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C 5402-11-8 : 2002 (IEC 60512-11-8 : 1995)

(1) 

まえがき

この規格は,工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人電子情報技術産業協会  (JEITA)  か

ら,

工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,

日本工業標準調査会の審議を経て,

経済産業大臣が制定した日本工業規格である。

制定に当たっては,日本工業規格と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日

本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするため,IEC 60512-11-8,Electromechanical

components for electronic equipment

−Basic testing procedures and measuring methods−Part 11 : Climatic tests−

Section 8 : Test 11h

−Sand and dust を基礎として用いた。

この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の

実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会

は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新

案登録出願にかかわる確認について,責任はもたない。

JIS C 5402

の規格群は,JIS C 5402-1-100 の試験一覧による。


日本工業規格

JIS

 C

5402-11-8

: 2002

 (IEC 60512-11-8

: 1995

)

電子機器用コネクタ−

試験及び測定−

第 11-8 部:耐候性試験−試験 11h:砂じん

Connectors for electronic equipment

−Tests and measurements−

Part 11-8 : Climatic tests

−Test 11h : Sand and dust

序文  この規格は,1995 年に第 1 版として発行された IEC 60512-11-8,Electromechanical components for

electronic equipment

−Basic testing procedures and measuring methods−Part 11 : Climatic tests−Section 8 : Test

11h : Sand and dust

を翻訳し,技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格であ

る。

1.

適用範囲及び目的  この規格は,電子機器用コネクタ(以下,コネクタという。)が吹き付ける細かい

砂じんに耐える能力を評価するために,標準の試験方法を規定する。

備考  この規格の対応国際規格を,次に示す。

なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21 に基づき,IDT(一致している)

,MOD

(修正している)

,NEQ(同等でない)とする。

IEC 60512-11-8 : 1995

  Electromechanical components for electronic equipment−Basic testing

procedures and measuring methods

−Part 11 : Climatic tests−Section 8 : Test 11h : Sand and dust

(IDT)

2.

引用規格  次に掲げる引用規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構

成する。これらの引用規格のうちで,発行年を付記してあるものは,記載の年の版だけがこの規格の規定

を構成するものであって,その後の改正版・追補には適用しない。発効年を付記していない引用規格は,

その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 5402-13-1

  電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 13-1 部:機械的動作試験−試験 13a:結合

力及び離脱力

備考  IEC 60512-13-1 : 1996, Electromechanical components for electronic equipment−Basic testing

procedures and measuring methods

−Part 13 : Mechanical operating tests−Section 1 : Test 13a :

Engaging and separating forces

が,この規格と一致している。

IEC 60068-2-68 : 1994

  Environmental testing−Part 2 : Tests−Test L : Dust and sand


2

C 5402-11-8 : 2002 (IEC 60512-11-8 : 1995)

3.

試料の準備  標準のアクセサリを付けた試料は,個別規格に従って取り付け,配線する。個別規格で

要求する場合には,試験に先立って,試料を規定回数挿入及び引抜きを行う。試験は,結合したコネクタ

又は保護カバーを付けた非結合のコネクタで行う。

4.

試験方法

4.1

初期測定  初期測定は,個別規格による。試料は,JIS C 5402-13-1 の試験を行う(IEC 60068-2-68

試験 L:砂じん試験参照)

4.2

供試条件

4.2.1

試験装置  試験槽の長さ,区画及び形状は,次のとおり設計する。

−  試料の前方の乱気流を避け,そのような流れをできるだけ試料の背後に制限する。

−  気流内の固体粒子の分布が均一になるようにする。

耐候性試験槽は,試験中,次の事項を規定限度値以内に維持するための制御部品を装備する。

−  射出密度(光透過率測定システムを推奨する。

−  気流速度

−  試料周辺の相対湿度及び温度

試験に使用する砂じんは,次の粒子径をもつ研磨剤とする。

150

μm 未満 100 から 99  質量%

105

μm 未満 86 から 76  質量%

75

μm 未満 70 から 60  質量%

40

μm 未満 46 から 35  質量%

20

μm 未満 30 から 20  質量%

10

μm 未満 19 から 11  質量%

5

μm 未満 11 から   5  質量%

2

μm 未満

5

から  1.5 質量%

粒子は,97%から 99%の SiO

2

を含む。

4.2.2

試験槽内の試料の位置  気流に対する試料の配置数及び試料の向きは,個別規格による。

4.2.3

試験手順  個別規格には実施するサイクル数を規定する。各サイクルは,2 時間継続し 4 段階から

なる。

a) 30

分以内に試験槽を,次の限界値以内に安定させる。

−  温度:30℃±3℃

−  相対湿度<25%

−  気流速度:個別規格は 3m/s から 10m/s の速度に規定する。推奨速度は 3.0m/s±0.3m/s である。

−  粒子濃度:5g/m

3

±1.5g/m

3

b)  a)

の条件を 30 分間維持する。

c) 30

分以内に,他のパラメータは不変のまま,温度を 65℃±5℃にする。

d)  c)

の条件を 1 時間,維持する。

他に規定がない場合には,各位置に対して 1 サイクル実施する。連続する 2 サイクルの間に,温度を 2

時間(最大)以内に 30℃±3℃に下げる。


3

C 5402-11-8 : 2002 (IEC 60512-11-8 : 1995)

4.2.4

後処理  試験後,湿気の影響を防ぐため,結合した試料からゆすり,ふき取り,ブラシによって砂

じんを除去する。ただし,試料に侵入した砂じんを除去するため,送風又は吸引装置を使用してはならな

い。試料を室温に戻るまで放置する。

4.3

最終測定及び要求事項(適用する場合)  最終測定は,個別規格による。

試料は,JIS C 5402-13-1 によって最初の離脱力の値を記録する。

5.

個別規格に規定する事項  個別規格には,次の事項を規定する。

a)

試料の取付方法及び配線方法に関する事項 

b)

試料の条件:結合状態又は非結合(保護カバー付き)状態 

c)

試料の配置数及び試料の向き 

d)

初期測定及び最終測定に対する要求事項 

e)

気流速度 

f)

サイクル数 

g)

この試験方法との相違 

電子部品 JIS 原案作成委員会  構成表

氏名

所属

(委員長)

平  山  宏  之

東京都立科学技術大学

(委員)

吉  田  裕  道

東京都立産業技術研究所

寺  岡  憲  吾

防衛庁

藤  倉  秀  美

財団法人電気安全環境研究所

佐々木  喜  七

財団法人日本電子部品信頼性センター

村  岡  桂次郎

曽我部  浩  二

町  野  俊  明

橋  本      進

財団法人日本規格協会

福  原      隆

沖電気工業株式会社

村  上  昭  次

株式会社ケンウッド

山  本  克  巳

ソニー株式会社

西  林  和  男

株式会社東芝

新  井  謙  一

日本電気株式会社

小  林      弘

日本電気ファクトリエンジニアリング株式会社

中  野      武

松下通信工業株式会社

三  宅  敏  明

松下電器産業株式会社

伊  高  篤  己

三菱電機株式会社

三  宅  邦  彦

松尾電機株式会社

高  木  裕  司

アルプス電気株式会社

石  井      勝

第一電子工業株式会社

山  本  圭  一

進工業株式会杜

尾  村  博  幸

日本ケミコン株式会社

大  島      寛

ニチコン株式会社

柴  田  一  寛

株式会社村田製作所

大  西  浩  司

本多通信工業株式会社

前  田  太  門

ヒロセ電機株式会社

八  木      誠

日本航空電子工業株式会社

小  島  槇  雄

窪  田      明

経済産業省

八  田      勲

経済産業省


4

C 5402-11-8 : 2002 (IEC 60512-11-8 : 1995)

氏名

所属

(事務局)

塚  田  潤  二

社団法人電子情報技術産業協会

中  山  正  美

社団法人電子情報技術産業協会

JIS C 5402-1

規格群原案作成分科会  構成表

氏名

所属

(主査)

石  井      勝

第一電子工業株式会社

(副主査)

山  川  和  夫

多治見無線電機株式会社

大  西  浩  司

本多通信工業株式会社

(委員)

大久保      功

株式会社アイティティキャノン

武  田  佳  司

イリソ電子工業株式会社

木  村      淳 URO 電子工業株式会社

横井川  淳  史

オムロン株式会社

坂  岡  眞  樹

京セラ株式会社

東      陽一郎

ケル株式会社

金  子  智  行

株式会社ジャルコ

福  田  敦  夫

スタック電子株式会社

佐  藤  一  巳

ソニー株式会社

今  井      彰

タイコエレクトロニクスアンプ株式会社

太  田      弦

日本圧着端子製造株式会社

八  木      誠

日本航空電子工業株式会社

白  岩  寿  久

日本航空電子工業株式会社

榎  本  雅  弘

日本モレックス株式会社

吉  岡  克  之

ノーブル無線株式会社

前  田  太  門

ヒロセ電機株式会社

岩  朝  好  博

ホシデン株式会社

加  藤  修  治

松下電工株式会社

一  木  義  和

株式会社村田製作所

金  子  哲  也

山一電機株式会社

小  島  槇  雄

(事務局)

塚  田  潤  二

社団法人電子情報技術産業協会

中  山  正  美

社団法人電子情報技術産業協会

日本工業標準調査会  標準部会  電子技術専門委員会  構成表

氏名

所属

(委員会長)

鳳      紘一郎

東京大学大学院新領域創成科学研究科

(委員)

榎  並  和  雅

日本放送協会技術局

川  瀬  正  明

千歳科学技術大学光科学部

喜  安      拓

総務省情報通信政策局

栗  原  正  英

社団法人日本プリント回路工業会

小  岩  忠  夫

社団法人電子情報技術産業協会

酒  井  善  則

東京工業大学大学院理工学研究科

佐  野  真理子

主婦連合会

田  村  政  昭

株式会社東芝デジタルメディアネットワーク社コアテクノロジーセンター

平  松  幸  男

東日本電信電話株式会社第三部門

本  多  正  己

財団法人日本規格協会 IEC 活動推進会議事務局

増  田  岳  夫

財団法人光産業技術振興協会

山  本  克  巳

ソニー株式会社テクニカルサポートセンター