C 5402-16-5：2012 (IEC 60512-16-5：2008)
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲 ························································································································· 1
2 引用規格 ························································································································· 1
3 準備······························································································································· 2
3.1 試料 ···························································································································· 2
3.2 装置 ···························································································································· 2
3.3 取付け ························································································································· 2
4 試験方法 ························································································································· 2
4.1 方法A−単極コンタクト（保持力）ゲージ ·········································································· 2
4.2 方法B−多極コンタクトゲージ ························································································· 2
4.3 測定及び要求事項 ·········································································································· 2
5 個別規格に規定する事項 ···································································································· 3
C 5402-16-5：2012 (IEC 60512-16-5：2008)
（2）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人電子情報技術産業協会（JEITA）
及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出
があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS C 5402 の規格群の部編成は，JIS C 5402-1-100：試験一覧による。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格
JIS
C 5402-16-5：2012
(IEC 60512-16-5：2008)
電子機器用コネクタ−試験及び測定−
第16-5部：コンタクト及びターミネーションの
機械的試験−試験16e：
ゲージ保持力（弾性コンタクト）
Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-
Part 16-5: Mechanical tests on contacts and terminations-
Test 16e: Gauge retention force (resilient contacts)
序文
この規格は，2008年に第1版として発行されたIEC 60512-16-5を基に，技術的内容及び構成を変更する
ことなく作成した日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある参考事項は，対応国際規格にない事項である。
1
適用範囲
この規格は，電子機器用コネクタ（以下，コネクタという。）に適用する。個別規格に規定がある場合に
は，類似の部品にも用いてよい。
この規格は，コンタクト保持力ゲージを用いて弾性機構をもつコンタクトの保持力を測定するための試
験方法について規定する。
この試験は，ゲージ保持力の測定が必要な場合には，接地用コンタクトスプリング及び類似のコンタク
トにも適用できる。この場合には，試験の詳細［箇条5 d)〜f)に示す。］を個別規格に規定する。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 60512-16-5:2008，Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 16-5:
Mechanical tests on contacts and terminations−Test 16e: Gauge retention force (resilient contacts)
（IDT）
なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”こ
とを示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで，西暦年を付記してあるものは，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS B 0031:2003 製品の幾何特性仕様（GPS）−表面性状の図示方法
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C 5402-16-5：2012 (IEC 60512-16-5：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
注記 対応国際規格：ISO 1302:2002，Geometrical Product Specifications (GPS)−Indication of surface
texture in technical product documentation（IDT）
JIS C 5402-1-1 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1-1部：一般試験−試験 1a：外観
注記 対応国際規格：IEC 60512-1-1，Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−
Part 1-1:General examination−Test 1a: Visual examination（IDT）
3
準備
3.1
試料
試料は，ターミネーションをもつコネクタとする。個別規格で規定する場合には，結線してもよい。個
別規格でコンタクトへの潤滑油の使用を規定している場合には，その方法で潤滑油を用いる。
個別規格に規定する前処理を適用する。
3.2
装置
個別規格で規定するコンタクトゲージ一式を準備する。
3.3
取付け
試料の取付けは，適用する場合，個別規格による。
4
試験方法
4.1
方法A−単極コンタクト（保持力）ゲージ
4.1.1
めすコンタクト
めすコンタクトは，規定する最大寸法のおす単極コンタクトゲージで，挿入及び引抜きを実施する。こ
れを3回繰り返す。その後，規定する最小寸法のおす単極コンタクト保持力ゲージをめすコンタクトに挿
入する。
4.1.2
おすコンタクト
おすコンタクトは，規定する最小寸法のめす単極コンタクトゲージで，挿入及び引抜きを実施する。こ
れを3回繰り返す。その後，おすコンタクトを規定する最大寸法のめす単極コンタクト保持力ゲージに挿
入する。
4.2
方法B−多極コンタクトゲージ
試験方法は，多極のゲージを使用して試験する以外は，方法Aと同様とする。その後，めすコンタクト
の場合は，規定する最小寸法のおす単極コンタクト保持力ゲージをめすコンタクトに挿入する。
おすコンタクトの場合は，おすコンタクトを規定する最大寸法のめす単極コンタクト保持力ゲージに挿
入する。
4.3
測定及び要求事項
4.3.1
試験前
初期測定は，JIS C 5402-1-1によって10倍の倍率で外観検査を行う。
試験の妥当性を損なうような不適合があってはならない。
4.3.2
試験中
単極コンタクト保持力ゲージを挿入したコンタクトを鉛直方向に保持する。コンタクトは，単極コンタ
クト保持力ゲージを5秒間以上保持できなければならない。
4.3.3
試験後
最終測定は，JIS C 5402-1-1によって10倍の倍率で外観検査を行う。特にコンタクトの弾性機構は，注
3
C 5402-16-5：2012 (IEC 60512-16-5：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
意して検査する。
コネクタの正常な機能を損なうような不適合は，全て試験報告書に記録する。
5
個別規格に規定する事項
個別規格には，次の事項を規定する。
a) 前処理（要求がある場合）
b) 潤滑油の使用方法及び仕様（要求がある場合）
c) 試料の結線に関する詳細（要求がある場合）
d) 試料の取付方法（要求がある場合）
e) 使用するゲージの詳細（JIS B 0031による表面粗さを含む。）
f)
試料数
g) この規格で規定する試験方法との相違