Z 4343：2015
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 1
3 用語及び定義 ··················································································································· 2
4 分類······························································································································· 3
4.1 使用形態による分類 ······································································································· 3
4.2 性能による分類 ············································································································· 4
5 性能······························································································································· 4
5.1 相対基準誤差 ················································································································ 4
5.2 直線性 ························································································································· 4
5.3 基準核種以外の測定対象核種に対する相対基準誤差 ······························································ 4
5.4 測定エネルギー範囲 ······································································································· 4
5.5 積分非直線性 ················································································································ 4
5.6 137Cs検出効率 ··············································································································· 5
5.7 131I検出効率·················································································································· 5
5.8 60Co検出効率 ················································································································ 5
5.9 バックグラウンド ·········································································································· 5
5.10 決定しきい値 ··············································································································· 5
5.11 最大計数率 ·················································································································· 5
5.12 安定性 ························································································································ 5
5.13 エネルギー分解能 ········································································································· 5
5.14 静電気放電イミュニティ特性 ·························································································· 6
5.15 放射無線周波電磁界イミュニティ特性 ·············································································· 6
5.16 サージ及びリング波イミュニティ特性 ·············································································· 6
5.17 無線周波電磁界によって誘導する伝導妨害に対するイミュニティ特性 ···································· 6
5.18 温度特性 ····················································································································· 6
5.19 湿度特性 ····················································································································· 6
5.20 外部磁界特性 ··············································································································· 6
5.21 耐温度衝撃性 ··············································································································· 7
5.22 保管温度特性 ··············································································································· 7
5.23 耐振動性 ····················································································································· 7
5.24 耐衝撃性 ····················································································································· 7
6 構造······························································································································· 8
6.1 一般 ···························································································································· 8
6.2 検出部 ························································································································· 8
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ページ
6.3 計測部 ························································································································· 8
6.4 付帯設備 ······················································································································ 8
7 試験······························································································································· 8
7.1 試験条件 ······················································································································ 8
7.2 試験方法 ····················································································································· 10
8 検査······························································································································ 21
8.1 一般 ··························································································································· 21
8.2 形式検査 ····················································································································· 21
8.3 受渡検査 ····················································································································· 21
9 表示······························································································································ 22
10 検査報告書 ··················································································································· 22
11 取扱説明書 ··················································································································· 22
附属書A（参考）指示値に差があると判断するために必要な独立した読取回数（正規分布の場合） ····· 24
附属書JA（参考）JISと対応国際規格との対比表 ······································································ 25
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まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人日本電気計測器工業会（JEMIMA）
及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出
があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
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日本工業規格 JIS
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体内放射能測定装置−γ線放出核種
（エネルギー100 keV以上3 000 keV以下）
In vivo counters for measuring activity of gamma-emitters
(energy from 100 keV to 3 000 keV)
序文
この規格は，2004年に第1版として発行されたIEC 61582を基とし，我が国の使用状況に応じて，技術
的内容を変更して作成した日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格を変更している事項である。変更の一
覧表にその説明を付けて，附属書JAに示す。
1
適用範囲
この規格は，原子力施設及び放射線施設における作業者，放射性物質に汚染された又は汚染されたおそ
れのある地域で就業する作業者及び同地域に居住する一般公衆の内部被ばく線量を推定するために，人体
内のγ線放出核種から放出されるγ線を体外から検出することによって放射能を測定する体内放射能測定
装置（以下，装置という。）について規定する。
この規格は，100 keV以上3 000 keV以下のγ線を放出する核種を測定する装置に適用する。ただし，こ
の規格は，核燃料再処理施設などで必要とされる200 keV以下のγ線及びX線を対象とした低エネルギー
測定用の装置並びに鉄遮蔽室などを装備することによって極低バックグラウンド環境を実現した研究目的
の装置には適用しない。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 61582:2004，Radiation protection instrumentation−In vivo counters−Classification, general
requirements and test procedures for portable, transportable and installed equipment（MOD）
なお，対応の程度を表す記号“MOD”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“修正している”
ことを示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 61000-4-2 電磁両立性−第4-2部：試験及び測定技術−静電気放電イミュニティ試験
注記 対応国際規格：IEC 61000-4-2，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-2: Testing and
measurement techniques−Electrostatic discharge immunity test（IDT）
JIS C 61000-4-3 電磁両立性−第4-3部：試験及び測定技術−放射無線周波電磁界イミュニティ試験
注記 対応国際規格：IEC 61000-4-3，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-3: Testing and
2
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measurement techniques−Radiated, radio-frequency, electromagnetic field immunity test（IDT）
JIS C 61000-4-5 電磁両立性−第4-5部：試験及び測定技術−サージイミュニティ試験
注記 対応国際規格：IEC 61000-4-5，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-5: Testing and
measurement techniques−Surge immunity test（IDT）
JIS C 61000-4-6 電磁両立性−第4-6部：試験及び測定技術−無線周波電磁界によって誘導する伝導
妨害に対するイミュニティ
注記 対応国際規格：IEC 61000-4-6，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-6: Testing and
measurement techniques−Immunity to conducted disturbances, induced by radio-frequency fields
（MOD）
JIS Q 17025 試験所及び校正機関の能力に関する一般要求事項
JIS Z 4001 原子力用語
注記 対応国際規格：IEC 60050-393，International Electrotechnical Vocabulary−Chapter 393: Nuclear
instrumentation: Physical phenomena and basic concepts及びIEC 60050-394，International
Electrotechnical Vocabulary−Chapter 394: Nuclear instrumentation: Instruments（全体評価：MOD）
JIS Z 8103 計測用語
JIS Z 8401 数値の丸め方
IEC 61000-4-12，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-12: Testing and measurement techniques−
Ring wave immunity test
3
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，JIS Z 4001及びJIS Z 8103によるほか，次による。
3.1
放射能の取決め真値，At（conventional true activity）
放射能の最良推定値，すなわち一次若しくは二次標準線源，又はこれらによって校正された標準器を用
いて決定された不確かさを伴う放射能の値。
3.2
変動係数，v（coefficient of variation）
n個の測定値（xi）の標準偏差の推定値（s）の平均値（x）に対する比。変動係数は，次の式によって求
める。
(
)
∑
=
−
−
=
=
n
i
i
x
x
n
x
x
s
v
1
2
1
1
1
3.3
決定しきい値（decision threshold）
バックグラウンドとの差が有意であるとみなせる最小の指示値。
3.4
指示値，Mi（indication value）
装置が示す値。放射能（Bq），計数率（s−1）などで表す。
3
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3.5
指示誤差，ΔM（error of indication）
ファントム又は試験用線源を測定したときの正味の指示値Msと取決め真値Mtとの差。指示誤差は，次
の式によって求める。
t
s
Δ
M
M
M
−
=
注記 取決め真値Mtは，放射能の取決め真値Atに対応した指示値である。
3.6
相対指示誤差，I（relative error of indication）
指示誤差の取決め真値に対する比の百分率（%）。相対指示誤差は，次の式によって求める。
100
t
×
∆
=MM
I
3.7
相対基準誤差，E（relative intrinsic error）
基準条件の下で，放射線源などを用いたときの相対指示誤差と取決め真値の不確かさとの和。相対指示
誤差を±I，取決め真値の相対拡張不確かさをU（包含係数k＝2）とすると相対基準誤差は，±(|I |＋U)で
表す。
注記 不確かさは，拡張不確かさで表す。拡張不確かさは，合成標準不確かさに包含係数を乗じて求
める。合成標準不確かさは，各不確かさの成分の標準偏差（標準不確かさ）の自乗和の平方根
である。
3.8
レスポンス，R（response）
ファントム又は試験用線源を測定したときの正味の指示値Msの，取決め真値Mtに対する比。レスポン
スは，次の式によって求める。
t
S
M
M
R=
3.9
有効測定範囲（effective range of measurement）
装置がこの規格の性能を満たす測定量の範囲。
3.10
エネルギー分解能（energy resolution）
スペクトルにおいて着目するエネルギーに関わる全エネルギー吸収ピークの半値幅（FWHM），又はそ
の値のピークエネルギーに対する比の百分率で表したもの。ここで，半値幅とは，ピークの最高値の1/2
における分布の幅をいう。
4
分類
4.1
使用形態による分類
装置の使用形態による分類は，次による。
a) 据置形 使用場所に永続的に設置して測定するもの。
b) 可搬形 異なる場所に移動することが可能なもの。ただし，移動中は測定しない。
c) 携帯形 携帯して測定することが可能なもの。
4
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4.2
性能による分類
箇条5に規定する性能によって，I形，II形及びIII形に分類する。それぞれの特徴及び代表的な使途は，
次による。
a) I形 核種弁別機能をもち，指示値を内部被ばく線量の評価に用いるもの。
b) II形 核種弁別機能をもち，通常，内部被ばくの有無及び／又は程度を判定するスクリーニングに用
いるもの。
c) III形 核種弁別機能をもたない装置で，II形と同様にスクリーニングに用いるもの。
5
性能
5.1
相対基準誤差
相対基準誤差は，7.2.2によって試験したとき次による。
− I形 ±(20＋USA) %
− II形 ±(30＋USA) %
− III形 ±(40＋USA) %
注記 この箇条及び7.2.2において，USAはファントムの放射能の取決め真値の相対拡張不確かさ（k
＝2）である。
5.2
直線性
直線性は，7.2.3によって試験したとき，任意の2測定点の相対指示誤差Iの差がいずれも（2 F1＋USR）
を超えず，かつ，各測定点の相対基準誤差Eが（F1＋USA）を超えてはならない。
ここに，
F1： 許容値（I形の場合は±20 %，II形の場合は±30 %，III形の場
合は±40 %）
USR： 2測定点で用いたファントム又は試験用線源の放射能の取決
め真値の比の相対拡張不確かさ（k＝2）
USA： ファントム又は試験用線源の放射能の取決め真値の相対拡張
不確かさ（k＝2）
5.3
基準核種以外の測定対象核種に対する相対基準誤差
基準核種以外の測定対象核種に対する相対基準誤差は，7.2.4によって試験し製造業者が規定しなければ
ならない。ここで，相対基準誤差を規定する基準核種以外の測定対象核種は，受渡当事者間の協定によら
なければならない。
なお，この規定は，III形の装置及び測定対象核種が限定されているII形の装置に適用する。
5.4
測定エネルギー範囲
測定エネルギー範囲は，7.2.5によって試験したとき，100〜3 000 keVに調整できなければならない。
なお，この規定は，I形及びII形の装置に適用する。
5.5
積分非直線性
積分非直線性は，7.2.6によって試験したとき次による。
なお，この規定は，I形及びII形の装置に適用する。
a) I形の装置について
− シンチレーション検出器を備えた装置の場合 0.5 %以下
− ゲルマニウム検出器を備えた装置の場合 0.2 %以下
b) II形の装置について
− シンチレーション検出器を備えた装置の場合 1.0 %以下
5
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− ゲルマニウム検出器を備えた装置の場合 0.3 %以下
5.6
137Cs検出効率
137Cs検出効率は，7.2.7によって試験を行い，製造業者が明示しなければならない。この規定は全身を
測定対象とする装置だけに適用する。
5.7
131I検出効率
131I検出効率は，7.2.8によって試験を行い，製造業者が明示しなければならない。
5.8
60Co検出効率
60Co検出効率は，7.2.9によって試験を行い，製造業者が明示しなければならない。この規定は受渡当事
者間の協定によって適用する。
5.9
バックグラウンド
バックグラウンドは，7.2.10によって試験を行い，製造業者が定める値を超えてはならない。
5.10 決定しきい値
決定しきい値は，5.6〜5.8に示す核種について，7.2.11によって試験を行い，製造業者が明示しなければ
ならない。このとき，試験時のバックグラウンドによる線量率を併記しなければならない。
なお，決定しきい値に相当する放射能は，7.1.1に示す基準条件において次の値を満足することが望まし
い。
a) I形の装置について
−
60Coについて
20 Bq以下
−
137Csについて
40 Bq以下
b) II形及びIII形の装置について
−
60Coについて
100 Bq以下
−
137Csについて
200 Bq以下
5.11 最大計数率
最大計数率は，7.2.12によって試験を行い，製造業者が明示しなければならない。
5.12 安定性
安定性は，7.2.13によって試験したとき，次による。
a) I形又はII形の装置の不安定性について
− シンチレーション検出器を備えた装置の場合 2 %以下
− ゲルマニウム検出器を備えた装置の場合 0.2 %以下
b) III形の装置の変動係数について
0.04以下
5.13 エネルギー分解能
エネルギー分解能は，7.2.14によって試験したとき，次による。
なお，この規定は，I形及びII形の装置に適用する。
a) シンチレーション検出器を備えた装置の場合
−
137Csのγ線（662 keV）において
9 %以下
b) ゲルマニウム検出器を備えた装置の場合
−
137Csのγ線（662 keV）において
2 keV以下
−
60Coのγ線（1 333 keV）において
4 keV以下
ただし，検出器有効体積100 cm3以下の装置については
6
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−
60Coのγ線（1 333 keV）において
3 keV以下
5.14 静電気放電イミュニティ特性
静電気放電イミュニティ特性は，7.2.15によって試験したとき，レスポンスの変化の許容範囲は±10 %
とする。また，警報機能があるものについては，警報は作動してはならない。
5.15 放射無線周波電磁界イミュニティ特性
放射無線周波電磁界イミュニティ特性は，7.2.16によって試験したとき，受渡当事者間の協定による範
囲内でなければならない。
5.16 サージ及びリング波イミュニティ特性
サージ及びリング波イミュニティ特性は，7.2.17によって試験したとき，レスポンスの変化の許容範囲
は±10 %とする。また，警報機能があるものについては，警報は作動してはならない。
5.17 無線周波電磁界によって誘導する伝導妨害に対するイミュニティ特性
無線周波電磁界によって誘導する伝導妨害に対するイミュニティ特性は，7.2.18によって試験したとき，
レスポンスの変化の許容範囲は±10 %とする。また，警報機能があるものについては，警報は作動しては
ならない。ただし，受渡当事者間の協定があればこの限りではない。
5.18 温度特性
温度特性は，7.2.19によって試験したとき，許容範囲は次による。
なお，この規定は，装置の使用環境における温度が標準試験条件から5 ℃を超えて外れる可能性がある
場合に適用する。
a) I形又はII形の装置の積分非直線性の変化について
1) 据置形の装置について，温度範囲10〜35 ℃において
− シンチレーション検出器を備えた装置の場合 ±5 %
− ゲルマニウム検出器を備えた装置の場合 ±0.2 %
2) 可搬形又は携帯形の装置について，温度範囲5〜40 ℃において
− シンチレーション検出器を備えた装置の場合 ±10 %
− ゲルマニウム検出器を備えた装置の場合 ±0.4 %
b) III形の装置のレスポンスの変化について
1) 据置形の装置について，温度範囲10〜35 ℃において±5 %
2) 可搬形又は携帯形の装置について，温度範囲5〜40 ℃において±5 %
5.19 湿度特性
湿度特性は，7.2.20によって試験したとき，積分非直線性又はレスポンスの変化の許容範囲は，次によ
る。
a) 据置形の装置について相対湿度範囲40〜85 %（35 ℃）において
− シンチレーション検出器を備えた装置の場合 ±5 %
− ゲルマニウム検出器を備えた装置の場合 ±0.3 %
b) 可搬形又は携帯形の装置について相対湿度範囲40〜93 %（40 ℃）において
− シンチレーション検出器を備えた装置の場合 ±10 %
− ゲルマニウム検出器を備えた装置の場合 ±0.6 %
5.20 外部磁界特性
外部磁界特性は，7.2.21によって試験したとき，許容範囲は次による。
なお，この規定は，装置の使用環境における外部磁界が標準試験条件を超える可能性がある場合に適用
7
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する。
a) I形又はII形の装置の積分非直線性の変化について
− シンチレーション検出器を備えた装置の場合 ±10 %
− ゲルマニウム検出器を備えた装置の場合 ±0.1 %
b) III形の装置のレスポンスの変化について
±2 %
5.21 耐温度衝撃性
耐温度衝撃性は，7.2.22によって試験したとき，許容範囲は次による。この規定は，受渡当事者間の協
定によって可搬形及び携帯形の装置に適用する。
a) I形又はII形の装置の積分非直線性の変化について
− シンチレーション検出器を備えた装置の場合 ±10 %
− ゲルマニウム検出器を備えた装置の場合 ±0.4 %
b) III形の装置のレスポンスの変化について
±10 %
5.22 保管温度特性
保管温度特性は，7.2.23によって試験したとき，許容範囲は次による。この規定は，受渡当事者間の協
定によって可搬形及び携帯形の装置に適用する。
a) I形又はII形の装置の積分非直線性の変化について
− シンチレーション検出器を備えた装置の場合 ±5 %
− ゲルマニウム検出器を備えた装置の場合 ±0.2 %
b) III形の装置のレスポンスの変化について
±5 %
5.23 耐振動性
耐振動性は，7.2.24によって試験したとき，許容範囲は次による。この規定は，可搬形及び携帯形の装
置に適用する。
a) I形又はII形の装置の積分非直線性の変化について
− シンチレーション検出器を備えた装置の場合 ±5 %
− ゲルマニウム検出器を備えた装置の場合 ±0.2 %
b) III形の装置のレスポンスの変化について
±5 %
5.24 耐衝撃性
耐衝撃性は，7.2.25によって試験したとき，許容範囲は次による。この規定は，可搬形及び携帯形の装
置に適用する。
a) I形又はII形の装置の積分非直線性の変化について
− シンチレーション検出器を備えた装置の場合 ±5 %
− ゲルマニウム検出器を備えた装置の場合 ±0.2 %
b) III形の装置のレスポンスの変化について
±5 %
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6
構造
6.1
一般
一般事項は，次による。
a) 装置は，検出部，計測部，付帯設備などによって構成する。
注記 装置には，検出部と計測部とが一体化したものもある。
b) 多数の被検者を容易かつ効率的に測定できるように設計しなければならない。
c) データベース中に測定結果を登録できなければならない。
d) 測定対象とする人体の部位（全身又は特定部位）の形状を模擬したファントムを用いて校正できる構
造でなければならない。
e) 被検者が正しい測定位置へ容易に入退出できるよう設計しなければならない。
f)
装置の各部は，できる限り汚染しにくく，また，容易に除染又は取り外せるように設計しなければな
らない。ただし，汚染のおそれがない場合には，この規定は適用しない。
g) 少なくとも身長145〜200 cm，身体の厚さ最大40 cmの人を測定できるように設計することが望まし
い。
h) 小児を測定対象とする装置の場合には，体格上の制限は製造業者が明示しなければならない。
i)
検出器配置の最適化，低バックグラウンドの遮蔽材の使用，検出器コリメータの装備などによって，
最大限の性能を得られるようにしなければならない。
j)
特定の放射性核種を測る場合，装置はその核種の放出割合の最も高い光子を測定できるように設定し
なければならない。装置の測定エネルギー範囲内のエネルギーの光子を放出する他の核種が測定でき
るように，1チャネル当たりのエネルギー幅及び弁別レベルは手動又は自動で変更できなければなら
ない。
k) 有効測定範囲は，3デカード以上なければならない。
l)
可搬形及び携帯形の装置は，保管温度を−25〜70 ℃として設計することが望ましい。
6.2
検出部
検出部は，検出器，前置増幅器，高圧電源などによって構成する。検出器は，シンチレーション検出器
又はゲルマニウム検出器（クライオスタットを含む。）とする。
6.3
計測部
計測部は，測定ユニット又はマルチチャネル波高分析装置，データ処理ユニット，安定化電源などによ
って構成する。
6.4
付帯設備
付帯設備には，コリメータ，遮蔽体（鉄，鉛など），測定中に被検者がとどまる小部屋，椅子などを含む。
7
試験
7.1
試験条件
7.1.1
共通試験条件
7.2の各試験方法における基準条件は，表1の第2欄による。特に，指定のある場合を除き，この規格に
おける標準試験条件は，表1の第3欄による。
標準試験条件で行えない場合は，環境温度，気圧及び相対湿度を指定し，必要に応じて基準条件の指示
値となるよう補正する。
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Z 4343：2015
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表1−共通試験条件
項目
基準条件
標準試験条件
一次ファントム
7.1.2 a) による。
7.1.2 a) による。
基準核種
137Cs
137Cs
予熱時間 min
30
＞30
環境温度 ℃
20
18〜22 b)
相対湿度 %
65
50〜75 b)
気圧 kPa
101.3
86〜106 b)
電源電圧
正規電源電圧
正規電源電圧±1 %
電源周波数
正規電源周波数
正規電源周波数±1 %
電源波形
正弦波
正弦波からのひずみ±5 %
γ線バックグラウンドa)
空気カーマ率0.2 μGy/h以下
空気カーマ率0.25 μGy/h以下
外部磁気誘導
無視できるレベル
地球磁界の2倍以下
注a) 装置の対象エネルギー範囲を満足する測定器によって確認する。
b) これらの値は，温暖な気候下の試験に適用可能である。この範囲にない気候条件の試験
に際しては，その気候条件を明示しなければならない。海抜が高く標準試験条件の気圧
が実現できない場合は，70 kPa以上の気圧下の試験に限り許容される。
7.1.2
ファントム及び試験用線源
試験に用いるファントム及び試験用線源は，次による。
なお，一次ファントム，二次ファントム及び試験用線源は，放射能についてJIS Q 17025に基づき認定
されたJCSS 1)登録事業者など，国家標準へのトレーサビリティが確立された校正機関によって校正しなけ
ればならない。これらの放射能は，相対拡張不確かさ10 %未満（k＝2）で決定されていなければならない。
同じ試験に用いるファントム及び試験用線源の放射能の相対値は，不確かさ5 %未満（k＝2）で決定され
ていることが望ましい。放射能は，必要に応じて半減期を考慮して補正しなければならない。
注1) 計量法第143条に基づく校正事業者登録制度で，Japan Calibration Service Systemの略称である。
a) 一次ファントムは，次による。
− 測定対象となる人を代表する体格を模擬した材料及び形状のもので，試験に用いる核種を含む。
− 全身を測定対象とする装置の場合，受渡当事者間の協定がない限り，137Csが全身に均一に分布した
ファントム。個々の臓器を測定対象とする装置の場合は，対象部位を模擬した非放射性のファント
ム内に放射性物質を含む対象臓器を模擬したファントムを設置したもの。例えば，甲状腺中の131I
を模擬する首ファントム，肺中の60Coを模擬するファントムなどを用いることがある。
b) 二次ファントム及び試験用線源は，体内放射能の定量に関わる性能以外の性能を評価するために用い，
次による。
− 二次ファントムに用いる核種は，受渡当事者間で決定しなければならない。
− 二次ファントム又は試験用線源を製造業者が定める位置に置き，一次ファントムに対するレスポン
スの比を定めなければならない。レスポンスの比は，0.8〜1.2でなければならない。
注記 二次ファントムは，必ずしも人体形状を模擬しなくてもよい。
c) バックグラウンドファントムは，一次ファントム又は二次ファントムによる測定のバックグラウンド
を評価するために用い，次による。
− 一次ファントム又は二次ファントムと同じ材料及び形状とする。
− 放射性物質を含まない。
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7.2
試験方法
7.2.1
一般
試験方法一般は，次による。
a) 全ての試験は，30分間の予熱時間が経過した後に実施する。
b) 試験条件のうちのある項目の条件を変化させて試験する場合には，その項目以外の条件は，表1に示
す標準試験条件の範囲とする。
c) 指示値は，通常，バックグラウンドの寄与を含めた総計数又は総計数率を指す。
d) 指示値の変動が放射線の統計変動によるのであれば，十分な測定回数の平均値をとって，特性が性能
規定を満たすかを確認する。測定回数は，附属書Aが参考となる。
e) 試験時における測定時間，日時，温度，気圧及び相対湿度の値を記録する。
f)
数値の丸め方は，JIS Z 8401に従う。
7.2.2
相対基準誤差試験
相対基準誤差試験は，標準試験条件で，製造業者が指定した位置に基準核種を含む一次ファントムを置
き，指示値を読み取る。ここで，一次ファントムの放射能の取決め真値は，製造業者が試験点として定め
た放射能の±20 %でなければならない。次に，一次ファントムをバックグラウンドファントムに置き換え，
バックグラウンドによる指示値を読み取り，相対指示誤差Iを求める。相対指示誤差Iが，相対基準誤差E
の許容範囲内であることを確認する。
7.2.3
直線性試験
直線性試験は，次による。
a) 形式検査 標準試験条件で，製造業者が指定した位置に，基準核種を含む7.1.2のファントム又は試験
用線源を置き，指示値を読み取る。次に，ファントムを用いた場合はバックグラウンドファントムを
設置した状態で，試験用線源を用いた場合は何も設置しない状態で，バックグラウンドによる指示値
を読み取り，用いたファントム又は試験用線源の放射能の取決め真値に対する相対指示誤差Iを求め
る。二次ファントム又は試験用線源を用いた場合，相対指示誤差Iは一次ファントムに対するレスポ
ンスの比で補正する。任意の2測定点の相対指示誤差Iの差がいずれも（2 F1＋USR）を超えず，かつ，
相対指示誤差Iが，相対基準誤差Eの許容範囲内であることを確認する。
上記の試験を装置の有効測定範囲の各デカードの最大値のおよそ20 %，40 %及び80 %の点で実施
する。
電気試験で行う場合は，パルス信号発生装置を用い，検出部からの出力信号に近似した波形を計測
部の入力端に試験点に相当する指示値を与える信号として入力する。ここで，相対指示誤差Iは，式
(1)によって求める。
100
1
i
i
×
−
×
×
=
q
M
Q
m
I
·································································· (1)
ここに，
I： 相対指示誤差（%）
Mi： 試験用線源を用いた試験の指示値
Q： Miと同じ指示値を与える信号入力パルス率
q： 試験点に相当する指示値を与える信号入力パルス率
mi： qを入力したときの指示値
ただし，最高及び最低感度デカードの40 %については，一次ファントム，二次ファントム又は試験
用線源を用いなければならない。
b) 受渡検査 7.1.2のファントム若しくは試験用線源又は模擬信号による試験を装置の有効測定範囲の
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各測定デカードのおよそ50 %の点で行い，相対指示誤差Iはa) と同様の方法で求める。ただし，そ
のうちの1点は，一次ファントム，二次ファントム又は試験用線源を用いなければならない。
7.2.4
基準核種以外の測定対象核種に対する相対基準誤差試験
基準核種以外の測定対象核種に対する相対基準誤差試験は，7.2.2において，基準核種のかわりに受渡当
事者間で協定した核種を用いて行う。
7.2.5
測定エネルギー範囲試験
測定エネルギー範囲試験は，標準試験条件で，表2に示す核種からのγ線を，計数率の平均が1×103
s−1を超えないよう照射し，少なくとも2×103カウントになるまで測定し，全エネルギー吸収ピークの中
心チャネルを読み取る。これらの値の直線近似によって100 keV及び3 000 keVに相当するチャネルを求
める。これらの差がマルチチャネル波高分析装置の表示チャネル数の80〜90 %になるように調整できるこ
とを確認する。
表2−測定エネルギー範囲試験に用いる核種
核種
半減期a)
γ線のエネルギーa) b)と
放出割合
241Am
432.2年
59.5 keV（35.9 %）
57Co
271.74日
122 keV（85.6 %）
133Ba
10.51年
356 keV（62.1 %）
137Cs
30.167 1年
662 keV（85.1 %）
54Mn
312.03日
835 keV（100 %）
60Co
5.271 3年
1173 keV（99.9 %）
1333 keV（100 %）
88Y
106.65日
1836 keV（99.2 %）
208Tl c)
3.053分
2615 keV（99.2 %）
注a) 出典 アイソトープ手帳11版（公益社団法人日本アイソトープ協会 編）
b) 試験に用いるエネルギーを示す。
c)
232Thに始まる壊変系列に存在する核種である。
7.2.6
積分非直線性試験
積分非直線性試験は，標準試験条件で，7.2.5において求めた光子エネルギーEγiとそれに相当する読取り
ピーク中心チャネルnioの関係を直線近似によって求める。この直線から求められる各nioに相当するエネ
ルギーとEγiとの差ΔEγiを求め，その最大値をΔEγimaxとする。積分非直線性ηは，式(2)によって求める。
100
Δ
(%)
max
max
i
×
=
γ
γ
E
E
η
·································································· (2)
ここに，Eγmaxは，測定エネルギー範囲の上限である。
7.2.7
137Cs検出効率試験
137Cs検出効率試験は，次による。
a) 標準試験条件で，製造業者が指定した位置に，7.1.2に規定する，放射能が既知の137Csを含む全身フ
ァントムを配置する。形式検査においては一次ファントムを用い，受渡検査においては一次ファント
ム又は二次ファントムを用いる。ファントムの放射能は，少なくとも，バックグラウンドによって与
えられる計数値の2倍以上の計数値が得られるものでなければならない。
b) この状態で，I形又はII形の装置については全エネルギー吸収ピークにおける計数率，III形の装置に
ついては全計数率を取得し，ファントムによる計数率Cを求める。このときの測定時間は，I形又は
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II形の装置については全エネルギー吸収ピークにおいて少なくとも1×104カウント得られる時間（Tm），
III形の装置については全計数で少なくとも1×104カウント得られる時間（T）とする。計数率Cは，
I形又はII形の装置においては式(3)によって求め，III形の装置においては測定時間Tにおける総計数
率とする。
m
T
C
C
m
n
i
i
∑
=
=
················································································ (3)
ここに，
Ci： チャネルiのカウント数
n： ピーク開始のチャネル
m： ピーク終了のチャネル
Tm： 測定時間（s）
c) 測定後，装置からファントムを取り出す。
d) a)〜c) を計5回繰り返す。
e) バックグラウンドファントムを用い，同じ測定時間で測定し，バックグラウンドによる計数率Bを得
る。計数率Bは，I形又はII形の装置においては式(4)によって求め，III形の装置においては測定時間
Tにおけるバックグラウンドファントムを測定したときの総計数率とする。
m
T
B
B
m
n
i
i
∑
=
=
················································································ (4)
ここに，
Bi： チャネルiにおけるカウント数
f)
検出効率εは，式(5)によって求める。
−
−
=
T
t
.
P
A
B
C
ε
.5
0
0
693
0
exp
································································· (5)
ここに，
C： 5回の測定によって得られたCの平均値（s−1）
P：
137Csからの662 keVのγ線の放出割合（0.851）
T0.5：
137Csの半減期（30.1671年）
t： ファントムの校正からの経過時間（年）
A0： 校正時におけるファントムの放射能の取決め真値（s−1）
7.2.8
131I検出効率試験
131I検出効率試験は，標準試験条件で，製造業者が指定した位置に，7.1.2に規定する，放射能が既知の
131Iを含む甲状腺ファントムを収納した全身ファントム又は頸部ファントムを配置して行う。形式検査に
おいては一次ファントムを用い，受渡検査においては一次ファントム又は二次ファントムを用いる。ファ
ントムの放射能は，少なくとも，バックグラウンドによって与えられる計数値の2倍以上の計数値が得ら
れるものでなければならない。
この状態で，7.2.7と同様の方法で，検出効率εを求める。ただし，式(5)において，記号は次による。
P：
131Iからの365 keVのγ線の放出割合（I形及びII形の場合は0.817，III
形の場合は0.972）
T0.5：
131Iの半減期8.020 70日
t： ファントムの校正からの経過時間（日）
注記 受渡検査において用いるファントムには，137Cs及び133Baを混合した模擬よう素又は137Csを用
いてもよい。この場合は，あらかじめ131Iを含んだファントムを用いて校正した装置で測定し，
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131I相当の放射能を求めておく必要がある。また，131Iを含むファントムを用いた試験において，
大きさなどの理由で装置全体での試験実施が困難な場合には，検出部及び計測部を装置から取
り出し，遮蔽体など，他の構成品を模擬したものと組み合わせて実施してもよい。
7.2.9
60Co検出効率試験
60Co検出効率試験は，標準試験条件で，製造業者が指定した位置に，7.1.2に規定する，放射能が既知の
60Coを均一に分布させた肺ファントムを収納した全身ファントム又は胸腹部ファントムを配置して行う。
形式検査においては一次ファントムを用い，受渡検査においては一次ファントム又は二次ファントムを用
いる。ファントムの放射能は，少なくともバックグラウンドによって与えられる計数値の2倍以上の計数
値が得られるものでなければならない。
この状態で，7.2.7と同様の方法で，検出効率εを求める。ただし，シンチレーション検出器を備えた装
置の場合は測定器のエネルギー範囲には，1 173 keV及び1 333 keVの両方のピークを包含するようにしな
ければならない。また，式(5)において，記号は次による。
P：
60Coからの1 173 keV及び1 333 keVのγ線の放出割合（I形及びII形の
場合はそれぞれ1.00，III形の場合は合わせて2.00）
T0.5：
60Coの半減期5.271 3年
7.2.10 バックグラウンド試験
バックグラウンド試験は，標準試験条件で，製造業者が指定した位置に，7.1.2に規定するバックグラウ
ンドファントムを配置し，7.2.7と同様の方法で計数率を求める。ここで，I形及びII形の装置においては，
計数率は，5.6〜5.8に示す核種の全エネルギー吸収ピークに相当する領域の計数率とする。測定時間は10
分以上とし，測定は3回行いそれぞれの計数率の平均を求める。
7.2.11 決定しきい値試験
決定しきい値試験は，次による。
a) 計数率の決定しきい値RDTは，式(6)によって求める。
+
+
+
=
−
−
b
0
2
1
0
b
2
1
0
DT
1
4
1
1
2
1
t
t
k
t
R
k
t
R
α
α
··············································· (6)
ここに，
Rb： 7.2.7〜7.2.9で取得したバックグラウンド計数率（s−1）
tb： そのときのバックグラウンド測定時間（s）
t0： 測定時間（s）
k1−α： 第1種過誤が生じる確率αを5 %とした場合の係数で1.64と
する。
なお，測定時間t0は，I形の装置で1 800 s以下，II形又はIII形の装置について300 s以下としなけ
ればならない。
b) 決定しきい値に相当する放射能Aminは，式(7)によって求める。
P
ε
R
A
=
DT
min
··············································································· (7)
ここに，
ε： 7.2.7〜7.2.9で得られた検出効率
P： 7.2.7〜7.2.9で用いたγ線の放出割合
7.2.12 最大計数率試験
最大計数率試験は，標準試験条件で，同一核種の試験用線源2個を用いて行い，次による。ただし，こ
れらによって与えられる指示値は，それぞれ有効測定範囲の最大値の10 %程度とする。
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a) 核種の全エネルギー吸収ピークに相当する領域のバックグラウンド計数率Bを，7.2.10に規定する方
法で取得する。バックグラウンドの測定時間は計数値が，1×104となるのに要する時間又は3 000 s
のいずれか短い方とする。
b) 製造業者が規定した位置に上記の試験用線源1個を設置し，計数率C1を得る。測定時間は，線源測定
の場合は計数値が1×105となるのに要する時間とする。続いてもう一つの試験用線源を設置し，計数
率C12を得る。2個の試験用線源は，それぞれ一方の試験用線源が検出器を見込む立体角の外に他方が
設置されるようにしなければならない。さらに，最初に置いた試験用線源を取り外し，後で設置した
試験用線源だけによる計数率C2を得る。
c) 上記条件による不感時間μ（s）は，式(8)によって求める。
)
(
2
2
2
1
2
2
12
12
2
1
C
C
B
C
B
C
C
C
μ
+
−
+
−
−
+
=
······························································ (8)
ここに，C1，C2，C12及びBの単位は，（s−1）とする。
d) 最大計数率Cmaxは，式(9)によって求める。
μ
.
.
C
1
1
1
0
max=
··············································································· (9)
7.2.13 安定性試験
安定性試験は，次による。
a) I形及びII形の装置 標準試験条件で，製造業者が指定する予熱時間の後，製造業者が規定する位置
に57Co及び88Yのファントム又は試験用線源を設置する。ここで，ファントム又は試験用線源の放射
能は，1時間以内にそれぞれの全エネルギー吸収ピークにおいて1×104以上の計数値が得られるもの
でなければならない。
この状態でγ線の波高スペクトルを取得し，122 keV（57Co）のピーク中心チャネル（X1）及び1 836
keV（88Y）のピーク中心チャネル（X2）を，式(10)によって計算し，記録する。
∑
∑
=
=
×
=
m
n
i
i
m
n
i
i
C
C
i
X
·········································································· (10)
ここに，
X： X1又はX2
n：
57Co又は88Yの全エネルギー吸収ピークの最小チャネル
m：
57Co又は88Yの全エネルギー吸収ピークの最大チャネル
Ci： i番目のチャネルにおける計数値
上記の測定及び記録を少なくとも24時間にわたり，1時間間隔で行う。24時間連続の試験が難しい
場合は，1時間以上の間隔で24回以上の測定を実施してもよい。ただし，全ての測定及び記録が終了
するまで，装置の電源を切ってはならず，ファントム又は試験用線源を動かしてはならない。
ピークの中心チャネルX1及びX2それぞれの平均は，式(11)によって求める。
j
X
X
j
i
i
∑
=
=
1
··············································································(11)
ここに，
X： X1又はX2の平均値
Xi： i回目の測定で取得したX1又はX2
j： X1又はX2を取得した回数
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次にそれぞれのピーク中心チャネルに対する標準偏差S1，S2は，式(12)によって求める。
(
)
1
1
2
−
−
=∑
=
j
X
X
S
j
i
i
··································································· (12)
最後に，装置の不安定性F（%）は，式(13)によって求める。
100
σ
2
×
=EK
F
·········································································· (13)
ここに，
σ： S1，S2のうち大きい方
K： 1チャネルに相当するエネルギー（keV）
E2：
88Yのエネルギー［1 836（keV）］
b) III形の装置 標準試験条件で，製造業者が指定する予熱時間の後，製造業者が規定する位置に7.1.2
のファントム又は試験用線源を設置する。ここで，ファントム又は試験用線源の放射能は，1時間以
内に1×104以上の計数値が得られるものでなければならない。この状態で少なくとも24時間にわた
り，1時間ごとに同じ測定時間でバックグラウンドを含む計数値を取得する。24時間連続の試験が難
しい場合は，1時間以上の間隔で24回以上の測定を実施してもよい。ただし，全ての測定及び記録が
終了するまで装置の電源を切ってはならず，ファントム又は試験用線源を動かしてはならない。得ら
れた計数値から変動係数を求める。
7.2.14 エネルギー分解能試験
エネルギー分解能試験は，標準試験条件で，137Csの試験用線源を用いて行い，次による。
a) 試験用線源を入射窓又はコリメータの前に設置してスペクトルを得る。γ線エネルギーEγ1＝662 keV
の全エネルギー吸収ピークの半値幅が少なくとも10チャネルになるように調整する。この状態で，ピ
ークの計数値が1×104になるまで測定し，662 keVに対応したピーク中心チャネルn1を決定する。
b) 試験用線源を取り除きバックグラウンドスペクトルを取得する。その後60Coの試験用線源を製造業者
が指定する位置に設置してスペクトルを取得し，60CoからのエネルギーEγ2＝1 333 keVのγ線に対応
したピーク中心チャネルn2を決定する。
c) マルチチャネル波高分析装置のチャネル当たりのエネルギーは，式(14)によって求める。
2
1
2
γ
1
γ
n
n
E
E
K
−
−
=
········································································· (14)
d) ゲルマニウム検出器を備えた装置について，エネルギーEγ1及びEγ2のγ線γiに対する絶対エネルギー
分解能εγi（keV）は，式(15)によって求める。
εγi＝Δηγi×K ············································································ (15)
ここに， Δηγi： γ線（Eγ1＝662 keV又はEγ2＝1 333 keV）の全吸収エネルギー
ピークの半値幅（チャネル）
シンチレーション検出器を備えた装置について，相対エネルギー分解能ε'γi（%）は，式(16)によっ
て求める。
100
Δ
iγ
γi
iγ
×
=
E
K
η
'ε
····································································· (16)
7.2.15 静電気放電イミュニティ特性試験
静電気放電イミュニティ特性試験は，JIS C 61000-4-2に基づき，次による。大きさなどの理由で装置全
体での試験実施が困難な場合には，検出部及び計測部を装置から取り出し，遮蔽体など，他の構成品を模
擬したものと組み合わせて実施してもよい。この場合，他の構成品の模擬は装置全体での耐環境効果を上
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
回ってはならない。
a) 試験は，装置表面の導電部及び結合板に対しては接触放電法を用い，装置表面の絶縁部に対しては気
中放電法を用いる。放電箇所は，使用時に人が接触又は近接する場所とする。
b) 放電ごとに最小で1秒間の回復時間をもたせて，放電箇所1点当たり10回の放電を行う。
c) 各放電の最大強度は，JIS C 61000-4-2の表1及び表A.1のレベル3に基づき，接触放電については6 kV，
気中放電については8 kVとする。
d) バックグラウンド及び数え落としが十分無視できる計数値を与える7.1.2のファントム又は試験用線
源を製造業者の定める位置に設置して測定を行い，レスポンスを求める。次にa)〜c) に示す試験を行
いながら測定を行い，レスポンスを求める。放電前のレスポンスを基準値とし，放電時のレスポンス
から基準値を差し引いた値の基準値に対する百分率を求める。
7.2.16 放射無線周波電磁界イミュニティ特性試験
放射無線周波電磁界イミュニティ特性試験は，JIS C 61000-4-3に基づき行う。試験方法は，製造業者が
特に指定しない限り次による。大きさなどの理由で装置全体での試験実施が困難な場合には，検出部及び
計測部を装置から取り出し，遮蔽体など，他の構成品を模擬したものと組み合わせて実施してもよい。こ
の場合，他の構成品の模擬は装置全体での耐環境性を上回ってはならない。
a) 10 V/mの電界強度で80〜1 000 MHz及び1.4〜6 GHzの周波数の電磁界環境に装置を置く。周波数の
変化は，1 %ステップとする。
b) バックグラウンド及び数え落としが十分無視できる計数率を与える7.1.2のファントム又は試験用線
源を製造業者の定める位置に設置して測定を行い，レスポンスを求める。次に各電磁界環境に30秒間
装置を設置して測定を行い，そのときのレスポンスを求める。試験前のレスポンスを基準値とし，各
電磁界環境に置いて測定したときのレスポンスから基準値を差し引いた値の基準値に対する百分率を
求める。
7.2.17 サージ及びリング波イミュニティ特性試験
サージ及びリング波イミュニティ特性試験は，JIS C 61000-4-5及びIEC 61000-4-12に基づき，次による。
大きさなどの理由で装置全体での試験実施が困難な場合には，検出部及び計測部を装置から取り出し，遮
蔽体など，他の構成品を模擬したものと組み合わせて実施してもよい。この場合，他の構成品の模擬は装
置全体での耐環境効果を上回ってはならない。
a) 試験レベルは，サージ波についてはJIS C 61000-4-5の附属書Bのクラス3に対応し，リング波につい
てはIEC 61000-4-12の表1のレベル3とする。
b) パルスは，結合−減結合回路網を介して，主電源供給端子又はそれと等価な装置に供給することが望
ましい。
c) サージ間の最小時間間隔1分で，10パルスを印加する。
d) 各パルスは2 kVの高圧で1.2/50 μs開回路電圧サージ及び8/20 μs短絡電圧サージの出力とする。
e) リング波パルスは，2 kVより低い電圧とする。
f)
バックグラウンド及び数え落としが十分無視できる計数率を与える7.1.2のファントム又は試験用線
源を製造業者の定める位置に設置して測定を行い，レスポンスを求める。次にa)〜c) に従ってパルス
を印加する間に測定を行い，レスポンスを求める。パルス印加前のレスポンスを基準値とし，パルス
印加時のレスポンスから基準値を差し引いた値の基準値に対する百分率を求める。
7.2.18 無線周波電磁界によって誘導する伝導妨害に対するイミュニティ特性試験
無線周波電磁界によって誘導する伝導妨害に対するイミュニティ特性試験は，JIS C 61000-4-6に基づき，
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Z 4343：2015
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
次による。
なお，この試験は，150 kHz〜80 MHzの周波数範囲の無線伝送器が存在する環境で用いる装置に適用し，
外部から接続されたケーブル（主電源供給ライン，信号ライン又は接地用の伝導ケーブル）をもたない装
置は除外する。大きさなどの理由で装置全体での試験実施が困難な場合には，検出部及び計測部を装置か
ら取り出し，遮蔽体など，他の構成品を模擬したものと組み合わせて実施してもよい。この場合，他の構
成品の模擬は装置全体での耐環境効果を上回ってはならない。
a) 試験レベルは，JIS C 61000-4-6の附属書Cのクラス3に対応してレベル3とする。
b) 140 dB（μV）の強度で，150 kHz〜80 MHzの範囲で周波数を変化させる。
c) 信号は，1 kHzの正弦波で80 %振幅変調したものとする。
d) 毎秒1.5×10−3デカードを超えない，又はステップサイズが元の周波数の1 %を超えないように自動掃
引させて各周波数での指示値を読み取ることが望ましい。
e) バックグラウンド及び数え落としが十分無視できる計数率を与える7.1.2のファントム又は試験用線
源を製造業者の定める位置に設置して測定を行い，レスポンスを求める。次にa)〜d) に示す各電磁界
環境に30秒間装置を設置して測定を行い，レスポンスを求める。試験前のレスポンスを基準値とし，
試験中のレスポンスから基準値を差し引いた値の基準値に対する百分率を求める。
7.2.19 温度特性試験
温度特性試験は，次による。大きさなどの理由で装置全体での試験実施が困難な場合には，検出部及び
計測部を装置から取り出し，遮蔽体など，他の構成品を模擬したものと組み合わせて実施してもよい。こ
の場合，他の構成品の模擬は装置全体での耐環境効果を上回ってはならない。
なお，計測部のうちデータ処理ユニットは除いてもよい。
a) I形及びII形の装置のうち据置形は，次による。
1) 装置を恒温槽内に設置し，標準試験条件で動作させる。
2) 100〜3 000 keVに相当するチャネルがマルチチャネル波高分析装置の表示チャネル数の80〜90 %に
なるように調整する。
3) 積分非直線性を7.2.6に従って求める。ここで，用いるファントム又は試験用線源の核種は，100〜
500 keV，500〜1 500 keV及び1 500〜3 000 keVのそれぞれのエネルギー範囲に含まれるγ線全エネ
ルギー吸収ピークを与える一つの又は複数の核種としてよい。
4) 恒温槽の温度を温度勾配10 ℃/h以下で35 ℃まで上昇させ，35±2 ℃に4時間保持した後に3) と
同様の方法で積分非直線性を求める。ただし，積分非直線性を求める際の光子エネルギーEγiとそれ
に相当する読取りピーク中心チャネルnioとから得た直線は，3) の基準条件における直線とする。
5) 恒温槽の温度を10 ℃まで低下させ，10±2 ℃で4時間保持した後にc) と同様の方法で積分非直線
性を求める。ただし，積分非直線性を求める際の光子エネルギーEγiとそれに相当する読取りピーク
中心チャネルnioから得た直線は，3) の基準条件における直線とする。
6) 3) で求めた積分非直線性を基準値とし，4) 及び5) の最高及び最低運転温度における積分非直線性
から基準値を差し引いた値の，基準値に対する百分率を求める。
b) I形及びII形の装置のうち可搬形又は携帯形は，次による。
装置の運転環境によっては（すなわち環境の温度安定性），より広い温度範囲での性能の確認が必要
になる可能性がある。周囲温度が未知の場合には，5〜40 ℃の温度範囲での性能確認を行わなければ
ならない。性能確認の方法は，a) による。
1) 装置を恒温槽内に設置する。恒温槽の温度を基準値（20±2 ℃）で安定させ，性能を確認する。
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2) 露点を超えないように相対湿度を減少させ，恒温槽の温度を温度勾配10 ℃/h以下で5 ℃まで低下
させる。装置の温度が安定するまで，この温度を維持する。これは，試験している装置に追加の温
度センサーを設けることによって実施可能である。この状態で性能を確認する。性能の確認におい
ては，可能な範囲で，実質的に恒温槽開閉の影響がないよう遠隔で実施できる方法を用いなければ
ならない。
3) 恒温槽の温度を16時間5±2 ℃に保持し，1時間ごとに性能を確認する。保持時間経過後に恒温槽
の温度を温度勾配10 ℃/h以下で40 ℃まで上昇させ16時間40±2 ℃に保持し，1時間ごとに性能
を確認する。
4) 保持時間経過後に恒温槽の温度を温度勾配10 ℃/h以下で20±2 ℃まで低下させる。装置の温度が
安定するまで恒温槽の温度は20±2 ℃で運転し，性能を確認する。このときの値と恒温槽の温度を
変化させる前に得た積分非直線性の平均を基準値とし，最高及び最低運転温度における積分非直線
性から基準値を差し引いた値の，基準値に対する百分率を求める。
c) III形の装置のうち据置形は，次による。
1) 装置を恒温槽内に設置し，標準試験条件で動作させる。
2) 検出器の近傍に試験用線源を置いて，指示値を読み取り，レスポンスを求め，これを基準値とする。
3) 恒温槽の温度を温度勾配10 ℃/h以下で35 ℃まで上昇させ，35±2 ℃に4時間保持した後に指示値
を読み取り，レスポンスを求める。
4) 恒温槽の温度を温度勾配10 ℃/h以下で10 ℃まで低下させ，10±3 ℃に4時間保持した後に指示値
を読み取り，レスポンスを求める。
5) 標準試験条件における指示値を基準値とし，最高及び最低運転温度におけるレスポンスから基準値
を差し引いた値の，基準値に対する百分率を求める。
d) III形の装置のうち可搬形又は携帯形は，次による。
1) 装置を恒温槽内に設置し，標準試験条件で動作させる。
2) 検出器の近傍に試験用線源を置いて，指示値を読み取り，レスポンスを求め，これを基準値とする。
3) 恒温槽の温度を温度勾配10 ℃/h以下で40 ℃まで上昇させ，40±2 ℃に4時間保持した後に指示値
を読み取り，レスポンスを求める。
4) 恒温槽の温度を温度勾配10 ℃/h以下で5 ℃まで低下させ，5±3 ℃に4時間保持した後に指示値を
読み取り，レスポンスを求める。
5) 標準試験条件における指示値を基準値とし，最高及び最低運転温度におけるレスポンスから基準値
を差し引いた値の，基準値に対する百分率を求める。
7.2.20 湿度特性試験
湿度特性試験は，次による。大きさなどの理由で装置全体での試験実施が困難な場合には，検出部及び
計測部を装置から取り出し，遮蔽体など，他の構成品を模擬したものと組み合わせて実施してもよい。こ
の場合，他の構成品の模擬は装置全体での耐環境性を上回ってはならない。また，計測部のうちデータ処
理ユニットは除いてもよい。
a) 据置形の装置
1) 装置を恒温槽内に設置し，35±2 ℃の温度で(40±5) %の相対湿度に保つ。
2) バックグラウンド及び数え落としが十分無視できる計数率を与える7.1.2のファントム又は試験用
線源を製造業者の定める位置に設置して指示値を読み取り，I形及びII形の装置においては積分非
直線性を，III形の装置においてはレスポンスを求め，これを基準値とする。
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3) 相対湿度レベルを3時間を超えない時間，一定の速度で(85±5) %に上昇させる。48時間経過後に指
示値を読み取り，積分非直線性又はレスポンスを求める。
4) 相対湿度レベルを一定の速度で(40±5) %まで低下させ，恒温槽が安定した後に指示値を読み取り，
積分非直線性又はレスポンスを求める。
5) 最高及び最低の相対湿度における積分非直線性又はレスポンスから基準値を差し引いた値の，基準
値に対する百分率を求める。
b) 可搬形又は携帯形の装置
1) 恒温槽を用いて試験を行う。恒温槽は，40±2 ℃で相対湿度(40±5) %に保持する。
2) バックグラウンド及び数え落としが十分無視できる計数率を与える7.1.2のファントム又は試験用
線源を製造業者の定める位置に設置して指示値を読み取り，I形及びII形の装置においては積分非
直線性を，III形の装置においてはレスポンスを求め，これを基準値とする。
3) 相対湿度レベルを4時間を超えない時間にわたり一定の速度で
5
0
93＋%に上昇させる。96時間の間，
8時間の間隔で指示値を読み取り，積分非直線性又はレスポンスを求める。その平均値を最高の相
対湿度における値とする。
4) 相対湿度レベルを一定の速度で(40±5) %まで低下させ，恒温槽が安定した後に指示値を読み取り，
積分非直線性又はレスポンスを求め，その平均値を最低の相対湿度における値とする。
5) 最高及び最低の相対湿度における値から基準値を差し引いた値の，基準値に対する百分率を求める。
7.2.21 外部磁界特性試験
外部磁界特性試験は40 A/mの外部磁界に対する装置の性能を確認することを目的とし，その方法は，受
渡当事者間の協定によることが望ましい。大きさなどの理由で装置全体での試験実施が困難な場合には，
検出部及び計測部を装置から取り出し，遮蔽体など，他の構成品を模擬したものと組み合わせて実施して
もよい。この場合，他の構成品の模擬は装置全体での耐環境性を上回ってはならない。
7.2.22 耐温度衝撃試験
耐温度衝撃試験は，次による。大きさなどの理由で装置全体での試験実施が困難な場合には，検出部及
び計測部を装置から取り出し，遮蔽体など，他の構成品を模擬したものと組み合わせて実施してもよい。
この場合，他の構成品の模擬は装置全体での耐環境性を上回ってはならない。ただし，計測部のうちデー
タ処理ユニットは除いてもよい。
a) 試験対象とする構成機器を恒温槽内に設置する。
b) 恒温槽の温度を20±2 ℃で安定させ，装置を起動する。7.2.19のb) 又はd) に従って性能を確認し，
I形及びII形の装置においては積分非直線性を，III形の装置においてはレスポンスを求めこれを基準
値とする。
c) 露点を超えないよう，相対湿度を減少させる。装置を停止させ，素早く（5分以内に）温度を−25±2 ℃
に下げる。
d) 装置を起動し，3時間の間，15分間隔で指示値を読み取り，積分非直線性又はレスポンスを求める。
e) 温度を5±2 ℃まで上昇させ，安定した後装置を停止する。
f)
5分以内に温度を30±2 ℃に上昇させる。装置を起動し，3時間の間，15分間隔で指示値を読み取り，
積分非直線性又はレスポンスを求める。
g) b)〜f) を1サイクルとし，更に4サイクル計5サイクルを繰り返す。
h) 温度を20±2 ℃に戻し，装置を起動し，15分後に7.2.19のb) 又はd) に従って性能を確認する。
i)
各温度変化後15分後の値の基準値からの変化を求める。
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7.2.23 保管温度試験
保管温度試験は，次による。大きさなどの理由で装置全体での試験実施が困難な場合には，検出部及び
計測部を装置から取り出し，遮蔽体など，他の構成品を模擬したものと組み合わせて実施してもよい。こ
の場合，他の構成品の模擬は装置全体での耐環境性を上回ってはならない。ただし，計測部のうちデータ
処理ユニットは除いてもよい。
a) 試験対象とする構成機器を恒温槽内に設置する。
b) 恒温槽の温度を20±2 ℃で安定させ，装置を起動する。7.2.19のb) 又はd) に従って性能を確認し，
ここで得られた値を基準値とする。
c) 装置を停止させ，露点を超えないよう，相対湿度を減少させる。
d) 恒温槽の温度を温度勾配10 ℃/h以下で−25±2 ℃に下降させ，16時間保持する。
e) 恒温槽の温度を温度勾配10 ℃/h以下で70±2 ℃に上昇させ，16時間保持する。
f)
恒温槽の温度を温度勾配10 ℃/h以下で−25±2 ℃まで下降させる。
g) b)〜f) を1サイクルとし，更に2サイクル計3サイクル繰り返す。
h) 恒温槽の温度を温度勾配10 ℃/h以下で20±2 ℃に戻し，装置を起動する。7.2.19のb) 又はd) に従
って性能を確認し，基準値からの変化を求める。
7.2.24 耐振動性試験
耐振動性試験は，装置を通常用いる状態に組み立てて設置し，行う。装置を起動し，7.2.19のb) 又は
d) に従って性能を確認する。装置を停止し，周波数範囲5〜200 Hz及び200〜500 Hzについて，装置に表
3に示すパラメータの正弦波振動を加える。10回の掃引サイクル終了後に，装置を起動し，7.2.19のb) 又
はd) に従って，性能を確認する。
表3−正弦波振動パラメータ
周波数範囲
5〜200 Hz
200〜500 Hz
変位
3.5 mm
3.5 mm
加速度
10 m/s2
15 m/s2
軸の数
1
1
掃引回数
10
10
7.2.25 耐衝撃性試験
耐衝撃性試験は，装置を使用できる状態に設置して行う。装置は通常用いる状態に組み立てて試験しな
ければならないが，これが不可能な場合には，最も振動に影響を受けると思われる構成機器を選定し，そ
の構成機器に対して試験を行う。
装置を起動し，7.2.19のb) 又はd) に従って性能を確認する。装置を停止し，ピークの加速度150 m/s2
及び300 m/s2について，装置に表4に示すパラメータの半正弦波衝撃を加える。これを3回繰り返した後，
装置を起動し，7.2.19のb) 又はd) に従って，性能を確認する。
表4−半正弦波衝撃パラメータ
ピークの加速度
150 m/s2
300 m/s2
時間
11 ms
6 ms
方向当たりの衝撃回数
3
3
衝撃の方向
3
1
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8
検査
8.1
一般
装置の検査は，形式検査2)と受渡検査3)とに区分し，箇条7に規定する方法で行い，箇条5の規定に適
合したものを合格とする。
なお，形式検査は，設計段階で一つ以上の装置に対して行う。受渡検査の抜取方式は，受渡当事者間の
協定による。
製造業者は，購入者の要求に応じてこの規格に基づいた形式検査の結果を示さなければならない。
注2) 形式検査は，製品の品質が設計で示した全ての特性に適合するかを判定するための検査。
3) 既に形式検査に合格したものと同じ設計・製造による製品の受渡し時に，必要と認める特性が
満足するものであるかを判定するための検査。
8.2
形式検査
形式検査は，次の項目について試験する。
a) 相対基準誤差
b) 直線性
c) 基準核種以外の測定対象核種に対する相対基準誤差
d) 測定エネルギー範囲
e) 積分非直線性
f)
137Cs検出効率
g)
131I検出効率
h)
60Co検出効率
i)
バックグラウンド
j)
決定しきい値
k) 最大計数率
l)
安定性
m) エネルギー分解能
n) 静電気放電イミュニティ特性
o) 放射無線周波電磁界イミュニティ特性
p) サージ及びリング波イミュニティ特性
q) 無線周波電磁界によって誘導する伝導妨害に対するイミュニティ特性
r) 温度特性
s)
湿度特性
t)
外部磁界特性
u) 耐温度衝撃性
v) 保管温度特性
w) 耐振動性
x) 耐衝撃性
8.3
受渡検査
受渡検査は，受渡当事者間の協定によるが，次の項目を含めることが望ましい。
a) 相対基準誤差
b) 直線性
22
Z 4343：2015
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c) 積分非直線性
d)
137Cs検出効率
e)
131I検出効率
f)
60Co検出効率
g) バックグラウンド
h) 決定しきい値
i)
エネルギー分解能
9
表示
装置には，見やすい箇所に容易に消えない方法で，次の事項を表示しなければならない。
a) 規格の名称及び／又は規格の番号
b) 装置の形名（製造業者による。）
c) 製造番号
d) 製造年月又はその略号
e) 製造業者名又はその略号
10 検査報告書
製造業者は，使用者の求めに応じ，この規格に基づいて実施した形式検査の報告書を提供しなければな
らない。また，製造業者は受渡検査の報告書を装置ごとに作成し使用者に提供しなければならない。
11 取扱説明書
装置には取扱説明書を添付しなければならない。取扱説明書には，少なくとも次の事項を記載すること
が望ましい。
a) 製造業者名及び／又はその略称
b) 装置の分類
c) 検出器のタイプ
d) 測定対象部位
e) 測定時における被検者の位置
f)
測定対象核種及び／又は測定エネルギー範囲
g) 測定対象部位における放射能の有効測定範囲
h) 決定しきい値
i)
許容γ線バックグラウンド
j)
被検者測定における測定時間
k) 機器間を接続するケーブルの許容最大長
l)
使用温度範囲
m) 使用湿度範囲
n) 装置の外形寸法及び質量
o) この規格に示す形式検査に対する合否
p) 保管及び輸送条件
q) 電源
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r) 操作方法
s)
保守方法
t)
取扱い上の注意事項
u) 附属品リスト
v) 交換部品リスト
注記 決定しきい値には，対象核種，測定時間及びバックグラウンドレベルを併記する。
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附属書A
（参考）
指示値に差があると判断するために必要な独立した読取回数
（正規分布の場合）
表A.1は，同じ装置における信頼水準95 %で2組の読みの差を検知するために必要な読取回数を与える。
この表の数値は，2組の読みに差がないのに差があるとする過誤及び差があるのに差がないとする過誤
の確率が，どちらも5 %であるという仮定の下で求めている。
表A.1−信頼水準95 %で2組の読みの差を検知するために必要な読取回数
相違の百分率（%）
変動係数（%）
読取回数
5
5
5
5
5
5
5
5
5
5
5
0.5
1.0
2.0
3.0
4.0
5.0
7.5
10.0
12.5
15.0
20.0
1
1
4
9
16
25
56
99
154
223
396
10
10
10
10
10
10
10
10
10
10
10
0.5
1.0
2.0
3.0
4.0
5.0
7.5
10.0
12.5
15.0
20.0
1
1
1
3
4
6
14
24
37
53
94
15
15
15
15
15
15
15
15
15
15
15
0.5
1.0
2.0
3.0
4.0
5.0
7.5
10.0
12.5
15.0
20.0
1
1
1
1
2
3
6
10
16
23
40
20
20
20
20
20
20
20
20
20
20
20
0.5
1.0
2.0
3.0
4.0
5.0
7.5
10.0
12.5
15.0
20.0
1
1
1
1
1
2
3
6
9
12
21
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書JA
（参考）
JISと対応国際規格との対比表
JIS Z 4343:2015 体内放射能測定装置−γ線放出核種（エネルギー100 keV以上
3 000 keV以下）
IEC 61582:2004，Radiation protection instrumentation−In vivo counters−Classification,
general requirements and test procedures for portable, transportable and installed
equipment
(I)JISの規定
(II)
国際
規格
番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
1 適用範囲 測定の対象に除染作業の
従事者を含める。
1
測定の対象に除染従事
者は含まれていない。
追加
被検者に除染従事者を追加。
我が国の装置使用の現状を考慮し
た。技術的な差異はない。
γ線エネルギー100 keV以
上3 000 keV以下を適用
範囲とする。
1
光子エネルギーによる
適用範囲の規定はな
い。
削除
IEC規格の2分類（10〜200 keV及
び100〜3 000 keV）のうち低エネル
ギー用は範囲外として削除した。
低エネルギー用装置は利用が限ら
れていることから適用範囲外とし
た。
2 引用規格 JIS Z 8103（計測用語）及
びJIS Z 8401（数値の丸
め方）を規定。
2
計測用語及び数値の丸
め方に関する規格は引
用されていない。
追加
JIS Z 8103及びJIS Z 8401を追加。 合否判定に影響する数値の丸め方
の規定が必要であるため，追加す
る。国際規格を改正するよう提案
を検討する。
3 用語及び
定義
JIS Z 4001及びJIS Z
8103による。
3
国際規格内で用いられ
ている用語等を規定。
変更
規格内で用いられていない用語及
びJIS Z 4001，JIS Z 8103の記載で
明示できる用語を削除。
実質的な差異はない。
3.3 決定しきい値
バックグラウンドの差が
有意である測定値のしき
い値。
3.6
決定しきい値から導出
される最小検出放射能
を規定。
変更
“最小検出放射能”は用いず，決定
しきい値での規定に変更。
最小検出放射能との混同を避ける
ため名称を変更する。国際規格を
改正するよう提案を検討する。
3.4 指示値
放射能又は計数率で表さ
れる。
3.2
“指示（測定）放射能”
として規定。
変更
用語は“指示値”とし，放射能又は
計数率で表されるものと規定。
我が国で多数存在する，装置の指
示値が計数率（又は計数）の装置
を考慮する。技術的な差異はない。
3.5 指示誤差
指示値と取決め真値から
求める。
3.8
指示値及び取決め真値
を放射能の値として規
定。
変更
取決め真値は放射能の取決め真値
に対応した指示値（放射能又は計数
率等）と規定。
我が国で多数存在する，装置の指
示値が計数率（又は計数）の装置
を考慮する。技術的な差異はない。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
(I)JISの規定
(II)
国際
規格
番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
3 用語及び
定義（続き）
3.7 相対基準誤差
基準条件下での相対指示
誤差と取決め真値の不確
かさの和を相対基準誤差
とする。
3.10
基準条件下での相対指
示誤差として規定。取
決め真値の不確かさが
含まれていない。
変更
基準条件下での相対指示誤差と取
決め真値の不確かさの和を相対基
準誤差として規定。
用語のもつ意味を明示的に規定し
た。技術的な差異はない。
3.8 レスポンス
指示値の正味値の取決め
真値に対する比。
3
レスポンスの規定はな
い。
追加
国際規格内で“レスポンス”は様々
な意味で使用されているため用語
として規定。
明確化のための追加。技術的な差
異はない。
4 分類
4.1 使用形態による分類
据置形，可搬形及び携帯
形に分類。
4
使用形態による分類は
ない。Annex Bに携帯
形及び可搬形に特化し
た要求の記載あり。
追加
使用形態による分類（据置形，可搬
形及び携帯形）を追加した。
要求事項及び試験方法に係る差異
を明示的に規定した。技術的な差
異はない。
4.2 性能による分類
I形，II形及びIII形に分
類。
4
最も高い性能を要求す
るものから順にType1
〜4に分類。
削除
Type1を削除する。混乱を避けるた
め国際規格のType2〜4はI〜III形
に割り当てて規定。
我が国ではType1相当の装置は研
究機関に特注品として納入される
だけのため，分類から削除した。
実質的な差異はない。
5 性能
5.6 137Cs検出効率
全身が測定対象の装置に
だけ規定する。
9.4.6
規定される装置を明示
してはいない。
追加
全身を測定対象とする装置に適用
する。
137Cs効率が必要な装置を明確化
した。国際規格を改正するよう提
案を検討する。
5.10 決定しきい値
望ましいとする値は，基
準条件下での値として規
定。
7.2
望ましいとする値は
Type 2は60Coで40 Bq，
137Csで80 Bq。Type 3
及び4は60Coで200
Bq，137Csで400 Bq。
そのときのバックグラ
ウンド環境等について
の規定はない。
変更
環境は基準条件下とし，推奨の値は
I形は60Coで20 Bq，137Csで40 Bq。
II形及びIII形は60Coで100 Bq，
137Csで200 Bqに変更。
試験方法（7.2.10）を変更すること
からこれに合わせて推奨の値を変
更するが，国際規格と同等の性能
を示すもので技術的な差異はな
い。国際規格を改正するよう提案
を検討する。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
(I)JISの規定
(II)
国際
規格
番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
6 構造
6.1 一般 g)
身長145〜200 cm，身体
厚最大40 cmを対象とし
て設計することが望まし
い。
5.1.7
被検者の体格として，
身長145〜200 cm，身
体厚最大40 cmを測定
できなければならない
と規定。
変更
身長145〜200 cm，身体厚最大40
cmを対象として設計することが
“望ましい”とする。
日本人の体格や装置の使途から，
必須要件とする必要はない。国際
規格を改正するよう提案を検討す
る。
7 試験
7.1.1 共通試験条件
γ線バックグラウンド用
測定器への要求事項，並
びに標準試験条件での試
験が行えない場合の試験
方法及び許容範囲を規定
している。
9.1.1
γ線バックグラウンド
用測定器及び標準試験
条件での試験が難しい
場合に関わる規定はな
い。
追加
γ線バックグラウンド用測定器への
要求事項，並びに標準試験条件での
試験が行えない場合の試験方法及
び許容範囲を追記。
技術的な差異はない。
7.1.2 ファントム及び試
験用線源
放射能のトレーサビリテ
ィを要求。
9.3
トレーサビリティにつ
いて特に記載はない。
追加
放射能について国家標準へのトレ
ーサビリティが確立された校正機
関での校正の規定を追加。
トレーサビリティを明確化した。
国際規格を改正するよう提案す
る。
7.2.1 試験方法 一般
数値の丸め方はJIS Z
8401に従う。
9.1.3
数値の丸め方について
特に記載はない。
追加
数値の丸め方は合否判定にも影響
するため，JIS Z 8401に従う旨の規
定を追加。
国際規格を改正するよう提案を検
討する。
7.2.8 131I検出効率試験
受渡検査では模擬よう素
線源等の使用を可とす
る。
9.4.7
使用線源は131Iだけの
規定で，模擬よう素線
源についての記載はな
い。
追加
受渡検査においては模擬よう素線
源等を使用し相対感度を含めて評
価する方法も可とした。
国内事情によって131Iの使用はか
なり困難であるため，別の核種で
の効率算出方法を追加規定した。
7.2.10 バックグラウンド
試験
計数領域は効率試験を行
う核種の全エネルギー吸
収ピークに相当する領域
とする。
9.4.9
核種弁別機能をもつ装
置における計数率を求
める領域の記載はな
い。
追加
効率試験を行う核種の全エネルギ
ー吸収ピークに相当する領域の計
数率とする規定を追加。
明確化のための追加。技術的な差
異はない。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
(I)JISの規定
(II)
国際
規格
番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
7 試験
（続き）
7.2.13 安定性試験
24時間連続，1時間間隔
で測定及び記録を行う
が，1時間以上の間隔で
24回以上の測定としても
よい。
9.4.12
24時間連続，1時間間
隔で測定及び記録を行
う。
追加
24時間連続，1時間間隔で測定及び
記録を行うが，連続の試験が困難な
場合は1時間以上の間隔で24回以
上の測定としてもよい。
技術的な差異はない。
7.2.15 静電気放電イミュ
ニティ特性試験
装置が大きい場合は分割
しての試験でもよい。
9.5.2.1 分割試験の規定なし。 追加
大きさ等の理由で装置全体での試
験が困難な場合は，検出部・計測部
等に限定して試験してもよいこと
を追加。
技術的な差異はない。
7.2.16 放射無線周波電磁
界イミュニティ特性試験
装置が大きい場合は分割
しての試験でもよい。
9.5.2.2 分割試験の規定なし。 追加
大きさ等の理由で装置全体での試
験が困難な場合は，検出部・計測部
等に限定して試験してもよいこと
を追加。
技術的な差異はない。
7.2.17 サージ及びリング
波イミュニティ特性試験
装置が大きい場合は分割
しての試験でもよい。
値を取る手順を明記。
9.5.2.3 分割試験及び値を取る
手順の規定なし。
追加
大きさ等の理由で装置全体での試
験が困難な場合は，検出部・計測部
等に限定して試験してもよいこと
を追加。ファントム等を設置して測
定を行い，値を得る手順を追加。
技術的な差異はない。
7.2.18無線周波電磁界に
よって誘導する伝導妨害
に対するイミュニティ特
性試験
装置が大きい場合は分割
しての試験でもよい。
値を取る手順を明記。
9.5.2.4 分割試験及び値を取る
手順の規定なし。
追加
大きさ等の理由で装置全体での試
験が困難な場合は，検出部・計測部
等に限定して試験してもよいこと
を追加。ファントム等を設置して測
定を行い，値を得る手順を追加。
技術的な差異はない。
7.2.19 温度特性試験
照射するγ線をエネルギ
ー範囲で規定
9.5.3.2 用いる線源の核種とし
て228Thを規定。
変更
100〜500 keV，500〜1 500 keV及び
1 500〜3 000 keVのピークを用いる
旨規定。
国内では228Th線源の入手は困難
なため。技術的な差異はない。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
(I)JISの規定
(II)
国際
規格
番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
7 試験
（続き）
7.2.20 湿度特性試験
装置が大きい場合は分割
しての試験でもよい。
値を取る手順を明記。
9.5.4
分割試験及び値を取る
手順の規定なし。
追加
大きさ等の理由で装置全体での試
験が困難な場合は，検出部・計測部
等に限定して試験してもよいこと
を追加。ファントム等を設置して測
定を行い，値を得る手順を追加。
技術的な差異はない。
7.2.21 外部磁界特性試験
装置が大きい場合は分割
しての試験でもよい。
9.5.5
分割試験の規定なし。 追加
大きさ等の理由で装置全体での試
験が困難な場合は，検出部・計測部
等に限定して試験してもよいこと
を追加。
技術的な差異はない。
7.2.22 耐温度衝撃試験
装置が大きい場合は分割
しての試験でもよい。
B.2.1.3 分割試験の規定なし。 追加
大きさ等の理由で装置全体での試
験が困難な場合は，検出部・計測部
等に限定して試験してもよいこと
を追加。
技術的な差異はない。
7.2.23 保管温度試験
装置が大きい場合は分割
しての試験でもよい。
B.2.2.1 分割試験の規定なし。 追加
大きさ等の理由で装置全体での試
験が困難な場合は，検出部・計測部
等に限定して試験してもよいこと
を追加。
技術的な差異はない。
8 検査
8.1 一般
形式検査及び受渡検査を
規定。形式検査は設計段
階で一つ以上の装置に対
して行う。
3
品質検査，形式検査及
びルーチン検査の用語
を定義。
変更
JISでは一般的に形式検査と受渡検
査とするため変更した。
技術的な差異はない。
8.2 形式検査
試験項目を規定
−
−
追加
JISで規定した項目を記載した。
技術的な差異はない。
8.3 受渡検査
相対基準誤差，積分非直
線性等を実施が望ましい
項目として規定。
−
−
追加
単体ごとの性能の明示が望ましい
項目を追加した。
技術的な差異はない。
9 表示
表示する事項を規定
−
−
追加
表示が必要なため
技術的な差異はない。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
(I)JISの規定
(II)
国際
規格
番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
10 検査報
告書
形式検査報告書は使用者
の求めに応じて提供す
る。受渡検査報告書は装
置ごとに作成し提供す
る。
10.1
使用者の求めに応じ形
式検査報告書を提供す
る。
追加
国内での実情に合わせ受渡検査報
告書を追加。
技術的な差異はない。
11 取扱説
明書
記載することが望ましい
項目を規定。
10.2
証明書として記載すべ
き項目を規定。
変更
国内での実情に合わせ書類名称を
変更。
技術的な差異はない。
JISと国際規格との対応の程度の全体評価：IEC 61582:2004，MOD
注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は，次による。
− 削除 ················ 国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。
− 追加 ················ 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
− 変更 ················ 国際規格の規定内容を変更している。
注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次による。
− MOD ··············· 国際規格を修正している。
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