Z 8724：2015
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 1
3 用語及び定義 ··················································································································· 2
4 光源色の測定方法の種類 ···································································································· 3
5 分光測色方法 ··················································································································· 3
5.1 一般 ···························································································································· 3
5.2 分光分布の測定方法 ······································································································· 3
5.3 三刺激値及び色度座標の計算方法······················································································ 6
6 刺激値直読方法 ················································································································ 7
6.1 一般 ···························································································································· 7
6.2 光電色彩計 ··················································································································· 7
7 測定結果の表示 ················································································································ 8
7.1 測定値の表示 ················································································································ 8
7.2 測定値の付記事項 ·········································································································· 8
7.3 測定結果の報告及び記載方法 ··························································································· 9
8 測定の不確かさ ··············································································································· 10
附属書A（規定）光源の点灯方法 ··························································································· 18
附属書B（規定）分光測光器の迷光の測定方法 ·········································································· 21
附属書C（規定）測定光の分光測光器への導入条件 ··································································· 22
附属書D（規定）光電色彩計の受光条件 ·················································································· 26
附属書E（規定）光電色彩計の校正 ························································································ 29
附属書F（参考）分光測光器の応答直線性及びその繰返し性の測定方法 ········································· 31
附属書G（参考）参考文献 ···································································································· 34
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（2）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，日本色彩学会（CSAJ）
及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を改正すべきとの申出
があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業規格である。
これによって，JIS Z 8724:1997は改正され，この規格に置き換えられた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
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日本工業規格 JIS
Z 8724：2015
色の測定方法−光源色
Methods of colour measurement-Light-source colour
序文
この規格は，1962年に制定され，その後4回の改正を経て今日に至っている。前回の改正は1997年に
行われたが，その後のJIS Z 8781-1:2012（対応国際規格：ISO 11664-1）で規定された360 nm〜830 nmと
の整合，これまで規定されていなかった，全空間への放射（全光束）に対応する光源色の分光測定方法の
標準化及び照明用白色発光ダイオード（LED）の普及に伴い，JIS C 7801:2014，JIS C 8152-1:2014などで
規定されたLED照明の測光測色における分光測光器の精度及び入射光学系と整合させるために改正した。
なお，対応国際規格は現時点で制定されていない。
1
適用範囲
この規格は，2度視野に基づくXYZ表色系1)（以下，XYZ表色系という。）及び10度視野に基づくX10Y10Z10
表色系2)（以下，X10Y10Z10表色系という。）によって，一般照明用光源の光源色を測定する方法について規
定する。
XYZ表色系及びX10Y10Z10表色系は，観測者の目に対して観測面の張る角が，それぞれ1°〜4°の場合及
び4°を超える場合における視感等色に対してよい相関を得ようとする場合に適用できる。
注1) 国際照明委員会（Commission Internationale de lʼ Éclairage，略称CIE）が1931年に推奨した表色
系。CIE 1931表色系ともいう。
2) CIEが1964年に推奨した表色系。CIE 1964表色系ともいう。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 7501 一般照明用白熱電球
JIS C 7604 高圧水銀ランプ−性能規定
JIS C 7607 測光標準用放電ランプの全光束測定方法
JIS C 7613 測光標準用電球の測光方法
JIS C 7617-2 直管蛍光ランプ−第2部：性能仕様
JIS C 7618-2 片口金蛍光ランプ−第2部：性能仕様
JIS C 7801 一般照明用光源の測光方法
JIS C 8108 蛍光灯安定器
JIS C 8110 放電灯安定器（蛍光灯を除く）
JIS C 8118 蛍光灯安定器−性能要求事項
2
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JIS C 8152-1 照明用白色発光ダイオード（LED）の測光方法−第1部：LEDパッケージ
JIS C 8157 一般照明用電球形LEDランプ（電源電圧50 V超）−性能要求事項
JIS C 8159-2 一般照明用GX16t-5口金付直管LEDランプ−第2部：性能要求事項
JIS Z 8103 計測用語
JIS Z 8113 照明用語
3
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，JIS Z 8103及びJIS Z 8113によるほか，次による。
3.1
測定装置の重心波長（centroid wavelength of spectroradiometer）
特定波長域に対して選択的な光パワーを代表する波長。測定装置の重心波長は，次の式(1)によって表す。
dλ
λ
R
dλ
λ
R
λ
λ
∫
∫
∞
∞
=
0
0
g
)
(
)
(
········································································· (1)
ここに，
λg： 重心波長（nm）
λ： 波長（nm）
R(λ)： 測定装置の相対分光応答度
3.2
スリット波長幅
分光測光器の透過波長帯域特性を示す量の一つであり，分光測光器の透過波長帯の実効的な波長幅を示
す値。スリット波長幅には，放射がスリットに入る場合の入射スリット波長幅，及び放射がスリットから
出る場合の出射スリット波長幅がある。入射スリット波長幅は，次の式(2)によって表す。
dλ
dθ
f
w
b
i
i
i
i
=
·············································································· (2)
ここに，
bi： 入射スリット波長幅（nm）
wi： 入射スリットの機械的な幅（mm）
dλ
dθi： 入射側の角分散（rad･nm−1）
fi： 分光測光器のコリメータの焦点距離（mm）
出射スリット波長幅は，次の式(3)によって表す。ただし，分光測光器がポリクロメータの場合には，ア
レイ状の受光素子の1素子の受光面における分散方向の幅を出射スリットの機械的な幅とみなす。
dλ
dθ
f
w
b
o
o
o
o
=
············································································· (3)
ここに，
bo： 出射スリット波長幅（nm）
wo： 出射スリットの機械的な幅（mm）
dλ
dθo： 出射側の角分散（rad･nm−1）
fo： 分光測光器がモノクロメータの場合は，分散像を出射スリッ
トに結像する光学系の焦点距離（mm）。
ポリクロメータの場合は，分散像を受光素子面に結像する光
学系の焦点距離（mm）。
3
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入射スリット波長幅bi及び出射スリット波長幅boである分光測光器の透過波長帯域特性は，波長軸上に
接した下底がbi＋boで，上底が|bi−bo|である台形状となる。モノクロメータのスリット波長幅は，bi又は
boのいずれか大きい方である。
注記 スリット波長幅は，スリット関数と呼ばれることがある。
4
光源色の測定方法の種類
光源色の測定方法の種類は，その測定原理によって，次のように分類する。ただし，精度が必要なとき
には，分光測色方法を用いる。
a) 分光測色方法
b) 刺激値直読方法
5
分光測色方法
5.1
一般
分光測色方法は，モノクロメータ又はポリクロメータによる分光測光器を用いて光源の分光分布を測定
し，三刺激値3) X，Y，Z若しくはX10，Y10，Z10又はこれらの相対値を求め，これらから色度座標x，y又は
x10，y10を求める。
なお，測定に用いる各種光源の点灯方法は，附属書Aに規定する。
注3) JIS Z 8701の5.1（光源色の三刺激値）参照。
5.2
分光分布の測定方法
5.2.1
一般
測定する光源の分光分布St(λ)は，その光源の放射と分光分布とが分かっている標準光源の放射を，波長
ごとに比較する方法によって求める。
)
(
)
(
)
(
)
(
s
s
t
t
λ
R
λ
S
λ
R
λ
S
=
···································································· (4)
ここに， Rt(λ)： 測定する光源の波長λにおける分光測光器の応答出力の読み
Rs(λ)： 標準光源の波長λにおける分光測光器の応答出力の読み
λ： 分光測光器の設定波長
注記 分光測光器は，一般に繊細な光学素子などで構成されているので，その応答特性は経時的な変
化を受けやすく温度変化にも敏感であるため，標準との比較は測定の都度に行うことが望まし
い。複数の光源を，1日程度の短い期間で引き続いて測定するときは，その一連の測定に対す
るSs(λ)/Rs(λ)の読み取りは，1回でもよい。
5.2.2
標準光源
標準光源は，国家標準にトレーサブルか，又はこれと同等となるような手続で校正した次の標準光源を
使用する。
a) ある特定方向への放射を測定する場合
1) 分光放射照度標準電球
2) 1)との比較によって光度に対応する分光分布の目盛定めをした光源
分光放射照度標準電球の分光分布は，波長について離散的に与えられているが，中間の任意の波
長λにおける分光分布Ss(λ)は，前後各2点の値を用いて，次の補間式(5)（ラグランジュの補間式。
図1参照）によって求める。
4
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
)
(
)
)(
)(
(
)
)(
)(
(
)
(
)
)(
)(
(
)
)(
)(
(
)
(
)
)(
)(
(
)
)(
)(
(
)
(
)
)(
)(
(
)
)(
)(
(
)
(
4
s
3
4
2
4
1
4
3
2
1
3
s
4
3
2
3
1
3
4
2
1
2
s
4
2
3
2
1
2
4
3
1
1
s
4
1
3
1
2
1
4
3
2
s
λ
S
λ
λ
λ
λ
λ
λ
λ
λ
λ
λ
λ
λ
λ
S
λ
λ
λ
λ
λ
λ
λ
λ
λ
λ
λ
λ
λ
S
λ
λ
λ
λ
λ
λ
λ
λ
λ
λ
λ
λ
λ
S
λ
λ
λ
λ
λ
λ
λ
λ
λ
λ
λ
λ
λ
S
−
−
−
−
−
−
+
−
−
−
−
−
−
+
−
−
−
−
−
−
+
−
−
−
−
−
−
=
·· (5)
ここに， Ss(λ)： 分光放射照度標準電球の波長λにおける分光分布の値
b) 全光束に対応した幾何条件で放射を測定する場合
1) 分光全放射束標準電球
2) 全光束標準電球
3) 分光全放射束又は相対分光分布が校正されたその他の標準光源（例 直管形標準蛍光ランプ）
注記 分布温度TDの全光束標準電球の波長λにおける相対分光分布Ss(λ)は，JIS Z 8725の附属書C
（電球の分布温度から分光分布を推定する方法）に記載する方法で求めることができる。た
だし，光源の特性に起因する大きな誤差を生じる可能性があるので注意を要する。
λ1，λ2，λ3，λ4： 既に分光分布が与えられている波長
ただし，λ1＜λ2＜λ3＜λ4とする。
Ss(λ1)，Ss(λ2)，Ss(λ3)，Ss(λ4)： 波長λ1，λ2，λ3，λ4においてそれぞれ与えられている分光分布の値
図1−分光放射照度標準電球の分光分布の補間
5.2.3
分光測光器
光源色の測定に用いる分光測光器は，一般に，回折格子若しくはプリズムと回折格子とを組み合わせた
モノクロメータ又は回折格子から同時に複数の波長の放射を取り出すポリクロメータを用いた分光測光器
で，その性能は次の条件を満たしていなければならない。
a) 波長目盛の精度 分光測光器の波長目盛の精度はモノクロメータを用いた分光測光器では，その表示
波長（波長目盛の値，呼び波長）と重心波長との差で表し，また，ポリクロメータを用いた分光測光
器では，規定した波長の単色放射に対して，アレイ状の受光素子の各素子のそれぞれの単色放射に対
する光電出力から求めた重心波長との差で表し，それらの値を表1による。
5
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表1−分光測定器の波長目盛の精度
単位 nm
検査波長
精度
435.8 a)
546.1 a)
696.5 b)
±0.3以内
注a) 低圧水銀放電の輝線スペクトル
b) アルゴン放電の輝線スペクトル
b) 応答直線性及びその繰返し性 分光測光器の応答直線性及びその繰返し性は，入射光に対して，波長
が450 nm，550 nm及び650 nmにおける分光測光器の出力の直線性からの外れを測定する。また，そ
の繰返し性を標準偏差の2倍で評価し，それぞれの値は表2による。
注記 測定方法の例を，附属書Fに示す。
表2−分光測光器の直線性及びその繰返し性
単位 %
強度比
直線性からの外れ
繰返し性（2σ）
2：1
±0.5 以内
0.2以内
10：1
±1 以内
0.5以内
c) 迷光 分光測光器の迷光は附属書Bによって測定し，その値は表3による。
表3−分光測光器の迷光
分光測光器
検査波長（nm）
迷光
モノクロメータを
用いた分光測光器
450
1 %以内
ポリクロメータを
用いた分光測光器
450
500
600
1 %以内
5.2.4
測定光の分光測光器への導入条件
標準光源及び測定する光源からの入射光の状態が，光源の形状・配光に関わりなく，同じ幾何学的条件
で分光測光器の分散素子（プリズム，回折格子など）を照射するような，測定光の分光測光器への導入条
件は，附属書Cによる。
5.2.5
分光分布測定の実施条件
分光分布の測定は，次による。
a) 波長範囲 規定している等色関数の波長範囲は360 nm〜830 nmであるが，実際に測色目的で光源を
分光測定する場合の波長範囲は380 nm〜780 nmでもよい。
b) スリット波長幅 スリット波長幅の設定は，次による。
1) モノクロメータを用いた分光測光器の入射及び出射スリット波長幅は，波長546.1 nmにおいて，5
nm又はその整数分の1とする。
2) ポリクロメータを用いた分光測光器の入射スリット波長幅は，435.8 nm，546.1 nm及び696.5 nmに
おいて，アレイ状の受光素子の1素子の分散方向の幅をスリット波長幅に換算したときの値と同一
か，又はその整数倍で，かつ，5 nm以下の値に設定する。
c) 波長間隔 測定波長間隔の設定は，次による。
6
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1) モノクロメータでは，分光分布を測定する波長間隔は，スリット波長幅と等しいか，又はその整数
分の1に設定する。
2) ポリクロメータでは，アレイ状の受光器の各素子の重心波長の間隔を波長間隔とみなし，それをス
リット波長幅と等しいか，又はその整数分の1に設定する。
d) 積分時間 分光測光器の光電出力の積分時間は，光源が交流点灯である場合は，その電源周波数周期
の整数倍とする。
5.2.6
分光分布の計算方法
測定する分光分布の計算方法は，次による。
a) 測定する分光分布St(λ)は，次の式(6)によって求める。
)
(
)
(
)
(
)
(
s
s
t
t
λ
S
λ
R
λ
R
λ
S
=
···································································· (6)
ここに， Ss(λ)： 標準光源の分光分布の波長λにおける値
Rt(λ)： 測定する光源による波長λにおける分光測光器の出力の読み
Rs(λ)： 標準光源による波長λにおける分光測光器の出力の読み
λ： 分光測光器の設定波長
注記 ポリクロメータの場合は，アレイ状の受光素子の各出力値がRt(λ)，Rs(λ)に相当する。
b) 分光測光器の出力の読みR(λ)が，5 nm間隔と異なる場合，5 nm間隔の波長λkにおける分光測光器の
読みR*(λk)を次の式(7)によって求める。
(
)
n
λ
R
λ
λ
λ
R
−
−
=∑
=
5
)
(
5
)
(
g
f
j
j
j
k
k
*
······················································· (7)
ここに，
λf： 分光測光器の設定波長
λj： λk−λf＜5となる最小の分光測光器の設定波長
λg： λg−λk＜5となる最大の分光測光器の設定波長
f，j，g： 整数で，分光測光器の出力の順番
n： 定数
5.2.7
分光分布図の表示方法
5.2.6で求めた分光分布を図示する場合は，各波長において求めたSt(λ)を直線で結ぶ折れ線グラフで表す
のがよい。
5.3
三刺激値及び色度座標の計算方法
5.3.1
三刺激値の計算方法
XYZ表色系の三刺激値X，Y，Zは，次の式(8)で求める。
=
=
=
∑
∑
∑
=
=
=
830
360
*
t
830
360
*
t
830
360
*
t
Δ
)
(
)
(
Δ
)
(
)
(
Δ
)
(
)
(
λ
λ
λ
λ
λ
z
λ
S
k
Z
λ
λ
y
λ
S
k
Y
λ
λ
x
λ
S
k
X
··························································· (8)
ここに，
)
(
*
tλ
S
： 試料光源のΔλ間隔の分光分布の値
)
(λ
x
，
)
(λ
y
，
)
(λ
z
： XYZ表色系における等色関数の値（表6に示す値
を用いる。）
Δλ： 三刺激値計算のための波長間隔（一般に5 nmと
する。）
7
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
k： 定数［Yの値が測光量に一致するように定める。
)
(
*
tλ
S
が分光分布の絶対量（例えば，分光放射照度，
単位はW･m−2･nm−1）である場合には，k＝683 lm･
W−1とする。ただし，X，Zについては単位を適用
しない。］
三刺激値計算のための積算波長範囲は，測定波長範囲に合わせる。
なお，分光測光器を用いて輝線スペクトルをもつ光源を測定する場合などで，分光分布の測定波長が，5
nm間隔と異なる場合には，表6に示す5 nm間隔の等色関数の値から式(5)に示す補間式によって，測定波
長λに対応する等色関数の値を求めて，計算してもよい。この場合の式のΔλは，測定に用いた波長間隔
である。
X10Y10Z10表色系の三刺激値X10，Y10，Z10は，式(8)において
)
(λ
x
，
)
(λ
y
，
)
(λ
z
を，表7に示すX10Y10Z10表
色系における等色関数の値
)
(
10λ
x
，
)
(
10λ
y
，
)
(
10λ
z
に置き換えて計算する。ただし，この場合，式のkは任意
定数である。測光量が必要な場合はY10ではなくXYZ表色系の三刺激値のYを用いる。
5.3.2
色度座標の計算方法
XYZ表色系の色度座標x，yは，次の式(9)によって求める。
+
+
=
+
+
=
Z
Y
X
Y
y
Z
Y
X
X
x
········································································· (9)
ここに， X，Y，Z： 5.3.1で求めたXYZ表色系における三刺激値。X10Y10Z10表
色系の色度座標x10，y10は，式(9)におけるX，Y，ZをX10，
Y10，Z10に置き換えて計算する。
6
刺激値直読方法
6.1
一般
刺激値直読方法は光電色彩計を用い，計測器の指示値から三刺激値X，Y，Z若しくはX10，Y10，Z10又は
これらの相対値を求め，色度座標x，y又はx10，y10を計算する。
なお，測定に用いる各種光源の点灯方法は，附属書Aに規定する。
6.2
光電色彩計
測定に用いる光電色彩計は，ルータの条件をできるだけ満足するもので，その分光応答度は，次の条件
式(10)を満たしていなければならない。
t
λ
f
λ
s
λ
s
λ
f
λ
λ
λ
λ
≦
)
(
)
(
)
(
)
(
2
1
830
360
−
∑
∑
=
=
··························································· (10)
ここに，
)
(λ
f
： 表6に示すXYZ表色系における等色関数
)
(λ
x
，
)
(λ
y
，
)
(λ
z
又
は表7に示すX10Y10Z10表色系における等色関数
)
(
10λ
x
，
)
(
10λ
y
，
)
(
10λ
z
の値。
s(λ)： それぞれの等色関数に対応する光電色彩計の分光応答度の5
nm間隔の測定値
t： 分光応答度の等色関数からの偏差の許容値で，表4に示す値
8
Z 8724：2015
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
式(10)におけるΣs(λ)の積算範囲（λ1〜λ2）は，s(λ)が有意な値をもつ波長範囲全域とする。複数個の受光
器によって，1種類の等色関数に対応する分光応答度を得る光電色彩計の場合は，それらを合成した結果
の分光応答度に対して，式(10)を適用する。
光電色彩計によって測定する光源からの光の受光条件は附属書D，校正方法は附属書Eによる。
表4−光電色彩計の分光応答度の偏差に対する許容範囲
等色関数の種類
波長範囲
許容限界 t
)
(λ
x
500 nm未満
0.10
500 nm以上
0.15
)
(λ
y
全波長域
0.10
)
(λ
z
全波長域
0.40
)
(
10λ
x
500 nm未満
0.10
500 nm以上
0.15
)
(
10λ
y
全波長域
0.10
)
(
10λ
z
全波長域
0.40
7
測定結果の表示
7.1
測定値の表示
測定値の表示は，色度座標x，y及び色度座標と対応した幾何条件の測光量（輝度，光度，全光束，照度
など），又はx10，y10とする。ただし，受渡当事者間の合意があれば，測光量は省略することができる。
7.2
測定値の付記事項
7.2.1
付記事項の項目
測定値は，7.2.2〜7.2.7によって，次の事項を付記する。
なお，必要な場合には，測定する光源の測定箇所及び方向を明記する。
a) 等色関数の種類
b) 測定方法の種類
c) 測定光の分光測光器への導入条件（分光測色方法による場合）
d) 測定光の受光条件（刺激値直読方法による場合）
e) 分光分布測定の実施条件（分光測色方法による場合）
f)
標準光源又は校正用光源の種類
7.2.2
等色関数の種類
等色関数の種類は，測定又は測定値の計算に用いた等色関数が，XYZ表色系又はX10Y10Z10表色系のいず
れによるかを明記する。
7.2.3
測定方法の種類
測定方法は，箇条4に示す分光測色方法又は刺激値直読方法のいずれによるかを明記する。
7.2.4
測定光の分光測光器への導入条件
分光測色方法による場合，測定光の分光測光器への導入条件は，附属書Cに規定する条件a，条件b，
条件c又は条件dのいずれによるかを明記する。
7.2.5
測定光の受光条件
刺激値直読方法による場合，測定光の受光条件は，附属書Dに規定する条件A，条件B又は条件Cの
いずれによるかを明記する。
9
Z 8724：2015
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
7.2.6
分光測定の実施条件
分光測定方法による場合，測定に用いたモノクロメータ又はポリクロメータのスリット波長幅（一般に
波長546.1 nmでの値）及び波長間隔を明記する。
7.2.7
標準光源又は校正用光源の種類
分光測色方法による場合，標準光源の種類は，5.2.2に規定するa)又はb)のいずれによるかを明記する。
標準光源として5.2.2 b) 3)によるものを使用した場合には，その分光分布を測定した5.2.2 a) 1)又は5.2.2
a) 2)に示す標準光源の種類を，括弧を付けて記載する（7.3.5の例1及び例2参照）。
また，刺激値直読方法による場合，附属書Eに記載する光電色彩計の校正に用いた校正用光源を明記す
る。
7.3
測定結果の報告及び記載方法
7.3.1
測定結果の記載
測定値は，次の例に従って記載する。
例1 x＝0.313 y＝0.323 2 430 cd/m2
例2 x10＝0.361 y10＝0.366
7.3.2
付記事項の記載順序
分光測色方法による場合は，測定方法の種類，測定光の分光測光器への導入条件，スリット波長幅，波
長間隔及び標準光源の種類の順序で記載する。
刺激値直読方法による場合は，測定方法の種類，測定光の受光条件及び校正用光源の種類の順序で記載
する。
測定方法，測定光の分光測光器への導入条件，又は測定光の受光条件は，次の例に従って記載するか，
7.3.3の表5に示す記号を用いて記載する。ただし，記号を用いるときは，記号はこの規格によることを付
記する。等色関数の種類は，7.3.1の例1及び例2に示すように，測定値に付記する。
例1 モノクロメータによる分光測色方法，JIS Z 8724の表5の条件a
例2 光電色彩計による刺激値直読方法，JIS Z 8724の表5の条件C
7.3.3
付記事項の記号
測定結果の記載に用いる付記事項の記号は，表5のとおりとする。
なお，測定光の分光測光器への導入条件は附属書Cに，測定光の光電色彩計による受光条件は附属書D
による。
表5−付記事項の記号
項目
種類
記号
測定方法
分光測色方法
モノクロメータ
Sm
ポリクロメータ
Sp
刺激値直読方法
P
測定光の分光
測光器への導
入条件
条件a
a
条件b
b
条件c
c
条件d
d
光電色彩計の
受光条件
条件A
A
条件B
B
条件C
C
10
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
7.3.4
スリット波長幅及び波長間隔の記載方法
スリット波長幅及び波長間隔の記載方法は，スリット波長幅（nm）及び波長間隔（nm）の順序に，“/”
で区切って記載する（例1参照）。
なお，ポリクロメータのようにスリット機械幅一定の測定の場合，波長546.1 nmにおけるスリット波長
幅（nm）及び波長間隔（nm）をそれぞれ括弧を付けて記載する（例2参照）。
例1 スリット波長幅を一定にした場合 5/5
例2 ポリクロメータのようにスリット機械幅一定の場合 (1.6)/(0.8)
7.3.5
標準光源又は校正用光源の種類の記載方法
標準光源又は校正用光源の種類は，次に例示するように具体的に記載する。
例1 5.2.2 a) 1)によるものを用いた場合
分光分布常用標準電球（基準とした標準光源：分光放射照度標準電球）
例2 5.2.2 a) 2)によるものを用いた場合
分光分布常用標準電球（基準とした標準光源：分布温度標準電球）
例3 色彩計校正用光源の場合
色標準白色蛍光ランプ
7.3.6
測定結果の記載
測定結果の記載は，7.3.1及び7.3.2の付記事項の記載順序に従って次に例示する方法による。
なお，測定に用いた機器名を付記することが望ましい。
例1 分光測色方法による場合
a) x＝0.313 y＝0.323 2 430 cd/m2
JIS Z 8724表5の測定条件：Sm，a，5/5 分光放射照度標準電球
○○社製分光測光器
b) x＝0.313 y＝0.323 2 430 cd/m2
JIS Z 8724表5の測定条件：Sp，b，(1.6)/(0.8) 分光分布常用標準電球
（基準とした標準光源：分光放射照度標準電球）
○○社製××形ポリクロメータ
c) x10＝0.361 y10＝0.366
JIS Z 8724表5の測定条件：Sm，a，5/2.5 分光放射照度標準電球
○○社製分光測光器
例2 刺激値直読方法の場合
a) x＝0.312 y＝0.345 2 730 lm
JIS Z 8724表5の測定条件：P，C FL40D 4) ○○社製光電色彩計
注4) 蛍光ランプについてはJIS C 7601，高圧水銀ランプはJIS C 7604に光源の種類を
表す記号が規定されているなら，その記号を記入する。
b) x10＝0.280 y10＝0.309 213 cd/m2
JIS Z 8724表5の測定条件：P，B 標準輝度面 ○○社製XX形光電色彩計
（基準とした標準光源：分光放射照度標準電球）
8
測定の不確かさ
測定の不確かさを評価する場合には，次の範囲の不確かさ寄与成分を考慮した合成標準不確かさを用い
11
Z 8724：2015
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
る。
a) 標準光源（測光用標準光源）を含む測定値及び測定方法に関わる不確かさ（測定装置の検証及び標準
光源の校正の不確かさを含む。）。
注記1 ここに規定している“標準光源”は，JIS Q 17025に規定する参照標準である。
b) 光源の点灯条件による不確かさ。
c) 試験に関わる不確かさ（測定を行う場合のばらつきなど。）。
注記2 不確かさの評価手順は，TS Z 0033（ISO/IEC Guide 98-3）に記載されている。
12
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表6−CIE 1931測色標準観測者の等色関数［360-(5)-830］
波長
nm
等色関数
)
(λ
x
)
(λ
y
)
(λ
z
360
0.000 129 900 0
0.000 003 917 000
0.000 606 100 0
365
0.000 232 100 0
0.000 006 965 000
0.001 086 000
370
0.000 414 900 0
0.000 012 390 00
0.001 946 000
375
0.000 741 600 0
0.000 022 020 00
0.003 486 000
380
0.001 368 000
0.000 039 000 00
0.006 450 001
385
0.002 236 000
0.000 064 000 00
0.010 549 99
390
0.004 243 000
0.000 120 000 0
0.020 050 01
395
0.007 650 000
0.000 217 000 0
0.036 210 00
400
0.014 310 00
0.000 396 000 0
0.067 850 01
405
0.023 190 00
0.000 640 000 0
0.110 200 0
410
0.043 510 00
0.001 210 000
0.207 400 0
415
0.077 630 00
0.002 180 000
0.371 300 0
420
0.134 380 0
0.004 000 000
0.645 600 0
425
0.214 770 0
0.007 300 000
1.039 050 1
430
0.283 900 0
0.011 600 00
1.385 600 0
435
0.328 500 0
0.016 840 00
1.622 960 0
440
0.348 280 0
0.023 000 00
1.747 060 0
445
0.348 060 0
0.029 800 00
1.782 600 0
450
0.336 200 0
0.038 000 00
1.772 110 0
455
0.318 700 0
0.048 000 00
1.744 100 0
460
0.290 800 0
0.060 000 00
1.669 200 0
465
0.251 100 0
0.073 900 00
1.528 100 0
470
0.195 360 0
0.090 980 00
1.287 640 0
475
0.142 100 0
0.112 600 0
1.041 900 0
480
0.095 640 00
0.139 020 0
0.812 950 1
485
0.057 950 01
0.169 300 0
0.616 200 0
490
0.032 010 00
0.208 020 0
0.465 180 0
495
0.014 700 00
0.258 600 0
0.353 300 0
500
0.004 900 000
0.323 000 0
0.272 000 0
505
0.002 400 000
0.407 300 0
0.212 300 0
510
0.009 300 000
0.503 000 0
0.158 200 0
515
0.029 100 00
0.608 200 0
0.111 700 0
520
0.063 270 00
0.710 000 0
0.078 249 99
525
0.109 600 0
0.793 200 0
0.057 250 01
530
0.165 500 0
0.862 000 0
0.042 160 00
535
0.225 749 9
0.914 850 1
0.029 840 00
540
0.290 400 0
0.954 000 0
0.020 300 00
545
0.359 700 0
0.980 300 0
0.013 400 00
550
0.433 449 9
0.994 950 1
0.008 749 999
555
0.512 050 1
1.000 000 0
0.005 749 999
13
Z 8724：2015
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表6−CIE 1931測色標準観測者の等色関数［360-(5)-830］（続き）
波長
nm
等色関数
)
(λ
x
)
(λ
y
)
(λ
z
560
0.594 500 0
0.995 000 0
0.003 900 000
565
0.678 400 0
0.978 600 0
0.002 749 999
570
0.762 100 0
0.952 000 0
0.002 100 000
575
0.842 500 0
0.915 400 0
0.001 800 000
580
0.916 300 0
0.870 000 0
0.001 650 001
585
0.978 600 0
0.816 300 0
0.001 400 000
590
1.026 300 0
0.757 000 0
0.001 100 000
595
1.056 700 0
0.694 900 0
0.001 000 000
600
1.062 200 0
0.631 000 0
0.000 800 000 0
605
1.045 600 0
0.566 800 0
0.000 600 000 0
610
1.002 600 0
0.503 000 0
0.000 340 000 0
615
0.938 400 0
0.441 200 0
0.000 240 000 0
620
0.854 449 9
0.381 000 0
0.000 190 000 0
625
0.751 400 0
0.321 000 0
0.000 100 000 0
630
0.642 400 0
0.265 000 0
0.000 049 999 99
635
0.541 900 0
0.217 000 0
0.000 030 000 00
640
0.447 900 0
0.175 000 0
0.000 020 000 00
645
0.360 800 0
0.138 200 0
0.000 010 000 00
650
0.283 500 0
0.107 000 0
0.000 000 000 00
655
0.218 700 0
0.081 600 00
0.000 000 000 00
660
0.164 900 0
0.061 000 00
0.000 000 000 00
665
0.121 200 0
0.044 580 00
0.000 000 000 00
670
0.087 400 00
0.032 000 00
0.000 000 000 00
675
0.063 600 00
0.023 200 00
0.000 000 000 00
680
0.046 770 00
0.017 000 00
0.000 000 000 00
685
0.032 900 00
0.011 920 00
0.000 000 000 00
690
0.022 700 00
0.008 210 000
0.000 000 000 00
695
0.015 840 00
0.005 723 000
0.000 000 000 00
700
0.011 359 16
0.004 102 000
0.000 000 000 00
705
0.008 110 916
0.002 929 000
0.000 000 000 00
710
0.005 790 346
0.002 091 000
0.000 000 000 00
715
0.004 109 457
0.001 484 000
0.000 000 000 00
720
0.002 899 327
0.001 047 000
0.000 000 000 00
725
0.002 049 190
0.000 740 000 0
0.000 000 000 00
730
0.001 439 971
0.000 520 000 0
0.000 000 000 00
735
0.000 999 949 3
0.000 361 100 0
0.000 000 000 00
740
0.000 690 078 6
0.000 249 200 0
0.000 000 000 00
745
0.000 476 021 3
0.000 171 900 0
0.000 000 000 00
750
0.000 332 301 1
0.000 120 000 0
0.000 000 000 00
755
0.000 234 826 1
0.000 084 800 00
0.000 000 000 00
14
Z 8724：2015
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表6−CIE 1931測色標準観測者の等色関数［360-(5)-830］（続き）
波長
nm
等色関数
)
(λ
x
)
(λ
y
)
(λ
z
760
0.000 166 150 5
0.000 060 000 00
0.000 000 000 00
765
0.000 117 413 0
0.000 042 400 00
0.000 000 000 00
770
0.000 083 075 27
0.000 030 000 00
0.000 000 000 00
775
0.000 058 706 52
0.000 021 200 00
0.000 000 000 00
780
0.000 041 509 94
0.000 014 990 00
0.000 000 000 00
785
0.000 029 353 26
0.000 010 600 00
0.000 000 000 00
790
0.000 020 673 83
0.000 007 465 700
0.000 000 000 00
795
0.000 014 559 77
0.000 005 257 800
0.000 000 000 00
800
0.000 010 253 98
0.000 003 702 900
0.000 000 000 00
805
0.000 007 221 456
0.000 002 607 800
0.000 000 000 00
810
0.000 005 085 868
0.000 001 836 600
0.000 000 000 00
815
0.000 003 581 652
0.000 001 293 400
0.000 000 000 00
820
0.000 002 522 525
0.000 000 910 930 0
0.000 000 000 00
825
0.000 001 776 509
0.000 000 641 530 0
0.000 000 000 00
830
0.000 001 251 141
0.000 000 451 810 0
0.000 000 000 00
15
Z 8724：2015
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表7−CIE 1964測色標準観測者の等色関数［360-(5)-830］
波長
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等色関数
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375
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380
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385
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0.002 927 80
390
0.002 361 6
0.000 253 4
0.010 482 2
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400
0.019 109 7
0.002 004 4
0.086 010 9
405
0.043 400
0.004 509
0.197 120
410
0.084 736
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415
0.140 638
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0.656 760
420
0.204 492
0.021 391
0.972 542
425
0.264 737
0.029 497
1.282 50
430
0.314 679
0.038 676
1.553 48
435
0.357 719
0.049 602
1.798 50
440
0.383 734
0.062 077
1.967 28
445
0.386 726
0.074 704
2.027 30
450
0.370 702
0.089 456
1.994 80
455
0.342 957
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1.900 70
460
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1.745 37
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0.254 085
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1.554 90
470
0.195 618
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0.570 060
490
0.016 172
0.339 133
0.415 254
495
0.005 132
0.395 379
0.302 356
500
0.003 816
0.460 777
0.218 502
505
0.015 444
0.531 360
0.159 249
510
0.037 465
0.606 741
0.112 044
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0.685 660
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0.060 709
525
0.172 953
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0.043 050
530
0.236 491
0.875 211
0.030 451
535
0.304 213
0.923 810
0.020 584
540
0.376 772
0.961 988
0.013 676
545
0.451 584
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0.007 918
550
0.529 826
0.991 761
0.003 988
555
0.616 053
0.999 110
0.001 091
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表7−CIE 1964測色標準観測者の等色関数［360-(5)-830］（続き）
波長
nm
等色関数
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y
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z
560
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565
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570
0.878 655
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0.000 000
575
0.951 162
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0.000 000
580
1.014 16
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585
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0.000 000
590
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595
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0.000 000
600
1.123 99
0.658 341
0.000 000
605
1.089 10
0.593 878
0.000 000
610
1.030 48
0.527 963
0.000 000
615
0.950 740
0.461 834
0.000 000
620
0.856 297
0.398 057
0.000 000
625
0.754 930
0.339 554
0.000 000
630
0.647 467
0.283 493
0.000 000
635
0.535 110
0.228 254
0.000 000
640
0.431 567
0.179 828
0.000 000
645
0.343 690
0.140 211
0.000 000
650
0.268 329
0.107 633
0.000 000
655
0.204 300
0.081 187
0.000 000
660
0.152 568
0.060 281
0.000 000
665
0.112 210
0.044 096
0.000 000
670
0.081 260 6
0.031 800 4
0.000 000 0
675
0.057 930 0
0.022 601 7
0.000 000 0
680
0.040 850 8
0.015 905 1
0.000 000 0
685
0.028 623 0
0.011 130 3
0.000 000 0
690
0.019 941 3
0.007 748 8
0.000 000 0
695
0.013 842 0
0.005 375 1
0.000 000 0
700
0.009 576 88
0.003 717 74
0.000 000 00
705
0.006 605 20
0.002 564 56
0.000 000 00
710
0.004 552 63
0.001 768 47
0.000 000 00
715
0.003 144 70
0.001 222 39
0.000 000 00
720
0.002 174 96
0.000 846 19
0.000 000 00
725
0.001 505 70
0.000 586 44
0.000 000 00
730
0.001 044 76
0.000 407 41
0.000 000 00
735
0.000 727 450
0.000 284 041
0.000 000 000
740
0.000 508 258
0.000 198 730
0.000 000 000
745
0.000 356 380
0.000 139 550
0.000 000 000
750
0.000 250 969
0.000 098 428
0.000 000 000
755
0.000 177 730
0.000 069 819
0.000 000 000
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波長
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等色関数
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x
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10λ
y
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(
10λ
z
760
0.000 126 390
0.000 049 737
0.000 000 000
765
0.000 090 151 0
0.000 035 540 5
0.000 000 000 0
770
0.000 064 525 8
0.000 025 486 0
0.000 000 000 0
775
0.000 041 509 94
0.000 014 990 00
0.000 000 000 00
780
0.000 033 411 7
0.000 013 249 0
0.000 000 000 00
785
0.000 024 209 0
0.000 009 619 6
0.000 000 000 00
790
0.000 017 611 5
0.000 007 012 8
0.000 000 000 00
795
0.000 012 855 0
0.000 005 129 8
0.000 000 000 00
800
0.000 009 413 63
0.000 003 764 73
0.000 000 000 00
805
0.000 006 913 00
0.000 002 770 81
0.000 000 000 00
810
0.000 005 093 47
0.000 002 046 13
0.000 000 000 00
815
0.000 003 767 10
0.000 001 516 77
0.000 000 000 00
820
0.000 002 795 31
0.000 001 128 09
0.000 000 000 00
825
0.000 002 082 00
0.000 000 842 16
0.000 000 000 00
830
0.000 001 553 14
0.000 000 629 70
0.000 000 000 00
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Z 8724：2015
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附属書A
（規定）
光源の点灯方法
A.1 光源の種類
光源の種類は，次による。それぞれ，刺激値直読方法で使用する校正用光源及び一般照明用光源に分類
する。
a) 電球
b) 蛍光ランプ
c) 高輝度放電ランプ（HIDランプ）
d) LED
e) その他の光源
A.2 電球
A.2.1 校正用電球
安定で使いやすいことから，測光標準用電球として使用される電球又はそれに相当するものを使用する。
光度用及び全光束用がある。分布温度2 400 K以下では真空電球を，2 000〜2 900 K程度の範囲では，通常
のガス入り電球が使用できる。2 900 K以上ではハロゲン電球を使用する。
校正用電球の点灯，試験方法，点灯回路及びエージング方法は，次による。
注記 CIEは，標準光源Aとして分布温度2 856 Kのガス入りタングステン電球を指定している。
a) 校正用電球の点灯及び試験方法並びに点灯回路
1) 校正用電球の点灯及び試験方法 光度用は，JIS C 7801の箇条8（光度測定）に，全光束用は，JIS
C 7613の5.1（点灯並びに電圧及び電流の測定）に規定する点灯及び試験条件による。また，電気
特性及び光出力が安定したことを確認してから試験を行う。
2) 点灯回路 JIS C 7613の3.1.3（回路）に規定する点灯回路を使用する。
b) 校正用電球のエージング方法 校正用電球は，校正用光源として使用開始する以前に，安定化のため
に定格電圧，又は定格電流値で数時間点灯してエージングする。エージング中，約10分間の消灯を数
回行って，フィラメントの発光を安定化させるとともに，エージング中は連続的に光出力の変化を記
録する。
A.2.2 一般照明用電球
A.2.2.1 一般照明用電球の点灯及び試験方法並びに点灯回路
一般照明用電球の点灯，試験方法，点灯回路及びエージング方法は，次による。
a) 一般照明用電球の点灯及び試験方法 JIS C 7501の附属書A（各種の試験方法）に規定する試験条件
に従う。一般に，十分に低い電圧から始めて，徐々に試験電圧まで上げ，電圧又は電流一定で直流点
灯する。電気特性及び光出力が安定したことを確認してから試験を行う。
b) 点灯回路 A.2.1 a) 2)に規定する点灯回路を使用する。
A.2.2.2 一般照明用電球のエージング方法
A.2.1 b)に規定するエージング方法に従う。
19
Z 8724：2015
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A.2.3 電球の取扱注意事項
周囲温度の変化は，フィラメントの発光自体には直接影響しないが，高温になりすぎるとガラス球から
の不純ガスの放出が起こり得るので，JIS C 7501の附属書Aに規定する周囲条件とする。また，ガラス部
は素手で触れてはならない。万が一，素手で触れた場合は清浄なガーゼにアルコールを浸して拭う。
A.3 蛍光ランプ
A.3.1 校正用蛍光ランプ
直管20 W形蛍光ランプ，又は40 W形蛍光ランプを校正用蛍光ランプとして使用するとよい。
校正用蛍光ランプの点灯，試験方法，点灯回路及びエージング方法は，次による。
a) 校正用蛍光ランプの点灯及び試験方法並びに点灯回路
校正用蛍光ランプの点灯及び試験方法並びに点灯回路は，次による。
1) 校正用蛍光ランプの点灯及び試験方法 JIS C 7617-2の附属書B（電気的，光学的及び陰極特性の
試験方法）に規定する点灯及び試験条件によって特に指定がない限り，ランプは口金又はピンによ
って水平に保持する。JIS C 8108又はJIS C 8118に規定する試験用安定器を使用して，定格入力電
圧で点灯して電気特性及び光出力が安定したことを確認してから試験を行う。
2) 点灯回路 JIS C 7617-2の附属書Bに規定する点灯回路を使用する。
b) 校正用蛍光ランプのエージング方法 校正用蛍光ランプは，定格入力電圧で750時間のエージングが
必要である。エージング方法は，エージングの点灯サイクルは，休止（消灯）期間15分間を含む3
時間とする。エージング100時間後に定格ランプ電力で点灯したときの全光束を測定し，JIS C 7617-2
の箇条2（ランプデータシート）に示す全光束値に対して，偏差が3 %を超えるものは除外する。エ
ージング250時間終了後750時間までは，100時間ごとに電気特性を測定し，光出力及び電気特性の
変化を記録する。100時間ごとに2 %以上電気特性が変化するものは除外する。エージング終了後，
光出力及び電気特性の繰返し再現性を確認するため，積分球内で15分間点灯し，5分間隔で5回以上
測定した全光束値の平均値のばらつきが標準偏差で±1 %以内のランプを選別する。
A.3.2 一般照明用蛍光ランプ
A.3.2.1 一般照明用蛍光ランプの点灯及び試験方法並びに点灯回路
一般照明用蛍光ランプの点灯及び試験方法並びに点灯回路は，次による。
a) 一般照明用蛍光ランプの点灯及び試験方法 A.3.1 a) 1)に規定する点灯及び試験条件に従うものとす
る。ただし，環形のものは，水平点灯にしなくてもよい。また，コンパクト形は，JIS C 7618-2の附
属書B（電気的，光学的及び陰極特性の試験方法）に規定する点灯及び試験条件によって特に指定が
ない限り，鉛直（口金上方）点灯とする。
b) 点灯回路 JIS C 7617-2の附属書B，又はJIS C 7618-2の附属書Bに規定する点灯回路を使用する。
A.3.2.2 一般照明用蛍光ランプのエージング
A.3.1 b)に規定するエージング方法に従い，100時間のエージングを行う。
A.3.3 蛍光ランプの取扱注意事項
蛍光ランプの諸特性は，管内の水銀蒸気圧で決まるため，周囲温度の影響を受ける。特に，光束，始動
特性への影響が大きく，光色にも影響するため，一般に，周囲温度25 ℃±1 ℃で測定する。また，点灯
中の風の影響も受けるため，ランプに直接風が当たらないようにする。
20
Z 8724：2015
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A.4 高輝度放電ランプ（HIDランプ）
A.4.1 校正用HIDランプ
250 W〜400 W高圧水銀ランプを校正用HIDランプとして使用する。
校正用HIDランプの点灯，試験方法，点灯回路及びエージング方法は，次による。
注記 校正用HIDランプは，ワット数別に準備してもよい。
a) 校正用HIDランプの点灯及び試験方法並びに点灯回路 校正用HIDランプの点灯及び試験方法並び
に点灯回路は，次による。
1) 校正用HIDランプの点灯及び試験方法 JIS C 7604の附属書B（ランプの電気的及び光学的特性の
測定方法）に規定する点灯及び試験条件によって，特に指定がない限り鉛直（口金上方）に保持し，
JIS C 8110に規定する試験用安定器を使用して定格入力電圧で点灯し，電気特性及び光出力が安定
したことを確認してから試験を行う。
2) 点灯回路 JIS C 7604の附属書Bに規定する点灯回路を使用する。
b) 校正用HIDランプのエージング方法 校正用HIDランプは，定格入力電圧で750時間のエージング
が必要である。エージング方法は，エージングの点灯サイクルは休止（消灯）期間15分間を含む3
時間とする。エージング250時間終了後750時間までは，100時間ごとに電気特性を測定し，光出力
及び電気特性の変化を記録する。100時間ごとに2 %以上電気特性が変化するものは除外する。エー
ジング終了後，光出力及び電気特性の繰返し再現性を確認するため，積分球内で15分間点灯し，5分
間隔で5回以上測定した全光束値の平均値のばらつきが標準偏差で±1 %以内のランプを選別する。
A.4.2 一般照明用HIDランプ
A.4.2.1 一般照明用HIDランプの点灯及び試験方法並びに点灯回路
一般照明用HIDランプの点灯及び試験方法並びに点灯回路は，次による。
a) 一般照明用HIDランプの点灯及び試験方法 A.4.1 a)に規定する点灯及び試験条件によるものとする。
ただし，点灯姿勢が指定されているものは，その指定による。
b) 点灯回路 JIS C 7604の附属書A（始動，安定時間及び再始動時間試験）に規定する点灯回路を使用
する。
A.4.2.2 一般照明用HIDランプのエージング
A.4.1 b)に規定するエージング方法によって，100時間のエージングを行う。
A.4.3 HIDランプの取扱注意事項
点灯時の周囲温度20 ℃〜30 ℃の範囲とする。ただし，積分球の内部温度は，JIS C 7607の4.（測定設
備及び試験場所の状態）に規定する20 ℃〜35 ℃とする。
注記 ランプ消灯直後の内部蒸気圧が高いときは始動が困難である。発光管が冷えて再点灯するまで
の時間（再始動時間）は，JIS C 7604の1.4.4（始動特性，安定時間及び再始動時間）に規定さ
れている。
A.5 LED
A.5.1 校正用LED
光度及び全光束の校正用光源としてJIS C 8152-1の箇条4（標準LED）の標準LEDを使用する。
点灯及び試験方法は，JIS C 8152-1の4.4（標準LEDの点灯条件）に規定する点灯及び試験条件による。
A.5.2 一般照明用LEDの点灯及び試験方法並びに点灯回路
一般照明用LEDの点灯及び試験方法並びに点灯回路は，JIS C 8157及びJIS C 8159-2による。
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附属書B
（規定）
分光測光器の迷光の測定方法
B.1
迷光の測定方法
ハロゲン電球（以下，電球という。）を光源として，モノクロメータを使用した場合は，設定波長450 nm
において，透過限界波長が500±5 nmのシャープカットガラスフィルタを入射光路に挿入したときの出力
（迷光成分）と，挿入しないときの出力とを測定してその比を求める。
ポリクロメータの場合には，先に示した電球の放射を入射して，透過限界波長がそれぞれ500±5 nm，
560±5 nm及び660±5 nmのシャープカットガラスフィルタを入射光路に挿入したときの波長がそれぞれ，
450 nm，500 nm及び600 nmの受光素子の出力（迷光成分）と，挿入しないときの出力とを測定してその
比を求める。
なお，このとき使用するハロゲン電球は，分布温度3 200 K以下で，ガラス球に特定の波長域の放射を
選択的に反射又は透過する膜を施したり，反射鏡を付けたりしていないものとする。
なお，ここで用いる透過限界波長は，図B.1に規定するシャープカットガラスフィルタの透過率が72 %
となる波長（高透過限界波長）と，透過率が5 %となる波長（吸収限界波長）の中点である。
図B.1−シャープカットガラスフィルタの分光透過率の定義
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附属書C
（規定）
測定光の分光測光器への導入条件
C.1 測定光の分光測光器への導入条件
ある特定方向への放射を測定する場合，標準光源及び測定する光源からの入射光の状態が，光源の形状・
配光に関わりなく，同じ幾何学的条件で分光測光器の分散素子（プリズム，回折格子など）を照射するよ
うに，一般に，次に示す条件a，条件b又は条件cのいずれかによって入射光を分光測光器へ導入する。
ただし，これらの条件に適合しない場合は，用いた条件を具体的に記載する。図C.1〜図C.3に，それぞ
れ条件a，条件b及び条件cの入射光学系の例を示す。
積分球を用いて全光束に対応した幾何条件で放射を測定する場合，条件dを用いる。
なお，いずれの条件においても，分光測光器の入射スリットの前に遮光絞りを置くなどして，分散素子
の周囲へ光があふれないようにして，照射する光だけをモノクロメータ又はポリクロメータへ導入する。
入射スリットまでの光の導入手段として光ファイバ束を使用する場合は，条件a，条件b又は条件cのい
ずれの場合においても，光ファイバ束へ入射する入射光の状態が，光ファイバ束を用いないときと同様に，
光源の形状・配光に関わりなく，ほぼ同じであるようにしなければならない。
a) 条件a 光源の光を入射用の積分球に入射させ，積分球からの拡散光を直接又は光学系によって分光
測光器に導入する。
b) 条件b 光源の光を硫酸バリウム又はPTFE粉末1)を圧着した拡散反射面に垂直に当て，その反射面の
法線から45°方向の拡散反射光を，光学系などによって分光測光器へ導入する。
注1) PTFE粉末は，ポリテトラフロロエチレン樹脂（polytetrafluoroethylene）の拡散反射材料で，
密度0.75〜1.0（g/cm3），厚さ4 mm以上となるように，JIS R 6001に規定する粒度F150の研
磨材で砂ずりしたガラス面で圧着すると，可視波長域の反射率が95 %以上で，硫酸バリウム
粉末よりも分光反射特性の波長に対する一定性が優れた拡散反射面が得られる。ただし，紫
外放射を照射したとき蛍光を発しないことを確認して用いる。
c) 条件c 光源の光を，乳白ガラス，乳白アクリル拡散板，PTFE透過拡散板，又は粒度F100〜F220の
研磨材で，片面又は両面を砂ずりしたガラス板などの拡散透過面に当て，その拡散透過光を直接又は
光学系によって分光測光器へ導入する。
注記1 分光測定する放射の入射パワーの強度が十分な場合は，一般に入射光の配光状態の等化性，
偏光解消能力などからみて，条件aで入射を与えたときが最も正確な結果を期待でき，条
件b，条件cの順に不確かさが増す。特に偏光が著しい光源の場合には，この傾向が強い。
d) 条件d 測定する光源の発光面全体からあらゆる方向に出る光を積分球内で繰り返し反射させて，積
分球壁面に光源からの直射光を除いて，均一化して，光源の分光放射束に比例した放射照度を受光窓
面上に発生させ，この光を上記条件a，条件b又は条件cの光学系によって分光測光器へ導入する。
使用する積分球は次の1)〜7)の条件を満たさなければならない。測定に使用する積分球の構造を図C.4
に示す。測定する光源の配光状態に応じて，光源を積分球内で点灯する4π条件用積分球［一般照明用
光源など：図C.4 a)参照］と，光源を外部から積分球の窓面に密着して点灯する2π条件用積分球［LED
モジュールなど：図C.4 b)参照］とを使用する。
1) 積分球内部（壁面，遮光板，光源点灯ジグなどの内部構造物）は，一様な白色拡散反射特性をもつ
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反射面（硫酸バリウム，PTFE粉末などの塗布又は圧着反射面がよい。）であり，内壁の反射率は90 %
以上が望ましい。
2) 積分球は，被測定光源又は標準光源の点灯ジグなど，積分球内壁面以外で光源の直射光が当たる部
分の吸収を少なく抑え，光源からの放射を積分球内部で十分に相互反射させる構造とする。
3) 積分球は，開口部などから迷光が内部に混入しない構造とする。
4) 遮光板は，光源の直射光が受光窓に当たらない位置に配置し，寸法はできるだけ小さくする。
5) 自己吸収測定用光源は，その直射光が受光窓に当たらない構造とする。
6) 積分球の開口部の大きさは，開口部面積の合計が内壁面積に対して4 %以内であることが望ましい。
注記2 積分球による測定は，遮光板，開口，光源点灯ジグなどが不確かさの要因となるため，
積分球の直径を大きくして，これらの比率を下げることで不確かさを改善することがで
きる。一方，積分球を大きくすると受光窓の放射照度が低下するため，測定値のSN比
が確保できる範囲が，積分球の大きさの上限となる。
7) 積分球の受光窓に接続する光学系の次の式で定義する斜入射光係数f2は，その値を，15 %以内とす
ることが望ましい。このとき，式(C.1)での測定角度ピッチは，10°で±80°の角度範囲で評価する。
∫
°
=
80
0
*
2
2
2
sin
)
(
dθ
θ
θ
f
f
··························································· (C.1)
ここに，
(%)
100
1
cos
)
(
)
(
0
*
2
×
−
=
θ
Y
θ
Y
θ
f
············································ (C.2)
Y(θ)： 入射角θにおける受光器出力
Y 0： 入射角0°における受光器出力
注記3 受光光学系について，上記の斜入射光特性の条件を満たすため，積分球窓からの出射光
を小形の積分球又は透過拡散板光学系に入射する。光学系から分光測光器へ，測定光を
導くために光ファイバを用いると便利である。
Sb：積分球
B：遮光絞り
G：回折格子
S1，S2：入，出射スリット
M1，M2：平面ミラー
Mc：コリメータミラー
Mf：フォーカシングミラー
D：放射検出器
L：フィールドレンズ
（光源の光を積分球に入射させ，積分球からの拡散光をモノクロメータに導入する方法）
図C.1−入射条件aの光学系の例
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Dr：拡散反射板
B：遮光絞り
G：回折格子
S1，S2：入，出射スリット
Mr，M1，M2：平面ミラー
Mc：コリメータミラー
Mf：フォーカシングミラー
D：放射検出器
L：フィールドレンズ
（光源の光を拡散反射板に垂直に入射させ，その拡散反射面の法線から45°方向の拡散光
をモノクロメータに導入する方法）
図C.2−入射条件bの光学系の例
Dt：拡散透過板
B：遮光絞り
G：回折格子
S1，S2：入，出射スリット
M1，M2：平面ミラー
Mc：コリメータミラー
Mf：フォーカシングミラー
D：放射検出器
L：フィールドレンズ
（光源の光を拡散透過板に垂直に入射させ，その拡散透過光をモノクロメータに導入する
方法）
図C.3−入射条件cの光学系の例
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a) 4π条件用積分球の例
b) 2π条件用積分球の例
図C.4−入射条件dの光学系の例
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附属書D
（規定）
光電色彩計の受光条件
D.1 測定光の受光条件
光電色彩計によって色度などを測定する光源からの光の受光条件は，次の条件A，条件B又は条件Cの
いずれかによる。図D.1，図D.2及び図D.3に，それぞれ条件A，条件B及び条件Cの入射光学系の例を
示す。
a) 条件A 測定する光源の全体から測定点に向かう光を，その光軸に対して垂直な受光面で受光する。
このとき，用いる入射角の範囲内で受光面に斜めに入射する光に対する出力が，入射角の余弦則に従
わなければならない。
b) 条件B 測定する光源の特定部分から測定点に向かう光を，その光軸に対して垂直な受光面で受光す
る。この場合，測定する光源の部分を限定するために光学系などを用いる。このとき，用いる入射角
の範囲内で受光面に斜めに入射する光に対する出力が，入射角の余弦則に従わなければならない。
c) 条件C 測定する光源の発光面全体からあらゆる方向に出る光を積分球内で繰り返し反射させて，積
分球壁面に光源からの直射光を除いて，均一化して，光電色彩計の受光面を照明する。測定に使用す
る積分球の構造を図D.3に示す。測定する光源の配光状態に応じて，光源を積分球内で点灯する4π
条件用積分球［一般照明用光源など：図D.3 a)参照］と，光源を外部から積分球の窓面に密着して点
灯する2π条件用積分球［LEDモジュールなど：図D.3 b)参照］とを使用する。この場合，積分球内
で測定する光源を点灯する。積分球の受光開口，光源，光源から測光窓への直射を遮る遮光板及びそ
れらの保持具の表面積の総和は，積分球内面の面積の10 %を超えてはならない。
注記1 条件A，条件B，及び条件Cでは，それぞれの受光面の照度，測定する光源の輝度及び測
定する光源の全光束に対応する色刺激値が測定できる。
注記2 条件B及び条件Cの場合，それぞれの光学系及び積分球の特性も含めてルータの条件を満
足する必要がある。特に，積分球の分光的な選択性及び経時変化が大きいことがあるので
注意する必要がある。
注記3 図D.3のa)及びb)に示す自己吸収測定用光源の使用方法は，JIS C 7801を参照。
（光源全体から測定点に向かう光を，その光軸に対して垂直に置いた光電色彩計受光面に導入する方法）
図D.1−条件Aの光学系の例
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Z 8724：2015
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
B1，B2：遮光絞り
L：レンズ
f：レンズの焦点
（光源の特定部分から測定点に向かう光を，その光軸に対して垂直に置いた光電色彩計受
光面に導入する方法）
a) 条件Bの光学系の例1
（レンズ式輝度計）
b) 条件Bの光学系の例2
図D.2−条件Bの光学系の例
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
a) 条件Cで4π条件用積分球を使用した光学系の例
b) 条件Cで2π条件用積分球を使用した光学系の例
図D.3−条件Cの光学系の例
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附属書E
（規定）
光電色彩計の校正
E.1
光電色彩計の校正方法
光電色彩計の校正は，三刺激値X，Y，Z又はX10，Y10，Z10が値付けしてある校正用光源を用いて，次に
よって行う。
a) 校正用光源は，測定する光源と同一の受光条件（附属書D）で測定し，それぞれの三刺激値の読みを
求める。
b) 測定する光源の三刺激値を次の式(E.1)によって求める。
F
F'
T'
T =
············································································· (E.1)
ここに，
T： 測定する光源の三刺激値
T'： 測定する光源の三刺激値の読み
F： 校正用光源に値付けしてある三刺激値
F'： 校正用光源の三刺激値の読み
注記1 T，T'，F及びF'は，三刺激値の相対値でもよい。
注記2 光電色彩計の出力が色度座標x，y及び三刺激値のYである場合，三刺激値のX及びZを
それぞれ式(E.2)及び式(E.3)で求め，式(E.1)による校正を行う。
Y
y
x
X =
·············································································· (E.2)
Y
y
y
x
Z
−
−
=1
······································································ (E.3)
c) 三刺激値Tから式(E.4)によって色度座標x，y又はX10，Y10を求める。
+
+
=
+
+
=
Z
Y
X
Y
y
Z
Y
X
X
x
······································································ (E.4)
E.2
校正用光源
校正用光源は，次による。
a) 発光特性が安定していて，光源からの光の三刺激値X，Y，Z若しくはX10，Y10，Z10又はそれらの相対
値は，国家標準にトレーサブルになるように校正された標準光源との比較測定によって値付けられる
ことが望ましい。その正確さは測定する光源について必要な正確さ以上であるものとする。
b) 相対分光分布が測定する光源に近似し1)，色度も測定する光源とあまり異ならないものとする。測定
するランプと同じ品種のランプを用いるとよい。
注1) 放電ランプなどを用いた場合に，相対分光分布における顕著な極大（輝線スペクトルも含
む。），極小及び急激な起伏の波長が互いに近似することをいう。
c) 光電色彩計の受光条件が附属書Dの条件Aによる場合には，輝度及び色度の発光面上での分布（むら），
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及び寸法が測定する光源に近似し，条件Cによる場合は，更に配光も近似することが望ましい。条件
Bによる場合は，発光面上での輝度及び色度の分布（むら）が均一であるか，又は測定する光源に相
似することが望ましい。
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附属書F
（参考）
分光測光器の応答直線性及びその繰返し性の測定方法
F.1
測定条件
分光測光器の応答直線性は，強度比2：1の入射光に対する，波長が450 nm，550 nm及び650 nmにお
ける分光測光器の出力の直線性からの外れを求める。また，このとき入射光の設定を含めた10回以上の測
定結果の標準偏差の2倍（2σ）を繰返し性として評価する。繰返し性測定の回数は，試験条件に明記する。
強度比10：1の入射光に対する，波長が450 nm，550 nm及び650 nmにおける分光測光器の出力の直線
性からの外れを求める。また，このとき入射光の設定を含めた10回以上の測定結果の標準偏差の2倍（2σ）
を繰返し性として評価する。繰返し性の測定の回数は，試験条件に明記する。
F.2
測定方法
測定方法は，次のとおりである。
a) 測光ベンチによる測光距離を変えた測定方法 受光面の照度が，光源と受光面との距離Lの逆二乗則
に従うことを利用して，その入出力直線性を測定する。図F.1にその代表的な光学系を示す。
使用する光源は，測定光軸周りの光度が均一で十分安定である。光源の外形寸法は最小測光距離の
1/10以下とし，散乱光の回り込みを最小にするため，距離設定ごとに光源と遮光板の位置関係を調整
して，往復測定を行う。暗出力（オフセット）の測定は，距離設定ごとに行わなくてはならない。
図F.1−測光ベンチによる測光距離を変えた測定方法
b) 複数光源切替え法 同一平面上に配置した複数の光源を，個別に点灯できる装置を設けて，あらかじ
め個々の光源単独での点灯時の分光測光器の出力I1，I2，…Inを測定しておき，光源のうちn個の光源
を点灯したときの分光測光器出力ITnを比較して，ITn/(I1＋I2＋…＋)Inから，その入出力直線性を測定
する。
図F.2にその代表的な光学系を示す。個々の光源は十分安定なものを使用し，n個の光源を同時点灯
したときの発光の相互干渉による散乱光の発生及び装置の温度上昇による発光の変動に十分留意する。
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図F.2−複数光源の点灯を切り替えた測定方法
c) 孔開き板法 十分に安定な光源の放射をレンズで受光部に結像する。受光器の受光面の照度を均一に
するため，光源で透過拡散板を照明し，その透過拡散板の像を受光面に結像させる。レンズの近傍に
複数の開口をもつ遮光板を置き，それぞれの開口を開け閉めすることによって受光器の受光面の照度
を変えてその入出力直線性を測定する。図F.3にその代表的な光学系を示す。レンズは十分大きな口
径の色消しレンズを用いる。直線性の評価方法はb)と同じである。
図F.3−孔開き板の開口を切り替えた測定方法
d) 積分球光源法 十分安定な光源で積分球窓に装着した透過拡散板を照明し，その透過拡散板からの拡
散光で積分球内を照明して，その壁面照度を受光部で受光する。光源と透過拡散板との間に可変絞り
を設けて光束を調整する。積分球内壁の照度は，a)〜c)の方法によって，あらかじめ入出力直線性が
保証されたSiフォトダイオードを参照受光器として使用して求める。図F.4にその代表的な光学系を
示す。参照受光器は，積分球中心と光源を装着する積分球窓の中心を通る軸に対して，測定する受光
器と対称な位置に配置する。事前に測定する受光器と参照受光器とを入れ替えて，その位置の差を補
正する。
図F.4−積分球光源を用いた測定方法
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e) LED光源をパルス光のデューティー比を変える方法 LED光源をパルス点灯した場合の，パルスの
デューティー比を変えて1サイクルのパルス光束を変化させる。パルス点灯時の出力波形は完全なく
（矩）形ではないので，a)〜d)の方法によって，あらかじめ入出力直線性が保証されたSiフォトダイ
オードで，光束の変化を確認する必要がある。
注記 ポリクロメータを用いた分光測光器では，例えば，CCD検出器を用いた装置等で，積分時間
（露光時間）を変化させることによって，応答度を変化させることができる。この積分時間
の変化に対する応答についても，直線性と同様に，例えば，次のような方法で評価すること
が望ましい。
十分に安定な光源で受光部を照明した際の分光測光器出力が，十分な安定度で4桁以上得
られる積分時間を設定する。次に積分時間を1/2及び1/10に設定して，2：1及び10：1の応
答度に相当する直線性を評価する。この評価においては，あらかじめa)〜d)の方法での受光
面の放射照度を校正して，同一積分時間での分光測光器出力の入出力直線性を求めておく必
要がある。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書G
（参考）
参考文献
JIS C 7601:2010 蛍光ランプ（一般照明用）
JIS Q 17025:2005 試験所及び校正機関の能力に関する一般要求事項
JIS R 6001:1998 研削といし用研磨材の粒度
JIS Z 8701:1999 色の表示方法−XYZ表色系及びX10Y10Z10表色系
JIS Z 8725:2015 光源の分布温度及び色温度・相関色温度の測定方法
JIS Z 8781-1:2012 測色−第1部：CIE測色標準観測者の等色関数
TS Z 0033:2012 測定における不確かさの表現のガイド