JISZ4341:2006 中性子用線量当量（率）サーベイメータ

Z 4341：2006

（1）

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

まえがき

この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，社団法人日本電気計測器工業会(JEMIMA)／

財団法人日本規格協会(JSA)から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本

工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。

制定に当たっては，日本工業規格と国際規格との対比，国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日

本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために，IEC 61005:2003，Radiation protection

instrumentation−Neutron ambient dose equivalent (rate) metersを基礎として用いた。

この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に

抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許

権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に係る確認について，責任は

もたない。

JIS Z 4341には，次に示す附属書がある。

附属書A（規定）1 cm線量当量換算係数

附属書1（参考）JISと対応する国際規格との対比表

Z 4341：2006

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ページ

序文 ··································································································································· 1

1. 適用範囲 ························································································································ 1

2. 引用規格 ························································································································ 1

3. 定義 ······························································································································ 2

4. 性能 ······························································································································ 3

4.1 相対基準誤差 ················································································································ 3

4.2 警報誤差 ······················································································································ 3

4.3 エネルギー特性 ············································································································· 4

4.4 方向特性 ······················································································································ 4

4.5 他の放射線の影響 ·········································································································· 4

4.6 指示値変動 ··················································································································· 4

4.7 応答時間 ······················································································································ 4

4.8 ドリフト ······················································································································ 4

4.9 予熱時間 ······················································································································ 4

4.10 オーバロード特性 ········································································································· 4

4.11 温度特性 ····················································································································· 4

4.12 耐湿性 ························································································································ 4

4.13 電源電圧の変動に対する安定性 ······················································································· 4

4.14 耐衝撃性 ····················································································································· 5

4.15 耐振動性 ····················································································································· 5

4.16 静電気放電の影響 ········································································································· 5

4.17 放射電磁界の影響 ········································································································· 5

4.18 無線周波電磁界の影響 ··································································································· 5

4.19 サージ及び振動波の影響 ································································································ 5

4.20 電気的ファストトランジェント・バーストの影響 ······························································· 5

4.21 外部磁界の影響 ············································································································ 5

5. 構造 ······························································································································ 5

5.1 構造一般 ······················································································································ 5

5.2 指示計器 ······················································································································ 5

5.3 電源 ···························································································································· 5

5.4 有効測定範囲 ················································································································ 6

5.5 除染性 ························································································································· 6

5.6 密閉性 ························································································································· 6

5.7 保管及び輸送 ················································································································ 6

6. 試験 ······························································································································ 6

Z 4341：2006 目次

（3）

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ページ

6.1 試験条件 ······················································································································ 6

6.2 試験方法 ······················································································································ 7

7. 表示 ····························································································································· 12

8. 取扱説明書 ···················································································································· 12

附属書A（規定）1 cm線量当量換算係数 ·················································································· 13

附属書1（参考）JISと対応する国際規格との対比表 ·································································· 15

解説 ······························································································································· 23

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日本工業規格 JIS

Z 4341：2006

中性子用線量当量（率）サーベイメータ

Neutron ambient dose equivalent (rate) meters

序文この規格は，2003年に第2版として発行されたIEC 61005，Radiation protection instrumentation −

Neutron ambient dose equivalent (rate) metersを翻訳し，技術的内容を変更して作成した日本工業規格である。

なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，原国際規格を変更している事項である。変更の一覧

表をその説明を付けて，附属書1（参考）に示す。

1. 適用範囲この規格は，15 MeV以下のエネルギーをもつ中性子の1 cm線量当量（率）を測定する放

射線サーベイメータ（以下，サーベイメータという。）について規定するものであり，サーベイメータには

少なくとも次の装置のものを含む。

a) 検出器の周りに減速材や吸収材を取り付けた熱中性子用検出器からなる検出装置

b) 検出装置を内蔵する計測装置，又はケーブルで検出装置を接続した計測装置

備考この規格の対応国際規格を，次に示す。

なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide 21に基づき，IDT（一致している），MOD

（修正している），NEQ（同等でない）とする。

IEC 61005:2003，Radiation protection instrumentation−Neutron ambient dose equivalent (rate) meters

(MOD)

2. 引用規格次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成す

る。これらの引用規格のうちで，発行年を付記してあるものは，記載の年の版だけがこの規格の規定を構

成するものであって，その後の改正版・追補には適用しない。発効年を付記していない引用規格は，その

最新版（追補を含む。）を適用する。

JIS C 61000-4-2 電磁両立性−第4部：試験及び測定技術−第2節：静電気放電イミュニティ試験

備考 IEC 61000-4-2:1995，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4:Testing and measurement

techniques−Section 2:Electrostatic discharge immunity test が，この規格と一致している。

JIS C 61000-4-4 電磁両立性−第4部：試験及び測定技術−第4節：電気的ファストトランジェント

／バーストイミュニティ試験

備考 IEC 61000-4-4:1995，Electromagnetic compatibility(EMC)−Part 4-4:Testing and measurement

techniques−Electrial fast transient/burst immunity test からの引用事項は，この規格の該当事項

と同等である。

JIS C 61000-4-5 電磁両立性−第4部：試験及び測定技術−第5節：サージイミュニティ試験

備考 IEC 61000-4-5:1995，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-5: Testing and measurement

techniques−Surge immunity testからの引用事項は，この規格の該当事項と同等である。

Z 4341：2006

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JIS C 61000-4-6 電磁両立性−第4部：試験及び測定技術−第6節：無線周波電磁界によって誘導さ

れた伝導妨害に対するイミュニティ

備考 IEC 61000-4-6:1996，Electromagnetic compatibility(EMC)−Part 4: Testing and measurement

techniques−Section 6: Immunity to conducted disturbances, induced by radio-frequency fields から

の引用事項は，この規格の該当事項と同等である。

JIS Z 4001 原子力用語

備考 IEC 60050-393:1996，International Electrotechnical Vocabulary−Chapter 393及びIEC 60050-

394:1995，International Electrotechnical Vocabulary−Chapter 394からの引用事項は，この規格

の該当事項と同等である。

JIS Z 8103 計測用語

IEC 60086-1:2000，Primary batteries−Part 1:General

IEC 61000-4-3:2002，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-3: Testing and measurement techniques−

Radiated，radio-frequency，electromagnetic field immunity test

IEC 61000-4-8:1993，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4: Testing and measurement techniques−

Section 8: Power frequency magnetic field immunity test. Amendment 1 (2000)

IEC 61000-4-12:1995，Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4: Testing and measurement techniques−

Section 12: Oscillatory waves immunity test. Amendment 1 (2000)

IEC 61187:1993，Electrical and electronic measuring equipment−Documentation

ISO 8529-1:2001，Reference neutron radiations−Part 1: Characteristics and methods of production

ISO 8529-2:2000，Reference neutron radiations−Part 2: Calibration fundamentals of radiation protection

devices related to the basic quantities characterizing the radiation field

ISO 8529-3:1998，Reference neutron radiations−Part 3: Calibration of area and personal dosimeters and

determination of response as a function of energy and angle of incidence

ISO 11929-1:2000，Determination of the detection limit and decision threshold for ionizing radiation

measurements−Part 1: Fundamentals and application to counting measurements without the influence of

sample treatment

3. 定義この規格に用いる主な用語の定義は，JIS Z 4001及びJIS Z 8103によるほか，次による。

a) フルエンスΦ (fluence) (m-2) 断面積daをもつ球に入射する中性子数をdNとしたとき，dNをdaで除

した値。

dN/

b) フルエンス率Φ (fluence rate) (m−2・s−1) 単位時間dt当たりのフルエンス。

φ=

c) 1 cm線量当量 (率) H * (10) [ambient dose equivalent (rate)] ICRU球を単一方向の面平行ビームの中

性子又は光子で照射したときの，入射方向に沿い入射面から主軸上1 cmの深さにおける線量当量（率）。

なお，中性子の1 cm線量当量は，フルエンスに附属書Aに示す換算係数を乗じて求める。

d) サーベイメータの基準点 (reference point of an assembly) 基準線量（率）が既知の点にサーベイメー

タを設置するための校正の基準点。この基準点は，製造業者がサーベイメータの表面に印などで表示

する。

e) 試験点 (point of test) 照射野において，基準線量(率)が既知の点。放射線を用いて行うすべての試験

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（方向特性試験は除く。）に関して，サーベイメータの基準点は，製造業者が指定する配置で，この試

験点に置く｡

基準の向き (reference orientation) サーベイメータを校正するときに，放射線の入射方向に対して，

製造業者が指定するサーベイメータの向き。

g) 校正距離 (calibration distance) サーベイメータの基準点と校正用線源の中心との距離。

h) 基準線量（率）[conventionel true value of ambient dose equivalent (rate)] 一次標準にトレーサブルな

基準測定器，標準線源などで決定した基準となる1 cm線量当量(率)。

レスポンス(R) (ambient dose equivalent response) 試験点におけるサーベイメータの指示値Hiと基準

線量（率）Htとの比。

i/H

で表す。

指示誤差 (error of an indication) 試験点におけるサーベイメータの指示値Hiと基準線量（率）Htと

の差。

H−

で表す。

k) 相対指示誤差 ( I ) (relative error of an indication) 指示誤差と基準線量（率）との比。

}

{

％

100

(

−

で表す。

相対基準誤差 (relative intrinsic error) 基準の試験条件下で，基準放射線を用いたときの相対指示誤

差と基準線量（率）の不確かさの和。相対指示誤差をI，基準線量（率）の不確かさをUとすると相

対基準誤差は(I＋U )で表す。以下この規格におけるUの包含係数を，k＝2とする。

m) 変動係数 (V ) (coefficient of variation) n個の測定値(xi)の標準偏差の推定値(S)の，平均値(x)に対す

る比をいい，次の式による。

∑

−

)

(

n) 有効測定範囲 (effective range of measurement) サーベイメータが，この規格の規定する性能を満たす

測定範囲。

4. 性能サーベイメータの種類によっては，この規格が規定する性能要件をすべて満足する必要がある

とは限らない。その場合には，製造業者と使用者で性能に関する合意を図ってもよいが，性能確認のため

の試験方法はこの規定に従うことが望ましい。

4.1

相対基準誤差 6.2.2の方法で試験したとき，相対基準誤差の許容範囲は，有効測定範囲において，

±(20+U) ％とする。ただし，基準線量（率）の不確かさをUとする。

4.2

警報誤差警報誤差は，次による。

なお，この規定は，警報機能付きサーベイメータだけに適用する。

4.2.1

1 cm線量当量率警報誤差 6.2.3 a)の方法で試験し，警報設定値の0.8倍のレベルで10分間照射し

たとき，警報の発生割合は10 ％以下とする。また, 警報設定値の1.2倍のレベルで10分間照射したとき，

警報の発生割合は90 ％以上とし，更に警報は，照射後5秒以内に発生するか又は，警報設定値と照射後

警報を発するまでの時間の積を10 μSv以下とする。

4.2.2

1 cm線量当量警報誤差 6.2.3 b)の方法で試験し，警報設定値の0.8倍のレベルで照射したとき警

報が発生してはならない。また，警報設定値の1.2倍のレベルで照射したとき警報が確実に発生しなけれ

ばならない。

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4.3

エネルギー特性製造業者は，6.2.4によって試験したとき，標準中性子線源に対するレスポンスを

1としたときの各エネルギーに対するレスポンスの比を示さなければならない。また，製造業者は，熱中

性子から15 MeVまでの各デカード当たり少なくとも2点についてのレスポンスの計算値を示さなければ

ならない。エネルギー特性は，±50 ％であることが望ましい。

4.4

方向特性指示値の検出部に対する中性子の入射方向特性で表し，6.2.5によって試験したとき，方

向特性の許容範囲は±90°の角度範囲に対して±25 ％とする。

なお，±90°〜±180°の角度範囲における方向特性について，製造業者は附属の取扱説明書に明示する。

ただし，許容範囲を規定しない。

4.5

他の放射線の影響

4.5.1

α線及びβ線の影響中性子用のサーベイメータは，α線やβ線に対して感度がないので規定しな

い｡

4.5.2

γ線の影響 137Csγ線源を用いて，10 mSv・h−1の1 cm線量当量率でサーベイメータを照射したと

き，指示値が0.1 mSv・h−1を超えてはならない。

4.6

指示値変動 6.2.6によって試験したとき，変動係数は0.2以下でなければならない。

4.7

応答時間 6.2.7によって試験したとき，応答時間は次のとおりとする。

a) 0.1 mSv・h−1以下の1 cm線量当量率については，30秒以下。

b) 0.1〜1 mSv・h−1の1 cm線量当量率については，10秒以下。

c) 1 mSv・h−1を超える1 cm線量当量率については，4秒以下。

製造業者は，応答時間を明示しなければならない。

4.8

ドリフト 6.2.8によって試験したとき，指示値の変化がアナログ方式の場合にはフルスケールの±

2 ％，ディジタル式の場合には最小有意ディジットの5以下とする。

4.9

予熱時間製造業者は，必要な場合予熱時間を明示しなければならない。

4.10 オーバロード特性 6.2.9によって試験したとき，アナログ方式の場合には，指針の位置が高線量率

側の目盛範囲外を指示していなければならない。ディジタル方式の場合には，表示ランプ点滅などによっ

てオーバスケールを表示していなければならない。また，オーバロード特性試験後，4.1の性能を満足しな

ければならない。

4.11 温度特性

4.11.1 温度安定度 6.2.10 a) によって試験したとき，表1に適合しなければならない。

なお，種類については製造業者が附属の取扱説明書に明示する。

表 1 温度特性の許容範囲

種類

温度範囲

（℃）

許容範囲

（％）

室内用

10〜35

±10

室外用

−10〜45

±20

特殊室外用(1)

−25〜50

±50

注(1) 特殊室外用は，極高温又は極低温で用いるサーベ

イメータだけに適用する。

4.11.2 温度衝撃 6.2.10 b) によって試験したとき，指示値の変化は，±15 ％とする。

4.12 耐湿性 6.2.11によって試験したとき，指示値の変化は，±10 ％とする。

4.13 電源電圧の変動に対する安定性電源電圧の変動に対する安定性の許容範囲は，次による。

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4.13.1 電池使用時 6.2.12 a)で試験したとき，指示値の変化は，±10 ％とする。

4.13.2 交流電源使用時 6.2.12 b) 1)で試験したとき，電源電圧の変動に対する指示値の変化は，±10 ％

とする。また，6.2.12 b) 2)で試験したとき，電源周波数の変動に対する指示値の変化は，±10 ％とする。

なお，サーベイメータに電源周波数と同期をとる機能がない場合には，この規定は適用しない｡

4.14 耐衝撃性 6.2.13によって試験したとき，損傷があってはならない。

4.15 耐振動性 6.2.14によって試験したとき，指示値の変化は，±15 ％とする。

4.16 静電気放電の影響 6.2.15によって試験したとき，指示値の変化は，±10 ％とする。また，警報は

作動しないものとする。

4.17 放射電磁界の影響 6.2.16によって試験したとき，指示値の変化は，±10 ％とする。

4.18 無線周波電磁界の影響 6.2.17によって試験したとき，指示値の変化は，±10 ％とする。また，警

報は作動しないものとする。

なお，ケーブルをもたない電池駆動のサーベイメータは，この規定の適用範囲外とする。

4.19 サージ及び振動波の影響 6.2.18によって試験したとき，指示値の変化は，±10 ％とする。また，

警報は作動しないものとする。

なお，電池駆動のサーベイメータは，この規定の適用範囲外とする。

4.20 電気的ファストトランジェント・バーストの影響 6.2.19によって試験したとき，指示値の変化は，

±10 ％とする。また，警報は作動しないものとする。

なお，電池駆動のサーベイメータは，この規定の適用範囲外とする。

4.21 外部磁界の影響 6.2.20によって試験したとき，指示値の変化は，±10 ％を超えないことが望まし

い。また，警報は作動しないものとする。

5. 構造

5.1

構造一般構造一般は，次による。

a) 検出器，指示計器及び電源が一体として構成されるか，又はケーブルで接続され，操作及び持運びに

便利で，かつ，置いたときに安定性のよい堅ろうな構造とする。

b) 1 cm線量当量(率)が直接指示できるものとする。

c) 振動，衝撃，電磁環境などの影響を受けにくい構造とする。

d) 必要に応じて，記録計用出力端子，警報信号出力端子，プリアンプへの入力端子，増幅器からの出力

端子，波高弁別器の出力端子などを備えてもよい。

e) 1 cm線量当量の積算値が測定できる機能を付加してもよい。

校正及び試験のための基準点をサーベイメータの外側に示さなければならない。

g) 警報機能付きサーベイメータは，4.2の規定を満足しなければならない。

5.2

指示計器指示計器は，直線目盛若しくは対数目盛に目盛るか又はディジタル表示とする。単位の

表示は，μSv，mSv，μSv/h，mSv/h などの1 cm線量当量（率）とする。

5.3

電源電源は，次による。

a) 電源は，電池式とする。ただし，交流電源（定格電圧：100 Ｖ，周波数：50 Hz又は60 Hz）を併用す

る方式でもよい。

b) 電源用電池の消耗度が容易に確認できる機能をもたなければならない。

c) 一次電池は，正しい極性で接続できるようにサーベイメータに明示しなければならない。一次電池を

用いる場合には，IEC 60086-1に規定するものから選択することが，望ましい。

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d) 二次電池は，充電時間16時間以内で満充電できなければならない。

5.4

有効測定範囲有効測定範囲は，少なくとも4デカードをカバーしなければならない。一般的には，

1 μSv・h−1〜10 mSv・h−1である。100 mSv・h−1までの高線量率の要求があるときの有効測定範囲は，使

用者と製造業者の合意で決定する。アナログ式又はディジタル式によって区分し，それぞれの有効測定範

囲は，次による。

a) アナログ式サーベイメータの有効測定範囲は，それぞれのレンジの最大目盛の10〜100 ％とする。

b) ディジタル式サーベイメータの有効測定範囲は，第二最小ディジットから最大指示値とする(例えば，

99.9の表示をもつサーベイメータの有効測定範囲は，1.0 μSv・h−1〜9.99 mSv・h−1 。)。

5.5

除染性サーベイメータは，汚染除去が容易な構造とする。例えば，滑らかな表面をもつか，又は

薄く柔軟なケースを準備してもよい。

5.6

密閉性屋外仕様のサーベイメータについて，製造業者は，防水又は防湿に対する注意を示さなけ

ればならない。

5.7

保管及び輸送サーベイメータは，電池を取り除き製造業者のこん包状態にて−25〜50 ℃の環境下

で，少なくとも3か月間保管した後でも正常に動作するよう設計されていなければならない。

6. 試験

6.1

試験条件

6.1.1

共通試験条件 6.2の各試験方法において，基準条件は，表2による。特に指定のある場合を除き

この規格における試験は，表2に示す標準試験条件で行う。標準試験条件で行えない場合は，温度，気圧

及び湿度を明示し，基準条件のレスポンスに補正しなければならない。

表 2 共通試験条件

項目

基準条件

（製造業者の指定がないとき）

標準試験条件

（製造業者の指定がないとき）

標準中性子線源

241Am-Be,252Cf又はD(d,n)3He

241Am-Be，252Cf又はD(d,n)3He

予熱時間分

15以上

環境温度 ℃

18〜22(3)

相対湿度％

50〜75(3)

気圧 kPa

101.3

86〜106(3)

電源電圧(2)

正規電源電圧

正規電源電圧±1 ％

電源周波数(2)

正規電源周波数

正規電源周波数±1 ％

電源波形(2)

正弦波

正弦波からのひずみ5 ％以下

放射線入射角度

製造業者が指定

±10°

外部電磁波

無視できるレベル

影響の認められるレベル以下

外部磁気誘導

無視できるレベル

地球磁界の2倍以下

サーベイメータを置く方向

製造業者が指定

±5°

放射性物質による汚染

無視できるレベル

注(2) 商用電源を用いる場合に適用する。

(3) 試験時点での実際の値を明示する。これらの値は，温暖な気候に適用可能である。標準試験条件より暑い，

又は寒い気候時には，試験時の実際の値を明示しなければならない。海抜の高いところでは，70 kPaまで
許容する。

6.1.2

標準中性子線源標準中性子線源は，241Am-Be，252Cf，又はD(d,n)3He反応を用いた加速器ターゲ

ット線源とする。

6.1.3

試験の種類試験の種類には，品質試験と受渡試験とがあり，次による。

Z 4341：2006

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

a) 品質試験仕様の要求事項を満たしていることを実証するために行う試験。品質試験には形式試験と

製造試験とがある。

1) 形式試験所定の仕様を満足していることを示すために，製品を代表する一つ又は二つ以上のサー

ベイメータを用いて行う試験。

2) 製造試験サーベイメータが所定の基準を満足しているかを確認するために，製造過程において，

又は，製造後に個々のサーベイメータに対して行う試験。

b) 受渡試験サーベイメータが所定の条件下で仕様を満足していることを顧客に示すための契約上の試

験。

6.2

試験方法

6.2.1

試験方法一般試験方法一般は，次による。

a) すべての試験は，15分間の予熱時間が経過した後に実施するものとする。

b) 試験条件のうちのある項目の条件を変化させて試験する場合には，その項目以外の条件は，表2の標

準試験条件の範囲にあるものとする。

c) 1 cm線量当量は，中性子エネルギーに応じ，附属書Aに示す換算係数を中性子フルエンスに乗じて求

める。

d) 照射試験において，統計変動が大きい場合には，十分な回数の指示値を読取り，平均値が十分な精度

をもつようにしなければならない。この場合，ISO 11929-1の推奨する方法を用いることが望ましい。

また，指示値の読取り間隔は，統計的に独立とみなせる時間間隔でなければならない。

e) 6.2.15〜6.2.20の電磁気両立性に関する試験において，すべての試験は測定状態にて行う。最高感度レ

ンジや有効測定範囲の下限で測定する場合には，チェック線源（例えば，適切な強度の252Cf線源）を

サーベイメータに密着させて動作を確認することが望ましい。ただし，チェック線源が試験の邪魔に

なってはならない。試験中は，サーベイメータの電源は切ってはならない。レンジ切り替えが可能な

場合は，最高感度レンジに設定しておく。

6.2.2

相対基準誤差試験相対基準誤差試験は，標準中性子線源を用い，次によって行う。

a) 形式試験

1) 直線目盛の場合は，有効測定範囲の各レンジについて，最大目盛値の20 ％，50 ％及び80 ％近辺

の指示値について，指示値から基準線量率を差し引いた値の，基準線量率に対する百分率を求める。

2) 対数目盛及びディジタル方式の場合は，有効測定範囲の各デカードの20 ％，50 ％及び80 ％近辺

の指示値について，指示値から基準線量率を差し引いた値の，基準線量率に対する百分率を求める。

b) 製造試験

1) 直線目盛の場合には，有効測定範囲の各レンジについて，最大目盛値の50 〜75 ％の1ポイントの

指示値について，指示値から基準線量率を差し引いた値の，基準線量率に対する百分率を求める。

2) 対数目盛及びディジタル方式の場合には，有効測定範囲の各デカードの任意の指示値について，指

示値から基準線量率を差し引いた値の，基準線量率に対する百分率を求める。

c) 標準中性子線源標準中性子線源は，6.1.2 に規定する中性子線源のいずれかを用いなければならない。

これらの標準線源の使用条件は，ISO 8529-1, ISO 8529-2 及びISO 8529-3 に従わなければならない。

試験点における基準線量率の不確かさは，±10 ％とする。また，散乱線の指示値に与える影響を適切

に補正しなければならない。

なお，附属書Aに示す換算係数には，不確かさはないものとする。

d) 等価電気試験線源による照射試験が困難な場合は，等価な電気信号によって試験を行ってもよいが，

Z 4341：2006

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

形式試験においては，有効測定範囲のできるだけ高い線量率の一つ，及びできるだけ低い線量率の一

つについて線源による試験を行わなければならない。また，製造試験においては，できるだけ低い線

量率の一つについて線源による試験を行わなければならない。

試験は，検出器からの信号に近似した波形の電気信号を用いて行う。

相対基準誤差E (％)は，次による。

100

(

−

ここに，

I：基準線量率で照射したときの，サーベイメータの指示値

Q： Iと同じ指示値を与える電気信号のパルス計数率

q：入力する任意のパルス計数率

i：任意のパルス計数率qを入力したときの指示値

備考 I／Qは入力する任意のパルス計数率qに対する換算係数となる。したがって，Iq／Qをパルス

計数率qのときの基準線量当量率とみなすことができる。

なお，等価電気試験方法を使用した場合には，附属の取扱説明書にその旨を示すことが望ましい。

6.2.3

警報誤差試験警報誤差試験は，次による｡

a) 1 cm線量当量率警報誤差試験この試験は，少なくとも有効測定範囲の最大値付近及び第2最小デカ

ードの最大値付近の二つの警報設定値で行う。照射する1 cm線量当量率は，それぞれの警報設定値に

対し，0.8(1−U/100) 倍及び1.2(1＋U/100) 倍とし，10分間の照射時間に対して警報を発する時間を

積算する。警報発生の積算時間を照射時間で除して警報の発生割合を求める。1.2(1＋U/100) 倍の照射

を行うときには，照射開始から警報を発するまでの時間も測定する。ただし，基準線量率の不確かさ

をUとする。

b) 1 cm線量当量警報誤差試験この試験は，少なくとも有効測定範囲の最大値付近及び第2最小デカー

ドの最大値付近の二つの警報設定値で行う。照射する1 cm線量当量は，それぞれの警報設定値に対し，

0.8(1−U/100) 倍及び1.2(1＋U/100) 倍とする。ただし，基準線量率の不確かさをUとする。

6.2.4

エネルギー特性試験標準中性子線源[241Am-Be，252Cf，又は，D(d,n)3He] からの中性子に対する

レスポンスを求める。

次のa)〜e)に示す中性子エネルギー範囲に適合するエネルギーの中性子線源を各エネルギー範囲につい

て少なくとも一つ選択し，標準中性子線源に対するレスポンスを１としたときの，各エネルギーに対する

レスポンスの比を求める。照射する線量当量率は，バックグラウンド及び数え落としの影響が十分に無視

できる1 cm線量当量率とする。

なお，使用する中性子線源は，ISO 8529シリーズによる。

a) 熱中性子

b) 1〜50 keVのエネルギー範囲

c) 50〜600 keVのエネルギー範囲

d) 1〜5 MeVのエネルギー範囲

e) 13.5〜15 MeVのエネルギー範囲

6.2.5

方向特性試験製造業者が指定する中性子の入射方向を0°とし，その方向を含む水平及び垂直の

2平面について0°から30°ステップで±180°まで，各方向から中性子を照射し，指示値を読み取る。ま

た，0°方向の値を基準値とし，各方向に対する指示値から基準値を差し引いた値の，基準値に対する百分

率を求める。照射する線量当量率は，バックグラウンド及び数え落としの影響が十分に無視できる1 cm線

量当量率とする。

Z 4341：2006

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

校正距離は，検出器の最大寸法と線源の最大寸法の和の少なくとも3倍以上とする｡指示値に対する散乱

線の寄与は，直接線による指示値の20 ％を超えてはならない。

なお，散乱線の寄与の評価は，ISO 8529-2による。

6.2.6

指示値変動試験次に示す指示値に相当する線量当量率の中性子を照射し，統計的に独立とみなせ

る時間間隔（応答時間の1.5倍程度）で少なくとも20回指示値を読み取り，3. m)の式によって変動係数を

求める。

a) 直線目盛の場合には，最高感度指示範囲の最大目盛の30 ％近辺の指示値とする。

b) 対数目盛の場合には，最小デカードの3倍近辺の指示値とする。

c) ディジタル式の場合には，最小有意ディジットの10倍近辺の指示値とする。

6.2.7

応答時間試験サーベイメータに対する1 cm線量当量率を急に変化させ，指示値がNiからNtにな

るとき，指示値がNiから次式で示す値になるまでに要する時間を測定する。

)

(9.0

−

測定は，指示値を増加させる場合及び減少させる場合について行い，増加の場合にはNf / Ni が，減少の

場合にはNi / Nfが10以上になる1 cm線量当量率で行う。

なお，等価な電気信号でこの試験を行う場合には，製造業者は取扱説明書にその旨を示さなければなら

ない。

6.2.8

ドリフト試験ドリフト試験は，次による。

バックグラウンド測定状態において，30分間サーベイメータを動作させた後の指示値を基準値とする。

さらに，8時間連続動作させ1時間ごとに指示値を記録する。

a) アナログ式の場合には，基準値からの最大のずれ (正・負いずれか) の，フルスケールに対する百分

率を求める。

b) ディジタル式の場合には，基準値からの最大のずれ (正・負いずれか) を求める。

なお, 対数式のような非線形の目盛をもつサーベイメータでは零点を示さない場合があるので，この場

合には，適宜指針を振らせて試験を行ってもよい。

6.2.9

オーバロード特性試験アナログ式の場合には，各指示範囲の最大目盛値の約10倍又は250 mSv・

h−1のいずれか小さい値の1 cm線量当量率で5分間照射する。ディジタル式の場合には，有効測定範囲の

最大値の約10倍又は250 mSv・h−1のいずれか小さい値の1 cm線量当量率で5分間照射する。

なお，等価な電気信号でこの試験を行う場合には，製造業者は取扱説明書にその旨を示さなければなら

ない。

6.2.10 温度特性試験温度特性試験は，次による｡

a) 温度安定試験サーベイメータを恒温槽内に設置し，4.11.1の表1に示す温度範囲の最低温度及び最

高温度でそれぞれ24時間放置し，最後の30分間の指示値を記録する。表2に示す基準条件の温度に

おける指示値を基準値とし，それぞれの周囲温度における指示値から基準値を差し引いた値の，基準

値に対する百分率を求める。

なお，照射する線量当量率は，バックグラウンド及び数え落としの影響が十分に無視できる1 cm線

量当量率とする。また，温度を変化させる場合の温度こう（勾）配は1時間当たり10 ℃以下とする。

b) 温度衝撃試験温度衝撃試験は，次による｡

1) 装置を恒温槽内に設置し，20±2 ℃の温度で60分以上放置して指示値を記録する。次に45〜50 ℃

の温度に設定した恒温槽内に5分以内に移動させる。その後15分ごとに値を記録し，2時間測定す

る。20 ℃における指示値を基準として，2時間のそれぞれの指示値から基準値を差し引いた値の，

Z 4341：2006

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

基準値に対する百分率を求める｡この試験の後，サーベイメータの温度が45〜50 ℃の温度範囲で安

定するまで保持する｡

2) 45〜50 ℃の温度範囲における指示値を記録する｡次に20±2 ℃の温度に設定した恒温槽内に5分以

内に移動させる。その後15分ごとに値を記録し，2時間測定する。45〜50 ℃における指示値を基

準として，2時間のそれぞれの指示値から基準値を差し引いた値の，基準値に対する百分率を求め

る｡この試験の後，サーベイメータの温度が20±2 ℃の温度範囲で安定するまで保持する｡

3) 1)，2)と同様に，20 ℃から−10 ℃にしたとき，及び−10 ℃から20 ℃にしたときの温度衝撃試験

を行う｡ただし，−10 ℃における温度は，−5〜−10 ℃とする。

なお，照射する線量当量率は，バックグラウンド及び数え落としの影響が十分に無視できる1 cm線量当

量率とし，線源とサーベイメータは恒温槽内に移動後も，その幾何学的配置が変わってはならない｡

6.2.11 耐湿性試験周囲温度を35 ℃とし，相対湿度65 ％及び95 ％のそれぞれの環境下にサーベイメ

ータを動作状態にして24時間以上放置し，バックグラウンド及び数え落としの影響が十分無視できる1 cm

線量当量率の中性子を照射して最後の30分間の指示値を読む。65 ％における指示値を基準値とし，95 ％

における指示値から基準値を差し引いた値の，基準値に対する百分率を求める。

6.2.12 電源電圧の変動に対する安定性試験製造業者指定の新しい一次電池又は完全に充電した二次電

池を使用し，次の試験を行う。照射する線量率は，バックグラウンド及び数え落としの影響が十分に無視

できる線量率とする。

a) 電池使用時

1) 一次電池サーベイメータを標準試験条件で40時間断続稼働（8時間連続駆動の後16時間電源を

切る。この操作を5日間繰り返す。）し，動作開始時と終了時にそれぞれ10回指示値を読み取り，

平均する。終了時の指示値の平均から開始時の指示値の平均を差し引いた値の，開始時の指示値の

平均に対する百分率を求める。

2) 二次電池サーベイメータを標準試験条件で12時間連続稼働し，動作開始時と終了時にそれぞれ

10回指示値を読み取り，平均する。終了時の指示値の平均から開始時の指示値の平均を差し引いた

値の，開始時の指示値の平均に対する百分率を求める。

b) 交流電源使用時

1) 電源電圧の変動に対する試験電源電圧を定格電圧値の88 ％，100 ％及び110 ％にした場合の指

示値を読む。定格電圧における指示値を基準値とし，各電圧における指示値から基準値を差引いた

値の，基準値に対する百分率を求める。

2) 電源周波数の変動に対する試験電源周波数を定格周波数50(60) Hzから53(63) Hz及び47(57) Hz

にした場合の，指示値を読む。定格周波数における指示値を基準値とし，各周波数における指示値

から基準値を差し引いた値の，基準値に対する百分率を求める。

6.2.13 耐衝撃性試験サーベイメータに300 m･s−2の加速度で，18 msの作用時間の調和振動を3直交方

向に加える。

6.2.14 耐振動試験サーベイメータに20 m･s−2の加速度で，周波数10〜21 Hzの調和振動を3直交方向

にそれぞれ15分間加える。引き続き20 m・s−2の加速度で，周波数22〜35 Hzの調和振動を3直交方向に

それぞれ15分間加える。振動試験前の指示値を基準とし，振動試験後の指示値から基準値を差引いた値の，

基準値に対する百分率を求める。

なお，照射する1 cm線量当量率は，バックグラウンド及び数え落としの影響が十分に無視できる1 cm

線量当量率とする。

Z 4341：2006

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

6.2.15 静電気放電の影響試験 150 pFのコンデンサに330 Ωの抵抗を介して6 kVでチャージした状態に

相当する放電を与える (JIS C 61000-4-2 レベル3の接触放電)。表面が絶縁されているものは，8 kV (JIS C

61000-4-2 レベル3) の気中放電とする。標準試験条件における指示値を基準とし，放電時における指示

値から基準値を差し引いた値の，基準値に対する百分率を求める。

なお，放電は，使用者が通常の使用状態で触れることのできる種々の箇所について，少なくともそれぞ

れ5回行う。

6.2.16 放射電磁界の影響試験 IEC 61000-4-3に基づき放射電磁界試験を実施する。

a) 10 V・m−1の強度で，80 MHzから1 000 MHzまでの周波数を1.5×10−3デカード／秒を超えない，又

は，ステップサイズが元の周波数の1 ％を超えないように自動スイープさせて各周波数での指示値を

読み取る。標準試験条件における指示値を基準とし，各周波数における指示値から基準値を差し引い

た値の，基準値に対する百分率を求める。

b) 信号は，1 kHzの正弦波で80 ％振幅変調したものが望ましい。

c) 自動スイープ試験ができない場合は，次の周波数で試験をすることができる。27，80，90，100，110，

120，130，140，150，160，180，200，220，240，260，290，320，350，380，420，460，510，560，

620，680，750，820，900及び1 000 MHz。

d) b)の方法で，4.17で規定した許容値の1/3以上の指示変化があった場合には，IEC 61000-4-3に規定す

る3方向で，その周波数の周辺を1 ％ステップで±5 ％の範囲までの追加試験が必要である。

6.2.17 無線周波電磁界の影響試験 JIS C 61000-4-6に基づき，無線周波電磁界による試験を実施する（レ

ベル3において）。標準試験条件における指示値を基準とし，各周波数における指示値から基準値を差し引

いた値の，基準値に対する百分率を求める。

a) 140 dBの強度で，150 kHz〜80 MHzの範囲で周波数を変化させる。

b) 信号は，1 kHzの正弦波で80 ％振幅変調したものが望ましい。

c) 1.5×10−3デカード／秒を超えない，又はステップサイズが元の周波数の1 ％を超えないように自動

スイープさせて各周波数での指示値を読み取ることが望ましい。

6.2.18 サージ及び振動波の影響試験 JIS C 61000-4-5 及び IEC 61000-4-12 (レベル3) に基づき交流電源

の終端に，結合・減結合回路網を介してパルス発生器からの信号を入力する。標準試験条件における指示

値を基準とし，各周波数における指示値から基準値を差し引いた値の，基準値に対する百分率を求める。

a) サージ間の時間間隔が1分以上で，10パルスを供給することが望ましい。

b) それぞれのパルスは，2 kVの強度のコンビネーション波形（1.2/50 μs−8/20 μs）であることが望まし

い。

c) リング波のパルスは，2 kVを超えないことが望ましい。

6.2.19 電気的ファストトランジェント・バーストの影響試験 JIS C 61000-4-4 (レベル3) に基づき交流

電源の終端に結合・減結合回路網を介して電気的ファストトランジェント又はバーストを加える。標準試

験条件における指示値を基準とし，各周波数における指示値から基準値を差し引いた値の，基準値に対す

る百分率を求める。

a) 1分間に1回を超えない割合で繰り返す。

b) ピーク電圧は±2 kVとする。

6.2.20 外部磁界の影響試験試験方法及び強度 (IEC 61000-4-8参照) は，製造業者と使用者の合意によ

って，次の方法を推奨する。

a) 50 Hz又は60 Hzの周波数で，30 A･m−1の場に設定する。

Z 4341：2006

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

b) 少なくとも0°及び90°の配置でサーベイメータを照射する。

備考 1 A･m−1は，1.26 mTの空間場と等価である。

7. 表示サーベイメータには，見やすい箇所に容易に消えない方法で，次の事項を表示しなければなら

ない。

a) 名称

b) 形名（製造業者による。）

c) 製造番号

d) 製造年月又はその略号

e) 製造業者名又はその略号

8. 取扱説明書サーベイメータには，少なくとも次の内容を記載した取扱説明書を添付しなければなら

ない（詳細は，IEC 61187参照）。

a) 製造業者名又は登録商標

b) 測定レンジの目盛範囲

c) 校正に用いた標準中性子線源及び換算係数

d) 相対基準誤差

e) エネルギー特性

γ線の影響

g) サーベイメータの基準点及び基準の向き

h) 検出器の形式及び仕様

寸法及び質量

方向特性試験に用いた線源

k) 方向特性

危険物及び可燃物に対する注意

m) 操作方法

n) 検出器及び減速材の詳細

o) 不感時間のデータ

p) パルス状の放射線場に関する動作

q) サービス，機器の配置及び試験に関する情報

r) メンテナンスに関するガイダンス

Z 4341：2006

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書A（規定）1 cm線量当量換算係数

附属書A表 1 1 cm線量当量換算係数（場所にかかわる1 cm線量当量）

中性子のエネルギー

(MeV)

フルエンスから1 cm線量当量への換算係数(1)

(pSv・cm2)

1.00×10-9

6.60

1.00×10-8

9.00

2.53×10-8

10.6

1.00×10-7

12.9

2.00×10-7

13.5

5.00×10-7

13.6

1.00×10-6

13.3

2.00×10-6

12.9

5.00×10-6

12.0

1.00×10-5

11.3

2.00×10-5

10.6

5.00×10-5

9.90

1.00×10-4

9.40

2.00×10-4

8.90

5.00×10-4

8.30

1.00×10-3

7.90

2.00×10-3

7.70

5.00×10-3

8.00

1.00×10-2

10.5

2.00×10-2

16.6

3.00×10-2

23.7

5.00×10-2

41.1

7.00×10-2

60.0

1.00×10-1

88.0

1.50×10-1

132

2.00×10-1

170

3.00×10-1

233

5.00×10-1

322

7.00×10-1

375

9.00×10-1

400

1.00

416

1.20

425

2.00

420

3.00

412

4.00

408

5.00

405

6.00

400

7.00

405

8.00

409

9.00

420

10.0

440

12.0

480

14.0

520

Z 4341：2006

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書A表 1 1 cm線量当量換算係数（場所にかかわる1 cm線量当量）（続き）

中性子のエネルギー

(MeV)

フルエンスから1 cm線量当量への換算係数(1)

(pSv・cm2)

15.0
16.0

540
555

注(1) フルエンスから深さ10 mmの周辺線量当量H*(10)への換算係数である。
参考 ICRU Report 57:1998及びICRP Publication 74:1996 から求めた。

附属書A表 2 中性子線源に対する1 cm線量当量換算係数

線源

フルエンス

平均エネルギー

(MeV)

線量当量

平均エネルギー

(MeV)

フルエンスから

1 cm線量当量への換算係数

(pSv・cm2)

241Am-Be

252Cf（fission）

D(d,n)3He

4.16
2.13

2.8

4.4
2.3
2.8

391
385
413

出典：ISO 8529-1及びISO 8529-3

：

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書1（参考）JISと対応する国際規格との対比表

JIS Z 4341：2006 中性子用線量当量（率）サーベイメータ

IEC 61005：2003，放射線保護具−中性子用線量当量（率）サーベイメータ

(Ⅰ) JISの規定

(Ⅱ) 国際
規格番号

(Ⅲ) 国際規格の規定

(Ⅳ) JISと国際規格との技術的差異
の項目ごとの評価及びその内容
表示箇所：本体
表示方法：点線の下線

(Ⅴ) JISと国際規格との技術的差異の理由
及び今後の対策

項目
番号

内容

項目
番号

内容

項目ごと
の評価

技術的差異の内容

1.適用範
囲

15 MeV以下のエネルギー
をもつ中性子の1 cm線量
当量(率)を測定する放射
線サーベイメータについ
て規定。

IEC
61005

JISとほぼ同じ

MOD/変
更

16 MeVを15 MeVに
変更。

現在使用するものは，最大で15 MeVの
ため，実態に即した適用範囲とした。

2.引用規
格

JIS C 61000-4-2 ほか，合計
15の引用規格を規定。

JISに加え，
ISO 4037-1，-2，-3
ISO 12789
ICRU Report 43
ICRU Report 51
の記載あり。

MOD/削
除・追加

引用規格は，ほぼ一致
しているがJISが引用
していない左記の規
格については，次項以
降に述べる性能要件
を変更したことによ
って引用不要となっ
たため削除した。

JIS Z 8103の用語を追加した。

3.定義

JIS Z 4001及びJIS Z 8103
ほか，合計14の用語の定
義を規定。

JISとほぼ同じ

MOD/削
除

JISは，常識的な用語
“周辺線量当量”,“周
辺線量当量率”，“中
性子線量当量率計”及
び“指示値”, 並びに
IEC規格で使用されて
いない“使用上の定
格”，及び“使用上の
最小定格”を削除。

−

：

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

(Ⅰ) JISの規定

(Ⅱ) 国際
規格番号

(Ⅲ) 国際規格の規定

(Ⅳ) JISと国際規格との技術的差異
の項目ごとの評価及びその内容
表示箇所：本体
表示方法：点線の下線

(Ⅴ) JISと国際規格との技術的差異の理由
及び今後の対策

項目
番号

内容

項目
番号

内容

項目ごと
の評価

技術的差異の内容

4.性能
4.1相対
基準誤差

6
6.1
6.1.1

特性
JISと同じ

IDT

−

4.2警報
誤差

6.2
6.2.1

JISと同じ

IDT

−

4.3エネ
ルギー特
性

・15 MeVまで
・±50 ％が望ましい。

6.3
6.3.1

・16 MeVまで。
・±50 ％が望ましい。
しかしながらこの規
格が発行されるとき
に，この性能が達成で
きるとは思えない。し
たがって，製造業者は
この性能が達成でき
るように努力しなけ
ればならない。

MOD/変
更

・16 MeVを15 MeVに

変更した。
努力目標を削除。

・適用範囲に同じ。
・ICE規格の努力目標についてはJIS

にはなじみがなく，規定として意味
がないので削除した。

・ICE規格の修正を提案する。

4.4方向
特性

6.4
6.4.1

JISとほぼ同じ

IDT

−

4.5他の
放射線の
影響

6.6
6.6.1
6.6.2

JISとほぼ同じ

MOD/削
除

JISは，IEC規格の中
性子＋γ線の試験（高
エネルギーγ線の試
験）を削除。

現国内施設では，中性子照射施設でγ
線照射は不可能なため。

4.6指示
値変動

7
7.1
7.1.1

JISと同じ

IDT

−

4.7応答
時間

7.2
7.2.1

JISと同じ

IDT

−

4.8ドリ
フト

7.4
7.4.1

JISと同じ

IDT

−

：

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

(Ⅰ) JISの規定

(Ⅱ) 国際
規格番号

(Ⅲ) 国際規格の規定

(Ⅳ) JISと国際規格との技術的差異
の項目ごとの評価及びその内容
表示箇所：本体
表示方法：点線の下線

(Ⅴ) JISと国際規格との技術的差異の理由
及び今後の対策

項目
番号

内容

項目
番号

内容

項目ごと
の評価

技術的差異の内容

4.9予熱
時間

7.5
7.5.1

JISと同じ

IDT

−

4.10オー
バロード
特性

10
10.1
10.1.1

JISと同じ

IDT

−

4.11温度
特性

11
11.1
11.2

JISと同じ

IDT

−

4.12耐湿
性

11.3
11.3.1

JISと同じ

IDT

−

4.13電源
電圧の変
動に対す
る安定性

7.6
7.6.1〜.3
7.7
7.7.1

JISと同じ

IDT

−

4.14耐衝
撃性

9
9.1

JISと同じ

IDT

−

4.15耐振
動性

9.3
9.3.1

JISと同じ

IDT

−

4.16静電
気放電の
影響

8.2
8.2.1

JISと同じ

IDT

−

4.17放射
電磁界の
影響

8.3
8.3.1

JISと同じ

IDT

−

4.18無線
周波電磁
界の影響

8.4
8.4.1

JISと同じ

IDT

−

：

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

(Ⅰ) JISの規定

(Ⅱ) 国際
規格番号

(Ⅲ) 国際規格の規定

(Ⅳ) JISと国際規格との技術的差異
の項目ごとの評価及びその内容
表示箇所：本体
表示方法：点線の下線

(Ⅴ) JISと国際規格との技術的差異の理由
及び今後の対策

項目
番号

内容

項目
番号

内容

項目ごと
の評価

技術的差異の内容

4.19サー
ジ及び振
動波の影
響

8.5
8.5.1

JISと同じ

IDT

−

4.20電気
的ファス
トトラン
ジェント
／バース
トの影響

8.6
8.6.1

JISと同じ

IDT

−

4.21外部
磁界の影
響

8.7
8.7.1

JISと同じ

IDT

−

5.構造
5.1構造
一般

4
4.1

JISと同じ

IDT

−

5.2指示
計器

4.2

JISと同じ

IDT

−

5.3電源

7.6.1

JISと同じ

IDT

−

5.4有効
測定範囲

4.4

JISと同じ

IDT

−

5.5除染
性

10.2

JISと同じ

IDT

−

5.6密閉
性

11.5

JISと同じ

IDT

−

5.7保管
及び輸送

11.6

JISと同じ

IDT

−

：

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

(Ⅰ) JISの規定

(Ⅱ) 国際
規格番号

(Ⅲ) 国際規格の規定

(Ⅳ) JISと国際規格との技術的差異
の項目ごとの評価及びその内容
表示箇所：本体
表示方法：点線の下線

(Ⅴ) JISと国際規格との技術的差異の理由
及び今後の対策

項目
番号

内容

項目
番号

内容

項目ごと
の評価

技術的差異の内容

6.試験
6.1試験
条件

5
5.1
5.5
3.4

JISと同じ

IDT

−

6.2試験
方法
6.2.1

試

験方法一
般

5.2
5.3
5.4
8.1

JISと同じ

IDT

−

6.2.2

相

対基準誤
差試験

照射値20 ％, 50 ％, 80 ％

6.1.2
〜6.1.6

照射値30 ％，60 ％，
90 ％

MOD/変
更

IEC規格の90 ％近辺の照射では照射
時フルスケールオーバーする可能性が
ある。
IEC規格の修正を提案する。

6.2.3

警

報誤差試
験

6.2.3

JISと同じ

IDT

−

6.2.4

エ

ネルギー
特性試験

6.3.2

JISと同じ

IDT

−

6.2.5

方

向特性試
験

6.4.2

JISと同じ

IDT

−

6.2.6

指

示値変動
試験

読取り回数を指定

7.1.2

MOD/追
加

IEC規格には読取り回
数の指定なし。

IEC規格の修正を提案する。

6.2.7

応

答時間試
験

7.2.2

JISと同じ

IDT

−

：

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

(Ⅰ) JISの規定

(Ⅱ) 国際
規格番号

(Ⅲ) 国際規格の規定

(Ⅳ) JISと国際規格との技術的差異
の項目ごとの評価及びその内容
表示箇所：本体
表示方法：点線の下線

(Ⅴ) JISと国際規格との技術的差異の理由
及び今後の対策

項目
番号

内容

項目
番号

内容

項目ごと
の評価

技術的差異の内容

6.2.8ドリ
フト試験

7.4.2

JISと同じ

IDT

−

6.2.9

オ

ーバロー
ド特性試
験

10.1.2

JISと同じ

IDT

−

6.2.10温
度特性試
験

11.1.2
11.2.2

JISと同じ

IDT

−

6.2.11耐
湿性試験

11.3.2

JISと同じ

IDT

−

6.2.12電
源電圧の
変動に対
する安定
性試験

7.6.4
7.7.2

JISと同じ

IDT

−

6.2.13耐
衝撃性試
験

9.1

JISと同じ

IDT

−

6.2.14耐
振動試験

9.3.2

JISと同じ

IDT

−

6.2.15静
電気放電
の影響試
験

8.2.2

JISと同じ

IDT

−

6.2.16 放
射電磁界
の影響試
験

8.3.2

JISと同じ

IDT

−

：

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

(Ⅰ) JISの規定

(Ⅱ) 国際
規格番号

(Ⅲ) 国際規格の規定

(Ⅳ) JISと国際規格との技術的差異
の項目ごとの評価及びその内容
表示箇所：本体
表示方法：点線の下線

(Ⅴ) JISと国際規格との技術的差異の理由
及び今後の対策

項目
番号

内容

項目
番号

内容

項目ごと
の評価

技術的差異の内容

6.2.17無
線周波電
磁界の影
響試験

8.4.2

JISと同じ

IDT

−

6.2.18サ
ージ及び
振動波の
影響試験

8.5.2

JISと同じ

IDT

−

6.2.19電
気的ファ
ストトラ
ンジェン
ト／バー
ストの影
響試験

8.6.2

JISと同じ

IDT

−

6.2.20外
部磁界の
影響試験

8.7.2

JISと同じ

IDT

−

7.表示

−

MOD/追
加

装置の表示は，識別のために重要であ
り内外の製品においても常識である。
IEC規格の修正を提案する。

8.取扱説
明書

12.1
12.2

JISと同じ

IDT

−

：

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

(Ⅰ) JISの規定

(Ⅱ) 国際
規格番号

(Ⅲ) 国際規格の規定

(Ⅳ) JISと国際規格との技術的差異
の項目ごとの評価及びその内容
表示箇所：本体
表示方法：点線の下線

(Ⅴ) JISと国際規格との技術的差異の理由
及び今後の対策

項目
番号

内容

項目
番号

内容

項目ごと
の評価

技術的差異の内容

附属書A
1 cm線
量当量換
算係数

Annex A

JISと同じ

IDT

−

JISと国際規格との対応の程度の全体評価：MOD

備考1. 項目ごとの評価欄の記号の意味は，次のとおりである。

  ― IDT……………… 技術的差異がない。
  ― MOD/削除……… 国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。
  ― MOD/追加……… 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
  ― MOD/変更……… 国際規格の規定内容を変更している。
2. JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次のとおりである。
  ― MOD…………… 国際規格を修正している。