JISX6292:1998 １２０ｍｍ／６５０ＭＢ光ディスクカートリッジ（相変化光記録，ＰＤフォーマット）

X6292 : 1998 (ISO/IEC 15485 : 1997)

(1)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

まえがき

この規格は，工業標準化法に基づいて，日本工業標準調査会の審議を経て，通商産業大臣が制定した日

本工業規格である。

JIS X 6292には，次に示す附属書がある。

附属書A（規定）端部のひずみ試験方法

附属書B（規定）可とう性試験方法

附属書C（規定） IDフィールドのCRC

附属書D（規定）セクタ中のデータフィールドのフォーマット

附属書E（規定）制御ゾーンの内容

附属書F（規定）オーバライトパルスの定義

附属書G（規定）空気清浄度クラス100 000

附属書H（規定）カートリッジの基準面

附属書J（規定）各ゾーンにおける信号の要求特性の緩和

附属書K（参考）トラックの振れ量の測定方法

附属書L（参考）セクタの交替に関するガイドライン

附属書M（参考）使用環境条件の導出方法

附属書N（参考）輸送環境

附属書P（参考）オフィス環境

附属書Q（参考）複屈折の測定

附属書（参考） ISO/IEC 15485 : 1997 (Information technology−Data interchange on 120mm optical disk

cartridges using phase change PD format−Capacity : 650Mbytes per cartridge)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

日本工業規格 JIS

X6292 : 1998

(ISO/IEC 15485 : 1997)

120mm/650MB

光ディスクカートリッジ

（相変化光記録，PDフォーマット）

Information technology−

Data interchange on 120mm optical disk cartridges

using phase change PD format−Capacity : 650Mbytes per cartridge

序文この規格は，1997年に第1版として発行されたISO/IEC 15485, Information technology−Data

interchange on 120mm optical disk cartridges using phase change PD format−Capacity : 650Mbytes per cartridge

について，技術的内容を変更することなく作成した日本工業規格であり，1.から6.までは，原国際規格の

同項目を全文翻訳し，7.以降については，原国際規格の同項目の内容を引用するものとした。

なお，この規格で点線の下線を施してある箇所は，説明のために追加したものであり，原国際規格にはな

い事項である。

第1章一般事項

1. 適用範囲この規格は，相変化PDフォーマットの650メガバイトの記憶容量をもつ120mm光ディス

クカートリッジの特性を規定する。この規格は，次の2種の光ディスクカートリッジについて規定する。

タイプR/W

相変化記録再生方式を利用して，ディスクの記録領域全体にわたってデータの記録，

再生及びオーバライトを繰返しできる。

タイプWORM

相変化記録再生方式を利用して，ディスクの記録領域全体にわたって一度だけデー

タの記録ができ，記録されたデータは何度でも再生ができる。

タイプR/W及びWORMは，それぞれ“書換形”及び“追記形”とも呼ばれる。

この規格は，次の事項について規定する。

− 適用試験の条件及び基準駆動装置

− 光ディスクカートリッジの使用環境及び保存環境

− データ処理システム間の機械的互換性を保証するための光ディスクカートリッジの機械的特性及び物

理的特性

− トラックとセクタの物理的な配置，誤り訂正符号及び使用される変調方式を含むPDフォーマットと

して知られているディスク上の情報フォーマット

− ディスクのエンボス情報の特性

− データ処理システムがディスクにデータを記録可能にするためのディスクの相変化記録特性

X6292 : 1998 (ISO/IEC 15485 : 1997)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

− データ処理システムがディスクからデータを再生可能にするためのディスク上のユーザ記録データの

最低品質

この規格は，光ディスク駆動装置間での互換性を与えるものである。

なお，別途規定のボリューム及びファイル構造の規格と合わせることによって，データ処理システム間

の完全な互換性を与えるものである。

2. 適合性

2.1

光ディスクカートリッジ光ディスクカートリッジがそのタイプについて，規定するすべての要求

事項を満足するならば，その光ディスクカートリッジは，この規格に適合とする。

2.2

ジェネレーティングシステムジェネレーティングシステムがジェネレートする光ディスクカート

リッジが2.1に従っているならば，そのジェネレーティングシステムはこの規格に適合とする。

2.3

レシービングシステムレシービングシステムが2.1に従って光ディスクカートリッジを取り扱う

ことができれば，そのレシービングシステムはこの規格に適合とする。

2.4

適合性表示この規格に適合するジェネレーティングシステム及びレシービングシステムは，サポ

ートする他の規格のリストを記述しなければならない。この記述には，次の事項を含んでいなければなら

ない。

a) サポートする規格番号

b) サポートする光ディスクカートリッジのタイプ

c) 再生だけをサポートするのか，記録及び再生ともにサポートするのかの情報

3. 引用規格次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の一部を構成する。こ

の規格が制定された時点では，次の規格が最新規格であるが，改正されることもあるので，この規格を使

う当事者は，最新版を適用できるかどうか検討することが望ましい。現在有効な国際規格の登録維持は，

IEC及びISOの構成員が行っている。

IEC 60950 : 1991 Safety of information technology equipment

4. 定義この規格では，次の定義を用いる。

4.1

アドレッサブルトラック (addressable track) セクタ番号0から始まりそれぞれのセクタがリニア

にアドレスされた64セクタの連続したグループ。

4.2

バンド (band) 所定数の連続する物理トラックからなるデータゾーンの一部。

4.3

ケース (case) 光ディスクを保護するとともに，ディスクの互換を容易にするための入れ物。

4.4

チャネルビット (Channel bit) 2値の “0” 及び “1” をディスク上のスペース又はマークで表す要素。

備考 2チャネルビットで1ユーザビットを表す。

4.5

クランプゾーン (Clamping Zone) クランプ装置からのクランプ力が印加されるディスクの環状部

分。

4.6

制御情報トラック (control track) 媒体パラメータ並びに光ディスクに記録及び再生するために必

要なフォーマットの情報を含むトラック。

4.7

巡回冗長検査 (CRC) [Cyclic Redundancy Check (CRC)] データの誤り検出方法の一つ。伝送単位ご

とにビット列を2進数の多項式とみなし，あらかじめ定めた多項式で除算した余りをチェックビットとし

て伝送単位の最後に付加する方式。

X6292 : 1998 (ISO/IEC 15485 : 1997)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

4.8

欠陥管理 (defect management) ディスク上の欠陥領域を取り扱う方法。

4.9

ディスクの基準面 (disk reference plane) 回転軸に対して垂直で，かつ，理想スピンドルによってク

ランプされる完全にフラットな環状表面によって規定される面。

4.10 エンボスマーク (embossed mark) 光学的手段によって変更できないように形成されたマーク。

4.11 入射面 (entrance surface) 光ビームが最初に入射するディスクの表面。

4.12 誤り訂正符号 (ECC) [Error Correction Code (ECC)] データ中のある種の誤りを訂正するように設

計された誤り検出符号の一つ。

4.13 フィールド (field) 1セクタの中で，分割されまとまった区分を表す領域。

4.14 フォーマット (format) ディスク上の情報の配置。

4.15 インタリーブ (interleaving) バーストエラーによって影響を受けないように，連続するデータ群を

物理的に分散して配置するプロセス。

4.16 ランド及びグルーブ (land and groove) 情報が記録される前に形成されるディスクの溝状構造。ト

ラック位置を明らかにするために用いられる。グルーブは，それと一対でトラックを構成するランドより

も入射面に近い方に位置する。

4.17 マーク (mark) 非晶質スポット，結晶スポット，ピット，その他光学的に検出できる形態をもった

記録層の造作。マークのパターンが，ディスクのデータを表す。

備考セクタマーク．アドレスマークなどのセクタの下位区分としての“マーク”は，ここでいうマ

ークとは異なる。

4.18 ワンビームオーバライト (one-beam overwrite) 事前に消去することなく1本のレーザビームを使

ってオーバライトすることで情報を記録する方法。

4.19 光ディスク (optical disk) 記録層にマークの形で情報が記録かつ保持され，光ビームで再生可能な

ディスク。

4.20 光ディスクカートリッジ [optical disk cartridge (ODC)] 光ディスクが収納されたケースからなるデ

バイス。

4.21 相変化 (PC) [phase change (PC)] レーザビームが照射された記録膜領域が，熱せられて非晶質状態

から結晶状態又はその逆に可逆的に変化する物理的効果。

4.22 物理トラック (physical track) ディスクが1回転する間に光ビームの焦点がたどる経路。

4.23 ピッチ (pitch) 隣接する物理トラックの中心線の半径方向の間隔。

4.24 偏光 (polarization) 光波の振動ベクトルの振動方向が規則的なもの及びその状態。光ビームの偏光

方向は，光ビームの電気ベクトルの方向である。

備考偏光面は光ビームの伝搬方向と電気ベクトルを含む面である。光ビームの伝搬方向から見て電

気ベクトルの終端が時計回りで長円を示す偏光を右回転偏光という。

4.25 再生パワー (read power) 再生時のディスクの入射面での光パワー。

4.26 記録層 (recording layer) ディスクを構成する層の一つ。製造時及び／又は使用時に，その層の上又

は中にデータが記録される。

4.27 リードソロモン符号 (Reed-Solomon code) バースト誤り又は高い相関をもつ誤りの訂正に適して

いる，誤り検出符号及び／又は誤り訂正符号。符号系列を一定長のブロックに分割したとき，このバイト

単位で発生する誤りに対する代表的な訂正符号。

4.28 書換形光ディスク (rewritable disk) 規定された領域のデータが，光ビームによって書換可能である

光ディスク。

X6292 : 1998 (ISO/IEC 15485 : 1997)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

4.29 セクタ (sector) ディスクの情報ゾーンに存在するトラックの中で，アドレス指定可能な最小領域。

4.30 スピンドル (spindle) 駆動装置の一部で，ディスク及び／又はハブと接合し回転する部分。

4.31 基板 (substrate) 記録層を機械的に支える透明な円盤状の基体。光ビームはこの基体を通して記録

層に照射される。

4.32 追記形光ディスク (write once disk) 決められた領域にデータが非可逆的に記録され，かつ，そのデ

ータは光ビームで多数回読み取ることができる光ディスク。

4.33 ZCAV (ZCAV) 角速度一定方式として使用するためのゾーン化されたディスクフォーマット。

4.34 ゾーン (zone) ディスクの環状領域。

5. 規定及び表記法数値表示及び特殊名称の表記について規定する。

5.1

数値表示

− 測定した値は，対応する規定値に対して有効数字に丸めることとする。すなわち，26

＋

−という規定

値は，1.235以上1.275未満の測定値を許容する。

− 16進数は， ( ) でくくり表記する。

− ビットの値は，0及び1とする。

− 2進数及びビットの組合せの数値は，0及び1で表す。

− 2進数及びビットの組合せの数値は，左に最上位ビットを示す。

− 2進数の負の値は，2の補数で表す。

− 各フィールドのデータは，最上位バイト（バイト0）を最初に記録する。8ビットで構成する各バイト

では，最下位ビット（0番目）を最後に記録し，最上位ビット（7番目）を最初に記録する。この規定

は，誤り検出訂正回路のデータ入出力にも適用する。

− 特に明記されていない限り，すべてのトラック番号はアドレッサブルトラックで表す。

6. 略語略語について規定する。

Address Mark

アドレスマーク

CRC

Cyclic Redundancy Check

巡回冗長検査

Direct Current (d.c.)

直流

DDS

Disk Definition Structure

ディスク定義構造

DMA

Defect Management Area

欠陥管理領域

DMS

Defect Management Sector

欠陥管理セクタ

ECC

Error Correction Code

誤り訂正符号

Identifier

識別子

LSB

Least Significant Byte

最下位バイト

MSB

Most Significant Byte

最上位バイト

ODC

Optical Disk Cartridge

光ディスクカートリッジ

ODF

Offset Detection Field

オフセット検出フィールド

Postamble

ポストアンブル

Phase Change

相変化

PDL

Primary Defect List

1次欠陥管理表

RLL (2, 7)

Run Length Limited (code)

(2, 7) ランレングス制限符号

R/W

rewritable

書換形

SDL

Secondary Defect List

2次欠陥管理表

Sector Mark

セクタマーク

VFO

Variable Frequency Oscillator

VFO信号

X6292 : 1998 (ISO/IEC 15485 : 1997)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

WDL

Working Defect List

作業欠陥管理表

WORM

Write Once Read Many

追記形

ZCAV

Zoned Constant Angular Velocity

ゾーン化された角速度一定方式

7. カートリッジの概要 ISO/IEC 15485 : 1997の7. Gencral description of the optical disk cartridgeによる。

8. 一般的要求事項 ISO/IEC 15485 : 1997の8. General requirementsによる。

9. 基準駆動装置 ISO/IEC 15485 : 1997の9. Reference Driveによる。

第2章機械的特性及び物理的特性

10. ケースの寸法及び機械的特性 ISO/IEC 15485 : 1997の10. Dimensional and physical characteristics of the

caseによる。

11. 光ディスクの寸法，機械的特性及び物理的特性 ISO/IEC 15485 : 1997の11. Dimensiona1, mechanical

and physical characteristics of the diskによる。

12. 光ディスクカートリッジと駆動装置とのインタフェース ISO/IEC 15485 : 1997の12. Interface

between cartridge and driveによる。

第3章フォーマット

13. 物理トラックの形状 ISO/IEC 15485 : 1997の13. Geometry of physical tracksによる。

14. 情報ゾーンのフォーマット ISO/IEC 15485 : 1997の14. Format of the Information Zoneによる。

15. アドレッサブルトラックフォーマット ISO/IEC 15485 : 1997の15. Addressable track formatによる。

16. セクタフォーマット ISO/IEC 15485 : 1997の16. Sector formatによる。

17. 記録符号 ISO/IEC 15485 : 1997の17. Recording codeによる。

18. データゾーンのフォーマット ISO/IEC 15485 : 1997の18. Format of the Data Zoneによる。

19. 欠陥管理 ISO/IEC 15485 : 1997の19. Defect managementによる。

第4章エンボス情報の特性

20. 試験方法 ISO/IEC 15485 : 1997の20. Method of testingによる。

X6292 : 1998 (ISO/IEC 15485 : 1997)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

21. グルーブ関連信号 ISO/IEC 15485 : 1997の21. Signals from groovesによる。

22. ヘッダ信号 ISO/IEC 15485 : 1997の22. Signals from Headersによる。

23. エンボスレコーディングフィールドからの信号 ISO/IEC 15485 : 1997の23. Signals from embossed

Recording fieldsによる。

第5章記録層の特性

24. 試験方法 ISO/IEC 15485 : 1997の24. Method of testingによる。

25. 記録特性 ISO/IEC 15485 : 1997の25. Write characteristicsによる。

26. オーバライト消去率 ISO/IEC 15485 : 1997の26. Overwrite erasabilityによる。

第6章ユーザデータの特性

27. 試験方法 ISO/IEC 15485 : 1997の27. Method of testingによる。

28. セクタの最低保証品質 ISO/IEC 15485 : 1997の28. Minimum quality of a sectorによる。

29. データ互換の要求特性 ISO/IEC 15485 : 1997の29. Data interchange requirementsによる。

附属書A（規定）端部のひずみ試験方法 ISO/IEC15485 : 1997のAnnex A-Edge distortion testによる。

附属書B（規定）可とう性試験方法 ISO/IEC 15485 : 1997のAnnex B-Compliance testによる。

附属書C（規定） IDフィールドのCRC ISO/IEC15485 : 1997のAnnex C-CRC for ID fieldsによる。

附属書D（規定）セクタ中のデータフイールドのフォーマット ISO/IEC 15485 : 1997のAnnex D-Format

of the Data field of a sectorによる。

附属書E（規定）制御ゾーンの内容 ISO/IEC 15485 : 1997のAnnex E-Contents of the Control Zoneによ

る。

附属書F（規定）オーバライトパルスの定義 ISO/IEC 15485 : 1997のAnnex F-Definition of the overwrite

pulseによる。

附属書G（規定）空気清浄度クラス100 000 ISO/IEC 15485 : 1997のAnnex G-Air cleanliness class 100 000

による。

X6292 : 1998 (ISO/IEC 15485 : 1997)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書H（規定）カートリッジの基準面 ISO/IEC 15485 : 1997のAnnex H-Position of the cartridge relative

to the reference planesによる。

附属書J（規定）各ゾーンにおける信号の要求特性の緩和 ISO/IEC 15485 : 1997のAnnex J-Relaxation by

zones of the requirements for signalsによる。

附属書K（参考）トラックの振れ量の測定方法 ISO/IEC 15485 : 1997のAnnex K-Track deviation

measurementによる。

附属書L（参考）セクタの交替に関するガイドライン ISO/IEC 15485 : 1997のAnnex L-Guidelines for

sector replacementによる。

附属書M（参考）使用環境条件の導出方法 ISO/IEC 15485 : 1997のAnnex M-Derivation of the operating

climatic environmentによる。

附属書N（参考）輸送環境 ISO/IEC 15485 : 1997のAnnex N-Transportationによる。

附属書P（参考）オフィス環境 ISO/IEC 15485 : 1997のAnnex P-Office environmentによる。

附属書Q（参考）複屈折の測定 ISO/IEC 15485 : 1997のAnnex Q- Measurement of birefringenceによる。

X6292 : 1998 (ISO/IEC 15485 : 1997)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

光ディスク標準化委員会構成表

氏名

所属

（委員長）

板生清

東京大学

石井正則

日本電気株式会社

磯村嘉伯

日本電信電話株式会社

伊藤武

富士通株式会社

入江英之

株式会社東芝

金沢安矩

日立マクセル株式会社

橋爪邦隆

工業技術院

木目健治朗

三菱電機株式会社

小町祐史

松下電送株式会社

佐藤正聡

株式会社ニコン

菅谷寿鴻

株式会社東芝

高橋正彦

株式会社日立製作所

土屋洋一

三洋電機株式会社

徳丸春樹

日本放送協会

戸島知之

NTTインテリジェントテクノロジ株式会社

増井久之

財団法人マルチメディアコンテンツ振興協会

松林宣秀

オリンパス光学工業株式会社

三和邦彦

日本アイ・ビー・エム株式会社

村上善照

シャープ株式会社

山上保

ソニー株式会社

山田昇

松下電器産業株式会社

横川文彦

パイオニア株式会社

吉田秀実

三菱化学株式会社

光ディスク標準化委員会第2メディア分科会構成表

氏名

所属

（統括）

菅谷寿鴻

株式会社東芝

伊藤雅樹

日本電気株式会社

伊藤正也

三菱電機株式会社

大林元太郎

東レ株式会社

小平康人

旭化成工業株式会社

佐藤哲生

帝人株式会社

杉本守

セイコーエプソン株式会社

南雲収

パルステック工業株式会社

西田哲也

株式会社日立製作所

橋爪邦隆

工業技術院

橋詰隆

株式会社小野測器

宮園泰

HOYA株式会社

山田昇

松下電器産業株式会社