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C 5201-2:2014 (IEC 60115-2:2014)

(1)

目  次

ページ

序文

1

1

  適用範囲

1

2

  引用規格

1

3

  用語及び定義,製品技術並びに性能分類

2

3.1

  用語及び定義

2

3.2

  製品技術

3

3.3

  抵抗器の用途による性能分類

3

4

  推奨特性

4

4.1

  一般事項

4

4.2

  形状及び寸法

4

4.3

  推奨耐候性カテゴリ

6

4.4

  公称抵抗値

6

4.5

  公称抵抗値の許容差

6

4.6

  定格電力(P

70

6

4.7

  素子最高電圧(U

max

7

4.8

  絶縁電圧(U

ins

7

4.9

  絶縁抵抗(R

ins

7

5

  試験及び試験の厳しさ

7

5.1

  試料の準備

7

5.2

  試験

10

6

  要求性能

16

6.1

  一般事項

16

6.2

  抵抗値変化の限界

16

6.3

  絶縁抵抗

17

6.4

  温度による抵抗値変化

18

6.5

  温度上昇

18

6.6

  はんだ付け性

18

6.7

  耐炎性

18

7

  表示,包装及び発注情報

19

7.1

  抵抗器本体への表示

19

7.2

  包装

19

7.3

  包装の表示

19

7.4

  発注情報

19

8

  個別規格

19

8.1

  一般事項

19


 
C 5201-2:2014 (IEC 60115-2:2014)  目次

(2)

ページ

8.2

  個別規格に規定する事項

19

9

  品質評価手順

21

9.1

  一般事項

21

9.2

  定義

21

9.3

  検査ロットの構成

21

9.4

  品質認証(QA)手順

22

9.5

  品質確認検査

22

9.6

  能力認証(CA)手順

23

9.7

  技術認証(TA)手順

23

9.8

  長期保管後の出荷

23

9.9

  出荷ロット成績証明書

23

9.10

  適合証明書(CoC

23

附属書 A(規定)ジャンパー(Ω)抵抗器

33

附属書 B(参考)ラジアル形状にリード線端子を成形した抵抗器の形式記号

35

附属書 C(規定)室温での耐久性

43

附属書 D(参考)文字記号及び略語

47

附属書 E(参考)旧版との相互参照

50


C 5201-2:2014 (IEC 60115-2:2014)

(3)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 14 条によって準用する第 12 条第 1 項の規定に基づき,一般社団法人電子

情報技術産業協会(JEITA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業

規格を改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業

規格である。

これによって,JIS C 5201-2:1998 は改正され,この規格に置き換えられた。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

JIS C 5201

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS C 5201-1

第 1 部:品目別通則

JIS C 5201-2

第 2 部:品種別通則:低電力皮膜固定抵抗器

JIS C 5201-2-1

第 2 部:ブランク個別規格:低電力非巻線固定抵抗器  評価水準 E

JIS C 5201-2-2

第 2 部:ブランク個別規格:低電力非巻線固定抵抗器  評価水準 F

JIS C 5201-4

第 4 部:品種別通則:電力形固定抵抗器

JIS C 5201-4-1

第 4 部:ブランク個別規格:電力形固定抵抗器  評価水準 E

JIS C 5201-4-2

第 4 部:ブランク個別規格:電力形固定抵抗器  評価水準 F

JIS C 5201-4-3

第 4 部:ブランク個別規格:電力形固定抵抗器,ヒートシンク付き  評価水準 H

JIS C 5201-5

第 5 部:品種別通則:精密級固定抵抗器

JIS C 5201-5-1

第 5 部:ブランク個別規格:精密級固定抵抗器  評価水準 E

JIS C 5201-5-2

第 5 部:ブランク個別規格:精密級固定抵抗器  評価水準 F

JIS C 5201-6

第 6 部:品種別通則:個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器

JIS C 5201-6-1

第 6 部:ブランク個別規格:個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器  同一抵抗値及

び同一定格電力  評価水準 E

JIS C 5201-6-2

第 6 部:ブランク個別規格:個別測定可能な固定ネットワーク抵抗器  異種抵抗値又

は異種定格電力  評価水準 E

JIS C 5201-8

第 8 部:品種別通則:表面実装用固定抵抗器

JIS C 5201-8-1

第 8-1 部:ブランク個別規格:一般電子機器向け表面実装用低電力皮膜固定抵抗器,

製品性能水準 G

JIS C 5201-9

第 9 部:品種別通則:個別測定可能な表面実装用固定ネットワーク抵抗器

JIS C 5201-9-1

第 9-1 部:ブランク個別規格:個別測定可能な表面実装用固定ネットワーク抵抗器−

評価水準 EZ


日本工業規格

JIS

 C

5201-2

:2014

(IEC 60115-2

:2014

)

電子機器用固定抵抗器−

第 2 部:品種別通則:低電力皮膜固定抵抗器

Fixed resistors for use in electronic equipment-

Part 2: Sectional specification: Leaded fixed low power film resistors

序文

この規格は,2014 年に第 3 版として発行された IEC 60115-2 を基に,技術的内容及び構成を変更するこ

となく作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

1

適用範囲

この規格は,リード線端子付き低電力皮膜固定抵抗器(以下,抵抗器という。

)について規定する。

これらの抵抗器は,通常,外形形状,外形寸法及び製品技術によって識別している。これらの抵抗器の

抵抗素子は,通常,塗装樹脂で保護している。これらの抵抗器は,リード線端子をもち,主に挿入実装技

術でプリント配線板上に実装することを意図している。

この規格は,推奨定格及び推奨特性を規定すること,JIS C 5201-1 から,これらの抵抗器に対して適切

な品質評価手順,試験及び測定方法を選択すること並びにこの品種の抵抗器の一般的要求性能を提供する

ことを目的とする。

ジャンパー(0 Ω)抵抗器にこの規格を適用する場合は,

附属書 による。

1)

  JIS C 5201-1 を品種別通則とする電子機器用固定抵抗器の品種別通則では,低電力皮膜固定抵

抗器の定格電力は,4 W 未満である。

注記  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 60115-2:2014

,Fixed resistors for use in electronic equipment−Part 2: Sectional specification:

Leaded fixed low power film resistors(IDT)

なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,

“一致している”こ

とを示す。

2

引用規格

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。

は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 0806-1

  自動実装用部品のパッケージング−第 1 部:アキシャルリード線端子部品の連続テープ

によるパッケージング

注記  対応国際規格:IEC 60286-1,Packaging of components for automatic handling−Part 1: Tape



C 5201-2:2014 (IEC 60115-2:2014)

packaging of components with axial leads on continuous tapes(IDT)

JIS C 5005-2:2010

  品質評価システム−第 2 部:電子部品及び電子パッケージのための抜取検査方式

の選択及び活用(統計的工程品質限界の評価手順)

注記  対応国際規格:IEC 61193-2:2007,Quality assessment systems−Part 2: Selection and use of

sampling plans for inspection of electronic components and packages(IDT)

JIS C 5062:2008

  抵抗器及びコンデンサの表示記号

注記  対応国際規格:IEC 60062:2004,Marking codes for resistors and capacitors(MOD)

JIS C 5201-1:2011

  電子機器用固定抵抗器−第 1 部:品目別通則

注記  対応国際規格:IEC 60115-1:2008,Fixed resistors for use in electronic equipment−Part 1: Generic

specification(MOD)

JIS C 60068-1:1993

  環境試験方法−電気・電子−通則

注記  対応国際規格:IEC 60068-1:2013,Environmental testing−Part 1: General and guidance(IDT)

JIS C 60068-2-1:2010

  環境試験方法−電気・電子−第 2-1 部:低温(耐寒性)試験方法(試験記号:

A)

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-1,Environmental testing−Part 2-1: Tests−Test A: Cold(IDT)

JIS C 60068-2-2:2010

  環境試験方法−電気・電子−第 2-2 部:高温(耐熱性)試験方法(試験記号:

B)

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-2,Environmental testing−Part 2-2: Tests−Test B: Dry heat(IDT)

JIS C 60068-2-6:2010

  環境試験方法−電気・電子−第 2-6 部:正弦波振動試験方法(試験記号:Fc)

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-6:2007,Environmental testing−Part 2-6: Tests−Test Fc: Vibration

(sinusoidal)(IDT)

JIS C 60068-2-20:2010

  環境試験方法−電気・電子−第 2-20 部:試験−試験 T─端子付部品のはんだ

付け性及びはんだ耐熱性試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-20:2008,Environmental testing−Part 2-20: Tests−Test T: Test

methods for solderability and resistance to soldering heat of devices with leads(IDT)

IEC 60294:2012

,Measurement of the dimensions of a cylindrical component with axial terminations

IEC 60301

,Preferred diameters of wire terminations of capacitors and resistors

IEC 61760-1:2006

,Surface mounting technology−Part 1: Standard method for the specification of surface

mounting components (SMDs)

3

用語及び定義,製品技術並びに性能分類

注記  この規格で用いる文字記号及び略語を,附属書 に示している。

3.1

用語及び定義

この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS C 5201-1 の 2.2(用語及び定義)によるほか,次による。

3.1.1

アキシャル形状(axial style)

本体の長手方向の軸に沿って両側に延びるリード線端子をもつ部品の形状。

3.1.2

ラジアル形状(radial style)

部品の片側から本体の縦又は対角軸に沿ってリード線端子をもつ部品の形状。


3

C 5201-2:2014 (IEC 60115-2:2014)

注記  抵抗器本体の内部,又は抵抗器本体の外側の一方若しくは両方でリード線端子を成形してもよい。

3.1.3A

絶縁形抵抗器(insulated resistor)

絶縁電圧及び絶縁抵抗の規定がある,かつ,この規格に規定する適切な試験によって検証した,製造業

者が絶縁形と宣言した抵抗器。

注記  絶縁形とするには,樹脂塗装などで抵抗素子の保護があっても,絶縁特性の適切な評価が必要

である。

3.2

製品技術

3.2.1

金属皮膜技術

金属皮膜抵抗器の抵抗素子は,セラミック支持体(core)又は基板(substrate)上に均質に薄く堆積した

金属合金皮膜である。

このような金属合金の代表例は,通常,スパッタリング又は蒸着によって堆積される様々な組成比の,

ニッケル−クロム合金及び窒化タンタルである。金属膜層の代表的な厚さは,50 nm∼4 μm である。

金属皮膜技術は,その材料の選択及び皮膜形成条件によって温度安定性に関して,特定のレベルを目標

とすることができる。

抵抗素子の製品技術の種類を記号で表す場合には,金属皮膜を“M”とする。

注記  “金属皮膜”の一般的な同義語として,主に,表面実装用抵抗器に用いている“薄膜”がある。

3.2.2

メタルグレーズ(金属混合皮膜)技術

メタルグレーズ(金属混合皮膜)抵抗器の抵抗素子は,セラミック支持体又は基板上に堆積させた金属

系混合皮膜の厚膜である。このメタルグレーズは,通常,ガラスの微粉末と酸化ルテニウム(貴金属)又

は窒化タンタル(卑金属)との混合ペーストを用い,円筒形の支持体の表面へのコーティング又は平らな

基板上へ印刷・焼成することによって形成する。メタルグレーズ層の典型的な厚さは,3 μm∼20 μm の範

囲内である。

メタルグレーズ技術は,主に,材料の選択によって温度安定性に関して幾つかの特定のレベルを目標と

することができる。

抵抗素子の製品技術の種類を記号で表す場合には,メタルグレーズを“G”とする。

注記  “メタルグレーズ”の一般的な同義語として,主に,フラットチップの表面実装用抵抗器に用

いている“厚膜”がある。

3.2.3

酸化金属皮膜技術

酸化金属皮膜抵抗器の抵抗素子は,通常,酸化すずにアンチモンを添加した皮膜である。

酸化金属皮膜は,限られた温度安定性での幾つかの特定のレベルを目標とすることができる。

抵抗素子の製品技術の種類を記号で表す場合には,酸化金属皮膜を“X”とする。

3.2.4

炭素皮膜技術

炭素皮膜抵抗器の抵抗素子は,熱分解によってセラミック支持体又は基板上に形成した均質な炭素の皮

膜である。

炭素皮膜抵抗器の温度安定性は,制御可能な値をもたず,一般的には実測抵抗値に依存する。

抵抗素子の製品技術の種類を記号で表す場合には,炭素皮膜を“C”とする。

3.3

抵抗器の用途による性能分類

使用者が,意図する製品用途に応じて抵抗器の特性を選択することができるように,抵抗器の性能分類

を導入する。



C 5201-2:2014 (IEC 60115-2:2014)

この規格では,抵抗器を搭載する機器(最終製品)の要求する機能,性能及び信頼性の特性の違いを反

映するように,次の二つの水準を設定して,抵抗器の適切な検査及び試験計画を適用できるようにした。

これらの水準間で,用途が重複する可能性があることに注意する。

a)

水準 G  水準 G は,一般的な電子機器用途の抵抗器が対象であり,通常,穏やかな環境条件の下で用

いる。ここでの主要な要求は機能である。適用例は,民生用機器及び電気通信ユーザ端末である。

b)

水準 P  水準 P は,次に示す基準で一つ以上に該当する高性能電子機器の用途に用いる。

−  連続動作

−  厳しい環境での使用

−  長寿命

水準 P の適用例は,業務用機器,電気通信伝送装置,産業用制御装置及び測定機器並びに自動車用

機器(ほとんどが客室以外で動作)である。

抵抗器の性能は,特に指定がない場合には,水準 G とする。水準 P は,信頼性が確立している抵抗器の

品質認証を目的とする個別規格に規定することが,適切である。

一つの個別規格で用いる水準は,一つだけでなければならない。

4

推奨特性

4.1

一般事項

個別規格に規定する数値は,4.2 又は 4.9 の値を使用することが望ましい。

4.2

形状及び寸法

アキシャルリード線端子付き抵抗器の形状及び寸法を,

図 に示す。推奨形状及びそれぞれの寸法は,

表 に示す。アキシャルリード線端子付き抵抗器の形式記号は,RA で始める。

注記 1  JIS C 5201-1 の附属書 JA(形名及び表示)に,形式記号(形名ともいう。)の構成が記載さ

れている。

d

抵抗器のリード線径

L

抵抗器の本体長さ

D

抵抗器の本体径

l

抵抗器のリード線の長さ

図 1−アキシャルリード線端子付き抵抗器の形状及び寸法

L

l


5

C 5201-2:2014 (IEC 60115-2:2014)

表 1−アキシャルリード線端子付き抵抗器の推奨形状

単位  mm

形式記号

a)

寸法

本体径

D

c)

本体長さ

L

b)

リード線径

d

d)

リード線の長さ 

最小値

e)

RA_0204 2

0

7

.

0

4±1.0 0.5  21

RA_0207 2

0.5

0

7

0.2

0

.

2


 0.6  21

RA_0309 3

0

5

.

0

9

0.2

5

.

2


 0.7  21

RA_0411 4

0

0

.

1

 11

0.2

5

.

3


 0.7  21

RA_0414 4

0.2

5

.

0


 14

0.2

0

.

4


 0.8  21

RA_0617 6

0.5

1.0


 17

0.2

0

.

4


 0.8  21

RA_0922 9

0.5
3.0


 22

0.2

0

.

5


 0.8  21

a)

  形式記号の 3 文字目は,3.2 に規定する製品技術の文字記号:M=金属皮膜,G=メタルグレーズ,C=

炭素皮膜,X=酸化金属皮膜とする。完全な形式記号の表示例には,RAM0204,RAX0414 などがある。

b)

  抵抗器の本体長さ は,IEC 60294 の規定に従って測定する(5.2.1 参照)。

c)

  抵抗器の本体径 は,IEC 60294 の規定に従って測定する。

d)

  リード線径の公称値 は,許容差とともに IEC 60301 の規定に従う。

e)

  リード線の長さ の最小値は,JIS C 0806-1 によるテーピング包装内でのテープで固定しないリード線の

長さだけに適用する。

個別規格では,

図 に示す寸法 又は寸法 L

c

を用いて,抵抗器のリード線端子に延びる保護塗装樹脂の

はみ出し寸法の許容長さを規定してもよい。

a)

  リード線上に延びた保護塗装樹脂のはみ出し(c

b)

  保護塗装樹脂のはみ出しを含む本体長さ(L

c

 

c

リード線上に延びた保護塗装樹脂のはみ出し

L

c

  保護塗装樹脂のはみ出しを含む本体長さ

図 2−アキシャルリード線端子付き抵抗器のはみ出し寸法の規定方法

保護塗装樹脂のはみ出しの長さを示す

図 2  a)の寸法 は,IEC 60294:2012 の箇条 4(Coating material

extending onto wire terminations)に従って,保護塗装樹脂のはみ出し寸法の最大値に対応するゲージ板によ

って測定する。保護塗装樹脂のはみ出しを含む本体長さを示す

図 2 b)の寸法 L

c

が必要な場合は,個別規格

に測定方法を規定する。

リード線間隔を示す

図 の寸法 は,抵抗器本体の軸から 90°曲げたリード線の中心の最短距離であっ

て,形式記号及びそれに対応する製品の実際の寸法に関連する。また,リード線間隔 は,抵抗器の実装

工程で指定のリード線曲げ加工(フォーミング)を実施したとき,抵抗器本体の側面をプリント配線板上

に置いて実装可能なプリント配線板の孔のグリッド寸法 G(孔間隔)の最小値として定義する。

注記 2  抵抗器のリード線を曲げ加工した図 は,リード線曲げ加工済の抵抗器が入手可能であるこ

とを示すものではない。

c

L

c



C 5201-2:2014 (IEC 60115-2:2014)

注記  寸法 は,曲げ加工したリード線の中心線の距離である。

図 3−アキシャルリード線端子付き抵抗器の曲げ加工したリード線距離

ラジアルリード線端子付き抵抗器のように,抵抗器の形式記号が

表 以外の場合には,個別規格は,抵

抗器について適切に説明する寸法情報を記載しなければならない。

4.3

推奨耐候性カテゴリ

この規格に規定する抵抗器は,JIS C 60068-1 

附属書 A(部品の耐候性カテゴリー)に規定する一般原

則に基づく耐候性カテゴリに分類する。

カテゴリ下限温度,カテゴリ上限温度及び高温高湿(定常)の試験期間は,次の中から選定する。

−  カテゴリ下限温度(LCT)

:−65  ℃,−55  ℃,−40  ℃,−25  ℃及び−10  ℃

−  カテゴリ上限温度(UCT)

:+85  ℃,+100  ℃,+125  ℃,+155  ℃,+175  ℃及び+200  ℃

−  高温高湿(定常)の試験期間:10 日,21 日及び 56 日

低温及び高温の試験温度は,カテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度とする。

4.4

公称抵抗値

公称抵抗値は,JIS C 5201-1 の 2.3.2(公称抵抗値の推奨値)による。

4.5

公称抵抗値の許容差

公称抵抗値の許容差の推奨値は,次による。

±10 %,±5 %,±2 %,±1 %,±0.5 %,±0.25 %,±0.1 %,±0.05 %,±0.02 %及び±0.01 %

4.6

定格電力(P

70

抵抗器を基板に取り付けた状態の,周囲温度 70  ℃での定格電力 P

70

の推奨値は,次による。

0.063 W,0.125 W,0.25 W,0.5 W,1 W 及び 2 W

個別規格では,定格電力を適用する条件を規定しなければならない。

定格温度以上で必要な電力軽減を示す一般的な軽減曲線の例を,

図 に示す。


7

C 5201-2:2014 (IEC 60115-2:2014)

定格電力

P

70

の比

 LCT

70

℃ UCT=MET

周囲温度 T

amb

P

70

 70

℃での定格電力

LCT  カテゴリ下限温度 
UCT  カテゴリ上限温度 
MET  素子最高温度

図 4−軽減曲線

試験手順で使用するカテゴリ上限温度(UCT)は,素子最高温度(MET)に基づくことが望ましい。

曲線上の全ての終点(端点)及び折れ点は,試験によって検証しなければならない。

4.7

素子最高電圧(U

max

直流又は交流(実効値)での素子最高電圧 U

max

の推奨値は,次による。

50 V,100 V,200 V,300 V,500 V,750 V 及び 1 000 V

4.8

絶縁電圧(U

ins

絶縁形抵抗器における直流又は交流(ピーク値)の絶縁電圧 U

ins

の推奨値は,次による。

75 V,150 V,300 V,500 V,750 V,1 100 V 及び 1 500 V

絶縁電圧は,連続的に印加可能な電圧以上とし,U

ins

≧1.42U

max

とする。

4.9

絶縁抵抗(R

ins

絶縁形抵抗器の絶縁抵抗 R

ins

は,1 GΩ 以上であることが望ましい。

注記  試験後の絶縁抵抗 R

ins

に対する要求事項は,6.3 による。

5

試験及び試験の厳しさ

5.1

試料の準備

5.1.1

乾燥

乾燥は,JIS C 5201-1 の 4.3(乾燥)に規定する手順 I による。

5.1.2

試料の試験架台への取付け

取付けは,JIS C 5201-1 の 4.25.1.4(取付け)による。

試料の端子を,適切なクリップによって絶縁物の試験架台に固定する。全ての試料は,重ならないよう

に水平に取り付ける。試料の軸間距離は,試料直径の 7 倍以上とする。

P

70

0

100 %



C 5201-2:2014 (IEC 60115-2:2014)

試料の試験架台への取付方法に指定のない場合,この取付方法を,標準的な取付方法として使用する。

5.1.3

試験基板の仕様

アキシャルリード線端子付き抵抗器は,

図 又は図 に示すような配置の試験基板に取り付ける。安定

性クラス(6.1 参照)が 0.1 又はこれより厳しく,かつ,試料の抵抗値が 100 Ω 未満の試料の試験には,

5

[ケルビン(4 端子)接続]試験基板及び

表 による試験基板を用いなければならない。

a

表 に規定する寸法の適用範囲

銅ランドパターン

C

銅ランドパターンの幅

G

抵抗器リード線取付け孔間の距離

b

抵抗器リード線取付け孔の径

M

試験基板の端から 1 個目の取付けまでの距離

P

取付け孔による抵抗器間の距離

注記  試験基板は,規定する領域の同じ端においてケルビン接続してもよい。

図 5−機械的,環境及び電気的試験用ケルビン(端子)接続のための試験基板

試験基板は,厚さ(1.6±0.1)mm のガラス布基材エポキシ樹脂であって,すず(錫)めっきしていない

公称厚さ 35 μm の銅の導体をもたなければならない。必要に応じて,個別規格に異なる材料の仕様及び配

置を規定してもよい。

P

1

2

3

n

C

(0.3±0.05) mm

 
40 mm 以上

a

M

 
40 mm 以上

b


9

C 5201-2:2014 (IEC 60115-2:2014)

表 2−試験基板の寸法

単位  mm

形式記号

b G C P M 

RA_0204 0.8±0.1 7.5±0.1 2.0±0.1 15.0±0.1 7.5±0.1 
RA_0207 1.0±0.1 10.0±0.1 5.0±0.1 20.0±0.1 10.0±0.1 
RA_0309 1.3±0.1 12.5±0.1 7.5±0.1 25.0±0.1 12.5±0.1 
RA_0411 1.3±0.1 15.0±0.1 10.0±0.1 30.0±0.1 15.0±0.1 
RA_0414 1.3±0.1 17.5±0.1 10.0±0.1 30.0±0.1 15.0±0.1 
RA_0617 1.3±0.1 22.5±0.1 10.0±0.1 45.0±0.1 22.5±0.1 
RA_0922 1.3±0.1 27.5±0.1 15.0±0.1 45.0±0.1 22.5±0.1

規定する領域の裏面及び内部には,ケルビン接続のための 0.3 mm 幅の配線以外の

金属領域は認めない。

適用可能な場合,規定する領域の同じ側で両側のケルビン接続を実施してもよい。

注記  試験基板の寸法記号は,図 及び図 の記号による。

試料の抵抗値が 100 Ω 以上で,かつ,安定性クラス(6.1 参照)が 0.1 又はこれより緩い試料の試験には,

図 及び表 による試験基板を用いてもよい。

a

表 に規定する寸法の適用範囲

銅ランドパターン

C

銅ランドパターンの幅

G

抵抗器リード線取付け孔間の距離

b

抵抗器リード線取付け孔の径

M

試験基板の端から 1 個目の取付けまでの距離

P

取付け孔による抵抗器間の距離

図 6−機械的,環境及び電気的試験のための試験基板

1

2

3

C

P

 
40 mm 以上

a

M

 
40 mm 以上

b


10 
C 5201-2:2014 (IEC 60115-2:2014)

5.1.4

試験基板への取付け

抵抗器は,

図 に示すように 90°のリード線の曲げを実施して,次の制約を考慮して取付け孔に直接取

り付けなければならない。

a)

リード線は,本体又は接合部からリード径分以上の長さにわたって直線部を設けてから,リード線を

曲げなければならない。

b)

リード線内側で測定する曲げ半径 は,次による。

−  d≦0.8 mm の場合,

r

≧1.0d

− 0.8 mm<d≦1.2 mm の場合, r≧1.5d

−  d>1.2 mm の場合,

r

≧2.0d

c)

抵抗器本体と試験基板表面との空間距離 は,次による。

−  抵抗器の定格電力 P

70

<1 W の場合,h≦0.25 mm

−  抵抗器の定格電力 P

70

≧1 W の場合,h≧1.5 mm

d)

切り取ったリード線の先端がはんだの中から見えなければならない,試験基板下の突起の長さ は,

次による。

p

≦2.5 mm

注記 1  上記要求は,IEC 61192-3 のレベル B 適合(Acceptable)に基づいている。

注記 2  高い素子最高電圧をもつ抵抗器の最小間隔は,特別な考慮を要求する場合がある。このよう

な考慮及び/又は制約は,関連する個別規格の規定に従う。

G

抵抗器を試験基板に取り付けた状態でのリード線間の距離

d

リード線の径

h

抵抗器本体と試験基板の上面との距離

p

抵抗器のリード線先端と試験基板の下面との距離

r

リード線の曲げ半径

注記  振動又は衝撃試験には,はんだ接合強度を高めるため,接続孔にめっきを要求する場合がある。

図 7−試験基板への試料の取付け

5.2

試験

5.2.1

寸法

寸法は,JIS C 5201-1 の 4.4.2[寸法(ゲージ法)

]によるほか,次による。

抵抗器本体の長さは,IEC 60294 の 3.1(General)に従って厚さ 4 mm のゲージ板を用いて測定する。

リード線上に延びた保護塗装樹脂のはみ出し長さを示す

図 2 a)の寸法 c,又は保護塗装樹脂のはみ出し

を含む本体長さを示す

図 2 b)の寸法 L

c

は,個別規格に規定がある場合,測定する。

 p 


11

C 5201-2:2014 (IEC 60115-2:2014)

5.2.2

絶縁抵抗

絶縁抵抗試験は,絶縁形抵抗器だけに適用し,JIS C 5201-1 の 4.6(絶縁抵抗)によるほか,次による。

絶縁抵抗試験には,JIS C 5201-1 の 4.6(絶縁抵抗)に規定する適切な方法を用いなければならず,JIS C 

5201-1

の 4.6.1.1(V ブロック法)に規定する V ブロック法であることが望ましい。

試験基板に取り付けた試料は,下部の支えとして使用するジグの上に置き,S 字形成した試験点 B 及び

V ブロックの試験点 A によって上面から適切に試料のリード線を挟み込む。

5.2.3

耐電圧

耐電圧試験は,絶縁形抵抗器だけに適用し,JIS C 5201-1 の 4.7(耐電圧)によるほか,次による。

耐電圧試験には,JIS C 5201-1 の 4.6(絶縁抵抗)に規定する適切な方法を用いなければならず,JIS C 

5201-1

の 4.6.1.1(V ブロック法)に規定する V ブロック法であることが望ましい。

5.2.4

短時間過負荷

短時間過負荷試験は,JIS C 5201-1 の 4.13(短時間過負荷)によるほか,次による。

試料は,個別規格の規定に従い,5.1.2 によって試験架台に取り付ける,又は 5.1.3 及び 5.1.4 によって試

験基板に取り付けなければならない。試験基板は,JIS C 5201-1 の 4.2.1[測定及び試験のための標準大気

条件(標準状態)

]に規定する標準大気条件(例えば,周囲温度は 15  ℃∼35  ℃である。

)で自由空間に水

平に保持しなければならない。

過負荷試験電圧の推奨値は,最高試験電圧 U

test max

=2U

max

によって制限され,次による。

n

70

r

test

5

.

2

5

.

2

R

P

U

U

=

=

ここに,

U

r

定格電圧

P

70

定格電力

R

n

公称抵抗値

U

max

素子最高電圧

負荷試験時間 t

load

の推奨値は,0.5 秒,1 秒,2 秒,5 秒及び 10 秒間である。試験時間は,試験での素子

温度の最高値がカテゴリ上限温度に対し,30 K を超えて高くなるように,個別規格で規定しなければなら

ない。

5.2.5

温度上昇

温度上昇試験は,JIS C 5201-1 の 4.14(温度上昇)によるほか,次による。

試料は,個別規格の規定に従い,5.1.2 によって試験架台に取り付ける,又は 5.1.3 及び 5.1.4 によって試

験基板に取り付けなければならない。試験基板は,JIS C 5201-1 の 4.2.1[測定及び試験のための標準大気

条件(標準状態)

]に規定する標準大気条件(例えば,周囲温度は 15  ℃∼35  ℃である。

)で自由空間に水

平に保持しなければならない。

5.2.6

端子強度

端子強度試験は,JIS C 5201-1 の 4.16(端子強度)によるほか,次による。

試験は,JIS C 5201-1 の 4.2.1[測定及び試験のための標準大気条件(標準状態)

]に規定する標準大気条

件(例えば,周囲温度は 15  ℃∼35  ℃である。

)で実施しなければならない。試料は,試験に先立ち 1 時

間以上,標準大気条件に保持しなければならない。

次の試験を適用する。

全ての試料は,試験 Ua

1

JIS C 5201-1 の 4.16.2(試験 Ua

1

−引張強さ)参照]を実施する。

半数の試料は,試験 Ub[JIS C 5201-1 の 4.16.3(試験 Ub−曲げ強さ)参照]を 2 方向で各 2 回実施する。


12 
C 5201-2:2014 (IEC 60115-2:2014)

残り半数の試料は,試験 Uc[JIS C 5201-1 の 4.16.4(試験 Uc−ねじり強さ)参照]を適用する。

注記  JIS C 5201-1 の 4.16.4(ねじり強さ)に規定する方法 A は,JIS C 60068-2-21 の中の方法 1 と同

じである。

5.2.7

はんだ付け性

はんだ付け性試験は,JIS C 5201-1 の 4.17(はんだ付け性)によるほか,次による。

はんだ付け性試験前に加速エージングを実施する。個別規格に規定がない場合,JIS C 60068-2-20 の 4.1.1

(試験方法)に規定するエージング条件 3a(155  ℃で 4 時間の高温試験)を実施する。加速エージング後,

試料は標準大気条件に 2 時間以上 24 時間以下放置する。

抵抗器のリード線上のはんだ付け面は,関連する個別規格に規定がない場合,従来の Sn-Pb はんだ合金

及び鉛フリーはんだ合金の両方に適応しなければならない。したがって,はんだ付け性試験は,両方のは

んだ合金に対して必要である。

従来の Sn-Pb はんだ合金によるはんだ付け性試験は,JIS C 60068-2-20 の試験 Ta の方法 1(はんだ槽法)

によるほか,次による。

はんだ合金組成:Sn60Pb40 又は Sn63Pb37

はんだ槽温度 T

bath

(235±3)℃

浸せき(漬)時間 t

imm

(2±0.2)秒間

鉛フリーはんだ合金によるはんだ付け性試験は,JIS C 60068-2-20 の試験 Ta の方法 1(はんだ槽法)に

よるほか,次のいずれかによる。

−  はんだ合金組成:Sn99.3Cu0.7

はんだ槽温度 T

bath

(250±3)℃

浸せき(漬)時間 t

imm

(3±0.3)秒間

−  はんだ合金組成:Sn96.5Ag3.0Cu0.5

はんだ槽温度 T

bath

(245±3)℃

浸せき(漬)時間 t

imm

(3±0.3)秒間

注記  鉛フリーはんだ合金は,そのプロセス温度に応じてグループ化できる。リフローソルダリング

に主に用いる一般的なはんだ合金は,

“中高温”のグループに含まれ,Sn-Ag-Cu 系はんだ合金

が最も多く用いられている。ウェーブソルダリングでは,Sn-Cu 系はんだ合金が最も一般的で

あり,

“高温”のグループに含まれる。

個別規格に規定している場合だけ,熱遮蔽板を用いる。

5.2.8

はんだ耐熱性

はんだ耐熱性試験は,JIS C 5201-1 の 4.18(はんだ耐熱性)によるほか,次による。

はんだ耐熱性試験方法は,JIS C 60068-2-20 の試験 Tb の方法 1(はんだ槽法)によるほか,次による。

はんだ合金組成:Sn-Pb,Sn-Cu 系,Sn-Ag-Cu 系又は Sn-Ag 系の全てのはんだ合金組成

はんだ槽温度 T

bath

(260±3)℃

浸せき(漬)時間 t

imm

(10±1)秒間

個別規格に規定している場合だけ,熱遮蔽板を使用する。

5.2.9

温度急変

温度急変試験は,JIS C 5201-1 の 4.19(温度急変)によるほか,次による。

低温側温度 T

A

:LCT(4.3 参照)

高温側温度 T

B

:UCT(4.3 参照)


13

C 5201-2:2014 (IEC 60115-2:2014)

試験サイクル数 n:5

5.2.10

温度急変(100 サイクル以上)

温度急変(100 サイクル以上)試験は,JIS C 5201-1 の 4.19(温度急変)によるほか,次による。

低温側温度 T

A

:LCT(4.3 参照)

高温側温度 T

B

:UCT(4.3 参照)

試験サイクル数 n:推奨は 100,200,500 及び 1 000

個別規格で個別の形式に応じて異なる試験数を規定してもよい。

5.2.11

振動

振動試験は,JIS C 5201-1 の 4.22(振動)によるほか,次による。

振動試験中に共振現象にさらされないように取り付けた試料で,JIS C 60068-2-6 の 8.3.1(掃引耐久試験)

に従って掃引での耐久性試験とし,詳細は次による。

振動数範囲(f

1

f

2

:10∼2 000 Hz

振幅 Δ

r

:1.5 mm。ただし,加速度振幅 a 200 m/s

2

以下とする。

試験時間:各軸(x,y,z)で n=10 掃引サイクルとする。これは,各軸の試験時間 t

load

=2.5 時間に相

当する。

5.2.12

一連耐候性

5.2.12.1

一般事項

一連耐候性試験は,JIS C 5201-1 の 4.23(一連耐候性)によるほか,次による。

抵抗器は,個別規格の規定に従い,5.1.2 によって試験架台に取り付けるか,又は 5.1.3 及び 5.1.4 によっ

て試験基板に取り付ける。

5.2.12.2

高温

高温試験は,

JIS C 60068-2-2

の試験 Bb に従って実施し,

抵抗器をカテゴリ上限温度に 16 時間放置する。

抵抗器は,急激な温度変化による悪影響がないと考えられるため,試験室温度から直接,カテゴリ上限温

度までの任意の温度に加熱した試験槽に試料を入れてもよく,また,試験槽から出してもよい。

5.2.12.3

温湿度サイクル(試験 Db),最初のサイクル

この試験は,JIS C 5201-1 の 4.23.3[温湿度サイクル(試験 Db)

,最初のサイクル]による。

5.2.12.4

低温

低温試験は,JIS C 60068-2-1 の試験 Ab に従って実施し,抵抗器をカテゴリ下限温度に 2 時間放置する。

抵抗器は,急激な温度変化による悪影響がないと考えられるため,試験室温度から直接,カテゴリ下限温

度までの任意の温度に冷却した試験槽に試料を入れてもよく,また,試験槽から出してもよい。

5.2.12.5

減圧

減圧試験は,JIS C 5201-1 の 4.23.5(減圧)によるほか,次による。

大気圧 p

amb

:1 kPa

5.2.12.6

温湿度サイクル(試験 Db),残りのサイクル

この試験は,JIS C 5201-1 の 4.23.6[温湿度サイクル(試験 Db)

,残りのサイクル]による。

残りのサイクル数は,JIS C 5201-1 

表 7(サイクル数)による。

5.2.12.7

直流負荷

直流負荷試験は,JIS C 5201-1 の 4.23.7(直流負荷)による。

5.2.12.8

最終検査

最終検査は,JIS C 5201-1 の 4.23.8(最終検査,測定及び要求性能)によるほか,次による。


14 
C 5201-2:2014 (IEC 60115-2:2014)

絶縁抵抗試験は,5.2.2 による。

5.2.13

高温高湿(定常)

高温高湿(定常)試験は,JIS C 5201-1 の 4.24[高温高湿(定常)

]によるほか,次による。

抵抗器は,個別規格の規定に従い,5.1.2 によって試験架台に取り付けるか,又は 5.1.3 及び 5.1.4 の規定

よって試験基板に取り付ける。

この試験の試験時間 t

exp

は,耐候性カテゴリで規定し,その許容差は,0∼8 時間とする。

絶縁抵抗試験は,5.2.2 による。

5.2.14  70 

℃での耐久性

70  ℃での耐久性試験は,JIS C 5201-1 の 4.25.1(70  ℃での耐久性)によるほか,次による。

抵抗器は,個別規格の規定に従い,5.1.2 によって試験架台に取り付けるか,又は 5.1.3 及び 5.1.4 によっ

て試験基板に取り付ける。

試験は,次の式に示す定格電圧で行う。

n

r

test

R

P

U

U

×

=

=

70

max

max

U

U

test

=

ここに,

U

r

定格電圧

P

70

定格電力

R

n

公称抵抗

U

max

素子限界電圧

試験時間

t

load

=1 000 時間に対する許容差は 0∼16 時間を,延長試験の試験時間

t

load

=8 000 時間に対する

許容差は 0∼24 時間を適用する。

絶縁抵抗試験は,5.2.2 による。

5.2.15

室温での耐久性

水準 G の抵抗器では,70  ℃での耐久性試験は,室温での耐久性試験に置き換えてよい。

試験は,

附属書 によるほか,次による。

試料は,個別規格の規定に従い,取り付けない,5.1.2 によって試験架台に取り付ける,又は 5.1.3 及び

5.1.4

によって試験基板に取り付ける。

試験は,次の式に示す定格電力で行う。

)

70

(

)

25

(

70

UCT

UCT

P

P

test

×

=

ここに,

P

70

定格電力

UCT

カテゴリ上限温度

試験は,次の式に示す定格電圧で行う。

n

test

R

P

U

×

=

70

max

max

U

U

test

=

ここに,

P

70

定格電力

R

n

公称抵抗

U

max

素子限界電圧

この試験の試験時間 t

exp

=1 000 時間に対する許容差は,0∼16 時間とする。

絶縁抵抗試験は,

5.2.2

による。


15

C 5201-2:2014 (IEC 60115-2:2014)

5.2.16

カテゴリ上限温度での耐久性

カテゴリ上限温度での耐久性試験は,

JIS C 5201-1

4.25.3

(カテゴリ上限温度での耐久性)

によるほか,

次による。

試料は,個別規格の規定に従い,取り付けない,

5.1.2

によって試験架台に取り付ける,又は

5.1.3

及び

5.1.4

によって試験基板に取り付ける。

この試験の試験時間 t

exp

=1 000 時間に対する許容差は,0∼16 時間とする。

絶縁抵抗試験は,

5.2.2

による。

5.2.17

単パルス高電圧過負荷

単パルス高電圧過負荷試験は,

JIS C 5201-1

4.27

(単パルス高電圧過負荷試験)によるほか,次によ

る。

試料は,個別規格の規定に従い,取り付けない,

5.1.2

によって試験架台に取り付ける,又は

5.1.3

及び

5.1.4

によって試験基板に取り付ける。取付けをしない試料は,試験中適切なジグに置かなければならない。

試験は,次のパルス条件による。

パルス波形:10/700

パルスピーク電圧:U

test

n

70

R

P

x

x≧10 の場合

ただし,最高試験電圧 U

test max

yU

max

y≧2 の場合

乗数 及び の値は,個別規格に規定する。

注記

  乗数の最小値は x=10 及び y=2 であり,

JIS C 5201-1

4.27

(単パルス高電圧過負荷試験)に

規定する 10/700 のパルス波形として定義する最低の厳しさの番号 No.4 である。

5.2.18

部品の耐溶剤性

部品の耐溶剤性試験は,

JIS C 5201-1

4.29

(部品の耐溶剤性)によるほか,次による。

溶剤温度 T

bath

(23±5)℃(推奨値)又は

0
5

50

5.2.19

表示の耐溶剤性

表示の耐溶剤性試験は,表示のある抵抗器の試験に適用し,

JIS C 5201-1

4.30

(表示の耐溶剤性)に

よるほか,次による。

溶剤温度 T

bath

(23±5)℃(推奨値)又は

0
5

50

ラビング材質:個別規格に規定する脱脂綿又は歯ブラシ

ラビング用歯ブラシは,密集し,通常の合成繊維で作られた一定の長さの毛をもつ通常の商用で“かた

め”の区分とする。それは,一つの溶媒だけに用い,通常の手の圧力(試料表面に垂直に約 0.5 N∼1 N)

で,10 ストローク実施する。曲がり,摩耗又は毛の損失が見られる歯ブラシは廃棄する。

5.2.20

耐炎性

ニードルフレーム試験は,

JIS C 5201-1

4.35

(耐炎性)によるほか,次による。

燃焼時間は,10

0

 

1

秒間とする

5.2.21

静電気放電

ESD

試験

静電気放電(ESD)試験は,

JIS C 5201-1

4.38

(静電気放電)によるほか,次による。

試料は,個別規格の規定に従い,取り付けない,

5.1.2

によって試験架台に取り付ける,又は

5.1.3

及び

5.1.4

によって試験基板に取り付ける。取付けをしない試料は,試験中適切なジグに置かなければならない。

正極性及び負極性放電の回数は,次とし,個別規格に規定しなければならない。

正極性放電 n

pos

:1 回(水準 G の抵抗器の場合)又は 3 回(水準 P の抵抗器の場合)

負極性放電 n

neg

:1 回(水準 G の抵抗器の場合)又は 3 回(水準 P の抵抗器の場合)


16 
C 5201-2:2014 (IEC 60115-2:2014)

5.2.22

断続過負荷試験

断続過負荷試験は,水準 P だけに適用し,

JIS C 5201-1

4.39

(断続過負荷試験)によるほか,次によ

る。

試料は,個別規格の規定に従って

5.1.2

によって試験架台に取り付けるか,又は

5.1.3

及び

5.1.4

によって

試験基板に取り付けなければならない。試験基板は,

JIS C 5201-1

4.2.1

[測定及び試験のための標準大

気条件(標準状態)

]に規定する標準大気条件(例えば,周囲温度は 15  ℃∼35  ℃である。

)で自由空間に

水平に保持しなければならない。

過負荷試験電圧の推奨値は,次による。ただし,最高試験電圧 U

test max

は,2U

max

とする。

n

70

test

15

R

P

U

=

ここに,

P

70

定格電力

R

n

公称抵抗値

U

max

素子最高電圧

試験時間は,次による。

パルスサイクル数 n :  1 000

印加時間 t

on

:  0.1 秒間/各サイクル

停止時間 t

off

:  2.5 秒間/各サイクル

6

要求性能

6.1

一般事項

この規格に基づいた個別規格において規定する試験の厳しさ及び要求性能は,この規格よりも低い水準

であってはならず,この規格と同等以上の水準とする。

6.2

抵抗値変化の限界

各試験に対する推奨する抵抗値変化の限界を,

表 3a

及び

表 3b

に示す。

抵抗器の性能を分類するために,次に示す安定性クラスを設定する。

試験の厳しさは,

JIS C 5201-1

及び箇条

5

に従って,個別規格に規定しなければならない。


17

C 5201-2:2014 (IEC 60115-2:2014)

表 3a

抵抗値変化の限界

安定性 
クラス

抵抗値変化(

ΔR)の限界

長期試験

短期試験

JIS C 5201-1

4.23

一連耐候性

4.24

高温高湿(定常)

4.25.3

カテゴリ上限温度
での耐久性

JIS C 5201-1

4.25.1 70

℃での耐久性

JIS C 5201-1

4.13

短時間過負荷

4.16

端子強度

4.18

はんだ耐熱性

4.19

温度急変 
5 サイクル

4.22

振動

1 000 時間

延長試験 8 000 時間

a)

10

±(10 %R+0.5 Ω)

±(10 %R+0.5 Ω)

±(20 %R+0.5 Ω)

±(2 %R+0.1 Ω)

5

±(5 %R+0.1 Ω)

±(5 %R+0.1 Ω)

±(10 %R+0.1 Ω)

±(1 %R+0.05 Ω)

2

±(2 %R+0.1 Ω)

±(2 %R+0.1 Ω)

±(5 %R+0.1 Ω)

±(0.5 %R+0.05 Ω)

1

±(1 %R+0.05 Ω)

±(1 %R+0.05 Ω)

±(2 %R+0.05 Ω)

±(0.25 %R+0.05 Ω)

0.5

±(0.5 %R+0.05 Ω)

±(0.5 %R+0.05 Ω)

±(1 %R+0.05 Ω)

±(0.1 %R+0.01 Ω)

0.25

±(0.25 %R+0.05 Ω)

±(0.25 %R+0.05 Ω)

±(0.5 %R+0.05 Ω)

±(0.05 %R+0.01 Ω)

0.1

±(0.1 %R+0.02 Ω)

±(0.1 %R+0.02 Ω)

±(0.25 %R+0.02 Ω)

±(0.05 %R+0.01 Ω)

0.05

±(0.05 %R+0.01 Ω)

±(0.05 %R+0.01 Ω)

±(0.1 %R+0.01 Ω)

±(0.025 %R+0.01 Ω)

0.025

±(0.025 %R+0.01 Ω)

±(0.025 %R+0.01 Ω)

±(0.05 %R+0.01 Ω)

±(0.01 %R+0.01 Ω)

注記  表中の%は公称抵抗値に対する百分率を表している。 

a)

  水準 P の抵抗器だけに必須である。

表 3b

抵抗値変化の限界

安定性

クラス

抵抗値変化(

ΔR)の限界

JIS C 5201-1

4.19

温度急変

 100 サイクル以上

a)

JIS C 5201-1

4.27

単パルス高電

圧過負荷試験

a)

JIS C 5201-1

4.38

静電気放電

b)

JIS C 5201-1

4.39

断続過負荷試験

a)

10

±(1 %R+0.05 Ω)

±(1 %R+0.05 Ω)

±(1 %R+0.05 Ω)

±(2 %R+0.05 Ω)



1

±(0.5 %R+0.05 Ω)

±(0.5 %R+0.05 Ω)

±(0.5 %R+0.05 Ω)

±(1 %R+0.05 Ω)

0.5

0.25

±(0.25 %R+0.05 Ω)

0.1

0.05

0.025

注記  表中の%は公称抵抗値に対する百分率を表している。 

a)

  水準 P の抵抗器だけに必須である。

b)

  この試験に適用する厳しさについては,5.2.21 による。

6.3

絶縁抵抗

絶縁抵抗の要求は,絶縁形抵抗器だけに適用する。

絶縁抵抗 R

ins

は,次の試験後 1 GΩ 以上でなければならない。

5.2.14

に規定する 70 °C での耐久性

5.2.16

に規定するカテゴリ上限温度での耐久性


18 
C 5201-2:2014 (IEC 60115-2:2014)

また,次の試験後の絶縁抵抗 R

ins

は,100 MΩ 以上でなければならない。

5.2.12

に規定する一連耐候性

5.2.13

に規定する高温高湿(定常)

6.4

温度による抵抗値変化

温度による抵抗値変化の限界は,

表 4

による。

表 4

温度による抵抗値変化の限界

抵抗温度

係数

a)

抵抗値変化(

ΔR/R)の限界

%

カテゴリ下限温度/基準温度

基準温度/カテゴリ上限温度

10

6

/K  記号

b)

  −55  ℃

/20  ℃

−40  ℃
/20  ℃

−25  ℃
/20  ℃

−10  ℃
/20  ℃

20  ℃/

85  ℃

20  ℃/

125  ℃

20  ℃/

155  ℃

20  ℃/

175  ℃

20  ℃/

200  ℃

±1 000

W

±7.50

±6.00

±4.50

±3.00

±6.50

±10.50

±13.50

±15.50

±18.00

±500 V ±3.75

±3.00

±2.25

±1.50

±3.25

±5.25

±6.75

±7.75

±9.00

±250 U ±1.875

±1.500

±1.125

±0.750

±1.625

±2.625

±3.375

±3.875

±4.500

±100 S ±0.750

±0.600

±0.450

±0.300

±0.650

±1.050

±1.350

±1.550

±1.800

±50 R ±0.375

±0.300

±0.225

±0.150

±0.325

±0.525

±0.675

±0.775

±0.900

±25 Q ±0.188

±0.150

±0.113

±0.075

±0.163

±0.263

±0.338

±0.388

±0.450

±15 P ±0.113

±0.090

±0.068

±0.045

±0.098

±0.158

±0.203

±0.233

±0.270

±10 N ±0.075

±0.060

±0.045

±0.030

±0.065

±0.105

±0.135

±0.155

±0.180

±5 M ±0.038

±0.030

±0.023

±0.015

±0.033

±0.053

±0.068

±0.078

±0.090

±2 L ±0.015

±0.012

±0.009

±0.006

±0.013

±0.021

±0.027

±0.031

±0.036

±1 K ±0.008

±0.006

±0.005

±0.003

±0.007

±0.011

±0.014

±0.016

±0.018

a)

  抵抗温度係数(TCR)を追加する場合は,個別規格で規定し,可能であれば,JIS C 5062 に規定する記号を

用いなければならない。

b)

  記号は,JIS C 5062 の 5.5(抵抗温度係数の文字記号)による。

表 4

の限界は,それぞれ推奨する抵抗温度係数,及び

4.3

に規定するカテゴリ温度範囲に基づく温度に

よる抵抗値変化[

JIS C 5201-1

4.8

(温度による抵抗値変化)参照]によって規定している。

6.5

温度上昇

最大許容温度上昇∆T

max

は,次の式で定義する値とする。

T

max

T

met

−70

ここに,  ∆T

max

最大許容温度上昇(°C)

T

met

素子最高温度(°C)

この規格では,UCT とする。

6.6

はんだ付け性

はんだ付け性の外観判定基準は,次による。

はんだ付けした 95 %以上の表面が,新しいはんだで覆われていなければならない。新しいはんだ表面に

は,ピンホール,はんだぬれなし,はんだはじきなどの不完全部分が僅かに点在していてもよいが,1 か

所に集中してはならない。

6.7

耐炎性

燃焼時間 t

b

は,30 秒間を超えてはならない。


19

C 5201-2:2014 (IEC 60115-2:2014)

7

表示

包装及び発注情報

7.1

抵抗器本体への表示

抵抗器本体への表示は,

JIS C 5201-1

2.4

(表示)によるほか,次による。

公称抵抗値,公称抵抗値の許容差,及び適用可能かつ実施可能な場合は,抵抗温度係数を,

JIS C 5062

に従い表示しなければならない。この表示には,

JIS C 5062

の箇条

3

(固定抵抗器の色による表示)によ

るカラーコードを用いることが望ましい。

文字記号及び数字記号によって表示する場合には,公称抵抗値の許容差の記号には

JIS C 5062

5.1

[正

負対称許容差をパーセント(%)で表す場合の文字記号]

,抵抗温度係数の記号には

JIS C 5062

5.5

(抵

抗温度係数の文字記号)に規定する温度係数の記号を用いて,

JIS C 5062

の箇条

4

(抵抗値及び静電容量

値の文字と数字とによる記号)に規定するいずれかの方法によって表示する。

7.2

包装

抵抗器は,適用できる場合,

JIS C 0806-1

に従って自動実装用の包装を実施する。

7.3

包装の表示

包装には,

JIS C 5201-1

2.4

(表示)に規定する全ての項目を表示する。

7.4

発注情報

個別規格では,次の

a

)及び

b

)を含む抵抗器の発注のために必要な次の最小限の情報を指定しなければな

らない。

a

)  個別規格の番号及び形式

b

)  公称抵抗値,公称抵抗値の許容差及び抵抗温度係数(必要な場合)。適用可能な場合は

JIS C 5062

記号を用いる。

8

個別規格

8.1

一般事項

個別規格は,関連するブランク個別規格に基づき作成しなければならない。

個別規格は,品目別通則,品種別通則又はブランク個別規格より緩い要求事項を規定してはならない。

より厳しい要求事項が含まれている場合,それらは個別規格のそれぞれの箇条に記載し,例えば,注記な

どによって,試験計画に示す。

8.2

に規定する事項は,各個別規格に規定しなければならない。また,個別規格に規定する値は,この規

格の該当する箇条で規定する値から選択することが望ましい。

8.2

個別規格に規定する事項

8.2.1

外形図又は略図

他の抵抗器との識別及び比較を容易にするために,抵抗器の外形図又は略図を示さなければならない。

8.2.2

形状及び寸法

形状及び寸法は,

4.2

による。

互換性及び実装に影響する寸法及び関連する許容差は,外形及び寸法を示す図を用いて個別規格で規定

する。

テーピング包装を適切に行うために,テープで固定しないリード線の長さを規定することが望ましい。

必要な場合は,

図 2

に示した樹脂のはみ出し寸法の規定方法を適用する。適切な最大寸法許容値は寸法

表を用いて規定する。適切な測定方法を表の注で規定することが望ましい。

抵抗器の質量を参考情報として記載してもよい。


20 
C 5201-2:2014 (IEC 60115-2:2014)

8.2.3

耐候性カテゴリ

耐候性カテゴリは,

4.3

による。

8.2.4

抵抗値範囲

抵抗値範囲は,

4.4

による。

注記

IEC

電子部品品質認証制度(

IECQ

)の場合,個別規格の公称抵抗値範囲と認証を得た範囲と

が異なる場合は,次の文章を追加することが望ましい。

“それぞれの形式記号に含む公称抵抗値の範囲及びその許容差並びに抵抗温度係数は,品質

認証の登録,例えばウェブサイトwww.iecq.orgで確認できる。

8.2.5

抵抗値の許容差

抵抗値の許容差は,

4.5

による。

8.2.6

定格電力  P

70

定格電力は,

4.6

による。

個別規格に周囲温度 70  ℃(定格温度)での最大の電力 P

70

を規定する。

取付条件は,

5.1

による。

個別規格には,周囲温度 70  ℃以外の最大の電力,すなわち電力軽減を図及び文によって規定する。

8.2.7

素子最高電圧  U

max

素子最高電圧は,

JIS C 5201-1

2.2.11

(素子最高電圧)によるほか,

4.7

による。

8.2.8

絶縁電圧  U

ins

絶縁電圧は,絶縁形抵抗器だけに適用し,

JIS C 5201-1

2.2.10

(絶縁電圧)によるほか,

4.8

による。

8.2.9

絶縁抵抗  R

ins

絶縁抵抗は,絶縁形抵抗器だけに適用し,

4.9

及び

6.5

による。

8.2.10

試験の厳しさ

試験の厳しさは,

5.2

による。

8.2.11

試験での抵抗値変化の限界

試験での抵抗値変化の限界は,

6.2

による。

8.2.12

抵抗温度係数

抵抗温度係数は,

6.3

による。

8.2.13

表示

抵抗器の表示は,

7.1

による。

包装の表示は,

7.3

による。

8.2.14

発注情報

発注情報は,

7.4

による。

8.2.15

取付け

個別規格には,通常の使用のための実装方法のガイダンス[表面実装部品の規格として,

IEC 61760-1

:

2006 の箇条

5

(Specification of assembly process conditions)による実装条件を基にしてもよい。

]を示さな

ければならない。

試験で要求する取付け及び測定の目的の取付けは,

5.1

による。

8.2.16

保管

保管は,

JIS C 5201-1

2.7

(保存)による。

個別規格には,許容する保管期間を規定し,必要がある場合,適用する再検査の周期,方法及び要求事


21

C 5201-2:2014 (IEC 60115-2:2014)

項を規定する。

8.2.17

追加情報

個別規格は,明確化のために必要な回路図,曲線,図面,説明などの追加情報(通常,検査手順で確認

する必要のない事項)を含んでもよい。

8.2.18

品質評価手順

個別規格は,適用する抵抗器の品質認証及び品質適合検査の試験計画を規定する。

8.2.19

ジャンパー

Ω)

抵抗器

個別規格には,

ジャンパー

(0 Ω)

抵抗器の要求仕様及び品質評価に必要な全ての事項を規定してもよい。

9

品質評価手順

9.1

一般事項

JIS C 5201-1

附属書 Q

[IEC 電子部品品質認証制度(IECQ)に用いる場合の品質評価手順]による。

9.2

定義

9.2.1

製造の初期工程

低電力皮膜固定抵抗器の場合には,製造の初期工程は,抵抗体皮膜の基板への着膜とする。

9.2.2

構造的に類似な抵抗器

低電力皮膜固定抵抗器は,次の場合,構造的に類似な抵抗器とする。

a

)  抵抗器を,一つ又は複数の製造拠点で製造し,次の全ての条件に該当する場合。

−  製品技術が同じ。

−  原材料,製造及び品質検査の手順が同じ。

−  製造及び品質の管理が主要な製造拠点と同じ。

複数の製造拠点がある場合には,製造業者は,主要な製造拠点及び関連する管理責任者(DMR)を

指名しなければならない。

b

)  全ての製造拠点が,同一の

IECQ

認証機関(

IECQ CB

)によって管理される場合。

主要な製造拠点が置かれている国の

IECQ

認証機関であることが望ましい。

c

)  抵抗器が同じ安定性クラス及び耐候性のカテゴリをもっている場合。

d

)  抵抗器が寸法上の違いだけである場合。

e

)  抵抗器が同一の端子構造をもつ場合。

c

)の項目だけが異なる抵抗器は,最終測定で安定性クラス及び/又は耐候性カテゴリの要求事項につい

てそれぞれに判定する場合は,構造的に類似な抵抗器とみなしてもよい。

構造的に類似な部品だけを,故障率の評価及び決定に用いることができる。

9.2.3

評価水準 EZ

評価水準 EZ は,

“ZD(不適合品ゼロ)

”の取組みの要求に適合する。それは評価手順及び評価水準を確

立するために導入され,許容不適合品数(合格判定数)をゼロと規定する。したがって,ロットごとの

試験の試料数は,

JIS C 5005-2

4.3.2

(なみ検査による抜取検査方式)及び

表 1

(サンプルサイズ)によ

る。

個別規格は,この規格を基にして,リード線端子付き固定皮膜抵抗器の品質認証のために評価水準 EZ

を適用する。

9.3

検査ロットの構成

検査ロットは,同じ製品技術及び同じ形状の抵抗器で構成する。


22 
C 5201-2:2014 (IEC 60115-2:2014)

試料は,認証を得ようとする抵抗器の全ての抵抗値範囲を代表し,次の構成とする。

− 1/3 がその範囲での最小抵抗値

− 1/3 が臨界抵抗値

− 1/3 がその範囲での最大抵抗値

認証する範囲は,

個別規格が対象とする範囲の一部でもよい。

臨界抵抗値が認証する範囲外である場合,

抵抗値範囲の中央値(最小及び最大の抵抗値の幾何平均値の近くにある抵抗値。例えば,1 Ω∼1 MΩ の場

合,1 kΩ をいう。

)の抵抗値で代用する。

複数の抵抗温度係数(TCR)の抵抗器の品質認証を受けようとする場合,それぞれの TCR を代表する試

料を含まなければならない。一般的に,TCR の小さいものは,TCR の大きいものを代表するとみなす。試

料は,同様の方法で,認証を得ようとするうちの異なる抵抗値の中で,最も狭い許容値をもつものを含め

る。異なる特性をもつ試料は,

IECQ

認証機関の承認が必要である。

定期的な品質確認検査の要求がある場合には,検査ロットは,その期間中に作った抵抗値範囲の上限及

び下限を代表とすることが望ましい。その期間に製造した,外形寸法が同じであって,TCR が異なる抵抗

器は,TCR の試験が含まれている副群を除き,一緒に試験してもよい。

品質認証を受けた抵抗器は,

IECQ

認証機関が承認した認証期間中に低抵抗値,高抵抗値及び臨界抵抗

値の試料を検査しなければならない。

“低抵抗値”は,認証を受けた抵抗値範囲の下限値の 100 %∼200 %の抵抗値,又はその期間で製造した

認証範囲の最低抵抗値とする。

“臨界抵抗値”は,計算値の 80 %∼100 %とする。

“高抵抗値”は,認証を受けた抵抗値範囲の上限値の 70 %∼100 %の抵抗値,又はその期間で製造した

認証範囲の最大抵抗値とする。

試料は,検査期間の最後の 13 週間で集める。

9.4

品質認証

QA

手順

品質認証試験の手順は,

JIS C 5201-1

Q.5

(品質認証手順)による。特に,品質認証の試験手順は,

JIS C 5201-1

Q.5.3

(品質認証用試験手順)の

b

)  による。

試料は,

9.3

に従って構成する。必要な総試料数は,

表 5

に破壊試験として分類する全ての試料数の合計

である。品質認証試験計画に破壊試験の群を追加する場合,総試料数には追加する群で要求する試料数を

追加する。

表 5

に,抵抗器の品質認証試験計画を規定する。この品質認証試験計画は,それぞれの試験の適用につ

いて有用な情報を含んでいるため,個別規格に規定する詳細な試験計画に反映しなければならない。各群

の試験は,記載の順で実施しなければならない。

群 4

に必要な試料を除く全ての試料は,

群 1

及び

群 2

の試験を実施した後,他の群に分ける。

群 1

又は

群 2

の試験の間に不適合が見つかった試料は,他の群に用いてはならない。

製造業者の責任でない事故による不適合品に関しては,抵抗値ごと及び抵抗温度係数ごとに 1 個の予備

の試料と置き換えてもよい。

70  ℃での耐久性試験の 1 000 時間が完了し,さらに,

表 5

に規定するその他の試験において不適合品が

ない場合,品質認証は合格とする。

9.5

品質確認検査

水準 P 又は水準 G に分類した抵抗器の,品質確認検査のためのロットごと(

群 A

及び

群 B

)及び定期的

群 C

)な試験計画は,

表 6a

及び

表 6b

による。各群の試験は,記載の順で実施しなければならない。


23

C 5201-2:2014 (IEC 60115-2:2014)

これらの品質認証計画は,それぞれの試験の適用について有用な情報を含んでいるため,個別規格に規

定する詳細な試験計画に反映しなければならない。試験条件及び要求性能は,品質認証試験計画と同じと

する。

取り付けた試料について,取付け後に不適合が見つかった試料は,続く試験で,品質確認検査での許容

不適合品数に含めてはならない。それらは,予備試料に置き換える。

9.6

能力認証

CA

手順

JIS C 5201-1

Q.6

(能力認証手順)に規定する能力認証は,この規格では取り扱わない。

9.7

技術認証

TA

手順

JIS C 5201-1

Q.14

(技術認証手順)を適用し,

表 5

表 6a

及び

表 6b

の試験計画を用いる。

9.8

長期保管後の出荷

JIS C 5201-1

Q.10

(長期保管後の出荷)を適用する。ただし,検査水準は S-2 に緩和する。

9.9

出荷ロット成績証明書

受渡当事者間の協定がある場合,

JIS C 5201-1

Q.9

(出荷ロット成績証明書)に従って出荷ロット成

績証明書を発行できる。

9.10

適合証明書

CoC

製品が,品質認証機関(例えば,

IEC-CECC

など)によって,この規格への適合の認証を受ける場合,

関連する規格に従って,包装への表示で適合を宣言する。

認定した部品は,包装への表示以外の追加の適合証明書の必要はない。

表 5

品質認証試験計画

試験項目

a)

試験条件

b)

D 又は

ND

c)

n

c)

c

c)

要求性能

群 

4.5

  抵抗値

ND

...

0

JIS C 5201-1

の 4.5.2 による。

群 

4.4.1

  外観

表示は,7.1 による。 ND

...

0

JIS C 5201-1

の 4.4.1 による。

4.4.2

  寸法(ゲージ法)

5.2.1

による。

(試料中

の…個)

個別規格の規定による。

群 

4.6

  絶縁抵抗

(絶縁形抵抗器だけに適

用する。

5.2.2

による。 ND

...

0

R

ins

≧... Ω(6.3 参照)

4.7

  耐電圧

(絶縁形抵抗器だけに適
用する。

5.2.3

による。

U

test

=...・U

ins

t

load

=... s

JIS C 5201-1

の 4.7.3 による。

4.13

  短時間過負荷

5.2.4

による。

U

test

=...

形式

t

load

... ... 
... ... 
... ...

外観

抵抗値

D

(試料中

の…個)

 
 
 
 
 
 
JIS C 5201-1

の 4.13.3 による。

個別規格の規定による。


24 
C 5201-2:2014 (IEC 60115-2:2014)

表 5

品質認証試験計画

続き

試験項目

a)

試験条件

b)

D 又は

ND

c)

n

c)

c

c)

要求性能

群 4

f)

...

4.17

  はんだ付け性

(Sn-Pb はんだ合金)

5.2.7

による。

エージング:...

試験方法:はんだ槽法

はんだ合金組成:... 
温度=...  ℃

時間=... s

外観

D

(試料の

半数)

0

 
 
 
 
 
6.6

による。

4.17

  はんだ付け性

(鉛フリーはんだ合金)

g)

5.2.7

による。

エージング:... 
試験方法:はんだ槽法

はんだ合金組成:...

温度=...  ℃ 
時間=... s

外観

(試料の

残り

半数)

 
 
 
 
 
 
6.6

による。

群 

4.8

  温度による抵抗値変

測 定 順 序 :  20 ℃  / LCT / 
20  ℃  / UCT / 20  ℃

D … 0

個別規格の規定による。

群 

4.16

  端子強度

5.2.6

による。

外観

抵抗値

D

(試料の

半数)

0

JIS C 5201-1

の 4.16.6 a)による。

個別規格の規定による。

4.19

  温度急変

5.2.9

による。

5 サイクル 
T

A

=LCT,T

B

=UCT

外観 
抵抗値

(試料の

残り

半数)

 
 
 
JIS C 5201-1

の 4.19.3 による。

個別規格の規定による。

4.22

  振動

5.2.11

による。

掃引による耐久性;

周波数:f

1

=... Hz;f

2

=... Hz

各軸の掃引サイクル数:n=…
加速度:a=… m/s

2

振幅:Δ

r

=… mm

導電性の連続性 
 
外観

抵抗値

 
 
 
 
 
 
JIS C 5201-1

の 4.22.3 及 び

4.22.4

による。

JIS C 5201-1

の 4.22.4 による。

個別規格の規定による。


25

C 5201-2:2014 (IEC 60115-2:2014)

表 5

品質認証試験計画

続き

試験項目

a)

試験条件

b)

D 又は

ND

c)

n

c)

c

c)

要求性能

4.23

  一連耐候性

5.2.12

による。 D

(全ての

試料)

0

−  高温

温度:UCT

時間:16 時間

−  温湿度サイクル

      最初のサイクル

温度+55  ℃で 1 サイクル

−  低温

温度:LCT 
時間:2 時間

−  減圧

大気圧:… kPa

時間:1 時間

−  温湿度サイクル

      残りのサイクル

温度+55  ℃で…サイクル

−  直流負荷

電圧:U

test max

U

max

で制限さ

れ,次による。

n

70

test

R

P

U

=

負荷試験時間:1 分

−  最終測定

外観

抵抗値 
絶縁抵抗値

h)

JIS C 5201-1

の 4.23.8 による。

個別規格の規定による。

R

ins

≧… Ω,6.3 による。

群 

4.25.1

  70  ℃での耐久性

5.2.14

による。

電圧:U

test max

U

max

で制限さ

れ,次による。

n

70

test

R

P

U

=

印加時間:1.5 時間 
停止時間:0.5 時間

試験時間:1 000 時間

外観 
抵抗値

絶縁抵抗値

h)

D ... 0

 
 
 
 
 
 
 
JIS C 5201-1

の 4.25.1.7 による。

個別規格の規定による。

R

ins

≧… Ω,6.3 による。

附属書 C  室温での耐久性 
(代替試験手順,水準 G
の 抵 抗 器 だ け に 適 用 す

る。

5.2.15

による。.

電圧:U

test max

U

max

で制限さ

れ,次による。

n

test

test

R

P

U

=

印加時間:1.5 時間

休止時間:0.5 時間

試験時間:1 000 時間 
外観

抵抗値

絶縁抵抗値

 
 
 
 
 
 
 
C.7

による。

個別規格の規定による。

6.3

による。

4.25.1.8

  70  ℃ で の 耐 久

性(延長)

(水準 P の抵抗器だけに

適用する。

上記による。ただし,試験期
間を 8 000 時間とする。

抵抗値

 
 
個別規格の規定による。


26 
C 5201-2:2014 (IEC 60115-2:2014)

表 5

品質認証試験計画

続き

試験項目

a)

試験条件

b)

D 又は

ND

c)

n

c)

c

c)

要求性能

群 8

 

 

4.24

  高温高湿(定常)

5.2.13

による。

温度: … ℃

相対湿度:… %

試験期間:… 
外観

抵抗値

絶縁抵抗値

h)

D … 0

 
 
 
 
JIS C 5201-1

の 4.24.4 による。

個別規格の規定による。

R

ins

≧… Ω,6.3 による。

群 

4.18

  はんだ耐熱性

5.2.8

による。

試験方法:はんだ槽法 
温度:…  ℃

浸せき(漬)時間:… s

外観 
抵抗値

D … 0

 
 
 
 
JIS C 5201-1

の 4.18.4 による。

個別規格の規定による。

4.35

  耐炎性

ニードルフレーム試験

接炎時間(t

a

:…秒間

(試料中

の…個)

 
許容燃焼時間(t

b

<…秒,個別規格の規定による。

群 10 

4.4.3

  寸法(詳細)

D 20

0

個別規格の規定による。

4.25.3

  カテゴリ上限温度

での耐久性

5.2.16

による。

試験時間:1 000 時間

外観 
抵抗値

絶縁抵抗値

h)

 
 
JIS C 5201-1

の 4.25.3.7 による。

個別規格の規定による。

R

ins

≧… Ω,6.3 による。

4.14

  温度上昇

(臨界抵抗値以下の抵抗
器に適用する。

5.2.5

による。

n

70

test

R

P

U

=

温度上昇

(試料中

の…個)

 
 
6.5

による。

群 11 

4.38

  静電気放電

5.2.21

による。

放電回数:

正極性 … 
負極性 …

形式

電圧

… … 
… …

外観

抵抗値

D … 0

 
 
 
 
 
 
 
JIS C 5201-1

の 4.38.4 による。

個別規格の規定による。

4.29

  部品の耐溶剤性

5.2.18

による。

溶剤:…

温度:… 
浸せき(漬)時間:…

外観

(試料の

半数)

 
 
 
 
JIS C 5201-1

の 4.4.1 による。


27

C 5201-2:2014 (IEC 60115-2:2014)

表 5

品質認証試験計画

続き

試験項目

a)

試験条件

b)

D 又は

ND

c)

n

c)

c

c)

要求性能

4.30

  表示の耐溶剤性

5.2.19

による。

溶剤:… 
温度:…

浸せき(漬)時間:…

ラビング材質:… 
外観

(試料の

残り

半数)

 
 
 
 
 
JIS C 5201-1

の 4.30.2 による。

群 12 

4.39

  断続過負荷試験

(水準 P の抵抗器だけに

適用する。

5.2.22

による。

電圧(U

test

:...

印加時間:0.1 秒間

停止時間:2.5 秒間 
パルスサイクル数:1 000

外観

抵抗値

 
 
 
 
 
JIS C 5201-1

の 4.4.1 による。

個別規格の規定による。

群 13 

4.19

  温度急変,

100 サイクル以上 
(水準 P の抵抗器だけに

適用する。

5.2.10

による。

T

A

=LCT,T

B

=UCT

形式

サイクル数

… … 
… …

外観 
抵抗値

D 20 0

 
 
 
 
 
JIS C 5201-1

の 4.19.3 による。

個別規格の規定による。

群 14 

4.27

  単 パ ル ス 高 電 圧 過

負荷試験

(水準 P の抵抗器だけに

適用する。

5.2.17

による。

パルス波形:...

電圧:U

test

=...

繰返し数(n

:...

1 分間当たりのパルス数(f

:...

外観

抵抗値

D 20 0

 
 
 
 
 
JIS C 5201-1

の 4.27.3.7 による。

個別規格の規定による。

a)

  箇条番号は,JIS C 5201-1 による。

b)

  ここに規定した試験条件は,最も関係の深いパラメータによって適切な試験の概要を示すためであり,より詳

細を規定したこの規格の関連する箇条,又は引用規格よりも優先するものではない。"..."は表中で試験条件等を

省略したことを示す。

c)

  文字記号及び略語は,附属書 による。

f)

  この試験を実施する抵抗器は,群 1,群 2,群 3,副群 A1,副群 A2 又は副群 B1 の中で測定しない,かつ,群 1

又は

群 の試料の数に含めない。

g)

  個別規格に,いかなる鉛フリーはんだにも適合できないと明記している場合,この試験は適用できない。

h)

  この測定は絶縁形抵抗器だけに適用する。


28 
C 5201-2:2014 (IEC 60115-2:2014)

表 6a

品質確認検査の試験計画:ロットごとの試験

試験項目

a)

試験条件

b)

D 又は

ND

c)

IL

c)

c

c)

要求性能

副群 A1 

4.5

  抵抗値

d)

ND

%

JIS C 5201-1

の 4.5.2 による。

副群 A2 

4.4.1

  外観

e)

表示は 7.1 による。 ND

S-4

0

JIS C 5201-1

の 4.4.1 による。

4.4.2

  寸法(ゲージ法)

e)

5.2.1

による。

個別規格の規定による。

副群 B1 

4.7

  耐電圧

5.2.3

による。

電圧(U

test

:...・U

ins

試験時間:...秒間

ND S-3

0

 
JIS C 5201-1

の 4.7.3 による。

4.13

  短時間過負荷

(水準 P の抵抗器だけに適用
する。

5.2.4

による。

電圧(U

test

:...

形式

試験時間

… … 
… …

外観 
抵抗値

D

 
 
 
 
 
JIS C 5201-1

の 4.13.3 による。

個別規格の規定による。

副群 B2

f)

4.17

  はんだ付け性

(Sn-Pb はんだ合金)

5.2.7

による。

エージング …

試験方法:はんだ槽法

温度 … 
浸せき(漬)時間…

外観

D S-3

0

 
 
 
 
 
6.6

による。

4.17

  はんだ付け性

(鉛フリーはんだ)

g)

5.2.7

による。

エージング …

試験方法:はんだ槽法 
温度 …

浸せき(漬)時間…

外観

 
 
 
 
 
6.6

による。

副群 B3 

4.8

  温度による抵抗値変化

(抵抗温度係数±50×10

6

/K よ

り優れた抵抗器に適用する。

測定順序: 20 ℃ / LCT / 
20  ℃  / UCT / 20  ℃

D S-3

0

個別規格の規定による。

a)

  表 

a)

 による。

b)

  表 

b)

 による。

c)

  表 

c)

 による。

d)

  この検査は,製造工程中に全数(100 %)検査によって不適合品を除去した後に実施する。ロットの検査途中で

の合否にかかわらず,出検品質水準を監視するために抜取試料を全て検査する。サンプリング水準は,製造業

者が JIS C 5005-2 

附属書 A[信頼水準 60 %における 100 万個当たりの不適合品率(ppm)で示す統計的工程

品質限界(SVQL)の推定]によって決めることが望ましい。

抜取試料中に 1 個以上の不適合品を発見した場合には,このロットは不合格とし,不適合品は,全て品質水

準の評価のために数える。統計的工程品質限界(SVQL)は,JIS C 5005-2 の 6.2(SVQL の算出)に規定する方
法によって累積した検査データから算出する。

e)

  製造業者が,管理限界を超える部品を取り除くため,寸法測定に統計的工程管理(SPC)又はその他の仕組みを

取り入れる場合は,この試験を工程内検査で置き換えてもよい。

f)

  表 

f)

 による。

g)

  表 

g)

 による。


29

C 5201-2:2014 (IEC 60115-2:2014)

表 6b

品質確認検査の試験計画:定期的試験

試験項目

a)

試験条件

b)

 D

c)

又は

ND

p

c)

n

c)

c

c)

要求性能

副群 C1

i)

D

3

20

4.16

  端子強度

5.2.6

による。

外観 
抵抗値

  (試料

の半
数)

 
JIS C 5201-1

の 4.16.6 a)による。

個別規格の規定による。

4.19

  温度急変

5.2.9

による。

5 サイクル 
T

A

=LCT,T

B

=UCT

外観 
抵抗値

  (試料

の残

り半

数)

 
 
 
JIS C 5201-1

の 4.19.3 による。

個別規格の規定による。

4.22

  振動

5.2.11

による。

掃引による耐久性;

周波数:f

1

=... Hz;f

2

=... Hz

各軸の掃引サイクル数:

  n=…

加速度:a=… m/s

2

振幅:Δ

r

=… mm

導電性の連続性 
 
外観

抵抗値

 
 
 
 
 
 
 
JIS C 5201-1

の 4.22.3 及 び

4.22.4

による。

JIS C 5201-1

の 4.22.4 による。

個別規格の規定による。

4.23

  一連耐候性

5.2.12

による。

  (試料

の全

数)

−  高温

温度:UCT

時間:16 時間

−  温湿度サイクル 
      最初のサイクル

温度+55  ℃で 1 サイクル

−  低温

温度:LCT

時間:2 時間

−  減圧

大気圧:… kPa

時間:1 時間

−  温湿度サイクル 
      残りのサイクル

温度+55  ℃で…サイクル

−  直流負荷

電圧:U

test max

U

max

で制限さ

れ,次による。

n

70

test

R

P

U

=

負荷試験時間:1 分

−  最終測定

外観 
抵抗値

絶縁抵抗値

h)

JIS C 5201-1

の 4.23.8 による。

個別規格の規定による。

R

ins

≧…Ω,6.3 による。


30 
C 5201-2:2014 (IEC 60115-2:2014)

表 6b

品質確認検査の試験計画:定期的試験

続き

試験項目

a)

試験条件

b)

 D

c)

又は

ND

p

c)

n

c)

c

c)

要求性能

副群 C2

i)

4.25.1

  70  ℃での耐久

5.2.14

による。

電圧:U

test max

U

max

で制限さ

れ,次による。

n

70

test

R

P

U

=

印加時間:1.5 時間 
停止時間:0.5 時間

試験時間:1 000 時間

外観 
抵抗値

絶縁抵抗値

h)

D

3 20 0

 
 
 
 
 
 
 
JIS C 5201-1

の 4.25.1.7 による。

個別規格の規定による。

R

ins

≧…Ω,6.3 による。

附属書 C  室温での耐
久性

(代替試験手順,水準 G
の抵抗器だけに適用す

る。

5.2.15

による。

電圧:U

test max

U

max

で制限さ

れ,次による。

n

test

test

R

P

U

=

印加時間:1.5 時間 
休止時間:0.5 時間

試験時間:1 000 時間

外観 
抵抗値

絶縁抵抗値

 
 
 
 
 
 
C.7

による。

 
個別規格の規定による。

6.3

による。

4.25.1.8

  70  ℃ で の 耐

久性(延長)

(水準 P の抵抗器だけ
に適用する。

上記による。ただし,試験期

間:8 000 時間とする。

抵抗値

 12

 
個別規格の規定による。

副群 C3

i)

4.18

  はんだ耐熱性

5.2.8

による。

試験方法:はんだ槽法 
温度:…  ℃

浸せき(漬)時間:… s

外観 
抵抗値

D

3 20 0

 
 
 
 
JIS C 5201-1

の 4.18.4 による。

個別規格の規定による。

4.35

  耐炎性

5.2.20

による。

ニードルフレーム試験

接炎時間(t

a

:…秒間

 36 (試料

中の

5 個)

 
 
許容燃焼時間(t

b

<…秒,個別規格の規定によ
る。

副群 D1

i)

4.8

  温度による抵抗値

変化 
(抵抗温度係数±50×
10

6

/K より優れた抵抗

器に適用する。

測定順序:20  ℃  / LCT / 20  ℃
/ UCT / 20  ℃

D

12

20 0

個別規格の規定による。


31

C 5201-2:2014 (IEC 60115-2:2014)

表 6b

品質確認検査の試験計画:定期的試験

続き

試験項目

a)

試験条件

b)

 D

c)

又は

ND

p

c)

n

c)

c

c)

要求性能

副群 D2

i)

 

 

 

4.24

  高温高湿(定常)  5.2.13 による。

温度:…  ℃

相対湿度:… %

試験期間:… 
外観

抵抗値

絶縁抵抗値

h)

D

12

20 0

 
 
 
 
JIS C 5201-1

の 4.24.4 による。

個別規格の規定による。

R

ins

≧… Ω,6.3 による。

副群 D3

i)

4.4.3

  寸法(詳細)

D

36

20 0

個別規格の規定による。

4.25.3

  カテゴリ上限温

度での耐久性

5.2.16

による。

試験時間:1 000 時間

外観

抵抗値 
絶縁抵抗値

h)

 
 
JIS C 5201-1

の 4.25.3.7 による。

個別規格の規定による。

R

ins

≧… Ω,6.3 による。

4.14

  温度上昇

(臨界抵抗値以下の抵

抗器に適用する。

5.2.5

による。

電圧:

n

70

test

R

P

U

=

温度上昇

  (試料

中の

6 個)

 
 
6.5

による。

群 E

i)

4.38

  静電気放電

5.2.21

による。

放電回数:

正極性 …

負極性 …

形式

電圧

… … 
… …

外観 
抵抗値

D

12

20 0

 
 
 
 
 
 
 
JIS C 5201-1

の 4.38.4 による。

個別規格の規定による。

4.29

  部品の耐溶剤性

5.2.18

による。

溶剤:…

温度:… 
浸せき(漬)時間:…

外観

  (試料

数の

半数)

 
 
 
 
JIS C 5201-1

の 4.4.1 による。

4.30

  表示の耐溶剤性

5.2.19

による。

溶剤: …

温度: … 
浸せき(漬)時間: …

ラビング材質: …

外観

  (試料

数の

残り

半数)

 
 
 
 
 
JIS C 5201-1

の 4.30.2 による。


32 
C 5201-2:2014 (IEC 60115-2:2014)

表 6b

品質確認検査の試験計画:定期的試験

続き

試験項目

a)

試験条件

b)

 D

c)

又は

ND

p

c)

n

c)

c

c)

要求性能

群 F

i)

 

 

 

4.19

  温度急変

100 サイクル以上 
(水準 P の抵抗器だけ

に適用する。

5.2.10

による。

T

A

=LCT,T

B

=UCT

形式

サイクル数

… … 
… …

外観

抵抗値

D

36

20 0

 
 
 
 
 
JIS C 5201-1

の 4.19.3 による。

個別規格の規定による。

群 G

i)

4.27

  単 パ ル ス 高 電 圧

過負荷試験

(水準 P の抵抗器だけ

に適用する。

5.2.17

による。

パルス波形:...

電圧:U

test

=...

繰返し数(n

:...

1 分間当たりのパルス数(f

:...

外観

抵抗値

D

12

20 0

 
 
 
 
 
JIS C 5201-1

の 4.27.3.7 による。

個別規格の規定による。

a)

  表 

a)

  による。

b)

  表 

b)

  による。

c)

  表 

c)

  による。

h)

  表 

h)

  による。

i)

  ある副群で 1 個以上の不適合品が発生した場合には,その副群に含まれる全ての試験を再度実施する。再試験

で,不適合品がないことを確認する。再試験中,製品の出荷は継続してもよい。


33

C 5201-2:2014 (IEC 60115-2:2014)

附属書 A

規定)

ジャンパー(0 Ω)抵抗器

A.1

一般事項

この附属書は,ジャンパー(0 Ω)抵抗器(以下,ジャンパー抵抗器という。

)を,ゼロを超える公称抵

抗値の抵抗器のファミリの一部とみなす場合,ジャンパー抵抗器を同じ個別規格を含み,かつ,同じ品質

評価手順で扱えるようにすることを,目的とする。

この規格の規定は,ジャンパー抵抗器に適用できる。

ただし,次の

A.2

A.7

に規定する修正事項は除く。

A.2

推奨特性

ジャンパー抵抗器に関しては,箇条

4

による推奨特性の規定を,次のように修正して適用する。

4.4

に規定する公称抵抗値は,ジャンパー抵抗器の場合,0 Ω とする。

4.5

に規定する公称抵抗値の許容差を,最大許容残留抵抗 R

resmax

に置き換える。R

resmax

の推奨値は,10

mΩ,20 mΩ 及び 50 mΩ である。

4.7

に規定する素子最高電圧 U

max

を,直流又は交流(実効値)での最大許容電流 I

max

に置き換える。

A.3

試験及び試験の厳しさ

ジャンパー抵抗器に関しては,箇条

5

による試験及び試験の厳しさの規定を,次のように修正して適用

する。

−  試験電圧 U

test

及び試験電圧の最大値 U

test max

は,ジャンパー抵抗器には用いず,それぞれ I

test

に対する

規定として適用する。

−  試験電圧は,ジャンパー抵抗器には適用せず,最大許容電流 I

max

を適用する。

5.2.4

に規定する短時間過負荷に規定する試験電圧は,ジャンパー抵抗器には適用せず,推奨の試験電

流値(パルス過負荷試験電流)I

test

は,次による。

I

test

=2.5 I

max

ここに,

I

test

推奨のパルス過負荷試験電流

I

max

最大許容電流値

過負荷試験時間 t

load

は,R

n

>0 Ω の抵抗器と同じ値を適用する。

5.2.17

に規定する単パルス高電圧過負荷試験は,ジャンパー抵抗器には適用しない。

5.2.21

に規定する静電気放電(ESD)試験は,ジャンパー抵抗器には適用しない。

5.2.22

に規定する断続過負荷試験(周期的パルス高電圧過負荷試験)の試験電圧は,ジャンパー抵抗

器には適用せず,推奨のパルス過負荷試験電流 I

test

は,次による。

I

test

max

15I

ここに,

I

test

推奨のパルス過負荷試験電流

I

max

最大許容電流値


34 
C 5201-2:2014 (IEC 60115-2:2014)

A.4

要求性能

ジャンパー抵抗器に関しては,箇条

6

による要求性能の規定を,次の修正を実施して適用する。

−  各試験の要求性能として,

6.2

に規定する抵抗値変化の限界を,最大許容残留抵抗 R

resmax

に置き換える。

6.4

に規定する温度による抵抗値変化は,適用しない。

A.5

表示

包装及び発注情報

ジャンパー抵抗器に関しては,箇条

7

による表示,包装及び発注情報の規定を,次のように修正して適

用する。

7.1

に規定する抵抗器本体への表示は,次による。

JIS C 5062

の箇条

3

(固定抵抗器の色による表示)によるカラーコードで表示する抵抗器のファミ

リである場合,ジャンパー抵抗器は,単一の黒帯を表示する。

JIS C 5062

の箇条

4

(抵抗値及び静電容量値の文字と数字とによる記号)による文字と数字記号と

で表示する抵抗器のファミリである場合,単一の文字ゼロを表示する。

7.4

に規定する発注情報は,抵抗値変化の許容差を除外する。

A.6

個別規格

ジャンパー抵抗器に関しては,

箇条

8

による個別規格の規定を,

この附属書のように修正して適用する。

A.7

品質評価手順

ジャンパー抵抗器に関しては,箇条

9

による品質評価手順の規定を,次のように修正して適用する。

−  試験電圧 U

test

及び最高試験電圧 U

test max

は,ジャンパー抵抗器には適用せず,それぞれ I

test

に対する規

定として適用する。

−  定格電圧

n

70

r

R

P

U

=

は,ジャンパー抵抗器には適用せず,最大許容電流 I

max

を適用する。

−  検査ロットの構成に関しては,ジャンパー抵抗器は,いかなる抵抗値範囲であっても,その一部とみ

なすことはないため,抵抗値範囲の下限値としてはならない

5.2.5

に規定する温度上昇は,ジャンパー抵抗器にも適用する。

ジャンパー抵抗器の品質認証及び品質確認検査では,

表 5

表 6a

又は

表 6b

の次の試験は適用しない。

JIS C 5201-1

4.8

(温度による抵抗値変化)に規定する温度による抵抗値変化

JIS C 5201-1

4.27

(単パルス高電圧過負荷試験)に規定する単パルス高電圧過負荷試験

JIS C 5201-1

4.38

(静電気放電)に規定する静電気放電及び人体モデル


35

C 5201-2:2014 (IEC 60115-2:2014)

附属書 B

参考)

ラジアル形状にリード線端子を成形した抵抗器の形式記号

B.1

一般事項

B.1.1

適用範囲

この附属書は,アキシャルリード線端子付き抵抗器を基に,抵抗器本体外側のリード線を各種のラジア

ル形状に成形した抵抗器についていろいろな形のラジアル形状についての基本情報及び推奨情報を記載す

る。

この附属書は,そのようなラジアル形状にリード線端子を成形した形式の抵抗器の品質評価には適さな

い。ただし,ここに示す情報及び推奨情報は,この規格に従って,ラジアル形状にリード線端子を成形し

た抵抗器に適したブランク個別規格及び個別規格を作成するために用いてもよい。

この附属書に示す情報及び推奨情報は,横形又は縦形のラジアル形状に成形した抵抗器に適用する。こ

のようにラジアル成形したものには,リード線が直線のもの,又は抵抗器の取付高さ保持,若しくはリー

ド線保持のために必要なリード線形状のもの,さらに,被覆若しくは絶縁したリード線のもの又は裸リー

ド線のものがある。

ラジアル形状の抵抗器であっても,リード線又は端子を抵抗器本体の外側で成形していないものは,こ

の附属書の適用範囲ではなく,それらはこの規格の本体の規定を適用する。

B.1.2

ラジアル形状にリード線端子を成形した形式の名称

B.1.2.1

品質評価の適用範囲

リード線端子を成形する工程は,その抵抗器の製造工程において一般的には最終工程であり,このため

一般的な製品出荷検査の前又は後に実施する。ただし,リード線端子の成形工程は,製品の特性及び信頼

性に影響する危険性をもっている。ラジアル形状への成形時期が,出荷検査の前又は後のどちらであるか

を,形式記号で明確に区分できるようにすることが望ましい。

B.1.2.2

リード線端子の成形を含む品質評価

リード線のラジアル成形が,抵抗器の製造工程の一部とみなせる場合,すなわち,抵抗器の品質認証検

査及び品質確認検査をリード線のラジアル成形の後に実施することを意図する場合,成形した抵抗器は,

専用の個別規格作成の対象となる。

リード線のラジアル成形専用の個別規格には,アキシャル形状との違いを明確に,かつ,元のアキシャ

ル形状との類似性を推定できる形式記号で示すことが望ましい。

4.2

では,アキシャルリード線端子の形式記号を“RA_”

(3 番目の文字は適用する製品技術)で始める

ため,第 2 文字を変えてラジアル形状を表してもよい。この方式による形式記号の例を,次に示す。

RL_  ラジアル形状にリード線端子を成形した横形形状の抵抗器

完全な形式記号には,例えば,RLM0204,RLC0207 などがある。

RU_  ラジアル形状にリード線端子を成形した縦形形状の抵抗器

完全な形式記号には,例えば,RUM0207,RUX0411 などがある。

B.1.2.3

リード線端子の成形に先行する品質評価

抵抗器の製造業者によって,又は抵抗器の使用者での組立工程の一部として,製品の製造後に抵抗器の

ラジアル加工を実施する場合には,リード線の成形工程は,品質評価に含めない。この場合の形式記号は,


36 
C 5201-2:2014 (IEC 60115-2:2014)

品質評価を実施したアキシャル形抵抗器の形式記号を用いる。ただし,ラジアル成形品であることを明確

に示すために,

元のアキシャル形の形式記号に接尾語を追加してもよい。

この方式による形式記号の例を,

次に示す。

L

リード線端子をラジアル成形した横形の抵抗器

完全な形式記号には,例えば,RAM0204L,RALC0207L などがある。

U

リード線端子をラジアル成形した縦形の抵抗器

完全な形式記号には,例えば,RAM0207U,RAXC0411U などがある。

B.1.3

塗装されたリード線

片方又は両方のリード線に保護塗装(抵抗器本体に適用するのと同じ塗装,又は別の専用塗装材のいず

れか)を実施することがある。

リード線の塗装は,はんだ付けを意図したリード線から十分な間隔をもたせる。

リード線の塗装は,絶縁形抵抗器だけに適用を意図し,かつ,一般に抵抗器本体にだけ適用する絶縁抵

抗及び耐電圧試験を同時に実施して,その性能を確認した場合を除き,絶縁物とみなさないことが望まし

い。試験の厳しさ及び要求事項は,抵抗器本体と塗装したリード線との間では,同じであることが望まし

い。

B.1.4

搭載高さを保持する手段

直線のリード線をもつラジアル形状に成形した抵抗器は,プリント配線板に直接接触しやすく,搭載高

さの基準を満たし難くするため,プリント配線板の表面実装部品の表面よりも上の適切な高さに実装する

ための特別な方法を必要とする。

リード線端子は,曲げ又はキンクのような方法で,部品と基板との間に意図するクリアランスをもたせ

てもよい。そのための方法は,そのアウトライン及び設計取付高さについて適切に規定するために,個別

規格に図示し,寸法を規定することが望ましい。

そのような方法の効果は,プリント配線板中の実際の孔寸法に依存する。したがって,個別規格には,

孔径に関する適切な範囲を規定する必要がある。

B.1.5

保持方法

ラジアル形状に成形し,プリント配線板を貫通して直線のリード線の終端をもつ抵抗器は,はんだ付け

に先立って貫通したリード線の先端をクリンチする以外に,十分に固定できない。

はんだ付けに先だって,適切に部品を保持するために,キンク,ラジアル又はアキシャルクリンプ等の

方法を用いる。

そのための方法は,

そのアウトライン及び適用制限について適切に記述するために,

個別規格に図示し,

寸法を規定することが望ましい。

そのような方法の効果は,プリント配線板中の実際の孔寸法に依存する。したがって,個別規格には,

孔径に関する適切な範囲を規定する必要がある。

B.2

ラジアル形状にリード線端子を成形した抵抗器の形式

B.2.1

ラジアル形状にリード線端子を成形した横形の抵抗器の形式

ラジアル形状に成形した横形の抵抗器を,

図 B.1

及び

図 B.2

に示す。


37

C 5201-2:2014 (IEC 60115-2:2014)

図 B.1

ラジアル形状にリード線端子を成形した横形の抵抗器の形状及び寸法

1

装着面は基板表面に相当する(IEC 60717 参照)

図 B.2

ラジアル形状にリード線端子を成形し,キンクしたリード線をもつ横形の抵抗器の形状及び寸法

ラジアル形状に成形した横形の抵抗器の個別規格には,最低限,次の寸法を規定する。

L

IEC 60294

の測定法による本体長さ。最低必要情報は L

max

D

IEC 60294

の測定法による本体直径。最低必要情報は D

max

d

IEC 60301

による公称リード線径。

S

成形したリード線の間隔

l

f min

  テープ包装で覆われない成形したリード線の最小開放長さ

Δs

max

  l

f min

の位置で測定した場合の成形したリード線の最大間隔

例えば,曲げ又はキンクによって,基板表面との距離を確保した抵抗器については,次の寸法を追加し

て規定する。

h

基板表面に対する抵抗器本体の高さ。最小値は h

min

で示す。

図 B.1

及び

図 B.2

に示す成形加工では,

はんだ付けをする前はプリント配線板に抵抗器が保持できない。

追加の保持手段,例えば,リード線のクリンプ又はダブルキンクを,個別規格で図示し,寸法を規定する

ことが望ましい。

個別規格には,追加寸法及び図例を適切に含める。外形が円筒体に基づいた以外のものである場合,個

別規格には,抵抗器についての適切な寸法情報を規定することが望ましい。

ラジアル形状にリード線端子を成形した横形の抵抗器の形式記号とリード線の間隔との可能な組合せの

概略を,

表 B.1

に示す。

Δs

L

D

S

d

l

f

L

D

S

Δ

1

l

f

 


38 
C 5201-2:2014 (IEC 60115-2:2014)

表 B.1

ラジアル形状にリード線端子を成形した横形の抵抗器の形式記号と

リード線の間隔との可能な組合せ

形式記号

リード線間隔 S

a)

mm

2.5 5 7.5 10 12.5 15 17.5 20

RA_0204

(Y) Y  Y  NA NA NA NA

RA_0207

− Y  Y  Y NA

NA

NA

RA_0309

(Y)

Y Y Y Y

RA_0411

(Y) Y

Y  Y

RA_0414

(Y) Y

Y

RA_0617

(Y) Y

RA_0922

リード線間隔 S>20 mm は,JIS C 0806-2 の対象外で,ラジアル形状に成形した部品の自動挿入用には適さない。

Y  それぞれの本体形状で実現可能なリード線間隔

(Y)  本体径 DD

max

の抵抗器で潜在的に実現可能性のあるリード線間隔

NA  ラジアル形状に成形した抵抗器として供給することを推奨しないリード間隔 
−  適用しない。

注記  異なるリード線間隔にリード線端子を成形した抵抗器が実際に入手可能であることを示すものではない。 

a)

  の許容差は,+0.5/−0.2 mm

B.2.2

ラジアル形状にリード線端子を成形した縦形の抵抗器の形式

ラジアル形状に成形した縦形の抵抗器を,

図 B.3

図 B.4

及び

図 B.5

に示す。

1

フリーなリード線への保護塗装の適用は任意とする。

注記  基板への取付けに対して,推奨されている方法は,保護塗装の延びた部分とはんだ

フィレットとの間に目視できるクリアランスを保つことである

IEC 61192-3 参照)

図 B.3

ラジアル形状に成形した縦形の抵抗器の形状及び寸法

Δs

u

S

c

1

L

B

l

f


39

C 5201-2:2014 (IEC 60115-2:2014)

1

フリー配線への保護塗装の適用は任意とする。

2

取付面が,基板表面になる(IEC 60717 参照)

図 B.4

幅広間隔のラジアル形状にリード線端子を成形した縦形の抵抗器の形状及び寸法

1

フリー配線への保護コートの適用はオプションになる。

2

装着面は基板表面に相当する(IEC 60717 参照)

図 B.5

幅広間隔のラジアル形状にリード線端子を成形し,

キンクしたリードをもつ縦形の抵抗器の形状及び寸法

垂直挿入実装用にラジアル形状にリード線端子を成形した抵抗器の個別規格には,最低限,次の寸法を

規定する。

L

IEC 60294

の測定法による本体長さ。最低必要情報は L

max

D

IEC 60294

の測定法による本体直径。最低必要情報は D

max

d

IEC 60301

による公称リード線径

u

2

1

S

h

L

B

l

f

Δ

1

u

S

2

h

L

B


Δs

l

f


40 
C 5201-2:2014 (IEC 60115-2:2014)

B

max

  リード線のたわみの最大高さ

c

保護塗装の延びた長さ

u

抵抗器本体下限と保護していないリード線とのクリアランス(個別規格に規定がある場合

だけ)

S

成形したリード線の間隔

l

f min

  テープ包装で覆われない成形したリード線の最小開放長さ

Δs

max

  l

f min

の位置で測定した場合の成形したリード線の最大間隔

例えば,曲げ又はキンクによって,基板表面との距離を確保した抵抗器については,次の寸法を追加し

て規定する。

h

基板表面に対する抵抗器本体の高さ。最小値は h

min

で示す。

図 B.3

図 B.4

及び

図 B.5

に示す成形加工では,はんだ付けをする前はプリント配線板に抵抗器が保持で

きない。追加の保持手段,例えば,リード線のクリンプ又はダブルキンクを,個別規格で図示し,寸法を

規定することが望ましい。

個別規格には,追加寸法及び図例を適切に含める。外形が円筒体に基づいた以外のものである場合,個

別規格には,抵抗器についての適切な寸法情報を規定することが望ましい。

ラジアル形状にリード線端子を成形した縦形の抵抗器の形式記号とリード線の間隔との可能な組合せの

概略を,

表 B.2

に示す。

表 B.2

ラジアル形状にリード線端子を成形した縦形の抵抗器の形式記号と

リード線の間隔との可能な組合せ

形式記号

リード線間隔 S

a)

mm

2.5 5 7.5 10 12.5 15 17.5 20

RA_0204 Y

Y

NA

NA

NA NA NA NA

RA_0207 Y

Y

Y

NA

NA NA NA NA

RA_0309

− Y Y Y NA

NA

NA

NA

RA_0411

− Y Y Y NA

NA

NA

NA

RA_0414

(Y) Y

Y  NA  NA  NA  NA

RA_0617

− Y  Y  Y NA

NA

NA

RA_0922

(Y) Y

Y  Y  NA

リード線間隔 S>20 mm は,JIS C 0806-2 の対象外で,ラジアル形状に成形した部品の自動挿入用には適さない。

Y  それぞれの本体形状で実現可能なリード線間隔

(Y)  本体径 DD

max

の抵抗器で潜在的に実現可能性のあるリード線間隔

NA  ラジアル形状に成形した抵抗器として供給することを推奨しないリード間隔 
−  適用しない。

注記  異なるリード線間隔にリード線端子を成形した抵抗器が実際に入手可能であることを示すものではない。 

a)

  の許容差は,+0.5/−0.2 mm

B.3

包装

リード線端子を成形した抵抗器は,袋詰め又は自動装置のために

JIS C 0806-2

の規定によるテーピング

で供給する。

テーピング包装を適用する場合,個別規格には詳細について図示し,規定することが望ましい。

JIS C 

0806-2

に基づいて,最低限,次の寸法を規定する。ただし,及び H

0

は,そのいずれかを規定すればよ


41

C 5201-2:2014 (IEC 60115-2:2014)

い。

W

キャリアテープ幅

P

0

送り穴の間隔

P

リード線端子を成形した抵抗器の相互の間隔

H

抵抗器本体の底面とスプロケット穴の中心線との間の距離

H

0

リード線端子を成形した抵抗器の取付面と送り穴の中心線との間の距離

H

1

曲げたリード線を含む成形した抵抗器の上面と送り穴の中心線との間の距離

B.4

品質評価

B.4.1

一般事項

リード線端子を成形した抵抗器の品質評価は,成形していない類似のアキシャル形状の抵抗器に対して

規定する品質評価の原則,手順,方法,計画及び要求事項に基づくことが望ましい。

B.4.2

リード線端子を成形した抵抗器の品質評価

リード線端子の成形が抵抗器の製造工程の一部である場合,完成品で実施する品質認証及び品質確認検

査は,その成形工程によって抵抗器が受けた特性及び信頼性への影響が含まれる。

この場合,個別規格には,リード線端子を成形した抵抗器に関する全ての規定,リード線端子を成形し

た抵抗器の図示及び寸法,全ての関連特性,定格及び試験の厳しさ並びに適切な品質評価手順の規定が必

要である。

このような個別規格の品質評価手順は,初期の抵抗器の品質認証試験及び品質確認検査を用いることが

望ましく,それらはこの規格の規定に基づき,個別規格に規定がある場合,

B.4.4

に記載する保護塗装及び

/又は絶縁被覆したリード線に適切な試験で補足する。試験の適用範囲は,アキシャルリード線端子付き

抵抗器の規定に対して同等以上とすることが望ましい。また,試験の厳しさ及び要求性能は,アキシャル

リード線端子付き抵抗器の規定に対しても同等以上とすることが望ましい。

B.4.3

品質評価済の抵抗器のリード線端子成形

抵抗器の製造後にリード線端子の成形処理をする場合,部品製造業者による抵抗器の品質評価だけでな

く,部品使用者の組立工程の一部としての抵抗器の品質評価にも,その成形工程を含めない。

曲げ加工の工程が抵抗器の特性及び信頼性に影響する可能性があることを理解することが望ましい。し

たがって,

アキシャルリード線端子付き抵抗器でリード線端子の成形工程を規定するいかなる個別規格も,

品質評価の適用範囲に制限があることを明記することが望ましい。

B.4.4

特別検査の要求事項

B.4.4.1

成形したリード線端子の外観検査

抵抗器本体に適用する試験に加えて,絶縁したリード線にも,

JIS C 5201-1

4.4

(外観検査及び寸法検

査)による外観検査を適用することが望ましい。

次のうちのいずれかが観察された場合,合格としないことが望ましい。

−  規格以上のリード線の曲がり

−  リード線のクラック

−  リード線上に発生した公称線径の 10 %以上の穴又はへこみ

リード線が保護塗装又は絶縁されている場合,次の事項が観察されたとき,合格としないことが望まし

い。

−  塗装のクラック


42 
C 5201-2:2014 (IEC 60115-2:2014)

−  塗装のめくれ又は脱落

−  塗装中のボイド

B.4.4.2

絶縁したリード線に対する絶縁抵抗

抵抗器本体に適用する保護塗装の試験に加えて,絶縁したリード線にも,

JIS C 5201-1

4.6

(絶縁抵抗)

による絶縁抵抗試験を適用することが望ましい。

抵抗器本体については,V ブロック法を規定しているが,絶縁したリード線の絶縁抵抗試験には,

JIS C 

5201-1

4.6.1.2

[金属はく(箔)法]を適用する。金属はく(箔)でリード線の全ての塗装部分を包むこ

とが望ましく,金属はく(箔)の端部とリード線の絶縁していない部分との間は 1 mm∼1.5 mm の間隔を

あけることが望ましい。

抵抗器本体の絶縁抵抗試験に対して規定する合否判定基準と同じ基準を,絶縁したリード線の絶縁抵抗

試験にも適用することが望ましい。

B.4.4.3

絶縁したリード線に対する耐電圧

抵抗器本体に適用する耐電圧試験に加えて,絶縁したリード線にも,

JIS C 5201-1

4.7

(耐電圧)によ

る絶縁抵抗試験を適用することが望ましい。

抵抗器本体については,V ブロック法を規定しているが,絶縁したリード線の絶縁抵抗試験には,

JIS C 

5201-1

4.6.1.2

[金属はく(箔)法]を適用する。金属はく(箔)でリード線の全ての塗装部分を包むこ

とが望ましく,金属はく(箔)の端部とリード線の絶縁していない部分との間は 1 mm∼1.5 mm の間隔を

あけることが望ましい。

抵抗器本体の耐電圧試験に対して規定する合否判定基準と同じ基準を,絶縁したリード線の耐電圧試験

にも適用することが望ましい。


43

C 5201-2:2014 (IEC 60115-2:2014)

附属書 C 

規定)

室温での耐久性

C.1

この附属書の一時的な発行に関する説明

この附属書の必要性をこの箇条に記載する。

JIS C 5201-1

の 2011 年版では,

4.25

の耐久性試験に関して,例えば一般的にパワー抵抗器に適用される

室温での耐久性試験の規格を除外するなどの修正を行っている。

全ての耐久性試験条件へと修正するための

4.25

の完全な修正は,

JIS C 5201-1

の次の版で準備中であり,

次の条件を暫定的に適用する。

4.25

を修正した

IEC 60115-1

の第 5 版が発行されれば,この

附属書 C

は使用せず,本品種別通則中の

属書 C

への参照先は,

IEC 60115-1

の第 5 版の適切な参照先に変更する。

注記

IEC 60115-1

の次の版では,箇条番号が変更される可能性がある。

C.2

一般事項

JIS C 5201-1

:2011 の

4.25.1

(70 °C での耐久性)に記載された定格温度での寿命試験は,電力形抵抗器に

適さない。

問題は,試験で発生する熱によって,合理的なサイズ及び方法で装置を定格温度でコントロールするこ

とができないことである。

定格温度での耐久性試験にそのような問題があるため,適切な代替の方法として室温での耐久性試験を

規定する。

その他の耐久性試験の方法と同じレベルの抵抗素子の温度とするためには,定格電力を超える適切な電

力を適用する必要がある。

C.3

試験槽及び試料の取付け

試験槽の寸法及び試験する抵抗器の数は,15 °C∼35 °C の温度に維持することができるような状態とす

る。

温度センサーは,

抵抗器から適切に間隔を置き,

直接抵抗器からの放熱の影響を受けないよう遮蔽する。

注記

  この室温での耐久性試験のためにビル内の一室を使用してもよい。この場合,個別の試験槽で

通常使用されるような総合的なモニタリングと安全機構が最低限必要である。

抵抗器上に過度な通風があってはならない。

試験槽で強制空気循環を使用する場合,抵抗器上を自然対流以外に通風がないように保護する。

試料の取付けは,抵抗器の種類によって個別規定に規定がない場合,次の条件による。

a

)  ヒートシンクを使用するよう設計されておらず,主にプリント基板用での使用を意図しない抵抗器は,

それらの端子を絶縁材料のラック上で適切なクリップによって固定する。

試料の半数は水平方向で,その他の半数は垂直方向として,重ねずに取付けする。抵抗器の軸間の

距離は,抵抗器の本体の直径の 7 倍以上とする。

b

)  プリント基板での使用を意図する端子を備えた抵抗器には,個別規格に試料の取付けのための適切な

基板に関する規定がなければ,

a

)と同様の取付け方法を適用する。


44 
C 5201-2:2014 (IEC 60115-2:2014)

C.4

初期測定

抵抗値を

JIS C 5201-1

4.5

(抵抗値)に従って測定する。

C.5

温度及び負荷

試験槽に挿入した状態で,抵抗器の試験のために,15 °C∼35 °C の温度範囲を規定する標準大気条件{

JIS 

C 5201-1

4.2.1

[測定及び試験のための標準大気条件(標準状態)

}にする。したがって,この試験の公

称試験温度は 25 °C とする。

抵抗器は,規定する試験時間の全てにおいて 1.5 時間 ON,0.5 時間 OFF のサイクルの試験を行う。

試験電圧は,適切な電力及び定格抵抗値から計算された電圧,又は最高使用電圧から計算された電圧の

うち小さい方とする。試験電圧は,値の±5 %以内に維持する。試験電圧は,個別仕様に適切な規定がな

い場合,直流又は交流実効値のいずれでもよい。

この試験のための適切な電力は,試験する抵抗器の仕様及び軽減曲線に依存する。

a

)  標準大気条件の試験の範囲内に定格電力が定められており,例えば,

図 C.1

に示したような 25 °C で

の P25 を定格電力とする抵抗器に対しては,この定格電力をこの試験の電力として適用する。

これは,例えば,70 °C で P

70

のような定格電力が存在しても変わらない。

電力

周囲温度

図 C.1

適切な試験電力のための軽減曲線

b

)  標準状態範囲の試験温度で定格が定められていない抵抗器,例えば,

図 C.2

のように周囲温度 70 °C

での P

70

だけを規定する抵抗器のために,この試験の適切な電力は,軽減曲線の定格から電力ゼロに

至る直線を公称試験温度 25 °C に外挿することで決める(これは,電力を上げる方法としてしばしば

使用される方法である。


45

C 5201-2:2014 (IEC 60115-2:2014)

電力

周囲温度

図 C.2

適切な試験条件のない軽減曲線

外挿は,次の式を使って求める。

)

(

)

(

r

amb

r

test

T

UCT

T

UCT

P

P

×

=

ここに,  P

test

試験電圧

P

r

定格電力,たぶん T

r

 = 70 °C に対する P70

T

amb

試験の周囲温度,T

amb

 = 25 °C

T

r

定格温度,たぶん T

r

 = 70 °C

注記

  この試験電力の決め方は,軽減曲線の図が実際に定格以上を図示しているかどうか,すなわち,

個別仕様が定格以上を許容しているかどうかにかかわらない。この試験電圧への外挿は軽減曲

線の一部とはならない。

C.6

試験期間

定格温度での試験期間は,(1 000 + 16)時間(約 42 日間)とする。

C.7

中間測定

個別仕様によって,例えば 48 時間,168 時間,500 時間などの中間測定の期間を規定してもよい。いか

なる中間測定の規定にも,適切な要求事項を記載する。

個別仕様で認証試験計画の一部として中間測定を規定するか省略するか,又は認証試験計画のオプショ

ンとして残すかを規定する。

中間測定として規定するどのような要求事項も,

1 000 時間で規定する要求事項よりも劣っていてはなら

ない。

中間測定のために,次の方法のうちの一つを適用してもよい。選択する方法は,全ての中間測定におい

て,個別の試験計画中のいずれの試料にも適用する。

a

)  中間の抵抗値測定を試験槽内で行う場合は,標準試料の測定が試験に先立って試験槽内で行っている

必要がある。そのような試験槽内での測定は,0.5 時間の休止時間の後半に実施する。

b

)  抵抗器を試験室から取り出し,中間の抵抗値測定の前に 1 時間∼4 時間の標準大気条件での回復時間


46 
C 5201-2:2014 (IEC 60115-2:2014)

を設ける。試験槽からの取り出しは,0.5 時間の休止時間の後半に実施する。全ての試料において,取

り出しから再投入までの期間は 8 時間を超えてはならない。

C.8

最終検査,測定及び要求事項

試験期間の終了後に抵抗器を試験室から取り出し,

1 時間∼4 時間の標準大気条件での回復時間を設ける。

抵抗器を目視検査する。外観に損傷がなく,表示が判読可能でなければならない。

抵抗値を

JIS C 5201-1

4.5

(抵抗値)に従って測定する。

C.4

で測定した抵抗値変化に関しては,個別

仕様に記載する要求値を超えてはならない。

絶縁形抵抗器の絶縁抵抗値は,

JIS C 5201-1

4.6

(絶縁抵抗)に基づく個別仕様の規定によって測定す

る。絶縁抵抗値は個別仕様の要求事項に適合しなければならない。


47

C 5201-2:2014 (IEC 60115-2:2014)

附属書 D 

参考)

文字記号及び略語

D.1

文字記号

文字記号は,次の

表 D.0A

による。

表 D.0A

文字記号に対する説明及び単位

記号

記号の説明

単位

加速試験での加速度

m/s

2

試験基板又はプリント配線板の孔直径 mm

合格判定数(許容不適合品数) 1

リード線上に延びた保護塗装樹脂のはみ出し mm

試験基板又はプリント配線板の導体幅 mm

リード線端子の直径

mm

抵抗器本体の直径

mm

周波数又は試験負荷周期 Hz;

min

1

f

1

振動試験での掃引周波数の下限値 Hz

f

2

振動試験での掃引周波数の上限値 Hz

抵抗器の軸方向の試験基板の格子間隔 mm

プリント配線板上の部品高さ,又はクリアランス mm

抵抗器本体の底面とスプロケット穴の中心線との間の距離 mm

H

0

リード線端子を成形した抵抗器の取付け面と送り穴の中心線との間の距離 mm

H

1

曲げたリード線を含む成形した抵抗器の上面と送り穴の中心との間の距離 mm

I

max

最大許容電流値

A

I

test

試験電流値

A

I

test

パルス過負荷試験電流

A

リード線の長さ

mm

l

f min

テープ包装で覆われない成形したリード線の最小開放長さ mm

抵抗器本体の長さ

mm

L

c

保護塗装樹脂のはみ出しを含む本体長さ mm

質量

mg

定義された領域の限界と外側の格子位置間のマージン mm

試料数

1

試験サイクル数

1

任意の数値,位置

1

n

pos

人体モデル静電気放電試験での正極性放電数 1

n

neg

人体モデル静電気放電試験での負極性放電数 1

試験周期

試験基板又はプリント配線板からのリード線の突き出し mm

p

amb

試験の雰囲気条件としての大気圧 kPa

抵抗器の軸に対して垂直方向の試験基板のピッチ,格子間隔 mm

キャリアテープ中の部品ピッチ mm

P

0

キャリアテープ中のスプロケット穴のピッチ mm

P

70

周囲温度 70  ℃での定格電力 W

P

r

定格電力

W

P

test

試験での印加電力

W


48 
C 5201-2:2014 (IEC 60115-2:2014)

表 D.0A

文字記号に対する説明及び単位

続き

記号

記号の説明

単位

リード線の曲げ内側半径 mm

r

振動試験における変位

mm

実測抵抗値

R

抵抗値変化

R/R

事前の測定値に対する抵抗値変化 %

R

crit

臨界抵抗値  R

crit

U

max

2

/P

70

R

ins

絶縁抵抗

R

n

公称抵抗値

R

res

残留抵抗値

R

resmax

最大許容残留抵抗値

RH

たとえば試験のための大気条件としての相対湿度 %

R

抵抗値変化

R/R

事前の測定値に対する抵抗値変化 %

R

n

公称抵抗値

ラジアル形状にリード線端子を成形した抵抗器の端子間隔 mm

s

max

成形したリード線の最大開き mm

t

a

耐炎試験のさらし時間

s

t

b

耐炎試験のさらし後の燃焼時間 s

t

exp

一連耐候性試験のさらし時間 h;

d

t

imm

耐溶剤性又ははんだ槽試験での浸せき(漬)時間 s

t

load

電気的又は機械的試験での負荷時間 s

t

on

周期的負荷試験での印加時間 s;

h

t

off

周期的負荷試験での停止時間 s;

h

T

温度上昇

K

T

A

温度急変試験における低温側温度 °C

T

B

温度急変試験における高温側温度 °C

T

amb

試験の雰囲気条件としての温度 °C

T

bath

耐溶剤性又ははんだ槽試験での槽温度 °C

T

max

最高温度,最高素子温度 °C

T

r

定格温度

°C

T

max

最大許容温度上昇

K

T

met

素子最高温度。この規格では,UCT とする。

°C

T

sup

温度シーケンス中での最高温度 °C

電圧

V

U

ins

絶縁電圧

V

U

max

素子最高電圧,又は最大許容電圧 V

U

r

定格電圧 U

r

R

P

70

V

U

test

試験電圧

V

U

test max

最高試験電圧

V

U

test

パルス印加試験でのピーク電圧 V

U

test max

パルス印加試験でのピーク電圧の上限値 V

キャリアテープ幅

mm


49

C 5201-2:2014 (IEC 60115-2:2014)

D.2

略語

略語は,次の

表 D.1A

による。

表 D.1A

略語に対する説明

略語

略語の説明

C

炭素皮膜技術(製品技術の記号)

CA

能力認証(Capability approval)

CB

認証機関(Certification body)

CoC

適合証明書(Certificate of conformity)

D

破壊試験(Destructive)

DMR

管理責任者(品質システム管理者)

[Designated management representative (quality system manager)]

ESD

静電気放電(Electrostatic discharge)

G

メタルグレーズ技術(製品技術の記号)

HBM

人体モデル(Human body model)

,静電気放電試験において静電容量と抵抗値とによって表す。

IECQ CB

IECQ 認証機関(IECQ Certification body)

IL

検査水準(Inspection level)

IPA

イソプロピルアルコール,イソプロパノール(Cas.No.: 67-63-0)

(Isopropyl alcohol, Isopropanol)

L

リード線端子をラジアル成形した横形の抵抗器のための型式記号を表す接尾語

LCT

カテゴリ下限温度(Lower category temperature)

MET

素子最高温度(Maximum element temperature)

ND

非破壊試験(Non destructive)

NSI

国内監督検査機関(National supervising inspectorate)

注記  IECQ 01[IEC 電子部品品質認証システム(IECQ スキーム)−基本ルール]は,2007 年 12

月版で用語“監督検査機関”を“IECQ 認証機関(IECQ-CB

”に改正している。

ONS

国内監督検査機関[Organisme National de Surveillance (National supervising inspectorate)]

注記  この用語は,National Supervising Inspectorate(NSI)が使われる以前の仕様書で使われていた。

QA

品質認証(Qualification approval)

RA

アキシャルリード線端子の抵抗器を表す接頭語

RL

ラジアル形状にリード線端子を成形した横形形状の抵抗器を表す接頭語

RU

ラジアル形状にリード線端子を成形した縦形形状の抵抗器を表す接頭語

SPC

統計的工程管理(Statistical process control)

TA

技術認証(Technology approval)

TADD

技術認証申請書(Technology approval declaration document)

TAS

技術認証スケジュール(Technology approval schedule)

TC

温度係数(抵抗値に限らない。

(Temperature coefficient)

TCR

抵抗温度係数(Temperature coefficient of resistance)

U

リード線端子をラジアル成形した縦形の抵抗器を表す接尾語

UCT

カテゴリ上限温度(Upper category temperature)

X

酸化金属皮膜技術(製品技術の記号)


50 
C 5201-2:2014 (IEC 60115-2:2014)

附属書 E

参考)

旧版との相互参照

この品種別通則は新しい構成となった。次の表は,この規格の旧版の全ての構成に対する相互参照であ

る。

JIS C 5201-2:1998

IEC 60115-2:1982  第 2 版)

箇条/細分箇条

この規格の

箇条/細分箇条

注記

主題は箇条 1,箇条 及び箇条 に記載した。

1.1

1.2 

旧版の適用範囲及び目的は箇条 に統合した。

1.3 2 

1.4 8

8.1 

1.4.1 8.2.1

8.2.2 

1.4.2 8.2.15 

1.4.3 8.2.2 

1.4.4 8.2.3

8.2.9 

1.4.4.1 8.2.4 

1.4.5 8.2.13 

主題は,箇条 4,箇条 及び箇条 に記載した。

2.1 

主題は,箇条 及び箇条 に記載した。

2.1.1 4.3 

2.1.2 6.4 

旧版の

表 は,表 として引き継ぐ。

2.1.3 6.2 

旧版の

表 II は,表 として引き継ぐ。

2.2 4 

2.2.1 4.4 

2.2.2 4.5 

2.2.3 4.6 

番号のない旧版の図は,

図 として引き継ぐ。

2.2.4 4.7 

2.2.5 4.8 

2.2.6 4.9 

2.3 5 

2.3.1 5.1.1 

2.3.2 5.2.11 

2.3.3 5.2.12.5 

2.3.4 5.2.4 

3 9 

3.1 9.2.2 

3.2 9.4 

旧版の

表 III は,表 として引き継ぐ。

3.3 9.5 

3.3.1 9.3 

3.3.2 9.5 

3.3.3 9.2.3 

旧版の

表 IVA 及び表 IVB は,表 に含む。


51

C 5201-2:2014 (IEC 60115-2:2014)

参考文献

JIS C 0806-2

  自動実装部品の包装−第 2 部:ラジアルリード線端子部品の連続テープによる包

JIS C 5063

  抵抗器及びコンデンサの標準数列

JIS C 60068-2-13

  環境試験方法(電気・電子)減圧試験方法

JIS C 60068-2-14

  環境試験方法−電気・電子−第 2-14 部:温度変化試験方法(試験記号:N)

JIS C 60068-2-21

  環境試験方法−電気・電子−第 2-21 部:試験−試験 U:端子強度試験方法

JIS C 60068-2-30

  環境試験方法−電気・電子−第 2-30 部:温湿度サイクル(12+12 時間サイ

クル)試験方法(試験記号:Db)

JIS C 60068-2-45

  環境試験方法−電気・電子−耐溶剤性(洗浄溶剤浸せき)試験方法

JIS C 60068-2-78

  環境試験方法−電気・電子−第 2-78 部:高温高湿(定常)試験方法

JIS C 60695-11-5

  耐火性試験−電気・電子−第 11-5 部:試験炎−ニードルフレーム(注射針

バーナ)試験方法−装置,試験炎確認試験装置の配置及び指針

IEC 60027-1

,Letter symbols to be used in electrical technology−Part 1: General

IEC 60060-1

,High-voltage test techniques−Part 1: General definitions and test requirements

IEC 60195

,Method of measurement of current noise generated in fixed resistors

IEC 60440

,Method of measurement of non-linearity in resistors

IEC 60717

,Method for the determination of the space required by capacitors and resistors with

unidirectional terminations

IEC 61192-3

,Workmanship requirements for soldered electronic assemblies−Part 3: Through-hole

mount assemblies

IECQ 03-3

,IEC Quality Assessment System for Electronic Components (IECQ System)−Rules of

Procedure  −Part 3: IECQ Approved Component Products, Related Materials & Assemblies

Scheme

IECQ 03-3-1

,IEC Quality Assessment System for Electronic Components (IECQ System)−Rules of

Procedure  −Part 3-1: IECQ Approved Component Products, Related Materials & Assemblies

Scheme, IECQ Approved Componen−Technology Certification (IECQ  AC-TC)

IEC 80000 

(all parts),Quantities and units