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1

C

 5951 :

 19
97
 解

JIS

と対応する国際規格との対比表 

JIS C 5951-1997

  光伝送用発光ダイオード測定方

IEC 747-5747-5 Amd.1-1992

,1994  半導体デバイス−個別部品及び集積回路第 5 部:光エレクトロニクスデバイス,同追補 1

対比項目

規定項目

(I)  JIS

の規定内容 (II)

国 際 規 格 番

(III)

国際規格の規定内容 (IV)

JIS

と国際規格との相違点 (V)

JIS

と国際規格との一致

が困難な理由及び今後の
対策

(1)

適用範囲

○ 光伝送用発光ダイオードに

適用。

IEC 747-5 

○ 発光ダイオードのほか,半導体レ

ーザ.フォトダイオードなどの光
半導体デバイス全般に広く適用。

= 国際規格から光伝送用発光

ダイオードに適用できるも
のだけを抽出した。

  なお,光伝送用半導体レー
ザは C 5940C 5941 に,再
生・記録用半導体レーザは 

5942

C 5943 に,光伝送用半

導体レーザモジュールは 

5944

C 5945 に,光伝送用フ

ォトダイオードは C 5990

5991

に規定。

(2)

試験項目

○ 光伝送用発光ダイオードの

電気的・光学的特性について
の測定項目を規定。

IEC 747-5 

○ 発光ダイオードのほか,半導体レ

ーザ,フォトダイオードなどの光
半導体デバイス全般についても

規定。

= 国際規格から光伝送用発光

ダイオードに適用できるも
のを抽出した。

備考1.  表中の(I)及び(III)欄にある“○”は,該当する規定項目を規定していることを示す。

2.

表中の(IV)欄にある“=”は,JIS と国際規格との技術的内容が同等であることを示す。