Z 2350:2002
(1)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，社団法人日本非破
壊検査協会 (JSNDI) ／財団法人日本規格協会 (JSA) から，工業標準原案を具して日本工業規格を改正す
べきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業規格である。
これによって，JIS Z 2350 : 1992は改正され，この規格に置き換えられる。
改正に当たっては，日本工業規格と国際規格との対比，国際規格に一致した日本工業規格の作成及び日
本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために，ISO 10375 : 1997 (Non-destructive testing
−Ultrasonic inspection−Characterization of search unit and sound field) , ISO 12715 : 1999 (Ultrasonic
non-destructive testing−Reference blocks and test procedures for the characterization of contact search unit beam
profiles) を基礎として用いた。
JIS Z 2350には，次に示す附属書がある。
附属書1（規定） 対比試験片
附属書2（参考） JISと対応する国際規格との対比表
Z 2350:2002
(1)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1. 適用範囲 ························································································································ 1
2. 引用規格 ························································································································ 1
3. 定義 ······························································································································ 1
4. 記号 ······························································································································ 2
5. 探触子の表示法 ··············································································································· 2
6. 測定項目 ························································································································ 4
6.1 共通測定項目 ················································································································ 4
6.2 個別測定項目 ················································································································ 4
7. 共通測定項目の測定方法 ··································································································· 5
7.1 周波数応答性 ················································································································ 5
7.1.1 使用機器及び接続法 ····································································································· 5
7.1.2 試験片 ······················································································································· 5
7.1.3 エコーの検出方 ··········································································································· 5
7.1.4 測 ····························································································································· 6
7.2 時間領域応答性 ············································································································· 7
7.2.1 使用機器及び接続方法 ·································································································· 7
7.2.2 試験片 ······················································································································· 7
7.2.3 エコーの検出方法 ········································································································ 7
7.2.4 測定 ·························································································································· 7
7.3 相対感度 ······················································································································ 8
7.3.1 使用機器及び接続法 ····································································································· 8
7.3.2 試験片 ······················································································································· 8
7.3.3 エコーの検出方法 ········································································································ 8
7.3.4 測定 ·························································································································· 8
7.4 電気インピーダンス ······································································································· 9
7.4.1 使用機器及び接続法 ····································································································· 9
7.4.2 試験片 ······················································································································· 9
7.4.3 探触子と試験片の音響結合 ···························································································· 9
7.4.4 測定 ·························································································································· 9
8. 個別測定項目の測定方法 ··································································································· 9
8.1 一振動子垂直探触子 ······································································································· 9
8.1.1 ビーム形状及び距離振幅特性 ························································································· 9
8.1.2 非集束探触子のビーム中心軸の偏り角 ············································································ 10
8.1.3 集束探触子のビーム特 ································································································· 11
Z 2350:2002 目次
（2）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ページ
8.2 二振動子垂直探触子 ······································································································ 11
8.2.1 ビーム形状及び距離振幅特性 ························································································ 11
8.2.2 ビーム特性 ················································································································ 11
8.3 一振動子斜角探触子 ······································································································ 11
8.3.1 縦断面ビーム形状及び距離振幅特性 ··············································································· 11
8.3.2 横断面ビーム形状及び距離振幅特性 ··············································································· 13
8.3.3 非集束探触子の入射点及び屈折角 ·················································································· 15
8.3.4 非集束探触子のビーム中心軸の偏り角 ············································································ 16
8.3.5 集束探触子の縦断面ビーム特 ························································································ 16
8.3.6 集束探触子の横断面ビーム特性 ····················································································· 16
8.3.7 不感帯 ······················································································································ 17
8.4 二振動子斜角探触子 ······································································································ 17
8.4.1 縦断面ビーム形状及び距離振幅特性 ··············································································· 17
8.4.2 横断面ビーム形状及び距離振幅特性 ··············································································· 18
8.4.3 縦断面ビーム特性 ······································································································· 18
8.4.4 横断面ビーム特性 ······································································································· 18
8.5 一振動子水浸垂直探触子································································································· 18
8.5.1 ビーム形状及び距離振幅特性 ························································································ 18
8.5.2 ·································································································································· 18
9. 記録 ····························································································································· 19
9.1 測定機器・条件など ······································································································ 19
9.2 共通測定項目における測定結果の表示 ··············································································· 20
9.3 個別測定項目における測定結果の表示 ··············································································· 20
附属書1（規定） ················································································································· 22
附属書2（参考） ················································································································· 25
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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日本工業規格 JIS
Z 2350:2002
超音波探触子の性能測定方法
Method for measurement of performance
characteristics of ultrasonic probes
序文 この規格は，1997年に第1版として発行されたISO 10375 (Non-destructive testing−Ultrasonic
inspection−Characterization of search unit and sound field) と1999年第1版発行のISO 12715 (Ultrasonic
non-destructive testing−Reference blocks and test procedures for the characterization of contact search unit beam
profiles) を基に，対応する部分については対応国際規格を翻訳し，技術的内容を変更して作成した日本工
業規格である。
なお，この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は，原国際規格を変更している事項である。変更
の一覧表をその説明をつけて，附属書2に示す。
1. 適用範囲 この規格は，公称周波数0.5MHz以上15MHz以下の超音波探触子（以下，“探触子”とい
う。）の性能測定方法について規定する。
備考 この規格の対応国際規格を，次に示す。
なお，対応の程度を表す記号は，ISO/IEC Guide 21に基づき，IDT（一致している），MOD
（修正している），NEQ（同等でない）とする。
ISO 10375 : 1997, Non-destructive testing−Ultrasonic inspection−Characterization of search unit and
sound field (MOD)
ISO 12715 : 1999, Ultrasonic non-destructive testing−Reference blocks and test procedures for the
characterization of contact search unit beam profiles (MOD)
2. 引用規格 次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成す
る。これらの引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS B 0601 製品の幾何特性仕様 (GPS) −表面性状：輪郭曲線方式−用語，定義及び表面性状パラメ
ータ
JIS G 0801 圧力容器用鋼板の超音波探傷検査方法
JIS G 0901 建築用鋼板及び平鋼の超音波探傷試験による等級分類と判定基準
JIS G 4103 ニッケルクロムモリブデン鋼鋼材
JIS Z 2300 非破壊試験用語
JIS Z 2345 超音波探傷試験用標準試験片
3. 定義 この規格で用いる主な用語の定義は，JIS Z 2300によるほか，次による。
2
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
a) サインバースト波 連続正弦波信号から，ある定まった周期分を取り出した波。
b) ビーム中心軸の偏り角 超音波ビームの中心軸が設計値より偏っている角度。
c) ビーム特性 集束距離，集束範囲，ビーム幅などのビーム形状を表す値。
d) 非集束探触子 集束探触子と二振動子探触子以外の探触子。
e) 集束深さ 探傷面からの集束距離の深さ。
f)
交軸深さ 探傷面からの交軸距離の深さ。
4. 記号 記号は，次による。
h エコー高さ
B 帯域幅 (MHz)
BW 比帯域幅 (%)
CN サイクル数
dFA 集束範囲の開始点におけるビーム幅
dFB 集束範囲の終了点におけるビーム幅
dFL 集束距離又は交軸距離におけるビーム幅
FD 集束範囲又は交軸範囲
FL 集束距離又は交軸距離
f 周波数
fL 探触子の周波数スペクトル最大値の−6dB振幅を示す低いほうの周波数
fU 探触子の周波数スペクトル最大値の−6dB振幅を示す高いほうの周波数
fC 探触子の中心周波数
fP 探触子のピーク周波数
PN ピーク数
Sr 相対感度
TK 超音波伝搬媒体の厚さ
TPD エコー幅
Vin 励振信号振幅
Vout 出力信号振幅
X0 近距離音場限界距離
X 探触子の横方向（探傷面上で超音波ビームに対し垂直方向，垂直探触子の場合は別途定める。）
Y 探触子の縦方向（探傷面上で超音波ビーム方向，垂直探触子の場合は別途定める。）
YC，Y1，Y2 最大エコー及び最大エコーの−6dBを示す探触子から横穴までの探傷面上の距離
Z 探傷面から横穴中心軸までの距離，水浸法の場合は水距離
Zβ 斜角探触子の縦断面におけるビーム軸又はビーム路程
ZE 電気インピーダンス
θ 屈折角
δ ビーム軸の偏り角，斜角探触子では，探傷面に投影したビーム軸の偏り角を表す。
φ 垂直探傷において，探傷面に投影したビーム軸とX軸のなす角度
5. 探触子の表示法 探触子の表示記号は，表1による。
3
Z 2350:2002
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表1 探触子の表示記号
表示の順序
内容
種類 記号
1
周波数帯域幅
広帯域の場合はB，狭帯域の場合はN(1)を付ける。
2
周波数
公称周波数をMHz単位で表す。
3
振動子材料
水晶：Q，ジルコンチタン酸鉛系磁器：Z，Z以外の圧電磁器：C，ポリマー
系：P，コンポジット：K，その他：E，材料を特定しないとき：M
4
振動子寸法
円形：直径（単位mm）
二振動子のものは，それぞれの振動子寸法とする (2) 。
角形：高さ×幅（単位mm）(3)
5
波のモード
縦波：L(4)，横波：S(5)，SH波：H，表面波：R
6
形式
垂直：N 斜角：A 可変角：V 水浸：I タイヤ：W 二振動子形：Dを加
える。
7
屈折角
低炭素鋼中への公称屈折角で表し，単位は，度とする。
その他の材料用の場合は，その材料を表す記号などを付ける。
8
集束深さ又は交
軸深さ
点集束形のものはPF，線集束形のものはLF
二振動子形のように交点をもつものはFを付け，その深さをmm単位で表す。
注(1) 省略できる。
(2) 二振動子探触子の振動子寸法
(3) 一振動子斜角探触子の振動子寸法
(4) 垂直探触子の場合は，省略することができる。
(5) SV波斜角探触子の場合は，省略することができる。
4
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
例1. 2Z20N：φ20mmのジルコンチタン酸鉛系磁器振動子を用いた2MHzの垂直探触子。
例2. 5Z10/2NDF10：φ10mm半円二分割のジルコンチタン酸鉛系磁器振動子を用いた交軸深さ10mmの5MHz二振
動子垂直探触子。
例3. 2C20×14A45：高さ20mmで幅14mmのジルコンチタン酸鉛系以外の圧電磁器振動子を用いた屈折角45度の
2MHz斜角探触子。
例4. 2Z10×10HA45：高さ10mmで幅10mmのジルコンチタン酸鉛系磁器振動子を用いた屈折角45度の2MHzSH
波斜角探触子。
例5. B10K201：φ20mmのコンポジット振動子を用いた10MHz広帯域水浸探触子。
例6. 3Z15IPF10：φ15mmのジルコンチタン酸鉛系磁器振動子を用いた集束距離10mmの3MHz点集束水浸探触子。
例7. 5Z20×10AD45F30：高さ20mmで幅10mmのジルコンチタン酸鉛系磁器振動子を用いた屈折角45度で交軸深
さ30mmの5MHz二振動子斜角探触子。
例8. 10C5×5R:高さ5mmで幅5mmのジルコンチタン酸鉛系以外の圧電磁器振動子を用いた10MHz表面波探触
子。
6. 測定項目
6.1
共通測定項目 すべての探触子に共通して適用する測定項目であり，次による。
a) 周波数応答性
b) 時間領域応答性
c) 相対感度
d) 電気インピーダンス
6.2
個別測定項目 探触子の超音波ビーム形状に関連する性能測定項目であり，探触子の形状の違いか
ら，次に分類して測定方法を規定する。a)〜d)は接触探触子，e)は水浸探触子の測定項目である。
なお，垂直横波探触子とSH波斜角探触子には適用しない。
a) 一振動子垂直探触子 一振動子垂直探触子は，次による。
1) ビーム形状及び距離振幅特性
2) 非集束探触子のビーム中心軸偏り角
3) 集束探触子のビーム特性
b) 二振動子垂直探触子 二振動子垂直探触子は，次による。
1) ビーム形状及び距離振幅特性
2) ビーム特性
c) 一振動子斜角探触子 一振動子斜角探触子は，次による。
1) 縦断面ビーム形状及び距離振幅特性
2) 横断面ビーム形状及び距離振幅特性
3) 非集束探触子の入射点及び屈折角
4) 非集束探触子のビーム中心軸の偏り角
5) 集束探触子の縦断面ビーム特性
6) 集束探触子の横断面ビーム特性
7) 不感帯
d) 二振動子斜角探触子 二振動子斜角探触子は，次による。
1) 縦断面ビーム形状及び距離振幅特性
2) 横断面ビーム形状及び距離振幅特性
3) 縦断面ビーム特性
4) 横断面ビーム特性
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
e) 一振動子水浸垂直探触子 一振動子水浸垂直探触子は，次による。
1) ビーム形状及び距離振幅特性
2) 集束探触子のビーム特性
7. 共通測定項目の測定方法
7.1
周波数応答性
7.1.1
使用機器及び接続法 周波数応答性の測定に用いる機器は，次の仕様をもつ機器とし，その接続方
法を図1に示す。
a) パルサーレシーバ(6) 目的の探触子を十分な周波数範囲で励振できるスパイクパルス方式の機器と
する。
b) ゲート回路(7) 目的のRF信号だけを取り出すゲート回路 周波数帯域50MHz以上
c) オシロスコープ(8) 周波数帯域 50MHz以上
d) 周波数分析器(9) 周波数帯域 50MHz以上
e) 同軸ケーブル 50Ω同軸ケーブル
注(6)，(7)，(8)，(9)
超音波探傷器の内蔵機能を利用してもよい。
(7)，(8)，(9) AD変換器とパーソナルコンピュータによる高速フーリエ変換 (FFT) を利用してもよ
い。
図1 周波数応答性測定のための接続法
7.1.2
試験片 探触子の種類に応じて，次の試験片を使い分ける。
a) 垂直探触子の場合 試験に必要とする厚さをもつ平板対比試験片(10)(11)。又は，対比試験片RB-E（JIS
G 0801の附属書1又はJIS G 0901の附属書1）。
b) 斜角探触子の場合 JIS Z 2345の付図3で規定するSTB-A1形標準試験片。
c) 水浸探触子の場合 鋼又はガラス製平板試験片(12)。
注(10) 材質は，STB-A1又は試験体と同等の超音波特性材。
(11)，(12)
加工精度は±0.1mm，探傷面及び反射面の粗さは25μmRyよりよいものとする (JIS B
0601) 。
7.1.3
エコーの検出方法（図2及び図3参照） エコーの検出方法は，次による。
a) 垂直探触子の場合
− 接触媒質としてマシン油又はグリセリンを使用し(13)，近距離音場限界距離X0の0.75〜1.5倍の厚さ
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部又は集束距離FLに近い厚さ部の底面エコーを検出する。
− そのとき，適度な荷重を加えて探触子を試験片に均一に接触させる。
− 透過法では，近距離音場限界距離X0以上の厚さの透過パルスを検出する。
b) 斜角探触子の場合
− 接触媒質としてマシン油又はグリセリンを使用し(14)，標準試験片STB-A1のR100面からのエコー
を検出する。
− そのとき，適度な荷重を加えて探触子を試験片に均一に接触させる。
− 透過法では，STB-A1試験片の平らな部分を利用して，V透過パルスを検出する。
c) 水浸探触子の場合
− 水距離が近距離音場限界距離X0又は集束距離FLに位置させた平板試験片の表面エコーを検出する。
− そのとき，探触子の向きを調整し，振幅が最大のエコーを検出する。
注(13)，(14)
垂直横波探触子又はSH波探触子のときは、横波用接触媒質を用いる。
図2 エコーの検出方法（一探触子法）
図3 エコーの検出方法（透過法）
7.1.4
測定（図4参照） 第1エコー波形全体をゲート回路で切り出し，周波数分析器へ入力し周波数ス
ペクトルを得る。周波数スペクトルから，ピーク周波数，下限周波数，上限周波数，中心周波数，帯域幅
及び比帯域幅を，次に従って求める。
ピーク周波数 (MHz) fP：周波数スペクトルの最大振幅点の周波数
下限周波数 (MHz) fL：最大振幅点から6dB下がった振幅点の低いほうの周波数
上限周波数 (MHz) fU：最大振幅点から6dB下がった振幅点の高いほうの周波数
中心周波数 (MHz) fC： fC＝ (fL＋fU) /2
帯域幅 (MHz) B： B＝fU−fL
比帯域幅 (%) BW： BW＝ [(fU−fL) /fC] ×100
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図4 周波数スペクトルの例
7.2
時間領域応答性
7.2.1
使用機器及び接続方法 時間領域応答性の測定には，図5に示すとおりに接続した機器を用いる。
機器の性能は，周波数応答性の測定の場合(7.1.1)と同じである。
7.2.2
試験片 周波数応答性の測定と同じ試験片(7.1.2)を用いる。
7.2.3
エコーの検出方法 周波数応答性の測定と同じ方法(7.1.3)で第1エコーを検出する。
7.2.4
測定 観測したエコー波形の中で絶対値最大のピークの大きさをhMAXとし，次に示すピーク数PN，
サイクル数CN，エコー幅TPDを求める（図6参照）。
ピーク数PN ： hMAXの±20%を超えるピークの数
サイクル数CN：ピーク数の1/2 (＝PN/2)
エコー幅TPD ：最初にhMAXの±20%を超えるピークの前縁ゼロクロス点から最後にhMAXの±20%を
超えるピークの後縁ゼロクロス点までの時間 (μsec) 。
図5 時間領域応答性測定のための接続法
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図6 時間軸応答性の例
7.3
相対感度
7.3.1 使用機器及び接続法 相対感度の測定には，次の仕様の機器を図7に示すとおりに接続して用いる。
a) パースト波発生器 搬送波周波数，バースト波サイクル数，パルス繰返し周波数，及び振幅が調整で
きるサインバースト波発生器。
b) オシロスコープ 周波数範囲50MHz以上
c) 同軸ケーブル 50Ω
d) ダイオード バースト波励振電流に耐えられるシリコンダイオード
7.3.2
試験片 周波数応答性の測定と同じ試験片(7.1.2)を用いる。
7.3.3
エコーの検出方法 バースト波発生器を次のとおりに調整し，周波数応答性の測定と同じ方法
(7.1.3)で第1エコーを検出する。
a) 搬送波周波数は探触子の中心周波数fCとする。
b) バースト波のサイクル数は10サイクル以上で，受信信号VOUTが少なくとも5サイクル間，均一な振
幅でなければならない。
c) パルス繰返し周波数は，残留エコーが測定に影響しない範囲とする。
7.3.4
測定 励振信号及び受信信号の均一振幅部分の振幅，VOUT及びVINから，次の式で相対感度Srを計
算する（図8参照）。
図7 相対感度測定のための接続法
9
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図8 相対感度測定における検出波形の例
7.4
電気インピーダンス
7.4.1
使用機器及び接続法 電気インピーダンスの測定は，次の仕様の機器を図9のとおりに接続して用
いる。
a) ベクトルインピーダンスメータ 探触子の中心周波数fCを測定周波数範囲に含む。
b) 測定ケーブル ベクトルインピーダンスメータに附属する専用高周波ケーブルを使用する。
7.4.2
試験片 試験片は，次による。
a) 垂直探触子及び斜角探触子の場合 周波数応答測定(7.1.2)と同じ，又は同等の表面粗さ，材質の厚さ
10mm以上の試験片。
b) 水浸探触子の場合 必要としない。
7.4.3
探触子と試験片の音響結合 探触子と試験片の音響結合は，次による。
a) 接触探触子の場合 マシン油又はグリセリンを接触媒質として(15)，試験片に接触させる。このとき，
適度の荷重を均一に加えて接触を安定させる。
b) 水浸探触子の場合 音響の放射する部分を水中に浸す。
注(15) 垂直横波探触子及びSH波探触子のときは，横波用接触媒質を用いる。
7.4.4
測定 測定は，次による。
a) 探触子の中心周波数fCで電気インピーダンスZEを測定する。
b) 試験片内又は水槽内で超音波の定在波が生じるおそれがある場合は，試験片や水槽内の反射源までの
路程を変えたり，反射源の向きを変えるなどして，定在波の発生を避ける。
c) 探触子の電気インピーダンスZEの絶対値 (Ω) と位相角（度）を求める。
図9 電気インピーダンス測定のための接続法
8. 個別測定項目の測定方法
8.1
一振動子垂直探触子
8.1.1
ビーム形状及び距離振幅特性 ビーム形状及び距離振幅特性は，次による。
a) 使用機器 パルサーレシーバとオシロスコープの組合せ又は超音波探傷器。
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Z 2350:2002
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b) 試験片 附属書1図1の横穴対比試験片RB-SDH1.5又は附属書1図2のRB-SDH。
試験片の大きさが十分でないときには，RB-SDHを参考にして 必要な大きさの試験片を作製する。
c) 測定方法 測定方法は，次による。
1) 超音波ビームに直交する面内で探触子のXY方向を定める。
2) 接触媒質は，マシン油又はグリセリンを用いる。
3) 探触子のX方向を試験片横穴方向として，測定可能な横穴で最も浅い位置の横穴について，最大エ
コー高さとなる探触子位置を探す。
4) 前後走査して，最大エコー高さの−6dBの探触子位置を探す。
5) 最大エコー高さ (h)，最大エコー高さを示す探触子位置 (YC)，二つの−6dB探触子位置 (Y1，Y2)，
横穴の深さ (Z) を求める（図10参照）。探触子位置は，探傷面上の横穴中心軸を基準に測定する。
6) 試験片の他の横穴についても同じ測定を繰り返す。
7) 図11に従い，ZY断面内ビーム形状及び距離振幅特性曲線を作成する。最大エコー位置を結んだ線
はビーム軸を表し，−6dB位置を結んだ線はビーム幅を表す。
8) 探触子を90度回転させ，3)〜7)を繰り返し，ZX断面のビーム形状を得る。
図10 垂直探触子による横穴エコーの検出
図11 垂直探触子のビーム形状及び距離振幅特性
8.1.2
非集束探触子のビーム中心軸の偏り角 非集束探触子のビーム中心軸の偏り角は，次による。
a) ZX断面のビーム形状における遠距離音場ビーム軸を直線で近似する。
b) 二つの深さ（Z1及びZ2）におけるビーム軸のX座標（XZ1及びXZ2）を求め，X方向の偏り角δXを計算
する。
δX＝tan−1 {(XZ2−XZ1) / (Z2−Z1)}
c) ZY断面のビーム形状を用いて，Y方向の偏り角δYを同様に求める。
d) 次の式で偏り方向φと偏り角δを計算する。
φ＝tan−1 (δY/δX)
δ＝（δX2＋δY2）1/2
ここに
φ： X軸に対する偏り方向（度）
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δ： 偏り角（度）
8.1.3
集束探触子のビーム特性（図12参照） 集束探触子のビーム特性は，次による。
a) 集束距離FLは，距離振幅特性曲線において，最大値を示す横穴深さである。
b) 集束範囲FDは，距離振幅特性曲線において，最大値の−6dB以上を示す深さ範囲である。
c) 集束点ビーム幅dFLは，ビーム形状の二つの−6dB曲線の集束距離における間隔である。
d) 集束点ビーム幅は，必要に応じて，ZY断面及びZY断面の双方について測定する。
図12 集束垂直探触子のビーム形状及び距離振幅特性
8.2
二振動子垂直探触子
8.2.1
ビーム形状及び距離振幅特性 ビーム形状及び距離振幅特性は，次による。
a) 使用機器 8.1.1a)と同じ機器を用いる。
b) 試験片 8.1.1b)と同じ試験片を用いる。
c) 測定方法 探傷面上で，音響隔離面に平行な方向をY方向，その垂直方向をX方向として，8.1.1 c)
と同様の方法で測定する。
8.2.2
ビーム特性 XZ断面内で測定したビーム形状と距離振幅特性を用いて測定する。
a) 交軸距離FLは，距離振幅特性曲線の最大値を示す横穴深さである。
b) 交軸範囲FDは，距離振幅特性曲線において，最大値の−6dB以上を示す深さ範囲である。
c) 交軸点ビーム幅dFLは，ビーム形状の二つの−6dB曲線の交軸距離FLにおける間隔である。
8.3
一振動子斜角探触子
8.3.1
縦断面ビーム形状及び距離振幅特性 縦断面ビーム形状及び距離振幅特性は，次による。
a) 使用機器 8.1.1a)と同じ機器を用いる。
b) 試験片 8.1.1b)と同じ試験片を用いる。
c) 測定方法 測定方法は，次による。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
1) 測定可能で最も浅い位置の横穴について，前後走査によって最大エコー高さを示す探触子位置を探
す。
2) 接触媒質は，マシン油又はグリセリンを用いる。
3) 前後走査して，最大エコー高さの−6dBの探触子位置を求める。
4) 最大エコー高さ (h)，最大エコー高さを示す探触子位置 (YC)，二つの−6dB探触子位置 (Y1，Y2)，
横穴の深さ (Z) を記録する（図13参照）。
5) 探触子位置は，探傷面上の横穴中心位置から探触子入射点までの距離である。また，横穴の深さは，
探傷面から横穴中心までの距離である。
6) 試験片の他の横穴についても同じ測定を繰り返す。
7) 縦断面ビーム特性図として，図14に従い，ビーム形状，深さ振幅特性曲線，距離振幅特性曲線を作
成する。データ点は滑らかな線で結ぶ。
なお，探触子−横穴間の距離Zβは，次の式で計算する。
Zβ＝ (Z2＋Y2) 1/2
図13 斜角探触子による横穴エコーの検出
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図14 斜角探触子の縦断面ビーム形状及び距離振幅特性
8.3.2
横断面ビーム形状及び距離振幅特性 横断面ビーム形状及び距離振幅特性は，次による。
a) 使用機器 8.1.1a)と同じ機器を用いる。
b) 試験片 附属書1図3の斜め縦穴対比試験片RB-IDH又は附属書1図4の半円柱対比試験片RB-HS。
c) 測定方法 測定方法は，次による。
1) RB-IDHを用いる場合（図15参照）。
1.1)
接触媒質にはマシン油又はグリセリンを用いる。
1.2)
RB-IDHの幅の中心線上においてφ3の斜め縦穴のエコーをビーム路程100mmで捕らえ，探触子方位
を調整し，最大エコー高さ (h) を求める。この位置をXCとする。
1.3)
探触子をX方向に移動し，φ3のエコー高さが最大エコー高さの−6dBとなる探触子位置を探し，そ
の位置をX1とする。
1.4)
探触子を1.3)と逆方向に移動し，φ3のエコー高さが最大エコー高さの−6dBとなる探触子位置を探
し，その位置をX2とする。
1.5)
ビーム路程が20，40，50，80mm又はビーム形状評価に必要なビーム路程値を定め，1.2)〜1.4)の測
定を繰り返す。
1.6)
図16に従い，ビーム形状，距離振幅特性曲線を作成する。データ点は滑らかな線で結ぶ。
2) RB-HSを用いる場合（図17参照）。
2.1)
接触媒質には，マシン油又はグリセリンを用いる。
2.2)
RB-HS試験片のR100部中央に探触子を位置させ，R100面エコーが最大となる方位と最大エコー高
さ (h) を求める。
2.3)
R100面エコーを捕らえた状態で，探触子をR80の方向に移動し，R100面エコーの低下が始まる位
置及び最大エコー高さの−6dBになる探触子位置を探す。前者の位置 (X0＝0) を基準に後者の位置
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(X1) を求める。
2.4)
接触面上で探触子の向きを180度変えて，2.3)と同じ測定を行い，−6dB探触子位置 (X2) を求める。
2.5)
他の半径部分についても，2.3)及び2.4)の測定を行う。
2.6)
図16に従い，ビーム形状及び距離振幅特性曲線を作成する。データ点は滑らかな線で結ぶ。
図15 横断面ビーム特性の測定（RB-IDHを用いる場合）
図16 斜角探触子の横断面ビーム形状及び距離振幅特性
図17 横断面ビーム特性の測定（RB-HSを用いる場合）
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8.3.3
非集束探触子の入射点及び屈折角 非集束探触子の入射点及び屈折角は，次による。
a) 使用機器 8.1.1a)と同じ機器を用いる。
b) 試験片 JIS Z 2345の標準試験片STB-A1
c) 入射点の測定（図18参照） 入射点の測定は，次による。
1) 接触媒質としてマシン油又はグリセリンを用いて，R100面エコーを検出する。
2) 超音波ビームの方向を試験片側面と平行に保ったまま前後走査し，R100面エコーが最大となる探触
子位置を探す。
3) R100の中心を示すマーク位置を，探触子側面の入射点ガイド目盛で0.5mm単位で読み取り，その
位置を入射点とする。
d) 屈折角の測定 屈折角の測定は，次による。
1) 接触媒質としてマシン油又はグリセリンを用いる。
2) 斜角探触子の公称屈折角によって，図17に示すエコー検出方法を使い分ける。
屈折角 30〜60度の場合：図19a)の位置で，直径50mmの穴のエコーを検出する。
屈折角 60〜74度の場合：図19b)の位置で，直径50mmの穴のエコーを検出する。
屈折角 74〜80度の場合：図19c)の位置で，直径1.5mmの穴のエコーを検出する。
3) 超音波ビームを試験片側面に平行に保ったまま前後走査し，最大エコーの探触子位置を探す。
4) 探触子の入射点位置が示すSTB−A1の角度目盛を0.1度単位で読み取る。
図18 入射点の測定位置
図19 屈折角の測定位置
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8.3.4
非集束探触子のビーム中心軸の偏り角 非集束探触子のビーム中心軸の偏り角は，次による。
a) 使用機器 8.1.1a)と同じ機器を用いる。
b) 試験片 附属書1図4の半円柱対比試験片RB-HS又はJIS Z 2345の標準試験片STB-A1
c) 測定方法 測定方法は，次による。
1) RB-HS試験片を用いる場合（図20参照）
1.1)
接触媒質としてマシン油又はグリセリンを用いる。
1.2)
探触子の入射点をR85mmスリット部の中心に位置させ，R85mmスリットからのエコーが最大とな
る探触子の方向を探す。
1.3)
Y軸と探触子側面のなす角度を1度単位で測り，偏り角δとする。
2) STB-A1を用いる場合（図21参照）
2.1)
STB-A1のコーナーエコーを，接触媒質としてグリセリン又はマシン油を用いて検出する。そのと
き，屈折角45度の探触子では1スキップで，60度及び70度では0.5スキップに設定し，首振りそ
の他の走査でエコーが最大となる位置と方向を探す。
2.2)
探触子の側面とSTB-A1端面の法線とのなす角度を1度単位で測り，偏り角δとする。
図20 RB-HSを用いた偏り角測定法
図21 STB-A1を用いた偏り角測定法
8.3.5
集束探触子の縦断面ビーム特性（図22参照） 集束探触子の縦断面ビーム特性は，次による。
a) 集束距離FLは，縦断面距離振幅特性曲線を用いて，8.1.3a)と同様の方法で求める。
b) 集束範囲FDは，縦断面距離振幅特性曲線を用いて，8.1.3b)と同様の方法で求める。
c) 集束点ビーム幅dFLは，縦断面ビーム形状を用いて，8.1.3c)と同様の方法で求める。
8.3.6
集束探触子の横断面ビーム特性 集束探触子の横断面ビーム特性は，次による。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
a) 集束距離FLは，横断面距離振幅特性曲線を用いて，8.1.3a)と同様の方法で求める。
b) 集束範囲FDは，横断面距離振幅特性曲線を用いて，8.1.3b)と同様の方法で求める。
c) 集束点ビーム幅dFLは，横断面ビーム形状を用いて，8.1.3c)と同様の方法で求める。
図22 集束斜角探触子の縦断面ビーム形状及び距離振幅特性曲線
8.3.7
不感帯 不感帯は，次による。
a) 使用機器 8.1.1a)と同じ機器を用いる。
b) 試験片 JIS Z 2345の標準試験片STB-A1及びSTB-A2を用いる。
c) 測定方法 測定方法は，次による。
1) 表示器の時間軸フルスケールを，横波125mmに調節する。
2) STB-A2のφ4×4を，屈折角45度の探触子では2スキップで、屈折角60度及び70度では1スキッ
プでねらい，その最大エコー高さが，表示器上で20%となるよう感度を調節する。
3) さらに，14dB感度を高め，送信パルス波形が最後に20%になる点を時間軸上から読み取り，不感帯
とする。
8.4
二振動子斜角探触子
8.4.1
縦断面ビーム形状及び距離振幅特性 縦断面ビーム形状及び距離振幅特性は，次による。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
a) 使用機器 8.1.1a)と同じ機器を用いる。
b) 試験片 8.1.1b)と同じ試験片を用いる。
c) 測定方法 8.3.1c)と同じ方法で，縦断面のビーム形状及び距離振幅特性曲線を得る。
8.4.2
横断面ビーム形状及び距離振幅特性 横断面ビーム形状及び距離振幅特性は，次による。
a) 使用機器 8.1.1a)と同じ機器を用いる。
b) 試験片 8.3.2b)と同じ試験片を用いる。
c) 測定方法 8.3.2c)と同じ方法で 横断面のビーム形状及び距離振幅特性曲線を得る。
8.4.3
縦断面ビーム特性 縦断面ビーム特性は，次による。
a) 交軸距離FLは，縦断面距離振幅特性曲線を用いて，8.2.2a)と同様の方法で求める。
b) 交軸範囲FDは，縦断面距離振幅特性曲線を用いて，8.2.2b)と同様の方法で求める。
c) 交軸点ビーム径dFLは，縦断面ビーム形状を用いて，8.2.2c)と同様の方法で求める。
8.4.4
横断面ビーム特性 横断面ビーム特性は，次による。
a) 交軸距離FLは，横断面距離振幅特性曲線を用いて，8.2.2a)と同様の方法で求める。
b) 交軸範囲FDは，横断面距離振幅特性曲線を用いて，8.2.2b)と同様の方法で求める。
c) 交軸点ビーム径dFLは，横断面ビーム形状を用いて，8.2.2c)と同様の方法で求める。
8.5
一振動子水浸垂直探触子
8.5.1
ビーム形状及び距離振幅特性 ビーム形状及び距離振幅特性は，次による。
a) 使用機器 8.1.1a)と同じ機器を用いる。
b) 試験片 φ4mm鋼球又はφ2.5mm鋼線。支持台からは，20mm以上離す。
c) 測定方法（図23参照) 測定方法は，次による。
1) 超音波ビームに直交する面内で探触子のXY方向を定める。
2) 走査器のZ軸と超音波ビーム軸とを平行にする。また，鋼線を用いた場合には，鋼線の方向と探触
子X軸方向とを同一にする。
3) 遠距離音場内においてXY面内で探触子を走査し，試験片エコーの最大エコー高さ (h) とその位置
(YC) を求める。
4) Y軸走査によって，エコー高さが最大エコー高さの1/2を示す二つの−6dB振幅点 (Y1，Y2) を求め
る。
5) 探触子近傍から遠距離音場までの領域に複数の測定点を定め，2)及び3)の測定を繰り返す。
6) 距離振幅特性曲線として水距離と最大振幅 (h) との関係をプロットし，ビーム形状として水距離
(Z) と最大エコー点 (YC) と二つの−6dB振幅点 (Y1，Y2) の関係をプロットする。
7) 走査方向を90度変え，3)〜6)の測定を繰り返し，Y方向のビーム形状を得る。鋼線の方向も90度変
える。
8.5.2
集束探触子のビーム特性（図24参照）集束探触子のビーム特性は，次による。
a) 集束距離FLは，距離振幅特性曲線を用いて，8.1.3a)と同様の方法で求める。
b) 集束範囲FDは，距離振幅特性曲線を用いて，8.1.3b)と同様の方法で求める。
c) 集束点ビーム幅dFLは，ビーム形状を用いて，8.1.3c)と同様の方法で求める。
d) 集束点ビーム幅は，ZX面内及びZY面内について測定する。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図23 水浸探触子によるエコーの検出方法
図24 水浸集束探触子のビーム形状及び距離振幅特性曲線
9. 記録
9.1
測定機器・条件など 測定機器・条件などは，次による。
a) 測定日時及び測定者氏名
b) 測定に使用した試験片及び反射源
c) 測定機器
− 被測定探触子の形式及び製造番号
− 探触子ケーブルの種類及び長さ
− 接触媒質の種類
− パルサーレシーバーとオシロスコープ又は超音波探傷器の形式及び製造番号
− 周波数分析器の形式及び製造番号
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− ベクトルインピーダンスメータの形式及び製造番号
− バースト波発生器の形式及び製造番号
d) 測定器の各種設定 パルサーレシーバーの増幅度，減衰器の設定，ダンピングの値，フィルターの設
定値，パルサーのエネルギーなど。
e) その他参考となる事項
9.2
共通測定項目における測定結果の表示 共通測定項目における測定結果の表示は，次による。
a) 周波数応答性 中心周波数，下限周波数，上限周波数，ピーク周波数，帯域幅については，MHzで表
示し，比帯域幅については，%で表示する。
b) 時間領域応答性 ピーク数，サイクル数については数で表示し，エコー幅については，μsecで表示す
る。
c) 相対感度 相対感度は，dBで表示する。
d) 電気インピーダンス 電気インピーダンスの絶対値をΩで，位相角を度で表示する。また，探触子の
負荷条件を明記する。
9.3
個別測定項目における測定結果の表示
a) 一振動子垂直探触子 一振動子垂直探触子は，次による。
1) XZ断面についてはビーム形状と距離振幅特性曲線を表示する。YZ断面についてはビーム形状だけ
を表示する。
2) 非集束探触子のビーム中心軸の偏り角について，次の事項を表示する。
− 探触子のXY座標の方向
− 偏り方向 (φ) 度
− 偏り角 (δ) 度
3) 集束探触子のビーム特性
− 集束範囲 (FD) をmmで表示する。また，集束範囲の始まり (FA) と終わり (FB) も同様に表示す
る。
− XZ断面のビーム幅 (dFA，dFB，dFL) をmmで表示する。
− YZ断面のビーム幅 (dFA，dFB，dFL) をmmで表示する。
b) 二振動子垂直探触子 二振動子垂直探触子は，次による。
1) ビーム形状及び距離振幅特性曲線は，YZ面とXZ面で測定した場合を表示する。
2) ビーム特性
− 交軸範囲 (FD) をmmで表示する。また，交軸範囲の始まり (FA) と終わり (FB) も同様に表示す
る。
− ビーム幅 (dFA，dFB，dFL) をmmで表示する。
c) 一振動子斜角探触子 一振動子斜角探触子は，次による。
1) 縦断面のビーム形状及び距離振幅特性曲線を表示する。
2) 横断面のビーム形状及び距離振幅特性曲線を表示する。
3) 非集束探触子の入射点及び屈折角
− 入射点は，入射点ガイドメモリ位置で表示し，必要に応じてマークを探触子側面に付ける。
− 屈折角は，度で表示する。
なお，くさびの合成樹脂は温度によって音速が変化し，屈折角に影響を与えるので，測定時の
周囲温度を併記する。
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4) 非集束探触子のビーム中心軸の偏り角
− 使用した試験片
− 偏り角 (δ) 度
5) 集束探触子の縦断面ビーム特性
− 集束範囲 (FD) をmmで表示する。また，集束範囲の始まり (FA) と終わり (FB) も同様に表示す
る。
− ビーム幅 (dFA，dFB，dFL) をmmで表示する。
6) 集束探触子の横断面ビーム特性
− 集束範囲 (FD) をmmで表示する。また，集束範囲の始まり (FA) と終わり (FB) も同様に表示す
る。
− ビーム幅 (dFA，dFB，dFL) をmmで表示する。
7) 不感帯
− 不感帯は鋼中の横波距離で0.5mm単位で表示する。パルサーレシーバ又は探傷器のダンピング値
(Ω) も明記する。
d) 二振動子斜角探触子 二振動子斜角探触子は，次による。
1) 縦断面のビーム形状及び距離振幅特性曲線を表示する。
2) 横断面のビーム形状及び距離振幅特性曲線を表示する。
3) 縦断面のビーム特性
− 交軸範囲 (FD) をmmで表示する。また，交軸範囲の始まり (FA) と終わり (FB) も同様に表示す
る。
− ビーム幅 (dFA，dFB，dFL) をmmで表示する。
4) 横断面のビーム特性
− 交軸範囲 (FD) をmmで表示する。また，交軸範囲の始まり (FA) と終わり (FB) も同様に表示す
る。
− ビーム幅 (dFA，dFB，dFL) をmmで表示する。
e) 一振動子水浸垂直探触子 一振動子水浸垂直探触子は，次による。
1) ビーム形状及び距離振幅特性曲線を表示する。
2) 集束探触子のビーム特性
− 集束範囲 (FD) をmmで表示する。また，集束範囲の始まり (FA) と終わり (FB) も同様に表示す
る。
− XZ断面のビーム幅 (dFA，dFB，dFL) をmmで表示する。
− YZ断面のビーム幅 (dFA，dFB，dFL) をmmで表示する。
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附属書1（規定） 対比試験片
1. 適用範囲 この附属書は，探触子の性能測定に使用する対比試験片について規定する。
2. 横穴対比試験片RB-SDH1.5及びRB-SDH この試験片は，垂直探触子のビーム特性測定及び斜角探
触子の縦断面ビーム特性測定に用いる。
a) 材質は，JIS G 4103のSNCM439の焼入焼戻し材（820℃焼入れ，680℃焼戻し後空冷）若しくは同等
の超音波特性をもつ材料とする。又は，試験体と音響的に同等の材料若しくは試験体自身を対比試験
片の素材とする。双方とも超音波探傷によって，測定上障害となる音響的不連続部がないことを確認
しておかなければならない。
b) 反射源は，RB-SDH1.5においてはφ1.5横穴であり，RB-SDHにおいてはφ3横穴である。後者にあって
は，試験片の幅，高さ，長さ及び横穴の間隔などは，必要に応じて適宜決める。附属書1図2は，屈
折角60度以下の斜角探触子で，厚さ40mm以下を探傷領域とする場合の試験片形状を示す。
形状及び寸法は，附属書1図1及び附属書1図2による。
附属書1図1 横穴対比試験片 RB-SDH1.5
附属書1図2 横穴対比試験片 RB-SDH
23
Z 2350:2002
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
3. 斜め縦穴対比試験片RB-IDH及び半円柱対比試験片RB-HS この試験片は，斜角探触子の横断面ビー
ム特性評価に用いる。
a) 材質は，試験材と音響的に同等の材料又は試験材自身を対比試験片の素材とする。又は，JIS G 4103
のSNCM439の焼入焼戻し材（820℃焼入れ，680℃焼戻し後空冷）若しくはこれと同等の超音波特性
をもつ材料とする。双方とも超音波探傷によって，測定上障害となる音響的不連続部がないことを確
認しておかなければならない。
b) 反射源は，RB-HSにおいては半径20〜100mmの円柱面であり，RB-IDHにおいてはφ3斜め縦穴であ
る。RB-IDHのθ0は被測定探触子の屈折角である。後者にあっては，試験片の幅，高さ，長さ及び横
穴の間隔などは，必要に応じて適宜決めてよい。
c) 形状及び寸法は，附属書1図3及び附属書1図4による。
備考 θ0は，被測定斜角探触子の屈折角である。
附属書1図3 斜め縦穴対比試験片 RB-IDH
24
Z 2350:2002
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書1図4 半円柱対比試験片 RB-HS
2
5
Z
2
3
5
0
:2
0
0
2
附属書2（参考） JISと対応する国際規格との対比表
IS Z 2350 : 2002 超音波探触子の性能測定方法
ISO 10375 : 1997 非破壊試験−超音波試験−超音波探触子と音場の特性表示
ISO 12715 : 1999 対比試験片と直接接触探触子のビーム形状特性に関する試験方法
(I) JISの規定
(II) 国際規
格番号
(III) 国際規格の規定
(IV) JISと国際規格との技術的差
異の項目ごとの評価及びその内
容
表示箇所：
表示方法：
(V) JISと国際規格との技術的差異の理
由及び今後の対策
項目番号
内容
項目
番号
内容
項目ごとの評
価
技術的差異の内
容
1.適用範囲
0.5〜15MHzの接触及び
水浸超音波探触子の性
能測定方法を規定。
ISO 10375
1.
0.5〜15MHzの垂
直探触子と斜角
探触子の性能測
定方法を規定
IDT
−
ISO 12715
1.
接触探触子のビ
ーム形状測定法
を規定。
IDT
−
2.引用規格
JIS B 0601
JIS G 0801
JIS G 0901
JIS G 4103
JIS Z 2300
JIS Z 2345
ISO 10375
2.
ISO 2400 : 1972
JISに同じ。
MOD／追加
MOD／追加
MOD／追加
MOD／追加
MOD／追加
IDT
国際規格に整合
した従来型国内
試験片を定義。
国内での適用を容易とするために追加し
た。
3.定義
主な用語の定義
ISO 10375
全体
JISに同じ。
IDT
−
ISO 12715
全体
JISに同じ。
IDT
−
4.記号
主な記号の定義
ISO 10375
3.
JISに同じ。
MOD／追加。 従来からのJIS記
号を追加した。
国内での適用を容易にするため，追加し
た。
ISO 12715
3.
JISに同じ。
5.探触子の表示法
探触子の表示記号
MOD／追加
ISO規定なし
この規格だけの表示法。国際規格にない
ので，国際規格へ提案していく。
2
6
Z
2
3
5
0
:2
0
0
2
IS Z 2350 : 2002 超音波探触子の性能測定方法
ISO 10375 : 1997 非破壊試験−超音波試験−超音波探触子と音場の特性表示
ISO 12715 : 1999 対比試験片と直接接触探触子のビーム形状特性に関する試験方法
(I) JISの規定
(II) 国際規
格番号
(III) 国際規格の規定
(IV) JISと国際規格との技術的差
異の項目ごとの評価及びその内
容
表示箇所：
表示方法：
(V) JISと国際規格との技術的差異の理
由及び今後の対策
項目番号
内容
項目
番号
内容
項目ごとの評
価
技術的差異の内
容
6.測定方法
共通測定項目
個別測定項目
ISO 10375
ISO 12715
4.
5.
JISに同じ。
JISに同じ。
IDT
MOD／追加
二振動子斜角探
触子の横断面測
定を追加。
探触子性能評価上必要。
7.共通測定項目の
測定方法
7.1周波数応答性
ピーク周波数，
下限周波数，
上限周波数，
中心周波数，
帯域幅，
比帯域幅の測定法
ISO 10375
4.3
JISに同じ。
MOD／追加
試験片表面粗さ。
表示法が異なる。
国際規格の試験片表面粗さの表示が適切
でないので，JISに従った表示に直した。
国際規格の修正提案が必要。
7.2時間領域応答
性
ピーク数，
サイクル数，
エコー幅の測定法
ISO 10375
4.2
JISに同じ。
IDT
−
7.3相対感度
相対感度の測定法
ISO 10375
4.7
JISに同じ。
IDT
−
7.4電気インピー
ダンス
電気インピーダンスの
測定法
ISO 10375
4.6
JISに同じ。
IDT
−
8.個別測定項目の
測定方法
8.1一振動子垂直
探触子
a) ビーム形状及び距離
振幅特性曲線の測
定法
ISO 12715
5.1.1
JISに同じ。
MOD／追加
横穴対比試験片
RB-SDHを追加。
国内での使用実績を考慮し，従来型試験
片も使用可能とした。
b) 非集束探触子のビー
ム中心軸偏り角の
測定法
MOD／追加
ISO規定なし
国内での使用実績を考慮し，従来からの
測定項目を残した。
2
7
Z
2
3
5
0
:2
0
0
2
IS Z 2350 : 2002 超音波探触子の性能測定方法
ISO 10375 : 1997 非破壊試験−超音波試験−超音波探触子と音場の特性表示
ISO 12715 : 1999 対比試験片と直接接触探触子のビーム形状特性に関する試験方法
(I) JISの規定
(II) 国際規
格番号
(III) 国際規格の規定
(IV) JISと国際規格との技術的差
異の項目ごとの評価及びその内
容
表示箇所：
表示方法：
(V) JISと国際規格との技術的差異の理
由及び今後の対策
項目番号
内容
項目
番号
内容
項目ごとの評
価
技術的差異の内
容
c) 集束探触子のビーム
特性
ISO 12715
5.1.2
JISに同じ。
IDT
−
8.2二振動子垂直
探触子
a) ビーム形状及び距離
振幅特性曲線の測
定法
ISO 12715
5.3
JISに同じ。
IDT
−
b) ビーム特性
ISO 12715
5.3
JISに同じ。
IDT
−
8.3一振動子斜角
探触子
a) 縦断面ビーム形状及
び距離振幅特性曲
線の測定法
ISO 12715
5.2.1
JISに同じ。
IDT
−
b) 横断面ビーム形状及
び距離振幅特性曲
線の測定法
ISO 12715
5.2.2
JISに同じ。
MOD／追加
斜め縦穴対比試
験片RB-IDHを
追加。
国内での使用実績を考慮し，従来型試験
片を使用可能とした。
c) 非集束探触子の入射
点及び屈折角の測
定法
ISO 10375
4.1
JISに同じ。
IDT
−
d) 非集束探触子のビー
ム中心軸偏り角の
測定法
ISO 12715
附属C JISに同じ。
MOD／追加
標準試験片
STB-A1を追加。
国内で使用できる国際規格試験片を追加
した。国際規格の修正提案が必要。
e) 集束探触子の縦断面
ビーム特性
ISO 12715
5.2.3
JISに同じ。
IDT
−
f) 集束探触子の横断面
ビーム特性
ISO 12715
5.2.4
JISに同じ。
IDT
−
g) 不感帯
MOD／追加
ISO規定なし
国内JIS規格で引用しているので，従来
からの規定を残した。この規定は引用し
ている規格に含めるべきと考えられるの
で，国際規格への提案は不要である。
2
8
Z
2
3
5
0
:2
0
0
2
IS Z 2350 : 2002 超音波探触子の性能測定方法
ISO 10375 : 1997 非破壊試験−超音波試験−超音波探触子と音場の特性表示
ISO 12715 : 1999 対比試験片と直接接触探触子のビーム形状特性に関する試験方法
(I) JISの規定
(II) 国際規
格番号
(III) 国際規格の規定
(IV) JISと国際規格との技術的差
異の項目ごとの評価及びその内
容
表示箇所：
表示方法：
(V) JISと国際規格との技術的差異の理
由及び今後の対策
項目番号
内容
項目
番号
内容
項目ごとの評
価
技術的差異の内
容
8.4二振動子斜角
探触子
a) 縦断面ビーム形状及
び距離振幅特性曲
線の測定
ISO 12715
5.3
JISに同じ。
IDT
−
b) 横断面ビーム形状及
び距離振幅特性曲
線の測定
MOD／追加
ISO規定なし
国際規格に明記されていないが，必要な
規定なので，追加した。国際規格への提
案が必要。
c) 縦断面のビーム特性 ISO 12715
5.3
JISに同じ。
IDT
−
d) 横断面のビーム特性
MOD／追加
ISO規定なし
国際規格に明記されていないが，必要な
規定なので，追加した。国際規格への提
案が必要。
8.5一振動子水浸
垂直探触子
a) ビーム形状及び距離
振幅特性曲線の測
定
ISO 10375
4.5
JISに同じ。ただ
し，反射源の高さ
規定がJISと異な
る。
MOD／追加
ISOでは支持台
から鋼球又は鋼
線の高さは50mm
以上であるが，こ
の規格では20mm
以上とした。
反射源の高さは20mm以上としても実用
上の問題はなく，適用が優れている。国
際規格の修正提案が必要。
b) 集束型探触子のビー
ム特性
ISO 10375
4.5
JISに同じ。
IDT
−
9.記録
9.1測定機器・条
件など
記録項目
ISO 10375
ISO 12715
4.
5.
JISに同じ。
JISに同じ。
IDT
−
9.2共通測定項目
における測定結
果の表示
記録項目
ISO 10375
4.
JISに同じ。
IDT
−
2
9
Z
2
3
5
0
:2
0
0
2
IS Z 2350 : 2002 超音波探触子の性能測定方法
ISO 10375 : 1997 非破壊試験−超音波試験−超音波探触子と音場の特性表示
ISO 12715 : 1999 対比試験片と直接接触探触子のビーム形状特性に関する試験方法
(I) JISの規定
(II) 国際規
格番号
(III) 国際規格の規定
(IV) JISと国際規格との技術的差
異の項目ごとの評価及びその内
容
表示箇所：
表示方法：
(V) JISと国際規格との技術的差異の理
由及び今後の対策
項目番号
内容
項目
番号
内容
項目ごとの評
価
技術的差異の内
容
9.3個別測定項目
における測定結
果の表示
記録項目
ISO 12715
5.
JISに同じ。
IDT
−
附属書
a) 横穴対比試験片RB-
SDH1.5及びRB-
SDH
ISO 12715
5.
径1.5mmの横穴
対比試験片
RB-SDH1.5の形
状を規定。
MOD／追加
従来から国内で
使用している径
3mmの横穴対比
試験片RB-SDH
を追加。
国内での使用実績を考慮し，従来型試験
片も使用可能とした。
a) 斜め縦穴対比試験片
RB-IDH及び半円柱
対比試験片RB-HS
ISO 12715
5.
半円柱型対比試
験片RB-HSの形
状を規定。
MOD／追加
従来から国内で
使用している斜
め縦穴対比試験
片RB-IDHを追
加。
国内での使用実績を考慮し，従来型試験
片も使用可能とした。国際規格で規定す
るRB-HS対比試験片の使われ方を評価
して，国際規格への提案が必要かどうか
判断する。
JISと国際規格との対応の程度の全体評価：ISO 10375 : 1997, ISO 12715 : 1999 : MOD
備考1. 項目ごとの評価欄の記号の意味は，次のとおりである。
− IDT ……………………技術的差異がない。
− MOD／追加……………国際規格にない規定項目又は規定内容を追記している。
2. JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次のとおりである。
− MOD……………………国際規格を修正している。
30
Z2350:2002
JIS Z 2350（超音波探触子の性能測定方法）改正原案作成委員会 構成表
氏名
所属
（委員長）
羽田野 甫
東京理科大学基礎工学部
（幹事）
鈴 木 孝 信
株式会社検査技術研究所
中 田 正 明
ジャパンプローブ株式会社
島 田 道 男
船舶技術研究所
（委員）
穐 山 貞 治
経済産業省産業技術環境局
橋 本 進
財団法人日本規格協会
藤 澤 和 夫
社団法人日本鉄鋼連盟（住友金属工業株式会社）
江 口 進
社団法人非破壊検査振興協会（第一検査株式会社）
千 代 一 郎
社団法人全国鐵構工業連合会
志 波 光 晴
財団法人発電設備技術検査協会
養 祖 次 郎
財団法人鉄道総合技術研究所
池ヶ谷 靖
株式会社ジャスト
小 島 正
日本電波工業株式会社
佐 藤 春 治
湘菱電子株式会社
名 取 孝 夫
株式会社ジャスト研究所
木 村 勝 美
木村超音波探傷研究所
山 田 尚 雄
神奈川県産業技術総合研究所
赤 間 辰 也
株式会社トキメック
矢 本 守
日本パナメトリクス株式会社
（事務局）
阿 部 節 矢
社団法人日本非破壊検査協会
日本工業標準調査会標準部会 鉄鋼技術専門委員会 構成表
氏名
所属
（委員会長）
木 原 諄 二
姫路工業大学環境人間学部
（委員）
大河内 春 乃
東京理科大学理学部II部化学科
大 橋 守
日本製鐵株式会社技術総括部
國 府 勝 郎
東京都立大学大学院工学研究科
佐久間 健 人
東京大学大学院新領域創成科学研究科
中 島 正 博
日本鋼管株式会社鉄鋼技術総括部
中 島 將 文
社団法人日本鉄道施設協会
福 永 規
住友金属工業株式会社技術部
前 原 郷 治
社団法人日本鉄鋼連盟標準化センター
松 田 邦 男
川崎製鉄株式会社技術総括部
村 上 陽 一
社団法人日本電機工業会
矢 部 丈 夫
ステンレス協会
山 内 学
株式会社神戸製鋼所鉄鋼部門生産本部生産技術部