(1)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法に基づいて，日本工業標準調査会の審議を経て，通商産業大臣が改正した日
本工業規格である。これによって，JIS Z 8734 : 1988は改正され，この規格に置き換えられる。
今回の改正では，国際規格と整合した日本工業規格とするため，ISO 3741 : 1999, Acoustics−Determination
of sound power levels of noise sources using sound pressure−Precision methods for reverberation roomsを基礎と
して用いた。
今回の改正の主な点は，次のとおりである。
− 原国際規格であるISO 3741に様式を一致させた。
− ISO 3741の改正に伴い，音響パワーレベルを，基準環境条件下の値として求めることにした。
− ISO 3741の改正に伴い，オクターブバンド音響パワーレベルは，1/3オクターブバンド音響パワーレ
ベルから計算によってだけ求めることにした。
− ISO 3741の改正に伴い，マイクロホン位置の数は最少6とした。
− ISO 3741にない旧規格の附属書3残響時間の測定方法を削除した。
− ISO 3741にない旧規格の附属書4残響室内の温度及び相対湿度の変化の残響時間に対する影響の補正
方法を削除した。
− ISO 3741に予定されている音響エネルギーレベルの測定方法を附属書（参考）として追加した。
JIS Z 8734には，次に示す附属書がある。
附属書A（規定） 離散周波数成分を含む音の測定のための残響室の適性試験方法
附属書B（参考） 回転拡散板の設計指針
附属書C（参考） 100Hz未満の周波数成分を測定するための指針
附属書D（参考） 残響室の設計指針
附属書E（規定） 広帯域音の測定のための残響室の適性試験方法
附属書F（規定） 1/3オクターブバンド音響パワーレベルからオクターブバンド及びA特性音響パ
ワーレベルを求める方法
附属書1（参考） 表面音圧法による音源の音響パワーレベルの測定方法
附属書2（参考） 音響エネルギーレベルの測定方法
(ISO 3741 : 1999) 目次
(1)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1. 適用範囲 ························································································································ 3
1.1 一般事項 ······················································································································ 3
1.2 騒音及び騒音源の種類····································································································· 3
2. 引用規格 ························································································································ 3
3. 定義 ······························································································································ 4
3.1 残響室 ························································································································· 4
3.2 残響音場 ······················································································································ 4
3.3 音圧 ···························································································································· 4
3.4 平均2乗音圧 ················································································································ 5
3.5 音圧レベル ··················································································································· 5
3.5.1 時間平均音圧レベル ····································································································· 5
3.5.2 測定時間 ···················································································································· 5
3.6 音響パワー ··················································································································· 5
3.7 音響パワーレベル ·········································································································· 5
3.8 暗騒音 ························································································································· 6
3.9 基準音源 ······················································································································ 6
3.10 残響時間 ····················································································································· 6
3.11 対象周波数範囲 ············································································································ 6
3.12 吸音率 ························································································································ 6
3.13 等価吸音面積 ··············································································································· 6
4. 測定の不確かさ ··············································································································· 6
5. 試験環境条件 ·················································································································· 8
5.1 一般事項 ······················································································································ 8
5.2 残響室の容積及び形状····································································································· 8
5.3 残響室の吸音特性 ·········································································································· 8
5.4 暗騒音レベル ················································································································ 8
5.5 気温，湿度及び気圧 ······································································································· 8
6. 測定器 ··························································································································· 9
6.1 一般事項 ······················································································································ 9
6.2 校正 ···························································································································· 9
7. 測定対象音源の設置及び作動 ····························································································· 9
7.1 一般事項 ······················································································································ 9
7.2 音源の設置位置 ············································································································· 9
(ISO 3741 : 1999) 目次
(2)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
7.3 音源の設置 ··················································································································· 9
7.3.1 手持ち形機器 ············································································································· 10
7.3.2 床置き形又は壁掛け形機器 ··························································································· 10
7.4 補助装置 ····················································································································· 10
7.5 測定対象音源の作動 ······································································································ 10
8. 音圧レベルの測定及び音響パワーレベルの算出 ···································································· 11
8.1 予備測定 ····················································································································· 11
8.1.1 音源の設置 ················································································································ 11
8.1.2 マイクロホン位置 ······································································································· 11
8.1.3 音圧レベルの測定 ······································································································· 11
8.1.4 暗騒音の補正 ············································································································· 12
8.1.5 標準偏差の算出 ·········································································································· 12
8.1.6 マイクロホン位置の追加 ······························································································ 13
8.1.7 音源位置の追加 ·········································································································· 13
8.2 追加測定 ····················································································································· 14
8.3 室内平均音圧レベルの算出······························································································ 14
8.4 音響パワーレベルの算出································································································· 14
8.4.1 残響室の残響時間を用いて算出する方法（直接法） ··························································· 14
8.4.2 基準音源の音響パワーレベルと比較して算出する方法（比較法） ········································· 15
8.5 オクターブバンド及び／又はA特性音響パワーレベルの算出 ················································ 16
9. 記録事項 ······················································································································· 16
9.1 測定対象音源 ··············································································································· 16
9.2 試験環境条件 ··············································································································· 16
9.3 測定器 ························································································································ 16
9.4 測定結果 ····················································································································· 16
10. 報告事項 ····················································································································· 16
附属書A（規定）離散周波数成分を含む音の測定のための残響室の適性試験方法 ····························· 17
A.1 序文 ··························································································································· 17
A.2 一般事項 ····················································································································· 17
A.3 測定器 ························································································································ 17
A.4 半無響室におけるスピーカの周波数特性の測定 ·································································· 18
A.5 室内の平均音圧レベルの測定 ·························································································· 19
A.6 標準偏差の算出 ············································································································ 20
A.7 適性基準 ····················································································································· 20
A.8 複数の音源位置 ············································································································ 20
附属書B（参考） 回転拡散板の設計指針 ················································································ 21
附属書C（参考） 100Hz未満の周波数成分を測定するための指針 ··············································· 22
(ISO 3741 : 1999) 目次
(3)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
C.1 対象周波数範囲の拡張 ··································································································· 22
C.2 本体の表2の追補 ········································································································· 22
C.3 本体の表3の追補 ········································································································· 22
C.4 本体の表5及び表6の追補 ····························································································· 22
附属書D（参考） 残響室の設計指針 ····················································································· 23
D.1 一般事項 ····················································································································· 23
D.2 残響室の容積 ··············································································································· 23
D.3 残響室の形状及び拡散体 ································································································ 23
D.4 残響室の吸音特性 ········································································································· 23
附属書E（規定） 広帯域音の測定のための残響室の適性試験方法 ··············································· 24
E.1 序文 ··························································································································· 24
E.2 測定器 ························································································································ 24
E.3 試験方法 ····················································································································· 24
E.4 標準偏差の算出 ············································································································ 24
E.5 適性基準 ····················································································································· 24
附属書F（規定 ···················································································································· 26
F.1 オクターブバンド音響パワーレベルの算出 ········································································· 26
F.2 A特性音響パワーレベルの算出 ························································································ 26
参考文献 ···························································································································· 26
附属書1（参考） ················································································································· 30
1. 適用範囲 ······················································································································· 30
2. 測定器 ·························································································································· 30
3. 音圧レベルの測定及び音響パワーレベルの算出 ···································································· 30
3.1 予備測定 ····················································································································· 30
3.1.1 音源の設置 ················································································································ 30
3.1.2 マイクロホン位置 ······································································································· 30
3.1.3 音圧レベルの測定 ······································································································· 30
3.1.4 標準偏差の算出 ·········································································································· 30
3.1.5 マイクロホン位置の追加 ······························································································ 30
3.1.6 音源位置の追加 ·········································································································· 30
3.2 追加測定 ····················································································································· 30
3.3 室内平均音圧レベルの算出······························································································ 30
3.4 音源の音響パワーレベルの算出 ························································································ 30
3.4.1 残響室の残響時間を用いて算出する方法（直接法） ··························································· 31
(ISO 3741 : 1999) 目次(ISO 3741 : 1999)
(4)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
3.4.2 基準音源の音響パワーレベルと比較して算出する方法（比較法） ········································· 31
3.5 オクターブバンド及び／又はA特性音響パワーレベルの算出 ················································ 31
附属書2（参考） 音響エネルギーレベルの測定方法 ································································· 32
1. 適用範囲 ······················································································································· 32
2. 定義 ····························································································································· 32
2.1 単発音圧暴露レベル ······································································································ 32
2.2 音響エネルギー ············································································································ 32
2.3 音響エネルギーレベル···································································································· 32
3. 単発音圧暴露レベルの測定 ······························································································· 32
3.1 一般事項 ····················································································································· 32
3.2 マイクロホン位置 ········································································································· 32
3.3 単発音圧暴露レベルの測定······························································································ 32
3.4 室内平均単発音圧暴露レベルの算出 ·················································································· 32
4. 音響エネルギーレベルの算出 ···························································································· 33
4.1 残響室の残響時間を用いて算出する方法（直接法） ····························································· 33
4.2 基準音源の音響パワーレベルと比較して算出する方法（比較法） ··········································· 33
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
Z 8734 : 2000
(ISO 3741 : 1999)
音響−音圧法による騒音源の
音響パワーレベルの測定方法−
残響室における精密測定方法
Acoustics−
Determination of sound power levels of noise sources using
sound pressure−Precision methods for reverberation rooms
序文 この規格は，1999年に第3版として発行されたISO 3741, Acoustics−Determination of sound power
levels of noise sources using sound pressure−Precision methods for reverberation rooms (Revision of ISO 3741 :
1988 and ISO 3742 : 1988) を元に作成した日本工業規格であり，附属書1及び附属書2を除いて，技術的
内容及び規格票の様式を変更することなく作成している。
附属書1には，従来，日本工業規格で規定していた，表面音圧法による音源の音響パワーレベルの測定方
法を，附属書2には，原国際規格であるISO 3740シリーズにおいて規格化が進められている音響エネルギ
ーレベルの測定方法を，それぞれ参考として示した。
なお，この規格で点線の下線を施してある“参考”は，原国際規格にはない事項である。
原国際規格であるISO 3741は，機械，装置，及びそれらの組立部品の音響パワーレベルを求める種々の方
法を規定するISO 3740シリーズの一つである。ISO 3740シリーズの方法の中から測定の条件と目的に最
も合ったものを選択することが必要である。選択を助ける一般的な指針は，ISO 12001及びISO 3740に規
定されている。ISO 3740シリーズは，測定対象音源の設置及び作動条件の一般事項だけを規定している。
特定の種類の機器に対する個別規格がある場合，設置及び作動条件の規定については，それに従うことが
望ましい。
参考 ISO 3740シリーズのうち，ISO 3744，ISO 3745はそれぞれJIS Z 8733，JIS Z 8732が対応して
いる。
この規格は，規定の音響特性をもった残響室を用いて，音源が放射する音響パワーを周波数帯域ごとに求
める方法について規定する。このような特性をもつ残響室が利用できない場合には，要求する測定環境が
異なる他の基本規格を用いる（表1及びJIS Z 8733又はJIS Z 8736参照）。
この規格における音圧レベルの測定値からの音響パワーレベルの算出は，残響室内のある音響パワーを放
射する音源に対して，空間及び時間で平均した平均二乗音圧
2
pがその音響パワーに比例し，その他には，
残響室の音響特性並びに幾何学的形状及び空気の物理定数にしか依存しないことに基づいている。
音源が狭帯域又は離散周波数音を発生している場合，放射する音響パワーレベルを正確に求めるためには，
次の理由によって多大な労力が必要となる。
a) 短いマイクロホン経路に沿って，又は少数のマイクロホン位置で求めた空間及び時間で平均した二乗
2
Z 8734 : 2000 (ISO 3741 : 1999)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
音圧は，必ずしも残響室内のすべてにわたって空間及び時間で平均した平均二乗音圧の良い推定値に
なるとは限らない。
b) 音源が放射する音響パワーは，残響室の固有モード及び室内での音源位置によって大きく影響を受け
る。
音源が狭帯域又は離散周波数音を発生している場合，残響室における音響パワーレベルの測定は，残響室
及び設定の最適化及び適性試験（附属書A参照）又は多数の音源位置及びマイクロホン位置（又は長い移
動マイクロホン経路）の使用のいずれかが必要となる。音源位置及びマイクロホン位置の数は，低周波数
の吸音体を付加し，残響時間を短くすることによって減少できる。残響室内で拡散板を回転させることも
有効である。適切な回転拡散板の設計指針は，附属書Bに示す。
表1 残響条件下で音響パワーレベルを求める規格の一覧
パラメータ
JIS Z 8734
ISO 3741
精密方法
グレード1
ISO 3743-1
実用方法
グレード2
ISO 3743-2
実用方法
グレード2
試験環境
残響室
硬い壁の室
特殊残響室
試験環境の適性基準
室容積V＜300m3
適度な残響時間Trev
V≧40m3
V≧40V0
室内平均吸音率α＜0.20
規定の周波数特性の残響時
間
音源の体積V0
室容積の2%以下が望ましい 室容積の2.5%未満が望ましい
騒音の特性
定常
広帯域
狭帯域
離散周波数音
分離衝撃音以外のすべての音
暗騒音の制限
測定対象音源作動時と停止
時との音圧レベルの差
△L≧10dB
△L≧6dB
△L≧4dB
マイクロホン位置の数NM
NM≧6
又は連続移動経路
NM≧3
又は連続移動経路
NM≧3
又は連続移動経路
測定器
a) 騒音計
b) 積分形騒音計
c) バンドパスフィルタ
d) 音響校正器
a) JIS C 1505（IEC 61672のtype1）
b) JIS C 1505（IEC 61672のtype1）
c) IEC 61260 (IEC 61260) のクラス1
d) JIS C 1515 (IEC 60942) のクラス1
測定によって直接得られる
音響パワーレベル
1/3オクターブバンド
オクターブバンド
オクターブバンド
及びA特性
計算によってだけ得られる
音響パワーレベル
オクターブバンド及び
A特性
A特性
求められるLWAの再現性の
標準偏差で表した測定精度
σR≦0.5dB
σR≦1.5dB
σR≦2.0 dB
（比較的“平たんな”スペクトルの騒音を放射する音源に対して）
3
Z 8734 : 2000 (ISO 3741 : 1999)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
1. 適用範囲
1.1
一般事項 この規格は，ρc＝400N･s/m3（ここで，ρは空気の密度，cは音の速さ）の特性インピーダ
ンスとなる基準環境条件下において音源が放射する音響パワーレベルを求めるための直接法及び比較法に
ついて規定する。残響室の要求事項，音源位置及び作動条件の一般的規定，グレード1の精度で音源の1/3
オクターブバンド音響パワーレベルの算出に用いる平均二乗音圧レベルの推定値を求めるための測定器及
び測定方法について規定する。測定する量は，周波数帯域ごとの時間平均音圧レベルである。求める量は，
A特性及び周波数帯域ごとの音響パワーレベルである。必要によって求めるその他の量は，周波数帯域ご
との測定値から算出する他の周波数重み付けをした音響パワーレベルである。この規格では，音源の指向
特性及び時間変動を求めることはできない。
一般に，対象周波数範囲は1/3オクターブバンド中心周波数で100〜10 000Hzである。100Hz未満の周
波数範囲で測定するための指針を附属書Cに示す。この規格は中心周波数10 000Hzの1/3オクターブバン
ドを超える周波数範囲には適用できない。10 000Hzを超える周波数に対しては，ISO 9295を適用するのが
よい。
1.2
騒音及び騒音源の種類 この規格で規定する方法は，ISO 12001に規定する定常騒音，広帯域騒音，
狭帯域騒音及び離散周波数を含む騒音に対して適用する。機械，装置，及びその他の部品が放射する騒音
を対象とする。
測定対象音源の体積は，測定に使用する残響室の容積の2%以下であることが望ましい。より大きな音
源に対しては，表2に示す標準偏差を超えることがある。
2. 引用規格 次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成す
る。これらの引用規格のうちで，発効年（又は発行年）を付記してあるのものは，記載の年の版だけがこ
の規格を構成するものであって，その後の改正版・追補には適用しない。発効年（又は発行年）を付記し
ていない引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS A 1409 残響室法吸音率の測定方法
備考 ISO 354 Acoustics−Measurement of sound absorption in a reverberation roomが，この規格と一
致している。
JIS C 1505 精密騒音計
備考 IEC 61672 Electroacoustics−Sound level metersのType 1に関する引用事項は，この規格の該
当事項と同等である。
参考 IEC 61672は，騒音計に関係する現行のIEC 60651 : 1975, Sound level metersとIEC 60804 :
1985, Integrating-averaging sound level metersを統合し，現在の技術水準を反映させる内容
となっている。この規格 (JIS Z 8732) の原案作成時には，CDV（投票のための委員会草
案）の段階であった。
JIS C 1515 音響校正器
備考 IEC 60942 Sound calibratorsが，この規格と一致している。
JIS Z 8733 音響−音圧法による騒音源の音響パワーレベル測定方法−反射面上の準自由音場におけ
る実用測定方法
備考 原国際規格ISO 3741に引用規格として記載されたISO 3744 : 1994, Acoustics−Determination
of sound power levels of noise sources using sound pressure−Engineering method employing an
4
Z 8734 : 2000 (ISO 3741 : 1999)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
enveloping measurement surface in an essentially free field over a reflecting planeは，この規格
の実用半自由音場法と同等である。
JIS Z 8736-1 音響−音響インテンシティによる騒音源の音響パワーレベルの測定方法−第1部：離散
点による測定
備考 ISO 9614-1 Acoustics−Determination of sound power levels of noise sources using sound
intensity−Part 1 : Measurement at discrete pointsがこの規格と一致している。
JIS Z 8736-2 音響−音響インテンシティによる騒音源の音響パワーレベルの測定方法−第2部：スキ
ャニングによる測定
備考 ISO 9614-2 Acoustics−Determination of sound power levels of noise sources using sound
intensity−Part 2 : Scanning methodがこの規格と一致している。
ISO 3743-1 Acuustics−Determination of sound power levels of noise sources−Engineering
methods for small, movable sources in reverberant fields−Part 1 : Comparison method for
hard-walled test rooms.
ISO 3743-2 Acoustics Determination of sound power levels of noise sources using sound pressure
−Engineering methods for small, movable sources in reverberant fields−Part 2：Methods for
special reverberation test rooms.
ISO 4871 Acoustics−Declaration and verification of noise emission values of machinery and
equipment
ISO 6926 Acoustics−Determination of sound power levels of noise sources−Requirements for the
performance and calibration of reference sound sources
ISO 7574-1 : 1985 Acoustics−Statistical methods for determining and verifying stated noise emission values
of machinery and equipment−Part 1：General considerations and definitions
ISO 7574-4 : 1985 Acoustics−Statistical methods for determining and verifying stated noise emission values
of machinery and equipment−Part 4：Methods for stated values for batches of machines
ISO 9295 Acoustics−Measurement of high-frequency noise emitted by computer and business
equipment
ISO 9296 Acoustics−Declared noise emission values of computer and business equipment
ISO 12001 Acoustics−Noise emitted by machinery and equipment−Rules for the drafting and
presentation of a noise test code
IEC 61183 Electroacoustics−Random-incidence and diffuse-field calibration of sound level
meters
IEC 61260 Electroacoustics−Octave-band and fractional-octave-band filters
3. 定義 この規格で用いる主な用語の定義は，次による。
3.1
残響室 (reverbcration room) この規格の要求に適合した試験室。
3.2
残響音場 (reverberant sound field) 音源から直接到来する音の影響が無視できる，残響室内の音場
の部分。
参考 音波が一様に分布し，その伝搬方向がすべての方向に等確率であることが理想である。このよ
うな理想的な音場が拡散音場である。
3.3
音圧 (sound pressure) p 音の存在によって静圧に重ね合わされた変動する圧力。
5
Z 8734 : 2000 (ISO 3741 : 1999)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
備考1. 単位はパスカル (Pa)。
2. 音圧の大きさは，いくつかの方法で表すことができるが，この規格においては指示した時間
及び空間にわたる平均二乗音圧の平方根を指す。
3.4
平均2乗音圧 (mean-square sound pressure)
2
p 二乗平均に基づいて空間及び時間について平均し
た音圧。
備考 実際には，有限な経路長又は一定数のマイクロホン位置についての空間及び時間平均は，理想
残響音場からのずれと同様に，
2
pの推定値でしかない。
3.5
音圧レベル (sound pressure level) Lp 音圧の二乗の，基準音圧の二乗に対する比の10を底とする対
数の10倍。
0
2
2
10
log
10
p
p
Lp=
ここに，
p0＝20μPa (2×10-5Pa)： 基準音圧。
備考 単位はデシベル (dB)。
3.5.1
時間平均音圧レベル (time-averaged sound pressure level) Lpeq, T 音圧の二乗を時間平均したレベ
ル。
=
∫T
T
pe
dt
p
(t)
p
T
L
0
2
0
2
10
q,
1
log
10
······················································ (1)
ここに，
p (t)： 瞬時音圧 (Pa)
T： 測定時間 (s)
備考1. 単位はデシベル (dB)。
2. 時間平均音圧レベルは，必ず，ある測定時間について求めるので，添字 “eq” 及び “T” は，
一般には省略する。
3.5.2
測定時間 (measurement time interval) 時間平均音圧レベルを求めるための作動別時間又は作動
サイクルの一部又は整数倍の時間。
備考 8.1.3参照。
参考 JIS Z ESPL-1では，一つの規定された工程が完了するまでの時間の長さを“作動別時間”，一
つの完結した作業を実行するための一連の作動別時間を“作動サイクル”と定義している。時
間平均音圧レベルを求める目的では，工程別作業時間をこれ以上小さく分割することはできな
い。
3.6
音響パワー (sound power) P 音源が空気中に放射する単位時間当たりの音響エネルギー。
備考 単位はワット (W)。
参考 原国際規格では量記号をWとしているが，この規格では一般慣例に従ってPとした。
3.7
音響パワーレベル (sound power level) Lw 音源が放射する音響パワー，基準音響パワーに対する比
の10を底とする対数の10倍。
0
10
log
10
P
P
Lw=
ここに，
P0＝1pW (10-12W) ： 基準音響パワー
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Z 8734 : 2000 (ISO 3741 : 1999)
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備考1. 単位はデシベル (dB)。
2. 例えば，A特性音響パワーレベルの量記号は，LWAである。
3.8
暗騒音 (background noise) 測定対象音源以外のすべての音源からの騒音。
3.9
基準音源 (reference sound source) ISO 6926に従って動作し，校正した，周波数特性が平たんな広
帯域雑音を十分な音響パワーレベルで放射する，安定で定常な音源。
3.10 残響時間 (reverberation time) Trev 音源が停止してから，音圧レベルが60dB減衰するのに要する時
間。
備考1. 単位は秒 (s)
2. この規格において，残響時間は，定常レベルから10dB又は15dB減衰するまでの初期減衰率
から算出することを除いてISO 354によって求め，それぞれT10及びT15と表す。
3.11 対象周波数範囲 (frequency range of interest) 一般に，1/3オクターブバンド中心周波数で100〜
10000Hzの周波数範囲。特別な目的に対しては，試験室が適切であるなば，50Hzにまで周波数範囲を拡張
してもよい（附属書C参照）。
3.12 吸音率 (sound absorption coefficient) α ある周波数及び規定した条件に対して，入射音響パワーの
うち，表面から反射されない音響パワーの割合。ISO 354によって算出する。
3.13 等価吸音面積 (equivalent absorption area) A 室の表面積と吸音率との積。吸音力ともいう。
備考 単位は平方メートル (m2)。
4. 測定の不確かさ この規定に従う測定結果の再現性の標準偏差は，表2の値以下となる。
表2 この規格に従って求めた音響パワーレベルの再現性の
標準偏差の推定上限値
中心周波数 (Hz)
再現性の標準偏差の上限値 (dB)
1/3オクターブバンド
1001)〜160
3.0
200〜315
2.0
400〜5000
1.5
6300〜10000
3.0
オクターブバンド
1251)
2.5
250
1.5
500〜4000
1.0
8000
2.0
A特性
0.52)
注1) 100Hz未満の周波数への拡張については附属書Cに示す。
2) 100〜10 000Hzの周波数範囲で比較的“平たん”な騒音を放射する
音源に適用できる。
この規格に従って求めた音源の音響パワーレベルは，測定の不確かさの範囲内で，ある量だけ真値から
異なった値となる。音響パワーレベルの測定における測定の不確かさは，残響室の環境条件及び測定技術
に関係する幾つかの要因によって生じる。
特定の音源を複数の異なる測定機関にもち回り，各測定機関においてその音源の音響パワーレベルをこ
の規格に従って求めると，それらの結果はばらつきを示す。測定した音響パワーレベルの標準偏差（ISO
7574-1 : 1985, Annex Bの例参照）は，周波数によって異なる。
わずかな例外を除くとこれらの標準偏差は，表2の値を超えることはない。表2の値は，ISO 7574-1で
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Z 8734 : 2000 (ISO 3741 : 1999)
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定義する再現性の標準偏差σRである。表2の値は，この規格の方法を用いたときの測定の不確かさの累積
の影響を考慮しているが，作動条件（例えば，回転速度，電源電圧）又は設置条件の変化による音源の音
響パワーの変動は含んでいない。
測定の不確かさは，表2に示す再現性の標準偏差と要求する信頼水準に依存する。例えば，正規分布す
る音響パワーレベルに対して，音源の音響パワーレベルの真値が測定値の±1.654σRの範囲内にある信頼水
準は90%であり，±1.96σRの範囲内にある信頼水準は95%である。
備考1. ISO 7574とISO 9296とに与えられる再現性の標準偏差と信頼水準との関係は，標準偏差が
2dB以下であるときに成立する。これにより大きな標準偏差においては，与えられた範囲に
対する信頼水準は低くなるであろう。しかしながら，一般には，真値は，測定値の±3σRの
範囲に入ることが期待できる。
2. この規格に規定する試験方法における理論モデルからのずれ（直接法）及び基準音源の校正
誤差（比較法）以外の不確かさの最大の原因は，音場の不十分なサンプリング及び音源から
音場への音響結合の（異なる残響室及び同一残響室の異なる音源位置に対する）変動に関係
する。どの残響室も，次の方法によって測定の不確かさを減少させることができる。
a) 複数の音源位置の使用
b) マイクロホン位置の数又は移動経路長の増加による音場の空間サンプリングの改善
c) モードの重なりを改善するための低周波吸音体の付加
d) 回転拡散板の使用
さらに，高周波数での音響パワーレベルの測定精度は低下することもあるが，低周波数で
の不確かさを減少するために，大きな残響室を使用してもよい。逆に，小さな残響室は，低
周波数の不確かさを増加させるが，高周波数での不確かさを減少できる。このように，二つ
の残響室が使用可能であるならば，精度の改善のために，大きな残響室で低周波数の音響パ
ワーレベルを，小さな残響室で高周波数の音響パワーレベルを求めることが望ましい。
3. 幾つかの測定機関が同様の設備と測定器を用いるならば，音源の音響パワーの測定結果は，
表2の標準偏差によって推定されるよりもよく一致する。
4. 周波数成分及び作動条件がほぼ同じであり，寸法もほぼ同じである特定の種類の音源の再現
性の標準偏差は，表2の数値よりも小さくなる。この理由から，この規格を引用する機械又
は装置の特定の機種に対する個別規格は，複数の適切な測定機関の測定結果からそれが実証
できるなら，その場合に限り表2の値よりも小さな標準偏差を記載してもよい。
5. 表2の再現性の標準偏差は，同一条件下の同一音源での繰り返し測定に関する不確かさ（繰
り返し性の標準偏差，ISO 7574-1参照）も含む。この不確かさは，一般に測定機関間の変動
に関する不確かさよりも極めて小さい。しかしながら，特定の音源に対して安定な作動及び
設置条件を保つことが困難であるならば，繰り返し性の標準偏差は，表2の値に比べて大き
くなることもある。このような場合，音源において繰り返し性のある音響パワーレベルの値
を得ることが困難であることを記録し，試験報告書に記載することが望ましい。
6. この規格の方法と表2の標準偏差は，個々の機械の測定に適用できる。同種又は同一形式の
機械の一群の音響パワーレベルの評価は，信頼区間を規定する無作為抽出手法の使用を含み，
結果は統計的上限で表される。これらの手法の適用において，全標準偏差は，ISO 7574-1に
定義するように，一群内の個々の機械間の音響パワーの変動の尺度である，製品の標準偏差
も含んで求め，又は推定せざるをえない。一群の機械の評価のための統計的手法は，ISO
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7574-4に規定する。
5. 試験環境条件
5.1 一般事項 この規格に従い音響パワーを求めるために使用する残響室の設計指針を附属書Dに示す。
残響室の寸法は，十分大きく，対象周波数範囲内のすべての周波数帯域に対して十分な残留音場を与える
ように，室内の等価吸音面積は小さくする（附属書D参照）。
5.2
残響室の容積及び形状 残響室の最小容積は，表3に規定する。対象とする周波数範囲に対して表3
に示す値未満，又は300m3を超える容積の試験室では，広帯域音の測定に対する試験室の適性を，附属書
Eの方法を用いて確認する。
表3 残響室の最小容積
対象とする最低の1/3オクターブバンド中心周波数 (Hz) 残響室の最小容積 (m3)
100
200
125
150
160
100
200以上
70
5.3
残響室の吸音特性 残響室の等価吸音面積は，騒音源とマイクロホン位置との間の最小距離に影響
し，また音源の音響放射及び試験空間の周波数応答特性にも影響する。これらの理由で，残響室の等価吸
音面積は，大きすぎたり，極端に小さくてはならない（附属書D参照）。
音源に最も近い表面の吸音率は，0.06未満で反射性とする。他の面は，各1/3オクターブバンドにおい
て，測定対象音源を設置していない状態での残響時間（測定方法は，8.4.1参照）Trev (s) が，数値的に式(2)
を満たすような吸音特性をもつものとする。
S
V
T
>
rev
·················································································· (2)
Trev： 残響時間 (s)
V： 試験室容積 (m3)
S： 試験室の全表面積 (m2)
試験室の残響時間が式(2)の条件を満たさない場合には，広帯域音源に対する試験室の適性を，附属書D
に規定する方法によって確認する。
5.4
暗騒音レベル マイクロホン位置又は移動経路について平均した暗騒音レベルは，対象周波数範囲
のすべての帯域において，測定対象音源による音圧レベルよりも10dB小さいレベル未満とする。
低騒音の装置に対しては，この条件が満たせない帯域が生じる。測定対象音源のA特性バンド音響パワ
ーレベル（附属書F参照）が，最大のA特性バンド音響パワーレベルよりも15dB小さいレベル未満とな
る帯域は，対象周波数範囲から除外してもよい。
8.4.2の比較法を使用する場合には，暗騒音は，対象周波数範囲のすべての帯域で，基準音源による音圧
レベルよりも15dB小さいレベル未満でなければならない。
5.5
気温，湿度及び気圧 残響室内の気温及び相対湿度の変動は，マイクロホン位置において，表4に
示す範囲内とする。
気圧の測定誤差は±1.5kPa以下とする。
表4の範囲内の変動による誤差は一般的には無視できる（文献 [9] 参照）。しかし，特に装置の作動が
周囲の温度及び湿度条件に依存するような特定の装置類に対する個別規格においては，他の温度及び湿度
条件を規定してもよい。この場合，測定方法とともに，これらの条件を適用しなければならない。
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表4 残響室内の温度及び相対湿度の許容変動範囲
相対湿度(%)
温度θ(℃)
＜30
30〜50
＞50
−5≦θ ＜10
±1℃
±1℃
±3℃
±3%
±5%
±10%
10≦θ ＜20
±3℃
±5%
20≦θ ＜50
±2℃
±5℃
±5℃
±3%
±5%
±10%
6. 測定器
6.1
一般事項 マイクロホンを含めた測定システムは，JIS C 1505に適合していなければならない。使
用するフィルタは，IEC 61260のクラス1に適合していなければならない。
マイクロホンは，IEC 61183に従い拡散音場入射特性を校正する。
6.2
校正 各一連の測定を通して，JIS C 1515に規定するクラス1の音響校正器を用い，対象周波数範
囲内の一つ以上の周波数で，測定システム全体を校正する。
適切な標準へのトレーサビリティのある校正ができる試験機関において，校正器の適合性は，少なくと
も1年に一度，測定システムのJIS C 1505への適合性は，少なくとも2年に一度確認する。該当するJIS
への適合性の最終確認年月日を記録する。
7. 測定対象音源の設置及び作動
7.1
一般事項 測定対象音源の設置及び作動の方法は，音源が放射する音響パワーに大きく影響する可
能性がある。この箇条では，測定対象音源の設置及び作動条件による放射音響パワーの変動を最小とする
条件を規定する。測定対象音源に騒音試験の個別規格が存在するなら，音源の設置及び作動に関しては，
その規定に従う。
特に大きな音源に対しては，その要素，組立部品，補助装置，動力源などを測定対象音源の一部とみな
すかを判断する必要がある。
7.2
音源の設置位置 測定対象音源は，残響室内の表面との関係が通常使用する代表的な設置状態とな
るように，1か所以上の位置に置く。特定の位置の規定がない音源は，残響室のすべての壁から1.5m以上
離れた床上に置く。8.1に従い2か所以上の音源位置が必要なときは，相互の位置間の距離は，測定最低中
心周波数の音の波長の1/2以上とする。方形の床形状をもつ残響室の場合，音源は，床上に非対称に置く
ことが望ましい。
7.3
音源の設置 多くの場合，測定対象音源が放射する音響パワーは，その支持又は設置条件に依存す
る。測定対象音源に対する設置条件の規定が存在し，実施できるなら，その条件又はそれに近い条件とす
る。
規定する設置条件が存在しないか，存在しても試験への使用が不可能であるなら，試験に使用する据付
けシステムによって音響パワーが変化しないように注意する。音源を設置する構造体からの音響放射が生
じないようにする。
小さな音源の多くは，それ自身では低周波数の音をほとんど放射しないが，設置方法によっては，その
振動エネルギーが有効な放射体になる十分な大きさの面に伝搬して，より大きな低周波数の音を放射する。
この場合，できるならば，支持具への振動の伝搬及び音源への反作用の両方を無視できる量にまで減少さ
10
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せるために，測定対象音源とその支持面との間に弾性支持具を挿入することが望ましい。この場合，設置
台は，振動及び音の放射を防ぐために，十分大きな機械インピーダンスをもつことが望ましい。測定対象
音源が体表的使用状態において防振支持されないならば，このような弾性支持はしないほうがよい。
備考 結合条件（例えば，原動機と被駆動機械との間の）は，測定対象音源の音響放射に重要な影響
を及ぼす可能性がある。
7.3.1
手持ち形機器 手持ち形機器は，測定対象音源に属さない取付具を経由して固体伝搬音が伝搬しな
いように，手で支持又は案内する。測定対象音源の作動のために支持が必要であるなら，支持構造は小さ
くし，測定対象音源の一部とみなしてその機器の個別規格に記載する。
7.3.2
床置き形又は壁掛け形機器 床置き形及び壁掛け形機器は，反射性の（音響的に剛な）面（床，壁）
に設置する。もっぱら壁の前面に設置する床置き形機器は，音響的に剛な壁の前の，音響的に剛な床面に
設置する。測定対象機器の個別規格に従う作動に対してテーブル又はスタンドが必要ない卓上装置は，残
響室のすべての壁から少なくとも1.5m離れた床上に置く。テーブル又はスタンドが必要な卓上装置は試
験卓の上面中央に置く。
7.4
補助装置 音源に接続するすべての電気配線，配管又は空気ダクトからの放射音は，無視できる程
度にまで小さくなるようにする。
実施可能なら，測定対象音源の作動に必要で，音源の一部ではないすべての補助装置（7.1参照）は，試
験環境外に配置する。
実施不可能なら，補助装置を含め，その作動条件を試験報告書に記載する。
7.5
測定対象音源の作動 測定対象音源に該当する個別規格がある場合には，それが規定した作動条件
を使用する。特定の個別規格がない場合には，通常使用する代表的な方法で作動させる。この場合，次の
作動条件の一つ以上を選ぶ。
a) 規定する負荷と作動条件
b) 全負荷（上記と異なる場合）
c) 無負荷（アイドリング）
d) 通常使用で発生音が最大となる代表的な作動条件
e) 擬似負荷で詳細に定義した作動条件
試験条件はあらかじめ選択し，試験中は一定に保つ。音源は，すべての音響測定を行う前に，所定の条
件で作動しておく。
発生騒音が，加工材料の種類又は使用する工具の種類のような，測定対象機器以外の作動パラメータに
依存する場合，実施可能な限り，これらのパラメータは，変動が最小となる代表的なものを選ぶ。個別規
格には，試験のための工具及び材料を規定する。
目的に応じて，同種の機械の発生騒音の再現性がよく，その種の機械の最も一般的で代表的である作動
条件が含まれるように，一つ以上の作動条件を定義するのがよい。これらの作動条件は，通常，個別規格
で定義する。
擬似作動条件を使用する場合には，測定対象音源の通常の使用を代表する音響パワーレベルとなるよう
に選ぶ。
適当であるならば，異なる作動条件に対する作動別時間の結果から，作動サイクルに対する結果を得る
ために，それぞれの動作時間を考慮したエネルギー平均を求める。
音響測定中の音源の作動条件及び設置状態は，試験報告書に詳細に記載する。
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8. 音圧レベルの測定及び音響パワーレベルの算出
参考1. マイクロホン位置を室表面とする表面音圧法を用いる場合には．附属書1による。
2. 単発音又は過渡音の音響エネルギーレベルの測定方法は，附属書2による。
8.1
予備測定
8.1.1
音源の設置 測定対象音源は，7.2及び7.3に従い残響室内に設置する。
8.1.2
マイクロホン位置 音源とマイクロホン位置との間の距離は，対象とする各周波数帯域において，
式(3)による値以上とする。
rev
1
min
T
V
C
d
=
·········································································· (3)
ここに， dmin： 音源とマイクロホン間距離の最小値 (m)
C1： 0.08
V： 残響室の容積 (m3)
Trev： 残響時間 (s)
比較法を用いるときには，騒音源と最も近いマイクロホン位置との間の最小距離は，式(4)から算出して
もよい。
20
/)
(
2
min
10
pt
WrL
L
C
d
−
=
······························································· (4)
ここに，
dmin： 音源とマイクロホン間距離の最小値 (m)
C2＝0.4
LWr： 基準音源の既知の音響パワーレベル (dB)
Lpr： 基準音源を作動時の残響室内の平均音圧レベル (dB)
直接音によるバイアス誤差を最小にするために，C1の値を0.16及びC2を0.8とするのが望ましい。
残響室に，附属書Aによる適性が得られていないならば，標準偏差を見積もるための6か所のマイクロ
ホン位置を選ぶ。6か所のマイクロホン位置は，残響室のすべての表面から1.0m及び音源からdminよりも
離れていなければならない。マイクロホン相互間の最小距離は，対象とする最低の中心周波数の音の波長
の1/2とする。式(6)でsMを見積もるため以外の測定には，連続移動マイクロホンを使用してもよい。
もし，試験室とマイクロホン位置又は連続移動マイクロホンの設定が附属書Aに適合しているなら，適
性試験に使用した設定を，音圧レベルの測定のためにも使用する。
連続移動マイクロホンを使用する場合には，次の条件を満たさなければならない。
a) 経路上に，音源からdminよりも近い点がない。
b) 経路上に，残響室のすべての面から1.0mよりも近い点がない。
c) 経路上に，回転拡散板のすべての面から0.5mよりも近い点がない。
d) マイクロホン移動経路は，どの室表面とも10°以内にないことが望ましい。
e) マイクロホン移動経路は直線，円弧又は円とする。その長さは，少なくともl≧3λとする。ここに，λ
は対象とする最低の中心周波数の音の波長である。
備考 相互の経路間の最小間隔が，対象とする最低の中心周波数の音の波長の1/2以上あるならば，
複数の移動経路を用いてもよい。
8.1.3
音圧レベルの測定 各作動条件に対し，各マイクロホン位置又は移動経路にわたって平均した時間
平均1/3オクターブバンド音圧レベルを測定する。
測定時間は，定常騒音を発生する音源に対して，中心周波数160Hz以下の周波数帯域では少なくとも30s，
中心周波数200Hz以上の周波数帯域では少なくとも10sとする。
12
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
騒音レベルが異なる複数の作動別時間をもつ機械に対しては，各作動別時間に対して前記を満たす適当
な測定時間を選び，試験報告書にこれを記載する。
移動マイクロホンを使用するとき，測定時間は1回の移動に必要な時間の2以上の整数倍とする。
回転拡散板を使用する場合の測定時間は，上記を満たし，更に回転周期の整数倍又は10倍以上とする。
測定対象音源停止時の残響室内の暗騒音レベルを，各マイクロホン位置又は移動経路にわたって平均し
た時間平均1/3オクターブバンド音圧レベルとして測定する。測定時間は測定対象音源についてと同程度
とする。暗騒音レベルの測定は，測定対象音源の測定の直前又は直後に行う。
8.1.4
暗騒音の補正 それぞれの周波数帯域で測定した音圧レベルから，式(5)によってそれぞれの帯域
ごとに算出したK1を減算して，暗騒音の影響を補正する［8.3及び式(9)参照］。
(
)
10
/
10
1
10
1
log
10
L
K
∆
−
−
−
=
···························································· (5)
ここに，
K1： 暗騒音に対する補正値 (dB)
△L＝
''
'
p
p
L
L−
'
p
L： 測定対象音源作動時の，マイクロホン位置又は移動経
路について平均した，ある周波数帯域の平均二乗音圧
レベル (dB)
''
p
L
： 測定対象音源の測定の直後に測定し，マイクロホン位
置又は移動経路について平均した，ある周波数帯域の
暗騒音の平均二乗音圧レベル (dB)
参考 この規格では，暗騒音補正値K1は0.0〜0.4dBの正の値となる。
10dB＜△L≦15dBの値に対しては，式(5)に従い補正する。△L＞15dBであるなら，補正は行わない。
低騒音の装置に対しては，対象周波数範囲内の幾つかの周波数帯域で，△L＜10dBとなる。この場合，
これらの帯域に適用する最大の補正値は0.5dBである。△L＜10dBである結果を報告するときには，測定
対象音源の音響パワーレベルに対する上限値を表していることを，結果の表及び図だけでなく，試験報告
書の文中に明確に記載する。
さらに，A特性音響パワーレベルを算出する場合には，次の二つの異なった方法で計算する。
a) 対象周波数範囲内のすべての周波数帯域の結果を使用する。
b) △L＜10dBである周波数帯域を除く。
これら二つのA特性音響パワーレベルの差が0.5dB未満であるならば，すべての帯域の結果を用いて算
出したA特性音響パワーレベルは，この規格に従う。差が0.5dB以上であるならば，すべての帯域の結果
を用いて算出したA特性音響パワーレベルは上限値を表しており，その旨を結果の表及び図だけでなく，
試験報告書の本文中にも明確に記載する。
8.1.5
標準偏差の算出 8.1.1〜8.1.4の手順で測定した音圧レベルから，各周波数帯域に対する標準偏差
を，式(6)から算出する。
1
)
(
M
1
2
m
M
M
−
−
=∑
=
N
L
L
s
N
i
p
pi
······························································· (6)
ここに，
sM： 6か所のマイクロホン位置間の音圧レベルの標準偏差
(dB)
Lpi： i番目のマイクロホン位置における時間平均音圧レベル
(dB)
Lpm： 6か所のマイクロホン位置で測定した音圧レベルの算術平
均値 (dB)
13
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
NM＝6
備考 残響室とマイクロホン位置又は連続移動マイクロホンの設定の，離散周波数成分を含む音の測
定のための適性を附属書Aに従い確認してあるならば，前述の標準偏差の算出は必要ない。
8.1.6
マイクロホン位置の追加 平均音圧レベルを8.3に従い算出するために必要なマイクロホン位置の
数NMは，式(6)で算出した標準偏差によって表5の数以上とする。
表5 音圧レベル測定のためのマイクロホン位置の数NMの最少数
1/3オクターブバンド
中心周波数 (Hz)
標準偏差 (dB)
sM≦1.5
1.5＜sM≦3
sM＞3
NMの最少数
100,125,160
6
6
6
200,250,315
6
12
400,500,630
12
24
≧800
15
30
移動マイクロホンを使用するときには，マイクロホン移動経路の長さは，式(7)を満たす。
l≧ (λ/2) NM ·············································································· (7)
ここに，
l： マイクロホン移動経路長 (m)
λ： 測定中心周波数の音の波長 (m)
NM： 表5から求めたマイクロホン位置の数
試験室とマイクロホン位置又は連続移動マイクロホンの設定の，離散周波数成分を含む音の測定のため
の適性を，附属書Aに従い確認してあるならば，8.1.5及び8.1.6の手順は不必要であり，マイクロホン位
置の数（又は連続移動マイクロホン経路の長さ）は適性の確認に使用したものとする。
8.1.7
音源位置の追加 8.1.5で求めた音圧レベルの標準偏差が1.5dBを超えるならば，測定対象音源の
音は，無視できない離散周波数成分を含む。この場合，附属書Aに従う適性が得られるように試験室の仕
様及び設定を修正，又は式(8)及び表6から，音源位置の数Nsを求める。
+
M
2
rev
S
S
1
000
1
N
f
V
T
K
N≧
························································ (8)
ここに，
Ns： 音源位置の数
Ks： 表6による値
Trev： 残響室の残響時間 (s)
V： 残響室の容積 (m3)
f： 測定周波数帯域の中心周波数 (Hz)
NM： 8.1.6で決定した，マイクロホン位置の数
備考 最近の解析的及び実験的検討結果を取り入れ，項 (Trev/V) (1000/f) 2に乗じる定数を旧規格の0.79
から1.0に変更した（参考文献 [12-15]）。
表6 音圧レベル測定のための音源位置の数Nsの最少数と値Ks
1/3オクターブバンド
中心周波数 (Hz)
標準偏差 (dB)
sM≦1.5
1.5＜sM≦3
sM＞3
Ks
100, 125, 160
−
2.5
5
200, 250, 315
5
10
400, 500, 630
10
20
≧800
12.5
25
Nsの最少数
1
式(8)による
備考 回転拡散板を使用することによって，音源位置の数を減少させることができる（附属書B参照）。
音源位置の数は，モードの重なりを増大させるために残響時間を短くすることによっても減少
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できる。1 000Hz以下の低周波数において，次式を満たすことが望ましい。
2
rev
000
1
<
V
V
T
ここに， V： 残響室容積 (m3)
f： 測定周波数帯域の中心周波数 (Hz)
8.2
追加測定 6か所のマイクロホン位置及び1か所の音源位置での予備測定が，8.1.6及び8.1.7を満た
さない場合には，追加したマイクロホン位置及び／又は音源位置での測定を行う。これらの追加測定は，
予備測定に対する要求事項（8.1.1〜8.1.4参照）を満たして行う。
備考 多数のマイクロホン位置が必要なときには，マイクロホン移動経路の使用を推奨する。
8.3
室内平均音圧レベルの算出 各音源位置に対して，すべてのマイクロホン位置又は移動経路上の音
圧レベルを，8.1.3に従って測定する。各音源位置に対する，各周波数帯域での平均音圧レベルを，式(9)
によってマイクロホン位置又は移動経路にわたって平均し，その後の暗騒音補正K1を行って求める。
1
N
1
10
/
M
10
M
10
1
log
10
)
(
K
N
L
i
L
j
p
pi
−
=
∑
=
·············································· (9)
ここに，
p
L： ある周波数帯域の，j番目の音源位置に対して，すべての
マイクロホン位置又は移動経路にわたって平均した音圧
レベル (dB)
Lpi： ある周波数帯域の，j番目の音源位置に対して，i番目のマ
イクロホン位置で測定した時間平均音圧レベル，又は
ある周波数帯域の，j番目の音源位置に対してi番目のマイ
クロホン移動経路で測定した時間平均音圧レベル (dB)
NM： 各音源位置に対する固定マイクロホン位置又はマイクロ
ホン移動経路の数
複数の音源位置を用いる場合には，式(10)を用いて音源位置について平均する。
=
∑
=
S
1
10
/
)
(
S
10
10
1
log
10
N
j
L
p
j
p
N
L
···················································· (10)
ここに，
)
(
p
L： ある周波数帯域の，すべての音源位置及びマイクロホン位置
又は移動経路にわたって平均した室内平均音圧レベル(dB)
Ns： 音源位置の数
8.4
音響パワーレベルの算出 音源のそれぞれの周波数帯域における音響パワーレベルは，8.4.1又は
8.4.2のいずれかの方法を用いて算出する。
8.4.1
残響室の残響時間を用いて算出する方法（直接法） 測定対象音源の音響パワーレベルは，8.3に
よって求めた室内平均音圧レベル及び音源設置時に求めた残響室の等価吸音面積を用いて，式(11)によっ
て算出する。
+
+
+
+
=
f
V
c
S
S
A
A
A
L
L
p
w
8
1
log
10
34
.4
log
10
10
0
10
6
273
273
400
427
log
25
0
10
−
+
−
B
B
・
θ
···············································(11)
ここに，
Lw： 測定対象音源の音響パワーレベル (dB)
p
L： 室内平均音圧レベル (dB)
15
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
A： 残響室の等価吸音面積 (m2)
A0＝ 1m2
S： 残響室の全表面積 (m2)
V： 残響室の容積 (m3)
f： 測定周波数帯域の中心周波数 (Hz)
c： 音の速さ (m/s)
c＝
θ
+
273
05
.
20
θ： 気温 (℃)
B： 気圧 (hPa)
B0： 1.013×103hPa
備考1. 式(11)の4.34A/S (dB) の項は，残響室内の吸音を考慮して加算してある（参考文献 [16]）。
2. 式(11)の，気温θ及び気圧Bを含む項は，測定場所の実際の環境条件における値として求める。
この項は，測定した音響パワーを特性インピーダンスρc＝400Ns/m3である基準環境条件下で
測定した場合の値に調整するために用いる。
残響室の等価吸音面積Aは，各周波数帯域ごとに，セイビンの残響式［式(12)］によって算出する（ISO
354参照）。
=
rev
26
.
55
T
V
c
A
······································································ (12)
ここに，
A： 残響室の等価吸音面積 (m2)
Trev： 各周波数帯域での残響時間 (s)
V： 残響室の容積 (m3)
残響時間，Trevを，それぞれT10又はT15として表す，初期の10dB又は15dBの減衰を用いることを除い
て，ISO 354に従って測定する。63 000Hz〜10kHzの1/3オクターブバンドに対しては，5 000Hzと同じ数
で測定する。
8.4.2
基準音源の音響パワーレベルと比較して算出する方法（比較法）
8.4.2.1
基準音源の設置 基準音源の位置は，残響室のすべての壁面及び測定対象音源から1.5mよりも
離れた床上とする。測定対象音源に対して複数の音源位置を使用しても，基準音源に対しては複数の位置
の必要はない。
8.4.2.2
基準音源による室内平均音圧レベルの算出 基準音源の作動による室内平均音圧レベルを，8.3
に従って算出する。基準音源による音圧レベルは，対象周波数範囲のすべての帯域で，暗騒音よりも15dB
以上大きいので，暗騒音に対する補正は必要としない。
8.4.2.3
測定対象音源の音響パワーレベルの算出 測定対象音源の音響パワーレベルは，基準音源及び測
定対象音源による室内平均音圧レベルから，式(13)によって算出する。
(
)
r
r
p
p
w
w
L
L
L
L
−
+
=
································································ (13)
ここに，
Lw： 測定対象音源の1/3オクターブバンド音響パワーレベル
(dB)
Lwr： 特性インピーダンスρc＝400Ns/m3である環境条件下で
校正した，基準音源の1/3オクターブバンド音響パワー
レベル (dB)
p
L： 8.1〜8.3に従って求めた測定対象音源による室内平均
1/3オクターブバンド音圧レベル (dB)
r
p
L： 8.3に従って求めた基準音源による室内平均1/3オクタ
ーブバンド音圧レベル (dB)
備考 比較法によって基準環境条件下に調整した音響パワーレベルを得るために，算出に用いる校正
16
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
値は特性インピーダンスρc＝400Ns/m3である環境条件下に対する値である。
8.5
オクターブバンド及び／又はA特性音響パワーレベルの算出 音源のオクターブバンド及び又はA
特性音響パワーレベルが必要なときには，附属書Fに示す方法によって算出する。
9. 記録事項 9.1〜9.4のうち，適用可能な事項を記録する。
9.1
測定対象音源
a) 測定対象音源の仕様（寸法も含む）
b) 作動条件
c) 設置条件
d) 残響室内の測定対象音源の位置
e) 残響室内の基準音源の位置
9.2
試験環境条件
a) 残響室の寸法 (m)，壁，天井及び床表面の仕上げ，音源及び残響室内に存在するものの配置図
b) 気温 (℃)，相対湿度 (%) 及び気圧 (hPa)
9.3
測定器
a) 測定に使用した機器の名称，型式，製造番号及び製造業者名
b) 音響校正器及び6.1による測定システム，並びに使用した場合には，3.9による基準音源の校正年月日，
場所，及び方法
9.4
測定結果
a) マイクロホン経路又は配列の位置並びに向き（必要ならば，図を含む）及び経路に沿っての移動の方
法
b) 暗騒音についての補正を行った場合には，その各帯域ごとの補正値 (dB)
c) 音響パワーレベル，0.1（推奨），0.5［必す（須）］dBごとの数値での表，必要ならば図。周波数重み
付け及び周波数帯域幅を明示する。
d) 測定年月日及び時刻
A特性音響パワーレベルを計算する場合には，附属書Fの計算方法を使用する。
10. 報告事項 測定の目的（ISO 4871参照）にとって必要な記録事項（9.参照）だけを，報告する。
報告書には，報告する音響パワーレベルをこの規格の要求事項に完全に適合して得たか否かを記載する。
測定対象音源のA特性音響パワーレベルは，0.5dBごとの数値で報告する。
備考 ISO 9296は，計算機及び事務機器のA特性音響パワーレベルの公示値LwAdを，1B＝10dBの関
係を用いて，ベル (B) で表すことを規定している。
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附属書A（規定）
離散周波数成分を含む音の測定のための残響室の適性試験方法
A.1 序文 測定対象音源が無視できない離散周波数成分を放射するとき，音場の空間分散並びに音源と残
響室のモードとの結合の空間及び周波数領域での分散が，広帯域音に対する場合よりも大きくなるので，
大きな測定誤差が生じる。この規格の本体8.1.5〜8.1.7は，それぞれの場合に，これらの誤差を小さくする
ための方法を規定する。これらの方法の代わりとして，どのようなスペクトル成分に対しても本体4.の測
定精度に適合するように，残響室及びマイクロホン配列又は移動経路の設定を最適化しておく方法がある。
最適化に用いるそれぞれの要素の効果を定量的に予測することは不可能であるので，この附属書では，試
験設備のすべての要素の結合した効果を求めるための実験的な適性試験方法を規定する（文献 [19-26] 参
照）。
低周波数での主な誤差は，それぞれの周波数において励振できる残響室のモードの数が少ないことによ
る。これは，より大きな残響室の使用，残響室の特性の最適化（附属書D.3参照），及びそれぞれのモード
の周波数応答（モードの帯域幅）を広くするために残響室へ付加吸音を施すことによって改善できる（附
属書D.4参照）。しかしながら，低周波数では，附属書Bに示す形式の，大きな回転拡散板の使用によっ
てだけ，適性基準（附属書表A.1参照）に適合できる。
高周波数での誤差要因は使用するマイクロホン位置の数である。有効な回転拡散板が利用できれば離散
的なマイクロホン配列を使用することも可能であるが，長いマイクロホン移動経路による連続的な空間平
均化機能が必要となることもある。円形移動経路は限られた空間内に直線よりもより長い経路が得られ，
自動化も容易である。
附属書表A.1 標準偏差sfの最大許容値
1/3オクターブバンド中心周波数 (Hz)
最大許容標準偏差 (dB)
100, 125, 160
3.0
200, 250, 315
2.0
400, 500, 630
1.5
800〜2500
1.0
A.2 一般事項 この附属書に規定する方法は，ある残響室内で，ある特定の1か所又は複数の音源位置及
び，あるマイクロホン配列又は経路を使用した離散周波数音の測定の不確かさの上限の推定値を与える。
標準偏差が，対象とする周波数範囲にわたって附属書表A.1を超えないなら，試験設備［残響室内の音源
位置，測定器，（あるなら）回転拡散板，付加吸音，及びマイクロホン配列又は経路］は，そのスペクトル
に無視できない離散周波数成分を含むすべての音源の測定に対しても適性を備えている。すべての測定対
象音源に対しても8.1.5のような付加評価は必要ない。
適性試験方法は，使用する純音信号が最悪条件を与えるので，この方法で得られる標準偏差は，実際の
あらゆる音源に対する再現性の測定の不確かさよりも大きくなる。
A.3 測定器 6.及び8.に規定する測定器及びマイクロホン配列又は経路に加えて，次の機器が必要である。
a) 密閉箱に取り付けた口径200mm以下のスピーカ
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b) 信号発生器，周波数シンセサイザ，又は発振器。周波数の測定に使用可能な周波数カウンタ又は周波
数分析器。増幅器及び電圧計。
A.4に適合させるためには，十分に滑らかな周波数応答をもつスピーカを選ぶ必要がある。
信号発生器，周波数シンセサイザ，又は発振器は，対象とする周波数範囲にわたって，附属書表A.2の
周波数と許容差の正弦波信号を発生させることができ，±0.1Hzで安定であり，全高調波ひずみは0.1%未
満のものとする。
スピーカを駆動する電力増幅器は，スピーカの電気インピーダンスに適合する出力インピーダンスをも
ち，十分な電力を出力できるものとする（A.4参照）。
電圧計は，対象とする周波数範囲にわたってスピーカの端子電圧を±1.0%の精度で監視できるものとす
る。
A.4 半無響室におけるスピーカの周波数特性の測定 スピーカを半無響室の剛な，反射性の床上の適当な
場所にスピーカコーンを上にして置く。残響室で使用するものと同じ製造業者及び型式のマイクロホンを，
スピーカ開口面上10〜20mmの距離に，振動面を水平に，軸を一致させて置く。音響パワーの測定（本体
6.1参照）に使用するものと同じ表示器及び1/3オクターブバンドフィルタを用いて，附属書表A.2に示す
試験周波数で音圧レベルを0.5dBごとの値で測定し，記録する。
スピーカの周波数特性を求めるために近距離音場音圧レベルを測定する。これは，自由音場においては，
小さな単一音源から見た音響アドミタンスの実部が原理的に周波数に依存しないので，近距離音場の音圧
レベルが音響パワーレベルの変化と同じになることに基づいている。
使用するスピーカの隣接した試験周波数での音圧レベルの差は，1dB以内とする。
参考 試験周波数は，各1/3オクターブバンド内に一様に分布した等間隔又は対数等間隔の25以上の
周波数としてもよい。
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附属書表A.2 離散周波数成分を含む音の測定のための適性試験に用いる試験周波数
1/3オクターブ
中心周波数(Hz)
100
125
160
200
250
315
400
500
630
800 1 000 1 250 1 600 2 000 2 500
試験周波数
(Hz)
−
−
147
−
−
−
361
−
−
−
−
−
1 470
−
−
−
113
148
−
226
−
364
−
−
−
−
1 130 1 480
−
2 260
−
114
149
−
228
−
367
445
564
712
−
1 140 1 490
−
2 280
90
115
150
180
230
285
370
450
570
720
900 1 150 1 500 1 800 2 300
91
116
151
182
232
288
373
455
576
728
910 1 160 1 510 1 820 2 320
92
117
152
184
234
291
376
460
582
736
920 1 170 1 520 1 840 2 340
93
118
153
186
236
294
379
465
588
744
930 1 180 1 530 1 860 2 360
94
119
154
188
238
297
382
470
594
752
940 1 190 1540 1 880 2 380
95
120
155
190
240
300
385
475
600
760
950 1 200 1 550 1 900 2 400
96
121
156
192
242
303
388
480
606
768
960 1 210 1 560 1 920 2 420
97
122
157
194
244
306
391
485
612
776
970 1 220 1 570 1 940 2 440
98
123
158
196
246
309
394
490
618
784
980 1 230 1 580 1 960 2 460
99
124
159
198
248
312
397
495
624
792
990 1 240 1 590 1 980 2 480
100
125
160
200
250
315
400
500
630
800 1 000 1 250 1 600 2 000 2 500
101
126
161
202
252
318
403
505
636
808 1 010 1 260 1 610 2 020 2 520
102
127
162
204
254
321
406
510
642
816 1 020 1 270 1620 2 040 2 540
103
128
163
206
256
324
409
515
648
824 1 030 1 280 1 630 2 060 2 560
104
129
164
208
258
327
412
520
654
832 1 040 1 290 1 640 2 080 2 580
105
130
165
210
260
330
415
525
660
840 1 050 1300 1 650 2 100 2 600
106
131
166
212
262
333
418
530
666
848 1 060 1 310 1 660 2 120 2 620
107
132
167
214
264
336
421
535
672
856 1 070 1 320 1 670 2 140 2 640
108
133
168
216
266
339
424
540
678
864 1 080 1 330 1 680 2160 2 660
109
134
169
218
268
342
427
545
684
872 1 090 1 340 1 690 2 180 2 680
110
135
170
220
270
345
430
550
690
880 1 100 1 350 1 700 2 200 2 700
111
136
171
222
272
348
433
555
696
888 1 110 1 360 1 710 2 220 2 720
−
137
172
−
274
−
436
−
702
−
−
1 370 1 720
−
2 740
−
138
173
−
276
−
439
−
−
−
−
1 380 1 730
−
2 760
間隔 (Hz)
1
1
1
2
2
3
3
5
6
8
10
10
10
20
20
間隔の許容差
(Hz)
±0.3 ±0.3 ±0.3 ±0.5 ±0.5 ±1
±1 ±1.5 ±2
±3
±3
±5
±5
±5
±5
試験周波数の数
22
26
27
22
26
22
27
23
24
23
22
26
23
22
26
A.5 室内の平均音圧レベルの測定 スピーカを，適性を確認しようとする音源位置に，床を含めた最も近
い残響室表面からそのコーンが離れる向きに置く。マイクロホンは移動経路上又は配列の複数の固定位置
に置き，本体8.3の方法によって音圧レベルを読み取る。回転又は往復拡散板を使用する場合には，拡散
板を作動させる。
附属書表A.2に示す試験周波数での空間及び時間平均音圧レベルを求める。スピーカの端子電圧は，A.4
と同じにする。
備考 固定マイクロホンの配列を使用するなら，配列を自動的に切り換えて直接平均音圧レベルを得
る（本体8.3参照）か，それぞれのマイクロホン位置での音圧レベルを求めて計算によって平
均音圧レベルを得るかのいずれかによる。
それぞれの試験周波数での測定中の周波数変動は，±0.1Hzとする。
20
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
A.6 標準偏差の算出 スピーカの周波数特性の影響を取り除いた音圧レベルLpiを得るために，A.4による
スピーカ開口面での音圧レベルを各周波数ごとに減算して，A.5による室内音圧レベルを補正する。
各1/3オクターブバンドについて，補正した室内音圧レベルの算術平均Lpmを計算し，補正した室内音
圧レベルとその平均音圧レベルとの差の標準偏差sfを式 (A.1) によって求める。
1
)
(
1
2
m
−
−
=∑
=
f
N
i
p
pi
f
N
L
L
s
f
···························································· (A.1)
ここに，
sf： ある1/3オクターブバンドの音圧レベルの標準偏差 (dB)
Lpi： すべてのマイクロホン位置（及び該当するならすべてのスピ
ーカ音源位置）にわたって平均し，スヒーカの周波数特性を
補正したi番目の試験周波数で励振したスピーカ音源による
室内平均音圧レベル (dB)
Lpm： ある1/3オクターブバンド内のすべての試験周波数にわたっ
て平均した，Lpiの算術平均 (dB)
Nf： ある1/3オクターブバンド内の試験周波数の数
A.7 適性基準 各1/3オクターブバンドについて，算出した標準偏差が表A.1に示す限界を超えないなら，
試験設備［残響室，音源位置，測定器，（あるなら）回転拡散板，付加吸音，及びマイクロホン配列又は移
動経路］は，無視できない離散周波数成分を含む音源の音響パワーレベルの測定に対して適性を備えてい
る。
2500Hzを超える中心周波数の1/3オクターブバンドでは，試験室の適性を確認する必要はない。
長さlの連続移動マイクロホン経路を使用する場合には，次のf1又はf2のいずれか高い周波数以上では
適性を確認しなくてもよい。
f1＝6 000/l
f2＝5 000/V1/3
ここに，
l： マイクロホン移動経路の長さ (m)
V： 残響室容積 (m3)
A.8 複数の音源位置 複数の音源位置を使用する場合には，式 (A.1) を用いた標準偏差の算出の前に，複
数のスピーカ位置での音圧レベルを本体8.3の方法に従い各試験周波数について平均する。
適性が複数スピーカ位置によって得られる場合には，同じ音源位置の組を，測定対象音源の測定に対し
ても使用する。複数のマイクロホン位置及び音源位置に対して求めた音圧レベルを平均する。
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附属書B（参考） 回転拡散板の設計指針
残響室における回転拡散板は，次の二つの理由で有用である。
a) 拡散板は，残響室内の平均二乗音圧の空間分散を減少させ，空間平均音圧レベルの推定精度を改善す
る。
b) 拡散板は，音源からの音響パワーの流れを残響室内に分配し，音源の音響パワーが残響室の寸法及び
残響室内の音源位置に依存しないようにする。
回転拡散板の効果は，第一にその大きさによる。したがって，拡散板は，室寸法が許す限り大きいほう
がよい。拡散板の面密度は，少なくとも5kg/m2を推奨する。回転速度は，拡散板の少なくとも1回転で音
圧レベルが平均できるように，速いほうがよい。
大きく，重い板を高速度で回転させる実際の設計上の問題は，拡散板を円，円錐又は円筒形とし，重心
がその回転軸上にあるように平衡させることによって解決できる。直径5mの二つの円錐形拡散板を
2.6rad/sで動作させた例がある。拡散板の面を，どの室表面とも平行にならないようにするのがよい。
備考 残響室の適性に有用な回転拡散板の実例は，文献 [27-28] にある。
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附属書C（参考） 100Hz未満の周波数成分を測定するための指針
C.1 対象周波数範囲の拡張 100Hz未満の周波数帯域での測定には，本体8.4.2に規定する比較法の使用を
推奨する。基準音源は，その周波数帯域内のスペクトルに純音成分をもたないことが望ましい（低周波数
に強い純音成分をもち，その周波数帯域では再現性の悪い基準音源もある）。この附属書は，比較法を使用
するときだけに適用する。
純音成分を発生する音源の測定には使用しないほうがよい。
C.2 本体の表2の追補 200m3より大きな残響室では，より小さな再現性の標準偏差が期待できる。
附属書表C.1 100Hz未満の音響パワーレベルの再現性の標準偏差の
推定上限値
1/3オクターブバンド中心周波数 (Hz)
再現性の標準偏差の上限値 (dB)
50, 63, 80
7.5
C.3 本体の表3の追補 600m3以上の容積が好ましいが，200m3でもよい。容積が大きいほど，低周波数
の音響パワーレベルの精度はよい。
C.4 本体の表5及び表6の追補 125Hzに対する値を適用する。
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附属書D（参考） 残響室の設計指針
D.1 一般事項 音源の音響パワーレベルを正確に求めるために，残響室は，次の条件を備えていることが
望ましい。
a) 適切な容積
b) 適切な形状及び／又は拡散体
c) 対象周波数範囲にわたる適切な吸音
d) 十分に小さな暗騒音
D.2 残響室の容積 残響室の容積についての要求事項は，本体5.2による。
備考1. 本体表3のように，中心周波数100Hzの1/3オクターブバンドを対象周波数範囲の最低周波数
帯域とする一般目的の測定に対しては，200m3の容積が必要である。
2. 200m3より大きな容積の試験室では，3 000Hzより高い周波数帯域において，空気吸収が残響
音場の一様性に好ましくない影響を引き起こす可能性がある。
D.3 残響室の形状及び拡散体 残響室を不整形とする場合には，その表面は平行面をもたないようにする
のが望ましい。残響室が直方体なら，その寸法比は，どの寸法比も整数又は整数に近い値にならないよう
に選ぶのがよい。
寸法比は，1 : 21/3 : 41/3をよく用いる。200m3付近の容積をもつ残響室に対してよいとされているその他
の寸法比を，残響室の寸法をlx，ly及びlzとして附属書表D.1に示す。
附属書表D.1 直方体残響室の推奨寸法比
ly/lx
lz/lx
0.83
0.47
0.83
0.65
0.79
0.63
0.68
0.42
0.70
0.59
参考 回転拡散板については，附属書Bに示す。
D.4 残響室の吸音特性 残響室表面の吸音率は，十分な残響音場を確保するためには小さくするのがよい。
次の式で与える周波数，f (Hz) 未満では，音源が発生する音響パワーへの残響室のモードの影響を小さく
するために，大きくするのがよい。
3/1
000
2
V
f=
ここに，
V： 残響室容積 (m3)
残響室の全表面の平均吸音率αは，0.16以下が望ましい。f (Hz) 以上の周波数では，平均吸音率は0.06
以下が望ましい。
参考 適切な残響時間については，本体5.3，8.1.2及び8.1.7参照。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書E（規定） 広帯域音の測定のための残響室の適性試験方法
E.1 序文 試験室容積が本体5.2の規定よりも小さい，又は等価吸音面積が本体5.3の規定よりも大きい場
合に，本体表2に示す精度での広帯域騒音の測定が可能かどうかを判断するために，この附属書に記載す
る方法を用いる。この附属書による方法は，空間及び時間平均における不確かさとともに，音源と残響音
場との結合における不確かさの尺度を与える（文献 [18] 参照）。各1/3オクターブバンドに対する広帯域
音の測定精度は，測定値の標準偏差で表される。
E.2 測定器 測定器及びマイクロホン移動経路又は配列は，測定対象音源の実際の測定に使用するものと
同一とする。この附属書では，ISO 6926に規定する特性をもった基準音源を使用する。
測定器は，本体6.による。
マイクロホン移動経路又は配列は，本体8.1.2による。
E.3 試験方法 次の条件に従って，試験室内の異なった6か所以上の位置に基準音源を置き，室内の1/3
オクターブ又はオクターブバンド音圧レベルを測定する。
a) 音源位置は，壁からλ/2以上で，マイクロホンから本体8.1.2に示す距離以上離れた床面上に選ぶ。音
源位置相互間の距離は，λ/4よりも大きくする。ここに，λは，試験室の適性を確認すべき最低の周波
数帯域の中心周波数の音の波長である。音源位置は，室の中心線上にあってはならない。音源位置は，
一般に，測定対象音源を置く位置付近とする。
b) 前記のそれぞれの基準音源位置について，1/3オクターブ又はオクターブバンド音圧レベルを少なく
とも0.5dBごとの値で記録する。
c) マイクロホン移動経路又は配列，（あるなら）拡散板，測定器及び測定時間は，適性を確認する音源位
置での測定対象音源の実際の測定で使用するものと同一とする。
E.4 標準偏差の算出 試験室の適性を確認すべき各周波数帯域に対して，標準偏差ssを，次の式によって
算出する。
1
)
(
S
1
2
m
S
S
−
−
=∑
=
N
L
L
s
N
i
p
pi
ここに，
sS： バンド音圧レベルの標準偏差 (dB)
Lpi： i番目の音源位置において，本体8.3に従い時間及び空間に
ついて平均したバンド音圧レベル (dB)
Lpm： バンド音圧レベルの算術平均値 (dB)
NS： 音源位置数
E.5 適性基準 各周波数帯域に対して，算出した標準偏差が附属書表E.1に示す範囲を超えなければ，試
験室は広帯域音の測定の適性を備えている。
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附属書表E.1 Lpiの最大許容標準偏差
オクターブバンド
中心周波数 (Hz)
1/3オクターブバンド
中心周波数 (Hz)
最大許容標準偏差 (dB)
125
100, 125, 160
1.5
250, 500
200〜630
1.0
1000, 2000
800〜2500
0.5
4000, 8000
3150〜10000
1.0
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附属書F（規定）
1/3オクターブバンド音響パワーレベルから
オクターブバンド及びA特性音響パワーレベルを求める方法
F.1 オクターブバンド音響パワーレベルの算出 オクターブバンド音響パワーレベルは，式 (F.1) によっ
て算出する。
∑−
=
=
i
i
j
L
wi
wj
L
3
2
3
10
/
10
10
log
10
·························································· (F.1)
ここに， Lwi： i番目のオクターブバンド音響パワーレベル (dB)
Lwj： j番目の1/3オクターブバンド音響パワーレベル (dB)
i, j： 附属書表F.1の値
F.2 A特性音響パワーレベルの算出 A特性音響パワーレベル，LWAは，式 (F.2) によって算出する。
∑
=
+
=
max
min
10
/)
(
10
WA
10
log
10
J
j
j
c
L
j
wj
L
···················································· (F.2)
ここに，
Lwj： j番目の1/3オクターブバンド音響パワーレベル
j, Cj： 附属書表F.1に示す値
jmin, jmax： 附属書表F.1における最低及び最高測定周波数帯域に
対応するjの値
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附属書表F.1 1/3オクターブバンドに対するj及びCjの値
i
j
1/3オクターブバンド中心周波数 (Hz)
Cj(dB)
1
1
50a)
−30.2
2
63a, b)
−26.2
3
80a)
−22.5
2
4
100
−19.1
5
125
−16.1
6
160
−13.4
3
7
200
−10.9
8
250
−8.6
9
315
−6.6
4
10
400
−4.8
11
500
−3.2
12
630
−1.9
5
13
800
−0.8
14
1000
−0.0
15
1250
0.6
6
16
1600
1.0
17
2000
1.2
18
2500
1.3
7
19
3150
1.2
20
4000
1.0
21
5000
0.5
8
22
6300
−0.1
23
8000
−1.1
24
10000
−2.5
注a) この周波数帯域のデータは，附属書C（参考）に従って
対象周波数範囲を拡張した場合にだけ用いる。
b) オクターブバンド中心周波数は太字で示す。
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sources of discrete frequency sound. Journal of the Acoustical Society of America, 54 (4), 1973, pp.935-949.
[26] Maling, G. Calculation of the acoustic power radiated by a monopole in a reverberation chamber. Journal of the
Acoustical Society of America, 42 (4), 1967, pp.859-865.
[27] Tichy, J. and P. K. Baade Effect of rotating diffusers and sampling techniques on sound pressure averaging in
reverberation rooms. Journal of the Acoustical Society of America, 56 (1), 1974, pp.137-144.
[28] Ebbing, C. E. , Experimental evaluation of moving sound diffusers for reverberation rooms. Journal of Sound
and Vibration, 16 (1), 1971, pp.99-118.
30
Z 8734 : 2000 (ISO 3741 : 1999)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書1（参考）
表面音圧法による音源の音響パワーレベルの測定方法
1. 適用範囲 この附属書は，残響室の反射性の室内表面上における音圧レベルを測定することにより，
音源の音響パワーレベルを求める方法について記述する。
2. 測定器 測定に用いる測定器は，本体6.による。
3. 音圧レベルの測定及び音響パワーレベルの算出
3.1
予備測定
3.1.1
音源の設置 測定対象音源は，本体7.2に従い残響室内に設置する。
3.1.2
マイクロホン位置 残響室表面に，標準偏差を求めるための6か所のマイクロホン位置を選ぶ。そ
れらのマイクロホン位置は，マイクロホンを設置する表面を除く残響室のすべての表面から1.0m及び音
源から本体式(3)又は本体式(4)によるdminよりも離れていなければならない。マイクロホン相互間の最小距
離は，対象とする最低周波数の音の波長の1/2とする。
備考1. マイクロホンを設置する室内表面は，平たんな反射面（吸音率は0.06以下）とする。
2. マイクロホンを室内表面に向けて設置する場合には，室内表面でマイクロホンの前面が密閉
されないように注意する。
3.1.3
音圧レベルの測定 各作動条件に対し，各マイクロホン位置にわたって平均した時間平均音圧レベ
ルを，本体8.1.3に従い測定する。
3.1.4
標準偏差の算出 本体8.1.5によって，各マイクロホン位置における音圧レベルの値から，測定周
波数帯域ごとの音圧レベルの標準偏差を計算する。標準偏差が2dBを超える場合には，この附属書による
測定は不可能とする。
3.1.5
マイクロホン位置の追加 平均音圧レベルを算出するために必要なマイクロホン位置の数NMは，
本体式(6)によって求めた標準偏差の値及び附属書1表1から求める。
3.1.6
音源位置の追加 本体8.1.5で求めた音圧レベルの標準偏差が1dBを超えるなら，測定対象音源の
音は，無視できない離散周波数成分を含む。この場合，本体式(8)及び附属書1表2によるKsから，音源位
置の数Nsを求める。
3.2
追加測定 6か所のマイクロホン位置及び1か所の音源位置での予備測定が，3.1.5及び3.1.6を満た
さない場合，追加マイクロホン位置及び／又は音源位置による測定を行う。これらの追加測定は，予備測
定に対する要求事項（本体8.1.1〜8.1.4参照）を満たして行う。
3.3
室内平均音圧レベルの算出 各周波数帯域で，各音源位置に対するすべてのマイクロホン位置での
音圧レベルを，本体8.1.3に従い測定する。各音源位置に対する各周波数帯域での室内平均音圧レベルを，
本体式(9)によって，まずマイクロホン位置にわたって平均し，その後暗騒音補正K1を行って求める。
3.4
音源の音響パワーレベルの算出 音源のそれぞれの周波数帯域における音響パワーレベルは，3.4.1
又は3.4.2の方法のいずれかを用いて算出する。
31
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3.4.1
残響室の残響時間を用いて算出する方法（直接法） 測定対象音源の音響パワーレベルは，本体
8.3によって求めた平均音圧レベル及び音源設置時に求めた残響室の等価吸音面積を用いて，附属書1式(1)
によって算出する。
9
273
273
400
427
log
25
34
.4
log
10
0
10
0
10
−
+
−
+
=
B
B
S
A
A
A
L
L
p
w
θ
················ (1)
3.4.2
基準音源の音響パワーレベルと比較して算出する方法（比較法） 本体8.4.2による。
3.5
オクターブバンド及び／又はA特性音響パワーレベルの算出 音源のオクターブバンド及び／又は
A特性音響パワーレベルが必要なときには，附属書Fに示す方法によって算出する。
附属書1表1 音圧レベル測定のためのマイクロホン位置の数NMの最少数
1/3オクターブバンド
中心周波数 (Hz)
標準偏差 (dB)
sM≦1.0
1.0＜sM≦2
100, 125, 160
6
6
200, 250, 315
6
400, 500, 630
12
≧800
15
附属書1表2 音圧レベル測定のための音源位置の数Nsの最少数と値Ks
1/3オクターブバンド
中心周波数 (Hz)
標準偏差 (dB)
sM≦1.0
1.0＜sM≦2
Ks
100, 125, 160
−
2.5
200, 250, 315
5
400, 500, 630
10
≧800
12.5
Nsの最少値
1
本体式(8)による
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附属書2（参考） 音響エネルギーレベルの測定方法
1. 適用範囲 この附属書は，残響室内の単発音圧暴露レベルを測定することによって，音源が空気中に
放射する継続時間が有限な単発音又は過渡音の音響エネルギーレベルを求める方法を記述する。
2. 定義 この附属書で用いる主な用語は，次による。
2.1
単発音圧暴露レベル (single event sound exposure level) LpE 単発音又は過渡音の単発音圧暴露レベ
ルは，附属書2式(1)で与えられる。単位はデシベル (dB)。
=
∫21
20
2
0
10
E
)
(
1
log
10
t
t
p
dt
p
t
p
T
L
······················································· (2)
ここに，
p (t) ： 瞬時音圧 (Pa)
t2−t1： 残響時間と対象事象のすべての音を含むのに十分な長さ
の時間を加えた時間 (S)
p0： 基準音圧 (20μPa)
T0： 基準時間 (1s)
2.2 音響エネルギー (sound energy) E 音源から放射される空気音の総エネルギー。単位はジュール (J)。
2.3
音響エネルギーレベル (sound energy level) LJ 測定対象音源から放射される単発音又は過渡音の音
響エネルギーEを基準音響エネルギーE0で除した値の常用対数の10倍。単位はデシベル (dB)。
LJ＝10 log10E/E0 ········································································· (3)
使用した周波数帯域幅を示す。基準音響エネルギーは，1pJ (10-12J)。
3. 単発音圧暴露レベルの測定
3.1
一般事項 単発または過渡音の単発音圧暴露レベルの測定のための基本的な方法は，音圧レベル測
定のための本体8.に規定される方法とマイクロホン位置を除いて同じである。
3.2
マイクロホン位置 本体8.1.2と同じ方法によるが，連続移動マイクロホンは使用できない。
3.3
単発音圧暴露レベルの測定 各作動条件に対し，各マイクロホン位置において発生する単発音の単
発音圧暴露レベルを測定する。測定時間は，対象周波数帯域における残響時間と発生音の継続時間を加え
た時間以上とする。音の発生前に測定を開始し，音の発生から測定時間を経た後に終了する。
回転拡散板は，使用しない。
音源を停止して，単発音圧暴露レベルの測定に用いた測定時間と同じ時間にわたる音圧レベルを単発音
圧暴露レベルとして測定する。この値が音源を作動したときの単発音圧暴露レベルよりも15dB小さいレ
ベル未満でない場合には，音響エネルギーレベルの算出は不可能とする。
3.4
室内平均単発音圧暴露レベルの算出 音源位置及びマイクロホン位置の数は本体8.1及び本体8.2に
よる。各音源位置に対して，すべてのマイクロホン位置における単発音圧暴露レベルを3.3に従い測定す
る。各音源位置に対する，各周波数帯域での平均単発音圧暴露レベルを附属書2式(3)によって算出する。
=
∑
=
M
E
1
10
/
M
10
E
10
1
log
10
)
(
N
i
L
f
p
i
p
N
L
················································ (4)
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ここに，
)
(
E
p
L
： ある周波数帯域の，j番目の音源位置に対して，すべて
のマイクロホン位置について平均した単発音圧暴露レ
ベル (dB)
LpEi： ある周波数帯域の，j番目の音源位置に対して，i番目の
マイクロホン位置で測定した単発音圧は暴露レベル
(dB)
NM： 各音源位置に対する固定マイクロホン位置の数
複数の音源位置を用いる場合には，式(4)によって音源位置について平均する。
=
∑
=
s
f
p
N
i
L
p
N
L
1
10
/
)
(
S
10
E
E
10
1
log
10
·················································· (5)
ここに，
E
p
L
： ある周波数帯域の，すべての音源位置及びすべてのマイ
クロホン位置について平均した室内平均単発音圧暴露
レベル (dB)
Ns： 音源位置の数
4. 音響エネルギーレベルの算出 音源のそれぞれの周波数帯域エネルギーレベルは，4.1又は4.2のいず
れかの方法を用いて算出する。
4.1
残響室の残響時間を用いて算出する方法（直接法） 測定対象音源の音響エネルギーレベルは，3.
によって求めた室内平均単発音圧暴露レベル及び音源設置時に求めた残響室の等価吸音面積を用いて，附
属書2式(5)によって算出する。
+
+
+
+
=
f
V
c
S
S
A
A
A
L
L
p
J
8
1
log
10
34
.4
log
10
10
0
10
E
6
273
273
400
427
log
25
0
10
−
+
−
B
B
θ
·········································· (6)
ここに，
LJ： 測定対象音源の音響エネルギーレベル (dB)
E
p
L
： 室内平均単発音圧暴露レベル (dB)
A： 残響室の等価吸音面積 (m2)
A0： 1m2
S： 残響室の全表面積 (m2)
c： 音の速さ (m/s)
V： 残響室の容積 (m3)
f： 測定周波数帯域の中心周波数 (Hz)
θ： 気温 (℃)
B： 気圧 (hPa)
B0： 1, 013×103hPa
残響室の等価吸音面積Aは，各周波数帯域ごとに，セイビンの残響式［本体式(11)］によって算出する。
4.2
基準音源の音響パワーレベルと比較して算出する方法（比較法） 基準音源に関する測定方法は本
体8.4.2.1及び本体8.4.2.2と同じである。測定対象音源の音響エネルギーレベルは，室内平均単発音圧暴露
レベルと基準音源による室内平均音圧レベルから，附属書2式(6)によって算出する。
)
(
pr
pE
L
L
L
L
Wr
J
−
+
=
·································································· (7)
ここに，
LJ： 測定対象音源の音響エネルギーレベル (dB)
Lwr： 基準音源の校正音響パワーレベル (dB)
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
E
p
L
： 室内平均単発音圧暴露レベル (dB)
r
p
L： 基準音源による室内平均音圧レベル (dB)
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
原案作成委員会 構成表
氏名
所属
（委員長）
子 安 勝
千葉工業大学
今 井 章 久
武蔵工業大学工学部
今 泉 八 郎
株式会社小野測器
大 西 博 文
建設省土木研究所
押 野 康 夫
財団法人日本自動車研究所
君 塚 郁 夫
日本アイ・ビー・エム株式会社
桑 野 園 子
大阪大学大学院人間科学研究科
佐 藤 宗 純
工業技術院電子技術総合研究所
鈴 木 英 男
株式会社小野測器
鈴 木 陽 一
東北大学電気通信研究所
瀧 浪 弘 章
リオン株式会社
竹 内 恒 夫
環境庁大気保全局
田 近 輝 俊
株式会社環境技術研究所
（主査）
橘 秀 樹
東京大学生産技術研究所
田 中 俊 光
株式会社神戸製鋼所
東 山 三樹夫
工学院大学工学部
平 松 友 孝
大成建設株式会社技術研究所
福 島 寛 和
建設省建築研究所
松 本 晃 一
日本道路公団試験研究所
三 浦 甫
静岡理工科大学理工学部
矢 野 博 夫
千葉工業大学工学部
山 田 一 郎
財団法人小林理学研究所
山 田 英 美
松下インターテクノ株式会社
山 本 貢 平
財団法人小林理学研究所
米 川 善 晴
労働省労働医学総合研究所
田 仲 信 夫
工業技術院標準部材料機械規格課
橋 本 繁 晴
財団法人日本規格協会
（事務局）
後 藤 健 次
社団法人日本音響学会