Z 4120：2008 (IEC 60336：2005)
（1）
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目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲 ························································································································· 1
2 引用規格 ························································································································· 1
3 用語及び定義 ··················································································································· 1
4 焦点特性の決定方法 ·········································································································· 2
4.1 焦点特性 ······················································································································ 2
4.2 X線管装置の長軸··········································································································· 2
4.3 基準軸 ························································································································· 2
4.4 焦点長さに関する評価方向······························································································· 2
4.5 焦点幅に関する評価方向 ································································································· 2
5 焦点測定用カメラ設定 ······································································································· 2
5.1 概要 ···························································································································· 2
5.2 試験装置 ······················································································································ 2
5.3 試験配置 ······················································································································ 4
5.4 焦点測定系の許容差 ······································································································· 6
6 X線像の作成 ··················································································································· 6
6.1 概要 ···························································································································· 6
6.2 作動条件 ······················································································································ 6
6.3 焦点スリットX線像又は焦点ピンホールX線像の作成 ························································· 7
6.4 適合性の表明 ················································································································ 7
7 線広がり関数（LSF）の測定法 ··························································································· 7
7.1 概要 ···························································································································· 7
7.2 測定器及び測定の配置 ···································································································· 8
7.3 濃度分布の測定 ············································································································· 8
7.4 LSFの決定 ··················································································································· 8
7.5 適合性の表明 ················································································································ 8
8 焦点寸法の決定 ················································································································ 9
8.1 概要 ···························································································································· 9
8.2 測定及び決定 ················································································································ 9
8.3 指定の公称焦点値 ·········································································································· 9
8.4 適合性の表明 ··············································································································· 10
8.5 適合の表示 ·················································································································· 11
9 変調伝達関数（MTF）の決定 ···························································································· 11
9.1 概要 ··························································································································· 11
9.2 指定のMTF ················································································································· 11
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9.3 MTFの計算 ················································································································· 11
9.4 MTF適合のための評価 ·································································································· 12
9.5 適合性の表明 ··············································································································· 12
10 焦点スターX線像 ·········································································································· 13
10.1 概要 ·························································································································· 13
10.2 試験装置 ···················································································································· 13
11 スターパターン解像度 ···································································································· 15
11.1 概要 ·························································································································· 15
11.2 指定されたスターパターン解像度 ··················································································· 15
11.3 測定 ·························································································································· 15
11.4 スターパターン解像度の決定 ························································································· 16
11.5 評価及び適合性の表明 ·································································································· 16
12 ブルーミング比 ············································································································· 17
12.1 概要 ·························································································································· 17
12.2 ブルーミング比の決定 ·································································································· 17
12.3 評価及び適合性の表明 ·································································································· 17
13 代替測定 ······················································································································ 18
附属書A（参考）基準軸に対する配置 ····················································································· 19
附属書B（参考）焦点特性決定のためのデジタルX線画像検出器の適用 ········································ 21
附属書C（参考）国際規格策定の経緯 ····················································································· 22
参考文献 ···························································································································· 26
定義された用語の索引 ·········································································································· 27
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まえがき
この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，社団法人日本画像医療システム工業会(JIRA)
及び財団法人日本規格協会(JSA)から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，
日本工業標準調査会の審議を経て，厚生労働大臣及び経済産業大臣が制定した日本工業規格である。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。厚生労働大臣，経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，
このような特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に係る確認に
ついて，責任はもたない。
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白 紙
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日本工業規格 JIS
Z 4120：2008
(IEC 60336：2005)
診断用Ｘ線管装置−焦点特性
Medical electrical equipment−X-ray tube assemblies for medical diagnosis−
Characteristics of focal spots
序文
この規格は，2005年に第4版として発行されたIEC 60336を基に，技術的内容及び対応国際規格の構成
を変更することなく作成した日本工業規格である。この規格で太字にした用語は，箇条3で定義した用語
である。
なお，この規格で点線の下線を施してある参考事項は，対応国際規格にはない事項である。
1
適用範囲
この規格は，200 kV以下の管電圧で使用する医療診断用X線管装置の焦点特性に適用する。
この規格は，焦点特性の測定方法及び適合性の表明方法を示す。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
IEC 60336:2005，Medical electrical equipment−X-ray tube assemblies for medical diagnosis−
Characteristics of focal spots (IDT)
なお，対応の程度を表す記号(IDT)は，ISO/IEC Guide 21に基づき，一致していることを示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで，西暦年を付記してあるものは，記載の年の版を適用し，その後の改正版（追補を含む。）
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS Z 4004 医用放射線機器図記号
注記 対応国際規格：IEC 60417:2002，Graphical symbols for use on equipment (MOD)
JIS Z 4005 医用放射線用語
注記 対応国際規格：IEC 60788:1984，Medical radiology−Terminology (MOD)
IEC 60613:1989, Electrical, thermal and loading characteristics of rotating anode X-ray tubes for medical
diagnosis
3
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，JIS Z 4005によるほか，次による。
3.1
スターパターン解像度(STAR PATTERN RESOLUTION LIMIT)
焦点の特性を示し，規定の測定条件の下で解像可能な最大空間周波数。
2
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4
焦点特性の決定方法
4.1
焦点特性
焦点特性は，幅及び長さの2方向について示す。この箇条の説明を，附属書Aの図A.1に示す。
4.2
X線管装置の長軸
一般に長軸は，図A.1に示す軸をいう。X線管装置の長軸が明確でない場合，又は製造業者がほかに定
義する場合は，製造業者は長軸を焦点特性とともに定義しなければならない。
4.3
基準軸
指定されていない場合，一般に，基準軸はX線管装置の長軸と垂直で，X線管装置の実焦点の中心にあ
り，かつ，長軸と交差する。
4.4
焦点長さに関する評価方向
焦点長さの評価方向は，X線管装置の基準軸及び長軸から構成される平面上で基準軸に垂直とする。
4.5
焦点幅に関する評価方向
焦点幅の評価方向は，X線管装置の基準軸及び長軸に垂直とする。
5
焦点測定用カメラ設定
5.1
概要
この箇条は，箇条9の変調伝達関数（MTF）の決定，更に箇条8の焦点寸法の決定に用いる，焦点スリ
ットX線像を形成するカメラの設計仕様について規定する。
この箇条では, 焦点ピンホールX線像についても規定する。
5.2
試験装置
5.2.1
スリットカメラ
スリットは，高X線吸収の材料を使用し，図1に示す寸法でなければならない。適切な材質の例を，次
に示す。
− タングステン
− タンタル
− 金と10 ％白金との合金
− タングステンと10 ％レニウムとの合金
− 白金と10 ％イリジウムとの合金
3
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
単位 mm
図1−スリットの主要寸法
5.2.2
ピンホールカメラ
ピンホールは，高X線吸収の材料を使用し，図2に示す寸法でなければならない。適切な材質の例を，
次に示す。
− タングステン
− タンタル
− 金と10 ％白金との合金
− タングステンと10 ％レニウムとの合金
− 白金と10 ％イリジウムとの合金
4
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
単位 mm
図2−ピンホールの主要寸法
5.2.3
撮影用フィルム
焦点スリットX線像又は焦点ピンホールX線像は，増感紙を使わずに微粒子の撮影用フィルムを用いて
撮影する（例 歯科用撮影用フィルム）。
5.3
試験配置
5.3.1
基準軸と垂直のスリット又はピンホール位置
スリット及びピンホール中心と基準軸との同心度は，mの距離100 mm当たり±0.2 mm以内の精度でな
ければならない（図3参照）。
単位 mm
図3−基準軸に対するスリット又はピンホールの中心位置（図では×で示す。）
5.3.2
基準軸上のスリット又はピンホール位置
スリット又はピンホールの入射面は，実焦点の広がりによる拡大率の変化が基準軸に沿って，±5 ％を
超えない距離に設置しなければならない（図4参照）。
5
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
mの距離100 mm当たり p＜5 mm，k＜5 mm のとき，
k ：スリット又はピンホールに最も遠い実効焦点端部までの距離
p ：スリット又はピンホールに最も近い実効焦点端部までの距離
m ：入射面と基準面との距離
n ：入射面から受像器面との距離
E ：n / m で示される拡大率
スリット又はピンホールから焦点までの距離は，100 mm以上でなければならない。
単位 mm
図4−参照寸法及び面
5.3.3
スリット又はピンホールの方向
対称軸（図1及び図2に示す。）は，基準軸に対して1°未満の角度で配置する。
焦点スリットX線像を得るために，スリットを，スリット長さを評価する方向の90±1°以内に配置し
なければならない。
5.3.4
撮影用フィルムの位置
撮影用フィルムは，表1によって，適切な倍率で設定されたスリット又はピンホール投影面からの距離
で基準軸に対し90±1°で受像器面上に置く。倍率Eは，±3 ％の精度で設定する。
6
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表1−焦点X線像の拡大率
公称焦点値
f a)
拡大率
E = n / m b)
f ≦ 0.4
E ≧ 3
0.4 ＜ f ＜ 1.1
E ≧ 2
1.1 ≦ f
E ≧ 1
注a) 8.3参照。
b) 図4参照。
5.4
焦点測定系の許容差
焦点測定用カメラの設置が焦点測定に与える許容差は，±5 ％を超えてはならない。
6
X線像の作成
6.1
概要
この箇条は，焦点スリットX線像及び焦点ピンホールX線像の作成について規定する。
焦点スリットX線像及び焦点ピンホールX線像が，この規格に適合していることを表明する方法を含む。
6.2
作動条件
6.2.1
焦点スリットX線像及び焦点ピンホールX線像
焦点スリットX線像及び焦点ピンホールX線像は，箇条5に準じた焦点測定用カメラで作成しなければ
ならない。焦点スリットX線像から焦点寸法を決定するための必要事項を箇条8に，MTFを決定するた
めの必要事項を箇条9に規定する。
焦点ピンホールX線像は，焦点全体における放射強度の方向，対称性及び分布を示すことだけに用いる。
6.2.2 X線管装置
X線管は，正常な使用として指定された形式のX線管容器に封入されなければならない。又は試験結果
に影響を与える可能性がある限り，X線管は，取付け及び作動条件がX線管装置と同等な条件下で測定し
なければならない。
X線出力を減じるための付加ろ過は，その付加ろ過が線広がり関数（LSF）に重大な影響を与えないこ
とを確認しない限り用いてはならない。しかし，正常な使用でX線管装置に附属するすべての部品は取り
付けなければならない。
6.2.3
X線条件
撮影又はコンピュータ断層撮影で使用するX線管装置の焦点スリットX線像及び焦点ピンホールX線
像は，表2に示す一定のX線条件で得なければならない。
回転陽極X線管の陽極は，該当する撮影定格で，指定の最大陽極回転速度で回転させなければならない。
表2−X線条件
公称最高管電圧
kV
要求する管電圧
撮影時間
要求するX線管
電力
コンピュータ断
層撮影を除く撮
影
U ＜ 75
公称最高管電圧
要求する光学濃度
に必要な時間
6.3.3参照
IEC 60613で規定
した公称陽極入
力の50 ％
75 ≦ U ≦ 150
75 kV
150 ＜ U ≦ 200 公称最高管電圧の
50 ％
コンピュータ断層撮影
120 kV
7
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6.2.4
特別なX線条件
表2によるX線条件が当該X線管の撮影定格内に入らない場合，又はX線管に指定された正常な使用
での標準的なX線条件を含まない場合には，適切なX線条件を別途選択しなければならない。この場合，
焦点スリットX線像又は焦点ピンホールX線像を得たX線条件を，特性と一緒に附属文書に記載しなけ
ればならない。
特別な場合（可変焦点など）は，焦点の特性を異なった負荷ごとに記載したほうが適している。
6.2.5
特別な配置
適切な焦点X線像の作成を目的に，スリットカメラ，及び／又はX線管装置の両方又はどちらかを特別
に配置した場合，又は特別な電気的条件若しくは負荷の条件を用いた場合は，適合の表明に特性と一緒に
附属文書に詳細を記載しなければならない。
6.3
焦点スリットX線像又は焦点ピンホールX線像の作成
6.3.1
焦点スリットX線像の作成
一組の焦点スリットX線像は，6.2に規定した作動条件で作成しなければならない。
6.3.2
焦点ピンホールX線像の作成
焦点ピンホールX線像は，6.2に規定した作動条件で作成しなければならない。
6.3.3
撮影用フィルムの露出
撮影用フィルムは，現像後に最大黒化領域内の光学濃度が1.0〜1.4に入るように撮影しなければならな
い。かぶり込みベース濃度は，0.25を超えてはならない。
6.4
適合性の表明
一組の焦点スリットX線像又は焦点ピンホールX線像が，この規格に適合していることを表明する場合
には，次のように表示する。
JIS Z 4120に準じた拡大率1)… の焦点スリットX線像
又は，
JIS Z 4120に準じた拡大率2)… の焦点ピンホールX線像
必要に応じて，次の条件を追加記載する。
−基準軸（4.3参照）
−X線条件（6.2.3参照）
−特別な配置（6.2.5参照）
−X線管装置の長軸（4.2参照）
注1) 箇条5によって採用及び決定した拡大率
2) 箇条5によって採用及び決定した拡大率
7
線広がり関数（LSF）の測定法
7.1
概要
この箇条は，箇条8の焦点寸法の決定，及び箇条9のMTFの決定に使用する一組のLSFの測定法につ
いて規定する。これらのLSFは，焦点スリットX線像から得なければならない。一組のLSFがこの規格
に適合していることを示す方法を含む。
8
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7.2
測定器及び測定の配置
箇条5及び箇条6によって得られた焦点スリットX線像は，マイクロデンシトメータによって走査しな
ければならない。マイクロデンシトメータのスリット幅(b)は，焦点スリットX線像の作成に用いたスリッ
トの幅を超えてはならない。図5で示すように，X線像上に投影されたスリットの長手方向と垂直なマイ
クロデンシトメータのスリットの有効幅(beff)が，マイクロデンシトメータのスリット幅(b)の2倍より小さ
くなるように，マイクロデンシトメータのスリットの長さを調整しなければならない。
図5−マイクロデンシトメータのスリット調整
7.3
濃度分布の測定
各焦点スリットX線像の濃度分布は，長手方向の中心位置で長手方向に垂直に走査する。走査方向は，
スリットの方向と90±2°以内に設定しなければならない。
走査する範囲は，求める公称焦点値の最大許容値の少なくとも4倍の値に，焦点スリットX線像を作成
するのに用いた拡大率(E)を乗じた値より大きくなるようにしなければならない。
この測定結果は，X線像の幅全域の濃度を示す曲線として表す。
7.4
LSFの決定
正味濃度を，照射強度と濃度との関係を示すフィルム特性曲線によって，X線像の幅全域にわたって照
射強度の線形分布を示す曲線に変換しなければならない。
フィルム特性曲線は，焦点スリットX線像用に用いたものと，同じ条件で現像された同一の撮影用フィ
ルムによらなければならない。
LSFは，スキャン方向軸の値を焦点スリットX線像を得るのに用いた拡大率(E)で除した，X線像の幅
全域にわたる放射強度の線形分布を表す曲線から推定しなければならない。
7.5
適合性の表明
LSFがこの規格と適合することを表明する場合は，次のように表示する。
JIS Z 4120に準じたLSFの値
必要に応じて，次の条件を追加記載する。
−基準軸（4.3参照）
−X線条件（6.2.3参照）
−特別な配置（6.2.5参照）
−X線管装置の長軸（4.2参照）
9
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8
焦点寸法の決定
8.1
概要
この箇条は，一組のLSFに基づいた焦点寸法の決定について規定する。これらの関数は，箇条6に規定
した一組の焦点スリットX線像から得なければならない。
この規格への適合基準及びこの規格に適合した公称焦点値を表示する方法を含む。
8.2
測定及び決定
焦点の実寸法は，図6で示すように箇条7によって決定したLSFのピーク値の15 ％位置で測定した寸
法で決定する。
図6−LSF
8.3
指定の公称焦点値
8.3.1
公称値
各形式のX線管装置の焦点は，公称焦点値を次の数値から割り当てる。
− 0.1 〜 0.25 は 0.05 ステップ
− 0.3 〜 2.0 は 0.1 ステップ
− 2.2 以上 は 0.2 ステップ
特定用途用（CT用など）に指定されたX線管装置の焦点は，一組の数値からなる公称焦点値で記載す
る。例えば1.0×1.6については，最初の数値は実効焦点の幅で基準軸又はX線管装置の軸に垂直な方向の
値を，2番目の数値は実効焦点の長さで基準軸に平行な方向の値を表す。この一組の値は前述と同じステ
ップで記載しなければならない。
8.3.2
実測値
公称焦点値は，8.2によって決定した焦点の幅及び長さの実測値が，表3で与えられた幅及び長さの最大
許容値より小さくなるように求めた数値を，2方向の寸法とする。
CT用のような特定用途用の一組の焦点値は，それぞれの値に幅方向の最大許容値の列だけを用いて表3
放射線強度分布
10
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の中の公称焦点値を適用しなければならない。
これらの決定に測定誤差の補正は必要ない。
表3−公称焦点に対する焦点寸法の最大許容値
公称焦点値
焦点寸法の最大許容値 mm
f
幅
長さ
0.1
0.15
0.15
0.15
0.23
0.23
0.2
0.30
0.30
0.25
0.38
0.38
0.3
0.45
0.65
0.4
0.60
0.85
0.5
0.75
1.10
0.6
0.90
1.30
0.7
1.10
1.50
0.8
1.20
1.60
0.9
1.30
1.80
1.0
1.40
2.00
1.1
1.50
2.20
1.2
1.70
2.40
1.3
1.80
2.60
1.4
1.90
2.80
1.5
2.00
3.00
1.6
2.10
3.10
1.7
2.20
3.20
1.8
2.30
3.30
1.9
2.40
3.50
2.0
2.60
3.70
2.2
2.90
4.00
2.4
3.10
4.40
2.6
3.40
4.80
2.8
3.60
5.20
3.0
3.90
5.60
注記 公称焦点値0.3〜3.0の長さの最大許容値は，係数0.7で補正されている
（附属書C参照）。
注記 焦点ピンホールX線像から焦点寸法を決定する場合は，表3の許容値を適用してもよい。
8.4
適合性の表明
一つ以上の公称焦点値がこの規格と適合することを表明する場合は，次のように表示する。
− ミリメートル(mm)単位で表した無名数
例 公称焦点値(JIS Z 4120)：0.6
− 特定の用途用X線管装置（8.3.1参照）用に一組の無名数
例 公称焦点値(JIS Z 4120)：1.0 × 0.6
必要に応じて，次の細分箇条の条件を追加記載する。
− 基準軸（4.3参照）
11
Z 4120：2008 (IEC 60336：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
−X線条件（6.2.3参照）
−特別な配置（6.2.5参照）
−X線管装置の長軸（4.2参照）
8.5
適合の表示
1個以上の指定された公称焦点値におけるこの規格への適合を，X線管装置に表示する場合には（簡略
化した表示も含む。），JIS Z 4004の図記号を使用して，次のように行う。例えば；
記号 JIS Z 4004 04-04
[DB3):2002-10]
記号JIS Z 4004 04-05
(DB:2002-10)
記号JIS Z 4004 04-06
(DB:2002-10)
0.6 JIS Z 4120
1.0×1.6 JIS Z 4120
1.8×1.2 JIS Z 4120
注3) DB：IECオンラインデータベース
9
変調伝達関数（MTF）の決定
9.1
概要
この箇条は，一組のLSFに基づいてX線管装置の焦点と関連するMTFの決定について規定する。
この規格への適合基準及びこの規格に適合したMTFの表示方法を含む。
9.2
指定のMTF
MTFの記載が要求される場合には，各焦点の幾何学寸法によって決まる一組のMTFを各形式のX線管
装置ごとに指定しなければならない。
個々のX線管装置がこの規格に適合することを表明する場合には，9.4によって評価しなければならな
い。
9.3
MTFの計算
9.3.1
無限大に近い理論的拡大率での計算
焦点の幾何学的構造のMTFは，フーリエ変換の手法で計算する。
フーリエ変換を行う入力値は，箇条7で得られた焦点寸法の少なくとも3倍以上の範囲を走査して得た
LSFを数値化したものでなければならない。
横座標に沿った測定点間の距離は，焦点全体の放射強度の線形分布の大きさ及び形を考慮して選択しな
ければならない。測定点間の距離を縮めることによって結果に大きな影響を与えてはならない。
例 測定点間の距離の50 ％短縮がどの点において算出されたMTFでも5 ％以上変化しないような
測定点間の距離を選択する。
注記 多くの場合，2点の測定間距離を焦点スリットX線像を得るのに用いた拡大率(E)で除した値が，
公称焦点値が0.15以下であれば公称焦点値の10 ％未満，公称焦点値が0.15より大きければ公
称焦点値の5 ％未満であれば十分である。
9.3.2
標準拡大率での計算
9.3.1に従って得られた空間周波数の値は，次の式によって変換する。
12
Z 4120：2008 (IEC 60336：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
1
s
i
s
−
＝MM
f
f
×
ここに， Ms： 表4で与えられる標準拡大率
fs： 標準拡大率Msで決定する対象面での空間周波数
fi： 9.3.1によって得られた空間周波数
表4−MTF用標準拡大率
公称焦点値
f
標準拡大率
Ms
f ＜ 0.6
2
0.6 ≦ f
1.3
注記 一般に，どんな対象でも拡大率Mは，M＝(n＋m) / m で与えられる（図3及び図8に同じ。）。
9.3.3
制限された拡大率での計算
実際の照射条件下でMTFを適用するには，9.3.2によって得られた値，又は9.3.4によって得られた値を
次の式によって変換する。
1
1
p
p
s
s
s
p
−
−
＝
M
M
M
M
f
f
×
×
ここに，
fp： 実際の拡大率における空間周波数
Mp： 実際の拡大率
9.3.4
MTFの表示
MTFは，空間周波数として表4の標準拡大率でのフーリエ変換の大きさを表すグラフとして示す。グラ
フは縦・横軸ともリニアスケールで，フーリエ変換の大きさは空間周波数ゼロが100 ％となるようにしな
ければならない。
MTFは，フーリエ変換の大きさが10 ％以上となるように空間周波数を広げなければならない。
注記 一般に10 ％未満のMTFは，実用上あまり重要ではない。
焦点の幅及び長さの各MTFは，一つのグラフに表示する。また，箇条8で決定した公称焦点値と表4
によった標準拡大率とを同時に表示しなければならない。
9.4 MTF適合のための評価
焦点の各方向のMTFは，どの空間周波数においても，9.2によって指定されたMTFと同じか又は大き
くなければならない。
9.5
適合性の表明
両方向のMTFがこの規格に適合することを表明する場合，次のように表示する。
この規格(JIS Z 4120)による公称焦点寸法0.6，1.3倍拡大のMTF
必要に応じて次の細分箇条の条件を追加記載する。
−基準軸（4.3参照）
−X線条件（6.2.3参照）
−特別な配置（6.2.5参照）
−X線管装置の長軸（4.2参照）
13
Z 4120：2008 (IEC 60336：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
10 焦点スタ−X線像
10.1 概要
この箇条は，箇条11及び箇条12によった焦点のスターパターン解像度及びブルーミング比の決定に用
いるための焦点スターX線像の取得に関するものである。
この規格への適合の表明についても述べている。
10.2 試験装置
10.2.1 スターパターンカメラ
焦点スターX線像は，テストパターンを組み込んだスターパターンカメラから得られなければならない。
スターパターンカメラは，高／低の吸収くさびが交互に並んだもので構成される。高吸収くさびは0.03〜
0.05 mm厚の鉛又はそれと同等の吸収をもつ材質からなる。
すべてのくさびの頂角θは，0.035 rad（ラジアン）（約2°）以下でなければならない。
テストパターンの有効面は，2 π rad（ラジアン）をカバーし，直径は45 mm以上でなければならない。
テストパターンへの要求寸法及び基本的な構成は，図7に適合しなければならない。
図7−スターパターンチャート（テストパターン）の主要寸法
10.2.2 撮影用フィルム
焦点スターX線像は，増感紙を使わずに微粒子フィルムを用いて撮影する。
10.2.3 基準軸に垂直なスターパターンカメラの位置
スターパターンカメラの中心と基準軸との同心度は，mの距離100 mm当たり±0.2 mm以内の精度でな
ければならない（図8参照）。
14
Z 4120：2008 (IEC 60336：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図8−スターパターン試験時の主要位置寸法
10.2.4 基準方向に対するスターパターンカメラの位置
テストパターンは，X線入射面が次のような拡大率M ʼとなるような焦点からの位置に設置されなけれ
ばならない。11.3によって測定した図9のZW，ZLは，テストパターン像の径の1/3以上か，又はなるべく
近い値でなければならない。ただし，25 mm以下にならないようにしなければならない（10.2.6参照）。
10.2.5 スターパターンカメラ調整
テストパターンのX線入射面は，基準方向に対し90±2°以内に設置しなければならない。
10.2.6 撮影用フィルムの位置
撮映用フィルムは，テストパターンのX線入射面からの距離が，次の式によって期待するスターパター
ン解像度Rが求められる拡大率M ʼになる位置で，基準方向に対し90±2°以内で設置しなければならない。
Mʼ＝R×Z×θ
ここに，
Mʼ： 拡大率
R： スターパターン解像度 (lp/mm)
Z： フィルム像のZW又はZLの変調限界寸法 (mm)
θ： 吸収くさびの頂角[rad（ラジアン）]
10.2.7 撮影条件
焦点スターX線像は，6.2に規定した作動条件で撮影しなければならない。
10.2.8 焦点スターX線像の撮影
スターパターンカメラの撮影用フィルムは，6.2に規定した条件で撮影しなければならない。
15
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10.2.9 適合性の表明
焦点スターX線像がこの規格に適合することを表明する場合，11.4.1によって決められた拡大率ととも
に次のとおり表示する。
この規格［JIS Z 4120 (IEC 60336)］に適合した拡大率＿の焦点スターX線像
必要に応じて次の条件を追加記載する。
−基準軸（4.3参照）
−X線条件（6.2.3参照）
−特別な配置（6.2.5参照）
−X線管装置の長軸（4.2参照）
11 スターパターン解像度
11.1 概要
この箇条は，スターパターン解像度の決定について規定する。
この方法は，X線管負荷条件の違いによる焦点特性の変化，又はX線管を使用後の焦点特性の変化を確
認するのに有用である。
注記 箇条10で規定した方法において，MTFが，例えば，焦点の電子強度がほぼガウス分布になる，
というような明確に定義されない場合は，正確な結果とはならない。
11.2 指定されたスターパターン解像度
表5に示される標準拡大率に対するスターパターン解像度が，X線管装置の焦点に対して定められた場
合，個々のX線管装置に対するスターパターン解像度のこの規格への適合は，11.5によって評価しなけれ
ばならない。
11.3 測定
箇条10によって得られた焦点スターX線像において，変調限界のZW，及びZLの寸法を，2方向につい
て測定しなければならない（箇条4及び図9参照）。
図9−スターパターンの変調限界
16
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
11.4 スターパターン解像度の決定
11.4.1 拡大率の決定
焦点スターX線像作成のための拡大率Mʼは，±3 ％以下の精度で決めなければならない。
11.4.2 標準拡大率のスターパターン解像度
表5に与えられた標準拡大率でのスターパターン解像度RWS及びRLSは，次の式によって決定する。
1
1
S
S
W
WS
−
−
＝
M
M
Θ
Z
Mʼ
R
×
×
1
1
S
S
L
LS
−
−
＝
M
M
Θ
Z
Mʼ
R
×
×
ここに， RWS及びRLS： lp/mmで表記の各2方向の値
Mʼ： 10.2.6による拡大率
MS： 表5による標準拡大率
ZW： X線管装置の長軸に平行に測定した変調限界平均寸
法(mm)
ZL： X線管装置の長軸に垂直に測定した変調限界平均寸
法(mm)
Θ： 吸収くさびの頂角[rad（ラジアン）]
表5−スターパターン解像度の標準拡大率
公称焦点値
f
標準拡大率
MS
f＜0.6
2
0.6≦f
1.3
11.4.3 限定拡大率のスターパターン解像度
実拡大率におけるスターパターン解像度は，11.4.2から得られたRWS及びRLS，又は11.2で指定された
RWS及びRLSによって次の式で変換する。
1
1
P
P
S
S
WS
WP
−
−
M
M
M
M
R
R
×
×
=
1
1
P
P
S
S
LS
LP
−
−
＝
M
M
M
M
R
R
×
×
ここに， RWP及びRLP： 実拡大率での値
RWS，RLS： 11.4.2から得られるか，又は11.2で指定された値
MS： 標準拡大率
MP： 実拡大率
11.4.4 スターパターン解像度の表示
スターパターン解像度は，表5の標準拡大率も併記して表示しなければならない。
11.5 評価及び適合性の表明
11.5.1 適合評価
X線管装置の焦点に関し，スターパターン解像度を表示する場合，11.4.2によって決定した値は，公称
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値以上でなければならない。
11.5.2 適合性の表明
この規格に適合する場合，スターパターン解像度は，次のように表示する。
この規格［JIS Z 4120 (IEC 60336)］による拡大率＿＿のスターパターン解像度＿＿ lp/mm
必要に応じて次の細分箇条の条件を追加記載する。
−基準軸（4.3参照）
−X線条件（6.2.3参照）
−特別な配置（6.2.5参照）
−X線管装置の長軸（4.2参照）
12 ブルーミング比
12.1 概要
この箇条は，スターパターン解像度がX線管負荷に依存することを示し，焦点のブルーミング比の決定
について規定する。
ブルーミング比があるタイプのX線管装置の焦点に関連して決められる場合，そのタイプに属する製品
個々のブルーミング比は，12.3.1に定められる適合基準を満足しなければならない。
12.2 ブルーミング比の決定
ブルーミング比は，箇条11によって規定した対のスターパターン解像度を用いて決定しなければならな
い。しかし，焦点スターX線像を使う場合には，これらは表2及び表6，又は同等の作動条件によった一
定のX線条件で得られたものでなければならない。
表6−ブルーミング比測定のためのX線条件
公称最高管電圧
kV
要求する管電圧
撮影時間
要求する管電流
コンピュータ断
層撮影を除く撮
影
U ＜ 75
公称最高管電圧
要求する光学濃度
に必要な時間
6.3.3参照
IEC 60613で規定
した公称陽極入力
の100 ％
75 ≦ U ≦ 150
75 kV
150 ＜ U ≦ 200
公称最高管電圧の50 ％
コンピュータ断層撮影
120 kV
ブルーミング比(B)は，次の式で決定する。
100
50
R
R
B＝
ここに，
R50： 表2に従い測定したスターパターン解像度
R100： 表6に従い測定したスターパターン解像度
12.3 評価及び適合性の表明
12.3.1 適合性の評価
X線管装置の焦点に対しブルーミング比が指定された場合，12.3.2によって決定した値は，指定された
値以下でなければならない。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
12.3.2 適合性の表明
ブルーミング比がこの規格に適合する場合は，次のように表示する。
この規格［JIS Z 4120 (IEC 60336)］によるブルーミング比
必要に応じて次の条件を追加記載する。
−基準軸（4.3参照）
−X線条件（6.2.3参照）
−特別な配置（6.2.5参照）
−X線管装置の長軸（4.2参照）
13 代替測定
この規格で規定した以外の測定方法でこの規格を満足させる場合，その測定方法は，製造業者がこの規
格の測定方法と相関付け，同等性を検証できれば許容できる。
この規格に適合するためには，代替測定方法が，この規格で規定した測定方法で得られた値と同じ結果
にならなければならない。
19
Z 4120：2008 (IEC 60336：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書A
（参考）
基準軸に対する配置
序文
この附属書は，本体の規定を補足するものであって，規定の一部ではない。
A.1 基準軸に対する配置
図A.1に焦点測定に関係する軸及び方向の位置関係を示す。
図A.1−評価に関係する基準軸と方向
この規格に基づいて得られる焦点特性値は，その結果が出た後に排除したり又は補償することが困難な
多くの因子を含むため，適切な実験器具，設備及び手順が必要である。これらの因子の一つが，焦点カメ
ラと実効焦点中心との直線的配置である（A.2 注記参照）。
A.2 受像器面上の実焦点の投影
5.3に基づいた焦点カメラと基準軸との直線性が正しくない場合は，焦点特性について得られたすべての
結果は定量的なものではなく，定性的なものとみなす。
基準軸の正確な位置は，それぞれのX線管装置について特有のものである。また，熱的影響による基準
軸位置の変化は，通常5.3.1に規定する公差よりも大きくなる。
注記 照射野上の焦点形状と寸法は，焦点の投影方向に強い影響を受ける（図A.2を参照）。この規格
は，基準方向への投影（図A.2に示した焦点）についてだけ言及している。
20
Z 4120：2008 (IEC 60336：2005)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図A.2−受像器面上の実焦点の投影
21
Z 4120：2008 (IEC 60336：2005)
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附属書B
（参考）
焦点特性決定のためのデジタルX線画像検出器の適用
序文
この附属書は，本体の規定を補足するものであって，規定の一部ではない。
B.1
焦点特性決定のためのデジタルX線画像検出器の適用
通常，焦点特性の決定には，撮影用フィルムを用いる。
しかし，デジタルX線画像検出器の測定結果と撮影用フィルムを用いた標準的な測定結果との間に等価
性が認められれば，焦点寸法決定に関して多くの優位性があるためデジタルX線画像検出器は，製造業者
に普及していく。
撮影用フィルムは標準的な画像測定方法として残るが，この附属書ではデジタル画像による焦点測定方
法の手引きとフィルム法との相関性を示す。
大型デジタルX線画像検出器が利用できることによって，直接的な焦点特性の測定が可能となっている。
デジタル検出器は，フィルムに対しX線感度がよい，X線照射に対する直線的な応答性がよい，フィルム
スキャンによる不正確さがない，化学的処理による感度への影響がない，危険廃棄物を生じないなど多く
の優位性をもっている。
すべてのデジタル画像システムは，等価の撮影条件において，フィルムを用いた標準的な方法と一致し
た値を示さなければならない。ここでいう“一致した”とはデジタル測定法とフィルム測定法との回帰直
線のこう（勾）配の差が1〜5 ％で，オフセットが測定器の反復性能及びフィルムを使用した測定システ
ムの再現性以下であることを指す。
デジタル画像システムはこれらに加えて，次のものが望ましい。
― 撮影用フィルムを用いない以外は，この規格のすべての方法を採用する。
― SN比 20以上をもつ。
― 露光中に画像システムが飽和しない十分なダイナミックレンジをもつ。
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Z 4120：2008 (IEC 60336：2005)
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附属書C
（参考）
国際規格策定の経緯
序文
この附属書は，この規格の対応国際規格であるIEC 60336の策定経緯について記載するものであって，
規定の一部ではない。
C.1 概要
この附属書は，IEC 60336の策定経緯について記載し，幾つかの難解な部分の理由を明らかにすること
を目的とする。
C.2 第1版 (1970)
第1版は“ピンホールカメラを用いた診断用X線管の焦点寸法の測定”と呼ばれ，初期ICRUの推奨（NBS
ハンドブック“National Bureau of Standards Handbook 78, Report of the International Commission on
Radiological Units and Measurements, (ICRU) 1959, U.S. Government Printing Office, Washington, DC, 1961”及
び“National Bureau of Standards Handbook 89, Methods of Evaluating Radiological Equipment and Materials:
Recommendations of the ICRU, U.S. Government Printing Office, Washington, DC, 1962”及び国家規格“DIN
6823, Roentgenroehren, Ermittlung der Brennfleckgroesse, Beuth-Verlag, Berlin, 1968”に基づいていた。この第
1版では，焦点寸法を決定する測定法としてピンホール法だけが規定されていた。フィルムの直接読取り
には，10倍の拡大鏡の使用及び長さ方向の係数0.7の使用が規定されていた。
C.3 第2版 (1982)
“医用X線管装置の焦点特性”と名称が改められた。ピンホールを通るときの透過量及びX線負荷を考
慮した場合，例えば撮影用フィルムへの繰返し照射が必要となり，これらの因子が測定結果に影響を与え
る。このようなことから焦点の呼び（公称焦点値）が0.3より小さい焦点を焦点ピンホールX線像によっ
て決定することが困難であり，スリット法が追加された。この新しい方法はすべての焦点の呼び（公称焦
点値）に適用された。この方法によって前述の焦点寸法決定時の不確かさを排除することができ，焦点が
ゆがんでいる場合でも意味ある結果を得ることができた。さらに，一対の一方向MTFの形式で焦点によ
る画質特性の決定も併せて紹介された。
このようにピンホール法は焦点特性のうちの分布及び方向を見るためだけに用い，スリット法は焦点の
呼び（公称焦点値）及びMTFを決定するのに用いることとなった。加えて現場での使用を考慮した第3
の方法（焦点スターX線像）が規定された。焦点スターX線像は，スターパターン解像度を確認すること
によって現場での条件下におけるシステムの画質特性を簡単に評価できる有用性があり，規格化された。
0.1，0.15，0.2の焦点には長さ方向の係数0.7を用いないことも追加された（C.5参照）。
C.4 第3版 (1993)
“医用X線管装置−焦点特性”と再度名称変更された。X線コンピュータ断層撮影用X線管装置及び
0.25焦点の追加以外の変更はなかった。追加した公称焦点値0.25及びCT用途の焦点には長さ方向の係数
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0.7を導入しなかった（C.5参照）。
C.5 係数0.7と非対称な範囲
IEC 60336の次の二つの問題は，多くの誤解及び論議の原因となってきた。
− 長さ方向の係数0.7
− 公称値の非対称な範囲の考え方［例えば，（焦点の呼び）公称焦点値0.8には，0.8〜1.2まで許される。］。
この二つの問題は理解するのが難しく，ある代表的な焦点についてのLSFを示すことで説明すること
ができる。
注記 長さ方向と幅方向とは，同じ形状である。
図C.1−小焦点（0.3 mm未満）をもつX線管のLSF
図C.2−大焦点（0.3 mm以上）をもつX線管のLSF
LSF値の両端の傾斜から分かるように，寸法の読取りは通常，最大値の50 ％の強度における半値幅で
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ある。しかし，1950年代から1960年代での科学技術では拡大鏡を用いてのフィルムの読取りしかできな
かったため，LSFの10〜20 ％に相当するところまで読取値に含まれていた。図C.1及び図C.2から分か
るようにこの場合は，測定値はより大きくなる。これが幅及び長さ方向の寸法の範囲が異なる基本的な理
由である。
図C.3−図C.2のLSFに対応するMTF
大きな焦点の長さ方向の代表的なLSFは，図C.2に示されるようにかなり浅い端部を示す。これによっ
て長さ方向の読取値（10〜20 ％における。）は，MTFがほぼ等しいX線管の幅方向の読取値に比べて約
40 ％大きくなることが分かる。
これらのことから，得られる画質が同等となる公称値とするために，係数0.7が導入された。
図C.3から分かるように図C.2におけるLSFは，最初の最小値までほぼ同一のMTFとなっており，実
質上それらからは同じ画質が得られるということである。
注記 RMS粒状度法では，いかなる形状のLSFでもそれと同じ画像特性を与える方形のLSFの幅を
算出できる。RMS粒状度は，統計的な確率によって求めた粒状性（度）であり，均一に露光さ
れたX線フィルムをミクロフォトメータで測定した濃度変化の標準偏差で求められる。この方
法は，将来この規格で用いられるかもしれない。
C.6 第4版 (2005)
IEC 60336の第4版の主な変更点は，次による。
a) 主にカメラの寸法と一直線性についての公差を実用的な仕様とした。
b) LSFを焦点寸法決定法の唯一の基準とした。長さ及び幅を決めるのに用いる濃度分布は，目視評価に
替わり濃度計による評価によって決定する。
c) 焦点のゆがみは考慮しない。
d) 公称焦点値の許容値の範囲は，最大許容値だけで表す。
e) IEC 60336の決定法との等価性が検証されれば，ほかの測定方法も認める。
a) に関して：対応国際規格の第3版(IEC 60336:1993)では幾つかの公差，とりわけ焦点カメラの試験で
の配置については不必要に厳しかった。例えば，基準軸と絞りの対称軸の交差角は0.001 rad以内なのに対
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し，基準軸に対する絞りの位置には何の公差も決められていなかった。このような不合理は，今回の公差
の見直しによって是正した。
b) に関して：過去多くの製造業者は，焦点寸法を決定するとき，焦点X線像の濃度分析を行っていた。
LSFの評価を行うこの手順は，MTFを決定するために行わなければならないことと同じものであった。
この点でLSFの評価手順を規格化し目視評価に依存した方法を廃止することは合理的であった。
よってMTF及び焦点寸法の決定は，ともに同じ焦点スリットX線像に基づいたLSFの測定から得られ
る。
c) に関して：X線管の製造及び開発方法の改善によって，焦点のゆがみの発生は非常に軽減されてきて
いる。加えて，焦点スリットX線像による焦点寸法の測定は，焦点ピンホールX線像ほど焦点のゆがみに
敏感ではない。したがって，焦点のゆがみに関する項は削除された。
e) に関して：市場には，焦点特性を決定するための撮影フィルムの代わりとなるもの，例えばCCDカ
メラを用いたような測定装置が沢山ある。これらの方法は製造業者の毎日の試験に次第に多く用いられる
ようになっており，附属書Bでは，このような場合の推奨項目を示す。また，明らかに製造業者は焦点測
定のためにこのような測定機器を使用しようとしている。
撮影フィルムを使う規格化された方法と同じ結果を得ることができると確証されれば，その方法は，測
定方法として認められる。これは，IEC 60336第1版〜第3版の中で拡大鏡を使った目視による評価方法
にも適用される。
この規格は，必ずしも表C.1に示すすべての特性についての記載を要求するものではない。
X線管装置として供給しなければならない情報は，JIS Z 4751-2-28に示されたものである。
IEC 60336の第3版においてRMS粒状度法を用いた焦点の特徴付け法が補足で記載されている。この方
法はいまだ広くは受け入れられていない。しかし，JIS Z 4751-2-28での1方向MTFの必す（須）仕様の
削除に伴い，またデジタルX線像収集システムの進化によってRMS粒状度法が重要度を増すかもしれな
い。
表C.1−焦点特性を特徴付ける各種評価方法
測定方法
参照する箇条
評価する項目
参照する箇条
適合確認のため評価する項目
焦点スリットX線像
6
寸法
8
指定の公称焦点値
画像特性
9
指定の一組のMTF
焦点ピンホールX線像 6
焦点形状
放射線強度分布
焦点形状の対称性
焦点スターX線像a)
10
スターパターン解
像度
11
スターパターン解像度
ブルーミング比
12
ブルーミング比
寿命に至るまでの
使用期間中の焦点
特性変化
注a) 焦点の放射線強度分布からは，必ずしもMTFが空間周波数軸と交わる点を知ることができない。この場合
焦点スターX線像の測定方法は適用されない。
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参考文献
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vessel imaging in angiography. Proceedings of the Symposium on Application of Optical Instrumentation in
Medicine Ⅲ, Vol. 47. Palos Verdes Estates, CA: Society of Photo-Optical Engineers, 1975: 207-213
[2] DOI, K. et al. X-RAY TUBE FOCAL SPOT Sizes: Comprehensive Studies of Their Measurement and Effect of
Measured Size in Angiography. Radiation Physics, July 1982, Volume 144, Number 2, p 383-393.
[3] National Bureau of Standards Handbook 78, Report of the International Commission on Radiological Units and
Measurements, (ICRU) 1959, U.S. Government Printing Office, Washington, DC, 1961
[4] National Bureau of Standards Handbook 89, Methods of Evaluating Radiological Equipment and Materials:
Recommendations of the ICRU, U.S. Government Printing Office, Washington, DC, 1962
[5] DIN 6823, Roentgenroehren, Ermittlung der Brennfleckgroesse, Beuth-Verlag, Berlin, 1968
[6] JIS Z 4751-2-28 診断用X線源装置及びX線管装置−安全
注記 対応国際規格：IEC 60601-2-28: 1993, Medical electrical equipment−Part 2: Particular requirements
for the safety of X-ray source assemblies and X-ray tube assemblies for medical diagnosis (IDT)
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定義された用語の索引
用語の索引元及びその記号
JIS Z 4005 医用放射線用語
IEC 60788
rm-....
定義のない派生語
Derived term without definition
rm-....+
定義されていない語句
Term without definition
rm-....-
短縮語
Shortened term
rm-....s
この規格の細分箇条
Clause 3.x of present publication
3.x
注記 記号の後の数字は，該当する用語の番号又はこの規格の細分箇条番号を表す。
用語の索引
陰極
CATHODE
rm-2205
LSF，線広がり関数
LINE SPREAD FUNCTION
rm-7301
X線管
X-RAY TUBE
rm-2203
X線管負荷
X-RAY TUBE LOAD
rm-3621
X線[管負荷]条件
LOADING FACTOR
rm-3601
[X線]管装置
X-RAY TUBE ASSEMBLY
rm-2201
[X線]管電圧
X-RAY TUBE VOLTAGE
rm-3602
[X線]管電流
X-RAY TUBE CURRENT
rm-3607
X線管容器
X-RAY TUBE HOUSING
rm-2202
X線像
RADIOGRAM
rm-3202
MTF，変調伝達関数
MODULATION TRANSFER FUNCTION
rm-7305
回転陽極X線管
ROTATING ANODE X-RAY TUBE
rm-2203+
管電圧，[X線]管電圧
X-RAY TUBE VOLTAGE
rm-3602
管電流，[X線]管電流
X-RAY TUBE CURRENT
rm-3607
基準軸
REFERENCE AXIS
rm-3703
基準方向
REFERENCE DIRECTION
rm-3702
基準面
REFERENCE PLANE
rm-3704
減弱
ATTENUATION
rm-1208
公称最高管電圧
NOMINAL X-RAY TUBE VOLTAGE
rm-3603
公称焦点値
NOMINAL FOCAL SPOT VALUE
rm-2014
公称陽極入力[電力]
NOMINAL ANODE INPUT POWER
rm-3623
撮影[法]
RADIOGRAPHY
rm-4106
撮影定格
RADIOGRAPHIC RATING
rm-3636
撮影用フィルム
RADIOGRAPHIC FILM
rm-3232
CT，コンピュータ断層撮影[法]
COMPUTED TOMOGRAPHY
rm-4120
実効焦点
EFFECTIVE FOCAL SPOT
rm-2013
実焦点
ACTUAL FOCAL SPOT
rm-2012
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受像器面
IMAGE RECEPTOR PLANE
rm-3715
焦点
FOCAL SPOT
rm-2013s
焦点スターX線像
FOCAL SPOT STAR RADIOGRAM
rm-7203
焦点スリットX線像
FOCAL SPOT SLIT RADIOGRAM
rm-7201
焦点ピンホールX線像
FOCAL SPOT PINHOLE RADIOGRAM
rm-7202
スターパターンカメラ
STAR PATTERN CAMERA
rm-7103
スターパターン解像度
STAR PATTERN RESOLUTION LIMIT
3.1
スリットカメラ
SLIT CAMERA
rm-7101
正常な使用
NORMAL USE
rm-8204
製造業者
MANUFACTURER
rm-8503
線広がり関数，LSF
LINE SPREAD FUNCTION
rm-7301
増感紙
INTENSIFYING SCREEN
rm-3238
ピンホールカメラ
PINHOLE CAMERA
rm-7102
負荷
LOADING
rm-3609
付加ろ過
ADDITIONAL FILTRATION
rm-1347
附属文書
ACCOMPANYING DOCUMENTS
rm-8201
ブルーミング比
BLOOMING VALUE
rm-2015
変調伝達関数，MTF
MODULATION TRANSFER FUNCTION
rm-7305
陽極
ANODE
rm-2206
陽極回転速度
ANODE SPEED
rm-3635