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C 5201-1

:2011

(1)

目  次

ページ

序文

1

1

  一般事項

1

1.1

  適用範囲

1

1.2

  引用規格

1

2

  技術的なデータ

4

2.1

  単位及び記号

4

2.2

  用語及び定義

4

2.3

  推奨値

8

2.4

  表示

8

2.5

  記号化

9

2.6

  包装

9

2.7

  保存

9

2.8

  輸送

9

3

  品質評価手順

9

4

  試験及び測定手順

9

4.1

  一般事項

9

4.2

  標準大気条件

10

4.3

  乾燥

10

4.4

  外観検査及び寸法検査

11

4.5

  抵抗値

11

4.6

  絶縁抵抗

11

4.7

  耐電圧

13

4.8

  温度による抵抗値変化

14

4.9

  リアクタンス

15

4.10

  非直線性

16

4.11

  電圧係数

17

4.12

  雑音

17

4.13

  短時間過負荷

17

4.14

  温度上昇

17

4.15

  抵抗体強度

18

4.16

  端子強度

18

4.17

  はんだ付け性

19

4.18

  はんだ耐熱性

20

4.19

  温度急変

21

4.20

  バンプ

21


C 5201-1

:2011  目次

(2)

ページ

4.21

  衝撃

21

4.22

  振動

22

4.23

  一連耐候性

22

4.24

  高温高湿(定常)

23

4.25

  耐久性

24

4.26

  偶発的過負荷試験

27

4.27

  単パルス高電圧過負荷試験

28

4.28

  周期的パルス高電圧過負荷試験

30

4.29

  部品の耐溶剤性

32

4.30

  表示の耐溶剤性

32

4.31

  表面実装用抵抗器の取付け

33

4.32

  固着性

35

4.33

  耐プリント板曲げ性

35

4.34

  耐食性

36

4.35

  耐炎性

36

4.36

  低温動作

36

4.37

  高温高湿(加速)

36

4.38

  静電気放電

37

4.39

  断続過負荷試験

37

4.40

  ウィスカ試験

38

4.41

  硫化試験

38

附属書 A(規定)IEC 電子部品品質認証制度(IECQ)に用いる場合の IEC 60410 の抜取計画及び手順の

説明

39

附属書 B(規定)IEC 電子部品品質認証制度(IECQ)に用いる場合の電子機器用コンデンサ及び抵抗器

の個別規格を作成するための規則

40

附属書 C(参考)周期的パルス高電圧過負荷試験の試験装置例

41

附属書 D(規定)IEC 電子部品品質認証制度(IECQ)に用いる場合の PCP/CQC 仕様書の最初のページ

のレイアウト

42

附属書 E(規定)IEC 電子部品品質認証制度(IECQ)に用いる場合の能力認証試験報告書の要求事項 ·

43

附属書 F(参考)文字記号及び略語

44

附属書 G(参考)試験及び測定手順の索引表

46

附属書 Q(規定)IEC 電子部品品質認証制度(IECQ)に用いる場合の品質評価手順

48

附属書 JA(参考)形名及び表示

57

附属書 JB(参考)固定抵抗器の非直線性測定方法

65

附属書 JC(参考)固定抵抗器の電流雑音測定方法

74

附属書 JD(参考)JIS と対応国際規格との対比表

82


C 5201-1

:2011

(3)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 14 条によって準用する第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人電子情報

技術産業協会(JEITA)及び財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を改

正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格であ

る。

これによって,JIS C 5201-1:1998 は改正され,この規格に置き換えられた。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

JIS C 5201

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS

C

5201-1

  第 1 部:品目別通則

JIS

C

5201-2

  第 2 部:品種別通則:低電力非巻線固定抵抗器

JIS

C

5201-2-1

  第 2 部:ブランク個別規格:低電力非巻線固定抵抗器  評価水準 E

JIS

C

5201-2-2

  第 2 部:ブランク個別規格:低電力非巻線固定抵抗器  評価水準 F

JIS

C

5201-4

  第 4 部:品種別通則:電力形固定抵抗器

JIS

C

5201-4-1

  第 4 部:ブランク個別規格:電力形固定抵抗器  評価水準 E

JIS

C

5201-4-2

  第 4 部:ブランク個別規格:電力形固定抵抗器  評価水準 F

JIS

C

5201-4-3

  第 4 部:ブランク個別規格:電力形固定抵抗器,ヒートシンク付き  評価水準 H

JIS

C

5201-5

  第 5 部:品種別通則:精密級固定抵抗器

JIS

C

5201-5-1

  第 5 部:ブランク個別規格:精密級固定抵抗器  評価水準 E

JIS

C

5201-5-2

  第 5 部:ブランク個別規格:精密級固定抵抗器  評価水準 F

JIS

C

5201-6

  第 6 部:品種別通則:個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器

JIS

C

5201-6-1

  第 6 部:ブランク個別規格:個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器  同一抵抗値及

び同一定格電力  評価水準 E

JIS

C

5201-6-2

  第 6 部:ブランク個別規格:個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器  異種抵抗値又

は異種定格電力  評価水準 E

JIS

C

5201-8

  第 8 部:品種別通則:チップ固定抵抗器

JIS

C

5201-8-1

  第 8 部:ブランク個別規格:チップ固定抵抗器  評価水準 E

JIS

C

5201-9

  第 9 部:品種別通則:個別測定可能な表面実装用固定ネットワーク抵抗器

JIS

C

5201-9-1

  第 9-1 部:ブランク個別規格:個別測定可能な表面実装用固定ネットワーク抵抗器−

評価水準 EZ


C 5201-1

:2011  目次

(4)

白      紙


日本工業規格

JIS

 C

5201-1

:2011

電子機器用固定抵抗器−第 1 部:品目別通則

Fixed resistors for use in electronic equipment-Part 1: Generic specification

序文

この規格は,2008 年に第 4 版として発行された IEC 60115-1 を基とし,IEC 60068-2-1(低温試験)及び

IEC 60068-2-2

(高温試験)の最新版への対応が反映されなかったため,これに対応するように技術的内容

を変更して作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。変更の一

覧表をその説明を付けて,

附属書 JD に示す。また,附属書 JA∼附属書 JC は,対応国際規格にはない事

項である。

1

一般事項

1.1

適用範囲

この規格は,品目別通則であり,電子機器用固定抵抗器(以下,抵抗器という。

)に適用する。

この規格は,電子部品の品質認証又はその他の認証において,品種別通則及び個別規格で用いる用語,

検査手順及び試験方法を規定する。

注記  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 60115-1:2008

,Fixed resistors for use in electronic equipment−Part 1: Generic specification

(MOD)

なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,

“修正している”

ことを示す。

1.2

引用規格

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。

は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 0025:1988

  環境試験方法(電気・電子)温度変化試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-14:1984,Environmental testing−Part 2: Tests−Test  N:  Change  of

temperature 及び Amendment 1:1986 並びに IEC 60068-2-33:1971,Environmental testing−Part 2:

Tests. Guidance on change of temperature tests 及び Amendment 1:1978(全体評価:MOD)

JIS C 0617

(規格群)  電気用図記号

注記  対応国際規格:IEC 60617 (all parts),Graphical symbols for diagrams(MOD)

JIS C 0806

(規格群)  自動実装部品の包装

注記  対応国際規格:IEC 60286 (all parts),Packaging of components for automatic handling(MOD)


2

C 5201-1

:2011

JIS C 5005-2

  品質評価システム−第 2 部:電子部品及び電子パッケージのための抜取検査方式の選択

及び活用(統計的工程品質限界の評価手順)

注記  対応国際規格:IEC 61193-2:2007,Quality assessment systems−Part 2: Selection and use of

sampling plans for inspection of electronic components and packages(IDT)

JIS C 5062

  抵抗器及びコンデンサの表示記号

注記  対応国際規格:IEC 60062:2004,Marking codes for resistors and capacitors(MOD)

JIS C 5063

  抵抗器及びコンデンサの標準数列

注記  対応国際規格:IEC 60063:1963,Preferred number series for resistors and capacitors 並びに

Amendment 1:1967 及び Amendment 2:1977(IDT)

JIS C 6484:2005

  プリント配線板用銅張積層板−耐燃性ガラス布基材エポキシ樹脂

注記  対応国際規格:IEC 61249-2-7:2002,Materials for printed boards and other interconnecting

structures−Part 2-7: Reinforced base materials clad and unclad−Epoxide woven E-glass laminated

sheet of defined flammability (vertical burning test), copper-clad,及び IEC 61249-2-8:2003,

Materials for printed boards and other interconnecting structures − Part 2-8: Reinforced base

materials clad and unclad−Modified brominated epoxide woven fibreglass reinforced laminated

sheets of defined flammability (vertical burning test), copper-clad(全体評価:MOD)

JIS C 60068-1:1993

  環境試験方法−電気・電子−通則

注記  対応国際規格:IEC 60068-1:1988,Environmental testing−Part 1: General and guidance 及び

Amendment 1:1992(IDT)

JIS C 60068-2-1

  環境試験方法−電気・電子−第 2-1 部:低温(耐寒性)試験方法(試験記号:A)

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-1:2007,Environmental testing−Part 2-1: Tests−Test A: Cold(IDT)

  なお,対応国際規格 IEC 60115-1 では IEC 60068-2-1:1994 を引用しているが,この規格で

は最新版を適用した。

JIS C 60068-2-2

  環境試験方法−電気・電子−第 2-2 部:高温(耐熱性)試験方法(試験記号:B)

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-2:2007,Environmental testing−Part 2-2: Tests−Test B: Dry heat

(IDT)

  なお,対応国際規格 IEC 60115-1 では IEC 60068-2-2:1994 を引用しているが,この規格で

は最新版を適用した。

JIS C 60068-2-6

  環境試験方法−電気・電子−第 2-6 部:正弦波振動試験方法(試験記号:Fc)

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-6:2007,Environmental testing−Part 2-6: Tests−Test Fc: Vibration

(sinusoidal)(IDT)

JIS C 60068-2-11:1989

  環境試験方法(電気・電子)塩水噴霧試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-11:1981,Environmental testing−Part 2: Tests−Test Ka: Salt mist

(IDT)

JIS C 60068-2-13:1989

  環境試験方法(電気・電子)減圧試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-13:1983,Environmental testing−Part 2: Tests−Test M: Low air

pressure(IDT)

JIS C 60068-2-20

  環境試験方法−電気・電子−第 2-20 部:試験−試験 T−端子付部品のはんだ付け

性及びはんだ耐熱性試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-20:2008,Environmental testing−Part 2-20: Tests−Test T: Test


3

C 5201-1

:2011

methods for solderability and resistance to soldering heat of devices with leads(IDT)

  なお,対応国際規格 IEC 60115-1 では IEC 60068-2-20:1987 を引用しているが,この規格で

は最新版を適用した。

JIS C 60068-2-21

  環境試験方法−電気・電子−第 2-21 部:試験−試験 U:端子強度試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-21:2006,Environmental testing−Part 2-21: Tests−Test U: Robustness

of terminations and integral mounting devices(IDT)

JIS C 60068-2-27

  環境試験方法−電気・電子−衝撃試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-27:2008,Environmental testing−Part 2-27: Tests−Test Ea and

guidance: Shock(IDT)

JIS C 60068-2-29:1995

  環境試験方法−電気・電子−バンプ試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-29:1987,Environmental testing−Part 2: Tests−Test Eb and guidance:

Bump(IDT)

JIS C 60068-2-30

  環境試験方法(電気・電子)温湿度サイクル(12+12 時間サイクル)試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-30:2005,Environmental testing−Part 2-30: Tests−Test Db: Damp

heat, cyclic (12 h+12 h cycle)(IDT)

JIS C 60068-2-45:1995

  環境試験方法−電気・電子−耐溶剤性(洗浄溶剤浸せき)試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-45:1980,Environmental testing−Part 2: Tests−Test XA and guidance:

Immersion in cleaning solvents 及び Amendment 1:1993(IDT)

JIS C 60068-2-54:2009

  環境試験方法−電気・電子−はんだ付け性試験方法(平衡法)

注記  対 応 国 際 規 格 : IEC 60068-2-54:2006 , Environmental testing − Part 2-54: Tests − Test Ta:

Solderability testing of electronic components by the wetting balance method(MOD)

JIS C 60068-2-58:2006

  環境試験方法−電気・電子−表面実装部品(SMD)のはんだ付け性,電極の

耐はんだ食われ性及びはんだ耐熱性試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-58:2004,Environmental testing−Part 2-58: Tests−Test Td: Test

methods for solderability, resistance to dissolution of metallization and to soldering heat of surface

mounting devices (SMD)(MOD)

JIS C 60068-2-67:2001

  環境試験方法−電気・電子−基本的に構成部品を対象とした高温高湿,定常

状態の促進試験

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-67:1995,Environmental testing−Part 2: Tests−Test Cy: Damp heat,

steady state, accelerated test primarily intended for components(IDT)

JIS C 60068-2-69

  環境試験方法−電気・電子−第 2-69 部:試験−試験 Te:表面実装部品(SMD)の

はんだ付け性試験方法(平衡法)

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-69,Environmental testing−Part 2-69: Tests−Test Te: Solderability

testing of electronic components for surface mounting devices (SMD) by the wetting balance method

(IDT)

JIS C 60068-2-78:2004

  環境試験方法−電気・電子−第 2-78 部:高温高湿(定常)試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-78:2001,Environmental testing−Part 2-78: Tests−Test Cab: Damp

heat, steady state(IDT)

JIS C 60068-2-82

  環境試験方法−電気・電子−第 2-82 部:試験−試験 XW

1

:電気・電子部品のウィ

スカ試験方法


4

C 5201-1

:2011

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-82:2007,Environmental testing−Part 2-82: Tests−Test XW

1

: Whisker

test methods for electronic and electric components(IDT)

JIS C 60695-11-5:2007

  耐火性試験−電気・電子−第 11-5 部:試験炎−ニードルフレーム(注射針バ

ーナ)試験方法−装置,試験炎確認試験装置の配置及び指針

注記  対応国際規格:IEC 60695-11-5:2004,Fire hazard testing−Part 11-5: Test flames−Needle-flame

test method−Apparatus, confirmatory test arrangement and guidance(IDT)

JIS C 61340-3-1

  静電気−第 3-1 部:静電気の影響をシミュレーションする方法−人体モデル(HBM)

の静電気放電試験波形

注記  対 応 国 際 規 格 : IEC 61340-3-1:2006 , Electrostatics − Part 3-1: Methods for simulation of

electrostatic effects−Human body model (HBM) electrostatic discharge test waveforms(IDT)

JIS Z 8115

  ディペンダビリティ(信頼性)用語

JIS Z 8203

  国際単位系(SI)及びその使い方

注記  対応国際規格:ISO 1000:1992,SI units and recommendations for the use of their multiples and of

certain other units(IDT)

IEC 60027 (all parts)

,Letter symbols to be used in electrical technology

IEC 60050 (all parts)

,International Electrotechnical Vocabulary

IEC 60060-1:1989

,High-voltage test techniques−Part 1: General definitions and test requirements

IEC 60195:1965

,Method of measurement of current noise generated in fixed resistors

IEC 60294:1969

,Measurement of the dimensions of a cylindrical component having two axial terminations

IEC 60410:1973

,Sampling plans and procedures for inspection by attributes

注記  対応日本工業規格:JIS Z 9015-1  計数値検査に対する抜取検査手順−第 1 部:ロットごと

の検査に対する AQL 指標型抜取検査方式(MOD)

IEC/TR 60440:1973

,Method of measurement of non-linearity in resistors

IEC QC 001002-3:2005

,IEC Quality Assessment System for Electronic Components (IECQ)−Rules of

procedure−Part 3: Approval procedures

2

技術的なデータ

2.1

単位及び記号

単位,図記号及び文字記号は,できるだけ次の規格の中から引用する。

−  JIS C 0617

規格群)

−  JIS Z 8203

−  IEC 60027

規格群)

−  IEC 60050

規格群)又は JIS Z 8115

これらの規格に規定していない用語が必要となった場合は,上記の規格の原則に従って用いる。

2.2

用語及び定義

この規格で用いる主な用語は,次の定義による。

注記  ここに記載した用語の掲載順は,アルファベット順である。

2.2.1

カテゴリ電力(category dissipation

個別規格にてカテゴリ上限温度で規定した電力。個別規格に規定する軽減曲線から求める。


5

C 5201-1

:2011

注記 1  抵抗器のカテゴリ電力は,通常ゼロとなる。ここで,カテゴリ上限温度は,素子最高温度と

なる。

注記 2  関連用語:定格電力,カテゴリ上限温度及び軽減曲線

2.2.2

カテゴリ温度範囲(category temperature range

設計上,抵抗器を連続的に使用できる周囲温度範囲。カテゴリ下限温度とカテゴリ上限温度とによって

規定する。

注記  関連用語:カテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度

2.2.3

臨界抵抗値(critical resistance

定格電圧が素子最高電圧に等しくなる抵抗値(2.2.18 及び 2.2.11 参照)

注記 1  周囲温度 70  ℃で抵抗器の両端に印加できる最大電圧は,抵抗値が臨界抵抗値よりも低い場

合には,計算によって算出した定格電圧とし,また,抵抗値が臨界抵抗値に等しいか又は高

い場合には,素子最高電圧とする。周囲温度 70  ℃以外の場合は,軽減曲線によって求めた

電力から算出した値とする。ただし,素子最高電圧を超えない。

注記 2  関連用語:定格電圧及び素子最高電圧

2.2.4

軽減曲線(derating curve

カテゴリ上限温度とカテゴリ下限温度との間の周囲温度における最大許容電力を示す曲線。

注記 1  カテゴリ下限温度と定格温度との間では,定格電力を示し,定格温度と素子最高温度との間

では,素子最高温度でゼロ電力になる直線的な傾斜になる。この傾斜は,周囲への熱放散能

力など抵抗器の熱特性に依存する。

注記 2  関連用語:定格電力,定格温度及び素子最高温度

2.2.5

ファミリ(電子部品の)[familyof electronic components)]

主として固有の物理的性質を表し,及び/又は規定する機能を満たす電子部品のグループ。

注記  関連用語:サブファミリ

2.2.6

等級(grade

長寿命用途など,使用上に関する一般特性を示すための用語。

注記 1  この用語“等級”は,長寿命用途などのように,一つ又は幾つかの語を組み合わせて表し,

一つの文字又は数字によって表してはならない。

注記 2  関連用語:安定性クラス

2.2.7

ヒートシンク抵抗器(heat-sink resistor

ヒートシンクを介して取り付けるように設計した抵抗器。

注記  関連用語:絶縁形抵抗器

2.2.8

絶縁形抵抗器(insulated resistor

耐電圧及び絶縁抵抗試験の要求事項を満足し,高温高湿(定常)試験を,金属の取付板に取り付け,直


6

C 5201-1

:2011

流電圧を印加して行う抵抗器。

注記  関連用語:ヒートシンク抵抗器

2.2.9

絶縁抵抗(insulation resistance

抵抗器の端子を一括したものと絶縁された容器及び取付金具との間で測定した抵抗値。

注記  関連用語:絶縁形抵抗器

2.2.10

絶縁電圧(insulation voltage

連続動作状態で抵抗器の端子を一括したものと取付金具との間に印加できる最高ピーク電圧。

注記  関連用語:絶縁形抵抗器

2.2.11

素子最高電圧(limiting element voltage

抵抗器の端子間に連続して印加できる最高の d.c.又は a.c.電圧の実効値(それは通常,抵抗器の寸法及び

製造技術に依存する。

注記 1  この規格での“a.c.電圧の実効値”の場合のピーク電圧は,実効値の 1.42 倍を超えないこと

が望ましい。

注記 2  この電圧は,臨界抵抗値以上の抵抗器だけに適用する。

注記 3  関連用語:定格電圧及び臨界抵抗値

2.2.12

カテゴリ下限温度[lower category temperatureLCT)]

設計上,抵抗器を連続的に使用できる最低周囲温度。

注記  関連用語:カテゴリ上限温度及びカテゴリ温度範囲

2.2.13

素子最高温度(maximum element temperature

使用状態で許容できる抵抗器の任意の点での規定の最高温度。

注記 1  素子最高温度は,定格温度と定格電力印加によって発生する温度上昇との和である。定格温

度を超えた周囲温度においては,素子最高温度は周囲温度と軽減曲線で規定した定格許容損

失との和である。

注記 2  関連用語:最高表面温度

2.2.14

最高表面温度(maximum surface temperature

周囲温度 70  ℃で,定格電力を連続して印加したときに許容できる抵抗器表面の最高温度。

注記  関連用語:素子最高温度

2.2.15

公称抵抗値(nominal resistance

抵抗器をその抵抗値をもつように設計し,通常,抵抗器に表示する抵抗値。

2.2.16

定格電力(rated dissipation

周囲温度 70  ℃での耐久性試験で,抵抗値変化が規定値を超えない条件での最高許容電力。

注記 1  定格電力は,周囲への熱放散をもたらす特殊な回路基板材料,特別な導体寸法,ヒートシン


7

C 5201-1

:2011

クなどの環境に依存するので,定格電力について言及するときにはその放熱環境の確認が必

要である。

注記 2  ヒートシンク抵抗器の定格電力は,基準ヒートシンクに取り付けたときの,周囲温度 25  ℃

での最大許容損失で規定する。ヒートシンク抵抗器の室温における耐久性試験での抵抗値変

化は,規定した値を超えない。

注記 3  関連用語:定格温度及び定格電圧

2.2.17

定格温度(rated temperature

この温度における耐久性試験の条件として規定した定格電力を,連続して印加することができる最高周

囲温度。関連する個別規格に規定がない場合には,この温度は 70  ℃である。

注記  関連用語:定格電力

2.2.18

定格電圧[rated voltageU

r

定格抵抗値と定格電力との積の平方根から求めた d.c.又は a.c.電圧の実効値。

注記 1  定格電圧は,臨界抵抗値よりも高い抵抗値に対して適用しないで,抵抗器の寸法及び構造に

よって規定している(2.2.11 参照)

注記 2  関連用語:定格電力及び素子最高電圧

2.2.19

安定性クラス(stability class

個々の試験において許容できる抵抗値変化の限界をあらかじめ定義する,安定性に関する要求を表す用

語。

注記 1  この用語(安定性クラス)は,カテゴリ上限温度での耐久性,70  ℃での 1 000 時間耐久性な

どの,典型的な長期試験に対する安定性要求を表す単純な番号の組合せで用いる。

注記 2  関連用語:等級

2.2.20

形式(style

一般に寸法的な要素に基づく品種の細分類。一般に,幾つかの異なる構造的な分類を含んでもよい。

注記  関連用語:品種

2.2.21

サブファミリ(電子部品の)[subfamilyof electronic components)]

ファミリの中で類似の技術的方法で製造する部品群。

注記  関連用語:ファミリ

2.2.22

表面実装用抵抗器(surface mount resistor

プリント回路上及びハイブリッド回路に使用するのに適した性質及び形状の端子をもつ小さな寸法の固

定抵抗器。

注記  関連用語:品種及び形式

2.2.23

抵抗温度係数[temperature coefficient of resistanceα)]

二つの規定の温度間の抵抗値の相対的変化を温度差で除した商。


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C 5201-1

:2011

注記 1  この用語の使用は,この変化が直線的であることを示すものではなく,また,このことを仮

定するものでもない。

注記 2  関連用語:温度による抵抗値変化

2.2.24

温度上昇[temperature riseTr)]

電力印加によって発生する抵抗器の表面又は内部の温度上昇。温度上昇は,周囲環境への熱放散能力な

どの抵抗器の放熱特性に依存する。

2.2.25

品種(type

同じ設計思想をもち,

品質認証及び品質評価試験で製造技術が類似であると分類した抵抗器のグループ。

抵抗器は,通常,一つの個別規格の中に含める。

注記 1  抵抗器が幾つかの個別規格に規定されていても,同一の品種に属する場合がある。したがっ

て,品質認証及び品質評価試験では,この場合は同一品種のものとして取り扱ってよい。

注記 2  実装用の附属物は,試験結果に顕著な影響を与えないので無視する。

注記 3  関連用語:形式

2.2.26

カテゴリ上限温度[upper category temperatureUCT)]

設計上,抵抗器を連続的に使用できる最高周囲温度。

注記 1  カテゴリ電力ゼロへ直線的に低下する軽減曲線をもつ抵抗器の場合には,カテゴリ上限温度

は素子最高温度と等しくなる。

注記 2  関連用語:カテゴリ下限温度及びカテゴリ温度範囲

2.2.27

温度による抵抗値変化(variation of resistance with temperature

抵抗温度係数で表す温度による抵抗値変化。

注記  関連用語:抵抗温度係数

2.2.28

外観の損傷(visible damage

意図した抵抗器の本来の使用目的を失うような目視による損傷。

2.2.29

抵抗電圧係数(voltage coefficient of resistance

印加電圧に起因する抵抗値の可逆的な変化。印加電圧に対する抵抗値変化の百分率で表す。

2.3

推奨値

2.3.1

一般事項

それぞれの品種別通則は,サブファミリに適した推奨値を規定する。公称抵抗値については,2.3.2 によ

る。

2.3.2

公称抵抗値の推奨値

公称抵抗値の推奨値は,JIS C 5063 に規定する標準数から選定する。

2.4

表示

表示に示す情報は,通常,次の項目から選択する。表示の優先順位は,次の項目の記載の順序による。

a)

公称抵抗値


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C 5201-1

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b)

公称抵抗値の許容差

c)

温度係数(適用可能な場合)

d)

製造年月(又は製造年週)

e)

個別規格の番号及び形式

f)

製造業者又は商標

抵抗器は,上記の a)及び b)を明瞭に表示し,残りの項目については,実状に応じて表示する。抵抗器表

面に表示する事項の重複は避ける。

抵抗器の包装容器には,上記の項目の全てを明瞭に表示する。

表示項目の追加は,混乱のない限り行ってもよい。

小形形状の抵抗器では,一般的に表示を行わない。しかし,何らかの表示を抵抗器に行う場合には,JIS 

C 5062

の箇条 に従って最低限,公称抵抗値を表示する。個別の要求は,個別規格の規定による。

2.5

記号化

抵抗値,許容差及び製造年月を記号化する場合には,JIS C 5062 の規定事項からその方法を選定する。

注記  形名の記号及び表示については,附属書 JA に記載する記号を用いてもよい。

2.6

包装

適用可能な場合には,品種別通則は,JIS C 0806 規格群から適切に選択した包装に関する情報を規定す

る。

2.7

保存

個別規格に規定がない場合には,保存条件は,次に示す限度を超えてはならない。

最高温度:  +40  ℃

最大相対湿度:75 %

抵抗器は,元々の包装状態で保存する。その他の要求事項は,個別規格の規定による。

2.8

輸送

輸送時の環境条件は,限られた時間であるが 2.7 の保存条件の限度を超える可能性がある。個別規格で,

適切な状態を規定する。

3

品質評価手順

この規格及び下位規格を IEC 電子部品品質認証制度(IECQ)のような総合的な品質評価制度を目的に

用いる場合は,

附属書 の関連する事項を適用する。

注記  箇条 の内容は,附属書 に規定する。この規格の前の版との関連を維持するために,箇条 3

の細分箇条番号は,次の例に示すように,

附属書 の番号に置き換えることができる。

3.1

→  Q.1

3.1.2

→  Q.1.2

4

試験及び測定手順

4.1

一般事項

品種別通則及び/又はブランク個別規格には,実施する試験項目,試験及び副群の前後に行う測定,並

びにそれらの実施する順序を規定する。各試験は,記載する順で行う。各試験における初期測定及び最終

測定の測定条件は,同じとする。

品質評価制度の中の国家規格が,品種別通則及びブランク個別規格と異なる試験方法を含む場合には,


10

C 5201-1

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それらの事項を全て規定する。

品種別通則及びブランク個別規格での規定値は,絶対値である。測定の不確かさを考慮した原則を適用

する(IEC QC 001002-3 の箇条 

附属書 参照)。

4.2

標準大気条件

4.2.1

測定及び試験のための標準大気条件(標準状態)

この規格の下位となる品種別通則,ブランク個別規格又は個別規格(以下,下位規格という。

)に規定が

ない場合には,全ての試験及び測定は,次に示す JIS C 60068-1 の 5.3 による標準状態で行う。

−  温度: 15

℃∼35  ℃

−  相対湿度: 25

%∼75 %

−  気圧: 86

kPa∼106 kPa

測定前に,抵抗器を測定温度の状態に,抵抗器全体がこの温度に到達するのに十分な時間放置する。通

常,試験の最後の後処理に規定する放置時間と同一の時間を適用する。

規定の温度以外で測定する場合には,必要に応じて,測定結果を規定する温度の値に補正する。測定器

の周囲温度は,試験報告書に記録する。判定に疑義が生じた場合には,判定温度(4.2.3 参照)の一つを用

いるか,この規格に規定するその他の条件を用いて再測定する。

試験を連続して行う場合には,

一つの試験の試験後の測定値を,

次の試験の試験前の測定値としてよい。

測定中,抵抗器は過度の通風,直射日光,その他測定誤差を与えるような環境にさらしてはならない。

4.2.2

後処理

下位規格に規定がない場合には,後処理は,標準試験状態(4.2.1 参照)に放置する。

後処理が厳密な管理状態を必要とする場合には,JIS C 60068-1 の 5.4.1 を適用する。

4.2.3

判定試験のための標準大気条件(判定状態)

判定試験のための標準大気条件は,JIS C 60068-1 の 5.2 から選定する(

表 参照)。

表 1−判定状態

温度

相対湿度

%

気圧

kPa

20±1 
23±1 
25±1 
27±1

63∼67 
48∼52 
48∼52 
63∼67

86∼106 
86∼106 
86∼106 
86∼106

4.2.4

標準基準大気条件(基準状態)

標準基準大気条件は,JIS C 60068-1 の 5.1 に規定する基準状態を適用する。

−  温度:20  ℃

−  気圧:101.3 kPa

4.3

乾燥

乾燥が規定されている場合には,測定に先立って,抵抗器を個別規格の規定によって次の

手順 又は手

順 II によって乾燥を行う。

手順 I

温度 55  ℃±2  ℃,相対湿度 20 %以下の槽内で 24 時間±4 時間

手順 II

温度 100  ℃±5  ℃の槽内で 96 時間±4 時間

抵抗器は,活性化アルミナ,シリカゲルなど適切な乾燥剤を用いたデシケータの中で冷却してもよい。

また,乾燥槽から取り出した後,規定の試験を開始するまでデシケータの中で保管してもよい。


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4.4

外観検査及び寸法検査

4.4.1

外観検査

抵抗器の状況,でき栄え及び仕上がりは,目視によって検査する。

表示は,目視によって判読できなければならない。また,個別規格の要求事項を満足する。

4.4.2

寸法(ゲージ法)

ゲージ法が適切とする個別規格に規定がある寸法を検査したとき,個別規格の規定値を満足する。

ゲージ法を適用する場合には,測定は,IEC 60294 の規定によって行う。

部品形状のひずみは,光学機器を用いて検査し,個別規格に規定した寸法と比較する。

寸法許容差の 10 %の確度を保証できる,十分な倍率と解像度をもつ光学機器を使用する。

4.4.3

寸法(詳細)

個別規格に規定する全ての寸法を検査する。規定値を満足する。

4.5

抵抗値

4.5.1

試験方法

抵抗値の測定は,抵抗素子の温度が測定中に感知できるほど上昇しないように低い直流電圧で,できる

だけ短時間に行う。判定に疑義がある場合には,

表 に規定の電圧を適用する。

表 2−測定電圧

公称抵抗値 R

測定電圧 

a)

V

R<10

  0.1

10≦R<100

  0.3

100≦R<1 k

  1

1 k≦R<10 k

  3

10 k≦R<100 k

10

100 k≦R<1 M

25

1 M≦R 50

注記 1  公称抵抗値が 10 Ω 未満の場合には,測定電圧は,抵抗器に印加する電

力が定格電力の 10 %以下になる値にする。ただし,0.1 V 以下にする。

注記 2  測定電圧は,素子最高電圧を超えない。 

a)

  許容差は,−10 %∼0 %とする。

測定方法の確度は,その全誤差が抵抗値許容差の 10 %を超えない。測定が一連の試験の一部を構成して

いる場合は,一連の試験で許容する最大変化の 10 %を超えない範囲で抵抗値変化を測定する。

抵抗器の測定箇所は,個別の品種別通則で規定する。

リード付き抵抗器に対しては,抵抗器本体からの距離を基準に規定する。

表面実装用抵抗器に対しては,抵抗値を測定する部品側面を基準とする。

測定の再現性が最も重要な問題である。試料を実装した場合は,接合はんだの影響などを排除して規定

する。

4.5.2

要求事項

20  ℃での抵抗値は,公称抵抗値の許容差内とする。

4.6

絶縁抵抗

この試験は,絶縁形抵抗器に適用する。

4.6.1

試験方法

関連の個別規格に規定する次に示す方法のうち一つを用いて試験を行う。取付金具がない抵抗器に関し


12

C 5201-1

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ては,V ブロック法が望ましい。

4.6.1.1

V

ブロック法

抵抗器を,その本体がブロックの端からはみ出さないような寸法の金属製 V ブロックの 90°の溝に固定

する。

加圧力は,抵抗器とブロックとの十分な接触を確実にするような力とする。また,この力は,抵抗器に

破壊又は損傷を与えないように選ぶ。

抵抗器は,次のように配置する。

−  円筒形抵抗器:抵抗値の中心軸から最も離れた端子がブロックの面の一つに最も近くなるように置く。

−  角形抵抗器:抵抗器の縁に最も近い端子がブロックの面の一つに最も近づくようにする。

−  リード線端子反対方向(アキシャルリード線端子)の円筒形及び角形抵抗器:本体から端子が出てい

る場所の中心ずれは無視する。

4.6.1.2

金属はく(箔)法

これは,取付金具がない抵抗器のための代替方法である。

金属はくを,抵抗器の本体の周りに密着して巻き付ける。

リード線端子反対方向(アキシャルリード線端子)以外の抵抗器は,金属はくの端面と各端子との間に

1 mm∼1.5 mm の間隔をあける。

リード線端子反対方向(アキシャルリード線端子)の抵抗器については,抵抗器の両端から少なくとも

5 mm はみ出すようにして,金属はくを抵抗器の本体全体の周りに巻き付ける。このとき,金属はくと端

子との間は,最低 1 mm の空間をあける。はくの端面は,抵抗器の両端で折り曲げない。

4.6.1.3

取付金具がある抵抗器の方法

抵抗器の取付面の全ての方向に 12.7 mm 以上広い金属板上(又は二つの金属板の間)に抵抗器を通常の

方法で取り付ける。

4.6.1.4

角形抵抗器の方法

試験は,抵抗器を

図 に示す方法で取り付けて行う。

スプリングによる加圧力は,個別規格に規定がなければ,1.0 N±0.2 N とする。金属ブロックの接触点

は,結果の再現性が得られるように中心に位置する。

図 1−表面実装用角形抵抗器の絶縁抵抗及び耐電圧の試験ジグ


13

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4.6.1.5

円筒形抵抗器の方法

試験は,抵抗器を

図 に示す方法で取り付けて行う。

スプリングによる加圧力は,個別規格に規定がない場合には,1.0 N±0.2 N とする。

試験ブロックの寸法 L

1

は,接触範囲が最低でも 0.5 mm を確保できるように選ぶ。

a)

  外観図 

b)

  詳細図 

図 2−表面実装用円筒形抵抗器の絶縁抵抗及び耐電圧の試験ジグ

4.6.2

測定条件

表面実装用抵抗器以外の全ての抵抗器の絶縁抵抗は,一方の極である接続された抵抗器の両端子と他方

の極である V ブロック,金属はく又は取付金属との間で測定する。測定電圧は,500 V 未満の絶縁電圧を

もつ抵抗器では 100 V±15 V d.c.,500 V 以上の絶縁電圧をもつ抵抗器では 500 V±50 V d.c.とする。

表面実装用抵抗器では,絶縁抵抗は

図 及び図 に示す試験点 A と試験点 B との間に 100 V±15 V の直

流電圧か又は絶縁電圧に等しい電圧で測定する(試験点 A が正極である。

電圧は,1 分間又は測定値が安定するまでの時間とする。絶縁抵抗は,その時間の終わりで読み取る。

4.6.3

要求事項

絶縁抵抗は,個別規格に規定の値以上とする。

4.7

耐電圧

4.7.1

試験方法


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C 5201-1

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個別規格の規定によって,4.6.1 に規定する方法の一つを用いて試験を行う。

取付金具がない抵抗器は,V ブロック法が望ましい。

4.7.2

試験条件

表面実装用抵抗器以外の全ての抵抗器については,試験電圧は,一方の極である接続した抵抗器の両端

子と他方の極である V ブロック,金属はく又は取付板との間に印加する。試験電圧は,交流(40 Hz∼60 Hz)

とし,約 100 V/s の割合でゼロから個別規格に規定するピーク値が絶縁電圧の 1.42 倍に相当する電圧まで

増加する。

規定の電圧値に到達してから 60 秒間±5 秒間,連続して印加する。

表面実装用抵抗器では,40 Hz∼60 Hz の交流電圧で,ピーク値が絶縁電圧の 1.42 倍に相当する電圧を

1

及び

図 に示す試験点 A と試験点 B との間に 60 秒間±5 秒間印加する。電圧は,約 100 V/s の割合で徐々

に印加する。

4.7.3

要求事項

絶縁破壊(例えば,漏れ電流 10 μA 以上)又はフラッシオーバがあってはならない。

4.8

温度による抵抗値変化

4.8.1

前処理

抵抗器は,4.3 

手順 又は手順 II を用い,下位規格の規定によって乾燥を行う。

4.8.2

測定温度

抵抗器は,次の温度に順番に保持するか又は下位規格の規定する温度に保持する。

a)

5

1

20

+

  ℃

b)

カテゴリ下限温度±3  ℃

c)

5

1

20

+

  ℃

d)

カテゴリ上限温度±2  ℃

e)

5

1

20

+

  ℃

4.8.3

測定手順

抵抗値の測定は,4.8.2 に規定のそれぞれの温度で,抵抗器が温度安定に到達した後に行う。

温度安定状態の判定は,5 分間以上の間隔で測定した抵抗値の変化が,測定器の確度以内であるかどう

かによって行う。

測定時の抵抗器の温度を記録する。温度測定の誤差は,1  ℃以内とする。

4.8.4

抵抗温度係数αの算出方法

20  ℃及び 4.8.2 に規定の各温度間での抵抗温度係数(α)は,次の式によって算出する。

6

10

×

Δ

×

Δ

=

T

R

R

α

ここに,

α: 抵抗温度係数。1 K 当たりの百万分率(10

6

/K)で表す。

ΔT: 基準温度と規定した周囲温度との間の代数差(K)

ΔR: 規定した二つの周囲温度との間の抵抗値変化(Ω)

R: 基準温度での抵抗値(Ω)

4.8.3

で記録された抵抗値を R

a

R

b

R

c

R

d

,及び R

e

とすれば,及び

Δは,表 によって算出する。


15

C 5201-1

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表 3−抵抗値(R)及び抵抗値変化(

ΔR)の計算

カテゴリ下限温度

カテゴリ上限温度

R

2

c

a

R

R

+

2

e

c

R

R

+

ΔR

R

b

R

R

d

R

4.8.3

で記録した温度を T

a

T

b

T

c

T

d

,及び T

e

とすれば,記録した温度の差(

ΔT)は,表 によって算

出する。

表 4−温度変化(

ΔT)の計算

カテゴリ下限温度

カテゴリ上限温度

ΔT

2

c

a

b

T

T

T

+

2

e

c

d

T

T

T

+

4.8.5

要求事項

4.8.4

によって算出した抵抗温度係数(α)は,適切なカテゴリ温度範囲で個別規格に規定する限度以内

とする。

抵抗値が 5  Ω を超え 10  Ω 未満の場合には,温度係数は,10  Ω 以上の値に対して個別規格に規定する値

の 2 倍を超えない。

注記 5

Ω 未満の抵抗温度係数は,正確な測定が困難であるので規定しない。

4.9

リアクタンス

4.9.1

試験手順

リアクタンス試験は,低リアクタンスが要求され,また,個別規格に規定がある場合にだけ適用する。

この試験は,巻線抵抗が生じるインダクタンスの試験に適している。

図 に示す方法は,時定数 L/R が 20

ns よりも大きい抵抗器に適用する。抵抗値範囲は,100 Ω∼1 MΩ とする。

図 の試験回路と同等で適切なインピーダンスアナライザを用いてもよい(4.9.5 参照)。

R

X

:供試抵抗器

R

L

:無誘導抵抗器。抵抗値は R

X

の抵抗値の約 0.1 倍とする。

注記  発振器及び抵抗器 R

X

を接続する導線の長さは,50 mm 以下とする。

図 3−試験回路


16

C 5201-1

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4.9.2

パルス発振器の仕様

パルス発振器は,次の性能をもたなければならない。

a)

パルス幅:時定数 L/の 3 倍以上とする。

b)

負荷時の立ち上がり時間(10 %∼90 %)

:3 ns 未満

c)

繰返し速さ:10 kHz を超えるか又はオシロスコープで容易に読み取れる速さ

4.9.3

オシロスコープの仕様

オシロスコープは,次の性能をもたなければならない。

a)

立ち上がり時間(10 %∼90 %)

:3.7 ns 未満(周波数応答 100 MHz 以上)

b)

時間軸:2 ns/mm 以上の速さ

c)

R

L

での入力容量は,25 pF 以下

d)

増幅度は,使用パルス電圧に対して容易に読み取れる。

4.9.4

測定

時定数 L/は,パルスの開始時から最高値の 63.2 %に達するまでの時間を測定することによって決定す

る(

図 参照)。立ち上がり開始時に雑音又はひずみがある場合は,ゼロ点は,曲線を延長して決定する。

オーバーシュート又は振動がなく,時定数 L/が 20 ns よりも大きい場合は,次の式が十分な精度をもつ。

実効インダクタンス

)

(

)

s

(

)

(

Ω

×

=

R

R

L

H

注記  規格の限界値は,最大 L/時間又は計算による場合の最大インダクタンス値で規定する。

図 4−オシロスコープの軌跡

4.9.5

インピーダンスアナライザ

インピーダンスアナライザなどの等価な試験装置を用いてもよい。

測定周波数は,関連する規格で規定する。

4.10

非直線性

抵抗器の非直線性は,IEC/TR 60440 に従って測定する。印加電圧は,

定格電圧又は素子最高電圧のうち,

いずれか厳しくない方とする。非直線性について特別の要求事項がある場合には,個別規格で規定する。

注記  IEC/TR 60440 の概要を,附属書 JB に示す。


17

C 5201-1

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4.11

電圧係数

4.11.1

前処理

抵抗器を下位規格の規定に従って 4.3 

手順 又は手順 II を用いて乾燥する。

4.11.2

測定方法

抵抗値を定格電圧又は素子最高電圧のうち,いずれか小さい方の電圧の 10 %及び 100 %で測定する。電

圧印加は,5 秒間とし,100 %電圧を 0.5 秒間印加し,10 %電圧を 4.5 秒間印加する。抵抗器に検知できる

温度上昇がないように注意する。

4.11.3

電圧係数の計算

電圧係数は,通常,電圧に対する百分率(%/V)で表し,次の式によって算出する。

100

0.9

)

(

1

1

2

×

×

×

R

U

R

R

ここに,

U: 100 %の印加電圧(V)

R

1

10 %電圧での抵抗値(Ω)

R

2

100 %電圧での抵抗値(Ω)

4.11.4

要求事項

電圧係数の値は,個別規格に規定の値を超えない。

4.12

雑音

抵抗器は,IEC 60195 に規定する手順によって試験する。

注記  IEC 60195 の手順を,附属書 JC に示す。

4.13

短時間過負荷

4.13.1

初期測定

抵抗値を 4.5 の規定によって測定する。

4.13.2

試験手順

抵抗器を水平に取り付ける。巻線抵抗器は,巻線の軸を水平にする。抵抗器は,周囲温度 15  ℃∼35  ℃

の自由空間に置く。その後,抵抗器の端子に電圧を印加する。電圧の値及び印加時間は,下位規格の規定

による。接続は,通常の方法で行う。はんだ付け用タグ端子をもつ抵抗器は,直径約 1.0 mm の銅線を用

いて接続する。下位規格には,特別な取付方法があれば,その方法を規定する。

4.13.3

最終検査,測定及び要求性能

1 時間∼2 時間の後処理後,抵抗器は,外観検査を行う。外観に損傷がなく,表示が判読できる。

抵抗値を 4.5 の規定によって測定する。4.13.1 の測定値に対する抵抗値変化は,個別規格に規定する値を

超えない。

4.14

温度上昇

4.14.1

適用範囲

臨界抵抗値よりも低い定格抵抗値をもつ抵抗器には,次の試験を適用する。

4.14.2

取付け

抵抗器を水平に取り付ける。巻線抵抗器は,巻線の軸が水平になるようにする。接続は,通常の方法で

行う。はんだ付け用タグ端子をもつ抵抗器は,直径約 1.0 mm の銅線を用いて接続する。下位規格には,

特別な取付方法があればその方法を規定する。

表面実装用(SMD)抵抗器は,JIS C 6484 に規定の厚さ 1.6 mm のガラス布基材エポキシ樹脂プリント

配線板用銅張積層板に通常の方法で実装する。アルミナ基板に実装する抵抗器であると個別規格で明確に


18

C 5201-1

:2011

規定している場合には,厚さ 0.635 mm のアルミナ基板を用いる。

4.14.3

試験手順

試験の周囲温度は,15  ℃∼35  ℃とする。周囲は,加熱された抵抗器による自然対流以外の空気の循環

がない。

定格電圧を印加する。

温度安定に達した後,抵抗器表面の最高温度を示す点の温度を測定する。温度測定に用いる素子は,測

定結果に影響を及ぼさない大きさとする。

4.14.4

要求事項

温度上昇は,個別規格に規定する値を超えない。

適用可能な場合には,適切に較正した赤外線温度計を温度測定に用いてもよい。

4.15

抵抗体強度

4.15.1

適用範囲

抵抗器の本体の長さが 25 mm 以上の抵抗器に適用する。

4.15.2

試験手順

抵抗器の本体を両端で支持する。支持点は,抵抗器の端面から 5 mm 以内の位置とする。支持体の曲率

半径は,6 mm 以上とする。個別規格に規定する荷重を抵抗器の中央部で軸と直角方向に 10 秒間静かに加

える。荷重は,曲率半径 6 mm 以上の加圧ジグを用いて加える(

図 参照)。

4.15.3

要求事項

試験後の抵抗器に,ひび,割れその他の破損がない。

単位  mm

図 5−抵抗体強度試験

4.16

端子強度

4.16.1

試験方法

抵抗器は,JIS C 60068-2-21 に規定する試験 Ua

1

UbUc 及び Ud を端子に応じてそれぞれ適用する。

抵抗値を個別規格の規定によって測定する。

4.16.2

試験 Ua

1

−引張強さ


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C 5201-1

:2011

引張力は,次による。

−  リード線以外の端子:20 N

−  リード線端子は,

表 による。

表 5−リード線端子の引張強さ

公称断面積 S

mm

2

断面が円形の場合の公称線径 

mm

引張力

N

S≦0.05

0.05<S≦0.1

0.1<S≦0.2 
0.2<S≦0.5 
0.5<S≦1.2

1.2<S

d≦0.25

0.25<d≦0.35

0.35<d≦0.5

0.5<d≦0.8

0.8<d≦1.25

1.25<d

 1

  2.5

 5 
10 
20 
40

注記  円形断面リード線,板状又はピン端子の公称断面積は,個別規格に規定する公称寸

法から算出する値に等しい。より線端子の公称断面積は,個別規格に規定する個々
の素線の断面積を合計して算出する。

4.16.3

試験 Ub−曲げ強さ

方法 1:曲げ回数は,各方向に連続して 2 回とする。この試験は,個別規格で,曲げに適さない硬い端

子と規定している場合には適用しない。

4.16.4

試験 Uc−ねじり強さ

方法 1:厳しさ 2(180°連続 2 回転)を適用する。

この試験は,個別規格で,端子が硬いと規定している場合及びプリント配線板用に設計した端子同一方

向の抵抗器には適用しない。

4.16.5

試験 Ud−トルク強さ

この試験は,内溝付スタッド端子又はねじ端子,並びに取付形に適用する。

表 6−トルク強さ

公称ねじ径

mm

2.6 3 3.5 4  5  6

厳しさ 1

0.4 0.5 0.8 1.2 2.0 2.5

トルク

Nm

厳しさ 2

0.2 0.25 0.4 0.6 1.0 1.25

4.16.6

最終検査

次に示す手順による。

a)

これらの各試験後,抵抗器の外観検査を行い,外観の損傷がない。

b)

これらの試験の最後に,4.5 の規定によって抵抗値を測定する。4.16.1 の測定値に対する抵抗値変化は,

個別規格に規定する値を超えない。

4.17

はんだ付け性

注記  個別規格に,はんだ付け用に設計していないと規定する端子には適用しない。

4.17.1

前処理

下位規格にエージングを適用するかどうかを規定する。加速エージングを要求する場合は,JIS C 

60068-2-20

に規定するエージング手順の一つを適用する。

下位規格に規定がない場合は,非活性フラックスを用いて試験を行う。

4.17.2

試験手順

下位規格に規定がない場合は,同じ規格に記載する次の試験の一つを適用する。


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C 5201-1

:2011

試験条件の詳細は,個別規格に規定する。

a)

次の b)及び c)を除く全ての抵抗器

1)  JIS C 60068-2-20

に規定する試験 Ta の方法 1(はんだ槽法)

はんだ浸せき深さ(取付面又は部品本体から)

:2.0 mm

0

5

.

0

 mm,厚さ 1.5 mm±0.5 mm の熱遮へ

い板を用いる。

2)  JIS C 60068-2-20

に規定する試験 Ta の方法 2(はんだこて法)

3)  JIS C 60068-2-54

に規定するはんだ槽平衡法

注記  JIS C 60068-2-54 は,個別規格に規定があるか,又は受渡当事者間の合意がある場合に適

用する。

b)

個別規格でプリント配線板用に設計していないが,はんだ付け接続を意図したと規定した抵抗器

1)  JIS C 60068-2-20

に規定する試験 Ta の方法 1(はんだ槽法)を適用する。

はんだ浸せき深さ(取付面又は部品本体から)

:3.5 mm

0

5

.

0

 mm

2)  JIS C 60068-2-20

に規定する試験 Ta の方法 2(はんだこて法)を適用する。

c)

表面実装用抵抗器

1)  JIS C 60068-2-58

に規定するリフロー法又ははんだ槽法を適用する。

2)  JIS C 60068-2-69

に規定するはんだ槽平衡法又ははんだ小球平衡法を適用する。

注記  JIS C 60068-2-69 は,個別規格に規定があるか,又は受渡当事者間の合意がある場合には,

適用できる。

4.17.3

最終検査,測定及び要求性能

はんだが良好に付着していることを,端子部がはんだにぬれていることで確認する。

抵抗器は,個別規格に規定する要求を満足する。

4.18

はんだ耐熱性

4.18.1

前処理

下位規格に規定がある場合は,抵抗器を 4.3 に規定する方法で乾燥する。

抵抗器は,下位規格の規定によって初期測定を行う。

4.18.2

試験手順

下位規格に規定がない場合は,次の試験の一つを適用する。

試験条件は,下位規格に規定する。

a)

次の b)及び c)を除く全ての抵抗器  JIS C 60068-2-20 に規定する試験 Tb の方法 1(はんだ槽法)を適

用する。

b)

個別規格でプリント配線板用に設計していないが,はんだ付け接続を意図したと規定した抵抗器

1)  JIS C 60068-2-20

に規定する試験 Tb の方法 1(はんだ槽法)を適用する。

2)  JIS C 60068-2-20

に規定する試験 Tb の方法 2(はんだこて法)を適用する。

c)

表面実装用抵抗器  JIS C 60068-2-58 に規定するリフロー法又ははんだ槽法を適用する。

4.18.3

後処理

個別規格に規定がない場合には,後処理時間は,24 時間±2 時間と規定する表面実装用抵抗器を除き,1

時間から 2 時間の間とする。

4.18.4

最終検査,測定及び要求性能

表面実装用抵抗器を除く,全ての抵抗器に,次の事項を適用する。

−  試験後,抵抗器は,外観検査を行う。


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C 5201-1

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−  外観に損傷がなく,表示は,明瞭とする。

−  その後,抵抗器は,下位規格の規定によって測定を行う。

表面実装用抵抗器は,外観検査及び測定を行い,個別規格に規定する要求を満足する。

4.19

温度急変

4.19.1

初期測定

抵抗値を 4.5 の規定によって測定する。

4.19.2

試験手順

抵抗器は,JIS C 0025 の試験 Na を適用する。推奨試験サイクル数は,5,100,200,500 及び 1 000 と

し,下位規格に規定する。下位規格に規定がない場合には,両極の温度にさらす時間は,30 分間とする。

他に規定がない限り,温度間の移し換え時間 t

2

は,30 秒間以内とする。

抵抗器は,後処理のため 1 時間∼2 時間,標準状態に置く。

この試験では,サイクル数だけを計数する。試験中断時には,抵抗器は,標準状態で保管される。

4.19.3

最終検査,測定及び要求性能

後処理後,抵抗器は,外観検査を行い,外観の損傷がない。

抵抗値を 4.5 の規定によって測定する。4.19.1 の測定値に対する抵抗値の変化は,個別規格に規定する値

を超えない。

4.20

バンプ

4.20.1

取付け

抵抗器を下位規格の規定によって取り付ける。

4.20.2

初期測定

抵抗値を 4.5 の規定によって測定する。

4.20.3

試験手順

抵抗器は,下位規格に規定する厳しさを用いて,JIS C 60068-2-29 に規定する試験 Eb を行う。

4.20.4

最終検査,測定及び要求性能

試験後,抵抗器は,外観検査を行い,外観の損傷がない。

抵抗値を 4.5 の規定によって測定する。4.20.2 の測定値に対する抵抗値変化は,個別規格に規定する値を

超えない。

4.21

衝撃

4.21.1

取付け

抵抗器を下位規格の規定によって取り付ける。

4.21.2

初期測定

抵抗値を 4.5 によって測定する。

4.21.3

試験手順

抵抗器は,下位規格に規定する厳しさを用いて,JIS C 60068-2-27 に規定する試験 Ea を行う。

4.21.4

試験中の測定

個別規格に規定がある場合には,試験中に抵抗値の測定を下位規格に規定する間隔で行う。

4.21.5

最終検査,測定及び要求性能

試験後,抵抗器は,外観検査を行い,外観の損傷がない。

抵抗値を 4.5 の規定によって測定する。4.21.2 の測定値に対する抵抗値変化は,個別規格に規定する値を

超えない。


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C 5201-1

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4.22

振動

4.22.1

取付け

抵抗器を下位規格の規定によって取り付ける。

4.22.2

初期測定

抵抗値を 4.5 の規定によって測定する。

4.22.3

試験手順

抵抗器は,下位規格に規定がない限り,JIS C 60068-2-6 に規定する試験 Fc を下位規格に規定の厳しさ

を用いて行う。

個別規格に規定がある場合は,各方向の振動試験の最後の 30 分間に断続的な接続,開放又は短絡を調べ

るための電気的測定を行う。測定は,振動周波数の端から端までの 1 掃引時間の間で行う。

4.22.4

最終検査,測定及び要求性能

試験後,抵抗器は,外観検査を行う。外観に損傷がない。4.22.3 に規定の試験を行った場合は,0.5 ms

以上の断続的接続,開放又は短絡があってはならない。

抵抗値を 4.5 の規定によって測定する。4.22.2 の測定値に対する抵抗値変化は,個別規格に規定する値を

超えない。

4.23

一連耐候性

一連耐候性試験では,JIS C 60068-2-30 に規定する試験 Db の最初の 1 サイクルの後処理の直後に行う低

温試験を除き,試験と試験との間隔が最大 3 日間あいてもよい。

4.23.1

初期測定

次の手順を適用する。

a)

抵抗器を下位規格の規定によって,4.3 

手順 又は手順 II のうちいずれかを用いて乾燥する。

b)

抵抗値を 4.5 の規定によって測定する。

4.23.2

高温

抵抗器は,下位規格に規定するカテゴリ上限温度で,JIS C 60068-2-2 に規定する試験 Bb を 16 時間行う。

供試品は,周囲温度からカテゴリ上限温度までの任意温度の恒温槽中に入れてもよい。

注記  対応国際規格では,JIS C 60068-2-2 の対応国際規格の旧版 IEC 60068-2-2:1994 に規定する試験

Ba

を適用しているが,この規格では最新版の試験 Bb を適用した。

4.23.3

温湿度サイクル(試験 Db),最初のサイクル

抵抗器は,JIS C 60068-2-30 に規定する試験 Db を,温度 55  ℃[厳しさ b)]で 1 サイクル(24 時間)行

う。

注記  厳しさ b)は,JIS C 60068-2-30:1998 では,“厳しさ(2)”としているが,対応国際規格 IEC 

60068-2-30:2005

に倣い,

“厳しさ b)”とした。

4.23.4

低温

抵抗器は,下位規格に規定するカテゴリ上限温度で,JIS C 60068-2-1 に規定する試験 Ab を 2 時間行う。

供試品は,周囲温度からカテゴリ上限温度までの任意温度の恒温槽中に入れてもよい。

注記  対応国際規格では,JIS C 60068-2-1 の対応国際規格の旧版 IEC 60068-2-1:1994 に規定する試験

Aa

を適用しているが,この規格では最新版の試験 Ab を適用した。

4.23.5

減圧

次の手順を適用する。

a)

抵抗器は,下位規格に規定する厳しさを用いて,JIS C 60068-2-13 に規定する試験 を行う。


23

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b)

試験は,温度 15  ℃∼35  ℃で行う。試験時間は,1 時間とする。

4.23.6

温湿度サイクル(試験 Db),残りのサイクル

抵抗器は,JIS C 60068-2-30 に規定する試験 Db を最初のサイクルと同じ条件で,1 サイクル当たり 24

時間で

表 に示す残りのサイクル数行う。

表 7−サイクル数

耐候性カテゴリ

残りのサイクル数

−/−/56 5

−/−/21 1

−/−/10 1

−/−/04

なし

4.23.7

直流負荷

この試験は,非巻線抵抗器に適用する。

試験の最後に,抵抗器を標準状態に置く。移送の時間は,できるだけ短くし,5 分間以下とする。槽か

ら移送して 30 分間±5 分間後に 1 分間直流電圧を印加する。電圧は,定格電圧又は素子最高電圧のいずれ

か小さい方とする。その後,抵抗器は,標準状態で 1 時間∼2 時間放置する。

4.23.8

最終検査,測定及び要求性能

抵抗器は,外観検査を行い,外観の損傷がなく,表示が判読できる。

抵抗値及び絶縁抵抗(絶縁形抵抗器の場合だけ)を規定によって測定する。4.23.1 b)の測定値に対する

抵抗値変化は,個別規格に規定する値を超えない。

絶縁抵抗は,個別規格に規定する値以上とする。

4.24

高温高湿(定常)

注記  この試験は,耐湿負荷試験又は 40/93 試験として知られている。

4.24.1

初期測定

抵抗値を 4.5 の規定によって測定する。

4.24.2

試験手順

抵抗器は,JIS C 60068-2-78 に規定する試験 Cab によるほか,次による。

−  温度:40  ℃±2  ℃

−  相対湿度:93 %±3 %

−  試験時間:下位規格の規定する耐候性カテゴリによる。

4.24.2.1

絶縁形抵抗器

絶縁形抵抗器又はこれに類するものは,通常に取り付けたもの,抵抗器と金属板との間に絶縁物を用い

るもの,又は用いないものによって,次の三つのグループに分ける。

a)

第 1 のグループは,電圧を印加せずに試験する。

b)

第 2 のグループは,端子間に直流電圧を印加して試験する。印加電圧は,次の系列から選ぶ。

0 V,0.25 V,0.4 V,0.63 V,1 V,1.6 V,2.5 V,4 V,6.3 V,10 V,16 V,25 V,40 V,63 V 及び

100 V

この電圧は,定格電力の 0.01 倍になるような電圧の計算値又は素子最高電圧の 0.1 倍のいずれか小

さい方の電圧の次に小さい系列の電圧を選ぶ。試験時間を通じ,この電圧は,規定の電圧にできるだ

け近く保つ。電源電圧変動及びその他の要因による印加電圧許容差は,±5 %とする。

c)

第 3 のグループは,取付板と端子の一つとの間に 20 V±2 V の直流電圧を印加して試験する。取付板


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C 5201-1

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は,負極に,端子は,正極に接続する。電圧は,試験中連続して印加する。

4.24.2.2

その他の抵抗器

その他の抵抗器は,ロットを二つのグループに分け,4.24.2.1 の a)及び b)の試験だけを行う。

4.24.3

直流負荷

この試験は,非巻線抵抗器だけに適用する。

試験の最後に抵抗器を標準状態に置く。移送の時間は,できるだけ短くし,5 分間以下とする。槽から

移送して 30 分±5 分間後に 1 分間直流電圧を印加する。電圧は,定格電圧又は素子最高電圧のいずれか小

さい方とする。抵抗器は,標準状態で 1 時間∼2 時間放置する。

4.24.4

最終検査,測定及び要求性能

抵抗器は,外観検査を行い,外観の損傷がなく,表示は判読できる。

抵抗値及び絶縁抵抗(絶縁抵抗器の場合だけ)は,規定によって測定する。4.24.1 の測定値に対する抵

抗値変化は,個別規格に規定する値を超えない。

絶縁抵抗は,個別規格に規定する値以上でなければならない。

4.25

耐久性

4.25.1  70 

℃での耐久性

4.25.1.1

初期測定

抵抗値を 4.5 の規定によって測定する。

4.25.1.2

試験時間

周囲温度 70  ℃±2  ℃で約 42 日間(1 000 時間)の耐久性試験を行う。下位規格で試験時間の延長を規

定してもよい(4.25.1.8 参照)

4.25.1.3

試験電圧

試験中,1.5 時間印加,0.5 時間休止のサイクルで電圧を印加する。この電圧は,定格電圧又は素子最高

電圧のいずれか小さい方とする。

印加電圧の許容差は,±5 %とする。

注記 0.5 時間の休止時間も,4.25.1.2 に規定した試験時間に含める。

4.25.1.4

取付け

抵抗器は,下位規格の規定する方法によって取り付ける。

抵抗器に過度の通風がないようにする。試験槽内で強制空気循環を行う場合は,抵抗器に自然対流以外

の通風がないように保護する。

4.25.1.5

試験槽

試験槽の寸法及び試験する抵抗器の数は,全ての抵抗器に電力を印加したとき,抵抗器による熱が試験

槽の温度を 70  ℃に保つのに必要な熱量より少なくなるようにし,

試験槽内の温度をヒータによって 70  ℃

に制御できるようにする。温度制御素子は,抵抗器から適切な距離を置き,また,抵抗器からの放射熱に

よって直接影響を受けないように遮蔽する。このようにすれば,この試験で抵抗器の周囲温度は,70  ℃と

みなすことができる。

4.25.1.6

後処理

約 48 時間,500 時間及び 1 000 時間の後,抵抗器を槽から取り出し,後処理として,標準状態に 1 時間

∼4 時間放置する。槽からの取出しは,0.5 時間の休止時間の終わりに行う。

別の方法として,抵抗値変化の測定を試験温度で行ってもよい。表示は,判読できなければならない。

この場合は,試験の初期の試験温度での抵抗値測定を比較のために追加する。ただし,初期測定と最終測


25

C 5201-1

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定は,常に標準状態で行う。

4.25.1.7

最終検査,測定及び要求性能

抵抗器は,外観検査を行う。外観に損傷がなく,表示は,判読できる。抵抗値を 4.5 によって測定する。

4.25.1.1

の測定値に対する抵抗値変化は,個別規格に規定する値を超えない。

中間測定の後,抵抗器を試験槽に戻す。抵抗器を試験槽から取り出して試験槽へ戻すまでの時間は 12

時間以内とする。

1 000 時間後,絶縁抵抗を測定する(絶縁形抵抗器だけに適用)。その値は,個別規格に規定の値以上と

する。

4.25.1.8

延長試験

下位規格に規定がある場合には,試験時間は,規定の時間まで延長する。延長の時間に対しては,個別

規格に測定する時間と,その時間での測定項目及び要求事項を規定する。

4.25.2

室温での耐久性

4.25.2.1

初期測定

抵抗値を 4.5 の規定によって測定する。

4.25.2.2

試験時間

周囲温度 15  ℃∼35  ℃で約 42 日間(1 000 時間)の耐久性試験を行う。個別規格に規定がある場合は,

試験時間を延長する(4.25.2.7 参照)

4.25.2.3

試験電圧

個別規格に規定がない限り,全てのヒートシンク抵抗器は,交流電圧で試験する。

表面温度が周囲温度に対して 200  ℃を超えることを許容する特別な直流用に設計した抵抗器の場合は,

試験時間を 3 000 時間又は 5 000 時間まで延長する。この時間は,個別規格に規定する。この場合は,電圧

は試験時間中同一極性で印加する。

試験中,1.5 時間印加,0.5 時間休止のサイクルで電圧を印加する。

抵抗器に印加する電圧の許容差は,電圧計算値の±5 %とする。

注記 0.5 時間の休止時間も 4.25.2.2 に規定した試験時間に含める。

4.25.2.4

取付け

抵抗器は,下位規格に規定する方法によって取り付ける。

抵抗器に過度の通風がないようにする。試験槽内で強制空気循環を行う場合は,抵抗器に自然対流以外

の通風がないように保護する。

4.25.2.5

後処理

約 48 時間,168 時間,500 時間及び 1 000 時間の後,抵抗器を槽から取り出し,後処理として,標準状

態に 1 時間∼4 時間放置する。

4.25.2.6

最終検査,測定及び要求事項

抵抗器は,外観検査を行う。外観に損傷がなく,表示は判読できる。抵抗値を 4.5 によって測定する。

4.25.2.1

の測定値に対する抵抗値変化は,個別規格に規定する値を超えない。

中間測定の後,抵抗器を試験槽に戻す。抵抗器を試験槽から取り出して試験槽へ戻すまでの時間は,12

時間以内とする。

1 000 時間後,絶縁抵抗を 4.6 によって測定する(絶縁形抵抗器だけに適用)。その値は,個別規格に規

定の値以上とする。


26

C 5201-1

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4.25.2.7

延長試験

下位規格に規定がある場合には,試験時間は,規定の時間まで延長する。延長の時間に対しては,個別

規格に測定する時間と,その時間での測定項目及び要求事項を規定する。

4.25.3

カテゴリ上限温度での耐久性

4.25.3.1

初期測定

抵抗値を 4.5 によって測定する。

4.25.3.2

試験時間及び手順

抵抗器は,下位規格に規定のカテゴリ上限温度に等しい周囲温度で約 42 日間(1 000 時間)耐久性試験

を行う。個別規格に要求がある場合には,試験時間を延長できる(4.25.3.8 参照)

4.25.3.3

試験電圧

試験中,1.5 時間印加,0.5 時間休止のサイクルで電圧を印加する。

電圧は,素子最高電圧又はカテゴリ電力及び定格抵抗値から算出された電圧のうちいずれか小さい方と

する。

印加電圧の許容差は,これの±5 %とする。

注記 0.5 時間の休止時間も 4.25.3.2 に規定した試験時間に含める。

4.25.3.4

取付け

抵抗器に電力が印加される場合には,取付けは,4.25.1.4 又は 4.25.2.4 に規定した方法による。

抵抗器に過度の通風がないようにする。試験槽内で強制空気循環を行う場合は,抵抗器に自然対流以外

の通風がないように保護する。

4.25.3.5

試験槽

試験槽の寸法及び試験する抵抗器の数は,全ての抵抗器に電力を印加したとき,抵抗器による熱が試験

槽の温度をカテゴリ上限温度に保つのに必要な熱量より少なくなるようにし,試験槽内の温度をヒータに

よってカテゴリ上限温度に制御できるようにする。温度制御素子は,抵抗器から適切な距離を置き,また,

抵抗器からの放射熱によって直接影響を受けないように遮蔽する。このようにすれば,この試験で抵抗器

の周囲温度は,カテゴリ上限温度とみなすことができる。

4.25.3.6

後処理

約 48 時間,500 時間及び 1 000 時間の後,抵抗器を槽から取り出し,後処理として,標準状態に 1 時間

∼4 時間放置する。槽からの取り出しは,0.5 時間の休止時間の終わりに行う。

4.25.3.7

最終検査,測定及び要求事項

抵抗器は,外観検査を行う。外観に損傷がなく,表示は判読できる。抵抗値を 4.5 によって測定する。

4.25.3.1

の測定値に対する抵抗値変化は,個別規格に規定する 70  ℃での耐久性試験(4.25.1)又は室温で

の耐久性試験(4.25.2)の値を超えない。

中間測定の後,抵抗器を試験槽に戻す。抵抗器を試験槽から取り出して試験槽へ戻すまでの時間は,12

時間以内とする。

1 000 時間後,絶縁抵抗を測定する(絶縁形抵抗器に適用)。絶縁抵抗は,個別規格に規定する値以上と

する。

4.25.3.8

延長試験

下位規格に規定がある場合には,試験時間は,規定の時間まで延長する。延長の時間に対しては,個別

規格に測定する時間及びその時間での測定項目及び要求事項を規定する。


27

C 5201-1

:2011

4.26

偶発的過負荷試験

4.26.1

目的

偶発的過負荷試験は,低電力非巻線抵抗器への過負荷印加に起因する火災危険を評価する。

4.26.2

ガーゼ円筒法

試験装置は,試料の表面から 25 mm±3 mm 離した,試料を囲む 1 層のガーゼ円筒からなるものとする。

1 層のチーズクロス(ガーゼ)を図 のように両端の開いた円筒を形成するように枠の上に張る。

枠は,直径 0.6 mm(22 AWG)以下の丸い針金で作る。銅線は用いない。枠を形成する針金は,円筒の

中心から等距離とする。また,枠を形成する針金は,ガーゼ円筒表面の 10 %未満とする。

寸法 は,抵抗器の直径よりも 50 mm±1.5 mm だけ大きくする。

寸法 は,抵抗器の長さの 2 倍以上とする。

図 6−ガーゼ円筒法試験装置

円筒の長さは,抵抗器の本体長さの 2 倍以上とする。

円筒形を形成するガーゼは,未処理の綿布で,形は 914.4 mm 幅で,質量が 36.3 g/m

2

∼38.8 g/m

2

のもの

で,32×28 番として知られているものである。

ガーゼは,標準状態で 24 時間の前処理を行う。

抵抗器を,ガーゼ円筒の半径方向及び長さ方向の中心になるように,装置に取り付ける。

4.26.3

試験条件

4.26.3.1

換気

試験は,煙とにおいがこもらないような適切な換気をして行う。

抵抗器の周りの風速は,30 m/min 以下とする。


28

C 5201-1

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4.26.3.2

取付けクリップ

取付けクリップは,軽量で,かつ,取付方法が試験の結果に影響を与えるような余分な放熱がないよう

に端子と接続できる構造のものとする。

4.26.4

試験手順

個別規格に規定する場合は,適用する抵抗値範囲及び試料を抜き取る抵抗値範囲を規定する。

個別規格に規定がない限り,抵抗器は,標準状態で交流の定電圧電源に接続する。

個別規格に規定がない限り,抵抗器に定格電力の 5 倍,10 倍,16 倍,25 倍,40 倍,63 倍,及び 100 倍

の過負荷を印加する。ただし,印加電圧は,素子最高電圧の 4 倍以下とする。

それぞれの過負荷ごとに新しい試料を用い,印加時間は,5 分±0.5 分間とする。抵抗器が断線するか,

又は円筒状のガーゼが発炎すれば,過負荷の印加を中止する。

試験中,抵抗器に直列につないだ低い抵抗値の抵抗器の両端の電圧を測定することによって,抵抗器へ

流れる電流を監視する。直列につなぐ抵抗器の抵抗値は,試験する抵抗器の抵抗値の 1 %以下とする。

直列につないだ抵抗器の両端の電圧で,試験する抵抗器に流れる電流を測定し監視する。

各々の過負荷の間,次の現象の起こった時間を記録する。

a)

ガーゼ円筒の発炎

b)

インピーダンスの低下,又は断線(情報としてだけ)

4.26.5

要求事項

ガーゼ円筒が発炎しない。

4.27

単パルス高電圧過負荷試験

4.27.1

目的

この試験は,ときどき起こる単パルスの高電圧過負荷に対する,抵抗器の耐性を判定する。

この試験によって,抵抗器への高電圧過負荷時の電気的パラメータ及び特性への影響が分かる。

注記  単パルスの影響は,次のパルスがくる前に完全になくなることを仮定している。

4.27.2

用語

パルス負荷を定義するために,IEC 60060-1 の用語及び定義を適用する。

4.27.3

試験手順

4.27.3.1

試験設備の説明

試験設備は,要求するパルス波形を 1 分間当たり最低 6 パルス,抵抗器に与えることが可能なものとす

る。

2 種類の推奨パルス波形に対する回路図を図 及び図 に示す。

図 7−パルス発生器  パルス波形 1.2/50 の場合


29

C 5201-1

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図 8−パルス発生器  パルス波形 10/700 の場合

注記  これらの図に示すスイッチは,電圧及び電流に関して適切であれば,スパークギャップ,機械

的スイッチ又はサイリスタスイッチでもよい。

4.27.3.2

前処理

試験開始前,抵抗器は標準状態で温湿度平衡に達しているものとする。個別規格に要求がある場合は,

4.3

手順 を用いて乾燥する。

4.27.3.3

初期測定

規定がない限り,抵抗器は,外観検査を行い,抵抗値を測定する。

4.27.3.4

条件

抵抗器取付方法は,下位規格に規定する。

抵抗器を標準状態で試験する。

試験は,抵抗体を清浄にした後,乾燥した状態で,周囲温度で行う。印加電圧パルスは,用途によって

表 から選択する。

パルス試験電圧を,下位規格の規定する適切な厳しさで抵抗器に印加する。供試抵抗器を

図 又は図 8

の(a)及び(b)の間に接続する。供試抵抗器の両端子に電圧を印加する。下位規格に詳細を規定する。

4.27.3.5

厳しさ

試験は,次の

表 から選択した厳しさを用いて行う。

表 8−厳しさ

パルス電圧

a)

厳しさ番号

パルス波形

IEC 60060-1

の 18.1

又は 21.1 による。

T

1

/T

2

μs

U

r

の倍率

U

max

の倍率

1 分間当たり

のパルス数

総パルス数



3

1.2/50

10 
15 
20

≦6 5





8

10/1 000

又は

10/700

10 
20 
30 
40 
50





6

≦1 10

注記 1  U

r

は定格電圧,U

max

は素子最高電圧である。

注記 2  パルス電圧値は,IEC 60060-1 に規定するピーク電圧とする。 

a)

  いずれか小さい方とする。


30

C 5201-1

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4.27.3.6

後処理

標準状態で温度安定に達するまで,最大 24 時間放置する。

4.27.3.7

最終検査,測定及び要求事項

抵抗器は,外観検査を行う。外観に損傷がなく,表示は判読できる。

抵抗値を測定する。個別規格に規定がない限り,初期測定値(4.27.3.3 参照)に対する抵抗値変化率は,

耐久性試験の限界値を超えない。

4.27.3.8

個別規格に規定する事項

個別規格には,次の規定を含める。

a)

抵抗器の取付方法

b)

表 から選択した試験の厳しさ

c) 15

℃∼35  ℃以外の場合の周囲温度

d)

故障の判定基準。例えば,

−  許容抵抗値変化(耐久性試験の規定値と異なる場合)

−  絶縁破壊

−  短絡

−  断線

−  その他の判定基準

4.28

周期的パルス高電圧過負荷試験

4.28.1

目的

この試験は,周期的に起こる(パルス状態の)短い高電圧負荷に対する,抵抗器の耐性を判定する。

試験後の抵抗器のパラメータの変化は,基本的に次による。

−  内部電圧効果

−  電流効果。局部的な熱応力及び機械的な力を含む。

4.28.2

用語

次の用語及び定義を適用する。

4.28.2.1

パルス幅(t

p

パルス開始時からパルス終了時までの時間。

4.28.2.2

パルス繰返し周期(t

r

周期的なパルス列での,第 1 パルス波形のパルス開始時から,第 2 パルス波形のパルス開始時までの時

間。

4.28.2.3

公称パルス電圧

附属書 に示す安定状態の電圧値。Û で示している。

注記  Û は,U

r

の倍数で表す。U

r

は,2.2.18 に規定する抵抗器の定格電圧である。

4.28.3

試験手順

4.28.3.1

試験設備の説明

パルス発生器は,この試験について規定する時間にわたって,規定する繰返し周期を備え,連続する一

連の規定パルスを発生できる装置とする。

試験する試料がほかの試料から影響を受けないように注意する。これは,個々の試料に対して別々の出

力段を要求する場合もあり得る。

図 C.1 に適切な試験装置のブロック図を示す。これは,一連の電力増幅器から成り立ち,(電圧源として)


31

C 5201-1

:2011

抵抗器よりも低いインピーダンスをもつ。電圧源は,

図 C.2 に示すひずみ限界内で規定するパルス列を送

ることができる。これらの増幅器は,必要な波形を通常のパルス発生器から供給するが,必要な場合には,

更に,整形,変換及び駆動段を経由して供給する。

同時に多数の抵抗器を試験する場合は,駆動段及び電圧段に対して,より効率的な電源の使用を可能に

するため,適切な位相パルスでそれらを続けて駆動させることを推奨する。

4.28.3.2

前処理

試験開始前,抵抗器は,標準状態で温湿度平衡に達していることを確認する。

特殊用途に対しては,下位規格にその他の前処理条件を規定することもある。

4.28.3.3

初期測定

規定がない限り,抵抗器は,外観検査をし,抵抗値を測定する。

4.28.3.4

条件

試験は,単極性の規定した公称パルス電圧,パルス繰返し周期及びパルス幅をもつ方形パルスで行う。

抵抗器の取付方法は,下位規格に規定し,通常の耐久性試験と熱的に等しい方法とする。取付方法が,

図 C.2 に示すパルス波形の限界を超えて波形をゆがめてはならない。

抵抗器は,25  ℃±5  ℃(又は下位規格に規定するその他の温度)で,下位規格に規定する厳しさを用い

て,連続する方形パルス列で試験する。

4.28.3.5

厳しさ

試験の厳しさを,公称パルス電圧,パルス幅,パルス繰返し周期,総試験時間及び周囲温度によって示

す。

試験の厳しさは,

表 に規定する厳しさ及び下位規格に示す厳しさから選択する。厳しさの規定がない

場合は,厳しさ 3 を適用する。

表 9−推奨する厳しさ

厳しさ

1

 a)

2

3

4

公称パルス電圧 Û

U

r

に対する倍率)

c)

10 2.5 5 4.5

パルス幅 t

p

(μs)

b)

 150∼170 7∼11.5 100

820∼1 000

16 667∼20 000

59∼72 2

500

16

667∼20 000

パルス繰返し周期 t

r

(μs)

及び相当する周波数 f

b)

50 Hz∼60 Hz

14 kHz∼17 kHz

400 Hz

50 Hz∼60 Hz

等価平均電力 
P

r

に対する%)

100 100

100

100

試験時間(h) 100

100

100

100

a)

  この厳しさは,高電圧パルス過負荷の要求事項を含むことを意図している。要求がある場合だけに適用す

る。

b)

  表中の独立パラメータは,Û 及び である。t

p

/t

r

値(又は相当する t

p

×値)は,Û 及び の規定値と一致

するように調整する。

パルス幅 t

p

は,平均電力 が正確な値となるように t

r

とともに調整する。

c)

  個別規格に示す値を上限とする。

この試験の厳しさは,耐久性試験での許容抵抗値変化量と同様な抵抗値変化量になることを目的として

いる。

全ての厳しさに対し,方形パルスを推奨する。短時間で多くのデータを収集するために,指数形パルス

を使用してもよい。ただし,公称パルス電圧 Û 及びパルス列での平均電力 が方形パルスと同一でなけれ

ばならない。


32

C 5201-1

:2011

附属書 に示したものと異なるパルスを用いる場合には,抵抗器の両端子に印加するパルスの波形を,

個別規格に完全に規定する。

4.28.3.6

中間測定

試験中の抵抗器が故障した場合には,試験時間を短くするため,4 時間,24 時間及び 50 時間後に中間測

定を行う。

4.28.3.7

後処理

温度安定に達するまで標準状態に放置する。最高 24 時間とする。

4.28.3.8

最終検査,測定及び要求事項

抵抗器は,外観検査を行う。外観に損傷がなく,表示は判読できる。

抵抗値を測定する。初期の測定値(4.28.3.3)に対する抵抗値変化は,個別規格に規定がない限り,耐久

性試験の限界値を超えない。

絶縁形抵抗器の場合だけ,絶縁抵抗を測定する。

絶縁抵抗は,個別規格に規定の値以上とする。

4.28.3.9

個別規格に規定する事項

a)

試験する抵抗器の取付方法

b)

試験の厳しさ。4.28.3.5 から選択する。

c) 25

℃±5  ℃以外の場合の周囲温度

d)

公称パルス電圧(4.28.2.3 による。

e)

耐久性試験に対する許容抵抗値変化

f)

絶縁抵抗

4.29

部品の耐溶剤性

4.29.1

初期測定

下位規格に規定の測定を行う。

4.29.2

試験条件

抵抗器は,JIS C 60068-2-45 に規定する試験 XA を,次の詳細によって行う。

a)

使用する溶剤  :2-プロパノール(イソプロピルアルコール)

b)

溶剤の温度

:個別規格に規定がない場合,23  ℃±5  ℃

c)

供試条件

:方法 2(ラビングしない)

d)

浸せき時間

:5 分間±0.5 分間

e)

後処理時間

:個別規格に規定がない場合,48 時間

4.29.3

要求事項

下位規格に規定する測定を行い,規定する要求事項を満足する。

4.30

表示の耐溶剤性

4.30.1

試験条件

抵抗器は,JIS C 60068-2-45 に規定する試験 XA を,次の詳細によって行う。

a)

使用する溶剤    :2-プロパノール(イソプロピルアルコール)

b)

溶剤の温度

  :23  ℃±5  ℃,又は個別規格に規定する温度

c)

供試条件

  :方法 1(ラビングする),又は個別規格に規定する。

d)

ラビングの材質:脱脂綿

e)

浸せき時間

  :5 分間±0.5 分間


33

C 5201-1

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f)

後処理時間

  :個別規格に規定がない場合は,適用しない。

4.30.2

要求事項

試験後,表示は,判読できなければならない。

4.31

表面実装用抵抗器の取付け

4.31.1

基板

表面実装用抵抗器は,適切な基板上に取り付ける。その取付方法は,抵抗器の構造による。基板の材質

は,厚さ 1.6 mm のガラス布基材エポキシ樹脂プリント配線板用銅張積層板(JIS C 6484 参照)とし,いか

なる試験又は測定の結果にも影響を与えないものとする。下位規格に明確に規定されている場合は,厚さ

0.635 mm のアルミナ基板を用いる。これは,通常,このような基板上に実装する抵抗器に適用する。個別

規格には,電気的測定で適用する基板の材質を規定する。

基板は,抵抗器の取付けが可能な適切な大きさのメタライズしたランドと,間隔をもち,抵抗器の端子

電極との電気的接続ができるように考慮する。詳細は,個別規格に規定する。

機械的及び電気的試験のための試験用基板の例を,

図 及び図 10 に示す。

ほかの取付方法を適用する場合には,個別規格にその方法を明確に規定する。

4.31.2

ウェーブソルダリング

個別規格でウェーブソルダリングを規定している場合には,個別規格で規定した接着剤を用いて,はん

だ付けする前にプリント配線板に抵抗器を固定する。

再現性を確保した最適なデバイスによって,プリント配線板の導体間に接着剤の小滴を塗布する。

抵抗器をピンセットを用いて,接着剤の小滴の上に置く。接着剤が導体に付着しないように,抵抗器を

必要以上に動かさない。

抵抗器を搭載したプリント配線板を,100  ℃の加熱槽で 15 分間加熱する。

プリント配線板は,ウェーブソルダリング装置ではんだ付けする。装置は,予備加熱温度 80  ℃∼100  ℃,

はんだ槽温度 260  ℃±5  ℃,はんだ付け時間 5 秒間±0.5 秒間に設定する。

はんだ付けの操作を 2 回繰り返す(合計 2 サイクル)

はんだ付けが終了したプリント配線板は,適切な溶剤(JIS C 60068-2-45 の 3.1.2 参照)で 3 分間洗浄す

る。

4.31.3

リフローソルダリング

個別規格でリフローソルダリングを規定している場合には,次の取付手順を適用する。

a)

はんだは,ペースト状又はプリフォーム(preform)したものを用いるが,JIS C 60068-2-20 の試験 T

に規定する非活性フラックスを用いた質量分率で銀(Ag)2 %以上の Sn/Pb 共晶はんだとする。はん

だ食われ防止層をもつ電極構造の表面実装用抵抗器には,Sn/Pb=60/40 又は 63/37 のはんだを用いて

もよい。

ペースト状又はプリフォーム(preform)した鉛フリーはんだは,JIS C 60068-2-58 に規定するフラ

ックスとともに,JIS C 60068-2-58 で規定している Sn96.5Ag3.0Cu0.5 又は類似の組成物とする。

b)

表面実装用抵抗器は,試験用のプリント配線板のメタライズしたランドの決められた範囲で端子電極

が接触するように装着する。

c)

プリント配線板は,適切な加熱装置(溶融はんだ,ホットプレート,トンネル炉など)の上又はその

中に置く。はんだが溶融して,均一なはんだ付けができるまで,ユニットの温度は 215  ℃∼260  ℃で

保持する。ただし,この時間は 10 秒間以内とする(IEC 61760-1 参照)

注記 1  フラックスは,適切な溶剤(JIS C 60068-2-45 の 3.1.2 参照)で取り除く。全ての一連の作業


34

C 5201-1

:2011

でも汚染しないように注意する。また,試験槽内及び試験後の測定中でも清浄を保つように

注意する。

注記 2  個別規格では,より狭い温度範囲を規定してもよい。

注記 3  ベーパーフェーズソルダリングを適用する場合には,同様の方法で適切な温度を適用する。

単位  mm

材質

:ガラス布基材エポキシ樹脂

厚さ

:1.6 mm±0.1 mm 又は 0.8 mm±0.1 mm

注記 1

はんだ付け領域 
非はんだ付け領域(ソルダーレジストで覆う。

注記 2  全ての寸法は,mm 単位である。 
注記 3  規定していない寸法は,抵抗器の設計及び寸法から選定することが望ましい。 
注記 4  この導体は,除外するか又はガード電極として用いてもよい。 
注記 5  寸法 は,試験装置の設計による。

図 9−機械的及び電気的試験用の基板(インピーダンス測定には適切でない場合がある。)


35

C 5201-1

:2011

単位  mm

材質

:純度 90∼98 %のアルミナ基板

厚さ

:0.635 mm±0.05 mm 又はそれ以上

注記 1

はんだ付け領域 
非はんだ付け領域(ソルダーレジストで覆う。

注記 2  全ての寸法は,mm 単位である。 
注記 3  規定していない寸法は,抵抗器の設計及び寸法から選定することが望ましい。 
注記 4  この導体は,除外するか又はガード電極として用いてもよい。

図 10−電気的試験用の基板

4.32

固着性

この試験は,表面実装用抵抗器にだけ適用する。

注記  この試験は,せん断強さ試験としても知られている。

4.32.1

取付け

表面実装用抵抗器は,4.31 によって取り付ける。

4.32.2

厳しさ

表面実装用抵抗器は,JIS C 60068-2-21 の試験 Ue

3

を行う。下位規格の規定によって,次の試験条件のう

ちの一つを適用する。

a)

抵抗器の本体側面に衝撃を加えることなく,5 N の力を加え,10 秒間±1 秒間保持する。

b)

抵抗器の本体側面に衝撃を加えることなく,部品の質量に比例する力を加える。この加圧力は,規定

した力に到達したら,直ちに取り去る。下位規格に,抵抗器の典型的な質量に対する加圧力を規定す

る。

4.32.3

要求事項

抵抗器は,取り付けた状態で外観検査を行う。外観に損傷がない。

4.33

耐プリント板曲げ性

注記  この試験は,端子めっき固着強度としても知られている。

4.33.1

試験準備

表面実装用抵抗器は,4.31 によってガラス布基材エポキシ樹脂プリント配線板に取り付ける。RR3216M

以下の寸法の部品に用いる曲げジグの曲率半径は,5 mm とする。RR1005M 以下の寸法の部品に用いる基

板の厚みは,0.8 mm とする。

4.33.2

初期測定

表面実装用抵抗器の抵抗値は,4.5 の規定によって測定する。

4.33.3

試験手順

抵抗器は,下位規格に規定する曲げ深さ 及び曲げ回数の条件を用いて,JIS C 60068-2-21 の試験 Ue

1

を行う。

表面実装用抵抗器の抵抗値は,プリント配線板を曲げた状態で 4.5 によって測定する。4.33.2 の測定値に

対する抵抗値変化は,個別規格に規定する値を超えない。


36

C 5201-1

:2011

プリント配線板は,曲げた状態から元に戻し,その後試験ジグから取り外す。

4.33.4

最終検査,測定及び要求事項

表面実装用抵抗器は,外観検査を行い,外観に損傷がない。

4.34

耐食性

4.34.1

試験方法

抵抗器は,JIS C 60068-2-11 の試験 Ka を行う。

4.34.2

要求事項

個別規格に調整時間及び要求事項を規定する。

4.35

耐炎性

4.35.1

試験条件

抵抗器は,JIS C 60695-11-5 に規定するニードルフレーム試験を,接炎時間 t

a

として 5 秒,10 秒,20 秒,

30 秒,60 秒及び 120 秒から適切な厳しさを選択して行う。

4.35.2

要求事項

許容できる燃焼時間 t

b

は,個別規格に規定する。

4.36

低温動作

4.36.1

初期測定

抵抗値を 4.5 によって測定する。

4.36.2

試験手順

抵抗器は,次の手順によって試験を行う。

−  室温から−55  ℃

0

5

  ℃に 1.5 時間かけて無負荷状態で冷却する。

−  抵抗器をこの温度で冷却したまま 1 時間無負荷放置する。

−  抵抗器に,定格電力又は素子最高電圧のいずれか厳しくない方を,45 分間印加する。

−  抵抗器を冷却したまま 15 分間放置する。

−  温度を上げて,少なくとも 24 時間後処理する。

4.36.3

最終検査,測定及び要求事項

抵抗器は,外観検査を行う。外観に損傷がない。

抵抗値を 4.5 によって測定する。4.36.1 の測定値に対する抵抗値変化は,個別規格に規定する値を超えな

い。

4.37

高温高湿(加速)

注記  この試験は,耐湿負荷試験又は 85/85 試験としても知られている。

4.37.1

初期測定

抵抗値を 4.5 によって測定する。

4.37.2

試験方法

抵抗器は,JIS C 60068-2-67 の試験 Cy を,1 000 時間行う。個別規格で JIS C 60068-2-67 の 4.に従い異

なる試験時間を規定してもよい。

4.37.3

試験手順

抵抗器は,定格電圧(直流 100 V を最大とする)の 10 %に相当する電力を印加する。試験中を通して,

試験電圧は,計算値の±5 %以内に保持する。

4.5

によって,500 時間後に試験槽から取り出して 1∼2 時間以内に,1 000 時間後には 4∼24 時間以内に

測定を行う。48 時間後の中間測定を規定してもよい。


37

C 5201-1

:2011

4.37.4

最終検査,測定及び要求事項

抵抗器は,外観検査を行う。外観に損傷がなく,表示は判読できる。

抵抗値変化は,個別規格の規定する値を超えない。絶縁形抵抗器の場合は,4.6 によって絶縁抵抗を測定

する。絶縁抵抗は,個別規格に規定する値以上とする。

4.38

静電気放電

4.38.1

試験方法

抵抗器の静電気放電(ESD)パルス耐量は,JIS C 61340-3-1 に規定する人体モデル(HBM)によって試

験を行う。

抵抗器は,標準状態で試験を行う。取付方法は,個別規格に規定する。

4.38.2

初期測定

抵抗値は,4.5 によって測定する。

4.38.3

試験手順

試験パルス電圧は,個別規格によって,推奨値 300 V,500 V,800 V,1 000 V,1 500 V,2 000 V,3 000 V

及び 4 000 V から選択する。パルス電圧は,個別規格に規定がない限り,試料に 6 回(正極性 3 回及び負

極性 3 回)印加する。パルス印加の間隔は,最短で 1 秒間隔とする。

4.38.4

最終検査,測定及び要求事項

抵抗器は,外観検査を行う。外観に損傷がなく,表示は判読できる。

抵抗値は,4.5 によって測定する。4.38.2 に対する抵抗値変化は,個別規格に規定した値を超えない。

4.39

断続過負荷試験

4.39.1

前処理

抵抗器は,4.3 

手順 を用いて乾燥する。

4.39.2

取付け

抵抗器の取付方法は,通常の耐久性試験及び温度条件が等価になるように下位規格に規定する。

4.39.3

初期測定

抵抗値は,4.5 によって測定する。

4.39.4

厳しさ

試験の厳しさは,印加電圧又は電力,パルス間隔及び電圧印加回数によって決められる。試験の厳しさ

は,下位規格の規定によって

表 10 から選択する。

表 10−断続過負荷試験条件

印加電圧又は電力

パルス間隔

電圧印加回数

U

r

2.5×U

r

U

r

U

r

15×P

0.1 秒間印加,2.5 秒間停止

1 秒間印加,25 秒間停止

 1 000

100

0

10 000

400

0

4.39.5

後処理

後処理は,最大 24 時間以内で熱平衡状態に達するまで,標準状態に置く。

4.39.6

最終検査,測定及び要求事項

抵抗値は,4.5 によって測定する。

4.39.3

に対する抵抗値変化は,個別規格に規定の値を超えない。


38

C 5201-1

:2011

4.40

ウィスカ試験

4.40.1

一般

下位規格に規定がある場合には,JIS C 60068-2-82 に規定した試験を品質認証及び品質確認試験に,JIS 

C 60068-2-82

附属書 の推奨条件に基づいて適用する。

試験中に試料を保持する適切な固定ジグを,下位規格に規定する。

4.40.2

試料の準備

試料は,JIS C 60068-2-82 の箇条 に従って準備する。

抵抗器は,はんだ付けを意図した前処理として,JIS C 60068-2-82 の 5.5 による熱処理を行う。

リード付き抵抗器は,前処理として,JIS C 60068-2-82 の 5.6 によるリードフォーミング(端子加工)を

行う。

4.40.3

初期測定

抵抗器は,JIS C 60068-2-82 の 7.2 によって外観検査を行う。

4.40.4

試験手順

JIS C 60068-2-82

の箇条 の規定によって,室温試験,高温高湿(定常)試験及び温度急変試験を行う。

4.40.5

試験の厳しさ

JIS C 60068-2-82

表 を,抵抗器の構成材料に応じて適用する。

温度サイクル試験の温度の厳しさの選択には,次の区分を適用する。

a)

厳しさ N,−55  ℃/+125  ℃は,カテゴリ下限温度(LCT)−55  ℃以下,及びカテゴリ上限温度(UCT)

125  ℃以上の抵抗器に適用する。

b)

厳しさ K,−40  ℃/+85  ℃は,カテゴリ下限温度(LCT)−55  ℃未満,及び/又はカテゴリ上限温

度(UCT)125  ℃未満の抵抗器に適用する。

4.40.6

最終検査,測定及び要求事項

抵抗器は,JIS C 60068-2-82 

附属書 によって外観検査を行う。

ウィスカは,個別規格に規定の長さを超えない。

4.41

硫化試験

(検討中)


39

C 5201-1

:2011

附属書 A

規定)

IEC

電子部品品質認証制度(IECQ)に用いる場合の

IEC 60410

の抜取計画及び手順の説明

A.1

IEC 60410

の箇条及び細分箇条

計数値検査に対して IEC 60410 を用いる場合には,次に示す箇条及び細分箇条の説明は,この規格(IEC 

60410

)に適用する。

1

権限と責任とがあるのは,基本規則及び施行規則に定める国の代表機関である。

1.5

製品の単位は,個別規格に規定する抵抗器である。

2

この箇条は,次の用語及び定義だけに適用する。

−  “欠陥”は,規定する要求性能に対して製品の単位が不適合である。

−  “不良”は,1 個以上の不適合品を含む製品の単位である。

3.1

製品の不適合の範囲は,不良率で,百分率(%)で表す。

3.3

適用しない。

4.5

品目別通則又は品種別通則の部を構成するブランク個別規格を作成する権限と責任とがあるの

は,IEC 技術委員会である。

5.4

権限と責任とがあるのは,管理責任者(DMR)であり,国内監督検査機関(NSI)が認証した認

定製造業者の検査部門の規定した手順に従って行う。

6.2

権限と責任とがあるのは,管理責任者(DMR)である。

6.3

適用しない。

6.4

権限と責任とがあるのは,管理責任者(DMR)である。

8.1

なみ検査は,検査の開始に当たって,常に用いる。

8.3.3 d)

権限と責任とがあるのは,管理責任者(DMR)である。

8.4

権限と責任とがあるのは,国内監督検査機関(NSI)である。

9.2

品目別通則又は品種別通則の部を構成するブランク個別規格を作成する権限と責任とがあるの

は,IEC 技術委員会である。

9.4

第 4 文は,適用しない。

第 5 文において,権限と責任とがあるのは,管理責任者(DMR)である。

10.2

適用しない。


40

C 5201-1

:2011

附属書 B

規定)

IEC

電子部品品質認証制度(IECQ)に用いる場合の電子機器用

コンデンサ及び抵抗器の個別規格を作成するための規則

B.1

個別規格の作成要件

IEC TC40

(電子機器用コンデンサ及び抵抗器)技術委員会によって完全な個別規格の案の要求がある場

合には,次の全ての条件を満足するときだけ作成できる。

a)

品目別通則が承認になっている場合。

b)

適切な時期に,品種別通則が,最終国際規格案(FDIS)の承認のため各国に回覧している場合。

c)

関連するブランク個別規格が,最終国際規格案(FDIS)の承認のため各国に回覧している場合。

d)

少なくとも 3 か国の国内委員会が,その国の国家規格の部品の性能が非常に類似した規格である証拠

を正式に認めた場合。

他国の国家規格の一部を実際に用いているか又は意味があることを国内委員会が正式に主張した場合は,

前述の要求に対して有効としてもよい。

B.2

個別規格への引用内容

TC40

技術委員会の責任で作成する個別規格は,適切な品目別通則又は品種別通則に規定する推奨値,

定格及び特性,並びに環境試験の厳しさなどの標準を用いる。

TC40

技術委員会が承認する場合には,この規則の除外は,規定する個別規格だけに与えられる。

B.3

個別規格の回送

品種別通則及びブランク個別規格が承認され発行するまで,個別規格を最終国際規格案(FDIS)として

回覧しないほうがよい。


41

C 5201-1

:2011

附属書 C 

参考)

周期的パルス高電圧過負荷試験の試験装置例

4.28

に規定する周期的パルス高電圧過負荷試験に用いる試験装置の構成例を,

図 C.1 及び図 C.2 に示す。

G

:パルス発生器

A

1

A

n

:電力増幅器

R

X1

R

Xn

:供試抵抗器

U

:電圧源(電源)

図 C.1−試験装置のブロック図

t

r

t

f

≦2 μs 又は t

p

(最高値)の 10 %

ΔÛ≦0.1Û

図 C.2−パルス波形の許容誤差


42

C 5201-1

:2011

附属書 D 

規定)

IEC

電子部品品質認証制度(IECQ)に用いる場合の

PCP/CQC

仕様書の最初のページのレイアウト

PCP/CQC

仕様書の最初のページのレイアウトを,次に示す。

製造業者名(Manufacturer’s name)

住所(Location)

能力認証番号

    PCP/CQC 規格番号

(Capability approval number)

(PCP/CQC specification number)

版(Issue)

能力マニュアル引用番号

日付(Date)

(Capability manual reference number)

工程管理パラメータ(PCP)/能力認証用部品(CQC)の記述

(Description of PCP/CQC)

工程管理パラメータ(PCP)/能力認証用部品(CQC)の目的

(Purpose of PCP/CQC)

引用仕様書(Drawing reference)

部品の証明(Part identity)


43

C 5201-1

:2011

附属書 E

規定)

IEC

電子部品品質認証制度(IECQ)に用いる場合の

能力認証試験報告書の要求事項

E.1

一般

この試験報告書は,日付を付けて,E.2E.3 及び E.4 に規定する情報を含む。

E.2

共通事項

−  製造業者名及び住所

−  上記と異なる場合の製造場所

−  品目別通則及び品種別通則の規格番号,発行並びに追補の日付

−  能力の記述の版番号及び日付

−  工程管理パラメータ(PCP)/能力認証用部品(CQC)仕様書の引用

−  適用する場合の能力認証のための試験計画書の引用

−  適切な測定の不確定さと一緒に用いる試験装置のリスト

E.3

[各能力認証用部品(CQC)用]試験情報の概要

−  試験

−  試験する試料数

−  許容不適合数

−  検出された不適合数

E.4

測定の記録

測定結果の記録は,試験後の要求性能又は最終測定を規定する,様々な機械的,環境及び耐久性試験の

前後で行う。


44

C 5201-1

:2011

附属書 F

参考)

文字記号及び略語

F.1

文字記号

記号

意味

単位

電極から電極への軸方向に沿って測定した長さ mm

直径 mm

I

max

最大許容電流 A

P

70

周囲温度 70  ℃での定格電力 W

実測抵抗値

R

ins

絶縁抵抗

R

n

公称抵抗値

R

res

残留抵抗値

R

res max

最高許容残留抵抗値

ΔR

抵抗値変化

ΔR/R

事前の測定値に対する抵抗値変化 %

電圧,例えば試験電圧など V

U

ins

絶縁電圧 V

U

max

素子最高電圧,最大許容電圧 V

U

r

定格電圧

R

P

U

×

=

70

r

 V

t

a

耐炎試験のさらし時間 s

t

b

耐炎試験のさらし後の燃焼時間 s

高さ(厚さ) mm

T

A

温度変化試験における低温側

T

B

温度変化試験における高温側

mm


45

C 5201-1

:2011

F.2

略語

略語

意味

合格判定数(群当たりの許容不適合数)

D

破壊試験

DMR

管理責任者(品質システム管理者)

ESD

静電気放電

HBM

人体モデル,静電気放電試験においてコンデンサと抵抗器によって記述される。

IL

検査水準

LCT

カテゴリ下限温度

試料数

ND

非破壊試験

NSI

国内監督検査機関

周期(月)

RC

円筒形抵抗器の形式,一般的に皮膜抵抗器に使用される。

RR

角形抵抗器の形式,一般的に皮膜抵抗器に使用される。

SPC

統計的工程管理

TA

技術認証

TADD

技術認証申告書

TAS

技術認証スケジュール

TC

温度係数

TCR

抵抗温度係数

UCT

カテゴリ上限温度


46

C 5201-1

:2011

附属書 G 

参考)

試験及び測定手順の索引表

試験及び測定手順の項目番号の索引表を,次に示す。

G.1

試験及び測定手順の一般情報

4.1

一般事項

4.2.1

測定及び試験のための標準大気条件(標準状態)

4.2.2

後処理

4.2.3

判定試験のための標準大気条件(判定状態)

4.2.4

標準基準大気条件(基準状態)

4.3

乾燥

4.31

表面実装用抵抗器の取付け

G.2

電気的試験及び測定

4.5

抵抗値

4.8

温度による抵抗値変化

4.6

絶縁抵抗

4.7

耐電圧

4.9

リアクタンス

4.11

電圧係数

4.10

非直線性

4.12

雑音

4.14

温度上昇

G.3

パルス負荷試験

4.13

短時間過負荷

4.27 1.2/50

単パルス高電圧過負荷試験

4.27 10/700

単パルス高電圧過負荷試験

4.28

周期的パルス高電圧過負荷試験

4.38

静電気放電

4.39

断続過負荷試験

G.4

機械的試験及び測定

4.4.1

外観検査

4.4.2

寸法(ゲージ法)

4.4.3

寸法(詳細)

4.15

抵抗体強度


47

C 5201-1

:2011

4.16

端子強度

4.20

バンプ

4.21

衝撃

4.22

振動

4.32

固着性

4.33

耐プリント板曲げ性

G.5

環境及び耐候性試験

4.25.1 70

℃での耐久性

4.25.2

室温での耐久性

4.25.3

カテゴリ上限温度での耐久性

4.19

温度急変

4.36

低温動作

4.23

一連耐候性

4.24

高温高湿(定常)

4.37

高温高湿(加速)

4.34

耐食性

4.41

硫化試験

4.40

ウィスカ試験

G.6

部品実装に関わる試験

4.17

はんだ付け性

4.18

はんだ耐熱性

4.29

部品の耐溶剤性

4.30

表示の耐溶剤性

G.7

安全性に関わる試験

4.26

偶発的過負荷試験

4.35

耐炎性


48

C 5201-1

:2011

附属書 Q 

規定)

IEC

電子部品品質認証制度(IECQ)に用いる場合の

品質評価手順

Q.1

一般事項

この規格及び下位規格を,IEC 電子部品品質認証制度(IECQ)のような総合的な品質評価制度に用い

る場合は,Q.5Q.6 又は Q.14 の手順を適用する。

これらの規格を IEC 電子部品品質認証制度(IECQ)以外の設計審査又は形式試験のような目的で使用

する場合は,Q.5.1 及び Q.5.3 b)の手順及び要求事項を用いてもよい。ただし,これらの試験の全て又は一

部は,試験計画に示す順で行う。

この箇条の手順によって抵抗器の認証を取得する前に,製造業者は,IEC QC 001002-3 によって,自ら

の製造業者認定を取らなければならない。

抵抗器の品質評価の認証に利用できる三つの方法は,次による。

a)  IEC QC 001002-3

の箇条 による品質認証

b)  IEC QC 001002-3

の箇条 による能力認証

c)

IEC QC 001002-3

の箇条 による技術認証

抵抗器にサブファミリがある場合には,品質認証用及び能力認証用の品種別通則が個々に必要であり,

能力認証は関連の品種別通則が制定されている場合だけに利用できる。

Q.1.1

品質認証の適用性

品質認証は,類似の設計及び製造工程で製造する抵抗器の標準範囲に対して適切であって,発行する個

別規格に従う。

適切な評価水準及び性能水準に応じた個別規格に規定する試験プログラムは,Q.5 及び関連する品種別

通則の規定によって,認証する抵抗値範囲に対して直接適用する。

Q.1.2

能力認証の適用性

能力認証は,共通の設計基準に基づく抵抗器を共通の製造工程群で製造する場合に適切である。特に,

抵抗器を顧客からの指定の要求事項に基づいて製造する場合に適切である。

能力認証では,個別規格を次の三つのカテゴリに分類する。

Q.1.2.1

工程の妥当性評価用素子を含む能力認証用部品(CQC

個別規格は,国内監督検査機関(NSI)で承認した能力認証用部品(CQC)ごとに作成する。個別規格

には,能力認証用部品(CQC)の目的を明確にし,全ての関連試験の厳しさ及び規定値を含めて規定する。

Q.1.2.2

標準カタログ部品

製造業者が能力認証手順に基づいて,IECQ 認証登録に記載しようとする抵抗器の認証を要求する場合

は,ブランク個別規格に適合した能力認証用の個別規格を作成する。この個別規格は,IECQ に登録し,

ISO 9000

を含めて,IECQ 制度で承認した品質認証認定証(QAC)による

1)

1)

  対応国際規格には,IEC QC 001005 を記載しているが,すでに廃止されている。IEC QC 001005

に記載の品質認証認定証(QAC)は,IEC オンラインサービス(http://certificates.iecq.org/)で

参照できる。


49

C 5201-1

:2011

Q.1.2.3

顧客指定部品

個別規格[顧客用個別仕様書(CDS)ともいう。

]の内容は,IEC QC 001002-3 の 4.4.3 に基づき,受渡

当事者間の協定によって規定する。

これらの個別規格に関して,より詳細な情報は,関連する品種別通則に規定する。

顧客の承認は,妥当性を確認した設計基準,工程及び品質管理手順並びに工程の妥当性評価用素子を含

む能力認証用部品の試験結果に基づき,製造設備に与える。より詳細な情報に対しては,Q.6 及び関連す

る品種別通則による。

Q.1.3

技術認証の適用性

技術認証は,全部の技術的プロセス(設計,工程の実現,製品製造,試験及び出荷)が技術によって決

定する全ての部品に共通の資格側面を範囲としている場合に適切である。

Q.2

製造の初期工程

製造の初期工程は,品種別通則に規定する。

Q.3

下請負契約

製造の初期工程及び/又はそれに続く工程の下請負契約を行う場合には,IEC QC 001002-3 の 4.2.2 によ

る。

品種別通則は,IEC QC 001002-3 の 4.2.2.2 によって下請負契約を制限してもよい。

Q.4

構造的に類似な部品

品質認証,能力認証又は技術認証の下で行う品質認証試験又は品質確認試験に対する構造的に類似な部

品の群分けは,関連する品種別通則に規定する。

Q.5

品質認証手順

Q.5.1

品質認証を取る資格

製造業者は,IEC QC 001002-3 の 3.1.1 に従う。

Q.5.2

品質認証の申請

製造業者は,IEC QC 001002-3 の 3.1.3 に従う。

Q.5.3

品質認証用試験手順

次の二つの手順のうち,いずれかによる。

a)

製造業者は,定期検査用の 1 ロット及びできるだけ短期間内に抜き取ったロットごとの検査用の 3 ロ

ットを用いて,個別規格の要求事項に適合する試験証明書を作成する。製造工程での大きな変更は,

検査ロットを抜き取っている期間に行わない。

試料は,IEC 60410

附属書 参照)に従って,そのロットから抜き取る。

注記  IECQ 制度を適用しない場合には,IEC 60410 に替えて JIS Z 9015-1 を適用してもよい。

検査は,なみ検査を用いる。ただし,合格判定数がゼロ個となる抜取数の場合には,合格判定数が

1 個となるように試料数を増加する。

b)

製造業者は,品種別通則に規定する定数抜取試験計画によって,個別規格の要求事項に適合している

ことを示す試験証明書を作成する。

試料は,

現在の製造中の生産品から無作為に抜き取るか,

又は IECQ 制度の認証を受ける場合には,


50

C 5201-1

:2011

国内監督検査機関(NSI)の承認によって選定する。

二つの手順の試料数及び合格判定数は,同一水準とする。その試験条件及び要求事項は,同じとす

る。

Q.5.4

品質認証の認可

品質認証は,IEC QC 001002-3 の 3.1.4 による手順を完全に満足している場合には,認可する。

Q.5.5

品質認証の維持

品質認証は,品質確認検査(Q.5.6 参照)の要求事項を満足することを,定期的に実証することによっ

て維持する。

Q.5.6

品質確認検査

品種別通則に関連するブランク個別規格は,品質確認検査のための試験計画を規定する。この試験計画

は,ロットごとの検査及び定期的検査のための群分け,サンプリング及び周期もまた規定する。

群 でゆるい検査への切替えルールの適用は,耐久性を除く全ての副群に認める。

抜取検査方式及び検査水準は,IEC 60410 又は JIS C 5005-2 に規定するものから選定する。

注記  IECQ 制度を適用しない場合には,IEC 60410 に替えて JIS Z 9015-1 を適用してもよい。

必要な場合には,二つ以上の試験計画を規定してもよい。

Q.6

能力認証手順

Q.6.1

一般事項

能力認証は,次の範囲とする。

−  管理手順及び試験を含む完全な設計,材料準備及び製造技術

−  工程及び生産に要求する性能限界,能力認証用部品(CQC)及び工程管理パラメータ(PCP)に対す

る規定値

−  認証が保証されるための機械的構造の範囲

能力認証の一般的な概要は,

図 Q.1 による。


51

C 5201-1

:2011

図 Q.1−能力認証の一般的な仕組み

Q.6.2

能力認証を取る資格

製造業者は,IEC QC 001002-3 の 4.2.1 の要求事項に従う。

Q.6.3

能力認証の申請

製造業者は,IEC QC 001002-3 の 4.2.4 の要求事項及び関連する品種別通則の要求事項に従う。

Q.6.4

能力の記述

IEC QC 001002-3

の 4.2.5 及び関連する品種別通則の要求事項に基づき,能力マニュアルの中に能力を規

定する。

能力マニュアルは,少なくとも次の事項を含めるか又は引用する。

−  関連する技術の一般的な紹介及び説明

−  適切な場合には,設計基準の規定を含む顧客との連絡対応及び顧客が要求事項を作成する場合の協力

についての側面

−  用いる設計基準の詳細な記述

−  個別規格に従い製造している関連の抵抗器技術に関して設計基準を遵守していることを確認する手順

−  関連する購入仕様書及び受入検査規格で引用する全ての使用材料リスト

−  品質管理ポイント及び許可された手直し経路を示し,全ての工程及び品質管理手順への引用を含む,

全体が分かる工程フローチャート

−  認証が関連する品種別通則の要求事項によって求めている工程の宣言

−  認証が関連する品種別通則の要求事項によって求めている範囲の宣言

抵抗の範囲

工程管理パラメータ(PCP)の選定

Q.6.10.2

能力認証用部品(CQC)の選定

Q.6.5.1

管理計画の準備

Q.6.10.3

能力認証用部品(CQC)用

個別規格の準備

Q.6.5.1

工程管理の開始

能力認証用部品(CQC)用

試験計画の準備

Q.6.6

初期の能力認証

Q.6.10

工程管理

ロットごとの検査

能力範囲の検証

Q.6.10.4


52

C 5201-1

:2011

−  宣言した能力範囲を特定の能力認証用部品(CQC)の設計によって実証することを示す詳細な表によ

って補足する,各々に一般的な説明を付けた能力評価に用いる能力認証用部品(CQC)のリスト

−  各能力認証用部品(CQC)に対する個別規格

−  各工程管理パラメータ(PCP)の一般的な説明を付けた工程管理に用いる工程管理パラメータ(PCP

を含み,その工程管理パラメータ(PCP)と完成部品の関連特性及び性能との関係とを示す詳細な管

理計画書

−  品質確認検査の抜取計画で構造的な類似性の適用に関するガイダンス

国内監督検査機関(NSI)は,機密文書として能力マニュアルを取り扱う。製造業者が望む場合には,

製造業者は,第三者機関にその一部又は全てを公表してもよい。

Q.6.5

能力の実証及び検証

製造業者は,IEC QC 001002-3 の 4.2.6 及び次の詳細事項を規定する関連する品種別通則の要求事項に従

ってその能力を実証し,証明する。

Q.6.5.1

能力を実証する能力認証用部品(CQC

製造業者は,能力マニュアルに規定する能力範囲を実証するために必要な工程管理パラメータ及び能力

認証用部品の範囲の決定について国内監督検査機関(NSI)に同意する。

能力マニュアルに従って設計,製造及び工程パラメータを管理した能力認証用部品(CQC)の承認範囲

を試験することで実証を行う。能力認証用部品(CQC)は,次の要求事項に従う。

a)

用いる能力認証用部品(CQC)の範囲は,宣言した能力の全ての限界を代表する。能力認証用部品

CQC)は,相互に達成できる限界の組合せを実証するよう選定する。

b)

能力認証用部品(CQC)は,次の一つとする。

−  能力の範囲の組合せを実証するために特別に設計された抵抗器

−  一般的な生産に使用される設計の抵抗器

−  a)の要求事項を満足することを条件に,これらの両方の組合せ

能力認証用部品(CQC)を能力認証だけを目的に設計され及び製造する場合には,製造業者は,出荷品

に適用するように同じ設計規則,材料及び製造工程を用いる。

個別規格は,各能力認証用部品(CQC)に対して作成し,

附属書 に従って表紙形式をとる。個別規格

は,能力認証用部品(CQC)の目的を明確にし,全ての関連したストレス水準及び試験範囲を含める。工

程の管理及び維持並びに能力の範囲を実証するために,工程検査及び記録を規定する内部管理文書を引用

してもよい。

Q.6.5.2

能力の範囲

能力の範囲は,関連の品種別通則に規定する。

Q.6.6

能力認証のプログラム

IEC QC 001002-3

の 4.2.6 に従って,製造業者は,宣言した能力の評価のためのプログラムを作成する。

このプログラムは,宣言した各能力の範囲が適切な能力認証用部品(CQC)によって検証されるように設

計する。

そのプログラムは,次の事項を含む。

−  認証試験に対して計画された日程表を示すバーチャート又はその他の手法

−  適用する個別規格に引用する全ての能力認証用部品(CQC)の詳細

−  各能力認証用部品(CQC)によって実証する特性を示すチャート

−  工程管理に対して用いる管理計画の引用


53

C 5201-1

:2011

Q.6.7

能力認証試験報告書

IEC QC 001002-3

の 4.2.6.3 に従って,能力認証試験報告書を発行する。この報告書は,この規格の

附属

書 に規定する要求事項を満足し,次の要求事項を含む。

−  能力マニュアルの発行番号及び発行日

−  Q.6.6 による能力認証用プログラム

−  プログラムの実施中に得た全ての試験結果

−  用いた試験方法

−  不適合が発生した場合に取られた是正内容の報告書(Q.6.10.1 参照)

報告書は,得られた結果の正式文書として管理責任者(DMR)が署名し,能力認証の認可に責任がある,

国内規則で指定された機関[国内監督検査機関(NSI

]に提出する。

Q.6.8

能力の概要

能力の概要は,能力認証が認可された後に品質認証認定証(QAC

1)

の中で公表することを意図する。

それは,製造業者の能力の簡潔な説明を含み,認定された製造業者の技術,製造方法及び製品の範囲の

十分な情報を含む。

Q.6.9

能力認証に影響を及ぼす変更

能力認証に影響を及ぼすようなどのような変更も IEC QC 001002-3 の 4.2.11 の要求事項を満足する。

Q.6.10

初期能力認証

この認証を認可する条件は,次による。

−  能力認証用部品(CQC)の選定範囲は,不適合品がないほか,能力認証用部品(CQC)の個別規格の

評価要求事項を全体的に満足している。

−  管理計画は,工程管理体系の中で十分に実施している。

Q.6.10.1

不適合になった場合の手順

不適合になった場合の手順は,IEC QC 001002-3 の 4.2.10 によるほか,次による。

抵抗器が検査要求事項に不適合となった場合には,製造業者は,国内監督検査機関(NSI)に通知し,

次の a)及び b)に規定する処置の一つに従うことを表明する。

a)

製造業者が提案した能力の適用範囲を変更する。

b)

不適合の原因が,次のいずれかであるかを確定するために不適合品の調査を行う。

−  試験そのものの失敗(

例  試験装置の故障,検査員のエラー)

−  設計又は工程の不具合

不適合の原因が試験そのものの失敗として確定した場合には,見かけ上の不適合品又は適切な場合には

新規の抵抗器のどちらかを,必要な是正処置を行った後に試験プログラムに戻す。新しい抵抗器を用いる

場合は,

見かけ上で不適合となった抵抗器と同様に,

試験プログラムの中の一連の全ての試験を実施する。

不適合の原因が設計又は工程の不具合として確定した場合には,試験プログラムは,不適合の原因を根

絶して,文書化を含めて全ての是正処置が実施されたことを実証する。これが成し遂げられた場合には,

不適合が発生した一連の試験は,新しい能力認証用部品(CQC)を用いて全て繰り返す。

処置が完了した後,製造業者は,国内監督検査機関(NSI)に報告書を送付し,能力認証の試験報告書

Q.6.7 参照)の中に是正内容の報告書のコピーを含める。

Q.6.10.2

工程管理パラメータ(PCP)及び能力認証用部品(CQC)の選定の一般的な計画

各製造業者は,関連する品種別通則の例に基づいて,工程フローチャートを作成する。製造業者は,フ

ローチャートに含まれる全ての工程段階に対応する工程管理項目を入れる。


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C 5201-1

:2011

管理項目は,関連する品種別通則で例示するように製造業者が指定する。

Q.6.10.3

工程管理試験計画

試験計画は,製造業者が用いる工程管理体系の一部を構成する。統計的工程管理(SPC)を用いる場合

には,統計的工程管理(SPC)の基本的な要求事項によって実施する。統計的工程管理(SPC)計画は,

工程の重要管理項目での必須管理とする。

生産設備を用いる各工程段階では,製造業者は,定期的に工程パラメータを監視し,製造業者が設定す

る管理範囲と対策範囲とを比較する。

Q.6.10.4

能力の範囲を実証するための能力認証用部品(CQC)の試験計画

能力の範囲を実証するための能力認証用部品(CQC)の試験計画は,関連する品種別通則に規定する。

Q.6.11

能力認証の認可

能力認証は,IEC QC 001002-3 の 4.2.6 による手順を十分に満足し,関連する品種別通則の要求事項を満

足した場合に,認可する。

Q.6.12

能力認証の維持

能力認証は,IEC QC 001002-3 の 4.2.9 の要求事項を満足し,関連する品種別通則の中に規定する維持予

定表に従う能力マニュアルで宣言した要求事項を満足することによって,維持する。

さらに,能力認証は,次の詳細を適用する。

a)

能力認証は,2 年間の再試験なしで有効である。

b)

能力認証用部品(CQC)の再試験プログラムは,製造業者によって決定する。工程管理に対しては,

製造業者は,管理体系を確立する。管理プログラムの例は,品種別通則中の規定に従ってもよい。能

力の範囲を立証するために,製造業者は,製造業者の能力認証に関連する Q.6.10.4 の全ての試験計画

を少なくとも 2 年ごとに繰り返すことを確実にする。

c)

出荷のための抵抗器の品質確認検査は,関連する能力認証の維持を立証するために用いてもよい。特

に,製造業者が,同じ工程によって製造され,かつ,能力認証を保持する能力の範囲内にある抵抗器

の範囲の品質認証を保持する場合には,工程管理の検査結果及び品質認証から発生する定期的な品質

確認検査結果を,能力認証の維持を立証するために用いてもよい。

d)

製造業者は,能力認証用部品(CQC)の範囲が出荷品の代表のままであること,更に,関連する品種

別通則の要求事項と一致していることを確実にする。

e)

製造業者は,次のように製造を維持する。

−  Q.6.9 の手順に従って国内監督検査機関(NSI)が承認したどんな追加又は削除を除き,能力マニ

ュアルで規定した工程は,変更しない。

−  製造場所及び最終検査を行う場所で変更しない。

−  製造業者は,6 か月を超えて能力認証下の生産を中断しない。

f)

製造業者は,常に,立証された能力範囲及び規定期間での証明を待つ能力範囲が,証明できるように

能力プログラムの維持の経過を記録する。

Q.6.13

能力認証の拡張

製造業者は,拡張できる範囲の種類に関連する Q.6.10.4 から試験計画を実施することによって製造業者

の能力認証の範囲を拡大してもよい。要求された拡張が Q.6.10.4 に規定する能力範囲から異なる種類の範

囲まで引用する場合には,製造業者は,用いるサンプリング及び試験を提案し,国内監督検査機関(NSI

の承認を得る。製造業者は,新しい能力範囲のために必要な全ての工程管理を確立する。

能力認証の拡張は,本来の認証と同じ方法で行う。


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C 5201-1

:2011

Q.6.14

品質確認検査

品質確認検査の要求事項は,個別規格に規定され,IEC QC 001002-3 の 4.3.1 に従って行う。

Q.7

手直し及び修理

Q.7.1

手直し

関連する品種別通則によって禁止する場合には,IEC QC 001002-3 の 4.1.4 に規定する手直しは,行わな

い。特定の部品について,手直しの回数を制限する場合には,そのことを関連する品種別通則に規定する。

全ての手直しは,個別規格の要求事項によって検査する検査ロットを構成する前に実施する。

手直し手順は,製造業者が作成する関連文書の中に全て規定する。また,管理責任者(DMR)の直接管

理の下に実施する。手直しは,下請負契約してはならない。

Q.7.2

修理

IEC QC 001002-3

の 4.1.5 に規定する修理をした抵抗器は,IECQ 制度の下では出荷しない。

Q.8

出荷

個別規格に規定する品質確認検査を実施した後,抵抗器は,Q.5.6 及び IEC QC 001002-3 の 4.3.2 に従っ

て,出荷する。

Q.8.1

品質認証中での群 検査完了前の出荷

全ての

群 検査について,IEC 60410 のゆるい検査への移行の条件を満足する場合には,製造業者は,

群 検査の完了前に抵抗器を出荷できる。

注記  IECQ 制度を適用しない場合には,IEC 60410 に替えて JIS Z 9015-1 を適用してもよい。

Q.9

出荷ロット成績証明書

購入者から出荷ロット成績証明書の要求がある場合には,出荷ロット成績証明書の内容を個別規格に規

定する。

注記  能力認証では,出荷ロット成績証明書は,能力認証用部品(CQC)で行う試験だけを引用する。

Q.10

長期保管後の出荷

ロットの出荷に続いて,2 年(品種別通則に保管期間の規定がない場合)を超えて長期保管した抵抗器

は,出荷前に,個別規格に規定するはんだ付け性及び電気的特性について再検査する。

製造業者の管理責任者(DMR)が採用する再検査手順は,国内監督検査機関(NSI)が承認する。

ロットの再検査が満足する結果になれば,規定する期間,その品質は,再保証される。

Q.11

代替試験方法

代替試験方法は,IEC QC 001002-3 の 3.2.3.7 によるほか,次による。

判定及び基準について疑義がある場合には,規定する方法だけを用いる。

Q.12  IECQ

の国内監督検査機関(NSI)の対象地域外での製造

IEC QC 001002-3

の 2.5.1.3 の要求事項を満足する場合には,関連する技術的な領域に対して,国内監督

検査機関(NSI)がない国に所在する製造業者の工場で,この国が IECQ メンバー国であるかどうかにか

かわらず,製造業者は,抵抗器の一部又は全部の製造範囲にその認証を拡張してもよい。


56

C 5201-1

:2011

Q.13

規定していないパラメータ

個別規格に規定があって,試験の対象になった部品のパラメータだけが,規定範囲内にあるとみなす。

規定していないパラメータは全て,ある部品から別の部品まで不変のままとみなすことができない。いか

なる理由があっても,一つ以上の追加パラメータを管理する必要がある場合には,新規で,より広範囲に

わたる規格を使用する。

追加の試験方法は,十分に記述されて,適切な規定値,抜取検査方式及び検査水準を規定する。

Q.14

技術認証手順

Q.14.1

一般事項

部品の技術認証は,全ての技術プロセスを対象とする。既存の品質認証及び能力認証の概念に次の原則

を付加し,技術認証の必須要件として拡張している。

a)

工程内管理方法の使用。例えば,統計的工程管理(SPC

b)

継続的な品質改善の戦略。

c)

総合的な技術及び作業の監視。

d)

品質管理システム及び市場要求に適合する実施面での柔軟性。

e)

迅速な認証又は認証の拡張を可能とするための製造業者の作業文書の承認。

Q.14.2

技術認証を取る資格

製造業者は,IEC QC 001002-3 の 6.2.1 に従う。

Q.14.3

技術認証の申請

製造業者は,IEC QC 001002-3 の 6.2.2 に従う。

Q.14.4

技術認証の記述

技術は,IEC QC 001002-3 の 6.4 に従って技術認証申告書(TADD)及び技術認証スケジュール(TAS

に記述する。

Q.14.5

技術の実証及び証明

製造業者は,IEC QC 001002-3 の 6.4 及び 6.5 に従って技術の実証及び証明をする。

Q.14.6

技術認証の認可

技術認証は,IEC QC 001002-3 の 6.7.3 による手順が完全に満足する場合に,認可する。

Q.14.7

技術認証の維持

技術認証は,IEC QC 001002-3 の 6.7.5 の要求事項を満足することによって維持する。

Q.14.8

品質確認検査

品質確認検査及び要求事項は,関連する個別規格及び技術認証スケジュールに従って行う。

Q.14.9

故障率水準の決定

故障率水準の決定及び認可は,関連する規格に規定する。

Q.14.10

出荷品質水準

出荷品質水準の定義は,受渡当事者間の協定による。


57

C 5201-1

:2011

附属書 JA

参考)

形名及び表示

JA.1

一般事項

この附属書は,2.5 

注記に記載する電子機器用固定抵抗器の形名の記号化について示す。

JA.2

形名の構成

形名の構成は,次の配列とし,品種別通則及び個別規格で規定する。

なお,例は,電子機器用炭素皮膜固定抵抗器の場合を示す。

例    RD

  14

  D

  2E

  103

      J

        E          F              T

JA.2.1

抵抗器の種類

抵抗器の種類は,2 文字で表す。第 1 文字は,抵抗器を表す英大文字 とする。第 2 文字は,I,O 及び

Z を除く英大文字とし,主な抵抗体によって区分する。代表的な組合せを,表 JA.1 に示す。必要によって

品種別通則又は個別規格で 1 文字を追加してもよい。

表 JA.1−抵抗器の種類を表す記号

記号

主な抵抗体

記号

主な抵抗体

RB

抵抗線(精密級) RN

金属皮膜(薄膜)

RC

炭素混合体 RS

酸化金属皮膜

RD

炭素皮膜 RW

抵抗線(電力形)

RK

金属混合皮膜(厚膜)

JA.2.2

形状

形状を表す記号は,2 数字又は 3 数字で表し,

表 JA.6 及び表 JA.7 による。必要によって品種別通則又

は個別規格で 1 文字を追加してもよい。

JA.2.3

特性

特性を表す記号は,I,O 及び Z を除く 1 又は 2 英大文字で表し,品種別通則及び個別規格で規定する。

JA.2.4

定格電力

定格電力を表す記号は,第 1 文字を数字,第 2 文字を英大文字とする 2 文字の組合せで表し,

表 JA.2

による。

抵抗器の種

類を表す記

JA.2.1

形状を

表す記

 

JA.2.2 

特性を表

す記号

JA.2.3 

定格電力

を表す記

 

JA.2.4

公称抵抗

値を表す

記号

JA.2.5

公称抵抗値

許容差を表

す記号

JA.2.6 

評価水準

を表す記

 

JA.2.7

安定性ク

ラスを表

す記号 

JA.2.8 

その他,必

要な事項を

表す記号

JA.2.9 


58

C 5201-1

:2011

表 JA.2−定格電力を表す記号

単位  W

第 2 文字

第 1 文字

A B C D E F G H  J K

0

1

− 0.031

5

(0.03)

− 0.05

0.063 −

2 0.1

0.125

− 0.25 −

− 0.5 −

3 1 −

− 2 2.5

3.15

(3)

4 5 6.3 8

4  10 12.5 16 20 25 31.5

(30)

40 50 63 80

5  100 125 160 200 250 315

(300)

400 500 630 800

6 1

000 −

注記  表中の括弧内の数値を使用してもよい。

JA.2.5

公称抵抗値

公称抵抗値を表す記号は,3 数字(E3,E6,E12 及び E24 の各数列の場合)又は 4 数字(E48,E96 及び

E192 の各数列の場合)で表す。

3 数字の場合には,第 1 及び第 2 数字は,オーム(Ω)を単位とする有効数字とし,第 3 数字は,有効数

字に続くゼロの数を表す。

4 数字の場合には,第 1,第 2 及び第 3 数字は有効数字とし,第 4 数字は,有効数字に続くゼロの数を表

す。

なお,小数点がある場合には,小数点を英大文字 R で表し,この場合は全て有効数字とする。

例  3 数字及び 4 数字の場合の公称抵抗値を表す記号

3 数字の場合

4 数字の場合

R10 

0.10 Ω

150 

15 Ω

R100 

0.100 Ω

15R2 

15.2 Ω

1R0 

1.0 Ω

151 

150 Ω

1R00 

1.00 Ω

1001 

1.00 kΩ

100 

10 Ω

154 

150 kΩ

10R0 

10.0 Ω

1523 

152 kΩ

JA.2.6

公称抵抗値の許容差

公称抵抗値の許容差を表す記号は,1 英大文字で表し,

表 JA.3 による。

表 JA.3−公称抵抗値の許容差を表す記号

記号 E

L

P

W

B

C

D

F

G

H

J

K

M

N

公称抵抗値の

許容差 %

±0.005  ±0.01  ±0.02  ±0.05 ±0.1 ±0.25 ±0.5

±1

±2

±3

±5

±10  ±20

±30

JA.2.7

評価水準

評価水準を表す記号は,1 又は 2 英大文字で表し,品種別通則で規定する。

JA.2.8

安定性クラス

安定性クラスを表す記号は,1 英大文字で表し,長期試験の抵抗値変化の許容変化量によって区分し,

表 JA.4 の記号による。


59

C 5201-1

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表 JA.4−安定性クラスを表す記号

記号

安定性クラス %

長期試験後の抵抗値許容変化量

短期試験後の抵抗値許容変化量

W

0.05

±(0.05 %+0.01 Ω)

±(0.01 %+0.01 Ω)

B

0.1

±(0.1 %+0.01 Ω)

±(0.02 %+0.01 Ω)

C

0.25

±(0.25 %+0.05 Ω)

±(0.05 %+0.01 Ω)

D

0.5

±(0.5 %+0.05 Ω)

±(0.1 %+0.01 Ω)

F

1.0

±(1.0 %+0.05 Ω)

±(0.25 %+0.05 Ω)

G

2.0

±(2.0 %+0.1 Ω)

±(0.5 %+0.05 Ω)

H

3.0

±(3.0 %+0.1 Ω)

±(0.5 %+0.05 Ω)

J

5.0

±(5.0 %+0.1 Ω)

±(1.0 %+0.05 Ω)

K 10.0

±(10 %+0.5 Ω)

±(2.0 %+0.1 Ω)

L 15.0

±(15 %+0.5 Ω)

±(2.0 %+0.1 Ω)

JA.2.9

その他必要な事項

その他必要な事項を表す記号は,英大文字又は数字とし,JA.2.1JA2.8 では表せない性能,構造,材質

及びその他必要な事項を表す場合に適用し,品種別通則又は個別規格で規定する。ただし,安定性クラス

の記号は,誤認防止のため用いない。

JA.3

表示

JA.3.1

製品に対する表示

抵抗器の表面には,容易に消えない方法で明瞭に次の事項を表示する。ただし,j)又は k)のいずれかを

省略してもよい。その他の表示の詳細規定及び省略は,品種別通則又は個別規格の規定による。

a)

抵抗器の種類

b)

形状

c)

特性

d)

定格電力

e)

公称抵抗値

f)

公称抵抗値の許容差

g)

評価水準

h)

安定性クラス

i)

その他必要な事項を表す記号

j)

製造年月,製造年週又はその略号

k)

製造ロット番号

l)

製造業者名又はその略号

JA.3.2

表示の方法

文字又は色を用い,次によって表示する。

a)

表示の記号化  JA.2 及び JIS C 5062 の規定による。

b)

色による表示  JIS C 5062 の規定による。ただし,抵抗温度係数を除き,色表示と文字表示とを組み

合わせない。

c)

1

文字で表す製造年月の表示  表 JA.5 による。

d)

形状を表す記号  表 JA.6 及び表 JA.7 の形状を表す記号の規定及び個別規格の規定による。


60

C 5201-1

:2011

表 JA.5文字による製造年月表示

記号

記号

記号

記号

1997 
2001 
2005 
2009 
2013 
2017 
2021 
2025 
2029 
2033









9

10 
11 
12




D


F


H

J

K

L

M

1998 
2002 
2006 
2010 
2014 
2018 
2022 
2026 
2030 
2034









9

10 
11 
12

N

P


R


T


V

W


Y

Z

1999 
2003 
2007 
2011 
2015 
2019 
2023 
2027 
2031 
2035









9

10 
11 
12

a

b

c

d

e

f


h

j

k

l

m

1996 
2000 
2004 
2008 
2012 
2016 
2020 
2024 
2028 
2032









9

10 
11 
12



q



t


v

w



z

注記 48 か月(4 年)後は,繰り返し用いる。


61

C 5201-1

:2011

表 JA.6−主要形状記号図示一覧

記号

形状

参考略図(例)

01 
05 
08 
14

円筒形  金属ケース    リード線端子  反対方向(アキシャルリード線端子)
円筒形  非金属ケース  リード線端子  反対方向(アキシャルリード線端子)

円筒形  外装なし      リード線端子  反対方向(アキシャルリード線端子)
円筒形  非金属外装    リード線端子  反対方向(アキシャルリード線端子)

06

09

15

円筒形  非金属ケース  リード線端子  同一方向(ラジアルリード線端子)

(円筒軸方向) 
円筒形  外装なし      リード線端子  同一方向(ラジアルリード線端子) 
(円筒軸方向)

円筒形  非金属外装    リード線端子  同一方向(ラジアルリード線端子) 
(円筒軸方向)

11

円筒形  非金属外装    リード線端子  同一方向(ラジアルリード線端子) 
フォーミング加工のもの

12

円筒形  非金属外装    リード線端子  同一方向(ラジアルリード線端子) 
自立形フォーミング加工のもの

07

13

16

円筒形  非金属ケース  リード線端子  同一方向(ラジアルリード線端子)

(円筒直径方向) 
円筒形  外装なし      リード線端子  同一方向(ラジアルリード線端子) 
(円筒直径方向)

円筒形  非金属外装    リード線端子  同一方向(ラジアルリード線端子) 
(円筒直径方向)

23 
24 
26

円筒形  非金属ケース  ラグ端子  同一方向 
円筒形  外装なし      ラグ端子  同一方向 
円筒形  非金属外装    ラグ端子  同一方向

27 
28

円筒形(表面実装)  非金属外装    表面実装端子又は電極  反対方向 
円筒形(表面実装)  非金属ケース  表面実装端子又は電極  反対方向

78 
83

角形  非金属ケース  ラグ端子  同一方向 
角形  非金属外装    ラグ端子  同一方向

79 
86

角形  非金属ケース  ラグ端子  同一方向  取付構造付 
角形  非金属外装    ラグ端子  同一方向  取付構造付

92 
97 
99

角形  非金属外装    リード線端子  同一方向(ラジアルリード線端子) 
角形  外装なし      リード線端子  同一方向 
角形  非金属ケース  リード線端子  同一方向

85

角形  金属ケース  ラグ端子  反対方向  取付構造付 

91 
96 
98

角形  非金属外装    リード線端子  反対方向(アキシャルリード線端子)

角形  外装なし      リード線端子  反対方向(アキシャルリード線端子) 
角形  非金属ケース  リード線端子  反対方向(アキシャルリード線端子)

72 
73 
77

角形(表面実装)  外装なし      表面実装端子又は電極  反対方向 
角形(表面実装)  非金属外装    表面実装端子又は電極  反対方向 
角形(表面実装)  非金属ケース  表面実装端子又は電極  反対方向

注記 1  形状の非金属ケースは,樹脂モールドを含める。外装なしは,絶縁を保証しない塗装と裸のままを含める。非

金属外装は,樹脂ディップコート,樹脂の厚塗り,絶縁テープなどの外装をいう。

注記 2  角形は,角板状(偏平角形)を含める。円筒形は,円柱形を含める。 
注記 3  ラグ端子は,板端子及びラッピング端子を含める。ただし,形状 78,83 及び 86 のラグ端子には,リードフレ

ーム端子を含める。

注記 4  リード線端子は,リードフレーム端子を含める。 
注記 5  形状 27,28,72,73 及び 77 形の表面実装用は,抵抗器規格の規定によって,記号に第 3 数字又は第 3 文字を

追加して,細分してもよい。


62

C 5201-1

:2011

表 JA.6−主要形状記号図示一覧(続き)

注記 6  形状 05,11,12 及び 14 のリード線端子の抵抗器のリードフォーミング加工の区分を抵抗器規格の規定によっ

て,記号に第 3 数字又は第 3 文字を追加して,細分してもよい。

注記 7  形状 78,83 及び 86 はデュアルインラインパッケージ(DIP),スモールアウトラインパッケージ(SOP)及び

フラットパッケージを含める。

注記 8  形状 78,83,92,97 及び 99 のものは,それぞれデュアルインラインパッケージ[78 及び 83(DIP)]及びシ

ングルインラインパッケージ[92,97 及び 99(SIP)

]のネットワーク抵抗器として使用されるため,抵抗器

規格の規定によって数字又は文字を追加し,細分してもよい。


63

C 5201-1

:2011

表 JA.7−形状記号一覧

記号

形状

01

円筒形

金属ケース

リード線端子

反対方向

02

円筒形

金属ケース

リード線端子

反対方向

スリーブ付

03

円筒形

金属ケース

リード線端子

同一方向

04

円筒形

金属ケース

リード線端子

同一方向

スリーブ付

05

円筒形

非金属ケース

リード線端子

反対方向

06

円筒形

非金属ケース

リード線端子

同一方向

(軸方向に平行)

07

円筒形

非金属ケース

リード線端子

同一方向

(軸方向に垂直)

08

円筒形

外装なし

リード線端子

反対方向

09

円筒形

外装なし

リード線端子

同一方向

(軸方向に平行)

10

円筒形

金属ケース

リード線端子

反対方向

取付構造付

11

円筒形

非金属外装

リード線端子

同一方向

フォーミング

12

円筒形

非金属外装

リード線端子

同一方向

自立形フォーミング

13

円筒形

外装なし

リード線端子

同一方向

(軸方向に垂直)

14

円筒形

非金属外装

リード線端子

反対方向

15

円筒形

非金属外装

リード線端子

同一方向

(軸方向に平行)

16

円筒形

非金属外装

リード線端子

同一方向

(軸方向に垂直)

17

円筒形

金属ケース

リード線端子

貫通

取付構造付

18

円筒形

外装なし

リード線端子

貫通

取付構造付

19

円筒形

金属ケース

ラグ端子

反対方向

20

円筒形

金属ケース

ラグ端子

反対方向

スリーブ付

21

円筒形

非金属ケース

ラグ端子

反対方向

22

円筒形

非金属ケース

ラグ端子

同一方向

(軸方向に平行)

23

円筒形

非金属ケース

ラグ端子

同一方向

(軸方向に垂直)

24

円筒形

外装なし

ラグ端子

同一方向

(軸方向に垂直)

25

円筒形

非金属外装

ラグ端子

反対方向

26

円筒形

非金属外装

ラグ端子

同一方向

(軸方向に垂直)

27

円筒形

非金属外装

表面実装端子又は電極

反対方向

(表面実装用)

28

円筒形

非金属ケース

表面実装端子又は電極

反対方向

(表面実装用)

29

円筒形

外装なし

表面実装端子又は電極

反対方向

(表面実装用)

30

円筒形

外装なし

ラグ端子

貫通

取付構造付

31

円筒形

外装なし

ラグ端子

貫通

取付構造付

32

円筒形

金属ケース

ねじ端子

同一方向

(軸方向に平行)

33

円筒形

金属ケース

ねじ端子

同一方向

(軸方向に平行)  スリーブ付

34

円筒形

非金属ケース

ねじ端子

反対方向

35

円筒形

非金属外装

ねじ端子

反対方向

36

円筒形

金属ケース

ねじ端子

同一方向

取付構造付

37

円筒形

金属ケース

ねじ端子

同一方向

スリーブ付

取付構造付

38

円筒形

金属ケース

ねじ端子

貫通

取付構造付

39

円筒形

非金属ケース

口金端子

反対方向

40

円筒形

外装なし

口金端子

反対方向

41

円筒形

非金属外装

口金端子

反対方向

42

丸形

金属ケース

リード線端子

反対方向

43

丸形

外装なし

リード線端子

反対方向

44

丸形

外装なし

端子なし

反対方向

45

丸形

非金属外装

リード線端子

同一方向

46

丸形

金属ケース

リード線端子

貫通

47

丸形

金属ケース

リード線端子

貫通

取付構造付

48

丸形

金属ケース

リード線端子

一端接地

取付構造付

49

丸形

金属ケース

ラグ端子

反対方向


64

C 5201-1

:2011

表 JA.7−形状記号一覧(続き)

記号

形状

50

丸形

外装なし

ラグ端子

反対方向

51

丸形

非金属外装

ラグ端子

反対方向

52

丸形

金属ケース

ラグ端子

貫通

53

54

55

56

丸形

金属ケース

ラグ端子

貫通

取付構造付

57

丸形

金属ケース

ラグ端子

一端接地

取付構造付

58

丸形

非金属ケース

ねじ端子

反対方向

59

丸形

外装なし

ねじ端子

反対方向

60

丸形

非金属ケース

ねじ端子

反対方向

取付構造付

61

円筒形

金属ケース

ラグ端子

同一方向

(軸方向に平行)

62

円筒形

非金属外装

ラグ端子

同一方向

63

円筒形

金属ケース

ラグ端子

同一方向

(軸方向に平行)  取付構造付

64

円筒形

金属ケース

ラグ端子

同一方向

(軸方向に平行)  スリーブ付,取付構造付

65

66

67

68

円筒形

金属ケース

プリント配線板用端子

同一方向

スリーブ付

69

円筒形

金属ケース

プリント配線板用端子

同一方向

自立形スリーブ付

70

角形

金属ケース

ラグ端子

同一方向

71

角形

金属ケース

ラグ端子

同一方向

取付構造付(表面実装用)

72

角形

外装なし

表面実装端子又は電極

(表面実装用)

73

角形

非金属外装

表面実装端子又は電極

(表面実装用)

74

角形

金属ケース

ねじ端子

同一方向

75

角形

金属ケース

ねじ端子

同一方向

取付構造付

76

角形

非金属ケース

ラグ端子

反対方向

77

角形

非金属ケース

表面実装端子又は電極

反対方向

(表面実装用)

78

角形

非金属ケース

ラグ端子

同一方向

79

角形

非金属ケース

ラグ端子

同一方向

取付構造付

80

角形

外装なし

ラグ端子

反対方向

81

角形

外装なし

ラグ端子

同一方向

82

角形

非金属外装

ラグ端子

反対方向

83

角形

非金属外装

ラグ端子

同一方向

84

角形

金属ケース

ラグ端子

反対方向

85

角形

金属ケース

ラグ端子

反対方向

取付構造付

86

角形

非金属外装

ラグ端子

同一方向

取付構造付

87

角形

金属ケース

ねじ端子

反対方向

88

角形

非金属ケース

ねじ端子

反対方向

89

角形

金属ケース

ねじ端子

反対方向

取付構造付

90

角形

非金属ケース

ねじ端子

同一方向

取付構造付

91

角形

非金属外装

リード線端子

反対方向

92

角形

非金属外装

リード線端子

同一方向

93

94

角形

金属ケース

リード線端子

反対方向

95

角形

金属ケース

リード線端子

同一方向

96

角形

外装なし

リード線端子

反対方向

97

角形

外装なし

リード線端子

同一方向

98

角形

非金属ケース

リード線端子

反対方向

99

角形

非金属ケース

リード線端子

同一方向

注記  形状 29,44,77 及び 80 はコンデンサの内容で変更が行われていて,形状 67 は使用されており注意を要する。


65

C 5201-1

:2011

附属書 JB

参考)

固定抵抗器の非直線性測定方法

JB.1

一般事項

この附属書は,固定抵抗器の非直線性の測定方法について適用する。この方法は,製造業者と使用者と

の間に合意がある場合だけに適用する。

注記  この附属書には,4.10 に規定する IEC/TR 60440 の概要を記載する。

JB.2

目的

この附属書は,抵抗器に発生する非直線性ひずみの大きさを求めるための測定方法と関連する試験条件

を標準化することを目的とする。

抵抗器の非直線性は,抵抗器の内部で発生する起電力によって生じるものであり,抵抗器の種類及び大

きさによって大幅に異なるため,ここでは測定方法だけを規定し,許容値などについては規定しない。

JB.3

測定原理

供試抵抗器に正弦波電流を通電する。抵抗器のインピーダンスが完全に直線的でない場合には,抵抗器

の両端に発生する電圧はひずみをもち高調波を含む。これらの高調波を測定すると,その大きさが抵抗器

の非直線性の指標となる。第 3 高調波を測定することを推奨する。

JB.4

用語及び定義

この附属書で用いる用語及び定義は,2.2 及び次による。

JB.4.1

非直線性

抵抗器に正弦波電流を流したとき,抵抗器の両端子間に発生する電圧が,流れる電流に対して比例しな

い性質。

JB.4.2

基本周波数

非直線性を測定するときに,抵抗器に流す正弦波電流の周波数。

JB.4.3

第 高調波電圧

基本周波数の 3 倍の周波数成分をもった電圧。

JB.4.4

第 高調波減衰

抵抗器の非直線性の大きさを表す指標であり,

測定のため抵抗器に印加される基本周波数成分の電圧と,

抵抗器の内部で発生する第 3 高調波成分の起電力との相対比で表され,次の式によって算出する。

3

1

10

3

log

20

E

U

A

=

ここに,

A

3

第 3 高調波減衰(THA)

U

1

基本周波数をもつ正弦波電流を抵抗器に流したとき,
抵抗器の両端子間に生じる基本周波数成分の電圧

E

3

抵抗器に正弦波電流を流したとき,抵抗器の内部で発
生する第 3 高調波成分の起電力

第 3 高調波減衰は,THA(Third harmonic attenuation)と略称する。


66

C 5201-1

:2011

JB.5

非直線性測定方法

抵抗器に発生する第 3 高調波電圧を測定する場合には,基本波と第 3 高調波以外の高調波電圧とを分離

しなければならない。これは別々の方法で行われる。

一つは,基本波で平衡したブリッジを使用する方法であり,高調波は,ブリッジの対角線に発生する。

残念ながらこの方法は,各供試抵抗器に対しブリッジを平衡させるのに時間を要する。

ここに採用した試験方法は,フィルタ回路であり,回路を構成する部品に対しては,より厳しい要求が

あるが,より使いやすい方法である。

JB.5.1

抵抗器範囲

測定回路は,1  Ω∼10 MΩ の抵抗値をもつ抵抗器の測定が可能である。この範囲外の抵抗器に対しても

測定は可能であるが,補正項 Δ が大きくなり,その影響が無視できないため限定する。

JB.5.2

測定回路

抵抗器の測定に適した基本周波数範囲は,10 kHz∼40 kHz である。これらの周波数範囲では,大きな困

難を伴わずに回路を構成できる。測定回路のブロック図を

図 JB.1 に示す。

G

:基本周波数発振器

VA

:可変減衰器(アッテネータ)

S

:試験信号印加スイッチ

A

1

:電力増幅器

LP

:低域波通過ろ波器(ローパスフィルタ)

MT

:整合変成器(マッチングトランス)

V

1

:基本波用電圧計(U

1

RT

:供試抵抗器

HP

:高域波通過ろ波器(ハイパスフィルタ)

A

:第 3 高調波増幅器

BP

:第 3 高調波帯域通過ろ波器

V

3

:第 3 高調波用電圧計(U

3

R

3

:第 3 高調波での測定器のインピーダンス

注記 1  R

3

として適した値は,10 Ω,100 Ω,1 000 Ω,10 000 Ω 及び 100 000 Ω で

表 JB.1 に規定する。

注記 2  表 JB.1 での供試抵抗値は,IEC 60440 では E12 の数列であるが,利用を簡便とするために E24 数列の表とし

た。また,U

1

及び の数値の一部の値で最終桁が,IEC 60440 と相異するが,計算上の誤差の処理の問題

であり,この附属書では四捨五入で処理してある。

図 JB.1−非直線性測定回路のブロック図

JB.5.3

等価回路

等価回路は,

図 JB.2 及び図 JB.3 による。


67

C 5201-1

:2011

RT:基本周波数での供試抵抗器のインピーダンス 
U

1

:供試抵抗器両端での基本波電圧

I

1

は,正弦波とする。

図 JB.2−基本周波数での等価回路

E

3

:供試抵抗器の内部で発生する第 3 高調波成分の起電力

RT

3

:供試抵抗器の第 3 高調波でのインピーダンス

R

3

:第 3 高調波での測定器の入力インピーダンス

U

3

:第 3 高調波用電圧計(V

3

)の第 3 高調波電圧指示値

図 JB.3−第 高調波での等価回路

JB.5.4

第 高調波減衰の算出

第 3 高調波減衰(A

3

)の値は,

図 JB.3 のブロック図に基づき,次のいずれかの方法によって算出する。

a)

補正項 Δ を用いないで算出する方法

3

3

3

3

1

U

R

RT

E

+

=

3

3

10

3

1

10

3

1

10

3

1

log

20

log

20

log

20

R

RT

U

U

E

U

A

+

=

=

b

)

補正項

Δ

を用いて算出する方法

3

3

10

1

log

20

R

RT

+

=

Δ

Δ

=

=

3

1

10

3

1

10

3

log

20

log

20

U

U

E

U

A

補正項

Δ

は,

表 JB.1 による。

c

)  D

及び補正項

Δ

を用いて算出する方法


68

C 5201-1

:2011

3

3

10

1

log

20

R

RT

+

=

Δ

1

10

log

20

U

D

=

Δ

=

=

3

10

3

1

10

3

log

20

log

20

U

D

E

U

A

D

及び補正項

Δ

は,

表 JB.1 による。

JB.5.5

測定回路に対する要求事項

JB.5.5.1

測定周波数

測定のために抵抗器に印加する基本周波数は

10 kHz

とし,非直線性の大きさを測定する第

3

高調波の周

波数は,

30 kHz

とする。

JB.5.5.2

電力増幅器(A

1

電力増幅器は,出力が供試抵抗器に最低

1 W

の電力が供給できるものとする。

JB.5.5.3

低域波通過ろ波器(LP

基本周波数の第

3

高調波に対し−

110 dB

以下の減衰特性をもつろ波器とする。

JB.5.5.4

整合変成器(MT

3

高調波に対し,入力インピーダンスが

10 Ω

100 Ω

1 kΩ

10 kΩ

及び

100 kΩ

となるような切替え

端子をもち,磁気に対し十分な遮蔽が施されている変成器とする。

JB.5.5.5

高域波通過ろ波器(HP

基本周波数に対し少なくとも−

60 dB

以下の減衰特性をもつろ波器とする。

JB.5.5.6

第 高調波帯域通過ろ波器(BP

3

高調波(

30 kHz

)に対し±

5 kHz

ずれた周波数で−

90 dB

以下の減衰特性をもつろ波器とする。

JB.5.5.7

電圧計に対する確度

基本波用電圧計(

10 kHz

)の確度は,フルスケールで±

5 %

以内,第

3

高調波電圧計(

30 kHz

)の確度は,

フルスケールで

10 %

以下とする。

JB.5.5.8

その他

その他の要求事項を,次に示す。

a

)

測定系の第 高調波電圧の発生  測定系での第

3

高調波電圧の発生は,高調波電圧を発生しない試料

の場合には(オープン状態でもよい)

0.25 W

を印加したとき,第

3

高調波減衰の値が,全インピーダ

ンス範囲にわたって

140 dB

以上とする。

b

)

測定系の雑音レベル  測定系の雑音レベルは,

1 kHz

のレンジで

0.2 μV

以下とする。具体的には次の

測定で確認する。

1

)

雑音の

10 kHz

成分(

10 kHz

電圧計で測定する。

整合比を

1

にした状態で,測定端子を開放状態にし,

10 kHz

電圧レンジを最小レンジ(

100 mV

に合わせ,出力電圧を

0 V

に調整した段階で,

10 kHz

電圧計の指示を見る。この場合には,指示の

振れを検知できなければよい。

2

)

雑音の

30 kHz

成分(

30 kHz

電圧計で測定する。

整合比を

1

にした状態で,測定端子を開放状態にし,

10 kHz

電圧レンジを最小レンジ(

100 mV

に合わせ,出力電圧を

0 V

に調整した段階で,

30 kHz

電圧計の指示を見る。この場合には,

30 kHz

電圧計の指示が

0.2 μV

以下であることとする。

c

)

強磁性体に対する配慮  強磁性体は,高調波ひずみを生じるので次の対策を施す。


69

C 5201-1

:2011

1

)

測定部の周辺に磁気防止対策を施す。

2

) LP

及び

BP

の,ろ波器インダクタには磁性材料のコアを使用しない。

d

)

測定系確認用標準試料  測定系をチェックするために,第

3

高調波減衰が既知である標準試料を試験

装置に備え付けておく。

JB.5.6

測定の状態

測定時の周囲状態は,規定がない限り 4.2 に規定する標準状態とする。

JB.6

測定手順

a

)

供試抵抗器を取り付け,試験信号印加スイッチ

S

を閉じる(

図 JB.1 参照)。

b

)

供試抵抗器(

RT

)に対し,第

3

高調波での測定器の入力インピーダンス(

R

3

)が

0.3

倍∼

3

倍になる

ように,整合変成器(

MT

)を設定する。

c

)

基本波電圧(

U

1

)を

表 JB.1 から選定する。ただし,供試抵抗器の定格電力が制限される場合及び試験

装置に制限のある場合には,基本波電圧(

U

1

)をそれ以下の適正な値に調整する。

d

)

選定した基本波電圧(

U

1

)の値を印加する。印加した基本波電圧(

U

1

)の値を基本波用電圧計(

V

1

で読み取る。

e

)

3

高調波電圧(

U

3

)を第

3

高調波用電圧計(

V

3

)で読み取る。

f

)

試験信号印加スイッチ(

S

)を開放し,供試抵抗器を取り外す。

g

)

基本波用電圧計(

V

1

)で読み取った基本波電圧(

U

1

)の値と,第

3

高調波用電圧計(

V

3

)が指示する

3

高調波電圧(

U

3

)の値から JB.5.4 の算出方法によって第

3

高調波減衰を求める。

注記 1

より高い電圧での評価

より高い電圧を用いて第

3

高調波電圧を評価する場合には,次の式によって算出する。

n

'

U

U

'

E

E

×

=

1

1

3

3

ここに,

E'

3

実際の基本波電圧(

U'

1

)での測定された第

3

高調波起電力

E

3

基本波電圧(

U

1

)に相当する第

3

高調波起電力

n

1.5

3.5

(抵抗器の品種による値)

注記 2

3

高調波指数(

THI

抵抗器の非直線性を表すため,次の式で定義される第

3

高調波指数(

Third harmonic

index

)を用いることもできる。

n

U

E

THI

1

3

10

log

20

=

dB

ここに,

E

3

基本波電圧(

U

1

)に相当する第

3

高調波起電力(

μV

U

1

基本波電圧(

V

n

1.5

3.5

(抵抗器の品種による値)

注記 3

3

高調波ひずみ率(

THD

抵抗器の非直線性を表すため,次の式で定義される第

3

高調波ひずみ率(

Third harmonic

distortion

)を用いることもできる。

dB

log

20

1

3

10

U

E

THD

=

ここに,

E

3

:  基本波電圧(

U

1

)に相当する第

3

高調波起電力(

μV

U

1

:  基本波電圧(

V


70

C 5201-1

:2011

表 JB.1−基本波電圧及び補正項


71

C 5201-1

:2011

表 JB.1−基本波電圧及び補正項(続き)


72

C 5201-1

:2011

表 JB.1−基本波電圧及び補正項(続き)


73

C 5201-1

:2011

表 JB.1−基本波電圧及び補正項(続き)


74

C 5201-1

:2011

附属書 JC

参考)

固定抵抗器の電流雑音測定方法

JC.1

一般事項

この附属書は,固定抵抗器の電流雑音の測定方法について適用する。

注記

この附属書には,4.12 に規定する IEC 60195 の概要を記載する。

JC.2

目的

この附属書は,固定抵抗器で発生する電流雑音の大きさを求めるための測定方法と試験条件を標準化す

ることを目的とする。これによって,測定結果を比較できる。許容雑音限界値は規定しない。

JC.3

用語

(省略)

JC.4

測定方法

JC.4.1

測定回路及び定数

測定回路及び定数は,

図 JC.1 のとおりとする。


75

C 5201-1

:2011

B

:直流電源

ASG  :低周波信号発生器(正弦波 980 Hz∼1 020 Hz,出力電圧 600∼700 μV,安定性±2 %) 
R

m

:整合用巻線抵抗器(1 W 以上  1 kΩ,10 kΩ,100 kΩ,1 MΩ  ±1 %)

R

X

:供試抵抗器

R

C

:校正用巻線抵抗器(1 Ω  0.5 W 以上)

S

1

,S

2

:スイッチ

Amp

1

:第 1 増幅器

Amp

2

:第 2 増幅器(第 1 増幅器及び第 2 増幅器の利得は,合わせて 120 dB 以上であることが望ましい。

F

:ろ波器[頭が平ら(リップル±0.2 dB 以内)で,3 dB 帯域が 1 000 Hz,幾何学的中心が 1 000 Hz±50 Hz]

M

1

:交流電圧計(0.8 秒∼1.5 秒の時定数と自乗特性をもつ電圧計。dB 目盛も表示,確度±0.4 dB)

M

2

:直流電圧計[直流∼1 600 Hz の周波数範囲で,4 MΩ 以上の入力インピーダンスをもつ電圧計。dB 目盛(1 V

  が 0 dB)も表示,0+40 dB の範囲で 20 dB ステップの減衰器を内蔵,確度±3 %,時定数 0.5 秒未満]

Att

1

:第 1 減衰器(連続)

Att

2

:第 2 減衰器(−20 dB∼+40 dB,20 dB ステップ)

図 JC.1−電流雑音測定回路

JC.4.2

増幅器の通過帯域

増幅器の通過帯域は,

1 000 Hz

を幾何学的な中心として,頭が平たん(坦)で

1 000 Hz

の半電力帯域幅

をもつ(

図 JC.2 参照)。

図 JC.2−増幅器の周波数特性


76

C 5201-1

:2011

JC.5

測定電圧

測定電圧は,

表 JC.1 による。

JC.6

測定方法

測定方法は,次の手順による。

JC.6.1

手順 1  測定器の利得の校正

供試抵抗器

R

X

図 JC.1 の端子

ab

間に接続し,スイッチ

S

1

及びスイッチ

S

2

3

側に倒して,校正用巻

線抵抗器

R

C

の両端子に,低周波信号発生器

ASG

からの

1 000 Hz

の信号電圧(

650 μV

)を加えた状態にす

る。このとき,交流電圧計

M

1

の指示が校正線(

60 dB

)まで振れるように,第

1

減衰器

Att

1

を調整する。

校正は,供試抵抗器

R

X

1 000 Hz

でのインピーダンスによって変わるので,同じ直流抵抗値をもった抵

抗器であっても,必要に応じて,その都度校正することが望ましい。

JC.6.2

手順 2  測定器の雑音測定

次に,スイッチ

S

1

及びスイッチ

S

2

1

側に倒して,

5

秒∼

6

秒後に第

1

増幅器

Amp

1

の入力端に供試抵

抗器

R

X

の無負荷雑音電圧が加えられた状態で,交流電圧計

M

1

の指示を

S

dB

1)

とし,これを読み取る。

このとき,雑音電圧が交流電圧計の目盛に対し,大きすぎるか,小さすぎる場合には,第

2

減衰器

Att

2

適切に切り替え,交流電圧計の指針が有効目盛内に入るようにして,交流電圧計の指示を読み取り,この

値と第

2

減衰器

Att

2

の減衰量との和によって測定器の雑音を求める。

1)

 1

μV/V

0 dB

とする。

JC.6.3

手順 3  全雑音の測定

次にスイッチ

S

1

及びスイッチ

S

2

2

側に倒し,第

1

増幅器

Amp

1

の入力端に供試抵抗器

R

X

の負荷雑音

を加えられる状態にし,供試抵抗器

R

X

に試験電圧を印加する。この試験電圧は,

表 JC.1 に示されている。

試験電圧は,直流電圧計

M

2

によって

dB

の単位で示される。

5

秒∼

6

秒後に,試験電圧を直流電圧計

M

2

と内蔵の減衰器によって測定する。この値を

D

dB

1)

とする。測定は,直流電圧計

M

2

の指針が有効目盛

内に入るよう,内蔵の減衰器を調整して行う。この場合には,全雑音は,直流電圧計

M

2

の目盛と内蔵の

減衰器の値の和となる。また,この測定のときに同時に交流電圧計

M

1

の値を読み取り,この値を

T

dB

とする。

JC.6.4

手順 4  電流雑音の算出

手順 及び手順 によって求められた

T

dB

S

dB

)及び

D

dB

)の値から

1

周波数ディケードの帯

域幅を通過する印加電圧

1 V

当たりの電流雑音電圧

V

0

dB

)を,次の式によって算出する。

V

0

T

(T

S)

D

ここに,

V

0

電流雑音電圧(

dB

T

全雑音電圧(

dB

S

測定器の雑音電圧(

dB

D

試験電圧(

dB

(TS)

補正係数(

dB

表 JC.2 参照)。

T

S

15

を超える場

合には,

(TS)

は,ゼロとして無視してよい。

JC.7

確度

雑音電圧測定確度は,±

0.75 dB

以内とする。

TS

1 dB

未満の場合には,

(TS)

7

とする。


77

C 5201-1

:2011

JC.8

測定上の注意事項

JC.8.1

機器の構成上の注意事項

JC.8.1.1

遮蔽

機器の構成には,良好な遮蔽を施す。

入力回路は,極めて低レベルの信号であるので,入力回路の全ての部品及び端子を遮蔽することが必要

である。大信号を出す部品を入力回路近傍に置いてはならない。

R

m

は,電源回路に適切なインピーダンス

をもたせるために挿入するもので,

R

X

に近い値が望ましい。

JC.8.1.2

入力インピーダンス

600 Hz

1 600 Hz

の周波数範囲で,

4 MΩ

を超えなければならない。

JC.8.1.3

増幅器

増幅器は,測定中その電圧増幅度を一定に保たなければならない。また,直線性の良好なことが必要で

あり,かつ,雑音波形のピーク値(実効値の約

5

倍)に対しても飽和しないよう,十分に余裕をみておか

なければならない。第

1

増幅器は,特に遮蔽を十分にし,誘導をできるだけ少なくすることが必要である。

そのため,

1

点接地にすることが望ましい。さらに,測定器の間を接続する導線は,できるだけ短くし,

シールド線を用いることが望ましい。また,外部からの機械的振動のため,マイクロホニック雑音を発生

しないように,適切な防振処置を講じなければならない。

JC.8.2

機器使用上の注意事項

JC.8.2.1

配置

試験装置は,強力な電磁場及び電磁放射源からの影響を受けないように配置する。強い振動及び大きな

音源からも離して置く。

JC.8.2.2

周囲温度

試験装置及び供試抵抗器は,

25

℃±

5

℃,

60 %RH

未満で

24

時間以上安定させる。

JC.8.3

測定器の性能検査

(省略)

JC.8.3.1

換算

測定値(

dB

)を

μV/V

に換算する必要がある場合には,

図 JC.3 による。

JC.8.3.2

読替え

指示計の振れ,指針などの表現は,デジタル表示のものの場合には,全て表示を読み替える。


78

C 5201-1

:2011

表 JC.1−試験電圧表


79

C 5201-1

:2011

表 JC.1−試験電圧表(続き)


80

C 5201-1

:2011

表 JC.2−測定器雑音の補正係数

 


81

C 5201-1

:2011

図 JC.3−測定値の換算図

 
 

参考文献

JIS Z 8601

  標準数

注記

対応国際規格:ISO 3

Preferred numbers

Series of preferred numbers

MOD

IEC 61760-1

:2006

Surface mounting technology

Part 1: Standard method for the specification of

surface mounting components (SMDs)


82

C 5201-1

:2011

附属書 JD

参考)

JIS

と対応国際規格との対比表

JIS C 5201-1:2011

  電子機器用固定抵抗器−第 1 部:品目別通則

IEC 60115-1:2008

,Fixed resistors for use in electronic equipment−Part 1: Generic

specification

(I)JIS の規定

(III)国際規格の規定

(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条
ごとの評価及びその内容

箇条番号
及び題名

内容

(II) 
国際規格

番号

箇条番号

内容

箇条ごと 
の評価

技術的差異の内容

(V)JIS と国際規格との技術的差異
の理由及び今後の対策

1  一 般 事
項 

1.2 引用規格   1.2

IEC 60068-2-1:1994

を引

IEC 60068-2-2:1994

を引

変更 
 
変更

IEC 60068-2-1

の最新版への対

IEC 60068-2-2

の最新版への対

次回 IEC 規格改正時に対応を提案
する。

4.23.2 高温  4.23.2

試験 Ba を適用

変更 

試験 Ba は廃止されたので,試

験 Bb を適用した。

4  試 験 及
び 測 定 手

4.23.4 低温  4.23.4

試験 Aa を適用

変更

試験 Aa は廃止されたので,試

験 Ab を適用した。

次回 IEC 規格改正時に対応を提案

する。

JIS

と国際規格との対応の程度の全体評価:IEC 60115-1:2008,MOD

注記 1  箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。

    −  変更……………… 国際規格の規定内容を変更している。

注記 2  JIS と国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。

    −  MOD……………  国際規格を修正している。

82

C

 5201-1


201

1