Z 4511：2018
（1）
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 2
3 用語及び定義 ··················································································································· 2
4 連続X線標準場 ··············································································································· 6
4.1 線質 ···························································································································· 6
4.2 連続X線標準場の仕様 ···································································································· 6
4.3 装置の性能及び操作方法 ································································································ 10
4.4 照射野の均一性及び散乱線の評価····················································································· 13
5 蛍光X線標準場 ·············································································································· 13
5.1 場の仕様及び発生原理 ··································································································· 13
5.2 蛍光X線装置及び操作条件 ····························································································· 14
5.3 照射野の均一性及び散乱線の測定····················································································· 16
6 γ線標準場 ····················································································································· 16
6.1 γ線核種 ······················································································································ 16
6.2 γ線源の構造及び仕様 ···································································································· 16
6.3 照射設備 ····················································································································· 17
6.4 散乱線の評価 ··············································································································· 18
6.5 照射野の均一性 ············································································································ 18
7 高エネルギーγ線標準場···································································································· 18
7.1 設備の条件及び場の仕様 ································································································ 18
7.2 照射野の均一性及び散乱線の評価····················································································· 21
7.3 混在放射線の影響評価 ··································································································· 22
8 標準場の線量測定法及びトレーサビリティ ··········································································· 22
8.1 一般 ··························································································································· 22
8.2 標準場における空気カーマ（率）の決定············································································ 22
8.3 標準場における線量当量（率）の決定··············································································· 23
8.4 標準測定器の条件 ········································································································· 23
8.5 標準測定器による測定方法 ····························································································· 24
8.6 電離箱を用いた測定方法 ································································································ 25
8.7 各種標準場固有の測定方法 ····························································································· 27
9 実用測定器の校正方法 ······································································································ 30
9.1 一般 ··························································································································· 30
9.2 線量当量への換算係数 ··································································································· 30
9.3 個人線量計の校正条件 ··································································································· 31
Z 4511：2018 目次
（2）
ページ
9.4 標準場での校正方法 ······································································································ 33
9.5 特性試験の方法 ············································································································ 36
9.6 場のモニタリング用線量当量測定器の校正方法 ··································································· 37
9.7 個人のモニタリング用線量当量測定器の校正方法 ································································ 37
9.8 その他の測定量の実用測定器の校正方法············································································ 38
10 校正結果の記録 ············································································································· 38
11 校正定数の不確かさ ······································································································· 39
11.1 一般 ·························································································································· 39
11.2 校正定数の不確かさの求め方 ························································································· 39
附属書A（規定）基準条件及び標準試験条件 ············································································ 41
附属書B（規定）線量当量への換算係数··················································································· 43
附属書C（参考）二次電子平衡及び電子飛程の影響 ··································································· 61
附属書D（規定）空気密度の補正 ··························································································· 65
附属書E（参考）パルス波高スペクトルの測定 ·········································································· 68
附属書F（参考）参考文献 ····································································································· 70
附属書JA（参考）校正の階層及びトレーサビリティ体系 ···························································· 71
附属書JB（規定）実用測定器の簡素化した校正及び機能確認 ······················································ 72
附属書JC（参考）低線量率における実用測定器の校正方法 ························································· 74
附属書JD（参考）JISと対応国際規格との対比表 ······································································ 77
Z 4511：2018
（3）
まえがき
この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人日本
電気計測器工業会（JEMIMA）及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工
業規格を改正すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工
業規格である。
これによって，JIS Z 4511:2005は改正され，この規格に置き換えられた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
日本工業規格 JIS
Z 4511：2018
X線及びγ線用線量（率）測定器の校正方法
X and gamma reference radiation for calibrating dosemeters and doserate
meters and for determining their response as a function of photon energy
序文
この規格は，1996年に第1版として発行されたISO 4037-1，1997年に第1版として発行されたISO 4037-2，
1999年に第1版として発行されたISO 4037-3及び2004年に第1版として発行されたISO 4037-4を基とし，
我が国の使用状況に応じて，技術的内容を変更して作成した日本工業規格である。
なお，この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格を変更している事項である。
変更の一覧表にその説明を付けて，附属書JDに示す。また，附属書JA〜附属書JCは対応国際規格には
ない事項である。
1
適用範囲
この規格は，光子エネルギー範囲8 keV〜9 MeV及び空気カーマ率10 µGy･h−1〜10 Gy･h−1を対象に，空
気カーマ標準場の設定，放射線防護用の場及び個人のモニタリングに用いる線量当量（率）測定器の校正
方法並びに光子エネルギー及び放射線入射角に対するレスポンスの試験方法について規定する。この規格
は，空気吸収線量（率）測定器，空気カーマ（率）測定器及び照射線量（率）測定器にも適用する。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
ISO 4037-1:1996，X and gamma reference radiation for calibrating dosemeters and doserate meters and
for determining their response as a function of photon energy−Part 1: Radiation characteristics and
production methods
ISO 4037-2:1997，X and gamma reference radiation for calibrating dosemeters and doserate meters and
for determining their response as a function of photon energy−Part 2: Dosimetry for radiation
protection over the energy ranges from 8 keV to 1,3 MeV and 4 MeV to 9 MeV
ISO 4037-3:1999，X and gamma reference radiation for calibrating dosemeters and doserate meters and
for determining their response as a function of photon energy−Part 3: Calibration of area and
personal dosemeters and the measurement of their response as a function of energy and angle of
incidence
ISO 4037-4:2004，X and gamma reference radiation for calibrating dosemeters and doserate meters and
for determining their response as a function of photon energy−Part 4: Calibration of area and
personal dosemeters in low energy X reference radiation fields（全体評価：MOD）
なお，対応の程度を表す記号“MOD”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“修正している”
ことを示す。
2
Z 4511：2018
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで，西暦年を付記してあるものは，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS Z 4001 原子力用語
JIS Z 4331 個人線量計校正用ファントム
JIS Z 8103 計測用語
ISO/IEC Guide 98-3:2008，Uncertainty of measurement−Part 3: Guide to the expression of uncertainty in
measurement (GUM:1995)
ICRU Report 10b，Physical Aspects of Irradiation (1964)
3
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，JIS Z 4001及びJIS Z 8103によるほか，次による。
3.1
平均エネルギー，
Φ
E（mean energy）
光子エネルギーEをフルエンススペクトルΦEで平均した値。平均エネルギー
Φ
Eは，次式による。
∫
∫
=
Φ
max
max
0
E
0
E
d
d
E
E
E
Φ
E
E
Φ
E
3.2
分解能，RE（resolution）
フルエンススペクトルにおいて，フルエンスのピークの最高値の1/2におけるエネルギー分布幅ΔEの
ピークエネルギーEに対する百分率（%）。分解能は，次式による。
100
E
×
∆
=EE
R
スペクトル分解能ともいう。
特性X線によるピークがスペクトルの中に存在する場合，それらのピークを除く連続分布の部分だけを
用いてエネルギー分布幅を求める。
3.3
半価層，HVL（half-value layer）
与えられた放射線の平行ビーム中に特定の物質を置いたとき，問題にしている放射線の空気カーマ（率）
を半分に減少させるのに必要なその物質の厚さ。第一半価層ともいう。第一半価層を通過した放射線量を
更にその半分に減少させるのに必要な厚さを，第二半価層という。
3.4
均等度，h（homogeneity coefficient）
第一半価層の値を第二半価層の値で除した値。
3.5
実効エネルギー，Eeff（effective energy）
連続エネルギースペクトルをもつX線に対して，同じ半価層を示す単色光子エネルギー。
3
Z 4511：2018
3.6
リップル（ripple）
電圧の変動を表す指標で，電圧の最大値から最小値を差し引いた値の最大値に対する百分率（%）。
3.7
X線装置（X-ray unit）
高電圧発生器，保護ケースなどを備えたX線管及び高電圧ケーブルを含むX線を発生する装置。
3.8
X線管（X-ray tube）
電位差によって加速された電子ビームを陽極に衝突させることでX線を生成することを目的とした真空
管。
3.9
モニタ（monitor）
照射中の空気カーマ率の安定性のモニタリング又は照射後の空気カーマの比較のために用いる測定器。
3.10
一次線（primary radiation）
蛍光X線標準場においてX線管から放出される放射線。
3.11
蛍光X線（fluorescence radiation）
一次線をラジエータに照射したときに発生する特性X線。
3.12
X線管遮蔽体（X-ray tube shielding）
一次線又は蛍光X線に対して散乱X線の寄与を抑制することを目的とした，固定又は移動式の遮蔽体。
3.13
基準条件（reference conditions）
校正定数を決定する場合に基準となる測定条件。基準条件では影響量の補正を行うことなく校正定数を
適用できる。
3.14
標準試験条件（standard test conditions）
校正又は試験における影響量の許容範囲。
3.15
電離箱部（ionization chamber assembly）
測定部を除く電離箱及び電離箱と一体となった部品。
注記 ステム，コネクタ，電離箱と一体となったケーブル，前置増幅器なども含まれる。また，薄窓
電離箱においては，電離箱と一体となった支持具なども含まれる。
3.16
測定部（measuring assembly）
電離箱からの電流又は電荷を測定し，それを表示，制御又はデータ保管のために適した形式に変換する
ための装置。
3.17
電離箱の基準点（reference point of the ionization chamber）
4
Z 4511：2018
決められた方向において，放射線源から電離箱までの距離を決定するための点。
3.18
試験点（point of test）
校正又は試験する電離箱の基準点を合わせる位置であり，線量（率）の取決め真値が既知である位置。
3.19
校正定数（calibration factor）
次のいずれかで求められる値。
− 測定量の取決め真値を，基準条件に補正された測定器の指示値で除して得られる比。
− 基準条件に補正された電離電流又は電荷を，電離箱の基準点における線量（率）の取決め真値に変換
するための係数。
3.20
取決め真値（conventional true value）
校正に用いる線量（率）の最良推定値。
3.21
レスポンス，R（response）
測定部の指示値の，基準点における線量（率）の取決め真値に対する比。
注記 レスポンスは，通常入射放射線のエネルギー及び入射角によって変化する。
3.22
一次標準（primary standard）
国内において最高の測定品質で確立された標準。
3.23
二次標準（secondary standard）
同じ種類の量の一次標準を用いて，直接又は間接的に校正することによって確立された標準。
3.24
参照標準（reference standard）
ある組織又はある場所で，ある種類の量の他の標準を校正するために指定される標準。
3.25
実用標準（working standard）
測定器又は測定システムの校正又は検証をするために，日常的に用いる標準。
3.26
周辺線量当量，H*(10)（ambient dose equivalent）
拡張・整列場によって作り出される放射線場に置かれたICRU球内の整列場の方向に対向する半径上の
深さ10 mmの点における線量当量。
注記1 単位は，シーベルト（Sv）である。
注記2 周辺線量当量率は，H*(10) で表し，単位は，シーベルト毎時（Sv･h−1）である。
注記3 “場所に関わる1 cm線量当量”は，H*(10) である。
3.27
方向性線量当量，H'(d, Ω)（directional dose equivalent）
拡張場によって作り出される放射線場に置かれたICRU球内の特定の方向に対して，角度Ωをなす半径
上の深さd mmの点における線量当量。
5
Z 4511：2018
注記1 単位は，シーベルト（Sv）である。
注記2 方向性線量当量率は，H'(d, Ω) で表し，単位は，シーベルト毎時（Sv･h−1）である。
注記3 入射角度Ω＝0°のとき，H'(d) と表すこともある。
注記4 “場所に関わる70 µm線量当量”は，h'(0.07) である。
3.28
個人線量当量，Hp(d)（personal dose equivalent）
人体の軟組織中の深さd mmにおける線量当量。
注記1 単位は，シーベルト（Sv）である。
注記2 個人線量当量率は，Hp(d) で表し，単位は，シーベルト毎時（Sv･h−1）である。
注記3 “個人に関わる1 cm線量当量”は，Hp(10)，“個人に関わる70 μm線量当量”はHp(0.07) で
ある。
3.29
影響量（influence quantity）
測定を目的とする量以外で，測定結果に影響を与える量。
3.30
校正条件（calibration conditions）
実際に校正又は試験を行ったときの条件。
3.31
基準方向（reference direction）
測定器の方向であって，単一方向の放射線場における入射角に関係する方向。
注記 0°入射の場合，測定器の基準方向は，放射線の入射方向と一致するが，向きは反対である。
3.32
基準の向き（reference orientation）
入射放射線の方向が測定器の基準方向と一致する測定器の向き。
3.33
空気カーマ線量当量換算係数，hK（air kerma-to-dose equivalent conversion coefficient）
放射線場中のある点における周辺線量当量，方向性線量当量又は個人線量当量と空気カーマとの比。
3.34
フルエンススペクトル，ΦE（spectral fluence）
光子エネルギーEをもつフルエンスΦの分布。フルエンススペクトルΦEは，次式による。
E
d
d
Ε
Φ
Φ=
3.35
パルス波高スペクトル，dN/dQ（pulse height spectrum）
検出器中に生成する電荷Qによるパルス波高の分布。
3.36
フルエンススペクトル応答関数，R(E, Q)（spectral fluence response function）
フルエンススペクトルΦE及びパルス波高スペクトルdN/dQとの関係を表す関数。ΦE，dN/dQ及びR(E, Q)
の関係は，次式による。
6
Z 4511：2018
E
Q
E
R
Q
N
E
E
d
)
,
(
d
d
Ε
max
0
Φ
=∫
3.37
アンフォールディング（unfolding）
パルス波高スペクトルdN/dQ及びフルエンススペクトル応答関数R(E, Q) から，フルエンススペクトル
ΦEを決定する方法。
4
連続X線標準場
4.1
線質
連続X線標準場は，4.3に規定する性能を満足しなければならない。線質は，次のパラメータを用いて
特徴付ける。
a) 平均エネルギー E（keV）
b) 分解能 RE（%）
c) 半価層 HVL
アルミニウム，銅などを用い，単位は，mmで表す。
d) 均等度 h
e) 実効エネルギー Eeff
f)
線質指標 QI
線質指標QIは，次式による。
QI＝Eeff/Emax
ここに，Emax：X線スペクトルの最大エネルギー
X線の線質は，X線管の高電圧，全フィルタの厚さ・組成及びターゲットの材質・角度に依存する。
4.2
連続X線標準場の仕様
4.2.1
線質の分類
連続X線標準場の線質は，次の五つに分類する。
a) 低空気カーマ率シリーズ（以下，Lシリーズという。）
b) 狭スペクトルシリーズ（以下，Nシリーズという。）
c) 広スペクトルシリーズ（以下，Wシリーズという。）
d) 高空気カーマ率シリーズ（以下，Hシリーズという。）
e) 線質指標シリーズ（以下，QIシリーズという。）
表1及び表2にそれぞれの線質の仕様を規定する。a)〜d) の線質の詳細は，表3，表4，表5及び表6
による。
分解能が高いLシリーズ及びNシリーズは，検出器のエネルギー特性の評価に適している。Hシリーズ
は，検出器のオーバロード特性の評価に適している。
Lシリーズ，Nシリーズ及びWシリーズの平均エネルギーは，表3〜表5に規定するそれぞれの値の±
3 %，分解能は，±10 %であることをスペクトル測定によって確認することが望ましい。Lシリーズ，N
シリーズ及びWシリーズの線質で，30 kV以下の線質についてもスペクトル測定によって，平均エネルギ
ーが±5 %，分解能が±15 %であることを確認することが望ましい。ただし，30 kV以下の線質における
Hp(10) 及びH*(10) による校正を行う場合の確認方法は，4.2.2に規定する。
付加フィルタがアルミニウム1 mm未満の線質では，X線管のターゲット角度，試験点までの空気層な
7
Z 4511：2018
どによって，平均エネルギー，分解能，半価層などが大きな影響を受ける。
スペクトル測定によって線質の確認を行わない場合は，4.3.4に規定する方法によって線質の確認を行わ
なければならない。
Hシリーズでは，管電圧及び第一半価層によって線質が特徴付けられる。この線質の設定については，
4.3.5に規定する。
QIシリーズの線質を示す場合，管電圧，QIの値，実効エネルギー，半価層及び均等度を併記する。ま
た，通常0.4〜0.9の間で0.1間隔で設定される。a)〜d) に示す線質との比較では，QIの値が0.9の場合L
シリーズ，0.8の場合Nシリーズ，0.7の場合Wシリーズ，0.5の場合Hシリーズに，それぞれ近い線質と
なっている。
表1−連続X線場の概要（L，N，W及びHシリーズ）
線質
分解能RE
%
均等度h
（概算値）
空気カーマ率a), b)
Gy·h−1
Lシリーズ
18〜22
1.0
3×10−4 c)
Nシリーズ
27〜37
0.75〜1.0
10−3〜10−2 c)
Wシリーズ
48〜57
0.67〜0.98
10−2〜10−1 c)
Hシリーズ
規定せず
0.64〜0.86
10−2〜0.5
注a) 距離1 m，管電流1 mA
b) 荷電粒子平衡状態では空気カーマは，空気吸収線量と同等である。
c) 実効エネルギーが30 keV以下の場合は，これらの線量率と異なる場合がある。
表2−連続X線場の概要（QIシリーズ）
QIの区分
分解能RE
%
均等度
h
空気カーマ率a)
Gy·h−1
QI 0.6
60〜74
0.70〜0.82
6×10−2〜2.4×10−1
QI 0.7
47〜58
0.81〜0.92
2×10−2〜1.2×10−1
QI 0.8
30〜38
0.89〜0.95
4×10−3〜3×10−2
QI 0.9
15〜19
0.96〜0.99
7×10−5〜4×10−4
注記 QIの区分に対する分解能，均等度及び空気カーマ率は，管電圧20 kV〜300 kVの13の線
質での範囲を示す。
注a) X線装置の管電流が1 mAで，各管電圧での線質のときの，X線焦点から距離1 mの試験
点における空気カーマ率を示す。
8
Z 4511：2018
表3−Lシリーズの特徴
平均エネルギー
E
分解能
RE
管電圧a)
付加フィルタb)
mm
第一半価層d)
mm
keV
%
kV
Pb
Sn
Cu
Al
8.5
10
0.3 c)
0.058 Al
17
21
20
2.0 c)
0.42 Al
26
21
30
0.18
4.0 c)
1.46 Al
30
21
35
0.25
2.20 Al
48
22
55
1.2
0.25 Cu
60
22
70
2.5
0.49 Cu
87
22
100
2.0
0.5
1.24 Cu
109
21
125
4.0
1.0
2.04 Cu
149
18
170
1.5
3.0
1.0
3.47 Cu
185
18
210
3.5
2.0
0.5
4.54 Cu
211
18
240
5.5
2.0
0.5
5.26 Cu
注a) 印加される管電圧
b) 管電圧10 kV，20 kV及び30 kVについては，Be 1 mm厚を固有フィルタとする。それ以外の管電圧は，固有
フィルタとしてAl 4 mm厚相当となるよう調整する（4.3.3参照）。
c) 固有フィルタ厚は，Be 1 mm厚であるが，平均エネルギーが±5 %，分解能が±15 %の範囲内であれば，異な
る固有フィルタを用いてもよい。
d) X線焦点から1 mの位置での測定値。第二半価層は，第一半価層とほとんど変化がない。
表4−Nシリーズの特徴
平均エネルギー
E
分解能
RE
管電圧a)
付加フィルタb)
mm
第一半価層d)
第二半価層d)
keV
%
kV
Pb
Sn
Cu
Al
mm
mm
8
28
10
0.1 c)
0.047 Al
0.052 Al
12
33
15
0.5 c)
0.14 Al
0.16 Al
16
34
20
1.0 c)
0.32 Al
0.37 Al
20
33
25
2.0 c)
0.66 Al
0.73 Al
24
32
30
4.0 c)
1.15 Al
1.30 Al
33
30
40
0.21
0.084 Cu
0.091 Cu
48
36
60
0.6
0.24 Cu
0.26 Cu
65
32
80
2.0
0.58 Cu
0.62 Cu
83
28
100
5.0
1.11 Cu
1.17 Cu
100
27
120
1.0
5.0
1.71 Cu
1.77 Cu
118
37
150
2.5
2.36 Cu
2.47 Cu
164
30
200
1.0
3.0
2.0
3.99 Cu
4.05 Cu
208
28
250
3.0
2.0
5.19 Cu
5.23 Cu
250
27
300
5.0
3.0
6.12 Cu
6.15 Cu
注a) 印加される管電圧
b) 管電圧10 kV，15 kV，20 kV，25 kV及び30 kVについては，Be 1 mm厚を固有フィルタとする。それ以外の
管電圧は，固有フィルタとしてAl 4 mm厚相当となるよう調整する（4.3.3参照）。
c) 固有フィルタ厚は，Be 1 mm厚であるが，平均エネルギーが±5 %，分解能が±15 %以内であれば，異なる固
有フィルタを用いてもよい。
d) X線焦点から1 mの位置での測定
9
Z 4511：2018
表5−Wシリーズの特徴
平均エネルギー
E
分解能
RE
管電圧a)
付加フィルタb)
mm
第一半価層
Cu c)
第二半価層
Cu c)
keV
%
kV
Sn
Cu
mm
mm
45
48
60
0.3
0.18
0.21
57
55
80
0.5
0.35
0.44
79
51
110
2.0
0.96
1.11
104
56
150
1.0
1.86
2.10
137
57
200
2.0
3.08
3.31
173
56
250
4.0
4.22
4.40
208
57
300
6.5
5.20
5.34
注a) 印加される管電圧
b) 固有フィルタとしてAl 4 mm厚相当とする（4.3.3参照）。
c) X線焦点から1 mの位置での測定
表6−Hシリーズの特徴
管電圧
kV
付加フィルタa)
mm
半価層b)
mm
平均エネルギー
E
第一半価層
第二半価層
Al
Cu
Air
Al
Cu
Al
Cu
keV
10
750
0.036
0.010
0.041
0.011
7.5
20
0.15
750
0.12
0.007
0.16
0.009
12.9
30
0.52
750
0.38
0.013
0.60
0.018
19.7
60
3.2
750
2.42
0.079
3.25
0.11
37.3
100
3.9
0.15
750
6.56
0.30
8.05
0.47
57.4
200
1.15
2 250
14.7
1.70
15.5
2.40
102
250
1.6
2 250
16.6
2.47
1.3
3.29
122
280
3.0
2 250
18.6
3.37
19.0
3.99
146
300
2.5
2 250
18.7
3.40
19.2
4.15
147
注記 参考文献[1]のSeelentag et at.[5] らによる計算値である。実際のスペクトルは，各施設のX線管の角度及び状態
によって異なる。
注a) 100 kVより高い管電圧では，固有フィルタとしてAl 4 mm厚相当，100 kV以下ではBe 4 mm厚相当となる
（4.3.3参照）。
b) X線焦点から1 mの位置での測定
4.2.2
低エネルギーX線のHp(10) 及びH*(10) の取決め真値の決定（30 kV以下）
4.2.2.1
一般
低エネルギーX線標準場の線量率の取決め真値の決定方法には，手法I及び手法IIがある。手法Iは，
スペクトロメータによるスペクトル測定によって換算係数を評価し，線量率を決定する方法である。手法
IIは，Hp(10) 及びH*(10) に対してエネルギー特性がよい電離箱などを用いて線量率を決定する方法であ
る。
4.2.2.2
管電圧
Hp(10) 及びH*(10) は，空気カーマと比べて管電圧の影響が大きくなる。表7に，換算係数が2 %変化
する管電圧の変化量を示す。管電圧は，表7の変化量を超えてはならない。
4.2.2.3
フルエンススペクトル及び換算係数
空気カーマから線量当量への換算には，スペクトル情報が必要である。フルエンス−空気カーマ換算係
10
Z 4511：2018
数を用いてフルエンススペクトルを空気カーマスペクトルに変換し，さらに，Hp(10) 及びH*(10) へ換算
する。ここで用いる換算係数は，スペクトル測定時における空気密度だけに限定して用いることができる。
これは，手法Iに適用し，附属書Eに測定例を示す。
4.3
装置の性能及び操作方法
4.3.1
X線装置
X線は，管電圧が10 %以下のリップルのX線装置によって発生されなければならない。管電圧を表示
する機器は，±1 %の変動が計測できなければならない。
X線管のターゲットは，タングステン製の反射型のものであって，電子の進行方向との角度は，20°以
上とする。照射中の管電圧は，平均値から±1 %で安定でなければならない。
注記 X線管の固有フィルタは，エージング効果に伴って増加する。
表7−管電圧30 kV以下における換算係数が2 %変化する管電圧の変化量
線質
管電圧U
平均エネルギーa)
換算係数が2 %変化する
管電圧の変化量ΔU
ΔU/U
kV
keV
V
%
hp,K(10, 0°)
h*K(10)
hp,K(10, 60°)
hp,K(10, 0°)
h*K(10)
hp,K(10, 60°)
L-10
10
9.2
12
5.4
0.12
0.054
L-20
20
17.4
150
79
0.74
0.4
L-30
30
26.7
450
320
1.5
1.1
N-10
10
8.9
10
5.6
0.1
0.056
N-15
15
12.7
41
22
0.28
0.15
N-20
20
16.5
130
67
0.63
0.33
N-25
25
20.4
250
150
0.99
0.61
N-30
30
24.7
450
300
1.5
0.99
H-10
10
8.7
9
4.6
0.09
0.046
H-20
20
14
83
41
0.41
0.21
H-30
30
20.1
300
180
1
0.59
注a) 参考文献[2]から引用。距離2.5 mでの水ファントムに対する校正の場合。
4.3.2
管電圧
管電圧を表示する機器は，実際に用いる測定環境に応じて校正されていなければならない。その校正は，
校正された分圧抵抗を用いる方法又は高分解能のスペクトロメトリを用いた最大光子エネルギーの測定に
よる。スペクトロメトリによる方法を用いる場合は，高エネルギー領域については，エネルギースペクト
ルをエネルギー軸へ外挿して最大光子エネルギーを求めてよい。管電圧の取決め真値は，±2 %の範囲で
既知でなければならない。ただし，表3，表4及び表5の線質を4.3.4によって設定する場合，又は管電圧
30 kV以下について，4.2.2によって設定する場合には，分圧抵抗を用いる方法又はスペクトロメトリによ
る方法によって管電圧を評価しなくてもよい。
4.3.3
フィルタ
4.3.3.1
一般
フィルタは，固定フィルタ及び付加フィルタから構成される。固定フィルタは，それぞれのX線管，透
過形電離箱の膜などの固有フィルタ及び調整用アルミニウムフィルタで構成される。Lシリーズの8.5 keV，
17 keV及び26 keV，並びにNシリーズの8 keV，12 keV，16 keV，20 keV及び24 keVでは，固定フィル
11
Z 4511：2018
タとして1 mm厚のBeによる固有フィルタを用いるのが望ましい。
4.3.3.2
固定フィルタの構成
固定フィルタの構成は，次による。
a) 固定フィルタは，X線管の固有フィルタ，モニタに透過形電離箱を使っている場合のその膜厚，及び
アルミニウムフィルタを含み，管電圧60 kVに対してアルミニウム4 mm厚相当とする。
アルミニウムフィルタは，付加フィルタからの特性X線を減弱させるために，付加フィルタの後に
配置する。
b) X線管の固有フィルタは，様々な組成（ガラス，オイル，窓など）から構成されることから，4.3.3.3
に規定するように，第一半価層を測定することによって，その厚さを推定することができる。固有フ
ィルタは，アルミニウム等価厚で3.5 mm以下であることが望ましい。
c) 固有フィルタは，その厚さが変化していないかどうか定期的に確認し，固定フィルタの厚さで調整す
る。
4.3.3.3
固有フィルタの決定
固有フィルタの測定は，純度99.9 %以上のアルミニウムフィルタを用いて，管電圧60 kV，付加フィル
タなしの状態で，次による。
a) 半価層の測定方法は，ICRU Report 10bによることが望ましい。
b) モニタに透過形電離箱を用いる場合は，アルミニウムフィルタからの後方散乱を低減させるために，
二つのコリメータの間に設置することが望ましい（図6参照）。また，アルミニウムフィルタは，コリ
メータの後ろに設置することが望ましい。
c) 第一半価層の測定は，エネルギー特性が既知の電離箱を用いなければならない。スペクトルの変化に
よる電離箱のレスポンスの変化は，必要に応じて，補正しなければならない。
d) 固有フィルタの測定では，アルミニウムフィルタからの散乱が無視できるように測定する。100 kVを
超える管電圧の放射線では，無限に小さな照射野に外挿した値を用いることが望ましい。
e) アルミニウムフィルタは，X線焦点と電離箱との中間点に設置することが望ましい。電離箱の設置位
置における照射野は，電離箱全体に放射線を均一に照射できる十分な大きさでなければならない。ア
ルミニウムフィルタから検出器までの距離は，検出器位置での照射野直径の5倍以上が望ましい。
f)
固有フィルタの厚さは，アルミニウムの減衰曲線を作成して第一半価層を決定し，表8を用いて推定
する。結果は，0.1 mm単位で丸める。
連続X線標準場では，付加フィルタに比べて固有フィルタが薄いため，60 kVで求めた固有フィル
タの値を他の電圧で用いてもよい。
注記 固有フィルタは，その組成に対してエネルギーの関数として変化する。
4.3.3.4
付加フィルタの構成
付加フィルタの構成は，次による。
a) Lシリーズ，Nシリーズ及びWシリーズでは，表3，表4及び表5に規定する鉛，すず，銅及びアル
ミニウムのフィルタを用いる。
b) Hシリーズでは，表6に規定するアルミニウム又は銅のフィルタを用いる。
c) QIシリーズでは，鉛，すず，銅及びアルミニウムのフィルタを用いる。
フィルタは，厚さの精度が±5 %で，孔，ボイド，ひびなどがない均質なものとし，表9に規定する純
度であることが望ましい。フィルタは，X線管側から原子番号が大きい順に設置しなければならない。
12
Z 4511：2018
表8−固有フィルタ
60 kVにおける第一半価層
mm Al
固有フィルタ
mm Al
0.33
0.25
0.38
0.3
0.54
0.4
0.67
0.5
0.82
0.6
1.02
0.8
1.15
1
1.54
1.5
1.83
2
2.11
2.5
2.35
3
2.56
3.5
2.75
4
2.94
4.5
3.08
5
3.35
6
3.56
7
注記 参考文献[3]から引用。
表9−フィルタの仕様
種類
純度
密度
g·cm−3
アルミニウム
99.9 %
2.70
銅
99.9 %
8.94
すず
99.9 %
7.28
鉛
99.9 %
11.3
4.3.4
他の方法を用いた線質評価
X線の管電圧を表示する機器が校正されていない場合は，次の方法を用いて標準場に近い場を生成しな
ければならない。Hシリーズについては，この方法を用いることができないため，4.3.5に評価法を規定す
る。
a) 基準 測定した第一半価層及び第二半価層が表3，表4及び表5に規定する値と±5 %で一致している
場合は，線質が同一とみなす。管電圧が100 kVを超える線質では，半価層は照射野直径を無限小（0
mm）に外挿して求めなければならない。
b) 装置 半価層測定用の空気カーマ（率）測定器は，繰返し性が0.3 %以下の検出器及び測定器によっ
て構成する。測定対象のエネルギー領域において，空気カーマに対するエネルギー特性がよく，かつ，
既知の検出器を用いなければならない。照射中の空気カーマ率の変動を補正する必要がある場合には，
モニタを用いる。
c) 測定方法 表3，表4及び表5に対応した線質について，次の方法によって評価しなければならない。
空気カーマ率Id及びフィルタ厚dに対して，loge(Id)＝f (d) として減衰曲線を作成する。この減衰曲線
によって第一，第二半価層を評価する。これらの半価層が表3，表4及び表5と±5 %で一致していれ
ば，Lシリーズ，Nシリーズ又はWシリーズとみなす。
13
Z 4511：2018
Lシリーズについては，第一半価層だけで評価することに注意する。±5 %を超えるずれがある場合は，
管電圧を調整しなければならない。
4.3.5
Hシリーズの設定
4.3.5.1
固定フィルタ
60 kV以下の管電圧では，固定フィルタ厚さは，アルミニウム相当で4 mm以下となる。そのため低エ
ネルギーの線質を生成するためには，薄い固有フィルタのX線管を用いる必要がある。60 kV以上では，
固定フィルタをアルミニウム相当で4 mmとなるよう調整しなければならない。固有フィルタとしてアル
ミニウムを用いる場合には，付加フィルタとして用いる銅フィルタからの特性X線を減衰させるために，
銅フィルタの後に設置する。また，このときのアルミニウムの厚さは，0.5 mm以上とする。
4.3.5.2
付加フィルタ
Hシリーズの付加フィルタの例を，表6に示す。管電圧が30 kV以下の場合は，第一半価層が表6記載
の値に対して±10 %となるように，30 kVを超えるエネルギーでは，±5 %となるように付加フィルタを調
整しなければならない。付加フィルタ及び半価層測定用アルミニウムフィルタの純度は，20 kV以下では，
99.99 %以上，20 kVを超える場合は，99.9 %以上のものを用いなければならない。
4.4
照射野の均一性及び散乱線の評価
4.4.1
照射野の直径
照射野直径は，試験点に設置した検出器全体を一様に照射する大きさとする。試験点は，X線の焦点か
ら50 cm以内に近づけてはならない。
4.4.2
照射野の均一性
試験点に設置した検出器の有感領域における空気カーマ率の均一性は，±5 %とする。
4.4.3
散乱線
次の二つの方法によって散乱線の割合の測定を行い，その影響が空気カーマ率に対して5 %以下でなけ
ればならない。これらの測定は，エネルギー特性及び方向特性のよい電離箱を用いる。低エネルギー線質
についても均一性及び散乱線の影響は，次の項目による。ただし，試験1は空気による減弱補正が大きい
ため，スペクトル測定と併用して行わなければならない。
a) 試験1 ビーム軸上で照射距離を変えて空気カーマ率の測定を行い，空気による減弱補正，及び必要
に応じて，照射野の均一性に対する補正を行い，線源−検出器間における距離の逆二乗則に対して±
5 %であることを確認する。この場合の線源は，X線管焦点とする。
b) 試験2 試験1における各照射距離において，ビーム軸に垂直な平面内で，照射野半径の2倍に等し
い距離だけ検出器を移動させた後，空気カーマ率を測定する。直接ビームの外側にある散乱線の空気
カーマ率は，中心軸上に対応する空気カーマ率の5 %以下であることを確認する。
5
蛍光X線標準場
5.1
場の仕様及び発生原理
蛍光X線標準場の仕様は，表10による。蛍光X線は，図1のX線装置からの一次線をラジエータに衝
突させて，ラジエータから発生するK列特性X線を利用する。蛍光X線の線質は，Kα1特性X線のエネル
ギー，ラジエータの化学形態及びその質量厚さ，一次フィルタの質量厚さ並びに二次フィルタの化学形態
及びその質量厚さで表し，表10の8.64 keV〜98.4 keVの16種類である。Kβ特性X線の寄与は，表10の
二次フィルタを用いることによって無視できる程度に減少させることができる（図2参照）。表10のラジ
エータ及び二次フィルタの化学形態及び質量厚は，推奨値である。
14
Z 4511：2018
5.2
蛍光X線装置及び操作条件
5.2.1
X線装置
4.3.1に規定するX線装置を用いる。管電圧の安定性は，±5 %でなければならない。蛍光X線標準場の
空気カーマが安定していない場合は，モニタを用いて補正しなければならない。モニタは，二次フィルタ
によるろ過に影響しないように適切な場所に配置する。
5.2.2
蛍光X線装置
蛍光X線装置の例を図1に示す。蛍光X線装置は，次の項目によって構成される。
a) ラジエータ ラジエータは，目的の蛍光X線エネルギーに応じて表10から選定し，純度は99.9 %以
上とする。ラジエータは，薄膜状又は粉体状の化合物（酸化物，炭化物又は硫化物）で，プラスチッ
ク板で挟んで固定する。支持部は，プラスチックなどの軽元素の材質を用いる。
b) フィルタ 図1における一次フィルタは，蛍光X線の生成において低エネルギー光子の影響を小さく
するために，一次線に対して設置する。二次フィルタは，L列の特性X線の除去及びK列のKα特性
X線に対するKβ特性X線の強度の割合を低減するために，蛍光X線ビーム軸に設置する。
c) 一次コリメータ（一次ダイヤフラム：Primary diaphragm） 一次線がラジエータ支持具又は蛍光X線
装置の壁に当たって発生する散乱線を最小にするため，一次コリメータは，一次線の出口に配置し，
ラジエータの位置での一次線の照射断面積をラジエータの面積より小さくする。
d) 二次コリメータ（二次ダイヤフラム：Primary diaphragm） 二次コリメータは，ラジエータから発生
する蛍光X線のビームの角度を制限して，壁，支持具，装置，その他附属品などによる散乱線を減ら
すために用いる。
e) トラップ トラップは，一次線によって生成された散乱線が混入しないように，一次フィルタとラジ
エータとの間の一次線の経路に設置する。一次線が入射する大きな空間は，トラップとなる。
f)
X線遮蔽体 蛍光X線の測定を行う空間は，遮蔽などによって一次線及び散乱線の影響がないように
する。
表10−蛍光X線標準場の仕様（ラジエータ及びフィルタを含む）
No.
蛍光X線エ
ネルギー
Kα1（keV）
ラジエータ
管電圧a)
（kV）
一次フィルタ
二次フィルタ
元素
化学形態
化学形態の
質量厚
（g·cm−2）
最小の質量厚
（g·cm−2）
化学形態
化学形態の
質量厚
（g·cm−2）
1
9.89
Ge
GeO2
0.180
60
Al 0.135
GdO
0.020 c)
2
15.8
Zr
Zr
0.180
80
Al 0.27
SrCO3
0.053
3
23.2
Cd
Cd
0.150
100
Al 0.27
Ag
0.053
4
31.0
Cs
Cs2SO4
0.190
100
Al 0.27
TeO2
0.132
5
40.1
Sm
Sm2O3
0.175
120
Al 0.27
CeO2
0.195
6
49.1
Er
Er2O3
0.230
120
Al 0.27
Gd2O3
0.263
7
59.3
W
W
0.600
170
Al 0.27
Yb2O3
0.358
8
68.8
Au
Au
0.600
170
Al 0.27
W
0.433
9
75.0
Pb
Pb
0.700
190
Al 0.27
Au
0.476
10
98.4
U
U
0.800
210
Al 0.27
Th
0.776
11
8.64
Zn
Zn
0.180
50
Al 0.135
Cu
0.020
12
17.5
Mo
Mo
0.150
80
Al 0.27
Zr
0.035
13
25.3
Sn
Sn
0.150
100
Al 0.27
Ag
0.071
14
37.4
Nd b)
Nd
0.150
110
Al 0.27
Ce b)
0.132
15
Z 4511：2018
表10−蛍光X線標準場の仕様（ラジエータ及びフィルタを含む）（続き）
No.
蛍光X線エ
ネルギー
Kα1（keV）
ラジエータ
管電圧a)
（kV）
一次フィルタ
二次フィルタ
元素
化学形態
化学形態の
質量厚
（g·cm−2）
最小の質量厚
（g·cm−2）
化学形態
化学形態の
質量厚
（g·cm−2）
15
49.1
Er
Er
0.200
120
Al 0.27
Gd
0.233
16
59.3
W
W
0.600
170
Al 0.27
Yb
0.322
注記 No.1〜10のラジエータ及びフィルタは，金属はく（箔）又は適切な混合物で構成される。No.1〜7に対して
は，同様のエネルギーをもち，金属ラジエータ及び金属フィルタからなるNo.11〜16が代用できる。
注a) 標準場における線質の単色性が高い場合の管電圧である。管電圧を高くすれば高い空気カーマ率が得られる
が，単色性が低下する。
b) Nd及びCeは，酸化を防止するために密封することが望ましい。
c) 0.020 g·cm−2は，Gdだけの質量である。
図1−蛍光X線装置の概略図の例
0
2000
4000
6000
8000
10000
0
20
40
60
80
100
C
o
u
n
ts
光子エネルギー
(keV)
Kα159.3 keV
図2−表10のNo.16：59.3 keV，ラジエータ：W 573 mg·cm−2及び第二フィルタ：Yb 360 mg·cm−2の
ラジエータを用いた蛍光X線標準場のスペクトルの例[4]
5.2.3
動作条件
5.2.3.1
幾何学的配置
16
Z 4511：2018
ラジエータは，一次線の軸に対して，角度45°±5°に置かなければならない。一次線に対して90°の
方向に発生した蛍光X線を用いる。高い空気カーマ率の蛍光X線を発生させるためには，ラジエータは，
X線管にできるだけ近い位置がよい。一次線は，ラジエータの広い領域に照射した方がよい。ラジエータ
と試験点との距離は，目的の空気カーマ率が得られる範囲とする。試験点におけるビームの断面積は，常
に，被校正測定器の断面積よりも大きくなければならない。蛍光X線の線質は，スペクトル測定によって
確認しなければならない。
5.2.3.2
基準放射線の特性
空気カーマ率基準放射線の調整は，次の項目による。
a) 管電流 通常，管電流を1 mA程度まで下げても基準放射線の特性を維持できる。
b) 蛍光X線が発生する面積 一次コリメータの直径を変えることで蛍光X線の量を変化させることがで
きる。一次コリメータの直径は，X線焦点より大きくなければならないが，照射野の均一性等を考慮
して不必要に大きくないものとする。
c) ラジエータと検出器との距離 ラジエータと検出器との距離が1 mより長い場合は，蛍光X線のスペ
クトルに変化がないことを確認することが望ましい。
5.3
照射野の均一性及び散乱線の測定
5.3.1
照射野の均一性
試験点における蛍光X線ビーム軸に対して直角となる試験点断面における均一性は，ビーム軸上の空気
カーマ率の±5 %とする。
5.3.2
散乱線の測定
適切に校正された電離箱を用いて，試験点における散乱線の寄与を評価しなければならない。散乱線の
寄与は，蛍光X線による空気カーマ率の5 %以下とする。電離箱は，測定するエネルギー領域において，
エネルギー特性が既知で方向特性がよいものを用いなければならない。
6
γ線標準場
6.1
γ線核種
γ線標準場の生成に用いるγ線源には，表11に規定する放射性核種を用いる。
表11−γ線源の基礎特性
放射性核種
放射線エネルギー
keV
半減期
D
空気カーマ率定数a)
µGy･h−1·m2·MBq−1
60Co
1 173.3
1 925.5
0.31
1 332.5
137Cs
661.6
11 050
0.079
241Am
59.54
157 788
0.003 1
注a) 空気カーマ率定数は，カプセルなどによって遮蔽されていない点状線源の場合の値である。このため，この
値は，目安程度のものであり，空気カーマ率の決定には用いない。
6.2
γ線源の構造及び仕様
6.2.1
γ線源
γ線源の線源部の大きさは，小さい方がよい。
放射性不純物による空気カーマ率は，γ線源の空気カーマ率の1 %以下でなければならない。表12に，
17
Z 4511：2018
放射性核種に対する比放射能及び化学形態の例を示す。
表12−γ線源の基礎特性
放射性核種
比放射能
Bq·kg−1
化学形態
60Co
3.7×1015
金属
137Cs
8.51×1014
塩化物
241Am
1.11×1014
酸化物
注記 60Coは，比放射能の高い線源が製作可能である。137Cs線源には製造後，しばらくの間は，134Csが含まれる場
合がある（8.7.3.4参照）。精製直後の137Csには，134Csが含まれている。通常，放射性不純物に関する情報は，
線源製造業者から入手できる。
6.2.2
カプセルへの封入
カプセルは，γ線源から放出されるβ線を十分に吸収する厚さでなければならない。カプセルの厚さは，
60Coの場合は，0.2 g·cm−2，137Csの場合は，0.5 g·cm−2以上とする。241Amについては，26 keVのγ線及び
L列特性X線の空気カーマ率を59.5 keVのγ線の1.0 %未満に減衰させるために，カプセルは，ステンレ
ス鋼で厚さ0.32 g·cm−2以上とする。
6.3
照射設備
空気，施設・設備などによって発生する散乱線の空気カーマ率は，直接線の空気カーマ率の5 %を超え
てはならない。照射設備は，6.3.1に規定する非コリメート照射設備又は6.3.2に規定するコリメート照射
設備とする。
6.3.1
非コリメート照射における幾何学的配置
照射室は，高さ3 mで4 m×4 m以上の内部寸法をもつことが望ましい。線源及び検出器の支持台は，
例えばポリメチルメタクリレート，アルミニウムのような低原子番号の材料で作製され，最小限の量であ
ることが望ましい。γ線源を設置する高さは，照射室の2分の1の高さが望ましい。校正に用いるγ線源
−試験点間の距離は，空気による減弱補正した後の空気カーマ（率）と，距離の逆二乗則から求めた空気
カーマ（率）との差が5 %を超えない範囲での距離が望ましい。散乱線が5 %を超えない校正距離は，照
射室の広さ及びγ線源のエネルギーによって異なるが，30 cm〜130 cmが目安となる。
6.3.2
コリメート照射における幾何学的配置
照射装置内でγ線源を収納する遮蔽容器は，漏えい（洩）放射線を千分の一以下に低減することが望ま
しい。60Coの場合は，12.5 cm以上，137Csの場合は，6.5 cm以上の鉛厚で千分の一以下となる。
照射野の広がりを限定するために，コリメータを用いる。コリメータ構造の例を，図3に示す。
照射野は，照射する検出器よりも大きくなければならない。そのため，図3の例の場合には，距離d1は，
30 cm以上となる。距離d2は，部屋の壁からの後方散乱に大きく影響するため，6.4に規定する要求事項を
満たすように設定しなければならない。
図3のコリメータは，γ線源が頂点の円すい（錐）形となるコリメータである。コリメータは，連続し
た6個以上の開口した隔壁から構成されている。開口した隔壁は，全厚さが約90 mmであり，それぞれ
20 mmの隙間で隔てられている。20 mmの隙間は，隔壁前方の開口部のエッジによって散乱した光子を更
に遮蔽するために用いられる。最終の開口した隔壁は，厚さ3 mmで，ビームの横断面より僅かに大きい
直径である。これらの開口した隔壁の材質は，タングステン合金である。
18
Z 4511：2018
図3−コリメート照射装置及びその配置例
6.3.3
減弱フィルタによる空気カーマ率の変更
異なる放射能のγ線源を用いる代わりに，137Cs又は60Coのコリメート照射では，減弱フィルタによっ
て線量率を変化させることもできる。減弱フィルタは，コリメータを塞ぐように接近させて配置する。通
常，減弱フィルタの材質は，鉛，タングステン合金，ステンレス鋼などが用いられる。
減弱の割合は，照射野などの幾何学的なパラメータによって変化する。したがって，試験点の空気カー
マ率は，測定によって評価しなければならない。
6.4
散乱線の評価
照射設備の空気カーマ率については，線源及び線源周辺の構造体以外からの散乱線の寄与が5 %以下で
あることを確認する。
γ線源からのビーム軸上の適切な複数の試験点において空気カーマ率を測定する。空気による減弱補正
の後，空気カーマ率は，線源中心から検出器の基準点までの距離の逆二乗則の値に対して，±5 %でなけ
ればならない。散乱線の評価には，9.4.7に規定するシャドーシールド法を用いてもよい。
6.5
照射野の均一性
照射野直径は，試験点に設置した検出器全体を一様に照射する大きさとする。照射野内の空気カーマ率
の均一性は，±5 %であることが望ましい。
7
高エネルギーγ線標準場
7.1
設備の条件及び場の仕様
7.1.1
一般
原子力発電所及びその他の原子炉施設における6 MeVのγ線を含む，高エネルギー光子の測定に用いる
測定器に適用するため，4 MeV〜9 MeVのγ線標準場を規定する。通常，測定器のレスポンスは，このエ
ネルギー範囲を超えても不連続変化を示さないことから，これより高いエネルギーについては規定しない。
7.1.2
高エネルギーγ線標準場の生成
7.1.2.1
生成方法
高エネルギーγ線標準場は，次の四つの反応のいずれかを用いて生成する。
a)
19F(p, αγ)16O反応における16Oの脱励起
b)
12Cの脱励起
19
Z 4511：2018
c) 熱中性子捕獲γ線
d)
16Nの壊変
a) 及びb) のγ線標準場の光子フルエンススペクトルの例を，図4及び図5に示す。
7.1.2.2
16Oの脱励起によるγ線標準場
16Oの脱励起によるγ線標準場は，粒子加速器を用いてふっ素ターゲット（通常は，CaF2が用いられる。）
に陽子を衝突させ，19F(p, αγ)16O反応によって生成される。
1 μAの陽子電流及び約6 mg·cm−2のターゲット厚さに対する代表的な光子発生率及び空気カーマ率につ
いて，入射陽子エネルギーの違いによる推定値を表13に示す。約6 mg·cm−2のターゲット厚さと2.7 MeV
陽子とによって生成される光子フルエンススペクトルの例を図4に示す。
表13−1 μA陽子によって生成される光子の空気カーマ率
陽子エネルギー
MeV
光子発生率
s−1
空気カーマ率a)
µGy·h−1
0.340 5
105
0.05
0.872 1
106
0.5
2.05
6×107
30
2.7
2×108
100
注a) ターゲットから1 mの位置における値である。
薄いターゲットに340.5 keVの陽子が入射した場合に，この反応から得られるエネルギー準位及び相対
放出確率は，16O脱励起による6.13 MeV光子が97 %，7.117 MeV光子が2.5 %，6.917 MeV光子が0.5 %で
あり，表13に示す0.05 µGy·h−1の空気カーマ率に対応する。340.5 keVより高い陽子エネルギーでは，表
13のように光子発生率及び空気カーマ率が増加するが，6.13 MeV光子の相対的な寄与が低下し，例えば，
(p, p'γ) 反応，電子対生成など，放射線の混在が増加する。
20
Z 4511：2018
図4−陽子エネルギー2.7 MeVでの6 MeV〜7 MeVのγ線標準場の
光子フルエンススペクトルの例
高空気カーマ率が必要な場合，空気カーマに対して約4 %の低エネルギー光子の混在が容認できるとき
は，約6 mg·cm−2厚さのターゲットに入射する陽子エネルギーとして2.7 MeV付近の値を用いてもよい。
ターゲット厚さの増加につれて，ターゲット中の陽子エネルギー損失が増加するため，光子スペクトルは，
変化する。
7.1.2.3
12Cの脱励起によるγ線標準場
12Cの脱励起によるγ線標準場は，粒子加速器を用いて陽子を炭素ターゲットに衝突させ，12C(p, p'γ) 12C
反応による脱励起に続いて，12Cの最低励起準位から放出される4.44 MeVの光子によって生成される。タ
ーゲットは，高純度同位体組成の炭素層で構成しなければならない。高純度同位体組成の炭素層ではなく
天然の炭素層を用いる場合は，次の二つの反応が混在する。
a)
13C(p, p'γ) 13C反応によって，3.09 MeVのγ線が発生する。
b)
13C(p, n) 13N反応によって，9.96分の半減期をもつ13Nの陽電子が消滅して，0.511 MeVの消滅放射線
が発生する。13Nの発生と減衰との間の放射平衡状態は，反応が開始してから20分後に到達する。放
射平衡状態に達するまで，校正に用いてはならない。
4.44 MeV及び3.09 MeVの収率比並びに4.44 MeV及び0.511 MeVの収率比は，陽子エネルギーに依存し
ない。ターゲットから1 mの距離での陽子電流が1 μAで，陽子エネルギーが5.5 MeVの場合，0.511 MeV，
3.09 MeV及び4.44 MeVのそれぞれのエネルギーに対する光子フルエンス率は，約160 cm−2･s−1，12 cm−2･
s−1及び1 800 cm−2･s−1である。空気カーマ率は，それぞれ約1.4 μGy･h−1，0.046 μGy･h−1及び85 μGy･h−1
21
Z 4511：2018
である。光子フルエンススペクトルの例を図5に示す。
図5−陽子エネルギー5.5 MeVにおける4.4 MeVのγ線標準場の
光子フルエンススペクトルの例
7.1.2.4
熱中性子捕獲γ反応によって生成されるγ線標準場
熱中性子捕獲γ反応によって生成されるγ線標準場は，中性子源としては原子炉を用い，チタン又はニ
ッケルターゲットの捕獲γ反応によって生成される。
7.1.2.5
16Nの壊変によるγ線標準場
16Nの壊変によるγ線標準場は，原子炉炉心内の水が速中性子によって，16O(n, p)16N反応を起こし，放
射化することによって生成される。半減期7.1秒の16Nのベータ壊変の結果，16Oの励起状態から放出確率
がそれぞれ68 %及び5 %である6.13 MeV及び7.117 MeVの光子が発生する。10.4 MeVのβ線放出も伴う
ため，低原子番号のプラスチックなどによって遮蔽する。
実用的な標準場として，水30 L·s−1の流量率を閉ループで炉心を通って連続的に循環させる標準場など
がある。
7.2
照射野の均一性及び散乱線の評価
照射野の均一性及び散乱線の評価は，4.4に規定する要件を満たさなければならない。ただし，4.4.3 a) の
“X線管焦点”は，“ターゲット”に置き換える。照射野が測定器又はファントムを完全に，かつ，均一に
照射できない場合は，測定器又はファントムの全体を走査してもよい。ただし，この方法が全てのカーマ
率測定器に適用できるわけではない。
22
Z 4511：2018
7.3
混在放射線の影響評価
7.3.1
一般
中性子，電子及び測定対象エネルギー以外の光子の混在を評価し，校正定数への影響を評価しなければ
ならない。γ線標準場及び混在光子の両方とも，附属書Eに示すようなパルス波高分布の測定によって評
価することが望ましい。ベリリウム，すず又は鉛を含む測定器であっても，通常，これらの材質による光
核反応に起因する影響は無視できる。各γ線標準場に混在する放射線を，7.3.2，7.3.3及び7.3.4に示す。
7.3.2
各γ線標準場に混在する放射線
ターゲット部，照射室の壁及びフィルタ材料における電子対生成後の陽電子消滅によって，0.511 MeV
の光子が生成される。
核反応の結果としてターゲットで生成されたβ粒子，又はターゲット及びその付近の光子によって生成
した二次電子がγ線標準場に混在する。さらに，これらの電子の制動放射によって生成される光子が混在
することもある。
ターゲット材及びその近傍にある物質による光子散乱によって，少なくとも空気カーマ率で1 %程度の
低エネルギー光子が生じる。
7.3.3
16Oの脱励起によるγ線標準場に混在する放射線
7.3.2に規定する混在放射線に加えて，陽子エネルギーが2 MeV〜3 MeVの間では，図4に示す19F(p,
p'γ)19F反応によって生成される0.1 MeV〜1.5 MeVの光子が陽子エネルギーと共に発生割合が増加する。
2.7 MeVの陽子エネルギーでは，この反応は，6 MeV〜7MeVのγ線標準場の空気カーマ率に約4 %寄与す
る。
7.3.4
原子炉の中性子によって生成されるγ線標準場に混在する放射線
7.3.4.1
熱中性子捕獲γ反応によって生成されるγ線標準場での混在
7.3.2に規定する混在放射線に加えて，チタン又はニッケルの熱中性子捕獲γ反応によって生成されるγ
線標準場は，熱中性子捕獲γ反応によって放出される低エネルギー光子を含んでいる。チタンから放出さ
れる5 MeV以下の光子，又はニッケルから放出される6.8 MeV以下の光子の混在率は，付加フィルタによ
って空気カーマ率で10 %以下に低減させなければならない。
7.3.4.2
16N壊変によって生成されるγ線標準場での混在
7.3.2に規定する混在放射線に加えて，16N壊変によって生成されるγ線標準場は，冷却媒体中の混在物
質による放射化生成物から放出される低エネルギー光子を含む。24Naに起因する2.754 MeV及び1.369 MeV
の光子が主なものである。
8
標準場の線量測定法及びトレーサビリティ
8.1
一般
この規格が規定する標準場の線量率は，国家計量標準にトレーサビリティがなければならない。
標準場の校正は，厳密には，校正を行ったその時だけ有効であり，その後は，標準場における線量率の
減衰を評価しなければならない。
この規格におけるトレーサビリティ体系の概念図を，附属書JAに示す。
8.2
標準場における空気カーマ（率）の決定
X線及びγ線標準場の空気カーマKa（J·kg−1又はGy）は，式(1)による。
g
−
=
1
1
e
a
W
X
K
······································································· (1)
23
Z 4511：2018
ここに，
X： 照射線量（C·kg−1）
W/e： 空気中でイオン対を作るために必要なエネルギー（J·C−1）
g： 制動放射によるエネルギー損失割合
式(1)の1/（1−g）は，制動放射によるエネルギー損失を補正するもので，表14の1.0 MeV以上の光子
エネルギーに対する（1−g）値を用いて補正しなければならない。
式(1)における照射線量Xと自由空気電離箱による電離電荷との関係は，式(2)による。
ρ
=VQ
X
················································································· (2)
ここに，
V： 電離を起こす空気の体積（cm3）
Q： 体積Vで生じた電離電荷（C）
ρ： 測定時の空気密度（kg·cm−3）
表14−制動放射損失による補正係数
光子エネルギー
MeV
1−g
1.25 MeVに規格化した補正係数
1−g
1.0 a)
0.998
1.001
1.25 a)
0.997
1.000
1.5 a)
0.996
0.999
4.0
0.988
0.992
4.4 b)
0.987
0.990
6.0
0.980
0.983
6.1 b)
0.980
0.983
7.0 b)
0.976
0.979
8.0
0.972
0.975
8.5 b)
0.970
0.973
9.0 b)
0.968
0.971
10.0
0.963
0.966
注記 参考文献[5]から引用。
注a) DIN 6814，Terms and definitions in the field of radiological technique, Part 3: Dose quantities and
units, Deutsches Institut für Normung e.V, Beuth Verlag GmbH, Berlin, Germany, 1985. による。
b) 内挿による値
8.3
標準場における線量当量（率）の決定
場及び個人のモニタリングに用いる線量当量Hは，式(3)による。
K
ah
K
H =
··············································································· (3)
ここに，
Ka： X線及びγ線標準場の空気カーマ（Gy）
hK： 空気カーマから線量当量への換算係数（Sv·Gy−1）
hKは，光子エネルギーによって変化するため，連続X線スペクトルの標準場では，換算係数の重付けを
行い，積分した平均値を求める。低エネルギーの換算係数は，特に注意しなければならない。
8.4
標準測定器の条件
8.4.1
一般
校正に用いる標準測定器は，二次標準又は参照標準として国家標準へのトレーサビリティが確保されな
ければならない。標準測定器は，通常，電離箱測定器を用いるが，線量率の低い空気カーマ率の測定では，
24
Z 4511：2018
電離箱測定器のほかに，例えば，シンチレーション検出器などを用いてもよい。4 MeV〜9 MeVの高エネ
ルギーγ線場では，電離箱測定器のほかに，TLD，フリッケ線量計などを用いてもよい。
高エネルギーγ線の線量測定は，8.7.4.2 a) の直接測定の方法による。直接測定における二次電子平衡及
び電子飛程の影響について，附属書Cに示す。
8.4.2
校正
標準測定器は，測定するエネルギー及び放射線量の範囲について校正されていなければならない。
8.4.3
標準測定器のエネルギー特性
標準測定器のレスポンスは，用いるエネルギー範囲のうち，平均エネルギーが30 keV以上においては，
レスポンスの最大値と最小値との比が1.1を超えてはならず，平均エネルギーが8 keV〜30 keVにおいて
は，1.2を超えてはならない。
標準測定器を校正した上位の標準場の線質と，標準測定器を用いて線量測定を行う標準場の線質とは，
同じ線質であることが望ましい。
8.5
標準測定器による測定方法
8.5.1
標準測定器の操作
標準測定器の操作方法は，測定器の校正証明書及び取扱説明書に従わなければならない。標準測定器の
校正周期及び標準測定器の校正後の安定性の定期的な確認の周期は，法的な要求がない場合は，3年以内
とすることが望ましい。
8.5.2
安定性の確認
標準測定器の安定性は，機器動作確認用のγ線源又は校正された放射線場を用いて，±2 %の再現性が
あることを確認しなければならない。確認の場合，γ線源の減衰補正並びに気圧及び温度の基準条件への
補正を行わなければならない。また，複数のレンジがある測定器では，最も精度よく指示値を読み取れる
レンジで実施するとよい。
8.5.3
ウォーミングアップ時間及び応答時間
測定器は，電源を入れてから安定するまで十分なウォーミングアップ時間を置かなければならない。測
定器の応答時間からみて独立とみなせる十分な時間間隔で測定しなければならない。空気カーマ率の測定
では，指示値の連続読取りの間隔は，使用レンジの応答時間の5倍以上の時間とする。測定器のウォーミ
ングアップ時間及び応答時間は，製造業者が示す。
8.5.4
ゼロ調整
ゼロ調整の機能が備わっている場合は，検出器を接続した状態で，使用するレンジのゼロ調整を行う。
8.5.5
読取回数
標準測定器は，読取値の平均値が十分な精度になるように，少なくとも4回以上連続して読み取る。
8.5.6
標準測定器のエネルギー特性
標準測定器の校正定数は，上位の標準場の特定のスペクトルに対応している。電離箱のレスポンスがエ
ネルギーに依存する場合で，校正に用いる放射線のスペクトル分布が，標準測定器が校正された標準場の
スペクトルと異なるときには，補正しなければならない。
8.5.7
測定器の目盛及びレンジの非直線性
標準測定器の指示値に対して，目盛及びレンジの非直線性の補正を行わなければならない。
8.5.8
シャッタ移動時間
照射設備のシャッタの作動によって照射時間を決定する場合，シャッタの移動時間による照射時間の補
正を行う。
25
Z 4511：2018
例えば，シャッタ移動時間Δtは，複数回照射することによって，公称の照射時間t，二つの既知の線量
K1，Knから式(4)によって決定することができる。
(
)
(
)
n
n
K
K
n
K
K
t
t
−
−
=
∆
1
1 ······································································· (4)
ここに，
K1： 連続した時間t(s) で1回照射した線量
Kn： 連続した時間t/n(s) をn回照射した合計線量
この方法は，線源出力が安定しているか，又は平均値Δtを得るために多数回繰り返して測定する場合に
良好な結果となる。
8.5.9
測定対象とする量への換算
標準測定器が測定対象とする量とは異なる量で校正されている場合，測定対象とする量に換算する。
8.6
電離箱を用いた測定方法
8.6.1
一般
標準測定器として電離箱測定器を用いる場合の測定方法は，次による。
8.6.2
電離箱部と測定部とを分離した校正
電離箱部と測定部とが分離して校正されている場合，測定部は，電気標準における国家標準へのトレー
サビリティが確保されていなければならない。
8.6.3
電離箱の放射線入射角の影響
電離箱への放射線の照射方向は，測定結果に影響を及ぼす。電離箱は，基準方向からの照射方向のずれ
による指示値の変化が±2 %となるように設置する。校正事業者は，電離箱の基準方向を校正証明書に明
記しなければならない。校正時の基準方向は，特に指定がない場合，製造業者によって決められた基準方
向とする。
8.6.4
漏えい電流の測定
標準測定器の漏えい電流は，最高感度レンジの最大値の2 %以下でなければならない。漏えい電流が2 %
を超えた場合は，補正を行わなければならない。
漏えい電流の発生源の例として次のようなものがある。
− 漏えい電流は，電離箱の絶縁体，ステム又はケーブルの一部が放射線に照射されることによって生じ
る。照射後も影響は続き，通常，時間の経過と共に指数関数的に減少する。
− 放射線がない状態の絶縁体の漏えい電流は，電離箱，ケーブル，コネクタ，電位計，前置増幅器など
の高インピーダンスを構築するための絶縁材の表面又は絶縁材の体積内で引き起こされる。
− 電離箱からの信号をデジタル化する測定器は，電離箱内のイオン化によって生成されたものとは逆の
極性の漏えい電流を表示しないものがある。
線量率が既知の適切な放射線が利用可能，又は漏えい電流と線量率との比が既知であれば，漏えい電流
の量を求めることができる。
漏えい電流に類似した影響を生じる要因の例としては，次のようなものがある。
a) ケーブルマイクロフォニックノイズ 同軸ケーブルは，変形するときに電気的ノイズを生成すること
がある。低ノイズ非マイクロフォニックケーブルを用い，機械的に誘導された電流が低下するように
十分時間が経ってから測定するのが望ましい。
b) 前置増幅器によって引き起こされる信号 放射線によって引き起こされる漏えい電流を避けるため，
26
Z 4511：2018
前置増幅器は，照射野の外に設置することが望ましい。これが困難な場合は，前置増幅器を適切に遮
蔽してもよい。
8.6.5
電離箱の設置
電離箱の基準点をビーム軸上の試験点に設置する。
8.6.6
幾何学的条件
照射野直径は，標準測定器又は被校正測定器に対して十分な大きさであることが望ましい。照射野内の
空気カーマ率の均一性は，±5 %，散乱線の寄与は，5 %以下でなければならない。
標準測定器の大きさは，γ線源と標準測定器との距離が短い場合には，測定結果に影響することがある。
8.6.7
電離箱の支持部及びステムによる散乱
電離箱の支持部又はステムが照射野内にある場合は，支持部及びステムによる散乱線の発生を最小限に
抑える構造としなければならない。上位の標準場における校正条件下において，支持部及びステムによる
散乱並びにステム中で放射線によって発生した電流の寄与を含めて標準測定器の校正定数が与えられる。
このため，標準場を設定するときの標準測定器に対する照射野が，標準測定器を校正したときの照射野と
同等である場合には，支持部又はステムによる散乱線の影響を補正する必要はない。
注記 ステムによる散乱は，基準放射線の線質及び照射野と相関がある。
8.6.8
測定値の補正
8.6.8.1
一般
標準測定器の指示値は，必要に応じて，8.5.6及び8.5.7に規定する影響について補正しなければならな
い。
8.6.8.2
ゼロシフト
ゼロシフトは，ゼロ設定モードを測定モードに切り替えたときの指示値の変化である。ゼロシフトの影
響は，高感度の測定レンジで大きくなり，必要に応じて，調整，測定方法の変更などによって補正又は除
去しなければならない。
8.6.8.3
環境バックグラウンド及び漏えい電流の補正
必要に応じて，環境バックグラウンド放射線による影響及び8.6.4に規定する漏えい電流の影響について
補正する。
8.6.8.4
気温，気圧及び湿度の変動の補正
通気形の電離箱は，測定時の温度，気圧及び湿度の試験条件を，式(5)によって校正されたときの基準条
件に補正しなければならない。
h
p
T,
i
C
C
M
M =
······································································· (5)
ここに，
M： 次の基準条件に補正された測定値
気圧の基準条件 p0 kPa
気温の基準条件 T0 ℃
相対湿度の基準条件 h0 %
Mi： 次の条件の下で得られた測定値
測定時の気圧 p kPa
測定時の気温 T ℃
測定時の相対湿度 h %
CT,p： 次式によって得られる気温及び気圧の補正係数
(
)
(
)
0
0
p
T,
15
.
273
15
.
273
T
p
T
p
C
+
+
=
27
Z 4511：2018
Ch： 基準条件と測定時の条件との相対湿度の差異による補正
係数。相対湿度の関数として電離箱の応答から求める。通
常，この補正係数は小さく，Ch＝1を用いることができる。
測定器の中には，温度及び／又は気圧の自動的な補正機能をもつものもある。
注記 標準試験条件の範囲内で温度及び／又は湿度を調節することは可能である。しかしながら，気
圧は，事実上調節が困難である。標準試験条件以外の環境では，標準測定器の特性によって補
正が必要となる場合がある。
8.6.8.5
イオン再結合の補正
標準測定器を高い線量率範囲で用いる場合には，電離箱部のイオン再結合による不完全なイオン収集の
補正が必要となるときがある。測定器の高い線量率範囲のレンジで，電気信号だけによる校正はしないほ
うがよい。イオン再結合の補正のための試験を行う場合は，放射線を用いて測定システム全体で評価する
ことが望ましい。
8.6.8.6
照射野の均一性
照射野の空気カーマ率の均一性は，小形検出器又はフィルム検出器を用いて照射野を測定することによ
って評価する。
8.7
各種標準場固有の測定方法
8.7.1
連続X線標準場
8.7.1.1
X線の出力の変動
X線装置からの放射線出力が変動する場合は，装置の出力をモニタによって測定しなければならない。
注記 照射用のフィルタは，多くの付加フィルタからなるため，X線管電圧の小さな変化が出力に大
きな変化を与える。例えばLシリーズでは，X線管電圧の1 %の変化によるX線の出力変化は，
最大15 %にまでなる。また，管電圧が一定であっても，管電圧のリップルがX線の線量率を
瞬時に変動させる場合がある。
8.7.1.2
モニタ
モニタは，通気形の透過形電離箱であることが望ましい。ビームが通過する膜を含む電離箱部は，均一
でなければならず，付加フィルタの後方に接近させて配置しなければならない。電離箱は，それが線質に
影響を与えないように十分に薄くなければならない。X線の設定例を図6に示す。この電離箱の電離収集
効率は，測定対象とする全ての空気カーマ率に対して99 %以上とする。校正対象の線質において，標準測
定器の指示値とモニタの指示値との割合の変化が，校正中，0.5 %以下で安定していれば，モニタを仲介測
定器として用いてもよい。モニタの時定数は，標準測定器の時定数以下であることが望ましい。温度及び
気圧は，基準条件に補正しなければならない。モニタ及び関連する測定器の性能は，標準測定器と同等で
なければならない。
28
Z 4511：2018
1 校正距離
2 鉛コリメータ
3 モニタ
4 付加フィルタ
5 シャッタ
6 Ｘ線管
7 フィルタなし：10の分布
8 固有フィルタ含む：11の分布
9 付加フィルタ含む：12の分布
図6−モニタを用いたX線装置の幾何学的配置及び各位置でのX線スペクトルの例
8.7.1.3
照射口
照射口は，付加フィルタ直後に設置する。照射口の形状は，試験点での散乱線の寄与が小さくなるよう
に設計することが望ましい。照射野は，照射する測定器を完全に照射できるように十分な大きさとし，校
正中は，一定の大きさを保たなければならない。ただし，照射される電離箱ステム及び支持部は，十分に
小さくするのがよい。
8.7.1.4
シャッタ
シャッタは，X線管とモニタとの間に設置する。シャッタは，最も高いエネルギーの線質に対して，透
過する空気カーマ率が0.1 %以下に減弱するのに十分な厚さとする。積算線量の測定では，読取りは，照
射後速やかに行う。
8.7.1.5
空気カーマ率の調整
空気カーマ率は，X線管電流又はターゲットからの距離のいずれかを変更することで調整できる。
8.7.1.6
低エネルギーX線場の設定における注意点（30 kV以下）
低エネルギーX線標準場では，X線管から試験点までの空気層の密度変化によって線質が変わるため，
環境条件の違いによる補正を行う。空気密度の違いによる補正は，附属書Dによる。
8.7.2
蛍光X線標準場
X線装置の管電圧は，ラジエータからの必要な特性X線以外の放射線を最小限に抑えるように調整する
ことが望ましい。不純物によるスペクトル分布への影響を考慮する。特に低エネルギーK列特性X線にお
いては，影響が大きいので注意する。例えば，ウランK列特性X線を生成する場合には，ラジエータ及び
トリウムフィルタが放射性物質であることから，蛍光X線以外に起因する電流がモニタで計測される。必
要に応じて，この電流を補正しなければならない。
8.7.3
γ線標準場
8.7.3.1
線量率標準線源
照射装置を用いずに線源単体で校正した線量率は，照射装置を用いた標準場の線量率の決定に用いては
ならない。標準場は，校正された標準測定器を用いて校正しなければならない。線源単体で校正された場
29
Z 4511：2018
は，γ線源からの直接線だけに対して値付けされているため，照射装置との組合せなど，照射条件が異な
ることによって散乱線が増加し，校正した線量率と実際の線量率とに差異が生じる。
しかしながら，この規格の適用範囲外の10 μGy･h−1より低い空気カーマ率の測定には，線源単体で適切
に校正された放射線源を用いることもある。線量率標準線源を用いた校正は，附属書JCを参照する。
8.7.3.2
ビルドアップキャップ
標準測定器による標準場の設定は，標準測定器の校正に用いた二次電子平衡を成立させるためのビルド
アップキャップ（空気等価物質の層）と同じビルドアップキャップを用いて行わなければならない。
8.7.3.3
γ線源の減衰補正
必要に応じて，γ線源の減衰補正を行う。
8.7.3.4
γ線源の放射性核種不純物
製造後しばらくは，137Csには，134Csが含まれている。137Csと134Csとが異なる半減期をもつことに注意
しなければならない。製造から十分な時間が経過して，134Csが十分に減衰した137Cs線源の利用が望まし
い。線源に含まれる放射性不純物に関する情報は，通常，線源製造業者から入手できる。
8.7.3.5
校正位置間の内挿
測定点以外の照射距離における空気カーマ率の決定は，9.4.6に規定する内挿法による。
8.7.4
高エネルギーγ線標準場
8.7.4.1
線量
試験点における4 MeV〜9 MeVの基準放射線の線量（率）は，自由空間中において測定する空気カーマ
（率）である。人体組織，水などが存在する条件下で測定する組織等価吸収線量（率）又は水吸収線量（率）
は，この規格の適用範囲外である。
8.7.4.2
標準場の空気カーマ率の決定
空気カーマ（率）は，次に示す校正された電離箱による直接測定，又は光子フルエンス（率）スペクト
ルからの間接測定によって決定する。
直接測定に用いる電離箱は，検出器表面において二次電子平衡が成立するように，検出器周りを空気等
価物質のビルドアップキャップで覆わなければならない。ビルドアップキャップが空気等価でない物質の
場合は，阻止能の違いに対する補正が必要である。検出器の壁厚とビルドアップキャップとの合計の厚さ
は，60Coγ線標準場において校正する場合は0.4 g·cm−2〜0.6 g·cm−2でなければならない。60Coを超える高
エネルギー光子において校正する場合は，4.0 g·cm−2±0.1 g·cm−2でなければならない。
a) 電離箱による直接測定 4 MeV〜9 MeVのエネルギー範囲の光子の測定に適用する電離箱は，4.0
g·cm−2±0.1 g·cm−2の壁厚をもち，空気カーマ（率）で校正されていなければならない。電離箱を校
正した上位の標準場の線質と，電離箱を用いて線量測定を行う標準場の線質とは，同じ線質であるこ
とが望ましい。
エネルギーErの基準放射線に対する空気カーマ (Ka)rは，指示値Mrに対して式(6)による。
()
(
)r
K
r
r
a
N
M
K
=
······································································· (6)
ここに，
(NK)r： エネルギーErの標準場に対する空気カーマ校正定数
電離箱の校正に用いた標準場と同じ線質で校正ができない場合は，0.4〜0.6 g·cm−2の壁厚をもつ電離箱
を60Coγ線標準場において校正する。エネルギーErの基準放射線に対する空気カーマ (Ka)rは，式(7)によ
る。
()
(
)
[
]
m
att
a
K
r
r
a
1
k
k
N
M
K
−
=
g
···················································· (7)
30
Z 4511：2018
ここに，
NK：
60Coγ線による校正定数
ga： 制動放射によるエネルギー損失割合
katt： ビルドアップキャップを含む電離箱壁の吸収及び散乱に
係わる補正係数
km： 電離箱壁及び／又はビルドアップキャップが空気等価物
質でない場合の補正係数
katt及びkmは，測定時の高エネルギー光子が校正時の60Coγ線と異なるための補正係数である。
電離箱壁及び／又はビルドアップキャップが空気等価物質であれば，kmの補正は必要ないが，補正を行
う場合は，式(8)による。
(
)
(
)(
)
(
)a
en
m
en
m
a
m
ρ
μ
ρ
μ
ρ
ρ
=LL
k
································································ (8)
ここに，
L/ρ： 質量制限衝突阻止能比
μen/ρ： 質量エネルギー吸収係数比
その他の補正係数としては，再結合補正，極性効果，電極又はステムによる散乱，基準点のずれなどの
補正がある。通常，これらの補正値は，合計で1 %未満であり，無視することができる。
b) 光子フルエンススペクトルからの間接測定 空気カーマ率は，NaI(Tl) シンチレーション検出器，又
は高純度Ge半導体検出器によって得られる波高スペクトルから光子フルエンススペクトルを求め，
空気カーマスペクトルに変換して求めることができる。また，適用可能な場合は，関連する粒子計数
によって得られた全光子フルエンス率から空気カーマ率を求めることもできる。
通常は，Φiがi番目のエネルギー間隔Eiでのフルエンス，(μtr/ρ)iがこの間隔における平均質量エネルギ
ー転移係数とすると，空気カーマ率Kaは，式(9)による。
(
)i
i
i
i
Φ
E
K
ρ
μtr
a
Σ
=
·································································· (9)
式(9)の積算は，全フルエンススペクトルにわたって展開する。質量エネルギー転移係数 (
tr
μ/ρ) は，
(
tr
μ/ρ)＝(
en
μ/ρ)/(1−
ag) として計算される（参考文献[6]参照）。
en
μ/ρは，質量エネルギー吸収係数であ
り，
agは，初期光子相互作用で生じた電子スペクトルの平均化された制動放射線の発生率である。
9
実用測定器の校正方法
9.1
一般
光子エネルギーで8 keV〜9 MeVのX線及びγ線標準場における，場，個人のモニタリングなどの実用
測定器の校正について規定する。個人モニタリングについては体幹部及び末端部の線量計が含まれ，場の
モニタリングについては携帯形，可搬形及び据置形の測定器が含まれる。光子エネルギー及び放射線入射
角に対するレスポンスの決定についても規定する。
なお，環境モニタリング用測定器などの低線量率測定器の方法については，附属書JCを参照する。
9.2
線量当量への換算係数
9.2.1
一般
各線質に対する換算係数を附属書Bに規定する。照射距離は，X線管の焦点又はγ線源の幾何学的な中
心から試験点までの距離とする。線量計の基準点を試験点に設置する。蛍光X線及びR-C，R-F又はR-O
放射線に関して，照射距離は，ラジエータ中心又はターゲット表面から試験点までの距離とする。照射距
離に範囲がある場合の換算係数の値は，この範囲の距離に適用することができる。それ以外の距離，QI
シリーズなどのように附属書Bに記載のない線質については，次の方法による。
31
Z 4511：2018
a) スペクトル測定をする場合は，パルス波高スペクトルからフルエンススペクトル及び空気カーマスペ
クトルを求め，各エネルギーの線量当量換算係数の重付けをして線量当量スペクトルを評価する（附
属書E参照）。この線量当量スペクトルと空気カーマスペクトルの総和との比から当該線質の線量当
量換算係数を求める。
b) スペクトル測定をしない場合は，40 kV以上の線質で，実効エネルギーに該当する線量当量換算係数
を利用してもよい。
9.2.2
換算係数の不確かさ
単一エネルギーの放射線に対する換算係数は，不確かさをもたないものとして扱ってもよい。それ以外
の換算係数の標準不確かさは，特にことわりのない場合は，2 %とする。
QIシリーズのように，実効エネルギーから求めた線量当量換算係数を利用する場合は，スペクトルから
求められる換算係数とのずれを不確かさとして考慮しなければならない。実効エネルギーから求めた線量
当量換算係数は，スペクトルから求められる換算係数と±3 %で一致するという報告（参考文献[7]）があ
る。ただし，40 kV未満の線質では，H*(10) 及びHp(10) への換算係数は，スペクトルからの換算係数に対
して±3 %を超えるので注意する。
9.2.3
低エネルギー領域での換算係数に対する注意点
30 kV以下の管電圧，特にHシリーズに関して，換算係数h*K(10:E) 及びhpK(10:E,α) の数値を実験によ
って評価する場合，附属書Bに規定する値から2 %以上異なることがある。エネルギー分布から，少しの
変動で換算係数が変化する線質は，対応する表中に“注a)”で記載している。この場合には，9.2.2に規定
する2 %の標準不確かさは，十分ではないため，不確かさの適切な推定値又は換算係数の信頼できる値を
用いることが望ましい。校正時の空気密度による換算係数の補正は，附属書Dによる。
注記 低エネルギー線質の標準場において，H*(10) 及びHp(10) は，高エネルギー部分からの寄与が
大きく，また，空気カーマは，低エネルギー部分からの寄与が大きいため，エネルギー分布の
僅かな違いが換算係数の数値を著しく変化させる。
一つの実験で決定したエネルギー分布では，多くの要因で異なることがある。例えば，アノ
ード角度，アノードの表面状態の変化，管球窓へのタングステン蒸着，ビーム中の透過形電離
箱（モニタ）の存在，フィルタ厚の公称値からの偏り，測定時におけるX線管と試験点間との
空気層の厚さ，気圧などの要因がある。蛍光X線に関して，許容範囲の散乱線からの寄与を考
慮して最適化する。これは，薄いラジエータを用いるか又は管電圧を下げるかによって達成す
ることができる。
低エネルギーX線に対しては，4.2.2.1に規定する手法I又は手法IIによって，測定対象の線量当量の取
決め真値を決定することができる。
スペクトル測定と空気カーマ標準測定器とを併せて用いる方法では，取決め真値の不確かさを2 %（k
＝1）以下にしなければならない（手法I）。
二次標準測定器を用いて線量当量を直接測定する方法では，達成可能な不確かさは，線質に依存し，2 %
〜3 %（k＝1）の間である（手法II）。
試験中は，測定量の取決め真値の決定から被校正測定器の校正並びに放射線入射角及び光子エネルギー
の応答関数の決定までの期間中に各パラメータの安定性を維持する。
9.3
個人線量計の校正条件
9.3.1
ファントム
個人線量計について，光子エネルギー及び放射線入射角に対するレスポンスの決定のための測定及び校
32
Z 4511：2018
正は，適切なファントムを用いることが望ましい。通常，末端部に装着する線量計は，Hp(0.07) を対象と
する。手指に着用する線量計は，ISOロッドファントムを，手首又は足首に着用する線量計は，ISOピラ
ーファントムを用いることが望ましい。ISOロッドファントムは，直径19 mm，長さ300 mmのポリメタ
クリル酸メチル樹脂（以下，PMMAという。）製の円柱である。ISOピラーファントムは，PMMA壁をも
つ中空円柱に水を満たしたもので，外径73 mm，長さ300 mmである。円柱の側壁は，2.5 mmの厚さ，端
面は，10 mmの厚さである。体幹部に着用する線量計については，JIS Z 4331に規定するPWファントム
を用いることが望ましい。137Cs又は137Cs以上の高い平均エネルギーの基準放射線を用いる場合は，JIS Z
4331に規定するP-30ファントム又はP-40ファントムを用いてもよい。
ファントムを用いる場合，ファントムとICRU組織との後方散乱特性の違いに起因する補正は，しなく
てもよい。同一型式の線量計を定常的に校正する場合は，ファントムなしの自由空気中及び／又は線量計
の測定線種とは異なる種類の放射線を用いてもよい。ただし，これらの校正をする場合は，本体に規定さ
れた校正結果と同じであることを確認すること，又は差異がある場合には，補正しなければならない。
Hp(0.07) が有効な低エネルギー放射線領域では，Hp(0.07) を測定するために設計された線量計が体幹部
に装着されるときの線量計の指示値に注意することが望ましい。衣服による放射線の吸収のため，実際の
人体に与えるHp(0.07) の値は，指示値とは著しく異なる場合がある。
9.3.2
ファントムを用いた校正時の照射条件
試験点は，照射野がファントム全体を照射する十分な大きさとなるように，γ線源からの距離を選択し
なければならない。線量（率）の取決め真値は，標準測定器の基準点を試験点に配置して決定しなければ
ならない。校正する線量計の基準点は，その基準方向が放射線の入射方向に対して平行になるように試験
点に設置する。末端部に用いる線量計は，通常，体に装着する方法で，ファントムに装着することが望ま
しい。スラブファントムは，前面が線量計の後側に接し，ビーム軸に垂直とする。個人線量計の照射は，
ファントム上とする。校正定数又はレスポンスは，9.4.2.2の式(10)又は9.4.2.3の式(12)から求めなければ
ならない。放射線の入射方向による影響の試験については，ファントム及び設置された線量計は，図C.2
に示すように試験点の周りを回転しなければならない。通常，ファントム校正においては，線量計の基準
点を試験点に合わせるが，ファントム表面に試験点を合わせてもよい。
注記1 個人線量計及びファントムを組み合わせた状態を，被試験線量計とみなす。この状態の基準
点は，線量計の基準点である。測定量は，線量計がないときのファントム内の深さdにおけ
る線量当量の値である。
注記2 線量計の基準点を試験点に置くことには，二つの利点がある。一つは，線量計の校正定数が
γ線源と試験点との距離に依存しないで，一定となることである。二つ目の利点は，放射線
の入射方向に対するレスポンスの試験において，基準点と試験点とが同じであれば，被試験
線量計の読取値は，回転角に伴うγ線源と基準点との距離の変化について補正する必要がな
いことである。
注記3 スラブファントムを用いた放射線の入射方向に対するレスポンスを求める試験においては，
ファントムは，一つの軸だけで回転させ，通常，線量計をファントム表面に二つの相互に垂
直な向きに置く。
9.3.3
複数の線量計に対する同時照射
スラブファントム表面に複数の個人線量計を設置して同時に照射する場合，ファントム中心の線量に対
して±2 %の均一性をもつ直径dFの範囲に線量計を設置しなければならない。dFの値は，線質にも依存し，
それらは表B.16〜表B.21及び表B.35〜表B.39に規定する。照射距離が表B.16〜表B.21及び表B.35〜表
33
Z 4511：2018
B.39に与えられる距離よりも短い場合，直径dFは表中の値より小さくなる。複数の線量計の入射方向特性
を表す応答（レスポンス）関数を同時に決定するには，線量計の基準点は回転軸に位置しなければならな
い。さらに，同時照射では，次の二つの影響に注意する必要がある。
a) ファントム表面に複数の線量計を配置することによって，ファントムからの後方散乱が線量計を透過
する放射線の減衰によって減少する。
b) 複数の線量計の基準点とγ線源との距離がファントム上の配置で異なる。
このような距離の違いは9.5.2に従って考慮することが望ましい。複数の個人線量計の同時照射による結
果が，一つの線量計を単独でファントムの中心において照射したときの結果と±2 %であることを確認し
なければならない。
線量計によっては，後方散乱光子の小さな変化に対して非常に敏感に応答するものがある。これはエネ
ルギー特性の大きい検出器を用いていること，検出器の信号から線量当量による指示値を算出するまでに
用いるアルゴリズムによることなどが考えられる。このような場合，一つの線量計だけをファントム表面
に設置して校正することが望ましい。
9.3.4
Hp(0.07) における方向特性
特定の放射線場において，Hp(0.07) は，放射線の入射方向Ωに依存する。ピラー及びロッドファントム
については，二つの相互に垂直な回転軸があり，いずれも線量計の基準点に交差している。一つは，円柱
軸に平行で，もう一つは，円柱軸及び放射線の入射方向の両方向に垂直である。二つの軸に対して60°の
様々な光子エネルギー範囲に対して，hpK(0.07:E,α) の値は，0°に対する比として0.95〜1.05である。より
小さな回転の場合，これらの変異は常に小さい。Hp(0.07) は，角度の変化による影響が小さいため，この
規格では，ピラー及びロッドファントムのHp(0.07) は，60°までの放射線の入射角度には依存しないとみ
なす。60°の角度を超える回転は，この規格では規定しない。
9.4
標準場での校正方法
9.4.1
一般
標準場での校正方法は，置換法，同時照射法，線源法，内挿法及びシャドーシールド法がある。置換法
には，モニタを必要としない置換法I，及びモニタを必要とする置換法IIがある。
9.4.2
置換法I
9.4.2.1
一般
置換法Iは，放射線出力の安定性が高く，X線及びγ線標準場での校正にモニタを必要としない。
9.4.2.2
校正
放射線場の空気カーマ率が安定している場合，校正は，次の手順による。
標準測定器を放射線場に設置して測定し，空気カーマ率の取決め真値の決定を行い，その後，被校正線
量計を同じ場所に設置する。被校正線量計の校正定数NBは，式(10)による。
B
A
A
B
M
M
N
h
N =
····································································· (10)
ここに，
h： 空気カーマ−線量当量変換係数
NA： 標準測定器の校正定数
NB： 被校正線量計の校正定数
MA： 標準測定器の測定値（指示値に空気密度の違いを補正する
係数を乗じた値）
34
Z 4511：2018
MB： 被校正線量計の測定値（指示値に空気密度の違いを補正す
る係数を乗じた値）
9.4.2.3
光子エネルギー及び放射線入射角に対するレスポンスの決定
線量計のレスポンスRは，光子エネルギーE及び角度αの関数として表され，式(11)による。
(
)
(
)
(
)
α
α
α
α
k
k
M
N
E
h
E
M
E
R
=
E
A
A
B
,
,
,
··················································(11)
ここに，
h： 空気カーマ−線量当量変換係数
NA： 標準測定器の校正定数
MA： 標準測定器の測定値（指示値に空気密度の違いを補正する
係数を乗じた値）
MB： 被校正線量計の測定値（指示値に空気密度の違いを補正す
る係数を乗じた値）
kE及びkαは，標準測定器の校正時と測定時とのエネルギーE及び角度αが異なることに起因する補正係
数である。
線量計のレスポンスは，相対レスポンスrとして表してもよい。
線量計の相対レスポンスは，式(12)による。
r
R
R
r=
·················································································· (12)
ここに，
Rr： 基準条件におけるレスポンス
9.4.3
置換法II
9.4.3.1
一般
置換法IIは，モニタによる補正を必要とする連続X線及び蛍光X線のように校正中の放射線出力の安
定性が低い標準場での校正に用いる。
9.4.3.2
校正
時間経過によって空気カーマ率が緩やかに変化する場合は，8.7.1.2に規定するモニタを用い，標準測定
器によって試験点における空気カーマ率の取決め真値を決定した後，被校正線量計を試験点に設置して，
置換法によって校正する。標準測定器及び被校正線量計が試験点に置かれているときのそれぞれのモニタ
指示値mA及びmBを求め，標準測定器及び被校正線量計によるそれぞれの測定値MA及びMBを補正する。
被校正線量計の校正定数NBは，式(13)による。
=
B
B
A
A
A
B
M
m
m
M
N
h
N
························································· (13)
ここに，
mA： 標準測定器照射時におけるモニタの値
mB： 校正時における線量計を照射しているときのモニタの値
注記1 線量計の照射が標準測定器の照射の直前又は直後に行われる場合には，環境条件の変化が無
視できることから，モニタの値の環境条件の変化に関する補正の必要がないときがある。
注記2 モニタの長期安定性がよい場合には，仲介測定器として用いることができる。
9.4.3.3
光子エネルギー及び放射線入射角に対するレスポンスの決定
線量計のレスポンスRは，式(14)による。
(
)
(
)
(
)
α
α
α
α
k
k
M
m
N
E
h
E
M
m
E
R
=
E
A
B
A
B
A
,
,
,
··········································· (14)
35
Z 4511：2018
9.4.4
同時照射法
9.4.4.1
校正
同時照射法による校正は，標準測定器及び線量計を，γ線源の中心から同じ距離の対象位置に設置する
ことによって，標準測定器及び被校正線量計を同時に照射する方法である。一方の測定器の読取値が，他
方の存在によって2 %を超える散乱線の影響を受けないように，二つの検出器の間の距離は，十分に離さ
なければならない。
放射線場が非対称であるための影響を除去するために，測定は，二つの測定器の位置を交換して再度測
定しなければならない。その後，読取値の相乗平均を求める。校正定数NBは，式(15)による。
2
B
A
1
B
A
A
B
=
M
M
M
M
N
h
N
···················································· (15)
ここに，式中の1及び2は，測定器の位置を交換して測定した2回の測定を示す。
9.4.4.2
光子エネルギー及び放射線入射角に対するレスポンスの決定
線量計のレスポンスRは，式(16)による。
(
)
(
)
(
)
(
)
2
A
B
1
A
B
E
A
,
,
,
1
,
=
M
E
M
M
E
M
k
k
N
E
h
E
R
α
α
α
α
α
················· (16)
ここに，式中の1及び2は，測定器の位置を交換して測定した2回の測定を示す。
9.4.5
線源法
γ線源からある距離における空気カーマ率の取決め真値が既知の場合は，校正する線量計の校正定数NB
は，式(17)による。
B
a
B
M
K
h
N =
············································································ (17)
ここに，
Ka： 空気カーマ（率）
MB： 校正時の線量計による（標準条件下における）測定値
h： 空気カーマ線量当量換算係数
9.4.6
内挿法
測定の行われた距離以外の距離について，任意の関数による内挿によって空気カーマ率Kaを決定するこ
とは，6.4に規定する逆二乗則からの差が±5 %の範囲の距離に限定して行う。ある基準位置から逆二乗則
によって空気カーマ率を決定することもできるが，標準測定器による線量率の差が±5 %であることを確
認しなければならない。
9.4.7
シャドーシールド法
シャドーシールド法に用いるシャドーコーンは，校正する検出器が隠れる大きさの断面をもつコーン形
状の鉛製の遮蔽体であって，直接線の減弱率を千分の一以下にする厚さ（137Csで約6.5 cm，60Coで約12.5
cm）があるものとする。ビーム中心軸上のγ線源から被校正測定器間の距離のほぼ中央に支持具を用いて
設置する。
シャドーシールド法は，全空気カーマ率から散乱線を分離して，直接線に対する測定器の指示値を求め
る方法であり，照射距離は，シャドーコーンがなす立体角内に測定器を隠すことを考慮すると，通常は100
cm以上が望ましい。また，エネルギー特性が悪い測定器のエネルギー特性試験を行う場合に，散乱線を分
離して直接線に対するレスポンスを求めるための方法として有効である。
36
Z 4511：2018
9.5
特性試験の方法
9.5.1
影響量の変動
校正及びレスポンス試験における基準条件及び標準試験条件は，附属書Aによる。標準試験条件として
規定する影響量の範囲は，表A.1及び表A.2による。一つの影響量のレスポンスの変化に対する影響を決
定するための測定では，特に指定のない限り，他の影響量は，標準試験条件内の値とする。
一方で，被校正測定器のレスポンスが一定になるように，影響量を変化させる場合がある。例えば，GM
管式線量計のエネルギー特性試験を大きな不感時間が生じる線量率範囲で試験する場合，一定の線量率で
はなく，線量率を変化させて，一定の指示値が得られる範囲で試験をすることが望ましい。熱ルミネセン
ス線量計のように，ある線量を超えると単位線量当たりの応答（発光量）が過応答となる直線性応答を示
す線量計の場合についても同様である。通常，線量又は線量率が線形となる条件下で測定器の校正を行う
ことが望ましい。
9.5.2
試験点及び基準点
測定は，被校正線量計の基準点を試験点に合わせて実施する。被校正線量計の基準点及び基準方向は，
製造業者によって明示され，基準点は，線量計の表面に記されている。基準点を線量計表面に記すことが
困難な場合，基準点は機器に附属する添付文書に示されている。照射距離は，放射線源と被校正線量計の
基準点との距離となる。被校正線量計の基準点又は基準方向についての情報がない場合，これらのパラメ
ータは，校正機関が特定し，証明書に記載しなければならない。
注記 点線源で散乱線及び光子吸収がない場合，線量率は，距離lの逆二乗則によって変化する。ビ
ーム内でビーム方向の距離Δlの配置のずれは，距離lにおける校正定数に2Δl/lの相対誤差を
もたらす。ビーム軸に垂直なΔλのずれは，(Δλ/l)2の相対誤差をもたらす。散乱線が存在し，線
源が有限の大きさをもつ場合，この相対誤差の近似は，Δl又はΔλが十分に小さい場合に限定
される。
9.5.3
回転軸
放射線入射方向特性は，線量計の少なくとも二つの軸を回転させて試験しなければならない。二つの軸
を用いる場合，それらの軸は互いに垂直でなければならない。回転軸は線量計の基準点と交差しなければ
ならない。個人線量計を試験する場合には，ファントムに設置して行う。幾何学的な位置関係を図C.2に
示す。
9.5.4
被校正線量計の取扱い
校正前に，被校正線量計が使用可能な状態で，かつ，放射性汚染がないことを確認してから試験を行う。
線量計の設定基準，操作モードなどは，取扱説明書による。
9.5.5
電子による影響
エネルギーが65 keVを超える電子は，0.07 mmのICRU組織を透過し，2 MeVを超える電子は，10 mm
厚のICRU組織を透過する。光子の標準場では，そのようなエネルギーの電子を生成すること及び電子の
飛程に関連した影響を考慮しなければならない。この詳細は，附属書Cが参考となる。
電子による影響の評価は，次による。
H'(0.07) 及びHp(0.07) の標準場，並びに表B.9〜表B.14及び表B.22〜表B.39に示すエネルギー300 keV
以下の標準場に対しては，電子飛程の効果の特別な注意を必要としない。光子エネルギーが約250 keV以
下であれば，空気，モニタなどの物質が介在することによって，全ての状況下で二次電子ビルドアップが
成立する。高エネルギーγ線標準場におけるレスポンスの決定においては，光子場における非二次電子平
衡状態での校正は，適切ではなく，適切な電子の放射線標準場における校正が必要になる。詳細は，附属
37
Z 4511：2018
書Cが参考となる。
S-Csから9 MeVまでの高エネルギーγ線標準場の場合は，試験点に対する空気カーマの取決め真値を決
定する。その後に，被校正線量計の基準点を試験点に合わせて校正する。また，二次電子平衡の成立を確
保するのに十分な厚さのPMMA板については，場のモニタリングに用いる測定器の前面，又は個人線量
計とファントムとの組合せの前面に配置する。PMMA板を用いることによる標準場の補正は，表B.8及び
表B.21に示す補正係数kPMMAを乗じる。プレートの断面積は，30 cm×30 cmで，厚さは，表B.8及び表
B.21に示す値を用いる。
注記 ファントム付個人線量計及び場のモニタリングに用いる測定器の照射には，PMMA板を線量
計，又は線量計とファントムとの組合せから一定距離を離して配置することが実用的である。
その理由は，放射線の入射方向によるレスポンスの変化を調べるときに，PMMA板を回転させ
る必要がないからである（図C.2参照）。
9.6
場のモニタリング用線量当量測定器の校正方法
9.6.1
周辺線量当量（率）H*(10) 測定器
9.6.1.1
一般
周辺線量当量（率）H*(10) 測定器の校正方法は，携帯形又は据置形の周辺線量当量（率）H*(10) 測定器
の標準場における校正に適用する。周辺線量当量（率）測定器は，能動形及び受動形の両方を含む。これ
は，据置形周辺線量当量（率）測定器の据置状態における校正（現場校正）には適用しない。周辺線量当
量（率）測定器は，自由空気中（ファントムなし）で照射する。レスポンス試験は，8 keV〜9 MeVの光子
エネルギーで，測定に適した照射装置，照射距離で行う。空気カーマから実用量H*(10) への換算係数は，
表B.2〜表B.8に，散乱線がなく，幅広い平行ビームでの単一エネルギーの光子に対する換算係数は，表
B.2による。
実際には，校正は常に発散ビームで実施される。表B.2〜表B.8に示す換算係数は，表中に記載する照
射距離の範囲で適用できる。
9.6.1.2
測定量
周辺線量当量（率）H*(10) 測定器の測定量は，周辺線量当量H*(10) でなければならない。
9.6.2
方向性線量当量（率）H'(0.07) 測定器
9.6.2.1
一般
方向性線量当量（率）H'(0.07) 測定器の校正方法は，携帯形又は据置形の方向性線量当量（率）H'(0.07)
測定器の標準場における校正に適用する。方向性線量当量（率）測定器は，能動形及び受動形の両方を含
む。これは，据置形方向性線量当量（率）測定器の据置状態における校正（現場校正）には適用しない。
方向性線量当量（率）測定器は，自由空気中（ファントムなし）で照射する。H'(0.07) に変換するための
換算係数は，表B.9〜表B.14による。散乱線がなく，幅広い平行ビームでの単一エネルギーの光子に対す
る換算係数は，表B.9による。実際には，校正は常に発散ビームで実施される。表B.9に示す換算係数は，
照射距離の範囲に適用できる。距離と共に放射線入射方向の角度αが与えられる場合，αは，入射方向と
線量計との基準方向との間の角度である。
9.6.2.2
測定量
方向性線量当量（率）測定器の測定量は，方向性線量当量H'(0.07;Ωρ) でなければならない。
9.7
個人のモニタリング用線量当量測定器の校正方法
9.7.1
個人線量当量（率）Hp(10) 測定器
9.7.1.1
一般
38
Z 4511：2018
個人線量当量（率）Hp(10) 測定器の校正方法は，個人線量当量（率）Hp(10) 測定器のうち，体幹部用線
量計の校正に適用する。照射は，測定器をスラブファントムに装着して行う。自由空気中の空気カーマか
ら実用量Hp(10) に変換する換算係数は，表B.15〜表B.21による。
9.7.1.2
測定量
個人線量当量（率）測定器の測定量は，個人線量当量Hp(10) でなければならない。
9.7.2
個人線量当量（率）Hp(0.07) 測定器
9.7.2.1
一般
個人線量当量（率）Hp(0.07) 測定器の校正方法は，個人線量当量（率）Hp(0.07) 測定器のうち，体幹部
用線量計又は末端部用線量計の校正に適用する。照射は，測定器をファントムに装着して行う。自由空気
中の空気カーマから実用量Hp(0.07) に変換する換算係数を表B.22〜表B.39に記載する。散乱線がなく，
幅広い平行ビームでの単色光子に対する換算係数の様々なファントムに対する初期のデータは，ロッドフ
ァントム，ピラーファントム及びスラブファントムに対して，それぞれ表B.22，表B.28及び表B.34に記
載する。
9.7.2.2
測定量
個人線量当量（率）Hp(0.07) 測定器の測定量は，個人線量当量Hp(0.07) でなければならない。Hp(0.07) に
ついて，換算係数は，スラブファントム用とは別に，ロッドファントム用及びピラーファントム用がある。
9.8
その他の測定量の実用測定器の校正方法
9.8.1
一般
この校正方法は，9.6及び9.7以外の実用測定器である空気吸収線量（率）測定器，空気カーマ（率）測
定器及び照射線量（率）測定器の校正に適用する。これらの測定器は，自由空気中（ファントムなし）で
校正する。
9.8.2
測定量
測定量は，実用測定器の種類に応じて次による。
a) この規格における空気吸収線量（率）測定器の測定量は，8.2の式(1)の制動放射によるエネルギー損
失補正を行わない物理量である。また，空気吸収線量は，8.2の式(2)から，照射線量Xに空気のW/e
値（33.97 J･C−1）を乗じて求めることができる。
b) 空気カーマ（率）測定器の測定量は，8.2の式(1)で求める物理量である。
c) 照射線量（率）測定器の測定量は，光子が空気中のある質量において発生させた二次電子が停止する
までに生成されるいずれか一方の極性の電荷の総量の物理量である。空気カーマ（率）との関係は，
8.2の式(1)による。
10
校正結果の記録
校正結果の記録には，次の事項を含むことが望ましい。
a) 校正日付及び場所
b) 被校正品の説明（形式及び製造番号）
c) 被校正品の所有者又は顧客名
d) γ線源及び用いた標準測定器の詳細
e) 基準条件，校正条件及び／又は標準試験条件
f)
校正又は試験結果
g) 校正実施者名
39
Z 4511：2018
h) その他の特記事項
11
校正定数の不確かさ
11.1
一般
不確かさの評価は，ISO/IEC Guide 98-3による。特に定めのない限り，拡張不確かさは，95 %の信頼の
水準で求める。
11.2
校正定数の不確かさの求め方
11.2.1
校正定数の不確かさの成分
校正定数の不確かさは，11.2.2，11.2.3及び11.2.4に規定する標準不確かさ成分の合成による。
11.2.2
標準場の設定における不確かさ
標準場の設定における不確かさは，次の要因を考慮しなければならない。
a) 上位の標準による取決め真値の不確かさを含む，標準測定器の校正定数の不確かさ
b) 標準測定器を用いて測定したときの，統計的な不確かさ
c) ゼロシフト
d) 漏れ電流及び環境放射線
e) 測定部のレンジの非直線性
f)
標準測定器が校正された上位の標準場と，標準測定器によって設定する場との線質の違い
g) 温度，気圧及び湿度の変化
h) 照射距離
i)
検出器角度
j)
照射野の非均一性
k) ステム散乱
l)
シャッタ移動時間（シャッタを使用する場合）
m) 標準測定器の長期安定性
n) 指示値の分解能
o) その他の特記事項
11.2.3
校正における不確かさ
次の成分の不確かさを考慮しなければならない。次に示す不確かさの数値は，標準不確かさである。
a) 標準場の取決め真値の設定における不確かさ
b) 標準測定器及び被試験測定器の設置位置における不確かさ
c) 内挿法による，異なる照射距離に起因する不確かさ（例 照射距離2 m以上で1 %）
d) 換算係数の不確かさ
（通常2 %。表B.2〜表B.39の幾つかの表の中で，“a)”がマークされた参照放射線については，個
別に不確かさを評価しなければならない。）
e) 照射野の非均一性
f)
複数の線量計を同時に照射した場合の不確かさ
g) ファントムを用いない校正における不確かさ
h) ビルドアップ板を用いた場合の不確かさ（この場合は，1 %を適用できる。）
i)
レスポンスの長期安定性（この場合は，上限2 %を適用できる。）
11.2.4
低エネルギーX線に対する不確かさの追加要因
40
Z 4511：2018
次の不確かさを考慮しなければならない。次に示す不確かさの数値は，68 %の信頼の水準（k＝1）であ
る。
a) 管電圧の変化から起因する不確かさ 見込まれる不確かさの例として，2 %程度である。
b) 空気密度によって変化による不確かさ 見込まれる不確かさの例として，2 %程度である。
c) 換算係数の不確かさ（9.2.3 手法I） 見込まれる不確かさの例として，1.5 %程度である。
d) Hp(10) 又はH*(10) に対してエネルギー特性がよい電離箱を用いた場合の線量設定における不確かさ
見込まれる不確かさの例として，2.5 %程度である。
e) 入射角の調整に起因する不確かさ［Hp(10) の場合だけ］ 見込まれる不確かさの例として，2 %程度で
ある。
41
Z 4511：2018
附属書A
（規定）
基準条件及び標準試験条件
A.1 基準条件及び標準試験条件の要求事項
A.1.1 一般
校正又は試験は，基準条件で行うのが理想的には望ましい。基準条件は，必ずしも実現できないため（例
えば，気圧），基準条件付近の範囲を標準試験条件として用いる。試験条件の影響量が基準条件と異なるこ
とに起因する校正定数の変化は，原則，補正することが望ましい。実際には，補正するか又は不確かさに
含めるのかを決定する。試験中，対象でない全ての影響量は，標準試験条件の範囲内であることが望まし
い。基準条件及び標準試験条件の範囲は，受渡当事者間の協定による。受渡当事者間の協定がない場合に
は，表A.1及び表A.2に示す基準条件及び標準試験条件とすることが望ましい。実用測定器の校正では，
表A.2の標準試験条件を環境温度は，20±10 ℃に，相対湿度は，85 %以下にそれぞれ拡大する。
A.1.2 放射線に関する量
受渡当事者間の協定がない場合の放射線に関する量の基準条件及び標準試験条件は，表A.1による。
表A.1−放射線に関する量の基準条件及び標準試験条件
影響量
基準条件
標準試験条件
（特記がない場合）
γ線エネルギー
137Cs a)
137Cs a)
入射角
基準の向き
基準の向き±5°
放射能汚染
無視できる
無視できる
放射線のバックグラウンド
周辺線量当量率
H*(10)≦0.1 μSv･h−1
周辺線量当量率
H*(10)≦0.25 μSv･h−1
注a) 測定器のエネルギー定格範囲に137Csが含まれない場合は，他のエネルギーの標準場でもよい。
A.1.3 放射線に関連する量以外の量
受渡当事者間の協定がない場合の放射線に関連する量以外の量の基準条件及び標準試験条件は，表A.2
による。
42
Z 4511：2018
表A.2−放射線に関連する量以外の量の基準条件及び標準試験条件
影響量
基準条件
標準試験条件
（他に指示がない場合）
環境温度 ℃
20
18−22 b), c)
相対湿度 %
65
30−75 b), c)
気圧 kPa
101.3
86−106 b), c)
安定時間 分
15
15以上
電源電圧
正規電源電圧
正規電源電圧±3 %
電源周波数a)
正規電源周波数
正規電源周波数±1 %
電源波形a)
正弦波
正弦波からのひずみ
5 %以下
外部電磁波
無視できるレベル
影響が認められる
レベル以下
外部磁気誘導
無視できるレベル
地球磁界の2倍以下
装置
通常動作の設定
通常動作の設定
注a) コンセントからの電圧供給で動作する装置に適用する。
b) 試験時の実際の値を記録する。
c) 温暖気候での校正を想定した値である。他の気候においては，校正のときのこれらの量の実
際の値を記録する。高地において使用する測定器の下限気圧は，70 kPaとしてもよい。
43
Z 4511：2018
附属書B
（規定）
線量当量への換算係数
B.1
一般
この規格が規定する線質は，箇条4〜箇条7によるが，簡略化した表記法は，表B.1による。ここでの
表記法は，例えば，h'K(0.07:E,α) は，線量計の基準方向と放射線の入射方向との角度αをもったエネルギ
ーEの光子に対する，空気カーマKaから0.07 mm深さの方向性線量当量への換算係数を示す。
表B.2〜表B.39に示す線質は，表B.1に示すF，L，N，W，H，S又はRを頭文字とした線質記号で表
す。
ただし，QIシリーズについては，表B.2，表B.9，表B.15，表B.22，表B.28及び表B.34の単色光子エ
ネルギーの換算係数を用いて，実効エネルギーに対する換算係数を内挿して求める。
表B.1−この規格が規定する線質（QIシリーズを除く）
蛍光X線
連続X線
線質
E
（keV）
線質
E
（keV）
線質
E
（keV）
線質
E
（keV）
線質
E
（keV）
F-Zn
8.6
L-10
8.5
N-10
8
W-60
45
H-10
7.5
F-Ge
9.9
L-20
17
N-15
12
W-80
57
H-20
12.9
F-Zr
15.8
L-30
26
N-20
16
W-110
79
H-30
19.7
F-Mo
17.5
L-35
30
N-25
20
W-150
104
H-60
37.3
F-Cd
23.2
L-55
48
N-30
24
W-200
137
H-100
57.4
F-Sn
25.3
L-70
60
N-40
33
W-250
173
H-200
102
F-Cs
31.0
L-100
87
N-60
48
W-300
208
H-250
122
F-Nd
37.4
L-125
109
N-80
65
H-280
146
F-Sm
40.1
L-170
149
N-100
83
H-300
147
F-Er
49.1
L-210
185
N-120
100
F-W
59.3
L-240
211
N-150
118
F-Au
68.8
N-200
164
F-Pb
75.0
N-250
208
F-U
98.4
N-300
250
γ線（放射性核種）
高エネルギーγ線
線質
核種
E
（keV）
線質
反応
E
（MeV）
S-Am
241Am
59.5
R-C
12C(p, p'γ)12C
4.36 a)
S-Cs
137Cs
662
R-F
19F(p, aγ)16O
6.61 a)
S-Co
60Co
1 250
R-Ti
(n, γ) capture in Ti
5.14 a)
R-Ni
(n, γ) capture in Ni
6.26 a)
R-O
16O(n, p)16N
6.61 a)
注a) フルエンスに対する平均エネルギー
44
Z 4511：2018
B.2
周辺線量当量への換算係数
表B.2−単色光子エネルギーに対する周辺線量当量換算係数h*K(10)
光子エネルギー
h*K(10)
keV
Sv/Gy
10
0.008
15
0.26
20
0.61
30
1.10
40
1.47
50
1.67
60
1.74
80
1.72
100
1.65
150
1.49
200
1.4
300
1.31
400
1.26
500
1.23
600
1.21
800
1.19
1 000
1.17
1 500
1.15
2 000
1.14
3 000
1.13
4 000
1.12
5 000
1.11
6 000
1.11
8 000
1.11
10 000
1.10
45
Z 4511：2018
表B.3−蛍光X線に対する周辺線量当量換算係数h*K(10:F)
線質
照射距離
m
h*K(10:F)
Sv/Gy
F-Zr a)
1.0〜2.0
0.32
F-Mo a)
1.0〜2.0
0.44
F-Cd
1.0〜2.0
0.80
F-Sn
1.0〜3.0
0.91
F-Cs
1.0〜3.0
1.14
F-Nd
1.0〜3.0
1.39
F-Sm
1.0〜3.0
1.47
F-Er
1.0〜3.0
1.65
F-W
1.0〜3.0
1.74
F-Au
1.0〜3.0
1.75
F-Pb
1.0〜3.0
1.74
F-U
1.0〜3.0
1.65
注a) これらの線質に対しては，混在する散乱線等のエネルギーが
大きく影響することに注意する（9.2.1参照）。
表B.4−Lシリーズに対する周辺線量当量換算係数h*K(10:L)
線質
照射距離
m
h*K(10:L)
Sv/Gy
L-20 a)
1.0〜2.0
0.37
L-30 a)
1.0〜2.0
0.90
L-35
1.0〜2.0
1.08
L-55
1.0〜3.0
1.61
L-70
1.0〜3.0
1.73
L-100
1.0〜3.0
1.69
L-125
1.0〜3.0
1.61
L-170
1.0〜3.0
1.50
L-210
1.0〜3.0
1.42
L-240
1.0〜3.0
1.38
注a) これらの線質に対しては，混在する散乱線などのエネルギー
が大きく影響することに注意する（9.2.1参照）。
46
Z 4511：2018
表B.5−Nシリーズに対する周辺線量当量換算係数h*K(10:N)
線質
照射距離
m
h*K(10:N)
Sv/Gy
N-25 a)
1.0〜2.0
0.52
N-30 a)
1.0〜2.0
0.80
N-40
1.0〜3.0
1.18
N-60
1.0〜3.0
1.59
N-80
1.0〜3.0
1.73
N-100
1.0〜3.0
1.71
N-120
1.0〜3.0
1.64
N-150
1.0〜3.0
1.58
N-200
1.0〜3.0
1.46
N-250
1.0〜3.0
1.39
N-300
1.0〜3.0
1.35
注a) これらの線質に対しては，混在する散乱線等のエネルギーが
大きく影響することに注意する（9.2.1参照）。
表B.6−Wシリーズに対する周辺線量当量換算係数h*K(10:W)
線質
照射距離
m
h*K(10:W)
Sv/Gy
W-60
1.0〜3.0
1.49
W-80
1.0〜3.0
1.66
W-110
1.0〜3.0
1.71
W-150
1.0〜3.0
1.62
W-200
1.0〜3.0
1.52
W-250
1.0〜3.0
1.44
W-300
1.0〜3.0
1.39
表B.7−Hシリーズに対する周辺線量当量換算係数h*K(10:H)
線質
照射距離
m
h*K(10:H)
Sv/Gy
H-60
1.0〜3.0
1.15
H-100
1.0〜3.0
1.57
H-200
1.0〜3.0
1.61
H-250
1.0〜3.0
1.54
H-280
1.0〜3.0
1.49
H-300
1.0〜3.0
1.48
47
Z 4511：2018
表B.8−放射性核種線源及び高エネルギー光子に対する周辺線量当量換算係数h*K(10:S) 及びh*K(10:R)
線質
照射距離
m
ビルドアップ板厚
mm
補正係数
kPMMA
h*K(10:S) 及び
h*K(10:R)
Sv/Gy
S-Am
1.0〜2.0
−
−
1.74
S-Cs
1.0〜3.0
2
1
1.2
S-Co
1.0〜3.0
4
1
1.16
R-C
1.0〜3.0
25
0.94
1.12
R-F
1.0〜3.0
25
0.94
1.11
R-Ti
1.0〜3.0
25
0.94
1.11
R-Ni
1.0〜3.0
25
0.94
1.11
R-O
1.0〜3.0
25
0.94
1.11
B.3
方向性線量当量への換算係数
表B.9−平行入射の単色光子線場でのICRU球に対する方向性線量当量換算係数h'K(0.07:E,α)
光子エネ
ルギー
入射角度に対するh'K(0.07:E,α)
Sv/Gy
keV
0° 10° 20° 30° 40° 45° 50° 60° 70° 80° 90° 100°120°135°150°180°rot.
5
0.76 0.74 0.71 0.66 0.64 0.61 0.63 0.31 0.01 0.00 0.00 0.00 0.00 0.00 0.00 0.00 0.26
6
0.84 0.83 1.81 0.77 0.76 0.74 0.73 0.55 0.35 0.16 0.00 0.00 0.00 0.00 0.00 0.00 0.33
8
0.92 0.92 0.91 0.89 0.89 0.87 0.87 0.81 0.72 1.57 0.00 0.00 0.00 0.00 0.00 0.00 0.41
10
0.95 0.95 0.94 0.93 0.94 0.93 0.93 0.91 0.87 1.75 0.18 0.00 0.00 0.00 0.00 0.00 0.44
12.5
0.97 0.97 0.97 0.96 0.97 0.97 0.97 0.97 0.95 1.86 0.35 0.00 0.00 0.00 0.00 0.00 0.46
15
0.99 0.99 0.99 0.99 0.99 0.99 0.99 0.99 0.98 1.91 0.44 0.05 0.00 0.00 0.00 0.00 0.48
20
1.05 1.04 1.04 1.04 1.04 1.04 1.04 1.04 1.03 0.97 0.57 0.13 0.00 0.00 0.00 0.00 0.52
25
1.13 1.12 1.12 1.12 1.12 1.12 1.12 1.11 1.10 1.03 0.67 0.21 0.00 0.00 0.00 0.00 0.57
30
1.22 1.21 1.21 1.21 1.21 1.21 1.21 1.20 1.18 1.10 0.63 0.29 0.01 0.00 0.00 0.00 0.63
40
1.41 1.39 1.39 1.39 1.39 1.39 1.38 1.37 1.33 1.24 0.76 0.44 0.06 0.02 0.02 0.00 0.74
50
1.53 1.52 1.51 1.51 1.51 1.51 1.50 1.48 1.45 1.34 0.93 0.56 0.10 0.05 0.04 0.01 0.82
60
1.60 1.58 1.58 1.57 1.57 1.57 1.56 1.54 1.51 1.40 1.06 0.65 0.14 0.07 0.06 0.03 0.87
80
1.61 1.59 1.59 1.58 1.58 1.58 1.58 1.56 1.53 1.43 1.13 0.74 0.19 0.10 0.08 0.05 0.90
100
1.55 1.54 1.54 1.54 1.53 1.53 1.53 1.52 1.50 1.42 1.19 0.78 0.22 0.12 0.09 0.07 0.89
125
1.48 1.47 1.46 1.46 1.46 1.46 1.46 1.46 1.44 1.38 1.19 0.79 0.24 0.13 0.10 0.09 0.87
150
1.42 1.41 1.41 1.41 1.41 1.41 1.41 1.41 1.39 1.34 1.17 0.79 0.26 0.14 0.11 0.10 0.84
200
1.34 1.34 1.34 1.34 1.34 1.34 1.35 1.35 1.34 1.30 1.15 0.79 0.30 0.16 0.13 0.10 0.83
300
1.28 1.28 1.28 1.28 1.28 1.28 1.29 1.30 1.30 1.24 1.16 0.83 0.37 0.21 0.16 0.13 0.82
48
Z 4511：2018
表B.10−蛍光X線及び241Am線源に対する方向性線量当量換算係数h'K(0.07:F,α) 及びh'K(0.07:S,α)
線質 照射距離
入射角度に対するh'K(0.07:F,α) 及びh'K(0.07:S,α)
Sv/Gy
M
0° 10° 20°30° 40°45°50°60°70°80°90°100°120°135°150°180°rot.
F-Zn 1.0〜2.0 0.94 0.93 0.92 0.91 0.91 0.90 0.89 0.85 0.78 0.64 0.04 0.00 0.00 0.00 0.00 0.00 0.42
F-Ge 1.0〜2.0 0.95 0.95 0.94 0.93 0.93 0.93 0.93 0.91 0.87 0.75 0.17 0.00 0.00 0.00 0.00 0.00 0.44
F-Zr 1.0〜2.0 1.00 1.00 1.00 1.00 1.00 1.00 1.00 1.00 0.99 0.92 0.47 0.06 0.00 0.00 0.00 0.00 0.49
F-Mo 1.0〜2.0 1.02 1.01 1.01 1.01 1.01 1.01 1.02 1.02 1.01 0.94 0.51 0.09 0.00 0.00 0.00 0.00 0.50
F-Cd 1.0〜3.0 1.09 1.09 1.09 1.08 1.09 1.09 1.09 1.08 1.07 1.00 0.63 0.18 0.00 0.00 0.00 0.00 0.55
F-Sn 1.0〜3.0 1.13 1.13 1.12 1.12 1.12 1.12 1.12 1.12 1.10 1.03 0.67 0.22 0.00 0.00 0.00 0.00 0.57
F-Cs 1.0〜3.0 1.24 1.23 1.23 1.23 1.23 1.23 1.22 1.22 1.22 1.11 0.78 0.31 0.01 0.00 0.00 0.00 0.64
F-Nd 1.0〜3.0 1.36 1.35 1.35 1.34 1.35 1.34 1.34 1.33 1.30 1.20 0.89 0.41 0.05 0.02 0.01 0.01 0.71
F-Sm 1.0〜3.0 1.41 1.40 1.39 1.39 1.39 1.39 1.38 1.37 1.34 1.24 0.94 0.44 0.06 0.02 0.02 0.01 0.74
F-Er 1.0〜3.0 1.52 1.51 1.51 1.50 1.50 1.50 1.49 1.47 1.44 1.33 1.05 0.55 0.10 0.05 0.04 0.03 0.82
F-W 1.0〜3.0 1.59 1.58 1.57 1.57 1.57 1.56 1.56 1.54 1.50 1.40 1.13 0.64 0.14 0.07 0.06 0.05 0.86
F-Au 1.0〜3.0 1.61 1.60 1.59 1.59 1.59 1.59 1.58 1.57 1.53 1.42 1.17 0.70 0.16 0.09 0.07 0.06 0.89
F-Pb 1.0〜3.0 1.61 1.60 1.59 1.59 1.59 1.59 1.58 1.57 1.53 1.43 1.19 0.73 0.18 0.10 0.08 0.07 0.90
F-U
1.0〜3.0 1.56 1.54 1.54 1.54 1.54 1.54 1.54 1.53 1.50 1.42 1.19 0.77 0.21 0.12 0.09 0.08 0.89
S-Am 1.0〜3.0 1.59 1.58 1.57 1.57 1.57 1.57 1.56 1.54 1.51 1.40 1.13 0.65 0.14 0.07 0.06 0.05 0.87
表B.11−Lシリーズに対する方向性線量当量換算係数h'K(0.07:L,α)
線質 照射距離
入射角度に対するh'K(0.07:L,α)
Sv/Gy
m
0° 10°20°30° 40°45°50° 60°70°80°90°100°120°135°150°180°rot.
L-10 1.0〜2.0 0.93 0.92 0.91 0.89 0.89 0.88 0.87 0.82 0.74 0.59 0.04 0.00 0.00 0.00 0.00 0.00 0.41
L-20 1.0〜2.0 1.01 1.01 1.00 1.00 1.00 1.00 1.00 1.00 1.00 0.93 0.48 0.07 0.00 0.00 0.00 0.00 0.49
L-30 1.0〜2.0 1.13 1.13 1.13 1.12 1.13 1.13 1.12 1.12 1.10 1.03 0.67 0.22 0.00 0.00 0.00 0.00 0.58
L-35 1.0〜2.0 1.22 1.21 1.21 1.20 1.20 1.20 1.20 1.19 1.17 1.09 0.75 0.28 0.01 0.00 0.00 0.00 0.62
L-55 1.0〜3.0 1.50 1.48 1.48 1.47 1.47 1.47 1.46 1.45 1.41 1.31 1.02 0.53 0.09 0.04 0.03 0.02 0.80
L-70 1.0〜3.0 1.59 1.57 1.57 1.57 1.57 1.56 1.56 1.54 1.50 1.40 1.13 0.65 0.14 0.07 0.06 0.05 0.87
L-100 1.0〜3.0 1.59 1.57 1.57 1.57 1.57 1.56 1.56 1.55 1.52 1.43 1.19 0.75 0.20 0.11 0.09 0.08 0.90
L-125 1.0〜3.0 1.52 1.51 1.51 1.51 1.51 1.51 1.50 1.50 1.47 1.40 1.19 0.78 0.23 0.12 0.10 0.09 0.88
L-170 1.0〜3.0 1.42 1.41 1.41 1.41 1.41 1.41 1.41 1.41 1.40 1.35 1.15 0.78 0.26 0.14 0.11 0.10 0.86
L-210 1.0〜3.0 1.36 1.36 1.36 1.36 1.36 1.36 1.36 1.37 1.36 1.31 1.14 0.79 0.29 0.16 0.12 0.11 0.83
L-240 1.0〜3.0 1.33 1.33 1.33 1.33 1.33 1.34 1.34 1.34 1.35 1.30 1.14 0.80 0.30 0.17 0.13 0.11 0.83
49
Z 4511：2018
表B.12−Nシリーズに対する方向性線量当量換算係数h'K(0.07:N,α)
線質 照射距離
入射角度に対するh'K(0.07:N,α)
Sv/Gy
m
0° 10°20°30°40°45°50°60°70°80°90°100°120°135°150°180°rot.
N-10 1.0〜2.0 0.91 0.91 0.89 0.87 0.87 0.86 0.85 0.77 0.67 0.51 0.02 0.00 0.00 0.00 0.00 0.00 0.40
N-15 1.0〜2.0 0.96 0.96 0.96 0.95 0.95 0.95 0.95 0.94 0.91 0.81 0.27 0.01 0.00 0.00 0.00 0.00 0.45
N-20 1.0〜2.0 1.00 0.99 0.99 0.99 0.99 0.99 0.99 0.99 0.98 0.90 0.44 0.06 0.00 0.00 0.00 0.00 0.48
N-25 1.0〜2.0 1.03 1.03 1.03 1.03 1.03 1.03 1.03 1.03 1.02 0.95 0.53 0.11 0.00 0.00 0.00 0.00 0.51
N-30 1.0〜2.0 1.10 1.10 1.09 1.09 1.09 1.09 1.09 1.09 1.08 1.01 0.64 0.18 0.00 0.00 0.00 0.00 0.56
N-40 1.0〜2.0 1.25 1.25 1.25 1.24 1.24 1.24 1.24 1.23 1.21 1.13 0.80 0.32 0.02 0.01 0.01 0.00 0.65
N-60 1.0〜3.0 1.48 1.47 1.47 1.46 1.46 1.46 1.45 1.44 1.40 1.30 1.01 0.52 0.09 0.04 0.03 0.02 0.79
N-80 1.0〜3.0 1.60 1.58 1.58 1.57 1.57 1.57 1.56 1.55 1.51 1.41 1.15 0.67 0.15 0.08 0.06 0.05 0.88
N-100 1.0〜3.0 1.60 1.58 1.58 1.57 1.57 1.57 1.56 1.55 1.52 1.43 1.19 0.75 0.19 0.10 0.08 0.07 0.90
N-120 1.0〜3.0 1.55 1.54 1.53 1.53 1.53 1.53 1.53 1.52 1.49 1.41 1.19 0.77 0.22 0.12 0.09 0.09 0.89
N-150 1.0〜3.0 1.50 1.48 1.48 1.48 1.48 1.48 1.48 1.47 1.45 1.39 1.18 0.78 0.23 0.13 0.10 0.09 0.87
N-200 1.0〜3.0 1.39 1.38 1.38 1.38 1.38 1.38 1.39 1.39 1.37 1.33 1.15 0.79 0.27 0.15 0.12 0.10 0.84
N-250 1.0〜3.0 1.34 1.34 1.34 1.34 1.34 1.34 1.34 1.35 1.34 1.30 1.14 0.80 0.30 0.17 0.13 0.11 0.83
N-300 1.0〜3.0 1.31 1.31 1.31 1.31 1.31 1.31 1.32 1.33 1.32 1.27 1.14 0.81 0.33 0.19 0.14 0.12 0.83
表B.13−Wシリーズに対する方向性線量当量換算係数h'K(0.07:W,α)
線質 照射距離
入射角度に対するh'K(0.07:W,α)
Sv/Gy
m
0° 10°20°30°40°45°50°60°70°80°90°100°120°135°150°180°rot.
W-60 1.0〜3.0 1.43 1.42 1.42 1.41 1.41 1.41 1.40 1.39 1.36 1.26 0.96 0.47 0.07 0.03 0.03 0.02 0.76
W-80 1.0〜3.0 1.54 1.52 1.52 1.52 1.52 1.51 1.51 1.49 1.46 1.35 1.08 0.59 0.12 0.06 0.05 0.04 0.83
W-110 1.0〜3.0 1.59 1.57 1.57 1.57 1.57 1.56 1.56 1.55 1.51 1.42 1.18 0.73 0.18 0.09 0.08 0.07 0.89
W-150 1.0〜3.0 1.53 1.51 1.51 1.51 1.51 1.51 1.50 1.50 1.47 1.40 1.18 0.77 0.22 0.12 0.10 0.09 0.88
W-200 1.0〜3.0 1.44 1.43 1.43 1.43 1.43 1.43 1.43 1.43 1.41 1.36 1.16 0.79 0.25 0.14 0.11 0.10 0.85
W-250 1.0〜3.0 1.37 1.37 1.37 1.37 1.37 1.37 1.37 1.38 1.37 1.32 1.14 0.79 0.28 0.16 0.12 0.11 0.84
W-300 1.0〜3.0 1.34 1.34 1.34 1.34 1.34 1.34 1.34 1.35 1.34 1.30 1.14 0.80 0.31 0.17 0.13 0.11 0.83
表B.14−Hシリーズに対する方向性線量当量換算係数h'K(0.07:H,α)
線質 照射距離
入射角度に対するh'K(0.07:H,α)
Sv/Gy
m
0° 10°20°30°40°45°50°60°70°80°90°100°120°135°150°180°rot.
H-10
1.0〜2.0 0.89 0.88 0.86 0.84 0.83 0.81 0.81 0.70 0.57 0.41 0.01 0.00 0.00 0.00 0.00 0.00 0.37
H-20
1.0〜2.0 0.96 0.96 0.95 0.94 0.95 0.94 0.94 0.92 0.88 0.78 0.24 0.02 0.00 0.00 0.00 0.00 0.45
H 30
1.0〜2.0 1.02 1.01 1.01 1.00 1.01 1.00 1.01 1.00 0.99 0.91 0.46 0.08 0.00 0.00 0.00 0.00 0.50
H-60
1.0〜2.0 1.26 1.25 1.25 1.25 1.25 1.25 1.24 1.23 1.21 1.13 0.80 0.32 0.03 0.01 0.01 0.01 0.65
H-100 1.0〜3.0 1.49 1.48 1.48 1.47 1.47 1.47 1.46 1.45 1.42 1.32 1.04 0.56 0.11 0.05 0.04 0.03 0.81
H-200 1.0〜3.0 1.51 1.50 1.49 1.50 1.49 1.49 1.49 1.48 1.46 1.38 1.16 0.75 0.22 0.12 0.09 0.08 0.87
H-250 1.0〜3.0 1.45 1.45 0.01 1.45 1.45 1.45 1.45 1.44 1.42 1.36 1.16 0.77 0.24 0.13 0.10 0.09 0.86
H-280 1.0〜3.0 1.41 1.41 1.41 1.41 1.41 1.41 1.41 1.41 1.40 1.34 1.16 0.79 0.27 0.15 0.11 0.10 0.85
H-300 1.0〜3.0 1.40 1.40 1.40 1.40 1.40 1.40 1.41 1.41 1.39 1.33 1.15 0.79 0.27 0.15 0.12 0.10 0.85
50
Z 4511：2018
B.4
個人線量当量［Hp(10)］への換算係数
表B.15−単色光子エネルギーに対するスラブファントム形状での個人線量当量換算係数hpK(10:E,α)
光子エネルギー
入射角度に対するhpK(10:E,α)
Sv/Gy
keV
0°
10°
20°
30°
40°
45°
50°
60°
70°
80°
10
0.01
0.01
0.01
0.00
0.00
0.00
0.00
0.00
0.00
0.00
12.5
0.10
0.09
0.09
0.07
0.05
0.04
0.03
0.01
0.00
0.00
15
0.26
0.26
0.25
0.22
0.18
0.15
0.12
0.07
0.02
0.00
20
0.61
0.61
0.59
0.56
0.50
0.47
0.42
0.32
0.17
0.04
30
1.11
1.10
1.09
1.06
1.00
0.96
0.92
0.80
0.60
0.28
40
1.49
1.48
1.46
1.43
1.37
1.33
1.28
1.13
0.91
0.50
50
1.77
1.75
1.74
1.70
1.63
1.57
1.52
1.38
1.13
0.67
60
1.89
1.88
1.86
1.83
1.77
1.72
1.66
1.50
1.25
0.79
80
1.90
1.90
1.88
1.85
1.78
1.75
1.69
1.54
1.32
0.86
100
1.81
1.80
1.79
1.76
1.72
1.68
1.64
1.51
1.28
0.87
125
1.70
1.69
1.69
1.66
1.62
1.59
1.56
1.45
1.26
0.86
150
1.61
1.60
1.60
1.58
1.54
1.52
1.49
1.40
1.24
0.86
200
1.49
1.49
1.49
1.48
1.45
1.43
1.41
1.34
1.21
0.87
300
1.37
1.37
1.37
1.36
1.36
1.35
1.33
1.27
1.17
0.87
400
1.30
1.30
1.30
1.30
1.29
1.29
1.28
1.24
1.16
0.89
500
1.26
1.26
1.26
1.26
1.26
1.26
1.25
1.22
1.15
0.90
600
1.23
1.23
1.23
1.23
1.23
1.23
1.23
1.20
1.14
0.92
800
1.19
1.19
1.19
1.19
1.20
1.20
1.20
1.17
1.13
0.93
1 000
1.17
1.17
1.17
1.16
1.17
1.18
1.17
1.15
1.12
0.95
1 250
1.15
1.15
1.15
1.15
1.16
1.16
1.16
1.14
1.12
0.96
1 500
1.14
1.14
1.14
1.14
1.14
1.15
1.15
1.14
1.12
0.97
3 000
1.12
1.12
1.13
1.13
1.12
1.12
1.12
1.12
1.10
1.00
6 000
1.11
1.11
1.11
1.11
1.10
1.10
1.10
1.11
1.12
1.06
10 000
1.11
1.11
1.11
1.11
1.10
1.10
1.10
1.10
1.09
1.05
表B.16−蛍光X線に対する個人線量当量換算係数hpK(10:F,α)
線質
照射距離
m
dF
cm
入射角度に対するhpK(10:F,α)
Sv/Gy
（9.2.3参照）
0°
10°
20°
30°
40°
45°
50°
60°
70°
80°
F-Zr a) 1.0〜2.0
25
0.32
0.32
0.30
0.27
0.23
0.20
0.16
0.10
0.04
0.00
F-Mo a) 1.0〜2.0
25
0.44
0.44
0.42
0.39
0.34
0.31
0.27
0.19
0.08
0.01
F-Cd
1.0〜2.0
20
0.79
0.78
0.77
0.74
0.68
0.65
0.60
0.48
0.31
0.11
F-Sn
1.0〜2.0
20
0.89
0.88
0.87
0.84
0.78
0.75
0.70
0.58
0.40
0.16
F-Cs
1.0〜3.0
16
1.15
1.14
1.13
1.10
1.04
1.00
0.96
0.84
0.64
0.30
F-Nd
1.0〜3.0
13
1.40
1.39
1.37
1.34
1.29
1.25
1.20
1.06
0.84
0.45
F-Sm
1.0〜3.0
12
1.49
1.48
1.46
1.43
1.37
1.33
1.28
1.13
0.91
0.50
F-Er
1.0〜3.0
11
1.75
1.73
1.72
1.68
1.61
1.55
1.50
1.36
1.11
0.66
F-W 1 1.0〜3.0
11
1.89
1.88
1.86
1.82
1.76
1.71
1.65
1.50
1.24
0.78
F-Au
1.0〜3.0
11
1.90
1.89
1.88
1.86
1.78
1.74
1.68
1.53
1.29
0.83
F-Pb
1.0〜3.0
11
1.90
1.90
1.88
1.86
1.78
1.75
1.69
1.54
1.31
0.85
F-U 1
1.0〜3.0
11
1.82
1.81
1.80
1.77
1.72
1.69
1.65
1.51
1.29
0.87
注a) これらの線質に対しては混在する散乱線等のエネルギーが大きく影響することに注意する（9.2.1参照）。
51
Z 4511：2018
表B.17−Lシリーズに対する個人線量当量換算係数hpK(10:L,α)
線質 照射距離
m
dF
cm
入射角度に対するhpK(10:L,α)
Sv/Gy
（9.2.3参照）
0°
10°
20°
30°
40°
45°
50°
60°
70°
80°
L-20 a) 1.0〜2.0
25
0.37
0.37
0.36
0.33
0.28
0.25
0.22
0.15
0.06
0.01
L-30 a) 1.0〜3.0
18
0.91
0.90
0.89
0.86
0.79
0.76
0.71
0.60
0.41
0.17
L-35
1.0〜3.0
16
1.09
1.08
1.07
1.04
0.98
0.94
0.90
0.77
0.58
0.27
L-55
1.0〜3.0
11
1.67
1.66
1.65
1.61
1.54
1.49
1.44
1.29
1.06
0.61
L-70
1.0〜3.0
11
1.87
1.86
1.84
1.81
1.75
1.70
1.64
1.49
1.24
0.78
L-100 1.0〜3.0
11
1.87
1.87
1.85
1.81
1.76
1.73
1.67
1.53
1.31
0.86
L-125 1.0〜3.0
11
1.77
1.76
1.75
1.72
1.68
1.65
1.61
1.49
1.27
0.87
L-170 1.0〜3.0
12
1.62
1.61
1.61
1.59
1.55
1.53
1.50
1.41
1.24
0.86
L-210 1.0〜3.0
12
1.52
1.52
1.52
1.51
1.47
1.45
1.43
1.36
1.22
0.87
L-240 1.0〜3.0
13
1.47
1.47
1.47
1.46
1.44
1.42
1.40
1.33
1.20
0.87
注a) これらの線質に対しては混在する散乱線等のエネルギーが大きく影響することに注意する（9.2.1参照）。
表B.18−Nシリーズに対する個人線量当量換算係数hpK(10:N,α)
線質 照射距離
m
dF
cm
入射角度に対するhpK(10:N,α)
Sv/Gy
（9.2.3参照）
0°
10°
20°
30°
40°
45°
50°
60°
70°
80°
N-15 a) 1.0〜2.0
25
0.06
0.06
0.06
0.04
0.03
0.03
0.02
0.01
0.00
0.00
N-20 a) 1.0〜2.0
25
0.27
0.27
0.26
0.23
0.20
0.17
0.15
0.09
0.04
0.00
N-25 a) 1.0〜3.0
23
0.55
0.55
0.53
0.50
0.44
0.41
0.37
0.28
0.15
0.04
N-30
1.0〜3.0
20
0.79
0.78
0.77
0.74
0.68
0.65
0.60
0.49
0.32
0.12
N-40
1.0〜3.0
16
1.17
1.16
1.15
1.12
1.06
1.02
0.98
0.85
0.65
0.32
N-60
1.0〜3.0
11
1.65
1.64
1.62
1.59
1.52
1.47
1.42
1.27
1.04
0.60
N-80
1.0〜3.0
11
1.88
1.87
1.86
1.83
1.76
1.71
1.66
1.50
1.26
0.80
N-100 1.0〜3.0
11
1.88
1.88
1.86
1.82
1.76
1.73
1.68
1.53
1.31
0.86
N-120 1.0〜3.0
11
1.81
1.80
1.79
1.76
1.71
1.68
1.64
1.51
1.28
0.87
N-150 1.0〜3.0
11
1.73
1.72
1.71
1.68
1.64
1.61
1.58
1.46
1.26
0.86
N-200 1.0〜3.0
12
1.57
1.56
1.56
1.55
1.51
1.49
1.46
1.38
1.23
0.86
N-250 1.0〜3.0
13
1.48
1.48
1.48
1.47
1.44
1.42
1.40
1.33
1.21
0.87
N-300 1.0〜3.0
15
1.42
1.42
1.42
1.41
1.40
1.38
1.36
1.30
1.19
0.87
注a) これらの線質に対しては混在する散乱線等のエネルギーが大きく影響することに注意する（9.2.1参照）。
表B.19−Wシリーズに対する個人線量当量換算係数hpK(10:W,α)
線質 照射距離
m
dF
cm
入射角度に対するhpK(10:W,α)
Sv/Gy
（9.2.3参照）
0°
10°
20°
30°
40°
45°
50°
60°
70°
80°
W-60
1.0〜3.0
11
1.55
1.53
1.52
1.49
1.42
1.37
1.33
1.18
0.95
0.54
W-80
1.0〜3.0
11
1.77
1.76
1.74
1.71
1.65
1.60
1.54
1.39
1.15
0.70
W-110 1.0〜3.0
11
1.87
1.86
1.85
1.82
1.76
1.72
1.67
1.52
1.29
0.84
W-150 1.0〜3.0
11
1.77
1.77
1.76
1.73
1.68
1.65
1.61
1.49
1.28
0.86
W-200 1.0〜3.0
12
1.65
1.64
1.64
1.61
1.57
1.55
1.52
1.42
1.25
0.86
W-250 1.0〜3.0
13
1.54
1.54
1.54
1.52
1.49
1.47
1.44
1.36
1.22
0.87
W-300 1.0〜3.0
14
1.47
1.47
1.47
1.46
1.44
1.42
1.40
1.33
1.20
0.87
52
Z 4511：2018
表B.20−Hシリーズに対する個人線量当量換算係数hpK(10:H,α)
線質 照射距離
m
dF
cm
入射角度に対するhpK(10:H,α)
Sv/Gy
（9.2.3参照）
0°
10°
20°
30°
40°
45°
50°
60°
70°
80°
H-30 a) 1.0〜3.0
20
0.39
0.39
0.38
0.36
0.32
0.29
0.26
0.20
0.11
0.03
H-60
1.0〜3.0
12
1.19
1.18
1.17
1.13
1.07
1.03
0.99
0.86
0.66
0.33
H-100 1.0〜3.0
12
1.68
1.67
1.65
1.62
1.56
1.51
1.46
1.31
1.08
0.65
H-200 1.0〜3.0
12
1.75
1.74
1.73
1.71
1.66
1.62
1.58
1.46
1.26
0.85
H-250 1.0〜3.0
14
1.67
1.66
1.66
1.64
1.59
1.57
1.53
1.43
1.25
0.86
H-280 1.0〜3.0
14
1.60
1.59
1.59
1.57
1.54
1.51
1.48
1.39
1.23
0.86
H-300 1.0〜3.0
15
1.59
1.59
1.58
1.57
1.53
1.51
1.48
1.39
1.23
0.86
注a) これらの線質に対しては混在する散乱線等のエネルギーが大きく影響することに注意する（9.2.1参照）。
表B.21−放射性核種線源及び高エネルギー光子に対する個人線量当量換算係数hpK(10:S,α) 及び
hpK(10:R,α)
線質 照射距離
m
dF
cm
ビルドアップ
板厚
kPMMA
入射角度に対するhpK(10:S,α) 及びhpK(10:R,α)
Sv/Gy
（9.2.3参照）
0° 10° 20° 30° 40° 45° 50° 60° 70° 80°
S-Am 2.0〜3.0
11
−
−
1.89 1.88 1.86 1.83 1.77 1.72 1.66 1.50 1.25 0.79
S-Cs 1.5〜4.0
15
2
1.00
1.21 1.22 1.22 1.22 1.22 1.22 1.22 1.19 1.14 0.92
S-Co 1.5〜4.0
15
4
1.00
1.15 1.15 1.15 1.15 1.16 1.16 1.16 1.14 1.12 0.96
R-C
1.0〜5.0
15
25
0.94
1.11 1.11 1.12 1.12 1.11 1.11 1.11 1.11 1.10 1.03
R-F
1.0〜5.0
15
25
0.94
1.12 1.12 1.12 1.11 1.11 1.11 1.11 1.12 1.13 1.07
R-Ti 1.0〜5.0
15
25
0.94
1.11 1.11 1.11 1.11 1.10 1.11 1.11 1.11 1.12 1.05
R-Ni 1.0〜5.0
15
25
0.94
1.11 1.11 1.11 1.11 1.10 1.10 1.10 1.11 1.12 1.06
R-O 1.0〜5.0
15
25
0.94
1.12 1.12 1.12 1.11 1.11 1.11 1.11 1.12 1.13 1.07
53
Z 4511：2018
B.5
個人線量当量［Hp(0.07)］への換算係数
表B.22−単色光子エネルギーに対するロッドファントム形状での個人線量当量換算係数hpK(0.07:E)
エネルギー
hpK(0.07:E)
keV
Sv/Gy
5
0.76
6
0.84
8
0.92
10
0.95
12.5
0.96
15
0.98
20
1.01
25
1.04
30
1.06
40
1.09
50
1.12
60
1.14
80
1.16
10
1.17
125
1.16
150
1.16
200
1.15
300
1.14
表B.23−蛍光X線及び241Am線源に対するロッドファントムでの個人線量当量換算係数hpK(0.07:F) 及び
hpK(0.07:S)
線質
照射距離
m
hpK(0.07:F) 及びhpK(0.07:S)
Sv/Gy
F-Zn
1.0〜2.0
0.93
F-Ge
1.0〜2.0
0.95
F-Zr
1.0〜2.0
0.98
F-Mo
1.0〜2.0
0.99
F-Cd
1.0〜2.0
1.03
F-Sn
1.0〜2.0
1.04
F-Cs
1.0〜2.0
1.06
F-Nd
1.0〜2.0
1.08
F-Sm
1.0〜2.0
1.09
F-Er
1.0〜2.0
1.13
F-W
1.0〜2.0
1.14
F-Au
1.0〜2.0
1.15
F-Pb
1.0〜2.0
1.16
F-U
1.0〜2.0
1.17
S-Am
1.0〜2.0
1.14
54
Z 4511：2018
表B.24−Lシリーズに対するロッドファントムでの個人線量当量換算係数hpK(0.07:L)
線質
照射距離
m
hpK(0.07:L)
Sv/Gy
L-10
1.0〜2.0
0.91
L-20
1.0〜2.0
0.99
L-30
1.0〜2.0
1.03
L-35
1.0〜2.0
1.06
L-55
1.0〜2.0
1.11
L-70
1.0〜2.0
1.14
L-100
1.0〜2.0
1.17
L-125
1.0〜2.0
1.17
L-170
1.0〜2.0
1.16
L-210
1.0〜2.0
1.15
L-240
1.0〜2.0
1.15
表B.25−Nシリーズに対するロッドファントムでの個人線量当量換算係数hpK(0.07:N)
線質
照射距離
m
hpK(0.07:N)
Sv/Gy
N-10
1.0〜2.0
0.91
N-15
1.0〜2.0
0.95
N-20
1.0〜2.0
0.98
N-25
1.0〜2.0
1.00
N-30
1.0〜2.0
1.03
N-40
1.0〜2.0
1.07
N-60
1.0〜2.0
1.11
N-80
1.0〜2.0
1.15
N-100
1.0〜2.0
1.17
N-120
1.0〜2.0
1.17
N-150
1.0〜2.0
1.17
N-200
1.0〜3.0
1.16
N-250
1.0〜3.0
1.15
N-300
1.0〜3.0
1.14
表B.26−Wシリーズに対するロッドファントムでの個人線量当量換算係数hpK(0.07:W)
線質
照射距離
m
hpK(0.07:W)
Sv/Gy
W-60
1.0〜2.0
1.1
W-80
1.0〜2.0
1.13
W-110
1.0〜2.0
1.16
W-150
1.0〜2.0
1.17
W-200
1.0〜3.0
1.16
W-250
1.0〜3.0
1.15
W-300
1.0〜3.0
1.15
55
Z 4511：2018
表B.27−Hシリーズに対するロッドファントムでの個人線量当量換算係数hpK(0.07:H)
線質
照射距離
m
hpK(0.07:H)
Sv/Gy
H-10
1.0〜2.0
0.89
H-20
1.0〜2.0
0.95
H-30
1.0〜2.0
0.99
H-60
1.0〜2.0
1.07
H-100
1.0〜2.0
1.12
H-200
1.0〜2.0
1.16
H-250
1.0〜3.0
1.16
H-280
1.0〜3.0
1.16
H-300
1.0〜3.0
1.16
表B.28−単色光子エネルギーに対するピラーファントム形状での個人線量当量換算係数hpK(0.07:E)
エネルギー
hpK(0.07:E)
keV
Sv/Gy
5
0.76
6
0.84
8
0.92
10
0.95
12.5
0.96
15
0.98
20
1.04
25
1.10
30
1.18
40
1.29
50
1.37
60
1.39
80
1.38
100
1.35
125
1.32
150
1.28
200
1.25
300
1.21
56
Z 4511：2018
表B.29−蛍光X線及び線源に対するピラーファントムでの個人線量当量換算係数hpK(0.07:F) 及び
hpK(0.07:S)
線質
照射距離
m
hpK(0.07:F) 及びhpK(0.07:S)
Sv/Gy
F-Zn
1.0〜2.0
0.93
F-Ge
1.0〜2.0
0.95
F-Zr
1.0〜2.0
0.99
F-Mo
1.0〜2.0
1.01
F-Cd
1.0〜2.0
1.08
F-Sn
1.0〜2.0
1.10
F-Cs
1.0〜2.0
1.19
F-Nd
1.0〜2.0
1.27
F-Sm
1.0〜2.0
1.29
F-Er
1.0〜2.0
1.36
F-W
1.0〜2.0
1.39
F-Au
1.0〜2.0
1.39
F-Pb
1.0〜2.0
1.39
F-U
1.0〜2.0
1.35
S-Am
1.0〜2.0
1.39
表B.30−Lシリーズに対するピラーファントムでの個人線量当量換算係数hpK(0.07:L)
線質
照射距離
m
hpK(0.07:L)
Sv/Gy
L-10
1.0〜2.0
0.91
L-20
1.0〜2.0
1.00
L-30
1.0〜2.0
1.08
L-35
1.0〜2.0
1.17
L-55
1.0〜2.0
1.34
L-70
1.0〜2.0
1.39
L-100
1.0〜2.0
1.37
L-125
1.0〜2.0
1.34
L-170
1.0〜2.0
1.29
L-210
1.0〜2.0
1.26
L-240
1.0〜2.0
1.24
57
Z 4511：2018
表B.31−Nシリーズに対するピラーファントムでの個人線量当量換算係数hpK(0.07:N)
線質
照射距離
m
hpK(0.07:N)
Sv/Gy
N-10
1.0〜2.0
0.91
N-15
1.0〜2.0
0.96
N-20
1.0〜2.0
0.99
N-25
1.0〜2.0
1.02
N-30
1.0〜2.0
1.08
N-40
1.0〜2.0
1.20
N-60
1.0〜2.0
1.33
N-80
1.0〜2.0
1.39
N-100
1.0〜2.0
1.38
N-120
1.0〜2.0
1.35
N-150
1.0〜2.0
1.32
N-200
1.0〜2.0
1.27
N-250
1.0〜2.0
1.24
N-300
1.0〜2.0
1.22
表B.32−Wシリーズに対するピラーファントムでの個人線量当量換算係数hpK(0.07:W)
線質
照射距離
m
hpK(0.07:W)
Sv/Gy
W-60
1.0〜2.0
1.30
W-80
1.0〜2.0
1.36
W-110
1.0〜2.0
1.38
W-150
1.0〜2.0
1.34
W-200
1.0〜2.0
1.30
W-250
1.0〜2.0
1.26
W-300
1.0〜2.0
1.24
表B.33−Hシリーズに対するピラーファントムでの個人線量当量換算係数hpK(0.07:H)
線質
照射距離
m
hpK(0.07:H)
Sv/Gy
H-10
1.0〜2.0
0.89
H-20
1.0〜2.0
0.96
H-30
1.0〜2.0
1.00
H-60
1.0〜2.0
1.20
H-100
1.0〜2.0
1.33
H-200
1.0〜2.0
1.33
H-250
1.0〜2.0
1.31
H-280
1.0〜2.0
1.28
H-300
1.0〜2.0
1.28
58
Z 4511：2018
表B.34−単色光子エネルギーに対するスラブファントム形状での個人線量当量換算係数hpK(0.07:E,α)
エネルギー
入射角度に対するhpK(0.07:E,α)
Sv/Gy
keV
0°
10°
20°
30°
40°
45°
50°
60°
70°
80°
5
0.75
0.75
0.74
0.72
0.69
0.67
0.65
0.58
0.45
0.21
6
0.84
0.84
0.84
0.83
0.80
0.79
0.77
0.72
0.63
0.40
8
0.92
0.92
0.91
0.91
0.90
0.90
0.89
0.86
0.82
0.67
10
0.95
0.94
0.94
0.94
0.94
0.94
0.93
0.91
0.89
0.80
12.5
0.96
0.96
0.96
0.96
0.95
0.95
0.95
0.94
0.92
0.87
15
0.98
0.98
0.98
0.98
0.98
0.98
0.97
0.97
0.95
0.91
20
1.04
1.04
1.04
1.04
1.03
1.03
1.03
1.03
1.01
0.97
30
1.23
1.22
1.22
1.22
1.20
1.20
1.19
1.16
1.13
1.07
40
1.44
1.44
1.43
1.43
1.41
1.39
1.38
1.33
1.28
1.18
50
1.63
1.63
1.62
1.60
1.57
1.56
1.54
1.48
1.40
1.28
60
1.72
1.71
1.70
1.69
1.66
1.65
1.63
1.57
1.49
1.36
80
1.73
1.72
1.72
1.72
1.69
1.67
1.66
1.61
1.53
1.42
100
1.67
1.66
1.66
1.65
1.63
1.62
1.61
1.58
1.52
1.43
125
1.59
1.59
1.59
1.58
1.57
1.57
1.56
1.53
1.50
1.42
150
1.52
1.52
1.52
1.52
1.51
1.51
1.50
1.48
1.46
1.41
200
1.43
1.43
1.43
1.43
1.44
1.44
1.44
1.43
1.42
1.38
300
1.34
1.34
1.34
1.35
1.35
1.35
1.36
1.36
1.36
1.35
表B.35−蛍光X線及び線源に対するスラブファントム形状での個人線量当量換算係数hpK(0.07:F,α) 及び
hpK(0.07:S,α)
線質
照射距離
m
dF
cm
入射角度に対するhpK(0.07:F,α) 及びhpK(0.07:S,α)
Sv/Gy
（9.2.3参照）
0°
10°
20°
30°
40°
45°
50°
60°
70°
80°
F-Zn
1.0〜2.0
25
0.93
0.93
0.92
0.92
0.92
0.92
0.91
0.88
0.85
0.72
F-Ge
1.0〜2.0
25
0.95
0.94
0.94
0.94
0.94
0.94
0.93
0.91
0.89
0.80
F-Zr
1.0〜2.0
25
0.99
0.99
0.99
0.99
0.99
0.99
0.98
0.98
0.96
0.92
F-Mo
1.0〜2.0
25
1.01
1.01
1.01
1.01
1.00
1.00
1.00
1.00
0.98
0.94
F-Cd
1.0〜2.0
20
1.09
1.10
1.10
1.10
1.09
1.08
1.08
1.07
1.05
1.00
F-Sn
1.0〜2.0
20
1.14
1.14
1.14
1.14
1.12
1.12
1.11
1.09
1.07
1.01
F-Cs
1.0〜2.0
16
1.25
1.24
1.24
1.24
1.22
1.22
1.21
1.18
1.14
1.08
F-Nd
1.0〜2.0
13
1.39
1.38
1.37
1.38
1.36
1.34
1.33
1.29
1.24
1.15
F-Sm
1.0〜2.0
12
1.44
1.44
1.43
1.43
1.41
1.39
1.38
1.33
1.28
1.18
F-Er
1.0〜2.0
11
1.62
1.62
1.61
1.59
1.56
1.55
1.53
1.47
1.39
1.27
F-W
1.0〜2.0
11
1.72
1.71
1.70
1.69
1.66
1.65
1.63
1.57
1.49
1.36
F-Au
1.0〜2.0
11
1.73
1.72
1.72
1.72
1.68
1.67
1.65
1.60
1.52
1.40
F-Pb
1.0〜2.0
11
1.73
1.72
1.72
1.72
1.69
1.67
1.66
1.61
1.53
1.41
F-U
1.0〜2.0
11
1.68
1.66
1.66
1.66
1.64
1.63
1.62
1.58
1.52
1.43
S-Am
1.0〜2.0
11
1.72
1.71
1.70
1.69
1.66
1.65
1.63
1.57
1.49
1.36
59
Z 4511：2018
表B.36−Lシリーズに対するスラブファントムでの個人線量当量換算係数hpK(0.07:L,α)
線質
照射距離
m
dF
cm
入射角度に対するhpK(0.07:L,α)
Sv/Gy
（9.2.3参照）
0°
10°
20°
30°
40°
45°
50°
60°
70°
80°
L-10
1.0〜2.0
25
0.93
0.93
0.92
0.92
0.91
0.91
0.90
0.87
0.84
0.70
L-20
1.0〜2.0
25
1.00
1.00
1.00
1.00
0.99
0.99
0.99
0.99
0.97
0.93
L-30
1.0〜2.0
18
1.14
1.14
1.14
1.14
1.13
1.12
1.12
1.10
1.08
1.02
L-35
1.0〜2.0
16
1.22
1.21
1.21
1.21
1.20
1.19
1.19
1.16
1.13
1.06
L-55
1.0〜2.0
11
1.57
1.56
1.55
1.54
1.52
1.50
1.48
1.43
1.36
1.25
L-70
1.0〜2.0
11
1.71
1.70
1.69
1.68
1.65
1.64
1.62
1.56
1.48
1.35
L-100
1.0〜2.0
11
1.71
1.70
1.70
1.70
1.67
1.65
1.64
1.60
1.53
1.43
L-125
1.0〜2.0
11
1.64
1.63
1.63
1.62
1.61
1.60
1.59
1.56
1.51
1.43
L-170
1.0〜2.0
12
1.53
1.53
1.53
1.53
1.52
1.52
1.51
1.49
1.47
1.41
L-210
1.0〜2.0
12
1.45
1.45
1.45
1.46
1.46
1.46
1.45
1.44
1.43
1.39
L-240
1.0〜2.0
13
1.42
1.42
1.42
1.42
1.43
1.43
1.43
1.42
1.42
1.37
表B.37−Nシリーズに対するスラブファントムでの個人線量当量換算係数hpK(0.07:N,α)
線質
照射距離
m
dF
cm
入射角度に対するhpK(0.07:N,α)
Sv/Gy
（9.2.3参照）
0°
10°
20°
30°
40°
45°
50°
60°
70°
80°
N-10
1.0〜2.0
25
0.91
0.91
0.90
0.90
0.89
0.88
0.87
0.84
0.79
0.63
N-15
1.0〜2.0
25
0.96
0.95
0.95
0.95
0.95
0.95
0.94
0.93
0.91
0.84
N-20
1.0〜2.0
25
0.98
0.98
0.98
0.98
0.98
0.98
0.97
0.97
0.95
0.91
N-25
1.0〜2.0
23
1.03
1.03
1.03
1.03
1.02
1.02
1.02
1.02
1.00
0.96
N-30
1.0〜2.0
20
1.10
1.10
1.10
1.10
1.09
1.09
1.08
1.07
1.05
1.00
N-40
1.0〜3.0
16
1.27
1.26
1.26
1.26
1.24
1.23
1.22
1.19
1.16
1.09
N-60
1.0〜3.0
11
1.55
1.55
1.54
1.53
1.50
1.49
1.47
1.42
1.35
1.24
N-80
1.0〜3.0
11
1.72
1.71
1.70
1.70
1.66
1.65
1.63
1.58
1.50
1.37
N-100
1.0〜3.0
11
1.72
1.70
1.70
1.70
1.68
1.66
1.65
1.60
1.53
1.42
N-120
1.0〜3.0
11
1.67
1.66
1.66
1.65
1.63
1.62
1.61
1.58
1.52
1.43
N-150
1.0〜3.0
11
1.61
1.60
1.60
1.60
1.58
1.58
1.57
1.54
1.50
1.42
N-200
1.0〜3.0
12
1.49
1.49
1.49
1.49
1.49
1.49
1.48
1.46
1.45
1.40
N-250
1.0〜3.0
13
1.42
1.42
1.42
1.42
1.43
1.43
1.44
1.43
1.42
1.37
N-300
1.0〜3.0
15
1.38
1.38
1.38
1.38
1.40
1.40
1.41
1.40
1.40
1.36
表B.38−Wシリーズに対するスラブファントムでの個人線量当量換算係数hpK(0.07:W,α)
線質
照射距離
m
dF
cm
入射角度に対するhpK(0.07:W,α)
Sv/Gy
（9.2.3参照）
0°
10°
20°
30°
40°
45°
50°
60°
70°
80°
W-60
1.5〜3.0
11
1.49
1.48
1.48
1.47
1.44
1.43
1.42
1.37
1.31
1.21
W-80
1.5〜4.0
11
1.64
1.63
1.62
1.61
1.58
1.57
1.55
1.50
1.43
1.31
W-110
1.5〜4.0
11
1.71
1.70
1.70
1.69
1.67
1.65
1.64
1.59
1.52
1.41
W-150
1.5〜4.0
11
1.64
1.64
1.64
1.63
1.61
1.60
1.59
1.56
1.51
1.42
W-200
1.5〜4.0
12
1.55
1.55
1.55
1.54
1.53
1.53
1.52
1.50
1.47
1.41
W-250
1.5〜4.0
13
1.47
1.47
1.47
1.47
1.47
1.47
1.47
1.45
1.44
1.39
W-300
1.5〜4.0
14
1.42
1.42
1.42
1.42
1.43
1.43
1.44
1.43
1.42
1.37
60
Z 4511：2018
表B.39−Hシリーズに対するスラブファントムでの個人線量当量換算係数hpK(0.07:H,α)
線質
照射距離
m
dF
cm
入射角度に対するhpK(0.07:H,α)
Sv/Gy
（9.2.3参照）
0°
10°
20°
30°
40°
45°
50°
60°
70°
80°
H-10
1.5〜3.0
25
0.89
0.89
0.88
0.88
0.86
0.86
0.84
0.80
0.74
0.56
H-20
1.5〜3.0
25
0.95
0.95
0.95
0.95
0.94
0.94
0.94
0.92
0.90
0.81
H-30
1.5〜3.0
20
1.01
1.01
1.01
1.01
1.00
1.00
1.00
0.99
0.97
0.92
H-60
1.5〜3.0
12
1.29
1.29
1.29
1.28
1.27
1.26
1.25
1.22
1.18
1.10
H-100
1.5〜4.0
12
1.58
1.57
1.57
1.56
1.53
1.52
1.51
1.46
1.39
1.28
H-200
1.5〜4.0
12
1.62
1.62
1.62
1.61
1.59
1.59
1.57
1.54
1.49
1.40
H-250
1.5〜4.0
14
1.56
1.56
1.56
1.56
1.55
1.54
1.53
1.51
1.47
1.40
H-280
1.5〜4.0
14
1.51
1.51
1.51
1.51
1.51
1.50
1.50
1.48
1.46
1.40
H-300
1.5〜4.0
15
1.51
1.50
1.50
1.50
1.50
1.50
1.50
1.48
1.45
1.39
61
Z 4511：2018
附属書C
（参考）
二次電子平衡及び電子飛程の影響
C.1 二次電子平衡の概要
一般に物質の深部の厚さとその物質中の二次電子の電離電流との関係は，図C.1 a) の実線の曲線になる。
物質の深部の電離電流は，深部がゼロのときは，発生しない。深部が増加すると増大し，ある厚さで最大
（飽和）値を示し，それ以上の厚さになると吸収されて減少していく。この最大値の厚さが二次電子平衡
の厚さであり，物質に入射する光子エネルギーによって変わる。
実際には，物質周辺の空気中で発生した二次電子が目的とする物質の深部に入射し，深部の厚さを厚く
していくとその成分は減少してゼロになり，深部厚さにおける二次電子の電離電流となる。この全体の電
離電流は，図C.1 a) の点線の部分となる。図C.1 b) の実線は，7.1.2.2の図4に示す0.511 MeV以下の対
象外の放射線によって，深部厚さがゼロでも大きな値を示し，厚さと共に減少する。このため，R-Fの6.13
MeVの深部の電離電流曲線は，点線のようになる。
図C.1 a) 及びb) 両者の二次電子平衡の厚さは，この点線と実線とが交差する物質の深部厚さ，すなわ
ち，目的の光子エネルギーに対して，目的外の放射線による二次電子，外部の空気中で発生する二次電子
などを物質が吸収できる厚さと等価となる。
検出器の壁厚が二次電子平衡の厚さより薄いと，周辺の空気中で発生した二次電子，γ線源の周辺で発
生した二次電子及び目的外放射線で発生した二次電子が検出器内部に入射する。このため，校正時の感度
は，検出器の壁厚，校正距離などによって変化してしまう。したがって，検出器の壁厚を測定する光子エ
ネルギー領域の最大の二次電子を吸収する厚さより厚くすることで，線量に対する感度を一定にすること
ができる。
C.2 各光子標準場における電子飛程の影響
65 keV以上のエネルギーの電子は，ICRU組織の深さ0.07 mmまで到達する。深さ10 mmに対しては，
電子エネルギーが2 MeV以上となる。これは，これらのエネルギー以上の線質では，二次電子の飛程が重
要であることを意味している。電子の飛程が測定する深さ以上となった場合，0.07 mmの深さの線量当量
［以下，H(0.07)という。］又は10 mmの深さの線量当量［以下，H(10)という。］が二次電子平衡状態から
ずれることがある。
図C.1 a) 及びb) は，それぞれ，R-Ni又はR-F線質に対する深部の電離電流曲線を示した図である。こ
れらから，二次電子平衡は，約3 cmより厚い深さでないと成立しないことが分かる。γ線源と試験点との
間の深部線量曲線は，放射線源の性質及び物質の種類，形状にも依存するが，電子平衡の条件が満たされ
ていない限り，深さの増加と共に上昇又は低下がある。二次電子ビルドアップが完了しない限り，ほとん
どの放射線検出器は，電子平衡条件下で動作していない。
ビルドアップが達しているか否かに関係なく，ICRUが推奨する場及び個人のモニタリングのための測
定の深さは，0.07 mm及び10 mmである。したがって，ビルドアップされた荷電粒子平衡状態での換算係
数を常に用いることは，適切ではない。この問題の有効な解決方法の一例を次に記載する。
光子エネルギーが65 keV以上，及び2 MeV以上の基準放射線場では，H(0.07) 及びH(10) の取決め真値
は，試験点において測定される空気カーマ率から，附属書Bに記載の換算係数を用いて線量当量を求める。
62
Z 4511：2018
この空気カーマ測定時においては，荷電粒子平衡のためのビルドアップ板を用いる必要はない。附属書B
に示す換算係数は，二次荷電粒子平衡状態における値であるため，測定器の試験は，二次荷電粒子平衡下
で行う。もし測定器の検出部が荷電粒子平衡状態となる十分なビルドアップ物質で覆われていない場合は，
組織等価の物質から成る板を付加して，荷電粒子平衡状態とする。図C.2では，この目的のためにPMMA
板（ビルドアップ板）を採用している。
線量当量の取決め真値に関係する試験では，線量計の基準点の前にPMMA板を設置して測定する。
PMMA板は，30 cm×30 cmの大きさで，PMMA板の散乱及び吸収による光子場への影響は，附属書Bの
表B.8及び表B.21に示す補正係数kPMMAによって補正する。通常，ビルドアップ板は，線量計の直前に設
置する。しかし，角度特性の試験を実施する場合は，線量計とファントムとを組み合わせて回転させるた
め，実際には，ビルドアップ板をγ線源の方向に検出器からある程度離れた距離に，図C.2に示すように
設置する。こうすることによって，90度の角度範囲での荷電粒子平衡が成立し，全ての回転角に対して同
一の補正係数kPMMAを用いることができ，荷電粒子平衡状態か否かによらない校正結果が得られる。これ
は，PMMA板がない場合に，荷電粒子平衡状態において正しい線量測定が行えることを保証する。電子飛
程が測定する深さよりも長い高エネルギーの電子と光子との混在場では，正確な線量が測定できていると
は断定できない。このような場合の線量当量の正しい測定は，H(0.07) 及びH(10) に対して適したβ線標
準場における校正も必要である。これらに関しては，ISO 6980-1[1]が参考となる。
63
Z 4511：2018
a) R-Ni
b) R-F
図C.1−高エネルギー光子場での深部電離電流曲線の例
電
離
電
流
（
相
対
値
）
PMMAプレート厚，g･cm−2
電
離
電
流
（
相
対
値
）
水中深さ，cm
64
Z 4511：2018
1 平衡ビーム
2 必要に応じてビルドアップ板
3 試験点
4 線量計
5 スラブファントム
図C.2−角度αでの個人線量計の校正のための配置
参考文献
[1] ISO 6980-1:2006，Nuclear energy−Reference beta-particle radiation−Part 1: Methods of production
65
Z 4511：2018
附属書D
（規定）
空気密度の補正
D.1 一般
管電圧10 kV以上30 kV以下における周辺線量当量H*(10) 及び個人線量当量Hp(10) の評価のための，
空気密度補正は，次による。
D.2 空気密度補正の方法
温度，気圧及び相対湿度は，空気カーマ，換算係数，線量当量などへ影響を与える。これはX線管窓か
ら試験点までの空気層による光子の吸収が原因である。これらの影響は，透過する空気層の厚さにもよる。
空気層による光子の吸収は，空気密度に大きく依存する。15°〜25 ℃における空気密度ρは，式(D.1)によ
る。
T
T
T
T
r
r
p
p
0
97
.
17
0
0
0
0
7.
175
1
699
005
.1
×
−
=ρ
ρ
·································· (D.1)
ここに，
p： 気圧（p0＝101.3 kPa）
T： 空気の温度（T0＝293.15 K）
r： 相対湿度（r0＝0.65）
ρ0： 基準条件における空気密度（1.197 4 kg･m−3）
注記 空気密度が1 %変化するには，気圧では100 kPaが101 kPaになることであり，温度では293 K
が296 Kになる。気圧は，標高1 000 m以下の通常の気象変化において−20 %〜＋10 %変化す
る。
空気カーマに対する密度の補正係数は，標準状態の空気カーマKa(ρ0) 及び測定時における密度ρに対す
る空気カーマKa(ρ) を用いて式(D.2)による。
(
)
()
()
0
a
a
a
,
ρ
ρ
ρ
K
K
K
k
=
··································································· (D.2)
これから照射時における空気カーマは，式(D.3)による。
(
)
(
)()
0
a
a
irr
irr
a
,
ρ
ρ
ρ
K
K
k
K
=
························································ (D.3)
ここに，
ρirr： 照射時における空気密度
0.96 kg･m−3〜1.32 kg･m−3における空気カーマ補正は，1次式の近似によって式(D.4)による。
()
(
)(
)
0
air
1
ρ
ρ
ρ
−
+
=
d
m
k
···························································· (D.4)
ここに，
dair： X線管窓から試験点までの距離
モニタを用いる場合は，モニタから試験点までの距離に対する補正となり，式(D.5)による。
(
)
(
)(
)
−
−
+
=
air
MC
0
air
a
MC
1
1
,
d
d
d
m
K
k
ρ
ρ
ρ
········································ (D.5)
係数m(dair) は，透過距離によって異なり，1 m〜3 mの範囲で式(D.6)の一次式で近似できる。
(
)
(
)(
)
d
air
air
m
0.1
m
0.1
m
d
m
d
m
−
+
=
··············································· (D.6)
66
Z 4511：2018
m(1.0 m) 及びmdを用いた式(D.6)による一次式近似の不確かさは，1.10 kg･m−3〜1.27 kg･m−3の範囲で
1 %以下であり，補正係数k(ρ) の不確かさは，2 %と見積もられる。
1.10 kg･m−3〜1.27 kg･m−3の範囲における空気カーマ，換算係数，線量当量に対する補正係数のパラメ
ータであるm(1.0 m) 及びmdを表D.1〜表D.4に記載する。式(D.6)でm(dair) を求めて，式(D.4)によって空
気カーマの補正を行う。
表D.1−式(D.6)で用いるパラメータm(1.0 m)
線質
m(1.0 m)（m3･kg−1）
Ka
h*K(10)
hp,K(10, 0°) hp,K(10, 15°) hp,K(10, 30°) hp,K(10, 45°) hp,K(10, 60°) hp,K(10, 75°)
L-10
−7.58E−1 a)
1.53E−1
1.53E−1
1.55E−1
1.61E−1
1.73E−1
1.92E−1
2.20E−1
L-20
−1.23E−1 a)
9.98E−3
9.95E−3
1.01E−2
1.09E−2
1.24E−2
1.54E−2
2.09E−2
L-30
−4.68E−2
9.29E−4
9.47E−4
9.51E−4
1.00E−3
1.12E−3
1.37E−3
2.01E−3
N-10
−9.70E−1 a)
3.42E−1
3.42E−1
3.46E−1
3.55E−1
3.71E−1
3.95E−1
4.29E−1
N-15
−3.43E−1 a)
9.79E−2
9.77E−2
9.90E−2
1.03E−1
1.10E−1
1.26E−1
1.46E−1
N-20
−1.63E−1 a)
3.20E−2
3.22E−2
3.27E−2
3.46E−2
3.81E−2
4.43E−2
5.43E−2
N-25
−9.27E−2
1.12E−2
1.09E−2
1.11E−2
1.18E−2
1.30E−2
1.56E−2
2.08E−2
N-30
−5.87E−2
3.41E−3
3.38E−3
3.39E−3
3.60E−3
4.04E−3
4.96E−3
7.19E−3
H-10
−1.26E＋0 b)
6.25E−1
6.25E−1
6.28E−1
6.40E−1
6.59E−1
6.86E−1
7.24E−1
H-20
−4.55E−1 a)
2.76E−1
2.76E−1
2.78E−1
2.85E−1
2.97E−1
3.16E−1
3.37E−1
H-30
−1.87E−1 a)
9.11E−2
9.08E−2
9.15E−2
9.44E−2
9.93E−2
1.08E−1
1.20E−1
注記 文献Ankerhold [1]による値。異なるスペクトルでは，値が変化することに注意する。
注a) 空気密度ρが1.10 kg･m−3〜1.27 kg･m−3の場合に適用できる値。
b) 空気密度ρが1.15 kg･m−3〜1.23 kg･m−3の場合に適用できる値。
表D.2−式(D.6)で用いるパラメータmd
線質
md（m2･kg−1）
Ka
h*K(10)
hp,K(10, 0°) hp,K(10, 15°) hp,K(10, 30°) hp,K(10, 45°) hp,K(10, 60°) hp,K(10, 75°)
L-10
−6.61E−1 b)
7.47E−2
7.47E−2
7.61E−2
8.08E−2
8.93E−2
1.04E−1
1.28E−1
L-20
−1.28E−1 a)
1.69E−2
1.69E−2
1.70E−2
1.78E−2
1.92E−2
2.18E−2
2.68E−2
L-30
−4.65E−2
9.00E−4
9.18E−4
9.22E−4
9.70E−4
1.09E−3
1.32E−3
1.93E−3
N-10
−6.89E−1 b)
8.80E−2
8.80E−2
8.99E−2
9.59E−2
1.07E−1
1.24E−1
1.53E−1
N-15
−2.88E−1 a)
5.60E−2
5.61E−2
5.71E−2
6.01E−2
6.56E−2
7.68E−2
9.42E−2
N-20
−1.49E−1 a)
2.34E−2
2.35E−2
2.38E−2
2.53E−2
2.81E−2
3.31E−2
4.17E−2
N-25
−8.78E−2
8.47E−3
8.25E−3
8.37E−3
8.95E−3
1.00E−2
1.23E−2
1.70E−2
N-30
−5.81E−2
3.39E−3
3.36E−3
3.38E−3
3.58E−3
4.01E−3
4.90E−3
7.03E−3
H-10
−6.63E−1 b)
5.18E−2
5.17E−2
5.42E−2
6.13E−2
7.41E−2
9.45E−2
1.25E−1
H-20
−2.73E−1 a)
1.14E−1
1.15E−1
1.16E−1
1.20E−1
1.28E−1
1.41E−1
1.58E−1
H-30
−1.25E−1 a)
3.81E−2
3.79E−2
3.83E−2
4.03E−2
4.38E−2
5.01E−2
6.05E−2
注記 文献Ankerhold [1]による値。異なるスペクトルでは値が変化することに注意する。
注a) 空気密度ρが1.10 kg･m−3〜1.27 kg･m−3の場合に適用できる値。
b) 空気密度ρが1.15 kg･m−3〜1.23 kg･m−3の場合に適用できる値。
67
Z 4511：2018
表D.3−式(D.6)で用いるパラメータm(1.0 m)
線質
m(1.0 m)（m3･kg−1）
H*(10)
Hp(10, 0°)
Hp(10, 15°)
Hp(10, 30°)
Hp(10, 45°)
Hp(10, 60°)
Hp(10, 75°)
L-10
−6.05E−1 a) −6.05E−1 a) −6.03E−1 a) −5.97E−1 a) −5.85E−1 a) −5.66E−1 a) −5.38E−1 a)
L-20
−1.13E−1 a) −1.13E−1 a) −1.13E−1 a) −1.12E−1 a) −1.11E−1 a)
−1.08E−1 a) −1.02E−1 a)
L-30
−4.59E−2
−4.59E−2
−4.58E−2
−4.58E−2
−4.57E−2
−4.54E−2
−4.48E−2
N-10
−6.28E−1 a) −6.28E−1 a) −6.24E−1 a) −6.15E−1 a) −5.99E−1 a) −5.75E−1 a) −5.41E−1 a)
N-15
−2.45E−1 a) −2.45E−1 a) −2.44E−1 a) −2.40E−1 a) −2.33E−1 a) −2.17E−1 a) −1.97E−1 a)
N-20
−1.31E−1 a) −1.31E−1 a) −1.30E−1 a) −1.28E−1 a) −1.25E−1 a) −1.19E−1 a) −1.09E−1 a)
N-25
−8.15E−2
−8.18E−2
−8.16E−2
−8.09E−2
−7.97E−2
−7.71E−2
−7.19E−2
N-30
−5.53E−2
−5.53E−2
−5.53E−2
−5.51E−2
−5.47E−2
−5.37E−2
−5.15E−2
H-10
−6.35E−1 b) −6.35E−1 b) −6.32E−1 b) −6.20E−1 b) −6.01E−1 b) −5.74E−1 b) −5.36E−1 b)
H-20
−1.79E−1 a) −1.79E−1 a) −1.77E−1 a) −1.70E−1 a) −1.58E−1 a) −1.39E−1 a) −1.18E−1 a)
H-30
−9.59E−2 a) −9.62E−2 a) −9.55E−2 a) −9.26E−2 a) −8.77E−2 a) −7.90E−2 a) −6.70E−2 a)
注記 文献Ankerhold [1]による値。異なるスペクトルでは値が変化することに注意する。
注a) 空気密度ρが1.10 kg･m−3〜1.27 kg･m−3の場合に適用できる値。
b) 空気密度ρが1.15 kg･m−3〜1.23 kg･m−3の場合に適用できる値。
表D.4−式(D.6)で用いるパラメータmd
線質
md（m2･kg−1）
H*(10)
Hp(10, 0°)
Hp(10, 15°)
Hp(10, 30°)
Hp(10, 45°)
Hp(10, 60°)
Hp(10, 75°)
L-10
−5.86E−1 b) −5.86E−1 b) −5.85E−1 b) −5.80E−1 b) −5.72E−1 b) −5.57E−1 b) −5.33E−1 b)
L-20
−1.11E−1 a)
−1.11E−1 a)
−1.11E−1 a)
−1.10E−1 a) −1.09E−1 a) −1.06E−1 a) −1.01E−1 a)
L-30
−4.56E−2
−4.56E−2
−4.56E−2
−4.55E−2
−4.54E−2
−4.52E−2
−4.46E−2
N-10
−6.01E−1 b) −6.01E−1 b) −5.99E−1 b) −5.93E−1 b) −5.82E−1 b) −5.65E−1 b) −5.36E−1 b)
N-15
−2.32E−1 a) −2.32E−1 a) −2.31E−1 a) −2.28E−1 a) −2.22E−1 a) −2.11E−1 a)
−1.94E−1 a)
N-20
−1.26E−1 a) −1.26E−1 a) −1.25E−1 a) −1.24E−1 a) −1.21E−1 a) −1.16E−1 a) −1.07E−1 a)
N-25
−7.93E−2
−7.96E−2
−7.94E−2
−7.89E−2
−7.78E−2
−7.55E−2
−7.08E−2
N-30
−5.47E−2
−5.47E−2
−5.47E−2
−5.45E−2
−5.41E−2
−5.32E−2
−5.11E−2
H-10
−6.11E−1 b) −6.11E−1 b) −6.09E−1 b) −6.02E−1 b) −5.89E−1 b) −5.69E−1 b) −5.38E−1 b)
H-20
−1.59E−1 a) −1.58E−1 a) −1.57E−1 a) −1.53E−1 a) −1.45E−1 a) −1.32E−1 a) −1.15E−1 a)
H-30
−8.69E−2 a) −8.71E−2 a) −8.67E−2 a) −8.47E−2 a) −8.12E−2 a) −7.49E−2 a) −6.45E−2 a)
注記 文献Ankerhold [1]による値。異なるスペクトルでは値が変化することに注意する。
注a) 空気密度ρが1.10 kg･m−3〜1.27 kg･m−3の場合に適用できる値。
b) 空気密度ρが1.15 kg･m−3〜1.23 kg･m−3の場合に適用できる値。
参考文献
[1] Ankerhold, U., Catalogue of X-ray spectra and their characteristic data−ISO and DIN radiation qualities,
therapy and diagnostic radiation qualities, unfiltered X-ray spectra-, PTB-Bericht, PTB-Dos-34, Braunschweig
April 1990
68
Z 4511：2018
附属書E
（参考）
パルス波高スペクトルの測定
E.1
一般
この附属書は，放射線場のパルス波高スペクトルの測定法の例を記載するものである。
E.2
パルス波高スペクトルの測定のための実験設定
図E.1は，パルス波高スペクトルの測定に関する概略図である[1]。モニタの前後に二つのコリメータを
設置し，試験点には小さなビーム径のコリメータを用いる。Ge検出器は，その周囲を円筒形の鉛で遮蔽す
る必要があり，検出器の前に約1 mmの直径の開口部をもつ鉛コリメータを設置する。これは，検出器に
入射する光子数を減少させ，Ge結晶のエッジ効果及び目的外の放射線の影響を排除するのに役立つ。円筒
形鉛の厚さ及び鉛コリメータの前面の厚さは，遮蔽を貫通した総光子フルエンスが，開口部を貫通したフ
ルエンスの10−4未満になるようにする。コリメータ及びスペクトロメータシステムは，レーザマーカを用
いるなどして，X線ビーム軸に正確に位置合わせをする。スペクトロメータのエネルギー分解能（全半値
幅）は，5.9 keV（55Fe）で300 eV未満及び59.5 keV（241Am）で350 eV未満が望ましい。
パルス波高スペクトルの測定は，試験点において行うのが望ましい。測定中のX線管の電流は，パルス
波高スペクトル内の全ての事象に対してパイルアップが10−3未満となるように，連続X線線質のLシリ
ーズ及びNシリーズについて約0.1 mAで実施するのが望ましい。他のシリーズについては，電流は，10
倍以上，更に低くするとよい。
1 X線アノード 2 X線管窓 3 ISOフィルタ 4 2重コリメータ 5 モニタ
6 1 mm直径程度の開口部をもつ鉛コリメータ 7 プレーナ形高純度Ge結晶
8 円筒型鉛シールド 9 冷却用液体窒素容器
図E.1−波高分布測定のための配置例
E.3
スペクトルフルエンスを決定する波高スペクトルのアンフォールディング
波高スペクトルのアンフォールディングのために，スペクトロメータの応答関数を求める。
一つの方法は，適当な放射性核種，例えば57Co，241Am，55Feなどの線スペクトルの測定がある。また，
光子及び電子のモンテカルロ法を用いたシミュレーション計算で評価する方法がある。
69
Z 4511：2018
測定されたものとシミュレーションによるスペクトルとの間の一致が十分でないならば（例えば，1 %
以上の偏差），検出器結晶の不感層厚さ，有効長などのパラメータを，モンテカルロプログラムコードの中
で変更することが有効な場合がある。
十分な一致が達成された後（例えば，1 %未満の偏差）に，スペクトロメータの応答関数は，モンテカ
ルロプログラムコードによって評価できる。応答関数のエネルギー間隔は，200 eV未満であることが望ま
しい。応答関数によるアンフォールディングの方法は，Kramer[2]，Matzke[3]などの文献を参照することが
できる。
図E.2は，線質N-30についての参考文献[4]の波高スペクトル及びフルエンススペクトルの例である。
用いたスペクトロメータは，250 μmのBeウィンドウをもつプレーナ形の高純度ゲルマニウム検出器で
ある。この例は，応答関数が対角行列に近く，補正があまり大きくないことを示している。
1 波高スペクトル
2 フルエンススペクトル
A 相対値
B パルス波高
図E.2−線質N-30，X線管の焦点から1.0 m，Geスペクトロメータで測定した波高スペクトル及び
フルエンススペクトルΦE(E)の例
参考文献
[1] Ankerhold, U., Catalogue of X-ray spectra and their characteristic data−ISO and DIN radiation qualities,
therapy and diagnostic radiation qualities, unfiltered X-ray spectra-, PTB-Bericht, PTB-Dos-34, Braunschweig
April 1990
[2] Kramer, H.-M., Buermann, L., Guldbakke, S., X- and gamma ray spectrometry over the energy range from 5
keV to 7 MeV, 2000
[3] Matzke, M., Unfolding of pulse height spectra: The HEPRO program system, PTB-Bericht, PTB-N-19, 1994
[4] Ankerhold,U., Behrens,R. and Ambrosi,P., X-ray spectrometry of low energy photons for determining
conversion coefficients from air kerma, Ka, to personal dose equivalent, Hp(10), for radiation qualities of the
ISO narrow spectrum series, Rad. Prot. Dos., Vol. 81, No.4, pp.247-258 (1999)
70
Z 4511：2018
附属書F
（参考）
参考文献
F.1
参考文献リスト
本体中で引用されている参考文献のリストを次に示す。
[1] SEELENTAG,W.W., PANZER, W., Drexler, G., PLATZ, L. and SANTNER, F. Catalogue of Spectra for the
Calibration of Dosemeters. GSF Bericht 560, Munich: Gesellschaft fur Strahlen und Umweltforschung mbH,
1979
[2] Ankerhold, Catalogue of X-ray spectra and their characteristics data−ISO and DIN radiation qualities, therapy
and diagnostic radiation qualities, unfiltered X-ray spectra-, PTB-Bericht, PTB-Dos-34, Braunschweig, April,
2000
[3] Taylor, L.S. Physical Foundations of Radiology, 2nd Edition, 1959, pp. 227-257
[4] 神之浦文三，南 賢太郎，“校正用蛍光X線場の確立”，保健物理，25，P.147〜154（1990）
[5] H. E. Johns and J. R. Cunningham, The Physics of Radiology, p. 723, Charles Thomas, Springfield USA, 1983.
[6] International Commission on Radiation Units and Measurements, Radiation Quantities and Units. ICRU Report
33, 1980
[7] S. Shimizu el al. JAEA-Technology 2011-008 (2011)
71
Z 4511：2018
附属書JA
（参考）
校正の階層及びトレーサビリティ体系
JA.1 一般
この附属書は，校正の階層及びトレーサビリティ体系について記載するものである。
JA.2 校正の階層及びトレーサビリティ体系
空気カーマ測定器，空気吸収線量測定器，線量当量測定器などの校正の階層及び実用に供している測定
器及び計測素子（以下，実用測定器という。）の国家標準へのトレーサビリティ体系の概念図を，図JA.1
に示す。
注記 計量法トレーサビリティ制度に基づく校正の階層の場合には，国家標準及び二次標準は，それぞれ特定標準
器及び特定二次標準器となる。
注a) 二次標準器に連鎖して校正した標準器を保有する校正機関もある。
b) 二次標準場及び参照標準場は，各機関の保有する標準器によって校正される場合と，上位機関の保有する仲
介測定器によって出張校正される場合とがある。
c) 実用標準とする実用標準測定器及び実用標準γ線源を用いた実用測定器の簡素化した校正方法は，附属書JB
による。
図JA.1−校正の階層及びトレーサビリティ体系の例
国家標準機関
校正機関
産業界
国家標準
グラファイト電離箱など
一次標準場
二次標準a)
電離箱式照射線量率測定器
二次標準場b)
参照標準
電離箱式照射線量率測定器など
参照標準場b)
実用標準c)
実用標準測定器など
γ(X)線源c)
実用測定器
空気カーマ率測定器，空気吸収線量率測定器，線量当量率測定器，線量計測素子など
72
Z 4511：2018
附属書JB
（規定）
実用測定器の簡素化した校正及び機能確認
JB.1 一般
この附属書は，実用測定器の簡素化した校正方法，及び実用測定器が正常に動作し，校正結果が継続し
て有効であることを確認する方法について規定する。
JB.2 実用測定器の簡素化した校正
JB.2.1 校正の適用範囲
実用標準測定器を用いた比較測定によって行う。
JB.2.2 実用標準測定器
実用標準測定器は，次による。
a) 箇条9の規定に基づき校正した国家標準とのトレーサビリティが確保された場のモニタリング用線量
当量（率）測定器，個人の線量当量（率）測定器又は吸収線量（率）測定器とする。
b) 校正対象の実用測定器と同一形式とする。被校正実用測定器と実用標準測定器とが同一形式であると
判断するためには，製品規格に基づき，形式検査の結果が同等である，測定器の重要部分の設計が同
じであるなど，製品を確認した結果を用いる。
c) 実用標準測定器が個人線量計の場合，実用標準測定器は，この規格に基づきファントムを用いて校正
する。
JB.2.3 校正に用いる装置及び線源
校正に用いる装置又は線源は，次による。
a) 実用に供しているX線及びγ線の放射線発生源とする。ただし，H'(0.07) 又はHp(0.07) を計測する線
量計の場合は，適切なβ線源を用いてもよい。
b) 実用測定器の測定において，安定した指示値が得られる線量（率）を設定できる放射線発生源とする。
c) 実用標準測定器及び実用測定器の設置場所がほぼ同じとみなせる場合には，照射野の均一性，散乱線
などの放射線場に関する仕様は，本体に規定する要求事項に必ずしも適合しなくてもよい。
JB.2.4 校正の環境条件
校正の環境条件は，附属書Aによる。ただし，環境条件からの影響量が補正できる場合，又は環境条件
の補正を要しない測定器は，必ずしもこの限りではない。
JB.2.5 校正方法
校正方法は，次のいずれかによる。
なお，個人線量計の校正においては，実用標準測定器が校正されたときのファントムを用いなくてもよ
い。
a) 実用標準測定器と実用測定器との比較測定
b) 同一ジオメトリにおける同時照射
被校正実用測定器の校正定数（Nb）は，次による。
b
a
a
b
I
N
I
N
×
=
73
Z 4511：2018
ここに，
Na： 実用標準測定器の校正定数
Ia： 実用標準測定器の正味指示値
Ib： 被校正実用測定器の正味指示値
測定器が積算式の場合は，照射時間を考慮して校正定数を求める。
実用基準測定器による線量（率）は，あらかじめ求めておき，半減期による減衰補正をしてもよい。た
だし，減衰補正は，実用標準測定器のレスポンスの再現性の確認周期内とするのが望ましい。
JB.3 実用測定器の機能確認
JB.3.1 機能確認の実施
実用測定器は，使用方法及び使用状況によって，機能確認が必要となる場合がある。機能確認は，校正
ではないが，機器の性能が校正後，継続的に維持され，校正がまだ有効であることを，日常的に検証する
ときに簡便かつ有効な方法である。機能確認は，一般的に，放射能が低い少量のγ線源を用いて，指示値
が正常であることを確認することによる。
JB.3.2 機能確認の方法
実用測定器の機能確認の方法は，次による。
a) 機能確認は，校正定数を決定した実用測定器について，前回の校正時から一定期間後の指示値を，同
一条件で照射した校正時の指示値（以下，校正時指示値という。）と比較することによって行う。あら
かじめ定めた線源を用いて，同一条件で照射した指示値を校正時の指示値と比較して，その差があら
かじめ定めた管理値を超えないことを確認する。管理値は，校正時の不確かさなどを考慮して定める
のがよいが，特別な理由がなければ±10 %が望ましい。
b) 機能確認を行う場合には，校正時指示値を求めたときに用いたγ線源，照射条件などを記載した校正
記録が保管され，継続して確認できるよう維持されていなければならない。校正時指示値は，校正定
数を決定したときに求めておく。
c) 機能確認時の測定器及びγ線源の幾何学的配置条件は，校正時指示値を求めた場合と同一の配置とす
る。
幾何学的配置条件は，測定器ごとに定めた専用のジグなどを用いて再現性を維持する。
d) 指示値の読取り回数は，校正時指示値の回数と同じにする。
e) 用いるγ線源は，137Cs又は60Coのいずれかが望ましい。また，測定器に内蔵されている線源などの
他の核種の線源を用いてもよい。
f)
機能確認に用いるγ線源又は照射条件を変更する場合には，本体に規定する方法によって，校正定数
を再度決定する。ただし，変更の前後の違いが指示値及び校正時指示値に反映されたことが検証され
る場合には，その違いを補正することによって，引き続き機能確認を実施してもよい。
JB.4 結果の記録
実用測定器の簡素化した校正の記録は，箇条10による。
74
Z 4511：2018
附属書JC
（参考）
低線量率における実用測定器の校正方法
JC.l
一般
一般的に線量（率），エネルギーなどの測定対象となる範囲は幅広く，さらに，測定条件も多岐にわたる
ため，測定器には広範囲での校正が求められる。言い換えると，全ての測定対象範囲がこの規格の適用範
囲に収まるわけではなく，また，許容範囲を，満足できるわけではない。例えば，環境レベルに近い1 µSv･
h以下の線量率測定に対するニーズは高く，据置形モニタのような測定器は，現実的に設置現場での校正
しか可能でない場合もある。
この附属書は，この規格に基づいて校正した8.4の標準測定器を実用標準器として，箇条9の規定に基
づき，この規格の適用範囲外である10 µGy･h−1未満の空気カーマ率，及び／又は散乱線が5 %を超える放
射線場の校正方法について参考として記載するものであって，規定の一部ではない。
注記1 8.7.3に示す低線量率の空気カーマ率標準場の設定には，8.4の標準測定器から移行するため
に複数の仲介測定機器を用いることもある。
注記2 低バックグラウンド環境の標準場設定が必要な場合，遮蔽体を用いて，低バックグラウンド
環境を設定できる（参考文献[1]，[2]及び[3]参照）。
JC.2 線量率標準線源による校正方法
JC.2.1 一般
線量率標準線源による校正方法は，国家標準とのトレーサビリティが明確な標準測定器によって，γ線
源から一定距離（一般的に100 cm）における空気カーマ率について測定された標準γ線源を用いる校正で，
校正の方法は，次による。
JC.2.2 線量率標準γ線源
標準γ線源は，標準測定器によって，線源から一定距離における空気カーマ率について測定された，国
家標準へのトレーサビリティが確保された標準γ線源とする。
JC.2.2.1 標準γ線源の仕様
標準γ線源は，次による。
a) 核種は，241Am，57Co，133Ba，137Cs又は60Coとする。
b) 標準γ線源は，校正に適切な線量率範囲を設定できる放射能のものを用いる。
JC.2.3 校正方法
校正方法は，次による。
a) 校正定数の決定に用いる線量率は，標準γ線源の校正値に，半減期による減衰を補正して決定する。
b) 標準γ線源の線量率を測定した距離以外の距離d（cm）における線量率
d
K&は，次式によって算出でき
る。
(
)
(
)
L
d
μ
2
L
d
e
d
L
K
K
−
−
×
×
=&
&
ここに，
L
K&： L cmで測定された空気カーマ率（減衰補正後）
d： 線源−検出器間の距離（cm）
75
Z 4511：2018
µ： 空気中の線減衰係数
c) 校正定数Kは，次式による。
(
)1
b
−
−
×
=
Q
Q
D
K
ここに，
D： 校正時における標準γ線源の線量率
Q： 標準γ線源照射による被校正測定器の指示値
Qb： 被校正測定器のバックグラウンド指示値
d) 標準γ線源の線量率Dは，直接線だけの値であるため，9.4.7に規定するシャドーシールド法を用いて，
校正場における散乱線を補正してもよい。
e) 校正時における標準γ線源の線量率Dは，空気カーマ率から目的の測定量への変換が必要な場合には，
換算係数などを用いて変換する。
JC.3 標準測定器による校正方法
JC.3.1 一般
標準測定器による校正方法は，国家標準とのトレーサビリティが明確な8.4の標準測定器を，被校正測
定器と同じ幾何学的条件となるように設置し，被校正測定器及び標準測定器を，γ線源から一定距離（一
般的に100 cm。）の条件にて校正する。校正の方法は，次による。
JC.3.2 γ線源
γ線源は，次による。
a) 核種は，60Co又は137Csとする。
b) 放射能は，校正に適切な線量率範囲を設定できる数量とする。
c) 被校正器と標準測定器との照射日が離れるなど，利用時に補正が必要な場合は，適切な減衰補正を行
う。
JC.3.3 校正方法
校正方法は，次による。
a) 標準測定器及び被校正測定器の線源に対する幾何学的条件を同じになるように設置して校正を行う。
b) 校正定数Kは，次式による。
(
)(
)1
b
b
s
−
−
×
−
×
=
Q
Q
D
D
K
K
ここに，
Ks： 標準測定器の校正定数
D： γ線照射による標準測定器の指示値
Db： 標準測定器のバックグラウンドγ指示値
Q： γ線照射による被校正器の指示値
Qb： 被校正器のバックグラウンド指示値
JC.4 校正結果の記録
校正結果の記録には，箇条10によるほか，現地の校正場所の条件及び特別な気象条件などの特記事項を
含めることが望ましい。
76
Z 4511：2018
参考文献
[1] IEC 60846-1:2009，Radiation protection instrumentation−Ambient and/or directional dose equivalent (rate)
meters and/or monitors for beta, X and gamma radiation−Part 1: Portable workplace and environmental meters
and monitors
[2] IEC 61017:2016，Radiation protection instrumentation−Transportable, mobile or installed equipment to
measure photon radiation for environmental monitoring
[3] T. Kurosawa, N. Saito and T. Sawaki, Compact Gamma-ray Irradiation System for Low Dose Rate below 1
μSv/h, Proceedings of the 4th Asian and Oceanic Congress on Radiation Protection (2014)
77
Z 4511：2018
附属書JD
（参考）
JISと対応国際規格との対比表
JIS Z 4511:2018 X線及びγ線用線量（率）測定器の校正方法
ISO 4037-1:1996，X and gamma reference radiation for calibrating dosemeters and
doserate meters and for determining their response as a function of photon energy−Part 1:
Radiation characteristics and production methods
ISO 4037-2:1997，X and gamma reference radiation for calibrating dosemeters and
doserate meters and for determining their response as a function of photon energy−Part 2:
Dosimetry for radiation protection over the energy ranges from 8 keV to 1,3 MeV and 4
MeV to 9 MeV
ISO 4037-3:1999，X and gamma reference radiation for calibrating dosemeters and
doserate meters and for determining their response as a function of photon energy−Part 3:
Calibration of area and personal dosemeters and the measurement of their response as a
function of energy and angle of incidence
ISO 4037-4:2004，X and gamma reference radiation for calibrating dosemeters and
doserate meters and for determining their response as a function of photon energy−Part 4:
Calibration of area and personal dosemeters in low energy X reference radiation fields
(I)JISの規定
(II)
国際規格
番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
1 適用範囲
ISO 4037-1
ISO 4037-2
ISO 4037-3
ISO 4037-4
1
適用範囲
一致
2 引用規格
3 用語及び
定義
ISO 4037-1
ISO 4037-2
ISO 4037-3
ISO 4037-4
3
変更
追加
JIS用語に合わせた部分がある。ま
た，本文中に用いられる用語を追
加している。
実質的な差異はない。
3
Z
4
5
11
：
2
0
1
8
78
Z 4511：2018
(I)JISの規定
(II)
国際規格
番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
4 連続X線
標準場
4.1 線質
ISO 4037-1 4.1
4.1.1 連続X線標準
場の線質の一覧
追加
日本で用いられているQI線質を
追加している。
改正中のISO規格にも追加するよ
う提案している。
4.2 連続X線標準
場の仕様
ISO 4037-1 4.1
4.1.2 それぞれの線
質について説明
追加
日本で用いられているQI線質を
追加している。
改正中のISO規格にも追加するよ
う提案している。
ISO 4037-4 6.1
6.2
6.3
低エネルギーX線場
を設定する場合の管
電圧，フィルタにつ
いて説明
一致
4.3 装置の性能及
び操作方法
ISO 4037-1 4.2
4.3
4.4
4.2 X線場を生成す
るための管電圧，フ
ィルタ厚などを規定
4.3 管電圧を直接測
定できない場合の，
線質の確認方法
4.4 高空気カーマ率
シリーズにおけるフ
ィルタ設定の注意点
追加
日本で用いられているQI線質を
追加している。
改正中のISO規格にも追加するよ
う提案している。
4.4 照射野の均一
性及び散乱線の評
価
ISO 4037-1
ISO 4037-4
4.5
6.3
Part 1 4.5及びPart 4
6.3 照射野内の均一
性の規定及び散乱線
の評価方法を説明
一致
5 蛍光X線
標準場
5.1 場の仕様及び
発生原理
ISO 4037-1 5.1
5.1 蛍光X線場の一
般的な解説
一致
5.2 蛍光X線装置
及び操作条件
ISO 4037-1 5.2
5.3
5.2 装置類に関する
規定
5.3 装置類の配置及
び空気カーマ率設定
のための装置の調整
方法
追加
ISO規格ではUフィルタを用いた
スペクトル例が示されているが，
核燃料物質でもあり国内で使われ
ることはほとんどない。そのため，
一般的に使用可能なYbフィルタ
のスペクトル例を示した。
スペクトル例の提示であり，技術
的差異はない。
3
Z
4
5
11
：
2
0
1
8
79
Z 4511：2018
(I)JISの規定
(II)
国際規格
番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
5 蛍光X線
標準場
（続き）
5.3 照射野の均一
性及び散乱線の測
定
ISO 4037-1 5.4
5.4 散乱線の評価方
法
一致
6 γ線標準
場
6.1 γ線核種
ISO 4037-1 6.1
γ線各種の紹介
一致
6.2 γ線源の構造及
び仕様
6.2
γ線源の構造及び仕
様
一致
6.3 照射設備
6.3
コリメート照射及び
非コリメート照射装
置に関する規定
追加
減弱板の材質として，鉛のほかに
タングステン合金，ステンレス鋼
を追加した。
技術的差異はない。
6.4 散乱線の評価
6.4
散乱線の評価方法に
ついて規定
追加
散乱線の評価法として，シャドー
シールド法について追加した。
技術的差異はない。
6.5 照射野の均一
性
6.3
照射野について説明
一致
7 高エネル
ギーγ線標
準場
7.1 設備の条件及
び場の仕様
7.1
7.2
高エネルギーγ線場
の生成方法について
説明
一致
7.2 照射野の均一
性及び散乱線の評
価
7.3
照射野の均一性及び
散乱線について説明
一致
7.3 混在放射線の
影響評価
7.4
混在放射線の影響に
関する説明
一致
8 標準場の
線量測定法
及びトレー
サビリティ
8.1 一般
ISO 4037-2 4.1，
4.2
基準測定器のトレー
サビリティについて
追加
トレーサビリティ体系について説
明を加えた。
技術的差異はない。
8.2 標準場におけ
る空気カーマ（率）
の決定
ISO 4037-2 10.5
高エネルギーγ線場
の線量測定方法
追加
各物理量の関係について解説を加
えた。
技術的差異はない。
8.3 標準場におけ
る線量当量（率）の
決定
ISO 4037-3 3.2.14
換算係数について定
義
変更
式を変換し，より分かりやすく解
説
技術的差異はない。
3
Z
4
5
11
：
2
0
1
8
80
Z 4511：2018
(I)JISの規定
(II)
国際規格
番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
8 標準場の
線量測定法
及びトレー
サビリティ
（続き）
8.4 標準測定器の
条件
ISO 4037-2 4
標準測定器の条件
一致
8.5 標準測定器に
よる測定方法
ISO 4037-2 5
標準測定器による測
定方法
一致
8.6 電離箱を用い
た測定方法
ISO 4037-2 6
電離箱を用いた測定
方法
一致
8.7 各種標準場固
有の測定方法
ISO 4037-2 7，8，
9，10
各種標準場固有の測
定方法
削除
高エネルギーγ線の吸収線量の測
定についてはこの規格の適用範囲
外であるため削除した。
実質的な差異はない。
9 実用測定
器の校正方
法
9.1 一般
ISO 4037-3 1
適用範囲
一致
9.2 線量当量への
換算係数
ISO 4037-3 4.1.1，
4.1.2
各種線質の説明
換算係数の不確かさ
追加
実効エネルギーから換算係数を求
める方法について追加した。
技術的差異はない。
9.3 個人線量計の
校正条件
ISO 4037-3 6.3.2
6.3.3
6.3.4
個人線量計の校正条
件
同時照射の場合の条
件
Hp(0.07) における方
向特性
追加
国内で利用されているP-40ファン
トムを追加した。
技術的差異はない。
9.4 標準場での校
正方法
ISO 4037-3
ISO 4037-2
4.2
7.5
標準場での校正方法
内挿法
追加
散乱線を評価して校正する方法と
してシャドーシールド法を追加
技術的に有効な方法であり，ISO
に提案予定
9.5 特性試験の方
法
ISO 4037-3 4.1.2〜
4.1.8
特性試験における各
種規定
一致
9.6 場のモニタリ
ング用線量当量測
定器の校正方法
ISO 4037-3 5
場のモニタリング用
線量当量測定器の校
正方法
一致
9.7 個人のモニタ
リング用線量当量
測定器の校正方法
ISO 4037-3 6
個人のモニタリング
用線量当量測定器の
校正方法
一致
9.8 その他の測定
量の実用測定器の
校正方法
追加
国内のモニタリングで用いられて
いる空気吸収線量，空気カーマ，
照射線量の校正について追加
技術的差異はない。
3
Z
4
5
11
：
2
0
1
8
81
Z 4511：2018
(I)JISの規定
(II)
国際規格
番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
10 校正結
果の記録
ISO 4037-3 7.1
校正結果の記録
追加
結果の記録について，顧客名を追
加した。
より理解しやすいよう追加したも
のであり，技術的差異はない。
11 校正定
数の不確か
さ
11.1 一般
ISO 4037-3 7.2
不確かさについて
一致
11.2 校正定数の不
確かさの求め方
ISO 4037-2
ISO 4037-3
ISO 4037-4
11.2
7.2
8.5
不確かさについて
一致
附属書A
（規定）
基準条件及び標準
試験条件
ISO 4037-3
ISO 4037-2
AnnexA
A.1
3.1
3.2
A.1 基準条件及び標
準試験条件
基準条件
標準試験条件
追加
実用測定器の校正に関する標準試
験条件について追記した。
技術的差異はない。
附属書B
（規定）
線量当量への換算
係数
ISO 4037-3 5，6，
Annex
A.2
換算係数
一致
ISO規格で本文中及びAnnexに示
されていた換算係数をまとめた。
附属書C
（参考）
二次電子平衡及び
電子飛程の影響
ISO 4037-3 AnnexA
A.3
電子飛程の影響
一致
附属書D
（規定）
空気密度の補正
ISO 4037-4 Annex
A
（規定）
空気密度の補正
一致
附属書E
（参考）
パルス波高スペク
トルの測定
ISO 4037-4 Annex
B
（参考）
パルス波高スペクト
ルの測定
一致
附属書F
（参考）
参考文献
一致
附属書JA
（参考）
校正の階層及びト
レーサビリティ体
系
3
Z
4
5
11
：
2
0
1
8
82
Z 4511：2018
JISと国際規格との対応の程度の全体評価：（ISO 4037-1:1996，ISO 4037-2:1997，ISO 4037-3:1999，ISO 4037-4:2004，MOD）
注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は，次による。
− 一致 ················ 技術的差異がない。
− 削除 ················ 国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。
− 追加 ················ 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
− 変更 ················ 国際規格の規定内容を変更している。
注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次による。
− MOD ··············· 国際規格を修正している。
3
Z
4
5
11
：
2
0
1
8