JISZ8737-1:2000 音響－作業位置及び他の指定位置における機械騒音の放射音圧レベルの測定方法

Z 8737-1 : 2000 (ISO 11201 : 1995)

(1)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

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序文 ··································································································································· 1

1. 適用範囲 ························································································································ 2

1.1 一般事項 ······················································································································ 2

1.2 騒音及び騒音源の種類····································································································· 2

1.3 試験環境 ······················································································································ 2

1.4 指定位置（測定位置）····································································································· 2

1.5 測定の不確かさ ············································································································· 3

2. 引用規格 ························································································································ 5

3. 定義 ······························································································································ 5

3.1 放射 (emission) ·············································································································· 5

3.2 放射音圧 (emission sound pressure) p ···················································································· 5

3.3 放射音圧レベル (emission sound pressure level) Lp ·································································· 6

3.3.1 時間平均放射音圧レベル (time-averaged emission sound pressure level) Lpeq, T ···························· 6

3.3.2 ピーク放射音圧レベル (peak emission sound pressure level) Lp, peak ·········································· 6

3.3.3 単発放射音圧レベル (single-event emission sound pressure level) Lp, 1s ······································· 6

3.4 騒音の衝撃性に関する指数 (impulsive noise index, impulsiveness ················································ 7

3.5 反射面上の自由音場 (free field over a reflecting plane) ······························································ 7

3.6 作業位置，オペレータの位置 (work station ; operatorʼs position) ················································· 7

3.7 オペレータ (operator) ······································································································ 7

3.8 指定位置 (specified position) ······························································································ 7

3.9 作動別時間 (operational period ··························································································· 7

3.10 作動サイクル (operational cycle) ······················································································· 7

3.11 測定時間 (measurement time interval) ·················································································· 7

3.12 時刻歴 (time history) ······································································································ 7

3.13 暗騒音 (background noise) ······························································································· 7

3.14 暗騒音レベル (background noise level) ················································································ 7

3.15 暗騒音補正値 (background noise correction) K1 ····································································· 7

3.16 環境指標 (environmental indicator) K2················································································· 7

4. 測定の不確かさ ··············································································································· 8

5. 測定器 ··························································································································· 8

6. 試験環境 ························································································································ 8

6.1 測定対象機器近傍の自由空間内の指定位置 ·········································································· 8

6.2 試験環境の適性基準 ······································································································· 9

6.3 運転室等の内部にある作業位置 ························································································· 9

6.4 暗騒音 ························································································································· 9

Z 8737-1 : 2000 (ISO 11201 : 1995) 目次

(2)

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6.5 測定中の環境条件 ·········································································································· 9

7. 測定量 ··························································································································· 9

8. 算出量 ·························································································································· 10

9. 測定対象機器の設置及び作動 ···························································································· 10

9.1 一般事項 ····················································································································· 10

9.2 測定対象機器の位置 ······································································································ 10

9.3 測定対象機器の据付け···································································································· 10

9.3.1 手持ち形機器 ············································································································· 11

9.3.2 床置き形機器及び壁掛け形機器 ····················································································· 11

9.4 補助装置 ····················································································································· 11

9.5 機器の作動 ·················································································································· 11

10. 測定 ··························································································································· 12

10.1 測定時間 ···················································································································· 12

10.1.1 一般事項 ·················································································································· 12

10.1.2 定常騒音 ·················································································································· 12

10.1.3 非定常騒音 ··············································································································· 12

10.1.4 周波数バンドでの測定 ································································································ 12

10.2 測定手順 ···················································································································· 12

10.2.1 一般事項 ·················································································································· 12

10.2.2 測定の回数 ··············································································································· 13

10.2.3 衝撃性の騒音の測定 ··································································································· 13

11. マイクロホンの位置 ······································································································· 13

11.1 一般事項 ···················································································································· 13

11.2 着席しているオペレータ ······························································································· 14

11.3 起立しているオペレータ ······························································································· 14

11.4 指定経路に沿って移動するオペレータ ············································································· 14

11.5 バイスタンダ及び無人運転機械 ······················································································ 14

12. 記録事項 ····················································································································· 15

12.1 測定対象機器 ·············································································································· 15

12.2 作動条件 ···················································································································· 15

12.3 試験環境 ···················································································································· 15

12.4 測定器 ······················································································································· 15

12.5 測定位置 ···················································································································· 15

12.6 測定結果 ···················································································································· 15

13. 報告事項 ····················································································································· 16

附属書A（参考）騒音の衝撃性の判定指針············································································· 17

附属書B（参考）試験卓の例······························································································· 18

附属書C（参考）参考文献·································································································· 19

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日本工業規格 JIS

Z 8737-1 : 2000

(ISO 11201 : 1995)

音響−作業位置及び他の

指定位置における機械騒音の

放射音圧レベルの測定方法−第1部：

反射面上の準自由音場における実用測定方法

Acoustics−Noise emitted by machinery and equipment−

Measurement of emission sound pressure levels at a work station

and at other specified positions−Engineering method

in an essentially free field over a reflecting plane

序文この規格は，1995年に第1版として発行されたISO 11201, Acoustics−Noise emitted by machinery and

equipment−Measurement of emission sound pressure levels at a work station and at other specified positions−

Engineering method in an essentially free field over a reflecting planeを翻訳し，技術的内容及び規格票の様式を

変更することなく作成した日本工業規格である。

なお，この規格で点線の下線を施してある“参考”は，原国際規格にはない事項である。

0.1

この規格は，反射面上の準自由音場において，1台の機械，又は1台の装置近傍の作業位置及び他の

指定位置における放射音圧レベルを測定する一つの方法について規定する。一般に，これらの音圧レベル

は，その機械又は装置がその通常の周囲環境内で作動しているときに発生する音圧レベルに等しいか，又

は低くなる。なぜならば，放射音圧レベルは，測定対象機器が置かれている反射面以外からの反射の影響

だけではなく，暗騒音の影響も除いて算出されるからである。

0.2

この規格は，機械，装置又はその部品（測定対象機器）の個々の騒音放射を測定する種々の方法に

ついて規定したJIS Z 8737シリーズの一つである。

ISO 11200では，機械及び装置の放射音圧レベルの算出方法の選択の指針を示す。また，同国際規格は，

音響パワーレベルの算出方法について規定した一連の国際規格の詳細も示す。

参考1. この規格 (JIS Z 8737-1) 及びJIS Z 8737-2が，ISO 11201及びISO 11202にそれぞれ一致して

いる。原国際規格であるISO 11200シリーズの他の規格は，現在，JIS化されていない（表1

参照）。

2. 原国際規格中の“machinery”及び／又は“equipment”を，以下，文脈に応じて特に断ること

なく“機器”，“機械”又は“装置”と呼ぶ。

3. 原国際規格であるISO 11200シリーズでは，この規格のように機器の種類を限定せず適用さ

れる通則規格を“basic standard”と呼ぶのに対し，特定の種類の機器のための詳細な測定条

件を規定した規格を“noise test code”と呼んでいる。以下，この規格では，“noise test code”

Z 8737-1 : 2000 (ISO 11201 : 1995)

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を“個別規格”と呼ぶ。

通則規格に基づいて個別規格を作成するための要件がISO 12001で規定されている。

1. 適用範囲

1.1

一般事項この規格は，反射面上の準自由音場において，機械及び装置近傍の作業位置及び他の指

定位置における放射音圧レベルを測定する一つの方法について規定する。作業位置とは，オペレータによ

って専有される場所を指す。それは，音源が作動する室内にあってもよいし，音源に固定された運転台の

内部又は音源から離れた位置にあるきょう体の内部に配置してもよい。作業位置近傍又は無人運転機械近

傍に，1か所又は複数の指定位置を配置することができる。これらの位置の幾つかは，一時的又は常時オ

ペレータ以外の人員に専有されることがあるので，バイスタンダ位置と呼ばれる。

放射音圧レベルは，A特性，並びに必要に応じてC特性（ピーク音圧レベルの場合）及び周波数バンド

ごとに測定される。

備考1. JIS Z 8737シリーズ及び関連する国際規格の内容が，表1で要約されている。

この規格は，試験環境及び測定器に対し，実用グレードの精度を得るための要件を規定す

る。暗騒音に対しては補正を適用するが，測定環境内の反射又は吸音に対しては補正を適用

しない。測定対象機器の設置及び作動に関する指示，並びに作業位置及び他の指定位置のた

めのマイクロホンの位置の選択に関する指示を規定する。測定の目的は，定義された試験環

境で標準化された設置及び作動条件の下，同種の機械又は装置の個々の性能を比較可能にす

ることである。得られたデータは，ISO 4871に従い放射音圧レベルの公示及び検証にも使わ

れることがある。

2. ある特定の機械との関係において規定された位置において，所定の設置及び作動条件の下，

この規格に従い算出した放射音圧レベルは，その同じ機械が使われる典型的な作業室内で直

接測定した音圧レベルよりも一般に低くなる。なぜならば，後者の場合，反射及び他の機械

からの寄与を含んでいるからである。通常観測される差は，1dB〜5dBであるが，場合によ

ってはもっと大きいことがある。作業室内で単独で作動している機械近傍における音圧レベ

ルの計算方法が，ISO 11690-3で規定されている。

1.2

騒音及び騒音源の種類この規格に規定する方法は，屋内又は屋外で使用される移動する機械及び

定置の機械のどちらにも適用可能である。

この方法は，あらゆる大きさの機器に対して適用可能であり，かつ，JIS Z 8733 : 2000の附属書Fで定

義するあらゆる種類の騒音に適用可能である。

1.3

試験環境放射音圧レベル算出の精度は，どのような試験環境を使うかによって影響される。この

規格では，反射面上の準自由音場（屋内又は屋外）が必す（須）である。

1.4

指定位置（測定位置）この規格は，放射音圧レベルを測定すべき作業位置及び他の指定位置に適

用する。測定が行われる位置の例には，次のものがある。

a) 測定対象機器近傍の作業位置。これは，多くの産業機械や家庭用機器などの場合に相当する。

b) 測定対象機器の一部を構成する運転台内部の作業位置。これは，工業用トラックや建設機械などの場

合に相当する。

c) 測定対象機器の一部として製造業者から供給されるきょう体によって，部分的又は完全に囲われたと

ころの内部（若しくは衝立の後側）にある作業位置。

d) 測定対象機器によるか，又はその一部分によって囲まれた作業位置。このような状況は，ある種の大

-1

)

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表1 作業位置及び他の指定位置における放射音圧レベル測定のための日本工業規格・国際規格の一覧

パラメータ

JIS Z 8737-1

(ISO 11201)

実用測定方法

JIS Z 8737-2

(ISO 11202)

簡易測定方法

ISO 11203

パワーレベルからの算出

実用又は簡易測定方法

ISO 11204

実用又は簡易測定方法

試験環境

屋外又は屋内

音響パワーレベル規格による。屋外又は屋内

環境指標

K2A≦2dB

K2A≦7dB

音響パワーレベル規格による。 K2A≦7dB

環境補正値

補正してはならない。

K3A≦2.5dB

音響パワーレベル規格による。 K3A≦2dB（実用測定方法）

K3A≦7dB（簡易測定方法）

音源の大きさ

無制限。利用可能な試験環境
にだけ限定される。

小型で大量生産される機械に適
す。

無制限。利用可能な試験環境にだ
け限定される。

騒音の種類

任意（広帯域，狭帯域，離散周波数，定常，非定常，衝撃性）音響パワーレベル規格による。任意

暗騒音の限度1）

△L≧6dB（15dB以上が望まし
い。），各指定位置でK1A≦
1.3dB

△L≧3dB

K1A≦3dB

音響パワーレベル規格による。 △L≧6dB（15dB以上が望まし

い。），各指定位置でK1A≦1.3dB

放射音圧レベルの算出位置

作業位置及び他の指定位置

作業位置及び他の指定位置（運
転室内部又は同様なものを除
く。）

作業及び他の指定位置

測定機器：（最低限適合すべき規格）
a) 騒音計
b) 積分形騒音計
c) バンドパスフィルタ
d) 音響校正器

a） IEC 60651 type1
b） IEC 60804 type1
c） IEC 61260 クラス1
d） JIS C 1515 クラス1

a） IEC 60651 type2
b） IEC 60804 type2

d）JIS C 1515 クラス1

音響パワーレベル規格による。

a） IEC 60651 type1
b） IEC 60804 type1
c） IEC 61260 クラス1
d） JIS C 1515 クラス1

算出量

LρA, Lρc, peak：オプションとして

バンドレベル

LρA, Lρc, peak

音響パワーレベル規格による。 LρA, Lρc, peak:オプションとしてバン

ドレベル

再現性標準偏差で表した，LρAの算出
方法の精度

およそ2.5dB以下2）

およそ5dB以下2）

音響パワーレベル算出に使われ
たそれに等しい。

およそ2.5dB以下（実用測定方法），
又は5dB以下（簡易測定方法）2）

関連する音響パワーレベル規格

JIS Z 8733

ISO 3746

ISO 3740シリーズ及び
JIS Z 8736シリーズ

JIS Z 8733（実用測定方法）
ISO 3746（簡易測定方法）

注1） △Lは，測定対象機器の作動中の音圧レベルと暗騒音レベルとの差。

2) 規格が適用される機器の範囲が広いので，これらの値は暫定的なものである。

参考表1は，ISO 11200のtable 1に基づいている。

Z 8737-1 : 2000 (ISO 11201 : 1995)

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2. 引用規格次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成す

る。これらの引用規格のうちで，発効年（又は発行年）を付記してあるものは，記載の年の版だけがこの

規格を構成するものであって，その後の改正版・追補には適用しない。発効年（又は発行年）を付記して

いない引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。

JIS C 1514 オクターブ及び1/Nオクターブバンドフィルタ

備考 IEC 61260 : 1995, Electroacoustics−Octave-band and fractional-octave-band filtersと，この規格が

一致している。

JIS C 1515 音響校正器

備考 IEC 60942 : 1997, Electroacoustics−Sound calibratorsと，この規格が一致している。

JIS Z 8732: 2000 音響−音圧法による騒音源の音響パワーレベルの測定方法−無響室及び半無響室

における精密測定方法

備考 ISO/DIS 3745 : 2000, Acoustics−Determination of sound power levels of noise sources using sound

pressure−Precision methods for anechoic and semi-anechoic roomsと，この規格が一致して

いる。

JIS Z 8733 : 2000 音響−騒音源の音響パワーレベル測定方法−反射面上の準自由音場における音圧

による実用測定方法

備考 ISO 3744 : 1994, Acoustics−Determination of sound power levels of noise sources using sound

pressure−Engineering method in an essentially free field over a reflecting planeに，この規格が

対応している。

ISO 3746 : 1995, Acoustics−Determination of sound power levels of noise sources using sound pressure−

Survey method using an enveloping measurement surface over a reflecting plane

ISO 11200 : 1995, Acoustics−Noise emitted by machinery and equipment−Guidelines for the use of basic

standards for the determination of emission sound pressure levels at a work station and at the other

specified positions

ISO 12001 : 1996, Acoustics−Noise emitted by machinery and equipment−Rules for drafting and

presentation of a noise test code

IEC 60651 : 1979, Sound level meters

IEC 60804 : 1985, Integrating-averaging sound level meters

3. 定義この規格では，次の定義を適用する。特定の種類の機器に対しては，該当する個別規格におい

て，より詳細な定義が規定される。

3.1

放射 (emission) 明確に定義された一つの騒音源（例えば，測定対象機器）から放射される空気伝

搬音。

備考3. 製品上への性能表示及び／又は製品仕様書中に，騒音放射に関する記述が含まれることがあ

る。騒音放射を記述する基礎量とは，その製品自身の音響パワーレベル並びに（規定されて

いる場合）音源近傍の作業位置及び/又は他の指定位置における放射音圧レベルである。

3.2

放射音圧 (emission sound pressure) p 一つの騒音源が，一つの反射表面上において，規定された作

動及び据付け条件の下で作動しているとき，その音源近傍の指定位置における音圧。ただし，試験目的で

認められている一つ又は複数ある平面以外からの反射の影響を除外するのと同様に，暗騒音の影響は除外

する。単位はパスカル (Pa) 。

Z 8737-1 : 2000 (ISO 11201 : 1995)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

3.3

放射音圧レベル (emission sound pressure level) Lp 放射音圧の二乗の，基準音圧の二乗に対する比

の常用対数の10倍。単位はデシベル (dB) ，基準音圧は20μPa。

参考上記の定義を式で表すと，次のようになる。

log

ここに， Lp：音圧レベル，単位はデシベル (dB)

p：放射音圧，単位はパスカル (Pa)

po：基準音圧，20μPa

備考4. 例えば，次のものを含む。

− 時間重み特性Fでの最大A特性放射音圧レベルLpAFmax

− C特性ピーク放射音圧レベルLpc, peak

放射音圧レベルは，該当する個別規格がある場合には，それに従い，ない場合には，JIS Z 8737シリー

ズ（又はこれらを適用できない場合だけ，ISO 11200シリーズの他の規格）に適合する方法に従い，指定

位置において算出する。

3.3.1

時間平均放射音圧レベル (time-averaged emission sound pressure level) Lpeq, T 測定時間Tの間で，

時間とともに変動する対象音と同じ平均二乗音圧をもつ，連続で定常な音の放射音圧レベル。単位はデシ

ベル (dB) 。次の式によって定義される。

()()

peq

∫

log

···················································· (1)

A特性時間平均放射音圧レベルは，量記号LpeqA, Tで表し，この規格ではLρAと省略する。LρeqA, Tは，IEC

60804に適合する測定器を使って測定する。

備考5. 時間平均放射音圧レベルは，必ずある特定の測定時間で測定されるものであるから，この規

格では，添え字eq及びTは省略される。

6. 式(1)は，ρ (t) を瞬時A特性音圧とすると，JIS Z 8731において環境騒音を記述する量として

定義した“等価騒音レベル”と同一である。しかし，上記で定義する放射量とは，1台の測

定対象機器によって放射される騒音を特徴付けるために使うものであり，その測定のために

は，管理された音響環境を使うと同時に，標準化された測定及び作動条件を使うことを前提

としている。

3.3.2

ピーク放射音圧レベル (peak emission sound pressure level) Lp, peak 一つの作動サイクルの中で発

生する瞬時放射音圧の絶対値の最大値を20μPaを基準としてレベル化したもの。単位はデシベル (dB) 。

3.3.3 単発放射音圧レベル (single-event emission sound pressure level) Lp, 1s 分離可能な単発の音事象を，

規定された持続時間T（又は規定された測定時間T）で時間積分して得られる放射音圧レベルを，T0＝1 (s)

で正規化したもの。単位はデシベル (dB) 。次の式によって定義される。

()()

∫

log

···················································· (2)

()

peq

log

備考7. 式(2)は，p (t) を瞬時A特性音圧とすると環境騒音を記述する量としてよく知られている“単

発騒音暴露レベル”の式と同一である。しかし，上記で定義する放射量とは，ある一つの音

源を特徴付けるために使うものであり，その測定のために管理された音響環境を使うことを

Z 8737-1 : 2000 (ISO 11201 : 1995)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

前提としている。

3.4

騒音の衝撃性に関する指数 (impulsive noise index, impulsiveness) ある一つの音源から放射された

騒音の“衝撃性”を判断するための量（附属書A参照）。単位はデシベル (dB) 。

3.5

反射面上の自由音場 (free field over a reflecting plane)

測定対象機器が設置されている，無限に広く硬い平面よりも上方の半空間にあり，均質で等方性の媒質

内部の音場。

参考原国際規格の規格名称との整合性をもたせるには，“反射面上の準自由音場”の定義が必要であ

るが，その定義は，JIS Z 8733の3.8Aで規定されている。

3.6 作業位置，オペレータの位置 (work station ; operatorʼs position) 測定対象機器近傍に想定され

るオペレータの位置。

3.7

オペレータ (operator) 機械近傍を作業位置とし，その機械を使って作業を行う者。

3.8

指定位置 (specified position) オペレータの位置を含んではいるが，それに限定されることなく，

対象とする機械との関係において定義される位置。その位置とは，該当する個別規格がある場合，それに

従い，一つの固定点又は複数の点とすることもできる。複数の点の場合，その機械からある規定された距

離だけ離れた経路に沿った点か，又は測定面上の点を組み合わせたものとすることができる。

備考8. 作業位置近傍又は無人運転機械近傍に配置した位置を，“バイスタンダ位置”と呼ぶことがあ

る。

3.9

作動別時間 (operational period) （例えば，食器洗い機の洗浄，すすぎ又は乾燥のように）測定対

象機器によって，一つの規定された工程が完了するまでの時間の長さ。

参考放射音圧レベルを算出する目的では，作動別時間とは，これ以上小さく分割できない工程の時

間を意味する。

3.10 作動サイクル (operational cycle) 測定対象機器が一つの完結した作業サイクルを実行するための，

一組の作動別時間。個々の作動別時間とは，（例えば，食器洗い機の洗浄，すすぎ又は乾燥のように）ある

特定の工程と関係付けられるものであって，一つの作動サイクルの間に，1回だけ発生することも，又は

繰り返し発生することもある。

3.11 測定時間 (measurement time interval) 作動別時間又は作動サイクルの一部若しくはそれらの整数

回であって，放射音圧レベル又は最大放射音圧レベルを測定するための時間。

3.12 時刻歴 (time history) 一つの作動サイクル上の一つ又は複数の作動別時間の間に得られる放射音

圧レベルを時間の関数として連続記録したもの。

3.13 暗騒音 (background noise) 測定対象機器以外のすべての音源からの騒音。

備考9. 暗騒音には，空気伝搬音，振動及び測定器内の電気雑音などが含まれることがある。

3.14 暗騒音レベル (background noise level) 測定対象機器が作動していないときに測定した音圧レベ

ル。単位はデシベル (dB) 。

3.15 暗騒音補正値 (background noise correction) K1 測定対象機器の指定位置における放射音圧レベル

への暗騒音の影響を考慮するための補正値。K1は周波数に依存する。単位はデシベル (dB) 。A特性の場

合の補正値K1Aは，A特性での実測値から算出する。

3.16 環境指標 (environmental indicator) K2 表面音圧レベルへの反射音又は吸音による影響を考慮する

ための指標。K2は，周波数に依存する。単位はデシベル (dB) 。A特性の場合，量記号はK2A（JIS Z 8732,

JIS Z 8733又はISO 3740シリーズ参照）。

Z 8737-1 : 2000 (ISO 11201 : 1995)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

4. 測定の不確かさこの規格の手順に従い算出した，一つの騒音源の放射音圧レベルの個々の値は，そ

の測定の不確かさの範囲の大きさ分，真の値からは異なっていると考えられる。放射音圧レベル算出にお

ける不確かさとは，複数の要因による影響の結果であり，原因の幾つかは測定室内の環境条件に関連し，

そして，あるものは測定技術に関連していると考えられる。

測定の不確かさは，再現性の標準偏差及び必要とする信頼区間に依存する。個々の位置における放射音

圧レベルの再現性の標準偏差を求めるには大量の測定データが必要である。再現性の標準偏差の値は，こ

の規格が適用される機械及び装置の種類によって大きく変動する。したがって，すべての場合に当てはま

る情報を提供することは不可能であり，個々の種類の音源に適用すべきデータについては，該当する個別

規格を引用することだけができる。

管理された環境条件の下で測定を行うので，この規格の実用測定方法は，JIS Z 8737-2の簡易測定方法

よりも高い精度となる。

作動及び据付け条件に起因する変動を除外すると，100Hz〜10 000Hzの周波数範囲において比較的“平

たんな”スペクトルをもつ騒音を放射する音源のA特性放射音圧レベルに対し，この実用測定方法では，

再現性の標準偏差が2.5dB以下と考えられる。

前述の再現性の標準偏差の値とは最大値であり，明確に定義された同種の機械ではもっと小さい値とな

ることがある。例えば，ある種の木工機械の場合，再現性の標準偏差が1.0dBであることが示されている。

備考10. 測定対象機器が，指向性の強いものであったり，又はそのスペクトル中に純音性の強い成分

を含む場合，その測定の不確かさはもっと大きいことがある。環境指標（6.2参照）を0.5dB

未満に保つことによって，そのような危険を減らすことができる。

5. 測定器マイクロホン及びケーブルを含む測定システムは，IEC 60651（又は積分形騒音計の場合は，

IEC 60804）のtype1の機器の要件を満足しなければならない。

オクターブ又は1/3オクターブバンドでの測定を行う場合，フィルタはIEC 61260のクラス1の要件を

満足しなければならない。

一連の測定の前後に，JIS C 1515のクラス1の要件を満足する音響校正器をマイクロホンに当て，測定

システム全体の校正を対象周波数範囲の一つ又は複数の周波数において検査する。

音響校正器は，JIS C 1515のクラス1に適合していることを1年に1度検査する。測定システムとして

は，IEC 60651（又は積分形騒音計の場合は，IEC 60804）の該当するtypeの要件を満足していることを，

少なくとも2年ごとに検査する。

該当する日本工業規格又はIEC規格への適合性を最後に検査した年月日を記録する。

6. 試験環境

6.1

測定対象機器近傍の自由空間内の指定位置この規格に従う測定に適した試験環境とは，反射面上

の準自由音場となる平たんな屋外又は屋内空間である。

6.4及び6.5の要件を満足するシールされたアスファルト又はコンクリート上の平たんな屋外空間，若し

くはJIS Z 8732による精密測定方法の要件を満足する半無響室が，この規格の測定の目的にかなっている。

6.2, 6.4及び6.5の要件を満足する，他の試験環境を使ってもよい。いかなる環境補正も許されない。

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

6.2

試験環境の適性基準音源が反射面上の自由音場に音を放射するよう，試験環境は，理想的には，

反射面以外の反射物からの影響がないのが望ましい。理想的な条件からの偏差を考慮するための環境指標

K2の算出手順をJIS Z 8733 : 2000の附属書Aで規定する。この規格では，環境指標K2A*は，測定位置を包

絡する測定表面上で，2dBを超えてはならない。

備考11. K2Aが2dBを超える空間で測定せざるをえない場合，JIS Z 8737-2又はISO 11204**が適当であ

る。

参考1* JIS Z 8733 : 2000の附属書Aで規定する量は，環境補正値 (environmental correction) K2Aであ

り，同じ量記号を使ってはいるが，厳密には，この規格の環境指標 (envlronmental indicator) そ

のものではない。

2** この規格を適用できない環境条件の下で，試験せざるをえない場合，既にJIS化されている

JIS Z 8737-2の適用を検討することが望ましい。

6.3

運転室等の内部にある作業位置周囲を囲まれた運転台及び測定対象機器から離れたところにある

きょう体の内部にオペレータが配置されている場合，その運転台又はきょう体は測定対象機器の一部とし

て扱われ，その内部の反射音は放射音圧レベルに対する寄与成分と考えられる。いかなる環境補正も許さ

れない。運転室又はきょう体の扉や窓などは，該当する個別規格に従い，騒音放射測定中は，開けておく

か，又は閉じておく。

機械の作業位置又はバイスタンダ位置が，運転台や運転室などの内部に配置されている場合，個別規格

によって（例えば，保守のために）運転台又は運転室の外側で，測定対象機器の近くに，追加の作業位置

又はバイスタンダ位置を規定する。

6.4

暗騒音マイクロホンの位置で実測した暗騒音のA特性又は周波数バンドごとの音圧レベル（マイ

クロホンでの風による雑音を含む。）は，測定対象機器によるレベルより，少なくとも6dB低くなければ

ならない。その差は15dBより大きいことが望ましい。暗騒音に対する補正値を次の式によって算出する。

単位はデシベル (dB) 。

K1＝−10log10 (1−10-0.1△L) (dB)······················································ (3)

ここに， △L：指定位置において，測定対象機器を作動させたときと停止させ

たときの，それぞれで測定した音圧レベルの差。

測定対象機器のマイクロホン位置ごとにK1を算出する。

6.5

測定中の環境条件環境条件が測定に使うマイクロホンに対し望ましくない影響を及ぼすことがあ

る。マイクロホンを適切に選択したり，位置決めすることによって，そのような条件（例えば，強い電場

又は磁場，風，高温又は低温，若しくは測定対象機器からの排気）を回避しなければならない。

7. 測定量測定対象機器の規定された作動別時間又は作動サイクル中の指定位置における基本測定量は，

次のとおりである。

− A特性音圧レベルL'pA（量記号LpAは実測値を示す。）

− C特性ピーク音圧レベルLpc, peak

備考12. （例えば，騒音の衝撃性に関する指数，時間の関数としての音圧レベルなど）騒音放射の時

刻歴に関する他の量と同様に，他の周波数重み特性，若しくはオクターブ又は1/3オクターブ

バンドでの音圧レベルも，低騒音機械の設計のために，必要に応じて測定されることがある。

13. 応用分野によっては，C特性ピーク音圧レベルを測定する必要がないこともある。ISO 4871 :

1996の5.の4番目の備考(NOTE 19) 参照。

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8. 算出量指定位置における放射音圧レベルを得るには，実測した音圧レベルに対し，暗騒音補正値K1

だけを適用する。ただし，補正の許されないC特性ピーク音圧レベルLpc, peakには適用しない。

補正値K1とは，音圧レベルを測定したときの周波数重み特性又は周波数バンドに対して該当するもので

ある。周波数バンド及びA特性それぞれに対し，次のとおりである。

Lp=L'p−K1

LpA=L'pA−K1A ····················································································································· (4)

ここに，L'pA及びL'pは実測値を，LpA及びLpは算出した放射値をそれぞれ表す量

記号である。

備考14. 測定対象機器が，分離可能な単発の音を発する場合，指定位置における単発放射音圧レベル

Lp,1s（3.3.3参照）を算出するのが望ましい。

9. 測定対象機器の設置及び作動

9.1

一般事項測定対象機器の設置及び作動方法によって，指定位置における放射音圧レベルが大きく

影響されることがある。この箇条では，測定対象機器の設置及び作動条件による騒音放射の変動を最少に

することを目的とした条件を規定する。測定対象機器に該当する個別規格がある場合，その指示を遵守す

る。放射音圧レベル及び音響パワーレベルを算出するために，同一の設置，据付け及び作動条件を使わな

ければならず，それらの条件の詳細は，該当する個別規格で規定しなければならない。

備考15. 卓上機器に対しては，音響パワー算出時と同一の設置，据付け及び作動条件とすることに対

し，個別規格によって例外を設けることがある。そのような機器は，音響パワー算出の間，

床の上に据え付けてもよい。

参考 JIS Z 8733 : 2000の6.3.3参照。

特に大形の機械では，組み込まれた部品などの構成要素，補助装置類，電源など，測定対象機器に含ま

れるものを明確にしなければならない。

9.2

測定対象機器の位置測定対象機器は，それが通常使用のために設置されているときのように，反

射面上の一つ又は複数の場所に設置する。測定対象機器は，壁，天井及び他の反射物から遠く離しておく

ものとする。

備考16. 機械によっては，典型的な設置条件として，壁に埋め込んで設置する際に二つ以上の反射面

を要するもの，ホイストのように自由空間を要するもの，又は垂直な面の両側で放射が発生

するように，別々の反射面内に開口部を要するものがある。設置条件に関する詳細情報は，

この規格の一般的な要件，及び該当する個別規格がある場合，それに基づくのが望ましい。

9.3

測定対象機器の据付け多くの場合，測定対象機器の指定位置における騒音放射は，機械の支持方

法又は据付け方法に依存する。測定対象機器に関し，典型的な据付け条件がある場合，その条件を必ず使

うか，又は模擬することが実際的である場合，それを使う。

典型的な据付け条件がないか，又はあっても試験のために利用できない場合，試験のために使う据付け

方法によって，その機器の音響放射が変化することのないよう注意を払わなければならない。測定対象機

器を据え付ける構造物からの音の放射を減らす手段を講ずるものとする。

小形の機械では，さして低周波音を放射するわけではなくとも，据付け方法によっては，十分に大きい

表面に振動エネルギーが伝わって，より低周波の音を放射することがある。可能な場合，支持するものへ

の振動の伝達と，音源側への再伝達の両方を最小にするように，試験する機械と支持するものの表面との

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間に弾性体を挿入して据え付ける。この場合，据付けの基礎は，余分に振動したり，音を放射したりしな

いよう，剛性の高いもの（すなわち，十分に高い機械インピーダンスをもっているもの。）が望ましい。し

かし，測定対象機器が，典型的な使用設置条件において，弾性支持をするものでない場合だけは，そのよ

うな方法を使用してはならない。

備考17. 例えば，駆動部分と被駆動部分との関係のように，結合条件が測定対象機器の音の放射に大

きな影響を及ぼすことがある。

9.3.1

手持ち形機器測定対象機器に含まれないアタッチメントを介して固体伝搬音が伝わらないよう

にするため，手持ち形機器は，手に提げるか，又は手で支える。測定対象機器の作動のために，何らかの

支持するものが必要な場合，それは，測定対象機器の一部と考えられるほど小さなものでなければならず，

かつ，該当する個別規格がある場合，それに規定するとおりとする。

9.3.2

床置き形機器及び壁掛け形機器床置き形機器及び壁掛け形機器は，音響的に硬い反射面（床又は

壁）の上に置く。壁の前に設置することだけを想定した床置き形機器は，壁の前に設置する。該当する個

別規格に従う作動のために必要な場合，卓上形機器は，テーブル又はスタンドの上に置く。そのテーブル

又はスタンドは，試験室の吸音面から少なくとも1.5m離しておく。卓上形機器は，試験卓の上面の中央

に置く。附属書Bに，試験卓の例を示す。

9.4

補助装置測定対象機器につながれた配管やダクトなどのいずれからも，試験環境内に，際立って

大きな音を放射しないように配慮するものとする。

測定対象機器の一部ではないが，その作動に必要なすべての補助装置（9.1参照）は，可能な限り，試験

環境の外側に配置する。そうすることが実際的でない場合，その補助装置をその試験構成に含めたうえで，

その作動条件を試験報告書に記載する。

9.5

機器の作動測定対象機器に該当する個別規格がある場合，測定の間，その作動条件を使う。個別

規格がない場合，可能な限り，通常使用の典型となるような方法で測定対象機器を作動させる。そのよう

な場合，次の中から一つ又は複数の作動条件を選択する。

a) 規定の負荷及び作動条件

b) （上記の負荷条件と異なる場合）最大負荷条件

c) 無負荷（アイドリング）条件

d) 通常使用の代表的なもので，最大音を発する作動条件

e) 明確に定義した模擬負荷での作動条件

測定対象機器特有の作動サイクルでの作動条件

作動条件（すなわち，温度，湿度，作動速度など）の必要とされる組み合わせに対して，指定位置にお

ける放射音圧レベルを算出する。

これらの作動条件は，あらかじめ選択しておき，試験中一定に保つものとする。騒音測定を行う前に，

測定対象機器を所定の作動条件にしておく。

騒音放射が，他の作動要因（例えば，処理される材料の種類又は工具の種類）にも依存する場合，実際

の騒音放射を代表する条件を定義する。また，可能な限り，変動の可能性を狭める条件でなければならな

い。

目的によっては，同じ種類の機械又は装置からの騒音放射の再現性を高くし，かつ，その種の機械又は

装置に対して，最も一般的で典型的な作動条件を網羅する方法によって，一つ又は複数の作動条件を定義

することが適当である。そのような作動条件は，個別規格で定義しなければならない。

模擬した作動条件を使う場合，指定位置における放射音圧レベルが，その測定対象機器の典型的な使用

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状態となるような条件を選択する。

場合によっては，複数の作動条件での結果を，それら一つ一つの所要時間が異なることを考慮したうえ

でエネルギー平均することによって，一つにまとめることができる。これにより，主要な作動条件が定義

され，その結果を得ることができる（10.1参照）。

騒音測定中の測定対象機器の作動条件を，試験報告書に詳細に記載する。

10. 測定

10.1 測定時間

10.1.1 一般事項測定時間は，規定された作動条件の下，指定位置において，放射音圧レベル，及び必要

に応じて音響放射の時間特性を算出できるような方法で選択する。

ある与えられた測定対象機器に対し，その測定時間Tとは，それぞれがその機器の規定された作動別時

間の一つに対応する，部分測定時間Tiを複数集めたものから構成されていてもよい。この場合，一つの放

射音圧レベルだけが，通常必要とされる。その値は，次の式に従い，個々のA特性放射音圧レベルを平均

することによって得られる。

∑

)

(

log

···················································· (5)

ここに，

T：全測定時間，すなわち，

∑

Ti： i番目の部分測定時間

N：部分測定時間の個数又は作動別時間の総数

LpA, T(i)：部分測定時間Ti上でのA特性放射音圧レベル

ある規定された作動サイクルをもつ機械及び装置に対しては，通常，測定時間を連続する作動サイクル

の整数倍に延長する必要がある。

測定時間は，放射音圧レベルを算出したい作動別時間にだけ対応するものとし，また，必要に応じて音

響放射の時間特性を算出する必要のある作動別時間に対応するものとする。

測定対象機器に対し該当する個別規格がある場合，測定時間，部分測定時間及びその測定時間に含まれ

る作動サイクルの数は，通常，その中で規定される。どのような場合においても，これらの値は，その測

定対象機器の音響パワーレベルを算出するために定義されたものと同一でなければならない。

10.1.2 定常騒音規定された作動条件に対し，指定位置における騒音放射が定常（JIS Z 8733の附属書F

参照）である場合，測定時間は，少なくとも15秒とする。

10.1.3 非定常騒音規定された作動条件に対し，指定位置における騒音放射が非定常である場合，測定対

象機器の測定時間及び作動別時間は，十分注意して定義し，かつ，試験結果の中で報告しなければならな

い。該当する個別規格がある場合，測定時間及び作動別時間は，通常，その中で規定される。

10.1.4 周波数バンドでの測定オクターブ又は1/3オクターブの周波数バンドで測定を行う場合，最小観

測時間は，中心周波数が160Hz以下では30秒，200Hz以上では15秒とする。

10.2 測定手順

10.2.1 一般事項測定対象機器の作動の典型的な時間（10.1参照）にわたって放射音圧レベルを測定する。

放射音圧レベルの読み取りは，指定位置で行う。

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通常，放射音圧レベルを測定するためには，IEC 60804に適合する積分形騒音計を使わなければならな

い（5.参照）。時間重み特性Sで測定した音圧レベル変動が，±1dBであることが示されれば，IEC 60651

に適合する騒音計を使ってもよい。この場合，その音圧レベルは，時間重み特性Sを使って測定した，測

定時間内の最大レベルと最小レベルの平均*として得られる。

参考* この場合の平均とは．算術平均でもパワー平均でもよい。

10.2.2 測定の回数指定位置における放射音圧レベル算出の不確かさを減少させるには，試験対象機器に

対し該当する個別規格で規定する回数だけ，反復測定が必要となることがある。反復測定の後で使うべき

値（例えば，平均又は最大）は，個別規格がある場合，その中で定義されたものとする。反復測定では，

次の手順が必要である。

a) 可能な場合，測定対象機器の電源をいったん切り，再び電源を投入する。

b) マイクロホンをいったん遠ざけ，再び指定位置に配置する。

c) 同じ環境内において，同じ測定時間，同じ測定器を使い，同じ設置及び作動条件の下で，再び測定を

行う。

10.2.3 衝撃性の騒音の測定附属書Aによって衝撃性の騒音である場合，放射音圧レベルを測定するに

は，特段の注意が必要であり，十分に大きなリニアリティレンジをもち，かつ，過大入力指示機構を装備

した騒音計を使う。

衝撃性の騒音の時間特性（例えば，ピーク音圧レベル）の測定のためには，10.2.2の反復測定手順に加

え，個別規格で別途規定されていない限り，測定時間には，少なくとも10個の衝撃性の事象を含まなけれ

ばならない。

前述のピーク音圧レベルを測定するのでない限り，最終的に残しておく値とは，通常，その平均である。

ピーク音圧レベルを測定した場合，その最大値を採用する。該当する個別規格でより詳細な手順を規定し

ている場合，その手順を使う。

測定対象機器が，分離可能な単発の音を発生する場合，作業位置における単発放射音圧レベルLp, 1s（3.3.3

参照）を測定する。

放射される騒音に，衝撃性の成分を含むかどうかを判断するには，附属書Aで規定する方法のいずれか

一つを使ってもよい。

11. マイクロホンの位置

11.1 一般事項測定位置は，11.2, 11.3, 11.4又は11.5で規定するものの中から，いずれか一つを選択する。

IEC 60651又はIEC 60804のそれぞれに適合した性能を得るために，製造業者が指定したマイクロホン

の基準方向と，その音の入射角度とが一致するようにマイクロホンを向ける。可能な場合，オペレータの

いない状態で測定対象機器の放射音圧レベルを測定する。マイクロホンを主要な音源の方向に向けて測定

する。

オペレータがいる状態で測定しなければならない場合，音響測定に影響を与えないよう，オペレータは

極端に吸音性の高い服，帽子又はスカーフを着用してはならない。ただし，安全目的で必要な保護ヘルメ

ット及びマイクロホンを支持するフレームの装着は認められる。

オペレータがいる場合のマイクロホンの位置は，オペレータの視線の方向に平行で，その両目を結ぶ線

上とし，オペレータの頭の中心面から横方向に0.20m±0.02mの距離の点のうち，A特性音圧レベルLPA

の値の大きい方とする。

備考18. 測定した音圧レベルが位置に大きく依存する場合，指定位置を中心とする小さな空間内の複

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数の位置における空間平均をとることが望ましい。

該当する個別規格にオペレータの位置に関する規定のない限り，オペレータの位置は，11.2〜11.5のと

おりとする。

11.2 着席しているオペレータオペレータのいない状態での測定で，その座席が測定対象機器に取り付

けられている場合，該当する個別規格に規定のない限り，座席面中央の上方0.80m±0.05mにマイクロホ

ンを配置する。

オペレータのいない状態での測定で，その座席が測定対象機器に取り付けられていない場合，マイクロ

ホンの位置は，その測定対象機器の該当する個別規格で規定するとおりとする。該当する個別規格がない

場合，試験報告書にマイクロホンの位置を記載する。

オペレータのいる状態で測定する場合，オペレータが座席を望ましい位置に調整してもよい。オペレー

タの頭頂部から座席面までの距離は，0.91m±0.05mと想定される。

11.3 起立しているオペレータオペレータのいる状態で測定する場合，11.1の規定を適用する。オペレ

ータ又はバイスタンダのいない状態で測定する場合，若しくは該当する個別規格で，起立しているオペレ

ータのための位置を規定していない場合，通常オペレータが立っている床面上の基準点との相対位置とし

てマイクロホンの位置が定義される。この基準点とは，オペレータの頭の中心の真下の床面上の点である。

マイクロホンは，基準点の真上の1.55m±0.075mの範囲に配置する。マイクロホンの高さは，通常，該当

する個別規格に規定されている。

11.4 指定経路に沿って移動するオペレータ測定対象機器の近傍の指定経路に沿ってオペレータが移動

する場合，その所定の経路に沿って音圧レベルを測定するために，十分な数のマイクロホンを配置するか，

又はマイクロホンを移動させなければならない。マイクロホンを移動させる場合，経路に沿って連続して

積分を行う（3.3.1参照）か，又は経路上の十分な数の位置において定義された時間で測定を行い，式(5)

を適用する。

移動経路の代表的なものに対して，オペレータの頭の中心の真下にある床面上の1本の線として基準線

を定義する。オペレータが移動する場合，該当する個別規格に高さに関する規定のない限り，基準線の真

上，1.55m±0.075mの範囲に複数のマイクロホン位置を配置する。

固定されたオペレータの位置のすべてに対し，マイクロホンの位置を定義しなければならない。

該当する個別規格に移動経路が規定されている場合，その規定による。

位置の指定のない場合，基準線に沿って音場を適切にサンプリングするために，少なくとも4か所のマ

イクロホンの位置を定義する。

備考19. 基準箱から一定距離にある長方形の測定表面の上に指定経路がある場合，ISO 11203の方法を

適用することが推奨される。

参考すなわち，測定面上の放射音圧レベルを音響パワーレベルから計算によって求めてもよい。

11.5 バイスタンダ及び無人運転機械オペレータの位置を特定できない場合，（例えば，保守や修理など

のための）“便宜上の”作業位置，若しくは1か所又は複数のバイスタンダ位置を定義し，個別規格に明記

する。

該当する個別規格がない場合，JIS Z 8733又はISO 3746で定義する基準箱から1m離れ，床面上高さ

1.55m±0.075mに配置した4か所以上のマイクロホンの位置において測定を行う。バイスタンダ位置で観

測された値の最大のものを，その測定対象機器の放射音圧レベルとして，その位置とともに記録する。

備考20. 離散点による測定の代わりに，ISO 11203に従い，音響パワーレベルから表面音圧レベルを計

算によって算出しても十分な場合がある。

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21. 個別規格によっては，ISO 7779のように4か所以上の位置からのレベルの平均を，その測定

対象機器の放射音圧レベルとして記録することを規定することがある。

12. 記録事項適用可能な場合，この規格に従って行った測定のすべてに対し，次の事項を一覧にして，

記録する。報告書作成に先立って行われる，最終的な計算処理を行った後でだけ，値を丸めることが許さ

れる。

12.1 測定対象機器次の事項を含む測定対象機器の詳細

− 形式

− 技術仕様

− 寸法

− 製造業者名

− 製造番号

− 製造年

12.2 作動条件

a) 作動条件の定量的な詳細。必要な場合，作動別時間及び作動サイクルも含む。

b) 据付け条件

c) 試験環境内での測定対象機器の配置

d) 測定対象機器に複数の騒音源がある場合，測定中のそれらの音源の作動の詳細。

12.3 試験環境試験環境の詳細

a) 屋内の場合，壁，天井及び床の仕上げ処理。測定対象機器及び室内にあるものの配置を示したスケッ

チ。6.2に従い求めた室の音響性能（K2の値）

b) 屋外の場合，次のもののほか，周囲の地形に対する測定対象機器の位置を示したスケッチ。

1) 試験環境の物理的な詳細

2) 気温 (℃) ，気圧 (kPa) 及び相対湿度 (%)

3) 風速 (m/s)

12.4 測定器

a) 使用した機器の名称，形式，製造番号及び製造業者名

b) 測定システムの校正を確認するために使用した方法。校正年月日，校正場所及び結果を記録する。

c) 使用した場合，ウィンドスクリーンの特性。

12.5 測定位置放射音圧レベルを測定したすべての位置を，詳細に記録する。

12.6 測定結果

a) 全実測音圧レベルデータ

b) 指定位置におけるA特性放射音圧レベル。必要に応じて，その他の周波数重み特性及び/又は周波数バ

ンドでの放射音圧レベル。

c) 指定位置におけるC特性ピーク放射音圧レベル。必要に応じて，作業位置における騒音放射のその他

の時間特性。

d) 指定位置ごとのA特性暗騒音レベル及び暗騒音補正値K1A。必要に応じて，周波数バンドごとの暗騒

音レベル及び暗騒音補正値K1。

e) 測定場所，測定年月日及び試験責任者名。

Z 8737-1 : 2000 (ISO 11201 : 1995)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書A（参考）騒音の衝撃性の判定指針

時間重み特性Iを使って測定した時間平均A特性音圧レベルLpAIeqと，同じ作動サイクルに対するLpAeq

を比較することが，その騒音に際立った衝撃性成分を含むかどうかを判定するのに役立つことがある。こ

の目的のためには，1か所以上のマイクロホンの位置において比較を行い，各位置において少なくとも10

作動サイクルを観測する。その差（LpAIeq−LpAeq）が，騒音の衝撃性に関する指数である。

騒音の衝撃性に関する指数の算術平均値が3dB以上の場合，その騒音は衝撃性と考えられる。

本体の3.3，7.及び10.2.3で規定するC特性ピーク放射音圧レベルLpc, peakと，同じ作動サイクルに対す

る時間平均C特性放射音圧レベル，Lpc, eqとを比較し，その差（Lpc, peak−Lpc, eq）を，機械及び装置から放

射される騒音の衝撃性の程度を表す量として使ってもよい。

分離可能な単発事象，又は1秒以上の間隔で連続して発生する事象に対しては，LpAIの最大値とLpASの

最大値との差を，単発事象の衝撃性を表す量として使ってもよい。その差（LpAImax−LpASmax）は，単発騒

音の衝撃性に関する指数である。連続して発生する単発事象に対しては，個々の事象に対するLpAIの最大

値の算術平均と，すべての事象上でのLpASの最大値の平均とが使われる。

C特性ピーク放射音圧レベルLpc, peakと，同じ作動サイクルに対する時間重み特性SでのC特性音圧レベ

ルの最大値LpCSmaxとを比較し，その差（Lpc, peak−LpCSmax）を，機械及び装置から放射される単発騒音の衝

撃性の程度を表す量として使ってもよい。

Z 8737-1 : 2000 (ISO 11201 : 1995)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書C（参考）参考文献

[1] ISO 1996-1 : 1982, Acoustics−Description and measurement of environmental noise−Part 1 : Basic quantities

and procedures

参考 JIS Z 8731 : 1999 環境騒音の表示・測定方法が，この規格と同等である。

[2] ISO 3740 : 1980, Acoustics−Determination of sound power levels of noise sources−Guidelines for the use of

basic standards and for the preparation of noise test codes

[3] ISO 3741 : 1988, Acoustics−Determination of sound power levels of noise sources−Precision methods for

broad-band sources in reverberation rooms

参考この国際規格 (ISO 3741 : 1988) は，ISO 3742 : 1988とともに，ISO 3741 : 1999, 3rd edition,

“Acoustics−Determination of sound power levels of noise sources using sound pressure−Precision

methods for reverberation rooms”により置きかえられた。同国際規格の国際一致規格として，JIS

Z 8734 : 2000が改正中である。

[4] ISO 3742 : 1988, Acoustics−Determination of sound power levels of noise sources−Precision methods for

discrete-frequency and narrow-band sources in reverberation rooms

参考 [3]の参考を参照。

[5] ISO 3743-1 : 1994, Acoustics−Determination of sound power levels of noise sources−Engineering methods

for small, movable sources in reverberant fields, Part 1 : Comparison method for hard-walled test rooms

[6] ISO 3743-2 : 1994, Acoustics−Determination of sound power levels of noise sources using sound pressure−

Engineering methods for small, movable sources in reverberant fields−Part 2 : Direct method for special

reverberation test rooms

[7] ISO 3747 : 1987, Acoustics−Determination of sound power levels of noise sources−Survey method using a

reference sound source

[8] ISO 4871 : 1996, Acoustics−Declaration and verification of noise emission values of machinery and

equipment

[9] ISO 7779 : 1988, Acoustics−Measurement of airborne noise emitted by computer and business equipment

備考 ISO 7779は，1999年8月1日付けで改訂され，“Acoustics−Measurement of airborne noise emitted

by information technology and telecommunications equipment”となった。

[10] JIS Z 8736-1 : 1999 音響−音響インテンシティによる騒音源の音響パワーレベルの測定方法−第1

部：離散点による測定

備考 ISO 9614-1 : 1993 Acoustics−Determination of sound power levels of noise sources using sound

intensity−Part1 : Measurement at discrete pointsと，この規格が一致している。

[11] JIS Z 8736-2 : 1999 音響−音響インテンシティによる騒音源の音響パワーレベルの測定方法−第2

部：スキャニングによる測定

備考 ISO 9614-2 : 1996 Acoustics−Determination of sound power levels of noise sources using sound

intensity−Part 2 : Measurement by scanningと，この規格が一致している。

[12] JIS Z 8737-2 : 2000 音響−作業位置及び他の指定位置における機械騒音の放射音圧レベルの測定

方法−第2部：現場における簡易測定方法

備考 ISO 11202 : 1995 Acoustics−Noise emitted by machinery and equipment−Measurement of emission

Z 8737-1 : 2000 (ISO 11201 : 1995)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

sound pressure levels at a work station and at the other specified positions−Survey method in situと，

この規格が一致している。

[13] ISO 11203 : 1995, Acoustics−Noise emitted by machinery and equipment−Determination of emission

sound pressure levels at a work station and at the other specified positions from the sound power level

[14] ISO 11204 : 1995, Acoustics−Noise emitted by machinery and equipment−Measurement of emission sound

pressure levels at a work station and at the other specified positions−Method requiring environmental

corrections

[15] ISO 11690-3 : 1996, Acoustics−Recommended practice for the design of low-noise workplaces containing

machinery−Part 3 : Sound propagation and noise prediction in workrooms

JIS Z 8737-1原案作成委員会構成表

氏名

所属

（委員長）

子安勝

千葉工業大学

今井章久

武蔵工業大学工学部

今泉八郎

株式会社小野測器

大西博文

建設省土木研究所

押野康夫

財団法人日本自動車研究所

君塚郁夫

日本アイ・ビー・エム株式会社

桑野園子

大阪大学大学院人間科学研究科

佐藤宗純

工業技術院電子技術総合研究所

鈴木英男

株式会社小野測器

鈴木陽一

東北大学電気通信研究所

瀧浪弘章

リオン株式会社

竹内恒夫

環境庁大気保全局

田近輝俊

株式会社環境技術研究所

（主査）

橘秀樹

東京大学生産技術研究所

田中俊光

株式会社神戸製鋼所

東山三樹夫

工学院大学工学部

平松友孝

大成建設株式会社技術研究所

福島寛和

建設省建築研究所

松本晃一

日本道路公団試験研究所

三浦甫

静岡理工科大学理工学部

矢野博夫

千葉工業大学工学部

山田一郎

財団法人小林理学研究所

山田英美

松下インターテクノ株式会社

山本貢平

財団法人小林理学研究所

米川善晴

労働省労働医学総合研究所

田仲信夫

工業技術院標準部材料機械規格課

橋本繁晴

財団法人日本規格協会

（事務局）

後藤健次

社団法人日本音響学会