X 6280：2011 (ISO/IEC 22092：2002)
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目 次
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序文 ··································································································································· 1
第1章 一般事項 ················································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 適合性···························································································································· 2
2.1 光ディスクカートリッジ（ODC） ····················································································· 2
2.2 ジェネレーティングシステム ··························································································· 2
2.3 レシービングシステム ···································································································· 2
2.4 互換性表示 ··················································································································· 2
3 引用規格························································································································· 2
4 用語及び定義 ··················································································································· 2
5 表記法···························································································································· 6
5.1 数値表示 ······················································································································ 6
5.2 名称 ···························································································································· 6
6 略語······························································································································· 6
7 ODCの概要 ···················································································································· 7
8 一般要件························································································································· 7
8.1 環境条件 ······················································································································ 7
8.2 温度衝撃 ······················································································································ 8
8.3 安全性 ························································································································· 8
8.4 耐燃性 ························································································································· 8
9 基準駆動装置 ··················································································································· 8
9.1 光学系 ························································································································· 9
9.2 光ビーム ····················································································································· 10
9.3 再生チャネル ··············································································································· 10
9.4 トラッキング ··············································································································· 11
9.5 ディスクの回転 ············································································································ 11
第2章 機械的特性及び物理的特性 ························································································ 11
10 ケースの寸法特性及び物理的特性 ····················································································· 11
10.1 ケースの概要 ·············································································································· 11
10.2 A面及びB面の関係····································································································· 11
10.3 基準軸及びケースの基準面 ···························································································· 11
10.4 ケースの図面 ·············································································································· 11
10.5 ケースの寸法 ·············································································································· 12
10.6 機械的特性 ················································································································· 18
10.7 落下試験 ···················································································································· 18
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11 ディスクの寸法，機械的特性及び物理的特性······································································· 18
11.1 ディスクの概要 ··········································································································· 18
11.2 ディスクの基準軸及び基準面 ························································································· 18
11.3 ディスクの寸法 ··········································································································· 18
11.4 機械的特性 ················································································································· 20
11.5 光学特性 ···················································································································· 21
12 ODCと駆動装置とのインタフェース ················································································· 22
12.1 クランプ方法 ·············································································································· 22
12.2 クランプ力 ················································································································· 22
12.3 キャプチャシリンダ ····································································································· 22
12.4 使用環境条件におけるディスクの位置 ············································································· 23
第3章 フォーマット ·········································································································· 37
13 トラック及びヘッダの寸法 ······························································································ 37
13.1 トラック及びヘッダの形状 ···························································································· 37
13.2 トラックスパイラルの方向 ···························································································· 38
13.3 トラックピッチ ··········································································································· 38
13.4 ロジカルトラック番号 ·································································································· 39
14 トラックフォーマット ···································································································· 39
14.1 フィジカルトラックのレイアウト ··················································································· 39
14.2 ロジカルトラックレイアウト ························································································· 41
14.3 半径方向のアライメント ······························································································· 41
14.4 セクタ番号 ················································································································· 42
15 セクタフォーマット ······································································································· 42
15.1 セクタのレイアウト ····································································································· 42
15.2 セクタマーク ·············································································································· 43
15.3 VFOフィールド ·········································································································· 43
15.4 アドレスマーク（AM） ································································································ 44
15.5 IDフィールド ············································································································· 44
15.6 ポストアンブル（PA1） ································································································ 45
15.7 移行領域（TA1） ········································································································· 45
15.8 ギャップ ···················································································································· 45
15.9 自動レーザパワー制御（ALPC） ···················································································· 45
15.10 同期バイト（Sync） ··································································································· 45
15.11 データフィールド ······································································································· 46
15.12 ポストアンブル（PA2） ······························································································· 46
15.13 バッファ ·················································································································· 47
15.14 移行領域（TA2） ······································································································· 47
16 記録符号 ······················································································································ 47
17 情報ゾーン ··················································································································· 48
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17.1 情報ゾーンの概要 ········································································································ 48
17.2 情報ゾーンの分割 ········································································································ 48
17.3 制御トラックPEPゾーン ······························································································ 52
17.4 制御トラックSFPゾーン ······························································································ 56
18 ユーザゾーンのレイアウト ······························································································ 60
18.1 ユーザゾーンの概要 ····································································································· 60
18.2 ユーザゾーンの分割 ····································································································· 60
18.3 ユーザ領域 ················································································································· 61
18.4 欠陥管理領域（DMA） ································································································· 66
18.5 ディスク定義構造（DDS） ···························································································· 67
18.6 書換形ゾーン ·············································································································· 69
18.7 追記形ゾーン ·············································································································· 70
19 書換形ゾーン及び追記形ゾーンの欠陥管理 ········································································· 70
19.1 ディスクの初期化 ········································································································ 70
19.2 検証 ·························································································································· 70
19.3 非検証ディスク ··········································································································· 71
19.4 記録方法 ···················································································································· 71
19.5 一次欠陥管理表（PDL） ······························································································· 71
19.6 二次欠陥管理表（SDL） ······························································································· 72
第4章 エンボス特性 ·········································································································· 73
20 測定方法 ······················································································································ 73
20.1 使用環境 ···················································································································· 73
20.2 基準駆動装置 ·············································································································· 73
20.3 信号の定義 ················································································································· 74
21 グルーブからの信号 ······································································································· 74
21.1 グルーブ対ランドの比 ·································································································· 75
21.2 プッシュプル信号 ········································································································ 75
21.3 デバイデドプッシュプル信号 ························································································· 75
21.4 トラックの位置 ··········································································································· 75
22 ヘッダ信号 ··················································································································· 75
22.1 セクタマーク信号 ········································································································ 75
22.2 VFO信号 ··················································································································· 76
22.3 アドレスマーク，ID及びPA信号 ··················································································· 76
22.4 ジッタ ······················································································································· 76
22.5 非対称性 ···················································································································· 76
23 制御トラックPEPマークからの信号 ················································································· 76
第5章 記録層の特性 ·········································································································· 77
24 測定方法 ······················································································································ 77
24.1 測定環境 ···················································································································· 77
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
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24.2 基準駆動装置 ·············································································································· 77
24.3 記録条件 ···················································································································· 78
24.4 消去条件 ···················································································································· 79
24.5 信号の定義 ················································································································· 80
25 光磁気特性 ··················································································································· 80
25.1 光磁気信号の性能指数 ·································································································· 80
25.2 光磁気信号の非対称性 ·································································································· 80
26 記録特性 ······················································································································ 80
26.1 分解能 ······················································································································· 80
26.2 狭帯域信号対雑音比 ····································································································· 81
26.3 クロストーク比 ··········································································································· 82
26.4 ジッタ ······················································································································· 82
26.5 メディア熱相互作用 ····································································································· 82
27 消去パワーの決定 ·········································································································· 82
第6章 ユーザデータの特性 ································································································· 83
28 試験方法 ······················································································································ 83
28.1 測定環境 ···················································································································· 83
28.2 基準駆動装置 ·············································································································· 83
29 セクタの最低品質 ·········································································································· 84
29.1 ヘッダ ······················································································································· 84
29.2 ユーザ記録データ ········································································································ 84
30 データ交換条件 ············································································································· 85
30.1 トラッキング ·············································································································· 85
30.2 ユーザ記録データ ········································································································ 85
30.3 ディスクの品質 ··········································································································· 85
附属書A（規定）空気清浄度クラス 100 000 ············································································· 86
附属書B（規定）エッジのひずみ（歪）量確認方法 ···································································· 88
附属書C（規定）カートリッジの可とう（撓）性確認方法 ·························································· 90
附属書D（規定）ハブの吸着力の測定方法 ··············································································· 92
附属書E（規定）IDフィールド用のCRC ················································································ 94
附属書F（規定）インタリーブ，CRC，ECC及びデータフィールドの再同期化 ······························ 95
附属書G（規定）再同期パターンの決定 ················································································· 101
附属書H（規定）ジッタを測定するためのリードチャネル ························································· 105
附属書J（規定）ジッタの測定手順 ························································································ 106
附属書K（規定）記録パルスの形状の定義 ·············································································· 107
附属書L（規定）性能指数の測定 ·························································································· 108
附属書M（規定）記録メディアの互換のための実装独立マーク品質決定（IIMQD） ······················· 109
附属書N（規定）交換のための要件 ······················································································· 111
附属書P（規定）クロストラック信号の測定方法 ······································································ 113
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附属書Q（規定）非対称性測定定義 ······················································································· 114
附属書R（参考）オフィス環境 ····························································································· 116
附属書S（参考）使用環境条件の導出方法 ··············································································· 117
附属書T（参考）輸送 ········································································································· 120
附属書U（参考）交替セクタを利用するときのガイドライン······················································· 121
附属書V（参考）トラックの振れ量の測定方法 ········································································ 122
附属書W（参考）現在及び将来の規格で実装される値 ······························································· 126
附属書X（参考）基板の垂直複屈折の測定 ·············································································· 127
附属書Y（参考）タイプWOのODCを使用するためのガイドライン ··········································· 129
附属書Z（参考）メディアの感度評価のためのレーザパワーの校正方法 ········································ 130
附属書AA（参考）512バイトセクタ及び1 024バイトセクタのエミュレーション ··························· 134
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まえがき
この規格は，工業標準化法に基づき，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本
工業規格である。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格に従うことは，次の者の有する特許権等の使用に該当するおそれがあるので，留意する。
− 氏名：ソニー株式会社
− 住所：東京都港区港南1-7-1
− 氏名：富士通株式会社
− 住所：神奈川県川崎市中原区上小田中4-1-1
上記の，特許権等の権利者は，非差別的かつ合理的な条件でいかなる者に対しても当該特許権等の実施
の許諾等をする意思のあることを表明している。ただし，この規格に関連する他の特許権等の権利者に対
しては，同様の条件でその実地が許諾されることを条件としている。
この規格に従うことが，必ずしも，特許権の無償公開を意味するものではないことに注意する必要があ
る。
この規格の一部が，上記に示す以外の特許権等に抵触する可能性がある。経済産業大臣及び日本工業標
準調査会は，このような特許権等に関わる確認について，責任はもたない。
なお，ここで“特許権等”とは，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権をいう。
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
日本工業規格 JIS
X 6280：2011
(ISO/IEC 22092：2002)
情報交換用130 mm/9.1 GB光ディスクカートリッジ
Information technology-
Data interchange on 130 mm magneto-optical disk cartridges-
Capacity: 9.1 Gbytes per cartridge
序文
この規格は，2002年に第1版として発行されたISO/IEC 22092を基に，技術的内容及び構成を変更する
ことなく作成した日本工業規格である。
なお，この規格で点線の下線を施してある参考事項は，対応国際規格にはない事項である。
第1章 一般事項
1
適用範囲
この規格は，熱磁気効果及び光磁気効果を使用した，カートリッジ当たり9.1ギガバイト（GB）の容量
をもつ130 mm光ディスクカートリッジ（以下，ODCという。）の機械的特性，物理的特性及び光学的特
性について規定する。
この規格は，次の2種類を規定する。
タイプR/W このタイプは，ディスクの記録面全体にわたって，何度も繰り返して，データの記録，
再生及び消去が可能である。
タイプWO このタイプは，一旦記録したデータを多数回再生することができる。データの消去及び
修正はできない。マルチセッション記録（追加記録動作）は，このタイプのディスクで可能で
ある。
A面及びB面の両面に記録する場合は，同一のタイプを使用する。各面の公称容量は，どのタイプでも，
4.58ギガバイトとする。フォーマットは1セクタ当たり2 048バイト及び4 096バイトの二つのセクタサ
イズを規定する。さらに，1セクタ当たり512バイト及び1 024バイトの二つのサイズのエミュレーション
を許容する。
この規格は，次の項目を規定する。
− 適用試験の条件及び基準駆動装置。
− ODCの使用環境及び保存環境。
− データ処理システム間の機械的互換性を保証するためのODCの機械的特性，物理的特性及び寸法。
− ディスク上のエンボスデータ及びユーザ記録データのフォーマット。トラック及びセクタの物理的な
配置，誤り訂正符号，並びに使用される変調方式を含む。
− ディスクのエンボス情報の特性。
− データ処理システムがディスク上にデータを記録可能にするための，ディスクの熱磁気特性及び光磁
気特性。
2
X 6280：2011 (ISO/IEC 22092：2002)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
− データ処理システムがディスクからデータを再生可能にするための，ディスク上のユーザ記録データ
の最低限の品質。
なお，別途規定のボリューム及びファイル構造の規格と合わせることによって，データ処理システム間
の完全なデータ互換性を与えるものである。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
ISO/IEC 22092:2002，Information technology−Data interchange on 130 mm magneto-optical disk
cartridges−Capacity: 9.1 Gbytes per cartridge（IDT）
なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”こ
とを示す。
2
適合性
2.1
光ディスクカートリッジ（ODC）
次に規定する全ての要求事項を満足する場合，そのODCは，この規格に適合する。この規格に適合す
るODCは，実装されているタイプを明確にしなければならない。
2.2
ジェネレーティングシステム
この規格に適合するジェネレーティングシステムは，タイプR/W，タイプWOの二つのタイプのうち，
サポートするもの（複数可）を明確にしなければならない。互換用ODCのジェネレーティングシステム
は，サポートするタイプについてこの規格の全ての要件を満たすとき，この規格に適合する。
2.3
レシービングシステム
この規格に適合するレシービングシステムは，どのタイプを実装するかを明確にしなければならない。
2.1に規定されたODCに記録したどの情報も扱える場合，そのデータ互換のためのODCのレシービン
グシステムは，この規格に適合する。
2.4
互換性表示
この規格に適合する駆動装置は，サポートする他の規格のリストを規定しなければならない。その規定
には，サポートする規格番号とODCのタイプ，再生だけをサポートするのか，記録及び再生ともにサポ
ートするのかの情報を記載しなければならない。
3
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。この引用
規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS C 6950-1 情報技術機器−安全性−第1部：一般要求事項
注記 対応国際規格：IEC 60950-1，Information technology equipment−Safety−Part 1: General
requirements（MOD）
4
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，次による。
4.1
非対称性（asymmetry）
最大振幅と最小振幅とを与える信号の中心レベル間の偏位。
3
X 6280：2011 (ISO/IEC 22092：2002)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4.2
バンド（band）
一定のクロック周波数をもつディスク上のユーザゾーン内の環状領域。
4.3
ケース（case）
ディスクを保護するとともに，ディスクの交換を容易にする光ディスクの入れ物。
4.4
クランプゾーン（clamping zone）
クランプ装置からの吸着力が印加されるディスクの環状部分。
4.5
制御トラック（control track）
光ディスクに記録，再生及び消去するために必要なフォーマット及びメディアパラメタを含むトラック。
4.6
巡回冗長検査，CRC（Cyclic Redundancy Check，CRC）
データの誤りを検出する方法の一つ。伝送単位ごとにビット列を2進数とみなし，あらかじめ定められ
た多項式で除算した余りをチェックビットとして伝送単位の最後に付加する方式。
4.7
欠陥管理（defect management）
ディスクの欠陥領域を取り扱う方法。
4.8
ディスク基準面（disk reference plane）
理想スピンドルにおいて，回転軸に対して垂直で，かつ，ディスクのクランプゾーンに対応する，完全
にフラットな環状表面として規定される面。
4.9
エミュレーション（emulation）
サイズの小さい多数の論理セクタをサイズの大きい単一の物理セクタに記録する技術。
4.10
入射面（entrance surface）
光ビームが最初に入射するディスクの表面。
4.11
誤り訂正符号，ECC（Error Correction Code，ECC）
データの中のある種の誤りを訂正するために設計された誤り検出符号の一つ。
4.12
フォーマット（format）
ディスク上の情報の配置又はレイアウト。
4.13
ハブ（hub）
駆動装置のスピンドルによって心出しを行い，かつ，吸着力を与えるためのディスクの中心部にある構
造体。
4
X 6280：2011 (ISO/IEC 22092：2002)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4.14
インタリーブ（interleaving）
バーストエラーによって影響を受けないように，連続するデータ群を物理的に分割して配置するプロセ
ス。
4.15
カー回転（Kerr rotation）
光磁気カー効果が引き起こす，記録層からの反射による光ビームの偏光面の回転。
4.16
ランド及びグルーブ（land and groove）
情報が記録される前に形成するディスクの溝状構造。トラック位置を明らかにするために用いられる。
グルーブは，それと一対でトラックを形成するランドよりも入射面に近いほうに位置する。ランド及びグ
ルーブどちらにも記録は行われる。
4.17
ロジカルトラック（logical track）
一意にアドレス指定可能なトラックを構成するために定義される複数のセクタのグループ。各ロジカル
トラックの最初のセクタにはセクタ番号0を割り当てる。
4.18
マーク（mark）
磁区，ピット，その他光学的に検出できる形態をもった記録層の造作。マークのパターンがディスク上
のデータを表す。
注記 セクタマーク，アドレスマークなどのセクタの下位区分としての“マーク”は，ここでいうマ
ークと異なる。
4.19
マークエッジ（mark edge）
トラックに沿って，マークのある領域からマークのない領域への遷移，又はその反対の遷移。
4.20
マークエッジ記録（mark edge recording）
マークエッジを用いて，チャネルビットを表す記録方法。
4.21
光ディスク（optical disk）
記録層にマークの形で情報を記録したり保持したりする，光ビームで再生可能なディスク。
4.22
光ディスクカートリッジ，ODC（optical disk cartridge，ODC）
光ディスクが収納されたケースからなるデバイス。
4.23
フィジカルトラック（physical track）
ディスクが1回転する間の光ビームの焦点がたどる経路。この経路は，直接アドレス指定できない。
4.24
偏光（polarization）
光波の振動ベクトルの振動方向が規則的な状態。光ビームの偏光方向は，ビームの電気ベクトルの方向
5
X 6280：2011 (ISO/IEC 22092：2002)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
となる。
注記 偏光面は，電気ベクトルを含み，かつ，光ビームの伝搬方向をもつ面である。光ビームの伝搬
方向を見て電気ベクトルが時計回りで回転する偏光を右だ（楕）円偏光という。
4.25
再生専用マーク（pre-recorded mark）
光磁気的手段で変化しないように形成されたマーク。
4.26
再生パワー（read power）
再生時のディスクの入射面での光パワー。
4.27
記録層（recording layer）
ディスクを構成する層の一つ。製造時及び／又は使用時に，層の上又は中にデータが記録される。
4.28
記録トラック（recording track）
記録が行われるディスクのランド又はグルーブ部分。
4.29
リードソロモン符号（Reed-Solomon code）
誤り検出符号及び／又は誤り訂正符号の一つ。特に，バーストエラー又は高い相関をもつ誤りの訂正に
向いている。
4.30
スペース（space）
トラックに沿ったマークとマークとの間の領域。
4.31
スピンドル（spindle）
ディスク及び／又はハブに接触するディスク駆動装置の一部。
4.32
基板（substrate）
記録層を機械的に支持する透明なディスク構成層。光ビームはこの層を通して記録層に入射する。
4.33
トラックピッチ（track pitch）
ランドトラックの中心線と隣接するグルーブトラックの中心線との間の半径方向距離。
4.34
記録禁止孔（write-inhibit hole）
駆動装置がこの孔が開と検知した場合，記録操作も消去操作も禁止するケースの孔。
4.35
ライトワンス機能（write-once functionality）
書換形の光磁気ODCの初期化及び記録を一度だけに制限し，消去を許容しないとする技術。
4.36
ゾーン（zone）
ディスクの環状領域。
6
X 6280：2011 (ISO/IEC 22092：2002)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
5
表記法
5.1
数値表示
数値表示は，次による。
− 測定値は，該当規定値の最下位桁に丸める。例えば，
0.01
0.02
26
.1
＋
−
という規格値は，1.235以上1.275未満
の測定値を許容する。
− 16進数は，括弧でくくった0〜9の数字及びA〜Fのアルファベットで表示する。
− ビットの値は，“0”及び“1”とする。
− 2進数及びビットの組合せの数値は，0及び1で表す。
− 2進数及びビットの組合せの数値は，左に最上位ビットを示す。
− 2進数の負の値は，2の補数として表す。
− 各フィールドのデータは，最上位バイト（バイト0）を最初に記録する。8ビットで構成する各バイト
内では，最下位ビット（0番目）を最後に記録し，最上位ビット（7番目）を最初に記録する。この記
録順は，誤り検出訂正回路のデータ入力及び出力にも適用する。
− 特に明記されていない限り，xx…x/yy…yといった形式の10進数字のグループは，値xx…xが4 096
バイトセクタの場合，yy…yは2 048バイトセクタの場合に適用されることを示す。
5.2
名称
固有のトラック，フィールドなどの実体の名前は，大文字の頭文字で示す。
6
略語
略語について規定する。
ALPC
Auto Laser Power Control 自動レーザパワー制御
AM
Address Mark アドレスマーク
CRC
Cyclic Redundancy Check 巡回冗長検査
DDS
Disk Definition Structure ディスク定義構造
DMA
Defect Management Area 欠陥管理領域
DMP
Defect Management Pointers 欠陥管理ポインタ
ECC
Error Correction Code 誤り訂正符号
EDAC
Error Detection And Correction 誤り検出及び訂正
ID
Identifier 識別子
LBA
Logical Block Address ロジカルブロックアドレス
LSB
Least Significant Byte 最下位バイト
MO
Magneto-Optical 光磁気
MSB
Most Significant Byte 最上位バイト
ODC
Optical Disk Cartridge 光ディスクカートリッジ
PA
Postamble ポストアンブル
PDL
Primary Defect List 一次欠陥管理表
PEP
Phase-Encoded Part of the Control Tracks 制御トラックの位相変調符号化部分
RLL
Run Length Limited (code) ランレングス限定（符号）
R-S
Reed-Solomon (code) リードソロモン（符号）
R/W
Rewritable 書換形
7
X 6280：2011 (ISO/IEC 22092：2002)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
R-S/LDC
Reed-Solomon Long Distance Code リードソロモン長距離符号
SCSI
Small Computer System Interface スモールコンピュータシステムインタフェース
SDL
Secondary Defect List 二次欠陥管理表
SFP
Standard Formatted Part of the Control Tracks 制御トラックの標準フォーマット部分
SM
Sector Mark セクタマーク
SWF
Sector Written Flag セクタ記録フラグ
TA
Transition Area 遷移領域
TIA
Time Interval Analyzer タイムインターバルアナライザ
VFO
Variable Frequency Oscillator VFO（信号）
WO
Write Once 追記形
ZCAV
Zoned Constant Angular Velocity ゾーン化された角速度一定方式
7
ODCの概要
この規格の主題であるODCは，光ディスクを含むケースからなる。
ケースは，ディスクを保護する覆いであり，シャッタによって覆われたアクセス窓をもつ。カートリッ
ジを駆動装置に挿入したとき，シャッタは自動的に開く構造とする。
光ディスクは，内部に記録層をもつ二つの面からなる。
光ディスクは，両面に記録が可能である。データの記録及び消去は，熱磁気効果を用いて記録層の磁化
領域に焦点を結ぶ光ビームによって行う。再生は，集束光ビームで光磁気効果を用いてデータを読み取る。
光ビームは，透明なディスクの基板を通して，記録層にアクセスする。
ディスクの一部は，プレエンボスピットの形式で，再生専用のデータを含む。このデータは，エンボス
ピットによる光ビームの回折現象を用いて再生することができる。
熱磁気効果を用いて，ディスク全体をデータの追記形の記録に用いてもよい。このデータは，光磁気効
果を用いて再生することができる。
8
一般要件
8.1
環境条件
8.1.1
測定環境
測定環境は，規定がない限り，ODCの近傍で測定し，次のとおりとする。
温度 ：23±2 ℃
相対湿度 ：45〜55 %
大気圧 ：60〜106 kPa
空気清浄度：クラス 100 000（附属書A参照）
ODCの中又はディスク上に結露が生じてはならない。ODCは，測定の前に，48時間以上測定環境に慣
らしておかなければならない。光ディスクの表面は，ディスクの製造者の条件によって清浄にしておくこ
とを推奨する。
別に規定しない限り，全ての試験及び測定は，この測定環境条件で行わなければならない。
8.1.2
使用環境
使用環境は，ODCの近傍で測定し，次のとおりとする。測定環境を満足したODCは，使用環境でデー
タの互換性を保証しなければならない（附属書R参照）。
8
X 6280：2011 (ISO/IEC 22092：2002)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
動作環境条件は，ディスク近傍の雰囲気が次の条件を満たす環境とする。
温度
：5〜55 ℃
相対湿度
：3〜85 %
絶対湿度
：1〜30 g/m3
大気圧
：60〜106 kPa
最大温度勾配
：10 ℃/h
最大相対湿度勾配
：10 %/h
空気清浄度
：オフィス環境（R.1参照）
最大磁界強度（光ビーム照射時）
：32 000 A/m（R.2参照）
最大磁界強度（光ビーム非照射時） ：48 000 A/m
ODCの中又はディスク上に結露が生じてはならない。ODCは，使用環境条件を外れて保管した場合，
使用前に2時間以上使用環境に慣らしておかなければならない（附属書S参照）。
8.1.3
保存環境
保護の覆いがないODCは，保存環境を外れて保存してはならない。
保存環境は，ODC近傍の雰囲気が次の条件を満たす環境とする。
温度
：−10〜55 ℃
相対湿度
：3〜90 %
絶対湿度
：1〜30 g/m3
大気圧
：60〜106 kPa
最大温度勾配
：15 ℃/h
最大相対湿度勾配
：10 %/h
空気清浄度
：オフィス環境（R.1参照）
最大磁界強度
：48 000 A/m
ODCの中又はディスク上に結露が生じてはならない。
8.1.4
輸送条件
この規格では規定しないが，附属書Tに従うことを推奨する。
8.2
温度衝撃
ODCは，駆動装置に着脱するとき，20 ℃までの温度衝撃に耐えなければならない。
8.3
安全性
ODCは，指示された方法で使用するとき，又は情報処理システムにおける予測可能な使用において，JIS
C 6950-1の安全性要件を満たさなければならない。
8.4
耐燃性
ODC及びその部品は，JIS C 6950-1に規定するように，HBと同等以上の耐燃性の材料とする。
9
基準駆動装置
基準駆動装置は，明確に定義された特性をもつ幾つかの重要部品からなる駆動装置であり，この規格で
規定する光ディスクの記録特性，再生特性及び消去特性を測定するために用いる。この箇条では，全ての
部品の概要について記述する。特定の箇条での測定に必要な部品については，それぞれの箇条で規定する。
9
X 6280：2011 (ISO/IEC 22092：2002)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
9.1
光学系
記録特性，再生特性及び消去特性を測定するために用いる基準駆動装置の光学系の基本構成は，図1に
示すとおりとする。図1の光学系と同じ動作をする限り，基準駆動装置に用いる部品及び部品の配置は問
わない。ディスクの入射面からの反射光は，測定の精度に影響を与えないように光学系の構成を配慮しな
ければならない。
ディスクによって偏光が変化しないとき，偏光ビームスプリッタJは，フォトダイオードK1の信号とフ
ォトダイオードK2の信号とが等しくなるようにする。この場合の偏光方向をニュートラル偏光方向という。
位相補償器Nは，光学系を，ニュートラル偏光方向の偏光とそれに直角の方向の偏光との間の位相の遅れ
を2.5°以下に調整しなければならない。この位相補償器の位置を，中立位置という。位相補償器は，狭帯
域信号対雑音比の測定のために用いる（26.2参照）。
偏光ビームスプリッタJは，100以上のP-S強度反射率比をもたなければならない。
偏光ビームスプリッタEのFからHへのニュートラル偏光方向の反射率Rpの公称値は，0.30とする。
ニュートラル偏光方向及び直角方向の偏光の反射率Rsの公称値は0.95とする。Rsの実際の値は，0.90以
上とする。反射率がR'p及びR'sとなる偏光ビームスプリッタEをもつ駆動装置で光磁気信号の非対称性を
測定した場合，測定値は，次の係数を乗じて補正をしなければならない。
s
p
p
s
R'
R
R'
R
チャネル1 の出力は，K1とK2とのフォトダイオードの電流値の和とし，エンボスマークの再生に用い
る。
チャネル2 の出力は，K1とK2とのフォトダイオードの電流値の差とし，光磁気効果によるユーザ記録
マークの再生に用いる。
10
X 6280：2011 (ISO/IEC 22092：2002)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
A レーザダイオード
B コリメータレンズ
C 光整形プリズム
D ビームスプリッタ
E
偏光ビームスプリッタ
F
対物レンズ
G 光ディスク
H 1/2λ波長板
I1，I2
2分割フォトダイオード出力
J
偏光ビームスプリッタ
K1，K2
フォトダイオード
K3 2分割フォトダイオード
L1，L2
DCアンプ
M トラッキングチャネル（20.3参照）
N 位相補償器
図1−基準駆動装置の光学系
9.2
光ビーム
データの記録，再生及び消去に使用する光ビームは，次の特性をもつ。
a) 波長（λ）
660±10 nm
b) 波長（λ）と対物レンズの開口数（NA）との比
λ/NA＝1.148±0.017 μm
c) 対物レンズの開口（D）の直径と，光強度が最大
D/W＝0.85±0.05
光強度の1/e2となる光ビーム直径（W）との比
d) 波面収差（記録層にて）
0〜λ2/330
e) 偏光方向
直線 グルーブに対して平行
f)
消光比
≦0.01
消光比は検光子を180°以上回転させたとき，測定される光強度の最大値と最小値との比とする。
g) 記録，再生及び消去のための光パワー及びパルス幅は，この規定の以後の箇条で規定する。
9.3
再生チャネル
2個の再生チャネルは，記録層のマークからの信号の再生に用いる。チャネル1は，マークの光ビーム
の回折現象による反射光強度の変化としてエンボスマークを再生する。チャネル2は，マークの光磁気効
果による光ビームのニュートラル偏光方向からのずれをフォトダイオードK1とK2との出力差としてユー
A
B
C
D
M
E
F
G
N
H
J
チャネル1
チャネル2
++
I2
K 3
K 2
K1
L1
L2
I１
+
11
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ザ記録マークを再生する。チャネル1及びチャネル2の後の再生信号増幅器は，DCから50 MHzまで±1 dB
以内の平たん（坦）な応答性とする。ほかに指示がない限り，チャネル1及びチャネル2からの信号は，
検出前には波形等化せず，チャネルクロック周波数の1/2の遮断周波数をもつ三次バターワースローパス
フィルタ（3-pole Butterworth low-pass filter）を通す。
9.4
トラッキング
基準駆動装置のトラッキングチャネルは，光ビームの軸方向及び半径方向のトラッキングサーボをする
ためのトラッキングエラー信号を検出する。軸方向のトラッキングエラー信号，すなわちフォーカシング
エラー信号を作る方法は，規定しない。
半径方向のトラッキングエラー信号は，トラッキングチャネルの2分割検出器によって検出する。2分
割検出器の分割線方向は，検出器上のトラック像と平行になるように配置する。
光ビームの焦点のトラック溝に対する追随の精度については，20.2.4による。
9.5
ディスクの回転
駆動軸は，12.4で規定するとおりの回転軸とする。ディスクの回転周波数は，50.0±0.5 Hzとする。回
転方向は，対物レンズから見て反時計回りとする。
第2章 機械的特性及び物理的特性
10 ケースの寸法特性及び物理的特性
10.1 ケースの概要
ケース（図3参照）は，四角形の硬い保護用コンテナである。両面にスピンドル窓があり，駆動装置の
スピンドルがハブによってディスクを固定できるようにする。ケースは両面にヘッド窓があり，一つは，
駆動装置の光ヘッド用，もう一つは，磁界を与える磁気ヘッド用である。その窓部は，シャッタで覆われ，
ODCを駆動装置に差し入れたときにシャッタが開き，取り出したときに自動的にシャッタが閉じて窓を覆
う。ケースには，記録禁止機能，反射率検出機能及び回転方向検出機能があり，更にオートチェンジャ用
のグリッパスロットがある。
10.2 A面及びB面の関係
物理的な互換性に不可欠な機能を，図3に示す。カートリッジのA面が上向きのとき，ディスクのA面
は，下向きとなる。ケースのA面及びB面は，ここで示す機能に関する限り，全く同じだが，10.5.10及
び10.5.11で記述するシャッタ及びシャッタオープナ用のスロットだけ，ケースの両面の機能が同一ではな
い。
ここでは一方の面についてだけ記述するが，A面をB面に，B面をA面に読み変えることができる。
10.3 基準軸及びケースの基準面
ケースの各面には基準面Pが存在する。基準面Pは，ケース各面上に設けた面S1〜面S4からなる平面
とする。各基準面Pは，ケースの寸法を参照する二つの直交軸X及びYを含む。X軸及びY軸の交点は，
ロケーション孔の中心とする。X軸は，アライメント孔の中心を通る。
10.4 ケースの図面
ケースの概要を，次の図に示す。
図2は，ハブの寸法を示す。
図3は，A面から識別される主な機能とともに，ケースのA面の外観を示す。
図4は，X軸とY軸との交点にあるロケーション孔及び基準面Pを基準とした，ケースの寸法を示す。
図5は，基準面Pを規定する面S1，面S2，面S3及び面S4を示す。
12
X 6280：2011 (ISO/IEC 22092：2002)
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図5aは，面S3の詳細を示す。
図6は，挿入スロット及びディテントの詳細を示す。
図7は，オートチェンジャに使用するグリッパスロットを示す。
図8は，記録禁止孔を示す。
図9は，メディアIDのセンサ孔を示す。
図10は，シャッタセンサノッチを示す。
図11は，ヘッド窓及びスピンドル窓を示す。
図12は，シャッタ開放状態を示す。
図13は，キャプチャシリンダを示す。
図14a〜図14cは，ユーザラベル領域を示す。
10.5 ケースの寸法
ケースの寸法は，測定環境で測定する。使用環境でのケースの寸法は，この箇条で規定する寸法から見
積もることができる。
10.5.1 外形寸法
ケースの全長（図4参照）は，次による。
L1＝153.0±0.4 mm
ケースの上端から基準軸Xまでの長さは，次による。
L2＝127.0±0.3 mm
ケースの下端から基準軸Xまでの長さは，次による。
L3＝26.0±0.3 mm
ケースの全幅は，次による。
L4＝
0
0.6
0.
135
−
mm
カートリッジの左端から基準軸Yまでの長さは，次による。
L5＝
0
0.5
0.
128
−
mm
カートリッジの右端から基準軸Yまでの長さは，次による。
L6＝6.5±0.2 mm
カートリッジの上部は，次の半径で幅を縮小する。
R1＝L4
これは，L5とL7とで規定される点から始まる。
L7＝101.0±0.3 mm
上端の二つの角部は，次の半径で丸める。
R2＝1.5±0.5 mm
下端の二つの角部は，次の半径で丸める。
R3＝3.0±1.0 mm
ケースの厚さは，次による。
L8＝11.00±0.30 mm
ケースの8か所のりょう（稜）線は，次の半径で丸める。
R4≦1.0 mm
10.5.2 ロケーション孔
ロケーション孔（図4参照）の中心は，基準軸Xと基準軸Yとの交点と一致する。ロケーション孔は四
13
X 6280：2011 (ISO/IEC 22092：2002)
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角形で，一辺の長さは，次による。
L9＝
0
0.06
10
.4
−
mm
ロケーション孔の深さは，次による。
L10＝1.5 mm（すなわち，標準的なケースの肉厚となる。）。
ロケーション孔は，ケースの反対側のアライメント孔まで貫通している。
ロケーション孔の角部は，次の半径で丸める。
R5≦0.5 mm
10.5.3 アライメント孔
アライメント孔（図4参照）の中心は，基準軸X上にあり，基準軸Yからの距離は次による。
L11＝122.0±0.2 mm
アライメント孔の寸法は，次による。
L12＝
0
0.06
10
.4
−
mm
及び
L13＝
0.2
0
0.5
＋
mm
深さはL10とし，孔はケースの反対側のロケーション孔まで貫通する。
アライメント孔の角部は，半径R5で丸める。
10.5.4 基準面P上の面
ケースの片面の基準面P（図5及び図5a参照）は，ケースのその面に四つの面（面S1，面S2，面S3及
び面S4）を含む。
これらの規定を，次に示す。
a) 二つの円形の面S1及び面S2 面S1は，正方形のロケーション孔を中心に広がる円形の領域とし，直
径は，次による。
D1≧9.0 mm
面S2は，長方形のアライメント孔を中心に広がる円形の領域とし，直径は，次による。
D2≧9.0 mm
b) 二つの細長い面S3及び面S4 二つの細長い面S3及び面S4は，カートリッジ及びシャッタエッジの外
形をなぞる。
面S3及び面S4は，対称形である。
面S3は，次の二つの円形部で定義される。
一つの円形部の半径は，次による。
R6＝1.5±0.1 mm
その基点は，次による。
L14＝4.0±0.1 mm
L15＝86.0±0.3 mm
他方の円形部の半径は，次による。
R7＝1.5±0.1 mm
その基点は，次による。
L16＝1.9±0.1 mm
L17＝124.5±0.3 mm
半径R7の弧は，次の半径で右側に続く。
14
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R8＝
0.2
0.7
134＋−
mm
これは，L5及びL7で示した基点をもつL5＋L14＋R6の結果として現れた寸法である。真っすぐな上
下の線がR6の弧からR8の弧までを滑らかにつなぐ。
面S3の左側は，次の半径で境界を作る。
R9＝4.5±0.3 mm
これは，次で示した基点をもつL18＋L14−R6の結果として現れた寸法である。
L18＝2.0±0.1 mm
L19＝115.5±0.3 mm
境界の左側は，二つの直線で閉じられる。最初の直線は，R6の弧からR9の弧を滑らかにつなぐ。2
本目の直線は，R7の左側の接線からR9の交点までをつなぐ。面S3の左側に沿って，シャッタによる
損傷から面S3を保護する領域が存在する。この領域を確保するための実際の最小幅は，次による。
R10≦4.1 mm
この半径は，R9と同じ点から始まる。
10.5.5 挿入スロット及びディテント機能
ケースには，ディテント機能をもつ二つの対称的な挿入スロットがある（図6参照）。
スロットの長さは，次による。
L20＝26.0±0.3 mm
幅は，次による。
L21＝
0.3
0
0.6
＋
mm
深さは，次による。
L22＝3.0±0.1 mm
位置は，基準面Pから次の範囲とする。
L23＝2.5±0.2 mm
スロットには，次の範囲で挿入案内用の面取りをする。
L24≦0.5 mm
L25≦5.0 mm
ディテントノッチは，次の半径のくぼみとする。
R11＝3.0±0.2 mm
ディテントノッチは，次に示す点を基点とする。
L26＝13.0±0.3 mm
L27＝2.0±0.1 mm
L73＝114.0±0.3 mm
寸法L2，L26及びL73は，相互に関連しており，それらの値は，全て規定内とする。
10.5.6 グリッパスロット
ケースには，二つの対称的なグリッパスロット（図7参照）があり，ケースの縁からの深さは，次によ
る。
L28＝5.0±3.0 mm
幅は，次による。
L29＝6.0±0.3 mm
グリッパスロットの上端は，ケースの下端から，次の範囲とする。
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L30＝12.0±0.3 mm
10.5.7 記録禁止孔
A面及びB面には，それぞれ，記録禁止孔（図8参照）がある。ケースは，それぞれの孔を開閉する機
構を含む。ケースA面の左側の孔は，ディスクA面の記録禁止孔である。どの記録禁止孔がいずれの面に
対応するかは，ケース上に刻印するか又はディスクA面の記録禁止孔の開閉機構の操作がケースのA面か
らしかできなくすることで，明らかにしなければならない。
ディスクA面の記録又は消去ができないとき，記録禁止孔は，ケースを貫通して開いている。記録禁止
孔の直径は，次による。
D3≧4.0 mm
記録禁止孔の中心は，ケースのA面上，次による。
L31＝8.0±0.2 mm
L32＝111.0±0.3 mm
ディスクのA面で記録ができるとき，記録禁止孔は，ケースのA面で，通常L10の深さ，すなわち，ケ
ースの肉厚で閉じている。この場合，ケースのB面の同じ孔の反対側は，閉じており，ケースB面の基準
面Pからのへこみは，次による。
L33≧0.5 mm
ディスクのB面を保護するための記録禁止孔の反対側の直径は，D3とする。その中心は，ケースA面
上，L31及び次で規定する。
L34＝11.0±0.2 mm
10.5.8 メディアセンサ孔
ケースには，4個のメディアセンサ孔のセットが2組ある（図9参照）。ケースA面の左下の隅にある孔
のセットは，ディスクA面に対応する。孔はケースを貫通し，その直径は，次による。
D4＝
0.3
0
0.4
＋
mm
孔の中心の位置は，L32，L34及び次で規定する。
L35＝19.5±0.2 mm
L36＝17.0±0.2 mm
L37＝23.0±0.2 mm
L38＝29.0±0.2 mm
L39＝93.0±0.3 mm
L40＝99.0±0.3 mm
L41＝105.0±0.3 mm
この孔が何の障害物もなく，直径D4でケースを貫通しているとき，孔は開いているものとみなす。
ディスクA面に対応する孔がケースのA面とB面とのいずれにおいても閉じているとき，ディスクA
面の孔は閉じているものとみなす。閉鎖部の基準面Pからのへこみは，次による。
L42≦0.1 mm
孔は1番から4番まで連続して番号付けされる。ケースの左縁に最も近い孔を1番とする。1番，3番及
び4番の孔は閉じている。
2番の孔は，B面を使用できないかどうかを示し，孔が開いている場合，B面は使用できない。孔が閉
じている場合，B面は使用できる。
この規格に適合するODCでは，3番の孔及び4番の孔は使用せず，それらの孔は閉じている。各孔の意
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味は，表1のとおりとする。
表1−メディアセンサ孔
センサ孔番号
標示
閉
開
1
不使用
常時閉
−
2
ディスク面使用可否
可
非
3
不使用
常時閉
−
4
不使用
常時閉
−
10.5.9 ヘッド窓及びスピンドル窓
ケースの各面には窓があり，その窓を使用して，光ヘッド及びスピンドルは，ディスクにアクセスする
ことができる（図11参照）。寸法は，中心線を基準とし，基準軸Yの左側までの距離は，次による。
L46＝61.0±0.2 mm
ヘッド窓の幅は，次とする。
L47≧20.00 mm
L48≧20.00 mm
高さは，L49からL50まで伸びていなければならない。
L49≧118.2 mm
L50≦57.0 mm
四つの内角は，次の半径で丸められる。
R12≦3.0 mm
スピンドル窓の直径は，次とする。
D5≧35.0 mm
中心は，L46及び次で定義する。
L51＝43.0±0.2 mm
10.5.10
シャッタ
ケースには，一方向に動き，オプションでラッチ機能のを含むスプリング方式のシャッタ（図12参照）
があり，閉じるときに，ヘッド窓及びスピンドル窓を完全に覆うように設計されている。最小41.5 mmの
シャッタの動作によって，ヘッド窓及びスピンドル窓は，10.5.9の規定の最小値まで確実に開くことがで
きなければならない。シャッタは，ケース及びシャッタ全体の厚さがL8を超えない範囲で，自由にスライ
ドできなければならない。
シャッタ上部の右側には，次の角度の導入傾斜がある。
A2≦16°
基準面Pから傾斜部分に最も近い面までの距離は次とする。
L52≦2.5 mm
シャッタの左側は，基準面に対し，次の距離以内に接近してはならない。
L52B≧14.00 mm
10.5.11
シャッタオープナ用のスロット
シャッタには，駆動装置のシャッタオープナがシャッタを開くためにかみ合うスロット（図12参照）が
一つだけあり，その寸法は，次による。
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シャッタが閉じているとき，シャッタオープナがシャッタを開くために押す垂直方向の縁は，ケースB
面の基準軸Yから次の距離に位置する。
L53＝34.5±0.5 mm
スロットの長さは，次による。
L54＝4.5±0.1 mm
導出傾斜の角度は，次による。
A3＝52.5±7.5°
スロットの深さは，次による。
L55＝3.5±0.1 mm
ケースB面の基準面Pからのスロットの幅は，次による。
L56＝
0.5
0
0.6
＋
mm
シャッタラッチを採用する場合，ラッチとケースB面の基準面Pとの距離は，次による。
L57≦2.5 mm
シャッタ開閉機構がスライドするシャッタに隠れた部分のケース縁部の厚さは，次による。
B1≧1.0 mm
面Pからの位置は，次による（図12の詳細A参照）。
B2≦0.9 mm
長さC1領域の両面において，四つの縁は，直線であり，面の真直度は，次の範囲内とする。
STR（真直度）＜0.2 mm
長さC1の領域は，製造者のシャッタ設計によって定義される（図12を参照）。
10.5.12
シャッタセンサノッチ
シャッタセンサノッチ（図10参照）は，ODCを駆動装置に挿入後に，シャッタが十分開いたことを確
認するために用いる。したがって，シャッタが十分に開いたときにだけ，ノッチが現れなければならない。
寸法を，次に示す。
L43＝3.5±0.2 mm
L44＝71.0±0.3 mm
及び
L45＝
0
2
0.9
− mm
ノッチは導出傾斜があり，その角度は，次による。
A1＝45±2°
10.5.13
ユーザラベル領域
ケースには，ユーザラベル（図14a〜図14c参照）のために少なくとも次の領域を設けなければならな
い。
A面及びB面：35.0 mm×65.0 mm
底部：6.0 mm×98.0 mm
これらの領域のへこみは，最小0.2 mmとする。次の寸法及び寸法間の関係でその位置を規定する。
L61≧4.5 mm
L62−L61≧65.0 mm
L64−L63≧35.0 mm
L65≧4.5 mm
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L66−L65≧65.0 mm
L67＋L68≧35.0 mm
L8−L71−L72≧6.0 mm
L4−L69−L70≧98.0 mm
10.6 機械的特性
ここで規定する機械的特性は，使用環境条件下で全ての要件を満足しなければならない。
10.6.1 材料
ケースは，この規格の要件を満足する適切な材料で構成する。
10.6.2 質量
光ディスクを除いたケースの質量は，150 gを超えてはならない。
10.6.3 エッジのひずみ（歪）
ODCは，附属書Bで規定するエッジのひずみ（歪）量確認を満足しなければならない。
10.6.4 可とう（撓）性
ODCは，附属書Cで規定する可とう（撓）性確認を満足しなければならない。
この要件は，駆動装置内において適切な面でカートリッジを拘束できることを保証する。
10.6.5 シャッタ開閉力
シャッタを開くために必要なシャッタのばねの力は，3 Nを超えてはならない。シャッタ開閉力の強さ
は，ケースの姿勢にかかわらず，自由にスライドするシャッタを閉じるのに十分でなければならない。
10.7 落下試験
ODCの各面及び各角は，高さ760 mmから，厚さ2 mmのビニール層で覆われたコンクリートの床への
落下に対し，機能的な欠損をすることなく，耐えなければならない。
11 ディスクの寸法，機械的特性及び物理的特性
11.1 ディスクの概要
ディスクは，二つの面で構成される。
それぞれのディスクは，円い基板で構成され，一方の面にはハブが，もう一方の面にはコーティングを
施した記録層がある。記録層は，保護層によって環境的影響から保護されている。基板の情報ゾーン（箇
条17参照）は，基板を通して記録層に光ビームを集光できるように透明とする。
2枚のディスクは，記録層の面同士を内側にして組み立てられている。
円形のハブは，ディスクの中心にある。ハブは，駆動軸と係合し，ディスクの半径方向の位置合わせ及
びハブの吸着力を発生する。
11.2 ディスクの基準軸及び基準面
ハブの寸法は，ディスク基準面D（図2参照）を基準とする。ディスク基準面Dは，理想的なスピンド
ルの完全に平らで環状の取付け面に平行，かつ，同一の平面と定義される。そして，ディスクの基板の境
界面であり，スピンドルの回転軸に垂直である。
スピンドルの回転軸Aは，ハブの中心孔の中心を通り，ディスク基準面Dに垂直である。
11.3 ディスクの寸法
ディスクの寸法は，測定環境条件で測定する。使用環境条件におけるディスクの寸法は，ここで規定す
る寸法から割り出す。
ディスクの外周直径は，公称130.0 mmとする。12.3及び12.4で許容されるケース内部のディスクの挙
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動で許容差が規定される。
ハブ領域の外側のディスク全体の厚さは，最小で2.40 mm，最大で2.80 mmとする。
注記 JIS X 6271，130 mm書換形光ディスクカートリッジ［ISO/IEC 10089に対応（MOD）］，及び
ISO/IEC 15486，Information technology−Data interchange on 130 mm optical disk cartridges of type
WORM (Write Once Read Many) using irreversible effects−Capacity: 2.6 Gbytes per cartridgeに適合
するディスクは，全体の厚さは3.2 mmとされている。
クランプゾーンは，駆動装置のクランプ機構がディスクを保持するディスク上の領域であり，D6及び
D7で定義する。
クリアランスゾーンは，クランプゾーンD6の外周直径と反射ゾーンの内周直径との間の領域とする（箇
条17参照）。
クリアランスゾーンは，全体の厚さの要件から除外されるが，このゾーンでは，ディスク基準面Dから
光学系の方向に0.2 mmを超える突起があってはならない。
11.3.1 ハブの寸法
ハブの外径（図2参照）は，次による。
D8＝
0
2.0
0.
25
−
mm
ハブの高さは，次による。
h1＝
0
2.0
2.2
−
mm
ハブの中心孔の直径は，次による。
D9＝
0.012
0
004
.4
＋
mm
ハブの中心孔直径D9のディスク基準面Dからの高さは，次による。
h2≧1.9 mm
ハブの中心孔直径D9の（センタリングの）長さは，次による。
h3≧0.5 mm
ハブの中心孔からディスク基準面Dとの間は，D9よりも大きいか，又はD9と同じ直径の孔でなければ
ならない。孔は基板まで及ぶ。
直径D9のハブの縁は，次の高さの丸み形状とする。
h4＝0.2±0.1 mm
交差する二つの面では，半径が一体化しており，オフセット又は鋭利な隆起ができないようにしている。
直径D9のハブの縁の面取りの高さは，次による。
h5＝
0.2
0
2.0
＋
mm
面取りの角度は45°とするか，又は対応する半径で丸める。
ディスクをクランプするための磁性体リングの外周直径は，次による。
D10≧19.0 mm
磁性体リングの内周直径は，次による。
D11≦8.0 mm
厚さは，次による。
h6≧0.5 mm
磁性体リングの最上部の位置は，ディスク基準面Dに対し，次の位置にある。
h7＝
0
1.0
2.2
−
mm
クランプゾーンの外周直径は，次による。
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D6≧35.0 mm
クランプゾーンの内周直径は，次による。
D7≦27.0 mm
11.4 機械的特性
ここで規定する機械的特性は，使用環境条件下で満足しなければならない。
11.4.1 材料
ディスクの材料は，この規格の条件を満たす場合材質を問わない。この規格で材料の特性を規定してい
るのは，ハブの磁気特性（附属書D参照）及び情報ゾーンの基板の光学特性（11.5参照）だけである。
11.4.2 質量
ディスクの質量は，120 g以下とする。
11.4.3 慣性モーメント
軸Aに関連するディスクの慣性モーメントは，0.22 g･m2以下とする。
11.4.4 アンバランス
軸Aに関連するディスクのアンバランスは，0.01 g･m以下とする。
11.4.5 軸方向の振れ
ディスクの軸方向の振れは，記録層の軸方向の変位で規定する。振れは，基板の厚さのばらつき，屈折
率のばらつき，及び基準面Dからの入射面のずれによって生じる。基準面Dに対する記録層の公称位置は，
基板の公称厚さによる。記録層のあらゆる点の基準面Dに垂直な方向の記録層の公称位置からのずれは，
9.5で規定する回転周波数で回転しているとき，±0.19 mm以下とする。
偏差は，箇条9で定義する光学系で測定する。
11.4.6 軸方向の加速度
附属書Vに示すディスクの軸方向の最大許容エラー量（emax）は，9.5で規定する回転周波数で回転して
いるとき，基準サーボでサーボがかかった状態で±0.7 μm以下とする。このとき，モータの定常的な外乱
は，無視する。この測定は，次の伝達関数（Hs）をもつサーボ系によるか，又は50 Hz〜170 kHzの帯域で，
｜1＋Hs｜が示す値の±20 %以内の値をもつ｜1＋H｜のサーボ系による。このとき，ディスクの面振れに
よる軸方向の加速度は，22 m/s2以下とする。
()
0
0
2
0
s
3
1
3
1
3
1
ω
ω
ω
ω
ω
ω
ω
i
i
i
i
H
+
+
=
ここに，
1
Hz
550
1
2
2
0
−
=
=
=
i
f
π
ω
π
ω
11.4.7 半径方向の振れ
情報ゾーンでのトラックの半径方向の振れは，基準駆動装置の光学ヘッドを用いて測定する。このため，
回転軸と基準軸Aとの差，基準軸Aに対するトラックの偏心，及び屈折率の変動によって生じる偏心の影
響も含む。
半径方向の振れは，トラックの1回転の間の中心からの最大距離と最小距離との差で，9.5で規定する回
転周波数で回転しているとき，50 μm以下とする。
21
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11.4.8 半径方向の加速度
附属書Vに示すディスクの半径方向のトラッキングエラーの最大許容量（emax）は，9.5で規定する回転
周波数で回転しているとき，基準サーボでサーボがかかった状態で±0.09 μm以下とする。このとき，モ
ータの定常的な外乱は，無視する。測定は，次の伝達関数（Hs）のサーボ系によるか，又は50 Hz〜170 kHz
の帯域で，｜1＋Hs｜が示す値の20 %以内の｜1＋H｜をもつサーボ系による。このとき，ディスクの半径
方向の加速度は，6.5 m/s2以下とする。
()
0
0
2
0
s
3
1
3
1
3
1
ω
ω
ω
ω
ω
ω
ω
i
i
i
i
H
+
+
=
ここに，
1
Hz
340
2
2
2
0
−
=
=
=
i
f
π
ω
π
ω
11.4.9 チルト
ディスクのチルトは，入射面上の1 mm径の面積で平均した入射面の垂線と基準面Dの垂線との角度と
し，2.8 mrad以下とする。
11.5 光学特性
11.5.1 屈折率
情報ゾーン（箇条17参照）内では，基板の屈折率は，1.46〜1.60の範囲内になければならない。
11.5.2 基板の厚さ
基板の厚さ（t）の公称値は，情報ゾーンで入射面から記録層までの基板の厚さは，次による。
mm
05
.0
9
592
.0
0
265
.0
1
3
509
.0
2
2
2
3
±
+
+
×
−
×
=
n
n
n
n
t
ここに，
n： 屈折率
11.5.3 複屈折
基板の複屈折の効果は，25.2に示す基準駆動装置のチャネル2の信号の非対称性に影響する。
11.5.4 垂直複屈折
垂直複屈折の値は，次の範囲内とする。
6
z
p
10
500
−
≦
−
×
N
N
ここに，
Np： ディスク面内方向の屈折率
Nz： ディスク面に垂直な方向の屈折率（附属書X参照）。
11.5.5 反射率
11.5.5.1 概要
反射率Rは，基板を通して測定する，ディスクのユーザゾーンのうち記録トラックにおける反射率の値
であり，入射面の反射率は，含まない。
反射率の公称値Rは，製造者が次において規定する。
− 制御トラックPEPゾーン（17.3.2.1.4参照）のバイト3，
及び
− 制御トラックSFPゾーン（17.4.2参照）のバイト19
22
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11.5.5.2 測定値
反射率の測定値Rmは，分割フォトディテクタ (I1＋I2)IGを用いて，9.2 a)〜9.2 f)の条件下及び20.2.2の条
件下で測定する。
測定は，任意の記録トラックのユーザゾーンで行う。
11.5.5.3 要件
9.2で規定する標準波長でのRの値は，タイプR/Wのディスク又はタイプWOのディスクでは，0.20〜
0.40の範囲とする。
ユーザゾーンのどの点においても，測定反射率Rmは，次の要件を満たす。
(
)
15
.1
2
85
.0
min
m
max
m
≦
≦
R
R
R
+
この要件は，Rの値が同じ全てのディスクについて，Rmの許容範囲を規定する。さらに，Rmの偏差は次
の要件を満たさなければならない。
(
)
(
)
13
.0
min
m
max
m
min
m
max
m
≦
R
R
R
R
+
−
ここに， Rm max： ユーザゾーンの測定反射率の最大値
Rm min： ユーザゾーンの測定反射率の最小値
12 ODCと駆動装置とのインタフェース
12.1 クランプ方法
ODCを駆動装置に挿入すると，ケースのシャッタが開き，モータ駆動軸がディスク中心孔に入る。ディ
スクは，ハブの磁性体及び駆動軸に装着されている磁石によって生じる吸着力で駆動軸に保持される。デ
ィスクの半径方向の位置決めは，ハブの中心軸合わせ機能による。ディスクの軸方向の位置決めは，駆動
軸のターンテーブルによってディスクのクランプゾーンを支えることによる。
12.2 クランプ力
駆動軸とハブとの吸着力は，14 N以下とする。
附属書Dで規定する試験装置で測定した場合の吸着力は，8.0〜12.0 Nの範囲とする。
12.3 キャプチャシリンダ
キャプチャシリンダ（図13参照）は，駆動軸にディスクをクランプしようとするとき，ハブの中心があ
ると期待される空間である。
キャプチャシリンダの寸法は，ケースの内部空間でのディスクの許容遊び量を規定する。キャプチャシ
リンダは，駆動装置の正確な寸法のアライメントピン及び位置決めピンの，正確な位置を基準として定義
するが，ケースのサイズ，これらのピンの間のディスクのサイズ，及びハブの中心には，許容誤差を含ん
でいる。
ディスクのA面を使用するとき，シリンダの底部は，ケースのB面の基準面Pから次の距離で，基準面
Pに平行に配置される。
L58≧0.5 mm
シリンダの上部は，同じ基準面P，すなわちB面の基準面Pから次の距離で配置される。
L59≦4.3 mm
シリンダの直径は，次による。
D12≦3.0 mm
23
X 6280：2011 (ISO/IEC 22092：2002)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
中心は，L46及びL51の公称値で定義する。
12.4 使用環境条件におけるディスクの位置
ディスクが使用状態にあるとき（図13参照），アクティブな記録層の位置は，光学系に面するケースの
基準面Pから次の位置になければならない。
L60＝5.35±0.15 mm
さらに，回転軸が，L46及びL51の公称値を中心とする次の直径の円内にあるとき，回転周波数を50 Hz
に保つために，ディスクにかかるトルクは，0.01 N･m以下でなければならない。
D13≦0.2 mm
図2−ハブ
クランプゾーン
クランプゾーン
h
6
ディスク
φD7
φD8
φD10
φD11
φD9
D
h
4
h
5
h
3
h
2
h
7
h
1
φD6
24
X 6280：2011 (ISO/IEC 22092：2002)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図3−ケース
シャッタ
挿入方向の表示
ケースA面の表示
ハブ（図2参照）
ディスクのB面
面 S4（図5参照）
面 S1（図5参照）
ユーザラベル領域
（図14参照）
アライメント孔
（図4参照）
面 S2（図5参照）
A面の記録禁止孔
（図8参照）
グリッパスロット
（図7参照）
A面のメディアセンサ孔
（図9参照）
B面のメディアセンサ孔（図9参照）
シャッタセンサノッチ（図10参照）
挿入スロット及びディテント
（図6参照）
面 S3
（図5及び図5a参照）
ヘッド窓
（図11参照）
スピンドル窓
（図11参照）
ロケーション孔
（図4参照）
B面の記録禁止孔
（図8参照）
グリッパスロット
（図7参照）
シャッタオープナ用のスロット
（図12参照）
25
X 6280：2011 (ISO/IEC 22092：2002)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図4−外形寸法
X
Ｙ
ロケーション孔
アライメント孔
L
2
L
7
L
3
L11
L5
L4
L6
R2
R1
R3
R4
R
5
R
5
L
1
0
L
1
0
L9
A
A
A−A
L
9
L
1
2
L13
L
1
L
8
26
X 6280：2011 (ISO/IEC 22092：2002)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図5−基準面Pを規定する面S1，面S2，面S3及び面S4
（図5a参照）
L
7
L
1
5
L
1
9
R8
S3
S4
S2
D2
S1
D1
L5
L18
L14
L
1
7
X
Y
27
X 6280：2011 (ISO/IEC 22092：2002)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図5a−面S3詳細
L5
L14
L18
R7
R9
R10
S3
R6
L
1
5
L
1
7
L
1
9
Y
L
7
R8
L16
28
X 6280：2011 (ISO/IEC 22092：2002)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図6−挿入スロット及びディテントの詳細
X
L8
L22
L27
R11
L23
L21
L
2
5
L
7
3
L
2
6
L
2
0
L24
P
29
X 6280：2011 (ISO/IEC 22092：2002)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図7−グリッパスロット
Ｘ
Ｌ28
Y
L
3
0
L
2
9
30
X 6280：2011 (ISO/IEC 22092：2002)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
記録禁止状態
B−B
記録可能状態
図8−記録禁止孔
Y
X
B
B
L
3
1
D3
L32
L34
L
3
3
L
1
0
L
1
0
L
3
3
31
X 6280：2011 (ISO/IEC 22092：2002)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
C−C
図9−メディアセンサ孔
X
C
C
Y
8×D4
通り孔
クローズプラグ
L34
L36
L37
L38
L39
L40
L41
L32
L
3
5
L
4
2
L
4
2
32
X 6280：2011 (ISO/IEC 22092：2002)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図10−シャッタセンサノッチ
Y
X
L44
L45
A1
L
4
3
33
X 6280：2011 (ISO/IEC 22092：2002)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図11−ヘッド窓及びスピンドル窓
Y
X
L47
L48
L46
L
4
9
L
5
1
L
5
0
D5
R12
34
X 6280：2011 (ISO/IEC 22092：2002)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
詳細A
図12−シャッタ開放状態
P
Y
A
A
Y
P
P
STR
L53
C1
A3
A2
L
5
6
L
5
2
B
1
B
2
L52B
L54
B
1
B
2
L
5
5
L
5
7
L
5
2
35
X 6280：2011 (ISO/IEC 22092：2002)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図13−キャプチャシリンダ
Y
X
L46
L
5
1
D13
D12
P
L
5
9
L
5
8
L
6
0
36
X 6280：2011 (ISO/IEC 22092：2002)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図14a−A面のユーザラベル領域
図14b−底面のユーザラベル領域
ユーザラベル領域
L
7
1
L
7
2
L
8
L4
L69
L70
Y
X
ユ
ー
ザ
ラ
ベ
ル
領
域
L
6
2
L
6
1
L63
L64
37
X 6280：2011 (ISO/IEC 22092：2002)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図14c−B面のユーザラベル領域
第3章 フォーマット
13 トラック及びヘッダの寸法
13.1 トラック及びヘッダの形状
情報ゾーンは，連続トラッキングサーボ方式のためのトラックからなる（表2及び表3参照）。
この規格では，フィジカルトラックとロジカルトラックとを区別する。ロジカルトラックは，14.2で定
義される数の連続したセクタであり，フィジカルトラックの一部とする（14.2参照）。
フィジカルトラックは，隣接するランド・グルーブの組合せで構成する。ランドもグルーブも，連続的
なスパイラルの360度分とする。ヘッダ領域のマークは，グルーブのない領域に形成する。グルーブは溝
状であり，その底部の位置は，ランドよりも入射面に近い。各ランド・グルーブの組合せにおいて，二つ
の記録トラックが存在し，一つは，ランドの中心線上（ランドトラック）に，もう一つは，グルーブの中
心線上（グルーブトラック）にそれぞれ位置する。ヘッダ領域のセクタマーク部分（15.2参照）は，ラン
ド及びグルーブの両方の中心線に合わせる。ヘッダ1及びヘッダ2（VFO，AM，ID及びPA）は，ランド
とグルーブとの境界線上に配置する。ランド及びグルーブの形状は，箇条21の規定を満足するように定め
る。
ユ
ー
ザ
ラ
ベ
ル
領
域
L
6
6
L
6
5
L67
L68
38
X 6280：2011 (ISO/IEC 22092：2002)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
・ (n/m)：IDトラック番号n/セクタ番号m
・ S：セクタマーク
・ H1/H2：ヘッダ1／ヘッダ2
・ グルーブのとき ⇒ ID1データ＝ID2データ，ランドのとき ⇒ ID1データ≠ID2データ
図15a−トラック及びヘッダの配置
・ ユーザ領域の各ゾーンには，1周にヘッダが1個しかないリードインエンボストラックが2本ある。
・ 図中のセクタ番号は理解を助けるための仮の値である。
図15b−ゾーン境界のトラックの配置
図15−ランド・グルーブ記録方式のトラックの配置
13.2 トラックスパイラルの方向
トラックは，外周から内周へと内に向かってら（螺）旋を描く。
13.3 トラックピッチ
トラックピッチは，隣接するグルーブトラック及びランドトラックの中心線間の距離として半径方向で
ランド
ディスク外周
ディスク内周
9
9
19
19
29
29
56
56
10
10
20
20
30
30
39
39
48
48
57
57
11
11
21
21
12
12
22
22
49
49
58
58
ゾ−ンＡ
（例：10セクタ/周）
ゾ−ンＢ
（例：9セクタ/周）
ゾ−ン境界
グルーブ
セクタマーク
グルーブ(n,m)
グルーブ
グルーブ(-5,0）
グルーブ(0,0)
(n/m)
H1
H2
ランド
ランド
(n/m)
(n/m+1)
(n/m+1)
S
S
S
S
S
S
S
S
S
S
ランド(-5,0)
ランド
(-5/0)
(-5/0)
(0/0)
(0/0)
(5/0)
(-5/1)
(-5/1)
(0/1)
(0/1)
(5/1)
ディスク外周
ディスク内周
S
S
S
S
S
S
S
S
39
X 6280：2011 (ISO/IEC 22092：2002)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
測定し，制御トラックPEPゾーンを除いて，0.652±0.03 μmとする。49 728/49 520フィジカルトラックに
相当する幅は，32.4/32.3±0.10 mmとする。
13.4 ロジカルトラック番号
各ロジカルトラックは，ロジカルトラック番号で識別する（15.5参照）。特に断らない限り，全てのトラ
ック番号は，ロジカルトラックとする。
トラック番号0は，半径62.10±0.10 mmに位置する。
トラック番号0よりも内周側のロジカルトラックのトラック番号は，各トラックにつき，1ずつ増加す
る。
トラック番号0よりも外周側のロジカルトラックのトラック番号は，負の数とし，各トラックにつき，1
ずつ減少する。負のトラック番号は，2の補数で与え，トラック−1は，(3FFFF) とする。
プリフォーマットされたヘッダのID1及びID2（15.5参照）は，ロジカルトラック及びロジカルセクタを
含む。ID1，ID2，ロジカルトラック及びロジカルセクタの関係は，表7及び表8で定義する。
14 トラックフォーマット
14.1 フィジカルトラックのレイアウト
ディスク上の全てのセクタサイズは同一とする。
4 096バイトセクタのディスクの場合，各フィジカルトラックには，セクタが15〜30存在する。各セク
タは，5 048バイトとする。エンボスヘッダデータは，MOデータの半分の密度で記録する。1バイトを12
チャネルビットでディスク上に表示し，そのため，1チャネルビットの長さは，フィジカルトラック上に，
(15〜30)×5 124×12＝922 320〜1 844 640チャネルビットが存在するという要件によって決定する。セクタ
の最初のチャネルビットと次のセクタの最初のチャネルビットとの間の距離が60 576チャネルビット±5
チャネルビットとなるように，フィジカルトラック全体に，均等な間隔でセクタを配置する。回転周波数
50 Hzでは，TA，ALPC，ギャップ及びMO記録フィールドのチャネルビットの周期T mは，次による。
Tm＝109/{50×(922 320〜1 844 640)} ns＝21.68〜10.84 ns
プリフォーマット済みヘッダのチャネルビットの周期ThはTh＝2×Tm＝43.37〜21.68 nsとなる。
2 048バイトセクタのディスクの場合，各フィジカルトラックには，セクタが28〜57存在する。各セク
タは，2 652バイトとする。エンボスヘッダデータは，MOデータの半分の密度で記録する。1バイトを12
チャネルビットでディスク上に表示し，そのため，1チャネルビットの長さは，フィジカルトラック上に，
(28〜57)×2 728×12＝916 608〜1 865 952チャネルビットが存在するという要件によって決定する。セクタ
の最初のチャネルビットと次のセクタの最初のチャネルビットとの間の距離が31 824チャネルビット±5
チャネルビットとなるように，フィジカルトラック全体に，均等な間隔でセクタを配置する。回転周波数
50 Hzでは，TA，ALPC，ギャップ及びMO記録フィールドのチャネルビットの周期Tmは，次による。
Tm＝109/{50×(916 608〜1 865 952)} ns＝21.82〜10.72 ns
プリフォーマット済みヘッダのチャネルビットの周期Thは，Th＝2×Tm＝43.64〜21.44 nsとなる。
40
X 6280：2011 (ISO/IEC 22092：2002)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表2−回転数50 Hzの場合のクロック周波数及び周期（4 096バイトセクタ）
フォーマット
エンボスヘッダ
TA，ALPC，ギャップ及び記録フィールド
ゾーン及びバンド
クロック周波数
MHz
周期Th
ns
クロック周波数
MHz
周期Tm
ns
リードインゾーン
46.12
21.68
92.23
10.84
SFP ゾーン
46.12
21.68
92.23
10.84
製造者ゾーン
46.12
21.68
92.23
10.84
バンド
0
46.12
21.68
92.23
10.84
バンド
1
44.58
22.43
89.16
11.22
バンド
2
43.04
23.23
86.08
11.62
バンド
3
41.50
24.09
83.01
12.05
バンド
4
39.97
25.02
79.93
12.51
バンド
5
38.43
26.02
76.86
13.01
バンド
6
36.89
27.11
73.79
13.55
ユーザゾーン
バンド
7
35.36
28.28
70.71
14.14
バンド
8
33.82
29.57
67.64
14.78
バンド
9
32.28
30.98
64.56
15.49
バンド
10
30.74
32.53
61.49
16.26
バンド
11
29.21
34.24
58.41
17.12
バンド
12
27.67
36.14
55.34
18.07
バンド
13
26.13
38.27
52.26
19.13
バンド
14
24.60
40.66
49.19
20.33
バンド
15
23.06
43.37
46.12
21.68
製造者ゾーン
23.06
43.37
46.12
21.68
SFP ゾーン
23.06
43.37
46.12
21.68
遷移ゾーン
23.06
43.37
46.12
21.68
41
X 6280：2011 (ISO/IEC 22092：2002)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表3−回転数50 Hzの場合のクロック周波数及び周期（2 048バイトセクタ）
フォーマット
エンボスヘッダ
TA，ALPC，ギャップ及び記録フィールド
ゾーン及びバンド
クロック周波数
MHz
周期Th
ns
クロック周波数
MHz
周期Tm
ns
リードインゾーン
46.65
21.44
93.30
10.72
SFP ゾーン
46.65
21.44
93.30
10.72
製造者ゾーン
46.65
21.44
93.30
10.72
バンド
0
46.65
21.44
93.30
10.72
バンド
1
45.83
21.82
91.66
10.91
バンド
2
45.01
22.22
90.02
11.11
バンド
3
44.19
22.63
88.39
11.31
バンド
4
43.38
23.05
86.75
11.53
バンド
5
42.56
23.50
85.11
11.75
バンド
6
41.74
23.96
83.48
11.98
バンド
7
40.92
24.44
81.84
12.22
バンド
8
40.10
24.94
80.20
12.47
バンド
9
39.28
25.46
78.57
12.73
バンド
10
38.46
26.00
76.93
13.00
バンド
11
37.65
26.56
75.29
13.28
バンド
12
36.83
27.15
73.66
13.58
バンド
13
36.01
27.77
72.02
13.89
ユーザゾーン
バンド
14
35.19
28.42
70.38
14.21
バンド
15
34.37
29.09
68.75
14.55
バンド
16
33.55
29.80
67.11
14.90
バンド
17
32.74
30.55
65.47
15.27
バンド
18
31.92
31.33
63.84
15.67
バンド
19
31.10
32.16
62.20
16.08
バンド
20
30.28
33.02
60.56
16.51
バンド
21
29.46
33.94
58.92
16.97
バンド
22
28.64
34.91
57.29
17.46
バンド
23
27.83
35.94
55.65
17.97
バンド
24
27.01
37.03
54.01
18.51
バンド
25
26.19
38.18
52.38
19.09
バンド
26
25.37
39.42
50.74
19.71
バンド
27
24.55
40.73
49.10
20.36
バンド
28
23.73
42.13
47.47
21.07
バンド
29
22.92
43.64
45.83
21.82
製造者ゾーン
22.92
43.64
45.83
21.82
SFPゾーン
22.92
43.64
45.83
21.82
遷移ゾーン
22.92
43.64
45.83
21.82
14.2 ロジカルトラックレイアウト
各ロジカルトラック上には，セクタが6/7存在する。
14.3 半径方向のアライメント
各バンドのセクタのヘッダは，隣接するフィジカルトラックにおいて，セクタの最初のチャネルビット
間の角距離が5チャネルビットより少なくなるように，半径方向にそろえる。
全てのバンドの最初のセクタのヘッダは，各バンドの最初のセクタの最初のチャネルビット間の角距離
42
X 6280：2011 (ISO/IEC 22092：2002)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
が120チャネルビットよりも少なくなるように，半径方向にそろえる。
14.4 セクタ番号
ロジカルトラックのセクタは，0から5/6まで連続した番号を付ける。
15 セクタフォーマット
15.1 セクタのレイアウト
セクタのレイアウトは，データフィールドのユーザバイト数によって異なり，図16及び図17に示す2
種類のどちらかとする。512バイト及び1 024バイトセクタメディアは，4 096バイトセクタのレイアウト
を使用する。セクタごとのユーザバイトの数は，各制御トラックゾーンのバイト1で規定する。76バイト
のプリフォーマットヘッダ領域，1バイトの移行領域（TA1），17バイトのALPC及びギャップ領域，27
バイトのVFO3，並びに4バイトの同期パターンは，両方のセクタフォーマットに対して同一である。
ディスク上では，8ビットで構成されるバイトは12チャネルビットで表示される（箇条16参照）。
図16及び図17のフィールドの下の数字は，各フィールドのバイト数を示す。
SM
VFO1
AM
ID1
PA1
VFO2
AM
ID2
PA2
Gap
ALPC
8
26
1
5
2
26
1
5
2
11
6
ヘッダ1
ヘッダ2 ALPC及びGap
エンボスヘッダ
エンボスヘッダ TA1 ALPC，Gap VFO3 Sync
データフィールド
PA2 バッファ TA2
76
1
17
27
4
4 878
ユーザデータ，SWF，CRC，Resync
2
42
1
図16−セクタフォーマット（4 096バイト）
SM
VFO1
AM
ID1
PA1
VFO2
AM
ID2
PA2
Gap
ALPC
8
26
1
5
2
26
1
5
2
11
6
ヘッダ1
ヘッダ2 ALPC及びGap
エンボスヘッダ
エンボスヘッダ TA1 ALPC，Gap VFO3 Sync
データフィールド
PA2 バッファ TA2
76
1
17
27
4
2 498
ユーザデータ，SWF，CRC，Resync
2
26
1
図17−セクタフォーマット（2 048バイト）
43
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
15.2 セクタマーク
セクタマークは，RLL(1,7) 符号（箇条16参照）では発生しないエンボスパターンで構成し，駆動装置
が位相同期ループ（PLL）の同期が取れなくても，セクタの開始を識別できるように意図されている。
セクタマークは96チャネルビット長とし，データゾーンでは発生しないパターンのエンボスデータ及び
VFO1フィールドへのリードインからなる。
図18に，奇数バンドと偶数バンドとを識別するための2種類のセクタマークを示す。図18に示すTは，
1チャネルビットの時間に相当する。マークからの反射レベルは，スペースからの反射レベルよりも小さ
い。リードインは，奇数バンドではチャネルビットパターン000101，偶数バンドでは000001とする。
内周製造者ゾーン，内周制御トラックSFP，推移ゾーン及び内周ガードバンドに使用するセクタマーク
パターンは，バンド15/29で使用されるパターンと同一とする。リードインゾーン，外周制御トラックSFP，
外周製造者ゾーン及び外周ガードバンドに使用するセクタマークパターンは，バンド0で使用するパター
ンと同一とする。
奇数バンド
6T
12T
6T
12T
6T
12T
12T
6T
12T
6T
4T 2T
偶数バンド
図18−セクタマークのパターン
15.3 VFOフィールド
VFOをチャネルビット同期のために設け，VFO1，VFO2及びVFO3（図19参照）の三つのフィールドが
存在する。
VFO1及びVFO2は，エンボスパターンで構成する。VFO3は，データをセクタに記録するときに，駆動
装置が記録する。
VFOフィールドの連続チャネルビットパターンは，次による。
6T
12T
6T
12T
6T
12T
12T
6T
12T
6T
6T
スペース
セクタマーク
リードイン
マーク
長マークパターン
マーク
スペース
44
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
VFO1
0
0
0
0
1
0
1
0
1
1
0
1
0
1
312
VFO2
0
0
0
0
1
0
1
0
1
1
0
1
0
1
312
VFO3
0 1 0 1 0 1 0 10 1 0 1 0 1
1 0 1 0 1 0 1 0 1 324
図19−3種類のVFOパターン
VFO3フィールドの開始点は，この規格で規定する理想的な位置から6チャネルビット以内でなければな
らない。この許容差は，光駆動装置の回転変動の時間的な誤差を考慮したものであり，VFO3フィールドに
先行するALPC，及びセクタの終わりにあるバッファフィールドによって補正されることになる。
15.4 アドレスマーク（AM）
アドレスマーク（AM）は，RLL(1,7) 符号に現れないエンボスパターンで構成し，RLL(1,7) 符号に対す
るランレングス違反である。AMは，駆動装置に次のIDフィールドのバイト同期をとるためのものであり，
次の12チャネルビットパターンとする。
0000 0000 10x0
xの値は，次のように決定する。
− 後続するIDフィールドの最初のチャネルビットが00の場合，x＝“1”とする。
− 後続するIDフィールドの最初のチャネルビットが00でない場合，x＝“0”とする。
先行するVFOフィールドの最後のチャネルビットが“1”であり，AMの“1”との間に8個の“0”が
現れるため，AMとして検出することができる。
15.5 IDフィールド
二つのIDフィールドに含まれるデータを用いて，次にくるセクタのアドレス，すなわち，IDトラック
番号及びセクタ番号を識別する。ID1及びID2データが，同一のときはグルーブトラック記録を示し，異な
るときはランドトラック記録を示す。
各フィールドは，次の5バイトのエンボスデータで構成する。
第1バイト
IDトラック番号の最下位バイトから2番目のバイト
第2バイト
IDトラック番号の最下位バイト
第3バイト
ビット7
“0”は，ID1フィールド
“1”は，ID2フィールド
ビット6〜5
IDトラック番号の最上位2ビット
ビット4〜0
2進法表記のセクタ番号
スペース
マーク
スペース
マーク
スペース
マーク
チャネルビット
チャネルビット
チャネルビット
45
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
第4バイト及び第5バイト
最初の3バイトから計算した16ビットCRCデータ（附属書E参照）
IDフィールドの最初の2データビットは，AMの最後の1チャネルビットを先行チャネルビットとして，
表4を用いて符号化する。
IDフィールドの最初の3チャネルビットは，AMの最後の2チャネルビットを先行チャネルビットとし
て，表5を用いて復号化する。
15.6 ポストアンブル（PA1）
ポストアンブル（PA1）は，ID2フィールドの後に位置し，図20に示す24チャネルビット長とする。
0 1 0 ? 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1 0 1
図20−ポストアンブルのパターン
PA1の開始ビットは入力データビット10からの符号化に相当するチャネルビット010とする。
?で示す第4チャネルビットは，後続するギャップフィールドが常にスペースとして開始されるように，
エンボスマークの後縁で終了するように決める。
データビットからチャネルビットへのRLL(1,7) 変換表（箇条16参照）を使用すると，ID2フィールド
でのCRC及びデータフィールドのECCの後に2データビットがないと最後の3チャネルビットを確定す
ることができない。
PAによって，ID2フィールドのCRC及びデータフィールドのECCの最後の3チャネルビットを確定し，
ヘッダフィールド及び記録フィールドを常にスペース状態で終了させることができ，次のフィールドとの
連続性を維持することができる。
15.7 移行領域（TA1）
各セクタには，12チャネルビット長の移行領域（TA）が二つ存在する。
この領域は，エンボスヘッダからグルーブ領域への移行のために用いられ，ユーザ情報を含まない。
15.8 ギャップ
各セクタには，132チャネルビット長のギャップが存在する。ギャップは，TA1の直後のフィールドであ
り，ヘッダの読取り終了後の処理のための時間を駆動装置に与える。ギャップフィールドの内容は，規定
されず，互換性では無視する。
15.9 自動レーザパワー制御（ALPC）
このフィールドは，72チャネルビット長とする。このフィールドは，レーザパワーレベルの試験用に意
図されたものである。R/W又はWOセクタの場合，このフィールドの内容は規定されず，互換性では無視
する。
15.10
同期バイト（Sync）
同期バイトは，駆動装置が，後続するデータフィールドのバイトの同期をとることを目的とし，次に示
す48チャネルビットとする。
0100 0010 0100 0010 0010 0010 0100 0100 1000 0010 0100 10x0
チャネルビットxの値は，次のように規定する。
スペース
マーク
46
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
− 後続するデータフィールドの最初のチャネルビットが00の場合，xを“1”に設定する。
− 後続するデータフィールドの最初のチャネルビットが00以外の場合，xを“0”に設定する。
15.11 データフィールド
データフィールドは，ユーザデータの記録のために用い，次のいずれかで構成する。
− 4 878バイトの構成
4096バイト： ユーザバイト
762バイト： CRC，ECC，及び再同期バイト
8バイト： IDトラック番号及びセクタ番号のコピーを含むセクタ記録フラグ(SWF)
12バイト： （FF）
− 2 498バイトの構成
2048バイト： ユーザバイト
442バイト： CRC，ECC，及び再同期バイト
8バイト： IDトラック番号及びセクタ番号のコピーを含むセクタ記録フラグ（SWF）
データフィールドにおけるこれらのバイトの配置は，附属書Fで規定する。
表4を用いてデータフィールドを符号化する場合，最初の2データビットの符号化には，同期バイト
（Sync）の最後のチャネルビットを使用する。
表5を用いてデータフィールドを復号化する場合，最初の3チャネルビットの復号化には，同期バイト
の最後の2チャネルビットを使用する。
15.11.1
ユーザデータバイト
ユーザデータバイトは，ユーザ情報の記録に用い，4 096/2 048バイト存在する。1 024バイト及び512
バイトのセクタ実装については，エミュレーション附属書AAを参照する。
15.11.2
CRC及びECCバイト
巡回冗長検査（CRC）バイト及び誤り訂正符号（ECC）バイトは，間違ったデータを修正するために，
誤り検出及び訂正システムが使用する。ECCは，十六次のリードソロモン符号とする。
CRC及びECCの検査バイトの計算は，附属書Fに規定する。
15.11.3
セクタ記録フラグ（SWF）のためのバイト
セクタ記録フラグ（SWF）のために，8/8バイトを設け，最初の3バイトにはセクタのID情報を記録す
る。SWFのためのバイトに続けて（FF）を12/0バイト記録する。
15.11.4
再同期バイト（Resync）
再同期バイト（Resync）によって，駆動装置は，データフィールドに大きな欠陥が生じた場合でも，バ
イト同期を回復することができる。
附属書Gは，再同期バイトとして使用する二つのビットパターンを示すと同時に，どちらを選択するか
の基準を示す。
再同期バイトは，附属書Fで規定のとおり，データフィールドのバイト間に挿入する。
15.12
ポストアンブル（PA2）
ポストアンブル（PA2）は，24チャネルビットとする。PA2は，スペースで終了し，バッファフィールド
（15.13参照）が引き続きスペースとなるようにする。PA2は，15.6で定義されるPA1を用いるか，又はス
ペースで終了するが11のビットシーケンスを含まないその他のRLL(1,7) 変換データのいずれかを用いる
ことができる。
47
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15.13
バッファ
バッファは，様々なシステム誤差を許容するために使われる。バッファを必要とする理由は，次のとお
りである。
a) 14.1で規定するようなヘッダからヘッダまでの距離の変動幅。
b) 15.3で規定するようなVFO3フィールドの開始位置の誤差。
c) 記録データの実際の長さの誤差。トラックの偏心及びデータ記録中のディスクの回転変動によって生
じる。
d) 記録のときに，事前に記録された全てのデータを上記の許容差の範囲内で確実に消去するために必要
となる長さ。
15.14
移行領域（TA2）
移行領域（TA2）は，12チャネルビットとし，グルーブ領域からエンボスヘッダへの移行に使用され，
ユーザ情報を含んではならない。
16 記録符号
二つのIDフィールド及びデータフィールドは，表4及び附属書Gに従って，ディスク上のチャネルビ
ットに符号化される。これらのフィールドのチャネルビットは，表5及び附属書Gに従って，データビッ
トに復号化される。セクタの他の全てのフィールドのチャネルビットは，箇条15によって定義済みである。
記録パルスは，マークとスペースとの間のエッジ又はスペースとマークとの間のエッジが，チャネルビッ
ト“1”に対応するようにマークを形成する。
ディスクの情報ゾーンのデータを記録するために使用する記録符号は，表4及び表5で定義するRLL(1,7)
として知られるランレングス符号とする。
表4−データビットのチャネルビットへの符号化
先行チャネルビット
データビット
後続データビット
符号化チャネルビット
RLL(1,7)
0又は1
00
00又は01
001
0
00
10又は11
000
1
00
10又は11
010
0
01
00又は01
001
0
01
10又は11
000
1
01
00
010
1
01
01，10，又は11
000
0
10
00又は01
101
0
10
10又は11
010
0
11
00
010
0
11
01，10，又は11
100
符号化は，該当するフィールドの第一バイトの第一ビットから開始する。再同期バイトの後では再同期
バイトの最後のチャネルビットを使って符号化を開始する。
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表5−チャネルビットのデータビットへの復号化
先行チャネルビット
チャネルビット
後続チャネルビット
復号化データビット
10
000
00，01，又は10
00
00又は01
000
00，01，又は10
01
00
001
00又は01
01
01又は10
001
00又は01
00
00又は10
010
00
11
00又は10
010
01又は10
10
01
010
00
01
01
010
01又は10
00
00又は10
100
00，01，又は10
11
00又は10
101
00又は01
10
17 情報ゾーン
17.1 情報ゾーンの概要
情報ゾーンは，データ交換に関連するディスク上の全ての情報を含む。情報は，エンボストラッキング
条件，エンボスヘッダ及びユーザ記録データを含む。この箇条では，“データ”という用語は，一般にホス
トに転送されるセクタのデータフィールドの内容に使用する。
箇条17は，情報ゾーンのレイアウトを定義する。情報ゾーンから得られる信号の特性は，第4章及び第
6章で規定する。
17.2 情報ゾーンの分割
情報ゾーンは，表6及び表7で示すゾーンに分割する。
寸法は公称値である。ロジカルトラック“0”の位置の許容差は，13.4で規定する。他の半径の許容差は，
13.3に規定のとおり，トラックピッチの許容差で，規定する。
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表6−情報ゾーンのレイアウト
単位 mm
半径
4 096バイトセクタ
2 048バイトセクタ
− リードインゾーン
62.50〜62.20
62.50〜62.16
− 外周SFPゾーン
62.20〜62.19
62.16〜62.16
− 外周製造者ゾーン
62.19〜62.10
62.16〜62.10
ガードバンド
62.19〜62.19
62.36〜62.36
メディア製造者用試験ゾーン
62.19〜62.18
62.16〜62.15
記録キャリブレーションゾーン
62.18〜62.12
62.15〜62.12
フォーカスバイアス校正ゾーン
62.12〜62.11
62.12〜62.11
リファレンス再生ゾーン
62.11〜62.10
62.11〜62.10
ガードバンド
62.10〜62.10
62.10〜62.10
− ユーザゾーン
62.10〜29.70
62.10〜29.81
− 内周製造者ゾーン
29.70〜29.53
29.81〜29.71
ガードバンド
29.70〜29.70
29.81〜29.81
リファレンス再生ゾーン
29.70〜29.69
29.81〜29.80
予備ゾーン
29.69〜29.68
29.80〜29.79
記録キャリブレーションゾーン
29.68〜29.55
29.79〜29.72
メディア製造者用試験ゾーン
29.55〜29.54
29.72〜29.71
ガードバンド
29.54〜29.53
29.71〜29.71
− 内周SFPゾーン
29.53〜29.53
29.71〜29.70
− SFPのための遷移ゾーン
29.53〜29.50
29.71〜29.50
− PEPゾーン
29.50〜29.00
29.50〜29.00
− ミラーゾーン
29.00〜27.00
29.00〜27.00
50
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表7−情報ゾーンのレイアウト
ロジカルトラック番号
4 096バイト
セクタ（G）
4 096バイト
セクタ（L）
2 048バイト
セクタ（G）
2 048バイト
セクタ（L）
− リードインゾーン
−1530〜−366
−3 060〜−1 896 −2508〜−406
−5 016〜−2 914
− 外周SFPゾーン
−365〜−351
−1 895〜−1 881 −405〜−381
−2 913〜−2 889
− 外周製造者ゾーン
−350〜 −1
−1 880〜−1 531 −380〜 −1
−2 888〜−2 509
ガードバンド
−350〜−346
−1 880〜−1 876 −380〜−373
−2 888〜−2 881
メディア製造者用試験ゾーン
−345〜−326
−1 875〜−1 856 −372〜−340
−2 880〜−2 848
記録キャリブレーションゾーン
−325〜 −66
−1 855〜−1 596 −339〜−109
−2 847〜−2 617
フォーカスバイアス校正ゾーン
−65〜 −36
−1 595〜−1 566 −108〜 −59
−2 616〜−2 567
リファレンス再生ゾーン
−35〜 −6
−1 565〜−1 536
−58〜 −9
−2 566〜−2 517
ガードバンド
−5〜 −1
−1 535〜−1 531
−8〜 −1
−2 516〜−2 509
− ユーザゾーン
0〜186 479
0〜300 899
− 内周製造者ゾーン
186 480〜
186 800
186 868〜
187 188
300 900〜
301 210
301 858〜
302 168
ガードバンド
186 480〜
186 482
186 868〜
186 870
300 900〜
300 903
301 858〜
301 861
リファレンス再生ゾーン
186 483〜
186 502
186 871〜
186 890
300 904〜
300 927
301 862〜
301 885
予備
186 503〜
186 522
186 891〜
186 910
300 928〜
300 951
301 886〜
301 909
記録キャリブレーションゾーン
186 523〜
186 777
186 911〜
187 165
300 952〜
301 174
301 910〜
302 132
メディア製造者用試験ゾーン
186 778〜
186 797
187 166〜
187 185
301 175〜
301 206
302 133〜
302 164
ガードバンド
186 798〜
186 800
187 186〜
187 188
301 207〜
301 210
302 165〜
302 168
− 内周SFPゾーン
186 801〜
186 815
187 189〜
187 203
301 211〜
301 235
302 169〜
302 193
− SFPのための遷移ゾーン
186 816〜
186 867
187 204〜
187 255
301 236〜
301 857
302 194〜
302 815
− PEPゾーン
N/A
N/A
− ミラーゾーン
N/A
N/A
17.2.1 リードインゾーン
リードインゾーンは，位置決めのためにだけ使用する。
17.2.2 製造者ゾーン
内周及び外周の2か所に製造者ゾーンが存在する。これによって，メディア製造者及び駆動装置が，ユ
ーザ情報記録領域とは別の領域で，再生条件及び記録条件の最適化などのテストを行うことができる。
駆動装置の試験ゾーンに含まれるデータパターンを，表8に示す。
51
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表8−駆動装置の試験ゾーンのデータパターン
4 096バイトセクタ
外周駆動装置試験ゾーン
ロジカルトラック
データパターン
記録キャリブレーションゾーン
−325〜
−66
−
−1855〜 −1596
−
グルーブフォーカスバイアス調整ゾーン
−65〜
−51
0000(3T)
−1595〜 −1581
CCCC(6T)
ランドフォーカスバイアス調整ゾーン
−50〜
−36
CCCC(6T)
−1580〜 −1566
0000(3T)
グルーブリファレンス再生ゾーン
−35〜
−21
90E9(2T-2T-4T)
−1565〜 −1551
CCCC(6T)
ランドリファレンス再生ゾーン
−20〜
−6
CCCC(6T)
−1550〜 −1536
90E9(2T-2T-4T)
内周駆動装置試験ゾーン
ロジカルトラック
データパターン
記録キャリブレーションゾーン
186 523〜186 777
−
186 911〜187 165
−
グルーブリファレンス再生ゾーン
186 493〜186 502
90E9(2T-2T-4T)
186 881〜186 890
CCCC(6T)
ランドリファレンス再生ゾーン
186 483〜186 492
CCCC(6T)
186 871〜186 880
90E9(2T-2T-4T)
2 048バイトセクタ
外周駆動装置試験ゾーン
ロジカルトラック
データパターン
記録キャリブレーションゾーン
−325〜
−66
−
−1855〜 −1596
−
グルーブフォーカスバイアス調整ゾーン
−108〜
−84
0000(3T)
−2616〜 −2592
CCCC(6T)
ランドフォーカスバイアス調整ゾーン
−83〜
−59
CCCC(6T)
−2591〜 −2567
0000(3T)
グルーブリファレンス再生ゾーン
−58〜
−34
90E9(2T-2T-4T)
−2566〜 −2542
CCCC(6T)
ランドリファレンス再生ゾーン
−33〜
−9
CCCC(6T)
−2541〜 −2517
90E9(2T-2T-4T)
内周駆動装置試験ゾーン
ロジカルトラック
データパターン
記録キャリブレーションゾーン
300 952〜301 174
−
301 910〜302 132
−
グルーブリファレンス再生ゾーン
300 916〜300 927
90E9(2T-2T-4T)
301 874〜301 885
CCCC(6T)
ランドリファレンス再生ゾーン
300 904〜300 915
CCCC(6T)
301 862〜301 873
90E9(2T-2T-4T)
17.2.2.1 外周製造者ゾーン
外周製造者ゾーンは，700/760ロジカルトラックからなる。
外周製造者ゾーンは，六つの部分に分割される。すなわち，二つのガードバンド，メディア製造者用の
試験ゾーン，記録キャリブレーションゾーン，フォーカスバイアス調整ゾーン及びリファレンス再生ゾー
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X 6280：2011 (ISO/IEC 22092：2002)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ンである。
メディア製造者用の試験ゾーンは，メディア製造者による品質テストを意図したものであり，駆動装置
が使用してはならない。
駆動装置の試験ゾーンは，駆動装置が記録パワーを設定できるように，試験用に意図したものであり，
メディア製造者が使用してはならない。試験に使用するトラックは，使用によって記録条件設定ゾーン全
体が徐々に劣化するように，駆動装置の記録調整ゾーンから無作為に選択することが望ましい。このゾー
ンの各トラックは，ディスクのデータゾーンにおけるトラックの特性を代表した状態にある。
フォーカスバイアス調整データ及びリファレンス再生調整データは，駆動装置がデータの再生及び記録
のための光学的条件を最適化することを意図したものである。これらのゾーンに含まれるデータは，表8
で定義している。
外周製造者ゾーンは，フィジカルトラック当たり30/57セクタとする。
17.2.2.2 内周製造者ゾーン
内周製造者ゾーンは，六つの部分に分割される。すなわち，二つのガードバンド，リファレンス再生領
域，予備領域，記録調整領域及びメディア製造者用の試験領域である。このゾーンは，上記の外周製造者
ゾーンに類似した方法で使用してもよい。
内周製造者ゾーンは，フィジカルトラック当たり15/28セクタとする。
17.2.3 ユーザゾーン
ユーザゾーンのデータフィールドは，箇条15のフォーマットでのユーザ記録データを含むものとする。
ユーザゾーンのレイアウトは，箇条18で規定する。
17.2.4 反射ゾーン
反射ゾーンは，他のゾーンと同じ記録層であることが要件であり，その他は規定しない。
17.2.5 制御トラックゾーン
ディスクの各面には次の三つのゾーンが存在する。
− 制御トラックPEPゾーン
− 内周制御トラックSFPゾーン
− 外周制御トラックSFPゾーン
これらのゾーンは，制御トラック情報に使用する。
制御トラックPEPゾーンと内周制御トラックSFPゾーン・外周制御トラックSFPゾーンとでは異なる
フォーマットで記録する。
制御トラックPEPゾーンは，低周波数の位相変調方式を用いて記録する。
内周制御トラックSFPゾーン及び外周制御トラックSFPゾーンは，それぞれ，ユーザゾーンで使用する
のと同じ変調方法及びフォーマットで記録されたトラックで構成する。SFPのための推移ゾーンは，サー
ボ情報を含まない制御トラックPEPゾーンからサーボ情報を含むゾーンに移行する領域である（箇条16
及び箇条18参照）。
内周制御トラックSFPゾーンは，フィジカルトラック当たり15/28セクタとし，外周制御トラックSFP
ゾーンは，フィジカルトラック当たり30/57セクタとする。
17.3 制御トラックPEPゾーン
制御トラックPEPゾーンに含まれる情報は，ディスクのタイプ，ECC，反射率などを規定する。
このゾーンは，サーボ情報を含んではならない。全ての情報は，位相変調方式で記録する。このゾーン
の全てのトラックのマークは，駆動装置が半径方向のトラッキングをかけなくても情報を取得できるよう
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X 6280：2011 (ISO/IEC 22092：2002)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
に，半径方向にそろえて記録する。
再生パワーは0.65 mWを超えてはならない。
17.3.1 PEPゾーンの記録方式
PEPゾーンは，フィジカルトラック当たり561〜567PEPチャネルビットセルとする。PEPチャネルビッ
トセルの長さは，656±1PEPチャネルビットとする。PEPチャネルビットセルは，セルの前半又は後半の
いずれかをマークで埋めることによって記録する。
マークの長さは，2PEPチャネルビットとし，隣接するマークからは 2PEPチャネルビット離す。
セルの前半にマークが記録してある場合を“0”とし，後半にマークが記録してある場合を“1”とする。
制御トラックPEPゾーンのトラックの密度及びマークの形状に関する要件は，箇条23で規定する。
図21−PEPゾーンの位相変調の例
17.3.2 PEPゾーンのトラックのフォーマット
PEPゾーンは，フィジカルトラック当たり3セクタとする。図22のフィールドの下の数字は，各フィー
ルドにおけるPEPチャネルビットセルの数を示す。
セクタ間のギャップは，10〜12PEPチャネルビットセルに対応する長さの未記録領域とする。
|<-------------------------------------- 1フィジカルトラック (3 セクタ)--- --------------------------->|
セクタ
ギャップ
セクタ
ギャップ
セクタ
ギャップ
177
177
177
図22−PEPゾーンのトラックフォーマット
17.3.2.1 セクタのフォーマット
177PEPチャネルビットセルの各セクタのレイアウトを，図23に示す。
|<-------------------------------------- 1セクタ(177ビット)--- ------- ------- --------------------------->|
プリアンブル
同期フィールド
セクタ番号
データ
CRC
16
1
8
144
8
図23−PEPゾーンのセクタフォーマット
1/2PEPチャネルビットセル
1/2PEPチャネルビットセル
PEPチャネルビットセル“１”
PEPチャネルビットセル“０”
2PEPチャネルビット
2PEPチャネルビット
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17.3.2.1.1 プリアンブルフィールド
このフィールドは，“0”に設定した16PEPチャネルビットセルで構成する。
17.3.2.1.2 同期フィールド
このフィールドは，“1”に設定した1PEPチャネルビットセルで構成する。
17.3.2.1.3 セクタ番号フィールド
このフィールドは，2進法でセクタ番号0〜2を規定する8ビットで構成する。
17.3.2.1.4 データフィールド
このフィールドは，0〜17で番号付けした18個の8ビットバイトで構成する。
バイト0
ビット7
“0”に設定し，連続サーボトラッキング方式を示す。
ビット6〜4
110に設定し，ZCAVを示す。
これ以外の設定をしてはならない（附属書W参照）。
ビット3
“0”に設定する。
ビット2〜0
010に設定し，RLL(1,7) マークエッジ変調を示す。
これ以外の設定をしてはならない。
バイト1
ビット 7
“0”に設定する。
ビット6〜4
誤り訂正符号を規定する。
010に設定するときは，R-S LDC16度及び20インタリーブを示す。
011に設定するときは，R-S LDC16度及び40インタリーブを示す。
これ以外の設定をしてはならない。
ビット3
“0”に設定する。
ビット2〜0
次の式における2の乗数nを2進法で記録し，セクタごとのユーザバイトの数を表
す。
256×2n
011は，セクタ当たり2 048ユーザバイトを示す。
100は，セクタ当たり4 096ユーザバイトを示す。
3又は4以外のnの値を設定してはならない。
バイト2
このバイトは，2進法で，各ロジカルトラック当たりのセクタ数を規定する。
0000 0110
4 096バイトセクタメディアにおいて，ロジカルトラックにつき6セクタを示す。
0000 0111
2 048バイトセクタメディアにおいて，ロジカルトラックにつき7セクタを示す。
バイト3
このバイトは，660 nmの公称波長で測定するときのディスクの反射率Rの製造者の規定を示す。
これは，数nとして，次のように規定する。
n＝100R
バイト4
このバイトは，セクタマークの変調及び極性を規定する。
ビット7
これは1に設定する。
ビット6〜0
これは，信号振幅を表し，−15と−33との間の数nとして，次のように規定する。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
n＝−50 ( Ism / Itop )
ここに，Ismは，チャネル1のセクタマークからの信号であり，Itopは，ユーザゾーンの未記録領域，
非グルーブ領域からの信号（反射レベル）である。
この数が負であることからビット6は1に設定しなければならず，ビット5〜0は2の補数で表さなけ
ればならない。記録はハイトゥロー（high-to-low: 反射レベルが小さくなる。）とする。
バイト5
このバイトは，ギガバイトで，ODCの容量（小数点の右側に有効数字が1個ある。）の10倍を規定す
る。この規格の場合は，このバイトを(5C) に設定し，9.2ギガバイトの容量を表す。
バイト6
このバイトは，2進法で，ミリワットで表す最大再生パワーの20倍を示す数字nを規定する。最大再
生パワーは，回転周波数50 Hz及び波長660 nmでSFPゾーンを再生するために使用されるパワーとす
る。この数nは60〜80の間とする。
バイト7
このバイトの設定の規定は，次による。
0010 0000
タイプR/W
0001 0001
タイプWO
この規格は，このバイトのその他の設定を禁止する（附属書W参照）。
バイト8
このバイトは，外周SFPゾーンが始まるIDトラック番号のうち，最上位バイトの次のバイトを規定
する。これは(FE)/(FE)に設定し，IDトラック番号−365/−405の最上位バイトの次のバイトを表す。
バイト9
このバイトは，外周SFPゾーンが始まるIDトラック番号の最下位バイトを規定する。これは，(93)/(6B)
に設定し，IDトラック番号−365/−405の最下位バイトを表す。
バイト10
このバイトは，内周SFPゾーンが始まるIDトラック番号の最上位バイトの次のバイトを規定する。
これは (6D)/(4C) に設定し，IDトラック番号93 561/150 761の最上位バイトの次のバイトを表す。
バイト11
このバイトは，内周SFPゾーンが始まるIDトラック番号の最下位バイトを規定する。これは (79)/(E9)
に設定し，IDトラック番号93 561/150 761の最下位バイトを表す。
バイト12
このバイトは，マイクロメートル（μm）で，トラックピッチの100倍を規定する。これは，(41) に設
定し，0.65 μmのトラックピッチを表す。
バイト13
このバイトは，(FF) に設定する。
バイト14
このバイトは，外周SFPゾーンが始まるIDトラック番号の最上位バイトを規定する。これは (FF)/(FF)
に設定し，IDトラック番号−365/−405の最上位バイトを表す。
バイト15
このバイトは，内周SFPゾーンが始まるIDトラック番号の最上位バイトを規定する。これは (01)/(02)
に設定し，IDトラック番号93 561/150 761の最上位バイトを表す。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
バイト16及び17
この規格では，これらのバイトの内容を規定せず，互換では無視する。
17.3.2.1.5 CRC
CRCの8個のビットは，セクタ番号フィールド及びPEPセクタのデータフィールド全体で計算される。
生成多項式は，次による。
G(x)＝x8＋x4＋x3＋x2＋1
残差多項式R(x)は，次による。
)
(
mod
)
(
8
143
0
151
144
∑
∑
x
G
x
x
a
x
a
x
R
i
i
i
i
i
i
i
i
+
=
=
=
=
=
ここに，ai は入力データのビットを示し，
iaは逆ビットを示す。セクタ番号フィールドの最上位ビット
はa151である。CRCの8個のビットCkは，次によって定義する。
k
k
k
kx
C
x
R
∑
=
=
=
7
0
)
(
ここに，C7は，PEPセクタのCRCバイトの最上位ビットとして記録される。
17.3.2.2 セクタのデータフィールドのフォーマットのまとめ
表9−PEPゾーンのフォーマット
ビット
バイト
7
6
5
4
3
2
1
0
0
フォー
マット
ロジカルZCAV
0
変調コード
1
0
ECC
0
ユーザバイト数
2
ロジカルトラック当たりのセクタ数
3
660 nmでの反射率
4
0
プリフォーマットデータの振幅及び極性
5
ODC容量
6
50 Hz，660 nmのときのSFPゾーンの最大再生パワー
7
ディスクタイプ
8
外周SFPゾーンの開始トラック番号のMSBの次のバイト
9
外周SFPゾーンの開始トラック番号のLSB
10
内周SFPゾーンの開始トラック番号のMSBの次のバイト
11
内周SFPゾーンの終了トラック番号のLSB
12
トラックピッチ
13
(FF)
14
外周SFPゾーンの開始トラック番号のMSB
15
内周SFPゾーンの開始トラック番号のMSB
16
規定せず
17
規定せず
17.4 制御トラックSFPゾーン
二つの制御トラックSFPゾーンは，光磁気記録方式を用い，箇条15で規定するセクタフォーマットに
従って記録する。記録されたデータマークは，箇条27で規定する信号についての要件を満たすものとする。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
SFPゾーン（17.2.5参照）の各セクタは，0〜511で番号付けされた512バイトの情報を含む。
− PEP情報の複製（18バイト）
− メディア情報（362バイト）
− システム情報（132バイト）
2 048バイトセクタの場合，これらの512バイトの後に1 536バイトの(FF)を付ける。4 096バイトセク
タの場合，これらの512バイトの後に3 584バイトの(FF)を付ける。
17.4.1 PEP情報の複製
バイト0〜17は，PEPゾーンのセクタのデータフィールドの18バイトと同一である（17.3.2.1.4参照）。
17.4.2 メディア情報
バイト18〜47は，次の条件を規定する。
波長L1＝660 nm
反射率R1
回転周波数N1＝50 Hz
Nの値に対応した，4Tマークの記録パワーの1組が与えられる。これは，内周半径，中周半径及び外周
半径の三つの値を含む。
バイト18〜47で規定する全ての値は，11.5，箇条25，箇条26，箇条27及び箇条28の要件を満たすよ
うな値とする（表10参照）。
バイト18
このバイトは，ナノメートル（nm）で，波長L1を0と255との間の数nとして次のように規定する。
1
5
1L
n=
このバイトは，この規格に従うODCについては，n＝132に設定する。
バイト19
このバイトは，波長L1での反射率R1（11.5.5参照）を数nとして次のように規定する。
n＝100 R1
バイト20
このバイトは，ヘルツ（Hz）で，回転周波数を数nとして次のように規定する。
n＝N1
このバイトは，この規格に従うODCについては，n＝50に設定する。
バイト21
このバイトは，ユーザゾーンの最内周領域での最大再生パワーP1をミリワット（mW）で示し，60〜
80の間の数nとして次のように規定する。
n＝20 P1
バイト22〜24
これらのバイトは使用せず，(FF) に設定する。
次のバイト25〜27は，ディスク製造者が示す4Tマークの記録パワーPwをミリワット（mW）で規定す
る（24.3.3参照）。Pwは，0〜255の数nとして次のように表す。
n＝5Pw
バイト25
このバイトは，次の場合のPwを規定する。
58
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
r＝30 mm
バイト26
このバイトは，次の場合のPwを規定する。
r＝45 mm
バイト27
このバイトは，次の場合のPwを規定する。
r＝62 mm
バイト28〜43
これらのバイトは (FF) に設定する。
バイト44
このバイトは (00) に設定する。
次のバイト45〜47は，ディスク製造者が示す消去パワーPeをミリワット（mW）で規定する（箇条27
参照）。Peは，0〜255までの数nとして次のように表す。
n＝5Pe
バイト45
このバイトは，次の場合のPe を規定する。
r＝30 mm
バイト46
このバイトは，次の場合のPe を規定する。
r＝45 mm
バイト47
このバイトは，次の場合のPeを規定する。
r＝62 mm
バイト48〜363
これらのバイトは，この規格では規定せず，(FF) に設定する。
バイト364
このバイトは，性能指数（25.1参照）の極性を規定する。これは，(01) に設定し，極性が負である（記
録マークによるカー回転の方向が反時計回りである。）ことを意味する。
バイト365
このバイトは，性能指数Fを数n（25.1参照）として次のように規定する。
n＝10 000F
バイト366〜383
これらのバイトは (FF) に設定する。
17.4.3 システム情報
バイト384〜389は，必須である。バイト384〜386は，ユーザゾーンの最終IDトラック番号を2進法
で規定する。ユーザゾーンのIDトラックの総数は，ユーザゾーンの最終IDトラック番号＋1に等しい。4
096バイトセクタのディスクの場合，ユーザゾーンの最終IDトラック番号は，93 239とする。2 048バイ
トセクタのディスクの場合，ユーザゾーンの最終IDトラック番号は，150 449とする。バイト387及び388
は，セクタサイズを2進法で規定する。バイト389は，エミュレートセクタサイズ1 024バイト及び512
バイトのオフセットを2進法で規定する。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
バイト384
このバイトは，4 096バイトセクタに対しては (01) に，2 048バイトセクタに対しては (02) に設定し，
ユーザゾーンの最終IDトラック番号の最上位バイトを示す。
バイト385
このバイトは，4 096バイトセクタに対しては (6C) に，2 048バイトセクタに対しては (4B) に設定
し，ユーザゾーンの最終IDトラック番号の最上位バイトの次のバイトを示す。
バイト386
このバイトは，4 096バイトセクタに対しては (37) に，2 048バイトセクタに対しては (B1) に設定し，
ユーザゾーンの最終IDトラック番号の最下位バイトを示す。
バイト387
このバイトは，エミュレートセクタサイズを含むメディアセクタサイズの最上位バイトを表す。4 096
バイトセクタメディアに対しては (10) に，2 048バイトセクタメディアに対しては (08) に，1 024バイ
トセクタメディアに対しては (04) に，512バイトセクタメディアに対しては (02) に設定する。
バイト388
このバイトは，エミュレートセクタサイズを含むセクタサイズの最下位バイトを表す（附属書AA参
照）。全てのセクタサイズ，すなわち，4 096バイトセクタ，2 048バイトセクタ，1 024バイトセクタ，
及び512バイトセクタに対して (00) に設定する。
バイト389
このバイトは，初期エミュレーションオフセット数を表す。初期デフォルトの設定は (00) である。
バイト390〜437
これらのバイトは，この規格では規定しない。
バイト438〜479
これらのバイトは，予備として確保し，(FF) に設定する。
バイト480〜511
これらのバイトは，この規格では規定せず，無視してもよい。
バイト512〜2 047/4 095
これらのバイトは，(FF) に設定する。
60
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表10−メディア情報のまとめ
必須項目
任意又は (FF)
必須(FF)
メディアパラメタ
0〜12，14，15
13
規定せず
16〜17
波長及び反射率（L1，R1）
18〜19
回転周波数（N1），再生パワー（Pr），
記録パワー（Pw），消去パワー（Pe）
20〜21，25〜27，
44〜47
22〜24，28〜43
未使用
48〜363
性能指数
364〜365
予備
366〜383
最終トラック番号
384〜386
セクタサイズ
387〜388
エミュレーションオフセット
389
規定せず
390〜437
予備
438〜479
規定せず
480〜511
2 048バイトセクタ
512〜2 047
4 096バイトセクタ
512〜4 095
18 ユーザゾーンのレイアウト
18.1 ユーザゾーンの概要
各面のユーザゾーンのデータ容量は，4 096バイトセクタのディスクの場合は4.58ギガバイト，2 048バ
イトセクタのディスクの場合は4.3ギガバイトである。この値には，ユーザ領域のスペアセクタ及び使用
不能なセクタが含まれる。
ユーザゾーンの位置及びサイズは，箇条17で規定する。
18.2 ユーザゾーンの分割
ユーザゾーンは，4個の欠陥管理領域（DMA）を含み，ゾーンの冒頭に2個，末尾に2個配置する。2
組のDMAの間の領域をユーザ領域と呼ぶ。
ユーザゾーン全体は，ディスクのZCAV構成の結果として，バンドに分割する。
各バンドは，同じ数のフィジカルトラックからなる。各バンドは，同じ数のセクタをもつロジカルトラ
ックに分割する。バンドごとのロジカルトラック数は，外周から内周へ移るに従って減少する。
4 096バイトセクタのときは，ユーザゾーンは，表11a及び表11bで示すとおり，0〜15で番号付けされ
た16バンドに分割する。
2 048バイトセクタのときは，ユーザゾーンは，表12a及び表12bで示すとおり，0〜29で番号付けされ
た30バンドに分割する。
階層を次に示す。
4 096バイトセクタディスクの場合：
6セクタ
＝1ロジカルトラック
15 540〜7 770ロジカルトラック ＝1バンド
16バンド
＝ユーザゾーン
2 048バイトセクタディスクの場合：
7セクタ
＝1ロジカルトラック
13 452〜6 608ロジカルトラック ＝1バンド
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
30バンド
＝ユーザゾーン
18.3 ユーザ領域
ユーザ領域のデータフィールドは，ユーザデータの記録を意図したものである。
ユーザ領域は，書換形ゾーン，又は追記形ゾーンで構成する。
ユーザ領域は，トラック0で始まり，トラック186 479/300 899で終わる。ユーザ領域には，1 376/1 200
個のスペアロジカルトラックが存在する。
さらに，ユーザ領域をバンドに分割し，一つのバンドに各グループが属する，すなわち，総計16/30グ
ループとなるようにする。
タイプR/W及びタイプWOのディスクは，18.6.2及び18.7.2の方法に従って分割する。
IDフィールドデータからロジカルトラック番号への計算は，次による。
ID
LTB
i
+
×
=
2
SLT＋
ロジカルトラック番号
ここに，
i＝ 0（グルーブ），1（ランド）
SLT＝ 該当バンドの最初のID2トラック番号
LTB＝ バンドごとの総ロジカルトラック数
ID＝ IDトラック番号
例
ID＝20 000（4 096バイトセクタディスクのバンド2のグルーブ）
ロジカルトラック数 ＝(15 281)＋(0×14 504/2)＋20 000
＝35 281
ID＝20 000（4 096バイトセクタディスクのバンド2のランド）
ロジカルトラック数 ＝(15 281)＋(1×14 504/2)＋20 000
＝15 281＋7 252＋20 000
＝42 533
62
X 6280：2011 (ISO/IEC 22092：2002)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表11a−ロジカルトラック番号とIDフィールドデータとの関係（4 096バイトセクタ：16バンド）
IDフィールドのバンド開始セクタ
ロジカルトラック
番号
バンド
番号
プリフォーマットヘッダ1
プリフォーマットヘッダ2
バンド開始セクタ
ID1トラック番号
ID1セクタ番号 ID2トラック番号
ID2セクタ番号
0
0-G
0
0
0
0
0
0-L
5
0
7 770
1
1-G
7 770
0
7 770
0
15 540
1-L
7 774
5
23 051
2
2-G
15 281
0
15 281
0
30 562
2-L
15 285
4
37 814
3
3-G
22 533
0
22 533
0
45 066
3-L
22 537
3
52 059
4
4-G
29 526
0
29 526
0
59 052
4-L
29 530
2
65 786
5
5-G
36 260
0
36 260
0
72 520
5-L
36 264
1
78 995
6
6-G
42 735
0
42 735
0
85 470
6-L
42 739
0
91 686
7
7-G
48 951
0
48 951
0
97 902
7-L
48 954
5
103 859
8
8-G
54 908
0
54 908
0
109 816
8-L
54 911
4
115 514
9
9-G
60 606
0
60 606
0
121 212
9-L
60 609
3
126 651
10
10-G
66 045
0
66 045
0
132 090
10-L
66 048
2
137 270
11
11-G
71 225
0
71 225
0
142 450
11-L
71 228
1
147 371
12
12-G
76 146
0
76 146
0
152 292
12-L
76 149
0
156 954
13
13-G
80 808
0
80 808
0
161 616
13-L
80 810
5
166 019
14
14-G
85 211
0
85 211
0
170 422
14-L
85 213
4
174 566
15
15-G
89 355
0
89 355
0
178 710
15-L
89 357
3
182 595
63
X 6280：2011 (ISO/IEC 22092：2002)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表11b−ロジカルトラックレイアウト（4 096バイトセクタ：16バンド）
バンド
番号
ロジカル
トラック数
／バンド
グルーブ
／ランド
ロジカルトラック番号
バンド
開始
バッファ
開始
データ
開始
スペア
開始
バッファ
開始
テスト
開始
バッファ
開始
0
15 540
0-G
−
0
6
7 677
7 720
7 730
7 740
0-L
−
7 770
7 776
15 447
15 490
15 500
15 510
1
15 022
1-G
15 540
15 550
15 570
22 958
23 001
23 011
23 021
1-L
23 051
23 061
23 081
30 469
30 512
30 522
30 532
2
14 504
2-G
30 562
30 572
30 592
37 721
37 764
37 774
37 784
2-L
37 814
37 824
37 844
44 973
45 016
45 026
45 036
3
13 986
3-G
45 066
45 075
45 096
51 966
52 009
52 019
52 029
3-L
52 059
52 068
52 089
58 959
59 002
59 012
59 022
4
13 468
4-G
59 052
59 061
59 082
65 693
65 736
65 746
65 756
4-L
65 786
65 795
65 816
72 427
72 470
72 480
72 490
5
12 950
5-G
72 520
72 529
72 550
78 902
78 945
78 955
78 965
5-L
78 995
79 004
79 025
85 377
85 420
85 430
85 440
6
12 424
6-G
85 470
85 478
85 500
91 593
91 636
91 646
91 656
6-L
91 686
91 694
91 716
97 809
97 852
97 862
97 872
7
11 914
7-G
97 902
97 910
97 932 103 766 103 809 103 819 103 829
7-L
103 859 103 867 103 889 109 723 109 766 109 776 109 786
8
11 396
8-G
109 816 109 824 109 846 115 421 115 464 115 474 115 484
8-L
115 514 115 522 115 544 121 119 121 162 121 172 121 182
9
10 878
9-G
121 212 121 219 121 242 126 558 126 601 126 611 126 621
9-L
126 651 126 658 126 681 131 997 132 040 132 050 132 060
10
10 360
10-G
132 090 132 097 132 120 137 177 137 220 137 230 137 240
10-L
137 270 137 277 137 300 142 357 142 400 142 410 142 420
11
9 842
11-G
142 450 142 457 142 480 147 278 147 321 147 331 147 341
11-L
147 371 147 378 147 401 152 199 152 242 152 252 152 262
12
9 324
12-G
152 292 152 298 152 322 156 861 156 904 156 914 156 924
12-L
156 954 156 960 156 984 161 523 161 566 161 576 161 586
13
8 806
13-G
161 616 161 622 161 646 165 926 165 969 165 979 165 989
13-L
166 019 166 025 166 049 170 329 170 372 170 382 170 392
14
8 288
14-G
170 422 170 428 170 452 174 473 174 516 174 526 174 536
14-L
174 566 174 572 174 596 178 617 178 660 178 670 178 680
15
7 770
15-G
178 710 178 715 178 740 182 526 182 575 182 585
N/A
15-L
182 595 182 600 182 625 186 411 186 460 186 470
N/A
64
X 6280：2011 (ISO/IEC 22092：2002)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表12a−ロジカルトラック番号とIDフィールドデータとの関係（2 048バイトセクタ：30バンド）
IDフィールドのバンド開始セクタ
ロジカルトラック
番号
バンド
番号
プリフォーマットヘッダ 1
プリフォーマットヘッダ 2
バンド開始
ID1トラック番号
ID1セクタ番号 ID2トラック番号
ID2セクタ番号
0
0-G
0
0
0
0
0
0-L
8
1
6 726
1
1-G
6 726
0
6 726
0
13 452
1-L
6 734
0
20 060
2
2-G
13 334
0
13 334
0
26 668
2-L
13 341
6
33 158
3
3-G
19 824
0
19 824
0
39 648
3-L
19 831
5
46 020
4
4-G
26 196
0
26 196
0
52 392
4-L
26 203
4
58 646
5
5-G
32 450
0
32 450
0
64 900
5-L
32 457
3
71 036
6
6-G
38 586
0
38 586
0
77 172
6-L
38 593
2
83 190
7
7-G
44 604
0
44 604
0
89 208
7-L
44 611
1
95 108
8
8-G
50 504
0
50 504
0
101 008
8-L
50 511
0
106 790
9
9-G
56 286
0
56 286
0
112 572
9-L
56 292
6
118 236
10
10-G
61 950
0
61 950
0
123 900
10-L
61 956
5
129 446
11
11-G
67 496
0
67 496
0
134 992
11-L
67 502
4
140 420
12
12-G
72 924
0
72 924
0
145 848
12-L
72 930
3
151 158
13
13-G
78 234
0
78 234
0
156 468
13-L
78 240
2
161 660
14
14-G
83 426
0
83 426
0
166 852
14-L
83 432
1
171 826
15
15-G
88 500
0
88 500
0
177 000
15-L
88 506
0
181 956
16
16-G
93 456
0
93 456
0
186 912
16-L
93 461
6
191 750
17
17-G
98 294
0
98 294
0
196 588
17-L
98 299
5
201 308
18
18-G
103 014
0
103 014
0
206 028
18-L
103 019
4
210 630
19
19-G
107 616
0
107 616
0
215 232
19-L
107 621
3
219 716
20
20-G
112 100
0
112 100
0
224 200
20-L
112 105
2
228 566
21
21-G
116 466
0
116 466
0
232 932
21-L
116 471
1
237 180
65
X 6280：2011 (ISO/IEC 22092：2002)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表12a−ロジカルトラック番号とIDフィールドデータとの関係（2 048バイトセクタ：30バンド）（続き）
IDフィールドのバンド開始セクタ
ロジカルトラック
番号
バンド
番号
プリフォーマットヘッダ 1
プリフォーマットヘッダ 2
バンド開始
ID1トラック番号
ID1セクタ番号 ID2トラック番号
ID2セクタ番号
22
22-G
120 714
0
120 714
0
241 428
22-L
120 719
0
245 558
23
23-G
124 844
0
124 844
0
249 688
16-G
93 456
0
186 912
24
24-G
128 856
0
128 856
0
257 712
24-L
128 860
5
261 606
25
25-G
132 750
0
132 750
0
265 500
25-L
132 754
4
269 276
26
26-G
136 526
0
136 526
0
273 052
26-L
136 530
3
276 710
27
27-G
140 184
0
140 184
0
280 368
27-L
140 188
2
283 908
28
28-G
143 724
0
143 724
0
287 448
28-L
143 728
1
290 870
29
29-G
147 146
0
147 146
0
294 292
29-L
147 150
0
297 596
表12b−ロジカルトラックレイアウト（2 048バイトセクタ：30バンド）
バンド
番号
ロジカル
トラック数
／バンド
グルーブ
／ランド
ロジカルトラック番号
バンド
開始
バッファ
開始
データ
開始
スペア
開始
バッファ
開始
テスト
開始
バッファ
開始
0
13 452
0-G
−
0
6
6 623
6 643
6 660
6 677
0-L
−
6 726
6 732
13 349
13 369
13 386
13 403
1
13 216
1-G
13 452
13 468
13 501
19 957
19 977
19 994
20 011
1-L
20 060
20 076
20 109
26 565
26 585
26 602
26 619
2
12 980
2-G
26 668
26 684
26 717
33 055
33 075
33 092
33 109
2-L
33 158
33 174
33 207
39 545
39 565
39 582
39 599
3
12 744
3-G
39 648
39 664
39 697
45 917
45 937
45 954
45 971
3-L
46 020
46 036
46 069
52 289
52 309
52 326
52 343
4
12 508
4-G
52 392
52 408
52 441
58 543
58 563
58 580
58 597
4-L
58 646
58 662
58 695
64 797
64 817
64 834
64 851
5
12 272
5-G
64 900
64 915
64 949
70 933
70 953
70 970
70 987
5-L
71 036
71 051
71 085
77 069
77 089
77 106
77 123
6
12 036
6-G
77 172
77 187
77 221
83 087
83 107
83 124
83 141
6-L
83 190
83 205
83 239
89 105
89 125
89 142
89 159
7
11 800
7-G
89 208
89 223
89 257
95 005
95 025
95 042
95 059
7-L
95 108
95 123
95 157 100 905 100 925 100 942 100 959
8
11 564
8-G
101 008 101 022 101 057 106 687 106 707 106 724 106 741
8-L
106 790 106 804 106 839 112 469 112 489 112 506 112 523
9
11 328
9-G
112 572 112 586 112 621 118 133 118 153 118 170 118 187
9-L
118 236 118 250 118 285 123 797 123 817 123 834 123 851
10
11 092
10-G
123 900 123 914 123 949 129 343 129 363 129 380 129 397
10-L
129 446 129 460 129 495 134 889 134 909 134 926 134 943
66
X 6280：2011 (ISO/IEC 22092：2002)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表12b−ロジカルトラックレイアウト（2 048バイトセクタ：30バンド）（続き）
バンド
番号
ロジカル
トラック数
／バンド
グルーブ
／ランド
ロジカルトラック番号
バンド
開始
バッファ
開始
データ
開始
スペア
開始
バッファ
開始
テスト
開始
バッファ
開始
11
10 856
11-G
134 992 135 006 135 041 140 317 140 337 140 354 140 371
11-L
140 420 140 434 140 469 145 745 145 765 145 782 145 799
12
10 620
12-G
145 848 145 861 145 897 151 055 151 075 151 092 151 109
12-L
151 158 151 171 151 207 156 365 156 385 156 402 156 419
13
10 384
13-G
156 468 156 481 156 517 161 557 161 577 161 594 161 611
13-L
161 660 161 673 161 709 166 749 166 769 166 786 166 803
14
10 148
14-G
166 852 166 865 166 901 171 823 171 843 171 860 171 877
14-L
171 926 171 939 171 975 176 897 176 917 176 934 176 951
15
9 912
15-G
177 000 177 012 177 049 181 853 181 873 181 890 181 907
15-L
181 956 181 968 182 005 186 809 186 829 186 846 186 863
16
9 676
16-G
186 912 186 924 186 961 191 647 191 667 191 684 191 701
16-L
191 750 191 762 191 799 196 485 196 505 196 522 196 539
17
9 440
17-G
196 588 196 600 196 637 201 205 201 225 201 242 201 259
17-L
201 308 201 320 201 357 205 925 205 945 205 962 205 979
18
9 204
18-G
206 028 206 040 206 077 210 527 210 547 210 564 210 581
18-L
210 630 210 642 210 679 215 129 215 149 215 166 215 183
19
8 968
19-G
215 232 215 243 215 281 219 613 219 633 219 650 219 667
19-L
219 716 219 727 219 765 224 097 224 117 224 134 224 151
20
8 732
20-G
224 200 224 211 224 249 228 463 228 483 228 500 228 517
20-L
228 566 228 577 228 615 232 829 232 849 232 866 232 883
21
8 496
21-G
232 932 232 943 232 981 237 077 237 097 237 114 237 131
21-L
237 180 237 191 237 229 241 325 241 345 241 362 241 379
22
8 260
22-G
241 428 241 438 241 477 245 455 245 475 245 492 245 509
22-L
245 558 245 568 245 607 249 585 249 605 249 622 249 639
23
8 024
23-G
249 688 249 698 249 737 253 597 253 617 253 634 253 651
23-L
253 700 253 710 253 749 257 609 257 629 257 646 257 663
24
7 788
24-G
257 712 257 722 257 761 261 503 261 523 261 540 261 557
24-L
261 606 261 616 261 655 265 397 265 417 265 434 265 451
25
7 552
25-G
265 500 265 510 265 549 269 173 269 193 269 210 269 227
25-L
269 276 269 286 269 325 272 949 272 969 272 986 273 003
26
7 316
26-G
273 052 273 061 273 101 276 607 276 627 276 644 276 661
26-L
276 710 276 719 276 759 280 265 280 285 280 302 280 319
27
7 080
27-G
280 368 280 377 280 417 283 805 283 825 283 842 283 859
27-L
283 908 283 917 283 957 287 345 287 365 287 382 287 399
28
6 844
28-G
287 448 287 457 287 497 290 767 290 787 290 804 290 821
28-L
290 870 290 879 290 919 294 189 294 209 294 226 294 243
29
6 608
29-G
294 292 294 300 294 341 297 536 297 562 297 579
N/A
29-L
297 596 297 604 297 645 300 840 300 866 300 883
N/A
18.4 欠陥管理領域（DMA）
四つの欠陥管理領域（DMA）は，ユーザ領域の構造の情報及び欠陥管理情報を含む。各DMAの長さは，
4 096バイトセクタの場合は，36セクタ，2 048バイトセクタの場合は，42セクタとする。各DMAの最初
のセクタのアドレスを，表13に示す。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表13−DMAの配置
DMA番号
4 096バイトセクタ
2 048バイトセクタ
トラック番号
セクタ番号
トラック番号
セクタ番号
DMA1
0
0
0
0
DMA2
7770
0
6726
0
DMA3
182569
0
297556
0
DMA4
186454
0
300860
0
各DMAは，ディスク定義構造（DDS），一次欠陥管理表（PDL）及び二次欠陥管理表（SDL）を含む。
四つのPDLの内容は同一とし，四つのSDLの内容は同一とする。四つのDDS間の相違は，各関連PDL
及びSDLに対するポインタだけとする。
ディスクの初期化後，各DMAがもつ内容は，次による。
− 最初のセクタはDDSとする。
− 2番目のセクタはタイプR/WのPDLの最初のセクタとする。
− SDLの最初のセクタは，タイプR/WのPDLに後続するセクタとする。
PDL及びSDLの長さは，それらのエントリの数によって決定する。SDLの後のDMAの残りのセクタの
内容は，タイプR/W及びタイプWOには規定されず，互換性では無視する。
各DDS内のPDLの開始アドレス及びSDLの開始アドレスは，同じDMAのPDL及びSDLを参照する。
18.5 ディスク定義構造（DDS）
DDSは，1セクタで構成し，ディスクの初期化の方法，ユーザ領域のグループ分割数，各グループ内の
データセクタの種類，PDLの開始アドレス及びSDLの開始アドレスを規定する。DDSは，ディスクの初
期化終了時に，各DMAの最初のセクタに記録する。
表14及び表15は，四つのDDSに記録される情報を示す。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
表14−DDSの内容（4 096バイトセクタ）
バイト番号
内容
設定
R/W
WO
0
DDS識別子
(0A)
(05)
1
DDS識別子
(0A)
(05)
2
予備
(00)
(00)
3
ディスク検証
ディスク非検証
(01)
(02)
(01)
(02)
4
グループ数のMSB
(00)
(00)
5
グループ数のLSB
(10)
(10)
6〜13
予備
(00)
(00)
14
PDLの開始アドレスのトラックのMSB
−
−
15
PDLの開始アドレス
−
−
16
PDLの開始アドレスのトラックのLSB
−
−
17
PDLの開始アドレスのセクタ
−
−
18
SDLの開始アドレスのトラックのMSB
−
−
19
SDLの開始アドレス
−
−
20
SDLの開始アドレスのトラックのLSB
−
−
21
SDLの開始アドレスのセクタ
−
−
22
バンド0タイプ
(01)
(04)
23
バンド1タイプ
(01)
(04)
…
…
…
…
36
バンド14タイプ
(01)
(04)
37
バンド15タイプ
(01)
(04)
38
セクタサイズのMSB（512，1 024，4 096）
(02)，(04)，(10)
(10)
39
セクタサイズのLSB
(00)
(00)
40
エミュレーションオフセット
−
(00)
41〜88
規定せず
−
−
89〜4 095
予備
(00)
(00)
上の表の記号（−）は，DDSに適切な値が入ることを意味する。
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表15−DDSの内容（2 048バイトセクタ）
バイト番号
内容
設定
R/W
WO
0
DDS識別子
(0A)
(05)
1
DDS識別子
(0A)
(05)
2
予備
(00)
(00)
3
ディスク検証
ディスク非検証
(01)
(02)
(01)
(02)
4
グループ数のMSB
(00)
(00)
5
グループ数のLSB
(1E)
(1E)
6〜13
予備
(00)
(00)
14
PDLの開始アドレスのトラックのMSB
−
−
15
PDLの開始アドレス
−
−
16
PDLの開始アドレスのトラックのLSB
−
−
17
PDLの開始アドレスのセクタ
−
−
18
SDLの開始アドレスのトラックのMSB
−
−
19
SDLの開始アドレス
−
−
20
SDLの開始アドレスのトラックのLSB
−
−
21
SDLの開始アドレスのセクタ
−
−
22
バンド0タイプ
(01)
(04)
23
バンド1タイプ
(01)
(04)
…
…
…
…
50
バンド28タイプ
(01)
(04)
51
バンド29タイプ
(01)
(04)
52
セクタサイズのMSB(2 048)
(08)
(08)
53
セクタサイズのLSB
(00)
(00)
54
エミュレーションオフセット
(00)
(00)
55〜102
規定せず
−
−
103〜2 047
予備
(00)
(00)
上の表の記号（−）は，DDSに適切な値が入ることを意味する。
18.6 書換形ゾーン
タイプR/Wのディスクは，書換形ゾーンからなる。書換形ゾーンは，ユーザによるデータの記録を意図
したものである。
18.6.1 配置
タイプR/Wの場合，書換形ゾーンは，トラック6のセクタ0〜トラック7 769/6 725の最後のセクタ，ト
ラック7 776/6 732のセクタ0〜トラック182 568/297 555の最後のセクタ，及びトラック182 575/297 562
のセクタ0〜トラック186 453/300 859の最後のセクタまでの領域とする。この不連続性は，DMAをユー
ザゾーン内に配置したことが原因である。全てのバンドを書換形として，DDSのバイト22〜37/51に記録
する。
18.6.2 書換形ゾーンの分割
ディスクの初期化によって，ユーザゾーンは，16/30の連続グループに分割される（表11及び表12参照）。
各グループは，データセクタのトラックとスペアセクタのトラックとからなる。
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18.7 追記形ゾーン
タイプWOは，追記形ゾーンからなる。追記形ゾーンは，ユーザによるデータ記録を意図したものであ
る。
18.7.1 配置
タイプWOの場合，追記形ゾーンは，トラック6のセクタ0〜トラック7 769/6 725の最後のセクタ，ト
ラック7 776/6 732のセクタ0〜トラック182 568/297 555の最後のセクタ，及びトラック182 575/297 562
のセクタ0〜トラック186 453/300 859の最後のセクタまでの領域とする。この不連続性は，DMAをユー
ザゾーン内に配置したことが原因である。全てのバンドを追記形として，DDSのバイト22〜37/51に記録
する。
18.7.2 追記形ゾーンの分割
ディスクの初期化によって，追記形ゾーンは，16/30の連続グループに分割される。各グループは，デ
ータセクタのトラックとスペアセクタのトラックとからなる。
19 書換形ゾーン及び追記形ゾーンの欠陥管理
ディスク上の欠陥セクタは，次に記述する欠陥管理方法に従って，正常セクタに代替する。使用前に，
ディスクの各面を初期化する。初期化のとき，検証を行っても行わなくてもよい。検証中に発見された欠
陥セクタは，セクタスリップ方式によって処理される。初期化後に発見された欠陥セクタは，線形置換方
式によって処理される。両方式が置換したディスクの片面の欠陥セクタの総数は，最大で8 191/8 191以下
とする。
19.1 ディスクの初期化
ディスクの初期化とは，ディスクの最初の使用に先立って，四つのDMAを記録することをいう。ユー
ザ領域は，バンドに分割され，それぞれがデータセクタ及びスペアセクタを含む。ディスクの初期化のと
きに，書換形ゾーン及び追記形ゾーンの検証によって，欠陥セクタの検出及び代替を行ってもよい。
タイプWOの場合，1回しか初期化できない。一旦DMAを記録すると，ディスクが初期化され，それ
以上の初期化はできないことを示す。タイプWOの追記形ゾーンの全てのセクタは，初期化終了時には，
消去状態にある。全てのDDSの内容を，四つのDDSセクタに記録する。PDL及びSDLを，四つのDMA
に記録する。PDL及びSDLの内容を，表16及び表17に示す。
19.2 検証
ディスクを検証する場合，ユーザ領域の書換形ゾーン及び追記形ゾーンの全てのセクタについて検証を
行う。この規格は，検証の方法について規定しないが，セクタの消去，記録及び再生を含み得る。検証中
に発見された欠陥セクタは，セクタスリップ方式（19.2.1参照）によって処理されるか，又は線形置換方
式（19.2.2参照）によって処理される。再生又は記録に欠陥セクタを使用してはならない。欠陥セクタの
置換に関する指針は，附属書Uで示す。
19.2.1 セクタスリップ方式
検証を実行する場合，セクタスリップ方式は，ディスク上の各々全てのバンドに個々に適用する。
検証中に検出された欠陥データセクタは，欠陥セクタに後続する最初の正常セクタで代替し，これによ
って，バンドの最後尾のセクタがスペアセクタ領域にスリップすることになる。欠陥セクタのアドレスは，
PDLに記録する。検証中に欠陥セクタが見つからない場合は，空のPDLを記録する。
セクタスリップ方式によってデータセクタとして使われなかったスペアセクタで，検証中に欠陥がある
と判明した場合は，そのアドレスをPDLに記録する。したがって，使用できるスペアセクタの数は，それ
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に応じて減少する。
各バンドは，グルーブ領域及びランド領域のそれぞれにスペアセクタをもつ。検証では，通常の記録の
場合と同様にバンドのグルーブ領域を最初に検査し，欠陥セクタが見つかった場合には，グルーブスペア
領域にスリップする。この後，ランド領域を検査し，同様に，欠陥セクタが見つかった場合には，ランド
スペア領域にスリップする。
検証中に，バンドの二つのスペアセクタ領域のうちの一つを使い切った場合は，欠陥セクタは，線形置
換方式によって処理される。この過程は，別のバンドのスペアセクタへの置換を含み，別のバンドの検証
が終了するまで完了できない。これは，検証が終了するまで，すなわち，セクタスリップ方式を適用する
まで，次に使用できるスペアセクタが分からないためである。
19.2.2 線形置換方式
検証後に見つかった欠陥セクタは，線形置換方式を用いて処理する。また，検証中にバンドのスペアセ
クタを使い切った場合にも，線形置換方式を使用する。
欠陥セクタは，そのバンドの最初に使用できるスペアセクタに代替する。セクタスリップ方式と同様に，
グルーブ記録トラック，ランド記録トラックのそれぞれのスペアセクタに置換する。
代替セクタに欠陥があると判明した場合，その欠陥セクタは，そのバンドで次に使用できるスペアセク
タに代替する。欠陥セクタ及び代替セクタのアドレスを，SDLに記録する。
バンドにスペアセクタが残っていない場合，欠陥セクタは，別のバンドの最初に使用できるスペアセク
タに置換する。
既にPDLに記録されたセクタのアドレスを，SDLに記録してはならない。
SDLに記録した代替セクタが，後に欠陥セクタであると判明した場合には，その欠陥セクタ及び代替セ
クタのアドレスを新しくSDLに記録する。
19.3 非検証ディスク
検証されていないディスクの欠陥セクタの取扱いには，線形置換方式を使用する。
欠陥セクタは，当該バンドの最初に使用できるスペアセクタに代替する。当該バンドに使用できるスペ
アセクタが残っていない場合，欠陥データ及びスペアセクタは，別のバンドの最初に使用できるスペアセ
クタに代替する。欠陥セクタ及び代替セクタのアドレスを，SDLに記録する。代替セクタが欠陥セクタで
あると判明した場合，そのバンドで，次に使用できるスペアセクタに代替する。
SDLに記録した代替セクタが，後に欠陥セクタであると判明した場合，その欠陥セクタ及び代替セクタ
のアドレスを新しくSDLに記録する。
19.4 記録方法
データの記録，再生に当たっては，PDLに記録した全ての欠陥セクタは，スキップされ，セクタスリッ
プ方式に従って次のデータセクタで記録又は再生を行う。記録しようとするセクタがSDLに記録されてい
る場合，線形置換方式に従って，SDLが指示した代替セクタにデータを記録する。
初期化後のタイプWOについては，ユーザ領域の全てのセクタは，消去状態にあるものとする。初期化
後のタイプWOのユーザ領域では，記録前のセクタを消去することはできない。セクタが記録済みの場合，
記録操作は，できない。セクタの記録に当たっては，常にCRC，ECC及び8バイトのセクタ記録フラグ（SWF）
を含めて記録する。タイプWOの使用に関する指針については，附属書Yを参照する。
19.5 一次欠陥管理表（PDL）
一次欠陥管理表（PDL）は，次を規定するバイトで構成する。
− PDLの長さ
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− トラック及びセクタアドレスの昇順で，初期化時に検出された欠陥セクタのセクタアドレス
表16は，PDLに記載する内容を示す。PDLが記録される最後のセクタの残りの全てのバイトは，(FF) に
設定する。欠陥セクタがない場合は，最初の欠陥セクタのアドレスを (FF) に設定し，エントリ数を規定
するバイトは，(00) に設定する。
初期化のときにPDLを記録する。このPDLは空でもよい。
表16−PDLの内容
バイト番号
内容
0
(00) PDL識別子
1
(01) PDL識別子
2
PDLに登録された欠陥セクタ数のMSB
3
PDLに登録された欠陥セクタ数のLSB
［バイト2及び3が（00）の場合，バイト3はPDLの最後］
4
最初の欠陥セクタのアドレス（トラック番号のMSB）
5
最初の欠陥セクタのアドレス（トラック番号）
6
最初の欠陥セクタのアドレス（トラック番号のLSB）
7
最初の欠陥セクタのアドレス（セクタ番号）
...
...
n−3
((n−3)/4)番目の欠陥セクタのアドレス（トラック番号のMSB）
n−2
((n−3)/4)番目の欠陥セクタのアドレス（トラック番号）
n−1
((n−3)/4)番目の欠陥セクタのアドレス（トラック番号のLSB）
n
((n−3)/4)番目の欠陥セクタのアドレス（セクタ番号）
19.6 二次欠陥管理表（SDL）
二次欠陥管理表（SDL）に，初期化後に欠陥セクタとなったデータセクタ及びスペアセクタのアドレス
に対応する代替セクタのアドレスを記録する。各エントリに対し，8バイトを使用する。最初の4バイト
は，欠陥セクタのアドレスを規定し，次の4バイトは，代替セクタのアドレスを規定する。
SDLは，SDLを識別するバイト，SDLの長さを規定するバイト，欠陥セクタのアドレス及び代替セクタ
のアドレスを含むリストで構成する。欠陥セクタのアドレスが，昇順となるように記録する。表17は，
SDLに記載する内容を示す。SDLが記録される最後のセクタの残り全てのバイトは，(FF) に設定する。
空のSDLは，表17で示すとおりバイト0〜3で構成し，バイト2及びバイト3は，(00) に設定する。
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表17−SDLの内容
バイト番号
内容
0
(00) SDL識別子
1
(02) SDL識別子
2
SDLの登録数のMSB
3
SDLの登録数のLSB
［バイト2及び3が(00)の場合，バイト3はSDLの最後］
4
最初の欠陥セクタのアドレス（トラック番号のMSB）
5
最初の欠陥セクタのアドレス（トラック番号）
6
最初の欠陥セクタのアドレス（トラック番号のLSB）
7
最初の欠陥セクタのアドレス（セクタ番号）
8
最初の代替セクタのアドレス（トラック番号のMSB）
9
最初の代替セクタのアドレス（トラック番号）
10
最初の代替セクタのアドレス（トラック番号のLSB）
11
最初の代替セクタのアドレス（セクタ番号）
...
...
n−7
最後の欠陥セクタのアドレス（トラック番号のMSB）
n−6
最後の欠陥セクタのアドレス（トラック番号）
n−5
最後の欠陥セクタのアドレス（トラック番号のLSB）
n−4
最後の欠陥セクタのアドレス（セクタ番号）
n−3
最後の代替セクタのアドレス（トラック番号のMSB）
n−2
最後の代替セクタのアドレス（トラック番号）
n−1
最後の代替セクタのアドレス（トラック番号のLSB）
n
最後の代替セクタのアドレス（セクタ番号）
第4章 エンボス特性
20 測定方法
ディスク上のエンボスデータのフォーマットは，箇条13〜箇条18で定義する。箇条21〜箇条23は，箇
条9で規定する基準駆動装置を用いて得られるグルーブ，ヘッダ及び制御トラックPEPマークからの信号
について規定する。
20.1 使用環境
ODCは，8.1.2で規定する使用環境の範囲で，箇条21〜箇条24の規定を満足していなければならない。
20.2 基準駆動装置
箇条21〜箇条24で規定する全ての信号は，基準駆動装置の指定のチャネルで測定する。このため，基
準駆動装置は，次の特性をもっていなければならない。
20.2.1 光学系
光ビームは，9.2 a)〜9.2 f) で規定されたものとする。ディスクの回転方向は，9.5で規定のものとする。
20.2.2 再生パワー
再生パワーは，再生時に使用する入射面からの光パワーであり，次の規定による（箇条17参照）。
a) PEPゾーン 再生パワーの最大値は，17.3で規定の値とする。
b) ユーザゾーン 再生パワーは，SFPゾーンのバイト21に示す範囲内にあるものとする（17.4.2参照）。
テスト再生パワーは1.5 mWとする。
20.2.3 再生チャネル
駆動装置には，対物レンズの射出瞳の総光量を測定する再生チャネルを設ける。このチャネルは，9.1
のチャネル1とする。
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20.2.4 フォーカシング及びトラッキング
測定中の光ビームの焦点と記録層との軸方向の偏位，すなわち，フォーカシングエラーの最大許容量は，
次のとおりとする。
emax （フォーカシング）＝0.7 μm
トラックの中心との間の半径方向の偏位，すなわち，トラッキングエラーの最大許容量は，次のとおり
とする。
emax （トラッキング）＝0.09 μm
20.3 信号の定義
図24に，箇条21〜箇条24で規定する信号を示す。
全ての信号は，フォトダイオードの出力であり，したがって，ディテクタ上の光パワーに比例する。
I1 及びI2 は，トラッキングチャネルの2分割フォトダイオードの出力である。
チャネル1は，9.1で記述の光学系の二つのフォトディテクタの和であり，附属書Pで記述のボトムホ
ールド回路及びローパスフィルタを通す。IIG 及びIOL は，未記録領域のグルーブトラック及びランドトラ
ックのチャネル1のオントラック信号を示す。
図24a−トラッキングチャネルでのグルーブ又はランドからの信号
図24b−トラッキングチャネル1でのヘッダからの信号
図24−ヘッダ，グルーブ及びエンボス記録領域からの信号
21 グルーブからの信号
和信号 (I1＋I2) 及び差信号 (I1−I2) は，カットオフ周波数1.0 MHzの五次ベッセルローパスフィルタを
使用し，エンボスマークによる変調の影響を除去する。
VFO
I
IG
又
は
I
O
L
I
sm
AM，ID
セクタマーク
I
v
fo
I
to
p
I
p
TA2
PA2
TA1
クロストラック信号
2分割フォトダイオード
光ビーム
(I
1
+
I
2
)
m
ax
(I
1
+
I
2
)
m
in
・
・
I1
0レベル
グルーブ又は
ランドレベル
エンボスなし記録フィールドの
グルーブ領域
I2
(I1-I2)
(I1+I2)
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21.1 グルーブ対ランドの比
オントラック信号は，光ビームが書換形データゾーンのグルーブ又はランドをたどっているときのチャ
ネル1の出力信号であり，オントラック信号IIG 及びIOLは，次の要件を満たす。
15
.1
85
.0
OL
IG≦
≦II
21.2 プッシュプル信号
プッシュプル信号は，光ビームの焦点がトラックを交差するときの，トラッキングチャネルの差信号
(I1−I2) であり，駆動装置はこの信号を用いてトラッキングを行うことができる。プッシュプル信号のピ
ークからピークまでの値は，情報ゾーンのグルーブ領域において，次の要件を満たす。
(
)
(
)
40
.1
70
.0
IG
2
1
pp
2
1
≦
≦
I
I
I
I
+
−
ここに，(I1−I2)ppは，トラッキングチャネルにおける2分割フォトダイオードの差信号のピークからピ
ークまでの振幅であり，(I1＋I2)IGは，グルーブで測定する和信号である。
21.3 デバイデドプッシュプル信号
デバイデドプッシュプル信号（DPP信号）は，光ビームがグルーブのトラックの未記録フィールドを交
差するときに，2分割フォトダイオードの差信号 (I1−I2) を2分割フォトダイオードの和信号 (I1＋I2) で
除した信号のことであり，DPP信号の振幅の絶対値の規定，及びDPP信号の振幅のディスク内ばらつきの
規定の二つを満足しなければならない。
このとき，2分割フォトダイオードの分割方向はトラック方向に平行とし，トラッキングサーボをかけ
ていない状態で測定する。
DPP信号振幅は，次の条件を満足しなければならない。
1.40
0.70
pp
2
1
2
1
≦
≦
+
−
I
I
I
I
DPP信号振幅の最小値と最大値との比は，次の条件を満足しなければならない。
0.70
ppmax
2
1
2
1
ppmin
2
1
2
1
≧
+
−
+
−
I
I
I
I
I
I
I
I
21.4 トラックの位置
記録トラックは，ディスク上の和信号 (I1＋I2) の値が最大となる位置とする。これは，ランド及びグル
ーブ記録の性質によって，ランド記録トラック又はグルーブ記録トラックのいずれかの中心に集束光ビー
ムが位置したときに生じる。
22 ヘッダ信号
エンボスヘッダから得られる信号は，基準駆動装置のチャネル1で測定する。
22.1 セクタマーク信号
Itopは，セクタマークのピークレベルであり，次の要件を満たす。
30
.0
15
.0
top≦
≦I
セクタマークからの信号Ismは，次の要件を満たす。
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65
.0
20
.0
top
sm≦
≦II
22.2 VFO信号
VFO1及びVFO2フィールドのマークからの信号Ivfoは，次の要件を満たす。
25
.0
08
.0
top
vfo≦
≦II
さらに，各セクタ内で次の条件を満たす。
20
.0
max
p
vfo≧
I
I
ここに， Ip max： そのセクタでの22.3で定義するIpのエンボスマーク信号から
の最大振幅
Ivfo： VFO領域からの再生信号のピークからピークまでの振幅
22.3 アドレスマーク，ID及びPA信号
アドレスマーク，IDフィールド及びPAフィールドの中にあるマークからの信号Ipは，次の要件を満た
す。
65
.0
08
.0
top
p≦
≦II
20
.0
max
p
min
p
≧
I
I
2番目の要件は，全てのヘッダに対して適用される。Ip min及びIp maxは，それらのフィールドにおいて，
最小振幅及び最大振幅とする。
22.4 ジッタ
ヘッダ信号のジッタJt(H)は，附属書Hで定義するリードチャネル回路を用いて，附属書Jの手順に従
って，20.2.2で規定する条件下で測定し，次の条件を満足しなければならない。
T
10
0
)
(
.
H
Jt
≦
ここに，
T： チャネルクロック周期
Jt(H)： マークの前縁から前縁までの長さ及びマークの後縁から後
縁までの長さの，各nTの区間の標準偏差（シグマ）［Jt(H)に
ついては，図J.1で示す。］
ヘッダ信号から検出される全ての時間間隔のサンプルは，Jt(H)の条件を満足しなければならない。
22.5 非対称性
非対称性は，アドレスマーク，IDフィールド及びPAフィールドの中で最大振幅及び最小振幅（Ipmax及
びI pmin）を与える信号の中心レベル間の偏差とし（附属書Q参照），0.1±0.15の範囲内にあるものとする。
23 制御トラックPEPマークからの信号
PEPゾーンにおけるトラックの密度及びマークの形状は，クロストラックの損失が次の要件を満たすよ
うなものとする。
0.2
min
m
max
m
≦
I
I
信号Iは，チャネル1から得られる（9.1参照）。信号Imは，三つの連続マークの最大振幅とする。Im max
は，PEPゾーンのフィジカルトラック全体で得られるImの最大値とし，Im minは，その最小値とする。Im max
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は，0.1I0よりも大きくなければならない。ここで，I0は，未記録のグルーブのない領域で，チャネル1か
ら得られる信号とする。欠陥の影響は無視する。
図25−PEPトラックを通過する時のレーザ光の軌跡及びPEP信号
第5章 記録層の特性
24 測定方法
箇条26〜箇条28では，データの記録及び消去に用いる記録層の光磁気特性の測定条件及び性能につい
て規定する。測定は，書換形ゾーンのセクタの記録フィールドで行う。記録，再生及び消去の測定は，同
一の基準駆動装置で行う。
箇条26〜箇条28では，記録層の平均品質だけを規定する。規定値からの部分的な逸脱を欠陥と呼ぶが，
これは，記録又は消去の問題の原因となり得る。これらの欠陥は第6章で記述する。
24.1 測定環境
箇条26〜箇条28の全ての信号は，別に注記がある場合を除いて8.1.2で規定する使用環境の範囲にある
カートリッジに関して，規定範囲内になければならない。
24.2 基準駆動装置
箇条26〜箇条28で記述する記録及び消去は，基準駆動装置のチャネル2で測定する。このため基準駆
動装置は，次の特性をもっていなければならない。
24.2.1 光学系
光ビームは，9.2 a)〜9.2 f) で規定する特性をもつ。ディスクは，9.5で規定のとおりに回転する。
24.2.2 再生パワー
ディスクの入射面から入射される，情報の再生に使用される光パワーは，SFPデータで規定する範囲内
にあるものとする。
24.2.2.1 再生磁界
全ての試験において，再生磁界強度は，8 000 A/m以下でなければならない。
全ての試験において，再生磁界方向は，ディスク基準面D の垂線に対して15°以内で，入射ビームの
方向，すなわち，入射面から記録層へ向かってS極からN極となるようにする。
I
0
マーク
レーザ光
0レベル
I
m
m
ax
I
m
m
in
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24.2.3 再生チャネル
基準駆動装置は，記録層の磁気光学マークを検出できる9.3のチャネル2 と同等の再生チャネルをもた
なければならない。
測定はマークのエッジ位置をしきい（閾）値検出方法で行い，しきい（閾）値は再生信号のピークから
ピークの包絡線の中心とする。正のピーク信号及び負のピーク信号の包絡線は，各々50 kHzで3 dB減衰
する一次ローパスフィルタを通さなければならない。
24.2.4 トラッキング
測定中の光ビームの焦点は，20.2.4で規定のとおりにトラックを追随しなければならない。
24.2.5 信号検出
再生チャネルからの信号は，検出前に等化回路を通してはならない。信号は，チャネルクロック周波数
の1/2のカットオフ周波数をもつ三次バターワースフィルタを通す。全ての再生試験は，50 Hzの回転数で
行う。
データの記録条件などが理想的であれば，しきい（閾）値は0となるが，測定によっては，記録中のパ
ラメタ変化によるマークサイズの変化の影響を除くために，しきい（閾）値を調整しなければならないこ
ともある。
24.3 記録条件
24.3.1 記録パルス及び記録パワー
タイプR/W及びタイプWOの場合，マークは，光パワーのパルス列（附属書K参照）によって，ディ
スク上に記録される。バイアスパワーは，次の記録パルスのための予熱として機能する。パルスの形状は，
クーリングギャップ付きのバイアスパワーPb上の記録パルス幅Tpと記録パワーPwとの長方形であり，附
属書Kで示すとおりである。Tpは光パルスの半値幅である。Tpは，レーザ出力を高速フォトディテクタで
受けて測定する。Tpは11.4±0.15 nsとし，パルスの10 %から90 %までの立上がり及び立下がり時間は，3
ns未満とする。
レーザパワーの測定は，パルス発光させてその平均をとる，例えば50 nsごとに1パルス発光させ，積
分球を使用する，などの方法で行う。平均化によるレーザパワーの測定は，パルス幅及びパルス振幅の誤
差の影響を小さくすることができる。
メディア試験で使用するPw及びPeの値は，24.3.3の方法を用いて，特定のメディアについて測定され
た値とする。メディア製造者は，標準的なメディア上で，半径30 mm，45 mm及び62 mmの位置で，パル
ス幅Tpを用いてPw及びPeを測定し，その0.95〜1.05倍の値をSFPゾーンに記録する。
2T，4T及び8Tの長さのマークを，メディア試験で使用する。2Tマークは，チャネルクロックに同期し
た単一のTp nsパルスで形成される。4T及び8Tマークは，それぞれ，チャネルクロックに同期した二つ及
び四つの同一のTp nsパルスで形成され，厳密に二つのチャネルクロック周期の間隔をあける。全てのパル
スは，同じパワーPw及びPeを用い，かつ，同じ区間Tpとしなければならない。
24.3.2 記録磁界
特に記載がない限り，記録磁界強度は，記録層の位置で16 000 A/mから32 000 A/mの範囲になければな
らない。
記録磁界の方向は，ディスク基準面Dの垂線に対して15°以内で，入射ビームの方向，すなわち，入射
面から記録層へ向かってN極からS極となるようにする。
24.3.3 パルスパワーの決定
メディア製造者は，次の手順を用いて，SFPゾーンに記録される4TパルスパワーPwの値を測定する。
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試験のとき，次の試験パターンを繰返し記録することによって，複数のトラック及びディスクの半径
30 mm，45 mm及び62 mmで，消去及び記録を行う。
ランレングス 2T 6T 4T 6T
マーク又はスペース M S M S
メディア温度25 ℃±1 ℃，磁界強度16 000 A/m±5 %，及び試験回転周波数で，記録を行う。
24.2.5で規定する検出方法を用いて，信号を再生し検出する。2Tマークを用いて，再生信号振幅が最大
となるように焦点を合わせ，ピークからピークまでの信号振幅の50 %にしきい（閾）値を設定する。焦点
を±0.25 μm動かし，熱相互作用エラーEthが最良であることを確認する。
半径30 mm，45 mm及び62 mmに対してTIAを用いて，エッジ間の平均距離，すなわち，2Tに対して
はL2，4Tに対してはL4，6Tに対してはL6を測定する。各半径位置で，複数トラック上の105個の独立し
た時間間隔サンプルの平均をとる。TIA上の6Tの分布は，一般に二つの山に分離することに注意された
い。この分離の度合いは，メディアの温度特性に依存する。L6の値は，この二つの山の分布の平均とする。
L6ができる限り6Tに近くなるように記録パワーPwを調整する。L6の長さは2点で極小となるため，SFP
ゾーンに記録するPwは，記録パワーが増加するに従って，L6の長さが減少していく点とする。
24.3.4 メディアの感度
Pwは，パルス幅Tpの関数として，4Tマークの形成を要求するパワーの上限とする。PwとTpとの相互関
係は，次による。
mW
1
1
p
p
w
+
×
=
T
T
C
P
メディア製造者は，24.3.1で測定したTp及びPwから次の公式を用いてメディアパワー感度Cの値を求
める（附属書K参照）。
p
p
p
p
w
T
T
T
T
P
C
+
×
×
=
Cの値は，タイプR/W及びタイプWOの場合，半径30 mm，45 mm及び62 mmのところで，40未満で
なければならない。
24.4 消去条件
マークは，磁界の存在下で，一定光パワーを照射することで消去される。
24.4.1 消去パワー
消去パワーは，24.3に従って記録されたマークを消去するために，入射面から入射される連続光パワー
とする（箇条27参照）。
半径30 mm ，45 mm及び62 mmについて，試験回転速度での連続消去パワーを，SFPゾーンに記録す
る（17.4.2参照）。半径が30 mm，45 mm及び62 mm以外の場合は，上記の値から直線補完する。実際の
消去パワーは直線補完した値の±5 %の範囲とする。
連続消去パワーは12.5 mWを超えてはならない。
24.4.2 消去磁界
タイプR/W及びタイプWOの場合，消去磁界は記録層の位置で16 000 A/m〜32 000 A/mの範囲でなけれ
ばならない。
消去磁界の方向は，ディスク基準面Dの垂線に対して15°以内で，反射ビームの方向，すなわち記録層
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から入射面へ向かってN極からS極となるようにする。
24.5 信号の定義
チャネル2の信号は，フォトダイオードK1及びK2の電流の差に比例し，したがって，フォトダイオー
ドに入射する光パワーに比例する（9.1参照）。
25 光磁気特性
25.1 光磁気信号の性能指数
性能指数Fは，R，sinθ及びcos2βの積で表される。ここで，Rは小数で表示される反射率であり，θは，
カー回転角度，及びβは，反射ビームのだ（楕）円率である。性能指数の極性は，24.3.2で規定する記録
磁界方向において，FeリッチのFe-Tb合金記録層に記録したとき，マークに対しては負となるように定義
する。この場合，カー回転の方向は，入射ビームからみて反時計回りとなる。
性能指数の極性及び値は，SFPゾーンの364バイト及び365バイトで規定し（17.4.2参照），次のとおり
とする。
0.002 5＜｜F｜＜0.005 2
性能指数の実効値Fmの測定は，附属書Lに従って行う。Fmは，公称値の12 %以内とする。
25.2 光磁気信号の非対称性
光磁気信号の非対称性（アンバランス）は，消去後のチャネル2 出力のピークからピークまでの信号振
幅を，24.3で記述の方法で2Tパターンを記録した信号振幅で除した値とする。
測定は，1 kHzで−3 dB減衰するハイパスフィルタ及び附属書Mで定義するイコライザを通し，セクタ
のデータフィールドで行う。
光学系の位相遅延は，中立位置にあるものとする（9.1参照）。ディスクの複屈折率がアンバランスの原
因となり得る。
アンバランスは，動作環境範囲全体にわたって，最大0.2とする。
測定に当たっては，ゲート又はサンプルホールドなどの技術によってヘッダの影響を除去した上で行わ
なければならない。
26 記録特性
26.1 分解能
ILは，チャネル2（9.3参照）で，24.3で規定する条件下で記録される8Tマーク及び8Tスペースから得
られる信号のピークからピークまでの値とし，RLL(1,7) 符号が各ゾーンに許容する最長間隔であり，20.2.2
b) で規定する条件下で再生する。
IHは，チャネル2で，24.3で規定する条件下で記録される2Tマーク及び2Tスペースから得られる信号
のピークからピークまでの値とし，RLL(1,7) 符号が各ゾーンに±0.1 MHzで許容する最短間隔であり，
20.2.2 b) で規定する条件下で再生する。
分解能IH/IL（図26参照）は，あらゆるセクタ内で，0.20以上とする。この変化の範囲は，トラック全
体で0.1以下とする。
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図26−IL及びIHの定義
26.2 狭帯域信号対雑音比
狭帯域信号対雑音比は，規定パターンの雑音レベルに対する信号レベルの比とし，30 kHzの帯域幅で測
定し，次のとおり決定する。
− RLL(1,7) 符号が各ゾーンで許容する最高周波数f0±0.1 MHzで，2Tマーク/2Tスペースの繰返し信号
を，連続したセクタに記録する。記録条件は，24.3で規定のとおりとする。
− 24.2で規定する条件のチャネル2を用いて記録フィールドを再生し，帯域幅30 kHzのスペクトラムア
ナライザを使用する。図27で示すとおり，周波数f0で信号振幅及び雑音を測定する。記録層だけに対
する値を得るために，ヘッダフィールドの影響及び計測誤差について補正を行う。
狭帯域信号対雑音比を，次に示す。
N
S
NBSNR
10
log
20×
=
ここに， NBSNR： 狭帯域信号対雑音比
S： 信号レベル
N： 雑音レベル
狭帯域信号対雑音比は，記録磁界の全ての許容値及び9.1で定義する光学系における−15°〜＋15°間
の全ての位相差に対して，書換形ゾーンのあらゆるセクタの全トラックで43 dBより大きくなければなら
ない。
図27−信号レベル及び雑音レベル
信号レベル
雑音レベル
振
幅
f0
周波数
I
L
I
H
82
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26.3 クロストーク比
クロストーク比の定義及び測定手順は，フィジカルトラックを基準にする。これらのフィジカルトラッ
クは一つ以上のロジカルトラックで構成されるため（箇条13参照），測定するバンドごとに，測定するロ
ジカルトラックの数を調整しなければならない。
26.3.1 書換形トラックの試験方法
書換形トラックの場合，クロストークの測定は，書換形ゾーンで，(n−2)，(n−1)，n，(n＋1) 及び
(n＋2)として指定する五つの隣接する未記録フィジカルトラックで行う。
これらのトラックの各セクタの記録フィールドを消去する。
トラックnのセクタの記録フィールドで，各ゾーンの周波数 f1±0.1 MHzで，2Tマーク／2Tスペース
の繰返し信号を記録する。記録条件は，24.3で規定のとおりとする。
24.2.2及び24.2.3で規定の条件下で，トラック (n−1)，n及び (n＋1) のセクタの記録フィールドを再生
する。
トラックnからトラック (n−1) 及びトラックnからトラック (n＋1) へのクロストークは，−26 dB未
満でなければならない。
26.4 ジッタ
附属書Mで定義するイコライザで，24.3.3のTIAのデータからジッタを得る。TIAで2Tマーク(L2)／6T
スペース(L6) の波形，及び6Tスペース(L6)／2Tマーク(L2) の波形の，前縁から前縁までの時間の長さ，
及び後縁から後縁までの時間の長さを測定する。測定は，各半径位置で，複数のトラック上の105個のサ
ンプルを用いて行う。
メディアによるジッタの値は，半径30 mm，45 mm及び62 mmに対して，1チャネルビットの周期Tの
15 %未満でなければならない。
26.5 メディア熱相互作用
メディア製造者は，次の公式を用いて，SFPゾーンに記録するメディア熱相互作用の値を測定する。公
式は，24.3.3からのL2，L4及びL6の測定データを使用する。
最初に，実効チャネルクロック周期Tを計算する。
18
2
6
4
2
L
L
L
T
×
+
+
=
目的とするバンドに記録されていることを，このTで確認する。
次の公式を用いて，タイプR/W及びタイプWOについて，r＝30 mmでの熱相互作用エラーEth を計算
し，記録する。
(
)
%
100
2
2
4
th
×
×
−
−
=
T
T
L
L
E
Ethの値は，r＝30 mmでのチャネルクロック周期Tの27 %未満でなければならない。
27 消去パワーの決定
メディア製造者は，この手順を用いて，SFPゾーンに記録する消去パワーを決定する。消去パワーは，
隣接するトラックを消去することなく，現在のトラックを消去するのに十分な一定の連続パワーレベルと
する。
タイプR/W及びタイプWOの場合，消去パワーの測定のための条件は，メディア温度が25 ℃±1 ℃，
記録層の磁界強度の値が，試験回転周波数で，24 000±1 200 A/mとする。
83
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
タイプR/W及びタイプWOの場合，十分に高い消去パワーを用いて，ユーザゾーンの四つの隣接する
トラック，n，n＋1，n＋2及びn＋3を消去する。24.3.1で規定する条件下で，トラックn＋1上に2Tマー
ク／2Tスペースの繰返し信号を，トラックn＋2上に4Tマーク／4Tスペースの繰返し信号を記録する。
トラックn＋1を消去し，スペクトラムアナライザを用いて，n＋1とn＋2との両トラックの信号振幅を測
定する。
この一連の試験を低い消去パワーから開始し，0.5 mWずつ消去パワーを増して試験を繰り返す。消去パ
ワーの関数として，トラックn＋1及びトラックn＋2の信号振幅を曲線で表す。SFPゾーンに記録する消
去パワーは，トラックn＋2の信号振幅が3 dB落ちる消去パワーとトラックn＋1の信号振幅が最初にメデ
ィア特有の雑音レベルまで到達するパワーとの中間の値とする。
第6章 ユーザデータの特性
28 試験方法
箇条29及び箇条30では，ディスク上のユーザデータの適合性を検査するための一連の測定方法を記述
する。これは，エンボスデータ及びユーザ記録データの両方について行う。データは任意でよい。ユーザ
記録データの記録については，駆動装置及び環境を問わない。基準駆動装置で再生試験を実行する。
箇条20〜箇条27が欠陥を無視するのに対して，箇条29及び箇条30では，それらを再生信号の不可避
な劣化とみなす。欠陥の重大性は，次で定義する再生チャネルの誤り検出回路及び誤り訂正回路で，発生
するエラーを訂正できるかどうかによって決定する。箇条29及び箇条30の要件は，データ交換に必要と
されるデータの最低品質を定義する。
28.1 測定環境
8.1.2で定義する使用環境条件の許容範囲にあるカートリッジにおいて，箇条29及び箇条30で定義する
全ての信号は，その規定の範囲内になければならない。測定の前に，ディスク製造者の取扱説明書に従っ
て，光ディスクの入射面の汚れを取り除くことを推奨する。
28.2 基準駆動装置
箇条29及び箇条30で規定する全ての信号は，基準駆動装置の指定のチャネルで測定する。これらの試
験の目的のために，測定装置は，次の特性をもつ。
28.2.1 光学系
光ビームは，9.2 a)〜9.2 f) で規定する特性をもつ。ディスクは，9.5で規定の回転とする。
28.2.2 再生パワー
情報の再生に使用する，ディスク入射面上に投じる光パワーは，20.2.2で規定する範囲内とする。
28.2.3 再生チャネル
チャネル1及びチャネル2の再生増幅器は，9.3の規定によるものとする。
28.2.4 マークの品質
チャネル1及びチャネル2の再生増幅器からの信号は，附属書Hで定義のとおり，エッジ検出器を用い
て，アナログからバイナリに変換される。チャネル1及びチャネル2からの出力信号は，規定の等価回路，
及びローパスフィルタを通し，しきい（閾）値が0.35〜0.63となるコンパレータへ入力される。マーク及
びスペースの2T，3T，…7T，8Tの長さと理想的な値とのずれ量が最小になるようにしきい（閾）値を調
整する。コンパレータからの出力信号は，エッジ検出器を用いてバイナリ信号に変換される（附属書H参
照）。
この章のジッタは，前縁から前縁までの時間間隔，及び後縁から後縁までの時間間隔を別々に測定した
84
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時間間隔の標準偏差として定義する。この場合，欠陥によるデータは除き，セクタのマーク及びスペース
のエッジ検出器からの出力信号に関しては，TIAを使用する。そのため，この測定のためのサンプルは，
セクタのマーク及びスペースの数によって制限される。ジッタは，チャネルビット時間Tのパーセンテー
ジとして表現する。
チャネル1のコンバータは，箇条22及び箇条23で規定のとおりの振幅をもつエンボスマークからのア
ナログ信号に対して，正しく動作しなければならない。
チャネル2のコンバータは，箇条25及び箇条26で規定のとおりの振幅をもつユーザ記録マークからの
アナログ信号に対して，正しく動作しなければならない。
28.2.5 チャネルビットクロック
アナログバイナリコンバータからの信号は，バイナリ信号の前縁及び／又は後縁に対して有効間口0.70T
のチャネルビット窓を提供するチャネルビットクロックにロックされる。チャネルビットクロックは，前
縁〜前縁，前縁〜後縁，後縁〜前縁及び後縁〜後縁とチャネルビットクロックとのずれの累積値が最小に
なるように調整する。
28.2.6 バイナリデジタルコンバータ
箇条15及び箇条16で規定するセクタフォーマット及び記録符号に基づいて，バイナリデジタルコンバ
ータを用いて，バイナリ信号をデータバイトに正しく変換する。
28.2.7 誤り訂正
データバイトの誤りの訂正は，F.2及びF.3の定義に基づいて，巡回冗長検査及び誤り訂正符号によって
実行する。
28.2.8 トラッキング
測定中の光ビームのフォーカシング及びトラッキングは，20.2.4で規定する。
29 セクタの最低品質
この箇条では，そのセクタに含まれるデータの交換に必須となるセクタのヘッダ及び記録フィールドの
最低品質を規定する。28.2で規定する基準駆動装置で測定する。
1バイト内にビットの設定の間違いが一つ以上あるとき，ECC及び／又はCRC回路が検出するとおり，
バイトエラーが生じる。
29.1 ヘッダ
29.1.1 セクタマーク
セクタマークの五つの長いマークのうち，少なくとも三つについては，そのタイミングは15.2で規定の
とおりとし，信号は22.1で規定する振幅をもつ。
29.1.2 IDフィールド
プリフォーマットヘッダ1及びプリフォーマットヘッダ2 に含まれる二つのIDフィールドのうち，少
なくとも一つには，CRCで検出されるようなバイトエラーがあってはならない。
29.2 ユーザ記録データ
29.2.1 記録フィールド
ALPCフィールドを記録する場合，プリフォーマットヘッダの末尾から，144チャネルビット±6チャネ
ルビットの位置から記録する。VFO3フィールドを記録する場合，プリフォーマットヘッダの末尾から216
チャネルビット±6チャネルビットの位置から開始する。
セクタの記録マークは，プリフォーマットヘッダの末尾から216チャネルビット±6チャネルビットの
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位置から開始し，2 048バイトセクタの場合は，セクタの末尾から324チャネルビット±84チャネルビッ
トの位置で終了し，4 096バイトセクタの場合は，セクタの末尾から516チャネルビット±168チャネルビ
ットの位置で終了する。
29.2.2 バイトエラー
チャネル2で再生するユーザ記録データは，28.2.7で定義する誤り訂正によって訂正できないバイトエ
ラーを含んではならない。
29.2.3 非対称性
ユーザ記録マークの非対称性は，チャネル2で再生するセクタの最大振幅IL及び最小振幅IHを与える信
号の中心レベル間の偏差であり（附属書Q参照），0.1±0.15の範囲内にあるものとする。
29.2.4 ジッタ
チャネル2で再生するセクタのユーザ記録マークには，メディアによるジッタがあり，それは1チャネ
ルビットの時間周期Tの15 %未満とする。
30 データ交換条件
データ交換のためのディスクは，次の要件を満たす（附属書Nも参照）。
30.1 トラッキング
光ビームの焦点は，意図なくトラックを飛んではならない。
30.2 ユーザ記録データ
29.2の規定を満たさない書換形ゾーンに記録されたセクタは，箇条19で定義のとおり，欠陥管理の規則
に従って代替されなければならない。
30.3 ディスクの品質
ディスクの品質は，書換形ゾーンの代替セクタ数に反映される。この規格は，各面の代替セクタの最大
数を許容する（箇条19参照）。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書A
（規定）
空気清浄度クラス 100 000
この附属書は，空気清浄度クラス 100 000について規定する。
空気清浄度の分類は，単位体積当たりに存在する規定サイズを超える粒子の最大許容数，及び統計上の
平均粒子径分布に基づく。
A.1 定義
0.5 μm以上の粒径の粒子数は，1 m3当たり3.5×106個以下とする。
統計上の平均粒子径分布を図A.1に示す。クラス100 000とは，サイズ0.5 μm以上の粒子の許容数は，
1 m3当たり3.5×106個であるが，サイズ5.0 μm以上の粒子の許容数は，1 m3当たり，2.5×104個に過ぎな
いことを意味する。
局所的な又は一時的なばらつきから，1回の測定では分布がこの曲線から逸脱することがある。サンプ
リングの数が多いときを除き，1 m3当たりの粒子数が3.5×105個未満である場合，データに信頼性がない。
A.2 試験方法
0.5〜5.0 μmの粒子に対し，光散乱の原理による装置を用いる。一定環境の空気を既知の流速でサンプリ
ングする。サンプル空気中に含まれる粒子は，装置の光学槽の光量検出領域を通過させる。個々の粒子に
よる光散乱は，光パルスを電流パルスに変換するフォトディテクタによって受光する。電気系は，パルス
の高さを粒子のサイズに関連付け，パルス数を数える。
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図A.1−平均粒子径分布
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書B
（規定）
エッジのひずみ（歪）量確認方法
この附属書は，エッジのひずみ（歪）量確認方法について規定する。
B.1
ひずみ（歪）量確認方法
ひずみ（歪）試験は，ケースに容認できないエッジのひずみ（歪）及び隆起がないかどうかを検査する。
引力以外の規定の力を与え，計器の挿入口にカートリッジを垂直に通過させることによって試験を行う。
B.2
基準器
基準器は，クロムめっきの炭素鋼など適切な材料で製作し，内面を磨いて，ピークからピークまでが5 μm
となるように表面処理を行う。
B.3
寸法
寸法は，次による（図B.1参照）。
A＝155.0 mm
B＝136.0±0.1 mm
C＝10.0±0.1 mm
D＝11.40±0.01 mm
E≧11.60 mm
B.4
カートリッジの挿入
カートリッジを基準器に垂直に挿入するとき，最大2.7 N の垂直下力Fiをカートリッジ上端の中央に加
えたとき，カートリッジは基準器を通過しなければならない。
89
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
D
E
C
B
A
C
D
F
D
E
C
B
A
C
D
F
図B.1−ひずみ（歪）量基準器
Fi
90
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附属書C
（規定）
カートリッジの可とう（撓）性確認方法
この附属書は，カートリッジの可とう（撓）性確認方法について規定する。
C.1 目的
カートリッジの可とう（撓）性確認は，カートリッジの四つの基準面を平面に押し付けることによって，
ケースの平面度及び柔軟性を検査する。
C.2 基準面の定義
四つの基準面S1，S2，S3及びS4の位置は，10.5.4及び図5で定義する。
C.3 試験計器の構成
試験計器は，四つの面S1，S2，S3及びS4にそれぞれ対応するように四つの支柱P1，P2，P3及びP4を平
板上に固定した構成とする（図C.1参照）。寸法は，次による（図C.2参照）。
支柱P1及びP2
Da＝6.50±0.01 mm
Db＝
0
0.02
00
.4
−
mm
Ha＝1.0±0.1 mm
Hb≦2.0 mm
支柱P3及びP4
Dc＝5.50±0.01 mm
組立て後，四つの支柱の上部環状面は，0.01 mm離れた二つの水平面の間になければならない。
C.4 カートリッジの装着
可とう（撓）性確認装置を水平に設置し，カートリッジの基準面が支柱の上に載るようにカートリッジ
を置く。垂直下向き方向に0.4 Nの荷重F0を，カートリッジの4か所の支柱と対向する位置にそれぞれ加
える。
C.5 要件
C.4の条件下で，S1〜S4の4か所の面のうちの3か所の面は，個々の支柱の環状面に接していなければ
ならず，残りの面とその支柱の環状面との隙間は0.1 mm以下でなければならない。
91
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図C.1−可とう（撓）性確認装置
図C.2−支柱の詳細図
Z
P3，P4
Dc
D a
P1，P2
D b
H a H b
F0
P1
P2
P3
P4
F0
F0
F0
92
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書D
（規定）
ハブの吸着力の測定方法
この附属書は，ハブの吸着力を測定するための試験方法について規定する。
D.1 目的
この試験は，ハブの磁性材料の磁気特性を決定することを目的とする。
D.2 寸法
試験装置（図D.1参照）は，スペーサ，磁石，バックヨーク及び中心軸で構成する。試験装置の寸法は，
次による。
Dd＝8.0±0.1 mm
De＝20.0±0.1 mm
Df≦19.0 mm
Dg＝
0
0.1
9.3
−
mm
Hc＝0.40±0.01 mm
Hd＝1.2 mm（通常，D.4の力の要件を満たすように調整される。）
D.3 材料
試験装置の材料は，次による。
磁石
：適切な磁性材料，通常，Sm-Co
バックヨーク ：適切な磁性材料
スペーサ
：非磁性材料又は空隙
中心軸
：非磁性材料
D.4 バックヨーク付き磁石の特性
磁極の数
：4（通常）
最大エネルギー積（BHmax） ：175±16 kJ/m3
バックヨークに関する磁石の特性は，次の寸法の純ニッケル板（図D.2参照）を使用し，磁石面からの
空間がHc＝0.4 mmとなる点でのこの板の吸着力が9.5±0.6 Nとなるように調整する。
Dh＝7.0±0.1 mm
Dj＝22.0±0.1 mm
He＝2.0±0.05 mm
D.5 試験温度条件
試験温度条件は，8.1.1に規定のとおりとする。
93
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図D.1−ハブ吸着力の測定
図D.2−測定装置の校正板
Dh
D j
H
e
スペーサ
バックヨーク
磁石
Df
Dg
H
d
H
c
Dd
De
ハブ
中心軸
94
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書E
（規定）
IDフィールド用のCRC
この附属書は，IDフィールド用のCRCについて規定する。
CRCの16ビットは，IDフィールドの最初の3バイトにわたって計算される。生成多項式は，次による。
1
)
(
5
12
16
+
+
+
=
x
x
x
x
G
残差多項式は，次による。
()
()x
G
x
x
x
x
R
i
i
i
i
i
i
i
i
mod
a
a
16
7
0
23
8
+
=
∑
∑
=
=
=
=
ここに，
ai： 最初の三つのバイトのビット
ia： 逆ビット
a23： 最初のバイトの最高位ビット
CRCの16ビットCkは，次によって定義する。
()∑
=
=
=
15
0
C
k
k
k
kx
x
R
ここに，C15はIDフィールドの4番目のバイトの最高位ビットとして記録する。
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附属書F
（規定）
インタリーブ，CRC，ECC及びデータフィールドの再同期化
この附属書は，インタリーブ，CRC，ECC及びデータフィールドの再同期化について規定する。
F.1
インタリーブ
F.1.1
4 096バイトセクタのインタリーブ
ディスク上へ記録するバイトの表記は，次のとおりとする。
Dn
ユーザデータバイトとする。
SWFm SWFバイトとする（15.11.3参照）。
Ck
CRCチェックバイトとする。
Es,t
ECCチェックバイトとする。
これらのバイトは，ディスク上に記録する順序で，シーケンスAnで番号付けされる。Dnのnの順序は，
それらをインタフェースから入力するときの順序と同じである。nの値によって，これらの要素は，次と
なる。
1≦n≦4096の場合：An＝Dn
4097≦n≦4104の場合：An＝SWFm
4105≦n≦4116の場合：An＝(FF)
4117≦n≦4120の場合：An＝Ck
4121≦n≦4760の場合：An＝Es,t
ここに，
m＝ n−4 096
k＝ n−4 116
s＝ [(n−4 121) mod 40]＋1
t＝ int[(n−4 121)/40]＋1
表記int[x] は，x 以下の最大整数を示す。
Anの最初の三つの部分は，それらを103行及び40列の二次元マトリックスBijにマップすることによっ
て，40通りにインタリーブされる。したがって，次となる。
1≦n≦4120の場合：Bij＝An
ここに，
i＝ 102−int[(n−1)/40]
j＝ (n−1) mod 40
F.1.2
2 048バイトセクタのインタリーブ
異なるバイトの指定は，次による。
Dn
ユーザデータバイトとする。
SWFm SWFバイトとする（15.11.3参照）。
Ck
CRCチェックバイトとする。
Es,t
ECCチェックバイトとする。
これらのバイトは，ディスク上に記録する順序で，シーケンスAnで番号付けされる。Dnのnの順序は，
それらをインタフェースから入力するときの順序と同じである。nの値によって，これらの要素は，次と
なる。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
1≦n≦2048の場合：An＝Dn
2049≦n≦2056の場合：An＝SWFm
2057≦n≦2060の場合：An＝Ck
2061≦n≦2380の場合：An＝Es,t
ここに，
m＝ n−2 048
k＝ n−2 056
s＝ [(n−2 061)mod 20]＋1
t＝ int [(n−2 061)/20]＋1
表記int[x] は，x 以下の最大整数を示す。
Anの最初の三つの部分は，それらを103行及び20列の二次元マトリックスBijにマップすることによっ
て，20通りにインタリーブされる。したがって，次となる。
1≦n≦2060の場合：Bij＝An
ここに，
i＝ 102−int[(n−1)/20]
j＝ (n−1) mod 20
F.2
CRC
F.2.1
概要
CRC及びECCは，次の原始多項式に基づくガロアフィールドにわたって計算される。
Gp(x)＝x8＋x5＋x3＋x2＋1
CRCバイトのための生成多項式は，次による。
()
(
)
∏
=
=
+
=
139
136
C
i
i
i
x
x
G
α
ここに，要素αi＝(βi)88であり，βはGp(x)の原始根である。バイトのn番目のビットの値は，βのn乗の
項の係数とし，0≦n≦7となる。
CRCの四つのチェックバイトCkの内容は，残差多項式によって定義される。
()
()
()x
G
x
x
I
x
R
C
4
C
C
mod
=
()∑
=
=
−
=
4
1
4
C
C
k
k
k
kx
x
R
最後の方程式は，多項式の係数の位置を規定する。
F.2.1.1
4 096バイトセクタのためのCRC
CRCの四つのチェックバイトは，F.2.1で規定のとおり，ユーザデータ及びSWFバイトにわたって計算
される。情報多項式は，次による。
()
()
(
)
∑
∑∑
=
=
=
=
=
=
+
=
35
0
,0
102
1
39
0
,
C
B
B
j
j
j
i
i
i
j
j
j
i
x
x
I
F.2.2
2 048バイトセクタのためのCRC
CRCの四つのチェックバイトは，F.2.1で規定のとおり，ユーザデータ及びSWFバイトにわたって計算
される。情報多項式は，次による。
()
()
(
)
∑
∑∑
=
=
=
=
=
=
+
=
15
0
,0
102
1
19
0
,
C
B
B
j
j
j
i
i
j
j
i
j
ix
x
I
97
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
F.3
ECC
原始多項式Gp(x)，並びに要素αi及びβは，F.2.1に規定する。ECCのチェックバイトに対する生成多項
式を，次に示す。
()
(
)
∏
=
=
+
=
135
120
E
i
i
i
x
x
G
α
この多項式は，自己相反多項式である。この特性を用いて，ハードウェアのサイズを減じることができ
る。ECCレジスタの初期設定は，全て0とする。計算済みチェックバイトのビットの変換後，それらをチ
ャネルビットに符号化する。
F.3.1
4 096バイトセクタのためのECC
ECCの640チェックバイトは，ユーザバイト，SWFバイト及びCRCバイトにわたって計算される。対
応する40個の情報多項式は，次による。
()
()
∑
=
=
=
102
0
E
B
i
i
i
i,jx
x
Ij
ここに，0≦j≦39とする。
各多項式IE j(x) に対する16チェックバイトEs, tの内容は，次の残差多項式によって定義する。
REj (x)＝IEj (x) x16 mod GE (x)
()∑
=
=
−
+
=
16
1
16
,1
E
E
t
t
t
t
j
j
x
x
R
最後の方程式は，多項式の係数の保存先を規定する。
F.3.2
2 048バイトセクタのためのECC
ECCの320チェックバイトは，ユーザバイト，SWFバイト及びCRCバイトにわたって計算される。対
応する20個の情報多項式は，次による。
()
()
∑
=
=
=
102
0
,
E
B
i
i
i
j
ix
x
Ij
ここに，0≦j≦19とする。
各多項式 IE j(x) に対する16チェックバイトEs,t の内容は，次の残差多項式によって定義する。
)
(
mod
)
(
)
(
E
16
E
E
x
G
x
x
I
x
R
j
j
=
()∑
=
=
−
+
=
16
1
16
,1
E
E
t
t
t
t
jx
x
Rj
最後の方程式は，多項式の係数の保存先を規定する。
F.4
再同期バイト
再同期バイト（附属書G参照）は，データフィールドに挿入され，同期外れを回避し，ユーザデータで
の誤りの伝ぱ（播）を制限する。再同期バイトは連続した番号を付け，次に示す二つのうちのいずれかの
チャネルビットパターンとする。
0X0 100 000 001 000 000 100 00Y
0X0 100 000 001 000 000 101 00Y
ここに，X及びYは，これに先立つデータパターンとこれに続くデータパターンとに基づき，0又は1
98
X 6280：2011 (ISO/IEC 22092：2002)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
に設定する。
4 096バイトセクタについては，フィールドRSnは，バイトA80nとA80n＋1との間に挿入される。
この場合，1≦n≦59とする。
2 048バイトセクタについては，フィールドRSnは，バイトA40nとA40n＋1との間に挿入される。
この場合，1≦n≦59とする。
F.5
データフィールドの記録順序
データフィールドのデータは，同期バイトに続き，Anの順に従って，F.4で規定のとおりに再同期バイ
トを挿入して，ディスク上に記録する。
図F.1及び図F.2は，行列形式で，これらの要素の配置を示す。記録の順序は，左から右へ，上から下
へとする。
SB
同期バイトを表す。
D
ユーザバイトを表す。
RS
再同期バイトを表す。
P
SWFバイトを表す。
C
CRCのためのチェックバイトを表す。
E
ECCのためのチェックバイトを表す。
(FF) (FF) バイトを表す。
4 096バイトセクタ（図F.1）については，最初の103行は，ユーザバイト，SWFバイト及びCRCチェ
ックバイトを含む。次の16行はECCチェックバイトだけを含む。
2 048バイトセクタ（図F.2）については，最初の103行は，ユーザバイト，SWFバイト及びCRCチェ
ックバイトを含む。次の16行はECCチェックバイトだけを含む。
99
X 6280：2011 (ISO/IEC 22092：2002)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図F.1−4 096バイトセクタのデータフィールドの構成
行
番
号
i
1
0
2
1
01
1
0
0
9
9
989
7
96
3210-
1-
2-
3
-1
2
-1
3
-1
4
-1
5
-1
6
39
D
40
D
8
0
D
12
0
D
1
6
0
D
20
0
D
2
4
0
D
2
80
D
40
0
0
D
4
0
40
D
40
8
0
C
4
E
40
,1
E
4
0
,2
E
4
0
,3
E
4
0,
12
E
40
,1
3
E
4
0
,1
4
E
40
,1
5
E
4
0
,1
6
38
D
39
D
7
9
D
11
9
D
1
5
9
D
19
9
D
2
3
9
D
2
79
D
39
9
9
D
4
0
39
D
40
7
9
C
3
E
3
9,
1
E
3
9
,2
E
3
9
,3
E
3
9,
12
E
39
,1
3
E
3
9
,1
4
E
39
,1
5
E
3
9
,1
6
37
D
38
D
7
8
D
11
8
D
1
5
8
D
19
8
D
2
3
8
D
2
78
D
39
9
8
D
4
0
38
D
40
7
8
C
2
E
3
8,
1
E
3
8
,2
E
3
8
,3
E
3
8,
12
E
38
,1
3
E
3
8
,1
4
E
38
,1
5
E
3
8
,1
6
36
D
37
D
7
7
D
11
7
D
1
5
7
D
19
7
D
2
3
7
D
2
77
D
39
9
7
D
4
0
37
D
40
7
7
C
1
E
3
7,
1
E
3
7
,2
E
3
7
,3
E
3
7,
12
E
37
,1
3
E
3
7
,1
4
E
37
,1
5
E
3
7
,1
6
35
D
36
D
7
6
D
11
6
D
1
5
6
D
19
6
D
2
3
6
D
2
76
D
39
9
6
D
4
0
36
D
40
7
6
(F
F
)
E
3
6,
1
E
3
6
,2
E
3
6
,3
E
3
6,
12
E
36
,1
3
E
3
6
,1
4
E
36
,1
5
E
3
6
,1
6
24
D
25
D
6
5
D
10
5
D
1
4
5
D
18
5
D
2
2
5
D
2
65
D
39
8
5
D
4
0
25
D
40
6
5
(F
F
)
E
2
5,
1
E
2
5
,2
E
2
5
,3
E
2
5,
12
E
25
,1
3
E
2
5
,1
4
E
25
,1
5
E
2
5
,1
6
23
D
24
D
6
4
D
10
4
D
1
4
4
D
18
4
D
2
2
4
D
2
64
D
39
8
4
D
4
0
24
D
40
6
4
S
W
F
8
E
2
4,
1
E
2
4
,2
E
2
4
,3
E
2
4,
12
E
24
,1
3
E
2
4
,1
4
E
24
,1
5
E
2
4
,1
6
22
D
23
D
6
3
D
10
3
D
1
4
3
D
18
3
D
2
2
3
D
2
63
D
39
8
3
D
4
0
23
D
40
6
3
S
W
F
7
E
2
3,
1
E
2
3
,2
E
2
3
,3
E
2
3,
12
E
23
,1
3
E
2
3
,1
4
E
23
,1
5
E
2
3
,1
6
16
D
17
D
5
7
D
97
D
1
3
7
D
17
7
D
2
1
7
D
2
57
D
39
7
7
D
4
0
17
D
40
5
7
S
W
F
1
E
1
7,
1
E
1
7
,2
E
1
7
,3
E
1
7,
12
E
17
,1
3
E
1
7
,1
4
E
17
,1
5
E
1
7
,1
6
15
D
16
D
5
6
D
96
D
1
3
6
D
17
6
D
2
1
6
D
2
56
D
39
7
6
D
4
0
16
D
40
5
6
D
4
0
96
E
1
6,
1
E
1
6
,2
E
1
6
,3
E
1
6,
12
E
16
,1
3
E
1
6
,1
4
E
16
,1
5
E
1
6
,1
6
14
D
15
D
5
5
D
95
D
1
3
5
D
17
5
D
2
1
5
D
2
55
D
39
7
5
D
4
0
15
D
40
5
5
D
4
0
95
E
1
5,
1
E
1
5
,2
E
1
5
,3
E
1
5,
12
E
15
,1
3
E
1
5
,1
4
E
15
,1
5
E
1
5
,1
6
2
D
3
D
4
3
D
83
D
1
2
3
D
16
3
D
2
0
3
D
2
43
D
39
6
3
D
4
0
03
D
40
4
3
D
4
0
83
E
3
,1
E
3
,2
E
3
,3
E
3
,1
2
E
3,
13
E
3
,1
4
E
3,
15
E
3
,1
6
1
D
2
D
4
2
D
82
D
1
2
2
D
16
2
D
2
0
2
D
2
42
D
39
6
2
D
4
0
02
D
40
4
2
D
4
0
82
E
2
,1
E
2
,2
E
2
,3
E
2
,1
2
E
2,
13
E
2
,1
4
E
2,
15
E
2
,1
6
0
D
1
D
4
1
D
81
D
1
2
1
D
16
1
D
2
0
1
D
2
41
D
39
6
1
D
4
0
01
D
40
4
1
D
4
0
81
E
1
,1
E
1
,2
E
1
,3
E
1
,1
2
E
1,
13
E
1
,1
4
E
1,
15
E
1
,1
6
S
B
4
R
S
1
R
S
2
R
S
3
R
S
5
0
R
S
5
1
R
S
5
2
R
S
5
7
R
S
5
8
R
S
5
9
S
B
3
R
S
1
R
S
2
R
S
3
R
S
5
0
R
S
5
1
R
S
5
2
R
S
57
R
S
5
8
R
S
5
9
S
B
2
S
B
1
列
番号
j
1
03
行
16
行
100
X 6280：2011 (ISO/IEC 22092：2002)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
行
番
号
i
1
0
2
1
0
1
1
0
0
9
9
9
8
9
7
9
6
4
3
2
1
0
-1
-2
-3
-1
3
-1
4
-1
5
-1
6
1
9
D
2
0
D
4
0
D
6
0
D
8
0
D
1
0
0
D
1
2
0
D
1
4
0
D
1
9
8
0
D
2
0
0
0
D
2
0
2
0
D
2
0
4
0
C
4
E
2
0
,1
E
2
0
,2
E
2
0
,3
E
2
0
,1
3
E
2
0
,1
4
E
2
0
,1
5
E
2
0
,1
6
1
8
D
1
9
D
3
9
D
5
9
D
7
9
D
9
9
D
11
9
D
1
3
9
D
1
9
7
9
D
1
9
9
9
D
2
0
1
9
D
2
0
3
9
C
3
E
1
9
,1
E
1
9
,2
E
1
9
,3
E
1
9
,1
3
E
1
9
,1
4
E
1
9
,1
5
E
1
9
,1
6
1
7
D
1
8
D
3
8
D
5
8
D
7
8
D
9
8
D
11
8
D
1
3
8
D
1
9
7
8
D
1
9
9
8
D
2
0
1
8
D
2
0
3
8
C
2
E
1
8
,1
E
1
8
,2
E
1
8
,3
E
1
8
,1
3
E
1
8
,1
4
E
1
8
,1
5
E
1
8
,1
6
1
6
D
1
7
D
3
7
D
5
7
D
7
7
D
9
7
D
11
7
D
1
3
7
D
1
9
7
7
D
1
9
9
7
D
2
0
1
7
D
2
0
3
7
C
1
E
1
7
,1
E
1
7
,2
E
1
7
,3
E
1
7
,1
3
E
1
7
,1
4
E
1
7
,1
5
E
1
7
,1
6
1
5
D
1
6
D
3
6
D
5
6
D
7
6
D
9
6
D
11
6
D
1
3
6
D
1
9
7
6
D
1
9
9
6
D
2
0
1
6
D
2
0
3
6
S
W
F
8
E
1
6
,1
E
1
6
,2
E
1
6
,3
E
1
6
,1
3
E
1
6
,1
4
E
1
6
,1
5
E
1
6
,1
6
9
D
1
0
D
3
0
D
5
0
D
7
0
D
9
0
D
11
0
D
1
3
0
D
1
9
7
0
D
1
9
9
0
D
2
0
1
0
D
2
0
3
0
S
W
F
2
E
1
0
,1
E
1
0
,2
E
1
0
,3
E
1
0
,1
3
E
1
0
,1
4
E
1
0
,1
5
E
1
0
,1
6
8
D
9
D
2
9
D
4
9
D
6
9
D
8
9
D
1
0
9
D
1
2
9
D
1
9
6
9
D
1
9
8
9
D
2
0
0
9
D
2
0
2
9
S
W
F
1
E
9
,1
E
9
,2
E
9
,3
E
9
,1
3
E
9
,1
4
E
9
,1
5
E
9
,1
6
7
D
8
D
2
8
D
4
8
D
6
8
D
8
8
D
1
0
8
D
1
2
8
D
1
9
6
8
D
1
9
8
8
D
2
0
0
8
D
2
0
2
8
D
2
0
4
8
E
8
,1
E
8
,2
E
8
,3
E
8
,1
3
E
8
,1
4
E
8
,1
5
E
8
,1
6
2
D
3
D
2
3
D
4
3
D
6
3
D
8
3
D
1
0
3
D
1
2
3
D
1
9
6
3
D
1
9
8
3
D
2
0
0
3
D
2
0
2
3
D
2
0
4
3
E
3
,1
E
3
,2
E
3
,3
E
3
,1
3
E
3
,1
4
E
3
,1
5
E
3
,1
6
1
D
2
D
2
2
D
4
2
D
6
2
D
8
2
D
1
0
2
D
1
2
2
D
1
9
6
2
D
1
9
8
2
D
2
0
0
2
D
2
0
2
2
D
2
0
4
2
E
2
,1
E
2
,2
E
2
,3
E
2
,1
3
E
2
,1
4
E
2
,1
5
E
2
,1
6
0
D
1
D
2
1
D
4
1
D
6
1
D
8
1
D
1
0
1
D
1
2
1
D
1
9
6
1
D
1
9
8
1
D
2
0
0
1
D
2
0
2
1
D
2
0
4
1
E
1
,1
E
1
,2
E
1
,3
E
1
,1
3
E
1
,1
4
E
1
,1
5
E
1
,1
6
S
B
4
R
S
1
R
S
2
R
S
3
R
S
4
9
R
S
5
0
R
S
5
1
R
S
5
2
R
S
5
8
R
S
5
9
S
B
3
R
S
1
R
S
2
R
S
3
R
S
4
9
R
S
5
0
R
S
5
1
R
S
5
2
R
S
5
8
R
S
5
9
列
番
号
j
S
B
2
S
B
2
1
0
3
行
1
6
行
S
B
1
図F.2−2 048バイトセクタのデータフィールドの構成
101
X 6280：2011 (ISO/IEC 22092：2002)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書G
（規定）
再同期パターンの決定
この附属書は，再同期パターンの決定について規定する。
DSV（デジタル総計値）を，次の記述で使用する。他の頭文字は，PLL（位相同期ループ），PPM（パル
ス位置変調）及びPWM（パルス幅変調）を含む。
G.1
再同期パターンの条件
再同期パターンは，次の特性をもち，その要求機能を満たす。
a) 再同期パターンは，0ビットが7個連続し，その後1ビットにRLL (1,7) 変調符号では発生しない6
個の0ビットが続く不規則なチャネルビットパターンとする。
b) 二重PLLを使用するときに，前縁又は後縁のいずれか一つだけを用いて，再同期パターンの不規則性
を検出することができる。
c) 再同期パターンの中の1という数字は，セクタのデータフィールドのデータパターンの直流レベルの
変動を最小化するために，奇数から偶数に，又は偶数から奇数に変更することができる。
d) 再同期パターンの長さは，24チャネルビットとする。
G.2
再同期パターン
直流レベルの変動を最小化するために，次に示す二つの再同期パターンのうち一つを選択する。
選択基準をG.5で示す。
データ1
再同期領域 データ2
再同期パターン
再同期パターン1
0x0 100000001000000100 00y
再同期パターン2
0x0 100000001000000101 00y
ここに， x＝0又は1
y＝0又は1
102
X 6280：2011 (ISO/IEC 22092：2002)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
G.3
再同期パターンの生成アルゴリズム
表G.1−再同期パターンの生成アルゴリズム
前の
データ1
再同期領域
次の
データ2
データ
ビット
X1 X2
チャネル
ビット
00
仮定データビット
01
データ
ビット
X3 X4
0x0
再同期パターン
z
00y
00
0 001
010
100
000
001
000
000
100
001
0x
100
000
1x
101
001
0x
101
000
1x
00
1 001
010
100
000
001
000
000
100
001
0x
100
000
1x
101
001
0x
101
000
1x
01
0 001
010
100
000
001
000
000
100
001
0x
100
000
1x
101
001
0x
101
000
1x
01
1 010
000
100
000
001
000
000
100
001
0x
100
000
1x
101
001
0x
101
000
1x
10
0 101
010
100
000
001
000
000
100
001
0x
100
000
1x
101
001
0x
101
000
1x
10
1---
発生しない
11
0 010
000
100
000
001
000
000
100
001
0x
100
000
1x
101
001
0x
101
000
1x
11
1---
発生しない
ここに，再同期パターン1のとき：z＝0，再同期パターン2のとき：z＝1
注記1 次の情報ビットが00であると仮定して，X1及びX2を符号化する。
注記2 これらの情報ビットの値は，符号化用の仮定値とする。
注記3 このチャネルビットは，不規則パターンを生成するために，符号化後に変更される。
注記4 再同期領域の最後の3ビットの値は，次によって決定する。
1) 前のチャネルビットを0と仮定する。
2) 二つの情報ビットを01と仮定する。
3) データ2情報ビットX3の状態は，表4のRLL (1,7)符号化による。
103
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
G.4
直流レベルの最小化
直流レベルの波動を最小化するために，再同期パターン1又は再同期パターン2のいずれを選択するか
の基準は，データ領域のチャネルビット及び再同期領域の0x0，00yに基づく。
データ 再同期領域 データ
再同期パターン
100000001000000100
データブロック
0x0 （再同期パターン1） 00y データブロック
100000001000000101
（再同期パターン2）
ここに， x＝0又は1
y＝0又は1
G.5で記述する手順に従って，再同期パターン1又は再同期パターン2のいずれを選択するかを決定す
る。
G.5
再同期パターンの決定
使用する再同期パターンは，次の手順によって決定する。
a) 処理を簡単にするために，PPMデータで記述されたチャネルビットをPWMデータに変換する。
例えば，PPMデータが次とする。
…0010100010010…
この場合，PWMデータは，次となる。
…0011000011100…
注記 対応国際規格には記載がないが，次のPWMデータとなることがある。
…1100111100011…
DSV計算は，“0”＝−1，“1”＝＋1などPWMデータによって定義する（図G.1a参照）。
図G.1a−ブロックDSVmと再同期DSVmとの計算例
DSVmの計算は，次による。
DSVm＝(＋5−4＋8−5…)
＋5
−4
＋8
−5
ディスク上の
記録マーク
PWM データ
0 1 1 1 1 1 0 0 0 0 1 1 1 1 1 1 1 1 0 0 0 0 0 1
（PPMデータ）
（1, 7）チャネルビット 0 1 0 0 0 0 1 0 0 0 1 0 0 0 0 0 0 0 1 0 0 0 0 1
104
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
b) 再同期領域を二つの部分（RS||INV）に分割する。この場合，両部分とも次のように連結する。
PPMデータでRS＝0x010000000100000010
PPMデータでINV＝000y(INV1)又は100y(INV2)
c) ユーザデータフィールドを次のように連結する。
VFO3||SYNC||B0||RS1||INV1(又はINV2)||B1||RS2…
…||INV1(又はINV2)||Bm||RSm+1||… …||INV1(又はINV2)||BN
ここに，
m＝1〜N
N＝4 096バイトセクタでも2 048バイトセクタでも59 （図G.1b参照）
d) PPMデータストリームである項 (z) が，(z) 項でデータに先行するPWMデータの最後のPWMの状
態に基づき，結果としてPWM DSV総計となるように，DSV(z) 関数を定義する。
e) 次のアルゴリズムを用いて，ステップmでINV1又はINV2を選択する。
P0＝DSV(VFO3||SYNC||B0||RS1)
Pm＝Pm−1＋DSV(INV1||Bm||RSm＋1)又は
Pm＝Pm−1＋DSV(INV2||Bm||RS)
INV1又はINV2を選択して，|Pm| を最小化する。
PN＝PN−1＋DSV(INV1||BN)又は
PN＝PN−1＋DSV(INV2||BN)
INV1又はINV2を選択して，|PN| を最小化する。
m＝1からNまでこの手順を繰り返す。この場合，4 096バイトセクタでも2 048バイトセクタでも
N＝59とする。|Pm| が再同期パターン1でも再同期パターン2でも同じである場合は，再同期パター
ン1を選択しなければならない。
図G.1b−再同期バイトの例
直流レベル変動ビット
0x0
00y
0x0
00y
0x0
00y
Resync 59
Data 59
Resync(m+1)
Data m
Resyncm
RSm
INV 1 or
INV 2
Bm
Pm
RSm+1
INV 1 or
INV 2
RS
INV 1 or
INV 2
B59
P59
直流レベル変動ビット
再同期パターン
Resync1
00y
0x0
00y
0x0
Sync
Data 0
VFO3
VFO3
Sync
B0
RS2
B1
INV 1 or INV 2
INV 1 or
INV 2
P0
P1
Resync2
Data 1
RS1
再同期領域
105
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書H
（規定）
ジッタを測定するためのリードチャネル
この附属書は，ジッタを測定するためのリードチャネルについて規定する。
次のリードチャネルを用いて，ジッタを測定するものとする。
フィルタ
チャネル1
又は
チャネル2
比較器
＋
−
エッジ検出器
前縁
後縁
フィルタ
チャネル1
又は
チャネル2
比較器
＋
−
エッジ検出器
前縁
後縁
図H.1−リードチャネル
入力信号：
エンボスマークの場合は，チャネル1
ユーザ記録マークの場合は，チャネル2
フィルタ仕様：
a) イコライザ
：附属書M参照
b) フィルタタイプ
：五次ベッセル関数
c) ローパスフィルタ ：カットオフ周波数＝試験中の帯域のチャネルクロック周波数の1/2
コンパレータ
しきい（閾）値
調整用
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書J
（規定）
ジッタの測定手順
この附属書は，ジッタの測定手順について規定する。
前縁〜前縁，又は後縁〜後縁のジッタは，次の手順を用いて測定する。
a) VFOの2Tマーク及び2Tスペースが正確にチャネルビット時間Tの長さになるように，ディテクタ
回路のしきい（閾）値レベルを設定する。
b) しきい（閾）値レベルを保ち，信号のエッジを検出する。
c) タイムインターバルアナライザを用いて，前縁〜前縁，又は後縁〜後縁の時間を測定する。
d) 欠陥領域からのデータを除いて，105個のデータ（時間間隔）を取得する。
e) ジッタ分布の標準偏差Jtを計算する。すなわち，前縁〜前縁のデータ，又は後縁〜後縁のデータと，
各々に対応する平均値Lnとの差の標準偏差Jtを計算する。
ここで，Jtは図J.1で示す。
前縁〜前縁の長さ，又は後縁〜後縁の長さは別々に検査する。
ヘッダ信号の評価の場合，しきい（閾）値レベルはVFO1を用いて設定し，時間間隔サンプルは，PAフ
ィールドに対するAMを用いて測定する。
エンボスデータ信号の評価の場合は，しきい（閾）値レベルはVFO3を用いて設定し，時間間隔サンプ
ルは，ユーザデータ領域の同期フィールド及びデータフィールドを用いて測定する。この場合，ユーザデ
ータ領域は，ユーザデータ，CRC及び再同期パターンからの全てのデータを用いて測定する。
図J.1−ジッタの測定分布
T（チャネルクロック周期）
理想時間（nT）
nTマーク又はnTスペースの
ジッタ分散の中間値
標準偏差＝Jt
時間
事象
107
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書K
（規定）
記録パルスの形状の定義
この附属書は，記録パルスの形状の定義について規定する。
立上がり時間Tr及び立下がり時間Tfは，それぞれ，記録パルス幅Tpのいずれについても，24.3.1で規定
のとおりとする。タイプR/W及びタイプWOの記録パルスの形状の定義を，図K.1に示す。
Pw ：記録パワー
Pe ：プレヒートパワー
Tr ：立上がり時間
Tp ：記録パルス幅
Tg ：クーリングギャップ幅
Pb ：バイアスパワー
Tf ：立下がり時間
P1 ：Pw−Pb
P2 ：Pe−Pb
図K.1−タイプR/W及びタイプWOの記録パルスの形状
Tg
Tp
Tg
Tf
Tr
Tf
Tr
0
.5
P
1
0
.5
P
2
P
w
P
e
P
b
0
.9
P
1
0
.1
P
2
0
.9
P
2
0
.1
P
1
108
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附属書L
（規定）
性能指数の測定
この附属書は，性能指数の測定について規定する。
L.1
性能指数について
性能指数は，低い周波数で記録したマークの再生信号振幅によって測定する。その領域で光学系のMTF
が1となるように，記録されたマークは，焦点スポットよりも大きくなければならない。
50 Hzで回転するプリフォーマット済みのディスクに対して，連続する数トラックにわたって，隣接す
るトラックでマークが半径方向に整列するように，10 kHz〜100 kHzの周波数の信号を記録し，SFPゾーン
のバイト21で規定した再生パワーでディスクを再生する（17.4.2参照）。
図1で示す，9.1で規定する光学系を使用した性能指数の測定では，光学系の位相差を含む。そのため，
反射率，カー回転及びだ（楕）円率を測定し，光学系の位相差を校正することが必要である。ただし，低
保磁力のメディアを使用する場合だけ，この校正が精度良くできる。
L.2
性能指数の算出
測定用光学系の校正は，次のとおりとする。低保磁力の記録層をもつ複屈折率が無視できるほど小さい
ガラスディスクを用いて，反射率（R），カー回転角（θ）及びだ（楕）円率βを測定する。性能指数FLを，
次の式によって算出する。
β
θ
2
cos
sin
L
R
F=
次に，同じディスクを用いて低周波数の信号を記録し，チャネル2の再生信号振幅VLを測定することに
よって，光学系自身の位相差の校正を行う。
保磁力の大きさによらず，ディスクの性能指数Fmは，校正された駆動装置で低周波数の信号を記録し，
チャネル2の再生信号の振幅Vを測定し，次の式で算出する。
L
L
m
V
V
F
F＝
109
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附属書M
（規定）
記録メディアの互換のための実装独立マーク品質決定（IIMQD）
この附属書は，記録メディアの互換のための実装独立マーク品質決定について規定する。
M.1 試験パターン
IIMQDオフセット試験は，7個のマーク及び7個のスペース，すなわち，2 Tから8 Tまでの各ランレン
グスの一つのマーク及び一つのスペースで構成される，二つの特別なパターンを用いる。この試験は，駆
動装置のメディア互換性のため，適切な長さのマークを形成する能力を検査する。
次の手順を用いて，記録メディアの互換のためのIIMQDを決定する。
駆動装置を用いて，トラックを消去し，次の試験パターンの一つの繰返しデータを，半径30 mm，45 mm
及び62 mmで，数トラック上に記録する。個々の試験を各々のパターンに対して実施する。
パターンNo.1：
2T 2T 3T 3T 4T 4T 5T 5T 6T 6T 7T 7T 8T 8T
M
S
M
S
M
S
M
S
M
S
M
S
M
S
パターンNo.2：
2T 2T 3T 3T 4T 4T 5T 5T 6T 6T 7T 7T 8T 8T
S
M
S
M
S
M
S
M
S
M
S
M
S
M
ここに，Mは，マークを，Sは，スペースを表す。
M.2 検出方法
24.2.5で規定した検出方法のほかに，次のイコライザを用いて，データ信号を再生し検出する。この試
験では，しきい（閾）値TVを変更して，パラメタ変化によるマークのエッジ変動を補正してもよい。
Eq(ω)＝1−2Acos(ω･2T)
ここに， A＝0.13
ω＝2πf
Tは，読み取っているゾーンのチャネルクロック周期とする。
このイコライザは，ディスク回転周波数が50 Hzのとき，半径30 mm及び60 mmのそれぞれについて
14.1で規定するクロック周期をもち，タップ遅延が23.0 nsでタップ係数が−A，0，1，0，−A及び0，
−A，1，−A，0である5個のタップ付きディレイラインフィルタで実装できる。
タイムインターバルアナライザを用いて，記録トラックからの検出信号を2通りの方法で測定する。
a) 前縁〜後縁（マーク）の長さの平均値
b) 後縁〜前縁（スペース）の長さの平均値
M.3 測定過程
測定は，各半径方向の位置において，複数のトラック上で，105 個の独立した時間間隔サンプリングを
使うものとする。ランレングスnのオフセットは，検出信号の長さLn とnTとの差の絶対値とする。各々
のパターンに対する両方の測定について，まず，最悪の場合のマーク及びスペースのオフセットが最小に
なるように，しきい（閾）値レベルを調整し，次にその時のオフセットをチャネルビット時間Tのパーセ
110
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ントとして表示する。
M.4 しきい（閾）値フォロア
しきい（閾）値フォロアは，データ検出過程で，ベースラインレベルを確立し維持するために必要とさ
れる。これは，メディアの反射率，記録感度の局所変動，及び記録データパターンによって生じる直流信
号の内容の変化を補うことを目的とする。
図M.1a−トラッキングしきい（閾）値ブロックダイアグラム
上側エンベロープフォロアの例
（半波整流器）
下側エンベロープフォロアの例
（半波整流器）
図M.1b−ダイオードを用いたエンベロープフォロア
図M.1−しきい（閾）値フォロア
出力
入力
100 kΩ
1 200 pF
100 kΩ
出力
入力
100 kΩ
1200 pF
100 kΩ
入力バッファ
入力
50 kHz
ローパスフィルタ
コンパレータ
出力
下側
エンベロープ
フォロア
10 kΩ
上側
エンベロープ
フォロア
111
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附属書N
（規定）
交換のための要件
この附属書は，交換のための要件について規定する。
N.1 記録装置
データ交換のための駆動装置によって，動作環境条件下で，試験メディアに任意のデータが記録される。
N.2 再生装置
N.2.1 概要
試験駆動装置で再生試験を行う場合は，試験環境条件下で行わなければならない。再生時のディスクの
回転数は，9.5で定義する。
回転方向は，9.5で定義する。
N.2.2 再生チャネル
N.2.2.1 光ビームの特性
再生に使用する光ビームは，9.2 b)，9.2 c)，9.2 d)及び9.2 f)の要件を満たさなければならない。
N.2.2.2 再生パワー
再生パワーは，9.3の要件を満たさなければならない。
N.2.2.3 光学系
再生に使用する光ヘッドは，箇条9の要件を満たさなければならない。
N.2.2.4 再生増幅器
チャネル1，及びチャネル2において，フォトディテクタ後の再生増幅器は，直流から37 MHzまで周
波数応答が1 dB以内となる。
N.2.2.5 アナログからバイナリへの変換
再生増幅器からの信号は，アナログからバイナリに変換される。チャネル1のコンバータは，箇条22
及び箇条23で定義する特性をもつプリフォーマットデータからの信号に対して適切に動作する。
チャネル2のコンバータは，箇条25及び箇条26で定義する特性をもつユーザ記録マークからの信号に
対して適切に動作する。
N.2.2.6 バイナリからデジタルへの変換
バイナリ信号は，記録コードの規則に従って，デジタル信号に変換される。
N.2.3 トラッキング
フォーカシング及びトラッキングサーボのための開ループ伝達関数は，次の式による。
(
)
c
2
1
2
c
1
c
2
0
0
2
2
0
f
s
f
s
s
f
H
π
π
π
+
+
=
このとき，50 Hz〜10 kHzの帯域幅で，|1＋H|が公称値から±20 %以下となるように，s＝i2πfとする。
定数cは，3とする。開ループ0 dB周波数f0 は，フォーカス方向のサーボの場合は1 550 Hz，トラッキ
112
X 6280：2011 (ISO/IEC 22092：2002)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ング方向のサーボの場合は2 340 Hzとする。フォーカス方向の開ループ直流ゲインは，少なくとも80 dB
とする。
N.3 デジタル再生信号のための要件
誤り検出及び訂正回路によって，一つ以上のビットが検出されるバイトをバイトエラーと定義する。
N.3.1 有効とされたセクタ
記録中に有効とされたセクタは，チャネル2で，誤り訂正回路後にバイトエラーが含まれていてはなら
ない。
N.3.2 有効とされないセクタ
記録中に有効とされないセクタは，欠陥管理の規則に従って，処理される。
N.4 デジタルサーボ信号のための要件
光ビームの焦点は，トラックを外れてはならない。
N.5 交換のための要件
N.1で定義される駆動装置で記録され，N.2で定義される試験駆動装置で再生されるときに，N.3及び
N.4の要件を満たす場合，ODCは，交換の要件を満たさなければならない。
113
X 6280：2011 (ISO/IEC 22092：2002)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書P
（規定）
クロストラック信号の測定方法
この附属書は，クロストラック信号の測定方法について規定する。
クロストラック信号は，図P.1で示す，次の特性をもつ測定系を用いて，測定する。
ボトムホールド特性のパラメタの例を，図P.2に示す。
ドループレート：
(
)
(
)s
μ
1
2.0
/
s
μ
1
1.0
bottom
≦
≦
=
∆
∆
t
I
I
ここに，
ΔI： ボトム値の最小値とVFOのIbottomとの差
Δt： ボトムホールド信号がボトム値の最小値からVFOのIbottomに
達するまでの時間
Ibottom： VFOでのボトム位置でのチャネル1の信号
ボトムトレースエラー（BTE）：
05
.0
bhmax
bh
bottom
≦
I
I
I
−
ここに，
Ibh： ボトムホールド信号
Ibottom： VFOでのボトム位置でのチャネル1の信号
Ibhmax： VFOでのボトムホールド信号の最大値
図P.1−クロストラック信号の測定系
図P.2−ボトムホールド特性のパラメタの例
ボトムホールド
回路
ローパスフィルタ
カットオフ周波数
50 kHz
チャネル1
（9.3 参照）
ボトムホールド信号
クロストラック信号
VFO
Δt
I
b
h
I
sm
セクタマーク（奇数バンド）
I
b
o
tt
o
m
Δ
I
チャネル1
ボトムホールド信号
I
to
p
114
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書Q
（規定）
非対称性測定定義
この附属書は，非対称性測定定義について規定する。
ヘッダ（22.5）及びユーザ記録データ（29.2.3）からの信号の非対称性は，次の定義に基づいて測定する。
Q.1 ヘッダからの信号の非対称性（22.5）
チャネル1のヘッダからの信号を，図Q.1に示す。
0レベル
図Q.1−チャネル1のヘッダからの信号
ヘッダからの信号の非対称性は，次の式で求める。
(
)(
)
{
}
(
)
pmaxbottom
pmaxtop
pminbottom
pmintop
pmaxbottom
pmaxtop
2
1
I
I
I
I
I
I
−
+
−
+
非対称性＝
ここに，
Ipmin： そのセクタにおけるアドレスマーク，ID及びPAからの
最小振幅をもつ信号
Ipmax： そのセクタにおけるアドレスマーク，ID及びPAからの
最大振幅をもつ信号
Ipmaxtop： Ipmaxの上位レベルの信号
Ipmaxbottom： Ipmaxの下位レベルの信号
Ipmintop： Ipminの上位レベルの信号
Ipminbottom： Ipminの下位レベルの信号
Q.2 エンボス記録フィールドからの信号の非対称性
（9.1 GBの光ディスクではROM領域がないので，この箇条を不採用とする。）
Q.3 ユーザ記録データからの信号の非対称性（29.2.3）
IL 及びIH の定義を図Q.2に示す。
TA2
セクタマーク
VFO
AM, ID
I
p
m
ax
to
p
I
p
m
in
b
o
tt
o
m
I
p
m
in
to
p
I
p
m
in
I
v
fo
I
IG
I
to
p
I
sm
I
p
m
ax
PA1
TA1
I
p
m
ax
b
o
tt
o
m
115
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ILは，8Tマーク及び8Tスペースのチャネル2信号（9.3参照）のピークからピークまでの値とする。8T
マーク及び8Tスペースは，24.3で示すあらゆる条件下で記録され，20.2.2 b) で規定する条件下で再生さ
れる。8Tは，RLL(1,7) 符号が各ゾーンに許容する最長間隔である。
IHは，2Tマーク及び2Tスペースのチャネル2信号のピークからピークまでの値とする。2Tマーク及び
2Tスペースは，24.3で示す条件下で記録され，20.2.2 b) で規定する条件下で再生される。2Tは，RLL(1,7)
符号が各ゾーンに許容する最低間隔である。
図Q.2−IL及びIHの定義
ユーザ記録データからの信号の非対称性は，次の式で求める。
(
)(
)
{
}
(
)
Lbottom
Ltop
Hbottom
Htop
Lbottom
Ltop
2
1
I
I
I
I
I
I
−
+
−
+
非対称性＝
ここに，
ILtop： ILの上位レベルの信号
ILbottom： ILの下位レベルの信号
IHtop： IHの上位レベルの信号
IHbottom： IHの下位レベルの信号
I
L
I
L
b
ot
to
m
I
L
to
p
I
H
I
H
b
ot
to
m
I
H
to
p
0レベル
116
X 6280：2011 (ISO/IEC 22092：2002)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書R
（参考）
オフィス環境
R.1 空気清浄度
カートリッジは，駆動装置の内外のじんあい（塵埃）の影響に対しかなりの耐力をもつ構造となってい
る。そのために，じんあい（塵埃）の量を十分低く維持するような特別の注意は必要としないが，機械工
場，建築現場など，じんあい（塵埃）の多い場所での使用は避け，通常のオフィス環境で使用するのが望
ましい。
オフィス環境とは，個人が何の保護もなしに，一時的な苦痛及び永久的な不快感を伴わずに一日中働け
る環境をいう。
R.2 動作の影響
最高動作温度（55 ℃）及び最大許容バイアス磁界（32 000 A/m）が与えられた状態で，1本のトラック
に再生パワーが長期間照射される場合，メディア上のマークの品質が低下する場合がある。1本のトラッ
クに再生パワーが長期間照射される場合とは，駆動装置にメディアがロードされたままであり，駆動装置
が準備完了状態で，更に一つの特定トラック上でジャンプバックモードにある場合である。メディア製造
者は，駆動装置製造者の再生パワー管理方法と同様に，ユーザゾーンで許容される最大再生パワーの値を，
データを損なうリスクを最小にするように設定する必要がある。
117
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書S
（参考）
使用環境条件の導出方法
この附属書は，8.1.2の使用環境条件の導出方法について，その背景を示す。
S.1
標準環境条件
ODCの使用環境条件は，幾つかの例外を除いて，JIS C 60721-3-3:1997，環境条件の分類 環境パラメー
タとその厳しさのグループ別分類 屋内固定使用の条件［IEC 60721-3-3:1996に対応（IDT）］の分類3K3
の値を基本とする。分類3K3は，室内での装置を設置する環境を定義し，次による。
“通常の居住空間，すなわち，居間，大勢が使用する場所（劇場，レストランなど），オフィス，店，電
気部品の組立及び製造の場所，電気通信センタ，貴重品及び精密機器の保管室”
S.2
温度上昇の考え方
分類3K3は，室内の環境だけを定義しているが，この規格のカートリッジの使用環境条件は，システム
及び駆動装置の温度上昇についても考慮する。駆動装置に取り付けたカートリッジは，室内温度より高い
温度になる。使用環境条件は，この温度上昇を20 ℃までと仮定する。
S.3
絶対湿度
絶対湿度（空気中の水分量g/m3）の導入は，温度上昇を考えるときに有用となる。駆動装置の中で温度
上昇があったとき，絶対湿度は実質的に一定であるにもかかわらず相対湿度は，下がる。そのため，使用
環境条件に温度上昇分の余裕をもたせると，温度の上限だけでなく，相対湿度の下限に影響を与える。こ
れらの関係を，カートリッジの使用環境条件の空気線図（相対湿度対温度図，図S.1参照）に示す。
絶対湿度を制限すると，次の二つの使用環境条件を排除できる。
a) カートリッジの性能及び寿命に悪影響を及ぼす高温及び高相対湿度の組合せ
b) 世界中のオフィス環境でほとんど起こらない低温及び低相対湿度の組合せ
S.4
JIS C 60721-3-3の分類3K3との違い
S.2に示す温度上昇に関する変更を除くと，次のパラメタが分類3K3の基本値と異なる。
− 大気圧
分類3K3の下限気圧70 kPaを60 kPaまで拡張する。カートリッジは，本質的に気圧に敏感でなく，
70 kPaの規定は，一部の市場を排除する可能性がある。
− 絶対湿度
空調があるオフィス環境以外で使用する携帯用装置を考慮し，分類3K3の上限の25 g/m3を30 g/m3
に引き上げる。
− 温度
カートリッジの周囲温度（駆動装置内の温度上昇を含む。）の上限は，55 ℃とする（分類3K3は＋
20 ℃で60 ℃になる。）。この規格によるカートリッジに対し，上限55 ℃は，それ以上では動作（保
存と同様）が安全でないという物理的な上限を考慮している。
118
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
これは，装置設計者が，室温が分類3K3の上限の40 ℃になったとき，駆動装置内部を十分に冷却
してもよいことを意味する。
− その他
温度及び相対湿度の変化の速度は，分類3K3に従っていない。
S.5
湿球温度規定
絶対湿度による仕様値の代わりに，既発行のカートリッジの規格は，他のデジタル記録メディアと同様
に，高温及び高相対湿度の厳しすぎる組合せを排除するために次のパラメタの規定をした。
湿球温度 ［単位：℃］
異なった仕様の比較を容易にするために，図S.2及び表S.1に，カートリッジの使用環境，測定環境及
び保存環境に対する湿球温度を示す。湿球温度は，大気圧でわずかに変化するため，図表は，101.3 kPaの
標準圧で有効となる。
図S.1−分類3K3及びカートリッジの使用環境条件の空気線図
119
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
注記 A点からI点及びT領域は，表S.1による。
図S.2−使用環境及び保存環境の湿球温度
表S.1−主なポイントの位置
気温 ℃
相対湿度 %
全体温度 ℃
A
31.7
90.0
30.3
B
32.8
85.0
30.6
C
55.0
28.8
35.5
D
55.0
3.0
21.2
E
31.7
3.0
12.1
F
5.0
14.7
−1.4
G
−10.0
90.0
−10.3
H
5.0
85.0
3.9
I
−10.0
46.8
−11.6
測定環境（T）
23.0±2.0
50.0±5.0
−
保存環境
A-B-C-D-E-F-I-Gで定める。
使用環境
B-C-D-E-F-Hで定める。
120
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書T
（参考）
輸送
T.1
概要
輸送は，世界中の広範囲の温湿度変化の下，異なる期間，様々な輸送方法によって行われるため，輸送
条件及び包装条件を一般的に規定することは困難である。
T.2
包装
包装の形式は，受渡当事者間の協定によるが，T.2.1及びT.2.2を考慮する。
T.2.1
温度及び湿度
輸送の見積期間よりも長期の条件に耐えるように，包装方法を考慮する。
T.2.2
衝撃及び振動
a) カートリッジの形状を損ねる機械的な荷重に耐える包装とする。
b) カートリッジの落下に耐える包装とする。
c) カートリッジは，緩衝材を入れた硬い箱に包装する。
d) 最終的な箱は，汚れ及び湿気を防ぎ輸送できる構造と清浄な内装とを具備する。
121
X 6280：2011 (ISO/IEC 22092：2002)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書U
（参考）
交替セクタを利用するときのガイドライン
次に示す欠陥セクタを8 191個の交替セクタに置き換えることができる。
a) 一つのセクタ内からIDが読み取れない。
b) 一つのセクタ内の二つのIDのうち，一つだけが読み取れ，先行するセクタと矛盾する。
c) 4 096バイトセクタに80バイトを超える長さの一つの欠陥が検出されるか，2 048バイトセクタに40
バイトを超える長さの一つの欠陥が検出される。
d) 一つのセクタ内で，欠陥バイトの総数が，4 096バイトセクタの場合に120バイト（2 048バイトセク
タの場合に60バイト）を超えるか，又はセクタの一つのECCインタリーブで5バイト（4 096バイト
セクタ，2 048バイトセクタの場合）を超える。
e) タイプWOの場合，15.11.3で規定のSWFフィールドの欠陥バイトの総数が2を超える。
122
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書V
（参考）
トラックの振れ量の測定方法
トラックの規定位置からの振れ量は，トラッキングサーボを掛けて駆動装置上で測定する。測定に用い
る基準サーボの強度は，駆動装置のサーボの強度を超えてはならない。サーボの強度の差は，駆動装置の
余裕度を示す。トラックの振れ量は，基準サーボを印加した状態で測定するトラックと光ビーム焦点間と
のずれ量であるトラッキングエラー量となる。
トラックの振れ量の測定方法は，光軸方向のトラック振れ量及び半径方向のトラック振れ量のどちらに
も適用する。
V.1
許容値との関係
トラックの振れ量は，トラッキングサーボモータに要する加速度，及びトラッキングエラーの測定によ
る。加速度及びトラッキングエラーとの関係を周波数の関数として図V.1に示す。
emax
log(xmax)
log(f)
emax
log(xmax)
log(f)
図V.1−単一周波数，正弦波状振れ量の許容値
低周波数領域での許容振幅（xmax）は，式(V.1)によって算出する。
2
max
max
)
2(f
a
x
π
=
········································································· (V.1)
ここに， аmax： サーボモータの最大加速度
高周波数領域での許容振幅（xmax）は，式(V.2)によって算出する。
max
max
e
x
=
············································································· (V.2)
ここに， еmax： 最大許容エラー量
二つの周波数領域の合成は，V.3による。
V.2
基準サーボ
トラックの振れ量の許容値は，基準サーボに対するトラック振れ量の許容値と等しい。基準サーボは，
123
X 6280：2011 (ISO/IEC 22092：2002)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
所定の伝達関数をもち，図V.1に示したように，振幅（xmax）の単一の正弦波状のトラック振れ量を最大許
容エラー量（еmax）に圧縮する。
基準サーボの開ループ伝達関数（Hs）は，式(V.3)によって算出する。
()
0
0
2
0
s
1
1
1
ω
ω
ω
ω
ω
ω
ω
c
i
c
i
i
c
i
H
+
+
=
·························································· (V.3)
ここに，
Hs： 開ループ伝達関数
0
0
2
2
1
f
f
i
π
ω
π
ω
=
=
−
=
f0： 開ループ伝達関数上で，ゲインが0 dBとなる周波数
c： サーボのクロスオーバー周波数（f1及びf2）を与える定数
f1＝f0/c
f2＝f0×c
基準サーボによるトラックの振れ量（x）のエラー量（e）への圧縮は，式(V.4)によって算出する。
s
1
1
H
x
e
+
=
············································································ (V.4)
ここに，
x： トラックの振れ量
e： エラー量
Hs： 開ループ伝達関数
0 dBとなる周波数ω0は，式(V.5)によって算出する。
max
max
0
e
c
a
=
ω
·········································································· (V.5)
このとき，ω0より低い周波数のトラックの振れは，最大許容エラー量（еmax）に圧縮される。また，ω0
より高い周波数のトラックの振れは，圧縮されない。図V.1に示す許容振幅（xmax）は，式(V.6)によって算
出する。
|
1|
s
max
max
H
e
x
+
=
·································································· (V.6)
この基準サーボのモータに要求される最大加速度は，式(V.7)によって算出する。
|
1|
)
motor
(
s
2
max
max
H
e
a
+
=
ω
······················································ (V.7)
ここに， amax(motor)： 基準サーボのモータに要求される最大加速度
f＞f0/cとなる低周波数領域での最大加速度は，式(V.8)によって算出する。
c
e
a
a
max
2
0
max
max
)
track
(
)
motor
(
ω
=
=
·············································· (V.8)
ここに，11.4.6及び11.4.8の低周波数領域で基準サーボのω0計算にamax(motor)を用いてもよい。
V.3
トラックの振れの許容量
トラックの振れは，所定の周波数で回転しているディスクに対し，基準サーボでトラッキングを行った
とき，7.2 μs以上にわたって，エラー量（еmax）を超えてはならない。
軸方向及び半径方向の基準サーボの開ループ伝達関数は，50 Hz〜170 kHzの帯域で，公称値からの相違
が±20 %の範囲を超えない精度の｜1＋H｜を用い，式(V.3)によって求める。定数cは，3とする。0 dB周
波数ω0/(2π)は，20.2.4，11.4.6及び11.4.8の軸方向，及び半径方向のаmax及びеmaxを用いて，式(V.5)によっ
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て求める。
V.4
測定方法
軸方向又は半径方向の測定システムとして，3種類の方法を示す（図V.2，図V.3及び図V.4参照）。図
中，Haは駆動装置の実際のトラッキングサーボの開ループ伝達関数を，Hsは式(V.3)によって求める基準サ
ーボの伝達関数を，x及びyはトラックの位置及び光ビームの焦点の半径方向の位置を，еsは基準サーボを
経た後のエラー量を示す。
最適な測定方法は，Ha及びHsの特性に依存する。板ばね方式サーボモータでは，低周波数及び高周波
数に分けて二系統の測定回路を用いると，良い測定結果が得られる。測定方法のうち，図V.2の方法は，
低周波数の測定系に用い，図V.3及び図V.4の方法は，高周波数の測定系に用いる。二つの測定系の出力
信号を，逆特性の交差形フィルタ（reversed cross-filter）を用いて加算し，必要なエラー量を求める。低周
波数の測定では，サーボモータにヒステリシスがないときには，サーボモータの加速度の測定としてサー
ボモータに流れる電流を利用してもよい。このとき，電流は，サーボモータの伝達関数によって校正する。
式(V.4)に等しい伝達関数e/a＝e/(xω2) をもつフィルタによって，サーボモータに流れる電流をエラー量に
変換する。
図V.2−基準サーボによって圧縮されたトラック位置信号にフィルタを印加して
esを得るようにした基準サーボ方法
図V.3−実際のサーボの伝達関数を変換することによってesを得るようにした基準サーボ方法
Ha
x
+
−
es
y
Hs
Ha
位置センサ
サーボ
+
y +
x
ea
es
フィルタ
1
1+Hs
125
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図V.4−実際のサーボのエラー信号を変換することによってesを得るようにした基準サーボ方法
Ha
x
+
−
ea
es
y
1+Ha
1+Hs
126
X 6280：2011 (ISO/IEC 22092：2002)
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附属書W
（参考）
現在及び将来の規格で実装される値
この規格は，この規格に適合する光カートリッジを識別するバイトの値を規定する。他のタイプのODC
が将来開発されることを期待し，次の値を他のカートリッジに使用することを推奨する。
W.1 制御トラックPEPゾーンのバイト0
ビット6〜4の設定の意味は，次による。
000
角速度一定方式（CAV）
001
線速度一定方式（CLV）
010
ゾーン化された角速度一定方式（ZCAV）
011
ゾーン化された線速度一定方式（ZCLV）
110
ロジカルZCAV
W.2 制御トラックPEPゾーンのバイト7
次のビットパターンの意味は，次による。
0000 0000
再生専用カートリッジ（ROM）
0001 0000
不可逆記録を用いる追記形カートリッジ
0001 0001
MO記録を用いる追記形カートリッジ
0010 0000
MO記録を用いる書換形カートリッジ
0101 0001
DOW記録を用いる追記形カートリッジ
0110 0000
DOW記録を用いる書換形カートリッジ
0011 0000
相変化記録を用いる書換形カートリッジ
1001 0000
追記形カートリッジのパーシャルROM
1010 0000
MOのパーシャルROM
1011 0000
相変化のパーシャルROM
0110 0000
ダイレクトオーバーライト
1110 0000
部分的にエンボスをもつダイレクトオーバーライト
0001 0011
追記形ダイレクトオーバーライト
最上位ビットが1のとき，パーシャルROMを示すことに注意する。
17.3.2.1.4を参照。
127
X 6280：2011 (ISO/IEC 22092：2002)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書X
（参考）
基板の垂直複屈折の測定
この附属書は，両面に薄膜が形成されていない基板及び薄膜が形成された基板に適用できる，記録メデ
ィアの垂直複屈折を，簡易かつ非接触で測定する方法について記述する。
この技術は，ある手順を用いて，面内複屈折（IPB）及び垂直複屈折（VB）の両方の平均値又はバルク
値を算出するものである。測定は，角度可変形分光エリプソメータ（VASE）を用いる。この規格の簡易な
測定では波長可変機能は必要としない。射出成形の樹脂ディスクには有効であるが，測定は，基板の主な
光軸がディスクのr，Φ，z方向と一致すると仮定する。また，測定は，測定された光学位相差に対して，
MO薄膜のMOだ（楕）円率の影響が基板材料のものより十分小さいと仮定する。
入射角の範囲の直交する偏光間の位相差を測定して，三つの方向（Nr，NΦ，Nz）に対する基板屈折率を
独自に決定する。入射角の範囲は，小角度での機構的制約，及び大角度でのビーム外れで制限するのが望
ましい。角度の推奨範囲は，−70°〜＋70°である。一般に，三つの入射角度での測定が，VBを確立す
るために最低限必要となる。
薄膜が形成されたディスクを測定するとき，入射ビームは，ディスク表面及びMO層の両方で反射する
（図X.1参照）。基板が比較的薄い（1.2 mm）ため，両方の反射光が検出器に入射する。不要な表面反射
光を排除するため，薄く（＜0.5 mm）硬い，細長い小さな遮光板を用いる。遮光板は，入射光の反射する
位置に，記録メディアにほぼ近接するように設置される。この遮光板の位置を調整し，反射点での反射信
号が最大になるようにする。この状態で，表面反射光は遮断され，内面（薄膜面）からの底部反射光だけ
が偏光検出器を通過できる（図X.1参照）。
注記 遮光板を入射光源に近づけすぎた場合には，主光束が遮られ，信号が降下する。反射点から遠
ざけすぎた場合には，両方の反射光が遮られ，再び信号が低下する。
透明基板の場合，VASEを直線モードに設定し，透過測定することによって可能であり，接触は必要な
い。
主光軸がディスクの円柱座標軸方向に向いている（これはほとんど一般的なケースである）ディスクで
は，入射角の関数としての位相遅延を記録メディアの屈折率（Nr，NΦ，Nz）に関連付ける次の式が成り立
つ。位相遅延データを次に示す非線形解析式にフィッティングさせ，屈折率が決まる。
()
()
−
−
×
=
∆
Φ
−
θ
θ
2
2z
z
2
2r
sin
sin
N
N
N
N
d
ここに，
Δ： 位相遅延量
d： ディスクの厚さ
複屈折は，次の屈折率間の差となる。
面内：ΔNin＝Nr−NΦ
垂直：ΔNvert＝0.5(Nr＋NΦ)−Nz
無単位の複屈折は，ΔNin又はΔNvertを基板の厚さdで乗じることによって，長さの単位で表すことがで
きる。この場合，複屈折は，位相遅延量（nm）として表される。
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X 6280：2011 (ISO/IEC 22092：2002)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
(b)
不要反射光
光ブロック
プローブ光
ディスク
(a)
プローブ光
ディスク
検出器
不要反射光
(b)
不要反射光
光ブロック
プローブ光
ディスク
(a)
プローブ光
ディスク
検出器
不要反射光
図X.1−(a)−不要反射光の発生 (b)−非接触光ブロック法による不要反射光の除去
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X 6280：2011 (ISO/IEC 22092：2002)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書Y
（参考）
タイプWOのODCを使用するためのガイドライン
この附属書では，この規格で規定するタイプWOのカートリッジを使用するときに注意すべき重要なポ
イントを列挙する。
a) カートリッジを駆動装置に挿入し，メディアタイプを確認するとき，PEP及び／又はSFPを読み取り，
適切なホストコマンドを有効及び／又は無効にする。駆動装置がこのカートリッジタイプを利用でき
ない場合は，適切なエラーメッセージでディスクを拒絶し，ディスク上で操作ができないようにする。
b) ディスクを駆動装置に挿入し，ディスクが初期化されているかどうかを確認するとき，DDSを読み取
る。ディスクが初期化されている場合は，再初期化はできない。ディスクが初期化されていない場合
は，追記ゾーンへのアクセスはできない。
c) 初期化の完了前に追記ゾーンを消去する。初期化の終了時にだけDDSを記録し，不完全な初期化の検
出を可能にする。
セクタの記録前に，セクタを既に記録したかどうかを決定しなければならない。
2通りの方法で，この決定を行うことができる。一つ目の方法は，セクタヘッダとデータ記録との
間のフラグフィールドの内容を確認することであり，記録されている場合は，セクタは未記録であり，
再度セクタの記録を行わないほうがよい。
二つ目の方法は，データ記録を読み取り，SWFフィールドの内容を調査することである。このフィ
ールドが8/8バイト，すなわち，2IDトラックバイト，1セクタバイト及び5/5(FF)バイトを含む場合，
セクタは未記録であり，再度セクタの記録を行わないほうがよい。これらの試験は，DMAを形成す
るセクタには適用されない。
d) SCSI消去，SCSI配置転換ブロック，SCSI更新ブロックなどの記録データを直接的又は間接的に変更
できるコマンドを否認する。
e) SCSI Write Longコマンドを否認する。この規格で規定するとおり，常に，SWF，CRC及びECCフィ
ールドを用いて，ユーザデータを記録する。
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X 6280：2011 (ISO/IEC 22092：2002)
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附属書Z
（参考）
メディアの感度評価のためのレーザパワーの校正方法
Z.1
試験条件の変化
24.3.4で規定するメディアの感度の測定に当たっては，メディアの感度Cの値が基準駆動装置に許容さ
れる各種条件に影響されるため，メディア評価装置のレーザパワーを注意深く校正する必要がある。磁性
層のレーザスポットプロファイルは，9.2で規定する基準駆動装置に許容される光学的条件で変わる。記録
パワー感度の観点からの，基準駆動装置に許容される最良条件及び最悪条件を表Z.1に示す。最悪条件の
温度のピークは，最良条件の温度のピークから21 %低くなると見積もられる。そのため，メディアの感度
Cは，注意深く評価する必要がある。
表Z.1−標準駆動装置に許容される最良条件及び最悪条件
最良条件
最悪条件
波長（λ）
660 nm
670 nm
λ/NA
1.150 μm
1.165 μm
D/W
0.8
0.87
光ヘッドの波面収差
0
λ2/330
ディスクのチルト
0
2.8 mrad
ディスクの厚さ変動
0
50 μm
Z.2
パワーの校正
評価装置のレーザパワーの校正は，次の手順で行う。正確な校正には，高速フロントパワーモニタを使
用する。
ステップ1
パワーメータによって高速フロントパワーモニタを校正する（図Z.1）。
・ 校正は，直流パワーメータを用いて，直流レーザ操作で行うことができる。
・ 記録パルスの波形観測には，高速（＞100 MHz）フロントパワーモニタを用いる。
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X 6280：2011 (ISO/IEC 22092：2002)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図Z.1−フロントパワーモニタの校正
ステップ2
記録パルスの形状を直接観測する（図Z.2）。
・ 集光状態でのパルスパワーは，半導体レーザの戻り光の影響によって，非集光状態でのパルスパワ
ーとは異なる。
・ 実際の測定条件では，パルスパワー，パルス幅及びアシストパワーレベルを注意深く観測する。
・ 2Tマークの孤立パルス及び4Tマークの補助パルスが同一波形であり，4Tマークの二つの記録パル
スの立上がり及び立下がりが補助パルスと同一であるかどうかを確認する。同一でない場合は，C
及びEthの測定誤差が大きくなる。
図Z.2−パルス強度及びパルス幅の測定
ステップ3
適切なフィルタを用いて，記録パルスパワー及びパルス幅を測定する。
MO信号及び
サーボ信号検出器
高速フロントパワーモニタ
（＞100 MHz）
半導体レーザ
オシロスコープ
高速フロントパワーモニタ
（＞100 MHz）
MO信号及び
サーボ信号検出器
̲.̲mW
光パワーメータ
半導体レーザ
オシロスコープ
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・ カットオフ周波数80 MHzで，（ガウシアン）ローパスフィルタによってリンギングを除去すること
ができる（図Z.3a）。
・ パルスエネルギーを正確に測定するため，高速フロントパワーモニタを利用できない場合は，平均
パワーレベル測定を推奨する（図Z.3b）。
測定に関する備考
・ バイアスパワーレベル
バイアスパワーレベルPbの測定における誤りが，Cの測定値の重大な誤りを招くことになるため，
Pbの測定は注意深く（±0.05 mWの精度で）行う。
・ ディスクの温度
ディスクの温度は，25 ℃±1 ℃に保つ。評価装置が密閉している場合，内部温度が上昇する場合
がある。
・ 迷光
光ヘッド内の迷光が対物レンズに入射し，迷光のスポットを形成することもある。光ビームスポ
ットにおける温度上昇が小さくても，対物レンズを通した光パワーの測定値は大きい場合がある。
・ 光部品（特に対物レンズ）の汚れ
光がちり（塵）などで吸収される場合，対物レンズを通過後の光パワーは減少する。これはパワ
ーメータで測定することができるため，混乱は生じない。光を散乱させる場合は，対物レンズを通
過した全ての光パワーが，メディアの温度上昇に対して有効なわけではない。定期的に清掃を行う
必要がある。
・ ビームスポットの大きさ
記録メディアの感度の測定の前に，評価装置のビームプロファイルを光ナイフエッジ法で検査す
るのが望ましい。測定したスポットの直径が，基準駆動装置の最良の直径である1.08 μmからかけ
離れていない場合，ディスクの傾斜などの上記の条件を注意深く調整するのが望ましい。
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X 6280：2011 (ISO/IEC 22092：2002)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図Z.3a−ローパスフィルタによるリンギングの除去
図Z.3b−平均パワーレベルからのパルスパワー決定
図Z.3−平均パワーレベルからパルスパワーを正確に決定する方法
P
a
Tp
1周期
P
w
P
b
ローパスフィルタ
(~100 kHz)
平均パワーレベル
P
b
Pw−(Pa−Pb)×（1周期）/Tp + Pb
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X 6280：2011 (ISO/IEC 22092：2002)
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書AA
（参考）
512バイトセクタ及び1 024バイトセクタのエミュレーション
この規格は，セクタエミュレーションの技術を通して，512バイト及び1 024バイトのインクリメントに
おけるデータの記録を提供する。512バイト又は1 024バイトのブロックサイズに含まれるユーザデータを，
4 096バイト物理セクタだけを含むカートリッジに記録することができる。結果として，一定のセクタが部
分的に一杯になることもある。この状態のとき，セクタの残りの部分は，パッドデータが記録される。ユ
ーザデータ及びパッドデータは，4 096バイトセクタに適用されるECC規則及びCRC規則に従って，その
セクタに記録される。
駆動装置は，物理セクタの一部に含まれる既存のユーザデータを書き換える。これを行うために，物理
セクタからデータを読み取りバッファメモリに入れ，ユーザデータを抽出して新しいデータを添付し，こ
の新しいフィールドが前のフィールドに置き換わる。
一つのロジカルトラックの先頭，及びその前のロジカルトラックの最終は，物理的な4 096バイトセク
タを共有する。エミュレートセクタサイズを一つだけ単一のカートリッジ上に記録してもよい。
エミュレーションオフセットは，エミュレートセクタ記録が始まる最初のフィジカルトラック内の位置
を表す。これは，エミュレートセクタで測定したオフセットとして規定される。通常の場合，オフセット
は0に設定する。