C 5402
：2014
（1）
追補 1 のまえがき
この JIS C 5402 の追補 1 は，工業標準化法に基づき，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣
が JIS C 5402:1992 を改正した内容だけを示すものである。
JIS C 5402:1992
は，この追補 1 の内容の改正がされ，JIS C 5402:2014 となる。
日本工業規格
JIS
C
5402
：2014
電子機器用コネクタ試験方法
（追補 1）
Method for test of connectors for use in electronic equipment
（Amendment 1）
JIS C 5402:1992
を，次のように改正する。
規格の英文名称と 1.（適用範囲）との間に，次の序文を挿入する。
序文
この規格の各試験に対応する個別の対応国際規格がそれぞれ日本工業規格（JIS）として制定された場合，
その JIS はこの規格の該当箇条及び細分箇条に優先して用いる。
さらに，その対応国際規格の全てが JIS として制定された場合には，この規格は廃止される予定である。
この追補の規格番号に
a)
が付いているものは，この追補の発行時点で，審議中であり今後制定され
る予定であることを示す。
2.
（用語の定義）の 1 行目を，次の文に置き換える。
この規格で用いる主な用語の定義は，JIS C 5402-1 の 1.3（定義）によるほか，次による。
3.1
（標準状態）の 1 行目の
JIS C 0010
の 5.3（試験場所の標準状態）の規定による標準状態（温度 15〜
35
℃，相対湿度 60〜85 %，気圧 86〜106 kPa） を， JIS C 60068-1 の 5.3［測定及び試験のための標準大
気条件（標準状態）
］の 5.3.1 の規定による標準範囲温度 15〜35 ℃，相対湿度 60〜85 %，気圧 86〜106 kPa
に置き換える。
3.2
（判定状態）の 1 行目の JIS C 0010 の 5.2（判定状態）の規定による判定状態 I の温度 2 級及び湿度 2
級（温度 20±2 ℃，相対湿度 60〜70 %，気圧 86〜106 kPa）とする。 を， JIS C 60068-1 の 5.3［測定及
び試験のための標準大気条件（標準状態）
］に規定する（温度 20±2 ℃，相対湿度 60〜70 %，気圧 86〜106
kPa
）とする。 に置き換える。
3.3
（後処理条件）の 1 行目の JIS C 0010 の 5.4（後処理条件） を， JIS C 60068-1 の 5.4（後処理条件）
に置き換える。
4.1
（外観，構造及び仕上げ）の全ての内容を，次の文に置き換える。
4.1
外観，構造及び仕上げ試験 外観，構造及び仕上げの試験は，JIS C 5402-1-1 による。
2
C 5402
：2014
4.2
（寸法）の全ての内容を，次の文に置き換える。
4.2
寸法 寸法の試験は，JIS C 5402-1-2 による。
5.1
（耐電圧）の全ての内容を，次の文に置き換える。
5.1
耐電圧 耐電圧の試験は，JIS C 5402-4-1 による。
5.2
（絶縁抵抗）の全ての内容を，次の文に置き換える。
5.2
絶縁抵抗 絶縁抵抗の試験は，JIS C 5402-3-1 による。
5.3
（接触抵抗）の全ての内容を，次の文に置き換える。
5.3
接触抵抗 接触抵抗の試験は，JIS C 5402-2-2 による。
5.4
（低電圧，低電流での接触抵抗）の全ての内容を，次の文に置き換える。
5.4
低電圧，低電流での接触抵抗 低電圧，低電流での接触抵抗の試験は，JIS C 5402-2-1 による。
5.5
（コンタクトのチャタリング）の全ての内容を，次の文に置き換える。
5.5
コンタクトのチャタリング コンタクトのチャタリングの試験は，JIS C 5402-2-5 による。
5.7
（接触抵抗の変動）の全ての内容を，次の文に置き換える。
5.7
接触抵抗の変動 接触抵抗の変動の試験は，JIS C 5402-2-3 による。
5.8
（シェルの電気的接続性）の全ての内容を，次の文に置き換える。
5.8
シェルの電気的接続性 シェルの電気的接続性の試験は，JIS C 5402-2-6 による。
5.9
［局部放電（コロナ放電）
］の全ての内容を，次の文に置き換える。
5.9
局部放電（コロナ放電） 局部放電（コロナ放電）の試験は，JIS C 5402-4-2 による。
5.10
（温度上昇）の全ての内容を，次の文に置き換える。
5.10
温度上昇 温度上昇の試験は，JIS C 5402-5-1 による。
5.11
（電気的負荷及び温度）の全ての内容を，次の文に置き換える。
5.11
電気的負荷及び温度 電気的負荷及び温度の試験は，JIS C 5402-10-4 による。
5.13
（電流容量の温度軽減）の全ての内容を，次の文に置き換える。
5.13
電流容量の温度軽減 電流容量の温度軽減の試験は，JIS C 5402-5-2 による。
6.1
［耐振性（JIS C 0040 参照）
］の全ての内容を，次の文に置き換える。
6.1
耐振性 耐振性の試験は，JIS C 5402-6-4 による。
3
C 5402
：2014
6.2
［衝撃（JIS C 0041 参照）
］の全ての内容を，次の文に置き換える。
6.2
衝撃 衝撃の試験は，JIS C 5402-6-3 による。
6.4
（コンタクトのゲージ保持力）の全ての内容を，次の文に置き換える。
6.4
コンタクトのゲージ保持力 コンタクトのゲージ保持力の試験は，JIS C 5402-16-5 による。
6.5
（プローブダメージ）の全ての内容を，次の文に置き換える。
6.5
プローブダメージ プローブダメージは，JIS C 5402-16-1 による。
6.6
（結合力及び離脱力）の全ての内容を，次の文に置き換える。
6.6
挿入力及び引抜力 挿入力及び引抜力の試験は，JIS C 5402-13-2 による。
6.7
（ケーブルクランプ部の引張強度）の全ての内容を，次の文に置き換える。
6.7
ケーブルクランプ部の軸方向強度及びトルク ケーブルクランプ部の軸方向強度及びトルクの試験
は，JIS C 5402-17-1
a)
による。
6.8
（結合部接続強度）の全ての内容を，次の文に置き換える。
6.8
結合部接続強度 結合部接続強度の試験は，JIS C 5402-15-6 による。
6.11
（誤結合防止機構）の全ての内容を，次の文に置き換える。
6.11
誤結合防止機構 誤結合防止機構の試験は，JIS C 5402-13-5 による。
6.12
（結合装置を含めた結合力及び離脱力）の全ての内容を，次の文に置き換える。
6.12
結合装置を含めた結合力及び離脱力 結合装置を含めた結合力及び離脱力の試験は，JIS C
5402-13-1
による。
6.15
（コンタクト保持力）の全ての内容を，次の文に置き換える。
6.15
コンタクト保持力 コネクタ保持力の試験は，JIS C 5402-15-1 による。
6.17
（インサート保持部の軸方向強度）の全ての内容を，次の文に置き換える。
6.17
インサート保持部の軸方向強度 インサート保持部の軸方向強度の試験は，JIS C 5402-15-2 によ
る。
6.18
（インサート保持部のねじり強度）の全ての内容を，次の文に置き換える。
6.18
インサート保持部のねじり強度 インサート保持部のねじり強度の試験は，JIS C 5402-15-3 によ
る。
6.19
（コンタクトの挿入力及び引抜き力）の全ての内容を，次の文に置き換える。
6.19
コンタクトの挿入力及び引抜力 コンタクトの挿入力及び引抜力の試験は，JIS C 5402-15-4 によ
る。
4
C 5402
：2014
6.20
（クローズドエントリ部の誤挿入防止機構）の全ての内容を，次の文に置き換える。
6.20
クローズドエントリ部の誤挿入防止機構 クローズドエントリ部の誤挿入防止機構の試験は，JIS
C 5402-16-2
による。
6.21
（コンタクト曲げ強度）の全ての内容を，次の文に置き換える。
6.21
コンタクト曲げ強度 コンタクト曲げ強度の試験は，JIS C 5402-16-3 による。
6.22
（圧着コンタクトの引張強度）の全ての内容を，次の文に置き換える。
6.22
圧着コンタクトの引張強度 圧着コンタクトの引張強度の試験は，JIS C 5402-16-4 による。
6.23
（圧着コンタクトの変形）の全ての内容を，次の文に置き換える。
6.23
圧着コンタクトの変形 圧着コンタクトの変形の試験は，JIS C 5402-16-7 による。
6.24
（被覆圧着部強度）の全ての内容を，次の文に置き換える。
6.24
被覆圧着部強度 被覆圧着部強度の試験は，JIS C 5402-16-8
a)
による。
6.25
（グランディングコンタクト保持力）の全ての内容を，次の文に置き換える。
6.25
グランディングコンタクト保持力 グランディングコンタクト保持力の試験は，JIS C 5402-16-9
a)
による。
6.26
［コンタクト端子部強度（JIS C 0051 参照）
］の全ての内容を，次の文に置き換える。
6.26
コンタクト端子部強度 コンタクト端子部強度の試験は，JIS C 5402-16-6 による。
6.27
（ケーブルクランプ部の曲げ強度）の全ての内容を，次の文に置き換える。
6.27
ケーブルクランプ部の曲げ強度 ケーブルクランプ部の曲げ強度の試験は，JIS C 5402-17-1
a)
によ
る。
6.28
（ケーブルクランプ部の回転強度）の全ての内容を，次の文に置き換える。
6.28
ケーブルクランプ部の回転強度 ケーブルクランプ部の回転強度の試験は，JIS C 5402-17-2
a)
によ
る。
6.29
（ケーブルクランプ部のねじり強度）の全ての内容を，次の文に置き換える。
6.29
ケーブルクランプ部のねじり強度 ケーブルクランプ部のねじり強度の試験は，JIS C 5402-17-4
a)
による。
6.31
（ケーブルの回転によるコンタクト保持部強度）の全ての内容を，次の文に置き換える。
6.31
ケーブルの回転によるコンタクト保持部強度 ケーブルの回転によるコンタクト保持部強度の試
験は，JIS C 5402-15-5 による。
5
C 5402
：2014
6.32
［バンプ（JIS C 0042 参照）
］の全ての内容を，次の文に置き換える。
6.32
バンプ バンプ試験は，JIS C 5402-6-2 による。
7.1
［塩水噴霧（JIS C 0023 参照）
］の全ての内容を，次の文に置き換える。
7.1
塩水噴霧 塩水噴霧試験は，JIS C 5402-11-6 による。
7.2
｛温度サイクル［JIS C 0025 の 2.（試験 Na）参照］
｝の全ての内容を，次の文に置き換える。
7.2
温度サイクル 温度サイクル試験は，JIS C 5402-11-4 による。
7.3
［定常状態の耐湿性（JIS C 0022 参照）
］の全ての内容を，次の文に置き換える。
7.3
定常状態の耐湿性 定常状態の耐湿性試験は，JIS C 5402-11-3 による。
7.4
（温湿度サイクルの耐湿性）の全ての内容を，次の文に置き換える。
7.4
温湿度サイクルの耐湿性 温湿度サイクルの耐湿性試験は，JIS C 5402-11-12 による。
7.5.1
（方法 1）の 1 行目の
JIS C 0026
の 5.（試験 Qf） を， JIS C 60068-2-17 の 7.（試験 Q
f
：浸せきに
よる封止試験） に置き換える。
7.7
［減圧（JIS C 0029 参照）
］の全ての内容を，次の文に置き換える。
7.7
減圧 減圧試験は，JIS C 5402-11-11 による。
7.8
［耐熱性（JIS C 0021 参照）
］の全ての内容を，次の文に置き換える。
7.8
耐熱性 耐熱性試験は，JIS C 5402-11-9 による。
7.9
［耐寒性（JIS C 0020 参照）
］の全ての内容を，次の文に置き換える。
7.9
耐寒性 耐寒性試験は，JIS C 5402-11-10 による。
7.10
（一連耐候性）の全ての内容を，次の文に置き換える。
7.10
一連耐候性 一連耐候性試験は，JIS C 5402-11-1 による。
7.11
（はんだ付け性）の 1 行目の
JIS C 0050
の 4.（試験方法 T
a
） を， JIS C 60068-2-20 の箇条 4［試験
Ta
（リード線及びラグ端子のはんだ付け性）
］ に置き換える。
7.11.1
（方法 1）の（1.2）
（材料）の（a）
（はんだ）を，次の文に置き換える。
（a）
はんだ はんだは，JIS Z 3282 に規定の H60A 又は H63A とする。
7.11.2
（方法 2）の（1.2）
（はんだ及びフラックス）の
JIS C 0050
の
附属書 B（はんだ）に規定のはんだ
に JIS C 0050 の
附属書 C（フラックスの組成）の C.1 に規定のロジン（コロホニー）を を， JIS C 60068-2-20
の
附属書 B（フラックスの組成）の B.1 の規定のコロホニーを に置き換える。
6
C 5402
：2014
7.12
（はんだ耐熱性）の 1 行目の ［JIS C 0050 の 5.（試験方法 T
b
）参照］ を，｛JIS C 60068-2-20 の箇条
5
［試験 Tb（はんだ耐熱性）
］参照｝ に置き換える。
付表 1（引用規格及び対応国際規格）を，次に置き換える。
引用規格 JIS C 5402-1 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 1 部：一般
JIS C 5402-1-1
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 1-1 部：一般試験−試験 1a：外観
JIS C 5402-1-2
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 1-2 部：一般試験−試験 1b：寸法及び
質量
JIS C 5402-2-1
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 2-1 部：導通及び接触抵抗試験−試験
2a
：接触抵抗−ミリボルトレベル法
JIS C 5402-2-2
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 2-2 部：導通及び接触抵抗試験−試験
2b
：接触抵抗−規定電流法
JIS C 5402-2-3
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 2-3 部：導通及び接触抵抗試験−試験
2c
：接触抵抗の変動
JIS C 5402-2-5
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 2-5 部：導通及び接触抵抗試験−試験
2e
：コンタクトディスターバンス
JIS C 5402-2-6
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 2-6 部：導通及び接触抵抗試験−試験
2f
：ハウジング（シェル）の導通性
JIS C 5402-3-1
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 3-1 部：絶縁試験−試験 3a：絶縁抵抗
JIS C 5402-4-1
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 4-1 部：電圧ストレス試験−試験 4a：
耐電圧
JIS C 5402-4-2
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 4-2 部：電圧ストレス試験−試験 4b：
部分放電
JIS C 5402-5-1
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 5-1 部：電流容量試験−試験 5a：温度
上昇
JIS C 5402-5-2
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 5-2 部：電流容量試験−試験 5b：電流･
温度の軽減
JIS C 5402-6-2
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 6-2 部：動的ストレス試験−試験 6b：
バンプ
JIS C 5402-6-3
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 6-3 部：動的ストレス試験−試験 6c：
衝撃
JIS C 5402-6-4
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 6-4 部：動的ストレス試験−試験 6d：
正弦波振動
JIS C 5402-10-4
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 10-4 部：インパクト試験（可動形部
品）
，静的負荷試験（固定形部品）
，耐久試験及び過負荷試験−試験 10d：電気的過負荷（コ
ネクタ）
JIS C 5402-11-1
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 11-1 部：耐候性試験−試験 11a：一
連耐候性
JIS C 5402-11-3
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 11-3 部：耐候性試験−試験 11c：高
温高湿（定常）
7
C 5402
：2014
JIS C 5402-11-4
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 11-4 部：耐候性試験−試験 11d：温
度急変
JIS C 5402-11-6
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 11-6 部：耐候性試験−試験 11f：腐
食，塩水噴霧
JIS C 5402-11-9
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 11-9 部：耐候性試験−試験 11i：高
温
JIS C 5402-11-10
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 11-10 部：耐候性試験−試験 11j：
低温
JIS C 5402-11-11
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 11-11 部：耐候性試験−試験 11k：
減圧
JIS C 5402-11-12
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 11-12 部：耐候性試験−試験 11m：
温湿度サイクル
JIS C 5402-13-1
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 13-1 部：機械的動作試験−試験 13a：
結合力及び離脱力
JIS C 5402-13-2
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 13-2 部：機械的動作試験−試験
13b
：挿入力及び引抜力
JIS C 5402-13-5
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 13-5 部：機械的動作試験−試験 13e：
極性及びキーイング
JIS C 5402-15-1
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 15-1 部：コネクタ試験（機械的試験）
−試験 15a：インサート内のコンタクト保持
JIS C 5402-15-2
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 15-2 部：コネクタ試験（機械的試験）
−試験 15b：ハウジング内のインサート保持（軸方向）
JIS C 5402-15-3
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 15-3 部：コネクタ試験（機械的試験）
−試験 15c：ハウジング内のインサート保持（ねじれ方向）
JIS C 5402-15-4
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 15-4 部：コネクタ試験（機械的試験）
−試験 15d：コンタクトの挿入，解放及び引抜力
JIS C 5402-15-5
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 15-5 部：コネクタ試験（機械的試験）
−試験 15e：インサート内のコンタクト保持，ケーブルの回転（nutation）
JIS C 5402-15-6
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 15-6 部：コネクタ試験（機械的試験）
−試験 15f：コネクタカップリング機構の効果
JIS C 5402-16-1
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 16-1 部：コンタクト及びターミネー
ションの機械的試験−試験 16a：プローブダメージ
JIS C 5402-16-2
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 16-2 部：コンタクト及びターミネー
ションの機械的試験−試験 16b：リストリクテッドエントリ
JIS C 5402-16-3
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 16-3 部：コンタクト及びターミネー
ションの機械的試験−試験 16c：コンタクト曲げ強度
JIS C 5402-16-4
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 16-4 部：コンタクト及びターミネー
ションの機械的試験−試験 16d：引張強度（圧着接続）
JIS C 5402-16-5
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 16-5 部：コンタクト及びターミネー
ションの機械的試験−試験 16e：ゲージ保持力（弾性コンタクト）
8
C 5402
：2014
JIS C 5402-16-6
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 16-6 部：コンタクト及びターミネー
ションの機械的試験−試験 16f：ターミネーション強度
JIS C 5402-16-7
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 16-7 部：コンタクト及びターミネー
ションの機械的試験−試験 16g：圧着後のコンタクトの変形測定
JIS C 5402-16-8
a)
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 16-8 部：コンタクト及びターミネ
ーションの機械的試験−試験 16h：インシュレーショングリップの有効性（圧着接続）
JIS C 5402-16-9
a)
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 16-9 部：コンタクト及びターミネ
ーションの機械的試験−試験 16i：接地コンタクトスプリングの保持力
JIS C 5402-17-1
a)
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 17-1 部：ケーブルクランプ試験−
試験 17a：ケーブルクランプ強度
JIS C 5402-17-2
a)
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 17-2 部：ケーブルクランプ試験−
試験 17b：ケーブルクランプ強度（ケーブルの回転）
JIS C 5402-17-4
a)
電子機器用コネクタ−試験及び測定−第 17-4 部：ケーブルクランプ試験−
試験 17d：ケーブルクランプ強度（ケーブルのねじり）
JIS C 60068-1
環境試験方法−電気・電子−通則
JIS C 60068-2-17
環境試験方法−電気・電子−封止（気密性）試験方法
JIS C 60068-2-20
環境試験方法−電気・電子−第 2-20 部：試験−試験 T−端子付部品のはん
だ付け性及びはんだ耐熱性試験方法
JIS K 8101
エタノール（99.5）
（試薬）
JIS K 8839
2-プロパノール（試薬）
JIS Z 3282
はんだ−化学成分及び形状
対応国際規格 IEC
60169-1 (1987) Radio-frequency connectors. Part 1: General requirements and measuring
methods
及び Amendment 1 (1996)
付表 1（引用規格及び対応国際規格）の後に，次の参考文献を追加する。
参考文献 IEC 60512-7-1 (2010) Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 7-1:
Impact tests (free components)
−Test 7a: Free fall (repeated)
IEC 60512-8-1 (2010) Connectors for electronic equipment
−Tests and measurements−Part 8-1: Static
load tests (fixed connectors)
−Test 8a: Static load, transverse
IEC 60512-8-2 (2011) Connectors for electronic equipment
−Tests and measurements−Part 8-2: Static
load tests (fixed connectors)
−Test 8b: Static load, axial
IEC 60512-8-3 (2011) Connectors for electronic equipment
−Tests and measurements−Part 8-3: Static
load tests (fixed connectors)
−Test 8c: Robustness of actuating lever
IEC 60512-9-1 (2010) Connectors for electronic equipment
−Tests and measurements−Part 9-1:
Endurance tests
−Test 9a: Mechanical operation
IEC 60512-9-4 (2011) Connectors for electronic equipment
−Tests and measurements−Part 9-4:
Endurance tests
−Test 9d: Durability of contact retention system and seals (maintenance, ageing)
IEC 60512-12-1 (2006) Connectors for electronic equipment
−Tests and measurements−Part 12-1:
Soldering tests
−Test 12a: Solderability, wetting, solder bath method
IEC 60512-12-2 (2006) Connectors for electronic equipment
−Tests and measurements−Part 12-2:
9
C 5402
：2014
Soldering tests
−Test 12b: Solderability, wetting, soldering iron method
IEC 60512-12-4 (2006) Connectors for electronic equipment
−Tests and measurements−Part 12-4:
Soldering tests
−Test 12d: Resistance to soldering heat, solder bath method
IEC 60512-12-5 (2006) Connectors for electronic equipment
−Tests and measurements−Part 12-5:
Soldering tests
−Test 12e: Resistance to soldering heat, soldering iron method
IEC 60512-14-2 (2006) Connectors for electronic equipment
−Tests and measurements−Part 14-2:
Sealing tests
−Test 14b: Sealing−Fine air leakage
IEC 60512-14-4 (2006) Connectors for electronic equipment
−Tests and measurements−Part 14-4:
Sealing tests
−Test 14d: Immersion−Waterproof
IEC 60512-14-5 (2006) Connectors for electronic equipment
−Tests and measurements−Part 14-5:
Sealing tests
−Test 14e: Immersion at low air pressure
IEC 60512-14-6 (2006) Connectors for electronic equipment
−Tests and measurements−Part 14-6:
Sealing tests
−Test 14f: Interfacial sealing
IEC 60512-22-1 (2010) Connectors for electronic equipment
−Tests and measurements−Part 22-1:
Capacitance tests
−Test 22a: Capacitance
IEC 60512-25-7 (2004) Connectors for electronic equipment
−Tests and measurements−Part 25-7:
Test 25g
−Impedance, reflection coefficient, and voltage standing wave ratio (VSWR)