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C

 5991 :

 19
97
 解

JIS

と対応する国際規格との対比表 

JIS C 5991 : 1997

  光伝送用フォトダイオード測定

方法

IEC 747-5 (1992)

同 Amd.1 (1994)  半導体デバイス  個別部品及び集積回路第 5 部:光エレクトロニクスデバイス,同追補 1

対比項目

規定項目

(I)  JIS(

原案)の規定内容 (II)

国 際 規 格 番

(III)

国際規格の規定内容 (IV)

JIS(

原案)と国際規格との相違

(V)  JIS

と国際規格との一致

が困難な理由及び今後の
対策

(1)

適用範囲

○ 光伝送用フォトダイオード

に適用。

IEC 747-5 

○ フォトダイオードの他,半導体レ

ーザ,発光ダイオードなどの光半
導体デバイス全般に広く適用。

= 国際規格から光伝送用フォ

トダイオードに適用できる
ものだけを抽出した。

なお,光伝送用半導体レーザ
は JIS C 5940

JIS C 5941

に,

再生・記録用半導体レーザは

JIS C 5942

JIS C 5943 に,

光伝送用半導体レーザモジ
ュールは,JIS C 5944JIS C 

5945

に,光伝送用発光ダイオ

ードは JIS C 5950JIS C 

5951

に規定。

(2)

試験項目

○ 光伝送用フォトダイオード

に関する測定項目を規定。

IEC 747-5 

○ フォトダイオードのほか,半導体

レーザ,発光ダイオードなどの光

半導体デバイス全般についても
規定されている。

= 国際規格からフォトダイオ

ードに対応する部分を抽出

し,国際規格にない以下の項
目を追加している。 
端子間容量測定

既に国内では製品の特性評
価項目として一般的に使わ

れており,市場におけるフォ
トダイオードの信頼性確保
のため。