Z 4329：2004
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，社団法人日本電気
計測器工業会(JEMIMA)／財団法人日本規格協会(JSA)から，工業標準原案を具して日本工業規格を改正す
べきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業規格である。
これによって，JIS Z 4329:1993は改正され，この規格に置き換えられる。
改正に当たっては，日本工業規格と国際規格との対比，国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日
本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために，IEC 60325:2002，Radiation protection
instrumentation-Alpha,beta and alpha/beta (beta energy > 60 keV) contamination meters and monitorsを基礎とし
て用いた。
この規格の一部が，技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会
は，このような技術的性質をもつ特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権，又は出願公開後の実用新
案登録出願にかかわる確認について，責任はもたない。
JIS Z 4329には，次に示す附属書がある。
附属書（参考）JISと対応する国際規格との対比表
Z 4329：2004
（2）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1. 適用範囲 ························································································································ 1
2. 引用規格 ························································································································ 1
3. 定義 ······························································································································ 2
4. 種類 ······························································································································ 4
4.1 構成による装置の種類 ···································································································· 4
4.2 使用方法による装置の種類······························································································· 4
4.3 電源による装置の種類 ···································································································· 4
4.4 測定放射線による装置の種類···························································································· 4
5. 性能 ······························································································································ 4
5.1 相対基準誤差 ················································································································ 4
5.2 機器効率 ······················································································································ 4
5.3 検出限界 ······················································································································ 4
5.4 β線エネルギー特性 ········································································································ 4
5.5 検出器入射窓面の機器効率の均一性 ··················································································· 4
5.6 自然計数率 ··················································································································· 4
5.7 他の放射線の影響 ·········································································································· 4
5.8 感光性 ························································································································· 4
5.9 指示値変動 ··················································································································· 4
5.10 応答時間 ····················································································································· 5
5.11 温度特性 ····················································································································· 5
5.12 耐湿性 ························································································································ 5
5.13 電源電圧の変動に対する安定性 ······················································································· 6
5.14 耐衝撃性 ····················································································································· 6
5.15 予熱時間 ····················································································································· 6
5.16 オーバロード特性 ········································································································· 7
5.17 分解時間 ····················································································································· 7
5.18 高圧変化時の指示値安定性（検出器だけ） ········································································ 7
5.19 入力感度安定性（検出器だけ） ······················································································· 7
5.20 警報動作 ····················································································································· 7
5.21 静電気放電の影響 ········································································································· 7
5.22 外部電磁界の影響 ········································································································· 7
5.23 バースト及び無線周波数の影響（交流電源駆動だけ） ························································· 7
5.24 サージイミュニティの影響（交流電源駆動だけ） ······························································· 7
5.25 電源電圧低下及び電源一時的遮断の影響（交流電源駆動だけ） ············································· 7
Z 4329：2004 目次
（3）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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ページ
5.26 放射電磁界強度特性 ······································································································ 7
6. 構造 ······························································································································ 7
6.1 構造一般 ······················································································································ 7
6.2 検出器 ························································································································· 8
6.3 測定装置 ······················································································································ 8
6.4 電源 ···························································································································· 8
7. 試験 ······························································································································ 8
7.1 試験条件 ······················································································································ 8
7.2 試験方法 ······················································································································ 9
8. 表示 ····························································································································· 15
9. 取扱説明書 ···················································································································· 16
附属書（参考）JISと対応する国際規格との対比表 ···································································· 17
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日本工業規格 JIS
Z 4329：2004
放射性表面汚染サーベイメータ
Portable radiation surface contamination meters and monitors
序文 この規格は，2002年に第2版として発行されたIEC 60325, Radiation protection instrumentation - Alpha，
beta and alpha/beta (beta energy >60 keV) contamination meters and monitorsを元に，技術的内容を変更して作
成した日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，原国際規格を変更している事項である。変更の一覧
表をその説明を付けて，附属書（参考）に示す。
1. 適用範囲 この規格は，物体表面上のα線放出核種，又は最大エネルギー60 keV以上のβ線を放出す
るβ線放出核種による汚染密度を測定する放射性表面汚染サーベイメータ又は警報付き放射性表面汚染サ
ーベイメータ（以下サーベイメータという。）について規定する。
なお，サーベイメータは，検出器と計測部とを含み，検出器は測定装置をケーブルなどによって接続さ
れるか，又は測定装置に内蔵される。
備考 この規格の対応国際規格を，次に示す。
なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide 21に基づき，IDT（一致している），MOD
（修正している），NEQ（同等でない）とする。
IEC 60325:2002, Radiation protection instrumentation -Alpha，beta and alpha/beta (beta energy >60
keV) contamination meters and monitors (MOD)
2. 引用規格 次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成す
る。これらの引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 61000-4-2 電磁両立性−第4部：試験及び測定技術−第2節：静電気放電イミュニティ試験
備考 IEC 61000-4-2:1995 Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-2: Testing and measurement
techniques−Electrostatic discharge immunity test が，この規格と一致している。
JIS C 61000-4-3 電磁両立性−第4部：試験及び測定技術−第3節：放射無線周波電磁界イミュニテ
ィ試験
備考 IEC 61000-4-3:1995 Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-3: Testing and measurement
techniques−Radiated, radio-frequency, electromagnetic field immunity testが，この規格と一致し
ている。
JIS C 61000-4-4 電磁両立性−第4部：試験及び測定技術−第4節：電気的ファストトランジェント
／バーストイミュニティ試験
2
Z 4329：2004
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
備考 IEC 61000-4-4:1995 Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-4:Testing and measurement
techniques−Electrical fast transient/burst immunity testからの引用事項は，この規格の該当事項
と同等である。
JIS C 61000-4-5 電磁両立性−第4部：試験及び測定技術−第5節：サージイミュニティ試験
備考 IEC 61000-4-5:1995 Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-5: Testing and measurement
techniques−Surge immunity testからの引用事項は，この規格の該当事項と同等である。
JIS C 61000-4-6 電磁両立性−第4部：試験及び測定技術−第6節：無線周波電磁界によって誘導さ
れた伝導妨害に対するイミュニティ
備考 IEC 61000-4-6:1996 Electromagnetic compatibility(EMC)−Part 4-6: Testing and measurement
techniques−Immunity to conducted disturbances, induced by radio-frequency fieldsからの引用事
項は，この規格の該当事項と同等である。
JIS Z 4001 原子力用語
備考 ISO 921:1997 Nuclear energy−Vocabulary, IEC 60050-393 :1996 International Electrotechnical
Vocabulary−Chapter 393及びIEC 60050-394:1995 International Electrotechnical Vocabulary−
Chapter 394からの引用事項は，この規格の該当事項と同等である。
JIS Z 4334 放射性表面汚染計校正用線源
備考 ISO 8769:1988 Reference sources for the calibration of surface contamination monitors−
Beta-emitters (maximum beta energy greater than 0.15 MeV) and alpha-emittersからの引用事項は，
この規格の該当事項と同等である。
JIS Z 8103 計測用語
IEC 61000-4-11 Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-11:Testing and measuring techniques−
Voltage dips, short interruption and voltage variations immunity tests
3. 定義 この規格で用いる主な用語の定義は，JIS Z 4001及びJIS Z 8103によるほか，次による。
a) 有効測定範囲 (effective range of measurement) サーベイメータがこの規格の性能を満たす測定範囲。
b) 検出器の入射窓面積 (A) (sensitive area of the detector) α線又はβ線が検出器に実際に入射できる
部分の面積。保護格子の部分を含む。
c) 表面放出率 (surface emission rate) 線源の表面又は線源窓から放出する単位時間当たりのα粒子又
はβ粒子の数。
d) 線源効率 (source efficiency) 線源（飽和層厚さ以上の線源は飽和層厚さ）の中で，単位時間当たりに
放出する同じ種類の放射線の粒子数に対する表面放出率の比。
e) 機器効率 (εi) (instrument efficiency) 標準線源に対して一定の幾何学的条件で測定したときの，α
線又はβ線表面放出率に対するサーベイメータの正味計数率の比。
f)
指示値 (indication) サーベイメータの計数（率）指示値。
g) 指示誤差 (indication error) 表面放出率に機器効率を乗じた計数率を基準計数率Mtとしたときの，指
示値Miと基準計数率との差。Mi−Mtとする。
h) 相対指示誤差 ( I )（relative error of indication） 指示誤差と基準計数率との比。
%
100
)
(
×
−
=
t
t
i
M
M
M
I
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i)
相対基準誤差 (relative intrinsic error) 相対指示誤差と表面放出率の不確かさの和。±(I+U)とする。
ただし，Uの包含係数は2とする。
備考 表面放出率の不確かさは，拡張不確かさで表す。拡張不確かさは合成標準不確かさに包含係数
を乗じて求める。合成標準不確かさは各不確かさの成分の標準偏差（標準不確かさ）の自乗和
の平方根である。
j)
応答時間 (response time) ステップ応答において，出力信号が最終値の90 ％になるまでの時間。
k) レスポンス (R) (response) 指示値Miと基準計数率Mtとの比。
R ＝ M i / M tとする。
l)
デカード (decade) 対数目盛又はこれに準じる目盛（以下，対数目盛という。）の目盛範囲を表す単
位。例えば，二つの目盛値の比の常用対数がDであるとき，この2目盛間の目盛範囲をDデカードと
いう。
m) 変動係数 (V) (coefficient of variation) n個の指示値xiの標準偏差推定値Sの平均値xに対する比で，
次の式による。
(
)
1
1
1
2
−
−
=
=
∑=
n
x
x
x
x
S
V
n
i
i
n) 単位面積当たりの最小検出表面放出率 (DL) (detection limit of the surface emission rate per unit area)
単位面積当たりの最小検出表面放出率で，次の式による。
A
S
R
DL
n
×
=
(nuclide)
ここに，
Rn：限界計数率
S(nuclide)：表面放出率
A：検出器の入射窓面積
単位面積当たりの最小検出表面放出率DLの単位は，s-1/cm2で表す。
なお，限界計数率Rnは，次の式による。
+
+
=
−
−
b
β
α
n
t
t
R
k
k
R
1
1
)
(
0
0
1
1
ここに，
R0： バックグラウンド計数率
t0： 測定時間
tb： バックグラウンド計測時間
k1-α： バックグラウンドを差し引いた計数が有意となる限界（棄却
限界）の係数
k1-β： 線源からの係数が有意となる限界（感度限界）の係数
ここで，α＝β＝0.05とすると，k1-α＝k1-β＝1.645
+
+
=
b
n
t
t
R
R
1
1
1.645)
(1.645
0
0
で与えられる。
o) 検出器 (detection assembly) 検出部を含む装置で表示機能をもたないもの。
p) 測定装置 (measurement assembly) 検出器を含まない装置で，測定した汚染のレベルを表示する機能
をもつ装置。
q) α，β及びα/β線表面汚染サーベイメータ (alpha, beta or alpha/beta surface contamination meters
and monitors) 一つ又は複数の検出器と測定装置からなり，α，β又はα/β線の表面汚染を測定する
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装置。警報機能をもたせてもよい。
4. 種類 サーベイメータの種類は，次による。
4.1
構成による装置の種類
a) 検出器と測定装置が一体形のもの，又はケーブルなどで接続しているが交換不可能なもの。
b) 検出器と測定装置をケーブルなどで接続し，検出器が交換可能なもの。
4.2
使用方法による装置の種類
a) 携帯形装置
b) 移動可能形装置
4.3
電源による装置の種類
a) 交流電源用
b) 一次電池又は二次電池用
4.4
測定放射線による装置の種類
a) α線用
b) β線用
c) α/β線用
5. 性能
5.1
相対基準誤差 7.2.3で試験したとき，相対基準誤差の許容範囲は，次による。
5.1.1
サーベイメータ 有効測定範囲において，±(25+U)％とする。ただし，各試験におけるそれぞれの
ポイントにおいて相対基準誤差の最小値と最大値との差は50 ％を超えてはならない。
5.1.2
測定装置 有効測定範囲において，±(10+U)％とする。
5.2
機器効率 7.2.4で試験したとき，サーベイメータの機器効率は，製造業者公称値の±25 ％を満足し
なければならない。ただし，検出器だけの機器効率は製造業者公称値の±20 ％でなければならない。
5.3
検出限界 7.2.5で試験したとき，単位面積当たりの最小検出表面放出率は，製造業者公称値以下で
なければならない。
5.4
β線エネルギー特性 7.2.6で試験したとき，各エネルギーでの機器効率を求め，横軸をβ線最大エ
ネルギー，縦軸を機器効率として取扱説明書に図示する。
5.5
検出器入射窓面の機器効率の均一性 7.2.7で試験したとき，各エリアの機器効率は，平均値の±
50 ％とする。
5.6
自然計数率 7.2.8で試験したとき，サーベイメータ及び検出器の自然計数率は，製造業者公称値以
下とする。ただし，この場合の自然計数率は回路系の雑音による計数率も含む。
5.7
他の放射線の影響
5.7.1
γ線の影響 α線及びβ線測定用のサーベイメータについてのγ線の影響は，次による。
a) α線測定用 7.2.9 a) 1)で試験したとき，指示値の変化は，±25 ％とする。
b) β線測定用 7.2.9 a) 2)で試験したとき，指示値の変化は，製造業者公称値以内とする。
5.7.2
β線の影響 7.2.9 b)で試験したとき，指示値の変化は，±25 ％とする。
5.7.3
α線の影響 7.2.9 c)で試験したとき，指示値の変化は，製造業者公称値以内とする。
5.8
感光性 7.2.10で試験したとき，自然計数率の増加は，α線測定時には0.01×A（s-1）以下，β線測
定時には0.1×A（s-1）以下でなければならない。ここで，Aは入射窓面積（単位cm2）。
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5.9
指示値変動 7.2.11で試験したとき，変動係数は，0.2以下とする。
5.10 応答時間 7.2.12で試験したとき，応答時間は，上昇のとき7秒以下，下降のとき10秒以下とする。
5.11 温度特性 温度特性は，次による。
a) 温度安定度 7.2.13 a) で試験したとき，指示値の変化は，表1，表2及び表3の許容範囲に適合しな
ければならない。
b) 温度衝撃 7.2.13 b) で試験したとき，指示値の変化は，表1，表2及び表3の許容範囲に適合しなけ
ればならない。
表 1 サーベイメータの温度特性の許容範囲
用途
温度範囲
℃
許容範囲
％
温度安定度
温度衝撃
室内用
10〜35
±15
±30
室外用
−10〜40
±20
±40
表 2 測定装置の温度特性の許容範囲
用途
温度範囲
℃
測定項目
許容範囲
％
温度安定度
温度衝撃
室内用
10〜35
指示変化
±5
±10
高圧変化
±1
± 2
入力感度変化
±5
±10
室外用
−10〜40
指示変化
±7
±14
高圧変化
±2
± 4
入力感度変化
±5
±10
表 3 検出器の温度特性の許容範囲
用途
温度範囲
℃
許容範囲
％
温度安定度
温度衝撃
室内用
10〜35
±5
±10
室外用
−10〜40
±10
±20
c) 最低温度での起動試験（室外用だけ） 7.2.13 c) で試験したとき，動作可能でなければならない。
5.12 耐湿性 7.2.14で試験したとき，指示値の変化は，表4の許容範囲に適合しなければならない。
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表 4 耐湿性の許容範囲
種類
測定項目
許容範囲
％
サーベイメータ
指示変化
±7.5
測定装置
指示変化
±2.5
高圧変化
±0.5
入力感度変化
±2.5
検出器
指示変化
±2.5
5.13 電源電圧の変動に対する安定性 電源電圧の変動に対する安定性の許容範囲は，次による。
5.13.1 交流電源使用時 7.2.15 a) で試験したとき，指示値の変化は，表5の許容範囲に適合しなければな
らない。
表 5 交流電源電圧変動に対する許容範囲
種類
測定項目
許容範囲
％
サーベイメータ
指示変化
±10
測定装置
指示変化
± 5
高圧変化
± 1
入力感度変化
±10
5.13.2 電池使用時 7.2.15 b)で試験したとき，指示値の変化は，表6の許容範囲に適合しなければならな
い。
表 6 電源電圧変動の許容範囲
動作条件
許容範囲
％
連続動作
±10
電圧低下表示直前の動作
±12
5.14 耐衝撃性 耐衝撃性は，次による。
a) Ⅰ種 7.2.16 a) によって試験したとき，相対基準誤差は，5.1を満足しなければならない。
b) Ⅱ種 7.2.16 b) によって試験したとき，相対基準誤差は，5.1を満足しなければならない。
5.15 予熱時間 予熱時間の許容範囲は，次による。
5.15.1 サーベイメータ 7.2.17 a) で試験したとき，指示値の変化は，表7の許容範囲に適合しなければな
らない。
表 7 予熱時間の許容範囲
電源投入後時間
許容範囲
％
60秒
±25
120秒
±20
5.15.2 測定装置 7.2.17 b)で試験したとき，指示値の変化は，表8の許容範囲に適合しなければならない。
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表 8 予熱時間の許容範囲
電源投入後時間
測定項目
許容範囲
％
60秒
入力感度変化
±10
高圧変化
± 2
120秒
入力感度変化
± 5
高圧変化
± 1
ただし，GM計数管専用の測定装置についての，高圧変化は，60秒，120秒のいずれの場合も±5 %と
する。
5.16 オーバロード特性 7.2.18によって試験したとき，サーベイメータ及び測定装置のオーバスケールす
るまでの時間は，5秒以下とする。また，入力信号を遮断したとき，指示値は，オーバスケール状態から
30秒以内に復帰しなければならない。測定範囲に復帰した5分後に相対基準誤差は，5.1の性能を満足し
なければならない。
5.17 分解時間 7.2.19によって試験したとき，分解時間は，製造業者公称値以下とする。
5.18 高圧変化時の指示値安定性（検出器だけ） 7.2.20によって試験したとき，高圧変化時の指示値の変
化は，±15 ％とする。また，バックグラウンド測定における指示値の変化は，高圧の変化及びバックグラ
ウンドの変化を含めた状態で50 ％以下でなければならない。
5.19 入力感度安定性（検出器だけ） 7.2.21によって試験したとき，ディスクリミネータレベル変化時の
指示値の変化は，±2 ％とする。
5.20 警報動作 7.2.22によって試験したとき，警報動作は，表9による。
表 9 警報動作試験
測定項目
動作内容
警報設定値の80 ％の信号入力
8時間の連続入力に対して警報は作動しない
警報設定値の120 ％の信号入力
10秒以内に警報が作動する
5.21 静電気放電の影響 7.2.23によって試験したとき，指示値の変化は，±10 %とする。また，警報は，
作動しないものとする。
5.22 外部電磁界の影響 7.2.24によって試験したとき，指示値の変化は，±10 %とする。また，警報は，
作動しないものとする。
5.23 バースト及び無線周波数の影響（交流電源駆動だけ） 7.2.25によって試験したとき，指示値の変化
は，±10 %とする。また，警報は，作動しないものとする。
5.24 サージイミュニティの影響（交流電源駆動だけ） 7.2.26によって試験したとき，指示値の変化は，
±10 %とする。また，警報は，作動しないものとする。
5.25 電源電圧低下及び電源一時的遮断の影響（交流電源駆動だけ） 7.2.27によって試験したとき，指示
値の変化は，±10 %とする。また，警報は，作動しないものとする。
5.26 放射電磁界強度特性 7.2.28によって試験したとき，放射電磁界強度は，周波数範囲1 kHzから1 GHz
の範囲で0.1 V/m以下とする。
6. 構造
6.1
構造一般 サーベイメータの構造は，次による。
a) 検出器，測定装置及び電源を一体で構成するか，又はケーブルなどで接続し，操作及び持ち運びが便
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利な構造とする。
b) サーベイメータは，放射性物質による汚染の除去を容易にするために表面ができる限り滑らかで突起
物が少なく，かつ，堅ろうな構造とする。
c) 振動，衝撃，電磁誘導などの影響を受けにくい構造とする。
d) 指示回路系の入力側から試験信号を入力できる構造とする。
e) 計数値の積算ができる回路を付加してもよい。
f)
表面汚染密度を直接表示する回路を付加してもよい。
g) 必要に応じて，計数装置用出力端子，記録計用出力端子，警報信号出力端子などを備えてもよい。
h) 次の条件において，この規格を満足しなければならない。
1) こん（梱）包保管時の耐温度性 ‒25 ℃から+50 ℃の環境に3か月間置いた状態。
2) こん包保管時の耐衝撃性 保管状態において，ピーク加速度300 m/s2，作用時間18 msの衝撃パル
ス（正弦半波パルス）による調和振動を3直交方向に加えた後の状態。
6.2
検出器 検出器は，次による。
a) 検出部の入射窓の厚さと，入射窓と線源の表面又は被測定物の表面間の空気層厚さとの和を，α線に
対しては2 mg/cm2以下，β線に対しては5 mg/cm2以下にすることができる構造とする。
b) 入射窓の前面に保護格子などを設けてもよい。ただし，検出器の入射窓面積に対する格子の占める面
積の割合は45 ％以下とする。
6.3
測定装置 測定装置は，次による。
a) 指示値の表示は，アナログ式又はディジタル式とする。また，光又は音によって計数（率）の程度を
示す装置を付加してもよい。
b) 指示値の単位は，s-1又はmin-1で目盛るものとする。また，これらの他にBq，Bq/cm2などの単位を付
加してもよい。
c) 指示値がある判定基準を超えた場合には，表示又は音によって知らせる機能を付加してもよい。
6.4
電源 電源は，次による。
a) 交流電源又は電池式とする。
b) 電源用電池の消耗度が容易にチェックできる機能をもたなければならない。
c) 一次電池は正しい極性で接続されるように，サーベイメータに明示しなければならない。
d) 二次電池の場合は，16時間以内に満充電にならなければならない。
7. 試験
7.1
試験条件
7.1.1
共通試験条件 7.2の各試験方法において，基準条件は，表10の第2欄による。特に指定のある場
合を除きこの規格における試験は，表10の第3欄に示す標準試験条件とする。
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表 10 共通試験条件
項目
基準条件
（製造業者の指定がないとき）
標準試験条件
（製造業者の指定がないとき）
予熱時間 min
15
15
環境温度 ℃
20
18〜22(2)
相対湿度 %
65
55〜75(2)
気圧 kPa
101.3
86 〜106(2)
電源電圧（1）
正規電源電圧
正規電源電圧±1 ％
電源周波数（1）
正規電源周波数
正規電源周波数±2 ％
電源波形（1）
正弦波
正弦波からのひずみ±5 ％
γ線バックグラウンド
μGy/h
0.2以下
0.25以下
放射線入射角度
製造業者によって指定する方向
±5°
外部電磁波
無視できるレベル
無視できるレベル
外部磁気誘導
無視できるレベル
地球磁界の2倍以下
サーベイメータを置く方向
製造業者が指定
照射方向に対し±2°
放射性物質による汚染
無視できるレベル
無視できるレベル
注(1) 商用電源を用いる場合に適用する。
(2) これらの値は，温暖な気候に適用可能である。より暑い，又は寒い気候時には，試験時の実際の値を明示し
なければならない。海抜の高いところでは，70 kPaまでとする。
7.1.2
線源 試験に用いる線源は，次による。
a) α線源は，241Amとする。
b) β線源は，36Cl又は204Tlとする。ただし，200 keV以下のβ線を対象とする測定器の場合は，14Cとす
る。
7.2
試験方法
7.2.1
試験の種類 試験の種類は，次による。
a) 形式試験 所定の仕様を満足していることを示すために設計段階で，一つ又は二つ以上の装置を用い
て行う試験。
b) 製造試験 装置が所定の規格を満足しているかを確認するために，製造工程又は製造後に個々の装置
に対して行う試験。
c) 受渡試験 装置が所定の条件下で仕様を満足していることを顧客に示すための契約上の試験。
備考 この規格に規定するすべての試験は，特に記載がない限り形式試験に関するものである。これ
らの試験の一部は，製造業者と使用者の合意のうえ受渡試験として用いてもよい。
7.2.2
試験方法一般 試験方法の一般条件は，次による。
a) すべての試験は，15分間の予熱時間が経過した後に実施するものとする。
b) 試験条件のうちのある項目の条件を変化させて試験する場合には，その項目以外の条件は，表10の標
準試験条件の範囲内にあるものとする。
c) ディジタル方式の場合の試験結果は，ディジタル誤差を除くものとする。
d) 計数率値が低い場合の測定では計数装置を用いて試験するものとし，この場合，サーベイメータの指
示値に影響を及ぼさないように留意して計数装置を用いる。
e) 試験における指示値の読取りには統計変動により十分な精度をもたない場合がある。この場合には，
読取り回数を増やし，平均値を用いる。このときの読取りの間隔は，少なくとも応答時間の3倍とす
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る。
7.2.3
相対基準誤差試験 α線又はβ線標準線源を用い，次の試験を行う。
a) 形式試験
1) 直線目盛の場合は，全指示範囲について各指示範囲の最大値の25 ％，50 ％及び75 ％近辺の3ポ
イントについて相対基準誤差を求める。
2) 対数目盛及びディジタル式の場合は，各デカードの0.25，0.5及び0.75近辺の3ポイントについて
相対基準誤差を求める。
3) 線源による照射試験が困難な場合には，7.2.3 c) に示す電気試験を行ってもよいが，サーベイメータ
の最高感度レンジ及び最大レンジにおいては，線源を使用しなければならない。
なお，測定装置だけの試験は，7.2.3 c) に示す電気試験による。
b) 製造試験
1) 直線目盛の場合には，有効測定範囲の各レンジについて，最大目盛値の50 ％〜75 ％の1ポイント
について相対基準誤差を求める。
2) 対数目盛及びディジタル方式の場合には，有効測定範囲の各デカードの任意の1ポイントについて
相対基準誤差を求める。
3) 線源による照射試験が困難な場合には，7.2.3 c) に示す電気試験を行ってもよいが，有効測定範囲の
少なくとも一つのレンジにおいては，線源を使用しなければならない。
なお，測定装置だけの試験は，7.2.3 c) に示す電気試験による。
c) 電気試験 試験は，検出器からの出力信号に近似した波形の信号を用い，サーベイメータの検出器を
除く指示回路系入力端から信号を入力し，式 (1) より相対基準誤差E (%) を求める。
100
1×
−
×
×
=
q
I
Q
i
E
··································································· (1)
ここに， E： 相対基準誤差
I： ある線源照射時の指示値
Q： Iと同じ指示値を指示する信号入力パルス数
q： Qとは異なる信号入力パルス数
i： qを入力したときの指示値
7.2.4
機器効率試験 機器効率試験は，7.1.2に記載する標準線源を用いて，検出器の入射窓面積より大
きい面積の標準線源を，特に指定のない限り検出器の表面から5 mmの位置に検出器の表面と平行になる
ように置き，自然計数率を差し引いた正味計数率を測定し，式 (2) によって機器効率 (εi) を算出する。
ただし，入射面積より大きい面積の標準線源が得られない場合は，標準線源を用いて入射窓の全面積につ
いて分割測定し，計算によって正味計数率を求めてもよい。
算出された機器効率から製造業者公称値を差し引いた値の製造業者公称値に対する百分率を求める。
A
N
i
×
=φ
ε
················································································ (2)
ここに， εi： 機器効率
N： 正味計数率(s-1)
φ： 線源の単位面積当たりのα粒子又はβ粒子表面放出率（s-1/cm2）
A： 検出器の入射窓面積（cm2）
7.2.5 検出限界試験 0.25 μGy/h程度のγ線場において，単位面積当たりの最小検出表面放出率を求める。
7.2.6
β線エネルギー特性試験 次のエネルギー範囲において，機器効率試験を実施する。
a) 200 keV以下のエネルギー範囲において1種類の線源
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b) 200〜500 keVの範囲において1種類の線源
c) 500 keV以上の範囲において1種類の線源
なお，線源は，JIS Z 4334に規定する校正用線源を用いる。推奨線源は，14C（156 keV），147Pm（225
keV），60Co（310 keV），36Cl（710 keV），204Tl（763 keV）及び90Sr/90Y（2 274 keV）とする。
7.2.7
検出器入射窓面の機器効率の均一性試験 試験は，直径25 mm以下の線源を用い，次による。
a) 長方形の検出面では，縦及び横をそれぞれ約25 mmごとに分割して，各エリアでの機器効率と平均値
を求める。
b) 円形の検出面では，中心から約25 mmごとに環状分割し，各エリアでの機器効率と平均値を求める。
25 mm以下の直径の場合は，中心部と他の場所において実施する。また，扇形に3分割して各エリ
アでの機器効率と平均値を求める。
c) 面積が625 cm2以上の大面積検出器の場合，可能な限り同じ面積で100 cm2以下に分割して各エリアで
の機器効率と平均値を求める。
7.2.8
自然計数率試験 自然計数率の測定は，0.2 μGy/h以下の環境において試験する。
a) α線を測定する状態で，30分以上の計数時間における積算の自然計数を測定し，その結果から自然計
数率（s-1）を求める。
b) β線を測定する状態で，10分以上の計数時間における積算の自然計数を測定し，その結果から自然計
数率（s-1）を求める。
7.2.9
他の放射線の影響に対する試験 他の放射線の影響に対する試験は，次による。
a) γ線の影響
1) α線測定用 γ線の影響試験は，次による。
1.1) サーベイメータの場合は，直線目盛の場合には最高感度レンジ，対数目盛の場合には最低デカー
ド，ディジタル表示の場合には2けた目の表示をするようにα線を照射し，このときの指示値を
基準値とする。次に，α線を照射した状態で137Cs γ線源を用いて10 mGy/h以上のγ線を照射し，
このときの指示値から基準値を差し引いた値の基準値に対する百分率を求める。
1.2) 検出器だけの場合は，約10 s-1の指示値となるようにα線源を照射し，この指示値を基準値とする。
次に，α線を照射した状態で137Cs γ線源を用いて10 mGy/h以上のγ線を照射し，このときの指
示値から基準値を差し引いた値の基準値に対する百分率を求める。
2) β線測定用及びα/β線測定用 137Cs γ線源を用いて10 μGy/h以上のγ線を照射し，そのときの指
示値から，10 μGy/h当たりの計数率を求める。このとき，測定器の表示がBq又はBq/cm2である場
合は，その単位における10 μGy/h当たりの増加率を求める。
b) β線の影響 この試験は，α線用サーベイメータ及びα線用検出器のβ線の影響を評価するもので，
α/β線用には適用しない。
試験に用いるβ線源は，370 kBqを超えない強度の90Sr/90Y線源で，直径20 mm以下のサイズとす
る。また，α線源はできるだけ放射能強度が弱く，検出器の窓面積よりも十分に小さいものとする。
特に指定のない限り，α線源を検出面から5 mm以内の近接した位置で計数し，基準となる計数率
を得る。このとき，測定器が直線目盛の場合には最高感度レンジ，対数目盛の場合には最低デカード，
デジタル表示の場合は2けた目以下の表示をする状態で測定する。検出器及びα線源の配置を変えず
にβ線源を検出器窓の直近に置き，そのときの計数率を得る。基準とした計数率に対し，β線照射に
よって増加した計数率の百分率を求める。
c) α線の影響 この試験は，5 mg/cm2以下の窓厚をもつβ線用サーベイメータ及び検出器のα線に対す
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る感度を評価するもので，5 mg/cm2を超える窓厚のβ線用サーベイメータには適用しない。
α線源（241Amなど）を検出器表面から10 mm以内に置き照射する。このとき用いる線源の全等価
厚は，1.5 mg/cm2以下とする。線源からのα線表面放出率に対し，計数率の百分率を求める。ただし，
241Amの低エネルギーγ線の影響を受けるような機器においては，γ線の影響をあらかじめ評価し，
α線による計数率の増加を求める。
7.2.10 感光性試験 キセノン放電灯又は波長が300 nm以下の光を遮断した超高圧水銀灯を用い，検出器
の入射窓面における照度が2 000 lx以上になるように，光を照射したときの計数率を測定し，7.2.8の自然
計数率試験で求めた自然計数率を差し引いて光による計数率の増加を算出する。
7.2.11 指示値変動試験 次の計数率になるα線又はβ線を照射し，統計的に独立とみなせる時間間隔（応
答時間の3倍程度）で少なくとも20回指示値を読み取り変動係数を求める。
a) 直線目盛の場合は，最高感度指示範囲で最大目盛値の1/3
b) 対数目盛の場合は，最小デカードの0.3
c) ディジタル表示の場合は，最小ディジットの10倍
7.2.12 応答時間試験 サーベイメータ及び測定装置に，パルス信号発生装置を接続し，パルス信号を入力
する。この状態でパルス信号の発生率を急に変化させ，指示値がN0からN1になるとき，指示値がN0から
式 (3) で示される値 (Nʼ ) になるまでに要する時間を測定する。
)
(
0.9
0
1
0
N
N
N
N
−
×
+
=ʼ
······························································ (3)
測定は，指示値を増加させる場合及び減少させる場合について行い，増加の場合にはN1/N0が，減少の
場合はN0／N1が10以上になる計数率で行う。試験は，検出器からの出力信号に近似した波形の信号を用
い，サーベイメータでは検出器を除く指示回路系入力端から信号を入力して行う。
7.2.13 温度特性試験 温度特性試験は，次による。
a) 温度安定度 装置を恒温槽内に設置し，20 ℃及び5.11の表1，表2及び表3に示す温度範囲内の最低
温度及び最高温度でそれぞれ4時間放置し，最後の30分間の値を記録する。20 ℃における値を基準
とし，それぞれの周囲温度(3)における値から基準値を差し引いた値の基準値に対する百分率を求める。
なお，温度変化は，1時間当たり10 ℃以下とする。また，測定項目は，次による。
注(3) 周囲温度の許容範囲は，いずれも±2 ℃とする。
1) サーベイメータ 自然計数率及び数え落としが十分無視できる計数率のα線又はβ線を照射して指
示値を読み取る。
2) 測定装置 測定装置にパルス信号発生装置を接続し，パルス信号を入力する。この状態で入力信号
による指示値，検出器への供給高圧及び入力感度の変化を測定する。
このとき，パルス信号発生器は恒温槽の外に設置し，入力感度はパルス信号発生器の通常指示値
が半分になるような波高値に調整して入力する。高圧は，400 V及び1 400 Vにおいて測定するか，
又は高圧設定範囲の最小及び最大値において測定するかのいずれかとする。
なお，半導体検出器専用の高圧の場合には上記試験を実施しなくてよい。
3) 検出器 自然計数率及び数え落としが十分無視できる計数率のα線又はβ線を照射して指示値を読
み取る。検出器に接続する測定装置は，恒温槽の外に設置する。
なお，高圧及び入力感度は，製造業者が指定するものとする。
b) 温度衝撃 装置を恒温槽内に設置し，20 ℃の温度で40分以上放置して指示値，高圧変化及び入力感
度変化を記録する。次に40 ℃（室内用は35 ℃）の温度に5分以内に変化させる。変化させた後5
分後の指示値，高圧変化及び入力感度変化を記録する。その後，15分ごとに値を記録し，2時間測定
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する。次に20 ℃の温度で4時間以上放置して指示値を記録する。次に‒10 ℃（室内用は10 ℃）の温
度に5分以内に変化させる。変化させた後，5分後の指示値を記録する。その後，15分ごとに値を記
録し2時間測定する。測定項目は，7.2.13 a) による。
c) 最低温度時の起動試験（室外用だけ） 電源を入れない状態で恒温槽において‒10 ℃の環境に4時間
放置後，電源を入れ，動作することを確認する。
7.2.14 耐湿性試験 周囲の温度35 ℃で相対湿度40 ％，65 ％及び85 ％について，各相対湿度(4)の環境
に4時間以上放置した後，7.2.13に規定する測定項目について測定を実施する。65 ％における指示値を基
準値とし，40 ％及び85 ％における指示値から基準値を差し引いた値の基準値に対する百分率を求める。
注(4) 湿度の許容範囲は±5 ％とする。
7.2.15 電源電圧の変動に対する安定性試験 電源電圧の変動に対する安定性試験は，次による。
a) 交流電源使用時 電源電圧を定格電圧値の88 ％，100 ％及び110 ％にした場合の指示値を読む。定
格電圧における指示値を基準値とし，各電圧における指示値から基準値を差し引いた値の基準値に対
する百分率を求める。測定項目は7.2.13に規定する項目について測定する。
b) 電池使用時
1) 一次電池 自然計数率及び数え落としが十分無視できる計数率のα線又はβ線を照射した状態で，
次の試験を行う。
1.1) サーベイメータを標準試験条件で24時間連続稼動し，動作開始時と終了時にそれぞれ10回指示
値を読み取り平均する。終了時の指示値の平均から開始時の指示値の平均を差し引いた値の開始
時の指示値の平均に対する百分率を求める。
1.2) 1.1) の状態で連続動作させ，電圧低下状態となる直前の指示値を10回読み取り平均する。その指
示値の平均から開始時の指示値の平均を差し引いた値の開始時の指示値の平均に対する百分率を
求める。
2) 二次電池 自然計数率及び数え落としが十分無視できる計数率のα線又はβ線を照射した状態で，
次の試験を行う。
2.1) サーベイメータを標準試験条件で12時間連続稼動し，動作開始時と終了時にそれぞれ10回指示
値を読み取り平均する。終了時の指示値の平均から開始時の指示値の平均を差し引いた値の開始
時の指示値の平均に対する百分率を求める。
2.2) 2.1) の状態で連続動作させ，電池低下状態となる直前の指示値を10回読み取り平均する。その指
示値の平均から開始時の指示値の平均を差し引いた値の開始時の指示値の平均に対する百分率を
求める。
7.2.16 耐衝撃性試験 耐衝撃性試験は，次による。
a) Ⅰ種 耐衝撃性試験 装置にピーク加速度300 m/s2，作用時間18 msの衝撃パルス（正弦半波パルス）
による調和振動を3直交方向に加えた後，7.2.3の試験を行う。
b) Ⅱ種 耐衝撃性試験 装置を厚さ20 mm以上のラワン材などの木製の台上に通常の保管状態に置き，
一辺を台上につけたままで，他の辺を高さ50 mmになるように持ち上げた後落とす。この方法によっ
て，前後左右の各辺について，各辺ごとに5回ずつ合計20回衝撃を加えた後，7.2.3の試験を行う。
7.2.17 予熱時間試験 予熱時間試験は，次による。
a) サーベイメータ 電源を切った状態でサーベイメータを4時間以上放置する。その後，電源を入れて
60秒及び120秒の指示値を測定する。15分後に線源照射時の指示値を10回読み取り平均し，基準値
とする。電源投入から60秒後及び120秒後の指示値から基準値を引いた値の基準値に対する百分率を
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求める。
b) 測定装置 パルス信号発生器で信号を入力する。そのときの信号は，入力感度の1.1倍以下とする。
また，電圧計で高圧を測定する。このとき，高圧出力の負荷は回路の最大負荷をとる。この状態で入
力感度及び高圧を測定する。
電源を切った状態でサーベイメータを4時間以上放置する。その後，電源を入れて60秒及び120
秒の指示値を測定する。15分後の指示値を10回読み取り平均し，基準値とする。電源投入から60秒
後及び120秒後の指示値から基準値を引いた値の基準値に対する百分率を求める。
7.2.18 オーバロード試験 パルス信号発生器で最大測定範囲の10倍又は106 s-1の計数率のいずれか大き
い方の信号を1分間入力する。この試験は，各レンジで実施する。オーバロード試験終了から5分後に7.2.3
の試験を行う。
7.2.19 分解時間試験 分解時間試験は，次による。
a) サーベイメータ ダブルパルス信号発生器からの信号を用いて分解時間を測定する。分解時間の1/10
程度のパルス幅でパルス間隔は，当初分解時間の10倍程度のパルスを入力する。周波数は，最大測定
レンジで測定できる周波数とし，パルスの立ち上がり時間は，分解時間の1/10程度としてパルスを入
力する。パルス間隔を変化させ，最初の指示値の75 ％になるときにパルス間隔を測定する。この試
験は，すべてのレンジについて行う。
b) 検出器 分解時間(τ)は，2線源法によって求めるものとし，式(4)による。
2
2
2
1
2
12
12
2
1
M
M
M
M
M
M
M
b
−
−
−
−
+
=
τ
································································· (4)
ここに， τ： 分解時間
Mb： バックグラウンド計数率
M1： 線源1についての計数率
M2： 線源2についての計数率
M12： （線源1＋線源2）についての計数率
分解時間が1秒を超える場合には，製造業者は分解時間を明示しなければならない。
c) 測定装置 入力信号は，ダブルパルス信号発生器を使用して測定する。ダブルパルスの間隔をゆっく
りと減少させ，指示値が変化するときの間隔を読み取る。直線目盛の場合，各レンジにおいて測定す
る。
7.2.20 高圧変化時の指示値安定性試験（検出器だけ） 検出器を測定装置に接続し，検出器への印加電圧
を使用電圧に設定する。α線又はβ線を照射して計数し，そのときの指示値を基準値とする。印加電圧を
±3 ％変化させたときの指示値を読み取る。指示値から基準値を差し引いた値の基準値に対する百分率を
求める。
7.2.21 入力感度安定性試験（検出器だけ） 検出器を測定装置に接続し，検出器への印加電圧を使用電圧
に設定する。α線又はβ線を照射して計数し，そのときの指示値を基準値とする。回路の発光弁別器レベ
ルを±10 ％変化させたときの指示値を読み取る。指示値から基準値を差し引いた値の基準値に対する百分
率を求める。
7.2.22 警報動作試験 パルス信号発生装置を接続し，警報が作動する入力信号（X）の80 ％の信号を連
続8時間入力して警報が作動しないことを確認する。次にXの120 ％の信号を入力したとき，警報が作動
するまでの時間を測定する。この試験は，少なくとも6時間から12時間の間隔で4回以上繰り返す。
7.2.23 静電気放電の影響に対する試験 150 pFのコンデンサに330 Ωの抵抗を介して6 kVでチャージし
た状態に相当する放電を与える（JIS C 61000-4-2 レベル3の接触放電）。表面が絶縁されているものは，8
15
Z 4329：2004
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
kV（JIS C 61000-4-2 レベル3）の気中放電とする。標準試験条件における指示値を基準とし，放電時にお
ける指示値から基準値を差し引いた値の基準値に対する百分率を求める。
7.2.24 外部電磁界の影響に対する試験 自然計数率及び数え落としが十分無視できる計数率のα線又は
β線を照射した状態で，JIS C 61000-4-3に基づき外部電磁界試験を実施する。10 V/mの強度で，80 MHz
から1 GHzまでの周波数を1 ％ステップで変化させて各周波数での指示値を読み取る。標準試験条件にお
ける指示値を基準とし，各周波数における指示値から基準値を差し引いた値の基準値に対する百分率を求
める。電池駆動のサーベイメータについては，性能は要求しないが27 MHzの周波数においても実施する。
なお，試験ポイントを省略する場合には，20 V/mの強度で次の周波数において試験をすることができる。
(27)，80，90，100，110，120，130，140，150，160，180，200，220，240，260，290，320，350，380，
420，510，560，620，680，750，820，900及び1 000 MHz
7.2.25 バースト及び無線周波数の影響に対する試験 自然計数率及び数え落としが十分無視できる計数
率のα線又はβ線を照射した状態で，JIS C 61000-4-4及びJIS C 61000-4-6に基づきバースト及び無線周波
数による試験を実施する（レベル3において）。標準試験条件における指示値を基準とし，各周波数におけ
る指示値から基準値を差し引いた値の基準値に対する百分率を求める。
7.2.26 サージイミュニティの影響に対する試験 自然計数率及び数え落としが十分無視できる計数率の
α線又はβ線を照射した状態で，JIS C 61000-4-5に基づきサージイミュニティ試験を実施する（レベル3
において）。標準試験条件における指示値を基準とし，各周波数における指示値から基準値を差し引いた値
の基準値に対する百分率を求める。
7.2.27 電源電圧低下及び電源一時的遮断の影響に対する試験 自然計数率及び数え落としが十分無視で
きる計数率のα線又はβ線を照射した状態で，IEC 61000-4-11に基づき電源電圧低下試験及び電源一時遮
断試験を実施する。標準試験条件における指示値を基準とし，各周波数における指示値から基準値を差し
引いた値の基準値に対する百分率を求める。
7.2.28 放射電磁界強度特性試験 サーベイメータを電磁遮へい（蔽）室に設置し，アンテナを装置から1
mの距離に置く。電源を入れない状態で表11に示す周波数の放射電磁界強度(V/m)を測定する。次に電源
を投入し，表11の周波数で電磁界強度を測定する。電源を入れない状態と電源を入れた状態での電磁界強
度の差を測定する。
表 11 放射電磁界強度特性試験の測定周波数
測定周波数範囲
Hz
周波数可変幅
Hz
1 k−50 k
100
50 k−500 k
400
500 k−1 M
2 k
1 M−10 M
10 k
10 M−1 G
50 k
8. 表示 サーベイメータには，見やすい箇所に容易に消えない方法で，次の事項を表示しなければなら
ない。
a) 名称
b) 形名（製造業者による。）
c) 種類（4.1〜4.4の装置の種類）
d) 製造番号
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Z 4329：2004
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
e) 製造年月又はその略号
f)
製造業者名又はその略号
9. 取扱説明書 サーベイメータには，少なくとも次の事項を記載した取扱説明書を添付しなければなら
ない。
a) 検出器の種類，寸法及び入射窓の厚さ(mg/cm2)
b) 相対基準誤差
c) 7.2.6に規定したβ線最大エネルギーと機器効率の関係を示す図（β線用及びα/β線用の場合）
d) 応答時間
e) 他の放射線の影響
f)
電池の種類，形式及び個数（交流電源が使用可能なものは，定格電源電圧及び消費電力）
g) 電池の使用寿命時間
h) 質量及び寸法
i)
使用上の注意
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Z 4329：2004
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書（参考）JISと対応する国際規格との対比表
JIS Z 4329:2004 放射性表面汚染サーベイメータ
IEC 60325:2002 α，β及びα/β（60 keV以上のβエネルギー）汚染計及びモニタ
(I) JISの規定
(II) 国際
規格番号
(III) 国際規格の規定
(IV) JISと国際規格との技術的差異の項目ご
との評価及びその内容
表示箇所：本体
表示方法：点線の下線
(V) JISと国際規格
との技術的差異の理
由及び今後の対策
項目番号
内容
項目
番号
内容
項目ごと
の評価
技術的差異の内容
1. 適用範囲
物体表面上のα線放出核
種，又は最大エネルギー
60 keV以上のβ線を放出
するβ線放出核種による
汚染密度を測定する放射
性表面汚染サーベイメー
タ又は警報付放射性表面
汚染サーベイメータ。
IEC
60325
1
JISと同じ
IDT
―
2. 引用規格
JIS C 61000-4-2〜JIS C
61000-4-6
JIS Z 4001
JIS Z 4334
JIS Z 8103
IEC 61000-4-11
2
IEC 61000-4-2〜4-6，4-11
IEC 60038，IEC 60050-151
IEC 60068，IEC 61187
ISO 7503，ISO 8769
MOD
/削除
IEC 61000-4-2〜4-6は，対応す
るJIS(JIS C 61000-4-2〜JIS C
61000-4-6)を引用。
IEC 60038，IEC 60050-151
IEC 60068，IEC 61187
ISO 7503，ISO 8769を削除。
JISに引用したJIS
は，基本的にIEC又
はISO規格に適合し
ており整合が図られ
ている。
3. 定義
有効測定範囲，
検出器の入射窓面積，
表面放出率，線源効率，
機器効率，指示値，
指示誤差，相対指示誤差，
相対基準誤差，応答時間，
3
有効測定範囲，
検出器の入射窓面積，
表面放出率，線源効率，
機器効率，
指示誤差，相対指示誤差，
相対基準誤差，応答時間，
MOD
/削除
/追加
α，β及びα/β表面汚染モニ
タ，高効率線源，小面積線源，
全等価厚，表面放出率を削除。
指示値， デカードを追加。
α，β及びα/β表面
汚染モニタは，α，
β及びα/β表面汚
染サーベイメータに
含むため削除した。
その他は，本文中に
1
7
Z
4
3
2
9
：
2
0
0
4
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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Z 4329：2004
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
(I) JISの規定
(II) 国際
規格番号
(III) 国際規格の規定
(IV) JISと国際規格との技術的差異の項目ご
との評価及びその内容
表示箇所：本体
表示方法：点線の下線
(V) JISと国際規格
との技術的差異の理
由及び今後の対策
項目番号
内容
項目
番号
内容
項目ごと
の評価
技術的差異の内容
3. 定義
（続き）
レスポンス，デカード，
変動係数，
単位面積当たりの最小検
出表面放出率，
検出器，測定装置，
α，β及びα/β表面汚染
サーベイメータ
レスポンス，
変動係数，
最小検出表面放出率，
検出器，測定装置，
α，β及びα/β表面汚染サー
ベイメータ
α，β及びα/β表面汚染モニ
タ，
高効率線源，小面積線源，
全等価厚
表面放出率
別の言葉で説明して
いるため削除した。
指示値，デカードは，
現行JISにあり，本
文中で記載があるた
め追加した。
IEC規格の見直しの
際，改正提案を検討
する。
4. 種類
4.1構成によ
る装置の種
類
a) 検出器と測定装置が
一体型のもの。又は，ケ
ーブルなどで接続されて
いるが交換不可のもの。
b) 検出器と測定装置が
ケーブルなどで接続し，
検出器が交換可能なも
の。
5
JISと同じ
IDT
―
4.2使用方法
による装置
の種類
a) 携帯形装置
b) 移動可能形装置
5
JISと同じ
IDT
―
4.3電源によ
る装置の種
類
a) 交流電源用
b) 一次電池又は二次電
池用
5
JISと同じ
IDT
―
4.4測定放射
線による装
置の種類
a) α線用
b) β線用
c) α/β線用
5
JISと同じ
IDT
―
1
8
Z
4
3
2
9
：
2
0
0
4
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
(I) JISの規定
(II) 国際
規格番号
(III) 国際規格の規定
(IV) JISと国際規格との技術的差異の項目ご
との評価及びその内容
表示箇所：本体
表示方法：点線の下線
(V) JISと国際規格
との技術的差異の理
由及び今後の対策
項目番号
内容
項目
番号
内容
項目ごと
の評価
技術的差異の内容
5. 性能
5.1 相対基
準誤差
5.1.1 汚染サーベイメー
タ及び警報付き汚染サー
ベイメータの場合
5.1.2 測定装置の場合
9.4.1
JISと同じ
IDT
―
5.2 機器効
率
9.2.3.2
JISと同じ
IDT
―
5.3 検出限
界
9.4.3
JISと同じ
IDT
―
5.4 β線エ
ネルギー特
性
9.5.2.1
JISと同じ
IDT
―
5.5 検出器
入射窓面の
機器効率の
均一性
9.3.1
JISと同じ
IDT
―
5.6 自然計
数率
9.7
JISと同じ
IDT
―
5.7 他の放
射線の影響
5.7.1 γ線の影響
a) α線測定
b) β線測定
5.7.2 β線の影響
5.7.3 α線の影響
9.6.2.1
9.6.2.2
9.6.3
9.6.4
9.6.5
JISと同じ
JISと同じ
JISと同じ
JISと同じ
中性子の影響
IDT
IDT
IDT
IDT
MOD
/削除
―
“特に規定は定めない”ため削
除。
中性子の規定は，別
途新たに，制作中の
ため。
1
9
Z
4
3
2
9
：
2
0
0
4
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
(I) JISの規定
(II) 国際
規格番号
(III) 国際規格の規定
(IV) JISと国際規格との技術的差異の項目ご
との評価及びその内容
表示箇所：本体
表示方法：点線の下線
(V) JISと国際規格
との技術的差異の理
由及び今後の対策
項目番号
内容
項目
番号
内容
項目ごと
の評価
技術的差異の内容
5.8感光性
光による計数率の増加
α線：0.01×As-1
β線：0.1×As-1
MOD
/追加
光による計数率の増加を規定。 使用環境を考慮し
た。
IEC規格の見直しの
際，改正提案を検討
する。
5.9指示値変
動
8.1.1
JISと同じ
IDT
―
5.10応答時
間
8.2.1
JISと同じ
IDT
―
5.11温度特
性
温度安定度
温度衝撃
最低温度での起動試験
10.1.1
JISと同じ
IDT
―
5.12耐湿性
10.2.1
JISと同じ
IDT
―
5.13電源電
圧の変動に
対する安定
性
5.13.1交流電源使用時
5.13.2電池使用時
10.3.1.1
.1
10.3.2.1
JISと同じ
JISと同じ
IDT
―
5.14耐衝撃
性
Ⅰ種，Ⅱ種を記載
6.8
Ⅰ種はJISと同じ
MOD
/追加
Ⅱ種を追加し，現行JISの試験
方法での性能を規定。
Ⅰ種でIEC規格と整
合。
Ⅱ種についてIEC規
格の見直しの際，提
案を検討する。
5.15予熱時
間
5.15.1サーベイメータ
5.15.2測定装置
8.5.1
8.5.2
JISと同じ
JISと同じ
IDT
―
5.16オーバ
ロード特性
8.7.1
JISと同じ
IDT
―
5.17分解時
間
8.6.1
JISと同じ
IDT
―
2
0
Z
4
3
2
9
：
2
0
0
4
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(I) JISの規定
(II) 国際
規格番号
(III) 国際規格の規定
(IV) JISと国際規格との技術的差異の項目ご
との評価及びその内容
表示箇所：本体
表示方法：点線の下線
(V) JISと国際規格
との技術的差異の理
由及び今後の対策
項目番号
内容
項目
番号
内容
項目ごと
の評価
技術的差異の内容
5.18高圧変
化時の指示
値安定度
（検出器だ
け）
8.8
JISと同じ
IDT
―
5.19入力感
度安定性
（検出器だ
け）
8.9
JISと同じ
IDT
―
5.20警報動
作
8.4.1
JISと同じ
IDT
―
5.21静電気
放電の影響
10.4.1.1
JISと同じ
IDT
―
5.22外部電
磁界の影響
10.4.2.1
JISと同じ
IDT
―
5.23バース
ト及び無線
周波数の影
響（交流電源
駆動だけ）
10.4.3.1
JISと同じ
IDT
―
5.24サージ
イミュニテ
ィの影響（交
流電源駆動
だけ）
10.4.4.1
JISと同じ
IDT
―
2
1
Z
4
3
2
9
：
2
0
0
4
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(I) JISの規定
(II) 国際
規格番号
(III) 国際規格の規定
(IV) JISと国際規格との技術的差異の項目ご
との評価及びその内容
表示箇所：本体
表示方法：点線の下線
(V) JISと国際規格
との技術的差異の理
由及び今後の対策
項目番号
内容
項目
番号
内容
項目ごと
の評価
技術的差異の内容
5.25電源電
圧低下及び
電源一時的
遮断の影響
（交流電源
駆動だけ）
10.4.5.1 JISと同じ
IDT
―
5.26放射電
磁界強度特
性
10.4.6.1 JISと同じ
IDT
―
6. 構造
6.1構造一般
11.1
11.2
保管時の規定はJISと同じ
MOD
/追加
構造一般を追加
サーベイメータの品
質を保証するうえか
らも構造を規定する
必要があり，IEC規
格の見直しの際，提
案を検討する。
6.2検出器
MOD
/追加
検出器構造追加
同上
6.3測定装置
MOD
/追加
測定装置構造追加
同上
6.4電源
MOD
/追加
電源構造追加
同上
7. 試験
7.1試験条件
7.1.1 共通試験条件
7.1.2 線源
α線源：241Am
β線源：36Cl又は204Tl
7.2.3.1
7.2.3.2
α線源：241Am又は239Pu
に対して239Puを削除
MOD
/削除
国内では，239Puを使用しない
ため削除した。
7.2試験方法
7.2.1 試験の種類
7.2.2 試験方法一般
7.2.3 相対基準誤差試験
9.4.2
JISと同じ
JISと同じ
JISと同じ
IDT
IDT
IDT
―
―
―
2
2
Z
4
3
2
9
：
2
0
0
4
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(II) 国際
規格番号
(III) 国際規格の規定
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との評価及びその内容
表示箇所：本体
表示方法：点線の下線
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との技術的差異の理
由及び今後の対策
項目番号
内容
項目
番号
内容
項目ごと
の評価
技術的差異の内容
7.2試験方法
（続き）
a) 型式試験
b) 製造試験
7.2.4 機器効率試験
線源配置条件を追加
7.2.5 検出限界試験
7.2.6 β線エネルギー特
性試験
7.2.7 検出器入射窓面の
機器効率の均一性試験
7.2.8自然計数率試験
a)，b)を追加
7.2.9 他の放射線の影響
に対する試験
a) γ線の影響
b) β線の影響
c) α線の影響
7.2.10 感光性試験
7.2.11 指示値変動試験
7.2.12 応答時間試験
9.4.2.1
9.4.2.2
9.4.2.3
9.2.3
9.4.3
9.5.2.2
9.3.2
9.7
9.6.2
9.6.3
9.6.4
9.6.5
8.1.2
8.2.2
JISと同じ
JISと同じ
JISと同じ
JISと同じ
JISと同じ
JISと同じ
JISと同じ
JISと同じ
JISと同じ
JISと同じ
中性子の影響
試験方法は特に定めない
JISと同じ
JISと同じ
IDT
IDT
IDT
MOD
/追加
IDT
IDT
IDT
MOD
/追加
IDT
IDT
IDT
IDT
MOD
/削除
MOD
/追加
IDT
IDT
―
―
―
線源配置条件を追加
―
―
―
a)α線計数時間30分以上を追加
b)β線計数時間10分以上を追加
―
―
―
―
“特に規定は定めない”ため削
除
一定照度を照射したときの計数
率増加試験を追加
―
―
機器効率データの整
合性を取るため追加。
IEC規格の見直しの
際，提案を検討する。
統計的誤差を考慮し
て規定した。
IEC規格の見直しの
際，提案を検討する。
中性子の規定は，別途
新たに，制作中のた
め。
使用環境を考慮。
IEC規格の見直しの
際，提案を検討する。
2
3
Z
4
3
2
9
：
2
0
0
4
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(II) 国際
規格番号
(III) 国際規格の規定
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との評価及びその内容
表示箇所：本体
表示方法：点線の下線
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との技術的差異の理
由及び今後の対策
項目番号
内容
項目
番号
内容
項目ごと
の評価
技術的差異の内容
7.2試験方法
（続き）
7.2.13 温度特性試験
a) 温度安定度
b) 温度衝撃
c) 最低温度時の起動試
験（室外用だけ）
7.2.14 耐湿性試験
7.2.15電源電圧の変動に
対する安定性試験
a) 交流電源使用時
b) 電池使用時
7.2.16耐衝撃性試験
a) Ⅰ種 耐衝撃性試験
b) Ⅱ種 耐衝撃性試験
7.2.17予熱時間試験
a) サーベイメータ
b) 測定装置
7.2.18オーバロード試験
7.2.19分解時間試験
a) サーベイメータ
b) 検出器
c) 測定装置
7.2.20高圧変化時の指示
値安定性試験（検出器だ
け）
10.1.2
a)
b)
c)
10.2.2
10.3
10.3.1.1.2
10.3.1.1.3
10.3.2.2
6.8
8.5.1
8.5.2
8.7.2
8.6.1
8.6.2
8.6.3
8.8
JISと同じ
JISと同じ
JISと同じ
JISと同じ
JISと同じ
JISと同じ
JISと同じ
JISと同じ
JISと同じ
JISと同じ
JISと同じ
JISと同じ
JISと同じ
JISと同じ
JISと同じ
JISと同じ
JISと同じ
IDT
IDT
IDT
IDT
IDT
IDT
IDT
IDT
IDT
IDT
MOD
/追加
IDT
IDT
IDT
IDT
IDT
IDT
IDT
―
―
―
―
―
―
―
―
―
―
―
現行JISの試験方法をⅡ種用と
して追加
―
―
―
―
―
―
―
―
―
Ⅰ種でIEC規格と整
合。
Ⅱ種についてIEC規
格の見直しの際，提
案を検討する。
2
4
Z
4
3
2
9
：
2
0
0
4
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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(I) JISの規定
(II) 国際
規格番号
(III) 国際規格の規定
(IV) JISと国際規格との技術的差異の項目ご
との評価及びその内容
表示箇所：本体
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(V) JISと国際規格
との技術的差異の理
由及び今後の対策
項目番号
内容
項目
番号
内容
項目ごと
の評価
技術的差異の内容
7.2試験方法
（続き）
7.2.21入力感度安定性試
験（検出器だけ）
7.2.22警報動作試験
7.2.23静電気放電の影響
に対する試験
7.2.24外部電磁界の影響
に対する試験
7.2.25バースト及び無線
周波数の影響に対する試
験
7.2.26サージイミュニテ
ィの影響に対する試験
7.2.27電源電圧低下及び
電源一時的遮断の影響に
対する試験
7.2.28放射電磁界強度特
性試験
8.9
8.4.2
10.4.1.2
10.4.2.2
10.4.3.2
10.4.4.2
10.4.5.2
10.4.6.2
JISと同じ
JISと同じ
JISと同じ
(IEC 61000-4-2を引用)
JISと同じ
(IEC 61000-4-3を引用)
JISと同じ
(IEC 61000-4-4，4-6を引用)
JISと同じ
(IEC 61000-4-5を引用)
JISと同じ
JISと同じ
IDT
IDT
IDT
IDT
IDT
IDT
IDT
IDT
―
―
(IEC 61000-4-2に対応したJIS
を引用）
(IEC 61000-4-3に対応したJIS
を引用）
(IEC 61000-4-4，4-6に対応した
JISを引用）
(IEC 61000-4-5に対応したJIS
を引用）
―
―
8.表示
MOD
/追加
IECには機体銘板の記載なし
IEC規格の見直しの
際，提案を検討する。
9.取扱説明
書
12
JISと同じ
IDT
―
JISと国際規格との対応の程度の全体評価：MOD
備考1. 項目ごとの評価欄の記号の意味は，次のとおりである。
― IDT……………… 技術的差異がない。
― MOD/削除……… 国際規格の規定項目又は規定内容を削除している。
― MOD/追加……… 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
2. JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次のとおりである。
― MOD…………… 国際規格を修正している。
2
5
Z
4
3
2
9
：
2
0
0
4