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C 5160-1

:2009 (IEC 62391-1:2006)

(1)

目  次

ページ

序文

1

1

  一般事項

1

1.1

  適用範囲

1

1.2

  引用規格

1

2

  技術的データ

3

2.1

  単位及び記号

3

2.2

  用語及び定義

3

2.3

  推奨値

6

2.4

  表示

7

3

  品質認証手順

7

3.1

  一般事項

7

3.2

  製造の初期工程

7

3.3

  構造的に類似の部品

7

3.4

  適合宣言

7

3.5

  初期認証の試験計画及び要求事項

7

4

  試験及び測定方法

7

4.1

  一般事項

7

4.2

  標準大気条件

7

4.3

  乾燥

8

4.4

  外観検査及び寸法検査

8

4.5

  静電容量

9

4.6

  内部抵抗

11

4.7

  漏れ電流

13

4.8

  電圧保持

14

4.9

  端子強度

14

4.10

  はんだ耐熱性

15

4.11

  はんだ付け性

16

4.12

  温度急変

17

4.13

  振動

17

4.14

  高温高湿(定常)

17

4.15

  耐久性

17

4.16

  貯蔵

18

4.17

  高温及び低温特性

18

4.18

  部品の耐溶剤性

19

4.19

  表示の耐溶剤性

19


C 5160-1

:2009 (IEC 62391-1:2006)  目次

(2)

ページ

4.20

  耐炎性

19

4.21

  圧力弁(適用する場合)

20

附属書 A(規定)静電容量と内部抵抗とによる区分

21

附属書 B(参考)低周波交流法による低抵抗コンデンサの静電容量測定方法

23

附属書 JA(参考)ゲージによる寸法測定方法−端子反対方向形(アキシャル端子)

24

附属書 JB(参考)ゲージによる寸法測定方法−端子同一方向形(ラジアル端子)

27

 


C 5160-1

:2009 (IEC 62391-1:2006)

(3)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人電子情報技術産業協会 (JEITA) か

ら,

工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり,

日本工業標準調査会の審議を経て,

経済産業大臣が制定した日本工業規格である。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に

抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許

権,出願公開後の特許出願,実用新案権及び出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について,責

任はもたない。

JIS C 5160

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS

C

5160-1

  第 1 部:品目別通則

JIS

C

5160-2

  第 2 部:品種別通則−パワー用電気二重層コンデンサ

JIS

C

5160-2-1

  第 2-1 部:ブランク個別規格−パワー用電気二重層コンデンサ−評価水準 EZ


C 5160-1

:2009 (IEC 62391-1:2006)  目次

(4)

白      紙


日本工業規格

JIS

 C

5160-1

:2009

(IEC 62391-1

:2006

)

電子機器用固定電気二重層コンデンサ−

第 1 部:品目別通則

Fixed electric double-layer capacitors for use in electronic equipment-

Part 1 : Generic specification

序文

この規格は,2006 年に第 1 版として発行された IEC 62391-1 を基に,技術的内容及び対応国際規格の構

成を変更することなく作成した日本工業規格である。

なお,

この規格で点線の下線を施してある箇所は,

対応国際規格にはない事項又は修正した事項である。

1

一般事項

1.1

適用範囲

この規格は,電子機器用固定電気二重層コンデンサの品目別通則で,電子機器用固定電気二重層コンデ

ンサ(以下,コンデンサという。

)の品質認証及び品質評価手順並びに品種別通則及び個別規格で使用する

用語,検査手順及び試験方法について規定する。

注記  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 62391-1 : 2006

,Fixed electric double-layer capacitors for use in electronic equipment−Part 1 :

Generic specification (IDT)

なお,対応の程度を表す記号 (IDT) は,ISO/IEC Guide 21 に基づき,一致していることを示

す。

1.2

引用規格

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。

は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。

JIS C 0025 : 1988

  環境試験方法(電気・電子)温度変化試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-14,Environmental testing−Part 2 : Tests−Test N : Change of

temperature 及び IEC 60068-2-33,Environmental testing−Part 2 : Tests−Guidance on change of

temperature tests(全体評価:MOD)

JIS C 0617

(規格群)  電気用図記号

注記  対応国際規格:IEC 60617 (all parts),Graphical symbols for diagrams (IDT)

JIS C 5062 : 2008

  抵抗器及びコンデンサの表示記号

注記  対応国際規格:IEC 60062 : 2004,Marking codes for resistors and capacitors (MOD)

JIS C 5063 : 1997

  抵抗器及びコンデンサの標準数列

注記  対応国際規格:IEC 60063 : 1963,Preferred number series for resistors and capacitors,Amendment


2

C 5160-1

:2009 (IEC 62391-1:2006)

1 : 1967 及び Amendment 2 : 1977 (IDT)

JIS C 60068-1 : 1993

  環境試験方法−電気・電子−通則

注記  対応国際規格:IEC 60068-1 : 1988,Environmental testing. Part 1 : General and guidance 及び

Amendment 1 : 1992 (IDT)

JIS C 60068-2-1 : 1995

  環境試験方法−電気・電子−低温(耐寒性)試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-1 : 1990,Environmental testing−Part 2 : Tests−Tests A : Cold,

Amendment 1 : 1993 及び Amendment 2 : 1994 (IDT)

JIS C 60068-2-2 : 1995

  環境試験方法−電気・電子−高温(耐熱性)−試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-2 : 1974,Environmental testing−Part 2 : Tests−Tests B : Dry heat,

Amendment 1 : 1993 及び Amendment 2 : 1994 (IDT)

JIS C 60068-2-6 : 1999

  環境試験方法−電気・電子−正弦波振動試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-6 : 1995,Environmental testing−Part 2 : Tests−Test Fc : Vibration

(sinusoidal) (IDT)

JIS C 60068-2-20 : 1996

  環境試験方法−電気・電子−はんだ付け試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-20 : 1979,Environmental testing. Part 2 : Tests. Test T: soldering 及

び Amendment 2 : 1987 (IDT)

JIS C 60068-2-21 : 2002

  環境試験方法−電気・電子−端子強度試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-21 : 1999,Environmental testing−Part 2-21 : Tests−Test U :

Robustness of terminations and integral mounting devices (MOD)

JIS C 60068-2-45 : 1995

  環境試験方法−電気・電子−耐溶剤性(洗浄溶剤浸せき)試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-45 : 1980,Environmental testing. Part 2 : Tests. Test XA and guidance:

Immersion in cleaning solvents 及び Amendment 1 : 1993 (IDT)

JIS C 60068-2-58 : 2006

  環境試験方法−電気・電子−表面実装部品 (SMD) のはんだ付け性,電極の

耐はんだ食われ性及びはんだ耐熱性試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-58 : 2004,Environmental testing−Part 2-58 : Tests−Test Td : Test

methods for solderability, resistance to dissolution of metallization and to soldering heat of surface

mounting devices (SMD) (MOD)

JIS C 60068-2-78 : 2004

  環境試験方法−電気・電子−第 2-78 部:高温高湿(定常)試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-78 : 2001,Environmental testing−Part 2-78 : Tests−Test Cab : Damp

heat, steady state (IDT)

JIS C 60695-11-5 : 2007

  耐火性試験−電気・電子−第 11-5 部:試験炎―ニードルフレーム(注射針バ

ーナ)試験方法−装置,試験炎確認試験装置の配置及び指針

注記  対応国際規格:IEC 60695-11-5 : 2004,Fire hazard testing−Part 11-5 : Test flames−Needle-flame

test method−Apparatus, confirmatory test arrangement and guidance (IDT)

JIS Z 8115 : 2000

  ディペンダビリティ(信頼性)用語

注記  対 応 国 際 規 格 : IEC 60050 (191) , International Electrotechnical Vocabulary Chapter 191 :

Dependability and quality of service (MOD)

JIS Z 8203 : 2000

  国際単位系 (SI) 及びその使い方

注記  対応国際規格:ISO 1000 : 1992,SI units and recommendations for the use of their multiples and of

certain other units (IDT)


3

C 5160-1

:2009 (IEC 62391-1:2006)

IEC 60027 (all parts)

,  Letter symbols to be used in electrical technology

IEC 60294 : 1969

,Measurement of the dimensions of a cylindrical component having two axial terminations

IEC 60717 : 1981

,Method for determination of the space required by capacitors and resistors with

unidirectional terminations

IEC 61760-1 : 1998

,Surface mounting technology−Part 1 : Standard method for the specification of surface

mounting components (SMDs)

IECQ 001002-3

,IEC Quality Assessment System for Electronic Components (IECQ)−Rules of Procedure−

Part 3 : Approval procedures

2

技術的データ

2.1

単位及び記号

単位,図記号,文字記号及び用語は,できるだけ,次の規格から採用する。

−  JIS C 0617

−  JIS Z 8115

−  JIS Z 8203

−  IEC 60027

これらの規格に規定していない用語が必要となった場合は,上記の規格の原則に従って用いる。

2.2

用語及び定義

この規格で用いる主な用語及び定義は,次による。

2.2.1

品種  (type)

部品の区分で,同じ設計上の特色があって,また,品質認証又は品質確認検査が,同一区分でできるよ

うな同じ製造技術を用いて製造されるもの。一般に,一つの個別規格を適用する。

注記  数種類の個別規格で規定されている部品でも同一品種とし,品質認証及び品質確認検査で,同

一群にまとめてもよい。

2.2.2

形状  (style)

品種を更に分類するもので,主に形状に関するもの。形状には種々の異なったものがあり,一般に構造

的な分類である。

2.2.3

等級  (grade)

一般に意図する用途に対する特性を補足するもの。二つ以上の用語を組み合わせて(例えば,

“長寿命”

と表示する“等級”は,長寿命等級)表し,一つの文字又は数字を用いることは好ましくない。

2.2.4

ファミリ(電子部品の)[family (of electronic components)]

コンデンサの中で,物理的特性が同一の特性又は同一機能を明確に示すもの。

2.2.5

サブファミリ(電子部品の)[subfamily (of electronic components)]

コンデンサのファミリの中で,同一技術的方法での製造による区分。

2.2.6


4

C 5160-1

:2009 (IEC 62391-1:2006)

直流コンデンサ  (d.c. capacitor)

基本的に,直流電圧の用途に設計したコンデンサ。

注記  直流コンデンサは,交流電圧用途には適していない。

2.2.7

定格静電容量 C

R

 (rated capacitance)

コンデンサの設計時の静電容量値で,通常,コンデンサに表示する静電容量値。

2.2.8

カテゴリ温度範囲  (category temperature range)

設計上,コンデンサが,連続的に使用できる周囲温度範囲。この温度範囲は,カテゴリ下限温度とカテ

ゴリ上限温度とによって規定する。

2.2.9

カテゴリ下限温度  (lower category temperature)

設計上コンデンサが,連続的に使用できる最低周囲温度。

2.2.10

カテゴリ上限温度  (upper category temperature)

設計上コンデンサが,連続的に使用できる最高周囲温度。

2.2.11

定格温度  (rated temperature)

定格電圧を印加して連続的に使用できる最高周囲温度。

2.2.12

定格電圧 U

R

 (rated voltage)

カテゴリ下限温度と定格温度との間の任意の温度で,コンデンサに連続して印加できる直流電圧の最高

電圧又はパルス電圧の最大ピーク電圧値。

2.2.13

カテゴリ電圧 U

C

 (category voltage)

カテゴリ上限温度で,コンデンサに連続して印加できる最高電圧。

2.2.14

温度軽減電圧  (temperature derated voltage)

定格温度とカテゴリ上限温度との間の任意の温度で,コンデンサに連続して印加できる最高電圧。

注記  定格温度とカテゴリ上限温度との間の温度でコンデンサに印加できる電圧は,温度に依存する

ため,適用する場合は,個別規格に規定することが望ましい。

2.2.15

サージ電圧比  (surge voltage ratio)

コンデンサの端子間に,カテゴリ温度範囲の任意の温度で,規定時間印加できる最高瞬間電圧を定格電

圧又は温度軽減電圧のうちの適切なもので除した比率。

注記  この電圧を印加することができる 1 時間当たりの回数で規定することが望ましい。

2.2.16

定格リプル電圧  (rated ripple voltage)

コンデンサを規定の温度で,連続的に規定周波数の交流電圧に直流電圧を重畳して印加できる実効値の

最大許容交流電圧。コンデンサに印加した直流電圧と重畳した交流電圧との合計した電圧値が,定格電圧


5

C 5160-1

:2009 (IEC 62391-1:2006)

又は電圧軽減電圧の値以下となる。

2.2.17

逆電圧(有極性コンデンサに適用)[reverse voltage (for polar capacitors only)]

コンデンサの端子に,極性と逆方向に印加できる電圧。

2.2.18

定格リプル電流  (rated ripple current)

規定の温度で,コンデンサに連続的に印加できる規定周波数の最大許容交流電流の実効値。

2.2.19

時定数  (time constant)

内部抵抗値(回路抵抗を含む)と静電容量値との積。通常,

“秒 (s)”の単位で表す。

2.2.20

内部抵抗  (internal resistance)

コンデンサを静電容量と抵抗との等価直列回路で表した場合の抵抗成分。

“オーム  (

Ω)”の単位で表す。

2.2.21

IR

ドロップ

コンデンサからの放電電流と内部抵抗との積によって放電当初に発生するコンデンサ端子間の電圧降下。

2.2.22

コンデンサの最高温度  (maximum temperature of a capacitor)

コンデンサ外部表面の最も高い箇所の温度。端子は,外部表面の一部になる。

2.2.23

コンデンサの最低温度  (minimum temperature of a capacitor)

コンデンサ外部表面の最も低い箇所の温度。端子は,外部表面の一部になる。

2.2.24

低温貯蔵温度  (minimum storage temperature)

コンデンサを無負荷状態で,破損に耐える最低許容周囲温度。

2.2.25

高温貯蔵温度  (maximum storage temperature)

コンデンサを無負荷状態で,破損に耐える最高許容周囲温度。高温貯蔵温度は,コンデンサのカテゴリ

上限温度に等しい。

2.2.26

静電容量の温度特性  (temperature characteristic of capacitance)

カテゴリ温度範囲内で規定する温度範囲における静電容量値の最大変化。一般的に,基準温度 20  ℃で

の静電容量に対する静電容量値の変化をパーセント (%) で表す。

注記  この用語は,主に,温度による静電容量の変化(直線的又は非直線的)が,正確,かつ,精密

に表すことができないコンデンサに適用してもよい。

2.2.27

外観損傷  (visible damage)

意図したコンデンサ本来の使用目的を失うような目視による損傷。

2.2.28

漏れ電流  (leakage current)


6

C 5160-1

:2009 (IEC 62391-1:2006)

規定する時間で充電後,コンデンサに流れる電流値。

“アンペア (A)”の単位で表す。

注記  一般的に,継続して充電に用いる電流とコンデンサ自体がもっている暗電流との合計値になる

が,時間とともに減少する傾向があるため,規定時間を決めて測定する必要が出てくる。

2.2.29

電圧保持  (maintain voltage)

規定する時間で充電後,規定する時間無負荷で放置後にコンデンサの端子間に保持している電圧。

注記  対応国際規格では,“self discharge”  が用いられているが,電気二重層コンデンサの一般的な用

語としての用い方を考慮して,“maintain voltage”  の電圧保持を採用した。

2.2.30

温度上昇  (temperature rise)

交流又はパルスの負荷状態で,コンデンサの内部損失によって引き起こされるコンデンサの温度上昇。

注記  周囲温度の影響を受ける。

2.2.31

絶縁形コンデンサ  (insulated capacitor)

すべての端子と,外装との間に規定する電圧(定格電圧以上)を印加できるコンデンサ。

2.2.32

非絶縁コンデンサ  (uninsulated capacitor)

すべての端子と,外装との間に規定する電圧(定格電圧以上)を印加できないコンデンサ。

2.2.33

表面実装用コンデンサ  (surface mount capacitor)

小さい寸法で,端子の性質と形状とが,ハイブリッド回路及びプリント配線板上での使用に適した固定

コンデンサ。

2.2.34

耐炎性  (passive flammability)

コンデンサが,外部からの熱(例えば,炎)によって燃焼する程度。

2.2.35

発炎性  (active flammability)

コンデンサの内部発熱(例えば,不完全な内部接触によるスパーク)によって燃焼する程度(自己発火)

2.2.36

耐炎性のカテゴリ  (category of passive flammability)

炎に規定時間さらした後の燃焼の最大時間によって規定する区分。

2.2.37

質量  (mass)

すべての固形部分を含むコンデンサの質量。

2.2.38

体積  (volume)

端子を除くコンデンサ本体。

2.3

推奨値

2.3.1

一般事項

各品種別通則には,サブファミリに応じた推奨値を規定する。定格静電容量値は,2.3.2 による。


7

C 5160-1

:2009 (IEC 62391-1:2006)

2.3.2

推奨値及び定格静電容量

定格静電容量の推奨値は,JIS C 5063 に規定する標準数列から選定する。

2.4

表示

2.4.1

一般事項

品種別通則には,コンデンサ本体及び/又は包装に表示する識別事項,その他を規定する。

小さいコンデンサの表示に対しては,優先順位を規定する。

2.4.2

記号化

静電容量値,静電容量許容差又は製造年月(又は年週)を記号化して表す場合は,JIS C 5062 に規定す

る事項から選定する。

3

品質認証手順

3.1

一般事項

この規格及び品種別通則を,電子部品品質認証制度  (IECQ)  のような品質認証のために用いる場合は,

IECQ 001002-3

の要求による。

3.2

製造の初期工程

製造の初期工程は,品種別通則に規定する。

3.3

構造的に類似の部品

構造的に類似な部品の群分けは,品種別通則に規定する。

3.4

適合宣言

適合宣言は,品種別通則に規定する。

3.5

初期認証の試験計画及び要求事項

初期認証の試験計画及び要求事項は,品種別通則に規定する。

4

試験及び測定方法

4.1

一般事項

品種別通則及び/又はブランク個別規格には,実施する試験項目,試験の前後,又は試験の副群の前後

にどのような測定を行うか,及びそれらの実施する順序を規定する。各試験は,記載の順に行う。各試験

における初期測定と最終測定との測定条件は,同じとする。

品質評価制度をもつ国内規格が,上記の規定と異なる試験方法を含む場合は,それらの方法をすべて記

載する。

すべての規格の規定値は,絶対値である。測定の不確実性原理を考慮した原則を適用する[IECQ 

001002-3

の箇条 

附属書 (IECQ policy on uncertainty of measurement and inset limits)  参照]。

4.2

標準大気条件

4.2.1

測定及び試験のための標準大気条件(標準状態)

品種別通則,ブランク個別規格及び個別規格(以下,

“下位規格”という。

)に規定がない場合には,す

べての試験及び測定は,次に示す JIS C 60068-1 の 5.3 による標準状態で行う。

−  温度:15  ℃∼35  ℃

−  相対湿度:25 %∼75 %

−  気圧:86 kPa∼106 kPa

コンデンサは,測定する前に,測定温度中にコンデンサ全体がその温度に到達するのに十分な時間放置


8

C 5160-1

:2009 (IEC 62391-1:2006)

する。試験後の後処理のために規定する期間は,通常,この目的に対して十分である。

規定の温度と異なる温度で測定する場合は,その結果を,必要に応じて規定の温度に補正する。

測定中の周囲温度は,試験報告書に記載する。判定に疑義が生じた場合は,4.2.3 に規定する判定状態の

一つ及びその他に規定の温度を用いて再測定する。

一連の試験を行う場合は,最終測定値を,次に行う初期測定値としてもよい。

測定中,コンデンサは,過度の通風,直射日光又は測定誤差を引き起こすようなその他の影響が発生し

ないようにする。

4.2.2

後処理

下位規格に規定がない場合には,後処理は,4.2.1 に規定する標準状態に放置する。

後処理に厳密な管理状態を必要とする場合は,JIS C 60068-1 の 5.4.1 による。

下位規格に規定がない場合は,後処理時間を 1 時間∼2 時間とする。

4.2.3

判定測定,及び判定試験のための標準大気条件(判定状態)

判定を目的とするためには,

表 に示す JIS C 60068-1 の 5.2 に規定する判定状態から選定する。

表 1−判定状態

温度

相対湿度

%

気圧

kPa

20±1 
23±1 
25±1 
27±1

63∼67 
48∼52 
48∼52 
63∼67

86∼106 
86∼106 
86∼106 
86∼106

4.2.4

標準基準大気条件(基準状態)

基準を目的とするためには,JIS C 60068-1 の 5.1 に規定する基準状態の次の値を適用する。

−  温度:20  ℃

−  気圧:101.3 kPa

4.3

乾燥

4.3.1

下位規格に規定がない場合は,コンデンサを温度 55  ℃±2  ℃,相対湿度 20 %以下の空気循環式恒

温槽の中で 96 時間±4 時間放置する。

4.3.2

その後,コンデンサは,活性アルミナ又はシリカゲルのような適切な乾燥剤を用いてデシケータの

中で冷却してもよい。また,規定する試験が始まるまで,その中に放置する。

4.4

外観検査及び寸法検査

4.4.1

外観検査

状態,でき栄え (workmanship) 及び仕上げ状態は,目視で検査したときに満足する。

表示は,目視で検査したときに明りょうで,下位規格の要求事項に適合する。

4.4.2

寸法(ゲージ法)

下位規格にゲージ法が適切であると規定した寸法を検査した場合には,寸法は,下位規格の規定値を満

足する。ゲージ法を適用する場合は,測定は,IEC 60294 及び IEC 60717 の規定によって行う。

注記  IEC 60294 及び IEC 60717 に規定する該当事項を翻訳し,附属書 JA 及び附属書 JB として追加

した。

附属書 JA[端子反対方向形(アキシャル端子)]:IEC 60294 の翻訳


9

C 5160-1

:2009 (IEC 62391-1:2006)

附属書 JB[端子同一方向形(ラジアル端子)]:IEC 60717 の翻訳

4.4.3

寸法(詳細)

下位規格に規定するすべての寸法を検査した場合に,規定値を満足する。

4.5

静電容量

4.5.1

定電流放電法

4.5.1.1

測定回路

測定回路は,

図 による。

図 1−定電流放電法の回路

4.5.1.2

測定方法

測定は,次による。

a)

定電流定電圧電源の直流電圧を,下位規格に規定がない場合は,定格電圧  (U

R

)  に設定する。

b)

定電流放電器の定電流値を,

表 に規定する放電電流に設定する。

c)

スイッチ S を定電流定電圧電源側に投入し,コンデンサ端子間電圧が定格電圧に到達後,下位規格に

規定がない場合は,30 分間電圧を印加して充電する。

d) 30

分間の充電が終了した後,スイッチ S を定電流放電器側に切り替えて一定電流で放電する。

e)

下位規格に規定がない場合は,放電時のコンデンサの端子間電圧が

図 に示す U

1

から U

2

に下がるま

での時間 t

1

及び t

2

を測定し,次の式によって静電容量値を算出する。

図 2−コンデンサ端子間の電圧特性


10

C 5160-1

:2009 (IEC 62391-1:2006)

2

1

1

2

)

(

U

U

t

t

I

C

×

=

ここに,

C: 静電容量 (F)

I: 放電電流 (A)

U

1

測定開始電圧 (V)

U

2

測定終了電圧 (V)

t

1

コンデンサの電圧が U

1

になる放電開始からの時間(秒)

t

2

コンデンサの電圧が U

2

になる放電開始からの時間(秒)

f)

放電電流 I,放電電圧降下時の電圧 U

1

及び U

2

は,

表 による。クラス区分は,下位規格の規定による。

また,放電電流 の設定は,次による。

1)  ΔU

3

が初期特性で充電電圧の 5 % (0.05×U

R

)  を超える場合は,放電電流を 1/2,1/5 又は 1/10 の値に

減らしてもよい。

2) 10

A 以下の放電電流値は,有効数字 1 けたとし,計算値の 2 けた目は,切り下げる。

3) 10

A を超える放電電流値は,有効数字 2 けたとし,計算値の 3 けた目は,切り下げる。

表 2−放電条件

分類

クラス 1

クラス 2

クラス 3

クラス 4

用途

メモリバックアップ

エネルギー貯蔵

パワー

瞬間パワー

充電時間 30 分 30 分 30 分 30 分

(mA) 1×C

R

 0.4×C

R

U

R

C

R

U

R

 40×C

R

U

R

U

1

充電電圧 (0.8×U

R

)  の 80 %の値

U

2

充電電圧 (0.4×U

R

)  の 40 %の値

注記  C

R

は,定格静電容量であってファラド (F) で表し,U

R

は,定格電圧であってボルト (V) で表す。

4.5.1.3

下位規格に規定する事項は,次による。

a)

放電電流の分類

b)

定格電圧と異なる場合の印加電圧

c) 30

分間と異なる場合の充電時間

d)

表 と異なる場合の定放電電流値

e)

表 と異なる時間での放電時の電圧 U

1

及び U

2

4.5.2

定抵抗充電法

4.5.2.1

測定回路

測定回路は,

図 による。


11

C 5160-1

:2009 (IEC 62391-1:2006)

図 3−定抵抗充電法の測定回路

4.5.2.2

測定方法

測定は,次による。

a)

測定に先立って,コンデンサの端子間を 30 分間以上短絡して十分に放電する。

b)

直流電圧 U

R

を印加したときの時定数  (τ)  を測定し,次の式によって静電容量値を算出する。

R

C

τ

=

ここに,

C: 静電容量 (F)

τ: 0.632 U

R

までの充電時間(秒)

R: 直列抵抗  (

Ω)

c)

の値は,時定数  (τ)  が 60 秒∼120 秒となるように設定する。

4.5.2.3

下位規格に規定する事項は,次による。

a)

定格電圧と異なる場合の印加電圧

b)

時定数  (τ)  が 60 秒∼120 秒と異なる場合の直列抵抗 R

4.6

内部抵抗

4.6.1

交流  (a.c.) 抵抗法

4.6.1.1

測定回路

測定回路は,

図 による。


12

C 5160-1

:2009 (IEC 62391-1:2006)

図 4−交流  (a.c.)  抵抗法

4.6.1.2

測定方法

測定は,次による。

a)

測定電圧の周波数は,1 kHz とする。

b)

交流電流は,1 mA∼10 mA とする。

c)

コンデンサの内部抵抗 R

a

は,次の式によって算出する。

I

U

R

=

a

ここに,

R

a

交流内部抵抗  (

Ω)

U: 交流電圧の実効値 (V)

I: 交流電流の実効値 (A)

4.6.2

直流  (d.c.) 抵抗法

4.6.2.1

測定方法

測定は,次による。

a)

測定回路は,

図 による。印加電圧は,下位規格に規定がない場合には,定格電圧とする。コンデン

サの端子間電圧の測定は,電圧記録計を使用する。

b)

スイッチ S を定電流定電圧電源側に投入し,コンデンサ端子間電圧が定格電圧に到達後,下位規格に

規定がない場合は,30 分間電圧を印加し充電する。

c) 30

分間の充電が終了した後,スイッチ S を定電流放電器側に切り替えて,下位規格に規定がない場合

は,

表 に規定する一定電流で放電する。

d)

このときのコンデンサ端子電圧の時間変化を,電圧記録計を用いて記録する。

e)

電圧記録計から得たコンデンサ端子電圧の時間変化の直線部に対して延長した補助線を引き,その補

助線と

図 に示す放電開始時の時間軸との交点から求めた電圧降下分 ΔU

3

を読み取って,次の式によ

って内部抵抗 R

d

を算出する。

I

U

R

3

d

Δ

=

ここに,

R

d

直流内部抵抗  (

Ω)

ΔU

3

: 降下電圧 (V)

I: 放電電流 (A)

f)

放電電流 は,

表 による。クラス区分は,下位規格の規定による。また,放電電流 の設定は,次


13

C 5160-1

:2009 (IEC 62391-1:2006)

による。

1)  ΔU

3

が初期特性で充電電圧の 20 % (0.20×U

R

)  を超える場合は,電流を 1/2,1/5 又は 1/10 の値に減

らしてもよい。

2) 10

A 以下の放電電流値は,有効数字 1 けたとし,計算値の 2 けた目は,切り下げる。

3) 10

A を超える放電電流値は,有効数字 2 けたとし,計算値の 3 けた目は,切り下げる。

表 3−放電電流

分類

クラス 1

クラス 2

クラス 3

クラス 4

(mA) 10×C

R

C

R

 U

R

 40×C

R

 U

R

 400×C

R

 U

R

注記  C

R

は,定格静電容量であってファラド (F) で表し,U

R

は,定格電圧であって

ボルト (V) で表す。

a

)

  降下電圧は,放電開始時に瞬時的に降下する電圧 ΔU

4

ではなく,直線部分を延長し

た補助線と放電開始時の時間軸との交点から求めた電圧降下分の電圧 ΔU

3

とする。

図 5−コンデンサ端子間の電圧特性

4.6.2.2

下位規格に規定する事項は,次による。

a)

放電電流の分類

b)

定格電圧と異なる場合の印加電圧

c) 30

分間と異なる場合の充電時間

d)

表 と異なる場合の放電電流値

4.7

漏れ電流

4.7.1

測定方法

測定は,次による。

a)

測定に先立って,コンデンサを十分に放電させる。放電時間は,1 時間∼24 時間とし,下位規格に規

定する。

b)

下位規格に規定がない場合には,漏れ電流は,規定する試験温度で,定格電圧  (U

R

)  まで,最大 30 分

間で到達するような方法で印加して,その印加電圧の 95 %に到達したときから,30 分間,1 時間,2

時間,4 時間,8 時間,12 時間,24 時間又は 48 時間のうちから選定した時間で測定する。その時間は,

下位規格に規定する。


14

C 5160-1

:2009 (IEC 62391-1:2006)

c)

安定化電源のような安定した電源を使用する。

d)

下位規格に規定がない場合は,1 000

Ω以下の保護抵抗器を通してコンデンサに電圧を印加する。

4.7.2

  下位規格に規定する事項は,次による。

a)

基準温度 20  ℃及びその他に規定する温度での漏れ電流の規定値。

b)

必要がある場合の補正係数。ただし,標準温度の範囲内の 20  ℃と異なる温度で測定した場合。

c)

電圧印加時間

d) 1

000

Ωの保護抵抗値と異なる場合の抵抗値。

e)

放電時間

注記  対応国際規格の明らかな記載漏れのため追加した。

4.8

電圧保持

4.8.1

測定方法(図 参照)

a)

測定に先立って,コンデンサを十分に放電させる。放電時間は,1 時間∼24 時間とし,下位規格に規

定する。

b)

コンデンサを充電保護抵抗器なしに,直接端子間に定格電圧 U

R

を印加して充電する。下位規格に規

定がない場合には,印加電圧の 95 %に到達する充電上昇時間(最大 30 分間)も含めて,充電時間は,

8 時間とする。

c)

規定する時間で充電後,コンデンサの端子間を電源から開放し,下位規格に規定がない場合は,16 時

間又は 24 時間標準状態で,放置後のコンデンサの端子間電圧を測定する。

d)

使用する直流電圧計は,その入力インピーダンスが 1 M

Ω以上とする。

図 6−電圧保持試験のダイアグラム

4.8.2

    下位規格に規定する事項は,次による。

a)

放電時間

b)

定格電圧と異なる場合の印加電圧

c) 8

時間と異なる場合の充電時間

d)

充電から測定までの開放後の放置時間

4.9

端子強度

コンデンサは,JIS C 60068-2-21 の試験 Ua

1

,Ub,Uc 及び Ud によるほか,次による。

4.9.1

試験 Ua

1

引張り


15

C 5160-1

:2009 (IEC 62391-1:2006)

次に規定する力を加える。

−  リード端子と異なる端子:20 N

−  リード端子は,

表 による。

表 4−引張力

公称断面積 S

mm

2

リード線の直径 d

mm

引張力

(±10 %の許容差)

N

  S≦0.05

 0.05

S≦0.1

 0.1

S≦0.2

 0.2

S≦0.5

 0.5

S≦1.2

 1.2

S

  d≦0.25

 0.25

d≦0.35

 0.35

d≦0.5

 0.5

d≦0.8

 0.8

d≦1.25

 1.25

d


2.5 
5

10 
20 
40

注記  円形断面リード線,板又はピン端子では,公称断面積は,下位規

格に規定する公称寸法から算出する値に等しい。より線のリード
線端子では,公称断面積は,下位規格に規定する個々の導体断面

積を合計する。

4.9.2

試験 Ub−曲げ強さ(半数の試料に適用)

方法 1:各方向に連続して 2 回曲げる。堅ろう(牢)な端子を下位規格に規定する場合には,この試験

は適用しない。

4.9.3

試験 Uc−ねじり強さ(残りの半数の試料に適用)

方法 の厳しさ 2(180°の 2 回連続回転)を適用する。

堅ろう(牢)な端子を下位規格に規定するもの及びプリント配線板用に設計した同一方向形(ラジアル

形)端子をもつものには,この試験は適用しない。

4.9.4

試験 Ud−トルク強さ(取付けジグ用内側溝付きスタッド端子又はねじ端子に適用)

表 5−トルク強さ

公称ねじ径

mm

2.6 3 3.5 4  5  6  8

厳しさ 1 0.4 0.5 0.8 1.2 2.0  2.5 5

トルク

Nm

厳しさ 2 0.2 0.25 0.4  0.6  1.0  1.25 2.5

4.9.5

外観検査

各試験後に,コンデンサの外観検査を行う。外観に著しい損傷がない。

4.10

はんだ耐熱性

4.10.1

    下位規格に規定がある場合は,コンデンサを 4.3 に規定する方法で乾燥する。

コンデンサは,下位規格の規定によって初期測定を行う。

4.10.2

    下位規格に規定がない場合は,次の試験方法のうちの一つを適用する。

a)

次の b)  及び c)  を除くすべてのコンデンサに,JIS C 60068-2-20 に規定する試験方法 Tb(はんだ耐熱

性)による次の

方法 1A(260  ℃でのはんだ槽法)を適用する。

−  はんだ槽の温度:260  ℃±5  ℃


16

C 5160-1

:2009 (IEC 62391-1:2006)

−  はんだへの浸せき深さ:厚さ 1.5 mm±0.5 mm の熱遮へい板を用いて,コンデンサの取付面(本

体)から 2.0

0
0.5

mm の箇所まで。

−  浸せき時間:5 秒間又は 10 秒間,下位規格に規定する。

b)

下位規格にプリント配線板用に設計していないと規定したコンデンサに適用する。

1)  JIS C 60068-2-20

に規定する試験方法 Tb(はんだ耐熱性)による次の

方法 1B(350  ℃でのはんだ槽

法)を適用する。

−  はんだ槽の温度:350  ℃±10  ℃

−  はんだへの浸せき深さ:コンデンサ本体から 3.5

0
0.5

mm の箇所まで。

−  浸せき時間:3.5 秒±0.5 秒間,はんだ槽中への浸せき,静止及び引き上げに係るすべての工程を,

3.5 秒間∼5 秒間で行う。

2)  JIS C 60068-2-20

に規定する試験方法 Tb(はんだ耐熱性)による次の

方法 2(350  ℃でのはんだこ

て法)を適用する。

−  はんだこての温度:350  ℃

−  はんだ付け時間:10 秒±1 秒間

はんだこての寸法及び当てる箇所は,下位規格の規定による。

c)

表面実装用コンデンサでは,JIS C 60068-2-58 を適用する。下位規格には,表面実装の分類(IEC 61760-1

参照)によるはんだ耐熱性のための条件及び厳しさを適用する。

4.10.3

    下位規格に規定がない場合には,後処理期間は,24 時間±2 時間と規定する表面実装用コンデン

サを除き,1 時間∼2 時間の間とする。

4.10.4

    表面実装用コンデンサを除く,すべてのコンデンサには,次の事項を適用する。

−  試験を行った後,コンデンサは,外観検査を行う。

−  外観に損傷がなく,表示は,明りょうである。

−  コンデンサは,下位規格の規定によって最終測定を行う。

表面実装用コンデンサは,

外観検査及び測定を行った場合に,下位規格に規定する要求性能を満足する。

4.11

はんだ付け性

注記  下位規格の中に,はんだ付け用に設計していないと規定した端子には,適用しない。

下位規格には,エージングを適用するか又は適用しないかを規定する。加速エージングを要求する場合

は,JIS C 60068-2-20 に規定するエージング手順の一つ又は温度 155  ℃で期間 4 時間の高温放置(JIS C 

60068-2-20

に規定する試験方法 Ta におけるその他の試験条件)を適用する。

下位規格に規定がない場合には,試験は,非活性フラックスを用いる。

4.11.1

リード付きコンデンサ

リード付きコンデンサは,JIS C 60068-2-20 に規定する試験方法 Ta(リード線及びラグ端子のはんだ付

け性)の

方法 1(235  ℃でのはんだ槽法),方法 2(350  ℃でのはんだこて法)又は方法 3(235  ℃でのは

んだ小球法)のうち,下位規格に規定する方法で試験を行う。

はんだ槽法(

方法 1)を規定する場合は,次の要求事項を適用する。

4.11.1.1

試験条件

はんだ槽の温度:235  ℃±5  ℃

浸せき時間:2 秒±0.5 秒間

はんだへの浸せき深さ(取付面又は部品本体から)は,次による。

a)

次の b)を除くすべてのコンデンサは,厚さ 1.5 mm±0.5 mm の熱遮へい板を用いて,2.0

0
0.5

mm の箇


17

C 5160-1

:2009 (IEC 62391-1:2006)

所まで浸せきする。

b)

下位規格にプリント配線板用に設計していないと規定したコンデンサは,3.5

0
0.5

mm の箇所まで浸せ

きする。

4.11.1.2

    端子をはんだ槽に規定した位置まで浸せきし,はんだが良好に付着しているかどうかを試験す

る。

4.11.1.3

    はんだ槽法が適用できない場合は,下位規格には,試験方法及び試験条件並びに要求事項を規

定する。

注記  はんだ小球法を用いる場合は,要求事項の中にはんだ付け時間を含めて規定する。

4.11.2

表面実装用コンデンサ

表面実装用コンデンサは,JIS C 60068-2-58 を適用する。下位規格には,表面実装の分類(IEC 61760-1

参照)によって,はんだぬれ性,はんだはじき性又ははんだ耐熱性若しくは金属化部分のはんだ食われ性

に適用する条件及び厳しさを規定する。

下位規格には,はんだぬれ性試験後に評価するコンデンサの領域も規定する。

4.11.2.1

最終検査,測定検査及び要求事項

表面実装用コンデンサは,下位規格に規定する要求事項を満足しなければならない。

4.12

温度急変

4.12.1

    下位規格の規定によって初期測定を行う。

4.12.2

    コンデンサの試験は,下位規格に規定する厳しさを用いて,JIS C 0025 に規定する試験 Na(温度

急変)によって行う。

4.12.3

    後処理後,コンデンサは,外観検査を行い,外観に著しい損傷がないことを確認する。下位規格

の規定によって最終測定を行う。

4.13

振動

4.13.1

    下位規格の規定によって初期測定を行う。

4.13.2

    コンデンサの試験は,下位規格に規定する取付方法及び厳しさを用いて,JIS C 60068-2-6 によっ

て行う。

4.13.3

    下位規格に規定がある場合は,各方向の振動試験の最後の 30 分間に,瞬間的な接続の不適合又は

オープン若しくはショートの検査を行う。

測定方法は,下位規格に規定する。

測定時間は,振動を行う周波数範囲の一端から他端まで 1 掃引の間に要する時間とする。

4.13.4

    試験後,コンデンサは,外観検査を行い,外観に著しい損傷がないことを確認する。コンデンサ

を 4.13.3 の規定によって試験した後の要求事項は,下位規格に規定する。

4.13.5

    下位規格の規定によって最終測定を行う。

4.14

高温高湿(定常)

4.14.1

    下位規格の規定によって初期測定を行う。

4.14.2

    コンデンサの試験は,下位規格に規定する一連耐候性試験の厳しさを用いて,JIS C 60068-2-78

に規定する試験 Cab によって行う。

4.14.3

    後処理後,コンデンサは,外観検査を行う。

4.15

耐久性

4.15.1

初期測定

下位規格の規定によって初期測定を行う。


18

C 5160-1

:2009 (IEC 62391-1:2006)

4.15.2

    JIS C 60068-2-2 に規定する試験は,次の事項に適用する。

直流試験−試験 Ba

試験試料は,室温から規定する温度までの間の任意の温度にした温度槽に入れてもよいが,規定する温

度に到達する前には,電圧は印加しない。

4.15.3

    下位規格には,次の事項を規定する。

a)

試験期間(例えば,時間)

b)

試験温度(例えば,室温,定格温度又はカテゴリ上限温度)

c)

印加電圧又は供給電流(4.15.4 参照)

コンデンサが,感電防止用として追加要求事項を満足する必要がある場合は,耐久性試験に対する追加

試験条件を,下位規格に規定する。

4.15.4

    下位規格に規定がない場合は,次の直流試験を行う。

直流試験

試験は,定格温度までの温度で定格直流電圧の乗数倍を印加する。試験温度及び乗数倍の電圧値は,下

位規格に規定する。カテゴリ上限温度で試験を行う場合は,電圧軽減係数も下位規格に規定する。

4.15.5

    コンデンサは,次のような状態で試験槽の中に置く。

a)

熱放射形コンデンサでは,コンデンサを互いに 25 mm 以上離す。

b)

非熱放射形コンデンサでは,コンデンサを互いに 5 mm 以上離す。

4.15.6

    規定の試験後,コンデンサは,標準状態で冷却してもよい。下位規格に規定がある場合は,コン

デンサを後処理する。

4.15.7

    コンデンサは,外観検査を行う。

4.15.8

    下位規格の規定によって最終測定を行う。コンデンサは,試験中又は試験後に下位規格の要求事

項を満足しないときに,故障となることも考慮する。

4.16

貯蔵

4.16.1

高温貯蔵

4.16.1.1

    下位規格の規定によって初期測定を行う。

4.16.1.2

    コンデンサの試験は,JIS C 60068-2-2 に規定する試験 Ba によるほか,次による。

−  温度:カテゴリ上限温度

−  期間:96 時間±4 時間

4.16.1.3

   16 時間以上の後処理後,下位規格の規定によって最終測定を行う。

4.16.2

低温貯蔵

4.16.2.1

    下位規格の規定によって初期測定を行う。

4.16.2.2

    コンデンサの試験は,JIS C 60068-2-1 に規定する試験 Ab によって行う。コンデンサは,−40  ℃

の温度に,熱安定状態(熱平衡)に到達した後 4 時間,又は 16 時間のいずれか短い時間で貯蔵する。

4.16.2.3

   16 時間以上の後処理後,下位規格の規定によって最終測定を行う。

4.17

高温及び低温特性

コンデンサは,高温  (4.17.2)  及び低温試験  (4.17.3)  の手順によるほか,次による。

4.17.1

試験手順

コンデンサの試験は,高温,低温の順で行う。中間での試験は,下位規格に規定してもよい。

この試験の厳しさは,高温及び低温試験と同じ試験手順とする。中間温度での試験は,下位規格によっ

て規定してもよい。


19

C 5160-1

:2009 (IEC 62391-1:2006)

測定は,コンデンサが熱安定状態(熱平衡)に到達した後,規定するそれぞれの温度で行う。

熱安定状態(熱平衡)の条件は,5 分間以上の間隔で得られた特性の二つの測定値の読みが,測定器の

精度内になったときをいう。

4.17.2

高温

コンデンサは,下位規格に規定するカテゴリ上限温度の厳しさで,JIS C 60068-2-2 の試験 Ba によって 2

時間以上放置する。

規定する高温中及び高温の最終時間に,下位規格に規定する測定を行う。

規定する条件後,コンデンサを槽から取り出し,標準状態に 2 時間以上放置する。

注記  対応国際規格では,試験を 16 時間行うこと及び 4 時間以上放置することを規定しているが,明

らかな誤記であるため,2 時間以上とした。

4.17.3

低温

コンデンサの試験は,下位規格に規定するカテゴリ下限温度の厳しさで,JIS C 60068-2-1 の試験 Aa 

よって 2 時間以上放置する。

規定する低温中及び低温の最終時間に,下位規格に規定する測定を行う。

規定の条件後,コンデンサを槽から取り出し,標準状態に 2 時間以上放置する。

注記  対応国際規格では,4 時間以上放置することを規定しているが,明らかな誤記であるため,2

時間以上とした。

4.17.4

    コンデンサは,下位規格の規定値を満足する。

4.18

部品の耐溶剤性

4.18.1

初期測定

下位規格の規定によって初期測定を行う。

4.18.2

    コンデンサの試験は,JIS C 60068-2-45 によるほか,次による。

a)

用いる溶剤:JIS C 60068-2-45 に規定する 3.1.2 参照。

b)

溶剤の温度:23  ℃±5  ℃(下位規格に規定がない場合)

c)

条件:

方法 2(ラビングを伴わない。)

d)

後処理時間:48 時間(下位規格に規定がない場合)

4.18.3

    下位規格に規定する最終測定を行い,規定する要求事項を満足する。

4.19

表示の耐溶剤性

4.19.1

    コンデンサの試験は,JIS C 60068-2-45 によるほか,次による。

a)

用いる溶剤:JIS C 60068-2-45 に規定する 3.1.2 参照。

b)

溶剤の温度:23  ℃±5  ℃

c)

条件:

方法 1(ラビングを伴う。)

d)

ラビング材料:脱脂綿

e)

後処理時間は,適用しない(下位規格に規定がない場合)

4.19.2

    試験後,表示が明りょうである。

4.20

耐炎性

4.20.1

    試験は,JIS C 60695-11-5 に規定するニードルフレーム試験によって行う。

4.20.2

    試験中のコンデンサは,最も燃えやすい炎の位置に固定する(この位置が下位規格に規定がない

場合は,予備試験で評価して決める。

。各試料は,炎を 1 回だけ近付ける。

4.20.3

    最小,中間(外形寸法が 4 種類以上の場合)及び最大外形寸法のコンデンサで試験する。


20

C 5160-1

:2009 (IEC 62391-1:2006)

各外形寸法の試料は,最大定格静電容量のもの 3 個及び最小定格静電容量のもの 3 個の合計 6 個を一つ

の外形寸法の試料とする。

4.20.4

    炎にさら(曝)す時間及び燃焼時間は,

表 による。適用する場合には,下位規格は,耐炎性の

カテゴリを規定する。

4.20.5

要求事項

試料の燃焼時間は,

表 に規定する時間以下とする。

燃焼落下物又は赤熱落下物によって,薄葉紙(ティッシュペーパ)が発火しない。

表 6−厳しさ及び要求事項

厳しさ

炎にさら(曝)す時間 s

コンデンサの体積範囲

a

)

 mm

3

耐炎性

カテゴリ

V≦250 250<V≦500 500<V≦1 750

1 750<V≦12 000

最大燃焼

時間

s

A 15  30  60

120  3

B 10  20  30

60 10

C 5  10  20

30 30

a

)

  体積が,12 000 mm

3

を超えるコンデンサの厳しさは,検討中である。

4.21

圧力弁(適用する場合)

4.21.1

直流試験

印加電圧:下位規格に規定がない場合は,10 mA/F 以上の定電流を流して得られた過電圧。


21

C 5160-1

:2009 (IEC 62391-1:2006)

附属書 A

規定)

静電容量と内部抵抗とによる区分

序文

この附属書は,4.5.1 に規定する静電容量(定電流放電法)及び 4.6.2 に規定する内部抵抗[直流 (d.c.) 抵

抗法]のクラス区分について規定する。

A.1

静電容量と内部抵抗とによる区分

定電流放電法による静電容量及び直流抵抗法による内部抵抗の測定は,この測定方法の特殊性及び統一

した測定条件とした場合には,製品の定格によっては膨大な測定時間が必要になるため,効率化した測定

条件を選択する必要があった。そこで,次の用途区分を考え,測定条件を四つのクラスに区分する。

一方,静電容量と内部抵抗とでは,同じ放電電流条件がよいのではとの提案もあったが,測定精度の面

から,四つのクラスごとに,静電容量及び内部抵抗の放電電流条件を区分した。ただし,測定精度が得ら

れることが明確になっているコンデンサの範囲である場合は,静電容量及び内部抵抗の測定条件を同じ条

件としてもよい。

a)

クラス 1(メモリバックアップ用途)  このクラスは,主に,RAM のメモリバックアップ用途などに

用い,放電電流が nA∼μA 単位の電流で用いる用途のコンデンサに適切である。この用途のコンデン

サの特性は,比較的静電容量が小さく内部抵抗が高い。

b)

クラス 2(エネルギー貯蔵用途)  このクラスは,主に,長時間の動作を必要とし,放電電流も mA∼

A 単位の電流を必要とする主にエネルギー貯蔵用途のコンデンサに適切である。この用途のコンデン

サの特性は,内部抵抗は考慮しないで静電容量だけが大きい。クラス 3 のパワー用途に比べて内部抵

抗が高い。

c)

クラス 3(パワー用途)  このクラスは,主に,モータ駆動などに用い,放電電流が mA∼A 単位の電

流でパワーを必要とする用途のコンデンサに適切である。この用途のコンデンサの特性は,比較的静

電容量が大きく内部抵抗が低い。

注記  クラス 2 及びクラス 3 の説明は,対応国際規格の明らかな誤記のため修正した。

d)

クラス 4(瞬間パワー用途)  このクラスは,動作時間が短くても瞬間的なパワー(比較的大きい電流)

を必要とする用途に適切である。この用途のコンデンサの特性は,静電容量も内部抵抗も低い。


22

C 5160-1

:2009 (IEC 62391-1:2006)

 
 

図 A.1−各区分の特性による位置付け概念図

下位規格に規定がない場合には,電気的性能の測定項目の選定は,その用途によって

図 A.1 のクラス区

分に適合させ,

表 A.1 に示すものから選定することが望ましい。

表 A.1−電気的性能の測定項目

選定区分

測定項目

項目

クラス 1

クラス 2

クラス 3

クラス 4

定電流放電法

4.5.1 

A A A A

静電容量

定抵抗充電法

4.5.2 

B B B B

交流抵抗法

4.6.1 

A B B B

内部抵抗

直流抵抗法

4.6.2 

C A A A

漏れ電流

4.7 

C C C C

電圧保持

4.8 

A C C C

注記 1  各測定方法は,次の選定区分によって用い,下位規格に規定する。 

A:標準として用いる。

B:簡便法として用いる。

C:必要な場合に用いる。

注記 2  静電容量については,この他の方法として附属書 がある。

クラス 4

瞬間パワー 
用途

クラス 3 
パワー用途

  クラス 1 
メモリバック 
  アップ用途

クラス 2 
エネルギー貯蔵用途

 内部抵抗

 →

←    静電容量    →    大


23

C 5160-1

:2009 (IEC 62391-1:2006)

附属書 B

参考)

低周波交流法による低抵抗コンデンサの静電容量測定方法

序文

この附属書は,低周波交流法による低抵抗コンデンサの静電容量測定方法を参考として記載するもので

あって,規定の一部ではない。この方法は,比較的内部抵抗が低く,かつ,静電容量が小さいコンデンサ

に適切であり,測定時間を短縮できる簡便法として利用できる。

B.1

測定システム

測定システムは,

図 B.1 による構成で測定を行う。

なお,これに代わる方法で,低周波での静電容量が測定できるシステムを用いてもよい。

a)

規定する周波数の正弦波電圧を周波数特性分析器で発生させ,ポテンシオスタット(potentiostat:自

動的に電極電位を一定に保つための装置)を経由してコンデンサに印加する。

b)

コンデンサに流れる電流を,ポテンシオスタットで検出し,電圧値に変換して周波数分析器に戻す。

c)

被測定物コンデンサの電圧と電流とからインピーダンス|Z|及び位相角

φ

を求める。

図 B.1−低周波交流法による静電容量測定システム

B.2

測定条件

測定条件は,次による。

a)

測定周波数は,0.05 Hz,0.1 Hz,1 Hz,10 Hz 又は 100 Hz のうち,いずれかの周波数とする。

b)

測定電圧は,定格電圧の 3 %以下とする。

c)

バイアス電圧は,定格電圧の 50 %∼95 %の電圧とする。

なお,判定に疑義が生じない場合には,バイアス電圧は,省略してもよい。

B.3

静電容量の算出

a)

リアクタンス は,次の式によって算出する。

φ

sin

|

|

×

Z

X

ここに,

X: リアクタンス  (

Ω)

|Z|: インピーダンス  (

Ω)

φ

位相角

b)

算出したリアクタンスを用い,コンデンサの静電容量 は,次の式によって算出する。

f

X

C

π

2

=

ここに,

C: 静電容量 (F)

π: 円周率

f: 測定周波数 (Hz)

周波数特性

分析器

コンデンサ

ポテンシオ

スタット


24

C 5160-1

:2009 (IEC 62391-1:2006)

附属書 JA

参考)

ゲージによる寸法測定方法−端子反対方向形(アキシャル端子)

序文

この附属書は,4.4.2 に引用している IEC 60294 を参考までに翻訳して記載するものであって,規定の一

部ではない。

JA.1

適用範囲

この規格は,反対方向の二つの端子(アキシャル端子)をもつ電子機器用コンデンサ及び電子機器用抵

抗器に適用する。

JA.2

目的

この規格の目的は,部品の寸法の測定方法を規定することである。JA.3 は,部品本体及び端子の長さを

測定する方法である。コーティング材料で覆われている端子の最大長さは,JA.4 に示す方法で測定する。

JA.5

は,全長にわたる直径を測定するゲージについて規定する。

注記  端子反対方向形(アキシャル端子)でない部品の寸法測定方法は,附属書 JB による。

対応国際規格 IEC 60294 では,

“検討中”とあるが,その後,IEC 60717 が発行されたので,

“検討中”を“

附属書 JB による。”とした。

JA.3

長さ

部品本体の長さは,2 枚のゲージの孔の中に端子を挿入し,部品本体又は端子が変形しない位置まで部

品を挟むことによって測定する。

ゲージの寸法及び部品と測定装置との距離を考慮し,ゲージを平行にする。

測定誤差は,0.2 mm 以下とする。

ゲージは,JA.3.1 及び JA.3.2 の 2 種類とする。


25

C 5160-1

:2009 (IEC 62391-1:2006)

JA.3.1

端子反対方向形(アキシャル端子)の部品(JA.3.2 に規定するものを除く。)用のゲージ

a

)

  部品本体の長さは測定値 L

1

とし,端子の長さは測定値 L

2

とする。

b

)

  公称リード線径に対するゲージの孔径は,表 JA.1 による。

図 JA.1−端子反対方向形(アキシャル端子)の部品用のゲージ

表 JA.1−公称リード線径に対するゲージ孔径  (W)

単位  mm

公称リード線径

ゲージ孔径

W

 0.45 以下 
 0.45

を超え 0.7 以下

 0.7

を超え 0.9 以下

 0.9

を超え 1.15 以下

 1.15

を超え 1.32 以下

 1.32

を超え 2.0 以下

0.80±0.02 
1.00±0.02 
1.20±0.02 
1.50±0.02 
1.80±0.02 
3.00±0.02

注記  許容差は,測定中に端子を挿入してい

る状態での測定箇所に適用する。


26

C 5160-1

:2009 (IEC 62391-1:2006)

JA.3.2

端子反対方向形(アキシャル端子)でガラス封口又は端子が不連続な直径 5 mm 以上の部品のゲ

ージ

注記 1  許容差は,測定中に端子に挿入している状態での測定箇所に適用する。 
注記 2  端子に不連続点,例えば,端子上に溶接点をもつ部品及びガラス封口をもつ部品の場合には,

ゲージの厚さは,長さの測定には意味をもたない。

a

)

  部品の長さは,ゲージの内面間の距離とし,端子の長さは L

2

とする。

b

)

  ゲージの孔径は,4.00 mm±0.02 mm とする。

図 JA.2−端子反対方向形(アキシャル端子)でガラス封口

又は端子が不連続な直径 5 mm 以上の部品のゲージ

JA.4

コーティング材料で覆われた端子の長さ

端子をゲージに挿入し,部品を JA.3.1 のように挟んだ場合には,コーティング材料(塗料のたれ)は,

ゲージの外側に出てはならない。

ゲージの厚さは,下位規格の規定による。

注記  ゲージの厚さの推奨値は,片面のプリント配線板に用いる場合には,1.50 mm±0.05 mm とし,

その他の部品の場合には,4.00 mm±0.05 mm とする。

JA.5

全長にわたる直径を測定する方法

部品に規定する直径の内径+0.1

05

.

0
0

mm で,かつ,部品に規定する長さに等しい長さをもつ真っすぐな

円筒の中に,部品を自重で通す。

部品製造業者が規定する部品の最大径の場合において,抵抗器のキャップ及び磁器コンデンサの本体外

形にリード線のような端子を巻き付けた場合は,部品本体の外形の凹凸を考慮する。


27

C 5160-1

:2009 (IEC 62391-1:2006)

附属書 JB

参考)

ゲージによる寸法測定方法−端子同一方向形(ラジアル端子)

序文

この附属書は,4.4.2 に引用している IEC 60717 を参考までに翻訳して記載するものであって,規定の一

部ではない。

JB.1

適用範囲

この規格は,同一方向の端子(ラジアル端子)をもつ電子機器用コンデンサ及び電子機器用抵抗器に適

用する。

JB.2

目的

この規格の目的は,同一方向の端子をもつ電子機器用コンデンサ及び電子機器用抵抗器の寸法の測定方

法を規定することである。

JB.3

幅及び長さ

幅及び長さの寸法は,次による。

JB.3.1

    標準格子寸法に基づいた格子寸法の孔をもったゲージを用いる。

JB.3.2

    孔径は,通常使用する実際のプリント配線板に従った端子の寸法に対応している。

JB.3.2.1

    部品の下位規格にその他の規定がない場合には,円筒形(丸棒)端子をもつ部品の寸法確認に

用いるゲージは,次による。

a)

同一軸に沿った孔位置の許容差:±0.02 mm

b)

端子の公称径に対応する孔径の公称値は,

表 JB.1 による。

表 JB.1−端子の公称径に対応する孔径の公称値

単位  mm

端子の公称径

a

)

孔径公称値

≦0.5

0.6

0.7,0.8

1.0 
1.2

0.8 
1.0 
1.3 
1.6 
1.8

a

)

  この端子径は,IEC 60301 の規定による。

c)

孔径の許容差:±0.02 mm

d) 1.5

mm の公称厚さをもつゲージ板を用いる。ゲージ板の孔の位置及び面取りの状態を,図 JB.1 に示

す。


28

C 5160-1

:2009 (IEC 62391-1:2006)

単位  mm

図 JB.1−ゲージ板の孔の位置及び面取りの状態

JB.3.2.2

    角径端子は,下位規格に規定がない場合には,その対角線の長さ以上で最も近い公称径をもつ

円筒形(丸棒)端子と同様に扱う。前記の二つの各項に該当しない端子は,使用するゲージの詳細を,下

位規格に規定する。

JB.3.3

    測定する部品端子は,位置出しを行う。この部品は,適切な孔径をもったゲージの孔に十分に挿

入できるようにする。挿入する場合は,規定端子に対して必要以上の力を加えない。

JB.3.4

    部品の幅  (W)は,ゲージ面に垂直で,格子の孔の中心点を結ぶ線に平行であり,また,対応する

部品の側面に接する二つの面間の距離として

図 JB.2 及び図 JB.3 に示すように測定する。

同様に,長さ  (L)  は,幅の面に直角で,部品のほかの対応する側面に接する二つの同様な面の距離とす

る。

平行する面は,部品本体を少しでもへこませることがなく,部品に接触するようにする。

これらの面と端子が固定されている格子孔の中心線との距離が,端子位置の測定値である。

図 JB.2−幅が大きいものの測定 

図 JB.3−幅が小さいものの測定 

JB.4

高さ

実装部品に要求する高さは,ゲージ板の上面から部品の最も高い部分までの距離  (H)  である[

図 JB.4a)

及び

図 JB.4 b)  参照]。

JB.4.1

端子の長さ

端子の長さは,

図 JB.4 b)  に示す端子の長さ  (l)  を測定する。


29

C 5160-1

:2009 (IEC 62391-1:2006)

JB.4.2

塗料のたれ

塗料のたれは,下位規格の規定によって調べる。

a)

部品の高さの測定

b)

部品の端子の長さ及び塗料のたれの測定

図 JB.4−部品の高さの測定

参考文献  IEC 60301,Preferred diameters of wire terminations of capacitors and resistors