Z 4340：2006
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
Z 4340：2006
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，社団法人日本電気計測器工業会(JEMIMA)／
財団法人日本規格協会(JSA)から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，日本
工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
制定に当たっては，日本工業規格と国際規格との対比，国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日
本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために，IEC 61256:1996，Radiation protection
instrumentation−Installed monitors for the detection of radioactive contamination of laundryを基礎として用いた。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許
権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に係る確認について，責任は
もたない。
JIS Z 4340には，次に示す附属書がある。
附属書（参考）JISと対応する国際規格との対比表
Z 4340：2006
（2）
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目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1. 適用範囲 ························································································································ 1
2. 引用規格 ························································································································ 1
3. 定義 ······························································································································ 2
4. 種類 ······························································································································ 2
4.1 放射線の種類による分類 ································································································· 2
4.2 検出器又は衣服の移動有無による分類 ················································································ 2
4.3 バックグラウンド補償の有無による分類 ············································································· 2
5. 性能 ······························································································································ 2
5.1 機器効率の線源位置依存性······························································································· 2
5.2 最小検出表面放出率 ······································································································· 3
5.3 エネルギー特性 ············································································································· 3
5.4 他の放射線による影響 ···································································································· 3
5.5 警報動作 ······················································································································ 3
5.6 オーバスケール特性 ······································································································· 3
5.7 温度特性 ······················································································································ 3
5.8 耐湿性 ························································································································· 3
5.9 電源電圧の変動に対する安定性························································································· 3
6. 構造 ······························································································································ 3
6.1 構造一般 ······················································································································ 3
6.2 検出チャネル ················································································································ 4
6.3 信号処理部 ··················································································································· 4
6.4 表示部 ························································································································· 4
6.5 警報装置 ······················································································································ 4
6.6 電源 ···························································································································· 4
7. 試験 ······························································································································ 4
7.1 試験条件 ······················································································································ 4
7.2 試験方法 ······················································································································ 5
8. 検査 ····························································································································· 10
8.1 形式検査 ····················································································································· 10
8.2 受渡検査 ····················································································································· 10
9. 表示 ····························································································································· 10
10. 取扱説明書 ·················································································································· 10
附属書（参考）JISと対応する国際規格との対比表 ···································································· 12
解 説 ······························································································································· 17
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日本工業規格 JIS
Z 4340：2006
放射性汚染検査用ランドリモニタ
Installed monitors for the detection of radioactive contamination of laundry
序文 この規格は，1996年に第1版として発行されたIEC 61256，Radiation protection instrumentation ‒
Installed monitors for the detection of radioactive contamination of laundry を翻訳し，技術的内容を変更して作
成した日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，原国際規格を変更している事項である。変更の一覧
表をその説明を付けて，附属書（参考）に示す。
1. 適用範囲 この規格は，放射線管理区域内で使用した衣服類を洗濯した後に放射性汚染のレベルを測
定することによって，それらが再使用可能であることを決定する，ランドリモニタ（以下，モニタという。）
について規定する。
備考 この規格の対応国際規格を，次に示す。
なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide 21に基づき，IDT（一致している），MOD
（修正している），NEQ（同等でない）とする。
IEC 61256:1996，Radiation protection instrumentation−Installed monitors for the detection of
radioactive contamination of laundry(MOD)
2. 引用規格 次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成す
る。これらの引用規格のうちで，発行年を付記してあるものは，記載の年の版だけがこの規格の規定を構
成するものであって，その後の改正版・追補には適用しない。発効年を付記していない引用規格は，その
最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS Z 4001 原子力用語
備考 ISO 921:1997，Nuclear energy−Vocabulary, IEC 60050-393:1996, International Electrotechnical
Vocabulary−Chapter 393:Nuclear instrumentation−Physical phenomena and basic concepts及び
IEC 60050-394:1995, International Electrotechnical Vocabulary−Chapter 394: Nuclear
instrumentation: Instruments からの引用事項は，この規格の該当事項と同等である。
JIS Z 4334 放射性表面汚染モニタ校正用線源−β 線放出核種（最大エネルギー0.15 MeV以上）及び
α 線放出核種
備考 ISO 8769:1988，Reference sources for the calibration of surface contamination monitors ‒
Beta-emitters (maximum beta energy greater than 0.15 MeV) and alpha-emittersは，この規格の該
当事項と同等である。
JIS Z 8103 計測用語
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Z 4340：2006
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3. 定義 この規格に用いる主な用語の定義は，JIS Z 4001 及びJIS Z 8103によるほか，次による。
a) 表面放出率φ(surface emission rate) 線源の表面又は線源窓から放出される単位時間当たりのα粒子，
β粒子又は光子の数。
b) 最小検出表面放出率 M (minimum detectable surface emission rate) モニタで有意に計測できる表面
放出率の最小限度。
c) 機器効率 (instrument efficiency) 標準線源に対して決められた幾何学的条件で測定したときの，標準
線源の表面放出率に対する各検出器の正味計数率の比。
d) 機器効率の線源位置依存性 (variation of response with source position) 検出面から一定距離の面上で
線源位置を変化させたときの機器効率又はピーク計数率の，それぞれの平均値に対する最大値及び最
小値の比。
e) 平均機器効率εa (average instrument efficiency) 最小検出表面放出率を算出するときに用いる実効的
な機器効率。検出器全体にわたる機器効率の平均値で，7.2.2 a)に規定する。
f)
環境バックグラウンド (ambient background) モニタが設置された場所のバックグラウンド。単位は
μGy･h-1 （空気カーマ率）を用いる。
g) 最大基準バックグラウンド (reference background) 環境バックグラウンドと人為的にγ線照射によ
って付加された線量率の和で，製造業者が定める。単位はμGy･h-1（空気カーマ率）を用いる。
h) 検出チャネル (detection channel) 検出器単体と，その検出器に対応する増幅器，波形整形回路及び
波高弁別器を含む検出系。
i)
モニタリングチャネル (monitoring channel) 衣服の汚染を測定するために，一つ又は二つ以上の検
出チャネルで構成される装置。
4. 種類
4.1
放射線の種類による分類 放射線の種類による分類は，次による。
a) α線用モニタ α線測定用のモニタ。
b) β線用モニタ β線測定用のモニタ。
c) X線・γ線用モニタ X線又はγ線測定用のモニタ。
d) 共用モニタ a)，b)又はc)を任意に組み合わせたモニタ。
4.2
検出器又は衣服の移動有無による分類 検出器又は衣服の移動有無による分類は，次による。
a) 固定形モニタ 検出器と衣服を動かさないで測定するモニタ。
b) 移動形モニタ 検出器が衣服上を移動して測定するモニタ，又は衣服を検出器前面で移動させて測定
するモニタ。
4.3
バックグラウンド補償の有無による分類 バックグラウンドの補償有無による分類は，次による。
a) バックグラウンド補償形 衣服をモニタに装着していないとき，常に汚染測定用検出器でバックグラ
ウンドを測定しておき，衣服を測定しているときの計数率から測定直前のバックグラウンドの計数率
を差し引くモニタ。
b) バックグラウンド無補償形 バックグラウンド補償がないモニタ。
5. 性能
5.1
機器効率の線源位置依存性 7.2.2の方法で試験したとき，固定形モニタの場合は，平均機器効率に
対する最低機器効率の比は0.5以上でなければならない。また，移動形モニタの場合は，平均ピーク計数
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率に対する最低ピーク計数率の比は製造業者が定める値以上でなければならない。平均機器効率又は平均
ピーク計数率に対する最高機器効率並びに最高ピーク計数率の比は，製造業者が定める値以下でなければ
ならない。
5.2
最小検出表面放出率 7.2.3の方法で試験したとき，最小検出表面放出率は100 cm2にわたる平均が
α線に対しては0.2 s-1･cm-2以下，β線に対しては2 s-1･cm-2以下，γ線に対しては20 s-1･cm-2以下でなけれ
ばならない。
5.3
エネルギー特性 7.2.4の方法で試験したとき，固定形モニタ及び移動形モニタともに機器効率の最
大値に対する最小値の比は，製造業者が定める値以上でなければならない。
5.4
他の放射線による影響
5.4.1
γ線の影響 γ線の影響は，次による。
a) α線用モニタ 7.2.4 a) のエネルギー特性試験に規定する場所に137Cs線源を置いたとき，そのγ線に
対する機器効率は0.01 %未満でなければならない。
b) β線用モニタ 7.2.4 a) のエネルギー特性試験に規定する場所に137Cs線源を置いたとき，そのγ線に
対する機器効率は，製造業者が取扱説明書などで定める値未満でなければならない。
5.4.2
α線の影響 α線の影響は，次による。
a) β線用モニタ又はX線･γ線用モニタ 製造業者はα線に対する機器効率を定めなければならない。
b) α線･β線共用モニタ 241Amからのα線に対するβ線検出チャネルの機器効率は，α線検出チャネル
の機器効率の値未満でなければならない。
5.4.3
β線の影響 β線の影響は，次による。
a) α線用モニタ 7.2.4 a) のエネルギー特性試験に規定する場所に36Cl又は204Tl線源を置いたとき，そ
のβ線に対する機器効率は0.1 %未満でなければならない。
b) X線･γ線用モニタ 7.2.4 a) のエネルギー特性試験に規定する場所に36Cl又は204Tl線源を置いたとき，
そのβ線に対する機器効率は，製造業者が取扱説明書などで定める値未満でなければならない。
5.5
警報動作 7.2.5 の方法で試験したとき，6.5に規定する警報装置が確実に作動しなければならない。
5.6
オーバスケール特性 7.2.6の方法で試験したとき，最大指示範囲を超えたことを表示し，警報設定
値を超えている場合には警報を発しなければならない。
5.7
温度特性 7.2.7の方法で試験したとき，指示値の変化は基準値の±30 %でなければならない。7.2.7
で規定した温度範囲を超えての試験は，使用者と製造業者間の取決めによる。
5.8
耐湿性 7.2.8の方法で試験したとき，指示値の変化は基準値の±10 %でなければならない。
5.9
電源電圧の変動に対する安定性 7.2.9の方法で試験したとき，指示値の変化は基準値の±10 %でな
ければならない。
6. 構造
6.1
構造一般 モニタの構造一般は，次による。
a) モニタは，検出チャネル，信号処理部，表示部，警報装置，電源部などによって構成する。
b) モニタは，衣服のすべての部分について，この規格の要求を満足するよう測定できなければならない。
c) α線又はβ線を測定するモニタは，衣服の両面が測定できなければならない。
d) 作業者がモニタを操作する場所には，衣服のコンベア又は移動形検出器を含む駆動部を止める緊急停
止スイッチを取り付けなければならない。また，製造業者が安全を考慮して定める異常が発生した場
合には，モニタの駆動部は自動的に停止しなければならない。
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e) 製造業者のこん包状態で，−25 ℃〜50 ℃のいかなる温度で3か月間保管した後も，この規格で規定
する性能を維持するようにモニタを設計しなければならない。
6.2
検出チャネル 検出チャネルは，次による。
a) 検出器は，汚染しにくい構造か，汚染除去又は交換が容易な構造でなければならない。
b) 連続式ガスフロー検出器の場合は，製造業者が定めるガス流量又はわずかにそれを超える流量のガス
を流してすべての試験を行わなければならない。
c) 間欠式ガスフロー検出器の場合は，製造業者が定める平均のガス流量又はそれ以下の流量で正しく動
作することを示さなければならない。
d) 検出器の性能が供給するガスによって変化する場合は，製造業者はガスの成分及び許容する成分変化
を示さなければならない。また，ガス流量を表示できなければならない。
e) 密封式のガス検出器の場合は，検出器の予想寿命を示さなければならない。
6.3
信号処理部 信号処理部は，次による。
a) 電源断から14日間以内ならば，モニタは電源復旧から10分以内に通常動作に戻らなければならない。
b) 信号処理部は，保守点検が容易なようにパルス信号発生装置を組み込み，指示値の確認及び警報動作
試験ができる構造であることが望ましい。
6.4
表示部 表示部は，次による。
a) 測定手順，汚染を検知した検出チャネル及びモニタが動作又は故障状態であることを表示しなければ
ならない。
b) 故障箇所特定のために，任意の検出チャネルからの信号，検出チャネルごとの警報設定値，下限警報
設定値，バックグラウンドの異常及び高電圧の異常を表示しなければならない。また，ガスフロー検
出器を用いている場合は，ガス流量の異常を表示しなければならない。ただし，これらの表示は点検
作業時に確認できればよい。
6.5
警報装置 警報装置は，次による。
a) 汚染を検知した場合には，表示及び警報音を発しなければならない。
b) モニタの故障を検知した場合には，表示及び／又は警報音を発しなければならない。汚染の警報と故
障の警報とは，表示又は警報音によって区別できなければならない。
6.6
電源 電源は，定格電圧100 V又は200 V，定格周波数50 Hz又は60 Hzの交流電源を基準とする。
7. 試験
7.1
試験条件 試験条件は，次による。
7.1.1
共通試験条件 7.2 の各試験方法における基準条件を，表1に示す。特に製造業者が定める場合を
除きこの規格における試験は，表1に示す標準試験条件で行う。標準試験条件で行えない場合は，温度，
気圧及び湿度を明示し，基準条件での機器効率及びバックグラウンド計数率に補正しなければならない。
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表 1 共通試験条件
項目
基準条件
（製造業者の指定がないとき）
標準試験条件
（製造業者の指定がないとき）
予熱時間(1) 分
30
30
環境温度 ℃
20
18〜22(3)
相対湿度 ％
65
55〜75(3)
気圧 kPa
101.3
86〜106(3)
電源電圧(2)
正規電源電圧
正規電源電圧±1 ％
電源周波数(2)
正規電源周波数
正規電源周波数±1 ％
電源波形(2)
正弦波
正弦波からのひずみ5 ％未満
γ線バックグラウンド
μGy･h-1
空気カーマ率
0.2 未満
空気カーマ率
0.25 未満
外部電磁波
無視できるレベル
影響の認められるレベル未満
外部磁気誘導
無視できるレベル
地球磁場の2倍未満
モニタの設定
正規動作状態に設定
正規動作状態に設定
放射性物質による汚染
無視できるレベル
モニタで検出できる最小のレベル未満
注(1) 7.2.1a) による。
(2) 商用電源の場合に適用する。
(3) 試験時点での実際の値を明示する。これらの値は，温暖な気候に適用可能である。標準試験条件より
暑い，又は寒い気候時には，試験時の実際の値を明示しなければならない。海抜の高いところでは，
気圧は，70 kPaまで許される。
7.1.2
線源 7.2.4によるエネルギー特性試験を除いて，β線源として36Cl又は204Tl，γ線源として137Cs，
α線源として241Amを用いる。β線源についてJIS Z 4334 に規定する他の標準線源を用いることができる
が，その場合得られた機器効率を補正することが望ましい。
7.2
試験方法
7.2.1
試験方法一般 試験方法一般は，次による。
a) すべての試験は，30分間の予熱時間が経過した後に行う。ただし，ガスフロー検出器を用いているモ
ニタで，ガスの置換に30分間以上必要な場合にはガスの置換時間を優先する。
b) 試験条件のうちある項目を変化させて試験する場合，その項目以外の条件は表 1に示す標準試験条件
の範囲内になければならない。
c) 試験における指示値の読取りには統計変動によって十分な精度をもたない場合がある。この場合は，
読取り回数を増やし平均値を用いる。このときの読取りの間隔は，少なくとも応答時間の3倍とする。
7.2.2
機器効率の線源位置依存性試験 機器効率の線源位置依存性試験は，次による。
a) 固定形モニタ モニタリングチャネルの有効領域を図1に示す条件を満足する5 cm程度の間隔の格子
に分け，直径25 mm以下の線源を検出器に密着して各格子点における機器効率を測定する。モニタリ
ングチャネル内の全格子点にわたる機器効率の平均を平均機器効率(εa)とし，モニタリングチャネル内
の全格子点の中で最低の機器効率及び最高の機器効率との比を求める。
b) 移動形モニタ 検出器の有効領域を，衣服の流し方向に垂直に図2に示す条件を満足する5 cm程度の
幅の長方形領域に分ける。各長方形領域の境界に直径25 mm以下の線源をコンベアベルト又は衣服台
に密着して置き，製造業者が定める速さで装置を動作させ，計数率計又はディジタル式計数装置を用
いて各長方形領域境界での計数率の時間変化を測定し，長方形領域境界ごとの最大値をピーク計数率
(R)とする。モニタリングチャネル内のすべての長方形領域境界にわたるピーク計数率の平均を平均ピ
ーク計数率(Rmean)とし，モニタリングチャネル内のすべての長方形領域境界におけるピーク計数率の
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うち最低のピーク計数率(Rmin)及び最高のピーク計数率(Rmax)との比を求める。
x (cm)×y (cm)は検出面の総有効領域。nとmは格子の本数で次の条件を満足しなければならない。
(n+1)×5 < x ≤ (n+2)×5
(m+1)×5 < y ≤ (m+2)×5
格子間隔［x/(n+1)及びy/(m+1)］は5 cmを超えできるだけ5 cmに近い値とする。
図 1 機器効率の線源位置依存性試験で線源を置く格子点（固定形検出器の場合）
z (cm)は検出面の総有効幅。sは分割した長方形領域の数で次の条件を満足しなければならない。
(s-1)×5 < z ≤ s×5
各長方形領域の幅は5 cmを超えずできるだけ5 cmに近い値とする。
図 2 機器効率の線源位置依存性試験で線源を流す長方形領域（移動形検出器の場合）
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7.2.3
最小検出表面放出率試験
a) 形式試験 形式試験は，次による。
1) 平均機器効率試験 平均機器効率試験は，次による。
1.1) 固定形モニタ 7.2.2 a)に従って平均機器効率(εa)を求める。
1.2) 移動形モニタ 7.2.2 b)に従って計数率の時間変化を測定する。Rmax が得られた長方形領域境界に
ついて10回程度繰り返し測定し，最高ピーク計数率の平均値(Ra)を求め，式(1)を用いて平均機器
効率(εa)とする。
R
R
R
ε
max
mean
a
a
×
×
=φ
·········································································· (1)
ここに，
φ： 標準線源の表面放出率 (s-1)
2) 代表点の機器効率試験 形式試験で測定した平均機器効率(εa)の変化を確認するための，代表点の機
器効率試験は，次による。
2.1) 固定形モニタ 製造業者と使用者が取り決めた場所に，製造業者と使用者が取り決めた線源を置
いて機器効率を求め，代表点の機器効率(εr)とする。
2.2) 移動形モニタ 製造業者と使用者が取り決めた場所に，製造業者と使用者が取り決めた線源を置
いてモニタを動作させピーク計数率(Rr)を求め，式(2)を用いて代表点の機器効率(εr)とする。
φ
R
ε
r
r=
···················································································· (2)
さらに，式(3)を用いて代表点の機器効率(εr)と平均機器効率(εa)の比を求める。
ε
ε
k
r
a
=
····················································································· (3)
3) 最小検出表面放出率の計算 最小検出表面放出率の計算は，次による。
3.1) バックグラウンド補償形 最大基準バックグラウンドの環境下で10分間以上測定し，各モニタリ
ングチャネルの最大基準バックグラウンドに対応する計数率を求め，最小検出表面放出率(M)を式
(4)によって計算する。
ε
TB
tB
B
M
a
2
2
03
+
+
=
····························································· (4)
ここに，
B0： バックグラウンド計数率の許容変動幅(s-1)。B0を超え
る変動があった場合は，衣服測定時に得られる計数率
から差し引くバックグラウンドの計数率を更新する。
B2： 最大基準バックグラウンドに対する計数率 (s-1)
ｔ ： バックグラウンド測定時間 (s)
T ： 衣服測定時間 (s)
製造業者は，各モニタリングチャネルが測定する領域を明示しなければならない。移動形モニ
タの場合の衣服測定時間Tは繰返し計数を行う時間とする。
3.2) バックグラウンド無補償形 環境バックグラウンド及び最大基準バックグラウンドで，それぞれ
10分間以上バックグラウンドを測定し，各モニタリングチャネルの環境バックグラウンドに対応
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する計数率及び最大基準バックグラウンドに対応する計数率を求め，最小検出表面放出率(M)を式
(5)によって計算する。
(
)
ε
T
B
B
B
M
a
2
1
2
3
+
−
=
······························································· (5)
ここに，
B2： 最大基準バックグラウンドに対する計数率 (s-1)
B1： 環境バックグラウンドに対する計数率 (s-1)
T ： 衣服測定時間 (s)
製造業者は，各モニタリングチャネルが測定する領域を明示しなければならない。移動形モニ
タの場合の衣服測定時間Tは繰り返し計数を行う時間とする。
b) 受渡試験 受渡試験は，次による。
1) 代表点の機器効率試験 代表点に対して機器効率を求める。
なお，試験に用いる線源の核種，形状及び配置は，形式試験のときと同等とする。
1.1) 固定形モニタ a) 2.1)と同じ方法で代表点の機器効率(εr)を求める。
1.2) 移動形モニタ a) 2.2)と同じ方法で代表点の機器効率(εr)を求める。
2) 最小検出表面放出率の計算 最小検出表面放出率の計算は，次による。
2.1) バックグラウンド補償形 代表点の機器効率(εr)と式(3)から平均機器効率(εa)を求めて式(4)によっ
て最小検出表面放出率(M)を計算する。
2.2) バックグラウンド無補償形 代表点の機器効率(εr)と式(3)から平均機器効率(εa)を求めて式(5)によ
って最小検出表面放出率(M)を計算する。
7.2.4
エネルギー特性試験 エネルギー特性試験は，次による。
a) 測定方法
1) 固定形モニタ 平均機器効率(εa)を超えない範囲で，平均機器効率(εa)に近い値が得られる格子点に
b)に規定する核種の直径25 mm以下の線源を置き，機器効率を求める。
2) 移動形モニタ 平均ピーク計数率(Rmean)を超えない範囲で，平均ピーク計数率(Rmean)に近い値が得ら
れる長方形領域の境界にb)に規定する核種の直径25 mm以下の線源を置き，機器効率を求める。
b) 線源
1) β線源 最大エネルギーが0.2 MeV未満，0.2 MeV以上0.5 MeV未満及び0.5 MeV以上の少なくと
も3種のβ線放出核種を用いて，a) の方法で機器効率を求める。この試験に適した線源の例を表2
に示す。
表 2 エネルギー特性試験に用いる主なβ線源
核種
半減期
β線最大エネルギー(keV)
14C
5730年
156
147Pm(4)
2.62年
225
60Co(5)
5.27年
310
185W
75.1日
433
36Cl
3.00×105年
710
204Tl
3.78年
763
89Sr
50.5 日
1 490
表 2 エネルギー特性試験に用いる主なβ線源（続き）
9
Z 4340：2006
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
核種
半減期
β線最大エネルギー(keV)
90Sr＋90Y(6)
28.5年
2 274
106Ru＋106Rh
1.01年
3 540
注(4) 147Pmに対する146Pmの混入は校正に影響を及ぼさないよう注意する。
(5) 60Coを用いる場合は，γ線の影響に注意する。
(6) 90Sr+90Yに130 mg･cm-2厚のフィルタをかけることによって，高いエネルギーの
90Y β線だけ利用してもよい。
2) γ線源 エネルギーが0.3 MeV未満，0.3 MeV以上1 MeV未満及び1 MeV以上の少なくとも3種類
のγ線放出核種を用いて，a) の方法で機器効率を求める。この試験に適した線源の例を，表3に示
す。30 keVまでの測定の必要がある場合には129I，30 keV未満のγ線源又はX線源若しくはX線発
生装置を用いなければならない。
表 3 エネルギー特性試験に用いる主なγ線源
核種
半減期
主なエネルギー（keV）
129I
1.6×107年
30
241Am
433年
60
57Co
271 日
122
133Ba
10.5年
356
137Cs
30年
662
60Co
5.27年
1 173＋1 332
7.2.5
警報動作試験 測定対象とする放射線又はパルス信号発生装置を用いて警報設定値を超える計数
値を与えて警報動作の確認試験を行う。この試験はすべてのモニタリングチャネルについて行う。
7.2.6
オーバスケール特性試験 モニタに十分な指示値を与える線源（例えば，γ線用モニタの場合は
105 Bq以上の137Cs線源，β線用モニタの場合は105 Bq以上の90Sr＋90Y 線源，α線用モニタの場合は104
Bq以上の241Am線源）を用いて検出器に照射し，最大指示範囲を超える計数値を与える。この試験はすべ
ての検出器について行う。
7.2.7
温度特性試験 周囲温度5 ℃，20 ℃及び45 ℃において，自然計数率及び数え落としの影響が十
分無視できる計数率（100〜1 000 s-1程度）が得られる放射線を照射して行う。モニタを動作状態にし，各
温度（温度許容差は，±2 ℃とする。）の環境に1時間以上放置した後100秒以上測定し，指示値を読み取
る。20 ℃における指示値を基準値として，各温度における指示値から基準値を差し引いた値の基準値に対
する百分率を求める。装置は測定の30分前には動作状態とする。この試験は，装置で使用している検出器
の形状と大きさが同じならば，1チャネルだけの測定でよい。モニタが大きく恒温槽などの試験装置に入
らない場合は，検出チャネル又はモニタリングチャネルとそれ以外の部分に分割して測定してもよいが，
検出チャネル及びモニタリングチャネルの変動が許容範囲を満足し，それ以外の部分との変動の和が許容
範囲を満足しなければならない。分割して測定する場合，検出チャネル又はモニタリングチャネルの試験
の場合には測定対象の放射線を照射し，それ以外の部分については，パルス信号発生装置を用いて検出チ
ャネルからの出力信号に近似した波形の信号を信号処理部に入力して試験を行う。
7.2.8
耐湿性試験 周囲温度35 ℃で相対湿度65 ％及び85 ％において，自然計数率及び数え落としの
影響が十分無視できる計数率（100〜1 000 s-1程度）が得られる放射線を照射して行う。モニタを動作状態
にし，各相対湿度（湿度許容差は，±5 ％とする。）の環境に1時間以上放置した後100秒以上測定し，指
示値を読み取る。相対湿度65 ％における指示値を基準値として，相対湿度85 ％における指示値から基準
値を差し引いた値の基準値に対する百分率を求める。この試験で，照射する検出器及び分割測定の方法は
7.2.7による。
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Z 4340：2006
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
7.2.9
電源電圧の変動に対する安定性試験 電源電圧を定格電圧，定格電圧の88 ％及び110 ％とし，自
然計数率及び数え落としの影響が十分無視できる計数率（100〜1 000 s-1程度）の放射線を照射して100秒
以上測定し，指示値を読み取る。定格電圧における指示値を基準値として，各電圧における指示値から基
準値を差し引いた値の基準値に対する百分率を求める。この試験で，照射する検出器及び分割測定の方法
は7.2.7による。
なお，この試験においてコンベア等の機構部には定格電圧及び定格周波数の電源を供給する。
8. 検査
8.1
形式検査 形式検査は，次の項目とし7.によって試験を行い，5.の規定に適合したものを合格とする。
a) 機器効率の線源位置依存性
b) 最小検出表面放出率
c) エネルギー特性
d) 他の放射線による影響
e) 警報動作
f)
オーバスケール特性
g) 温度特性
h) 耐湿性
i)
電源電圧の変動に対する安定性
8.2
受渡検査 受渡検査は，最小検出表面放出率及び警報動作について，7.2.3 及び7.2.5によって試験
を行い，5.2 及び5.5の規定に適合したものを合格とする。
9. 表示 モニタには，見やすい箇所に容易に消えない方法で，次の事項を表示しなければならない。
a) 名称
b) 形名（製造業者による。）
c) 種類
d) 製造番号
e) 製造年月又はその略号
f)
製造業者名又はその略号
g) 定格電源電圧及び消費電力
10. 取扱説明書 モニタには，少なくとも次の事項を記載した取扱説明書を添付しなければならない。
a) モニタの名称，形名（製造業者による。）及び種類
b) モニタの形状，寸法及び質量（実測値及び設計値）
c) 指示範囲
d) 検出器の総有効面積（実測値及び設計値）
e) 検出器の種類，入射窓の寸法及び厚さ(mg･cm-2)
f)
受渡試験時の代表点の機器効率，換算係数，標準線源及びその設定位置
g) エネルギー特性
h) 定格電源
i)
最小検出表面放出率（測定時間，標準線源及びその設定位置を明記する。移動形モニタの場合はコン
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ベア速度又は検出器移動速度も明記する。）
j)
許容バックグラウンドレベルと補償方法
k) ガスの種類及び流量（ガスフロータイプの場合）
l)
検出器と衣服との位置関係で感度変化に大きな影響を与える事項についての説明
m) 衣服の丈，ゆき（裄）などの寸法上の制限
n) 予備品
o) 詳細な操作，保守及び校正の手順
p) その他の取扱い上の注意事項
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附属書（参考）JISと対応する国際規格との対比表
JIS Z 4340:2006放射性汚染検査用ランドリモニタ
IEC 61256:1996，衣服の放射性汚染を測定する据置型装置
(I) JISの規定
(II) 国
際規格
番号
(III) 国際規格の規定
(IV) JIS と国際規格との技術的差異の項目ご
との評価及びその内容
表示箇所：本体
表示方法：点線の下線
(V) JISと国際規格
との技術的差異の理
由及び今後の対策
項目番号
内容
項目
番号
内容
項目ごと
の評価
技術的差異の内容
1. 適用範囲
洗濯後の衣服類の放射能汚
染のレベルを測定し，再使
用の可否を決定するランド
リモニタ。
−
1
洗濯後の衣服の放射能汚染
のレベルを測定し，再使用の
可否を決定するランドリモ
ニタ。
IDT
−
−
2. 引用規格
JIS Z 4001
JIS Z 4334
JIS Z 8103
−
2
IEC 60050(151):1978
IEC 60050(393):1996
IEC 60050(394):1995
IEC 60181:1964
IEC 60181A:1965
IEC 60359:1987
IEC 60801
ISO 8769:1988
MOD/追加
MOD/削除
IEC 60050(393)，IEC 60050(394)
及びISO 8769:1988は，JISに置
き換えられ，他の規格は，本体に
引用されていないので削除した。
この規格に引用した
JISは，基本的にIEC
規格又はISO規格に
適合しており整合が
図られている。
3. 定義
表面放出率，最小検出表面
放出率，機器効率，機器効
率の線源位置依存性，平均
機器効率，環境バックグラ
ウンド，最大基準バックグ
ラウンド，検出チャネル，
モニタリングチャネル
−
3
警報装置，強度，表面放出率，
レスポンス，線源効率，高効
率線源，点線源，変動係数，
量の協定真値，指示誤差，環
境バックグラウンド，基準バ
ックグラウンド，形式試験，
通常試験，受入れ試験
MOD/追加
MOD/削除
警報装置，強度，レスポンス，線
源効率，高効率線源，点線源，変
動係数，量の協定真値，指示誤差，
形式試験，通常試験，受入れ試験
の削除。
最小検出表面放出率，機器効率の
線源位置依存性，平均機器効率，
最大基準バックグラウンド，検出
チャネル及びモニタリングチャ
ネルの追加。
JISの本体で使用し
ていない用語及び本
体で解説している用
語の定義を，削除し
た。
JISを理解しやすく
するための用語を追
加した。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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(I) JISの規定
(II) 国
際規格
番号
(III) 国際規格の規定
(IV) JIS と国際規格との技術的差異の項目ご
との評価及びその内容
表示箇所：本体
表示方法：点線の下線
(V) JISと国際規格
との技術的差異の理
由及び今後の対策
項目番号
内容
項目
番号
内容
項目ごと
の評価
技術的差異の内容
4. 種類
4.1 放射線の種類による分
類
4.2 検出器又は衣服の移動
有無による分類
4.3 バックグラウンド補償
の有無による分類
−
4
JISと同じ
IDT
−
−
5. 性能
5.1，7.2.2
機器効率の線源位置依存性
移動形モニタ
平均ピーク計数率に対する
最低ピーク計数率の比が製
造業者の指定した値以上。
−
7.1
機器効率の線源位置依存性
移動形モニタ
平均ピーク計数率に対する
最低ピーク計数率の比が0.75
以上。
MOD/削除 移動形モニタについて規格値を
削除。
現状のモニタには過
大な要求であるた
め。
5.2，7.2.3
最小検出表面放出率
−
7.3
JISと同じ
IDT
γ線について，IEC規格では40
Bq/cm2を規格としているが，単
位を揃えるためにJISでは20 s-1･
cm-2としている。
移動形モニタについて，IEC規格
では測定時間又は測定時定数の
2倍の時間測定することになっ
ているが，JISでは国内モニタの
実情に合わせ測定を10回程度繰
り返すようにしている。また，衣
服測定時間についての説明を追
加した。
実質的にはJISと
IEC規格は，整合さ
れている。
5.3，7.2.4
エネルギー特性
−
7.4
JISと同じ
IDT
−
−
5.4
他の放射線による影響
−
7.5
JISと同じ
IDT
−
−
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(I) JISの規定
(II) 国
際規格
番号
(III) 国際規格の規定
(IV) JIS と国際規格との技術的差異の項目ご
との評価及びその内容
表示箇所：本体
表示方法：点線の下線
(V) JISと国際規格
との技術的差異の理
由及び今後の対策
項目番号
内容
項目
番号
内容
項目ごと
の評価
技術的差異の内容
5. 性能
（続き）
5.5，7.2.5，6.5
警報動作
−
7.6.2
JISと同じ
IDT
−
−
5.6，7.2.6
オーバスケール特性
−
8
JISと同じ
IDT
−
−
−
9.2
電源そう失に関する規定
MOD/削除 JISでは規定していない。
電源再投入後の動作
仕様は，国内では使
用者と製造業者の取
決めによって決定し
ているためJISとし
ては不要である。
5.7，7.2.7
温度特性
−
10.1
IEC規格では規定温度に達し
てから4時間以上後に測定す
るように規定されている。
MOD/変更 JISでは規定温度に達してから1
時間以上後に測定するように規
定した。
国内製品の構造から
1時間で試験可能で
ある。
5.8，7.2.8
耐湿性
−
10.2
IEC規格では湿度20 ％の試
験項目が含まれている。
MOD/削除 IEC規格の湿度20 ％を実現する
試験装置は入手困難で，低湿度で
は機器の問題が発生しないため
JISでは削除。
−
IEC規格では規定湿度に達し
てから4時間以上後に測定す
るように規定されている。
MOD/変更 JISでは規定湿度に達してから1
時間以上後に測定するように規
定した。
国内製品の構造から
1時間で試験可能で
ある。
5.9，7.2.9
電源電圧の変動に対する安
定性
−
10.4
周波数変動試験並びに検出
チャネル及びモニタリング
チャネル以外の電源変動試
験を除きJISと同じ。
MOD/削除 周波数の変動試験は，困難であ
り，国内電源事情は良好のため，
JISでは削除。検出チャネル及び
モニタリングチャネル以外の変
動についてはIEC規格は定量的
でないためJISでは削除した。
−
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(II) 国
際規格
番号
(III) 国際規格の規定
(IV) JIS と国際規格との技術的差異の項目ご
との評価及びその内容
表示箇所：本体
表示方法：点線の下線
(V) JISと国際規格
との技術的差異の理
由及び今後の対策
項目番号
内容
項目
番号
内容
項目ごと
の評価
技術的差異の内容
5. 性能
（続き）
−
10.3
圧力の影響
MOD/削除 JISでは試験項目から削除した。 IEC規格で，試験項
目の記載はあるが，
具体的試験方法及び
要求事項の記載がな
いため，JISでは削
除した。
−
10.5
10.6
外部電磁界の影響
外部磁界の影響
MOD/削除 JISでは試験項目から削除した。 同上。
6. 構造
6.1 構造一般
6.2 検出チャネル
6.3 信号処理部
6.4 表示部
6.5 警報装置
6.6 電源
−
5
11
IEC規格の要求項目はJISに
含まれている。
MOD/追加 6.1 a)，d)，e) 及び6.3 b)をIEC
規格の要求に追加した。
α線及び／又はβ線
用ハンドフット及び
体表面汚染モニタ
JISとの整合を図っ
た。
7. 試験
7.1 試験条件
−
6
IEC規格には電源波形に関す
る試験条件の記載がない。ま
た，標準試験条件を外れた場
合の補正についての記載が
ない。
MOD/追加 JISは試験条件に電源波形を追加
した。また，標準試験条件を外れ
た場合の補正について追加した。
α線及び／又はβ線
用ハンドフット及び
体表面汚染モニタ
JISとの整合を図っ
た。
7.1.2 線源
6.4
IEC規格にはβ線の基準線源
として204Tlは含まれない。
MOD/追加 JISは線源の入手性を考慮し
204Tlを追加した。
7.2.1 試験方法一般
−
9.1
JISと同じ
MOD/削除 IEC規格には検出器がプラトー
領域にあることが要求されてい
るが，当然の要求なので記載して
いない。
実質的にはJISと
IEC規格は，整合さ
れている。
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(II) 国
際規格
番号
(III) 国際規格の規定
(IV) JIS と国際規格との技術的差異の項目ご
との評価及びその内容
表示箇所：本体
表示方法：点線の下線
(V) JISと国際規格
との技術的差異の理
由及び今後の対策
項目番号
内容
項目
番号
内容
項目ごと
の評価
技術的差異の内容
7. 試験
（続き）
7.2.2 機器効率の線源位置
依存性
−
Figure
2
Figure
3
格子による分割幅
x/n及びy/m
線源位置の条件式
(n+1)×5 < x < (n+2)×5
(m+1)×5 < y < (m+2)×5
s×5 < z < (s+1)×5
IDT
格子による分割幅
x/(n+1)及びy/(m+1)
線源位置の条件式
(n+1)×5 < x ≤ (n+2)×5
(m+1)×5 < y ≤ (m+2)×5
(s-1)×5 < z ≤ s×5
IEC規格が意図した
とおりになるよう式
の誤りを訂正したの
で，内容は整合され
ている。
8. 検査
8.1 形式検査
8.2 受渡検査
−
7.6
JISと同じ
IDT
−
−
9. 表示
−
−
−
−
IDT
−
−
10. 取扱説
明書
−
−
12
−
MOD/削除 回路図は製造業者が購入者に提
出する図書に含まれるのでJIS
では削除した。
実質的にはJISと
IEC規格は，整合さ
れている。
JISと国際規格との対応の程度の全体評価：MOD
備考1. 項目ごとの評価欄の記号の意味は，次のとおりである。
― IDT……………… 技術的差異がない。
― MOD/削除……… 国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。
― MOD/追加……… 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
― MOD/変更……… 国際規格の規定内容を変更している。
2. JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次のとおりである。
― MOD…………… 国際規格を修正している。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。