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C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

(1)

まえがき

この規格は,工業標準化法に基づいて,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日

本工業規格である。

制定に当たっては,日本工業規格と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日

本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために,IEC 61076-3-001:1999,Connectors for

use in d.c.

,  low-frequency analogue and digital high-speed applications−Part3-001:Rectangular connectors with

assessed quality

−Blank detail specfication を基礎として用いた。

この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の

実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会

は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新

案登録出願にかかわる確認について,責任はもたない。

JIS C 5401-3-001

には,次に示す附属書がある。

附属書 A(規定)新規試験及び追加試験設備段階

JIS C 5401

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS C 5401-1 

第 1 部:品目別通則−能力認証

JIS C 5401-2 

第 2 部:品種別通則−丸形コネクタ−品質評価付

JIS C 5401-2 

第 2-001 部:丸形コネクタ−品質評価付−ブランク個別規格

JIS C 5401-3 

第 3 部:品種別通則−角形コネクタ−品質評価付

JIS C 5401-3 

第 3-001 部:角形コネクタ−品質評価付−ブランク個別規格

JIS C 5401-4 

第 4 部:品種別通則−プリント配線板用コネクタ−品質評価付

JIS C 5401-4 

第 4-001 部:プリント配線板用コネクタ−品質評価付−ブランク個別規格

JIS C 5401-5 

第 5 部:品種別通則−インラインソケット−品質評価付(予定)

JIS C 5401-5 

第 5-001 部:インラインソケット−品質評価付−ブランク個別規格(予定)


C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

目  次

ページ

序文  

1

1.

  一般情報  

3

1.1

  適用範囲  

3

1.2

  推奨する取付方法  

3

1.3

  定格及び特性  

3

1.4

  引用規格  

4

1.5

  表示  

4

1.6

  形名  

6

1.7

  発注情報  

6

2.

  技術情報  

8

2.1

  定義  

8

2.2

  形状(Style)及び類似品(Variant)の調査  

8

2.3

  使用に関する情報  

8

2.4

  コンタクトアレンジメント  

10

3.

  寸法情報  

12

3.1

  一般事項  

12

3.2

  等角投影図及び共通の機構  

12

3.3

  総合情報  

16

3.4

  固定形コネクタ  

16

3.5

  可動形コネクタ  

18

3.6

  アクセサリ  

18

3.7

  固定形コネクタに関する取付情報  

18

3.8

  可動形コネクタに関する取付情報  

20

3.9

  ゲージ  

20

4.

  特性  

24

4.1

  耐候性カテゴリ  

24

4.2

  電気的特性  

24

4.3

  機械的特性  

26

5.

  試験計画  

30

5.1

  一般  

30

5.2

  試験計画  

32

6.

  品質評価手順  

50

6.1

  品質認証試験  

50

6.2

  品質確認試験  

52

6.3

  定期試験  

54


C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

(3) 

6.4

  長期保管後の出荷,再検査  

56

附属書 A(規定)新規試験及び追加試験設備段階  

58


C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

 
 
 
 

白紙


日本工業規格

JIS

 C

5401-3-001

:2005

(IEC 61076-3-001

:1999

)

電子機器用コネクタ−

第 3-001 部:角形コネクタ−品質評価付−

ブランク個別規格

Connectors for use in d.c.,low-frequency analogue and digital high-speed

applications

−Part 3−001: Rectangular connectors with assessed quality−

Blank detail specification

序文  この規格は,1999 年に第 1 版として発行された IEC 61076-3-001,Connectors for use in d.c.,

low-frequency analogue and digital high-speed applications-Part3-001:Rectangular connectors with assessed

quality-Blank detail specfication

を翻訳し,技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工

業規格である。

なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は,原国際規格にはない事項である。

ブランク個別規格  このブランク個別規格は,品種別通則  JIS C 5401-3 の補足規格であり,角形コネクタ

の個別規格のブランク様式及び手引きを備え,個別規格の表現を統一するために用いる。

なお, 個別規格は,品目別通則−能力認証 JIS C 5401-1 及び品種別通則−角形コネクタ−品質評価付

JIS C 5401-3

に基づいたブランク個別規格を用いて作成する。


2

C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

作成の手引き

次頁に個別規格に関する推奨レイアウトを示す。この頁には,個別規格の冒頭頁に記載することが望ま

しい情報についての手引を,適宜,記載する(IEC Guide 102  参照)

適用範囲及び個別規格の定義については,JIS C 5401-1 の 1.2.3 による。

個別規格の冒頭頁となるこの規格の次頁の表にある括弧内の番号は,次に示す情報と対応している。

個別規格の識別

(1) 

個別規格案を管理する国内標準化機関の名称。

(2) 

個別規格の日本工業規格(以下,JIS という。

)番号及び発効年

(3) 

品目別通則の JIS 番号及び発効年

(4) 

ブランク個別規格の JIS 番号及び版

コネクタの識別

(5) 

コネクタ形式についての要約説明

(6) 

コネクタの代表的な構造を示す情報(

例  当該コネクタがプリント配線板の取付けに適しているか否

かを明記する。

(7) 

コネクタを明確に識別しうる外形図(等角投影図又は同様な投影図が望ましい。

(8) 

個別規格書に規定する性能水準及び評価水準に関する情報

(9) 

異なる形式のコネクタについて対比ができる最重要特性に関する参考データ

備考  これらの情報の中には,表形式にすると都合のよいものがある。


3

C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

(1)

個別規格番号

(2)

品目別通則番号

(電子部品品質評価用)

(3)

ブランク個別規格番号

(4)

外形図

(7)

製品説明

(5)

(6)

(8)

性能水準: 
評価水準: 
性能水準と評価水準との組合せ:

(9)

この個別規格で認証された部品の入手に関する情報を品質認証電子部品一覧表に示す。

1. 

一般情報

1.1 

適用範囲  この規格は,JIS C 5401-3 を品種別通則とするブランク個別規格で,電子及び電子機器に

使用する角形コネクタについて規定する。

備考  この規格の対応国際規格を,次に示す。

なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21 に基づき,IDT(一致している)

,MOD

(修正している)

,NEQ(同等でない)とする。

IEC 61076-3-001:1999

,Connectors for use in d.c.,low-frequency analogue and digital high-speed data

applications - Part 3-001: Rectangular connectors with assessed quality - Blank detail specification

(IDT)

1.2 

推奨する取付方法  機械構造物にこれらのコネクタを使用する場合の手引きは,JIS C 6010 の附属

書 による。

1.2.1 

コンタクト数又はコンタクトキャビティ数

1.3 

定格及び特性

定格電圧 70℃での定格電流

絶縁抵抗

耐候性カテゴリ

コンタクトスペーシング


4

C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

作成の手引き

1.4 

引用規格  追加として他の規格を参照する必要がある場合には,記載の関連規格はこの規格の規定

の一部を構成する。

もし,参照規格が既に JIS C 5401-1 及び JIS C 5401-3 に記載済みの場合には,個別規格の 1.3(引用規格)

にあるものを繰り返し引用しない。

1.5 

表示  コネクタ及び包装の表示は,JIS C 5401-4 の 2.6(表示)による。


5

C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

1.4

引用規格  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成

する。これらの引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 5401-3

  電子機器用コネクタ−第 3 部:品種別通則−角形コネクタ-品質評価付−

備考 IEC 

61076-3:1999

  Connectors for use in d.c.,low-frequency analogue and digital high speed data

application

−Part 3: Rectangular connectors with assessed quality - Sectional specification が,この

規格と一致している。

JIS C 5402-1-100

  電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 1-100 部

備考 IEC 

60512-1-100:2001

  Connectors for electronic equipment- Tests and measurements- Part 1-100 :

General- Applicable publications

が,この規格と一致している。

1.5

表示


6

C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

作成の手引き

1.6 

形名  この形名は,JIS C 5401-4 の 2.5(形名)に従って決定する。

例:

  JISC540131XX        L    N    N    N

  L    N        L

N

N

L

  個別規格番号

  コネクタ形状を 
  表す文字

   
  コンタクト数 
  又は

  コンタクトキャビティ数

  コンタクト形式

  又は 
  コンタクト列を表す文字

   
  コンタクトアレンジメントを表す数字 
  (  3 文字で表す場合もある)

1.7 

発注情報  この個別規格に従ってコネクタを発注する場合は,1.6 に規定した形名を用いる。

A

X

001

002

999

F

M

X

0

1

9

評価水準を表す文字

A

G

Z

性能水準を表す数字

1

2

3

ターミネーションの任意

の拡張を表す数字

1

2

3

ターミネーションの基本形式を

表す文字

I

C

S


7

C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

1.6 

形名

1.7 

発注情報


8

C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

作成の手引き

2. 

技術情報  個別規格には,コネクタの適切な使用に役立つ情報を規定する。個別規格をより深く理解

するため更に詳細な情報も規定する。

2.1 

定義  個別規格で用いる用語は,JIS C 5401-3 の 2.1(定義)に規定の用語であり,規定するコネク

タに特有な用語の定義は,個別規格に規定することを推奨する。

2.2 

形状(Style)及び類似品(Variant)の調査  個別規格がある範囲の形状及び/又は類似品に対して

適用する場合には,その範囲にある調査結果を表形式で個別規格に規定する。

表 は,形状及び類似品の

規定に適用する場合は,追加及び/又は代替の詳細を含めるために修正してもよい。

備考  個別規格で用いる表は一連番号にする。この規格における番号付けは,事例である。

2.3 

使用に関する情報  必要とする場合,コネクタの使用に関する規則及び推奨事項,寸法情報が 3.

十分に規定されていない場合には,個別規格に次の事項を規定する。

2.3.1 

部品を完全に備えたコネクタ(対)

2.3.2 

固定形コネクタ

2.3.3 

可動形コネクタ

備考  可動形コネクタの分類には,可動形カプラコネクタを含む。これらのコネクタは,カップリン

グ又はラッチング機構をコネクタの必す部品としてもつ。 カップリング機構の情報は,必要に

応じて 2.

3.及び 5.に規定する。


9

C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

2.

技術情報

2.1

定義

2.2

形状(Style)及び類似品(Variant)の調査

  1  形状及び類似品

コネクタ形状及び

コンタクト数

形状を表す文字

2.3

使用に関する情報

2.3.1

部品を完全に備えたコネクタ(対)

2.3.2

固定形コネクタ

2.3.3

可動形コネクタ


10

C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

作成の手引き

2.3.4 

アクセサリ  コネクタを使用する上でアクセサリを必要とする場合は,その特徴と使用法の概要を,

個別規格に,適宜,規定する。

2.3.4.1 

特殊コンタクト  個別規格に規定するコンタクトと一緒に特殊コンタクトを使用する場合は,特

殊コンタクトに関する情報は,これらの特殊コンタクトに関する個別規格が未発行である旨の事実を示し

た上で,

“参考用”として規定する。

通常特殊コンタクトとは,高電流,高電圧,高周波,フィルタ又は光ファイバ用のリムーバブルコンタ

クトをいう。

2.3.4.2 

コーディングデバイス  コネクタにとって必す部品ではないコーディングデバイスを使用する

場合は,個別規格に個々の情報を記載する。

2.3.4.3 

取付用デバイス  コネクタにとって必す部品ではない取付用デバイスを推奨する場合は,これら

のデバイスに関する情報は,参考のためにだけ個別規格に規定する。

2.3.4.4 

シールディリング・グランディング  コネクタ又はアクセサリとみなすことのできないシールデ

ィング及び・又はグランディング機構がある場合は,その情報は個別規格に規定する。

2.3.4.5 

ターミネーションの基本形式  各種のターミネーションがある場合は,それらの使用に関する情

報を,表形式で個別規格に規定する。

より詳細な寸法情報は,個別規格において固定形プリント配線板用コネクタ及び可動形プリント配線板

用コネクタの寸法を記載している箇所に規定してもよい。

固定形配線板用コネクタと可動形配線板用コネクタとのターミネーションに大幅な相違がない場合には,

その情報をこの箇条に規定した方がよい。

2.4 

コンタクトアレンジメント  コネクタインサートに対して各種のコンタクトの装着が可能で,それ

がコネクタの使用に影響を及ぼす場合は,個別規格にその情報を図面又は表形式で規定する。

これらのアレンジメントは,個別規格の 1.5 に規定する形名の適切な組合せによって規定する。


11

C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

2.3.4

アクセサリ

2.3.4.1

特殊コンタクト

2.3.4.2

コーディングデバイス

2.3.4.3

取付用デバイス

2.3.5

シールディング・グランディング

2.3.6  

ターミネーションの基本形式

2.4

コンタクトアレンジメント


12

C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

作成の手引き

3. 

寸法情報  各種規格の比較を容易にするために,JIS C 5401-1 の 2.7.1(図面及び寸法)に基づく図面

情報の統一表現を推奨する。

図面及び寸法には,次の事項を含める。

a)

関連コネクタとの共通特性を含む基本設計が分かる等角投影図

b)

固定形コネクタ

c)

可動形コネクタ及び・又はプリント配線板のエッジ

d)

結合情報

e)

アクセサリ

f)

固定形コネクタに関する取付情報

g)

可動形コネクタに関する取付情報(適用する場合)

h)

アクセサリ付きコネクタに関する取付情報

i)

試験ゲージ,  プローブ及び試験パネル

3.1 

一般事項  オリジナル寸法がミリメートル又はインチであるかを個別規格に規定する。

図面が第一角法又は第三角法で描かれているかを個別規格に規定する。

レタリング方式は,  JIS C 5401-1 の 2.7.1.1(レタリング方式)に規定するとおりとする。

次の文言を個別規格に規定する。

“コネクタの形状は,  規定する寸法が影響を受けない場合は,  次に示す図面と相違してもよい。

実行可能な場合は, 固定形コネクタと可動形コネクタとの寸法が対応するように同一の図面文字を使用

する。

3.2 

等角投影図及び共通の機構  等角投影図には,  共通の機構を含む設計上の主要特性を盛り込み,  ま

たその主要特性を示すことが望ましい(適用する場合)

寸法参照記号,  寸法及び共通の機構に関する規定は,  表形式で表すと便利である(

表 参照)。


13

C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

3.

寸法情報

3.1

一般事項  コネクタの形状は,規定する寸法が影響を受けない場合は,次に示す図面と相違しても

よい。

3.2

等角投影図及び共通の機構

  2  等角投影図及び共通の機構

寸法参照記号

寸法

共通の機構に関する記述


14

C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

作成の手引き

3.2.1 

共通の機構  個別規格には,規定するコネクタの形状に関連するすべての共通の機構について規定

したものを含める。

規定可能なデータには,次の事項を含む。

a)

データムに対するデータム点又はデータム線

b)

固定形コネクタの取付孔の位置

c)

固定形コネクタのターミネーションの位置

d)

可動形コネクタ又はエッジソケットコネクタの位置

e)

可動形コネクタの取付孔の位置又はエッジソケットコネクタターミネーションの位置

f)

プリント配線板の位置

g)

プリント配線板のグリッドの位置

3.2.2 

引用方式  個別規格には,  コネクタ部品のアレンジメント(モジュラー)を可能にするために整

合寸法を規定する。引用方式が機械的構造物に関する指針に基づいている場合は,  こうした情報を引用す

ることを推奨する。

3.2.3 

高さ寸法  多極コネクタ又はコネクタモジュールを,プリント配線板上に取り付ける場合は,バッ

クプレーン及びサブラックのデータム線までの高さ寸法を,個別規格に規定する。

3.2.4 

幅寸法  機械的構造物の一部である,バックプレーンのデータム線に関連する個々のプリント配線

板の幅の位置決めを示すために,当該幅寸法は,個別規格に規定する。

3.2.5 

奥行寸法  プリント配線板のエッジの位置又は固定形コネクタと可動形コネクタとの相対位置に

ついては,必要不可欠な情報を提供するために,奥行寸法を個別規格に規定する。


15

C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

3.2.1

共通の機構

3.2.2

引用方式  整合寸法とは,  (モジュラー)アレンジメントを可能にする,  公差を含まない境界又

は中心線の基準を示す寸法である。

3.2.3

高さ寸法

3.2.4

幅寸法

3.2.5

奥行寸法


16

C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

作成の手引き

3.3 

総合情報  制限する因子の詳細は,  正しい結合を保証する範囲内で,  次に示す寸法データと関連

している。

3.3.1 

結合方向  規定する接触抵抗値が挿入方向に対して保証される範囲

3.3.1.1 

コンタクトの高さ及びシーケンス  異なったコンタクト高さ及びそれらのシーケンスに関する

寸法のパラメータ(適用する場合。

3.3.2 

結合方向に対する垂直性  心ずれを吸収しうる垂直方向における最大許容変位

3.3.3 

傾斜角  適切な図面又は表の形で表した縦軸及び横軸に対する最大許容傾斜角

備考  明確さが保証される場合は,  個別規格には図面を補助的に使ってもよい。

3.4 

固定形コネクタ

3.4.1 

寸法  個別規格には,  主要寸法及び関連する幾何公差を示す固定形コネクタの外形図を含める。

寸法を明確にするため,すべての形状,類似品に共通な寸法と形状及び類似品に特有の寸法とに分けて表

として規定してもよい。

コンタクト位置に関する表示の詳細;一列の中は数字及び各列については文字によってコンタクト位置

を図面中に表示する。

3.4.2 

ターミネーション  個別規格には,該当する場合,ターミネーション長さ,幅,厚さ及び対角線寸

法を含める。

ターミネーションの寸法詳細(長さ,  厚さ,  対角線など)及びねらいとする用途は,個別規格の 1.5

に規定する形名の適切な組合せによって規定することができる。


17

C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

3.3

結合情報

3.3.1

結合方向

3.3.1.1

コンタクト高さ及びシーケンス

3.3.2

結合方向に対する垂直性

3.3.3

傾斜角

3.4

固定形コネクタ

3.4.1

寸法

3.4.2

ターミネーション


18

C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

作成の手引き

3.5 

可動形コネクタ

3.5.1 

寸法  個別規格には,主要寸法及び幾何公差を含む外形図を規定する。

3.5.2 

ターミネーション  個別規格には,適用するターミネーションの寸法詳細(長さ,幅,厚さ,対角

寸法など)を規定する。

3.6 

アクセサリ  コネクタとともにアクセサリを使用する場合には,主要寸法を記入した外形図を個別

規格に規定する。

アクセサリは,通常,コネクタに取り付けられて供給されるものではないが,選択可能な取付用ハード

ウェア,コーディングデバイス,シールドコンタクト,大電流用コンタクトなどの形態をとる。

アクセサリに関する情報は,コネクタの詳細寸法情報に用いた表と類似した表形式データを盛り込んだ

外形図として表してもよい。

3.7 

固定形コネクタに関する取付情報

3.7.1 

プリント配線板上の孔パターン  個別規格には,コネクタの取付けに必要な取付孔の位置と寸法及

びプリント配線板に必要とする孔パターンを概略図で示す。

図がプリント配線板のいずれの面から見て描かれているかを規定する。

寸法表を必ず規定する。

概略図は,その寸法表示に関して 3.4.1 で用いたものと同じ寸法基準を使用する。

公差付きの孔寸法を,ターミネーション及び取付孔の両方に関し,適切な幾何公差とともに規定する。

プレスインターミネーション用めっき付スルーホール寸法は,IEC 60352-5 による。

寸法表には,記載可能な場所に,3.4.1 で用いたものと同じ順序で寸法を規定する。


19

C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

3.5

可動形コネクタ

3.5.1

寸法

3.5.2

ターミネーション

3.6

アクセサリ

3.7

固定形コネクタに関する取付情報

3.7.1

プリント配線板上の孔パターン


20

C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

作成の手引き

3.7.2 

パネルへの取付け  個別規格には, 必要とするパネル開口形状及び取付孔の位置と寸法を概略図

で示す。

パネル開口寸法の最小寸法を,取付孔に対するパネル開口の相対位置とともに規定する。

寸法基準が該当する場合は,3.4.1 で用いた基準と同一とする。

3.8 

可動形コネクタに関する取付情報  個別規格には,プリント配線板に必要とする孔パターン及び取

付孔の位置と寸法を概略図で示す。

−  孔パターンとプリント配線板のエッジとの相対関係を明確にする(該当する場合。

−  図がプリント配線板のいずれの面から見て描かれているかを記述する。

−  寸法表を必ず規定する。

−  概略図は,その寸法表示に関して  3.5.1 で使用したものと同じ寸法基準を使用する。

−  公差付きの孔寸法を,ターミネーション及び取付孔の両方に関し,適切な幾何公差とともに規定する。

−  プレスインターミネーション用めっき付スルーホール寸法は,IEC 60352-5 による。

−  寸法表を作成し,その表には,記載可能な場所に,3.5.1 で用いたものと同じ順序で,寸法を規定する。

3.9 

ゲージ

3.9.1 

サイジングゲージ及び保持力ゲージ  弾性コンタクトのサイジングを行い,保持力を測定するため

に必要なゲージ図面を個別規格に含める。

ゲージ図面には,ゲージの材料,ゲージの最小硬度値,JIS B 0031 による表面の肌及び適用する表面仕

上げを規定する(該当する場合)

寸法及び公差は,摩耗の許容差を考慮して規定する。

サイジングゲージは最大条件を,また,保持力ゲージは,最小条件をシミュレートする。

保持力ゲージの質量を規定する。


21

C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

3.7.2

パネルへの取付け

3.8

可動形コネクタに関する取付情報

3.9

ゲージ

3.9.1

サイジングゲージ及び保持力ゲージ


22

C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

作成の手引き

3.9.2 

機械的動作,結合力,離脱力及び挿入力及び引抜力ゲージ  該当する場合は,機械的動作試験及び

結合力・離脱力又は挿入力・引抜力を測定するために必要なゲージ図面を個別規格に含める。

ゲージ図面にゲージの材質,JIS B 0031 による表面の肌及び適用する表面仕上げを規定する。

ゲージは,公称条件をシミュレートする。

3.9.3 

プローブ  プローブダメージ試験は,めすコンタクトだけに適用する。

試験プローブは,JIS C 5402-1-100  試験 16a の要求事項に従って個別規格に規定する。

3.9.4 

接触抵抗ゲージ  エッジソケットコネクタ及びその他のワンパートコネクタの接触抵抗測定は,最

小厚さの銅合金製(又は他の適切な材料)ゲージ又は個別規格に規定する適切なプリント配線板を用いて

行う。

JIS B 0031

による表面の条件及び試験するコネクタのコンタクトに対応する適切な表面仕上げを規定す

る。

3.9.5 

試験パネル(耐電圧試験用)  試験パネルの図面には,パネル開口の最小許容値,取付孔の位置,

サイズ及びパネル厚さを示す。

試験パネルは,適切な表面仕上げが施された導電性材料で製作する。


23

C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

3.9.2

機械的動作,結合力,離脱力及び挿入力及び引抜力測定ゲージ

3.9.3

プローブ

3.9.4

接触抵抗ゲージ

3.9.5

試験パネル(耐電圧試験用)


24

C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

作成の手引き

4. 

特性  規定する電気的及び機械的基本特性に関する情報を提示するために,試験及び測定の推奨方法

を表にし,必要に応じて追加特性を個別規格に加えてもよい(

例  試験群 HP)。JIS C 5401-4 の 4.(試験

及び試験計画)参照。

4.1 

耐候性カテゴリ  コネクタの耐候性カテゴリを JIS C 5401-4 の  2.2(耐候性カテゴリによる分類)

に従って個別規格に規定する。

個別規格には,耐候性カテゴリに関連した二つ以上の性能水準を含めてもよい。

耐候性カテゴリと性能水準との関係は,次に示す表形式でその詳細を明らかにしてもよい。

  3  性能水準

性能水準

耐候性カテゴリ

温度

高温高湿(定常)

(日数)

低温

高温

1 55/125/56

−55 125

56

2 25/85/10

−25 85

10

4.2 

電気的特性

4.2.1 

沿面及び空間距離  これらのパラメータを,例として,表 に示す。

これらの寸法がコネクタの形状ごとに異なる場合は,その形状に対する参考値を規定する。沿面及び空

間距離の減少がコネクタの使用中に生じる可能性がある場合には,次に示す注記を個別規格に規定する。

使用上の注意事項  許容定格電圧は,使用条件又は規定する安全性要求事項に依存する。沿面及び空間距

離は,使用するプリント配線板又は配線によって減少する場合があるので,十分に留

意する。

定格電圧は,動作及び性能特性を参考にコネクタ製造業者が規定した電圧値である。この値を表に追加

してもよい。

4.2.2 

耐電圧  個別規格に次の事項を規定する。

a) 3.9.5

に規定するコネクタの試験パネルへの取付け

b)

適用する試験方法(A,B 又は C のいずれか)

c)

コンタクト対コンタクト間及びコンタクト対試験パネル間に印加する直流電圧又は交流電圧(実効値)

この情報は,表形式で示してもよい。


25

C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

4

特性

4.1

耐候性カテゴリ

表 3  性能水準

性能水準

耐候性カテゴリ

温度

高温高湿(定常)

(日数)

低温

高温

4.2

電気的特性

4.2.1

沿面及び空間距離

  4  沿面及び空間距離

コネクタの形状及びコンタクト数

形状を表す文字

沿面及び空間距離の最小値

使用に関する情報  許容定格電圧は,使用条件又は規定する安全性要求事項に依存する。沿面及び空間距

離は,使用するプリント配線板又は配線によって減少する場合があるので,十分に留意する。

4.2.2

耐電圧  試験は,標準大気条件下で,JIS C 5402-1-100  試験 4a による。


26

C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

作成の手引き

4.2.3 

電流容量  個別規格には,  JIS C 5402-5-2  試験 5b の試験手順に従って求めたコネクタ電流容量曲

線を規定する。

試料の準備,ケーブル,電線束の形式及びサイズは,5.1.4 に規定のとおりに準備する。

電流容量曲線の代わりに,最大動作温度とともに,電流容量曲線上に規定された温度での電流値を個別

規格に規定してもよい。

周囲温度及び最高温度を含む 2 点以上の温度が与えられる場合は,軽減値を表形式で示してもよい。

重要な値(

例 70 ℃における電流値)を軽減グラフに規定する。

4.2.4 

接触抵抗  個別規格には,結合したコネクタで測定するか又は 3.9.4 に規定する接触抵抗ゲージで

測定するかを規定する。

個別規格に mΩ単位で接触抵抗の最大許容値を規定する。初期抵抗,試験後の抵抗及びターミネーショ

ンを含む抵抗を規定する(適用する場合)

。測定点は,5.1.1 の規定による。

4.2.5 

絶縁抵抗  個別規格に次に示す事項を規定する。

a)  3.9.5

に規定するコネクタの試験パネルへの取付け

b)

適用する試験方法(A,B 又は C のいずれか)

c)

コンタクト対コンタクト間及びコンタクト対試験パネル間に印加する直流電圧値

d)

初期及び試験後の絶縁抵抗の最小許容値(単位  MΩ)

情報は,適切な順序で番号付けして表形式で示してもよい。

4.3 

機械的特性

4.3.1 

機械的動作  個別規格に次の事項を規定する。

a)

単位時間当たりの動作回数

b)

動作速度

c)

機械的動作回数

d)

休止時間,結合又は非結合(標準の試験方法との相違)

個別規格に動作回数と関連ある二つ以上の性能水準を含める場合は,機械的動作回数と性能水準との関

係は,表にその詳細を示すことによって理解しやすくなる。


27

C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

4.2.3

電流容量  試験は,すべてのコンタクトについて,JIS C 5402-1-100  試験 5b による。

70

℃における値を軽減グラフに示す。

4.2.4

接触抵抗  試験は,標準大気条件下で,JIS C 5402-1-100  試験 2a による。

4.2.5

絶縁抵抗  試験は,標準大気条件下で,JIS C 5402-1-100  試験 3a による。

4.3

機械的特性

4.3.1

機械的動作  試験は,標準大気条件下で,JIS C 5402-1-100  試験 9a による。


28

C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

作成の手引き

4.3.2 

結合力及び離脱力(又は挿入力及び引抜力)  個別規格には,次の事項を規定する。

a)

結合力(又は挿入力)の最大許容値

b)

離脱力(又は引抜力)の最小許容値

c)

結合及び離脱の速度

コネクタが結合及び離脱動作を補助する機構をもつ場合は,通常,JIS C 5402-1-100 試験 13a(結合力

及び離脱力の測定)を適用する。

ロッキング機構又は類似機構の影響がない状態で測定を実施する場合は,通常,JIS C 5402-1-100  試験

13b

(挿入力及び引抜力の測定)を適用する。

個別規格に試験 13a 又は試験 13b のいずれを規定するかは,コネクタの設計による。

4.3.3 

インサート内のコンタクト保持  通常の使用中に発生する機械的ストレスに耐えるコンタクト保

持機構(存在する場合)の能力を評価するために,コンタクト保持力試験を実施する。

加える力及びその力を除去した後の軸方向の最大変位量を個別規格に規定する。

4.3.4 

極性試験  誤結合防止機構の能力を評価するため, 間違った組合せのコネクタの誤結合を誤結合

防止機構によって防止できるか否かを確認する(適用する場合。


29

C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

4.3.2

結合力及び離脱力(又は挿入力及び引抜力)  試験は,JIS C 5402-1-100  試験 13a 又は試験 13b 

よる。

4.3.3

インサート内のコンタクト保持  試験は,標準大気条件下で,JIS C 5402-1-100  試験 15a による。

力を加えている間の軸方向の変位測定は,要求しない。

4.3.4

極性試験  試験は,標準大気条件下で,JIS C 5402-1-100  試験 13e による。


30

C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

作成の手引き

5. 

試験計画

5.1 

一般  基本試験計画,中間試験計画又は全項目試験計画,試験段階番号及び試験の追加に関する指

針は,JIS C 5401-3 の 4.5(試験計画)による。

5.2

による試験群に属する試験段階の順序が,特定の形式又は形状に対して全く適さない場合には,規定

する順序を変更してもよいが[JIS C 5401-3 の 4.5(試験計画)参照]

,その順序については,個別規格に

規定する。

他に規定がない場合は,すべての試験は,JIS C 0010 及び  JIS C 5402-1 の該当する規格に規定する標準

大気条件下で実施する。

個別規格には,コネクタ形状がどの試験順序に適用できるかを規定する。

ほとんどの試験計画は,シェル(ハウジング)がないコネクタには適用できない。

すべての試験順序を実施する上で必要な試料数は,6.1.1 の表による。

5.1.1 

接触抵抗測定の準備  個別規格には,接触抵抗の測定点を示す結合したコネクタの実体図を含める。

5.1.2 

動的ストレス試験の準備  個別規格には,取付具に対する取付方法,プリント配線板の寸法,電線

クランプの詳細などの実体図を含める。

5.1.3 

静的な力(軸方向)試験の準備  個別規格には,固定形コネクタの取付方法,試験ツールの寸法及

びコネクタに関連する試験ツールの位置の詳細を規定する。

5.1.4 

試料の配線  個別規格には,選択された試験方法で絶縁抵抗,耐電圧及び電流容量が実施できるよ

うに試料の配線方法を規定する。電線サイズ(又は定格)及びその絶縁体の種類を規定する。

無はんだによる接続の試験に用いる試料の配線に関しては,個別規格には,IEC 60352 の該当する規格

に従ってターミネーションの配線方法を規定する。


31

C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

5.

試験計画

5.1

一般  この試験計画には,満足すべき要求事項だけでなく実施する試験及び順序も示す。

他に規定がない場合は,結合したコネクタで試験を実施する。試験順序が完了するまでの間,コネクタ

の特定の組合せを変えないよう注意する(

例  ある試験に関してコネクタを非結合にする必要がある場合

は,次の試験でも同じコネクタ同士を結合する。

以下,結合したコネクタを試料という。

5.1.1

接触抵抗測定の準備  試験は,JIS C 5402-1-100  試験 2a による。

接触抵抗の測定は,規定するコンタクト数に対して実施する。以後実施する接触抵抗の測定も,同じコ

ンタクトで行う。

5.1.2

動的ストレス試験の準備  試験は,JIS C 5402-1-100  試験 6a,試験 6b,試験 6c 又は試験 6d によ

る。

5.1.3

静的な力(軸方向)試験の準備  試験は,JIS C 5402-1-100  試験 8b による。

5.1.4

試料の配線


32

C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

作成の手引き

5.2 

試験計画  個別規格が二つ以上の性能水準(PL)をもつコネクタに適用できる場合には,  異なった

試験の厳しさ・条件及び・又は要求事項を,  適切な試験段階の下で,  当該試験計画表に記入する。

例:

試験

測定

要求事項

試験 
段階

名称

JIS C 

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ又は条件

名称

JIS C 

5402-1-100

試験番号

PL

すべてのコネクタの

形状

BP5

機械的動作 9a

速度: 2 mm/s 以下 
休止:結合した状態で

10

1 250

2 125

3 75

BP6

5.2.1 

基本試験計画  基本試験計画を適用する場合は,  全項目試験計画と同様に,次に示す試験,厳し

さ・条件を各々の試験段階に適用する。

試験段階

1

試験 1a 及び試験 1b を適用するため,  個別規格には,次の項目を規定する。

−  検査する特性

−  ゲージの詳細(適用する場合)

−  測定機器の形式及び測定倍率

−  欠陥の基準

2.1

試験  2.1 又は試験  2.2 の選択は,  コネクタの設計に依存する。

又は

2.2

結合・離脱動作を補助する機構がある場合は, 試験  2.1 を選択する。この試験に対して最大速度を“A”

と規定する。

2 mm/s

がこの測定の現実的な値である。

3

測定するコンタクト数を“B”と規定する。4.2.4 で示すとおり,  初期接触抵抗の最大許容値を“C”

と規定する。

4

4.2.5

で定めるとおり,絶縁抵抗を測定するために印加する電圧値を“D”と規定する。適用する試験

方法を“E”

,試料当たりのコンタクト数を“F”と規定する。4.2.5 で示すとおり,初期絶縁抵抗の許容最

小値を“G”と規定する。

5

試験方法“H”は,試料当たり“J”コンタクトを試験するために用いる。コンタクト対コンタクト間,

コンタクト対試験パネル間に印加する耐電圧試験電圧を各々“K”及び“L”と規定する。

6.1

該当する場合,他の適切な接続試験を,

又は

6.2

この試験計画の試験群 GP のように規定する試験(

例  JIS C 5401-4 又は IEC 60352 で該当する規格

群による試験)に追加するか又は規定する試験と置き代える。


33

C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

5.2

試験計画

5.2.1

基本試験計画

  5  基本試験

試験

段階

試験

測定

要求事項

名称

JIS C 

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ又は条件

名称

JIS C 

5402-1-100

試験番号

PL

すべてのコネクタ形状

1

一般試験

結合していないコネクタ

外観

寸法及び質量

1a

1b

正常な動作を阻害する 
欠陥がないこと。 
沿面及び空間距離を含

む寸法は各々の規定値
に適合すること。

2.1

2.2

速度“A”mm/s  以下

結合力及び 
離脱力 
又は

挿入力及び 
引抜力

13a

13b

4.3.2

参照

4.3.2

参照

3

5.1.1

に示す測定点

試料当たりのコンタクト
数“B

接触抵抗 2a 又は 2b

C”m

Ω  以下

4.2.4

参照

4

試験電圧“D”V d.c. 
試験方法“E” 
試料当たりのコンタクト

数“F”

絶縁抵抗 3a

G”M

Ω  以上

4.2.5

参照

5

試験方法“H

試料当たりのコンタクト
数“J” 
コンタクト間“K”V d.c.

又は V r.m.s. 
又は 
コンタクト対試験パネル

間“L”V d.c.又は r.m.s.

耐電圧 4a

絶縁破壊又はフラッシ

ュオーバがないこと。

6.1

6.2

はんだ付け

又は 
他 の 適 切
な 接 続 方

12

シリーズ

1)

ターミネーシ

ョンを含む 
接触抵抗

2a

又は 2b

4.2.4

参照

(

1

コネクタがはんだ付による接続の場合には, 適切な試験及び条件を JIS C 5402-1-100 から選択する。無はんだによ
る接続の場合には,  他の適切な接続試験を本試験計画の試験群 GP のように規定する試験(

例  JIS C 5401-3 又は

IEC60352

で該当する規格群による試験)に追加するか又は規定する試験と置き換える。


34

C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

作成の手引き

5.2.2 

本試験計画

5.2.2.1 

試験群 P−予備試験

P1

試験段階 1 参照。

P2

加える最小の力は,最大規定結合力の 1.5 倍とし,

“M”と規定する。

P3

試験段階 3 参照。

P4

試験段階 4 参照。

P5

試験段階 5 参照。

備考  P4 及び P5 に関し,コネクタの配線を省略するためには,方法及び試料当たりのコンタクト数

を決める必要がある。


35

C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

5.2.2

本試験計画

5.2.2.1

試験群 P−予備試験  すべての試料は,次の試験を実施する。

  6  試験群 P

試験 
段階

試験

測定

要求事項

名称

JIS C 

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ又は

条件

名称

JIS C 

5402-1-100

試験番号

PL

すべてのコネクタの形状

P1

一般試験

試験段階 1 参照

外観

寸法及び

質量

1a

1b

試験段階 1 参照

P2

(2)

極性試験

13e

加える力  “M”  N

P3

試験段階 3 参照

接触抵抗

2a

試験段階 3 参照

P4

試験段階 4 参照

絶縁抵抗

3a

試験段階 4 参照

P5

試験段階 5 参照

耐電圧 4a

試験段階 5 参照

(

2

適用する場合


36

C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

作成の手引き

5.2.2.2 

試験群 AP−動的・耐候性

AP1.1

又は AP1.2

試験段階 2.1 又は 2.2 参照。

AP2 

この試験は,接触を確実にする弾性機構をもち,丸形おすコンタクトとともに使用する弾性コンタ

クトだけに適用できる。適用する場合は,  加える曲げモーメント値を“N”と規定する。

この試験は,試料当たり“P”コンタクトについて実施し,その後にゲージ保持力を測定する。

この試験が適用できない場合でも,  ゲージ保持力を測定する。

AP3

はんだ付け性試験は, コネクタのターミネーションの設計に適したはんだ付け工程に基づいて選択

する。

AP3.1

はんだバス法に基づくはんだ接続方法。ターミネーションを溶けたはんだに浸せきするまでの深さ

を“Q”と規定する。

又は,

はんだごてに基づくはんだ接続方法。はんだごてのサイズを“R”とする。

AP3.2

他に“S”秒と規定がない限り,10 秒間の浸せき中にはんだ耐熱性試験を実施する。

又は,

サイズ“R”のはんだごてを用いて,はんだ耐熱性試験を実施する。

又は,

AP3.3 

基本試験計画の試験段階 6.2 参照。

AP4

試験段階 5 参照。

AP5

コンタクトに加える軸方向の力を“T

,  その力を除去した(適用する場合)後のコンタクトの許

容変位を“V”と規定する。

この試験の直後に外観検査を実施する。

AP6

試験中に加える加速度を“W

,  試験中,  3 軸に等分に加えるバンプの総数を“X”と規定する。

ディスターバンスの最大時間を“Y”μs と規定する。

この試験の直後に外観検査を実施し,  接触抵抗を測定する(4.2.4 参照)

試料を必要な試験群に分ける(6.1 による。

各試験群のすべてのコネクタは,  関連する試験群のために規定した試験を実施する。


37

C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

5.2.2.2

試験群 AP−動的・耐候性

  7  試験群 AP

試験

段階

試験

測定

要求事項

名称

JIS C 

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ又は条件

名称

JIS C 

5402-1-100

試験番号

PL

すべてのコネクタの形状

AP1.1

AP1.2

試験段階 2.1 参照

試験段階 2.2 参照

結合力及び
離脱力 
又は

挿入力及び
引抜力

13a

13b

4.3.2

参照

AP2

(3)

プローブ 
ダメージ

16a

曲げモーメント

N”Nm 
試料当たりのコンタク
トの数  “P”

ゲージ保持
力(弾性コ
ンタクト)

16e

試料当たり同じ コン
タクト,  ゲージは保持
していること。

AP3.1

AP3.2

AP3.3

(4)

はんだ付け性 
又は

はんだ耐熱性 
又は 
未確定

12a

又は 12b

12d

又は 12e

未確定

浸せき深さ 
Q”mm

又ははんだごての 
サイズ“R” 
浸せき時間“S”秒

未確定

外観 1a

試験段階 1 参照

AP4

(5)

試験段階 5 参照

耐電圧 4a

試験段階 5 参照

AP5

インサート内
のコンタクト
保持

15a

軸方向の力“T”N

力を除去した時の

変位の許容量 
V” mm 以下

外観 1a

試験段階 1 参照

AP6

バンプ 6b

W”m/s

2

バンプの総数“X

試験の準備については

5.1.2

による。

コンタクト

ディスター
バンス

2e

ディスターバンスの

時間 
Y

μs 以下

外観 1a

試験段階 1 参照

接触抵抗 2a 又は 2b

試験段階 3 参照

(

3

適用する場合(適用できない場合,  ゲージ保持力を測定する。

(

4

他の適用可能なターミネーション試験は,  別な試験順序で規定してもよい。

(

5

コンタクトを取り付けた状態で,はんだ付け性試験を行う場合に限り,実施する。


38

C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

作成の手引き

5.2.2.2

  試験群 AP−動的・耐候性(続き)

AP7

  コネクタが受ける周波数範囲の最小値及び最大値を,各々“Z”及び“A1

,変位振幅値及び加速度

振幅値を,各々“B1”及び“C1”と規定する。また, 耐久性の場合には,各方向に対する掃引サ

イクル数を“D1”ディスターバンスの最大時間を“Y”μs と規定する。

なお,この試験の直後に外観検査を実施し, 接触抵抗を測定する。

4.2.4 参照)

AP8

  正弦半波パルスの加速度値を“E1

,印加時間を“F1”及びディスターバンスの最大時間を“Y

μs

と規定する。

なお,この試験の直後に外観検査を実施し, 接触抵抗を測定する(4.2.4 参照)

AP9

  正弦半波パルスの加速度値を“G1

,印加時間を“H1”及びディスターバンスの最大時間を“Y

μs と規定する。 
なお,この試験の直後に外観検査を実施し,接触抵抗を測定する(4.2.4 参照)

AP10

 低温カテゴリ及び高温カテゴリの温度を,各々“J1

, “K1”とし, また, 各温度での暴露時間

t1

L1

分, 低温及び高温の両方に対するサイクル数“M1”も規定する。

なお,この試験の後に,絶縁抵抗, 耐電圧及び外観検査を実施する。

AP11

  一連耐候性試験は,JIS C 5402-1-100  試験 11a に規定するとおりの試験数及び適切な測定方法で構

成し, 結合したコネクタで実施する。

AP11.1

  高温を“N1”と規定し,また暴露後の絶縁抵抗の最小許容値を 4.2.5 に規定する。

AP11.2

  この試験の実施温度を“P1”及び,使用する試験条件は“Q1”と規定する。

なお,この試験の後に,外観検査を実施する。

AP11.3

  低温を“R1”と規定し,この試験後に,外観検査を実施する。

AP11.4

  試験を実施する槽の圧力を“S1

,供試条件の時間(5 分以外の場合)を“T1”と規定し,この

試験の後に,耐電圧試験を実施する。


39

C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

5.2.2.2

試験群 AP−動的・耐候性(続き)

表 7  試験群 AP(続き)

試験 
段階

試験

測定

要求事項

名称

JIS C 

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ又は条件

名称

JIS C 

5402-1-100

試験番号

PL

すべてのコネクタの形状

AP7

正弦波振動 6d

Z”Hz  ∼“A1”Hz 
B1”mm 
C1”m/s

2

全期間,各方向“D1
サイクル掃引による耐
久性。準備については

5.1.2

による。

コンタクト 
ディスターバンス

2e

ディスターバンスの 
時間

Y

μs 以下

外観 1a

試験段階 1 参照

接触抵抗 2a 又は 2b

試験段階 3 参照

AP8

衝撃 6c

正弦半波 
E1”m/s

2

F1”ms

コンタクト 
ディスターバンス

2e

ディスターバンスの 
時間

Y

μs 以下

外観 1a

試験段階 1 参照

接触抵抗 2a 又は 2b

試験段階 3 参照

AP9

(6)

加速度

(定常)

6a

正弦半波

G1”m/s

2

H1”ms

外観 1a

試験段階 1 参照

接触抵抗 2a 又は 2b

試験段階 3 参照

AP10

温度急変 11d

J1”℃  ∼  “K1”℃

t1L1”分, 
M1”サイクル, 
結合したコネクタ

絶縁抵抗 3a

試験段階 4 参照

耐電圧 4a

試験段階 5 参照

外観 1a

試験段階 1 参照

AP11

一連耐候性 11a 結合したコネクタ

AP11.1

高温 11i

N1”℃

高温時の 
絶縁抵抗

3a

試験段階 4 参照

AP11.2

温湿度サイ
クル(最初
の サ イ ク

ル)

11m

P1”℃ 
試験条件“Q1”

外観 1a

試験段階 1 参照

AP11.3

低温 11j

R1”℃

外観 1a

試験段階 1 参照

AP11.4

減圧 11k

S1”kPa

t2T1”分

耐電圧 4a

試験段階 5 参照

(

6

)

適用する場合。

備考  試験段階  AP6 AP7 及び  AP8 を実施した後,  JIS C 5402-1-100 の第 14 部に規定する封止(気密性)試験も同様に実

施するとよい。

なお,  同試験は,  プリント配線板用コネクタには適用できないと思われる。


40

C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

作成の手引き

5.2.2.2

  試験群 AP−動的・耐候性(続き)

5.2.2.3

試験群 BP−機械的耐久性

BP1

  この試験群は, ゲージ保持力の試験から開始する。

BP2  4.3.1

に規定する値の半分の動作回数を“V1

, 動作速度及び休止時間(存在する場合)を,各々 “W1

X1”と規定する。

なお,この試験の直後に,次の試験を実施する。

−  外観

−  接触抵抗

−  絶縁抵抗

−  耐電圧

−  極性試験(適用する場合)


41

C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

5.2.2.2

  試験群 AP−動的・耐候性(続き)

表 7  試験群 AP (続き)

試験 
段階

試験

測定

要求事項

名称

JIS C 

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ又は条件

名称

JIS C 

5402-1-100

試験番号

PL

すべてのコネクタの形状

AP11.5

温湿度サイ
クル(残り

の サ イ ク
ル)

11m

P1”℃

試験条件“Q1

絶縁抵抗 3a

試験段階 4 参照

耐電圧 4a

試験段階 5 参照

接触抵抗 2a 又は 2b

試験段階 3 参照

AP12.1

AP12.2

試験段階 2.1 参照

試験段階 2.2 参照

結合力及び
離脱力 
又は

挿入力及び
引抜力

13a

13b

4.3.2

参照

AP13

外観 1a

試験段階 1 参照

5.2.2.3 

試験群 BP−機械的耐久性

  8  試験群 BP

試験 
段階

試験

測定

要求事項

名称

JIS C 

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ又は条件

名称

JIS C 

5402-1-100

試験番号

PL

すべてのコネクタの形状

BP1

ゲ ー ジ 保 持
力(弾性コン
タクト)

16e

試 験 条 件 に つ い て は

3.9.1

による。

ゲージを保持すること。

BP2

機 械 的 動 作
( 規 定 サ イ
ク ル 数 の 半

分)

9a

動作回数“V1” 
速度“W1” mm/s

休止時間“X1”  秒

外観 1a

試験段階 1 参照

接触抵抗 2a 又は 2b

試験段階 3 参照

絶縁抵抗 3a

試験段階 4 参照

耐電圧 4a

試験段階 5 参照

極性試験

(7)

 13e

4.3.4

参照

(

7

) BP2

終了後に測定する(適用する場合。


42

C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

作成の手引き

5.2.2.3

試験群 BP−機械的耐久性  (続き)

BP3.1

試験時間を Y1(時間)と規定する。

BP3.2

供試条件を適用する期間を“Z1”とする。また,試料は半数を結合とし,  残りの半数を非結合

とする。

又は,

BP3.3

試験段階 AP11 参照。

又は,

BP3.4

供試条件を適用する期間を“B2”と規定する。また,プリント配線板用コネクタの場合は,

A2

の極性電圧は適用しない。

又は,

BP3.5

試験段階  AP11.5 参照。

又は,

BP3.6

試験段階  AP11.1 参照。

BP4

試験段階 BP2 参照。総規定動作回数から試験した動作回数を差し引き,

その残りの動作回数を“C2

と規定する。

BP5

試験段階  AP2 参照。

JIS C 5402-1-100 

試験 16a(プローブダメージ)が適用できない場合には,ゲージ保持力を測定す

る。

BP6

試験を受ける試料数を“D2”,加える力の増加率を“E2”とし,また加える力,  力を加えている

時間及び試料の許容する曲がりを,各々“F2

G2”及び“H2”と規定する。


43

C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

5.2.2.3

試験群 BP−機械的耐久性  (続き)

表 8  試験群 BP(続き)

試験 
段階

試験

測定

要求事項

名称

JIS C 

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ又は条件

名称

JIS C 

5402-1-100

試験番号

PL

すべてのコネクタの

形状

BP3

BP3.1

BP3.2

BP3.3

BP3.4

BP3.5

BP3.6

耐候性試験 
腐食,

塩水噴霧 
又は 
混 合 ガス流

腐食 
又は 
一連耐候性

又は 
高温高湿 
(定常)

又は 
温 湿 度サイ
クル

又は 
高温

11f

11g

11a

11c

11m

11i

試験時間“Y1”時間

Z1”日(試料の半分

を結合,  残りの半分を
非結合とする。

AP11

参照

配線された試料 
極性電圧“A2”V 
B2”日

AP11.5

参照

AP11.1

参照

接触抵抗 2a 又は 2b

試験段階 3 参照

BP4

機 械 的動作
(規定動作

回数の残り 
半分)

9a

BP2

参照。ただし,

動作回数“C2

外観 1a

試験段階 1 参照

接触抵抗 2a 又は 2b

試験段階 3 参照

絶縁抵抗 3a

試験段階 4 参照

耐電圧 4a

試験段階 5 参照

極性試験 13e

4.3.4

参照

BP5

プローブ

ダメージ

(8)

16a AP2

参照

ゲージ

保持力

16e

AP2

参照

BP6

静的な力 
(軸方向)

8b

試料数“D2” 
準 備 に つ い て は   5.1.3

による。 
加える力の最大増加率  
E2”N/s

加える力“F2”N 
力 を 加 え て い る 時 間  
G2”秒

外観 1a

試験段階 1 参照 
許容する曲がり

H2”以下

(

8

適用する場合;適用できない場合でも,測定(ゲージ保持力)は実施する。


44

C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

作成の手引き

5.2.2.4 

試験群 CP−耐湿性

CP1

試験段階 BP3.4 に関する手引書参照。ただし,  試験期間は“J2”とし,この試験の後に,次の試

験を実施する。

−  絶縁抵抗

−  耐電圧

−  接触抵抗

−  結合力及び離脱力又は挿入力及び引抜力

−  結合しないコネクタの外観

5.2.2.5 

試験群 DP−電気的負荷

DP1

試験段階 BP2 の諸条件参照。ただし,動作回数は,

K2”とする。

DP2

供試条件の時間を“L2”,最大負荷電流を“M2”と規定し,試験槽の温度は,  コネクタの規定最

大動作温度の 70  %±5  %  に維持する。

また,電流を印加して増加した後に試料の測定温度“N2”は,規定最大動作温度の 105  %  以下で

なければならない。

なお,この試験の後,4.2.5 に従って絶縁抵抗(高温時)を測定する。

耐電圧も実施する。

外観検査は,結合しないコネクタについて実施する。


45

C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

5.2.2.4

試験群 CP−耐湿性

  9  試験群 CP

試験 
段階

試験

測定

要求事項

名称

JIS C 

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ又は条件

名称

JIS C 

5402-1-100

試験番号

PL

すべてのコネクタの

形状

CP1

高温高湿

(定常)

11c

BP3.4

参照。

ただし,試験期間   
J2”日

絶縁抵抗 3a

試験段階 4 参照

耐電圧 4a

試験段階 5 参照

接触抵抗 2a 又は 2b

試験段階 3 参照

結合力及び 
離脱力 
又は

挿入力及び 
引抜力

13a

13b

4.3.2

参照

外観 1a

試験段階 1 参照

5.2.2.5

試験群 DP−電気的負荷

 10  試験群 DP

試験 
段階

試験

測定

要求事項

名称

JIS C 

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ又は条件

名称

JIS C 

5402-1-100

試験番号

PL

すべてのコネクタの

形状

DP1

機械的動作

(BP2 の 
規 定 数 と 同
一回数)

9a

BP2

参照。ただし,動作

回数    “K2

DP2

電気的負荷 
及び温度

9b

L2”  時間

コンタクト負荷電流 
M2”A 以下 
後処理時間  2 時間以上

試料の中心部に温度セン
サを取り付ける。

“N2”℃

接触抵抗

2a

又は 2b

試験段階 3 参照

絶縁抵抗

3a

試験段階 4 参照

耐電圧 4a

試験段階 5 参照

外観 1a

試験段階 1 参照


46

C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

作成の手引き

5.2.2.6 

試験群 EP−機械的特性

EP1.1

加える力を“P2”と規定する。

EP1.2  IEC 60352

の該当する規格に規定する接続方法以外の無はんだによる接続用の機械的特性試験を実

施する。

EP2

試験段階  AP5 参照。適用する場合は,この試験は,この試験群順序の最後に実施する。

EP3

試験段階  AP2 参照。

EP4

4.2.5

参照。

EP5

供試条件の期間を“Q2”と規定する。

EP6

試料数“R2

,接炎時間“S2

,接炎点(図示)及び許容最大燃焼時間を“T2”を記述する。

コネクタの製造に用いる材料が規定する試験を事前に行い,既に合格していることを示す証拠書類が,

IEC

で規定する国内監督検査機関(NSI)に提示できる場合には,試験段階 EP5 及び EP6 を省略してもよ

い。


47

C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

5.2.2.6

試験群 EP−機械的特性

 11  試験群 EP

試験 
段階

試験

測定

要求事項

名称

JIS C 

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ又は条件

名称

JIS C 

5402-1-100

試験番号

PL

すべてのコネクタの

形状

EP1.1

EP1.2

(9)

ターミネーシ
ョン強度

又は 
無はんだター
ミネーション

の機械的試験

16f

審議中

試験 Ua1 及び Ua2 
試料当たり  6 ターミネ
ーション

P2” N

外観 1a

試験段階 1 参照

EP2

インサート内
のコンタクト
保持

15a AP5

参照

AP5

参照

外観 1a

試験段階 1 参照

EP3

(10)

プローブ 
ダメージ

16a AP2

参照

ゲ ー ジ 保

持力(弾性
コ ン タ ク
ト)

16e

AP2

参照

ゲージは保持している
こと。

EP4

絶縁抵抗 3a

試験段階 4 参照

EP5

(11)

かびの成長 11e

Q2”  日

絶縁抵抗 3a

試験段階 4 参照

外観 1a

試験段階 1 参照

EP6

(11)

ニードルフレ
ーム(注射針
バーナ)

20a

試料数    “R2” 
接炎時間  “S2”  秒

許 容 最 大 燃 焼 時 間 
T2”秒 
ティッシュペーパが発

火しないこと。

(

9

) IEC

にて審議中。

例  試験 16x−機械的強度(配線済みターミネーション)。

(

10

適用する場合;この試験は,この試験群順序の最後に実施する。

(

11

コネクタの製造に用いる材料が規定する試験を事前に行い,既に合格していることを示す証拠書類が,IEC で規定す

る国内監督検査機関(NSI)に提示できる場合には,試験段階 EP5 及び EP6 を省略してもよい。


48

C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

作成の手引き

5.2.2.7 

試験群 FP−耐薬品性

FP1

汚染された液体(特に洗浄用として広く使用されている溶剤)に対するコネクタの耐液抵抗性を立

証するには,極めて適切な試験である。JIS C 5402-1-100 で該当する試験手順が入手できるまでは,

適切な試験方法を選択し,

附属書  A に示すようにこれを個別規格に追加することが可能である。

FP2

4.3.2

参照。

FP2

4.2.4

参照。

FP4

詳細については試験段階 を参照し,要求事項については試験段階 AP13 による。

5.2.2.8 

試験群 GP−ターミネーション  無はんだによる接続の形式に応じて,IEC 60352 の該当する規

格から試験順序を選択する(適用する場合)

コネクタに用いる接続方法が  IEC 60352 に規定する試験をあらかじめ受け,既に合格していることを示

す証拠書類が,IEC で規定の国内監督検査機関に提示できる場合には,試験段階 GP1 から GPX までを省

略してもよい。

5.2.2.9 

試験群 HP−追加試験  この試験群は,既定の試験群 から GP に試験段階を追加するために使

用する。

例  コネクタが高速デジタルデータ伝送用として適していることを証明するための試験。

なお,追加試験は,

附属書 に規定する。


49

C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

5.2.2.7

試験群 FP−耐薬品性

 12  試験群 FP

試験 
段階

試験

測定

要求事項

名称

JIS C 

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ又は条件

名称

JIS C 

5402-1-100

試験番号

PL

すべてのコネクタの形状

FP1

耐液性

審議中

FP2.1

FP2.2

結合力及び 
離脱力

又は 
挿入力及び 
引抜力

13a

13b

4.3.2

参照

FP3

接触抵抗

2a 又は 2b

試験段階 3 参照

FP4

絶縁抵抗

3a

試験段階 4 参照

FP5

一般試験

試験段階 1 参照

外観

1a

試験段階 1 参照

5.2.2.8

試験群 GP−ターミネーション

 13  試験群 GP

試験 
段階

試験

測定

要求事項

名称

JIS C 

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ又は条件

名称

JIS C 

5402-1-100

試験番号

PL

すべてのコネクタの形状

GP1

GPX

(12)

IEC 60352

及び JIS C 5402-1-100 による接続方法の適用可能な試験

無はんだによる接続/接続方法の形式に応じて(適用する場合)

, IEC 60352 の該当する規格から試験順序を選択

する。

(

12

コネクタに用いる接続方法が IEC 60352 に規定する試験をあらかじめ受け,  既に合格していることを確認する証拠書
類が IEC で規定の国内監督検査機関に提示できる場合には,  試験段階 GP1 から GPX までを省略してもよい。

5.2.2.9

試験群 HP−追加試験

 14  試験群 HP

試験 
段階

試験

測定

要求事項

名称

JIS C 

5402-1-100

試験番号

試験の厳しさ又は条件

名称

JIS C 

5402-1-100

試験番号

PL

すべてのコネクタの形状

HP1

既定の試験群及び試験段階がコネクタにおける特定の試験に対して対応できない場合には, この試験群に追加
試験として規定する。

附属書 に規定する新しい試験。


50

C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

作成の手引き

6. 

品質評価手順  JIS C 5401-1 の  3.6(品質認証・品質評価システム)及び JIS C 5401-4 の 3.(品質評価

の手順)による。

6.1 

品質認証試験

6.1.1 

方法 1  表には 3 段階の性能水準を示す。個別規格がより多い又はより少ない性能水準を含む場合

には,  表はそのことを考慮して拡張又は縮小してもよい。

表に記入するデータを次に示す。

“V2”

(適宜,

“W2”

“X2”

)関連する性能水準を示すために選択したアラビア数字。

n

(  5 か所)

(適宜,

n1

n2

)試験群 AP から EP までを受ける試料数。

m

(適宜,

m1

m2

)試験段階 FP を受ける試料数。

p

(適宜,

p1

p2

)試験段階 GP を受ける試料数。

q

(適宜,

q1

q2

)試験段階 HP を受ける試料数。

“c1”∼“c8”

(適宜,

“c1a”∼“c8a”

“c1b”∼“c8b”

)試験群ごとに許容される各々の不良品数。

cT

(適宜,

cTa

cTb

)試験群全体の許容不良品数。

これは,通常,試験群ごとに許容される不良品の総数より少ない。

6.1.2 

方法 2  方法 の代わりに,JIS C 5401-1 の  3.3.3(品質認証の認可)に示す第 2 の方法による品質

認証手順を用いてもよい。

品質認証試験には,次の検査を含める。

a)

連続する 3 ロットを対象とする  6.2.1 に従うロットごとの試験

b)

その内の 1 ロットから選出した 1 個のサンプルを対象とする  6.2.2 に従う定期試験

c)

6.2.2

の検査群 D2 に関わる補足的な品質認証試験


51

C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

6.

品質評価手順  JIS C 5401-1 の  3.6(品質認証・品質評価システム)及び JIS C 5401-4 の  3(品質評価

の手順)による。

6.1

品質認証試験

6.1.1

方法 1  JIS C 5401-1 の  3.3.3(品質認証の認可)に示す第 1 の方法に従う品質認証手順。

次の試料数が に規定する条件の試験を受ける。

試料は,

表 15 に基づく許容不良品数以下でその要求事項を満たさなければならない。

 15  品質認証試験

5.2

の試験群

5.2

の試験段階

性能水準 V2

性能水準 W2

性能水準 X2

c n c 

P

AP

BP

CP

DP

EP

FP

GP

HP

P1

−5

AP1

―13

BP1

―6

CP1-

DP1

―2

EP1

―6

FP1

―5

GP1

HP1

5n

m

p

q

q

0

c1 

c2 

c3 

c4 

c5 

c6 

c7 

c8

5n1 + m1 + p1 +q1 

n1 

n1 

n1 

n1 

n1 

m1 

p1 

q1

0

c1a 

c2a 

c3a 

c4a 

c5a 

c6a 

c7a 

c8a

5n2

m2

p2

q2 

n2 

n2 

n2 

n2 

n2 

m2 

p2 

q2

0

c1b 

c2b 

c3b 

c4b 

c5b 

c6b 

c7b 

c8b

試験群全体の許容不良品総数

cT cTa 

cTb 

  n:最少試料数 
注  c:試験群ごとの許容不良品数

m

:試験群 FP を受ける最少試料数

p

:試験群 GP を受ける最少試料数

注  q:試験群 HP を受ける最少試料数

6.1.2

方法 2  方法 1 の代わりに,JIS C 5401-1 の  3.3.3(品質認証の認可)に示す第 2 の方法による品質

認証手順を用いてもよい。

なお,品質認証試験には次の検査を含める。

a)

連続する 3 ロットを対象とする  6.2.1 に従うロットごとの試験

b)

その内の 1 ロットから選出したサンプルを対象とする  6.2.2 に従う定期試験

c)

6.2.2

の検査群 D2 にかかわる補足的な品質認証試験


52

C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

作成の手引き

6.2 

品質確認試験

6.2.1 

ロットごと試験  表には,要求する検査水準(IL)及び JIS Z 9015-1 による合格品質水準(AQL

データを記入して完成する。また,最低評価水準は JIS C 5401-4 の 4.5.4(品質確認試験,ロットごと試験)

に示す。個別規格には,その最低評価水準か,又はより厳しい評価水準を示してもよい。

なお,個別規格に二つ以上の評価水準を含める場合は,これらの評価水準を含めるために表を拡張して

もよい。適切な評価水準を示す識別文字を選択し,これらを“Y2”

“Z2”などと規定してもよい。


53

C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

6.2

品質確認試験

6.2.1

ロットごと試験  一つの検査ロットの中にまとめてもよい構造的に類似なコネクタ[JIS C 5401-1

の  3.1.2(構造的に類似なコネクタ)参照]は,

(対応する形式又は形状認識名を記入)である。

性能水準と評価水準との適用可能な組合せを次の表に示す(適切な組合せを記入する。

 16  ロットごと試験

検査群

5.2

の試験段階

5.

2 の要求事項及び厳しさに

よる試験又は測定

JIS C 5402-1-00

試験番号

評価水準 Y2

評価水準 Z2

IL

(14)

 AQL

(14)

 IL

(14)

 AQL

(14)

A1 P1

外観 1a

A2 P1

寸法及び質量

(13)

 1b

B1

P4

P5

絶縁抵抗

耐電圧

3a

4a

B2

AP2

AP1.1

AP1.2

ゲージ保持力(弾性コンタク

ト) 
結合力及び離脱力 
又は

挿入力及び引抜力

16e

13a

13b

備考  (出荷対象ロットの成績証明書)与えられる情報:検査群 B1  及び B2 の結果

(

13

当該ロットを製造するために用いた単体部品に関する検査結果記録は,

この要求事項のすべて又は一部を満たすため

に用いてもよい。

(

14

)  JIS Z 9015-1

による。


54

C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

作成の手引き

6.3 

定期試験  6.2.2  定期試験  表には,  試料数(n)及び試験群ごとの許容不良品数(c)を記入して

完成する。また,最小試料数は JIS C 5401-4 の  4.5.5(品質確認試験,定期試験)に示す。個別規格には

その最小試料数か,又はそれ以上の試料数を規定してもよい。

なお,ターミナルのはんだ付け性を試験する場合は,ターミナル数を規定する。


55

C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

6.2.2

定期試験  完全な試験群(検査群 D1 及び D2)での定期試験は,試験 P1∼P5 に合格し,かつ,ロ

ットごと試験(6.2.1 参照)に合格したロットから抽出した試料に対して実施する。

単一の試験段階(検査群 C1, C2 及び C3)での定期試験は,ロットごと試験(6.2.1 参照)に既に合格

している試料に対して実施する。性能水準及び評価水準の適用可能な組合せを次の表に示す(適切な組合

せを記入する。

 17  定期試験

検査群

5.2

の試験段階

5.2

の要求事項及び厳しさ

による試験又は測定

JIS C 

5402-1-100

試験番号

p

評価水準 Y2

評価水準 Z2

n c n c 

C1 AP4.1

はんだ付け性 12a

1

ターミナ

ル数“a

ターミナ

ル数“a”

ターミナ

ル数“a

ターミナ
ル数“a

C2 P3

接触抵抗 2a

3

C3 AP4.2

はんだ耐熱性 12d

12

D1

AP1.1

AP1.2

AP5

AP1

AP11-

AP13

CP1

品質認証の維持

結合力及び離脱力

又は

挿入力及び引抜力

耐電圧

13a

13b

4a

36

抜け

D2

AP1.2

AP5

AP1-13

BP1-6

CP1

DP1-2

EP1-6

FP1-5

GP1

HP1

初期品質認証試験(6.1.2

を適用する場合)

挿入力及び引抜力

耐電圧

13b

4a

備考  出荷対象ロットの保証数量に対し与えられる情報:認証試験成績書

  p:周期(月) 
注  n:最小試料数 
注  c:試験群ごとの許容不良品数


56

C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

作成の手引き

6.4 

長期保管後の出荷,再検査  個別規格に含まれる長期保管後の出荷に関連する情報は,JIS C 5401-1

の 4.4(長期保管後の出荷)に従う。また,表には,適用する検査水準(IL)及び合格品質水準(AQL

を記入して完成し,最長保管期間を“b”か月と規定し,かつ,再検査後の効力は“c”か月に延長される。

なお,検査群 C1 に関し,試料数・ターミナル数を“d”

,許容するターミナルの不良品数を“e”と規定

する。


57

C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

6.3

長期保管後の出荷,再検査  ロットに出荷許可が下りた後 b か月以上保管されていたコネクタは,

出荷に先立って,次の表に従って試験を実施する。また,あるロットが再検査に合格した場合は,その品

質は更に c か月間有効とみなされる。

 18  再検査

検査群

5.2

の試験段階

5.2

の要求事項及び厳しさ

による試験又は測定

JIS C 

5402-1-100

試験番号

A1 P1

外観 1a

IL

(15)

AQL

C1 AP4.1

はんだ付け性 12a

ターミナル数:

d

不良品数:

e”ターミナル

(

15

)  JIS Z 9015-1

による。


58

C 5401-3-001

:2005 (IEC 61076-3-001:1999)

附属書 A(規定)新規試験及び追加試験設備段階

特性試験の追加が適切である場合には,JIS C 5401-4 の 4(試験及び試験計画)による。

適用する試験段階は,試験群 HP に追加する。

これらの試験段階が JIS C 0010 又は JIS C 5402 に規定されていない場合には,その試験方法の詳細をこ

の附属書に規定する。

この附属書を個別規格に追加する。