1 部:品目別通則

JIS

C

5101-2

第 2 部:品種別通則:固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流コ

ンデンサ

JIS

C

5101-2-1

第 2-1 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィル

ム直流コンデンサ  評価水準 E 及び EZ

JIS

C

5101-3

第 3 部:品種別通則:固定タンタルチップコンデンサ

JIS

C

5101-3-1

第 3 部:ブランク個別規格:固定タンタルチップコンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-4

第 4 部:品種別通則:アルミニウム固体及び非固体電解コンデンサ

JIS

C

5101-4-1

第 4 部:ブランク個別規格:アルミニウム非固体電解コンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-4-2

第 4 部:ブランク個別規格:アルミニウム固体電解コンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-8

第 8 部:品種別通則:固定磁器コンデンサ  種類 1

JIS

C

5101-8-1

第 8-1 部:ブランク個別規格:固定磁器コンデンサ  種類 1  評価水準 EZ

JIS

C

5101-9

第 9 部:品種別通則:固定磁器コンデンサ  種類 2

JIS

C

5101-9-1

第 9-1 部:ブランク個別規格:固定磁器コンデンサ  種類 2  評価水準 EZ

JIS

C

5101-11

第 11 部:品種別通則:固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コン

デンサ

JIS

C

5101-11-1

第 11 部:ブランク個別規格:固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直

流コンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-13

第 13 部:品種別通則:固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ

JIS

C

5101-13-1

第 13-1 部:ブランク個別規格:固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデン

サ  評価水準 E 及び EZ

JIS

C

5101-14

第 14 部:品種別通則:電源用電磁障害防止固定コンデンサ

JIS

C

5101-14-1

第 14-1 部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ  評価水準 D

JIS

C

5101-14-2

第 14-2 部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ  安全性を要求

する試験

JIS

C

5101-14-3

第 14-3 部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ  評価水準 DZ


C 5101-17-1

:2009 (IEC 60384-17-1:2005)

(3)

JIS

C

5101-15

第 15 部:品種別通則:固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ

JIS

C

5101-15-1

第 15 部:ブランク個別規格:はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ  評価

水準 E

JIS

C

5101-15-2

第 15 部:ブランク個別規格:焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ  評価水準

E

JIS

C

5101-15-3

第 15 部:ブランク個別規格:焼結形固定タンタル固体電解コンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-16

第 16 部:品種別通則:固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ

JIS

C

5101-16-1

第 16-1 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コン

デンサ  評価水準 E 及び EZ

JIS

C

5101-17

第 17 部:品種別通則:固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコ

ンデンサ

JIS

C

5101-17-1

第 17-1 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及び

パルスコンデンサ  評価水準 E 及び EZ

JIS

C

5101-18

第 18 部:品種別通則:固定アルミニウム固体 (MnO

2

)

及び非固体電解チップコンデ

ンサ

JIS

C

5101-18-1

第 18 部:ブランク個別規格:固定アルミニウム固体 (MnO

2

)

電解チップコンデンサ

評価水準 E

JIS

C

5101-18-2

第 18 部:ブランク個別規格:固定アルミニウム非固体電解チップコンデンサ  評価

水準 E

JIS

C

5101-20

第 20 部:品種別通則:固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルムチップ

直流コンデンサ

JIS

C

5101-20-1

第 20 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルム

チップ直流コンデンサ  評価水準 EZ

JIS

C

5101-21

第 21 部:品種別通則:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 1

JIS

C

5101-21-1

第 21-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 1  評価水

準 EZ

JIS

C

5101-22

第 22 部:品種別通則:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 2

JIS

C

5101-22-1

第 22-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 2  評価水

準 EZ

JIS

C

5101-23

第 23 部:品種別通則:表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレートフィ

ルム直流コンデンサ

JIS

C

5101-23-1

第 23-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレ

ートフィルム直流コンデンサ  評価水準 EZ

JIS

C

5101-24

第 24 部:品種別通則:表面実装用固定タンタル固体(導電性高分子)電解コンデン

サ(予定)

JIS

C

5101-24-1

第 24-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定タンタル固体(導電性高分子)電解

コンデンサ  評価水準 EZ(予定)

JIS

C

5101-25

第 25 部:品種別通則:表面実装用固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コン

デンサ(予定)


C 5101-17-1

:2009 (IEC 60384-17-1:2005)

(4)

JIS

C

5101-25-1

第 25-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定アルミニウム固体(導電性高分子)

電解コンデンサ  評価水準 EZ(予定)


日本工業規格

JIS

 C

5101-17-1

:2009

(IEC 60384-17-1

:2005

)

電子機器用固定コンデンサ−

第 17-1 部:ブランク個別規格:

固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及び

パルスコンデンサ

評価水準 E 及び EZ

Fixed capacitors for use in electronic equipment-

Part 17-1 : Blank detail specification :

Fixed metallized polypropylene film dielectric a.c. and pulse capacitors-

Assessment levels E and EZ

序文

この規格は,2005 年に第 2 版として発行された IEC 60384-17-1 を基に,技術的内容及び対応国際規格の

構成を変更することなく作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格にはない事項である。

ブランク個別規格

この規格は,品種別通則 JIS C 5101-17 の補足規格で,個別規格の様式及び最小限に必要な要求事項を規

定したものである。これらの要求事項を満足しない個別規格は,日本工業規格に基づいていないものとみ

なし,そのことを個別規格に記載する。

個別規格は,JIS C 5101-17 の 1.4 に基づいて作成する。

個別規格の最初のページとなるこの規格の 2 ページの表の括弧内の数字は,指定の位置に記入する次の

事項と対応している。

個別規格の識別

1 ]

個別規格を管理する国内標準化機関又は国際電気標準会議  (IEC)  の名称

2 ]

個別規格の日本工業規格番号,西暦年及び国内制度で要求される追加事項又は IEC 規格番号,版

及び西暦年

3 ]

品目別通則の日本工業規格番号及び西暦年又は IEC 規格番号,版及び西暦年

4 ]

ブランク個別規格の日本工業規格番号又は IEC 規格番号

コンデンサの識別

5 ]

コンデンサの品種についての要約説明

6 ]

代表的な構造の説明(適用する場合)

注記 1  コンデンサがプリント配線板用に設計されていない場合には,個別規格のこの欄にそのこ


2

C 5101-17-1

:2009 (IEC 60384-17-1:2005)

とを明記する。

7 ]

互換性の上で重要な主要寸法を記載した外形図及び/又は外形に関する国内規格又は国際規格の

引用。この図は,個別規格の附属書としてもよい。

8 ]

適用範囲又は適用グループの範囲及び/又は評価水準。

注記 2  個別規格に規定する評価水準は,品種別通則 JIS C 5101-17 の 3.5.4(評価水準)から選定す

る。このブランク個別規格の試験群の構成と同じであれば,個別規格に複数の評価水準を規

定してもよい。

9 ]

重要な特性に関する参照データ

社団法人電子情報技術産業協会 [

1 ]

個別規格番号 [

2 ]

  JIS C 5101-17-1

(ブランク個別規格番号)[ 4 ]

電子機器用固定コンデンサ

第 1 部:品目別通則 [

3 ]

JIS C 5101-1 : 1998

個別規格の名称

固定メタライズドポリプロピレン

フィルム交流及びパルスコンデンサ

                       [

5 ]

構造の説明 [

6 ]

外形図(

表 1

参照)

(第三角法)

 [

7 ]

(規定寸法内である場合には,外形は異なっても

よい。

評価水準:E 及び EZ [

8 ]

性能等級

安定性等級

注記

 [

1 ]

∼[ 8 ]:個別規格の識別及びコンデンサの識別を参照。

この個別規格で認証されたコンデンサの詳しい内容は,

品質認証電子部品一覧表  (QPL)  に示されている。

*

*

この記載は,IEC 電子部品品質認証制度  (IECQ)

の場合に適用する。

注記

 [

9 ]

:コンデンサの識別を参照。

1

一般事項

1.0

適用範囲

この規格は,JIS C 5101-17 を品種別通則とするブランク個別規格で,電子機器用固定メタライズドポリ

プロピレンフィルム交流及びパルスコンデンサの評価水準 E 及び EZ(以下,コンデンサという。

)に適用

する。

注記

この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 60384-17-1 : 2005

,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 17-1 : Blank detail

specification : Fixed metallized polypropylene film dielectric a.c. and pulse capacitors

−Assessment

levels E and EZ (IDT)

なお,対応の程度を表す記号 (IDT) は,ISO/IEC Guide 21 に基づき,一致していることを

示す。

]


3

C 5101-17-1

:2009 (IEC 60384-17-1:2005)

1.1

推奨する取付方法(挿入用)

JIS C 5101-17

の 1.4.2(取付け)による。

1.2

寸法

外形寸法の記号及び寸法は,

表 による。

表 1−外形寸法の記号及び寸法

寸法  mm

外形寸法記号

Φ

L H d 

注記 1  外形寸法の記号がない場合には,この表 を削除し,寸法は表 に記載して表 とする。 
注記 2  寸法は,最大寸法又は公称寸法及びその許容差で表す。

1.3

定格及び性能

定格静電容量範囲(

表 又は表 2A による。)

定格静電容量の許容差

定格電圧(

表 又は表 2A による。)

−  定格直流電圧(適用する場合)

−  定格交流電圧(及び周波数:50 Hz,60 Hz と異なる場合)

カテゴリ電圧(適用する場合)

表 又は表 2A による。)

耐候性カテゴリ

交流定格温度

誘電正接 (tan

δ)

(周波数:…)

絶縁抵抗

定格ピーク電流又は定格電圧パルスこう(勾)配

R

)

d

(

)

d

(

t

U

(適用する場合)

正弦波定格交流電流(規定周波数…での)及び温度に対する軽減曲線(適用する場合)

規定周波数(適用する場合)

注記

適用する場合とは,適用可能な場合に試験を適用することを示す。


4

C 5101-17-1

:2009 (IEC 60384-17-1:2005)

表 2−外形寸法と組み合わせた定格静電容量,定格交流電圧及び

定格ピーク電流(又は電圧パルスこう配)

定格交流電圧  (U

R

)

カテゴリ交流電圧

*

(U

C

)

定格静電容量

nF

又は µF

ピーク電流

又は dU/dt

定格静電容量

nF

又は µF

ピーク電流

又は dU/dt

外形寸法

*

定格電圧と異なる場合。

表 2A−定格交流電流と組み合わせた定格交流電圧並びに定格静電容量及び外形寸法(適用する場合)

定格交流電圧  (U

R

)

定格交流電流

定格静電容量

nF

又は µF

外形寸法

定格静電容量

nF

又は µF

外形寸法

注記  その他の表現でもよい。

1.3A

交流実効電流特性(適用する場合)

JIS C 5101-17

の 1.4.3.2 に基づき

図 の様式で記載する。

注記

適用する場合とは,適用可能な場合に試験を適用することを示す。

図 1−交流実効電流特性

1.3B

特殊な特性(適用する場合)

JIS C 5101-17

の 1.4.3.3 に基づき表などで記載する。

注記

適用する場合とは,適用可能な場合に試験を適用することを示す。

1.4

引用規格

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。この引用




温 度 ( ℃ )

100

%


5

C 5101-17-1

:2009 (IEC 60384-17-1:2005)

規格は,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。

)には適用しない。

JIS C 5101-17 

: 2009

  電子機器用固定コンデンサ−第

17

部:品種別通則:固定メタライズドポリプロ

ピレンフィルム交流及びパルスコンデンサ

注記

対応国際規格:IEC 60384-17 

: 2005

Fixed capacitors for use in electronic equipment

Part 17 :

Sectional specification:Fixed metallized polypropylene film dielectric a.c. and pulse capacitors (IDT)

1.5

表示

コンデンサの本体及び包装への表示は,品種別通則 JIS C 5101-17 の 1.6 による。

注記

コンデンサの本体及び包装への表示の詳細は,個別規格に規定する。

1.6

発注情報

この規格のコンデンサの発注情報には,明りょうな文字又は記号によって,少なくとも次の事項を規定

する。

a

)

定格静電容量

b

)

定格静電容量の許容差

c

)

定格交流電圧及び周波数が

50 Hz

又は

60 Hz

と異なる場合は,その周波数(適用する場合)

d

)

定格電圧,パルスこう配又はピーク電流(適用する場合)

e

)

定格交流電流及び適用周波数(適用する場合)

f

)

個別規格の番号及び版並びに種類

g

)

性能等級及び安定性等級(必要な場合)

h

)

製造業者の形名又は個別規格に記載する形名

注記

適用する場合とは,適用可能な場合に試験を適用することを示す。

1.7

出荷対象ロットの成績証明書

成績証明書を要求する場合又は要求しない場合。

注記

顧客からの成績証明書要求の有無を記載する。

1.8

追加情報(非検査目的)

注記

検査目的以外の追加情報がある場合に記載する。

1.9

品目別通則及び/又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項

注記

追加又はより厳しい要求事項は,不可欠な場合にだけ規定する(

表 参照)。

表 3−その他の特性

この表は,品種別通則 JIS C 5101-17 の規定への追加又は

より厳しい性能を規定するために使用する。 

2

検査要求事項

2.1

手順

2.1.1

品質認証の手順は,品種別通則 JIS C 5101-17 の 3.4 による。

2.1.2

品質確認検査の試験計画(

表 4)は,抜取方法,周期,厳しさ及び要求性能を示す。検査ロットの

構成は,品種別通則 JIS C 5101-17 の 3.5.1 による。


6

C 5101-17-1

:2009 (IEC 60384-17-1:2005)

表 4−品質確認検査の試験計画−評価水準 及び EZ

試料数及び合格判定数

c

)

評価水準

E

評価水準

EZ

細分箇条番号

及び試験項目

a

)

D

又は

ND

 c)

試験条件

a

)

IL

AQL

n c 

要求性能

a

)

群 検査(ロットごと) 
副群 A0 
4.2.2

  静電容量

4.2.3

  誘電正接 (tan

δ)

4.2.1

  耐電圧(試験 A)

4.2.4

  絶縁抵抗(試験 A)

ND

周波数:1 kHz(す

べての静電容量
範囲に適用)

方法:…

測定点:1a)

測定点:1a)

100

  g)

規定の許容差による。

4.2.3.2

による。

絶縁破壊又はフラッシ

オーバがない。ただ
し,一時的瞬時破壊は
あってもよい。

4.2.4.2

による。

副群 A1 
4.1

  外観

4.1

  寸法(ゲージ法)

ND

S-3

2.5

b

)

0

4.1

による。

表示は明りょうとし,そ

の他はこの規格の 1.5

による。

この規格の

表 による。

副群 A2 
4.2.2

  静電容量

4.2.3

  誘電正接 (tan

δ)

4.2.1

  耐電圧(試験 A)

4.2.4

  絶縁抵抗(試験 A)

ND

方法:…

方法:…

S-3

1.0

b

)

0

規定の許容差による。

4.2.3.2

による。

絶縁破壊又はフラッシ

オーバがない。

4.2.4.2

による。

群 検査(ロットごと) 
副群 B1 
4.5

  はんだ付け性

4.15

  表示の耐溶剤性

(適用する場合)

    h

)

ND

エージングは行わ

ない。

方法:…

溶剤:… 
溶剤の温度:…

方法 1 
ラビングの材料:…
後処理時間:…

S-3

2.5

b

)

0

端子にはんだが良好に

付着しているか又は

はんだ小球法の場合,
…s 以内にはんだが流
れる。

表示は明りょうとする。


7

C 5101-17-1

:2009 (IEC 60384-17-1:2005)

表 4−品質確認検査の試験計画−評価水準 及び EZ(続き)

試料数及び合格判定数

c

)

評価水準

E

評価水準

EZ

細分箇条番号

及び試験項目

a

)

D

又は

ND

 c)

試験条件

a

)

p

n

p

n

c

要求性能

a

)

群 検査(定期的)

副群 C1A 
副群 C1 の試料の一部 
4.1

  寸法(詳細)

4.3.1

  初期測定

4.3

  端子強度

4.4

  はんだ耐熱性

4.4.2

  最終測定

4.14

  部品の耐溶剤性

(適用する場合)

    h)

D

静電容量

誘電正接 (tan

δ)

  C

R

>1µF :    1 kHz

  C

R

≦1µF : 10 kHz

外観 
方法:… 
後処理時間:…

外観

静電容量

誘電正接 (tan

δ)

溶剤:… 
溶剤の温度:… 
方法 2:…

後処理時間:…

6

9

1

1

6

5

0

個別規格の規定による。

外観に損傷がない。

外観に損傷がない。

表示は明りょうとする。

4.3.1

の測定値に対する

  │

Δ C/C│は,

  等級 1.1:≦1  % 
  等級 1.2:≦2  % 
  等級 2  :≦3  %

tan

δの増加は 4.3.1 の測

定値に対して

C

R

≦1 µF

  等級 1.1:≦0.001 
  等級 1.2:≦0.002 
  等級 2  :≦0.004

C

R

>1 µF:個別規格の規

定による。

個別規格の規定による。


8

C 5101-17-1

:2009 (IEC 60384-17-1:2005)

表 4−品質確認検査の試験計画−評価水準 及び EZ(続き)

試料数及び合格判定数

c

)

評価水準

E

評価水準

EZ

細分箇条番号

及び試験項目

a

)

D

又は

ND

 c)

試験条件

a

)

p

n

p

n

c

要求性能

a

)

副群 C1B 
副群 C1 の残りの試料 
4.6.1

  初期測定

4.6

  温度急変

4.7

  振動

4.7.2

  最終測定

4.8

  バンプ(又は 4.9 

撃)

4.9

  衝撃(又は 4.8 バン

プ)

D

静電容量 
誘電正接 (tan

δ)

  C

R

>1 µF :    1 kHz

  C

R

≦1 µF : 10 kHz

T

A

=カテゴリ下限温

T

B

=カテゴリ上限温

5

サイクル

時間 t

1

=30 min

外観

取付方法:この規格

の 1.1 による。

周波数範囲:

  …Hz∼…Hz 
振幅 0.75 mm 又は加

速度 100 m/s

2

(い

ずれか緩い方)

試験時間の合計:6 h
外観

取付方法:この規格

の 1.1 による。

バンプ回数:…

ピ ー ク 加 速 度 : …

m/s

2

作用時間:…ms

取付方法:この規格

の 1.1 による。

ピ ー ク 加 速 度 : …

m/s

2

作用時間:…ms

6

18

1

1

6

5

0

外観に損傷がない。

外観に損傷がない。


9

C 5101-17-1

:2009 (IEC 60384-17-1:2005)

表 4−品質確認検査の試験計画−評価水準 及び EZ(続き)

試料数及び合格判定数

c

)

評価水準

E

評価水準

EZ

細分箇条番号

及び試験項目

a

)

D

又は

ND

 c)

試験条件

a

)

p

n

p

n

c

要求性能

a

)

4.8.3

又は 4.9.3  最終測

外観

静電容量

誘電正接 (tan

δ)

絶縁抵抗

6

18

1

1

6

5

0

外観に損傷がない。

4.6.1

の測定値に対する

  │

Δ C/C│は,

  等級 1.1:≦1  %

  等級 1.2:≦2  % 
  等級 2  :≦3  %

tan

δの増加は 4.6.1 の測

定値に対して

C

R

≦1 µF

  等級 1.1:≦0.001

  等級 1.2:≦0.002 
  等級 2  :≦0.004

C

R

>1 µF:個別規格の規

定による。

4.2.4.2

の規定値の 50  %

以上

副群 C1 
副群 C1A と C1B とを合

わせた試料

4.10

  一連耐候性

4.10.2

  高温

4.10.3

  温湿度サイクル

試験 Db 最初のサイク

4.10.4

  低温

4.10.5

  減圧

(個別規格に規定があ

る場合)

D

温度:カテゴリ上限

温度

時間:16 h

温度:カテゴリ下限

温度

時間:2 h 
圧力:8 kPa

6

27

2

6

10

0


10

C 5101-17-1

:2009 (IEC 60384-17-1:2005)

表 4−品質確認検査の試験計画−評価水準 及び EZ(続き)

試料数及び合格判定数

c

)

評価水準

E

評価水準

EZ

細分箇条番号

及び試験項目

a

)

D

又は

ND

 c)

試験条件

a

)

p

n

c

p

n

c

要求性能

a

)

4.10.5.3

  中間測定

4.10.6

  温湿度サイクル

試験 Db 残りのサイク

4.10.6.2

  最終測定

外観

外観

静電容量

誘電正接 (tan

δ)

絶縁抵抗

6

27

2

6

10

0

永久破壊,フラッシオー

バ 又 は ケ ー ス の 有 害
な変形がない。

外観に損傷がない。

表示は明りょうとする。

4.4.2

4.8.3 又は 4.9.3 

測定値に対する

  │

Δ C/C│は,

  等級 1.1:≦1  % 
  等級 1.2:≦3  %

  等級 2  :≦5  %

tan

δの増加は 4.3.1 又は

4.6.1

の測定値に対し

C

R

≦1 µF

  等級 1.1:≦0.001 5

  等級 1.2:≦0.003 
  等級 2  :≦0.005

C

R

>1 µF:個別規格の規

定による。

4.2.4.2

の規定値の 50  %

以上

副群 C2 
4.11

  高温高湿(定常)

4.11.1

  初期測定

D

静電容量 
誘電正接 (tan

δ):

  1 kHz

6

15

1

6

10

0


11

C 5101-17-1

:2009 (IEC 60384-17-1:2005)

表 4−品質確認検査の試験計画−評価水準 及び EZ(続き)

試料数及び合格判定数

c

)

評価水準

E

評価水準

EZ

細分箇条番号

及び試験項目

a

)

D

又は

ND

 c)

試験条件

a

)

p

n

c

p

n

c

要求性能

a

)

4.11.3

  最終測定

D

外観

静電容量

誘電正接 (tan

δ)

絶縁抵抗

6

15

1

6

10

0

外観に損傷がない。

表示は明りょうとする。

4.11.1

の測定値に対する

Δ C/C│は,

  等級 1.1:≦1  % 
  等級 1.2:≦3  % 
  等級 2  :≦5  %

tan

δの増加は 4.11.1 の測

定値に対して

C

R

≦1 µF

  等級 1:≦0.001 
  等級 2:≦0.002

C

R

>1 µF:個別規格の規

定による。

4.2.4.2

の規定値の 50  %

以上

副群 C3A 
4.12.1

  50 Hz 又は 60 Hz

の交流電圧による耐
久性

  (適用する場合)

    h) 

4.12.1.1

  初期測定

4.12.1.3

  最終測定

D

時間

等級 1:2 000 h 
等級 2:1 000 h

静電容量 
誘電正接 (tan

δ)

  C

R

>1µF :    1 kHz

  C

R

≦1µF : 10 kHz

外観

静電容量

3

 d)

20

1

6

5

0

外観に損傷がない。 
表示は明りょうとする。

4.12.1.1

の測定値に対す

る│

Δ C/C│は,

  等級 1:≦ 5 %

  等級 2:≦10  %


12

C 5101-17-1

:2009 (IEC 60384-17-1:2005)

表 4−品質確認検査の試験計画−評価水準 及び EZ(続き)

試料数及び合格判定数

c

)

評価水準

E

評価水準

EZ

細分箇条番号

及び試験項目

a

)

D

又は

ND

 c)

試験条件

a

)

p

n

c

p

n

c

要求性能

a

)

誘電正接 (tan

δ)

絶縁抵抗

an

δの増加は 4.12.1.1 

測定値に対して

C

R

≦1 µF

  等級 1:≦0.001 5

  等級 2:≦0.003

C

R

>1 µF:

個別規格の規定による。

4.2.4.2

の規定値の 50  %

以上

副群 C3B 
4.12.2

  正弦波電流又は

正弦波電圧による耐

久性

  (適用する場合)

    h) 

4.12.2.1

  初期測定

4.12.2.3

  最終測定

D

時間 
  等級 1:2 000 h

  等級 2:1 000 h 
  周波数:…Hz 
静電容量

誘電正接 (tan

δ)

  C

R

>1 µF :    1 kHz

  C

R

≦1 µF : 10 kHz

外観

静電容量

誘電正接 (tan

δ)

絶縁抵抗

3

 d)

5

1

 e)

6

5

0

外観に損傷がない。 
表示は明りょうとする。

4.12.2.1

の測定値に対す

る│

Δ C/C│は

  等級 1:≦ 5 % 
  等級 2:≦10  %

tan

δの増加は 4.12.2.1 

測定値に対して

C

R

≦1 µF

  等級 1:≦0.001 5 
  等級 2:≦0.003

C

R

>1 µF:個別規格の規

定による。

4.2.4.2

の規定値の 50  %

以上


13

C 5101-17-1

:2009 (IEC 60384-17-1:2005)

表 4−品質確認検査の試験計画−評価水準 及び EZ(続き)

試料数及び合格判定数

c

)

評価水準

E

評価水準

EZ

細分箇条番号

及び試験項目

a

)

D

又は

ND

 c)

試験条件

a

)

p

n

c

p

n

c

要求性能

a

)

副群 C3C 
4.12.3

  パルスによる耐

久性(適用する場合)

f

h)

4.12.3.1

  初期測定

4.12.3.3

  最終測定

D

試験時間:1 000 h 
パルス周波数:…Hz
放電時定数:

4.12.3.2

による

印加ピーク電圧は,

定格ピーク電圧と

同じ

(この規格の

表 2

静電容量 
誘電正接 (tan

δ)

  C

R

>1 µF :    1 kHz

  C

R

≦1 µF : 10 kHz

外観

静電容量

誘電正接 (tan

δ)

絶縁抵抗

3

 d)

5

1

 e)

6

5

0

外観に損傷がない。 
表示は明りょうとする。

4.12.3.1

の測定値に対す

る│

Δ C/C│は,

  等級 1:≦ 5 %

  等級 2:≦10  %

tan

δの増加は 4.12.3.1 

測定値に対して

C

R

≦1 µF

  等級 1:≦0.001 5 
  等級 2:≦0.003

C

R

>1 µF:個別規格の規

定による。

4.2.4.2

の規定値の 50  %

以上

副群 C4 
4.2.6

  温度特性

  (適用する場合)

    h) 

D

静電容量 
絶縁抵抗

3

9

1

6

10

0

4.2.6

による。


14

C 5101-17-1

:2009 (IEC 60384-17-1:2005)

表 4−品質確認検査の試験計画−評価水準 及び EZ(続き)

試料数及び合格判定数

c

)

評価水準

E

評価水準

EZ

細分箇条番号

及び試験項目

a

)

D

又は

ND

 c)

試験条件

a

)

p

n

c

p

n

c

要求性能

a

)

4.13

  充放電(パルスに

よる耐久性試験を適
用する場合には行わ
ない。

4.13.1

  初期測定

4.13.3

  最終測定

静電容量 
誘電正接 (tan

δ)

  C

R

>1 µF : 1 kHz

  C

R

≦1 µF : 10 kHz

充電時間:…s 
放電時間:…s

静電容量

誘電正接 (tan

δ)

絶縁抵抗

4.13.1

の測定値に対する

  │

Δ C/C│は

  等級 1.1:≦1  %

  等級 1.2:≦3  % 
  等級 2  :≦5  %

tan

δの増加は 4.13.1 の測

定値に対して

C

R

≦1 µF

  等級 1:≦0.003

  等級 2:≦0.005

C

R

>1 µF:個別規格の規

定による。

4.2.4.2

の規定値の 50  %

以上

副群 C5 
4.2.5

  インダクタンス

(適用する場合)

    h) 

ND

12

6

1

6

10

0

L

≦…mH


15

C 5101-17-1

:2009 (IEC 60384-17-1:2005)

表 4−品質確認検査の試験計画−評価水準 及び EZ(続き)

a

)

細分箇条番号及び試験項目並びに要求性能は,品種別通則 JIS C 5101-17 及びこの規格の箇条 による。

b

)

試料数  (n)  は,JIS Z 9015-1 に規定する

付表 1[サンプル(サイズ)文字]に従い,付表 2-A[なみ検査の 1

回抜取方式(主抜取表)

]のサンプル文字に対応する試料数とする。

c

)

この表の記号は,次による。

p

:  検査周期(月)

n

:  試料数

c

:  合格判定数(許容不適合数)

D

:  破壊試験

 ND

:  非破壊試験

 IL

:  検査水準

 AQL

:  合格品質限界

d

)

二つ以上の耐久性試験の場合は,個別規格は,一つの耐久性試験だけが 3 か月ごとに行われるような方法に

試験周期を変更してもよい。

e

)

  1

個の不適合が生じた場合,2 度目の試験は行えるが,不適合は許されない。

f

)

個別規格には,4.12.2 及び 4.12.3 のいずれか又は両方の耐久性試験を規定してもよい。

g

)

この検査は,工程でロット内の全数から不適合品を取り除いた後に行う抜取試料による検査である。抜取水
準は,部品製造業者が設定する。検査ロットの合否にかかわらず,ppm で示す出荷品質水準を監視するため
に抜取試料をすべて検査する。

抜取試料中に 1 個以上の不適合品を発見した場合には,このロットは不合格とするが,不適合品は,品質

水準を算出するためにすべて数える。ppm で示す出荷品質水準は,累積した検査データによって算出する。

h

)

適用する場合とは,適用可能な場合に試験を適用することを示す。