Z 2320-3：2017
（1）
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 1
2A 用語及び定義 ················································································································ 2
3 安全上の予防措置 ············································································································· 2
4 装置の様式 ······················································································································ 2
4.1 可搬形電磁石 ················································································································ 2
4.2 磁化電源 ······················································································································ 4
4.3 定置形磁化台 ················································································································ 5
4.4 専用試験システム ·········································································································· 7
5 紫外線照射装置 ················································································································ 8
5.1 一般 ···························································································································· 8
5.2 技術的なデータ ············································································································· 8
5.3 装置の要求仕様 ············································································································· 8
6 検出媒体循環システム ······································································································· 8
6.1 一般 ···························································································································· 8
6.2 技術的なデータ ············································································································· 8
6.3 装置の要求仕様 ············································································································· 9
7 検査室···························································································································· 9
7.1 一般 ···························································································································· 9
7.2 技術的なデータ ············································································································· 9
7.3 装置の要求仕様 ············································································································· 9
8 脱磁装置························································································································· 9
8.1 一般 ···························································································································· 9
8.2 技術的なデータ ············································································································· 9
8.3 装置の要求仕様 ············································································································ 10
9 測定······························································································································ 10
9.1 一般 ··························································································································· 10
9.2 電流測定 ····················································································································· 10
9.3 磁界測定 ····················································································································· 10
9.4 観察条件 ····················································································································· 11
9.5 機器の検証及び校正 ······································································································ 11
附属書JA（参考）JISと対応国際規格との対比表 ······································································ 12
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（2）
まえがき
この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人日本
非破壊検査協会（JSNDI）及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規
格を改正すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業規
格である。これによって，JIS Z 2320-3:2007は改正されこの規格に置き換えられ，また，JIS Z 2321:1993
は廃止され，この規格に置き換えられた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS Z 2320の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS Z 2320-1 第1部：一般通則
JIS Z 2320-2 第2部：検出媒体
JIS Z 2320-3 第3部：装置
日本工業規格 JIS
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非破壊試験−磁粉探傷試験−第3部：装置
Non-destructive testing-Magnetic particle testing-Part 3: Equipment
序文
この規格は，2015年に第2版として発行されたISO 9934-3を基とし，これまで行われてきた手法にも
適合するように，技術的内容を変更して作成した日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，対応国際規格を変更している事項である。変更の一
覧表にその説明を付けて，附属書JAに示す。
1
適用範囲
この規格は，磁粉探傷試験のための次の3様式の装置について規定する。
a) 可搬形電磁石
b) 定置形磁化台
c) 専用試験システム：基本的には部品を連続的に検査する特殊な検査システムで，一連の製造ラインの
中で連続的に行う検査工程台
この規格は，磁化装置，脱磁装置，照明装置，測定装置及び観察装置についても規定する。
この規格では，装置供給者によって提供されるべき仕様，用途に適合する最小要求事項及び特定な要素
の測定方法について規定している。測定及び校正に関する要求事項並びに使用中における点検項目も必要
に応じて適宣規定している。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
ISO 9934-3:2015，Non-destructive testing−Magnetic particle testing−Part 3: Equipment（MOD）
なお，対応の程度を表す記号“MOD”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“修正している”
ことを示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 0920 電気機械器具の外郭による保護等級（IPコード）
注記 対応国際規格：IEC 60529，Degrees of protection provided by enclosures (IP Code)（IDT）
JIS G 3101 一般構造用圧延鋼材
JIS G 4051 機械構造用炭素鋼鋼材
JIS Z 2300 非破壊試験用語
JIS Z 2320-1 非破壊試験−磁粉探傷試験−第1部：一般通則
注記 対応国際規格：ISO 9934-1，Non-destructive testing−Magnetic particle testing−Part 1: General
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principles（MOD）
JIS Z 2323 非破壊試験−浸透探傷試験及び磁粉探傷試験−観察条件
注記 対応国際規格：ISO 3059，Non-destructive testing−Penetrant testing and magnetic particle testing
−Viewing conditions（IDT）
2A 用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，JIS Z 2300による。
3
安全上の予防措置
安全上の予防措置は，JIS Z 2320-1の箇条5（安全上の予防措置）による。
4
装置の様式
4.1
可搬形電磁石
4.1.1
一般
可搬形電磁石（交流極間式磁化器又はヨーク式磁化器ともいう。）は，二つの磁極間に磁界を発生させる
（JIS Z 2320-1の規定に従って試験を行うとき，直流を使用する電磁石は，受渡当事者間で合意した場合に
限って使用する。）。
磁化の程度は，電磁石の磁極面の中心をつなぐ線の中心点において，試験面に平行な磁界の強さHtを測
定することによって決定する。磁極間隔sの電磁石を図1に示すような鋼板の上に置く。鋼板の寸法は，
（500±25）mm×（250±13）mm×（10±0.5）mmとし，JIS G 4051に規定するS20C若しくはS25C又
はJIS G 3101に規定するSS400に適合した鋼板を用いる。
定期的な機能点検は，上記の試験面に平行な磁界の強さHtを測定する方法で行うか，又は次に示すリフ
ティングパワーテストによって行ってもよい。
電磁石は，S20C，S25C又はSS400に適合した鋼板又は長方形の棒を支持できるものとし，適切な磁極
間隔にセットされた状態で，最小4.5 kgの質量を持ち上げられるものとする。鋼板又は棒の主な寸法は，
電磁石の磁極間隔sより大きくなければならない。
注記 質量4.5 kgの鋼板を持ち上げるには，44 Nのリフティングパワーを必要とする。
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単位 mm
MP
s
P
500
05
2
MP：試験体表面に平行な磁界の強さの測定点
s：磁極間隔（内のり寸法）
P：磁極
図1−可搬形電磁石の磁界測定
4.1.2
技術的なデータ
装置提供者が提供するデータとしては，次のような項目があるが，提供内容については，受渡当事者間
で協議し，決定する。
a) 奨励される磁極間隔（最大及び最小の磁極間隔）（smax，smin）及び磁極数
b) 磁極の断面寸法
c) 電源（電圧，電流及び周波数）
d) 絶縁抵抗及び耐電圧
e) 電流波形
f)
電流制御の方法及び波形による影響（例 サイリスタ）
g) 最大出力時の最大使用率（全時間に対する電流“ON”の時間の比率をパーセントで表す。）
h) 最大電流時の最大通電時間
i)
smax及びsminにおける試験体表面に平行な磁界の強さHt
j)
装置の全長
k) 装置の総質量（kg）
l)
規定の電気保護等級（IP）。JIS C 0920の規定による。
m) 全磁束は，図1に示す鋼板に巻いたコイルに接続した交流磁束計によって求める，又はコイルの端子
電圧を測定し，磁束を計算によって求める。
4.1.3
装置の要求仕様
可搬形電磁石は，周囲温度25 ℃±5 ℃において，次の仕様を満たさなければならない。
a) 使用率≧10 %
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b) 通電時間≧5秒
c) にぎり部の表面温度≦40 ℃
d) smaxにおける試験体表面に平行な磁界の強さ≧2 000 A/m（実効値）
e) リフティングパワー≧44 N
f)
絶縁抵抗は500 V絶縁抵抗計で2 MΩ以上
4.1.4
追加要求事項
電磁石には，にぎり部に，電源のON/OFFスイッチを取り付ける。
注記 一般に，電磁石は，片手で使用できることが望ましい。
4.2
磁化電源
4.2.1
一般
磁化装置に電流を供給するために使用する電源は，無負荷電圧Uo，短絡電流Ik及び定格電流Ir（実効値）
によって表す。
定格電流Irは，特に指定のない限り，電源の使用率10 %で，通電時間5秒と定められた場合の最大電流
とする。
無負荷電圧Uo及び短絡電流Ikは，フィード・バック制御を外した状態で，電源の負荷特性から求める。
電源の負荷特性は，電源に二つの異なる長さの負荷ケーブルを順次接続することによって求める。最初に
一つの負荷ケーブルを用いて，ケーブルに流れる電流I1と出力端子間電圧U1とによって，図2の点P1を
求める。次にもう一つの負荷ケーブルを用いて，点P2を求める。特性は，P1及びP2の2点を結ぶ直線を
引くことによって作図し，その負荷特性と両軸との交点（図2参照）を無負荷電圧Uo及び短絡電流Ikと
して表す。
P1，P2：負荷特性の決定用の測定点
図2−電源の負荷特性
（電圧）
U
U0
U1
U2
0
I1
I2
Ir
Ik
I（電流）
P1
P2
Uo
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4.2.2
技術的なデータ
装置提供者が提供するデータとしては，次のような項目があるが，提供内容については，受渡当事者間
で協議し，決定する。
a) 無負荷電圧Uo（実効値）
b) 短絡電流Ik（実効値）
c) 定格電流Ir（実効値）
d) 最大出力時の最大使用率（特に指定がある場合以外）
e) 最大電流時の最大通電時間（特に指定がある場合以外）
f)
電流波形
g) 電流制御の方法及び波形による影響
h) 調整可能な電流の可変範囲及び可変ステップ
i)
定電流制御（機能が備わっている場合）
j)
計器の種類（デジタル又はアナログ）
k) 電流出力計器の精度及び分解能
l)
最大電流出力時の電源供給に対する要求事項（電圧，相数，周波数及び電流）
m) 指定された電気的な保護等級（IP）（JIS C 0920参照）
n) 装置の全体寸法
o) 装置の総質量（kg）
p) 脱磁の形式（利用可能な場合）（箇条8参照）
4.2.3
装置の要求仕様
磁化電源は，周囲温度25 ℃±5 ℃及び定格電流Irにおいて，少なくとも次の要件を満たさなければな
らない。
a) 使用率≧10 %
b) 通電時間≧5秒
注記 高頻度試験を行う場合は，より高い使用率を要求することになる。
4.3
定置形磁化台
4.3.1
一般
定置形磁化台は，通電法及び磁束投入法のための設備が含まれたものでよい。磁束は，電磁石磁極又は
固定コイル（JIS Z 2320-1に規定）によって投入する。磁化電源の負荷特性は，4.2による。
多方向磁化用の設備が含まれている場合は，各回路は独立して制御しなければならない。磁化は，全て
の方向において，要求される検出能力を満足させるのに十分なものとする。
電磁石磁極の特性を，丸棒試験体表面に平行な磁界の強さHt（A/m）で表し，丸棒の長さ方向の中央で
測定する。この丸棒はJIS G 4051に規定するS20C若しくはS25C又はJIS G 3101に規定するSS400に適
合し，装置の仕様範囲内の適切な寸法（長さ及び直径）のものとする。
磁束投入法で1 m以上の試験体を分割して磁化する場合には，装置提供者は適切な条件設定及び手順を
示さなければならない。これには，適切な長さ及び直径をもつ丸棒における試験体表面に平行な磁界の強
さも含まれるものとする。
4.3.2
技術的なデータ
装置提供者が提供するデータとしては，次のような項目があるが，提供内容については，受渡当事者間
で協議し，決定する。
6
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a) 使用可能な磁化のタイプ
b) 使用可能な電流波形
c) 電流制御の方法及び波形による影響
d) 調整可能な電流の可変範囲及び可変ステップ
e) 定電流制御の方法（機能が備わっている場合）
f)
磁化電流の波形チャート
g) 磁化通電時間の範囲
h) 自動化機能
i)
最大出力時の最大使用率
j)
最大電流時の最大通電時間（特に指定がある場合以外）
k) 試験体表面に平行な磁界の強さHt（4.3.1参照）
l)
無負荷電圧Uo（実効値）
m) 短絡電流Ik（実効値）
n) 定格電流Ir（実効値）
o) 磁極断面の寸法
p) 最大クランプ長さ
q) クランプ方法
r) 圧縮空気圧力
s)
主軸台とベッドとの間の最大寸法
t)
試験体の最大直径
u) 試験体の最大質量（支持ありの場合又は支持なしの場合）
v) 使用可能な検出媒体の種類（水性及び油性）
w) 装置配置図の概要（電源，制御盤及び検出媒体槽の位置）
x) 計器の種類（デジタル又はアナログ）
y) 計器の精度及び分解能
z) 最大電流出力時の電源供給に対する要求事項（電圧，相数，周波数及び電流）
aa) 装置の全体寸法
ab) 装置の総質量（kg）
ac) コイルの特性
1) 巻き数
2) 最大アンペア・ターン
3) コイルの長さ
4) コイルの内径又は内寸面の各長さ（コイルが長方形の場合）
5) コイルの中心における磁界の強さ
4.3.3
装置の要求仕様
定置形磁化台は，25 ℃±5 ℃において，次の要件を満たさなければならない。
a) 最大出力時の使用率≧10 %
b) 通電時間≧5秒
c) 試験体表面に平行な磁界の強さ≧2 000 A/m（4.3.1参照）
d) 検出能力。ただし，詳細は，受渡当事者間で協議し，決定する。
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4.3.4
追加要求事項
装置提供者は，指定された試験体に対する検出能力を検証しなければならない。
4.4
専用試験システム
専用試験システムは，通常，自動化され，専門業務用に設計されている。複雑な形の試験体の場合は，
多方向磁化の使用が要求されることがある。そのとき，磁化回路の数及び磁化の設定値は，観察されるき
ず模様の位置及び方向に応じて決定する。
なお，専用試験システムのきずの検出能力は，適切な範囲において，適切な方向を向いた，自然きず又
は人工きずをもつ試験体で検証することができる。
4.4.1
技術的なデータ
装置提供者が提供するデータとしては，次のような項目があるが，提供内容については，受渡当事者間
で協議し，決定する。
a) 磁化回路の数及び形式
b) 磁化回路の特性
c) 電流波形
d) 電流制御方法及び波形による影響
e) 調整可能な電流の可変範囲及び可変ステップ
f)
定電流制御の方法（機能が備わっている場合）
g) 磁化電流の波形チャート
h) サイクル時間
i)
事前塗布及び散布時間
j)
磁化時間
k) 磁化後の待ち時間
l)
計器の種類（デジタル又はアナログ）
m) 計器の精度及び分解能
n) 最大出力時の最大使用率
o) 最大電流時の最大通電時間（4.2に指定されている場合以外）
p) 最大電流出力時の電源供給に対する要求事項（電圧，相数，周波数及び電流）
q) 脱磁のタイプ
r) 使用可能な検出媒体のタイプ（水性及び油性）
s)
装置の概要配置図（電源，制御盤及び検出媒体の液槽の位置）
t)
圧縮空気圧力
u) 装置の全体寸法
v) 装置質量（kg）
4.4.2
装置の要求仕様
専用試験システムは，周囲温度25 ℃±5 ℃において，少なくとも次の要件を満たさなければならない。
a) 合意された検出能力に合致する。
b) 合意されたサイクル時間に合致する。
c) 各回路は独立して制御できる。
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5
紫外線照射装置
5.1
一般
紫外線照射装置（以下，ブラックライトという。）の紫外線に関する特性は，JIS Z 2323による。
5.2
技術的なデータ
装置提供者が提供するデータとしては，次のような項目があるが，提供内容については，受渡当事者間
で協議し，決定する。
a) 点灯開始から1時間後のブラックライト本体の表面温度
b) 冷却の方式（例 熱交換器）
c) 電源供給の要求事項（電圧，相数，周波数及び電流）
d) 装置の全体寸法
e) 装置質量（kg）
f)
規定電圧でのブラックライトのフィルタ面から400 mmの距離における次のデータ
1) 照射領域（表面における紫外線放射照度の最大値の半分以上の強度で照射される領域の直径又は長
さ×幅）
2) 15分運転後の紫外線放射照度
3) 200時間連続運転後の紫外線放射照度（代表的な値）
4) 15分運転後の可視光照度（5.3参照）
5) 200時間連続運転後の可視光照度（代表的な値）
5.3
装置の要求仕様
ブラックライトは，周囲温度25 ℃±5 ℃において，少なくとも次の要件を満たさなければならない。
a) 検出媒体の飛散に対するフィルタの防護
b) 設置位置における手持ち式装置の危険防護
c) ブラックライトの光源から400 mmの距離における紫外線放射照度が10 W/m2以上
d) LED及び光ファイバを使用したブラックライトは，試験面で紫外線放射照度が10 W/m2以上
e) ブラックライトの光源から400 mmの距離における可視光照度が20 lx以下
f)
取っ手（にぎり部）の表面温度が40 ℃以下
6
検出媒体循環システム
6.1
一般
通常，定置形磁化台及び専用試験システムでは，検出媒体を，液槽，散布装置及び排水トレーの中で循
環させる。
6.2
技術的なデータ
装置提供者は，次のデータを提供する。
a) かくはん方法
b) 液槽，散布装置及び排水トレーの材質
c) 腐食防護
d) 適用される検出媒体の種類（水性及び油性）
e) 検出媒体の吐出量
f)
液槽の容量
g) ポンプの電源供給に対する要求事項（装置と分離している場合）
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h) 手動及び自動式散布
i)
定置式及び可搬式散布装置
j)
手持ちホース
6.3
装置の要求仕様
検出媒体循環システムは，少なくとも次の要件を満たさなければならない。
a) 検出媒体循環システムに耐食性がある。
b) 検出媒体の吐出量の制御ができる。
7
検査室
7.1
一般
蛍光性の検出媒体を使用する場合，きずによる磁粉模様とバックグラウンドとのコントラストを確実に
するために，周辺可視光の照度を低くして検査を行う（JIS Z 2323参照）。この目的のために，検査室が必
要である。
7.2
技術的なデータ
装置提供者は，次のデータを提供する。
a) A領域紫外線のない場合の可視光の照度
b) 可燃性の等級
c) 構造材料
d) 換気のタイプ
e) 寸法及び入出路
7.3
装置の要求仕様
検査室は，少なくとも次の要件を満たさなければならない。
a) 可視光照度≦20 lx
なお，より強いA領域紫外線を用いて，対象試験体と同様のきず磁粉模様又は標準試験片の磁粉模
様が確認されるならば，20 lx以上の可視光照度であってもよい。
b) 難燃性材料
c) 検査員の視野内に可視光線及び／又はA領域紫外線の反射があってはならない。
8
脱磁装置
8.1
一般
脱磁設備は，磁化装置と一体となっている場合と磁化装置とは別置きの場合とがある。磁粉模様の観察
が脱磁後に行われる場合には，磁粉模様が適切な方法によって保持されるものでなければならない。
8.2
技術的なデータ
装置提供者は，次のデータを提供する。
a) 脱磁方式
b) 電流制御の方式
c) 磁界の強さ（可能な場合，空芯脱磁コイルの中心）
d) 指定された試験体の残留磁気
e) 最大電流出力時の電源供給に対する要求事項（電圧，相数，周波数及び電流）（磁化装置と別置きの場
合）
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f)
装置の全体寸法（磁化装置と別置きの場合）
g) 装置の総質量（kg）（磁化装置と別置きの場合）
8.3
装置の要求仕様
脱磁装置は，少なくとも次の要件を満たさなければならない。
装置は指定されたレベル（一般に400 A/m〜1 000 A/m）まで脱磁できる（受渡当事者間で別の取決めが
ない場合に限る。）。
注記 一般に400 A/m〜1 000 A/mは，空間では0.5 mT〜1.2 mTに対応する。
9
測定
9.1
一般
装置提供者は，次のデータを提供する。
a) 装置特性の決定
b) 検査パラメータの確認
全ての電流及び磁界の測定は，波形に忠実に応答する測定器だけを用いなければならない。真の実効値
以外の値から計算によって導かれた波高値又は実効値の測定器は用いてはならない。真の実効値測定器が
実効値の測定に用いられる場合には，測定器の波高率は被測定波形の波高率より大きく，通常は5を下回
ってはならない。
9.2
電流測定
ひずみのない正弦波交流の測定はクランプメーター又は従来の測定器が使用できる。位相制御された電
流の測定は簡単ではないので，正確に測定できているかを確認する必要がある。正確に電流を測定するた
めには，シャント抵抗などを用いて電流波形を観察しなければならない。
9.3
磁界測定
9.3.1
一般
磁化状態は，ホール素子プローブなどを用いて，試験体表面に平行な磁界の強さを測定することによっ
て決定する。要求される磁界の強さを得る場合，磁化方法及び測定位置に関して，次の三つの要因を考慮
する。
a) 磁気センサの向き 感受面は，試験体表面に対して垂直に置く。
注記 垂直な磁界成分が存在する場合には，素子の傾斜は本質的な誤差を招く。
b) 磁気センサの表面への接近 磁界が表面からの高さに応じて大きく変わる場合は，表面での値を推定
するために，異なる高さで2回測定して外挿して求めてもよい。
c) 磁界の方向 磁界の方向及び大きさを決定するために，プローブを回転させ，最大値を読み取る。
9.3.2
技術的なデータ
装置提供者は，次のデータを提供する。
a) 測定値
b) プローブの形式及び寸法
c) プローブ表面からのセンサの距離
d) 感受面の配置
e) 測定機器のタイプ
f)
測定機器の寸法
g) 測定機器の電源（バッテリ又は商用電源）
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9.3.3
要求仕様
測定装置は，少なくとも次の要件を満たさなければならない。
− 測定精度±10 %以内
9.4
観察条件
観察装置の要求仕様は，JIS Z 2323による。
9.5
機器の検証及び校正
校正間隔期間中の測定誤差がこの規格の規定範囲内となるように，機器の検証及び校正を，手順に従っ
て実施する。この作業は，機器の製造業者の推奨に従うか，又は使用者の品質保証システムに沿って行う。
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附属書JA
（参考）
JISと対応国際規格との対比表
JIS Z 2320-3:2017 非破壊試験−磁粉探傷試験−第3部：装置
ISO 9934-3:2015，Non-destructive testing−Magnetic particle testing−Part 3: Equipment
(I)JISの規定
(II)
国際
規格
番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
2A 用語及
び定義
JIS Z 2300を規定。
−
−
追加
用語の箇条を設け，用語を規定した
JISを引用した。
実質的な技術的差異はない。
3 安全上の
予防措置
JIS Z 2320-1の箇条5
を引用。
3
JISとほぼ同じ。
変更
国内の事情に合わせて安全上の記
載を追加した。
実質的な技術的差異はない。
4 装置の様
式
4.1 可搬形電磁石
4.1.1 一般
特性試験に使用する鋼
板
4
EN 10084 鋼種（C22）
を規定。
変更
国ごとに鋼種に関する規格は異な
るので，相当する入手しやすい
S25C及びSS400を追加した。
実質的な技術的差異はない。
4.1.2 技術的なデータ
4.1.2
追加
提供するデータの詳細は，受渡当事
者間で協議し，決定するとした。
実質的な技術的差異はない。
4.1.2 d) 絶縁抵抗及び
耐電圧のデータ提供を
追加
追加
ISO規格にはない絶縁抵抗及び耐
電圧の測定を安全性確認のため追
加した。
今後，ISOに提案を検討する。
4.1.2 m) 全磁束のデー
タ提供を追加
追加
ISO規格にはない全磁束の測定を
装置の性能データとして追加した。
今後，ISOに提案を検討する。
4.1.3 装置の要求仕様
周囲温度
4.1.3
＋30 ℃
変更
日本の気候条件に対応するため周
囲温度25 ℃±5 ℃に変更した。
実質的な技術的差異はない。
4.1.3 f) 絶縁抵抗値を
規定
追加
絶縁抵抗値を追加した。
安全性確認のため追加した。
今後，ISOへ提案する。
5 紫外線照
射装置
5.3 d) LED及び光ファ
イバによる試験面での
紫外線放射照度
5
追加
ISO規格にはないLED及び光ファ
イバを使用したブラックライトの
試験面での紫外線放射照度を追加
した。
今後，ISOに提案を検討する。
2
Z
2
3
2
0
-3
：
2
0
1
7
13
Z 2320-3：2017
(I)JISの規定
(II)
国際
規格
番号
(III)国際規格の規定
(IV)JISと国際規格との技術的差異の箇条ごと
の評価及びその内容
(V)JISと国際規格との技術的差
異の理由及び今後の対策
箇条番号
及び題名
内容
箇条
番号
内容
箇条ごと
の評価
技術的差異の内容
7 検査室
7.3 a) 可視光照度
7.3
20 lx以下
追加
紫外線強度が強い場合には20 lx以
上でもよいとした。
今後，ISOに提案を検討する。
JISと国際規格との対応の程度の全体評価：ISO 9934-3:2015，MOD
注記1 箇条ごとの評価欄の用語の意味は，次による。
− 追加 ················ 国際規格にない規定項目又は規定内容を追加している。
− 変更 ················ 国際規格の規定内容を変更している。
注記2 JISと国際規格との対応の程度の全体評価欄の記号の意味は，次による。
− MOD ··············· 国際規格を修正している。
2
Z
2
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0
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：
2
0
1
7