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Z 4316:2013  

(1) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

目 次 

ページ 

序文 ··································································································································· 1 

1 適用範囲························································································································· 1 

2 引用規格························································································································· 2 

3 用語及び定義··················································································································· 2 

4 モニタ種類······················································································································ 3 

5 性能······························································································································· 4 

5.1 検出部のレスポンス ······································································································· 4 

5.2 直線性 ························································································································· 4 

5.3 外部放射線の影響 ·········································································································· 4 

5.4 オーバロード特性 ·········································································································· 4 

5.5 指示値変動 ··················································································································· 4 

5.6 ドリフト ······················································································································ 4 

5.7 警報レベルの安定性 ······································································································· 4 

5.8 β線エネルギー特性 ······································································································· 4 

5.9 測定対象外の放射線による影響 ························································································ 5 

5.10 検出部及び指示部の起動時間の安定性 ·············································································· 5 

5.11 電源電圧の変動に対する安定性 ······················································································· 5 

5.12 温度特性 ····················································································································· 5 

5.13 湿度特性 ····················································································································· 5 

5.14 圧力降下の影響 ············································································································ 5 

5.15 気密性 ························································································································ 5 

5.16 電源電圧の変動による流量への影響 ················································································· 6 

6 構造······························································································································· 6 

6.1 構造一般 ······················································································································ 6 

6.2 サンプラ ······················································································································ 6 

6.3 検出部 ························································································································· 6 

6.4 指示部 ························································································································· 7 

6.5 警報部 ························································································································· 7 

7 試験······························································································································· 7 

7.1 試験条件 ······················································································································ 7 

7.2 試験方法 ······················································································································ 8 

8 検査······························································································································ 12 

8.1 一般 ··························································································································· 12 

8.2 形式検査 ····················································································································· 12 

8.3 受渡検査 ····················································································································· 13 

Z 4316:2013 目次 

(2) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

ページ 

9 表示······························································································································ 13 

10 取扱説明書 ··················································································································· 13 

附属書JA(参考)JISと対応国際規格との対比表 ······································································ 15 

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(3) 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

まえがき 

この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人日本

電気計測器工業会(JEMIMA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工

業規格を改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工

業規格である。 

これによって,JIS Z 4316:2006は改正され,この規格に置き換えられた。 

この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。 

この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意

を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実

用新案権に関わる確認について,責任はもたない。 

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

日本工業規格          JIS 

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放射性ダストモニタ 

Radioactive aerosol monitors 

序文 

この規格は,2002年に第2版として発行されたIEC 60761-1,IEC 60761-2及び1992年に第1版として

発行されたIEC 61172を基に作成した日本工業規格であるが,我が国の使用状況及びその後の技術進歩に

伴い,技術的内容を変更して作成した日本工業規格である。 

なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。変更の一

覧表にその説明を付けて,附属書JAに示す。 

適用範囲 

この規格は,原子力施設及び放射線施設(以下,施設という。)において,次のa),b) 及びc) を目的と

して,使用する放射性ダストモニタ(以下,ダストモニタという。)について規定する。ダストモニタは,

放射性ダストサンプラ(以下,サンプラという。)に放射線検出器(以下,検出部という。)を装着し,ろ

過捕集方法によって空気中に浮遊する粒径0.3 μm以上の粒子状物質(以下,ダストという。)を捕集し,

放射線測定器による測定によって空気中の浮遊粒子状物質による放射能濃度を算出し,指示値が設定値を

超えたときに警報を発生する機能をもつ。 

a) 施設の作業環境における空気中の放射能濃度の測定。 

b) 施設から環境中に排出される排気中の放射能濃度の測定。 

c) 施設の周辺環境における空気中の放射能濃度の測定。 

施設のプロセス運転制御に必要な情報の取得を目的とするダストモニタにも適用するが,事故時の特別

な要求については規定しない。また,ダストモニタにサンプリング空気を供給するためのサンプリング配

管は,この規格の適用外とする。 

注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。 

IEC 60761-1:2002,Equipment for continuous monitoring of radioactivity in gaseous effluents−Part 

1:General requirements 

IEC 60761-2:2002,Equipment for continuous monitoring of radioactivity in gaseous effluents−Part 

2:Specific requirements for radioactive aerosol monitors including transuranic aerosols 

IEC 61172:1992,Radiation protection instrumentation−Monitoring equipment−Radioactive aerosols 

in the environment(全体評価:MOD) 

なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“修正している”

ことを示す。 

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引用規格 

次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。 

JIS K 0901 気体中のダスト試料捕集用ろ過材の形状,寸法並びに性能試験方法 

JIS Q 17025 試験所及び校正機関の能力に関する一般要求事項 

JIS Z 4001 原子力用語 

注記 対応国際規格:IEC 60050-393:1996,International Electrotechnical Vocabulary−Chapter 393: 

Nuclear instrumentation−Physical phenomena and basic concepts及びIEC 60050-394:1995,

International Electrotechnical Vocabulary−Chapter 394: Nuclear instrumentation−Instruments(全

体評価:MOD) 

JIS Z 4601 放射性ダストサンプラ 

JIS Z 8103 計測用語 

JIS Z 8401 数値の丸め方 

用語及び定義 

この規格に用いる主な用語及び定義は,JIS Z 4001及びJIS Z 8103によるほか,次による。 

3.1 

指示値(indicated value) 

測定点におけるダストモニタで指示された値。放射能濃度,計数率などで表される。 

3.2 

相対指示誤差,I(relative error of indication) 

指示誤差と取決め真値との比の百分率をいい,次の式による。 

100

t

t

i

×

=

M

M

M

I

(%) 

ここに, 

Mi: 測定点における指示値 

Mt: 取決め真値 

3.3 

相対基準誤差,E(relative intrinsic error) 

基準の試験条件下で,放射線源などを用いたときの相対指示誤差と放射能又は表面放出率の取決め真値

の不確かさとの和。相対指示誤差を±I,放射能又は表面放出率の取決め真値の相対拡張不確かさをU(包

含係数k=2)とすると相対基準誤差は,±(|I|+U)で表される。 

3.4 

全等価入射窓厚さ(total equivalent window thickness) 

ダスト捕集媒体表面から放出される放射線が,検出部の有感部に到達するまでの厚さ。検出部の入射窓,

空気層及び入射窓を保護するために施したあらゆる被覆の厚さを含む。この規格では,厚さの単位として

mg/cm2を用いる。 

注記 α線とβ線とを一つの検出部で測定する二層構造の検出部における二層目の検出部に対する全

等価入射窓厚さは,一層目の検出部の全等価入射窓厚さ,一層目の検出部そのものの厚さ及び

一層目の検出部と二層目の検出部との間に含まれるあらゆる構造の厚さを含む。 

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3.5 

変動係数,V(coefficient of variation) 

n個の測定値(xi)の標準偏差の推定値(s)の,平均値(x)に対する比で,次の式による。 

(

)

=

=

=

n

i

ix

x

n

x

x

s

V

1

2

1

1

1

3.6 

決定しきい値,DT(decision threshold) 

バックグラウンドとの差が有意である測定値のしきい値。測定によるバックグラウンドの分散(Vb)の

2倍の平方根に第1種過誤が生じる確率を5 %とした場合の係数1.64を乗じた値で,次の式による。 

b

b

32

.2

2

64

.1

S

V

DT

=

×

=

ここに, 

Sb: バックグラウンドの標準偏差 

3.7 

検出部(detection assembly) 

放射線検出器及びそれに附属する機能ユニットを含む装置。 

3.8 

指示部(indication assembly) 

ダストモニタの指示値を表示する装置。他の種類のダストモニタの指示も含め複数の検出部の指示を集

中的に監視する装置の一部であることもある。 

3.9 

警報部(alarm assembly) 

指示値がある設定値を超えたことを知らせるための装置。 

3.10 

定格吸引流量(rated flow) 

ダストモニタを表2の基準条件で作動させた場合の,製造業者が公称する吸引流量値。単位は,受渡当

事者間の協定がない場合は,L/minとする。 

3.11 

機器効率(instrument efficiency) 

放射線源の表面放出率に対する,決められた幾何学的条件で測定したときの測定器の正味計数率(バッ

クグラウンド計数率を差し引いたもの)の比。 

3.12 

線源効率(source efficiency) 

表面放出率と放射線源(放射線源の厚さが飽和層厚さ以上の場合は飽和層)の中で単位時間に放出され

る同じ種類の放射線粒子数との比。 

モニタ種類 

対象放射線によるモニタ種類は,次による。 

a) α線ダストモニタ ダストのα線を測定するダストモニタ。 

b) β線ダストモニタ ダストのβ線を測定するダストモニタ。 

c) γ線ダストモニタ ダストのγ線を測定するダストモニタ。 

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

d) α・β線ダストモニタ 一つの検出部を用いてダストのα線及びβ線を同時に測定するダストモニタ。 

e) a)〜d) を組み合わせたもの α線を測定する検出部,β線を測定する検出部,γ線を測定する検出部,

又はα線とβ線とを同時に測定する検出部の,いずれか二つ以上の検出部を装着したダストモニタ 

性能 

5.1 

検出部のレスポンス 

検出部のレスポンスは,7.2.2の方法で試験したとき,次による。 

a) 形式検査では,レスポンスの値を求める。レスポンスの許容範囲は規定しない。 

b) 受渡検査では,形式検査時に求めたレスポンスを取決め真値とし,レスポンスの相対基準誤差は±

20 %とする。 

5.2 

直線性 

直線性は,7.2.3の方法で試験したとき,相対基準誤差がアナログ式の場合は直線目盛において±(10+

U) %,対数目盛において±[0.04×N 1)+0.004×U]デカード,デジタル式の場合は±(10+U) %(デジタル誤

差を除く)とする。 

注1) Nは,その指示範囲のデカード数とする(以下,同様とする。)。 

2) Uは,相対基準放射能又は表面放出率の取決め真値の相対拡張不確かさとする。(包含係数k=2)

(以下同様とする。) 

5.3 

外部放射線の影響 

外部放射線の影響は,7.2.4の方法で試験したときのバックグラウンド及び10 μGy・h-1の指示値を測定し,

決定しきい値を算出し,外部放射線の影響(又は最低検出感度)についての性能とする。指示値及び決定

しきい値の許容範囲は規定しない。受渡当事者間の協定によって,決定しきい値に代わる別の式で評価す

る場合は,その算出式によって評価する。 

5.4 

オーバロード特性 

オーバロード特性は,受渡当事者間の協定がない場合は,7.2.5の方法で試験したとき,±10 %とする。

オーバロードの指示を与えている間(10分間以上)は,最大値以上又は測定範囲を超えていることを表示

し続けなければならない。 

5.5 

指示値変動 

指示値変動は,7.2.6の方法で試験したとき,指示値の変動係数は0.1以下でなければならない。 

5.6 

ドリフト 

ドリフトは,7.2.7の方法で試験したとき,アナログ式の場合は直線目盛において±10 %,対数目盛にお

いて±(0.04×N)デカード,デジタル式の場合は±10 %とする。 

5.7 

警報レベルの安定性 

警報レベルの安定性は,7.2.8の方法で試験したとき,信号入力に対する警報発生の有無によって次によ

る。 

a) 警報レベルの95 %の信号入力に対して警報が発生しない。 

b) 警報レベルの105 %の信号入力に対して警報が発生する。 

5.8 

β線エネルギー特性 

β線ダストモニタ及びα・β線ダストモニタのβ線検出部のβ線エネルギー特性は,7.2.9の方法で試験

したとき,7.2.9のa),b) 又はc) に規定するエネルギーに対する機器効率をそれぞれ求め,最大となる機

器効率に対する最小となる機器効率の比を,β線エネルギー特性についての性能とし,製造業者の保障値

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

はそれ以下とする。 

なお,150 keV以下のエネルギー範囲の試験実施の必要性については,受渡当事者間の協定によって定

める。 

5.9 

測定対象外の放射線による影響 

測定対象外の放射線による影響は,次による。 

a) α線の影響 7.2.10の方法で試験をしたとき,β線ダストモニタ,又はα・β線ダストモニタのβ線

を測定するチャネルについては,α線の機器効率がβ線の機器効率の25 %以下とする。 

b) β線の影響 7.2.10の方法で試験をしたとき,α線ダストモニタ,又はα・β線ダストモニタのα線

を測定するチャネルについては,β線の機器効率がα線の機器効率の2 %以下とする。 

5.10 検出部及び指示部の起動時間の安定性 

検出部及び指示部の起動時間の安定性は,7.2.11の方法で試験したとき,装置の電源を入れてから30分

後の指示値の変化は,アナログ式の場合,直線目盛においては±10 %,対数目盛においては±(0.04×N)デ

カード,デジタル式の場合は±10 %とする。 

5.11 電源電圧の変動に対する安定性 

電源電圧の変動に対する安定性は,7.2.12の方法で試験したとき,電源電圧変動に対する指示値の変化

は,アナログ式の場合,直線目盛においては±10 %,対数目盛においては±(0.04×N)デカード,デジタル

式の場合は±10 %とする。 

5.12 温度特性 

温度特性は,受渡当事者間の協定によって定めた温度変化範囲に対して7.2.13の方法で試験したとき,

基準温度20 ℃における指示値に対する,上限温度及び下限温度における指示値の変化は,表1の規定に

適合しなければならない。 

中間温度点における指示値と基準温度時の指示値との差は,アナログ式の場合,直線目盛においては±

10 %,対数目盛においては±(0.04×N)デカード,デジタル式の場合,±10 %を満たさない場合は,製造業

者はその差を記録しなければならない。 

受渡当事者間の協定によって定めた温度変化範囲が表1に示す温度変化範囲と異なる場合は,表1に記

載の許容範囲を逸脱しない範囲で,受渡当事者間の協定によって許容範囲を決定する。 

表1−温度特性の許容範囲 

温度変化範囲 

中間温度点 

許容範囲 

アナログ式 

デジタル式 

直線 

対数 

10〜35 ℃ 

22 ℃ 

±10 % 

±(0.04×N)デカード 

±10 % 

−10〜+40 ℃ 

15 ℃ 

±20 % 

±(0.08×N)デカード 

±20 % 

−25〜+50 ℃ 

12 ℃ 

±50 % 

±(0.18×N)デカード 

±50 % 

5.13 湿度特性 

湿度特性は,7.2.14の方法で試験したとき,指示値の変化は,アナログ式の場合,直線目盛においては

±10 %,対数目盛においては±(0.04×N)デカード,デジタル式の場合は±10 %とする。 

5.14 圧力降下の影響 

圧力降下の影響は,7.2.15の方法で試験したとき,基準流量計の流量指示値の±10 %とする。 

5.15 気密性 

気密性は,7.2.16の方法で試験したとき,ダストモニタの漏えい量が定格吸引流量の5 %以下とする。

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ただし,構造上,試験が行えないサンプラについては,受渡当事者間の協定によって省略することができ

る。 

5.16 電源電圧の変動による流量への影響 

電源電圧の変動による流量への影響を表す吸引流量の変化は,7.2.17の方法で試験したとき,±5 %でな

ければならない。 

構造 

6.1 

構造一般 

ダストモニタの構造一般は,次による。 

a) ダストモニタは,検出部,指示部,警報部,サンプラなどによって構成する。 

b) 連続運転に耐え得るように,堅ろうかつ操作及び保守が容易なものとする。 

c) 振動,衝撃,腐食ガスなどの影響を受けにくい構造とする。 

d) 電磁誘導,静電気などの影響を受けにくい構造とする。 

e) 他の機器に対して電磁誘導などの影響を与えにくい構造とする。 

f) 

電源は,受渡当事者間の協定がないときは,50 Hz又は60 Hzの100 V交流電源とする。 

g) 故障に対する自己診断機能をもつことが望ましい。 

6.2 

サンプラ 

サンプラは,JIS Z 4601に規定するサンプラのうち検出部を装着できるものとする。ただし,その他の

構造は,次による。 

a) 固定ろ紙式サンプラには,円形ろ紙を用いる。移動ろ紙式サンプラにあっては,ダスト捕集面の形状

は正方形又は長方形とし,ロール状ろ紙を用いる。 

b) 対向した検出部でα線を測定する場合,ろ紙によるα線の自己吸収は小さいほうが望ましい。 

c) ろ紙ホルダ(大きさ,形状,支持具など)は,ろ紙の機械的強度及び吸引ポンプの特性に応じた構造

とする。 

d) 放射性ダストの濃度測定時に,捕集した空気中に存在する41Ar,85Kr,133Xeなどの放射性ガスによっ

て影響を極力受けないように,検出部付近の間隙を小さくした構造とする。 

e) ろ紙及びろ紙ホルダは安全,迅速かつ容易に交換できる構造とする。 

f) 

必要に応じてサンプリング配管を切り替えて,測定を行う機能をもたせてもよい。 

6.3 

検出部 

検出部は,次による。 

a) 検出部は汚染しにくく,除染又は交換が容易な構造とする。 

b) 検出部の有効面の形状は,ダスト捕集面の形状と同一又は大きいことが望ましい。また,α線のスペ

クトルを測定する場合には,検出部の有効面の形状とダスト捕集面の形状とは同一とすることが望ま

しい。 

c) 検出部有感部の入口において放射線源表面と垂直方向である最大全等価入射窓厚さは,検出される放

射線の種類に応じて,次による。 

1) α線ダストモニタ用検出部の最大全等価入射窓厚さは,2 mg/cm2(3.2 MeV相当のエネルギー損失)

未満とする。 

2) α・β線ダストモニタ用検出部のα線検出部の最大全等価入射窓厚さは,測定対象とするα線のエ

ネルギーに応じた値とする。 

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3) β線ダストモニタ用検出部又はα・β線ダストモニタ用検出部のβ線検出部の最大全等価入射窓厚

さは,測定対象とするβ線のエネルギーに応じた値とする。 

d) α線のスペクトルを測定し,バックグラウンドとの識別を行うダストモニタの場合,製造業者は,検

出部の特性を考慮し,該当するエネルギー範囲にあるα線のエネルギー分解能を示さねばならない。 

6.4 

指示部 

ダストモニタ指示は,アナログ式又はデジタル式の計数率計又はスケーラによって行い,単位は放射能

濃度(Bq/m3)とし,測定対象核種を示す。受渡当事者間の協定によって,s-1,min-1などの別の単位系を

採用してもよい。 

6.5 

警報部 

警報部は,次による。 

a) 指示値が警報設定値を超えたときには,ランプ,ブザーなどによって警報を発する。 

b) 警報表示の内容は,受渡当事者間の協定による。 

c) 警報は,リセット又は原因の解消まで維持する。 

d) 警報動作が確認できなければならない。また,警報レベルの設定が可変な場合は,有効測定範囲内に

設定ができるとともに,警報設定値を確認できるようにする。 

e) ダストモニタの故障又は異常を表示する。この表示は,故障又は異常の原因ごとに個別に表示するこ

とが望ましい。 

試験 

7.1 

試験条件 

7.1.1 

共通試験条件 

7.2の各試験方法における基準条件は,表2による。特に,製造業者が指定した場合を除き,表2に示

す標準試験条件とする。 

標準試験条件で行えない場合は,温度,気圧及び湿度を指定し,必要に応じて基準条件の指示値となる

よう補正する。 

表2−標準試験条件 

項目 

基準条件 

標準試験条件 

予熱時間 分 

30 

≧30 

環境温度 ℃ 

20 

18〜22 

相対湿度 % 

65 

55〜75 

気圧a) kPa 

101.3 

86〜106 

電源電圧 

定格電源電圧 

定格電源電圧±1 % 

電源周波数 

定格電源周波数 

定格電源周波数±0.5 % 

電源波形 

正弦波 

正弦波からのひずみ5 %未満 

γ線バックグラウンド μGy・h-1 

空気カーマ率0.2以下 

空気カーマ率0.25以下 

静電気場 

無視できるレベル 

無視できるレベル 

外部電磁場 

無視できるレベル 

影響の認められるレベル未満 

外部磁気誘導 

無視できるレベル 

地球磁場の2倍未満 

サンプリング流量 

製造業者が定める公称流量に調整 

公称流量の±5 %に調整 

機器制御 

正規動作状態に設定 

正規動作状態に設定 

放射性物質による汚染 

無視できるレベル 

無視できるレベル 

background image

Z 4316:2013  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

表2−標準試験条件(続き) 

項目 

基準条件 

標準試験条件 

ラドン同位元素 
(222Rn及び220Rn) 

無視できるレベル 

影響の認められるレベル未満 

化学物質による汚染 

無視できるレベル 

無視できるレベル 

注a) 大気圧の変化に敏感な場合の試験条件は,±5 %とする。 

7.1.2 

放射線源 

試験に用いる放射線源(以下,線源という。)は,β線源としては36Cl及び204Tl,α線源としては241Am,

γ線源としては137Csの線源とする。その他の線源については,受渡当事者間の協定によって用いてもよ

い。β線の線源として適切な放射性核種の例を表3に示す。β線及びα線ダストモニタを校正する線源の

表面放出率,及びγ線ダストモニタを校正する線源の放射能は,JIS Q 17025に基づき認定されたJCSS登

録事業者など国家標準へのトレーサビリティが確立された校正機関によって,国家標準とのトレーサビリ

ティが明確でなければならない。 

表面放出率又は放射能の相対拡張不確かさUは,10 %(包含係数k=2)以下とする。ダストモニタを校

正する線源の形状は,ダスト捕集面の形状と同じとする。β線エネルギー特性試験で用いる線源で,最大

エネルギーが150 keV以上の線源を用いる場合は,線源効率が0.25を超える線源であることが望ましい。 

表3−β線用線源a), b) 

核種 

半減期 

β線最大エネルギー(keV) 

63Ni 

100.1年 

67 

14C 

5700年 

157 

203Hg c) 

46.61日 

213 

147Pm 

2.62年 

225 

45Ca 

163日 

257 

60Co c) 

5.27年 

318 

137Cs c) 

30.17年 

514(94.4 %) 

1176(5.6 %) 

185W 

75.1日 

433 

204Tl 

3.78年 

764(97.1 %) 

36Cl 

3.01×105年 

709(98.1 %) 

198Au c) 

2.695日 

961(99.0 %) 

89Sr 

50.53日 

1495 

32P 

14.26日 

1711 

90Sr+90Y d) 

28.79年 

546 

2280 

注a) 出典 アイソトープ手帳 11版(社団法人日本アイソトープ協会編) 

b) 最大エネルギー10 keV未満のβ線エネルギー又は1 %未満の放出率のものは含まない。 

c) これらの核種は,γ線も放出する。また,137Cs及び198Auは,内部転換電子も併せて

放出するので,それらの影響を考慮する必要がある。 

d) 

90Sr+90Yに130 mg/cm2厚のフィルターをかけることによって,90Yからの高エネルギー

β線だけを利用してもよい。 

7.2 

試験方法 

7.2.1 

一般 

試験方法一般は,次による。 

Z 4316:2013  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

a) 全ての試験は,電子回路については30分以上の予熱時間が経過した後に実施する。 

b) 試験条件のうち,ある項目の条件を変化させて試験する場合には,その項目以外の条件は,表2に規

定する標準試験条件の範囲とする。 

c) 線源を用いる試験及びパルス信号発生器を用いた試験以外の試験は,未使用のろ紙を使用状態と同様

に装着して行う。ただし,7.2に用いるろ紙は,JIS K 0901に規定するもので,捕集効率は,粒径0.3 μm

の粒子に対して95 %以上のものとする。 

d) スケーラ式のダストモニタにおいて線源を用いて指示値を記録する場合は,適切な時間を設定する。 

e) 数値の丸め方は,JIS Z 8401に従う。 

f) 

試験に用いるモニタ及び測定器は,国際又は国家計量標準にトレース可能な計量標準に照らして校正

又は検証すること。 

7.2.2 

検出部のレスポンス試験 

線源を製造業者の定める位置に設置して測定し,正味計数率からレスポンスを求める。レスポンスは,

次の式による。 

t

t

M

N

R=

ここに, 

R: レスポンス 

Nt: 正味計数率 

Mt: 放射能の取決め真値 

なお,放射能の取決め真値は,表面放出率で値付けられた線源を用いる場合には,次の式による。 

ε

X

M=

t

ここに, 

Mt: 取決め真値 

X: 表面放出率 

ε: 線源効率。線源効率は,特に規定のない場合,0.5とする。 

7.2.3 

直線性試験 

アナログ式の直線目盛の場合は,最高感度を指示する指示範囲(アナログ式の対数目盛及びデジタル式

の場合はデカード,以下同じ。)の25 %,最低感度を指示する指示範囲の75 %,その他の指示範囲の50 %

近辺に相当する指示値について,次のa) の試験又はa) の試験とb) の試験との組合せによって行う。a) の

試験とb) の試験との組合せによって実施する場合,a) の線源を用いた照射試験の試験点は,受渡当事者

間の協定によって定めてもよい。 

a) 線源を用いた試験 線源を用いた試験は,試験点に相当する指示値を与える線源を製造業者の定める

位置に設置して測定し,得られた正味計数率をレスポンスで除した値,及び放射能の取決め真値から

相対基準誤差を求める。 

ここで,放射能の取決め真値は,放射能又は表面放出率を線源効率で除したものとする。 

b) 電気試験 電気試験は,パルス信号発生装置を用い,検出部からの出力信号に近似した波形を指示部

の入力端に試験点に相当する指示値を与える信号を入力する。ここで,相対基準誤差E(%)を次の

式によって求める。 

100

×

×

=

q

I

Q

i

E

ここに, 

E: 相対基準誤差(%) 

I: 線源を用いた試験の指示値 

Q: Iと同じ指示値を与える信号入力パルス率 

10 

Z 4316:2013  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

q: 試験点に相当する指示値を与える信号入力パルス率 

i: qを入力したときの指示値 

7.2.4 

外部放射線の影響試験 

外部放射線の影響試験は,次による。 

a) 検出部の周りに遮蔽のない状態で,γ線源による線量率が検出部の位置で,空気カーマ率10 μGy・h-1

±10 %となるような線源の位置を求める。 

b) ダストを捕集していない状態で,標準試験条件下でのダストモニタの指示値及びバックグラウンド指

示値の決定しきい値を求める。指示値は,5分間隔で10回以上読み取り,記録する。 

c) a) で求めた位置に線源を置き,サンプラに組み込まれた検出部を照射したときのダストモニタの指示

値を記録し,バックグラウンド指示値の決定しきい値を求める。γ線源の核種は,137Cs又は60Coと

し,検出部と線源との間隔を検出部に均一に照射されるのに十分な距離とする。指示値は,5分間隔

で10回以上読み取り,記録する。 

決定しきい値の代わりに,受渡当事者間の協定によって定められた別の式を用いて求めてもよい。 

7.2.5 

オーバロード特性試験 

オーバロード特性試験は,パルス発生器の信号を用いて,バックグラウンド及び数え落としの影響が十

分無視できる程度の指示をダストモニタに与え(指示1),指示値(I1)を記録し,この指示値を基準値と

する。次に,最低感度指示範囲又はデカードの最大目盛値の10倍以上の指示に相当する信号を入力し,10

分間以上動作させ,その間の指示値が最大目盛値を超えていることを確認する。信号の入力を停止し,1

時間又は受渡当事者間の協定によって定めた時間よりも短い時間経過後,指示1と同じ条件でダストモニ

タに指示2を与え,その指示値(I2)から基準値を差し引いた値の基準値に対する百分率を求める。 

7.2.6 

指示値変動試験 

指示値変動試験は,バックグラウンド及び数え落としの影響が十分無視できる程度の指示を得ることの

できる線源を用いる。統計的に独立とみなせる時間間隔(時定数の3倍程度,スケーラ式ダストモニタの

場合は,時間間隔を設ける必要はない。)で10回以上指示値を読み取り,変動係数を求める。 

7.2.7 

ドリフト試験 

ドリフト試験は,バックグラウンド及び数え落としの影響が十分無視できる程度の指示を得ることので

きる線源を用いて行う。ダストモニタを起動させて30分後に,統計的に独立とみなせる時間間隔で10回

以上指示値を読み取り,この平均値を基準値とする。続いて1時間後,10時間後,100時間後に各10回以

上指示値を読み取り,平均値を計算し,平均値から基準値を差し引いた値の基準値に対する百分率を求め

る。 

7.2.8 

警報レベルの安定性試験 

警報レベルの安定性試験は,次による。 

a) パルス信号発生装置を用いて,指示下方から警報レベルの95 %まで上昇させ,100時間又は受渡当事

者間の協定に基づく時間運転したときに警報が発生しないことを確認する。 

b) ダストモニタ起動後,30分後及び100時間又は受渡当事者間の協定に基づく時間経過後に,パルス信

号発生装置を用いて,指示下方から警報レベルの105 %まで上昇させ,5分以内に警報が発生するこ

とを確認する。 

7.2.9 

β線エネルギー特性試験 

β線エネルギー特性試験は,次のエネルギー範囲にβ線最大エネルギーのある線源を製造業者の定める

位置に設置して測定し,機器効率を求める。それぞれの試験で用いる線源の形状及び構造は同一とする。 

11 

Z 4316:2013  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

a) 400 keV以下のエネルギー範囲において1種類の線源 

b) 400 keV〜1 MeVの範囲において1種類の線源 

c) 1 MeV以上の範囲において1種類の線源 

統計変動を無視できるような十分な強度の線源を用いる。 

7.2.10 測定対象外の放射線の影響試験 

測定対象外の放射線の影響試験は,次による。 

a) α線の影響 β線検出部にα線を照射し機器効率を測定する。 

b) β線の影響 α線検出部にβ線を照射し機器効率を測定する。 

7.2.11 検出部及び測定部の起動時間の安定性試験 

検出部及び測定部の起動時間の安定性試験は,装置への電源を1時間以上止めてから実施する。始めに,

バックグラウンド及び数え落としの影響が十分無視できる程度の指示値を得ることのできる位置に線源を

取り付ける。電源投入後,1時間の間,5分ごとに指示値を読み取り,経過時間と指示値との関係のグラフ

を描き,グラフから30分後の指示値を読み取り記録する。さらに,10時間後の指示値を読み取り,その

値を基準値とする。起動後30分後の指示値から基準値を差し引いた値の基準値に対する百分率を求める。

起動後30分後の指示値は,グラフからではなく直接読み取ってもよい。各点での指示値の読取回数は,統

計的に独立とみなせる時間間隔で10回以上とし,その平均値を指示値とする。必要があれば指示値に対し

て半減期補正を行う。 

7.2.12 電源電圧の変動に対する安定性試験 

電源電圧の変動に対する安定性試験は,バックグラウンド及び数え落としの影響が十分無視できる程度

の指示値を得ることのできる位置に線源を取り付け,電源電圧を定格電圧の88 %,100 %,110 %にした場

合の指示値を読む。定格電圧における指示値を基準値とし,各電圧における指示値から基準値を差し引い

た値の基準値に対する百分率を求める。電源電圧の試験点は,受渡当事者間の協定によって定めてもよい。 

7.2.13 温度特性試験 

温度特性試験は,ダストモニタ全体又は検出部を動作状態にして恒温槽内に設置し,α線,β線又はγ

線の線源を用いて,バックグラウンド計数率及び数え落としの影響が十分無視できる程度の放射線を,検

出部に照射する。槽内を5.12に規定する温度範囲の各上下限の温度に4時間以上保持する。指示値は,こ

の保持時間の最後の30分間に取得したデータを記録する。次に,基準温度20 ℃の指示値を基準値とする。

上下限温度点及び中間温度点における指示値から基準値を差し引いた値の基準値に対する百分率を求める。

この試験の温度範囲に対して線源が耐久性をもたない場合は,電気信号試験によって代替してもよい。 

7.2.14 湿度特性試験 

湿度特性試験は,ダストモニタ全体又は検出部を動作状態にして恒温槽内に設置し,周囲温度35 ℃で

相対湿度65 %及び90 %において,α線,β線又はγ線の線源を用いて,バックグラウンド計数率及び数

え落としの影響が十分無視できる程度の放射線を,検出部に照射する。ダストモニタを動作状態にし,前

記の各相対湿度(湿度の許容差は±5 %とする。)の環境に1時間以上放置した後,指示値を読む。相対湿

度65 %における指示値を基準値とし,相対湿度90 %における指示値から基準値を差し引いた値の基準値

に対する百分率を求める。この試験の湿度範囲に対して線源が耐久性をもたない場合は,電気信号試験に

よって代替してもよい。 

7.2.15 圧力降下の影響試験 

圧力降下の影響試験は,次による。 

a) 新しいろ紙を装着し,ダストモニタに備えられた流量計の指示値を読み取り,定格流量に調整する。 

background image

12 

Z 4316:2013  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

b) ダストモニタの上流側に基準流量計を取り付け,基準流量計とダストモニタ入口との間に調整バルブ

を取り付ける。 

c) 調整バルブを絞り,基準流量計の指示値を10 %低下させる。 

d) c) における基準流量計の指示値を取決め真値とする。 

e) c) におけるダストモニタに備えられた流量計の指示値を読み取る。 

なお,圧力降下は,校正済みの圧力センサ(Uチューブ,差圧計など)を,ろ紙の下流側の製造業者指

定位置に取り付けて確認することが望ましい。 

7.2.16 気密性試験 

気密性試験は,サンプラの吸引口を密閉し,流路内の圧力と大気との差が13 kPa以上になるように減圧

した後,吸引ポンプの入口を閉じ,吸引ポンプを停止する。この状態を5分間保持し,5分経過前後の圧

力計の指示値を読み取り,次の式によって漏えい量を求め,定格吸引量に対する百分率を求める。 

なお,圧力計を装備していないサンプラの場合には,吸引口などの適切な位置に圧力計を接続して試験

を行う。この場合,接続部からの漏えいがないように注意しなければならない。 

×

=

0

5

0

ln

5

1

3.

101

P

P

VP

Q

ここに, 

P5: 5分後における圧力(kPa) 

P0: 試験開始時における圧力(kPa) 

Q: 試験開始時における漏えい量(L/min) 

V: 内容量(L) 

7.2.17 電源電圧の変動による流量への影響試験 

電源電圧の変動による流量への影響試験は,吸引ポンプの電源電圧を定格電圧の88 %に下げた場合の流

量計の指示値と,定格電圧の110 %値に上げたときの流量計の指示値とを読み取り,定格電圧のときの流

量計の指示値を基準値とし,電圧変動時の指示値から基準値を差し引いた値の基準値に対する百分率で表

す。また,電源電圧の試験点は,受渡当事者間の協定によって定めてもよい。 

検査 

8.1 

一般 

ダストモニタの検査は,形式検査2) と受渡検査3) とに区分し,箇条7に規定する方法で行い,箇条5の

規定に適合したものを合格とする。 

なお,形式検査は,設計段階で一つ以上のダストモニタに対して行う。受渡検査の抜取方式は,受渡当

事者間の協定による。 

注2) 製品の品質が,設計で示した全ての特性を満足するかどうかを判定するための検査。 

3) 既に形式検査に合格したものと同じ設計・製造による製品の受渡しをする場合,必要と認める

特性が満足するものであるかどうかを判定するための検査。 

8.2 

形式検査 

形式検査は,次の項目について試験する。 

a) 検出部のレスポンス 

b) 直線性 

c) 外部放射線の影響 

13 

Z 4316:2013  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

d) オーバロード特性 

e) 指示値変動 

f) 

ドリフト 

g) 警報レベルの安定性 

h) β線エネルギー特性 

i) 

測定対象外の放射線による影響 

j) 

検出部及び指示部の起動時間の安定性 

k) 電源電圧の変動に対する安定性 

l) 

温度特性 

m) 湿度特性 

n) 圧力降下の影響 

o) 気密性 

p) 電源電圧の変動による流量への影響 

8.3 

受渡検査 

受渡検査の項目は,検出部のレスポンスとする。この他に,受渡当事者間の協定によって定める項目を

含めてもよい。 

表示 

ダストモニタには,見やすい箇所に容易に消えない方法で,次の事項を表示しなければならない。 

a) 名称及び/又は規格番号並びにダストモニタの種類 

b) 定格電圧 

c) 定格周波数 

d) 製造番号 

e) 製造年月 

f) 

製造業者名又はその略号 

10 取扱説明書 

ダストモニタには,少なくとも次の事項を記載した取扱説明書を添付しなければならない。 

a) ダストモニタの種類 

b) 検出部のレスポンスの取決め真値 

c)  外部放射線の影響 

d)  β線エネルギー特性 

e) 用いるろ紙の種類 

f) 

線源及びろ紙の設置位置 

g) 定格吸引流量 

h) 流量計表示精度 

i) 

圧力計表示範囲 

j) 

使用電源 

k) 質量及び寸法 

l) 

全等価入射窓厚さ 

14 

Z 4316:2013  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

m) 交換部品 

n) 据付方法 

o) 取扱い上の注意事項 

参考文献 アイソトープ手帳 11版(社団法人日本アイソトープ協会編) 

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15 

Z 4316:2013  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

附属書JA 

(参考) 

JISと対応国際規格との対比表 

JIS Z 4316:2013 放射性ダストモニタ 

IEC 60761-1:2002 Equipment for continuous monitoring of radioactivity in gaseous effluents−Part 1: General requirements 
IEC 60761-2:2002 Equipment for continuous monitoring of radioactivity in gaseous effluents−Part 2: Specific requirements 
for radioactive aerosol monitors including transuranic aerosols 
IEC 61172:1992 Radiation protection instrumentation−Monitoring equipment−Radioactive aerosols in the environment 

(I)JISの規定 

(II)国際規
格番号 

(III)国際規格の規定 

(IV)JISと国際規格との技術的差異
の箇条ごとの評価及びその内容 

(V)JISと国際規格と
の技術的差異の理由及
び今後の対策 

箇条番号 
及び題名 

内容 

箇条 
番号 

内容 

箇条ごと 
の評価 

技術的差異の内容 

1 適用範囲 a) 施設の作業環境における空気

中の放射能濃度の測定。 

b) 施設から環境中に排出される

排気中の放射能濃度の測定。 

c) 環境における空気中の放射能

濃度の測定。 

 
また,放射性ダストモニタにサン
プリング空気を供給するためのサ
ンプリング配管は,この規格の適
用外とする。 

IEC 60761-2 1 

施設から環境中に排出される
排気中の放射能濃度の測定。 

変更 

作業環境の測定を追加。 

国際規格を改正するよ
う提案を検討する。 

IEC 61172 

環境における空気中の放射能
濃度の測定。 

変更 

サンプリング配管につい
てはこの規格の適用範囲
外とした。 

実質的な差異はない。 

3 用語及び
定義 

JIS Z 4001及びJIS Z 8103によ
る。 

IEC 60761-1 
IEC 60761-2 
IEC 61172 



1.3 

国際規格内で使用している用
語 

追加 

箇条4以降で使用してい
ない用語,JIS Z 4001及
びJIS Z 8103に記載され
ている用語を削除。 

実質的な差異はない。 

4 モニタ種
類 

対象放射線によるモニタ種類は,
次による。 

IEC 60761-2 4 

エアロゾルモニタの種類 

追加 

国内で使用実績のある
α・β線ダストモニタを
対象に追加。 

国際規格を改正するよ
う提案を検討する。 

IEC 61172 

1.4 

エアロゾルモニタの種類 

5

Z

 4

3

1

6

2

0

1

3

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

background image

16 

Z 4316:2013  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

(I)JISの規定 

(II)国際規
格番号 

(III)国際規格の規定 

(IV)JISと国際規格との技術的差異
の箇条ごとの評価及びその内容 

(V)JISと国際規格と
の技術的差異の理由及
び今後の対策 

箇条番号 
及び題名 

内容 

箇条 
番号 

内容 

箇条ごと 
の評価 

技術的差異の内容 

5 性能 

5.1 検出部のレスポンス 
形式検査時のレスポンスの相対基
準誤差は±20 %とする。 

IEC 60761-2 13.4 

放射性ダストによるレスポン
スは製造業者の定める値±
20 %とする。 

変更 

国内では放射性ダストに
よるレスポンス試験が困
難であるため,放射性ダ
ストを用いる動的試験に
よるものを削除し,線源
を用いる静的試験による
ものだけに変更。 

日本の規制法令による。
国際規格を改正するよ
う提案を検討する。 

5.2 直線性 
計数率の相対基準誤差 
アナログ式直線目盛:±(10+U) % 
アナログ式対数目盛:±(0.04×N
+0.004×U)デカード 
デジタル式:±(10+U) % 

IEC 60761-1 26.3 

相対基準誤差は±10 %(放射
線源の不確かさは含まない。) 

変更 

指示計器の目盛の種類ご
とに性能値を規定。 

実質的な差異はない。 

IEC 60761-2 13.5 

±20 % 

IEC 60761-2に合わせて
相対基準誤差に対する規
格値を変更。 

国際規格を改正するよ
う提案を検討する。 

IEC 61172 

3.2.2 

5.6 ドリフト 
100時間での指示値変動 
アナログ式直線目盛:±10 % 
アナログ式対数目盛:±(0.04×N)
デカード 
デジタル式:±10 % 

IEC 60761-1 27.5 

100時間での変化が10 %を超
えない。 

追加 

指示計器の目盛の種類ご
とに性能値を規定。 

実質的な差異はない。 

IEC 61172 

3.3.6 

500時間での変化が10 %を超
えない。 

変更 

IEC 60761-2に合わせて,
500時間を100時間に変
更。 

国際規格を改正するよ
う提案を検討する。 

5.7 警報レベルの安定性 
95 %の信号入力に対して警報を
発生しない。 
105 %の信号入力に対して警報を
発生する。 

IEC 61172 

3.3.7 

警報動作点が警報設定値の
80 %〜120 %の範囲で発生す
る。 

変更 

IEC 60761-2に合わせて,
警報動作点を80 %から
95 %に,120 %から105 %
に変更。 

国際規格を改正するよ
う提案を検討する。 

5.8 β線エネルギー特性 
β線ダストモニタ及びα・β線ダ
ストモニタのβエネルギー特性
は,最大となる機器効率に対する
最小となる機器効率の比が,製造
業者の指定する値以上。 

IEC 60761-2 
IEC 61172 

13.6 
3.2.3 

β線ダストモニタ及びβエネ
ルギー特性は,最大となる機
器効率に対する最小となる機
器効率の比が,製造業者の指
定する値以上。 

追加 

国内で使用実績のある
α・β線ダストモニタを
対象に追加。 

国際規格を改正するよ
う提案を検討する。 

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1

3

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

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Z 4316:2013  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

(I)JISの規定 

(II)国際規
格番号 

(III)国際規格の規定 

(IV)JISと国際規格との技術的差異
の箇条ごとの評価及びその内容 

(V)JISと国際規格と
の技術的差異の理由及
び今後の対策 

箇条番号 
及び題名 

内容 

箇条 
番号 

内容 

箇条ごと 
の評価 

技術的差異の内容 

5 性能 
(続き) 

5.9測定対象外の放射線による影
響 
α線の影響:β線ダストモニタ,
又はα・β線ダストモニタのβ線
測定チャネルのα線の機器効率
は,β線の機器効率の25 %以下 
β線の影響:α線ダストモニタ,
又はα・β線ダストモニタのα線
測定チャネルのβ線の機器効率
は,α線の機器効率の2 %以下 

IEC 60761-2 13.8 

α線の影響:β線ダストモニ
タのα線の機器効率がβ線の
機器効率の25 %以下 
β線の影響:α線ダストモニ
タβ線の機器効率がα線の機
器効率の2 %以下 

追加 

α・β線ダストモニタを
対象に追加したことによ
って記述を追加。 

国際規格を改正するよ
う提案を検討する。 

IEC 61172 

3.2.5 

α線の影響:β線ダストモニ
タのα線の機器効率がβ線の
機器効率の10 %以下 
β線の影響:α線ダストモニ
タβ線の機器効率がα線の機
器効率の1 %以下 

変更 

IEC 60761-2に合わせて,
α線影響をβ線の機器効
率の10 %以下を25 %以
下に,β線影響をα線の
機器効率の1 %以下を
2 %以下に変更。 

国際規格を改正するよ
う提案を検討する。 

5.10 検出器及び指示部の起動時
間の安定性 
起動30分後の指示値の変化: 
アナログ式直線目盛:±10 % 
アナログ式対数目盛:±(0.04×N)
デカード 
デジタル式:±10 % 

IEC 60761-1 27.2 

起動30分後の指示値の変化は
±10 % 

追加 

指示計器の目盛の種類ご
とに性能値を規定。 

実質的な差異はない。 

IEC 61172 

3.3.2 

起動15分後の指示値の変化は
±10 % 

変更 

IEC 60761-2に合わせて,
起動15分後を30分後に
変更。 

国際規格を改正するよ
う提案を検討する。 

5.11 電源電圧の変動に対する安
定性 
電源電圧変動に対する指示値の変
化: 
アナログ式直線目盛:±10 % 
アナログ式対数目盛:±(0.04×N)
デカード 
デジタル式:±10 % 

IEC 60761-1 
IEC 61172 

27.3 
3.3.4 

電源電圧,電源周波数変動に
対する指示値の変化は±10 % 

変更 

指示計器の目盛の種類ご
とに性能値を規定。 

実質的な差異はない。 

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

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Z 4316:2013  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

(I)JISの規定 

(II)国際規
格番号 

(III)国際規格の規定 

(IV)JISと国際規格との技術的差異
の箇条ごとの評価及びその内容 

(V)JISと国際規格と
の技術的差異の理由及
び今後の対策 

箇条番号 
及び題名 

内容 

箇条 
番号 

内容 

箇条ごと 
の評価 

技術的差異の内容 

5 性能 
(続き) 

5.12 温度特性 
基準温度20 ℃における指示値に
対する,上下限温度における指示
値の変化: 
アナログ式直線目盛:±10 %,±
20 %,±50 % 

IEC 60761-1 28.1 

基準温度20 ℃における指示
値に対する,上下限及び中間
温度の指示値の変化は±
10 %,±20 %,±50 % 

変更 

指示計器の目盛の種類ご
とに性能値を規定。 

実質的な差異はない。 

アナログ式対数目盛:±(0.04×N)
デカード,±(0.08×N)デカード,
±(0.18×N)デカード 
デジタル式:±10 %,±20 %,±50 %

IEC 61172 

3.4.1 

基準温度20 ℃における指示
値に対する,上下限の指示値
の変化は±10 %,±20 %,±
50 % 

5.13 湿度特性 
湿度に対する指示値の変化: 
アナログ式直線目盛:±10 % 
アナログ式対数目盛:±(0.04×N)
デカード 
デジタル式:±10 % 

IEC 60761-1 
IEC 61172 

28.2 
3.4.2 

湿度に対する指示値の変化は
±10 % 

変更 

指示計器の目盛の種類ご
とに性能値を規定。 

実質的な差異はない。 

5.14 圧力降下の影響 
圧力降下の影響: 
基準流量計指示値±10 % 

IEC 61172 

3.5.3 

基準流量計指示値±5 % 

変更 

IEC 60761-2に合わせて,
基準流量計指示値±5 %
から±10 %に変更。 

国際規格を改正するよ
う提案を検討する。 

6 構造 

6.1 構造一般 
f) 50 Hz又は60 Hzの100 V交流

電源 

IEC 60761-1 21 

I:230 Va.c. 
II:110 Va.c. 
III:120 V/240 Va.c. 

変更 

国内の電源仕様に合わせ
た。 

実質的な差異はない。 

IEC 61172 

3.3.3 

I:220 V 
II:120 V/240 V 

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

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Z 4316:2013  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

(I)JISの規定 

(II)国際規
格番号 

(III)国際規格の規定 

(IV)JISと国際規格との技術的差異
の箇条ごとの評価及びその内容 

(V)JISと国際規格と
の技術的差異の理由及
び今後の対策 

箇条番号 
及び題名 

内容 

箇条 
番号 

内容 

箇条ごと 
の評価 

技術的差異の内容 

6 構造 
(続き) 

6.3 検出部 
a) 汚染しにくく除染又は交換が

容易 

b) 検出部の検出有効面積 
c) 最大全等価入射窓厚さ 
d) α線スペクトルメータはエネ

ルギースペクトルを校正でき
ることが望ましい。 

IEC 60761-2 5.4 

5.5 

a)〜d) JISに同じ。ただし,c)
にα・β線ダストモニタの記
載はなし。 

追加 

c) 3)にα・β線ダストモ
ニタの記載を追加。 

国際規格を改正するよ
う提案を検討する。 

7 試験 

7.2.1 一般 
c) ろ紙:JIS K 0901 

− 

− 

− 

追加 

動的試験を削除した結
果,ろ紙に対する要求を
追加。 

日本の規制法令による。
国際規格を改正するよ
う提案を検討する。 

7.2.2 検出部のレスポンス試験 
線源を製造業者の定める位置に設
置して測定し,レスポンスを求め
る。 

IEC 60761-2 13.4 

放射性ダストを使用した動的
試験と動的試験と同一の核種
の個体線源を使用した静的試
験を実施しレスポンスを算出
する。 

変更 

動的試験を削除し,固体
線源を使用したレスポン
ス試験だけとした。 

日本の規制法令による。
国際規格を改正するよ
う提案を検討する。 

追加 

線源効率は特に規定のな
い場合0.5とする。 

実質的な差異はなし。 

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

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Z 4316:2013  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

(I)JISの規定 

(II)国際規
格番号 

(III)国際規格の規定 

(IV)JISと国際規格との技術的差異
の箇条ごとの評価及びその内容 

(V)JISと国際規格と
の技術的差異の理由及
び今後の対策 

箇条番号 
及び題名 

内容 

箇条 
番号 

内容 

箇条ごと 
の評価 

技術的差異の内容 

7 試験 
(続き) 

7.2.3 直線性試験 
最高感度指示範囲の25 %,最低感
度指示範囲の75 %,その他の指示
範囲の50 %近辺に相当する指示
値の相対基準誤差を算出する。 
次のa)の試験又はa)の試験とb)の
試験との組合せによって行う。 

IEC 60761-1 
IEC 60761-2 
IEC 61172 

26.3 
13.5 
3.2.2 

最高感度指示範囲の25 %,最
低感度指示範囲の75 %,その
他の指示範囲の50 %指示で測
定する。 

追加 

電気試験の相対基準誤差
の算出方法を追加。 

実質的な差異はなし。 

線源を用いた試験又は線源を
用いた試験と電気試験の組合
せによって行うが,少なくと
も3点は線源を使用して実施
する。 
線源を使用した試験 
リニアスケール 
最高感度指示範囲の25 % 
最低感度指示範囲の75 % 
その他の指示範囲の50 % 
ログスケール 
各デカードの75 %の指示点で
測定する。 
 
電気試験 
25 %,50 %,75 %の指示点で
測定する。 

変更 

国内での線源の入手性に
合わせ,線源を使用した
試験は1点以上とした。 

日本の規制法令による。

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

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Z 4316:2013  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

(I)JISの規定 

(II)国際規
格番号 

(III)国際規格の規定 

(IV)JISと国際規格との技術的差異
の箇条ごとの評価及びその内容 

(V)JISと国際規格と
の技術的差異の理由及
び今後の対策 

箇条番号 
及び題名 

内容 

箇条 
番号 

内容 

箇条ごと 
の評価 

技術的差異の内容 

7 試験 
(続き) 

7.2.5 オーバロード特性試験 
パルス発生器の信号を用いてバッ
クグラウンド及び数え落としの影
響が十分無視できる程度の指示を
ダストモニタに与えた時の指示値
を基準値とする。最低感度指示範
囲又はデカードの最大目盛値の
10倍以上の指示を与え,指示値が
最大目盛を超えていることを確認
する。 
信号の入力を停止後,基準値に相
当する指示を再び与え,その指示
値から基準値を差し引いた値の基
準値に対する百分率を求める。 

IEC 60761-1 
IEC 61172 

26.6 
3.2.9 

感度が一番高いレンジで50 %
の指示に相当する線源をセッ
トした時の指示値を基準値と
する。 
最大値の10倍の指示に相当す
る線源をセットし指示値が最
大目盛を超えることを確認す
る。 
一定時間経過後再び,基準値
に相当する線源をセットし基
準値の指示変動が10 %であ
る。 

変更 

国内での線源の入手性に
合わせ,パルス発振器の
信号を用いた試験に変
更。 

日本の規制法令による。

7.2.8 警報レベルの安定性試験 
パルス信号発生装置を用いて指示
下方から警報レベルの95 %まで
上昇させ,100時間又は受渡当事
者間の協定に基づく時間運転した
ときに警報が発生しないことを確
認する。 
ダストモニタ起動後,30分後,100
時間後又は受渡当事者間の協定に
基づく時間経過後に指示下方から
警報レベルの105 %まで上昇さ
せ,5分以内に警報が発生するこ
とを確認する。 

IEC 60761-1 
IEC 61172 

27.7 
3.3.7 

パルス信号発生器を用いて,
警報レベルの94 %まで上昇さ
せ,100時間運転時の警報無を
確認する。 
ダストモニタ起動後30分後,
100時間後警報レベルの106 %
まで上昇させ,1分以内に警報
が発生することを確認する。 
パルス信号発生器を用いて,
警報レベルの79 %まで上昇さ
せ,500時間運転時の警報無を
確認する。 
ダストモニタ起動後1,10,
100,200,500時間後,警報レ
ベルの121 %まで上昇させ,1
分以内に警報が発生すること
を確認する。 

変更 

近年の他IEC規格の規定
内容と整合させた。 

国際規格を改正するよ
う提案を検討する。 

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

(I)JISの規定 

(II)国際規
格番号 

(III)国際規格の規定 

(IV)JISと国際規格との技術的差異
の箇条ごとの評価及びその内容 

(V)JISと国際規格と
の技術的差異の理由及
び今後の対策 

箇条番号 
及び題名 

内容 

箇条 
番号 

内容 

箇条ごと 
の評価 

技術的差異の内容 

7 試験 
(続き) 

7.2.9 β線エネルギー特性試験 
統計変動を無視できるような十分
な強度の線源を用いる。 

IEC 60761-2 13.6 

計数率の統計変動が標準偏差
で1 %以下となる十分な強度
の線源を用いる。 

変更 

線源の入手性を考慮し,
統計変動が1 %を超えて
も,統計変動を無視でき
ると扱える場合には使用
可能とした。 

日本の規制法令によ
る。 

7.2.11 検出部及び測定部の起動時
間の安定性試験 
バックグラウンド及び数え落とし
の影響が十分無視できる程度の指
示値を得ることのできる位置に線
源をセットする。 
電源投入後1時間の間,5分ごと
に指示値を読み取り,経過時間と
指示値との関係のグラフを描き,
起動後30分後の指示値を読み取
る。 
グラフを作成せずに30分後の指
示値を直接測定してもよい。 

IEC 60761-1 
IEC 61172 

27.2 
3.3.2 

指示値が最大値の1/3〜1/2の
指示を得ることのできる位置
に線源をセットする。 
起動後1時間の間,5分ごとに
指示値を読み取り,経過時間
と指示値との関係のグラフを
描き,起動後30分の指示値を
読み取る。 

追加 

“起動後30分後の指示
値は,グラフからではな
く直接読み取ってもよ
い。”を追加。 

実質的な差異はない。 

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

(I)JISの規定 

(II)国際規
格番号 

(III)国際規格の規定 

(IV)JISと国際規格との技術的差異
の箇条ごとの評価及びその内容 

(V)JISと国際規格と
の技術的差異の理由及
び今後の対策 

箇条番号 
及び題名 

内容 

箇条 
番号 

内容 

箇条ごと 
の評価 

技術的差異の内容 

7 試験 
(続き) 

7.2.12 電源電圧の変動に対する安
定性試験 
バックグラウンド及び数え落とし
の影響が十分無視できる程度の指
示を得ることのできる位置に線源
を取り付け,電源電圧を定格電圧
の88 %,100 %(基準値),110 %
にした時の指示値を読む。 

IEC 60761-1 27.3 

2番目の測定レンジ内の指示
を得る位置に線源を取り付
け,電源電圧を定格電圧の
88 %,100 %(基準値),110 %
にした時,周波数を47 Hzか
ら51 Hzにした時の指示値を
読み,指示値の変化を求める。 

追加 

電源電圧条件は使用環境
によって異なるので,試
験点を受渡当事者間の協
定によって定めてもよい
ことにした。 

実質的な差異はない。 

定格電圧における指示値を基準値
とし,各電圧における指示値から
基準値を差し引いた値の基準値に
対する百分率を求める。 
 
電源電圧の試験点は受渡当事者間
の協定によって定めてもよい。 

IEC 61172 

3.3.4 

2番目の測定レンジ内の指示
を得る位置に線源を取り付
け,電源電圧を定格電圧の
88 %,100 %(基準値),110 %
にした時,周波数を47 Hzか
ら51 Hzにした時の指示値を
読み,指示値の変化を求める。 

7.2.13 温度特性試験 
バックグラウンド計数率及び数え
落としの影響が十分無視できる程
度の線源を用いる。 
温度範囲の各上下限の環境に4時
間以上保持した後,指示値を読む。 

IEC 60761-1 28.1 

+10〜+35 ℃ 
−10〜+40 ℃ 
−25〜+50 ℃の温度範囲に
24時間以上保持し,指示値を
読み,指示値の変化を算出す
る。 

変更 

国内の使用実績に合わ
せ,試験温度と放置時間
を変更。また,試験対象
をダストモニタ又は検出
部に明確化。 

国際規格を改正するよ
う提案を検討する。 

上下限点及び中間温度点における
指示値から基準温度における指示
値を差し引いた値の基準値に対す
る百分率を求める。 
 
この試験の温度範囲に対して線源
が耐久性をもたない場合は,電気
信号試験によって代替してもよ
い。 

IEC 61172 

3.4.1 

室内 
+10〜+55 ℃ 
室外 
−10〜+40 ℃ 
−25〜+50 ℃の温度範囲に4
時間以上保持し,指示値を読
み,指示値の変化を算出する。 

追加 

線源の耐久温度が温度範
囲を満たさない場合,電
気試験によって代替して
もよいことを追加。 

国際規格を改正するよ
う提案を検討する。 

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Z 4316:2013  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

(I)JISの規定 

(II)国際規
格番号 

(III)国際規格の規定 

(IV)JISと国際規格との技術的差異
の箇条ごとの評価及びその内容 

(V)JISと国際規格と
の技術的差異の理由及
び今後の対策 

箇条番号 
及び題名 

内容 

箇条 
番号 

内容 

箇条ごと 
の評価 

技術的差異の内容 

7 試験 
(続き) 

7.2.14 湿度特性試験 
バックグラウンド計数率及び数え
落としの影響が十分無視できる程
度の線源を用いる。 
上下限温度の周囲温度35 ℃で基
準相対湿度及び90 %の環境に1時
間以上放置した後,指示値を読む。 
相対湿度90 %における指示値か
ら基準相対湿度における指示値を
差し引いた値の基準値に対する百
分率を求める。 
 
この試験の湿度範囲に対して線源
が耐久性をもたない場合は,電気
信号試験によって代替してもよ
い。 

IEC 60761-1 28.2 

周囲温度35 ℃,相対湿度90 %
の環境に24時間以上放置し,
指示値を読み,指示値の変化
を算出する。 

変更 

国内の使用実績に合わ
せ,環境放置時間を1時
間に変更。 
ダストモニタ又は検出部
に変更。 

国際規格を改正するよ
う提案を検討する。 

IEC 61172 

3.4.2 

周囲温度35 ℃,相対湿度90 %
の環境で,指示値を読み,指
示値の変化を算出する。 

線源の耐久湿度が湿度特
性範囲を満たさない場
合,電気試験によって代
替してもよいことを追
加。 

国際規格を改正するよ
う提案を検討する。 

7.2.16 気密性試験 
サンプラの吸引口を密閉し流路内
の圧力と大気との差が13 kPa以上
となるように減圧した後,吸引ポ
ンプの入口を閉じ吸引ポンプを停
止する。この状態を5分間保持し,
5分経過前後の圧力計の指示値を
読み取り,漏えい量を求める。 

IEC 60761-2 
IEC 61172 

14.1 
3.5.1 

両者の誤差が1 %以内に構成
されている二つの流量計を使
用して,片方のろ紙を上流に,
もう片方をろ紙の下流に設置
し,適切な時間間隔で10回測
定を行いそれぞれの流量を比
較する。 
両者の誤差が2 %以内に構成
されている二つの流量計を使
用して,片方のろ紙を上流に,
もう片方をろ紙の下流に設置
し,適切な時間間隔で10回測
定を行いそれぞれの流量を比
較する。 

変更 

サンプリング配管部を適
用範囲外としたことによ
って,漏えい量の試験方
法を変更。 

実質的な差異はない。 

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

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Z 4316:2013  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

(I)JISの規定 

(II)国際規
格番号 

(III)国際規格の規定 

(IV)JISと国際規格との技術的差異
の箇条ごとの評価及びその内容 

(V)JISと国際規格と
の技術的差異の理由及
び今後の対策 

箇条番号 
及び題名 

内容 

箇条 
番号 

内容 

箇条ごと 
の評価 

技術的差異の内容 

7 試験 
(続き) 

7.2.17 電源電圧の変動による流量
への影響試験 
吸引ポンプの電源電圧を定格電圧
の88 %,又は110 %にした時の流
量計の指示値を読む。 

IEC 60761-1 
IEC 61172 

29.3 
3.5.4 

吸引ポンプの電源電圧を定格
電圧の88 %,100 %(基準値),
110 %にした時の流量計の指
示値を読む。 

追加 

“試験点を受渡当事者間
の協定によって定めても
よい。”を追加。 

実質的な差異はない。 

電圧変動時の流量計の指示値か
ら,定格電圧のときの流量計の指
示値(基準値)を差し引いた値の
基準値に対する百分率を求める。 
 
電源電圧の試験点は受渡当事者間
の協定によって定めてもよい。 

電圧変動時の流量計の指示値
から定格電圧のときの流量計
の指示値(基準値)を差し引
いた値の,基準値に対する百
分率を求める。 

8 検査 

8.2 形式検査 

IEC 60761-2 13 

14 

13,14記載の形式検査を実施
する。 

変更 

箇条5及び箇条7の変更
に合わせ試験項目を変
更。 

実質的な差異はない。 

8.3 受渡検査 

− 

− 

− 

追加 

IEC規格には規定なし。 

国際規格を改正するよ
う提案を検討する。 

9 表示 

見やすい箇所に以下の事項を表示 
a) 名称及び/又は規格番号並び

にダストモニタの種類 

b) 定格電圧 
c) 定格周波数 
d) 製造番号 
e) 製造年月 
f) 製造業者名又はその略号 

− 

− 

− 

追加 

IEC規格には規定なし。 

国際規格を改正するよ
う提案を検討する。 

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

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Z 4316:2013  

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き,本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。 

(I)JISの規定 

(II)国際規
格番号 

(III)国際規格の規定 

(IV)JISと国際規格との技術的差異
の箇条ごとの評価及びその内容 

(V)JISと国際規格と
の技術的差異の理由及
び今後の対策 

箇条番号 
及び題名 

内容 

箇条 
番号 

内容 

箇条ごと 
の評価 

技術的差異の内容 

10 取扱説
明書 

ダストモニタには少なくとも次の
事項を記載した取扱説明書を添付
しなければならない。 
a) ダストモニタの種類 
b) 検出器のレスポンスの取決め

の真値 

c) 外部放射線の影響 
d) β線エネルギー特性 
e) 用いるろ紙の種類 
f) 線源及びろ紙の設置位置 
g) 定格吸引流量 
h) 流量計表示精度 
i)  圧力計表示範囲 
j)  使用電源 
k) 質量及び寸法 
l)  全等価入射窓厚さ 
m) 交換部品 
n) 据付方法 
o) 取扱い上の注意事項 

− 

− 

− 

追加 

IEC規格には規定なし。 

国際規格を改正するよ
う提案を検討する。 

JISと国際規格との対応の程度の全体評価:IEC 60761-1:2002,IEC 60761-2:2002,IEC 61172:1992(全体評価MOD) 

注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は,次による。 
 

− 追加 ················ 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。 

− 変更 ················ 国際規格の規定内容を変更している。 

注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は,次による。 
 

− MOD ··············· 国際規格を修正している。 

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き、本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。