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C 5925-5

:2013

(1)

目  次

ページ

序文  

1

1

  適用範囲  

1

2

  引用規格  

1

3

  用語及び定義  

3

4

  定格  

4

5

  光学特性  

4

5.1

  試験詳細及び要求事項  

4

6

  環境及び耐久性特性  

9

7

  試料  

11

8

  試験報告書  

11

9

  表示  

11

10

  包装  

11

11

  安全  

12

附属書 JA(参考)JIS と対応国際規格との対比表  

13


C 5925-5

:2013

(2)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,一般財団法人光産業技術振興協会(OITDA)

及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出

があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格である。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。


日本工業規格

JIS

 C

5925-5

:2013

シングルモード光ファイバピッグテール形

中規模 1×N DWDM デバイス

Non-connectorized single-mode fibre optics

middle-scale 1xN DWDM devices

序文 

この規格は,2009 年に第 1 版として発行された IEC 61753-081-2 を基に,JIS C 5925-1(WDM デバイス

通則)において,

“個別規格において規定する”としていた 1×N DWDM デバイスの“光学特性”及び“環

境及び耐久性に関する性能”に関して,技術的内容を変更して作成した日本工業規格である。

なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。

変更の一覧表にその説明を付けて,

附属書 JA に示す。

適用範囲 

この規格は,屋内環境条件で光ファイバを用いた光伝送に使用する 1×N DWDM デバイスの定格,光学

特性並びに環境及び耐久性特性について規定する。

なお,この規格は,チャネル間隔が 50 GHz,100 GHz 及び 200 GHz,かつ,チャネル数が中規模(16≦

N≦64)のシングルモード光ファイバピッグテール形 1×N DWDM デバイスに対して適用する。

注記  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 61753-081-2:2009

,Fibre optic interconnecting devices and passive components performance

standard−Part 081-2: Non-connectorized single-mode fibre optic middle-scale 1 x N DWDM

devices for category C−Controlled environments(MOD)

なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,

“修正している”

ことを示す。

引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。

は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 5901

  光伝送用受動部品試験方法

注記  対応国際規格:IEC 61300-2-4,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic

test and measurement procedures−Part 2-4: Tests−Fibre/cable retention(MOD)

JIS C 5925-1

  WDM デバイス通則

注記  対応国際規格:IEC 62074-1,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Fibre

optic WDM devices−Part 1: Generic specification(MOD)


2

C 5925-5

:2013

JIS C 6835

  石英系シングルモード光ファイバ素線

JIS C 61300-2-1

  光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第 2-1 部:正弦

波振動試験

注記  対応国際規格:IEC 61300-2-1,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic

test and measurement procedures−Part 2-1: Tests−Vibration (sinusoidal)(MOD)

JIS C 61300-2-9

  光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第 2-9 部:衝撃

試験

注記  対応国際規格:IEC 61300-2-9,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic

test and measurement procedures−Part 2-9: Tests−Shock(MOD)

JIS C 61300-2-14

  光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第 2-14 部:光

パワー損傷のしきい値試験

注記  対応国際規格:IEC 61300-2-14,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic

test and measurement procedures−Part 2-14: Tests−Optical power handling and damage threshold 
characterization(MOD)

JIS C 61300-2-17

  光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第 2-17 部:低

温試験

注記  対応国際規格:IEC 61300-2-17,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic

test and measurement procedures−Part 2-17: Tests−Cold(IDT)

JIS C 61300-2-18

  光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第 2-18 部:高

温試験

注記  対応国際規格:IEC 61300-2-18,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic

test and measurement procedures−Part 2-18: Tests−Dry heat−High temperature endurance(IDT)

JIS C 61300-2-19

  光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第 2-19 部:高

温高湿試験(定常状態)

注記  対応国際規格:IEC 61300-2-19,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic

test and measurement procedures−Part 2-19: Tests−Damp heat (steady state)(IDT)

JIS C 61300-2-22

  光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第 2-22 部:温

度サイクル試験

注記  対応国際規格:IEC 61300-2-22,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic

test and measurement procedures−Part 2-22: Tests−Change of temperature(IDT)

JIS C 61300-3-2

  光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第 3-2 部:シン

グルモード光デバイスの光損失の偏光依存性

注記  対応国際規格:IEC 61300-3-2,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic

test and measurement procedures − Part 3-2: Examination and measurements − Polarization 
dependent loss in a single-mode fibre optic device(MOD)

JIS C 61300-3-6

  光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第 3-6 部:反射

減衰量測定

注記  対応国際規格:IEC 61300-3-6,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic

test and measurement procedures−Part 3-6: Examinations and measurements−Return loss(MOD)

JIS C 61300-3-20

  光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第 3-20 部:波


3

C 5925-5

:2013

長選択性のない光ブランチングデバイスのディレクティビティ測定

注記  対応国際規格:IEC 61300-3-20,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic

test and measurement procedures−Part 3-20: Examinations and measurements−Directivity of fibre 
optic branching devices(IDT)

JIS C 61300-3-32

  光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第 3-32 部:光

受動部品の偏波モード分散測定

注記  対応国際規格:IEC 61300-3-32,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic

test and measurement procedures−Part 3-32: Examinations and measurements−Polarization mode

dispersion measurement for passive optical components(MOD)

IEC 61300-2-42

,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement

procedures−Part 2-42: Tests−Static side load for connectors

IEC 61300-2-44

,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement

procedures−Part 2-44: Tests−Flexing of the strain relief of fibre optic devices

IEC 61300-3-29

,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement

procedures−Part 3-29: Examinations and measurements−Measurement techniques for characterizing the 
amplitude of the spectral transfer function of DWDM components

IEC 61300-3-38

,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and measurement

procedures−Part 3-38: Examinations and measurements−Group delay, chromatic dispersion and phase 
ripple

IEC 61753-021-2

,Fibre optic interconnecting devices and passive components performance standard−Part

021-2: Grade C/3 single-mode fibre optic connectors for category C−Controlled environment

ITU-T Recommendation G.Sup39

,Optical system design and engineering considerations 

ITU-T Recommendation G.692:1998

,Optical interface for multi-channel systemes with optical amplifiers

ITU-T Recommendation G.694.1:2002

,Spectral grids for WDM applications: DWDM frequency grid

用語及び定義 

この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS C 5925-1 によるほか,次による。

3.1 

中規模 1×N DWDM デバイス 

DWDM チャネル間隔(Δf)が 50 GHz,100 GHz 及び 200 GHz で,かつ,チャネル数(N)16∼64 の光

合分波機能をもつ波長選択ブランチングデバイス。

3.2 

ガウス形通過帯域形状 

通過帯域の損失波長特性がガウス関数の形状であること。

3.3 

フラットトップ形通過帯域形状 

通過帯域の損失波長特性が平たん(坦)な形状であること。

3.4 

チャネル周波数範囲 

ITU-T グリッド,又はカスタム設計によって決まるチャネル中心周波数(f

c

)に対し,f

c

−0.125×Δから


4

C 5925-5

:2013

f

c

+0.125×Δまでの周波数範囲。

定格 

中規模 1×N DWDM デバイスの定格は,

表 による。

表 1−中規模 1×N DWDM デバイスの定格 

項目

記号

条件

定格値

使用温度範囲          ℃

T

a

0∼60

a)

保存温度範囲          ℃

T

stg

−40∼85

使用波長範囲

b)

        nm

λ

band

− 1

260∼1 360(O バンド WDM 用)

1 360∼1 460(E バンド WDM 用) 
1 460∼1 530(S バンド WDM 用) 
1 530∼1 565(C バンド WDM 用) 
1 565∼1 625(L バンド WDM 用) 
1 625∼1 675(U バンド WDM 用)

最大入射光パワー    dBm

P

max

JIS C 61300-2-14 

入力ポート:単一

25

a)

  図 の一定水蒸気量曲線を含む閉曲線で囲まれる領域は,屋内環境条件での使用温度範囲に対する湿

度範囲を示す。

b)

  この使用波長範囲は ITU-T Recommendation G.Sup39 による。この内容は,要求事項ではなく,推奨

値である。実際の使用波長範囲は,製造業者が指定する。

a)

 30 ℃∼60  ℃の一定水蒸気量曲線は,30  ℃ 85 %RH と同じ水蒸気量の温度及び湿度を示す。

図 1−温度及び湿度を考慮した環境条件 

光学特性 

5.1 

試験詳細及び要求事項 

ピッグテール形中規模 1×N DWDM デバイスの光学特性の試験方法,試験条件及び要求性能は,

表 

表 に基づき,光ファイバピッグテール形デバイスに適用する。コネクタ形部品については,IEC 

61753-021-2

に規定のコネクタ性能を満足しなければならない。


5

C 5925-5

:2013

環境及び耐久性試験に供する供試品のピッグテールは,1.5 m 以上とする。そのチャネル中心波長は

ITU-T Recommendation G.692

及び ITU-T Recommendation G.694.1 に一致しなければならない。波長間隔

を考慮する場合は,真空中の波長で換算する。

各項目の要求性能は,

表 の定格で規定する使用温度範囲及び使用波長範囲の入射光に対する最小値及

び最大値を,満足しなければならない。

供試品が温度コントローラ付きである場合は,コントローラは製造業者が指定した設定値に設定しなけ

ればならない。

表 2−中規模 1×N DWDM デバイス(ガウス形通過帯域形状)の光学特性試験

項目

試験方法

試験条件

要求性能

最小値

最大値

挿入損失 DWDM デバイスの振

幅透過特性測定 
IEC 61300-3-29

・挿入損失は,チャネル周波数範囲

にわたる全ての偏光状態に対す
る最大値で定める。

・供試品の光ファイバピッグテール

長は,1.5 m 以上とする。

・使用波長範囲において,測定精度

は,±0.05 dB 以下でなければな

らない。

− 4.8

dB

チャネル均一性 DWDM デバイスの振

幅透過特性測定 
IEC 61300-3-29

・チャネル均一性は,チャネル周波

数範囲にわたる全ての偏光状態
に対する最大値で定める。

・供試品の光ファイバピッグテール

長は,1.5 m 以上とする。

・使用波長範囲で,測定精度は,±

0.05 dB 以下でなければならない。

− 1.0

dB

(チャネル数

N≦24)

1.5 dB

(チャネル数

N>24)

1 dB 帯域幅 DWDM デバイスの振

幅透過特性測定 
IEC 61300-3-29

・帯域幅は,全ての偏光状態にわた

る最小値で定める。

・供試品の光ファイバピッグテール

長は,1.5 m 以上とする。

0.25×Δf

3 dB 帯域幅 DWDM デバイスの振

幅透過特性測定

IEC 61300-3-29

・帯域幅は,全ての偏光状態にわた

る最小値で定める。

・供試品の光ファイバピッグテール

長は,1.5 m 以上とする。

0.5×Δf

通過帯域リップ

DWDM デバイスの振
幅透過特性測定

IEC 61300-3-29

・通過帯域リップルは,チャネル周

波数範囲にわたる挿入損失の最

大変化で定める。

・供試品の光ファイバピッグテール

長は,1.5 m 以上とする。

− 1.5

dB

a)

隣接チャネルア

イソレーション

DWDM デバイスの振
幅透過特性測定

IEC 61300-3-29) 

・隣接チャネルアイソレーション

は,分波器だけに適用する。

・隣接チャネルアイソレーション

は,全ての偏光状態及びチャネル

周波数範囲にわたる最小値で定

める。

・供試品の光ファイバピッグテール

長は,1.5 m 以上とする。

・使用波長範囲で,測定精度は,±

0.1 dB 以下でなければならない。

25 dB


6

C 5925-5

:2013

表 2−中規模 1×N DWDM デバイス(ガウス形通過帯域形状)の光学特性試験(続き)

項目

試験方法

試験条件

要求性能

最小値

最大値

非隣接チャネル

アイソレーショ

DWDM デバイスの振
幅透過特性測定 
IEC 61300-3-29

・非隣接チャネルアイソレーション

は,分波器だけに適用する。

・非隣接チャネルアイソレーション

は,全ての偏光状態及びチャネル

周波数範囲にわたる最小値で定
める。

・供試品の光ファイバピッグテール

長は,1.5 m 以上とする。

・使用波長範囲で,測定精度は,±

0.1 dB 以下でなければならない。

30 dB

トータルチャネ

ルアイソレーシ

ョン

DWDM デバイスの振
幅透過特性測定

IEC 61300-3-29

・最小トータルチャネルアイソレー

ションは,全ての偏光状態にわた

る最小値で定める。

・供試品の光ファイバピッグテール

長は,1.5 m 以上とする。

・使用波長範囲で,測定精度は,±

0.1 dB 以下でなければならない。

22 dB

(チャネル数

N≦40)

20 dB

(チャネル数

40)

波長分散

群遅延,波長分散及び

位相リップルの測定

IEC 61300-3-38

・波長分散は,チャネル周波数範囲

にわたる最大値で定める。

− 20

ps/nm

(Δf=100 GHz)

60 ps/nm

(Δf=50 GHz)

偏波モード分散  偏波モード分散測定

JIS C 61300-3-32

・偏波モード分散は,チャネル周波

数範囲にわたる最小値で定める。

0.5 ps

偏光依存性損失

(PDL)

光損失の偏光依存性

JIS C 61300-3-2) 

・PDL は,チャネル周波数範囲にわ

たる全ての偏光状態に対する最

大値で定める。

・PDL は,全ての入出力組合せにわ

たり適用する。

・供試品の光ファイバピッグテール

長は,1.5 m 以上とする。

− 0.4

dB

ディレクティビ
ティ

波長選択性のない光
ブランチングデバイ

スのディレクティビ

ティ測定 
JIS C 61300-3-20

・試験に供しない全てのポートは,

測定に影響を与える反射を避け

るために,終端しなければならな

い。

・供試品の光ファイバピッグテール

長は,1.5 m 以上とする。

・ディレクティビティは,阻止の関

係にある端子対の全ての組合せ

に対して測定しなければならな

い。

・使用波長範囲で,測定精度は,±

0.1 dB 以下でなければならない。

40 dB


7

C 5925-5

:2013

表 2−中規模 1×N DWDM デバイス(ガウス形通過帯域形状)の光学特性試験(続き)

項目

試験方法

試験条件

要求性能

最小値

最大値

反射減衰量

反射減衰量測定

JIS C 61300-3-6

・試験に供しない全てのポートは,

測定に影響を与える反射を避け
るために,終端しなければならな

い。

・供試品の光ファイバピッグテール

長は,1.5 m 以上とする。

・使用波長範囲で,測定精度は,±

0.1 dB 以下でなければならない。

40 dB

注記  光ファイバピッグテール長を 1.5 m 以上と規定しているのは,クラッドモード及び高次モードを除去するため

である。

a)

  この値は,参考値である。 

表 3−中規模 1×N DWDM デバイス(フラットトップ形通過帯域形状)の光学特性試験

項目

試験方法

試験条件

要求性能

最小値

最大値

挿入損失 DWDM デバイスの振

幅透過特性測定 
IEC 61300-3-29

・挿入損失は,チャネル周波数範囲

にわたる全ての偏光状態に対す
る最大値で定める。

・供試品の光ファイバピッグテール

長は,1.5 m 以上とする。

・使用波長範囲で,測定精度は,±

0.05 dB 以下でなければならない。

− 6.0

dB

チャネル均一性 DWDM デバイスの振

幅透過特性測定 
IEC 61300-3-29

・チャネル均一性は,チャネル周波

数範囲にわたる全ての偏光状態
に対する最大値で定める。

・供試品の光ファイバピッグテール

長は,1.5 m 以上とする。

・使用波長範囲で,測定精度は,±

0.05 dB 以下でなければならない。

− 1.0

dB

(チャネル数

N≦24)

1.5 dB

(チャネル数

N>24)

1dB 帯域幅 DWDM デバイスの振

幅透過特性測定

IEC 61300-3-29

・帯域幅は,全ての偏光状態にわた

る最小値で定める。

・供試品の光ファイバピッグテール

長は,1.5 m 以上とする。

0.5×Δf

3dB 帯域幅 DWDM デバイスの振

幅透過特性測定

IEC 61300-3-29

・帯域幅は,全ての偏光状態にわた

る最小値で定める。

・供試品の光ファイバピッグテール

長は,1.5 m 以上とする。

0.5×Δf

通過帯域リップ

DWDM デバイスの振
幅透過特性測定

IEC 61300-3-29

・通過帯域リップルは,チャネル周

波数範囲にわたる挿入損失の最

大変化で定める。

・供試品の光ファイバピッグテール

長は,1.5 m 以上とする。

− 0.5

dB

a)


8

C 5925-5

:2013

表 3−中規模 1×N DWDM デバイス(フラットトップ形通過帯域形状)の光学特性試験(続き)

項目

試験方法

試験条件

要求性能

最小値

最大値

隣接チャネルア

イソレーション

DWDM デバイスの振
幅透過特性測定 
IEC 61300-3-29

・隣接チャネルアイソレーション

は,分波器だけに適用する。

・隣接チャネルアイソレーション

は,全ての偏光状態及びチャネル

周波数範囲にわたる最小値で定
める。

・供試品の光ファイバピッグテール

長は,1.5 m 以上とする。

・使用波長範囲で,測定精度は,±

0.1 dB 以下でなければならない。

25 dB

非隣接チャネル

アイソレーショ

DWDM デバイスの振
幅透過特性測定

IEC 61300-3-29

・非隣接チャネルアイソレーション

は,分波器だけに適用する。

・非隣接チャネルアイソレーション

は全ての偏光状態及びチャネル

周波数範囲にわたる最小値で定

める。

・供試品の光ファイバピッグテール

長は,1.5 m 以上とする。

・使用波長範囲で測定精度±0.1 dB

以下でなければならない。

30 dB

トータルチャネ

ルアイソレーシ

ョン

DWDM デバイスの振
幅透過特性測定

IEC 61300-3-29

・最小トータルチャネルアイソレー

ションは全ての偏光状態にわた

る最小値で定める。

・供試品の光ファイバピッグテール

長は,1.5 m 以上とする。

・使用波長範囲で測定精度±0.1 dB

以下でなければならない。

22 dB

(チャネル数

N≦40)

20 dB

(チャネル数

N>40)

波長分散 IEC

WG4 で検討中

例  IEC 60793-1-42

・波長分散はチャネル周波数範囲に

わたる最大値で定める。

− 40

ps/nm

(Δf=100 GHz)

100 ps/nm

(Δf=50 GHz)

偏波モード分散  偏波モード分散測定

JIS C 61300-3-32

・偏波モード分散はチャネル周波数

範囲にわたる最小値で定める。

0.5 ps

偏光依存性損失
(PDL)

光損失の偏光依存性 
JIS C 61300-3-2

・PDL は使用波長範囲にわたる全て

の偏光状態に対する最大値とす

る。

・PDL は全ての入出力組合せにわた

り適用する。

・供試品の光ファイバピッグテール

長は,1.5 m 以上とする。

− 0.4

dB


9

C 5925-5

:2013

表 3−中規模 1×N DWDM デバイス(フラットトップ形通過帯域形状)の光学特性試験(続き)

項目

試験方法

試験条件

要求性能

最小値

最大値

ディレクティビ

ティ

波 長 選 択 性 の な い 光
ブ ラ ン チ ン グ デ バ イ
ス の デ ィ レ ク テ ィ ビ

ティ測定

JIS C 61300-3-20

・試験に供されない全てのポート

は測定に影響を与える反射を避
けるために終端しなければなら

ない。

・供試品の光ファイバピッグテー

ル長は,1.5 m 以上とする。

・ディレクティビティは,阻止の

関係にある端子対の全ての組合
せに対して測定しなければなら

ない。

・使用波長範囲で測定精度±0.1 dB

以下でなければならない。

40 dB

反射減衰量

反射減衰量測定 
JIS C 61300-3-6

・試験に供されない全てのポート

は測定に影響を与える反射を避

けるために終端しなければなら

ない。

・供試品の光ファイバピッグテー

ル長は,1.5 m 以上とする。

・使用波長範囲で測定精度±0.1 dB

以下でなければならない。

40 dB

注記  光ファイバピッグテール長を 1.5 m 以上と規定しているのは,クラッドモード及び高次モードを除去するため

である。

a)

  この値は,参考値である。 

環境及び耐久性特性 

屋内環境条件で使用するための環境及び耐久性特性の試験方法,試験条件及び要求性能は,

表 による。

表 4−中規模 1×N DWDM デバイスの環境及び耐久性特性 

項目

試験方法

試験条件

要求性能

耐寒性

低温試験 
JIS C 61300-2-17

温度:0  ℃±2  ℃ 
暴露時間:96 h

挿入損失は,試験前後に測定する。 
前処理:試験前に,供試品は,室温環境中に
2 h 放置する。 
後処理:試験後に,供試品は,室温環境中に
2 h 放置する。

試験前後の挿入損失は,

表 2

又は

表 に規定する最大値以

下とし,かつ,試験後の挿入

損失は周囲条件下で初期値
の±0.5 dB 以内とする。

耐熱性

高温試験 
JIS C 61300-2-18

温度:60  ℃±2  ℃ 
暴露時間:96 h

挿入損失は,試験前後に測定する。

前処理:試験前に,供試品は,室温環境中に
2 h 放置する。 
後処理:試験後に,供試品は,室温環境中に
2 h 放置する。

試験前後の挿入損失は,

表 2

又は

表 に規定する最大値以

下とし,かつ,試験後の挿入

損失は周囲条件下で初期値
の±0.5 dB 以内とする。


10

C 5925-5

:2013

表 4−中規模 1×N DWDM デバイスの環境及び耐久性特性(続き) 

項目

試験方法

試験条件

要求性能

耐湿性(定常

状態)

高温高湿試験(定常

状態) 
JIS C 61300-2-19

温度:30  ℃±2  ℃

相対湿度:

(85±2)%

暴露時間:96 h

挿入損失は,試験中及び試験前後に測定する。

試験中は,1 h 以下の間隔で測定する。 
前処理:試験前に,供試品は,室温環境中に
2 h 放置する。 
後処理:試験後に,供試品は,室温環境中に
2 h 放置する。

試験中及び試験前後の挿入

損失は,

表 又は表 に規定

する最大値以下とし,かつ,

試験後の挿入損失は周囲条

件下で初期値の±0.5 dB 以内
とする。

温 度 サ イ ク

温度サイクル試験

JIS C 61300-2-22

高温:60  ℃±2  ℃

低温:0  ℃±2  ℃

放置時間:1 h 以上 
温度変化の割合:1 K/min

サイクル数:5

挿入損失は,試験中及び試験前後に測定し,
試験中は,10 min 以下の間隔で測定する。 
前処理:試験前に,供試品は,室温環境中に
2 h 放置する。 
後処理:試験後に,供試品は,室温環境中に
2 h 放置する。

試験中及び試験前後の挿入

損失は,

表 又は表 に規定

する最大値以下とし,かつ,
試験後の挿入損失は周囲条

件下で初期値の±0.5 dB 以内

とする。

耐振性

正弦波振動試験

JIS C 61300-2-1

振動範囲:10 Hz∼55 Hz

試験時間:1 オクターブ/min 
振動軸:直交 3 軸 
掃引サイクル数(10 Hz−55 Hz−10 Hz)

:15

回/軸

振動振幅:0.75 mm 
挿入損失は,試験中及び試験前後に測定し,

試験中は 10 min 以下の間隔で測定する。 
実装方法:供試品は実装ジグに強固に実装さ
れなければならない。

試験中及び試験前後の挿入

損失は,

表 又は表 に規定

する最大値以下とし,かつ,
試験後の挿入損失は周囲条

件下で初期値の±0.5 dB 以内

とする。

光 フ ァ イ バ

ク ラ ン プ 強

度(軸方向引
張り)

a)

光 フ ァ イ バ コ ー ド

クランプ強度(軸方

向への引張り) 
JIS C 5901 の 7.5

引張力:光ファイバコードに対して 5 N/s の変
化率で 10 N±1 N。光ファイバ心線

c) 

に対し

て 0.5 N/s の変化率で 5 N±0.5 N。 
引張力を加える位置:供試品の端から 0.3 m

引張力持続時間:10 N の場合 120 s。5 N の場
合 60 s。 
挿入損失は,試験前後に測定する。

試験前後の挿入損失は,

表 2

又は

表 に規定する最大値以

下とし,かつ,試験後の挿入
損失は周囲条件下で初期値

の±0.5 dB 以内とする。

耐衝撃性

衝撃試験 
JIS C 61300-2-9

波形:正弦半波 
ピーク加速度:

5 000 m/s

2

(質量 0.125 kg 以下の場合)

2 000 m/s

2

(質量 0.125 kg を超え 0.225 kg

以下の場合) 
500 m/s

2

(質量 0.225 kg を超え 1 kg 以下

の場合)

持続時間:1 ms

軸数:3 軸(互いに直交)

衝撃回数:2 方向,2 回/軸,総数 12 
挿入損失は,試験前後に測定する。

試験前後の挿入損失は,

表 2

又は

表 に規定する最大値以

下とし,かつ,試験後の挿入

損失は周囲条件下で初期値
の±0.5 dB 以内とする。


11

C 5925-5

:2013

表 4−中規模 1×N DWDM デバイスの環境及び耐久性特性(続き) 

項目

試験方法

試験条件

要求性能

光 フ ァ イ バ

ク ラ ン プ 強
度(横方向引

張り)

a) b)

光ファイバクランプ

強度試験(横方向引
張り)

IEC 61300-2-42

荷重

d)

及び保持時間:光ファイバコードに対

して 1 N で 1h。

光ファイバ心線に対して 0.2 N

で 5 min。

荷重を加える位置:供試品の端から 0.3 m

荷重

d)

方向:製品設計で許容する互いに直交

する 2 方向

挿入損失は,試験前後に測定する。

試験前後の挿入損失は,

表 2

又は

表 に規定する最大値以

下とし,かつ,試験後の挿入

損失は周囲条件下で初期値

の±0.5 dB 以内とする。 

光 フ ァ イ バ

ク ラ ン プ 強
度(繰返し曲

げ)

光ファイバクランプ

強度試験(繰返し曲
げ)

IEC 61300-2-44

荷重

d)

:光ファイバコードに対して 2 N

曲げ角度:±90° 
サイクル数:30

挿入損失は,試験前後に測定する。

試験前後の挿入損失は,

表 2

又は

表 に規定する最大値以

下とし,かつ,試験後の挿入

損失は周囲条件下で初期値

の±0.5 dB 以内とする。

a)

  この試験は,光ファイバコード及び光ファイバ心線ピッグテールを備えた中規模 1×N DWDM デバイスに適

用する。

b)

  光受動部品に接続する光ファイバへの横方向引張力は,部品の設計で許容する互いに直交する 2 方向に印加

することが望ましい。例えば,光ファイバ取付部よりも外側にベースプレートが張出した部品の場合,その

方向に荷重を印加しなくてもよい。

c)

  対応国際規格では,光ファイバ素線に対して規定しているが,誤りと判断して,光ファイバ心線と規定した。

d)

  ここでは,“荷重”は力の意味で用いる。

試料 

試料は,JIS C 6835 の SSMA 形シングルモード光ファイバに接続できなければならない。

試験報告書 

製造業者又は販売業者は,試験報告書及びそれを裏付ける証拠を使用者又は購入業者に提供し,試験を

実施し,合格した証拠として使用者又は購入業者が受入検査に利用することができるようにしなければな

らない。

試験報告書には,光学特性については試験条件及び性能値を,環境及び耐久性特性については試験条件,

試料数及び合格判定数を記載する。

表示 

中規模 1×N DWDM デバイスには,次の項目を表示しなければならない。ただし,個々のデバイスに表

示することが困難な場合は,包装に表示してもよい。

a)

形名(製造業者の指定による。

b)

製造業者名又はその略号

c)

製造年月若しくは製造ロット番号,又はそれらの略号

d)

チャネル番号識別(識別方法は製造業者の仕様によって指定する。

10 

包装 

包装は,輸送中及び保管中に,振動,衝撃などによる製品の破損又は品質の低下のおそれがないように

行う。また,短期間に劣化するおそれがある材料を含む場合には,安全管理及び保管環境条件に関する注

意及び要求事項とともに,有効期限を包装に表示する。


12

C 5925-5

:2013

11 

安全 

光伝送システム又は光伝送装置に用いる場合,人体へ影響を及ぼす出力端子からの光の放射があり得る。

そのため,製造業者は,システム設計者及び使用者に対して,安全性に関する十分な情報及び確実な使用

方法を明示しなければならない。

参考文献   

IEC 60793-1-42

,Optical fibres−Part 1-42: Measurement methods and test procedures−Chromatic dispersion


附属書 JA

(参考)

JIS

と対応国際規格との対比表

JIS C 5925-5:2013

  シングルモード光ファイバピッグテール形中規模 1×N

DWDM デバイス

IEC 61753-081-2:2009

  Fibre optic interconnecting devices and passive components

performance standard−Part 081-2: Non-connectorized single-mode fibre optic middle-scale 1x 
N DWDM devices for category C−Controlled environments

(I)JIS の規定

(II)

国際規

格番号

(III)国際規格の規定

(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条ごとの評価及

びその内容

(V)JIS と国際規格との技術

的差異の理由及び今後の対策

箇条番号

及び題名

内容

箇条番号

内容

箇条ごと

の評価

技術的差異の内容

3  用語及
び定義

用語及び定義を規定。

3

JIS

とほぼ同じ。

追加

下記用語の定義を追加した。 
・ガウス形通過帯域形状

・フラットトップ形通過帯域形状

・チャネル周波数範囲

国際規格の見直し時に提案を
行う。

4  定格

定格を規定。

追加

製品規格に必須の規定事項。

国際規格の見直し時に提案を
行う。

5  光学 
特性

光学特性の試験方法,

試験条件及び要求性

能を規定。

 7  JIS とほぼ同じ。

変更

・試験項目に通過帯域リップルを追加した。

・試験項目でない項目(チャネル数及びチャ

ネル周波数範囲)を削除した。

国際規格の見直し時に提案を

行う。

13

C 592

5-5


20
13


(I)JIS の規定

(II) 
国際規

格番号

(III)国際規格の規定

(IV)JIS と国際規格との技術的差異の箇条ごとの評価及
びその内容

(V)JIS と国際規格との技術
的差異の理由及び今後の対策

箇条番号

及び題名

内容

箇条番号

内容

箇条ごと

の評価

技術的差異の内容

6  環境及
び耐久性
特性

環境及び耐久性に対

する試験方法,試験条
件及び要求性能を規

定。

 7  JIS とほぼ同じ。

変更

耐寒性,耐熱性,耐湿性(定常状態)

,温度

サイクル,耐振性,光ファイバクランプ強度
(軸方向引張り)

,耐衝撃性及び光ファイバ

クランプ強度(横方向引張り)の試験条件を

変更。特に光ファイバクランプ強度(軸方向
引張り)試験では,光ファイバ素線に対して

規定しているが,誤りと判断して光ファイバ

心線と規定した。また,光ファイバクランプ
強度(繰返し曲げ)試験を追加した。

耐寒性,耐熱性,光ファイバクランプ強度(軸

方向引張り)

,光ファイバクランプ強度(横

方向引張り)及び光ファイバクランプ強度

(繰返し曲げ)試験において,試験中に挿入

損失測定は行わない。

耐寒性,耐湿性(定常状態)

及び温度サイクルの試験条件
については,我が国の環境条

件に合わせ,それ以外の試験

条件は IEC 61753-1 と整合す
る よ う に 試 験 条 件 を 変 更 し

た。

また,試験中の挿入損失測定
の必要性を検討し,不要な場

合には測定を行わないことと

した。 
いずれも,国際規格の見直し

時に,提案を行う。

7  試料

試料に関する内容を
規定。

追加

試料に関する内容を規定した。

国際規格の見直し時に,提案
を行う。

9  表示

表示項目を規定。

追加

製品規格に必須の規定事項。

国際規格の見直し時に,提案

を行う。

10  包装

包装及び保管上の注

意に関する内容を規
定。

追加

製品規格に必須の規定事項。

国際規格の見直し時に,提案

を行う。

11  安全

安全に関する内容を

規定。

追加

製品規格に必須の規定事項。

国際規格の見直し時に,提案

を行う。

Annex

A

サンプル数及び試験

のグルーピング方法
を規定。

削除

サンプル数及び試験のグルーピング方法を
削除した。

IEC 61753-1

との整合性を考

慮し,サンプル数及び試験の
グルーピング方法は規定しな

い。

14

C 592

5-5


20
13


JIS

と国際規格との対応の程度の全体評価:IEC 61753-081-2:2009,MOD

注記 1  箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。

    −  削除……………… 国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。

    −  追加……………… 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。 
    −  変更……………… 国際規格の規定内容を変更している。

注記 2  JIS と国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。

    −  MOD……………  国際規格を修正している。

15

C 592

5-5


20
13