C 5101-14-3
：2009 (IEC 60384-14-3：2004)
（1）
目 次
ページ
序文
1
1
一般事項
2
1.0A
適用範囲
2
1.1
推奨する取付方法（実装する場合）
2
1.2
寸法
2
1.3
定格及び特性
3
1.4
引用規格
3
1.5
表示
3
1.6
発注情報
3
1.7
出荷対象ロットの成績証明書
3
1.8
追加情報（非検査目的）
3
1.9
品目別通則及び／又は品種別通則への追加若しくはより厳しい要求事項
4
2
検査要求事項
4
2.1
手順
4
C 5101-14-3
：2009 (IEC 60384-14-3：2004)
（2）
まえがき
この規格は，工業標準化法第 12 条第 1 項の規定に基づき，社団法人電子情報技術産業協会 (JEITA) か
ら，
工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，
日本工業標準調査会の審議を経て，
経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許
権，出願公開後の特許出願，実用新案権及び出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について，責
任はもたない。
JIS C 5101
の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS
C
5101-1
第 1 部：品目別通則
JIS
C
5101-2
第 2 部：品種別通則：固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィルム直流
コンデンサ
JIS
C
5101-2-1
第 2-1 部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリエチレンテレフタレートフィ
ルム直流コンデンサ 評価水準 E 及び EZ
JIS
C
5101-3
第 3 部：品種別通則：固定タンタルチップコンデンサ
JIS
C
5101-3-1
第 3 部：ブランク個別規格：固定タンタルチップコンデンサ 評価水準 E
JIS
C
5101-4
第 4 部：品種別通則：アルミニウム固体及び非固体電解コンデンサ
JIS
C
5101-4-1
第 4 部：ブランク個別規格：アルミニウム非固体電解コンデンサ 評価水準 E
JIS
C
5101-4-2
第 4 部：ブランク個別規格：アルミニウム固体電解コンデンサ 評価水準 E
JIS
C
5101-8
第 8 部：品種別通則：固定磁器コンデンサ 種類 1
JIS
C
5101-8-1
第 8-1 部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ 種類 1 評価水準 EZ
JIS
C
5101-9
第 9 部：品種別通則：固定磁器コンデンサ 種類 2
JIS
C
5101-9-1
第 9-1 部：ブランク個別規格：固定磁器コンデンサ 種類 2 評価水準 EZ
JIS
C
5101-11
第 11 部：品種別通則：固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直流コン
デンサ
JIS
C
5101-11-1
第 11 部：ブランク個別規格：固定ポリエチレンテレフタレートフィルム金属はく直
流コンデンサ 評価水準 E
JIS
C
5101-13
第 13 部：品種別通則：固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデンサ
JIS
C
5101-13-1
第 13-1 部：ブランク個別規格：固定ポリプロピレンフィルム金属はく直流コンデン
サ 評価水準 E 及び EZ
JIS
C
5101-14
第 14 部：品種別通則：電源用電磁障害防止固定コンデンサ
JIS
C
5101-14-1
第 14-1 部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ 評価水準 D
JIS
C
5101-14-2
第 14-2 部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ 安全性を要求
する試験
JIS
C
5101-14-3
第 14-3 部：ブランク個別規格：電源用電磁障害防止固定コンデンサ 評価水準 DZ
JIS
C
5101-15
第 15 部：品種別通則：固定タンタル非固体又は固体電解コンデンサ
C 5101-14-3
：2009 (IEC 60384-14-3：2004)
（3）
JIS
C
5101-15-1
第 15 部：ブランク個別規格：はく電極形固定タンタル非固体電解コンデンサ 評価
水準 E
JIS
C
5101-15-2
第 15 部：ブランク個別規格：焼結形固定タンタル非固体電解コンデンサ 評価水準
E
JIS
C
5101-15-3
第 15 部：ブランク個別規格：焼結形固定タンタル固体電解コンデンサ 評価水準 E
JIS
C
5101-16
第 16 部：品種別通則：固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コンデンサ
JIS
C
5101-16-1
第 16-1 部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリプロピレンフィルム直流コン
デンサ 評価水準 E 及び EZ
JIS
C
5101-17
第 17 部：品種別通則：固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及びパルスコ
ンデンサ
JIS
C
5101-17-1
第 17-1 部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリプロピレンフィルム交流及び
パルスコンデンサ 評価水準 E 及び EZ
JIS
C
5101-18
第 18 部：品種別通則：固定アルミニウム固体 (MnO
2
)
及び非固体電解チップコン
デンサ
JIS
C
5101-18-1
第 18 部：ブランク個別規格：固定アルミニウム固体 (MnO
2
)
電解チップコンデン
サ 評価水準 E
JIS
C
5101-18-2
第 18 部：ブランク個別規格：固定アルミニウム非固体電解チップコンデンサ 評価
水準 E
JIS
C
5101-20
第 20 部：品種別通則：固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルムチップ
直流コンデンサ
JIS
C
5101-20-1
第 20 部：ブランク個別規格：固定メタライズドポリフェニレンスルフィドフィルム
チップ直流コンデンサ 評価水準 EZ
JIS
C
5101-21
第 21 部：品種別通則：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 1
JIS
C
5101-21-1
第 21-1 部：ブランク個別規格：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 1 評価水
準 EZ
JIS
C
5101-22
第 22 部：品種別通則：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 2
JIS
C
5101-22-1
第 22-1 部：ブランク個別規格：表面実装用固定積層磁器コンデンサ種類 2 評価水
準 EZ
JIS
C
5101-23
第 23 部：品種別通則：表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレートフィ
ルム直流コンデンサ
JIS
C
5101-23-1
第 23-1 部：ブランク個別規格：表面実装用固定メタライズドポリエチレンナフタレ
ートフィルム直流コンデンサ 評価水準 EZ
JIS
C
5101-24
第 24 部：品種別通則：表面実装用固定タンタル固体（導電性高分子）電解コンデン
サ（予定）
JIS
C
5101-24-1
第 24-1 部：ブランク個別規格：表面実装用固定タンタル固体（導電性高分子）電解
コンデンサ 評価水準 EZ（予定）
JIS
C
5101-25
第 25 部：品種別通則：表面実装用固定アルミニウム固体（導電性高分子）電解コン
デンサ（予定）
JIS
C
5101-25-1
第 25-1 部：ブランク個別規格：表面実装用固定アルミニウム固体（導電性高分子）
電解コンデンサ 評価水準 EZ（予定）
C 5101-14-3
：2009 (IEC 60384-14-3：2004)
（4）
白 紙
日本工業規格
JIS
C
5101-14-3
：2009
(IEC 60384-14-3
：2004
)
電子機器用固定コンデンサ−
第 14-3 部：ブランク個別規格：
電源用電磁障害防止固定コンデンサ
評価水準 DZ
Fixed capacitors for use in electronic equipment-
Part 14-3 : Blank detail specification :
Fixed capacitors for electromagnetic interference suppression and
connection to the supply mains-Assessment level DZ
序文
この規格は，2004 年に第 1 版として発行された IEC 60384-14-3 を基に，技術的内容及び対応国際規格の
構成を変更することなく作成した日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある参考事項は，対応国際規格にはない事項である。
ブランク個別規格
ブランク個別規格は，品種別通則 JIS C 5101-14 の補足規格で，個別規格の様式及び最小限必要な要求事
項を規定したものである。この規格が規定する要求事項を満足しない個別規格は，日本工業規格に基づい
ていないものとみなし，そのことを個別規格に記載する。
個別規格は，JIS C 5101-14 の 1.4 に基づいて作成する。
個別規格の最初のページとなるこの規格の 2 ページの表の括弧内の数字は，指定の位置に記入する次の
事項と対応している。
個別規格の識別
[1]
個別規格を管理する国内の標準化機関又は国際電気標準会議 (IEC) の名称
[2]
個別規格の国内規格番号，西暦年及び国内制度で要求される追加事項又は IEC 規格番号，版及び西
暦年
[3]
品目別通則の国内規格番号及び西暦年又は IEC 規格番号，版及び西暦年
[4]
ブランク個別規格の国内規格番号又は IEC 規格番号
コンデンサの識別
[5]
コンデンサの品種についての要約説明
[6]
代表的な構造の説明（適用する場合）
[5]
及び [6] については，個別規格に規定する文は，IECQ 認証登録での記載事項に適合する。
注記 コンデンサがプリント配線板用に設計されていない場合には，個別規格のこの欄にそのこ
とを明記することが望ましい。
2
C 5101-14-3
：2009 (IEC 60384-14-3：2004)
[7]
互換性の上で重要な主要寸法を記載した外形図及び／又は外形に関する国内規格若しくは国際規格
の引用。この図は，個別規格の附属書としてもよい。ただし，[7] には，部品の一般的な外形図が
含まれていることが望ましい。
[8]
適用範囲若しくは適用グループの範囲及び／又は評価水準
個別規格に規定する評価水準は，JIS C 5101-14 の 3.5.4 から選定する。このブランク個別規格の
試験の群構成と同じ場合，個別規格に複数の評価水準を規定してもよい。
[9]
重要な特性に関する参照データ
例 社団法人電子情報技術産業協会 [1]
個別規格番号 [2]
例 JIS C 5101-14-3（ブランク個別規格） [4]
例 電子機器用固定コンデンサ [3]
第 1 部：品目別通則：JIS C 5101-1 : 1998
例 電源用電磁障害防止固定コンデンサ [5]
（評価水準 DZ）
構造の説明 [6]
外形図（
表 1 参照） [7]
（第三角法）
（規定寸法内であれば外形は異なってもよい。
）
評価水準：DZ [8]
注記 [1]〜[9] は前述の識別による。
この個別規格で認証されたコンデンサの詳しい内容は，品質認証電子部品一覧表 (QPL) に
示されている*。
[9]
注*
この記載は，IEC 電子部品品質認証制度 (IECQ) の場合に適用する。
1
一般事項
1.0A
適用範囲
この規格は，JIS C 5101-14 を品種別通則とするブランク個別規格で，電源用電磁障害防止固定コンデン
サ（以下，コンデンサという。
）の評価水準 DZ について規定する。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 60384-14-3 : 2004
，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 14-3 : Blank detail
specification : Fixed capacitors for electromagnetic interference suppression and connection to the supply
mains
−Assessment level DZ (IDT)
なお，対応の程度を表す記号 (IDT) は，ISO/IEC Guide 21 に基づき，一致していることを示
す。
1.1
推奨する取付方法（実装する場合）
取付けは，JIS C 5101-14 の 1.4.2 による。
1.2
寸法
寸法は，
表 1 による。
表 1−外形寸法記号及び寸法
寸法 mm
外形寸法記号
L
1
W
H
L
2
L
3
L
4
...
外形寸法記号がない場合は，
表 1 は削除し，寸法は表 2 に記載して，それを表 1 とする。
3
C 5101-14-3
：2009 (IEC 60384-14-3：2004)
寸法は，最大寸法又は公称寸法及びその許容差で表す。
1.3
定格及び特性
定格及び特性は，JIS C 5101-14 の 1.4.3 による。
a)
定格静電容量範囲
（
表 2 による。）
b)
定格静電容量許容差
c)
定格電圧
（
表 2 による。）
d)
耐候性カテゴリ
e)
定格温度
f)
誘電正接 (tan
δ)
g)
絶縁抵抗
表 2−外形寸法と定格電圧及び定格静電容量との組合せ
定格電圧 V
外形寸法
外形寸法
外形寸法
外形寸法
定格静電容量
pF
及び／又は nF
1.4
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は，その最新版（追補を含む。
）を適用する。
JIS C 5101-14
電子機器用固定コンデンサ−第 14 部：品種別通則：電源用電磁障害防止固定コンデン
サ
注記 対応国際規格：IEC 60384-14 : 2005，Fixed capacitors for use in electronic equipment−Part 14 :
Sectional specification : Fixed capacitors for electromagnetic interference suppression and connection
to the supply mains (IDT)
JIS Z 9015-1
計数値検査に対する抜取検査手順−第 1 部：ロットごとの検査に対する AQL 指標型抜
取検査方式
1.5
表示
適用する場合，コンデンサ及び包装への表示は，JIS C 5101-14 の 1.6 による。
コンデンサ及び包装への表示の詳細は，個別規格に規定する。
1.6
発注情報
この規格のコンデンサの発注情報には，
少なくとも次の事項を，
明りょうな文字又は記号によって示す。
a)
定格静電容量
b)
定格静電容量許容差
c)
定格電圧
d)
製造業者名又はその商標
e)
製造業者の形名又は個別規格に記載する形名
1.7
出荷対象ロットの成績証明書
成績証明書を要求する場合又は要求しない場合。
注記 顧客からの成績証明書要求の有無を明記する。
1.8
追加情報（非検査目的）
注記 検査目的以外の追加情報がある場合に記載する。
4
C 5101-14-3
：2009 (IEC 60384-14-3：2004)
1.9
品目別通則及び／又は品種別通則への追加若しくはより厳しい要求事項
追加又はより厳しい要求事項は，不可欠な場合に限定し，
表 3 による。
表 3−その他の特性
この表は，JIS C 5101-14 への追加，又はより厳しい特性を規定す
るために使用する。
2
検査要求事項
2.1
手順
2.1.1
品質認証の手順
JIS C 5101-14
の 3.4 による。
2.1.2
品質確認検査の試験計画
品質確認検査の試験計画（
表 4 及び表 5）は，サンプリング，周期，厳しさ及び要求性能を示す。検査
ロットの構成は，JIS C 5101-14 の 3.5.1 による。
5
C 5101-14-3
：2009 (IEC 60384-14-3：2004)
表 4−ロットごとの品質確認検査の試験計画（群 A 及び群 B 検査）−評価水準 DZ
検査水準，試料数及び
合格判定数
b)
細分箇条番号及び
試験項目
a)
D
又は
ND
b)
試験条件
a)
IL
n c
要求性能
a)
群 A1
4.1
外観
4.1
寸法（ゲージ法）
ND
S-4
d)
0
損傷がない。
表示は，明りょうとする。
この規格の
表 1 による。
群 A2
4.2.2
静電容量
4.2.4
抵抗値
（適用する場合）
4.2.3
誘電正接 (tan
δ)
（ メ タ ラ イ ズ ド
コ ン デ ン サ 及 び
磁 器 コ ン デ ン サ
に適用）
4.2.1
耐電圧
c)
（試験 A）
4.2.5
絶縁抵抗
（試験 A）
ND
周波数：... Hz
方法：...
方法：...
I
d)
0
規定の許容差以内
規定の許容差以内
規定値以内
永久破壊又はフラッシオ
ーバがない。
表 12 による。
群 B1
4.5
はんだ付け性
（適用する場合）
D
エージングなし
方法：...
S-3
d)
0
方法 1 及び方法 2：はんだ
が良好に付着している。
方法 3：3 秒間以内
注
a)
試験の細分箇条番号及び要求性能は，JIS C 5101-14 による。
b)
この表の記号は，次による。
IL
＝検査水準，n＝試料数，c＝合格判定数
D
＝破壊試験，ND＝非破壊試験
c)
耐電圧試験は，絶縁抵抗で不適合を見つけるための適切な監視方法を兼ねる。
d)
試料数 (n) は，JIS Z 9015-1 に規定する
付表 1 の検査水準 (IL)／ロットサイズで割り当てるサンプル文字に従
い，
付表 2-A のサンプル文字に対応する試料数とする。
6
C 5101-14-3
：2009 (IEC 60384-14-3：2004)
表 5−定期的品質確認検査の試験計画（群 C 検査）−評価水準 DZ
周期，試料数及
び合格判定数
b)
細分箇条番号及び
試験項目
a)
D
又は
ND
b)
試験条件
a)
p n c
要求性能
a)
群 C1A
4.1
寸法（詳細）
4.4.1
初期測定
4.3
端子強度
4.4
はんだ耐熱性
d)
4.19
部品の耐溶剤性
（適用する場合）
4.4.2
最終測定
D
静電容量
誘電正接 (tan
δ)（適用する場合）
抵抗値（適用する場合）
厳しさ：...
外観
予備乾燥なし
方法：1A 又は 1B
溶剤：...
溶剤の温度：...
方法 2
後処理：...
外観
静電容量
誘電正接 (tan
δ)（適用する場合）
抵抗値（適用する場合）
6 6 0
表 9 及びこの規格の表 1
による。
損傷がない。
損傷がない。
表 13 による。
参考値
表 13 による。
群 C1B
4.5
はんだ付け性
（適用する場合）
4.20
表示の耐溶剤性
4.6
温度急変
d)
4.6.1
最終検査
4.7
振動
c)
D
エージングなし
方法：...
溶剤：...
溶剤の温度：...
方法 1
ラビングの材質：脱脂綿
後処理：...
T
A
＝カテゴリ下限温度
T
B
＝カテゴリ上限温度
5
サイクル
保持時間 t＝30 min
外観
取付方法は，
この規格の 1.1 による。
厳しさ：...
6 12
0
方法 1 及び方法 2：はんだ
が 良 好 に 付 着 し て い
る。
方法 3：3 秒間以内
表示は，明りょうとする。
損傷がない。
7
C 5101-14-3
：2009 (IEC 60384-14-3：2004)
表 5−定期的品質確認検査の試験計画（群 C 検査）−評価水準 DZ（続き）
周期，試料数及
び合格判定数
b)
細分箇条番号及び
試験項目
a)
D
又は
ND
b)
試験条件
a)
p n c
要求性能
a)
4.7.2
最終検査
4.8
バンプ
c)
［又は 4.9
衝撃
c)
］
4.8.2
又は 4.9.2
最終測定
外観
取付方法は，
この規格の 1.1 による。
厳しさ：...
外観
静電容量
誘電正接 (tan
δ)（適用する場合）
抵抗値（適用する場合）
損傷がない。
損傷がない。
4.8.2
又は 4.9.2 による。
規定限界値による。
群 C1
4.10
封止
（適用する場合）
4.11
一連耐候性
4.11.1
初期測定
d)
4.11.2
高温
4.11.3
温湿度サイクル
（12＋12 時間サイク
ル）
，最初のサイクル
4.11.4
低温
4.11.5
温湿度サイクル
（12＋12 時間サイク
ル）
，残りのサイクル
4.11.6
最終測定
D
試験 Qc 又は試験 Qd を適用する。
4.4.2
，4.8.2 又は 4.9.2 のいずれかに
よって測定する。
測定なし。
測定なし。
測定なし。
外観
静電容量
抵抗値（適用する場合）
誘電正接 (tan
δ)（適用する場合）
耐電圧
絶縁抵抗
6 18
0
漏れのこん跡がない。
損傷がない。
表示は，明りょうとする。
表 14 による。
表 14 による。
表 14 による。
表 14 による。
表 14 による。
8
C 5101-14-3
：2009 (IEC 60384-14-3：2004)
表 5−定期的品質確認検査の試験計画（群 C 検査）−評価水準 DZ（続き）
周期，試料数及
び合格判定数
b)
細分箇条番号及び
試験項目
a)
D
又は
ND
b)
試験条件
a)
p n c
要求性能
a)
群 C2
4.12
高温高湿（定常）
4.12.1
初期測定
d)
4.12.2
試験条件
4.12.3
最終測定
D
静電容量
抵抗値（適用する場合）
誘電正接 (tan
δ)（メタライズドコ
ンデンサに適用）
磁器コンデンサ：試料の半数に定格
電圧 U
R
を印加し，残りの半数は
印加しない。
その他のコンデンサ：電圧印加しな
い。
外観
静電容量
抵抗値（適用する場合）
誘電正接 (tan
δ)（適用する場合）
耐電圧
絶縁抵抗
6 10
0
損傷がない。
表示は，明りょうとする。
表 15 による。
表 15 による。
表 15 による。
表 15 による。
表 15 による。
群 C3
X
コンデンサ
Y
コンデンサ
貫通コンデンサ
4.13.1
初期測定
d)
4.13
インパルス電圧
4.14
耐久性
4.14.7
最終測定
D
静電容量
抵抗値（適用する場合）
誘電正接 (tan
δ)（メタライズドコ
ンデンサに適用）
インパルスの回数：最大 24 回
ピーク電圧：
表 1 及び表 2 による。
時間：1 000 h
電圧，電流及び温度：
4.14.3
，4.14.4，4.14.5 及び 4.14.6 に
よる。
外観
静電容量
抵抗値（適用する場合）
誘電正接 (tan
δ)（適用する場合）
耐電圧
絶縁抵抗
3
3
3
12
12
6
0
0
0
4.13.2
及び 4.13.3 による。
損傷がない。
表示は，明りょうとする。
表 16 による。
表 16 による。
表 16 による。
表 16 による。
表 16 による。
9
C 5101-14-3
：2009 (IEC 60384-14-3：2004)
表 5−定期的品質確認検査の試験計画（群 C 検査）−評価水準 DZ（続き）
周期，試料数及
び合格判定数
b)
細分箇条番号及び
試験項目
a)
D
又は
ND
b)
試験条件
a)
p n c
要求性能
a)
群 C4
4.15
充放電
（適用する場合）
4.15.1
初期測定
4.15.3
最終測定
D
メタライズドコンデンサ及び磁器
コンデンサ並びにこれらのコン
デンサを用いた RC ユニットに
適用。
この規格の
表 4 の群 A2 の測定値を
用いる。ただし，RC ユニットを
除いて，誘電正接 (tan
δ) は次の
条件で測定する。
C
R
≦1 µF：10 kHz
C
R
≧1 µF： 1 kHz
静電容量
初期測定と同じ周波数の誘電正接
(tan
δ)（RC ユニットには適用し
ない。
）
抵抗値（適用する場合）
絶縁抵抗
6 6 0
表 17 による。
表 17 による。
表 17 による。
表 17 による。
群 C5
4.16
無線周波数特性
（要求がある場合）
ND
適用する場合は，規定の方法によ
る。
12
4 0
個別規格の規定による。
群 C6
4.17
耐炎性
D
12
6-
18
0
4.17.1
による。
群 C7
4.18
発炎性
D
12
24
0
4.18.4
による。
注
a)
試験の細分箇条番号及び要求性能は，JIS C 5101-14 による。
b)
この表の記号は，次による。
p
＝検査周期（月単位）
，n＝試料数，c＝合格判定数，D＝破壊試験，ND＝非破壊試験
c)
これらの試験は，12 か月ごとに実施される。
d)
磁器コンデンサで，静電容量の ずれ の正確な測定が要求される場合は，製造業者が推奨する前処理を JIS C
5101-14
の
附属書 G に従って実施することが望ましい。