Z 8733 : 2000
(1)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法に基づいて，日本工業標準調査会の審議を経て，通商産業大臣が改正した日
本工業規格である。これによって，JIS Z 8733 : 1987は改正され，この規格に置き換えられる。
JIS Z 8733には，次に示す附属書がある。
附属書A（規定） 音響環境の検定手順
附属書B（規定） 半球測定表面上のマイクロホン配列
附属書C（規定） 平行六面体測定表面上のマイクロホン配列
附属書D（参考） 騒音の衝撃性の判定指針
附属書E（参考） 指向指数算出のための指針
附属書F（参考） 騒音スペクトル及びレベルの時間変動による分類
附属書G（参考） 参考文献
Z 8733 : 2000
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目次
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序文 ··································································································································· 1
1. 適用範囲 ························································································································ 3
1.1 一般事項 ······················································································································ 3
1.2 騒音及び騒音源の種類····································································································· 3
1.3 試験環境 ······················································································································ 4
1.4 測定の不確かさ ············································································································· 4
2. 引用規格 ························································································································ 6
3. 定義 ······························································································································ 7
3.1 音圧 (sound pressure) p： ·································································································· 7
3.2 音圧レベル (sound pressure level) Lp： ················································································· 7
3.2.1 時間平均音圧レベル (time-averaged sound pressure level) Lpeq,T： ··········································· 7
3.2.2 単発事象音圧レベル (single-event sound pressure level) Lp, 1s： ··············································· 8
3.2.3 測定時間 (measurement time interval) ： ············································································ 8
3.3 測定表面 (measurement surface) ： ····················································································· 8
3.4 表面音圧レベル (surface sound pressure level) ········································································ 8
3.5 音響パワー (sound power) P： ··························································································· 8
3.6 音響パワーレベル (sound power level) ················································································· 8
3.7 自由音場 (free field) ： ···································································································· 8
3.8 反射面上の自由音場 (free field over a reflecting plane) ： ························································· 8
3.8A 反射面上の準自由音場 (essentially free field over a reflecting plane) ： ······································· 9
3.9 対象周波数範囲 (frequency range of interest) ：······································································ 9
3.10 基準箱 (reference box) ： ································································································ 9
3.11 特性音源寸法 (characteristics source dimension) ····································································· 9
3.12 測定距離 (measurement distance) ······················································································· 9
3.13 測定半径 (measurement radius)·························································································· 9
3.14 暗騒音 (background noise) ： ··························································································· 9
3.15 暗騒音補正値 (background noise correction) ·········································································· 9
3.16 環境補正値 (environmental correction) ················································································ 9
3.17 騒音の衝撃性に関する指数 (impulsive noise index: impulsiveness) ············································· 9
3.18 指向指数 (directivity index) ······························································································ 9
3.19 基準音源 (reference sound source) ：················································································· 10
3.20 残響時間 (reverberation time)··························································································· 10
3.21 室内等価吸音面積 (equivalent absorption area of surface)························································· 10
3.22 機能ユニット (functional unit) ：····················································································· 10
3.23 床置き形機器 (floor-standing equipment) ： ········································································ 10
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3.24 卓上形機器 (table-top equipment) ： ················································································· 10
3.25 壁掛け形機器 (wall-mounted equipment) ： ········································································ 10
3.26 サブアセンブリ (sub-assembly) ： ··················································································· 10
3.27 ラック組込み形機器 (rack-mounted equipment) ： ······························································· 10
3.28 標準試験卓 (standard test table) ： ··················································································· 10
3.29 作動モード (operating mode) ： ······················································································ 10
3.30 アイドルモード (idle mode) ： ······················································································· 11
4. 音響環境 ······················································································································· 11
4.1 一般事項 ····················································································································· 11
4.2 試験環境の適正基準 ······································································································ 11
4.3 暗騒音の基準 ··············································································································· 11
5. 測定器 ·························································································································· 11
5.1 一般事項 ····················································································································· 11
5.2 校正 ··························································································································· 11
5.3 マイクロホンの風防 ······································································································ 12
6. 測定対象機器の設置及び作動 ···························································································· 12
6.1 一般事項 ····················································································································· 12
6.2 測定対象機器の配置 ······································································································ 12
6.3 測定対象機器の据付け···································································································· 12
6.3.1 手持ち形機器 ············································································································· 13
6.3.2 床置き形及び壁掛け形機器 ··························································································· 13
6.3.3 卓上形機器 ················································································································ 13
6.3.4 ラック据付け形機器 ···································································································· 13
6.3.5 サブアセンブリ ·········································································································· 13
6.4 補助装置 ····················································································································· 14
6.5 測定対象機器の作動 ······································································································ 14
7. 音圧レベルの測定 ··········································································································· 14
7.1 測定表面の選択 ············································································································ 14
7.2 半球測定表面 ··············································································································· 15
7.2.1 半球測定表面の面積及び基本マイクロホン位置································································· 15
7.2.2 半球測定表面上の追加マイクロホン位置 ········································································· 15
7.3 平行六面体測定表面 ······································································································ 16
7.3.1 平行六面体測定表面の面積及びマイクロホン位置······························································ 16
7.3.2 平行六面体測定表面上の追加マイクロホン位置································································· 16
7.4 マイクロホン位置を選択するための付加的な手順 ································································ 17
7.4.1 測定表面上の限定された部分へのマイクロホン位置の追加 ·················································· 17
7.4.2 マイクロホン位置の数の削減 ························································································ 17
7.4.3 移動マイクロホンのための測定経路 ··············································································· 17
7.5 測定 ··························································································································· 18
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(3)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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7.5.1 環境条件 ··················································································································· 18
7.5.2 測定器 ······················································································································ 19
7.5.3 手順 ························································································································· 19
8. 表面音圧レベル及び音響パワーレベルの計算 ······································································· 19
8.1 測定表面上で平均された音圧レベルの計算 ········································································· 19
8.2 バンド音圧レベルからのA特性音圧レベルの計算 ······························································· 20
8.3 暗騒音に対する補正 ······································································································ 20
8.4 試験環境に対する補正···································································································· 21
8.5 表面音圧レベルの計算···································································································· 21
8.6 音響パワーレベルの計算································································································· 21
8.7 追加的な量の算出 ········································································································· 21
9. 記録事項 ······················································································································· 22
9.1 測定対象機器 ··············································································································· 22
9.2 音響環境 ····················································································································· 22
9.3 測定器 ························································································································ 22
9.4 音響データ ·················································································································· 22
9.5 追加データ ·················································································································· 23
10. 報告事項 ····················································································································· 23
附属書A（規定） 音響環境の検定手順 ·················································································· 24
A.1 一般事項 ····················································································································· 24
A.2 環境条件 ····················································································································· 24
A.2.1 反射面の特性············································································································· 25
A.2.2 屋外測定に関する注意事項 ··························································································· 25
A.3 絶対比較試験 ··············································································································· 25
A.3.1 手順 ························································································································ 25
A.3.2 試験環境内の基準音源の配置 ························································································ 25
A.4 室吸収に基づく環境補正値の算出 ···················································································· 26
A.4.1 概算法 ····················································································································· 26
A.4.2 残響法 ····················································································································· 26
A.4.3 二重測定表面法·········································································································· 27
附属書B（規定） 半球測定表面上のマイクロホン配列 ······························································ 28
B.1 基本マイクロホン位置及び追加マイクロホン位置 ······························································· 28
B.2 離散純音を放射する音源のためのマイクロホン位置 ···························································· 28
B.3 二つの反射面に隣接する音源のためのマイクロホン位置 ······················································ 29
B.4 測定経路 ····················································································································· 29
附属書C（規定） 平行六面体測定表面上のマイクロホン配列 ····················································· 33
C.1 一つの反射面上に設置した音源のためのマイクロホン配列 ··················································· 33
C.2 二つ又は三つの反射面に接する音源のためのマイクロホン位置 ············································· 33
附属書D（参考） 騒音の衝撃性の判定指針············································································· 38
Z 8733 : 2000 目次
(4)
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ページ
附属書E（参考） 指向指数算出のための指針 ·········································································· 39
附属書F（参考） 騒音のスペクトル及びレベルの時間変動による分類 ········································· 40
F.1 一般事項 ····················································································································· 40
F.2 スペクトルによる分類 ···································································································· 40
F.2.1 広帯域騒音 (broad-band noise) ： ···················································································· 40
F.2.2 狭帯域騒音 (narrow-band noise) ： ·················································································· 40
F.2.3 離散純音 (discrete tone) ： ···························································································· 40
F.3 レベルの時間変動による分類 ··························································································· 40
F.3.1 定常騒音 (steady noise) ： ····························································································· 40
F.3.2 非定常騒音 (non-steady noise) ： ···················································································· 41
附属書G（参考） 参考文献 ································································································· 42
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
Z 8733 : 2000
音響−音圧法による騒音源の
音響パワーレベルの測定方法−
反射面上の準自由音場における
実用測定方法
Acoustics−Determination of sound power levels of
noise sources using sound pressure−Engineering method
in an essentially free field over a reflecting plane
序文
この規格は，1994年に第2版として発行されたISO 3744, Acoustics−Determination of sound power levels of
noise sources using sound pressure−Engineering method in an essentially free field over a reflecting planeを元に
作成した日本工業規格であり，次に列挙する点を除いては，技術的内容及び規格票の様式を変更すること
なく作成している。
・ 原国際規格中の適用範囲のうち，分離衝撃騒音 (isolated burst of sound energy) は，その物理的意味
が音響パワーレベルの概念にそぐわないため，これを除外した。
・ 衝撃性の騒音 (impulsive noise) の測定・評価方法に関しては，JISの騒音計規格に時間重み特性，“I”
が規定されていないこと及びその有効性に疑義がもたれていることを考慮し，日本の実情に合わな
いことを追記し，該当部分を除外した。
・ 前版 (JIS Z 8733 : 1987) 中にあり，ISO 3744にない定義を追加した。
・ 他の国際規格ISO/DIS 7779に基づき，測定対象機器の分類を定義し，その設置条件を規定した。
・ 他の国際規格ISO 12001に基づき，騒音のスペクトル及びレベルの時間変動による分類を附属書F
（参考）として追加した。
なお，この規格で点線の下線を施してある文言，項目，参考及び通し番号の付いていない備考は，原国際
規格にはない事項である。
2
Z 8733 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
0.1
この規格は，機械，装置及びこれらのサブアセンブリの音響パワーレベルを算出する様々な方法を
規定する音響通則JISの一つである。これらの通則のいずれか一つを選択するときには，その騒音試験の
条件及び目的に最も適したものを選択することが必要である。反射面上において音源を包む測定表面を使
う方法を選択する場合は，表0.1を参照。また，拡散音場内における方法，音響インテンシティを使う方
法並びにこれらの中の種々の測定方法及び試験環境の検定のために使われる基準音源については，JIS Z
8734，JIS Z 8736-1，-2及びISO 6926をそれぞれ参照。これらのJISは，測定対象機器の作動及び設置条
件に関する一般原則を与えるだけである。特定の種類の機器のための個別規格*が存在するときは，設置及
び作動条件の仕様に関しては，それらを引用することが望ましい。
参考* 原国際規格中において，この規格のように機器の種類を限定せず適用される通則規格を “basic
standard” と呼ぶのに対し，特定の種類の機器のための詳細な測定条件を規定した規格を noise
test code” と呼んでいる。以下，この規格では， “noise test code” を“個別規格”と呼ぶ。
表0.1 反射面上において音源（測定対象機器）を包む測定表面を使う方法によって，異なるグレードの
精度を与える音響パワーレベル算出のためのJIS及び国際規格の一覧
JIS Z 8732
JIS Z 8733
パラメータ
(ISO 3745)
(ISO 3744)
ISO 3746
精密測定方法
実用測定方法
簡易測定方法
グレード1
グレード2
グレード3
試験環境
半無響室
屋外又は屋内
屋外又は屋内
試験環境の適性基準1)
K20.5dB
K22dB
K27dB
音源の体積
室容積の0.5%未満が望ま
しい。
制限なし。利用可能な試験
環境によってだけ限定さ
れる。
制限なし。利用可能な試験
環境によってだけ限定さ
れる。
騒音の種類
分離衝撃騒音*を除く任意の騒音（広帯域，狭帯域，離散周波数，定常非定常，衝
撃騒音）
暗騒音に対する
∆L10dB
∆L6dB
∆L3dB
制限1)
(可能ならば，15dB以上) (可能ならば，15dB以上)
K10.4dB
K11.3dB
K13dB
測定位置の数
10
92)
42)
最低限適合すべき計測器
− 騒音計
a) JIS C 1505に規定する
機器
a) JIS C 1505に規定する
機器
a) JIS C 1502に規定する
機器
− 積分形騒音計
b) JIS C 1505の附属書に
規定する機能を備え
た機器
b) JIS C 1505の附属書に
規定する機能を備え
た機器
b) JIS C 1502の附属書に
規定する機能を備え
た機器
− 周波数バンドフィル
タセット
c) JIS C 1514に規定する
クラス1の機器
c) JIS C 1514に規定する
クラス1の機器
−
再現性の標準偏差として
表したLWA算出の精度
σR1dB
σR1.5dB
σR3dB
（K2＜5dBのとき）
σR4dB
（5dBK27dBのとき），
離散純音が顕著なときは，
σRの値が上記より1dB大
きくなる。
注1)
音響パワースペクトル算出のためには，対象周波数範囲の周波数バンドごとにK1及びK2の値を満足す
るものとする。A特性音響パワーレベル算出に対しても，同じ基準をK1A及びK2Aにそれぞれ適用する。
2) ある規定された環境（7.2〜7.4参照）においては，マイクロホン位置の数を少なくすることが許される。
参考* 1.2参照。
3
Z 8733 : 2000
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0.2
この規格は，測定対象機器を包む測定表面上での音圧レベルを測定し，その機器によって発生する
音響パワーレベルを計算する一つの方法について規定する。機器を包む測定表面を使う方法として，三つ
のグレードの精度（表0.1参照）のいずれをも利用できるが，この規格では，グレード2の精度を使用す
る。
この規格を使うためには，表0.1に記載するある検定基準を満足することが必す（須）である。該当す
る検定基準を満足できないときは，環境に関する異なる要件を規定する他の音響通則（表0.1参照）の適
用を推奨する。
特定の種類の機器のための個別規格は，相互に矛盾することなく一つ又は複数の通則JIS及び／又は通
則国際規格の要件に基づくことが望ましい。
参考 通則規格に基づいて個別規格を作成するための指針がISO 12001で規定されている。
自由音場条件は，機器が普通に設置される一般的な機械室内においては，通常，見い出されるものでは
ない。そのような設置環境で測定が行われるときは，暗騒音又は望ましくない反射に対する補正が必要な
ことがある。
この規格に規定する方法により，A特性及び周波数バンドごとの音響パワーレベルが算出可能となる。
周波数バンドデータから計算したA特性値は，実測したA特性音圧レベルから算出したそれとは異なる
ことがある。
参考 A特性値を周波数バンドデータから計算するのか，それとも，直読のA特性値から求めるかは，
測定対象により異なるため，対象とする機器の種類ごとに該当する個別規格で規定することが
望ましい。9.4i)参照。
0.3
この規格において，音圧レベル測定からの音響パワーレベルの計算は，機器の音響パワー出力と，
時間及び空間上で平均した平均2乗音圧とが直接比例するという前提に基づいている。
参考 この前提どおりとならないような試験環境においては，拡散音場での方法 (JIS Z 8734) 又は音
響インテンシティ測定に基づいた方法 (JIS Z 8736-1，-2) を採用する方がよいであろう。
1. 適用範囲
1.1
一般事項
この規格は，一つの騒音源によって発生する音響パワーレベルを計算するために，一つ又は複数の反射
面近傍の準自由音場条件の下で，音源を包む測定表面上での音圧レベルを測定する方法を規定する。この
規格は，音源の音響パワーレベルの計算のもととなる表面音圧レベルを求める手法だけでなく，試験環境
及び測定器に関する要件も規定しており，グレード2の精度の結果をもたらす。
様々な種類の機器のための個別規格が，この規格に従って制定され，使われることは重要なことである。
各々の種類の機器に対し，そのような個別規格は，この規格に規定するように測定表面及びマイクロホン
の配置を選択するだけでなく，機器の据付け，負荷及び作動条件に関する詳細な要件を規定するであろう。
備考1.
測定表面が異なると，音源の音響パワーレベルの推定も異なってくることがあるため，選択した特定
の測定表面に関し，詳細な情報を該当する個別規格により提供することが望ましい。
1.2
騒音及び騒音源の種類
この規格に規定する方法は，分離衝撃騒音を除くあらゆる種類の騒音の測定に適している。
備考 原国際規格では，“あらゆる種類の騒音に適用可能”となっているが，分離衝撃騒音はその過渡
的な性質上，パワーレベルにより評価することは適当でないものと考えられ，この規格では除
4
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外した。
この規格は，どのような種類の音源にも，また，どのような大きさの音源（例えば，デバイス，機械，
コンポーネント，サブアセンブリ）に対しても適用可能である。
備考2.
騒音のスペクトル及びレベルの時間変動による分類（定常騒音，非定常騒音，準定常騒音，衝撃性騒
音など）が，この規格の附属書F*（参考）に与えられている。
参考*
原国際規格では，騒音の種類を規定したISO 2204を引用しているが，ISO 2204がISO 12001
で置き換えられたので，ISO 12001に基づいて附属書Fを作成した。
備考3.
この規格に従う測定は，煙突，ダクト，コンベヤ又は複数の音源からなる工場のように，非常に背が
高かったり，又は非常に長い音源に対しては実際的でないことがある。
1.3
試験環境
この規格に従って行われる測定に適した試験環境は，一つ又は複数の反射面の近くにある準自由音場（屋
内又は屋外）である（3.8A参照）。
1.4
測定の不確かさ
この規格に従って行われた測定においては，ほとんど例外なしに，A特性音響パワーレベルの再現性の
標準偏差で1.5dB以下の結果となる（表1参照）。
この規格に規定する手順に従って算出した騒音源の音響パワーレベルの個々の値は，測定の不確かさの
範囲の大きさ分だけ，真の値からは異なっていると考えられる。音響パワーレベルの算出における不確か
さは，結果に影響する複数の要因によってもたらされ，その幾つかは測定室内の環境条件に関連し，そし
て，その他のものは実験手法に関連する。
ある特定の音源について，複数の異なる試験機関間で持ち回り試験を行い，各試験機関 (test laboratory)
において，その音源の音響パワーレベルをこの規格に従って算出したとき，その結果は，ばらつきを見せ
るであろう。測定されたレベルの標準偏差は計算可能であり（ISO 7574-4，附属書Bの例を参照），それは
周波数とともに変化する。ほとんど例外なしに，これらの標準偏差は表1の値を上回ることはないと考え
られる。表1に規定する値は，ISO 7574-1に定義する再現性の標準偏差σRである。表1の値は，この規格
の手順を適用することによる測定の不確かさの累積的な効果を考慮してはいるが，作動条件（例えば，回
転速度，電源電圧）又は据付け条件の変化による音響パワー出力の変動は考慮していない。
測定の不確かさは，表1の再現性の標準偏差及び求められる信頼区間に依存する。例えば，正規分布す
る音響パワーレベルに対し，ある一つの音源の音響パワーレベルの真の値が，実測値の±1.645σRにある信
頼区間は90%であり，実測値の±1.96σRにある信頼区間は95%である。さらに，具体的な例についてはISO
7574シリーズ及びISO 9296を参照するとよい。
5
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表1 この表に従って算出される音響パワーレベルの再現性の標準偏差の推定値
オクターブバンド
1/3オクターブバンド
再現性の標準偏差
中心周波数
中心周波数
σR
Hz
Hz
dB
63
50〜80
51)
125
100〜160
3
250
200〜315
2
500〜4 000
400〜5 000
1.5
8 000
6 300〜10 000
2.5
A特性
1.52)
注1)
通常，屋外での測定に対するもの。この周波数バンドに関しては多くの試験室が
検定ができない。
2) 100Hz〜10 000Hzの周波数範囲において比較的“平坦な”スペクトルをもつ騒音を
発する音源に適用可能である。
備考
4. 表1の標準偏差は，この規格に定義する試験条件及び手順に関連付けられるが，測定対象機器そ
のものとは関連がない。これらの標準偏差は，測定試験機関間でのばらつき，屋外の場合の大気条件
の変化，試験室の幾何学的形状又は屋外環境の場合の地形，反射面の音響特性，屋内の場合の試験室
境界における吸音，暗騒音並びに測定器の種類及び校正などによる。また，それらは，測定表面の大
きさ及び形，マイクロホン位置の数及び配置，測定対象機器の配置，積分時間並びに環境補正値を適
用するときは，その算出を含む実験手法でのばらつきによっても発生する。その標準偏差は，音源の
近接音場の内部での測定に関連する誤差にも影響される。そのような誤差とは，音源そのものの性質
に依存するものの，一般的には測定距離が小さくなり，周波数が低くなるほど（250Hz未満）増加す
る。
5. 複数の試験機関が同様の設備及び測定器を使っているとき，それらの試験機関間において，ある
与えられた一つの音源の音響パワーの算出結果は，表1の標準偏差によって示されるものより，もっ
とよく一致するであろう。
6. 似通った大きさで，似通った音響パワースペクトルをもち，似通った作動条件にある特定の種類
の音源に対しては，再現性の標準偏差は，表1で与えられている値よりも小さいことがある。したが
って，この規格を引用する特定の種類の機器のための個別規格においては，適切な持ち回り試験の結
果により，それらを置き換えるものがあるとき，表1の値よりも小さな標準偏差を規定してもよい。
7. 表1で与えられた再現性の標準偏差には，同じ条件の下で，同じ音源に対し，繰り返し行われた
測定に関わる不確かさ（繰り返し性の標準偏差に関しては，ISO 7574-1参照）を含んでいる。この不
確かさは，試験機関間のばらつきよりも一般にかなり小さい。しかしながら，ある音源の作動又は設
置条件を一定に保つことが困難なとき，その繰り返し性の標準偏差は，表1の値に比べ小さなもので
はないことがある。そのような場合，その音源で繰り返し性のある音響パワーレベルデータを得るこ
とが困難であったという事実を記録し，試験報告書に記載することが望ましい。
8. この規格の手順及び表1の標準偏差は，個々の機械の測定に適用可能である。同じ種類の機械の
ロットの音響パワーレベルの特性付けを行うには，信頼区間を規定した，無作為標本化技術の利用が
必要であり，その結果は統計的な上限として表現される。これらの技術を適用するには，全標準偏差
が既知であるか又はそのロット中の個々の機械の間の音響パワーのばらつきの尺度として，ISO
7574-1に定義する生産の標準偏差を含めて推定しなければならない。機械のロットの特性付けに関す
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る統計的方法が，ISO 7574-4に規定されている。
2. 引用規格
次に掲げる規格は，この規格の本文で引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する規定
を含んでいる。これらの引用規格は，その最新版を適用する。
JIS A 1409 残響室吸音率の測定方法
備考 原国際規格では，ISO 354 : 1985を引用している。JIS A 1409とISO 354とは，完全な対応関
係にはないが，JIS Z 8733の目的，すなわち残響時間を求めるためには同等である。
JIS C 1502 普通騒音計
備考 IEC 60651 : 1979, Sound level meters及びIEC 60804 : 1985, Integrating-averaging sound level
metersからのタイプ2の騒音計に関する引用事項は，時間重み特性“I”に関する規定を
除き，JIS C 1502の該当事項と同等である。
参考 原国際規格では（積分機能をもたない従来形の）騒音計の適合性はIEC 60651を，時間平均
音圧レベル測定機能を備える積分形騒音計の適合性はIEC 60804を引用して記述してい
るが，JIS Z 8733では，単に“騒音計はJIS C 1502に適合する”というように記述し，
時間平均音圧レベル測定機能をもつ騒音計にあっては，その附属書に規定する要件を満
足しなければならない。
JIS C 1505 精密騒音計
備考 IEC 60651 : 1979, Sound level meters及びIEC 60804 : 1985, Integrating-averaging sound level
metersからのタイプ1の騒音計に関する引用事項は，時間重み特性“I”に関する規定を
除き，JIS C 1505の該当事項と同等である。
参考 原国際規格では（積分機能をもたない従来形の）騒音計の適合性はIEC 60651を，時間平均
音圧レベル測定機能を備える積分形騒音計の適合性はIEC 60804を引用して記述してい
るが，JIS Z 8733では，単に“騒音計はJIS C 1505に適合する”というように記述し，
時間平均音圧レベル測定機能をもつ騒音計にあっては，その附属書に規定する要件を満
足しなければならない。
JIS C 1515 音響校正器
備考 IEC 60942 : 1988, Sound calibratorsと，この規格が一致する。
JIS Z 8732 音響−音圧法による騒音源の音響パワーレベルの測定方法−無響室及び無響室における
精密方法
備考 ISO 3745 : 1977, Acoustics−Determination of sound power levels of noise sources−Precision
methods for anechoic and hemi-anechoic roomsに，この規格が対応している。
JIS Z 8737-1 音響−作業位置及び他の指定位置における機械騒音の放射音圧レベルの測定方法−第
1部：反射面上の準自由音場における実用測定方法
備考 ISO 11201 : 1995, Acoustics−Noise emitted by machinery and equipment−Measurement of
emission sound pressure levels at a work station and at other specified positions−Engineering
method in an essentially free field over a reflecting Planeと，この規格が一致する。
ISO 3747 : 1987 Acoustics−Determination of sound power levels of noise sources−Survey method using a
reference sound source
ISO 4871 : 1996 Acoustics−Declaration and verification of noise emission values of machinery and
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equipment
ISO 6926 : 1990 Acoustics−Determination of sound power levels of noise sources Requirements for the
performance and calibration of reference sound sources
ISO 7574-1 : 1985 Acoustics−Statistical methods for determining and verifying stated noise emission values
of machinery and equipment−Part 1 : General considerations and definitions
ISO 7574-4 : 1985 Acoustics−Statistical methods for determining and verifying stated noise emission values
of machinery and equipment−Part 4 : Methods for stated values for batches of machines
ISO/DIS 7779
Acoustics−Measurements of noise emitted by information technology and
telecommunications equipment (Revision of ISO 7779 : 1988)
ISO 12001 : 1996 Acoustics−Noise emitted by machinery and equipment−Rules for the drafting and
presentation of a noise test code
IEC 61260 : 1995 Electroacoustics−Octave-band and fractional octave-band filters
3. 定義
この規格では，次の定義を適用する。
3.1
音圧 (sound pressure) p：
音の存在により，静圧の上に重畳した変動圧力。単位はパスカル (Pa)。
備考9.
音圧の大きさ（マグニチュード）は，瞬時音圧，最大音圧又は所定の時間及び空間（すなわち，測定
表面上）での平均2乗音圧の平方根など，複数の方法で表現することができる。
3.2
音圧レベル (sound pressure level) Lp：
基準音圧の2乗に対する，音圧の2乗の比の常用対数の10倍。単位デシベル (dB)，基準音圧は20μPa (2
×10−5Pa)。
使用した周波数重み特性又は周波数バンド幅，並びに時間重み特性（S又はF，JIS C 1505参照）を表
示する。
参考 原国際規格では時間重み特性“I”も加えているが，ここでは除外した。附属書D参照。
備考10.
例えば，時間重み特性SでのA特性音圧レベルは，LpASである。
3.2.1
時間平均音圧レベル (time-averaged sound pressure level) Lpeq,T：
測定時間T内で，時間とともに変動する対象音と同じ平均2乗音圧をもつ，連続で定常な音の音圧レベ
ル。単位はデシベル (dB)。次の式で与えられる。
=
∫10
)
(
1.0
10
,
10
1
log
10
dt
T
L
t
L
T
peq
P
dB
=
∫10
20
2
10
)
(
1
log
10
dt
P
t
P
T
dB ············································· (1)
時間平均音圧レベルは，JIS C 1505に適合する測定器を使って測定する。
備考
11. 時間平均音圧レベルは，通常，A特性で重み付けられておりLpAeq,Tと表示され，通常LpAと省略
される。
8
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12. 時間平均音圧レベルは，必ずある測定時間の間に算出されるものであるため，一般に，添え字の
“eq” 及び “T” は省略される。
参考 原国際規格のまま記載した。しかし，添え字 “eq” を省略するとリニア平均したことを明示で
きなくなるため，省略しない方が望ましい。
3.2.2
単発事象音圧レベル (single-event sound pressure level) Lp, 1s：
所定の時間T（又は，所定の測定時間T）の一つの独立した音事象の時間積分音圧レベルを，T0＝1sで
正規化したもの。単位はデシベル (dB)。次の式で与えられる。
dB
)
(
1
log
10
1
0
20
2
0
10
ls,
=
∫
dt
p
t
p
T
Lp
dB
log
10
0
10
,
+
=
T
T
L
T
peq
····················································· (2)
参考 原国際規格のまま記載した。原国際規格では分離衝撃騒音 (isolated burst of sound energy) も測
定対象としているため，この定義を記載したと思われる。しかし，この規格では，そのような
過渡的な騒音は音響パワーレベルの測定対象外となるため，必ずしも必要な定義ではない。
3.2.3
測定時間 (measurement time interval) ：
時間平均音圧レベルが算出される作動別時間 (operational period)，又は作動サイクル (operational cycle)
の一部分若しくはその整数倍。
参考 測定時間を構成する要素として，作動別時間及び作動サイクルがJIS Z 8737-1で定義されてい
る。
3.3
測定表面 (measurement surface) ：
音源を包みこむ面積Sの仮想的な表面で，測定点を配置したもの。測定表面は，一つ又は複数の反射面
で終了する。
3.4
表面音圧レベル (surface sound pressure level)
f
p
L
：
測定表面上のすべてのマイクロホン位置における時間平均音圧レベルのエネルギ平均に，暗騒音補正値
K1 (3.15) 及び環境補正値K2 (3.16) を適用したもの。単位はデシベル (dB)。
3.5
音響パワー (sound power) P：
一つの音源から放射される空気伝搬音のエネルギの単位時間当たりの比率。単位はワット (W)。
参考 原国際規格では，音響パワーの記号として，斜体の大文字 “W” を使っていたが，この規格で
は，斜体の大文字 “P” に変更した。ただし，音響パワーレベルの記号の添え字は斜体の大文字
“W” のままである（3.6参照）。
3.6
音響パワーレベル (sound power level) Lw：
基準音響パワーに対する，測定対象機器によって放射された音響パワーの比の常用対数の10倍。単位は
デシベル (dB)，基準音響パワーは1pW (10−12W)。
使用した周波数重み特性又は周波数バンド幅を表示する。
備考13.
例えば，A特性音響パワーレベルは，LWAと表示される。
3.7
自由音場 (free field) ：
境界からの影響のない，均質で等方性の媒質内部の音場。実際には，対象周波数範囲内にあって，境界
における反射の影響が無視できる音場のことである。
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3.8
反射面上の自由音場 (free field over a reflecting plane) ：
測定対象機器が配置されている，無限に広く硬い平面よりも上方の半空間にあり，均質で等方性の媒質
内部の音場。
3.8A 反射面上の準自由音場 (essentially free field over a reflecting plane) ：
測定対象機器が配置される平面の上方のある半空間内の音場であって，わずかながら反射による外乱を
受けるところ。
参考 原国際規格の規格名称との整合性から考えて，“反射面上の準自由音場”の定義が必要なため追
加した。定義の内容はISO 12001のそれに基づいている。この定義は，JIS Z 8737-1の3.5Aと
同一である。
3.9
対象周波数範囲 (frequency range of interest) ：
一般目的では，オクターブバンドの中心周波数で，125Hz〜8 000Hzの周波数範囲。
備考14.
特殊な目的のためには，拡張されたか又は狭められた周波数範囲上での利用に対し，その試験環境及
び測定器の精度に関する要件を満足することを前提条件として，対象周波数範囲を，上下端のどちら
の方向にでも，広げても又は狭めてもよい。優勢な高周波音（又は低周波音）を発する機器に対して
は，試験設備及び手順を最適化するため，対象周波数範囲を広げても又は狭めてもよい。
3.10 基準箱 (reference box) ：
測定対象機器をすっぽりと包み，一つ又は複数の反射面上で終わる，最小の直方体（矩形平行六面体）
形をした仮想表面。
3.11 特性音源寸法 (characteristics source dimension) do：
基準箱とそれに接する反射面内にある鏡像から成る箱の対角線の長さの半分。
3.12 測定距離 (measurement distance) d：
基準箱から箱状の形をした測定表面までの距離。
3.13 測定半径 (measurement radius) r：
半球測定表面の半径。
3.14 暗騒音 (background noise) ：
測定対象機器以外の，すべての音源からの騒音。
備考15.
暗騒音には，空気伝搬音，固体伝搬振動及び測定器の電気雑音からの寄与を含むことがある。
3.15 暗騒音補正値 (background noise correction) K1：
表面音圧レベルへの暗騒音の影響を考慮するための補正項。K1は周波数に依存する。単位はデシベル
(dB)。A特性の場合，K1Aと表示される。
3.16 環境補正値 (environmental correction) K2：
表面音圧レベルへの反射音又は吸音の影響を考慮するための補正項。K2は周波数に依存する。単位はデ
シベル (dB)。A特性の場合，K2Aと表示される。
3.17 騒音の衝撃性に関する指数 (impulsive noise index: impulsiveness) ∆LI：
ある一つの音源から放射された騒音の“衝撃性”を判断するための量（附属書D参照）。単位はデシベ
ル (dB)。
備考 原国際規格のまま記載した。しかし，原国際規格の附属書Dの評価方法自身，その有効性に疑
義がもたれているため，その実効的な意味がなくなってきている。
10
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3.18 指向指数 (directivity index) DI：
ある機器が，一つの方向に際立って音を放射することを示すための尺度（附属書E参照）。単位はデシ
ベル (dB)。
備考 3.19〜3.21は，原国際規格にはないが前版 (JIS Z 8733 : 1987) 中にある定義であるため，これ
らを含めた。
3.19 基準音源 (reference sound source) ：
測定周波数範囲において，十分かつ安定した出力と平坦な周波数特性及び良好な全指向性をもつ小形の
広帯域雑音性音源で，ISO 6926によって音響パワーレベルが校正されているもの。
3.20 残響時間 (reverberation time) T：
定常状態にある室内の平均音響エネルギ密度が音源を停止してから，定常状態の1/106 (−60dB) に減衰
するまでの時間。単位は秒 (s)。
3.21 室内等価吸音面積 (equivalent absorption area of surface) A：
室内の吸音性の程度を示す値で，吸音力ともいう。単位は平方メートル (m2)。
備考 3.22〜3.30は，原国際規格にはない定義であるが，試験対象機器の分類を明確にするため，コ
ンピュータ及び事務機器分野の個別規格であるISO/DIS 7779中の定義をもとに作成したもの
である。
3.22 機能ユニット (functional unit) ：
識別番号をもち，所定の仕事を行える機器の総称。機能ユニットは，一つ又は複数のフレームで支えら
れていたり，自分自身のきょう（筐）体をもっていたり，若しくは他の装置に取り付けられるように設計
されていてもよい。
備考 独自の識別番号の有無にかかわらず，アセンブリ，その他の機能ユニットを組み込んだラック
になった最終製品の形態であっても，機能ユニットと考えることができる。
3.23 床置き形機器 (floor-standing equipment) ：
それ自身のスタンドを介してか又は介さずに，床の上に設置されることを意図した機能ユニット。
3.24 卓上形機器 (table-top equipment) ：
完全なきょう体をもつ機能ユニットであって，かつ，卓上，机上又は独立したスタンドの上に設置され
ることを意図したもの。
3.25 壁掛け形機器 (wall-mounted equipment) ：
それ自身のスタンドをもたず，通常，壁を背にするか又は壁の中に据え付けられることを想定した機能
ユニット。
3.26 サブアセンブリ (sub-assembly) ：
他のユニットの中に設置されるか又は一つのユニット内に他のユニットとともに組み立てられることを
意図した機能ユニット。自分自身のきょう体や識別番号をもっていても，もっていなくてもよい。
3.27 ラック組込み形機器 (rack-mounted equipment) ：
最終製品のきょう体内部に設置される，一つ又は複数のサブアセンブリ。
3.28 標準試験卓 (standard test table) ：
騒音測定の際，卓上形機器の設置条件をシミュレートするために使われる卓であって，所定の大きさ，
板厚などを規定した卓。
参考 より詳細な情報に関しては，JIS Z 8737-1の附属書Bを参照。
3.29 作動モード (operating mode) ：
11
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測定対象機器が所定の機器を果たしている状態。
3.30 アイドルモード (idle mode) ：
必要なウォームアップの後，測定対象機器に通電してはいるが，作動していない，一つ又は複数の安定
な状態。
4. 音響環境
4.1
一般事項
この規格による測定に適した試験環境とは，次のとおりである。
a) 反射面上の自由音場を備えた精密実験室*
参考* JIS Z 8732に適合する半無響室と考えられる。
b) 4.2及び附属書Aの要件を満足する平坦な屋外空間
c) 測定表面上での音圧に対する残響場の寄与が，その音源による直接場のそれに比べて小さい室内
備考16.
上記c)に規定する条件は，壁と天井に十分な吸音材を施した小さな室内はもちろんのこと，通常，非
常に大きな室の内部で満足される。
4.2
試験環境の適正基準
音源が反射面上の自由音場内に音又は騒音を放射できるようにするため，実際的である限り，試験環境
は反射面以外の反射物からの影響がないものとする。附属書Aは，理想的な条件からの逸脱を考慮するた
めの環境補正値K2の大きさの算出手順を規定する。この規格の目的のためには，環境補正値K2A（表0.1
及び8.4参照）は，数値的には2dB以下でなければならない。この規格に従い周波数バンドごとの音響パ
ワーレベルを算出するには，対象周波数バンドごとのK2が，2dBを超えてはならない。
備考17.
K2Aが2dBを超えるような空間で測定を行わざるをえないとき，表0.1及び8.4を参照するか，若しく
はISO 3746又はJIS Z 8736-1，-2を参照。
4.3
暗騒音の基準
複数のマイクロホン位置上でパワー平均した暗騒音のレベルは，測定されるべき音圧レベルよりも，少
なくとも6dBは低くなければならなく，できることならば15dB以上低いことが望ましい（表0.1及び8.3
参照）。
備考18.
暗騒音の音圧レベルと測定対象機器による音圧レベルとの差が6dB未満のときは，表0.1及び8.3を
参照するか，又はISO 3746を参照。暗騒音を増加させるかもしれない風の影響を最小限にすることが
望ましい。
5. 測定器
5.1
一般事項
マイクロホン及びケーブルを含む計測システムは，JIS C 1505に適合するものとする。使われるフィル
タはIEC 61260のクラス1の要件を満足するものとする。
5.2
校正
一連の測定ごとに，対象周波数範囲内の一つ又は複数の周波数において，測定システム全体の校正を検
証するために，±0.3dBの精度（JIS C 1515に規定するクラス1）をもつ音響校正器をマイクロホンに適用
12
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する。
校正器は，1年に1回，JIS C 1515への適合性を検証し，測定システム全体では，少なくとも2年に1
回，JIS C 1505への適合性を，該当するJISに対し，トレーサビリティのある校正を行える試験機関で検
証する。
該当JISへの適合性を最後に検証した日付を記録する。
5.3
マイクロホンの風防
屋外でマイクロホンを使うときは，風防を使用することを推奨する。風防が計測システムの精度に影響
を与えないように注意しなければならない。
6. 測定対象機器の設置及び作動
6.1
一般事項
測定対象機器の設置及び作動方法によって，その機器によって放射される音響パワーが大きく影響され
ることがある。この箇条は，測定対象機器の設置及び作動条件に起因する音響パワー出力の変動を最小に
する条件を規定する。設置及び作動条件が問題となる場合，個別規格の指示があるときは，それを遵守す
る。
特に大形の機器に対しては，コンポーネント，サブアセンブリ，補助装置，動力源などのどれが基準箱
に含まれるかを個別規格で規定することが重要である。
6.2
測定対象機器の配置
測定対象機器は，通常の目的で設置されるのと同じように，一つ又は複数の反射面上の，一か所又は複
数か所に設置する。設置条件が複数存在したり，又は典型的な条件が不明なときは，騒音試験のための条
件を取り決め，試験報告書にそれを記載する。試験環境に機器を配置するには7.1に従い，その機器を包
むことができるよう十分なスペースを確保することが重要である。
測定表面に関し，附属書Aの要件を満足するため，測定対象機器は，反射性の壁又は天井若しくはあら
ゆる反射物から十分な距離をおいて配置する。
機器によっては，典型的な設置条件において，二つ以上の反射面が必要であったり（図C.7及び図C.8
参照。例えば，壁を背にして設置される機器），（例えば，ホイストのように）フリースペースが必要であ
ったり，又は（垂直な面の両側において放射が起こってもよいように）他の反射面内に開口部が必要であ
ったりする。設置条件及びマイクロホン配置の構成に関する詳細な情報は，この規格の一般的な要件及び
そのような機器のための個別規格に基づくことが望ましい。
通常の利用において，実際に典型的であるときに限り，測定対象機器を二つ以上の反射面の近くに設置
する。
6.3
測定対象機器の据付け
多くの場合，放射される音響パワーは，測定対象機器の支持又は据付け条件に依存する。測定対象機器
のための典型的な据付け条件が存在する場合は，いつでもその条件を使うか，又はシミュレートすること
が適当であるときは，それを行う。
典型的な据付け条件が存在しないか又は試験目的で利用できない場合は，試験のために採用された据付
け方法に起因して，音源の音響出力が変化することのないように注意を払わなければならない。測定対象
機器が据え付けられる構造体からの音響放射を少なくするようなあらゆる手だてを講ずるものとする。
備考
19. それら自身は，特段強い低周波音を放射するわけではなくても，機器の据付け方法によっては，
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Z 8733 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
多くの小形音源からの振動のエネルギが放射体として考えれば十分に大きな表面に伝達することによ
り，もっと低い周波数を放射することがある。そのような場合，実際的であるならば，支持するもの
への振動の伝達と音源側への反作用の両方を最小にするように，両者の間に弾性支持体を挿入するの
がよい。この場合，据付け基礎は，余分に振動したり音を発したりしないよう，十分に高い機械イン
ピーダンスをもつものが望ましい。測定対象機器が，典型的な使用設置場所において，弾力性のある
据え付けをされるものでないときは，そのような据え付けを使うべきではない。
20. 例えば，駆動部分と被駆動部分との関係のように，結合条件が，測定対象機器の音響放射に極め
て大きな影響を及ぼすことがある。
参考 複数の反射面の近傍に据え付けられる機器の場合，その機器によって放出される音響パワーは，
その位置及び向きに依存することがある。測定対象機器の特定の位置及び特定の向きでの放射
音響パワーを算出することと，複数の位置及び複数の向きに対する平均に基づいて放射音響パ
ワーを算出することの，いずれか，又は両方が試験の対象となることがある。機器ごとの設置
条件の詳細は，該当する個別規格で規定することが望ましい。
6.3.1
手持ち形機器
測定対象機器に含まれないアタッチメントを介して固体伝搬音が伝わらないようにするため，手持ち形
機器は，釣り提げるか又は手で支持する。測定対象機器の作動のために支持構造物を必要とする場合，そ
の支持構造物は，測定対象機器の一部とみなせる程度に小さくなければならず，その機器のための個別規
格に記載する。
6.3.2
床置き形及び壁掛け形機器
床置き形及び壁掛け形機器は，（音響的に硬い）反射面（床，壁）上に置く。壁の前に設置されることだ
けを意図した床置き形機器は，音響的に硬い壁面の前の音響的に硬い床面上に設置する。
参考 次の6.3.3〜6.3.5は，原国際規格にはない規定であるが，試験対象機器の設置条件をより明確に
するため，コンピュータ及び事務機器分野の個別規格であるISO/DIS 7779をもとに作成した。
6.3.3
卓上形機器
卓上形機器は，その作動のためにテーブル又は机を必要とするもの*でない限り，試験室の壁から少なく
とも1.5m離して，床の上に設置する。作動時にテーブルなどを必要とする機器は，標準試験卓の上面の
中央に設置する。いずれの場合も，測定表面は床面上で終了する。
参考* 作動時にテーブルなどが必要な機器としては，例えば，床の上から給紙したり，床の上に排紙
したりするプリンタが挙げられる。標準試験卓の例がJIS Z 8737-1の附属書Bで与えられてい
る。
6.3.4
ラック据付け形機器
ラック据付け形機器は，その機器のための設置仕様書に適合するきょう体内部に設置する。きょう体内
部のすべてのユニットの配置を記述する。機器自身には冷却用のファンを含んではいないが，試験時にそ
れを必要とするラック据付け形機器は，製造業者が提供するものか，又は推奨するとおりにそのような冷
却機器とともに試験を行う。
数種類のエンドユース用のきょう体の内部で使うことのできるラック据付け形機器は，きょう体ごとに
独立した機能ユニットとしてもよいし，又はある一つの完結したシステムとして試験を行い，報告しても
よい。
6.3.5
サブアセンブリ
サブアセンブリは，振動を絶縁するものを使って反射面の上方に支持する。その支持具は，空気伝搬音
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の伝搬を妨げてはならない。反射面までの距離については，各製品分野ごとの個別規格で規定する。使わ
れた据付け条件の詳細を試験報告書に記載する。
6.4
補助装置
測定対象機器に繋がれた電気配管，パイプ又は空気ダクトが，試験環境内に非常に大きな音のエネルギ
を放射することがないように注意を払う。
測定対象機器の作動に必要ではあるが，その一部分ではない補助装置（6.1参照）は，可能であれば，試
験環境の外側に配置する。
外側に配置できないときは，その補助装置を基準箱に含めるものとし，試験報告書に記載する。
6.5
測定対象機器の作動
測定対象機器のための個別規格が存在するときは，測定中，その個別規格に規定する作動条件を使う。
個別規格が存在しない場合は，可能な限り，通常の利用において典型的であるような方法で測定対象機器
を作動される。そのような場合，次の作動条件の一つ又は複数を選択する。
− 規定した負荷及び作動条件
− （上記と異なるときは）最大負荷条件
− 無負荷条件（アイドリング）
− 通常利用の代表的なもので，最大の音を発生するものに対応する作動条件
− 注意深く定義した条件のもとで作動することをシミュレートした負荷条件
− 測定対象機器に特有の作動サイクルでの作動条件
必要とする作動条件（すなわち，負荷条件，機器の速度，温度など）の任意の組み合わせに対し，測定
対象機器の音響パワーレベルが算出されるであろう。これらの試験条件をあらかじめ選択し，試験中一定
に保つものとする。騒音測定を行う前に，測定対象機器は希望する作動条件になければならない。
処理する材料の種類又は使用する工具のような，二次的な作動パラメータに騒音放射が依存するとき，
それが実際的である限りにおいては，変動を最小に抑え，かつ，典型的な作動となるよう，それらのパラ
メータを選択するものとする。特定の種類の機器のための個別規格により，試験のための工具及び材料を
規定する。
試験の目的に応じて，同じ種類の機械からの騒音放射の再現性が高く，かつ，その種の機械に対して最
も共通で典型的である作動条件となるように，一つ又は複数の作動条件を定義することが適切である。こ
のような作動条件は，該当する個別規格で定義するものとする。
シミュレートした作動条件を使うときは，測定対象機器の通常利用の典型となる音響パワーレベルを与
えるように選択する。
それが適切である場合は，個々に定義された作動別時間内に終わる複数の独立した作動条件からなる複
合的な作動条件に対し，その試験結果は，個々の条件を組み合わせ，エネルギ平均を使って合成する。
音響測定中の測定対象機器の作動条件を，試験報告書に詳細に記載する。
7. 音圧レベルの測定
7.1
測定表面の選択
測定表面上のマイクロホン位置の配置を容易にするために，仮想的な基準箱を定義する。この基準箱の
寸法を定義するときには，測定対象機器から突き出た要素のうち，際立って大きな音響エネルギを放射し
ていないものを除外してもよい。これらの突起した要素の取り扱いは，測定対象機器の種類ごとに，該当
する個別規格で特定することが望ましい。マイクロホン位置は，測定表面上にあり，この測定表面とは，
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基準箱のように音源を包み，反射面上で終了する面積Sの仮想的な面である。
測定対象機器の配置，測定表面及びマイクロホン位置は，基準箱の長さ方向及び幅方向に平行な床面内
にある水平軸x及びyによる座標系によって定義される。特性音源寸法d0を図1に示す。
測定表面としては，次の二つのうちの一方を使用する。
a) 半径rの仮想的な半球面又は部分半球面
b) 基準箱の側面に平行な矩形平行六面体。この場合，測定距離dは測定表面と基準箱との間の距離であ
る。
（例えば，たくさんの反射物，高い暗騒音のような）好ましくない音響条件の室内又は空間に通常設置
されるか及び／又は測定せざるを得ない機器に対しては，小さな測定距離を選択することが適当であって，
その場合，通常，平行六面体の測定表面となる。音響的に満足のいく，開放された大きな空間に通常据え
付けられるか及び／又は測定される機器に対しては，通常，大きな測定距離が選択されるが，この場合，
半球形の測定表面が望ましい。指向性測定のためには，半球又は部分半球測定表面が必すである。
同様の機器の一連の測定（例えば，同じ型式の機械又は同じ種類の機械）に対しては，同じ形の測定表
面の利用が必すである。
備考21.
詳細な情報を得るために，分析対象である機器のための個別規格を参考にするとよい。
測定距離d又は半球の半径r同様に，基準箱の構造，測定表面の大きさ及び形を試験報告書に記載する。
7.2
半球測定表面
反射面を介して基準箱と接する鏡像からなる箱の中央（図1の点Q）に半球の中心がくるものとする。
半球測定表面の半径rは，特性音源距離d0の2倍以上とし，1m未満であってはならない。
備考22.
半球の半径r（単位はメートル）は，1，2，4，8，10，12，14又は16のいずれか一つが望ましい。こ
れらの半径の幾つかは，大きすぎて，附属書Aに規定する環境的な要件を満足できないことがある。
そのように大きな値の半径は利用しなくてもよい。
7.2.1
半球測定表面の面積及び基本マイクロホン位置
反射面が一つだけのとき，マイクロホン位置は，測定対象機器を包み，反射床上で終了する面積S＝2πr2
の仮想的な半球測定表面上にある。測定対象機器が壁の前にあるとき，S＝πr2である。測定対象機器が隅
にあるときは，S＝0.5πr2である。半球測定表面の基本マイクロホン位置を，附属書Bの図B.1及び図B.2
に示す。図B.1は，10か所の基本マイクロホン位置を規定しており，それぞれが半径rの半球測定表面上
の等しい面積に対応する。図B.1及び図B.2の半球面上の配列は，マイクロホンに直接入射する音波と反
射面からの反射波との干渉によって発生する誤差を最小にするように選択されている状態。
測定対象機器が二つ以上の反射面に接して設置されるときは，適切な測定表面及びマイクロホン位置を
定義するため，附属書Bの図B.3 a)及び図B.3 b)を引用しなければならない。
（例えば，建設機械のように，移動中及び稼働モード時に測定しなければならない機器のような）ある
種の特別な場合には，マイクロホン位置の数及び配置を通常のものとは異なったものにできる。しかしな
がら，これは，事前に行われた詳細な実験によって，この規格に規定する配列を使って算出した値と，そ
れとは異なる配列によって得られた音響パワーレベルの値が同じであるか，又は大きくてもその差が1dB
未満であることが示されたときだけ可能である。
7.2.2
半球測定表面上の追加マイクロホン位置
次の場合，半球測定表面上の追加マイクロホン位置での音圧レベル測定が必要である。
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a) 基本マイクロホン位置において測定した音圧レベルの範囲（すなわち，最大音圧レベルと最小音圧レ
ベルとのデシベル差）が基本マイクロホン位置の数を超える場合か，又は
b) 測定対象機器が指向性の強い騒音を発するか，又は
c) 例えば，他の部分が覆われた機械の開口部分のように，大形の機器からの騒音が，小さな部分からだ
け放射されている場合
条件a)のときは，追加マイクロホン位置を使用する。半球面上のマイクロホン配列に対しては，附属書
Bの図B.1の最初の配列をz軸の周りに180度回転させることによって追加の10点が定義される（表B.1
及び図B.1参照）。新しい配列のz軸上の一番上の点が，最初の配列の一番上の点に一致することに注意し
なければならない。マイクロホン位置の総数は，10から19に増加する。
条件b)又はc)であるときは，測定表面上の騒音の放射の強い部分だけに測定位置を追加する（7.4.1参照）。
7.3
平行六面体測定表面
測定距離dとは，基準箱と測定表面との直角距離のことである。dの値は，少なくとも0.25mなければ
ならず，1mとするのが望ましい。
備考23.
dの値（単位はメートル）は，0.25，0.5，1，2，4又は8のいずれか一つであるのが望ましい。大形の
機器に対しては，1mよりも大きな測定距離を選択してもよい。選択したdの値に対し，附属書Aに
規定する環境的な要件を満足することが望ましい。
7.3.1
平行六面体測定表面の面積及びマイクロホン位置
マイクロホン位置は測定表面上にあり，その面とは，基準箱の側面に平行で，そこから距離d（測定距
離）だけ隔たった，その機器をすっぽりと包む面積Sの仮想的な面である。
図C.1〜図C.8に，平行六面体測定表面上でのマイクロホン位置を示す。図C.2〜図C.6による測定表面
の面積Sは，次の式で与えられる。
S＝4 (ab＋bc＋ca) ······································································ (3)
ここに， a＝0.5l1＋d
b＝0.5l2＋d
c＝l3＋d
l1，l2及びl3：それぞれ，基準箱の長さ，幅及び高さ
機器が二つ以上の反射面に接して設置される場合，相応しい測定表面を定義するために図C.7及び図C.8
を引用しなければならない。これらの条件の下での測定表面積Sの計算が，それぞれの図に与えられてい
る。マイクロホン位置は，図C.1〜図C.6に従って配置する。
7.3.2
平行六面体測定表面上の追加マイクロホン位置
次の場合，平行六面体測定表面上の追加マイクロホン位置での音圧レベル測定が必要である。
a) 基本マイクロホン位置において測定した音圧レベルの範囲（すなわち，最大音圧レベルと最小音圧レ
ベルとのデシベル差）が基本マイクロホン位置の数を超える場合か，又は
b) 測定対象機器が指向性の強い騒音を発する場合か，又は
c) 例えば，他の部分が覆われた機械の開口部分のように，大形の機械からの騒音が，小さな部分からだ
け放射されている場合
条件a)のときは，追加マイクロホン位置を使用する。平行六面体上にあるマイクロホン配列に対しては，
附属書Cの図C.1に示すように，等しい大きさに分割された矩形の部分面積の数が増えるに従い，測定位
置の数が増える。
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条件b)又はc)のときは，測定表面上の騒音の放射の強い部分だけに測定位置を追加する（7.4.1参照）。
7.4
マイクロホン位置を選択するための付加的な手順
7.4.1
測定表面上の限定された部分へのマイクロホン位置の追加
7.2.2又は7.3.2によって，測定表面上の限定した部分にマイクロホン位置を追加する場合，その部分内
での音圧レベルの詳細な分析を行う。この詳細分析の目的は，対象周波数バンドでの音圧レベルの最大値
と最小値とを算出することである。これらの追加マイクロホン位置では，通常，測定表面上の対応する面
積が必ずしも等しくなくてもよい。この場合，音響パワーレベルLW算出のために，JIS Z 8732 : 1986の附
属書2の2.2（測定球面又は測定半球面を不等面積に分割する方法）を使うものとする。
7.4.2
マイクロホン位置の数の削減
マイクロホン位置の数を削減して算出した表面音圧レベルが，7.2又は7.3の従い，すべてのマイクロホ
ン位置での測定から得られたものより，0.5dBよりも大きく変化しないことが，事前の試験により示され
ていることを前提として，マイクロホン位置の数を減らすことができる。一つの例としては，放射パター
ンが左右対称であることが示された場合がある。
備考24.
該当する個別規格において，安全上の理由に言及しているときは，一番上のマイクロホン位置
[overhead position (s)] は削除してもよい。
7.4.3
移動マイクロホンのための測定経路
測定対象機器が定常騒音を放射するときは，離散的に配置したマイクロホン位置に替えて，附属書B及
び附属書Cに規定するように，測定表面に沿って一定速度でマイクロホンを移動させることにより表面音
圧レベルを測定することが可能である。経路に沿った最大の移動速度及びマイクロホンの向きを報告する。
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図1 基準箱と座標系の原点Qに対する特性寸法d0の例
7.5
測定
7.5.1
環境条件
マイクロホンの選択及び位置決めを適切にすることによって，使われるマイクロホンに対し測定に不利
な影響を与える環境条件（例えば，強い電場又は磁場，風，試験中の機器からの排気を受けること，高温
又は低温）を回避しなければならない。不利な環境条件に対応するために測定器の製造業者の取扱い上の
指示を遵守する。マイクロホンは，音波の入射角が，マイクロホンを校正したときのそれと一致するよう
に常時向けておくこととする。
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7.5.2
測定器
5.に規定する仕様に加え，次を適用する。
JIS C 1505に適合した騒音計を使って測定する。時間重み特性Sで測定した音圧レベルの変動が±1dB
未満であることが示されない限り，時間平均音圧レベル(3.2.1)を測定する。時間重み特性Sで測定した音
圧レベルの変動が±1dB未満である場合，その最大レベルと最小レベルの算術平均を時間平均音圧レベル
として表示してもよい。
7.5.3
手順
時間平均音圧レベルは，測定対象機器にとって典型的な作動別時間で測定する。各マイクロホン位置に
おいて，対象周波数範囲の時間平均音圧レベルを読み取る。
次のものを算出しなければならない。
a) 測定対象機器の作動中のA特性音圧レベル又はバンド音圧レベルL'p
b) 暗騒音のA特性音圧レベル又はバンド音圧レベルL''pi
160Hz以下を中心とする周波数バンドに対しては，測定時間は，少なくとも30秒とする。200Hz以上を
中心とする周波数バンドに対しては，測定時間は少なくとも10秒とする。
移動マイクロホンを使う場合，積分時間は，少なくともマイクロホンが2回旋回する時間を含むことと
する。
備考 原国際規格では，ここに“分離可能な単発の音事象の測定に対しては，単発事象騒音レベルLp,1s
（3.2.2参照）を算出すること”を規定していたが，そのような過渡的な騒音はこの規格の対象
外であるため，除外した。
時間とともに変動する騒音に対しては，測定時間を注意深く規定することが重要であり，通常，これは，
試験の目的に依存する。騒音のレベルの異なる，複数の作動モードをもつ機械に対しては，それぞれのモ
ードに対し適切な測定時間を選択し，試験報告書にこれを明記する。
8. 表面音圧レベル及び音響パワーレベルの計算
8.1
測定表面上で平均された音圧レベルの計算
A特性音圧レベル又は測定対象周波数バンドごとの音圧レベルに対し，次の式を使って，測定した音圧
レベルL'piから測定表面上での平均音圧レベル
p
L′を，そして，暗騒音のレベルL''piから測定表面上で平均
した暗騒音による平均音圧レベル
p
L′′を計算する。
=
′
∑
=
′
N
i
L
p
pi
N
L
1
1.0
10
10
1
log
10
dB ·················································· (4)
=
′′
∑
=
′′
N
i
L
p
pi
N
L
1
1.0
10
10
1
log
10
························································· (5)
ここに，
p
L′： 測定表面上で平均した作動中の測定対象機器の音圧レベル
(dB)
p
L′′： 測定表面上で平均した暗騒音の音圧レベル (dB)
L'pi： i番目のマイクロホン位置で測定した作動中の測定対象機器の
音圧レベル (dB)
L''pi： i番目のマイクロホン位置で測定した暗騒音の音圧レベル (dB)
N： マイクロホン位置の数
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備考25.
式(4)及び(5)の平均化手順は，測定表面上のマイクロホン位置が均等に配置されていることに基づいて
いる。
8.2
バンド音圧レベルからのA特性音圧レベルの計算
バンド音圧レベルからA特性音圧レベルを計算するときは，次の式を使う。
=
∑
+
j
A
L
pA
j
pj
L
)
(1.0
10
10
log
10
dB ················································ (6)
ここに， Lpi： バンドjでのバンド音圧レベル (dB)
Aj： 表2で規定する，バンドjの中心周波数でのA特性値 (dB)
備考26.
強い離散周波数成分を放射する音源に対しては，1/3オクターブバンドのA特性値を使って，計算す
ることを推奨する。
表2 A特性値Aj
オクターブバンド
中心周波数
1/3オクターブバンド
中心周波数
A特性値
Aj
Hz
Hz
dB
50
−30.2
63
63
−26.2
80
−22.5
100
−19.1
125
125
−16.1
160
−13.4
200
−10.9
250
250
−8.6
315
−6.6
400
−4.8
500
500
−3.2
630
−1.9
800
−0.8
1 000
1 000
0
1 250
0.6
1 600
1.0
2 000
2 000
1.2
2 500
1.3
3 150
1.2
4 000
4 000
1.0
5 000
0.5
6 300
−0.1
8 000
8 000
−1.1
10 000
−2.5
8.3
暗騒音に対する補正
次の式を使い，（A特性又は周波数バンドごとの）暗騒音補正値K1を計算する。
K1＝−10log10 (1−10−0.1∆L) ··························································· (7)
ここに，
∆L＝
p
pL
L
′′
−
′
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∆L>15dBのときは，補正を行わない。∆L6dBのとき，その測定はこの規格に従うものとして有効であ
る（表0.1参照）。
6dBと15dBの間の∆Lの値に対しては，式(7)に従って補正を行う。たとえ，ある周波数バンドにおいて，
その測定が有効でないとしても，∆LAが6dBよりも大きいことを条件としてA特性値に対しては適合した
ものとできる。ここに，∆LAとは
pA
L′値と
pA
L′′との値の差である。
∆LAが6dBに満たないとき，その結果の精度は低下する。このような測定に対し適用される最大の補正
値は1.3dBである。しかしながら，その結果は報告してもよく，測定対象機器の音響パワーレベルの上限
を算出するには便利であろう。そのようなデータが報告されるときは，図及び表によることはもちろんの
こと，この規格の暗騒音の要件を満足しなかったことを報告書に言葉で明示しなければならない。
8.4
試験環境に対する補正
附属書Aに規定する手順の一つを使い，（A特性又は周波数バンドごとの）環境補正値K2を算出する。
K2A2dBのとき，A特性に対し，そして，K2j2dBのとき，j番目の周波数バンドに対し，この規格に従
う測定として有効なものとなる（表0.1参照）。
備考27.
K2が2dBよりも大きいときは，環境的な基準を満足しておらず，その測定結果の精度は低下する。し
かしながら，この規格に規定する測定方法を使うことが許される。ただし，この場合，結果を報告す
るときには，2dBの最大補正値を適用し，その音響パワーレベルがそのようにして算出されたもの以
下であることを明記しなければならない。又は，補正を最大限適用できるが，その場合，ISO 3746を
引用しなければならない。
8.5
表面音圧レベルの計算
補正項K1，K2及び次の式を使い，
p
L′の値に対し暗騒音及び反射音の補正を行うことにより表面音圧レ
ベル
f
p
L
を算出する。
f
p
L
＝
p
L′−K1−K2 dB ······························································ (8)
参考 この規格の前版では，K1，K2に対応するものとして音場補正値を規定していたが，その場合，
負の値（マイナス）を加算したのに対し，この版では原国際規格にならい正の値（プラス）を
除算していることに注意する。
8.6
音響パワーレベルの計算
音響パワーレベルLWは，次のように計算する。
+
=
0
10
f
log
10
S
S
L
L
p
W
dB························································ (9)
ここに，
f
p
L
： 式(8)によるA特性又はバンド表面音圧レベル (dB)
S： 測定表面の面積 (m2)
S0＝1 (m2)
8.7
追加的な量の算出
特定の種類の機器のための個別規格によって，次の追加的な量が要求されることがある。
a) 附属書Dのいずれか一つの方法に従って得られる騒音の衝撃性に関する情報及び／又は試聴による離
散純音の有無
b) 測定表面上のある点におけるものか又は測定表面上で平均した音圧スペクトル
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Z 8733 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
c) 附属書Eによる指向指数
d) 定義されたあるマイクロホン位置におけるもの及び測定表面上の複数のマイクロホン位置におけるA
特性音圧レベルの時間変化
e) 測定表面上のマイクロホン位置ごとの，異なる時間重み特性及び／又は異なる周波数重み特性での音
圧レベル
9. 記録事項
この規格に従って行われるすべての測定に対し，適用可能なときには，9.1〜9.5で列挙する情報を収集，
記録する。
9.1
測定対象機器
a) 次を含む，測定対象機器の詳細
− 型式
− 技術仕様
− 寸法
− 製造業者名
− 機械の製造番号，及び
− 製造年
b) 試験中の作動条件（該当する個別規格があるときはそれに従い，又は製造業者の指示書に従うものと
する。）
c) 据付け条件
9.2
音響環境
a) 試験環境の記述
− 屋内のときは，壁，天井及び床の物理的な処理，並びに測定対象機器及び室内にあるものの配置を示
すスケッチ
− 屋外のときは，試験環境の物理的特性を含め，周囲の地形に対する測定対象機器の配置を示すスケッ
チ
b) 附属書Aによる試験環境の音響的な検定結果
c) 気温 (℃)，気圧 (kPa) 及び相対湿度 (%)
9.3
測定器
a) 試験に使用した機器の名称，型番，製造番号及び製造業者名
b) マイクロホン及び他のシステム要素の校正を点検するために使った方法，校正の日付，場所及びその
結果
c) （使用したときは）風防の特性
9.4
音響データ
a) A特性音響パワーレベル，及び必要であれば周波数バンドごとの音響パワーレベル
備考28.
ISO 9296では，コンピュータ及び事務機器のA特性音響パワーレベルを，恒等式1B＝10dBを使い，
単位をベル (B) として表現することを要求している。
b) 測定表面の形状，測定半径，並びにマイクロホン位置又は経路の配置及び向き
c) 測定表面の面積S
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Z 8733 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
d) 表面音圧レベルに対する（A特性又は周波数バンドごとの）暗騒音補正値K1
e) （A特性又は周波数バンドごとの）環境補正値K2及びそれを算出した附属書Aの手順
f)
測定点iにおける（A特性又は周波数バンドごとの）音圧レベルLpi
g) （A特性又は周波数バンドごとの）表面音圧レベル
x
pf
L
,（ここに，xは，測定距離d又は測定半径r
である。）
h) 試験を行った場所，日時及び試験責任者の名前
i)
A特性値を算出するために使った方法（直読か，周波数バンドデータからの合成かを明記。後者の場
合、周波数バンド幅と対象周波数範囲も明記。）
参考 上記i)は，原国際規格にはない要求であるが，JISとして追加した。また，直読にするか，周
波数バンドデータからの合成で求めるかは，特定の種類の機器のための個別規格で規定するこ
とが望ましい。
9.5
追加データ
a) 音響パワースペクトル，又は暗騒音及び環境的な影響に対し補正された音圧スペクトル
b) 附属書Dのいずれか一つの方法に従って得られる衝撃音に関する情報及び／又は試聴による離散純音
の有無
c) 音圧レベルの時間に対する変動
d) 附属書Eに従いもとめた，対象としているマイクロホン位置の，その方向での指向指数（半球測定表
面の場合だけ）
e) 測定表面上の，ある規定したマイクロホン位置における，異なる時間重み特性及び／又は異なる周囲
数重み特性での音圧レベル
f)
風速及び風向
g) 再現性の標準偏差σR
h) 個別規格で要求するすべてのデータ
10. 報告事項
記録事項（9.参照）のうち，その測定の目的に対して要求されているもの（ISO 4871を参照）だけを報
告する。
試験報告書には，報告された音響パワーレベルがこの規格に完全適合して得られたものであるかどうか
を，明記しなければならない。
測定対象機器の音響パワーレベルは，最も近い0.5dB単位で報告する。
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附属書A（規定） 音響環境の検定手順
A.1 一般事項
この規格に従う測定では，反射面上のほぼ完全な自由音場を提供する環境を使用する。次に規定する要
件を満足するとき，半無響室，屋外空間又は通常の室を使うことが許される。
試験室は，十分に大きく，かつ，実際的である限りにおいて，反射面以外から反射の影響がないものと
する。
試験室とは，次のようなところにある測定表面を提供するものとする。
a) 室の境界又は近くにある物体からの望ましくない反射が本質的にない音場の内側にあり，かつ，
b) 測定対象機器による近傍音場の外側
音源の中心と，それよりも低いところにある測定位置との最大距離の3倍以内に音を反射する物体がな
く，アスファルトやコンクリートのように硬く平坦な地表面からなる屋外の試験サイトに対しては，環境
補正値K2は0.5dB以下と想定されており，したがって，無視することができる。
JIS Z 8732に適合する半無響室で行われる測定に対しても，環境補正値K2は，無視できるものと想定さ
れる。
参考 結果的に，JIS Z 8732に従って，1度半無響室の検定を行えば，環境補正値K2＝0となる。
備考29.
（例えば，柱及び支持部材の直径のように）音源の近傍にある物体の幅が基準箱からの距離の10分の
1を超えるとき，その物体は音を反射するものと考えられる。
環境補正値K2の値を算出するために使われる二つの方法のうち，どちらか一方を選択し，環境による影
響を数値化する。望ましくない環境の影響の有無を判断し，この規格に従って実際の測定対象機器に対し
て使う測定表面を検定するため，これらの手順を使う。
1番目の検定試験（絶対比較試験，A.3参照）は，基準音源を使って行われ，屋外でも，屋内でも使うこ
とができる。
周波数バンドデータが必すなとき，こちらの方は，特に望ましい方法である。
2番目の検定試験（室吸収に基づく方法，A.4参照）は，残響時間測定を実測するか又は平均吸音率を推
定することによって，室の等価吸音面積Aを算出することを必要とする。この試験手順は，室がほぼ直方
体をしており，室内に音源以外のものが実質的に何もなく，かっ，室の境界面において吸音効果があるこ
とを前提としている。このような条件の下，測定対象機器が移動できないとき及びその寸法が大きいとき
には，これは望ましい方法である。
環境補正値K2の値が2dB以下のときだけ，その試験環境内における測定表面において，この規格に適
合する測定を行うことができる。環境補正値K2が2dBを超えるときは，測定表面を小さくするか又は試
験環境を改善するかして，その手順を繰り返さなければならない。
備考30.
試験環境を改善することが実際的でないときは，ISO 3746の方法を使って測定対象機器の音響パワー
レベルを算出する方が適当なことがある。
A.2 環境条件
25
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A.2.1 反射面の特性
次の環境において測定を行うことが許される。
− 一つの反射面上の屋外
− 吸音性の壁及び天井，音を反射する床，並びに更にもう2面までの床に直角な反射面をもつ室内反射
面が床面でないか又は試験室の表面の一部分でないときは，その平面が振動によって，認識できるほ
ど大きな音を放射していないことを確保するため，特段の注意を払うべきである。
A.2.1.1 形及び大きさ
反射面は，測定表面の投影よりも少なくともλ/2分，外側まで広がっているものとする。ここに，λとは
対象周波数範囲の最低周波数での波長である。
A.2.1.2 吸音率
反射面の吸音率（JIS A 1409参照）は，対象周波数範囲で0.06未満であることが望ましい。コンクリー
トや滑らかにシールしたアスファルトならば，この要件を満足のできるものと考えられる（表A.1も参照）。
A.2.2 屋外測定に関する注意事項
対象周波数範囲の音の伝搬，又は測定中の暗騒音に対し，（例えば，温度，湿度，風，降雨のような）望
ましくない気象条件の影響を最小にするために注意を払わなければならない。
風の影響からマイクロホンをシールドするために，何らかの装置を使うときは，測定した音圧レベルに
対し適切な補正をする。
A.3 絶対比較試験
測定対象機器が試験サイトから移動可能なとき，この手順を使うことが望ましい。
A.3.1 手順
ISO 6926の要件を満足する特性をもつ基準音源を，原則として，試験環境内の測定対象機器のそれと同
じ位置に据え付ける。環境補正値K2を使わずに，7.及び8.の手順に従って基準音源の音響パワーレベルを
算出する（すなわち，最初はK2＝0と想定する）。測定対象機器の測定に使われるそれと同じ測定表面を使
う。
（A特性又は周波数バンドごとの）環境補正値K2は，次で与えられる。
K2＝L*W−LWr ········································································· (A.1)
ここに， L*W： K2の値に0を使い，7.及び8.に従って算出した，環境補正して
いない基準音源の音響パワーレベル。単位はデシベル (dB)，
基準パワーは1pW (10−12W)。
LWr： 基準音源の校正済み音響パワーレベル。単位はデシベル (dB)，
基準パワーは1pW (＝10−12W)。
備考31.
この方法は，直接測定したA特性レベルと周波数バンドレベルの両方に適用可能である。測定対象機
器のスペクトルが基準音源のそれと大きく異なるときは，K2Aを周波数バンドレベルから算出するこ
とが望ましい。
A.3.2 試験環境内の基準音源の配置
測定対象機器が試験環境から移動可能なとき，手持ち形機器のような特殊な場合を除き，測定対象機器
の高さに関係なく，反射床の上に基準音源を置く。
備考32.
基準音源が反射床面の上方や他の反射面の近傍に置かれるとき，それは同様の位置で校正されている
26
Z 8733 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
のが望ましい。現時点では，他の反射面から離れた，ただ一つの反射面上に置かれた基準音源に対し
てだけ，標準校正方法が存在している（ISO 6926参照）。
小形及び中形の音源 (l1，l2，l3≦2m) に対しては，音源位置は1か所で十分である。大形の音源及び長
さと幅の比が2より大きなものに対しては，床面上の4か所で基準音源を作動させる。その4か所とは，
測定対象機器の投影がほぼ四角形であると想定するとき，四辺形の4辺の中間である。音響パワーレベル
LWを得るために，床面上の四つの音源位置のそれぞれにおいて，基準音源による表面音圧レベル
f
p
L
を計
算する。測定表面上のそれぞれの位置において，四つの音源位置に対する音圧レベルを8.1の式(4)を使い
2乗平均ベースで平均する。
測定対象機器が試験サイトから移動できないとき，基準音源は，同じ試験環境内において，測定対象機
器の位置とは異なるが，部屋の反射に関しては等価な1か所又は複数の位置に配置するものとする。さら
に，ISO 3747に従って，測定対象機器の上か，又はそれに隣接した位置で基準音源を使ってもよいが，そ
のような位置に対しては，基準音源の該当する校正が既知でなければならない。
マイクロホン位置の数が十分であるかどうかに関しては，7.2.2 a)及び7.3.2 a)それぞれの要件を満足する
ように注意する。
A.4 室吸収に基づく環境補正値の算出
式(A.2)からK2を計算する。
K2＝10log10 [1＋4 (S/A)] (dB) ······················································ (A.2)
ここに，
A： 室の等価吸音面積 (m2)
S： 測定表面の面積 (m2)
式(A.2)を使って計算される環境補正値K2をS/Aの関数として図A.1に示す。
表A.1 平均吸音率αの概算値
平均吸音率α
室に関する記述
0.05
コンクリート，煉瓦，石膏又はタイルでできた滑らかで
硬い壁をもち，ほとんど何もない室
0.1
部分的に何もない空間をもつ室，滑らかな壁の室
0.15
家具の置いてある室，四角い機械室，四角い作業室
0.2
家具のある不規則な形をした部屋，不規則な形をした機
械室及び作業室
0.25
布張り及び皮張りの家具のある室，（例えば，部分的に
吸音処理をした天井のように）天井又は壁のどちらか
に，少量の吸音処理をした機械室及び作業室
0.35
天井及び壁の両方に吸音処理をした室
0.5
天井及び壁に大量の吸音処理をした室
A.4.1 概算法
試験環境の音響的な特性を確認するため，次の式(A.3)によって与えられるAの値 (m2) を使い，式(A.2)
からK2Aを算出する。
A＝α･Sv ················································································ (A.3)
ここに，
α： A特性値に対し，表A.1で与えられる平均吸音率
Sv： 試験室の境界表面（壁，天井及び床）の全面積 (m2)
A.4.2 残響法
測定した残響時間（JIS A 1409参照）から室の等価吸音面積をセービンの残響式，式(A.4)により計算す
る。15℃〜30℃の室温に対しては，次のとおりである。
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A＝0.16 (V/T)·········································································· (A.4)
ここに，
V： 試験室の容積 (m3)
T： A特性又は周波数バンドごとの残響時間 (s)
A特性の測定値から直接K2Aの値を算出するためには，中心周波数1kHzの周波数バンドで測定した残
響時間を使うことを推奨する。
この方法は，精密級の半無響及び屋外測定での利用には不向きである。
A.4.3 二重測定表面法
幅及び奥行きが，それぞれ天井高さの3倍未満の室内でだけこの方法を使う。音源を包む，二つの測定
表面を選択する。1番目の表面は，7.1に従って音響パワーレベルを算出するための測定表面とする。1番
目の表面の面積はSとする。面積S2をもつ二番目の表面は，1番目のそれと幾何学的には同じ形であり，
測定対象機器に対し左右対称であって，音源からもっと離す。両方の表面において，4.3に規定する暗騒音
の基準を満足しなければならない。
測定表面上のマイクロホン位置は1番目の表面上のそれに対応するものとする。S2/Sの比は2未満であ
ってはならなく，できれば4より大きいことが望ましい。Mの値は，次のとおりに計算される。
)
(
10
2
1
1.0
p
p
L
L
M
′′
−
′
=
································································ (A.5)
ここに，
1
p
L′： S上での平均音圧レベル (dB)。式(4)参照。
2
p
L′′： S2上での平均音圧レベル (dB)。式(4)参照。
8.3に従い，両方の平均音圧レベルに対し，暗騒音の補正値を適用する。
比A/Sは，次から計算される。
2
/
1
)1
(4
S
MS
M
S
A
−
−
=
······································································ (A.6)
A特性又は周波数バンドごとの環境補正値K2は式(A.6)から計算される比A/Sに対し，式(A.2)から得ら
れる。
図A.1 環境補正値K2 (dB)
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附属書B（規定） 半球測定表面上のマイクロホン配列
B.1
基本マイクロホン位置及び追加マイクロホン位置
測定表面上の等しい面積に対応する10か所の基本マイクロホン位置は，図B.1及び図B.2において1〜
10の番号が付けられており，これらの座標を7.1で定義する座標系に従い表B.1に列挙する。10か所の追
加マイクロホン位置は，図B.2において11〜20の番号が付けられており，それらの座標も表B.1に列挙し
てある。
表B.1 基本マイクロホン位置 (1〜10) と追加マイクロホン位置 (11〜20) の座標
マイクロホン位置
r
x
r
y
r
z
1
−0.99
0
0.15
2
0.50
−0.86
0.15
3
0.50
0.86
0.15
4
−0.45
0.77
0.45
5
−0.45
−0.77
0.45
6
0.89
0
0.45
7
0.33
0.57
0.75
8
−0.66
0
0.75
9
0.33
−0.57
0.75
10
0
0
1.0
11
0.99
0
0.15
12
−0.50
0.86
0.15
13
−0.50
−0.86
0.15
14
0.45
−0.77
0.45
15
0.45
0.77
0.45
16
−0.89
0
0.45
17
−0.33
−0.57
0.75
18
0.66
0
0.75
19
−0.33
0.57
0.75
20 (＝10)
0
0
1.0
備考 マイクロホン位置10と20とは一致しており，個別規格でそのように規定されている
ときは，これらの位置を省略してもよい。
B.2
離散純音を放射する音源のためのマイクロホン位置
音源が離散純音を放射しているときに，反射面上の同じ高さに複数のマイクロホン位置を配置すると，
強い干渉が発生することがある。そのような場合，表B.2で与える座標をもつマイクロホン配列の利用が
推奨される。
29
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表B.2 離散純音を放射する音源のためのマイクロホン位置の座標
マイクロホン位置
r
x
r
y
r
z
1
0.16
−0.96
0.22
2
0.78
−0.60
0.20
3
0.78
0.55
0.31
4
0.16
0.90
0.41
5
−0.83
0.32
0.45
6
−0.83
−0.40
0.38
7
−0.26
−0.65
0.71
8
0.74
−0.07
0.67
9
−0.26
0.50
0.83
10
0.10
−0.10
0.99
B.3
二つの反射面に隣接する音源のためのマイクロホン位置
二つの反射面に隣接して設置される音源に対しては，適切な測定表面とマイクロホン位置とを定義する
目的のために，図B.3を引用する。球形測定表面の半径は，少なくとも3mとする。
B.4
測定経路
反射面上の自由音場の上方にあって，平行な面内にある同心円状のマイクロホン移動経路を図B.4に示
す。
これらの経路は，それぞれの経路に対応する球面の，年輪状部分の面積が等しくなるように選択されて
いる。
図B.1 半球上のマイクロホン配列−基本マイクロホン位置
30
Z 8733 : 2000
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
備考 基本マイクロホン位置は1〜10，追加マイクロホン位置は11〜20の番号が付けられている。
図B.2 半球面上のマイクロホン配列
31
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図B.3 二つの反射面に隣接する基準箱の周りの球形測定表面及びマイクロホン位置の図
32
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備考 それぞれの経路に対応する半球面の年輪状部分の面積が等しくなるように，経路が選択されている。
図B.4 反射面上の自由音場の上方にあって，平行な面内にある，同心円状のマイクロホン移動経路
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附属書C（規定） 平行六面体測定表面上のマイクロホン配列
C.1 一つの反射面上に設置した音源のためのマイクロホン配列
測定表面の各面を，その最大寸法が3dになるように，なるべく少ない数の，面積が等しい四角い部分面
積に分割する（図C.1参照）。マイクロホン位置は，各部分面積の中央及び（反射面と接する部分を除く）
各部分面積の角の位置である。このようにして，図C.2〜図C.6に対するマイクロホン位置が得られる。
隣接するマイクロホン位置は，図C.2〜図C.6にあるように，測定経路を作るために追加されることがあ
る。
C.2 二つ又は三つの反射面に接する音源のためのマイクロホン位置
二つ以上の反射面に隣接して設置される基準音源に対し，適切な測定表面を定義するには，図C.7及び
図C.8を引用しなければならない。マイクロホン位置は図C.2〜図C.6に示すとおりとする。
図C.1 測定表面の側面長さが3dを超えるところでの，マイクロホン位置を決める手順
備考 ・はマイクロホン位置を示す。
図C.2 小形の機械のための測定表面及びマイクロホン位置（経路）の列
［l1≦d，l2≦d，l3≦2d，ここに，dは測定距離（通常1m）］
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図C.3 設置面積が小さく，背の高い機械のための測定表面及びマイクロホン位置（経路）の例
(l1≦d，l2≦2d，2d＜l3≦5d)
図C.4 横長の機械のための測定表面及びマイクロホン位置（経路）の例
(4d＜l1≦7d，l2≦d，l3≦2d)
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図C.5 中形の機械のための測定表面及びマイクロホン位置（経路）の例
(d＜l1≦4d，d＜l2≦4d，2d＜l3≦5d)
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図C.6 大形の機械のための測定表面及びマイクロホン位置（経路）の例
(4d＜l1≦7d，d＜l2≦4d，2d＜l3≦5d)
図C.7 一つの壁面を背にして置かれた床置き形機器のための，六つのマイクロ
ホン位置をもつ測定表面（平行六面体）
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図C.8 二つの壁面を背にして置かれた床置き形機器のための，四つのマイクロ
ホン位置をもつ測定表面（平行六面体）
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附属書D（参考） 騒音の衝撃性の判定指針
参考 この附属書は，原国際規格の内容をそのまま記載したもので，規定の一部ではない。近年の多
くの調査結果では，時間重み特性“I”を用いても，必ずしも適切な衝撃性の評価ができないこ
とが報告されている。したがって，この附属書に記載する指標を用いた評価は，実効的な意味
において騒音の衝撃性を的確に記述することができない。
場合によっては，騒音計の時間重み特性“I”を使って算出した時間平均音圧レベルLpAIeqと，同じ作動
サイクルに対するLpAeqを比較することは，その騒音に際立った衝撃性成分が含まれているかどうかを判定
するのに役立つことがある。この目的のためには，一か所又は複数のマイクロホン位置において比較を行
い，各位置において，少なくとも5作動サイクルの測定を行う。その差 (LpAIeq−LpAeq) が，その騒音の衝
撃性に関する指数である。
備考33.
騒音の衝撃性に関する指数の算術平均値が3dB以上のとき，その騒音は衝撃性と考えられる。
単発の事象に対して，又は1秒以上の間隔の連続的な事象に対しては，LpAIとLpASとの最大値の差が，
その単発事象を記述するものとして使われることがある。その差 (LpAImax−LpASmax) は，単発の騒音の衝撃
性に関する指数であり，単発騒音の衝撃性を記述するために使われることがある。連続的な事象に対して
は，個々の事象のLpAIの最大値の算術平均と，すべての事象にわたるLpASの平均値の最大が使われる。
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附属書E（参考） 指向指数算出のための指針
半球測定表面のマイクロホン位置，iの方向における指向指数DIiを，次の式で定義する。単位はデシベ
ル (dB)。
*
*
p
piL
L
DI
−
=
········································································ (E.1)
ここに，
*pi
L： マイクロホン位置，iにおける音圧レベルに暗騒音の補正した
もの。単位はデシベル (dB)。
*p
L： 測定表面上で平均した音圧レベルに暗騒音の補正をしたもの。
単位はデシベル (dB)。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書F（参考） 騒音のスペクトル及びレベルの時間変動による分類
参考 この附属書は，ISO 12001を元に追加したものであり，原国際規格にはないもので，規定の一
部ではない。
F.1
一般事項
騒音の特性を，その周波数スペクトル及び時間に対するレベルの変化によって記述することがある。
多くの騒音は，連続スペクトルをもっており，音のエネルギが可聴周波数範囲のほとんどの部分に等し
く分布している。場合によっては，その騒音の中に離散純音がはっきりと聞こえることがある。
時間依存性の異なる騒音には，次のものがある。定常騒音，非定常騒音，衝撃性騒音，準定常衝撃騒音
及び分離衝撃騒音。
F.2
スペクトルによる分類
F.2.1
広帯域騒音 (broad-band noise) ：
音響エネルギが比較的広い周波数範囲に分布する騒音。
備考
34. ー般にそのスペクトルは，“平坦”であるとはいえないまでも，滑らかで連続である。広帯域音
の中に離散純音を含んでいないとき，主観的な音質からいえば，その音には，ピッチやトーナリティ
がない。
35. 離散純音を含まない広帯域音の例としては，滝の音や，室内のディフューザーからの排気音や高
速道路からの騒音がある。
F.2.2
狭帯域騒音 (narrow-band noise) ：
音響エネルギが比較的狭い周波数範囲に集中する騒音。
備考
36. 一般に，そのスペクトルには，部分的な“りゅう（瘤）状の盛り上がり”及び“スパイク”が現
れるであろう。狭帯域音は，広帯域音に重畳することがある。狭帯域音が際立った離散純音を含んで
いないとき，主観的な音質からいえば，その音にはピッチ及びトーナリティがない。
37. 離散純音を含まない狭帯域音の例としては，遠雷の音（低周波），草原や渓谷を吹き抜ける風の
音（中程度の周波数），又は自動車のタイヤの空気が抜ける音（高周波）などがある。
F.2.3
離散純音 (discrete tone) ：
ピッチの感覚をもたらす周期的な音圧変動。
備考
38. 離散純音には，純粋に正弦的な変動（“純音”と呼ばれることがある）をしており，その周波数
スペクトル内に，その正弦周波数だけの“スパイク”をもつ場合か，又はより一般的には，非正弦的
に変動していて，その周波数スペクトル内にその基本周波数及びその高調波成分をもつ場合とがある。
39. 離散純音の例としては，ファンのハム音，ディジタル機器からのビープ音又は楽器音がある。
F.3
レベルの時間変動による分類
F.3.1
定常騒音 (steady noise) ：
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測定時間内のレベル変動が無視できるくらいに小さな騒音。
F.3.2
非定常騒音 (non-steady noise) ：
測定時間中にレベルが大幅に変化する騒音。
F.3.2.1
変動騒音 (fluctuating noise) ：
測定時間の間に，レベルが連続的，かつ，明白に変化する騒音。図F.1のb)参照。
F.3.2.2
間欠騒音 (intermittent noise) ：
測定時間内に，暗騒音レベルまで数回にわたり，レベルが突然降下する騒音。そのレベルが暗騒音のレ
ベルと違う時間は，ほぼ1秒以上である。図F.1のc)参照。
F.3.2.3
衝撃性の騒音 (impulsive noise) ：
およそ1秒未満の継続時間をもつ音響エネルギのバーストからなる騒音。
F.3.2.3.1
分離衝撃騒音 (isolated burst of sound energy) ：
単発又は一連の音響エネルギバーストであって，バーストの間隔が0.2秒以上のもの。図F.1のd)参照。
F.3.2.3.2
準定常衝撃騒音 (quasi-impulsive noise) ：
バーストの間隔が0.2秒未満であって，振幅の等しい一連の騒音バースト。図F.1のe)参照。
図F.1 騒音の種類の例示（模式図）
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附属書G（参考） 参考文献
[1]
ISO 3740 : 1980 Acoustics−Determination of sound power levels of noise sources−Guidelines for the
use of basic standards and for the preparation of noise test codes
[2]
ISO 3741 : 1988 Acoustics−Determination of sound power levels of noise sources−Precision methods
for broad-band sources in reverberation rooms
[3]
ISO 3742 : 1988 Acoustics−Determination of sound power levels of noise sources−Precision methods
for discrete-frequency and narrow-band sources in reverberation rooms
[4]
ISO 3743-1 : 1994
Acoustics−Determination of sound power levels of noise source using sound pressure
−Engineering methods for small, movable sources in reverberant fields−Part 1 :
Comparison method in hard-walled test rooms
[5]
ISO 3743-2 : 1994
Acoustics−Determination of sound power levels of noise source using sound pressure
−Engineering methods for small, movable sources in reverberant fields−Part 2 :
Methods for special reverberation rooms
[6]
ISO 3746 : 1995 Acoustics−Determination of sound power levels of noise sources−Survey method using
an enveloping measurement surface over a reflecting plane
[7]
ISO 7574-2 : 1985
Acoustics−Statistical methods for determining and verifying stated noise emission
values of machinery and equipment−Part 2 : Methods for stated values for individual
machines
[8]
ISO 7574-3 : 1985
Acoustics−Statistical methods for determining and verifying stated noise emission
values of machinery and equipment−Part 3 : Simple (transition) method for stated
values for batches of machines
[9]
ISO 9296 : 1988 Acoustics−Declared noise emission values of information technology and
telecommunications equipment
[10]
ISO 9614-1 : 1993
Acoustics−Determination of sound power level of noise sources using sound intensity
−Part 1 : Measurement at discrete points
[11]
ISO 9614-2 : 1996
Acoustics−Determination of sound power level of noise sources using sound intensity
−Part 2 : Measurement by scanning
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原案作成委員会 構成表
氏名
所属
（委員長）
子 安 勝
千葉工業大学
今 井 章 久
武蔵工業大学工学部
今 泉 八 郎
株式会社小野測器
大 西 博 文
建設省土木研究所
押 野 康 夫
財団法人日本自動車研究所
君 塚 郁 夫
日本アイ・ビー・エム株式会社
桑 野 園 子
大阪大学大学院人間科学研究所
佐 藤 宗 純
工業技術院電子技術総合研究所
鈴 木 英 男
株式会社小野測器
鈴 木 陽 一
東北大学電気通信研究所
瀧 浪 弘 章
リオン株式会社
竹 内 恒 夫
環境庁大気保全局
田 近 輝 俊
株式会社環境技術研究所
（主査）
橘 秀 樹
東京大学生産技術研究所
田 中 俊 光
株式会社神戸製鋼所
東 山 三樹夫
工学院大学工学部
平 松 友 孝
大成建設株式会社技術研究所
福 島 實 和
建設省建築研究所
松 本 晃 一
日本道路公団試験研究所
三 浦 甫
静岡理工科大学理工学部
矢 野 博 夫
千葉工業大学工学部
山 田 一 郎
財団法人小林理学研究所
山 田 英 美
松下インターテクノ株式会社
山 本 貢 平
財団法人小林理学研究所
米 川 善 晴
労働省労働医学総合研究所
田 仲 信 夫
工業技術院標準部材料機械規格課
橋 本 繁 晴
財団法人日本規格協会
（事務局）
後 藤 健 次
社団法人日本音響学会