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C 5101-18

:2010 (IEC 60384-18:2007)

(1)

目  次

ページ

序文

1

1

  一般事項

1

1.1

  適用範囲

1

1.2

  目的

1

1.3

  引用規格

1

1.4

  個別規格に規定する事項

2

1.5

  用語及び定義

3

1.6

  表示

3

2

  推奨特性及び定格

4

2.1

  推奨特性

4

2.2

  推奨定格値

4

3

  品質評価手順

5

3.1

  製造の初期工程

5

3.2

  構造的に類似なコンデンサ

5

3.3

  出荷対象ロットの成績証明書

5

3.4

  品質認証試験

5

3.5

  品質確認検査

14

4

  試験及び測定手順

16

4.1

  予備乾燥

16

4.2

  測定条件

16

4.3

  取付け

16

4.4

  外観及び寸法

16

4.5

  電気的性能

16

4.6

  はんだ耐熱性

17

4.7

  はんだ付け性

18

4.8

  固着性

18

4.9

  耐プリント板曲げ性

18

4.10

  温度急変

18

4.11

  一連耐候性

18

4.12

  高温高湿(定常)

19

4.13

  高温及び低温特性

19

4.14

  サージ

19

4.15

  耐久性

19

4.16

  逆電圧(個別規格に規定がある場合)

20

4.17

  高温保存

20


C 5101-18

:2010 (IEC 60384-18:2007)  目次

(2)

ページ

4.18

  低温保存(非固体電解コンデンサで,かつ,カテゴリ下限温度が−10  ℃及び−25  ℃の場合に適用)

20

4.19

  充放電(個別規格に規定がある場合)

20

4.20

  部品の耐溶剤性(個別規格に規定がある場合)

21

4.21

  表示の耐溶剤性(個別規格に規定がある場合)

21

4.22

  大電流サージ(固体電解コンデンサで,かつ,個別規格に規定がある場合)

21


C 5101-18

:2010 (IEC 60384-18:2007)

(3)

まえがき

この規格は,工業標準化法第 14 条によって準用する第 12 条第 1 項の規定に基づき,社団法人電子情報

技術産業協会 (JEITA) 及び財団法人日本規格協会 (JSA) から,工業標準原案を具して日本工業規格を改

正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格であ

る。

これによって,JIS C 5101-18:1999 は改正され,この規格に置き換えられた。

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に

抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許

権,出願公開後の特許出願,実用新案権及び出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について,責

任はもたない。

JIS C 5101

の規格群には,次に示す部編成がある。

JIS

C

5101-1

  第 1 部:品目別通則

JIS

C

5101-2

  第 2 部:品種別通則:固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流コン

デンサ

JIS

C

5101-2-1

  第 2-1 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィル

ム直流コンデンサ  評価水準 E 及び EZ

JIS

C

5101-3

  第 3 部:品種別通則:表面実装用固定タンタル固体 (MnO

2

)  電解コンデンサ

JIS

C

5101-3-1

  第 3-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定タンタル固体 (MnO

2

)  電解コンデンサ

評価水準 EZ

JIS

C

5101-4

  第 4 部:品種別通則:アルミニウム固体 (MnO

2

)  及び非固体電解コンデンサ

JIS

C

5101-4-1

  第 4-1 部:ブランク個別規格:アルミニウム非固体電解コンデンサ−評価水準 EZ

JIS

C

5101-4-2

  第 4-2 部:ブランク個別規格:アルミニウム固体 (MnO

2

)  電解コンデンサ−評価水準

EZ

JIS

C

5101-8

  第 8 部:品種別通則:固定磁器コンデンサ  種類 1

JIS

C

5101-8-1

  第 8-1 部:ブランク個別規格:固定磁器コンデンサ  種類 1  評価水準 EZ

JIS

C

5101-9

第 9 部:品種別通則:固定磁器コンデンサ  種類 2

JIS

C

5101-9-1

  第 9-1 部:ブランク個別規格:固定磁器コンデンサ  種類 2  評価水準 EZ

JIS

C

5101-11

  第 11 部:品種別通則:固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コンデ

ンサ

JIS

C

5101-11-1

  第 11 部:ブランク個別規格:固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直

流コンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-13

  第 13 部:品種別通則:固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ

JIS

C

5101-13-1

  第 13-1 部:ブランク個別規格:固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデン

サ  評価水準 E 及び EZ

JIS

C

5101-14

  第 14 部:品種別通則:電源用電磁障害防止固定コンデンサ

JIS

C

5101-14-1

  第 14-1 部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ  評価水準 D


C 5101-18

:2010 (IEC 60384-18:2007)  目次

(4)

JIS

C

5101-14-2

  第 14-2 部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ  安全性を要求

する試験

JIS

C

5101-14-3

  第 14-3 部:ブランク個別規格:電源用電磁障害防止固定コンデンサ  評価水準 DZ

JIS

C

5101-15

  第 15 部:品種別通則:固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ

JIS

C

5101-15-1

  第 15 部:ブランク個別規格:はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ  評価

水準 E

JIS

C

5101-15-2

  第 15 部:ブランク個別規格:焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ  評価水準

E

JIS

C

5101-15-3

  第 15 部:ブランク個別規格:焼結形固定タンタル固体電解コンデンサ  評価水準 E

JIS

C

5101-16

  第 16 部:品種別通則:固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ

JIS

C

5101-16-1

  第 16-1 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コン

デンサ  評価水準 E 及び EZ

JIS

C

5101-17

  第 17 部:品種別通則:固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコン

デンサ

JIS

C

5101-17-1

  第 17-1 部:ブランク個別規格:固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及び

パルスコンデンサ  評価水準 E 及び EZ

JIS

C

5101-18

  第 18 部:品種別通則:表面実装用固定アルミニウム固体 (MnO

2

)  及び非固体電解コン

デンサ

JIS

C

5101-18-1

  第 18-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定アルミニウム固体 (MnO

2

)  電解コン

デンサ−評価水準 EZ

JIS

C

5101-18-2

  第 18-2 部:ブランク個別規格:表面実装用固定アルミニウム非固体電解コンデンサ

−評価水準 EZ

JIS

C

5101-20

  第 20 部:品種別通則:表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィル

ム直流コンデンサ

JIS

C

5101-20-1

  第 20-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定メタライズドポリフェニレンスルフ

ィドフィルム直流コンデンサ  評価水準 EZ

JIS

C

5101-21

第 21 部:品種別通則:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 1

JIS

C

5101-21-1

  第 21-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 1  評価水

準 EZ

JIS

C

5101-22

  第 22 部:品種別通則:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 2

JIS

C

5101-22-1

  第 22-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 2  評価水

準 EZ

JIS

C

5101-23

  第 23 部:品種別通則:表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレートフィル

ム直流コンデンサ

JIS

C

5101-23-1

  第 23-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレ

ートフィルム直流コンデンサ  評価水準 EZ

JIS

C

5101-24

  第 24 部:品種別通則:表面実装用固定タンタル固体(導電性高分子)電解コンデンサ

JIS

C

5101-24-1

  第 24-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定タンタル固体(導電性高分子)電解

コンデンサ−評価水準 EZ


C 5101-18

:2010 (IEC 60384-18:2007)

(5)

JIS

C

5101-25

  第 25 部:品種別通則:表面実装用固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コンデ

ンサ

JIS

C

5101-25-1

  第 25-1 部:ブランク個別規格:表面実装用固定アルミニウム固体(導電性高分子)

電解コンデンサ−評価水準 EZ

JIS

C

5101-26

  第 26 部:品種別通則:固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コンデンサ(予定)

JIS

C

5101-26-1

  第 26-1 部:ブランク個別規格:固定アルミニウム固体(導電性高分子)電解コンデ

ンサ  評価水準 EZ(予定)


C 5101-18

:2010 (IEC 60384-18:2007)  目次

(6)

白      紙


日本工業規格

JIS

 C

5101-18

:2010

(IEC 60384-18

:2007

)

電子機器用固定コンデンサ−

第 18 部:品種別通則:表面実装用固定アルミニウム

固体 (MnO

2

)

及び非固体電解コンデンサ

Fixed capacitors for use in electronic equipment

Part 18: Sectional specification

−Fixed aluminium electrolytic surface mount

capacitors with solid (MnO

2

) and non-solid electrolyte

序文

この規格は,2007 年に第 2 版として発行された IEC 60384-18 を基に,技術的内容及び対応国際規格の

構成を変更することなく作成した日本工業規格である。

なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

1

一般事項

1.1

適用範囲

この規格は,JIS C 5101-1 を品目別通則とする品種別通則で,主に電子機器用の直流回路に用いる表面

実装用固定アルミニウム固体 (MnO

2

)  及び非固体電解コンデンサ(以下,コンデンサという。)について

規定する。

この規格は,ハイブリッド回路又はプリント配線板に直接取り付けるコンデンサに適用する。特殊な用

途のコンデンサの場合には,その用途で求める要求性能を追加してもよい。

注記  この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。

IEC 60384-18:2007

,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 18: Sectional specification

− Fixed aluminium electrolytic surface mount capacitors with solid (MnO

2

) and non-solid

electrolyte (IDT)

なお,対応の程度を表す記号 (IDT) は,ISO/IEC Guide 21-1 に基づき,一致していることを

示す。

1.2

目的

この規格の目的は,推奨する定格及び特性を規定するとともに,JIS C 5101-1 から適切な品質評価手順,

試験方法及び測定方法を選定し,一般的要求性能を規定する。この品種別通則に基づいた個別規格に規定

する個々の試験の厳しさ及び要求性能は,この規格と同等又は高い水準とする。

1.3

引用規格

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。

は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。

)を適用する。


2

C 5101-18

:2010 (IEC 60384-18:2007)

JIS C 0025:1988

  環境試験方法(電気・電子)温度変化試験方法

JIS C 5063

  抵抗器及びコンデンサの標準数列

注記  対応国際規格:IEC 60063:1963,Preferred number series for resistors and capacitors,Amendment

1:1967 及び Amendment 2:1977 (IDT)

JIS C 5101-1:2010

  電子機器用固定コンデンサ−第 1 部:品目別通則

注記  対応国際規格:IEC 60384-1:2008,Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 1:

Generic specification (IDT)

JIS C 60068-1:1993

  環境試験方法−電気・電子−通則

注記  対応国際規格:IEC 60068-1:1988,Environmental testing−Part 1: General and guidance 及び

Amendment 1:1992 (IDT)

JIS C 60068-2-58:2006

  環境試験方法−電気・電子−表面実装部品 (SMD) のはんだ付け性,電極の耐

はんだ食われ性及びはんだ耐熱性試験方法

注記  対応国際規格:IEC 60068-2-58:2004,Environmental testing−Part 2-58: Tests−Test Td: Test

methods for solderability, resistance to dissolution of metallization and to soldering heat of surface

mounting devices (SMD) (MOD)

JIS Z 8601

  標準数

注記  対応国際規格:ISO 3:1973,Preferred numbers−Series of preferred numbers (MOD)

JIS Z 9015-1

  計数値検査に対する抜取検査手順−第 1 部:ロットごとの検査に対する AQL 指標型抜

取検査方式

注記  対応国際規格:IEC 60410:1973,Sampling plans and procedures for inspection by attributes (MOD)

1.4

個別規格に規定する事項

個別規格は,関連するブランク個別規格の様式による。

個別規格は,品目別通則,品種別通則又はブランク個別規格の要求性能と同等又は高い水準とする。

より厳しい要求性能を規定する場合は,その内容を個別規格の 1.9 に記載し,更に,試験計画の中に,

例えば,アステリスク (*) を付けて明示する。

各個別規格に次の事項を規定し,引用する値は,この規格の該当する項目の中から選定する。

1.4.1

外形図及び寸法

外形図及び寸法は,その他のコンデンサとの比較及び区分が容易にできるように図示する。

コンデンサの互換性及び取付けに影響する寸法及び寸法許容差は,個別規格に規定する。また,すべて

の寸法値は,ミリメートル (mm) で規定する。

注記  寸法及び寸法許容差は,一覧表で示してもよい。

寸法は,本体の長さ,幅及び高さ並びに端子の幅,長さ及び端子間隔とする。公称静電容量と定格電圧

とによる幾つかの組合せを個別規格に規定する場合は,

各々の寸法及び寸法許容差を図面の下に表で示す。

形状が上記のコンデンサと異なる場合は,個別規格にそのコンデンサを適切に示す寸法を規定する。

1.4.2

取付け

個別規格には,通常使用する場合の取付方法を規定する。コンデンサは,その規定した方法で取り付け

る。試験及び測定のための取付方法は,4.3 による。

1.4.3

定格及び特性

定格及び特性は,この規格の関連項目によるほか,次による。


3

C 5101-18

:2010 (IEC 60384-18:2007)

1.4.3.1

公称静電容量範囲

公称静電容量の範囲は,2.2.1 による。

注記  IEC 電子部品品質認証制度  (IECQ)  の場合は,個別規格の公称静電容量範囲と認証を受けた範

囲とが異なるとき,次の文章を追加する。

“各定格電圧での公称静電容量の範囲は,品質認証書  (Qualification approval certificate)  によ

る。

1.4.3.2

特殊な特性

設計及び使用目的によって,特殊な特性が必要な場合は,その規定項目を追加してもよい。

1.4.3.3

はんだ付け

はんだ付け性及びはんだ耐熱性試験で適用する試験方法,厳しさ及び要求性能は,個別規格の規定によ

る。

1.4.4

表示

コンデンサ及びその包装に対する表示項目を個別規格に規定する。1.6 と異なる場合は,その項目を個別

規格に明記する。

1.5

用語及び定義

この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS C 5101-1 によるほか,次による。

1.5.1

電解コンデンサの静電容量  (capacitance of an electrolytic capacitor)

規定する測定周波数の近似的な正弦波交流を用いて測定した静電容量値と抵抗値とで等価直列回路を構

成した場合の静電容量。

1.5.2

表面実装用コンデンサ (surface mount capacitor)

小さな寸法で端子の種類又は形状が,ハイブリッド回路及びプリント配線板での使用に適した固定コン

デンサ。

1.5.3

逆電圧  [reverse voltage (for polar capacitors only)]

極性とは逆方向でコンデンサの端子に印加する電圧。有極性コンデンサに適用する。

1.6

表示

表示は,JIS C 5101-1 の 2.4 によるほか,次による。

1.6.1

コンデンサ本体及び包装への表示

コンデンサ本体及び包装への表示は,次の項目から選定する。表示の優先順位は,記載の順による。

a)

端子の極性(構造によって極性が判別できない場合)

b)

公称静電容量

c)

定格電圧(直流電圧を表す記号 d.c.は,記号        又は        で表してもよい。

d)

公称静電容量許容差

e)

等級

f)

製造年月(又は年週)

g)

製造業者名又は商標(略号を含む。

h)

耐候性カテゴリ

i)

製造業者の形名


4

C 5101-18

:2010 (IEC 60384-18:2007)

j)

引用個別規格

1.6.2

コンデンサ本体への表示

コンデンサ本体へは,通常,表示しない。ただし,表示を行う場合は,端子の極性だけは必ず表示し,

その他の項目は,1.6.1 に規定する項目の中から,必要な項目をできるだけ多く,明りょうに表示する。ま

た,コンデンサ本体への表示項目は,重複を避けることが望ましい。

1.6.3

表示の要求性能

いずれの表示も,明りょうであり,指でこすった場合に,にじんだり又は消えたりしてはならない。

1.6.4

コンデンサの包装への表示

コンデンサの包装への表示は,1.6.1 のすべての項目を明りょうに表示する。

1.6.5

表示の追加

1.6.1

に規定する以外の表示項目を追加する場合には,混乱しないようにする。

2

推奨特性及び定格

2.1

推奨特性

個別規格に規定する特性は,次の中から選定することが望ましい。

2.1.1

推奨耐候性カテゴリ

この規格に規定するコンデンサの耐候性カテゴリは,JIS C 60068-1 の 8.によって分類する。

カテゴリ下限温度,カテゴリ上限温度及び高温高湿(定常)の試験期間は,次の中から選定する。

  カテゴリ下限温度:  −55  ℃,−40  ℃,−25  ℃及び−10  ℃

  カテゴリ上限温度:  +85  ℃,+100  ℃,+105  ℃及び+125  ℃

  高温高湿(定常)の試験期間:10 日,21 日及び 56 日

注記  高温高湿(定常)の試験条件は,温度 40  ℃,相対湿度は,90 %∼95 %である。

低温及び高温の試験温度は,それぞれカテゴリ下限温度及びカテゴリ上限温度とする。

2.2

推奨定格値

2.2.1

公称静電容量  (C

N

)

公称静電容量は,マイクロファラド (µF) の単位で表す。

公称静電容量は,JIS C 5063 に規定する E6 の標準数列(1.0,1.5,2.2,3.3,4.7 及び 6.8)及びそれら

の 10

n

倍(×10

n

は整数)から選定することが望ましい。

2.2.2

公称静電容量許容差

公称静電容量許容差は,±10 %,及び±20 %が望ましい。

2.2.3

定格電圧  (U

R

)

定格電圧は,JIS Z 8601 に規定する R5 の標準数列のうち(1.0,1.6,2.5,4.0 及び 6.3)及びそれらの

10

n

倍(×10

n

は整数)から選定することが望ましい。

ただし,その他の数値が必要な場合は,R10 の標準数列から選定してもよい。

2.2.4

カテゴリ電圧  (U

C

)

カテゴリ電圧は,定格電圧と等しい。ただし,定格温度がカテゴリ上限温度と異なる場合は,定格電圧

に対するカテゴリ電圧は,

表 による。


5

C 5101-18

:2010 (IEC 60384-18:2007)

表 1−定格電圧に対するカテゴリ電圧

定格電圧 U

R

V

2.5 4  6.3

10  16 25 40 63

カテゴリ電圧 U

C

V

1.6 2.5 4  6.3 10 16 25 40

注記  表 は,定格温度が 100  ℃若しくは 105  ℃のコンデンサをカテゴリ温度 125  ℃で用いる場合,

又は定格温度が 85  ℃のコンデンサをカテゴリ温度 100  ℃若しくは 105  ℃で用いる場合の各定

格電圧に対するカテゴリ電圧を示す。

2.2.5

サージ電圧

サージ電圧は,定格電圧の 1.15 倍に最も近い値に丸めた電圧(

表 1A 参照)とする。

表 1A−定格電圧に対するサージ電圧

定格電圧 U

R

V

2.5 4.0 6.3 10 16 25 40 63

サージ電圧 V

2.9 4.6 7.2 12 18 29 46 72

2.2.6

定格温度

定格温度は,85  ℃,100  ℃,105  ℃,又は 125  ℃とする。

3

品質評価手順

3.1

製造の初期工程

製造の初期工程は,固体電解コンデンサの場合には,酸化皮膜の化成工程とし,非固体電解コンデンサ

の場合には,酸化皮膜の化成済はくの検査工程とする。

3.2

構造的に類似なコンデンサ

構造的に類似なコンデンサとは,外形寸法及び定格値が異なっていても,本質的に同じ製造工程及び材

料で製造した範囲のコンデンサとする。

3.3

出荷対象ロットの成績証明書

個別規格に規定がある場合で,かつ,購入者から要求がある場合は,JIS C 5101-1 の Q.9 によって,出

荷者が,出荷対象ロットの成績証明書を購入者に提出する。耐久性試験後に要求する性能値は,静電容量

値の変化,損失角の正接 (tan δ)  及び漏れ電流とする。

3.4

品質認証試験

品質認証試験の手順は,JIS C 5101-1 の Q.5 による。

ロットごと及び定期的品質検査に基づく品質認証試験の試験計画は,3.5 による。定数抜取手順は,3.4.1

及び 3.4.2 による。

3.4.1

定数抜取手順に基づく品質認証

品質保証の定数抜取手順は,JIS C 5101-1 の Q.5.3 の b)による。試料は,認証を得ようとするコンデン

サのすべての範囲を代表し,個別規格に規定するすべての範囲であっても,又はその一部でもよい。

抜取試料は,定格電圧の最高及び最低のもので,それぞれの電圧における外形寸法の最大及び最小のも

のとによる 4 組合せを選定する。

なお,外形寸法が 5 種類以上ある場合は,それぞれの電圧における中間の外形寸法のものによる 2 組合

せを加えた 6 組合せとする。これらの外形寸法と定格電圧とによるそれぞれの組合せにおいて,二つ以上

の公称静電容量のものがある場合には,最大の公称静電容量を選定する。したがって,範囲認証の場合,


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C 5101-18

:2010 (IEC 60384-18:2007)

試験は,4 組合せ又は 6 組合せの試料を用いて行う。認証範囲の試料を 4 組合せ未満で構成する場合には,

試料数は,4 組合せの場合と同数とする。

予備試料は,製造業者の責任でない事故による不適合品の置換え用として,1 組合せごとに 2 個(6 組合

せの場合)又は 3 個(4 組合せの場合)とする。

群 に規定する試料数は,すべての群の試験を適用する場合の試料数であり,すべての試験を適用しな

い場合は,適用しない試験に応じて試料数を減らしてもよい。

品質認証の試験計画に,群を追加する場合の

群 の試料数は,追加する群に必要な試料数を追加する。

表 に,品質認証試験の場合の各群及び各副群の試料数並びに合格判定数を示す。

3.4.2

試験

表 及び表 に規定する一連の試験計画は,個別規格に規定するコンデンサの品質認証にとって必要な

試験であり,各群の試験は,記載の順序に従って行う。

すべての試料は,

群 の試験を行い,その後に他の群に分割する。

群 で発生した不適合品は,その他の群に用いない。

不適合数が 0 個の場合,品質認証は,合格とする。

注記  表 及び表 は,定数抜取手順に基づく品質認証の試験計画を構成する。表 は,各試験又は

各試験群に対する試料数及び合格判定数の詳細を規定している。一方,

表 は,箇条 の試験

の詳細を規定しており,また,試験条件及び要求性能の要点の一覧を示すとともに個別規格に

選定する試験方法,試験条件などを規定している。

定数抜取手順に基づく品質認証の試験計画の試験条件及び要求性能は,個別規格に規定する

品質確認検査と同じであることが望ましい。


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C 5101-18

:2010 (IEC 60384-18:2007)

表 2−品質認証試験の抜取計画及び合格判定数(許容不適合数)−評価水準 EZ

試験項目

この規格の

細分箇条番号

試料数

n

a)

合格判定数

(許容不適合数)

大電流サージ

b)

4.22 

112+8

g)

 0

外観

4.4 

寸法

4.4 

漏れ電流

4.5.1 

静電容量

4.5.2 

損失角の正接 (tan δ)  又は等価直列抵抗 (ESR)

4.5.3 

インピーダンス

c)

4.5.4 

予備試料

16

はんだ耐熱性

4.6 

12 0

1A 

部品の耐溶剤性

c)

4.20 

はんだ付け性

4.7 

12 0

1B 

表示の耐溶剤性

c)

4.21 

耐プリント板曲げ性

4.9 

12 0

取付け

4.3 

76+8

g)

 0

e)

外観

4.4 

漏れ電流

4.5.1 

静電容量

4.5.2 

損失角の正接 (tan δ)

4.5.3 

3

d)

インピーダンス

c)

4.5.4 

固着性

4.8 

20 0

温度急変

4.10 

3.1 

一連耐候性

4.11 

3.2 

高温高湿(定常)

4.12 

20 0

高温及び低温特性

4.13 

8 0

3.3A 

充放電

c)

4.19 

3.3B 

逆電圧

c)

4.16 

8

g)

 0

3.4 

耐久性

4.15 

20 0

高温保存

4.17 

8 0

低温保存

f)

4.18 

3.5 

サージ

4.14 

a)

  外形寸法と定格電圧との組合せは,3.4.1 を参照する。

b)

  固体電解コンデンサで,かつ,個別規格に規定がある場合に適用する。

c)

  個別規格に規定がある場合に適用する。

d)

  これらの取付け後の測定値は,その後に行う各副群の初期値とする。

e)

  取付けで不適合になったコンデンサは,不適合数の計算には入れない。不適合のコンデンサは,予備

のコンデンサと交換する。

f)

  非固体電解コンデンサで,かつ,カテゴリ下限温度が−10  ℃及び−25  ℃の場合に適用する。

g)

  副群 3.3B の試験がある場合の追加の試料。


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C 5101-18

:2010 (IEC 60384-18:2007)

表 3−品質認証試験計画

細分箇条番号

及び試験項目

a)

D

又は

ND

b)

試験条件

a)

試料数  (n)

及び合格判

定数  (c)

要求性能

a)

群 

ND

表 による。

4.22

  大電流サージ

c)

4.4

  外観

4.4.2

による。

表示は,明りょうとし,個別規

格の規定による。

4.4

  寸法(詳細)

個別規格の規定による。

4.5.1

  漏れ電流

保護抵抗:1 000 Ω

4.5.1.2

による。

4.5.2

  静電容量

周波数:120 Hz

規定する許容差以内とする。

4.5.3

  損失角の正接 (tan δ)

又は等価直列抵抗 (ESR)

周波数:120 Hz

4.5.3.2

による。

4.5.4

  インピーダンス(個

別 規 格 に 規 定 が あ る 場
合)

周波数:100 kHz

個別規格の規定による。

群 1A 
4.6

  はんだ耐熱性

D

リフロー温度プロファイル:... 
後処理時間:24 h±2 h

表 による。

4.6.2

  最終測定

外観

4.6.2

による。

静電容量

個別規格の規定による。

損失角の正接 (tan δ)   個別規格の規定による。

溶剤:...

個別規格の規定による。

4.20

  部品の耐溶剤性(個

別 規 格 に 規 定 が あ る 場
合)

溶剤の温度:... 
方法  2 
後処理時間:...

群 1B 

D

表 による。

4.7

  はんだ付け性

試験方法:はんだ槽法又はリフ

ロー法

はんだ組成:...

フラックス種類(はんだ槽):

不活性又は活性

はんだ槽温度プロファイル又

はリフロー温度プロファイ
ル:...

4.7.2

  最終測定

外観

4.7.2

による。

溶剤:...

表示は,明りょうとする。

4.21

  表示の耐溶剤性(個

別 規 格 に 規 定 が あ る 場
合)

溶剤の温度:... 
方法  1 
ラビング材料:綿毛

群 

D

表 による。

4.9

  耐プリント板曲げ性

(個別規格に規定がある場

合)

静電容量及びインピーダンス

(プリント配線板を曲げた状態)

曲げ深さ D:mm

個別規格の規定による。

最終測定(JIS C 5101-1 

4.35.3

外観

外観に損傷がなく,非固体電解

コンデンサの場合は,電解液
の漏れがない。

注記  対応国際規格では,4.9 に“固着性”と記載があるが,明らかに誤りであり,4.9 を“耐プリント板曲げ性”に

修正する。また,詳細な試験項目が不足していたため,追加した。


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C 5101-18

:2010 (IEC 60384-18:2007)

表 3−品質認証試験計画(続き)

細分箇条番号

及び試験項目

a)

D

又は

ND

b)

試験条件

a)

試料数  (n)

及び合格判

定数  (c)

要求性能

a)

群 

D

表 による。

4.3

  取付け

プリント配線板の材質:...

d)

外観

外観に損傷がなく,非固体電解

コンデンサの場合は,電解液
の漏れがない。

漏れ電流 

4.5.1

による。

静電容量 

4.5.2

の測定値に対して

|ΔC/C|≦5 %

損失角の正接 (tan δ)   4.5.3.2 による。

インピーダンス(個別規格に規

定がある場合)

初期規定値以下

群 3.1 

D

表 による。

4.8

  固着性

外観

外観に損傷がない。

4.10

  温度急変

T

A

:カテゴリ下限温度

T

B

:カテゴリ上限温度

サイクル数:5 回 
試験期間 t

1

=... min

後処理時間:16 h

4.10.1

  初期測定 D

静電容量(

群 での測定値を用

いる。

4.10.3

  最終測定

固体電解コンデンサ:

漏れ電流

4.5.1

による。

静電容量

4.10.1

の測定値に対して

|ΔC/C|≦5 %

損失角の正接 (tan δ)   4.5.3.2 による。

インピーダンス(個別規格に規

定がある場合)

個別規格の規定による。

非固体電解コンデンサ:

外観

外観に損傷がなく,電解液の漏

れがない。

4.11

  一連耐候性 D

4.11.1

  初期測定

静電容量(

群 での測定値を用

いる。

4.11.2

  高温

温度:カテゴリ上限温度 
試験時間:16 h

4.11.3

  温湿度サイクル(試

験 Db)

,最初のサイクル

4.11.4

  低温 D

温度:カテゴリ下限温度 
試験時間:2 h

4.11.5

  温湿度サイクル(試

験 Db)

,残りのサイクル

後処理時間:1 h∼2 h

4.11.6

  最終測定

外観

外観に損傷がなく,表示は,明

りょうとする。非固体電解コ
ンデンサの場合は,電解液の
漏れがない。

漏れ電流

4.5.1

による。


10

C 5101-18

:2010 (IEC 60384-18:2007)

表 3−品質認証試験計画(続き)

細分箇条番号

及び試験項目

a)

D

又は

ND

b)

試験条件

a)

試料数  (n)

及び合格判

定数  (c)

要求性能

a)

群 3.1(続き) 

D

表 による。

4.11.6

  最終測定(続き)

静電容量

4.11.1

の測定値に対して

|ΔC/C|≦10 %

損失角の正接 (tan δ)   初期規定値の 1.2 倍以下

群 3.2 

D

表 による。

4.12

  高温高湿(定常)

後処理時間:1 h∼2 h

4.12.1

  初期測定

静電容量(

群 での測定値を用

いる。

4.12.3

  最終測定

外観

外観に損傷がなく,表示は,明

りょうとする。非固体電解コ

ンデンサの場合は,電解液の
漏れがない。

漏れ電流

4.5.1

による。

静電容量

4.12.1

の測定値に対する ΔC/

次による

固体電解コンデンサ:

|ΔC/C|≦10 %

非固体電解コンデンサ:

|ΔC/C|≦20 %

 D

損失角の正接 (tan δ)   初期規定値の 1.2 倍以下

インピーダンス(個別規格に規

定がある場合)

個別規格の規定値の 1.2 倍以下

群 3.3A 
4.13

  高温及び低温特性

D

コンデンサは,各段階温度で測

定する。

表 による。

固体電解コンデンサ: 
段階 1:20  ℃

静電容量(個別規格に規定があ

る場合)

比較用に用いる。

インピーダンス(

段階 と同じ

測定周波数)(個別規格に規
定がある場合)

比較用に用いる。

損失角の正接 (tan δ)(個別規格

に規定がある場合)

段階 2:カテゴリ下限温度

静電容量(個別規格に規定があ

る場合)

段階 の測定値に対して

|ΔC/C|≦20 %

インピーダンス(個別規格に規

定がある場合)

段階 の測定値の 2 倍以下

損失角の正接 (tan δ)(個別規格

に規定がある場合)

4.5.3.2

の規定値の 2 倍以下


11

C 5101-18

:2010 (IEC 60384-18:2007)

表 3−品質認証試験計画(続き)

細分箇条番号

及び試験項目

a)

D

又は

ND

b)

試験条件

a)

試料数  (n)

及び合格判

定数  (c)

要求性能

a)

群 3.3A(続き) D

表 による。

4.13

  高温及び低温特性

    (続き)

段階 3:カテゴリ上限温度

漏れ電流

 125

℃  (U

R

)  で

4.5.1

規定値の 15 倍以下

125  ℃  (U

C

)  で

4.5.1

規定値の 8 倍以下

105  ℃  (U

R

)  で

4.5.1

規定値の 12.5 倍以下

100  ℃  (U

R

)  で

4.5.1

規定値の 12.5 倍以下

85  ℃  (U

R

)  で

4.5.1

規定値の 10 倍以下

静電容量(個別規格に規定があ

る場合)

段階 の測定値に対して

|ΔC/C|≦20 %

損失角の正接(tan  δ)(個別規

格に規定がある場合)

4.5.3.2

による。

非固体電解コンデンサ: 
段階 1:20  ℃ 
静電容量(個別規格に規定があ

る場合)

 
 
比較用の値に用いる。

損失角の正接 (tan δ)(個別規格

に規定がある場合)

インピーダンス(

段階 と同じ

測定周波数)(個別規格に規

定がある場合)

比較用の値に用いる。

段階 2:カテゴリ下限温度 
インピーダンス(個別規格に規

定がある場合)

 
段階 の測定値に対する比

定格電圧

V

インピー 
ダンス比

U

R

≦6.3

6.3<U

R

≦16

16<U

R

≦63

    ≦10 
    ≦8 
    ≦6

段階 3:カテゴリ上限温度

漏れ電流

 
125  ℃で

4.5.1

規定値の 10 倍以下

105  ℃で

4.5.1

規定値の 8 倍以下

100  ℃で

4.5.1

規定値の 8 倍以下

85  ℃で

4.5.1

規定値の 5 倍以下

静電容量(個別規格に規定があ

る場合)

個別規格の規定による

損失角の正接 (tan δ)(個別規格

に規定がある場合)

個別規格の規定による


12

C 5101-18

:2010 (IEC 60384-18:2007)

表 3−品質認証試験計画(続き)

細分箇条番号

及び試験項目

a)

D

又は

ND

b)

試験条件

a)

試料数  (n)

及び合格判

定数  (c)

要求性能

a)

群 3.3A(続き) D

表 による。

4.19

  充放電(個別規格に

規定がある場合)

温度:...  ℃

サイクル数:U

R

≦160 V: 10

6

160 V<U

R

:  検討中

充電時間:0.5 s

放電時間:0.5 s

4.19.1

  初期測定

静電容量

4.19.3

  最終測定

外観

外観に損傷がなく,非固体電解

コンデンサの場合は,電解液
の漏れがない。

漏れ電流

4.5.1

による。

静電容量

4.19.1

の測定値に対する ΔC/C

は,次による。

固体電解コンデンサ:

|ΔC/C|≦5 %

非固体電解コンデンサ:

|ΔC/C|≦10 %

群 3.3B 
4.16

  逆電圧(個別規格に

規定がある場合)

D

カテゴリ上限温度で次の電圧

を 125 時間印加する。

a)

固体電解:0.15U

C

の逆電圧

b)

非固体電解:個別規格に規
定がない場合,1 V の逆電

上記の逆電圧印加に続いて,カ

テゴリ上限温度で,極性の正

方向に定格電圧を 125 時間印
加する。

表 による。

4.16.1

  初期測定

静電容量(

群 での測定値を用

いる。

4.16.3

  最終測定

漏れ電流

4.5.1

による。

静電容量

4.16.1

の測定値に対する ΔC/C

は,次による。

固体電解コンデンサ:

|ΔC/C|≦10 %

非固体電解コンデンサ:

個別規格による。

損失角の正接 (tan δ)   4.5.3.2 による。

群 3.4 

D

表 による。

4.15

  耐久性

試験時間:1 000 h 
試験温度:カテゴリ上限温度 
印加電圧:... V

後処理時間:1 h∼2 h

4.15.1

  初期測定

静電容量 

群 での測定値を用いる。)


13

C 5101-18

:2010 (IEC 60384-18:2007)

表 3−品質認証試験計画(続き)

細分箇条番号

及び試験項目

a)

D

又は

ND

b)

試験条件

a)

試料数  (n)

及び合格判

定数  (c)

要求性能

a)

群 3.4(続き) 

D

表 による。

4.15.3

  最終測定

固体電解コンデンサ:

外観

外観に損傷がなく,表示は,明

りょうとする。

漏れ電流

4.5.1

による。

静電容量

4.15.1

の測定値に対して

|ΔC/C|≦10 %

損失角の正接 (tan δ)   4.5.3.2 の規定値の 1.2 倍以下

インピーダンス(個別規格に規

定がある場合)

個別規格の規定値の 1.2 倍以下

非固体電解コンデンサ:

外観

 
外観に損傷がなく,電解液の漏

れがない。表示は明りょうと
する。

漏れ電流

4.5.1

による。

静電容量

4.15.1

の測定値に対して

定格電圧

V

ΔC/C

%

U

R

≦6.3

6.3<U

R

≦63

25
40

+

±30

損失角の正接 (tan δ)   4.5.3.2 の規定値の 2 倍以下又は

0.4 のうちいずれか大きい値以

インピーダンス(個別規格に規

定がある場合)

個別規格の規定値の 4 倍以下

群 3.5 ND

表 による。

4.17

  高温保存

温度:カテゴリ上限温度 
時間:96 h±4 h 
後処理時間:16 h 以上

4.17.1

  初期測定

静電容量(

群 での測定値を用

いる。

4.17.3

  最終測定

外観

外観に損傷がなく,非固体電解

コンデンサの場合は,電解液
の漏れがない。

漏れ電流

固体電解コンデンサ:

4.5.1

による。

非固体電解コンデンサ:

4.5.1

の規定値の 2 倍以下

静電容量

4.17.1

の測定値に対する ΔC/C

は,次による。 
固体電解コンデンサ:

|ΔC/C|≦5 %

非固体電解コンデンサ:

|ΔC/C|≦10 %


14

C 5101-18

:2010 (IEC 60384-18:2007)

表 3−品質認証試験計画(続き)

細分箇条番号

及び試験項目

a)

D

又は

ND

b)

試験条件

a)

試料数  (n)

及び合格判

定数  (c)

要求性能

a)

群 3.5(続き) ND

表 による。

4.17.3

  最終測定(続き)

損失角の正接 (tan δ)   固体電解コンデンサ:

4.5.3.2

による。

非固体電解コンデンサ:

4.5.3.2

の規定値の 1.2 倍以下

4.18

  低温保存

e)

時間:16 h 又は熱平衡に到達後

4 h(いずれか短い方)

温度:−40  ℃

後処理時間:1 h∼2 h

4.18.1

  初期測定

静電容量

4.18.2

  最終測定

外観(個別規格に規定がある場

合)

外観に損傷がなく,電解液の漏

れがない。表示は,明りょう
とする。

漏れ電流

4.5.1

による。

静電容量

4.18.1

の測定値に対して

|ΔC/C|≦10 %

損失角の正接 (tan δ)   4.5.3.2 による。

4.14

  サージ

サイクル数:1 000 回 
温度:...  ℃ 
充電電圧:1.15 U

R

又は 1.15 U

C

充電時間:30 s 
無負荷時間:5 min 30 s

4.14.3

  最終測定

外観(個別規格に規定がある場

合)

外観に損傷がなく,電解液の漏

れがない。

漏れ電流

4.5.1

による。

静電容量

4.17.3

又は 4.18.2 の測定値に対す

る ΔC/は次による。 
固体電解コンデンサ:

|ΔC/C|≦10 %

非固体電解コンデンサ:

|ΔC/C|≦15 %

損失角の正接 (tan δ)   4.5.3.2 による。

a)

  箇条 による。

b)

  この表で,D は,破壊試験であり,ND は,非破壊試験である。

c)

  固体電解コンデンサで,かつ,個別規格に規定がある場合に適用する。

d)

  各副群で,異なる材料のプリント配線板を用いる場合には,そのプリント配線板材料は,個別規格に規定する。

e)

  非固体電解コンデンサで,かつ,カテゴリ下限温度が−10  ℃及び−25  ℃の場合に適用する。

3.5

品質確認検査

3.5.1

検査ロットの構成

a)

群 及び群 検査  これらの検査は,ロットごとに行う。

製造業者は,次の条件で,コンデンサをまとめて検査ロットとしてもよい。

1)

検査ロットは,構造的に類似なコンデンサで構成する(3.2 参照)

2a)

試験する試料は,検査ロットの中で定格値(定格電圧及び公称静電容量)と外形寸法とによる組合

せを代表とし,次の事項を考慮する。


15

C 5101-18

:2010 (IEC 60384-18:2007)

−  試料数

−  1 組合せ当たり 5 個以上

2b)  IEC

電子部品品質認証制度  (IECQ)  の場合は,1 組合せ当たり抜取数が 4 個以下のとき,製造業者

は,国内監督検査機関の承認が必要となる。

b)

群 検査  この検査は,定期的に行う。

試料は,規定する期間に製造工程に流れている製品を代表とし,かつ,定格電圧の高,中及び低電

圧,又は外形寸法で分類したコンデンサを選定する。どの期間でも認証の範囲を対象とするために,

定格電圧の高,中及び低電圧群ごとに一つの外形寸法のコンデンサを試験する。その後の期間では,

製造のすべての範囲を対象とするために,その他の定格電圧及び外形寸法の試料を試験する。

3.5.2

品質確認検査の試験計画

ロットごと及び定期的品質確認検査の試験計画は,ブランク個別規格に規定する。

3.5.3

長期保管後の出荷

JIS C 5101-1

の Q.10 の規定によって,はんだ付け性及び静電容量について

群 及び群 の再検査を行

う。

3.5.4

評価水準

ブランク個別規格に規定する評価水準は,

表 及び表 から選定することが望ましい。

表 4−ロットごとの品質検査

DZ

b)

 EZ

b)

 GZ

b)

検査副群

a)

IL

n c IL

n c IL

n c IL

n c 

100 %

d)

A0

c)

A1 
A2 
B1

S-3 
S-3 
S-3

e)

e)

e)



0

注記  この表の記号は,次による。

IL=検査水準,n=試料数,c=合格判定数

a)

  検査副群は,関連するブランク個別規格の箇条 による。

b)

  評価水準 DZ,FZ 及び GZ は,検討中。

c)

  大電流サージ試験は,固体電解コンデンサで,かつ,個別規格に規定がある場合に適用する。

d)

  この検査は,工程でロット内の全数から不適合品を取り除いた後に行う抜取試料による検査である。抜取水準

は,部品製造業者が設定する。検査ロットの合否にかかわらず,ppm で示す出荷品質水準を監視するために抜
取試料をすべて検査する。

抜取試料中に 1 個以上の不適合品を発見した場合には,このロットは不合格とするが,不適合品は,品質水

準を算出するためにすべて数える。ppm で示す出荷品質水準は,累積した検査データによって算出する。

e)

  試料数  (n)  は,JIS Z 9015-1 に規定する付表 の検査水準 (IL) とロットサイズとで割り当てるサンプル文字に

従い,

付表 2-A のサンプル文字に対応する試料数とする。


16

C 5101-18

:2010 (IEC 60384-18:2007)

表 5−定期的な品質検査

DZ

b)

 EZ

b)

 GZ

b)

検査副群

a)

p n c p n c p n c p n c 

C1

   3

12

0     

C2

   3

12

0     

C3.1

   6

18

0     

C3.2

− 6 9 0 −

C3.3

   3

24

0     

C3.4

   6

15

0     

C3.5A

   12 6

0     

C3.5B

   12 6

0     

注記  この表の記号は,次による。

p=検査周期(月),n=試料数,c=合格判定数

a)

  検査副群は,関連するブランク個別規格の箇条 による。

b)

  評価水準 DZ,FZ 及び GZ は,検討中。

4

試験及び測定手順

注記  この箇条は,JIS C 5101-1 の箇条 に規定する事項を補足する。

4.1

予備乾燥

予備乾燥は,JIS C 5101-1 の 4.3 による。

4.2

測定条件

測定は,相対湿度 25 %∼75 %で行う。

4.3

取付け

取付けは,JIS C 5101-1 の 4.33 による。

4.4

外観及び寸法

外観及び寸法は,JIS C 5101-1 の 4.4 によるほか,次による。

4.4.1

外観

外観は,倍率約 10 倍の拡大鏡並びに供試品及び要求する品質水準に適切な照明を用いて検査する。

注記  作業者には,適切な拡大鏡に加えて,直接又は間接照明の設備を提供することが望ましい。

4.4.2

要求性能

コンデンサは,材料,設計,構造,物理的な寸法及びでき栄え(ワークマンシップ)が,個別規格に規

定する要求性能を満足することを証明するために検査する。

4.5

電気的性能

4.5.1

漏れ電流

漏れ電流は,JIS C 5101-1 の 4.9 によるほか,次による。

4.5.1.1

測定条件

コンデンサに保護抵抗器を直列に接続し,その両端に定格電圧を印加する。

保護抵抗器は,1 000 Ω とする。

4.5.1.2

要求性能

a)

非固体電解コンデンサの漏れ電流は,20  ℃±2  ℃で 0.025C

N

U

R

μA 又は 1  μA のいずれか大きい値以

下とする。

b)

固体電解コンデンサの漏れ電流は,20  ℃±2  ℃で 0.15C

N

U

R

μA とする。


17

C 5101-18

:2010 (IEC 60384-18:2007)

4.5.2

静電容量

静電容量は,JIS C 5101-1 の 4.7 によるほか,次による。

4.5.2.1

測定条件

静電容量の測定周波数は,個別規格の規定によって 100 Hz 又は 120 Hz とする。実際のコンデンサ端子

間に印加する交流電圧は,0.5 V(実効値)以下とする。

測定の間,直流バイアス電圧は印加してもよい。

機器の確度は,絶対値又は静電容量の変化の規定値の±2 %以下とする。

注記  過電圧又は逆電圧の印加によって測定値に疑義が生じないように,0.7 V∼1.0 V の範囲の直流

バイアス電圧を印加してもよい。

4.5.2.2

要求性能

静電容量は,規定の許容差の範囲内とする。

4.5.3

損失角の正接  (tan δ)  又は等価直列抵抗  (ESR)

損失角の正接 (tan δ)  又は等価直列抵抗 (ESR) は,JIS C 5101-1 の 4.8.1 によるほか,次による。

4.5.3.1

測定条件

測定条件は,4.5.2 による。測定器の確度は,絶対値で 0.01 以下とする。

4.5.3.2

要求性能

a)

損失角の正接 (tan δ)  又は等価直列抵抗 (ESR) は,個別規格の要求性能を満足する。

b)

非固体電解コンデンサは,損失角の正接 (tan δ)  の代わりに,等価直列抵抗 (ESR) を個別規格に規定

してもよい。

4.5.4

インピーダンス(個別規格に規定がある場合)

インピーダンスは,JIS C 5101-1 の 4.10 によるほか,次による。

4.5.4.1

測定周波数

測定周波数は,100 Hz,120 Hz,1 kHz,10 kHz,100 kHz 及び l MHz の中から,コンデンサが最も低い

インピーダンスになるような周波数を選定する。周波数の許容差は±20 %とし,周波数の値は個別規格の

規定による。

4.5.4.2

測定条件

測定電圧は,測定中にコンデンサが発熱しない低い値とする。

なお,この電圧の確認として各コンデンサの 1 個について 1 分間印加したとき,インピーダンスの変化

が認められないものとする。測定の確度は,インピーダンスの規定値の 5 %又は 0.02 Ω のいずれか大きい

値以下とする。

4.5.4.3

カテゴリ下限温度での測定

カテゴリ下限温度での測定周波数は,100 Hz 若しくは 120 Hz 又は個別規格の規定による。

4.5.4.4

要求性能

インピーダンスは,個別規格の要求性能を満足する。

4.6

はんだ耐熱性

はんだ耐熱性は,JIS C 5101-1 の 4.14 によるほか,次による。

4.6.1

試験条件

試験は,リフロー槽法によって行い,リフロー温度プロファイルを個別規格に規定する(JIS C 60068-2-58

の 8.1.2 参照。


18

C 5101-18

:2010 (IEC 60384-18:2007)

4.6.2

最終測定及び要求性能

後処理後に,コンデンサは,外観及び電気的性能の測定を行い,個別規格に規定がない場合には,次の

要求性能を満足する。

a)

適切な照明で,約 10 倍の倍率で観察したとき,クラックなどの損傷がない。

b)

電極表面の角部のはんだ食われによる電極の消失は,電極のりょう(稜)の全長の 25 %以下とする。

c)

コンデンサは,静電容量及び損失角の正接 (tan δ)  の測定を行い,その要求性能を満足する。

4.7

はんだ付け性

はんだ付け性は,JIS C 5101-1 の 4.15 によるほか,次による。

4.7.1

試験条件

試験条件は,JIS C 5101-1 の 4.15 による。

4.7.2

最終測定及び要求性能

最終測定及び要求性能は,JIS C 60068-2-58 の 9.による。はんだ付け性は端子部分だけを評価する。

4.8

固着性

固着性は,JIS C 5101-1 の 4.34 による。

4.9

耐プリント板曲げ性

耐プリント板曲げ性は,JIS C 5101-1 の 4.35 によるほか,次による。

静電容量及びインピーダンスを,4.5.2 及び 4.5.4 によって測定する。

4.10

温度急変

温度急変は,JIS C 5101-1 の 4.16 によるほか,次による。

コンデンサは,4.3 によって取り付ける。

4.10.1

初期測定

静電容量を,4.5.2 によって測定する。

4.10.2

試験条件

コンデンサは,JIS C 0025 に規定する試験 Na を 5 回行う。

各温度にさらす時間は,30 分間とする。

後処理時間は,1 時間∼2 時間とする。

4.10.3

最終測定及び要求性能

後処理後,コンデンサの電気的性能の測定を行い,

表 に規定する要求性能を満足する。

4.11

一連耐候性

一連耐候性は,JIS C 5101-1 の 4.21 によるほか,次による。

4.11.1

初期測定

静電容量を,4.5.2 によって測定する。

4.11.2

高温

高温は,JIS C 5101-1 の 4.21.2 による。

4.11.3

温湿度サイクル(試験 Db),最初のサイクル

温湿度サイクル(試験 Db)

,最初のサイクルは,JIS C 5101-1 の 4.21.3 による。

4.11.4

低温

低温は,JIS C 5101-1 の 4.21.4 による。

4.11.5

温湿度サイクル(試験 Db),残りのサイクル

温湿度サイクル(試験 Db)

,残りのサイクルは,JIS C 5101-1 の 4.21.6 によるほか,次による。


19

C 5101-18

:2010 (IEC 60384-18:2007)

4.11.5.1

後処理

後処理時間は,1 時間∼2 時間とする。

4.11.6

最終測定及び要求性能

コンデンサは,外観及び電気的性能の測定を行い,

表 に規定する要求性能を満足する。

4.12

高温高湿(定常)

高温高湿(定常)は,JIS C 5101-1 の 4.22 によるほか,次による。

コンデンサは,4.3 によって取り付ける。

4.12.1

初期測定

静電容量を,4.5.2 によって測定する。

4.12.2

試験条件

電圧は,印加しない。

4.12.3

最終測定及び要求性能

1 時間∼2 時間の後処理後,コンデンサは外観及び電気的性能の測定を行い,表 に規定する要求性能を

満足する。

4.13

高温及び低温特性

高温及び低温特性は,JIS C 5101-1 の 4.29 によるほか,次による。

コンデンサは,4.3 によって取り付ける。

4.13.1

最終測定及び要求性能

コンデンサは,電気的性能の測定を行い,

表 に規定する要求性能を満足する。

4.14

サージ

サージは,JIS C 5101-1 の 4.26 によるほか,次による。

4.14.1

初期測定

静電容量を,4.5.2 によって測定する。

4.14.2

試験条件

コンデンサは,次の充電に続く 5 分 30 秒間の(強制放電は,行わない。

)無負荷のサイクルを,1 000

回行う。充電は,サージ電圧 (1.15 U

R

)  に等しい電圧を,次の式の値の保護抵抗器を通して 30 秒間印加す

る。試験は,室温で行い,放電の状態で終了する。

RC=0.1 s±0.05 s

ここに,

R: 保護抵抗器の値  (Ω)

C: 公称静電容量の値 (F)

4.14.3

最終測定及び要求性能

1 時間∼2 時間の後処理後に,電気的性能の測定を行い,表 に規定する要求性能を満足する。

4.15

耐久性

耐久性は,JIS C 5101-1 の 4.23 によるほか,次による。

コンデンサは,4.3 によって取り付ける。

4.15.1

初期測定

静電容量を,4.5.2 によって測定する。

4.15.2

試験条件

試験時間:1 000 時間又は個別規格の規定値

試験温度:カテゴリ上限温度


20

C 5101-18

:2010 (IEC 60384-18:2007)

印加電圧:個別規格に規定されない限り,カテゴリ電圧とする。

注記  カテゴリ電圧が定格電圧と異なる場合,試料を 2 分割し,定格温度で定格電圧を,カテゴリ温

度でカテゴリ電圧をそれぞれ印加する。

4.15.3

最終測定及び要求性能

1 時間∼2 時間の後処理後,コンデンサは,外観及び電気的性能の測定を行い,表 に規定する要求性能

を満足する。

4.16

逆電圧(個別規格に規定がある場合)

4.16.1

初期測定

静電容量を,4.5.2 によって測定する。

4.16.2

試験条件

コンデンサは,条件 a)の試験を行い,続いて条件 b)の試験を行う。

a)

試験温度:カテゴリ上限温度

印加電圧:固体電解コンデンサは,カテゴリ電圧の 0.15 倍の直流電圧を極性と逆方向に印加する。

          非固体電解コンデンサは,1 V の直流電圧を極性と逆方向に印加する。

試験時間: 125 時間

b)

試験温度:カテゴリ上限温度

印加電圧:カテゴリ電圧と等しい直流電圧を極性方向に印加する。

試験時間: 125 時間

4.16.3

最終検査,測定及び要求性能

後処理後,コンデンサは,外観及び電気的性能の測定を行い,

表 に規定する要求性能を満足する。

4.17

高温保存

高温保存は,JIS C 5101-1 の 4.25 によるほか,次による。

4.17.1

初期測定

静電容量を,4.5.2 によって測定する。

4.17.2

試験条件

試験温度:カテゴリ上限温度

試験時間:96 時間±4 時間

4.17.3

最終検査,測定及び要求性能

試験後,コンデンサを標準試験状態に 16 時間以上放置後,目視による外観検査を行い,電気的性能を測

定し,

表 の要求性能を満足する。

4.18

低温保存(非固体電解コンデンサで,かつ,カテゴリ下限温度が−10  ℃及び−25  ℃の場合に適用)

低温保存は,JIS C 5101-1 の 4.25 によるほか,次による。

4.18.1

初期測定

静電容量を,4.5.2 によって測定する。

4.18.2

最終検査,測定及び要求性能

試験後,コンデンサを標準試験状態に 16 時間以上放置後,目視による外観検査を行い,電気的性能を測

定し,

表 の要求性能を満足する。

4.19

充放電(個別規格に規定がある場合)

充放電は,JIS C 5101-1 の 4.27 によるほか,次による。


21

C 5101-18

:2010 (IEC 60384-18:2007)

4.19.1

初期測定

静電容量を,4.5.2 によって測定する。

4.19.2

試験条件

周囲温度 20  ℃で規定のサイクル数の充放電を行う。各サイクルの充電条件 a)及び放電条件 b)は,次に

よる。

コンデンサの許容発熱量を超えないように,充電時間を変えないでサイクル数だけを延ばす必要がある

場合は,その試験条件を個別規格に規定する。

a)

充電条件

印加電圧:定格電圧に等しい直流電圧

電源の内部抵抗値と外部直列抵抗値との和と,公称静電容量との積  (RC)  が 0.1 s となる抵抗値

試験時間:0.5 s

b)

放電条件

印加電圧:なし

放電抵抗値:直列抵抗値と公称静電容量との積  (RC)  が 0.1 s となる抵抗値

試験時間:0.5 s

充放電サイクル数は,10

6

とする。

4.19.3

最終検査,測定及び要求性能

コンデンサは,外観及び電気的性能の測定を行い,

表 に規定する要求性能を満足する。

4.20

部品の耐溶剤性(個別規格に規定がある場合)

部品の耐溶剤性は,JIS C 5101-1 の 4.31 による。

4.21

表示の耐溶剤性(個別規格に規定がある場合)

表示の耐溶剤性は,JIS C 5101-1 の 4.32 による。

4.22

大電流サージ(固体電解コンデンサで,かつ,個別規格に規定がある場合)

大電流サージは,JIS C 5101-1 の 4.39 によるほか,次による。

4.22.1

初期測定

初期測定は要求しない。

4.22.2

最終測定及び要求性能

最終測定及び要求性能は,試験

群 又はブランク個別規格の群 による。