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Z 4342:2013  

(1) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

目 次 

ページ 

序文 ··································································································································· 1 

1 適用範囲························································································································· 1 

2 引用規格························································································································· 1 

3 用語及び定義 ··················································································································· 2 

4 分類······························································································································· 4 

5 性能······························································································································· 4 

5.1 濃度換算係数 ················································································································ 4 

5.2 有効測定範囲 ················································································································ 4 

5.3 エネルギー測定範囲 ······································································································· 4 

5.4 相対基準誤差 ················································································································ 4 

5.5 試験用標準線源に対するレスポンス··················································································· 4 

5.6 最小検出放射能 ············································································································· 4 

5.7 外部γ線の影響 ············································································································· 4 

5.8 他核種の影響 ················································································································ 4 

5.9 指示値変動 ··················································································································· 4 

5.10 温度特性 ····················································································································· 4 

5.11 湿度特性 ····················································································································· 5 

5.12 電源電圧の変動に対する安定性 ······················································································· 5 

5.13 耐衝撃性 ····················································································································· 5 

5.14 耐振動性 ····················································································································· 5 

5.15 予熱時間特性 ··············································································································· 5 

5.16 オーバロード特性 ········································································································· 5 

5.17 警報動作 ····················································································································· 5 

5.18 外部電磁界特性 ············································································································ 5 

5.19 電源周波数磁界イミュニティ特性 ···················································································· 5 

5.20 静電気放電特性 ············································································································ 5 

5.21 無線周波電磁界によって誘導する伝導妨害に対するイミュニティ特性 ···································· 5 

5.22 電気的ファストトランジェント/バーストイミュニティ特性 ················································ 5 

5.23 サージイミュニティ特性 ································································································ 6 

5.24 電圧ディップ,短時間停電及び電圧変動に対するイミュニティ特性 ······································· 6 

6 構造······························································································································· 6 

6.1 構造一般 ······················································································································ 6 

6.2 検出部 ························································································································· 6 

6.3 測定部 ························································································································· 6 

6.4 電源 ···························································································································· 7 

Z 4342:2013 目次 

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6.5 保管及び輸送 ················································································································ 7 

7 試験······························································································································· 7 

7.1 試験条件 ······················································································································ 7 

7.2 試験方法 ······················································································································ 8 

8 検査······························································································································ 13 

8.1 一般 ··························································································································· 13 

8.2 形式検査 ····················································································································· 13 

8.3 受渡検査 ····················································································································· 14 

9 表示······························································································································ 14 

10 取扱説明書 ··················································································································· 14 

附属書JA(参考)JISと対応国際規格との対比表 ······································································ 15 

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

まえがき 

この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人日本電気計測器工業会(JEMIMA)

及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出

があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格である。 

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。 

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

日本工業規格          JIS 

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シンチレーション式放射能測定器− 

食品中のγ線放出核種 

Equipment for measuring specific activity of  

gamma-emitting radionuclides in foodstuffs 

序文 

この規格は,2001年に第1版として発行されたIEC 61563を基とし,我が国の使用状況及びその後の技

術進歩に伴い,技術的内容を変更して作成した日本工業規格である。 

なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。変更の一

覧表にその説明を付けて,附属書JAに示す。 

適用範囲 

この規格は,原子炉事故などによって放射性物質が拡散した状況下で,食品中及び食材中のγ線放出核

種の放射能濃度を測定するシンチレーション式放射能測定器(以下,測定器という。)について規定する。

ただし,この規格は分析専門機関で用いるゲルマニウムγ線検出器のような低バックグラウンド仕様の据

置形放射能分析機器には適用しない。 

なお,この規格は,土壌,水,動植物生体など環境試料全般の測定にも適用できる。 

注記1 試料の前処理方法については,この規格の対象としていない。 

注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。 

IEC 61563:2001,Radiation protection instrumentation−Equipment for measuring specific activity of 

gamma-emitting radionuclides in foodstuffs(MOD) 

なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“修正している”

ことを示す。 

引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。 

JIS C 8500 一次電池通則 

JIS C 61000-4-2 電磁両立性−第4-2部:試験及び測定技術−静電気放電イミュニティ試験 

JIS C 61000-4-3 電磁両立性−第4-3部:試験及び測定技術−放射無線周波電磁界イミュニティ試験 

JIS C 61000-4-4 電磁両立性−第4-4部:試験及び測定技術−電気的ファストトランジェント/バー

ストイミュニティ試験 

JIS C 61000-4-5 電磁両立性−第4-5部:試験及び測定技術−サージイミュニティ試験 

JIS C 61000-4-6 電磁両立性−第4-6部:試験及び測定技術−無線周波電磁界によって誘導する伝導

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妨害に対するイミュニティ 

JIS C 61000-4-8 電磁両立性−第4部:試験及び測定技術−第8節:電源周波数磁界イミュニティ試

験 

JIS C 61000-4-11 電磁両立性−第4-11部:試験及び測定技術−電圧ディップ,短時間停電及び電圧

変動に対するイミュニティ試験 

JIS Q 17025 試験所及び校正機関の能力に関する一般要求事項 

JIS Z 4001 原子力用語 

注記 対応国際規格:ISO 921:1997,Nuclear energy−Vocabulary,IEC 60050-393:1996,International 

Electrotechnical Vocabulary−Chapter 393: Nuclear instrumentation: Physical phenomena and basic 

concepts及びIEC 60050-394:1995,International Electrotechnical Vocabulary−Chapter 394: 

Nuclear instrumentation: Instruments(全体評価:MOD) 

JIS Z 8103 計測用語 

JIS Z 8401 数値の丸め方 

用語及び定義 

この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS Z 4001及びJIS Z 8103によるほか,次による。 

3.1 

有効測定範囲(effective range of measurement) 

測定器がこの規格の性能を満たす測定量の範囲。 

3.2 

指示誤差(indication error) 

指示値Miと取決め真値Mtとの差。 

3.3 

相対指示誤差,I(relative error of indication) 

指示誤差の取決め真値に対する比の百分率(%)。相対指示誤差は,次の式によって求められる。 

100

t

=

M

M

M

I

i

ここに, 

Mi: 指示値 

Mt: 取決め真値 

3.4 

相対基準誤差(relative intrinsic error) 

基準条件下で,放射線源などを用いたときの相対指示誤差と放射能又は放射能濃度の取決め真値の不確

かさとの和。相対指示誤差を±I,放射能又は放射能濃度の取決め真値の相対拡張不確かさをU(包含係数

k=2)とすると相対基準誤差は,±(| I |+U)で表される。 

注記 放射能又は放射能濃度の不確かさは,拡張不確かさで表す。拡張不確かさは合成標準不確かさ

に包含係数を乗じて求める。合成標準不確かさは各不確かさの成分の標準偏差(標準不確かさ)

の自乗和の平方根である。 

3.5 

変動係数,V(coefficient of variation) 

n個の測定値(xi)の標準偏差の推定値(s)の,平均値(x)に対する比(V)。変動係数は,次の式に

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よって求められる。 

(

)

=

=

=

n

i

ix

x

n

x

x

s

V

1

2

1

1

1

3.6 

最小検出放射能,Amin(minimum detectable activity) 

最小検出放射能は,あるバックグラウンドの条件下で,そのバックグラウンドの変動を用いて統計的に

推定され得ない放射能の確率が95 %以上である最低の放射能。 

バックグラウンドが放射能濃度の単位で表される場合には,最小検出放射能Aminは,放射能濃度(Bq/kg)

で表され,次の式によって求められる。ただし,各回の測定時間は同じとし,測定回数nは10回以上とす

る。 

(

)

(

)

2

bi

b

1

min

2

21.65

1

n

i

A

A

A

nn

=

×

ここに, 

Abi: i回目バックグラウンド測定値(Bq/kg) 

n: バックグラウンド読取り回数 

bA: n回測定のバックグラウンド平均値(Bq/kg) 

 各回の測定時間は同じとし,測定回数nは10回以上とす
る。 

バックグラウンドが計数率で表される場合には,次の式によって求められる。 

(

)

(

)1

2

65

.1

2

2

1

b

bi

min

×

×

=

=

n

n

N

N

C

A

n

i

ここに, 

Nbi: i回目バックグラウンド計数率 

C: 濃度換算係数(Bq/kg)/s−1 

b

N: n回測定のバックグラウンド平均値 

3.7 

検出部(detection sub-assembly) 

検出器及びそれに附属する機能ユニットを含む装置で,表示機能をもたないもの。 

3.8 

測定部(measurement sub-assembly) 

検出部を含まない,放射能,放射能濃度などの測定値を表示するために設計された,機能ユニットを含

む装置。 

3.9 

濃度換算係数,C(activity concentration conversion factor) 

放射能標準溶液,放射能標準体積線源又は試験用標準線源の放射能濃度の取決め真値をこれらの標準線

源を測定した際の正味計数率で除した値。ただし,正味計数率は実測される計数率からバックグラウンド

計数率を差し引いた量とする。 

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分類 

測定器の分類は,次による。 

a) 携帯形 手で持ち運びできるもの。 

b) 可搬形 キャスタなどで移動できるもの。 

c) 据置形 必要な場所に固定するもの。 

性能 

5.1 

濃度換算係数 

濃度換算係数は,7.2.2によって少なくとも次の核種の濃度換算係数を求め,取扱説明書に記載する。た

だし,許容範囲は,規定しない。 

40K,60Co,131I,133Ba,134Cs,137Cs 

5.2 

有効測定範囲 

5.1に規定する核種の放射能濃度の有効測定範囲は,外部γ線放射線量が2.5 µGy/hを超えない場合にお

いて,少なくとも100 Bq/kg〜1 MBq/kgの範囲を含むことが望ましい。ただし,食品中に存在する天然核

種の40Kは除く。 

5.3 

エネルギー測定範囲 

エネルギー測定範囲は,少なくとも150 keV〜1 500 keVを含むものとする。 

5.4 

相対基準誤差 

相対基準誤差の許容範囲は,7.2.3によって試験したとき,±(20+U) %とする。 

5.5 

試験用標準線源に対するレスポンス 

試験用標準線源に対するレスポンスは,7.2.4によって試験し,レスポンスの値を取扱説明書に記載する。

許容範囲は規定しない。ただし,7.2の全ての試験において7.1.2 c) の線源を用いない場合は,この試験を

行わなくてもよい。 

5.6 

最小検出放射能 

最小検出放射能は,7.2.5によって試験したとき,製造業者が取扱説明書に記載する最小検出放射能

(Bq/kg)以下でなければならない。最小検出放射能を達成するための測定に必要な時間を取扱説明書に記

載しなければならない。この時間には,試料の前処理及びバックグラウンド分析のための時間を含めない。 

5.7 

外部γ線の影響 

外部γ線に対する測定器のレスポンスは,7.2.6によって試験したとき,製造業者の公称値以下でなけれ

ばならない。 

5.8 

他核種の影響 

製造業者は7.2.7によって試験し,137Csに対する相対基準誤差を示さなければならない。ただし,核種

分析の機能をもたない測定器は,この試験を行わなくてもよい。 

5.9 

指示値変動 

変動係数は,7.2.8によって試験したとき,0.1以下とする。 

5.10 温度特性 

指示値の変化は,7.2.9によって試験したとき,10 ℃〜35 ℃において±10 %とする。ただし,受渡当事

者間の協定によって−10 ℃〜40 ℃について試験を行う場合には,その許容範囲は10 ℃〜35 ℃において

±10 %,−10 ℃〜10 ℃及び35 ℃〜40 ℃において±20 %とする。 

なお,受渡当事者間の協定によって−20 ℃〜50 ℃について試験を行う場合の許容範囲は,10 ℃〜35 ℃

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において±10 %,−10 ℃〜10 ℃及び35 ℃〜40 ℃において±20 %,−20 ℃〜−10 ℃及び40 ℃〜50 ℃

においては,受渡当事者間の協定による。 

5.11 湿度特性 

湿度特性の許容範囲は,7.2.10によって試験したとき,±10 %とする。 

5.12 電源電圧の変動に対する安定性 

電源電圧の変動に対する安定性の許容範囲は,次による。 

a) 交流電源式 指示値の基準値に対する許容範囲は,7.2.11 a) で試験したとき,±5 %とする。 

b) 電池式 指示値の基準値に対する許容範囲は,7.2.11 b) で試験したとき,±10 %とする。 

5.13 耐衝撃性 

耐衝撃性の許容範囲は,7.2.12によって試験したとき,±10 %とする。ただし,可搬形測定器及び据置

形測定器は,この試験を行わなくてもよい。 

5.14 耐振動性 

耐振動性の許容範囲は,7.2.13によって試験したとき,±10 %とする。ただし,可搬形測定器及び据置

形測定器は,この試験を行わなくてもよい。 

5.15 予熱時間特性 

予熱時間特性の許容範囲は,7.2.14によって試験したとき,±10 %とする。 

5.16 オーバロード特性 

オーバロード特性は,7.2.15によって試験したとき,オーバロードを起こさせる線源で照射中は,最大

値又はオーバスケールを表示しなければならない。オーバロードを起こさせる線源を除去した後,指示値

は,オーバスケール状態から30分を超えない受渡当事者間の協定時間内に復帰しなければならない。測定

範囲に復帰した後の指示値の基準値に対する許容範囲は,±10 %とする。 

5.17 警報動作 

警報動作は,7.2.16によって試験したとき,警報設定値の89 %以下の信号入力に対して警報が動作して

はならず,かつ,111 %以上の信号入力に対して警報が動作しなければならない。ただし,警報機能をも

たない測定器は,この試験を行わなくてもよい。 

5.18 外部電磁界特性 

外部電磁界特性の許容範囲は,7.2.17によって試験したとき,±10 %とする。 

5.19 電源周波数磁界イミュニティ特性 

電源周波数磁界イミュニティ特性の許容範囲は,7.2.18によって試験したとき,±10 %とする。 

5.20 静電気放電特性 

静電気放電特性の許容範囲は,7.2.19によって試験したとき,±10 %とする。 

5.21 無線周波電磁界によって誘導する伝導妨害に対するイミュニティ特性 

無線周波電磁界によって誘導する伝導妨害に対するイミュニティ特性の許容範囲は,7.2.20によって試

験したとき,±10 %とする。ただし,信号接続ケーブル及び電源ケーブルが3 m以下の場合,この試験を

行わなくてもよい。 

5.22 電気的ファストトランジェント/バーストイミュニティ特性 

5.22.1 信号ケーブル 

電気的ファストトランジェント/バーストイミュニティ特性の許容範囲は,7.2.21 a) によって試験した

とき,±10 %とする。ただし,信号ケーブルが3 m以下の場合,この試験を行わなくてもよい。 

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

5.22.2 電源ケーブル 

電気的ファストトランジェント/バーストイミュニティ特性の許容範囲は,7.2.21 b) によって試験した

とき,±10 %とする。ただし,電源ケーブルが3 m以下の場合,この試験を行わなくてもよい。 

5.23 サージイミュニティ特性 

5.23.1 交流電源ケーブル 

サージイミュニティ特性の許容範囲は,7.2.22 a) によって試験したとき,±10 %とする。ただし,電源

ケーブルが3 m以下の場合,この試験を行わなくてもよい。 

5.23.2 直流電源ケーブル 

サージイミュニティ特性の許容範囲は,7.2.22 b) によって試験したとき,±10 %とする。ただし,電源

ケーブルが3 m以下の場合,この試験を行わなくてもよい。 

5.24 電圧ディップ,短時間停電及び電圧変動に対するイミュニティ特性 

5.24.1 電圧ディップ 

電圧ディップに対するイミュニティ特性の許容範囲は,7.2.23 a) によって試験したとき,±10 %とする。

ただし,交流電源ケーブルを用いない場合,この試験を行わなくてもよい。 

5.24.2 短時間停電 

短時間停電に対するイミュニティ特性の許容範囲は,7.2.23 b) によって試験したとき,±10 %とする。

ただし,交流電源ケーブルを用いない場合,この試験を行わなくてもよい。 

5.24.3 電圧変動 

電圧変動に対するイミュニティ特性の許容範囲は,7.2.23 c) によって試験したとき,±10 %とする。た

だし,交流電源ケーブルを用いない場合,この試験を行わなくてもよい。 

構造 

6.1 

構造一般 

測定器の構造は,次による。 

a) 測定器は,検出部及び測定部で構成する。必要に応じてその他の器具を付加してもよい。検出部と測

定部とは,一体化していても,それぞれ独立機器として機能するものでもよい。 

b) 測定器は,放射性物質によって汚染しにくく,かつ,汚染した場合の除去を容易にするために表面が

滑らかで,突起物が少ないことが望ましい。特に,検出部は,汚染しにくい構造でなければならない。 

c) 振動,衝撃,電磁誘導などの影響を受けにくい構造とする。 

d) 試験に用いるパルス信号発生器を接続できる構造及び機能をもつことが望ましい。 

e) 検出部を遮蔽材で囲むなど,外部γ線の影響を受けにくい構造とする。 

f) 

測定器は,携帯形,可搬形又は据置形とする。 

6.2 

検出部 

検出部は,測定試料の交換が容易に行える構造とする。 

6.3 

測定部 

測定部は,次による。 

a) 複数の検出部を交換できる測定器は,検出部と測定部とを接続したとき,適切な動作モードに設定で

きなければならない。 

b) 意図しない検出部を測定部に接続できない構造とする。 

c) Bq又はBq/kgの単位で表示できることが望ましい。 

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

d) 計数を積算できる機能をもつ。 

e) バックグラウンドの値を自動的に演算する機能をもってもよい。 

f) 

計数率を自動的に計算し,その値を表示してもよい。cpsなどの単位が明示されていることが望まし

い。 

g) 検出γ線のエネルギー範囲を考慮し,計数率を該当する核種の放射能濃度に変換する機能をもつこと

が望ましい。 

h) ディスプレイの電源を単独で切れることが望ましい。 

i) 

情報処理(校正定数,エネルギー範囲,警報設定レベルの設定など)に用いるデジタル形式の係数又

はパラメータを設定できなければならない。 

j) 

指示値が設定された判定基準を超えた場合に,表示,音又は光によって知らせる機能を付加してもよ

い。 

k) 電池の状態を表示又は光によって知らせる機能をもたなければならない。 

6.4 

電源 

電源は,次による。 

a) 電源は,商用電源を利用する交流電源式又は電池式とし,電池式の場合は,一次電池又は二次電池と

する。 

b) 測定器が正常に動作しない電圧に低下したとき,表示又は光によって知らせる機能をもたなければな

らない。 

c) 測定器には,正しい極性で一次電池が接続されるように,取付け方向を明示しなければならない。 

d) 測定器は,一次電池を容易かつ迅速に交換ができる構造であることが望ましい。 

e) 一次電池は,JIS C 8500で規定する電池を用いなければならない。 

f) 

二次電池は,12時間以内に満充電にならなければならない。また,使用中に許容レベルを下回る消費

がない状態で,少なくとも50回以上再充電できなければならない。 

6.5 

保管及び輸送 

測定器は,製造業者のこん包状態において−25 ℃〜+50 ℃の環境下で,少なくとも3か月間保管した

後でも正常に動作するような構造にしなければならない。また,航空輸送などに伴う低気圧にさらされた

後でも正常に動作するような構造にしなければならない。 

試験 

7.1 

試験条件 

7.1.1 

共通試験条件 

7.2の各試験方法における,基準条件は,表1による。製造業者が指定した場合を除き,表1に規定する

標準試験条件とする。 

標準試験条件で行えない場合は,環境温度,気圧及び相対湿度を指定し,必要に応じて基準条件の指示

値となるよう補正する。 

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表1−共通試験条件 

項目 

基準条件 

標準試験条件 

線源 

137Cs 

137Cs 

予熱時間 

min 

10 

>10 

環境温度 

℃ 

20 

18〜22 b) 

相対湿度 

65 

50〜75 b) 

気圧 

kPa 

101.3 

86〜106 b) 

電源電圧a) 

正規電源電圧 

正規電源電圧±1 % 

電源周波数a) 

正規電源周波数 

正規電源周波数±2 % 

電源波形a) 

正弦波 

正弦波からのひずみ±5 % 

γ線バックグラウンド μGy/h 

0.2 

0.25以下 

外部電磁波 

無視できるレベル 

測定器オペレーション中に妨

害を引き起こす最小値以下 

外部磁気誘導 

無視できるレベル 

地球磁界の2倍以下 

測定器制御用機器 

稼動状態 

稼動状態 

放射性物質による汚染 

無視できるレベル 

無視できるレベル 

注a) 商用電源を用いる場合に適用する。 

b) これらの値は,温暖な気候下の試験に適用可能である。この範囲にない気候条件での試

験に際しては,その気候条件を明示しなければならない。海抜が高く標準試験条件の気
圧が実現できない場合は,70 kPa以上の気圧下の試験に限り許容される。 

7.1.2 

標準線源 

標準線源は,5.1の測定対象の核種のうち,一つ又は二つ以上の核種の放射性核種を含むことが望ましい。

試験に用いる標準線源は,次による。 

a) 放射能標準溶液 放射能溶液を適切な容器に封入した線源。 

b) 放射能標準体積線源 放射性物質が一定体積内に分布している線源で,高分子化合物などの適切な媒

体に放射性物質を添加したもの。媒体の材質は,それによるγ線の自己吸収が試料によるγ線の自己

吸収と同等であるとみなせる材質であることが望ましい。 

c) 試験用標準線源 試験用標準線源は,測定器が正常に動作していることを確認するために用いる密封

線源で,測定器の動作試験のほかに,安定性試験及び環境要因影響試験に用いる。 

標準線源は,放射能又は放射能濃度についてJIS Q 17025に基づき認定されたJCSS 1) 登録事業者など,

国家標準へのトレーサビリティが確立された校正機関によって校正しなければならない。標準線源の放射

能又は放射能濃度の取決め真値は,相対拡張不確かさ10 %(k=2)未満で決定しなければならない。 

注1) 計量法第143条に基づく校正事業者登録制度でJapan Calibration Service Systemの略称である。 

7.2 

試験方法 

7.2.1 

一般 

試験方法一般は,次による。 

a) 試験条件のうち,ある項目の条件を変化させて試験する場合には,その項目以外の条件は,表1に規

定する標準試験条件の範囲とする。 

b) 試験時における計測時間,日時,気温,気圧及び相対湿度の値を記録する。 

c) 数値の丸め方は,JIS Z 8401に従う。 

d) 試験に用いる測定器は,要求される不確かさに応じて,JIS Q 17025に基づき認定されたJCSS登録事

業者などによって国家標準又はSIへのトレーサビリティが確保された計量標準に照らして校正又は

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検証したものでなければならない。 

7.2.2 

濃度換算係数試験 

5.1に示す核種の7.1.2 a) 又はb) の標準線源を用い,バックグラウンド及び数え落としが十分無視でき

る計数率を与える条件で,濃度換算係数を求める。ただし,少なくとも137Csについては,7.1.2 a) 又はb) 

の標準線源を用いて行い,その他の核種の濃度換算係数は,γ線エネルギーごとの測定器の応答特性から

求めてもよい。 

7.2.3 

相対基準誤差試験 

7.1.2の標準線源を用いて,次の試験を行う。ただし,この試験で7.1.2 c) の標準線源を用いる場合は,

7.2.4から求めた,濃度換算係数と試験用標準線源に対するレスポンスとの関係を用いて,取決め真値及び

指示値を換算する。 

a) 形式検査の場合,137Csを含む一つ以上の核種の標準線源を用い,有効測定範囲の最小値の2.5倍から,

有効測定範囲の最大値の75 %の範囲において,最小値の2.5倍及び最大値の75 %を含め各測定点間の

指示値が10倍以上になるように選んだ少なくとも3点について相対基準誤差を求める。 

b) 受渡検査の場合,137Csを含む一つ以上の核種の標準線源を用い,a) の測定点の最小値及び最大値に

ついて相対基準誤差を求める。 

7.2.4 

試験用標準線源に対するレスポンス試験 

バックグラウンド及び数え落としが十分無視できる計数率を与える7.1.2 c) の137Cs標準線源を,製造業

者の定める位置に設置して測定し,バックグラウンドを差し引いた正味指示値を試験用標準線源の放射能

の取決め真値で除し,測定器のレスポンスを求める。この試験は,7.2.2の試験と併せて行い,濃度換算係

数と試験用標準線源に対するレスポンスとの関係を決定しなければならない。 

7.2.5 

最小検出放射能試験 

標準試験条件下に測定器を設置してバックグラウンド計数率を測定し,最小検出放射能を求める。最小

検出放射能は,3.6に規定する式によって求め,放射能濃度(Bq/kg)で表す。試験における測定時間は,

有効測定範囲の最小値の試料の測定に必要な時間とする。 

7.2.6 

外部γ線の影響試験 

測定器を空気カーマ率2 µGy/h<P1<2.5 µGy/hの137Csγ線の照射野に設置し,指示値A1を読み取る。次

に,空気カーマ率をP1の5倍に達するまで増加し,P2とする。そのときの指示値A2を読み取る。 

外部γ線に対する測定器のレスポンスをSとし,次の式によって求める。 

1

2

1

2

P

P

A

A

S

=

7.2.7 

他核種の影響試験 

7.1.2の137Cs標準線源と134Cs標準線源とを組み合わせ,有効測定範囲の最小値の2.5倍から,有効測定

範囲の最大値の75 %までの任意の1点において,134Csを妨害核種として137Csの相対基準誤差を求める。

134Cs標準線源の放射能は,137Cs標準線源にほぼ等しいものとする。ただし,137Cs標準線源と134Cs標準線

源との間で,線源−検出器間の幾何学的条件が異なる場合,試験対象となる605 keV及び662 keVの全吸

収ピークに,それぞれほぼ等しい計数率を与える放射能とする。 

7.2.8 

指示値変動試験 

有効測定範囲の最小値の2.5倍程度の指示値が得られるように7.1.2の標準線源を設置して測定し,相互

に統計的に独立とみなせる計数を20回読み取り,変動係数を求める。 

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7.2.9 

温度特性試験 

バックグラウンド及び数え落としが十分無視できる計数率を与える7.1.2の標準線源を製造業者の定め

る位置に設置し,10 ℃,20 ℃及び35 ℃(許容差±2 ℃)でそれぞれ4時間放置し,最後の30分間の指

示値を記録する。20 ℃における値を基準値とし,それぞれの周囲温度における指示値から基準値を差し引

いた値の基準値に対する百分率を求める。 

なお,温度変化率は,1時間当たり10 ℃以下とする。測定器が湿度の変動に特に敏感でなければ,恒温

槽内の湿度を制御しなくてもよい。受渡当事者間の協定によって−10 ℃〜40 ℃又は−20 ℃〜50 ℃につ

いて試験を行う場合には,同様の方法で行う。 

7.2.10 湿度特性試験 

バックグラウンド及び数え落としが十分無視できる計数率を与える7.1.2の標準線源を製造業者の定め

る位置に設置し,周囲の温度35 ℃(許容差±2 ℃)で相対湿度65 %及び95 %の各相対湿度(許容差±5 %)

の環境に4時間以上又は受渡当事者間で取り決めた時間放置した後,指示値を記録する。相対湿度65 %に

おける指示値を基準値とし,相対湿度95 %における指示値から基準値を差し引いた値の基準値に対する百

分率を求める。 

7.2.11 電源電圧の変動に対する安定性試験 

電源電圧の変動に対する安定性試験は,次による。 

a) 交流電源式 有効測定範囲の最大値の50 %〜90 %の指示値を与えるように,7.1.2の標準線源を製造

業者の定める位置に設置し,電源電圧を定格電圧値の88 %,100 %及び110 %にした場合の指示値を

読み取る。定格電圧における指示値を基準値とし,各電圧における指示値から基準値を差し引いた値

の基準値に対する百分率を求める。 

b) 電池式 取扱説明書の中で製造業者が指定する新しい一次電池又は完全に充電された二次電池を用い

る。測定器の有効測定範囲の最大値の50 %〜90 %の指示値を与えるように,7.1.2の標準線源を製造

業者の定める位置に設置し,予熱時間後,指示値を読み取り,基準値とする。次に,一次電池に対し

ては100時間,二次電池に対しては10時間連続稼動した後に指示値を読み取る。この指示値から基準

値を差し引いた値の基準値に対する百分率を求める。 

7.2.12 耐衝撃性試験 

製造業者によるこん包状態の測定器にピーク加速度300 m/s2,作用時間18 msの衝撃パルス(正弦半波

パルス)による調和振動を3直交方向に加える。振動の後,バックグラウンド及び数え落としが十分無視

できる計数率を与える7.1.2の標準線源を製造業者の定める位置に設置して測定し,測定器の指示値を読

み取る。振動を加える前に読み取った値を基準値として,この指示値から基準値を差し引いた値の基準値

に対する百分率を求める。 

7.2.13 耐振動性試験 

製造業者によるこん包状態の測定器に10 Hz〜21 Hz及び22 Hz〜33 Hzそれぞれの範囲内について,一

つ以上の周波数で3直交方向に20 ms−2の加速度で15分間調和振動を与える。振動の後,バックグラウン

ド及び数え落としが十分無視できる計数率を与える7.1.2の標準線源を製造業者の定める位置に設置して

測定し,測定器の指示値を読み取る。振動を加える前に読み取った値を基準値として,この指示値から基

準値を差し引いた値の基準値に対する百分率を求める。 

7.2.14 予熱時間特性試験 

電源を切った状態で測定器を少なくとも1時間以上放置する。次に,測定器の有効測定範囲の中間点近

くの指示を与える適切な線源を製造業者の定める位置に設置し,電源を入れて60秒ごとの指示値を読み取

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る。電源を入れて10分間,少なくとも10回の測定を行い,平均値を求める。時間の関数として測定器の

指示値をプロットし,最小2乗法によって近似曲線を求める。指示値の平均値を基準値とし,得られた曲

線から読み取った10分後の指示値から基準値を差し引いた値の基準値に対する百分率を求める。 

7.2.15 オーバロード特性試験 

オーバロード特性試験は,次による。 

a) 有効測定範囲の最小値の2.5倍から,有効測定範囲の最大値の75 %の範囲の指示値を示すように7.1.2

の標準線源を製造業者の定める位置に設置して測定し,このときの指示値を基準値とする。 

b) 有効測定範囲の最大値の10倍の指示値にほぼ等しい計数率を与える線源で,測定器を15分間照射す

る。指示可能な最大値又はオーバスケールが表示されていることを確認する。 

c) オーバロードを起こさせる線源を除去し,30分を超えない受渡当事者間の協定時間内に復帰すること

を確認する。測定範囲に復帰した後,a) と同じ条件で測定し,指示値を読み取る。この指示値から基

準値を差し引いた値の基準値に対する百分率を求める。 

7.2.16 警報動作試験 

パルス信号発生装置を接続し,警報が動作する入力信号(X)の89 %の信号を入力して警報が動作しな

いことを確認する。次に,Xの111 %の信号を入力して警報が動作することを確認する。 

7.2.17 外部電磁界特性試験 

バックグラウンド及び数え落としが十分無視できる計数率を与える7.1.2の標準線源を製造業者の定め

る位置に設置して測定し,JIS C 61000-4-3に基づき試験を実施する。 

3 V/mの強度で,80 MHz〜1 000 MHz及び1.4 GHz〜2.0 GHzの周波数の電磁界環境,及び1 V/mの強度

で,2.0 GHz〜2.7 GHzの周波数の電磁界環境に測定器(機器の設置方向は正面)を置く。周波数の変化は,

1 %ステップとする。 

各電磁界環境に30秒間置いてそのときの指示値を求める。外部から電磁界環境を与えない状態での指示

値を基準として,各電磁界環境での指示値から基準値を差し引いた値の基準値に対する百分率を求める。 

7.2.18 電源周波数磁界イミュニティ特性試験 

バックグラウンド及び数え落としが十分無視できる計数率を与える7.1.2の標準線源を製造業者の定め

る位置に設置して測定し,JIS C 61000-4-8に基づき試験を実施する。 

3 A/mの強度,50 Hz又は60 Hzの磁界中に測定器を置く。30秒間照射してそのときの指示値を読み取

る。外部から磁界の放射がない状態での指示値を基準として,JIS C 61000-4-8に規定する各周波数での指

示値から基準値を差し引いた値の基準値に対する百分率を求める。 

7.2.19 静電気放電特性試験 

バックグラウンド及び数え落としが十分無視できる計数率を与える7.1.2の標準線源を製造業者の定め

る位置に設置して測定し,JIS C 61000-4-2に基づき試験を実施する。導電表面部は±4 kVによる接触放電,

絶縁表面部は±8 kVによる気中放電にて実施し,試験前の測定値を基準値とする。試験後の指示値から基

準値を差し引いた値の基準値に対する百分率を求める。 

なお,指示値は,それぞれ10回の放電を行った後,読み取る。 

7.2.20 無線周波電磁界によって誘導する伝導妨害に対するイミュニティ特性試験 

バックグラウンド及び数え落としが十分無視できる計数率を与える7.1.2の標準線源を製造業者の定め

る位置に設置して測定し,JIS C 61000-4-6に基づき試験を実施する。試験電圧は3 Vとし,周波数を150 kHz

〜80 MHzまで1 %ステップで変化させ,試験を実施した後の指示値を読み取る。試験前の測定値を基準値

とし,試験後の指示値から基準値を差し引いた値の基準値に対する百分率を求める。 

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12 

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7.2.21 電気的ファストトランジェント/バーストイミュニティ特性試験 

バックグラウンド及び数え落としが十分無視できる計数率を与える7.1.2の標準線源を製造業者の定め

る位置に設置して測定し,JIS C 61000-4-4に基づき試験を実施する。試験は,信号ケーブル及び電源ケー

ブルについて行い,試験方法は次による。 

a) 信号ケーブル 測定した状態で,±0.5 kV,繰返し率5 kHzの電気的ファストトランジェント/バー

ストイミュニティを電源端子−保護接地間へ容量性結合クランプを使用して1分間加え,試験を実施

した後の指示値を読み取る。試験前の測定値を基準値とし,試験後の指示値から基準値を差し引いた

値の基準値に対する百分率を求める。 

b) 電源ケーブル 測定した状態で,±0.5 kV,繰返し率5 kHzの電気的ファストトランジェント/バー

ストイミュニティを電源端子−保護接地間へ1分間加え,試験を実施した後の指示値を読み取る。試

験前の測定値を基準値とし,試験後の指示値から基準値を差し引いた値の基準値に対する百分率を求

める。 

7.2.22 サージイミュニティ特性試験 

バックグラウンド及び数え落としが十分無視できる計数率を与える7.1.2の標準線源を製造業者の定め

る位置に設置して測定し,JIS C 61000-4-5に基づき試験を実施する。試験は,交流電源ケーブル及び/又

は直流電源ケーブルについて実施し,試験方法は次による。 

a) 交流電源ケーブル 測定した状態で,動作試験はライン−接地間で開回路試験電圧±2 kV,波形パラ

メータ1.2/50 μs及びライン−ライン間で開回路試験電圧±1 kV,波形パラメータ1.2/50 μsで試験を行

う。指示値は,それぞれ10回試験した後読み取る。試験前の測定値を基準値とし,試験後の指示値か

ら基準値を差し引いた値の基準値に対する百分率を求める。 

b) 直流電源ケーブル 測定した状態で,試験はライン−接地間及びライン−ライン間で開回路試験電圧

±0.5 kV,波形パラメータ1.2/50 μsで試験を行う。指示値は10回試験した後,試験後の指示値を読み

取る。試験前の測定値を基準値とし,試験後の指示値から基準値を差し引いた値の基準値に対する百

分率を求める。 

7.2.23 電圧ディップ,短時間停電及び電圧変動に対するイミュニティ特性試験 

バックグラウンド及び数え落としが十分無視できる計数率を与える7.1.2の標準線源を製造業者の定め

る位置に設置して測定し,JIS C 61000-4-11に基づき試験を実施する。試験前の測定値を基準値とし,試

験後の指示値から基準値を差し引いた値の基準値に対する百分率を求める。 

a) 電圧ディップ 測定した状態で,電圧試験レベルが定格電圧の0 %で継続時間0.5サイクル,定格電

圧の0 %で継続時間1サイクル,及び定格電圧の70 %で継続時間25/30サイクル(50/60 Hz)1) とし,

試験後の指示値を読み取る。試験前の測定値を基準値とし,試験後の指示値から基準値を差し引いた

値の基準値に対する百分率を求める。 

b) 短時間停電 測定した状態で,電圧試験レベルが定格電圧の0 %で継続時間250/300サイクル(50/60 

Hz)2) とし,試験後の指示値を読み取る。試験前の測定値を基準値とし,試験後の指示値から基準値

を差し引いた値の基準値に対する百分率を求める。 

c) 電圧変動 測定した状態で,電圧試験レベルが定格電圧の70 %で継続時間1サイクル,電圧上昇に要

する時間を25/30サイクル(50/60 Hz)1) とし,試験後の指示値を読み取る。試験前の測定値を基準値

とし,試験後の指示値から基準値を差し引いた値の基準値に対する百分率を求める。 

注1) “25/30サイクル”の表記は,“50 Hzの試験に対しては25サイクル”及び“60 Hzの試験に

対しては30サイクル”の継続時間を適用することを意味している。 

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13 

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

2) “250/300サイクル”の表記は,“50 Hzの試験に対しては250サイクル”及び“60 Hzの試験

に対しては300サイクル”の継続時間を適用することを意味している。 

検査 

8.1 

一般 

測定器の検査は,形式検査3) と受渡検査4) とに区分し,箇条7に規定する方法で行い,箇条5の規定に

適合したものを合格とする。 

なお,形式検査は,設計段階で一つ以上の測定器に対して行う。この規格に規定する全ての試験は,特

に記載がない限り,形式検査として行わなければならない。形式検査に試験用標準線源を用いる場合は,

濃度換算係数と試験用標準線源に対するレスポンスとの関係をあらかじめ求めておかなければならない。

試験は特に指定がない限り,全ての測定範囲で有効測定範囲の最小値及び最大値の少なくとも2点実施す

る。 

この規格が特定する一部の試験については,受渡当事者間の協定によって試験方法を変更してもよい。

また,受渡当事者間の協定によって試験項目を追加してもよい。 

注3) 製品の品質が,設計で示した全ての特性を満足するかどうかを判定するための検査。 

4) 既に形式検査に合格したものと同じ設計・製造による製品の受渡しをする場合,必要と認める

特性が満足するものであるかどうかを判定するための検査。 

8.2 

形式検査 

形式検査は,次の項目について試験する。 

a) 濃度換算係数 

b) 相対基準誤差 

c) 試験用標準線源に対するレスポンス 

d) 最小検出放射能 

e) 外部γ線の影響 

f) 

他核種の影響 

g) 指示値変動 

h) 温度特性 

i) 

湿度特性 

j) 

電源電圧の変動に対する安定性 

k) 耐衝撃性 

l) 

耐振動性 

m) 予熱時間特性 

n) オーバロード特性 

o) 警報動作 

p) 外部電磁界特性 

q) 電源周波数磁界イミュニティ特性 

r) 静電気放電特性 

s) 

無線周波電磁界によって誘導された伝導妨害に対するイミュニティ特性 

t) 

電気的ファストトランジェント/バーストイミュニティ特性 

u) サージイミュニティ特性 

14 

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

v) 電圧ディップ,短時間停電及び電圧変動に対するイミュニティ特性 

8.3 

受渡検査 

受渡検査は,相対基準誤差について試験する。このほかに,受渡当事者間の協定によって定める項目を

含めてもよい。 

表示 

測定器には,見やすい箇所に容易に消えない方法で,次の事項を表示しなければならない。 

a) 規格の名称及び/又は規格番号 

b) 形名(製造業者による。) 

c) 製造番号 

d) 製造年月又はその略号 

e) 製造業者名又はその略号 

10 取扱説明書 

測定器には,少なくとも次の事項を記載した取扱説明書を添付しなければならない。 

a) 濃度換算係数 

b) 相対基準誤差 

c) 試験用標準線源に対するレスポンス 

d) 試験に用いた標準線源の核種及び形式 

e) 最小検出放射能及びそのときの測定条件(測定時間及び試料の質量) 

f) 

外部γ線に対するレスポンス 

g) 他核種の影響 

h) 有効測定範囲及びそのときの測定条件(測定時間及び試料の質量) 

i) 

測定対象核種 

j) 

放射能濃度の測定対象となる試料の種類並びに試料容器の形式及び容積 

k) 取扱い上の注意事項 

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15 

Z 4342:2013  

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附属書JA 

(参考) 

JISと対応国際規格との対比表 

JIS Z 4342:2013 シンチレーション式放射能測定器−食品中のγ線放出核種 

IEC 61563:2001 Radiation protection instrumentation−Equipment for measuring 
specific activity of gamma-emitting radionuclides in foodstuffs 

(I)JISの規定 

(II) 
国際 
規格 
番号 

(III)国際規格の規定 

(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごとの評
価及びその内容 

(V)JISと国際規格との技
術的差異の理由及び今後
の対策 

箇条番号 
及び題名 

内容 

箇条 
番号 

内容 

箇条ごと 
の評価 

技術的差異の内容 

1 適用範囲 シンチレーション式放

射能測定器について規
定 

具体的な検出器の種類に関
する規定なし。 

変更 

検出器について具体的に示した。 

実質的な差異はない。 

2 引用規格  

3 用語及び
定義 

JIS Z 4001及びJIS Z 
8103による。 

国際規格内で使用している
用語 

変更 

使用していない用語及びJIS Z 4001,JIS 
Z 8103に記載されている用語を削除。 

実質的な差異はない。 

4 分類 

携帯形 
可搬形 
据置形 

分類分けなし 

追加 

国際規格は携帯形及び可搬形を対象と
している。 

国際規格を改正するよう
提案を検討する。 

5 性能 

5.1 濃度換算係数 

40K,60Co,131I,133Ba, 

134Cs,137Cs 

5.1 

濃度換算係数の規定はなく,
測定核種(40K,60Co,133Ba,

131I,134Cs,137Cs)を規定 

追加 

濃度換算係数を規定。 

実質的な差異はない。 

5.2 有効測定範囲 

60Co,131I,133Ba, 134Cs,

137Cs 

5.2 

有効測定範囲 

40K,60Co,133Ba,131I,134Cs,

137Cs 

削除 

40Kは妨害核種であり,他の核種と同じ

範囲を要求するのは過剰要求である。推
奨事項であるため,特に問題はない。 

実質的な差異はない。 

5.4 相対基準誤差 
±(20+U) % 

7.1 

相対基準誤差 
±(50+U) % 

変更 

許容範囲を変更した。 
対象核種を少なくとも1核種としたが,
全ての核種について濃度換算係数を示
す規定とした。 

国際規格を改正するよう
提案を検討する。 

5.8 他核種の影響 

− 

− 

追加 

核種分析機能をもつ測定器について,規
定した。 

国際規格を改正するよう
提案を検討する。 

5

Z

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1

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

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Z 4342:2013  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

(I)JISの規定 

(II) 
国際 
規格 
番号 

(III)国際規格の規定 

(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごとの評
価及びその内容 

(V)JISと国際規格との技
術的差異の理由及び今後
の対策 

箇条番号 
及び題名 

内容 

箇条 
番号 

内容 

箇条ごと 
の評価 

技術的差異の内容 

5 性能 
(続き) 

5.10 温度特性 
−10 ℃〜40 ℃の試験
は,受渡当事者間の協
定によって実施し,許
容範囲±20 % 

10 

−10 ℃〜40 ℃における許
容範囲±20 % 

変更 

室内で用いることが想定されるため,室
外で用いる測定器の性能規定である−
10 ℃〜40 ℃は,受渡当事者間の協定に
よるとした。 

国際規格を改正するよう
提案を検討する。 

5.12 電源電圧の変動
に対する安定性 
a) 交流電源使用時 
b) 電池使用時 

8.2 

電池使用時 

変更 

国際規格には交流電源の使用について
規定がない。交流電源を使用する測定器
が一般的であり追加した。 

国際規格を改正するよう
提案を検討する。 

5.13 耐衝撃性 
可搬形及び据置形は対
象外 

9.1 

携帯形及び可搬形を対象と
する。 

変更 

IEC規格は据置形及び据置で用いる可
搬形を想定していないため,これらにつ
いて規定しないこととした。 

技術的差異はない。 
国際規格を改正するよう
提案を検討する。 

5.14 耐振動性 
可搬形及び据置形は対
象外 

9.2 

携帯形及び可搬形を対象と
する。 

変更 

IEC規格は据置形及び据置で用いる可
搬形を想定していないため,これらにつ
いて規定しないこととした。 

技術的差異はない。 
国際規格を改正するよう
提案を検討する。 

5.17 警報動作 
全て対象 

8.3 

警報動作の機能をもつ測定
器だけを対象とした。 

変更 

モニタではないため,警報装置は通常要
求されない。 

国際規格を改正するよう
提案を検討する。 

5.18 外部電磁界特性 
許容範囲±10 % 

10.5 

放射線測定器の表示が外部
電磁場の存在によって影響
を受けるかもしれない場合,
製造業者はそのことを警告
しなければならない。 

変更 

最近のIEC規格では全てIEC 61000シリ
ーズに基づくEMC試験が導入されてお
り,準拠した性能を規定した。 

国際規格を改正するよう
提案を検討する。 

5.19 電源周波数磁界
イミュニティ特性 
許容範囲±10 % 

10.6 

放射線測定器の表示が外部
磁界の存在によって影響を
受けるかもしれない場合,製
造業者はそのことを警告し
なければならない。 

変更 

最近のIEC規格では全てIEC 61000シリ
ーズに基づくEMC試験が導入されてお
り,準拠した性能を規定した。 

国際規格を改正するよう
提案を検討する。 

5.20 静電気放電特性 
許容範囲±10 % 

− 

− 

追加 

最近のIEC規格では全てIEC 61000シリ
ーズに基づくEMC試験が導入されてお
り,準拠した性能を規定した。 

国際規格を改正するよう
提案を検討する。 

5

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

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Z 4342:2013  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

(I)JISの規定 

(II) 
国際 
規格 
番号 

(III)国際規格の規定 

(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごとの評
価及びその内容 

(V)JISと国際規格との技
術的差異の理由及び今後
の対策 

箇条番号 
及び題名 

内容 

箇条 
番号 

内容 

箇条ごと 
の評価 

技術的差異の内容 

5 性能 
(続き) 

5.21 無線周波電磁界
によって誘導する伝導
妨害に対するイミュニ
ティ特性 
許容範囲±10 % 

− 

− 

追加 

最近のIEC規格では全てIEC 61000シリ
ーズに基づくEMC試験が導入されてお
り,準拠した性能を規定した。 

国際規格を改正するよう
提案を検討する。 

5.22 電気的ファスト
トランジェント/バー
ストイミュニティ特性 
許容範囲±10 % 

− 

− 

追加 

最近のIEC規格では全てIEC 61000シリ
ーズに基づくEMC試験が導入されてお
り,準拠した性能を規定した。 

国際規格を改正するよう
提案を検討する。 

5.23 サージイミュニ
ティ特性 
許容範囲±10 % 

− 

− 

追加 

最近のIEC規格では全てIEC 61000シリ
ーズに基づくEMC試験が導入されてお
り,準拠した性能を規定した。 

国際規格を改正するよう
提案を検討する。 

5.24 電圧ディップ,短
時間停電及び電圧変動
に対するイミュニティ
特性 
許容範囲±10 % 

− 

− 

追加 

最近のIEC規格では全てIEC 61000シリ
ーズに基づくEMC試験が導入されてお
り,準拠した性能を規定した。 

国際規格を改正するよう
提案を検討する。 

6 構造 

6.3 測定部 
測定部 

4.4 

測定部 
補助器具 

削除 

補助器具は測定器の一部ではないため
削除した。IEC規格では推奨事項であり
実質的に問題はない。 

技術的差異はない。 
国際規格を改正するよう
提案を検討する。 

6.4 電源 
交流電源式又は電池式 

8.2 

電池式 

変更 

交流電源を使用する測定器が一般的で
あり追加した。 

国際規格を改正するよう
提案を検討する。 

7 試験 

7.1 試験条件 
7.1.1 共通試験条件 
電源電圧 
電源周波数 
電源波形 

6.1 

電源電圧 
電源周波数 
電源波形 
の規定なし。 

変更 

交流電源を用いる測定器のために追加
した。 

国際規格を改正するよう
提案を検討する。 

5

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1

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

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Z 4342:2013  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

(I)JISの規定 

(II) 
国際 
規格 
番号 

(III)国際規格の規定 

(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごとの評
価及びその内容 

(V)JISと国際規格との技
術的差異の理由及び今後
の対策 

箇条番号 
及び題名 

内容 

箇条 
番号 

内容 

箇条ごと 
の評価 

技術的差異の内容 

7 試験 
(続き) 

7.1.2 標準線源 
a) 放射能標準溶液 
b) 放射能標準体積線
源 
相対拡張不確かさ
10 % 
一連の線源の相対不確
かさ10 % (k=2)未満 
 
c) 試験用標準線源 

 
6.5 a) 
6.5 b) 
 
 
 
 
 
 
6.6 

 
JISと同じ 
自然放射能を含む放射能標
準体積線源又は人工的に放
射性物質が詰められた放射
能標準体積線源 
相対拡張不確かさ20 % 
一連の線源の相対不確かさ
10 %未満 
試験用標準線源 

 
変更 

 
国際規格の不確かさの許容範囲は,環境
試料を想定したものと思われ,市販の放
射能標準体積線源不確かさを考慮して,
不確かさの許容範囲を10 %未満とした。
国際規格における相対放射能の不確か
さの許容範囲は,標準線源の不確かさの
許容範囲と一致しているため削除した。 
国際規格の試験用標準線源は,実質上標
準線源であるため,試験用標準線源とし
た。 

 
国際規格を改正するよう
提案を検討する。 

7.2 試験方法 
7.2.1 一般 
数値の丸め方は,JIS Z 
8401に従う。 

7.1.2 

数字の丸め方について特に
記載なし 

変更 

JISでは数字の丸め方が合否判定に影響
するため,数値の丸め方は,JIS Z 8401
に従うことを追加した。 

技術的差異はない。 

7.2.2 濃度換算係数試
験 

− 

− 

追加 

国際規格では対象核種全てに相対基準
誤差試験を課しているが,実際的ではな
いため濃度換算係数試験とした。 

技術的差異はない。 

7.2.3 相対基準誤差試
験 

137Csを含む少なくと

も1核種による 

7.1 

対象核種全て 

変更 

国際規格では対象核種全てに相対基準
誤差試験を課しているが,実際的ではな
いため濃度換算係数試験とした。 

技術的差異はない。 

7.2.7 他核種の影響試
験 

− 

− 

追加 

核種分析機能をもつ測定器には要求さ
れるべき事項であり,規定した。 

国際規格を改正するよう
提案を検討する。 

7.2.8 指示値変動試験 
有効測定範囲の最小値
の2.5倍程度の任意の
指示値を与える線源を
用いる。20回読み取
る。 

7.5 

第2デカードの中心付近の指
示値を与える放射能濃度の
線源を用いる。 

変更 

読取り回数の規定がないため,他のJIS
と同様に20回とした。 

技術的差異はない。 
国際規格を改正するよう
提案を検討する。 

5

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

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Z 4342:2013  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

(I)JISの規定 

(II) 
国際 
規格 
番号 

(III)国際規格の規定 

(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごとの評
価及びその内容 

(V)JISと国際規格との技
術的差異の理由及び今後
の対策 

箇条番号 
及び題名 

内容 

箇条 
番号 

内容 

箇条ごと 
の評価 

技術的差異の内容 

7 試験 
(続き) 

7.2.10 湿度特性試験 
4時間以上又は受渡当
事者間で取り決めた時
間放置した後,指示値
を記録 

10.2 

受渡当事者間で取り決めた
時間放置した後,測定値を記
録 

変更 

具体的な試験時間を追加した。 

技術的差異はない。 
国際規格を改正するよう
提案を検討する。 

7.2.11 電源電圧の変動
に対する安定性試験 
交流電源使用時 
電池使用時 

8.2 

電池使用時 

変更 

交流電源を使用する測定器が一般的で
あり追加した 

国際規格を改正するよう
提案を検討する。 

7.2.17 外部電磁界特性
試験 
試験方法を規定。 

10.5 

試験方法の規定なし。 

変更 

最近のIEC規格では全てIEC 61000シリ
ーズに基づくEMC試験が導入されてお
り,準拠した試験方法を規定した。 

技術的差異はない。 
国際規格を改正するよう
提案を検討する。 

7.2.18 電源周波数磁界
イミュニティ特性試験 

10.6 

試験方法の規定なし。 

変更 

最近のIEC規格では全てIEC 61000シリ
ーズに基づくEMC試験が導入されてお
り,準拠した試験方法を規定した。 

国際規格を改正するよう
提案を検討する。 

7.2.19 静電気放電特性
試験 

− 

− 

追加 

最近のIEC規格では全てIEC 61000シリ
ーズに基づくEMC試験が導入されてお
り,準拠した試験方法を規定した。 

国際規格を改正するよう
提案を検討する。 

7.2.20 無線周波電磁界
によって誘導する伝導
妨害に対するイミュニ
ティ特性試験 

− 

− 

追加 

最近のIEC規格では全てIEC 61000シリ
ーズに基づくEMC試験が導入されてお
り,準拠した試験方法を規定した。 

国際規格を改正するよう
提案を検討する。 

7.2.21 電気的ファスト
トランジェント/バー
ストイミュニティ特性
試験 

− 

− 

追加 

最近のIEC規格では全てIEC 61000シリ
ーズに基づくEMC試験が導入されてお
り,準拠した試験方法を規定した。 

国際規格を改正するよう
提案を検討する。 

7.2.22 サージイミュニ
ティ特性試験 

− 

− 

追加 

最近のIEC規格では全てIEC 61000シリ
ーズに基づくEMC試験が導入されてお
り,準拠した試験方法を規定した。 

国際規格を改正するよう
提案を検討する。 

5

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

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Z 4342:2013  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

(I)JISの規定 

(II) 
国際 
規格 
番号 

(III)国際規格の規定 

(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごとの評
価及びその内容 

(V)JISと国際規格との技
術的差異の理由及び今後
の対策 

箇条番号 
及び題名 

内容 

箇条 
番号 

内容 

箇条ごと 
の評価 

技術的差異の内容 

7 試験 
(続き) 

7.2.23 電圧ディップ,
短時間停電及び電圧変
動に対するイミュニテ
ィ特性試験 

− 

− 

追加 

最近のIEC規格では全てIEC 61000シリ
ーズに基づくEMC試験が導入されてお
り,準拠した試験方法を規定した。 

国際規格を改正するよう
提案を検討する。 

8 検査 

8.1 一般 
 なお,形式検査は,
設計段階で一つ以上の
測定器に対して行う。 

7.1.2 

形式検査 
製造試験 

変更 

JISでは一般的に製造検査を受渡検査と
するため変更した。 
通常JISで用いる表現とした。 
IEC規格にない試験項目を追加した。 

技術的差異はない。 

8.2 形式検査 

追加 

JISで追加した項目を記載した。 

技術的差異はない。 

9 表示 

見やすい箇所に容易に
消えない方法で記載す
る事項を規定。 

− 

− 

追加 

表示が必要なため。 

技術的差異はない。 

10 取扱説
明書 

取扱説明書を追加 

13 

形式試験報告書及び証明書 

変更 

JISでは一般的に取扱説明書で記載する
ため変更した。 

技術的差異はない。 

JISと国際規格との対応の程度の全体評価:IEC 61563:2001,MOD 

注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。 
 

− 削除 ················ 国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。 

− 追加 ················ 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。 

− 変更 ················ 国際規格の規定内容を変更している。 

注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。 
 

− MOD ··············· 国際規格を修正している。 

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