Z 8832：2010
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲 ························································································································· 1
2 引用規格 ························································································································· 1
3 用語及び定義 ··················································································································· 1
4 記号······························································································································· 2
5 測定原理 ························································································································· 3
5.1 一般 ···························································································································· 3
5.2 出力応答 ······················································································································ 3
5.3 測定限界 ······················································································································ 4
6 測定の準備 ······················································································································ 5
6.1 装置の設置 ··················································································································· 5
6.2 校正 ···························································································································· 5
6.3 電解質溶液の選択 ·········································································································· 5
6.4 電解質溶液の調製 ·········································································································· 6
6.5 推奨するサンプリング方法，分割方法，試料調製及び分散方法 ··············································· 6
6.6 アパチャーと測定容積の選択···························································································· 7
7 測定······························································································································· 7
7.1 手順 ···························································································································· 7
7.2 測定上の留意事項 ·········································································································· 8
8 試験結果の表し方 ············································································································ 10
9 試験結果の報告 ··············································································································· 10
附属書A（参考）多孔質粒子及び導電性粒子の測定のための校正方法 ············································ 11
附属書B（参考）二つ以上のアパチャーを使用する方法 ······························································ 14
附属書C（参考）装置の操作又はサンプル調製に関する正しさのカイ二乗検定 ································ 16
附属書D（参考）粒子と電解質溶液 ························································································ 18
附属書E（参考）質量積分法 ································································································· 29
附属書F（参考）頻繁に使用するアパチャーの校正及び管理 ························································ 34
附属書JA（規定）同時通過粒子の影響 ···················································································· 35
附属書JB（規定）不感時間 ··································································································· 36
附属書JC（規定）装置及びシステムの線形性 ··········································································· 37
参考文献 ···························································································································· 38
附属書JD（参考）JISと対応国際規格との対比表 ······································································ 40
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まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，社団法人日本粉体工業技術協会（APPIE）及
び財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，
日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許
権，出願公開後の特許出願，実用新案権及び出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について，責
任はもたない。
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日本工業規格
JIS
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粒子径分布測定方法−電気的検知帯法
Determination of particle size distributions−Electrical sensing zone method
序文
この規格は，2007年に第2版として発行されたISO 13319を基とし，技術的内容を変更して作成した日
本工業規格である。
なお，この規格で側線又は点線の下線を施してある参考事項は，対応国際規格にはない事項である。変
更の一覧表にその説明を付けて，附属書JDに示す。
1
適用範囲
この規格は，電気的検知帯法を用いて電解質溶液中に分散する粒子の粒子径分布を測定する方法につい
て規定する。電気的検知帯法は，粒子の体積又は直径を電気的パルス信号から測定するもので，測定でき
る粒子径の範囲は一般的には0.4〜1 200 μmである。電気的検知帯法は，特定の物質の測定に対して特別
な取扱いを必要としない。
注記1 多孔質粒子及び導電性粒子の正確な測定方法は，附属書Aを参照。
注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
ISO 13319:2007，Determination of particle size distributions−Electrical sensing zone method
（MOD）
なお，対応の程度を表す記号“MOD”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“修正している”
ことを示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS Z 8819-1 粒子径測定結果の表現−第1部：図示方法
JIS Z 8819-2 粒子径測定結果の表現−第2部：粒子径分布からの平均粒子径又は平均粒子直径及びモ
ーメントの計算
注記 対応国際規格：ISO 9276-2，Representation of results of particle size analysis−Part 2: Calculation
of average particle sizes/diameters and moments from particle size distributions（IDT）
JIS Z 8824 粒子径測定のための試料調製−粉体の液中分散方法
ISO 14488，Particulate materials−Sampling and sample splitting for the determination of particulate properties
3
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，次による。
2
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3.1
不感時間 (dead time)
電子機器が，前のパルスの信号処理のために，次にくる粒子を検知できなくなる間の時間。
3.2
アパチャー (aperture)
懸濁液が吸引される直径の小さい穴。
3.3
検知帯 (sensing zone)
粒子を検出する細孔内部及びその周辺の電解質溶液の領域。
3.4
サンプリング容積 (sampling volume)
測定する懸濁液の容積。
3.5
チャンネル (channel)
粒子を検出するとき，粒子の大きさを分別するために設けた粒子径区間。
3.6
見かけの大きさ (envelope size)
顕微鏡で確認できる多孔質粒子の外観の大きさ。
3.7
見かけの体積 (envelope volume)
見かけの大きさで定義する多孔質粒子の体積。
4
記号
この規格で用いる記号は，次による。
Ap
最も頻度の高い電気パルス高さ
Ax
任意の粒子によって発生する電気パルス高さ
D
アパチャー径
dL
粒子径区間（又は粒子径チャンネル）の小さい方の境界値
dp
粒子径が校正された標準粒子のモード径
dU
粒子径区間（又は粒子径チャンネル）の大きい方の境界値
Kd
アパチャーの校正係数
d
K
アパチャーの平均校正係数
Kd a
アパチャーの校正係数の初期設定値
m
サンプルの質量
Ni
i番目の粒子径区間までに含まれる粒子計数値
ΔNi
i番目の粒子径区間に含まれる粒子計数値
Vi
しきい値又はチャンネル境界から得た粒子の体積
Vm
測定容積（一回の測定で使用した懸濁液の容積）
VT
質量mの試料粒子が分散している電解質溶液の容積
x
粒子の体積と等しい体積をもつ球形粒子の直径
3
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ρ
置換される電解質単位容積当たりの粒子の質量（粒子密度）
平均校正係数の標準偏差
5
測定原理
5.1
一般
粒子を電解質溶液中に分散した希釈懸濁液は，均質な混合物となるようにかくはんされ，アパチャーを
通して吸引される。アパチャーの両側に配置された二つの電極間に電流を印加することによって，粒子が
アパチャーを通過するときの電気抵抗の変化によって粒子が検知される。発生した粒子信号は増幅されて
カウントされ，パルスの高さが測定される。校正係数を用いることで，粒子の体積相当径基準の粒子径分
布が得られる。通常，この分布は，粒子径に対する質量分率パーセントに換算されるが，粒子径パラメー
タは粒子と同じ体積及び密度をもつ球の直径で表現される。
なお，図1に測定原理図を示す。
5.2
出力応答
粒子形状が球形の場合には，粒子体積に比例した出力応答（すなわち，粒子がアパチャーを通過すると
きに得られる電気パルス）が検出されることは，実験的にも理論的にも明らかになっている（参考文献 [1]
〜[3] 参照）。出力応答は粒子体積に比例するため，パルスの振幅は粒子体積の相対的な尺度となる。校正
によって，この尺度は球形粒子の直径に換算する。直径を基にした校正定数は，式 (1) によって計算する。
3
p
p
d
A
d
K=
················································································ (1)
粒子を球形としたときの大きさxは，パルス高さから式 (2) で計算する。
3
x
dA
K
x=
··············································································· (2)
他の形状の粒子についても粒子体積に比例する出力応答が得られるが，比例定数（すなわち，測定器の
校正定数）は異なる（参考文献 [4] 参照）。また一般的に粒子の電気伝導度は，電解質溶液と比較して小
さくなくてはならないが，導電性の高い粒子，例えば金属（参考文献 [5] 参照），カーボン（参考文献 [6]
参照），シリコン，又は多くの種類の細胞，血液細胞のような有機物についても測定することができる（参
考文献 [7]，[8] 参照）。多孔質粒子では，気孔率に応じて出力応答が変化する（参考文献 [10]，[11] 参照）。
注記 導電性粒子及び多孔質粒子の測定については，附属書Aに示す。
d,
K
σ
4
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1
容積測定デバイス
2
切替え弁
3
パルス増幅器
4
オシロスコープ
5
計数回路
6
パルス波高分析器
7
出力端
8
電解質溶液に粒子をかくはん・分散した懸濁液
9
アパチャー
10 計数の開始及び終了を伝える回路端
11 電極
図1−電気的検知帯法の原理図
5.3
測定限界
一般に，電気的検知帯法において検出可能な最小粒子径は，熱及び電気的ノイズによって制約されると
考えられている。その限界は通常約0.6 μmであるが，最適な条件下であれば0.4 μmも可能である。理論
的には上限値はなく，電解質溶液の密度に近い粒子の場合は，最大のアパチャー（通常は2 000 μm）を使
用することが可能である。実用上の上限値は粒子密度によって制約され，約1 200 μmである。懸濁液中に
粒子を均一に分散するために，例えば，グリセリン又は糖を加えて粘度及び密度を増加させてもよい。懸
濁液の均一性は，かくはん速度を変化させながら繰返し測定することによって確認できる。この結果に基
づいて，最も大きな粒子が分散する最小のかくはん速度で測定しなければならない。
単独のアパチャーでは，粒子径測定範囲はアパチャーの直径Dに関係する。出力応答は，理想的な条件
下では，5 ％の誤差で0.015〜0.8 Dの範囲で線形比例する（100 μmのアパチャーであれば，1.5〜80 μmの
範囲）。粒子が球形でない場合には，アパチャーは，測定可能な最大粒子径よりも小さな粒子径で詰まる傾
向がある。実際には，熱的又は電気的ノイズによる制限，及びアパチャーを通過する非球形粒子の物理的
な制約から，測定可能範囲は，アパチャー径の2〜60 ％までの範囲である。2個又はそれ以上のアパチャ
ーを使用すれば，測定範囲を拡大することができる（附属書B参照）。実際には適切な粒子径範囲をカバ
ーする1個のアパチャーを選定することで，複数のアパチャーの使用を避けることができる場合もある。
5
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6
測定の準備
6.1
装置の設置
計測機器は，電気的ノイズ及び振動の影響がなく，清浄な環境に設置すべきである。有機溶剤を使用す
る場合には，計測機器の設置環境を十分に換気すべきである。同時通過粒子の影響，不感時間，装置及び
システムの線形性については，それぞれ附属書JA，附属書JB及び附属書JCによって検定する。
6.2
校正
6.2.1
一般
電気的検知帯法による測定装置は，大きさが既知で粒子径分布の狭い高分子ラテックス球形粒子を用い
て校正する。
他の方法に，絶対的な測定法である質量積分法がある。この方法では，ひょう量した質量及び測定装置
によって求めた質量を直接比較する（参考文献 [11]，[12] 参照）。この校正法は，質量を直接追跡するこ
とができ，粒子の形状，気孔率又は電気伝導度に関する情報は必要としない。
多孔質粒子に関しては，特別な注意が必要である。このような粒子は，試料調整中に，細孔内に少なく
とも部分的に電解質溶液が浸入する。この浸入した電解質溶液は，粒子が検知帯を通過するときに生じる
電気抵抗変化をある程度小さくするように働く。その結果，多孔質粒子によって発生するパルスの大きさ
は，同じ体積の中実粒子よりも小さくなる。ある種の多孔質粒子では，その差は無視できず，見かけの大
きさの半分まで小さくなることがある。
注記1 質量積分法による校正方法を附属書Eに示す。
注記2 多孔質粒子を測定する場合の校正方法を附属書Aに示す。
6.2.2
校正手順−微小球形粒子による校正
校正には，様々な他の方法で粒子特性が評価された単峰性で粒子径分布の狭い微小球形粒子が利用でき
る。それらは，BCR（Community Bureau of Reference）の標準粒子，NIST（National Institute of Standards and
Technology）の標準粒子，又は同様の標準粒子によって長さの次元まで追跡できなければならない。使用
する校正方法は，用いるこれらの微小球形粒子の大きさ及び使用する測定装置に依存する（詳細は，計測
器の製造業者に確認する。）。
例えば，均等な幅のチャンネルに対して粒子数を普通方眼紙上にプロットしたヒストグラム（頻度）を
得る方法がある。その分布が左右対称であれば最大個数（頻度）を示すチャンネルの中央値の粒子径は，
校正粒子のモード径にごく近い値となる。分布が対称でない場合は中央のチャンネルを挟む左右いずれか
のチャンネルの粒子数から対応するチャンネル位置を計算する。校正定数はこの両粒子径の比である。
校正は定期的に行うか，又はアパチャー及び電解質溶液を変更するたびに行い，校正定数の変動が1.0 ％
以下であることを確認する。
注記 頻繁に使用するアパチャーの校正方法を，附属書Fに示す。
6.3
電解質溶液の選択
6.3.1
一般
電解質溶液には，含まれるサンプルが安定となるものを選ぶ。測定中，一般的には5分以内に電解質溶
液が分解又は反応せず，また懸濁粒子が凝集せず，さらに，一度得られた分散状態が変化しないことが望
まれる。水に溶解しない粒子は，種々の電解質水溶液で測定することができる。小さなアパチャー（D≦
50 μm）又は大きなアパチャー（D≧400 μm）を使用するときには，それぞれのアパチャーに固有な特徴に
則した特別の取扱いをしなくてはならない。
注記 粒子に対して推奨する電解質溶液を，附属書Dに示す。
6
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6.3.2
小さなアパチャーの場合（D≦50 μm）
電解質溶液は，4 ％塩化ナトリウム水溶液又はそれと同等の電導度をもつ溶液を用いる。0.2 μmのメン
ブレンフィルターで電解質溶液を2回ろ過することが望ましい。
6.3.3
大きなアパチャーの場合（D≧400 μm）
アパチャーを通過する速い流れによって，ノイズ信号の原因となり得る乱れを未然に防ぐために，電解
質溶液にグルコース又はグリセリンの添加によって電解質溶液の粘度を増加させてもよい。10 ％のグリセ
リンは，径が400 μmと560 μmのアパチャー使用時に対して，また，30 ％のグリセリンは，1 000 μm及び
2 000 μmのアパチャーの使用時に対して推奨する。
6.4
電解質溶液の調製
バックグラウンド計数値を実用的なレベル以下にするために，測定粒子の最小粒子径よりも小さな孔径
のメンブレンフィルターで電解質溶液を十分にろ過することが望ましい。フィルターに付けられている値
は絶対的でないことに注意する。一般には，平均細孔径が示されている。この値の細孔径周りの分布幅は，
フィルターのタイプ及び製造業者によって様々である。このことが，使用するフィルター径の選択に影響
する。ろ過された電解質溶液又は他の適切な溶媒で，使用するすべてのガラス器具及び機材を予備洗浄す
ることが望ましい。バックグラウンド計数値は，表1に示した値を超えず，またバックグラウンドの粒子
の全等価体積は，続いて測定容積中で測定する全粒子体積の0.1 ％に相当する値を超えないことが望まし
い。
表1−一般的なアパチャーを用いたときのバックグラウンド計数値
アパチャー径D
μm
測定容積a) Vm
mL
バックグラウンド
計数値b)
1000
2
2
560
2
10
400
2
25
280
2
75
200
2
200
140
2
600
100
0.5
400
70
0.5
1200
50
0.05
300
30
0.05
1500
20
0.05
5000
注a) 他のサンプリング容積については，比例配分した値を用いる。
b) 推奨最大値
6.5
推奨するサンプリング方法，分割方法，試料調製及び分散方法
6.5.1
一般
試料のサンプリング方法及び試料の分割方法に関する手引きは，ISO 14488による。分散剤及び分散方
法については，JIS Z 8824で推薦される分散剤又は附属書Dから選択する。測定を行う上で，試験試料の
取扱いに関する専門家の知識を利用してもよい。
6.5.2
ペーストの利用
試料は，0.2 cm3程度に分割することが望ましい。もし，試料が粉末状の場合は，分割して，凝集粒子を
7
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解砕するために適切な分散剤を数滴落とし，柔らかなスパチュラで優しく練る。約20〜50 mgのペースト
をビーカに移し，分散剤を加え，数滴の電解質溶液で薄く延ばす。ビーカに電解質溶液を満たし，ときど
きかくはんしながら適度な振動数と出力の超音波バスに1分間入れる。再現性のよい分散手法とするため
に，ストップウオッチの使用を推奨する。十分に分散することを必要としない試料の場合は，電解質溶液
と分散剤とをかくはんしながら加えてもよい。
注記 高エネルギーの超音波バス及び超音波プローブ，ブレンダー及びミキサーは，粒子の凝集及び
粉砕の両方の原因となる可能性がある。
6.5.3
50 μm未満の低密度粒子の分散方法
測定対象粒子を約1 gに分割する。これを分散剤と混ぜ，電解質溶液に加えて試料原液を作製する。次
に，この試料原液が入ったビーカを超音波槽の中に45秒間入れる。この試料原液をよくかくはんした後，
ピペットを用いて5 mL取り出し，約400 mLの電解質溶液に加え，試料とする。超音波槽に更に15秒入
れる。この方法を用いるときに重要なことは，少なくとも2個の試料を試料原液から作製し，この分取サ
ンプリングの再現性と測定の再現性とを保証するために測定を行うことである。
6.5.4
懸濁液及びエマルション
懸濁液及びエマルションは，元の懸濁液及びエマルションに少量ずつ電解質溶液を加えて希釈すること
が望ましく，逆に大容積の希釈液の中に少量のエマルションを加えることは望ましくない。希釈は，段階
的に徐々に行い，それぞれの段階でかくはんをすることが望ましい。希釈に伴うショックを避けるために，
O/W（oil-in-water）エマルションは，最初に，蒸留水又は脱イオン水で希釈してもよい。
6.5.5
分散状態の検証
光学顕微鏡を用いて，分散された少量のサンプルを顕微鏡用スライドガラス上に載せ，分散の程度を検
証し，粒子径の範囲を見積もる。
6.6
アパチャーと測定容積の選択
顕微鏡による検査（6.5.5参照）から，存在する最大の粒子径の大きさを推定する。粒子径測定用のアパ
チャーの選定は，測定の対象となる粒子の最大直径がアパチャーの直径の60 ％を超えないようにして，ア
パチャーが詰まる可能性を低減させるようにする。粒子が球形又は球形に近い形状の場合には，粒子の最
大直径がアパチャーの直径の80 ％以下になるように選定してもよい。もし，サンプルのかなりの量が，そ
のアパチャーの下限サイズ（アパチャー径の1.5 ％）を下回るときは，二番目，更には三番目の小さなア
パチャーが必要となる。特定のアパチャーでは計数しない粒子を含む総数を測定するもう一つの方法は，
質量積分法を実施することである。
適切なサンプル量を表JA.1を基準にして選ぶか，又は適切な積算時間を選択する。許容可能な精度を得
るためには，測定容積を大きくして測定するか，又は長時間の積算を行うことが必要である。例えば，粒
子50 000個のカウントでは，0.4 ％の精度（相対標準偏差）になる。少ない粒子計数では精度が低下する
ので，大きいアパチャーを使用する場合には，特に注意が必要となる（7.2.2参照）。
注記1 二つ以上のアパチャーを使用する方法は，附属書Bに示す。
注記2 マスバランス法は，附属書Eに示す。
注記3 装置の操作及びサンプル調製に関するカイ二乗検定方法を，附属書Cに示す。
7
測定
7.1
手順
電気的検知帯法の測定装置による標準的な測定手順を，次に示す。ただし，一部の測定装置では自動化
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されているものがあるため，製造業者の推奨する手順及び取扱説明書の指示に従う。
a) 測定装置と制御用コンピュータの電源を入れ，該当ソフトを起動させ，各部の動作が正常であること
を確認する。
b) 試料に適するアパチャーを取り付けた装置に電解質溶液を満たす。
c) 測定するための各設定（アパチャーへの印加電流値，増幅率，校正係数，粒子計数方法など）を決め
る。
d) 図2に一例を示す測定に適した容器に電解質溶液を入れ，容器を測定装置の規定位置に設置し，試料
の粒子径に適した速度でかくはん装置を回転させる。
e) 6.5に推奨する試料の調製方法で，試料の懸濁液を作る。
f)
装置に設置した容器に，e) で調製した試料懸濁液をスポイトなどで装置の適正濃度になるまで滴下す
る。
g) 測定を開始し，試料懸濁液を計測する。
h) 測定結果を解析し，粒子径分布を求める。
1
アパチャーチューブ
2
かくはん機
3
邪魔板
図2−かくはん機と邪魔板の附属したビーカの例
7.2
測定上の留意事項
7.2.1
分散状態の安定性の検証
ビーカに最適なアパチャーを取り付け，調製した懸濁液を入れ，外壁の水滴をぬぐ（拭）い取り，試料
台に載せる。かくはん機を，気泡を発生させる渦ができない最も有効な速度に調整する。そのとき，測定
時間中の分散の安定性を確かめる。懸濁液のかくはん後，直ちに粒子径分布測定を行う。その後，懸濁液
を5〜10分間かくはんし，再度測定を行う。アパチャー径の30 ％及び5 ％付近の粒子径（それぞれxmax及
9
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びxminと表記）における積算計数値を記録する。計数値変動が統計から推定されるよりも大きい場合は，
分散状態が安定でないことを示している（7.2.2参照）。分散状態の安定性の追加的検証は，原信号パルス
の記録値から測定装置内でも行うことができる。測定時間中の信号パルス列の不均質性は，分散の安定性
の変動を示している。表2に幾つかの可能性のある要因を示す。
表2−懸濁液の分散安定性に関する現象例
計数値の変化
考えられる現象
xmax
xmin
変化なし
変化なし
安定な分散状態
増加
増加
結晶化，沈殿
減少
減少
溶解
減少
増加
粒子径の減少，解こう
増加
減少
凝集
減少
変化なし
大粒子の沈降
7.2.2
計数の再現性
正しく行われた測定では，各粒子径区間の計数値は，ポアソン分布に従うランダム変数である。この場
合，分散（標準偏差の2乗）は，平均値と等しくなる。これは，計数値の標準偏差が，平均値がNであれ
ば，Nで近似できることを示している。分散及び標準偏差は，装置の操作又は試料調製の統計的試験に
使用することができる。得られたデータが，ポアソン分布に従うか否かを調べるためにカイ二乗検定を行
う。この中で，与えられた確率及び与えられた測定回数に対する理論分散値と見かけの分散値が関係する。
附属書Cにその例を示す。この統計的検定は，一つの粒子径区間でも，グループ区間でも，計数全体にで
も適用できる。
7.2.3
アパチャーの洗浄
直径が100 μm以下のアパチャーでは，異物粒子で詰まるおそれがある。特に洗浄作業，ろ過作業，及
びビーカその他の器具の洗浄時の不注意から異物の混入が起きやすい。完全な詰まり及び部分的な詰まり
は，装置に附属している光学器具で観察できる。詰まりは，粒子がアパチャーを通過する時間の測定又は
アパチャーの電気抵抗測定でも知ることができる。アパチャーが詰まると，通過時間が長くなったり電気
抵抗値が大きくなる。また，装置に記録されている粒子の信号パルス列を調べることによっても詰まりを
知ることができる。詰まりによって，パルス列が明らかに変化する。測定装置によっては，自動検出機能
があり，また自動的に詰まりを除去する機構がある。
なお，詰まりは，次に示すいずれかの方法で除去できる。
a) 逆流：詰まりを解消するまでアパチャーに逆方向から液を流す。
b) 煮沸：電流による加熱で液を沸騰させ，詰まりを除去することができる。これは，大電流をアパチャ
ーに流すことで行える。
c) ブラシがけ：高品質で，柔らかくて毛足の短いブラシを使って，粒子をこすりとることができる。こ
のとき，アパチャーに損傷を与えないように注意する必要がある。
d) 適切な空気圧を加える。
e) 超音波洗浄：アパチャーの細管に電解質溶液を満たした状態で，アパチャー部分を低出力の超音波洗
浄バスに約1秒間浸す。必要に応じてこの操作を繰り返す。この方法は効果的ではあるが，アパチャ
ーに損傷を与えてしまう可能性があるので，極度の注意を払いながら行う必要がある。
10
Z 8832：2010
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
注記 50 μm以下のアパチャーには，超音波洗浄の方法を用いない方がよい。
7.2.4
測定精度の向上
ほとんどの試料の粒子径の範囲は，一種類のアパチャーを用いて測定できる程度の狭い粒子径分布であ
る。粒子径の範囲が，単一のアパチャーで測定できないほど広い場合には，二つ以上のアパチャーを使用
することになる。もし，試料中の総粒子体積の1.5 ％以上が最小粒子径区間に該当するときは，複数アパ
チャー法（附属書B参照）を推奨する。試料によっては，質量積分法（附属書E参照）を用いてもよい。
粒子が十分に分散した状態であれば，7.1の手順に従って測定を開始できる。満足できる精度で測定でき
るように，測定容積を決め，又は繰返し測定ができる量を決める。また測定時間を設定する（附属書JA
及び附属書JB参照）。粒子の計数が少ないと精度が悪くなるが，大きなアパチャーを使用するときには，
最低でも3回，できれば5回測定を繰り返すことを推奨する。試料を得るための縮分操作が適切であった
かを確認するために，元の懸濁液又は乾燥粉末から再び縮分操作を行い，同じ操作を少なくとも1回以上
繰り返して測定することが望ましい。測定データはすべてデータシートに記録する。
注記 測定精度に関する検定方法を，附属書Cに示す。
8
試験結果の表し方
最近の装置では，粒子の体積及び数を複数チャンネルで直接測定するので，データ変換は必要ない。測
定装置によっては，球体積相当径で，又は粒子径区間で粒子の数を計数するので，データを体積割合に変
換することが必要となる場合がある。得られた個数基準データを体積基準データに変換する場合，通常シ
ンプソンの法則（参考文献 [13] 参照）（数値積分法）を使用する。各粒子の体積は，既に測定済みである
ので，チャンネル内の総粒子体積を表示するためには，粒子径チャンネル内の粒子数にチャンネルの算術
平均体積を乗ずればよい。この方法で，すべての粒子径チャンネルで全粒子の総体積を算出することが可
能となり，体積基準粒子径分布が計算できる。理にかなった精度で計算を行うためには，粒子径チャンネ
ルの粒子径間隔の幅を狭めるべきである。すなわち，チャンネルの数を多くして計数することが望ましい。
さらに，正確な方法及び分布のモーメントの計算に関しては，JIS Z 8819-2を参照する。最近の測定装置
では計算を自動的に行うようになっている。そのように計算された体積基準粒子径分布は，もし，すべて
の粒子が同一の密度（含浸密度）であれば，質量基準粒子径分布と同一となる。
9
試験結果の報告
電気的検知帯法による試験結果は，少なくとも，次のような事項を報告書に記載することが望ましい。
粒子径測定結果の表示は，JIS Z 8819-1及びJIS Z 8819-2による。
a) 試料の情報
b) 試料の分散における手順，方法など。
c) 測定開始の日時及び測定にかかった時間
d) 使用したアパチャー径
e) 測定装置の設定条件（アパチャーへの印加電流値，増幅率，校正係数など）
f)
粒子径頻度分布（個数基準，又は体積基準若しくは面積基準）
g) 粒子径累積分布（個数基準，又は体積基準若しくは面積基準）
h) 粒子径分布の頻度リスト，粒子径分布の統計解析結果
i)
同時通過率（同時通過の粒子数又は試料濃度）
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附属書A
（参考）
多孔質粒子及び導電性粒子の測定のための校正方法
A.1 概要
金属粒子などの導電性粒子は，ヘルムホルツ層と呼ばれる表面電位層の形成を妨げない程度の強さの電
圧を電気的検知帯法のアパチャーに印加することで正確に測定することができる。この電圧は，通常は10
〜15 V程度である（参考文献 [4] 参照）。
試料調製時に多孔質粒子の細孔へ電解質溶液が浸入することが多い。細孔内部に浸入した電解質溶液の
存在によって，粒子がアパチャーを通過するときに生じる電気抵抗変化が小さくなることがある。この場
合，多孔質粒子は，見かけの大きさが同じ中実粒子に比べて小さなパルスを発生する。中実粒子に対して
装置を校正し，かつ，多孔質の影響に対する補正が行われていない場合は，測定される粒子の大きさは大
幅に小さくなる（図A.1参照）。この問題を解決するには，室温で固化する有機物質又は水と混じりあわな
い溶媒で細孔を充てんする方法がある（参考文献 [14]，[15] 参照）。しかし，有機物で細孔の大きさが変
化するような天然の高分子からなる粒子には，この方法を用いることができない。このような場合，A.3
に記載するように，測定対象粒子試料を狭い粒子径範囲に分級した試料を用いて装置を校正した後，測定
対象粒子試料を測定すると，多孔質粒子を精度良く測定できる。
1
多孔質粒子
2
多孔質を補正した粒子径（見かけの大きさ）
3
多孔質を補正しない中実粒子径
図A.1−多孔質粒子の応答概念図
A.2 導電性物質の粒子
金属粒子のような導電性粒子に対して適切な結果を得るには，次のような測定を行う。まず，一般的な
測定条件で測定を行う。次に印加電流値を半分にし，感度を2倍にして測定する。同じ粒子径分布が得ら
れれば適切な測定結果と考えられる。もし，同じ粒子径分布が得られない場合，測定電流を更に小さくし，
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感度を上げて測定する手順を繰り返す。銅，銀，白金などの高い導電性がある金属粒子では，表面電位層
を容易に形成しないので，非常に低い電圧を用い，0.5 ％のセトリミド溶液を添加することで電気抵抗を増
加させた条件で測定すると，精度の良い結果が得られる。
A.3 多孔質粒子
A.3.1 一般
多孔質の影響を補正するには，パルス高さ補正を測定したい試料（対象試料）で行う。ふるい又は同様
な分離方法で粒子径分布幅の狭い試料（分級試料）を作製する。コンピュータ付きの画像解析装置又は顕
微鏡写真から，この分級試料の平均径を測定する。この平均径と電気的検知帯法測定装置で測定された分
級試料の平均径とを比較することで，測定装置の校正を行う（参考文献 [9]，[10] 参照）。
A.3.2 試料調製
ふるいを用いる場合，使用するふるいの目開きは，できるだけ対象試料のモード径に一致させる。電成
ふるいを用いた湿式ふるいによる分級を推奨する。ふるい時に使用する溶媒は経験に照らして，できるだ
け試料に適した溶媒を選ぶ。多孔質粒子の大きさは，懸濁液のイオン強度によって変化することがある。
このため分級試料を，対象試料の測定時に使用する電解質溶液に移す。分級試料の粒子の細孔の中にある
液体を電解質溶液に置き換えるために，分級試料を一晩電解質溶液に浸せきさせるか又は超音波槽を用い
て処理する。
A.3.3 顕微鏡法と電気的検知帯法による測定
ふるいで分級した試料の一部を顕微鏡用のスライドガラスに載せ，カバーガラスをする。この試料を写
真撮影したり，画像解析装置で粒子の大きさを直接測定する。このとき重要なことは，試料を乾燥させな
いことである。少なくとも400個の粒子を測定する（参考文献 [9] 参照）。
なお，測定すべき粒子数はJIS Z 8827-1の手順に従って計算する（参考文献 [16] 参照）。個数基準分布
のモード径は校正時の粒子径パラメータとして利用されることが多いが，個数基準及び体積基準のメジア
ン径も同様に用いられる。最後に微小球形粒子で校正した電気的検知帯法の装置で対象試料を測定し，粒
子径分布を求める。
A.4 顕微鏡法による解析
A.4.1 一般
微小球形粒子の算術平均粒子径とふるいで分級した試料の算術平均粒子径は，校正時の応答係数の計算
に使用する。
A.4.2 記号
この附属書で使用する主な記号は，次による。
dm
一次校正用に使用する標準粒子の算術平均粒子径
dmicr
ふるいで分級した試料の顕微鏡法で決定した算術平均粒子径
dESZ
ふるいで分級した試料の電気的検知帯法で決定した算術平均粒子径
dref
標準粒子の基準直径
fresp
応答係数
A.4.3 計算方法
平均粒子径は，応答係数を計算するために使用する。
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ESZ
micr
resp
d
d
f
=
··········································································· (A.1)
標準粒子の基準直径は，次のように与える。
m
resp
ref
d
f
d
×
=
······································································· (A.2)
この基準直径を，今後の校正値として用いる。
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附属書B
（参考）
二つ以上のアパチャーを使用する方法
B.1
一般
完全な測定結果を得るために，複数のアパチャーで測定する必要がある場合，懸濁液試料を二つ又はそ
れ以上に分けて，それぞれの粒子径に合うアパチャーで測定する。懸濁液試料の分割は，通常湿式ふるい
で行う。
B.2
試料懸濁液の分割
大きな径のアパチャーで測定した後，残存している懸濁液をビーカとともにひょう量し，その懸濁液を
小さいアパチャー径の約半分の目開きをもつ電成ふるい又は単繊維からなるふるいでろ過し，ろ液を清浄
なひょう量済みのビーカに集める。大きな径のアパチャーの測定で使用したビーカに残っている粒子を，
新しい電解質溶液を用いてふるいの上で洗浄し，ふるい自体も同様にして洗浄する。洗浄液はすべて一つ
のビーカに集める。希釈率を最初と最後の懸濁液の質量から計算する。
B.3
アパチャーの組合せ
表B.1に記載されている例のように，適切なアパチャーの組合せが考えられる。測定領域の重なりを確
実に確保するために，小さなアパチャーの直径は大きなアパチャーの直径の20 ％以上とする。
小さなアパチャーでも，十分測定できる程度に低い電気抵抗となる電解質溶液濃度を用いる。例えば，
10 g/Lの食塩水はほとんどのアパチャー径で適切な電解質溶液である。電解質溶液は，6.4に従って準備す
る。
両アパチャーは同じ校正用標準粒子（6.2.2参照）を用いて校正する。ここで，重なりあった粒子径領域
における校正は，合致するはずである。
表B.1−適切なアパチャー直径の組合せの例
粒子直径（約
）
μm
アパチャー直径の組合せ
μm
0.6〜84
30/140
1.0〜120
50/200
1.4〜168
70/280
2.8〜240
140/400
0.6〜240
30/140/400
B.4
測定
それぞれの粒子径範囲は，各アパチャーで測定し，異なる希釈濃度を考慮しながら測定結果を結合させ
る。詳細な操作又はコンピュータプログラムは測定装置の製造業者から入手可能であるが，基本的な方法
を次に示す。
大きい方のアパチャーによる粒子径分布データを，同時通過補正をした最初の懸濁液の単位容積当たり
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のふるい上積算計数値Nと球相当径xをグラフにする。例えば，両対数メモリを用いて図B.1のように粒
子径分布を点1から点9までプロットする。同様に小さい方のアパチャーの結果に，同時通過補正と希釈
補正をした後，点aから点gまでを図B.1にプロットする。
1
140 μmの測定
2
30 μmの測定
図B.1−二つのアパチャーからの粒度分布の重なりを表す手順の図示
もし，希釈係数が不明な場合，小さい方のアパチャーの正確なデータに，図B.1のように大きい方のア
パチャーのデータが中央部分で重なり合うように係数をかけることが望ましい。
以上の結果，全域の粒子径分布は，この例では1，2，3，4，5，6，7，e，f，gか又は1，2，3，4，5，
6，d，e，f，gで示され，累積質量又は体積分率 ％ 分布は通常の方法で計算する。重なり合った領域での
計数値は10 ％以内にある。
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附属書C
（参考）
装置の操作又はサンプル調製に関する正しさのカイ二乗検定
C.1 概略
繰返し測定での粒子数は，理想的にはポアソン分布に従うと考えられる。この場合，分布の分散は平均
値に等しい。分散が著しく大きくなる場合は，粒子が試料分散液中に均一に分布していない。一方，分散
が著しく小さくなる場合は，例えば規則的な電気的雑音など，他の何かを計数している。カイ二乗検定は
繰返し測定で得られる粒子数が，ポアソン分布に従うか否かを検証するのに適している。この検定は一つ
の粒子径区間での粒子数に適用できるとともに，あるグループとしての粒子径区間での粒子数又は総粒子
数にも適用できる。
C.2 記号
この附属書で使用する主な記号は，次による。
χ2
カイ二乗分布
n
繰返し測定回数
Ni
第i番目の繰返し測定で計数した粒子数
N
繰返し回数Ni（i＝1, 2, 3, …, n）における粒子計数値の平均
p
統計的検定の有意水準
df
自由度
C.3 理論
n回の繰返し測定における粒子計数値N1，N2，…，Niに対し，ポアソン分布の仮定は，分散の実測値と
理論値を比較することによって検定できる。検定統計量は，式 (C.1) 及び式 (C.2) によって求める。
(
)
N
N
N
n
i
i
∑
=
−
=
1
2
2
χ
··································································· (C.1)
n
N
N
n
i
i
∑
=
=
1
············································································ (C.2)
この検定統計量は，自由度（n−1）のカイ二乗分布を表す。ポアソン分布の仮定は，検定統計量χ2がカ
イ二乗分布の（100−p）％点より大きい場合は，p ％レベルにおいて棄却する。
例 5回の繰返し測定例を表C.1に，6回の繰返し測定例を表C.2に示す。
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表C.1−n回の測定における粒子数のカイ二乗検定の例
p＝0.05，df＝5
n
Ni
N
N
Ni−
(
)N
N
Ni
2
−
1
2
3
4
5
6
936
1016
971
1004
999
968
982
982
982
982
982
982
−46
34
−11
22
17
−14
2.15
1.18
0.12
0.49
0.29
0.20
N＝982
合計＝4.43＝χ2
p＝0.05及びdf＝5におけるカイ二乗分布の値は，11.07である。実測値は4.43であり，この値より小さ
い（表C.1参照）。よって，測定結果はポアソン分布に従っている。
表C.2−n回の測定における粒子数のカイ二乗検定の例
p＝0.05，df＝6
n
Ni
N
N
Ni−
(
)N
N
Ni
2
−
1
2
3
4
5
6
7
936
1016
971
1004
999
968
856
964
964
964
964
964
964
964
−28
52
7
40
35
4
−108
0.80
2.75
0.05
1.63
1.25
0.02
11.88
N＝964
合計＝18.38＝χ2
注記 7回目の測定中に，アパチャーの部分詰まりが発生した。
p＝0.05及びdf＝6におけるカイ二乗分布の値は，12.59である。実測値は18.38であり（表C.2参照），
この値より大きい。よって，測定結果はポアソン分布に従っていない。
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附属書D
（参考）
粒子と電解質溶液
D.1 電解質溶液に関する要点
特記のない限り，電解質は水に溶かす。また，非水系に用いる溶剤及び塩類は，水分を含まない。
電解質溶液は，次による。
a
10 g/L塩化ナトリウム溶液（bと互換性あり。）
b
IsotonII（ベックマンコールター社の商品名，aと互換性あり。）
c
4 g/L水酸化ナトリウム溶液
d
0.1 mol/L塩酸溶液（＋1 g/Lセトリミド）
e
20〜50 g/Lりん酸3ナトリウム12水和物の水溶液，又は20〜50 g/Lピロリン酸ナトリウム10水和物
水溶液
f
200 g/L塩化ナトリウム水溶液
g
10 g/L硝酸ナトリウム水溶液
h
40 g/L塩化亜鉛水溶液
i
20〜50 g/L硫酸ナトリウム水溶液
j
10 g/Lけい酸カリウム水溶液
k
80 g/Lチオシアン酸アンモニウムのジメチルホルムアミド溶液
l
50 g/L塩化リチウムのメタノール溶液（mと互換性あり。）
m 50 g/Lチオシアン酸アンモニウム又は過塩素酸マグネシウムのイソプロパノール溶液（lと互換性あ
り。）
n
50 g/Lチオシアン酸アンモニウム又は塩化リチウムのアセトン溶液
p
100〜400 g/Lよう化リチウムのイソブタノール溶液
q
40〜50 g/Lチオシアン酸アンモニウムのイソブタノール溶液
r
40〜50 g/Lよう化リチウムのアセトン溶液
s
78.5 g/Lけい酸ナトリウム水溶液
t
10 g/L炭酸ナトリウム水溶液
u
60 g/Lチオシアン酸アンモニウムのジメチルホルムアミド溶液
v
40 g/L チオシアン酸アンモニウムの混合溶媒［溶媒組成は，エタノール溶液95 ％（体積分率）とホル
ムアミド5 ％（体積分率）。］
w
2.23 g/Lピロリン酸ナトリウム10水和物の水溶液
x
100 g/L塩化ナトリウムの混合溶媒［溶媒組成は，アセトニトリル15 ％（体積分率）とイソプロパノ
ール85 ％（体積分率）。］
y
8 g/L水酸化ナトリウム水溶液
z
7 g/L塩酸水溶液
aa 80 g/Lチオシアン酸アンモニウムの混合溶媒［溶媒組成は，プロピレングリコール66.7 ％（体積分率）
とメタノール33.3 ％（体積分率）。］
bb 60 g/Lよう化リチウムのビス（2-ヒドロキシエチル）溶液
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cc 50 g/Lチオシアン酸アンモニウムの混合溶媒［溶媒組成は，シクロヘキサノン50 ％（体積分率）とメ
タノール50 ％（体積分率）。］
dd 3 g/L塩化ナトリウム水溶液
ee 40 g/Lチオシアン酸アンモニウムの混合溶媒［溶媒組成は，ジクロルエタン30 ％（体積分率）とイソ
プロパノール70 ％（体積分率）。］
ff
100 g/L濃塩酸のイソプロパノール溶液
gg 40 g/Lチオシアン酸アンモニウムのブタノール溶液
hh 40 g/Lチオシアン酸アンモニウムのジメチルホルムアミド溶液
ii
50 g/Lチオシアン酸アンモニウムの混合溶媒［溶媒組成は，ジメチルホルムアミド33.3 ％（体積分率），
テトラハイドロフラン33.3 ％（体積分率）とトリクロールエチレン33.3 ％（体積分率）。］
jj
45 g/L塩化リチウムの混合溶媒［溶媒組成は，メタノール10 ％（体積分率）とアセトン90 ％（体積
分率）。］
kk 10 g/L塩化カリウムの混合溶媒［溶媒組成は，水10 ％（体積分率）とぎ（蟻）酸90 ％（体積分率）。］
ll
7.5 g/Lチオシアン酸アンモニウムの混合溶媒［溶媒組成は，トリクロロエチレン10 ％（体積分率）と
ブタノール90 ％（体積分率）。］
mm 40 g/Lチオシアン酸アンモニウムの混合溶液［溶媒組成は，プロパノール50 ％（体積分率），クロロ
エタン40 ％（体積分率）と試料10 ％（体積分率）。］
nn 38 g/L塩化リチウムの混合溶液［溶媒組成は，ベンゼン50 ％（体積分率）イソプロパノール50 ％（体
積分率）。］
oo 100 g/Lチオシアン酸アンモニウムの混合溶液［溶媒組成は，ジクロロメタン50 ％（体積分率）とイ
ソプロパノール50 ％（体積分率）。］
pp 10 ％（体積分率）塩酸のシクロヘキサノール溶液
qq 250 g/L濃度までのよう化リチウムの混合溶液［溶媒組成は，トリクロロメタン50 ％（体積分率）と
イソプロパノール50 ％（体積分率）。］
rr
50 g/Lチオシアン酸アンモニウムの混合溶液［溶媒組成は，プロパノール33.3 ％（体積分率），トリ
クロロルエタン33.3 ％（体積分率）とテトラハイドロフラン33.3 ％（体積分率）。］
ss 50 g/Lチオシアン酸アンモニウムの混合溶液［溶媒組成は，ジメチルホルムアミド33.3 ％（体積分率），
トリクロロルエタン33.3 ％（体積分率）とテトラハイドロフラン33.3 ％（体積分率）。］
tt
40 g/Lテトラブチル過塩素酸アンモニウムの混合溶液［溶媒組成は，ジクロルエタン50 ％（体積分率）
とイソプロパノール50 ％（体積分率）。］
uu 60 g/Lチオシアン酸アンモニウムのビス2メトキシエチルエステル溶液
vv 40 g/Lチオシアン酸アンモニウムの混合溶液［溶媒組成は，40 g/L硝酸カリウムの軽油17 ％（体積分
率）とブタノン83 ％（体積分率）。］
ww 40 g/L硝酸カリウム水溶液
xx 40 g/Lテトラブチル過塩素酸アンモニウムのジメチルホルムアミド溶液
yy 65 g/L酢酸ナトリウムの混合溶液［溶媒組成は，水33.3 ％（体積分率）とエタノール66.7 ％（体積分
率）。］
yz 30 g/L塩化リチウムの混合溶液［溶媒組成は，メタノール50 ％（体積分率）とイソプロパノール50 ％
（体積分率）。］
zz Karuhn溶液
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Z 8832：2010
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
D.2 測定粒子に推奨される電解質溶液
推奨する電解質溶液を，表D.1に示す。
注記1 2種類以上の電解質溶液を示すときは，望ましい順に示す。
注記2 Gは，グリセリンの添加がしばしば大粒子の分散に効果があることを示す。
Sは，しょ糖の添加がしばしば大粒子の分散に効果があることを示す。
satdは，試料であらかじめ飽和させた電解質溶液を使用することを示す。
表D.1−測定粒子に推奨される電解質溶液
粒子
電解質溶液
注記
Acetylsalicylic acid
アスピリン
a satd，b satd
エアロゾルOT分散剤
Acrylic emulsion or powder
アクリル乳液又は粉末
a，b，e
Aldactone A
アルダクトンA
a，b
（降圧利尿剤）一般名はスピロノラク
トン
Alumina
アルミナ
e
a，b
アルミナ全般
粗粉末だけ
Aluminium
アルミニウム
a
アルカリ性電解質溶液と反応する。
Aluminium oxide
酸化アルミニウム
−
アルミナ（Alumina）を参照。
Aluminium silicate
(Andalusite)
アルミノけい酸塩
（けい酸アルミニウム）
e
Ammonium perchlorate
過塩素酸アンモニウム
q satd，m
共通イオン効果が溶解度を抑える。
Ammonium phosphate
りん酸アンモニウム
m
Amphotericin (B)
アモホテリシン(B)
a satd，b satd
（抗生物質）
Anionic bitumen emulsion
アニオン系れき青エマルシ
ョン
c
Antimony
アンチモン
a
Daxadが分散剤として使われる。
Asphalt emulsion
アスファルト・エマルショ
ン
−
アニオン系れき青エマルション
（Anionic bitumen emulsion）又はカチオ
ン系れき青エマルション（Cationic
bitumen emulsion）を参照。
Attapulgite
アタバルジャイト
e
Avicel
(microcrystalline cellulose)
アビセル
（微結晶セルロース）
a
Azodicarbamide
アゾジカルバミド
m
（染色剤）わずかに水に溶ける。
Ball clay
ボール・クレイ
−
粘土（Clay）を参照。
Barium ferrite
バリウム・フェライト
r
フェライト（Ferrites）を参照。
Barium sulfate
硫酸バリウム
i
共通イオン効果が溶解度を抑える。
Bark
樹皮
a
Barytes
バライト（重晶石）
e
Bauxite
ボーキサイト
a
Beef extract (dried)
牛肉抽出物（乾燥）
m
Bentonite
ベントナイト
e
Benzioc acid
安息香酸
b
Benzyl procaine penicillin
ベンジール・プロカイン・
ペニシリン
a satd
Beryllia
べリリア
e，a，b
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表D.1−測定粒子に推奨される電解質溶液（続き）
粒子
電解質溶液
注記
Bitumen emulsion
れき青エマルション
−
アニオン系れき青エマルション
（Anionic bitumen emulsion）又はカチオ
ン系れき青エマルション（Cationic
bitumen emulsion）を参照。
Bone
骨
e
Boron carbide
炭化ほう素
a，b
電解質溶液は，ほう酸であらかじめ飽
和させておく。
Brick dust
れんが粉じん（塵）
l
Bronze
青銅
s，t
化学的腐食が起きるため，推奨される
電解質溶液濃度を用いる。
Cadmium sulfide
硫化カドミウム
e
Calamine
カラミン
e
（局所保護剤）
Calcined magnesia
か焼マグネシア
−
酸化マグネシウム（Magnesia）を参照。
Calcite
方解石
−
炭酸カルシウム（Calcium carbonate）を
参照。
Calcium carbonate
炭酸カルシウム
l，m，a satd
Calcium chromate
クロム酸カルシウム
l satd
Calcium dihydrogen phosphate りん酸二水素カルシウム
l
Calcium oxide
酸化カルシウム
l
Calcium stearate
ステアリン酸カルシウム
l，a，b，e
濡れ性が悪い。アルコール類又は非イ
オン系分散剤を用い，超音波と練りに
よって分散する。
Calcium trihydrogen phosphate りん酸三水素カルシウム
l
Carbon (and carbon black)
カーボン（及びカーボンブ
ラック）
e，a
活性炭は，アパチャー通過時にガスを
放出して擬似的な結果を出す。少し温
めたグリセリン中に粉末をスパチュラ
で分散し，少量の電解質溶液を添加し
数分間沸騰させる。冷却後，残りの電
解質溶液を加えて計数する。真空下で
分散される。
Carbonyl iron
カルボニル鉄
a (＋G)，b (＋G)
Carbonyl nickel
カルボニル・ニッケル
a (＋G)，b (＋G)
Carborundum
カーボランダム
−
アルミナ（Alumina）及び金剛砂（Emery）
を参照。
Casein
カゼイン
m
Cationic bitumen emulsion
カチオン系れき青エマルシ
ョン
d
Cellulose
セルロース
n，m
一般的に電解質溶液nがより適するが，
280 μm以上のアパチャーを使用する場
合には流速を落とさなくてはならな
い。その理由は，アパチャーを高速で
通過することによる高周波ノイズの相
互干渉，及び／又はアパチャー内での
気泡発生にある。
Cement
セメント
l，m
Ceramic powders
セラミックス粉末
e
Cerium oxide
酸化セリウム
e
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表D.1−測定粒子に推奨される電解質溶液（続き）
粒子
電解質溶液
注記
Chalk
チョーク（白墨）
−
炭酸カルシウム（Calcium carbonate）を
参照。
China clay (kaolin)
磁器粘土（チャイナクレー
／カオリン）
−
粘土（Clay）を参照。
Cloramphenicol
クロラムフェニコール
a satd
（抗生物質）
Chocolate
チョコレート
m satd
40〜50 ℃の水浴したビーカの中で軟
化させ，シクロヘキサノール中で，ア
ルコール可溶成分を50 g/L含むSpan 80
と一緒にスパチュラで練る。冷却後，
電解質溶液を添加する。ミルクチョコ
レートの分析では，（石油エーテルか
らの）脱脂固形分であらかじめ飽和さ
せておく必要があり，ダークチョコレ
ートではしょ糖を使用できる。
Chromium powder
クロム粉末
e
Clay
粘土
e
通常，30 μm又は50 μmのアパチャー
が適合する。分散後，1〜2日放置し，
測定することが一般的な方法である。
質量積分法を用いるときには，水が構
造水となっているので，同じ電解質溶
液で同じ時間懸濁させた試料で密度測
定を行うことが望まれる。
Coal
石炭
e，a，b，m，w
Cocoa
ココア
l
Coffee
コーヒー
l，m
コーヒー豆からの粉末に限る。
Coke
コークス
a，b，e
Copper
銅
a，b
反応が起こらない時間内に，測定を終
了するようにする。
DDT
DDT
a satd，e satd
Diatomite
けい（珪）藻土
−
粘土（Clay）を参照。
Dolomitic lime
ドロマイト石灰
l
Dust (flue，coal，etc.)
ダスト（煙，石炭など）
e，a，b
サンプル中に金属粉末が懸濁する場
合，例えば，ガス本管のダストなどはe
を選択することがよい。
Electrolyte solutions
(particles in)
電解質溶液（粒子を含む。）
−
例えば，めっき液のような電解質溶液
中の粒子は，直接測定する。又はアパ
チャーの電気抵抗値が低すぎて，粒子
サイズが小さく測定される場合には，
ろ過した蒸留水で希釈する。
Emery
金剛砂
a (＋G)，b (＋G) 例えば75〜85 μmのように，通常は非
常に狭い粒子径範囲に入っている。
Emulsions (including
lubrication and coolant
emulsions for rolling mills)
エマルション
（ロール・ミル用の潤滑剤
及び冷却剤を含む。）
a，b
水中の固体又は油も測定できる。凝固
を抑えるために，例えば，各ステージ
で1：100の希釈を2回に分けて行うこ
とが望ましい。分析中のエマルション
の安定性が維持されることが望まし
い。
油中の水の測定は現時点では不可能。
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表D.1−測定粒子に推奨される電解質溶液（続き）
粒子
電解質溶液
注記
Encapsulated particles
カプセル封入粒子
l，m
カプセル内粒子に依存する。
Explosives: HMX，PETN，
RDX
爆発性物質：HMX，PETN，
RDX
a satd
過塩素酸アンモニウム（Ammonium
perchlorate）及び過塩素酸グアニジン
（Guanidine perchlorate）を参照。
Feldspar
長石
a，b
Ferrites
フェライト
e
500 g/Lグリセリンを添加すると再凝集
速度は低下する。熱処理されたフェラ
イトは，磁性を帯び，一次粒子に分散
できない。凝集体のサイズは安定で（1
〜20 μm），測定可能。熱処理前に測定
することが望ましい。
Fibres (paper pulp)
繊維（紙パルプ）
a
Fibres (wool top)
繊維（ウールトップ）
m，x
Fibres (in glycerine)
繊維（グリセリン中）
b
Filters
フィルター（ろ紙）
−
メンブレンフィルター（Membrane
filters）を参照。
Flint
火打ち石
a，e
Flour
小麦粉
m，l
通常10〜125 μmの範囲。無水電解質溶
液にスパチュラで練って分散させ，そ
の後，超音波を照射する。
Fly ash
フライアッシュ
w
Fullers earth
フーラー土
e
（Fullerʼs earth 漂布土）
Garnet
ガーネット
e
Glass powder
ガラス粉末
a，b
ほとんどの電解質溶液が使用できる。
Gold
金
a，b，e，g (＋G)
Graphite
グラファイト
e
粗いグラファイト向き。1 μm程度では，
非常にゆっくりと凝集する。
y
細かいグラファイト向き
Graphite in oil
油中のグラファイト
−
油（Oil）を参照。
Griseofulvin
グリセオフルビン
a satd
（抗生物質）分散剤として0.1 g/Lの
Goulacを添加する。
Gypsum
石こう（膏）
m
Guanidine perchlorate
過塩素酸グアニジン
q
（筋無力症治療薬）
Herbicides
除草剤
a，b
通常，不溶性
Indomethacin
インドメタシン
z satd
（非ステロイド系抗炎症剤）
Injection fluids (particles in
parenteral fluids)
注射液（注射液中の粒子）
−
通常，電解質溶液の添加不要。もし，
非電解質が存在するなら，塩化ナトリ
ウム溶液を添加する。鉄デキストラン
の分析は成功していないようである。
これは，恐らく錯体の形成により安定
した測定ができないことによる。
Ink，ball point
インク，ボールペン用
aa
Ink，in toluene
インク，トルエン中
cc
すべての粒子は非常に細かい。多くの
粒子は測定不可能。高度に着色してい
る懸濁液はアパチャーの観察を難しく
する。
Ink，printing
インク，印刷用
zz
Ink，silk screening
インク，シルクスクリーン用 m，bb
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表D.1−測定粒子に推奨される電解質溶液（続き）
粒子
電解質溶液
注記
Ion-exchange resin
イオン交換樹脂
a，f
樹脂の交換能をなくするために，分析
前に試料電解質溶液fで飽和させる。
Indium
インジウム
e (＋S)
極めて密度が大きい（22 g/cm3）。砂糖
を500 g/L添加することで，60〜80 μm
程度まで測定できる。
Iron
鉄
dd (＋G)，e
Iron oxide
酸化鉄
a (＋G)，b (＋G)
Kaolinite
カオリナイト
−
粘土（Clay）を参照。
Kerosene (paraffin) (particles) 灯油（パラフィン）（粒子） ee
20 ％（体積分率）までの灯油を添加す
る。
Ketchup (catsup)
ケチャップ
a，b
電気的検知帯法は，トマトの細胞の見
かけの体積に反応しないと報告されて
いる。
Latex (rubber)
ラテックス（ゴム）
a，b，e
Latex (synthetic)
ラテックス（合成物）
a，b，e
Leed
鉛
a (＋S)，f (＋S)
分散剤としてメタノールを使用する。
Lead(II) oxide and lead(III)
oxide
酸化鉛（II）及び酸化鉛（III） a (＋G)
250 g/Lまでのグリセリンを使用する。
Lead，red
鉛丹（red lead）
e
Lignite dust
褐炭粉
e
Lime
生石灰
a satd，l，m
Lycopodium powder
ひかげのかずら胞子
a，b
Magnesia
酸化マグネシウム
m，l
微細粉は，水に反応する。
Magnesia，calcined
か焼酸化マグネシウム
e (＋G)
Magnesium
マグネシウム
e (＋S)
極めて反応が遅い。通常の分析時間内
での測定結果の精度に影響しない。
Magnesium hydroxide
水酸化マグネシウム
p，e satd
Membrane filters
メンブレンフィルター
−
メンブレンフィルターに捕集された粒
子（Particles captured by membrane
filters）を参照。
Mica
うんも（雲母）
e，a，b
Molybdenium disulfide
二硫化モリブデン
y，e
m
油中のMoS2の場合は更に適している。
Mud
泥
a，b，e
Neomycin
ネオマイシン
l satd
（抗生物質）
Nickel
ニッケル
a
キシレン中のラネーニッケル（Raney
nickel in xylene）も参照。
Nylon，particles in
粒子を含んだナイロン
kk
最初に分散剤で湿らせた後，電解質溶
液を注ぐ。
Ocean sediment
海洋沈殿物
−
沈殿物（Sediment）を参照。
Oil，cutting
切削油
a，b
Oil，hydraulic and lubricating 加圧油，潤滑油
ll
50 ％（体積分率）までの添加油（DTD
585）に適用できる。
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表D.1−測定粒子に推奨される電解質溶液（続き）
粒子
電解質溶液
注記
Oil (Oil specifications are for
lubrication effectiveness，not
composition，DTD 585 from
one manufacturer may not
dissolve in the electrolyte
solution suitable for DTD 585
from another manufacturer.)
油（油の仕様は潤滑効果が
目的で，その成分そのもの
ではない。ある製造業者の
DTD585は，他の製造業者
のDTD585に適切な電解質
溶液に不溶であるかもしれ
ない）
mm
電解質溶液として33〜50 ％（体積分率）
のSkydrolが使用できる。
Oil
油
nn
Oil
油
oo
50 ％（体積分率）の油が（ML5606B，
MIL7808E及びDTD585）に使用できる。
Oil
油
pp，qq，rr，ss
Oil
油
tt
MIL5606向き
Oil
油
uu
潤滑油向き
Oil
油
vv，zz
Orange extract
オレンジ抽出物
a，b
Paint (oil based)
油性ペイント
gg，zz
Paper pulp
紙パルプ
a，b
Particles captured by
membrane filters
メンブレンフィルターに捕
集された粒子
ff
等量の電解質溶液を加える前に，30 ％
（体積分率）のジメチルホルムアルデ
ヒドを含むアセトンに膜を溶かす。電
解質溶液と溶剤の混合物をろ過し，
別々に保管する。
油中の粒子にとって理想的な条件：既
知の容積の油をメンブレンフィルター
でろ過してから，ろ過されたガソリン，
四塩化炭素，トリクロールエチレンな
どを用いて洗浄し，溶解前にフィルタ
ーを乾燥する。過剰なジメチルホルム
アルデヒドは，膜を溶解しやすい。
gg，hh，ii，jj
油中の粒子にとって理想的な条件：既
知の容積の油をメンブレンフィルター
でろ過してから，ろ過されたガソリン，
四塩化炭素，トリクロールエチレンな
どを用いて洗浄し，溶解前にフィルタ
ーを乾燥する。過剰なジメチルホルム
アルデヒドは，膜を溶解しやすい。
Peanut butter
ピーナッツバター
m
Penicillin
ペニシリン
a satd
Phenacetin
フェナセチン
a satd
Phenothiazine
フェノチアジン
a satd
Phosphors
りん
a，b，e
粒子径範囲は，約1〜40 μm。
Photographic emulsions
写真乳剤
a，i
40 g/L硝酸カリウム溶液も使用できる。
Pigments
顔料
e，a，b
Plaster of Paris
焼き石こう（膏）
l，k
電解質溶液は無水である。
Plastics
プラスチック類
a，b，e
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表D.1−測定粒子に推奨される電解質溶液（続き）
粒子
電解質溶液
注記
Plating solutions
めっき溶液
−
電解質を添加せずに，又はろ過した蒸
留水で希釈して測定する。
Pollens
花粉
a，b
Polyethylene
ポリエチレン
a，b
Polypropylene
ポリプロピレン
a，b
Polystyrene
ポリスチレン
a，b
Poly (styrene divinyl benzene) ポリスチレンジビニールベ
ンゼン
a，b，e
多くの有機電解質を用いたアパチャー
の校正に使われる。
Polytetrafluoroethylene
ポリ四ふっ化エチレン
PTFE
a
どんな電解質溶液も適する。微粉体に
対しては，完全濡れを保証するために
アルコール又はケトンを使用する。
Polyvinyl acetate
ポリ酢酸ビニル
a
Polyvinyl chloride
ポリ塩化ビニル
a，b
Polyvinyl propylodone
ポリビニルプロピロドン
a
Polyvinyl toluene
ポリビニルトルエン
a，b
Porcelain
磁器
e
Potassium chloride
塩化カリウム
l
Potassium sulfate
硫化カリウム
l
Potato starch
ばれいしょでん粉
a
Powdered milk
粉ミルク
m
アルコールに不溶の粉ミルクの場合
Powdered milk
粉ミルク
a
水に不溶の粉ミルクの場合。200 g/L水
酸化ナトリウム溶液数滴に分散する。
Quartz
石英
e
Raney nickel in xylene
キシレン中のラネーニッケ
ル
l，m
mではSöow反応
River sediment
河川沈殿物
−
沈殿物（Sediment）を参照。
River water
河川水
a，b
River water
河川水
e
カルシウム塩が存在しない場合。
Rouge
ベンガラ（酸化第二鉄）
a
Rust in gasoline
ガソリン中のさび
e
フィルターで捕集して電解質溶液に再
度懸濁する。
Rutile
ルチル
e
Sand
砂
a，b，e
Sediment
沈殿物
a，b，e
Shale
けつ（頁）岩
e
Silica
シリカ
e
Silica gel
シリカゲル
l
Silicates
けい酸塩
e
Silicon carbide
炭化けい素
a，b，e
Silicon nitride
窒化けい素
m
Silver halide
ハロゲン化銀
ww
Silver halide
ハロゲン化銀
a
臭化銀用
Silver oxide
酸化銀
a，g
Slag (basic)
スラグ（塩基性）
a，e
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表D.1−測定粒子に推奨される電解質溶液（続き）
粒子
電解質溶液
注記
Sodium (metal)
ナトリウム（金属）
−
分散は通常，油又はグリースの中で行
われ，チオシアン酸アンモニウム及び
アルコール，又はケトンで調製された
電解質溶液が適切である（油を参照。）。
1,1,2トリクロール・エタンなどのカッ
プリング剤が必要になることがある。
Sodium chloride
塩化ナトリウム
m satd
Sodium hydrogen carbonate
炭酸水素ナトリウム
m
Sodium hydroxide
水酸化ナトリウム
xx satd
いまだ十分安定していない。多重チャ
ンネルモードを使用する。
Soya flour
大豆粉
m，b
Spironolactone
スピロノラクトン
a，b
（利尿剤アルダクトン）a)
Starch
でん粉
a，e，l，m
電解質水溶液は，水和したものに対し
てだけ適する。
Stearates
ステアリン酸塩
a，l
濡れ性が悪い。アルコールを用いて練
り，超音波で分散する。
Steel
鋼
a (＋G)，f (＋G)
Sugar
砂糖
m satd
Sulfadimidine
スルファジミジン
a satd
（サルファ剤）
Sulfur
硫黄
a，e
電解質溶液で希釈する前に，アルコー
ルで練り，湿らせる。
Superphosphate (of lime)
過りん酸石灰水
m
Talc
タルク
e
Tantalum
タンタル
a (＋G)，e (＋G)，
f (＋G)
Tin
すず
a (＋G)，f (＋G)
Tin oxide
酸化すず
e
50 g/L Calgon溶液中に分散する。
Titanium dioxide
二酸化チタン
e
Tomato juice
トマトジュース
a
Toner，xerographic
コピー機トナー
a
Tungsten
タングステン
a，e (＋G/S)，
f (＋G)
Tungsten carbide
タングステン・カーバイド
e (＋G)，a (＋G) 恒久的な凝集を起こすため，数時間以
内の粉砕で冷間焼結が可能。
Uranium
ウラン
e (＋G)，f (＋G)
Uranium dioxide
二酸化ウラン
e，c
冷間焼結が可能［タングステン・カー
バイド（Tungsten carbide）を参照。］。
Viscose
ビスコース
c
c又はろ過した蒸留水で希釈する。
Water contaminants in
水（汚染物質を含む。）
a
必要に応じて電解質溶液で希釈する。
Whiting
こ（胡）粉（白亜）
l，m，a satd
炭酸カルシウム（Calcium carbonate）を
参照。
Wool fibre
羊毛繊維
m
Yeast
イースト
a
Yttrium iron garnet
イットリウム−鉄−ガーネ
ット（YIG）
e (＋G)
磁性体であるため，超音波によって頻
繁に再分散する必要がある。
Zeolite
ゼオライト
−
粘土（Clay）を参照。
Zinc
亜鉛
yy
10 g/LエアロゾルOT分散剤
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表D.1−測定粒子に推奨される電解質溶液（続き）
粒子
電解質溶液
注記
Zinc cadmium sulfide
亜鉛カドミウム硫化物
e
範囲は普通，1〜15 μm
Zinc oxide
酸化亜鉛
l，a，e satd
水にわずかに溶ける。
Zinc stearate
ステアリン酸亜鉛
l
ステアリン酸カルシウム（Calcium
stearate）を参照。
Zinc stearate
ステアリン酸亜鉛
a，b，e
加湿のもの
Zinc stearate
ステアリン酸亜鉛
h，j
Zinc sulfide
硫化亜鉛
l
溶液中で硫化亜鉛は徐々に酸化して酸
化亜鉛になってしまうので，注意が必
要である。
Zirconium oxide
酸化ジルコニウム
a
40 g/Lのピロリン酸ナトリウム溶液で
湿らす。
注a) アルダクトンは，市販製品の一例である。この情報は，この規格の利用者の便宜を図って記載するもので，こ
の製品を推奨するものではない。
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附属書E
（参考）
質量積分法
E.1
概要
質量積分法は，一般的にほぼ絶対法であると考えられている。質量積分法では，測定装置で測定した懸
濁液の体積濃度を，単位容積当たりの粒子質量と粒子の浸せき密度から計算した真の体積濃度と比較する。
この方法は直接的にトレーサブルな方法であり，粒子の形状，気孔率，又は電気伝導度に関する仮定は不
要である（参考文献 [11]，[12] 参照）。この方法は校正とマスバランスの両方に使用することができる。
マスバランスでは，微小な粒子が正しく測定されているか，又は使用するアパチャーの測定レンジを外れ
ていないかを判断することができる。一部の測定装置にはパルス処理回路に著しい不感時間があり，それ
が解析した粒子質量の実質的な損失に対応する場合がある。損失はマスバランスの結果及び質量校正の手
順に影響を及ぼすため，それを低く抑えることが重要である。損失は測定される粒子カウント数に依存す
る。そのため，測定には低濃度試料を用いなければならない（例えば，同時通過が5 ％以下）。また，高い
精度を得るためには同時通過補正を用いなければならない。
E.2
校正手順
E.2.1 懸濁液の測定容積Vm
一部の測定装置では懸濁液の測定容積Vmの正確度はすべての条件において0.5 ％以下に保証されている
が，他の測定装置では製造業者によって一つの定量容積しか保証されていない場合もある。これらの測定
装置においては，測定容積の製造業者の公称値をそのまま受け入れるには不十分である。粒子懸濁液を用
いて，統計的に有効なカウント数（箇条7参照）で保証容積中の同時通過補正された粒子数を5回測定す
る。続いて，測定容積を変更して，同時通過補正された粒子数を少なくとも5回測定する。これらの測定
の総カウント数の比率は保証容積と選択した測定容積の比率と一致しなくてはならない。すべてのカウン
トは記録しなくてはならない。カウント数はカイ二乗分布に従うものとする。
E.2.2 粒子の浸せき密度
精度が0.1 mgの天びん，比重瓶，ピペット，及び通常の粒子分散方法を用いて，測定に用いる電解質溶
液中における粒子の浸せき密度ρをJIS K 5101-11-1に従って測定する。
E.2.3 試料調製
ふるい，又は同等の分級方法を用いて，試験用の材料を狭い粒子径分布に調製する。すべての粒子を一
つのアパチャーを用いて測定するためには，粒子質量の少なくとも99 ％が10：1の粒子径分布の範囲内に
含まれなければならない。
懸濁液は，電解質溶液と分散剤の容積VTの中に質量mの粉体を分散させて調製する。
E.2.4 校正係数の決定
測定装置の校正係数Kdは，アパチャーが絶対的に清浄な状態で，正確な既知の測定容積Vmを慎重に測
定して得られた粒子径分布を用いて決定する。より多くの粒子を測定するために，測定容積Vmを繰り返
して測定したり，測定時間を長くしたりしてもよい（例えば，カウント数50 000個では0.4 ％の相対標準
偏差が得られる）。カウント粒子数が少ないほど測定精度は低下する。懸濁液の粒子濃度は同時通過が5 ％
以下でなければならない。また，同時通過補正後のカウント数を記録して計算に使用しなければならない。
30
Z 8832：2010
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
Kdは，次の式によって算出する。
3
1
1
T
m
a
d
d
∆
=
∑
=
n
i
i
iV
N
V
m
V
K
K
ρ
························································ (E.1)
ここに，
(
)
2
6
π
3
U
3
L
d
d
Vi
+
=
··························································· (E.2)
E.2.5 2次校正（微小球形粒子による校正）
測定の都度，又はすべてのアパチャーに対して全域にわたる質量積分法を用いた校正を実施する必要は
ない。アパチャー及び試験用材料に対して，校正済の微小球形粒子などを中間標準粒子（2次粒子）とし
て用いることで，直線性の範囲内（6.2.2参照）における他のアパチャーの校正，及び校正安定性の日常点
検を行うことを推奨する。この2次校正を用いて報告された測定は識別できなければならない。
E.2.6 質量積分法を用いた校正の一例
校正の一例を，表E.1に示す。
表E.1−質量積分法を用いた校正の一例
粒子径
μm
iV
μm3
Ni
ΔNi
i
iV
N
∆
μm3
∑∆
i
iV
N
μm3
15〜17
2.169 79×103
487
487
1.056 69×106
1.056 69×106
17〜19
3.081 90×103
898
411
1.266 66×106
2.323 35×106
19〜21
4.220 21×103
1301
403
1.700 74×106
4.024 09×106
21〜23
5.609 84×103
1691
390
2.187 84×106
6.211 93×106
23〜25
7.275 93×103
2190
499
3.630 69×106
9.842 62×106
25〜27
9.243 61×103
2921
731
6.757 08×106
1.659 97×107
27〜29
1.153 80×104
4175
1254
1.446 87×107
3.106 84×107
29〜31
1.418 43×104
6678
2503
3.550 33×107
6.657 17×107
31〜33
1.720 76×104
11602
4924
8.473 00×107
1.513 02×108
33〜35
2.063 29×104
20384
8782
1.811 98×108
3.325 00×108
35〜37
2.448 56×104
31583
11199
2.742 14×108
6.067 14×108
37〜39
2.879 06×104
42342
10759
3.097 58×108
9.164 72×108
39〜41
3.357 32×104
50083
7741
2.598 90×108
1.176 36×109
41〜43
3.885 84×104
54548
4465
1.735 03×108
1.349 86×109
43〜45
4.467 14×104
56803
2255
1.007 34×108
1.450 59×109
45〜47
5.103 73×104
57840
1037
5.292 57×107
1.503 52×109
47〜49
5.798 12×104
58369
529
3.067 21×107
1.534 19×109
49〜51
6.552 84×104
58659
290
1.900 32×107
1.553 19×109
51〜53
7.370 39×104
58804
145
1.068 71×107
1.563 88×109
53〜55
8.253 28×104
58894
90
7.427 95×106
1.571 37×109
55〜57
9.204 03×104
58936
42
3.865 69×106
1.575 24×109
57〜59
1.022 52×105
58963
27
2.760 80×106
1.578 00×109
59〜61
1.131 92×105
58976
13
1.471 50×106
1.579 47×109
61〜63
1.248 86×105
58987
11
1.373 75×106
1.580 84×109
63〜65
1.373 59×105
58993
6
8.241 54×105
1.581 66×109
65〜67
1.506 36×105
58993
0
0.000 00×105
1.581 66×109
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Kda＝294.1，Vm＝100.00 mL，m＝25.2 mg＝25.2×10−3 g，VT＝333.695 0 mL，ρ＝2.23 g/mLとして測定し
た。
表E.1から∑∆
i
iV
N
＝1.581 66×109 μm3＝1.581 66×109×10−12 mLと求まるので，式 (E.1) を用いると，
1.
379
10
10
66
581
.1
23
.2
0
695
.
333
10
2.
25
00
.
100
1.
294
3
12
9
3
d
=
×
×
×
×
×
×
=
−
−
K
粒子径区間の平均粒子体積
i
iV
N
∆
及び全粒子体積∑
=
∆
n
i
i
iV
N
1
は，粒子径測定装置に搭載されたソフトウエ
アによって算出される。ソフトウエア仕様に関する詳細情報については，装置の製造業者，又は装置の取
扱説明書で確認しておかなければならない。
E.3
マスバランス法
E.3.1 概要
マスバランスとは，粒子径分布の測定結果から算出される粒子体積と，既知容積の電解質溶液に分散さ
れた粉体試料の質量から得られる真の粒子濃度に基づき算出される粒子体積とを比較することである。こ
れらの粒子体積の比は，測定装置で測定される粉体の割合を示しており，微小な粒子が測定されたかどう
かの指標となる（E.1参照）。
E.3.2 記号
この附属書で使用する主な記号は，次による。
Mm
粒子径分布の測定結果から算出される粒子質量
Mb
測定装置で測定される粉体の割合
E.3.3 校正
測定装置の校正は，できればE.2.4〜E.2.6で説明した質量校正の手順に従って行うことが望ましい。懸
濁液の測定容積VmはE.2.1によって，また粒子の浸せき密度ρはE.2.2によってそれぞれ決定しなければ
ならない。測定装置の校正は，微小球形粒子法によって行ってもよい。
E.3.4 試料調製
質量mの粉体を容積VTの電解質溶液と分散剤の中に分散することで，懸濁液を調製する。粉体試料と
電解質溶液の質量は，できるだけ高い精度でひょう量する。
E.3.5 手順
粒子が十分に分散した状態で測定を開始する。アパチャーが清浄であることを確認して，リニヤスケー
ルを用いて粒子径分布を慎重に測定する。十分に精度良く計算するためには，粒子径区間を狭くしなけれ
ばならない（つまり，できるだけ多くのチャンネルでカウントする。）。また，同時通過補正後のカウント
数を記録して，計算に使用しなければならない。
E.3.6 計算
粒子径分布から算出される粒子質量は，式 (E.3) を用いて算出することができる。
(
)
m
T
m
V
V
V
N
M
i
i
∑∆
=
ρ
······························································· (E.3)
測定装置で測定される粉体の割合は，式 (E.4) を用いて百分率で算出することができる。
%
100
m
b
×
=m
M
M
··································································· (E.4)
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E.3.7 結果
粒子径分布から算出される粒子体積と，既知容積の電解質溶液に分散された粉体試料の質量によって決
まる真の粒子濃度から算出された粒子体積との比は3 ％を超えてかい（乖）離してはならない。3 ％以上の
場合は，すべての粒子を一つのアパチャーで測定できないことを示している。その場合は，二つ（又はそ
れ以上）のアパチャーを使用する方法（附属書B参照）によって，できるだけ高い精度で測定しなければ
ならない。
E.3.8 報告
質量積分法の手順のすべてと全データの詳細を適切なデータシートを用いて報告することが重要である。
E.3.9 マスバランス法の一例
校正の一例を，表E.2に示す。
表E.2−マスバランスの一例
直径
μm
iV
μm3
Ni
ΔNi
i
iV
N
∆
μm3
∑∆
i
iV
N
μm3
19.33〜21.91
4.644 45×103
487
487
2.261 85×106
2.261 85×106
21.91〜24.49
6.598 91×103
898
411
2.712 15×106
4.974 00×106
24.49〜27.07
9.038 52×103
1301
403
3.642 52×106
8.616 52×106
27.07〜29.65
1.201 72×104
1691
390
4.686 72×106
1.330 32×107
29.65〜32.23
1.558 90×104
2190
499
7.778 92×106
2.108 22×107
32.23〜34.80
1.979 83×104
2921
731
1.447 25×107
3.555 47×107
34.80〜37.38
2.470 70×104
4175
1254
3.098 26×107
6.653 73×107
37.38〜39.96
3.037 87×104
6678
2503
7.603 78×107
1.425 75×108
39.96〜42.54
3.685 89×104
11602
4924
1.814 93×108
3.240 68×108
42.54〜45.12
4.420 18×104
20384
8782
3.881 80×108
7.122 48×108
45.12〜47.69
5.244 34×104
31583
11199
5.873 14×108
1.299 56×109
47.69〜50.27
6.165 35×104
42342
10759
6.633 30×108
1.962 89×109
50.27〜52.85
7.190 39×104
50083
7741
5.566 08×108
2.519 50×109
52.85〜55.43
8.323 24×104
54548
4465
3.716 33×108
2.891 13×109
55.43〜58.01
9.569 31×104
56803
2255
2.157 88×108
3.106 92×109
58.01〜60.58
1.093 11×105
57840
1037
1.133 56×108
3.220 28×109
60.58〜63.16
1.241 67×105
58369
529
6.568 42×107
3.285 96×109
63.16〜65.74
1.403 42×105
58659
290
4.069 93×107
3.326 61×109
65.74〜68.32
1.578 66×105
58804
145
2.289 06×107
3.349 55×109
68.32〜70.90
1.767 91×105
58894
90
1.591 12×107
3.365 46×109
70.90〜73.47
1.971 30×105
58936
42
8.279 45×106
3.373 74×109
73.47〜76.05
2.189 75×105
58963
27
5.912 32×106
3.379 65×109
76.05〜78.63
2.424 23×105
58976
13
3.151 50×106
3.382 81×109
78.63〜81.21
2.674 88×105
58987
11
2.942 37×106
3.386 08×109
81.21〜83.79
2.942 25×105
58993
6
1.765 35×106
3.387 84×109
83.79〜86.37
3.226 87×105
58993
0
0.000 00
3.387 84×109
Vm＝100.00 mL，m＝25.2 mg＝25.2×10−3 g，VT＝333.695 0 mL，ρ＝2.23 g/mLとして測定した。
表E.2から∑∆
i
iV
N
＝3.387 84×109 μm3＝3.387 84×109×10−12 mLと求まるので，式 (E.3) と式 (E.4) を用
いると，
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Mm＝
00
.
100
0
695
.
333
23
.2
10
10
84
387
.3
12
9
×
×
×
×
−
g＝0.025 21 g，
Mb＝
100
10
2.
25
21
025
.0
3×
×
−
＝100.0となる。
すなわち，用いたアパチャーでは回収率が100 ％になる。
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附属書F
（参考）
頻繁に使用するアパチャーの校正及び管理
この手順は，継続的に使用したり，使用頻度の極めて高いアパチャーの取扱いに関するものである。短
期間（例えば，1日，できれば1週間）の期間で，微小球形粒子を用いて連続20回の校正をする（6.2.2
参照）。このデータから，平均校正定数
d
Kとその標準偏差 を計算する。これらのデータの，警戒限界
を ，そして処置限界を に設定したシューハート管理図（参考文献 [18] 参照）にプロ
ットする。平均校正定数
d
Kは，次の測定に使用される。平均を用いることは，定数の確率誤差を減少さ
せる。もし，結果が と の間（警戒領域）になったときには，校正を直ちに繰り返さなくては
ならない。連続した2回の結果が から外れた場合，及び1回の結果が から外れた場合
は，洗浄と修理を行う。
d,
d
2
K
K
σ
±
d,
d
3
K
K
σ
±
d,
K
σ
d,
d
2
K
K
σ
±
d,
d
3
K
K
σ
±
d,
2
K
σ
±
d,
3
K
σ
±
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附属書JA
（規定）
同時通過粒子の影響
粒子がアパチャーを単独で通過した場合は，各粒子が単一パルスを作り，理想的なデータが得られる。
しかし，二つ又はそれ以上の粒子が同時に検知帯に到着するときに生じるパルスは，複合したものになる。
すなわち，結果的に計数の数え落としが起こり，事実上単一の大きな粒子信号が記録されて，大きなパル
ス一つだけを得るか，正しく計数されるが粒子径が重複して大きく扱われるか，又は一部の粒子は計数さ
れないかである。この結果は，得られた粒子径分布をゆがめることになるが，濃度を下げることによって，
ゆがみを最小化することが可能である。表JA.1は，同時通過率が5 ％となる1 mL当たりのカウント数を
示す。1 mL当たりのカウント数は，常に表JA.1の5 ％同時通過数の値より小さな数であるべきである。
粒子径分布は濃度の関数ではないので，同時通過の影響は，ある濃度での分布と，その濃度を半分にした
ときに得られた分布を比較することで確認することができる。このテストでは，最もカウント数の大きな
チャンネルのカウント数の減少が希釈倍率に比例するところまで希釈を繰り返す。この手法は，同時通過
の影響が顕著となる非常に狭い粒子径分布の場合に用いられる。
表JA.1−代表的なアパチャーを用いたときのカウントに対して
5 ％の同時通過が発生するカウント数
アパチャー径D
μm
測定容積a) Vm
mL
5 %同時通過数N b)
1000
2
80
560
2
455
400
2
1250
280
2
3645
200
2
10000
140
2
29150
100
0.5
20000
70
0.5
58500
50
0.05
16000
30
0.05
74000
20
0.05
250000
注a) 他のサンプリング容積については，比例配分した値を用い
る。
b) 次の式を用いて計算する。N＝4×1010Vm/D3
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附属書JB
（規定）
不感時間
デジタル信号処理を用いた装置において，信号を測定するために高周波で走査されている。パルス上の
情報，例えば最大パルス高さ，最大パルス幅，中間パルス高さ，中間パルス幅，パルス面積などが，次の
測定のために保存される。このケースでは，パルスの大きさ情報のアナログからデジタルに変換すること
はリアルタイムに行われてはいないが，不感時間によるロスは回避されている。パルスの高さ測定手法が
使われた装置においては，通常データの取扱いではリアルタイムである。測定装置はパルスを受信した後，
与えられた時間の間カウントできない可能性がある，なぜなら，それぞれのパルスの処理は有限な時間を
必要とする。不感時間はパルスの高さの関数ではない。それゆえ，ロスは各チャンネルのカウント数に比
例し，粒子径分布に影響を与えない。
不感時間の影響を最小化するためには，図JB.1の中のAで示されるように，熱的な雑音及び電気的な
雑音を除外できる最も低いいき（閾）値を設定すべきである。
なお，粒子濃度は，同時通過レベルが5 ％以下になるように調整すべきである。
X チャンネル
Y 計数値
注記 チャンネルAより下のチャンネルの計数値は，ノイズの計数値。粒子の真の計数値
は，チャンネルA以上のチャンネルの計数値である。
図JB.1−典型的な測定結果
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Z 8832：2010
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附属書JC
（規定）
装置及びシステムの線形性
JC.1
アパチャー及び増幅器の線形性
アパチャー／増幅システムの直線性は，認証されたモード径をもつ単分散の粒子から構成される4種類
の物質を用いて検査することができる。適切な電解質溶液を用い，約0.3 Dの大きさの粒子を用いて校正
する（6.2.2参照）。さらに3種類の大きさの粒子，約0.1 D，約0.2 D，約0.5 Dの大きさの粒子を懸濁液に
追加する。懸濁液を再度測定して，これらの増えたピークに対応する粒子径が5 ％以内の精度で粒子本来
の粒子径に相当することを確認する。
JC.2
計数システムの線形性
計数システムの線形性は，任意の濃度で3回測定することで検証できる。その後，濃度を下げて更に3
回測定する。このときに，同時通過補正を必ず行わなくてはならない。計数平均値の比率は，希釈比率と
同じとなる。もし，値の一致が5 ％以内に納まらなければ，更に2回希釈して測定し，濃度の薄い2種類
の測定値を比較して，値の一致が5 ％以内になるまで測定を繰り返す。その後の測定は，最良の結果を示
した希釈度で実施することが望ましい。
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参考文献
[1] COULTER, W. H., US Patent No. 2, 656, 508. Appl. 27 August 1949. Publ. 20 October 1953.
[2] SCARLETT, B., Theoretical derivation of the response of a Coulter counter, 2nd Eur. Symp. on particle
characterization, PARTEC Nuremberg, 1979, pp. 681〜693.
[3] HARFIELD, J. G., WHARTON, R.T. and LINES, R.W., Response of the Coulter counter® model ZM to spheres. Part.
Charact., 1, 1984, pp. 32〜36.
[4] LINES, R. W., The Electrical Sensing Zone Method (The Coulter Principle). Particle Size Analysis, Royal
Society of Chemistry, Cambridge, 1992, pp. 350〜373.
[5] ULLRICH, W. J., Rapid particle size analysis of metal powders with an electronic device. Modern Developments
in Powder Metallurgy, Plenum Press, 1966, volume 1, pp. 125〜143.
[6] BATCH, B. A., J. Inst. Fuel, October 1964, pp. 455〜461.
[7] COULTER, W. H., Proceedings of the Society of the National Electronics Conference, 12, 1956, pp. 1034〜1042.
[8] THOM, R., HAMPE, A. and SAUERBREY, G., Die elektronische Volumenbestimmung von Blutkörperchen und ihre
Fehlerquellen, Z. ges. exp. Med., 151, 1969, pp. 331〜349.
[9] GÖRANSSON, B., and DAGÈRUS, E., Image analysis as a tool for calibration of electrical sensing zone
instruments in the measurement of porous spherical particles in: Particle Size Analysis, Lloyd, P.J., ed, John
Wiley and Sons Ltd., 1988, pp. 159〜166.
[10] ASTM E 1772-95:2001, Standard test method for particle size distribution of chromatography media by electric
sensing zone technique
[11] FIGUEIREDO, M. M., GRACA, M., SANTOS, C., MONTEIRO, M., Mass calibration of the Coulter counter model
ZM. Part. Part. Syst. Charact. 8, 1991, pp. 294〜296.
[12] BONFERONI, M. C., CIOCCA C., MERKUS, H. G., CARAMELLA, C., Proposal of a procedure for mass recovery of
standard materials. Comparison between two electrical sensing zone instruments. Part. Part. Syst. Charact. 15,
1988, pp. 174〜179.
[13] HAJEK, M., Simpson's Rule, An Ingenious Method for Approximating Integrals, MacTech Magazine, The
Journal of Macintosh Technology, Volume 9, Issue 10.
(http://www.mactech.com/articles/mactech/Vol.09/09.10/SimpsonsRule/index.html)
[14] HORAK, D., PESKA, F., SVEC, F., STAMBERG, J., Powder Technology, 31, 1982, p 263.
[15] Van der PLAATS, G., HERPS, H., Powder Technology, 38, 1984, p 73.
[16] JIS Z 8827-1 粒子径解析−画像解析法−第1部：静的画像解析法
注記 対応国際規格：ISO 13322-1，Particle size analysis−Image analysis methods−Part 1: Static image
analysis methods
[17] JIS K 5101-11-1 顔料試験方法−第11部：密度−第1節：ピクノメータ法
注記 対応国際規格：ISO 787-10，General methods of test for pigments and extenders−Part 10:
Determination of density−Pyknometer method（MOD）
[18] JIS Z 9021 シューハート管理図
注記 対応国際規格：ISO 8258，Shewhart control charts（MOD）
[19] 粉体工学会編，粒子径計測技術，日刊工業新聞社 1994，pp. 199〜214.
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
[20] 椿 淳一郎，早川 修，現場で役立つ粒子径計測技術，日刊工業新聞社 2001，pp. 111〜114.
[21] 永井 豊，近藤 弘，巽 典之，第3章 血球分析基本技術 2.電気抵抗法，in 巽 典之，血液検査研究会
編，計測技術ティーチング，宇宙堂八木書店 2006，pp.72〜87
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附属書JD
（参考）
JISと対応国際規格との対比表
JIS Z 8832:2010 粒子径分布測定方法−電気的検知帯法
ISO 13319:2007 Determination of particle size distributions−Electrical sensing zone
method
(I)JISの規定
(II)
国際
規格
番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の
箇条ごとの評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差異の理由
及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
1 適用範囲
電気的検知帯法による粒
子径測定法について規定
する。
1
JISとほぼ同じ
変更
ISO規格は，多孔質物質及
び金属粉のような導電性物
質の測定に関するガイダン
スを入れたことを規定して
いるが，JISでは削除した。
ISO規格で規定された導電性物質の測定
に関するガイダンスは附属書A（参考）で
あり，規定ではないのでJIS本体の規定と
しては削除し，注記として示した。
ISO規格改正時に検討を求める。
2 引用規格
3 用語及び
定義
7個の用語について定義
を規定。
3
JISとほぼ同じ
変更
JISは，チャンネルにおける
ISO規格の説明に規定を追
加した。
ISO規格のチャンネルに対する定義は分
かりにくいので，JISでは規定を追加した。
ISO規格の改正のときに修正を求める。
4 記号
18個の記号について説
明した。
4
20個の記号について説
明されている。
変更
用いていない記号を削除
し，記号の順序をJISの様
式に従った。また，必要な
記号を追加した。
ISO規格改正時に検討を求める。
5 測定原理
5.1 一般
電気的検知帯法の原理を
規定した。
5
JISと同じ
一致
−
5.2 出力応
答
球形粒子の場合の電気的
出力と粒子体積の関係を
規定し，球形以外の形状
のときについても説明し
た。
6
6.1
JISとほぼ同じ
一致
−
5.3 測定限
界
電気的検知帯法による検
出可能粒子径とアパチャ
ー径の関係を規定した。
6.2
JISと同じ
一致
−
2
Z
8
8
3
2
：
2
0
1
0
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(I)JISの規定
(II)
国際
規格
番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の
箇条ごとの評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差異の理由
及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
6 測定の準
備
6.1 装置の
設置
装置の設置環境について
規定した。同時通過粒子，
不感時間，装置及びシス
テムの線形性の検定法は
附属書JA〜附属書JCに
よるとした。
6.3
6.4
8
8.1
8.2
8.3
同時通過粒子，不感時間
の検定法を述べている。
装置の設置環境につい
て規定している。
装置及びシステムの線
形性の検定法を規定し
ている。
変更
JISは，同時通過粒子，不感
時間，装置及びシステムの
検定について附属書に示し
たことをのべたが，ISO規
格は本体に規定している。
同時通過粒子，不感時間，装置及びシステ
ムの検定については，装置の通常の使用に
おいては必要ないので，JISでは附属書と
した。
ISO規格改正時に検討を求める。
6.2 校正
6.2.1 一般
校正方法に球形のラテッ
クス粒子を使用する方法
と質量積分法による方法
がある。多孔質粒子の場
合に校正の注意について
も触れた。
8.10
8.10.1
JISと同じ
一致
−
6.2.2 校正手
順−微小球形
粒子による校
正
微小球形粒子による校正
について規定した。
8.10.2 JISとほぼ同じ
一致
−
6.3 電解質
溶液の選択
6.3.1 一般
電解質溶液の選択方法の
概要について規定した。
8.4
8.4.1
電解質溶液の選択方法
の概要について規定し
た。
変更
JISではアパチャー範囲を
明確にした。
ISO規格改正時に検討を求める。
6.3.2 小さな
アパチャーの
場合（D≦50
μm）
電解質溶液に4 %塩化ナ
トリウム水溶液又は同等
の電導度をもつものを推
奨。0.2 μmメンブレンフ
ィルターで2回ろ過する
ことを薦めた。
8.4.2
JISと同じ
一致
−
6.3.3 大きな
アパチャーの
場合（D≧400
μm）
高速流によるノイズ防止
方法について規定した。
8.4.3
JISと同じ
一致
−
2
Z
8
8
3
2
：
2
0
1
0
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(I)JISの規定
(II)
国際
規格
番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の
箇条ごとの評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差異の理由
及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
6.4 電解質
溶液の調製
電解質溶液のバックグラ
ウンド測定方法とバック
グラウンド計数値につい
て規定した。
8.5
JISと同じ
一致
−
6.5 推奨す
るサンプリン
グ方法，分割
方法，試料調
製及び分散方
法
6.5.1 一般
サンプリング方法及び分
割方法の参照規格，並び
に試料による分散剤及び
分散液について参照規格
を示した。
8.6
8.6.1
JISと同じ
一致
−
6.5.2 ペース
トの利用
サンプル量を0.2 cm3程
度とし，粉末状の場合の
調製方法を規定した。
8.6.2
サンプル量及び粉末状
の場合の調製方法を規
定している。
変更
ペースト状試料に加える電
解質溶液と分散剤の順序が
異なる。
JISの方法がよりよい粒子分散状態を作り
出すと考えられ，ISO規格改正時に検討を
求める。
6.5.3 50 μm
未満の低密度
粒子の分散方
法
サンプル量を約1 gとし，
調製方法を規定した。
8.6.3
JISと同じ
一致
−
6.5.4 懸濁液
及びエマルシ
ョン
懸濁液及びエマルション
を電解質溶液で希釈する
方法について規定した。
8.6.4
JISと同じ
一致
−
6.5.5 分散状
態の検証
顕微鏡による分散状態の
検証方法について規定し
た。
8.6.5
JISと同じ
一致
−
6.6 アパチ
ャーと測定容
積の選択
測定粒子によるアパチャ
ーの選択方法について規
定した。
8.7
JISと同じ
一致
−
2
Z
8
8
3
2
：
2
0
1
0
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(I)JISの規定
(II)
国際
規格
番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の
箇条ごとの評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差異の理由
及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
7 測定
7.1 手順
電気的検知帯法の測定装
置による標準的な手順を
規定した。
−
−
追加
−
この規格は測定方法の規格であるので，標
準的な手順を示す方が望ましい。
ISO規格の改正時に追加を求める。
7.2 測定上
の留意事項
7.2.1 分散状
態の安定性の
検証
分散状態の安定性の検証
方法及び判定方法を示し
た。
8.9
JISと同じ
一致
−
7.2.2 計数の
再現性
各粒子径区間で得られた
計数値がポアソン分布に
従うかどうかについてカ
イ二乗検定を行うことを
規定した。
7
JISと同じ
一致
−
7.2.3 アパチ
ャーの洗浄
アパチャーの詰まりの検
査方法及び5種類の洗浄
方法を示した。
8.8
JISと同じ
一致
−
7.2.4 測定精
度の向上
粒子径の分布が広い場
合，複数のアパチャーを
使用すること及び測定精
度を向上させるため，複
数回の測定を行うことを
規定した。
9
JISと同じ
一致
−
8 試験結果
の表し方
得られた各チャンネルの
粒子数データから体積基
準の粒子径分布に変換す
る場合，シンプソンの法
則を適用することを規定
した。
10
JISと同じ
一致
−
9 試験結果
の報告
報告すべき9項目を示し
た。
11.2
すべての検査手順及び
データを詳細に報告す
る。
追加
ISO規格は具体性に乏しい
ので，JISでは報告項目の形
で具体化させた。
使用者にとってJISの方式が分かりやす
いので，ISO規格改正時に修正を求める。
2
Z
8
8
3
2
：
2
0
1
0
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
(I)JISの規定
(II)
国際
規格
番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の
箇条ごとの評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差異の理由
及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
附属書A
（参考）
附属書B
（参考）
附属書C
（参考）
附属書D
（参考）
附属書E
（参考）
附属書F
（参考）
附属書JA
（規定）
同時通過粒子
の影響
同時通過粒子の影響及び
処理の仕方を規定した。
6.3
JISと同じ
一致
ISO規格では，この内容を
本体に入れているが，JIS
では附属書とした。
同時通過粒子の影響が顕著になるのは粒
子径分布が狭い特別な場合である。ISO規
格改正時に検討を求める。
附属書JB
（規定）
不感時間
不感時間の存在と調整方
法について規定した。
6.4
JISと同じ
一致
ISO規格では，この内容を
本体に入れているが，JIS
では附属書とした。
不感時間の存在説明は規格としての規定
項目ではなく，通常は装置の製造業者が調
製すべきものであるので，ISO規格でも附
属書とした方が適切と考える。ISO規格改
正時に再度議論を求める。
附属書JC
（規定）
装置及びシス
テムの線形性
アパチャー及び増幅器の
線形性の検査方法，並び
に計数システムの線形性
の検証方法について規定
した。
8.2
8.3
JISと同じ
一致
アパチャー及び増幅器の線
形性並びに計数システムの
線形性の検証は，通常は装
置製造業者が行うことで，
使用者が行う必要はない。
このためJISでは附属書と
した。
この規格は使用者のためのものであるは
ずなので，ここにおける内容は本体ではな
く附属書にすることが適切と思われる。
ISO規格の改正時に検討を求める。
2
Z
8
8
3
2
：
2
0
1
0
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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Z 8832：2010
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
JISと国際規格との対応の程度の全体評価：ISO 13319:2007，MOD
注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は，次による。
− 一致 ················· 技術的差異がない。
− 追加 ················· 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
− 変更 ················· 国際規格の規定内容を変更している。
注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次による。
− MOD ················ 国際規格を修正している。
2
Z
8
8
3
2
：
2
0
1
0
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。