Z 8900-1:2008
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
ページ
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 1
3 用語及び定義 ··················································································································· 1
4 検定用粒子の種類 ············································································································· 1
5 品質······························································································································· 2
6 表示······························································································································· 3
Z 8900-1:2008
（2）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，社団法人日本粉体工業技術協会 (APPIE)及び
財団法人日本規格協会 (JSA)から団体規格（SAP10-03:検定用粒子）を基に作成した工業標準原案を具して
日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した
日本工業規格である。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許
権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に係る確認について，責任は
もたない。
JIS Z 8900の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS Z 8900-1 第1部：粒子径測定装置検定用粒子
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
Z 8900-1：2008
標準粒子−
第1部：粒子径測定装置検定用粒子
Standards particles-
Part 1: Reference particles for calibrating particle size measurements
apparatus
1
適用範囲
この規格は，主に粒子径分布の測定装置を校正するための検定用粒子について規定する。
注記 この規格は，粒子径測定装置検定用粒子の品質について規定するものであるが，この規格によ
って適合性評価を行うことは，意図していない。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS K 0121 原子吸光分析通則
JIS R 3105 ほうけい酸ガラスの分析方法
JIS R 3301 路面標示塗料用ガラスビーズ
JIS Z 8103 計測用語
JIS Z 8901 試験用粉体及び試験用粒子
3
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，JIS Z 8103及びJIS Z 8901によるほか，次による。
3.1
アンダーサイズ (undersize)
粉体の粒径分布において，ある粒径より小さい粒子群の全体に対する百分率。
3.2
アスペクト比 (aspect ratio)
粒子の顕微鏡像において，（最大長径／最大長径に直交する幅）で定義される粒子の形状を表す指数。
4
検定用粒子の種類
検定用粒子の種類を表1に示す。粒子形状は球形で表面は多孔質でなく，また，粒子径分布については
対数正規分布を基本として分類し，粒子径の寸法によって次の3種類とする。
a) 検定用粒子1 (MBP 10〜100) 主として粒子径分布の範囲が10〜100 μmに分布する粒子
2
Z 8900-1：2008
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
b) 検定用粒子2 (MBP 3〜30) 主として粒子径分布の範囲が3〜30 μmに分布する粒子
c) 検定用粒子3 (MBP 1〜10) 主として粒子径分布の範囲が1〜10 μmに分布する粒子
表1−検定用粒子の種類及び記号
種類
記号
使用材料a)
粒子径分布の範囲b)
μm
検定用粒子1
MBP 10〜100
バリウムチタネートガラス
10〜100
検定用粒子2
MBP 3〜30
3〜30
検定用粒子3
MBP 1〜10
1〜10
注a) 粒子形状は球形で，表面は多孔質ではない。
b) 粒子径分布は，対数正規分布を基本とする。
5
品質
検定用粒子の品質は，次による。
a) 化学成分 化学成分は，JIS K 0121又はJIS R 3105に規定する方法によって測定し，表2の値に適合
しなければならない。
表2−検定用粒子の化学成分
単位 質量分率％
成分
含有量
TiO2
32〜38
BaO
41〜48
SiO2
10〜14
CaO
4〜8
b) 粒子密度 粒子密度は，JIS R 3301に規定する密度測定方法によって測定し，4 000〜4 200 kg m−3で
なければならない。
c) 粒子形状 粒子は球状であり，そのアスペクト比は，顕微鏡法によって500個以上測定し，測定した
全粒子数の95 ％以上が1.0〜1.1の範囲でなければならない。
d) 粒子径分布 粒子径分布は，顕微鏡法によって測定し，真球として計算した体積基準粒子径分布の各
アンダーサイズ値に対応する粒子径が表3に示す最小値と最大値との間になければならない。
表3−検定用粒子の粒子径範囲
単位 μm
アンダーサイズ
（％）
検定用粒子1
検定用粒子2
検定用粒子3
最小径
最大径
最小径
最大径
最小径
最大径
10
15.5
31.0
4.65
9.3
1.55
3.10
20
18.6
37.1
9.68
11.1
1.86
3.71
30
21.3
42.2
6.39
12.7
2.13
4.22
40
23.8
47.3
7.14
14.2
2.38
4.73
50
26.4
52.4
7.92
15.7
2.64
5.24
60
29.6
58.4
8.88
17.5
2.96
5.84
70
32.9
65.1
9.87
19.5
3.29
6.51
80
37.6
74.5
11.3
22.4
3.76
7.45
90
45.2
89.1
13.6
26.7
4.52
8.91
3
Z 8900-1：2008
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
6
表示
製品の包装には，見やすい箇所に，容易に消えない方法で次の項目を表示する。
a) 製品の名称
b) 製品の種類又は記号
c) 製品の内容量
d) 製造業者名又はその略号
e) 製造年又は略号
f)
製造番号又はロット番号
g) アンダーサイズ