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(1) 

まえがき

この規格は,工業標準化法に基づいて,日本工業標準調査会の審議を経て,通商産業大臣が改正した日

本工業規格である。これによって,JIS Z 8734 : 1988 は改正され,この規格に置き換えられる。

今回の改正では,国際規格と整合した日本工業規格とするため,ISO 3741 : 1999, Acoustics−Determination

of sound power levels of noise sources using sound pressure

−Precision methods for reverberation rooms を基礎と

して用いた。

今回の改正の主な点は,次のとおりである。

−  原国際規格である ISO 3741 に様式を一致させた。

−  ISO 3741 の改正に伴い,音響パワーレベルを,基準環境条件下の値として求めることにした。

−  ISO 3741 の改正に伴い,オクターブバンド音響パワーレベルは,1/3 オクターブバンド音響パワーレ

ベルから計算によってだけ求めることにした。

−  ISO 3741 の改正に伴い,マイクロホン位置の数は最少 6 とした。

−  ISO 3741 にない旧規格の

附属書 残響時間の測定方法を削除した。

−  ISO 3741 にない旧規格の

附属書 残響室内の温度及び相対湿度の変化の残響時間に対する影響の補正

方法を削除した。

−  ISO 3741 に予定されている音響エネルギーレベルの測定方法を

附属書(参考)として追加した。

JIS Z 8734

には,次に示す附属書がある。

附属書 A(規定)  離散周波数成分を含む音の測定のための残響室の適性試験方法

附属書 B(参考)  回転拡散板の設計指針

附属書 C(参考)  100Hz 未満の周波数成分を測定するための指針

附属書 D(参考)  残響室の設計指針

附属書 E(規定)  広帯域音の測定のための残響室の適性試験方法

附属書 F(規定)  1/3 オクターブバンド音響パワーレベルからオクターブバンド及び A 特性音響パ

ワーレベルを求める方法

附属書 1(参考)  表面音圧法による音源の音響パワーレベルの測定方法

附属書 2(参考)  音響エネルギーレベルの測定方法


  (ISO 3741 : 1999)

目次

(1) 

目次

ページ

序文

1

1.

  適用範囲

3

1.1

  一般事項

3

1.2

  騒音及び騒音源の種類

3

2.

  引用規格

3

3.

  定義

4

3.1

  残響室

4

3.2

  残響音場

4

3.3

  音圧

4

3.4

  平均 2 乗音圧

5

3.5

  音圧レベル

5

3.5.1

  時間平均音圧レベル

5

3.5.2

  測定時間

5

3.6

  音響パワー

5

3.7

  音響パワーレベル

5

3.8

  暗騒音

6

3.9

  基準音源

6

3.10

  残響時間

6

3.11

  対象周波数範囲

6

3.12

  吸音率

6

3.13

  等価吸音面積

6

4.

  測定の不確かさ

6

5.

  試験環境条件

8

5.1

  一般事項

8

5.2

  残響室の容積及び形状

8

5.3

  残響室の吸音特性

8

5.4

  暗騒音レベル

8

5.5

  気温,湿度及び気圧

8

6.

  測定器

9

6.1

  一般事項

9

6.2

  校正

9

7.

  測定対象音源の設置及び作動

9

7.1

  一般事項

9

7.2

  音源の設置位置

9


  (ISO 3741 : 1999)

目次(ISO 3741 : 1999)

(2) 

7.3

  音源の設置

9

7.3.1

  手持ち形機器

10

7.3.2

  床置き形又は壁掛け形機器

10

7.4

  補助装置

10

7.5

  測定対象音源の作動

10

8.

  音圧レベルの測定及び音響パワーレベルの算出

11

8.1

  予備測定

11

8.1.1

  音源の設置

11

8.1.2

  マイクロホン位置

11

8.1.3

  音圧レベルの測定

11

8.1.4

  暗騒音の補正

12

8.1.5

  標準偏差の算出

12

8.1.6

  マイクロホン位置の追加

13

8.1.7

  音源位置の追加

13

8.2

  追加測定

14

8.3

  室内平均音圧レベルの算出

14

8.4

  音響パワーレベルの算出

14

8.4.1

  残響室の残響時間を用いて算出する方法(直接法)

14

8.4.2

  基準音源の音響パワーレベルと比較して算出する方法(比較法)

15

8.5

  オクターブバンド及び/又は A 特性音響パワーレベルの算出

16

9.

  記録事項

16

9.1

  測定対象音源

16

9.2

  試験環境条件

16

9.3

  測定器

16

9.4

  測定結果

16

10.

  報告事項

16

附属書 A(規定)離散周波数成分を含む音の測定のための残響室の適性試験方法

17

A.1

  序文

17

A.2

  一般事項

17

A.3

  測定器

17

A.4

  半無響室におけるスピーカの周波数特性の測定

18

A.5

  室内の平均音圧レベルの測定

19

A.6

  標準偏差の算出

20

A.7

  適性基準

20

A.8

  複数の音源位置

20

附属書 B(参考)  回転拡散板の設計指針

21

附属書 C(参考)  100Hz 未満の周波数成分を測定するための指針

22


  (ISO 3741 : 1999)

目次

(3) 

C.1

  対象周波数範囲の拡張

22

C.2

  本体の表 2 の追補

22

C.3

  本体の表 3 の追補

22

C.4

  本体の表 5 及び表 6 の追補

22

附属書 D(参考)  残響室の設計指針

23

D.1

  一般事項

23

D.2

  残響室の容積

23

D.3

  残響室の形状及び拡散体

23

D.4

  残響室の吸音特性

23

附属書 E(規定)  広帯域音の測定のための残響室の適性試験方法

24

E.1

  序文

24

E.2

  測定器

24

E.3

  試験方法

24

E.4

  標準偏差の算出

24

E.5

  適性基準

24

附属書 F(規定

26

F.1

  オクターブバンド音響パワーレベルの算出

26

F.2

  A 特性音響パワーレベルの算出

26

参考文献

26

附属書 1(参考)

30

1.

  適用範囲

30

2.

  測定器

30

3.

  音圧レベルの測定及び音響パワーレベルの算出

30

3.1

  予備測定

30

3.1.1

  音源の設置

30

3.1.2

  マイクロホン位置

30

3.1.3

  音圧レベルの測定

30

3.1.4

  標準偏差の算出

30

3.1.5

  マイクロホン位置の追加

30

3.1.6

  音源位置の追加

30

3.2

  追加測定

30

3.3

  室内平均音圧レベルの算出

30

3.4

  音源の音響パワーレベルの算出

30

3.4.1

  残響室の残響時間を用いて算出する方法(直接法)

31


  (ISO 3741 : 1999)

目次(ISO 3741 : 1999)

(4) 

3.4.2

  基準音源の音響パワーレベルと比較して算出する方法(比較法)

31

3.5

  オクターブバンド及び/又は A 特性音響パワーレベルの算出

31

附属書 2(参考)  音響エネルギーレベルの測定方法

32

1.

  適用範囲

32

2.

  定義

32

2.1

  単発音圧暴露レベル

32

2.2

  音響エネルギー

32

2.3

  音響エネルギーレベル

32

3.

  単発音圧暴露レベルの測定

32

3.1

  一般事項

32

3.2

  マイクロホン位置

32

3.3

  単発音圧暴露レベルの測定

32

3.4

  室内平均単発音圧暴露レベルの算出

32

4.

  音響エネルギーレベルの算出

33

4.1

  残響室の残響時間を用いて算出する方法(直接法)

33

4.2

  基準音源の音響パワーレベルと比較して算出する方法(比較法)

33


日本工業規格

JIS

 Z

8734

: 2000

 (I

3741

: 1999

)

音響−音圧法による騒音源の

音響パワーレベルの測定方法−

残響室における精密測定方法

Acoustics

Determination of sound power levels of noise sources using

sound pressure

−Precision methods for reverberation rooms

序文  この規格は,1999 年に第 3 版として発行された ISO 3741, Acoustics−Determination of sound power

levels of noise sources using sound pressure

−Precision methods for reverberation rooms (Revision of ISO 3741 :

1988 and ISO 3742 : 1988)

を元に作成した日本工業規格であり,

附属書 及び附属書 を除いて,技術的

内容及び規格票の様式を変更することなく作成している。

附属書 には,従来,日本工業規格で規定していた,表面音圧法による音源の音響パワーレベルの測定方

法を,

附属書 には,原国際規格である ISO 3740 シリーズにおいて規格化が進められている音響エネルギ

ーレベルの測定方法を,それぞれ参考として示した。

なお,この規格で点線の下線を施してある“参考”は,原国際規格にはない事項である。

原国際規格である ISO 3741 は,機械,装置,及びそれらの組立部品の音響パワーレベルを求める種々の方

法を規定する ISO 3740 シリーズの一つである。ISO 3740 シリーズの方法の中から測定の条件と目的に最

も合ったものを選択することが必要である。選択を助ける一般的な指針は,ISO 12001 及び ISO 3740 に規

定されている。ISO 3740 シリーズは,測定対象音源の設置及び作動条件の一般事項だけを規定している。

特定の種類の機器に対する個別規格がある場合,設置及び作動条件の規定については,それに従うことが

望ましい。

参考  ISO 3740 シリーズのうち,ISO 3744ISO 3745 はそれぞれ JIS Z 8733JIS Z 8732 が対応して

いる。

この規格は,規定の音響特性をもった残響室を用いて,音源が放射する音響パワーを周波数帯域ごとに求

める方法について規定する。このような特性をもつ残響室が利用できない場合には,要求する測定環境が

異なる他の基本規格を用いる(

表 及び JIS Z 8733 又は JIS Z 8736 参照)。

この規格における音圧レベルの測定値からの音響パワーレベルの算出は,残響室内のある音響パワーを放

射する音源に対して,空間及び時間で平均した平均二乗音圧

2

p

がその音響パワーに比例し,その他には,

残響室の音響特性並びに幾何学的形状及び空気の物理定数にしか依存しないことに基づいている。

音源が狭帯域又は離散周波数音を発生している場合,放射する音響パワーレベルを正確に求めるためには,

次の理由によって多大な労力が必要となる。

a)

短いマイクロホン経路に沿って,又は少数のマイクロホン位置で求めた空間及び時間で平均した二乗


2

Z 8734 : 2000 (ISO 3741 : 1999)

音圧は,必ずしも残響室内のすべてにわたって空間及び時間で平均した平均二乗音圧の良い推定値に

なるとは限らない。

b)

音源が放射する音響パワーは,残響室の固有モード及び室内での音源位置によって大きく影響を受け

る。

音源が狭帯域又は離散周波数音を発生している場合,残響室における音響パワーレベルの測定は,残響室

及び設定の最適化及び適性試験(

附属書 参照)又は多数の音源位置及びマイクロホン位置(又は長い移

動マイクロホン経路)の使用のいずれかが必要となる。音源位置及びマイクロホン位置の数は,低周波数

の吸音体を付加し,残響時間を短くすることによって減少できる。残響室内で拡散板を回転させることも

有効である。適切な回転拡散板の設計指針は,

附属書 に示す。

表 1  残響条件下で音響パワーレベルを求める規格の一覧

パラメータ

JIS Z 8734

ISO 3741

精密方法

グレード 1

ISO 3743-1

実用方法

グレード 2

ISO 3743-2

実用方法

グレード 2

試験環境

残響室

硬い壁の室

特殊残響室

試験環境の適性基準

室容積 V<300m

3

適度な残響時間 T

rev

V

≧40m

3

V

≧40V

0

室内平均吸音率

α

<0.20

規定の周波数特性の残響時

音源の体積 V

0

室容積の 2%以下が望ましい 室容積の 2.5%未満が望ましい

騒音の特性

定常 
広帯域 
狭帯域

離散周波数音

分離衝撃音以外のすべての音

暗騒音の制限

測定対象音源作動時と停止
時との音圧レベルの差

L≧10dB

L≧6dB

L≧4dB

マイクロホン位置の数 N

M

N

M

≧6

又は連続移動経路

N

M

≧3

又は連続移動経路

N

M

≧3

又は連続移動経路

測定器

a)

騒音計

b)

積分形騒音計

c)

バンドパスフィルタ

d)

音響校正器

a)  JIS C 1505

IEC 61672 の type1)

b)  JIS C 1505

IEC 61672 の type1)

c)  IEC 61260 (IEC 61260)

のクラス 1

d)  JIS C 1515 (IEC 60942)

のクラス 1

測定によって直接得られる
音響パワーレベル

1/3

オクターブバンド

オクターブバンド

オクターブバンド 
及び A 特性

計算によってだけ得られる
音響パワーレベル

オクターブバンド及び

A

特性

A

特性

σ

R

≦0.5dB

σ

R

≦1.5dB

σ

R

≦2.0 dB

求められる L

WA

の再現性の

標準偏差で表した測定精度

(比較的“平たんな”スペクトルの騒音を放射する音源に対して)


3

Z 8734 : 2000 (ISO 3741 : 1999)

1.

適用範囲

1.1

一般事項  この規格は,

ρ

c

=400N・s/m

3

(ここで,

ρ

は空気の密度,は音の速さ)の特性インピーダ

ンスとなる基準環境条件下において音源が放射する音響パワーレベルを求めるための直接法及び比較法に

ついて規定する。残響室の要求事項,音源位置及び作動条件の一般的規定,グレード 1 の精度で音源の 1/3

オクターブバンド音響パワーレベルの算出に用いる平均二乗音圧レベルの推定値を求めるための測定器及

び測定方法について規定する。測定する量は,周波数帯域ごとの時間平均音圧レベルである。求める量は,

A

特性及び周波数帯域ごとの音響パワーレベルである。必要によって求めるその他の量は,周波数帯域ご

との測定値から算出する他の周波数重み付けをした音響パワーレベルである。この規格では,音源の指向

特性及び時間変動を求めることはできない。

一般に,対象周波数範囲は 1/3 オクターブバンド中心周波数で 100∼10 000Hz である。100Hz 未満の周

波数範囲で測定するための指針を

附属書 に示す。この規格は中心周波数 10 000Hz の 1/3 オクターブバン

ドを超える周波数範囲には適用できない。10 000Hz を超える周波数に対しては,ISO 9295 を適用するのが

よい。

1.2

騒音及び騒音源の種類  この規格で規定する方法は,ISO 12001 に規定する定常騒音,広帯域騒音,

狭帯域騒音及び離散周波数を含む騒音に対して適用する。機械,装置,及びその他の部品が放射する騒音

を対象とする。

測定対象音源の体積は,測定に使用する残響室の容積の 2%以下であることが望ましい。より大きな音

源に対しては,

表 に示す標準偏差を超えることがある。

2.

引用規格  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す

る。これらの引用規格のうちで,発効年(又は発行年)を付記してあるのものは,記載の年の版だけがこ

の規格を構成するものであって,その後の改正版・追補には適用しない。発効年(又は発行年)を付記し

ていない引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS A 1409

  残響室法吸音率の測定方法

備考  ISO 354  Acoustics−Measurement of sound absorption in a reverberation room が,この規格と一

致している。

JIS C 1505

  精密騒音計

備考  IEC 61672  Electroacoustics−Sound level meters の Type 1 に関する引用事項は,この規格の該

当事項と同等である。

参考  IEC 61672 は,騒音計に関係する現行の IEC 60651 : 1975, Sound level meters と IEC 60804 :

1985, Integrating-averaging sound level meters

を統合し,現在の技術水準を反映させる内容

となっている。この規格  (JIS Z 8732)  の原案作成時には,CDV(投票のための委員会草

案)の段階であった。

JIS C 1515

  音響校正器

備考  IEC 60942  Sound calibrators が,この規格と一致している。

JIS Z 8733

  音響−音圧法による騒音源の音響パワーレベル測定方法−反射面上の準自由音場におけ

る実用測定方法

備考  原国際規格 ISO 3741 に引用規格として記載された ISO 3744 : 1994, Acoustics−Determination

of sound power levels of noise sources using sound pressure

−Engineering method employing an


4

Z 8734 : 2000 (ISO 3741 : 1999)

enveloping measurement surface in an essentially free field over a reflecting plane

は,この規格

の実用半自由音場法と同等である。

JIS Z 8736-1

  音響−音響インテンシティによる騒音源の音響パワーレベルの測定方法−第 1 部:離散

点による測定

備考  ISO 9614-1  Acoustics−Determination of sound power levels of noise sources using sound

intensity

−Part 1 : Measurement at discrete points がこの規格と一致している。

JIS Z 8736-2

  音響−音響インテンシティによる騒音源の音響パワーレベルの測定方法−第 2 部:スキ

ャニングによる測定

備考 ISO 

9614-2

  Acoustics−Determination of sound power levels of noise sources using sound

intensity

−Part 2 : Scanning method がこの規格と一致している。

ISO 3743-1

  Acuustics−Determination of sound power levels of noise sources−Engineering

methods for small, movable sources in reverberant fields

−Part 1 : Comparison method for

hard-walled test rooms.

ISO 3743-2

  Acoustics Determination of sound power levels of noise sources using sound pressure

−Engineering methods for small, movable sources in reverberant fields−Part 2:Methods for

special reverberation test rooms.

ISO 4871

  Acoustics−Declaration and verification of noise emission values of machinery and

equipment

ISO 6926

  Acoustics−Determination of sound power levels of noise sources−Requirements for the

performance and calibration of reference sound sources

ISO 7574-1 : 1985

  Acoustics−Statistical methods for determining and verifying stated noise emission values

of machinery and equipment

−Part 1:General considerations and definitions

ISO 7574-4 : 1985

  Acoustics−Statistical methods for determining and verifying stated noise emission values

of machinery and equipment

−Part 4:Methods for stated values for batches of machines

ISO 9295

  Acoustics−Measurement of high-frequency noise emitted by computer and business

equipment

ISO 9296

  Acoustics−Declared noise emission values of computer and business equipment

ISO 12001

  Acoustics−Noise emitted by machinery and equipment−Rules for the drafting and

presentation of a noise test code

IEC 61183

    Electroacoustics−Random-incidence and diffuse-field calibration of sound level

meters

IEC 61260

  Electroacoustics−Octave-band and fractional-octave-band filters

3.

定義  この規格で用いる主な用語の定義は,次による。

3.1

残響室 (reverbcration room)   この規格の要求に適合した試験室。

3.2

残響音場  (reverberant sound field)    音源から直接到来する音の影響が無視できる,残響室内の音場

の部分。

参考  音波が一様に分布し,その伝搬方向がすべての方向に等確率であることが理想である。このよ

うな理想的な音場が拡散音場である。

3.3

音圧 (sound pressure) p  音の存在によって静圧に重ね合わされた変動する圧力。


5

Z 8734 : 2000 (ISO 3741 : 1999)

備考1.  単位はパスカル (Pa)。

2.

音圧の大きさは,いくつかの方法で表すことができるが,この規格においては指示した時間

及び空間にわたる平均二乗音圧の平方根を指す。

3.4

平均 乗音圧  (mean-square sound pressure) 

2

p

  二乗平均に基づいて空間及び時間について平均し

た音圧。

備考  実際には,有限な経路長又は一定数のマイクロホン位置についての空間及び時間平均は,理想

残響音場からのずれと同様に,

2

p

の推定値でしかない。

3.5

音圧レベル  (sound pressure level) L

p

  音圧の二乗の,基準音圧の二乗に対する比の 10 を底とする対

数の 10 倍。

0

2

2

10

log

10

p

p

L

p

=

ここに,

p

0

=20

µPa (2×10

-5

Pa)

基準音圧。

備考  単位はデシベル (dB)。

3.5.1

時間平均音圧レベル (time-averaged sound pressure level) L

peq,  T

  音圧の二乗を時間平均したレベ

ル。

ú

û

ù

ê

ë

é

=

ò

T

T

pe

dt

p

(t)

p

T

L

0

2

0

2

10

q,

1

log

10

 (1)

ここに,

p (t)

瞬時音圧

 (Pa)

T

測定時間

 (s)

備考1.

単位はデシベル

 (dB)

2.

時間平均音圧レベルは,必ず,ある測定時間について求めるので,添字

 “eq”

及び

  “T” 

は,

一般には省略する。

3.5.2

測定時間 (measurement time interval)   時間平均音圧レベルを求めるための作動別時間又は作動

サイクルの一部又は整数倍の時間。

備考

8.1.3

参照。

参考

JIS Z ESPL-1

では,一つの規定された工程が完了するまでの時間の長さを“作動別時間”

,一

つの完結した作業を実行するための一連の作動別時間を“作動サイクル”と定義している。時

間平均音圧レベルを求める目的では,工程別作業時間をこれ以上小さく分割することはできな

い。

3.6

音響パワー (sound power) P  音源が空気中に放射する単位時間当たりの音響エネルギー。

備考

単位はワット

 (W)

参考

原国際規格では量記号を

W

としているが,この規格では一般慣例に従って

P

とした。

3.7

音響パワーレベル  (sound power level) L

w

  音源が放射する音響パワー,基準音響パワーに対する比

10

を底とする対数の

10

倍。

0

10

log

10

P

P

L

w

=

ここに,

P

0

1pW (10

-12

W)

基準音響パワー


6

Z 8734 : 2000 (ISO 3741 : 1999)

備考1.

単位はデシベル

 (dB)

2.

例えば,

A

特性音響パワーレベルの量記号は,

L

W

A

である。

3.8

暗騒音 (background noise)   測定対象音源以外のすべての音源からの騒音。

3.9

基準音源  (reference sound source)    ISO 6926 に従って動作し,校正した,周波数特性が平たんな広

帯域雑音を十分な音響パワーレベルで放射する,安定で定常な音源。

3.10

残響時間 (reverberation time) T

rev

  音源が停止してから,音圧レベルが

60dB

減衰するのに要する時

間。

備考1.

単位は秒

 (s)

2.

この規格において,残響時間は,定常レベルから

10dB

又は

15dB

減衰するまでの初期減衰率

から算出することを除いて ISO 354 によって求め,それぞれ

T

10

及び

T

15

と表す。

3.11

対象周波数範囲 (frequency range of interest)   一般に,

1/3

オクターブバンド中心周波数で

100

10000Hz

の周波数範囲。特別な目的に対しては,試験室が適切であるなば,

50Hz

にまで周波数範囲を拡張

してもよい(

附属書 参照)。

3.12

吸音率  (sound absorption coefficient) 

α

  ある周波数及び規定した条件に対して,入射音響パワーの

うち,表面から反射されない音響パワーの割合。ISO 354 によって算出する。

3.13

等価吸音面積  (equivalent absorption area) A  室の表面積と吸音率との積。吸音力ともいう。

備考

単位は平方メートル

 (m

2

)

4.

測定の不確かさ  この規定に従う測定結果の再現性の標準偏差は,表 の値以下となる。

表 2  この規格に従って求めた音響パワーレベルの再現性の 

標準偏差の推定上限値

中心周波数 (Hz)

再現性の標準偏差の上限値 (dB)

1/3

オクターブバンド 100

1)

∼160 3.0

 200

∼315 2.0

 400

∼5000 1.5

 6300

∼10000 3.0

オクターブバンド 125

1)

 2.5

 250

1.5

 500

∼4000 1.0

 8000

2.0

A

特性 0.5

2)

1) 100Hz 未満の周波数への拡張については附属書 に示す。

2) 100

∼10 000Hz の周波数範囲で比較的“平たん”な騒音を放射する

音源に適用できる。

この規格に従って求めた音源の音響パワーレベルは,測定の不確かさの範囲内で,ある量だけ真値から

異なった値となる。音響パワーレベルの測定における測定の不確かさは,残響室の環境条件及び測定技術

に関係する幾つかの要因によって生じる。

特定の音源を複数の異なる測定機関にもち回り,各測定機関においてその音源の音響パワーレベルをこ

の規格に従って求めると,それらの結果はばらつきを示す。測定した音響パワーレベルの標準偏差(ISO 

7574-1

 : 1985, Annex B

の例参照)は,周波数によって異なる。

わずかな例外を除くとこれらの標準偏差は,

表 の値を超えることはない。表 の値は,ISO 7574-1 


7

Z 8734 : 2000 (ISO 3741 : 1999)

定義する再現性の標準偏差

σ

R

である。

表 の値は,この規格の方法を用いたときの測定の不確かさの累積

の影響を考慮しているが,作動条件(例えば,回転速度,電源電圧)又は設置条件の変化による音源の音

響パワーの変動は含んでいない。

測定の不確かさは,

表 に示す再現性の標準偏差と要求する信頼水準に依存する。例えば,正規分布す

る音響パワーレベルに対して,音源の音響パワーレベルの真値が測定値の±

1.654

σ

R

の範囲内にある信頼水

準は

90%

であり,±

1.96

σ

R

の範囲内にある信頼水準は

95%

である。

備考1.

ISO 7574

と ISO 9296とに与えられる再現性の標準偏差と信頼水準との関係は,標準偏差が

2dB

以下であるときに成立する。これにより大きな標準偏差においては,与えられた範囲に

対する信頼水準は低くなるであろう。しかしながら,一般には,真値は,測定値の±

3

σ

R

範囲に入ることが期待できる。

2.

この規格に規定する試験方法における理論モデルからのずれ(直接法)及び基準音源の校正

誤差(比較法)以外の不確かさの最大の原因は,音場の不十分なサンプリング及び音源から

音場への音響結合の(異なる残響室及び同一残響室の異なる音源位置に対する)変動に関係

する。どの残響室も,次の方法によって測定の不確かさを減少させることができる。

a)

複数の音源位置の使用

b)

マイクロホン位置の数又は移動経路長の増加による音場の空間サンプリングの改善

c)

モードの重なりを改善するための低周波吸音体の付加

d)

回転拡散板の使用

さらに,高周波数での音響パワーレベルの測定精度は低下することもあるが,低周波数で

の不確かさを減少するために,大きな残響室を使用してもよい。逆に,小さな残響室は,低

周波数の不確かさを増加させるが,高周波数での不確かさを減少できる。このように,二つ

の残響室が使用可能であるならば,精度の改善のために,大きな残響室で低周波数の音響パ

ワーレベルを,小さな残響室で高周波数の音響パワーレベルを求めることが望ましい。

3.

幾つかの測定機関が同様の設備と測定器を用いるならば,音源の音響パワーの測定結果は,

表 の標準偏差によって推定されるよりもよく一致する。

4.

周波数成分及び作動条件がほぼ同じであり,寸法もほぼ同じである特定の種類の音源の再現

性の標準偏差は,

表 の数値よりも小さくなる。この理由から,この規格を引用する機械又

は装置の特定の機種に対する個別規格は,複数の適切な測定機関の測定結果からそれが実証

できるなら,その場合に限り

表 の値よりも小さな標準偏差を記載してもよい。

5.

表 の再現性の標準偏差は,同一条件下の同一音源での繰り返し測定に関する不確かさ(繰

り返し性の標準偏差,ISO 7574-1 参照)も含む。この不確かさは,一般に測定機関間の変動

に関する不確かさよりも極めて小さい。しかしながら,特定の音源に対して安定な作動及び

設置条件を保つことが困難であるならば,繰り返し性の標準偏差は,

表 の値に比べて大き

くなることもある。このような場合,音源において繰り返し性のある音響パワーレベルの値

を得ることが困難であることを記録し,試験報告書に記載することが望ましい。

6.

この規格の方法と

表 の標準偏差は,個々の機械の測定に適用できる。同種又は同一形式の

機械の一群の音響パワーレベルの評価は,信頼区間を規定する無作為抽出手法の使用を含み,

結果は統計的上限で表される。これらの手法の適用において,全標準偏差は,ISO 7574-1 

定義するように,一群内の個々の機械間の音響パワーの変動の尺度である,製品の標準偏差

も含んで求め,又は推定せざるをえない。一群の機械の評価のための統計的手法は,ISO 


8

Z 8734 : 2000 (ISO 3741 : 1999)

7574-4

に規定する。

5.

試験環境条件

5.1

一般事項  この規格に従い音響パワーを求めるために使用する残響室の設計指針を附属書 に示す。

残響室の寸法は,十分大きく,対象周波数範囲内のすべての周波数帯域に対して十分な残留音場を与える

ように,室内の等価吸音面積は小さくする(

附属書 参照)。

5.2

残響室の容積及び形状  残響室の最小容積は,表 に規定する。対象とする周波数範囲に対して表 3

に示す値未満,又は

300m

3

を超える容積の試験室では,広帯域音の測定に対する試験室の適性を,

附属書

E

の方法を用いて確認する。

表 3  残響室の最小容積

対象とする最低の 1/3 オクターブバンド中心周波数 (Hz) 残響室の最小容積 (m

3

)

100 200

125 150

160 100

200

以上

70

5.3

残響室の吸音特性  残響室の等価吸音面積は,騒音源とマイクロホン位置との間の最小距離に影響

し,また音源の音響放射及び試験空間の周波数応答特性にも影響する。これらの理由で,残響室の等価吸

音面積は,大きすぎたり,極端に小さくてはならない(

附属書 参照)。

音源に最も近い表面の吸音率は,

0.06

未満で反射性とする。他の面は,各

1/3

オクターブバンドにおい

て,測定対象音源を設置していない状態での残響時間(測定方法は,8.4.1 参照)

T

rev

 (s)

が,数値的に

(2)

を満たすような吸音特性をもつものとする。

S

V

T

>

rev

 (2)

T

rev

残響時間

 (s)

V

試験室容積

 (m

3

)

S

試験室の全表面積

 (m

2

)

試験室の残響時間が

(2)の条件を満たさない場合には,広帯域音源に対する試験室の適性を,附属書 D

に規定する方法によって確認する。

5.4

暗騒音レベル  マイクロホン位置又は移動経路について平均した暗騒音レベルは,対象周波数範囲

のすべての帯域において,測定対象音源による音圧レベルよりも

10dB

小さいレベル未満とする。

低騒音の装置に対しては,この条件が満たせない帯域が生じる。測定対象音源の

A

特性バンド音響パワ

ーレベル(

附属書 参照)が,最大の

A

特性バンド音響パワーレベルよりも

15dB

小さいレベル未満とな

る帯域は,対象周波数範囲から除外してもよい。

8.4.2

の比較法を使用する場合には,暗騒音は,対象周波数範囲のすべての帯域で,基準音源による音圧

レベルよりも

15dB

小さいレベル未満でなければならない。

5.5

気温,湿度及び気圧  残響室内の気温及び相対湿度の変動は,マイクロホン位置において,表 

示す範囲内とする。

気圧の測定誤差は±

1.5kPa

以下とする。

表 の範囲内の変動による誤差は一般的には無視できる(文献

[9]

参照)

。しかし,特に装置の作動が

周囲の温度及び湿度条件に依存するような特定の装置類に対する個別規格においては,他の温度及び湿度

条件を規定してもよい。この場合,測定方法とともに,これらの条件を適用しなければならない。


9

Z 8734 : 2000 (ISO 3741 : 1999)

表 4  残響室内の温度及び相対湿度の許容変動範囲

相対湿度(%)

温度

θ

(

℃)

<30 30∼50

>50

±1℃

±1℃

±3℃

−5≦

θ

 

<10

±3%

±5%

±10%

±3℃

10

θ

 

<20

±5%

±2℃

±5℃

±5℃

20

θ

 

<50

±3%

±5%

±10%

6.

測定器

6.1

一般事項  マイクロホンを含めた測定システムは,JIS C 1505 に適合していなければならない。使

用するフィルタは,IEC 61260 のクラス

1

に適合していなければならない。

マイクロホンは,IEC 61183 に従い拡散音場入射特性を校正する。

6.2

校正  各一連の測定を通して,JIS C 1515 に規定するクラス

1

の音響校正器を用い,対象周波数範

囲内の一つ以上の周波数で,測定システム全体を校正する。

適切な標準へのトレーサビリティのある校正ができる試験機関において,校正器の適合性は,少なくと

1

年に一度,測定システムの JIS C 1505 への適合性は,少なくとも

2

年に一度確認する。該当する JIS

への適合性の最終確認年月日を記録する。

7.

測定対象音源の設置及び作動

7.1

一般事項  測定対象音源の設置及び作動の方法は,音源が放射する音響パワーに大きく影響する可

能性がある。この箇条では,測定対象音源の設置及び作動条件による放射音響パワーの変動を最小とする

条件を規定する。測定対象音源に騒音試験の個別規格が存在するなら,音源の設置及び作動に関しては,

その規定に従う。

特に大きな音源に対しては,その要素,組立部品,補助装置,動力源などを測定対象音源の一部とみな

すかを判断する必要がある。

7.2

音源の設置位置  測定対象音源は,残響室内の表面との関係が通常使用する代表的な設置状態とな

るように,

1

か所以上の位置に置く。特定の位置の規定がない音源は,残響室のすべての壁から

1.5m

以上

離れた床上に置く。8.1 に従い

2

か所以上の音源位置が必要なときは,相互の位置間の距離は,測定最低中

心周波数の音の波長の

1/2

以上とする。方形の床形状をもつ残響室の場合,音源は,床上に非対称に置く

ことが望ましい。

7.3

音源の設置  多くの場合,測定対象音源が放射する音響パワーは,その支持又は設置条件に依存す

る。測定対象音源に対する設置条件の規定が存在し,実施できるなら,その条件又はそれに近い条件とす

る。

規定する設置条件が存在しないか,存在しても試験への使用が不可能であるなら,試験に使用する据付

けシステムによって音響パワーが変化しないように注意する。音源を設置する構造体からの音響放射が生

じないようにする。

小さな音源の多くは,それ自身では低周波数の音をほとんど放射しないが,設置方法によっては,その

振動エネルギーが有効な放射体になる十分な大きさの面に伝搬して,

より大きな低周波数の音を放射する。

この場合,できるならば,支持具への振動の伝搬及び音源への反作用の両方を無視できる量にまで減少さ


10

Z 8734 : 2000 (ISO 3741 : 1999)

せるために,測定対象音源とその支持面との間に弾性支持具を挿入することが望ましい。この場合,設置

台は,振動及び音の放射を防ぐために,十分大きな機械インピーダンスをもつことが望ましい。測定対象

音源が体表的使用状態において防振支持されないならば,このような弾性支持はしないほうがよい。

備考

結合条件(例えば,原動機と被駆動機械との間の)は,測定対象音源の音響放射に重要な影響

を及ぼす可能性がある。

7.3.1

手持ち形機器  手持ち形機器は,測定対象音源に属さない取付具を経由して固体伝搬音が伝搬しな

いように,手で支持又は案内する。測定対象音源の作動のために支持が必要であるなら,支持構造は小さ

くし,測定対象音源の一部とみなしてその機器の個別規格に記載する。

7.3.2

床置き形又は壁掛け形機器  床置き形及び壁掛け形機器は,反射性の(音響的に剛な)面(床,壁)

に設置する。もっぱら壁の前面に設置する床置き形機器は,音響的に剛な壁の前の,音響的に剛な床面に

設置する。測定対象機器の個別規格に従う作動に対してテーブル又はスタンドが必要ない卓上装置は,残

響室のすべての壁から少なくとも

1.5m

離れた床上に置く。テーブル又はスタンドが必要な卓上装置は試

験卓の上面中央に置く。

7.4

補助装置  音源に接続するすべての電気配線,配管又は空気ダクトからの放射音は,無視できる程

度にまで小さくなるようにする。

実施可能なら,測定対象音源の作動に必要で,音源の一部ではないすべての補助装置(7.1 参照)は,試

験環境外に配置する。

実施不可能なら,補助装置を含め,その作動条件を試験報告書に記載する。

7.5

測定対象音源の作動  測定対象音源に該当する個別規格がある場合には,それが規定した作動条件

を使用する。特定の個別規格がない場合には,通常使用する代表的な方法で作動させる。この場合,次の

作動条件の一つ以上を選ぶ。

a)

規定する負荷と作動条件

b)

全負荷(上記と異なる場合)

c)

無負荷(アイドリング)

d)

通常使用で発生音が最大となる代表的な作動条件

e)

擬似負荷で詳細に定義した作動条件

試験条件はあらかじめ選択し,試験中は一定に保つ。音源は,すべての音響測定を行う前に,所定の条

件で作動しておく。

発生騒音が,加工材料の種類又は使用する工具の種類のような,測定対象機器以外の作動パラメータに

依存する場合,実施可能な限り,これらのパラメータは,変動が最小となる代表的なものを選ぶ。個別規

格には,試験のための工具及び材料を規定する。

目的に応じて,同種の機械の発生騒音の再現性がよく,その種の機械の最も一般的で代表的である作動

条件が含まれるように,一つ以上の作動条件を定義するのがよい。これらの作動条件は,通常,個別規格

で定義する。

擬似作動条件を使用する場合には,測定対象音源の通常の使用を代表する音響パワーレベルとなるよう

に選ぶ。

適当であるならば,異なる作動条件に対する作動別時間の結果から,作動サイクルに対する結果を得る

ために,それぞれの動作時間を考慮したエネルギー平均を求める。

音響測定中の音源の作動条件及び設置状態は,試験報告書に詳細に記載する。


11

Z 8734 : 2000 (ISO 3741 : 1999)

8.

音圧レベルの測定及び音響パワーレベルの算出

参考1.

マイクロホン位置を室表面とする表面音圧法を用いる場合には.

附属書1による。

2.

単発音又は過渡音の音響エネルギーレベルの測定方法は,

附属書 による。

8.1

予備測定

8.1.1

音源の設置  測定対象音源は,7.2 及び 7.3 に従い残響室内に設置する。

8.1.2

マイクロホン位置  音源とマイクロホン位置との間の距離は,対象とする各周波数帯域において,

(3)による値以上とする。

rev

1

min

T

V

C

d

=

 (3)

ここに,

d

min

音源とマイクロホン間距離の最小値

 (m)

C

1

0.08

V

残響室の容積

 (m

3

)

T

rev

残響時間

 (s)

比較法を用いるときには,騒音源と最も近いマイクロホン位置との間の最小距離は,

(4)から算出して

もよい。

20

/

)

(

2

min

10

pt

Wr

L

L

C

d

=

 (4)

ここに,

d

min

音源とマイクロホン間距離の最小値 (m)

C

2

=0.4

L

Wr

基準音源の既知の音響パワーレベル (dB)

L

pr

基準音源を作動時の残響室内の平均音圧レベル (dB)

直接音によるバイアス誤差を最小にするために,C

1

の値を 0.16 及び C

2

を 0.8 とするのが望ましい。

残響室に,

附属書 による適性が得られていないならば,標準偏差を見積もるための 6 か所のマイクロ

ホン位置を選ぶ。6 か所のマイクロホン位置は,残響室のすべての表面から 1.0m 及び音源から d

min

よりも

離れていなければならない。マイクロホン相互間の最小距離は,対象とする最低の中心周波数の音の波長

の 1/2 とする。

(6)で s

M

を見積もるため以外の測定には,連続移動マイクロホンを使用してもよい。

もし,試験室とマイクロホン位置又は連続移動マイクロホンの設定が

附属書 に適合しているなら,適

性試験に使用した設定を,音圧レベルの測定のためにも使用する。

連続移動マイクロホンを使用する場合には,次の条件を満たさなければならない。

a)

経路上に,音源から d

min

よりも近い点がない。

b)

経路上に,残響室のすべての面から 1.0m よりも近い点がない。

c)

経路上に,回転拡散板のすべての面から 0.5m よりも近い点がない。

d)

マイクロホン移動経路は,どの室表面とも 10°以内にないことが望ましい。

e)

マイクロホン移動経路は直線,円弧又は円とする。その長さは,少なくとも l≧3

λとする。ここに,λ

は対象とする最低の中心周波数の音の波長である。

備考  相互の経路間の最小間隔が,対象とする最低の中心周波数の音の波長の 1/2 以上あるならば,

複数の移動経路を用いてもよい。

8.1.3

音圧レベルの測定  各作動条件に対し,各マイクロホン位置又は移動経路にわたって平均した時間

平均 1/3 オクターブバンド音圧レベルを測定する。

測定時間は,

定常騒音を発生する音源に対して,

中心周波数 160Hz 以下の周波数帯域では少なくとも 30s,

中心周波数 200Hz 以上の周波数帯域では少なくとも 10s とする。


12

Z 8734 : 2000 (ISO 3741 : 1999)

騒音レベルが異なる複数の作動別時間をもつ機械に対しては,各作動別時間に対して前記を満たす適当

な測定時間を選び,試験報告書にこれを記載する。

移動マイクロホンを使用するとき,測定時間は 1 回の移動に必要な時間の 2 以上の整数倍とする。

回転拡散板を使用する場合の測定時間は,上記を満たし,更に回転周期の整数倍又は 10 倍以上とする。

測定対象音源停止時の残響室内の暗騒音レベルを,各マイクロホン位置又は移動経路にわたって平均し

た時間平均 1/3 オクターブバンド音圧レベルとして測定する。測定時間は測定対象音源についてと同程度

とする。暗騒音レベルの測定は,測定対象音源の測定の直前又は直後に行う。

8.1.4

暗騒音の補正  それぞれの周波数帯域で測定した音圧レベルから,式(5)によってそれぞれの帯域

ごとに算出した K

1

を減算して,暗騒音の影響を補正する[8.3 及び

(9)参照]。

(

)

10

/

10

1

10

1

log

10

L

K

=

 (5)

ここに,

K

1

暗騒音に対する補正値

 (dB)

L

'

'

'

p

p

L

L

'

p

L

測定対象音源作動時の,マイクロホン位置又は移動経
路について平均した,ある周波数帯域の平均二乗音圧
レベル

 (dB)

'

'

p

L

測定対象音源の測定の直後に測定し,マイクロホン位
置又は移動経路について平均した,ある周波数帯域の
暗騒音の平均二乗音圧レベル

 (dB)

参考

この規格では,暗騒音補正値

K

1

0.0

0.4dB

の正の値となる。

10dB

<△

L

15dB

の値に対しては,

(5)に従い補正する。△

L

15dB

であるなら,補正は行わない。

低騒音の装置に対しては,対象周波数範囲内の幾つかの周波数帯域で,△

L

10dB

となる。この場合,

これらの帯域に適用する最大の補正値は

0.5dB

である。△

L

10dB

である結果を報告するときには,測定

対象音源の音響パワーレベルに対する上限値を表していることを,結果の表及び図だけでなく,試験報告

書の文中に明確に記載する。

さらに,

A

特性音響パワーレベルを算出する場合には,次の二つの異なった方法で計算する。

a)

対象周波数範囲内のすべての周波数帯域の結果を使用する。

b)

L

10dB

である周波数帯域を除く。

これら二つの

A

特性音響パワーレベルの差が

0.5dB

未満であるならば,すべての帯域の結果を用いて算

出した

A

特性音響パワーレベルは,この規格に従う。差が

0.5dB

以上であるならば,すべての帯域の結果

を用いて算出した

A

特性音響パワーレベルは上限値を表しており,その旨を結果の表及び図だけでなく,

試験報告書の本文中にも明確に記載する。

8.1.5

標準偏差の算出  8.1.18.1.4 の手順で測定した音圧レベルから,各周波数帯域に対する標準偏差

を,

(6)から算出する。

1

)

(

M

1

2

m

M

M

=

å

=

N

L

L

s

N

i

p

pi

 (6)

ここに,

s

M

6

か所のマイクロホン位置間の音圧レベルの標準偏差

(dB)

L

pi

i

番目のマイクロホン位置における時間平均音圧レベル

(dB)

L

pm

6

か所のマイクロホン位置で測定した音圧レベルの算術平

均値

 (dB)


13

Z 8734 : 2000 (ISO 3741 : 1999)

N

M

6

備考

残響室とマイクロホン位置又は連続移動マイクロホンの設定の,離散周波数成分を含む音の測

定のための適性を

附属書 に従い確認してあるならば,前述の標準偏差の算出は必要ない。

8.1.6

マイクロホン位置の追加  平均音圧レベルを 8.3 に従い算出するために必要なマイクロホン位置の

N

M

は,

(6)で算出した標準偏差によって表 の数以上とする。

表 5  音圧レベル測定のためのマイクロホン位置の数 N

M

の最少数

標準偏差 (dB)

 1/3

オクターブバンド

中心周波数 (Hz)

s

M

≦1.5 1.5<s

M

≦3

s

M

>3

100,125,160 6 6

6

200,250,315

6

12

400,500,630

12

24

N

M

の最少数

≧800

15

30

移動マイクロホンを使用するときには,マイクロホン移動経路の長さは,

(7)を満たす。

l

  (

λ/2) N

M

 (7)

ここに,

l

マイクロホン移動経路長

 (m)

λ

測定中心周波数の音の波長

 (m)

N

M

表 から求めたマイクロホン位置の数

試験室とマイクロホン位置又は連続移動マイクロホンの設定の,離散周波数成分を含む音の測定のため

の適性を,

附属書 に従い確認してあるならば,8.1.5 及び 8.1.6 の手順は不必要であり,マイクロホン位

置の数(又は連続移動マイクロホン経路の長さ)は適性の確認に使用したものとする。

8.1.7

音源位置の追加  8.1.5 で求めた音圧レベルの標準偏差が

1.5dB

を超えるならば,測定対象音源の

音は,無視できない離散周波数成分を含む。この場合,

附属書 に従う適性が得られるように試験室の仕

様及び設定を修正,又は

(8)及び表 から,音源位置の数

Ns

を求める。

ú

ú
û

ù

ê

ê
ë

é

+

÷÷ø

ö

ççè

æ

M

2

rev

S

S

1

000

1

N

f

V

T

K

N

 (8)

ここに,

N

s

音源位置の数

K

s

表 による値

T

rev

残響室の残響時間 (s)

V

残響室の容積 (m

3

)

f

測定周波数帯域の中心周波数 (Hz)

N

M

8.1.6

で決定した,マイクロホン位置の数

備考  最近の解析的及び実験的検討結果を取り入れ,項  (

T

rev

/

V

) (1000/

f

)

2

に乗じる定数を旧規格の 0.79

から 1.0 に変更した(参考文献  [12-15]

表 6  音圧レベル測定のための音源位置の数 N

s

の最少数と値 K

s

標準偏差 (dB)

 1/3

オクターブバンド

中心周波数 (Hz)

s

M

≦1.5 1.5<s

M

≦3

s

M

>3

K

s

100, 125, 160

− 2.5

5

200, 250, 315

5

10

400, 500, 630

10

20

≧800

12.5  25

N

s

の最少数 1

(8)による

備考  回転拡散板を使用することによって,音源位置の数を減少させることができる(附属書 参照)。

音源位置の数は,モードの重なりを増大させるために残響時間を短くすることによっても減少


14

Z 8734 : 2000 (ISO 3741 : 1999)

できる。1 000Hz 以下の低周波数において,次式を満たすことが望ましい。

2

rev

000

1

÷÷ø

ö

ççè

æ

<

V

V

T

ここに,

V

:  残響室容積 (m

3

)

f

:  測定周波数帯域の中心周波数 (Hz)

8.2

追加測定  6 か所のマイクロホン位置及び 1 か所の音源位置での予備測定が,8.1.6 及び 8.1.7 を満た

さない場合には,追加したマイクロホン位置及び/又は音源位置での測定を行う。これらの追加測定は,

予備測定に対する要求事項(8.1.1

8.1.4 参照)を満たして行う。

備考  多数のマイクロホン位置が必要なときには,マイクロホン移動経路の使用を推奨する。

8.3

室内平均音圧レベルの算出  各音源位置に対して,すべてのマイクロホン位置又は移動経路上の音

圧レベルを,8.1.3 に従って測定する。各音源位置に対する,各周波数帯域での平均音圧レベルを,

(9)

によってマイクロホン位置又は移動経路にわたって平均し,その後の暗騒音補正

K

1

を行って求める。

1

N

1

10

/

M

10

M

10

1

log

10

)

(

K

N

L

i

L

j

p

pi

ú

ú
û

ù

ê

ê
ë

é

=

å

=

 (9)

ここに,

p

L

ある周波数帯域の,

j

番目の音源位置に対して,すべての

マイクロホン位置又は移動経路にわたって平均した音圧
レベル (dB)

L

pi

ある周波数帯域の,

j

番目の音源位置に対して,

i

番目のマ

イクロホン位置で測定した時間平均音圧レベル,又は 
ある周波数帯域の,

j

番目の音源位置に対して

i

番目のマイ

クロホン移動経路で測定した時間平均音圧レベル (dB)

N

M

各音源位置に対する固定マイクロホン位置又はマイクロ
ホン移動経路の数

複数の音源位置を用いる場合には,

(10)を用いて音源位置について平均する。

ú

ú
û

ù

ê

ê
ë

é

=

å

=

S

1

10

/

)

(

S

10

10

1

log

10

N

j

L

p

j

p

N

L

 (10)

ここに,

)

(

p

L

ある周波数帯域の,

すべての音源位置及びマイクロホン位置

又は移動経路にわたって平均した室内平均音圧レベル(dB)

 

N

s

音源位置の数

8.4

音響パワーレベルの算出  音源のそれぞれの周波数帯域における音響パワーレベルは,8.4.1 又は

8.4.2

のいずれかの方法を用いて算出する。

8.4.1

残響室の残響時間を用いて算出する方法(直接法)  測定対象音源の音響パワーレベルは,8.3 

よって求めた室内平均音圧レベル及び音源設置時に求めた残響室の等価吸音面積を用いて,

(11)によっ

て算出する。

ú

û

ù

ê

ë

é

+

+

+

+

=

f

V

c

S

S

A

A

A

L

L

p

w

8

1

log

10

34

.

4

log

10

10

0

10

(11)

ここに,

L

w

測定対象音源の音響パワーレベル (dB)

p

L

室内平均音圧レベル (dB)

A

残響室の等価吸音面積 (m

2

)

A

0

1m

2

S

残響室の全表面積 (m

2

)


15

Z 8734 : 2000 (ISO 3741 : 1999)

V

残響室の容積 (m

3

)

f

測定周波数帯域の中心周波数 (Hz)

c

音の速さ (m/s)

c

θ

+

273

05

.

20

θ

気温  (℃)

B

気圧 (hPa)

B

0

1.013

×10

3

hPa

備考1.  式(11)の4.34A/S (dB)  の項は,残響室内の吸音を考慮して加算してある(参考文献  [16])。

2.

(11)の,気温

θ

及び気圧 を含む項は,

測定場所の実際の環境条件における値として求める。

この項は,測定した音響パワーを特性インピーダンス

ρ

c

=400Ns/m

3

である基準環境条件下で

測定した場合の値に調整するために用いる。

残響室の等価吸音面積 は,各周波数帯域ごとに,セイビンの残響式[

(12)]によって算出する(ISO 

354

参照)

÷÷ø

ö

ççè

æ

=

rev

26

.

55

T

V

c

A

 (12)

ここに,

A

残響室の等価吸音面積 (m

2

)

T

rev

各周波数帯域での残響時間 (s)

V

残響室の容積 (m

3

)

残響時間,T

rev

を,それぞれ T

10

又は T

15

として表す,初期の 10dB 又は 15dB の減衰を用いることを除い

て,ISO 354 に従って測定する。63 000Hz∼10kHz の 1/3 オクターブバンドに対しては,5 000Hz と同じ数

で測定する。

8.4.2

基準音源の音響パワーレベルと比較して算出する方法(比較法)

8.4.2.1

基準音源の設置  基準音源の位置は,残響室のすべての壁面及び測定対象音源から 1.5m よりも

離れた床上とする。測定対象音源に対して複数の音源位置を使用しても,基準音源に対しては複数の位置

の必要はない。

8.4.2.2

基準音源による室内平均音圧レベルの算出  基準音源の作動による室内平均音圧レベルを,8.3

に従って算出する。基準音源による音圧レベルは,対象周波数範囲のすべての帯域で,暗騒音よりも 15dB

以上大きいので,暗騒音に対する補正は必要としない。

8.4.2.3

測定対象音源の音響パワーレベルの算出  測定対象音源の音響パワーレベルは,基準音源及び測

定対象音源による室内平均音圧レベルから,

(13)によって算出する。

(

)

r

r

p

p

w

w

L

L

L

L

+

=

 (13)

ここに,

L

w

測定対象音源の 1/3 オクターブバンド音響パワーレベル 
(dB)

L

wr

特性インピーダンス

ρ

c

=400Ns/m

3

である環境条件下で

校正した,基準音源の 1/3 オクターブバンド音響パワー
レベル (dB)

p

L

8.1

8.3 に従って求めた測定対象音源による室内平均

1/3

オクターブバンド音圧レベル (dB)

r

p

L

8.3

に従って求めた基準音源による室内平均 1/3 オクタ

ーブバンド音圧レベル (dB)

備考  比較法によって基準環境条件下に調整した音響パワーレベルを得るために,算出に用いる校正

値は特性インピーダンス

ρ

c

=400Ns/m

3

である環境条件下に対する値である。


16

Z 8734 : 2000 (ISO 3741 : 1999)

8.5

オクターブバンド及び/又は 特性音響パワーレベルの算出  音源のオクターブバンド及び又は A

特性音響パワーレベルが必要なときには,

附属書 に示す方法によって算出する。

9.

記録事項  9.19.4 のうち,適用可能な事項を記録する。

9.1

測定対象音源

a)

測定対象音源の仕様(寸法も含む)

b)

作動条件

c)

設置条件

d)

残響室内の測定対象音源の位置

e)

残響室内の基準音源の位置

9.2

試験環境条件

a)

残響室の寸法 (m),壁,天井及び床表面の仕上げ,音源及び残響室内に存在するものの配置図

b)

気温  (℃),相対湿度 (%) 及び気圧 (hPa)

9.3

測定器

a)

測定に使用した機器の名称,型式,製造番号及び製造業者名

b)

音響校正器及び 6.1 による測定システム,

並びに使用した場合には,

3.9

による基準音源の校正年月日,

場所,及び方法

9.4

測定結果

a)

マイクロホン経路又は配列の位置並びに向き(必要ならば,図を含む)及び経路に沿っての移動の方

b)

暗騒音についての補正を行った場合には,その各帯域ごとの補正値 (dB)

c)

音響パワーレベル,0.1(推奨)

,0.5[必す(須)

]dB ごとの数値での表,必要ならば図。周波数重み

付け及び周波数帯域幅を明示する。

d)

測定年月日及び時刻

A

特性音響パワーレベルを計算する場合には,

附属書 の計算方法を使用する。

10.

報告事項  測定の目的(ISO 4871 参照)にとって必要な記録事項(9.参照)だけを,報告する。

報告書には,

報告する音響パワーレベルをこの規格の要求事項に完全に適合して得たか否かを記載する。

測定対象音源の A 特性音響パワーレベルは,0.5dB ごとの数値で報告する。

備考  ISO 9296 は,計算機及び事務機器の A 特性音響パワーレベルの公示値 L

wAd

を,1B=10dB の関

係を用いて,ベル (B) で表すことを規定している。


17

Z 8734 : 2000 (ISO 3741 : 1999)

附属書 A(規定)

離散周波数成分を含む音の測定のための残響室の適性試験方法

A.1

序文  測定対象音源が無視できない離散周波数成分を放射するとき,音場の空間分散並びに音源と残

響室のモードとの結合の空間及び周波数領域での分散が,広帯域音に対する場合よりも大きくなるので,

大きな測定誤差が生じる。この規格の本体 8.1.58.1.7 は,それぞれの場合に,これらの誤差を小さくする

ための方法を規定する。これらの方法の代わりとして,どのようなスペクトル成分に対しても本体 4.の測

定精度に適合するように,

残響室及びマイクロホン配列又は移動経路の設定を最適化しておく方法がある。

最適化に用いるそれぞれの要素の効果を定量的に予測することは不可能であるので,この附属書では,試

験設備のすべての要素の結合した効果を求めるための実験的な適性試験方法を規定する(文献  [19-26]  参

照)

低周波数での主な誤差は,それぞれの周波数において励振できる残響室のモードの数が少ないことによ

る。これは,より大きな残響室の使用,残響室の特性の最適化(

附属書 D.3 参照),及びそれぞれのモード

の周波数応答(モードの帯域幅)を広くするために残響室へ付加吸音を施すことによって改善できる(

属書 D.4 参照)。しかしながら,低周波数では,附属書 に示す形式の,大きな回転拡散板の使用によっ

てだけ,適性基準(

附属書表 A.1 参照)に適合できる。

高周波数での誤差要因は使用するマイクロホン位置の数である。有効な回転拡散板が利用できれば離散

的なマイクロホン配列を使用することも可能であるが,長いマイクロホン移動経路による連続的な空間平

均化機能が必要となることもある。円形移動経路は限られた空間内に直線よりもより長い経路が得られ,

自動化も容易である。

附属書表 A.1  標準偏差 s

f

の最大許容値

1/3

オクターブバンド中心周波数 (Hz)

最大許容標準偏差 (dB)

100, 125, 160

3.0

200, 250, 315

2.0

400, 500, 630

1.5

800

∼2500 1.0

A.2

一般事項  この附属書に規定する方法は,ある残響室内で,ある特定の 1 か所又は複数の音源位置及

び,あるマイクロホン配列又は経路を使用した離散周波数音の測定の不確かさの上限の推定値を与える。

標準偏差が,対象とする周波数範囲にわたって

附属書表 A.1 を超えないなら,試験設備[残響室内の音源

位置,測定器,

(あるなら)回転拡散板,付加吸音,及びマイクロホン配列又は経路]は,そのスペクトル

に無視できない離散周波数成分を含むすべての音源の測定に対しても適性を備えている。すべての測定対

象音源に対しても 8.1.5 のような付加評価は必要ない。

適性試験方法は,使用する純音信号が最悪条件を与えるので,この方法で得られる標準偏差は,実際の

あらゆる音源に対する再現性の測定の不確かさよりも大きくなる。

A.3

測定器  6.及び 8.に規定する測定器及びマイクロホン配列又は経路に加えて,次の機器が必要である。

a)

密閉箱に取り付けた口径 200mm 以下のスピーカ


18

Z 8734 : 2000 (ISO 3741 : 1999)

b)

信号発生器,周波数シンセサイザ,又は発振器。周波数の測定に使用可能な周波数カウンタ又は周波

数分析器。増幅器及び電圧計。

A.4

に適合させるためには,十分に滑らかな周波数応答をもつスピーカを選ぶ必要がある。

信号発生器,周波数シンセサイザ,又は発振器は,対象とする周波数範囲にわたって,

附属書表 A.2 

周波数と許容差の正弦波信号を発生させることができ,±0.1Hz で安定であり,全高調波ひずみは 0.1%未

満のものとする。

スピーカを駆動する電力増幅器は,スピーカの電気インピーダンスに適合する出力インピーダンスをも

ち,十分な電力を出力できるものとする(A.4 参照)

電圧計は,対象とする周波数範囲にわたってスピーカの端子電圧を±1.0%の精度で監視できるものとす

る。

A.4

半無響室におけるスピーカの周波数特性の測定  スピーカを半無響室の剛な,反射性の床上の適当な

場所にスピーカコーンを上にして置く。

残響室で使用するものと同じ製造業者及び型式のマイクロホンを,

スピーカ開口面上 10∼20mm の距離に,振動面を水平に,軸を一致させて置く。音響パワーの測定(本体

6.1

参照)に使用するものと同じ表示器及び 1/3 オクターブバンドフィルタを用いて,

附属書表 A.2 に示す

試験周波数で音圧レベルを 0.5dB ごとの値で測定し,記録する。

スピーカの周波数特性を求めるために近距離音場音圧レベルを測定する。

これは,

自由音場においては,

小さな単一音源から見た音響アドミタンスの実部が原理的に周波数に依存しないので,近距離音場の音圧

レベルが音響パワーレベルの変化と同じになることに基づいている。

使用するスピーカの隣接した試験周波数での音圧レベルの差は,1dB 以内とする。

参考  試験周波数は,各 1/3 オクターブバンド内に一様に分布した等間隔又は対数等間隔の 25 以上の

周波数としてもよい。


19

Z 8734 : 2000 (ISO 3741 : 1999)

附属書表 A.2  離散周波数成分を含む音の測定のための適性試験に用いる試験周波数

1/3

オクターブ

中心周波数(Hz)

100

125

160

200

250

315

400

500

630

800

1 000 1 250  1 600  2 000 2 500

147

361

− 1

470

− 113

148

− 226

364

1 130  1 480

− 2

260

− 114

149

− 228

367

445

564

712

1 140  1 490

− 2

280

  90

115

150

180

230

285

370

450

570

720

  900

1 150  1 500  1 800 2 300

  91

116

151

182

232

288

373

455

576

728

  910

1 160  1 510  1 820 2 320

  92

117

152

184

234

291

376

460

582

736

  920

1 170  1 520  1 840 2 340

  93

118

153

186

236

294

379

465

588

744

  930

1 180  1 530  1 860 2 360

  94

119

154

188

238

297

382

470

594

752

  940

1 190  1540  1 880 2 380

  95

120

155

190

240

300

385

475

600

760

  950

1 200  1 550  1 900 2 400

  96

121

156

192

242

303

388

480

606

768

  960

1 210  1 560  1 920 2 420

  97

122

157

194

244

306

391

485

612

776

  970

1 220  1 570  1 940 2 440

  98

123

158

196

246

309

394

490

618

784

  980

1 230  1 580  1 960 2 460

  99

124

159

198

248

312

397

495

624

792

  990

1 240  1 590  1 980 2 480

100

125

160

200

250

315

400

500

630

800

1 000 1 250  1 600  2 000 2 500

101

126

161

202

252

318

403

505

636

808

1 010 1 260  1 610  2 020 2 520

102

127

162

204

254

321

406

510

642

816

1 020 1 270  1620  2 040 2 540

103

128

163

206

256

324

409

515

648

824

1 030 1 280  1 630  2 060 2 560

104

129

164

208

258

327

412

520

654

832

1 040 1 290  1 640  2 080 2 580

105

130

165

210

260

330

415

525

660

840

1 050

1300  1 650  2 100 2 600

106

131

166

212

262

333

418

530

666

848

1 060 1 310  1 660  2 120 2 620

107

132

167

214

264

336

421

535

672

856

1 070 1 320  1 670  2 140 2 640

108

133

168

216

266

339

424

540

678

864

1 080 1 330  1 680  2160

2 660

109

134

169

218

268

342

427

545

684

872

1 090 1 340  1 690  2 180 2 680

110

135

170

220

270

345

430

550

690

880

1 100 1 350  1 700  2 200 2 700

111

136

171

222

272

348

433

555

696

888

1 110

1 360  1 710  2 220 2 720

− 137

172

− 274

436

702

1 370  1 720

− 2

740

試 験 周 波 数

(Hz)

− 138

173

− 276

439

1 380  1 730

− 2

760

間隔

(Hz)

1 1 1 2 2 3 3 5 6 8 10 10 10 20 20

間 隔 の 許 容 差

(Hz)

±0.3  ±0.3 ±0.3  ±0.5  ±0.5

±1

±1

±1.5

±2

±3

±3

±5

±5

±5

±5

試験周波数の数

22 26

27 22 26

22

27

23

24

23

22 26 23 22 26

A.5

室内の平均音圧レベルの測定  スピーカを,適性を確認しようとする音源位置に,床を含めた最も近

い残響室表面からそのコーンが離れる向きに置く。マイクロホンは移動経路上又は配列の複数の固定位置

に置き,本体 8.3 の方法によって音圧レベルを読み取る。回転又は往復拡散板を使用する場合には,拡散

板を作動させる。

附属書表 A.2 に示す試験周波数での空間及び時間平均音圧レベルを求める。スピーカの端子電圧は,A.4

と同じにする。

備考  固定マイクロホンの配列を使用するなら,配列を自動的に切り換えて直接平均音圧レベルを得

る(本体 8.3 参照)か,それぞれのマイクロホン位置での音圧レベルを求めて計算によって平

均音圧レベルを得るかのいずれかによる。

それぞれの試験周波数での測定中の周波数変動は,±0.1Hz とする。


20

Z 8734 : 2000 (ISO 3741 : 1999)

A.6

標準偏差の算出  スピーカの周波数特性の影響を取り除いた音圧レベル L

pi

を得るために,A.4 による

スピーカ開口面での音圧レベルを各周波数ごとに減算して,A.5 による室内音圧レベルを補正する。

各 1/3 オクターブバンドについて,補正した室内音圧レベルの算術平均 L

pm

を計算し,補正した室内音

圧レベルとその平均音圧レベルとの差の標準偏差 s

f

 (A.1)  によって求める。

1

)

(

1

2

m

=

å

=

f

N

i

p

pi

f

N

L

L

s

f

(A.1)

ここに,

s

f

ある 1/3 オクターブバンドの音圧レベルの標準偏差 (dB)

L

pi

すべてのマイクロホン位置(及び該当するならすべてのスピ
ーカ音源位置)にわたって平均し,スヒーカの周波数特性を
補正した 番目の試験周波数で励振したスピーカ音源による
室内平均音圧レベル (dB)

L

pm

ある 1/3 オクターブバンド内のすべての試験周波数にわたっ
て平均した,L

pi

の算術平均 (dB)

N

f

ある 1/3 オクターブバンド内の試験周波数の数

A.7

適性基準  各 1/3 オクターブバンドについて,算出した標準偏差が表 A.1 に示す限界を超えないなら,

試験設備[残響室,音源位置,測定器,

(あるなら)回転拡散板,付加吸音,及びマイクロホン配列又は移

動経路]は,無視できない離散周波数成分を含む音源の音響パワーレベルの測定に対して適性を備えてい

る。

2500Hz

を超える中心周波数の 1/3 オクターブバンドでは,試験室の適性を確認する必要はない。

長さ の連続移動マイクロホン経路を使用する場合には,次の f

1

又は f

2

のいずれか高い周波数以上では

適性を確認しなくてもよい。

f

1

=6 000/l

f

2

=5 000/V

1/3

ここに,

l

:  マイクロホン移動経路の長さ (m)

V

:  残響室容積 (m

3

)

A.8

複数の音源位置  複数の音源位置を使用する場合には,式 (A.1)  を用いた標準偏差の算出の前に,複

数のスピーカ位置での音圧レベルを本体 8.3 の方法に従い各試験周波数について平均する。

適性が複数スピーカ位置によって得られる場合には,同じ音源位置の組を,測定対象音源の測定に対し

ても使用する。複数のマイクロホン位置及び音源位置に対して求めた音圧レベルを平均する。


21

Z 8734 : 2000 (ISO 3741 : 1999)

附属書 B(参考)  回転拡散板の設計指針

残響室における回転拡散板は,次の二つの理由で有用である。

a)

拡散板は,残響室内の平均二乗音圧の空間分散を減少させ,空間平均音圧レベルの推定精度を改善す

る。

b)

拡散板は,音源からの音響パワーの流れを残響室内に分配し,音源の音響パワーが残響室の寸法及び

残響室内の音源位置に依存しないようにする。

回転拡散板の効果は,第一にその大きさによる。したがって,拡散板は,室寸法が許す限り大きいほう

がよい。拡散板の面密度は,少なくとも 5kg/m

2

を推奨する。回転速度は,拡散板の少なくとも 1 回転で音

圧レベルが平均できるように,速いほうがよい。

大きく,重い板を高速度で回転させる実際の設計上の問題は,拡散板を円,円錐又は円筒形とし,重心

がその回転軸上にあるように平衡させることによって解決できる。直径 5m の二つの円錐形拡散板を

2.6rad/s

で動作させた例がある。拡散板の面を,どの室表面とも平行にならないようにするのがよい。

備考  残響室の適性に有用な回転拡散板の実例は,文献 [27-28]  にある。


22

Z 8734 : 2000 (ISO 3741 : 1999)

附属書 C(参考)  100Hz 未満の周波数成分を測定するための指針

C.1

対象周波数範囲の拡張  100Hz 未満の周波数帯域での測定には,本体 8.4.2 に規定する比較法の使用を

推奨する。基準音源は,その周波数帯域内のスペクトルに純音成分をもたないことが望ましい(低周波数

に強い純音成分をもち,その周波数帯域では再現性の悪い基準音源もある)

。この附属書は,比較法を使用

するときだけに適用する。

純音成分を発生する音源の測定には使用しないほうがよい。

C.2

本体の表 の追補  200m

3

より大きな残響室では,より小さな再現性の標準偏差が期待できる。

附属書表 C.1  100Hz 未満の音響パワーレベルの再現性の標準偏差の 

推定上限値 

1/3

オクターブバンド中心周波数 (Hz)

再現性の標準偏差の上限値 (dB)

50, 63, 80

7.5

C.3

本体の表 の追補  600m

3

以上の容積が好ましいが,200m

3

でもよい。容積が大きいほど,低周波数

の音響パワーレベルの精度はよい。

C.4

本体の表 及び表 の追補  125Hz に対する値を適用する。


23

Z 8734 : 2000 (ISO 3741 : 1999)

附属書 D(参考)  残響室の設計指針

D.1

一般事項  音源の音響パワーレベルを正確に求めるために,残響室は,次の条件を備えていることが

望ましい。

a)

適切な容積

b)

適切な形状及び/又は拡散体

c)

対象周波数範囲にわたる適切な吸音

d)

十分に小さな暗騒音

D.2

残響室の容積  残響室の容積についての要求事項は,本体 5.2 による。

備考1.  本体表3のように,中心周波数100Hz の1/3オクターブバンドを対象周波数範囲の最低周波数

帯域とする一般目的の測定に対しては,200m

3

の容積が必要である。

2.

 200m

3

より大きな容積の試験室では,3 000Hz より高い周波数帯域において,空気吸収が残響

音場の一様性に好ましくない影響を引き起こす可能性がある。

D.3

残響室の形状及び拡散体  残響室を不整形とする場合には,その表面は平行面をもたないようにする

のが望ましい。残響室が直方体なら,その寸法比は,どの寸法比も整数又は整数に近い値にならないよう

に選ぶのがよい。

寸法比は,1 : 2

1/3

 : 4

1/3

をよく用いる。200m

3

付近の容積をもつ残響室に対してよいとされているその他

の寸法比を,残響室の寸法を l

x

l

y

及び l

z

として

附属書表 D.1 に示す。

附属書表 D.1  直方体残響室の推奨寸法比

l

y

/l

x

l

z

/l

x

0.83 0.47

0.83 0.65

0.79 0.63

0.68 0.42

0.70 0.59

参考  回転拡散板については,附属書 に示す。

D.4

残響室の吸音特性  残響室表面の吸音率は,十分な残響音場を確保するためには小さくするのがよい。

次の式で与える周波数,f (Hz)  未満では,音源が発生する音響パワーへの残響室のモードの影響を小さく

するために,大きくするのがよい。

3

/

1

000

2

V

f

=

ここに,

V

:  残響室容積 (m

3

)

残響室の全表面の平均吸音率

αは,0.16 以下が望ましい。f (Hz) 以上の周波数では,平均吸音率は 0.06

以下が望ましい。

参考  適切な残響時間については,本体 5.38.1.2 及び 8.1.7 参照。


24

Z 8734 : 2000 (ISO 3741 : 1999)

附属書 E(規定)  広帯域音の測定のための残響室の適性試験方法

E.1

序文  試験室容積が本体 5.2 の規定よりも小さい,又は等価吸音面積が本体 5.3 の規定よりも大きい場

合に,本体

表 に示す精度での広帯域騒音の測定が可能かどうかを判断するために,この附属書に記載す

る方法を用いる。この附属書による方法は,空間及び時間平均における不確かさとともに,音源と残響音

場との結合における不確かさの尺度を与える(文献  [18]  参照)

。各 1/3 オクターブバンドに対する広帯域

音の測定精度は,測定値の標準偏差で表される。

E.2

測定器  測定器及びマイクロホン移動経路又は配列は,測定対象音源の実際の測定に使用するものと

同一とする。この附属書では,ISO 6926 に規定する特性をもった基準音源を使用する。

測定器は,本体 6.による。

マイクロホン移動経路又は配列は,本体 8.1.2 による。

E.3

試験方法  次の条件に従って,試験室内の異なった 6 か所以上の位置に基準音源を置き,室内の 1/3

オクターブ又はオクターブバンド音圧レベルを測定する。

a)

音源位置は,壁から

λ/2 以上で,マイクロホンから本体 8.1.2 に示す距離以上離れた床面上に選ぶ。音

源位置相互間の距離は,

λ/4 よりも大きくする。ここに,λは,試験室の適性を確認すべき最低の周波

数帯域の中心周波数の音の波長である。音源位置は,室の中心線上にあってはならない。音源位置は,

一般に,測定対象音源を置く位置付近とする。

b)

前記のそれぞれの基準音源位置について,1/3 オクターブ又はオクターブバンド音圧レベルを少なく

とも 0.5dB ごとの値で記録する。

c)

マイクロホン移動経路又は配列,

(あるなら)拡散板,測定器及び測定時間は,適性を確認する音源位

置での測定対象音源の実際の測定で使用するものと同一とする。

E.4

標準偏差の算出  試験室の適性を確認すべき各周波数帯域に対して,標準偏差 s

s

を,次の式によって

算出する。

1

)

(

S

1

2

m

S

S

=

å

=

N

L

L

s

N

i

p

pi

ここに,

s

S

バンド音圧レベルの標準偏差 (dB)

L

pi

i

番目の音源位置において,本体 8.3 に従い時間及び空間に

ついて平均したバンド音圧レベル (dB)

L

pm

バンド音圧レベルの算術平均値 (dB)

N

S

音源位置数

E.5

適性基準  各周波数帯域に対して,算出した標準偏差が附属書表 E.1 に示す範囲を超えなければ,試

験室は広帯域音の測定の適性を備えている。


25

Z 8734 : 2000 (ISO 3741 : 1999)

附属書表 E.1  Lpi の最大許容標準偏差

オクターブバンド

中心周波数 (Hz)

1/3

オクターブバンド

中心周波数 (Hz)

最大許容標準偏差 (dB)

125

100, 125, 160

1.5

250, 500

200

∼630 1.0

1000, 2000

800

∼2500 0.5

4000, 8000

3150

∼10000 1.0


26

Z 8734 : 2000 (ISO 3741 : 1999)

附属書 F(規定)

1/3

オクターブバンド音響パワーレベルから 

オクターブバンド及び 特性音響パワーレベルを求める方法

F.1

オクターブバンド音響パワーレベルの算出  オクターブバンド音響パワーレベルは,式 (F.1)  によっ

て算出する。

å

=

=

i

i

j

L

wi

wj

L

3

2

3

10

/

10

10

log

10

(F.1)

ここに,  L

wi

:  番目のオクターブバンド音響パワーレベル (dB)

L

wj

:  番目の 1/3 オクターブバンド音響パワーレベル (dB)

i, j

附属書表 F.1 の値

F.2

  A

特性音響パワーレベルの算出  A 特性音響パワーレベル,L

WA

は,

 (F.2)  によって算出する。

å

=

+

=

max

min

10

/

)

(

10

WA

10

log

10

J

j

j

c

L

j

wj

L

(F.2)

ここに,

L

wj

j

番目の 1/3 オクターブバンド音響パワーレベル

j, C

j

附属書表 F.1 に示す値

j

min

, j

max

附属書表 F.1 における最低及び最高測定周波数帯域に
対応する の値


27

Z 8734 : 2000 (ISO 3741 : 1999)

附属書表 F.1  1/3 オクターブバンドに対する 及び C

j

の値

i

j

1/3

オクターブバンド中心周波数 (Hz)

C

j

(dB)

1 1

50

a)

−30.2

 2

63

a, b)

−26.2

 3

80

a)

−22.5

2 4

100

−19.1

 5

125

−16.1

 6

160

−13.4

3 7

200

−10.9

 8

250

−8.6

 9

315

−6.6

4 10

400

−4.8

 11

500

−3.2

 12

630

−1.9

5 13

800

−0.8

 14

1000

−0.0

 15

1250

0.6

6 16

1600

1.0

 17

2000

1.2

 18

2500

1.3

7 19

3150

1.2

 20

4000

1.0

 21

5000

0.5

8 22

6300

−0.1

 23

8000

−1.1

 24

10000

−2.5

a)

この周波数帯域のデータは,

附属書 C(参考)に従って

対象周波数範囲を拡張した場合にだけ用いる。

b)

オクターブバンド中心周波数は太字で示す。


28

Z 8734 : 2000 (ISO 3741 : 1999)

参考文献

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[3]

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−Determination of sound power levels of noise sources using sound pressure−

Engineering methods for small, movable sources in reverberant fields

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[5]

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−Statistical methods for determining and verifying stated noise emission values of

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[6]

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machinery and equipment

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[9]

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absorption of sound by the atmosphere.

[10]

 ISO 9614-1, Acoustics

−Determination of sound power levels of noise sources using sound intensity−Part 1 :

Measurement by discrete points.

[11]

  ISO 9614-2, Acoustics

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Measurement by scanning.

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30

Z 8734 : 2000 (ISO 3741 : 1999)

附属書 1(参考)

表面音圧法による音源の音響パワーレベルの測定方法

1.

適用範囲  この附属書は,残響室の反射性の室内表面上における音圧レベルを測定することにより,

音源の音響パワーレベルを求める方法について記述する。

2.

測定器  測定に用いる測定器は,本体 6.による。

3.

音圧レベルの測定及び音響パワーレベルの算出

3.1

予備測定

3.1.1

音源の設置  測定対象音源は,本体 7.2 に従い残響室内に設置する。

3.1.2

マイクロホン位置  残響室表面に,標準偏差を求めるための 6 か所のマイクロホン位置を選ぶ。そ

れらのマイクロホン位置は,マイクロホンを設置する表面を除く残響室のすべての表面から 1.0m 及び音

源から本体

(3)又は本体式(4)による d

min

よりも離れていなければならない。マイクロホン相互間の最小距

離は,対象とする最低周波数の音の波長の 1/2 とする。

備考1.  マイクロホンを設置する室内表面は,平たんな反射面(吸音率は0.06以下)とする。

2.

マイクロホンを室内表面に向けて設置する場合には,室内表面でマイクロホンの前面が密閉

されないように注意する。

3.1.3

音圧レベルの測定  各作動条件に対し,各マイクロホン位置にわたって平均した時間平均音圧レベ

ルを,本体 8.1.3 に従い測定する。

3.1.4

標準偏差の算出  本体 8.1.5 によって,各マイクロホン位置における音圧レベルの値から,測定周

波数帯域ごとの音圧レベルの標準偏差を計算する。標準偏差が 2dB を超える場合には,この附属書による

測定は不可能とする。

3.1.5

マイクロホン位置の追加  平均音圧レベルを算出するために必要なマイクロホン位置の数 N

M

は,

本体

(6)によって求めた標準偏差の値及び附属書 表 から求める。

3.1.6

音源位置の追加  本体 8.1.5 で求めた音圧レベルの標準偏差が 1dB を超えるなら,測定対象音源の

音は,無視できない離散周波数成分を含む。この場合,本体

(8)及び附属書 表 による K

s

から,音源位

置の数 N

s

を求める。

3.2

追加測定  6 か所のマイクロホン位置及び 1 か所の音源位置での予備測定が,3.1.5 及び 3.1.6 を満た

さない場合,追加マイクロホン位置及び/又は音源位置による測定を行う。これらの追加測定は,予備測

定に対する要求事項(本体 8.1.18.1.4 参照)を満たして行う。

3.3

室内平均音圧レベルの算出  各周波数帯域で,各音源位置に対するすべてのマイクロホン位置での

音圧レベルを,本体 8.1.3 に従い測定する。各音源位置に対する各周波数帯域での室内平均音圧レベルを,

本体

(9)によって,まずマイクロホン位置にわたって平均し,その後暗騒音補正 K

1

を行って求める。

3.4

音源の音響パワーレベルの算出  音源のそれぞれの周波数帯域における音響パワーレベルは,3.4.1

又は 3.4.2 の方法のいずれかを用いて算出する。


31

Z 8734 : 2000 (ISO 3741 : 1999)

3.4.1

残響室の残響時間を用いて算出する方法(直接法)  測定対象音源の音響パワーレベルは,本体

8.3

によって求めた平均音圧レベル及び音源設置時に求めた残響室の等価吸音面積を用いて,

附属書 (1)

によって算出する。

9

273

273

400

427

log

25

34

.

4

log

10

0

10

0

10

ú

û

ù

ê

ë

é

+

+

=

B

B

S

A

A

A

L

L

p

w

θ

 (1)

3.4.2

基準音源の音響パワーレベルと比較して算出する方法(比較法)  本体 8.4.2 による。

3.5

オクターブバンド及び/又は 特性音響パワーレベルの算出  音源のオクターブバンド及び/又は

A

特性音響パワーレベルが必要なときには,

附属書 に示す方法によって算出する。

附属書 表 1  音圧レベル測定のためのマイクロホン位置の数 N

M

の最少数

標準偏差 (dB)

1/3

オクターブバンド

中心周波数 (Hz)

s

M

≦1.0 1.0<s

M

≦2

100, 125, 160

6

6

200, 250, 315

6

400, 500, 630

12

≧800  15

附属書 表 2  音圧レベル測定のための音源位置の数 N

s

の最少数と値 K

s

標準偏差 (dB)

 1/3

オクターブバンド

中心周波数 (Hz)

s

M

≦1.0 1.0<s

M

≦2

K

s

100, 125, 160

− 2.5

200, 250, 315

5

400, 500, 630

10

≧800  12.5

N

s

の最少値 1

本体

(8)による


32

Z 8734 : 2000 (ISO 3741 : 1999)

附属書 2(参考)  音響エネルギーレベルの測定方法

1.

適用範囲  この附属書は,残響室内の単発音圧暴露レベルを測定することによって,音源が空気中に

放射する継続時間が有限な単発音又は過渡音の音響エネルギーレベルを求める方法を記述する。

2.

定義  この附属書で用いる主な用語は,次による。

2.1

単発音圧暴露レベル  (single event sound exposure level) L

pE

  単発音又は過渡音の単発音圧暴露レベ

ルは,

附属書 (1)で与えられる。単位はデシベル (dB)。

ú

û

ù

ê

ë

é

=

ò

2

1

2

0

2

0

10

E

)

(

1

log

10

t

t

p

dt

p

t

p

T

L

 (2)

ここに,

p (t)

瞬時音圧 (Pa)

t

2

t

1

残響時間と対象事象のすべての音を含むのに十分な長さ
の時間を加えた時間 (S)

p

0

基準音圧 (20

µPa)

T

0

基準時間 (1s)

2.2

音響エネルギー (sound energy) E  音源から放射される空気音の総エネルギー。単位はジュール (J)。

2.3

音響エネルギーレベル  (sound energy level) L

J

  測定対象音源から放射される単発音又は過渡音の音

響エネルギーを基準音響エネルギーE

0

で除した値の常用対数の 10 倍。単位はデシベル (dB)。

L

J

=10 log

10

E/E

0

 (3)

使用した周波数帯域幅を示す。基準音響エネルギーは,1pJ (10

-12

J)

3.

単発音圧暴露レベルの測定

3.1

一般事項  単発または過渡音の単発音圧暴露レベルの測定のための基本的な方法は,音圧レベル測

定のための本体 8.に規定される方法とマイクロホン位置を除いて同じである。

3.2

マイクロホン位置  本体 8.1.2 と同じ方法によるが,連続移動マイクロホンは使用できない。

3.3

単発音圧暴露レベルの測定  各作動条件に対し,各マイクロホン位置において発生する単発音の単

発音圧暴露レベルを測定する。測定時間は,対象周波数帯域における残響時間と発生音の継続時間を加え

た時間以上とする。音の発生前に測定を開始し,音の発生から測定時間を経た後に終了する。

回転拡散板は,使用しない。

音源を停止して,単発音圧暴露レベルの測定に用いた測定時間と同じ時間にわたる音圧レベルを単発音

圧暴露レベルとして測定する。この値が音源を作動したときの単発音圧暴露レベルよりも 15dB 小さいレ

ベル未満でない場合には,音響エネルギーレベルの算出は不可能とする。

3.4

室内平均単発音圧暴露レベルの算出  音源位置及びマイクロホン位置の数は本体 8.1 及び本体 8.2 

よる。各音源位置に対して,すべてのマイクロホン位置における単発音圧暴露レベルを 3.3 に従い測定す

る。各音源位置に対する,各周波数帯域での平均単発音圧暴露レベルを

附属書 (3)によって算出する。

ú

ú
û

ù

ê

ê
ë

é

=

å

=

M

E

1

10

/

M

10

E

10

1

log

10

)

(

N

i

L

f

p

i

p

N

L

 (4)


33

Z 8734 : 2000 (ISO 3741 : 1999)

ここに,

)

(

E

p

L

ある周波数帯域の,番目の音源位置に対して,すべて
のマイクロホン位置について平均した単発音圧暴露レ
ベル (dB)

L

pEi

ある周波数帯域の,番目の音源位置に対して,番目の
マイクロホン位置で測定した単発音圧は暴露レベル 
(dB)

N

M

各音源位置に対する固定マイクロホン位置の数

複数の音源位置を用いる場合には,

(4)によって音源位置について平均する。

ú

ú
û

ù

ê

ê
ë

é

=

å

=

s

f

p

N

i

L

p

N

L

1

10

/

)

(

S

10

E

E

10

1

log

10

 (5)

ここに,

E

p

L

ある周波数帯域の,すべての音源位置及びすべてのマイ
クロホン位置について平均した室内平均単発音圧暴露
レベル (dB)

N

s

音源位置の数

4.

音響エネルギーレベルの算出  音源のそれぞれの周波数帯域エネルギーレベルは,4.1 又は 4.2 のいず

れかの方法を用いて算出する。

4.1

残響室の残響時間を用いて算出する方法(直接法)  測定対象音源の音響エネルギーレベルは,3.

によって求めた室内平均単発音圧暴露レベル及び音源設置時に求めた残響室の等価吸音面積を用いて,

属書 (5)によって算出する。

ú

û

ù

ê

ë

é

+

+

+

+

=

f

V

c

S

S

A

A

A

L

L

p

J

8

1

log

10

34

.

4

log

10

10

0

10

E

6

273

273

400

427

log

25

0

10

ú

û

ù

ê

ë

é

+

B

B

θ

 (6)

ここに,

L

J

測定対象音源の音響エネルギーレベル (dB)

E

p

L

室内平均単発音圧暴露レベル (dB)

A

残響室の等価吸音面積 (m

2

)

A

0

1m

2

S

残響室の全表面積 (m

2

)

c

音の速さ (m/s)

V

残響室の容積 (m

3

)

f

測定周波数帯域の中心周波数 (Hz)

θ

気温  (℃)

B

気圧 (hPa)

B

0

1, 013

×10

3

hPa

残響室の等価吸音面積 A は,各周波数帯域ごとに,セイビンの残響式[本体

(11)]によって算出する。

4.2

基準音源の音響パワーレベルと比較して算出する方法(比較法)  基準音源に関する測定方法は本

体 8.4.2.1 及び本体 8.4.2.2 と同じである。測定対象音源の音響エネルギーレベルは,室内平均単発音圧暴露

レベルと基準音源による室内平均音圧レベルから,

附属書 (6)によって算出する。

)

(

pr

pE

L

L

L

L

Wr

J

+

=

 (7)

ここに,

L

J

測定対象音源の音響エネルギーレベル (dB)

L

wr

基準音源の校正音響パワーレベル (dB)


34

Z 8734 : 2000 (ISO 3741 : 1999)

E

p

L

室内平均単発音圧暴露レベル (dB)

r

p

L

基準音源による室内平均音圧レベル (dB)


35

Z 8734 : 2000 (ISO 3741 : 1999)

原案作成委員会  構成表

氏名

所属

(委員長)

子  安      勝

千葉工業大学

今  井  章  久

武蔵工業大学工学部

今  泉  八  郎

株式会社小野測器

大  西  博  文

建設省土木研究所

押  野  康  夫

財団法人日本自動車研究所

君  塚  郁  夫

日本アイ・ビー・エム株式会社

桑  野  園  子

大阪大学大学院人間科学研究科

佐  藤  宗  純

工業技術院電子技術総合研究所

鈴  木  英  男

株式会社小野測器

鈴  木  陽  一

東北大学電気通信研究所

瀧  浪  弘  章

リオン株式会社

竹  内  恒  夫

環境庁大気保全局

田  近  輝  俊

株式会社環境技術研究所

(主査)

橘      秀  樹

東京大学生産技術研究所

田  中  俊  光

株式会社神戸製鋼所

東  山  三樹夫

工学院大学工学部

平  松  友  孝

大成建設株式会社技術研究所

福  島  寛  和

建設省建築研究所

松  本  晃  一

日本道路公団試験研究所

三  浦      甫

静岡理工科大学理工学部

矢  野  博  夫

千葉工業大学工学部

山  田  一  郎

財団法人小林理学研究所

山  田  英  美

松下インターテクノ株式会社

山  本  貢  平

財団法人小林理学研究所

米  川  善  晴

労働省労働医学総合研究所

田  仲  信  夫

工業技術院標準部材料機械規格課

橋  本  繁  晴

財団法人日本規格協会

(事務局)

後  藤  健  次

社団法人日本音響学会