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C 5101-15 : 1998

(1) 

まえがき

この規格は,工業標準化法に基づいて,日本工業標準調査会の審議を経て,通商産業大臣が制定した日

本工業規格である。

これによって,JIS C 5142(電子機器用固定タンタル固体電解コンデンサ)は廃止され,この規格に置

き換えられる。

この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権(平成 5 年 12 月 31

日以前に出願された出願公開後の実用新案登録出願を含む。

)又は出願公開後の実用新案登録出願に抵触す

る可能性があることに注意を喚起する。通商産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような技術的性質

をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認に

ついて,責任はもたない。

部編成規格  この規格の部編成規格を次に示す。

JIS

C

5101 群

電子機器用固定コンデンサ

JIS

C

5101-1

第 1 部:品目別通則

JIS

C

5101-2

第 2 部:品種別通則:固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流
コンデンサ

JIS

C

5101-2-1

第 2 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィル
ム直流コンデンサ評価水準 E

JIS

C

5101-3

第 3 部:品種別通則:固定タンタルチップコンデンサ

JIS

C

5101-3-1

第 3 部:ブランク個別規格:固定タンタルチップコンデンサ評価水準 E

JIS

C

5101-4

第 4 部:品種別通則:アルミニウム固体及び非固体電解コンデンサ

JIS

C

5101-4-1

第 4 部:ブランク個別規格:アルミニウム非固体電解コンデンサ評価水準 E

JIS

C

5101-4-2

第 4 部:ブランク個別規格:アルミニウム固体電解コンデンサ評価水準 E

JIS

C

5101-8

第 8 部:品種別通則:固定磁器コンデンサ種類 1

JIS

C

5101-8-1

第 8 部:ブランク個別規格:固定磁器コンデンサ種類 1 評価水準 E

JIS

C

5101-9

第 9 部:品種別通則:固定磁器コンデンサ種類 2

JIS

C

5101-9-1

第 9 部:ブランク個別規格:固定磁器コンデンサ種類 2 評価水準 E

JIS

C

5101-10

第 10 部:品種別通則:固定積層磁器チップコンデンサ

JIS

C

5101-10-1

第 10 部:ブランク個別規格:固定積層磁器チップコンデンサ評価水準 E

JIS

C

5101-11

第 11 部:品種別通則:固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コン
デンサ

JIS

C

5101-11-1

第 11 部:ブランク個別規格:固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直
流コンデンサ評価水準 E

JIS

C

5101-13

第 13 部:品種別通則:固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ(予定)

JIS

C

5101-13-1

第 13 部:ブランク個別規格:固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ
評価水準 E(予定)

JIS

C

5101-14

第 14 部:品種別通則:電源用電磁障害防止固定コンデンサ

JIS

C

5101-14-1

第 14 部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ評価水準 D

JIS

C

5101-15

第 15 部:品種別通則:固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ

JIS

C

5101-15-1

第 15 部:ブランク個別規格:はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ評価水
準 E

JIS

C

5101-15-2

第 15 部:ブランク個別規格:焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ評価水準 E

JIS

C

5101-15-3

第 15 部:ブランク個別規格:焼結形固定タンタル固体電解コンデンサ評価水準 E


C 5101-15 : 1998

まえがき

(2) 

JIS

C

5101-16

第 16 部:品種別通則:固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ(予
定)

JIS

C

5101-16-1

第 16 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデ
ンサ評価水準 E(予定)

JIS

C

5101-17

第 17 部:品種別通則:固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコ
ンデンサ(予定)

JIS

C

5101-17-1

第 17 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパ
ルスコンデンサ評価水準 E(予定)

JIS

C

5101-18

第 18 部:品種別通則:固定アルミニウム固体 (MnO

2

)  及び非固体電解チップコンデ

ンサ(予定)

JIS

C

5101-18-1

第 18 部:ブランク個別規格:固定アルミニウム固体 (MnO

2

)  電解チップコンデンサ

評価水準 E(予定)

JIS

C

5101-18-2

第 18 部:ブランク個別規格:固定アルミニウム非固体電解チップコンデンサ評価水
準 E(予定)

JIS

C

5101-20

第 20 部:品種別通則:固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルムチップ
直流コンデサ(予定)

JIS

C

5101-20-1

第 20 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルム
チップ直流コンデンサ評価水準 EZ(予定)


C 5101-15 : 1998

(1) 

目次

ページ

序文

1

第 1 章  一般事項

1

1.  一般事項

1

1.1  適用範囲

1

1.2  目的

2

1.3  引用規格

2

1.4  個別規格に規定する事項

2

1.5  用語

3

1.6  表示

3

第 2 章  推奨特性及び定格

4

2.  推奨特性及び定格

4

2.1  推奨特性

4

2.2  推奨定格値

4

第 3 章  品質評価手順

5

3.  品質評価手順

5

3.1  製造の初期工程

5

3.2  構造的に類似なコンデンサ

5

3.3  出荷対象ロットの成績証明書

5

3.4  品質認証

5

3.5  品賀確認検査

12

第 4 章  試験及び測定方法

13

4.  試験及び測定方法

13

4.1  外観及び寸法

13

4.2  電気的試験

13

4.3  端子強度

15

4.4  はんだ耐熱性

15

4.5  はんだ付け性

15

4.6  温度急変

16

4.7  振動

16

4.8  バンプ

16

4.9  衝撃

16

4.10  一連耐候性

17

4.11  高温高湿(定常)

17

4.12  耐久性

17

4.13  サージ

18


C 5101-15 : 1998

目次

(2) 

4.14  逆電圧(個別規格に規定がある場合)

18

4.15  高温及び低温特性

19

4.16  充放電(個別規格に規定がある場合)

19

4.17  部品の耐溶剤性

19

4.18  表示の耐溶剤性

19

4.19  大電流サージ

19

関連規格

19


日本工業規格

JIS

 C

5101-15

: 1998

電子機器用固定コンデンサ−

第 15 部:品種別通則:

固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ

Fixed capacitors for use in electronic equipment

Part 15 : Sectional specification :

Fixed tantalum capacitors with non-solid or solid electrolyte

序文  この規格は,1982 年に初版として発行された IEC 60384-15, Fixed capacitors for use in electronic

equipment Part 15 : Sectional specification : Fixed tantalum capacitors with non-solid or solid electrolyte,並びに

Amendment 1 : 1987 及び Amendment 2 : 1992 を翻訳し,技術的内容及び規格票の様式を変更することなく

作成している。ただし,Amendment については,編集し,一体とした。

  なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,原国際規格にない事項である。また,IEC 規格番号

は,1997 年 1 月 1 日から実施の IEC 規格新番号体系によるものであり,これより前に発行された規格に

ついても,規格番号に 60000 を加えた番号に切り替えた。これは,番号だけの切替えであり内容は同一で

ある。

第 1 章  一般事項 

1.

一般事項

1.1

適用範囲  この規格は,JIS C 5101-1 を品目別通則とする品種別通則で,電子機器用非固体並びに固

体の有極性及び双極性タンタル電解コンデンサについて規定する。

この規格は,長寿命等級コンデンサ及び一般等級コンデンサを範囲とする。特殊な用途のコンデンサに

は,要求性能を追加してもよい。

この規格は,次の三つの基本的なサブファミリのコンデンサに適用する。

サブファミリ 1:

はく電極形 (Foil electrode) 固定タンタル非固体電解コンデンサ

1A: 平滑はく電極形 (Plane foil electrode)

1B: 粗面化はく電極形  (Etched foil electrode)

サブファミリ 2:

焼結形 (Porous anode) 固定タンタル非固体電解コンデンサ

サブファミリ 3:

焼結形 (Porous anode) 固定タンタル固体電解コンデンサ

備考  この規格の対応国際規格は,次による。

IEC 60384-15 : 1982, Fixed capacitors for use in electronic equipment

  Part 15 : Sectional

specification : Fixed tantalum capacitors with non-solid or solid electrolyte,並びに Amendment 1 :

1987 及び Amendment 2 : 1992


2

C 5101-15 : 1998

1.2

目的  この規格の目的は,この品種のコンデンサの推奨する定格及び特性を規定するとともに,JIS 

C 5101-1

から適切な品質評価手順,試験方法及び測定方法を選定し,この規格を適用するコンデンサの一

般的要求性能を規定することである。この品種別通則に基づいた個別規格に規定する試験の厳しさ及び要

求性能は,この規格と同等又は高い水準とする。

1.3

引用規格  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成

する。これらの引用規格のうちで,発効年又は発行年を付記してあるものは,記載の年の版だけがこの規

格の規定を構成するものであって,その後の改正版・追補・Amendment には適用しない。発効年又は発行

年を付記していない引用規格は,その最新版(追補・Amendment を含む。

)を適用する。

JIS C 0010 : 1993

  環境試験方法−電気・電子−通則

備考  IEC 60068-1 : 1978, Basic environmental testing procedures  Part 1 : General からのすべての引用

事項は,この規格の該当事項と同等である。

なお,JIS C 0010 : 1993 は,IEC 60068-1 : 1988 及び Amendment 1 : 1992 と一致している。

JIS C 5063

  抵抗器及びコンデンサの標準数列

備考  IEC 60063 : 1963, Preferred number series for resistors and capacitors,並びに Amendment 1 : 1967

及び Amendment 2 : 1977 が,この規格と一致している。

JIS C 5101-1

  電子機器用固定コンデンサー  第 1 部:品目別通則

備考  IEC 60384-1 : 1982, Fixed capacitors for use in electronic equipment  Part 1 : Generic specification,

並びに Amendment 2 : 1987, Amendment 3 : 1989 及び Amendment 4 : 1992 からのすべての

引用事項は,この規格の該当事項と同等である。

JIS Z 8601

  標準数

備考  ISO 3 : 1973, Preferred numbers−Series of preferred numbers からのすべての引用事項は,この

規格の該当事項と同等である。

IEC QC 001001 : 1986

  Basic rules of the IEC quality assessment system for electronic components (IECQ)

Amendment 2 : 1994

IEC QC 001002 : 1986

  Rules of procedures of the IEC quality assessment system for electronic components

(IECQ) Amendment 2 : 1994

1.4

個別規格に規定する事項  個別規格は,関連するブランク個別規格の様式による。個別規格は,品

目別通則,品種別通則又はブランク個別規格の要求性能よりも低い水準の要求性能を規定してはならない。

より厳しい要求性能を規定する場合は,その内容を個別規格の 1.9(品目別通則及び/又は品種別通則への

追加又はより厳しい要求事項)に記載し,更に,試験計画の中に例えば,アステリスク  (

*

)  を付けて明示

する。

備考  1.4.1 の外形図及び寸法は,一覧表で示してもよい。

個別規格に次の事項を規定し,それぞれの規定値をこの規格の該当する項目の中から選定する。

1.4.1

外形図及び寸法  外形及び寸法は,他のコンデンサとの比較及び区分が容易にできるように図示す

る。コンデンサの互換性及び取付けに関連する寸法及び寸法許容差は,個別規格に規定する。また,すべ

ての寸法は原則としてミリメートルで規定する。ただし,原寸法がインチで示してある場合は,ミリメー

トルによる換算値を追記する。

寸法は,本体の長さ,幅,高さ及び端子間隔とする。円筒形の場合は,本体の直径及び長さ,並びに端

子の長さ及び直径を規定する。

“定格静電容量値と定格電圧の組合せ範囲”のように,幾つかの組合せを個

別規格に規定する場合は,必要に応じてそれぞれの寸法及び寸法許容差を図面の下に表で示す。


3

C 5101-15 : 1998

(3) 

形状が上記のコンデンサと異なる場合は,個別規格にそのコンデンサを適切に示す寸法を規定する。

コンデンサがプリント配線板用でない場合は,個別規格の中にそのことを明記する。

1.4.2

取付け  一般的に取り付ける方法並びに振動及びバンプ又は衝撃の各試験での取付方法は,個別規

格に規定する。コンデンサは,その規定された方法で取り付ける。

コンデンサの設計上,特別な取付具を要求してもよい。この場合は,振動及びバンプ又は衝撃の各試験

には,取付具を使用することを個別規格に規定する。

1.4.3

定格及び特性  定格及び特性は,次によるほか,この規格の関連項目による。

1.4.3.1

定格静電容量範囲  定格静電容量の範囲は,2.2.1 による。

備考  IEC 品質認証制度  (IECQ)  の場合,個別規格の定格静電容量範囲と認証を受けた範囲とが異な

る場合は,次の記述を追加する。

“各定格電圧での定格静電容量の範囲は,品質認証電子部品一覧表  (QPL)  による。

1.4.3.2

特殊な特性  設計及び使用目的によって,特殊な特性が必要な場合,追加規定してもよい。

1.4.3.3

はんだ付け  はんだ付け性及びはんだ耐熱性試験で適用する試験方法,厳しさ及び要求性能は,

個別規格に規定する。

1.4.4

表示  コンデンサ及びその包装に対する表示内容を個別規格に規定する。この規格の 1.6 と異なる

場合は,その内容を個別規格に明記する。

1.5

用語  JIS C 5101-1 に規定する用語の定義に加えて,次の用語の定義を適用する。

1.5.1

電解コンデンサの静電容量  (Capacitance of an electrolytic capacitor)    規定の測定周波数に近似的

な正弦波交流を用いて測定した静電容量と抵抗との直列回路からなる等価回路をもった静電容量。

1.5.2

長寿命等級コンデンサ (Long-life grade capacitors)   一般等級コンデンサよりも長期間にわたっ

て特性が高安定であることが必要なコンデンサ。

優れた性能が長期間にわたって得られるように材料を選定し,製造する。

1.5.3

一般等級コンデンサ (General-purpose grade capacitors)   一般に広く使用されるコンデンサで長

寿命等級コンデンサのような高い性能水準を必要としないコンデンサ。

1.5.4

定格電圧  (U

R

) (Rated voltage) 

  定格温度でコンデンサの端子間に連続して印加することができ

る直流電圧の最大値。

備考1.  コンデンサに印加する直流電圧と交流ピーク電圧の和は,定格電圧以下とする。

2.

短時間であれば定格電圧を超えてもよい(2.2.6 及び 4.13 による。

1.6

表示  JIS C 5101-1 の 2.4(表示)によるほか,次による。

1.6.1

表示項目は,次の項目から選定し表示する。表示の優先順位は,記載の順による。

a)

定格静電容量

b)

定格電圧(直流電圧を表す記号 d. c.  は,記号

又は

で表してもよい。

c)

カテゴリ電圧及びカテゴリ温度(長寿命等級コンデンサに適用)

(適用する場合)

d)

端子の極性

有極性コンデンサは,陽極端子近くに陽極記号を表示する。

双極性コンデンサは,両端に陽極を表示し,表示の余地がある場合は,

“BP”の文字を追加する。

e)

定格静電容量許容差

f)

等級(長寿命等級コンデンサに適用)

略号“LL”を用いてもよい。

g)

製造年月(又は年週)


4

C 5101-15 : 1998

h)

製造業者名又はその商標

i)

サブファミリの標識(

例  1,2 又は 3)

j)

耐候性カテゴリ

k)

製造業者の形名

l)

引用個別規格

1.6.2

コンデンサには,1.6.1 の a)b)及び d)並びに必要な場合,残りの項目をできる限り多く明りょう

に表示する。また,コンデンサの表示は,重複を避けることが望ましい。

1.6.3

コンデンサの包装には,1.6.1 に規定のすべての項目を明りょうに表示する。

1.6.4

表示を追加する場合には,混乱を生じないように表示する。

第 2 章  推奨特性及び定格 

2.

推奨特性及び定格

2.1

推奨特性  個別規格に規定する特性は,次の中から選定するのが望ましい。

2.1.1

推奨耐候性カテゴリ  この規格に規定するコンデンサの耐候性カテゴリは,JIS C 0010 の 8.(部品

耐候性カテゴリ)に規定の耐候性カテゴリによって分類する。

カテゴリ下限温度,カテゴリ上限温度及び高温高湿(定常)の試験期間は,次の中から選定する。

カテゴリ下限温度

:−55℃

カテゴリ上限温度

:+85℃,+100℃及び+125℃

高温高湿(定常)の試験期間  :4 日,10 日,21 日及び 56 日

低温及び高温の試験温度は,カテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度とする。

2.2

推奨定格値

2.2.1

定格静電容量  (C

R

  定格静電容量の推奨値は,JIS C 5063 の E3 標準数列及びその 10

n

は整数)

倍から選定するのが望ましい。ただし,ほかの値が必要な場合は,E6 標準数列を選定する。

2.2.2

定格静電容量許容差  定格静電容量許容差の推奨値は,次のとおりとする。

固体電解コンデンサ

非固体電解コンデンサ

± 5%

±10%

±10%

±20%

±20%

−10/+30%

−10/+50%

2.2.3

定格電圧  (U

R

  定格直流電圧の推奨値は,JIS Z 8601 の R5 標準数列を使用し,次による。

1.0  1.6  2.5  4.0  6.3 及びその 10

n

は整数)倍。

ほかの数値が必要な場合は,R10 標準数列を選定する。

2.2.4

カテゴリ電圧  (U

C

  カテゴリ電圧は,定格電圧とする。ただし,異なる場合は,個別規格の規定

による。

2.2.5

逆電圧  許容する逆電圧は,個別規格の規定による。

2.2.5.1

定格逆電圧  定格逆電圧は,有極性コンデンサが,カテゴリ下限温度及び定格温度(個別規格に

規定する。

)の間のすべての温度で連続して耐える逆電圧の値とする。

2.2.5.2

試験逆電圧  試験逆電圧は,逆電圧試験を行う場合に用いる電圧の値とする。

2.2.6

サージ  サージは,定格電圧又はカテゴリ電圧の 1.15 倍とする。

2.2.7

リプル(適用する場合)  リプル電流,リプル電圧の両方又はどちらか一方を個別規格に規定する。

2.2.8

定格温度  定格温度は,個別規格に規定がない場合 85℃とする。


5

C 5101-15 : 1998

(5) 

第 3 章  品質評価手順 

3.

品質評価手順

3.1

製造の初期工程  製造の初期工程は,酸化皮膜の化成工程とする。

3.2

構造的に類似なコンデンサ  構造的に類似なコンデンサは,外形寸法及び定格値が異なっていても

本質的に同じ製造工程及び材料で製造されたコンデンサとする。

3.3

出荷対象ロットの成績証明書  個別規格に規定がある場合で購入者から要求があるときは,JIS C 

5101-1

の 3.5.1(出荷対象ロットの成績証明書)によって,出荷対象ロットの成績証明書を提出しなければ

ならない。耐久性試験後に要求される特性値は,静電容量値の変化,損失角の正接 (tan

δ

)  及び漏れ電流と

する。

3.4

品質認証  品質認証試験の手順は,JIS C 5101-1 の 3.4(品質認証手順)による。

ロットごとの試験及び定期的試験に基づく品質認証試験の試験計画は,この規格の 3.5 による。

定数抜取手順は,次の 3.4.1 及び 3.4.2 による。

3.4.1

定数抜取手順に基づく品質認証

サンプリング方法  品質認証の定数抜取手順は,JIS C 5101-1 の 3.4.2 b)による。試料は,認証を得よう

とするコンデンサのすべての範囲を代表するものとし,個別規格に規定するすべての範囲であっても,ま

た,その一部でもよい。

抜き取る試料は,定格電圧の最低及び最高と外形寸法の最小及び最大との 4 組合せ(定格電圧と外形寸

法との組合せ)を選定する。ただし,外形寸法が 5 種類以上の場合は,中間の外形寸法のものも試験する。

外形寸法と定格電圧とのそれぞれの組合せの最大の定格静電容量を選定する。したがって,範囲認証の場

合,試験は 4 組合せ又は 6 組合せについて行う。認証範囲での組合せが,3 組合せ以下の場合の試料数は,

4 組合せと同じ試料数とする。

予備試料は,次による。

a)

群“0”での許容不良品の置き換え用として 1 組合せごとに 1 個

b)

製造業者の責任でない事故による不良品の置き換え用として 1 組合せごとに 1 個

群“0”に規定する試料数は,すべての群の試験が適用される場合の試料数である。これと異なる場

合は,それに従って試料数を減らしてもよい。

品質認証試験の試験計画に,群を追加する場合の群“0”の試料数は,追加する群に必要な試料数を

追加する。

表 に品質認証試験の場合の各群及び副群の試料数並びに合格判定個数を示す。

3.4.2

試験  表 及び表 II に規定の一連の試験は,個別規格に規定されたコンデンサの品質認証に必要

な試験であり,各群の試験は,記載の順に行う。

すべての試料は,群の“0”試験を行い,その後に他の群に分割する。

群“0”の試験中に生じた不良品は,その他の群に用いてはならない。

1 個のコンデンサが,一つの群内で二つ以上の項目で不良となっても,“不良数は 1 個”と数える。

不良数が各群及び各副群での合格判定個数を超えないで,かつ,不良の合計が総合格判定個数を超えな

い場合の品質認証は,合格とする。

備考  表 及び表 II は,定数抜取手順に基づく品質認証の試験計画を構成する。表 は各試験又は試

験群に対する試料数及び合格判定個数の詳細を規定している。また,

表 II は,第 章の試験の

詳細を規定しており,試験条件及び要求性能の要点の一覧を示すとともに個別規格に選定する

試験方法又は試験条件などを規定している。


6

C 5101-15 : 1998

定数抜取手順に基づく品質認証の試験計画の試験条件及び要求性能は,個別規格に規定する

品質確認検査と同じとする。

表 I  品質認証試験のサンプリング計画と合格判定個数

試料数  (n)  及び合格判定個数  (pd)

4 組合せ(

4

)

以下に

対する試験

6 組合せ(

4

)

対する試験

群番号

試験項目

この規格の
項目番号

1 組合せ(

4

)

当たりの試
料数

n

4n

pd

pd

合計

6n

pd

pd

合計

大電流サージ(

5

)

4.19

外観

4.1

寸法

4.1

漏れ電流

4.2.1

静電容量

4.2.2 26

104

1

156

2(

2

)

損失角の正接

4.2.3

インピーダンス  (

1

)

4.2.4

0

  予備試料

2

8

 12

 1A

端子強度

4.3 3

12

1

18

1

  はんだ耐熱性

4.4

  部品の耐溶剤性(

1

)

4.17

 1B

はんだ付け性

4.5 6

24

1

36

2(

2

)

  表示の耐溶剤性(

1

)

4.18

  温度急変

4.6

  振動

4.7

  バンプ又は衝撃(

3

)  4.8

又は 4.9

1

一連耐候性

4.10 9

36

2(

2

) 4  54 2(

2

) 6

2

高温高湿(定常)

4.11 5

20

1

30

2(

2

)

3

耐久性

4.12 5

20

1

30

2(

2

)

4A

サージ

4.13 2 8

12

1

4B

逆電圧(

1

)

4.14

2

8 1    12 1

高温及び低温特性

4.15 3

12

1

18

2(

2

)

5

充放電(

1

)

4.16

(

1

)

個別規格に規定がある場合に適用する。

(

2

)  1

組合せに対し 1 個を超える不良があってはならない。

(

3

)

適用は,個別規格の規定による。

(

4

)

定格電圧と外形寸法との組合せで,この規格の 3.4.1 による。

(

5

)

固体電解コンデンサで個別規格に規定がある場合に適用する。

備考  原国際規格 IEC 60384-15 Amendment 2 では,“大電流サージ”の適用項目番号が 4.17 と記載されて

いるが,4.19 の誤記のため,この規格では,4.19 と修正し,記載する。また,

表 II 群 0 の同じ項目

番号も同様とする。


7

C 5101-15 : 1998

(7) 

表 II  品質認証試験計画

備考1.  試験の項目番号は,第4章(試験及び測定方法)を参照する。

2.

表中の D は破壊試験,ND は非破壊試験である。

項目番号及び試験項目

備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

備考 1.参照)

試料数  (n)

及 び 合 格 判 定

個数  (pd)

要求性能

備考 1.参照)

群 0

ND

表 による。

4.19

 大電流サージ

(固体電解コンデンサで

個別規格に規定がある場合

に適用する。

4.1

  外観

4.1

による。

外観に損傷がなく,表示が明りょ

うであり,また,その他個別規格

の規定による。

4.2

  寸法

(詳細)

個別規格の規定による。

4.2.1

  漏れ電流

保護抵抗:...

個別規格の規定による。

4.2.2

  静電容量

周波数:...Hz

規定の許容差以内

4.2.3

  損失角の正接 (tan

δ

)

周波数:...Hz

個別規格の規定による。

4.2.4 

インピーダンス

(適用する場合)

周波数:...kHz

個別規格の規定による。

群 1A

D

表 による。

4.3.1

  初期測定

静電容量

4.3

  端子強度

外観

損傷がない。

4.4

  はんだ耐熱性

予備乾燥なし

試験方法(1A 又は 1B)は,個別

規格の規定による。

4.17

 部品の耐溶剤性

(適用する場合)

溶剤:...

溶剤の温度:...

方法:2

個別規格の規定による。

4.4.2

  最終測定

外観

損傷がなく,また,非固体電解コ

ンデンサでは電解質の漏れがな

い。

表示が明りょうである。

群 1B

D

表 による。

4.5

  はんだ付け性

エージングなし

方法:個別規格の規定による。

端子にはんだが良好に付着して

いるか,又ははんだ小球法の場合

規定の...秒以内にはんだが流れ

る。

4.18

 表示の耐溶剤性

(適用する場合)

溶剤:...

溶剤の温度:...

方法 1

こすりの材質:...

後処理時間:...

表示が明りょうである。

4.6.1

  初期測定

静電容量


8

C 5101-15 : 1998

項目番号及び試験項目

備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

備考 1.参照)

試料数  (n)

及 び 合 格 判 定

個数  (pd)

要求性能

備考 1.参照)

群 1B(続き)

D

表 による。

4.6

  温度急変

θ

A

=カテゴリ下限温度

θ

B

=カテゴリ上限温度

5 サイクル

試験時間 t=30min

後処理時間:16h

4.6.3

  最終測定

漏れ電流

個別規格の規定による。

静電容量

個別規格の規定による。

損失角の正接

個別規格の規定による。

4.7

  振動

取付方法:個別規格の規定によ

る。

手順:B4

周波数範囲:...Hz から...Hz

振幅:...mm 又は加速度...m/s

2

(いずれか緩い方)

試験時間:...h

4.7.2

  最終測定

外観

損傷がなく,また,非固体電解コ

ンデンサでは電解質の漏れがな

い。

4.8

  バンプ(又は 4.9 衝撃によ

る。

取付方法:個別規格の規定によ

る。

バンプの回数:...

ピーク加速度:390m/s

2

作用時間:6ms

4.9

  衝撃(又は 4.8 バンプによ

る。

取付方法:個別規格の規定によ

る。

ピーク加速度:...m/s

2

作用時間:...ms

4.8.2

又は

4.9.2

  最終測定

外観

損傷がなく,また,非固体電解コ

ンデンサでは電解質の漏れがな

い。

群 1

D

表 による。

4.10

 一連耐候性

4.10.1

  初期測定

静電容量

4.10.2

  高温

温度:カテゴリ上限温度

試験時間:16h

外観

損傷がなく,また,非固体電解コ

ンデンサでは電解質の漏れがな

い。

4.10.3

  温湿度サイクル(12+12

時間サイクル),最初のサイ

クル

4.10.4

  低温

温度:カテゴリ下限温度

試験時間:2h

外観

損傷がなく,また,非固体電解コ

ンデンサでは電解質の漏れがな

い。


9

C 5101-15 : 1998

(9) 

項目番号及び試験項目

備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

備考 1.参照)

試料数  (n)

及 び 合 格 判 定

個数  (pd)

要求性能

備考 1.参照)

群 1(続き)

D

表 による。

4.10.5

  減圧(個別規格に規定があ

る場合)

気圧:8.5kPa

外観

破壊,フラッシュオーバ又は外装

に著しい変形がない。

4.10.6

  温湿度サイクル(12±12

時間サイクル),残りのサイ

クル

4.10.7 

最終測定

外観

損傷がなく,また,非固体電解コ

ンデンサでは電解質の漏れがな

い。

表示が明りょうである。

初期規定値

C

C

  長寿命等級:

4.10.1

の測定値の

5%及

び 4.3.1 又は 4.6.1 のいずれ

か 適 用 さ れ る 測 定 値 の

8%

  一般等級: 

漏れ電流

静電容量

表 による。

4.10.1

の測定値の

12%

損失角の正接

サブファミリ 1:

初期規定値の 1.15 倍

サブファミリ 2 及び 3:

初期規定値

4.10.8

  封止(個別規格に規定が

ある場合)

方法:...

最大漏れ:...

群 2

D

表 による。

4.11

 高温高湿(定常)

4.11.1

  初期測定

静電容量

4.11.2

  最終測定

外観

損傷がなく,また,非固体電解

コンデンサでは電解質の漏れが

ない。

表示が明りょうである。

漏れ電流

初期規定値

静電容量

C

C

  長寿命等級:

    4.11.1 の測定値の

8%

  一般等級

    4.11.1 の測定値の

12%

損失角の正接

サブファミリ 1 及び 2:

初期規定値の 1.15 倍

サブファミリ 3:

初期規定値

外部絶縁の絶縁抵抗

(適用する場合)

100M

外部絶縁の耐電圧

(適用する場合)

絶縁破壊又はフラッシュオーバ

がない。


10

C 5101-15 : 1998

項目番号及び試験項目

備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

備考 1.参照)

試料数  (n)

及 び 合 格 判 定

個数  (pd)

要求性能

備考 1.参照)

群 3

D

表 による。

4.12

 耐久性

試験時間:

  長寿命等級:2 000h

  一般等級:1 000h

試験温度:

  ...℃(適用する場合)

試験電圧:...V

後処理:16h

4.12.1

  初期測定

静電容量

4.12.3

  最終測定

外観

損傷がない。

表示が明りょうである。

漏れ電流

初期規定値の 1.25 倍

静電容量

C

C

4.12.1

の測定値に対し

*

適用する場合

  サブファミリ 2:

20%

  サブファミリ 3:

10%

損失角の正接

サブファミリ 1 及び 2:

初期規定値の 1.3 倍

サブファミリ 3:

初期規定値

群 4A

D

表 による。

4.13 

サージ

サイクル数:1 000

温度:...℃

保護抵抗:1 000

Ω±10%

充電時間:30s

放電時間:5min30s

4.13.1

  初期測定

静電容量

4.13.3

  最終測定

漏れ電流

初期測定値

静電容量

C

C

  4.13.1 の測定値の

  サブファミリ 1:

5%

  サブファミリ 2 及び 3:

10%

損失角の正接

サブファミリ 1:

初期規定値の 1.15 倍

サブファミリ 2:

初期規定値の 1.3 倍

サブファミリ 3:

初期規定値


11

C 5101-15 : 1998

(11) 

項目番号及び試験項目

備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

備考 1.参照)

試料数  (n)

及 び 合 格 判 定

個数  (pd)

要求性能

備考 1.参照)

群 4B

D

表 による。

4.14

 逆電圧

(適用する場合)

試験時間:逆極性に 125h,...V を

定格温度で,引き続いて正極性

に 125h,定格電圧を定格温度で

印加する。

4.14.1

  初期測定

静電容量

4.14.3

  最終測定

漏れ電流

サブファミリ 1 及び 2:

初期規定値の 1.25 倍

サブファミリ 3:

初期規定値

静電容量

4.14.1

の測定値の

%

10

C

C

損失角の正接

初期規定値の 1.15 倍

群 5

D

表 による。

4.15

 高温及び低温特性

コンデンサを各温度段階で測定

する。

段階 1:20℃

  漏れ電流

  静電容量

  損失角の正接

  インピーダンス

*

(段階 2 と同

じ周波数)

    比較用の値に使用する。

段階 2:カテゴリ下限温度

  静電容量

個別規格の規定による。

  損失角の正接

*

個別規格の規定による。

  インピーダンス

*

個別規格の規定による。

段階 3:20℃(個別規格に規定

がある場合)

  漏れ電流

個別規格の規定による。

  静電容量

個別規格の規定による。

  損失角の正接

個別規格の規定による。

  インピーダンス

*

個別規格の規定による。

段階 4:定格温度

  漏れ電流

個別規格の規定による。

  静電容量

個別規格の規定による。

  損失角の正接

*

個別規格の規定による。

  インピーダンス

*

個別規格の規定による。

段階 5:カテゴリ上限温度

  漏れ電流

個別規格の規定による。

  静電容量

個別規格の規定による。

  損失角の正接

*

個別規格の規定による。

  インピーダンス

*

個別規格の規定による。

段階 6:20℃(個別規格に規定

がある場合)

  漏れ電流

個別規格の規定による。

  静電容量

個別規格の規定による。

  損失角の正接

個別規格の規定による。


12

C 5101-15 : 1998

項目番号及び試験項目

備考 1.参照)

D

又は

ND

試験条件

備考 1.参照)

試料数  (n)

及 び 合 格 判 定

個数  (pd)

要求性能

備考 1.参照)

群 5(続き)

D

  インピーダンス

*

表 による。

個別規格の規定による。

4.16

 充放電(個別規格に規定が

ある場合)

温度:20℃

サイクル数:10

6

充電時間:0.5s

充電抵抗:...

放電時間:0.5s

放電抵抗:...

4.16.1

  初期測定

静電容量

4.16.3

  最終測定

外観

損傷がなく,また,非固体電解

コンデンサは電解質の漏れがな

い。

表 による。

漏れ電流

初期規定値

静電容量

C

C

  4.16.1 の測定値の

    サブファミリ 1 及び 2:

10%

    サブファミリ 3:

5%

損失角の正接

初期規定値

*

適用する場合

3.5

品賀確認検査

3.5.1

検査ロットの構成

a)

群 検査及び群 検査  群 A 検査及び群 B 検査は,ロットごとに行う。製造業者は,次の条件のも

とに製品をまとめて検査ロットとしてもよい。

1)

検査ロットは,構造的に類似なコンデンサで構成する(3.2 参照)

2a)

試料は,検査ロットに含まれる組合せ及び寸法を代表する。

−  試料数

−  1 組合せ当たり 5 個以上

2b)  IEC

品質認証制度 (IECQ)  の場合は,1 組合せ当たり 4 個以下のとき,国内監督検査機関の承認が

必要である。

b)

群 検査  群 C 検査は,定期的に行う。

試料は,規定の期間に工程に流れている製品を代表するもので,定格電圧の高,中及び低電圧群又

は大,中及び小外形寸法群に分類したものとする。どの期間でも認証の範囲を満足するため定格電圧

が高,中及び低電圧群からそれぞれ一つ又は外形寸法が大,中及び小のものを外形寸法群からそれぞ

れ一つ試験し,次の期間には,認証の全範囲に及ぶように,製造品の中のほかの定格電圧又は外形寸

法のものを試験する。

3.5.2

試験計画  品質確認検査のためのロットごとの品質検査及び定期的品質検査の試験計画は,ブラン

ク個別規格の

第   表 IV の規定による。

3.5.3

長期保管後の出荷  JIS C 5101-1 の 3.5.2(長期保管後の出荷)の規定に基づいて再検査を行う場合,

はんだ付け性並びにサブファミリ 1 及びサブファミリ 2 では漏れ電流,サブファミリ 3 では静電容量を群

A 検査及び群 B 検査の規定によって行う。


13

C 5101-15 : 1998

(13) 

3.5.4

評価水準  ブランク個別規格に規定する評価水準は,表 IIIA 及び表 IIIB から選定するのが望まし

い。

表 IIIA  ロットごとの品質検査

D

*

 E F

*

G

*

検査副群

**

IL AQL

%

IL AQL

%

IL AQL

%

IL AQL

%

A0

***

100%

   

A1

S-4

2.5

A2    II

1.0

B1

S-3

2.5

B2

S-3

2.5

IL=検査水準 
AQL=合格品質水準

表 IIIB  定期的品質検査

D

*

 E F

*

G

*

検査副群

**

p

n

c

p

n

c

p

n

c

p

n

c

C1A

6

9

1

C1B

6

18

1

C1

6

27

1

C2

6

9

1

C3

3

24

1

C4A

12

6 1

C4B     12

6 1

1

C5

6

15

1

p

=周期(月)

n

=試料数

c

=合格判定個数

表 IIIA 及び表 IIIB に対する注 

*

評価水準 D,F 及び G は検討中。

**

  検査副群の項目は,関連ブランク個別規格の第 章の規定による。

***

  大電流サージは,固体電解コンデンサで個別規格に規定がある場

合に適用する。

第 4 章  試験及び測定方法 

この章は,JIS C 5101-1 

第 章(試験及び測定方法)に規定する事項を補足する。

4.

試験及び測定方法

4.1

外観及び寸法  JIS C 5101-1 の 4.4(外観及び寸法)による。

4.2

電気的試験

4.2.1

漏れ電流  JIS C 5101-1 の 4.9(漏れ電流)によるほか,次による。

4.2.1.1

測定条件  試験温度で規定の電圧を保護抵抗器を通じてコンデンサに印加する。

保護抵抗器の抵抗値は,1 000

Ωから 10 000Ωの間とする。

双極性コンデンサの場合,測定の前に両方向に各 5 分間充電を行う。

4.2.1.2

要求性能  個別規格に規定の 20℃,85℃及び 125℃での漏れ電流値以下とする。

4.2.2

静電容量  JIS C 5101-1 の 4.7(静電容量)によるほか,次による。


14

C 5101-15 : 1998

4.2.2.1

測定条件  静電容量の測定周波数は,100Hz 又は 120Hz とする。コンデンサに印加する交流電圧

のピーク値は,0.1V∼1.0V とする。

個別規格に規定がない場合,2.1V∼2.5V の直流バイアス電圧を印加してもよい。ただし,双極性コンデ

ンサには,直流電圧を印加しない。

測定器とコンデンサとの接続に起因する誤差を最小にする測定技術を用いる。

4.2.2.2

要求性能  静電容量は,規定の許容差以内とする。

4.2.3

損失角の正接 (tan

δ

  JIS C 5101-1 の 4.8[損失角の正接 (tan

δ

)  ]によるほか、次による。

4.2.3.1

測定条件  測定は,4.2.2 の条件で行う。

4.2.3.2

要求性能  損失角の正接は,個別規格の規定値による。

4.2.4

インピーダンス  JIS C 5101-1 の 4.10(インピーダンス)によるほか,次による。

4.2.4.1

初期測定  測定周波数は,100Hz,120Hz,1kHz,10kHz,100kHz 及び 1MHz の中から最も低い

インピーダンスの値が得られる周波数を選定する。測定周波数の許容差は,±20%以内とし,測定周波数

の値は,個別規格に規定する。

4.2.4.2

測定条件  個別規格に規定がある場合,インピーダンスは規定の温度及び周波数で測定する。有

極性コンデンサの試験電圧が交流ピーク電圧 0.5V を超える場合は,2.1V∼2.5V の直流電圧を印加しても

よい。

電圧の印加は,コンデンサの発熱によってインピーダンスが変化しないように行う。

測定誤差は,要求性能の±5%又は 0.1

Ωのいずれか大きい方の値を超えてはならない。

備考  インピーダンスの値が低い場合,測定には十分な注意を払う必要がある。

4.2.4.3

カテゴリ下限温度での測定  周波数は,個別規格に規定がない限り,100Hz 又は 120Hz とする。

4.2.4.4

要求性能  インピーダンスは,個別規格の規定による。

4.2.5

外部絶縁の絶縁抵抗(適用する場合)  JIS C 5101-1 の 4.5(外部絶縁の絶縁抵抗)によるほか,

次による。

4.2.5.1

測定条件  金属はくをコンデンサの本体の全長にわたって密着して巻き付ける。このとき,はく

は少なくとも両端面から 5mm はみ出すようにし,金属はくと端子との間隔は 1mm 以上とする。1mm の間

隔がとれない場合は,1mm の間隔がとれるまではくのはみ出しを小さくする。

代替法として,V ブロック法を使用してもよい。

金属はく又は V ブロックとコンデンサの端子との間に,直流 100V±15V を少なくとも 1 分間又は読み

値が安定するまで,印加する。この時間の最後に絶縁抵抗を測定する。

4.2.5.2

要求性能  絶縁抵抗は,100M

Ω以上とする。

4.2.6

外部絶縁の耐電圧(適用する場合)  JIS C 5101-1 の 4.6(外部絶縁の耐電圧)によるほか,次に

よる。

4.2.6.1

測定条件  金属はくをコンデンサの本体の全長にわたって密着して巻き付ける。このとき,はく

は少なくとも両端面から 5mm はみ出すようにし,金属はくと端子の間隔は,1mm 以上とする。1mm の間

隔がとれない場合は,1mm の間隔がとれるまではくのはみ出しを小さくする。

代替法として,V ブロック法を使用してもよい。

金属はく又は V ブロックとコンデンサの端子との間に直流電圧を 100V/s の割合で徐々に電圧を 1000V

まで上昇させ印加する。

1 000V を 1 分±5 秒間印加する。

4.2.6.2

要求性能  試験中に絶縁破壊又はフラッシュオーバがあってはならない。


15

C 5101-15 : 1998

(15) 

4.3

端子強度  JIS C 5101-1 の 4.13(端子強度)によるほか,次による。

4.3.1

初期測定  静電容量は,4.2.2 によって測定する。

4.3.2

試験 U

a1

U

b

及び U

c

(適用する場合)  ただし,個別規格に規定がある場合,リード線に溶接点

があるコンデンサには,試験 U

a1

及び 4.3.3 に規定の試験だけを行う。

4.3.3

特殊曲げ試験

4.3.3.1

目的  一般的な取付作業中に加わる曲げに耐える性能の確認を目的とする。

4.3.3.2

試験器(図 による。)

備考

穴の直径は,端子の直径よりも 0.025mm 小さくする。

図 1  特殊曲げ試験器

4.3.3.3

試験方法  端子は,溶接点の下端が取付金具の表面とほぼ平面となるように試験器(図 1)の穴

に挿入する。

ケースの端部が試験器の上部表面に接触するまで曲げる間,タンタル線の残り部分ができるだけその軸

位置からずれないようにしてケースに力を加える。

ケースを元の位置に戻したとき,1 回の曲げとする。

次の曲げは,反対方向へ行う。

4.3.3.4

要求性能  端子は,連続 4 回の曲げに耐えなければならない。

4.4

はんだ耐熱性  JIS C 5101-1 の 4.14(はんだ耐熱性)によるほか,次による。

4.4.1

試験条件  予備乾燥は行わない。

4.4.2

最終測定及び要求性能  コンデンサに外観検査及び電気的測定を行い,表 II に示した要求性能を

満足しなければならない。

4.5

はんだ付け性  JIS C 5101-1 の 4.15(はんだ付け性)によるほか,次による。

4.5.1

試験条件  エージングなし。


16

C 5101-15 : 1998

はんだ小球法による場合は,個別規格に規定する。

なお,はんだ槽法又ははんだ小球法が適用できない場合は,はんだこて寸法 A を用いたはんだこて試験

を行う。

4.5.2

要求性能は,

表 II による。

4.6

温度急変  JIS C 5101-1 の 4.16(温度急変)によるほか,次による。

4.6.1

初期測定  静電容量を 4.2.2 によって測定する。

4.6.2

試験条件  コンデンサには,試験 Na を 5 サイクル行う。各温度にさらす時間は,30 分間以内とす

る。後処理時間は,16 時間以内とする。

4.6.3

最終測定及び要求性能  後処理後コンデンサを測定する。表 II に規定する要求性能を満足しなけ

ればならない。

4.7

振動  JIS C 5101-1 の 4.17(振動)によるほか,次による。

4.7.1

試験 Fc 手順 B4 によって,個別規格に規定の次の厳しさのうちの一つを適用する。

周波数

Hz

振幅又はピーク加速度

いずれか緩い方

継続時間

h

10-55 0.35mm 又は 49m/s

2

3×0.5

10-55 0.75mm 又は 98m/s

2

3×2

10-500

10-2 000

個別規格には,厳しさ(周波数及び振幅又はピーク加速度及び時間)及び取付方法を規定する。リード

線端子反対方向形(アキシャルリード線端子形)でリード線だけで取り付けるコンデンサに対しては,本

体から 6mm±1mm の箇所を固定する。

4.7.2

最終測定及び要求性能  コンデンサを目視によって外観検査し,電気的測定を行う。表 II に規定

する要求性能を満足しなければならない。

4.8

バンプ  JIS C 5101-1 の 4.18(バンプ)によるほか,次による。

個別規格にバンプ又は衝撃のいずれを適用するかを規定する。

4.8.1

バンプの総回数:一般等級コンデンサは,    1 000 回

長寿命等級コンデンサは,  4 000 回

個別規格には,取付方法を規定する。リード線端子反対方向形(アキシャルリード線端子形)でリード

線だけで取り付けるコンデンサの場合は,コンデンサ本体から 6mm±1mm の箇所を固定する。

4.8.2

最終測定及び要求性能  コンデンサを目視によって外観検査し,電気的測定を行う。表 II に規定

する要求性能を満足しなければならない。

4.9

衝撃  JIS C 5101-1 の 4.19(衝撃)によるほか,次による。

個別規格に衝撃又はバンプのいずれを適用するかを規定する。

4.9.1

個別規格は,次の推奨する厳しさのうちのいずれを適用するかを規定する。

パルス波形:正弦半波

ピーク加速度

m/s

2

作用時間

ms

294 18 
490 11 
981 6

個別規格には,取付方法を規定する。リード線端子反対方向形(アキシャルリード線端子形)でリード

線だけで取り付けるコンデンサに対しては,コンデンサ本体から 6mm±1mm の箇所を固定する。


17

C 5101-15 : 1998

(17) 

4.9.2

最終測定及び要求性能  コンデンサを目視によって外観検査し,電気的測定を行う。表 II に規定

する要求性能を満足しなければならない。

4.10

一連耐候性  JIS C 5101-1 の 4.21(一連耐候性)によるほか,次による。

4.10.1

初期測定  静電容量を,4.2.2 によって測定する。

4.10.2

高温  JIS C 5101-1 の 4.21.2(高温)による。

4.10.3

温湿度サイクル(1212 時間サイクル),最初のサイクル  JIS C 5101-1 の 4.21.3[温湿度サイク

ル(12+12 時間サイクル)

,最初のサイクル]による。

4.10.4

低温  JIS C 5101-1 の 4.21.4(低温)による。

4.10.5

減圧(個別規格に規定がある場合)  JIS C 5101-1 の 4.21.5(減圧)によるほか,次による。

4.10.5.1

個別規格に規定がある場合に試験を行い,試験温度 15℃から 35℃及び 8.5kPa で行う。試験時間

は,5 分間とする。

4.10.5.2

試験の最後の 1 分間は,定格電圧  (U

R

)  を印加する。

4.10.5.3

要求性能  試験中及び最終測定後コンデンサは,表 II に規定の要求性能を満足しなければならな

い。

4.10.6

温湿度サイクル(1212 時間サイクル),残りのサイクル  JIS C 5101-1 の 4.21.6[温湿度サイク

ル(12+12 時間サイクル)

,残りのサイクル]による。

4.10.7

最終測定及び要求性能  コンデンサは,標準状態に 1 時間から 2 時間放置し,その後目視によって

外観検査し,電気的測定を行う。

表 II に規定の要求性能を満足しなければならない。

4.10.8

封止(個別規格に規定がある場合)  JIS C 5101-1 の 4.20(封止)によるほか,次による。

試験は,一連耐候性の最後に行う。

4.10.8.1

個別規格にいずれの試験又は方法を適用するかを規定する。

4.10.8.2

後処理  コンデンサを液体に浸せきした場合は,余分な液体を振り落とし,標準状態に 1 時間か

ら 2 時間放置する。コンデンサを目視によって外観検査し,電気的測定を行う。

表 II に規定する要求性能

を満足しなければならない。

4.11

高温高湿(定常)  JIS C 5101-1 の 4.22[高温高湿(定常)]によるほか,次による。

4.11.1

初期測定  4.2.2 によって静電容量を測定する。

4.11.2

最終測定及び要求性能  後処理後,コンデンサを目視によって外観検査し,電気的測定を行う。表

II

に規定する要求性能を満足しなければならない。

4.12

耐久性  JIS C 5101-1 の 4.23(耐久性)によるほか,次による。

4.12.1

初期測定  静電容量を 4.2.2 によって測定する。

4.12.2

試験時間:長寿命等級コンデンサ  2 000 時間

一般等級コンデンサ    1 000 時間

試験温度:カテゴリ上限温度

試験電圧:個別規格に規定がない場合は,カテゴリ電圧

備考  カテゴリ電圧及び/又はカテゴリ上限温度が,定格電圧及び/又は定格温度と異なる場合は,

試料を 2 分割し定格温度で定格電圧印加及びカテゴリ上限温度でカテゴリ電圧印加の両方の試

験を行う。

双極性コンデンサの試験は,印加電圧の極性を 168 時間±24 時間ごとに反転する。

個別規格に規定がある場合は,50Hz,60Hz,100Hz 又は 120Hz の規定の周波数の正弦波交流電圧を直流

電圧に重畳する。この場合,ピーク電圧が定格電圧を超えてはならない。また,定格リプル電流を超えて


18

C 5101-15 : 1998

はならない。

a)

固体電解コンデンサの場合の試験電圧は,徐々に(2 分間以上 5 分間以内)電圧を上昇するか,又は 5

分間以内に短絡する抵抗器を通じてかのどちらかの方法で印加する。コンデンサの端子からみたイン

ピーダンスを 3

Ω以下とする。

b)

非固体電解コンデンサの場合の試験電圧は,低い内部抵抗のサージがない安定化電源によって印加し,

かつ,分離抵抗器によって各コンデンサ又はコンデンサ群ごとに印加する。この抵抗器の値は,コン

デンサの 1 個又は 1 群が短絡した場合に残りの試料に影響がない値を選定するが,

1 000

Ω以下とする。

4.12.3

最終測定及び要求性能  最低 16 時間の後処理後に,コンデンサを目視によって外観検査し,電気

的測定を行う。

表 II に規定する要求性能を満足しなければならない。

4.13

サージ  JIS C 5101-1 の 4.26(サージ)によるほか,次による。

4.13.1

初期測定  4.2.2 によって静電容量を測定する。

4.13.2

試験方法  コンデンサは,5 分 30 秒間の無負荷の後,次の充電を行うのを 1 サイクルとして,1 000

サイクル印加する。コンデンサと電源を直列として総抵抗が 1 000

Ω±100Ωとなる抵抗器を通じてサージ

電圧に等しい電圧を 30 秒間印加する。

試験は,次の温度で行う。

カテゴり上限温度

試験温度

≤85℃

全試料をカテゴリ上限温度

>85℃

試料の半数は 85℃,残る半数はカテゴリ上限温度

サージのサイクルは,30 秒間印加の終点で約 1 000

Ωの抵抗器を通じたコンデンサの放電によって終了

する。

試験は,サイクルの放電部で終わる。双極性コンデンサの場合は,500 サイクル後に極性を反転する。

4.13.3

最終測定及び要求性能  後処理後に,コンデンサを目視によって外観検査し,電気的測定を行う。

表 II に規定する要求性能を満足しなければならない。

4.14

逆電圧(個別規格に規定がある場合)

4.14.1

初期測定  4.3.1 の規定によって初期測定を行う。

4.14.2

コンデンサに次の試験を行う。

a)

サブファミリ 1(はく電極形非固体電解コンデンサ)

試験温度:

定格温度

試験逆電圧: 3Vd.

c.

(個別規格に規定がない場合)を 1 000

Ω±100Ωの抵抗器を通じて印加する。

試験時間:

逆極性の方向に試験逆電圧を 125 時間印加し,続いて正極性方向に定格電圧を 125

時間印加する。

b)

サブファミリ 2(焼結形非固体電解コンデンサ)

適用する場合は,サブファミリ 1 と同じ条件を適用する。

c)

サブファミリ 3(焼結形固体電解コンデンサ)

試験温度:

定格温度

試験逆電圧:

定格電圧の 0.1 倍。ただし,最大 3Vd. c.  を超えない(個別規格に規定がない場合)

各コンデンサヘの電圧は,0.1

Ω/V,ただし,最大 3Ωを超えないインピーダンスの電

源から供給する[電圧は,4.12.2 a)に規定のように徐々に印加する。

試験時間:

逆極性の方向に試験逆電圧を 125 時間印加し,続いて正極性方向に定格電圧を 125 時

間印加する。


19

C 5101-15 : 1998

(19) 

4.14.3

最終測定及び要求性能  後処理後,コンデンサを目視によって外観検査し,電気的測定を行う。表

II

に規定する要求性能を満足しなければならない。

4.15

高温及び低温特性  JIS C 5101-1 の 4.29(高温及び低温特性)によるほか,次による。

4.15.1

測定及び要求性能  コンデンサの測定を行い,表 II に規定の要求性能を満足しなければならない。

4.16

充放電(個別規格に規定がある場合)  JIS C 5101-1 の 4.27(充放電)によるほか,次による。

4.16.1

初期測定  4.2.2 によって静電容量を測定する。

4.16.2

個別規格に規定がない場合,コンデンサに,周囲温度 20℃で,各サイクルが a)の充電の後 b)の放

電を規定のサイクル数行う。

コンデンサの最大許容発熱以下とするため,充電時間を変えないでサイクル間隔を延ばす場合には,こ

のことを個別規格に規定する。

a)

充電

試験電圧

:  定格直流電圧

電源の内部抵抗と外部直列抵抗の和:

個別規格の規定による。

時間: 0.5 秒間

b)

放電

電圧印加なし

放電抵抗:

個別規格の規定による。

時間: 0.5 秒間

サイクル数: 10

6

後処理: 24 時間

4.16.3

最終測定及び要求性能  コンデンサを目視によって外観検査し,電気的測定を行う。表 II に規定

する要求性能を満足しなければならない。

4.17

部品の耐溶剤性  JIS C 5101-1 の 4.31(部品の耐溶剤性)による。

4.18

表示の耐溶剤性  JIS C 5101-1 の 4.32(表示の耐溶剤性)による。

4.19

大電流サージ(固体電解コンデンサで個別規格に規定がある場合に適用する。)  JIS C 5101-1 の 4.39

(大電流サージ)によるほか,次による。

4.19.1

初期測定  要求しない。

4.19.2

最終測定及び要求性能  最終測定及び要求性能は,群 0 の残りの試験及びブランク個別規格の群 A

のこの試験に続く試験の規定による。

関連規格  JIS C 5062  抵抗器及びコンデンサの表示記号

JIS Z 9015

  計数調整型抜取検査(供給者を選択できる場合の購入検査)


20

C 5101-15 : 1998

電子部品 JIS 原案作成第 1 委員会  構成表

氏名

所属

(委員長)

平  山  宏  之

東京都立科学技術大学

(委員)

吉  田  裕  道

東京都立工業技術センター

中  西  忠  雄

防衛庁装備局

岩  田      武

村  岡  桂次郎

竹田原  昇  司

通商産業省機械情報産業局電子機器課

藤  井  隆  宏

工業技術院標準部電気規格課

福  原      隆

沖電気工業株式会社

勝  田  明  彦

株式会社ケンウッド

山  本  克  己

ソニー株式会社

西  林  和  男

株式会社東芝

清  水  正  弘

日本電気株式会社

大  平  昌  司

松下通信工業株式会社

三  宅  敏  明

松下電器産業株式会社

山  本  佳  久

三菱電機株式会社

三  宅  邦  彦

松尾電機株式会社

白  井  洋  一

日通工株式会社

尾  村  博  幸

日本ケミコン株式会社

川  井  一  成

ルビコン株式会社

曽我部  浩  二

株式会社村田製作所

秦      考  生

松下電子部品株式会社

江  口  正  則

東京コスモス電機株式会社

会  田      洋

東光株式会社

山  本  圭  一

進工業株式会社

(事務局)

塚  田  潤  二

社団法人日本電子機械工業会

高  梨  健  一

社団法人日本電子機械工業会

JTS C 5101-15 (JIS C 5142)  分科会  構成表

氏名

所属

(主査)

三  宅  邦  彦

松尾電機株式会社

(委員)

北  島  義  正

日本電気株式会社

高  久  侑  也

エルナー株式会社

山  内  良  夫

株式会社高純度物質研究所

井  二      仁

三洋電機株式会社

鵜  沢  一  夫

ニチコン株式会社

尾  村  博  幸

日本ケミコン株式会社

飯  田  和  幸

日立エーアイシー株式会社

山  崎      正

富士通東和エレクトロン株式会社

栗  林  孝  志

松下電子部品株式会社

小  松  間兵衛

マルコン電子株式会社

村  岡  桂次郎

(事務局)

塚  田  潤  二

社団法人日本電子機械工業会

高  梨  健  一

社団法人日本電子機械工業会