Z 4317：2008
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲 ························································································································· 1
2 引用規格 ························································································································· 1
3 用語及び定義 ··················································································································· 2
4 種類······························································································································· 3
5 性能······························································································································· 3
5.1 濃度換算係数 ················································································································ 3
5.2 レスポンス ··················································································································· 3
5.3 直線性 ························································································································· 4
5.4 応答時間 ······················································································································ 4
5.5 外部放射線の影響 ·········································································································· 4
5.6 指示値変動 ··················································································································· 4
5.7 ドリフト ······················································································································ 4
5.8 警報レベルの安定性 ······································································································· 4
5.9 オーバロード特性 ·········································································································· 5
5.10 温度特性 ····················································································································· 5
5.11 湿度特性 ····················································································································· 5
5.12 電源電圧及び周波数の変動に対する安定性 ········································································ 5
5.13 検出部及び指示部の予熱時間 ·························································································· 5
6 構造······························································································································· 5
6.1 構造一般 ······················································································································ 5
6.2 検出部 ························································································································· 6
6.3 指示部 ························································································································· 6
6.4 警報部 ························································································································· 6
7 試験······························································································································· 6
7.1 試験条件 ······················································································································ 6
7.2 試験方法 ······················································································································ 7
8 検査······························································································································ 10
8.1 一般 ··························································································································· 10
8.2 形式検査 ····················································································································· 10
8.3 受渡検査 ····················································································································· 11
9 表示······························································································································ 11
10 取扱説明書 ··················································································································· 11
附属書JA（参考）JISと対応する国際規格との対比表 ································································ 12
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まえがき
この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，社団法人日本電気
計測器工業会 (JEMIMA) 及び財団法人日本規格協会 (JSA) から，工業標準原案を具して日本工業規格を
改正すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業規格で
ある。
これによって，JIS Z 4317 : 1993は改正され，この規格に置き換えられた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許
権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に係る確認について，責任は
もたない。
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日本工業規格 JIS
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放射性希ガスモニタ
Radioactive noble gas monitors
序文
この規格は，2007年に第1版として発行されたIEC 62302を基に作成した日本工業規格であるが，我が
国での使用状況及びその後の技術進歩に伴い，技術的内容を変更して作成した日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格を変更している事項である。変更の一
覧表にその説明を付けて，附属書JAに示す。
1
適用範囲
この規格は，原子力施設及び放射線施設（以下，施設という。）において放射線防護のために，次のa) 及
びb) の目的によって空気中の希ガス（ラドンガスは除く。）の放射能濃度を連続的に測定し，指示値が設
定値を超えたときに警報を発生する放射性希ガスモニタ（以下，モニタという。）について規定する。
a) 施設における作業環境の希ガス放射能濃度の測定。
b) 施設から環境中に放出される空気中の希ガス放射能濃度の測定。
この規格は，気体流通形ガスサンプラ（以下，サンプラという。）に検出器を挿入し，作業環境中の気体
と放出気体とを連続的に採取して希ガスの放射能濃度を測定するモニタに適用する。施設のプロセス運転
制御に必要な情報の取得を目的とするモニタにも適用するが，特別な機能が要求される事故時用モニタに
は適用しない。
なお，この規格における，検出部及び指示部の測定方式は，パルス計数方式及び電流測定方式を対象と
する。このモニタにサンプリングガスを供給するサンプリング部は，この規格の対象外とする。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 62302 : 2007，Radiation protection instrumentation−Equipment for sampling and monitoring
radioactive noble gases (MOD)
なお，対応の程度を表す記号 (MOD) は，ISO/IEC Guide 21に基づき，修正していることを
示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS Z 4001 原子力用語
JIS Z 8103 計測用語
2
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3
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，JIS Z 4001及びJIS Z 8103によるほか，次による。
3.1
指示値 (indicated value)
放射性希ガスモニタ上で指示された値をいい，計数率，電流，放射能濃度などで表される。
3.2
指示誤差 (error of indication)
測定点における指示値Miと取決め真値Mtとの差。
3.3
相対指示誤差 (I) (relative error of indication)
指示誤差と取決め真値との百分率をいい，次の式による。
％
100
)
(
t
t
i
×
−
=
M
M
M
I
3.4
相対基準誤差 (E) (relative intrinsic error)
基準の試験条件下で，標準線源などを用いたときの相対指示誤差と放射能濃度などの取決め真値の不確
かさとの和。相対指示誤差を±I，放射能濃度などの取決め真値の不確かさをU（拡張不確かさk＝2）とす
ると，相対基準誤差は，±(|I |＋U) で表す。
注記 取決め真値の不確かさは，拡張不確かさで表す。拡張不確かさは，合成標準不確かさに包含係
数を乗じて求める。包含係数の値は，拡張不確かさに挟まれる区間の信頼の水準を基に2〜3
を選択する。この規格では，包含係数を2として取り扱う。合成標準不確かさは，各不確かさ
の成分の標準偏差（標準不確かさ）の自乗和の平方根である。
3.5
変動係数 (V) (coefficient of variation)
n個の測定値 (xi) の標準偏差の推定値 (s) の，平均値 ( x ) に対する比をいい，次の式による。
(
)
∑
=
−
=
=
n
i
x
x
n
x
x
s
V
1
i
2
1
1
1
−
3.6
濃度換算係数 (coefficient of convert concentration)
標準放射性ガスの放射能濃度を，その濃度に対応する指示値からバックグラウンドを差し引いた値で除
した値。
3.7
レスポンス (response)
指示値からバックグラウンドを差し引いた値を，検出器位置における線量率，レスポンス試験用固体線
源の表面放出率，放射能又は放射性ガス線源の放射能濃度で除した値。
3.8
有効測定範囲 (effective range of measurement)
モニタが，この規格の規定する性能を満たす測定範囲。
3
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3.9
応答時間 (response time)
ステップ応答において，出力信号が最終値の90 %になるまでの時間。
3.10
決定しきい値 (DT) (decision threshold)
測定値が有意の物理効果が生じたと判定するための値をいい，測定によるバックグラウンドの分散 (Vb)
の2倍の平方根に第1種過誤が生じる確率 (α) を5 %とした場合の係数1.64を乗じた値で，次の式による。
b
b
32
.2
2
64
.1
S
V
DT
×
=
×
=
ここに，
Sb： バックグラウンドの標準偏差
3.11
検出部 (radiation detection assembly)
1個以上の放射線検出器及びそれに附属する機能ユニットを含む装置。
3.12
指示部 (indicate assembly)
検出部の出力をデータ表示する装置。
3.13
警報部 (alarm assembly)
測定値がある設定値を超えたことを知らせるために設計した装置。
3.14
デカード (decade)
対数目盛又はこれに準じる目盛（以下，対数目盛という。）の目盛範囲を表す単位。例えば，二つの目盛
値の比の常用対数がNであるとき，この2目盛間の目盛範囲をNデカードという。
4
種類
モニタの種類は，測定方式によって区分し，表1による。
表1−モニタの種類
測定方式
概要
パルス計数方式
検出器からのパルス信号を計数し，その計数率からガスの放
射能濃度を求める方式
電流測定方式
電離箱の電離電流，光電子増倍管の信号電流などを測定し，
その電流値からガスの放射能濃度を求める方式
5
性能
5.1
濃度換算係数
濃度換算係数は，7.2.2の試験によって求める。ただし，許容範囲は規定しない。
5.2
レスポンス
レスポンスは，7.2.3の試験によって求め，次による。
a) 形式試験では，許容範囲は規定しない。
4
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b) 受渡試験では，形式試験時に求めたレスポンスを取決め真値としたとき，レスポンスの相対基準誤差
は±15 %とする。
なお，形式試験と受渡試験とで異なる放射線源を用いる場合には，取決め真値の不確かさUを考慮する
必要がある。形式試験時にレスポンスを求めたときの線量率，表面放出率又は放射能の不確かさ (U1 %)，
及び受渡試験時にレスポンスを求めたときの線量率，表面放出率又は放射能の不確かさ (U2 %) を用い，
不確かさU (%) を次の式で求める。
2
2
2
1
U
U
U
+
=
7.2.3による試験結果が±(15＋U) %を超えなければ，この規定に適合するとみなす。
5.3
直線性
直線性は，7.2.4の方法で試験したとき，±15 %とする。
なお，7.2.4 b) の方法で試験したとき，この規定に適合することを判断するには，線量率，表面放出率
又は放射能の取決め真値の不確かさUを考慮する必要がある。レスポンスを求めたときの各測定点におけ
るそれらの不確かさのうち，最も大きい不確かさをU (%) とする。7.2.4 b) による試験結果が±(15＋U) %
を超えなければ，この規定に適合するとみなす。
5.4
応答時間
応答時間は，7.2.5の方法で試験したときの応答時間を測定し記録する。モニタの時間応答特性を明確化
するために求める値であり，許容範囲は規定しない。
5.5
外部放射線の影響
外部放射線の影響は，7.2.6の方法で試験したときの決定しきい値を参考のために測定し，記録する。許
容範囲は規定しない。受渡当事者間の協定がある場合は，それに従う。
5.6
指示値変動
指示値変動は，7.2.7の方法で試験したとき，変動係数が0.15未満とする。
5.7
ドリフト
ドリフトは，7.2.8の方法で試験したとき，指示値の変化は，次による。
a) 形式試験では，100時間当たりに基準値に対して，直線目盛及びデジタル式の場合±10 %，対数目盛
の場合±0.04 Nデカードとする。
b) 受渡試験では，24時間当たりに基準値に対して，直線目盛及びデジタル式の場合±10 %，対数目盛の
場合±0.04 Nデカードとする。
5.8
警報レベルの安定性
警報発生は，7.2.9の方法で試験したとき，表2の規定に適合しなければならない。
表2−警報レベル
測定項目
動作内容
警報レベルの95 %の信号入力
形式試験：100時間の連続入力に対して警報は発生しない。
受渡試験：受渡当事者間の協定に基づく時間の連続入力に対して
警報は発生しない。
警報レベルの105 %の信号入力
5分以内に警報が発生する。
5
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5.9
オーバロード特性
オーバロード特性は，7.2.10の方法で試験したとき，±10 %とする。オーバロードの指示を与えている
間（10分間）は，最大値以上を表示し続けなければならない。
5.10 温度特性
温度特性は，受渡当事者間の協定によって定めた温度変化範囲に対して，7.2.11の方法で試験したとき，
基準温度20 ℃における指示値に対する指示値の変化が，モニタ全体及び検出部の場合のいずれも，表3
の規定に適合しなければならない。
なお，中間温度点の指示値が基準温度点での指示値の±10 %に入っていない場合には，製造業者は，そ
の点における指示値と基準温度における指示値との差を示さなければならない。
表3−温度特性の許容範囲
温度変化範囲
中間温度点
許容範囲
10〜35 ℃
22 ℃
±10 %
−10〜＋40 ℃
15 ℃
±20 %
−25〜＋50 ℃
12 ℃
±50 %
5.11 湿度特性
湿度特性は，7.2.12の方法で試験したとき，±10 %とする。
5.12 電源電圧及び周波数の変動に対する安定性
電源電圧及び周波数の変動に対する安定性は，7.2.13の方法で試験したとき，電源電圧の変動に対する
指示値の変化は，±10 %とする。周波数の変動に対する指示値の変化は，±10 %とする。
5.13 検出部及び指示部の予熱時間
装置の電源を入れてから30分間に読み取った指示値は，7.2.14によって試験したとき，基準値（予熱時
間経過後から10時間の指示値の平均値）に対して，直線目盛及びデジタル式は±10 %，対数目盛は±0.04
Nデカードとする。
6
構造
6.1
構造一般
構造は，次による。
a) モニタは，検出部，指示部，警報部などによって構成する。また，測定値が流量による影響を受けや
すい場合は，サンプリングガスの流量を測定する機能及び制御又は調整できる機能を備えていなけれ
ばならない。流量測定装置は，流量の表示装置を設ける。
b) 測定値が電離箱のように圧力による影響を受けやすい場合は，警報付きの圧力計及び圧力の制御又は
調整機能を備え，圧力の過度の変動に対して警報を出力できることが望ましい。圧力計は標準状態で
校正しなければならない。
c) 連続運転に耐え，堅ろうで，かつ，操作及び保守が容易なものとする。
d) 振動，衝撃，電磁誘導，静電気放電などの影響を受けにくい構造とする。
e) 他の機器に対して電磁誘導などの影響を与えにくい構造とする。
f)
必要に応じ，記録部，データ処理部などを付加してもよい。
なお，故障に対する自己診断機能をもつことが望ましい。
6
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g) サンプリングガスに爆発性混合物が含まれる場合には，検出部は，発火するのを防ぐ構造とする。
h) サンプリングガスに有毒性物質及び腐食性物質が含まれる場合には，検出部を保護する構造とする。
6.2
検出部
検出部は，次による。
a) 検出部は汚染しにくく，除染又は交換が容易な構造でなければならない。
b) サンプラの吸気側に粒子状物質，よう素及びエアロゾルを除去するためのフィルタなどを装着できる
構造とする。フィルタは，希ガスを捕集又は滞留させない構造とする。また，フィルタは，圧力低下
が発生した場合に交換できる構造とし，捕集した放射性物質を飛散させることなく交換できる構造と
する。
電離電流を測定する方式のモニタの場合には，サンプラの吸気側にイオン除去装置を装着できる構
造とする。
c) 固体線源を用いて，モニタの濃度換算係数の安定性を確認できる構造とすることが望ましい。
d) 外部γ線による影響を低減させるため，必要に応じて，遮へい体，電子装置などを付加してもよい。
e) 検出部に特定の希ガスを捕集又は濃縮するための捕集媒体を設ける場合には，その特性，効率，保持
能力，遅れ時定数及び捕集媒体の保管条件を明示することが望ましい。
f)
電離箱のような湿度による影響を受ける検出器は，結露を防止する措置を講じなければならない。
6.3
指示部
モニタの指示は，アナログ式又はデジタル式の計数率計，電流計又はスケーラによって行い，単位は
s−1，pA，Bq/cm3などとする。Bq/cm3で指示する場合は，測定核種を示す。指示値の単位及び外部への出
力の有無については，受渡当事者間の協定による。また，モニタ校正時と測定時とで測定条件が異なる場
合には，換算方法も決定する。
6.4
警報部
警報部は，次による。
a) 設定値を超える指示に対し，ランプ，ブザーなどによって高レベル警報などを発生しなければならな
い。
b) 警報表示の内容及び外部への出力の有無については，受渡当事者間の協定による。
c) 警報は，リセット又は原因の解消まで維持しなければならない。
d) 警報動作を確認できるテスト機能を設けなければならない。また，警報設定が可変な場合は，有効測
定範囲内に設定ができるとともに，警報設定ポイントを確認できなければならない。
e) モニタの故障又は異常を表示しなければならない。この表示は，故障又は異常の原因ごとに個別に表
示することが望ましい。
7
試験
7.1
試験条件
7.1.1
共通試験条件
7.2の試験方法における基準条件は，表4の第2欄による。特に製造業者が指定した場合を除き，表4
の第3欄に示す標準試験条件とする。
標準試験条件で行えない場合は，温度，気圧及び湿度を指定し，必要に応じて基準条件の指示値に補正
する。
7
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表4−共通試験条件
項目
基準条件
標準試験条件
標準放射性ガス
対象の希ガスを含む混合空気
又は混合ガス
対象の希ガスを含む混合空気
又は混合ガス
予熱時間
分
30
≧30
環境温度
℃
20
18〜 22
相対湿度
%
65
50〜 75
気圧a)
kPa
101.3
70〜106
電源電圧
定格電源電圧
定格電源電圧±1 %
電源周波数b)
定格電源周波数
定格電源周波数±1 %
電源波形
正弦波
正弦波からのひずみ5 %以下
γ線バックグラウンド μGy/h 空気カーマ率0.2以下
空気カーマ率0.25以下
外部電磁波
無視できるレベル
影響の認められるレベル以下
外部磁気誘導
無視できるレベル
地球磁界の2倍以下
無線周波数
無視できるレベル
影響の認められるレベル以下
サンプリング流量
公称流量（製造業者指定）
公称流量±5 %以内
モニタの設置
正規動作状態にセットアップ
正規動作状態にセットアップ
放射性物質による汚染
無視できるレベル
無視できるレベル
化学物質による汚染
無視できるレベル
無視できるレベル
注a) 気圧の変化に敏感な装置を用いる場合は，基準圧力の±5 %の範囲に制限する。
b) DC電源が使用される場合は，周波数は規定しない。
7.1.2
標準放射性ガス
試験に使用する標準放射性ガスは，国家標準とのトレーサビリティが明確なものとする。標準放射性ガ
スとしては41Ar，85Kr，133Xe又は135Xeを用いる。放射能の拡張不確かさは，10 %（包含係数k＝2）以下
とする。
注記 ここでいう国家標準とは，JIS Z 8103に規定している，国が認める計量基準である。
7.1.3
標準測定器
試験に使用する標準測定器は，標準放射性ガスによって校正された，放射性ガス濃度測定器及び電離電
流測定装置とする。
7.1.4
レスポンス試験用固体線源
レスポンス試験用固体線源は，次による。
a) レスポンス試験用固体線源は，モニタの特性に応じた適切な核種を用いる。核種としては，204Tl，90Sr
＋90Y，137Cs，60Coなどがある。
b) 受渡試験に用いるレスポンス試験用固体線源は，形式試験時のレスポンス試験に用いた線源との関係
が明確なものとする。
c) レスポンス試験用固体線源は，国家標準とのトレーサビリティが明確なものとし，表面放出率又は放
射能の拡張不確かさは，10 %（包含係数k＝2）以下とする。
7.2
試験方法
7.2.1
試験方法一般
試験方法一般は，次による。
a) すべての試験は，電子回路については30分間以上の予熱時間が経過した後に実施するものとする。
b) 試験条件のうち一つ又は複数の項目を変化して試験する場合，その項目以外の条件は，表4に示す範
8
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囲内にあるものとする。
c) パルス計数方式のモニタにおいて，計数装置を用いて試験する場合は，モニタの指示値に影響を及ぼ
さないように留意して計数装置を接続する。
d) 自然放射能の電気的補正機能をもつモニタにあっては，放射能特性試験時には，当該機能を作動させ
た状態で試験を行う。
e) 検出部が内蔵線源をもっている場合は，モニタの決定しきい値を決定するときには遮へい位置に内蔵
線源を収納した状態で試験を行う。
7.2.2
濃度換算係数試験
濃度換算係数試験は，41Ar，85Kr，133Xe，135Xeなどのうち少なくとも1核種について，標準放射性ガス
を用いる方法又は標準測定器の指示値と比較する方法によって行う。有効測定範囲における少なくとも1
点について，単位計数率又は単位電流当たりの放射能濃度を濃度換算係数として求める。
7.2.3
レスポンス試験
レスポンス試験は，次のいずれかによる。形式試験及び受渡試験は，同等の照射条件で行う。
a) X線又はγ線によってモニタの検出器を照射し，検出器位置における線量率当たりの指示値を求める。
b) レスポンス試験用固体線源を製造業者の定める位置に固定してモニタの検出器を照射し，表面放出率
又は放射能当たりの指示値を求める。
c) 放射性ガス線源によってモニタの検出器を照射し，放射能濃度当たりの指示値を求める。
7.2.4
直線性試験
直線性試験は，最高感度指示範囲（対数目盛及びデジタル式の場合はデカード，以下同じ。）の25 %，
最低感度指示範囲の75 %，その他の指示範囲の50 %近辺に相当する指示値について，次のa) 若しくは
b) のいずれかの方法又は両者の組合せによって行う。ただし，試験点は受渡当事者間の協定によって定め
てもよい。
a) 計数回路又は電流測定回路の相対指示誤差試験
1) パルス計数方式の場合
1.1) 試験は，パルス信号発生装置を用い，検出器からの出力信号に近似した波形の信号を指示部の入
力端に入力して行う。
1.2) 入力パルス発生率に対する指示値を，指示計又は記録計から求める。指示値からパルス発生率を
差し引いた値の，パルス発生率に対する百分率を求める。
2) 電流測定方式の場合
2.1) 基準電流発生装置，基準電圧発生装置及び基準抵抗を用い，電流値に対する指示値を求め，指示
値から電流値を差し引いた値の電流値に対する百分率又は最大目盛値に対する百分率を求める。
2.2) 試験に基準電圧発生装置を用いるときは，増幅回路のオフセット電圧を無視できる程度の電圧を
基準抵抗に印加して発生する電流信号を用い，検出器を除く回路系入力端子に信号を加えて行う。
b) レスポンスの一定性試験
レスポンスの一定性試験は，7.2.3に示すいずれかの方法で各試験点におけるレスポンスを求め，その平
均値を取決め真値として，各レスポンスの相対基準誤差を求める。
7.2.5
応答時間の試験
応答時間の試験は，放射線源を製造業者の定めた位置に速やかに固定（放射線源を固定する作業によっ
てモニタの指示値がバックグラウンドレベルから有意な上昇を示してはならない。）し，モニタの指示値が
一定になるまでの指示値の変化を記録し，放射線源を置いた時点から指示値が安定した値の90 %になるま
9
Z 4317：2008
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での時間を求める。
7.2.6
外部放射線の影響試験
外部放射線の影響試験は，サンプラに検出器を挿入し，試験環境中の気体を連続的にサンプリングした
状態で実施し，次による。
a) 標準試験条件下でモニタを動作させ，そのときの指示値及び決定しきい値を求め記録する。
b) 検出器と線源間との間隔を2 m以上とし，検出器の位置における線量率が空気カーマ率で10 μGy･h−1
となるよう137Cs又は60Coで検出部を照射したときの指示値及び決定しきい値を求める。
7.2.7
指示値変動試験
指示値変動試験は，有効測定範囲の最小値の10〜50倍の計数率及び電流値になるX線，γ線又はβ 線
を照射し，統計的に独立とみなせる時間間隔（応答時間の2倍程度）で少なくとも10回指示値を読み取り，
3.5の計算式によって変動係数を求める。ただし，スケーラによるパルス計数方式のモニタの場合，計数時
間と計数時間との間に時間間隔を設ける必要はない。
7.2.8
ドリフト試験
ドリフト試験は，有効測定範囲の最小値から10〜20倍の間の指示値を与える線源を用いて行う。モニタ
を起動させて30分後に，十分な指示値を読み取り，この平均値を基準値とする。続いて100時間後（受渡
試験の場合は24時間後）に，十分な指示値を読み取り記録する。各回の指示値の平均値を計算し，基準値
に対する100時間後（受渡試験の場合は24時間後）の平均値の百分率を求める。対数目盛の場合は，100
時間後（受渡試験の場合は24時間後）の平均値を30分後の平均値で除した値の常用対数を求める。指示
値の読取りは，7.2.7に準じる回数としてよい。
7.2.9
警報動作試験
警報動作試験は，次による。
a) パルス信号発生装置又は直流電流発生装置を用いて，指示下方から警報レベルの95 %まで上昇させ，
100時間運転したときの警報発生の有無を確認する。ただし，受渡試験の場合の運転時間は，受渡当
事者間の協定による。
b) モニタ起動後1時間及び100時間経過後に，パルス信号発生装置又は直流電流発生装置を用いて，指
示下方から警報レベルの105 %まで上昇させ，5分以内に警報が発生することを確認する。
7.2.10 オーバロード特性試験
オーバロード特性試験は，X線，γ線又はβ 線によって，有効測定範囲の最小値の10〜50倍の指示をモ
ニタに与え（照射1），指示値 (I1) を記録し，この指示値を基準値とする。次に，最低感度指示範囲又は
デカードの最大目盛値の10倍以上の指示に相当する線量率で，モニタの検出器を10分間以上照射し（照
射2），その間の指示値が最大目盛値を超えていることを確認する。照射2を停止し，一定時間（1時間又
は受渡当事者間の協定によって定めた時間以内）経過後，照射1と同じ条件でモニタに指示を与え，その
指示値 (I2) から基準値を差し引いた値の基準値に対する百分率を求める。
7.2.11 温度特性試験
温度特性試験は，モニタ全体又は検出部を恒温槽内に設置し，バックグラウンド及び数え落としの影響
が十分無視できる程度のX線，γ線又はβ 線を照射する。槽内を5.10に示す温度範囲の各上下限の温度に
4時間保持する。指示値は，この保持時間の最後の30分間に取得したデータを記録する。次に，基準温度
20 ℃及び中間温度点で指示値を上記と同様に記録し，基準温度20 ℃での指示値を基準値とする。上下限
温度点及び中間温度点における指示値から基準値を差し引いた値に対する基準値の百分率を求める。
なお，検出部が遮へい体を含んで構成されている場合，検出部についての試験は，遮へい体を除いて行
10
Z 4317：2008
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
うものとする。
7.2.12 湿度特性試験
湿度特性試験は，遮へい体を除くモニタ全体を恒温槽内に設置し，バックグラウンド及び数え落としの
影響が十分無視できる程度のX線，γ線又はβ 線を照射する。槽内温度を35 ℃に保ち，相対湿度を65 %
及び90 %にそれぞれ1時間以上保持した後の指示値を読み，65 %における指示値を基準値として，90 %
における指示値から基準値を差し引いた値の，基準値に対する百分率を求める。
7.2.13 電源電圧及び周波数の変動に対する安定性試験
電源電圧及び周波数の変動に対する安定性試験は，測定範囲の最小目盛値の10〜50倍の範囲のX線，
γ線又はβ 線を照射して行う。電源電圧を定格電圧の88 %，100 %及び110 %にした場合の指示値を読む。
定格電圧における指示値を基準値とし，各電圧における指示値から基準値を差し引いた値の基準値に対す
る百分率を求める。また，電源周波数を定格周波数50 Hzの場合は，47 Hz及び51 Hzとし，定格周波数
60 Hzの場合は，57 Hz及び61 Hzにした場合の指示値を読む。定格周波数における指示値を基準値とし，
各周波数における指示値から基準値を差し引いた値の基準値に対する百分率を求める。
7.2.14 検出部及び指示部の予熱時間試験
検出部及び指示部の予熱時間試験は，次による。
a) 検出部及び指示部の予熱時間試験は，有効測定範囲の最小値の10〜50倍の指示を得ることのできる位
置に線源を置く。
b) 試験開始前最低1時間モニタの電源を切断しておく。起動後，1時間の間，5分ごとに指示値を読み取
る。予熱時間経過後から10時間の指示値を読み取って記録し，その平均値を基準値とする。指示値の
読取りは，7.2.7に準じる回数としてよい。
c) 必要に応じて半減期補正を行った上で，経過時間と指示値との関係のグラフを描く。起動後30分間に
おけるグラフの値から基準値を差し引いた値の基準値に対する百分率を求める。
8
検査
8.1
一般
モニタの検査は，形式検査1)と受渡検査2)とに区分し，箇条7に規定する方法で行い，箇条5の規定に
適合したものを合格とする。
なお，形式検査は，設計段階で一つ以上のモニタに対して行う。受渡検査の抜取方式は，受渡当事者間
の協定による。
注1) 製品の品質が，設計で示したすべての特性を満足するかどうかを判定するための検査。
2) 既に形式検査に合格したものと同じ設計・製造による製品の受渡しをする場合，必要と認める
特性が満足するものであるかどうか判定するための検査。
8.2
形式検査
形式検査の項目は，次による。
a) 濃度換算係数
b) レスポンス
c) 直線性
d) 応答時間
e) 外部放射線の影響
f)
指示値変動
11
Z 4317：2008
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g) ドリフト
h) 警報動作
i)
オーバロード特性
j)
温度特性
k) 湿度特性
l)
電源電圧及び周波数の変動に対する安定性
m) 検出部及び指示部の予熱時間
8.3
受渡検査
受渡検査の項目は，次による。このほかに，受渡当事者間の協定によって定める項目も含めてよい。
a) レスポンス（測定点については，受渡当事者間の協定によって決定する。）
b) 直線性
c) 警報動作
9
表示
モニタには，見やすい箇所に消えにくい方法で，次の事項を表示しなければならない。
a) 規格名称又は規格番号
b) モニタの名称及びモニタの形式番号
c) 製造番号
d) 製造年月又はその略号
e) 製造業者名又はその略号
10 取扱説明書
モニタには，少なくとも次の事項を記載した取扱説明書を添付しなければならない。
a) 検出器の種類及び寸法
b) レスポンス及び試験条件
c) サンプラの容積
d) サンプラの定格流量
e) サンプラの使用圧力範囲
f)
応答時間（製造業者の定める値）
g) 濃度換算係数に関する次の事項
1) 測定に用いた放射性ガスの核種
2) 濃度換算係数
h) 外部放射線の影響（ただし，評価が必要な場合，製造業者の定める値。）
i)
使用電源
j)
質量及び寸法
k) 交換部品
l)
附属品
m) 保守点検の方法及び頻度
n) 調整及び故障箇所特定のためのチェックポイント
o) 据付方法
12
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附属書JA
（参考）
JISと対応する国際規格との対比表
JIS Z 4317 : 2008 放射性希ガスモニタ
IEC 62302 : 2007，Radiation protection instrumentation−Equipment for sampling
and monitoring radioactive noble gases
(Ⅰ)JISの規定
(Ⅱ)
国際
規格
番号
(Ⅲ)国際規格の規定
(Ⅳ)JISと国際規格との技術的差異の箇条ご
との評価及びその内容
(Ⅴ)JISと国際規格との技術
的差異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び名称
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
1適用範囲 作業環境及び環境に放出する
空気中の希ガス放射能濃度を
連続測定し，警報を発生する放
射性希ガスモニタ。施設のプロ
セス運転制御に必要な情報を
取得するモニタには適用する
が，事故時用モニタには適用し
ない。この規格の検出部及び指
示部の測定方式は，パルス計数
方式及び電流測定方式を対象
とする。サンプリング部はこの
規格の対象外とする。
1
作業環境，環境へ放出す
る空気中，環境中の希ガ
ス放射能濃度を測定する
放射性希ガスモニタ。通
常運転条件と同様に事故
時条件でも計測できる。
あらかじめ設定された体
積放射能，濃度等を超え
たときに警報を発報でき
る。所定時間内に放出さ
れた全ガス放射能の決定
及び／又は混合ガスの組
成情報を提供できる。希
ガスを含む空気又はガス
のサンプリング及び分
析。
変更
JISとIEC規格との相違点は，
次のとおりである。
① 環境中の希ガス計測は適用
外
② 事故時の希ガス計測は適用
外
③ 混合ガスの組成情報を提供
する機能は適用外
④ ガスサンプリング及びその
後の分析に関しては適用外
⑤ サンプリング部を規定範囲
外
⑥ 測定方式はパルス計数方式
及び電流測定方式に限定
JISでは，通常時の作業環境
中及び放出ガス中の希ガスを
モニタリングする気体流通形
ガスモニタを適用範囲とし，
測定方式は，日本国内で使用
されているパルス計数方式及
び電流測定方式の2方式に限
定した。また，検出部，計測
部，指示部及び警報部を対象
とし，空気回路はモニタと別
置されるケースが多く，設置
場所条件によって設計内容及
び特性に大きな違いがあるた
め一概に規定することが難し
いので，対象外とした。
2引用規格
3用語及び
定義
JIS Z 4001及びJIS Z 8103によ
る。
3
−
追加
この規格で用いる主な用語及び
定義はJIS Z 4001及びJIS Z
8103による。
実質的な差異はない。
2
Z
4
3
1
7
：
2
0
0
8
2
Z
4
3
1
7
：
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0
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(Ⅰ)JISの規定
(Ⅱ)
国際
規格
番号
(Ⅲ)国際規格の規定
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との評価及びその内容
(Ⅴ)JISと国際規格との技術
的差異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び名称
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
3.1 指示
値
計数率，電流，放射能濃度など
で表されるモニタの指示値
−
−
追加
計数率，電流，放射能濃度など
で表されるモニタの指示値を追
加。
技術的な差異はない。
3.3 相対
指示誤差
指示誤差と取決め真値との百
分率
−
−
追加
相対指示誤差の定義を追加。
技術的な差異はない。
3.6 濃度
換算係数
標準放射性ガスの放射能濃度
を，その濃度に対応する指示値
からバックグラウンドを差し
引いた値で除した値。
−
−
追加
濃度換算係数の定義を追加。
技術的な差異はない。
3.14 デカ
ード
対数目盛又はこれに準じる目
盛の目盛範囲を表す単位。
−
−
追加
対数目盛のデカードの記載を追
加。
技術的な差異はない。
4 種類
表1 モニタの種類
4
−
追加
測定方式としてパルス計数方式
及び電流測定方式を定義。
技術的な差異はない。
5.1 濃度
換算係数
濃度換算係数は，7.2.2の方法
で求める。ただし，許容範囲は
規定しない。
−
−
追加
濃度換算係数の規定を追加。
技術的な差異はない。
5.4 応答
時間
応答時間は，7.2.5の方法で試
験したときの応答時間を測定
し記録する。モニタの時間応答
特性を明確化するために求め
る値であり，許容範囲は規定し
ない。
7.4.1
製造業者は，ユニットの
応答時間を規定しなけれ
ばならない。応答時間に
は，検出器の空気を入れ
替える時間を含む。
変更
IEC規格では応答時間に検出器
の空気の入替え時間を含むとし
ている。一方，JISでは放射性希
ガスモニタのスコープとして空
気回路は含まないため，応答時
間に検出器の空気の入替え時間
は含まない。
技術的な差異はない。
2
Z
4
3
1
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：
2
0
0
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2
Z
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(Ⅱ)
国際
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との評価及びその内容
(Ⅴ)JISと国際規格との技術
的差異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び名称
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
5.7 ドリ
フト
試験時間を形式試験で100時
間，受渡試験で24時間とする。
許容範囲を直線目盛及びデジ
タル式の場合，基準値の±
10 %，対数目盛の場合，基準値
の±0.04 Nデカードとする。
7.10
100時間での変化が10 %
を超えない。
変更
IEC規格では試験時間を100時
間としているが，JISでは形式試
験は100時間とし，受渡試験は
24時間とした。
指示計器の目盛の種類ごとに性
能値を規定。
受渡試験はユーザ立会いのも
とで行うケースが多く，その
試験時間は実用的な試験時間
とした。
国際規格の改正時に検討を提
案する。
計器の目盛の違いによるもの
であり，特性そのものに相違
はない。
5.8 警報
レベルの
安定性
警報レベルの95 %信号入力に
対して，形式試験では100時間
以内に警報は動作しない。受渡
試験では受渡当事者間の協定
に基づく時間の連続入力に対
して警報は動作しない。
警報レベルの105 %信号入力
に対して5分以内に警報が動
作する。
8.2.2
警報レベルの95 %信号入
力に対して，100時間以内
に警報は動作しない。
警報レベルの105 %信号
入力に対して1分以内に
警報が動作する。
変更
JISの受渡試験ではIEC規格と
異なり，95 %信号入力に対して，
受渡当事者間の協定に基づく時
間の連続入力に対して警報は動
作しないとした。
JISでは105 %信号入力に対す
る警報動作時間を5分以内とし
た。
国内の使用実績による。
国際規格の改正時に検討を提
案する。
5.13 検出
部及び指
示部の予
熱時間
許容範囲は，直線目盛及びデジ
タル式は±10 %，対数目盛は±
0.04 Nデカードとする。
8.4.1
許容範囲は±10 %
変更
指示計器の目盛の種類ごとに性
能値を規定。
計器の目盛の違いによるもの
であり，特性そのものに相違
はない。
6.2 検出
部
電離電流を測定する方式のモ
ニタの場合には，サンプラの吸
気側にイオン除去装置を装着
できる構造とする。
4.3
5.2
5.3
5.9
−
追加
通気形電離箱の場合にイオン除
去装置を装着できる構造とする
ことを追記。
国内の使用実績による。
技術的な差異はない。
2
Z
4
3
1
7
：
2
0
0
8
2
Z
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(Ⅱ)
国際
規格
番号
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(Ⅳ)JISと国際規格との技術的差異の箇条ご
との評価及びその内容
(Ⅴ)JISと国際規格との技術
的差異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び名称
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
6.3 指示
部
モニタの指示は，アナログ式又
はデジタル式の計数率計，電流
計又はスケーラによって行い，
単位はs−1，pA，Bq/cm3などと
する。
4.12
測定量をBq/m3の単位で
表示するものであること
が望ましい。
変更
表示単位の相違。
国内の使用実績による。
技術的な差異はない。
7.1.3 標
準測定器
試験に使用する標準測定器は，
標準放射性ガスによって校正
された，放射性ガス濃度測定器
及び電離電流測定装置とする。
−
−
追加
試験に用いる標準測定器を規
定。
国内の使用実績による。
技術的な差異はない。
7.2.1 試
験方法一
般
パルス計数方式のモニタにお
いて計数装置に接続時の注意
事項を規定。
5.8
6.2
6.3
7
−
追加
パルス計数方式のモニタにおい
て計数装置に接続時の注意事項
を規定。
技術的な差異はない。
7.2.2 濃
度換算係
数試験
濃度換算係数の試験方法を規
定。
−
−
追加
濃度換算係数の試験方法を規
定。
日本国内では濃度換算係数が
一般的に使用されているた
め。
技術的な差異はない。
7.2.4
直
線性試験
試験点は最高感度指示範囲の
25 %，最低感度指示範囲の
75 %，その他の指示範囲の
50 %付近で試験する。
ただし，試験点は，受渡当事者
間の協定によって定めてもよ
い。
試験方法は，次のいずれか又は
組合せで行う。
① 計数回路又は電流測定回
路の相対指示誤差試験
② レスポンスの一定性試験
7.2.3
試験点は，測定範囲の最
低値の2.5倍の点及び有
効測定範囲の25 %，50 %，
75 %を含む3点で試験す
る。
試験方法は，次のいずれ
かで行う。
① ガス状線源
② 固体線源
③ 電気信号
変更
試験点は旧JISの規定を準用し
た。ただし，受渡当事者間の協
定によって定めてもよいことを
追記した。
試験方法は，IEC規格が試験点
の相対基準誤差を求めるのに対
して，JISのレスポンスの一定性
試験では，試験点のレスポンス
の平均値を取決め真値とする試
験点のレスポンスの相対基準誤
差を求めることとした。
IEC規格の直線性試験方法と
技術的な差異はない。
2
Z
4
3
1
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：
2
0
0
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2
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(Ⅰ)JISの規定
(Ⅱ)
国際
規格
番号
(Ⅲ)国際規格の規定
(Ⅳ)JISと国際規格との技術的差異の箇条ご
との評価及びその内容
(Ⅴ)JISと国際規格との技術
的差異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び名称
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
7.2.5 応
答時間の
試験
空気回路を含まない応答時間
の試験方法を規定。
7.4.2
空気回路を含む応答時間
の試験方法を規定。
変更
空気回路を含まない応答時間の
試験方法を規定。
日本国内では実ガスを用いて応
答時間試験を行える環境が一般
的に整備できないため，空気回
路を含まない応答時間試験方法
の規定とした。
国内では空気回路を含む応答
時間試験を実ガスを用いて実
施することが困難であるた
め。
7.2.9 警
報動作試
験
警報レベルの95 %信号入力に
対する試験時間は，形式試験で
は100時間，受渡試験では受渡
当事者間の協定に基づく。
警報レベルの105 %信号入力
に対して警報動作時間は5分
以内。
8.2.2
警報レベルの95 %信号入
力に対する試験時間は
100時間。
警報レベルの105 %信号
入力に対して警報動作時
間は1分以内。
変更
JISの受渡試験ではIEC規格と
違い95 %信号入力に対して，試
験時間は受渡当事者間の協定に
基づくとした。
JISでは105 %信号入力に対す
る警報動作時間を5分以内とし
た。
国内の使用実績による。
国際規格の改正時に検討を提
案する。
8 検査
形式検査及び受渡検査を規定。
−
−
追加
形式検査及び受渡検査の実施す
る項目を追加。
技術的な差異はない。
9 表示
モニタに表示すべき項目を規
定。
−
−
追加
モニタに表示すべき項目を規
定。
JIS独自の規定であるため追
加。技術的な差異はない。
10 取扱
説明書
取扱説明書の記載項目を規定。
4.6
4.8
12
IEC 61187に従った取扱
説明書を納入。
追加
JISでは取扱説明書の記載項目
を追加。
技術的な差異はない。
JISと国際規格との対応の程度の全体評価：IEC 62302 : 2007，MOD
注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は，次による。
− 追加 ··············· 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
− 変更 ··············· 国際規格の規定内容を変更している。
注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次による。
− MOD··············· 国際規格を修正している。
2
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1
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：
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