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C 5402-5-2

:2004 (IEC 60512-5-2:2002)

(1) 

まえがき

この規格は,工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)から,

工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経

済産業大臣が制定した日本工業規格である。

制定に当たっては,日本工業規格と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日

本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために,IEC 60512-5-2:2002,Connectors for

electronic equipment - Tests and measurements - Part 5-2: Current-carrying capacity tests - Test 5b:

Current-temperature derating

を基礎として用いた。

この規格の一部が,技術的性格をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の

実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会

は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新

案登録出願にかかわる確認について,責任はもたない。

JIS C 5402

の規格群は,JIS C 5402-1-100:試験一覧による。


C 5402-5-2

:2004 (IEC 60512-5-2:2002)

(2) 

目  次

ページ

序文  

1

1.

  適用範囲  

1

2.

  一般条件  

1

2.1

  電流容量曲線の決定  

1

2.2

  軽減曲線  

2

2.3

  電流容量曲線の適用  

2

3.

  試験の条件  

3

3.1

  試験の準備  

3

3.2

  温度測定条件  

4

4.

  試験方法  

4

5.

  個別規格に規定する事項  

4

 


     

日本工業規格

JIS

 C

5402-5-2

:2004

(IEC 60512-5-2

:2002

)

電子機器用コネクタ―

試験及び測定―第 5-2 部:電流容量試験―

試験 5b:電流・温度の軽減

Connectors for electronic equipment -

Tests and measurements - Part 5-2: Current-carrying capacity tests -

Test 5b: Current-temperature derating

序文  この規格は,2002 年に第 1 版として発行された IEC 60512-5-2,Connectors for electronic equipment -

Tests and measurements - Part 5-2: Current-carrying capacity tests - Test 5b: Current-temperature derating

を翻訳し,

技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。

1. 

適用範囲  この規格は,高温の周囲温度下における電子機器用コネクタ(以下,コネクタという。)の

電流容量を評価するための試験方法について規定する。この試験方法は,類似の部品にも用いてよい。

備考  この規格の対応国際規格を,次に示す。

なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21 に基づき,IDT(一致している)

,MOD

(修正している)

,NEQ(同等でない)とする。

IEC 60512-5-2:2002

,Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 5-2:

Current-carrying capacity tests - Test 5b: Current-temperature derating (IDT)

2. 

一般条件

2.1 

電流容量曲線の決定  電流容量は,ハウジングの絶縁材料と同様にコンタクト及びターミナルに用

いる材料の熱特性にも依存する。したがって,電流容量は,自己発熱とコネクタが動作している場所の周

囲温度との関数である。

3.2

の測定条件を用い,コネクタの測定点の温度 t

b

(ほぼ最高温度点)及びその近傍の周囲温度 t

u

を異な

った電流値で測定する。二つの温度差は,自己発熱によるものか,又は通電によって生じた上昇分である。

これは次の式で表すことができる。

( )

k

t

t

t

u

b

Δ

=

電流,温度上昇及びコネクタの周囲温度の関係は,

図 に示すような曲線で表される。個別規格に特に

規定がない場合には,温度上昇は三つの試料の平均電流値に基づいて決定する。これらの三つの試料の測

定値から得られた平均値を基礎曲線として用いる。基礎曲線は,少なくとも 3 点から作成する。

使用する材料の許容上限温度は,縦軸を電流 I,横軸を温度 とする

図 及び図 に示すグラフ上に垂直


2

C 5402-5-2

:2004 (IEC 60512-5-2:2002)

     

線として記入する。電流 I

n

で決まる温度上昇Δt(三つの試料の平均値)を差し引く。

周囲温度 I

u

と温度上昇Δとの和が材料の上限温度超えてはならないので,これから,負荷電流 I

n

に対

する最大許容周囲温度 I

u

が得られる。

備考 

上限温度の限界は物質的な考慮をして,曲線を切りつめてもよい。

  1  基礎電流容量曲線の構成

2.2 

軽減曲線  2.1 に従って求めた基礎曲線(図 参照)から得られる軽減曲線(図 参照)を,関連の

個別規格に規定する。この曲線は,測定器での温度測定による誤差だけでなく試料による変動をも考慮し

ている。

電流容量は,電線サイズ,負荷回路の不平衡分布などの外部因子によって更に制限される場合があるの

で軽減係数が必要である。これらの因子が,熱限界により予期できるもの以外に電流容量を制限する場合

には,修正値を適用する。

2.3 

電流容量曲線の適用  2.2 に従って求めた軽減曲線は,この規格で定義するとおり公式の電流容量曲

線を表している。その曲線は,周囲温度の関数として最大許容電流を表しているので,真の軽減曲線であ

る。

図 に示す陰影部分は,許容動作範囲を表す。

この軽減曲線は,同曲線において他に明確な規定がない場合には,基礎電流容量曲線の電流値に 0.8 の

軽減係数を乗じることによって得られる。

備考  個別規格に電流容量データを規定する場合には,この規格に示す電流容量曲線を引用する。

数値を表にしたい場合には,これらの数値は電流容量曲線と一致していることが望ましい。


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C 5402-5-2

:2004 (IEC 60512-5-2:2002)

     

  2  基礎曲線から得た軽減曲線

3. 

試験の条件

3.1 

試験の準備

囲い−測定はできる限り静穏な空気中で行う。したがって,試料は近傍の環境を外部気流から保護する囲

いの中に取り付けなければならない。囲いは熱反射のない材料で作るのが望ましい。囲いの側面は異なっ

たサイズの試料を入れるために可動できるほうがよい。側面は試料の端から 200 mm 以上離れていなけれ

ばならない。囲いは蓋を付けてもよい。ただし,試験中,試料の熱効果によって生じる周囲温度の上昇を

最小限にするため,ふたには換気口を設ける。

取付け−試料は,囲いの底面から 50 mm,上面から下に少なくとも 150 mm,各側面から等距離の位置で

囲いの中に水平に配置する。試料は,可能な限り自由懸垂に近い状態とする。これが不可能な場合には,2

W/mK

以下の熱伝導率をもつ絶縁体を用いてもよい。ただし,断熱材と接触する試料の表面は 20  %以下

とする。

配線−試料は,予想される最大電流又はターミネーションのサイズに適した断面積の電線で接続する。外

部熱放散を最小にするため,接続用電線は,少なくとも

表 に示す長さが測定用の囲いの中に入っていな

ければならない。試料が多極コネクタの場合には,すべてのコンタクトを接続用電線と同じサイズの電線

で直列に接続する。直列に接続した電線の長さは,少なくとも

表 に規定した最小長さの 2 倍とする。個

別規格に規定がない場合には,製造業者の推奨工具を用いる。

備考  可動コンタクト付試料の場合には,コンタクトが接続電線で動かされないよう注意する。

結合した 1 セットのコネクタは単一の試料とみなす。

  1  各試料に対する最短電線長さ

電線サイズ

mm

2

最短長さ

mm

< 0.5

200

0.5

  ∼  5 500

> 5

1400

備考  この表は熱伝導率を基準とし,電線が,それら

の断面積に比較して確実に長くなるよう設定し
ている。

試料がプリント配線板を用いる場合には,これ
らの特性は個別規格に規定する。


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C 5402-5-2

:2004 (IEC 60512-5-2:2002)

     

3.2 

温度測定条件  温度を温度用プロ−ブで測定する場合には,プローブのリード線は測定用囲いの絶

縁壁を通すものとする。その他の温度測定方法であっても差し支えない。周囲温度の測定点は試料の中心

線を通過する水平面とする。その測定点は,試料の長手側面の中心から 50 mm とする。ふく射熱からプロ

ーブを保護するよう注意する。試料の温度測定点は,可能な限り試料の最も高温部に近い箇所とする。

備考  温度プロ−ブは,細い熱電対(例;直径 0.3 mm 以下のニクロム・ニッケル線)でもよい。同

じタイプの校正曲線をもつ熱電対を両方の温度プロ−ブに用いる場合には,それらは測定回路

の相対する位置に接続してもよい。この場合,温度上昇Δを直接測定する。ただし,t

b

が材料

の上限温度を超えないようにモニタすることが望ましい。

4. 

試験方法  試料を 3.1 に規定するとおり測定用囲いの中に配置し,その端末を安定化電源に電流計を

介して接続する(

図 参照)。負荷電流は,交流又は直流のいずれでもよい。交流電流を用いる場合には,

実効値を用いる。直流電流を用いる場合,熱電対には,電流を反転させて試験を実施することにより,熱

電対におけるバイアス電圧の影響を相殺する。電流は,選択した各電流値で,温度が安定した後,約 1 時

間維持する。

“温度が安定する”

とは,

“5 分間隔で 3 回連続して測定したときに 2  ℃以上の差がないこと”

と定義する。

  3  測定器の代表的配置

5. 

個別規格に規定する事項  個別規格では,次の事項を規定する。

a)

試料の取付け

b)

電線サイズ及びタイプ

c)

上限温度

d)

この試験方法との相違