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C 5101-3-1

:2010 (IEC 60384-3-1:2006)

(1)

目  次

ページ

序文

1

1

  一般事項

2

1.0

  適用範囲

2

1.1

  推奨する取付方法

2

1.2

  寸法

2

1.3

  定格及び特性

3

1.4

  引用規格

4

1.5

  表示

5

1.6

  発注情報

5

1.7

  出荷対象ロットの成績証明書

5

1.8

  追加情報(非検査目的)

5

1.9

  品目別通則及び/又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項

5

2

  検査要求事項

5

2.1

  手順

5


C 5101-3-1

:2010 (IEC 60384-3-1:2006)

(2)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 14 条によって準用する第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人電子情報

技術産業協会 (JEITA) 及び財団法人日本規格協会 (JSA) から,工業標準原案を具して日本工業規格を改

正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格であ

る。

これによって,JIS C 5101-3-1:1998 は改正され,この規格に置き換えられた。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に

抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許

権,出願公開後の特許出願,実用新案権及び出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について,責

任はもたない。

JIS C 5101

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS

C

5101-1

  第 1 部:品目別通則

JIS

C

5101-2

  第 2 部:品種別通則:固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流コン

デンサ

JIS

C

5101-2-1

  第 2-1 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィル

ム直流コンデンサ  評価水準 E 及び EZ

JIS

C

5101-3

  第 3 部:品種別通則:表面実装用固定タンタル固体 (MnO

2

)  電解コンデンサ

JIS

C

5101-3-1

  第 3-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定タンタル固体 (MnO

2

)  電解コンデンサ

評価水準 EZ

JIS

C

5101-4

  第 4 部:品種別通則:アルミニウム固体 (MnO

2

)  及び非固体電解コンデンサ

JIS

C

5101-4-1

  第 4-1 部:ブランク個別規格:アルミニウム非固体電解コンデンサ−評価水準 EZ

JIS

C

5101-4-2

  第 4-2 部:ブランク個別規格:アルミニウム固体 (MnO

2

)  電解コンデンサ−評価水準

EZ

JIS

C

5101-8

  第 8 部:品種別通則:固定磁器コンデンサ  種類 1

JIS

C

5101-8-1

  第 8-1 部:ブランク個別規格:固定磁器コンデンサ  種類 1  評価水準 EZ

JIS

C

5101-9

第 9 部:品種別通則:固定磁器コンデンサ  種類 2

JIS

C

5101-9-1

  第 9-1 部:ブランク個別規格:固定磁器コンデンサ  種類 2  評価水準 EZ

JIS

C

5101-11

  第 11 部:品種別通則:固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コンデ

ンサ

JIS

C

5101-11-1

  第 11 部:ブランク個別規格:固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直

流コンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-13

  第 13 部:品種別通則:固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ

JIS

C

5101-13-1

  第 13-1 部:ブランク個別規格:固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデン

サ  評価水準 E 及び EZ

JIS

C

5101-14

  第 14 部:品種別通則:電源用電磁障害防止固定コンデンサ

JIS

C

5101-14-1

  第 14-1 部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ  評価水準 D


C 5101-3-1

:2010 (IEC 60384-3-1:2006)

(3)

JIS

C

5101-14-2

  第 14-2 部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ  安全性を要求

する試験

JIS

C

5101-14-3

  第 14-3 部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ  評価水準 DZ

JIS

C

5101-15

  第 15 部:品種別通則:固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ

JIS

C

5101-15-1

  第 15 部:ブランク個別規格:はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ  評価

水準 E

JIS

C

5101-15-2

  第 15 部:ブランク個別規格:焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ  評価水準

E

JIS

C

5101-15-3

  第 15 部:ブランク個別規格:焼結形固定タンタル固体電解コンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-16

  第 16 部:品種別通則:固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ

JIS

C

5101-16-1

  第 16-1 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コン

デンサ  評価水準 E 及び EZ

JIS

C

5101-17

  第 17 部:品種別通則:固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコン

デンサ

JIS

C

5101-17-1

  第 17-1 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及び

パルスコンデンサ  評価水準 E 及び EZ

JIS

C

5101-18

  第 18 部:品種別通則:表面実装用固定アルミニウム固体 (MnO

2

)  及び非固体電解コン

デンサ

JIS

C

5101-18-1

  第 18-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定アルミニウム固体 (MnO

2

)  電解コン

デンサ−評価水準 EZ

JIS

C

5101-18-2

  第 18-2 部:ブランク個別規格:表面実装用固定アルミニウム非固体電解コンデンサ

−評価水準 EZ

JIS

C

5101-20

  第 20 部:品種別通則:表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィル

ム直流コンデンサ

JIS

C

5101-20-1

  第 20-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフ

ィドフィルム直流コンデンサ  評価水準 EZ

JIS

C

5101-21

第 21 部:品種別通則:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 1

JIS

C

5101-21-1

  第 21-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 1  評価水

準 EZ

JIS

C

5101-22

  第 22 部:品種別通則:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 2

JIS

C

5101-22-1

  第 22-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 2  評価水

準 EZ

JIS

C

5101-23

  第 23 部:品種別通則:表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレートフィル

ム直流コンデンサ

JIS

C

5101-23-1

  第 23-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレ

ートフィルム直流コンデンサ  評価水準 EZ

JIS

C

5101-24

  第 24 部:品種別通則:表面実装用固定タンタル固体(導電性高分子)電解コンデンサ

JIS

C

5101-24-1

  第 24-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定タンタル固体(導電性高分子)電解

コンデンサ−評価水準 EZ


C 5101-3-1

:2010 (IEC 60384-3-1:2006)

(4)

JIS

C

5101-25

  第 25 部:品種別通則:表面実装用固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コンデ

ンサ

JIS

C

5101-25-1

  第 25-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定アルミニウム固体(導電性高分子)

電解コンデンサ−評価水準 EZ

JIS

C

5101-26

  第 26 部:品種別通則:固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コンデンサ(予定)

JIS

C

5101-26-1

  第 26-1 部:ブランク個別規格:固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コンデ

ンサ  評価水準 EZ(予定)


日本工業規格

JIS

 C

5101-3-1

:2010

(IEC 60384-3-1

:2006

)

電子機器用固定コンデンサ−

第 3-1 部:ブランク個別規格:

表面実装用固定タンタル固体 (MnO

2

)

電解コンデンサ  評価水準 EZ

Fixed capacitors for use in electronic equipment

Part 3-1: Blank detail specification

Surface mount fixed tantalum electrolytic capacitors with

manganese dioxide solid electrolyte

−Assessment level EZ

序文

この規格は,2006 年に第 2 版として発行された IEC 60384-3-1 を基に,技術的内容及び対応国際規格の

構成を変更することなく作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

ブランク個別規格

この規格は,品種別通則 JIS C 5101-3 の補足規格で,個別規格の様式及び最小限必要な要求事項を規定

したものである。これらの要求事項を満足しない個別規格は,日本工業規格に基づいていないものとみな

し,そのことを個別規格に記載する。

個別規格は,JIS C 5101-3 の 1.4(個別規格に規定する事項)に基づいて作成する。

個別規格の最初のページとなるこの規格の 2 ページの表に記載してある括弧内の数字は,指定の位置に

記入する次の事項と対応している。

個別規格の識別

(1)  個別規格を管理する国内標準化機構又は国際電気標準会議  (IEC)  の名称

(2)  個別規格の国内規格番号,西暦年及び国内制度で要求される追加事項又は IEC 規格番号,版及び西

暦年

(3)  品目別通則の日本工業規格番号及び西暦年又は IEC 規格番号,版及び西暦年

(4)  ブランク個別規格の国内規格番号又は IEC 規格番号

コンデンサの識別

(5)  コンデンサの品種についての要約説明

(6)  代表的な構造の説明(適用する場合)

注記  コンデンサがプリント配線板用に設計されていない場合には,個別規格のこの欄にそのこ


2

C 5101-3-1

:2010 (IEC 60384-3-1:2006)

とを明記する。

(7)  互換性の上で,重要な主要寸法を記載した外形図及び/又は外形に関する国内又は国際規格の引用。

この図は,個別規格の附属書としてもよい。

(8)  適用範囲又は適用グループの範囲及び/又は評価水準

(9)  重要な特性に関する参照データ

例  社団法人電子情報技術産業協会

(1)

個別規格番号

(2)

例  JIS C 5101-3-1(ブランク個別規格番号)

(4)

例  電子機器用固定コンデンサ

(3)

    第 1 部:品目別通則

    JIS C 5101-1:2010

個別規格の名称

(5)

例  表面実装用固定タンタル固体 (MnO

2

)

    電解コンデンサ  形状 1

構造の説明

(6)

外形図(

表 参照)

(7)

(第三角法) 
(規定寸法内であれば,外形は異なってもよい。

評価水準:EZ (8)

注記  (1)∼(8):個別規格の識別及びコンデンサの識別を参照。

この個別規格で認証されたコンデンサの詳細な内容は,品質認証書  (Qualification approval certificate) 
に示されている。* 
注*

この記載は,IEC 電子部品品質認証制度  (IECQ)  の場合に適用する。

(9)

注記  (9):コンデンサの識別を参照。

1

一般事項

1.0

適用範囲

この規格は,JIS C 5101-3 を品種別通則とするブランク個別規格で,表面実装用固定タンタル固体

(MnO

2

)  電解コンデンサの評価水準 EZ について規定する。

注記  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 60384-3-1:2006

,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 3-1: Blank detail

specification: Surface mount fixed tantalum electrolytic capacitors with manganese dioxide solid

electrolyte−Assessment level EZ (IDT)

なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,

“一致している”こ

とを示す。

1.1

推奨する取付方法

推奨する取付方法は,コンデンサの端子によって取り付ける[JIS C 5101-3 の 1.4.2(取付け)及び 4.3

(取付け)による。

1.2

寸法

外形寸法記号及び寸法は,

表 による。


3

C 5101-3-1

:2010 (IEC 60384-3-1:2006)

表 1−外形寸法記号及び寸法

単位  mm

寸法

外形寸法記号

φ

 L H d ...

注記 1  外形寸法記号がない場合は,この表 を削除し,寸法を表 に記載して,それを表 とする。 
注記 2  寸法は,最大寸法又は公称寸法及びその許容差で表す。

1.3

定格及び特性

定格及び特性は,次による。

公称静電容量範囲(

表 による。)

公称静電容量許容差

定格電圧(

表 による。)

カテゴリ電圧(適用する場合)

表 による。)

耐候性カテゴリ

定格温度

静電容量の温度変動(

表 による。)

損失角の正接 (tan

δ)(表 による。)

漏れ電流(

表 による。)

インピーダンス(個別規格に規定がある場合)

表 による。)

等価直列抵抗 (ESR)(個別規格に規定がある場合)

表 による。)

サージ電圧

表 2−外形寸法に関連する公称静電容量及び定格電圧

定格電圧

V

カテゴリ電圧

a)

V

外形寸法記号

外形寸法記号

外形寸法記号

外形寸法記号

公称静電容量

μF

a)

  定格電圧と異なる場合。


4

C 5101-3-1

:2010 (IEC 60384-3-1:2006)

表 3−高温及び低温での特性

最大値

静電容量変化率

%

損失角の正接 (tan δ)

漏れ電流

μA

U

R

V

C

N

μF

T

A

T

R

T

B

T

A

 20

T

R

T

B

 20

T

R

T

B

a)

T

A

:カテゴリ下限温度

T

B

:カテゴリ上限温度

T

R

:定格温度

a)

  カテゴリ電圧で測定。

表 4100 kHz でのインピーダンス(個別規格に規定がある場合)

外形寸法記号

インピーダンスの最大値

Ω

表 5100 kHz での等価直列抵抗  (ESR)(個別規格に規定がある場合)

定格電圧 U

R

V

公称静電容量

μF

等価直列抵抗 (ESR) の最大値

m

Ω

1.4

引用規格

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。

)は適用しない。

JIS C 0806-3:2010

  自動実装部品の包装−第 3 部:表面実装部品の連続テープによる包装

注記  対応国際規格:IEC 60286-3:2007,Packaging of components for automatic handling−Part 3:

Packaging of surface mount components on continuous tapes (IDT)

JIS C 5101-1:2010

  電子機器用固定コンデンサ−第 1 部:品目別通則

注記  対応国際規格:IEC 60384-1:2008,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 1:

Generic specification (IDT)

JIS C 5101-3:2010

  電子機器用固定コンデンサ−第 3 部:品種別通則:表面実装用固定タンタル固体

(MnO

2

)  電解コンデンサ

注記  対応国際規格:IEC 60384-3:2006,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 3:

Sectional specification: Surface mount fixed tantalum electrolytic capacitors with manganese dioxide

solid electrolyte (IDT)


5

C 5101-3-1

:2010 (IEC 60384-3-1:2006)

1.5

表示

コンデンサの本体及び包装への表示は,JIS C 5101-3 の 1.6(表示)による。

コンデンサの本体及び包装への表示の詳細は,個別規格に規定する。

1.6

発注情報

この規格に基づくコンデンサの発注情報は,明りょうな文字又は記号によって,少なくとも次の項目を

含む。

a)

公称静電容量

b)

公称静電容量許容差

c)

定格電圧

d)

個別規格に記載の番号及び発行年並びにコンデンサの種類

e)

包装形態(バルク包装又はテーピング包装とし,テーピング包装の場合は,JIS C 0806-3 による。

1.7

出荷対象ロットの成績証明書

成績証明書を要求する場合又は要求しない場合。

注記  顧客からの成績証明書要求の有無を明記する。

1.8

追加情報(非検査目的)

注記  検査目的以外の追加情報がある場合に記載する。

1.9

品目別通則及び/又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項

品目別通則及び/又は品種別通則への追加又はより厳しい要求事項は,

表 による。

注記  追加又はより厳しい要求事項は,不可欠な場合に規定する。

表 6−その他の特性

この表は,JIS C 5101-3 の規定への追加又はより厳しい特性を規定するために使用する。

2

検査要求事項

2.1

手順

2.1.1

品質認証の手順

品質認証の手順は,JIS C 5101-3 の 3.4(品質認証試験)による。

2.1.2

品質確認検査の試験計画

品質確認検査の試験計画(

表 7)は,抜取方法,周期,厳しさ及び要求性能を表す。検査ロットの構成

は,JIS C 5101-3 の 3.5.1(検査ロットの構成)による。


6

C 5101-3-1

:2010 (IEC 60384-3-1:2006)

表 7−品質確認検査の試験計画−評価水準 EZ

試料数及び

合格判定数

b)

細分箇条番号

及び試験項目

a)

D

又は

ND

b)

試験条件

a)

IL

n

d)

要求性能

a)

群 検査 
  (ロットごと)

副群 A0 ND

100

d)

4.19

大電流サージ

c)

 
4.5.1

漏れ電流

 
 
 

4.5.2

静電容量

 

4.5.3

損失角の正接

  (tan

δ)

 
 
 
4.5.4

インピーダンス

c)

 
4.5.5

等価直列抵抗

  (ESR)

c)

 
 
保護抵抗:1 000

Ω

 
 
 
 
周波数:... Hz 
バイアス:... V 
 
周波数:... Hz 
バイアス:... V 
 
 
 
周波数:100 kHz 
 
周波数:100 kHz

 
 
0.02 C

N

U

R

μA/(μF×V)  又は,

1

μA のうちいずれか大きい値

以下。

詳細は,この規格の

表 による。

 
規定する許容差以内 
 
 
等級 1≦0.08 
等級 2≦0.12 
等級 3≦0.24

詳細は,この規格の

表 による。

 
この規格の

表 による。

 
この規格の

表 による。

副群 A1 ND

S-3

d)

0

4.4

外観

 
 
 
4.4

寸法(詳細)

4.4.2

による。表示は,明りょう

とする。

この規格の 1.5 の規定による。 
 
この規格の

表 による。

群 検査 
  (ロットごと)

副群 B1 D

S-3

d)

0

4.7

はんだ付け性

d)

4.7.2

最終測定

 

4.18

表示の耐溶剤性

c) 

方法:... 
温度及び浸せき時間...

又は 
温度プロファイル... 
 
外観 
 
 
溶剤:... 
溶剤の温度:... 
方法:1

ラビング材料:綿毛 
後処理時間:... 

 
 
 
 

4.7.2

による。表示は,明りょう

とする。

 
 
 
 
 


7

C 5101-3-1

:2010 (IEC 60384-3-1:2006)

表 7−品質確認検査の試験計画−評価水準 EZ(続き)

試料数及び

合格判定数

b)

細分箇条番号

及び試験項目

a)

D

又は

ND

b)

試験条件

a)

p n c 

要求性能

a)

群 検査(定期的)

副群 C1 

3  12  0

4.6.1

初期測定

 
 
4.6

はんだ耐熱性

4.6.3

最終測定

 

4.17

部品の耐溶剤性

c) 

D

静電容量 
損失角の正接 (tan

δ)

 
方法:...

d)

 
静電容量 
損失角の正接 (tan

δ)

 
溶剤:...

d)

溶剤の温度:...

d)

方法:2

後処理時間:...

d)

外観 

 
 
 
 
 
 

ΔC/C|≦... %

d)

 
 
個別規格の規定による。 
 
 
4.6.3

による。

副群 C2 

D

3  12  0

4.9

耐プリント板曲げ

e)

 
 
 
4.9.3

最終測定

静電容量(プリント板を

曲げた状態)

曲げ深さ D:... mm

d)

曲げ回数:...

d)

 
外観

ΔC/C|≦... %

d)

 
 
 
 
外観に損傷がない。

副群 C3 

D

4.3

取付け

外観 
 
漏れ電流 
 
 
 
静電容量 
 
損失角の正接 (tan

δ)

 
インピーダンス

c)

  又は等価直列抵抗 
  (ESR)

c)

外観に損傷がない。 
 
0.02 C

N

U

R

μA/(μF×V)  又は,

1

μA のうちいずれか大きい値

以下

 
個別規格の規定による。 
 
個別規格の規定による。 
 
この規格の

表 による。

この規格の

表 による。


8

C 5101-3-1

:2010 (IEC 60384-3-1:2006)

表 7−品質確認検査の試験計画−評価水準 EZ(続き)

試料数及び

合格判定数

b)

細分箇条番号

及び試験項目

a)

D

又は

ND

b)

試験条件

a)

p n c 

要求性能

a)

副群 C3.1 

D

6  8  0

4.8

固着性

 
4.10.1

初期測定

 
 
4.10

温度急変

 
 
 
 
 
4.10.3

最終測定

 
 
 
 
 
 
 
 
4.11

一連耐候性

(形状 1 に適用) 
 
4.11.1

初期測定

 
4.11.2

高温

 
 
4.11.3

温湿度サイクル

(試験 Db)

,最初の

サイクル

 
4.11.4

低温

 
 
4.11.5

温湿度サイクル

(試験 Db)

,残りの

サイクル

 
4.11.6

最終測定

外観 
 
行わない(

副群 C3 での

測定値を用いる。

 
T

A

:カテゴリ下限温度

T

B

:カテゴリ上限温度

回数:5 回 
試験時間 t

1

:30 min

後処理時間:1 h∼2 h 
 
漏れ電流 
 
静電容量 
 
 
 
 
損失角の正接 (tan

δ)

 
 
 
 
行わない。 
 
温度:カテゴリ上限温度
試験時間:16 h 
 
 
 
 
 
温度:カテゴリ下限温度
試験時間:2 h 
 
後処理時間:1 h∼2 h 
 
 
 
外観 
 
 
漏れ電流 
 
静電容量 
 
 
損失角の正接 (tan

δ)

外観に損傷がない。 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
4.5.1

による。

 
副群 C3 の測定値に対して 
  |

ΔC/C|は,次による。

  形状 1:≦5 % 
  形状 2:≦10 % 
 
4.5.3

による。

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
外観に損傷がなく,表示は,明

りょうとする。

 
4.5.1

による。

 
副群 C3 の測定値に対して 

ΔC/C|≦10 %

 
4.5.3

の規定値に対して 1.2 倍以


9

C 5101-3-1

:2010 (IEC 60384-3-1:2006)

表 7−品質確認検査の試験計画−評価水準 EZ(続き)

試料数及び

合格判定数

b)

細分箇条番号

及び試験項目

a)

D

又は

ND

b)

試験条件

a)

p n c 

要求性能

a)

副群 C3.2 

D

6  9  0

4.12

高温高湿(定常)

  (形状 1 に適用) 

4.12.1

初期測定

 

4.12.3

最終測定

後処理時間:1 h∼2 h 
 
 
行わない(

副群 C3 での

測定値を用いる。

 
外観 
 
 
漏れ電流 
 
静電容量 
 
 
損失角の正接 (tan

δ)

 
 
 
 
 
 
外観に損傷がなく,表示は明り

ょうとする。

4.5.1

による。

 
副群 C3 の測定値に対して 
  |

ΔC/C|≦10 %

 
4.5.3

の規定値に対して 1.2 倍以

副群 C3.3 

D

3  4  0

4.15

耐久性

 
 
 
 
 
4.15.1

初期測定

 
 
4.15.3

最終測定

試験時間:2 000 h 
試験温度:...  ℃

d)

  (適用する温度) 
印加電圧:... V

d)

後処理時間:1 h∼2 h 
 
行わない(

副群 C3 での

測定値を用いる。

 
外観 
 
 
漏れ電流 
 
静電容量 
 
損失角の正接 (tan

δ)

 
インピーダンス

c)

  又は等価直列抵抗

  (ESR)

c)

 
 
 
 
 
 
 
 
 
外観に損傷がなく,表示は,明

りょうとする。

 
4.5.1

の規定値の 2 倍以下

 
個別規格の規定による。 
 
4.5.3

の規定値の 1.5 倍以下

 
個別規格の規定による。


10

C 5101-3-1

:2010 (IEC 60384-3-1:2006)

表 7−品質確認検査の試験計画−評価水準 EZ(続き)

試料数及び

合格判定数

b)

細分箇条番号

及び試験項目

a)

D

又は

ND

b)

試験条件

a)

p n c 

要求性能

a)

副群 C3.4 

D

6  15  0

4.13

高 温 及 び 低 温 特

コンデンサを各温度段

階測定する。

 
段階 1:20  ℃ 
  漏れ電流 
 
  静電容量 
 
  損失角の正接 (tan

δ)

 
段階 2:カテゴリ下限温

  静電容量 
 
  損失角の正接 (tan

δ)

 
段階 3:20  ℃ 
  漏れ電流 
 
  静電容量 
 
 
  損失角の正接 (tan δ) 
 
段階 4:85  ℃ 
  漏れ電流 
 
 
 
  静電容量 
 
  損失角の正接 (tan

δ)

 
段階 5:125  ℃ 
  (適用する場合) 
  漏れ電流 
 
 
 
  静電容量 
 
  損失角の正接 (tan

δ)

 
段階 6:20  ℃ 
  漏れ電流 
 
  静電容量 
 
  損失角の正接 (tan

δ)

 
 
 
 
4.5.1

による。

 
比較用の値 
 
4.5.3

による。

 
 
 
個別規格の規定による。 
 
個別規格の規定による。 
 
 
4.5.1

による。

 
段階 の測定値に対して 
  |

ΔC/C|≦5 %

 
4.5.3

による。

 
 
0.2 C

N

U

R

μA/(μF×V)  又は

10

μA のうちいずれか大きい

値以下

 
個別規格の規定による。 
 
個別規格の規定による。 
 
 
 
0.25 C

N

U

R

μA/(μF×V)  又は

10

μA のうちいずれか大きい

値以下

 
個別規格の規定による。 
 
個別規格の規定による。 
 
 
段階 による。 
 
段階 による。 
 
段階 による。


11

C 5101-3-1

:2010 (IEC 60384-3-1:2006)

表 7−品質確認検査の試験計画−評価水準 EZ(続き)

試料数及び

合格判定数

b)

細分箇条番号

及び試験項目

a)

D

又は

ND

b)

試験条件

a)

p n c 

要求性能

a)

副群 C3.5A 

D

12  6 0

4.14

サージ

 
 
 
 
 
 
 
 
4.14.0A

初期測定

 
 
4.14.2

最終測定

サイクル数:1 000 回 
温度:...  ℃

d)

印加電圧:1.3 U

R

及び/又は 1.3 U

C

保護抵抗:1 000

Ω

          ±100

Ω

充電時間:30 s 
放電時間:5 min 30 s 
 
行わない(

副群 C3 での

測定値を用いる。

 
漏れ電流 
 
静電容量 
 
 
損失角の正接 (tan

δ)

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
4.5.1

による。

 
副群 C3 の測定値に対して 
  |

ΔC/C|≦10 %

 
4.5.3

による。

副群 C3.5B 

D

12  6 0

4.16

逆電圧

c)

 
 
 
 
 
 
4.16.1

初期測定

 
 
4.16.3

最終測定

試験時間:逆極性に

125 h,... V

d)

をカテゴ

リ上限温度で,引き続
いて正極に 125 h カテ
ゴリ電圧をカテゴリ
上限温度で印加する。

 
行わない(

副群 C3 での

測定値を用いる。

 
漏れ電流 
 
静電容量 
 
 
損失角の正接 (tan

δ)

0

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
4.5.1

による。

 
副群 C3 の測定値に対して 
  |

ΔC/C|≦10 %

 
4.5.3

の規定値に対して 1.15 倍以

下 

注記  対応国際規格の明らかな誤記のため,大電流サージの細分箇条番号を,4.21 から 4.19 に,また,4.4  外観の

要求性能を,

“この規格の 4.5 の規定による。”から“この規格の 1.5 の規定による。”に変更した。

a)

  試験の項目番号及び要求性能は,JIS C 5101-3 の細分箇条及びこの規格の箇条 による。

b)

  この表の記号は,次による。

p

:周期(月単位)

n:試料数,c:合格判定数(許容不適合数)

D:破壊試験,ND:非破壊試験,IL:検査水準

c)

  個別規格に規定がある場合に適用する。

d)

  個別規格の規定による。

e)

  個別規格にアルミナ基板だけへの実装を意図したことを記載したコンデンサには,適用しない。