X 6322-1：2011 (ISO/IEC 14443-1：2008)
（1）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 1
3 用語及び定義 ··················································································································· 1
4 物理的特性 ······················································································································ 2
4.1 一般仕様 ······················································································································ 2
4.2 アンテナ ······················································································································ 2
4.3 PICCクラスに関する追加要求事項 ··················································································· 2
4.4 交流磁界 ······················································································································ 2
附属書A（規定）PICCクラスの定義 ······················································································· 3
附属書B（参考）関連規格 ····································································································· 4
X 6322-1：2011 (ISO/IEC 14443-1：2008)
（2）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
まえがき
この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，一般社団法人日本
ICカードシステム利用促進協議会（JICSAP）及び財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具
して日本工業規格を改正すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正
した日本工業規格である。
これによって，JIS X 6322-1:2001は改正され，この規格に置き換えられた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
JIS X 6322の規格群には，次に示す部編成がある。
JIS X 6322-1 第1部：物理的特性
JIS X 6322-2 第2部：電力伝送及び信号インタフェース（予定）
JIS X 6322-3 第3部：初期化及び衝突防止（予定）
JIS X 6322-4 第4部：伝送プロトコル（予定）
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
X 6322-1：2011
(ISO/IEC 14443-1：2008)
識別カード−
非接触（外部端子なし）ICカード−近接型−
第1部：物理的特性
Identification cards-Contactless integrated circuit cards-Proximity cards-
Part 1: Physical characteristics
序文
この規格は，2008年に第2版として発行されたISO/IEC 14443-1を基に，技術的内容及び構成を変更す
ることなく作成した日本工業規格である。また，この規格は，JIS X 6301（ISO/IEC 7810，識別カード−
物理的特性）に定義されたIDカードのパラメタ及び国際流通用としてのこのIDカードの使用方法のうち，
近接型の非接触ICカード及びこれと結合する結合装置について規定するJIS X 6322規格群の一部である。
1
適用範囲
この規格は，近接型ICカード（以下，PICCという。）の物理的特性について規定する。
この規格は，JIS X 6322規格群の他の部とともに用いる。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
ISO/IEC 14443-1:2008，Identification cards−Contactless integrated circuit cards−Proximity cards−
Part 1: Physical characteristics（IDT）
なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”こ
とを示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS X 6301 識別カード−物理的特性
注記 対応国際規格：ISO/IEC 7810，Identification cards−Physical characteristics（IDT）
JIS X 6305-6 識別カードの試験方法−第6部：外部端子なしICカード−近接型
注記 対応国際規格：ISO/IEC 10373-6，Identification cards−Test methods−Part 6: Proximity cards
（IDT）
ISO/IEC 15457-1，Identification cards−Thin flexible cards−Part 1: Physical characteristics
3
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，次による。
2
X 6322-1：2011 (ISO/IEC 14443-1：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
3.1
集積回路，IC（integrated circuit）
処理機能，記憶機能及び入出力制御機能を実行するように設計された電子部品。
3.2
非接触（contactless）
信号の送受信及びカードへの電力供給に導通接点を用いないで（すなわち，外部機器とカードに組み込
まれたICとを直接接触することなしに）行うもの。
3.3
非接触ICカード（contactless integrated circuit card）
外部端子なしで接続されるICが組み込まれた識別カード。
3.4
正常動作（operate as intended）
製造業者がJIS X 6322規格群に適合して定めた仕様に基づく動作。
3.5
PICC（proximity card）
近接磁界で結合装置と結合して，電力供給を受けて通信する非接触ICカード又は同様な動作をする対象
物。
注記 通常，PICCを近接型ICカードと呼ぶ。
3.6
PICCクラス（PICC class）
アンテナ配置と負荷影響との組合せ。
注記 附属書Aを参照。
4
物理的特性
4.1
一般仕様
PICCは，JIS X 6301若しくはISO/IEC 15457-1に適合したカードの形状，又は，いかなる寸法の対象物
の形状でもよい。
4.2
アンテナ
PICCがJIS X 6301又はISO/IEC 15457-1によらない場合には，PICCのアンテナ寸法は，86 mm×54 mm
×3 mmを超えてはならない。
注記 アンテナ寸法は，JIS X 6322-2で規定する電力伝送及び信号インタフェース，並びに，JIS X
6305-6によるその試験方法がID-1形状のカードに基づくために，制限される。
4.3
PICCクラスに関する追加要求事項
業界内で定められたPICCクラスを使用することは，その業界内で互換性を強化できることが確証され
ている。PICCクラスの使用は，任意選択とする。使用する場合は，PICCは，附属書Aによる要件に従わ
なければならない。
4.4
交流磁界
PICCは，4.1に基づくいかなる形状であっても，13.56 MHzで平均磁界強度10 A/m rmsの交流磁界に連
続してさら（曝）した後，正常動作し続けなければならない。平均磁界強度は，30秒間の平均値とする。
また，磁界強度の最大値は，12 A/m rmsを限界値とする。
3
X 6322-1：2011 (ISO/IEC 14443-1：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書A
（規定）
PICCクラスの定義
この附属書は，“Class 1”PICCについて規定する。
A.1 “Class 1”
“Class 1”PICCは，A.1.1及びA.1.2による規定を満足しなければならない。
A.1.1 アンテナ配置
“Class 1”PICCのアンテナは，図A.1に示す二つの長方形で囲まれた範囲に配置しなければならない。
− 外側の長方形：81 mm×49 mm
− 内側の長方形：大きさは64 mm×34 mmとし，中心位置は外側の長方形の中心と同じとし，内側のコ
ーナー半径は3 mmとする。ただし，アンテナコイルの両端までの接続部（最大面積300 mm2）は，
この長方形には含まれないものとする。
図A.1−“Class 1”PICCのアンテナ配置
A.1.2 電気的要求事項
“Class 1”PICCは，更に，JIS X 6305-6に規定する最大負荷影響の試験に合格しなければならない。
4
X 6322-1：2011 (ISO/IEC 14443-1：2008)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書B
（参考）
関連規格
この規格は，次に示すような他のカード規格をPICCに加えて適用することを妨げない。
JIS X 6302（規格群） 識別カード−記録技術
注記 対応国際規格：ISO/IEC 7811 (all parts)，Identification cards−Recording technique（MOD）
JIS X 6320（規格群） 識別カード−ICカード
注記 対応国際規格：ISO/IEC 7816 (all parts)，Identification cards−Integrated circuit cards（IDT）
JIS X 6323（規格群） 外部端子なしICカード−近傍型
注記 対応国際規格：ISO/IEC 15693 (all parts)，Identification cards−Contactless integrated circuit cards
−Vicinity cards（IDT）
ISO/IEC 7812 (all parts)，Identification cards−Identification of issuers
ISO/IEC 7813，Information technology−Identification cards−Financial transaction cards
ISO/IEC 15457 (all parts)，Identification cards−Thin flexible cards
注記 PICCにエンボスを施すことは，制限されることがある（JIS X 6302-1参照）。