X 7779：2012 (ISO 7779：2010)
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲 ························································································································· 1
2 引用規格 ························································································································· 3
3 用語及び定義 ··················································································································· 4
4 適合条件 ························································································································· 8
5 設置及び作動条件 ············································································································· 8
5.1 機器の設置 ··················································································································· 8
5.2 入力電圧及び周波数 ······································································································ 10
5.3 機器の作動 ·················································································································· 10
6 残響試験室における機器の音響パワーレベル算出方法 ···························································· 11
6.1 一般事項 ····················································································································· 11
6.2 測定の不確かさ ············································································································ 11
6.3 試験環境 ····················································································································· 12
6.4 測定器 ························································································································ 12
6.5 機器の設置及び作動−一般事項························································································ 13
6.6 マイクロホンの位置及び音源の配置 ·················································································· 13
6.7 音圧レベルの測定 ········································································································· 13
6.8 基準音源の音圧レベルの測定··························································································· 14
6.9 空間・時間平均バンド音圧レベルの計算 ············································································ 14
6.10 音響パワーレベルの算出 ······························································································· 14
7 反射面上の準自由音場における機器の音響パワーレベル算出方法 ············································· 17
7.1 一般事項 ····················································································································· 17
7.2 測定の不確かさ ············································································································ 17
7.3 試験環境 ····················································································································· 17
7.4 測定器 ························································································································ 18
7.5 機器の設置及び作動−一般事項························································································ 19
7.6 測定表面及びマイクロホンの位置····················································································· 19
7.7 音圧レベルの測定 ········································································································· 20
7.8 表面音圧レベルの計算 ··································································································· 20
7.9 音響パワーレベルの算出 ································································································ 21
8 オペレータ位置及びバイスタンダ位置における放射音圧レベル算出方法 ···································· 22
8.1 一般事項 ····················································································································· 22
8.2 測定の不確かさ ············································································································ 22
8.3 試験環境 ····················································································································· 23
8.4 測定器 ························································································································ 23
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ページ
8.5 機器の設置及び作動 ······································································································ 23
8.6 マイクロホンの位置 ······································································································ 24
8.7 音圧レベルの測定 ········································································································· 26
8.8 放射音圧レベルの算出 ··································································································· 26
9 記録事項及び報告事項 ······································································································ 28
9.1 記録事項 ····················································································································· 28
9.2 試験報告書 ·················································································································· 31
附属書A（規定）試験用アクセサリ ························································································ 33
附属書B（規定）測定表面 ···································································································· 36
附属書C（規定）特定カテゴリの機器のための設置条件及び作動条件 ············································ 41
附属書D（参考）顕著な離散周波数音の特定及び評価································································· 42
附属書E（参考）衝撃性の騒音の検出······················································································ 60
参考文献 ···························································································································· 62
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まえがき
この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，社団法人ビジネス
機械・情報システム産業協会（JBMIA）及び財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して
日本工業規格を改正すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した
日本工業規格である。
これによって，JIS X 7779:2001は改正され，この規格に置き換えられた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
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日本工業規格 JIS
X 7779：2012
(ISO 7779：2010)
音響−情報技術装置から放射される
空気伝搬騒音の測定
Acoustics−Measurement of airborne noise emitted by information
technology and telecommunications equipment
序文
この規格は，2010年8月15日に第3版として発行されたISO 7779を基に，技術的内容及び対応国際規
格の構成を変更することなく作成した日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある参考事項は，対応国際規格にはない事項である。
この規格は，情報技術装置から放射される空気伝搬騒音を測定するための複数の方法を規定している。
従来，個々の製造業者又はユーザーによって，特定の機器又は利用形態での諸要求を満足するために，多
種多様の方法が適用されてきた。多くの場合，そのようなばらばらの方法では，機器から放射される騒音
の比較は困難なものであった。この規格によって，そのような比較が容易に行えるようになり，また，情
報技術装置の騒音放射レベルの表示（declaration）に関する基礎ができる。
精度を確保し，妥当性があり，かつ，広く一般に受け入れられるものとするため，この規格では，音響
パワーレベルの算出並びにオペレータ位置及びバイスタンダ位置（測定対象の機器を操作はしないが，そ
の騒音の影響を受ける人がいると想定される位置）における放射音圧レベルの算出に関し，複数の通則規
格に基づいている。さらに，通則規格に適合することによって，その目的を容易に達成できるようになる。
多くの場合，反射面上の自由音場条件は半無響室によって実現される。半無響室は，個々の騒音源の探
査・改善を行うなど，製品設計時点において特に有効であろう。残響試験室は，生産管理，騒音放射表示
目的でA特性音響パワーレベルデータを収集する場合，より経済的であろう。
放射音圧レベルは，発生する騒音を表示するための情報としては，主たるものとは考えられていないた
め，（ISO 11201に基づく）オペレータ位置又はバイスタンダ位置における放射音圧レベルの測定方法は，
（音響パワーレベルの算出方法とは別の）独立した箇条として規定されている。しかし，その測定は，反
射面上の自由音場における音響パワー算出と一緒に行うことができる。
同種の機器を比較するには，設置条件及び作動モードを同じにすることが不可欠である。附属書Cでは，
多くのカテゴリの機器に対し，ECMA-74最新版の附属書Cを引用することにより，これらのパラメータ
を標準化している。
この規格の基になったISO 7779は，ECMA-74に基づいている。
1
適用範囲
この規格は，情報技術装置から放射される騒音の測定及び報告に関する手順を規定する。
注記1 この規格は，この種の機器専用の騒音試験規程（3.1.2参照）であり，騒音放射通則規格（3.1.1
参照）であるISO 3741，ISO 3744，ISO 3745及びISO 11201に基づいている。
2
X 7779：2012 (ISO 7779：2010)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
発生する騒音を記述する最も重要なものは，A特性音響パワーレベルである。A特性音響パワーレベル
を用いると，異なる製造業者によって作られた同種の機器を比較したり，異なる機器間であっても比較が
可能となる。
この規格では，既存の試験設備及び過去の経験に対して無用な制限を加えないようにするため，音響パ
ワーレベルを算出するために三つの騒音放射通則規格（以下，通則という。）を引用する。ISO 3741によ
って残響試験室における比較測定を規定し，ISO 3744及びISO 3745によって反射面上の準自由音場にお
ける測定を規定する。これらの三つの通則のいずれを選択してもよいが，ある1台の機械について音響パ
ワーレベルを算出する場合，選択したその通則だけをこの規格に従い用いる。
A特性音響パワーレベルは，オペレータ位置又はバイスタンダ位置において算出したA特性放射音圧レ
ベルによって補完される。このA特性放射音圧レベルの測定方法は，ISO 11201に基づいて規定されてい
る。この場合の音圧レベルとは，作業者の騒音アイミッション1) 評価レベル（a worker's immission rating
level）を表すものではないが，うるささ・やかましさ（annoyance），作業効率の低下，オペレータ及びバ
イスタンダの聴力障害の原因となり得る潜在的な問題を特定する一助となることがある。
注1) “放射（emission）”が一台の機器から発生する騒音を表す物理量であるのに対し，“アイミッシ
ョン（immission）”は，騒音にさらされる人の耳の位置に到来する全ての騒音を記述するもので
あって，騒音源は一般に一つとは限らず，実際に発生する騒音だけでなく，その騒音にさらさ
れる時間にも依存する。さらに，その騒音にさらされる時間の長さなどに応じて，“暴露
（exposure）”という概念もある［詳細は参考文献 [28] を参照］。この規格では騒音放射だけを
扱っている。
騒音放射中の顕著な離散周波数音の有無及び騒音の衝撃性を判定する方法を，附属書D及び附属書Eに
それぞれ示す。
この規格は，型式試験（type test）に適しており，製造業者及び試験所（すなわち，異なる場所）におい
て比較可能な結果が得られるように種々の方法を規定する。
この規格に規定する方法を用いることによって，個々に試験されるファンクショナルユニット（3.1.4参
照）の騒音放射レベル（noise emission level）が算出可能となる。
この規格の手順は，広帯域騒音，狭帯域騒音及び離散周波数成分を含む騒音，又は衝撃性の騒音を放射
する機器に適用することができる。
得られた音響パワーレベル及び放射音圧レベルは，騒音放射に関する表示及び比較に役立つ（JIS X 7778
参照）。
注記2 これらのレベルは，設置場所における騒音アイミッションレベルのことではないが，設置場
所の騒音レベルの予測に用いることができる［ECMA TR/27 [4] 参照］。
同じロット内の複数のファンクショナルユニットに対し音響パワーレベルを求めると，そのロットの統
計値を算出できる（JIS X 7778参照）。
注記3 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
ISO 7779:2010，Acoustics−Measurement of airborne noise emitted by information technology and
telecommunications equipment (IDT)
なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”
ことを示す。
3
X 7779：2012 (ISO 7779：2010)
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2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで，西暦年の付記がない引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 1509-1 電気音響−サウンドレベルメータ（騒音計）−第1部：仕様
注記 対応国際規格：IEC 61672-1, Electroacoustics−Sound level meters−Part 1: Specifications (IDT)
JIS C 1514 オクターブ及び1/Nオクターブバンドフィルタ
注記 対応国際規格：IEC 61260, Electroacoustics−Octave-band and fractional-octave-band filters (IDT)
JIS C 1515 電気音響−音響校正器
注記 対応国際規格：IEC 60942, Electroacoustics−Sound calibrators (IDT)
JIS X 7778 音響−情報技術装置の表示騒音放射値
注記 対応国際規格：ISO 9296, Acoustics−Declared noise emission values of computer and business
equipment (IDT)
JIS Z 8739 音響−音響パワーレベル算出に使用される基準音源の性能及び校正に対する要求事項
注記 対応国際規格：ISO 6926, Acoustics−Requirements for the performance and calibration of reference
sound sources used for the determination of sound power levels (IDT)
ISO 266, Acoustics−Preferred frequencies
ISO 3741, Acoustics−Determination of sound power levels and sound energy levels of noise sources using
sound pressure−Precision methods for reverberation test rooms
注記 この規格（JIS X 7779）の発行時点においてISO 3741の最新版は2010年10月発行の第4版
である。その旧版ISO 3741:1999の一致規格JIS Z 8734:2000 [26] が存在するが，この規格で
引用する要件を規定しておらず，適用できない。
ISO 3744, Acoustics−Determination of sound power levels and sound energy levels of noise sources using
sound pressure−Engineering methods for an essentially free field over a reflecting plane
注記 この規格（JIS X 7779）の発行時点においてISO 3744の最新版は2010年10月発行の第3版
である。その旧版ISO 3744:1994の対応規格JIS Z 8733:2000 [25] が存在するが，この規格で
引用する要件を規定しておらず，適用できない。
ISO 3745, Acoustics−Determination of sound power levels of noise sources using sound pressure−Precision
methods for anechoic and hemi-anechoic rooms
注記 この規格（JIS X 7779）の発行時点においてISO 3745の最新版は2003年12月発行の第2版
である。その旧版ISO 3745:1977の改正過程におけるISO/DIS 3745:2000の一致規格
JIS Z 8732:2000 [24]が存在するが，この規格で引用する要件を規定しておらず，適用できない。
ISO 9295, Acoustics−Measurement of high-frequency noise emitted by computer and business equipment
ISO 11201, Acoustics−Noise emitted by machinery and equipment−Determination of emission sound
pressure levels at a work station and at other specified positions in an essentially free field over a reflecting
plane with negligible environmental corrections
注記 この規格（JIS X 7779）の発行時点においてISO 11201の最新版は2010年5月発行の第2版
である。その旧版ISO 11201:1995の一致規格JIS Z 8737-1:2000 [27] が存在するが，この規格
で引用する要件を規定しておらず，適用できない。
ISO 11203, Acoustics−Noise emitted by machinery and equipment−Determination of emission sound
pressure levels at a work station and at other specified positions from the sound power level
4
X 7779：2012 (ISO 7779：2010)
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ECMA-74, Measurement of airborne noise emitted by information technology and telecommunications
equipment 2)
注2) 次のURLにおいて，2012.1.30時点において利用可能である。
http://www.ecma-international.org/publications/files/ECMA-ST/ECMA-74.pdf
3
用語及び定義
この規格で用いる用語及び定義は，ISO 3744及びISO 11201によるほか，次による。
3.1
一般定義
3.1.1
騒音放射通則規格（通則），B-タイプ規格（basic noise emission standard，B-type standard）
機器の騒音放射の算出手順を規定し，その手順に従って得られる結果の信頼性及び再現性に対し，一定
の精度のグレードをもつ規格
［ISO 12001:1996 [2]，3.1］
3.1.2
騒音試験規程（個別規格），C-タイプ規格（noise test code，C-type standard）
ある特定のクラス，種類（ファミリー）又は型番（タイプ）の機器に適用され，標準化された条件の下，
その騒音放射の諸特性の算出，表示及び検証を効率的に行うために必要なあらゆる事項を規定した規格
［ISO 12001:1996 [2]，3.2］
注記1 この規格は，ISO 9295及びJIS X 7778とともに，情報技術装置に関する騒音試験規程を構成
する。
注記2 騒音放射通則規格に基づいて，特定の種類の機器のための騒音試験規程（個別規格）を作成
するための要件がISO 12001:1996 [2] に規定されている。
3.1.3
情報技術装置（information technology and telecommunications equipment，ITT equipment）
家庭，オフィス，サーバの設置場所，通信機器の設置場所又は同様の設置環境において，情報処理に使
われる機器及びそのコンポーネント
注記 邦訳の情報技術装置には，原文のtelecommunicationsに相当するものがないが，この規格の旧
版JIS X 7779:2001制定時に検討済みであり，これを踏襲している。
3.1.4
ファンクショナルユニット（functional unit）
それ自身の最終製品としてのエンクロージャ［きょう（筐）体］をもつ，もたないを問わず，この規格
の手順に従って試験される，又は試験されることが想定される情報技術装置のユニット
注記1 この規格の方法に従って，情報技術装置の複数のユニットを一緒に試験しなければならない
場合，一つのファンクショナルユニットが，複数のユニットから構成されることもあり得る。
また，試験対象の情報技術装置の通常の運転のために，それ以外のユニット（電源モジュー
ル，給水ポンプ，冷却ユニットなど）が必要な場合，一つのファンクショナルユニットが，
このような情報技術装置以外の一つ以上のユニットと一つ以上の情報技術装置とが組み合わ
さって構成されることもある。
注記2 情報技術装置のファンクショナルユニットは，商業ベースで取引可能な最終製品，開発途中
の試作品，それらのサブアセンブリ，又は，コンポーネントのように，広範な形態があり得
5
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る。
3.1.5
作業位置，オペレータ位置（work station，operator position）
測定対象機器の近傍においてオペレータのために想定された位置
注記1 ISO 11201:2010，3.11から翻案。
注記2 この場合の“work station（英語の2単語からなる用語）”とは，単一ユーザー向けの高性能コ
ンピュータを意味する“workstation（英語の1単語）”を指すわけではない。
3.1.6
作動モード（operating mode）
試験中の機器が，その目的とする機能を果たしている状態
3.1.7
アイドルモード（idle mode）
機器に通電しているが，作動していない定常な，一つ以上の状態
3.1.8
床置き機器（floor-standing equipment）
床の上に設置するように設計されたファンクショナルユニット
3.1.9
卓上機器（table-top equipment）
それ自身のエンクロージャによって，テーブル，机若しくは独立したスタンド上に設置されるか，又は
そこで使用するように設計されたファンクショナルユニット
3.1.10
壁付け機器（wall-mounted equipment）
通常，壁面を背にするか，又は壁の中に据え付けられるようになっており，それ自身のスタンドをもた
ないファンクショナルユニット
3.1.11
サブアセンブリ（sub-assembly）
一般には，それ自身の最終製品としてのエンクロージャをもっておらず，情報技術装置の他のユニット
内に設置されるか，又は最終製品のエンクロージャ内において，他のサブアセンブリ又は情報技術装置の
他のユニットとともに組み立てられるように設計されたファンクショナルユニット
3.1.12
ラック装着ユニット（rack-mountable unit）
ラック，フレーム，キャビネット，完全密閉又は部分密閉，又は開放型のフレームの形態の，最終製品
としてのエンクロージャ内に設置するように設計されたファンクショナルユニット
3.1.13
ラック組込みシステム（rack-enclosed system）
ラック，フレーム又はキャビネット内部に一つ以上のラック装着ユニットを含んでいるファンクショナ
ルユニット
注記 一口にラック組込みシステムといっても，その意味するものは，ラック又はエンクロージャの
中に入るラック装着ユニットの構成に応じて，情報技術装置の多岐にわたる。その中には，サ
ーバシステム，ストレージシステム，入出力システム，ネットワークシステム，又はこれら若
6
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しくは別のタイプのラック装着ユニットを“統合した”システムもあり得る。
3.1.14
手持ち機器（hand-held equipment）
一般に物理的に小さく，軽量で，操作中は手で支えるように設計されたファンクショナルユニット
3.1.15
標準試験卓（standard test table）
少なくとも0.5 m2の上面面積をもち，かつ，上面の長さが700 mm以上ある，剛性の高いテーブル
注記 標準試験卓の設計図を附属書Aに示す。
3.2
音響定義
3.2.1
放射，騒音放射（emission，noise emission）
明確に定義された一つの音源（例えば，測定対象機器）によって放射された空気伝搬音
注記 製品表示及び／又は製品仕様書の一部として騒音放射に関する記述を含めることができる。騒
音放射の基礎的な記述パラメータには，その音源自身による音響パワーレベル，及び，音源近
傍のオペレータ位置（又は，オペレータ位置が定義されていない場合にはバイスタンダ位置）
における放射音圧レベルがある。
3.2.2
音圧 p（sound pressure，p）
ある瞬間の気圧と静圧との差
注記1 音圧は，単位，パスカル(Pa)で表す。
注記2 記号pは，しばしば，添え字なしで音圧の実効値を表すために使われる。
［ISO 80000-8:2007 [3]，8.9.2］
3.2.3
音圧レベル Lp（sound pressure level，Lp）
音圧pの二乗の，基準音圧p0の二乗に対する比の常用対数を10倍し，単位，デシベルで表したもの
2
0
2
10
log
10
p
p
Lp=
(dB)
ここに，基準値，p0は20 µPa
注記 この定義は，技術的にはISO 80000-8:2007 [3]，8.22に従う。
［ISO/TR 25417:2007 [22]，2.2］
3.2.4
時間平均音圧レベル LpT（time-averaged sound pressure level，LpT）
測定時間Tの間で，時間とともに変動する対象音と同じ平均二乗音圧をもつ，連続で定常な音の音圧レ
ベル
3.2.5
放射音圧レベル Lp（emission sound pressure level，Lp）
対象とする音源が所定の設置条件に従って反射面上に据え付けられ，所定の作動をしているときに，音
源近傍の指定位置において実測した音圧レベルから，暗騒音の影響を除外したもの
注記1 放射音圧レベルは，単位，デシベル(dB)で表す。
注記2 箇条8において，放射音圧レベルの算出方法を規定している。
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3.2.6
時間平均放射音圧レベル LpeqT（time-averaged emission sound pressure level，LpeqT）
測定時間Tの間で，時間とともに変動する対象音と同じ平均二乗音圧をもつ，連続で定常な音の放射音
圧レベル
()
=
∫
2
0
0
2
10
eq
d
1
log
10
p
t
t
p
T
L
T
T
p
(dB)
注記1 時間平均放射音圧レベルは，単位，デシベル(dB)で表す。
注記2 放射音圧レベルは，騒音試験規程（すなわち，情報技術装置の特定のカテゴリに対してはこ
の規格）で要求する指定位置において算出される。
注記3 時間平均放射音圧レベルは，必ずある測定時間の間に算出されるため，一般に，添え字の“eq”
及び“T”は省略される。
3.2.7
A特性インパルス音圧レベル LpAI（A-weighted impulse sound pressure level，LpAI）
サウンドレベルメータをJIS C 1509-1の附属書Cに示す時間重み付け特性I（インパルス）に設定した
ときのA特性音圧レベルの指示値
注記 A特性インパルス音圧レベルは，単位，デシベル(dB)で表す。
3.2.8
C特性ピーク音圧レベル LpCpeak（C-weighted peak sound pressure level，LpCpeak）
一つの作動サイクルの中で発生するC特性瞬時音圧の絶対値の最大値を20 μPaを基準としてレベル化し
たもの
注記 C特性ピーク音圧レベルは，単位，デシベル(dB)で表す。
3.2.9
音響パワー P（sound power，P）
一つの音源から単位時間当たりに放射される空気伝搬音のエネルギー
注記1 音響パワーは，単位，ワット（W）で表す。
注記2 この規格では，測定時間中の音響パワーの時間平均値のことである。
3.2.10
基準音源（reference sound source）
安定な音源として利用することを目的とした装置であり，対象周波数範囲にわたり，既知の広帯域音響
パワースペクトル特性をもち，JIS Z 8739に従って校正されたもの
3.2.11
対象周波数範囲（frequency range of interest）
ISO 266で定義する1/3オクターブバンドの中心周波数のうち，100 Hz〜10 000 Hzの連続する帯域
注記 16 kHzのオクターブバンド内に離散周波数音を放射する機器に対しては，ISO 9295の手順が使
われる（表4参照）。
8
X 7779：2012 (ISO 7779：2010)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4
適合条件
ある測定が次の要件の全てを満足する場合，その測定はこの規格に適合する。
a) 測定手順，設置及び作動条件の全てが，この規格に従う。
b) 音響パワーレベルを算出する場合，箇条6又は箇条7に規定する方法のいずれか一つだけを用いる。
c) オペレータ位置又はバイスタンダ位置における放射音圧レベルを算出する場合，箇条8の方法を用いる。
5
設置及び作動条件
5.1
機器の設置
5.1.1
一般事項
機器は，その目的とする利用形態に従い設置しなければならない。多くの異なるカテゴリの情報技術装
置に対する設置条件を附属書Cにおいて，ECMA-74の最新版の附属書Cを引用することによって，規定
する。騒音放射に関する表示を行うために必要な情報を得ようとする場合には，必ずこれらの条件に従う。
通常の設置条件が未知の場合，又は複数の可能性のある場合，代表的な条件を選択し，これを報告する。
試験対象機器につながれた配管，ダクト，他の補助装置などのいずれからも，際立って大きな音を試験
室内に放射しないように配慮しなければならない。試験対象機器を操作させるために必要な全ての補助装
置は，可能な限り，試験室の外側に配置し，試験室内には，測定の妨害となる物体があってはならない。
注記 一つの反射面，又は複数の反射面近傍に機器が据え付けられると，その機器から放射される音
響パワーは，その位置と向きとに依存することがある。試験の目的として，ある特定の位置及
び向きにおいて機器から放射される音響パワーを算出することもあれば，複数の位置及び複数
の向きにおけるそれの平均を算出することもある。
5.1.2
床置き機器
5.1.2.1
残響試験室における要件
床置き機器は，5.1.2.3に該当する場合を除き，残響試験室の壁から少なくとも1.5 m離して配置し，試
験室の壁と機器の主たる側面とが平行になってはならない。
5.1.2.2
半無響室における要件
床置き機器は，5.1.2.3に該当する場合を除き，又は，附属書Cに特に規定のない限り，壁から十分な距
離（可能な場合2 mよりも遠くに）離して反射性の床（音響的に硬い床）の上に設置する。
反射面を除く全ての面からアクセスできるように機器を設置する。反射面は少なくとも測定距離分だけ
試験対象物から外側に達していなければならない。反射に関する要件は7.3.1の注記を参照。反射面は，
それ自身による振動によって音の放射に寄与してはならない。
5.1.2.3
共通の要件
複数のフレームからなる試験対象機器で，実装時にフレームが結合されている場合，又は，大きすぎて
試験を行えない場合，フレームごとに測定することができる。そのような状況においては，騒音測定中に
追加のカバーが必要になることがある。そのような追加のカバーは，機器上の他のカバーと音響的に同等
なものでなければならない。あるユニットと別のユニットとが機械的又は音響的に結合しているために，
発生する騒音が相互に大きく依存し合っている場合，一緒に結合されたユニット全てを，可能な限り，ま
とめて試験対象機器とする。
壁を背にして設置されるように設計された床置き機器は，硬い壁の前の硬い床の上に置く。7.3.1の注記
を参照。壁からの距離は，製造業者の指定に従うか，又は附属書Cによる。そのような情報のない場合，
距離は0.1 mとする。
9
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
5.1.3
卓上機器
5.1.3.1
残響試験室における要件
例えば，床の上から給紙したり，床の上に排紙したりするプリンタのように，附属書Cに従い，作動さ
せるためにテーブル又はスタンドを必要とするものでない限り，卓上機器（3.1.9参照）は，壁から少なく
とも1.5 m離し，残響試験室の床の上に置く。テーブル又はスタンドを必要とする機器の場合，標準試験
卓（附属書A参照）の上面の中央に置く。
5.1.3.2
半無響室における要件
例えば，床の上から給紙したり，床の上に排紙したりするプリンタのように，附属書Cに従い，作動さ
せるためにテーブル又はスタンドを必要とするものでない限り，卓上機器（3.1.9参照）は，半無響室の床
の上に置く。テーブル又はスタンドを必要とする機器の場合，標準試験卓（附属書A参照）の上面の中央
に置く。いずれの場合でも，7.6で定義する測定表面の境界は（標準試験卓の上面ではなく）床面上にある。
5.1.4
壁付け機器
壁付け機器（3.1.10参照）は，特に規定のない限り，残響試験室の壁に据え付け，他の全ての反射面か
ら少なくとも1.5 m離す。又は，機器の操作が可能な場合，試験室の全ての壁から少なくとも1.5 m（半無
響室の場合，可能なときは，2 mよりも遠くに）離し，床面上に機器を据え付けてもよい。
壁又は他の構造物に埋め込むことが通常の設置方法である機器の場合，代表的な構造物を使って測定し，
試験報告書に記載しなければならない。
5.1.5
ラック組込み機器
ラック組込み機器には，個々のラック装着ユニット（3.1.12参照）及びラック組込みシステム（3.1.13
参照）の両方を含む。ラック装着ユニットは，ラックの外で試験するか，又はECMA-74の該当部分の要
件に従ってラックエンクロージャの中に設置して試験しなければならない。ラック組込みシステムは，そ
のシステムのタイプ及び大きさに従って，床置き機器（5.1.2参照）又は卓上機器（5.1.3参照）のいずれ
かとして試験しなければならない。ECMA-74の該当部分の設置及び作動に関する要件に従わなければな
らない。
ラック装着ユニットの構成が複数種類あるラック組込みシステムの場合，どのような構成で測定を行う
かは，通常，その試験の目的に応じて決まり，したがって，この規格の中では規定していない（詳細につ
いてはECMA-74参照）。
5.1.6
手持ち機器
手持ち機器（3.1.14参照）は，防振のスタンド若しくは固定具，又は適切な防振要素を介した上で反射
面の上方0.25 m ± 0.03 mに支持する。半径1 m未満の半球測定表面（B.1参照）を用いる場合，手持ち機
器を支持する高さは，0.125 m ± 0.015 mに減少させる。手持ち機器の支持方法によって，空気伝搬音の伝
搬の妨げとなってはならず，また，余分な音を放射してはならない。
5.1.7
サブアセンブリ
サブアセンブリ（3.1.11参照）は，防振のスタンド若しくはジグ，又は適切な防振要素を介した上で反
射面の上方0.25 m ± 0.03 mに支持する。半径1 m未満の半球測定表面（B.1参照）を用いる場合，サブア
センブリを支持する高さは0.125 m ± 0.015 mに減少させる。サブアセンブリの支持方法によって，空気伝
搬音の伝搬の妨げとなってはならず，また，余分な音を放射してはならない。もし，上記の高さが，サブ
アセンブリの吸気部分の高さとして製造業者が推奨する空気の流れを妨げる場合，適宜，高さを調整して
よいが，0.5 mを超えてはならない。その新しい高さを試験報告書に記載する。
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5.2
入力電圧及び周波数
公称定格電圧及び定格電源周波数で機器を作動させる。
三相以上の場合，相間の電圧差は，5 %を超えてはならない。
5.3
機器の作動
騒音測定の間は，通常に使用している状態を代表するような方法で機器を作動させる。
この規格の附属書Cにおいて，ECMA-74の最新版の附属書Cを引用することによって，多くのカテゴ
リの機器に関する条件を規定しており，それらに従う。しかし，規定された条件が，その製品の想定され
る使い方にできる限り一致するように条件を統一させようとする目的と明らかに反する場合，その想定さ
れる使い方に近づけて，少なくとも一つ，追加モードを定義し，試験を行い，文書化する。その後の表示
は，次のいずれかとする。
− 一方はこの規格の附属書Cに基づいた値であり，もう一方は，目的とする利用形態を代表する使い
方として製造業者が想定するものに基づく値と明示した上で，その両方の値を表示する。
− この規格の附属書Cに基づいてはいないが，目的とする利用形態を代表する使い方として製造業者
が想定するものに基づく値と明示した上で，そちらだけを表示する。
注記1 この規格において，“表示”とは，JIS X 7778に規定する“declare”又は“declaration”に対
応する用語として統一して用いられ，機器の騒音に関する情報を文書でユーザーに提供する
ことを意味しており，一般的な表示よりは，限定的な使い方をしている。
附属書Cにおいて複数の作動モードがある場合，少なくとも，最も典型的な作動モードで試験をし，報
告しなければならない。
温度及び他の諸条件を安定させるため，騒音測定に先立ち，十分長い時間，機器を作動させておく。
アイドルモード及び作動モード両方において機器の騒音を測定する。試験対象機器が複数の機能（例え
ば，マニュアルタイピング，蓄積した情報の自動印字，又は印字品質の異なる印刷機能）をもつように設
計されており，かつ，附属書Cに特に規定がない場合，個々のモードにおける騒音を算出し，これを記録
する。文書の挿入，読取り，コード化（コード変換），印字及び文書の排出のように，通常の作動時に複数
の作動モードを実行する機器であり，かつ，附属書Cに代表的な作動サイクルが定義されていない場合，
騒音測定目的で代表的な作動サイクルを定義し，試験報告書にこれを記載する。
複数のファンクショナルユニットによる作動が可能なラック組込み機器に対しては，一緒に作動するよ
うに設計されたユニットは，試験中一緒に作動させ，それ以外のユニットは，全てアイドルモードとする。
作動に関する仕様が附属書Cに規定されておらず，かつ，製造業者からも提供されていない場合，最も典
型的な利用形態を表す作動モードを使用しなければならない。このモードを試験報告書に明確に記載しな
ければならない。
機械的な設計に起因するため，又は作動モードが制御プログラムの下にあるため，連続的に作動するこ
とができない機器もある。また，機器がアイドルモードにある時間の長いものもあり得る。作動モードの
測定には，このようなアイドル時間を含めてはならない。騒音測定中，機器を連続的に作動させることが
不可能な場合，測定対象としなければならない時間を，試験計画，機器の仕様書又は他の文書内に記載し
ておく。
機器によっては，作動サイクルが短すぎて，その騒音放射を決定することの信頼性が確保できないこと
がある。そのような場合，代表的な作動サイクルを複数回，繰り返す。
試験中の機器が，アラーム又はベルのような警告音を発する場合，そのような間けつ（歇）音を作動モ
ードに含めてはならない。作動モードの騒音測定中は，そのような警告音は作動しないようにしておくか，
11
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それが不可能な場合，最小の設定にしておく。
注記2 利用形態によっては，キーボードのフィードバック信号の最大応答のような，ある種の信号
が興味の対象となることがある。もし，そのような測定が行われるとしても，それはこの規
格に規定する方法の対象ではない。
6
残響試験室における機器の音響パワーレベル算出方法
6.1
一般事項
箇条6では，ISO 3741の比較法に基づき，情報技術装置から発生する騒音の音響パワーレベルを残響試
験室において算出する方法を規定する。この方法は，広帯域騒音，狭帯域騒音，離散周波数成分を含む騒
音又は衝撃性の騒音を発する機器に対し適用する。
注記 スペクトル及びレベルの時間変動による騒音の分類については，ISO 12001:1996 [2] 又は
JIS Z 8733:2000 [25] で定義されている。
ISO 3741の該当する手順に従い離散周波数成分に対して試験室を検定しておくことを強く推奨する。そ
うすることによって，機器を測定する度にマイクロホンの位置の数及び機器の位置の数を決定する必要が
なくなる。
6.2
測定の不確かさ
この方法に従う測定の再現性の標準偏差は，この規格の対象周波数範囲に対し，表1の値以下となる。
表1−箇条6に従い，残響試験室において算出した音響パワーレベルの不確かさ
オクターブバンド
中心周波数
Hz
1/3オクターブバンド
中心周波数
Hz
標準偏差
dB
125
100〜160
3.0
250
200〜315
2.0
500〜4 000
400〜5 000
1.5
8 000
6 300〜10 000
3.0
注記1 ほとんどの情報技術装置において，A特性音響パワーレベルは，中心周波数が250 Hz〜
4 000 Hzのオクターブバンドにおける音響パワーレベルによって決まる。その場合のA特性
音響パワーレベルは，およそ1.5 dBの再現性の標準偏差で算出される。他の帯域の音響パワ
ーレベルによってA特性音響パワーレベルが決まる場合，より大きな標準偏差となることが
ある。
注記2 表1の標準偏差は，測定の不確かさに影響する全ての要因の累積効果を反映したものであり，
測定機関（測定室）間の変動を含むが，（測定の不確かさとは無関係な）試験対象機器間の音
響パワーレベルのばらつき，又は，（例えば，機器の設置又は作動条件の変更による）試験間
のばらつきを含むものではない。同じ試験対象機器の，同じ測定条件における試験結果の再
現性の標準偏差及び繰返し性の標準偏差は，表1の不確かさよりも，かなりよいもの（すな
わち，小さな標準偏差）となるであろう。
注記3 全指向性で広帯域の騒音を発する同種の機器の音響パワーレベルを比較する目的で，同一の
環境において箇条6に規定する方法を使って測定した場合，その比較における不確かさは，
表1に与える標準偏差よりも小さな値となる。
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6.3
試験環境
6.3.1
一般事項
残響試験室の設計に関しては，ISO 3741の該当する指針を用いる。室吸収に関する規準（criteria）及び
試験室の検定手順は，ISO 3741による。
次の点に関しては，ISO 3741に従う。
a) 試験室の容積
b) 暗騒音のレベル
6.3.2
温湿度及び気圧
ISO 3741の要件に従う。
次の条件を推奨する。
a) 気圧 86 kPa〜106 kPa
b) 温度 試験対象機器の製造業者によって定義されている場合，その範囲内とする。製造業者による範
囲の定義のない場合，推奨範囲は15 °C〜30 °Cとする。
c) 相対湿度 試験対象機器の製造業者によって定義されている場合，その範囲内とする。紙及びカード
媒体だけを処理する機器に対し，製造業者による範囲の定義がない場合，推奨範囲は40 %〜70 %とす
る。
（例えば，冷却ファンの速度を変化させることのように）設置環境の温度によって発生する騒音が変化
するように設計されている機器の場合，測定中の室温は，23 ℃ ±2 ℃とする。
（例えば，冷却ファンの速度を変化させることのように）標高によって騒音放射が変化するように設計
されている機器の場合，試験室の標高は500 m以下とするか，500 m以下の標高における作動を模擬する
条件の下で試験する。
注記 この場合の冷却ファンの速度の変化とは，試験対象機器の設計に基づく作動の変化であり，
6.10.1の注記で記載した，試験環境の気圧に対する補正において考慮する速度の変化のことで
はない。
6.4
測定器
6.4.1
一般事項
ISO 3741の測定器に関する要件に加え，この規格の6.4の要件に従う。
平均方法としては，デジタル積分が望ましい。
6.4.2
マイクロホン及びケーブル
マイクロホン及びケーブルを含む計測システムはISO 3741の要件を満足しなければならない。移動マイ
クロホンの場合，［例えば，風，歯車，フレキシブルケーブル，しゅう（摺）動接点などによる］測定の妨
害になり得る，騒音又は電気雑音が発生しないよう十分な注意が必要である。
6.4.3
測定システムの周波数レスポンス
ISO 3741の要件に従う。
6.4.4
基準音源
基準音源は，対象周波数範囲においてJIS Z 8739の要件を満足しなければならない。
6.4.5
フィルタ特性
JIS C 1514のクラス1の機器に対する要件に従う。
6.4.6
校正
一連の測定ごとに，その間に，対象周波数範囲上の少なくとも一つの周波数において，JIS C 1515のク
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ラス1の音響校正器をマイクロホンに用いて，測定システム全体の校正を検査する。音響校正器単体とし
ては，JIS C 1515に適合していることを1年に1度検査し，測定システムとしては，JIS C 1509-1の要件
への適合を少なくとも2年に1度，該当する規格に対し，トレーサビリティのある校正を行える試験機関
において検査する。
基準音源は，JIS Z 8739に従い，2年に1度校正する。
基準音源は，2年ごとの校正周期に達する前に，再校正の必要がないかどうかを決定するため，JIS Z 8739
の手順に従い，毎年検査する。いずれかの1/3オクターブバンドにおける音圧レベルの変化がJIS Z 8739
に規定する再校正の値を超えた場合，以後の利用に先立ち，JIS Z 8739の手順に従い，基準音源を再校正
する。
該当する規格への適合を最後に検証した年月日を記録する。
6.5
機器の設置及び作動−一般事項
箇条5を参照。
6.6
マイクロホンの位置及び音源の配置
6.6.1
一般事項
残響試験室における音響パワーレベル算出の不確かさの主な原因は，音場の空間的な不均一さである。
その不均一さは，広帯域音よりも離散周波数音に対するものの方が大きい。したがって，正確に時間平均
音圧レベルを算出するために要する努力も，広帯域音のときよりも離散周波数音のときの方が大きくなる。
ISO 3741の該当する手順に従い離散周波数成分に対して試験室を検定しておくのを強く推奨する。そうす
ることによって，機器を測定する度にマイクロホンの位置の数及び音源位置の数を計算する必要がなくな
る。
試験室が離散周波数成分の測定に対してISO 3741の該当する手順に従い検定されていない場合，
ISO 3741の別の該当部分に規定する手順を使って，マイクロホンの位置の最小の数を決定し，追加の音源
位置の必要性を評価しなければならない。これらの手順による結果は，試験対象機器によって放射される
音の中の際立った離散周波数成分又は狭帯域騒音の有無に依存する。際立った離散周波数成分又は狭帯域
騒音が存在する場合，そのマイクロホンの位置の数及び音源位置の数は，大きなものとなることがある。
6.6.2
マイクロホンの位置の数，基準音源の位置の数及び試験対象機器の位置の数
ISO 3741の要件に従う。
6.6.3
マイクロホンの配置
ISO 3741の要件に従う。
6.7
音圧レベルの測定
6.7.1
一般事項
ISO 3741の該当する要件に従う。
6.7.2
測定時間
ISO 3741の要件に加え，次の該当する要件に従う。
例えば，封かん（緘）機のように，同じ作動サイクルを繰り返す機器に対しては，測定時間には，少な
くとも三つの作動サイクルを含めなければならない。様々な作動サイクルを順番に実行する機器に対して
は，その全工程を測定時間に含めなければならない。多くのカテゴリの機器のための詳細な要件を，附属
書Cに規定する。
6.7.3
暗騒音の補正
ISO 3741の該当する要件に従う。
14
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
注記 試験室内の暗騒音レベルが非常に低く，かつ，よく管理されている場合，ISO 3741による暗騒
音に関する絶対規準（absolute criteria for background noiseが2010年10月発行の第4版で初め
て導入された。）及び／又は相対規準を満足することがある。
6.8
基準音源の音圧レベルの測定
ISO 3741の要件に追加して，次の要件に従う。
残響試験室において機器の音響パワーレベルを算出するために，この規格では，ISO 3741に規定する比
較法だけを利用している。この方法の利点は，試験室の残響時間を実測する必要のないことである。比較
法では，JIS Z 8739に規定する特性をもち，あらかじめ校正された基準音源を必要としている。基準音源
の作動は，試験対象機器を試験室内に置き，機器の作動にオペレータが必要な場合は，そのオペレータも
在室した状態において，基準音源の校正票に従って行われなければならない。
6.9
空間・時間平均バンド音圧レベルの計算
ISO 3741の要件に従う。
注記 ISO 3741の2010年10月の改正によって，従来，space/time-averaged band sound pressure level（こ
の規格の旧版での訳語は“空間／時間平均バンド音圧レベル”）と呼んでいた量は，mean
time-averaged band sound pressure levelとなった。直訳すると平均が二重になるため，意味から
考えて“空間・時間平均バンド音圧レベル”とした。
6.10 音響パワーレベルの算出
6.10.1 バンド音響パワーレベルの計算
ISO 3741の比較法を使い，対象周波数範囲（3.2.11参照）内の1/3オクターブバンドごとの機器の，標
準環境条件における音響パワーレベルが得られる。
注記 標準環境条件（気圧1.013 25 × 105 Pa，温度23 °C，相対湿度50 %）におけるA特性音響パワー
レベルを算出するためにISO 3741の手順が使われる（2010年10月発行の第4版で標準環境条
件という概念がISO 3741に初めて導入された。）。
必要な場合，k番目のオクターブバンドの音響パワーレベルLWoct, kは，1/3オクターブバンドデータに基
づいて，次の式から計算する。
dB
10
log
10
3
2
3
1.0
10
oct,
,3
/
1
∑−
=
=
k
k
j
L
k
W
j
W
L
··················································· (1)
ここに，
k : 対象周波数範囲内のオクターブバンドの識別番号（表2参照）
LW1/3, j : j番目の1/3オクターブバンドにおける音響パワーレベル，単
位はデシベル（表3参照）
j : (3k−2) と3kとの間にあり，k番目のオクターブバンドを構成
する1/3オクターブバンドの識別番号
6.10.2 A特性音響パワーレベルの計算
A特性音響パワーレベルLWA（単位はデシベル）は，対象周波数範囲に基づき，次の式から計算する。
dB
10
log
10
21
1
=
)
0.1(
10
A
,3/1
∑
+
=
j
A
L
W
j
j
W
L
················································ (2)
ここに，
LW1/3, j : j番目の1/3オクターブバンドにおける音響パワーレベル（単
位はデシベル）
A j : j番目の1/3オクターブバンドに対応するA特性値(表3参照)
j : 対象周波数範囲内の1/3オクターブバンドの識別番号（表3
参照）
注記 式(1)及び式(2)は，表2，表3とともに，箇条6だけでなく箇条7においても共通に利用するこ
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とを目的としている。
表2−オクターブバンドの識別番号 k
k
オクターブバンド
中心周波数
Hz
1
125
2
250
3
500
4
1 000
5
2 000
6
4 000
7
8 000
表3−1/3オクターブバンドに対するA特性の値 Aj
j
1/3オクターブバンド
中心周波数
Hz
A特性
Aj
dB
1
100
− 19.1
2
125
− 16.1
3
160
− 13.4
4
200
− 10.9
5
250
− 8.6
6
315
− 6.6
7
400
− 4.8
8
500
− 3.2
9
630
− 1.9
10
800
− 0.8
11
1 000
0.0
12
1 250
0.6
13
1 600
1.0
14
2 000
1.2
15
2 500
1.3
16
3 150
1.2
17
4 000
1.0
18
5 000
0.5
19
6 300
− 0.1
20
8 000
− 1.1
21
10 000
− 2.5
情報技術装置の中には，16 kHzのオクターブバンド内に高周波騒音を発するものがある。騒音放射の性
質に応じ，表4では，それぞれの状況に対してどのように対応すべきかを示している。
バンドレベルからA特性音響パワーレベルを算出する場合，この規格では16 kHzのオクターブバンド
を対象周波数範囲に含めるような拡張を行っていない。
16 kHzのオクターブバンド内に離散周波数音を発する機器に対しては，最大となる離散周波数音のレベ
ルの10 dB以内にある離散周波数音ごとの周波数及びそのレベルをISO 9295の手順に従って算出する
（表 4参照）。得られるレベルに周波数重み付け特性は加わっていない。
注意 A特性レベルの算出において，16 kHzのオクターブバンドの寄与は含まれない。
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表4−騒音の種類（タイプ）及び算出する音響パワーレベル
オクターブバンドの中心周波数及び騒音の種類（タイプ）
算出する音響パワーレベル
125 Hz〜8 kHz
16 kHz
広帯域騒音又は狭帯域騒音a)
際立った騒音なし
この規格に従って求めたA特性レベル（125 Hz〜
8 kHzのオクターブバンドの寄与からなる）
広帯域騒音
この規格に従って求めたA特性レベル（125 Hz〜
8 kHzのオクターブバンドの寄与からなる），及び
ISO 9295の手順に従って求めた16 kHzのオクター
ブバンド内の1/3オクターブバンドレベル
離散周波数音
この規格に従って求めたA特性レベル（125 Hz〜
8 kHzのオクターブバンドの寄与からなる），並びに
ISO 9295に従って求めた離散周波数音のレベル及
びその周波数
複数の離散周波数音
この規格に従って求めたA特性レベル（125 Hz〜
8 kHzのオクターブバンドの寄与からなる），並びに
16 kHzのオクターブバンド内の最大レベルから
10 dB以内にある全ての離散周波数音に対し，
ISO 9295に従って求めた離散周波数音のレベル及
びその周波数
際立った騒音なしb)
離散周波数音
ISO 9295に従って求めた，16 kHzのオクターブバン
ド内の離散周波数音のレベル及びその周波数
複数の離散周波数音
16 kHzのオクターブバンド内の最大レベルから
10 dB以内にある全ての離散周波数音に対し，
ISO 9295に従って求めた離散周波数音のレベル及
びその周波数
注a) 125 Hz〜8 kHzのオクターブバンド内の騒音に対しては，1/3オクターブバンドの音響パワーレベル及びオク
ターブバンドの音響パワーレベルも報告してもよい。
b) 125 Hz〜8 kHzのオクターブバンドから際立った寄与がない場合，この規格の対象外であり，ISO 9295だけが
適用になる。
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7
反射面上の準自由音場における機器の音響パワーレベル算出方法
7.1
一般事項
箇条7では，ISO 3744又はISO 3745に規定する反射面上の準自由音場を使って，情報技術装置から発
生する騒音の音響パワーレベルを算出する方法を規定する。この方法は，広帯域騒音，狭帯域騒音，離散
周波数成分を含む騒音又は衝撃性の騒音を発する機器に対し適用する。
注記 スペクトル及びレベルの時間変動による騒音の分類については，ISO 12001:1996 [2] 又は
JIS Z 8733:2000 [25] で定義されている。
測定は，ISO 3744又はISO 3745に従い，あらかじめ検定された環境で行わなければならない。
7.2
測定の不確かさ
この方法に従う測定の再現性の標準偏差は，この規格の対象周波数範囲に対し，表5の値以下となる。
表5−箇条7に従い，反射面上の準自由音場において算出した音響パワーレベルの不確かさ
オクターブバンド
中心周波数
Hz
1/3オクターブバンド
中心周波数
Hz
標準偏差
dB
125
100〜160
3.0
250〜500
200〜630
2.0
1 000〜4 000
800〜5 000
1.5
8 000
6 300〜10 000
2.5
注記1 ほとんどの情報技術装置において，A特性音響パワーレベルは，中心周波数が250 Hz〜
4 000 Hzのオクターブバンドにおける音響パワーレベルによって決まる。その場合のA特性
音響パワーレベルは，およそ1.5 dBの再現性の標準偏差で算出される。他の帯域の音響パワ
ーレベルによってA特性音響パワーレベルが決まる場合，より大きな標準偏差となることが
ある。
注記2 表5の標準偏差は，測定の不確かさに影響する全ての要因の累積効果を反映したものであり，
測定機関（測定室）間の変動を含むが，（測定の不確かさとは無関係な）試験対象機器間の音
響パワーレベルのばらつき，又は，（例えば，機器の設置又は作動条件の変更による）試験間
のばらつきを含むものではない。同じ試験対象機器の，同じ測定条件における試験結果の再
現性の標準偏差及び繰返し性の標準偏差は，表5の不確かさよりも，かなりよいもの（すな
わち，小さな標準偏差）となるであろう。
注記3 全指向性で広帯域の騒音を発する同種の機器の音響パワーレベルを比較する目的で，同一の
環境において箇条7の方法を使って測定した場合，その比較における不確かさは，表5に与
える標準偏差よりも小さい値となる。
7.3
試験環境
7.3.1
一般事項
試験環境は，反射面上の準自由音場を実現するものでなければならない。適正な試験環境に関する規準
（criteria）が，ISO 3744及びISO 3745に定義されている。ただし，この規格では，ISO 3744を適用する
場合，環境補正値K2は2 dB以下でなければならない。
注記 対象周波数範囲にわたり，吸音率α < 0.06［例えば，コンクリート床でα < 0.01，石こう（膏）
の壁でα ≈ 0.04，タイル貼りの壁でα ≈ 0.01］である場合，その面（床，壁）は反射性である（音
響的に硬い）と考えられる。
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7.3.2
温湿度及び気圧
ISO 3744の該当する要件に従う。
次の条件を推奨する。
a) 気圧 86 kPa〜106 kPa。
b) 温度 試験対象機器の製造業者によって定義されている場合，その範囲内とする。製造業者による範
囲の定義のない場合，推奨範囲は15 ℃〜30 ℃とする。
c) 相対湿度 試験対象機器の製造業者によって定義されている場合，その範囲内とする。紙及びカード
媒体だけを処理する機器に対し，製造業者による範囲の定義のない場合，推奨範囲は40 %〜70 %とす
る。
（例えば，冷却ファンの速度を変化させることのように）設置環境の温度によって発生する騒音が変化
するように設計されている機器の場合，測定中の室温は，23 ℃ ± 2 ℃とする。
（例えば，冷却ファンの速度を変化させることのように）標高によって騒音放射が変化するように設計
されている機器の場合，試験室の標高は500 m以下とするか，500 m以下の標高における作動を模擬する
条件の下で試験する。
注記 この場合の冷却ファンの速度の変化とは，試験対象機器の設計に基づく作動の変化であり，7.9.1
又は7.9.2に規定する，試験環境の気圧に対する補正に関して考慮する速度の変化のことではな
い。
7.4
測定器
7.4.1
一般事項
ISO 3744又はISO 3745の測定器に関する要件に加え，この規格の7.4の要件に従う。
平均方法としては，デジタル積分が望ましい。
7.4.2
マイクロホン及びケーブル
マイクロホン及びそのケーブルを含む測定システムは，ISO 3744又はISO 3745の該当する要件を満足
しなければならない。移動マイクロホンの場合，［例えば，風，歯車，フレキシブルケーブル，しゅう（摺）
動接点などによる］測定の妨害になり得る，騒音又は電気雑音が発生しないよう十分な注意が必要である。
7.4.3
測定システムの周波数レスポンス
ISO 3744又はISO 3745の該当する要件に従う。
7.4.4
基準音源
基準音源は，対象周波数範囲においてJIS Z 8739の要件を満足しなければならない。
7.4.5
フィルタ特性
JIS C 1514のクラス1の機器に対する要件に従う。
7.4.6
校正
一連の測定ごとに，その間に，対象周波数範囲上の少なくとも一つの周波数において，JIS C 1515のク
ラス1の音響校正器をマイクロホンに用いて，測定システム全体の校正を検査する。音響校正器単体とし
ては，JIS C 1515に適合していることを1年に1度検査し，測定システムとしては，JIS C 1509-1の要件
への適合を少なくとも2年に1度，該当する規格に対し，トレーサビリティのある校正を行える試験機関
において検査する。
環境補正値K2を算出するために基準音源が使われる場合，JIS Z 8739に従い，2年に1度全般にわたっ
て校正する。
基準音源は，2年ごとの校正周期に達する前に，再校正の必要がないかどうかを決定するため，JIS Z 8739
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の手順に従い，毎年検査する。いずれかの1/3オクターブバンドにおける音圧レベルの変化がJIS Z 8739
に規定する再校正の値を超えた場合，以後の利用に先立ち，JIS Z 8739の手順に従い，基準音源を再校正
する。
該当する規格への適合を最後に検証した年月日を記録する。
7.5
機器の設置及び作動−一般事項
箇条5を参照。
7.6
測定表面及びマイクロホンの位置
7.6.1
一般事項
附属書Bに規定するものを除き，ISO 3744又はISO 3745の該当する要件に従う。ほとんどの情報技術
装置に対する，標準の測定表面とは半球である。半球測定表面を用いる場合，次のいずれか一つを適用す
る。
a) B.1に規定するもの
b) ISO 3745の該当する附属書に規定するもの
c) ISO 3744の該当する附属書に規定するもの（ただし，最小でも5種類のマイクロホン高さをもつもの）
しかしながら，ラック，フレーム，キャビネットなどの高さ方向の比率の高い機器に対しては，B.2に
規定する円筒測定表面が望ましい。比較的設置面積の大きな音源に対しては，直方体形の測定表面がより
現実的であろう。ただし，上記箇条5の条件に従う。マイクロホンの位置の数及びその配置に関しては，
この規格の附属書Bの場合を除き，ISO 3744又はISO 3745の該当する要件による。
例えば，物理的に小さな機器が非常に低いレベルの騒音を発するような場合には，より小さな半径の半
球測定表面を利用することが有効なことがある。そのような状況のために，B.1では，半球半径が1 m未
満，ただし，0.5 m以上となる測定条件を定義している。
マイクロホンの配置を決めるために，ある仮想的な基準表面が定義される。この基準表面，又は“基準
箱”とは，機器を包含し反射面上まで達する最小面積の直方体の箱（直角の平行六面体）とする。長さl1，
幅l2，高さl3とする。試験対象機器から突き出た要素のうち，騒音放射に寄与しそうにないものは除外し
てもよい。マイクロホンの位置は，測定表面上に配置され，この測定表面とは，反射面と合わせることに
よって，基準箱同様に機器を包含することになる，面積Sの仮想的な面とする。
注記1 音源を包む面のうち，床面上の部分は測定表面ではないことに注意。例えば，直方体の測定
表面の場合，測定面積Sとは上面及び四つの側面だけであり，反射面上の部分は含まれない。
試験対象機器の配置，測定表面及びマイクロホンの位置は，基準箱の長さ方向及び幅方向に平行な床面
上の水平軸をx及びyとし，基準箱の幾何中心を通過する垂直軸をzとする座標系によって定義される。x 軸
は，試験対象機器の前方向と同じとする。マイクロホンの位置を表すための座標系の原点位置は，次のと
おりに規定される。
a) 床置き機器の場合
試験室の床面上であって，これと同一平面上にある基準箱の面の中心点
b) 卓上機器の場合
上記a) に同じ
c) 壁付け機器の場合
据え付け表面と同一平面にある基準箱の面の中心点
d) ラック組込み機器の場合
上記a) に同じ
e) 手持ち機器の場合
上記a) に同じ
f)
サブアセンブリの場合
上記a) に同じ
注記2 固定したマイクロホン配置の場合，1本のマイクロホンをある位置から次の位置へ順次動か
してもよいし，複数の固定したマイクロホンを使い，その出力を順次サンプリングするか，
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又は同時に取り込んでもよい。そうする代わりに，ISO 3744に従いマイクロホンを連続移動
させてもよい。
排気口付近では，マイクロホンが排気流にさらされないように配置するか，又はウィンドスクリーンを
用いる。
マイクロホンが最も平たんな周波数レスポンスとなる角度として製造業者が指定した角度と音の入射角
度とが一致するようにマイクロホンを向ける。実際には，ほとんどの場合において，これは床面上の座標
原点に向かう方向であろう。
7.6.2
マイクロホンの位置及び測定表面
次の場合を除き，追加マイクロホンの位置に関する要件及びマイクロホンの位置の数の削減に関する要
件を含め，ISO 3744又はISO 3745の該当する要件を満足しなければならない。
ISO 3745に規定する反射面上の自由音場の条件を満たす試験室ではあるが，その大きさに比べて寸法の
大きな機器を測定しなければならない場合，試験対象機器を部屋の中心ではなく隅に配置し，マイクロホ
ンを部屋の自由音場内に配置する方が容易なことがある。機器の各側面からの騒音の放射量を算出できる
ように，機器の方を順次回転させるとよい。
7.7
音圧レベルの測定
7.7.1
一般事項
音圧レベルの測定は，ISO 3744又はISO 3745に従うとともに，次の要件に従う。
音圧レベルの測定は，7.6に規定する位置においてA特性及び／又は必要に応じて，対象周波数範囲内
の周波数バンドごとに行う。次のデータを得る。
− 機器の規定された作動モードに対するA特性音圧レベル及び／又は1/3オクターブバンド音圧レ
ベル
− （試験対象機器を支持するためのものからの騒音を含む）暗騒音のA特性音圧レベル及び／又は
1/3オクターブバンド音圧レベル
サウンドレベルメータ（マイクロホンから表示部までが一体となったもの）を用いる場合，その読取り
を行う人間がマイクロホンの周囲の音場を乱してはならない。
7.7.2
測定時間
ISO 3744の要件に加え，次の要件の該当するものに従う。
例えば，封かん（緘）機のように，同じ作動サイクルを繰り返す機器に対しては，測定時間には，少な
くとも三つの作動サイクルを含む。様々な作動サイクルを順番に実行する機器に対しては，その順番の全
てを測定時間に含む。多くのカテゴリの機器のための詳細な要件を，附属書Cに規定している。
7.7.3
暗騒音の補正
ISO 3744の該当する要件に従う。
注記 試験室内の暗騒音レベルが非常に低く，かつ，よく管理されている場合，ISO 3744による暗騒
音に関する絶対規準（absolute criteria for background noiseが2010年10月発行の第3版で初め
て導入された。）及び／又は相対規準を満足することがある。
7.8
表面音圧レベルの計算
測定表面上の表面音圧レベルの計算は，ISO 3744の該当する手順に従う。この計算には，暗騒音補正値
K1及び環境補正値K2を含んでいる。ISO 3745の検定要件を満足する半無響室の場合，環境補正値K2は適
用されない。
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7.9
音響パワーレベルの算出
7.9.1
バンド音響パワーレベルの計算
バンドデータが必要な場合，対象周波数範囲内の1/3オクターブバンドごとの，標準環境条件における
機器の音響パワーレベルは，表面音圧レベルに基づき，ISO 3744の手順に従って算出する。
注記 標準環境条件（気圧1.013 25 × 105 Pa，温度23 ℃，相対湿度50 %）におけるA特性音響パワ
ーレベルを算出するためにISO 3744の手順が使われる（2010年10月発行の第3版で標準環境
条件という概念がISO 3744に初めて導入された。）。
必要な場合，k番目のオクターブバンドの音響パワーレベルLWoct, k（単位はデシベル）は，1/3オクター
ブバンドデータに基づいて，6.10.1の式(1)から計算する。
7.9.2
A特性音響パワーレベルの計算
この規格では，ISO 3744の手順に従って，A特性音圧レベルから直接計算するか，又はバンドごとのA
特性値を使い1/3オクターブバンドデータから計算するか，そのいずれかによって，標準環境条件におけ
るA特性音響パワーレベルLWA (dB)を導出できる。
注記 標準環境条件（気圧1.013 25 × 105 Pa，温度23 °C，相対湿度50 %）におけるA特性音響パワー
レベルを算出するためにISO 3744の手順が使われる（2010年10月発行の第3版で標準環境条
件という概念がISO 3744に初めて導入された。）。
後者の場合，A特性音響パワーレベルLWA（単位はデシベル）は，適用される対象周波数範囲に基づき，
6.10.2の式(2)によって計算される。
情報技術装置の中には，16 kHzのオクターブバンド内に高周波騒音を発するものがある。その騒音放射
の性質に応じ，表4では，それぞれの状況にどのように対処するかを示している。
この規格では，16 kHzのオクターブバンドまで対象周波数範囲を拡張しておらず，バンドレベルからA
特性音響パワーレベルの算出に含めていない。
16 kHzのオクターブバンド内に離散周波数音を発する機器に対しては，そのバンド内の最大レベルの
10 dB以内にある全ての周波数及びレベルをISO 9295に規定する手順に従って算出する（表4参照）。得
られるレベルに周波数重み付け特性は加わっていない。
注意 A特性レベルの算出において，16 kHzのオクターブバンドの寄与は含まれない。
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8
オペレータ位置及びバイスタンダ位置における放射音圧レベル算出方法
8.1
一般事項
箇条8では，ISO 11201の精度グレード2（実用法）に従い，反射面上の準自由音場内の作業位置（オペ
レータ位置）及びオペレータ位置がない場合にはバイスタンダ位置における情報技術装置の放射音圧レベ
ルの算出条件を規定する。この方法は，広帯域騒音，狭帯域騒音，離散周波数成分を含む騒音又は衝撃性
の騒音を発する機器に対し適用する。
注記1 箇条8に規定する方法は，これまでの経緯上，実用測定方法に基づいている。
注記2 スペクトル及びレベルの時間変動による騒音の分類については，ISO 12001:1996 [2] 又は
JIS Z 8733:2000 [25] で定義されている。
この算出方法はサブアセンブリには適用しない。しかし，サブアセンブリに対し放射音圧レベルが必要
な場合，あらかじめ得られた音響パワーレベルの値から，ISO 11203に規定する方法に従い，Q = Q1 = 8 dB
の関係を使って放射音圧レベルを算出する。このQの値は，半球面状に音を放射する，物理的に小さなサ
ブアセンブリから半径1 mの距離の状況に対応している。全てのサブアセンブリに対し，一律にこのQの
値を適用する。この算出によるものとは別に，この後に規定するように，オペレータ位置又はバイスタン
ダ位置において，放射音圧レベルを実測に基づいて任意に算出してもよい。
オペレータ位置又はバイスタンダ位置における騒音が，顕著な離散周波数音を含んでいるかどうか，及
び／又は，衝撃性の騒音であるかどうかを決定するための方法を，附属書D及び附属書Eにそれぞれ示す。
これらの方法は，機器にもサブアセンブリにも適用可能である。
8.2
測定の不確かさ
この方法に従う測定の再現性の標準偏差は，この規格の対象周波数範囲に対し，表6の値以下となる。
表6−箇条8に従い，反射面上の準自由音場内のオペレータ位置及びバイスタンダ位置において
算出した放射音圧レベルの不確かさ
オクターブバンド
中心周波数
Hz
1/3オクターブバンド
中心周波数
Hz
標準偏差
dB
125
100〜160
3.0
250〜500
200〜630
2.0
1 000〜4 000
800〜5 000
1.5
8 000
6 300〜10 000
2.5
注記1 ほとんどの情報技術装置において，A特性放射音圧レベルは，中心周波数が250 Hz〜4 000 Hz
のオクターブバンドにおける放射音圧レベルによって決まる。その場合のA特性放射音圧レ
ベルは，およそ1.5 dBの再現性の標準偏差で算出される。他の帯域の音圧レベルによってA 特
性放射音圧レベルが決まる場合，より大きな標準偏差となることがある。
注記2 表6の標準偏差は，反射面上の準自由音場における測定の不確かさに影響する全ての要因の
累積効果を反映したものであり，測定機関（測定室）間の変動を含むが，（測定の不確かさと
は無関係な）試験対象機器間の放射音圧レベルのばらつき，又は，（例えば，機器の設置又は
作動条件の変更による）試験間のばらつきを含むものではない。同じ試験対象機器の，同じ
測定条件における試験結果の再現性の標準偏差及び繰返し性の標準偏差は，表6の不確かさ
よりも，かなりよいもの（すなわち，小さな標準偏差）となるであろう。
注記3 全指向性で広帯域の騒音を発する同種の機器の放射音圧レベルを比較する目的で，同一の環
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境において箇条8に規定する方法を使って測定した場合，その比較における不確かさは，表 6
に与える標準偏差よりも小さな値となる。
8.3
試験環境
8.3.1
一般事項
ISO 11201の精度グレード2（実用法）に従い検定した環境において測定を行う。便宜上，箇条7に従い
行う測定と一緒にこの測定が行われることがある。
注意 箇条7（反射面上の準自由音場における機器の音響パワーレベル算出方法）と箇条8（オペレー
タ位置及びバイスタンダ位置における放射音圧レベル算出方法）とで，設置条件が同一である
とは限らない。
8.3.2
温湿度及び気圧
ISO 11201の精度グレード2（実用法）の要件に従う。
次の条件を推奨する。
a) 気圧 86 kPa〜106 kPa。
b) 温度 試験対象機器の製造業者によって定義されている場合，その範囲内とする。製造業者による範
囲の定義のない場合，推奨範囲は15 ℃〜30 ℃とする。
c) 相対湿度 試験対象機器の製造業者によって定義されている場合，その範囲内とする。紙及びカード
媒体だけを処理する機器に対し，製造業者による範囲の定義のない場合，推奨範囲は40 %〜70 %とす
る。
（例えば，冷却ファンの速度を変化させることのように）設置環境の温度によって発生騒音が変化する
ように設計されている機器の場合，測定中の室温は，23 ℃ ± 2 ℃とする。
（例えば，冷却ファンの速度を変化させることのように）標高によって騒音放射が変化するように設計
されている機器の場合，試験室の標高は500 m以下とするか，500 m以下の標高における作動を模擬する
条件の下で試験する。
注記 この場合の冷却ファンの速度の変化とは，試験対象機器の設計に基づく作動の変化であり，8.8.1
の注記で記載した，試験環境の気圧に対する補正において考慮する速度の変化のことではない。
8.4
測定器
測定器は，ISO 11201の精度グレード2（実用法）の要件のほか，7.4の要件を満足しなければならない。
8.5
機器の設置及び作動
手持ち機器及び卓上機器を標準試験卓の中央に設置することを除き，機器の設置及び作動に関しては，
箇条5に従う。
手持ち機器は，標準試験卓の前面と機器の前面とが一致するようにして，標準試験卓の上に平らに置か
なければならない。ただし，手持ち機器は，高さ約12 mmの弾性のある足を数本使い，標準試験卓の上面
から浮かせてもよい。
卓上機器は，附属書Cに特に規定がない場合，標準試験卓の中央に設置する。機器構成の中にキーボー
ドを含む卓上機器の場合，キーボード及びそれ以外の装置を含む最小面積の直方体を想定し，それを標準
試験卓の上面の中央に配置するか，附属書Cに規定するとおりとする。キーボードが着脱可能であり，そ
れなしに試験される卓上機器は，キーボードがそこにあるものとみなし，附属書Cに特に規定がない場合，
前述のとおりに標準試験卓の中央に配置する。
卓上機器内部で使われるサブアセンブリに対し，任意の測定を行う場合，高さ約12 mmの弾性のある足
を数本使い，測定対象のサブアセンブリを標準試験卓の上面から浮かし，試験卓の中央に設置する。他の
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エンクロージャ又はラック内部で使われるように設計されたサブアセンブリに対し，任意の測定を行う場
合，5.1.7に従い設置する。
8.6
マイクロホンの位置
注記 ここに規定する要件は，ISO 11201の精度グレード2（実用法）の要件に従うものであるが，更
に詳細なものである。
8.6.1
オペレータ位置
作動モード中にオペレータの介在を要する機器に対しては，オペレータ位置を1か所以上規定する。
起立した位置から操作される機器に対しては，床の上方1.50 m ± 0.03 mにマイクロホンを配置する［ 図 1
のa)，位置P1参照］。
着席位置から操作される機器に対しては，床の上方1.20 m ± 0.03 mにマイクロホンを配置する［図 1の
b)又はc)，位置P2又はP3参照］。
基準箱からの水平距離は，その距離が，その機器のオペレータ位置として代表的とならない場合を除き，
0.25 m ± 0.03 mとする。これ以外の距離の場合，代表的なオペレータ位置を報告書に記載し，これを試験
に用いる。
（例えば，卓上で使われるパーソナルコンピュータ又は視覚表示装置のように）着脱可能なキーボード
をもち，キーボードなしで試験される卓上機器に対するオペレータ位置を決定する場合，基準箱からの距
離は，0.50 m ± 0.03 mとする［図1のd)，位置P4参照］。
オペレータ位置が定義された機器の内部で使われるように設計されたサブアセンブリに対し，任意の測
定を行う場合，そのサブアセンブリに対しても，そのオペレータ位置を用いる（すなわち，卓上機器で脱
着式のキーボードをもたない場合には0.25 m ± 0.03 mで，それ以外は基準箱の正面から0.50 m ± 0.03 mで，
反射床の上方1.2 m ± 0.03 m）。
この測定中，可能な場合は無人とするのが望ましいが，それができない場合，機器の操作はできるが，
マイクロホン付近の音場を乱すことのないよう，オペレータは脇に避けているのが望ましい。
手持ち機器に対しては，マイクロホンは床の上方1.0 m ± 0.03 mで，基準箱からの水平距離は
0.125 m ± 0.01 m［図1のe)，位置P5参照］とする。
注記 オペレータの介在を要する機器に対して，オペレータ位置における放射音圧レベルが測定され
る場合は，バイスタンダ位置における放射音圧レベルの測定は必須ではない。
8.6.2
バイスタンダ位置
作動モード中にオペレータの介在を要しない機器に対しては，オペレータ位置を規定する必要はない。
この場合，少なくとも4か所のバイスタンダ位置を選択し，規定する。
バイスタンダ位置は，基準箱の側面から水平距離で1.00 m ± 0.03 m離れ，床面からの垂直距離で
1.50 m ± 0.03 m上方とする。基準箱の前側，後ろ側，右側及び左側の各中央の4か所をバイスタンダ位置
とするのが望ましい。ただし，基準箱の側面の長さが2.0 mを超える場合，追加のバイスタンダ位置を1 m
間隔で用いるのが望ましい。壁面に据え付けられる機器，又は壁を背にして設置される機器に対しては，
基準箱の前側，右側及び左側の各中央の3か所をバイスタンダ位置とするのが望ましい。
作動モード中にオペレータの介在を要しない機器の内部で使われるように設計されたサブアセンブリに
対し，任意の測定を行う場合，5.1.7に従ってサブアセンブリを設置し，基準箱を定義し，上記2段落の規
定を適用してバイスタンダ位置を定義する。
8.6.3
マイクロホンの向き
マイクロホンが最も平たんな周波数レスポンスとなる角度として製造業者が指定した角度と音の入射角
25
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
とが一致するようにマイクロホンを向ける。実際には，ほとんどの場合において，主要な音源とは，水平
方向に対して30°又は45°下方にあると想定される（図1参照）。
e) 手持ち機器に対するオペレータ
図1−着席したオペレータ及び起立したオペレータの例
0.25 m
1
.5
0
m
P1
30°
a) 起立したオペレータ
b)
床置き機器に対する
着席したオペレータ位置
c)
(
1:
)
卓上機器に対する着席したオペレータ
ケース
キーボード有り
d)
(
2:
)
卓上機器に対する着席したオペレータ
ケース
キーボード無し
0.25 m
1
.2
0
m
P2
30°
0.25 m
0
.7
5
m
0
.4
5
m
P3
30°
0.50 m
0
.7
5
m
0
.4
5
m
P4
30°
0.125 m
0
.7
5
m
0
.2
5
m
26
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8.7
音圧レベルの測定
8.7.1
一般事項
箇条8で要求する音圧レベルの測定は，8.6に規定するマイクロホンの位置において，A特性及び／又は
対象周波数範囲内の周波数バンドごとに行う。次のものを記録する。
a) 機器の規定された作動モードに対するA特性音圧レベル及び／又は1/3オクターブバンド音圧レベル
b) （試験対象機器を支持するための装置からの騒音を含む）暗騒音のA特性音圧レベル及び／又は1/3
オクターブバンド音圧レベル
サウンドレベルメータ（マイクロホンから表示部までが一体となったもの）を用いる場合，その読取り
を行う人間がマイクロホンの周囲の音場を乱してはならない。
干渉又は定在波によって，音圧分布の空間的変動が生じた場合，公称の測定位置付近の垂直面内におい
て，約0.1 mマイクロホンを動かし，その時間平均音圧レベルを記録することが望ましい。指定位置にお
ける放射音圧レベルを得るには，ISO 11201の精度グレード2（実用法）の手順（8.7.3参照）に従い，実
測した音圧レベルに暗騒音補正値K1（A特性音圧レベルに対してはK1A）を適用しなければならないが，
環境補正値K2（A特性音圧レベルに対してはK2A）を適用してはならない。
注記1 オペレータ位置又はバイスタンダ位置における騒音放射に顕著な離散周波数音が含まれるか
どうか，及び衝撃性の騒音かどうかを判定する方法を，附属書D及び附属書Eにそれぞれ示
す。
8.6に規定するマイクロホンの位置のいずれかにおいて，C特性ピーク放射音圧レベルLpCpeakが120 dB
を超える場合，C特性ピーク放射音圧レベルの測定を行う。
注記2 ある種の法律において，C特性ピーク放射音圧レベルが130 dBを超えた場合，その報告を義
務付けている。現在の情報技術装置においては，C特性ピーク放射音圧レベルLpCpeakが120 dB
を超えることはないものと考えられており，この120 dBのしきい（閾）値は，測定及び報告
が必要となる境界としては，余裕をもったものとして設定されている。
8.7.2
測定時間
測定時間は，7.7.2による。
8.7.3
暗騒音の補正
ISO 11201の精度のグレード2（実用法）の要件に従う。
注記 試験室内の暗騒音レベルが非常に低く，かつ，よく管理されている場合，ISO 11201による暗
騒音に関する絶対規準（absolute criteria for background noiseが2010年5月発行の第2版で初め
て導入された。）及び／又は相対規準を満足することがある。
8.8
放射音圧レベルの算出
8.8.1
バンド放射音圧レベルの計算
対象周波数範囲（3.2.11参照）内の1/3オクターブバンドごとの機器の，標準環境条件における放射音圧
レベルは，ISO 11201の精度グレード2（実用法）の手順に従って得られる。
注記 標準環境条件（気圧1.013 25 × 105 Pa，温度23 ℃，相対湿度50 %）における放射音圧レベルを
算出するためにISO 11201の手順が使われる（2010年5月発行の第2版で標準環境条件という
概念がISO 11201に初めて導入された。）。
必要な場合，k番目のオクターブバンドの放射音圧レベルLpoct, k（単位はデシベル）は，1/3オクターブ
バンドに基づいて，次の式から計算する。
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dB
10
log
10
3
2
3
1.0
10
oct,
,3/1
∑−
=
=
k
k
j
L
k
p
j
p
L
···················································· (3)
ここに，
k : 対象周波数範囲内のオクターブバンドの識別番号（表2参照）
Lp1/3, j : j番目の1/3オクターブバンドにおける放射音圧レベル（単位
はデシベル）
j : (3k − 2)と3kとの間にあり，k番目のオクターブバンドを構成
する1/3オクターブバンドの識別番号（表3参照）
8.8.2
バンドレベルからのA特性放射音圧レベルの計算
この規格では，A特性音圧レベルから直接か，又はISO 11201の精度グレード2（実用法）の手順に従
ってバンドごとのA特性値を使い1/3オクターブバンドデータから計算によって，A特性放射音圧レベル
LpAを，デシベルを単位として求めることができる。
注記 標準環境条件（気圧1.013 25 × 105 Pa，温度23 ℃，相対湿度50 %）における放射音圧レベルを
算出するためにISO 11201の手順が使われる（2010年5月発行の第2版で標準環境条件という
概念がISO 11201に初めて導入された。）。
後者の場合，A特性放射音圧レベルLpAは，対象周波数範囲に基づき，次の式から計算する。
∑
+
=
21
1
=
)
0.1(
10
A
,3/1
10
log
10
j
A
L
p
j
j
p
L
(dB) ················································ (4)
ここに，Lp1/3, j： j番目の1/3オクターブバンドにおける放射音圧レベル(dB)
Aj： j番目の1/3オクターブバンドに対応するA特性値（表3参
照）
j： 対象周波数範囲内の1/3オクターブバンドの識別番号
情報技術装置の中には，16 kHzのオクターブバンド内に高周波騒音を発するものがある。その騒音放射
の性質に応じ，表4では，それぞれの状況にどのように対処するかを示している。箇条8においては，表 4
の“音響パワーレベル”又は“レベル”を“放射音圧レベル”と読み替える。得られるレベルに周波数重
み付け特性は加わっていない。
バンドレベルからA特性放射音圧レベルを算出する場合，この規格では対象周波数範囲の拡張を行って
いない。
16 kHzのオクターブバンド内に離散周波数音を発する機器に対しては，ISO 9295の手順に従って最大の
レベルの10 dB以内にある離散周波数音ごとに，その周波数及びレベルを算出する（表4参照）。
注意 A特性レベルの算出において，16 kHzのオクターブバンドの寄与は含まれない。
8.8.3
バイスタンダ位置における平均放射音圧レベルの計算
バイスタンダ位置が定義された場合，8.6.2で定義するバイスタンダ位置における平均A特性放射音圧レ
ベルLpA，及び必要に応じて，平均バンド放射音圧レベルLpを式(5)に従い計算する。
=
∑
=
N
i
L
p
pi
N
L
1
1.0
10
10
1
log
10
(dB) ···················································· (5)
ここに，
Lpi： i番目のバイスタンダ位置における測定から得られたバ
ンド放射音圧レベル(dB)（基準値20 μPa）
N： バイスタンダ位置の数
A特性放射音圧レベルに対しては，量記号Lp及びLpiを，LpA及びLpAiによってそれぞれ置き換える。
注記 8.8.3においては“mean emission sound pressure level”の訳語をこの規格の旧版と同様に“平均
放射音圧レベル”とした。“mean”の訳語に関しては，6.9の注記でも言及されている｡
28
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9
記録事項及び報告事項
9.1
記録事項
9.1.1
一般事項
該当する場合，9.1.2〜9.1.5に規定する事項を記録しなければならない。さらに，この騒音試験規程の要
件からの逸脱事項，及びその基礎となっている騒音放射通則規格の要件からの逸脱事項のある場合，その
各々に対し，技術的な見地から理由付けを行い，これを記録しなければならない。
騒音放射通則規格に規定する記録及び報告に関する全ての要件は，この規格の要件でもある。したがっ
て，次の要件は必要条件ではあるが，十分条件ではない。
9.1.2
試験対象機器
次の事項を記録しなければならない。
a) 試験対象機器の詳細（各ユニットの主要寸法，名称，型番及び製造番号。試験対象機器内部で騒音を
放射しているコンポーネント及びサブアセンブリの名称，型番及び製造番号を含む。）
b) アイドルモード及び作動モードの詳細な記述（作動速度，使われたデータ媒体及びその試験対象機器
専用の試験用プログラム名を含む。）
c) 設置及び据え付け条件の詳細
d) 試験環境内における機器の配置
e) オペレータがいる場合，その配置及び役割
f)
供給電源の公称周波数（例えば，50 Hz）及び実測した電源電圧［単位はそれぞれ，ヘルツ(Hz)及びボ
ルト(V)］
g) 試験されている製品の代表的なハードコピー出力のサンプル（該当する場合には，記録データの一部
としてファイルするのがよい。）
h) 騒音の放射状態が試験室の温度に依存することの有無が分かっている場合，そのことへの言及
次の事項を磁気テープによるか，デジタルで記録することが望ましい。
各々の作動モードに対し，オペレータ位置が定義されている場合には，そのオペレータ位置において，
オペレータ位置が定義されていない場合には，最も高いA特性音圧レベルのバイスタンダ位置において，
少なくとも1分間，高品質の磁気テープレコーダで録音するのが望ましい。録音した場合，予備のトラッ
クに，音声によって，試験対象機器の名称，試験モード，マイクロホンの位置及び信号のA特性音圧レベ
ルの値を吹き込んでおくのが望ましい。原信号に対してDolby 3) 又は他の雑音低減を目的とした信号処理
を行ってはならない。この規格では，校正信号そのものの録音を義務付けてはいないが，録音時のバイア
スをテープの容器に書き留めておかなければならない。
注3) Dolbyは，単に，商業ベースで利用可能な製品の一例である。この情報はこの規格の利用者へ
の便宜上のものであって，この製品を推奨するものではない。
9.1.3
試験環境
次の事項を記録しなければならない。
a) 箇条6に従い音響パワーレベルを算出する場合（ISO 3741）
1) 試験室の詳細（壁，天井及び床の寸法，形状，表面処理，並びに，音源及び室内にあるものの配置
を示すスケッチを含む。）
2) 固定拡散板又は回転拡散装置のある場合，その詳細
3) ISO 3741に従い行った残響試験室の検定結果
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4) 気温 (℃)，相対湿度 (%)及び気圧 (kPa)
b) 箇条7に従い音響パワーレベルを算出する場合（ISO 3744又はISO 3745）
1) 試験環境の音響的な詳細（屋内の場合，試験室の大きさ，壁，天井及び床の吸音特性を含む音響特
性，並びに，試験対象機器の配置を示したスケッチ）
2) 試験環境がISO 3745に従って検定されていない場合，ISO 3744の該当する手順に従い求めた試験
環境の音響的な検定結果である環境補正値K2（ISO 3745の要件に適合している場合，その事実に言
及するのがよい。）
3) 気温 (℃)，相対湿度 (%)及び気圧 (kPa)
c) 箇条8に従いオペレータ位置及びバイスタンダ位置における放射音圧レベルを算出する場合
［ISO 11201の精度グレード2（実用法）］
注記1 次の事項は，前述の音響パワーレベル算出に関して記録したものと同じ項目ではあるが，数
値的に異なることがある。上記のb) で音響パワーレベル算出のために記録した事項と同じ
ものが，ここでも適用可能な場合，試験ファイルにそのように明記するだけでもよい。
1) 試験環境の音響的な詳細（屋内の場合，試験室の大きさ，壁，天井及び床の吸音特性を含む音響特
性，並びに試験対象機器の配置を示したスケッチ）
2) 試験環境がISO 3745に従って検定されていない場合，ISO 3744の該当する手順に従い求めた試験
環境の音響的な検定結果である環境補正値K2（ISO 3745の要件に適合している場合，その事実に言
及するのがよい。）
注記2 環境補正値K2は，実測値に対する補正目的で使ってはならないが，測定の品質を表す指標と
して，試験記録の一部に含まれる。
3) 気温 (℃)，相対湿度 (%)及び気圧 (kPa)
9.1.4
測定器
次の事項を記録しなければならない。
a) 測定に使われた機器（名称，型番，製造番号及び製造業者を含む。）
b) 周波数分析器のバンド幅（附属書Dにおいて使用した場合，ディジタルFFT分析器を含む。）
c) 測定システムの周波数レスポンス
d) マイクロホン及び他のシステム要素の校正を日常的に点検するために使っている方法
e) 必須定期校正の年月日及び場所
f)
次の値の算出方法
1) ISO 3741に従う空間・時間平均音圧レベル又はISO 3744に従う表面時間平均音圧レベル
2) ISO 11201に従うオペレータ位置又はバイスタンダ位置における放射音圧レベルの平均値
g) 附属書Eに従い測定した場合，騒音の衝撃性に関する指標，∆LI (dB)
9.1.5
測定データ
次の事項を記録しなければならない。
a) 箇条6に従い音響パワーレベルを算出する場合（ISO 3741）
1) マイクロホンの移動経路又はマイクロホン配列の配置及び向き（必要に応じて，スケッチを入れる
ことが望ましい。）
2) マイクロホンの周波数レスポンス，バンドパスフィルタの周波数レスポンス，暗騒音などに対して，
適用した場合，それらの補正値(dB)
3) 基準音源の音響パワーレベルとそれによって発生する音圧レベルとのレベル差（LWr − Lpr）の値を周
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波数の関数として表したもの(dB)
4) ISO 3741に従い計算するためのバンド音圧レベルの読み値（0.1 dB単位が望ましいが，少なくとも
0.5 dB単位に丸める。）（基準値1 pW）
5) オクターブバンド及び／又は1/3オクターブバンドごとの音響パワーレベル（0.1 dB単位が望まし
いが，少なくとも0.5 dB単位に丸めて，一覧表にするか又はプロットする。）（基準値1 pW）
6) オクターブバンド及び／又は1/3オクターブバンドごとの，標準環境条件における音響パワーレベ
ル（0.1 dB単位が望ましいが，少なくとも0.5 dB単位に丸める。）（基準値1 pW）
7) A特性音響パワーレベル（0.1 dB単位が望ましいが，少なくとも0.5 dB単位に丸める。）（基準値
1 pW）
8) 標準環境条件におけるA特性音響パワーレベル（0.1 dB単位が望ましいが，少なくとも0.5 dB単位
に丸める。）（基準値1 pW）
9) 測定の年月日及び場所，並びに測定者の氏名
b) 箇条7に従い音響パワーレベルを算出する場合（ISO 3744）
1) 測定表面の形状，測定距離，使用したマイクロホン（主要マイクロホンと，必要な場合，追加のマ
イクロホンとの両方を含む。）の位置及び向き，又はその経路の配置及び向き（さらに，移動マイク
ロホンが使われた場合には，経路に沿った最大移動速度及びマイクロホンの向きを報告する。）
2) 測定表面の面積S (m2)
3) マイクロホンの周波数レスポンス及びバンドパスフィルタの周波数レスポンスに対し，適用した場
合，それらの補正値(dB)
4) （A特性又は周波数バンドごとの）表面時間平均音圧レベルに対する暗騒音補正値K1 (dB)
5) 測定点ごとの実測した暗騒音レベル及び平均暗騒音レベル
6) （A特性又は周波数バンドごとの）環境補正値K2及びそれを算出するためにISO 3744のどの方法
を使ったかに関する言及
7) A特性表面時間平均音圧レベル及び対象周波数範囲内のバンド表面時間平均音圧レベル （0.1 dB
単位が望ましいが，少なくとも0.5 dB単位に丸める。）（基準値20 µPa）
8) （A特性又は周波数バンドごとの）測定位置iにおける音圧レベルLpi (dB)（基準値20 µPa）
9) A特性音響パワーレベルLWA及び対象周波数範囲内のバンド音響パワーレベルLW（0.1 dB単位が望
ましいが，少なくとも0.5 dB単位に丸める。）（基準値1 pW）
10) 標準環境条件における，A特性音響パワーレベルLWA及び対象周波数範囲内のバンド音響パワーレ
ベルLW（0.1 dB単位が望ましいが，少なくとも0.5 dB単位に丸める。）（基準値1 pW）
11) 測定の年月日，場所，及び測定者の氏名
c) 箇条8に従いオペレータ位置及びバイスタンダ位置における放射音圧レベルを算出する場合
［ISO 11201のグレード2（実用法）］
1) 測定位置及びマイクロホンの向き（スケッチを含むのが望ましい。）
2) 8.6.1に従ってオペレータ位置が定義されている場合，アイドルモード及び作動モードのそれぞれに
対し，そのオペレータ位置で実測した，A特性放射音圧レベルLpA，必要に応じてバンド放射音圧レ
ベル，さらに，C特性ピーク放射音圧レベルLpCpeakが120 dBを超える場合には，その値（0.1 dB単
位が望ましいが，少なくとも0.5 dB単位に丸める。）（基準値20 µPa）
注記 8.6.1の注記のとおり，オペレータ位置が定義されている機器の場合，この規格ではバイス
タンダ位置における測定を義務付けておらず，したがって，オペレータ位置の有無に応じ
f
p
L
31
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
て，この2) 及び後続の3) の事項のどちらか一方だけが記録される。
3) 8.6.2に従ってバイスタンダ位置が定義されている場合，アイドルモード及び作動モードのそれぞれ
に対し，バイスタンダ位置で実測したA特性放射音圧レベルLpA，必要に応じて8.8.3に従って計算
した平均A特性放射音圧レベルLpA，及び必要に応じて平均バンド放射音圧レベルを記録する。さ
らに，最も高いA特性放射音圧レベルとなるバイスタンダ位置におけるC特性ピーク放射音圧レベ
ルが120 dBを超える場合（8.7.1の注記2参照）にはその値LpCpeakを記録する（0.1 dB単位が望ま
しいが，少なくとも0.5 dB単位に丸める。）（基準値20 µPa）。
4) 標準環境条件における，全ての放射音圧レベル (dB)
5) 任意の測定として，附属書Dに示す手順によって顕著な離散周波数音があることが判明した場合，
周波数f (Hz)と，それに対するtone-to-noise ratio，∆LT (dB)及び／又はprominence ratio，∆LP (dB)
6) 任意の測定として，附属書Eに示す手順によって求めた騒音の衝撃性に関する指標∆LIが，∆LI ≥ 3 dB
の条件を満たす場合，その値
7) 指定位置ごとのA特性暗騒音レベル及びA特性暗騒音補正値K1A，及び必要に応じて周波数バンド
ごとの暗騒音レベル及び暗騒音補正値K1 (dB)
8) 測定の年月日，場所及び測定者の氏名
9.2
試験報告書
試験報告書には，少なくとも次の事項を含めなければならない。
a) 音響パワーレベル，及びオペレータ位置又はバイスタンダ位置における放射音圧レベルが，この規格
の手順，ISO 3741，ISO 3744又はISO 3745の中のいずれか該当する手順，及びISO 11201に規定す
る手順に完全適合して得られたものかどうかに関する言及（これらの規格の要件に対し何らかの逸脱
事項のある場合，その各々に対し，技術的見地から理由付けを行い，これを報告しなければならない。）
b) 音響パワーレベルが，1 pWを基準値とする単位，デシベルで，放射音圧レベルが20 μPaを基準値と
する単位，デシベルで表現されており，いずれの場合においても，各値は0.1 dB単位が望ましいが，
少なくとも0.5 dB単位に丸められていることに関する言及
c) “この報告書内の実測値は，プランニングにおける利用に対するもの又は表示値の算出に利用するた
めのものではあるが，表示値そのものと混同してはならない”ことに関する言及
d) 試験対象機器の名称及び型番
e) アイドルモード及び作動モードの，標準環境条件におけるA特性音響パワーレベルLWA (dB)（基準値
1 pW）
f)
必要に応じて，アイドルモード及び作動モードのオクターブバンド又は1/3オクターブバンドごとの，
標準環境条件における音響パワーレベルLW (dB)（基準値1 pW）（使用したバンド幅を明示しなければ
ならない。）
g) 8.6.1に従いオペレータ位置が定義されている場合，アイドルモード及び作動モードごとのオペレータ
位置の，標準環境条件におけるA特性放射音圧レベルLpA，及び必要に応じて標準環境条件における
バンド放射音圧レベル(dB)（基準値20 µPa）
h) 8.6.2に従いバイスタンダ位置が定義されている場合，8.6.2で定義する機器の周囲の位置で測定した，
アイドルモード及び作動モードごとの，標準環境条件における空間平均A特性放射音圧レベルLpA，
及び必要に応じて，標準環境条件における空間平均バンド放射音圧レベル(dB)（基準値20 µPa）
i)
ECMA-74に該当部分のある場合，該当部分の具体的な箇条番号（発行日及び版を含む。）を引用した
上で，試験対象機器の作動及び設置条件の詳細な記述
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注記1 単位，デシベルで表した放射音圧レベル（基準値20 μPa）と，同じく単位，デシベルで表し
た音響パワーレベル（基準値1 pW）との混同を回避するため，1 bel = 10 decibelsの関係を使
い，音響パワーレベルを単位，ベルで表現してもよい。
注記2 JIS X 7778に従い，情報技術装置の表示騒音放射値を算出する場合，ランダム測定誤差と生
産のばらつきとの両方を統計的見地から考慮し，音響パワーレベルのデシベル(dB)での実測
値の平均値に，ある正の値が加算される。その和を10で除し，ベル(B)で表している。
上記の諸事項を，次の文言のいずれか一つによって補足してもよい。これらは，附属書D及び附属書E
に従い決定した騒音の特性を表している。
1) 顕著な離散周波数音も含まれず，衝撃性の騒音でもない。
2) 衝撃性の騒音ではあるが，顕著な離散周波数音は含まない。
3) 顕著な離散周波数音を含むが，衝撃性の騒音ではない。
4) 顕著な離散周波数音を含み，かつ，衝撃性の騒音である。
項目1)〜4) は，顕著な離散周波数音を特定するために使った方法（附属書DのTNR法及び／又はPR
法）についての記述によって補わなければならない。
注記3 ある種の法律では，130 dBを超える場合，C特性ピーク放射音圧レベルの報告を義務付けて
いる。
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附属書A
（規定）
試験用アクセサリ
A.1 標準試験卓
標準試験卓の設計図を図A.1として示す。卓の上面は，厚さ0.04 m〜0.10 mの積層接着木材とし，最小
面積0.5 m2，幅0.70 m〜0.75 mとする。卓の高さは，0.75 m ± 0.03 mとする。プリンタが底面から給紙で
きるようにするために，卓の上面に切り欠き孔を設けてもよい。ほとんどのプリンタにおいて，切り欠き
孔の寸法は，0.015 m × 0.400 mが実用的であることが分かっている。
単位m
1 脚と添え木とを接着し，ボルト締めする。
2 防振パッド
図A.1−標準試験卓
A.2 タイピングロボット
注記 ECMA-74に規定する機器カテゴリ（例えば，タイプライタ）では，キーボード入力を模擬す
るタイピングロボットの利用を推奨しており，その技術仕様はこの後に規定するものと同じで
ある。
タイピングロボットは，この規格に規定するとおりにキーボードを操作させることができるように設計
0.75
0
.7
5
0
.1
0
0
.0
4
1
2
34
X 7779：2012 (ISO 7779：2010)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
されていなければならない。ここに示すロボットは，8本のソレノイドをもち，その各々がキーボードの
選択したキーを操作できるように微調整可能となっている。
タイピングロボットの要件は，次のとおりとする。
a) ロボットによる騒音は，この規格の暗騒音の要件を満たさなければならない。
b) ソレノイドプランジャのストロークは，その上端位置においてキーの上面から離れていなければなら
ず，かつ，キーを停止位置まで押し下げることができなければならない。タイプライタを含む多くの
種類（タイプ）のキーボードにおいて，全ストロークは，6 mm〜7 mmがよい。
c) 電気入力信号は，作用時間50 msのく（矩）形パルスとし，振幅を調整できる。
d) ソレノイドの特性は，図A.2に示すようにキーを押し下げる間はその力が増加する。これに適した設
計図を図A.3に示す。
e) プランジャの質量は20 g ± 1 gとし，端面は柔らかなものでなければならない（例えば，密封セルフ
ォーム，40 Shore A）。
1回のキー操作は，図A.4に示すとおり，次の3ステップからなる。
a) ホームポジション
プランジャは，キーの上に柔らかい端面で接し，自重をあずけている。
b) キー入力
ソレノイドによって駆動されると，プランジャは停止位置（he）に達するまでキーを押し下げる。
ソレノイドを微調整してプランジャとキーとの隙間が1 mmになるようにするとよい。プランジャの
上側に適切な目印を付けておけば，この微調整に便利であろう。
c) キーの戻り
プランジャはキーのばねの力だけによって押し戻される。プランジャが押し戻されてとまる側の終
端は柔軟性のあるものとし，オーバーシュートは最大0.5 mmでなければならない。その後，ホーム
ポジションに戻り，キーに接した状態となる。
注記 この仕様は，参考文献 [7] に記載されたロボットの設計に基づいている。
F
磁気力
h
ストローク高さ
ha ホーム位置
he 停止位置
図A.2−ストローク4 mmのプランジャに対するソレノイドの特性
h
単位 mm
F
単位 N
he
ha
35
X 7779：2012 (ISO 7779：2010)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図A.3−ソレノイドの断面
a) ステップ1−ホームポジション
b) ステップ2−キー入力
c) ステップ3−キーの戻り
図A.4−ソレノイドの動きの各ステップ
0
.5
6
4
36
X 7779：2012 (ISO 7779：2010)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書B
（規定）
測定表面
B.1 半球測定表面
マイクロホンの配置，半球測定表面の形状及びマイクロホンの配列に関する要件は，ISO 3744によるが，
次の追加条件によって補う。
a) 固定のマイクロホンを用いる場合，全ての音源に対し，離散周波数音を発する音源のためのマイクロ
ホンの位置としてISO 3744に規定するものを用いる。その配列の座標を表B.1として再掲する。
b) ISO 3744に規定する同心円状の移動経路による配置を用いる場合，最低でも10種類の高さを用いる
のが望ましい。
これら以外に認められるものとしては，ISO 3745の該当する附属書に記載するものがある。
表B.1−離散周波数音を発する機器に対するマイクロホンの位置の座標
位置
x / r
y / r
z / r
1
0.16
− 0.96
0.22
2
0.78
− 0.60
0.20
3
0.78
0.55
0.31
4
0.16
0.90
0.41
5
− 0.83
0.32
0.45
6
− 0.83
− 0.40
0.38
7
− 0.26
− 0.65
0.71
8
0.74
− 0.07
0.67
9
− 0.26
0.50
0.83
10
0.10
− 0.10
0.99
この規格では，非常に低いレベルの騒音を発する機器に対しては，（ISO 3744に規定する）特性音源寸
法の2倍以上とすることを条件に，半径が0.5 m以上1 m未満の半球測定表面を用いることを認めている。
半径が1 m未満になると，対象周波数範囲の下限は上昇する。近接音場の影響を最小にするためには（対
象下限周波数の音の一波長の4分の1が必要であるため），半径0.5 mでは，下限周波数がおよそ172 Hz
になる。追加の情報については，参考文献 [8]，[9] 及び [10] に示す。
B.2 円筒測定表面
B.2.1 一般事項
円筒の側面及び上面に沿ってマイクロホンを配置した，円筒測定表面を図B.1に示す。基準箱の底面の
中心と円筒の底面の中心とが一致するように，基準箱を中心にして円筒を配置する。基準箱の寸法l1，l2
及びl3と円筒に対する基準距離d1，d2及びd3とが示されている。この規格では，寸法のラベルは，l1 ≥ l2
となるように割り振る。
B.2.2 円筒測定表面の大きさの選択
マイクロホンの位置は，音源を包む仮想的な円筒面上にあり，この測定表面の総面積Sは，式(B.1)で与
えられる上部の円形面の面積Stopと，式(B.2)で与えられる垂直な側面の面積Ssideとの和に等しい。
37
X 7779：2012 (ISO 7779：2010)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
Stop = πR2 ··············································································· (B.1)
Sside = 2πRh ············································································ (B.2)
ここに， Rは，円筒の半径であり，次のとおりに与えられる。
2
2
1
1
2
2
d
l
d
l
R
+
=
+
=
································································· (B.3)
hは，円筒の高さであり，次のとおりに与えられる。
h = l3 + d3 ·············································································· (B.4)
マイクロホンの配置は，面積の異なる部分面積に関連づけられているため，d3及びd1は共に，試験対象
機械の大きさ，その他の点を考慮に入れて任意に選択することができる。できれば，両者（d3及びd1）を
同じ値，1 mに設定するのが望ましいが，0.5 m未満であってはならない。さらに，d1，d2又はd3のいずれ
かが，他のものの1.5倍を超えてはならない（例えば，d1及びd2に対し，d1 ≥ l1 − l2場合，この条件を満足
できるであろう。）。d3及びd1が選択されると，h及びRが定義され，d2は，次のとおりになる。
2
2
2
l
R
d
−
=
············································································ (B.5)
l1及びl2が同じで，物理的に大きな機械のような場合，たとえ，前述の拘束条件を満足していたとして
も，移動中，側面のマイクロホンが機械に近すぎるところを通過することがあり得る。このような状況に
おいては，基準箱のどの角からも側面のマイクロホンが0.25 mよりも大きく離れるように半径Rを十分大
きくしなければならない。
B.2.3 円筒測定表面上のマイクロホンの位置の選択
円筒測定表面上のマイクロホンは，後述のとおり，面積が等しくない部分面積に関連づけられている。
マイクロホンを，連続した軌道（円形の移動経路）に沿って用いることを強く推奨する。しかし，円形の
経路上で標本化を行うために固定のマイクロホンの位置を用いる場合，少なくとも12等分した角度位置
（すなわち，30度かそれよりも狭い間隔）を用いる。このような経路を実現するには，音源を静止させた
ままマイクロホンを回転させても，マイクロホンを静止させたまま音源を回転させても，いずれでもよい。
次の要件を満足することによって，側面のマイクロホンの数Nside，上面のマイクロホンの位置の数Ntop
及び対応する部分面積が決まる。
a) Nside ≥ h / h0（ここに，h0は間隔を0.5 m以下に制限し，垂直方向の標本化を均等にするため0.5 mに設
定されている。）
b) 少なくとも，Nside ≥ 4
c) Ntop ≥ R / R0（ここに，R0は間隔を0.5 m以下に制限し，円周方向の標本化を均等にするため0.5 mに設
定されている。）
d) 少なくとも，Ntop ≥ 2
側面のマイクロホンは，等しい部分面積，Siに関連づけられており，ここにSi = Sside / Nsideとし，i番目の
マイクロホンは，床から次の式で与えられるhiの高さにある。
side
)
1/2
(
N
h
i
hi
−
=
········································································· (B.6)
側面上の空間・時間平均音圧レベル は，次のとおりとする。
=
∑
=
side
side,
,
1
0.1
side
10
side
,
10
1
log
10
N
i
L
p
i
p
N
L
dB ·········································· (B.7)
side
,p
L
38
X 7779：2012 (ISO 7779：2010)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ここに，
Lp,side,i： 側面上のi番目のマイクロホンの経路又はマイクロホン
の位置で測定した周波数バンドの時間平均音圧レベル
（単位はデシベル）
上面のマイクロホンは，面積の等しくない部分面積Sjに関連づけられており，上面の半径方向に沿って
等間隔に配置されている。j番目の部分面積の外径はRj = jR / Ntopとし，上部のマイクロホンについては次
のとおりとする。
j >1に対して，
2
1
1
−
−
−
+
=
j
j
j
j
R
R
R
r
··········································· (B.8A)
j = 1に対して，
2
1
1
R
r=
······················································· (B.8B)
上面上の空間・時間平均音圧レベル， は，次のとおりとする。
=
∑
=
j
p
L
N
j
j
p
S
S
L
top,
,
top
1.0
1
top
10
top
,
10
1
log
10
dB ········································ (B.9)
ここに，
Lp,top,i： 側面上のj番目のマイクロホン経路又はj番目のマイク
ロホンの位置で測定した周波数バンドの時間平均音圧
レベル(dB)
j >1に対して，
(
)
2
1
2
−
−
=
j
j
j
R
R
S
π
············································· (B.10A)
j = 1に対して，
2
1
1
R
S
π
=
······················································ (B.10B)
図B.2に，垂直な側面に対して5本，上面に4本のマイクロホンを配した円筒マイクロホン配列の例を
示す。
B.2.4 円筒測定表面上での空間・時間平均音圧レベルの計算
試験対象機器の選択された作動モードに対する，円筒測定表面上での空間・時間平均音圧レベルは，次
のように与えられる。
+
=
side
,
top
,
10
10
1
log
10
side
top
10
p
p
L
L
p
S
S
S
L
dB ······························· (B.11)
ここにS = Stop + Ssideとし，さらに， 及び は，式(B.9)及び式(B.7)でそれぞれ与えられる。
注記1 量 は，ISO 3744における量 と同等である。すなわち，この量とは，表面時間平均
音圧レベルの計算に先立ち，暗騒音及び試験環境に対して，後続の過程において補正される
ものである。
注記2 円筒測定表面に関する詳細については，参考文献 [11]，[12] 及び [13] に示す。
top
,
p
L
top
,p
L
side
,
p
L
p
L
(ST)
,p
L′
39
X 7779：2012 (ISO 7779：2010)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
1〜6
側面のマイクロホン経路
7〜9
上面のマイクロホン経路
10
基準箱
11
反射面
d1，d2，d3 円筒に対する基準距離
h
円筒の高さ
l1，l2，l3
基準箱の寸法
R
円筒の半径
図B.1−例1 側面のマイクロホン6本及び上面のマイクロホン3本によって構成される
円筒状の移動マイクロホン経路をもつ円筒測定表面及び円筒マイクロホン配列
1
2
3
4
5
6
9
8
11
10
7
40
X 7779：2012 (ISO 7779：2010)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
1
マイクロホン移動装置の回転軸
2
円筒の対応面積の寸法
3
マイクロホン移動経路の位置
h
円筒の高さ
R 円筒の半径
図B.2−例2 側面のマイクロホン5本及び上面のマイクロホン4本によって構成される
円筒状の移動マイクロホン経路をもつ円筒測定表面及びマイクロホン配列
4
.5
h
/5
3
.5
h
/5
2
.5
h
/5
0
.5
h
/5
1
.5
h
/5
h
/5
h
h
/5
h
/5
h
/5
h
/5
3
.5
R
/4
2
.5
R
/4
1
.5
R
/4
0
.5
R
/4
R
/4
R
R
/4
R
/4
R
/4
R
/4
R
/4
3
1
2
41
X 7779：2012 (ISO 7779：2010)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書C
（規定）
特定カテゴリの機器のための設置条件及び作動条件
この附属書は，その詳細を規定したECMA-74を引用することによって，多くの種類の特定カテゴリの
機器に対する設置及び作動条件を規定する。
この規格に適合するためには，試験中の機器は，その諸条件を満足しなければならない。適用可能な場
合，ECMA-74に規定する条件は，その機器の平均的な使用条件を代表するものと考えることができる。
これらの条件は，試験対象機器の操作を容易にすると同時に，騒音測定の信頼性を向上させることを視野
に入れて規定されている。
ECMA-74に規定する全ての要件（同文書中の他の部分及び他の文書への引用を含む。）も，この規格に
適合するための必須要件とする。ただし，ECMA-74でのECMA-108 [5] 及びECMA-109 [6] の引用は，それ
ぞれISO 9295及びJIS X 7778に置き換える。
ECMA-74に規定されていないカテゴリの機器に対しては，試験報告書に実際に使われた試験条件を記
載するとともに，なぜ，そのような条件としたかの理由付けをしなければならない。試験モード及び製品
の作動がECMA-74によるものである場合，ECMA-74の日付及び版の両方を試験報告書に含めなければ
ならない。
42
X 7779：2012 (ISO 7779：2010)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書D
（参考）
顕著な離散周波数音の特定及び評価
D.1 適用範囲
この附属書では，騒音放射中に顕著な離散周波数音を含むかどうかを決定するための二つの方法として
Tone-to-Noise Ratio method及びProminence Ratio method（以下，TNR法及びPR法という。）を示す。
中心周波数100 Hz〜10 000 Hzの1/3オクターブバンドの範囲内の任意の周波数（すなわち，89.1 Hz以
上，11 220 Hz以下）の離散周波数音を，この附属書の手順によって評価できる。
試験環境に関する要件（8.3）を全て満足しなければならない。ただし，この附属書においては，暗騒音
補正値K1及び環境補正値K2は適用しない。
注記1 ある種の情報技術装置は16 kHzのオクターブバンド内に離散周波数音を発することがあり，
試みとして，その相対的なレベルを定量化するためにこの附属書の手順に従ってtone-to-noise
ratio及びprominence ratio（以下，TNR及びPRという。）を計算することは可能ではある。
しかし，そのような高周波の離散周波数音に関し，頼るべき心理音響学的データがないため，
D.9.5又はD.10.6による顕著な離散周波数音の規準（criteria）を適用することはできない。
製品からの騒音放射に関する情報をJIS X 7778に従い表示する場合，同規格では，製品の騒音放射中の
顕著な離散周波数音の有無に言及することを任意選択項目としているが，言及するときには，この附属書
に従って決定することとしている。他の規格，又は情報技術装置以外の製品のための試験規程が，顕著な
離散周波数音の有無に関する表示を目的として，この附属書を引用することも考えられる。そのような表
示の場合，その規格又は試験規程内に特に規定がない限り，TNR法又はPR法のどちらを使ってもよい。
注記2 TNR法は，例えば，強い高調波成分を含むときのように，隣接する臨界帯域内に複数の離散
周波数音が存在するような場合，より正確なものとなる。PR法は，同じ臨界帯域内に含まれ
る複数の離散周波数音に対し，より効果的であり，また，そのような状況を扱うのに容易に
自動化することができる。
D.2 附属書の位置づけ
この附属書は参考ではあるが，この手順が他の規格又は試験規定によって規定要素として引用された場
合に満足しなければならない要件を含んでいる。そのような要件は，一般に，“〜しなければならない（原
文においてはshall）”のような命令調の言葉を用いることで識別される。
D.3 心理音響学的な背景
広帯域騒音（broad-band noise）の中に含まれる離散周波数音（discrete tone）は，その離散周波数音の周
波数を中心とする，臨界帯域（critical band）と呼ばれる比較的狭い周波数帯域の内側に含まれている，そ
の離散周波数音以外の成分によって部分的にマスクされる。臨界帯域の外側の周波数のノイズ成分は，こ
のマスキング効果にほとんど寄与しない。臨界帯域の幅は，周波数の関数として数式で表現することがで
きる（D.8参照）。一般に，離散周波数音は，その周波数を中心とする臨界帯域内に含まれるマスキングノ
イズの音圧レベルに比べて，約4 dB［周波数に依存して2 dB〜6 dB，参考文献 [14] 参照］低い時点で，
ちょうど聴こえるようになる（just audible）。これを検出のしきい（閾）値（threshold of detectability）と呼
43
X 7779：2012 (ISO 7779：2010)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ぶ。この附属書では，TNR法を使った場合，1 000 Hz以上の周波数の離散周波数音に対しては，その音圧
レベルが，臨界帯域内のマスキングノイズの音圧レベルに比べて8 dBよりも大きくなったときに，また，
1 000 Hz未満の離散周波数音に対しては，その差が8 dBよりも更に大きなある値を上回ったときに，その
離散周波数音を“顕著（prominent）”と分類する。一般に，このことは，検出のしきい（閾）値に比べて
10 dB〜14 dB上回った離散周波数音が顕著なものとなる。PR法を使った場合，その離散周波数音を中心
とする臨界帯域内の音圧レベルと，その臨界帯域に隣接する臨界帯域の平均レベルとの差が，1 000 Hz以
上の音に対しては9 dB以上になったときに，また，1 000 Hz未満の離散周波数音に対しては，その差が9 dB
よりも更に大きなある値を上回ったときに，その離散周波数音を“顕著”と分類する。参考文献 [15] で
は，これらの規準値の根拠が示されている。
D.4 マイクロホンの位置
オペレータ位置の定義された機器の場合，8.6.1で定義するオペレータ位置において測定を行う。オペレ
ータ位置が複数あるときには，最も高いA特性音圧レベルとなるオペレータ位置において後述の測定を行
う。
オペレータ位置の定義されていない機器の場合，TNR又はPRを算出するため，8.6.2で定義するバイス
タンダ位置のうち，最も高いA特性音圧レベルとなる位置及びそのレベルの0.5 dB以内にある全てのバイ
スタンダ位置において測定を行う。
この附属書の方法をサブアセンブリに適用しなければならない場合には，次の2段落の条件を用いる。
オペレータ位置の定義された機器の中で使用されるサブアセンブリの場合，測定は定義されたオペレー
タ位置（8.6.1）において行う。
作動モード中にオペレータの介在を必要としない機器の中で使用されるサブアセンブリの場合，測定は
定義されたバイスタンダ位置（8.6.2）のうち，最も高いA特性音圧レベルとなる位置及びそのレベルの
0.5 dB以内にある全ての位置において行う。物理的に小さく，かつ，低騒音のため，半径1 m以下の半球
測定表面（5.1.7及びB.1参照）の必要なサブアセンブリの場合，バイスタンダ位置ではS/N比が不十分と
なることがある。そのような場合には，（たとえ，音響パワーレベルの算出に固定されたマイクロホンの位
置を使わないとしても）表B.1の半球測定表面上のマイクロホンの位置の中から選択した複数の位置にお
いて測定を実施してもよい。そのような場合，半球の半径，表B.1の座標及びマイクロホンの位置と機器
の向きとの関係を特定することのできる十分な情報を報告しなければならない。
この附属書に規定する測定のために複数のマイクロホンの位置が使われる場合，TNR（D.9.4）及びPR
（D.10.5）それぞれに対して，計算された値の最大値及びそれに対応するマイクロホンの位置を報告しな
ければならない。
D.5 測定器
この附属書に記載する測定に対しては，マイクロホンの信号のパワースペクトル密度を測定できるデジ
タル高速フーリエ変換（FFT）分析器を用いる。
分析器は，実効値平均機能（指数平均ではなく，線形平均），ハニング時間窓関数，分析対象の離散周波
数音に対してここで要求する諸量を計算するのに十分高い上限周波数をもち，かつ，その離散周波数音の
周波数の1 %よりも細かいFFT分解能がなければならない。
注記 TNR法（D.9参照）に対しては，経験の示すところでは，FFT分解能が，分析対象離散周波数
音の周波数の1 %では，離散周波数音を適切に分析するには不十分となることがある。したが
44
X 7779：2012 (ISO 7779：2010)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
って，TNR手順を適用するためには，0.25 %以下の細かいFFT分解能が推奨される［参考文献
[16] 参照］。
FFT分析器に送られるマイクロホンの出力信号は，JIS C 1509-1に規定するクラス1のサウンドレベル
メータに対する要件を満足しなければならない。なぜならば，この附属書の手順では，（パワースペクトル
密度の代わりに）直接，音圧レベルとして扱うことをオプションとして認めており，FFT分析器（又は，
FFTデータを後処理するために使われるソフトウェア）において，単位がデシベルの音圧レベル（基準値
20 µPa）として直接，校正できるようにするのが望ましいからである。
ただし，分析器の入力信号に対し，周波数重み付け特性（例えば，A特性）を適用してはならない。
FFT分析時には，分析時間が8.7.2の要件を満足するように十分な回数の平均を行う。
D.6 初期スクリーニング試験
D.6.1 一般事項
TNR法（D.9参照）又はPR法（D.10参照）を実施するのに先立ち，D.6.2及びD.6.3に規定する初期ス
クリーニング試験の，いずれか該当する一方を実施しなければならない。
D.6.2 通常の騒音中において聴覚しきい（閾）値を十分上回る離散周波数音の可聴に関するスクリーニン
グ試験
離散周波数音は，試験対象機器の騒音放射中に，実際に聴こえる場合にだけ，“顕著”と分類するのが本
来の姿である。スクリーニング試験においては，測定されている騒音のレベルは聴覚しきい（閾）値を十
分に上回っているものと想定される。発生騒音内に存在する離散周波数音又は純音性成分が，その騒音自
身によるマスキング，又は他の理由（例えば，純音がより低い基本周波数の高調波からなっていて，個別
には聴こえないなど）によって，聴こえないこともある。したがって，試験対象機器から発生する騒音の
初期の視聴試験として，指定されたマイクロホンの位置において，次の中の当てはまるものを実施しなけ
ればならない。
a) 少なくとも一つの離散周波数音が聴こえる場合，それぞれの可聴離散周波数音に対して，この附属書
のTNR若しくはPR，又はその両方の測定手順を適用しなければならない。
b) 騒音放射中に離散周波数音が聴こえず，かつ，この結論に信頼のおける場合には，この附属書の手順
を実施する必要はなく，“可聴離散周波数音なし”，“顕著な離散周波数音なし”のような文言を試験報
告書に含めてもよい。
c) （例えば，試験技術者が，難聴の場合，訓練を受けていない場合，又は経験を積んだ試聴者ではない
場合のように）騒音放射中に可聴離散周波数音が存在するのかどうかはっきりしない場合には，より
客観的な，他の証拠を探すのが望ましい。その目的のためには，指定されたマイクロホンの位置にお
ける騒音に対し，予備的なFFT分析をすることが望ましい。そのスペクトルによって，可聴離散周波
数音の存在が示唆された場合（例えば，鋭い周波数スパイクがスペクトル上にあるときには），可聴離
散周波数音になる可能性のある周波数ごとに，この附属書のTNR若しくはPR，又はその両方の測定
手順を適用しなければならない。
注記 上記のa) 及びb) の試聴試験は省略可能であり，可聴音に関するスクリーニング試験としてc)
による予備のFFT分析を直接用いることもできる。
TNR法又はPR法のいずれかに従って，ある離散周波数音を顕著な離散周波数音と決定するには，D.9.8
又はD.10.8の可聴音に関する要件をそれぞれ満足しなければならない。
45
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D.6.3 聴覚しきい（閾）値付近にある騒音中の離散周波数音の可聴に関するスクリーニング試験
顕著な離散周波数音の有無を分析すべき騒音放射において，騒音そのもの又は騒音中に発生している離
散周波数音が聴覚しきい（閾）値付近か，それ未満の極めて低いレベルである場合，次のスクリーニング
試験を実施しなければならない。規定されたマイクロホンの位置における騒音のFFTスペクトルは，D.9.1
又はD.10.1のいずれか該当するものに従って得なければならない。FFTスペクトルは，使用するFFT分析
器の製造業者の取扱説明書に従い，単位がデシベルの音圧レベル（基準値20 μPa）として校正しなければ
ならない。次の場合を適用する。
a) 顕著かどうかを評価すべき離散周波数音又は純音性成分の音圧レベルLt（D.9.2及び該当する場合には
D.9.6参照）がD.7.1で定義され，式(D.1)によって，その離散周波数音の周波数に対して計算された下
限聴覚しきい（閾）値（Lower Threshold of Hearing，以下，LTHという。）P1( f ) よりも低い場合，そ
の離散周波数音は“聴こえない（inaudible）”と考えられ，この附属書の手順を実施する必要がない。
“可聴離散周波数音なし”，“顕著な離散周波数音なし”のような文言を試験報告書に含めてもよい。
b) 顕著かどうかを評価すべき離散周波数音又は純音性成分の音圧レベルLt（D.9.2及び該当する場合には
D.9.6参照）が，式(D.1)によって，その離散周波数音の周波数に対して計算されたP1( f ) + 10 dB以下
の場合，その離散周波数音は顕著ではないと考えられ，この附属書の手順を実施する必要がない。“可
聴離散周波数音なし”，“顕著な離散周波数音なし”のような文言を試験報告書に含めてもよい。図D.1
にP1( f ) 及びP1( f ) + 10 dBの曲線を示す。
注記 冷却ファンを内蔵するほとんどの情報技術装置においては，たとえ，それが物理的に小さく，
比較的静寂であっても，その騒音のレベルは聴覚しきい（閾）値を十分上回るであろう。しか
し，小型ディスクドライブのように，それを組み込む最終製品から切り離して評価されるある
種のコンポーネントの場合，その騒音のレベルは，事実，聴覚しきい（閾）値未満になること
があり，上記のスクリーニング手順が適用できる。
D.7 聴覚しきい（閾）値付近の離散周波数音及びノイズ
D.7.1 下限聴覚しきい（閾）値
正常聴覚しきい（閾）値（normal hearing threshold）に関する研究によって，実測されるしきい（閾）値
は，ほぼ正規分布に従って，平均レベル付近に分布することが明らかになっている。その50 %分布の値が，
ISO 389-7 [1] において，周波数の関数として既に標準化されており，“基準聴覚しきい（閾）値（reference
threshold of hearing）”と呼ばれる。
この附属書の目的に対しては，1 %分布［まさに，聴覚しきい（閾）値の下限］に対応する聴覚しきい
（閾）値の方がより適切である。これは“下限聴覚しきい（閾）値”と呼ばれ，LTHと表される。周波数
fにおいて，このLTHに対応する音圧レベルが式(D.1)から計算される。
5
1
4
2
3
3
2
4
1
1
'
'
'
'
)
(
a
f
a
f
a
f
a
f
a
f
P
+
+
+
+
=
(dB) ······································ (D.1)
ここに，
std
mean
'
f
f
f
f
−
=
： 表D.1の値から計算した無次元パラメータ
a1〜a5： 表D.1による多項係数
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表D.1−P1( f )の計算のためのパラメータ
f
fmean
(Hz)
fstd
(Hz)
a1
(dB)
a2
(dB)
a3
(dB)
a4
(dB)
a5
(dB)
20 ≤ f < 305
167.5
87.321 2
1.415 532 − 2.451 068
1.498 869 − 6.983 224
8.621 226
305 ≤ f < 2 230
1 157.5
488.582
0.397 994 − 0.891 839 − 0.815 138 − 1.221 319 − 7.600 754
2 230 ≤ f < 14 000
7 250.0
3 033.25
1.584 978 − 2.766 599 − 6.906 192
10.138 553 − 3.149 339
14 000 ≤ f < 22 050
16 990.0
4 049.0
− 5.775 593 − 9.200 034 26.591 15
52.167 12
15.615 520 48
注記 式(D.1)で定義される音圧レベルP1( f )とは，健康な聴覚をもつ人間のほんの1 %だけによって
聴こえると考えられる聴覚しきい（閾）値を表している。式(D.1)は，この附属書の目的に合わ
せて，LTHを周波数の関数として推定するために，参考文献 [17] 及び [18] において収集され，
表形式で表されたデータを4次多項式として表したものである。広範な周波数範囲にわたって
ぜん（漸）近させるため，20 Hzから22 kHz［参考文献 [19] 参照］の間の周波数範囲に対して
4組の異なる多項式を使っている。
1
FFTスペクトル
2
LTH，P1( f )
3
LTH，P1( f ) + 10 dB
f
周波数
Lp 音圧レベル（基準値20 µPa）
図D.1−低レベルの離散周波数音分析のために描いた下限聴覚しきい（閾）値（LTH），P1( f )
及びP1( f ) + 10 dBの曲線
D.7.2 聴覚しきい（閾）値付近の騒音の正規化
低レベルの音の場合，その音圧レベルのFFTスペクトルのデータポイントの中には，式(D.1)で定義され
る下限聴覚しきい（閾）値（LTH）に満たないものもあり得る。実測したままの音圧レベルを使って計算
単位dB
Lp
f 単位 Hz
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した場合，TNR又はPRの値が大きくなり，その音に対する主観的な印象と必ずしも対応しないことがあ
る。しかし，各データポイントにおける音圧レベルをLTHと等しくなるように調整すると，臨界帯域内の
全音圧レベルが誇張されてしまい，TNR及びPRの値が非現実的に小さくなってしまう。したがって，そ
のような低レベルの音に対しては，（TNRに対する）マスキングノイズレベル又は（PRに対する）下側，
中央及び上側臨界帯域内の全レベルと，心理音響的な値とが正しく対応するようにFFTスペクトルに対し
て何らかの正規化を行うのが望ましい。この正規化に対しては，上記で定義した純音に基づく下限聴覚し
きい（閾）値よりも，ホワイトノイズ又はピンクノイズによる1/3オクターブバンドごとの聴覚しきい（閾）
値の方が適切かもしれない。しかし，そのような正規化の手順は，この附属書の目的に合わせて定義する
のがよいのであろうが，まだ定義されていない。
D.8 臨界帯域幅
任意の周波数f0 (Hz)を中心とする臨界帯域の幅∆fc (Hz)は，次の式から計算することができる。
(
)
[
]
69
.0
2
0
c
000
1
4.1
0.1
0.
75
0.
25
f
f
×
+
×
+
=
∆
(Hz) ······························ (D.2)
例 f0 = 1 000 Hzに対し∆fc = 162.2 Hz，f0 = 500 Hzに対し∆ fc = 117.3 Hz［参考文献 [20] 参照］
この附属書では，臨界帯域とは，中心周波数f0，下端周波数f1及び上端周波数f2をもつ理想的なく（矩）
形フィルタとしてモデル化でき，次のとおりとする。
c
1
2
f
f
f
∆
=
−
(Hz) ···································································· (D.3)
f0 ≤ 500 Hzに対し，臨界帯域は定帯域幅フィルタとして近似でき，その両端周波数は次のように計算さ
れる。
2
c
0
1
f
f
f
∆
−
=
(Hz) ··································································· (D.4)
及び
2
c
0
2
f
f
f
∆
+
=
(Hz) ··································································· (D.5)
f0 > 500 Hzに対し，臨界帯域は定比帯域幅フィルタとして近似でき，ここに
2
1
0
f
f
f
×
=
(Hz) ··································································· (D.6)
となり，その両端周波数は，式(D.3)及び式(D.6)から，次のように計算される。
2
4
2
2
0
2
c
c
1
f
f
f
f
+
∆
+
∆
−
=
(Hz) ····················································· (D.7)
及び
c
1
2
f
f
f
∆
+
=
(Hz) ···································································· (D.8)
注記1 式(D.2)は臨界帯域の幅に対するものとしてよく知られ，広く使われているものであるが，対
応する両端周波数のための式を導出する方法は決まっていない。しかし，500 Hzの上側及び
下側における臨界帯域の性質から，式(D.7)及び式(D.8)によって両端周波数を割り当てること
は理にかなったことである。すなわち，定比帯域幅フィルタに対しては，両端周波数が幾何
平均として関係づけられているのに対し，定帯域幅フィルタに対するそれは，算術平均とし
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て関係づけられる。
注記2 式(D.8)はISO 7779:2010に誤りがあり，これを訂正したものである。
D.9 TNR（tone-to-noise ratio）法
D.9.1 FFT分析器を使った測定
8.7の測定のために使用するものと同じ作動モード及び同じ測定条件に対し，ハニング時間窓関数及び実
効値平均（線形平均）を使い，測定位置（D.4参照）における信号のパワースペクトル密度（又は音圧レ
ベル）が得られるようにFFT分析器の操作手順に従う。FFT分析器の入力信号には，A特性のような，周
波数重み付け特性を適用してはならない。FFT分析では，実効値平均（線形平均）及びハニング窓関数を
使い，8.7.2の分析時間の要件を満足するため，十分な回数の平均を行わなければならない。ズーム帯域の
中心周波数を離散周波数音の周波数にほぼ対応させ，その帯域幅は臨界帯域幅と同じか，できれば僅かに
広くしてズーム分析するのが望ましい。
注記 信号のパワースペクトル密度は，通常，ある量の，1サイクル当たりの平均二乗値［例えば，
周波数に対して，1サイクル当たりの平均二乗電圧の場合，単位をボルト二乗毎ヘルツ（V2/Hz）
とするか，又は1サイクル当たりの平均二乗音圧の場合，単位をパスカル二乗毎ヘルツ（Pa2/Hz）］
として計算される。TNR（∆LT）を算出する目的の場合，実測されるパワースペクトル密度の
単位は重要ではなく，基準値（1 V又は20 μPa）に対する絶対校正は必要ではない。しかし，
測定器（FFT分析器）をパスカル二乗毎ヘルツの単位で校正しておけば，そのまま音圧レベル
が得られるようになる。この附属書の手順では，このように校正してあることを想定しており，
この附属書中では“平均二乗音圧”として記述してあるが，任意の量を使用できるように，そ
の記号は“X”としている。
D.9.2 離散周波数音のレベルの算出
離散周波数音の平均二乗音圧Xt（又は離散周波数音の音圧レベルLt）は，D.9.1のとおりに測定したFFT
スペクトルから，離散周波数音を“定義する”狭い帯域内部の平均二乗音圧（又は音圧レベル）を計算す
ることによって算出される。この周波数の幅∆ft (Hz)は，その帯域内に含まれる離散的なデータポイント数
（“ライン数”）と，分解能幅（“ライン間隔”）との積に等しくなる。Xt（又はLt）を計算するために選択
した周波数帯域幅が，その離散周波数音の周波数を中心とする臨界帯域幅の15 %よりも広くなった場合，
分解能幅をより細かくしてFFT分析を繰り返すのがよい。分解能幅を細かくしてFFT分析を繰り返した後
でも，離散周波数音の帯域幅が臨界帯域の15 %よりも広い場合，その離散周波数音は，周波数が一定でな
いか，又は何か別の現象が起こっていることを示すものかもしれない。この場合，臨界帯域の15 %より広
い帯域幅のまま，その離散周波数音に対し，後続の手順を続行してもよい。
単一の臨界帯域内に含まれる複数の離散周波数音に対して，離散周波数音の平均二乗音圧（又は，離散
周波数音の音圧レベル）を算出するには，D.9.6を参照。
注意 離散周波数音の輪郭を縁取る帯域幅∆ftを選択するために，自動化した手順を採用している場合
には，特に注意を要する。もしも帯域が狭すぎると，離散周波数音の平均二乗音圧（又は離散
周波数音の音圧レベル）は過小評価され，ノイズの平均二乗音圧（D.9.3参照）は過大評価され
るであろう。また，もしもその帯域が広すぎると，マスキングノイズ又は副離散周波数音が過
って離散周波数音の成分の計算に含まれ，ノイズの計算から除外されてしまうであろう。
D.9.3 マスキングノイズのレベルの算出
この附属書では，マスキングノイズの平均二乗音圧Xn（又は，マスキングノイズの音圧レベルLn）は，
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次の2段階の手順によって算出される。
第1段階では，臨界帯域の全平均二乗音圧（又は臨界帯域の全音圧レベル）を計算する。臨界帯域の幅
は，式(D.2)において分析対象離散周波数音の周波数ftをf0に等しいものと設定することによって算出され，
帯域の下端周波数f1及び上端周波数f2は，式(D.4)及び式(D.5)［又は式(D.7)及び式(D.8)］でそれぞれ規定
される。
FFTスペクトルから，臨界帯域の全平均二乗音圧Xtot（又は臨界帯域の全音圧レベルLtot）が計算される。
この作業は，使用する測定機器に応じて，FFT分析器上のバンドカーソルを使って行ってもよいし，しか
るべきソフトウェアを使って外部コンピュータで行っても，他の手段によって行ってもよい。いずれにし
ても，この値を計算するために使われる周波数帯域の幅∆ftot (Hz)とは，その帯域内に含まれるFFTスペク
トルのデータポイント数（“ライン数”）と分解能幅（“ライン間隔”）との積に等しくなる。
第2段階では，次の式からマスキングノイズの平均二乗音圧Xn（又は，マスキングノイズの音圧レベル
Ln）を計算する。
(
)
t
tot
c
t
tot
n
)
(
f
f
f
X
X
X
∆
−
∆
∆
−
=
(Pa2) ·············································· (D.9A)
又は，音圧レベルによって記述すると，式(D.9A)は次のようになる。
(
)
∆
−
∆
∆
+
−
=
t
tot
c
10
1.0
1.0
10
n
log
10
10
10
log
10
t
tot
f
f
L
L
L
(dB) ···················· (D.9B)
単一の臨界帯域内に含まれる複数の離散周波数音に対して，マスキングノイズの平均二乗音圧（又は，
マスキングノイズの音圧レベル）を算出するには，D.9.6を参照。
注記 式(D.9A)［又は式(D.9B)］では，Xtot（又はLtot）を計算するために使われるFFT分析器の帯域
幅∆ftotが臨界帯域の幅∆fcに必ずしも一致しないという事実と，さらに，計算される平均二乗音
圧 (Xtot − Xt)［又は，計算される音圧レベル
(
)
t
tot
1.0
1.0
10
10
10
log
10
L
L−
(dB)］には，狭い帯域∆ftに
含まれるノイズを含んでいないという事実とを考慮してある。
D.9.4 TNR（tone-to-noise ratio）の算出
TNR（∆LT）は，次の諸式のいずれか一方から計算される。
n
t
10
T
log
10
X
X
L=
∆
(dB) ························································· (D.10A)
又は，音圧レベルで記述すると，式(D.10A)は次のようになる。
n
t
T
L
L
L
−
=
∆
(dB) ································································(D.10B)
単一の臨界帯域内に複数の離散周波数音が含まれる場合のTNRを算出するには，D.9.6を参照。
D.9.5 TNR法による顕著な離散周波数音の規準
TNRが次の条件を満たし，かつ，D.9.8の可聴音に関する要件を満足する場合，その離散周波数音は“顕
著”と分類される。
89.1 Hz ≤ ft < 1 000 Hzに対し，∆LT ≥ 8.0 dB + 8.33 × log10
t
000
1
f
(dB) ····················· (D.11A)
ft ≥ 1 000 Hzに対し，∆LT ≥ 8.0 (dB) ···································································· (D.11B)
式(D.11A)及び式(D.11B)の規準を図D.5に示す。
D.9.6 一つの臨界帯域内に含まれる複数の離散周波数音
機械から発する騒音に複数の離散周波数音が含まれ，さらに，それらの幾つかが一つの臨界帯域内に含
50
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まれることがある。少なくとも一つの離散周波数音が聴こえる場合，それぞれの離散周波数音に対して，
前述の手順を踏まなければならないが，次の点で異なっている。臨界帯域内で最も振幅の高いものを主離
散周波数音とし，その周波数をfpとする。この主離散周波数音を中心とする臨界帯域に対し，2番目に高
い振幅のものを副離散周波数音，その周波数をfsとする。
副離散周波数音が主離散周波数音の周波数に十分近い場合には，これら二つの離散周波数音は単一の離
散周波数音として知覚され，その顕著の度合いは，それらの平均二乗音圧（又は音圧レベル）を合算する
ことによって算出される。二つの離散周波数音の間隔
p
s
p
s,
f
f
f
−
=
∆
が式(D.12)に定義される近接間隔より
も狭いとき，それらの離散周波数音は十分に近い，又は“近接している”ものと考えられる。
89.1 Hz ≤ fp < 1 000 Hzに対し，
8.1]|)
212
/p
(
log
|[
2.1
prox
10
10
21
f
f
×
×
=
∆
(Hz) ······························(D.12)
例 fp = 150 Hzに対し∆fprox = 23.0 Hz，fp = 850 Hzに対し∆fprox = 63.8 Hz
この近接規準∆fs,p < ∆fproxを満足した場合には，TNR（∆LT）の計算に先立ち，離散周波数音の平均二乗音
圧Xtの計算においては，主離散周波数音の平均二乗音圧Xt,pに副離散周波数音の平均二乗音圧Xt,sを加え，
全平均二乗音圧Xtotの計算からはこれを差し引く（この状況を音圧レベルによって記述すると，副離散周
波数音の音圧レベルLt,sは，主離散周波数音の音圧レベルLt,pにエネルギーベースで加算され，ノイズの全
音圧レベルからは同じくエネルギーベースでこれを差し引く。）。1 000 Hz以上の周波数に対しては，近接
間隔∆fproxが，臨界帯域の幅の半分よりも広くなるため，常にこの規準を満足することになる［参考文献 [21]
参照］。したがって，次のような式となる。
s
t,
p
t,
t
X
X
X
+
=
(Pa2) ···························································· (D.13A)
又は，音圧レベルによって記述すると，式(D.13A)は次のようになる。
(
)
s
t,
p
t,
1.0
1.0
10
t
10
10
log
10
L
L
L
+
=
(dB) ············································(D.13B)
さらに，
(
)
[
]
(
)
∆
+
∆
−
∆
∆
×
+
−
=
s
t,
p
t,
tot
c
st,
p
t,
tot
n
f
f
f
f
X
X
X
X
(Pa2) ······················ (D.14A)
又は，音圧レベルによって記述すると，式(D.14A)は次のようになる。
(
)
[
]
(
)
s
t,
p
t,
tot
c
10
1.0
1.0
1.0
10
n
log
10
10
10
10
log
10
s
t,
p
t,
tot
f
f
f
f
L
L
L
L
∆
+
∆
−
∆
∆
+
+
−
=
(dB)(D.14B)
Xn及びXt（若しくはLn及びLt）に対する上記の値によって，式(D.10A)を使ってTNRが計算される。
近接規準を満足しなかった場合，それらは別々の離散周波数音として知覚されると考えられ，個別に扱
われる。この場合，主離散周波数音に対するTNRの計算に先立ち，マスキングノイズの平均二乗音圧から
副離散周波数音の平均二乗音圧が差し引かれる（他の点に関しては無視される。すなわち，主離散周波数
音の平均二乗音圧の値には加算されない。）。この場合，Xnに対し，式(D.14A)を再び用いるが，式(D.13A)
は結果的にXt = Xt,pとなる。Xn及びXtに対するこれらの値を式(D.10A)に代入し主離散周波数音に対する
TNRが計算される。
この状況を音圧レベルによって記述する場合，主離散周波数音のTNRの計算に先立ち，副離散周波数音
の音圧レベルはマスキングノイズの音圧レベルから，エネルギーベースで差し引かれるが，主離散周波数
音の音圧レベルには加算されない。この場合，Lnに対し，式(D.14B)を再び用いるが，式(D.13B)は結果的
に
(
)
p
t,
1.0
10
t
10
log
10
L
L=
となる。Ln及びLtに対するこれらの値を式(D.10B)に代入することで主離散周波数音
51
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に対するTNRが計算される。
近接規準を満足しなかった場合，副離散周波数音に対し別個にTNRを計算するのが望ましく，その場合，
副離散周波数音を主離散周波数音として上記の手順を繰り返してもよい。その場合，臨界帯域はその離散
周波数音を中心とし，全ての量が再計算される。
D.9.7 高調波成分を含む離散周波数音（TNR法）
もし研究設備を使って発生させる離散周波数音であれば，純粋に正弦的なものであろうが，実際の機器
からの騒音放射の中で発生する離散周波数音は，ほとんどの場合，そのようなものではない。したがって，
FFTスペクトル上には，一般に，ある基本周波数の整数倍に当たる，（高調波又は部分音と呼ばれる）一連
の純音性の成分として現れる。通常，基本周波数は最も優勢な成分であるが，必ずしも常にそうなるわけ
ではない。この附属書においては，一連の高調波の中の個々の純音性成分は，D.6の可聴離散周波数音に
関するスクリーニング試験を行い，その結果に応じて，個別にこの附属書の手順に従って評価されなけれ
ばならない。又は，騒音放射のFFTスペクトルを調べることで高調波が存在することが明らかな場合，こ
の初期スクリーニング試験なしに，純音性成分ごとにこの附属書の手順を適用してもよい。この場合，D.9.5
の顕著な離散周波数音の規準を満足した純音性成分であっても，それを“顕著”と分類するのに先立ち，
D.9.8の可聴音に関する要件も満足しなければならない。
D.9.8 可聴音に関する要件
離散周波数音は，実際に聴こえる（audible）場合にだけ，“顕著”と分類するのが本来の姿である。した
がって，D.9.5において“顕著”と検出された個々の離散周波数音に対して，分析を行ったマイクロホンの
位置又は分析のために使った位置において，測定対象機器から発する騒音の試聴試験を行わなければなら
ない。もしも，騒音放射中に離散周波数音が聴こえる場合，結果が確定し，“顕著”と報告しなければなら
ない。もしも，騒音放射中に離散周波数音が全く聴こえず（clearly not audible），かつ，この結論に信頼の
おける場合には，“顕著”と報告する必要はない。（例えば，試験技術者が，難聴の場合，訓練を受けてい
ない場合，又は経験を積んだ試聴者ではない場合のように）騒音放射中に離散周波数音が聴こえるかどう
かははっきりしない場合には，聴こえるかどうかを決定する手助けとして，次の試聴試験を実施しなけれ
ばならない。分析対象の離散周波数音の周波数に対応する正弦波信号を発生させ，試聴者が製品からの騒
音放射と比較し，製品から発生する騒音中に同じ周波数の離散周波数音が聴こえるかどうかを記録する。
もしも，騒音放射中に離散周波数音が聴こえる場合，結果が確定し，“顕著”と報告しなければならない。
もしも，比較用の音と同じものが騒音放射中に聴こえない場合には，“顕著”と報告する必要はない。
D.9.9 TNR法の例
図D.2では，臨界帯域内にある単一の離散周波数音がTNR法を使ってどのように分析されるかを示す。
図D.3では，一つの臨界帯域内に複数の離散周波数音が存在する場合，TNR法がどのように使われるか
を示す。
52
X 7779：2012 (ISO 7779：2010)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
X
平均二乗音圧
L
音圧レベル（基準値20 µPa）
f
周波数（FFT分解能1.0 Hz）
f1
下端周波数
1 485 Hz
f2
上端周波数
1 724 Hz
ft
分析対象離散周波数音の周波数
1 600 Hz
Ln
マスキングノイズの音圧レベル
51.6 dB
Lt
分析対象離散周波数音の音圧レベル
62.3 dB
Ltot
臨界帯域の全音圧レベル
62.6 dB
Xn
マスキングノイズの平均二乗音圧
5.76 × 105 Pa2
Xt
分析対象離散周波数音の平均二乗音圧
6.77 × 104 Pa2
Xtot
臨界帯域の全平均二乗音圧
7.31 × 104 Pa2
∆fc
臨界帯域幅
239.45 Hz
∆ft
分析対象離散周波数音の幅
20 Hz
∆ftot
FFTスペクトル上の臨界帯域の全帯域幅
240 Hz
顕著な離散周波数音
∆LT
TNR（tone-to-noise ratio）
10.7 dB
図D.2−臨界帯域内の単一の離散周波数音にTNR法を適用した例
X
単位 Pa2
f
単位 Hz
L
単位 dB
f1 ft f2
53
X 7779：2012 (ISO 7779：2010)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
X
平均二乗音圧
L
音圧レベル（基準値20 µPa）
f
周波数（FFT分解能0.5 Hz）
主離散周波数音
f1
下端周波数
732.0 Hz
f2
上端周波数
874 Hz
fp
主離散周波数音の周波数
800 Hz
Xt,p
主離散周波数音の平均二乗音圧
6.17 × 104 Pa2
副離散周波数音
fs
副離散周波数音の周波数
854 Hz
Xt,s
副離散周波数音の平均二乗音圧
4.19 × 104 Pa2
∆ft,s
副離散周波数音の周波数帯域幅
10 Hz
近接した離散周波数音
∆fc
臨界帯域幅
141.62 Hz
∆fprox
近接間隔
59 Hz
∆fs,p
主離散周波数音と副離散周波数音との間隔
54 Hz
∆ft,p
主離散周波数音の周波数帯域幅
10 Hz
顕著な離散周波数音
Xn
マスキングノイズの平均二乗音圧
6.92 × 105 Pa2
Xt
離散周波数音の平均二乗音圧
1.04 103 Pa2
Xtot
臨界帯域の全平均二乗音圧
1.10 × 103 Pa2
Ln
マスキングノイズの音圧レベル
52.4 dB
Lt
離散周波数音の音圧レベル（基準値20 µPa）
64.1 dB
Ltot
臨界帯域の全音圧レベル
64.4 dB
Lt,p
主離散周波数音の音圧レベル
61.9 dB
Lt,s
副離散周波数音の音圧レベル
60.2 dB
∆LT
TNR（tone-to-noise ratio）
11.8 dB
図D.3−一つの臨界帯域内に複数の離散周波数音が存在する場合にTNR法を適用した例
L
単位 dB
f 単位 Hz
X
単位 Pa2
f1 fp fs f2
54
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
D.10 PR（prominence ratio）法
D.10.1 FFT分析器を使った測定
8.7の測定のために使用するものと同じ作動モード及び同じ測定条件に対し，ハニング時間窓関数及び実
効値平均（線形平均）を使い，測定位置（D.4参照）における信号のパワースペクトル密度が得られるよ
うにFFT分析器の操作手順に従う。FFT分析器の入力信号には，A特性のような，周波数重み付け特性を
適用してはならない。FFT分析では，実効値平均（線形平均），ハニング窓関数を使い，8.7.2の分析時間
の要件を満足するため，十分な数の平均を行わなければならない。ズーム帯域の中心周波数を離散周波数
音の周波数にほぼ対応させ，ズーム帯域幅は臨界帯域幅のほぼ4倍にするのが望ましい。
注記 信号のパワースペクトル密度は，通常，ある量の，1サイクル当たりの平均二乗値［例えば，
周波数に対して，1サイクル当たりの平均二乗電圧の場合，単位をボルト二乗毎ヘルツ（V2/Hz）
とするか，又は1サイクル当たりの平均二乗音圧の場合，単位をパスカル二乗毎ヘルツ（Pa2/Hz）］
として計算される。PR（∆LP）を算出する目的の場合，実測されるパワースペクトル密度の単
位は重要ではなく，基準値（1 V又は20 μPa）に対する絶対校正は必要ではない。しかし，測
定器（FFT分析器）をパスカル二乗毎ヘルツの単位で校正しておけば，そのまま音圧レベルが
得られるようになる。この附属書の手順では，このように校正してあることを想定しており，
この附属書の中では“平均二乗音圧”として記述してあるが，任意の量を使用できるように，
その記号は“X”としている。
D.10.2 中央臨界帯域のレベルの算出
中央臨界帯域の平均二乗音圧XMは，分析対象離散周波数音を中心とする臨界帯域内に含まれる全平均
二乗音圧と定義される（音圧レベルによって記述すると，この量は中央臨界帯域の音圧レベルLMになる。）。
中央臨界帯域の幅∆fMは，下端周波数f1,M及び上端周波数f2,M同様に，D.8の関係から，分析対象離散周波
数音の周波数ftをf0に等しいものとして算出する。その場合，中央臨界帯域の両端周波数は次のようにな
る。
ft ≤ 500 Hzに対し
2
M
t
M
,1
f
f
f
∆
−
=
(Hz) ································································(D.15)
及び
2
M
t
M
,2
f
f
f
∆
+
=
(Hz) ·······························································(D.16)
ft > 500 Hzに対し
(
)
2
4
2
2
t
2
M
M
M
,1
f
f
f
f
+
∆
+
∆
−
=
(Hz) ·············································(D.17)
及び
M
M
,1
M
,2
f
f
f
∆
+
=
(Hz) ······························································(D.18)
例 ft = 1 000 Hzに対し，f1,M = 922.2 Hz及びf2,M = 1 084.4 Hz
XMの値（又はLMの値）は，FFTスペクトルから，f1,Mとf2,Mとの間のデータポイントを挟み込み，中央
臨界帯域の平均二乗音圧（又は中央臨界帯域の音圧レベル）を計算することによって算出される。この作
業は，使用する測定機器に応じて，FFT分析器上のバンドカーソルを使って行ってもよいし，しかるべき
ソフトウェアを使って外部コンピュータで行っても，又は他の手段によって行ってもよい。
55
X 7779：2012 (ISO 7779：2010)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
D.10.3 下側臨界帯域のレベルの算出
下側臨界帯域の平均二乗音圧XLは，D.10.2で定義される中央臨界帯域のすぐ下側にあって，これに接す
る臨界帯域内に含まれる全平均二乗音圧と定義される（音圧レベルとして記述すると，この量は下側臨界
帯域の音圧レベルLLになる。）。D.8の関係によって，下側臨界帯域において，その中心周波数f0,L，帯域
幅∆fL，下端周波数f1,L及び上端周波数f2,Lがそれぞれ決まる。この下側臨界帯域は中央臨界帯域に接してい
なければならないので，f2,L = f1,Mとなる。しかし，f0,Lはあらかじめ分かるものではなく，D.8の式(D.2)〜
式(D.8)はそのまま用いることはできず，本来，下端周波数f1,Lは反復計算によって求めなければならない。
そこで，この附属書では，f1,Lの値は式(D.19)から計算することとしており，この式は，カーブフィッティ
ングを利用することによって反復計算から導出されたものである。
2
t
2
L,
t
1
L,
0
L,
L
,1
f
C
f
C
C
f
+
+
=
(Hz) ················································(D.19)
ここに，
ft： 分析対象離散周波数音の周波数
CL,0，CL,1，CL,2： 表D.2で与える定数
表D.2−f1,Lを計算するためのパラメータ
周波数範囲
CL,0
Hz
CL,1
CL,2
Hz− 1
89.1 Hz ≤ ft ≤ 171.4 Hz
20.0
0.0
0.0
171.4 Hz < ft ≤ 1 600 Hz
− 149.5
1.001
− 6.90 × 10 − 5
1 600 Hz < ft
6.8
0.806
− 8.20 × 10 − 6
171.4 Hz以下の周波数の離散周波数音に対しては，下側臨界帯域のための下端周波数は人間の聴覚の下
限周波数とされる20 Hz未満となってしまう。そのような場合，下端周波数は20 Hzと設定する（したが
って，XLを算出するために使われる帯域は20 Hzからf2,Lまでとする。）。この下側臨界帯域の幅∆fLは，真
の臨界帯域の幅よりも狭く，PRの計算では，このことが考慮される（D.10.5参照）。
XLの値（又はLLの値）とは，FFTスペクトルからf1,Lとf2,Lとの間のデータポイントを挟み込み，下側
臨界帯域の平均二乗音圧（又は下側臨界帯域の音圧レベル）を計算することによって算出される。この作
業は，使用する測定機器に応じて，FFT分析器上のバンドカーソルを使って行ってもよいし，しかるべき
ソフトウェアを使って外部コンピュータで行っても，又は他の手段によって行ってもよい。下側臨界帯域
と中央臨界帯域とが計算処理上，重複しないように注意しなければならない。すなわち，共通の終端周波
数に最も近いFFTデータポイントは，どちらか一方にだけ割り当てられ，両方に割り当ててはならない。
D.10.4 上側臨界帯域のレベルの算出
上側臨界帯域の平均二乗音圧XUは，D.10.2で定義される中央臨界帯域のすぐ上側にあって，これに接す
る臨界帯域内に含まれる全平均二乗音圧と定義される（音圧レベルによって記述すると，この量は上側臨
界帯域の音圧レベルLUになる。）。D.8の関係によって，上側臨界帯域において，その中心周波数f0,U，帯
域幅∆fU，下端周波数f1,U及び上端周波数f2,Uがそれぞれ決まる。この上側臨界帯域は中央臨界帯域に接し
ていなければならないので，f1,U = f2,Mとなる。しかしながら，f0,Uはあらかじめ分かるものではなく，D.8
の式(D.2)〜式(D.8)はそのまま用いることはできず，一般的には，上端周波数f2,Uは反復計算によって求め
なければならない。そこで，この附属書では，f2,Uの値は式(D.20)から計算することとしており，この式は，
カーブフィッティングによって反復計算から求めたものである。
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X 7779：2012 (ISO 7779：2010)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
2
t
2
U,
t
1
U,
0
U,
U
,2
f
C
f
C
C
f
+
+
=
(Hz) ················································(D.20)
ここに，
ft： 分析対象離散周波数音の周波数
CU,0，CU,1，CU,2： 表D.3で与える定数
表D.3−f2,Uを計算するためのパラメータ
周波数範囲
CU,0
Hz
CU,1
CU,2
Hz− 1
89.1 Hz ≤ ft ≤ 1 600 Hz
149.5
1.035
7.70 × 10− 5
1 600 Hz < ft
3.3
1.215
2.16 × 10−5
XUの値（又はLUの値）とは，FFTスペクトルからf1,Uとf2,Uとの間のデータポイントを挟み込み，上側
臨界帯域の平均二乗音圧（又は音圧レベル）を計算して求められる。この作業は，使用する測定機器に応
じて，FFT分析器上のバンドカーソルを使って行ってもよいし，しかるべきソフトウェアを使って外部コ
ンピュータで行っても，又は他の手段によって行ってもよい。上側臨界帯域と中央臨界帯域とが計算処理
上，重複しないように注意しなければならない。すなわち，共通の終端周波数に最も近いFFTデータポイ
ントは，どちらか一方にだけ割り当てられ，両方に割り当ててはならない。
D.10.5 PR（prominence ratio）の算出
171.4 Hzよりも高い周波数の離散周波数音に対し，PR（∆LP）は次のように計算される。
ft > 171.4 Hzに対し，
×
+
=
∆
5.0
)
(
log
10
U
L
M
10
P
X
X
X
L
(dB)············ (D.21A)
音圧レベルによって記述すると，式(D.21A)は次のようになる。
ft > 171.4 Hzに対し，
(
)
(
)
[
]5.0
10
10
log
10
10
log
10
U
L
M
1.0
1.0
10
1.0
10
P
×
+
−
=
∆
L
L
L
L
(dB) ··················(D.21B)
171.4 Hz以下の周波数をもつ離散周波数音に対しては，式(D.2)から計算されるものよりも帯域幅が狭く
なり，下側臨界帯域の一部が切り取られることになる（D.10.3参照）。したがって，171.4 Hzよりも周波数
の低い離散周波数音に対するPRを計算するには，下側臨界帯域のレベルは，（これらの周波数における全
帯域幅である）100 Hzに正規化され，次のようになる。
ft ≤ 171.4 Hzに対し，
×
+
∆
×
=
∆
5.0
]
)
(100/
[
log
10
U
L
L
M
10
P
X
f
X
X
L
(dB) ························· (D.22A)
又は，音圧レベルによって記述すると，式(D.22A)は次のようになる。
ft ≤ 171.4 Hzに対し，
(
)
×
+
×
∆
−
=
∆
5.0
10
10
100
log
10
10
log
10
U
L
M
1.0
1.0
L
10
1.0
10
P
L
L
L
f
L
(dB) ···(D.22B)
D.10.6 PR法による顕著な離散周波数音の規準
PRが次の条件を満たし，かつ，D.10.8の可聴に関する要件を満足する場合，その離散周波数音は“顕著”
と分類される。
注記 ISO 7779:2010に誤りがあったため, D.10.8への参照に訂正した。
89.1 Hz ≤ ft < 1 000 Hzに対し，
(
)
t
10
P
/
000
1
log
10
0.9
f
L
+
≥
∆
dB ································· (D.23A)
ft ≥ 1 000 Hzに対し，
0.9
P≥
∆L
dB ······································································(D.23B)
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
式(D.23A)及び式(D.23B)の規準を図D.5に示す。
D.10.7 高調波成分を含む複合音（PR法）
もし研究設備を使って発生させる離散周波数音であれば，純粋に正弦的なものであろうが，実際の機器
からの騒音放射中で発生する離散周波数音は，ほとんどの場合，そのようなものではない。したがって，
FFTスペクトル上には，一般に，ある基本周波数の整数倍に当たる，（高調波又は部分音と呼ばれる）一連
の純音性の成分として現れる。通常，基本周波数は最も優勢な成分であるが，これは常にそうなるわけで
はない。この附属書においては，一連の高調波の中の個々の純音性成分は，D.6の可聴離散周波数音に関
するスクリーニング試験を行い，その結果に応じて，この附属書の手順に従って個別に評価されなければ
ならない。又は，騒音放射のFFTスペクトルを調べることで高調波が存在することが明らかな場合，この
初期スクリーニング試験なしに，純音性成分ごとにこの附属書の手順を適用してもよい。この場合，D.10.6
の顕著な離散周波数音の規準を満足した純音性成分であっても，それを“顕著”と分類するのに先立ち，
D.10.8の可聴音に関する要件も満足しなければならない。
D.10.8 可聴音に関する要件
離散周波数音は，実際に聴こえる（audible）場合にだけ，“顕著”と分類されるのが本来の姿である。し
たがって，D.10.6において“顕著”と検出された個々の離散周波数音に対して，分析を行ったマイクロホ
ンの位置（D.4参照）又は分析のために使った位置において，測定対象機器から発する騒音の試聴試験を
行わなければならない。もしも，騒音放射中に離散周波数音が聴こえる場合，結果が確定し，“顕著”と報
告しなければならない。もしも，騒音放射中に離散周波数音が全く聴こえず（clearly not audible），かつ，
この結論に信頼のおける場合には，“顕著”と報告する必要はない。もしも，騒音放射中に離散周波数音が
聴こえるかどうか疑わしい場合（例えば，試験技術者が難聴の場合，訓練を受けていない場合，又は経験
を積んだ試聴者ではない場合のように），聴こえるかどうかを決定する手助けとして，次の試聴試験を実施
しなければならない。
分析対象の離散周波数音の周波数に対応する正弦波信号を発生させ，試聴者が製品からの騒音放射と比
較し，製品から発生する騒音中に同じ周波数の離散周波数音が聴こえるかどうかを記録する。もしも，騒
音放射中に離散周波数音が聴こえる場合，結果が確定し，“顕著”と報告しなければならない。もしも，比
較用の音と同じものが騒音放射中に聴こえない場合には，“顕著”と報告する必要はない。
D.10.9 PR法の例
PR法による計算例を図D.4に示す。D.10.5に従ってPRが計算され，1 600 Hzの離散周波数音に対して
∆LP = 12.1 dBであることが分かった。その結果，1 600 HzにおけるPRの規準値である9.0 dBよりも大き
いので，その離散周波数音は“顕著”と分類される。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
X
平均二乗音圧
L
音圧レベル（基準値20 µPa）
f
周波数（FFT分解能1.0 Hz）
中央臨界帯域
ft
分析対象離散周波数音の周波数
1 600 Hz
f1,M
中央臨界帯域の下端周波数
1 485 Hz
f2,M
中央臨界帯域の上端周波数
1 724 Hz
LM
中央臨界帯域の音圧レベル
62.6 dB
XM
中央臨界帯域の平均二乗音圧
7.31 × 10 − 4 Pa2
上側臨界帯域
f1,U
上側臨界帯域の下端周波数
1 724 Hz
f2,U
上側臨界帯域の上端周波数
2 002 Hz
LU
上側臨界帯域の音圧レベル
50.0 dB
XU
上側臨界帯域の平均二乗音圧
4.03 × 10 − 5 Pa2
下側臨界帯域
f1,L
下側臨界帯域の下端周波数
1 276 Hz
f2,L
下側臨界帯域の上端周波数
1 485 Hz
LL
下側臨界帯域の音圧レベル
51.0 dB
XL
下側臨界帯域の平均二乗音圧
5.07 × 10 − 5 Pa2
顕著な離散周波数音
∆LP
PR（prominence ratio）
12.1 dB
図D.4−顕著な離散周波数音を特定するためのPR法の図
f 単位 Hz
L
単位 dB
X
単位 Pa2
f1,L
f2,L f1,U
f1,M ft f2,M
f2,U
59
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
D.11 顕著な離散周波数音に関する記録事項
この附属書に従って顕著と特定されたそれぞれの離散周波数音に対し，次の事項を記録する。
a) 離散周波数音の周波数ft (Hz)
b) この規格への引用を付けた上で，離散周波数音を評価するために使用した方法の詳細（D.9 TNR法
又はD.10 PR法を参照）
c) TNR法が使われた場合，TNR(∆LT) (dB)又は
PR法が使われた場合，PR(∆LP) (dB)
d) 分析対象の放射騒音中に顕著な離散周波数音が複数含まれていることが分かった場合，個々の離散周
波数音の周波数と，その∆LT又は∆LP
注記 低騒音の機器の場合には特に，顕著な離散周波数音のA特性音圧レベルを記録しておくと役に
立つことがある。
1
PR（prominence ratio）の規準曲線
2
TNR（tone-to-noise ratio）の規準曲線
f
周波数
∆LP
PR（prominence ratio）
∆LT
TNR（tone-to-noise ratio）
離散周波数音の∆LT又は∆LPの値が該当する規準曲線を超えたとき，顕著な離散周波数音となる。
図D.5−周波数の関数として表した，TNR（D.9.5）及びPR（D.10.6）に対する規準曲線
∆LP
∆LT
単位 dB
− 2.5 dB/octave
− 3.0 dB/octave
1
2
89.1 150 250 500 1 000 2 500 5 000 11 220
f 単位 Hz
60
X 7779：2012 (ISO 7779：2010)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書E
（参考）
衝撃性の騒音の検出
E.1 一般事項
この附属書では，発生する騒音が衝撃性かどうか，すなわち，作用時間が短く，かつ，振幅が比較的高
いものかどうかを見極めるための客観試験方法を提供する。
この方法は主として，オペレータの介在を必要とする機器から放射される非定常な騒音に適用される。
注記 この方法はISO 11201:1995 [23]，附属書Aの第1段落に基づいているが，この規格の他の部分と
の関係から変更を加えてある。
E.2 附属書の位置づけ
この附属書は参考ではあるが，この手順が他の規格又は試験規定によって規定要素として引用された場
合に満足しなければならない要件を含んでいる。そのような要件は，一般に，“〜しなければならない（原
文においてはshall）”のような命令調の言葉を用いることで識別される。
E.3 測定器
測定器は8.4の要件を満たさなければならない。サウンドレベルメータには，JIS C 1509-1:2005の附属
書Cに規定する時間重み付け特性Iが備わっていなければならない。
歴史的な理由から，時間重み付け特性Iが，この附属書内で使われている。時間重み付け特性Iの適用
に関しては，JIS C 1509-1:2005のC.1.1において次のように記述している。
“多くの研究は，時間重み付け特性Iは，衝撃性騒音のラウドネスの評価に適さないとの結論を出してい
る。また，聴力障害を起こす危険性の評価及び音の“衝撃性（impulsiveness）”の判定にも適さない。誤っ
た結果を得る可能性があるので，これらの目的に時間重み付け特性Iを用いることは勧められない”。
E.4 マイクロホンの位置
オペレータ位置のある機器の場合，そのオペレータ位置において測定しなければならない。オペレータ
位置が複数ある場合，最も高いA特性音圧レベルとなるオペレータ位置において，次の測定を行う。
オペレータ位置が定義されていない機器の場合，最も高いA特性音圧レベルとなるバイスタンダ位置及
びその位置におけるA特性音圧レベルの0.5 dB以内となるバイスタンダ位置において測定を行い，次に定
義する騒音の衝撃性に関する指標∆LIを算出しなければならない。
卓上機器内部に設置されるように設計されたサブアセンブリは，高さ約12 mmの数本の弾性のある足を
介して標準試験卓の上面の中央に設置する。他のエンクロージャ又はラック内部に設置されるサブアセン
ブリは，5.1.7に従い設置しなければならない。オペレータ位置の定義された機器の内部に設置されるサブ
アセンブリに対しては，そのオペレータ位置を用いるものとし，それ以外の場合は，最も高いA特性音圧
レベルとなるバイスタンダ位置を用いる。
E.5 測定手順
前述のマイクロホンの位置において，試験対象機器から放射される騒音を難聴ではない者が試聴しなけ
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ればならない。その発生している騒音に衝撃性の音を含むような場合，次の試験を実行しなければならな
い。
8.7の測定で使われるものと同じ作動モード，測定条件，測定時間及び時間平均方法を用いて，A特性時
間平均インパルス音圧レベル（LpAI）及びA特性時間平均音圧レベル（LpA）を測定しなければならない。
A特性時間平均インパルス音圧レベル（LpAI）とA特性時間平均音圧レベル（LpA）とのデシベル差を求め
る。その差（LpAI − LpA）を騒音の衝撃性に関する指標（∆LI）とする。∆LI ≥ 3 dBの場合，その騒音は，衝
撃性と考えられる。
A特性時間平均インパルス音圧レベル（LpAI）は，その騒音が衝撃性かどうかを決定するためだけに使
用される。騒音の衝撃性に関する指標（∆LI）は，定常で，非衝撃性の騒音ではゼロであり，騒音の衝撃性
が増すにつれて数値が増加する。
レベルレコーダを用いてインパルス音圧レベルを記録する場合，インパルスサウンドレベルメータの直
流レベル出力を用いる。レベルレコーダの動特性は，作用時間0.2秒のく（矩）形パルスに対し，フルス
ケールの少なくとも90 %に応答できるものでなければならない。
E.6 衝撃性の騒音に関する試験記録
衝撃性の騒音が特定されなかった場合，その事実を記録しなければならない。衝撃性の騒音が特定され
た場合，試験記録として，その事実とともに，騒音の衝撃性に関する指数（∆LI）の値を記録しなければな
らない。
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