X 6256：2019 (ISO/IEC 16963：2017)
（1）
目 次
ページ
序文 ··································································································································· 1
1 適用範囲························································································································· 1
2 引用規格························································································································· 2
3 用語及び定義 ··················································································································· 4
4 略語······························································································································· 5
5 適合性···························································································································· 6
6 慣例及び表記法 ················································································································ 6
6.1 数値表記 ······················································································································ 6
6.2 変数 ···························································································································· 6
6.3 英語名称 ······················································································································ 6
7 測定······························································································································· 6
7.1 総論 ···························································································································· 6
7.2 試験標本 ······················································································································ 8
7.3 記録条件 ······················································································································ 9
7.4 再生条件 ······················································································································ 9
7.5 ディスクの試験位置 ······································································································· 9
8 加速ストレス試験 ············································································································ 10
8.1 一般 ··························································································································· 10
8.2 ストレス条件 ··············································································································· 10
8.3 測定間隔 ····················································································································· 13
8.4 ストレス条件の設定 ······································································································ 13
8.5 光ディスクの置き方 ······································································································ 14
9 寿命推定························································································································ 14
9.1 故障時間 ····················································································································· 14
9.2 加速劣化試験法 ············································································································ 14
9.3 データ解析 ·················································································································· 15
9.4 寿命推定結果 ··············································································································· 15
附属書A（規定）寿命推定法及びデータ解析手順の概要 ····························································· 16
附属書B（規定）制御保存条件での寿命推定（アイリング法） ····················································· 23
附属書C（規定）過酷保存条件での寿命推定（アレニウス法）····················································· 37
附属書D（規定）非破壊的代替ストレス条件 ············································································ 42
附属書E（参考）最ゆう（尤）法を用いたB5ライフの区間推定 ··················································· 44
附属書F（参考）BDディスクのRSER測定 ············································································· 49
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（2）
まえがき
この規格は，工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき，一般財団法人光産
業技術振興協会（OITDA）及び一般財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業
規格を改正すべきとの申出があり，日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が改正した日本工業
規格である。
これによって，JIS X 6256:2014は改正され，この規格に置き換えられた。
この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が，特許権，出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は，このような特許権，出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について，責任はもたない。
日本工業規格 JIS
X 6256：2019
(ISO/IEC 16963：2017)
情報交換及び保存用のデジタル記録媒体−
長期データ保存用光ディスク媒体の
寿命推定のための試験方法
Information technology-Digitally recorded media for information
interchange and storage-Test method for the estimation of lifetime of
optical disks for long-term data storage
序文
この規格は，2017年に第3版として発行されたISO/IEC 16963を基に，技術的内容及び構成を変更する
ことなく作成した日本工業規格で，光ディスク媒体の長期にわたっての情報保存のために，制御保存条件
又は過酷保存条件の下での期待寿命を推定する試験方法を規定する。
なお，この規格で点線の下線を施してある参考事項は，対応国際規格にはない事項である。
1
適用範囲
この規格は，レコーダブル（追記形）光ディスク又は書換形光ディスクに保存した情報の，復元性に対
する期待寿命を推定するための加速劣化試験方法について規定する。
この試験方法は，光ディスクに記録したデータの寿命が対数正規分布に従うという理論的な仮定に基づ
いている。
この試験の詳細は，DVD-R，DVD-RW，DVD-RAM，+R，+RW，CD-R及びCD-RW並びにBDレコー
ダブル及びBD書換形の各フォーマットに対して規定する。この試験は，適切な仕様を代用することによ
って，他の光ディスクに適用してもよい。また，将来の要求に応じて改正されることがある。
この規格は，次を含む。
− ストレス条件
基本的なストレス条件及び厳密なストレス条件。各条件下でのアイリング法を用いる試験及びアレニ
ウス法を用いる試験がある。
− 光ディスク媒体に保存したデータの寿命に関わる環境保存条件
− 25 ℃及び相対湿度50 %の制御保存条件で，常時空気調整機器でよく制御された保存条件を代表し
ている。この保存条件の寿命推定には，アイリング法が適用される。
− 30 ℃及び相対湿度80 %の過酷保存条件で，使用者が光ディスク媒体を取り扱う又は保管するのに
最も過酷な保存条件を代表している。この保存条件の寿命推定には，アレニウス法が適用される。
− 評価システムの記載
− 試験標本の準備及びデータ取得の手順
− 特定の光ディスク媒体に保存した情報の寿命推定方法，及びその定義
2
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− 保存した情報の寿命推定のための試験結果の解析
− 保存した情報の寿命を推定した報告書の書式
ここで規定する寿命推定方法では，温度及び相対湿度だけの劣化モデルを取り扱っている。これ以外の
複合した故障メカニズムによる劣化モデルは取り扱わない。また，光照射，腐食ガス，汚れ，取扱い及び
再生システムのばらつきに関しては試験しない。これらの追加的ストレス，又はこの試験法で規定する温
度及び相対湿度よりも高いレベルにさらすと，光ディスクの使用寿命は短くなると考えられる。
注記1 ISO/IEC 16963:2017は，ISO/IEC Directive Part 2 7th editionの規定に従い，“This International
Standard”の表記を“This document”の表記に改正された。ISO/IEC Directive Part 2 7th edition
の改正に対応して，JIS Z 8301では“This document”に対応した表記が将来定められるもの
と思われるが，現段階では“This document”に相当する箇所は従来どおり“この規格”と記
載した。
注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。
ISO/IEC 16963:2017，Information technology−Digitally recorded media for information
interchange and storage−Test method for the estimation of lifetime of optical disks for
long-term data storage（IDT）
なお，対応の程度を表す記号“IDT”は，ISO/IEC Guide 21-1に基づき，“一致している”
ことを示す。
2
引用規格
次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は，その最新版（追補を含む。）を適用する。
JIS X 6230 情報の交換及び蓄積用のデジタル記録媒体−120 mm単層（25ギガバイト／ディスク）及
び2層（50ギガバイト／ディスク）BDレコーダブルディスク
注記 対応国際規格：ISO/IEC 30190，Information technology−Digitally recorded media for information
interchange and storage−120 mm Single Layer (25,0 Gbytes per disk) and Dual Layer (50,0 Gbytes
per disk) BD Recordable disk
JIS X 6231 情報の交換及び蓄積用のデジタル記録媒体−120 mm 3層片面（100ギガバイト／ディス
ク），3層両面（200ギガバイト／ディスク）及び4層片面（128ギガバイト／ディスク）BDレコ
ーダブルディスク
注記 対応国際規格：ISO/IEC 30191，Information technology−Digitally recorded media for information
interchange and storage−120 mm Triple Layer (100,0 Gbytes single sided disk and 200,0 Gbytes
double sided disk) and Quadruple Layer (128,0 Gbytes single sided disk) BD Recordable disk
JIS X 6232 情報の交換及び蓄積用のデジタル記録媒体−120 mm単層（25ギガバイト／ディスク）及
び2層（50ギガバイト／ディスク）BD書換形ディスク
注記 対応国際規格：ISO/IEC 30192，Information technology−Digitally recorded media for information
interchange and storage−120 mm Single Layer (25,0 Gbytes per disk) and Dual Layer (50,0 Gbytes
per disk) BD Rewritable disk
JIS X 6233 情報の交換及び蓄積用のデジタル記録媒体−120 mm 3層（100ギガバイト／ディスク）
BD書換形ディスク
3
X 6256：2019 (ISO/IEC 16963：2017)
注記 対応国際規格：ISO/IEC 30193，Information technology−Digitally recorded media for information
interchange and storage−120 mm Triple Layer (100,0 Gbytes per disk) BD Rewritable disk
JIS X 6246 120 mm（4.7 GB／面）及び80 mm（1.46 GB／面）DVD−書換形ディスク（DVD-RAM）
注記 対応国際規格：ISO/IEC 17592，Information technology−120 mm (4,7 Gbytes per side) and 80 mm
(1,46 Gbytes per side) DVD rewritable disk (DVD-RAM)
JIS X 6248 80 mm（1.46 GB／面）及び120 mm（4.70 GB／面）DVDリレコーダブルディスク
（DVD-RW）
注記 対応国際規格：ISO/IEC 17342，Information technology−80 mm (1,46 Gbytes per side) and 120
mm (4,70 Gbytes per side) DVD re-recordable disk (DVD-RW)
JIS X 6249 80 mm（1.46 GB／面）及び120 mm（4.70 GB／面）DVDレコーダブルディスク（DVD-R）
注記 対応国際規格：ISO/IEC 23912，Information technology−80 mm (1,46 Gbytes per side) and 120
mm (4,70 Gbytes per side) DVD Recordable Disk (DVD-R)
JIS X 6250 120 mm（4.7 GB／面）及び80 mm（1.46 GB／面）+RWフォーマット光ディスク（4倍速
まで）
注記 対応国際規格：ISO/IEC 17341，Information technology−Data interchange on 120 mm and 80 mm
optical disk using +RW format−Capacity: 4,7 Gbytes and 1,46 Gbytes per side (recording speed up
to 4X)
JIS X 6251 120 mm（4.7 GB／面）及び80 mm（1.46 GB／面）+Rフォーマット光ディスク（16倍速
まで）
注記 対応国際規格：ISO/IEC 17344，Information technology−Data interchange on 120 mm and 80 mm
optical disk using +R format−Capacity: 4,7 Gbytes and 1,46 Gbytes per side (recording speed up to
16X)
JIS X 6252 120 mm（8.54 Gbytes／面）及び80 mm（2.66 Gbytes／面）2層DVDレコーダブルディス
ク（DVD-R for DL）
注記 対応国際規格：ISO/IEC 12862，Information technology−120 mm (8,54 Gbytes per side) and 80
mm (2,66 Gbytes per side) DVD recordable disk for dual layer (DVD-R for DL)
JIS X 6282 情報交換用120 mm追記形光ディスク（CD-R）
注記 対応国際規格：ECMA-394，Recordable Compact Disc Systems CD-R Multi-Speed
JIS X 6283 情報交換用120 mmリライタブル光ディスク（CD-RW）
注記 対応国際規格：ECMA-395，Recordable Compact Disc Systems CD-RW Ultra-Speed
ISO/IEC 13170，Information technology−120 mm (8,54 Gbytes per side) and 80 mm (2,66 Gbytes per side)
DVD re-recordable disk for dual layer (DVD-RW for DL)
ISO/IEC 25434，Information technology−Data interchange on 120 mm and 80 mm optical disk using +R DL
format−Capacity: 8,55 Gbytes and 2,66 Gbytes per side (recording speed up to 16X)
ISO/IEC 26925，Information technology−Data interchange on 120 mm and 80 mm optical disk using +RW
HS format−Capacity: 4,7 Gbytes and 1,46 Gbytes per side (recording speed 8X)
ISO/IEC 29642，Information technology−Data interchange on 120 mm and 80 mm optical disk using +RW
DL format−Capacity: 8,55 Gbytes and 2,66 Gbytes per side (recording speed 2,4X)
4
X 6256：2019 (ISO/IEC 16963：2017)
3
用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は，次による。
3.1
アレニウス法（Arrhenius method）
相対湿度を一定とし，温度だけを変化させる加速劣化試験モデル。
3.2
初期状態（baseline）
ストレス条件にさらす前の光ディスクの初期記録品質の状態（例えば，ストレス時間t＝0で測定する初
期データエラー）。
3.3
基本ストレス条件（Basic stress-condition）
時間及び労力に無理のない，光ディスクに保存した情報の寿命を推定するための加速劣化試験条件。
3.4
B5ライフ（B5 Life）
寿命分布の第5分位点（母集団の5 %が故障する時間），すなわち，母集団の95 %が生存する時間。
3.5
(B5ライフ)L［(B5 Life)L］
B5ライフの95 %下側信頼限界。
3.6
B50ライフ（B50 Life）
寿命分布の第50分位点（母集団の50 %が故障する時間），すなわち，母集団の50 %が生存する時間。
3.7
制御保存条件（Controlled storage-condition）
光ディスク媒体に保存した情報の寿命が延びることが期待できる，25 ℃及び相対湿度50 %を保つよう
に常時空気調整され，よく制御された保存条件。
3.8
アイリング法（Eyring method）
温度及び相対湿度の組合せの影響に基づいた加速劣化試験モデル。
3.9
データエラー（data error）
誤り訂正前の光ディスクの情報誤り。
3.10
過酷保存条件（Harsh storage-condition）
光ディスク媒体に保存した情報の寿命が短くなる可能性がある，使用者が光ディスク媒体を取り扱う又
は保管するのに最も過酷な，30 ℃及び相対湿度80 %の保存条件。
3.11
インキュベーション（incubation）
試験標本を制御した温度及び相対湿度で保持し保管するプロセス。
5
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3.12
LDCブロック（LDC Block）
長距離符号を使ったBDのECCブロック。
（出典：JIS X 6230，13.6）
3.13
最大データエラー（Maximum Data Error）
光ディスクの指定した領域で測定されたデータエラーの最大値。
注記 BDレコーダブルSL/DL，BDレコーダブルTL/QL，BD書換形SL/DL及びBD書換形TLの各
ディスクの場合，RSERの最大値。DVD-R，DVD-RW，+R及び+RWの各ディスクの場合，PI Sum
8の最大値。DVD-RAMディスクの場合，BERの最大値。CD-R及びCD-RWの各ディスクの場
合，C1 Ave 10の最大値。
3.14
復元性（retrievability）
記録したとおりに物理的に記録された情報を回復するための能力。
3.15
RH（RH）
%の単位記号とともに使用する相対湿度を表す変数。
3.16
厳密ストレス条件（Rigorous stress-condition）
光ディスクに保存した情報の寿命を推定するための，より信頼性の高い加速劣化試験条件。
3.17
シェルフライフ（shelf life）
未記録のディスクをある特定の条件で保管した後に，各ディスク規格で規定した要求事項の性能を満た
すことができる保管最大時間。
3.18
シェルフ時間（shelf time）
未記録ディスクを保管した時間。
3.19
ストレス（stress）
インキュベーション（3.11参照）時間区分に加速劣化を生じさせる温度及び相対湿度の変数。
3.20
システム（system）
情報の記録，復元及び再生に使用されるハードウェア，ソフトウェア，光ディスク及び関連文書の組合
せ。
3.21
Temp（Temp）
℃の単位記号とともに使用する摂氏の温度を表す変数。
4
略語
BER
バイトエラーレート（Byte Error Rate）
6
X 6256：2019 (ISO/IEC 16963：2017)
BLER
ブロックエラーレート（Block Error Rate）
DL
2層（Dual Layer）
ECC
エラー訂正符号（Error-Correction Code）
LDC
長距離符号（Long-Distance Code）
PI
内符号パリティ［Parity (of the) Inner (code)］
QL
4層（Quadruple Layer）
RSER
ランダムシンボルエラーレート（Random Symbol Error Rate）
SER
シンボルエラーレート（Symbol Error Rate）
SL
単層（Single Layer）
TL
3層（Triple Layer）
5
適合性
この加速劣化試験法で試験する光ディスクは，そのフォーマットに必須な全ての引用規格に適合してい
なければならない。
6
慣例及び表記法
6.1
数値表記
測定値は，対応する指定規格値の最小有効数字に丸められる。例えば，正の許容差が＋0.01及び負の許
容差が−0.02である指定規格値1.26の場合，測定値の範囲は，1.235から1.275までとなる。
6.2
変数
文字の上に“＾”の記号を付けた変数は，その値を推定によって求めたことを示す。
6.3
英語名称
この規格のために特有の定義をした英語名称は，大文字の頭文字で示す。
7
測定
7.1
総論
7.1.1
ストレスインキュベーション及び測定
ディスク標本グループは，アイリング法を用いる場合，基本ストレス条件では四つのストレス条件，厳
密ストレス条件では五つのストレス条件で測定し，アレニウス法を用いる場合，基本ストレス条件では三
つのストレス条件，厳密ストレス条件では四つのストレス条件で測定する。
各ストレス条件での総インキュベーション時間は，インキュベーション時間区分で分割される。時間区
分の目的は，解析中の指数関数の曲線に合う近似データを可能にする，十分な数のデータ点を供すること
にある。各グループの各ディスクは，ストレス条件にさらす前に，初期のデータエラーを測定しておく。
その後，各ディスクについて，ストレス条件に対応したインキュベーション時間区分終了の度に，データ
エラーを測定する。そのとき，測定器をモニタする参照ディスクの測定も行ってもよい。
7.1.2
前提条件
この規格を試験したディスクに適用できるかの判断は，次の前提条件による。
− 標本の寿命分布は，統計的分布によって適切にモデル化できる。
− 二つのストレス（温度及び相対湿度）を用いるアイリング法が適用できる。
− 通常の使用条件での支配的な故障メカニズムは，加速条件での故障メカニズムと同じである。
7
X 6256：2019 (ISO/IEC 16963：2017)
− ディスクの初期記録品質及び寿命推定において，この試験の結果に影響を与えないような記録がドラ
イブでできる。
− 情報を復元するために必要なハードウェア及びソフトウェアシステムが使用できる。
− 再生ソフトウェアによって，ディスクに記録されたフォーマットが認識でき，かつ，解釈できる。
7.1.3
データエラー
7.1.3.1
一般
ディスクのデータエラーは，7.5で定義するディスク内の試験位置で測定する。各フォーマットに対して
故障時間の推定に使用する最大データエラーは，次のように決める。
− JIS X 6230，JIS X 6231，JIS X 6232及びJIS X 6233で定義したBDレコーダブルSL/DL，BDレコー
ダブルTL/QL，BD書換形SL/DL及びBD書換形TLの各ディスクは，RSERの最大値（最大RSER）
で決める。
− JIS X 6249（又はJIS X 6252）で定義したDVD-R，JIS X 6248（又はISO/IEC 13170）で定義したDVD-RW，
JIS X 6251（又はISO/IEC 25434）で定義した+R及びJIS X 6250（又はISO/IEC 26925及びISO/IEC
29642）で定義した+RWの各ディスクは，PI Sum 8の最大値（最大PI Sum 8）で決める。
− JIS X 6246で定義したDVD-RAMディスクは，BERの最大値（最大BER）で決める。
− JIS X 6282及びJIS X 6283で定義したCD-R及びCD-RWの各ディスクは，C1 Ave 10の最大値（最大
C1 Ave 10）で決める。
7.1.3.2
RSER
各JIS X 6230，JIS X 6231，JIS X 6232及びJIS X 6233でランダムシンボルエラーレート（RSER）は，
次のように定義する。
分子分母共に40バイト長以上のバーストエラー中の全てのエラーバイトを除いたSERであり，次によ
る。
(
)
∑
∑
=
=
−
×
−
N
i
i
N
i
i
i
E
N
E
E
1
,b
1
,b
,a
392
75
ここに
i
E,a： LDCブロックi中のエラーバイトの総数
i
E,b： LDCのブロックi中の40バイト長以上のバーストエラー中
のエラーバイトの総数
N： LDCのブロック数
RSERは，全てのブロックを連続記録の条件又はディスク欠陥を除いて不連続記録の条件のいずれかで，
任意の連続した10 000 LDCブロックで平均化する。
バーストエラーは，任意の二つのエラーバイトの間に，二つを超える正しいバイトがないときの，一連
のバイトで定義する。
バーストエラーを決めるために，バイトはディスクに記録したものと同じ順番で配置する。バーストエ
ラー長は，少なくとも3バイト長以上の正しいバイトで，その前のエラーバイトから分離された最初のエ
ラーバイトから数え始め，次の3バイト長以上の正しいバイトで分離される最後のエラーバイトまでを数
えた，総バイト数で定義する。
バースト中のエラーバイト数は，実際のバースト中で正しくないバイト数で定義する（図1の例を参照）。
7.5で定義の領域で測定したRSERの最大値（最大RSER）は，10−3を超えない。
8
X 6256：2019 (ISO/IEC 16963：2017)
x
c
c
c
x
x
c
c
x
c
x
x
x
c
c
c
...
c
x
バースト長は，9 バイト
バースト中のエラーバイト数は，6
c = 正しいバイト，x = エラーバイト
図1−バーストエラーの例
7.1.3.3
PI Sum 8
JIS X 6241又はJIS X 6242で示すように，1個のECCブロックの1行に少なくとも1バイトのエラーが
ある場合，一つのPIエラーとなる。PI Sum 8は，任意の連続する8個のECCブロックにわたって測定さ
れるPIエラーの総数である。エラー訂正前のPIエラーの最大値は，最大PI Sum 8とも呼び，7.5で規定
する領域全体で測定した値は，280以下とする。
7.1.3.4
BER
エラーシンボルの数は，任意の連続した32個のECCブロックのエラー訂正前のデコーダの最初のパス
で測定する。BERは，エラー訂正前のエラーシンボルの数を，連続する32個のECCブロックに含まれる
シンボルの総数で除したものである。7.5で規定する領域全体で測定したBERの最大値（最大BER）は，
10−3以下とする。
7.1.3.5
C1 Ave 10
JIS X 6281では，任意の10秒間にわたって平均したBLERは，3×10−2未満と規定している。標準デー
タ転送レート（1X）では，1秒当たりC1デコーダに入力される総ブロック数は7 350個となる。
したがって，任意の10秒間の平均から算出されるエラー訂正前の1秒当たりのC1エラー数は，C1 Ave
10と呼ぶ。7.5で規定する領域全体で測定した最大の値（最大C1 Ave 10）は，220以下とする。
7.1.4
データ品質
データ品質の検査は，推定故障時間の値とこれに対応するメディアンランクとの対をグラフ上にプロッ
トし，このプロット点を，各々のストレス条件ごとに，直線で最適近似することで行う（図B.1参照）。そ
の後，各ストレス条件から得られたそれぞれの直線がほぼ平行かどうかを検査する。
7.1.5
回帰
対数予測故障時間は，回帰によって計算する。
アイリング法を使用する場合は重回帰を，アレニウス法を使用する場合は単回帰を用いる。
7.2
試験標本
ディスクの標本グル−プは，構成，材料，製造工程，品質及び完成品のばらつきを代表していなければ
ならない。
シェルフライフを配慮しなければならない。記録及び試験前のディスクのシェルフ時間が長ければ，試
験の結果に影響することがあるので留意する。シェルフ時間は，光ディスクを通常使用する場合に想定さ
れる範囲内でなければならない。
注記 ディスク製造業者の協力が得られる場合には，可能な限り多くの製造ロットから集めたディス
クを使用することが望ましい。
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X 6256：2019 (ISO/IEC 16963：2017)
7.3
記録条件
7.3.1
一般
加速劣化試験をする前に，ディスクは関連規格の規定に従って，実用にあった最適な記録をしなければ
ならない。書込み中のOPC（最適パワー制御）によって，記録したディスクのデータエラーを最小とする。
一般に，最適に記録されたディスクの予測寿命は最長となることが分かっている。データエラー及びその
他の全てのパラメータが，それぞれの規格の規定を満たすとき，ディスクは加速劣化試験に適すると判断
してもよい。
記録試験装置として，商業ドライブを用いるか又は特別な装置を用いるかは試験者の裁量の範囲内であ
るが，全ての規定を満たす記録ができなければならない。
試験での記録速度は，明記しなければならない。
注記 ディスクに記録されたデータの期待寿命は，記録速度を含む記録条件の影響を受けることが見
込まれる。
7.3.2
記録試験環境
記録するときのディスク近傍の大気の特性は，次による。
− 温度 ：23 ℃〜35 ℃
− 相対湿度：45 %〜55 %
− 大気圧 ：60 kPa〜106 kPa
ディスクに結露があってはならない。記録試験前に，ディスクを最低48時間この環境に置かなければな
らない。さらに，ディスク製造業者の指示に従って，入射面の汚れを取り除くことが望ましい。
7.4
再生条件
7.4.1
再生試験装置
標本ディスクは，箇条2で引用したフォーマット規格に従って，読み取らなければならない。
7.4.2
再生試験環境
データエラーを測定するときのディスク近傍の大気の特性は，次による。
− 温度 ：23 ℃〜35 ℃
− 相対湿度：45 %〜55 %
− 大気圧 ：60 kPa〜106 kPa
別に規定しない限り，この再生試験環境で測定しなければならない。
7.4.3
校正
試験装置は，製造業者が指定した校正ディスクを用いて，ディスク試験前に必要とされる校正をするこ
とが望ましい。参照ディスクは，室温条件で保持し，ディスクの標本グループの測定に合わせて，初期及
び各ストレス時間区分後に，データエラーを測定することが望ましい。
参照ディスクのデータエラーの平均及び標準偏差は，5回以上測定して算出する。個々のデータエラー
の読取値が，平均値より標準偏差の3倍以上となる場合は，問題点を解決し，問題発生以降に収集した全
てのデータを再測定しなければならない。
7.5
ディスクの試験位置
7.5.1
一般
データエラーを測定するディスクの試験位置は，厳密試験位置又は基本試験位置とする。厳密試験位置
は，厳密ストレス条件と合わせて適用することが望ましい。基本試験位置は，基本ストレス条件と合わせ
て適用することが望ましい。厳密試験位置及び基本ストレス条件の組合せ並びに基本試験位置及び厳密ス
10
X 6256：2019 (ISO/IEC 16963：2017)
トレス条件の組合せも適用可能である（8.2.1参照）。
7.5.2
厳密試験位置
厳密試験位置は，ディスク上の全てのデータ領域である。
7.5.3
基本試験位置
基本試験位置は，表1で示すとおり，ディスク上の内周，中周及び外周の半径位置から均等に区切られ
た，三つ以上の領域である。試験の全領域は，ディスク全領域の5 %以上とする。BDレコーダブル／書換
形の各ディスクの場合，各層の三つの各試験領域は，10 000 LDCブロックよりも多くする。DVD-R，
DVD-RW，DVD-RAM，+R及び+RWの各ディスクの場合，各層の三つの各試験領域は，80 mmディスク
で750 ECCブロックよりも多く，120 mmディスクで2 400 ECCブロックよりも多くする。CD-R及びCD-RW
の各ディスクの場合，三つの各試験領域は，5 900 セクタよりも多くする。
表1−三つの試験領域の公称半径
単位 mm
領域
BDレコーダブル
及びBD書換形
（SL，DL，TL及びQL）
（最内半径）
DVD-R，DVD-RW，
+R及び+RW
（単層又は2層）
（最内半径）
DVD-RAM
CD-R及び
CD-RW
（最内半径）
120 mm
ディスク
80 mm
ディスク
120 mm
ディスク
80 mm
ディスク
120 mm
ディスク
120 mm
ディスク
領域1
25.0
25.0
25.0
24.1 〜 25.0
24.1 〜 25.0
25.0
領域2
40.0
30.0
40.0
29.8 〜 30.8
39.4 〜 40.4
40.0
領域3
55.0
35.0
55.0
34.6 〜 35.6
54.9 〜 55.8
55.0
注記 多層ディスクの場合，外周に層間をまたぐデータを含む試験領域を追加することが望ましい。
8
加速ストレス試験
8.1
一般
光ディスクの寿命推定のために加速ストレス試験を行う。この規格では，試験に必要な全ての情報を提
供する。
8.2
ストレス条件
8.2.1
一般
この試験方法のストレス条件とは，温度及び／又は相対湿度を上げることである。ストレス条件は，環
境条件又は使用条件で通常生じる化学反応速度に対し，これを加速するために用いる。その化学反応は，
材料特性を劣化させ，ディスクの故障を引き起こす要因になると考えられる。
アイリング法を使用する場合，厳密ストレス条件の試験には5条件を使用する。そして，それらのスト
レス条件に使用しなければならない最小標本数を表2に示す。アイリング法を使用する場合の基本ストレ
ス条件に使用しなければならない4条件，及び各ストレス条件における最小標本数を表3に示す。精度を
向上したい場合には，標本数及びストレス条件を追加してもよい。
各ストレス条件の総インキュベーション時間は，最小総インキュベーション時間以上とする。厳密スト
レス条件の最小総インキュベーション時間を，表2に規定する。基本ストレス条件の最小総インキュベー
ション時間を，表3に規定する。あるストレス条件で全ての標本のデータエラーが最小総インキュベーシ
11
X 6256：2019 (ISO/IEC 16963：2017)
ョン時間に達する前に故障判断基準（9.1参照）をはるかに超え，試験を続行することが不適切と判断され
る場合は，そのストレス条件の試験を中止してもよい。
インキュベーションの時間区分は，最大インキュベーション時間区分以下とする。厳密ストレス条件の
最大インキュベーション時間区分を，表2に規定する。基本ストレス条件の最大インキュベーション時間
区分を，表3に規定する。
インキュベーション時間区分の個数は，総インキュベーション時間及びインキュベーション時間区分に
よって変わる。例えば表2及び表3では，各ストレス条件の総インキュベーション時間は，最大インキュ
ベーション時間区分と最小総インキュベーション時間との組合せの場合には，各々同じ長さのインキュベ
ーション時間区分で5個及び4個に分割している。標本が最小総インキュベーション時間に達する前に故
障判断基準（9.1参照）に達する場合を考えて，インキュベーション時間区分の個数を4個以上にすること
が望ましい。
アレニウス法を使用する場合のストレス条件を，表C.1及び表C.2に示す。
各インキュベーション時間区分での温度及び相対湿度は，表4及び図2に示すとおりに制御する。
表2−アイリング法を使用する場合の厳密ストレス条件
試験標
本グル
ープ
試験ストレス条件
（インキュベーション）
最小
標本数
最大インキュベー
ション時間区分
最小総インキュベー
ション時間
中間相対
湿度
最小平衡
保持時間
Temp
（℃）
RH
（%）
（h）
（h）
RH
（%）
（h）
A
85
80
20
300
1 500
30
7
B
85
70
20
400
2 000
30
6
C
85
60
20
600
3 000
30
5
D
75
80
20
600
3 000
32
8
E
65
80
30
800
4 000
35
9
表3−アイリング法を使用する場合の基本ストレス条件
試験標
本グル
ープ
試験ストレス条件
（インキュベーション）
最小
標本数
最大インキュベー
ション時間区分
最小総インキュベー
ション時間
中間相対
湿度
最小平衡
保持時間
Temp
（℃）
RH
（%）
（h）
（h）
RH
（%）
（h）
A
85
80
20
250
1 000
30
7
B
85
70
20
250
1 000
30
6
C
65
80
20
500
2 000
35
9
D
70
75
30
625
2 500
33
11
注記 総インキュベーション時間及びインキュベーション時間区分は，試験される光ディスクの劣化
特性に応じて決定することが望ましい。最小総インキュベーション時間内に故障判断基準に一
つのストレス条件だけが達する又は一つも達しない状況の場合，全てのストレス条件で試験を
延長し，少なくとも二つのストレス条件で故障判断基準に達するようにすることが望ましい。
8.2.2
温度
この試験計画では，次のことを考慮して温度レベルが選択される。
試験温度の全範囲において，試験システムのうちで水分の（固体，液体，気体などの）相の変化があっ
12
X 6256：2019 (ISO/IEC 16963：2017)
てはならない。このことから試験温度の範囲は，0 ℃を超え100 ℃未満に制限される。
ディスク構造内のいずれにおいても，プラスチックの変形が生じるほど高温にしてはならない。試験さ
れるディスクにとってストレス条件が破壊的であると考えられる場合は，代替ストレス条件について附属
書Dを参照。
通常のディスク基板の素材は，ポリカーボネートである（ガラス転移温度：約150 ℃）。他の層のガラ
ス転移温度は，これよりも低い可能性がある。BDレコーダブル／書換形，DVD-R/RW/RAM，+R/+RW及
びCD-R/RWの各ディスクは，経験によれば85 ℃で加速してもほとんどの場合問題ないことが知られてい
る。
8.2.3
相対湿度
一般に，加速劣化試験における相対湿度は，恒温恒湿槽の性能から相対湿度80 %までは経験上使える。
8.2.4
インキュベーション及び傾斜プロファイル
相対湿度の傾斜（時間変化）プロファイルは，ディスク基板上の結露を避け，ディスク基板の湿度をゆ
っくり変化させて，最終的にディスク基板が室温条件と平衡状態になることを意図している。これを達成
するには，次のようにする。ストレスインキュベーション温度を保持して，恒温恒湿槽内の含水量を変化
させる。このとき，水のポリカーボネートへの拡散係数に基づいて十分な時間をかけて湿度を傾斜的に低
減し，平衡状態へ到達させる。
表4−各インキュベーション時間区分の温度及び相対湿度の傾斜プロファイル
プロセスステップ
温度
（℃）
相対湿度
（%）
時間
（h）
開始
Tamb
RHamb
−
温度上昇
相対湿度下降
Tincまで
RHintまで
1.5±0.5
相対湿度上昇
Tinc
RHincまで
1.5±0.5
高温高湿保持
（インキュベーション）
Tinc
RHinc
表2又は表3参照
相対湿度下降
Tinc
RHintまで
1.5±0.5
平衡保持
Tinc
RHint
表2又は表3参照
温度下降
相対湿度上昇
Tambまで
RHambまで
1.5±0.5
終了
Tamb
RHamb
−
amb：室温条件での温度又は相対湿度（Tamb又はRHamb）
inc：ストレスインキュベーション温度又は相対湿度（Tinc又はRHinc）
int：Tamb及びRHambで保持されるのと同じ平衡水分吸収率をTincで保持する中間相対湿度
（RHint）
13
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図2−各インキュベーション時間区分の傾斜プロファイルの典型例
8.3
測定間隔
データ収集のために，各ディスクについて，RSER（BDレコーダブルSL/DL，BDレコーダブルTL/QL，
BD書換形SL/DL及びBD書換形TLの各ディスク），PI Sum 8（DVD-R，DVD-RW，+R及び+RWの各デ
ィスク），BER（DVD-RAMディスク）又はC1 Ave 10（CD-R及びCD-RWの各ディスク）を測定する。
測定は，次による。
a) 初期状態を確認するためにディスクをストレス条件にさらす前に，測定する。
b) 各インキュベーション時間区分の後に，測定する。
測定間隔は，ストレス条件の厳しさによって決まる。
最小総インキュベーション時間内に標本の全てのデータエラーが故障判断基準（9.1参照）に達しない場
合は，ある特定のストレス条件の試験を中止してもよい（A.2.1参照）。
8.4
ストレス条件の設定
標本グループは各ストレス条件ごとに分けて用いる。
厳密ストレス条件の表2及び基本ストレス条件の表3は，各ストレス条件の温度，相対湿度，最大イン
キュベーション時間区分，最小総インキュベーション時間及び最小標本数を規定する。全ての温度は，規
定された温度から±2 ℃までの許容範囲に保たなければならない。全ての相対湿度は，規定された相対湿
度から±3 %までの許容範囲に保たなければならない。
表2及び表3の中間相対湿度（RHint）は，温度25 ℃及び相対湿度50 %の室温条件を想定して計算して
いる。環境条件が異なる場合，使用する中間相対湿度は，次による。
amb
inc
amb
int
7
003
.0
24
.0
7
003
.0
24
.0
RH
T
T
RH
×
×
+
×
+
=
ここに，
Tamb： 環境条件での温度（℃）
Tinc： インキュベーション温度（℃）
RHamb： 環境条件での相対湿度（%）
RHint： 中間相対湿度（%）
表2，表3及び表4で示すストレス条件は，アイリング法の数学的要件を満たすために，十分な温度と
14
X 6256：2019 (ISO/IEC 16963：2017)
相対湿度との組合せを提供する。
8.5
光ディスクの置き方
この試験の実施対象である各光ディスクは，インキュベーションにおいて，それぞれ垂直に保持し，デ
ィスク間は最小2 mm離して配置する。これによってディスク間の空気を流動させることが可能となり，
エラーレートの測定に悪影響を与える可能性のあるディスク表面の堆積物を最小化できる。
9
寿命推定
9.1
故障時間
理想的にはストレス条件におかれた全ての光ディスクは，与えられたストレス条件に応じて計算できる
故障時間をもつことが望ましい。ディスクの故障時間は，最大データエラーを含む試験データで決められ
る（A.2.1参照）。しかしながら，あるストレス条件で一つの故障時間も得られない場合は，A.2.3を参照。
故障判断基準の値は，次による。
− BDレコーダブルSL/DL，BDレコーダブルTL/QL，BD書換形SL/DL及びBD書換形TLの各ディス
クについては，10−3を超える最大RSER（附属書F参照）
− DVD-R，DVD-RW，+R及び+RWの各ディスクについては，280を超える最大PI Sum 8
− DVD-RAMディスクについては，10−3を超える最大BER
− CD-R及びCD-RWの各ディスクについては，220を超える最大C1 Ave 10
ディスクのデータエラーは，ディスク材料の劣化の結果によると推定される。材料の化学変化によって，
一般に時間の経過とともに，試験データが指数関数的に変化すると期待され，そのため，時間の関数とし
てのPI Sum 8，BER，C1 Ave 10又はRSERの試験の値は，指数関数的分布をもつことが期待される。
最小二乗法など時間に対する試験データの回帰によって，エラー傾向に適する最良の関数（エラー関数）
を見つけることができる。ディスクの故障時間は，エラー関数及び故障判断基準を用いて計算することが
できる。しかし，故障時間の決定ができないと判断した場合は，故障時間欠落のケースとして取り扱うこ
とが望ましい（A.2.1参照）。
9.2
加速劣化試験法
9.2.1
アイリング加速劣化モデル（アイリング法）
アイリング法では，熱力学の法則から次の方程式を導き出し，それを使って，温度及び相対湿度の二つ
のストレス条件を扱うことができる。
RH
T
kT
He
e
T
t
×
+
∆
=
)
C
B
(
a
A
ここに，
t： 故障時間
A： 定数
Ta： 温度係数
ΔH： 活性化エネルギー
k： ボルツマン定数（1.380 7×10−23 J/K）
T： 温度（K）
B，C： 定数
この規格では温度T（K）は，T＝273.15＋Tempとする。
この試験法の温度範囲では，“a”及び“C”はゼロに設定する。アイリング式は，次のいずれかに簡略
化できる。
RH
kT
H
e
e
t
×
∆
=
B
A
15
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()
()
RH
kT
H
t
×
+
∆
+
=
B
A
ln
ln
9.2.2
アレニウス加速劣化モデル（アレニウス法）
アレニウス法では加速劣化に温度ストレスだけを用いている。
故障時間は，次のアレニウスモデル式に従うと仮定される。
kT
H
e
t
∆
=A
()
()
kT
H
t
∆
+
=
A
ln
ln
9.3
データ解析
データ解析及びデータの有効性の判定法は，次の附属書に含まれる。
− 附属書A（規定）： 寿命推定法及びデータ解析手順の概要
− 附属書B（規定）： 制御保存条件での寿命推定（アイリング法）
− 附属書C（規定）： 過酷保存条件での寿命推定（アレニウス法）
− 附属書E（参考）： 最ゆう（尤）法を用いたB5ライフの区間推定
9.4
寿命推定結果
データ解析による寿命推定の結果の報告には，次の内容を含む。
a) この規格の規格番号及び名称
b) 寿命の推定をする保存環境条件
制御保存条件（25 ℃及び相対湿度50 %）又は過酷保存条件（30 ℃及び相対湿度80 %）
c) ディスク試験位置
厳密試験位置又は基本試験位置（7.5参照）
d) ストレス試験条件
厳密ストレス条件又は基本ストレス条件，及び代替条件が使用されたか否か。
e) 試験に用いた記録速度条件（7.3参照）
f)
故障時間データ
完全データか又は故障時間欠落の補完を含むデータか。
g) 標本の情報
各ストレス条件で試験した標本数
h) 推定方法及び推定データ
最小二乗法を使った最ゆう（尤）法か又は加速係数法か，及び対数標準偏差の推定値
i)
最小二乗法を使った最ゆう（尤）法のB50ライフ，B5ライフ及びB5ライフの95 %下側信頼限界［(B5
ライフ)L］
加速係数法のB50ライフ，B5ライフ及びB5ライフの第5分位点の点推定（B5Vライフ）
16
X 6256：2019 (ISO/IEC 16963：2017)
附属書A
（規定）
寿命推定法及びデータ解析手順の概要
A.1 寿命推定のためのデータ解析
A.1.1 一般
寿命推定のデータ解析は，次の前提条件に基づいている。
− 光ディスクに記録されたデータの寿命は，対数正規分布に従う。
− アイリング法は，制御保存条件（25 ℃及び相対湿度50 %）の場合に使用される（附属書B参照）。
− アレニウス法は，過酷保存条件（30 ℃及び相対湿度80 %）の場合に使用される（附属書C参照）。
最ゆう（尤）法（附属書E参照）は，正確な解析及び区間推定に適用される。それゆえ，この規格の寿
命推定は，最ゆう（尤）法を用いた推定に基づいて規定する。
最ゆう（尤）法の計算は複雑で簡単にはできない。寿命データが完全データで，その分布が対数正規分
布の場合，推定寿命は最小二乗法を使っても計算が可能であり，また，計算結果は最ゆう（尤）法の計算
結果と同じになる。したがって，完全データの場合は，比較的計算が簡単な母集団の推定をする実用的な
計算方法として最小二乗法を採用している。
寿命のデータが完全データでなく故障時間が欠落している場合は，参考の細分箇条としてA.2.4に推定
方法を示す。
加速係数法は，DVDディスクの寿命推定に広く使用されてきた。過去のデータとの関連で評価を必要と
する場合，A.2.6及びB.3に説明する加速係数法を参照することができる。
多層ディスクでは，加速条件によっては，各インキュベーション区分時間の後で最大データエラーが異
なる層で生じる場合がある。その場合，まず最初に最大データエラーに異常値がないかどうかを確認する
ことが望ましい。最大データエラーが異なる層で生じる場合は，多層ディスクの故障時間は各層ごとに推
定し，その各層の故障時間の中の最小値をディスクの故障時間とすることが望ましい。
A.1.2 対数正規モデル並びに
5
lnBˆ及び
50
lnBˆの点推定
故障時間tは対数正規分布LN(μ,σ2)するため，対数寿命（y＝lnt）は，正規分布N(μ,σ2)に従う。ここに，
μ及びσ2は，それぞれyの期待値及び分散である。
μは，xの関数として，次による。
()
z
σ
μ
y
+
=
x
z
σ
x
β
x
β
β
+
+
+
=
2
2
1
1
0
ここに，
z： N(0,σ2)の分位点
β0： lnA
β1： ΔH/k
β2： B
A及びB： 定義は9.2.1参照
x1： 温度に関連した変数でx1＝1/T
x2： 相対湿度に関連した変数でx2＝RH
注記 xは，2次元（x1，x2）のベクトルである。
寿命分布の第p分位点又はBpライフは，信頼性工学の分野では広く使われている。ln Bpの点推定は，次
17
X 6256：2019 (ISO/IEC 16963：2017)
による。
σ
z
x
β
x
β
β
B
p
p
ˆ
ˆ
ˆ
ˆ
ˆ
ln
100
2
2
1
1
0
+
+
+
=
寿命分布の第5分位点及び第50分位点の点推定は，次による。
σ
x
β
x
β
β
B
ˆ
64
.1
ˆ
ˆ
ˆ
ˆ
ln
20
2
10
1
0
5
−
+
+
=
20
2
10
1
0
50
ˆ
ˆ
ˆ
ˆ
ln
x
β
x
β
β
B
+
+
=
ここに，
x10，x20： 制御保存条件（25 ℃，相対湿度50 %）
x10： x10＝1/(273.15＋25)
x20： x20＝50
注記 寿命推定の目的は，母集団の寿命を推定することにある。したがって，σ2は，不偏分散である。
A.1.3 光ディスク（寿命）の区間推定
光ディスクの対数寿命
p
Bˆ
ln
の区間推定は下側限界だけを考えればよい。対数寿命
p
Bˆ
ln
の(100−α) %の下
側信頼限界は，次による。
(
)
)
ˆ
var(ln
ˆ
ln
ˆ
ln
100
L
p
α
p
p
B
z
B
B
+
=
ここに，
)
ˆ
var(ln
p
B：
p
Bˆ
ln
の分散（附属書E参照）
A.1.4 最小二乗法によるβ及びσの推定
i番目の標本に対する線形重回帰モデルは，次による。
ij
j
j
ij
ε
x
β
x
β
β
y
+
+
+
=
2
2
1
1
0
(i = 1〜nj) (j = 1〜J)
ここに，
εij： 誤差
nj： 各グループの標本数
J： グループの総数
推定値
jyˆは，次による。
j
j
j
x
β
x
β
β
y
2
2
1
1
0
ˆ
ˆ
ˆ
ˆ
+
+
=
ここに，
x1j： x1j＝1/[273.15＋Tj (単位 ℃)]
x2j： x2j＝RHj
また，残差平方和Seは，次による。
(
)
∑
∑
=
=
−
=
j
n
i
j
ij
J
j
e
y
y
S
1
2
1
ˆ
寿命データが完全データで対数正規分布の場合，最小二乗法で求めた推定回帰係数は，最ゆう（尤）法
で推定したものと同じになり，寿命推定に使用することができる。最小二乗法で得た計算結果を利用する
方法を次に示す。
jyˆの推定回帰係数は，Seに最小二乗法を用いて求めることができる。推定値 0ˆβ， 1ˆβ及び 2ˆβは，五つの
標本グループA，B，C，D及びEの110個の線形重回帰方程式を解くことで求めることができる。
18
X 6256：2019 (ISO/IEC 16963：2017)
2
lsm)
ˆ(σ
を最小二乗法で求めた不偏分散とすると，推定値
2
lsm)
ˆ(σ
は，次による。
)3
(
)
ˆ
(
)3
(
)
ˆ(
1
2
1
2
lsm
−
−
=
−
=
∑
∑
=
=
n
y
y
n
S
σ
j
n
i
j
ij
J
j
e
ここに，
n： 総標本数を表し∑
=
=
J
j
jn
n
1
n−3： n−3＝n−1−2
−1： 有限の標本数による数値
−2： 自由度の数値（温度及び湿度）
注記 この細分箇条ではアイリング法の場合を示す。アレニウス法の場合，自由度は1（温度だけ）
であり，n−3はn−2になる。
統計ソフトウェアツールの回帰分析を使うことで，線形重回帰係数の推定値
0ˆβ， 1ˆβ及び 2ˆβ並びに残差
の分散の推定値
2
lsm)
ˆ(σ
を得ることができる。
B50ライフ，B5ライフ及びB5ライフの95 %下限信頼限界は，次による。
(
)
50
50
ˆ
ln
exp
B
B
=
ライフ
(
)
20
2
10
1
0
ˆ
ˆ
ˆ
exp
x
β
x
β
β
+
+
=
(
)
5
5
ˆ
ln
exp
B
B
=
ライフ
(
)
σ
x
β
x
β
β
ˆ
64
.1
ˆ
ˆ
ˆ
exp
20
2
10
1
0
−
+
+
=
(
)
lsm
20
2
10
1
0
ˆ
64
.1
ˆ
ˆ
ˆ
exp
σ
x
β
x
β
β
−
+
+
=
ここに，
x10，x20： 制御保存条件（25 ℃，相対湿度50 %）
σˆに
lsm
ˆσを代入することによって，(
)
50ˆ
ln
var
B及び(
)
5ˆ
ln
var
Bは，次による（E.3参照）。
[
]
=
−
∑
∑
∑
∑
∑
∑
∑
∑
=
=
=
=
=
=
=
=
20
10
2
2
1
2
lsm
2
1
1
2
lsm
1
2
2
lsm
2
1
1
2
lsm
2
1
1
2
lsm
1
1
2
lsm
1
2
2
lsm
1
1
2
lsm
2
lsm
20
10
50
1
ˆ
1
ˆ
1
ˆ
1
ˆ
1
ˆ
1
ˆ
1
ˆ
1
ˆ
1
ˆ
1
)
ˆ
ln
(
var
1
x
x
x
n
σ
x
x
n
σ
x
n
σ
x
x
n
σ
x
n
σ
x
n
σ
x
n
σ
x
n
σ
σ
n
x
x
B
j
J
j
j
j
j
J
j
j
J
j
j
j
j
j
J
j
j
j
J
j
j
J
j
j
j
J
j
j
j
J
j
j
j
19
X 6256：2019 (ISO/IEC 16963：2017)
[
]
−
−
=
−
∑
∑
∑
∑
∑
∑
∑
∑
=
=
=
=
=
=
=
=
1.64
1
ˆ
2
0
0
0
0
ˆ
1
ˆ
1
ˆ
1
0
ˆ
1
ˆ
1
ˆ
1
0
ˆ
1
ˆ
1
ˆ
1.64
1
)
ˆ
ln
(
var
20
10
2
lsm
2
2
1
2
lsm
2
1
1
2
lsm
1
2
2
lsm
2
1
1
2
lsm
2
1
1
2
lsm
1
1
2
lsm
1
2
2
lsm
1
1
2
lsm
2
lsm
20
10
5
1
x
x
σ
n
x
n
σ
x
x
n
σ
x
n
σ
x
x
n
σ
x
n
σ
x
n
σ
x
n
σ
x
n
σ
σ
n
x
x
B
j
J
j
j
j
j
J
j
j
J
j
j
j
j
j
J
j
j
j
J
j
j
J
j
j
j
J
j
j
j
J
j
j
j
ここに，
n： 総標本数を表し∑
=
=
J
j
jn
n
1
上記の式の結果を用いて対数寿命の下限信頼限界
5ˆ
lnB＝(B5ライフ)Lは，次による。
(B5ライフ)L
]
)
ˆ
var(ln
1.64
ˆ
ln
[
exp
]
)
ˆ
ln
[(
exp
5
5
L
5
B
B
B
−
=
=
A.2 寿命推定のためのデータ解析の手順
A.2.1 試験データの有効性の判断及び故障時間の決定
寿命推定の計算を行う前に，次に示す手順によって，試験データの有効性を判断する。
手順1は，次による。
インキュベーション時間に対するエラーレート試験データ（Errort）の対数値ln(Errort)の直線回帰又は
多項式回帰を計算し，各試験条件の標本に対して直線軸のグラフ上にインキュベーション時間対ln(Errort)
及び当てはめ線をプロットする。
手順2は，次による。
次の3条件を検証する。
a) 当てはめ線が単調増加かどうか。
b) 全てのln(Errort)がほぼ当てはめ線上にある。
c) 当てはめ線は，十分増加しており，時間に対して平行であったり負の傾斜をもったりしない。
この3条件を満たす場合は，手順3へ進む。
3条件を満たさない場合は，故障時間を決定してはならない。
上記3条件を満たさないのは，次の二つの場合がある。
− 最初の場合は，加速劣化試験の最初の区分時間の間に他の標本は3条件を満たすが，ある標本が予
想外の劣化を示す場合である。この場合は，異常標本の劣化機構は，他の標本のそれと違っている
可能性がある。最初のインキュベーション区分時間後にエラーレートが測定できない標本について
は，故障時間欠落として扱う。そして，A.2.2に規定する手順4に進む。この場合，標本数はそのま
まとする。
− 2番目の場合は，グループの他の標本は3条件を満たすが，ある標本は最小総インキュベーション
時間内に劣化をせずに当てはめ線が増加を示さない場合である。この3条件を満たさないある標本
の故障時間は故障時間欠落として扱い，A.2.2に規定する手順4に手順を進める。この場合，標本数
はそのままとする。
20
X 6256：2019 (ISO/IEC 16963：2017)
ln(Errort)が幾つか異常値を示す場合は，可能ならばなぜそのような異常値となるのかを検証することが
望ましく，それらの値を採用するのかどうかを判断することが望ましい。
手順3は，次による。
各加速条件の標本について，当てはめ線が故障判断基準を横切る箇所で故障時間を決定する。
測定エラーレートが最小総インキュベーション時間内に故障判断基準に達しない加速条件の標本につい
ては，ln(Errort)の当てはめ線を外挿して故障時間を予測故障時間として決定してもよい。
手順3の後A.2.2の手順に進む。
A.2.2 完全データの判断
次の手順を行う。
手順4は，次による。
各加速条件グループの標本に対し，短い故障時間から長い故障時間への順番に故障時間値を並べる。各
故障時間に対して，各標本のメディアンランクを計算する（B.2の手順2を参照）。
メディアンランクを決めるために故障時間を順番に並べる際，最初の加速劣化インキュベーション区分
時間の間に予期せぬ劣化を示した標本がある場合は，その欠落故障時間に対して最短の故障時間のメディ
アンランクよりも小さなメディアンランク値とする。
メディアンランクを決めるために故障時間を順番に並べる際，最小総インキュベーション時間内に劣化
をしない標本がある場合，その欠落故障時間に対して最長の故障時間のメディアンランクよりも大きなメ
ディアンランク値とする。
手順5は，次による。
各加速条件グループの標本に対して，対数正規確率紙に故障時間に対するメディアンランクを，故障時
間を横軸にメディアンランクを縦軸にしてプロットする。
各加速条件グループの標本に対して，当てはめ直線を引く。
手順6は，次による。
次の条件を検証する。
a) 各メディアンランクに該当する全ての故障時間が，ほぼ各加速条件グループの当てはめ直線上にある。
b) 全ての加速条件グループの当てはめ直線は，お互いにほぼ平行になっている。
上記の両方の条件を満たす場合は，データは完全データとみなされる。A.2.5の手順［最小二乗法を
用いた最ゆう（尤）法］又はA.2.6（加速係数法）に進む。正確な解析又は正確な区間推定のためには，
A.2.5の手順に進む。
故障時間が当てはめ直線から離れている場合，故障時間は，寿命推定に使用しない。故障時間は，
欠落故障時間として扱われる。
少なくとも上記条件の一つでも満たさない場合，A.2.3の手順に進む。
21
X 6256：2019 (ISO/IEC 16963：2017)
A.2.3 寿命推定が有効な条件
次の手順を行う。
手順7は，次による。
次の3条件を検証し故障時間の有効性を判断する。
a) 各ストレスグループの対数正規データプロットは，ほぼ当てはめ直線上にある。
b) 欠落故障時間を除き，各ストレスグループの標本の有効な故障時間が，メディアンランク点の半数以
上を占める。
c) 各ストレスグループの当てはめ直線がお互いにほぼ平行である。
これらの3条件が満足される場合，寿命分布は対数正規分布とみなすことができる。欠落故障時間
がある場合，最ゆう（尤）法に基づく計算は可能であるが複雑であり，適用するのは難しい。最ゆう
（尤）法ほど正確ではないかもしれないが，欠落故障時間を補完する方法をA.2.4に示す。
A.1では，寿命データが対数正規分布に従うことを仮定した。3条件が満たされない場合は，仮定が成り
立っておらず，信頼できる寿命推定ができないことが立証されている。
A.2.4 欠落故障時間がある場合の寿命推定（参考）
A.2.3の手順7に示すように，寿命分布は対数正規分布であるが，欠落故障時間が存在する場合がある。
この細分箇条では，それらの欠落故障時間を補完する方法を示す。この方法では，当てはめ直線上での補
完データを使用しており，推定寿命は長めに出る可能性があることに注意を要する。
a) 故障時間の補完
各欠落故障時間に対して対応するメディアンランクを確認し，対数正規グラフ上で対応するメディ
アンランクで当てはめ直線がよぎる点の値で，欠落故障時間を補完する。
b) 最小二乗法を用いた最ゆう（尤）法の適用
全ての欠落故障時間を補完し完全データセットを準備する。そして，A.2.5の手順に従う。
c) 加速係数法の適用
全ての欠落故障時間を補完し完全データセットを準備する。そして，A.2.6の手順に従う。正確な解
析又は正確な区間推定のためには，A.2.5の手順に進む。
A.2.5 寿命推定計算方法［最小二乗法を用いた最ゆう（尤）法］
最小二乗法を用いた最ゆう（尤）法の計算は，次のように行うことができる。
a) 全ての故障時間に対して最小二乗法を用いて重回帰係数及び標準誤差の計算を行う。この計算は，統
計ソフトツールの重回帰分析を使って行うことができる。
決定係数は，0.8を超える値であることが望ましい。重回帰分析の決定係数が小さすぎる場合は，加
速劣化試験条件を再考することを勧める。
b) 制御保存条件でのB50ライフ，B5ライフ及びB5ライフの95 %下側信頼限界は，重回帰係数，最小二乗
法による標準誤差及び最ゆう（尤）法の数式を用いて計算される（B.3及びE.4参照）。
A.2.6 寿命推定計算方法（加速係数法）
従来の加速係数法の計算は，次のように行うことができる。
a) 対数故障時間の平均値を使用して回帰係数を計算する。
22
X 6256：2019 (ISO/IEC 16963：2017)
b) 各加速条件の対数平均の推定値の違いから加速係数を計算する。
c) 加速係数を用いて，各標本グループに対する制御保存条件での正規化故障時間を計算し，これらのデ
ータを対数正規確立紙にプロットする。
d) 母集団の正規分布は正規分布の95 %下限信頼限界に応じて変動するという仮定の下に，制御保存条件
でのB50ライフ，B5ライフ及び変動幅付き分位点の点推定値（B5Vライフ）を，当てはめ線から得られ
る
σ
μ
ˆ
ˆ及びを用いて計算する（B.3参照）。
注記 アレニウス法のデータ解析手順は，アイリング法のものとほぼ同じである。アレニウス法では，
過酷保存温度で単回帰分析が使用できる。
23
X 6256：2019 (ISO/IEC 16963：2017)
附属書B
（規定）
制御保存条件での寿命推定（アイリング法）
B.1
一般
この附属書では，厳密ストレス条件試験に適用する，最小二乗法の結果を使用する完全データの解析の
場合及び従来の加速係数法による解析を示す。
B.2
最小二乗法を用いたデータ解析及び寿命推定
手順1は，次による。
次に示す手順で，ストレスを加えた各標本の故障時間を求める。測定されるデータエラーは，7.1.3で定
義されている。
− BDレコーダブル及びBD書換形の各ディスク：
最大RSER
− DVD-R/RW，+R/+RWの各ディスク：
最大PI Sum 8
− DVD-RAMディスク：
最大BER
− CD-R及びCD-RWの各ディスク：
最大C1 Ave 10
故障時間を求めるために，インキュベーション開始前に測定した初期エラーレート，及び各々指定のイ
ンキュベーション時間区分後に測定したエラーレートを使用する。
各標本について，時間を独立変数とし，測定エラーレートの自然対数を従属変数として，直線回帰が実
行される。標本の故障時間は，回帰線が，最大RSERが10−3，最大PI Sum 8が280，最大BERが10−3，
又は最大C1 Ave 10が220の値と交差する点の時間値で計算される。
表B.1に示すデータ例は，仮定のデータ集合であり，ディスクの寿命を計算する方法を説明するための
一例である。五つのストレス条件（グループA，グループB，グループC，グループD及びグループE）
のデータは，この解析で使う数学的な方法論の例としてだけ提供する。
手順2は，次による。
各ストレス条件で，対数故障時間値の短い標本から長い標本へと並べ替えられる。
次に，各標本のメディアンランクは，評価式(i−0.3)/(n＋0.4)を使用し計算される。ここに，iは，故障時
間の小さい値から大きい値への順番nは，各ストレス条件における標本の総数である。
表B.2に，昇順に並べた参考データの対数故障時間及びメディアンランクを示す。
24
X 6256：2019 (ISO/IEC 16963：2017)
表B.1−参考データの昇順に並べた推定故障時間（厳密ストレス条件）
昇順
番号
グループA
グループB
グループC
グループD
グループE
85 ℃/
相対湿度80 %
85 ℃/
相対湿度70 %
85 ℃/
相対湿度60 %
75 ℃/
相対湿度80 %
65 ℃/
相対湿度80 %
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
429
451
476
484
493
495
501
512
521
526
534
540
542
548
557
576
579
586
618
645
613
640
649
675
679
696
703
709
719
732
739
743
747
751
766
778
785
804
856
896
864
913
915
945
951
993
994
998
1 009
1 014
1 027
1 030
1 037
1 049
1 069
1 080
1 098
1 125
1 222
1 249
1 728
1 882
1 907
1 989
2 020
2 076
2 129
2 151
2 180
2 227
2 277
2 318
2 352
2 404
2 443
2 512
2 589
2 590
2 776
2 891
5 455
5 730
5 908
6 114
6 326
6 431
6 544
6 632
6 711
6 779
6 860
6 935
7 038
7 108
7 202
7 285
7 362
7 454
7 562
7 569
7 710
7 827
7 955
8 067
8 250
8 405
8 546
8 700
8 953
9 452
25
X 6256：2019 (ISO/IEC 16963：2017)
表B.2−参考データの対数故障時間及びメディアンランク
グループA
85 ℃/相対湿度80 %
グループB
85 ℃/相対湿度70 %
昇順
番号
故障時間H
（h）
ln(H)
メディアン
ランク
昇順
番号
故障時間H
（h）
ln(H)
メディアン
ランク
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
429
451
476
484
493
495
501
512
521
526
534
540
542
548
557
576
579
586
618
645
6.061 1
6.111 5
6.165 4
6.182 2
6.200 5
6.204 6
6.216 6
6.238 3
6.255 8
6.265 3
6.280 4
6.291 3
6.295 3
6.306 3
6.322 6
6.356 1
6.361 3
6.373 3
6.426 5
6.469 3
0.034
0.083
0.131
0.181
0.23
0.279
0.328
0.377
0.426
0.475
0.525
0.574
0.623
0.672
0.721
0.77
0.819
0.869
0.917
0.966
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
613
640
649
675
679
696
703
709
719
732
739
743
747
751
766
778
785
804
856
896
6.418 4
6.461 5
6.475 4
6.514 7
6.520 6
6.545 3
6.555 4
6.563 9
6.577 9
6.595 8
6.605 3
6.610 7
6.616 1
6.621 4
6.641 2
6.656 7
6.665 7
6.689 6
6.752 3
6.797 9
0.034
0.083
0.131
0.181
0.23
0.279
0.328
0.377
0.426
0.475
0.525
0.574
0.623
0.672
0.721
0.77
0.819
0.869
0.917
0.966
平均
531
6.269 2
平均
734
6.594 3
26
X 6256：2019 (ISO/IEC 16963：2017)
表B.2−参考データの対数故障時間及びメディアンランク（続き）
グループC
85 ℃/相対湿度60 %
グループD
75 ℃/相対湿度80 %
昇順
番号
故障時間H
（h）
ln(H)
メディアン
ランク
昇順
番号
故障時間H
（h）
ln(H)
メディアン
ランク
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
864
913
915
945
951
993
994
998
1 009
1 014
1 027
1 030
1 037
1 049
1 069
1 080
1 098
1 125
1 222
1 249
6.761 6
6.816 7
6.818 9
6.851 2
6.857 5
6.900 7
6.901 7
6.905 8
6.916 7
6.921 7
6.934 4
6.937 3
6.944 1
6.955 6
6.974 5
6.984 7
7.001 2
7.025 5
7.108 2
7.130 1
0.034
0.083
0.131
0.181
0.23
0.279
0.328
0.377
0.426
0.475
0.525
0.574
0.623
0.672
0.721
0.77
0.819
0.869
0.917
0.966
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
1 728
1 882
1 907
1 989
2 020
2 076
2 129
2 151
2 180
2 227
2 277
2 318
2 352
2 404
2 443
2 512
2 589
2 590
2 776
2 891
7.454 9
7.540 3
7.553 4
7.595 3
7.610 6
7.638 1
7.663 2
7.673 9
7.687 1
7.708 5
7.730 8
7.748 4
7.763 2
7.785 0
7.800 8
7.828 7
7.859 2
7.859 4
7.928 6
7.969 5
0.034
0.083
0.131
0.181
0.23
0.279
0.328
0.377
0.426
0.475
0.525
0.574
0.623
0.672
0.721
0.77
0.819
0.869
0.917
0.966
平均
1 029
6.932 4
平均
2 272
7.719 9
27
X 6256：2019 (ISO/IEC 16963：2017)
表B.2−参考データの対数故障時間及びメディアンランク（続き）
グループE
65 ℃/相対湿度80 %
昇順
番号
故障時間H
（h）
ln(H)
メディアン
ランク
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30
5 455
5 730
5 908
6 114
6 326
6 431
6 544
6 632
6 711
6 779
6 860
6 935
7 038
7 108
7 202
7 285
7 362
7 454
7 562
7 569
7 710
7 827
7 955
8 067
8 250
8 405
8 546
8 700
8 953
9 452
8.604 3
8.653 5
8.684 1
8.718 3
8.752 5
8.768 9
8.786 4
8.799 7
8.811 5
8.821 6
8.833 5
8.844 3
8.859 1
8.869 0
8.882 2
8.893 6
8.904 1
8.916 5
8.930 9
8.931 9
8.950 3
8.965 3
8.981 6
8.995 5
9.018 0
9.036 6
9.053 2
9.071 1
9.099 7
9.154 0
0.023
0.056
0.089
0.122
0.155
0.188
0.22
0.253
0.286
0.319
0.352
0.385
0.418
0.451
0.484
0.516
0.549
0.582
0.615
0.648
0.681
0.714
0.747
0.78
0.813
0.845
0.878
0.911
0.944
0.977
平均
7 296
8.886 4
注記 この規格の幾つかの表には，多くの桁数をもつ値がある。これら多くの桁数は，寿命を推定す
るために過度の丸め誤差を生じないように，計算過程で維持される。しかしながら，推定寿命
の結果において，同程度の桁数の正確さがある又は信頼できることを意図していない。
28
X 6256：2019 (ISO/IEC 16963：2017)
手順3は，次による。
データは，異なる方法でプロットすることができる。対数正規確率紙を用いた場合は，横軸に故障時間，
縦軸にメディアンランクをプロットする。
注記 ほとんどの対数正規確率紙では，実際の縦軸の目盛は累積故障確率［＝F(t)］となっているので，
メディアンランクを100倍することで，累積故障確率に変換することができる。
図B.1に，表B.2の標本グループA，B，C，D及びEのデータの対数正規確率紙へのプロットを示す。
縦軸の目盛は累積故障確率である。これらのプロット点に合う当てはめ直線が引かれる。各々の当てはめ
直線がお互いにほぼ平行である場合は，おおむね同じ対数標準偏差を個々のデータ群に当てはめることが
できることが確認できる。
対数標準偏差の推定値は，故障データの当てはめ直線から求めることができる。始めに，各ストレス条
件で故障時間の当てはめ直線を基に，累積確率が15.9 %及び84.1 %となる点の故障時間を推定する。それ
ぞれln t 0.159及びln t 0.841とおけば，次の式から対数標準偏差σˆを求めることができる。
(
)2/
ln
ln
ˆ
159
.0
841
.0
t
t
σ
−
=
注記 全てのストレス条件での当てはめ直線がほぼお互いに平行になっているかどうかを検証する。
図B.1−対数正規確率紙にプロットした標本グループA，B，C，D及びEの当てはめ直線
五つの標本グループの対数標準編差の推定値
mˆσの平均値は，次による。
(
)5
ˆ
ˆ
ˆ
ˆ
ˆ
ˆ
E
D
C
B
A
m
σ
σ
σ
σ
σ
σ
+
+
+
+
=
A
B
C
D
E
200
500
1000
5 000
10 000
20 000
1
50
99
90
10
故障時間(h)
メ
ジ
ア
ン
ラ
ン
ク
×
1
00
(=
F
(t
))
グループA
1036
.0
ˆ
270
.6
ˆ==
A
A
σ
μ
グループB
09759
.0
ˆ
592
.6
ˆ==
B
B
σμ
グループC
09633
.0
ˆ
927
.6
ˆ==
C
C
σ
μ
グループD
1407
.0
ˆ
881
.7
ˆ==
D
D
σμ
グループE
1378
.0
ˆ
888
.8
ˆ==
E
E
σ
μ
メ
デ
ィ
ア
ン
ラ
ン
ク
×
10
0
［
＝
F
(
t
)
］
グループA
6
103
.0
ˆ
270
.6
ˆ==
A
A
σμ
グループB
59
097
.0
ˆ
592
.6
ˆ==
B
B
σμ
グループC
33
096
.0
ˆ
927
.6
ˆ ==
C
C
σμ
グループD
7
140
.0
ˆ
881
.7
ˆ==
D
D
σμ
グループE
8
137
.0
ˆ
888
.8
ˆ==
E
E
σμ
29
X 6256：2019 (ISO/IEC 16963：2017)
2
0.115
5
8)
0.137
7
0.140
33
0.096
59
0.097
6
(0.103
=
+
+
+
+
=
手順4は，次による。
表B.3に，回帰分析のための標本グループA，B，C，D及びEに属する110個の全ての標本データを示
す。回帰係数及びエラー分散は，最小二乗法を用いることで計算できる。表B.4に，統計ソフトツールの
回帰分析の結果を示す。残差の分散の推定値(
)2
lsm
ˆσ
，対数標準偏差の推定値
lsm
ˆσ及び回帰係数の推定値
0ˆβ，
1ˆβ及び 2ˆβがすぐ得られる。他の統計ツールも，同様に回帰分析に使用することができる。
注記 制御保存条件における標準偏差推定値
lsm
ˆσ（＝0.132 35）は，五つの標本グループの平均標準偏
差の推定値
mˆσに比較して幾分か大きい。五つのグループ間の当てはめ直線の傾きの違い及びそ
れぞれのグループの対数正規分布にずれがあり，これらが対数標準偏差に影響を及ぼしている
と考えられる。
30
X 6256：2019 (ISO/IEC 16963：2017)
表B.3−回帰分析のための110個の標本データ
番号
ln t
x1
x2
番号
ln t
x1
x2
1
6.061 055
0.002 792
80
1
7.454 918
0.002 872
80
2
6.111 467
0.002 792
80
2
7.540 276
0.002 872
80
3
6.165 418
0.002 792
80
3
7.553 358
0.002 872
80
4
6.182 176
0.002 792
80
4
7.595 322
0.002 872
80
5
6.200 509
0.002 792
80
5
7.610 634
0.002 872
80
6
6.204 558
0.002 792
80
6
7.638 060
0.002 872
80
7
6.216 606
0.002 792
80
7
7.663 173
0.002 872
80
8
6.238 325
0.002 792
80
8
7.673 915
0.002 872
80
9
6.255 750
0.002 792
80
9
7.687 122
0.002 872
80
10
6.265 301
0.002 792
80
10
7.708 528
0.002 872
80
11
6.280 396
0.002 792
80
グループA
11
7.730 831
0.002 872
80
グループD
12
6.291 310
0.002 792
80
12
7.748 371
0.002 872
80
13
6.295 266
0.002 792
80
13
7.763 199
0.002 872
80
14
6.306 275
0.002 792
80
14
7.785 036
0.002 872
80
15
6.322 565
0.002 792
80
15
7.800 846
0.002 872
80
16
6.356 108
0.002 792
80
16
7.828 687
0.002 872
80
17
6.361 302
0.002 792
80
17
7.859 160
0.002 872
80
18
6.373 320
0.002 792
80
18
7.859 351
0.002 872
80
19
6.426 488
0.002 792
80
19
7.928 609
0.002 872
80
20
6.469 250
0.002 792
80
20
7.969 480
0.002 872
80
1
6.418 365
0.002 792
70
1
8.604 288
0.002 957
80
2
6.461 468
0.002 792
70
2
8.653 471
0.002 957
80
3
6.475 433
0.002 792
70
3
8.684 063
0.002 957
80
4
6.514 713
0.002 792
70
4
8.718 337
0.002 957
80
5
6.520 621
0.002 792
70
5
8.752 500
0.002 957
80
6
6.545 350
0.002 792
70
6
8.768 885
0.002 957
80
7
6.555 357
0.002 792
70
7
8.786 365
0.002 957
80
8
6.563 856
0.002 792
70
8
8.799 662
0.002 957
80
9
6.577 861
0.002 792
70
9
8.811 503
0.002 957
80
10
6.595 781
0.002 792
70
10
8.821 630
0.002 957
80
11
6.605 298
0.002 792
70
グループB
11
8.833 463
0.002 957
80
12
6.610 696
0.002 792
70
12
8.844 336
0.002 957
80
13
6.616 065
0.002 792
70
13
8.859 079
0.002 957
80
14
6.621 406
0.002 792
70
14
8.868 976
0.002 957
80
15
6.641 182
0.002 792
70
15
8.882 172
0.002 957
80
グループE
16
6.656 727
0.002 792
70
16
8.893 573
0.002 957
80
17
6.665 684
0.002 792
70
17
8.904 087
0.002 957
80
18
6.689 599
0.002 792
70
18
8.916 506
0.002 957
80
19
6.752 270
0.002 792
70
19
8.930 890
0.002 957
80
20
6.797 940
0.002 792
70
20
8.931 860
0.002 957
80
1
6.761 573
0.002 792
60
21
8.950 273
0.002 957
80
2
6.816 736
0.002 792
60
22
8.965 335
0.002 957
80
3
6.818 924
0.002 792
60
23
8.981 556
0.002 957
80
4
6.851 185
0.002 792
60
24
8.995 546
0.002 957
80
5
6.857 514
0.002 792
60
25
9.017 968
0.002 957
80
6
6.900 731
0.002 792
60
26
9.036 582
0.002 957
80
7
6.901 737
0.002 792
60
27
9.053 219
0.002 957
80
8
6.905 753
0.002 792
60
28
9.071 078
0.002 957
80
9
6.916 715
0.002 792
60
29
9.099 744
0.002 957
80
10
6.921 658
0.002 792
60
30
9.153 982
0.002 957
80
11
6.934 397
0.002 792
60
グループC
12
6.937 314
0.002 792
60
13
6.944 087
0.002 792
60
14
6.955 593
0.002 792
60
15
6.974 479
0.002 792
60
16
6.984 716
0.002 792
60
17
7.001 246
0.002 792
60
18
7.025 538
0.002 792
60
19
7.108 244
0.002 792
60
20
7.130 099
0.002 792
60
31
X 6256：2019 (ISO/IEC 16963：2017)
表B.4−回帰分析結果
推定回帰係数
推定
対数標準偏差
0ˆβ
1ˆβ
2ˆβ
lsm
ˆσ
−35.381 1
15 789.57
−0.029 74
0.132 35
手順5は，次による。
制御保存条件（25 ℃及び相対湿度50 %）での
50ˆ
lnB及び
5ˆ
lnBは，手順4で得られる回帰係数の推定値
0ˆβ，
1ˆβ及び 2ˆβ，対数標準偏差の推定値σˆを用いて計算できる。
そして，制御保存条件（25 ℃及び相対湿度50 %）でのB50ライフ，B5ライフ及びB5ライフの95 %下側
信頼限界は，
50ˆ
lnB及び
5ˆ
lnBを用いて，次による（A.1.3参照）。
20
2
10
1
0
50
ˆ
ˆ
ˆ
ˆ
ln
x
β
x
β
β
B
+
+
=
50
74
029
.0
354
003
.0
57
.
789
15
1
381
.
35
×
−
×
+
−
=
1
090
.
16
=
)1
090
.
16
exp(
50
=
ライフ
B
=9 724 120時間（1 110年）
lsm
50
20
2
10
1
0
5
ˆ
64
.1
ˆ
ln
ˆ
64
.1
ˆ
ˆ
ˆ
ˆ
ln
σ
B
σ
x
β
x
β
β
B
−
=
−
+
+
=
35
132
.0
64
.1
1
090
.
16
×
−
=
0
873
.
15
=
)0
873
.
15
exp(
5
=
ライフ
B
=7 826 297時間（893年）
B5ライフの95 %下側信頼限界は，次による。
(
)
[
]
+
=
=
)
ˆ
var(ln
ˆ
ln
exp
ˆ
ln
exp
)
(
5
100
5
5
L
5
L
5
B
z
B
B
Bライフ
(
)
−
≅
5
5
ˆ
ln
var
1.64
ˆ
ln
exp
B
B
)6
634
.
15
exp(
)
129
021
.0
64
.1
0
873
.
15
exp(
=
×
−
=
=6 166 241時間（704年）（E.4参照）
B.3
従来の加速係数法を用いたデータ解析及び寿命推定（手順4〜手順7）
手順4は，次による。
表B.5に，それぞれのストレスグループA，B，C，D及びE（表B.2参照）の対数故障時間の平均を示
す。
32
X 6256：2019 (ISO/IEC 16963：2017)
表B.5−それぞれのストレス条件に対する対数故障時間の平均
グループ
平均
Temp
（℃）
1/T
RH
（%）
A
6.269 2
85
0.002 792
80
B
6.594 3
85
0.002 792
70
C
6.932 4
85
0.002 792
60
D
7.719 9
75
0.002 872
80
E
8.886 4
65
0.002 957
80
注記 表B.5の平均は，表B.2の平均行の各加速条件のln(H)の平均値を示している。そのような平均
値の代わりに，次の式のlog-meaniには，メディアンランクの中央値を使用することもできる。
簡易アイリング式の係数A，ΔH/k及びBを決定するため，表B.5の温度及び相対湿度で得られた五つの
平均値を用い，回帰分析が行われる。
log-meani
()
i
i
i
ε
RH
T
k
H
+
×
+
×
∆
+
=
B
1
A
ln
ここに，
i： 1〜5
得られた推定値を，次に示す。
()
968
0.029
ˆ
Bˆ
904.21
15
ˆ
ˆ
Δ
9
35.688
ˆ
Aˆ
ln
2
1
0
−
=
=
=
=
−
=
=
β
β
k
H
β
手順5は，次による。
加速係数は，それぞれのストレス条件で推定された寿命と，制御保存条件（25 ℃及び相対湿度50 %）
で推定された寿命との違いから計算できる。表B.6に，これを示す。
表B.6−各ストレス条件での計算した寿命及び加速係数
ストレス条件
計算した寿命
加速係数
1/T
Ln（寿命）
寿命
（h）
85 ℃・相対湿度80 %
0.002 792
6.320 2
556
18 685
85 ℃・相対湿度70 %
0.002 792
6.619 9
750
13 846
85 ℃・相対湿度60 %
0.002 792
6.919 6
1 012
10 261
75 ℃・相対湿度80 %
0.002 872
7.595 7
1 990
5 218
65 ℃・相対湿度80 %
0.002 957
8.946 7
7 682
1 352
25 ℃・相対湿度50 %
0.003 354
16.155 7
10 383 119
手順6は，次による。
表B.6の加速係数を用いて，各標本グループA，B，C，D及びEの25 ℃及び相対湿度50 %での正規化
した故障時間を計算する。表B.7に，並べ替える前の複合対数正規プロットのためのデータを示す。表B.8
に，昇順に並べ替えた複合対数正規プロットのためのデータを示す。図B.2は，表B.8の複合データを対
数正規確率紙にプロットしたものを示す。縦軸は，累積故障確率である。これらのデータの当てはめ直線
33
X 6256：2019 (ISO/IEC 16963：2017)
から，対数平均（
15
.
16
ˆacf=
μ
）及び標準偏差（
4
132
.0
ˆacf=
σ
）を得ることができる。これらの値は，表B.7
で計算した値とほぼ同じである。
注記 (
)2
acf
ˆσ
は，母集団の推定分散である。
34
X 6256：2019 (ISO/IEC 16963：2017)
表B.7−並べ替える前の複合対数正規プロットのためのデータ
故障時間 グループ
正規化
25 °C / 相対湿
度50 %
Ln
故障時間
グルー
プ
正規化
25 °C / 相対湿
度50 %
Ln
429
A
8 015 865
15.896 933 3
1 728
D
9 016 704
16.014 589 4
451
A
8 426 935
15.946 943 7
1 882
D
9 820 276
16.099 959 8
476
A
8 894 060
16.000 894 2
1 907
D
9 950 726
16.113 156 1
484
A
9 043 540
16.017 561 2
1 989
D
10 378 602
16.155 256 7
493
A
9 211 705
16.035 985 5
2 020
D
10 540 360
16.170 722 3
495
A
9 249 075
16.040 034 1
2 076
D
10 832 568
16.198 067 7
501
A
9 361 185
16.052 082 4
2 129
D
11 109 122
16.223 277 1
512
A
9 566 720
16.073 801 0
2 151
D
11 223 918
16.233 557 6
521
A
9 734 885
16.091 226 4
2 180
D
11 375 240
16.246 949 6
526
A
9 828 310
16.100 777 6
2 227
D
11 620 486
16.268 280 1
534
A
9 977 790
16.115 872 2
2 277
D
11 881 386
16.290 483 5
540
A
10 089 900
16.127 045 5
2 318
D
12 095 324
16.308 329 5
542
A
10 127 270
16.130 742 3
2 352
D
12 272 736
16.322 890 8
548
A
10 239 380
16.141 751 6
2 404
D
12 544 072
16.344 758 8
557
A
10 407 545
16.158 041 6
2 443
D
12 747 574
16.360 851 5
576
A
10 762 560
16.191 584 0
2 512
D
13 107 616
16.388 704 0
579
A
10 818 615
16.196 778 8
2 589
D
13 509 402
16.418 896 4
586
A
10 949 410
16.208 796 1
2 590
D
13 514 620
16.419 282 6
618
A
11 547 330
16.261 964 8
2 776
D
14 485 168
16.488 635 8
645
A
12 051 825
16.304 726 7
2 891
D
15 085 238
16.529 227 2
613
B
8 487 598
15.954 116 6
5 455
E
7 375 160
15.813 628 2
640
B
8 861 440
15.997 219 8
5 730
E
7 746 960
15.862 811 1
649
B
8 986 054
16.011 184 4
5 908
E
7 987 616
15.893 402 9
675
B
9 346 050
16.050 464 4
6 114
E
8 266 128
15.927 676 8
679
B
9 401 434
16.056 372 8
6 326
E
8 552 752
15.961 763 7
696
B
9 636 816
16.081 101 3
6 431
E
8 694 712
15.978 225 6
703
B
9 733 738
16.091 108 6
6 544
E
8 847 488
15.995 644 1
709
B
9 816 814
16.099 607 2
6 632
E
8 966 464
16.009 002 0
719
B
9 955 274
16.113 613 0
6 711
E
9 073 272
16.020 843 5
732
B
10 135 272
16.131 532 2
6 779
E
9 165 208
16.030 925 1
739
B
10 232 194
16.141 049 6
6 860
E
9 274 720
16.042 803 0
743
B
10 287 578
16.146 447 7
6 935
E
9 376 120
16.053 676 6
747
B
10 342 962
16.151 816 8
7 038
E
9 515 376
16.068 419 6
751
B
10 398 346
16.157 157 3
7 108
E
9 610 016
16.078 316 4
766
B
10 606 036
16.176 933 8
7 202
E
9 737 104
16.091 454 3
778
B
10 772 188
16.192 478 2
7 285
E
9 849 320
16.102 913 0
785
B
10 869 110
16.201 435 4
7 362
E
9 953 424
16.113 427 2
804
B
11 132 184
16.225 350 9
7 454
E
10 077 808
16.125 846 3
856
B
11 852 176
16.288 022 0
7 562
E
10 223 824
16.140 231 2
896
B
12 406 016
16.333 692 1
7 569
E
10 233 288
16.141 156 5
864
C
8 865 504
15.997 678 3
7 710
E
10 423 920
16.159 613 7
913
C
9 368 293
16.052 841 5
7 827
E
10 582 104
16.174 674 8
915
C
9 388 815
16.055 029 6
7 955
E
10 755 160
16.190 896 2
945
C
9 696 645
16.087 290 5
8 067
E
10 906 584
16.204 877 2
951
C
9 758 211
16.093 619 6
8 250
E
11 154 000
16.227 308 7
993
C
10 189 173
16.136 836 2
8 405
E
11 363 560
16.245 922 3
994
C
10 199 434
16.137 842 8
8 546
E
11 554 192
16.262 558 9
998
C
10 240 478
16.141 858 9
8 700
E
11 762 400
16.280 418 6
1 009
C
10 353 349
16.152 820 6
8 953
E
12 104 456
16.309 084 2
1 014
C
10 404 654
16.157 763 8
9 452
E
12 779 104
16.363 321 9
1 027
C
10 538 047
16.170 502 8
平均
16.150 284 7
1 030
C
10 568 830
16.173 419 7
分散
0.130 956 0
1 037
C
10 640 657
16.180 192 8
1 049
C
10 763 789
16.191 698 2
1 069
C
10 969 009
16.210 584 5
1 080
C
11 081 880
16.220 821 9
1 098
C
11 266 578
16.237 351 2
1 125
C
11 543 625
16.261 643 9
1 222
C
12 538 942
16.344 349 7
1 249
C
12 815 989
16.366 204 1
35
X 6256：2019 (ISO/IEC 16963：2017)
表B.8−並べ替え後の複合対数正規プロットのためのデータ
グループ
正規化
25 ℃ / 相対湿度
50 %
順序
メディアンランク
グループ
正規化
25 ℃ /相対湿度
50 %
順序
メディアンランク
E
7 375 160
1
0.006 3
B
10 398 346
61
0.549 8
E
7 746 960
2
0.015 4
C
10 404 654
62
0.558 9
E
7 987 616
3
0.024 5
A
10 407 545
63
0.567 9
A
8 015 865
4
0.033 5
E
10 423 920
64
0.577 0
E
8 266 128
5
0.042 6
C
10 538 047
65
0.586 1
A
8 426 935
6
0.051 6
D
10 540 360
66
0.595 1
B
8 487 598
7
0.060 7
C
10 568 830
67
0.604 2
E
8 552 752
8
0.069 7
E
10 582 104
68
0.613 2
E
8 694 712
9
0.078 8
B
10 606 036
69
0.622 3
E
8 847 488
10
0.087 9
C
10 640 657
70
0.631 3
B
8 861 440
11
0.096 9
E
10 755 160
71
0.640 4
C
8 865 504
12
0.106 0
A
10 762 560
72
0.649 5
A
8 894 060
13
0.115 0
C
10 763 789
73
0.658 5
E
8 966 464
14
0.124 1
B
10 772 188
74
0.667 6
B
8 986 054
15
0.133 2
A
10 818 615
75
0.676 6
D
9 016 704
16
0.142 2
D
10 832 568
76
0.685 7
A
9 043 540
17
0.151 3
B
10 869 110
77
0.694 7
E
9 073 272
18
0.160 3
E
10 906 584
78
0.703 8
E
9 165 208
19
0.169 4
A
10 949 410
79
0.712 9
A
9 211 705
20
0.178 4
C
10 969 009
80
0.721 9
A
9 249 075
21
0.187 5
C
11 081 880
81
0.731 0
E
9 274 720
22
0.196 6
D
11 109 122
82
0.740 0
B
9 346 050
23
0.205 6
B
11 132 184
83
0.749 1
A
9 361 185
24
0.214 7
E
11 154 000
84
0.758 2
C
9 368 293
25
0.223 7
D
11 223 918
85
0.767 2
E
9 376 120
26
0.232 8
C
11 266 578
86
0.776 3
C
9 388 815
27
0.241 8
E
11 363 560
87
0.785 3
B
9 401 434
28
0.250 9
D
11 375 240
88
0.794 4
E
9 515 376
29
0.260 0
C
11 543 625
89
0.803 4
A
9 566 720
30
0.269 0
A
11 547 330
90
0.812 5
E
9 610 016
31
0.278 1
E
11 554 192
91
0.821 6
B
9 636 816
32
0.287 1
D
11 620 486
92
0.830 6
C
9 696 645
33
0.296 2
E
11 762 400
93
0.839 7
B
9 733 738
34
0.305 3
B
11 852 176
94
0.848 7
A
9 734 885
35
0.314 3
D
11 881 386
95
0.857 8
E
9 737 104
36
0.323 4
A
12 051 825
96
0.866 8
C
9 758 211
37
0.332 4
D
12 095 324
97
0.875 9
B
9 816 814
38
0.341 5
E
12 104 456
98
0.885 0
D
9 820 276
39
0.350 5
D
12 272 736
99
0.894 0
A
9 828 310
40
0.359 6
B
12 406 016
100
0.903 1
E
9 849 320
41
0.368 7
C
12 538 942
101
0.912 1
D
9 950 726
42
0.377 7
D
12 544 072
102
0.921 2
E
9 953 424
43
0.386 8
D
12 747 574
103
0.930 3
B
9 955 274
44
0.395 8
E
12 779 104
104
0.939 3
A
9 977 790
45
0.404 9
C
12 815 989
105
0.948 4
E
10 077 808
46
0.413 9
D
13 107 616
106
0.957 4
A
10 089 900
47
0.423 0
D
13 509 402
107
0.966 5
A
10 127 270
48
0.432 1
D
13 514 620
108
0.975 5
B
10 135 272
49
0.441 1
D
14 485 168
109
0.984 6
C
10 189 173
50
0.450 2
D
15 085 238
110
0.993 7
C
10 199 434
51
0.459 2
E
10 223 824
52
0.468 3
B
10 232 194
53
0.477 4
E
10 233 288
54
0.486 4
A
10 239 380
55
0.495 5
C
10 240 478
56
0.504 5
B
10 287 578
57
0.513 6
B
10 342 962
58
0.522 6
C
10 353 349
59
0.531 7
D
10 378 602
60
0.540 8
36
X 6256：2019 (ISO/IEC 16963：2017)
図B.2−複合データの対数正規確率紙へのプロット
手順7は，次による。
制御保存条件（25 ℃及び相対湿度50 %）でのB50ライフ，B5ライフ及びB5Vライフは，次による。
B50ライフ＝exp (
acf
ˆμ)＝exp (16.15)＝10 324 187時間（1 179年）
B5 ライフ＝exp (
acf
acf
ˆ
64
.1
ˆ
σ
μ −
)＝exp (16.15−1.64×0.132 4)＝exp (15.933)
＝8 309 118時間（949年）
分散(
)2
acf
ˆσ
をもつ正規分布の95 %下限信頼限界は，
acf
ˆ
64
.1 σ
−
である。
母集団が正規分布であり，平均値が
acf
acf
ˆ
64
.1
ˆ
σ
μ−
となる
acf
ˆ
64
.1 σ
−
移動した母集団があり，その母集団の
正規分布の95 %下限信頼限界の標準偏差も
acf
ˆσと仮定する。この正規分布上で，第5分位の点推定を“変
動幅付き第5分位点の点推定”と規定する。これは，次による。
(
)
(
)
(
)
年）
時間（
ライフ
763
348
687
6
4
132
.0
64
.1
4
132
.0
64
.1
15
.
16
exp
ˆ
64
.1
ˆ
64
.1
ˆ
exp
ˆ
ln
exp
acf
acf
acf
5V
5V
=
×
−
×
−
=
−
−
=
=
σ
σ
μ
B
B
正確な解析又は正確な区間推定が要求される場合は，最ゆう（尤）法に基づいた計算が望ましい（A.1.3
及びE.3参照）。
1
50
99
90
10
M
e
d
ia
n
r
a
n
k
×
1
0
0
1,0E+7
5,0E+6
3,0E+7
3,0E+6
Normalized time-to-failure at 25 ˚C / 50 % RH (hours)
1
50
99
90
10
M
e
d
ia
n
r
a
n
k
×
1
0
0
1,0E+7
5,0E+6
3,0E+7
3,0E+6
Normalized time-to-failure at 25 ˚C / 50 % RH (hours)
25℃/相対湿度50％に正規化した故障時間(h)
メ
デ
ィ
ア
ン
ラ
ン
ク
×
1
00
3.0E+6 5.0E+6 1.0E+7 3.0E+7
99
90
1
10
50
メ
デ
ィ
ア
ン
ラ
ン
ク
×
10
0
25 ℃/相対湿度50 ％に正規化した故障時間（h）
37
X 6256：2019 (ISO/IEC 16963：2017)
附属書C
（規定）
過酷保存条件での寿命推定（アレニウス法）
C.1 アレニウス法を使う場合のストレス条件及び解析手順
ここでは，制御保存条件（25 ℃及び相対湿度50 %）に比べ，より高い温度及び相対湿度の過酷保存条
件での試験法を示す。
この試験法は，この規格の適用範囲に従い，使用者が光ディスク媒体を取り扱う又は保管する上で，最
も過酷な保存条件の代表として30 ℃及び相対湿度80 %の保存環境を基本とする。また，この試験法では，
アレニウス法の使用を可能とするため，アイリング法とは異なるストレス試験設計を使用する。
アイリング法と同じ仮定及びデータ解析が，保存環境，ストレス設計及びアレニウス式に適用される。
25 ℃及び相対湿度50 %の制御保存条件は，30 ℃及び相対湿度80 %の，より過酷と期待される使用者環
境に置き換えられる。
表C.1及び表C.2に，アレニウス法のためのストレス設計の要約を示す。ストレス条件が試験を行うデ
ィスクにとって破壊的となりそうな場合は，附属書Dを参照。
表C.1−アレニウス法を使用する場合の厳密ストレス条件
試験標本
グループ
試験ストレス条件
（インキュベーション）
試験
標本数
最大インキュ
ベーション
時間区分
最小総インキ
ュベーション
時間
中間相対湿度 最小平衡保持
時間
Temp
（℃）
RH
（%）
（h）
（h）
RH
（%）
（h）
A
85
80
20
300
1 500
30
5
B
80
80
20
400
2 000
31
7
C
75
80
20
600
3 000
32
8
D
65
80
30
800
4 000
35
10
表C.2−アレニウス法を使用する場合の基本ストレス条件
試験標本
グループ
試験ストレス条件
（インキュベーション）
試験
標本数
最大インキュ
ベーション
時間区分
最小総インキ
ュベーション
時間
中間相対湿度 最小平衡保持
時間
Temp
（℃）
RH
（%）
（h）
（h）
RH
（%）
（h）
A
85
80
20
250
1 000
30
5
B
75
80
20
425
1 700
33
8
C
65
80
30
600
2 400
35
10
附属書Bのデータ解析の手順4を，次のように置き換える。
回帰係数及び標準誤差は，四つ又は三つのストレス条件で得られた全ての対数故障時間にわたって，最
小二乗法を用いて計算できる。これらの計算には，統計ソフトツールの回帰分析を使うことができる。
38
X 6256：2019 (ISO/IEC 16963：2017)
C.2 データ解析
手順1及び手順2は，次による。
各ストレス条件で，故障時間の短い標本から故障時間の長い標本へと並べ替えられる。標本のメディア
ンランクは，推定値(i−0.3)/(n＋0.4)を用いて計算される。表C.3に，相対湿度80 %一定において四つのス
トレスグループA（85 ℃），B（80 ℃），C（75 ℃）及びD（65 ℃）の昇順に並べた故障時間及びメディ
アンランクの結果を示す。
表C.3−参考データの昇順に並べた故障時間及びメディアンランク（厳密試験）
標本
番号
標本グループ及びストレス条件（相対湿度80 %）
グループA（85 ℃）
グループB（80 ℃）
グループC（75 ℃）
グループD（65 ℃）
故障時間
（h）
メディア
ンランク
故障時間
（h）
メディア
ンランク
故障時間
（h）
メディア
ンランク
故障時間
（h）
メディア
ンランク
1
429
0.034
1 015
0.034
1 728
0.034
5 455
0.023
2
451
0.083
1 040
0.083
1 882
0.083
5 730
0.056
3
476
0.132
1 080
0.132
1 907
0.132
5 908
0.089
4
484
0.181
1 203
0.181
1 989
0.181
6 114
0.122
5
493
0.23
1 151
0.23
2 020
0.23
6 326
0.155
6
495
0.279
1 165
0.279
2 076
0.279
6 431
0.188
7
501
0.328
1 193
0.328
2 129
0.328
6 544
0.22
8
512
0.377
1 215
0.377
2 151
0.377
6 632
0.253
9
521
0.426
1 230
0.426
2 180
0.426
6 711
0.286
10
526
0.475
1 239
0.475
2 227
0.475
6 779
0.319
11
534
0.525
1 260
0.525
2 277
0.525
6 860
0.352
12
540
0.574
1 295
0.574
2 318
0.574
6 935
0.385
13
542
0.623
1 310
0.623
2 352
0.623
7 038
0.418
14
548
0.672
1 425
0.672
2 404
0.672
7 108
0.451
15
557
0.721
1 360
0.721
2 443
0.721
7 202
0.484
16
576
0.77
1 388
0.77
2 512
0.77
7 285
0.516
17
579
0.819
1 420
0.819
2 589
0.819
7 362
0.549
18
586
0.868
1 472
0.868
2 590
0.868
7 454
0.582
19
618
0.917
1 540
0.917
2 776
0.917
7 562
0.615
20
645
0.966
1 625
0.966
2 891
0.966
7 569
0.648
21
7 710
0.681
22
7 827
0.714
23
7 955
0.747
24
8 067
0.78
25
8 250
0.813
26
8 405
0.845
27
8 546
0.878
28
8 700
0.911
29
8 953
0.944
30
9 452
0.977
手順3は，次による。
図C.1に，表C.3の標本グループA，B，C及びDのデータの対数正規確率紙へのプロットを示す。縦
軸の目盛は累積故障確率である。各グループのプロット点に合う当てはめ直線が引かれる。各々の当ては
39
X 6256：2019 (ISO/IEC 16963：2017)
め直線がお互いにほぼ平行である場合は，標本グループの個々のデータセットがおおむね対数正規分布と
なっていることが確認できる。
注記 全てのストレス条件での当てはめ直線がほぼお互いに平行になっているか検証する。
図C.1−対数正規確率紙にプロットした標本グループA，B，C及びDの故障データ及び当てはめ直線
（全てのストレス条件での当てはめ直線がほぼお互いに平行になっているか検証する。）
手順4は，次による。
表C.4に，回帰分析のための標本グループA，B，C及びDに属する90個の参考データを示す。回帰係
数及びエラーの分散は，四つのストレス条件の下で得られた90個の故障データに最小二乗法を用いること
で計算される。
表C.5に，統計ソフトツールによって回帰分析した結果を示す。対数標準偏差の推定値σˆ及び回帰係数
の推定値
0ˆβ及び 1ˆβを得ることができる。
200
500
1 000
5 000
10 000
20 000
1
50
99
90
10
故障時間(h)
メ
ジ
ア
ン
ラ
ン
ク
×1
0
0
％
(=
F(
t)
)
グループA
036
.1
ˆ
270
.6
ˆ
A
A==
σμ
グループC
407
.1
ˆ
720
.7
ˆ
C
C==
σμ
A
B
C
D
グループB
355
.1
ˆ
145
.7
ˆ
B
B==
σμ
グループD
378
.1
ˆ
888
.8
ˆ
D
D==
σμ
メ
デ
ィ
ア
ン
ラ
ン
ク
×
10
0
％
［
＝
F
(
t
)
］
40
X 6256：2019 (ISO/IEC 16963：2017)
表C.4−回帰分析のための90個の標本データ
番号
ln t
x1
番号
ln t
x1
1
6.061 05
0.002 792
1
7.454 92
0.002 872
2
6.111 47
0.002 792
2
7.540 28
0.002 872
3
6.165 42
0.002 792
3
7.553 36
0.002 872
4
6.182 18
0.002 792
4
7.595 32
0.002 872
5
6.200 51
0.002 792
5
7.610 63
0.002 872
6
6.204 56
0.002 792
6
7.638 06
0.002 872
7
6.216 61
0.002 792
7
7.663 17
0.002 872
8
6.238 32
0.002 792
8
7.673 91
0.002 872
9
6.255 75
0.002 792
9
7.687 12
0.002 872
10
6.265 30
0.002 792
10
7.708 53
0.002 872
11
6.280 40
0.002 792
グループA
11
7.730 83
0.002 872
グループC
12
6.291 31
0.002 792
12
7.748 37
0.002 872
13
6.295 27
0.002 792
13
7.763 20
0.002 872
14
6.306 28
0.002 792
14
7.785 04
0.002 872
15
6.322 57
0.002 792
15
7.800 85
0.002 872
16
6.356 11
0.002 792
16
7.828 69
0.002 872
17
6.361 30
0.002 792
17
7.859 16
0.002 872
18
6.373 32
0.002 792
18
7.859 35
0.002 872
19
6.426 49
0.002 792
19
7.928 61
0.002 872
20
6.469 25
0.002 792
20
7.969 48
0.002 872
1
6.922 64
0.002 832
1
8.604 29
0.002 957
2
6.946 98
0.002 832
2
8.653 47
0.002 957
3
6.984 72
0.002 832
3
8.684 06
0.002 957
4
7.092 57
0.002 832
4
8.718 34
0.002 957
5
7.048 39
0.002 832
5
8.752 50
0.002 957
6
7.060 48
0.002 832
6
8.768 89
0.002 957
7
7.084 23
0.002 832
7
8.786 36
0.002 957
8
7.102 50
0.002 832
8
8.799 66
0.002 957
9
7.114 77
0.002 832
9
8.811 50
0.002 957
10
7.122 06
0.002 832
10
8.821 63
0.002 957
11
7.138 87
0.002 832
グループB
11
8.833 46
0.002 957
12
7.166 27
0.002 832
12
8.844 34
0.002 957
13
7.177 78
0.002 832
13
8.859 08
0.002 957
14
7.261 93
0.002 832
14
8.868 98
0.002 957
15
7.215 24
0.002 832
15
8.882 17
0.002 957
グループD
16
7.235 62
0.002 832
16
8.893 57
0.002 957
17
7.258 41
0.002 832
17
8.904 09
0.002 957
18
7.294 38
0.002 832
18
8.916 51
0.002 957
19
7.339 54
0.002 832
19
8.930 89
0.002 957
20
7.393 26
0.002 832
20
8.931 86
0.002 957
21
8.950 27
0.002 957
22
8.965 33
0.002 957
23
8.981 56
0.002 957
24
8.995 55
0.002 957
25
9.017 97
0.002 957
26
9.036 58
0.002 957
27
9.053 22
0.002 957
28
9.071 08
0.002 957
29
9.099 74
0.002 957
30
9.153 98
0.002 957
41
X 6256：2019 (ISO/IEC 16963：2017)
表C.5−回帰分析結果
推定回帰係数
標準偏差
0ˆβ
1ˆβ
lsm
ˆσ
−36.321 5
15 304.74
0.161 52
手順5は，次による。
5ˆ
lnB及び
50ˆ
lnBは，表C.5の回帰係数の推定値
0ˆβ及び 1ˆβ並びに対数標準偏差の推定値
lsm
ˆσを用いて計算
できる（A.1.2参照）。
そして，過酷保存条件（30 ℃及び相対湿度80 %）でのB5ライフ，B50ライフ及びB5ライフの95 %下側
信頼限界は，
5ˆ
lnB及び
50ˆ
lnBの計算値を用いて計算することができ，次による（A.1.3参照）。
10
1
0
50
ˆ
ˆ
ˆ
ln
x
β
β
B
+
=
=−36.321 5+15 304.74×0.003 298 7
=14.164 25
)
25
164
.
14
exp(
50
=
ライフ
B
=1 417 280時間（162年）
lsm
10
1
0
5
ˆ
64
.1
ˆ
ˆ
ˆ
ln
σ
x
β
β
B
−
+
=
=14.164 25−1.64×0.161 52
=13.899 36
)
36
899
.
13
exp(
5
=
ライフ
B
=1 087 462時間（124年）
B5ライフの95 %下側信頼限界は，次による。
[
]
+
=
=
)
ˆ
var(ln
ˆ
ln
exp
)
ˆ
(ln
exp
)
(
5
100
5
5
L
5
L
5
B
z
B
B
Bライフ
−
≅
)
ˆ
var(ln
1.64
ˆ
ln
exp
5
5
B
B
)1
688
.
13
exp(
)
598
016
.0
64
.1
36
899
.
13
exp(
=
×
−
=
= 880 372時間（100年）
注記 E.3参照
42
X 6256：2019 (ISO/IEC 16963：2017)
附属書D
（規定）
非破壊的代替ストレス条件
ストレス条件が試験するディスクにとって破壊的な場合は，代替ストレス条件を適用する。
この規格で使用したストレス条件は，85 ℃及び相対湿度80 %，85 ℃及び相対湿度70%，85 ℃及び相
対湿度60 %，80 ℃及び相対湿度80 %，75 ℃及び相対湿度80 %，70 ℃及び相対湿度75 %並びに65 ℃
及び相対湿度80 %である。
このストレス条件の中で，最も厳しい温度は85 ℃である。温度が85 ℃のストレス条件が湿度によらず
試験するディスクにとって破壊的であると考えられる場合は，全ての85 ℃のストレス条件を80 ℃に置き
換えてもよい。アイリング法及びアレニウス法の推奨代替条件を，表D.1，表D.2，表D.3及び表D.4に示
す。
表D.1−アイリング法で使用する厳密ストレス代替条件
試験標本
グループ
試験ストレス条件
（インキュベーション）
試験標
本数
最大インキュ
ベーション時
間区分
最小総インキ
ュベーション
時間
中間相対湿度
最小平衡保
持時間
Temp
（℃）
RH
（%）
（h）
（h）
RH
（%）
（h）
A
80
80
20
300
1 500
31
7
B
80
70
20
400
2 000
31
6
C
80
60
20
600
3 000
31
5
D
75
80
20
600
3 000
32
8
E
65
80
30
800
4 000
35
9
表D.2−アイリング法で使用する基本ストレス代替条件
試験標本
グループ
試験ストレス条件
（インキュベーション）
試験標
本数
最大インキュ
ベーション時
間区分
最小総インキ
ュベーション
時間
中間相対湿度
最小平衡保
持時間
Temp
（℃）
RH
（%）
（h）
（h）
RH
（%）
（h）
A
80
80
20
250
1 000
31
7
B
80
70
20
250
1 000
31
6
C
65
80
20
500
2 000
35
9
D
70
75
30
625
2 500
33
11
43
X 6256：2019 (ISO/IEC 16963：2017)
表D.3−アレニウス法で使用する厳密ストレス代替条件
試験標
本グル
ープ
試験ストレス条件
（インキュベーション） 試験標本数
最大インキュ
ベーション時
間区分
最小総インキ
ュベーション
時間
中間相対湿度
最小平衡
保持時間
Temp
（℃）
RH
（%）
（h）
（h）
RH
（%）
（h）
A
80
80
20
300
1 500
31
7
B
75
80
20
400
2 000
32
8
C
70
80
20
600
3 000
33
9
D
65
80
30
800
4 000
35
10
表D.4−アレニウス法で使用する基本ストレス代替条件
試験標
本グル
ープ
試験ストレス条件
（インキュベーション） 試験標本数
最大インキュ
ベーション時
間区分
最小総インキ
ュベーション
時間
中間相対湿度
最小平衡
保持時間
Temp
（℃）
RH
（%）
（h）
（h）
RH
（%）
（h）
A
80
80
20
250
1 000
31
7
B
75
80
20
425
1 700
32
8
C
65
80
30
600
2 400
35
10
ストレス条件によってインクジェットのプリント層が吸収する水分量は，通常の使用及び動作条件で経
験するものをはるかに超えている。インクジェット印刷用のレーベル層をもつディスクは，レーベル層内
の過度の湿度によって大きな反りを示す可能性がある。したがって，試験標本としてインクジェット印刷
層のないディスクを使用することが望ましい。加速劣化試験での過度な湿度で大きな反りを示すインクジ
ェットレーベル層をもつディスクを使用する場合には，過度の湿度がインクジェットレーベル印刷層から
排出され大きな反りがなくなるように，代替ストレス条件として最小平行保持時間を十分長い時間に設定
することが望ましい。ディスクを，大きな反りがなくなるまで試験環境でしばらく放置することも，適用
可能である。
44
X 6256：2019 (ISO/IEC 16963：2017)
附属書E
（参考）
最ゆう（尤）法を用いたB5ライフの区間推定
E.1
下側信頼限界
附属書Aで，B5ライフ及びB50ライフの寿命推定の解析（点推定及び簡易区間推定）について規定した。
ここでは，このB5ライフ及びB50ライフの区間推定の，より正確な解析法を紹介する。
なお，光ディスクの寿命推定の場合，区間推定は推定値の下側だけ考えればよい。
注記 この附属書で示す式は，完全データの場合の式である。
E.2
最ゆう（尤）法
A.1.2で，対数寿命y（＝lnt）が正規分布に従うことから，パラメータβ及びσのゆう（尤）度関数は，
次による。
(
)
(
)
∏∏
=
=
=
J
j
n
i
i
ij
j
x
y
f
σ
β
L
1
1
|
,
′
−
−
=∏∏
=
=
2
1
1
2
1
exp
π
2
1
σ
y
σ
ij
J
j
n
i
j
β
x
ここに，
J： 標本グループの数
nj： 標本グループの番号jの標本数
σ： 母集団の標準偏差
ゆう（尤）度関数の対数をとると
(
)
(
)
[
]
∑∑
∑
=
=
=
+
+
−
−
−
=
J
j
n
i
j
j
ij
J
j
j
j
x
β
x
β
β
y
σ
n
σ
σ
β,
L
1
1
2
2
2
1
1
0
2
1
2
1
π
2
ln
ln
β及びσの最ゆう（尤）推定値は，上の式の第2項を最大にすることで得られる。
推定値
0ˆβ， 1ˆβ及び 2ˆβは重回帰式の係数であり，推定値σˆは標準偏差である。
p
Bˆ
ln
の点推定は，推定値
0ˆβ， 1ˆβ， 2ˆβ及びσˆから，次のとおり得ることができる。
σ
z
x
β
x
β
β
B
p
p
ˆ
ˆ
ˆ
ˆ
ˆ
ln
100
2
2
1
1
0
+
+
+
=
寿命分布の第5分位点及び第50分位点は，次による。
σ
x
β
x
β
β
B
ˆ
64
.1
ˆ
ˆ
ˆ
ˆ
ln
20
2
10
1
0
5
−
+
+
=
20
2
10
1
0
50
ˆ
ˆ
ˆ
ˆ
ln
x
β
x
β
β
B
+
+
=
ここに，
20
10x
x，
： 制御保存条件（25 ℃及び相対湿度50 %）
光ディスクの対数寿命
p
Bˆ
ln
の区間推定は，下限だけを考えればよい。したがって，対数寿命
p
Bˆ
ln
の(100
−α) %の下側信頼限界は，次による。
45
X 6256：2019 (ISO/IEC 16963：2017)
(
)
]
ˆ
var[ln
ˆ
ln
ˆ
ln
100
L
p
p
p
B
z
B
B
α
+
=
σ
z
x
β
x
β
β
B
p
p
ˆ
ˆ
ˆ
ˆ
ˆ
ln
100
20
2
10
1
0
+
+
+
=
の式は，次のように変換できる。
θ
x
ˆ
ˆ
ln
′
=
p
p
B
ここに，
p
x′： [
]
100
/
20
10
,
,
,1
p
z
x
x
θˆ： [
]′
σ
β
β
β
ˆ,
ˆ
,
ˆ
,
ˆ
2
1
0
そして，(
)
p
Bˆ
ln
var
は，次による。
(
)
()
p
p
p
x
B
′
=
θ
x
ˆ
var
ˆ
ln
var
ここに，
)ˆ
var(θは，フィッシャー情報行列の逆行列で，次による。
=
)ˆ
var(
)ˆ,
ˆ
cov(
)
ˆ
var(
)ˆ,
ˆ
cov(
)
ˆ
,
ˆ
cov(
)
ˆ
var(
)ˆ,
ˆ
cov(
)
ˆ
,
ˆ
cov(
)
ˆ
,
ˆ
cov(
)
ˆ
var(
)ˆ
var(
2
2
1
2
1
1
0
2
0
1
0
0
σ
σ
β
β
σ
β
β
β
β
σ
β
β
β
β
β
β
θ
ここに，
。
との間の共分散を表す
と
は
b
a
b
a
ˆ
ˆ
)
ˆ
,
ˆ
cov(
β
β
β
β
5ˆ
lnB及び
50ˆ
lnBの分散は，それぞれ
)
ˆ
var(ln
5B及び
)
ˆ
var(ln
50
B
で表すことができるので，
5ˆ
lnB及び
50ˆ
lnBの
95 %下側信頼限界は，次のいずれかによる。
()
)
ˆ
var(ln
1.64
ˆ
ln
ˆ
ln
5
5
L
5
B
B
B
−
=
(
)
)
ˆ
var(ln
64
.1
ˆ
ln
ˆ
ln
50
50
L
50
B
B
B
−
=
ここに，
)
ˆ
var(ln
5B及び
)
ˆ
var(ln
50
B
は，次のいずれかによる。
−
−
=
1.64
1
)ˆ
var(
)ˆ,
ˆ
cov(
)
ˆ
var(
)ˆ,ˆ
cov(
)
ˆ
,ˆ
cov(
)
ˆ
var(
)ˆ,
ˆ
cov(
)
ˆ
,
ˆ
cov(
)
ˆ
,
ˆ
cov(
)
ˆ
var(
]
1.64
1[
)
ˆ
var(ln
20
10
2
2
1
2
1
1
0
2
0
1
0
0
20
10
5
x
x
σ
σ
β
β
σ
β
β
β
β
σ
β
β
β
β
β
β
x
x
B
=
20
10
2
2
1
1
2
0
1
0
0
20
10
50
1
)
ˆ
var(
)
ˆ
,
ˆ
cov(
)
ˆ
var(
)
ˆ
,
ˆ
cov(
)
ˆ
,
ˆ
cov(
)
ˆ
var(
]
1[
)
ˆ
var(ln
x
x
β
β
β
β
β
β
β
β
β
x
x
B
以上から，B5ライフの95 %下側信頼限界は，次による。
[
]
−
=
=
)
ˆ
var(ln
64
.1
ˆ
ln
exp
)
ˆ
(ln
exp
)
(
5
5
L
5
L
5
B
B
B
Bライフ
46
X 6256：2019 (ISO/IEC 16963：2017)
E.3
フィッシャー情報行列及び分散の計算
関数
)
,
(
ln
ln
σ
β
L
L=
を使用することによって，E.2中のフィッシャー情報行列Iは，次による。
∂
∂
∂
∂
∂
∂
∂
∂
∂
∂
∂
∂
∂
∂
∂
∂
∂
∂
∂
∂
∂
∂
∂
∂
∂
∂
∂
∂
∂
∂
∂
∂
∂
∂
∂
∂
∂
∂
∂
∂
∂
∂
∂
∂
−
=
2
2
2
2
1
2
0
2
2
2
2
2
2
2
1
2
2
0
2
1
2
2
1
2
2
1
2
2
1
0
2
0
2
2
0
2
1
0
2
2
0
2
ln
ln
ln
ln
ln
ln
ln
ln
ln
ln
ln
ln
ln
ln
ln
ln
σ
L
σ
β
L
σ
β
L
σ
β
L
σ
β
L
β
L
β
β
L
β
β
L
σ
β
L
β
β
L
β
L
β
β
L
σ
β
L
β
β
L
β
β
L
β
L
E
I
ここに，
)
(ix
E
：
xiの期待値
行列Iの各成分は，次による。
2
2
0
2ln
σ
n
β
L
E
=
∂
∂
−
∑
=
=
∂
∂
∂
−
J
j
j
jx
n
σ
β
β
L
E
1
1
2
1
0
2
1
ln
∑
=
=
∂
∂
∂
−
J
j
j
jx
n
σ
β
β
L
E
1
2
2
2
0
2
1
ln
=
∂
∂
∂
−
σ
β
L
E
0
2ln
0
2
1
1
2
2
1
2
1
ln
j
J
j
jx
n
σ
β
L
E
∑
=
=
∂
∂
−
j
j
J
j
j
x
x
n
σ
β
β
L
E
2
1
1
2
2
1
2
1
ln
∑
=
=
∂
∂
∂
−
0
ln
1
2
=
∂
∂
∂
−
σ
β
L
E
2
2
1
2
2
2
2
1
ln
j
J
j
jx
n
σ
β
L
E
∑
=
=
∂
∂
−
0
ln
2
2
=
∂
∂
∂
−
σ
β
L
E
2
σ
n
σ
L
E
2
ln
2
2
=
∂
∂
−
ここに，
n： 総標本数を表し∑
=
=
J
j
j
n
n
1
したがって，Iは，次による。
=
∑
∑
∑
∑
∑
∑
∑
∑
=
=
=
=
=
=
=
=
2
2
2
1
2
2
1
1
2
1
2
2
2
1
1
2
2
1
1
2
1
1
2
1
2
2
1
1
2
2
2
0
0
0
0
1
1
1
0
1
1
1
0
1
1
σ
n
x
n
σ
x
x
n
σ
x
n
σ
x
x
n
σ
x
n
σ
x
n
σ
x
n
σ
x
n
σ
σ
n
I
j
J
j
j
j
j
J
j
j
J
j
j
j
j
j
J
j
j
j
J
j
j
J
j
j
j
J
j
j
j
J
j
j
j
逆行列I −1を使うと，
)
ˆ
var(ln
50
B
及び
)
ˆ
var(ln
5Bは，次による。
47
X 6256：2019 (ISO/IEC 16963：2017)
[
]
=
−
∑
∑
∑
∑
∑
∑
∑
∑
=
=
=
=
=
=
=
=
20
10
2
2
1
2
2
1
1
2
1
2
2
2
1
1
2
2
1
1
2
1
1
2
1
2
2
1
1
2
2
20
10
50
1
1
1
1
1
1
1
1
1
1
)
ˆ
ln
(
var
1
x
x
x
n
σ
x
x
n
σ
x
n
σ
x
x
n
σ
x
n
σ
x
n
σ
x
n
σ
x
n
σ
σ
n
x
x
B
j
J
j
j
j
j
J
j
j
J
j
j
j
j
j
J
j
j
j
J
j
j
J
j
j
j
J
j
j
j
J
j
j
j
[
]
−
−
=
−
∑
∑
∑
∑
∑
∑
∑
∑
=
=
=
=
=
=
=
=
1.64
1
2
0
0
0
0
1
1
1
0
1
1
1
0
1
1
1.64
1
)
ˆ
ln
(
var
20
10
2
2
2
1
2
2
1
1
2
1
2
2
2
1
1
2
2
1
1
2
1
1
2
1
2
2
1
1
2
2
20
10
5
1
x
x
σ
n
x
n
σ
x
x
n
σ
x
n
σ
x
x
n
σ
x
n
σ
x
n
σ
x
n
σ
x
n
σ
σ
n
x
x
B
j
J
j
j
j
j
J
j
j
J
j
j
j
j
j
J
j
j
j
J
j
j
J
j
j
j
J
j
j
j
J
j
j
j
アレニウス法では温度が唯一の変数で湿度は固定であり，アレニウス法の分散を推定する式は，次によ
る。
[
]
=
−
∑
∑
∑
=
=
=
10
2
1
1
2
1
1
2
1
1
2
2
10
50
1
1
1
1
1
)
ˆ
ln
(
var
1
x
x
n
σ
x
n
σ
x
n
σ
σ
n
x
B
j
J
j
j
J
j
j
j
J
j
j
j
[
]
−
−
=
−
∑
∑
∑
=
=
=
1.64
1
2
0
0
0
1
1
0
1
1.64
1
)
ˆ
ln
(
var
10
2
2
1
1
2
1
1
2
1
1
2
2
10
5
1
x
σ
n
x
n
σ
x
n
σ
x
n
σ
σ
n
x
B
j
J
j
j
J
j
j
j
J
j
j
j
E.4
分散の計算例
B.2のデータに対する計算例を，表E.1，表E.2，表E.3及び表E.4を使った分散の計算例を，次に示す。
表E.1−グループデータ
Temp1
Temp2
Temp3
Temp4
Temp5
lsm
ˆσ
85
85
85
75
65
0.132 35
RH1
RH2
RH3
RH4
RH5
80
70
60
80
80
n1
n2
n3
n4
n5
Σnj
20
20
20
20
30
110
48
X 6256：2019 (ISO/IEC 16963：2017)
表E.2−x1j及びx2j
x11
x12
x13
x14
x15
0.002 792 13
0.002 792 13
0.002 792 13
0.002 872 33
0.002 957 27
x21
x22
x23
x24
x25
80
70
60
80
80
表E.3−フィッシャー情報行列I
6 279.785
17.908 35
468 129.4
0
17.908 35
0.051 101 81
1 337.029
0
468 129.4
1 337.029
35 280 980
0
0
0
0
12 559.57
表E.4−逆行列I −1
0.303 502 4
−117.650 6
4.315 019E-4
0
−117.650 6
4 791.963
−0.254 791 9
0
4.315 019E-4
−0.254 791 9
3.958 656E-6
0
0
0
0
7.962 056E-5
注記 逆行列は，EXCEL関数の“MINVERSE”のような表計算シートを使うことによって得られる。
したがって，
)
ˆ
var(ln
50
B
及び
)
ˆ
var(ln
5Bは，次による。
)
ˆ
ln
(
var
50
B
= [1， 0.003 354 016， 50] ·
−
−
−
−
50
016
354
003
.0
1
6
-
E
656
958
.3
9
791
254
.0
4
-
E
019
315
.4
9
791
254
.0
189
.
119
39
6
650
.
117
4
-
E
019
315
.4
6
650
.
117
4
502
303
.0
= 0.020 915
)
ˆ
ln
(
var
5B=[1， 0.003 354 016， 50，−1.64] ·
−
−
−
−
−
64
.1
50
016
354
003
.0
1
5
-
E
056
962
.7
0
0
0
0
6
-
E
656
958
.3
9
791
254
.0
4
-
E
019
315
.4
0
9
791
254
.0
189
.
119
39
6
650
.
117
0
4
-
E
019
315
.4
6
650
.
117
4
502
303
.0
= 0.021 129
注記 行列の積は，EXCEL関数の“MMULT”のような表計算シートを使うことによって得られる。
49
X 6256：2019 (ISO/IEC 16963：2017)
附属書F
（参考）
BDディスクのRSER測定
最大RSERの10−3は，BDディスクの加速ストレス試験で故障時間を評価するのに適した値として採用
された。BDに使用するECCは十分強力であり，RSERが10−3でDVDのECCを上回るエラー訂正能力が
ある[11] [12]。
RSERは，40バイト以上のバーストエラーを除いて測定する。しかし，まだ40バイト未満のバーストエ
ラーに影響を受ける。
ディスクを測定する時に，ディスクを手で取り扱うことは避けられない。短いバーストを避けるために，
ディスクの表面に指紋を残さないように注意をすることが重要である。特に初期データ記録する前が重要
である。
RSERが異常に増加した場合（特にディスクの最外周の近くで）は，指紋を拭き取りRSERを再測定す
ることが望ましい。
50
X 6256：2019 (ISO/IEC 16963：2017)
参考文献
[1] JIS X 6241 120 mm DVD−再生専用ディスク
注記 原国際規格では，ISO/IEC 16448，Information technology−120 mm DVD−Read-only disk を記
載している。
[2] JIS X 6242 80 mm DVD−再生専用ディスク
注記 原国際規格では，ISO/IEC 16449，Information technology−80 mm DVD−Read-only disk を記
載している。
[3] JIS X 6281 120 mm再生専用形光ディスク（CD-ROM）
注記 原国際規格では，ISO/IEC 10149，Information technology−Data interchange on read-only 120 mm
optical data disks (CD-ROM) を記載している。
[4] ISO 18927:2002，Imaging materials−Recordable compact disc systems−Method for estimating the life
expectancy based on the effects of temperature and relative humidity
[5] Experimental statistics，US National Bureau of Standards Handbook 91， 1963
[6] Applied Regression Analysis，Draper and Smith， Wiley Edition 2
[7] Statistical Methods for Reliability Data，Meeker， Escobar， 1998， John Wiley & Sons Inc.
[8] V. Bagdonavičius and M. Nikulin，Accelerated Life Models: Modeling and statistical analysis， Chapman &
Hall/CRC， 2002
[9] J. F. Lawless，Statistical Models and Methods for Lifetime Data， 2nd Ed.， Wiley， 2003
[10] W. Yamamoto，C. Kumazaki， and K. Suzuki， On Estimation of Archival Lifetime Distribution of Writable
Optical Discs， Proceeding of the 21st Symposium on Phase Change Optical Information Storage PCOS 2009，
pp.72-75，2009
[11] White Paper Blu-ray Disc™ Format BD-ROM 9th Ed.， August， 2015. Available from
http://www.blu-raydisc.com/Assets/Downloadablefile/White%20Paper%20BD-ROM̲Part1̲9th̲20150806̲cle
an.pdf
[12] White Paper Blu-ray Disc™ Format General 4th Ed.，August， 2015. Available from
http://www.blu-raydisc.com/Assets/Downloadablefile/White̲Paper̲General̲4th̲20150817̲clean.pdf