X 6323-1：2011 (ISO/IEC 15693-1：2010)
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
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序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 1
3 用語及び定義 ··················································································································· 1
4 物理的特性 ······················································································································ 2
4.1 一般仕様 ······················································································································ 2
4.2 アンテナ ······················································································································ 2
4.3 交流磁界 ······················································································································ 2
4.4 追加情報 ······················································································································ 2
附属書A（参考）印刷のためのカード表面品質 ·········································································· 3
附属書B（参考）スロット孔 ·································································································· 4
参考文献 ····························································································································· 5
X 6323-1：2011 (ISO/IEC 15693-1：2010)
（2）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人日本
ICカードシステム利用促進協議会（JICSAP）及び財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具
して日本工業規格を改正すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正
した日本工業規格である。
これによって，JIS X 6323-1:2001は改正され，この規格に置き換えられた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS X 6323の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS X 6323-1 第1部：物理的特性
JIS X 6323-2 第2部：電波インタフェース及び初期化
JIS X 6323-3 第3部：衝突防止及び伝送プロトコル
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
X 6323-1：2011
(ISO/IEC 15693-1：2010)
識別カード−非接触（外部端子なし）ICカード−
近傍型−第1部：物理的特性
Identification cards-Contactless integrated circuit cards-
Vicinity cards-Part 1: Physical characteristics
序文
この規格は，2010年に第2版として発行されたISO/IEC 15693-1を基に，技術的内容及び構成を変更す
ることなく作成した日本工業規格である。また，この規格は，JIS X 6301（ISO/IEC 7810，識別カード−
物理的特性）に定義されたIDカードのパラメタ及び国際流通用としてのこのIDカードの使用方法のうち，
外部端子のない近傍型のICカード及びこれと結合する結合装置を規定する規格群（JIS X 6323）の一部で
ある。
1
適用範囲
この規格は，近傍型ICカード（以下，VICCという。）の物理的特性について規定する。
この規格は，JIS X 6323の他の部編成と一緒に用いる。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
ISO/IEC 15693-1:2010，Identification cards−Contactless integrated circuit cards−Vicinity cards−
Part 1: Physical characteristics（IDT）
なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”こ
とを示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS X 6301 識別カード−物理的特性
注記 対応国際規格：ISO/IEC 7810，Identification cards−Physical characteristics（IDT）
ISO/IEC 15457-1，Identification cards−Thin flexible cards−Part 1: Physical characteristics
3
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，次による。
3.1
集積回路，IC（integrated circuit）
処理機能，記憶機能及び入出力制御機能を実行するように設計された電子部品。
2
X 6323-1：2011 (ISO/IEC 15693-1：2010)
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3.2
非接触（contactless）
信号の送受及びカードへの電力供給に導通接点を用いないで（すなわち，外部機器とカードに組み込ま
れたICとを直接接触することなしに，）行うもの。
3.3
非接触ICカード（contactless integrated circuit card）
外部端子なしで接続されるICが組み込まれた識別カード。
3.4
正常動作（operate as intended）
製造業者がJIS X 6323規格群に適合して定めた仕様に基づく動作。
3.5
VICC（vicinity card）
近傍磁界で結合装置と結合して，電力供給を受けて通信する非接触ICカード又は同様な動作をする対象
物。
4
物理的特性
4.1
一般仕様
VICCは，JIS X 6301若しくはISO/IEC 15457-1に適合したカードの形状，又はいかなる寸法の対象物の
形状でもよい。
4.2
アンテナ
VICCの形状がJIS X 6301又はISO/IEC 15457-1によらない場合には，互換性を最大にするために，VICC
のアンテナ寸法は，86 mm×54 mm×3 mmを超えてはならない。
注記 アンテナ寸法は，JIS X 6323-2で規定する電力伝送及び信号インタフェース並びにJIS X 6305-7
によるその試験方法がID-1形状のカードに基づくために，制限される。試験方法は，上記に定
義した寸法よりも大きなアンテナを用いた場合，信頼できない結果を与えるかもしれない。
4.3
交流磁界
VICCは，4.1に基づくいかなる形状であっても，13.56 MHzで平均磁界強度10 A/m rmsの交流磁界に連
続してさらした後，正常動作し続けなければならない。平均磁界強度は，30秒間の平均値とする。また，
磁界強度の最大値は，12 A/m rmsを限界値とする。
4.4
追加情報
印刷のためのカード表面の品質は，附属書Aに示すようにすることが望ましい。
任意選択でカードに孔を空ける場合は，附属書Bに示すようにすることが望ましい。
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X 6323-1：2011 (ISO/IEC 15693-1：2010)
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附属書A
（参考）
印刷のためのカード表面品質
製造済みのVICCに後から印刷を施すことが想定される場合，印刷領域のカード表面品質は，それに使
われる印刷機又は印刷技術に応じて，印刷できるものであることが望ましい。
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X 6323-1：2011 (ISO/IEC 15693-1：2010)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書B
（参考）
スロット孔
任意選択機構としてスロット孔を設ける場合は，スロットの大きさ及び位置を，次の図B.1又は図B.2
のようにすることが望ましい。
単位 mm
図B.1−縦方向で使用する場合
単位 mm
図B.2−横方向で使用する場合
VICCのIC及び結合コイルは，図B.1及び図B.2に示すように，スロット孔を空けても影響を受けない
位置に，搭載することが望ましい。
警告 スロット孔の付いたカードは，自動カード搬送部に事故を発生させるおそれがある。
例えば，自動現金支払機。
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X 6323-1：2011 (ISO/IEC 15693-1：2010)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
参考文献
[1] JIS X 6302（規格群） 識別カード−記録技術
注記 対応国際規格：ISO/IEC 7811 (all parts)，Identification cards−Recording technique（IDT）
[2] JIS X 6305-7 識別カードの試験方法−第7部：非接触（外部端子なし）ICカード−近傍型
注記 対応国際規格：ISO/IEC 10373-7，Identification cards−Test methods−Part 7: Vicinity cards
（IDT）
[3] JIS X 6320（規格群） 識別カード−ICカード
注記 対応国際規格：ISO/IEC 7816 (all parts)，Identification cards−Integrated circuit cards（IDT）
[4] JIS X 6321（規格群） 外部端子なしICカード−密着型
注記 対応国際規格：ISO/IEC 10536 (all parts)，Identification cards−Contactless integrated circuit(s)
cards−Close-coupled cards（IDT）
[5] JIS X 6322（規格群） 識別カード−非接触（外部端子なし）ICカード−近接型
注記 対応国際規格：ISO/IEC 14443 (all parts)，Identification cards−Contactless integrated circuit
cards−Proximity cards（IDT）
[6] ISO/IEC 7812 (all parts)，Identification cards−Identification of issuers
[7] ISO/IEC 7813，Information technology−Identification cards−Financial transaction cards
[8] ISO/IEC 15457 (all parts)，Identification cards−Thin flexible cards
注記 VICCにエンボスを施すことは，制限されることがある（JIS X 6302-1参照）。