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C 5961：2005  

（1） 

まえがき 

この規格は，工業標準化法に基づいて，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日

本工業規格である。 

これによって，JIS C 5961:1997は改正され，この規格に置き換えられる。 

改正に当たっては，日本工業規格と国際規格との対比，国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日

本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために，1997年以降に発行された一連のIEC 

61300，Fibre optic interconnecting devices and passive components-Basic test and measurement proceduresを基礎

として用いた。 

この規格の一部が，技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の

実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会

は，このような技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の実用新

案登録出願にかかわる確認について，責任をもたない。 

JIS C 5961には，次に示す附属書がある。 

附属書1（規定）挿入損失及び反射減衰量の測定条件 

附属書2（規定）フェルール引抜き力の負荷を加える速度 

附属書3（規定）ファイバ引込み量とファイバ突出し量の計算手順 

附属書4（参考）JISと対応する国際規格との対比表 

 

 

 

 

 

 

 

C 5961：2005  

（2） 

目 次 

ページ 

序文  1 

1. 適用範囲  1 

2. 引用規格  1 

3. 定義  2 

4. 試験の状態  2 

 4.1 標準状態  2 

 4.2 一般的な前処理  2 

 4.3  判定条件  2 

5. 外観及び構造  2 

 5.1 目的  2 

 5.2 概要  2 

 5.3 装置  2 

 5.4 手順  3 

 5.5 個別仕様書に規定する事項 3 

6. 寸法試験  4 

 6.1 フェルール外径  4 

 6.2 フェルール光ファイバ挿入穴径及び非弾性スリーブ内径  4 

 6.3 フェルール及び光ファイバ付きフェルールの同心度  5 

 6.4 光ファイバ挿入穴角度  9 

 6.5 光ファイバコアの出射角度 10 

 6.6 球面研磨光コネクタの曲率半径 11 

 6.7 球面偏心量  15 

 6.8 フェルールの斜め研磨角度 19 

 6.9 プラグのキーと斜め研磨面傾斜方向との角度  27 

 6.10 多心光ファイバフェルールの穴位置精度  29 

 6.11 フェルール端面からのファイバ引込み量  33 

 6.12 偏波保持光ファイバ付き光コネクタのキー位置精度  43 

7. 光学的性能試験  45 

 7.1 挿入損失  45 

 7.2 反射減衰量  52 

 7.3 偏波保持光ファイバ付き光コネクタの消光比  62 

8. 機械的性能試験  64 

 8.1 耐振性  64 

 8.2 耐衝撃性  65 

 8.3 繰返し動作  67 

 

C 5961：2005 目次 

（3） 

ページ 

 8.4 フェルール引抜き力  68 

 8.5 フェルール押圧力  70 

 8.6 結合部接続強度（軸方向） 71 

 8.7 光コネクタ取付け部強度（軸方向）  73 

 8.8 光コネクタ取付け部強度（トルク）  74 

 8.9 光コネクタ取付け部強度（横方向）  75 

 8.10 落下強度（光ファイバコード付き）  76 

 8.11 光ファイバコードクランプ強度（軸方向への引張り）  78 

 8.12 光ファイバコードクランプ強度（屈曲）  80 

 8.13 結合力及び離脱力  81 

 8.14 結合部接続強度（トルク）  82 

 8.15 結合部接続強度（横方向）  83 

 8.16 光ファイバコードクランプ強度（軸方向圧縮）  84 

 8.17 光ファイバコードクランプ強度（ねじり）  85 

 8.18 ハンマー衝撃  88 

 8.19 ゲージ保持力  89 

9. 耐候性試験  90 

 9.1 塩水噴霧  90 

 9.2 温度サイクル  91 

 9.3 耐湿性（定常状態）  93 

 9.4 耐湿性（温湿度サイクル） 94 

 9.5 耐熱性  97 

 9.6 耐寒性  98 

 9.7 ダスト  100 

附属書1（規定）挿入損失及び反射減衰量の測定条件  105 

附属書2（規定）フェルール引抜き力の負荷を加える速度  109 

附属書3（規定）ファイバ引込み量とファイバ突出し量の計算手順  111 

附属書4（参考）JISと対応する国際規格との対比表  113 

 

C 5961：2005  

（4） 

 

白   紙 

 

 

日本工業規格          JIS 

 

C 5961：2005 

 

光ファイバコネクタ試験方法 

Test methods of connectors for optical fiber cables 

 

序文 この規格は，1997年以降に発行された一連のIEC 61300，Fibre optic interconnecting devices and passive 

components-Basic test and measurement proceduresを元に，対応する部分については技術的内容を変更するこ

となく作成した日本工業規格であるが，対応国際規格には規定されていない規定項目［フェルール外径，

光ファイバ挿入穴角度，光コネクタ取付け部強度（軸方向及びトルク）及び光ファイバコードクランプ強

度（光ファイバコードの屈曲）］を日本工業規格として追加している。 

 なお，この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は，原国際規格を変更している事項である。変

更の一覧をその説明を付けて，附属書4（参考）に示す。 

 

1. 適用範囲 この規格は，光ファイバコネクタ（以下，光コネクタという。）の外観，構造，寸法，光学

的性能，機械的性能，耐候性などの共通的試験方法について規定する。 

なお，この規格と個別仕様書との間に規定の相違がある場合は，個別仕様書の規定による。 

備考 この規格の対応国際規格を，付表1示す。 

なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide 21に基づき，IDT（一致している），MOD

（修正している），NEQ（同等でない）とする。 

 

2. 引用規格 次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成す

る。これらの引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。 

JIS B 0621 幾何偏差の定義及び表示 

JIS B 7420 限界プレーンゲージ 

JIS B 7502 マイクロメータ 

JIS B 7506 ブロックゲージ 

JIS B 7507 ノギス 

JIS B 7519 指針測微器 

JIS C 0025 環境試験方法（電気・電子）温度変化試験方法 

JIS C 5901 光伝送用受動部品試験方法 

JIS C 5910 光ブランチングデバイス通則 

JIS C 5962 光ファイバコネクタ通則 

JIS C 6820 光ファイバ通則 

JIS C 60068-1 環境試験方法−電気・電子−通則 

JIS C 60068-2-1 環境試験方法−電気・電子−低温（耐寒性）試験方法 

JIS C 60068-2-2 環境試験方法−電気・電子−高温（耐熱性）−試験方法 

2 

C 5961：2005  

 

JIS C 60068-2-3 環境試験方法（電気・電子）高温高湿（定常）試験方法 

JIS C 60068-2-6 環境試験方法−電気・電子−正弦波振動試験方法 

JIS C 60068-2-11 環境試験方法（電気・電子）塩水噴霧試験方法 

JIS C 60068-2-27 環境試験方法−電気・電子−衝撃試験方法 

JIS C 60068-2-38 環境試験方法（電気・電子）温湿度組合せ（サイクル）試験方法 

JIS Z 2245 ロックウェル硬さ試験−試験方法 

 

3. 定義 この規格で用いる主な用語の定義は， JIS C 5962の規定によるほか，次による。 

a) 出射角 光コネクタに組み込まれた光ファイバ端部から光を出射した場合，光の出射方向（出射光の

強度が最大となる。）と，フェルールの軸方向とのなす角度。 

b) マスタ光コネクタ 光コネクタの光学特性を測定する場合に基準とする光コネクタ。 

c) 反射減衰量 光コネクタなどから反射してくる全光パワーと入射パワーとの比をデシベル表示した量。

次のように定義される。 

iP

Pr

log

10

−

 (dB) 

ここに， Pr： 反射したパワー 
 

Pi： 入射パワー 

d) NA（開口数） NA＝nsin

洀愀砰

匰匰柿

2

洀愀砰潑

ァイバ端面から光が出射したときの，

ファーフィールドパターンの最大広がり角，nは光ファイバが置かれている媒質の屈折率。 

なお，媒質が空気の場合は，n＝1としてよい。 

e) 実効NA 光ファイバ端面から光が出射したとき，そのファーフィールドパターンでの光強度が最大値

の100

1に減少する広がり角から算出したNA値。 

f) ディレクティビティ 光ブランチングデバイスにおいて，すべての他のポートが光学的に無反射に設

定されているとき，一つのポートから望まれていないポートへの光パワーのまわり込みを入射パワー

の比で表したもの。 

 

4. 試験の状態 

4.1 

標準状態 試験及び測定は，規定がない限り，JIS C 60068-1の5.3［測定及び試験のための標準大気

条件（標準状態）］（温度15〜35 ℃，相対湿度25〜75 %，気圧86〜106 kPa）で行う。ただし，判定に疑

義が生じた場合，又は特に要求された場合は，3.3による。 

4.2 

一般的な前処理 特に各試験において規定がない限り，供試光コネクタを4.1に4時間放置する。 

4.3  判定条件 判定条件は，JIS C 60068-1の5.2［判定測定及び判定試験のための標準大気条件（標準状

態）］の表中の値（温度20±2 ℃，相対湿度60〜70 %，気圧86〜106 kPa）とする。 

 

5. 外観及び構造 

5.1 

目的 この試験は，光コネクタの外観及び構造に関する試験方法について規定する。この試験方法

は，単独試験として，又は環境試験前後の試験として用いられる。 

5.2 

概要 形状，できばえ，表示，質量及びかん合性を試験する。環境試験の前後の外観検査にも用い

られる。 

5.3 

装置 次の装置を用いる。 

3 

C 5961：2005  

 

a) 光学拡大鏡 適切な光学検査器具。 

b) 特殊な装置 性能，色，仕上げ，その他のパラメータを試験するために，ゲージ，カラーサンプルな

ども必要となる。 

5.4 

手順 

a) 外観検査 要求規格を満足することを確認するために，規定された装置で供試光コネクタの検査を行

う。 

 1) 検査項目 

1.1) 使用材料 

1.2) 構成 

1.3) できばえ 

1.4) 形状 

1.5) 形名［部品のタイプ］ 

1.6) ポートの配置 

1.7) 仕上げ 

1.8) 製品の品名表示 

1.9) 損傷 

1.10) 紛失部品 

1.11) 部品の緩みと脱落 

なお，個別仕様書に規定がある場合は，分解を行い内部を試験する。また，必要に応じて，個

別仕様書に拡大鏡の使用，表面処理試験及び表面粗さ試験を規定する。 

b) 質量 規定に基づき質量を測定する。 

c) かん合性 かん合性の試験は，適合する結合部をもつ光コネクタから任意に選んで結合及び離脱して

行う。 

d) 表示 表示の試験は，規定がない限り目視によって行う。 

e) 環境試験前後の検査 初期測定時に，規定された外観試験を行う。試験中及び試験後の測定時に，こ

の外観試験を繰り返す。 

この試験方法は，一つの試験，又は一連の試験の一部として用いられるため，測定すべき特別なパラメ

ータがある場合には規定しなければならない。もし，材料，デザイン，構造など，変化がないことが予想

されるものについては，項目リストを減らすこともできる。 

5.5 

個別仕様書に規定する事項 次の事項を必要に応じて個別仕様書に規定する。 

a) 試験項目 

b) 形名，形状，表示 

c) 内部構造 

d) 測定すべき質量 

e) 使用する光学器具の倍率 

f) 質量測定方法 

g) 前処理の条件 

h) 後処理の条件 

i) 合否判定基準 

j) この試験方法との差異 

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C 5961：2005  

 

 

6. 寸法試験 

6.1 

フェルール外径 

6.1.1 目的 この試験は，光コネクタのフェルール外径を測定する試験方法について規定する。 

6.1.2 概要 供試光コネクタのフェルール外径を測定する。この試験は，フェルール外径をリングゲージ

を用いて測定する方法1，ブロックゲージと比較測定する方法2及び測長器，マイクロメータなどを用い

て測定する方法3とがある。 

6.1.3 装置 次の装置を用いて測定する。ただし，判定に疑義が生じなければ他の装置を用いてもよい。 

a) リングゲージ JIS B 7420に規定の通りゲージ又は止まりゲージ（方法1） 

b) 指針測微器 JIS B 7519に規定の指針測微器（方法2） 

c) ブロックゲージ JIS B 7506に規定のブロックゲージ（方法2） 

d) 測長器 JIS B 7507に規定のノギス又はJIS B 7502に規定のマイクロメータなど（方法3） 

試験に用いる装置の精度は，規定がない限り寸法許容差の1/3以下とする。測定方法，測定器，ゲージ

などに詳細な規定の必要がある場合は，個別仕様書に規定する。 

6.1.4 手順 

a) 方法1 供試光コネクタのフェルール外径

昀

鈰

ングゲージ（通りゲージ又は止まりゲージ）によっ

て測定する。 

b) 方法2 供試光コネクタのフェルール外径

昀

針測微器を用いて，ブロックゲージと比較測定す

る。 

c) 方法3 供試光コネクタのフェルール外径

昀

鉮

長器，マイクロメータなどによって測定する。 

 

 

 

 

図6.1.1 フェルール外径 

6.1.5 個別仕様書に規定する事項 次の事項を必要に応じて個別仕様書に規定する。 

a) 試験方法 

b) 測定装置の仕様及び精度 

c) フェルール外径の許容値 

d) この試験方法との差異 

6.2 

フェルール光ファイバ挿入穴径及び非弾性スリーブ内径 

6.2.1 目的 この試験は，光コネクタフェルールの光ファイバ挿入穴径及び非弾性スリーブの内径を測定

する試験方法について規定する。 

6.2.2 概要 供試光コネクタフェルールの光ファイバ挿入穴径及び非弾性スリーブの内径をプラグゲージ

を用いて測定する。 

6.2.3 装置 次の装置を用いて測定する。ただし，判定に疑義が生じなければ他の装置を用いてもよい。 

a) プラグゲージ JIS B 7420に規定の通りゲージ又は止まりゲージ 

試験に用いる装置の精度は，規定がない限り寸法許容差の1/3以下とする。測定方法，測定器，ゲ

ージなどに詳細な規定の必要がある場合は，個別仕様書に規定する。 

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C 5961：2005  

 

6.2.4 手順 フェルールの光ファイバ挿入穴又は非弾性スリーブ穴に，各穴径と等しい外径をもつプラグ

ゲージ（通りゲージ，止まりゲージ）を挿入して，穴径

昀搰鉮

定する。 

 

 

 

 

 

図6.2.1 フェルール光ファイバ挿入穴径及び非弾性スリーブ内径 

6.2.5 個別仕様書に規定する事項 次の事項を必要に応じて個別仕様書に規定する。 

a) 測定装置の仕様及び精度 

b) 穴径の許容値 

c) この試験方法との差異 

6.3 

フェルール及び光ファイバ付きフェルールの同心度 

6.3.1 目的 この試験は，フェルールの外径に対する光ファイバ挿入穴径の同心度，又は光ファイバが装

着されている場合のフェルールの外径に対する光ファイバコアの同心度を測定する試験方法について規定

する。 

6.3.2 概要 この試験は，フェルール及び光ファイバ付きフェルールの同心度の測定について規定する。

同心度は，フェルールの中心軸と，フェルール光ファイバ挿入穴径の中心軸の距離の2倍，光ファイバ付

きフェルールの場合は，フェルールの中心軸と，光ファイバのコア中心軸との距離の2倍として定義され

る（図6.3.1参照）。同心度が装着された光ファイバによって測定される場合は，結果は光ファイバの幾何

学的特性，及びフェルール光ファイバ挿入穴径での光ファイバの偏心に影響される。供試光コネクタフェ

ルールの外径の円筒度及び真円度の欠陥は，測定結果に影響を及ぼす。 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

図6.3.1 同心度の定義 

同心度の測定方法を，次に示す。 

a) 方法1（フェルール外径基準方法） この方法では，フェルール又は光ファイバ付きフェルールを，V

溝又は中心出し装置に置き回転させる。フェルール光ファイバ挿入穴径，又は光ファイバコアの移動

が観察され，同心度が決定される。 

b) 方法2（光ファイバ付きフェルールにおける光ファイバコア中心基準） この方法では，同心度を測

るために円筒度測定装置を使用する。コア中心を，測定装置の中心に合わせ，同心度はフェルールが

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C 5961：2005  

 

回転したときの，フェルール外径の移動量として測定される。通常プローブが用いられる。 

c) 方法3（フェルール単体での光ファイバ挿入穴基準方法） この方法では，同心度の測定として，電

子マイクロメータが使用される。光ファイバ挿入穴の中心を，測定装置の中心に合わせ，同心度はフ

ェルールが回転したときの，フェルール外径の移動量として測定される。通常プローブが用いられる。 

6.3.3 装置 装置は，次の構成による。 

a) 方法1 

1) V溝，又は微動台に装着された中心出し装置（例 エアゲージ）。V溝の推奨角度は108度とする。 

2) ビデオカメラ付き顕微鏡 

3) モニタ 

4) 光源（通常のランプが適当） 

5) 信号処理装置（必要ならば） 

b) 方法2 

1) 顕微鏡付き円筒度測定装置 

2) 光源（通常のランプが適当） 

c) 方法3 

1) 電子マイクロメータ 電子マイクロメータは，フェルールを装着するために2本の先細り状の心棒

をもっていなければならない。2本の心棒の先端は，回転軸に対し精密に調整されていなければな

らない。2本の心棒の先端の表面粗さは，個別仕様書に規定する。 

6.3.4 手順 

a) 方法1 

1) フェルールをV溝，又は中心出し装置に置く。 

2) 光ファイバ挿入穴又は光ファイバを射光する。 

3) 微動台を使って，モニタ画面の照準円の中心にフェルールを位置させる。 

4) フェルールを180°回転させる。 

5) 光ファイバ挿入穴又は光ファイバコア像の最大移動量Cを記録する。 

 

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図6.3.2 同心度測定装置の設定例（方法1） 

 

b) 方法2 

1) フェルール組立品を円筒度測定器に装着する。 

2) 円筒度測定器上の微動台を用い，光ファイバのコアが回転軸の中心になるように，フェルールの位

置を調整する。 

3) 円筒度測定器のピックアップを，フェルールを回転させたとき，フェルールの外径の変位量が測定

できるように，フェルール外径に触れる。 

4) 試料を最低360°回転させ，円筒度測定器の最大読取り値をC1，最小値をC2として記録する。同心

度は，最大値と最小値の差となる (C＝C1−C2)。 

 

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図6.3.3 円筒度測定器の設定例（方法2） 

c) 方法3 

1) 図6.3.4に示すように穴に相対した二つの先細心棒で，フェルールを支持する。 

2) フェルールを回転させたとき，フェルール外径の変位量が測れるように，電子マイクロメータのプ

ローブをフェルールの外周に接触させる。 

3) 試料を最低360°回転させ，円筒度測定器の最大読取り値をC1，最小値をC2として記録する。同心

度は，最大値と最小値の差となる。 

 

 

 

 

 

 

図6.3.4 円筒度測定器の設定例（方法3） 

6.3.5 個別仕様書に規定する事項 

a) 試験方法 

b) 顕微鏡の倍率（方法1） 

c) 顕微鏡及び円筒度測定器の倍率（方法2） 

d) 電子マイクロメータの倍率（方法3） 

e) 同心度の許容値 

f) この試験方法との差異 

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6.4 

光ファイバ挿入穴角度 

6.4.1 目的 この試験は，光コネクタのフェルール中心軸と光ファイバ挿入穴との角度を測定する試験方

法について規定する。 

6.4.2 概要 供試光コネクタのフェルール中心軸に対する光ファイバ挿入穴の角度ずれ

焰鉮

定する。フ

ェルール中心軸を基準に回転させ，このときの光ファイバ挿入穴の変位量から角度ずれ

焰

脰謰ʉ

度

の定義はJIS B 0621による。 

 

 

 

 

図6.4.1 フェルール中心軸及び光ファイバ挿入穴軸の角度 

6.4.3 装置 次の装置を用いて測定する。ただし，判定に疑義が生じなければ他の装置を用いてもよい。 

a) プラグゲージ（又は光ファイバ） JIS B 7420に規定のゲージ 

b) V溝（又は非弾性スリーブ） 

c) ビデオカメラ付き顕微鏡 
d) モニタ 試験に用いる装置の精度は，規定がない限り寸法許容差の31以下とする。測定方法，測定装置

などに詳細な規定の必要がある場合は，個別仕様書に規定する。 

6.4.4 手順 

a) フェルール端面から光ファイバ挿入穴径とほぼ等しい外径をもつプラグゲージ（又は光ファイバ）を

突出させ，プラグゲージ先端の突出量Lを測定する。 

b) フェルールをV溝（又は非弾性スリーブ）の上で180度回転させる。 

c) フェルールの回転に伴うプラグゲージ先端の最大変位量Aを，ビデオカメラ付き顕微鏡及びモニタに

よって測定する。 

d) プラグゲージ先端の突出量Lとプラグゲージ先端の最大変位量Aから，次の式を用いて角度ずれ

焰

求める。 

L

A

2

tan

1

−

＝

 

 

 

 

 

 

 

図6.4.2 角度ずれ測定 

6.4.5 個別仕様書に規定する事項 次の事項を必要に応じて個別仕様書に規定する。 

a) 測定装置の仕様及び精度 

b) 光ファイバ挿入穴角度ずれの許容値 

c) この試験方法との差異 

 

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6.5 

光ファイバコアの出射角度 

参考 この箇条の対応国際規格は，IEC 61300-3-26，Measurement of the angular misalignment of ferrules 

with fibre installedであるが，一部技術的内容を変更している。 

6.5.1 目的 この試験は，フェルールに固定された光ファイバの角度ずれを測定する試験方法について規

定する。 

6.5.2 概要 角度ずれとは，フェルール中心軸と光ファイバの中心軸との角度として定義される（図6.5.1

参照）。この試験はフェルール中心軸に対してフェルールを回転させたとき，コアから出射されるファーフ

ィールドパターンのずれを測定することによって，角度ずれを測定するものである。フェルール先端面の

傾きと光ファイバ軸の傾きが，共に図6.5.1の

焰歔

昰

謰

 

 

 

 

 

 

 

図6.5.1 出射角の定義 

6.5.3 装置 次の装置を用いて測定する。 

a) V溝又は中心出し装置 V溝の推奨角度は，108度とする。 

b) スクリーン スクリーンは，V溝又は中心出し装置の軸に対して垂直である。 

c) 光源 

6.5.4 手順 

a) 光が光ファイバへ入射され，フェルールの中を通過し，光ファイバの先端面から出射された光が図6.5.2

に示すスクリーンに映し出される。 

b) V溝又は中心出し装置の中で，フェルールを360度回転させる。スクリーンに描かれたファーフィー

ルドパターンを，目標の円に沿って中心を合わせてトレースする。 

c) ファーフィールドパターンの軌跡円の半径Rを求める。 

d) 出射角

焰潓

到栰

ェルール先端面とスクリーンとの距離Lから計算する。出射角

焰

次の式で

求める。 

LR

1

tan−

＝

 

 

11 

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図6.5.2 出射角測定系の例 

6.5.5 個別仕様書に規定する事項 次の事項を必要に応じて個別仕様書に規定する。 

a) 距離 (L)  

b) 光源 

c) 出射角の許容値 

d) この試験方法との差異 

6.6 

球面研磨光コネクタの曲率半径 

6.6.1 目的 この試験は，球面研磨されたフェルール端面の曲率半径を測定する試験方法について規定す

る。 

6.6.2 概要 フェルール先端面の半径 (R) は，PC研磨された半球状の先端曲面の半径として規定する。

先端面は実際は非球面であるが，球面とみなして測定する（図6.6.1参照）。 

先端面の半径を測定する試験方法として，下記の3方法を規定する。 

a) 方法1 表面粗さ計を用いてフェルール先端面の輪郭を測定する。 

b) 方法2 干渉計を用いてフェルール先端面の干渉リング間隔を測定する。 

c) 方法3 PC及び斜めPC形のフェルール先端面外形を観察し，投影器を用いて合格・不合格を判定す

る。 

 

 

 

 

 

図6.6.1 球面研磨面 

6.6.3 装置 

a) 方法1 表面粗さ計法 次の装置を用いる。 

1) V溝又は非弾性スリーブ V溝又は非弾性スリーブの軸は垂直とし，斜め研磨光コネクタの場合は，

フェルール先端面の角度に応じてその軸を調節する。V溝の推奨角度は，108度とする。 

2) 表面粗さ計 フェルールの中心軸と直角な方向とに軌跡を描くプローブを備えた表面粗さ計。 

3) レコーダ 表面粗さ計で測定したフェルール端面の輪郭を記録紙に記録するレコーダ。 

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C 5961：2005  

 

b) 方法2 干渉計法 次の装置を用いる。 

1) 平面干渉計又は特定の波長で動作する非接触干渉計の光軸に平行なV溝又は非弾性スリーブ。斜め

研磨光コネクタの場合は，フェルール先端面の角度に応じてV溝又は非弾性スリーブの軸方向を調

整する。 

参考 IEC 61300-3-16ではV溝だけを規定しているが，我が国の実状を考慮して非弾性スリーブを規

定した。 

2) 干渉計で観測した球状端面の干渉リングを表示するビデオカメラとモニタ。 

3) 少なくとも二つの干渉リングの直径と位置を計測する手動又は機械的測定手段。 

c) 方法3 外形投影法 次の特性をもつ外形投影器を用いる。 

1) 倍率は20倍以上 

2) 上方及び下方の同時照明 

3) 角度測定台 

4) 方眼紙 

5) 測定するフェルール先端面の最大及び最小外形図 

6.6.4 手順 

a) 方法1 表面粗さ計法 

1) フェルールの先端面付近をV溝又は非弾性スリーブに固定する。V溝又は非弾性スリーブに接する

フェルールの長さは，接触部分のフェルール直径の2倍とする。 

2) 表面粗さ計のプローブが，フェルールの中心軸に垂直になるようにプローブを調整する。 

3) 表面粗さ計のプローブの軌跡が，フェルールの中心軸を横切るように装置を調整する。 

4) 表面粗さ計でフェルール先端表面の軌跡を描き，長さの関数として移動量をレコーダに記録する（図

6.6.2参照）。 

5) フェルールの最も高い点とこの点から等距離にある2点との間で，プローブの垂直方向の移動量を

計算する。この2点は，直径300 

洀

湻

囲を超える点を選ぶ。 

参考 IEC 61300-3-16では，直径500 

洀

湻

囲を超える点を選ぶことと規定されているが，測定精

度を考慮して，直径300 

洀

湻

囲とした。 

6) 図6.6.3に示すように，弦の長さcと頂点の高さhから，曲率半径Rを求める。測定精度を高める場

合，この軌跡から手順5)と異なる任意の2点を数値化し，求めた円に適合することを確認する。 

 

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C 5961：2005  

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

図6.6.2 表面粗さ計法 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

図6.6.3 曲率半径の求め方 

参考 IEC 61300-3-16に規定はないが，参考として曲率半径Rを求める式を規定した。 

h

c

h

R

2

2

2

2

＋

＝

 

b) 方法2 干渉計法 

1) V溝又は非弾性スリーブにフェルールを保持し，フェルール端面の中央穴の周囲に干渉リングを形

成するように干渉計の焦点を合わせる。 

2) m番目及びm＋p番目 (m＜m＋p) の2個のリングを選び，その直径を測定する。曲率の半径は，次

式から求める。 

R＝ (Dm＋p2−Dm2) /4p

ここで，Rは計算から求めた曲率の半径，Dm＋p及びDmは，各々m＋p番目及びm番目のリングの

直径である。測定にはどの2個のリングを用いてもよい。 

備考 測定精度を高める場合，3個又はそれ以上のリングの直径を測定し，任意の2個のリング直径

のすべての組合せから平均半径を計算する。 

 

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C 5961：2005  

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

図6.6.4 干渉計法 

c) 方法3 外形投影法 

1) 完全に組み立てた光コネクタを，光コネクタのキーを規定の位置に置いた状態で，角度調整台に取

り付ける。 

2) スクリーン上で最適な視野が得られるように，投影器の照明と焦点位置を調整する。 

3) 光コネクタフェルール先端面の最小及び最大形状図を投影器のスクリーン上に取り付ける。 

4) スクリーンの回転ダイヤルを0に設定する。 

5) 角度調整台の微調整を用いて，図6.6.5 a)又は斜め研磨光コネクタの場合は同図 b)に示すように，

フェルールの像を先端面形状図のx軸に合わせる。 

6) x軸方向に角度調整台を動かして，スクリーン上のフェルールの像と先端面形状図の方眼目盛とを

比較する。 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

図6.6.5 外形投影法 

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C 5961：2005  

 

6.6.5 個別仕様書に規定する事項 次の事項を必要に応じて個別仕様書に規定する。 

a) 試験方法 

b) プローブの形（接触針の形状又は非接触針）（方法1） 

c) V溝又は非弾性スリーブの仕様（方法1，方法2） 

d) 斜め研磨光コネクタの場合のV溝又は非弾性スリーブ軸の傾き角度（方法1，方法2） 

e) 単色光源の波長，又は白色光源干渉計を用いる場合は等価波長（方法2） 

f) 顕微鏡の倍率（方法2） 

g) 端面の表面仕上げ（方法2） 

h) 投影器の形式（方法3） 

i) 方眼紙（例 フェルールの半径，角度，直径）（方法3） 

j) 光コネクタのキー位置（方法3） 

k) 光コネクタ・フェルールの保持具（方法3） 

l) 曲率半径の許容値 

m) 本試験方法との差異 

6.7 

球面偏心量 

6.7.1 目的 この試験は，フェルール中心軸と，この軸に平行で，かつ，球面研磨されたフェルールの球

面頂上を通る軸との距離を測定する試験方法について規定する。 

6.7.2 概要 球面偏心量 (X) は，フェルール中心軸と球面研磨されたフェルールの球面頂上を通る軸との

距離で規定する（図6.7.1参照）。この規格では，ニュートンリング法と干渉リング法との2方法を規定す

る。両測定法とも，フェルールの中心と，ニュートンリング又は干渉リングの中心との距離測定から，直

接偏心量を求める。この偏心量は測定系の位置ずれ，特にフェルール中心軸と干渉じま（縞）の中心軸と

の角度ずれの影響を受けるので，測定系の位置精度を厳密に設定しなければならない。 

 両測定法とも，フェルールをその軸の回りに回転させ，ニュートンリング又は干渉リングの中心の最大

移動距離を測定することで測定系の位置ずれによる測定誤差を低減できる。球面偏心量は，最大移動距離

の1/2である。 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

図6.7.1 球面偏心量の定義 

 

a) 方法1 ニュートンリング法（接触法） この測定法は，ガラス平板をフェルールの研磨面に，その

中心軸に対して垂直に押し当て，ニュートンリングを顕微鏡で観測する。フェルールをその軸の回り

16 

C 5961：2005  

 

に回転させ，ニュートンリングの中心の移動距離を測定する。偏心量はこの最大移動距離の1/2であ

る。 

b) 方法2 干渉リング法（非接触法） この測定法では，干渉計とビデオカメラ付き顕微鏡とを用いる。

参照光とフェルール端面からの反射光とで干渉光を発生させ，その干渉リングを観測する。フェルー

ルをその軸の回りに回転させ，干渉リングの中心の移動距離を測定する。偏心量は，この最大移動距

離の1/2である。 

6.7.3 装置 

a) 方法1 ニュートンリング法 

1) 微動台に取り付けたV溝又は非弾性スリーブなどのフェルール保持具（フェルール保持具は，規定

の力でガラス平板を押し付けたフェルールを保持できること。V溝の推奨角度は，108度とする。）。 

2) V溝又は非弾性スリーブの軸に直角に取り付けたガラス平板 

3) 顕微鏡 

4) 光源（白色光） 

b) 方法2 干渉リング法 

1) 微動台に取り付けたV溝又は非弾性スリーブ（V溝の推奨角度は，108度とする。）。 

2) 干渉計 

3) ビデオカメラ付き顕微鏡 

4) モニタ 

5) 光源（例 He-Neレーザ，単色光源） 

6.7.4 手順 

a) 方法1 ニュートンリング法 

1) フェルールをV溝又は非弾性スリーブに固定する。 

2) 微動台を調節してフェルール端面を顕微鏡の視野に映す。 

3) フェルール端面を規定の圧力でガラス平板に垂直に押し付ける。 

4) ニュートンリングを観測し，リングの中心位置を記録する（図6.7.2参照）。 

5) フェルールを180度回転させ，回転後のリングの中心位置を記録する。 

6) ニュートンリングの二つの中心位置の最長距離2Xを求める。球面偏心量は，この最長距離の1/2で

ある[図6.7.3 a)及びb)参照］。 

 

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図6.7.2 偏心量の測定系（方法1） 

 

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図6.7.3 フェルール回転によるリング中心の移動距離（方法1） 

 

b) 方法2 干渉リング法 

1) フェルールをV溝又は非弾性スリーブに固定する。 

2) 微動台を調節してフェルール端面をモニタの視野に映す。 

3) 干渉リングを観測し，リングの中心位置を記録する（図6.7.4参照）。 

4) フェルールを180度回転させ，回転後のリングの中心位置を記録する。 

5) 干渉リングの二つの中心位置の最長距離2Xを求める。球面偏心量は，この最長距離の1/2である  

（図6.7.4参照）。 

 

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図6.7.4 偏心量の測定系（方法2） 

備考 両測定方法ともに，フェルールを回転させてリング中心の軌跡上の3点以上の位置を記録し，

最小二乗円の半径を計算することで偏心量を求める。 

6.7.5 個別仕様書に規定する事項 次の事項を必要に応じて個別仕様書に規定する。 

a) 試験方法 

b) 顕微鏡倍率 

c) 測定系の最大許容再現性 

d) 球面偏心量の許容値 

e) この試験方法との差異 

6.8 フェルールの斜め研磨角度 

6.8.1 目的 この試験は，平面状及び球面状に斜め研磨されたフェルールの端面角度を測定する試験法に

ついて規定する。 

6.8.2 概要 平面斜め研磨フェルールのフェルール研磨角度（θ）はフェルール端面を含む平面と，フェ

ルール中心軸と直交する平面とのなす角度として規定する。球面研磨斜め端面フェルールの研磨角度（θ）

は，フェルール中心軸上で球面に接する平面と，フェルール中心軸と直交する平面とのなす角度として規

定する（図6.8.1参照）。 

 

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a) 斜め研磨角度（θ）         b) 斜め球面研磨角度（θ） 

図6.8.1 斜め研磨角度（θ）の定義 

a) 方法1 自動干渉法 この方法では，フェルール端面を干渉顕微鏡の傾斜可能な可動台上に固定する。 

参照光の波面とフェルール端面の表面からの波面との位相差によって干渉しま（縞）が生じる。フェ

ルールは可動台によって測定する角度（θ0）に傾ける（図6.8.2参照）。球面研磨フェルールに対して

は，曲率半径（R）と角度方向での頂点からの球面偏心量（EX）を干渉しま（縞）解析から測定する。

その角度はRとEXの値から求める（図6.8.3参照）。平面研磨フェルールに対しては，角度は単位長

さ（Λ）における波数からの角度方向における干渉しま（縞）の周期から求める。この方法は測定精

度が高いことから，基準となる測定法と考えられる（図6.8.4参照）。 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

図6.8.2 干渉計を用いた角度測定系 

 

 

 

 

 

 

 

図6.8.3 球面研磨フェルールの干渉しま（縞） 

 

21 

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図6.8.4 平面研磨フェルールの干渉しま（縞） 

b) 方法2 手動干渉法 この方法では，フェルール端面を干渉顕微鏡の傾斜可能な可動台に固定する。 

また，フェルールを端面の表面が干渉計の光軸に直交するまで可動台によって傾ける。球面研磨フェ

ルールの端面の場合，この位置は干渉輪帯とファイバが両方とも回転軸に対して対称なときに得られ

る（図6.8.5参照）。 平面研磨フェルールの場合，その位置は干渉しま（縞）が消えるときか，又は

干渉しま（縞）が最小の場合に起こる。フェルールの端面角度は可動台の目盛で読み取れる。 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

図6.8.5 方法2で調整された球面研磨フェルールの干渉しま（縞） 

c) 方法3 表面粗さ計法 この方法では，端面角度を表面粗さ計でフェルール端面の表面形状を測定す

ることによって求める。フェルールは，表面粗さ計のプローブの下に設置した固定ホルダに取り付け

る。フェルール軸はプローブ軸に平行にするとともに，プラグはプローブの操作方向の角度に固定し

なければならない。フェルールの端面角度は測定で得られた表面形状から求める。  

 

d) 方法4 反射光法 この方法では，フェルール中心軸に平行なHe-Neレーザ光をフェルール端面に照

射して，反射したスポットパターンをスクリーン上に投影して測定する。スクリーンはフェルール中

心軸に対して垂直とする（図5.8.6参照）。 

 平面研磨フェルール端面の場合，スポットパターンはおおむね均一に輝いた小さな円形部と，わず

かなレーザ光の散乱部とを生じる。球面研磨フェルール端面の場合，パターンは元々のレーザ光が分

散した大きな円形の光と，その中心に小さなリング（Airy disk）を生じる（図6.8.7参照）。 フェル

ールは光ファイバ端面又は光ファイバ挿入穴を中央に開口としてもつため，この小さなリングは球面

から反射したHe-Neレーザ光のフランホーファ回折の結果生じる。斜め研磨角度（θ）は，フェルー

ルをその中心軸の回りに回転させた場合のスポットパターンの中心とHe-Neレーザ光とのなす角度で

ある。 

 

22 

C 5961：2005  

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

備考：球面研磨フェルールに対しては，最適距離として20 cm〜50 cmの距離が採用される。 

 

図6.8.6 フェルール斜め研磨端面角度の測定系 

 

 

 

 

 

 

 

 

図6.8.7 代表的なスポットパターン 

6.8.3 装置 

a) 方法1 自動干渉法 次の装置を用いる（図6.8.8参照）。 

 1) 干渉顕微鏡 画像取込みのためのビデオカメラを備えた干渉顕微鏡 

 2) 角度可動台 分解能0.01°の角度可動台 

 3) フェルールホルダ 指定された位置にフェルールを固定するためのV溝や高精度スリーブなどの 

   取付けジグ 

 4) 画像解析装置 干渉しま（縞）に対応する曲率半径（R），角度方向で頂点からの球面偏心量（EX）

及びこれらから求まる式［6.8.4 a)に規定の式（6.8.1）］の角度を求める解析システムで，モニタは

干渉しま（縞）と測定表面を表示する。 

23 

C 5961：2005  

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

図6.8.8 方法1による角度測定装置 

b) 方法2 手動干渉法 装置は，方法1の図6.8.8の装置から画像解析装置を除いた構成である。 

c) 方法3 表面粗さ計法 装置を図6.8.9に示す。 

 

 

 

 

 

 

 

 

図6.8.9  表面粗さ計法によるフェルール端面角度の測定系 

1) フェルールホルダ フェルールを垂直に固定するためのV溝や非弾性スリーブなどの取付けジグ。 

2) 可動台 フェルールホルダを固定し，かつ，適切な位置に動かす機械装置。 

3) 2次元表面解析装置 この解析装置は，フェルール端面の表面形状を数ナノメータの精度で2次元

測定することができる。この装置は表面粗さ計，表面形状データ処理部及びモニタからなる。表面

粗さ計はフェルール軸と垂直な方向にトレースするようなプローブと駆動部，及び駆動命令や表面

形状データといった入出力信号によって測定部とデータ処理部（適切なソフトウエアをもつコンピ

ュータなど）とを接続する電気的インターフェース回路を備えたものである。表面形状データ信号

処理は，適切なアルゴリズムによって表面形状データの処理と，端面角度の算出を行うことができ

る。モニタは，測定値を表示する。 

d) 方法4 反射光法 

1) V溝又は非弾性スリーブ（V溝の推奨角度は，108度とする。）。 

2) V溝又は非弾性スリーブの軸に垂直なスクリーン。 

3) V溝又は非弾性スリーブの軸に光軸を一致させた光をフェルールに照射するHe-Neレーザ。 

6.8.4 手順  

a) 方法1 自動干渉法 

1) 基準フェルール（斜め研磨ではない。）を角度可動台に取り付けたホルダに置く。基準フェルールの

研磨による球面偏心量は5 

洀

下とする。基準フェルールの曲率半径は25 mm以上とする。 

24 

C 5961：2005  

 

2) 干渉顕微鏡の下に可動台を置く。 

3) 角度可動台の角度を干渉しま（縞）と（基準フェルールの）ファイバが回転軸に対して平行な像面

上の直線に対称になるまで微調整する。 

4) 角度可動台のダイアルから角度を読み取る。この角度が基準値となる。 

5) 角度可動台の測定ホルダにフェルールを置く。 

6) 角度可動台の角度を先の基準位置からの端面角度θ0に調整する。 

7) 干渉像から以下の手順で角度の値が得られる。（球面研磨フェルールにおいて）フィッティングの処

理によって，研磨端面の曲率半径の値が求まる。フィッティング領域は，フェルールの軸を中心と

する外径D2及び内径D3の輪帯領域によって定義される。（図6.8.10参照）直径D2及びD3は個別仕

様書において決める。直径125 

洀浪

準ファイバで斜め研磨フェルール端面の曲率半径が5〜12 mm

での望ましい値はD2が250 

洀

D3が140 

洀

謰ɵ

解析から干渉しま（縞）中心と角度方向

からの球面偏心量（EX）を測定する（図6.8.3参照）。角度の値は， 

θ＝arctan(EX/R)＋θ0  (6.8.1) 

（平面研磨フェルールにおいて）画像の解析から（図6.8.3参照）角度方向における干渉しま（縞）の周

波数，長さ単位（1/Λ）当たりの波数から求まる。 

角度の値は， 

θ＝arctan[λ/(Λ･2)]＋θ0 

           ここで，λ：試験でフェルールに照射した光の波長 

b) 方法2 手動干渉法 

1) 基準フェルールを角度可動台に取り付けたホルダに置く。参照フェルールの研磨による偏心は5 

洀

以下とする。基準フェルールの曲率半径は25 mm以上とする。 

2) 干渉顕微鏡の可動台に置く。 

3) 角度可動台の角度を，干渉しま（縞）と（基準フェルールの）ファイバが画面上の回転軸に平行な

直線に対して対称になるように微調整する。 

4) 角度可動台のダイアルから角度を読み取る。この角度が基準値となる。 

5) 角度可動台の測定ホルダにフェルールを置く。 

6) 可動台の角度をフェルールの端面が顕微鏡の光軸に直交するように調整する。 

7) 端面の画像の干渉しま（縞）を観察し，可動台の角度を以下の要領で調整する。 

7.1) 球面研磨フェルールにおいては干渉しま（縞）とファイバが画面上の回転軸に平行な直線に対し

て対称になるまで調整する。 

7.2) 平面研磨フェルールにおいては干渉しま（縞）が消失し，顕微鏡画像が一様な強度になるまで調

整する。 

8) 角度可動台のダイアルから角度を読み取る。 

9) ファイバ端面角度は，8)で測定した値と4)で測定した値との差で求まる。 

c) 方法3 表面粗さ計法 

1) フェルールをホルダに固定する。フェルールホルダに接触しているフェルールの長さは，フェルー

ル接触領域の直径の2倍とする。 

2) プローブの先端がフェルール軸に直交するように表面粗さ計を調整する。 

3) 表面粗さ計でファイバ中心の座標を決める。ファイバ中心とトレース開始点との距離をあらかじめ

校正することでできる。こうしてこの距離を既知として種々の測定間で一定とし，ファイバ中心位

25 

C 5961：2005  

 

置は常に表面粗さ計の校正系において決められる。 

4) 表面粗さ計のプローブが測定開始点におかれフェルールの軸を横切るように可動台を調整する。 

5) フェルール軸付近で約500 

洀

溍

離をフェルールの端面を横切ってトレースするように動かす。デ

ータ処理部に測定値を記録する。 

6) 球面研磨フェルールに対して測定表面形状データからフィッティング領域の表面形状データを記録

する。フェルール端面のフィッティング領域は，外径D2と内径D3からなりフェルール軸付近を中

心とする輪帯領域によって決まる（図6.8.10参照）。 この領域は対比され，関連した直径D2及び

D3が個別仕様書で決めるとき，フェルール端面の接触領域を含むことになる。直径125 

洀浪

準ファ

イバで斜め研磨フェルール端面の曲率半径が5〜12 mmで，望ましい値はD2が250 

洀

D3が150 

洀

である。最小二乗法又は他の方法で得られたフィッティング領域を近似した仮想の円を求め，その

円の半径RとC（ファイバ中心，図6.8.11参照）の座標（DX，DZ）を求める。 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

図6.8.10  測定領域でのフェルール端面 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

図6.8.11測定手法の概念図 

26 

C 5961：2005  

 

角度の値は 

θ＝arctan(DX/R) ＝ arctan(DX/DZ)  

7) 平面研磨フェルールに関しては，表面形状測定データからフィッティング領域の表面形状データを

記録する。フェルール端面のフィッティング領域は，外径D2及び内径D3からなるフェルール軸付

近を中心とする輪帯領域によって決まる。最小二乗法又はその他の方法によってフィッティング領

域から仮想的な直線を求める。角度の値は 

θ＝arctan(S) 

Sは，フィッティングで求めた仮想直線の傾きである。 

備考 測定精度は，表面粗さ計のプローブとフェルール軸との平行度による。平行度の確認方法と

して端面角度の既知の斜め研磨フェルールを用い，参照角と測定角との差を確かめるものが

ある。もう一つの方法は，測定角と180度回転して繰り返し測定した結果と比較し，確認す

るものである。差異は，プローブの機械的誤差の校正として考慮する。 

d) 方法4 反射光法 

1) V溝又は非弾性スリーブにフェルールを保持する。 

2) He-Neレーザをフェルール端面に照射する。 

3) スクリーン上のスポットパターンを観察して，干渉パターンが最大に見えるようにフェルールの位

置を調節する（図6.8.7参照）。 

4) V溝又は非弾性スリーブ上でフェルールを360°回転させ，スポットパターンがスクリーン上に描

かれた指標円と同心の円を描くことを確認する。 

5) スポットパターンの回転直径（D1）を測定する（図6.8.6参照）。 

6) 斜め研磨角度（θ）は直径（D1）と，フェルール端面とスクリーン間距離（L）とを用いて次の式か

ら求める。 

θ＝arctan[D1/(2･L)] 

6.8.5 個別仕様書に規定する事項 

a) 方法1 自動干渉法 

1) フェルール端面角度の許容値 

2) 基準フェルールの曲率半径 

3) 使用する対物レンズの倍率 

4) 基準フェルール研磨による球面偏心量 

5) フィッティング領域の直径D2とD3 

6) 可動台のホルダでのフェルール位置の回転公差 

b) 方法2 手動干渉法 

1) フェルール端面角度の許容値 

2) 基準フェルールの曲率半径 

3) 使用する対物レンズの倍率 

4) 基準フェルール研磨による偏心 

5) フィッティング領域の直径D2とD3 

6) 可動台のホルダでのフェルール位置の回転公差 

c) 方法3 表面粗さ計法 

1) プローブのタイプ：形状と測定時の加重 

27 

C 5961：2005  

 

2) フェルールホルダに必要な事項 

3) ホルダー内のフェルール位置決め公差 

4) フィッティング領域の直径D2とD3 

5) DXとDZ座標及び外挿領域の算出方法 

6) フェルール端面角度の許容値 

d) 方法4 反射光法 

1) フェルール端面の表面粗さ 

2) 距離（L） 

3) フェルール端面角度の許容値 

6.9 

プラグのキーと斜め研磨面傾斜方向との角度 

6.9.1 目的 この試験は，斜め研磨光コネクタのキー方向とフェルール先端面の研磨面傾斜方向との，規

定値に対する角度ずれを測定する試験方法について規定する。 

6.9.2 概要 角度 (

愀

‰

2面のなす角度，すなわち，斜め研磨光コネクタプラグのフェルール中心軸と

キーの中心軸とを通る平面（平面A）と，フェルール中心軸を通り斜め研磨端面に垂直な平面，又は球面

研磨フェルールの場合，フェルール中心軸上で先端の球面に接する面に垂直な平面（平面B）とのなす角

度として規定する（図6.9.1参照）。 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

図6.9.1 角度 (

愀

‰湛

 

 この測定方法は，フェルール中心軸に平行なHe-Neレーザ光をフェルール端面に照射し，反射したスポ

ットパターンをスクリーン上に投影して測定する。スクリーンはフェルール中心軸に対して垂直とする。

平面研磨フェルール端面の場合，スポットパターンはおおむね均一に輝いた小さな円形部と，わずかなレ

ーザ光の散乱部とを生じる。球面研磨フェルール端面の場合，パターンは元のレーザ光が分散した大きな

円形の光と，その中心に小さなリング (Airy disk) を生じる（図6.9.2参照）。フェルールは，光ファイバ端

面又は光ファイバ挿入穴を中央に開口としてもつため，この小さなリングは球面から反射したHe-Ne光の

フラウンホーファ回折の結果生じる。角度 (

愀

‰

キー位置に対するスポットパターン中心の角度を測定

して求める。この測定方法は，光コネクタ保持具に180度異なる二つのキー位置を設け，各々のキー位置

に対する二つの反射光を参照して角度を補正する。 

 

28 

C 5961：2005  

 

平面研磨フェルール 

球面研磨フェルール 

 

 

図6.9.2 スポットパターン 

 

6.9.3 装置 

a) V溝又は非弾性スリーブと，光コネクタを180度回転させたときに各々の位置でキーがかん合する二

つのキー溝をもつ光コネクタ保持具（V溝の推奨角度は，108度とする。）（図6.9.3参照） 

b) V溝又は非弾性スリーブの軸に垂直なスクリーン 

c) V溝又は非弾性スリーブの軸に光軸を一致させた光をフェルール端面に照射するHe-Neレーザ 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

図6.9.3 光コネクタ保持具 

6.9.4 手順 

a) 光コネクタ保持具の一つのキー溝にキーをかん合させて，V溝又は非弾性スリーブにフェルールを保

持する。 

b) He-Neレーザをフェルール端面に照射する。 

c) スクリーン上のスポットパターンを観測して，干渉パターンが最大に見えるようにフェルールの位置

を調節する（図6.9.4参照）。 

d) スポットパターンの中心位置を記録する。 

e) 光コネクタを180度回転させ，光コネクタキーを第2のキー溝にかん合させてフェルールをV溝又は

非弾性スリーブに保持する。このときのスポットパターンの中心位置を記録する。 

f) スクリーン上で光コネクタを回転させた場合の二つのスポットパターンの中心間を結ぶ直線を求める。

また，光コネクタ保持具の二つのキー溝の中心を結ぶ直線に平行な基準線をスクリーン上に求める。 

g) 角度 (

愀

‰

上記直線と基準線とのなす角度である。 

h) 角度ずれは，この測定した

愰

栰湝

で表す。 

 

 

29 

C 5961：2005  

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

備考 球面研磨フェルールの場合，距離 (L) の最適値は20 cm〜50 cmまでの値を採用する。 

図6.9.4 角度 (

愀

‰湮

定系 

 

6.9.5 個別仕様書に規定する事項 次の事項を必要に応じて個別仕様書に規定する。 

a) フェルール端面の表面粗さ 

b) 距離 (L)  

c) キーとキー溝の公差 

d) 角度 (

愀

‰

値 

e) この試験方法との差異 

6.10 多心光ファイバフェルールの穴位置精度 

参考 この箇条の対応国際規格は，IEC 61300-3-27，Measurement method for the hole location of a 

multiway connector plugである。 

6.10.1 目的 この試験は，多心光ファイバコネクタ（F12形多心光ファイバコネクタなど）の代表的な寸

法を測定する試験方法について規定する。プラグ端面上の下記寸法は，光コネクタに規定された機械的及

び光学的性能を満たすために，正確な測定を必要とする。 

a) 2本のガイドピン穴中心間距離 (L)  

b) 各光ファイバ挿入穴中心の位置ずれ (Pi)  

6.10.2 概要 2本のガイドピン穴中心間距離 (L) は，一方のガイドピン穴中心と他方のガイドピン穴中心

との距離として規定する。各光ファイバ挿入穴中心の位置ずれ (Pi) は，光ファイバ挿入穴中心の基準位置

と実際の位置との距離として規定する。ここで，光ファイバ挿入穴中心の基準位置は，2本のガイドピン

穴中心を結ぶ線上の中点であるプラグ端面中心（Lの中点）から，規定の距離だけ離れた点として規定す

る（図6.10.1.参照）。 

この寸法は，画像処理技術を用いた非接触測定装置によって測定する。 

 

30 

C 5961：2005  

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

L ：2本のガイドピン穴中心間距離 

 

Pi：各光ファイバ挿入穴中心の位置ずれ 

図6.10.1 距離 (L) 及び位置ずれ (Pi) の規定 

6.10.3 装置 

a) ビデオカメラ付き顕微鏡 

b) 画像処理装置 

c) モニタ 

d) 拡散光を出射する光源 

e) 可動台 

f) 可動台の駆動装置 

g) 測長器 

h) コンピュータ 

6.10.4 手順 

備考 次の測定手順では，各穴の中心座標の計算は各穴位置の測定ごとに行うとして規定するが，す

べての測定終了後に行ってもよい。 

a) 図6.10.2に示すように測定系を構成する。 

b) 電源投入後，測定系を十分に安定させる。 

c) プラグのガイドピン穴軸が可動台のX−Y平面に垂直になるようにプラグを可動台に保持する。 

d) ガイドピン穴及び光ファイバ挿入穴を照射する。 

e) 可動台を基準位置に戻し，測長器でその位置を記録する。画像処理装置を調整して，モニタ上の (X， 

Y) 座標をセットする。可動台を移動させると，モニタ上の (X， Y) 座標がその移動距離に応じて変

化することを確認すること。 

f) 可動台を移動させ，モニタに測定するガイドピン穴を映す。 

g) 一方のガイドピン穴外周の3点以上の (X， Y ) 座標を記録して，最小二乗法などの近似で穴の中心座

標 (Xp1， Yp1) を計算する（図6.10.3参照）。 

h) 他方のガイドピン穴についてf)，g)を繰り返し，その中心座標 (Xp2， Yp2) を計算する。 

i) 二つのガイドピン穴中心間距離 (L) は，次の式で求める。 

2

1

2

2

1

p

p

p

p

Y

Y

X

X

L

−

＋

−

＝

 

31 

C 5961：2005  

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

図6.10.2 光コネクタの穴位置測定系 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

図6.10.3 ガイドピン穴の位置測定系 

 

32 

C 5961：2005  

 

j) 

次に，次の計算から，プラグ端面中心 (Xc， Yc)，及び各光ファイバ挿入穴中心の基準位置 (Xdi， Ydi) 

を求める。プラグ端面中心 (Xc， Yc) は，2個のガイドピン穴中心 (Xp1， Yp1)，(Xp2， Yp2) の中点で

ある。光ファイバ挿入穴中心の基準位置 (Xdi， Ydi) は，プラグ端面中心 (Xc， Yc) から規定の距離だ

け離れた点である（図6.10.4参照）。 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

図6.10.4 光ファイバ挿入穴中心の基準位置の求め方 

k) 可動台を移動させ，モニタに測定する光ファイバ挿入穴を映す。 

l) 

各光ファイバ挿入穴外周の3点以上の (X， Y ) 座標を記録して，最小二乗法等の近似で穴の中心座

標 (Xfi， Yfi) を計算する（図5.10.5参照）。 

m) 各光ファイバ挿入穴中心の位置ずれ (Pi) は，次の式で求める。 

2

di

fi

di

fi

i

Y

Y

X

X

P

−

＋

−

＝

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

図6.10.5 光ファイバ挿入穴の位置測定系 

6.10.5 個別仕様書に規定する事項 次の事項を必要に応じて個別仕様書に規定する。 

a) ビデオカメラの解像度 

b) 測長器の分解能 

c) 周囲温度 

d) ガイドピン穴中心間距離 (L) 及び光ファイバ挿入穴中心の位置ずれ (Pi) の許容値 

e) この試験方法との差異 

33 

C 5961：2005  

 

6.11 フェルール端面からのファイバ引込み量 

6.11.1 目的 この試験は，球面研磨を施されたフェルール端面と光ファイバの位置関係，すなわちファイ

バ引込み量又はファイバ突出し量を測定する試験方法について規定する。 

6.11.2 概要  球面研磨されたフェルールのファイバ引込み量(＋W)又はファイバ突出し量(−W)は，ファ

イバ端面と球面研磨されたフェルールの仮想曲面との平均距離で定義される(図6.11.1参照)。フェルール

中心軸付近の端面は，実際はしばしば，非球面になっているが，球状であると仮定している。 

この規格では， ファイバ引込み量とファイバ突出し量の測定方法として次の3方法を規定する。 

a) 方法1 表面粗さ計法 

b) 方法2 干渉計式三次元測定法 

c) 方法3 干渉計式二次元測定法 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

図6.11.1 球面研磨されたフェルール端面のファイバ引込み量及びファイバ突出し量 

6.11.3 装置 

a) 方法1 表面粗さ計法 次の装置を用いる(図6.11.2参照)。 

 1) フェルールホルダ フェルールを垂直に保持する適切な保持具。斜め研磨タイプのフェルールを測

定する場合は，適切な角度で保持する保持具。 

 2) 可動台  フェルールホルダを適切な位置に移動できる可動台に固定する。可動台は，ナノメータオ

ーダの精度でフェルール端面を測定できる程度の十分な剛性をもっていなければならない。 

 3) 表面粗さ計 表面粗さ計は，±10 nm以上の精度でフェルール端面の輪郭を測定できなければなら

ない。この測定装置は，測定部，データ処理部，及びモニタから構成される。測定部は，フェルー

34 

C 5961：2005  

 

ル中心軸に対して垂直にトレースできるくさび形のプローブを備えている。データ処理部は，測定

データからファイバ引込み量又はファイバ突出し量を算出する。測定データから球面研磨フェルー

ル端面の輪郭にフィットする仮想円を計算し，その仮想円のデータを基に測定データを変換する。

モニタは，測定された輪郭及び変換されたプロファイルを表示する。 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

図6.11.2 表面粗さ計法測定装置 

 

b) 方法2 干渉計式三次元測定法 次の装置を用いる(図6.11.3参照)。 

 1) フェルールホルダ フェルールを垂直に保持する適切な保持具。斜め研磨タイプのフェルールを測

定する場合は，適切な角度で保持する保持具。 

 2) 可動台  フェルールホルダを適切な位置に移動できる可動台に固定する。可動台は，ナノメータオ

ーダの精度でフェルール端面を測定できる程度の十分な剛性をもっていなければならない。 

 3) 干渉計式三次元形状測定装置 干渉計式三次元形状測定装置は，±10 nm以上の精度でフェルール

面の表面形状を測定できなければならない。この測定装置は，顕微鏡部，表面形状データ処理部，

及びモニタから構成される。顕微鏡部は干渉式顕微鏡，アクチュエータ，及びイメージスキャナか

ら構成される。干渉式顕微鏡は，フェルール中心軸と平行に移動できるように配置された対物レン

ズを備えている。アクチュエータは，対物レンズを垂直方向に移動させる。イメージスキャナは，

干渉イメージデータを位置データに変換する。 表面形状データ処理部は，位置データからファイバ

引込み量又はファイバ突出し量を算出する。測定された表面形状から球面研磨フェルールの端面に

フィットする仮想球面を計算し，その仮想球面のデータを基に表面形状データを変換する。また，

この表面形状データ処理部は，ファイバとフェルールの吸収係数と，屈折率の違いを考慮すること

によって表面形状データを修正することができる。モニタは，測定された表面形状と変換された表

35 

C 5961：2005  

 

面形状プロファイルとを表示する。 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

図6.11.3 干渉計式三次元形状測定装置 

c) 方法3 干渉計式二次元測定法 次の装置を用いる(図6.11.4参照)。 

 1) フェルールホルダ フェルールを垂直に保持する適切な保持具。斜め研磨タイプのフェルールを測

定する場合は，適切な角度で保持する保持具。 

 2) 可動台  フェルールホルダを適切な位置に移動できる可動台に固定する。可動台は，ナノメータオ

ーダの精度でフェルール端面を測定できる程度の十分な剛性をもっていなければならない。 

 3) 干渉計式二次元形状測定装置 干渉計式二次元形状測定装置は，±10 nm以上の精度でフェルール

端面の輪郭を測定できなければならない。この測定装置は，モノクロ光源を備えた顕微鏡部，イメ

ージデータ処理部，及びモニタで構成する。顕微鏡部は，フェルール端面の干渉イメージをイメー

ジデータ処理部のビデオボードへ送るビデオカメラを備えた干渉式顕微鏡で構成する。イメージデ

ータ処理部は，ファイバ直径部分を通過する密接して並んだ干渉しま（縞）のイメージデータを処

理することができる。この処理部は，理論関数から求めたデータをフィッティングすることによっ

て，解析された干渉光の強度曲線の周波数及び位相を計算する。ファイバ引込み量又はファイバ突

出し量は，ファイバ領域における干渉しま（縞）とフェルール領域における干渉しま（縞）との位

相差から計算される。測定システムは，2πの位相差に対しても認識できなければならない。また，

このデータ処理部は，ファイバとフェルールの吸収係数と，屈折率の違いを考慮することによって

36 

C 5961：2005  

 

表面形状データを修正することができる。モニタは，干渉光の強度曲線，フィッティング関数，及

び測定結果を表示する。 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

図6.11.4 干渉計式二次元形状測定装置 

6.11.4 手順 

a) 測定領域 図6.11.5に示すように，測定するフェルール端面には三つの領域が定義される。 

 1) フィッティング領域 フェルール端面には，測定範囲外領域を除く直径Dで囲まれた円として定義

されたフィッティング領域が設けられている。フィッティング領域は，フェルールが接続されると

きに接触する領域を含むように定義される。 

 2) 測定範囲外領域 ファイバ端面と接着領域を含む測定範囲外領域とは，直径Eで囲まれた円として

定義する。 

 3) 平均領域 ファイバ端面上に設定されており，直径Fで囲まれた円として定義する。三つの領域の

中心はフェルール中心軸と一致する。直径D，E，Fは個別仕様書にて規定される。フェルール端面

の球面半径が8〜25 mm，直径125 

洀

ァイバ用の光コネクタにおいては，次の値を推奨する。 

D＝250 μm，E＝140 μm，F＝50 μm 

 

37 

C 5961：2005  

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

図6.11.5 フェルール端面及び測定領域 

b) 方法1 表面粗さ計法 

 1) フェルールの端面に最も近い部分を保持して，フェルールホルダにフェルールを取り付ける。フェ

ルールホルダのフェルール接触部分の長さは，フェルールの直径の2倍とする。 

 2) 測定部のプローブの先端を調整し，プローブの傾きがフェルール中心軸と垂直になるようにする。 

 3) 測定部のプローブがフェルール中心軸を通るようにフェルールホルダを調整する。 

 4) 測定部がフェルール端面をトレースし，データ処理部にデータを記録する。 

 5) 測定したデータからフィッティング領域のデータを取り込み，フィッティング領域に対応した仮想

円を計算で求めて，Wの値を求める。推奨する計算手順を附属書3に示す。 

   一般的な手順を次に示す。 

(a) 仮想円のデータを基に，測定されたデータから変換データを作り，モニタに表示する。フェルール

端面が仮想的な球面の場合，変換データのフィッティング領域は直線になり，仮想円から変換され

る直線と一致する(図6.11.6参照)。 

(b) フェルール端面が理想的な球面でない場合，測定データから変換されたフィッティング領域は，仮

想円から変換される直線とは一致しない(図6.11.7参照)。この場合，仮想円の直径を変更して手順

(a)から続け，変換されたデータの山谷(PV)の値が最も小さくなるようにする。 

(c) ファイバ上の平均領域の平均高さと，変換されたデータのフェルール上のフィッティング領域の平

均高さを求める(図6.11.6参照)。ファイバ引込み量(+W)又はファイバ突出し量(−W)は，これらの平

均高さの差から求められる。 

 

38 

C 5961：2005  

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

図6.11.6 変換されたフェルール端面のプロファイル 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

図6.11.7 変換されたフェルール端面のプロファイルのタイプ 

 

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C 5961：2005  

 

c) 方法2 干渉計式三次元測定法 

 1) フェルールの端面に最も近い部分を保持して，フェルールホルダにフェルールを取り付ける。フェ

ルールホルダのフェルール接触部分の長さは，フェルールの直径の2倍とする。 

 2) 顕微鏡部の移動方向を調整し，フェルール中心軸と平行になるようにする。また，フェルールホル

ダの位置を調整し，干渉顕微鏡の中心軸がフェルールの中心軸と一致するようにする。 

 3) 顕微鏡を調整し，顕微鏡とフェルール端面との距離を，測定可能範囲になるようにする。 

 4) 三次元形状測定装置でフェルール端面を測定し，表面形状データ処理部に三次元形状測定データを

記録する(図6.11.8参照)。 

 5) ファイバとフェルールの吸収係数と，屈折率の違いを考慮して，形状データを修正する。 

 6) 測定した形状データからフィッティング領域の形状データを取り込み，フィッティング領域に対応

した仮想球面を計算で求めて，wの値を求める(図6.11.9参照)。この手順における測定のアルゴリズ

ムは，方法1と類似している。附属書3参照。一般的な手順を次に示す。 

(a) 仮想球面のデータを基に，修正された形状データから変換データを作り，モニタに表示する。フェ

ルール端面が理想的な球面の場合，変換データのフィッティング領域は平面になる(図6.11.10参照)。 

(b) フェルール端面が理想的な球面でない場合，変換された形状データは，仮想球面から変換される平

面とは一致しない。この場合，仮想球面の直径を変更して手順(a)から続け，変換された形状データ

の山谷(PV)の値が最も小さくなるようにする。 

(c) ファイバ上の平均領域の平均高さと，変換された形状データのフェルール上のフィッティング領域

の平均高さを求める。ファイバ引込み量(+W)又はファイバ突出し量(−W)は，図6.11.11に示すよう

に，これらの平均高さの差から求められる。 

備考 表面形状データの測定に際しては，ファイバとフェルールの吸収係数と，屈折率の違いが考

慮されなければならない。この違いが考慮されないときは，この手順では，ファイバ引込み

量とファイバ突出し量とを正確に示すことができない。 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

図6.11.8 フェルール端面 

 

 

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C 5961：2005  

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

図6.11.9 フェルール端面のフィッティング領域及び平均領域 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

図6.11.10 変換されたフェルール端面 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

図6.11.11 変換されたフェルール端面 

 

  

 

測定範囲外領域 

平均領域 

フィッティング領域 

ファイバ引込み量 : +w 

又は 

ファイバ突出し量 : -w 

  

測定範囲外領域 

平均領域 

フィッティング領域 

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C 5961：2005  

 

d) 方法3 干渉計式二次元測定法 

 1) フェルールの端面に最も近い部分を保持して，フェルールホルダにフェルールを取り付ける。フェ

ルールホルダのフェルール接触部分の長さは，フェルールの直径の2倍とする。 

 2) フェルールホルダの位置を調整し，ファイバ領域のフェルール端面のイメージが顕微鏡の対物レン

ズの下になるようにして，モニタ上に表示されるようにする。 

 3) フェルール端面に干渉しま（縞）が現れるように干渉計部を調整する。 

 4) 干渉しま（縞）がフェルールの測定する直径方向に対して垂直になるように干渉計部を調整する。 

 5) イメージを取得して測定するデータ列を選定し，選定した列の光の強度を記録する(図6.11.12 a)参

照)。 

 6) フィッティング領域と対応する光の強度曲線を取得し，理論計算を行う［図6.11.12 b)参照］。 

   マイケルソン干渉法に基づく理論関数を次に示す。 

P(x) = A + B cos ( FM (x−x0)2 +φ)  (6.11.1) 

ここに，FM = 2π / (λR)  (6.11.2) 

ただし，x−x0 ：初期値x0からの測定線の位置 

               (x0の位置は，理想球面の場合，干渉リングの中心と一致する。) 

 

R ：フェルール端面の曲率半径 

 

φ ：干渉イメージの位相オフセット 

 

λ ：顕微鏡のモノクロ光源の波長 

 

A，B ：定数 

   A，B，FM(干渉しま（縞）の間隔に関係する)，φ(位相オフセット)，x0(x軸基準)の五つのパラメー

タを調整することによってフィッティングがなされる。 

 7) 平均領域に対応する強度曲線を選定し，パラメータA，Bを調整し，変数Δφをφに適応して［図

6.11.12 b)参照］，(4.6)項で得られた関数にフィッティングする。 

 8) ファイバ引き込み量(+W)，ファイバ突き出し量(-W)は次の関係式で求められる。 

W=λ(φfit−φave)/(4π)  (6.11.3) 

           ここに，φfit ：フィッティング領域の関数の位相 

 

φave ：平均領域の関数の位相 

  備考 表面形状データの測定に際しては，ファイバとフェルールの吸収係数と，屈折率の違いが考

慮されなければならない。この違いが考慮されない時は，この手順では，ファイバ引込み量

とファイバ突出し量を正確に示すことができない。 

 

42 

C 5961：2005  

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

        b)フィッティング理論関数と取得した選択列の光の強度曲線の関係 

図6.11.12a)顕微鏡による干渉縞のイメージ 

 

6.11.5個別仕様書に規定する事項 次の事項を必要に応じて個別仕様書に規定する。 

a) 方法1 表面粗さ計法 

 1) プローブのタイプ 

 2) プローブ プロファイル取得時の形状と荷重 

 3) フェルールホルダへの要求事項 

 4) フィルタリング 

 5) 斜め研磨コネクタ用フェルールホルダの傾き角度 

 6) フィッティング円の計算法 

 7) フィッティング領域の直径D 

 8) 測定範囲外領域の直径E 

 9) 平均領域の直径F 

b) 方法2 干渉計式三次元測定法 

 1) 干渉法のタイプ 

 2) 光源 タイプと波長 

 3) フェルールホルダへの要求事項 

 4) フィルタリング 

 5) 斜め研磨コネクタ用フェルールホルダの傾き角度 

 6) フィッティング球面の計算法 

 7) フィッティング領域の直径D 

 

 

a) 

b) 

43 

C 5961：2005  

 

 8) 測定範囲外領域の直径E 

 9) 平均領域の直径F 

c) 方法3 干渉計式二次元測定法 

 1) 干渉法のタイプ 

 2) 顕微鏡の倍率 

 3) 光源の波長と波長幅 

 4) フェルールホルダへの要求事項 

 5) フィルタリング 

 6) 斜め研磨コネクタ用フェルールホルダの傾き角度 

 7) フィッティング強度曲線の計算法 

 8) フィッティング領域の直径D 

 9) 測定範囲外領域の直径E 

 10) 平均領域の直径F 

6.12 偏波保持光ファイバ付き光コネクタのキー位置精度 

6.12.1 目的 この試験は，偏波保持光ファイバを装着した光ファイバコネクタのキー位置精度を測定する

方法に関して規定する。 

6.12.2 概要 偏波保持光ファイバ（PMF）を装着した光ファイバコネクタ同士の接続においては，各PMF

の偏波の軸を一致させることによって，原理的には高い消光比を維持することが可能（40 dB程度，ただ

し，光ファイバ長に依存する。）である。しかしPMFのコネクタ接続は，通常PMF自体がもつ消光比より

小さくなる。その理由を，次に示す。 

a) フェルールにPMFを接着固定したときの残留応力 

b) PMF同士の偏波主軸の不一致 

 上記b)の理由に対して，光コネクタのキー位置精度の測定が必要となる。 

6.12.3 装置 図6.12.1に光コネクタのキー位置精度測定系を示す。 

a) 光源（S）及び光パワーメータ（D） 特性（波長，スペクトル幅など）の知られた光源と，対応する

検出器を使用する。この試験の精度は，装置とデバイスとの要素間の干渉に影響される。したがって，

光源のコヒーレンス性にも注意が必要である。この試験手順は，光源が低いレベルのコヒーレンス性

をもつことが要求される。なぜなら，DFBレーザなどの高コヒーレンス性の光源は誤った測定結果を

もたらす。三つ以上の初期モードをもつファブリペロレーザが適当である。試験装置の波長特性及び

測定器のダイナミックレンジを光源に適応する場合には，LEDを用いるのが望ましい。 

具体的には，測定信号の最小値はノイズレベルより少なくとも3 dB高く取れる十分なパワーを入

射できる光源でなければならない。 

b) 光学部品 二つのレンズ（L1，L2）で拡張されたビーム上に配列する偏光子（P1），1/4波長板，偏光

子（P2）。偏光子（P1）は高い消光比の直線偏波を形成し，1/4波長板は偏波面を直線偏波から円偏波

に変換する。偏光子（P2）は円偏波から一定のパワーをもつ任意の方向の直線偏波を作る。 

c) レセプタクル（R1）（R2） 測定する偏波面保存光ファイバの両端に取り付けられた光コネクタが結

合するレセプタクルである。これらはあらかじめ寸法精度（キー溝の方向など）が関連規格などによ

って定められ，測定されたものである。 

44 

C 5961：2005  

 

d) 検光子（A） 出射光の偏波軸の方向及び消光比を決定する。 

 

 

 

 

 

 

 

 

図6.12.1 キー位置精度及び消光比測定系 

6.12.4 手順 

a) 測定系の前準備 全角度方向に対して均一な直線偏光を発生させる系を図6.12.2に示す。 

 

 

 

 

 

 

 

図6.12.2 測定の準備 

 1) 図6.12.2において偏光子P2を取り外した状態で偏光子P1を調整し，光パワーメータでの光パワー

を最大にする。 

 2) 偏光子P2を配置し，光パワーメータにおいて360度方向に均一な光量が得られるように1/4波長板

を調整する。 

b) キー位置精度の測定 供試光コネクタの偏波軸の角度及び消光比の測定手順を述べる。 

 1) 供試光コネクタ付偏波保持光ファイバを図6.12.1に示すように二つのレセプタクルR1，R2間へ設

置する。 

 2) 光パワーメータで最小光パワーを検出するため検光子Aを調整する。 

 3) 光パワーメータで最小光パワーを検出するため偏光子P2を調整する。 

 4) 上記2)及び3)のプロセスを繰り返し，光パワーメータで最小光パワーとなるよう調整する。得られ

た最小パワーをDminとする。 

 5) 光パワーメータで最小光パワーを示した検光子Aの位置から，90度検光子を回転する。得られた光

パワーをDmaxとする。供試光コネクタ付偏波保持光ファイバの消光比はDmax−Dmin (dB)で与えられ

る。また，供試光コネクタ1，2での偏波軸の角度は，それぞれ偏光子P2と検光子Aの角度となる。 

 6) キー位置精度は，図6.12.3に示すようにそれぞれの供試光コネクタに対するレセプタクルのキー溝

方向と得られた偏波軸間の角度ずれとして表すことができる。 

 

45 

C 5961：2005  

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

図6.12.3 キー位置精度 

 

6.12.5 個別仕様書に規定する事項 

a) 光源Sのスペクトル幅，コヒーレンス長及びピーク波長 

b) 偏光子P2及び検光子Aの消光比 

c) 光パワーメータの波長特性及び線形性 

d) 測定系のダイナミックレンジ 

e) この試験方法との差異 

 

7. 光学的性能試験 

7.1 

挿入損失 

7.1.1 目的 この試験は，ある長さの光ファイバに光コネクタを挿入したときに生じる光パワーの損失を

測定する試験方法について規定する。 

7.1.2 概要 ここでは7種類の異なった光コネクタの構成について規定する。これらの構成の相違は光ポ

ートの終端にあり，光ファイバ，プラグ又はレセプタクルの場合がある。挿入損失測定の基準となる方法

は，光パワーメータを用いるものである。OTDR測定は，代替試験法として示されている。各光コネクタ

の構成に対し，用いられるべき基準法と代替法を表7.1.1に定義する。 

 

46 

C 5961：2005  

 

表7.1.1 光コネクタの試験方法 

タイプ 

構成 

試験方法 

基準法 

代替法 

1 

光ファイバ対光ファイバ 
（構成部品） 
 

 

カットバック 

 

2 

光ファイバ対光ファイバ 
（現場取付け光コネクタ） 
 

 

挿入 (A) 

カットバック 

3 

光ファイバ対プラグ 
 
 

 

カットバック 

 

4 

プラグ対プラグ 
（光接続コード） 
 

 

挿入 (C) 

置換え 

5 

片端プラグ 
（光接続コード） 
 

 

挿入 (B) 

 

6 

レセプタクル対 
レセプタクル又はアダプタ 
 

 

置換え 

挿入 (C)  

7 

レセプタクル対プラグ 
 
 

 

置換え 

挿入 (C)  

a) 励振条件 励振条件は，附属書1挿入損失及び反射減衰量の測定条件に従うものとする。 

参考1. IEC 61300-1では，励振条件として全モード励振を推奨しているが，この規格では我が国の

実状に即し，定常モード励振を推奨する。 

2. 長いコヒーレント長が原因でレーザ光源がマルチモード光ファイバのコアにわたって不安定

なスペックルパターンを引き起こし，規定の励振条件を満たすことが困難又は不可能になる

場合がある。したがって，マルチモード光ファイバ用光コネクタの測定には（後述のOTDR

の光源を含めて），レーザの使用は避けてLEDや他の非干渉性光源を使用するのが望ましい。 

b) 注意点 

1) 光ファイバ中のパワーは，非線形効果による散乱を生じさせるレベルであってはならない。 

2) マルチモードの測定において，部品の接続点におけるモード分布の変化は，損失測定に影響を与え

る可能性がある。 

3) 光パワー（P0とP1）の測定の間で曲げ損失による挿入損失量の変化を避けるために，試験中におけ

る光ファイバは動かさないことが望ましい。 

7.1.3 装置 

a) 光源 (S) 光源は発光素子，そのピグテイル及びこれに附属する電気駆動回路からなる。この光源は

光パワーの機械的又は電気的変調部を含んでもよい。例えば，LED，レーザ又は干渉フィルタ若しく

は分光器と結合したスペクトル的に広帯域な光源などがある。カットバック法，挿入法 (B) の場合，

受光面積の広い光検出器を用いてもよい。光パワー（P0及びP1）を測定する間，出力光は規定の範囲

で安定でなければならない。個別仕様書には次の項目を規定する必要があり，附属書1表1の記号に

よって規定する。 

47 

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1) 出力光 

2) 出力安定性 

3) ピーク波長 

4) スペクトル幅 

5) ピグテイル光ファイバのタイプ（必要に応じて） 

6) コヒーレント又はインコヒーレント 

b) 励振器 (E) 励振器は，求められる励振条件で光パワーを検出器に伝送する受動部品システムから構

成する。このユニットは測定する部品と適合する必要があり，附属書1表1に規定する。 

c) 光パワーメータ (D) 光パワーメータは光検出器，接続機構及び附属する受光電子部品で構成する。

この光パワーメータは，機械的又は電子的に光源を変調する位相検波機構を内蔵しても差し支えない。

受光部への接続は，光ファイバを受け入れるアダプタを用いて行う（図7.1.1，図7.1.3参照）か，適

切なデザインの光コネクタプラグを受け入れるレセプタクルを用いて行う（図7.1.2，図7.1.4，図7.1.5

参照）。測定感度は光パワー（P0及びP1）の測定に要する時間の間に必要規定範囲内で安定する必要

がある。この測定において，P0及びP1の測定の間に受光部との接続は一度切断されることになるが，

光ファイバと受光部との結合効率は光ファイバを再結合した場合に規定の範囲内で再現されなければ

ならない。光パワーメータの精度は，測定上の要求に合致しなければならない。光パワーメータの特

性は，附属書1表1に規定する。 

d) テンポラリジョイント (TJ) 測定系に供試光コネクタを組み込む接続部。テンポラリジョイントの例

としては，光コネクタ，スプライス，真空吸着チャック又はマイクロマニピュレータが用いられる。

テンポラリジョイントは，P0及びP1を測定するのに要する時間の間は規定の範囲内で安定である必要

がある。適切な屈折率整合材をテンポラリジョイントの安定性を改善するために使用してもよい。 

e) 測定用光ファイバ 光源からテンポラリジョイントまでの光ファイバ，試験用光接続コードの光ファ

イバ及び置換え用光接続コードの光ファイバは，附属書1表1に規定する。 

f) マスタ光コネクタ 

1) マスタプラグ (Pr)  マスタプラグは，附属書1に規定する。 

2) マスタアダプタ (Ar)  挿入法又は置換え法のいずれにおいても，マスタアダプタが必要である。

マスタアダプタについては，個別仕様書において規定することが望ましい。 

g) モードフィルタ (mf) 単一モードの測定においては，テンポラリジョイント部分と光コネクタとの間

で検出器より前にモードフィルタが必要である。モードフィルタの目的は，一次のモード以外のすべ

ての光エネルギを除去することである。一般的に，2 mの長さの光ファイバがモードフィルタとして

用いられる。このモードフィルタは，約50 mmの直径の二つのループをもつことが望ましい。このモ

ードフィルタの詳細は，必要に応じ個別仕様書の中で規定する。 

h) OTDR (Optical Time Domain Refrectometer) 次の特性について個別仕様書に明記されたもの。 

1) 中心波長 

2) スペクトル幅 

3) パルス幅 

なお，OTDRの受光レベルを超えないよう光量を落とすための減衰器を組み込むことが望ましい。 

7.1.4 手順 

a) 光コネクタの構成及び試験方法 表7.1.1を参照。挿入法及びカットバック法は，タイプ−2の光コネ

クタに対しては，同等の測定である。タイプ−4，タイプ−5とタイプ−6の光コネクタに対しては，

48 

C 5961：2005  

 

置換え法は挿入法よりもいくらか低い挿入損失値を与える。これは，置換え法のP0には，置き換えた

光接続コードの損失が含まれているからである。そのため，置換え法のP0は挿入法のP0より小さな

値となる。 

b) 光パワーメータを用いた挿入損失測定 カットバック法，置換え法及び挿入法を用いた挿入損失測定

は光パワーメータを用いることを基本にしている。光パワーメータを用いた各挿入損失測定において

は，2回の光パワー測定が必要である。 

−

＝−

0

1

log

 

10

P

P

A

 (dB) (7.1.1)  

ここに， P0： 回路中に光コネクタなしの状態の測定パワー 
 

P1： 回路中に光コネクタありの状態の測定パワー 

 

懿

 光コネクタ以外の光部品及び光ファイバの損失 

光ファイバと検出器との間に適切な接続機構が準備されなければならない。接続は，光ファイバと接続

するある種のアダプタか適切な光コネクタ用の光コネクタアダプタを用いて行ってもよい。カットバック

法と挿入法 (B) との測定の場合，P0とP1の測定との間に検出器への光ファイバ接続は一度は外されるわ

けであるが，測定の間，光ファイバと検出器との結合効率は一定のままでなければならない。 

 1) 方法1 カットバック法 

 1.1) タイプ−1とタイプ−2との光コネクタについては，光コネクタの一方の光ファイバはテンポラリ

ジョイント (TJ) によって光源に接続し，他方の光ファイバは光パワーメータに接続し，P1を測定

する（図7.1.1参照）。光ファイバをカットポイント (CP) で切断し，P0を測定する。この場合，

モードフィルタ (mf) の位置に注意が必要である。 

 

 

 

 

 

 

図7.1.1 カットバック法 

 1.2) 光ファイバ対プラグのタイプ−3の光コネクタは，ピグテイル付き光コネクタであり，タイプ−1

の光コネクタと同様の方法で挿入損失を測定する。 

2) 方法2 置換え法 置換え法においては，P1は回路中に供試光コネクタありの状態で測定し，P0は

供試光コネクタの代わりに置換え用光接続コードに置き換えて測定する（図7.1.2参照）。 

 2.1) タイプ−4の光コネクタに対しては，マスタアダプタを光源側のマスタプラグと試験用光接続コー

ドのマスタプラグに装着する（図7.1.2参照）。 

 

 

 

 

 

 

図7.1.2 置換え法 

49 

C 5961：2005  

 

 2.2) タイプ−6の光コネクタに対しては，マスタアダプタを用いないでプラグ対プラグ光コネクタと同

様に測定する（図7.1.2参照）。 

 2.3) タイプ−7の光コネクタに対しては，1個のマスタアダプタを用いてプラグ対プラグ光コネクタと

同様に測定する（図7.1.2参照）。 

3) 方法3 挿入法 (A) タイプ−2の光ファイバ対光ファイバの光コネクタ（現場取付け接続又は光コ

ネクタ）に対しては，P0を測定後，光ファイバを切断し，光コネクタを挿入し，P1を測定する（図

7.1.3参照）。 

 

 

 

 

 

 

図7.1.3 挿入法 (A) 

4) 方法4 挿入法 (B)  タイプ−5の光コネクタに対しては，テンポラリジョイントによって接続さ

れた光ファイバのマスタプラグに光パワーメータを接続し，P0を測定する。マスタアダプタに供試

光コネクタを装着し，P1を測定する（図7.1.4参照）。 

 

 

 

 

 

 

 

図7.1.4 挿入法 (B) 

この測定は，光コネクタの光源側のプラグだけを対象とする。光コネクタの両端を測定するには，

逆に接続することによって測定を繰り返す必要がある。 

5) 方法5 挿入法 (C)  

 5.1) タイプ−4の光コネクタに対しては，テンポラリジョイントからの光ファイバに直接接続した検出

器を用いてP0を測定する。光コネクタ，テンポラリジョイント及び二つのマスタアダプタを挿入

し，P1を測定する（図7.1.5参照）。 

 

 

 

 

 

 

 

図7.1.5 挿入法 (C) 

 5.2) タイプ−6のレセプタクル対レセプタクル光コネクタに対しては，マスタアダプタを用いないで

50 

C 5961：2005  

 

5.1)と同様に測定する。 

 5.3) タイプ−7のレセプタクル対プラグ供試光コネクタに対しては，1個のマスタアダプタを用いて 

5.1)と同様に測定する。 

c) OTDRを用いた挿入損失測定 

 1) 測定回路 

 1.1) OTDRは，パルスが光コネクタ内を通過するときの，OTDRへの後方散乱の戻り光の減少を測定

するものである。OTDRを用いた挿入損失測定回路を図7.1.6に示す。 

 

 

 

 

図7.1.6 OTDR測定の模式図 

 1.2) L1区間は，OTDRの影響を分離するために必要である。L2及びL3区間長は，OTDRによって供試

光コネクタの挿入損失を測定するのに必要な分解能に合わせ用意する必要がある。 

 1.3) 供試光コネクタが光コネクタプラグの場合には，完全な光コネクタ構成を形成することが必要な

ことからマスタプラグとアダプタを装着する。これらの光コネクタ構成は，供試光コネクタの一

部として測定される。 

 1.4) 供試光コネクタがピグテイル形の場合，テンポラリジョイントが必要となる。もし，ピグテイル

の光ファイバが十分に長い場合，テンポラリジョイントは図7.1.6のaとbの地点の外側に置かれ，

ピグテイルの光ファイバ挿入損失は，供試光コネクタの挿入損失の一部とみなされる。もし，そ

の光ファイバが短い場合は，テンポラリジョイントは供試光コネクタの内部に置かれ，テンポラ

リジョイントの挿入損失は供試光コネクタの一部に含まれる。テンポラリジョイントはL2又はL3

の領域に設置されないほうがよい。 

 1.5) もし，光ファイバがbの地点で終わるなら，低反射終端を用いるのが望ましい。もし，光ファイ

バがL3より少なくとも数パルス長以上の長さがあるならば，低反射終端は必要ない。 

 2) OTDR測定法の定義 

 2.1) OTDRで測定される挿入損失量は，供試光コネクタの反対方向から測定されたOTDR測定値との

平均値として求めることが望ましい。 

 2.2) 挿入損失量のOTDR測定量は，供試光コネクタの両方向から戻ってくる後法散乱光強度の差の21で

ある。多くのOTDRはこのことを考慮に入れており，ディスプレイされる信号は21に割った値であ

る。 

 2.3) 供試光コネクタ両サイドの光ファイバの後方散乱係数の差は，一方向でOTDR測定を行うと誤差

を生じる。一方向での測定誤差はプラスであり，もう一方の測定誤差はマイナスである。両方向

の読み取りの平均を採用することによって，二つの光ファイバの後方散乱係数の差による誤差を

打ち消すことになる。 

 3) 測定手順 

 3.1) 図7.1.7に挿入損失はあるが，反射のない典型的なOTDRの後方散乱信号を示す。 

 

51 

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図7.1.7 OTDRの軌跡，挿入損失と無反射 

 3.2) 図7.1.8に，挿入損失と反射をもつ供試光コネクタからの後方散乱信号の典型的なOTDR信号を示

す。図7.1.8のピークの後のカーブはOTDR検出器の応答の衰退を示しており，多くのOTDRの

典型である。衰退の長さは検出器の関数であり，反射パルスの振幅の関数でもある。 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

図7.1.8 OTDRの軌跡，挿入損失と反射 

 3.3) 挿入損失値Aは，図7.1.7において，供試光コネクタを信号が通過する前後のOTDR軌跡の差とし

て観測することができる。又は，図7.1.8の平行線の段差として測定できる。これらの線は，L2と

L3領域（図7.1.6参照）の光ファイバ長からのOTDR応答の延長である。 

7.1.5 個別仕様書に規定する事項 次の事項を必要に応じて個別仕様書に規定する。 

a) 試験方法 

b) 励振条件 附属書1の規定による。 

c) 光源の種類 附属書1の規定による。 

d) 光パワーメータ 附属書1の規定による。 

e) モードフィルタ 

f) マスタプラグに関する関連するパラメータ 附属書1の規定による。 

g) マスタアダプタに関する関連するパラメータ 

h) 関連するマスタ光ファイバ・ケーブルパラメータ 

i) 関連する光ファイバパラメータ 

j) OTDR特性（例えば，波長，L，L1，L2） 

k) 前処理工程 

l) 測定回数 

m) 許容挿入損失 

n) この試験方法との差異 

52 

C 5961：2005  

 

7.2 

反射減衰量 

7.2.1 目的 この試験は，光コネクタの反射減衰量を測定する試験方法について規定する。この試験においては

光コネクタの反射減衰量は，入射しようとする光量と反射した光量との比とし，dB単位で表示する。 

7.2.2 概要 光ファイバ付き光コネクタの反射減衰量を測定する方法として，次の5方法を規定する。これらの

方法は，空間分解能と検出する反射減衰量とに関連して異なる特徴と適用範囲をもつものである (方法1

〜5についての検出可能な反射減衰量の比較を7.2.5 参考4.に示す)。 

a) 方法1 光ブランチングデバイス(光分岐／結合器・カプラ)による測定法 

b) 方法2 OTDR(Optical Time Domain Refrectometer)による方法 

c) 方法3 方向性結合器とテンポラリジョイントによる方法 

d) 方法4 方向性結合器と全反射コードによる方法 

e) 方法5 OLCR(Optical Low-coherence Refrectometry)による方法 

7.2.3 装置 

a) 方法1 光ブランチングデバイスによる測定法 次の装置を用いる。 

 1) 光ブランチングデバイス(BD) 光ブランチングデバイスの分岐比は，安定していて偏光による特性変動

が少ないこと。光ブランチングデバイス本体は，測定しようとする最大反射減衰量よりも少なくとも10 dB

以上高いディレクティビティをもっていること。 

 2) 光パワーメータ(Dl，D2及びD3) 光パワーメータは，附属書1表1の条件を満たすものを使用する。ただ

し，測定に際してはD2の反射光が測定値に影響を及ぼさないような手段を講じておく。 

 3) 光源(S1及びS2) 光源は，その種類を個別仕様書に附属書1表1の記号によって規定する。S2は図7.2.2に

規定している校正に用いる。S2の中心波長，及びスペクトル幅はS1と同等である。 

 4) テンポラリジョイント(TJ) 測定系に供試光コネクタを組み込む接続部。テンポラリジョイントの例として

は，光コネクタ，スプライス，真空チャック又はマイクロマニピュレータが用いられる。テンポラリジョ

イントは挿入損失が安定しており，測定しようとする最大値よりも少なくとも20 dB以上高い反射減衰量

をもつことが必要である。 

 5) 光終端器(T) Tで表示される光終端器は，測定しようとする最大値よりも少なくとも20 dB以上高い反射

減衰量をもっていることが必要である。3種類の光終端器を推奨する。 

 5.1) 光ファイバ端面を斜め処理する。 

 5.2) 光ファイバ端面に屈折率整合剤を使用する。 

 5.3) 光ファイバに減衰器を入れる。 

減衰器を用いる場合は，例えば，図7.2.4のP0を測定する際に，図7.2.1のTJ1と供試光コネクタとの間に用

いる。 

参考 光源，光パワーメータで引用している附属書1は，IEC 1300-3-6には規定されていないが，我が国

の実状に即して追加規定した。 

b) 方法2 OTDRによる測定法 次の装置を用いる。 

 1) OTDR 次の特性について個別仕様書に規定されたものを用いる。 

 1.1) 中心波長 

 1.2) スペクトル幅 

 1.3) パルス幅 

なお，OTDRの受光レベルを超えないように光量を落とすための減衰器を組み込むことが望ましい。 

 2) テンポラリジョイント(TJ) 

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c) 方法3 方向性結合器及びテンポラリジョイントによる測定法 次の装置を用いる。 

 1) 方向性結合器 方向性結合器は，JIS C 5910に規定されたものを用いる。 

 2) 励振器(E) 励振器は，附属書1表1の条件を満たす励振器を使用する。 

 3) 光パワーメータ(Dl及びD2) 

 4) 光源(Sl) 

 5) テンポラリジョイント(TJ) 

d) 方法4 方向性結合器と全反射コードによる測定法 次の装置を用いる。 

 1) 方向性結合器 

 2) 励振器(E) 

 3) 光パワーメータ(D1) 

 4) 光源(S1) 

 5) 基準コード 基準コード1は，片端に方向性結合器に接続するプラグ，反射側に金蒸着などを行い，全反

射としたプラグがそれぞれ付けられている光ファイバコードとする。 

基準コード2は，片端に方向性結合器に接続するプラグ，反対側に供試光コネクタとかん合するプラグ

がそれぞれ付けられている光ファイバコードとする。 

e) 方法5 OLCRによる測定法 次の装置を用いる。 

 1) 光ブランチングデバイス(BD) 光源からの光出力を信号ポートと参照ポートに分岐し，かつ，それぞ

れのポートからの光出力を光検出器へと結合する。 

 2) 光検出器(D) 光ブランチングデバイスの出射ポートに接続する。光検出器は十分なダイナミックレ

ンジをもつものを使用すること。光検出器からの光電流は，データ処理装置に送信される。 

 3) 光源(S) 光ファイバ出力ポートをもつ，広帯域の光源(LED光源)を用いる。 

 4) 光遅延線(ODL) 光遅延線は，直線的な参照光の遅延時間を可変するものである。通常の光遅延線は，

平行ビームを作るコリメータ(L)と移動台に搭載されたリフレクター(R)とによって構成される。 

 5) データ処理装置 光検出器からのデータを収集，処理し，参照光の光遅延量を制御する。 

 6) テンポラリジョイント(TJ) 

7.2.4 手順 

a) 方法1 光ブランチングデバイスによる反射減衰量測定 光ブランチングデバイスによる反射減衰量測定手

順は図7.2.1による。 

 

 

 

 

 

図7.2.1 光ブランチングデバイスによる反射減衰量測定 (方法1) 

   光パワーメータで測定された光パワーPは，mWで表す。 

 1) 図7.2.1における反射減衰量RLは，次の式によって算出する。 

RL＝−10 log (Pa'−P0') ＋G (dB)  (7.2.1)  

 

ここに，

r

a

a

P

P

P

 (Paの標準化光パワー)  (7.2.2)  

54 

C 5961：2005  

 

 

Pr： 参照出力 (mW)  

 

P0'： 標準化されたシステムの反射光パワー 

［式(7.2.6)参照］ 

 

G： システム定数 

［2)参照］ 

   式(7.2.1)においてPa

 及びP0

 は，Prによって標準化されている。 

   Paを基準化するPrの値は，図7.2.1の測定から求める。 

   P0を基準化するPrの値は，図7.2.4の測定から求める。 

   このことから，Pa及びP0測定において時間差が生じること及び光源の振幅の変動は許容することができる。 

  式(7.2.1)において反射減衰量は，TJ1におけるTJ1とT1間の反射減衰量となる。 

 2) システム定数“G”は，次の二つの方法から求める。 

 2.1) 方法A 図7.2.1の測定系において，測定用光源S1を終端器T2と入れ替えて，光源S2を接続した後Paa

を測定する(図7.2.2)。S2を発光させたまま，光ファイバの“CP”点を切断し検出器D3に接続して，Pbを

測定する。 

 

 

 

 

 

 

図7.2.2 システム定数“G”を求める方法 (手順1) 

b

aa

1

P

P

C＝

  (7.2.3)  

 図7.2.3のように検出器D3を接続しPc及びPrrを測定する。 

 

 

 

 

 

図7.2.3 システム定数“G”を求める方法 (手順2) 

c

rr

2

P

P

C＝

  (7.2.4)  

 システム定数Gは，次の式で求められる。 

2

1

log

10

C

C

G＝

 dB  (7.2.5)  

 2.2) 方法B 既知の終端反射減衰量Rcを基本とし，Gを算出する。 

(a) 図7.2.1における供試光コネクタを既知の終端反射減衰量Rcをもつ光ファイバと入れ替える。 

(b) 式(7.2.2)によりPa

 を確定する。 

(c) 式(7.2.6)によりP0

 を確定する。 

(d) Pa

 ，P0

 及びRcを式(7.2.1)に代入しGを求める。 

 3) システムの反射光パワーは以下により求める。システムの反射光パワーP0は供試光コネクタを測定系から

切り離して測定し，確定する。これは供試光コネクタを高反射減衰量の光終端器と交換するか，又は高減

55 

C 5961：2005  

 

衰量の減衰器を測定系と供試光コネクタとの間に付加することによって行う。 

    高反射減衰量の光終端器を使用する場合を，図7.2.4に示す。 

 

 

 

 

 

図7.2.4 システムの反射光パワーを求める方法 

r

0

0

P

P

P＝

(P0標準化光パワー)  (7.2.6)  

b) 方法2 OTDRによる反射減衰量測定 OTDRによる反射減衰量測定を図7.2.5に示す。 

 

 

 

 

図7.2.5 OTDRによる反射減衰量の測定 (方法2) 

 1) L1区間は，OTDRの影響を分離するために必要である。L2及びL3区間長は，OTDRによって供試光コネク

タの反射減衰量を測定するのに必要な分解能に合わせ用意する必要がある。a，b間の光ファイバは，同等

の後方散乱係数でなければならない［式(7.2.10)参照］。a，b間に組み込まれているテンポラリジョイント

TJ1，TJ2の損失の絶対値は，一方向からOTDRで測定を行った際に図7.2.6に示す供試光コネクタ部立ち上

がりHの0.10 H以下であること。OTDRにて描かれる反射点の代表的な立ち上がり軌跡を，図7.2.6に示

す。 

 

 

 

 

 

図7.2.6 反射点の代表的な立ち上がり軌跡 

 

10

2

10

1

log

 

10

2

H

K

H

RL

−

−

−

＋

＝−

 (dB)  (7.2.7)  

ここに， H： OTDR管面上に表される波形の高さ (dB)  
 

K： 光ファイバ及びOTDRパルス長を含むレイリー後方散乱定数

(システム定数)(dB)  

 多くのOTDRは，反射信号の出力値を表示前に2で除算する。したがって，OTDRが行っている除算を補正す

るために式(7.2.7)では，パルスの高さを2倍している。 

 Hが大きな値である場合，式(7.2.7)は単純化できる。単純化された式は，Hの反射の値が5 dBを超える場合，

良好な近似式となる。 

K

H

RL

＋

−2

 (dB)  (7.2.8)  

56 

C 5961：2005  

 

 2) システム定数 システム定数は，次の二つの方法によって算出される。 

 2.1) 方法A 終端が既知の反射減衰量 既知の反射減衰量R0をもつ光ファイバ端を測定する。式(7.2.7)又は式

(7.2.8)において，H及びR0を代入しKを決定する。 

 2.2) 方法B 定数Kを，次の関係式を用いて求める。 

K＝B−10 log t  (dB)  (7.2.9)  

 

B： 後方散乱光のパルス (t) 当たりの出力 (dB)  

 

t： OTDRパルス長(ナノ秒) 

 次の近似値を多くのシングルモード光ファイバに通用できる。 

   

80 

 

B

  1 300nmにおいて (dB)  

5.

82

B

  1 550nmにおいて (dB)  

 上記において提示されるBは，時間軸がナノ秒の場合の値である。 

 Bの値は，次によって求められる。 

L

2

b

L

1

)

(

log

 

10

a

e

t

R

B

−

−

−

−

＝

  (7.2.10)  

            RL ：光ファイバ長Lにおける反射減衰量 

            

愀

光ファイバの損失定数 

            V ：群速度 

            L ：光ファイバ長 

            tb＝1ナノ秒，式(7.2.9)における時間軸 

 RLは前項の測定手順，及び供試光コネクタの光ファイバ長Lによって求められる。 

 式(7.2.10)においてaL≪1のとき 

L

t

R

B

2

log

 

10

)

log(

 

10

b

L

−

−

  (7.2.11)  

 この近似式は，L≪1kmのシングルモード光ファイバに有効である。 

c) 方法3 方向性結合器及びテンポラリジョイントによる反射減衰量測定。方向性結合器及びテンポラリジョ

イントによる反射減衰量測定を，図7.2.7に示す。 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

57 

C 5961：2005  

 

 

 

 

 

 

 

 

 

図7.2.7 方向性結合器及びテンポラリジョイントによる反射減衰量測定 (方法3) 

 1) 方向性結合器の端子2から端子3への伝達係数α32を，JIS C 5901の6.2(光損失)に基づいて測定する。 

 2) 図7.2.7の手順に示すように試験装置を構成し，供試光コネクタ付き光ファイバと同一の長さをもつ光ファ

イバを，テンポラリジョイントによって方向性結合器と光パワーメータ間に挿入する。 

 3) 必要がある場合には，テンポラリジョイントに屈折率整合剤などによる反射低減対策を施す。 

 4) 方向性結合器の端子2側の光パワーメータの指示値P0及び端子3側の光パワーメータの指示値P1を読み取

る。 

 5) 図7.2.7の手順2に示すように，方向性結合器と光パワーメータ間に手順1の光ファイバに代わって供試光

コネクタを挿入する。 

 6) 必要がある場合には，テンポラリジョイントに屈折率整合剤などによる反射低減対策を施す。 

 7) 反射減衰量を，次の式によって算出する。 

32

10

0

1

1

10

log

10

log

10

P

P

P

RL

 (7.2.12)  

ここに， 

RL： 反射減衰量 (dB)  

 

P0： 端子2側の光パワーメータの指示値 (mW)  

 

P1： 光ファイバ挿入時の端子3側の光パワーメータの指示値 

(mW)  

 

P'1： 供試光コネクタ挿入時の端子3側の光パワーメータの指示

値 (mW)  

 

愀㌀

 方向性結合器端子2から端子3への伝達係数 

d) 方法4 方向性結合器及び全反射コードによる反射減衰量測定。方向性結合器及び全反射コードによる反射

減衰量測定を，図7.2.8に示す。 

 

 

 

 

 

 

 

 

58 

C 5961：2005  

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

図7.2.8 方向性結合器及び全反射コードによる反射減衰量測定 (方法4) 

 1) 図7.2.8の手順1に示すように試験装置を構成する。 

 2) 方向性結合器の端子2に全反射プラグなどの付いた標準コード1を接続し，光パワーメータの指示値P0を

読み取る。 

 3) 図7.2.8の手順2に示すように方向性結合器の端子2に手順1の基準コードに代えて基準コード2を接続し，

アダプタを介して光ファイバコードの供試光コネクタのプラグを基準コード2に接続する。 

 4) 光ファイバコードの先端に屈折率整合剤を塗布して反射を低減させて光パワーメータ指示値P1を読み取る。 

 5) 反射減衰量を，次の式によって算出する。 

0

1

10

log

10

P

P

RL＝

 (7.2.13)  

ここに， RL： 反射減衰量 (dB)  
 

P0： 基準コード1を接続したときの光パワーメータの指示値 

(mW)  

 

P1： 供試光コネクタを接続したときの光パワーメータの指示値 

(mW)  

e) 方法5 OLCRによる反射減衰量測定 OLCRによる反射減衰量測定手順を，図7.2.9に示す。 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

59 

C 5961：2005  

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

図7.2.9 OLCRによる反射減衰量の測定 (方法5) 

    図7.2.9に示す装置の規定は，測定原理だけを示すものである。 

   注意 実際の測定においては様々な変更が必要とされる。例えば，反射光の偏向状態に無関係に測定する

ための処置が挙げられる。 

 1) キャリブレーション手順 OLCRによる反射減衰量の測定値は，既知の反射量との相対値から求まる。

そのため，測定前にはキャリブレーションを行う。 

 1.1) 反射減衰量がRL0のリフレクタR0を，所定長のシングルモード光ファイバを介して光ブランチン

グデバイスの信号ポートに接続する。RL0の値は，全反射で0 dB，直角に形成された光ファイバ端

面で14.7 dBである。 

 1.2) リフレクタR0に接続している光ファイバと，ほぼ等しい長さの他のシングルモード光ファイバを

光ブランチングデバイスの参照ポートと光遅延線の間に接続する。 

 1.3) 光遅延量を線形に変化させる。通常の光遅延線の場合，リフレクタRは一定の速度で移動する。 

 1.4) 光検出器から出力される検出周波数を，リフレクタRの移動によって発生するビート信号の周波

数に調整する。 

 1.5) 光検出器からの出力をサンプリングして，データ処理装置に収集する。ここで，通常の光遅延線の

場合，光遅延量はリフレクタRの位置から求められる。データ処理装置で計算したピーク値を，

G0(dB)として記録する。 

 2) 測定手順 

 2.1) 供試光コネクタを信号ポートのリフレクタR0の位置に接続する。必要に応じて参照ポートに接続

しているシングルモード光ファイバを，供試光コネクタのピグテール長とほぼ等しくなるように

交換する。 

 2.2) 1)項の1.3)から1.5)と同じ操作を行う。その後，供試光コネクタの接続位置の信号を測定し，ピー

ク値をG(dB)と求める。 

 2.3) 供試光コネクタの上記位置での反射減衰量は，上記測定値を用いて次のように求められる。 

RL＝RL0＋(G−G0) (dB)  (7.2.14)  

60 

C 5961：2005  

 

 3) 測定精度 OLCRによる測定方法におけるエラー要因として，テンポラリジョイントでリフレクタ

R0と供試光コネクタを接続することによる減衰量の相違がある。この減衰量の相違が最小となるよ

うに注意しなければならない。 

7.2.5 個別仕様書に規定する事項 次の事項を必要に応じて個別仕様書に規定する。 

a) 試験方法 

 

b) 励振器(励振条件) 

 

c) 光ブランチングデバイス 

分岐比(方法1) 

ディレクティビティ 

過剰損失と出力分岐比の波長依存性(方法5) 

d) 光パワーメータ 

附属書1の規定による(方法1，方法3，方法4)。 

e) 光源 

附属書1の規定による(方法1，方法3，方法4)。 

スペクトル幅と出力(方法5) 

f) テンポラリジョイント 

最大挿入損失(方法1，方法3，方法4) 

最小反射減衰量 

g) 光終端器 

光終端器の形式(方法1，方法3，方法4) 

最小反射減衰量 

h) OTDR 

中心波長(方法2) 

スペクトル幅 

パルス幅 

全域にわたって直線性を維持できる検出部の反射光出力幅 

短いパルスに対する検出部の応答性 

パルス長の精度 

i) 長さ(L1，L2及びL3) 

(方法2) 

j) 光ファイバ 

種類(方法2) 

分散(方法5) 

k) 方向性結合器 

JIS C 5910に規定されたもの(方法3，方法4) 

l) 測定回数 

(方法3，方法4) 

m) OLCR 

全遅延量(通常のODLでのステージの全移動量) 

光検出器の線形性 

測定系の偏光依存性 

n) 許容反射減衰量 

 

o) この試験方法との差異 

 

参考1． 

1) 光ブランチングデバイスによる測定系の定義 図7.2.1の測定系は光ブランチングデバイスを用いた

反射減衰量測定系の代表例であるが，これだけとは限らない。必要なことは，測定された値が次の二

つの条件を満足していることである。 

1.1) Paは，供試光コネクタからの反射光パワーPrefに比例し，供試光コネタタ以外の測定系そのものか

ら発生する反射光パワーP0を加えた値に等しいこと。図7.2.1及び図7.2.4参照。 

Pa＝C1  Pref＋P0 (mW)   (7.2.15)  

1.2) Prは，供試光コネクタへの入射光量Pincに比例していること。図7.2.1参照。 

61 

C 5961：2005  

 

Pr＝C2  Pinc (mW)   (7.2.16)  

 

C1： 光ブランチングデバイスの伝搬係数。図7.2.2参照。 

 

C2： 光ブランチングデバイスの分岐比。図7.2.3参照。 

2) 測定精度の考察 以下は反射減衰量の測定における誤差の要因となる可能性のあるものである。 

2.1) テンポラリジョイントTJ1及びTJ2 これらテンポラリジョイントの損失差による誤差が2倍にな

ることによる誤差。 

2.2) システムの反射光パワー システムの反射光パワーP0は，図7.2.1における供試光コネクタを除く

系の内部において光源から検出器1に到達する光パワーである。P0の誤差が反射減衰量に与える影

響は，PaとP0の差ΔPでありdB単位で表す。 

10 log (Pa) −10 log (P0) (dB)  (7.2.17)  

ΔPが大きい値の場合，相対的にΔPの誤差が大きくても，反射減衰量に対する影響は無視できる。

例として，P0が5 dB誤差があり，ΔPが25から30 dBに変化したとしても，反射減衰量の誤差は

わずか0.014 dBとなる。しかしながら，ΔPが小さい値の場合，ΔPの誤差が小さくとも重大な影

響を与える。例として，0.5 dBの誤差によってΔPが0.5 dBから1.0 dB変化した場合，反射減衰量

の誤差は3 dBになる。光ブランチングデバイスを用いた反射減衰量の測定系としては，P0が可能

な限り小さい値になるように設計すべきである。図7.2.1における反射光の源としては 

 1．光ブランチングデバイス(BD) 

 2．光終端器(T) 

 3．光ブランチングデバイス右側の光ファイバ 光ブランチングデバイス右側の光ファイバの

長さが異なるとP0の値が変動する。 

 4．テンポラリジョイント(TJ) 

参考2． 

1) OTDR測定の定義 OTDRで測定される反射は当該する接続点を示す1点である。複数の反射が存

在するとき，その距離が十分に離れている場合には独立した点としてOTDRによって測定される。

複数の密接した反射の場合，OTDRはその総和を測定する。 

2) 測定精度の考察 Hの測定精度は，Hが非常に小さいときに特に重要になる。例として測定差がH

＝0.5 dB及びH＝1 dBのとき，反射減衰量の差は3dBとなる。OTDRを用いてより高い値の反射減

衰量を測定するには短いパルスを用いる。検出部は，短いパルスを確実に検出する性能をもち，パル

ス長は正確である必要がある。一部のOTDRの検出部においては，Hの値が大きいと飽和してしま

い，小さな値の反射減衰量でも精度が悪くなる。そのような場合は補正するために，OTDRと供試光

コネクタの間に可変減衰器を付加する。2回の読取り値によってHを導き出す。最初に図7.2.6に示

す低い部分に減衰器を合わせ，値を読み取る。次に，損失を，最初の読取りでもたらされた後方散乱

パルスの頂点まで漸増する。2回の測定による減衰器の値の差がHの値となる。 

参考3． 

1) OLCR測定の定義 低コヒーレンスの光干渉を利用して，シングルモード光デバイスの反射プロ

ファイルを，マイクロメートルの空間分解能と高ダイナミックレンジ(> 90 dB)で測定する方法

である。反射プロファイルとは，シングルモード光デバイス内の端面や接続点におけるそれぞ

れの反射の分布を示す。この方法では，ある地点での反射光と参照光との光干渉によって生じ

るビート信号の電力を測定することで，その地点での反射率を求める。反射点が分散している

コンポーネントを測定する場合，それらの間隔が測定系の空間分解能より大きい条件において，

62 

C 5961：2005  

 

それぞれの反射率と場所を特定することができる。 

参考4． 

1) 5方法の測定による検出可能な反射減衰量の比較 OFDR  ( Optical  Frequency  Domain 

Reflectometry)測定法は，IEC 61300-3-6で制定されている方法であり，参考として掲載した。 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

図7.2.10 5方法の反射減衰量測定による検出可能な反射減衰量，分解能，測定距離の比較 

7.3 偏波保持光ファイバ付き光コネクタの消光比 

7.3.1 目的 この手順の目的は偏波保持光ファイバにおける光コネクタの接続時での消光比の維持能力を

測定するものである。この試験は，偏波保持光ファイバを伝搬する一般的な直線偏波の測定に適用する。

ここで消光比とは，ファイバ内で直行する2軸を伝搬する光の比をいう。偏波クロストークと定義したほ

うが適当であるが，一般的には消光比といわれる。 

 この手順は，製造現場で検査装置を用いる場合に考えられたものであるが，複雑な構成になっている。

工場では更に簡略された手順が取られるべきで，将来の課題といえる。また，この試験手順は，長期の連

続試験のために考えられたものではない。シングルモード光ファイバの場合は偏光のずれが起こりやすい

ので，長期試験においては連続測定よりも繰り返し測定が要求される。 

7.3.2 概要 偏波保持光ファイバは，緩い曲がりがあっても，ファイバの対称な2軸に平行な偏波光の比

を保持することができる。偏波保持光ファイバを用いたコネクタシステムは，この伝搬光の均衡の乱れを

最小限にしなければならない。ファイバ内で直行する2軸を伝搬する光の配分は消光比とよばれ，通常dB

で表す。 

 コネクタでの消光比の劣化は二つの原因で起こる。一つはコネクタのキー合わせの不完全によるもので，

ファイバ端面の突合せで複屈折の軸が完全には合っていないことによる。二つ目は，コネクタとファイバ

との固定において，ファイバにねじれや非対称のひずみが起こり，消光比の劣化を生じさせるものである。

この試験は，前者のメカニズムが消光比の劣化の主な原因となっているコネクタでの劣化を測定すること

を目的とする。後者の原因によるものは組立工程で測定されるべきものであって，現場付け偏波保持ファ

イバコネクタ及びコネクタ結線の組立工程に適用されるべきである。 

63 

C 5961：2005  

 

7.3.3 装置 

a) 光源(S)及び検出器(D) 特性（波長，スペクトル幅等）の知られた光源と，対応する検出器を使用する。

この試験の精度は装置とデバイスの要素間の干渉に影響される。したがって，光源のコヒーレント性

にも注意が必要である。この試験手順には，低コヒーレンス性の光源が適している。DFBレーザなど

の高コヒーレンス性の光源は誤った測定結果をもたらす可能性があるため，3以上の初期モードをも

つファブリペロレーザが適当である。理想をいえば，試験装置の波長特性及び測定器のダイナミック

レンジを満足するならば光源としてLEDが望ましい。また，測定信号の最小値がノイズレベルより少

なくとも3dBは高くなるような十分なパワーをファイバに入射できる光源でなければならない。 

b) 光学部品 二つのレンズ(L1，L2)で拡張されたビーム上に配列する偏光子，1/4波長板，1/2波長板。

偏光子は高い消光比の直線偏波を形成し，1/4波長板は偏波状態を直線偏波から円偏波まで変換する。

1/2波長板は偏波面を回転させる。これらを構成して偏波状態を作ることができる。 

c) テンポラリジョイント(TJ) 

d) 基準偏波保持ピグテール これらはあらかじめ寸法精度（キー溝，コア配列など）が関連規格などに

よって定められ，測定されたものである。 

e) 検光子(A) 消光比を決定する。 

参考 この試験で扱う偏光はバルク形の要素部品（波長板，偏光子）に基づいているがファイバ形の

要素部品で構成してもよい。偏光の出射点でシングルモード光ファイバを用いる目的は，種々

の基準偏波面保存ファイバとの結合を可能にするためである。さらに，シングルモード光ファ

イバを省略して基準ピグテールへ直接偏波光を入射することもできる。クラッディングモード

があるために測定精度が低下するが，シングルモードや偏波保持光ファイバの被覆はクラッデ

ィングモードを除去する働きがある。 

7.3.4 手順 手順の最初は，基準ピグテールの出射点での偏光軸と直線偏波とを精度よく整列させること

である。この手順の間，シングルモード光ファイバの配置を動かさない注意が必要である。測定装置の設

定を図7.3.1に示す。 

 

 

 

 

 

図7.3.1 測定装置の設定（初期測定） 

a) 1/4，1/2波長板と検光子とを任意の位置とし，検出器の測定値が最大となるように偏光子を調整する。 

b) 検出器の測定値が最小となるように検光子Aを調整する。 

c) 検出器の測定値が最小となるように1/4波長板を調整する。 

d) 検出器の測定値が最小となるように1/2波長板を調整する。 

e) b)〜d)の手順を繰り返し，最小値が得られるようにする（2，3回繰り返す）。この値をDMINi(dBm)と

して記録する。パワーメータをモニタ中に基準ピグテールを曲げたり，ねじったりして偏光を確認す

ることができる。1 dB以上の変動がある場合は基準軸に対する偏光の調整が正確ではないので再調整

する。 

f) 検出値を読みながら，最大になるように検光子を調整する。この値をDMAXi(dBm)として記録する。

初期の消光比ERiはDMAXi−DMINi(dB)で与えられる。この値はシステムの測定範囲を決定する。こ

64 

C 5961：2005  

 

の値は供試ピグテールでの消光比より10 dB大きい値であることが必要である。次に供試ピグテール

を接続した後の消光比を測定する。初期の消光比との比較は，消光比の劣化を示す。 

 

 

 

 

 

 

図7.3.2 測定装置の設定 

g) シングルモード光ファイバを乱さないように注意して供試ピグテールを基準コネクタに接続し，ファ

イバ終端（適宜にカット）か，コネクタ(パッチコードの場合)を図7.3.2に示すように検光子につなぐ。 

h) 検出器の測定値が最小となるように検光子Aを調整する。この値をDMINf(dBm)として記録する。 

i) 検出器の測定値が最大となるように検光子Aを調整する。この値をDMINf(dBm)として記録する。最

終消光比ERfは，DMAXf−DMINfで与えられる。消光比の変化ERi−ERfは，供試ピグテールが基準

コネクタとの組合せにおいて，消光比が劣化したことによる。この試験の結果には，キーの整列状態

が影響するので測定を繰り返す必要がある。 

7.3.5 個別仕様書に規定する事項 

a) 光源（スペクトル幅，コヒーレンス長，安定性及びピーク波長を含む。） 

b) 測定系の偏波特性 

c) 基準プラグのキーに対する整列精度と要求項目 

d) 検出器のスペクトル感度 

e) 検出器の直線性 

f) テンポラリジョイントの詳細 

g) クラッドモード除去に関する要求項目 

h) 測定再現性のための方法 

i) 要求性能（最小ERi，最小ERf） 

 

8. 機械的性能試験 

8.1 耐振性 この試験は，JIS C 60068-2-6に従って規定した。 

参考 この箇条の対応国際規格は，IEC 60068-2-6（試験Fc）に従って規定されたIEC 61300-2-1，

Vibration (sinusoidal) であるが，一部技術的内容を変更している。 

8.1.1 目的 この試験は，光コネクタが輸送中及び使用中に受ける，特定の振動数範囲と振幅をもつ振動

の影響を評価する試験方法について規定する。光コネクタが受けるほとんどの振動は単振動性のものでは

ないが，この種の振動試験は，実際の使用の影響を判定するのに十分である。 

8.1.2 概要 この試験は，JIS C 60068-2-6の規定に従い，供試光コネクタを振動試験機に取り付け，正弦

波振動を加える。振動は，供試光コネクタの光軸方向を含む互いに直交する3軸方向に加える。振動の振

幅は，一定の変位振幅又は一定の加速度振幅で規定する。 

8.1.3 装置 JIS C 60068-2-6の規定に従う，次の装置を用いる。 

a) 振動試験機 正弦波振動を発生する振動試験機。 

b) 取付け具 供試光コネクタを通常の取付け状態でしっかりと固定する取付け具。供試光コネクタの両

65 

C 5961：2005  

 

端から少なくとも20 cmの光ファイバ（コード）は固定せず，張力が加わらないように振動試験機に

固定する。 

8.1.4 手順 試験は，JIS C 60068-2-6に規定の手順に従う。振動は，供試光コネクタの光軸を含む互いに

直交する3方向に加える。試験は，振動の掃引によって行う。ただし，円筒形のものは，供試光コネクタ

の光軸を含む互いに直交する2方向に規定の時間の振動を加える。 

参考 IEC 61300-2-1には2方向に振動を加える規定はないが，供試品が円筒形光コネクタの場合を考

慮して規定した。 

8.1.5 厳しさ 試験の厳しさは振動数の範囲，振動の振幅及び一軸方向当たりの試験時間（表8.1.3）の組

合せで定め，個別仕様書に規定する。表8.1.1から表8.1.2は厳しさの推奨値である。 

表8.1.1 振動数範囲 

単位 Hz 

 

10〜 

55 

 

10〜 150 

 

10〜 500 

 

10〜 2 000 

 

10〜 5 000 

表8.1.2 振動の振幅 

振動数 Hz 

振動の振幅 

≦60 

変位振幅一定 0.75 mm 

＞60 

加速度振幅一定 98 m/sec2 

 

表8.1.3 一軸方向当たりの試験時間 

単位 min 

10  30 

8.1.6 個別仕様書に規定する事項 次の事項を必要に応じて個別仕様書に規定する。 

a) 振動数の範囲 

b) 振幅（片振幅） 

c) 掃引のサイクル数 

d) 一軸方向当たりの試験時間 

e) 固定の方法 

f) 試験中の通光の有無 

g) 前処理の条件 

h) 後処理の条件 

i) 初期測定の項目 

j) 試験中の測定項目 

k) 最終測定の項目 

l) 合否判定基準 

m) この試験方法との差異 

8.2 

耐衝撃性 この試験は，JIS C 60068-2-27に従って規定した。 

参考 この規格は，IEC 60068-2-27（試験Ea）に従って規定されたIEC 61300-2-9，Shockを翻訳した

規格であるが，一部我が国の実状に即した規定内容とした。 

66 

C 5961：2005  

 

8.2.1 目的 この試験は，光コネクタが繰り返しのない衝撃を受けた場合の機械的弱点及び／又は機能低

下を評価する試験方法について規定する。輸送中及び使用中に受ける比較的頻度が少なく，周期性のない

衝撃に対する耐力を試験する。 

8.2.2 概要 この試験は，JIS C 60068-2-27に従って規定したもので，供試光コネクタを衝撃試験機に固

定し，正弦半波のパルス波形をもつ衝撃を加える。 

8.2.3 装置 次の装置を用いる。 

a) 衝撃試験機 JIS C 60068-2-27に規定の衝撃試験機 

b) 取付け具 JIS C 60068-2-27に規定の取付け具 

8.2.4 

手順 試験は，JIS C 60068-2-27に規定の手順に従う。衝撃パルス波形は，正弦半波を適用する。

個別仕様書に規定がない限り，衝撃は光軸を含む互いに直交する3軸に沿って両方向に規定の回数を加え

る。ただし，円筒形のものは，供試光コネクタの光軸を含む互いに直交する2軸に沿って両方向に規定の

衝撃を加える。 

参考 IEC 61300-2-9には振動を加える方向の規定はないが，供試品を光コネクタに限定した場合の条

件を規定した。 

8.2.5 厳しさ 試験の厳しさはピーク加速度と加える衝撃の回数の組合せで定め，個別仕様書に規定する。

表8.2.1及び表8.2.2は厳しさの推奨値である。 

表8.2.1 ピーク加速度 

単位 m/s2 (G)  

294 ( 30 G)（パルス作用時間18 ms） 
490 ( 50 G)（パルス作用時間11 ms） 
981 (100 G)（パルス作用時間 6 ms） 

4 900 (500 G)（パルス作用時間 1 ms） 

表8.2.2 衝撃の回数 

単位 回 

1 
5 
8 

10 

8.2.6 個別仕様書に規定する事項 次の事項を必要に応じて個別仕様書に規定する。 

a) ピーク加速度及び作用時間 

b) 衝撃の回数 

c) 供試光コネクタに加える衝撃の方向 

d) 試験中の通光の有無 

e) 前処理の条件 

f) 

後処理の条件 

g) 初期測定の項目 

h) 試験中の測定項目 

i) 

最終測定の項目 

j) 

合否判定基準 

k) この試験方法との差異 

67 

C 5961：2005  

 

8.3 

繰返し動作 

8.3.1 目的 この試験は，光コネクタの結合と離脱を繰り返した場合の，締結機構の耐久性を調べる試験

方法について規定する。 

8.3.2 概要 供試光コネクタの締結機構の結合と離脱を繰り返す。供試光コネクタが複数の締結機構をも

つ場合には，すべての機構を正しく機能させて繰り返すこと。この試験による代表的な故障例を，次に示

す。 

a) 部品の破壊又は極度の摩耗 

b) 正常な着脱の不可 

c) 封止部の損傷又は摩耗 

d) 締結機構の割れ，欠け又はきず 

e) 光学性能の劣化 

8.3.3 装置 次の装置を用いる。 

a) 取付け具 供試光コネクタの片方を試験中に正しく保持するバイス等の取付け具。 

b) 繰返し手段 供試光コネクタの結合と離脱に必要な力（トルク）を発生する手段。この手段は通常手

による繰り返しとするが，試験機を用いてもよい。 

c) 測定装置 必要がある場合，挿入損失と反射減衰量とを監視する測定装置。 

8.3.4 手順 

a) 個別仕様書に従い，初期測定を行う。 

b) 個別仕様書の規定がない限り，厳しさの推奨値の一つを用いて規定の回数の繰返し試験を行う。1回

の着脱は，供試光コネクタの締結機構が完全に結合され，かつ離脱されて完結する。結合と離脱の動

作は少なくとも3秒の間隔をおいて行う。 

備考 個別仕様書に規定がない限り，アダプタは結合部両方について着脱を行い，これを規定の回数

繰り返す。 

参考 IEC 61300-2-2に規定はないが，供試品が2個の結合部をもつアダプタの場合を考慮して，その

条件を規定した。 

複数の締結機構をもつ場合には，すべての機構の締結を正しく行う。締結動作は製造業者の

指示に従う。清掃手順とその頻度は，個別仕様書に規定すること。 

c) 特に規定がない限り，5.の規定に従い供試光コネクタを検査する。個別仕様書に規定がある場合は，

その検査又は測定を行う。 

8.3.5 厳しさ 厳しさは繰返し動作の回数で規定し，個別仕様書に規定する。表8.3.1は厳しさの推奨値で

ある。 

表8.3.1 繰返し動作回数 

単位 回 

50 100 250 500 1 000 2 000 5 000 

8.3.6 個別仕様書に規定する事項 次の事項を必要に応じて個別仕様書に規定する。 

a) 繰返し動作回数 

b) 着脱の時間間隔 

c) 繰返し動作を行う締結機構（複数の締結機構がある場合） 

d) 清掃の頻度と方法 

68 

C 5961：2005  

 

e) 初期測定の項目 

f) 試験中の測定項目 

g) 最終測定の項目 

h) 合否判定基準 

i) この試験方法との差異 

8.4 

フェルール引抜き力 

8.4.1 目的 この試験は，突き合わされた2個のフェルールをもつ光コネクタの，フェルールとスリーブ

間の引抜きに対する摩擦力を評価する測定方法について規定する。 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

図8.4.1 試験ユニット 

8.4.2 概要 引抜き力は，光コネクタの突き合わされたフェルール間の接触力の強さを決定する。 

接触力＝スプリング力−引抜き力 

接触力の設計値を保証するために，引抜き力は設計値Fb以下でなければならない。引抜き力の測定は大

きくばらつく傾向にある。したがって，このばらつきを試験結果に見込む。供試スリーブは，スリーブの

中央で互いに接するように挿入された2個のピンゲージを用いて試験する。図8.4.1に示すように，スリー

ブを支持板で支えた状態で，力をピンゲージの一方に加える。さらに，スリーブ両端のピンゲージに力を

加えるために，試験中にスリーブを逆方向にする。引抜き力が規定の範囲内の値であるかを確認する。 

参考 IEC 61300-3-33では，引抜き力の許容値Fbは最大値だけ規定する表現となっているが，我が国

の実状に即して最小値も規定できる表現とした。 

8.4.3 装置 次の装置を用いる。 

a) 負荷発生器 連続的に徐々に力を発生する機構（以下，引張試験機）又はおもりのいずれかを用いて，

試験ユニットに力を加える。引張試験機を用いる試験では，加える力の最大値は，最大力を記録でき

る力ゲージで記録する。引張試験機を用いる試験では，力のピーク値が瞬時的に現れる。このピーク

値を記録する際の誤差を，ピーク誤差と定義する。おもりを用いる試験では，質量Fbのおもりを試験

ユニットに加える際に，落下による加速度によって試験ユニットに及ぼす力のピーク値は平衡値Fb

を超える場合がある。この超えた力をピーク誤差として定義する。引張試験器試験，及びおもり試験

におけるピーク誤差Epは，引張速度の増加と試験部の固さ（滑りの悪さ）の増加と共に増加する。ピ

ーク誤差の指針を附属書2に示す。全測定誤差Etには，ピーク誤差と校正誤差を含む。 

b) ピンゲージ 試験の基本ユニットは，中央で2個のピンゲージが互いが接触するように挿入されたス

リーブである。スリーブはスリーブ単体，又はアダプタに組み込まれたスリーブでもよい。ピンゲー

ジの仕様を次に示す。 

69 

C 5961：2005  

 

1) ピンゲージの直径及びその精度は個別仕様書に規定する。 

参考 IEC 61300-3-33ではピンゲージの直径の精度は±0.1 

洀

下と規定されているが，我が国の実

状に即し直径の精度については個別仕様書に規定することとした。 

2) ピンゲージは，試験するスリーブの少なくとも1/2の長さを超えるもの。 

3) ピンゲージのエッジ（先端の角）は，角度30度，長さ0.25 mmの面取りをもつ。面取りは，スリー

ブに挿入する側の先端に設ける。 

4) 次の基準値は，個別仕様書に規定していない場合に用いる。 

材質    ジルコニア 

表面仕上げ 0.16 

洀

帀 

洀洀

円筒度   0.5 

洀洀

ピンゲージは，上記要求条件を満たす光コネクタフェルールでもよい。光コネクタプラグに組み

込まれたフェルールを試験に用いる場合，試験方法に適宜変更を加えてもよい。 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

            a) 固定された支持板        b) 遊動ハウジング 

図8.4.2 負荷の印加 

c) 試験ユニット スリーブは，図8.4.2 a)に示す固定された支持板を用いて支える，又は図8.4.2 b)に示す

ように，光コネクタのアダプタなどのハウジングを用いてもよい。この場合，必要な条件は，ピンゲ

ージの引抜きに対抗する力がスリーブの摩擦力だけになるように，内部のすき間を設定することであ

る。スリーブの中心線に対して，距離

旿

角度

愰湻

囲内に力を加える。ピンゲージに加える力を伝

える連結部は，曲げ力を伝えてはならない。連結部には，自在に回動できる結合部，又はフレキシブ

ルな紐のいずれかの使用を推奨する。図8.4.2 b)に示す試験ユニットの利点は，フレキシブル結合を用

いる場合，角度

愰

動的に制御されることである。 

d) 精度 試験装置は，次の許容公差を満足するように構成する。 

最大誤差 

Et＜0.05Fb 

負荷の軸ずれ［図8.4.2参照］ 

旿 2 mm 

負荷の角度ずれ［図8.4.2参照］ 

懿 4度 

ピンゲージの挿入長 

0.5 L±0.05 L（L＝スリーブ長） 

8.4.4 供試品 

a) 供試品 供試品はスリーブ単体，又はスリーブを含むアダプタのいずれを用いてもよい。供試品は，

個別仕様書に規定する。 

70 

C 5961：2005  

 

8.4.5 手順 

a) スリーブとピンゲージを清掃する。清掃用具を用いてピンゲージを清掃してもよい。刷毛の付いたパ

イプクリーナでスリーブの内側を清掃してもよい。清掃用具はエチルアルコールなどで湿らせ，こす

り取るように清掃する。その後，油成分を含まない清浄な圧縮ガスを吹き付けて乾燥させる。結合面

をオイル又はグリースで汚さないように注意する。手の指は油膜を作るので，結合面に触れる必要が

ある場合は手袋を用いること。スリーブとピンゲージとを40 ℃で30分間乾燥させ，その後少なくと

も30分間は，平衡状態になるまで実験室環境に放置する。 

b) 試験中は，試験室環境を次の条件に保持する。 

      温度 25±5 ℃ 

      湿度 30〜50 % 

引抜き力の測定は，次の手順で行う。 

1) 試験するピンゲージとスリーブを組み立て，負荷を加える。 

2) Fbの力が，負荷のどの方向に加えられているかを記録する。 

3) 負荷を増加している間，加えられた力を適時記録する。各スリーブについて，上記手順1)，2)及び

3)を繰り返し，計6回の引抜き力測定を行う。支持板に支えられたスリーブの片端を3回試験し，

同様に他端を3回試験する。ピンゲージ及びスリーブの表面は，各スリーブにピンを挿入する前に，

毎回，油成分を含まない清浄な圧縮ガスを吹きかけ清掃する。測定中にピンゲージを，乾燥した清

掃用具，エチルアルコールなどで湿らせた清掃用具を用いて清掃してもよい。エチルアルコールを

用いる場合は，ピンゲージを油成分を含まない清浄な圧縮ガスで乾燥させる。高温にさらす必要は

ない。 

c) 引抜き力が規定の範囲の値であるかを確認する。 

8.4.6 個別仕様書に規定する事項 次の事項を必要に応じて個別仕様書に規定する。 

a) 供試品の仕様 

b) 測定装置の仕様及び精度 

c) ピンゲージの直径及びその精度 

d) 最大負荷（引張試験機を用いる場合） 

e) 引抜き力の許容値 

f) この試験方法との差異 

8.5 

フェルール押圧力 

8.5.1 目的 この試験は，通常の使用状態でプラグが互いにかん合しているときに，フェルールに加わる

スプリングの力を測定する試験方法について規定する。 

8.5.2 概要 供試光コネクタをしっかりと取り付け，フェルール先端が規定の位置に移動した状態でフェ

ルール押圧力を測定する。この試験方法は，フェルールがスプリングで押されているタイプの光コネクタ

プラグに適用する。 

8.5.3 装置 次の装置を用いる（図8.5.1参照）。 

a) 固定ジグ 固定ジグは，フェルール先端位置以外のいずれにも機械的特性を変えることなく，供試光

コネクタを固定できることとする。 

b) 支持台 支持台は，フェルール先端に5 mm/minの速度で，徐々に押圧力を加えられるように上下に

移動できることとする。 

c) 位置センサ 押圧力が加わっているときにフェルール先端位置が測定できる装置であることとする。 

71 

C 5961：2005  

 

d) ロードセル フェルール先端からの押圧力を測定できる装置であることとする。 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

図8.5.1 試験装置の例 

8.5.4 手順 

a) 供試光コネクタを確実に固定ジグに固定する。 

b) フェルール先端が規定位置に移動するまで，フェルールの軸方向に徐々に押圧力を加える。 

c) フェルール先端が規定位置に移動したときのスプリング力を測定する。フェルール押圧力のデータの

例を図8.5.2に示す。 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

図8.5.2 試験データの例 

8.5.5 個別仕様書に規定する事項 次の事項を必要に応じて個別仕様書に規定する。 

a) フェルール押圧力を規定するフェルール先端位置 

b) フェルール押圧力の許容値 

c) この試験方法との差異 

8.6 

結合部接続強度（軸方向） 

8.6.1 目的 この試験は，通常の使用状態で加わる軸方向の力に対して，光コネクタ間の締結機構の強度

を調べる試験方法について規定する。 

8.6.2 概要 光コネクタ間の締結部に，その締結を引き離す方向に引張力を徐々に加える。引張力は，通

72 

C 5961：2005  

 

常，プラグとアダプタ間又はプラグとレセプタクル間に加える。 

8.6.3 装置 試験装置は，光コネクタプラグとアダプタ又はレセプタクルとの間に，軸方向の力を加える

ことができるものとする。代表的な試験装置を，図8.6.1に示す。 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

図8.6.1 結合部接続強度（軸方向）の試験装置 

a) 引張試験機 規定の速さで規定の強さの力を徐々に加えることができる引張試験機。 

b) 保持具 光コネクタプラグ又はその締結機構を保持して引張力を加える保持具。保持具の設計及び使

用に際しては，光コネクタプラグ又はその締結機構の性能に影響を与えるような圧縮力が加わらないよう

注意すること。 

c) 取付け具 通常の取付け方法で供試光コネクタを固定する取付け具。 

d) トルクレンチ 必要に応じてトルクレンチは，ねじ締結形光コネクタを締結するときに使用する。 

8.6.4 手順 

a) 供試光コネクタを締結する。ねじ締結形光コネクタの場合は，必要に応じてトルクレンチを用いて規

定値まで確実に締め付ける。 

b) 個別仕様書に規定がない限り，4.に規定された標準状態に4時間放置する。 

c) 供試光コネクタの片方（通常，アダプタ，レセプタクルなど）を引張り試験機に固定された取付け具

に確実に取り付ける。供試光コネクタの他方（通常，プラグ，締結機構など）は保持具を介して引張

り試験機の可動部に取り付ける。 

d) 規定の速さで，規定の強さまで徐々に引張力を加える。規定の引張力を加えた状態で15秒間以上又は

個別仕様書で規定された時間保持する。 

e) 引張力を解除して供試光コネクタを引張試験機から取り外す。特に規定がない限り供試光コネクタ及

びその構成部品を，5.の規定に従って検査する。割れ，曲がり，変形を調べ，機能を損なう可能性の

あるその他の損傷及び個別仕様書に規定された合否判定基準について調べる。 

73 

C 5961：2005  

 

8.6.5 厳しさ 厳しさは加える引張力の大きさ，影響は小さいが引張速さ及び保持時間で定め，個別仕様

書に規定する。個別仕様書に規定がない限り，引張速さは50 mm/min以下とする。 

参考 IEC 61300-2-6では引張速さの推奨値の規定はないが，我が国の実状に即して規定した。 

8.6.6 個別仕様書に規定する事項 次の事項を必要に応じて個別仕様書に規定する。 

a) 引張力の大きさ 

b) 引張速さ 

c) 引張力の保持時間（15秒以外の場合） 

d) 試験する締結トルク 

e) 適用光ファイバコード（種類，長さ等） 

f) 

試験中の通光の有無 

g) 前処理の条件 

h) 初期測定の項目 

i) 

試験中の測定項目 

j) 

最終測定の項目 

k) 合否判定基準 

l) 

この試験方法との差異 

8.7 

光コネクタ取付け部強度（軸方向） 

8.7.1 目的 この試験は，パネルに取り付けられたアダプタなどの光コネクタに適用する。この試験は，

通常の使用状態で加えられる引張力に対する光コネクタの取付け部強度を調べる試験方法について規定す

る。引張力は光コネクタ本体，部品きょう（筐）体又は規定した位置に加える。 

8.7.2 概要 供試光コネクタを通常の使用状態で金属パネルに固定し，軸方向の引張力を徐々に加える。 

8.7.3 装置 次の装置を用いる。 

a) 引張試験機 規定の速さで引張り規定の大きさまで連続的に力を発生する引張試験機。 

b) 取付け具 供試光コネクタを固定する金属パネル。 

8.7.4 手順 

a) 取付け具に供試光コネクタを固定する。 

b) 個別仕様書に規定する位置，方向に規定の速さで徐々に引張力を加える。 

c) 個別仕様書に規定がない限り，規定の引張力を加えた状態で10秒間以上保持する。 

74 

C 5961：2005  

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

図8.7.1 光コネクタ取付け部強度（軸方向）試験装置 

8.7.5 厳しさ 厳しさは加える引張力の大きさ，影響は小さいが引張速さ及び保持時間で定め，個別仕様

書に規定する。 

8.7.6 個別仕様書に規定する事項 次の事項を必要に応じて個別仕様書に規定する。 

a) 引張力の大きさと引張速さ 

b) 引張力の保持時間（10秒間以外の場合） 

c) 引張力を加える位置及び方向 

d) 試験中の通光の有無 

e) 前処理の条件 

f) 後処理の条件 

g) 初期測定の項目 

h) 試験中の測定項目 

i) 最終測定の項目 

j) 合否判定基準 

k) この試験方法との差異 

8.8 

光コネクタ取付け部強度（トルク） 

8.8.1 目的 この試験は，パネルに取り付けられたアダプタなどの光コネクタに適用する。この試験は，

通常の使用状態で加えられるトルクに対する光コネクタの取付け部強度を調べる試験方法について規定す

る。 

8.8.2 概要 供試光コネクタを通常の使用状態で金属パネルに固定し，トルクを徐々に加える。 

8.8.3 装置 この試験に用いる装置は，8.8.4の試験を行うのに十分な条件を備えたトルクを連続的に加え

ることのできるトルクレンチ及び取付け具とする。 

8.8.4 手順 

a) 取付け具に供試光コネクタを固定する（図8.8.1）。 

b) 個別仕様書に規定する位置に時計回りの方向に徐々にトルクを加える。 

c) 個別仕様書に規定がない限り，規定のトルクを加えた状態で15秒間保持する。 

 

75 

C 5961：2005  

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

図8.8.1 光コネクタ取付け部強度（トルク）試験 

8.8.5 厳しさ 厳しさは，加えるトルクの大きさ及びトルクを印加する時間で定め，個別仕様書に規定す

る。 

8.8.6 個別仕様書に規定する事項 次の事項を必要に応じて個別仕様書に規定する。 

a) トルクの大きさ 

b) トルクを印加する位置，方向 

c) トルクを印加する時間（15秒間以外の場合） 

d) 最終測定の項目 

e) 合否判定基準 

f) この試験方法との差異 

8.9 

光コネクタ取付け部強度（横方向） 

参考 この箇条の対応国際規格は，IEC 61300-2-3，Static shear loadである。 

8.9.1 目的 この試験は，パネルに取り付けられたアダプタなどの光コネクタに適用する。この試験は，

通常の使用状態で加えられる横方向の力に対する光コネクタの取付け部強度を調べる試験方法について規

定する。横方向の力は光コネクタ本体又は規定した位置に加える。 

8.9.2 概要 供試光コネクタを通常の使用状態で金属パネルに固定し，横方向の引張力を徐々に加える。 

8.9.3 装置 次の装置を用いる。 

a) 引張試験機 規定の速さで引張り規定の大きさまで連続的に力を発生する引張試験機。 

b) 取付け具 供試光コネクタを固定する金属パネル。 

8.9.4 手順 

a) 取付け具に供試光コネクタを固定する。 

b) 個別仕様書に規定する位置，方向に規定の速さで徐々に引張力を加える。 

c) 個別仕様書に規定がない限り，規定の引張力を加えた状態で10秒間以上保持する。 

76 

C 5961：2005  

 

参考 図8.9.1に代表的な試験装置を示す。IEC 61300-2-3に記述はない。 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

図8.9.1 光コネクタ取付け部強度（横方向）試験 

8.9.5 厳しさ 厳しさは加える引張力の大きさ，影響は小さいが引張速さ及び保持時間で定め，個別仕様

書に規定する。 

参考 IEC 61300-2-3に規定はないが，8.の規定を参照して，引張速さ及び保持時間を厳しさに規定し

た。 

8.9.6 個別仕様書に規定する事項 次の事項を必要に応じて個別仕様書に規定する。 

a) 引張力の大きさと引張速さ 

b) 引張力の保持時間（10秒間以外の場合） 

c) 引張力を加える位置及び方向 

d) 試験中の通光の有無 

e) 前処理の条件 

f) 後処理の条件 

g) 初期測定の項目 

h) 試験中の測定項目 

i) 最終測定の項目 

j) 合否判定基準 

k) この試験方法との差異 

8.10 落下強度（光ファイバコード付き） 

参考 この箇条の対応国際規格は，IEC61300-2-12，Impact方法Aである。 

8.10.1 目的 この試験は，輸送中及び使用状態下で光コネクタに加わる衝撃（衝突）に対する強度を調べ

る試験方法について規定する。ここで衝撃とは，光コネクタの落下衝撃である。 

8.10.2 概要 衝撃に対する供試光コネクタの強度を評価する試験である。光ファイバコードを取り付けた

光コネクタを，垂れ下がった状態で自由に揺動するように取り付け，衝撃面に衝突させる。 

77 

C 5961：2005  

 

参考 IEC 61300-2-12では，方法A（落下）と方法B（ハンマ衝撃）の2方法を規定している。ここ

では，方法Aを規定した。方法Bは8.18を適用する。 

8.10.3 装置 次の装置を用いる。 

a) 取付け具 取付け具は任意の堅い垂直な構造物に取り付ける。光ファイバコードが水平方向から垂直

方向に自由に動くように，光ファイバコードの端を取付け具に固定する自在軸受けを設けること。図

8.10.1に代表的な試験装置を示す。 

b) 衝撃板 衝撃面は，少なくとも300 mm×500 mm，厚さ25 mmの鋼板を用いる。 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

図8.10.1 試験装置 

8.10.4 手順 

a) 衝撃面から高さ (h) の位置に光ファイバコードの取付け具を取り付ける。落下高さ (h) は個別仕様書

に規定する。 

b) 供試光コネクタが水平方向から垂直方向に自由に揺動できるように，供試光コネクタの後部から2 m

の距離で光ファイバコードを取付け具に固定する。 

c) 図に示すように供試光コネクタを水平位置まで持ち上げ，衝撃面に落下させる。落下させる供試光コ

ネクタの向きが重要である場合は，個別仕様書に規定する。 

d) 規定の回数の落下を繰り返す。 

8.10.5 厳しさ 厳しさは落下回数と落下の高さで定め，個別仕様書に規定すること。表8.10.1及び表8.10.2

は厳しさの推奨値である。 

表8.10.1 落下回数 

単位 回 

1 5 10 25 50 

 

表8.10.2 落下の高さ 

単位 mm 

500 750 1 000 1 500 1 750 2 000 

8.10.6 個別仕様書に規定する事項 次の事項を必要に応じて個別仕様書に規定する。 

a) 落下回数 

b) 落下の高さ 

c) 供試光コネクタの向き 

78 

C 5961：2005  

 

d) 試験中の通光の有無 

e) 前処理の条件 

f) 後処理の条件 

g) 初期測定の項目 

h) 試験中の測定項目 

i) 最終測定の項目 

j) 合否判定基準 

k) この試験方法との差異 

8.11 光ファイバコードクランプ強度（軸方向への引張り） 

8.11.1 目的 この試験は，光ファイバコード付き光コネクタに適用し，通常の使用状態下で光ファイバコ

ード（又は光ファイバ）に加わる引張力に対して，コードクランプ部の強度を調べる測定方法について規

定する。 

8.11.2 概要 供試光コネクタを取付け具に固定し，光ファイバコード（又は光ファイバ）に引張力を加え

る。光ファイバコードに直接引張力を加える方法1と，光ファイバコードの両端に供試光コネクタを取り

付け，一方の光コネクタに引張力を加える方法2がある。 

参考 方法2はIEC 61300-2-4に規定されていないが，我が国の実状に即して追加規定した。 

8.11.3 装置 次の装置を用いる。 

a) 取付け具 1個の供試光コネクタと光ファイバコード（又は光ファイバ）を，又は光ファイバコード

両端の2個の供試光コネクタを，試験中に固定又は保持する取付け具。供試光コネクタの取付け具は

通常，アダプタ又はレセプタクルを用いること。 

1) 方法1 供試光コネクタを通常使用する方法で取付け具に固定する。引張力を加える光ファイバコ

ードは，コード直径の25倍以上の直径をもつ棒に，滑りが生じない程度に巻き付ける。供試光コネ

クタの端から棒に巻き付ける光ファイバコードの端までの長さは，光ファイバコード（又は光ファ

イバ）の直径の50倍以上とする。 

2) 方法2 2個の供試光コネクタを通常使用する方法で取付け具に固定する。 

b) 引張試験機 規定の速さで規定の力を徐々に加えることができる引張試験機。個別仕様書に規定がな

い限り，引張試験機の代わりに，おもりを加えて引張力を与える装置でもよい。 

c) ゲージ 供試光コネクタ及び光ファイバコード（光ファイバ），又は光ファイバコード両端の供試光コ

ネクタ間に加えた引張力を測定でき，力を加える速度若しくは加えた力の総時間，又はその両方を記

録できるゲージ装置（引張試験機に測定機能がない場合）。 

d) その他の装置 5.及び7.1に規定の測定に必要な光学及びその他の試験装置。試験手順の規定に従い必

要に応じて用いる。 

8.11.4 手順 

a) 5.の規定に従い，供試光コネクタに損傷がないことを目視で確認する。 

b) 供試光コネクタ及び光ファイバコード，又は光ファイバコード両端の供試光コネクタを，取付け具に

しっかりと固定して引張試験機に取り付ける。 

c) 個別仕様書に規定の初期測定，その他の測定を行う。特に個別仕様書に規定がない場合は，7.1に従っ

て挿入損失を測定する。 

d) 1) 方法1 供試光コネクタと光ファイバコード（光ファイバ）間に徐々に軸方向の引張力を加える。

急激な又は無理な力が加わらないように注意する。特に個別仕様書に規定がない限り，引張試験

79 

C 5961：2005  

 

機の引張速さは約25 mm/minが望ましい。個別仕様書に規定の引張力の大きさに達するまで力を

加える。 

2) 方法2 光ファイバコード両端の供試光コネクタ間に徐々に軸方向の引張力を加える。特に個別仕

様書に規定がない限り，引張試験機の引張速度は50 mm/min以下とする。個別仕様書に規定の引張

力の大きさに達するまで力を加える。規定がない限り，引張力の強さは50 Nとする（図8.11.1参照）。 

e) 規定の引張力を加えた状態で，個別仕様書に規定の時間保持する。引張力を加えた状態で，個別仕様

書に規定の外観検査及び特性測定を行う。特に個別仕様書に規定がない限り，保持は1分間とする。 

参考 IEC 61300-2-4では保持時間の規定はないが，実状に即した推奨値を規定した。 

f) 引張力を除去し，個別仕様書に規定の最終光学測定を行う。個別仕様書に規定がない場合は，7.1の規

定に従って挿入損失を測定する。 

g) 供試光コネクタ及び光ファイバコードを取付け具から取り外し，5.の規定に従って各供試品の外観検

査を行う。 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

図8.11.1 光ファイバコードクランプ強度（軸方向への引張り）試験装置（方法2） 

8.11.5 厳しさ 厳しさは加える引張力の大きさ及び加える時間で規定し，個別仕様書に規定する。 

8.11.6 個別仕様書に規定する事項 次の事項を必要に応じて個別仕様書に規定する。 

a) 試験方法 

b) 引張力の大きさ 

c) 引張速さ 

d) 引張力を加える位置 

e) 引張力の持続時間 

f) 

適用光ファイバコード（種類，長さなど） 

g) 前処理の条件 

h) 固定の方法 

i) 

試験中の通光の有無 

j) 

初期測定の項目 

k) 試験中の測定項目 

l) 

最終測定の項目 

m) 合否判定基準 

n) この試験方法との差異 

80 

C 5961：2005  

 

8.12 光ファイバコードクランプ強度（屈曲） 

8.12.1 目的 この試験は，光ファイバコード付き光コネクタに適用し，通常の使用状態下で加わる光ファ

イバコードの屈曲に対して，光コネクタに取り付けた光ファイバコードクランプ部の強度を調べる試験方

法について規定する。 

8.12.2 概要 光コネクタに取り付けた光ファイバコードに引張力を加えた状態で，光コネクタの引張方向

に対して光コネクタに左右各90°ずつ往復の屈曲を加える。 

8.12.3 装置 次の装置を用いる。 

a) 取付け具 光ファイバコード両端の2個の供試光コネクタを，試験中に固定又は保持する取付け具。

供試光コネクタの取付け具は通常，アダプタ又はレセプタクルを用い，供試光コネクタにひずみを与

えない。 

b) 屈曲試験機又はジグ 光コネクタに取り付けた光ファイバコードに引張力を加えた状態で，光コネク

タの引張方向に対して光コネクタに左右各90°ずつ往復の屈曲を加えられる装置又はジグ。 

8.12.4 手順 

a) 5.の規定に従い，供試光コネクタに損傷がないことを目視で確認する。 

b) 供試光コネクタ及び光ファイバコード，又は光ファイバコード両端の供試光コネクタを，取付け具に

しっかりと固定して引張試験機に取り付ける。 

c) 光ファイバコード両端の供試光コネクタを，取付け具に固定して試験機又はジグに取り付ける。 

d) 個別仕様書に規定の初期測定，その他の測定を行う。個別仕様書に規定のない場合は，7.1に従って挿

入損失を測定する。 

e) 試験機又はジグに取り付けた供試光コネクタの他方の光コネクタに個別仕様書に規定の引張力を加

え，特に個別仕様書に規定のない限り，試験機又はジグに取り付けた供試光コネクタ付け根部の光フ

ァイバコードを左右に90°ずつ往復の屈曲を1回として，少なくとも6秒の間隔をおいて個別仕様書

で規定する回数の屈曲を行う。 

f) 個別仕様書で規定する回数の屈曲を繰り返した後，光ファイバコード及びクランプの異常の有無を確

認する。 

g) 試験機又はジグから供試光コネクタ及び光ファイバコードを取り外し，個別仕様書に規定の最終光学

測定を行う。 

h) 5.の規定に従って各供試光コネクタの外観検査を行う。 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

図8.12.1 光ファイバコードクランプ強度（屈曲）試験装置 

81 

C 5961：2005  

 

8.12.5 厳しさ 厳しさは加える引張力の大きさ及び左右各90°ずつ往復の屈曲を1回とした屈曲回数で

規定し，個別仕様書に規定する。 

8.12.6 個別仕様書に規定する事項 次の事項を必要に応じて個別仕様書に規定する。 

a) 引張力の大きさ 

b) 屈曲回数 

c) 適用光ファイバコード（種類，長さなど） 

d) 初期測定の項目 

e) 最終測定の項目 

f) 合否判定基準 

g) この試験方法との差異 

8.13 結合力及び離脱力 

8.13.1 目的 この試験は，光コネクタの結合若しくは離脱に必要な力，又はトルクを測定する試験方法に

ついて規定する。 

8.13.2 概要 結合力，離脱力又はトルクが印加できるように光コネクタを固定する。結合力，離脱力又は

トルクの大きさは，結合離脱の繰返し動作の中で測定する。この試験はバヨネット又はプッシュオン締結

機構に適用する。 

8.13.3 装置 次の装置を用いる。 

a) 取付け具 取付け具は，結合力又はトルクの測定に影響を及ぼさないように締結した光コネクタを固

定できるものとする。結合と離脱を繰り返す間は，光コネクタを整列固定できる。 

b) 引張試験機又はトルク試験機 軸方向の結合力，離脱力又はトルクを円滑に加えることができる装置。 

c) 結合離脱力測定機又はトルク測定器 測定器は結合と離脱の繰返しサイクル中に，その力又はトルク

を連続的に測定できる（引張試験機又はトルク試験機に測定機能がない場合）。 

8.13.4 手順 

a) 5.外観及び構造の規定に従い，供試光コネクタに損傷がないことを目視で確認する。 

b) 取付け具に供試光コネクタを固定する。特に個別仕様書に規定がある場合，結合及び離脱の動作を補

助するための附属品など，試験に不要な部分は供試光コネクタから取り除き，規定に従って固定する。 

参考 IEC 61300-3-11に規定はないが，試験に不要な部分が供試光コネクタにある場合を考慮して，

その固定方法を規定した。 

c) 供試光コネクタの結合に必要な結合力又はトルクを軸方向に加え，その大きさを測定する。 

d) 供試光コネクタの離脱に必要な離脱力又はトルクを軸方向に加え，その大きさを測定する。特に個別

仕様書に規定がない限り，結合又は離脱動作は3秒以上の間隔をおいて行う。 

e) 特に個別仕様書に規定がない限り，結合力及び離脱力を5回連続測定する。 

参考 結合力及び離脱力の試験回数はIEC 61300-3-11に規定はないが，我が国の実状に即して標準的

な測定回数を規定した。 

8.13.5 個別仕様書に規定する事項 次の事項を必要に応じて個別仕様書に規定する。 

a) 試験に不要な部分 

b) 試験回数 

c) 結合・離脱の速度 

d) 前処理の条件 

e) 後処理の条件 

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C 5961：2005  

 

f) 結合力又はトルクの許容値 

g) 離脱力又はトルクの許容値 

h) この試験方法との差異 

8.14 結合部接続強度（トルク） 

8.14.1 目的 この試験の目的は，光コネクタの締結機構に対して過負荷トルクを加えるもので，ねじ締結

及びバヨネット締結機構に適用する。この試験は，通常の使用状態下で光コネクタ間の締結部に加えられ

るトルクに対して，その強度を調べる試験方法について規定する。 

8.14.2 概要 締結した供試光コネクタの，ねじ締結機構又はバヨネット締結機構に対して過負荷となるよ

うに，トルクを徐々に加える。通常，トルクはプラグとアダプタ間又はプラグとレセプタクル間に加える。 

8.14.3 装置 試験装置は，アダプタ又はレセプタクルを所定の位置に保持した状態で，ねじ締結ナット又

はバヨネット締結ナットに，手動又は自動でトルクを加えることができるものとする。代表的な試験装置

を図8.14.1に示す。 

a) スタンド 供試光コネクタ及びトルク発生機を試験中に適切な位置関係に保持するスタンド。 

b) 取付け具 取付け具は，供試光コネクタを保持して移動できる取付け具であること。プラグの締結ナ

ットと，アダプタ又は他の供試光コネクタとを所定の位置関係に保持するように，取付け具は回転方

向には固定され，他の方向には移動できる。 

c) 保持具 曲げ力が加わらない状態で，締結部分に対して直角にトルクが加わるように供試光コネクタ

の締結ナットを保持する。 

d) 結合軸 結合軸は，保持具を通してトルク発生器と供試光コネクタとを結合する。 

e) 調軸機構 結合軸と供試光コネクタとを適切な位置関係に保持するための調軸機構。高精度な穴又は

低摩擦のスリーブベアリングが望ましい。 

f) トルク発生器及びトルクゲージ 規定トルクの3倍程度の能力をもつトルクレンチなどの装置，及び

トルクゲージを用いること。最大値表示のトルクゲージが望ましい。ゲージの測定精度は，加えるト

ルクの10 %以内とする。 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

図8.14.1 結合部接続強度（トルク）試験装置 

8.14.4 手順 

a) 5.の規定に従い，供試光コネクタに損傷がないことを目視で確認する。 

83 

C 5961：2005  

 

b) 供試光コネクタを締結する。 

c) 供試光コネクタのアダプタ又はレセプタクルを，取付け具の所定の位置に固定する。プラグの締結ナ

ットを保持具に取り付け，トルク発生器を調軸機構及び結合軸を介して保持具に連結する。 

d) トルク発生器を用いて，締結ナットに衝撃を与えない速度で，徐々に規定のトルクを加える。個別仕

様書に規定がない限り，規定のトルクを加えた状態で15秒間以上保持する。 

e) トルクを解除して供試光コネクタを試験装置から取り外す。特に個別仕様書に規定がない限り，供試

光コネクタ及び構成部品を，5.の規定に従って検査する。割れ，曲がり，変形を調べ，機能を損なう

可能性のある他の損傷，及び個別仕様書に規定された合否判定基準について調べる。 

8.14.5 厳しさ 厳しさは加えるトルクの大きさと，影響は小さいがトルクの印加時間で定め，個別仕様書

に規定する。表8.14.1は厳しさの推奨値である。 

表8.14.1 過負荷トルクの大きさ 

単位 N･m 

0.4 0.6 0.8 

8.14.6 個別仕様書に規定する事項 次の事項を必要に応じて個別仕様書に規定する。 

a) 負荷トルクの大きさ 

b) 負荷トルクの印加時間（15秒間以外の場合） 

c) 前処理の条件 

d) 初期測定の項目 

e) 試験中の測定項目 

f) 最終測定の項目 

g) 合否判定基準 

h) この試験方法との差異 

8.15 結合部接続強度（横方向） 

8.15.1 目的 この試験は，通常の使用状態下で加わる曲げ力に対して，光コネクタ間の締結機構の強度を

調べる試験方法について規定する。 

8.15.2 概要 締結した一対の供試光コネクタに対して，その中心軸を曲げる方向に曲げ力を徐々に加える。 

8.15.3 装置 次の装置を用いる。 

a) 取付け具 供試光コネクタを保持する取付け具 

b) 荷重発生機 規定の速度で規定の曲げ力を加えることができる試験機 

8.15.4 手順 

a) 供試光コネクタを締結する。 

b) 片方の供試光コネクタを取付け具に固定する。 

c) 他方の供試光コネクタの個別仕様書に規定された位置に，規定の曲げ力を徐々に加える。規定の曲げ

力を加えた状態で10秒間以上保持する。 

d) 曲げ力を解除して，締結機構の異常の有無を目視によって調べる。試験後，個別仕様書に規定する項

目について最終試験を行う。 

参考 d)の手順はIEC 61300-2-7に規定されていないが，他の機械的性能試験に準じて規定した。 

8.15.5 厳しさ 厳しさは，取付け位置から測った曲げ力を加える位置及び曲げ力の大きさの組合せで定め，

個別仕様書に規定する。 

84 

C 5961：2005  

 

8.15.6 個別仕様書に規定する事項 次の事項を必要に応じて個別仕様書に規定する。 

a) 加える曲げ力の大きさ 

b) 曲げ力を加える位置及び方向（固定点からの距離） 

c) 曲げ力の印加時間（10秒間以外の場合） 

d) 試験中の通光の有無 

e) 前処理の条件 

f) 後処理の条件 

g) 初期測定の項目 

h) 試験中の測定項目 

i) 最終測定の項目 

j) 合否判定基準 

k) この試験方法との差異 

8.16 光ファイバコードクランプ強度（軸方向圧縮） 

8.16.1 目的 この試験は，通常の使用状態下で加わる光ファイバコードの軸方向圧縮に対して，光コネク

タに取り付けた光ファイバコードクランプ部の強度を調べる試験方法について規定する。 

8.16.2 概要 供試光コネクタを確実に保持し，光ファイバコードに軸方向の圧縮力を加える。 

8.16.3 装置 

a) 保持具 光ファイバコードを，少なくともコード径の3倍の長さにわたって保持し，スリップ，コー

ドの損傷，又は光の損失増加なしに軸方向の圧縮力を加えることができる保持具。 

b) 取付け具 機械的特性を変えないで供試光コネクタを保持する固定された取付け具。 

c) 圧縮試験機 規定の速度で規定の力を徐々に加えることができる試験機。 

d) 測定器 供試光コネクタと光ファイバコード間に加えた力を測定する装置（圧縮試験機に測定機能が

ない場合）。 

8.16.4 手順 供試光コネクタは，個別仕様書の規定に従って完全に組み立てられたものとする。 

a) 取付け具に供試光コネクタを固定する（図8.16.1参照）。 

b) 光ファイバコードの規定の位置に保持具を取り付ける。 

参考 規定がない限り，クランプ緩衝材の端から光ファイバコード直径に等しい距離だけ離れた位置

に保持具を取り付けることが望ましい。 

c) 光ファイバコードに軸方向の圧縮力を徐々に加える。圧縮力を加えた状態で2分間以上保持する。 

参考1. 圧縮力を加える速度は，規定がない限り400 

洀洀一

攀

ましい。 

2. 規定がない限り，手順(3)を5回繰り返すことが望ましい。 

d) 終了後，個別仕様書の規定に従い，供試光コネクタの特性測定及び必要な外観検査を行う。光学特性

の劣化，光ファイバの損傷及び供試光コネクタに対する光ファイバコードの大幅な位置ずれに注意す

る。 

 

85 

C 5961：2005  

 

 

 

 

 

 

 

 

図8.16.1 光ファイバコードクランプ強度（軸方向圧縮）試験装置 

8.16.5 厳しさ 試験の厳しさは，軸方向圧縮力の大きさで定め，個別仕様書に規定する。表8.16.1は厳し

さの推奨値である。 

表8.16.1 軸方向圧縮力 

単位 N 

5 10 20 50 100 200 

参考 光ファイバコード直径に応じた圧縮力は，下記の厳しさを用いてもよい。 

コード直径 (mm) 

3未満 

3〜6未満 6〜10未満 10〜20未満 

20以上 

軸方向圧縮力 (N) 

10 

20 

50 

100 

200 

8.16.6 個別仕様書に規定する事項 次の事項を必要に応じて個別仕様書に規定する。 

a) 試験回数 

b) 圧縮力の大きさ 

c) 圧縮力を加える位置 

d) 圧縮力を加える速度 

e) 試験中の通光の有無 

f) 

前処理の条件 

g) 後処理の条件 

h) 供試光コネクタのかん合の有無 

i) 

初期測定の項目 

j) 

試験中の測定項目 

k) 最終測定の項目 

l) 

合否判定基準 

m) この試験方法との差異 

8.17 光ファイバコードクランプ強度（ねじり） 

8.17.1 目的 この試験は，取付け時及び通常の使用状態下で加わる引張力を加えた状態でのねじり力に対

して，光コネクタに取り付けられた光ファイバコードクランプ部の強度を調べる試験方法について規定す

る。 

8.17.2 概要 光コネクタのコードクランプ部に，規定の引張力を加えた状態でねじり力又は繰返しねじり

を加える。 

8.17.3 装置 試験装置は光コネクタのコードクランプ部に，引張力と，ねじり力又は繰返しねじりの両方

を同時に加えることができるものとする。図8.17.1に試験装置を示す。 

a) 取付け具 取付け具は供試光コネクタを確実に固定し，試験中にそれを保持するとともに，供試光コ

ネクタに損失測定のための光源と検出器が接続できることとする。 

86 

C 5961：2005  

 

b) 光ファイバコード保持具 コード保持具は負荷が加えられている間，保持具の中でコードが回転又は

スリップしないようにコードを確実に保持できること。保持具による光ファイバの損傷，又は光損失

の不要な変化を生じてはならない。ねじり力を加える位置にコード保持具を取り付ける。コード保持

具は，コードを数回巻き付けた棒（マンドレル）で構成してもよい。 

c) トルク試験機及びゲージ 試験する光ファイバコードが堅く，回転角度よりも規定のトルクが要求さ

れる場合は，次の装置を準備する。規定トルクの3倍程度の能力をもつトルクレンチなどの装置，及

びトルクゲージを用いること。最大値表示のトルクゲージが望ましい。ゲージの測定精度は，加える

トルクの10 %以内とする。 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

図8.17.1 光ファイバコードクランプ強度（ねじり）試験装置 

87 

C 5961：2005  

 

8.17.4 手順 

a) 7.1の規定に従って供試光コネクタの挿入損失を測定する。 

b) 取付け具に供試光コネクタの本体を固定する（図8.17.1参照）。光ファイバ又は光ファイバコードを損

傷しないようにして，力を加えるための保持具でコードを保持する。供試光コネクタにコードクラン

プ緩衝材（ゴムブーツなど）を用いる場合は，特に個別仕様書に規定がない限り，その端からコード

保持具の先端までの長さをコード直径の10倍とする（図8.17.1参照）。クランプ緩衝材がない場合は，

コード保持具から最も近い距離にある供試光コネクタの端から，コード保持具の先端までの距離とす

る。 

c) 表8.17.1に示す推奨値，又は個別仕様書に規定の引張力をコード保持具に徐々に加える。光ファイバ

コードに急激な又は無理な引張りが加わらないように注意する。 

備考 補強材のない細い光ファイバコードは，加えるおもりの質量を1.5 kg以下とする。 

表8.17.1 光ファイバコード直径と加えるおもりの質量 

コード直径 (mm) 

おもりの質量の推奨値 (kg) 

 

≦ 2.5 

1.5 

 

2.6〜 4.0 

2.5 

 

4.1〜 6.0 

4.0 

 

6.1〜 9.0 

4.5 

 

9.1〜 13.0 

5.0 

 

13.1〜 18.0 

5.5 

 

18.1〜 24.0 

6.5 

 

24.1〜 30.0 

7.0 

 

≧ 30.1 

7.5 

d) 垂直及び水平に加わる力に注意して，コード保持具にねじり力を加える。一方向にねじった後，反対

方向にねじり，再び初めの位置に戻す一連の動作を1サイクルとする。特に個別仕様書に規定がない

限り，1サイクルは一方向に90度，続いて反対方向に180度ねじり，初めの位置に戻す一連の動作と

する。堅いコードを用いる場合，回転角度の代わりに規定のトルク値を採用する規定がない限り，ね

じり動作を10サイクル繰り返す。10サイクル以上繰り返す場合は，規定がない限り，ねじり速度を

30サイクル/分とする。 

e) 試験機又はジグから供試光コネクタ及び光ファイバコードを取り外し，個別仕様書に規定の最終光学

測定を行う。 

参考 IEC 61300-2-5では通光ありの手順となっているが，我が国の実状に即し，通光の有無について

は個別仕様書に規定することとした。 

8.17.5 厳しさ 試験の厳しさは，加える引張力，光ファイバコードのねじり角度，又はコードに加えるト

ルクの大きさ，及びねじりの繰返し数で定め，個別仕様書に規定する。 

8.17.6 個別仕様書に規定する事項 次の事項を必要に応じて個別仕様書に規定する。 

a) 光ファイバコードに加える引張力 

b) ねじり角度又はコードに加えるトルクの大きさ［8.17.4d)の規定以外の場合］ 

c) 繰返し数（10サイクル以外の場合）又はトルク試験の適用 

d) コード保持具の取付け位置［8.17.4b)の規定以外の場合］ 

e) 試験中の通光の有無 

f) 

前処理の条件 

g) 後処理の条件 

88 

C 5961：2005  

 

h) 初期測定の項目 

i) 

試験中の測定項目 

j) 

最終測定の項目 

k) 合否判定基準 

l) 

この試験方法との差異 

8.18 ハンマー衝撃 

8.18.1 目的 この試験は，輸送中及び使用状態下で光コネクタに加わる衝撃に対する強度を調べる試験方

法について規定する。ここで衝撃とは，部品への局部的な衝撃，部品の堅い物体への繰返し衝撃である。 

8.18.2 概要 衝撃に対する供試光コネクタの耐力を評価する試験である。鉄床上に置いた供試光コネクタ

に，落下面が円柱曲面をもつハンマーを落下させ，衝撃に加える。 

参考 IEC 61300-2-12では，方法A（落下試験）と方法B（ハンマー衝撃試験）の2方法を規定して

いる。ここでは，方法Bを規定した。方法Aは8.10を適用する。 

8.18.3 装置 次の装置を用いる。 

a) 鉄床 規定の堅さの鉄床 

b) 落下ハンマー ロックウェル硬さ90 HRBで円柱曲面状の落下面をもつ，質量を調節できる落下ハン

マー。 

c) 落下試験機 ハンマーを上昇及び自由落下できる装置。コードと滑車でハンマーを接続した駆動クラ

ンクを用いる代表的な装置を図8.18.1に示す。 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

図8.18.1 ハンマー衝撃試験装置 

89 

C 5961：2005  

 

8.18.4 手順 

a) 供試光コネクタを個別仕様書に定める規定の位置及び向きにして鉄床に置く。 

b) ハンマー質量を個別仕様書に定める規定値に設定する。 

c) 鉄床の上方150mmにハンマーを持ち上げ，落下させる。 

8.18.5 厳しさ 厳しさは，ハンマーの先端面の半径，ハンマー質量及び加える衝撃回数で規定し，個別仕

様書に規定すること。表8.18.1，表8.18.2及び表8.18.3は厳しさの推奨値である。 

表8.18.1 ハンマー先端半径 

単位 mm 

5  10  20 

 

表8.18.2 衝撃回数 

単位 回 

1  5  10 

 

表8.18.3 ハンマー質量 

単位 g 

100  250  500  1 000 

 

8.18.6 個別仕様書に規定する事項 次の事項を必要に応じて個別仕様書に規定する。 

a) ハンマー先端半径 

b) ハンマー質量 

c) 衝撃回数 

d) 衝撃を加える供試光コネクタの位置 

e) 供試光コネクタの向き 

f) 

試験中の通光の有無 

g) 前処理の条件 

h) 後処理の条件 

i) 

初期測定の項目 

j) 

試験中の測定項目 

k) 最終測定の項目 

l) 

合否判定基準 

m) この試験方法との差異 

8.19 ゲージ保持力 

8.19.1 目的 この試験は，寸法による規定が困難な光コネクタ（アダプタ，ジャック，レセプタクル，弾

性スリーブなど）の弾性部材のゲージ保持力を測定する試験方法について規定する。 

8.19.2 概要 供試光コネクタの弾性部材からゲージを引き抜く際の保持力を測定する。この試験は，弾性

部材が規定の時間保持するゲージ質量を評価するもので，雄，雌いずれの弾性部材にも適用できる。 

8.19.3 装置 

ゲージ 雄の部材にはリングゲージを，雌の部材にはピンゲージを用いる。使用するゲージの弾性部材に

かん合させる部分の寸法精度，材質，表面硬度及び仕上げ状態を個別仕様書に規定する。 

90 

C 5961：2005  

 

8.19.4 手順 

a) 個別仕様書に規定の前処理を供試光コネクタに施す。 

b) 個別仕様書に規定の質量のゲージを弾性部材に規定の深さまでかん合させ，ゲージを下にして規定時

間保持する。 

c) 個別仕様書に規定の後処理を施す。 

8.19.5 厳しさ 厳しさはゲージ質量と保持時間で規定し，個別仕様書に規定する。個別仕様書に規定がな

い限り，供試光コネクタは，規定の質量のゲージを30秒間保持しなければならない。 

参考 

IEC 61300-3-10ではゲージ保持力を測定に分類しており，上記厳しさは手順に規定されてい

る。 

8.19.6 個別仕様書に規定する事項 次の事項を必要に応じて個別仕様書に規定する。 

a) ゲージの仕様（かん合部分の寸法精度，硬度，表面状態） 

b) ゲージ質量，挿入深さ及びゲージ保持時間 

c) 最大許容ゲージ挿入力 

d) 前処理の条件 

e) 後処理の条件 

f) 合否判定基準 

g) この試験方法との差異 

 

9. 耐候性試験 

9.1 

塩水噴霧 この試験は，JIS C 60068-2-11に従って規定した。 

参考 この箇条の対応国際規格は，IEC 60068-2-11，Test Ka : Salt mistに従って規定されたIEC 

61300-2-26，Salt mistであるが，一部技術的内容を変更している。 

9.1.1 目的 この試験は，塩分を含む大気中における光コネクタの耐久性を比較するための試験方法につ

いて規定する。この試験方法は，保護被膜の品質と均一性を評価するのに適している。 

なお，この試験の適用に際しては，次の事項を考慮する。 

a) この試験は，一般の塩腐食試験としては適さない。 

b) 個々の供試光コネクタが塩分を含む大気中で使用できるか否かの判定にも適さない。 

9.1.2 概要 この試験方法はJIS C 60068-2-11の規定に従う。供試光コネクタを，温度35±2 ℃に維持さ

れた試験槽の中で塩溶液濃度5±1 %質量比及びPH6.5〜7.2の塩水噴霧にさらす。 

9.1.3 装置 試験装置はJIS C 60068-2-11の規定に従い，次の装置を用いる。 

a) 試験槽 供試光コネクタを保持する棚を設けた試験槽 

b) 塩水タンク 塩水濃度のモニタ機能を有する塩水タンク 

c) 噴霧装置 ノズルと圧縮空気の供給器をもつ塩水の噴霧装置 

d) 加熱器 試験槽の加熱制御手段 

e) 加湿器 試験槽内の温度以上で加湿する装置 

9.1.4 手順 

a) 試験の手順はJIS C 60068-2-11の規定に従う。供試光コネクタは個別仕様書に従って準備する。 

備考 

個別仕様書に規定がない限り，供試光コネクタは次の状態に準備することが望ましい。 

  1) 供試光コネクタは，正常に結合し，結線した状態で試験槽内に置く。 

  2) 供試光コネクタの主要面は，垂直線からその結果に影響を及ぼさない範囲の角度（原則として

91 

C 5961：2005  

 

15〜30度）に傾け，また，槽内への噴霧の水平流れの主要方向に平行に置くか又はつるす。 

  3) 供試光コネクタは，支持物以外の物に触れない。 

  4) 供試光コネクタの各々について露の自由落下を妨げない。 

  5) 一つの供試光コネクタからの塩溶液が他の供試光コネクタに滴ることがない。 

参考 IEC 61300-2-26では上記準備の規定はないが，供試品を光コネクタに限定した場合の条件を規

定した。 

b) 試験終了後，個別仕様書の規定に従い供試光コネクタを調べ，観察結果を記録すること。金属部分の

状態，仕上げ部分のひび割れ及びは（剥）がれ，保護被膜の除去によるきず，くぼ（窪）みなどに注

意する。供試光コネクタ及び附属の光ファイバ又は光ファイバコードの挿入損失の変化にも注意する。 

9.1.5 厳しさ 試験の厳しさは試験時間で規定し，個別仕様書に規定する。表9.1.1は厳しさの推奨値であ

る。 

表9.1.1 試験時間 

単位 時間 

16 

96 

672 

24 

168 

 

48 

336 

 

9.1.6 個別仕様書に規定する事項 次の事項を必要に応じて個別仕様書に規定する。 

a) 試験時間 

b) 試験中の通光の有無 

c) 供試光コネクタの締結の有無 

d) 前処理の条件 

e) 後処理の条件 

f) 

初期測定の項目 

g) 試験中の測定項目 

h) 最終測定の項目 

i) 

合否判定基準 

j) 

この試験方法との差異 

9.2 温度サイクル この試験は，JIS C 0025に従って規定した。 

参考 この箇条の対応国際規格は，IEC 60068-2-14，Test N : Change of temperatureに従って規定された

IEC 61300-2-22，Change of temperatureであるが，一部技術的内容を変更している。 

9.2.1 目的 この試験は，光コネクタが温度変化又は温度変化の繰返しに耐える能力を調べる試験方法に

ついて規定する。次の二つの試験方法を適用する。 

a) 試験Na 温度急変は，温度の変化時間を極端に短くした高温及び低温の連続的な熱衝撃を供試光コネ

クタに加える。 

b) 試験Nb 定速温度変化は，供試光コネクタに熱衝撃を加えない程度の緩やかな温度変化を加える。 

9.2.2 概要 この試験方法は，JIS C 0025の規定に従う。供試光コネクタに一定時間だけ高温又は低温の

一方の温度を加え，次に，同じ時間だけ他方の温度を加える。試験Na：温度急変と試験Nb：定速温度変

化との差は，高温と低温間の温度変化時間及び繰返し回数が異なる。 

9.2.3 装置 試験装置は，JIS C 0025試験Na又は試験Nbに規定する試験槽を用いる。 

9.2.4 手順 試験はJIS C 0025試験Na又は試験Nbに規定する手順に従う。 

92 

C 5961：2005  

 

備考 個別仕様書に規定がない限り，供試光コネクタは下記の状態に準備することが望ましい。 

1) 供試光コネクタは，正常に結合し，結線した状態で試験槽内に置く。 

2) 供試光コネクタの取付け具は熱伝導率の低いものを用い，槽内の空気の流れを妨げない位置

に置く。 

参考 IEC 61300-2-22では上記の規定はないが，供試品を光コネクタに限定した場合の条件を規定し

た。 

9.2.5 厳しさ 試験の厳しさは，低温及び高温の温度，各温度の放置時間，温度変化時間又は温度の変化

速度，及びサイクル数の組合せで規定する。表9.2.1，表9.2.2及び表9.2.3は厳しさの推奨値である。 

 

表9.2.1 高温試験温度 

単位 ℃ 

55 70 85 100 125 155 175 200 250 315 

表9.2.2 低温試験温度 

単位 ℃ 

10 5 0 −5 −10 −25 −40 −55 −65 

参考 JIS C 0025の規定によれば，低温及び高温の温度はそれぞれ9.6及び9.5に規定の試験温度から

選ぶこととされているが，10℃，0℃の低温温度は9.6に規定はない。 

 

 

表9.2.3 各温度の放置時間，温度変化時間又は温度の変化速度，サイクル数 

各温度の放置時間 

分 

試験Na 

試験Nb 

変化時間 

分 

サイクル数 

回 

変化速度 

℃/min 

サイクル数 

回 

10 
30 
60 

120 
180 

手動 
 ：2〜3 
自動 
 ：＜0.5 

5 

1 
3 
5 

2 

9.2.6 個別仕様書に規定する事項 次の事項を必要に応じて個別仕様書に規定する。 

a) 試験方法 

b) 高温温度 

c) 低温温度 

d) 各温度の放置時間 

e) 温度の変化時間（試験Naの場合），又は温度の変化速度（試験Nbの場合） 

f) 

サイクル数 

g) 試験中の通光の有無 

h) 供試光コネクタの締結の有無 

i) 

前処理の条件 

j) 

後処理の条件 

k) 初期測定の項目 

l) 

試験中の測定項目 

m) 最終測定の項目 

93 

C 5961：2005  

 

n) 合否判定基準 

o) この試験方法との差異 

9.3 

耐湿性（定常状態） この試験は，JIS C 60068-2-3に従って規定した。 

参考 この箇条の対応国際規格は，IEC 60068-2-78， Test Cab: Damp heat， steady stateに従って規定

されたIEC 61300-2-19，Damp heat (steady state) であるが，一部技術的内容を変更している。 

9.3.1 目的 この試験は，高い相対湿度の状態で使用，保存又は輸送する場合の光コネクタの適合性を調

べるために，光コネクタを高湿度と高温度の環境状態にさらして行う試験方法について規定する。この試

験方法は，主に，規定の時間にわたって一定温度における高い湿度の影響を調べることを意図したもので

ある。水分の吸収は，膨張による機能の破壊，物理的強度の劣化，及び重要な機械的特性に変化を引き起

こし，また，光学的特性を劣化させる。この試験は熱帯環境試験ではないが，絶縁体又は保護被覆の水分

吸収を評価するのに適している。 

9.3.2 概要 この試験方法は，JIS C 60068-2-3の規定に従う。供試光コネクタを試験槽内に設置して，相

対湿度90〜95 %，温度40 ℃に保たれた高温高湿中に個別仕様書に規定の時間放置する。 

9.3.3 装置 次の装置を用いる。 

a) 試験槽 装置はJIS C 60068-2-3に規定の試験槽を用いる。試験槽はその中に供試光コネクタを設置し

て，試験中の測定ができるとともに，規定の許容差内で規定の温度と湿度に維持できるものとする。

一定の温湿度条件を維持するために，強制空気循環を用いてもよい。試験槽及びその附属品は，供試

光コネクタに凝縮した水滴が落下しないように構成し，配置する。 

b) 水蒸気 規定の湿度を得るために，水蒸気，又は蒸留，脱塩若しくは脱イオン処理した水を用いる。

試験による供試光コネクタのさび又は腐食がないこととする。 

c) その他装置 個別仕様書に規定の測定を行うのに必要な装置を用いる。 

9.3.4 手順 試験は，JIS C 60068-2-3に規定する手順に従う。 

a) 個別仕様書に規定がある場合，それに従って供試光コネクタに前処理を施す。 

b) 個別仕様書に規定がある湯合，それに従って初期測定を行う。 

c) 試験槽及び供試光コネクタを標準状態で安定させた後，供試光コネクタを試験槽の通常の試験位置（必

要な場合，周辺機器にぶら下げる。）に置く。 

備考 個別仕様書に規定がない限り，供試光コネクタは次の状態で設置することが望ましい。 

1) 供試光コネクタは，正常に結合し，結線した状態で試験槽内に置く。 

2) 槽内の内壁及び天井に凝縮した水が，供試光コネクタに落下しない。 

3) 槽に入れた直後及び放置中に，供試光コネクタにできるだけ結露しない。 

参考 IEC 61300-2-19では上記の規定はないが，供試品を光コネクタに限定した場合の条件を規定し

た。 

d) 試験槽内の温度及び湿度を規定の厳しさに設定する。温度の上昇速度は，5分間以内の平均で1 ℃/min

を超えないこと。温度安定に達した後，規定の時間，供試光コネクタをその温度と湿度状態に放置す

る。 

e) 試験終了後，温度を徐々に下げて，標準状態に達するまで供試光コネクタを試験槽内に放置する。こ

の温度の下降速度は，5分間以内の平均で1 ℃/minを超えないこと。試験中の測定が必要な場合は，

測定項目と測定する時期を個別仕様書に規定すること。この測定中は，供試光コネクタを試験槽から

取り出さない。 

f) 供試光コネクタは標準状態に1時間以上放置する。後処理中の測定が必要な場合は，測定項目と測定

94 

C 5961：2005  

 

する時期を個別仕様書に規定すること。 

g) 個別仕様書に規定の最終測定を行う。 

9.3.5 厳しさ 試験の厳しさは，温度，相対湿度及び試験時間の組合せで定め，個別仕様書に規定する。

表9.3.1は厳しさの推奨値である。 

表9.3.1 温度，相対湿度及び試験時間 

温度 

40±2 ℃ 

相対湿度 

90〜95 % 

試験時間 

4日 

 

10日 

 

21日 

 

56日 

9.3.6 個別仕様書に規定する事項 次の事項を必要に応じて個別仕様書に規定する。 

a) 試験温度 

b) 相対湿度 

c) 試験時間 

d) 表面湿度の除去に関して取るべき措置 

e) 試験中の通光の有無 

f) 

供試光コネクタの締結の有無 

g) 前処理の条件 

h) 後処理の条件 

i) 

初期測定の項目 

j) 

試験中の測定項目 

k) 最終測定の項目 

l) 

合否判定基準 

m) この試験方法との差異 

9.4 

耐湿性（温湿度サイクル） この試験は，JIS C 60068-2-38に従って規定した。 

参考 この箇条の対応国際規格は，IEC60068-2-38，Test Z/AD : Composite temperature/humidity cyclic test

に従って規定されたIEC 61300-2-21，Composite temperature-humidity cyclic testであるが，一部

技術的内容を変更している。 

9.4.1 目的 この試験は，供試品の欠陥を水分の吸収によってではなく，呼吸作用によって発生させる試

験方法について規定する。試験は，凝縮と同様に割れ目や裂け目にたまった水分の氷結の作用も調べる。

凝縮の程度は，供試光コネクタの大きさと，熱容量に依存する。この試験は，他の温湿度サイクル試験方

法とは異なり，次のように厳しさを強めている。 

a) 規定時間内での温度変化，すなわち上下変動の回数が多い。 

b) 温度変化の範囲が広い。 

c) 温度変化の速度が速い。 

d) 0 ℃次の温度に対するサイクルを含んでいる。 

9.4.2 概要 手順は，JIS C 60068-2-38に従って進められる。供試光コネクタは湿度槽の中に置かれ，1サ

イクル24時間の温湿度サイクルを10サイクル行う。第1〜9サイクルの中の任意の5サイクルは，低温サ

ブサイクルを含む24時間サイクル（図9.4.1）を行う。残りの4サイクル及び最終サイクルは，低温サブ

サイクルを含まない24時間サイクル（図9.4.2）を行う。 

95 

C 5961：2005  

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

図9.4.1 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

図9.4.2 

96 

C 5961：2005  

 

9.4.3 装置 次の装置を用いる。 

a) 試験槽 装置はJIS C 60068-2-38に規定の試験槽を用いる。試験槽はその中に供試光コネクタを設置

して，試験中の測定ができるとともに，規定の許容差で規定の温度と湿度に維持できるものとする。

一定の温湿度条件を維持するために，強制空気循環を用いてもよい。試験槽及びその附属品は，供試

光コネクタに凝縮した水滴が落下しないように構成し，配置する。 

b) 水蒸気 規定の湿度を得るために，水蒸気，又は蒸留，脱塩若しくは脱イオン処理した水を用いる。

試験による供試光コネクタのさび又は腐食がない。 

c) その他装置 個別仕様書に規定の測定を行うのに必要な装置を用いる。 

9.4.4 手順 JIS C 60068-2-38に従って行う。 

a) 個別仕様書に規定がある場合，それに従って供試光コネクタに前処理を施す。 

b) 戸別規格に規定がある場合，それに従って初期測定を行う。 

c) 試験槽及び供試光コネクタを標準状態で安定させた後，供試光コネクタを試験槽の通常の試験位置（必

要な場合，周辺機器にぶら下げる。）に置く。 

備考 個別仕様書に規定がない限り，供試光コネクタは次の状態で設置することが望ましい。 

1) 供試光コネクタは，正常に結合し，結線した状態で試験槽内に置く。 

2) 槽内の内壁及び天井に凝縮した水が，供試光コネクタに落下しない。 

3) 槽に入れた直後及び放置中に，供試光コネクタにできるだけ結露しない。 

参考 IEC 61300-2-21では上記の規定はないが，供試品を光コネクタに限定した場合の条件を規定し

た。 

d) 温湿度サイクル試験を行う。 

e) 試験終了後，温度を徐々に下げて，標準状態に達するまで供試光コネクタを試験槽内に放置する。こ

の温度の下降速度は，5分間以内の平均で1 ℃/minを超えないこと。試験中の測定が必要な場合は，

測定項目と測定する時期を個別仕様書に規定すること。この測定中は，供試光コネクタを試験槽から

取り出さない。 

f) 供試光コネクタは標準状態に1時間以上放置する。後処理中の測定が必要な場合は，測定項目と測定

する時期を個別仕様書に規定する。 

g) 個別仕様書に規定の最終測定を行う。 

9.4.5 厳しさ 個別仕様書に規定がない限り，24時間サイクルを10回行う。もし，10回以外の場合は，

個別仕様書にその回数と低温サブサイクルを含む24時間サイクルを試験中のどこで行うか規定する。 

9.4.6 個別仕様書に規定する事項 次の事項を必要に応じて個別仕様書に規定する。 

a) 厳しさ（24時間サイクルが10回以外の場合） 

b) 試験中の通光の有無 

c) 供試光コネクタの締結の有無 

d) 前処理の条件 

e) 後処理の条件 

f) 初期測定の項目 

g) 試験中の測定項目 

h) 最終測定の項目 

i) 合否判定基準 

j) この試験方法との差異 

97 

C 5961：2005  

 

9.5 

耐熱性 この試験は，JIS C 60068-2-2試験Bbに従って規定した。 

参考 この箇条の対応国際規格は，IEC 60068-2-2，Test B : Dry heat-high temperature enduranceに従っ

て規定されたIEC 61300-2-18，Dry heat-high temperature enduranceであるが，一部技術的内容を

変更している。 

9.5.1 目的 この試験は，高温の状態で使用，保存又は輸送する光コネクタの適合性を調べるために，光

コネクタを長時間，高温の環境状態にさらして行う試験方法について規定する。この試験は，光コネクタ

が温度の変化に対して耐える能力又は動作する能力を評価するためのものではない。この場合は，9.2を適

用する。 

9.5.2 概要 この試験方法は，JIS C 60068-2-2試験Bbの規定に従う。試験槽が周囲温度のときに供試光

コネクタを試験槽内に設置して，5分間以内の平均で1 ℃/minを超えない速度で槽内温度を上昇させ，供

試光コネクタを規定時間だけその温度に放置する。規定時間後は，槽内の温度が周囲温度に下降するまで

供試光コネクタを槽内に置き，温度が安定してから最終測定を行う。 

9.5.3 装置 次の装置を用いる。 

a) 試験槽 試験装置はJIS C 60068-2-2試験Bbに規定の試験槽を用いる。試験槽は，その中に供試光コ

ネクタを設置して，規定があれば試験中の測定が可能であるものとする。また，試験槽は規定の温度

で規定の許容差内に維持できるものとする。一定の温度条件を維持するために，強制空気循環を用い

てもよい。供試光コネクタが加熱器又は冷却器に直接さらされないように注意する。 

b) その他装置 個別仕様書に規定の測定を行うのに必要な装置を用いる。 

9.5.4 手順 試験はJIS C 60068-2-2試験Bbに規定する手順に従う。 

a) 個別仕様書に規定がある場合，それに従って供試光コネクタに前処理を施す。 

b) 個別仕様書に規定がある場合，それに従って初期測定を行う。 

c) 試験槽及び供試光コネクタを標準状態で安定させた後，供試光コネクタを試験槽の通常の試験位置（必

要な場合，周辺機器にぶら下げる。）に置く。 

備考 個別仕様書に規定がない限り，供試光コネクタは，正常に結合し結線した状態で試験槽内に置

く。 

参考 IEC 61300-2-18では規定されていないが，供試品を光コネクタに限定した場合の条件を規定し

た。 

d) 試験槽内の温度を規定の厳しさに設定する。温度の上昇速度は，5分間以内の平均で1 ℃/minを超え

ないこと。供試光コネクタが温度安定に達した後，規定の時間，供試光コネクタをその温度状態に放

置する。 

備考 小さな供試光コネクタの場合は，試験時間は試験槽の温度が安定した時点から測る。供試光コ

ネクタの温度を測定する必要はない。 

e) 試験終了後，温度を徐々に下げて，標準状態に達するまで供試光コネクタを試験槽内に放置する。こ

の温度の下降速度は，5分間以内の平均で1 ℃/minを超えないこと。試験中の測定が必要な場合は，

測定項目と測定する時期を個別仕様書に規定すること。この測定中は，供試光コネクタを試験槽から

取り出さない。 

f) 供試光コネクタは標準状態に1時間以上放置する。後処理中の測定が必要な場合は，測定項目と測定

する時期を個別仕様書に規定する。 

g) 個別仕様書に規定の最終測定を行う。 

9.5.5 厳しさ 試験の厳しさは，温度及び試験時間の組合せで定める。温度の許容値は±2 ℃以下とする

98 

C 5961：2005  

 

こと。表9.5.1及び表9.5.2は厳しさの推奨値である。 

表9.5.1 試験温度 

単位 ℃ 

30 

100 

250 

40 

125 

315 

55 

155 

400 

70 

175 

 

85 

200 

 

 

表9.5.2 試験時間 

単位 時間 

2 

96 

2 000 

16 

240 

5 000 

24 

500 

 

72 

1 000 

 

備考 個別仕様書に試験時間を規定していない場合は，2時間とする。 

9.5.6 個別仕様書に規定する事項 次の事項を必要に応じて個別仕様書に規定する。 

a) 試験温度 

b) 試験時間 

c) 試験中の通光の有無 

d) 前処理の条件 

e) 後処理の条件 

f) 

供試光コネクタの締結の有無 

g) 初期測定の項目 

h) 試験中の測定項目 

i) 

最終測定の項目 

j) 

合否判定基準 

k) この試験方法との差異 

9.6 

耐寒性 この試験は，JIS C 60068-2-1試験Abに従って規定した。 

参考 この箇条の対応国際規格は，IEC 60068-2-1，Test A : Coldに従って規定されたIEC 61300-2-17，

Coldであるが，一部技術的内容を変更している。 

9.6.1 目的 この試験は，低温の状態で使用，保存又は輸送する光コネクタの適合性を調べるために，光

コネクタを長時間，低温の環境状態にさらして行う試験方法について規定する。この試験は，光コネクタ

が温度の変化に対して耐える能力又は動作する能力を評価するためのものではない。この場合は，9.2を適

用する。 

9.6.2 概要 この試験方法は，JIS C 60068-2-1試験Abの規定に従う。試験槽が周囲温度のときに供試光

コネクタを試験槽内に設置して，5分間以内の平均で1 ℃/minを超えない速度で槽内温度を下降させ，供

試光コネクタを規定時間だけその温度に放置する。規定時間後は，槽内の温度が周囲温度に上昇するまで

供試光コネクタを槽内に置き，温度安定に達してから最終測定を行う。 

9.6.3 装置 次の装置を用いる。 

a) 試験槽 試験装置は，JIS C 60068-2-1試験Abに規定の試験槽を用いる。試験槽は，その中に供試光

コネクタを設置して，規定があれば試験中の測定が可能であるものとする。また，試験槽は規定の温

99 

C 5961：2005  

 

度で規定の許容差内に維持できるものとする。一定の温度条件を維持するために，強制空気循環を用

いてもよい。供試光コネクタが加熱器又は冷却器に直接さらされないように注意する。 

b) その他装置 個別仕様書に規定の測定を行うのに必要な装置を用いる。 

9.6.4 手順 試験は，JIS C 60068-2-1試験Abに規定する手順に従う。 

a) 個別仕様書に規定がある場合，それに従って供試光コネクタに前処理を施す。 

b) 個別仕様書に規定がある場合，それに従って初期測定を行う。 

c) 試験槽及び供試光コネクタを標準状態で安定させた後，供試光コネクタを試験槽の通常の試験位置（必

要な場合，周辺機器にぶら下げる。）に置く。 

備考 個別仕様書に規定がない限り，供試光コネクタは，正常に結合し結線した状態で試験槽内に置

く。 

参考 IEC 61300-2-17では規定されていないが，供試品を光コネクタに限定した場合の条件を規定し

た。 

d) 試験槽内の温度を規定の厳しさに設定する。温度の下降速度は，5分間以内の平均で1 ℃/minを超え

ないこと。供試光コネクタが温度安定に達した後，規定の時間，供試光コネクタをその温度状態に放

置する。 

備考 小さな供試光コネクタの場合は，試験時間は試験槽の温度が安定した時点から測る。供試光コ

ネクタの温度を測定する必要はない。 

e) 試験終了後，温度を徐々に上げて，標準状態に達するまで供試光コネクタを試験槽内に放置する。こ

の温度の上昇速度は，5分間以内の平均で1 ℃/minを超えないこと。試験中の測定が必要な場合は，

測定項目と測定する時期を個別仕様書に規定すること。この測定中は，供試光コネクタを試験槽から

取り出さない。 

f) 供試光コネクタは室温で空気を短時間吹き付けるなどして水滴を取り除いた後，標準状態に1時間以

上放置する。後処理中の測定が必要な場合は，測定項目と測定する時期を個別仕様書に規定する。 

g) 個別仕様書に規定の最終測定を行う。 

9.6.5 厳しさ 試験の厳しさは，温度及び試験時間の組合せで定める。温度の許容値は±3 ℃以下とする

こと。表9.6.1及び表9.6.2は厳しさの推奨値である。 

 

表9.6.1 試験温度 

単位 ℃ 

−65 

−10 

−55 

−5 

−40 

＋5 

−25 

 

 

表9.6.2 試験時間 

単位 時間 

2 

72 

500 

16 

96 

 

24 

240 

 

 

備考 個別仕様書に試験時間を規定していない場合は，2時間とする。 

100 

C 5961：2005  

 

参考 IEC 61300-2-17では試験温度＋5 ℃を規定しているが，JIS C 60068-2-1では規定はない。 

9.6.6 個別仕様書に規定する事項 次の事項を必要に応じて個別仕様書に規定する。 

a) 試験温度 

b) 試験時間 

c) 試験中の通光の有無 

d) 前処理の条件 

e) 後処理の条件 

f) 

供試光コネクタの締結の有無 

g) 初期測定の項目 

h) 試験中の測定項目 

i) 

最終測定の項目 

j) 

合否判定基準 

k) この試験方法との差異 

9.7 

ダスト 

9.7.1 目的 この試験は，光コネクタに対するダスト［砂じん（塵）］の影響を調べる試験方法について規

定する。 

9.7.2 概要 この試験は，空気の循環する試験槽の中で一定の時間，規定のダスト濃度に供試光コネクタ

をさらして行う。 

9.7.3 装置 次の装置を用いる。 

a) 試験槽 試験槽はダストを含む空気のダスト濃度，速度，温度及び湿度が制御でき，相対湿度60 %以

下で，温度を63±2 ℃まで上昇及び維持できるものとする。ダストを含む空気を循環させるために，

試験槽内での供試光コネクタの占有率は，断面積（空気の流れる方向）で50 %以下，容積で30 %以

下とする。ダストを含む空気は，供試光コネクタに当たる前に層流にして試験槽内に導くこと。 

b) ダスト濃度測定装置 循環中のダスト濃度を維持及び確認するための測定装置。測定装置として，標

準光源と校正した煙計測器などが望ましい。 

c) ダスト ダストは角張った粒形をもつ細かい砂 (SiO2 97〜99 %) で，150 

洀浛

田謰

過する大

きさとする。 

参考 IEC 61300-2-27にダスト材料の規定はないが，我が国の実状に即してダスト材料を規定した。 

9.7.4 手順 供試光コネクタの前処理は個別仕様書による。 

a) 供試光コネクタはできる限り試験槽の中央に置く。2個以上の供試光コネクタを試験する場合は，供

試光コネクタの端と他の物体又は障害物との間を100 mm以上離して設置すること。また，供試光コ

ネクタのすべての端と試験槽の内壁との間げきは100 mm以上として，供試光コネクタの最も弱い部

分をダストにさらすように置く。試験中の供試光コネクタの設置方向の変更は，個別仕様書に規定す

る。 

b) 試験槽内温度を23±2 ℃，相対湿度を22 %未満に設定する。空気速度を530±70 m/minに，ダスト供

給器のダスト濃度を規定の厳しさに制御する。個別仕様書に規定の時間，この槽内状態を維持する。 

c) 上記初期状態完了後，ダスト供給器を停止させ，空気速度を90±50 m/minに減速する。槽内温度を63

±2 ℃に上昇させ，相対湿度を10 %以下に維持する。この槽内状態を個別仕様書に規定の時間維持す

る。 

d) 上記中間状態完了後，温度を63±2 ℃に維持したまま空気速度を530±70 m/minに増加させる。ダス

101 

C 5961：2005  

 

ト供給器を調整してダスト濃度を個別仕様書に規定の厳しさに設定する。相対湿度を10 %以下に維持

したまま，この槽内状態を規定の時間維持する。 

e) 試験終了後，すべての試験槽制御器を停止し，供試光コネクタを標準状態に戻す。供試光コネクタに

積もったダストは，ブラッシング，ふき取り又は振動などの処理により，その後の特性測定に支障が

ないように十分取り除く。新たなダストが光コネクタ内に進入するおそれのあるエアブラシ又は真空

引きを用いてはならない。 

f) 供試光コネクタに対して，個別仕様書に規定した特性の測定及び外観検査を行う。ただし，個別仕様

書に規定がない限りは，特性測定項目として反射減衰量を測定するものとする。ベアリング，シール，

潤滑油などを使用する供試光コネクタの取扱いには注意する。 

9.7.5 厳しさ 試験の厳しさはダスト濃度と各試験状態の試験時間の組合せで定め，個別仕様書に規定す

る。表9.7.1及び表9.7.2は厳しさの推奨値である。個別仕様書に規定がない限り，各状態の試験時間は，6

時間［手順(2)］，16時間［手順(3)］及び6時間［手順(4)］とする。 

参考 試験時間の推奨条件は，IEC 61300-2-27に規定されていないが，我が国の実状に即して示した。 

表9.7.1 ダスト濃度 

単位 g/m3 

 

10.6 ±7.1 

 

25 ±5 

表9.7.2 試験時間 

単位 時間 

1 2 4 6 8 12 16 24 

9.7.6 個別仕様書に規定する事項 次の事項を必要に応じて個別仕様書に規定する。 

a) ダスト濃度 

b) 各試験状態の試験時間 

c) 供試光コネクタの締結の有無 

d) 試験中の供試光コネクタ設置方向の変更 

e) 試験中の通光の有無 

f) 

前処理の条件 

g) 後処理の条件 

h) 初期測定の項目 

i) 

試験中の測定項目 

j) 

最終測定の項目 

k) 合否判定基準 

l) 

この試験方法との差異 

 

102 

C 5961：2005  

 

付表1 対応国際規格 

IEC 61300-2-1 Ed.1.0 

Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement procedures

−Part 2-1 : Tests−Vibration (sinusoidal) (MOD) 

IEC 61300-2-2 Ed.1.0 

Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement procedures

−Part 2-2 : Tests−Mating durability(MOD) 

IEC 61300-2-3 Ed.1.0 

Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement procedures

−Part 2-3 : Tests−Static shear load(MOD) 

IEC 61300-2-4 Ed.1.0 

Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement procedures

−Part 2-4 : Tests−Fibre/cable retention(MOD) 

IEC 61300-2-5 Ed.1.0 

Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement procedures

−Part 2-5 : Tests−Torsion/twist(MOD) 

IEC 61300-2-6 Ed.1.0 

Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement procedures

−Part 2-6 : Tests−Tensile strength of coupling mechanism(MOD) 

IEC 61300-2-7 Ed.1.0 

Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement procedures

−Part 2-7 : Tests−Bending moment(MOD) 

IEC 61300-2-9 Ed.1.0 

Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement procedures

−Part 2-9 : Tests−Shock(MOD) 

IEC 61300-2-11 Ed.1.0 

Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement procedures

−Part 2-11 : Tests−Axial compression(MOD) 

IEC 61300-2-12 Ed.1.0 

Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement procedures

−Part 2-12 : Tests−Impact(MOD) 

IEC 61300-2-15 Ed.1.0 

Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement procedures

−Part 2-15 : Tests−Torque strength of coupling mechanism(IDT) 

IEC 61300-2-17 Ed.1.0 

Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement procedures

−Part 2-17 : Tests−Cold(MOD) 

IEC 61300-2-18 Ed.1.0 

Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement procedures

103 

C 5961：2005  

 

−Part 2-18 : Tests−Dry heat−High temperature endurance(MOD) 

IEC 61300-2-19 Ed.1.0 

Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement procedures

−Part 2-19 : Tests−Damp heat (steady state)(MOD)  

IEC 61300-2-21 Ed.1.0 

Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement procedures

−Part 2-21 : Tests−Composite temperature-humidity cyclic test(MOD) 

IEC 61300-2-22 Ed.1.0 

Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement procedures

−Part 2-22 : Tests−Change of temperature(MOD) 

IEC 61300-2-26 Ed.1.0 

Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement procedures

−Part 2-26 : Tests−Salt mist(MOD) 

IEC 61300-2-27 Ed.1.0 

Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement procedures

−Part 2-27 : Tests−Dust−Laminar flow(MOD) 

IEC 61300-3-1 Ed.1.0 

Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement procedures

−Part 3-1 : Examinations and measurements−Visual examination(MOD) 

IEC 61300-3-4 Ed.1.0 

Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement procedures

−Part 3-4 : Examinations and measurements−Attenuation(MOD) 

IEC 61300-3-6 Ed.2 

Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement procedures

−Part 3-6 : Examinations and measurements−Return loss(MOD) 

IEC 61300-3-10 Ed.1.0 

Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement procedures

−Part 3-10 : Examinations and measurements−Gauge retention force(MOD) 

IEC 61300-3-11 Ed.1.0 

Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement procedures

−Part 3-11 : Examinations and measurements−Engagement and separation forces(MOD) 

IEC 61300-3-15 Ed.1.0 

Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement procedures

−Part 3-15 : Measurements−Eccentricity of a convex polished ferrule endface(IDT) 

IEC 61300-3-16 Ed.1.0 

Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement procedures

−Part 3-16 : Examinations and measurements−Endface radius of spherically polished ferrules(MOD) 

IEC 61300-3-17 Ed.1.0 

Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement procedures

−Part 3-17 : Examinations and measurements−Endface angle of angle-polished ferrules(IDT) 

104 

C 5961：2005  

 

IEC 61300-3-18 Ed.1.0 

Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement procedures

−Part 3-18 : Examinations and measurements−Keying accuracy of an angled enfdface 

connector(IDT) 

IEC 61300-3-22 Ed.1.0 

Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement procedures

−Part 3-22 : Examinations and measurements−Ferrule compression force(IDT) 

IEC 61300-3-23 Ed.1.0 

Fibre optic interconnecting devices and passive components - Basic test and measurement procedures - 

Part 3-23: Examination and measurements - Fibre position relative to ferrule endface (IDT) 

IEC 61300-3-24 Ed.1.0 

Fibre optic interconnecting devices and passive components - Basic test and measurement procedures - 

Part 3-24: Examinations and measurements - Keying accuracy of optical connectors for polarization 

maintaining fibre(IDT) 

IEC 61300-3-25 Ed.1.0 

Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement procedures

−Part 3-25 : Examinations and measurements−Concentricity of the ferrules and ferrules with fibre 

installed(IDT) 

IEC 61300-3-26 Ed.1.0 

Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement procedures

−Part 3-26 : Examinations and measurements−Measurement of the angular misalignment between 

fibre and ferrules axes(MOD) 

IEC 61300-3-27 Ed.1.0 

Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement procedures

−Part 3-27 : Examinations and measurements−Measurement method for the hole location of a 

multiway connector plug(IDT) 

IEC 61300-3-33 Ed.1.0 

Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement procedures

−Part 3-33 : Examinations and measurements−Ferrule Withdrawal Force : Measurement of 

breakaway frictional force in fiber optic connector alignment sleeves(MOD) 

IEC 61300-3-36 Ed.1.0 

Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement procedures

−Part 3-36 : Examinations and measurements− Measurement methods for the inside and outside 

diameters of fibre optic connector ferrules(MOD) 

IEC 61300-3-40 Ed.1.0 

Fibre optic interconnecting devices and passive components - Basic test and measurement procedures - 

part 3-40: Examinations and measurements - Extinction ratio of a polarization maintaining (pm) fibre 

pigtailed connector(MOD) 

 

105 

C 5961：2005  

 

附属書1（規定）挿入損失及び反射減衰量の測定条件 

1. 適用範囲 この附属書は，本体の7.1及び7.2を試験する際の光源，励振器，光パワーメータ，マスタ

光コネクタ及び光ファイバについての測定条件を規定するものである。 

2. 測定条件 

a) 光源 光源は，その種類を個別仕様書に附属書1表1の記号によって規定する。附属書1表1に規定

された以外の光源を用いる場合には，個別仕様書にその諸元（発光素子の種類，ピーク波長，出力安

定度，スペクトル半値幅など）を規定する。 

b) 励振器 励振器は，規定がない限り附属書1表1の条件を満たす励振器を使用し，それ以外の場合は，

その種類，光ファイバ長，減衰量（モードスクランブラの場合）などを個別仕様書に規定する。 

c) 光パワーメータ 光パワーメータは，個別仕様書に規定がない限り附属書1表1の条件を満たすもの

を使用する。それ以外の場合は，個別仕様書に，その諸元（直線性，ダイナミックレンジ，確度，波

長範囲など）を規定する。 

d) マスタ光コネクタ マスタ光コネクタは，規定がない限り附属書1表1の条件を満たすものとし，そ

れ以外の場合には，その寸法精度，又は種類を個別仕様書に規定する。 

e) 測定用光ファイバ 測定用光ファイバは，JIS C 6820に規定の形名を個別仕様書に明示する。それ以

外の場合は，ファイバの屈折率分布形状（GI，SIなど），コア径，比屈折率差，クラッド径などを個

別仕様書に規定する。また，個別仕様書に規定がない限り，長さは1 m以上10 m以下とする。 

 

106 

C 5961：2005  

 

 

1

0

6

 

C

 5

9

6

1

：

2

0

0

5

  

1

0

6

 

C

 5

9

6

1

：

2

0

0

5

  

 

 

著
作
権
法
に
よ
り
無
断
で
の
複
製
，
転
載
等
は
禁
止
さ
れ
て
お
り
ま
す
。
 

附属書1表1 測定条件（その1） 

光ファイバの種類 

石英系マルチモード 

石英系シングルモード 

多成分系マ

ルチモード 

プラスチッ

ククラッド

マルチモー

ド 

全プラスチ

ックマルチ

モード 

 

記号 

A 

B 

C 

D 

E 

F 

G 

H 

I 

J 

K 

光
源

 

発光素子 

 

LED 

LED 

LD 

LD 

LED 

LED 

LD 

LD 

LED 

LED 

LED 

ピーク波長 

nm 

850±30 

1 310±30 

850±30 

1 310±30 

1 310±30 

1 550±30 

1 310±30 

1 550±30 

850±30 

850±30 

660±30 

出力安定度 

dB/h 

0.65未満 

0.05未満 

0.05未満 

0.05未満 

0.05未満 

0.05未満 

0.05未満 

0.05未満 

0.05未満 

0.1未満 

0.1未満 

スペクトル半値幅（全幅） nm 

150未満 

150未満 

10未満 

10未満 

150未満 

150未満 

10未満 

10未満 

150未満 

150未満 

100未満 

光ファイバ内入力 

洀圀 10より大

きい 

10より大

きい 

500より大

きい 

500より大

きい 

0.5より大

きい 

0.5より大

きい 

500より大

きい 

500より大

きい 

10より大

きい 

10より大

きい 

30より大

きい 

励振器 

 5 km以上の光ファイバの出射ファーフィールド

パターン (FFP) に相当する実効NA(1)をもつ励振器

（SCI-50/125の場合，実効NA0.195±0.01をもつ励

振系）。 

 ダミー光ファイバ2 m以上，マスタ光コネクタ  

付きコードの中に励振器を含んでいてもよい。 

 ダミー光ファイバ5 m以上，マス  

タ光コネクタ付コードの中に励振器

を含んでいてもよい。 

モードスクランブラの作成方法 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

例 

 

 

 

 

（モードスクランブラ構造） 

マスタ光コネクタ付きコードの中に励振器

を含んでいてもよい。 

S： 光源 

D： 光パワーメータ 

P0，P1： 光ファイバの出力パワー (W)  

 一例として，LED光源の場合，1.5dBモード 

スクランブラ

dB)]

(

5.1

log

10

[

0

1

10

 

＝

 

−

P

P

がある。 

注(1) 一例として，LED光源の場合1.5 dBモードスクランブラがある。 

107 

C 5961：2005  

 

 

1

0

7

 

C

 5

9

6

1

：

2

0

0

5

  

1

0

7

 

C

 5

9

6

1

：

2

0

0

5

  

 

 

著
作
権
法
に
よ
り
無
断
で
の
複
製
，
転
載
等
は
禁
止
さ
れ
て
お
り
ま
す
。
 

附属書1表1 測定条件（その2） 

光ファイバの種類 

石英系 

マルチモード 

石英系 

シングルモード 

多成分系 

マルチモード 

プラスチッククラッド 

マルチモード 

全プラスチック 

マルチモード 

光
パ
ワ
ー
メ
ー
タ

 

直線性 

dB 

0.05未満 

0.05未満 

0.05未満 

0.05未満 

0.05未満 

ダイナミックレンジ  dB 

20より大きい 

20より大きい 

25より大きい 

25より大きい 

25より大きい 

確度(2) 

% 

 

±5（波長850 nm又は 

1 310 nm） 

±5（波長1310 nm又は 

1 550 nm） 

±5（波長850 nm） 

 

±5（波長850 nm） 

 

±5（波長660 nm） 

 

波長範囲 

 

光源と整合 

光源と整合 

光源と整合 

光源と整合 

光源と整合 

マスタ光コネクタ 

 個別仕様書による。 

 個別仕様書に規定がない場

合は，次のいずれかによる。 

(1) （アダプタを介して）接

続した一つのプラグ（接

栓）のうち，一つの軸心

に対し回転したときの接

続損失変動が0.1 dB以内

であり，挿入損失が0.4 dB

以下である光コネクタ。 

(2) プラグが，次の寸法精度

をもつ光コネクタ。 

フェルールに対するコア

偏心量 

1  洀

下 

出射角 

0.2度以下 

フェルール外径精度 

 

±1  洀洀

 個別仕様書による。 

 個別仕様書に規定がない場

合は，次のいずれかによる。 

(1) （アダプタを介して）接

続した一つのプラグのう

ち，一つの軸心に対し回

転したときの接続損失変

動が0.1 dB以内であり，

挿入損失が0.4 dB以下で

ある光コネクタ。 

(2) プラグが，次の寸法精度

をもつ光コネクタ。 

フェルールに対するコア

偏心量 

0.5  洀

下 

出射角 

0.2度以下 

フェルール外径精度 

 

±0.5  洀洀

 個別仕様書による。 

 個別仕様書に規定がない場

合は，次のいずれかによる。 

(1) （アダプタを介して）接

続した一つのプラグのう

ち，一つの軸心に対し回

転したときの接続損失変

動が0.2 dB以内であり，

挿入損失が1 dB以下であ

る光コネクタ。 

(2) プラグが，次の性能及び

寸法精度をもつ光コネク

タ。 

挿入損失 

1 dB以下 

フェルールに対するコア

偏心量 

0.015 mm以下 

フェルール外径精度 

 

±0.005 mm 

 個別仕様書による。 

 個別仕様書に規定がない場

合は，次のいずれかによる。 

(1) （アダプタを介して）接

続した一つのプラグのう

ち，一つの軸心に対し回

転したときの接続損失変

動が0.2 dB以内であり，

挿入損失が1 dB以下であ

る光コネクタ。 

(2) プラグが，次の性能及び

寸法精度をもつ光コネク

タ。 

挿入損失 

1 dB以下 

フェルールに対するコア

偏心量 

0.015 mm以下 

フェルール外径精度 

 

±0.005 mm 

 個別仕様書による。 

 個別仕様書に規定がない場

合は，次のいずれかによる。 

(1) （アダプタを介して）接

続した一つのプラグのう

ち，一つの軸心に対し回

転したときの接続損失変

動が0.2 dB以内であり，

挿入損失が1 dB以下であ

る光コネクタ。 

(2) プラグが，次の性能及び

寸法精度をもつ光コネク

タ。 

挿入損失 

1 dB以下 

フェルールに対するコア

偏心量 

0.1 mm以下 

フェルール外径精度 

 

±0.01 mm 

光ファイバ 

 測定の際接続する光ファイ

バは，同一(3)でなければなら

ない。 

 マスタ光コネクタに使用す

る光ファイバは，公称値に等

しい構造パラメータ（コア径，

コア非円率，比屈折率差）を

もつ光ファイバと同一(3)であ

る。 

 測定の際接続する光ファイ

バは，規定がない限り，適用

する光ファイバの構造パラメ

ータの公称値及び公差が共に

等しいものとする。 

 なお，構造パラメータとは，

モードフィールド径及び遮断

波長とする。 

 測定の際接続する光ファイバは，同一(4)でなければならない。 

 マスタ光コネクタに使用する光ファイバは，公称値に等しい構造パラメータ（コア径，コ

ア非円率，比屈折率差）をもつ光ファイバ。 

108 

C 5961：2005  

 

 

1

0

8

 

C

 5

9

6

1

：

2

0

0

5

  

1

0

8

 

C

 5

9

6

1

：

2

0

0

5

  

 

 

著
作
権
法
に
よ
り
無
断
で
の
複
製
，
転
載
等
は
禁
止
さ
れ
て
お
り
ま
す
。
 

注(2)  光入力が，−20dBmの場合の確度を示す。 

(3) 同一とは，2本の光ファイバが次の条件をすべて満足する。 

(1) コア径差が2 %以内。 

(2) コア非円率がそれぞれ2 %以内。 

(3) 比屈折率差の差異が測定に支障がない値である。 

(4) 同一とは，2本の光ファイバが次の条件をすべて満足する。 

(1) コア径差が4 %以内。 

(2) コア非円率がそれぞれ4 %以内。 

(3) 比屈折率差の差異が測定に支障がない値である。 

 

109 

C 5961：2005  

 

著作権法により無断での複製，転載等は禁止されております。 

附属書2（規定）フェルール引抜き力の負荷を加える速度 

この附属書は，IEC 61300-3-33，Ferrule withdrawl forceのAnnexを翻訳し，技術的変更をせずに規定し

たものである。 

 

1. 適用範囲 この附属書は，本体の8.4において引張り試験機又はおもりによる負荷を加える速度を理

論的に決定し，引抜きの速度と試験部の固さに関係するピーク誤差を評価するための方法について規定す

る。 

2. 手順 ピーク誤差を許容限界内に維持するために，負荷は十分に低い速度で加える。約10 cm/minの

値が一般的である。この値は，ほとんどの試験装置に許容できる速度であり，他の応用試験に対しても小

さな値である。 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

附属書2図1 力を加える機構 

引張試験機及びおもりを用いた装置に力を加える構成を附属書2図1に示す。両装置共に，機構部が速

度Xで動作するように力を加える。図中のばねは測定系の円滑な動きを説明するものである。独立したば

ねはないほうがよいが，測定系が円滑に動かない場合，又は高速で力を加える場合には，これを加えても

よい。 

両装置共に，測定誤差は負荷を加える速度の増加とともに増加し，試験系のばね定数の増加とともに増

加する。引張試験機を用いる試験の場合，テンションゲージの応答速度の増加とともに誤差は減少する。

式(1)及び式(2)にこれらの関係を示す。 

引張試験機を用いた試験におけるピーク誤差 

c

p

R

KX

E＝

  (1)  

110 

C 5961：2005  

 

著作権法により無断での複製，転載等は禁止されております。 

おもり試験におけるピーク誤差。 

g

KF

X

E＝

p

  (2)  

ここに， 

K： 試験系のばね定数（力／距離） 

 

X： 速度（距離／時間） 

 

Rc： テンションゲージの応答速度（結果/時間） 

 

F： おもりによる力の印加（力） 

 

g： 重力加速度（距離/時間2） 

 

式(1)，(2)は，ほとんどの試験ユニットに適用できる。 

試験系のばね定数は，次のように評価してもよい。 

引張試験機 適切な試験装置を用いて，力を加える先端を距離

堰

兒

かし，そのときの力の変化

銊

録する。 

おもり試験 試験装置に取り付けたおもりを用いて加える力

鉙

化させ，おもりの移動距離

堰

測定する。 

X

Δ

F

Δ

K＝

 

 

 

 

 

 

 

111 

C 5961：2005  

 

著作権法により無断での複製，転載等は禁止されております。 

附属書3（規定）ファイバ引込み量とファイバ突出し量の計算手順 

 この附属書は，IEC 61300-3-23:Fibre position relative ferrule endfaceのAnnex Aを翻訳し，技術的変更をせ

ずに規定したものである。 

 

1. 適用範囲 この附属書は，本体の6.11の測定方法1（表面粗さ計法）及び測定方法2（干渉計式三次元

測定法）におけるファイバ引込み量（+W）及びファイバ突出し量（−W）を求める際の推奨計算手順につ

いて規定する。 

2. 手順 取得したフェルール端面のプロファイル(附属書3図1)は，近接する円弧の各々の座標d1から

d2を引くことによって変換される。 

 円弧の頂点の位置の影響は，ファイバ引込み量又はファイバ突出し量の値を計算する上で無視できる。

(ただし，高さ方向の位置や，変換されたプロファイルの傾斜を求めるときには，無視できない。)。 

 近接する円弧の半径Rは，次のようにして求められる。 

 ファイバ引き込み量(＋W)又はファイバ突き出し量(−W)は，次の関係式で計算される。  

 ここで，< >は，添字で示された区間の値の平均を示す。 

ファイバ中心Cの区間の平均で定義された点の位置は，個別仕様書に規定される。フェルール端面の球

面半径が8〜25 mmであり，公称直径125 

洀

ァイバ用の光コネクタにおいては，次の値を推奨する。 

(*) mとnの点は，aとgにできるだけ接近して取ることが望ましい。表面粗さのばらつきや，測定時のシ

ステムノイズを減少させることができるので，175 

洀

琰

フトすることができる。 

 近接する円弧の半径Rは，円弧を区間m−bと区間f−n (エラーが発生する最小の区間)でフィッティン

グすることによって求められる。 

これを求める手順として，次の式を用いることを推奨する。 

ここで 

xm は区間m−cの大きさ(区間c−nの大きさと同じ) 

xb は区間b−cの大きさ(区間c−fの大きさと同じ) 

また 

ここで，< >は，上述したものと同じ意味であり，xはc点からの距離の絶対値である。b1とb2は区間m

−b及び区間f−nにおけるプロファイルに近接した直線区間の傾斜である。 

 

112 

C 5961：2005  

 

著作権法により無断での複製，転載等は禁止されております。 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

附属書3図1 取得したフェルール端面のプロファイル 

 

 

 

                       

  

 

11

3

 

C

 5

9

6

1

：

2

0

0

5

  

11

3

 

C

 5

9

6

1

：

2

0

0

5

  

 

 

 

附属書4（参考）JISと対応する国際規格との対比表 

JIS C 5961：2005 光ファイバコネクタ試験方法 

IEC 61300-2シリーズ，IEC 61300-3シリーズ 光コネクタ及び光受動部品試験測
定方法 

(Ⅰ) JISの規定 

(Ⅱ) 国際規格番
号 

(Ⅲ) 国際規格の規定 

(Ⅳ) JISと国際規格との技術的差異の
項目ごとの評価及びその内容 
 表示箇所：本文の左側 
 表示方法：傍線 

(Ⅴ) JISと国際規格との技術的差異の理由及び
今後の対策 

項目 
番号 

内容 

項目 
番号 

内容 

項目ごと
の評価 

技術的差異の内容 

1適用範囲 

適用範囲の規定 

IEC 61300-1 

1 

適用範囲 

MOD/削除 

この規格の内容に限
定。 

IEC規格ではJISに規定されていない項目
を多く含んでいるため，より広い適用範囲
が記述されている。次期改正時に整合させ
る方向で検討する。 

3定義 

用語の定義 

IEC 61300-1 

3 

用語の定義 

MOD/追加 

この規格で取り扱う
用語に則する。 

IEC規格ではJISに規定されていない項目
を含んでいるとともに，JISでは我が国の
実情に合わせた独自の規格を含むため，用
語の種類が合致していない。次期改正時に
整合させる方向で検討する。 

4試験の状
態 

試験の状態 

IEC 61300-1 

4 

試験の状態 

MOD/変更 

JIS C 60068-1に整合
させたもの。 

我が国の気候条件に合わせた温度範囲を
規定しているとともに，それ以外の項目を
規定していない。 

5外観及び
構造 

外観及び構造 

IEC 61300-3-1 

− 

外観及び構造 

MOD/追加 

かん合性を追加。 

我が国の実情に則して追加。 

6.1フェルー
ル外径 

リングゲージ法， 
指針測微器法， 
測長器（マイクロメ
ータなど）法による
試験 

IEC 61300-3-36 

− 

フェルール外径 MOD/追加 

ブロックゲージと比
較測定する方法2が追
加されているととも
に，IEC規格で記述さ
れている詳しい手順
は規定していない。 

我が国の実情に則した規定となっている
が，将来的にはIEC規格に整合させる予定。 

114 

C 5961：2005  

 

 

11

4

 

C

 5

9

6

1

：

2

0

0

5

  

11

4

 

C

 5

9

6

1

：

2

0

0

5

  

 

 

 

(Ⅰ) JISの規定 

(Ⅱ) 国際規格番
号 

(Ⅲ) 国際規格の規定 

(Ⅳ) JISと国際規格との技術的差異の
項目ごとの評価及びその内容 
 表示箇所：本文の左側 
 表示方法：傍線 

(Ⅴ) JISと国際規格との技術的差異の理由及び
今後の対策 

項目 
番号 

内容 

項目 
番号 

内容 

項目ごと
の評価 

技術的差異の内容 

6.2フェルー
ル光ファイ
バ挿入穴径
及び非弾性
スリーブ内
径 

プラグゲージ法によ
る試験 

IEC 61300-3-36 

− 

フェルール光
ファイバ挿入
穴径及び非弾
性スリーブ内
径 

MOD/追加 

非弾性スリーブ内径
の測定方法が追加さ
れているとともに，
IEC規格で記述されて
いる詳しい手順は規
定していない。 

我が国の実情に則した規定となっている
が，将来的にはIEC規格に整合させる予
定。 

6.3フェルー
ル及び光フ
ァイバ付き
フェルール
の同心度 

フェルール外径基準
法，コア中心基準法，
穴基準法による試験 

IEC 61300-3-25 

− 

JISに同じ 

IDT 

− 

− 

6.4光ファイ
バ挿入穴角
度 

光ファイバ挿入穴か
らプラグゲージを突
出させ，Vブロック
上で回転させて先端
の変位量から測定す
る試験 

− 

− 

規定なし 

MOD/追加 

IEC規格では規格化さ
れていない。 

5.5の代替的手段として我が国の実情に則
して追加。 

6.5光ファイ
バコアの出
射角度 

フェルールをVブロ
ック上で180度回転
させ，光スポットの
変位量から測定する
試験 

IEC 61300-3-26 

− 

JISに同じ 

MOD/削除 

スクリーンをCCD又
は他の2次元検知器に
置き換え得る記述を
削除。 

我が国ではスクリーンを用いた方法だけ
が実施されているため，それ以外の方法に
関する記述を削除。次期改正時に整合させ
る方向で検討する。 

6.6球面研磨
光コネクタ
の曲率半径 

輪郭測定法， 
干渉形法， 
外径投影法による
試験 

IEC 61300-3-16 

− 

JISに同じ 

MOD/追加 

非弾性スリーブによ
るフェルール保持方
法を追加。 

IEC規格ではV溝だけの規定であるが，我
が国では非弾性スリーブによる保持方法
が広く用いられているため。 

                       

  

 

11

5

 

C

 5

9

6

1

：

2

0

0

5

  

11

5

 

C

 5

9

6

1

：

2

0

0

5

  

 

 

 

(Ⅰ) JISの規定 

(Ⅱ) 国際規格番
号 

(Ⅲ) 国際規格の規定 

(Ⅳ) JISと国際規格との技術的差異の
項目ごとの評価及びその内容 
 表示箇所：本文の左側 
 表示方法：傍線 

(Ⅴ) JISと国際規格との技術的差異の理由及び
今後の対策 

項目 
番号 

内容 

項目 
番号 

内容 

項目ごと
の評価 

技術的差異の内容 

6.7球面偏心
量 

ニュートンリング法
（接触法）干渉リン
グ法（非接触法）に
よる試験 

IEC 61300-3-15 

− 

JISに同じ 

IDT 

− 

− 

6.8フェルー
ルの斜め研
磨角度 

自動干渉法 
手動干渉法 
表面粗さ計法 
反射光法による試
験 

IEC 61300-3-17 

− 

JISに同じ 

IDT 

− 

− 

6.9プラグの
キーと斜め
研磨面傾斜
方向との角
度 

光コネクタキーの回
転角度と，回転によ
る斜め研磨面の反射
光パターンの回転角
度とを比較する試験 

IEC 61300-3-18 

− 

JISに同じ 

IDT 

− 

− 

6.10多心光
ファイバフ
ェルールの
穴位置精度 

モニタTV上で計測
した各穴の像位置か
らピッチ寸法を計算
する試験 

IEC 61300-3-27 

− 

JISに同じ 

IDT 

− 

− 

6.11フェル
ール端面か
らのファイ
バ引込み量 

表面粗さ計法， 
干渉計式三次元測
定法， 
干渉計式二次元測
定法による試験 

IEC 61300-3-23 

− 

JISに同じ 

IDT 

− 

− 

6.12偏波保
持光ファイ
バ付き光コ
ネクタのキ
ー位置精度 

直線偏波光源と検光
子によるキー位置精
度測定法による試験 

IEC 61300-3-24 

− 

JISに同じ 

IDT 

− 

− 

116 

C 5961：2005  

 

 

11

6

 

C

 5

9

6

1

：

2

0

0

5

  

11

6

 

C

 5

9

6

1

：

2

0

0

5

  

 

 

 

(Ⅰ) JISの規定 

(Ⅱ) 国際規格番
号 

(Ⅲ) 国際規格の規定 

(Ⅳ) JISと国際規格との技術的差異の
項目ごとの評価及びその内容 
 表示箇所：本文の左側 
 表示方法：傍線 

(Ⅴ) JISと国際規格との技術的差異の理由及び
今後の対策 

項目 
番号 

内容 

項目 
番号 

内容 

項目ごと
の評価 

技術的差異の内容 

7.1挿入損失 光コネクタを含め

た受動部品の挿入
損失測定法であり， 
カットバック法， 
置き換え法， 
挿入法A， 
挿入法B， 
挿入法C， 
OTDR法による試験 

IEC 61300-3-4 

− 

光コネクタ及
び光受動部品
に関する挿入
損失試験方法 

MOD/変更 

光コネクタに関する
測定だけを規定。 
測定条件を附属書と
して追加。 
追加：旧JISで規定さ
れていた次の項目を
附属書に追加 
・波長  
・マスタプラグ 
・励振器 
削除：タイプ4のDUT
（プラグープラグ） 

残りは光受動部品に関する規定。 
 
IEC規格の規定では定常モード励振の規定
がないため追加。 

7.2反射減衰
量 

分岐／結合器法， 
OTDR法， 
方向性結合器及びテ
ンポラリジョイント
による測定法， 
方向性結合器及び全
反射コードによる測
定法， 
OLCR法による試験 

IEC 61300-3-6 

− 

反射減衰量 

MOD/変更 

テンポラリジョイン
トによる測定法と全
反射コードによる測
定法の二つを追加。 

追加した方法は我が国では従来から広く
用いられている方法である。 

7.3偏波保存
光ファイバ
付き光コネ
クタの消光
比 

レンズなど光素子を
用いた光学測定系に
よる消光比測定法に
よる試験 

IEC 61300-3-40 

− 

JISに同じ 

IDT 

− 

− 

8.1耐振性 

光コネクタに振動
を印加する試験 

IEC 61300-2-1 

− 

JISに同じ 

MOD/追加 

供試品が円筒形の場
合の規定を追加 
 振動方向：2軸方向 

IEC規格には3軸方向の規定しかないが，
円筒形の場合は2軸方向で規定可能なた
め。 

                       

  

 

11

7

 

C

 5

9

6

1

：

2

0

0

5

  

11

7

 

C

 5

9

6

1

：

2

0

0

5

  

 

 

 

(Ⅰ) JISの規定 

(Ⅱ) 国際規格番
号 

(Ⅲ) 国際規格の規定 

(Ⅳ) JISと国際規格との技術的差異の
項目ごとの評価及びその内容 
 表示箇所：本文の左側 
 表示方法：傍線 

(Ⅴ) JISと国際規格との技術的差異の理由及び
今後の対策 

項目 
番号 

内容 

項目 
番号 

内容 

項目ごと
の評価 

技術的差異の内容 

8.2耐衝撃性 光コネクタに衝撃

を印加する試験 

IEC 61300-2-9 

− 

JISに同じ 

MOD/追加 

供試品が光コネクタ
に限定した場合の規
定を追加。 

IEC規格には衝撃を加える方向の規定はな
いが，供試品を光コネクタに限定した場合
の条件を規定した。 

8.3繰返し動
作 

光コネクタ締結機
構の結合と離脱を
繰り返す試験 

IEC 61300-2-2 

− 

供試光コネクタ
の片方を着脱す
る試験方法 

MOD/追加 

“装置”の“繰返し手
段”の項に，動作は主
に手動で行う旨を追
記。また，アダプタの
試験を追加。 

我が国の実情では手動操作が一般的であ
るため，装置に制約されない表現とした。
また，複数の結合部を有するアダプタを考
慮し，結合部ごとに試験することを規定。 

8.4フェルー
ル引抜き力 

フェルールをスリ
ーブ内から抜取る
時の引抜力を測定
する試験 

IEC 61300-3-33 

− 

JISに同じ 
ピンゲージ径精
度：±0.1 

洀洀

MOD/変更 

個別仕様書に規定す
る事項に最小値も規
定できる表現とした。
また，ピンゲージの直
径や精度を個別規定
での規定に変更。 

我が国の実情に合わせ，引抜き力の許容値
は最小と最大で規定できる内容に変更。ま
た，ピンゲージの直径や公差も，我が国の
実状に合わせて数値での規定を外し，個別
での規定に変更。 

8.5フェルー
ル押圧力 

光コネクタかん合
状態でフェルール
に加わるばね押付
け力を測定する試
験 

IEC 61300-3-22 

− 

JISに同じ 

IDT 

− 

− 

8.6結合部接
続強度（軸
方向） 

光コネクタ間の締
結部に軸方向の引
張力を印加する試
験 

IEC 61300-2-6 

− 

JISに同じ 

MOD/追加 

“厳しさ”の項に引張
速さを，“個別仕様
書”の項に適用光ファ
イバコード（種類及び
長さなど）を追加。 

引張速度は試験条件を定義するうえでの
主要項目であり規定として追加した。ま
た，適用光ファイバコードの詳細を明確に
するため，個別仕様書に規定を追加。 

8.7光コネク
タ取付け部
強度（軸方
向） 

光コネクタ取付け
部に軸方向の引張
力を印加する試験 

− 

− 

規定なし 

MOD/追加 

IEC規格では規格化さ
れていない。 

光コネクタ取付け部に通常の使用状態で
加えられる軸方向の引張力に対し，光コネ
クタ取付け部の強度を確認するための耐
性試験で，8.6の代替的手段として我が国
の実情に則して追加。 

118 

C 5961：2005  

 

 

11

8

 

C

 5

9

6

1

：

2

0

0

5

  

11

8

 

C

 5

9

6

1

：

2

0

0

5

  

 

 

 

(Ⅰ) JISの規定 

(Ⅱ) 国際規格番
号 

(Ⅲ) 国際規格の規定 

(Ⅳ) JISと国際規格との技術的差異の
項目ごとの評価及びその内容 
 表示箇所：本文の左側 
 表示方法：傍線 

(Ⅴ) JISと国際規格との技術的差異の理由及び
今後の対策 

項目 
番号 

内容 

項目 
番号 

内容 

項目ごと
の評価 

技術的差異の内容 

8.8光コネク
タ取付け部
強度（トル
ク） 

光コネクタ取付け
部に回転方向のト
ルクを印加する試
験 

− 

− 

規定なし 

MOD/追加 

IEC規格では規格化さ
れていない。 

現在はプッシュプル方式が主流であるが，
一部我が国にあるねじ締結方式に対応し
たものとして規格化。 

8.9光コネク
タ取付け部
強度（横方
向） 

光コネクタ取付け
部に横方向の引張
力を印加する試験 

IEC 61300-2-3 

− 

JISに同じ 

MOD/追加 

引張試験機の図示を
追加。また，“厳しさ”
の項に引張速さ及び
保持時間を個別仕様
書に規定することを
追加。 

利便性を考慮して試験装置の図を追加。ま
た，試験条件の表現をより分かりやすくす
るため，引張速さ及び保持時間を個別仕様
書で規定することを追加。 

8.10落下強
度（光ファ
イバコード
付き） 

垂れ下がった状態
で自由に揺動する
ように取り付けた
光コネクタ付き光
ファイバコードを
衝撃面に衝突させ
る耐性試験 

IEC 61300-2-12 

− 

落下試験 
ハンマー衝撃試
験 

MOD/変更 

落下試験だけ規定。 

ハンマー衝撃試験は8.18に規定。 

8.11光ファ
イバコード
クランプ強
度（軸方向
への引張
り） 

光コネクタを取付
け具に固定し，光フ
ァイバコードに引
張力を加える耐性
試験 

IEC 61300-2-4 

− 

JISに同じ 

MOD/追加 

方法2を追加。 

我が国の実情に即して追加規定。 

                       

  

 

11

9

 

C

 5

9

6

1

：

2

0

0

5

  

11

9

 

C

 5

9

6

1

：

2

0

0

5

  

 

 

 

(Ⅰ) JISの規定 

(Ⅱ) 国際規格番
号 

(Ⅲ) 国際規格の規定 

(Ⅳ) JISと国際規格との技術的差異の
項目ごとの評価及びその内容 
 表示箇所：本文の左側 
 表示方法：傍線 

(Ⅴ) JISと国際規格との技術的差異の理由及び
今後の対策 

項目 
番号 

内容 

項目 
番号 

内容 

項目ごと
の評価 

技術的差異の内容 

8.12光ファ
イバコード
クランプ強
度（屈曲） 

両端光コネクタ付
き光ファイバコー
ドの片端におもり
をぶらさげ，他端の
光コネクタを90度
ずつ往復屈曲行う
試験 

(IEC 61300-2-44) 

− 

規定なし 

MOD/追加 

IEC規格では規格化さ
れていない。 

通常の使用状態下で加わる光ファイバコ
ードの屈曲に対して，光コネクタに取り付
けられた光ファイバコードクランプ部の
強度を調べる試験方法として規格化。 
現在IECで審議中。 

8.13結合力
及び離脱力 

光コネクタの結合
若しくは離脱に必
要な力，又はトルク
を測定する試験 

IEC 61300-3-11 

− 

JISに同じ 

MOD/追加 

測定回数5回を追加，
試験手順説明を追加。 

試験手順に表現をより分かりやすくする
ために詳細な説明を追加。 

8.14結合部
接続強度
（トルク） 

光コネクタの締結
トルクの耐力を調
べる試験 

IEC 61300-2-15 

− 

JISに同じ 

IDT 

 

 

8.15結合部
接続強度
（横方向） 

曲げ力に対する光
コネクタの締結機
構の耐力を調べる
試験 

IEC 61300-2-7 

− 

JISに同じ 

MOD/追加 

試験手順の説明を追
加。 

試験手順に表現をより分かりやすくする
ために詳細な説明を追加。 

8.16光ファ
イバコード
クランプ強
度（軸方向
圧縮） 

光ファイバコード
の軸方向に圧縮力
を加える試験 

IEC 61300-2-11 

− 

JISに同じ 

MOD/追加 

試験手順の説明を追
加。 

試験手順に表現をより分かりやすくする
ために詳細な説明を追加。 

8.17光ファ
イバコード
クランプ強
度（ねじり） 

張力を加えた状態
でのねじり力に対
する光ファイバコ
ードクランプ部の
耐力を調べる試験 

IEC 61300-2-5 

− 

JISに同じ 

MOD/変更 

通光の有無を個別規
定で規定。 

IEC規格では通光ありの手順となっている
が，我が国の実状に即し，通光の有無につ
いては個別仕様書に規定。 

120 

C 5961：2005  

 

 

1

2

0

 

C

 5

9

6

1

：

2

0

0

5

  

1

2

0

 

C

 5

9

6

1

：

2

0

0

5

  

 

 

 

(Ⅰ) JISの規定 

(Ⅱ) 国際規格番
号 

(Ⅲ) 国際規格の規定 

(Ⅳ) JISと国際規格との技術的差異の
項目ごとの評価及びその内容 
 表示箇所：本文の左側 
 表示方法：傍線 

(Ⅴ) JISと国際規格との技術的差異の理由及び
今後の対策 

項目 
番号 

内容 

項目 
番号 

内容 

項目ごと
の評価 

技術的差異の内容 

8.18ハンマ
ー衝撃 

鉄床上に置いた光
コネクタにハンマ
ーを落下させる試
験 

IEC 61300-2-12 

− 

落下試験 
ハンマー衝撃試
験 

MOD/変更 

ハンマー衝撃試験だ
け規定。 

落下試験は8.10に規定。 

8.19ゲージ
保持力 

光コネクタの弾性
部材からゲージを
引き抜く際の保持
力を測定する試験 

IEC 61300-3-10 

− 

JISに同じ 

MOD/変更 

“手順”に規定されて
いる規格を“厳しさ”
に規定。 

IEC規格ではこの項目を測定に分類してお
りゲージ保持時間を手順に規定している
が，JISでは試験に分類するため厳しさに
規定。 

9.1塩水噴霧 光コネクタを塩水

噴霧にさらす試験 

IEC 61300-2-26 

− 

JISに同じ 

MOD/追加 

試験手順の説明を備
考に追加。 

試験手順に表現をより分かりやすくする
ために詳細な説明を追加。 

9.2温度サイ
クル 

光コネクタを温度
サイクル状態にさ
らす試験 

IEC 61300-2-22 

− 

JISに同じ 

MOD/追加 

試験手順の説明を備
考に追加。 

試験手順に表現をより分かりやすくする
ために詳細な説明を追加。 

9.3耐湿性
（定常状
態） 

光コネクタを高温
高湿中に規定時間
放置する試験 

IEC 61300-2-19 

− 

JISに同じ 

MOD/追加 

試験手順の説明を備
考に追加。 

試験手順に表現をより分かりやすくする
ために詳細な説明を追加。 

9.4耐湿性
（温湿度サ
イクル） 

光コネクタを温湿
度状態にさらす試
験 

IEC 61300-2-21 

− 

JISに同じ 

MOD/追加 

供試品を光コネクタ
に限定した場合の条
件を備考に追加。 

試験手順に表現をより分かりやすくする
ために詳細な説明を追加。 

9.5耐熱性 

高温の状態で使用，
保存又は輸送する
光コネクタの適合
性を調べるために，
光コネクタを長時
間，高温の環境にさ
らして行う試験 

IEC 61300-2-18 

− 

JISに同じ 

MOD/追加 

供試品を光コネクタ
に限定した場合の条
件を備考に追加。 
個別仕様書に規定の
ない場合の試験時間
を追加規定。 

試験手順に表現をより分かりやすくする
ために詳細な説明を追加。 

                       

  

 

1

2

1

 

C

 5

9

6

1

：

2

0

0

5

  

1

2

1

 

C

 5

9

6

1

：

2

0

0

5

  

 

 

 

(Ⅰ) JISの規定 

(Ⅱ) 国際規格番
号 

(Ⅲ) 国際規格の規定 

(Ⅳ) JISと国際規格との技術的差異の
項目ごとの評価及びその内容 
 表示箇所：本文の左側 
 表示方法：傍線 

(Ⅴ) JISと国際規格との技術的差異の理由及び
今後の対策 

項目 
番号 

内容 

項目 
番号 

内容 

項目ごと
の評価 

技術的差異の内容 

9.6耐寒性 

低温の状態で使用，
保存又は輸送する
光コネクタの適合
性を調べるために，
光コネクタを長時
間，低温の環境にさ
らして行う試験 

IEC 61300-2-17 

− 

JISに同じ 

MOD/追加 

供試品を光コネクタ
に限定した場合の条
件を備考に追加。 
個別仕様書に規定の
ない場合の試験時間
を追加規定。 

試験手順に表現をより分かりやすくする
ために詳細な説明を追加。 

9.7ダスト 

光コネクタに対す
るダスト（塵埃）の
影響を調べる試験 

IEC 61300-2-27 

− 

JISに同じ 

MOD/追加 

ダスト材料の規定及
び試験時間の推奨条
件を追加規定。 

試験手順に表現をより分かりやすくする
ために詳細な説明を追加。 

 
JISと国際規格との対応の程度の全体評価：MOD 

 
備考1．項目ごとの評価欄の記号の意味は，次のとおりである。 

  ― IDT………………  技術的差異がない。 
  ― MOD/削除……… 国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。 
  ― MOD/追加……… 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。 
  ― MOD/変更……… 国際規格の規定内容を変更している。 
  ― MOD/選択……… 国際規格の規定内容と別の選択肢がある。 
  ― NEQ…………… 技術的差異があり，かつ，それがはっきりと識別され説明されていない。 
2．JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次のとおりである。 
  ― IDT……………… 国際規格と一致している。 
  ― MOD…………… 国際規格を修正している。 
  ― NEQ…………… 技術的内容及び構成において，国際規格と同等でない。