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C 5954-2

:2008

(1)

目  次

ページ

序文

1

1

  適用範囲

1

2

  引用規格

1

3

  略号及び記号

2

3.1

  略号

2

3.2

  記号

2

4

  標準環境条件

2

5

  装置

3

5.1

  測定用電源

3

5.2

  光パワーメータ

3

5.3

  可変光減衰器

3

5.4

  パルスパターン発生器

3

5.5

  光スプリッタ

3

5.6

  オシロスコープ

3

5.7

  光ファイバコード

3

5.8

  BER 測定器

4

5.9

  基準 Tx 及び基準 Rx

4

5.10

  光スペクトラムアナライザ

4

5.11

  ローパスフィルタ

4

5.12

  光/電気  (O/E)  変換器

4

6

  試験サンプル

4

7

  試験及び測定方法

4

7.1

  Rx アラーム機能

4

7.2

  Tx シャットダウン機能

6

7.3

  平均出力:P

mean

7

7.4

  中心波長及びスペクトル幅

9

7.5

  消光比及び波形マスク試験

10

7.6

  受信感度  (S)  及び最大受信入力  (S

O

)

10

8

  試験結果

14

8.1

  必す(須)情報

14

8.2

  その他の情報

14

附属書 JA(参考)JIS と対応する国際規格との対比表

15


C 5954-2

:2008

(2)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,財団法人光産業技術振興協会 (OITDA) 及び

財団法人日本規格協会 (JSA) から,工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,日

本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格である。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に

抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許

権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に係る確認について,責任は

もたない。

JIS C 5954

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS C 5954-1

第 1 部:総則

JIS C 5954-2

第 2 部:ATM-PON 用光トランシーバ


日本工業規格

JIS

 C

5954-2

:2008

光伝送用能動部品−試験及び測定方法−

第 2 部:ATM-PON 用光トランシーバ

Fiber optic active components and devices-Test and measurement

procedures-Part 2 : ATM-PON transceivers

序文

この規格は,2004 年に第 1 版として発行された IEC 62150-2 を基に作成した日本工業規格であるが,明

らかな間違いが認められたため,技術的内容を変更して作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。変更の一

覧表にその説明を付けて,

附属書 JA に示す。

1

適用範囲

この規格は,JIS C 5954 規格群の一部であり,  ITU-T Recommendation G.983.1 で推奨される非同期転

送モードパッシブ光ネットワーク (ATM-PON) システムで使用する光トランシーバの電気光学性の試験

及び測定手順について規定する。ATM-PON 用光トランシーバのパッケージインタフェース及び電気光学

性能は,JIS C 5952-6 及び JIS C 5953-5 の中でそれぞれ規定している。

これらの試験方法は,ATM-PON 用光トランシーバが JIS C 5953-5 の規定を満たすかどうかを試験する

方法である。また,この測定方法は,ATM-PON 用光トランシーバの精密な測定方法に相当する。これら

の ATM-PON 用光トランシーバの受信部は,バースト信号を扱うことができる。したがって,この規格で

規定する幾つかの手順は,バースト信号伝送の評価に適用できる。

注記  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 62150-2 : 2004

,Fibre optic active components and devices−Test and measurement procedures−

Part 2 : ATM-PON transceivers (MOD)

なお,対応の程度を表す記号 (MOD) は,ISO/IEC Guide 21 に基づき,修正していることを

示す。

2

引用規格

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。

には適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 5952-6

  光伝送用能動部品−パッケージ及びインタフェース標準−第 6 部:ATM-PON 用光トラ

ンシーバ

注記  対応国際規格:IEC 62148-6,Fibre optic active components and devices−Package and interface

standards−Part 6 : ATM-PON transceivers (IDT)


2

C 5954-2

:2008

JIS C 5953-5

  光伝送用能動部品−性能標準−第 5 部:半導体レーザ駆動回路及びクロックデータ再生

回路内蔵 ATM-PON 用光トランシーバ

注記  対応国際規格:IEC 62149-5,Fibre optic active components and devices−Performance standards

−Part 5 : ATM-PON transceivers with LD driver and CDR ICs (MOD)

IEC 61280-1-3 : 1998

  Fibre optic communication subsystem basic test procedures−Part 1-3 : Test procedures

for general communication subsystems−Central wavelength and spectral width measurement

IEC 61280-2-2 : 1998

  Fibre optic communication subsystem basic test procedures−Part 2-2 : Test procedures

for digital systems−Optical eye pattern, waveform, and extinction ratio

ITU-T Recommendation G.983.1

  Broadband optical access systems based on Passive Optical Networks

(PON)

3

略号及び記号

3.1

略号

この規格で用いる主な略号は,次による。

3.1.1

BER (Bit error ratio)

:ビット誤り率

3.1.2

NRZ (Non return to zero)

:エヌアールゼット符号,非ゼロ復帰符号

3.1.3

PRBS (Pseudo random bit sequence)

:擬似ランダムビットパターン

3.1.4

Tx

:ATM-PON 用光トランシーバの送信器及び/又は送信部

3.1.5

Rx

:ATM-PON 用光トランシーバの受信器及び/又は受信部

3.1.6

SLM-LD (Single longitudinal mode-laser diode)

:単一縦モード半導体レーザ

3.1.7

MLM-LD (Multi longitudinal mode-laser diode)

:多縦モード半導体レーザ

3.2

記号

この規格で用いる主な記号は,次による。

P

TH

受光強度に関するアラームしきい(閾)値

V

SUP

 

電源電圧

V

ALL

低レベルアラーム出力電圧

V

ALH

高レベルアラーム出力電圧

P

SH

トランスミッタ入力がない場合の光出力

V

SDH

高レベルシャットダウン入力電圧

V

SDL

低レベルシャットダウン入力電圧

P

mean

ITU-T Recommendation G.983.1

で規定する平均出力

P

ave

バーストモード動作時の平均出力

S

O

受信器最大受信入力

A

フレーム長

n

1 フレーム内のバースト信号数

B

バースト信号長

B1

バースト信号パターン 1 のバースト信号長

B2

バースト信号パターン 2 のバースト信号長

4

標準環境条件


3

C 5954-2

:2008

設備の中で行う試験及び測定から得られるデータの適切な相関性を保証するためには,標準大気条件を

一定範囲内に規制する必要がある。試験及び測定方法は,特に指定がない限り,次の環境条件の下で行う。

特別な環境条件が必要な場合は,性能標準の中で指定することができる。試験及び測定を行うための周囲

の条件を,

表 に示す。

なお,周囲の温度及び湿度の変動は,一連の測定の間は最小限に抑えるものとする。

表 1−試験及び測定のための標準環境条件

気温

相対湿度

%

気圧

kPa

18∼28 25∼75 86∼106

5

装置

5.1

測定用電源

直流電源はリプル含有率 3 %以下,交流電源は高調波含有率 5 %以下のものとする。ただし,商用周波

数の場合は,高調波含有率 10 %以下とする。

なお,特に交流出力を測定する試験では,直流電源のリプル含有率,交流電源の高調波含有率及び交流

の流れる直流電源回路の交流インピーダンスは,測定に影響を与えないように小さい値とする。また,サ

ージの侵入に対する十分な防護措置を施さなければならない。

5.2

光パワーメータ

測定に使用する光パワーメータは,該当する波長及びダイナミックレンジで校正し,分解能 0.1 dB 以下

とする。

5.3

可変光減衰器

可変光減衰器は,0.25 dB 以下のステップで可変できるものとし,減衰量は,システムの利得より 5∼10

dB 大きいものとする。Tx への反射戻り光がないように注意しなければならない。

5.4

パルスパターン発生器

パルスパターン発生器は,Tx 装置の電気的なシステム入力インタフェースに要求される信号フォーマッ

ト(パルス波形,振幅など)と一致したシステム PRBS 信号及びプログラム可能なワードパターンを発生

することができるものとする。

5.5

光スプリッタ

光スプリッタ(カプラ)は,適切な光コネクタを装備し,一つの入力ポート及び二つの出力ポートを備

える。出力ポートの分岐比率は,特に指定がない限り,約 50 %とする。ATM-PON 用光トランシーバは

WWDM(Wide WDM, 1.3/1.55 μm 波長分割多重)を採用するため,スプリッタの分岐比率は波長依存性が

ないものを使用しなければならない。

5.6

オシロスコープ

光学及び/又は電気的なアイパターンを表示するオシロスコープは,測定システムの帯域幅を制限しな

いように,低域フィルタの帯域幅より広い帯域幅を備えるものを使用する。オシロスコープは,光及び/

若しくは電気アイパターンに同期した局所クロック信号,又は光信号から再生した同期信号に同期できる

ものとする。

5.7

光ファイバコード

適切なコネクタ付きシングルモード光ファイバコードを使用する。


4

C 5954-2

:2008

5.8

BER

測定器

BER 測定器は,様々な信号フォーマット(プログラム可能なワードパターン,PRBS など)を備え,シ

ステムの BER 性能を評価する。

5.9

基準 Tx 及び基準 Rx

Tx 及び/又は Rx は,測定系において,被試験 Tx 及び/又は被試験 Rx と組み合わせて使用する。

基準 Tx 及び/又は Rx は,ATM-PON 用光トランシーバの光電気特性の試験及び測定する上で,十分に

高い性能でなければならない。特に基準 Tx は,155.52 Mbit/s 以上の広い帯域幅及び 10 dB 以上の消光比を

備えることが重要である。

5.10

光スペクトラムアナライザ

試験装置は,光スペクトルを分散分光分析法によって測定するものを使用する。波長分解能は,測定す

る 50 nm の範囲において,MLM-LD に対しては 0.2 nm,SLM-LD に対しては 0.1 nm よりも良いものとす

る。

5.11

ローパスフィルタ

再現性及び正確さを保証するため,オシロスコープの前の信号経路に次の特性のローパスフィルタを挿

入する。

ローパスフィルタ特性:

      特性インピーダンス: 50

      −3 dB の帯域幅: 0.75

/T Hz  。は,データ信号のビット間隔時間。

      フィルタ・タイプ:

第 4 次ベッセル・トムソン

詳細なフィルタの規定は,IEC 61280-2-2 の 3.1.3 による。

5.12

光/電気  (O/E)  変換器

O/E 変換器は,電気的な増幅器を後段に接続した高速フォトダイオードであり,光学波形を十分忠実に

再生できるものを用いる。詳細な規定は,IEC 61280-2-2 の 3.1.1 による。

6

試験サンプル

試験サンプルは,JIS C 5953-5 で規定する性能の ATM-PON 用光トランシーバとする。

この規格の図に示すように,被試験 ATM-PON 用光トランシーバは,各試験及び/又は測定系に組み込

む。

7

試験及び測定方法

7.1

Rx

アラーム機能

7.1.1

目的

入射光信号強度が,しきい(閾)値(P

TH

:クラス B  ATM-PON 用光トランシーバの場合は−30 dBm,

クラス C  ATM-PON 用光トランシーバの場合は−33 dBm)以下になったとき,アラーム出力電圧は高レ

ベルから低レベルに変わらなければならない。ここでは,ATM-PON 用光トランシーバの Rx アラーム機能

の試験及び測定方法について規定する。

7.1.2

試験及び測定系

特に指定がない限り,被試験 ATM-PON 用光トランシーバ及び基準 Tx は,

図 に示す試験及び測定系

で測定する。


5

C 5954-2

:2008

7.1.3

光スプリッタの校正

a)

試験及び測定の前に,光スプリッタは,次に規定する方法で校正する。

b)

基準 Tx を通常の動作条件で動作し,信号入力端子に 155.52 Mbit/s-NRZ-PRBS 2

23

−1 信号(マーク率

50 %)を入力する。

c)

基準 Tx の光出力ポートを光ファイバコードと可変光減衰器を通し,光スプリッタの入力ポートに接

続する。

d)

光スプリッタの出力ポート A を光ファイバコードを通して光パワーメータの入力ポートに接続する。

e)

可変光減衰器を,ポート A の光出力が約 P

TH

となるように調節し,その値  (P

A

)  を記録する。

f)

光スプリッタの出力ポート B を光ファイバコードを通して光パワーメータの入力ポートに接続し,ポ

ート B の光出力  (P

B

)  を記録する。

g)

光スプリッタの出力ポート A を,光ファイバコードを通して光パワーメータの入力ポートに再び接続

する。光スプリッタの出力ポート B を,試験対象の ATM-PON 用光トランシーバに

図 に示すように

接続する。

h)  P

B

/P

A

を計算し,その値を入射光強度  (P

B

)  と光パワーメータの表示  (P

A

)  との校正係数として使用す

る。

図 1Rx アラーム機能の試験及び測定系

7.1.4

測定方法

a)

試験対象の ATM-PON 用光トランシーバを通常の動作条件で駆動し,

アラーム出力電圧が JIS C 5953-5

で規定している V

ALL

の範囲内であることを確認する。

b)

試験対象の ATM-PON 用光トランシーバと基準 Tx を,

図 に示すように設置する。

c)

155.52 Mbit/s-NRZ-PRBS 2

23

−1 信号(マーク率 50 %)を信号入力端子に入力する。

d)  P

B

が P

TH

より十分小さくなるように可変光減衰器を調節し,その P

B

の値を P

IL

として記録する。

e)

P

B

が P

TH

より大きくなるように可変光減衰器を調節し,アラーム出力電圧を記録する。

f)

アラーム出力電圧が P

B

の値が P

TH

近傍で JIS C 5953-5 で規定している V

ALL

から V

ALH

に変わることを


6

C 5954-2

:2008

確認する。

g)  P

B

の値が S

O

となるように可変光減衰器を調節し,アラーム出力電圧を記録する。アラーム出力電圧

が JIS C 5953-5 で規定している V

ALH

の範囲内であることを確認する。

h)  P

B

の値が P

IL

となるように可変光減衰器を調節し,アラーム出力電圧を記録する。

i)

アラーム出力電圧が P

B

の値が P

IL

以下で,V

ALH

から V

ALL

に変わることを確認する。

この方法の結果として,P

B

とアラーム出力電圧の関係を表す

図 で示されるようなヒステリシス曲線が

得られる。このヒステリシス曲線が,受光器アラーム機能の測定データである。

図 2−受光器光入力強度とアラーム出力電圧との関係

7.1.5

試験方法

a)

試験対象の ATM-PON 用光トランシーバを通常の動作条件で駆動し,アラーム出力電圧が V

ALL

の範囲

内であることを確認する。

b)

試験対象の ATM-PON 用光トランシーバと基準 Tx を,

図 に示すように設置する。

c)

155.52 Mbit/s-NRZ-PRBS 2

23

−1 信号(マーク率 50 %)を信号入力端子に入力する。

d)  P

B

が P

TH

と一致するように可変光減衰器を調節し,アラーム出力電圧が V

ALH

の範囲内にあることを確

認し,V

ALH

の値を記録する。

e)

P

B

が P

TH

より十分小さくなるよう可変光減衰器を調節し,アラーム出力電圧が V

ALL

の範囲内にあるこ

とを確認し,V

ALL

の値を記録する。

7.2

Tx

シャットダウン機能

7.2.1

目的

光出力は,シャットダウン端子の電圧が高レベルから低レベルに変わったとき,入力信号がない状態の

光出力 P

TH

又は P

SH

(クラス B:ATM-PON 用光トランシーバの場合は−40 dBm,クラス C:ATM-PON 用

光トランシーバの場合は−43 dBm)以下にしなければならない。ここでは,ATM-PON 用光トランシーバ

の Tx シャットダウン機能の試験方法について規定する。

7.2.2

測定系

特に指定がない限り,被試験 ATM-PON 用光トランシーバは,

図 に示すような測定系で測定する。


7

C 5954-2

:2008

図 3−送信機シャットダウン機能の試験及び測定系

7.2.3

試験方法

a)

被試験 ATM-PON 用光トランシーバを通常の動作条件で動作させ,シャットダウン端子に高レベル電

圧 V

SDH

(2.0 V∼V

SUP

+0.3 V)を加える。

b)  155.52 Mbit/s-NRZ-PRBS 2

23

−1 信号(マーク率 50 %)を信号入力端子に入力し,被試験 ATM-PON 用

光トランシーバの平均出力が P

mean

の規定値(JIS C 5953-5 参照:クラス B  ATM-PON 用光トランシ

ーバの場合−4∼+2 dBm,クラス C  ATM-PON 用光トランシーバの場合−2∼+4 dBm)の範囲内に

あることを確認する。

c)

電圧を高レベル電圧 V

SDH

から低レベル電圧 V

SDL

(−0.3∼0.8 V)に変化させ,被試験 ATM-PON 用光

トランシーバの平均出力が P

TH

又は P

SH

以下であることを確認する。

d)

電圧を低レベル電圧 V

SDL

から高レベル電圧 V

SDH

に変化させ,

被試験 ATM-PON 用光トランシーバの平

均出力が P

mean

の規定値(クラス B  ATM-PON 用光トランシーバの場合−4∼+2 dBm,クラス C

ATM-PON 用光トランシーバの場合−2∼+4 dBm)の範囲内にあることを確認する。

7.3

平均出力:P

mean

7.3.1

目的

ATM-PON 用光トランシーバの平均出力の測定方法について規定する。

7.3.2

試験及び測定系

特に指定がない限り,被試験 ATM-PON 用光トランシーバは,

図 に示すような試験及び測定系で測定

する。


8

C 5954-2

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図 4−平均出力の試験及び測定系

7.3.3

測定方法

a)

図 に示すフレーム長 A,バースト信号長 B,1 フレーム内のバースト信号数 で規定されたバースト

信号を使用する。ATM-PON 用光トランシーバにおいて,は 56 バイトである。

注記  1 フレーム内のバースト信号数 n。この図は n=3 の場合を表す。

図 5−バースト信号パターン

b)

被試験 ATM-PON 用光トランシーバを通常の動作条件で動作し,その設計したバースト信号パターン

をパターン発生器から信号入力端子に入力する。

c)

平均光信号強度又は P

ave

を光パワーメータで測定し,その値を記録する。

d)  P

mean

を次の式で計算する。

B

n

A

P

P

×

×

=

ave

mean

   (1)

7.3.4

試験方法

a)

被試験 ATM-PON 用光トランシーバを通常の動作条件で動作し,155.52 Mbit/s-NRZ-PRBS 2

23

−1  信号

(マーク率 50 %)を信号入力端子に入力する。この PRBS 信号は式 (1) において

P

mean

P

ave

となる場

合のバースト信号である。

b)

平均光信号出力

P

ave

を光パワーメータで測定し,その値を

P

mean

として記録する。

c)

測定した

P

mean

値が

P

mean

の規定値範囲内にあることを確認する。


9

C 5954-2

:2008

7.4

中心波長及びスペクトル幅

7.4.1

目的

ATM-PON 用光トランシーバの,中心波長  (

λ

ave

)  及びスペクトル幅の試験及び測定方法について規定す

る。

7.4.2

試験及び測定系

特に指定がない限り,被試験 ATM-PON 用光トランシーバは,

図 に示す試験及び測定系で測定する。

図 6−平均光出力の試験及び測定系

7.4.3

測定方法

a)

図 に示すフレーム長

A

,バースト信号長

B

及び 1 フレーム内のバースト信号数

n

で規定されたバー

スト信号を設計する。ATM-PON 用光トランシーバにおいて,

B

は 56 バイトである。

b)

被試験 ATM-PON 用光トランシーバを通常の動作条件で動作させ,パルスパターン発生器から信号入

力端子に設計されたバースト信号を入力する。

c)

光信号のスペクトルを光スペクトラムアナライザの画面に表示させる。

d)  IEC 61280-1-3

の 5.6 に従い,光スペクトラムアナライザの分解能,中心波長,測定波長範囲及び平均

化回数(10 回以上の測定結果を平均することが望ましい。

)を調整し,画面上にピークから 20 dB 低

下した位置のスペクトルの幅が表示されるようにする。

e)

ピークから 20 dB 低下した位置を含む画面上のスペクトルの各縦モードのピーク波長及びピーク光強

度を記録する。IEC 61280-1-3 の 6.2 及び 6.4 に従い,

λ

ave

及びスペクトル幅を計算する。

7.4.4

試験方法

a)

被試験 ATM-PON 用光トランシーバを通常の動作条件で駆動させ,155.52 Mbit/s-NRZ-PRBS 2

23

−1 信

号(マーク率 50 %)を信号入力端子に入力する。この PRBS 信号は,7.3.3 の式 (1) において

P

mean

P

ave

となる場合のバースト信号である。

b)

光信号のスペクトルを光スペクトラムアナライザの画面に表示させる。

c)

IEC 61280-1-3

の 5.6 に従い,光スペクトラムアナライザの分解能,中心波長,測定波長範囲及び平均

化回数(10 回以上の測定結果を平均することが望ましい。

)を調整し,画面上にピークから 20 dB 低

下した位置のスペクトルの幅が表示されるようにする。

d)

ピークから 20 dB 低下した位置を含む画面上のスペクトルの各縦モードのピーク波長とピーク光強度


10

C 5954-2

:2008

とを記録する。IEC 61280-1-3 の 6.2 及び 6.4 に従い,

λ

ave

及びスペクトル幅を計算する。

e)

計算で得られた

λ

ave

が仕様の範囲内(1 260 nm 以上,1 360 nm 以下)であることを確認する。

7.5

消光比及び波形マスク試験

7.5.1

目的

ATM-PON 用光トランシーバの,消光比及び波形マスク試験の試験及び測定方法について規定する。

7.5.2

試験及び測定系

特に指定がない限り,被試験 ATM-PON 用光トランシーバは,

図 に示す試験及び測定系で測定する。

必要に応じて,被試験 ATM-PON 用光トランシーバと O/E 変換器との間に光減衰器を挿入する。

図 7−消光比及びマスク試験の試験及び測定系

7.5.3

測定方法

a)

図 に示すフレーム長

A

,バースト信号長

B

及び 1 フレーム内のバースト信号数

n

で規定されたバー

スト信号を設計する。ATM-PON 用光トランシーバにおいて,

B

は 56 バイトである。

b)

被試験 ATM-PON 用光トランシーバを通常の動作条件で動作させ,パルスパターン発生器から信号入

力端子に設計されたバースト信号を入力する。タイミングジッタを抑えるため,オシロスコープのト

リガとしてはバースト信号自体又はそのエンベロープ信号を用いるのが望ましい。

c)

光信号波形を O/E 変換器によって電気波形に変換し,画面上に表示させる。

d)  IEC 61280-2-2

に従い消光比を計算し,ITU-T Recommendation G983.1 の Fig.7 のマスクを適用する。

e)

上記の計算とマスク試験とを,フレーム内の各バースト信号に対して繰り返し行う。

7.5.4

試験方法

a)

被試験 ATM-PON 用光トランシーバを通常の動作条件で駆動させ,155.52 Mbit/s-NRZ-PRBS 2

23

−1 信

号(マーク率 50 %)を信号入力端子に入力する。この PRBS 信号は,式 (1) において

P

mean

P

ave

とな

る場合のバースト信号に相当する。

b)

オシロスコープのトリガとしては,パルスパターン発生器からのクロック信号を使用する。

c) O/E

変換器によって電気波形化された光信号波形を画面上に表示させる。

d)  IEC 61280-2-2

に従い消光比を計算し,ITU-T Recommendation G983.1 の Fig.6 のマスクを適用する。

e)

マスク試験に合格しているかを確認し,更に,計算で得られた消光比が仕様の範囲内(5.8 dB∼10 dB

以下)であることを確認する。

7.6

受信感度  (S)  及び最大受信入力  (S

O

)


11

C 5954-2

:2008

7.6.1

目的

ATM-PON 用光トランシーバの受信感度(

S

:クラス B  ATM-PON 用光トランシーバの場合は−30 dBm,

クラス C  ATM-PON 用光トランシーバの場合は−33 dBm)

,及び最大受信入力(

S

O

:クラス B  ATM-PON

用光トランシーバの場合は−8 dBm,クラス C  ATM-PON 用光トランシーバの場合は−11 dBm)の試験及

び測定方法について規定する。

7.6.2

試験及び測定系

特に指定がない限り,被試験 ATM-PON 用光トランシーバは,

図 に示す試験及び測定系で測定する。

この系では,7.1.3 で規定する方法に従って校正係数を評価した光スプリッタを用いる。

図 8−受信感度及び最大受信入力の試験及び測定系

7.6.3

測定方法

a)

図 9a 及び図 9b に,それぞれバースト信号-1,バースト信号-2 として示す二つのバースト信号を設計

する。これらの信号は,フレーム長

A

及び 1 フレーム内のバースト信号数

n

が同じである。さらに,

ATM-PON 用光トランシーバの場合には,バースト信号長

B

1 及び

B

2 も 56 バイトで同じである。

b)

基準 Tx-1 及び Tx-2 を通常の動作条件で動作させ,バースト信号-1 を基準 Tx-1 から,バースト信号-2

を基準 Tx-2 からそれぞれ出力する。

c)

光スプリッタ-1 からの光出力信号を,

図 に点線で示したように)O/E 変換器を通じてオシロスコー

プに接続してモニタし,パルスパターン発生器の信号遅延を調整してこれらのバースト信号間のタイ

ミング差  (

T

)  が 1 ビットより大きくなるようにする(図 9c 参照)。

d)

光スプリッタ-1 からの光出力信号を,光スプリッタ-2 に再度入力する。

e)

バースト信号-2 を止める,又は可変光減衰器によって 40 dB 以上の減衰が得られる場合には,減衰量

を最大に設定する。


12

C 5954-2

:2008

f)

光パワーメータの値を読み取り,光スプリッタの校正係数及び式 (1) を用いて ATM-PON 用光トラン

シーバのバースト信号-1 の光パワーを計算する。

g)

可変光減衰器-1 を調整し,バースト信号-1 の光パワーの計算結果が,クラス B で−9 dBm,クラス C

で−12 dBm になるようにする。調整した減衰量を記録しておく。

h)

バースト信号-1 を止める,又は可変光減衰器によって 40 dB 以上の減衰が得られる場合には,減衰量

を最大に設定する。次に,バースト信号-2 の送信を始める。

i)

可変光減衰器-2 を調整し,バースト信号-2 の光パワーの計算結果が,受信感度又は最大受信入力の仕

様に近い値にする。

j)

再度バースト信号-1 の送信を始める,又は可変光減衰器によって 40 dB 以上の減衰が得られる場合に

は,可変光減衰器-1 の値を g)  で記録した減衰量に戻す。

k)

バースト信号-2 の BER を式 (2) で得られる時間より長い間測定する。

N

C

B

n

D

A

×

×

×

×

1

2

(秒)  (2)

ここに,  D:  データレート 

C:  保証する BER

N:  定数。N>10 を推奨。

l)

h)

k)  を繰り返して,

バースト信号-2 の光パワーの計算結果と各光パワーにおける BER を記録する。

m)

バースト信号-2 の光パワーと BER との関係をプロットし,BER が 1×10

10

での受信感度及び最大受

信入力を求める。

図 9a−測定用のバースト信号パターン,バースト信号-1:(基準 Tx-1 からの出力)

図 9b−測定用のバースト信号パターン,バースト信号-2:(基準 Tx-2 からの出力)


13

C 5954-2

:2008

図 9c−測定用のバースト信号パターン,被試験 ATM-PON 用光トランシーバ信号からの光信号

7.6.4

試験方法

a)

図 9a 及び図 9b に,それぞれバースト信号-1,バースト信号-2 として示す二つのバースト信号を設計

する。これらの信号は,フレーム長 及び 1 フレーム内のバースト信号数 が同じである。さらに,

ATM-PON 用光トランシーバの場合には,バースト信号長 B1 及び B2 は 56 バイトで同じである。

b)

基準 Tx-1 及び Tx-2 を通常の動作条件で動作させ,バースト信号-1 を基準 Tx-1 から,バースト信号-2

を基準 Tx-2 からそれぞれ出力する。

c)

光スプリッタ-1 からの光出力信号を,

図 に点線で示したように)O/E 変換器を通じてオシロスコー

プに接続してモニタし,パルスパターン発生器の信号遅延を調整してこれらのバースト信号間のタイ

ミング差  (T)  が 1 ビットより大きくなるようにする(

図 9c 参照)。

d)

光スプリッタ-1 からの光出力信号を,光スプリッタ-2 に再度入力する。

e)

バースト信号-2 を止める,又は可変光減衰器によって 40 dB 以上の減衰が得られる場合には,可変光

減衰器-2 の減衰量を最大に設定する。

f)

光パワーメータの値を読み取り,光スプリッタの校正係数及び式 (1) を用いて ATM-PON 用光トラン

シーバのバースト信号-1 の光パワーを計算する。

g)

可変光減衰器-1 を調整し,バースト信号-1 の光パワーの計算結果が,クラス B  ATM-PON 用光トラ

ンシーバで−9 dBm,クラス C  ATM-PON 用光トランシーバで−12 dBm になるようにする。調整し

た減衰量を記録しておく。

h)

バースト信号-1 を止める,又は可変光減衰器によって 40 dB 以上の減衰が得られる場合には,可変光

減衰器-1 の減衰量を最大に調整する。次に,バースト信号-2 の送信を始める。

i)

可変光減衰器-2 を調整し,バースト信号-2 の光パワーの計算結果が,受信感度の仕様より大きい値に

する。

j)

再度バースト信号-1 の送信を始める,又は可変光減衰器によって 40 dB 以上の減衰が得られる場合に

は,可変光減衰器-1 の値を g)  で記録した減衰量に戻す。

k)

バースト信号-2 の BER を式 (2) で得られる時間より長い間モニタし,バースト信号-2 の BER が,1

×10

10

よりも小さいことを確認する。

l)

バースト信号-1 を止める,又は可変光減衰器によって 40 dB 以上の減衰が得られる場合には,可変光

減衰器-1 の減衰量を最大に調整する。

m)

可変光減衰器-2 を調整し,バースト信号-2 の光パワーの計算結果が,最大受信入力の仕様より小さい

値にする。


14

C 5954-2

:2008

n)

再度バースト信号-1 の送信を始める,又は可変光減衰器によって 40 dB 以上の減衰が得られる場合に

は,可変光減衰器-1 の値を g)  で記録した減衰量に戻す。

o)

バースト信号-2 の BER を式 (2) で得られる時間より長い間モニタし,バースト信号-2 の BER が,1

×10

10

よりも小さいことを確認する。

8

試験結果

8.1

必す(須)情報

−  試験の日付及び試験名

− ATM-PON 用光トランシーバの正常動作条件

−  周囲温度又は参照ポイント温度,及び湿度を含む試験結果

−  光パワーメータの校正方法

−  被試験 ATM-PON 用光トランシーバの平均出力パワーの測定方法

8.2

その他の情報

−  使用される試験装置及び光パワーメータの精度,並びに分解能に起因する測定誤差

−  光ファイバコード及びコネクタの仕様

−  光パワー測定器の誤差

−  試験従事者の氏名

−  供給電圧及び/又は電流

−  データ速度及び入力信号特性

−  入力及び出力測定条件:波長,基準 Tx 及び基準 Rx の接続コネクタモデル番号,Rx 感度,並びに最

大受信入力光パワー

−  基準 Tx 及び基準 Rx,並びに被試験 ATM-PON 用光トランシーバの推奨の試験前通電時間

−  拡張動作条件(適用可能な場合)

−  送信器の反射戻り光耐性(JIS C 5953-5 の 5.5 

図 を参照。)

参考文献  JIS C 0617 規格群  電気用図記号

JIS C 5953-1

  光伝送用能動部品−性能標準−第 1 部:総則

JIS C 5952-1

  光伝送用能動部品−パッケージ及びインタフェース標準−第 1 部:総則

JIS C 5954-1

  光伝送用能動部品−試験及び測定方法−第 1 部:総則

IEC 60793 (all parts), Optical fibres

IEC 60794 (all parts), Optical fibre cables

IEC 60874 (all parts), Connectors for optical fibres and cables

IEC 61280 (all parts), Fibre optic communication subsystem basic test procedures

IEC 61300 (all parts), Fibre optic interconnecting devices and passive components

−Basic test and

measurement procedures

IEC 61315 : 1995, Calibration of fibre-optic power meters

IEC/TR 61930 : 1998, Fibre optic graphical symbology

IEC/TR 61931 : 1998, Fibre optic

−Terminology

ISO 1101 : 2004, Geometrical Product Specifications (GPS)

−Geometrical tolerancing−Tolerances of

form, orientation, location and run-out


15

C 5954-2

:2008

附属書 JA

参考)

JIS

と対応する国際規格との対比表

JIS C 5954-2 : 2008

  光伝送用能動部品−試験及び測定方法−第 2 部:

ATM-PON 用光トランシーバ

IEC 62150-2 : 2004

,Fibre optic active components and devices−Test and measurement

procedures−Part 2: ATM-PON transceivers

(Ⅰ) JIS の規定

(Ⅱ) 
国際規
格番号

(Ⅲ)  国際規格の規定

(Ⅳ)  JIS と国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容

(Ⅴ)  JIS と国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策

箇条番号
及び名称

内容

箇条
番号

内容

箇条ごと
の評価

技術的差異の内容

3  略号及
び記号

3.2  記号  3.2

なし

追加

V

SUP

の定義を追加。

IEC

規格では V

CC

が未定義であっ

たため,性能標準 IEC 62149-5 に合
わせて V

SUP

とし,電源電圧として

記号を定義した。

7  試験及
び 測 定 方

7.1  Rx アラーム
機能

 7.1

Rx アラーム機能

変更

図 1 の図記号を JIS C 0617 に準拠し

て変更。

トランシーバの記号をピグテイル

に統一したが,レセプタクル形に
対しても適用可能。

7.2  Tx シャット
ダウン機能

7.2 Tx シャットダウン機能

変更

図 3 の図記号を JIS C 0617 に準拠し

て変更。

トランシーバの記号をピグテイル

に統一したが,レセプタクル形に
対しても適用可能。

7.2.3 a) V

CC

変更

V

CC

を V

SUP

に変更

技術的な差異はない。

IEC

規格では V

CC

が未定義であっ

たため,性能標準 IEC 62149-5 に合
わせて V

SUP

とした。

7.2.3 c)  被試験 ATM-PON 用
光トランシーバの平均出力

が P

SH

以下であることを確

認する。 

追加

被試験 ATM-PON 用光トランシーバ
の平均出力が P

TH

又は P

SH

以下であ

ることを確認する。 

7.2.1  目的の内容に合わせ,修正し
た。

7.3  平均 出力 :
P

mean

7.3

平均出力:P

mean

変更

図 4 の図記号を JIS C 0617 に準拠し
て変更。

トランシーバの記号をピグテイル
に統一したが,レセプタクル形に
対しても適用可能。

7.4  中心 波長 及
びスペクトル幅

7.4

中心波長及びスペクトル幅

変更

図 6 の図記号を JIS C 0617 に準拠し
て変更。

トランシーバの記号をピグテイル
に統一したが,レセプタクル形に
対しても適用可能。

15

C

 595

4-

2


2

008

15

C

 595

4-

2


2

008


16

C 5954-2

:2008

(Ⅰ) JIS の規定

(Ⅱ) 
国際規

格番号

(Ⅲ)  国際規格の規定

(Ⅳ)  JIS と国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容

(Ⅴ)  JIS と国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策

箇条番号
及び名称

内容

箇条
番号

内容

箇条ごと
の評価

技術的差異の内容

 7.5  消光 比及 び

波形マスク試験

 7.5

7.5.3

e)

フレーム内の各ビ

ッ ト に 対 し て 繰 り 返 し 行
う。

変更

1 フレーム内の各バースト信号に対
して繰り返し行う。

技術的誤記であり修正した。IEC
に対して修正を提案する。

図 7 の図記号を JIS C 0617 に準拠し
て変更。

トランシーバの記号をピグテイル
に統一したが,レセプタクル形に
対しても適用可能。

7.6   受 信 感 度 
(S)  及び最大受信
入力  (S

O

)

7.6

受信感度  (S)  及び最大受信
入力  (S

O

)

変更

図 8 の図記号を JIS C 0617 に準拠し
て変更。

トランシーバの記号をピグテイル
に統一したが,レセプタクル形に

対しても適用可能。

図 8 にクロック・データ再生回路を
内蔵しないバースト用光トランシー

バの測定も考慮して,図だけにバー
スト信号用 BER 測定器へのクロッ
クをバースト信号用パルスパターン

発生器から直接接続する場合の接続
線を点線で示してある。

JIS

ではクロック・データ再生回路

をもつ ATM-PON 用光トランシー

バについて適用するため,点線の
クロック接続線を図 8 から削除し
た。

7.6.4 i)“受信感度又は最大受信入力
の仕様に近い値にする”とあるとこ
ろを“受信感度の仕様より大きい値

にする”に変更。 
7.6.4 m)“最大受信入力の仕様より大
きい値にする”とあるところを“最

大受信入力の仕様より小さい値にす
る”に変更。

編集上の誤記及び推測

8  試験結

8.2  その 他の 情

 8.2

送 信 器 の 反 射 戻 り 光 耐 性
IEC 62149-5 5.6 Fig. 5 参
照)

変更

送 信 器 の 反 射 戻 り 光 耐 性 ( JIS C 

5953-5

の 5.5  図 5 を参照)

編集上の誤記として IEC に対して
修正を提案する。

16

C

 595

4-

2


2

008

16

C

 595

4-

2


20
0

8


17

C 5954-2

:2008

JIS

と国際規格との対応の程度の全体評価:IEC 62150-2 : 2004,MOD

 
注記 1  箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。

    −  追加  国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。 
    −  変更  国際規格の規定内容を変更している。

注記 2  JIS と国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。

    −  MOD  国際規格を修正している。

17

C

 595

4-

2


2

008

17

C

 595

4-

2


20
0

8