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まえがき

この規格は,工業標準化法に基づいて,日本工業標準調査会の審議を経て,通商産業大臣が制定した日

本工業規格である。

この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権(平成 5 年 12 月 31

日以前に出願された出願公開後の実用新案登録出願を含む。

)又は出願公開後の実用新案登録出願に抵触す

る可能性があることに注意を喚起する。主務大臣及び日本工業標準調査会は,このような技術的性質をも

つ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認につい

て,責任はもたない。

部編成規格  この規格の部編成規格は,次による。

JIS

C

5201

群  電子機器用固定抵抗器

JIS

C

5201-1

第 1 部:品目別通則

JIS

C

5201-2

第 2 部:品種別通則:低電力非巻線固定抵抗器

JIS

C

5201-2-1

第 2 部:ブランク個別規格:低電力非巻線固定抵抗器  評価水準 E

JIS

C

5201-2-2

第 2 部:ブランク個別規格:低電力非巻線固定抵抗器  評価水準 F

JIS

C

5201-4

  第 4 部:品種別通則:電力形固定抵抗器

JIS

C

5201-4-1

  第 4 部:ブランク個別規格:電力形固定抵抗器  評価水準 E

JIS

C

5201-4-2

  第 4 部:ブランク個別規格:電力形固定抵抗器  評価水準 F

JIS

C

5201-4-3

  第 4 部:ブランク個別規格:電力形固定抵抗器ヒートシンク付き  評価水準 H

JIS

C

5201-5

  第 5 部:品種別通則:精密級固定抵抗器

JIS

C

5201-5-1

  第 5 部:ブランク個別規格:精密級固定抵抗器  評価水準 E

JIS

C

5201-5-2

  第 5 部:ブランク個別規格:精密級固定抵抗器  評価水準 F

JIS

C

5201-6

  第 6 部:品種別通則:個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器(予定)

JIS

C

5201-6-1

  第 6 部:ブランク個別規格:個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器  同一抵抗値及

び同一定格電力評価  評価水準 E(予定)

JIS

C

5201-6-2

  第 6 部:ブランク個別規格:個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器  異種抵抗値又

は異種定格電力  評価水準 E(予定)

JIS

C

5201-8

  第 8 部:品種別通則:チップ固定抵抗器

JIS

C

5201-8-1

  第 8 部:ブランク個別規格:チップ固定抵抗器  評価水準 E


C 5201-4-1 : 1998

1 

目次

ページ

序文

1

ブランク個別規格

1

  個別規格の識別

1

  抵抗器の識別

2

第 1 章  一般事項

1.

  一般事項

3

1.0

  適用範囲

3

1.1

  推奨する取付方法(挿入用)

3

1.2

  寸法,定格及び特性

3

1.3

  引用規格

3

1.4

  表示

4

1.5

  発注情報

4

1.6

  出荷対象ロットの成績証明書

4

1.7

  追加情報

4

1.8

  品目別通則及び/又は品種別通則への追加,又はより厳しい要求事項

4

第 2 章  検査の要求事項

2.

  検査の要求事項

4

2.1

  手順

4


日本工業規格

JIS

 C

5201-4-1

: 1998

電子機器用固定抵抗器−

第 4 部:ブランク個別規格:

電力形固定抵抗器

評価水準 E

Fixed resistors for use in electronic equipment

Part 4 : Blank detail specification :

Fixed power resistors

Assessment level E

序文  この規格は,1983 年に第 1 版として発行された IEC 60115-4-1, Fixed resistors for use in electronic

equipment Part 4 : Blank detail specification : Fixed power resistors Assessment level E

及び Amendment 1 : 1993

を基に技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,原国際規格にはない事項である。また,IEC 規格番号

は,1997 年 1 月 1 日から実施の IEC 規格新番号体系によるものであり,これより前に発行された規格に

ついても,規格番号に 60000 を加えた番号に切り替えた。これは,番号だけの切り替えであり内容は同一

である。

ブランク個別規格  この規格は,品種別通則[JIS C 5201-4(電子機器用固定抵抗器−第 4 部:品種別通

則:電力形固定抵抗器)]の補足規格で個別規格の様式及び最少限必要な要求事項を規定したものである。

これらの要求事項を満足しない個別規格は,日本工業規格には基づいていないものとみなす。

個別規格を作成する場合は,JIS C 5201-4 の 1.4(個別規格に規定する事項)の内容に基づいて入れる。

個別規格の最初のページとなるこの規格の次の表の括弧内に記載の数字は,指定の位置に記入する次の

事項と対応する。

個別規格の識別

(1)

個 別 規 格 を 管 理 す る 国 内 標 準 化 機 関 又 は 国 際 電 気 標 準 会 議   (IEC  : International electrotechnical

commission)

の名称。

(2)

個別規格の国内規格番号,発効年及び国内の制度で要求される追加事項又は IEC 規格番号,版及び発

行年。

(3)

品目別通則の国内規格番号及び発効年又は IEC 規格番号,版及び発行年。

(4)

ブランク個別規格の国内規格番号又は IEC 規格番号。


2

C 5201-4-1 : 1998

抵抗器の識別

(5)

抵抗器の品種についての要約説明。

(6)

代表的な構造の説明(適用する場合)

備考  抵抗器がプリント配線板用に設計されていない場合には,個別規格のこの欄にそのことを明記

する。

(7)

互換性の上で重要な主要寸法を記載した外形図,及び/又は外形に関する国内又は国際規格の引用。

この図は,個別規格の附属書に示してもよい。

(8)

適用範囲又は適用グループの範囲及び/又は評価水準。

備考  個別規格に用いる評価水準は,JIS C 5201-4 の 3.3.3(評価水準)から選択する。このブランク

個別規格の試験の群構成と同じであれば個別規格に複数の評価水準を規定してもよい。

(9)

重要な特性に関する参照データ。

例  日本工業標準調査会

(1)

個別規格の番号

(2)

JIS C 5201-4-1 

(ブランク個別規格番号)

(4)

電子部品用固定抵抗器−

第 1 部:品目別通則

JIS C 5201-1 : 1998

(3)

外形図:

表 I  参照)

電力形固定抵抗器 (5)

絶縁形/非絶縁形

(6)

    (第三角法)

(規定寸法内であれば,外形は異なって
もよい。

(7)

評価水準:E 
安定性クラス:...%

(8)

この個別規格で認証された抵抗器の詳しい内容は,

品質認証電子部品一覧表 (QPL) に示

されている。

参考  この記載は,IECQ の場合に適用する。

(9)


3

C 5201-4-1 : 1998

第 1 章  一般事項 

1.

一般事項

1.0

適用範囲  この規格は,JIS C 5201-4 を品種別通則とするブランク個別規格で,定格電力が 1W を超

え 1 000W までの電力で外部環境から保護するための外装又は塗装を施された電力形固定抵抗器  評価水

準 E について規定する。

備考  この規格の対応国際規格を,次に示す。

IEC 60115-4-1 : 1983, Fixed resistors for use in electronic equipment Part 4 : Blank detail

specification : Fixed power resistors Assessment level E Amendment 1 : 1993

1.1

推奨する取付方法(挿入用)  JIS C 5201-4 の 1.4.2(取付け)を参照。

1.2

寸法,定格及び特性

表 I  寸法,定格及び特性

最大寸

形式 70℃での

定格電力

W

素子最高電圧

(V d. c.  又は

Va. c.

の実効値)

アイソレーション電圧

(V d.c.  又は

Va. c.

の実効値)

L

D

d

(公称)

許容差:

寸法はすべて,ミリメートル (mm)

抵抗値範囲* ...

Ω∼...Ω

定格抵抗値の許容差 ...±...%

耐候性カテゴリ

−/−/−

減圧 8kPa

安定性クラス ...%

抵抗値変化の限界:

−  長期試験

± (...%R+...

Ω)

−  短期試験

± (...%R+...

Ω)

温度による抵抗値変化

±

R

⊿R

...%

又は

α

 : ...10

-6

/

温度上昇

≦...℃

*

推奨値は,JIS C 5063(抵抗器及びコンデンサの標準数列)の E 標準数列である。

参考  上記の%R”の は,各試験の試験前の抵抗値を示す。

1.2.1

負荷軽減  この規格の抵抗器は,次の軽減曲線によって負荷を軽減する。

(適切な軽減曲線は,個別規格に規定する。

備考  JIS C 5201-4 の 2.2.3(定格電力)を参照。

1.3

引用規格  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成

する。これらの引用規格は,その最新版(追補・Amendment を含む。

)を適用する。

JIS C 5063

  抵抗器及びコンデンサの標準数列

備考  IEC 60063 : 1963, Preferred number series for resistors and capacitors 並びに Amendment 1 : 1967

及び Amendment 2 : 1977 が,この規格と一致している。

JIS C 5201-1

  電子機器用固定抵抗器−第 1 部:品目別通則

備考  IEC 60115-1 : 1982, Fixed resistors for use in electronic equipment Part 1 : Generic specification 並


4

C 5201-4-1 : 1998

びに Amendment 2 : 1987, Amendment 3 : 1989 及び Amendment 4 : 1993 からのすべての引

用事項は,この規格の該当事項と同等である。

JIS C 5201-4

  電子機器用固定抵抗器−第 4 部:品種別通則:電力形固定抵抗器

備考  IEC 60115-4 : 1982, Fixed resistors for use in electronic equipment Part 4 : Sectional specification :

Fixed power resistors

からのすべての引用事項は,この規格の該当事項と同等である。

JIS Z 9015

  計数調整型抜取検査(供給者を選択できる場合の購入検査)

備考  IEC 60410 : 1973, Sampling plans and procedures for inspection by attributes からのすべての引用

事項は,この規格の該当事項と同等である。

1.4

表示  抵抗器及び包装への表示は,品目別通則  (JIS C 5201-1)  の 2.4(表示)による。

備考  抵抗器及び包装への表示の詳細は,個別規格による。

1.5

発注情報  この規格を適用する抵抗器を発注する場合には,少なくとも次の事項を明確に示すか又

は記号の形で示す。

a)

定格抵抗値

b)

定格抵抗値の許容差

c)

個別規格の番号及び発効年又は版(発行年)並びに形式

1.6

出荷対象ロットの成績証明書  要求する,又は要求しない

1.7

追加情報(検査目的以外のもの)

1.8

品目別通則及び/又は品種別通則への追加,又はより厳しい要求事項

備考  追加又はより厳しい要求事項は,不可欠な場合にだけ規定する。

第 2 章  検査の要求事項 

2.

検査の要求事項

2.1

手順

2.1.1

品質認証のための手順は,JIS C 5201-4 の 3.2(品質認証)による。

2.1.2

品質確認検査のための試験計画(

表 II)には,抜取方法,周期,厳しさ及び要求事項を規定する。

検査ロットの構成は,JIS C 5201-4 の 3.3.1(検査ロットの構成)による。

備考  乾燥が要求される場合には,JIS C 5201-1 の 4.3(乾燥)の手順 による。

表 II  品質確認検査のための試験計画

備考1.  試験の項目番号及び要求性能は,JIS C 5201-1による。ただし,抵抗値変化の要求事項は,JIS C 5201-4の表 I

及び

表 II から適切に選択する。

2.

検査水準及び合格品質水準は,JIS Z 9015 から選択する。

3.

この表で, 

p

 

n

 

c

 D

 ND

周期(月) 
試料数 
合格判定個数(許容不良数)

破壊試験 
非破壊試験

 IL

=  検査水準

 AQL

=  合格品質水準

JIS Z 9015

参考  表中の要求性能の欄の“%R”の は,各試験の試験前の抵抗値を示す。


5

C 5201-4-1 : 1998

表 II  品質確認検査のための試験計画(続き)

IL AQL

備考 2.参照)

項目番号及び試験

備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

備考 1.参照)

要求性能

備考 1.参照)

群 検査 
(ロットごと)

副群 A1 ND

S-4

1.0%

4.4.1

外観

4.4.1

による。

表示が明りょうで,この

規格の 1.4 による。

副群 A2 ND

S-4

1.0%

4.4.2

寸法(ゲージ法)

...mm

のゲージ板を使用(適用

する場合)

この規格の

表 による。

4.5

抵抗値

4.5.2

による。

群 検査 
(ロットごと)

副群 B1 ND

S-3

1.0%

4.7

耐電圧(絶縁形抵抗器だ
けに適用)

方法:...

絶縁破壊又 はフラッシ
ュオーバがない。

副群 B2 D

S-3

2.5%

4.17

はんだ付け性

エージングなし。 
方法:...

端子は,良好にはんだの
ぬれができ るめっきで
なければならない。

又は,適用する場合は,
はんだの流れは...秒間以
内とする。

4.16

端子強度

引張り試験

外観

外観に損傷がない。

抵抗値

R

≦± (...%R+...

Ω)

4.13

過負荷

JIS C 5201-4

の 2.3.4(過負荷)

による。

外観

外観に損傷 がなく表示

が明りょうである。

抵抗値

R

≦± (...%R+...

Ω)

副群 B3 ND

S-3

2.5

4.8.4.2 

抵抗温度係数

この試験は抵抗温度係数が±

50

×10

-6

/

℃未満を要求される

場合だけに適用する。20℃∼

70

℃∼20℃の 1 サイクルだけ。

α

 : ...10

6

/


6

C 5201-4-1 : 1998

試料数及び

合格判定個数

備考 3.参照)

項目番号及び試験

備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

備考 1.参照)

p

n

c

要求性能

備考 1.参照)

群 検査 
(定期的)

副群 C1A D

3

10

副群 C1 の試料の半分

4.16

端子強度

引張り,

曲げ及びねじり試験

(適

用する場合)

外観

外観に損傷がない。

抵抗値

R

≦± (...%R+...

Ω)

4.18

はんだ耐熱性

方法:...

外観

外観に損傷 がなく表示
が明りょうである。

抵抗値

R

≦± (...%R+...

Ω)

副群 C1B D

3

10

副群 C1 の試料の残り半分

4.19

温度急変

θ

A

=カテゴリ下限温度

θ

B

=カテゴリ上限温度

外観

外観に損傷がない。

抵抗値

R

≦± (...%R+...

Ω)

4.20

バンプ(又は 4.21 衝撃)

取付方法:この規格の 1.1 によ
る。

ピーク加速度:400m/s

2

バンプ回数:4 000

又は,

ピーク加速度:98m/s

2

バンプ回数:1 000

外観

外観に損傷がない。

抵抗値

R

≦± (...%R+...

Ω)

取付方法:この規格の 1.1 によ
る。

4.21

衝撃(又は 4.20 バンプ)

ピーク加速度:500m/s

2

作用時間:11ms

パルス波形:正弦半波

外観

外観に損傷がない。

抵抗値

R

≦± (...%R+...

Ω)

4.22

振動(正弦波)

取付方法:この規格の 1.1 によ

る。

掃引耐久試験

振動数範囲:...Hz∼...Hz

JIS C 5201-4 の 2.3.2

[振動

(正

弦波)

]参照)

振幅:0.75mm 又は 98m/s

2

(いずれか緩い方)

総試験時間:6h

外観

外観に損傷がない。

抵抗値

R

≦± (...%R+...

Ω)


7

C 5201-4-1 : 1998

試料数及び

合格判定個数

備考 3.参照)

項目番号及び試験

備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

備考 1.参照)

p

n

c

要求性能

備考 1.参照)

副群 C1 D

3

20

副群 C1A 及び副群 C1B の全
試料

4.23

一連耐候性

−  高温(耐熱性)

−  温湿度サイクル(12+12

時間サイクル),最初の
サイクル

−  低温(耐寒性)

−  減圧

8kPa

−  温湿度サイクル(12+12

時間サイクル),残りの
サイクル

−  直流負荷(非巻線だけに

適用)

外観

外観に損傷がない。

抵抗値

R

≦± (...%R+...

Ω)

絶縁抵抗(絶縁形抵抗器だけ
に適用)

R

≧100M

副群 C2 D

3

20

4.25.2 

室温での耐久性

試験時間:1 000h

48h

500h

及び 1 000h での検査:

外観

外観に損傷がない。

抵抗値

R

≦± (...%R+...

Ω)

1

000h

での検査:

絶縁抵抗(絶縁形抵抗器だけ
に適用)

R

≧1G

個別規格に要求があれば,試験

を 8 000h まで延長する。

2

000h

,4 000h 及び 8 000h での

検査:

抵抗値

R

≦± (...%R+...

Ω)

(結果は情 報としてだ
けに扱う。

副群 C3 ND

3

20

4.8

温度による抵抗値変化

カテゴリ下限温度/20℃

±

R

R

...%

又は

α

 : ...10

-6

/

20

℃/カテゴリ上限温度

±

R

R

...%

又は

α

 : ...10

-6

/

群 検査 
(定期的)

副群 D1 D

12

20

4.24

高温高湿(定常)

1)  4.24.2.1

第 1 のグループ:試料数 6

第 2 のグループ:試料数 7

第 3 のグループ:試料数 7

2)  4.24.2.2


8

C 5201-4-1 : 1998

試料数及び

合格判定個数

備考 3.参照)

項目番号及び試験

備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

備考 1.参照)

p

n

c

要求性能

備考 1.参照)

第 1 のグループ:試料数 10

第 2 のグループ:試料数 10

外観

外観に損傷がなく,表示
が明りょうである。

抵抗値

R

≦± (...%R+...

Ω)

絶縁抵抗(絶縁形抵抗器だけ
に適用)

R

≧100M

副群 D2 ND

36

13

4.14

温度上昇

R

≦...℃

副群 D3 D

36

20

4.4.3

寸法(詳細)

この規格の

表 による。

試験時間:1 000h

 48h

500h

及び 1 000h での検査:

外観

外観に損傷がない。

抵抗値

R

≦± (...%R+...

Ω)

 1

000h

での検査:

4.25.3

カ テ ゴ リ 上 限 温 度 で

の耐久性

絶縁抵抗(絶縁形抵抗器だけ
に適用)

R

≧1G

副群 D4 D

36

20

4.25

他の温度での耐久性(適
用する場合)

この副群は JIS C 5201-4 の 2.2.3
(定格電力)に規定するものと

異なる軽減曲線を個別規格で要
求する場合だけに適用する。

試験時間:1 000h

48h

500h

及び 1 000h での検査:

外観

外観に損傷がない。

抵抗値

R

≦± (...%R+...

Ω)

副群 C2 と同じ)

1

000h

での検査:

絶縁抵抗(絶縁形抵抗器だけ

に適用)

R

≧1G

副群 D5 D

36

13

4.9

リアクタンス(適用する
場合)

s

...

R

L

又は

mH

...

L

4.15

抵抗体強度(適用する場
合)

JIS C 5201-4

の 2.3.5(抵抗体強

度による)

破損又はク ラックがな
い。


9

C 5201-4-1 : 1998

電子部品 JIS 原案作成第 1 委員会  構成表

氏名

所属

(委員長)

平  山  宏  之

東京都立科学技術大学名誉教授

(委員)

吉  田  裕  道

東京都立工業技術センター

中  西  忠  雄

防衛庁装備局

藤  倉  秀  美

財団法人日本電気用品試験所

岩  田      武

村  岡  桂次郎

松  永  荘  一

通商産業省  機械情報産業局電子機器課

兼  谷  明  男

通商産業省  工業技術院標準部情報電気

規格課

福  原      隆

沖電気工業株式会社

勝  田  昭  彦

株式会社ケンウッド

山  本  克  己

ソニー株式会社

西  林  和  男

株式会社東芝

中  島  眞  人

日本電気株式会社

中  野      武

松下通信工業株式会社

三  宅  敏  明

松下電器産業株式会社

山  本  佳  久

三菱電機株式会社

高  久  侑  也

エルナー株式会社

山  名  法  明

株式会社村田製作所

三  宅  邦  彦

松尾電機株式会社

小  嶋  敏  博 KOA 株式会社

曽我部  浩  二

株式会社村田製作所

会  田      洋

東光株式会社

中  山  孝  之

北陸電気工業株式会社

岡  村  郁  生

セイデンテクノ株式会社

山  本  圭  一

進工業株式会社

桃  野  英  治

釜屋電機株式会社

秦      考  生

松下電子部品株式会社

江  口  正  則

東京コスモス電機株式会社

尾  村  博  幸

日本ケミコン株式会社

(事務局)

塚  田  潤  二

社団法人日本電子機械工業会

中  山  正  美

社団法人日本電子機械工業会

JIS C 5201-4

分科会  構成表

氏名

所属

(主査)

岡  村  郁  生

セイデンテクノ株式会社

(委員)

秦      考  生

松下電子部品株式会社

山  本  圭  一

進工業株式会社

小  嶋  敏  博 KOA 株式会社

宮  島  明  美

多摩電気工業株式会社

笹  川  敞  雄

理研電具製造株式会社

(事務局)

塚  田  潤  二

社団法人日本電子機械工業会

中  山  正  美

社団法人日本電子機械工業会

文責  岡村  郁生