Z 4338：2006
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，社団法人日本電気
計測器工業会(JEMIMA)／財団法人日本規格協会(JSA)から，工業標準原案を具して日本工業規格を改正す
べきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業規格である。
IEC 61098:1992の技術記載内容には，“ハンドフットモニタ”と“体表面汚染モニタ”とが包含されてお
り，この国際規格と整合させたため，JIS Z 4315:1980とJIS Z 4338:1997を併合しJIS Z 4338とした。
これによって，JIS Z 4338:1997は改正され，また，JIS Z 4315:1980及びJIS Z 4338:1997は廃止・統合
され，この規格に置き換えられる。
改正に当たっては，日本工業規格と国際規格との対比，国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日
本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために，IEC 61098:1992，Installed personnel
surface contamination monitoring assemblies for alfha and beta emittersを基礎として用いた。
この規格の一部が，技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の
実用新案権登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査
会は，このような技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の実用
新案登録出願にかかわる確認について，責任はもたない。
JIS Z 4338には，次に示す附属書がある。
附属書1（参考）JISと対応する国際規格との対比表
Z 4338：2006
（3）
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目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1. 適用範囲 ························································································································ 1
2. 引用規格 ························································································································ 1
3. 定義 ······························································································································ 2
4. 種類 ······························································································································ 2
4.1 測定する放射線の種類による分類······················································································ 2
4.2 バックグラウンドの減算方法による分類············································································· 3
4.3 測定部位による分類 ······································································································· 3
5. 性能 ······························································································································ 3
5.1 機器効率の線源位置依存性 ······························································································ 3
5.2 最小検出表面放出率 ······································································································· 3
5.3 エネルギー特性 ············································································································· 3
5.4 他の放射線による影響 ···································································································· 3
5.5 警報動作 ······················································································································ 3
5.6 オーバスケール特性 ······································································································· 4
5.7 温度特性 ······················································································································ 4
5.8 耐湿性 ························································································································· 4
5.9 電源電圧の変動に対する安定性 ························································································ 4
6. 構造 ······························································································································ 4
6.1 構造一般 ······················································································································ 4
6.2 検出チャネル ················································································································ 4
6.3 信号処理部 ··················································································································· 5
6.4 警報表示部 ··················································································································· 5
6.5 電源 ···························································································································· 5
7. 試験 ······························································································································ 5
7.1 試験条件 ······················································································································ 5
7.2 試験方法 ······················································································································ 6
8. 検査 ····························································································································· 10
8.1 形式検査 ····················································································································· 10
8.2 受渡検査 ····················································································································· 11
9. 表示 ····························································································································· 11
10. 取扱説明書 ·················································································································· 11
附属書（参考）JISと対応する国際規格との対比表 ···································································· 12
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日本工業規格 JIS
Z 4338：2006
ハンドフットモニタ及び体表面汚染モニタ
−α線及び/又はβ線用ハンドフットモニタ及び体表面汚染モニター
Hand and foot monitors and personnel surface contamination monitors for alfha
and /or beta emitters
序文 この規格は，1992年に第1版として発行されたIEC 61098，Installed personnel surface cont
a-mination monitoring assemblies for alfha and beta emittersを翻訳し，技術的内容を変更して作成
した日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，原国際規格を変更している事項である。変更
の一覧表をその説明を付けて，附属書（参考）に示す。
1. 適用範囲 この規格は，原子力施設，放射線施設などで使用される，α線放出核種及び最大エ
ネルギー0.15 MeV以上のβ線を放出するβ線放出核種による，手，足及び身体表面の汚染を測定す
るα線及び/又はβ線用ハンドフットモニタ及び体表面汚染モニタ（以下，モニタという。）につい
て規定する。
この規格は，測定中に被測定者が動かない装置だけに適用し，検出器を身体表面上に動かしたり，
装置を被測定者が通過するような装置には適用しない。また，α線用モニタは，手及び/又は足だけ
の汚染を測定する装置に適用する。
備考 この規格の対応国際規格を，次に示す。
なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide 21に基づき，IDT（一致している），
MOD（修正している），NEQ（同等でない）とする。
IEC 61098:1992,Installed personnel surface contamination monitoring assemblies for alpha and
beta emitters (MOD)
2. 引用規格 次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を
構成する。これらの引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS Z 4001 原子力用語
備考 IEC 60050-393:1996 International Electro technical Vocabulary − Chapter 393及びIEC
60050-394:1995 International Electro technical Vocabulary − Chapter 394 からの引用事
項は，この規格の該当事項と同等である。
JIS Z 4334 放射性表面汚染計校正用線源
備考 ISO 8769:1998 Reference sources for the calibration of surface contamination monitors−
Beta-emitters (maximum beta energy greater than 0.15 MeV) and alpha-emitters からの引
用事項は，この規格の該当事項と同等である。
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JIS Z 4915 胸・腹部用Ｘ線水ファントム
JIS Z 8103 計測用語
3. 定義 この規格で用いる主な用語の定義は，JIS Z 4001及びJIS Z 8103によるほか，次による。
a) 表面放出率(surface emission rate) 線源の表面又は線源窓から放出される単位時間当たりのα
粒子又はβ粒子の数。
b) 最小検出表面放出率 (minimum detectable surface emission rate) モニタで有意に計測し得る
表面放出率の最小限度。
c) 機器効率 (instrument efficiency) 標準線源に対して決められた幾何学的条件で測定したとき
の，標準線源の表面放出率に対する各検出器の正味計数率の比。
d) 機器効率の線源位置依存性 (variation of response with source position) 検出面から一定距離の
面上又はファントム上で線源位置を変化させた場合の機器効率の平均値に対する最大値及び最
小値の比。
e) 実効機器効率 (effective instrument efficiency) 最小検出表面放出率を算出するときに用いる
実効的な機器効率で，検出器全体にわたる機器効率の平均値。身体表面用検出器の場合はファ
ントムを用いて測定した機器効率分布の平均値とし，手及び足用の検出器の場合は代表点の機
器効率と等価である。
f)
代表点の機器効率 (instrument efficiency of a representation point) 形式試験で測定した実効機
器効率の変化を確認するときに用いる代表位置での機器効率。
g) 環境バックグラウンド (ambient background) モニタが設置された場所のバックグラウンド。
単位はμGy/h(空気カーマ率)を用いる。
h) 最大基準バックグラウンド (reference background) 環境バックグラウンドと人工的にγ線照
射によって付加された線量の和。単位はμGy/h(空気カーマ率)を用いる。
i)
検出チャネル (detection channel) 検出器単体と，その検出器に対応する増幅器，波形整形回
路及び波高弁別器を含む最小の検出系。
j)
測定部位 (part of monitoring) 右手，左足，腹部などのように，汚染の有無を判定する部位。
k) モニタリングチャネル (monitoring channel) 測定部位の汚染を測定するための，一つ又は二つ
以上の検出チャネルで構成される装置。
l)
検出器の入射窓面積 (sensitive area of the detector) α線及びβ線が検出器に実際に入射し得
る部分の面積。保護格子の部分を含む。
m) 身体表面 (surface of body) 手の表裏及び足の裏面を除く四肢及び体幹部の表面。
4. 種類 モニタの種類は，次による。
4.1
測定する放射線の種類による分類
a) α線用モニタ α線専用のモニタで，手及び/又は足の測定だけに適用する。
b) β線用モニタ β線専用のモニタ。
c) α・β線用モニタ α線及びβ線を同時に測定するモニタ。ただし，α線については手及び/
又は足の測定だけに適用する。
4.2
バックグラウンドの減算方法による分類
a) バックグラウンド継続減算形 被測定者がモニタを使用していない間，常に各検出器でバック
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グラウンドを測定しておき，被測定者の計数率から測定直前のバックグラウンドの計数率を差
し引くモニタ。
b) バックグラウンド同時減算形 バックグラウンド用検出器を測定部位の汚染測定用検出器とは
別にもち，汚染測定用検出器の計数率から，バックグラウンド用検出器の計数率に定数を乗じ
た値を減算するモニタ。
c) バックグラウンド無補償形 バックグラウンド補償がないモニタ。
4.3
測定部位による分類
a) 体表面汚染モニタ 手，足及び身体表面の汚染を測定するモニタ。
b) ハンドフットモニタ 手及び足だけの汚染を測定するモニタ。
c) ハンドモニタ 手の汚染だけを測定するモニタ。
d) フットモニタ 足の汚染だけを測定するモニタ。
5. 性能
5.1
機器効率の線源位置依存性 7.2.2 の方法で試験したとき，機器効率の線源位置依存性は，手
及び足に用いる検出器について，機器効率の平均値に対する最小値の比が0.5以上(1)，及び機器効
率の平均値に対する最大値の比が2.0以下(1)とする。ただし，身体表面に用いる検出器については
規定しない。
注(1) GM計数管を複数個並べたモニタについては，許容範囲を規定しないが，機器効率の線源
位置依存性を取扱説明書に記載しなければならない。
5.2
最小検出表面放出率 7.2.3 の方法で試験したとき，最小検出表面放出率は，α線については
20 s-1以下，β線については200 s-1以下とする。
5.3
エネルギー特性 7.2.4 の方法で試験したとき，β線に対するエネルギー特性は，実効機器効
率の最大値に対する最小値の比が，取扱説明書(10. e))の値以上とする。
なお，α線については規定しない。
5.4
他の放射線による影響 他の放射線による影響は，次による。
5.4.1 γ線の影響 γ線の影響はモニタの種類によって，次の項目を満足しなくてはならない。
a) α線用モニタ 25 μGy/hで照射したとき，有意な計数値の上昇があってはならない。
b) β線用モニタ 製造業者は，線量率と計数値との関係を取扱説明書に記載しなければならない。
c) α/β線用モニタ 製造業者は，線量率とα線計数値及びβ線計数値との関係を取扱説明書に記
載しなければならない。
5.4.2 α線の影響 α/β線用モニタの場合には，α線照射によるβ線計数値の上昇が，α線の計数
値を超えてはならない。
なお，β線用モニタについては，α線の影響が少ないので規定しない。
5.4.3 β線の影響 α/β線用モニタは，β線照射によるα線計数値の上昇が，β線計数値の1/100
を超えてはならない。
5.5
警報動作 7.2.5 の方法で試験したとき,警報動作は，6.4 b) に示す動作を確実に行わなければ
ならない。
5.6
オーバスケール特性 7.2.6 の方法で試験したとき，オーバスケール特性は，最大指示範囲を
超えたことを示す表示を行いその測定部位を表示する。
5.7
温度特性 7.2.7 の方法で試験したとき，温度特性は，基準値の±30 ％とする。
4
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5.8
耐湿性 7.2.8 の方法で試験したとき，耐湿性は，基準値の±10 ％とする。
5.9
電源電圧の変動に対する安定性 7.2.9で試験したとき，電源電圧の変動に対する安定性は，
基準値の±10 ％とする。
6. 構造
6.1
構造一般 モニタの構造一般は，次による。
a) モニタは，検出チャネル，信号処理部，警報指示部，電源部などによって構成する。
b) モニタは，身体表面の汚染を効率よく測定できるように検出器を配置し，検出器間のすき間を
できるだけ小さくした，不感帯の少ない構造とする。また，汚染位置を明確にするために身体
表面を複数個の測定部位に分割し，汚染判定ができる構造とすることが望ましい。
c) モニタの測定部位は少なくとも，手，右足，左足及び身体表面の四つに分かれているものとす
る。
d) モニタは，例えば，電源の投入など，手足及び身体表面の汚染以外の原因によって誤って警報
装置が動作しないものとする。
e) モニタを点検するときに，警報音，外部警報信号が発生しないようにする機能を備えることが
望ましい。
f)
モニタは，手，足及び身体表面の検査に便利で丈夫な構造とし，できる限り電気的・磁気的妨
害に影響されず，振動，衝撃などによって故障又は測定誤差を生じにくい構造とする。また，
連続使用に対して動作が安定でなければならない。
g) モニタに，人の頭頂部の検査をするための固定又は自動昇降式の検出器を設けている場合には，
被測定者の身長などを考慮した安全な構造でなければならない。
h) モニタに，人の側面部又は前後面部の検査をするための手動又は自動開閉式の扉形の検出器を
用いている場合には，被測定者の安全を考慮した構造でなければならない。また，自動開閉式
の場合には，手動でモニタの外に出られる構造でなければならない。
i)
モニタは，製造業者のこん包状態で，製造業者の指定する温度範囲で3か月間保存した後，こ
の規格で規定する性能を維持するように設計しなければならない。
6.2
検出チャネル 検出チャネルは，次による。
a) 検出器は，汚染しにくい構造か，汚染除去又は交換が容易な構造とする。さらに，指などによ
って検出器が破損しないように保護格子などを入れなければならない。
b) 両手の裏表とも各々同時に測定できる構造とし，手の各々の面に対応する検出器の入射窓面積
は，少なくとも12 cm×20 cm以上とする。また，保護格子の面積は，入射窓面積の30 ％以下
とする。
検出器の保護膜及び保護格子による空気層を合わせた不感層の厚さは，β線用の場合6 mg/cm2
以下，α線用の場合2 mg/cm2以下とする。
c) 右足と左足の各々独立した測定部位をもつ構造とし，検出器の入射窓面積は少なくとも15 cm
×30 cm以上とする。また，保護格子の面積は，入射窓面積の60 ％以下とする。
検出器の保護膜及び保護格子による空気層を合わせた不感層の厚さは，β線用の場合6 mg/cm2
以下，α線用の場合2 mg/cm2以下とする。
6.3
信号処理部 信号処理部は，次による。
a) 信号処理部は，保守点検が容易なようにテストパルス発生器を組み込み，指示値校正及び警報
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動作試験ができる構造とすることが望ましい。
b) モニタを最適条件に設定できるように，測定時間を連続的に，又は切り換えによって変えられ
るものとする。
6.4
警報表示部 警報表示部は，次による。
a) モニタの測定時間の経過を表示するランプなどを設けることが望ましい。
b) 視覚又は聴覚で分かる表示で，結果の判定を被測定者に知らせなければならない。また，警報
レベルを超えたときには，汚染部位を表示しなければならない。
c) 警報レベルは，少なくともバックグラウンドレベルから，α線用の場合には20 s-１（表面放出
率），β線用の場合は200 s-１（表面放出率）に対応する計数率又はこれに相当する数値を含む
範囲で設定できるものとする。
6.5
電源 電源は，定格電圧100 V，定格周波数50 Hz又は60 Hzの交流電源とする。
7. 試験
7.1
試験条件
7.1.1 共通試験条件 7.2 の各試験方法における基準条件を，表1の第2欄に示す。特に製造業者
の指定のある場合を除き，この規格における試験は，表1の第3欄に示す標準試験条件で行う。標
準試験条件で行わない場合は，温度，気圧及び湿度を指定し，基準条件のレスポンスに補正しなけ
ればならない。
表 1 共通試験条件
項目
基準条件
標準試験条件
予熱時間 min
30
30
環境温度 ℃
20
18〜22(3)
相対湿度 ％
65
55〜75(3)
気圧 kPa
101.3
86 〜106(3)
電源電圧(2)
正規電源電圧
正規電源電圧±1 ％
電源周波数(2)
正規電源周波数
正規電源周波数±2 ％
電源波形(2)
正弦波
正弦波からのひずみ5 ％以下
γ線バックグラウンド
μGy/ｈ
空気カーマ率
0.2以下
空気カーマ率
0.25以下
外部電磁波
無視できるレベル
影響の認められるレベル以下
外部磁気誘導
無視できるレベル
地球磁界の2倍以下
モニタの設置
正規動作状態にセットアップ
正規動作状態にセットアップ
放射性物質による汚染
無視できるレベル
モニタで検出できる最小値の
レベル以下
注(2) 商用電源を使用する場合に適用する。
(3) これらの値は，温暖な気候に適用可能である。より暑い，又は寒い気候時には，試験時の実際の値
を明示しなければならない。海抜の高いところでは，70 kPaまでとする。
7.1.2 線源 試験に使用する線源は，特に指定のないときはJIS Z 4334 に規定する標準線源とす
る。
7.2
試験方法
7.2.1 試験方法一般 試験方法一般は，次による。
a) すべての試験は，30分間の予熱時間が経過した後に実施する。ただし，ガスフロー検出器を用
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いているモニタで，ガスの置換に30分間以上必要とする場合には，ガスの置換時間を優先する。
b) 試験条件のうちある項目を変化させて試験する場合，その項目以外の条件は，表 1に示す範囲
内にあるものとする。
c) 試験における指示値の読み取りには統計変動により十分な精度をもたない場合がある。この場
合には，読み取り回数を増やし，平均値を用いる。このときの読み取りの間隔は，少なくとも
応答時間の3倍とする。
7.2.2 機器効率の線源位置依存性試験 機器効率の線源位置依存性試験は，手，足及び身体表面に
用いる検出器に応じて，次による。
a) 手の表面汚染測定用検出器 検出器の中央に10 cm×15 cmの面積を設定し，その中にできるだ
け均等に，24点（約3 cm間隔）を選び，保護格子の同一面上に直径25 mm以下の36Cl又は204Tl
β線源（α線用の場合は，241Am）を順次置いて，各試験点における自然計数率を差し引いた正
味計数率の表面放出率に対する比として機器効率を求める。ただし，検出器の構造が同一で，
幾何学的にみて機器効率の線源位置依存性が等しいと考えられる場合には，代表的な検出器を
一つ選んで試験してもよい。
b) 足の表面汚染測定用検出器 検出器の中央に10 cm×30 cmの面積を設定し，その中にできるだ
け均等に，44点（約3 cm間隔）を選び保護格子の同一面上に直径25 mm以下の36Cl又は204Tl
β線源（α線用の場合は，241Am）を順次置いて，各試験点における機器効率を求める。ただし，
検出器の構造が同一で，幾何学的にみて機器効率の線源位置依存性が等しいと考えられる場合
には，代表的な検出器を一つ選んで試験してもよい。
c) 身体の表面汚染測定用検出器 検出器ごとに垂直方向の機器効率の線源位置依存性（以下，垂
直分布という。） 及び水平方向の機器効率の線源位置依存性（以下，水平分布という。）を次の
方法で求める。ただし，検出器の構造が同一で，幾何学的にみて垂直分布及び水平分布が等し
くなると推定される検出器が複数個ある場合には，同一検出器群にグループ分けし，そのグル
ープの中から代表的な検出器をそれぞれ一つ選んで試験してもよい。
1) 垂直分布 垂直方向に並ぶ検出器の中央で保護格子から5 cmの位置に，垂直方向の測定範囲
をカバーする長さの棒又は板等のジグを垂直に設置する。垂直方向の測定範囲は隣接する下
部の検出器との境界と上部の検出器との境界の間（隣接する検出器がない場合には，測定範
囲は取扱説明書(10. d))に記載する。）とし，その測定範囲を2 ㎝間隔で分割し，各点に直径
25 mm以下の36Cl又は204Tl β線源を順次置いて，各試験点における機器効率を求め，これ
らの平均値（εva）及び最大値（εvm）を算出する。
2) 水平分布 モニタの中央にJIS Z 4915に規定する胸・腹部用Ｘ線水ファントム又はそれに相
当する形状のジグを設置し，その全周を（水平方向に複数個の検出器を用い分割測定してい
る場合には，取扱説明書(10. d))に記載する範囲。ただし，分割した範囲の総和は360°とす
る｡) 10°きざみで，直径25 mm以下の36Cl又は204Tl β線源を順次動かして試験を行う。こ
のとき線源の高さ方向の位置は，c)1) の垂直分布試験で最大値が得られた位置とする。各試
験点における機器効率を求め，これらの平均値（εha）を算出する。
7.2.3 最小検出表面放出率試験 最小検出表面放出率試験は，次による。
a) 形式試験 形式試験は，次による。
1) 実効機器効率試験 すべてのモニタリングチャネルに対して次の方法で実効機器効率を求め
る。
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なお，一つのモニタリングチャネルに対して複数個の検出器を用いている場合には，それら
の実効機器効率の平均値を使用する。また，次の1.1) 及び1.2) に規定する面積の線源がな
い場合は，10 cm×10 cm以上の面積の線源を用いて分割測定し，加算してもよい。
1.1) 手の表面汚染測定用検出器 10 cm×15 cmの面積をもつ36Cl又は204Tl β線源（α線用の場
合は，241Am）を検出器の中央で保護格子に密着させて置き，自然計数率を差し引いた正味
計数率を測定し，式(1) によって実効機器効率を算出する。
φ
n
E=
ff
(1)
ここに，Eff：実効機器効率
n：正味計数率(s-1)
φ：標準線源のβ線又はα線表面放出率(s-1)
1.2) 足の表面汚染測定用検出器 10 cm×30 cmの面積をもつ36Cl又は204Tlβ線源（α線用の場
合は，241Am）を検出器の中央で保護格子に密着させて置き，自然計数率を差し引いた正味
計数率を測定し，式 (1) によって実効機器効率を算出する。
1.3) 身体の表面汚染測定用検出器 各検出器又は代表検出器に対して7.2.2 c) の1) 及び 2) の
試験結果を利用し，式 (2) によって実効機器効率（Eff） を求める。
(
)ε
ε
ε
ha
vm
va
ff
•
=
E
(2)
ここに， Eff：実効機器効率
εva：7.2.2 c) 1)で求めた垂直分布の平均値
εvm：7.2.2 c) 1)で求めた垂直分布の最大値
εha：7.2.2 c) 2)で求めた水平分布の平均値
2) 代表点の機器効率試験 すべての身体の表面汚染測定用検出器に対してβ線標準線源を代表
する位置に設定し，（使用する線源の核種，形状及び設定位置は，取扱説明書(10 b))に記述す
る。）式 (3) によって代表点の機器効率を求める。
φ
n
E=
1
(3)
ここに， E1：形式試験における代表点の機器効率
n：正味計数率（s-1)
φ：標準線源のβ線表面放出率（s-1）
次に，各モニタリングチャネルごとの代表点の機器効率から実効機器効率へ換算するための
換算定数を式(4)によって求める。
K
E
E
1
ff
=
(4)
ここに， K：換算定数
Eff：a) 1)で求めた実効機器効率
E1：式 (3)で求めた形式試験における代表点の機器効率
備考1. 使用する線源の形状としては，例えば，10 cm×10 cm，10 cm×15 cmなどがあ
り，設定位置としては，例えば，検出器中央で保護格子密着，5 cm，10 cmな
どがある。
2. 手と足の表面汚染測定用検出器については，実効機器効率と代表点の機器効率
が等価のため求める必要はない。
3) バックグラウンドの測定及び最小検出表面放出率の計算 モニタの種類に応じてすべてのモ
ニタリングチャネルに対して次の試験を行う。ただし，最大基準バックグラウンドを設定す
8
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
る場合には， 137Cs又は60Coγ線源を用いてモニタから少なくとも3 m以上離して照射する。
照射方向は，指定がない場合はモニタの横からとし，指定がある場合には指定方向からとす
る。線量率は，使用者と製造業者の取決めがない場合には0.25 μGy/h程度とし，取決めがあ
る場合には指定値とする。
3.1) バックグラウンド継続減算形 最大基準バックグラウンド環境下で，10分間以上自然計数
を測定し，最大基準バックグラウンドに対応する計数率を求め，最小検出表面放出率M1を
式 (5) によって計算する。
M1=
E
T
B
t
B
B
5
0.
ff
2
2
2
3
05
.0
+
+
(5)
ここに，M1：最小検出表面放出率(s-1)
B2：最大基準バックグラウンドに対応する計数率(s-1)
T：モニタで設定される測定時間（s）
t：モニタで設定されるバックグラウンド測定時間（s）
Eff：a) 1) で求めた実効機器効率
3.2) バックグラウンド同時減算形 最大基準バックグラウンドの環境下で，10分間以上自然計
数を測定し，最大基準バックグラウンドに対応する計数率を求める。また，線量率，エネル
ギー及び照射方向を変えてバックグラウンドを変動させたときに，測定部位で得られる計数
率と，バックグラウンド補償用検出器で得られる計数率の違いによるバックグラウンド補償
誤差計数率を求める。このときの変動の大きさは，取扱説明書(10 h))に記述する。最小検出
表面放出率を式 (6) によって計算する。
M1=
E
T
B
B
5
0.
ff
2
x
2
3
+
(6)
ここに，M1：最小検出表面放出率(s-1)
BX：バックグラウンド補償誤差計数率 (s-1)
B2：最大基準バックグラウンドに対応する計数率 (s-1)
T：モニタで設定される測定時間（s）
Eff ：a) 1) で求めた実効機器効率
3.3) バックグラウンド無補償形
環境バッググラウンド及び最大基準バックグラウンドの
環境下で，それぞれ10分間以上自然計数を測定し，環境バックグラウンドに対応する計数
率及び最大基準バックグラウンドに対応する計数率を求め、最小検出表面放出率を式 (7)
によって計算する。
M1=
(
)
E
T
B
B
B
ff
2
5.0
1
2
3
+
−
(7)
ここに，M1：最小検出表面放出率 (s-1)
B1：環境バックグラウンドに対応する計数率 (s-1)
B2：最大基準バックグラウンドに対応する計数率 (s-1)
T：モニタで設定される測定時間（s）
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Eff：a) 1) で求めた実効機器効率
b) 受渡試験 受渡試験は，次による。
1) 実効機器効率試験 すべての測定部位に対して，次の方法で実効機器効率を求める。
なお，試験に用いる線源の核種，形状及び配置は，形式試験のときと同等とする。
1.1) 手の表面汚染測定用検出器 a) 1) 1.1) と同じ方法で実効機器効率を求める。
1.2) 足の表面汚染測定用検出器 a) 1) 1.2) と同じ方法で実効機器効率を求める。
1.3) 身体の表面汚染測定用検出器 a) 2) と同じ方法で受渡試験における代表点の機器効率
(E2)を求め，式(8)によって実効機器効率に換算する。
Eff =E2・K (8)
ここに，K：a) 2) で求めた代表点の機器効率から実効機器効率へ換算するための換算定数
2) 最小検出表面放出率の計算 a) 3) と同じ方法によってb) 1) で得られた実効機器効率を用い，
モニタの種類に応じてすべての測定部位に対して最小検出表面放出率の計算を行う。
なお，計算に用いるバックグラウンドの計数率は，形式試験で得られた数値を用いてもよ
い。
7.2.4 エネルギー特性試験 最大エネルギーが，0.2 MeV未満，0.2 MeV以上0.5 MeV未満及び0.5
MeV以上の少なくとも3種類のβ線放出核種を用いて7.2.3 a) 1) の試験方法に準じて試験を行い，
実効機器効率を求める。この試験に適切な線源の例を表2 に示す。
表 2 エネルギー特性試験に用いる主なβ線源
核種
半減期
年
最大エネルギー
keV
14C
147Pm
60Co
36Cl
204Tl
90Sr＋90Y
106Ru + 106Rh
5 730
2.62
5.27
3.00×105
3.78
28.5
1.01
156
225
310
710
763
2 274
3 540
備考1.
90Sr＋90Yに130 mg/cm2 厚のフィルタをかけることによって，高
いエネルギーの90Yβ線だけを利用してもよい。
2.
半減期及び最大エネルギーは，JIS Z 4334 による。
7.2.5 警報動作試験 β線源（α線用の場合はα線源）を用いて検出器を照射するか又はパルス
信号発生装置を用いて検出チャネルからの出力信号に近似した波形の信号を信号処理部に入力し，
警報設定値を超える計数値を与えて警報動作の確認試験を行う。この試験は，すべてのモニタリン
グチャネルについて行う。
10
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7.2.6 オーバスケール特性試験 モニタに十分な指示値を与える線源（例えばβ線の場合は，10５
Bq以上の204Tl又は90Sr＋90Y β線源。α線用の場合は，104Bq以上の241Amα線源）を用いて検出
器を照射し，最大指示範囲を超える計数値を与える。この試験はすべての検出器について行う。
7.2.7 温度特性試験 周囲温度5 ℃，20 ℃及び40 ℃において，自然計数率及び数え落としの影
響が十分無視できる計数率のβ線（α線用の場合はα線）を照射して行う。モニタを動作状態にし，
各温度（温度許容差は，±2 ℃とする。）の環境に1時間以上放置した後，指示値を読む。20 ℃に
おける指示値を基準として各温度における指示値から基準値を差し引いた値の基準値に対する百分
率を求める。この試験は，β線（α線用の場合はα線）を照射する検出器として，手，足及び身体
それぞれから少なくとも一つずつ選んで行う。
モニタが大きくて恒温槽などの試験装置に入れられない場合には，検出チャネル又はモニタリン
グチャネルとそれ以外の部分に分割して測定してもよいが，それぞれの変動が許容範囲を満足し，
かつ，それぞれの変動の和が許容範囲を満足しなければならない。分割測定する場合，検出チャネ
ル又はモニタリングチャネルの試験のときにはβ線（α線用の場合はα線）照射を行い，それ以外
の部分についてはパルス信号発生装置を用いて検出チャネルからの出力信号に近似した波形の信号
を信号処理部に入力して試験を行う。
7.2.8 耐湿性試験 周囲温度35 ℃で相対湿度65 ％及び85 ％において，自然計数率及び数え落と
しの影響が十分無視できる計数率のβ線（α線用の場合はα線）を照射して行う。モニタを動作状
態にし，各相対湿度（湿度の許容差は±5 ％とする。）の環境に1時間以上放置した後指示値を読む。
相対湿度65 ％における指示値を基準値とし，相対湿度85 ％における指示値から基準値を差し引い
た値の基準値に対する百分率を求める。この試験の，β線（α線用に場合はα線）照射する検出器
及び分割測定方法は，7.2.7 による。
7.2.9 電源電圧の変動に対する安定性試験 自然計数率及び数え落としの影響が無視できる計数
率のβ線（α線用の場合はα線）を照射し，電源電圧を定格電圧の88 ％，100 ％及び110 ％にし
た場合の指示値を読む。定格電圧における指示値を基準値とし，各電圧における指示値から基準値
を差し引いた値の基準値に対する百分率を求める。この試験は，β線（α線用の場合はα線）を照
射する検出器として，手，足及び身体それぞれから少なくとも一つずつを選んで行う。
8. 検査 検査は，品質の良否を判定するための形式検査と受渡を決定するための受渡検査があり，
次による。
8.1
形式検査 形式検査は，次の項目とし，7.によって試験を行い，5.及び6.の規定に適合したも
のを合格とする。
a) 機器効率の線源位置依存性
b) 最小検出表面放出率
c) エネルギー特性
d) 他の放射線による影響
e) 警報動作
f)
オーバスケール特性
g) 温度特性
h) 耐湿性
i)
電源電圧の変動に対する安定性
11
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8.2
受渡検査 受渡検査は，最小検出表面放出率及び警報動作について，7.2.3 b) 及び7.2.5によ
って試験を行い，5.2 及び5.5の規定に適合したものを合格とする。
9. 表示 モニタには見やすい箇所に容易に消えない方法で，次の事項を表示しなければならない。
a) 種類及び名称
b) 形名（製造業者による）
c) 製造番号
d) 製造年月又はその略号
e) 製造業者名又はその略号
f)
定格電源電圧及び消費電力
10. 取扱説明書 モニタには少なくとも次の事項を記載した取扱説明書を添付しなければならない。
a) モニタの種類
b) 受渡試験時の代表点の機器効率及びその使用線源と設定位置
c) 検出器の種類，入射窓の寸法及び厚さ(mg/cm2)
d) 機器効率の線源位置依存性
e) エネルギー特性及び実効機器効率の最大値に対する最小値の比
f) 他の放射線の影響
g) 使用電源
h) 最小検出表面放出率（使用線源とその設定位置を明記）
i)
ガスの種類及び流量（ガスフロータイプの場合）
j) 検出器と体表面との位置関係で感度変化に大きな影響を与える事項についての説明
k) 被測定者の身長，体重などの体格上の制限
l)
その他の取扱い上の注意事項
12
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附属書（参考）JISと対応する国際規格との対比表
JIS Z 4338 α線及び/又はβ線用ハンドフットモ
ニタ及び体表面汚染モニタ
IEC 61098:1992，α線及びβ線用据置型体表面汚染モニタ
(I) JIS（原案）の規定
(II) 国
際規格
番号
(III) 国際規格の規定
(IV) JIS (原案) と国際規格との技術的
差異の項目ごとの評価及びその内容
表示箇所：本体，附属書
表示方法：側線及び点線の下線
(V) JISと国際規格との技術的
差異の理由及び今後の対策
項目
番号
内容
項目
番号
内容
項目ごとの評
価
技術的差異の内容
1.適用範囲
α線放出核種及び最大エネ
ルギー150 keV 以上のβ線
放出核種による手，足及び身
体表面の汚染を測定するα
線及び/又はβ線用ハンドフ
ットモニタ及び体表面汚染
モニタ。
IEC
61098
1
身体表面の放射能汚染のモニ
タリングを行う警報を伴う，
体表面モニタ。
IDT
β線についてIECで
は，150 keVの記載は
ないが，IECで引用の
ISO-7503-1，ISO 8769
は，150 keV以上であ
り，整合は取れてい
る。
2引用規格
JIS Z 4001
2
IEC 60050-393,
IEC 60050-394
MOD/変更
JISからの引用事項
は，対応IEC規格の
該当事項と同等であ
る。
JIS Z 4334
ISO 8769
IDT
JIS Z 4915,JIS Z 8103
MOD/追加
JISを理解しやすくするための
引用規格を追加。
IEC 60050-151, IEC 60181,
IEC 60278, IEC 60777, ISO
60359, ISO 7503-1
MOD/削除
IEC 60050-151, IEC 60181,IEC
60777, ISO 60359は、IEC規格
の本体にて引用していないの
でJISでは削除した。IEC 60278
ISO 7503-1は引用せずとも、規
定内容で表現できるため削除
した。
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(I) JIS（原案）の規定
(II) 国
際規格
番号
(III) 国際規格の規定
(IV) JIS (原案) と国際規格との技術的
差異の項目ごとの評価及びその内容
表示箇所：本体，附属書
表示方法：側線及び点線の下線
(V) JISと国際規格との技術的
差異の理由及び今後の対策
項目
番号
内容
項目
番号
内容
項目ごとの評
価
技術的差異の内容
3. 定義
表面放出率，最小検出表面放
出率，機器効率，機器効率の
線源位置依存性，実効機器効
率，環境バックグラウンド，
最大基準バックグラウンド，
モニタリングチャネル，身
体表面
3
JISと同じ
IDT
検出チャンネル，測定部位，
検出器の入射窓面積，代表点
の機器効率
MOD/追加
JISを理解しやすくするための
用語を追加。
警報装置,レスポンス，線源
効率,高効率線源,点線源，
変動係数，量の協定真値，
指示誤差，線源の表面放出
効率の均一性
MOD/削除
IEC規格で使用していない用
語の定義を削除。
4. 種類
4.1 測定する放射線の種類
による分類
4.2 バックグラウンドの減
算方法による分類
4.3 測定部位による分類
4
JISとほぼ同じ
MOD/追加
JISの項目4.2に，IEC
規格にはない“バック
グラウンド無補償型”
による分類を追加。
IEC規格では、最小検出表面放
出率の計算にバックグラウン
ド無補償形を示しているにも
かかわらず、分類で明示してい
ない。JISではこの点を改善し
た。
5. 性能
7. 試験
5.1， 7.2.2
機器効率の線源位置依存性
7.1
GM計数管に関する付帯事項
を除き，JISと同じ
MOD/追加
JISでは，“GM計数
管を並べたモニタは，
機器効率の線源位置
依存性を取扱説明書
に明示”を追加した。
IEC規格では，大面積ガスフロ
ーカウンタ又は，シンチレーシ
ョン検出器を中心とした規格
となっており，GM管が考慮さ
れていない。IEC規格見直しの
際に変更を要求する。
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(I) JIS（原案）の規定
(II) 国
際規格
番号
(III) 国際規格の規定
(IV) JIS (原案) と国際規格との技術的
差異の項目ごとの評価及びその内容
表示箇所：本体，附属書
表示方法：側線及び点線の下線
(V) JISと国際規格との技術的
差異の理由及び今後の対策
項目
番号
内容
項目
番号
内容
項目ごとの評
価
技術的差異の内容
5. 性能
7. 試験
5.2，7.2.3
最小検出表面放出率
7.3
JISと同じ
IDT
5.3， 7.2.4
エネルギー特性
7.4
JISと同じ
IDT
5.4
他の放射線による影響
7.5
JISと同じ
IDT
5.5， 7.2.5
警報動作
7.6.2
JISとほぼ同じ
MOD/追加
IEC規格は試験方法
を規定していないが，
JISは規定。
IEC規格ではどのような試験
をすればよいかわからないの
で，JISではその点を改善した。
5.6， 7.2.6
オーバースケール特性
8
JISと同じ
IDT
9.2
電源消失に関する規定
MOD/削除
JISでは，規定せず。 電源再投入後の動作仕様は,国
内では使用者と製造業者の取
り決めによって決定している
ため。
5.7， 7.2.7
温度特性
10.1
JISと同じ
IDT
5.8， 7.2.8
耐湿性
10.2
JISとほぼ同じ
MOD/削除
IEC規格の湿度20 %
から85 %の範囲で試
験。JISは湿度65 %
及び85 %で試験に変
更。
湿度20 %の制御装置は入手困
難，かつ，低湿度では問題が発
生しないため削除。IECに提案
中。IEC規格は20 %を40 %に
変更予定
5.9， 7.2.9
電源電圧の変動に対する安
定性
10.4
JISとほぼ同じ
MOD/削除
IEC規格は電圧変動
試験及び周波数変動
試験を規定している
が，JISは後者の試験
を削除
周波数の変動試験の実施は困
難であり，国内電源事情は良好
なためにJISでは不用とした。
15
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(I) JIS（原案）の規定
(II) 国
際規格
番号
(III) 国際規格の規定
(IV) JIS (原案) と国際規格との技術的
差異の項目ごとの評価及びその内容
表示箇所：本体，附属書
表示方法：側線及び点線の下線
(V) JISと国際規格との技術的
差異の理由及び今後の対策
項目
番号
内容
項目
番号
内容
項目ごとの評
価
技術的差異の内容
5. 性能
7. 試験
10.5
10.6
外部電磁界の影響
外部磁界の影響
MOD/削除
JISでは試験項目から
削除した。
IEC規格で，試験項目の記載は
あるが，具体的試験方法及び要
求事項の記載がないため，JIS
では削除した.。
6. 構造
6.1構造一般
6.2検出チャネル
6.3信号処理部
6.4警報表示部
6.5電源
5
足用の検出器の入射窓面積及
びこん包状態での性能保持温
度条件を除き，JISと同じ。
MOD/変更
足用の検出器サイズ
JIS : 15 cm×30 cm
IEC規格 : 15 cm×35
cm
IECに提案中。IEC規格もJIS
寸法に変更予定。
11
性能保持温度条件
JIS : 製造業者の指定
範囲
IEC規格 : -25 ℃〜
50 ℃
この規格が適用されるモニタ
は，一般的に空調の行き届いた
環境の下で使用されるので，国
内のモニタは，IEC規格の示す
厳しい環境下での設計は配慮
されていないため。
7.1 試験条
件
共通試験条件
6
JISと同じ
IDT
7.2.1 試験
方法一般
予熱時間
9.1
JISと同じ
IDT
8. 検査
8.1形式検査
8.2受渡検査
7.6
JISと同じ
IDT
9. 表示
MOD/追加
IECには機体銘板の
記載なし
10. 取扱説
明書
12
JISと同じ
IDT
16
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JISと国際規格との対応の程度の全体評価：MOD
備考1. 項目ごとの評価欄の記号の意味は，次のとおりである。
― IDT………………技術的差異がない。
― MOD/削除………国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。
― MOD/追加………国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
― MOD/変更………国際規格の規定内容を変更している。
2.
JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次のとおりである。
― MOD…………… 国際規格を修正している。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。