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C 5402-2-1

:2004 (IEC 60512-2-1:2002)

(1) 

まえがき

この規格は,工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)から,

工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経

済産業大臣が制定した日本工業規格である。

制定に当たっては,日本工業規格と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日

本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために,IEC 60512-2-1:2002,Connectors for

electronic equipment - Tests and measurements - Part 2-1: Electrical continuity and contact resistance tests - Test 2a:

Contact resistance - Millivolt level method

を基礎として用いた。

この規格の一部が,技術的性格をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の

実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会

は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新

案登録出願にかかわる確認について,責任はもたない。

JIS C 5402

の規格群は,JIS C 5402-1-100:試験一覧による。


C 5402-2-1

:2004 (IEC 60512-2-1:2002)

(2) 

目  次

ページ

序文  

1

1.

  適用範囲  

1

2.

  一般要求事項  

1

3.

  試験方法  

1

3.1

  測定事項  

1

3.2

  試験電流及び電圧  

2

4.

  測定電流  

2

4.1

  直流による測定  

2

4.2

  交流による測定  

2

5.

  要求事項  

2

6.

  個別規格に規定する事項  

2

 


     

日本工業規格

JIS

 C

5402-2-1

:2004

(IEC 60512-2-1

:2002

)

電子機器用コネクタ―

試験及び測定―第 2-1 部:導通及び接触抵抗試験―

試験 2a:接触抵抗−ミリボルトレベル法

Connectors for electronic equipment -

Tests and measurements -

Part 2-1: Electrical continuity and contact resistance tests -

Test 2a : Contact resistance - Millivolt level method

序文  この規格は,2002 年に第 1 版として発行された IEC 60512-2-1,Connectors for electronic equipment -

Tests and measurements - Part 2-1: Electrical continuity and contact resistance tests - Test 2a: Contact resistance -

Millivolt level method

を翻訳し,技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格で

ある。

1. 

適用範囲  この規格は,電子機器用コネクタ(以下,コネクタという。)の一対の結合したコンタクト

間又はコンタクトと測定ゲージ間の電気的抵抗を測定するための試験方法について規定する。この試験方

法は,類似の部品に用いてもよい。

備考  この規格の対応国際規格を,次に示す。

なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21 に基づき,IDT(一致している)

,MOD

(修正している)

,NEQ(同等でない)とする。

IEC 60512-2-1:2002

,Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 2-1:

Electrical continuity and contact resistance tests - Test 2a: Contact resistance - Millivolt level

method (IDT)

2. 

一般要求事項  測定は,直流又は交流で実施する。交流での測定の場合には,周波数は 2 kHz を超え

てはならない。疑義を生じる場合には,直流での測定を優先する。測定器の精度は,全誤差が 1%を超え

てはならない。

3. 

試験方法

3.1 

測定事項  接触抵抗は,通常,個別規格に規定する測定点でコンタクトと電線接続部との間を測定

した電圧降下値から求める。コンタクトは,測定電圧を印加中,動かしてはならない。

測定中は,試験中のコンタクトに異常な圧力が加わらないように,また試験ケーブルが移動しないよう

に注意する。個別規格に規定する測定点で直接測定できない場合には,使用ケーブル又は電線の抵抗値を

測定値から差し引き,補正した値を記録する。測定するコンタクトは,個別規格に従って選択する。


2

C 5402-2-1

:2004 (IEC 60512-2-1:2002)

     

3.2 

試験電流及び電圧  コンタクト上に存在する可能性がある絶縁皮膜の破壊を防止するために,試験

電圧は,20 mV d.c.又は 20 m V a.c.ピーク値を超えてはならない。

試験電流は,100 mA a.c.又は 100 m A d.c.を超えてはならない。

4. 

測定電流

4.1 

直流による測定  測定の 1 サイクルは,次による。

a)

電圧の印加

b)

正方向の電流による測定

c)

逆方向の電流による測定

d)

電源切断

4.2 

交流による測定  測定の 1 サイクルは,次による。

a)

電圧の印加

b)

測定

c)

電源切断

備考  他に規定がない場合には,前の試験が終了した時からこの試験の電圧印加までの間に結合した

コンタクトにストレスを加えてはならない。

5. 

要求事項  接触抵抗は,いかなる測定に対しても,個別規格に規定する値を超えてはならない。直流

による接触抵抗値は,正方向電流及び逆方向電流によって得られた二つの測定値の平均で表す。

次の式を使用することで,計算された抵抗値は,常に補正される。

r

f

mr

mf

I

I

V

V

R

+

=

備考  式の中には,電圧測定値の符号を含めなければならない。

ここに,

R

接触抵抗

V

mf

正方向電圧測定値

V

mr

逆方向電圧測定値

I

f

正方向電流

I

r

逆方向電流

備考  この試験手順とのいかなる相違も,試験報告書に明確に示すことが望ましい。

6. 

個別規格に規定する事項  個別規格には,次の事項を規定する。

a)

測定箇所

b)

測定するコンタクト数

c)

接触抵抗の許容限界値

d)

この試験方法との相違