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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
目次
ページ
第1章 一般事項 ················································································································· 1
1. 適用範囲 ························································································································ 1
2. 適合性及び規定 ··············································································································· 1
3. 引用規格 ························································································································ 2
4. 用語の定義 ····················································································································· 2
5. カートリッジの概要 ········································································································· 3
6. 環境及び安全性 ··············································································································· 3
7. 基準駆動装置 ·················································································································· 4
第2章 機械的特性及び物理的特性 ························································································· 6
8. ケースの寸法，機械的特性及び物理的特性 ··········································································· 6
9. ディスクの寸法，機械的特性及び物理的特性 ······································································· 19
10. カートリッジ及び駆動装置のインタフェース ······································································ 22
第3章 フォーマット ········································································································· 23
11. トラックの一般事項······································································································· 23
12. トラックフォーマット ··································································································· 24
13. セクタフォーマット ······································································································ 24
14. 記録符号 ····················································································································· 26
15. 情報ゾーンのフォーマット······························································································ 27
16. データゾーンのフォーマット··························································································· 29
17. 書換ゾーンの欠陥管理 ··································································································· 33
第4章 エンボス特性 ········································································································· 36
18. エンボス特性の測定方法 ································································································ 36
19. グルーブ関連信号 ········································································································· 37
20. ヘッダ信号 ·················································································································· 39
21. エンボスデータフィールド信号························································································ 40
第5章 記録層の特性 ········································································································· 41
22. 記録層の測定方法 ········································································································· 41
23. 光磁気特性 ·················································································································· 42
24. 記録特性 ····················································································································· 43
25. 消去特性 ····················································································································· 43
第6章 ユーザデータの特性 ································································································ 44
26. ユーザデータの測定方法 ································································································ 44
27. セクタの最低保証品質 ··································································································· 44
28. データ交換の必要条件 ··································································································· 45
附属書A（規定） カートリッジのひずみ量測定方法································································· 46
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附属書B（規定） カートリッジの可とう性測定方法 ································································· 47
附属書C（参考） トラックの振れ量の測定方法 ······································································· 49
附属書D（規定） IDフィールドのCRC ················································································· 52
附属書E（規定） セクタのデータフィールドのフォーマット ····················································· 53
附属書F（規定） 制御ゾーンの内容 ······················································································ 56
附属書G（参考） 代替セクタを使用するときのガイドライン ····················································· 63
附属書H（規定） 性能指数の測定方法 ·················································································· 64
附属書J（参考） 再生，記録及び消去パワー ·········································································· 65
附属書K（規定） ハブ吸着力の測定方法 ··············································································· 66
附属書L（参考） 使用環境条件の導出方法 ············································································· 68
附属書M（規定） 空気清浄度クラス100000 ··········································································· 71
附属書N（規定） 基準面に対するカートリッジの位置······························································ 72
附属書P（参考） 輸送条件 ·································································································· 73
附属書Q（参考） オフィス環境 ··························································································· 74
附属書R（規定） 信号特性が緩和できるゾーン ······································································· 75
附属書S（参考） 基準ディスク（記録パワー校正用） ······························································ 76
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日本工業規格 JIS
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90mm書換形及び再生専用形
光ディスクカートリッジ
90mm Rewritable and read only optical disk cartridges
for information interchange
日本工業規格としてのまえがき
この規格は，1992年に第1版として発行されたISO/IEC 10090 (Information technology-90mm optical disk
cartridges, rewritable and read only, for data interchange) を翻訳し，原国際規格の様式によって作成した日本工
業規格であるが，規格の名称を“90mm書換形及び再生専用形光ディスクカートリッジ”とし，規定内容
の一部を我が国の実情に即して変更した。
なお，この規格で点線の下線（ ）を施してある箇所は，原国際規格にはない事項である。
第1章 一般事項
1. 適用範囲 この規格は，次の事項について規定する。
− 適用試験及び基準駆動装置の条件
− データ処理システム間の互換性を保証するための光ディスクカートリッジの機械的特性及び物理的特
性
− 再生専用のエンボスデータ及びユーザ記録データの記録フォーマット
− エンボスデータの特性
− ユーザ記録データの光磁気特性
− データ交換のためのデータ品質
ボリューム及びファイル構造の規格と共に，この規格は，データ処理システム間の完全な互換性を与え
るものである。互換性とは，誤りなくデータを記録，再生及び消去できる機能をいう。
2. 適合性及び規定
2.1
適合性 この規格で規定するすべてを満足するならば，その90mmの光ディスクカートリッジは，
この規格に適合とする。
附属書Rにこの規格で規定する信号特性を満足するディスクゾーン及びこれらの仕様を緩めることがで
きるゾーンを示す。
この規格に対応する駆動装置は，ここで規定する使用環境条件で，この規格に適合するすべての光ディ
スクカートリッジへの記録再生ができなくてはならない。
この規格に適合する光ディスクカートリッジの特定領域だけを受け入れる駆動装置は，この規格に適合
2
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しないものとする。
2.2
規定及び定義
2.2.1
数値表示
− 測定した値は，対応する規定値に対して有効数字に丸めることとする。
すなわち，
01
.002
.0
26
.1
+−
という規定値は，1.235以上1.275未満の測定値は許容する。
− 16進数は，末尾にhを付けて表記する。
− ビットの値は，0及び1とする。
− 2進数及びビットの組合せの数値については，0及び1で表す。
− 2進数及びビットの組合せの数値については，左に最上位ビットを示す。
− 2進数の負の値は，2の補数で表す。
− 各フィールドのデータは，最上位バイト（バイト0）を最初に記録する。各バイトの中では，最上位
ビット（8ビットバイトの7番目）を最初に記録し，この規定は，ECC回路のデータ入出力にも適用
する。
2.2.3
略語
AM ：アドレスマーク
CCS ：複合連続トラッキングサーボ方式
CRC ：巡回冗長検査
DDS ：ディスク定義セクタ
DMA ：欠陥管理領域
ECC ：誤り訂正符号
FA1 ：機能領域1
FA2 ：機能領域2
LSB ：最下位バイト
MSB ：最上位バイト
ODC ：光ディスクカートリッジ
ODF ：オフセット検出フィールド
PA ：ポストアンブル
PDL ：1次欠陥管理表
PLL ：位相同期回路
RLL (2，7) ：ランレングス符号
SDL ：2次欠陥管理表
SM ：セクタマーク
VFO ：VFO制御領域
3. 引用規格 この規格の引用規格を，次に示す。
IEC 950 : 1991 Safety of information technology equipment, including electrical business equipment
4. 用語の定義
4.1
ケース 光ディスクを保護する封入箱。
4.2
CRC データの誤り検出方法。
3
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4.3
エンボスマーク 光磁気の技法では記録内容を変更することができないマーク。
4.4
入射面 光ビームが最初に入射する光ディスクの表面。
4.5
誤り訂正符号 (ECC) データを構成するビットの中に誤りがあったとき，それを検出できるような
規則で構成された冗長符号。
4.6
フィールド セクタの中の指定された領域。特定の種類に属するデータのために用いる。
4.7
フォーマット ディスク上の情報の配置又は並び。
4.8
グルーブ トラック位置決め用の溝のうち，入射面に近い方の溝。
4.9
インターリーブ バースト誤りによって影響を受けないように，データの単位に物理的な不連続を
与えるプロセス。
4.10 カー回転 光磁気効果による記録層からの反射光ビームの偏光面の回転。
4.11 ランド トラック位置決め用の溝のうち，入射面から遠い方の溝。
4.12 マーク 磁区，穴，へこみ，膨らみ，その他光学的に検出できる形態をもった記録層の造作。マー
クは，ディスクのデータを表す。
参考1. セクタ記述に用いるマークは，ここで定義するマークと異なる。
4.13 光ディスク 光ビームによってデータを記録できる記録層をもつ平らな回転円盤（以下，ディスク
という。）。
4.14 光ディスクカートリッジ ディスク及びそれを保護するケースからなるデバイス（以下，カートリ
ッジという。）。
4.15 偏光 光ビームの偏光方向は，光ビームの電気ベクトルの方向と一致していること。
参考2. 偏光面は光ビームの伝搬方向と電気ベクトルを含む面と一致する。光ビームの伝搬方向から
見て電気ベクトルの終端が時計回りで長円を示す偏光を右回転偏光という。
4.16 記録層 光ビームによってデータを記録する層。
4.17 リードソロモン符号 バースト又はバーストと強い相関をもつエラーの訂正に適しているエラー検
出符号及びエラー訂正符号。
4.18 書換形光ディスク 光ビームでデータを書き換えることができる領域をもつディスク。
4.19 セクタ アクセスできるアドレス指定の最小単位の情報トラックの部分。
4.20 基板 光ビームが透過して記録層に入射するディスク構成層。
4.21 トラック ディスク円周上のデータが記録できる360度分の経路。
4.22 ゾーン ディスクの環状領域。
5. カートリッジの概要 カートリッジは，ディスクをケースに封入したもので，ケースにはヘッドアク
セス窓を設け，ディスク面はシャッタで覆う構造とする。シャッタは，カートリッジを駆動装置に差し入
れたとき，自動的に開く構造とする。
ディスクは，一面だけに記録可能とする。データの記録及び消去は，光磁気効果を用いてディスクの記
録層上の磁化領域に焦点を結ぶ光ビームによって行う。
ディスクには，ディスクの一部又は全部に製造時に形成する再生専用のエンボス領域をもつことができ
る。このデータは，あらかじめ形成したピットによって生じる光ビームの回折現象を用いて再生する。
6. 環境及び安全性
6.1
環境条件
4
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6.1.1
測定環境 測定環境は，規定がない限り，カートリッジの近傍で測定し，次のとおりとする。
温度
23±2℃
相対湿度
45〜55%
大気圧
60〜106kPa
空気清浄度
クラス100000（附属書M参照）
カートリッジの中又はディスク上に結露が生じてはならない。カートリッジは，測定前に，48時間以上
測定環境に放置する。ディスク表面は，ディスク製造者の条件によって清浄にしておくことを推奨する。
6.1.2
使用環境 使用環境は，カートリッジの近傍で測定し，次のとおりとする。測定環境を満足したカ
ートリッジは，使用環境でデータの互換性を保証しなくてはならない。
温度
5〜50℃
相対湿度
3〜85%
絶対湿度
1〜30g/m3
大気圧
60〜106kPa
最大温度変化率
10℃/h
最大相対湿度変化率
10%/h
空気清浄度
オフィス環境（附属書Q参照）
最大磁界強度（光ビーム照射時） 32 000A/m
最大磁界強度（光ビーム非照射
時）
48 000A/m
カートリッジの中又はディスク上に結露が生じてはならない。カートリッジは，使用環境条件を外れて
保管した場合，使用前に2時間以上使用環境に放置する（附属書L参照）。
6.1.3
保存環境 保存環境は，次のとおりとする。
温度
−10〜＋50℃
相対湿度
3〜90%
絶対湿度
1〜30g/m3
大気圧
60〜106kPa
最大温度変化率
15℃/h
最大相対湿度変化
率
10%/h
空気清浄度
オフィス環境（附属書Q参照）
最大磁界強度
48 000A/m
カートリッジの中又はディスク上に結露を生じてはならない。
6.1.4
輸送条件 この規格では規定しないが，附属書Pに従うことを推奨する。
6.2
温度衝撃 カートリッジは，駆動装置に着脱するとき，20℃の温度衝撃に耐えなければならない。
6.3
安全性 カートリッジ及びその構成部分は，IEC 950の要求を満足しなければならない。
6.4
燃焼性 カートリッジは，IEC 950に規定のHBと同等以上の材料とする。
7. 基準駆動装置 基準駆動装置は，ここで規定する記録特性，再生特性及び消去特性を測定するために
用いる駆動装置で，ここでは，これらの特性を測定するために必要となる基準駆動装置の特性について規
定する。
5
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7.1
光学系 記録特性，再生特性及び消去特性を測定するために用いる基準駆動装置の光学系の基本構
成は，図1に示すとおりとする。図1の光学系構成と同じ作動をする限り，基準駆動装置に用いる部品及
び部品の配置は問わない。ディスクの入射面からの反射光は，測定の精度に影響を与えないように光学系
の構成を配慮しなくてはならない。
ディスクの偏光変化が存在しないとき，偏光ビームスプリッタJは，検出器K1の信号と検出器K2の信
号が等しくなるようにする。この場合の偏光方向をニュートラル偏光方向という。位相補償器Iは，光学
系をニュートラル偏光方向とそれと直角方向の偏光との間の位相の遅れを2.5°以下に調整しなければな
らない。この位相補償器の位置は，中立位置という。
位相補償器は，狭帯域信号対雑音比の測定のために用いる（24.2参照）。
ビームスプリッタJは，100以上のP-S強度反射比をもたなければならない。
ビームスプリッタEのFからHへのニュートラル偏光方向の反射率Rpの公称値は0.30とする。ニュー
トラル偏光方向と直角方向の偏光の反射率Rsの公称値は0.95とする。Rsの実際の値は，0.90以上とする。
反射率がRp'及びRs'となるビームスプリッタをもつ駆動装置で光磁気信号のアンバランスを測定した場
合，測定値は，次の係数を乗じて補正をしなければならない。
s
R
Rp
p
R
Rs
′
′
チャネル1の出力は，K1とK2の光検出器の電流値の和とし，エンボスマークの再生に用いる。
チャネル2の出力は，2個の光検出器の電流値の差とし，光磁気効果によるユーザ記録マークの再生に
用いる。
図1 基準駆動装置の光学系
6
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7.2
光ビーム 光ビームは，次の特性をもつ。
(a)
波長 (λ)
nm
15
10
780+−
nm
15
10
825+−
(b)
波長 (λ) と対物レンズの
開口数 (NA) の比
λ＝780nmのとき，
m
NA
μ
λ
035
.0
475
.1
±
=
λ＝825nmのとき，
m
NA
μ
λ
040
.0
560
.1
±
=
(c)
レンズの開口 (D) と
2
1
eで
の光ビーム直径 (W) の比
0.1
≦
W
D
(d)
波面収差（記録層にて）
180
2λ
≦
(e)
偏光方向
トラックに対して平行
(f)
消光比
≦0.01
消光比は，検光子を180度以上回転させたとき，測定される光強度の最大値と最小値の比とする。
(g)
光パワー，パルス幅及び磁界については，18.2.2，22.2.2，22.3，22.4，26.2.2による（附属書S参照）。
7.3
再生チャネル 2個の再生チャネルは，記録層のマークからの信号の再生に用いる。チャネル1はマ
ークの光ビームの回折現象によってエンボスマークの再生に用い，チャネル2はマークの光磁気効果によ
る光ビームの偏光回転によってユーザ記録マークの再生に用いる。チャネル1及びチャネル2の光検出器
の後の再生信号増幅器は，100kHz〜11.6MHzで±1dBの平たんな応答性とする。
7.4
トラッキング 基準駆動装置のトラッキングチャネルは，光ビームの軸方向及び半径方向のサーボ
制御するためにトラッキングエラー信号を検出する。軸方向のトラッキングエラー信号を作る方法は，規
定しない。
半径方向のトラッキングエラー信号は，トラッキングチャネルの2分割検出器によって検出する。2分
割検出器の分割線方向は，検出器上のトラック像と平行になるように配置する。光ビームの焦点のトラッ
ク溝に対する追随の精度については，18.2.4による。
7.5
ディスクの回転 駆動軸は10.4で規定するように，ディスクの回転軸に位置する。ディスクの回転
周波数は，30.0±0.3Hzとする。回転方向は，対物レンズからみて反時計回りとする。
第2章 機械的特性及び物理的特性
8. ケースの寸法，機械的特性及び物理的特性
8.1
ケースの概要 ケースの外観及び各部の名称は，図2のとおりとする。
A面及びB面には，ヘッドアクセス窓を設ける。A面側は，光ヘッドアクセス用とし，B面側は，磁界
を与える磁気ヘッドアクセス用とする。その窓部は，シャッタで覆われ，カートリッジを駆動装置に差し
入れたときにシャッタが開き，取り出したときにシャッタが閉じる構造とする。ケースには，誤挿入防止
機構，書込み禁止機構及び自動交換用グリッパ機構を設ける。
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図2 ケース
8.2
ケースの基準 ケースの基準は，三つの直交する基準面X，Y及びZとする。基準面Zは，ケース
A面上に設けた4か所 (S1〜S4) からなる平面とする。三つの基準面は，位置決め穴の中心で直交し，基準
面Xは，位置決め穴及びアライメント穴の中心を結ぶ線上からなる（附属書N参照）。
8.3
ケースの寸法 ケースの寸法は，測定環境条件で測定する。
8.3.1
外形寸法（図3参照） ケースの長さ (L1) は，次による。
L1＝94.0±0.3mm
ケースの基準面Xからの距離 (L2，L3) は，次による。
L2＝76.0±0.2mm
L3＝18.0±0.2mm
ケースの幅 (L4) は，次による。
mm
L
04.0
4
0.
90
−
=
8
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ケースの基準面Yからの距離 (L5，L6) は，次による。
L5＝85.0±0.3mm
L6＝5.0±0.1mm
上面の角部の半径 (R1) は，次による。
R1＝1.5±0.2mm
下面の二つの角部のそれぞれの半径 (R2) は，次による。
R2＝2.0±0.2mm
ケースの左右の端部から拡張ゾーンまでの距離 (L7) は，次による。
L7≧8.6mm
ケースの厚さ (L8) は，次による。
L8＝6.0±0.2mm
ケースの8か所の稜面の半径 (R3) は，次による。
mm
R
2.00
3
3.0
+
=
8.3.2
位置決め穴（図3参照） 位置決め穴の中心は，基準面X，Y及びZの交点とし，その直径 (D1) は，
次による。
mm
D
006
.0
1
60
.3
−
=
穴の深さ (L9) は，次による。
L9≧1.5mm
位置決め穴は，基準面Zからの距離 (L10) とし，貫通してはならない。
L10≧4.0mm
その直径は，D1以上とする。
位置決め穴の角部は，半径 (R4) で丸め，その値は，次による。
R4≦0.5mm
8.3.3
アライメント穴（図3参照） アライメント穴の中心は，基準面X上とし，基準面Yから次の距
離 (L11) は，次による。
L11＝80.0±0.2mm
アライメント穴の形状は，長方形とし，その寸法 (L12，L13) は，次による。
mm
L
006
.0
12
60
.3
−
=
mm
L
2.00
13
4.4
+
=
アライメント穴の深さは，位置決め穴の深さの規定 (L9，L10) による。
アライメント穴の角部は，半径 (R4) で丸める。
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図3 外形寸法（A面視）
8.3.4
基準面（図4参照） ケースの基準面Zは，ケースA面の4隅に設けられた4か所 (S1，S2，S3，
S4) を含む平面とする。S1面及びS2面は，位置決め穴及びアライメント穴を中心とした円とし，その直径
(D2) は，次による。
D2≧7.0mm
S3面及びS4面の寸法は，直径 (D3) とし，基準面Xからの位置 (L14) を両者の中心とし，S3面は基準面
Yからの位置 (L15) に，S4面は基準面Yからの位置 (L16) にそれぞれの中心をもつ位置に設け，その寸法
は，次による。
D3≧6.0mm
L14＝54.0±0.2mm
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L15＝1.0±0.2mm
L16＝81.0±0.2mm
ケースの表面又はシャッタ機構（8.3.8参照）は，基準面Zから次に示すような突起 (L17) があってはな
らない。
L17≦0.15mm
図4 A面上の基準面
8.3.5
挿入スロット部（図5参照） 挿入スロット部は，基準面Zからの幅 (L18) に，左右対称に半径 (R5)
の半径とし，基準面Xからの位置 (L19)，基準面Yからの位置 (L20，L21) に設ける。その寸法は，次によ
る。
R5＝2.1±0.1mm
L18≧5.0mm
L19＝65.5±0.2mm
L20≦4.0mm
L21≦84.0mm
挿入スロット部の外側の角は，次の半径 (R6) で丸める。
R6＝0.5±0.2mm
挿入スロット部は，ケースB面に貫通してはならない。
11
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図5 挿入スロット部
8.3.6
機能領域（図6参照） 機能領域は，FA1及びFA2からなり，ケースの穴の開閉によって表1に
示す書込み禁止情報，ディスク反射率の高低情報及び再生専用機能情報を示す各機能を表す。
機能領域は，ケースA面上に基準面Y及びZの交点上に中心線をもつ，長さ (L22)，幅 (L23) の開口部
を設け，そのうち，各々の長さ (L24) をFA1及びFA2とする。その寸法は，次による。
L22≧8.2mm
L23≧4.4mm
L24≧3.6mm
FA1及びFA2の中心位置は，基準面Xからの距離 (L25，L26) に平行に設け，その寸法は，次による。
L25＝7.8±0.2mm
L26≧4.0mm
FA1は，ケースB面まで貫通した穴とする。
FA2は，ケースA面から基準面Zに平行な深さ (L26) のケースB面に貫通しない穴とし，その寸法は，
次による。
L26≧4.0mm
12
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FA1及びFA2の閉じたときの表面は，基準面Zから (L28) とし，その寸法は，次による。
L27＝12.8±0.2mm
L28≦0.3mm
表1 機能領域FA1及びFA2の使用法
FA1
FA2
書込み
反射率
カートリッジの種類
開
閉
不可
低
全面書換形，部分エンボス形
閉
開
可
全面エンボス形
閉
閉
不可
高
全面エンボス形
開
開
規定しない
図6 機能領域FA1，FA2及びその断面図
13
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8.3.7
ヘッドアクセス窓及びモータアクセス窓（図7参照） ヘッドアクセス窓及びモータアクセス窓は，
ケースA面では基準面Yからの位置 (L29) を中心に，幅 (L30，L31)，基準面Xからの位置 (L32) とL29の
交点から半径 (R7) の位置に設け，その寸法は，次による。
L29＝40.0±0.2mm
mm
L
2.00
30
0.
11
+
=
mm
L
2.00
31
0.
11
+
=
L32＝2.0±0.2mm
R7≧43.7mm
ケースの上部は，基準面Zからの幅 (L33) の溝を設け，その寸法は，次による。
mm
L
2.00
33
0.2
+
=
また，ケースB面では，基準面Yからの位置 (L29) を中心に幅 (L30，L31)，基準面Xからの位置 (L34) と
L32及びL29の交点から半径 (R7) との位置にヘッドアクセス窓を設け，その寸法は，次による。
L34≦40.0mm
L34の2隅の角部は，半径 (R8) の丸みを設ける。
R8≦2.0mm
ヘッドアクセス窓のケース上部の幅 (L35) は，次による。
mm
L
04.0
35
2.4
−
=
14
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図7 A面上のモータアクセス窓及びヘッドアクセス窓（下図）とシャッタを外したB面（上図）
8.3.8
シャッタ（図8参照） ケースには，スプリング方式のシャッタを設け，シャッタが閉じたときモ
ータアクセス窓及びヘッドアクセス窓が完全に覆われ，シャツタが開いたとき8.3.7に規定の寸法 (L30，
L31，L33，L34，L35) の最小値が露出しなければならない。
ケースA面：窓の下部の半円から上面及びL30からL31まで
ケースB面：L34からケースの上部及びL30からL31まで
ケース上部：基準面ZからL33，L30からL31，L35からケースB面及びL30からL31まで
シャッタは，8.3.1に規定のケースの厚み (L8) を超えない範囲で開閉が自由にでき，自力で閉じるのに
十分な力のあるスプリングをもたなければならない。
シャッタには，駆動装置のシャッタ開閉機能によってシャッタを押し開くことのできる角部を設け，シ
ャッタが閉じた状態でこの角部は，基準面Yからの距離 (L36) に位置し，8.3.7に規定のモータアクセス窓
及びヘッドアクセス窓の最小値が十分に露出する距離 (L37) で可動でき，8.4.5に規定のシャッタを開くの
に必要な力を超えない範囲で距離 (L38) を移動可能とする。その寸法は，次による。
15
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mm
L
03.0
36
0.
79
−
=
L37≧55.5mm
L38≦54.7mm
図8 開状態のシャッタ（上図）及び最大の開状態（下図）
8.3.9
シャッタ開閉路及びシャッタセンサノッチ（図9参照） ケースには，駆動装置のシャッタ開閉機
構が作動できるように，基準面Yからの距離 (L39，L42) 及び基準面Xからの距離 (L41) の間を図9に示す
形状とし，基準面Yからの距離 (L41，L42) に深さ (L43) のシャッタセンサノッチを設ける。L39からシャ
ッタセンサノッチの右上の角部は，半径 (R9) で丸める。ケースの端までは，角度 (A1) をもつ形状とする。
その寸法は，次による。
L39＝81.0±0.3mm
mm
L
3.00
40
5.
57
+
=
16
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L41＝74.0±0.3mm
L42≦54.7mm
L43＝3.3±0.2mm
R9＝1.2±0.2mm
A1＝45±5°
8.3.8に規定のシャッタエッジが距離 (L37) まで移動したとき，シャッタセンサノッチのL40からL37の部
分は，シャッタが完全に開いていることを駆動装置が検出できるように，露出しなければならない。
図9 シャッタを除いたときのB面から見たシャッタオープナの開閉路
8.3.10 誤挿入防止機構（図10参照） ケースには，カートリッジの駆動装置への誤挿入を防止するため
に，図10に示すノッチ，ケース角部の形状を設ける。ノッチは，基準面Yからの距離 (L44，L45) に基準
面Xからの距離 (L47) のケース上部から深さ (L46) とする。ノッチの角部は，半径 (R10，R11) で丸める。
ケースの角部は，ケースの上部からの距離 (L48) の間を角度 (A2) をもつ形状とする。その寸法は，次によ
る。
L44＝4.6±0.2mm
L45＝1.0±0.2mm
L46＝3.1±0.2mm
L47＝75.4±0.2mm
L48＝5.0±0.3mm
A2＝45±2°
R10＝0.5±0.2mm
R11＝0.5±0.3mm
17
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図10 シャッタを除いたときのB面から見た誤挿入防止機構
8.3.11 グリッパスロット（図11参照） グリッパスロットは，ケースの底部からの位置 (L51) に左右対
称に設け，その寸法 (L49，L50) は，次による。
mm
L
3.00
49
5.2
+
=
mm
L
3.00
50
0.4
+
=
mm
L
03.0
51
0.
23
−
=
グリッパスロットの角部は，半径 (R12，R13) で丸める。その寸法は，次による。
R12＝0.4±0.2mm
R13＝0.5±0.2mm
18
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図11 グリッパスロット
8.3.12 ラベル領域（図12参照） ラベル領域は，ケースA面及び底部，ケースB面に設け，ケースA
面に対する位置及び寸法 (L52，L53，L55)，ケースB面に対する位置及び寸法 (L52，L53，L54)，ケース底部
に対する位置及び寸法 (L52，L53，L56) は，次による。
L52＝4.0±0.3mm
L53＝76.0±0.3mm
L54＝30.0±0.2mm
L55＝1.2±0.2mm
L56≦0.2mm
ラベル領域の角部は，半径 (R14) で丸め，その寸法は，次による。
R14≦2.0mm
19
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図12 ラベル領域
8.4
機械的特性 ここで規定する機械的特性は，使用環境条件ですべての条件を満足しなければならな
い。
8.4.1
材料 ケースは，この規定を満足するものであれば，材料を問わない。
8.4.2
質量 光ディスクを除いたケースの質量は，50gを超えてはならない。
8.4.3
端部のひずみ カートリッジは，附属書Aに規定の端部のひずみ試験を満足しなければならない。
8.4.4
可とう性 カートリッジは，附属書Bに規定の可とう性試験を満足しなければならない。
8.4.5
シャッタ開閉力 シャッタを開くのに必要な力は，1.5N以下とする。
9. ディスクの寸法，機械的特性及び物理的特性
9.1
ディスクの概要 ディスクは，その一面にハブを取り付け，他面に記録層がある円盤状の基板から
なる。記録層は，保護層によって環境の影響から保護する。基板のフォーマット領域は，基板を通して記
録層に光ビームを集光できるように透明とする。円形のハブは，記録層の反対側の中心に取り付ける。ハ
ブは，駆動軸と係合し，ディスクの半径方向の位置合わせ及びハブの吸着力を発生する。
20
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9.2
ディスクの基準軸及び基準面（図13参照） 基準面Pは，駆動軸に垂直な平面とする。ハブの諸寸
法は，基準面Pを基準とする。基準軸Aは，ハブの中心を通り，基準面Pに垂直な軸とする。
図13 ハブの寸法及びクランプゾーン
9.3
ディスクの寸法 ディスクの寸法は，測定環境条件で測定する。ディスクの直径は，
05.0
0.
86
−
mmと
する。厚さは，面振れを含めず，ハブがない状態で1.4mmを超えてはならない。ハブが付いていないディ
スクの中心穴の直径 (D4) は，6.0mm以上とする。
9.3.1
ハブの寸法（図13参照） ハブの中心穴の直径 (D5)，外径 (D6)，ディスク面からの高さ (h1)，デ
ィスク面からの磁性面の位置 (h2)，基準面から中心穴上部までの高さ (h3) 及び中心穴の高さ (h4) は，次
のとおりとする。
mm
D
012
.00
5
004
.4
+
=
mm
D
02.0
6
0.
15
−
=
mm
h
02.0
1
2.1
−
=
mm
h
015
.0
2
2.1
−
=
h3≧0.8mm
h4≧0.15mm
中心穴の内部の角には，45°で0.2±0.1mmの面取り (c1) を付けるか又は半径R15＝0.2±0.1mmの曲率
とする。ハブの外部の角には，45°で0.4±0.1mmの面取り (c2) を付けるか又は半径R16＝0.4±0.1mmの
曲率とする。ディスクをクランプするための磁性体の外径 (D9) 及び内径 (D10) は，次のとおりとする。
D9≧13.0mm
21
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D10≦6.0mm
9.3.2
クランプゾーン及びハブの吸着力（図13参照） クランプゾーンの外径 (D7) 及び内径 (D8) は，
次のとおりとする。
D7≧21.0mm
D8≦16.0mm
ハブの吸着力は，附属書Kによって測定したとき，3.0〜4.5Nとする。
9.4
機械的特性 ここで規定する機械的特性は，使用環境条件で満足しなければならない。
9.4.1
ディスクの材料 ディスクの材料は，この規格の条件を満足するならば材質を問わない。
9.4.2
ディスクの質量 ディスクの質量は，24.0g以下とする。
9.4.3
慣性モーメント ディスクの慣性モーメントは，0.020g･m2以下とする。
9.4.4
動釣合い ディスクの動釣合いは，0.006g･m以下とする。
9.4.5
軸方向の振れ ディスクの軸方向の振れは，記録層の軸方向の変位で規定する。振れは，基板の厚
みや屈折率のばらつき及び基準面Pからの入射面のずれによって生じる。基準面Pに対する記録層の公称
位置は，基板の公称厚さによる。フォーマット領域での基準面Pに垂直な方向の記録層の公称位置からの
ずれは，30Hzまでのどの回転周波数に対しても±0.22mm以下とする。
9.4.6
軸方向の加速度 附属書Cに示すディスクの軸方向の最大許容エラー量 (emax) は，回転周波数30
±0.3Hzで回転しているとき，基準サーボでサーボがかかった状態で±1.0μm以下とする。このとき，モ
ータの定常的な外乱は，無視する。この測定は，次の伝達関数 (Hs) をもつサーボ系又は30Hz〜100kHz
の帯域で，| 1＋Hs | が示す値の±20%以内の値をもつ | 1＋H | のサーボ系による。このとき，ディスクの
面振れによる軸方向の加速度は，10m/s2以下とする。
()
0
0
2
0
3
1
3
1
3
1
ω
ω
ω
ω
ω
ω
ω
i
i
i
i
Hs
+
+
×
×
=
ここに， ω＝2πf
Hz
870
2
0=
π
ω
1
−
=
i
9.4.7
半径方向の振れ フォーマット領域でのトラックの半径方向の振れは，基準軸Aに対するトラッ
クの偏心とし，屈折率の変動によって生じる偏心の効果も含む。半径方向の最大及び最小の振れ幅は，回
転周波数30.0±0.3Hzで回転しているとき，50μm以下とする。
9.4.8
半径方向の加速度 附属書Cに示すディスクの半径方向の最大許容エラー量 (emax) は，回転周波
数30.0±0.3Hzで回転しているとき，基準サーボでサーボがかかった状態で±0.15μm以下とする。このと
き，モータの定常的な外乱は無視する。この測定は，次の伝達関数 (Hs) のサーボ系又は30Hz〜100kHz
の帯域で，| 1＋Hs | が示す値の20%以内の値をもつ | 1＋H | のサーボ系による。ディスクの半径方向の加
速度は，3m/s2以下とする。
()
0
0
2
0
3
1
3
1
3
1
ω
ω
ω
ω
ω
ω
ω
i
i
i
i
Hs
+
+
×
×
=
ここに， ω＝2πf
22
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Hz
230
1
2
0=
π
ω
1
−
=
i
9.4.9
チルト ディスクのチルトは，入射面上の1mm径の面積で平均した入射面の垂線と基準面Pの垂
線との角度とし，フォーマット領域で5mrad以下とする。
9.5
光学的特性
9.5.1
屈折率 フォーマット領域での基板の屈折率は，1.46〜1.60とする。
9.5.2
厚さ 基板の厚さ (t) の公称値は，フォーマット領域で使用する基板の屈折率から次の式によって
算出した値とし，その許容値は±0.050mmとする。
(
)
593
.0
265
.0
1
509
.0
2
2
2
3
+
+
×
−
×
=
n
n
n
n
mm
t
ここに， n： 屈折率
9.5.3
複屈折 基板の複屈折の効果は，23.2に示す基準駆動装置のチャネル2の信号のアンバランスに含
める。
9.5.4
反射率 7.2に規定の波長での書換形ディスク及び低反射率全面エンボス形ディスクの反射率 (R)
は，0.14〜0.29とする。高反射率全面エンボス形ディスクの反射率 (R) は，0.5以上とする（附属書R参
照）。
反射率 (R) の公称値は，附属書Fに示す制御データのバイト3及びバイト19によって規定する。
実際の反射率の値 (Rm) は，基準駆動装置の集束ビームと波長で測定する。その測定は，グルーブがな
い未記録部分，例えば，15.2.1に示す最内周のグルーブがないイニシャルゾーン又は13.7に示す各セクタ
のODFとする。反射率 (Rm) は，公称値に対して±12%とする（附属書R参照）。
10. カートリッジ及び駆動装置のインタフェース
10.1 クランプ方法 カートリッジを駆動装置に差し込むと，ケースのシャッタが開きモータ駆動軸がデ
ィスク中心穴に入る。ディスクは，ハブの中心にある磁性体及び駆動軸に装着されている磁石によって生
じるハブの吸着力で駆動軸に保持する。ディスクの半径方向の位置決めは，ハブの中心軸合わせ機能によ
る。ディスクの軸方向の位置決めは，駆動軸のターンテーブルによってディスクのクランプゾーンを支え
ることによる。
10.2 ハブの吸着力 駆動軸とハブとの吸着力は，5N以下とする。
10.3 キャプチャシリンダ（図14参照） キャプチャシリンダは，駆動軸をハブに挿入するとき，駆動軸
がハブの中心穴をとらえ得るハブ中心穴の存在空間とする。シリンダの寸法は，ケースの内部の空間での
ディスクの許容遊び量を規定する。シリンダの位置は，駆動装置のアライメント及び位置決め用のピンの
位置による。シリンダの底面は，基準面Zに平行で，Zからの距離 (L57) にあり，さらに，シリンダの上
部は，基準面Zからの距離 (L58) になければならない。シリンダの直径 (R17) 及びシリンダの中心位置の
公称値 (L29，L32) は，次のとおりとする。
L29＝40.0±0.2mm
L32＝27.0±0.2mm
L57≧0.7mm
L58≦2.3mm
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R17≦1.4mm
10.4 使用環境条件でのディスクの位置（図14参照） ディスクが使用状態にあるとき，ディスクの基準
面Pの位置は，ケースの基準面Zから距離 (L59) とする。その回転軸は，半径 (R18) の円の中にあり，そ
の中心位置の公称値 (L29，L32) は，次による。
L29＝40.0±0.2mm
L32＝27.0±0.2mm
L59＝2.4±0.1mm
R18≧0.1mm
使用状態で回転周波数30Hzを保つためのディスクにかかるトルクは，0.01N･m以下とする。
図14 キャプチャシリンダ及び使用環境条件でのディスクの位置
第3章 フォーマット
11. トラックの一般事項
24
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11.1 トラック形状 フォーマット領域は，複合連続トラッキングサーボ方式のためのトラックからなる。
トラックは，グルーブ・ランドの組合せによって構成し，各グルーブは隣接のトラックと共有する。グ
ルーブは，溝形状とし，ランドより入射面に近く位置する。トラックの中心は，ランドの中心とする。グ
ルーブは，ODFを除いて連続とする。グルーブの形状は，19.の規定による。
各トラックは，連続的なスパイラルの360度分とする。
11.2 回転方向 ディスクの回転方向は，対物レンズ側から見て反時計方向とする。トラックは，内周か
ら始まって，外周方向に進む。
11.3 トラックピッチ トラックピッチは，半径方向に隣り合ったトラックの中心線間の距離とし，1.60
±0.10μmとする。
10 000トラックの幅は，16.00±0.10mmとする。
11.4 トラック番号 各トラックは，トラック番号によって識別する。トラック番号0は，データゾーン
の最初のトラックとし，半径24.00±0.10mmに位置する。
トラック番号0より外周側のトラック番号は，ディスク1回転ごとに1ずつ増加する。トラック番号0
より内周側のトラック番号は，負数字を割り当て，ディスク1回転ごとに1ずつ減少する。負のトラック
番号の値は，2の補数でIDフィールドに記録し，トラック番号−1はFFFFhと記録する。
12. トラックフォーマット
12.1 トラックレイアウト 各トラックのセクタ数は，25セクタとし，各セクタは725バイトからなる。1
バイトは，ディスク上で16チャネルビットで表し，1チャネルビット長は，1トラックに25×725×16＝
290 000チャネルビットがあることによって決める。
セクタは，トラック上に均等に配置し，セクタの先頭間は11 600±3チャネルビットとする。
1チャネルビットの周期T (ns) は，30Hzの回転周波数のとき，次のとおりとする。
115
000
290
30
109
=
×
=
T
12.2 半径方向のセクタ位置 半径方向のセクタ位置は，セクタのヘッダが隣接トラックのセクタの最初
のチャネルビット間の角度距離が±1チャネルビット以下になるように半径方向にそろえる。
12.3 セクタ番号 1トラック上のセクタは，0〜24の連続した番号をつけ，同じセクタ番号のすべてのセ
クタは，半径方向にそろえる。
13. セクタフォーマット
13.1 セクタレイアウト 1セクタは，ヘッダ，ODF及び512ユーザデータバイトを記録する記録フィー
ルドからなる。各セクタのヘッダは，エンボスデータとする。記録フィールドは，空白，ユーザ記録デー
タ又はエンボスデータとする。セクタ長は，公称725バイトとする。12.1に規定の公差は，セクタの最終
フィールドによって調整する。ヘッダフィールド長は52バイト，ODF長は1バイト，記録フィールド長
は672バイトとする。
セクタのレイアウトは，図15のとおりとする。数値は，フィールド長をバイトで表す。
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図15 セクタフォーマット
13.2 セクタマーク (SM) セクタマークは，データと容易に区別できるパターンとし，駆動装置がPLL
に頼ることなくセクタ開始を見分けるために設ける。
セクタマークは，80チャネルビット長とし，VFO1フィールドへのリードインに続く異なった長さの連
続したエンボスデータからなる。セクタマークのタイミングパターンは，図16による。図16に示すTは，
1チャネルビット長とし，マーク信号振幅は，未記録部信号振幅よりも小さい。リードインは，チャネル
ビットパターン0000010010とする。
図16 セクタマークのパターン
13.3 VFOフィールド VFOフィールドは，チャネルビット同期のために設け，図15に示すように，ヘ
ッダに一つのVFO1及び二つのVFO2，記録フィールドに一つのVFO3をもつ。VFO1とVFO3は，同一パタ
ーンの192チャネルビット長とする。VFO2の先頭ビットは，RLL (2，7) 記録符号に要求される終結のた
めに異なり，次に示す二つのチャネルビットパターンのいずれかを用いる。
VFOフィールドの連続チャネルビットパターンは，次のとおりとする。
VFO1：192チャネルビット：0100100100100… 10010
VFO2：128チャネルビット：100100100100 … 10010
VFO2：128チャネルビット：000100100100 … 10010
VFO3：192チャネルビット：0100100100100… 10010
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13.4 アドレスマーク (AM) アドレスマークは，データと容易に区別できるパターンとする。このフィ
ールドは，続くIDフィールドのバイト同期を駆動装置に与えるために設け，次に示す16チャネルビット
長のパターンとする。
0100 1000 0000 0100
13.5 IDフィールド IDフィールドは，次の5バイトで構成する。
第1及び第2バイト
トラック番号のMSB及びLSB
第3バイト
ビット7及び6
00はID1フィールド
01はID2フィールド
10はID3フィールド
ビット5
0
ビット4〜0
セクタ番号（2進表記）
第4及び第5バイト
附属書Dによって最初の3バイトから算出するCRCデータ
13.6 ポストアンブル (PA) ポストアンブルフィールドは，16チャネルビット長とし，ID3に続くポスト
アンブル及びデータフィールドに続くポストアンブルの二つとする。ポストアンブルは，14.に規定する
RLL (2，7) 記録符号に変換したデータフィールド又はそれに続くCRCの終結を示すために設け，ODF又
はバッファフィールドに導く。
13.7 オフセット検出フィールド (ODF) ODFは，16チャネルビット長とし，グルーブ及びエンボスデ
ータを含めない。ODFは，トラッキングのオフセット補正用に設ける。
13.8 ギャップ ギャップは，80±8チャネルビット長とし，エンボスデータを含めない。
13.9 同期バイト 同期バイトは，次の48チャネルビット長とする。
0100 0010 0100 0010 0010 0010 0100 0100 1000 0010 0100 1000
13.10 データフィールド データフィールドは，ユーザデータの記録のために用い，639バイト長とし，次
のとおりとする。
ユーザデータ
：512バイト
未規定バイト
：4バイト
CRCバイト
：4バイト
ECCバイト
：80バイト
再同期バイト
：39バイト
データフィールドのこれらのバイトは，5インターリーブで配置し，CRCバイト，ECCバイト及び再同
期バイトについては附属書Eによる。
13.10.1 ユーザデータバイト ユーザデータバイトは，ユーザ情報の記録に用いる。
13.10.2 CRC及びECCバイト CRC及びECCバイトは，附属書Eの規定によって算出する。
13.10.3 再同期バイト 再同期バイトは，欠陥後のバイト同期回復に用いる。バイト内容及び配置は，附属
書Eによる。
13.11 バッファ バッファは，データを含めない192±48チャネルビット長とする。
14. 記録符号 三つのアドレスフィールド及び再同期バイトを除くデータフィールドの8ビットバイトは，
ディスク上に表2に従ってチャネルビットに変換して記録する。各“1”のチャネルビットは，マークに
対応する。記録符号は，RLL (2，7) のランレングス符号とする。
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表2 データビット及びチャネルビット
の変換表
入力ビット
チャネルビット
10
0100
010
100100
0010
00100100
11
1000
011
001000
0011
00001000
000
000100
再同期フィールドのRLL (2，7) 符号化は，次の入力データの最初のビットから新たに始める。
IDフィールドは，表3aの二つのVFO2パターンのいずれかに続き，データバイトの後に表3bの再同期
パターンが続く。
表3a ID1及びID2のVFO2フィールドへの接続
表3b データバイトから再同期フィールドへの接続
15. 情報ゾーンのフォーマット
15.1 情報ゾーン 情報ゾーンは，エンボストラッキング条件，エンボスヘッダ，エンボスデータ及びユ
ーザ記録データの情報からなる。
ディスクがユーザ記録ゾーンをもたない場合には，16.3及び17.は適用しない。また，エンボスデータを
もたない場合には，16.4は適用しない。
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15.2 情報ゾーンの分割 情報ゾーンは，リードインゾーン，データゾーン及びリードアウトゾーンとか
らなる。データゾーンは，ユーザデータの記録に用いる。リードインゾーン及びリードアウトゾーンは，
駆動装置の制御情報を含み，製造者の試験及び駆動装置の試験に用いる。情報ゾーンの分割は表4による。
表4 情報ゾーンのレイアウト
トラック番号
半径 (mm)
開始
終了
開始
終了
リードインゾーン
イニシャルゾーン
−−
−−
22.60
22.90
アクワイアゾーン
リードイントラック
−688
−297
22.90
23.53
フォーカストラック
−296
−293
内周試験ゾーン
製造者用
−292
−155
23.53
23.75
駆動装置用
−154
−17
23.75
23.97
内周制御ゾーン
−16
−1
23.97
24.00
データゾーン
0
9999
24.00
40.00
リードアウトゾーン
外周制御ゾーン
10000
10015
40.00
40.02
外周試験ゾーン
駆動装置用
10016
10153
40.02
40.24
製造者用
10154
10291
40.24
40.46
バッファゾーン
10292
10624
40.46
41.00
表中の半径は，ゾーンの最初のトラック及び最後のトラックの半径の公称値とする。
15.2.1 イニシャルゾーン イニシャルゾーンは，駆動装置のフォーカスサーボ引込みに用い，鏡面領域，
20.に規定の完全グルーブ領域又はエンボスヘッダ及びODFをもつトラックのいずれかとする。
15.2.2 アクワイアゾーン アクワイアゾーンは，二つの部分から構成され，それぞれエンボスグルーブ，
ヘッダ及びODFからなる。
第一の部分は，各セクタにデータをもたないリードイントラックゾーンとする。
第二の部分は，各セクタのデータフィールドに，VFO3，同期バイト及び639バイトのエンボスの繰返し
チャネルビットパターン“100100…”をもつフォーカストラックゾーンとする。
15.2.3 試験ゾーン 内周及び外周試験ゾーンは，それぞれエンボスグルーブ，ヘッダ，ODF及び記録フ
ィールドとからなる。試験ゾーンは，駆動装置の記録パワー設定に用いる領域で，全面書換形及び部分エ
ンボス形ディスクでは，エンボスデータを含めない。
製造者用試験ゾーンは，ディスク製造者の品質試験用に用いる。
駆動装置用の試験ゾーンは，顕著な劣化を起こすような試験に用いてはならない。
15.2.4 制御ゾーン 内周及び外周制御ゾーンは，エンボスグルーブ，13.に規定のセクタフォーマットの
15トラック及び1バッファトラックとからなる。トラック番号−1及びトラック番号10000は，バッファ
トラックとする。二つの制御ゾーンのデータフィールドは，同一で，附属書Eに規定の駆動装置用のエン
ボス制御データからなる。
二つのバッファトラックの記録フィールドは，全面書換形及び部分エンボス形ディスクでは，エンボス
データをもたない。全面エンボス形ディスクの記録フィールドのユーザデータは，FFhとする。
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15.2.5 データゾーン データゾーンは，エンボスグルーブ，ヘッダ及びODFからなる。記録フィールド
は，ユーザ記録データ又は13.に規定のフォーマットのエンボスデータとする。データゾーンは，16.4に
規定の連結したエンボスデータフィールドとし，レイアウトを16.で規定する。
15.2.6 バッファゾーン バッファゾーンは，エンボスグルーブ，ヘッダ及びODFからなる。
16. データゾーンのフォーマット データゾーンには，始めと終わりにそれぞれ二つの欠陥管理領域
(DMA) を設ける。
データゾーン及び隣接ゾーンのレイアウトは，表5による。
書換ゾーン及びエンボスゾーンは，表6に示すグループに分割する。
表5 データゾーン，制御ゾーン及びバッファトラック
表6 書換ゾーン及びエンボスゾーンの分割
書換ゾーン
エンボスゾーン
グループ1 R/W データセクタ
グループ1 エンボス データセクタ
グループ1 R/W 予備セクタ
グループ1 エンボス パリティセクタ
グループ2 R/W データセクタ
グループ2 エンボス データセクタ
・
・
・
・
・
・
グループg1 R/W データセクタ
グループ2 エンボス データセクタ
グループg1 R/W 予備セクタ
グループ2 エンボス パリティセクタ
残余 R/W セクタ
残余 エンボス セクタ
16.1 欠陥管理領域 (DMA) 四つのDMAは，データゾーン構造の情報及び欠陥管理の情報をもち，各
DMAは36セクタからなる。DMA1及びDMA2は，内周に位置し，DMA3及びDMA4は，外周に位置す
る。DMAの配置は，表7とする。
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表7 DMAの配置
開始
終了
長さ
トラック番号
セクタ番号
トラック番号
セクタ番号
DMA1
0
0
1
10
36
▲
1
11
1
13
3
DMA2
1
14
2
24
36
DMA3
9997
0
9998
10
36
▲
9998
11
9998
13
3
DMA4
9998
14
9999
24
36
表5及び表7に▲で示す三つのセクタグループの内容は，規定しない。
各DMAは，ディスク定義セクタ (DDS) をもち，1次欠陥管理表 (PDL)，2次欠陥管理表 (SDL) 又は
それら両方からなる。四つのPDL及びSDLは，それぞれ同一とする。
ディスク初期化後の各DMAは，次のとおりとする。
最初のセクタはDDSとし，2番目のセクタは，PDLが存在する場合には，PDLの最初のセクタとする。
SDLは，PDLがある場合には，PDLの直後に配置し，PDLがない場合には，2番目のセクタから始まる。
PDL及びSDLの長さは，その中の登録した数による。
DMAの構成は，表8のとおりとする。
表8 DDS，PDL及びSDL
構成要素
全面書換形
部分エンボス形
全面エンボス形
DDS
R/W，必す
R/W，必す
エンボス，必す
PDL
R/W，任意
R/W，任意
なし
SDL
R/W，必す
R/W，必す
なし
SDL以後のDMAの記録内容は，全面書換形及び部分エンボス形ディスクについては，規定しない。全
面エンボス形ディスクでは，DDSに続くDMAのデータフィールドのバイト及び▲のバイトをFFhとする。
16.2 ディスク定義セクタ (DDS) DDSは，1セクタ長の表からなり，ディスクの初期化方法，書換ゾー
ン，エンボスゾーンのグループ分割及びPDLとSDLの開始アドレスを表す。DDSは，ディスク初期化時
に各DMAの最初のセクタに記録する。全面エンボス形ディスクでは，DDSはエンボスデータに記録する。
参考3. 部分エンボス形ディスクでは，DDSパラメータを製造者が制御ゾーンに記録する。DDSをデ
ィスク初期化中にデータゾーンに記録するときは，書換ゾーンの特性値を複製する必要はな
い。
表9に示すディスク構造の情報は，四つの各DDSに記録する。
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表9 DDSの内容
バイト
DDS内容
必す設定
全面
書換形
部分
エンボス形
全面
エンボス形
0
DDS識別子
0Ah
0Ah
0Ah
1
DDS識別子
0Ah
0Ah
0Ah
2
予備
00h
00h
00h
3
全面エンボス
n. a.
n. a.
00h
ディスク検証
01h
01h
n. a.
ディスク非検証
02h
02h
n. a.
4
R/Wグループ数g1のMSB
−
−
00h
5
R/Wグループ数g1のLSB
−
−
00h
6
グループ当たりのR/Wデータセクタ数n1のMSB
−
−
00h
7
グループ当たりのR/Wデータセクタ数n1
−
−
00h
8
グループ当たりのR/Wデータセクタ数n1のLSB
−
−
00h
9
グループ当たりのR/Wスペアセクタ数m1のMSB
−
−
00h
10
グループ当たりのR/Wスペアセクタ数m1
−
−
00h
11
グループ当たりのR/Wスペアセクタ数m1のLSB
−
−
00h
12
エンボスグループ数g2のMSB
00h
−
−
13
エンボスグループ数g2のLSB
00h
−
−
14
グループ当たりのエンボスデータセクタ数n2のMSB
00h
−
−
15
グループ当たりのエンボスデータセクタ数n2
00h
−
−
16
グループ当たりのエンボスデータセクタ数n2のLSB
00h
−
−
17
グループ当たりのエンボスパリティセクタ数m2のMSB
00h
−
−
18
グループ当たりのエンボスパリティセクタ数m2
00h
−
−
19
グループ当たりのエンボスパリティセクタ数m2のLSB
00h
−
−
20
パリティセクタ当たりのトラック数
00h
01h
01h
21
PDLの開始トラックのMSB
−
−
FFh
22
PDLの開始トラック
−
−
FFh
23
PDLの開始トラックのLSB
−
−
FFh
24
PDLの開始セクタ
−
−
FFh
25
SDLの開始トラックのMSB
−
−
FFh
26
SDLの開始トラック
−
−
FFh
27
SDLの開始トラックのLSB
−
−
FFh
28
SDLの開始セクタ
−
−
FFh
29〜
511
00h
00h
00h
表9の記号“−”は，任意の値とし，“n. a.”は適用外を表す。
PDLを記録しない場合には，DDSのバイト21〜24はFFhとする。
全面書換形ディスクは，DDSのバイト20を除き，この規定とする。DDSパラメータは，表10のとおり
とする。
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表10 DDSパラメータの制限
全面書換形
部分エンボス形
全面エンボス形
1≦g1≦1 024
2≦g1＋g2≦1 024
1≦g2≦1 024
m1≧0
g1≧1 g2≧1
g1＝0
0≦g1×m1≦1 024
0≦g1×m1≦1 024
25
2n＝整数
m1≧0
g2＝0
25
2n＝整数
25
2
m＝整数
n2＝m2＝0
＝整数
25
2
2
n
m≧
25
2
2
n
m≧
n1＝m1＝0
16.3 書換ゾーン 書換ゾーンは，ユーザデータの記録領域とし，全記録フィールドにわたってエンボス
データをもたない。
16.3.1 配置 全面書換形ディスクの場合には，書換ゾーンはトラック番号3のセクタ0からトラック番号
9996のセクタ24までとする。
全面エンボス形ディスクの場合には，書換ゾーンはトラック番号3のセクタ0からエンボスゾーンの手
前のトラックのセクタ24までとする。
16.3.2 分割 ディスクの初期化では，書換ゾーンをg1個の連続した同じ大きさのグループと，残りのセ
クタとに分割する。各グループは，n1個のデータセクタ及びm1個の予備セクタ（m1は0が可能）からな
る。予備セクタの合計数は，1 024以下とする。g1，n1，m1の値は，DDSに記録する。
16.4 エンボスゾーン 部分エンボス形及び全面エンボス形ディスクは，あらかじめディスク製造者によ
って形成されたエンボスゾーンをもつ。このゾーンのセクタの記録フィールドの配置は13.による。
16.4.1 配置 部分エンボス形ディスクの場合には，エンボスゾーンは，トラック番号32以上のセクタ0
から始まる。エンボスゾーンの最終トラックは，トラック番号9996とし，記録フィールドはエンボスデー
タをもたない。
全面エンボス形ディスクの場合には，エンボスゾーンは，トラック番号3のセクタ0から始まり，トラ
ック番号9996のセクタ24で終わる。
エンボスゾーンの最初及び最終トラックのトラック番号は，制御ゾーンに記録する。
16.4.2 分割 エンボスゾーンは，同じ大きさのg2個のグループに分割する（表6参照）。各グループは，
n2個のデータセクタ及びm2個のパリティセクタからなる。各データセクタ及びパリティセクタは，セクタ
0から始まり，n2及びm2の値は，25の整数倍とする。m2の値は，252nの値以上とし，各エンボストラック
に一つのパリティセクタを設ける。g2，n2，m2の値は，DDSに記録する。
最初のグループは，エンボスゾーンの初めに配置する。部分エンボス形ディスク又は全面エンボス形デ
ィスクの場合には，エンボスゾーンの分割後に残るトラックをグループの後に配置する。エンボスゾーン
内の未使用セクタの記録フィールドは，部分エンボス形ディスクのトラック番号9996を除いて，すべての
ユーザバイトをFFhとする。
16.4.3 パリティセクタ パリティセクタのデータフィールドには，516パリティバイト (PB) を設け，次
の式によって算出するユーザデータバイト及びバイト513〜516 (DB) の排他的OR (⊕) を記録する。
n
t
n
j
t
n
t
n
t
n
T
DB
DB
DB
DB
PB
,
24
,
,
,
,1,
,0,
,
Λ
Λ
⊕
⊕
⊕
=
ここに， 1≦t≦252n
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0≦j≦24
1≦n≦516
PBT, n： パリティセクタTのバイトAn
DBt, j, n： グループのtトラック上のjセクタのバイトAn
Anは附属書Eによる。パリティバイトは，再同期バイトを除くユーザデータバイト及びバイト513〜516
から算出する。
グループの各トラックのパリティセクタは，m2セクタからなり，それぞれ第1セクタから始まる。未使
用のパリティセクタのデータフィールドは，FFhとし，データレイアウトは，附属書E表E.1のとおりと
する。未使用のパリティセクタ数はm2−252
nとする。
17. 書換ゾーンの欠陥管理 書換ゾーンのグループ内欠陥セクタは，次の欠陥管理方式によって正常セク
タに代替する。ディスクは，使用に先立って初期化する。初期化時のディスク欠陥箇所の検証は，任意と
する。欠陥セクタは，線形置換方式及び選択的にセクタスリップ方式によって処理する。最大欠陥セクタ
数は，1024とする。
17.1 ディスク初期化 ディスクの初期化は，ディスク使用に先立って四つのDMAを記録する。書換ゾ
ーンをg1グループに分割し，16.3.2のように，それぞれn1個のデータセクタ及びm1個の予備セクタを設
ける。予備セクタは，欠陥セクタの代替に使用する。初期化では，書換ゾーンの検証を行い，欠陥セクタ
を確認したとき，飛び越す。
すべてのDDSパラメータは，四つのDDSセクタに記録し，SDL及び任意のPDLは，四つのDMAに記
録する。
17.2 検証 検証は，グループ内のデータセクタ及び予備セクタについて行う。検証方法は，任意とする。
検証によって発見した欠陥セクタは，セクタスリップ方式（17.2.1参照）又は線形置換方式（17.2.2参照）
によって処理する。欠陥セクタの代替ガイドラインは，附属書Gによる。
17.2.1 セクタスリップ方式 検証時に発見した欠陥セクタは，欠陥セクタに続く最初の正常セクタと代替
する。そのため，グループの最後尾へ1セクタ分飛び越しが生じ，最後のセクタは予備セクタに飛び越す。
欠陥セクタのアドレスは，PDLに記録する。欠陥セクタがないときは，空白のPDLを記録する（17.5参
照）。
検証時に欠陥と分かった予備セクタのアドレスは，PDLに記録する。
検証中にグループ内の予備セクタを使いきった場合は，欠陥セクタを線形置換方式で取り扱い，別のグ
ループの予備フィールドから代替セクタを登録する。この登録は，その他のグループの検証後に行う。
17.2.2 線形置換方式 欠陥セクタは，そのグループ内で使用可能な最初の予備セクタに代替する。もし，
グループ内に使用可能な予備セクタがない場合には，欠陥セクタから最も近いグループの使用可能な予備
セクタに代替する。欠陥セクタ及び代替セクタのアドレスは，SDLに記録する。
また，代替セクタに欠陥があった場合には，次の使用可能な予備セクタに記録する。
17.3 非検証ディスク 検証されていないディスクの欠陥セクタの取扱いに，線形置換方式を使用する。
欠陥セクタは，そのグループ内で使用可能な最初の予備セクタに代替する。もしグループ内に使用可能な
予備セクタがない場合には，欠陥セクタを最も近くにあるグループ内の使用可能な予備セクタに代替する。
欠陥セクタ及び代替セクタのアドレスは，SDLに記録する。
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17.4 記録方法 データを記録するとき，PDLに記録したすべての欠陥セクタは飛び越し，データはセク
タスリップ方式によって，次のセクタに記録する。もし，セクタがSDLに記録されているならば，データ
は，線形置換方式によってSDLの指定する予備セクタに記録する。
17.5 一次欠陥管理表 (PDL) ディスクが初期化中に検証される場合には，PDLを記録する。
PDLには，初期化で確認したすべての欠陥セクタのアドレスを昇べき（冪）順に記録する。PDLの最後
のセクタの残余のバイトは，FFhとする。PDLのバイト配列は，表11のとおりとする。
欠陥セクタのアドレスリストが複数のセクタに続く場合には，PDL識別子及びPDLのアドレス番号は，
第1セクタだけに記録する。
17.6 2次欠陥管理表 (SDL) 2次欠陥管理表 (SDL) は，ディスク初期化中に記録し，検証中又は検証後
に用いる。書換ゾーンをもつディスクは，初期化中に記録したSDLをもつ。
SDLは，欠陥セクタ及び代替セクタのアドレスを記録する。各内容は，8バイトで構成し，最初の4バ
イトは，欠陥セクタのアドレス，後の4バイトは代替セクタのアドレスとする。表12にSDLのバイト配
列を示す。SDLの最後のセクタの残余のバイトは，FFhとする。
PDLにすでに記録したセクタ番号は，SDLに記録しない。
もし，SDLに登録した代替セクタが欠陥の場合には，その欠陥セクタの代替セクタを新しく登録する。
SDLが複数セクタに続く場合には，欠陥セクタ及び代替セクタのアドレスリストは続けて記録し，SDL
の0〜15のバイト内容は，第1セクタだけに記録する。
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表11 PDLのバイト配列
バイト
PDL内容
0
00h，PDL識別子
1
01h，PDL識別子
2
PDLでのアドレス数のMSB
3
PDLでのアドレス数のLSB
（もしバイト2，3が00hならば，バイト3がPDLの最後）
4
最初の欠陥セクタ番号（トラック番号のMSB）
5
最初の欠陥セクタ番号（トラック番号）
6
最初の欠陥セクタ番号（トラック番号のLSB）
7
最初の欠陥セクタ番号（セクタ番号）
・・・
x−3
最後の欠陥セクタ番号（トラック番号のMSB）
x−2
最後の欠陥セクタ番号（トラック番号）
x−1
最後の欠陥セクタ番号（トラック番号のLSB）
x
最後の欠陥セクタ番号（セクタ番号）
表12 SDLのバイト配列
バイト
SDL内容
0
00h，SDL識別子
1
02h，SDL識別子
2
00h
3
01h
4
SDLでのリスト長のMSB
5
SDLでのリスト長のLSB
（この計数はバイト6から開始）
6〜7
00h
8
02h
9
01h
10〜13 00h
14
SDLでの登録数のMSB
15
SDLでの登録数のLSB
16
最初の欠陥セクタ番号（トラック番号のMSB）
17
最初の欠陥セクタ番号（トラック番号）
18
最初の欠陥セクタ番号（トラック番号のLSB）
19
最初の欠陥セクタ番号（セクタ番号）
20
最初の代替セクタ番号（トラック番号のMSB）
21
最初の代替セクタ番号（トラック番号）
22
最初の代替セクタ番号（トラック番号のLSB）
23
最初の代替セクタ番号（セクタ番号）
・・・
y−7
最後の欠陥セクタ番号（トラック番号のMSB）
y−6
最後の欠陥セクタ番号（トラック番号）
y−5
最後の欠陥セクタ番号（トラック番号のLSB）
y−4
最後の欠陥セクタ番号（セクタ番号）
y−3
最後の代替セクタ番号（トラック番号のMSB）
y−2
最後の代替セクタ番号（トラック番号）
y−1
最後の代替セクタ番号（トラック番号のLSB）
y
最後の代替セクタ番号（セクタ番号）
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第4章 エンボス特性
18. エンボス特性の測定方法 7.に規定の780nm及び825nmの波長をもつ，二つの異なる基準駆動装置を
用いたときの，グルーブ，ヘッダ及びエンボスデータから得られる信号条件について次に規定する。
18.1 測定環境 19.〜21.の測定は，6.1.2での使用環境条件のカートリッジに対して行う。
18.2 基準駆動装置の使用 19.〜21.に規定のすべての信号は，基準駆動装置で指定したチャネルによって
測定する。このため，駆動装置は，次の特性をもたなければならない。
18.2.1 光学系 光ビームは，7.2(a)〜(f)に規定の特性を満足する。ディスクは7.5に規定の回転とする。
18.2.2 再生パワー 再生パワーは，波長825nm及び780nmでは，1.0mWから次に示すPmaxの範囲とする。
1.2mW≦Pmax≦1.3mW
Pmaxは，制御情報トラックの21バイト及び135バイトで規定する。
参考4. その他の回転数での推奨Pmaxを附属書Jに示す。
18.2.3 再生チャネル 駆動装置には，対物レンズの出射ひとみ（瞳）からの総光量を測定する再生チャネ
ルを設ける。このチャネルは，7.1のチャネル1とする。
18.2.4 フォーカシング及びトラッキング 光ビームの最大許容エラー量 (emax) は，次のとおりとする。
emax（フォーカシング）≦1.0μm
emax（トラッキング）≦0.10μm
18.3 信号の定義 トラッキングチャネルの2分割光検出器の各半分からの信号をI1とI2で表し，これら
の信号は，グルーブがない領域の未記録部からの信号和 (I1＋I2) と比較する。
また，チャネル1の信号振幅は，グルーブがない領域の未記録部のチャネル1からの信号I0と比較する。
19.，20.及び21.に規定の信号は，図17のとおりとする。
37
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図17 エンボス領域の各種信号
19. グルーブ関連信号 グルーブ関連信号は，次の特性を満足しなければならない（附属書R参照）。
19.1 クロストラック信号 クロストラック信号振幅は，次の条件を満足しなければならない。
(a) ヘッダ及びエンボス記録フィールド
波長780nmでは
(
)
(
)
59
.0
14
.0
2
1
2
1
≦
≦
a
pp
I
I
I
I
+
+
38
X 6272-1992
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
波長825nmでは
(
)
(
)
50
.0
10
.0
2
1
2
1
≦
≦
a
pp
I
I
I
I
+
+
(b) エンボス記録フィールドがない領域
波長780nmでは
(
)
(
)
71
.0
25
.0
2
1
2
1
≦
≦
a
pp
I
I
I
I
+
+
波長825nmでは
(
)
(
)
60
.0
20
.0
2
1
2
1
≦
≦
a
pp
I
I
I
I
+
+
クロストラック信号は，いかなる点でも，この値が15%以上変化してはならない。
19.2 クロストラック最小信号 クロストラック最小信号は，エンボス信号の有無に関わらず，次の条件
を満足しなければならない。
波長780nmでは
(
)
(
)
25
.0
2
1
min
2
1
≧
a
I
I
I
I
+
+
波長825nmでは
(
)
(
)
30
.0
2
1
min
2
1
≧
a
I
I
I
I
+
+
19.3 プッシュプル信号 プッシュプル信号 (I1−I2) は，次の条件を満足しなければならない。
(a) エンボスデータがあるグルーブ領域
波長780nmでは
(
)
(
)
71
.0
38
.0
2
1
2
1
≦
≦
a
pp
I
I
I
I
+
−
波長825nmでは
(
)
(
)
70
.0
35
.0
2
1
2
1
≦
≦
a
pp
I
I
I
I
+
−
(b) エンボスデータがないグルーブ領域
波長780nmでは
(
)
(
)
71
.0
52
.0
2
1
2
1
≦
≦
a
pp
I
I
I
I
+
−
波長825nmでは
(
)
(
)
70
.0
50
.0
2
1
2
1
≦
≦
a
pp
I
I
I
I
+
−
19.4 デバイデッドプッシュプル信号（DPP信号） DPP信号の第一項は，光ビームがトラックを横断す
るときに2分割光検出器から得られる差動信号の瞬時振幅 (I1−I2) を，和信号の瞬時振幅 (I1＋I2) で除し
た最大値とする。
DPP信号の第二項は，第一項の比の最小振幅を最大振幅で除した値とする。
第一項は，次の条件を満足しなければならない。
波長780nmでは
39
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
05
.1
74
.0
2
1
2
1
≦
≦
pp
I
I
I
I
+
−
波長825nmでは
05
.1
7.0
2
1
2
1
≦
≦
pp
I
I
I
I
+
−
第二項は，次の条件を満足しなければならない。
波長780nm及び825nmでは
7.0
max
min
2
1
2
1
2
1
2
1
≧
pp
pp
I
I
I
I
I
I
I
I
+
−
+
−
19.5 オントラック信号比 オントラック信号比
0
0
I
It は，次の条件を満足しなければならない。
波長780nmでは
00
.1
72
.0
0
0≦
≦IIt
波長825nmでは
00
.1
70
.0
0
0≦
≦IIt
19.6 位相深さ グルーブの位相深さは，180°未満でなければならない。
19.7 トラック位置 トラック位置は，プッシュプル信号が0で，クロストラック信号が最大値となる位
置とする。
20. ヘッダ信号
20.1 セクタマーク セクタマーク信号 (Ism) は，次の条件を満足しなければらない。
波長780nmでは
53
.0
0
≧
I
Ism
波長825nmでは
50
.0
0
≧
I
Ism
20.2 VFO信号 VFO1及びVFO2フィールド信号 (Ivfo) は，次の条件を満足しなければならない。
波長780nmでは
23
.0
0
≧
I
Ivfo
波長825nmでは
20
.0
0
≧
I
Ivfo
40
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
さらに，各セクタで，次の条件を満足しなければならない。
波長780nmでは
53
.0
max
≧
h
vfo
I
I
波長825nmでは
50
.0
max
≧
h
vfo
I
I
ここに，Ihmaxは20.3に規定の領域でのヘッダマークからの再生信号の最大値とする。
20.3 アドレスマーク，IDフィールド及びポストアンブル アドレスマーク，IDフィールド及びポストア
ンブルの信号 (Ih) は，次の条件を満足しなければならない。
波長780nmでは
23
.0
0
≧
I
Ih
53
.0
max
min≧
h
h
I
I
波長825nmでは
20
.0
0
≧
I
Ih
50
.0
max
min≧
h
h
I
I
ここに，Ihmin及びIhmaxは，信号 (Ih) の最小値及び最大値とする。
21. エンボスデータフィールド信号 エンボスデータフィールドからの信号 (Id) は，次の条件を満足しな
ければならない。
波長780nmでは
23
.0
0
≧
I
Id
53
.0
max
min≧
d
d
I
I
波長825nmでは
20
.0
0
≧
I
Id
50
.0
max
min≧
d
d
I
I
ここに，Idmin及びIdmaxは，データフィールドからの再生信号の最小値及び最大値とする。
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第5章 記録層の特性
22. 記録層の測定方法 23.〜25.は，記録及び消去に用いる記録層の光磁気特性の測定条件及び性能につい
て規定する。測定は，書換ゾーン中のセクタの記録フィールドで実施する。書換ゾーンが存在しない場合，
24.〜26.は適用しない。記録，再生及び消去の測定は，すべて同一の基準駆動装置で行う（附属書J参照）。
23.〜25.は，記録層の品質を規定する。規定値を満足しない箇所は，欠陥とする。欠陥については，第6
章で規定する。
22.1 測定環境 23.〜25.の測定は，6.1.2での使用環境条件のカートリッジに対して行う。
22.2 基準駆動装置の使用 23.〜25.の記録及び消去の測定は，次の特性をもつ基準駆動装置のチャネル2
で行う。
22.2.1 光学系 光ビームは，7.2の(a)〜(f)に規定の特性を満足する。ディスクは7.5に規定の回転とする。
22.2.2 再生パワー ディスク入射面上に投じる再生パワーは，1.0mWからPmaxの範囲とする。
22.2.3 再生チャネル 再生チャネルは，7.3のチャネル2による。
22.2.4 フォーカシング及びトラッキング フォーカシング及びトラッキングは，18.2.4に規定の光ビーム
による。
22.3 記録条件
22.3.1 記録パルス 記録パルスは，図18による。
図18 記録パルス
信号の記録は，バイアスパワー0.9〜1.1mWに記録パルスを重畳して行う。パルスの立ち上がり時間 (Tr)
及び立ち下がり時間 (Tf) は，それぞれパルス幅 (Tp) が100ns以上のときは15ns未満，100ns未満のとき
は (0.1×Tp＋5) ns以下とする。
22.3.2 記録パワー 記録パワーは，ディスク入射面上に投じる記録パルス及び光パワーで表し，測定環境
条件で次のいずれかとする。
− 制御データ（附属書F参照）のバイト22〜30及びバイト136〜144に記録した3種類のパルス幅 (Tp)
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の一つ及び半径に対応した記録パワー (Pw)。
− 制御データ（附属書F参照）のバイト31及びバイト145に記録した記録パワー (Pw) 及びバイト32
〜34及びバイト146〜148に記録した半径に対応したパルス幅。
記載外の半径についての値は，直線補間する。使用する実際の記録パワー及びパルス幅は，選択された
値に対し±5%とする。
測定環境条件を外れる温度での記録パワーは，附属書Jで示すように補正する。
記録パワー (Pw) は，次の式による。
(
)
+
p
p
w
T
T
mW
P
1
1
61
≦
ここに， Tp： パルス幅 (ns)
Tpの値は，92ns以下とする。もし，Tpが92nsを超える場合，記録パワーは，7mW以下とする。
22.3.3 記録磁界 記録層での磁界強度は，16 000〜32 000A/mの範囲とする。
記録磁界方向は，ディスク基準面Pの垂線に対して15°以内で，入射ビームの方向，すなわち入射面か
ら記録層への方向とする。ここで，磁界の方向は，N極からS極とする。
22.4 消去条件 マークは，磁界及び光パワーによって消去する。
22.4.1 消去パワー 消去パワーは，ディスク入射面上に投じる光パワーで表し，測定環境条件で，制御デ
ータ（附属書F参照）のバイト45〜47及びバイト159〜161に記録した半径に対応した消去パワーとする。
記載外の半径についての値は，直線補間する。使用する実際の消去パワーは，選択された値に対し±10%
とする。
測定環境条件を外れる温度での消去パワーは，附属書Jで示すように補正する。
22.4.2 消去磁界 消去磁界は，記録層での磁界強度が16 000〜32 000A/mの範囲とする。
消去磁界方向は，ディスク基準面Pの垂線に対して15°以内で，反射ビームの方向，すなわち記録層か
ら入射面への方向とする。
22.5 信号の定義 チャネル2の信号は，光検出器K1及びK2の電流の差に比例する。すなわち検出器に
入射する光パワーに比例する（7.1を参照）。
23. 光磁気特性
23.1 性能指数 記録層の性能指数 (F) は，マークから得られる信号強度とし，R･sinθ･cos2βで表す。こ
こに，Rはディスクの反射率（小数で表す。），θはマークと未記録部間の偏光のカー回転角，βは反射ビー
ムのだ（楕）円率とし，開口上で平均化する。性能指数の極性は，22.3.3の記録磁界方向によってFeリッ
チのFe-Tb合金記録層に記録したとき，マークに対し負とする。この場合，カー回転角の方向は，入射ビ
ームから見て反時計回りとする。
性能指数の極性及び値の大きさは，制御データ（附属書F参照）のバイト10及びバイト11に記録する。
性能指数 (F) は，次のとおりとする。
0.002 5< | F | <0.005 0
23.2 光磁気信号のアンバランス 光磁気信号のアンバランスは，基準駆動装置のチャネル2からの信号
のDCオフセットで表し，基板の複屈折による。このオフセットは，附属書Hに示す，光学系のMTFを1
とする低周波領域の信号を記録して測定する。再生信号が50%のデューティサイクルとなる記録信号を用
いてもよい。オフセットは，信号の両極間の半分のレベルとする。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
アンバランスは，チャネル2のオフセットをチャネル1の信号で割った値が，0.06以下とし，DCから
40kHzの帯域幅で測定する。アンバランスは，基準駆動装置を用いて測定する（7.1参照）。
24. 記録特性
24.1 分解能 分解能
IL
IH は，高密度パターンの信号振幅と低密度パターンの信号振幅との比で表し，次
の測定方法によるとき，0.4以上とする。
セクタの記録フィールドに，8チャネルビットごとに一つのマーク及び3チャネルビットごとに一つの
マークの2種類のパターンを記録する。記録条件は，22.3のとおりとする。
22.2.2及び22.2.3の条件で，チャネル2の信号を再生する。ILは低密度パターンから，IHは高密度パタ
ーンから再生される信号振幅値とする。
24.2 狭帯域信号対雑音比 狭帯域信号対雑音比は，次の条件によって測定したとき，45dB以上とする（図
19参照）。
図19 信号レベル及び雑音レベル
狭帯域信号対雑音比は，7.1の光学系の位相差が−15〜＋15°とき，45dB以上でなくてはならない。
記録信号
：3チャネルビットごとに一つのマークパターン
スペクトラムアナライザの分解能帯域
幅
：30kHz
信号振幅及び雑音の測定周波数
：2.9±0.1MHz
狭帯域信号対雑音比
：20×log10
雑音レベル
信号レベル
測定値は，記録フィールドだけの値を得るために，ヘッダフィールドの影響を補正すること。
24.3 クロストーク クロストークは，書換ゾーン中の任意の連続した5本の未記録トラックの中心トラ
ックnに，8チャネルビットごとに一つのマークのパターンを22.3の記録条件によって記録し，再生した
ときの (n−1) 及び (n＋1) トラックに誘起する信号レベルとし，(n−1) 及び (n＋1) トラックのいずれで
も，中心トラック (n) との信号レベルの比は，−27dB未満とする。
25. 消去特性 消去特性は，次の手順によって測定したとき，再生信号振幅に対し，−40dB以下とする。
この場合，狭帯域信号対雑音比は，45dB以上でなければならない。
(a) 書換ゾーン中の任意の一連のセクタに，3チャネルビットごとに一つのマークのパターンを記録す
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る。記録条件は，22.3のとおりとする。
(b) スペクトラムアナライザ（分解能帯域幅30kHz）を用いて，22.2.2及び22.2.3の条件で再生し信号
振幅を測定する。
(c) 22.4の条件によって消去する。
(d) (a)及び(c)を1 000回繰り返す。
(e) (a)の条件で記録する。
(f) (b)の条件で再生する。このときの再生信号振幅及び雑音レベルから，狭帯域信号対雑音比を算出す
る。
(g) (c)によって消去し，残留信号振幅を測定する。消去特性は，(b)の再生信号振幅に対する残留信号振
幅の比として表す。
第6章 ユーザデータの特性
26. ユーザデータの測定方法 27.及び28.は，ディスク上のユーザデータの品質について規定する。測定
は，エンボスデータ及びユーザ記録データについて行う。記録データは，任意とする。ユーザデータの記
録は，環境条件及び駆動装置を問わない。再生は，基準駆動装置を用いて測定する。
18.〜25.は，欠陥を考慮しないのに対し，27.及び28.は，欠陥を考慮する。欠陥は，誤り検出訂正回路に
よっても訂正できない誤りをいう。27.及び28.は，データ交換に必要な最低限のデータ品質を規定する。
26.1 測定環境 27.及び28.の測定は，6.1.2での使用環境条件のカートリッジに対して行う。測定を行う
前に，ディスクの入射面を清掃することを推奨する。
26.2 基準駆動装置の使用 27.及び28.の測定は，次の特性をもつ基準駆動装置の，規定するチャネルを用
いる。
26.2.1 光学系 光ビームは，7.2の(a)〜(f)に規定の特性を満足する。ディスクは，7.5に規定の回転とす
る。
26.2.2 再生パワー ディスク入射面上に投じる再生パワーは，1.0mWからPmaxの範囲とする。
26.2.3 再生増幅器 チャネル1及びチャネル2の再生増幅器は，7.3のとおりとする。
26.2.4 アナログ−バイナリ変換器 再生増幅器の出力信号は，ピーク検出器によってアナログからバイナ
リに変換する。
チャネル1用の変換器は，20.及び21.に規定の特性をもったエンボスマークからのアナログ信号に対し
て正しく作動しなければならない。
チャネル2用の変換器は，23.及び24.に規定の特性をもったユーザ記録マークからのアナログ信号に対
して正しく作動しなければならない。
26.2.5 誤り訂正 データバイトの誤り訂正は，附属書EのE.3の誤り検出訂正システムによって行う。エ
ンボスデータの場合は，16.4.3のパリティセクタによる訂正システムも用いる。
26.2.6 フォーカシング及びトラッキング フォーカシング及びトラッキングは，18.2.4に規定の光ビーム
による。
27. セクタの最低保証品質 ここでは，データ交換に必要な，セクタのヘッダ及び記録フィールドの最低
限の品質について規定する。この品質は，26.2に規定の基準駆動装置によって測定する。
27.1 ヘッダ
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27.1.1 セクタマーク セクタマークは，5個の長いマークのうち，少なくとも3個が13.2の規定を満足し，
再生信号振幅は，20.1の規定を満足しなければならない。
27.1.2 IDフィールド IDフィールドは，チャネル1で再生するヘッダの中の3個のIDフィールドのう
ち，少なくとも一つは，CRCによって検出されるバイト誤りがあってはならない。
参考5. これには，先行するVFO1又はVFO2フィールドでの正しいデータクロックの捕捉，及びアド
レスマークでの正しいバイト同期が条件となる。
27.2 ユーザ記録データ ユーザ記録データは，チャネル2で再生し，26.2.5の規定によって訂正不能なバ
イト誤りがあってはならない。
参考6. これには，先行するVFO3フィールドでの正しいデータクロックの捕捉，及びデータ同期で
の正しいバイト同期が条件となる。
27.3 エンボスデータ セクタ中のエンボスデータは，チャネル1で再生し，26.2.5の規定によって訂正不
能なバイト誤りがあってはならない。
参考7. これには，先行するVFO3フィールドでの正しいデータクロックの捕捉，及びデータ同期で
の正しいバイト同期が条件となる。
28. データ交換の必要条件 データ交換に供するディスクは，次の事項を満足しなければならない。
28.1 トラッキング 光ビームが，不用意にトラックジャンプを起こさない。
28.2 ユーザ記録データ 27.1及び27.2の規定を満足しないユーザ記録セクタは，17.の欠陥管理規則によ
って代替されている。
28.3 エンボスデータ 27.1及び27.3の規定を満足しないエンボスセクタは，16.4.3のパリティセクタに
よって訂正できる。
28.4 ディスクの品質 ディスクの品質は，書換ゾーン中の代替されたセクタ数による。この規格では，
代替セクタは最大1 024個とする。
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附属書A（規定） カートリッジのひずみ量測定方法
A.1 カートリッジのひずみ量測定では，カートリッジの両端に沿った領域でのひずみ量及びはみ出し量が，
許容値以内であることを測定する。測定は，基準器となる直立した細長い基準穴をカートリッジが通過す
ることを確かめる。
A.2 基準器は，クロムめっきした炭素鋼などの材料とし，基準穴内面の表面粗さは，5μm以下とする。
A.3 基準器の各部の寸法は，次のとおりとする（図A.1参照）。
A≧96.0mm
B＝91.0±0.1mm
C＝
1.00
6.8
+mm
D＝6.30±0.01mm
E≧6.80mm
A.4 カートリッジを基準器に垂直方向に挿入し，カートリッジの自重を含め0.8Nの荷重F0を垂直下向き
に加えたとき，カートリッジは，基準穴を通過しなければならない。
図A.1 ひずみ量基準器
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附属書B（規定） カートリッジの可とう性測定方法
B.1 カートリッジの可とう性の測定は，カートリッジの4か所の基準面に荷重をかけカートリッジを平面
に押し付けたとき，カートリッジの平たん度及び屈曲性について測定する。
B.2 カートリッジの4か所の基準面S1，S2，S3及びS4の位置は，本体8.3.4及び本体図4による。
B.3 可とう性測定装置は，図B.1に示すように，平板上に立てた支柱P1〜P4からなる。S1，S2，S3及び
S4に対応した位置に，それぞれP1，P2，P3及びP4を設ける。P1〜P4の寸法は，次のとおりとする（図
B.2参照）。
支柱P1及びP2
Da＝6.50±0.01mm
Db＝
002
.0
50
.3
−
mm
Ha＝1.0±0.1mm
Hb≦2.0mm
なお，HaとHbの間は，Hb-Haの長さの面取りをする。
支柱P3及びP4
Dc＝5.50±0.01mm
四つの柱上部は，0.01mm離れた二つの水平面の間に存在しなければならない。
B.4 カートリッジの基準面が，水平面基準である支柱の上に載るように，カートリッジを測定装置に位置
決めする。垂直下向き方向に0.4Nの荷重F0を，カートリッジの4か所の支柱と対向する位置にそれぞれ
加える。
B.5 可とう性の許容量 B.4で，カートリッジの4か所の基準面S1〜S4の内3か所の面は，それぞれに対
応する柱上部面と接していなければならない。
また，接していない基準面Sとそれに対応する柱上部面との間のすき間は，0.1mm以下とする。
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X 6272-1992
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図B.1 可とう性測定装置
図B.2 支柱の詳細図
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附属書C（参考） トラックの振れ量の測定方法
トラックの規定位置からの振れ量は，トラッキングサーボを掛けて駆動装置上で測定する。測定に用い
る基準サーボの強度は，駆動装置のサーボを超えてはならない。サーボ強度の差は，駆動装置の裕度を示
す。トラックの振れ量は，基準サーボを印加した状態で測定するトラックと光ビーム焦点間のずれ量であ
るトラッキングエラー量となる。
トラックの振れ量の測定方法は，光軸方向のトラック振れ量及び半径方向のトラック振れ量のどちらに
も適用する。
C.1 許容値との関係 トラック振れ量は，トラッキングサーボモータに要する加速度及びトラッキングエ
ラーの測定による。加速度及びトラッキングエラーとの関係を周波数の関数として図C.1に示す。
図C.1 単一周波数，正弦波状振れ量の許容値
低周波数領域での許容振幅 (xmax) は，次の式によって算出する。
(
)2
max
max
2f
a
x
π
=
············································································ (1)
ここに， amax： サーボモータの最大加速度
高周波数領域での許容振幅 (xmax) は，次の式によって算出する。
xmax＝emax ················································································· (2)
ここに， emax： 最大許容エラー量
二つの周波数領域の合成は，C.3による。
C.2 基準サーボ トラック振れ量の許容値は，基準サーボに対するトラック振れ量の許容量と等しい。基
準サーボは，所定の伝達関数をもち，図C.1に示したように，振幅 (xmax) の単一の正弦波状のトラック振
れ量を最大許容エラー量 (emax) に圧縮する。
基準サーボの開ループ伝達関数 (Hs) は，次のとおりとする。
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()
0
0
2
0
1
1
1
ω
ω
ω
ω
ω
ω
ω
c
i
c
i
i
c
i
Hs
+
+
=
···························································· (3)
ここに，
1
−
=
i
ω＝2πf
ω0＝2πf0
f0： 開ループ伝達関数上で，ゲインが0dBとなる周波数
c： サーボのクロスオーバ周波数（f1及びf2）を与える定数
c
f
f
0
1=
，f2＝f0×c
基準サーボによるトラック振れ量 (x) のエラー量 (e) への圧縮は，次の式によって算出する。
s
H
x
e
+
=11
··············································································· (4)
0dBとなる周波数ω0は，次の式によって算出する。
max
max
0
e
c
a
=
ω
············································································· (5)
このとき，ω0より低い周波数のトラック振れは，最大許容エラー量 (emax) に圧縮される。
また，ω0より高い周波数のトラック振れは，圧縮されない。図C.1に示す許容振幅 (xmax) は，次の式に
よって算出する。
xmax＝emax | 1＋Hs | ····································································· (6)
この基準サーボのモータに要求される最大加速度 [amax (motor)] は，次の式によって算出する。
amax (motor)＝emaxω2 | 1＋Hs | ························································ (7)
c
f
f
0
<
なる低周波数領域での最大加速度 [amax (motor)] は，次の式によって算出する。
(
)
(
)
c
e
track
a
motor
a
max
2
0
max
max
ω
=
=
················································ (8)
ここに，本体9.4.6及び9.4.8の低周波数領域での基準サーボのω0の計算にamax (motor) を用いてもよい。
C.3 トラック振れの許容量 トラック振れは，所定の周波数で回転しているディスクに対し，基準サーボ
でトラッキングを行ったとき，エラー量 (emax) は，連続12μsを超えてはならない。
軸方向及び半径方向の基準サーボの開ループ伝達関数は，30Hz〜100kHzの帯域で，公称値から±20%を
超えない精度の | 1＋H | を用い，式(3)によって求める。定数cは，3とする。0dB周波数π
ω
2
0は，本体18.2.4，
9.4.6及び9.4.8の軸方向及び半径方向のamax及びemaxを用いて，式(5)によって求める。
C.4 測定方法 軸方向又は半径方向の測定システムとして，3種類の方法を示す（図C.2，図C.3及び図
C.4参照）。図中，Haは駆動装置の実際のトラッキングサーボの開ループ伝達関数を，Hsは，式(3)によっ
て求める基準サーボの伝達関数を，x及びyはトラックの位置及び光ビームの焦点の半径方向の位置を，
esは基準サーボを経た後のエラー量を示す。図C.2，図C.3及び図C.4に3種類の方法について示す。
板ばね方式サーボモータでは，低周波数及び高周波数に分けて二系統の測定回路を用いると，よい測定
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結果が得られる。測定方法のうち，図C.2の方法は低周波数の測定系に用い，図C.3及び図C.4の方法は，
高周波数の測定系に用いる。二つの測定系の出力信号を，逆特性の交差型フィルタ (reversed cross-filter) を
用いて加算して，必要なエラー量を求める。低周波数の測定系では，サーボモータにヒステリシスがない
ときには，サーボモータの加速度の測定としてサーボモータに流れる電流を利用してもよい。このとき，
電流は，サーボモータの伝達関数によって校正する。式(4)に等しい伝達関数
aeをもつフィルタによって，
サーボモータに流れる電流を，エラー量に変換する。
図C.2 基準サーボによって圧縮されたトラック位置信号に
フィルタを印加してesを得るようにした基準サーボ方法
図C.3 実際のサーボの伝達関数を変換することによって
esを得るようにした基準サーボ方法
図C.4 実際のサーボのエラー信号を変換することによって
esを得るようにした基準サーボ方法
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附属書D（規定） IDフィールドのCRC
CRCの16ビットは，IDフィールドの最初の3バイトから算出する。
生成多項式：
G (x) ＝x16＋x12＋x5＋1
剰余多項式：
()
()x
G
x
x
b
x
b
x
R
i
i
i
i
i
i
i
i
mod
16
23
8
7
0
+
=∑
∑
=
=
=
=
ここに，
bi： 最初の3バイトのビット
ib： 反転ビット
b23： 最初のバイトの最上位ビット
CRCの16バイト (Ck) の内容は，次の式による。
()∑
=
=
=
15
0
k
k
k
k
c
x
C
x
R
ここに，C15は，IDフィールドでの4番目のバイトの最上位ビットとして記録す
る。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書E（規定） セクタのデータフィールドのフォーマット
E.1 データフィールドの内容 ディスク上へ記録するデータAn（nは記録する順番を示す。）は，nによっ
て次のとおりとする。
1≦n≦512：An＝Dn ユーザデータバイト
513≦n≦516：An＝Fm 未規定バイト
517≦n≦520：An＝Ck CRCデータ
521≦n≦600：An＝Est ECCデータ
ここに， m＝n−512
k＝n−516
s＝[(n−521) mod 5]＋1
1
5
521
int
+
−
=
n
t
ここに，int (x)：xより小さい最大の整数
(x mod y)：整数の割算yxの余り
ユーザデータバイトDnの次数は，駆動装置のコントローラに入力するものと同じ次数とする。すなわち，
D1が最初とする。再同期バイトは，Anに含めない。
E.2 インターリーブ データフィールドのバイトは，ECC及びCRCバイトの算出前に5インターリーブ
する。そのためにAnの最初の3グループは，104列，5行の二次元行列Bijに写像する（表E.1参照）。1≦
n≦520の範囲で，Bijは，次のとおりとする。
Bij＝An
ここに，
−
−
=
5
1
int
103
n
i
j＝(n−1) mod 5
E.3 CRC及びECC
E.3.1 全般 CRC及びECCは，次の原始多項式であるガロア体によって算出する。
Gp (x)＝x8＋x5＋x3＋x2＋1
このガロア体の要素は，αi＝ (βi) 88とする。ここに，βはGp (x) の原始根とする。バイトのn番目のビット
の値は，βのn乗の項の係数とする (0≦n≦7)。ここに，βは多項式の基底上で表す。
E.3.2 CRC CRCの生成多項式は，次のとおりとする。
()
(
)
∑
=
=
+
=
139
136
i
i
i
c
x
x
G
α
4バイトのCRCは，ユーザデータ及び4バイトのFmから算出する。
情報多項式は，次のとおりとする。
()
0
0,0
103
1
4
0
x
B
x
B
x
I
i
i
j
j
i
ij
c
+
=∑∑
=
=
=
=
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
4バイトのCRC (Ck) の内容は，次の剰余多項式で規定する。
Rc (x)＝Ic (x) x4 mod Gc (x)
多項式の係数の位置は，次のとおりとする。
()∑
=
=
−
=
4
1
4
k
k
k
k
c
x
C
x
R
E3.3 ECC 原始多項式及び要素は，E.3.1による。
ECCの生成多項式は，次のとおりとする。
()
(
)
∑
=
=
+
=
135
120
i
i
i
e
x
x
G
α
80バイトのECCは，ユーザデータ，4バイトのFm及び4バイトのCRCから算出する。対応する五つの
情報多項式は次のとおりとする。
()∑
=
=
=
103
0
i
i
i
ij
ej
x
B
x
I
ここに，0≦j≦4
多項式Iej (x) での16バイトのECC (Est) を，次の剰余多項式で規定する。
Rej (x)＝Iej (x) x16 mod Ge (x)
多項式の係数の位置は，次のとおりとする。
()
(
)
∑
=
=
−
+
=
16
1
16
,
1
t
t
t
t
j
ej
x
E
x
R
算出されたECCのビットは，チャネルビットに変換する前に反転する（式中のE及び表E.1のE）。
E.4 再同期バイト 再同期バイトは，同期外れ防止及びユーザデータのエラー伝搬の制限のためデータフ
ィールドに挿入する。再同期バイトは，連続した番号を付けるがすべて同じパターンとし，次に示すチャ
ネルビットパターンとする。
0010 0000 0010 0100
再同期バイト (RSn) は，A15nとA15n＋1の間に挿入する (1≦n≦39)。
E.5 データフィールドの記録 データフィールドのバイトは，同期バイトに続きE.4に規定の再同期バイ
トを挿入し，Anの順にディスク上に記録する。各データは，表E.1のように行列形式で配置する。記録の
順序は，左から右へ，及び上から下へとする。最初の3バイトの同期バイトSB1，SB2及びSB3は，データ
フィールドの前に置く。データフィールドの最初の104列は，ユーザデータ，未規定内容（数バイト）及
びCRCを含み，残りの16列は，ECCとする。
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表E.1 データフィールドのデータ構成
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附属書F（規定） 制御ゾーンの内容
二つの制御ゾーンの各セクタは，媒体製造者が記録する同じ制御データを含む。制御データは，次の方
法によって四つのグループに分ける。
(1) 媒体特性データは，ディスクの種類，ECC及びトラッキング方法などのディスクの一般的な特性を規
定し，バイト0〜17に記録する。バイト0〜9，バイト12及びバイト13は，すべてのディスクで必す
とし，バイト10及びバイト11は，書換形及び部分エンボス形ディスクだけに用いる。
(2) 制御データは，駆動装置の記録，再生及び消去特性に関する駆動装置の設定を規定し，次のデータの
組合せで配置する。
− 3波長L1，L2及びL3
− 各波長でのディスクの反射率R
− 各波長での四つの回転周波数N1，N2，N3及びN4
− 各回転周波数での次の値
・ 最大再生パワー
・ 一組の消去条件
・ 四組の記録条件，すなわち一定パルス幅に対しての三組，及び一定パルスパワーに対しての一組
（各組は情報ゾーンの内周，中周及び外周の三つの値を含む。）。
制御データは，2グループに分け，一方は本体18.〜27.に規定の適合性試験，他方はユーザ駆動装置
の制御とする。
(a) 適合性試験データは，基準駆動装置の設定を規定し，また，ユーザ駆動装置に対し基準データとし
て用いる。適合性試験データは，バイト18〜34，バイト44〜47，バイト132〜148及びバイト158
〜161とし，書換形及び部分エンボス形ディスクで必すとする。
(b) ユーザ基準データは，測定環境でディスクを測定するユーザ駆動装置の設定に対し，媒体製造者の
推奨値とする。このデータの記録は，バイト48〜131，バイト162〜263及びバイト272〜359とし，
任意とする。
(c) 次のバイトは将来の規格の予備とし，FFhとする。
バイト35〜43
バイト198〜200
バイト56〜58
バイト226〜228
バイト84〜86
バイト263〜271
バイト112〜114 バイト284〜286
バイト149〜157 バイト312〜314
バイト170〜172 バイト340〜342
(3) システムデータは，ディスクのエンボスゾーンの特性を与え，バイト380〜383に記録し，部分エンボ
ス形及び全面エンボス形ディスクで必すとする。バイト400〜428はすべてのディスクで必すとする。
(4) 最後のグループは，未規定データとし，バイト480〜511とする。
任意のバイトは，(1)〜(3)の規定データを含むか又はFFhとする。
F.1 媒体特性データ
バイト0：フォーマット記述子1
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00000000とし，複合連続サーボトラッキング方式，一定角速度及びRLL (2，7) マーク位置記録を表す。
バイト1：フォーマット記述子2
00010001とし，512バイトセクタに適用される最小距離17で5インターリーブのリードソロモン符号を
表す。
バイト2：トラック当たりのセクタ数
00011001とし，トラック当たり25セクタを表す。
バイト3：反射率
公称波長825nmで測定したディスクの反射率 (R) とし，次の数値を記録する。
n＝100R
バイト4：ランド記録又はグルーブ記録
00000000とし，ランド記録を表す。
バイト5：予備
FFhとする。
バイト6：最大再生パワー
制御情報トラックのバイト21及びバイト135〜249に規定の最低の値を記録する。制御情報トラックを
再生する最大再生パワーPw (mW) とし，次のnを記録する。
n＝20Pw
バイト7：ディスクの種類
0000 0000：全面エンボス形ディスク
0010 0000：全面書換形ディスク
1010 0000：部分エンボスデータをもつ書換形ディスク
ほかの設定は，将来の予備とし，禁止する。
バイト8，9：データゾーンの最後のトラック
00100111及び00001111とし，データゾーンの最後のトラック番号 (9999) のMSB及びLSBを表す。
バイト10：性能指数の極性
00000001とし，負極性を表す。
バイト11：性能指数の大きさ
性能指数 (F) の大きさとし，次のnの値を記録する。
n＝10 000F
バイト12，13：予備
FFhとする。
バイト14〜17：未規定
これらのバイトは，媒体製造者が使用してもよい。
F.2 制御データ
バイト18：波長
駆動装置の波長L1 (nm) を規定し，次のnを記録する。
1
5
1L
n=
このバイトは，n＝165を設定する。
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
バイト19：反射率
波長L1での反射率R1を規定し，次のnを記録する。
n＝100R1
この値は，バイト3と同じ値とする。
バイト20：回転周波数
ディスクの回転周波数N1 (Hz) を規定し，次のnを記録する。
n＝N1
このバイトは，n＝30を設定する。
バイト21：最大再生パワー
条件L1及びN1での情報ゾーンの最大再生パワーP1 (mW) を規定し，次のnを記録する。
n＝20P1
ここに，24≦n≦26
バイト22〜30：一定パルス幅での記録パワー
バイト22〜30は，条件L1及びN1でのパルス幅Twに対する記録パワーPw (mW) を規定し，次のnを記
録する。
n＝5Pw
バイト22：Tw＝1.00T及び半径r＝24mmでの記録パワー
バイト23：Tw＝1.00T及び半径r＝30mmでの記録パワー
バイト24：Tw＝1.00T及び半径r＝40mmでの記録パワー
バイト25：Tw＝0.50T及び半径r＝24mmでの記録パワー
バイト26：Tw＝0.50T及び半径r＝30mmでの記録パワー
バイト27：Tw＝0.50T及び半径r＝40mmでの記録パワー
バイト28：Tw＝0.25T及び半径r＝24mmでの記録パワー
バイト29：Tw＝0.25T及び半径r＝30mmでの記録パワー
バイト30：Tw＝0.25T及び半径r＝40mmでの記録パワー
ここに，T：1チャネルビットの周期
バイト31〜34：一定記録パワーでの記録パルス幅
条件L1及びN1での記録パワーPwに対する記録パルス幅Tw (ns) を規定し，次のnを記録する。
n＝Tw
バイト31：記録パワー
バイト32：半径r＝24mmでの記録パルス幅
バイト33：半径r＝30mmでの記録パルス幅
バイト34：半径r＝40mmでの記録パルス幅
バイト35〜43：予備
FFhとする。
バイト44〜47：DC消去パワー
バイト44は00hとする。バイト45〜47は，条件L1及びN1での三つの半径のDC消去パワーPe (mW) を
規定し，バイト22〜30のPwと同様に記録する。
バイト45：半径r＝24mmでの消去パワー
バイト46：半径r＝30mmでの消去パワー
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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
バイト47：半径r＝40mmでの消去パワー
バイト48：回転周波数
ディスクの回転周波数N2 (Hz) を規定し，バイト20のN1と同様に記録する。
このバイトがFFhでない場合，n＝40を設定する。
バイト49〜75
条件L1及びN2でのバイト21〜47と同じパラメータを記録する。ただし，バイト56〜58はFFhとする。
バイト76：回転周波数
ディスクの回転周波数N3 (Hz) を規定し，バイト20のN1と同様に記録する。
このバイトがFFhでない場合，n＝60を設定する。
バイト77〜103
条件L1及びN3のバイト21〜47と同じパラメータを記録する。ただし，バイト84〜86はFFhとする。
バイト104：回転周波数
ディスクの回転周波数N4 (Hz) を規定し，バイト20のN1と同様に記録する。
このバイトがFFhでない場合，nは30，40及び60以外の値を設定する。
バイト105〜131
条件L1及びN4でのバイト21〜47と同じパラメータを記録する。ただし，バイト112〜114はFFhとす
る。
バイト132：波長
駆動装置の波長L2 (nm) を規定し，次のnを記録する。
2
5
1L
n=
このバイトは，n＝156を設定する。
バイト133：反射率
波長L2での反射率R2を規定し，次のnを記録する。
n＝100R2
バイト134：回転周波数
ディスクの回転周波数N1 (Hz) を規定し，次のnを記録する。
n＝N1
このバイトは，n＝30を設定する。
バイト135：最大再生パワー
条件L2及びN1での情報ゾーンの最大再生パワーP2 (mW) を規定し，次のnを記録する。
n＝20P2
ここに，24≦n≦26
バイト136〜144：一定パルス幅での記録パワー
条件L2及びN1でのパルス幅Twに対する記録パワーPw (mW) を規定し，次のnを記録する。
n＝5Pw
バイト136：Tw＝1.00T及び半径r＝24mmでの記録パワー
バイト137：Tw＝1.00T及び半径r＝30mmでの記録パワー
バイト138：Tw＝1.00T及び半径r＝40mmでの記録パワー
バイト139：Tw＝0.50T及び半径r＝24mmでの記録パワー
60
X 6272-1992
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
バイト140：Tw＝0.50T及び半径r＝30mmでの記録パワー
バイト141：Tw＝0.50T及び半径r＝40mmでの記録パワー
バイト142：Tw＝0.25T及び半径r＝24mmでの記録パワー
バイト143：Tw＝0.25T及び半径r＝30mmでの記録パワー
バイト144：Tw＝0.25T及び半径r＝40mmでの記録パワー
ここに，T：1チャネルビットの周期
バイト145〜148：一定記録パワーでの記録パルス幅
条件L2及びN1での記録パワーPwに対する記録パルス幅Tw (ns) を規定し，次のnを記録する。
n＝Tw
バイト145：記録パワー
バイト146：半径r＝24mmでの記録パルス幅
バイト147：半径r＝30mmでの記録パルス幅
バイト148：半径r＝40mmでの記録パルス幅
バイト149〜157：予備
FFhとする。
バイト158〜161：DC消去パワー
バイト158は00hとする。バイト159〜161は，条件L2及びN1での三つの半径のDC消去パワーPe (mW)
を規定し，バイト136〜144のPwと同様に記録する。
バイト159：半径r＝24mmでの消去パワー
バイト160：半径r＝30mmでの消去パワー
バイト161：半径r＝40mmでの消去パワー
バイト162：回転周波数
ディスクの回転周波数N2 (Hz) を規定し，バイト134のN1と同様に記録する。
このバイトがFFhでない場合，n＝40を設定する。
バイト163〜189
条件L2及びN2でのバイト135〜161と同じパラメータを記録する。ただし，バイト170〜172はFFhと
する。
バイト190：回転周波数
ディスクの回転周波数N3 (Hz) を規定し，バイト134のN1と同様に記録する。
このバイトがFFhでない場合，n＝60を設定する。
バイト191〜217
条件L2及びN3でのバイト135〜161と同じパラメータを記録する。ただし，バイト198〜200はFFhと
する。
バイト218：回転周波数
ディスクの回転周波数N4 (Hz) を規定し，バイト134のN1と同様に記録する。
このバイトがFFhでない場合，nは30，40及び60の他の値を設定する。
バイト219〜245
条件L2及びN4でのバイト135〜161と同じパラメータを記録する。ただし，バイト226〜228はFFhと
する。
バイト246：波長
61
X 6272-1992
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
駆動装置の波長L3 (nm) を規定し，バイト132のL2と同様に記録する。
バイト247〜359
条件L3でのバイト133〜245と同じパラメータを記録する。ただし，バイト284〜286，バイト312〜314
及びバイト340〜342は，FFhとし，バイト256〜258は任意とする。
バイト360〜379：予備
FFhとする。
記録する制御データのまとめ 表F.1は，バイト18〜359に対する規定をまとめたものである。
− 太字の数字は，必すバイトである［(a)参照］。
− 網掛けの斜体の数字は，FFhに設定する［(c)参照］。
− 細字の数字は，任意バイトであり，F.1で規定の値かFFhとする［(b)参照］。
表F.1 制御データの一覧表
L1
L1
L1
L1
L2
L2
L2
L2
L3
L3
L3
L3
N1
N2
N3
N4
N1
N2
N3
N4
N1
N2
N3
N4
18
132
246
19
133
247
20
48
76
104
134
162
190
218
248
276
304
332
21
49
77
105
135
163
191
219
249
277
305
333
22
50
78
106
136
164
192
220
250
278
306
334
23
51
79
107
137
165
193
221
251
279
307
335
24
52
80
108
138
166
194
222
252
280
308
336
25
53
81
109
139
167
195
223
253
281
309
337
26
54
82
110
140
168
196
224
254
282
310
338
27
55
83
111
141
169
197
225
255
283
311
339
28
56
84
112
142
170
198
226
256
284
312
340
29
57
85
113
143
171
199
227
257
285
313
341
30
58
86
114
144
172
200
228
258
286
314
342
31
59
87
115
145
173
201
229
259
287
315
343
32
60
88
116
146
174
202
230
260
288
316
344
33
61
89
117
147
175
203
231
261
289
317
345
34
62
90
118
148
176
204
232
262
290
318
346
35
63
91
119
149
177
205
233
263
291
319
347
36
64
92
120
150
178
206
234
264
292
320
348
37
65
93
121
151
179
207
235
265
293
321
349
38
66
94
122
152
180
208
236
266
294
322
350
39
67
95
123
153
181
209
237
267
295
323
351
40
68
96
124
154
182
210
238
268
296
324
352
41
69
97
125
155
183
211
239
269
297
325
353
42
70
98
126
156
184
212
240
270
298
326
354
43
71
99
127
157
185
213
241
271
299
327
355
44
72
100
128
158
186
214
242
272
300
328
356
45
73
101
129
159
187
215
243
273
301
329
357
46
74
102
130
160
188
216
244
274
302
330
358
47
75
103
131
161
189
217
245
275
303
331
359
F.3 システムデータ
バイト380，381：エンボスゾーンの最初のトラック
62
X 6272-1992
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
ディスクにエンボスゾーンがある場合，これらのバイトは，このゾーン（本体表5参照）の最初のトラ
ック番号のMSB，LSBを記録する。エンボスゾーンがない場合は，FFhとする。
バイト382，383：エンボスゾーンの最後のトラック
ディスクにエンボスゾーンがある場合，これらのバイトは，このゾーン（本体表5参照）の最後のトラ
ック番号のMSB，LSBを規定する。エンボスゾーンがない場合は，FFhとする。
バイト384〜399：予備
FFhとする。
バイト400〜428：部分エンボス形ディスクの制御バイト
この情報は，部分エンボス形ディスクに必要であり，DDSのバイト0〜28の値とする。これらの制御バ
イトは，ディスク作製時に製造者によって定義する。PDL及びSDLのアドレスを表すバイト421〜428は，
FFhとする。制御バイトは，フォーマット工程やDDSの内容を修復する工程でユーザが使用できる。全面
書換形ディスク及び全面エンボス形ディスクの場合，FFhとする。
F.4 未規定データ
バイト480〜511
これらのバイトの内容は，未規定とする。
63
X 6272-1992
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書G（参考） 代替セクタを使用するときのガイドライン
欠陥セクタと判定して，代替セクタを使用する例を，次に示す。
(a) CRCで検出された欠陥IDフィールドが2個又は3個あるセクタ
(b) セクタマークが検出できないとき
(c) データフィールド（表E.1参照）の行に，3個を超える欠陥バイトAnがあるとき
64
X 6272-1992
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書H（規定） 性能指数の測定方法
H.1 性能指数は，低い周波数で記録したマークの再生信号振幅によって測定する。本体7.に規定の基準駆
動装置を用いた性能指数の測定では，光学系自身の位相差を含むので，光学系の位相差を取り除く必要が
生じる。これらは，反射率，カー回転角及びだ（楕）円率から性能指数を求め，光学系の位相差を校正す
ることができる。ただし，この校正は，低保磁力の記録層だけに精度よく行うことができる。
H.2 測定用光学系の校正は，次のとおりとする。
低保磁力の記録層をもつ複屈折率が無視できるほど小さい（ガラス）ディスクを用いて，反射率 (R)，
カー回転角 (θ) 及びだ円率 (β) を測定する。性能指数FLを，次の式によって算出する。
FL＝R･sinθ･cos2β
次に，同じディスクを用いて低周波数の信号を記録し，チャネル2の再生信号振幅VLを測定することに
よって，光学系自身の位相差の校正を行う。記録された磁区は，その領域で光学系のMTFが1となるよ
うに実質的に集光スポットより大きくする。これは，30Hzで回転しているディスクに対して，100kHzよ
り低周波数の長い磁区パターンが隣接するトラックでマークが半径方向に整列し，かつ，重なり合うよう
に連続する数トラックにわたり記録されていることを意味する。
H.3 ディスク（低保磁力ディスク，高保磁力ディスクのいずれでもよい。）の性能指数Fは，校正された
駆動装置で低周波数の信号を記録し，チャネル2の再生信号の振幅Vを測定し，次の式で算出する。
L
LV
V
F
F =
65
X 6272-1992
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書J（参考） 再生，記録及び消去パワー
J.1 再生パワー 回転周波数40Hz及び60Hzでの最大再生パワーは，次のとおりとし，その値を制御ゾー
ンに記録する。
回転周波数
最大再生パワーPmax
40Hz
1.4mW≦Pmax≦1.5mW
60Hz
1.8mW≦Pmax≦2.0mW
J.2 記録及び消去パワー 制御ゾーンに記録する記録パワー及び消去パワーの値は，23℃の値だけとし，
回転周波数40Hz及び60Hzでの最大記録パワー及び最大消去パワーは次の値を超えてはならない。
回転周波数
最大記録パワー及び最大消去パワー
40Hz
+
=
w
w
T
T
P
1
1
61
mW
Tw≦72ns
P＝8mW
Tw＞72ns
60Hz
+
=
w
w
T
T
P
1
1
61
mW
Tw≦48ns
P＝10 mW
Tw＞48ns
ここに，
P： 記録パワー又は消去パワー
Tw： 記録パルス幅
記録パワー及び消去パワーは，ディスクの温度によって，次の式で補正する。
Pt＝P23−[0.03 (T0p−23)]
ここに，
Pt： 補正されたパワー
P23： 制御ゾーンに記録したパワー
T0p： ディスクの温度
66
X 6272-1992
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書K（規定） ハブ吸着力の測定方法
K.1 この附属書は，ハブ吸着力の測定方法を規定する。
K.2 測定装置（図K.1参照）は，スペーサ，磁石，ヨーク及び中心軸からなる。測定装置の寸法は，次に
よる。
Dd＝7.0±0.1mm
De＝14.0±0.1mm
Df≦13.0mm
Dg＝
01.0
9.3
−
mm
Hc＝0.4±0.01mm
Hd＝1.0±0.05mm
図K.1 ハブ吸着力の測定装置
K.3 測定装置の材料は，次による。
磁石
：Sm-Co
ヨーク
：適切な磁性材料
スペーサ ：非磁性材料又は空気間隙
中心軸
：非磁性材料
K.4 ヨーク付き磁石の特性は，次による。
磁極数
：4
67
X 6272-1992
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
最大エネルギー積 (BHmax)
：175±16kJ/m3
ヨーク付き磁石の特性は，次の寸法の純ニッケル板（図K.2参照）を用い調整する。磁石面からHc＝0.4mm
の点でのこの板の吸着力は，3.3±0.2Nとする。
Dh＝6.0±0.1mm
Di＝15.0±0.1mm
He＝1.0±0.05mm
図K.2 測定装置の校正板
K.5 測定条件は，本体6.1.1による。
68
X 6272-1992
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書L（参考） 使用環境条件の導出方法
L.1 標準環境条件 カートリッジの使用環境条件は，幾つかの例外を除いて，IEC 721-3-3のIEC標準環
境条件クラス3K3（以下，IECクラス3K3という。）の値を基本とする。IECクラス3K3は，室内での装
置を設置する環境を定義し，それは次による。
“通常の居住空間，すなわち，居間，大勢が使用する場所（劇場，レストランなど），オフィス，店，
電子部品の組立や製造の場所，電気通信センタ，貴重品保管室”
L.2 温度上昇の考え方 IECクラス3K3は室内の環境だけを定義しているが，この規格のカートリッジの
使用環境条件は，システム及び駆動装置の温度上昇も考慮している。駆動装置に取り付けたカートリッジ
は，室内温度より高い温度になる。使用環境条件は，この温度上昇を20℃までと仮定して計算している。
L.3 絶対湿度 絶対湿度（空気中の水分量g/m3）の導入は，温度上昇を考えるときに有用となる。駆動装
置の中で温度上昇があったとき，絶対湿度は実質的に一定であるにもかかわらず相対湿度が下がる。その
ため，使用環境条件に温度上昇分の余裕をもたせると，温度の上限のみならず相対湿度の下限に影響を与
える。これらの関係を，カートリッジの使用環境条件の空気線図（相対湿度対温度図，図L.1参照）に示
す。
絶対湿度を限定すると，次の二つの使用環境条件が排除できる。
(1) カートリッジの性能及び寿命に悪影響を及ぼす高温及び高相対湿度の組合せ
(2) 世界中のオフィス環境でほとんど起こらない低温及び低相対湿度の組合せ
69
X 6272-1992
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
図L.1 IECクラス3K3及びカートリッジ使用環境の空気線図
L.4 IEC標準環境条件との違い L.2の温度上昇に関する変更を除くと，次のパラメータがIECクラス3K3
の基本値と異なる。
− 気圧
IECクラス3K3の下限気圧70kPaを60kPaに拡張した。カートリッジは本質的に気圧に敏感でなく，70kPa
の規定は，一部の市場を排除する可能性がある。
− 絶対湿度
空調があるオフィス環境以外で使用する携帯用装置を考え，IECクラス3K3の上限の25g/m3を30g/m3
に引き上げた。
− 温度
カートリッジの周囲温度（駆動装置内の温度上昇を含む。）の上限は，50℃とする（一方IECクラス3K3
は＋20℃で60℃となる。）。この規格によるカートリッジに対し，上限50℃は，それ以上では作動（保存と
同様）が安全でないという物理的な上限を考慮に入れている。
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X 6272-1992
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
これは，装置設計者が，室温がIECクラス3K3の上限40℃になったとき，駆動装置内部を十分冷却し
てもよいことを意味する。
− その他
温度及び相対湿度の変化率は，IECクラス3K3に従っていない。
図L.2 使用環境及び保存環境の湿球温度
L.5 湿球温度仕様 絶対湿度による仕様値の代わりに，既発行のカートリッジの規格は，他のデジタル記
録媒体と同様，高温及び高相対湿度の厳しすぎる組合せを排除するために次のパラメータの規定をした。
湿球温度 (℃)
異なった仕様の比較を容易にするため，図L.2にカートリッジの使用環境，測定環境及び保存環境に対
する湿球温度を示す。湿球温度は大気圧で僅かに変化するので，図は101.3kPaの通常の気圧で有効となる。
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附属書M（規定） 空気清浄度クラス100000
M.1 定義 0.5μm以上の粒径の粒子数は，1m3当たり3.5×106個以下とする。
統計的平均粒子径分布は，図M.1とする。クラス100000は，1m3当たり0.5μmの粒子を3.5×106個許
容し，5.0μm以上の粒子を2.5×104個許容することを意味する。
図M.1 粒子径分布曲線
M.2 測定原理 0.5〜5.0μmの粒子に対し，光散乱の原理による装置を用いる。一定環境の空気を既知の流
量でサンプリングする。サンプル空気中に含まれる粒子は，装置の光学槽の光量検出領域を通過させる。
個々の粒子による光散乱は，光パルスを電流パルスに変換する光検出器によって受光する。電気系は，パ
ルスの高さと粒子径を関連させ，パルスを計数する。
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X 6272-1992
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書N（規定） 基準面に対するカートリッジの位置
本体8.2に規定の基準面に対するカートリッジの位置は，図N.1による。
図N.1 カートリッジ位置
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X 6272-1992
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附属書P（参考） 輸送条件
P.1 輸送は，世界中の広範囲の温湿度変化の下，異なる期間，様々な輸送方法によって行われるため，輸
送条件や包装条件を一般的に規定することは困難である。
P.2 包装の形式は，送り主と受取者の間の協定によるか，協定がない場合は送り主の責任となる。次の危
険性を考慮に入れる必要がある。
P.2.1 温度及び湿度 輸送の見積期間よりも長期の条件に耐えるように，包装方法を考慮する必要がある。
P.2.2 衝撃及び振動
(1) カートリッジの形状を損ねる機械的な荷重に耐える包装とする。
(2) カートリッジの落下に耐える包装とする。
(3) カートリッジは，緩衝材を入れた堅い箱に包装する。
(4) 最終的な箱は，汚れや湿気を防ぎ輸送できる構造と清浄な内装を具備する。
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X 6272-1992
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附属書Q（参考） オフィス環境
カートリッジは，駆動装置の内外のゴミの影響に対しかなりの耐力をもつ構造となっている。そのため
に，十分低いゴミの量を維持するような特別の注意は必要としないが，機械場や工事現場などのゴミの多
い場所での使用は避けたほうがよい。
オフィス環境とは，個人が何の保護もなしに，一時的な苦痛や永久的な不快感を伴わずに一日中働ける
環境をいう。
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X 6272-1992
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附属書R（規定） 信号特性が緩和できるゾーン
表R.1は，この規格の本体に規定の信号特性が必すであるゾーンか緩和できるゾーンかの区別を示す。
表R.1 各ゾーンの信号の規定
： 信号特性が仕様範囲内であることを必すとするゾーンを表す。
：
仕様範囲が下限値の80%から上限値の120%に拡張できるゾーンを表す。均一
性は±12%から±20%に拡張できる。
： 規定を適用しないゾーンを表す。
項番
信号
ゾーン
イニシャ
ル
ゾー
ン
アクワイアゾー
ン
試験ゾーン
制御
ゾーン
データ
ゾーン
制御
ゾーン
試験ゾーン
バッファ
リード フォーカ
ス
製造
者用
駆動
装置用
駆動
装置用
製造
者用
9.5.4
反射率
均一性
19.1(a) クロストラック信号
19.1(b) クロストラック信号
19.2
クロストラック最小信号
19.3(a) プシュプル信号
19.3(b) プシュプル信号
19.4
DPP信号（第一項）
DPP信号（第二項）
19.5
オントラック信号比
20.1
セクタマーク
20.2
VFO信号
20.3
アドレスマーク，IDフィールド
及びポストアンブル
21
エンボスデータフィールド信号
22.3.2 記録パワー
22.4.1 消去パワー
23.1
性能指数
23.2
光磁気信号のアンバランス
24.1
分解能
24.2
狭帯域信号対雑音比
24.3
クロストーク
25
消去特性
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X 6272-1992
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
附属書S（参考） 基準ディスク（記録パワー校正用）
基準ディスクは，財団法人日本電子部品信頼性センター (RCJ) によって定常的に基準駆動装置を校正す
るために設ける。
基準ディスクは，駆動装置のレーザパワーの校正に用いる。
品番
：JCM 6272
供給元 ：財団法人日本電子部品信頼性センター (RCJ)
〒203 東京都東久留米市八幡町1丁目1番12号
TEL：0424-71-5142
FAX：0424-72-4961
光ディスク標準化委員会 構成表
氏名
所属
（委員長）
久 保 高 啓
静岡大学
石 井 正 則
日本電気株式会社
石 井 泰 弘
三洋電機株式会社
石 橋 稔
ヘキストジャパン株式会社
伊 藤 武
富士通株式会社
稲 葉 裕 俊
通商産業省
井 上 栄
株式会社東芝
岩 下 隆 二
パイオニア株式会社
応 和 英 男
ソニー株式会社
大 石 完 一
日本ユニシス株式会社
大 島 建
オリンパス光学工業株式会社
太 田 賢 司
シャープ株式会社
大 森 晴 史
イーストマン・コダック株式会社
岡 田 和 夫
三菱電機株式会社
沖 野 芳 弘
松下電器産業株式会社
尾 島 正 啓
株式会社日立製作所
窪 田 恵 一
日本電気株式会社
古 賀 尚 之
株式会社日立製作所
小 林 政 信
沖電気工業株式会社
小 町 祐 史
松下電送株式会社
斉 藤 哲 男
株式会社東芝
笹 森 栄 造
キヤノン株式会社
佐 藤 正 聡
株式会社ニコン
瀬 野 健 治
財団法人パーソナル情報環境協会
西 沢 紘 一
日本板硝子株式会社
西 村 一 敏
日本電信電話株式会社
野 村 龍 男
日本放送協会
舩 木 克 典
ダイセル化学工業株式会社
前 田 巳代三
株式会社富士通研究所
丸 川 章
通商産業省
望 月 重 樹
三井石油化学工業株式会社
山 崎 俊 一
株式会社ジーク
山 田 文 明
日本アイ・ビー・エム株式会社
（オブザーバ）
三 橋 慶 喜
日本板硝子株式会社
久保田 直 基
株式会社加藤スプリング製作所
77
X 6272-1992
2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。
氏名
所属
藤 原 康 博
オリンパス光学工業株式会社
中 島 憲 一
ナカミチリサーチ株式会社
橋 詰 隆
株式会社小野測器
柳 井 治
株式会社シバソク
工 藤 芳 明
大日本印刷株式会社
糸 岡 晃
大日本スクリーン製造株式会社
90mm書換形及び再生専用形光ディスクカートリッジ
JIS原案作成WG 構成表
氏名
所属
（主査）
西 沢 紘 一
日本板硝子株式会社
大 石 完 一
日本ユニシス株式会社
佐 藤 正 聡
株式会社ニコン
岩 下 隆 二
パイオニア株式会社
岡 田 和 夫
三菱電機株式会社
垣 内 志津夫
パイオニア株式会社
窪 田 恵 一
日本電気株式会社
田 所 通 博
三菱電機株式会社
益 井 譲
パイオニア株式会社