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C 5401-2

:2005 (IEC 61076-2:1998)

(1)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人電子情報技術産業協会 (JEITA) か

ら,工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,

日本工業標準調査会の審議を経て,

経済産業大臣が制定した日本工業規格である。

制定に当たっては,日本工業規格と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日

本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために,IEC 61076-2 : 1998,Connectors for use in

d.c., low-frequency analogue and digital high speed data applications

−Part 2 : Circular connectors with assessed

quality

−Sectional specification を基礎として用いた。

この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の

実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会

は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新

案登録出願にかかわる確認について,責任をもたない。

JIS C 5401

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS C 5401-1

  第 1 部:品目別通則−能力認証

JIS C 5401-2

  第 2 部:品種別通則−丸形コネクタ−品質評価付

JIS C 5401-2-001

  第 2-001 部:丸形コネクタ−品質評価付−ブランク個別規格

JIS C 5401-3

  第 3 部:品種別通則−角形コネクタ−品質評価付

JIS C 5401-3-001

  第 3-001 部:角形コネクタ−品質評価付−ブランク個別規格

JIS C 5401-4

  第 4 部:品種別通則−プリント配線板用コネクタ−品質評価付

JIS C 5401-4-001

  第 4-001 部:プリント配線板用コネクタ−品質評価付−ブランク個別規格

JIS C 5401-5

  第 5 部:品種別通則−インラインソケット−品質評価付(予定)

JIS C 5401-5-001

  第 5-001 部:インラインソケット−品質評価付−ブランク個別規格(予定)


C 5401-2

:2005 (IEC 61076-2:1998)

(2)

目  次

ページ

序文

1

1.

  一般事項

1

1.1

  適用範囲

1

1.2

  引用規格

1

2.

  技術情報

2

2.1

  定義

2

2.2

  耐候性カテゴリによる分類

2

2.3

  沿面及び空間距離

2

2.4

  電流容量

2

2.5

  形名

3

2.6

  表示

3

2.7

  関連コネクタ群

3

2.8

  性能の互換性レベル

4

2.9

  出荷条件

4

3.

  品質評価の手順

4

4.

  試験及び試験計画

4

4.1

  一般事項

4

4.2

  試験手順及び測定方法

4

4.3

  前処理

4

4.4

  材料の配線及び取付け

5

4.5

  試験計画

5

5.

  ブランク個別規格−一般事項

20


日本工業規格

JIS

 C

5401-2

:2005

(IEC 61076-2

:1998

)

電子機器用コネクタ−

第 2 部:品種別通則−丸形コネクタ−品質評価付

Connectors for electronic equipment-

Part 2 : Circular connectors with assessed quality-Sectional specification

序文  この規格は,1998 年に第 1 版として発行された IEC 61076-2,Connectors for use in d.c., low-frequency

analogue and digital high speed data applications

−Part 2 : Circular connectors with assessed quality−Sectional

specification

を翻訳し,技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,原国際規格にはない事項である。

1.

一般事項

1.1

適用範囲  この規格は,丸形コネクタに関する統一した規格,形式試験要求事項及び品質評価手順

について規定する。この規格は,寸法及び特性に関するすべての試験方法及び試験順序,厳しさ及び推奨

値の選択肢を含む。

この規格は,電子・電気機器及びシステムに用いる品質評価付き丸形コネクタの個別規格の作成規則に

関する指針を規定する。

この規格は,品目別通則 JIS C 5401-1 及び関連個別規格とともに用いることが望ましい。

この規格と個別規格との間に規定の相違がある場合は,個別規格の要求事項を優先する。

備考  この規格の対応国際規格を,次に示す。

なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21 に基づき,IDT(一致している)

,MOD

(修正している)

,NEQ(同等でない)とする。

IEC 61076-2 : 1998

,Connectors for use in d.c., low-frequency analogue and digital high speed data

applications

−Part 2 : Circular connectors with assessed quality−Sectional specification (IDT)

1.2

引用規格  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成

する。これらの引用規格のうちで発行年を付記してあるものは,記載の年の版だけがこの規格の規定を構

成するものであって,その後の改正版・追補には適用しない。発効年を付記していない引用規格は,その

最新版(追補を含む)を適用する。

JIS C 60068-1

  環境試験方法−電気・電子−通則

備考  IEC 60068-1 : 1988  Environmental testing−Part 1 : General and guidance が,この規格と一致し

ている。

JIS C 5401-1

  電子機器用コネクタ−第 1 部:品目別通則−能力認証

備考  IEC 61076-1 : 1995  Connectors with assessed quality, for use in d.c., low frequency analogue and

in digital high speed data applications

−Part 1 : Generic specification, Amendment 1 : 1996,

Amendment 2 : 2001

が,この規格と一致している。


2

C 5401-2

:2005 (IEC 61076-2:1998)

JIS C 5402-1-100

  電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 1-100 部:一般−試験一覧

備考  IEC 60512-1-100 : 2001  Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−

Part 1-100 : General

−Applicable publications が,この規格と一致している。

JIS Z 9015-1

  計数値検査に対する抜取検査手順−第 1 部:ロットごとの検査に対する AQL 指標型抜

取検査方式

備考  IEC 60410 : 1973  Sampling plans and procedures for inspection attributes からの引用事項は,こ

の規格の該当事項と同等である。

IEC 60352-1 : 1997

  Solderless connections−Part 1 : Wrapped connections−General requirements, test

methods and practical guidance

IEC 60352-2 : 1990

  Solderless connections−Part 2 : Solderless crimped connections−General requirements,

test methods and practical guidance

2.

技術情報

2.1

定義  この規格で用いる用語の定義は,JIS C 5401-1 の 2.1(定義)による。また,コネクタに特有

な用語の定義は,個別規格に規定することを推奨する。

2.2

耐候性カテゴリによる分類  低温及び高温並びに高温高湿(定常)試験の試験期間は,他に規定が

ない場合には,JIS C5401-1 の 2.2(耐候性カテゴリによる分類)に規定する推奨値から選択することが望

ましい。このコネクタは,JIS C 60068-1 に示す一般規則に従って耐候性カテゴリを分類する。温度範囲及

び高温高湿(定常)試験の厳しさの推奨値を,次の

表 に示す。

  1  耐候性カテゴリ−推奨値

耐候性カテゴリ

温度範囲

高温高湿(定常)

識別コード*

65/350/56

−65∼350

56

U

65/260/56

−65∼260

56

T

65/200/56

−65∼200

56

S

65/175/56

−65∼175

56

X

65/150/56

−65∼150

56

R

65/125/56

−65∼125

56

O

55/155/56

−55∼155

56

Y

55/125/21

−55∼125

21

P

40/100/21

−40∼100

21

N

40/100/10

−40∼350

10

M

25/085/21

−25∼85 21

L

25/070/10

−25∼70

10

K

10/070/04

−10∼70

 4

I

注*

JIS

の形名指定のために用いる識別コード

2.3

沿面及び空間距離  個別規格に,JIS C 5401-1 の 2.3(沿面及び空間距離)の要求事項に従って沿面

及び空間距離を規定する。動作電圧は,適用条件及び該当する安全要求事項に依存する。

2.4

電流容量  個別規格に,JIS C 5401-1 の 2.4(電流容量)の要求事項に従ってコネクタの電流容量を

規定する。


3

C 5401-2

:2005 (IEC 61076-2:1998)

2.5

形名  この規格に適合するコネクタは,次に示す表示及びその順序で識別する。

a) “JIS

の文字

b)

空白

c)

個別規格番号(ダッシュを除く。

)を表す九つの記号(例  C54012100)

d)

コネクタの形状を表す単一の文字(その方式は,個別規格に規定する。

e)

ハウジング又は本体サイズを表す単一の文字

f)

インサートアレンジメントを表す二けたの数字(コンタクトの数は,必ずしも必要としない。

g)

コンタクトの形式(タイプ)を表す単一の文字

−  M:おすコンタクト

−  F:めすコンタクト

−  H:おすめす同形コンタクト

h)

ターミネーションの基本形式(タイプ)を表す単一の文字。次に示す文字を用いる。

−  E:はんだターミネーション  アイレット

−  S:はんだターミネーション,はんだバケット

−  P:はんだターミネーション,プリントされた線

−  C:圧着

−  W:ワイヤラップターミネーション

I

:圧接

i)

ハウジング(シェル)又は本体上のキー及びキー溝,若しくはハウジング内インサート位置の特定の

アレンジメントによってコネクタの極性を表す単一の文字又は数字(例えば,N,A,B,C,D,W,

X

,Y,Z 又は 0,1,2,3 など)

。ここで,N 及び 0 は,中立位置を意味し,通常,標準位置とする。

j)

個別規格に規定する場合には,類似品コードは,耐候性カテゴリ,色など,更に多くの情報を含める

ために任意に広げてもよい。

k)

個別規格に性能水準及び評価水準の違いを規定する場合には,単一の数字及び文字を用いて性能水準

及び評価水準の各々を表す。数字及び文字は,個別規格に規定し,また形名の指定に対する最終記号

としてこれらを追加する。

l)

2.2

に示す識別コード文字

上記情報 (a∼k)  は,このコネクタの形名を明確にするため,次のように郡分けする。

・基本的な記述:a−b−c−d

・本体サイズ,コンタクトアレンジメント,コンタクト形状,ターミネーションの基本形式:e−f−g

・極性:i

・性能の違い:j−k

2.6

表示  個々のコネクタ及びその包装は,JIS C 5401-1 の 2.6(表示)に規定する要求事項に従って表

示する。

2.7

関連コネクタ群  共通の機構をもつ品種の範囲内にあるコネクタ群。代表的な例としては,同じ取

付機構ではあるがコンタクトの種類及び数が異なるもの,又は同一カップリング機構ではあるがインサー

ト及びコンタクトの形式が異なるものがある。関連コネクタの一群は,単一の個別規格に規定する。

・形式:特定の品種内にあるコネクタ(例えば,ねじ式カップリング付き多極コンタクトコネクタ)

・レンジ:ある形式の範囲内にあるハウジング(シェル)サイズ及びコンタクトアレンジメント

・形状:ある形式の範囲内にある特定のコネクタ(例えば,単一孔取付け用の固定形コネクタ)


4

C 5401-2

:2005 (IEC 61076-2:1998)

・類似品:ある形式,形状又は種類の範囲内にある類似品

  例

・品目:コネクタ

・品種:丸形コネクタ

・形式:ねじ式カップリング付き丸形多極コンタクトコネクタ

・レンジ:シェルサイズ 1(2 コンタクト)∼シェルサイズ 3(62 コンタクト)

・類似品:シェルサイズ 1(2 コンタクト)−無電解ニッケルめっき,ID ターミネーションなど

2.8

性能の互換性レベル  (IEC において審議中。)

2.9

出荷条件  コネクタは,注文に応じて,コンタクト付き又はコンタクトなし(リムーバブルコンタ

クトの場合)で出荷する。シェル前面をプラスチックケースで保護する場合には,個別規格に,その旨を

規定する。コンタクト付きのコネクタを出荷する場合には,個別規格に,次の事項を規定する。

・追加コンタクト数(1 サイズ当たり)

・挿入/引抜工具数(1 コンタクトサイズ当たり)

・フィラープラグ数

2.9.1

包装  コンタクト付き(適用する場合)コネクタ,フィラープラグ及び工具は,透明,かつ,不活

性のプラスチック袋に包装する。コンタクト及びフィラープラグは,損傷しないように硬質容器に包装す

る。包装容器に押印する名称は,製品の標準名称と合致しているものとする。

2.9.2

保管  保管は,紫外線,予想を超える温度及び湿気のない場所とする。5 年ごとに検査を行う。検

査月日を表示し,前項に従って製品を再包装する。

3.

品質評価の手順  JIS C 5401-1 の 3.(品質評価の手順)による。

4.

試験及び試験計画

4.1

一般事項  JIS C 5401-1 の 4.(試験及び試験計画)による。

個別規格は,試験順序(この規格に基づく)及び各試験順序に対応する試料数(コネクタ 4 個以上の結

合したコネクタ)を規定する。

個々の類似品は,それらの中で著しく異なるものについて認証のために形式試験に提出する。

認証が必要なすべての範囲(個別規格に規定する範囲より狭くてもよい。

)を代表して選択した試料に対

して試験する類似品の数は,限定してもよいが,各々の機構及び特性を立証しなければならない。

コネクタは,現在実施している最良の方法に従って細心,かつ,出来映えのよい方法で製造されている

ものとする。

4.2

試験手順及び測定方法  関連規格に規定する試験方法は,推奨する方法であるが,必ずしもこれだ

けを用いるということではない。ただし,疑義が生じた場合には,関連規格に規定する試験方法を基準の

方法として用いる。

他に規定がない場合には,すべての試験は,JIS C 0010 に規定する標準大気条件の下で実施する。

認証手順が必要であるのにもかかわらず,代替の方法を採用する場合には,製造業者は,その代替方法

が規定する方法で得られるのと同等の結果をもたらすことを国内認証機関に納得させることについて責任

を負う。

4.3

前処理  試験に先立って,コネクタは,個別規格に規定がない場合には,JIS C 0010 に規定する試

験のための標準大気条件の下で 24 時間放置する。


5

C 5401-2

:2005 (IEC 61076-2:1998)

4.4

材料の配線及び取付け

4.4.1

配線  試料に配線が必要な場合には,個別規格に,選択した試験方法と合致させるために必要な事

項を規定する。

4.4.2

取付け  試験において取付けが必要で,他に規定がない場合には,コネクタは,金属板又は規定す

るアクセサリに,個別規格に規定する接続方法,固定具及びパネルカットアウトを用いて取り付ける。

4.5

試験計画  コネクタの種々の用途に対応するため,試験計画の範囲は,各々の個別規格において異

なってもよい。

基本試験計画を 4.5.1 に規定する。

個別規格は,実施する試験及び満足しなければならない要求事項を規定する。

この規格の要求事項は,

“個別規格で要求する試験は,どのような場合でも決して 4.5.1 に示す試験より

下回ってはならない。

”とする。

全項目試験計画を 4.5.2 に規定する。この試験は,厳しい環境(例えば,航空機又は海洋環境)に適用す

るコネクタを評価するために用いることが望ましい。

大多数のコネクタ形式に対しては,中間試験計画が適切といえる。そのような中間試験計画は,全項目

試験計画の中から不必要な群の全部及び/又は供試条件を削除して作成する。試験段階番号は,変更せず

に 4.5.2 に従うものとする。

ある試験群において,試験段階の順序が特定の形式又は形状に対して完全に適していない状況の場合に

は,試験順序(試験後に行う測定ではなく。

)は,特定の個別規格に対応させて変更してもよい。ただし,

試験段階番号は,各試験に対して不変とする。そうすることによって試験順序の変更が行われてもこれら

が明確になる。

個別規格に試験及び/又は特別な試験順序を要求する追加特性を含める場合には,適正な既存の試験又

は新しい試験(個別規格の附属書の形式で)が,試験計画表の適切な場所にあるものとする。

これらの特性は,試験群 HP 又は別に作成した試験計画表に追加する。

4.5.1

基本試験計画  基本試験計画の方が適正である場合には,個別規格に,表 に示す次の試験を呼び

出し,かつ,試験項目及び要求事項を明記する。


6

C 5401-2

:2005 (IEC 61076-2:1998)

  2  基本試験

試験段階

試      験

測      定

名  称

JIS C 

5402-1-100

試験番号 

個別規格の厳

しさ又は条件

名  称

JIS C 

5402-1-100

試験番号 

個別規格の

要求事項

1

一般試験 1

外観 
寸法及び質量

1a

1b

× 
×

2.1

2.2

結合力及び離脱力,
又は

挿入力及び引抜力

13a

又は

13b

×

×

3

接触抵抗(ミリボルト

レベル法)又は接触抵
抗(規定電流法)

2a

又は

2b

×

4

絶縁抵抗 3a

×

5

耐  電  圧 4a

×

6.1

6.2

はんだ付け 
又は

適用可能な他のタ
ーミネーション

12a

∼12e

*

×

接触抵抗(ミリボルト
レベル法)又は接触抵

抗(規定電流法)

2a

又は

2b

×

注*

適用する場合には,他のターミネーション試験を用いる(例えば,JIS C 5402-1-100 の試験又は IEC 60352 

当該規格群の試験)

備考  ×印は,個別規格に規定することを示す。

4.5.2

全項目試験計画  全項目試験計画の方が適正である場合には,個別規格に,次の試験(表 3∼表 13

を呼び出し,かつ,試験項目及び要求事項を明記する。

無はんだターミネーションの場合には,IEC 60352 の当該規格群の試験順序を,その適切な全項目試験

計画に取り入れるものとする。


7

C 5401-2

:2005 (IEC 61076-2:1998)

4.5.2.1

試験群 P−予備試験  すべての試験群の試料は,次に示す順序で試験群 P の予備試験を実施する。

  3  試験群  P

試験段階

試      験

測      定

名  称

JIS C 

5402-1-100

試験番号

個別規格の厳
しさ又は条件

名  称

JIS C 

5402-1-100

試験番号

個別規格の

要求事項

P1

一般試験 1

外観

寸法及び質量検査

1a

1b

×

×

P2

極性試験 13e

×

P3

リストリクテッド
エントリ

16b

P4

接触抵抗(ミリボルト

レベル法)又は接触抵
抗(規定電流法)

2a

又は

2b

×

P5

(

1

)

絶縁抵抗 3a

×

P6

(

3

)

耐電圧

×

P7

P7.1

封止(気密性)

(全

体エアリーク) 
封止(気密性)

(微

少エアリーク)

14a

14b

各方向に 5 分

P8

電気的接触長 1c

×

P9

残留磁気 24a

P10

コンタクトの保護
効果(スクーププ
ルーフ)

1d

注(

1

)

個別規格に規定する場合には,絶縁抵抗は,一つのターミネーションと最小スペーシングをもつハウジングと
の間も測定する。

(

2

)

個別規格に規定する場合には,試料は,−25∼55  ℃の間の温度で 2 時間放置した後に試験する。

(

3

)

適用する場合には,個別規格に,コネクタをこの試験のために結合するか否かを規定する。試料は,一つのタ
ーミネーションと最小スペーシングをもつハウジングとの間に試験電圧を印加する。

(

4

)

適用する場合には,温度は,350  ℃±5  ℃とする。

(

5

)

適用する場合には,試験するコンタクト数が 5 以下のとき,各コネクタの動作回数は 10 回とする。コネクタ
数が 6 以上のときは,3 回とする。挿入力及び引抜力は,1 回目及び最後の動作回数中に測定する。

(

6

)

試料は,結合しないで配線し,室温での体積比で 0.010∼0.015 %のオゾン濃度を含む雰囲気中に 2 時間,放置

する。

備考  ×印は,個別規格に規定することを示す。

予備試験に合格した試料は,適切な数の群に分ける。各群におけるすべてのコネクタは,個別規格に試

験順序の変更要求がないか,又は新たなコネクタ特性を検証するための新規試験の追加がない場合には,

個別規格に規定する次の試験を,規定の順序で実施する(4.5 参照)

試料は,10 の群に分ける(4.1 参照)

。各群におけるすべてのコネクタは,その群のために規定した試験

を実施する。


8

C 5401-2

:2005 (IEC 61076-2:1998)

4.5.2.2

試験群 AP−動的/耐候性

  4  試験群  AP

試験段階

試      験

測      定

名  称

JIS C 

5402-1-100

試験番号 

個別規格の厳
しさ又は条件

名  称

JIS C 

5402-1-100

試験番号 

個別規格の

要求事項

AP1

プローブダメージ

16a

×

AP2

ゲージ保持力(弾

性コンタクト)

16e

×

×

AP3

(

2

)

結合力及び離脱力 13a ×

AP4

はんだ付け性

12a

,又は 12b

若しくは 12c

×

×

AP5

(

3

)

耐電圧 4a

×

AP6

機械的強度衝撃 7b

×

AP7

イ ン サ ー ト 内 の

コンタクト保持

15a

×

外観 1a

×

AP8

ハ ウ ジ ン グ 内 の
イ ン サ ー ト 保 持

(ねじれ方向)

15c

×

外観 1a

×

AP9

バンプ 6b

×

コンタクトディスター
バンス

2e

×

AP10

正弦波振動 
又は 
ランダム振動

6d

6e

×

接触抵抗の変動(試験
中)

2c

×

AP11

衝撃 6c

×

コンタクトディスター

バンス

2e

×

AP12

加速度(定常) 6a

×

AP13

温度急変 11d

×

耐電圧 4a

×

絶縁抵抗 3a

×

AP14

静的な力,水平方向

8a

×

AP15

静的な力,軸方向

8b

×

AP16

封止(気密性)

(全体エ

アリーク) 
封止(微少エアリーク)

14a

14b

5

(各方向)


9

C 5401-2

:2005 (IEC 61076-2:1998)

  4  試験群  AP(続き)

試験段階

試      験

測      定

名  称

JIS C 

5402-1-100

試験番号 

個別規格の厳し

さ又は条件

名  称

JIS C 

5402-1-100

試験番号 

個別規格の

要求事項

AP17

外観 1a

×

AP18

一連耐候性 11a  ×

AP19-1

(

4

)

高温 11i

×

AP19-2

減圧 11k

×

AP19-3

温 湿 度 サ イ ク ル

(最初の 1 サイク
ル)

11m

×

AP19-4

低温 11j

×

AP19-5

減圧 11k

×

AP19-6

温 湿 度 サ イ ク ル
( 残 り の サ イ ク

ル)

11m

×

AP20

噴射水 14g

×

絶縁抵抗 3a

×

(

1

)

接触抵抗(ミリボルト
レベル法)又は接触抵
抗(規定電流法)

2a

2b

×

耐電圧 4a

×

(

3

)

AP21

(

3

)

結合力及び離脱力 13a  ×

外観 1a

×

AP22

コ ン タ ク ト 保 持

機構,工具の使用
に対する耐久性

×

×

AP23

イ ン タ ー フ ェ イ
シ ャ ル シ ー リ ン

14f

×

耐電圧 4a

×

(

3

)

AP24

ハ ウ ジ ン グ 内 の
イ ン サ ー ト 保 持

(軸方向)

15b

×

注  (

1

)

∼(

4

)

は,

表 の注  参照。

備考  ×印は,個別規格に規定することを示す。


10

C 5401-2

:2005 (IEC 61076-2:1998)

4.5.2.3

試験群 BP−機械的耐久性

  5  試験群  BP

試験段階

試      験

測      定

名  称

JIS C 

5402-1-100

試験番号 

個別規格の厳
しさ又は条件

名  称

JIS C 

5402-1-100

試験番号 

個別規格の

要求事項

BP1

(

2

)

結合力及び離脱力 13a  ×

BP2

機械的動作(規定の

半分の回数)

9a

×

×

BP3

耐候性

×

BP3.1

腐食,塩水噴霧, 
又は

11f

×

BP3.2

混合ガス流腐食,

又は

11g

×

BP3.3

一連耐候性,

又は

11a

×

BP3.4

高温高湿(定常)

又は 
温湿度サイクル

11c

11m

×

×

接触抵抗(ミリボルト
レベル法)又は接触抵
抗(規定電流法)

2a

2b

×

BP4

機械的動作(規定の
残りの回数)

9a

×

絶縁抵抗 3a

×

(

1

)

ハウジング(シェル)
の導通性

2f

×

耐電圧 4a

×

(

3

)

BP5

(

2

)

結 合 力 及 び 離 脱 力 
(低温)

13a

×

BP6

ゲージ保持力(弾性コ
ンタクト)

16e

×

BP7

(

5

)

コンタクトの挿入,
解放及び引抜力*

15d

×

BP8

イ ン サ ー ト 内 の コ

ンタクト保持,ケー
ブルの回転**

15e

×

BP9

静的な力,軸方向 8b

×

外観 1a

注*

試験段階 P で試験するコンタクトには適用しない。

  **  リムーバブルコンタクトに対してだけ適用する。

注  (

1

)

∼(

3

)

及び(

5

)

は,

表 の注  参照。

備考  ×印は,個別規格に規定することを示す。


11

C 5401-2

:2005 (IEC 61076-2:1998)

4.5.2.4

試験群 CP−耐湿性

  6  試験群  CP

試験段階

試      験

測      定

名  称

JIS C 

5402-1-100

試験番号 

個別規格の厳
しさ又は条件

名  称

JIS C 

5402-1-100

試験番号 

個別規格の

要求事項

CP1

浸せき,減圧 14e ×

絶縁抵抗 3a

×

(

1

)

CP2

高温高湿(定常)

11c

×

絶縁抵抗 3a

×

(

1

)

ハウジング(シェル)
の導通性

2f

×

接触抵抗(ミリボルト
レベル法)又は接触抵

抗(規定電流法)

2a

2b

×

×

耐電圧 4a

×

(

3

)

結合力及び離脱力 13a

×

(

2

)

CP3

封止(気密性)(全体

エアリーク) 
封止(気密性)(微少
エアリーク)

14a

14b

5

分(各方向)

×

CP4

外観 1a

×

CP5

イ ン サ ー ト 内 の コ ン
タクト保持

15a

×

注  (

1

)

∼(

3

)

は,

表 の注  参照。

備考  ×印は,個別規格に規定することを示す。


12

C 5401-2

:2005 (IEC 61076-2:1998)

4.5.2.5

試験群 DP−耐久性

  7  試験群  DP

試験段階

試      験

測                    定

名  称

JIS C 

5402-1-100

試験番号 

個別規格の厳
しさ又は条件

名  称

JIS C 

5402-1-100

試験番号 

個別規格の

要求事項

DP1

温度急変 11d

×

DP2

機械的動作 9a

×

DP3

電 気 的 負荷 及び 温

9b

×

絶縁抵抗 3a

×

(

1

)

接触抵抗(ミリボルト
レベル法)又は接触抵

抗(規定電流法)

2a

2b

×

耐電圧 4a

×

(

3

)

DP4

コ ン タ クト 保持 機

構 及 び シー ルの 耐
久 性 ( メン テナ ン
ス,エージング)

9d

×

DP5

封止(気密性)(全体
エアリーク)

封止(気密性)(微少
エアリーク)

14a

14b

×

×

DP6

イ ン タ ー フ ェ イ シ ャ
ルシーリング

14f

×

DP7

外観 1a

×

DP8

砂じん 11h

×

DP9

結 合 機 能 及 び 離 脱 機

能の確認

13a

手動による。

×

DP10

自由落下(繰返し) 7a

×

外観 1a

×

注  (

1

)

及び(

3

)

は,

表 の注  参照。

備考  ×印は,個別規格に規定することを示す。


13

C 5401-2

:2005 (IEC 61076-2:1998)

4.5.2.6

試験群 EP−耐かび性/耐火性

  8  試験群  EP

試験段階

試      験

測      定

名  称

JIS C 

5402-1-100

試験番号 

個別規格の厳
しさ又は条件

名  称

JIS C 

5402-1-100

試験番号 

個別規格の

要求事項

EP1

タ ー ミ ネー ショ ン
強度

16f

×

EP2

圧 着 後 のコ ンタ ク
ト変形測定

16g

×

EP3

かびの成長 11e

×

初回認証に

かぎる。

絶縁抵抗 3a

×

(

1

)

外観 1a

×

EP4

ニ ー ド ルフ レー ム

(注射針バーナ)

20a

×

EP5

耐火性 20b

×

注  (

1

)

は,

表 の注  参照。

備考  ×印は,個別規格に規定することを示す。

4.5.2.7

試験群 FP−耐薬品性

  9  試験群  FP

試験段階

試      験

測      定

名  称

JIS C 

5402-1-100

試験番号 

個別規格の厳
しさ又は条件

名  称

JIS C 

5402-1-100

試験番号 

個別規格の

要求事項

FP1

耐薬品性 19c

×

FP2

(

2

)

結合力及び離脱力 13a  ×

FP3

接触抵抗(ミリボルト

レベル法)又は接触抵
抗(規定電流法)

2a

2b

×

FP4

(

1

)

絶縁抵抗 3a

×

FP5

イ ン サ ー ト 内 の コ ン
タクト保持

15a

×

FP6

ハ ウ ジ ン グ 内 の イ ン
サート保持(軸方向)

15b

×

FP7

外観 1a

×

注  (

1

)

及び(

2

)

は,

表 の注  参照。

備考  ×印は,個別規格に規定することを示す。


14

C 5401-2

:2005 (IEC 61076-2:1998)

4.5.2.8

試験群 GP−接続方法

 10  試験群  GP

試験段階

試      験

測      定

名  称

JIS C 

5402-1-100

試験番号 

個別規格の厳
しさ又は条件

名  称

JIS C 

5402-1-100

試験番号 

個別規格の

要求事項

GP1

無はんだ接続,公称
断 面 部 の ワ イ ヤ ラ

ップ,プレスインタ
ー ミ ネ ー シ ョ ン 部
の圧着

IEC 60352-1

IEC 60352-2

×

×

GP2

ラ ッ ピ ン グ の 巻 き
戻し,無はんだラッ
ピング接続

16m

×

GP3

引 張 強 度 ( 圧 着 接

続)

16d

×

備考  ×印は,個別規格に規定することを示す。

4.5.2.9

試験群 HP−アクセサリ

 11  試験群  HP

試験段階

試      験

測      定

名  称

JIS C 

5402-1-100

試験番号 

個別規格の厳
しさ又は条件

名  称

JIS C 

5402-1-100

試験番号 

個別規格の

要求事項

HP1

ケ ー ブ ル ク ラ ン プ
強度

17a

×

HP2

ケ ー ブ ル ク ラ ン プ

強度(ケーブルの回
転)

17b

×

HP3

ケ ー ブ ル ク ラ ン プ
強度(ケーブルの引
張り)

17c

×

HP4

ケ ー ブ ル ク ラ ン プ
強度(ケーブルのね

じり)

17d

×

HP5

保護カバーの強度 15g

×

備考  ×印は,個別規格に規定することを示す。


15

C 5401-2

:2005 (IEC 61076-2:1998)

4.5.2.10

試験群 KP−一連耐候性

 12  試験群  KP

試験段階

試      験

測      定

名  称

JIS C 

5402-1-100

試験番号 

個別規格の厳
しさ又は条件

名  称

JIS C 

5402-1-100

試験番号 

個別規格の

要求事項

KP1

低温・減圧・温湿度

複合シーケンス

11b

×

KP2

オゾン耐性

(

6

)

×

KP3

(

1

)

耐電圧 4a

×

KP4

×

接触抵抗(ミリボルト
レベル法)又は接触抵
抗(規定電流法)

2a

2b

×

注  (

1

)

及び(

6

)

は,

表 の注  参照。

備考  ×印は,個別規格に規定することを示す。

4.5.2.11

試験群 LP−動的な腐食

 13  試験群  LP

試験段階

試      験

測      定

名  称

JIS C 

5402-1-100

試験番号 

個別規格の厳
しさ又は条件

名  称

JIS C 

5402-1-100

試験番号 

個別規格の

要求事項

LP1

外観 1a

×

LP2

接 地 コ ン タ ク ト ス プ
リングの保持力

16i

×

LP3

ハウジング(シェル)
の導通性

2f

LP4

RFI

シールディング−

周波数範囲 (10 kHz∼

100 MHz, 100 MHz

∼1

GHz)

23a

×

LP5

機械的動作 9a

×

LP6

温度急変 11d

×

LP7

腐食,塩水噴霧 11f  ×

ハウジング(シェル)

の導通性

2f

×

RFI

シールディング−

周波数範囲 (10 kHz∼

100 MHz, 100 MHz

∼1

GHz)

23a

×

備考  ×印は,個別規格に規定することを示す。


16

C 5401-2

:2005 (IEC 61076-2:1998)

4.5.3

品質認証試験計画  表 14 は,4.5.1 及び 4.5.2 に規定する試験計画を包含する。

個別規格に,このコネクタの所期の用途に合った最小合格判定基準を規定する。試験する最少試料数,

並びに各副群及び全体としての最大許容不良品数も,要求する評価水準が確実に得られるように選択する

JIS C 5401-1 の 3.3(品質認証)参照]

いかなる場合でも,個別規格には,

表 14 に示すものより低い最小合格判定基準を規定してはならない

JIS C 5401-1 の 3.4.1(能力の文書化)参照]

認可を受けるモデルの試料は,サイズ(小,中,大)とより一層代表的なアレンジメントとの間で各試

験郡に対して均等に区分するものとする。

 14  品質認証試験−試料数

試験群

試験 
段階

基本試験計画

試験 
段階

中間試験計画

試験 
段階

全項目試験計画

最少試料数

最大許容
不良品数

最少試料数

最大許容
不良品数

最少試料数

最大許容
不良品数

P

P1

P10

10 0

P1

P10

10 0

P1

P10

32

+1(液体

ごとに)

0

備考  試料は,適切な数の群にそれぞれ 4 個づつ配分する。それに加え試験群 FP 及び GP で要求する追加試料を配

分する。

各群のすべての試料は,個別規格に従って,一つの試験群の試験用として提出する。

AP

AP1

AP2

NA 0

AP1

AP2

AP1

AP2

4

×

AP3

AP4

4

×

AP3

AP4

AP3

AP4

AP6

AP27

適用しない。  適用しない。

AP6

AP27

AP6

AP27

BP

BP1

BP19

BP1

BP19

4.5

に基づく中間試験計

画による。

BP1

BP19

4

×

CP

CP1

CP16

CP1

CP16

CP1

CP16

4

×

DP

DP1

DP10

DP1

DP10

DP1

DP10

4

×

EP

EP1

EP9

EP1

EP9

EP1

EP9

4

×

FP

FP1

FP7

FP1

FP7

FP1

FP7

1

(液体ごと

に)

×


17

C 5401-2

:2005 (IEC 61076-2:1998)

 14  品質認証試験−試料数(続き)

試験群

試験

段階

基本試験計画

試験

段階

中間試験計画

試験

段階

全項目試験計画

最少試料数

最大許容

不良品数

最少試料数

最大許容

不良品数

最少試料数

最大許容

不良品数

GP

備考  コネクタは,IEC 60352 の当該規格群の要求事項を満たすものとする。

HP

HP1

HP5

適用しない。  適用しない。

HP1

HP5

4.5

に基づく中間試験計

画による。

HP1

HP5

4

×

KP

KP1

KP4

KP1

KP4

KP1

KP4

4

×

LP

LP1

LP7

LP1

LP7

LP1

LP7

4

×

許容不良品総数

基本試験計画

最大    0

中間試験計画

最大    ×

全項目試験計画

最大    ×

備考  ×印は,個別規格に規定することを示す。


18

C 5401-2

:2005 (IEC 61076-2:1998)

4.5.4

品質確認試験,ロットごと試験  表 15 は,各検査ロットで実施するロットごと試験に適用する。

評価水準は,最低水準であり,これよりも厳しい水準を個別規格に規定してもよい。

 15  ロットごと試験

検査群

特  性

JIS C 

5402-1-100

試験番号 

試験 
段階

評価水準

(A)

評価水準

(B … G)

評価水準

(H)

IL AQL IL AQL IL AQL

A1

外観 1a

P1

S-3

4.0

個 別 規 格の 規定 に
従うものとする。

1.0

A2*

寸法及び質量 1b P1

S-3

4.0

1.0

A3

追加 A 試験 
(個別規格に規

定する場合)

B1**

電気的試験

絶縁抵抗

耐電圧

3a

4a

P4

P5

S-3

4.0

S-3

1.0

B2**

機械的試験

S-3 1.0

B3

追加 B 試験 
(個別規格に規

定する場合)

記録 B1,B2 及び B3(適用する場合)の結果を記録する。

注*

個別規格に規定する結合寸法及び取付寸法を適用する。

IEC

電子部品認証制度 (IECQ) の場合には,IEC に規定する国内監督検査機関  (NSI ; National Supervising

Inspectrate)

が認めるような製造時の検査記録は,この要求事項のすべて又は一部と置き換えてもよい。

  **  この要求事項は,生産工程間の測定結果と置き換えてもよい。 
備考 IL:検査水準(JIS Z 9015-1 による。)

AQL

:合格品質水準(JIS Z 9015-1 による。


19

C 5401-2

:2005 (IEC 61076-2:1998)

4.5.5

品質確認試験,定期試験  表 16 は,ロットごと試験で合格したロットから抜き取ったサンプルに

対して実施する定期試験に適用する。

それぞれの試験のために選択した期間又は試験順序は,指針として示したものであり,個別規格に要求

する評価水準に合わせてこれらを変更してもよい[JIS C 5401-1 の 3.5.4.2(評価水準)参照]

 16  定期試験

検査

特  性

JIS C 

5402-1-100

の試験番号 

試験

段階

評価水準

(A)

評価水準

(B … G)

評価水準

(H)

p n c p n c p n c

C1

はんだ付け性,ぬれ 
(ウェッティング)

はんだ槽法

12a

 1

*

×

個 別 規 格 の 規 定 に

従うものとする。

1 *

×

はんだ付け性,はんだは

じき(デウェッティング)
(必要とする場合)

12c

C2

接触抵抗(ミリボルトレ

ベル法)又は接触抵抗(規
定電流法)

2a

又は

2b

P4 3 4

×

3 4

×

C3

C3

試験(個別規格に規定

する場合)

C4

追加 C 試験(個別規格に
規定する場合)

記録 C1,C2,C3 及び C4 の結果を記録する。

D1

品質認証の維持

**

**

結合力及び離脱力 13a

AP3

4

×

 4

×

耐電圧 4a

AP5

4

×

 4

×

記録  すべての群の結果を記録する。

D2

初期品質認証試験[JIS C 

5401-1

の 3.6.2(設計検証

又は形式試験)を適用す
る場合] 

**

個 別 規 格 の 規 定 に
従うものとする。

**

D3

AP1

∼AP20****

DP1 … DP6

EP1 … EP9

FP1 … FP5

GP…

***

***

記録  品質認証報告書

注* 20 ターミネーション又は 20 ターミネーションの試験が可能な最少コネクタ数。 
  **

JIS C 5401-1

の 3.5.4.2.2(群 D 検査)による。

  ***

試料は,試料を浸す液体ごとに一個,用意する。

  ****  評価水準 A の場合には,AP1 及び AP4 だけを実施する。試験群 AP における他の試験には適用しない。 
備考1.  ×:個別規格に規定することを示す。

2.  p

:周期(月)

3.  n

:最少試料数

4.  c

:許容不良品数


20

C 5401-2

:2005 (IEC 61076-2:1998)

4.5.6

能力認証  IEC で審議中。

5.

ブランク個別規格−一般事項  ブランク個別規格は,品種別通則の補足をなし,そして個別規格の書

式,レイアウト及び最少の構成要素の要求事項を含み,統一した表現を確保する。

その内容は,品目別通則又は品種別通則に基づき,そして当該コネクタ品種の品質を評価するために必

要な技術基準の選択肢を記載する。

これらの要求事項を満足しない個別規格は,JIS に従ったものと見なされない。また,JIS に従っている

と記載してはならない。