JISX6251:2009 １２０　ｍｍ（４．７ＧＢ／面）及び８０　ｍｍ（１．４６ＧＢ／面）＋Ｒフォーマット光ディスク（１６倍速まで）

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

（1）

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

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序文 ··································································································································· 1

第1章一般事項 ················································································································· 1

1 適用範囲 ························································································································· 1

2 適合性···························································································································· 2

2.1 光ディスク ··················································································································· 2

2.2 製造システム ················································································································ 2

2.3 情報再生システム ·········································································································· 2

2.4 互換性 ························································································································· 2

3 引用規格 ························································································································· 2

4 用語及び定義 ··················································································································· 2

5 表記法···························································································································· 5

5.1 数値表記 ······················································································································ 5

5.2 略式名称 ······················································································································ 5

6 略語······························································································································· 5

7 ディスクの概要 ················································································································ 6

8 一般要求事項 ··················································································································· 7

8.1 環境条件 ······················································································································ 7

8.2 安全性 ························································································································· 8

8.3 耐燃性 ························································································································· 8

9 基準測定装置 ··················································································································· 8

9.1 光学系 ························································································································· 8

9.2 光学ビーム ··················································································································· 9

9.3 読取りチャネル1 ··········································································································· 9

9.4 ディスククランプ ········································································································· 10

9.5 ディスクの回転 ············································································································ 10

9.6 ウォブルチャネル（読取りチャネル2） ············································································ 10

9.7 トラッキングチャネル（読取りチャネル2） ······································································ 11

9.8 基準サーボシステム ······································································································ 11

第2章ディスクの寸法，機械的特性及び物理的特性 ································································ 13

10 寸法特性 ······················································································································ 13

10.1 基準面 ······················································································································· 14

10.2 全体寸法 ···················································································································· 15

10.3 第1遷移領域 ·············································································································· 15

10.4 第2遷移領域 ·············································································································· 15

10.5 クランプゾーン ··········································································································· 15

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10.6 第3遷移領域 ·············································································································· 16

10.7 情報ゾーン ················································································································· 16

10.8 リム領域 ···················································································································· 16

10.9 許容公差についての注意 ······························································································· 16

11 機械的特性 ··················································································································· 16

11.1 質量 ·························································································································· 16

11.2 慣性モーメント ··········································································································· 16

11.3 ダイナミックインバランス ···························································································· 16

11.4 軸方向の振れ量 ··········································································································· 17

11.5 半径方向の振れ量 ········································································································ 17

12 情報ゾーンの光学的特性 ································································································· 18

12.1 屈折率 ······················································································································· 18

12.2 基板の厚さ ················································································································· 18

12.3 反射率 ······················································································································· 18

12.4 複屈折 ······················································································································· 19

12.5 角度偏差 ···················································································································· 19

第3章情報フォーマット ···································································································· 19

13 データフォーマット ······································································································· 19

13.1 データフレーム ··········································································································· 20

13.2 スクランブルドフレーム ······························································································· 22

13.3 ECCブロック ············································································································· 22

13.4 記録フレーム ·············································································································· 24

13.5 変調及びNRZI変換 ····································································································· 24

13.6 物理セクタ ················································································································· 25

13.7 記録ユニット(RUN)のレイアウト ···················································································· 26

13.8 直流成分抑圧制御 ········································································································ 27

14 トラックフォーマット ···································································································· 28

14.1 トラック形状 ·············································································································· 28

14.2 トラック経路 ·············································································································· 28

14.3 トラックピッチ ··········································································································· 29

14.4 トラックレイアウト ····································································································· 29

第4章情報ゾーンのフォーマット ························································································ 52

15 情報ゾーンについての概要 ······························································································ 52

16 シングルセションディスクの情報ゾーンのレイアウト··························································· 52

16.1 物理セクタ番号 (PSN) ·································································································· 52

17 インナードライブ領域 ···································································································· 53

17.1 イニシャルゾーン ········································································································ 54

17.2 インナーディスクテストゾーン ······················································································ 54

17.3 カウントゾーンランイン ······························································································· 54

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006) 目次

（3）

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

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17.4 インナーディスクカウントゾーン ··················································································· 54

17.5 インナーディスク管理ゾーン ························································································· 54

17.6 目次情報(TOC)ゾーン··································································································· 55

18 リードインゾーン ·········································································································· 58

18.1 ガードゾーン1 ············································································································ 59

18.2 予約ゾーン1 ··············································································································· 59

18.3 予約ゾーン2 ··············································································································· 59

18.4 インナーディスク識別ゾーン ························································································· 59

18.5 予約ゾーン3 ··············································································································· 59

18.6 リファレンスコードゾーン ···························································································· 60

18.7 バッファゾーン1 ········································································································· 60

18.8 制御データゾーン ········································································································ 60

18.9 バッファゾーン2 ········································································································· 62

19 データゾーン ················································································································ 62

20 リードアウトゾーン ······································································································· 62

20.1 バッファゾーン3 ········································································································· 63

20.2 アウターディスク識別ゾーン ························································································· 63

20.3 ガードゾーン2 ············································································································ 63

21 アウタードライブ領域 ···································································································· 63

21.1 アウターディスク管理ゾーン ························································································· 64

21.2 アウターディスクカウントゾーン ··················································································· 64

21.3 アウターディスクテストゾーン ······················································································ 64

21.4 ガードゾーン3 ············································································································ 64

22 マルチセションレイアウト ······························································································ 64

22.1 イントロ ···················································································································· 65

22.2 データゾーン ·············································································································· 66

22.3 クロージャ ················································································································· 66

23 フラグメントの連続記録 ································································································· 66

23.1 セションの開始 ··········································································································· 66

23.2 セションの終了 ··········································································································· 68

23.3 ディスクのファイナライズ ···························································································· 69

24 論理セクタ番号の割当て (LSN) ························································································ 69

25 ディスク制御ブロック ···································································································· 69

25.1 ディスク制御ブロックのフォーマット ············································································· 69

25.2 セションDCB(SDCB)のフォーマット ·············································································· 71

第5章グルーブの特性 ······································································································· 74

26 概要 ···························································································································· 74

27 試験方法 ······················································································································ 74

27.1 環境 ·························································································································· 74

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006) 目次

（4）

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

ページ

27.2 基準測定装置 ·············································································································· 74

27.3 信号の定義 ················································································································· 75

28 グルーブ信号の特性 ······································································································· 75

28.1 位相深さ ···················································································································· 75

28.2 プッシュプル信号 ········································································································ 75

28.3 クロストラック信号 ····································································································· 76

28.4 正規化ウォブル信号 ····································································································· 76

28.5 ウォブルの特性 ··········································································································· 76

第6章記録層の特性 ·········································································································· 76

29 試験方法 ······················································································································ 76

29.1 環境 ·························································································································· 77

29.2 基準測定装置 ·············································································································· 77

29.3 記録条件 ···················································································································· 77

29.4 測定条件 ···················································································································· 79

30 記録済み信号の特性 ······································································································· 79

30.1 チャネルビット長 ········································································································ 80

30.2 信号の定義 ················································································································· 80

30.3 読取りの安定性 ··········································································································· 81

31 追加試験の条件 ············································································································· 81

31.1 試験環境 ···················································································································· 81

31.2 信号の定義 ················································································································· 82

32 記録層の品質 ················································································································ 84

32.1 欠陥 ·························································································································· 84

32.2 データエラー ·············································································································· 84

第7章ユーザデータの特性 ································································································· 84

33 試験方法 ······················································································································ 84

33.1 環境 ·························································································································· 85

33.2 基準測定装置 ·············································································································· 85

34 記録ユニットの最低品質 ································································································· 85

34.1 トラッキング ·············································································································· 85

34.2 ユーザ記録データ ········································································································ 85

附属書A（規定）80 mm+Rディスク ······················································································· 86

附属書B（規定）データゾーンの拡張フォーマット情報の構造 ····················································· 89

附属書C（規定）光反射の測定 ······························································································ 90

附属書D（規定）複屈折の測定 ······························································································ 92

附属書E（規定）ジッタの測定 ······························································································ 94

附属書F（規定）位相差トラッキングエラー信号の測定 ······························································ 97

附属書G（規定）テスト用記録パルス波形 ·············································································· 101

附属書H（規定）8-16変調 ··································································································· 108

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006) 目次

（5）

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

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附属書I（規定）最適パワー制御及び記録条件 ········································································· 116

附属書J（参考）逐次実行形OPC ·························································································· 119

附属書K（参考）波長依存性 ································································································ 120

附属書L（参考）基準サーボの使用法····················································································· 124

附属書M（参考）グルーブウォブル振幅の測定 ········································································ 130

附属書N（参考）ディスクの耐光性 ······················································································· 132

附属書O（参考）輸送 ········································································································· 133

附属書P（参考）ビデオコンテンツプロテクション ··································································· 134

附属書Q（参考）ADIPの物理フォーマット情報の使い方 ·························································· 135

附属書R（参考）現行及び将来の仕様で使用する値··································································· 137

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

（6）

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

まえがき

この規格は，工業標準化法第12条第1項の規定に基づき，財団法人光産業技術振興協会（OITDA）及

び財団法人日本規格協会（JSA）から，工業標準原案を具して日本工業規格を制定すべきとの申出があり，

日本工業標準調査会の審議を経て，経済産業大臣が制定した日本工業規格である。

この規格は，著作権法で保護対象となっている著作物である。

この規格に従うことは，次の者の有する特許権等の使用に該当するおそれがあるので，留意する。

− 氏名：東芝DVDライセンス株式会社

− 住所：東京都港区浜松町1-18-16

− 氏名：コーニンクレッカ・フィリップス・エレクトロニクス・エヌ・ヴィ

− 住所：オランダ国 5621 ベーアーアインドーフェンフルーネヴァウツウェッハ 1

Groenewoudseweg 1, 5621 BA Eindhoven, The Netherlands

上記の，特許権等の権利者は，非差別的かつ合理的な条件でいかなる者に対しても当該特許権等の実施

の許諾等をする意思のあることを表明している。ただし，この規格に関連する他の特許権等の権利者に対

しては，同様の条件でその実施が許諾されることを条件としている。

この規格に従うことが，必ずしも，特許権の無償公開を意味するものではないことに注意する必要があ

る。

この規格の一部が，上記に示す以外の特許権等に抵触する可能性がある。経済産業大臣及び日本工業標

準調査会は，このような特許権等にかかわる確認について，責任はもたない。

なお，ここで“特許権等”とは，特許権，出願公開後の特許出願，実用新案権又は出願公開後の実用新

案登録出願をいう。

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

日本工業規格 JIS

X 6251：2009

(ISO/IEC 17344：2006)

120 mm（4.7 GB／面）及び80 mm（1.46 GB／面）

+Rフォーマット光ディスク（16倍速まで）

Information technology-Data interchange on 120 mm and 80 mm optical

disk using +R format-Capacity: 4.7 and 1.46 Gbytes per side

(Recording speed up to 16X)

序文

この規格は，2006年に第3版として発行されたISO/IEC 17344を基に，技術的内容及び対応国際規格の

構成を変更することなく作成した日本工業規格である。

なお，この規格で点線の下線を施してある参考事項は，対応国際規格にはない事項である。

第1章一般事項

適用範囲

この規格は，4.7 ギガバイト及び9.4 ギガバイトの容量をもつ120 mmレコーダブル光ディスクの機械

的特性，物理的特性及び光学的特性を規定する。また，これらのディスクによって情報交換を可能とする

記録部及び未記録部の信号品質，データフォーマット及び記録方法を規定する。データは，不可逆的な方

法で一度記録し，何度も読み出すことが可能で，このディスクを+Rと称する。

この規格は，1.46ギガバイト及び2.92ギガバイトの容量をもつ80 mmのディスクについても規定する。

80 mmのディスクは，寸法に関するパラメタを除き，同一の特性をもつ。そのすべてのパラメタは，附属

書Aに規定する。

この規格は，次の項目を規定する。

− 直径80 mm及び120 mmの片面又は両面のディスク（箇条7参照）

− 適合条件

− ディスクの評価環境，使用環境及び保存環境

− データ処理システム間の機械的互換のためのディスクの機械特性，物理特性及び寸法特性

− トラック及びセクタの物理的配置，誤り訂正符号及び符号化方法を含むディスク上の情報のフォー

マット

− データ処理システムがディスク上のデータ読取りを可能にするための，ディスク上に記録した信号

の特性

この規格によって，ディスクドライブ間のディスクの互換性を確立する。また，ボリューム及びファイ

ル構造の規定によって，データ処理システム間の完全なデータ互換性を確立する。

注記この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を，次に示す。

ISO/IEC 17344:2006，Information technology−Data Interchange on 120 mm and 80 mm Optical Disk

using +R format−Capacity: 4,7 and 1,46 Gbytes per Side (Recording speed up to 16X) (IDT)

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

なお，対応の程度を表す記号(IDT)は，ISO/IEC Guide 21に基づき，一致していることを示す。

適合性

2.1

光ディスク

この規格は，片面か両面かでディスクのタイプを規定する。ディスクは，この規格のタイプの要求事項

を満たすとき，この規格に適合する。

2.2

製造システム

製造システムは，製造するディスクが2.1に合致するとき，この規格に適合する。

2.3

情報再生システム

情報再生システムは，2.1に適合するディスクの両方のタイプを取り扱うことができるならば，この規格

に適合する。

2.4

互換性

製造システム及び情報再生システムの適合を主張するには，引用する他の関連する規格を記載した一覧

表を付けなければならない。その記載には，関連する規格の番号，利用可能な光ディスクのタイプ（必要

に応じて），並びに再生だけなのか又は記録及び再生の両方をサポートするのか否かを記載しなければなら

ない。

引用規格

次に掲げる規格は，この規格に引用されることによって，この規格の規定の一部を構成する。これらの

引用規格は，記載の年の版を適用する。

JIS X 6241:2004 120 mm DVD−再生専用ディスク

注記対応国際規格：ISO/IEC 16448:2002，Information technology−120 mm DVD−Read-only disk

(IDT)

ISO/IEC 4873:1991，Information technology−ISO 8-bit code for information interchange−Structure and rules

for implementation

ECMA-287:2002，Safety of electronic equipment, 2nd edition

用語及び定義

この規格で用いる主な用語及び定義は，次による。

4.1

チャネルビット (channel bit)

2進数の値“0”及び“1”を，ディスク上のピット及びマークで表す要素。

4.2

クランプゾーン (clamping zone)

クランプ機構によって，クランプ力が加わるディスクの環状の部分。

4.3

ディジタル総計値 (digital sum value)

10進数の＋1をビット“1”及び10進数の−1をビット“0”に割り当てることによって，ビットストリ

ームから得た算術和。

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

4.4

ディスク基準面 (disk reference plane)

ディスクをクランプするための基準となる，ディスク表面にある理想の平面であって，理想的なスピン

ドルの回転軸に対して垂直に位置する面。

4.5

ダミー基板 (dummy substrate)

透明又は不透明であって，ディスクを，（場合によっては記録層も）機械的に支持する層。

4.6

入射面 (entrance surface)

最初に光ビームがディスクに入射する面。

4.7

フィールド (field)

セクタの一部分。

4.8

グルーブ (groove)

情報を記録する前に使用され，トラックの位置決めに用いるディスクの溝。

注記グルーブは，グルーブ間の領域（ランド）よりも入射面に近く位置する。記録はグルーブに行

う。

4.9

インタリーブ (interleaving)

データをバーストエラーの影響がないようにするため，データの最小単位の物理的な並びを再配置する

プロセス。

4.10

マーク (mark)

ピット，非晶質，その他の形態，又は光学的に検出できる形態をもった記録層の特性部分。

注記マーク及びスペースのパターンによってディスク上のデータを表現する。

4.11

マルチセションディスク (multi-session disk)

次の三つのゾーンを1単位とし，複数の単位で構成されるディスク。

a) 一つのリードイン又はイントロ

b) 一つのデータ

c) 一つのクロージャ又はリードアウト

4.12

物理セクタ (physical sector)

ディスクの情報ゾーンに存在するトラックの中で，アドレス指定可能な最小領域。

4.13

記録層 (recording layer)

製造時及び／又は使用時にデータを記録したディスクの層。

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

4.14

リードソロモン符号 (reed-solomon code)

エラー検出又は訂正符号。

4.15

基準速度 (reference velocity)

26.156 25 Mbit/sの公称チャネルビットレートの線速度。

4.16

シングルセションディスク (single-session disk)

次の三つのゾーンで構成されるディスク。

a) 一つのリードイン

b) 一つのデータ

c) 一つのリードアウト

4.17

セション (session)

次の三つのゾーンで構成される領域。

a) 一つのリードイン又はイントロ

b) 一つのデータ

c) 一つのクロージャ又はリードアウト

4.18

スペース (space)

結晶，非ピット，その他の形態，又は光学的に検出できる形態をもった記録層の特性部分。

注記マーク及びスペースのパターンによってディスク上のデータを表現する。

4.19

基板 (substrate)

記録層を機械的に支持する透明な円盤状の基体。これを通して光ビームで記録層にアクセスする。

4.20

トラック (track)

連続スパイラルの360 °，1回転分。

4.21

トラックピッチ (track pitch)

隣接したトラックの中心線間を半径方向で測定した距離。

4.22

ビデオコンテンツプロテクションシステム (Video Contents Protection System)

+R又は+RWのビデオフォーマットで記録されているビデオデータを承認なくコピー及び／又は再配布

することを禁止する方法。

4.23

ウォブル (wobble)

トラックの平均中心線からの連続的な正弦波状の偏位。そのウォブルの位相変調データは位置情報を含

んでいる。

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

4.24

ゾーン (zone)

ディスクの環状領域。

表記法

5.1

数値表記

測定値は，該当規格値の最下位けた（桁）に丸める。例えば，＋0.01のプラス許容差及び−0.02のマイ

ナス許容差をもつ1.26という規格値は，1.235以上1.275未満の測定値の範囲を許容する。

10進数は，0〜9の数字で表す。

16進数は，括弧でくくった，0〜9の算用数字とA〜Fのアルファベットとで表す。

ビットの設定は，“0”及び“1”で表す。

2進数及びビットパターンは，左側を最上位ビットとし，“0”及び“1”の一連で表す。nビットのパタ

ーンで，ビットb(n-1)は，最上位ビット(msb)とし，ビットb0は，最下位ビット(lsb)としなければならない。

ビットb(n-1)を最初に記録する。

2進数の負の値は，2の補数として表す。

各データフィールドでは，データは，バイト0とする最上位のバイト(MSB)を最初に記録し，最下位バ

イト(LSB)を最後に記録する。

8nビットの1フィールドで，ビットb (8n-1)は，最上位ビット(msb)とし，ビットb0は，最下位ビット(lsb)

としなければならない。ビットb (8n-1)を最初に記録する。

5.2

略式名称

例えば，特定のトラック及びフィールドなどは，頭を大文字にした略式の名称で表記する。

略語

a.c.

alternating current 交流

ADIP

Address in Pre-groove プリグルーブ内アドレス

ASM

Asymmetry 信号の非対称性

Byte Position バイト位置

BPF

Band Pass Filter 帯域フィルタ

CAV

Constant Angular Velocity 一定角速度

CLD

Constant Linear Density 一定線密度

CLV

Constant Linear Velocity 一定線速度

current mark 現在のマーク

d.c.

direct current 直流

DCB

Disk Control Block ディスク制御ブロック

DCC

d.c. Component suppression Control 直流成分抑圧制御

DSV

Digital Sum Value ディジタル総計値

ECC

Error Correction Code 誤り訂正符号

EDC

Error Detection Code 誤り検出符号

Extended Information 拡張情報

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

High Frequency 高周波

Identification Data 識別データ

IED

ID Error Detection code ID誤り検出符号

LPF

Low Pass Filter 低域フィルタ

LSB

Least Significant Byte 最下位バイト

lsb

Least Significant Bit 最下位ビット

LSN

Logical Sector Number 論理セクタ番号

MSB

Most Significant Byte 最上位バイト

msb

Most Significant Bit 最上位ビット

Numerical Aperture 開口数

NRZ

Non Return to Zero 非ゼロ復帰

NRZI

Non Return to Zero Inverted 非ゼロ反転復帰

NSL

Normalized Slicing Level 正規化しきい値

NWPW

Normalized Write Power Window 正規化記録パワー幅

OPC

Optimum Power Control 最適パワー制御

OTP

Opposite Track Path 対向トラック経路

PAA

Physical Address in ADIP ADIP物理アドレス

PBS

Polarizing Beam Splitter 偏光ビームスプリッタ

Parity of Inner-code 内符号パリティ

PLL

Phase Locked Loop 位相同期ループ

Parity of Outer-code 外符号パリティ

Push-Pull プッシュプル

peak-to-peak ピークからピークまで

previous space 先行スペース

PSN

Physical Sector Number 物理セクタ番号

PTP

Parallel Track Path 平行トラック経路

RIN

Relative Intensity Noise 相対ノイズ強度

RPM

Revolutions per Minute 回転／分

Reed-Solomon code リードソロモン符号

RSV

Reserved 予備

RUN

Recording Unit 記録ユニット

SDCB

Session DCB セションDCB

SNR

Signal to Noise Ratio 信号対雑音比

SYNC

Synchronization code 同期符号

TOC

Table of Contents 目次情報

ディスクの概要

この規格の対象の光ディスクは，一つ又は二つの記録層を内側に設けた基板2枚を接着層によってはり

合わせて構成する。ディスクの中心位置決めは，読取り側のディスク中心孔のエッジで行う。クランプは，

クランプゾーンで行う。この規格は，次の二つのタイプのディスクを提供する。

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

タイプS

基板，一つの記録層及びダミー基板からなり，記録層は，一方向からのアクセスを可能とする。容量の

公称値は，120 mmディスクで4.7ギガバイト，80 mmディスクで1.46 ギガバイトとする。

タイプD

2枚の基板及び二つの記録層からなり，ディスクの一方向からは，これらの記録層の一方にだけアクセ

スを可能とする。容量の公称値は，120 mmディスクで9.4ギガバイト，80 mmディスクで2.92 ギガバイ

トとする。

データは，集光した光学ビームによって低反射となるマークとして，ディスクの記録層に記録できる。

データは，記録されたマークと記録されていないスペースの間で反射率の違いを利用して，集光した光学

ビームで読み出すことができる。ビームは，ディスクの透明な基板を通して，記録層にアクセスする。

図1にこれらのタイプを示す。

図1−+Rディスクのタイプ

一般要求事項

8.1

環境条件

8.1.1

試験環境条件

試験環境条件は，ディスク近傍の雰囲気が，次の条件を満たす環境とする。

温度

23 ℃±2 ℃

相対湿度

45 ％〜55 ％

大気圧

60 kPa〜106 kPa

ディスクに結露があってはならない。少なくとも，48時間この環境に放置してから試験する。試験前に

タイプ S

タイプ D

基板

記録層

接着層

ダミー基板

基板

入射面

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

は，ディスク製造業者の取扱説明書に従いディスクの入射面の汚れを落とすことが望ましい。

別に規定しない限り，すべての試験及び測定は，この試験環境条件で行わなければならない。

8.1.2

動作環境条件

規定した測定環境で，この規格のすべての要求事項を満たすディスクは，動作環境条件において環境パ

ラメタの規定範囲にわたってデータ交換ができなければならない。

動作環境条件は，ディスク近傍の雰囲気が次の条件を満たす環境とする。

温度

5 ℃〜55 ℃

相対湿度

3 ％〜85 ％

絶対湿度

1 g/m3〜30 g/m3

大気圧

60 kPa〜106 kPa

温度変動

最大10 ℃/h

相対湿度変動最大10 ％/h

ディスクに結露があってはならない。この条件にさらされたディスクは，動作前に少なくとも2時間動

作環境条件に放置してから使用する。

8.1.3

保存環境条件

保存環境条件は，ディスク近傍の雰囲気が次の条件を満たす環境とする。

温度

−10 ℃〜55 ℃

相対湿度

3 ％〜90 ％

絶対湿度

1 g/m3〜30 g/m3

大気圧

60 kPa〜106 kPa

温度変動

最大15 ℃/h

相対湿度変動最大10 ％/h

ディスクに結露があってはならない。

8.1.4

輸送

この規格は，輸送条件を規定しない。指針を附属書Oに示す。

8.2

安全性

ディスクは，情報処理システムにおいて意図された方法での使用時又は想定される使用時に，ECMA-287

の安全性に関する要求事項を満たさなければならない。

8.3

耐燃性

ディスク及びその構成要素は，ECMA-287に規定しているように，HB材料の耐燃性クラス以上に適合

する材料で作る。

基準測定装置

この規格の要求事項に適合するために，光学特性の測定には基準測定装置を使用しなければならない。

これらの装置の重要部品は，ここで定義する特性をもつ。

9.1

光学系

記録及び再生パラメタを測定するために使われる基準測定装置の光学系の基本構成を，図2に示す。図

2と同じ性能が提供できる場合，構成要素及びその位置が異なっても差し支えない。光学系は，測定の精

度に影響しないように，ディスク入射面から反射した検出光を最小化しなければならない。

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

レーザダイオード

光ディスク

コリメータレンズ

四分割フォトディテクタ

偏光ビームスプリッタ

H1,H2,H3,H4

直流結合増幅器

1/4波長板

Ia,Ib,Ic,Id

フォトディテクタGからの出力電流

対物レンズ

I1,I2

H3,H4からの出力電流

図2−基準測定装置の光学系

偏光ビームスプリッタC及び 1/4波長板Dの組合せによって，レーザダイオードAからの入射光と光

ディスクFからの反射光とは分離される。偏光ビームスプリッタCのP-S強度／反射率の比は，100以上

とする。

9.2

光学ビーム

記録及び読取りに使われる光学ビームは，次の特性をもつ。

a) 波長（λ）

655

＋

−

（附属書K参照）

b) 開口数

0.65±0.01

c) 対物レンズは，厚さ0.6 mmで屈折率が1.55の基板による球面収差を補正しなければならない。

d) 単層ディスクの理想基板を通過した後の波面収差

最大0.033 λ rms

e) 対物レンズのひとみ（瞳）の縁での光強度

半径方向は最大光強度の35 ％〜50 ％

接線方向は最大光強度の45 ％〜60 ％

偏光

円偏光

g) 読取りパワー（平均）

0.7 mW±0.1 mW（直流又は400 MHz以上で変調した高周波）

h) 記録パワーとパルス幅

附属書G参照

レーザダイオードの相対ノイズ強度 (RIN) 最大−134 dB/Hz

RIN (dB/Hz)=10 log［（交流光パワー実効値／Hz）／直流光パワー実効値］

9.3

読取りチャネル1

読取りチャネル1は，記録層のマーク及びスペースから信号を生成する。この読取りチャネルは，マー

読取りチャネル2

トラック進行方向

読取りチャネル1

+ +

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

ク及びスペースの反射率の変化を利用してユーザが記録した情報の再生に使用する。読取りチャネルの光

ディテクタに接続する前置増幅器は，直流成分から20 MHzまで1 dB以内の平たん（坦）な帯域をもつ。

ジッタの測定のためのPLL及びスライサなどは，附属書Eに規定する。

9.4

ディスククランプ

測定のために，ディスクは，クランプゾーン（10.5参照）のほとんどを覆う二つの同心状リングの間で

固定する。上側のクランプ領域は，下側のクランプ領域と同じ直径をもたなければならない（図3参照）。

図3−クランプ及びチャックの条件

クランプ領域は，

5.0
0.0

と

0.0

5.0

out

−

との間とする。

クランプ力は，F1＝2.0 N±0.5 Nとする。クランプ力及びディスク中心孔のリムに発生するチャック力

F2 によって生じる力のモーメントによるディスクの反りを防ぐために，F2 は，0.5 Nを超えてはならない

（図3参照）。

テーパコーン角度αは，40.0°±0.5°とする。

9.5

ディスクの回転

再生時の回転速度は，公称チャネルビットレートが26.156 25 Mbit/sで3.49 m/s±0.03 m/sの基準速度と

する。ディスクの回転方向は，対物レンズからみて反時計方向とする。

記録時の回転速度は，リードインゾーンのADIP補助フレームにある物理フォーマット情報に指定され

たすべての主速度及び上位速度を含む（14.4.1.1及び14.4.2参照）。

注記ディスクの回転速度は半径位置に依存する。角速度＝60×実速度 / (2π×r) RPM。

ディスクのテスト時に，角速度は，10 000 RPMを超えてはならない。

9.6

ウォブルチャネル（読取りチャネル2）

装置の読取りチャネル2は，記録時にディスク上でアドレス位置決めを制御するウォブル信号を提供す

る。ウォブル信号は，対物レンズの出射ひとみ（瞳）の後で2分割した光量の差信号 (I1−I2) とし，読取

りチャネル2によって生成する。読取りチャネルのフォトディテクタに接続する前置増幅器は，直流成分

から20 MHzまで1 dB以内の平たん（坦）な帯域をもつ。

din

dout

光ディスク

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

9.7

トラッキングチャネル（読取りチャネル2）

装置の読取りチャネル2は，光ビームの半径方向のトラッキングサーボを制御するトラッキングエラー

信号を供給する。半径方向のトラッキングエラーは，対物レンズの出射ひとみ（瞳）の後で2分割した光

量の差信号 (I1−I2) とし，読取りチャネル2によって生成する。

軸方向のトラッキングエラーを生成する方法は，基準測定装置に規定されない。

9.8

基準サーボシステム

9.8.1

正規化サーボ伝達関数

軸方向及び半径方向のトラッキングサーボを規定する開ループ伝達関数。

Hs (iω)は，式(1)による。

)

······················································· (1)

ここに，

i ：

−

ω： 2π f

ω0： 2π f0

f0は，開ループ伝達関数の0 dBクロスオーバ周波数とする。

サーボの位相進み遅れ回路のクロスオーバ周波数は，次による。

進み交差周波数：

遅れ交差周波数：f2 = f0 × 3

最大許容残留トラッキングエラーemaxに等しい振幅をもつ正弦波状偏位での周波数fXは，最大想定加速

度αmaxに対応して次による。

max

ディスクからのトラッキングエラー信号は大きな変動をもつため，それぞれの基準サーボループに入力

するトラッキングエラー信号は，規定したバンド幅を保障するため一定のレベル（効果的なループ利得校

正のため）に調整しなければならない。

9.8.2

軸方向のトラッキング基準サーボ

軸方向のトラッキングのために，正規化サーボ伝達関数(Hs)のクロスオーバ周波数f0 =ω0/(2π) は，式(2)

となる。αmaxは，軸方向の最大加速度想定値8.0 m/s2の1.5倍とする。最大許容トラッキングエラーemax

は，このαmaxの結果から0.20 μmとする。

したがって，クロスオーバ周波数f0は，次による。

kHz

1.2

5.1

max

−

··································· (2)

軸方向のトラッキング基準サーボの開ループ伝達関数Hに対し| 1＋H | は，図4に模式的に示すハッチ

ング領域内になければならない。

100 Hz〜10 kHzの帯域幅 |1＋H|は，|1＋HS|の20 ％以内でなければならない。

26 Hz〜100 Hzの帯域幅 |1＋H|は，次の4点で囲まれる範囲内とする。

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

1) 100 Hzで41.7 dB（100 Hzで |1＋HS|−20 ％）

2) 100 Hzで45.2 dB（100 Hzで |1＋HS|＋20 ％）

3) 26 Hzで65.1 dB （26 Hzで |1＋HS|−20 ％）

4) 26 Hzで85.1 dB （26 Hzで |1＋HS|−20 ％に20 dBを加える。）

9.5 Hz〜26 Hzの帯域幅 |1＋H| は，65.1 dBと85.1 dBとの間になければならない。

図4−軸方向のトラッキング基準サーボ

9.8.3

半径方向のトラッキング基準サーボ

半径方向のトラッキングのために，正規化サーボ伝達関数(HS)のクロスオーバ周波数f0＝ω0/(2π) は，

式(3)となる。αmaxは軸方向の最大加速度想定値1.1 m/s2の1.5倍とする。最大許容トラッキングエラーemax

は，このαmaxの結果から0.022 μmとする。

したがって，クロスオーバ周波数f0 は，次による。

kHz

4.2

022

5.1

1.1

max

−

······························· (3)

半径方向のトラッキング基準サーボの開ループ伝達関数Hに対し|1＋H |は，図5に模式的に示すハッチ

ング領域内になければならない。

100 Hz〜10 kHzの帯域幅 |1＋H|は，|1＋HS|の20 ％以内でなければならない。

28.2 Hz〜100 Hzの帯域幅 |1＋H|は，次の4点で囲まれる範囲内とする。

1) 100 Hzで43.7 dB（100 Hzで |1＋HS|−20 ％）

2) 100 Hzで47.2 dB（100 Hzで |1＋HS|＋20 ％）

3) 28.2 Hzで65.6 dB（28.2 Hzで |1＋HS|−20 ％）

−10

85.1

65.1

45.2
41.7

100

1 000

10 000

9.5

100 000

周波数 (Hz)

利

得

(dB)

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

4) 28.2 Hzで85.6dB（28.2 Hzで |1＋HS|−20 ％に20 dBを加える。）

9.5 Hz〜28.2 Hzの帯域幅 |1＋H | は，65.6 dBと85.6 dBとの間になければならない。

図5−半径方向のトラッキング基準サーボ

第2章ディスクの寸法，機械的特性及び物理的特性

10 寸法特性

寸法特性は，ディスクの互換性及び適合をとるうえで必要なパラメタを規定する。設計の自由度がある

ところは，機械特性の要素規定にとどめる。寸法要求事項は，図6に示す。ディスクの各部分について，

中心孔から外周リムまでを規定する。

-10

65.6

47.2

43.7

100

1 000

10 000

9.5

28.2

100 000

周波数 (Hz)

85.6

利
得

(dB)

85.6

65.5

47.2
43.7

−10

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

遷移領域及びクランプゾーン（拡大図）

リム領域（拡大図）

図6−ディスクの寸法

10.1 基準面

寸法は，二つの基準面P及びQを基準とする。

基準面Pは，主基準面とし，クランプゾーン（10.5参照）の下面を置く面とする。

リム領域

第2遷移領域

第3遷移領域

リム領域

遷移領域及びクランプゾーン

第1遷移領域

クランプゾーン

情報ゾーン

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

基準面Qは，クランプゾーンの上面の高さで基準面Pと平行な面とする。

10.2 全体寸法

ディスクの直径は，次による。

d1=120.00 mm±0.30 mm

基板又はダミー基板の中心孔の直径は，次による（図7参照）。

.0
0

substrate

＋

2枚の基板をはり合わせたとき，ディクスの中心孔の直径は，次による。

2≧

図7−組立ディスクのあな（孔）

中心孔の両方のエッジは，ばりがあったり，とがった形状であったりしてはならない。それらのエッジ

は，次のとおりに丸めるか又は面取りをしなければならない。

h5≦0.1 mm

ディスクの厚さは，次による。

＋
−

10.3 第1遷移領域

第1遷移領域は，直径d2及び次の直径で囲まれた領域とする。

d3≧16.0 mm

この領域は，基準面Pより上及び／又は基準面Qより下で最大0.10 mmであってもよい。

10.4 第2遷移領域

第2遷移領域は，直径d3及び次の直径で囲まれた領域とする。

d4≦22.0 mm

この領域は，基準面P及び／又は基準面Qを超えて最大0.05 mmまでの平たん（坦）でない部分及びば

りがあってもよい。

10.5 クランプゾーン

このゾーンは，直径d4及び次の直径で囲まれた領域とする。

d5≧33.0 mm

dsubstrate

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

各面のクランプゾーンは，平面粗さが0.1 mm以内で平たん（坦）でなければならない。クランプゾー

ンの上面，すなわち，基準面Qの面は，下面，すなわち，基準面Pの面に0.1 mm以内で平行でなければ

ならない。

クランプゾーンのディスク厚さe2は，次による。

+−

10.6 第3遷移領域

第3遷移領域は，直径d5及び次の直径で囲まれた領域に規定する。

d6≦44.0 mm

この領域の上面は，基準面Qからの高さがh1だけ高くなってもよく，h2だけ低くなってもよい。

h1≦0.25 mm

h2≦0.10 mm

この領域の下面は，基準面Pからの高さがh3だけ高くなってもよく，h4だけ低くなってもよい。

h3≦0.10 mm

h4≦0.25 mm

10.7 情報ゾーン

情報ゾーンは，直径d6及び次の直径で囲まれた領域に規定する。

d7≧117.5 mm

このゾーンは，リードインゾーン，データゾーン，リードアウトゾーン及び内周と外周のドライブ領域

で構成される（箇条15参照）。

10.8 リム領域

リム領域は，直径d7 〜直径d1に囲まれた領域とする。この領域は，基準面P又は基準面Qからの高さ

がh6だけ高くともよい。

h6≦0.1 mm

ディスクの外周エッジは，ばりがあったり，とがった形状であったりしてはならない。それらのエッジ

は，次のとおりに丸めるか又は面取りをしなければならない。

h7≦0.2 mm

10.9 許容公差についての注意

10.6〜10.8で規定するhiで示す各々の高さは，相互に独立とする。例えば，第3遷移領域の上面がh2だ

け基準面Qから下がっている場合，この領域の下面が必ずしもh3だけ基準面Pから上がっていなくても

よいことを意味している。寸法が同じ数値“一般的には最大値”であるところでは，これは，実際の値が

同一でなければならないことを意味していない。

11 機械的特性

11.1 質量

ディスクの質量は，13.0 g〜20.0 gの範囲内とする。

11.2 慣性モーメント

回転軸に関するディスクの慣性モーメントは，最大0.040 g･m2とする。

11.3 ダイナミックインバランス

回転軸に関するディスクのダイナミックインバランスは，最大2.5 g･mmとする。

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

11.4 軸方向の振れ量

3.49 m/sの基準速度（9.5参照）で回転させ，軸方向のトラッキングのための基準サーボをもつ光学シス

テムで測定するとき，基準面に垂直の方向での公称位置からの記録層の偏差は，0.30 mm以下とする。

11.4.1 基準速度でのトラッキング要求事項 (CLV)

基準速度でディスクを回転させて，軸方向トラッキングの基準サーボで測定した10 kHz以下の残留トラ

ッキングエラーは，0.13 μm以下とする（対物レンズの移動は，記録層への光学ビームの焦点で移動する。）。

測定フィルタは，次のバタワース低域フィルタとする。

fc (−3 dB)：10 kHz，傾斜:−80 dB/decade

11.4.2 3 000 RMPでのトラッキング要求事項

4倍の基準速度を超えて記録するディスクは，次の要求事項を満たさなければならない。

3 000 RPMの回転速度に固定して，軸方向トラッキングの基準サーボで測定した10 kHz以下の残留トラ

ッキングエラーは，Eax (r) μmを超えてはならない。Eaxは，次の規定に従った半径rの関数とする。

rが29 mm以下

()

μm

rが29 mm以上

()

μm

rの単位は，mmとする。

8倍の基準速度を超えて記録するディスクは，更に次の要求事項を満たさなければならない。

いずれの半径においても残留トラッキングエラーは，0.40 μm以下とする。

50 Hz成分があるときは，それを残留トラッキングエラーから取り除いて判断する（例えば，サンプリ

ングした測定データを計算処理するなどの方法による。）。

11.5 半径方向の振れ量

ディスクの外周エッジの振れは，0.30 mm pp以下とする。

トラックの半径方向の振れは，70 μm pp以下とする。

測定機器としての基準サーボ使用法及び高速サーボ実装での測定結果の取扱いについては，附属書Lを

参照。

11.5.1 基準速度でのトラッキング要求事項 (CLV)

3.49 m/sの基準速度（9.5参照）で回転させて，半径方向トラッキングの基準サーボで測定した1.1 kHz

（= 9.8.1で規定するfx）以下の残留トラッキングエラーは，0.015 μm以下とする。

測定フィルタは，次のバタワース低域フィルタとする。

fc (−3 dB)：1.1 kHz，傾斜:−80 dB/decade

半径方向トラッキング基準サーボを用いて20 msの積算時間で測定した1.1 kHz〜10 kHzの周波数帯域で

の残留エラー信号のノイズ実効値は，0.016 μm以下とする。

測定フィルタは，次のバタワース帯域フィルタとする。

周波数範囲 (−3 dB) 1.1 kHz，傾斜:＋80 dB/decade

周波数範囲 (−3 dB) 10 kHz，傾斜:−80 dB/decade

11.5.2 3 000 RPMでのトラッキング要求事項 (CAV)

4倍の基準速度を超えて記録するディスクは，次の要求事項を満たさなければならない。

3 000 RPMの回転速度に固定して，半径方向トラッキングの基準サーボで測定した10 kHz以下の残留ト

ラッキングエラーは，Erad (r) μmを超えてはならない。Eradは，次の規定に従った半径rの関数とする。

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

rが29 mm以下

()

025

rad

rが29 mm以上

()

025

rad

rの単位は，mmとする。

8倍の基準速度を超えて記録するディスクは，更に次の要求事項を満たさなければならない。

いずれの半径においても残留トラッキングエラーは，0.055 μm以下とする。

信号に50 Hzの成分が存在する場合は，これらの要求事項の前に残留トラッキングエラーから除去しな

ければならない（例えば，サンプルした測定データで計算処理をする場合）。このプロセスはディスクの純

粋な偏心の影響を効果的に取り除くことができる。

12 情報ゾーンの光学的特性

12.1 屈折率

情報ゾーンにおける基板の屈折率は，1.55±0.10とする。

12.2 基板の厚さ

入射面から記録層までの基板厚さは，基板の屈折率の関数とし，図8の囲まれた領域とする。

図8−基板の厚さ

12.3 反射率

基板のダブルパス光学的透過及び記録層の反射率は，ディスクの反射率Rとして一緒に測定する。Rの

値は，附属書Cによって測定し，情報ゾーンでは，次のとおりとする。

1.40

1.50

1.60

1.70

0.600

0.580

0.620

(1.45; 0.633)

(1.65; 0.620)

(1.56; 0.620)

(1.45; 0.593)

(1.56; 0.580)

(1.65; 0.580)

屈折率

厚

さ

)

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

未記録のグルーブにおいてRdは，45 ％〜85 ％とする。

記録済みのグルーブにおいてR14Hは，45 ％〜85 ％とする。

未記録のグルーブ反射率Rd及び適用する記録ストラテジ（29.3.2参照）で最適化した記録パワーactual

Ppeakは，次の要求事項を満たす。

Rd × actual Ppeak≦

(mW)

for

IND

peak̲max

ジのλ

適応する記録ストラテ

≦

× 9 mW

12.4 複屈折

基板の複屈折は，附属書Dによって測定し，60 nm以下とする。

12.5 角度偏差

角度偏差は，基準面Pに垂直に入射する光と反射する光との間の角度αとする（図9参照）。入射光は，

0.3〜3.0 mm範囲の直径をもつ。この角度αは，入射面及び記録層と入射面との非平行によるゆがみを含

む。

図9−角度偏差α

その角度偏差は次のとおりとする。

半径方向 |α| ≦ 0.70°

1回転の半径方向のαの偏差は，最大0.80° ppとする。

接線方向 |α| ≦ 0.30°

第3章情報フォーマット

13 データフォーマット

ホストから受け取ったデータを，主データという。主データを，ディスクに記録する前に，次の順に変

換し，フォーマットを行う。

− データフレーム

− スクランブルドフレーム

− ECCブロック

− 16記録フレーム

− 16物理フレーム

基板

入射ビーム

反射ビーム

入射面

記録層

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

− 記録ユニット

これらのステップは，13.1〜13.8で規定する。

13.1 データフレーム

データフレームは，各行172バイトを含む12行の配列に配置した2 064バイトによって構成する（図10

参照）。識別データ(ID)，ID誤り検出符号(IED)及び予備バイト(RSV)と呼ばれる三つのフィールドで最初の

行が始まり，160バイトの主データが続く構成にする。次の10行は，各172バイトの主データからなり，

最後の行は，168バイトの主データに4バイトの誤り訂正符号(EDC)が続く構成にする。2 048の主データ

は，D0〜D2 047とする。

172バイト

バイト

IED

RSV

主データ 160バイト (D0〜D159)

主データ 172 バイト (D160〜D331)

主データ 172 バイト (D332〜D503)

主データ 172 バイト (D504〜D675)

主データ 172 バイト (D676〜D847)

主データ 172 バイト (D848〜D1 019)

12行

主データ 172 バイト (D1 020〜D1 191)

主データ 172 バイト (D1 192〜D1 363)

主データ 172 バイト (D1 364〜D1 535)

主データ 172 バイト (D1 536〜D1 707)

主データ 172 バイト (D1 708〜D1 879)

主データ 168 バイト (D1 880〜D2 047)

EDC

4バイト

図10−データフレーム

13.1.1

識別データ (ID)

このフィールドは，4バイトで構成し，そのビットは，最下位ビット(lsb)をb0とし，最上位ビット(msb)

をb31とする連続した番号付けをする（図11参照）。

図11−識別データ (ID)

セクタ情報である最上位バイトのビットは，次による。

(msb) b31 b24 b23 b0

セクタ情報

セクタ番号

(lsb)

b31 b30 b29 b28 b27 b26 b25 b24

セクタフォー
マットタイプ

トラッキング

方法

反射率

予備

ゾーンタイプ

データタイプレイヤ番号

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

ビットb31

CLDフォーマットを示す“0”に設定する。

ビットb30

ピットトラッキングの可否を示す“0”に設定する（31.2.5参照）。

ビットb29

反射率が40 ％以上を示す“0”に設定する。

ビットb28

“0”に設定する。

ビットb27及びb26

次の値に設定する。

データゾーン

“0”

リードインゾーン

“0”

リードアウトゾーン

“0”

ビットb25

再生専用データを示す“0”に設定する。

ビットb24

入射面から一つの記録層だけアクセスできることを示す“0”に設定する。

ビットb0〜b23の最下位3バイトは，物理セクタ番号を2進数表示で表す。16セクタで構成するECCブ

ロックの最初の物理セクタ番号は，16の整数倍とする。

13.1.2

ID誤り検出符号 (IED)

図10に示す配列のすべてのバイトをCi,j (i＝0〜11，j＝0〜171)とするとき，IEDのバイトは，C0,j (j＝4

〜5)で表す。これらの設定は，次による。

()

()x

mod

IED

=∑

−

ここに，

I(x)：

−

=∑

GE (x)： (x＋1) (x＋α)

αは原始多項式P (x)＝x8＋x4＋x3＋x2＋1の原始根とする。

13.1.3

予備バイト (RSV)

このフィールドは，6バイトで構成する。最初のバイトは，アプリケーションで規定する。アプリケー

ションで規定しない場合は，これを予備とし，(00)とする。残りの5バイトは，予備とし，すべて(00)とす

る。

どのような状況であっても，ホストから受け取ったデータ以外のものをこのフィールドに記録すること

があってはならない。

注記レコーダ及びドライブは，ユーザが任意に定義した数値をフィールドに何らかの方法で記録す

るように作られているか又は記録できるようにこれらの機器を容易に改造できるとき，このド

ライブは，回避装置とみなす。

13.1.4

誤り検出符号 (EDC)

この4バイトフィールドには，先行するデータフレームの2 060バイトにわたって計算した誤り検出符

号のパリティを入れる。データフレームを，IDフィールドの最初のバイトの最上位ビットで始まり，EDC

フィールドの最下位ビットで終了する単一ビットフィールドとしたとき，この最下位ビットをb0とし，最

上位ビットをb16 511とし，EDCの各ビットbiは，i＝0〜31に対し，次による。

()

mod

EDC

=∑

ここに，

I(x)：

∑

511

G (x)： x32＋x31＋x4＋1

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

13.2 スクランブルドフレーム

2 048主データバイトは，図12に示すシフトレジスタのビットr7 (msb) 〜r0 (lsb) のビットが，8ビット

シフトごとに，スクランブルをかけるバイトを表すフィードバックビットシフトレジスタ回路によって，

スクランブルする。

図12−フィードバックレジスタ

データフレームのスクランブル処理を始めるとき，シフトレジスタのビットr14〜r0は，表1の値にプリ

セットする。同じプリセット値は，16個の連続したデータフレームに使用される。16グループの16デー

タフレーム処理の後，手順は最初から繰り返される。初期のプリセット番号は，データフレームのIDフ

ィールドのシフトレジスタのビットb7 (msb)〜b4 (lsb)のビットによって表す値と等しい。表1は，16初期

プリセット番号に相当するシフトレジスタの初期プリセット値を表す。

表1−シフトレジスタの初期値

初期プリセット番号

初期プリセット値

初期プリセット番号

初期プリセット値

(0)

(0001)

(8)

(0010)

(1)

(5500)

(9)

(5000)

(2)

(0002)

(A)

(0020)

(3)

(2A00)

(B)

(2001)

(4)

(0004)

(C)

(0040)

(5)

(5400)

(D)

(4002)

(6)

(0008)

(E)

(0080)

(7)

(2800)

(F)

(0005)

シフトレジスタのビットr7〜r0の初期値の部分は，スクランブルをかけるバイトS0として取り出す。そ

の後，8ビットシフトが2 047回繰り返し，レジスタr7〜r0によって，スクランブルをかける2 047バイト

をS1からS2 047として取り出さなければならない。データフレームの主データバイトDkは，次によってス

クランブルバイトDʼkとなる。

Dʼk ＝Dk ○＋ Sk k＝0〜2 047

ここに，

○

＋：排他的論理和 (Exclusive OR)

13.3 ECCブロック

ECCブロックは，16個の連続スクランブルドフレームを，各行172バイトからなる192行に配列する（図

13参照）。172列の各々に外符号パリティ16バイトを加え，その結果，208行になった各行に内符号パリ

r 14

r 13

r 11

r 12

r 10

r 9

r 7

r 8

r 6

r 5

r 3

r 4

r 2

r 1

r 0

各8ビットシフトのSk

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

ティ10バイトを加える。完全なECCブロックは，各行182バイトからなる208行によって構成する。こ

の配列のバイトは，iが行数でjが列数であるBi,jとし，次による。

i＝0〜191及びj＝0〜171に対するBi,jは，スクランブルドフレームからのバイト。

i＝192〜207及びj＝0〜171に対するBi,jは，外符号パリティ(PO)のバイト。

i＝0〜207及びj＝172〜181に対するBi,jは，内符号パリティ(PI)のバイト。

192行

B 0
B 1 ,0
B 2 ,0

B 0 ,1

B 0 ,170

B 0 ,171

B 0 ,172

B 0 ,181

B 1 ,1

B 1 ,170

B 1 ,171

B 1 ,172

B 1 ,181

B 2 ,1

B 2 ,170

B 2 ,171

B 2 ,172

B 2 ,181

B 190 ,0 B 190 ,1

B 190 ,170 B 190 ,171 B 190 ,172

B 190 ,181

B 189 ,0 B 189 ,1

B 189 ,170 B 189 ,171 B 189 ,172

B 189 ,181

B 207 ,0 B 207 ,1

B 207 ,170 B 207 ,171 B 207 ,172

B 207 ,181

B 191 ,0 B 191 ,1

B 191 ,170 B 191 ,171 B 191 ,172

B 191 ,181

B 192 ,0 B 192 ,1

B 192 ,170 B 192 ,171 B 192 ,172

B 192 ,181

16行

10バイト

172バイト

図13−ECCブロック

PO及びPIバイトは，次の式によって算出する。

列j＝0〜171の各々で16 POバイトは，剰余多項式Rj (x) で定義され，外符号RS (208,192,17)を形成する。

()

207

192

207

mod

=∑

−

ここに，

Ij(x)：

i,jx

−

191

0∑

GPO(x)： ∏

)

(

xα

行i＝0〜207の各々で10 PIバイトは，剰余多項式Ri (x)で定義され，内符号RS (182,172,11) を形成する。

()

()x

181

172

181

mod

=∑

−

ここに，

Ii(x)：

i,jx

−

171

0∑

GPI(x)： ∏

)

(

αは原始多項式P (x)＝x8＋x4＋x3＋x2＋1の原始根とする。

2,0

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

13.4 記録フレーム

16個の記録フレームは，一つのECCブロックの中の12行ごとのデータから作られた16個のPO行のう

ちの一つをインタリーブすることによって算出できる（図14）。これは，ECCブロックのバイトbi,jを，次

の式に対するBm,nとして再配置することによって算出する。

m＝i＋int [i/12] 及びn＝j（iは191以下）

m＝13×(i−191)−1 及びn＝j（iは192以上）

ここに，

int [x]： x以下の最大の整数

このようにして一つのECCブロックの37 856バイトは，各セクタ2 366バイトからなる16個の記録フ

レームとして再配置される。各記録フレームは，各行182バイトからなる13行のデータ列を構成する。

図14−ECCブロックから得た記録フレーム

13.5 変調及びNRZI変換

各記録フレームの8ビットバイトは，二つの“1”の間に最小2個の“0”及び最大10個の“0”が含む

ラン長の制限をもつ16ビット符号語に変換する [RLL(2,10)]。附属書Hは，適用する変換テーブルを規定

する。主変換テーブル及び代替テーブルは，各256個の8ビットバイトに対して4状態のうち一つによっ

て16ビット符号語を規定する。各8ビットバイトに対して，テーブルは，相当する符号語だけでなくエン

コードする次の8ビットバイトの状態を示す。

182 bytes

rows

B0,0

B11,0

B12,0

B23,0

B192,0

B193,0

B191,0

B207,0

B180,0

B0,171

B11,171

B192,171

B193,171

B191,171

,171

207

B180,171

B12,171

,171

B0,172

B11,172

B192,172

B193,172

B191,172

,172

207

B180,172

B12,172

,172

B0,181

B11,181

B192,181

B193,181

B191,181

,181

207

B180,181

B12,181

,181

rows

Recording

Frames 2 - 14

Recording

Frame 0

Recording

Frame 1

Recording

Frame 15

. . . . . . . . . . . . . . . . . . .

. . . . . . . . . . . . . . . . . . .
. . . . . . . . . . . . . . . . . . .

. . . . . . . . . . . . . . . . . . .

. . . . . . . . . . . . . . . . . . .
. . . . . . . . . . . . . . . . . . .

. . . . . . . . . . . . . . . . . . .

. . . . .

記録フレーム

2~14

記録フレーム

182バイト

13行

2 〜14

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

16ビット符号語は，ディスクに記録する前にチャネルビットにNRZI変換する（図15参照）。チャネル

クロック長は2連続したチャネルビットの間の時間とする。

図15−NRZI変換

13.6 物理セクタ

物理セクタの構造は，図16に示すように，各行が二つの同期フレームからなる13行で構成する。一つ

の同期フレームは，表2の同期符号の一つと1 456チャネルビットとで構成し，1 456チャネルビットは，

記録フレームの一つの行のそれぞれの第1及び第2の91の8ビットバイトを表す。物理セクタの第1行は，

記録フレームの第1行を表し，物理セクタの第2行は記録フレームの第2行を表し，以下同様とする。

32チャネル

ビット

1 456チャネルビット

32チャネル

ビット

1 456チャネルビット

SY0

SY5

SY1

SY5

SY2

SY5

SY3

SY5

SY4

SY5

SY1

SY6

13行

SY2

SY6

SY3

SY6

SY4

SY6

SY1

SY7

SY2

SY7

SY3

SY7

SY4

SY7

同期フレーム

図16−物理セクタ

物理セクタの記録は，第1行の第1同期フレームで始まり，第2行の第2同期フレームに続き，行ごと

に以下同様とする。同期符号及び16チャネルビットの状態は，13.8に定義する。

16チャネルビット

NRZI変換パルス

8ビット

バイト

NRZ変換

変調器

排他的論理和

1 T遅延

16ビット

符号語

T=1チャネルクロック間隔

NRZ 変換信号：

NRZI変換信号：

16ビット符号語パターン：

0 0

0 0 0

0 0 0 0

0 0

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表2−同期符号

状態1及び状態2

主同期符号副同期符号

    (msb)              (lsb)    (msb)                   (lsb)
SY0=0001001001000100 0000000000010001  /  0001001000000100 0000000000010001
SY1=0000010000000100 0000000000010001  /  0000010001000100 0000000000010001
SY2=0001000000000100 0000000000010001  /  0001000001000100 0000000000010001
SY3=0000100000000100 0000000000010001  /  0000100001000100 0000000000010001
SY4=0010000000000100 0000000000010001  /  0010000001000100 0000000000010001
SY5=0010001001000100 0000000000010001  /  0010001000000100 0000000000010001
SY6=0010010010000100 0000000000010001  /  0010000010000100 0000000000010001
SY7=0010010001000100 0000000000010001  /  0010010000000100 0000000000010001

状態3及び状態4

主同期符号副同期符号

    (msb)              (lsb)    (msb)                   (lsb)
SY0=1001001000000100 0000000000010001  /  1001001001000100 0000000000010001
SY1=1000010001000100 0000000000010001  /  1000010000000100 0000000000010001
SY2=1001000001000100 0000000000010001  /  1001000000000100 0000000000010001
SY3=1000001001000100 0000000000010001  /  1000001000000100 0000000000010001
SY4=1000100001000100 0000000000010001  /  1000100000000100 0000000000010001
SY5=1000100100000100 0000000000010001  /  1000000100000100 0000000000010001
SY6=1001000010000100 0000000000010001  /  1000000001000100 0000000000010001
SY7=1000100010000100 0000000000010001  /  1000000010000100 0000000000010001

13.7 記録ユニット(RUN)のレイアウト

図17に記録ユニットのレイアウトを示す。

1個のRUNは，単一ECCブロック内の16個の物理セクタを1セットとして，その整数倍(M≧1)で構成

する。M個のECCブロックの先頭には，リンクの位置が不正確な場合の影響を低減するために8チャネ

ルビットを配置する。ただし，最後の物理セクタの最後尾の8チャネルビットは記録時には使わない。リ

ンクの8チャネルビット及び次の同期符号SY0（状態1/2又は状態3/4から選択する。）は，13.5で規定す

るラン長制限を満たすように無作為に選択する。

ECCブロックNから始まるM個のECCブロック(M≧1)の各RUNは，次のように記録する。

ECCブロックN−1中のリンクのための8チャネルビット

全ECCブロックN〜N＋M−2（Mは2以上とする）

ECCブロックN＋M−1 （記録しない最終の8チャネルビットを除く。）

ECCブロックN−1までが記録されておらず，ECCブロックNから始まるRUNを記録するとき，RUN

は，すべての主データバイトを (00) に設定したダミーECCブロックN−1をもつように拡張する（箇条

23 参照）。

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図17−記録ユニットのレイアウト

13.7.1 記録ユニットの位置

16個の物理セクタからなる各々のECCブロックは，四つのADIP語に対応する（14.4.1.1参照）。RUN

は，二つの最下位ビットを無視した物理セクタ番号(PSN)が，ADIPのローカル物理アドレス(PAA)に対応

するようにトラックの構造上に配置する。PSNは，次による。

PSN＝4×PAA＋i

ここに，

i： 0, 1, 2及び3

例えば，物理セクタ番号 (030000)〜(030003)は，物理ADIPアドレス(00C000)に対応する。

理論上のRUNの開始位置の基準は，二つの最下位アドレスビットが(00)に設定するADIP語のADIP語

同期ユニットに続くウォブル15とする（14.4.1.1及び図21参照）。理論上の開始位置は，読取りチャネル

2から得られたウォブル信号で先述のウォブル15の中心であるゼロクロスの位置から8チャネルビット分，

後の位置とする。

記録の開始は，理論上の開始位置から±5チャネルビット以内とする。

記録時のチャネルビットクロックは，ウォブル周波数に同期しなければならない。

13.8 直流成分抑圧制御

半径方向のトラッキング及び高周波信号の検出を確実にするために，チャネルビットパターンのストリ

ームの低周波成分は，できる限り低く保つことが望ましい。これを達成するために，ディジタル総計値（DSV，

4.3参照）は，できるだけ低く保つようにする。変調の始めのDSVは，0に設定する。

DSVの現在値を減少させる幾つかの方法を，次に示す。

a) 主同期符号と副同期符号との間の同期符号を，選択する。

b) 0〜87の範囲の8ビットバイトに対して，代替変換表は，すべての状態に対して代わるべき16ビット

符号語を示す。

c) 88〜255の範囲の8ビットバイトに対して，指定した状態が1又は4のとき，RLLの要求事項を満た

す場合，16ビット符号語は状態1又は状態4から選択できる。

これらの可能性を活用するために，ストリーム1及びストリーム2の二つのデータストリームを生成し，

ストリーム1は，主同期符号で，ストリーム2は，同期符号の同じ部類の副同期符号で，各々開始する。

リンキング

ECC ブロック

8 T

最大±5T

理論的開始位置

実際の開始位置

ウォブル15の中間

M ECCブロック

記録される部分

ECC ブロック

N＋M−1

8チャネル

ビット

最後の8

チャネル

ビット

記録時に

無視され

る部分

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両ストリームは，個別に変調するので，主同期符号と副同期符号とのビットパターン間の差異によって異

なったDSVを生成する。

b)及びc)の場合，一つの8ビットバイトを表すのに二つの可能性がある。各ストリームのDSVは，この

選択を行う8ビットバイトの手前から一つ前の8ビットバイトまで計算する。最も低い|DSV|のストリーム

を選択し，もう一つのストリームに複製する。それから次のビットバイトの符号語の一つがストリーム1

に入り，他の一つは，ストリーム2に入る，この動作は，b)又はc)の発生の都度繰り返す。

b)の場合は，両ストリームでの同じパターン位置で常に起こるが，c)の場合は，例えば，前の8ビット

バイトで規定した次の状態が1又は4の代わりに2又は3になり得るために，ストリームの一つで起こる

が他の一つでは起こらない可能性がある。その場合，次の三つの手順を適用する。

1) 両ストリームの |DSV| を比較する。

2) c)の場合が起こるストリームの|DSV|が，もう一つのストリームのものより小さければ，そのc)の場

合が起こったストリームを選択し，他のストリームに複製する。次の8ビットバイトの符号語の一

つがこのストリームに入り，もう一方は，もう一方のストリームに入る。

3) c)の場合が起こったストリームの|DSV|が，他のストリームのものより大きければ，このc)の場合は

無視し，その8ビットバイトは，規定された状態に従って決められる。

b)及びc)の場合，|DSV|が等しいとき，ストリーム1又はストリーム2の選択の決定は，この規格では規

定しない。

a)の場合の手順は，次による。

1) 同期フレームの終わりで，b)又はc)のいずれかが発生した場合に，両方のDSVが計算し，より低い

|DSV|をもつストリームが選択し，もう一方のストリームに複製する。そして，適切なカテゴリの次

の主同期符号及び副同期符号のそれぞれのストリームに挿入する。

2) 同期フレームの終わりでDSVが，＋63より大きいか又は−64より小さい場合，そのとき同期フレ

ームの始めの同期符号は，主同期符号から副同期符号に変えるか又はその逆にする。これによって

小さい|DSV|が得られる場合，その変更を決定し，|DSV|がより小さくなければ，元の同期符号が保

持する。

DSVの計算中，DSVの実際の値は，−1 000と＋1 000との間を変動する可能性があり，DSVのカウン

ト範囲は，少なくとも−1 024〜＋1 023がよい。

14 トラックフォーマット

14.1 トラック形状

情報ゾーン（10.7参照）の領域には，単一スパイラルのグルーブからなるトラックがある。各々のトラ

ックは，このグルーブの1回転分から成り立つ。各トラックの形状は，第5章によって定義する。データ

の記録は，このグルーブに行う。

情報ゾーン上のトラックは，中心線から位相変調した正弦波状にウォブルしており，このウォブルにデ

ィスクの位置情報を含める。

トラックは，情報ゾーンでは連続していて，その開始位置は，半径22.00 mm（最大）とし，終了位置は，

半径58.75 mm（最小）とする。

14.2 トラック経路

トラック経路は，内周から外周へと連続する1本のスパイラルでありリードインゾーンから始まりリー

ドアウトゾーンの終了位置で終わる。ここにおいて，ディスクの回転の方向は光ピックアップヘッド側か

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ら見て反時計方向とする。

14.3 トラックピッチ

トラックピッチは，隣接したトラックの各平均トラックセンター線間距離を半径方向に測定する。トラ

ックピッチは，0.74±0.03 μmとし，情報ゾーン内での平均値は，0.74±0.01 μmとする。

14.4 トラックレイアウト

トラックのウォブルは，トラックの仮想的中心線からの正弦波状偏位であり，その波長は，4.265 6 μm

±0.045 0 μmとし，32チャネルビットの長さに相当する。

ディスク製造時に，このウォブルを発生させる発振器の全高調波ひずみは，−40 dB以下とする。ウォ

ブルは，そのウォブル繰返しを交互に反転することによって位相変調する。このウォブル変調によって格

納する情報を，プリグルーブ内アドレス又はADIPと呼ぶ（14.4.1.1参照）。

14.4.1 ADIP情報

ディスクに記録するデータは，ウォブルに格納するADIP情報に対して正しい位置関係で記録しなけれ

ばならない。したがって，93個のウォブル長さが，二つの同期フレーム長さに相当する。この93個のウ

ォブル部分のうち，最初の8個のウォブル部分にADIP情報を含む（図18参照）。

1ウォブルの長さは，32チャネルビット長に等しい (＝32T)。

1 ADIPユニットは，2同期フレーム当たり，八つの変調したウォブルに等しい。

図18−ADIPの構造

14.4.1.1 ADIP語の構造

52個のADIPユニットが，まとまって1個のADIP語を構成する。すなわち1個のADIP語は，4×13×

2同期フレーム，すなわち4物理セクタに相当する。

各々のADIP語は，1個のADIP同期ユニット及び51個のADIPデータユニットで構成する。

1個のADIP同期ユニットは，ADIP同期のための4個の反転ウォブルと4個の非反転の連続ウォブルで

構成する。

1個のADIPデータユニットは，ビット同期のための1個の反転ウォブル，3個の非反転の連続ウォブル

及び1個のデータを示す4個のウォブルで構成する（14.4.1.3参照）。

93ウォブル

16ウォブル

1 488チャネルビット

2同期フレーム

85個の位相変調のないウォブル信号

1 488チャネルビット

データ

同期

1 ADIPユニット

=8ウォブル

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図19−ADIP語の構造

データビットに含む情報を，次に示す。

ビット1：

予備。“0”に設定する。

ビット2〜23：

これらの22ビットは，物理ADIPアドレスを含む。

ビット2が最上位ビットで，ビット23が最下位ビットとする。アドレスは，

一つのADIP語ごとに1ずつ増えてゆく。

情報ゾーンの最初のADIPアドレス (00C00) は，ディスク半径が24.00 mm

＋0.00 mm /−0.20 mmの位置とする。

物理ADIPアドレス (098150) は，リードアウトゾーンの最初のアドレスに相

当し，ディスク半径にして58.00 mm以下の位置とする。

ビット24〜31：

これらの8ビットは，ディスクに関する補助情報を示す。

連続した256個のADIP語から選んだビット24〜31は，256バイトの情報を

もつADIP補助フレームを形成する。各々のADIP補助フレームの最初のバ

イトは，256の倍数の物理アドレスをもつADIP語の部分に書く[物理アドレ

ス= (xxxx00)]。

ディスクのリードインゾーンの補助バイトは，物理フォーマット情報を格納

しなければならない。この256バイトの内容は，表3及び14.4.2で定義する。

ディスクのデータゾーンの補助バイトは，拡張フォーマット情報を格納して

よい（附属書B参照）。使用しない場合は，すべてのバイトを(00)に設定する。

ディスクのリードアウトゾーンの補助情報バイトは，(00)に設定する。

ビット32〜51：

これらの20ビットは，ADIP情報についてのエラー訂正パリティとして用い

る（14.4.1.2参照）。

14.4.1.2 ADIPエラー訂正

ADIPのエラー訂正のために，ADIPデータビットを，4ビット単位のニブルとしてグループ化する。デ

ータビットのニブル列への配置を，図20で定義する。ビット0は，ダミービットでエラー訂正器の便宜の

ために“0”とする。

ウォブル 0 ウォブル 1〜3

ウォブル 4〜7

1ECCブロック

同期ユニット

データユニット

ビット同期

ADIP語同期

語

物

理

セ

ク

タ

〃

データビット 1

データビット 2

データビット 51

〃

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ニブルN0

ビット0

ビット1

ビット2

ビット3

ニブル

ADIP
アドレス

ニブルN1

ビット4

ビット5

：

ビット20

：

ビット23

：

ビット24

：

ニブル

AUX
データ

ニブルN7

ビット28

：

ビット31

ニブルN8

ビット32

：

ニブル

ニブル
用R-S
ECC

：

ニブルN12

ビット48

ビット49

ビット50

ビット51

図20−ADIPエラー訂正の構造

ニブルを基にしたリードソロモンコードRS (13.8.6)が作られ，その中で五つのパリティニブルN8〜N12

までを，多項式R(x)で定義する。

()

mod

＝

＝∑

−

ここに，

I(x)： ∑

−

GPA(x)：

(

)

∏

xα

αは，原始多項式P(x)＝x4＋x＋1の原始根“0010”とする。

また，五つのパリティニブルN8〜N12のすべてのビットは，記録前に反転しておく。

14.4.1.3 ADIPの変調規則

ADIPユニットは，8ウォブルサイクルの中の正弦波の幾つかを反転させることによって変調する。

− PWを正のウォブルとする。このときウォブルは，ディスクの内周側へ向かって偏位を開始する。

− NWを負のウォブルとする。このときウォブルは，ディスクの外周側へ向かって偏位を開始する。

− 反転のない，単純なウォブルはすべてPWとする。

図21にADIPの変調規則を示す。

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ADIP語同期部の変調：

“0”を示すADIP変調：

“1”を示すADIP変調：

図21−ADIP変調規則

4NW 4PW

ウォブル番号 92 0 1 2 3 4 5 6 7 8

ADIP同期ユニット

1NW 3PW 2NW 2PW

ウォブル番号 92 0 1 2 3 4 5 6 7 8

“1”を示すADIPのパターン

1NW 3PW 2PW 2NW

ウォブル番号 92 0 1 2 3 4 5 6 7 8

“0”を示すADIPのパターン

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表3−ADIP中の物理フォーマット情報

バイト番号

内容

バイト数

ディスクカテゴリ及びバージョン番号

ディスクサイズ

ディスク構造

記録密度

4〜15

データゾーン位置の指定

(00)に設定

ディスクアプリケーションコード

拡張情報の参照子

19〜26

ディスク製造業者ID

27〜29

メディアタイプID

ディスクの改訂履歴番号

ADIPのバイト63までに使用している物理フォーマット情報の数

基本記録ストラテジに対応する主記録速度

基本記録ストラテジに対応する上位記録速度

波長 λIND

正規化記録パワーの波長依存性

主速度での最大読取りパワー

主速度でのPIND

主速度でのβtarget

上位速度での最大読取りパワー

上位速度でのPIND

上位速度でのβtarget

主速度でのcma)≧4Tの場合の先頭パルスTtopの継続時間

主速度でのcm=3T時の先頭パルスTtopの継続時間

主速度でのマルチパルスTmpの継続時間

主速度での最終パルスTlpの継続時間

主速度でのcm≧4Tの場合の先頭パルスのdTtop

主速度でのcm＝3Tの場合の先頭パルスのdTtop

主速度でのpsb)=3Tの場合の先頭パルスの立上がりエッジの補正量dTle

上位速度でのcm≧4Tの場合の先頭パルスTtopの継続時間

上位速度でのcm=3Tの場合の先頭パルスTtopの継続時間

上位速度でのマルチパルスTmpの継続時間

上位速度での最終パルスTlpの継続時間

上位速度でのcm≧4Tの場合の先頭パルスのdTtop

上位速度でのcm=3Tの場合の先頭パルスのdTtop

上位速度でのps=3Tの場合の先頭パルスの立上がりエッジの補正量dTle

56〜63

予備すべて (00)

64〜95

EIブロック0

96〜127

EIブロック1

128〜159

EIブロック2

160〜191

EIブロック3

192〜223

EIブロック4

224〜247

EIブロック5

248〜255

制御データゾーンでの使用のための予備。すべて (00)

注a) cm：現在のマーク。記録しようとしているNRZI データパルス。

b) ps：先行するスペース（附属書G参照）。

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14.4.2 ADIP中の物理フォーマット情報

物理フォーマット情報は，表3に示す256バイトで構成する。ADIPには，ディスクに関連する情報及

び最適記録パワー制御(OPC)アルゴリズム動作実行時に使用する記録ストラテジと呼ぶレーザ出力に関す

る各種のパラメタを含む（附属書G及び附属書I参照）。これらの情報は，ディスクをファイナライズす

るときにリードインゾーンにコピーする。

この規格では，異なる記録速度をもつ幾つかの種類のディスクを定義する。各々の記録速度におけるレ

ーザ出力に関するパラメタの詳細は，別のブロック（EIブロック，14.4.2.3参照）に定義する。これまで

に，表4に示すディスク（xとは倍速を示す）が規定されており，これらのADIP情報は，表4に示すよ

うにEIブロックの情報も含む。

表4−ディスクの種類

ディスクの種類

基本記録スト
ラテジバイ
ト32〜63
(1x及び2.4x)

4x記録ストラテ
ジ EIブロック
フォーマット1

(4x)

6x以上の記録スト
ラテジ EIブロッ
クフォーマット2

(6x〜8x )

6x以上の記録スト
ラテジEIブロック
フォーマット3

(6x〜16x )

注記

“2.4x”

＋

−

このディスクは
3.49及び8.44 m/s
の記録速度だけ
に使用

“4x”

＋

−

このディスクは
3.49, 8.44及び
13.95 m/sの記録
速度で使用

“8x”

＋

−

このディスクは
3.49, 8.44, 13.95
m/s及び20.9から
27.9 m/sの記録速
度で使用

“16x”

＋

このディスクは
3.49, 8.44, 13.95
m/s及び20.9から
55.8 m/sの記録速
度で使用

注＋：存在する −：存在しない

14.4.2.1 バイト0〜31までの一般情報

バイト0：ディスクカテゴリ及びバージョン番号

ビットb7〜b4

ディスクカテゴリを定義する。

ビットb7を“1”に設定する場合，+R/+RW規格とする。

ビットb6を“0”に設定する場合，単層ディスクとする。

ビットb5〜b4を“10”に設定する場合，+Rディスクとする。

ビットb3〜b0

規格のバージョン番号を規定する。

“0001”に設定する場合，この規格とする。

このバージョン番号は，バイト32〜63のデータで定義するディスクであること

を識別する。もしドライブが，このバージョン番号をディスクから読み取れなか

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った場合は，上記バイト32〜63のデータを使って記録を行ってはならない（附

属書Q参照）。

バイト1：ディスクサイズ及び最大転送レート

ビットb7〜b4

ディスクサイズを定義する。

“0000”に設定する場合，120 mmディスクとする。

ビットb3〜b0

ディスクの最大転送レートを定義する。

“1111”に設定する場合，最大再生レートは規定しない。

バイト2：ディスク構造

ビットb7〜b4

“0000”に設定する。

ビットb3〜b0

記録層のタイプを定義する。

“0010”に設定する場合，追記形の記録層を規定する。

バイト3：記録密度

ビットb7〜b4

情報ゾーンの平均チャネルビット長を定義する。

“0000”に設定する場合，0.133 μmとする。

ビットb3〜b0

ディスクの平均トラックピッチを定義する。

“0010”に設定する場合，0.74 μmとする。

バイト4〜15：データゾーンの位置の指定

バイト4

(00) に設定する。

バイト5〜7

(030000) に設定する場合，データゾーンの最初の物理セクタ番号が，

PSN 196 608とする。

バイト8

(00) に設定する。

バイト9〜11

(26053F) に設定する場合，データゾーンの最後の取り得る物理セクタ番号が

PSN 2 491 711とする。

バイト12〜15 (00) に設定する。

バイト16：一般フラッグビット

このバイトは (00) に設定する。

注記対応国際規格では，コピープロテクションシステムを使用する場合のビット設定につい

て規定しているが，この規格はデータアプリケーションについて規定するものであるた

め，この細分箇条の規定は不要であり，不採用とした。

バイト17：ディスクアプリケーションコード

このバイトは，ディスクをある特殊な用途に制限して使うような場合に設定する。ドライブがこ

の特殊な用途について理解できない場合，またこの用途に沿った動作ができない場合は，このデ

ィスクに記録してはならない。

(00)の場合は，一般用途のディスクとする（このコードをもつディスクには，すべてのドライブ

がいかなる制限もなく記録することができる）。

それ以外は予備とする。

バイト18：拡張情報の参照子

ビットb7〜b6

予備“00”に設定する。

ビットb5〜b0

これらのビットの各々が拡張情報ブロックの有無を示す。

バイト (64+i×32) 〜(95+i×32) からなるEIブロックiを使用する場合には，

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

ビットbiを“1”に設定する。これ以外の場合，biは，“0”に設定する。

バイト19〜26：ディスク製造業者ID

これらの8バイトは，ディスクの製造業者を特定する。この名前には，ISO/IEC 4873に従った

G0set＋SPACEの範囲内のコードを使用する。先頭から使用して，残りのバイトは，(00) に設定

する。ディスク製造業者IDを使わない場合，これらの8バイトは，(00) に設定する。

バイト27〜29：メディアタイプID

ディスク製造業者が異なるタイプのメディアを作る場合（例えば原料を使用したディスクを作る

場合），この3バイトで特定する。このディスクの特定には，ISO/IEC 4873に従ったG0set＋SPACE

の範囲内のコードを使用する。先頭から使用して，残りのバイトは，(00) に設定する。メディア

タイプIDを使わない場合は，これらの3バイトは，(00) に設定する。

注記異なる特性のディスクでは，他とは異なるディスク製造業者IDとメディアタイプIDと

の固有の組合せをもつようにする。したがって，バイト19〜29の記入内容については，

+Rシステムのライセンサによる承認を必要とする。

バイト30：ディスクの改訂履歴番号

このバイトは，2値表示によるディスクの改訂履歴番号を識別する。すべての同一ディスク製造

業者ID及びメディアタイプIDをもつディスクは，そのディスクの改訂履歴番号にかかわらず同

じ記録特性をもたなければならない（ただし，多少の差異は，認める。ドライブには，無関係と

する）。このバイトの内容は，ディスク製造業者が任意に決めることができる。

ディスクの改訂履歴番号を使わない場合は，このバイトは，(00) に設定する。

バイト31：ADIPのバイト63までに使用している物理フォーマット情報の数

このバイトは，バイト0〜63の基本物理フォーマット情報の中で実際に使用しているバイト数を

示す，2値による1組の8ビットの数字で表す。これは，56バイトの物理フォーマット情報を使

用していることを示す(38)に設定する。

14.4.2.2 基本記録ストラテジのパラメタ：バイト32〜63

バイト32：基本記録ストラテジに対応する主記録速度

このバイトは，バイト34〜63の物理フォーマット情報で規定するディスクの各定数を適用する最

低の記録速度VPrimary,basicを示す。この記録速度は，3.49 m/sec（基準速度）に等しく，nを用いて

次による。

n＝10×VPrimary,basic（nは，整数値に丸める。）

これは，主記録速度3.49 m/s（基準速度）を示す(23)に設定する。

バイト33：基本記録ストラテジに対応する上位記録速度

このバイトは，バイト34〜63の物理フォーマット情報で規定するディスクの各定数を適用する最

大の記録速度VUpper,basicを示す。この記録速度は，nを用いて次による。

n＝10×VUpper,basic（nは，整数値に丸める。）

これは，上位記録速度8.44 m/s（2.4倍速）を示す(54)に設定する。

バイト34：波長λIND

このバイトは，ナノメータを単位とするレーザの波長を規定する。この規格で規定する最適記録

定数は，この波長での記録が前提となる。λINDは，nを用いて次による。

n＝（波長）−600

+R規格ではnは，λINDが655 nmを示す(37)に設定する。

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

バイト35：正規化記録パワーの波長依存性

このバイトは，平均的な記録パワーの，PINDとλINDとの比で正規化した波長依存性を示す（29.3.3

及び附属書K参照）。波長依存性は，nを用いて次による。

n＝

IND

INDλ

dλ

バイト36：主速度での最大読取りパワー Pr

このバイトは，ミリワット単位を用いて表示した主速度での，最大読取りパワーPrを示す。Prは，

nを用いて次による。

n＝20×(Pr−0.7)

バイト37：主速度でのPIND

PINDは，OPCアルゴリズムで使用するPwoを求めるときの初期値とする（附属書I及び附属書K

参照）。このバイトは，主速度及びλINDでのPwoに対するミリワットを単位としたPINDを示し，

nを用いて次による。

n＝20×(PIND−5)

バイト38：主速度でのβtarget

このバイトは，OPCアルゴリズム（附属書I参照）で使用する主速度でのβの目標値となるβtarget

を示し，nを用いて次による。

n=100×(βtarget＋1)

バイト39：上位速度での最大読取りパワー Pr

このバイトは，ミリワット単位を用いて表示した上位速度での最大読取りパワーPrを示し，nを

用いて次による。

n＝20×(Pr−0.7)

バイト40：上位速度でのPIND

PINDは，OPCアルゴリズムで使用するPwoを求めるときの初期値とする（附属書I及び附属書K

参照）。このバイトは，上位速度及びλINDでのPwoに対するミリワットを単位としたPINDを，n

を用いて次による。

n＝20×(PIND−5)

バイト41：上位速度でのβtarget

このバイトは，OPCアルゴリズム（附属書I参照）で使用する上位速度でのβの目標値となるβtarget

を示し，nを用いて次による。

n＝100×(βtarget＋1)

バイト42：主速度での現在のマーク長が4T以上の場合の，先頭パルスTtopの継続時間

このバイトは，主速度で記録するとき，現在のマーク長が4T以上の場合の記録パルス列の最初

のパルスの継続時間を示す（G.1参照）。この値は，チャネルビットクロック長 (TW) の分数の形

で，nを用いて次による。

n＝16×

top

n＝4〜40

バイト43：主速度での現在のマーク長が3Tの場合の，先頭パルスTtopの継続時間

このバイトは，主速度で記録するとき，現在のマーク長が3Tの場合の記録パルス列の最初のパ

ルスの継続時間を示す（G.1参照）。この値は，チャネルビットクロック長の分数の形で，nを用

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

いて次による。

n＝16×

top

n＝4〜40

バイト44：主速度でのマルチパルスTmpの継続時間

このバイトは，主速度で記録するとき，第2パルスから最終パルスを除くパルス列の一つのパル

スの継続時間を示す（G.1参照）。この値は，チャネルビットクロック長の分数の形で，nを用い

て次による。

n＝16×

n＝4〜14

バイト45：主速度での最終パルスTlpの継続時間

このバイトは，主速度で記録するとき，現在のマーク長が4T以上の場合の記録パルス列の最終

のパルスの継続時間を示す（G.1参照）。この値は，チャネルビットクロック長の分数の形で，n

を用いて次による。

n＝16×

T n＝4〜24

バイト46：主速度での現在のマーク長が4T以上の場合のdTtop

このバイトは，主速度で記録するとき，現在のマーク長が4T以上の場合のNRZIデータの2番目

のチャネルビットの立下がりから計ったマルチパルスの先頭パルスの進み時間を示す（G.1参照）。

この値は，チャネルビットクロック長の分数の形で，nを用いて次による。

n＝16×

top

n＝0〜24

バイト47：主速度での現在のマーク長が3Tの場合のdTtop

このバイトは，主速度で記録するとき，現在のマーク長が3Tの場合のNRZIデータの2番目のチ

ャネルビットの立下がりから計った，マルチパルスの先頭パルスの進み時間を示す（G.1参照）。

この値は，チャネルビットクロック長の分数の形で，nを用いて次による。

n＝16×

top

n＝0〜24

バイト48：主速度での先行スペース長が3Tの場合の先頭パルスの立上がりエッジの補正量dTle

このバイトは，主速度で記録するとき，先行するスペース長が3Tの場合の記録パルス列の先頭

パルスの立上がりエッジの補正量を示す（G.1参照）。この値は，チャネルビットクロック長の分

数の形で，nを用いて次による。

n＝16×

dT n＝0〜4

バイト49：上位速度での現在のマーク長が4T以上の場合の，先頭パルスTtopの継続時間

このバイトは，上位速度で記録するとき，現在のマーク長が4T以上の場合の記録パルス列の最

初のパルスの継続時間を示す（G.1参照）。この値は，チャネルビットクロック長の分数の形で，

nを用いて次による。

n＝16×

top

n＝4〜40

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

バイト50：上位速度での現在のマーク長が3Tの場合の，先頭パルスTtopの継続時間

このバイトは，上位速度で記録するとき，現在のマーク長が3Tの場合の記録パルス列の最初の

パルスの継続時間を示す（G.1参照）。この値は，チャネルビットクロック長の分数の形で，nを

用いて次による。

n＝16×

top

n＝4〜40

バイト51：上位速度でのマルチパルスTmpの継続時間

このバイトは，上位速度で記録するとき，第2パルスから最終パルスを除くパルス列の一つのパ

ルスの継続時間を示す（G.1参照）。この値は，チャネルビットクロック長の分数の形で，nを用

いて次による。

n＝16×

n＝4〜14

バイト52：上位速度での最終パルスTlpの継続時間

このバイトは，上位速度で記録するとき，現在のマーク長が4T以上の場合の記録パルス列の最

終のパルスの継続時間を示す（G.1参照）。この値は，チャネルビットクロック長の分数の形で，

nを用いて次による。

n＝16×

T n＝4〜24

バイト53：上位速度での現在のマーク長が4T以上の場合のdTtop

このバイトは，上位速度で記録するとき，現在のマーク長が4T以上の場合のNRZIデータの2

番目のチャネルビットの立下がりから計ったマルチパルスの先頭パルスの進み時間を示す（G.1

参照）。この値は，チャネルビットクロック長の分数の形で，nを用いて次による。

n＝16×

top

n＝0〜24

バイト54：上位速度での現在のマーク長が3Tの場合のdTtop

このバイトは，上位速度で記録するとき，現在のマーク長が3Tの場合のNRZIデータの2番目の

チャネルビットの立下がりから計った，マルチパルスの先頭パルスの進み時間を示す（G.1参照）。

この値は，チャネルビットクロック長の分数の形で，nを用いて次による。

n＝16×

top

n＝0〜24

バイト55：上位速度での先行スペース長が3Tの場合の先頭パルスの立上がりエッジの補正量dTle

このバイトは，上位速度で記録するとき，先行するスペース長が3Tの場合の記録パルス列の先

頭パルスの立上がりエッジの補正量を示す（G.1参照）。この値は，チャネルビットクロック長の

分数の形で，nを用いて次による。

n＝16×

dT n＝0〜4

バイト56〜63：予備すべて (00)

これらのバイトはすべて (00) とする。

14.4.2.3 拡張情報ブロック（EIブロック）−バイト(64＋i×32)〜(95＋i×32)

6個のEIブロックは，将来の拡張に備えたものとする(i＝0〜5)。このブロックは，各々32バイトで構成

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

し，これらのバイトには，例えば，代替の記録ストラテジ又は他の先進的なパラメタを格納する。パラメ

タのセットが1個のEIブロックに格納しきれない場合は，連続したビットで特定する追加ブロックを続け

て追加できる。

EIブロックが存在するか否かは，バイト18に適時表示する。同ブロックを使用しない場合は，すべて

の32バイトは，(00)に設定する。

バイト64＋i×32：拡張情報ブロックiのフォーマット番号／継続ビット

ビットb6〜b0は，バイト (65＋i×32) 〜 (95＋i×32) のデータが属すフォーマット番号を示す。

ビットb7を“1”に設定した場合，関連するEIブロックは独立したブロックでなく先行するEI

ブロックの続きとする。この場合，継続するEIブロックのフォーマット番号と先行するEIブロ

ックのフォーマット番号は同じでなければならない。

一つのディスクは，複数のEIブロックをもつことができる。各EIブロックの内容は，対応す

るフォーマット番号で規定した定義に従い翻訳する。また，同一のフォーマット番号のEIブロッ

クの内容は，同一のフォーマットで翻訳する。同一のフォーマット番号であっても，その中で規

定するパラメタは，ディスクによっては異なる値を取り得る。ブロックi のフォーマット番号を

読み取れないドライブは，そのEIブロック内のデータを使ってはならない（附属書Q参照）。

フォーマット番号を“255”に設定する場合，対応するEIブロックは，独立したものではなく

一つ前のEIブロックから連続した内容をもつ。ある記録ストラテジの情報が32バイトでは格納

しきれない場合に，このような使い方をする。

注記 EIブロックiの内容は，その中に定義するフォーマット番号によって認識し，それは，そ

のブロック内だけで有効とする。またADIP補助フレーム中のEIブロックの位置は，これ

に無関係とする。したがって，あるフォーマット番号nをもつEIブロックは，いかなる位

置i (i＝0~5) にも存在できる。ドライブは，常にEIブロックの内容を読み，正しい記録ス

トラテジを得る。

バイト65＋i×32〜95＋i×32

これら32バイトのセットは，同一のフォーマット番号で認識し，各パラメタを規定する。

バイト248〜255

予備として (00) に設定する。

14.4.2.3.1 “4倍速以上”に適用する記録ストラテジのための拡張情報

このEIブロックは，4倍速以上の記録速度を適用するときのパラメタを，規定する。4倍速とは，3.49m/s

（基準速度）の4倍の記録速度を表す。このような速度で記録するときに使う記録ストラテジは，“ブロッ

ク状”記録ストラテジと呼び，G.2で定義する。

ディスクがこのような4倍速以上の速度条件で記録できない場合は，このEIブロックは使用してはなら

ない［すべてのバイトを(00)に設定し，関連する拡張情報の有無の参照子をZEROに設定する］。

バイト18：拡張情報の有無の参照子

このバイトは，EIブロック0を使用する場合は，“xxxx xxx1”に設定する。

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

表5−EIブロック0

バイト番号

内容

バイト数

継続ビット／フォーマット番号

予備 (00) に設定

EIブロック0のパラメタの主記録速度

EIブロック0のパラメタの上位記録速度

主速度での最大読取りパワー

主速度でのPIND

主速度でのβtarget

主速度でのcm＝3Tの場合の追加出力dPwの量

主速度でのcm＝4Tの場合の追加出力dPwの量

主速度でのcm ≧ 4Tの場合の先頭パルスTtopの継続時間
[＝ dTtop (≧ 4T)＋TW]

主速度でのcm＝3Tの場合の先頭パルスTtopの継続時間

主速度でのマルチパルスTmpの継続時間

主速度でのcm ≧ 4Tの場合の最終パルスTlpの継続時間

主速度でのcm ≧ 4Tの場合の先頭パルスのdTtop

主速度でのcm＝3Tの場合の先頭パルスの先行時間dTtop

主速度でのps＝3Tの場合の先頭パルスの立上がりエッジの補正量dTle

予備 (00) に設定

上位速度での最大読取りパワー

上位速度でのPIND

上位速度でのβtarget

上位速度でのcm＝3Tの場合の追加出力dPwの量

上位速度でのcm＝4Tの場合の追加出力dPwの量

上位速度でのcm ≧ 4Tの場合の先頭パルスTtopの継続時間
[＝dTtop (≧ 4T)＋TW]

上位速度でのcm＝3Tの場合の先頭パルスTtopの継続時間

上位速度でのマルチパルスTmpの継続時間

上位速度でのcm ≧ 4Tの場合の最終パルスTlpの継続時間

上位速度でのcm ≧ 4Tの場合の先頭パルスのdTtop

上位速度でのcm＝3Tの場合の先頭パルスのdTtop

１

上位速度でのps＝3Tの場合の先頭パルスの立上がりエッジの補正量dTle

予備 (00) に設定

バイト64：EIブロック0の継続ビット・フォーマット番号

このバイトは，“0000 0001”に設定する。これは，次のバイト65〜95まではフォーマット1で書

いており，また継続するブロックでないことを示す。バイト65〜95は次による。

バイト65：予備

このバイトは，(00)に設定する。

バイト66：EIブロック0のパラメタの主記録速度

このバイトは，EIブロック0で規定するディスクの各パラメタを適用する最低の記録速度を示す。

この速度は，nを用いて次による。

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

n＝4×VPrimary,EI 0 （nは，整数値に丸める。）

これは，主記録速度14 m/s（4倍速）を示す (38) に設定する。

バイト67：EIブロック0のパラメタの上位記録速度

このバイトは，このEIブロック0で規定するディスクの各パラメタを適用する最大の記録速度を

示す。この速度は，nを用いて次による。

n＝4×VUpper,EI 0 （nは，整数値に丸める。）

これは，上位記録速度14 m/s（4倍速）を示す (38) に設定する（将来，より大きな記録速度がこ

こで使用するのと同じ記録ストラテジで可能になった場合は，より大きな値に改訂する。）。

バイト68：主速度での最大読取りパワーPr

このバイトは，ミリワット単位を用いて表示した主速度での最大読取りパワーPrを示し，nを用

いて次による。

n＝20×(Pr−0.7)

バイト69：主速度でのPIND

PINDは，OPCアルゴリズムで使用するPwoを求めるときの開始値とする（附属書I及び附属書K

参照）。このバイトは，主速度及びλINDでのPwoに対するミリワットを単位としたPINDを，nを

用いて次による。

n＝5×(PIND−5)

バイト70：主速度でのβtarget

このバイトは，OPCアルゴリズム（附属書I参照）で使用する主速度でのβの目標値となるβtarget

を示し，nを用いて次による。

n＝100×(βtarget＋1)

バイト71：主速度での現在のマーク長が3Tの場合の，追加出力dPwの量

このバイトは，主速度で記録するとき，現在のマーク長が3T（G.2参照）のときに適用する追加

レーザパワーdPwを示し，nを用いて次による。

n＝200×wow

P n＝0〜100

バイト72：主速度での現在のマーク長が4Tの場合の，追加出力dPwの量

このバイトは，主速度で記録するとき，現在マーク長が4T（G.2参照）のときに適用する追加レ

ーザパワーdPwを示し，nを用いて次による。

n＝200×wow

P n＝0〜100

バイト73：主速度での現在のマーク長が4T以上の場合の，先頭パルスTtopの継続時間

このバイトは，主速度で記録するとき，現在のマーク長が4T以上の場合の記録パルス列の最初

のパルスの継続長さを示す（G.2参照）。この値は，チャネルビットクロック長の分数の形で，n

を用いて次による。

n＝16×

top

n＝（バイト77の値）＋16

バイト74：主速度での現在のマーク長が3Tの場合の，先頭パルスTtopの継続時間

このバイトは，主速度で記録するとき，現在のマーク長が3Tの場合の記録パルス列の最初のパ

ルスの継続長さを示す（G.2参照）。この値は，チャネルビットクロック長の分数の形で，nを用

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

いて次による。

n＝16×

top

n＝4〜48

バイト75：主速度でのマルチパルスTmpの継続時間

このバイトは，主速度で記録するとき，第2パルスから最終パルスを除くパルス列の一つのパル

スの継続時間を示す（附属書G参照）。この値は，チャネルビットクロック長の分数の形で，n

を用いて次による。

n＝16×

n＝16

バイト76：主速度での最終パルスTlpの継続時間

このバイトは，主速度で記録するとき，現在のマーク長が4T以上の場合の記録パルス列の最終

のパルスの継続時間を示す（G.2参照）。この値は，チャネルビットクロック長の分数の形で，n

を用いて次による。

n＝16×

T n＝0〜16

バイト77：主速度での現在のマーク長が4T以上の場合のdTtop

このバイトは，主速度で記録するとき，現在のマーク長が4T以上の場合，NRZIデータの2番目

のチャネルビットの立下がりから計った，マルチパルスの先頭パルスの進み時間を示す（G.2参

照）。この値は，チャネルビットクロック長の分数の形で，nを用いて次による。

n＝16×

top

n＝0〜32

バイト78：主速度での現在のマーク長が3Tの場合のdTtop

このバイトは，主速度で記録するとき，現在のマーク長が3Tの場合，NRZIデータの2番目のチ

ャネルビットの立下がりから計った，マルチパルスの先頭パルスの進み時間を示す（G.2参照）。

この値は，チャネルビットクロック長の分数の形で，nを用いて次による。

n＝16×

top

n＝0〜32

バイト79：主速度での先行スペース長が3Tの場合の先頭パルスの立上がりエッジの補正量dTle

このバイトは，主速度で記録するとき，先行するスペース長が3Tの場合の，記録パルス列の先

頭のパルスの立上がりエッジの補正量を示す（G.2参照）。この値は，チャネルビットクロック長

の分数の形で，nを用いて次による。

n＝16×

dT n＝0〜4

バイト80〜81：予備 (00)

これらのバイトは，すべて(00)に設定する。

バイト82：上位速度での最大読取りパワーPr

このバイトは，ミリワット単位を用いて表示した上位速度での最大読取りパワーPrを示し，nを

用いて次による。

n＝20×(Pr−0.7)

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

バイト83：上位速度でのPIND

PINDは，OPCアルゴリズムで使用するPwoを求めるときの開始値とする（附属書I及び附属書K

参照）。このバイトは，上位速度，及びλINDでのPwoに対するミリワットを単位としたPINDを，

nを用いて次による。

n＝5×(PIND−5)

バイト84：上位速度でのβtarget

このバイトは，OPCアルゴリズム（附属書I参照）で使用する上位速度でのβの目標値となるβtarget

を示し，nを用いて次による。

n＝100×(βtarget＋1)

バイト85：上位速度での現在のマーク長が3Tの場合の，追加出力dPwの量

このバイトは，上位速度での記録のとき，現在のマーク長が3T（G.2参照）の場合に適用する追

加レーザパワーdPwを示し，nを用いて次による。

n＝200×

P n＝0〜100

バイト86：上位速度での現在のマーク長が4Tの場合の，追加出力dPwの量

このバイトは，上位速度での記録のとき，現在マーク長が4T（G.2参照）の場合に適用する追加

レーザパワーdPwを示し，nを用いて次による。

n＝200×

P n＝0〜100

バイト87：上位速度での現在のマーク長が4T以上の場合の，先頭パルスTtopの継続時間

このバイトは，上位速度で記録するとき，現在のマーク長が4T以上の場合の記録パルス列の最

初のパルスの継続長さを示す（G.2参照）。この値は，チャネルビットクロック長の分数の形で，

nを用いて次による。

n＝16×

top

n＝（バイト91の値）＋16

バイト88：上位速度での現在のマーク長が3Tの場合の，先頭パルスTtopの継続時間

このバイトは，上位速度で記録するとき，現在のマーク長が3Tの場合の記録パルス列の最初の

パルスの継続長さを示す（G.2参照）。この値は，チャネルビットクロック長の分数の形で，nを

用いて次による。

n＝16×

top

n＝4〜48

バイト89：上位速度でのマルチパルスTmpの継続時間

このバイトは，上位速度で記録するとき，第2パルスから最終パルスを除くパルス列の一つのパ

ルスの継続時間を示す（附属書G参照）。この値は，チャネルビットクロック長の分数の形で，n

を用いて次による。

n＝16×

n＝16

バイト90：上位速度での最終パルスTlpの継続時間

このバイトは，上位速度で記録するとき，現在のマーク長が4T以上の場合の記録パルス列の最

終のパルスの継続時間を示す（G.2参照）。この値は，チャネルビットクロック長の分数の形で，

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

nを用いて次による。

n＝16×

T n＝0〜16

バイト91：上位速度での現在のマーク長が4T以上の場合のdTtop

このバイトは，上位速度で記録するとき，現在のマーク長が4T以上の場合の，NRZIデータの2

番目のチャネルビットの立下がりから計った，マルチパルスの先頭パルスの進み時間を示す（G.2

参照）。この値は，チャネルビットクロック長の分数の形で，nを用いて次による。

n＝16×

top

n＝0〜32

バイト92：上位速度での現在のマーク長が3Tの場合のdTtop

このバイトは，上位速度で記録するとき，現在のマーク長が3Tの場合の，NRZIデータの2番目

のチャネルビットの立下がりから計った，マルチパルスの先頭パルスの進み時間を示す（G.2参

照）。この値は，チャネルビットクロック長の分数の形で，nを用いて次による。

n＝16×

top

n＝0〜32

バイト93：上位速度での先行スペース長が3Tの場合の先頭パルスの立上がりエッジの補正量dTle

このバイトは，上位速度で記録するとき，先行するスペース長が3Tの場合の，記録パルス列の

先頭のパルスの立上がりエッジの補正量を示す（G.2参照）。この値は，チャネルビットクロック

長の分数の形で，nを用いて次による。

n＝16×

dT n＝0〜4

バイト94〜95：予備(00)

これらのバイトはすべて (00) に設定する。

14.4.2.3.2 “6倍速以上”に適用する記録ストラテジのための拡張情報

このEIブロックは，6倍速以上の記録速度を適用するときのパラメタを規定する。6倍速とは，3.49 m/s

（基準速度）の6倍の記録速度を表す。このような速度で記録するときに使う記録ストラテジは，“キャッ

スル形”記録ストラテジと呼び，G.3で定義する。

内周においてディスクの回転数が増すため（9.5参照），上位速度で使う記録ストラテジは，そのディス

クの外周側の直径によって決定する。

ディスクを6倍速以上の速度条件で記録できない場合は，このEIブロックは使用してはならない［すべ

てのバイトを(00)に設定し，関連する拡張情報の参照子をZEROに設定する］。

バイト18：拡張情報の有無の参照子

このバイトは，EIブロック1を使用する場合は“xxxx xx1x”に設定する。

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

表6−EIブロック1

バイト番号

内容

バイト数

継続ビット／フォーマット番号

予備 (00) に設定

EIブロック1のパラメタの主記録速度

EIブロック1のパラメタの上位記録速度

100

主速度での最大読取りパワー

101

主速度でのPIND

102

主速度でのβtarget

103

主速度での追加出力の量dPw

104

主速度でcm＝3T時の記録パルスTl3の継続時間

105

主速度でのTtop パルスへの追加出力の継続時間

106

主速度でcm ≧ 5T時のTendパルスへの追加出力の継続時間

107

主速度でcm＝4T時のTendパルスへの追加出力の継続時間

108

主速度でのps＝3T時の先頭パルスの立上がりエッジの補正量dTle

109

主速度でのクーリングギャップの長さTc

110

予備 (00) に設定

111

予備 (00) に設定

112

予備 (00) に設定

113

予備 (00) に設定

114

上位速度での最大読取りパワー

115

上位速度でのPIND

116

上位速度でのβtarget

117

上位速度での追加出力の量dPw

118

上位速度でcm＝3T時の記録パルスTl3の長さ

119

上位速度でのTtop パルスへの追加出力の継続時間

120

上位速度でcm ≧ 5T時のTendパルスへの追加出力の継続時間

121

上位速度でcm＝4T時のTendパルスへの追加出力の継続時間

122

上位速度でのps＝3T時の先頭パルスの立上がりエッジの補正量dTle

123

上位速度でのクーリングギャップの長さTc

124

予備 (00) に設定

125

予備 (00) に設定

126

予備 (00) に設定

127

PUpper / PPrimaryの比率

バイト96：EIブロック1の継続ビット／フォーマット番号

このバイトは“0000 0010”に設定する。これは，次のバイト96〜127まではフォーマット2で書

いており，また継続するブロックでないことを示す。バイト97〜127は次による。

バイト97：予備

このバイトは(00)に設定する。

バイト98：EIブロック1のパラメタの主記録速度

このバイトは，EIブロック1で規定するディスクの各パラメタを適用する最低の記録速度を示し，

nを用いて次による。

n＝4×VPrimary,EI 1 （nは整数値に丸める。）

この値は，主記録速度は21 m/s（6倍速）を示す (54) に設定する。

バイト99：EIブロック1のパラメタの上位記録速度

このバイトは，EIブロック1で規定するディスクの各パラメタを適用する最大の記録速度を示す。

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

この速度は，nを用いて次による。

n＝4×VUpper,EI 1 （nは整数値に丸める。）

この値は，上位記録速度28 m/s（8倍速）を示す(70) に設定する（将来，より大きな記録速度が

ここで使用するのと同じ記録ストラテジで可能になった場合は，より大きな値に改訂する。）。

バイト100：主速度での最大読取りパワー Pr

このバイトは，ミリワット単位を用いて表示した主速度での最大読取りパワーPrを示し，nを用

いて次による。

n＝20×(Pr−0.7)

バイト101：主速度でのPIND

PINDは，OPCアルゴリズムで使用するPwoを求める場合の開始値とする（附属書I及び附属書

K参照）。このバイトは，主速度，及びλINDでのPwoに対するミリワットを単位としたPINDを，

nを用いて次による。

n＝5×(PIND−5)

バイト102：主速度でのβtarget

このバイトは，OPCアルゴリズム（附属書I参照）で使用する主速度でのβの目標値となるβtarget

を示し，nを用いて次による。

n＝100×(βtarget＋1)

バイト103：主速度での追加出力dPwの量

このバイトは，主速度での記録のとき，3T長のパルス全体及びすべての他の長さのパルス（G.3

参照）の最初と最後の部分に与える追加レーザパワーdPwを示し，nを用いて次による。

n＝200×

P n＝0〜255

バイト104：主速度で現在のマーク長が3Tの場合の記録パルスTI3の長さ

このバイトは，主速度での記録のとき，現在のマーク長が3Tの場合の記録パルスの継続時間を

示す（G.3参照）。この値は，チャネルビットクロック長の分数の形で，nを用いて次による。

n＝16×

T n＝16〜48

バイト105：主速度でのTtopパルスへの追加出力の継続時間

このバイトは，主速度での記録のとき，現在のマーク長が4T又はそれ以上の場合の，記録パル

スの前部への追加出力の継続時間を示す（G.3参照）。この値は，チャネルビットクロック長の分

数の形で，nを用いて次による。

n＝16×

top

n＝4〜32

バイト106：主速度で現在のマーク長が5T以上の場合のTendパルスの継続時間

このバイトは，主速度での記録のとき，現在のマーク長が5T又はそれ以上の場合の，記録パル

スの後部への追加出力の継続時間を示す（G.3参照）。この値は，チャネルビットクロック長の分

数の形で，nを用いて次による。

n＝16×

end

n＝4〜32

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

バイト107：主速度で現在のマーク長が4Tの場合のTendパルスの継続時間

このバイトは，主速度で記録するときの現在のマーク長が4Tの場合の，記録パルスの後部への

追加出力の継続時間を示す（G.3参照）。この値は，チャネルビットクロック長さの分数の形で，

nを用いて次による。

n＝16×

end

n＝4〜32

バイト108：主速度で先行するスペース長が3Tの場合の先頭パルスの立上がりエッジの補正量dTle

このバイトは，主速度での記録のとき，先行するスペース長が3Tの場合の，記録パルス列の先

頭パルスの立上がりエッジの補正量を示す（G.3参照）。この値は，チャネルビットクロック長の

分数の形で，nを用いて次による。

n＝16×

dT n＝0〜4

バイト109：主速度でのクーリングギャップの長さTc

このバイトは，主速度での記録のとき，クーリングギャップの終了地点を示す（G.3参照）。この

値は，チャネルビットクロック長の分数の形で，nを用いて次による。

n＝16×

T n＝16〜32

バイト110〜113：予備

これらのバイトはすべて (00) に設定する。

バイト114：上位速度での最大読取りパワーPr

このバイトは，ミリワット単位を用いて表示した上位速度での最大読取りパワーPrを示し，nを

用いて次による。

n＝20×(Pr−0.7)

バイト115：上位速度でのPIND

PINDは，OPCアルゴリズムで使用するPwoを求めるときの初期値とする（附属書I及び附属書K

参照）。このバイトは，上位速度，及びλINDでのPwoに対するミリワットを単位としたPINDを，

nを用いて次による。

n＝5×(PIND−5)

バイト116：上位速度でのβtarget

このバイトは，OPCアルゴリズム（附属書I参照）で使用する上位速度でのβの目標値となるβtarget

を示し，nを用いて次による。

n＝100×(βtarget＋1)

バイト117：上位速度での追加出力dPwの量

このバイトは，上位速度での記録のとき，3T長のパルス全体及びすべての他の長さのパルス（G.3

参照）の最初と最後の部分に与える追加レーザパワーdPwを示し，nを用いて次による。

n＝200×wow

P n＝0〜255

バイト118：上位速度で現在のマーク長が3Tの場合の記録パルスTl3の長さ

このバイトは，上位速度での記録のとき，現在のマーク長が3Tの場合の記録パルスの継続時間

を示す（G.3参照）。この値は，チャネルビットクロック長の分数の形で，nを用いて次による。

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

n＝16×

T n＝16〜48

バイト119：上位速度でのTtopパルスへの追加出力の継続時間

このバイトは，上位速度での記録のとき，現在のマーク長が4T又はそれ以上の場合の，記録パ

ルスの先頭部への追加出力の継続時間を示す（G.3参照）。この値は，チャネルビットクロック長

の分数の形で，nを用いて次による。

n＝16×

top

n＝4〜32

バイト120：上位速度で現在のマーク長が5T以上の場合のTendパルスの継続時間

このバイトは，上位速度での記録のとき，現在のマーク長が5T又はそれ以上の場合の，記録パ

ルスの後部への追加出力の継続時間を示す（G.3参照）。この値は，チャネルビットクロック長の

分数の形で，nを用いて次による。

n＝16×

end

n＝4〜32

バイト121：上位速度で現在のマーク長が4Tの場合のTendパルスの継続時間

このバイトは，上位速度での記録のとき，現在のマーク長が4Tの場合の，記録パルスの後部へ

の追加出力の継続時間を示す（G.3参照）。この値は，チャネルビットクロック長の分数の形で，

nを用いて次による。

n＝16×

end

n＝4〜32

バイト122：上位速度で先行するスペース長が3Tの場合の先頭パルスの立上がりエッジの補正量

dTle

このバイトは，上位速度での記録のとき，先行するスペース長が3Tの場合の，記録パルス列の

先頭パルスの立上がりエッジの補正量を示す（G.3参照）。この値は，チャネルビットクロック長

の分数の形で，nを用いて次による。

n＝16×

dT n＝0〜4

バイト123：上位速度でのクーリングギャップの長さTc

このバイトは，上位速度での記録のとき，クーリングギャップの終了地点を示す（G.3参照）。こ

の値は，チャネルビットクロック長の分数の形で，nを用いて次による。

n＝16×

T n＝16〜32

バイト124〜126：予備

これらのバイトはすべて(00)に設定する。

バイト127：PUpper / PPrimaryの比率

このバイトは，上位記録速度での最適記録パワーPwoUpperと主記録速度での最適記録パワー

PwoPrimaryの比率を示す。この値は，ディスク上の同一の場所でのものでなければならない。

この比率はnを用いて次による。

n＝200×(

)

Primar

Upper−

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

14.4.2.3.3 “6倍速以上”に適用する記録ストラテジのための拡張情報（16xパラメタ）

このEIブロックは，基準速度の6倍速（6×3.49 m/s）〜16倍速（16×3.49 m/s）までの記録速度を適用

するときのパラメタを規定する。このような速度で記録するときに使う記録ストラテジを，“キャッスル

形”記録ストラテジと呼び，14.4.2.3.2及びG.3に定義する。

内周においてディスクの回転数が増すため（9.5参照），上位速度で使う記録ストラテジは，そのディス

クの外周側の直径によって決定する。

ディスクを6倍速以上の速度条件で記録できない場合は，このEIブロックは使用してはならない［すべ

てのバイトを(00)に設定し，関連する拡張情報の有無の参照子をZEROに設定する］。

バイト18：拡張情報の有無の参照子

このバイトは，EIブロック2を使用する場合は“xxxx x1xx”に設定する。

表7−EIブロック2

バイト番号

内容

バイト数

128

継続ビット／フォーマット番号

129

予備 (00) に設定

130

EIブロック1のパラメタの主記録速度

131

EIブロック1のパラメタの上位記録速度

132

主速度での最大読取りパワー

133

主速度でのPIND

134

主速度でのβtarget

135

主速度での追加出力の量dPw

136

主速度でcm＝3T時の記録パルスTl3の継続時間

137

主速度でのTtop パルスへの追加出力の継続時間

138

主速度でcm ≧ 5T時のTendパルスへの追加出力の継続時間

139

主速度でcm＝4T時のTendパルスへの追加出力の継続時間

140

主速度でのps＝3T時の先頭パルスの立上がりエッジの補正量dTle

141

主速度でのクーリングギャップの長さTc

142

予備 (00) に設定

143

予備 (00) に設定

144

予備 (00) に設定

145

予備 (00) に設定

146

上位速度での最大読取りパワー

147

上位速度でのPIND

148

上位速度でのβtarget

149

上位度での追加出力の量dPw

150

上位速度でcm＝3T時の記録パルスTl3の長さ

151

上位速度でのTtop パルスへの追加出力の継続時間

152

上位速度でcm ≧ 5T時のTendパルスへの追加出力の継続時間

153

上位速度でcm＝4T時のTendパルスへの追加出力の継続時間

154

上位速度でのps＝3T時の先頭パルスの立上がりエッジの補正量dTle

155

上位速度でのクーリングギャップの長さTc

156

予備 (00) に設定

157

予備 (00) に設定

158

予備 (00) に設定

159

PUpper / PPrimaryの比率

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

バイト128：EIブロック2の継続ビット・フォーマット番号

このバイトは“0000 0010”に設定する。これは，次のバイト129〜156まではフォーマット3で

書いており，また継続するブロックでないことを示す。バイト129〜156は次による。

バイト129：予備

このバイトは(00)に設定する。

バイト130：EIブロック2のパラメタの主記録速度

このバイトは，EIブロック2で規定するディスクの各パラメタを適用する最低の記録速度を示し，

nを用いて次による。

n＝4×VPrimary,EI 1 （nは整数値に丸める）

この値は，主記録速度は21 m/s（6倍速）を示す (54) に設定する。

バイト131：EIブロック2のパラメタの上位記録速度

このバイトは，EIブロック2で規定するディスクの各パラメタを適用する最大の記録速度を示す。

この速度は，nを用いて次による。

n＝4×VUpper,EI 1 （nは整数値に丸める）

この値は，上位記録速度は55.8 m/s（16倍速）を示す(DF) に設定する。

バイト132〜140

これらのバイトは，14.4.2.3.2のバイト100〜108と同じ定義及び数値とする。

バイト141：主速度でのクーリングギャップの長さTc

このバイトは，主速度での記録のとき，クーリングギャップの終了地点を示す（G.3参照）。この

値は，チャネルビットクロック長の分数の形で，nを用いて次による。

n＝16×

T n＝16〜40

注記記録中に良好なトラッキング信号を得るため，クーリングギャップはできるだけ短いほう

がよい。

バイト142〜145：予備

これらのバイトはすべて (00) に設定する。

バイト146〜154

これらのバイトは，14.4.2.3.2のバイト114〜122と同じ定義及び数値とする。

バイト155：上位速度でのクーリングギャップの長さTc

このバイトは，上位速度での記録のとき，クーリングギャップの終了地点を示す（G.3参照）。こ

の値は，チャネルビットクロック長の分数の形で，nを用いて次による。

n＝16×

T n＝16〜40

注記記録中に良好なトラッキング信号を得るため，クーリングギャップはできるだけ短いほう

がよい。

バイト156〜158：予備

これらのバイトはすべて(00)に設定する。

バイト159：PUpper / PPrimaryの比率

このバイトは，上位記録速度での最適記録パワーPwoUpperと主記録速度での最適記録パワー

PwoPrimaryとの比率を示す。この値は，ディスク上の同一の場所でのものでなければならない。

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

この比率はnを用いて次による。

n＝200×

)

5.1

(

Primary

Upper−

第4章情報ゾーンのフォーマット

15 情報ゾーンについての概要

情報ゾーンは，ディスクのデータ交換にかかわるすべての情報を格納する場所とする。情報ゾーンは，

一つ以上のセションをもつ（箇条22参照）。両面ディスクでは，一つの面に一つの情報ゾーンをもつ。デ

ータゾーンに，ユーザの記録するデータを格納する。

リードインゾーンは，制御情報を含む。リードアウトゾーンは，データゾーンに連続し，制御情報を含

む。

内周部及び外周部に設けた機器エリアは，ディスクの試験のために使用する。

箇条16〜21は，シングルセションディスクを記述する。ディスクは，リードインゾーン，データゾーン

及びリードアウトゾーンを一つの連続した記録可能な領域として認識する。マルチセションディスクのデ

ータ構造は，箇条22で規定する。

16 シングルセションディスクの情報ゾーンのレイアウト

片面ディスクの情報ゾーン及び両面ディスクの各面の情報ゾーンを，表8に示す。同表で幾つかのゾー

ンは，その場所を特定する半径値を示し，それは，そのゾーンの最初又は最後のトラックの中央部の位置

を示す公称値とする。

16.1 物理セクタ番号 (PSN)

データゾーンの最初の物理セクタのアドレスは，PSN (030000) とする。PSNはすべての情報ゾーン内で，

そのアドレスは一つずつ増加する（図22参照）。

図22−物理セクタの番号付け

注記データゾーンの最初の物理セクタのPSN (030000)は，いかなる場合でも負のPSNが生じないよ

うに選択する。

アウタードライブ

領域

データゾーン

情報ゾーン

インナードライブ

領域

PSN

アドレス

ディスク半径

リードアウトゾーン

リードインゾーン

(02FFFF) (030000)

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

表8−全面記録したシングルセションディスクのレイアウト

ゾーン

内容

公称半径

開始セクタ番号

物理セクタ数

インナー
ドライブ
領域

イニシャルゾーン

開始22.000

−

記録しない

インナーディスクテストゾーン

開始22.616

(023080)

16 384

カウントゾーンランイン

開始23.052

(027480)

1 024

インナーディスクカウントゾーン

開始23.079

(027480)

4 096

インナーディスク管理ゾーン

開始23.186

(028480)

4 096

目次情報ゾーン

開始23.293

(029480)

4 096

リードイ
ン

ガードゾーン1

開始23.400

(02A480)

14 848

予約ゾーン1

(02DE80)

4 096

予約ゾーン2

(02EE80)

インナーディスク識別ゾーン

(02EEC0)

256

予約ゾーン3

(02EFC0)

リファレンスコードゾーン

開始23.896

(02F000)

バッファゾーン1

(02F020)

480

制御データゾーン

(02F200)

3 072

バッファゾーン2

(02FE00)

512

データ

データゾーン

開始24.000

(030000)

最大2 295 104

リードア
ウト

バッファゾーン3

開始58.000
最大容量時

最大(260540)

768

アウターディスク認識ゾーン

最大(260840)

256

ガードゾーン2

最大(260940)

最小4 096

アウター
ドライブ
領域

アウターディスク管理ゾーン

開始58.053

(261940)

4 096

アウターディスクカウントゾーン

開始58.096

(262940)

4 096

アウターディスクテストゾーン

開始58.139

(263940)

16 384

ガードゾーン3

開始58.310

終了≧58.500

(267940)

記録しない

17 インナードライブ領域

インナードライブ領域は，ディスクの最内周に位置するゾーンで，ドライブがディスクの性能を試し

OPCを実行するために使用する。このゾーンの構成を，図23に示す。

各々の部分の最初及び最後の物理セクタ番号は，図23に16進法及び10進法で示し，それぞれの物理セ

クタの大きさは，10進法で示す。インナードライブ領域の使用しないECCブロックについては，未記録

のままにしておく。ディスクの終了化時も同様にする。

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

イニシャルゾーン

物理セクタ143 488

インナーディスクテストゾーン

16 384物理セクタ

物理セクタ(023080)

物理セクタ159 871

物理セクタ(02707F)

物理セクタ159 872

カウントゾーンランイン

1 024物理セクタ

物理セクタ(027080)

物理セクタ160 895

物理セクタ(02747F)

物理セクタ160 896

インナーディスクカウントゾーン

4 096物理セクタ

物理セクタ(027480)

物理セクタ164 991

物理セクタ(02847F)

物理セクタ164 992

インナーディスク管理ゾーン

4 096物理セクタ

物理セクタ(028480)

物理セクタ169 087

物理セクタ(02947F)

物理セクタ169 088

目次情報ゾーン

4 096物理セクタ

物理セクタ(029480)

物理セクタ173 183

物理セクタ(02A47F)

リードインゾーン

図23−インナードライブ領域

17.1 イニシャルゾーン

このゾーンはブランクにする。

17.2 インナーディスクテストゾーン

16 384個の物理セクタを，ドライブの記録テスト及びOPC実行のために割り当てる（附属書I参照）。

これらの物理セクタを使用する順序は，ディスクの外周から内周に向かってであり，したがって大きいア

ドレスから小さいアドレスに向かって使用する。

17.3 カウントゾーンランイン

この領域は1 024個の物理セクタをもち，内周側OPCカウントゾーンへのランインの役割を果たす。し

たがって，未記録状態にする。

17.4 インナーディスクカウントゾーン

4 096個の物理セクタを，ディスク内周でのOPCの実施回数を記録するために使用する（附属書I参照）。

インナーディスクテストゾーン内の一つのECCブロック又はその1部分でもOPCに使用した場合，その

ECCブロックの場所に対応した，インナーディスクカウントゾーンの4個の物理セクタをフォーマットし

てフラグを立てる。この4個の物理セクタの記録方法は，13.1，13.2，13.4，13.5及び13.6の規定を満た

す。

なお，主データバイト及びPI，POバイト（13.3参照）は，自由に選択可能とする。

使用したインナーディスクテストゾーン(IDT)のECCブロックの最初の物理セクタ番号PSNIDT及び対応

するインナーディスクカウントゾーン(IDC)の物理セクタ番号PSNIDC〜PSNIDC＋3の関係は，次による。

(

)(

)

()

(

)

027480

023080

PSN

IDT

IDC

−

17.5 インナーディスク管理ゾーン

4 096個の物理セクタを，ドライブ固有の情報のために使用できる（表9参照）。この領域の最初の16

セクタは，すべて (00) とする。

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

表9−ディスク管理ECCブロックの一般仕様

各々の管理ブロックの物理セクタ

主データのバイト位置

内容

D0〜D3

内容記述子

D4〜D7

予備 (00) に設定

D8〜D39

ドライブID

D40〜D63

予備 (00) に設定

D64〜D2 047

ドライブ固有情報

1〜15

D0〜D2 047

ドライブ固有情報

物理セクタ0 バイトD0〜D3：内容記述子

これらのバイトは，ここが管理ブロックであることを示す(41444D00)と設定する。これは，“ADM”

(ADMinistration)及びバージョン0を示す。

物理セクタ0 バイトD4〜D7：予備

これらのバイトは，予備で(00)に設定する。

物理セクタ0 バイトD8〜D39：ドライブID

これらのバイトは，25.1のバイトD8〜D39 で規定するドライブの認識番号を示す。

物理セクタ0 バイトD40〜D63：予備

これらのバイトは，予備で(00)に設定する。

物理セクタ0 バイトD64〜D2 047：ドライブ固有情報

これらのバイトは，ドライブ固有の情報のために使用できる。記録内容は，規定しない。

物理セクタ1〜15 バイトD0〜D2 047：ドライブ固有情報

これらのバイトは，ドライブ固有の情報のために使用できる。記録内容は，規定しない。

17.6 目次情報(TOC)ゾーン

4 096個の物理セクタは，ディスク上の記録部分及びセションの位置に関する情報を格納する。このゾー

ンの最初の16セクタの主データは，すべて(00)にする。このゾーンは，次の二つのパートで構成する。

− パート1 191個のECCブロックで構成し，これらはTOCブロックと呼ぶ。このブロックは，すべ

ての閉じたセションの位置情報を格納する。

− パート2 1 024個の物理セクタで構成し，それらは4個のセクタを一つのユニットとするグループ

に分割する。各々のユニットは，一つのADIP語に対応する。これらのユニットを，す

べて記録したゾーンの参照子として使用する。

17.6.1 目次情報ブロック

あるセションを閉じる場合はいつでも，目次情報(TOC)ゾーンに位置するTOCブロックの最後尾に続く

次のECCブロックに，そのディスク上のすべての閉じているセションの位置を記録する。TOCゾーンの

最初のECCブロックは，二番目のECCブロックのランインとして使用する。

191個のすべてのTOCブロックを使用した場合は，それ以上のセションの記録を追加してはならない

（23.2及び23.3参照）。

TOCブロックのフォーマットを，表10に示す。

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表10−TOCブロックのフォーマット

TOCブロックの

物理セクタ

主データのバイト位置

内容

バイト数

D0〜D3

内容記述子

D4〜D7

予備 (00) に設定

D8〜D39

ドライブID

D40〜D63

予備 (00) に設定

D64〜D79

TOC項目0

−

D64＋i×16〜D79＋i×16

TOC項目i

−

D64(N−1)×16〜D79＋(N−1)×16

TOC項目N−1

D64＋N×16〜D2 047

予備 (00) に設定

1 984−N×16

1〜3

D0〜D2 047

TOC項目の拡張又は
予備 (00) に設定

3×2 048

4〜7

D0〜D2 047

セクタ0〜3の繰返しを推奨
又は
予備 (00) に設定

4×2 048

8〜11

D0〜D2 047

セクタ0〜3の繰返しを推奨
又は
予備 (00) に設定

4×2 048

12〜15

D0〜D2 047

セクタ0〜3の繰返しを推奨
又は
予備 (00) に設定

4×2 048

物理セクタ0 バイトD0〜D3：内容記述子

これらのバイトは，ここがTOCブロックであることを示す(544F4300) を記録する。これは“TOC”(Table

Of Content)及びバージョン0を示す。

物理セクタ0 バイトD4〜D7：予備

これらのバイトは，予備で(00)に設定する。

物理セクタ0 バイトD8〜D39：ドライブID

これらのバイトは，ドライブの認識番号を含み，25.1のバイトD8〜D39 で規定する。

物理セクタ0 バイトD40〜D63：予備

これらのバイトは予備で(00)に設定する。

物理セクタ0 バイトD64〜D2 047：TOC項目

これらのバイトは，16バイトごとのユニットにグループ化する。各々の16バイトのユニットは，17.6.1.1

で規定するTOC項目を格納する。使用しないバイトは，(00)に設定する。

物理セクタ1〜3 バイトD0〜D2 047：TOC拡張項目又は予備

これらのバイトは，TOC項目で追加する項目がある場合にここへ格納する。使用しないバイトは，(00)

に設定する。

物理セクタ4〜15 バイトD0〜D2 047：セクタ0〜3の繰返し又は予備

読取りを確実にするために，上記セクタ0〜3の内容をセクタ4〜7へ，セクタ8〜11の内容をセクタ12

〜15へコピーするのがよい。この繰返し記録をしない場合は，これらのすべてのバイトは，(00)に設定す

る。繰返し記録をするか否かは，規定しない。

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17.6.1.1 TOC項目

表10A−TOC項目

項目バイトの位置

内容

バイト数

B0〜B2

TOC項目記述子

セション状態

セション番号

B5〜B7

セション開始アドレス

B8〜B10

セション終了アドレス

B11〜B12

セションの最後のフラグメント番号

B13〜B15

予備 (00) に設定

TOCブロックには，そのディスクに存在するすべての閉じたセションのTOC項目を格納する。TOC項

目の配列順は，すべて昇べき順の番号とアドレスを用いる（表10A参照）。

TOC項目バイトB0〜B2：TOC項目記述子

これらの3バイトは，次の項目がTOC情報を表していることを示し，“TCI”(Table of Content Indicator)

示す(544349)と記録する。

TOC項目バイトB3：セション状態

このバイトは，各セションの状態を示す。最後尾以外のセションでは，(00)に設定する。ただし，最後

尾のセションについては次に定める。

最後のTOC項目を，(00)に設定する場合は，新たなセションの追加を可能とする。

最後のTOC項目を，(01)に設定する場合は，最後のセションはそのディスクの最終セションとする。す

なわちディスクは終了化が完了していて，それ以上セションを追加できない（23.3参照）。

TOC項目バイトB4：セション番号

このバイトは，この項目で規定するセションの連続番号を示す。

TOC項目バイトB5〜B7：セション開始アドレス

これらの3バイトは，この項目で規定するセションのデータゾーンの最初の物理セクタのPSNを示す。

TOC項目バイトB8〜B10：セション終了アドレス

これらの3バイトは，この項目で規定するセションのデータゾーンの最後の物理セクタのPSNを示す。

TOC項目バイトB11〜B12：セションの最後のフラグメント番号

これらの2バイトは，この項目で規定するセションの最後の部分の番号を示す。これを使用しない場合

は，これらの2バイトは，(00)に設定する。

TOC項目バイトB13〜B15：予備

これらのバイトは，予備である(00)に設定する。

17.6.2 記録領域参照子

ディスクのアクセス速度を上げるため，ドライブが最後に書き込んだECCブロックの位置を知るために，

ビットマップを定義する。このビットマップは，1ADIP語長に相当する4物理セクタ分の長さ単位で記録

する。4個の物理セクタは，13.1，13.2，13.4，13.5及び13.6に規定する。ただし，主データバイト，PI

バイト及びPOバイトの扱いは任意とする（13.3参照）。

1 024個の物理セクタは，このビットマップ用に割り当て，この部分は，ディスクを最大256個のゾーン

に分割する。記録済み領域の参照子は，TOCゾーンの外周側から内周側へと使用する（図24参照）。高周

波信号の検知によってドライブは，記録済み参照子の位置を知り，そして記録済みのECCブロックの存在

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する領域を決定することができる。

図24−記録済み領域の参照子の用例

PSN＝(030000) とPSN＝(26053F) との間の640個のECCブロックの各々の領域を，一つの記録済み領

域の参照子とする。一つ以上の記録されたECCブロックを含むすべての領域は，対応する記録済み参照子

（Recorded Area Indocator, RAI）によって表示しなければならない。これは次による。

例として，PSNRAI〜PSNRAI＋3の物理セクタが記録済みであることを記録済み参照子が示す場合は，次

の領域のECCブロックを，使用者が記録したとする。

PSN＝[(02A47C)−(PSNRAI)]×(A00)＋(030000)〜PSN＝[(0A47C)−(PSNRAI)]×(A00)＋(0327FF)

又は10進法では，次のようになる。

PSN＝(173 180−PSNRAI)×2 560＋196 608〜PSN＝(173 180−PSNRAI)×2 560＋206 847

ディスクをドライブから取り出す場合はいつでも，記録済み参照子は，そのディスクの最新の記録状態

を反映していなければならない。

18 リードインゾーン

リードインゾーンは，情報ゾーンの内周側にある。これは，図25で示す部分で構成する。

各部分の最初の物理セクタ番号及び最後の物理セクタを，図25では，16進法及び10進法で表示し，各

部分に含まれる物理セクタ数を，10進法で表示する。

初めて使用するディスクには，リードインゾーンには何のデータもない。ディスクのファイナライズ後，

又は最初のセションの終了後，18.1〜18.9に従って，リードインゾーンを記録しなければならない。

記録済み

TOC

ブロック

(02A080)

−(02A083)

(02A084)

−(02A087)

---

(02A300)

−(02A303)

ガード

ゾーン1

(02A304)

−(02A307)

(02A47C)

−(02A47F)

(02A478)

−(02A47B)

記録済みゾーン参照子(参照子のPSNにて認識)

未記録

---

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インナードライブ領域

物理セクタ173 184

カードゾーン1

物理セクタ(02A480)

14 848物理セクタ

物理セクタ188 031

主データを（00）に設定

物理セクタ(02DE7F)

物理セクタ188 032

予約ゾーン1

4 096物理セクタ

物理セクタ(02DE80)

物理セクタ192 127

物理セクタ(02EE7F)

物理セクタ192 128

予約ゾーン2

64物理セクタ

物理セクタ(02EE80)

物理セクタ192 191

物理セクタ(02EEBF)

物理セクタ192 192

インナーディスク識別ゾーン

256物理セクタ

物理セクタ(02EEC0)

物理セクタ192 447

物理セクタ(02EFBF)

物理セクタ192 448

予約ゾーン3

64物理セクタ

物理セクタ(02EFC0)

物理セクタ192 511

物理セクタ(02EFBF)

物理セクタ192 512

リファレンスコードゾーン

32物理セクタ

物理セクタ(02F000)

物理セクタ192 543

物理セクタ(02E01F)

物理セクタ192 544

バッファゾーン1

物理セクタ(02F020)

480物理セクタ

物理セクタ193 023

主データを(00)に設定

物理セクタ(02F1FF)

物理セクタ193 024

制御データゾーン

3 072物理セクタ

物理セクタ(02F200)

物理セクタ196 095

物理セクタ(02FDFF)

物理セクタ196 096

バッファゾーン2

物理セクタ(02FE00)

512物理セクタ

物理セクタ196 607

主データを(00)に設定

物理セクタ(02FFFF)

データゾーン

図25−リードインゾーン

18.1 ガードゾーン1

このガードゾーンは，互換性に必要な最少量のリードインを生成するために使用する。このゾーンは，

14 848個の物理セクタで構成し，主データはすべて(00)に設定する。

18.2 予約ゾーン1

4 096個の物理セクタは，予約済みで(00)に設定する。

18.3 予約ゾーン2

64個の物理セクタは，予約済みで(00)に設定する。

18.4 インナーディスク識別ゾーン

256個の物理セクタを，データ交換の情報用のために割り当てる。1個のECCブロックからなる16個の

物理セクタの各集合は，箇条25に示すディスク制御ブロック(DCB)とするか，すべての主データを(00)で

記録するかのいずれかとする。このゾーンでは，主データをすべて(00)で記録したECCブロックに続く各

ECCブロックも，主データはすべて(00)を記録しなければならない。

18.5 予約ゾーン3

64個の物理セクタは，予約済みで(00)に設定する。

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18.6 リファレンスコードゾーン

記録済みのリファレンスコードゾーンは，ディスク上で特定のチャネルビットパターンを生成する二つ

のECCブロックからなる32個の物理セクタで構成する。各々の対応するデータフレームのすべての2 048

主データバイトを(AC)に設定する。さらに，各ECCブロックの最初のデータフレームの最初の160主デー

タバイトに適用する以外に，これらのデータフレームにスクランブルを適用してはならない。

18.7 バッファゾーン1

このゾーンは，30個のECCブロックすなわち480個の物理セクタで構成する。このゾーンのデータフ

レームの主データは，すべて(00)に設定する。

18.8 制御データゾーン

このゾーンは，192個のECCブロックすなわち3 072個の物理セクタで構成する。各ECCブロックの

16個の物理セクタの内容は，192回繰り返さなければならない。制御データブロックの構造を，図26に示

す。

物理フォーマット情報

2 048 バイト

ディスク製造情報

2 048 バイト

出版元情報

14×2 048 バイト

図26−制御データブロックの構造

18.8.1 物理フォーマット情報

この情報は，表11に示す2 048バイトで構成し，ディスク及びフォーマット情報を含む。

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表11−物理フォーマット情報

バイト番号

内容

バイト数

ディスクカテゴリ及びバージョン番号

ディスクサイズ

ディスク構造

記録密度

4〜15

データゾーン位置の指定

一般フラッグビット

ディスク応用コード

拡張情報の有無の参照子

19〜26

ディスク製造業者ID

27〜29

メディアタイプID

ディスクの改訂履歴番号

ADIPのバイト63までに使われている物理フォーマット情報の数

32〜63

基本記録ストラテジパラメタ

64〜95

拡張情報ブロック0

96〜127

拡張情報ブロック1

128〜159

拡張情報ブロック2

160〜191

拡張情報ブロック3

192〜223

拡張情報ブロック4

224〜247

拡張情報ブロック5

248〜251

最初のセションの開始位置の設定

252〜255

最初のセションの終了位置の設定

256〜2 047

予備すべて(00)

1 792

0〜255までのバイトの情報は，表3及び14.4.2で定義するADIPの物理フォーマット情報と同じ内容を

もつ。ただし，次に示すバイトは除く。

バイト1：ディスクサイズ及び最大転送レート

ビットb7〜b4は，14.4.2のバイト1と同じとする。

ビットb3〜b0は，最大再生転送レートを定義する。

これらのビットは，アプリケーションが必要とする最大のリードアウト速度によって決まる次の

値のうちの一つに設定してもよい。

“0000”に設定する場合， 2.52 Mbits/sの最大転送レートを示す（30.3の注記参照）。

“0001”に設定する場合， 5.04 Mbits/sの最大転送レートを示す（30.3の注記参照）。

“0010”に設定する場合，10.08 Mbits/sの最大転送レートを示す。

“1111”に設定する場合，最大転送レートを規定しないことを示す。

その他すべての組合せは予備であり，それらを用いてはならない。

バイト4〜15：データゾーン位置の指定

バイト4〜8は，14.4.2のバイト4〜8と同じとする。

バイト9〜11は，ファイナライズしたシングルセションディスク（23.3参照）では，データゾー

ンの物理セクタの終了セクタ番号を示す。マルチセションディスク（箇条22参照）では，(26053F)

に設定し，PSN2 491 711がユーザデータの記憶のためのディスク上の最後の物理セクタとする。

バイト12〜15は，14.4.2のバイト12〜15と同じとする。

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バイト16：一般フラッグビット

対応国際規格では，この細分箇条において，コピープロテクションシステムを使用する場合のビ

ット設定について規定しているが，この規格では不要であり，不採用とした。

すべて(00)に設定する。

バイト248〜251：最初のセションの開始位置の設定

バイト248は，(00)に設定する。

バイト249〜251は，(030000)に設定し，最初のセションのデータゾーンの最初の物理セクタがPSN

196 608であることを示す（箇条22参照）。

バイト252〜255：最初のセションの終了位置の設定

バイト252は，(00)に設定する。

バイト253〜255は，最初のセションのデータゾーンの物理セクタの終了セクタ番号を示す（箇条

22参照）。

バイト256〜2 047：予備

すべて(00)に設定する。これらの残りのバイトは，ADIP情報との関係はなく，すべて(00)に設定

する。

18.8.2 ディスク製造情報

この規格では，これら2 048バイトの形式及び内容を規定しない。これらは，データ交換時には無視する。

18.8.3 出版元情報

これら28 672バイトは，すべて(00)に設定する。

どのような場合でも，ホストから受信したデータは，このフィールドに記録してはならない。

注記レコーダ及びドライブは，ユーザが任意に定義した数値をフィールドに何らかの方法で記録す

るように作られているか又は記録できるようにこれらの機器を容易に改造できるとき，このド

ライブは，回避装置とみなす。

18.9 バッファゾーン2

この記録済みゾーンは，32個のECCブロックすなわち512個の物理セクタで構成する。このゾーンで

は，データフレームの主データは，すべて (00) に設定する。

注記対応国際規格では，コピープロテクションシステムを使用する場合のビット設定について規定

しているが，この規格はデータアプリケーションについて規定するものであるため，この細分

箇条の規定は不要であり，不採用とした。

データゾーン

ユーザデータを記憶するための2 295 104個の物理セクタで構成する。データゾーンの開始半径は，物理

ADIPアドレス (00C000) の位置によって決定され，最大終了半径は，物理ADIPアドレス (098150) の位

置によって決定する（14.4.1.1のビット2〜23及び13.7.1参照）。

20 リードアウトゾーン

リードアウトゾーンは，情報ゾーンの外周側に位置する。リードアウトゾーンは，図27に示す部分で構

成する。各部分の最初及び最後の物理セクタの物理セクタ番号は，図27では，16進法及び10進法で表示

し，各部分に含む物理セクタ数は，10進法で表示する。

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データゾーン

物理セクタ2 491 712

バッファゾーン3

最大物理セクタ(260540)

768物理セクタ

物理セクタ2 492 479

主データを(00)に設定

最大物理セクタ(26083F)

物理セクタ2 492 480

アウターディスク識別ゾーン

256物理セクタ

最大物理セクタ(260840)

物理セクタ2 492 735

最大物理セクタ(26093F)

物理セクタ2 492 736

ガードゾーン2

最大物理セクタ(260940)

最小4 096物理セクタ

主データを(00)に設定

物理セクタ2 496 831

（残りのセクタは未記録でよい）物理セクタ(26193F)

アウタードライブ領域

図27−リードアウトゾーン

20.1 バッファゾーン3

この記録済みのゾーンは，768個の物理セクタで構成する。バッファゾーン3の開始位置は，(2605409)

以下とする。このゾーンのデータフレームの主データは，すべて(00)に設定する。

20.2 アウターディスク識別ゾーン

256個の物理セクタは，データ交換の情報用のための予備とする。1個のECCブロックすなわち16個の

物理セクタの各集合は，ディスク制御ブロック(DCB)又はすべての設定が(00)の主データのいずれかで構成

する。このゾーンの内容は，最後のインナーセション識別ゾーンの内容と等しいか，シングルセションデ

ィスクの場合は，インナーディスク識別ゾーンの内容と等しくなければならない。

20.3 ガードゾーン2

このガードゾーンは，ユーザデータを含む情報ゾーンを，テスト記録ゾーンから分離するための緩衝領

域として使用する。このゾーンは，主データをすべて(00)に設定した最小限4 096個の物理セクタで構成す

る。

ディスクの総記録容量の全体を利用しない場合，ガードゾーン2は，主データがすべて(00)に設定した

物理セクタで一定の半径まで又はアウタードライブ領域まで拡張でき，未記録の状態にしておくこともで

きる。これらの選択は，この規格では規定しない。

21 アウタードライブ領域

アウタードライブ領域は，ディスク試験及びOPCアルゴリズムを実行するためのドライブが使用するデ

ィスクの最外周のゾーンとし，構成を図28に示す。

各部分の最初及び最後の物理セクタの物理セクタ番号は，図28では，16進法及び10進法で表示し，各

部分に含む物理セクタ数は，10進法で表示する。

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リードアウトゾーン

物理セクタ2 496 832

アウターディスク管理ゾーン

4 096物理セクタ

物理セクタ（261940）

物理セクタ2 500 927

物理セクタ（26293F）

物理セクタ2 500 928

アウターディスクカウントゾーン

4 096物理セクタ

物理セクタ（262940）

物理セクタ2 505 023

物理セクタ（26393F）

物理セクタ2 505 024

アウターディスクテストゾーン

16 384物理セクタ

物理セクタ（263940）

物理セクタ2 521 407

物理セクタ（26793F）

物理セクタ2 521 408

ガードゾーン3

物理セクタ（267940）

ブランク

図28−アウタードライブ領域

21.1 アウターディスク管理ゾーン

ドライブ固有の情報に任意に使用する4 096個の物理セクタで構成する。このゾーンの最初の16個の物

理セクタは，すべての主データを(00)に設定する。このゾーンは，インナーディスク管理ゾーンと同じ方

法で使用する（17.5参照）。

21.2 アウターディスクカウントゾーン

アウターディスクテストゾーンで実行するOPCアルゴリズムの数を数えるために確保する4 096個の物

理セクタで構成する（附属書I参照）。

アウターディスクテストゾーンのECCブロック又はその一部を記録した場合は，常に，アウターディス

クカウントゾーンの4個の物理セクタを記録することによってECCブロックにフラグを付ける。これら4

個の物理セクタは，13.1及びその下の13.2，13.4，13.5，13.6の規定に従ってフォーマットし，主データ

のバイト，PIバイト及びPOバイト（13.3参照）を自由に選択することができる。

アウターデスクカウントゾーンで使用するECCブロックの最初の物理セクタ番号PSNODTと，アウター

ディスクカウントゾーンの4物理セクタの物理セクタ番号PSNODC〜PSNODC＋3との関係は，次による。

940)

(262

(04)

940)

(263

PSN

ODT

ODC

−

21.3 アウターディスクテストゾーン

ドライブ試験及びOPCアルゴリズム用に割り当てた16 384個の物理セクタで構成する（附属書I参照）。

これらの物理セクタは，ディスクの外側から内側に向かって，すなわち，最大のアドレスから最小のア

ドレスに向かって順に使用する。

21.4 ガードゾーン3

このゾーンは，ブランクのままとする。

22 マルチセションレイアウト

再生専用機器がデータを取得できるために，ディスクにはリードインゾーンがあり，データゾーンには

ブランクの領域が存在せず，何らかのリードアウトゾーンをもつのが望ましい。同時に，部分的に記録し

たディスクに付加データを追加することも望まれる。このため，次のマルチセションの概念を規定する。

マルチセションディスクでは，複数のセションの存在を可能とする。イントロ及びクロージャのあるセ

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ションをクローズドセションと呼ぶ。イントロセションの代わりに，リードインゾーンが最初のセション

に先行し，クロージャゾーンの代わりに，リードアウトゾーンが最後のセションの後に続く。いったんリ

ードアウトゾーンを記録すると，ディスクは“ファイナライズした”とみなし，ディスクに追記してはな

らない。

マルチセションディスクのレイアウトを，表12に示す。

表12−マルチセションディスクの情報ゾーンのレイアウト

セション

ゾーン

内容

物理セクタ数

インナードライブ領域

−

セション1

リードイン

−

箇条18参照

−

予約ゾーン2

インナーディスク識別ゾーン

256

−

制御データゾーン

3 072

バッファゾーン2

512

データ

データゾーン

最小16

クロージャ

バッファゾーンC

22.3参照

768

アウターセション識別ゾーン

256

セション2

イントロ

バッファゾーンA

22.1参照

インナーセション識別ゾーン

256

セション制御データゾーン

640

バッファゾーンB

データ

データゾーン

最小16

クロージャ

バッファゾーンC

22.3参照

768

アウターセション識別ゾーン

256

・
・

−
−

セション N

(N ≦ 191)

イントロ

−

22.1参照

−

データ

データゾーン

最小16

リードアウト

バッファゾーン3

箇条20参照

768

アウターディスク識別ゾーン

256

−

アウタードライブ領域

−

セション中に部分的に記録したリードインゾーン又はイントロゾーンに部分的な記録があり，リードア

ウトゾーン又はクロージャゾーンが存在しない場合は，オープンセションと呼ぶ。オープンセションとし

て許可した最後の一つを除いて，すべてのセションはクローズドセションでなければならない。ユーザデ

ータは，オープンセションにだけ追加が可能とする。すべてのセションを閉じた場合，最初に新しいオー

プンセションを生成しなければならない（23.1参照）。

ディスク上の最初のクローズドセションには，箇条18に適合するリードインが存在する。次のクローズ

ドセションには，22.1で定義するイントロが存在する。すべてのクローズドセションには，22.3で定義す

るクロージャが存在するが，最後のセションは例外であり，箇条20で定義するリードアウトをもつ。

22.1 イントロ

2番目以降の各セションは，バッファゾーンA，インナーセション識別ゾーン，セション制御データゾ

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

ーン及びバッファゾーンBで構成するイントロゾーンから開始する。イントロゾーンは，データフレーム

のビットb27〜b26を“00”に設定する。

22.1.1 バッファゾーンA

64個の物理セクタは，予備で (00) に設定する。

22.1.2 インナーセション識別ゾーン

セションに関する情報を格納するために割り当てた256個の物理セクタで構成する。1個のECCブロッ

クすなわち16個の物理セクタの各集合は，ディスク制御ブロック(DCB)（箇条25参照）か，又はすべて

の設定が(00)の主データのいずれかで構成する。このゾーンでは，主データをすべて(00)で記録したECC

ブロックに続く各ECCブロックも，同様に，主データをすべて(00)で記録する。

22.1.3 セション制御データゾーン

このゾーンは40個のECCブロックすなわち640個の物理セクタで構成する。各ECCブロックの16個

の物理セクタの内容は，40回繰り返す。制御データブロックの構造を図26に示す。

22.1.4 バッファゾーンB

64個の物理セクタは，予備で(00)に設定する。

22.2 データゾーン

各データゾーンは，16個の物理セクタの倍数で構成し，16個を最小とする。最初のデータゾーンは，

PSN(030000) から始まる。記録するデータが少ない場合には，再生専用機器との互換を容易にするために，

(00)の主データを含むデータフレームでデータゾーンを一定の半径，又はデータゾーンの最後まで埋める

ことができる。

22.3 クロージャ

各セションは，バッファゾーンC及びアウターセション識別ゾーンの二つの部分からなるクロージャゾ

ーンで終了する。クロージャゾーンは，データフレームのビットb27〜b26を“00”に設定する。

22.3.1 バッファゾーンC

768個の物理セクタは，予備で(00)に設定する。

22.3.2 アウターセション識別ゾーン

1個のECCブロックすなわち16個の物理セクタの各集合は，ディスク制御ブロック(DBC)（箇条25参

照）か，すべての設定が(00)の主データのいずれかで構成する。このゾーンの内容は，同じセションのイ

ンナー識別ゾーンの内容に等しい。

23 フラグメントの連続記録

通常，この規格に従ったディスクは，連続的に記録されなければならない。一方で，ファイルシステム

情報など，事前に決められたディスク上のある場所に特定のデータを追記するのを容易にするために，セ

ションを幾つものフラグメントに分けることができる。このようなフラグメント内部では，ディスクの内

側から外側に向かって，ユーザデータを連続的に記録する。

23.1 セションの開始

新しいデータは，オープンセションに追記して，ディスクに追加することができる。オープンセション

が存在しない場合は，新しいセションを開かなければならない（表13参照）。

新しいセションを開く場合は，バッファゾーンA及びインナーセション識別ゾーンの最初のECCブロ

ックにSDCB（25.2参照）を記録する（又は，ブランクディスクの第1セションの場合は，予約ゾーン2

及びインナーディスク識別ゾーンの最初のECCブロックにSDCBを記録する。）。

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表13−オープンセションNの詳細

データ

データゾーン

ユーザデータ

セションn−1

バッファゾーンC

(00)で記録した48個のECCブロック

クロージャアウターセション認識ゾーン

DCB及び／又は(00)で記録した16個のECCブ
ロック

バッファゾーンA

(00)で記録した4個のECCブロック

インナーセション認識ゾーン

SDCBを記録した1個のECCブロック

セションn

イントロ

ブランク

セション制御データゾーン

ブランク

バッファゾーンB

(00)で記録した4個のECCブロック

データ

データゾーン

予約フラグメント（任意）

ランインのための1個のECCブロック

ユーザデータを記録した不完全フラグメント

フラグメント

23.1.1 不完全フラグメント

予約フラグメント（23.1.2参照）を作らない場合は，バッファゾーンBの次に来るデータゾーンの残り

すべての領域を不完全フラグメントと呼ぶ。予約フラグメントが存在する場合は，最後の予約フラグメン

トの次に来るデータゾーンの残りすべての領域を不完全フラグメントと呼ぶ。

不完全フラグメントを閉じる（23.1.4参照）まで，どのSDCBにも，不完全フラグメントのためのフラ

グメント項目（25.2.1参照）は存在しない。

23.1.2 予約フラグメント

例えば，ファイルシステム情報など，既に記録済みのユーザデータの前に，後でデータを追加できるよ

うにするために，予約フラグメントを作ることができる。1番目のフラグメントは，バッファゾーンBの

終了直後に開始するが，オープンセションでは，すべての予約フラグメントは連続しており，重複するこ

とはない。

二つのフラグメント間ではいかなる場合も，ランインを目的とするECCブロックが存在する。このECC

ブロックは，上記フラグメントのいずれにも属さず，予約フラグメントiの終了位置の直後に，次に続く

フラグメント(i＋1)の最初のECCブロックの記録と同時に記録する（図29参照）。

23.1.2.1 予約フラグメントの追加

新しい予約フラグメントを定義すると，このフラグメントは，不完全フラグメントの先頭から始まり，

少なくとも，不完全フラグメントに既に書き込んだすべてのデータを含む。新たに定義する予約フラグメ

ントは，フラグメント（n＋1）となり，その場合，nはすぐ前の（予約）フラグメントの番号とする。追

加する予約フラグメントの開始アドレス及び終了アドレスを示す新しいフラグメント項目を含む新しい

SDCBを，そのセションの識別ゾーンに記録する（25.2.1参照）。

現セションの内周側識別ゾーンで，SDCBを記録するためのスペースの数が二つ以上ある場合，予約フ

ラグメントを追加することができる。SDCBを記録するための最後のスペースは，セションを終了するた

めに確保しなければならない。

新たに定義した予約フラグメントに続く領域は，新しい不完全フラグメント(n＋2)となるように指定す

る。

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フラグメント

n-1

クロージャイントロ予約フラグ

メントn

不完全フラグ

メント(n+1)

セション K-1

セション K

フラグメント

n-1

予約フラグ

メントn

予約フラグメ

ント(n+1)

セション K-1

セション K

不完全フラグ

メント(n+2)

フラグメン

トn

フラグメント

(n+1)

セション K-1

セション K

フラグメント

(n+2)

セション K+1

予約フラグメントが１個あ
るオープンセションK

不完全フラグメント(n+1)
に記録した後の予約フラグ
メントがあるオープンセシ
ョン

セションKのクローズ

クロージャイントロ

図29−予約フラグメントの生成

23.1.3 フラグメントでのユーザデータの記録

データゾーンに追加するユーザデータは，不完全フラグメント又は予約フラグメントに事前に書き込ん

でいるデータにすき（隙）間なくリンクする。

23.1.4 フラグメントの終了

予約フラグメントを終了する場合，フラグメントのすべてのブランク領域は，ダミーデータを記録する。

不完全フラグメントを終了する場合，その不完全フラグメントの開始アドレス及び記録終了アドレスを

示すフラグメント項目を含む新しいSDCBを，そのセションの識別ゾーンに記録する（25.2参照）。この

結果この終了した不完全フラグメントには，未記録領域が存在しない。

終了した不完全フラグメントの次の領域は，自動的に新しい不完全フラグメントとする。新しい不完全

フラグメントと終了した不完全フラグメントとの間には，ランインブロックを配置する。

23.2 セションの終了

再生機器が，そのセションのデータを読み取るためには，このセション及び以前のすべてのセションは

終了していなければならない。すべてのフラグメントの全ブランク領域にダミーデータを記録し，リード

インゾーン又はイントロゾーンのすべての部分に必要項目を記録し，クロージャゾーンを追加することに

よってセションを終了する。

セションが終了すると，不完全フラグメントが終了し，フラグメント（n＋1）として指定する。このと

き，nは不完全フラグメントの前の最後の予約フラグメントの番号とする（図29参照）。

フラグメントの番号は，すべてのセションを通して，連続する（図29参照）。

終了しようとするセションが191番目（取り得る最大数）の場合，セションを終了する代わりに，ディ

スクをファイナライズする（23.3参照）。また，セション終了後のディスクの残りの空スペースが128個の

ECCブロック（2 048物理セクタ）よりも少なくなる場合も，セションを終了する代わりに，ディスクを

ファイナライズする（23.3参照）。

23.2.1 リードインゾーン及びイントロゾーン

終了した不完全フラグメントが最後のフラグメントであるという情報を含めて［図29の例の(n＋2)］

SDCBを更新（追記）する。複数のSDCBが存在する場合は，最後に書き込まれたSDCBを有効なSDCB

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とする。

リードインゾーンの制御データゾーンは，18.8に従う。

各イントロのセション制御データゾーンは，次の設定で，18.8で規定するフォーマットに従って，40個

のECCブロックを記録する。

物理フォーマット情報

バイト0〜247：18.8.1と同じ

これらのバイトは，物理フォーマット情報のコピーを含む。

バイト248〜251：現セションの開始

バイト248は (00) に設定する。バイト249〜251は，現セションのデータゾーンの最初の物理セ

クタのセクタ番号を示す（箇条22参照）。

バイト252〜255：現セションの終了

バイト252は (00) に設定する。バイト253〜255は，現セションのデータゾーンの最後の物理セ

クタのセクタ番号を示す（箇条22参照）。

バイト256〜2 047：予備すべて (00)

これら残りのバイトは，ADIP情報と関係はなく，すべて (00) に設定する。

ディスク製造情報 18.8.2参照。

出版元情報 18.8.3参照。

23.2.2 クロージャゾーン

セションの終了時，バッファゾーンCは，アウターセション識別ゾーンとともに記録する。

23.3 ディスクのファイナライズ

ディスクをファイナライズする場合，クロージャゾーンの代わりに，箇条20に従ってリードアウトゾー

ンを記録する。ディスクのファイナライズ後は，それ以上データを追加することはできない。最後のセシ

ョンを記述するTOC項目でのセションのステータスは，それに応じて設定する［17.6.1.1（TOC項目）の

バイトB3参照］。

24 論理セクタ番号の割当て (LSN)

論理セクタ番号(LSN)は，LSN 0から連続して割り当て，最初のデータゾーンの最初のPSNから始まっ

て，最後のデータゾーンの終了位置で終わる。LSNとPSNとの関係は次による。

LSN＝PSN−(030000)

25 ディスク制御ブロック

ディスク制御ブロックは，この規格で規定しディスクの互換性を保つための追加情報を含む。DCBは，

ディスク及びセションのインナー識別ゾーン及びアウター識別ゾーンに記録する。新たにDCBを定義す

る場合，互換性を確保するため，最初の40個のデータバイトは，同じフォーマットでなければならない。

セションのステータスを反映するために，特別なDCBを定義する（25.2参照）。

25.1 ディスク制御ブロックのフォーマット

各ディスク制御ブロックの主データを，表14に示す。ディスク制御ブロックを更新しなければならない

場合は，インナーディスク識別ゾーン及びセション識別ゾーンで，最後に書き込んだDCBの直後に新し

いDCBを追記する。同じ内容記述子をもつDCBが複数存在する場合は，最も大きいアドレスをもつDCB

を有効なDCBとする。いったんセションを終了すると，そのセションのDCBをそれ以上更新することは

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できない。

表14−ディスク制御ブロックのフォーマット

DCBの物理セクタ

メインデータのバイト位置

内容

D0〜D3

内容記述子

D4〜D7

DCBの内容及び使用方法が不
明な場合の処理

D8〜D39

ドライブID

D40〜D2 047

特有の内容記述子

1〜15

D0〜D2 047

特有の内容記述子

バイトD0〜D3：内容記述子

(00000000)の場合，DCBは使用されていない。そして，残りすべてのバイト，表13の物理セク

タ0のD4〜D2 047及び物理セクタ1〜15のD0〜D2 047は，(00)に設定する。また，これに続くす

べてのDCBの内容記述子は，(00000000)に設定する。(53444300)に設定する場合，このDCBは

25.2で定義する。内容記述子の他のすべての値は予備とする。

インナー識別ゾーン又はアウター識別ゾーンに追加した新しい各DCBは，最初の有効な未記録

のDCBの場所に記録する。

セションのインナー識別ゾーンで，(00000000)に設定しない内容記述子をもつ一般的な各DCBは，

個々のセションのアウター識別ゾーンで，同一のDCBをもつ。更新によって古くなったDCBは，

アウター識別ゾーンに存在する必要はない。

バイトD4〜D7：DCBの内容及び使用方法が不明な場合の処理

これらのビットは，DCBの内容及び使用方法をドライブが判定できない場合（例えば，内容記述

子が既知の値に設定していない場合）の処理を規定する。これらのバイトは個々の32ビットで構

成するフィールドを形成する。

ビットb31〜b4

予備

これらのビットはすべて“0”に設定する。

ビットb3

DCB更新

“1”に設定する場合，現DCBを更新することはできない。その他の場合は，

“0”に設定する。

ビットb2

フォーマット

“1”に設定する場合，ディスクの再フォーマットはできないことを示す。

ビットb1

DCB読取り保護

“1”に設定した場合，このDCBの中の情報は，再生機器内部だけによる使用

を意味し，再生機器外に転送してならない。それ以外では，“0”に設定する。

ビットb0

データゾーン記録

“1”に設定する場合，データゾーンでの記録はできない。それ以外では，“0”

に設定する。

バイトD8〜D39：ドライブID

バイトD8〜D39は固有の記述子を含み，DCBを書き込むドライブを識別する。この固有のドラ

イブ識別子のフォーマットは，次による。

− バイトD8〜D23ドライブの製造業者を識別する。この名前は，ISO/IEC 4873に従って，値

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の範囲が，G0 set+SPACEの集合からの文字によって表示する。残りのバイトは，使用しな

い場合，(00)に設定する。

− バイトD24〜D35ドライブのモデル名又は型番号を識別する。このモデル名又は型番号は

ISO/IEC 4873に従って，値の範囲が，G0 set+SPACEの集合からの文字によって表示する。

末尾のバイトを使用しない場合は，(00)に設定する。

− バイトD36〜D39ドライブ固有のシリアル番号を含む。この4バイトは，一つの32ビット

の2進数で構成する。

バイトD40〜D2 047：内容記述子に特有のバイト

これらのバイトは，実際の内容記述子の値をもつDCBのフォーマット記述で定義する。

物理セクタ1〜15 バイトD0〜D2 047：内容記述子に特有のバイト

これらのバイトは，実際の内容記述子の値をもつDCBのフォーマット記述で定義する。

25.2 セションDCB(SDCB)のフォーマット

オープンセションのリードインゾーン又はイントロゾーンは，オープンセションの構造及び前のすべて

のセションの場所を記述するSDCBを含まなければならない。セションを終了する場合，インナー識別ゾ

ーンのSDCBを更新し，アウター識別ゾーンにコピーが書き込む。表15にSDCBを定義する。

表15−SDCBのフォーマット

ECCブロック

の物理セクタ

メインデータのバイト位置

内容

バイト数

D0〜D3

内容記述子

D4〜D7

内容記述子が不明な場合の処理

D8〜D39

ドライブID

D40〜D41

セション番号

D42〜D63

予備(00)に設定

D64〜D95

ディスクID（リードゾーンだけ）

D96〜D127

アプリケーション依存

D128〜D143

セション項目0

−

D128＋i×16〜D143+i×16

セション項目i

−

D128＋(N−1)×16〜D143＋(N−1)×16

セション項目N−1

D128＋N16〜D2 047

予備(00)に設定

1 920−N×16

1〜3

D0〜D2 047

セション項目の拡張又は予備(00)に設定

3×2 048

4〜7

D0〜D2 047

セクタ0〜3の繰返し（推奨）
又は予備(00)に設定

4×2 048

8〜11

D0〜D2 047

セクタ0〜3の繰返し（推奨）
又は予備(00)に設定

4×2 048

12〜15

D0〜D2 047

セクタ0〜3の繰返し（推奨）
又は予備(00)に設定

4×2 048

物理セクタ0 バイトD0〜D3：内容記述子に特有のバイト

これらのバイトは，セションDCBを識別し，(53444300)に設定する。これは，文字“SDC”及びバージ

ョン番号0を示す。

物理セクタ0 バイトD4〜D7：内容記述子が不明な場合の処理

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(0000000D)に設定する。このDCBをドライブが判定できない場合，DCBを更新したり，ディスクを再

フォーマット化したりしてはならない。また，ドライブからホストコンピュータへDCB情報を転送する

ことはできるが，データゾーンへの記録はできない。

物理セクタ0 バイトD8〜D39：ドライブID

これらのバイトは，25.1のバイトD8〜D39で規定するとおり，ドライブIDを含む。

物理セクタ0 バイトD40〜D41：セション番号

これらのバイトは，SDCBが属するセションの番号を規定する。最初のセションの番号を1とし，以降

の各セション番号は一つずつ増やす。

物理セクタ0 バイトD42〜D63：予備

これらのバイトは，予備で，(00)に設定する。

物理セクタ0 バイトD64〜D95：ディスクID

ディスクのリードインゾーンにあるインナーディスク識別ゾーンのSDCBでは，これらの32バイトは，

ディスクの初期化時（最初のセションの開始時）に，統計上ランダムな256ビットの2進数で記録する。

次の各セションのイントロにおいては，インナーセション識別ゾーンのSDCBのバイトD64〜D95をすべて

(00)に設定する。

物理セクタ0 バイトD96〜D127：アプリケーションに依存するバイト

このフィールドは，32バイトで構成し，アプリケーションによる使用を目的に予約し，特定のコピー保

護データなどの情報を記録する。アプリケーションがこの設定を規定しない場合，バイトは，(00)に設定

する。

各セションでは，これらのバイトを単独で設定することができる。

物理セクタ0 バイトD128〜D2 047：セション項目

これらのバイトは，それぞれ16バイト単位でグループ化する。16バイトの各単位は，セション項目の

異なる二つのタイプのうち一つを含むことができる。二つのタイプを次に示す。

− タイプ1 現セションのフラグメントを規定する。

− タイプ2 以前のすべてのセションの開始アドレス及び終了アドレスを規定する。

すべてのセション項目は，そのタイプ番号（最初はタイプ1，次にタイプ2）に従って，SDCの中に順

番に並べる。使用しないすべてのバイトは，(00)に設定する。

物理セクタ1〜3 バイトD0〜D2 047：セション項目の拡張又は予備

これらのバイトを使用して，セション項目を追加することができる。使用しないすべてのバイトは，(00)

に設定する。

物理セクタ4〜15 バイトD0〜D2 047：セクタ0〜3の反復又はすべて予備

堅ろう（牢）性の観点から，セクタ4〜7，セクタ8〜11及びセクタ12〜15は，セクタ0〜3の内容を繰

り返すことが好ましい。繰り返さない場合，これらのバイトは，(00)に設定する。繰り返すか否かは，規

定しない。

25.2.1 セション項目

25.2.1.1 タイプ1 フラグメント項目

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表15A−フラグメント項目

項目のバイト位置

内容

バイト数

B0〜B2

フラグメント項目記述子

B3〜B4

フラグメント番号

B5〜B7

フラグメント開始アドレス

B8〜B10

フラグメント終了アドレス

B11〜B15

予備(00)に設定

一つのSDCBは，複数のフラグメント項目を含むことができる。予約フラグメントがない場合は，フラ

グメント項目は存在しない。

新しい予約フラグメントをオープンセションに追加しなければならない場合は，現セションのインナー

識別ゾーンで，新しい状況を反映するのに必要なフラグメント項目を含む新しいSDCBを，最後のSDCB

の直後に記録する。セションの中の予約フラグメントのアドレスは，重ねてはならない。

セションを終了すると，現セションのインナー識別ゾーンで，不完全フラグメントのフラグメント項目

を含む新しいSDCBを，最後のSDCBの直後に記録する。

フラグメント項目は，番号及びアドレスの増加とともに順番に並べる。インナー識別ゾーンでは，最後

に記録したSDCBが有効なSDCBとする（表15A参照）。

フラグメント項目バイトB0〜B2：フラグメント項目記述子

これらのバイトは，項目タイプを識別し，文字 “FRG” を示す(465247)に設定する。

フラグメント項目バイトB3〜B4：フラグメント番号

これら2バイトは，フラグメントの番号を定義する。フラグメントの番号は，すべてのセションを通じ

て連続しており，以降の各フラグメントに対して，一つずつ増加する。最初のセションの最初のフラグメ

ントの番号は1であり，次の各セションの最初のフラグメントの番号は，先行するセションの最後のフラ

グメントの番号より一つ大きくなる。

フラグメント項目バイトB5〜B7：フラグメント開始アドレス

これら3バイトは，この項目で規定するフラグメントの最初の物理セクタのPSNを定義する。

フラグメント項目バイトB8〜B10：フラグメント終了アドレス

これら3バイトは，この項目で規定するフラグメントの最後の物理セクタのPSNを定義する。

フラグメント項目バイトB11〜B15：予備

これら5バイトは，予備で(00)に設定する。

25.2.1.2 タイプ2：前セション項目

SDCBは，現セションから前の各セションの項目を含む。1番目のセションのSDCBは，前セション項

目を含まない。前セション項目は，アドレスの増加とともに順番に並べる（表15B参照）。

表15B−前セション項目

項目のバイト位置

内容

バイト数

B0〜B2

前セション項目記述子

予備(00)に設定

前セション番号

B5〜B7

前セション開始アドレス

B8〜B10

前セション終了アドレス

B11〜B15

予備(00)に設定

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前セション項目バイトB0〜B2：前セション項目記述子

これら3バイトは，項目のタイプを識別し，文字“PRS”を示す(505253)に設定する。

前セション項目バイトB3：予備

このバイトは，予備で，(00)に設定する。

前セション項目バイトB4：前セション番号

このバイトは，この項目で規定する前セションの番号を示す。

前セション項目バイトB5〜B7：前セション開始アドレス

これら3バイトは，この項目で規定する前セションのデータゾーンの最初の物理セクタのPSNを示す。

前セション項目バイトB8〜B10：前セション終了アドレス

これら3バイトは，この項目で規定する前セションのデータゾーンの最初の物理セクタのPSNを示す。

前セション項目バイトB11〜B15：予備

これら5バイトは，予備で，(00)に設定する。

第5章グルーブの特性

26 概要

記録は，すべてグルーブ領域内だけで行う。グルーブの中心線は，トラックの平均的中心線から，位相

変調のある正弦波でウォブルしている。この位相変調のあるウォブルから，ADIP情報を復号することが

できる。

ディスク上のグルーブ情報のフォーマットは，14.4で定義する。箇条9による基準測定装置を使用する

ものとして，箇条28では，グルーブからの信号について規定する。

27 試験方法

27.1 環境

箇条28のすべての信号は，8.1.1で定義する試験環境条件にあるディスクに対して規定範囲内になけれ

ばならない。

27.2 基準測定装置

箇条28で規定するすべての信号は，箇条9による基準測定装置の指示したチャネルで測定する。この測

定装置は，これらの試験を目的として，次の特性を満たす。

27.2.1 光学系及び機械系

集束光ビームは，9.2の a)〜i)で定義する特性を満たす。ディスクは，9.5に従って，回転する。

27.2.2 読取りパワー

読取りパワーは，ディスクの入射面に入射したパワーとし，0.7 mW±0.1 mWとする。

27.2.3 読取りチャネル

測定装置には，二つの読取りチャネルがある。読取りチャネル1は，対物レンズの出射ひとみ（瞳）で，

総光量の和信号 (I1＋I2) とする。読取りチャネル2は，2等分した対物レンズの出射ひとみ（瞳）で，光

量の差信号(I1−I2)とする。これらのチャネルは，箇条9に従って実装する。

プッシュプル及びクロストラック信号は，読取りチャネルの信号を，カットオフ周波数30 kHzの一次低

域フィルタを通過させて測定する。

ウォブル信号は，読取りチャネルの信号を，周波数帯域(−3 dB)＝25 kHz，傾斜=＋20 dB / decade〜周波

数帯域(−3 dB)= 4.0 MHz，傾斜＝−20 dB / decadeの一次帯域フィルタを通過させて測定する。

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

27.2.4 トラッキング

信号の測定中は，光ビームの焦点と記録層との間の軸方向トラッキングエラーは，0.20 μm以下とする。

さらに，光ビームの焦点とトラックの中心との間の半径方向トラッキングエラーは，0.022 μm以下とする。

27.3 信号の定義

すべての信号は，フォトディテクタの出力電流に対して直線関係にあり，したがって，ディテクタの受

光パワーに対して直線関係になければならない。

図30−トラックを交差するときの読取りチャネルでのグルーブ信号

プッシュプル信号

プッシュプル信号は，光ビームの焦点がトラックを交差するときの読取りチャネル2の信号で，フィ

ルタ通過後の正弦波状の差信号 (I1−I2) とする。半径方向のトラッキング用の信号として測定装置を用

いる。

クロストラック信号

クロストラック信号は，光ビームの焦点がトラックを交差するときの読取りチャネル1の信号で，フ

ィルタ通過後の正弦波状の和信号 (I1＋I2) とする。

ウォブル信号

ウォブル信号IWは，測定装置が最小限のトラッキング規定を満たすときの読取りチャネル2の信号で，

フィルタ通過後の正弦波状の差信号 (I1−I2) とする。

28 グルーブ信号の特性

28.1 位相深さ

グルーブの位相深さは，最大で90°とする。

28.2 プッシュプル信号

0レベル

半径位置

−

ランド

グルーブ

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プッシュプル信号PPのピークからピークまでの値は，次の範囲とする。

a) 記録前：

(

)

(

)

(

)

[

]

min

max

≦

−

記録前のプッシュプル信号の最大の変動幅は，次による。

min

max

min

max

−

b) 記録後：

(

)

(

)

(

)

[

]

min

max

≦

−

c) 未記録グルーブのプッシュプル信号に対する記録済みグルーブのプッシュプル信号の比率は，次の式

による。

after

before≦

≦PP

28.3 クロストラック信号

未記録ディスクのクロストラック信号は，次の要求に合致しなければならない。(I1＋I2)min値が，グルー

ブ中心で出ている（信号の極性の反転がないとする）。

28.4 正規化ウォブル信号

トラックのセンターラインからの偏位は，正規化ウォブル信号によって測定する。ウォブルグルーブの

中心の標準のトラックセンターラインからの偏位量は，附属書Mに従って計算する。

ウォブル信号は，振幅が隣接するトラックからのウォブルの正の干渉によって強調されない場所，すな

わち未記録トラックの位相変調していないウォブル部分で測定する。

正規化ウォブル信号は，次による。

(

)

min

≦

−

ウォブル信号の振幅が，隣接するトラックからのウォブルの正の干渉によって強調される場所では，最

大のウォブル信号は，次の式による。

6.2

min

max

≦

−

28.5 ウォブルの特性

記録前ウォブル信号の平均の狭帯域SNRは，1 kHz幅の分解能で測定を行い，45 dBを超えなければな

らない。

記録後ウォブル信号の平均の狭帯域SNRは，1 kHz幅の分解能で測定を行い，38 dBを超えなければな

らない。

第6章記録層の特性

29 試験方法

ディスク上の情報のフォーマットは，箇条13で定義する。箇条30は，箇条9で定義する基準測定装置

の使用時に得られる記録済みグルーブからの信号について規定する。

ここでは，記録情報の標準の品質を規定する。欠陥と呼ばれる規定値からの局部的な偏差は，トラッキ

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ングエラー又はデータフィールドのエラーの原因となり得る。これらのエラーについては，箇条32及び第

7章に記述する。

29.1 環境

30.2.2〜30.2.6までのすべての信号は，8.1.1で定義する試験環境の条件にあるディスクに対して規定範囲

内になければならない。

29.2 基準測定装置

30.2.2〜30.2.6までに規定するすべての信号は，箇条9で規定した基準測定装置の指示したチャネルで測

定する。この測定装置は，これらの試験の目的として，次の特性を満たす。

29.2.1 光学系及び機械系

集束ビームは，9.2 a)〜i) で定義する特性を満たす。ディスクは，9.5に従って，回転する。

29.2.2 読取りパワー

読取りパワーは，ディスクの入射面に入射したパワーとし，0.7 mW±0.1 mWとする。

29.2.3 読取りチャネル

測定装置には二つの読取りチャネルがある。読取りチャネル1は，対物レンズの出射ひとみ（瞳）で，

総光量の和信号 (I1＋I2) とする。読取りチャネル2は，2等分した対物レンズの出射ひとみ（瞳）で，光

量の差信号 (I1−I2) とする。これらのチャネルは，箇条9に従って実装する。

プッシュプル及びクロストラック信号は，読取りチャネルの信号を，カットオフ周波数30 kHzの一次低

域フィルタの通過後，測定する。

読取りチャネル1からの信号は，ジッタの測定時以外には，波形等化しない。読取り信号を2値化する

ためのしきい値を，書込みの間，パラメタ変化によって，マーク及びスペースサイズの変動の影響を最小

化するように制御する。附属書Eの特性を満たす読取りチャネル1を使用して，ジッタ測定を行う。

29.2.4 トラッキング

記録中及び信号の測定中，光ビームの焦点と記録層との間の軸方向のトラッキングエラーは，0.20 μm

以下とする。さらに，光ビームの焦点とトラックの中心との間の半径方向のトラッキングエラーは，0.022

μm以下とする。

注記速い記録速度又は再生速度においては，これらの最大値以下のトラッキングエラーを得るため

に，高度サーボシステムを必要とすることがある。

29.2.5 試験速度

すべての書込み試験は，14.4.2で定義するディスクの速度で実行する。ディスクは，関連する記録スト

ラテジを用いて，すべての主速度及び上位速度で検査する。すべての読取り試験は，基準速度で行う。

29.3 記録条件

マーク及びスペースは，レーザの出力を変調して，ディスク上に書き込む。

29.3.1 記録パルス波形

レーザパワーを，附属書Gにある記録パルス波形の一つに従って変調する。

3T〜14Tは，記録パルスのマルチパルス列を適用するか，又は単一の記録パルスを適用して記録する。

記録パワーは，記録パワー(Pw)及びバイアスパワー(Pb)の二つの基本レベルをもつ。これらは，ディス

クの入射表面での光パワーであり，マーク及びスペースを書き込むために使用する。

単一の記録パルスの場合，パルスのタイプ及び長さに応じて追加出力dPwを適用する。さらに，マーク

記録後の記録層の最適な冷却のために，記録パルスの直後規定する時間，パワーを取り得る最低のレベル

(Pc) に切り換える（G.2及びG.3参照）。

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Pwのパワーレベルの値を，附属書Iに従って最適化する。

実際のPwパワーレベルの誤差は，最適値の5 ％以内とする。

29.3.2 記録パワー

最適化した記録パワーPwo及びPboは，次の範囲とする。

Ppeak＝追加出力を適用しない場合のPwo

Ppeak＝追加出力を適用する場合のPwo＋dPwo（あらゆるマークに対して適用される最大値）

14.4.2.2で定義する基本記録ストラテジの場合（12.3参照）

650 nm≦λ≦λINDの場合Ppeak≦15.0 mW

λIND＜λ≦665 nmの場合Ppeak≦19.0 mW

14.4.2.3.1で定義する4倍速以上の記録ストラテジの場合（12.3参照）

650 nm≦λ≦λINDの場合Ppeak≦19.0 mW

λIND＜λ≦665 nmの場合Ppeak≦22.0 mW

14.4.2.3.2で定義する6倍速以上で8倍速までの記録ストラテジの場合（12.3参照）

650 nm≦λ≦λINDの場合Ppeak≦30.0 mW

λIND＜λ≦665 nmの場合Ppeak≦35.0 mW

14.4.2.3.3で定義する6倍速以上で16倍速までの記録ストラテジの場合（12.3参照）

650 nm≦λ≦λINDの場合Ppeak≦45.0 mW

λIND＜λ≦665 nmの場合Ppeak≦53.0 mW

λ＝λINDではPpeak≧6 mW

Pbo＝0.7 mW±0.1 mW

Pco＜0.1 mW

29.3.3 記録パワーの波長依存性

レーザ波長の変化（附属書K参照）によって生じる最適記録パワーの変動は，次の規定を満たす。

IND

≦

（dPwo / dλは，645 nm〜670 nmの波長範囲で平均化する。）

29.3.4 記録パワーウィンドウ

実際の記録装置で実装する記録パワーに対して，いくらかの変動を許容するために，正規化記録パワー

ウィンドウ(NWPW)は，ある幅以上をもたなければならない。正規化記録パワーウィンドウは，次の方法

で決定する。

− ジッタは，データゾーンの内側の半径及び外側の半径で，それぞれ，記録パワーPwの関数として測

定する。一般に，それら二つのカーブは，一致しない（図31参照）。

− 一つの記録パワーウィンドウは，関連するジッタのカーブが9 ％以下となるパワー範囲は，次による

（図31参照）。

正規化した各々の記録パワーウィンドウは，次の規定を満たす。

NWPWS＝

lower,

upper,

lower,

upper,

≧

−

− ネット記録パワーウィンドウは，ジッタの両カーブが9 ％以下となるパワー範囲として定義する（図

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31参照）。ネットパワーウィンドウ＝Pupper,1−Plower,2とする。

正規化ネット記録パワーウィンドウは，次の規定を満たす。

NWPWN＝

lower,

upper,

lower,

upper,

≧

−

この場合，Pupper,mは，ジッタの両カーブが9 ％以下となる最高のパワーであり，Plower,nは，ジッタ

の両カーブが9 ％以下となる最低のパワーとする。

− 上記の規定は，定義したすべての記録速度で満たさなければならない。

図31−記録パワーウィンドウの例

注記上記の手順は，パワーウィンドウの単調なシフトを半径の関数として示す通常のディスクを基

準としている。そうでない場合，複数の半径で記録パワーウィンドウを測定し，すべてのジッ

タのカーブが9 ％以下となるパワー範囲として，ネット記録パワーウィンドウを定義する。

29.4 測定条件

ジッタの試験は，ディスクの情報ゾーンで，(m−2)，(m−1)，m，(m＋1)，(m＋2) と指定する五つの隣

接するトラックのグループで行う。ジッタは，14.4.2.2のバイト32及びバイト33並びに14.4.2.3で定義す

る拡張情報ブロックに規定するすべての記録速度で測定する。

ジッタの測定は，附属書Eに記述するシステムを使用する。

ジッタは，次の手順に従って測定する。

29.3.1に従って，五つのすべてのトラック上にランダムデータを記録する。

29.2で規定する条件下でのトラックmのデータを読み取る。

30 記録済み信号の特性

ジッタ（％）

Plower,1

Plower,2

Pupper,2

Pupper,1

パワーウィンドウ2

ネットパワーウィンドウ

内側半径でのジッタ

外側半径でのジッタ

記録パワー

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次の信号は，29.3.1で規定した記録条件を用いて記録した後に測定する。

30.1 チャネルビット長

記録ユニットごとの平均チャネルビット長は，133.3 nm±1.4 nmとする。

30.2 信号の定義

すべての信号は，フォトディテクタの出力電流に対して直線関係にあり，したがって，ディテクタの受

光パワーに対して直線関係になければならない。

30.2.1 高周波信号 (HF信号)

HF信号は，読取りチャネル1で生成される，4分割フォトディテクタの電流の和とする。HF信号は，

記録層の情報を表す記録マーク及びスペースによって変調する。

0レベル

図32−変調振幅

30.2.2 変調振幅

変調振幅I14は，最長記録マーク及びスペースによって発生したピークからピークまでの値とする（図

32参照）。ピークの値I14Hは，高域フィルタ前のHF信号のピーク値とする。変調振幅I3は，最短記録マー

ク及びスペースによって発生したピークからピークまでの値とする。0レベルは，ディスクを挿入しない

ときの測定装置から得る信号レベルとする。これらのパラメタは，異なる記録速度で実行する場合も，す

べての条件下において，次の範囲とする。

14≧

3≧

一つのディスク内では，

max

min

max

≦

−

1回転周期内では，

max

min

max

≦

−

30.2.3 信号の非対称性

信号の非対称性は，次による。

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

−

≦

30.2.4 正規化しきい値ジャンプ

二つの連続するECCブロック間では，いずれの場合も，正規化しきい値(NSL)ジャンプは，次の範囲と

する。

(

)(

)

(

)(

)

≦

−

ここに， I3H,1及びI3L,1は，リンク位置直前のI3レベルを示す。

I3H,2及びI3L,2は，リンク位置直前のI3レベルを示す。

この規定は，二つのECCブロックを異なる速度で記録する場合にも満たさなければならない。

30.2.5 ジッタ

ジッタは，2値化した読取り信号の時間変動の標準偏差σとする。この2値化した読取り信号は，HF読

取りチャネルからのHF信号を波形等化器及び低域フィルタを通した後，スライスして生成する（附属書

E参照）。立上がりエッジ及び立下がりエッジのジッタをPLLクロックで測定し，チャネルビットクロッ

ク周期によって正規化する。

ジッタは，附属書Eで規定する回路を使用して，基準速度で測定する。

ジッタの測定には，29.4で規定する条件を使用する。

測定されたジッタは，最大で9.0 ％とする。

30.2.6 クロストラック信号

クロストラック信号は，光ビームがトラックを交差するときに，読取りチャネル1において，フィルタ

を通過した正弦波状の和信号 (I1＋I2) とする。クロストラック信号は，次による。

(

)

(

)

max

≧

30.3 読取りの安定性

気温55 ℃及び読取りパワー0.8 mWで読み取る場合，30.2.2〜30.2.6で規定するすべてのパラメタは，100

万回繰返し読み取った後でも規定範囲内とする。

注記読取りパワーが同じでも基準速度より速度が遅い場合には，読取りの安定性は，低下する。

31 追加試験の条件

この規格に従った記録済みディスクを，JIS X 6241に従ったピックアップヘッドで測定する場合は，次

の基本信号規定を満足しなければならない。

31.1 試験環境

次を除くすべての条件は，29.1〜29.2.5と同じにする。

31.1.1 光学系

データの読取りに使用する集束光ビームは，次による。

a) 波長 (λ)

650 nm±5 nm

b) 開口数

0.60±0.01

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c) 対物レンズは，厚さ0.6 mm及び屈折率1.55の平行基板による球面収差を補正しなければならない。

d) 単層ディスクの理想基板を通過した後の波面収差

最大0.033×λrms

e) 対物レンズのひとみ（瞳）の縁での光強度

半径方向では最大光強度の60 ％〜70 ％

接線方向では最大光強度の90 ％以上

偏光

円偏光

g) 読取りパワー

0.7 mW±0.1 mW

h) レーザダイオードの相対ノイズ強度(RIN)* 最大−134 dB/Hz

注＊

RIN=10 log［（交流光パワー実効値／Hz）／直流光パワー実効値］ (dB/Hz)

31.2 信号の定義

次の信号の定義は，30.2及びその細分箇条を参照する。

31.2.1 変調振幅

14≧

3≧

一つのディスク内では，

max

min

max

≦

−

（PBSあり）

一つのディスク内では，

max

min

max

≦

−

（PBSなし）

1回転周期内では，

max

min

max

≦

−

（PBSあり）

1回転周期内では，

max

min

max

≦

−

（PBSなし）

31.2.2 信号の非対称性

−

≦

31.2.3 ジッタ

ジッタは，附属書Eで規定する回路を使用して，基準速度で測定する。ジッタの測定は，29.4で規定す

る条件を使用する。測定されたジッタは，最大で9.0 ％とする。

31.2.4 クロストラック信号 (

)

(

)

max

≧

31.2.5 位相差トラッキングエラー信号

図33で示す四分割フォトディテクタ各素子の出力電流は，Ia，Ib，Ic及びIdで識別する。

位相差トラッキングエラー信号は，光ビームがトラックを交差するとき，ディテクタの対角の対間の位

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相差：位相(Ia＋Ic)−位相(Ib＋Id)から導く（図34及び附属書F参照）。

この位相差信号は，30 kHzのカットオフの低域フィルタをかける。

この信号は，次の規定を満たすものとする（図34参照）。

振幅正のゼロ交差において，半径方向のオフセット0.10 μmがあるときt

∆/T＝0.5〜1.1の範囲とする。

ここで，t

∆は，フォトディテクタ素子の対角の対の出力電流の和信号の位相差から導く平均時間差とし，

Tはチャネルビットクロック周期とする。

非対称性非対称性は，次の範囲とする（図34参照）。

≦

−

ここに，

T1：

∆/Tの正のピーク値

T2：

∆/Tの負のピーク値

外周側

内周側

図33−四分割フォトディテクタ

図34−位相差トラッキングエラー信号

31.2.6 接線方向のプッシュプル信号

この信号は，差動出力 (Ia＋Id)−(Ib＋Ic)の瞬時レベルから導く。この信号は，次による（図35参照）。

(

)(

)

[

]

9.0

≦

−

光ビーム

接線方向

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(I +I )-(I +I )

a d

p-p

マーク

(I +I )-(I +I )

a d

p-p

マーク

図35−接線方向のプッシュプル信号

32 記録層の品質

ディスク上のデータの完全性のために，記録層は，次の初期品質規定を満たさなければならない。

32.1 欠陥

欠陥は，気泡及び黒点とする。欠陥の直径は，次の規定を満たさなければならない。

− 気泡については，最大100 μmとする。

− 複屈折を発生させる黒点については，最大200 μmとする。

− 複屈折を発生させない黒点については，最大300 μmとする。さらに，欠陥は，トラックの走査方向

の80 mmの距離内で，次の規定を満たさなければならない。

− 30 μmより大きい欠陥長の総和の最大値は，300 μmとする。

− 欠陥の数は，最大6個とする。

32.2 データエラー

バイトエラーは，1バイト内の一つ以上のビットがそれらの元の記録値と比較して，間違った値をもつ

場合に起こる。

13.3で定義するECCブロックの行に，少なくとも1バイトのエラーがある場合は，その行は，PIエラ

ーと判定する。

13.3で定義するECCブロックの行に，五つより多いエラーバイトがある場合は，その行は，“訂正不能

PI”と呼ぶ。

ディスクは，リードインゾーンの開始からリードアウトゾーンの終了までの連続した単一の記録処理の

中で，任意のデータを用いて書き込まれる（“ディスクアットワンス”モード）。

初期記録後の再生において，エラー訂正システムが検出するエラーは，次の規定を満たさなければなら

ない。

− どの8連続ECCブロックにおいても，エラー訂正前のPIエラーの総数は280以下とする。

− どのECCブロックにおいても，訂正不能PIの行の数は，4個以下とする。

第7章ユーザデータの特性

33 試験方法

箇条34では，この規格に従って，ディスク上のユーザデータの適合性を検査するための一連の測定法に

ついて示す。これは，ユーザ記録データの読みやすさを検査する。データは任意であると仮定する。デー

[(Ia＋Id)−(Ib＋Ic)]pp

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タは，8.1.2で規定した動作環境及び記録装置によって記録する。読取り試験は，箇条9で定義した基準測

定装置上で行う。

箇条29が欠陥を無視しているのに対して，箇条34は，欠陥を読取り信号の不可避な劣化として扱う。

欠陥の重大性は，33.2で定義する読取りチャネルのエラー検出及び訂正回路によるエラーの訂正可能性に

よって決定する。箇条34の規定は，データ交換に必要となる最低限のデータの品質を定義する。

33.1 環境

34.1及び34.2のすべての信号は，8.1.2で定義した動作環境条件の範囲にあるすべての環境において，規

定の範囲内になければならない。試験前には，ディスクの製造業者の指示に従って，ディスクの入射表面

の汚れを除去しなければならない。

33.2 基準測定装置

箇条34で規定するすべての信号は，箇条9で定義した基準測定装置の指示されたチャネルで測定する。

この測定装置は，これらの試験の目的として，次の特性を満たす。

33.2.1 光学系及び機械系

集束光ビームは，9.2のa)〜i)で定義する特性を満たす。ディスクは，9.5に従って回転する。

33.2.2 読取りパワー

読取りパワーは，ディスク入射面に入射したパワーとし，0.7 mW±0.1 mWとする。

33.2.3 読取りチャネル

測定装置には，二つの読取りチャネルがある。読取りチャネル1は，対物レンズの出射ひとみ（瞳）の

総光量の和信号(I1＋I2)とする。読取りチャネル2は，2等分した対物レンズの出射ひとみ（瞳）において，

光量の差信号(I1−I2)とする。これらのチャネルは，9.3及び9.6に従って実装する。

読取りチャネル1からの信号は，前処理として，波形等化し，フィルタを通す。読取り信号を2値化す

るためのしきい値は，記録中のパラメタ変動によるマーク及びスペースサイズの変化の影響を最小化する

ように制御する。箇条34で規定するディスクの品質を測定するための，波形等化器，フィルタ及びスライ

サ並びにPLLの特性は，ジッタ測定に関して附属書Eで規定するものと同一とする。

33.2.4 エラー訂正

データバイトのエラーの訂正は，13.3の定義に基づくエラー検出及び訂正システムによって行う。

33.2.5 トラッキング

信号の測定中，光ビームの焦点と記録層との間の軸方向のトラッキングエラーは，0.20 μm以下とし，

光ビームの焦点とトラックの中心との間の半径方向のトラッキングエラーは，0.022 μm以下とする。

34 記録ユニットの最低品質

この箇条では，データ交換に要求される記録ユニットのデータの最低品質を規定する。

品質は，箇条9及び附属書Eで定義する基準測定装置上で測定する。

バイトエラーは，一つのバイト内で一つ以上のビットが間違った値をもつ場合に発生し，ECC及びEDC

回路で検出する。

34.1 トラッキング

光ビームの焦点は，意図なくトラックをジャンプしてはならない。

34.2 ユーザ記録データ

読取りチャネル1で読み取る記録ユニットのユーザ記録データは，13.3で定義するエラー訂正で訂正で

きないバイトエラーを含んではならない。

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附属書A

（規定）

80 mm+Rディスク

序文

この附属書は，1.46ギガバイト及び2.92ギガバイトの容量をもつ80 mmディスクについて規定する。

A.1 80 mmディスクの特性

80 mmディスクのすべての機械特性，物理特性及び光学特性は，次に挙げる項目を除いて本体に規定す

るものと同じにしなければならない。

全体寸法（10.2参照）

ディスクの直径d1は，次による。

d1＝80.00 mm±0.30 mm

情報ゾーン（10.7参照）

情報ゾーンは，直径d6から次に示す直径d7とで囲む領域とする。

d7≧77.5 mm

情報ゾーンは，リードインゾーン，データゾーン，リードアウトゾーン及びインナー，アウタードライ

ブ領域で構成する（箇条15参照）。

質量（11.1参照）

ディスクの質量は，6.0 g〜9.0 gとする。

慣性モーメント（11.2参照）

回転軸に関するディスクの慣性モーメントは，最大0.010 g･m2とする。

ダイナミックインバランス（11.3参照）

回転軸に関するディスクのダイナミックインバランスは，最大1.5 g･mmとする。

トラック形状（14.1参照）

トラックは，情報ゾーン内で連続する。グルーブトラックは，半径22.0 mm（最大）から始まり，半径

38.75 mm（最小）で終了する。

ADIP語の構造, ビット2〜23（14.4.1.1参照）

リードアウトゾーンの最初のアドレスである，物理ADIPアドレス (0379CC) は，最大半径38.00 mmに

位置する。

一般情報，バイト 0〜31（14.4.2.1参照）

a) バイト1−ディスクサイズビットb7〜b4は，ディスクサイズを規定し，80 mmディスクを示す“0001”

に設定する。

b) バイト4〜15−データゾーン位置の指定バイト9〜11は，データゾーンの最大取り得る物理セクタ

としてPSN 911 151を示す (0DE72F) に設定する。

他のバイトは本体と同じとする。

シングルセションディスクの情報ゾーンのレイアウト（箇条16参照）

全面記録したシングルセションディスクの情報ゾーンのレイアウトを表A.1に示す。

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

表A.1−全面記録したシングルセションディスクのレイアウト（図27参照）

ゾーン

内容

公称半径（mm）

開始セクタ番号

物理セクタ数

インナードライブ
領域

120 mmディスクとすべて同じ

−

リードイン

120 mmディスクとすべて同じ

−

データ

データゾーン

開始 24.000

(030000)

最大 714 544

リードアウト

バッファゾーン3

開始 38.000

（最大容量のとき）

最大 (0DE730)

768

アウターディスク識別ゾーン

最大 (0DEA30)

256

ガードゾーン2

最大 (0DEB30)

最小 4 096

アウタードライブ
領域

アウターディスク管理ゾーン

開始 38.082

(0DFB30)

4 096

アウターディスクカウント
ゾーン

開始 38.147

(0E0B30)

4 096

アウターディスクテスト
ゾーン

開始 38.212

(0E1B30)

16 384

ガードゾーン3

開始 38.472

終了≧38.500

(0E5B30)

ブランク

物理フォーマット情報（18.8.1参照）

バイト4〜15−データゾーン配置

バイト9〜11は，ファイナライズしたシングルセションディスク（23.3参照）上では，データゾーン最

後の物理セクタのセクタ番号を規定する。マルチセションディスク（箇条22参照）では，ユーザデータを

記録するディスク上の最大取り得る物理セクタとしてPSN 911 151を示す(0DE72F)に設定する。

データゾーン（箇条19参照）

ユーザデータ領域での記録用の714 544個の物理セクタとする。

データゾーンの開始半径は，物理ADIPアドレスの位置(00C000)によって決定し，最大終了半径は，物

理ADIPアドレスの位置(0379CC)によって決定する（14.4.1.1のビット2〜23及び13.7.1参照）。

リードアウトゾーン（箇条20参照）

リードアウトゾーンを図A.1に示す。

データゾーン

物理セクタ番号911 152

バッファゾーン3

物理セクタ番号(0DE730)

768物理セクタ

物理セクタ番号 911 919

主データを(00)に設定

物理セクタ番号(0DEA2F)

物理セクタ番号 911 920

アウターディスク識別ゾーン

256物理セクタ

物理セクタ番号(0DEA30)

物理セクタ番号 911 175

物理セクタ番号(0DEB2F)

物理セクタ番号 911 176

ガードゾーン2

物理セクタ番号(0DEB30)

最小4 096物理セクタ

物理セクタ番号 911 271

主データを(00)に設定

物理セクタ番号(0DFB2F)

アウタードライブ領域

図A.1−リードアウトゾーン（図27参照）

バッファゾーン3（20.1参照）

バッファゾーンの開始位置は，(0DE730)以下とする。

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

アウタードライブ領域（箇条21参照）

リードアウトゾーン

物理セクタ番号 916 272

アウターディスク管理ゾーン

4 096物理セクタ

物理セクタ番号(0DFB30)

物理セクタ番号 920 367

物理セクタ番号(0E0B2F)

物理セクタ番号 920 368

アウターディスクカウントゾーン

4 096物理セクタ

物理セクタ番号(0E0B30)

物理セクタ番号 924 463

物理セクタ番号(0E1B2F)

物理セクタ番号 924 464

アウターディスクテストゾーン

16 384物理セクタ

物理セクタ番号(0E1B30)

物理セクタ番号 940 847

物理セクタ番号(0E5B2F)

物理セクタ番号 940 848

ガードゾーン3

物理セクタ番号(0E5B30)

ブランク

図A.2−アウタードライブ領域（図28参照）

アウターディスクカウントゾーン（21.2参照）

アウターディスクテストゾーンで使用するECCブロックの最初の物理セクタ番号PSNODTとアウターデ

ィスクカウントゾーンの四つの物理セクタの物理セクタ番号PSNODC〜PSNODC＋3との関係は，次による。

(

)

()

(

)

0E0B30

0E1B30

PSN

ODT

ODC

−

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書B

（規定）

データゾーンの拡張フォーマット情報の構造

（対応国際規格では，この附属書において，ビデオアプリケーションの場合のビデオコンテンツプロテ

クションについて規定しているが，この規格はデータアプリケーションについて規定するものであるため，

この附属書は不要であり，不採用とした。）

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書C
（規定）

光反射の測定

序文

この附属書は，光反射の測定について規定する。

C.1 校正方法

ディスクの反射率は，幾つかの方法で測定する。最も一般的な方法は，平行光法及び集束光法の二つが

ある。

プレーヤで使用するには，反射率の分かった基準ディスクを用いる集束光法が最も適切で簡単な方法だ

が，基準ディスクの校正には平行光法がより簡単といえる。

集束光法で反射率を測定する場合，ディスクの反射層から返って来た光(Im)だけがフォトディテクタ上に

落ちる。ディスク表面からの反射光及びディスク内の寄生反射からの光は，大部分がフォトディテクタ外

に落ちる。平行光法では，“総”反射(I//)だけが測定されるので，反射層からの“主”反射を決定するには

計算が必要となる。

良好な基準ディスク，例えば，金の反射鏡面をもつ厚さ0.6 mmのガラスディスクを用いる。この基準

ディスクは，図C.1に示すように平行光で測定する。

I s

I int

I //

I B

図C.1−反射の校正

図C.1の各事項は，次による。

R＝記録層の反射率（ダブルパスでの基板透過を含む）

rs＝入射面の反射率

Rref＝集束光で測定した反射率（ Im / IBで定義する）

R//＝平行光で測定した反射率（ I// / IBで定義する）

IB＝入射光

Is＝入射面の反射による反射光

Im＝記録層の反射による主反射光

Iint＝入射面及び記録層間の内部反射による反射光

I//＝測定値（Is＋Im＋Iint）

Iint

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

入射面の反射率は，次による。

＋

−

＝nn

ここに，

n：基板の屈折率

主反射 Im＝I//−Is−Iint からRrefを次のように導く。

(

)(

)

(

)

ref

−

＝

基準ディスクは，基準測定装置で測定する。集束光で測定した基準ディスクから得る全ディテクタ電流

(I1＋I2)は，上記の方法で計算してImとする。

ここにアレンジメントは校正し，集束光反射率は，入射面の反射率とは無関係になり，ダブルパスでの

基板透過を含む記録層の反射率に線形に比例した値となる。

C.2 測定方法

a) 未記録情報ゾーンの反射率基準測定装置を用いた反射率の測定法は，次による。

1) 校正した反射率Rrefをもつ基準ディスクから，全ディテクタ電流 (I1＋I2)s を測定する。

2) 測定対象となるディスクのグルーブトラック領域から，全ディテクタ電流 (I1＋I2)g を測定する。こ

の場合，測定するグルーブトラック及びその両側に隣接する二つのトラックは未記録でなければな

らない。

3) 未記録ディスクの反射率Rdの算出は，次による。

(

)

(

＋

＝

×Rref

b) 記録済み情報ゾーンの反射率基準測定装置を用いた反射率の測定法は，次による。

1) 校正した反射率Rrefをもつ基準ディスクからの全ディテクタ電流 (I1＋I2)s を測定する。

2) 測定対象となるディスクの記録済みグルーブトラックからI14Hを測定する。この場合，測定するト

ラックの両側に隣接する少なくとも二つのトラックは記録済みでなければならない。

3) 記録したディスクの反射率R14Hの算出は，次による。

(

＝

×Rref

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書D
（規定）

複屈折の測定

序文

この附属書は，複屈折の測定について規定する。

D.1 測定原理

複屈折を測定するために，平行光の円偏光を使用する。位相遅延は，反射光のだ円率を観測することに

よって測定する（図D.1参照）。

図D.1−だ円率e＝b/a及び方位θをもつだ円

だ円の方位θは，光学軸の方位で決定する。

−

＝γ

············································································· (D.1)

ここに，

γ：光学軸と半径方向との間の角度

だ円率e＝b/aは，位相遅延δの関数を表す。

−

＝

tan

·································································· (D.2)

位相遅延δが既知のとき，複屈折BRは，波長の分数として表す。

＝

nm ········································································ (D.3)

このように，ディスクから反射しただ円偏光を観測することによって複屈折を測定でき，光学軸の方位

も評価できる。

D.2 測定条件

D.1に規定する複屈折の測定は，次の条件で行う。

半径方向

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

反射での測定モード

ダブルパス測定法

レーザ光の波長

640 nm±15 nm

光ビーム径 (FWHM)

1.0 mm±0.2 mm

基準面Pに垂直な半径方向の面に関する半径方向の入射光の角度β

7.0°±0.2°

ディスク装着

水平

回転

1 Hz以下

温度及び相対湿度

8.1.1の規定による。

D.3 測定装置の例

この規格は，複屈折を測定する特定の測定装置を規定しないが，この測定に適した装置の例を図D.2に

示す。

図D.2−複屈折測定装置の例

偏光子（消光比≒10−5）にコリメートしたレーザ光源からの光は，1/4波長板によって円偏光にする。反

射光のだ円率は，回転検光子及びフォトディテクタで分析する。ディスクのあらゆる位置に対して強度の

最小及び最大値を測定する。だ円率はこのとき，

max

min

e＝

·············································································· (D.4)

式(D.2)，式(D.3)及び式(D.4)を組み合わせて，次を得る。

max

min

arctan

λ−

＝

この装置は，次のように容易に校正できる。

− Iminは，偏光子又は1/4波長板を測定することによって0に設定する。

− 鏡面を測定するときは，Imin＝Imax

表面反射による直流的変化以外に，表面反射及び記録面からの反射のために交流成分が生じる可能性が

ある。この交流成分は，基板が限りなく平らで光源の干渉性が高いときにだけ顕著となる。

ディスク

1/4波長板

偏光子

レーザ

回転検光子

コリメータレンズ

フォトディテクタ

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書E

（規定）

ジッタの測定

序文

この附属書は，ジッタの測定について規定する。

E.1

ジッタ測定のためのシステム図及びユーザデータの特性表示

一般システム図を，図E.1に示す。

図E.1−ジッタ測定のための一般システム図

前置増幅器

四分割

ディテクタ

HF 信号

交流カップリング

LPF

スライサ

PLL

全データエッジ

クロック信号

位相検出器

フィルタ

VCO

回転パルスからの
開始・停止信号

ジッタアナライザ

（例えば，タイムインターバルアナライザ）

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

E.2

PLLの開ループ伝達関数

PLLの開ループ伝達関数を，図E.2に示す。

図E.2−PLLの開ループ伝達関数の図表示

E.3

スライサ

スライサは，閉ループ−3 dBで帯域幅5 kHzの1次積分フィードバック型オートスライサとする。

E.4

測定条件

フォトディテクタ前置増幅器の帯域幅は，遅延ひずみを防ぐために20 MHz以上とする。

等化器：伝達関数H(z)＝1.364z−2−0.182(1＋z−4)をもつ3タップトランスバーサルフィルタ

低域フィルタ：6次ベッセルフィルタ，fc (−3 dB)＝8.2 MHz

フィルタ及び波形等化

− 利得変動最大1 dB（7 MHz以下）

− 群遅延変動最大1 ns（7 MHz以下）

− （5.0 MHzでの利得−0 Hzでの利得） 3.2 dB±0.3 dB

交流カップリング（高域フィルタ）＝ 1次，fc (−3 dB)＝1 kHz

角度偏差の修正：直流偏差だけ修正する。

1.5

利
得

(dB)

0 dB

−40 dB/decade

−20 dB/decade

周波数 (kHz)

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

図E.3−波形等化及び低域フィルタの周波数特性

E.5

測定

1回転中のすべての立上がり及び立下がりエッジのジッタを測定する。

利
得

(dB)

＋6

＋3

−3

−6

周波数 (MHz)

等化器

ベッセルフィルタ

等化器＋

ベッセルフィルタ

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書F

（規定）

位相差トラッキングエラー信号の測定

序文

この附属書は，位相差トラッキングエラー信号の測定について規定する。

F.1

位相差トラッキングエラー信号の測定方法

トラッキングエラー測定の基準回路を，図F.1に示す。四分割フォトディテクタの対角の対の各出力は，

次の伝達関数によって定義した波形等化の後に独立して2値信号に変換する。

()

7.4

6.1

−

＋

＝

比較器の利得は，最小の信号振幅でも出力が完全飽和に達しなければならない。2値化したパルス信号

のエッジ（信号B1及びB2）の位相は，相互に比較し時間進み信号C1及び時間遅れ信号C2を作る。位相

比較器は，個々のエッジに応じて，Δtiの符号（正負）に応じ，信号C1又はC2を出力する。トラッキン

グエラー信号は，低域フィルタによってC1及びC2信号を平滑化し，単位利得差動増幅器の手段で差し引

くことによって作る。低域フィルタは，30 kHzで−3 dBの遮断周波数をもつ1次フィルタとする。

Tの1 ％は，0.38 nsのように非常に小さい時間差を測定しなければならないので，回路実装に当たって

は特別な注意をしなければならない。また，注意深い平均化が必要となる。

四分割フォトディテクタの対角の対からの二つの信号間の平均時間差は，次による。

∑∆

∆

t＝

ここに，

N：立上がり及び立下がりの両方のエッジの数

F.2

タイムインターバルアナライザを使用しない∆t /Tの測定

相対時間差t

∆/Tは，C1及びC2信号の振幅及び読取り信号の周波数成分を基準化している場合のトラッ

キングエラー信号の振幅で表す。トラッキングエラー振幅TVE

∆

と時間差との関係は，次による。

NnT

TVE

∆

∑

∑∑

＝

ここに，

Vpc： C1及びC2信号の振幅

Ti： 3T〜14Tの範囲内で読取り信号の実際の長さ

nT：実際の長さの重み付き平均

NnT：平均時間の総和

トラッキングの利得の規格は，トラッキングエラー振幅を用いて，半径方向のオフセット0.1 μmで，次

のように書き換えることができる。

∆

TVE

1.10

≦

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

図F.1−トラッキングエラー測定回路

∆ti＝正

Vpc

∆ti＝負

信号 A1

信号 A2

信号 B1

信号 B2

信号 C1

信号 C2

Vpc

増幅器

波形等化器

H(iω)

レベル比較器

位相比較器

差動増幅器

（利得1）

信号 A1

信号TVE

トラッキングエラー

(0.1 μm)

4.7

6.1

)

−

＋

＝

1次LPF

fc (−3 dB) ＝ 30 kHz

増幅器

信号 A2

波形等化器

H(iω)

レベル比較器

信号 B1

信号 B2

低域フィルタ

＋

信号 C1

−

信号 C2

低域フィルタ

∆

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

F.3

回路の校正

Vpc≒5Vとし，測定したnの値をおおむね5とすると，トラッキングエラー振幅TVE

∆

と時間差t

∆との

関係は，次のとおり簡略化することができる。

TVE

∆

≈

∆

＝

8-16変調の平均ラン長nはデータ成分及び平均化時間に依存する。したがって，回路は5Tラン長で変

調された信号と一致する固定周波数で校正する。この目的のために周波数が2.616 MHzの正弦波信号を用

いる。

信号C1及びC2のパルスは，通常アース端子と供給電圧との間で切り換わる出力信号をもつディジタル

ゲート回路によって生成する。この電圧の振幅は約5 Vと考えられるが，適用する技術によっては，5 V

から大きく外れる場合がある。

DPD信号の公式規格は，半径方向のオフセット0.1 μm で，次によるから，

≦

≦Tt

∆

TVE

∆

による測定は，Vpcの実際値及びnに影響される。したがって，次のような校正手順を適用する。

F.3.1

比較器の飽和

レベル比較器の利得が，信号B1及びB2が方形波信号であるすべての実際の入力信号レベルにあってい

ることを確かめる。この場合，TVE信号の振幅は入力信号の振幅に依存しない。

図F.2−トラッキングエラー信号振幅と比較器入力信号振幅との関係

F.3.2

n及びVpcの校正

上述したn及びVpcの偏差，並びに場合によっては他の回路パラメタの理由で，補正係数Kは次による。

∆/T（真の値）＝K×TVE

∆

（測定値）

これは次のような方法で実現する。

a) 周波数が2.616 MHzで，位相差をもつ二つの正弦波信号A1及びA2を生成し，二つの波形等化回路に

注入する。

飽和領域

比較器入力信号振幅

TVE 信号振幅

100

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

∆/TとTVE

∆

との関係を測定し，図F.3からKを決定する。

（測定値）

（注入値）

TVE

∆

∆/

＝

図F.3−∆TVEと∆t /Tとの関係

0.2 0.4 0.6 0.8 1.0 1.2

∆

0.2

0.4

0.6

0.8

1.0

1.2

Vpc＝5V，n＝5の場合

の理論ライン

実測ラインの例

∆t / T

101

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書G
（規定）

テスト用記録パルス波形

序文

この附属書は，異なる速度範囲に対して，異なる記録ストラテジを用いるために，次の三つを規定する。

− パルス記録ストラテジは，各マークをパルス列で構成する。

− ブロック記録ストラテジは，各マークを一つの連続したパルスで構成する。

− “キャッスル”記録ストラテジは，各マークをパルスの最初及び最後にパワーを強調した部分をもつ

一つの連続したパルスで構成する。

G.1

パルス記録ストラテジ

NRZIデータから得られる記録パルス波形及びチャネルクロックを図G.1に示す。記録パルス波形は，

N−2個のパルスで構成する。ここに，Nはチャネルクロック周期の数で表すNRZIの長さとする。

記録マーク長N＝3の記録パルス波形は，先頭パルス(Ttop)だけで構成する。

記録マーク長N≧4の記録パルス波形は，先頭パルス(Ttop)，N−4個のマルチパルス及び最終パルス(Tlp) で

構成する。

図G.1−記録パルス波形

Tmp及びTlpの公称パルス幅時間は，表3の物理フォーマット情報及び14.4.2.2による。継続時間は記録

速度によって決まる。

T＝

m＝4〜14（mは整数）

（0.25 TW≦Tmp≦0.875 TW）

T＝

n＝4〜24（nは整数）

（0.25 TW≦Tlp≦1.5 TW）

レーザパワーは，隣接したパルス間で少なくとも2/16Tw以上の間，バイアスレベルに切り換える。

P w

P b

T top

T mp

T lp

dTle

dT top

T W

2T W

NRZI チャネルビット

0 mW

102

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

Ttopの公称パルス幅時間は，現在のマーク(cm)の長さによって決まり，表3の物理フォーマット情報及び

14.4.2.2の記載による。継続時間は，記録速度によって決まる。

top

)

(

＝

i＝4〜40（iは整数）（0.25 TW≦Ttop≦25 TW）

top

)

(

＝

≧

j＝4〜40（jは整数）（0.25 TW≦Ttop≦25 TW）

最初のパルスの公称進み時間，すなわちNRZIデータパルスの2番目のチャネルビット立下がりエッジ

から計るdTtopは，現在のマーク(cm)の長さによって決まり，表3の物理フォーマット情報及び14.4.2.2の

記載による。dTtopの値は，記録速度によって決まる。

top

3T)

(cm

＝

p＝0〜24（pは整数） (0.0 TW≦dTtop(cm＝3T)≦1.5TW)

top

)

(

＝

≧

q＝0〜24（qは整数） (0.0 TW≦dTtop(cm＝4T)≦1.5TW)

別々の値であるTtop (cm＝3T) 及びdTtop (cm＝3T) を使って，最適なジッタを得るために，3Tマークを

強調したり移動したりする。

3T記録パルスの拡大幅は，次による。

∆T＝Ttop (cm＝3T)−Ttop (cm≧4T)

3T記録パルスの移動量は，次による。

δT＝dTtop (cm＝3T)−dTtop (cm≧4T)

通常，3Tパルスの移動量T

及び拡大幅T

∆は独立に選ぶが，一部の実装においては限界があるため，

この規格では一つの例外を設ける。

もし3Tパルスの移動が必要な場合，3Tパルスの変化が対称になるように幅の拡大と組み合わせる。す

なわち数学的に説明すると，次のようになる。δT≠0のとき，ΔT＝2×δTに選ぶ（図G.2参照）。

立上がりエッジの位置及びそれによる先頭パルスの幅は，先行するスペース(ps)の長さによって決まる

dTleによって補正する。この機能を，“熱均衡”と呼ぶ。dTleは，表3の物理フォーマット情報及び14.4.2.2

の記載による。先行スペースが4チャネルクロック周期以上の場合は，dTleはゼロにする。dTleの値は，

記録速度によって決まる。

dTle

)

(

u＝0〜4

0.0 TW≦dTle≦0.25 TW

dTleは図G.1に示すように，先頭パルスを遅らせ，幅を減少させる。

Pw及びPbの値は，OPCアルゴリズムに従って決定する（附属書I参照）。記録波形の例を図G.2に示す。

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X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

マーク

スペース

NRZIデータ

増強された

3T記録パルス

縮小された
先頭パルス

δT

ΔT/2

dTle

マーク

スペース

NRZIデータ

増強された

3T記録パルス

縮小された
先頭パルス

δT

ΔT/2

dTle

図G.2−マルチパルスの例

G.2

ブロック記録ストラテジ

ブロック記録ストラテジの波形（図G.3参照）は，パルス記録ストラテジのTmpをTW (m＝16) と同じに

設定し，及びTtop (cm≧4T) をdTtop＋TW (j＝q＋16) と同じに設定した波形から生じる。Ttop (cm＝3T) は個

別に最適化する。

記録マーク長N＝3の記録パルス波形は，Ttop (cm＝3T) の長さのパルスとする。

記録マーク長N≧4の記録パルス波形は，dTtop (cm≧4T)＋(N−3)×TW＋Tlpの長さのパルスとする。

特に高い記録速度では，マーク記録後の記録層を最適に冷却することが必要となる。この目的のために，

記録パルスの立下がりエッジから，NRZIデータパルスの立下がりから後方2番目のチャネルビットの1/4

までの間，バイアスパワーをPcに切り換える。Pcは0.1 mW未満とする。

また高い記録速度でのブロック記録ストラテジは，短いマークのパワーを強調する必要がある。付加す

るパワーdPwは，3Tマーク及び4Tマークだけに適用し，記録パルス幅いっぱいに広がる（図G.3及び図

G.4参照）。それは，物理フォーマット情報の表及び14.4.2.3.1の記載による。

200

)

(

＝

y＝0〜100（yは整数）

(0.00 Pw≦dPw≦0.50 Pw)

200

)

(

＝

z＝0〜100（zは整数）

(0.00 Pw≦dPw≦0.50 Pw)

dPw (cm≧5T)＝0

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X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

図G.3−一般的なブロック波形

Tmp及びTlpの公称パルス幅は，現在のマークの長さによって決まり，物理フォーマット情報の表及び

14.4.2.3.1の記載による。継続時間は，記録速度によって決まる。

T＝

m＝16

(Tmp＝1.0 TW)

T＝

n＝0〜16（nは整数） (0.0 TW≦Tlp≦1.0 TW)

Ttopの公称パルス幅は，現在のマーク (cm) の長さによって決まり，表3の物理フォーマット情報及び

14.4.2.3.1の記載による。継続時間は，記録速度によって決まる。

top

)

(

＝

i＝16〜48（iは整数） (1 TW≦Ttop≦3 TW)

top

)

(

＝

≧

j＝16〜48（jは整数） (1 TW≦Ttop≦3 TW)

（j＝q＋16，dTtop参照）

最初のパルスの公称進み時間，すなわちNRZIデータパルスの2番目のチャネルビット立下がりエッジ

から計るdTtopは，現在のマーク (cm) の長さによって決まり，表3の物理フォーマット情報及び14.4.2.3.1

の記載による。dTtopの値は，記録速度によって決まる。

top

)

(

p＝0〜32（pは整数） (0.0 TW≦dTtop(cm＝3 T)≦2 TW)

top

)

(

≧

q＝0〜32（qは整数） (0.0 TW≦dTtop(cm＝4 T)≦2 TW)

（q＝j−16，Ttop参照）

別々の値である，Ttop (cm＝3T) 及びdTtop (cm＝3T) を使って，最適なジッタを得るために，3Tマークを

強調したり移動したりする。

3T記録パルスの相対移動量は，次による。 δT＝dTtop(cm＝3 T)−dTtop(cm＝4 T)

立上がりエッジの位置及びそれによる先頭パルスの幅は，先行するスペース(ps)の長さによって決まる

dTleによって補正する。この機能を，“熱均衡”と呼ぶ。dTleは，表3の物理フォーマット情報及び14.4.2.3.1

の記載による。先行スペースが4チャネルクロック周期以上の場合は，dTleはゼロにする。dTleの値は，記

0mW

dPw

Ttop

Tmp

dTle

dTtop

1.25TW

2TW

Tlp

NRZI チャネルビット

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X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

録速度によって決まる。

dTle

(

u＝0〜4（uは整数）

(0.0 TW≦dTle≦0.25 TW)

dTleは，図G.3に示すように先頭パルスを遅延させ，幅を減少させる。

Pw及びPbの値は，OPCアルゴリズムに従って決定する（附属書I参照）。記録波形の例を図G.4に示

す。

図G.4−“ブロック”波形

G.3

キャッスル記録ストラテジ

NRZIデータから得られる記録パルス波形とチャネルクロックを，図G.5に示す。これは，最初と最後の

パワーを強調した連続したパルスで構成する。

記録マーク長N＝3の記録パルス波形は，Tl3の幅のパルスとする。

記録マーク長N ≧ 4の記録パルス波形は，Tl3＋(N−3)×TWの幅のパルスとする。

付加するパワーdPwは，3Tマークでは記録パルスのすべての区間に適用し，4T以上のマークでは，記

録パルスの最初及び最後それぞれにあるTtop及びTendの区間に適用する。これは，表3の物理フォーマッ

ト情報及び14.4.2.3.2の記載による。

200

＝

y＝0〜255（yは整数）

(0.00 Pw≦d Pw≦1.275 Pw)

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

図G.5−一般的なキャッスル波形

TI3の公称パルス幅は，表3の物理フォーマット情報及び14.4.2.3.2の記載による。継続時間は，記録速

度によって決まる。

T＝

k＝16〜48（kは整数）

(1.0 TW≦TI3≦3.0 TW)

Ttopの公称パルス幅は，表3の物理フォーマット情報及び14.4.2.3.2の記載による。継続時間は，記録速

度によって決まる。

Ttop

＝

i＝4〜32（iは整数）

(0.25 TW≦Ttop≦2.0 TW)

Tendの公称パルス幅は，現在のマーク (cm) の長さによって決まり，表3の物理フォーマット情報及び

14.4.2.3.2の記載による。継続時間は，記録速度によって決まる。

Tend

(

＝

m＝4〜32（mは整数）

(0.25 TW≦Tend≦2.0 TW)

Tend

(

＝

≧

n＝4〜32（nは整数）

(0.25 TW≦Tend≦2.0 TW)

一部の実装においては限界があるため，暫定的に次の制約事項をつける。

Tend（任意のマーク）＜TI3 及びn ≧ 4の各マークにおいて，

(

)

(

)

end

top

≧

＝

−

＋

（パワーレベルPwは，少なくとも0.25 TWの間維持する。）

立上がりエッジ及びそれによるパルスの開始位置は，先行するスペース(ps)の長さによって決まるdTle

によって補正する。この機能を，“熱均衡”と呼ぶ。dTleは，表3の物理フォーマット情報及び14.4.2.3.2

の記載による。先行するスペースが4チャネルクロック周期以上の場合は，dTleはゼロにする。dTleの値は，

記録速度によって決まる。

(

＝

u＝0〜4（uは整数）

(0.0 TW≦dTle≦0.25 TW)

dTleは図G.5に示すように，先頭パルスを遅らせ，幅を減少させる。

高い記録速度では，マーク記録後の記録層を最適に冷却することが必要とする。この目的のために，記

録パルスの立下がりエッジから，NRZIデータパルスの立下がりから後のTCまでの間，バイアスパワーを

Pcに切り換える。Pcは，0.1 mW未満とする。TCは，表3の物理フォーマット情報及び14.4.2.3.2の記載

による。TCの値は，記録速度によって決まる。

TI3

dPw

NRZI チャネルビット

TI3＋(n−3)×TW

Ttop

dTle

Tend

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X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

T＝

v＝16〜32（vは整数）

(1.0 TW≦TC≦2.0 TW)

注記クーリングギャップの長さは，次に記録するマークの立上がりエッジの位置に多少影響を及ぼ

し，特に短いスペースの場合に影響が大きい。したがって，dTleとTCとの間の微調整はディスク
の記録特性を改善する。

Pｗ及びPbの値は，OPCアルゴリズムに従って決定する（附属書I参照）。記録波形の例を図G.6に示す。

図G.6−キャッスル波形の例

G.4

立上がり及び立下がり時間

立上がり時間Tr及び立下がり時間Tfは，図G.7に示すように最大2 nsとする。取り得るオーバーシュ

ートの量は，ステップサイズPの20 ％未満とする。

図G.7−立上がり時間及び立下がり時間

3 Tマーク

熱均衡に対応するための先行エッジシフト

熱均衡に起因する微調整

dTle

3 Tスペース

>3 Tスペース

8 Tマーク

0.9P1

0.9P2

0.5P1

0.5P2

0.1P1

0.1P2

Twidth1

Twidth2

Trise

Tfall

Twidth3

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X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書H
（規定）

8-16変調

序文

この附属書は，8-16変調について規定する。

H.1 8-16変調

8-16変調は，RLL(2,10) の要求事項を満たす。符号化システムを図H.1に，変換表を表H.1及び表H.2

に示す。表H.1及び表H.2は，8ビットバイトを16ビット符号語に変換した表を示す。図H.1は，符号語

及び関係状態規定がどのように生じているかを図示する。図H.2は状態の決定を示す。

変換テーブル

状態S(t)

8ビットバイトB(t)

16ビット符号語X(t)

次の状態S(t+1)

T = 1変換遅延

図中の記号は，次による。

X(t) = H[B(t), S(t)]

X15(t) = msb及びX0(t) = lsb

S(t+1) = G[B(t), S(t)]
Hは、変換テーブルからの出力関数
Gは、変換テーブルからの次の状態の関数

変換テーブル

状態S(t)

8ビットバイトB(t)

16ビット符号語X(t)

次の状態S(t+1)

T = 1変換遅延

図中の記号は，次による。

X(t) = H[B(t), S(t)]

X15(t) = msb及びX0(t) = lsb

S(t+1) = G[B(t), S(t)]
Hは、変換テーブルからの出力関数
Gは、変換テーブルからの次の状態の関数

図H.1−符号語生成システム

符号語X(t)の状態は，隣接する二つの“1”の間で最小2及び最大10の“0”がなければならないという

RLL(2,10) の要求事項を満たすように選ぶ。

符号語X (t)

次の状態S (t＋1)

符号語X (t＋1)

末尾部連続“0”が1個又はなし

状態1

先頭部連続“0”が2個から9個まで

末尾部連続“0”が2個から5個まで

状態2

先頭部連続“0”が1個又は5個まで及び

X15 (t＋1)，X3 (t＋1) ＝0，0

末尾部連続“0”が2個から5個まで

状態3

先頭部連続“0”が0個又は5個まで及び

X15 (t＋1)，X3 (t＋1) ≠0，0

末尾部連続“0”が6個から9個まで

状態4

先頭部連続“0”が1個又はなし

図H.2−状態の決定

注記記録したデータを復号するとき，元の主データを再構築するためには符号器の知識を必要とす

ることに留意されたい。

B (t)＝H−1 [X (t)，S (t) ]

誤り伝ぱ（播）が含まれているために，そのような状態依存の復号を避けるのがよい。この8-16変調の

場合には，状態についての知識をほとんどの場合必要としないように変換表を選んでいる。テーブルから

，
，

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X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

集められるように，幾つかの場合で，二つの8ビットバイト，例えば，表H.1の状態1及び状態2におけ

る8ビットバイト5及び6は，同じ16ビット符号語を生成する。表の構成によって，この明らかなあいま

いさを解決する。

実際，二つの同一符号語が“状態”を離れる場合，その一つは“状態2”に行き，他方は“状態3”に行

く。ビットX15及びX3の設定がこの二つの状態で常に異なっているために，どの符号語も次の符号語のビ

ットX15及びX3と一緒に符号語それ自体を解析することによって一義的に復号することができる。

B (t) ＝H−1 [X (t)，X15 (t＋1)，X3 (t＋1)]

13.8のDCC要求事項を満たすことを約束するために，代替変換表（表H.2）を含める。

表H.1−主変換表

8ビット

バイト

状態1

状態2

状態3

状態4

符号語

msb lsb

状態

符号語

msb lsb

状態

符号語

msb lsb

状態

符号語

msb lsb

状態

0010000000001001

0100000100100000

0010000000001001

0100000100100000

0010000000010010

1000000100100000

0010000100100000

1000000000010010

0010000001001000

0100010010000000

0010000001001000

0100010010000000

0010000010010000

1000000100100000

0010000000100100

1001001000000000

0010000000100100

1000100100000000

0010000001001000

0100000000010010

0010000001001000

0100000000010010

0010000010010000

1000010010000000

0010000100100000

1001001000000001

0010010010000000

1000100100000001

0010001001000000

1000000010010000

0010010010000001

1000000010010000

0010001001000001

1000010010000001

0010000001001001

0100000000100100

0010000001001001

0100000000100100

0010000100100001

1000001001000001

0010000010010001

1000000100100001

0010000000100010

1000001001000000

0001000000001001

0100000010010000

0001000000001001

0100000010010000

0010000000010001

1001000100000000

0001000000010010

1000100010000000

0000100000000010

1000000010010001

0000010000000001

1000000001001001

0010001000100000

1000000001001000

0010000100010000

1000000001001000

0010000010001000

0100000000100100

0010000010001000

0100000000100100

0010000001000100

1000000000100010

0001000100100000

1000000000010001

0010000000001000

0100000010010000

0010000000001000

0100000010010000

0001000010010000

1001001000000010

0001000001001000

0100000100100000

0001000001001000

0100000100100000

0001000000100100

1001000100000001

0001000000000100

1000100100000010

0001000000000100

1000100010000001

0001000000100100

1000000000100100

0001000001001000

0100001001000000

0001000001001000

0100001001000000

0001000010010000

1000000000100100

0001000100100000

1000010001000000

0010000000001000

0100100100000001

0010000000001000

0100100100000001

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X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

表H.1−主変換表（続き）

0010000010001000

0100010010000001

0010000010001000

0100010010000001

0010000100010000

1000010010000010

0010001000100000

1000001000100000

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0001001001000000

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0100001001000001

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0010001001000010

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0010001000100001

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1000000010010010

0010000001000010

1000000010001001

0010000000100001

1000000001000010

0000100000001001

0100000010010001

0000100000001001

0100000010010001

0001001001000001

1000000000100001

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0100000001001001

0001000010010001

1001001000010010

0001000000100010

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0001000000010001

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0000100000010010

1000000001000100

0000010000000010

0100000001001000

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1000010000100000

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1000001000010000

0010000100001000

0100000000100010

0010000100001000

0100000000100010

0010000010000100

1000000100001000

0010000000010000

1000000010000100

0001000010001000

0100001000100000

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

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X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

表H.2−代替変換表

8ビット

バイト

状態1

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

表H.2−代替変換表（続き）

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0000100100000100

0100100100001000

0000100100100100

1000010000000100

0001001000000100

1000010000100100

0001001000100100

1000010001001000

0010010000000100

1000010010010000

0010010000100100

1000100000001000

0010010010010000

0100010001001001

0000000100000100

0100001000100100

1000100001000100

0100001000100100

0000000100100100

0100010001000100

1000100010001000

0100010001000100

116

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書I

（規定）

最適パワー制御及び記録条件

序文

この附属書は，ディスクを記録する最適レーザパワーの制御及び記録条件について規定する。

I.1

最適記録パワー

ディスクを記録する最適レーザパワーPwoは，実際に使用するディスク，ドライブ及び記録速度によっ

て決まる。

ディスクに対しては，次の三つの主要パラメタが関係する。

− 特定波長でのレーザパワーに対する記録層の感度

− レーザ波長が変化したときの感度変化

− 適用した層技術によって決まる記録層でのピット形成機構

ドライブに対しては，次の三つの主要パラメタが関係する。

− 記録層上でのレーザ光スポットの寸法及び特性

− 適用する記録ストラテジ

− ディスクを記録するレーザの実際の波長（附属書K参照）。

この波長は，例えば，次の項目によって決まる。

− レーザのタイプ

− このタイプのレーザ個々の波長の広がり（及びドライブ個々の波長の広がり）

− 実際の記録パワー

− レーザの温度

最適記録パワーPwoは，実際に使用するディスク，ドライブ及び記録速度によって決まるため，このパ

ワーは，実際の記録速度での各ドライブとディスクとの組合せによって決定しなければならない。そのよ

うな実際の最適記録パワーPwoの決定方法を，最適パワー制御（OPC手順）と呼ぶ。

I.1.1

非対称性及び最適記録パワー

異なる記録パワーでは，記録された8-16変調データの非対称性は異なる。

異なる記録パワーで，ランダムな8-16変調データをテスト記録し，その結果のHF信号の非対称性を測

定することによって，特定記録速度での，特定のディスクとドライブとの組合せの最適記録パワーを求め

ることができる。

図I.1にOPC及び記録ストラテジの概略手順を示す。適用される記録ストラテジ及びパワーレベルの影

響を受ける主なものは，変調度，非対称性及びジッタとする。実際に非対称性は，OPCにとって敏感なパ

ラメタのように見える。非対称性を処理する，より簡便な代わりの方法がβとする。

117

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図I.1−OPC手順の概略図

I.1.2

βを用いた非対称性の測定

規定の非対称性を直接測定することは，実際のドライブでは困難とする。そこで非対称性を表すのに実

用的なパラメタを用いる。このパラメタβは，波形等化する前の交流結合したHF信号を用いて，次によ

る（図I.2参照）。

−

＋

ここに， (A1＋A2)： HF信号のピークレベルA1とA2との差

(A1−A2)： HF信号のピークピーク値

このように定義したβ は，ほぼ非対称性に等しい。

測定したHF信号の非対称性がゼロのとき，一般的に，β ≒ 0になる。

図I.2−異なったパワーで記録された交流結合HF信号

I.2

OPC手順

OPCを容易にするために，幾つかの記録速度において，記録パワーの指標となる値（推定）を与える

（14.4.2参照）。

これらの値は，実際のディスク，ドライブ及び記録速度の組合せにおいて正確な最適パワーとして使う

ことができないが，OPC手順の開始値として用いることができる。

ターゲットβ

OPC

PWRITE

記録

ストラテジ

ディスク

実際のβ（≡ 非対称性）

記録パルス列

PIND及び記録

ストラテジの

パラメタ

PWRITE

変調度

非対称性(β)

ジッタ

118

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

OPC手順の設定点として，14.4.2に示すβの目標値を用いる。

OPC手順は，この目的のために特別に規定したインナー又は，アウターディスクテストゾーンのディス

ク領域で行う（表8参照）。

I.3

他のスピードにおける記録ストラテジパラメタ

この規格に準拠したドライブは，次に掲げる指示テスト速度を用いることが望ましい。

− 主記録速度は，ディスクが特定の記録ストラテジで認定されたときの最も低い速度を示す。

− 上位記録速度は，ディスクが特定の記録ストラテジで認定されたときの最も高い速度を示す。

任意の中間速度における記録パラメタの推定は，14.4.2に示す主記録速度と上位記録速度とのパラメタ

間の直線補間によって決定する。

注記ディスク製造業者は，14.4.2に示す記録速度の範囲にわたって，記録ストラテジパラメタが適

度に“直線”挙動を示すように，ディスクを設計しなければならない。

I.4

非最適な記録パワーでのメディアマージン

ドライブ実装においては実用的な精度が要求されるため，ディスクはいくらかのマージンをもって，最

適パワーからのずれを許容しなければならない。したがって，次の規格を満たすことが求められる（強く

推奨する）。

実際の記録パワーPwが，0.90×Pwoから1.05×Pwoの範囲で，かつ，Pb＝Pboである場合に,すべての

規格を満たしてディスクを記録できなければならない。

119

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附属書J

（参考）

逐次実行形OPC

序文

この附属書は，逐次実行形OPCについて記載するものであって，規定の一部ではない。

J.1

逐次実行形OPC

このディスクに用いる記録パワー補正は，附属書Iに記述するOPC（最適パワー校正）手順によって決

定するが，この校正の後であっても，次の理由で最適パワーが変化する。

− ディスク面内のパワー感度のばらつき

− 動作温度変化による半導体レーザ波長のシフト

− ディスク傾き，基板厚，デフォーカスなどに起因するスポット収差の変動

− 実際に記録するよりはるか前にOPCが実行され，ディスク及び光学系の片方又は両方の状態が変化し

た場合

逐次実行型OPCは，マーク形成プロセスを積極的に監視し，要求される最適パワーになるように記録パ

ワーを継続して調整することを目的とする。OPC手順の間，最適に記録されたマークと関係のある“逐次

実行型OPC信号”も得られる（例えば，即座に反射した光信号を使う。）。このような“逐次実行型OPC

信号”は，その後の記録をOPC手順によって決定した最適なレベルに維持するために使用する。

120

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附属書K

（参考）

波長依存性

序文

この附属書は，ドライブに必要な温度及び波長の公差について記載するものであって，規定の一部では

ない。

記録層に有機色素を使っているので，ディスクの特性は基本的に波長に依存する（ΔPwo/Pwoは，標準

的にΔλ＝1 nm当たり1 ％〜3.5 ％である）。一方で，ディスクの記録及び読取りに使う光を発生する半導

体レーザの波長には，いくらかの公差がある。さらに，半導体レーザが放射する光の波長は，装置の温度

に依存する。

ディスクパラメタ(dP/dλ)/(P/λ)が，ドライブの特定の条件のもとでの最適記録パワーの決定を迅速に行う

ために導入されている。このパラメタを，ADIPの物理フォーマット情報に示す（14.4.2参照）。

K.1 ドライブでの波長と温度との関係

図K.1に，ディスクの動作条件と考えられる，典型的な波長と温度の関係を示す。ディスクは，図K.1

の斜線部分で定義する動作条件内で，すべての未記録及び記録済みディスクの規定を満たさなければなら

ない。

665

655

660

658.6

653.6

650

公称測定条件

の

と

き

の

波

長

（

）

雰囲気温度 (℃)

図K.1−ディスクの動作条件を示す波長と温度との関係

注記半導体レーザ自身の温度は，レーザ内部での損失があるため，ディスクの周囲温度より高い。

図K.1では，ディスクとレーザの温度差は一定と仮定している。

121

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K.2 ディスクの記録パワーの波長依存性

実際に，レーザ波長に依存するディスクの記録パワーを直接決定するのは簡単でない。通常の光学装置

を使って測定できるものは，波長の関数としての記録層の吸収とする。記録パワーが記録層の吸収に反比

例するとすれば，この吸収の波長依存性は，記録パワーの波長依存性に変換できる。

K.2.1 ディスク記録層の吸収の測定

ディスク記録層（色素）の吸収は，波長に対する反射及び透過の測定によって決定する。この目的のた

めに，ディスク表面に対して垂直から少し角度をもった平行光を用いる。波長は，モノクロメータによっ

て制御する。

測定は，グルーブ領域からの波長に依存する回折光の影響を避けるために，ディスク内周のミラー領域

で行う。

図K.2−反射率，透過及び吸収の定義

図K.2の各事項は，次による。

（入射光強度は1に正規化する。）

rs＝入射面の反射率

ts＝基板の透過率

R＝記録層の反射率

A＝記録層の吸収率

T＝記録層の透過率

R//＝測定された反射光の総量

T//＝測定された透過光の総量

(

)

(

)

−

から，色素の反射率は，次のように計算する。

前表面

色素

層

基板

R A T

1-i

)

−

)

−

)

−

1-j

)

R//

T//

122

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

(

)

−

(

)

−

から，Tは次のようになる。

(

)

−

A＋T＋R=1から，色素層の吸収率はA＝1−R−Tとする。

K.2.2 ADIPの物理フォーマット情報へ入れるパラメタの決定

図K.3−パワー対波長及び吸収の例

吸収されたパワー Px＝Pw (λ)×A(λ) は，記録層にマークを形成するが，このパワーPx は，少なからず

波長に依存すると考えられる。この場合，波長λ の関数であるPw(λ)は，次の式を用いてA(λ) から決定す

る。

()

(

)

(

)

()λ

ref

＝

ここに，

Pw(λref)：測定されたλrefにおける記録パワー

ADIPの物理フォーマット情報に記録するパラメタ n＝(dPw/dλ)/(PIND/λIND) は，パワー曲線から決定す

る。dPw/dλは，645 nmから670 nmの波長範囲で平均化する。λINDが，655 nmになるように選択され，PIND

は，計算されたパワー曲線から決定するPw (λIND)とする。

パワー曲線
の計算値

校正位置での
実測値

吸収曲線
の実測値

波長(nm)

650

655

660

665

λ IND

P IND

0.22

0.20

0.18

0.16

12.5

11.25

8.75

λ ref

(mW)

123

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

パラメタ (dPw/dλ)/(PIND/λIND) は，原理的に記録速度に依存しない。

K.2.3 特定ドライブにおけるOPC手順のための開始パワーの決定

ドライブの実際の波長 λactualにおけるパワー補正指示Pcorは，次によって近似する。

(

)

(

)

IND

actual

IND

actual

cor

dλ

−

＋

＝

この場合，PINDはdPw/dλと同様に，記録速度によって決まる。

記録速度v1におけるdPw/dλの値は，ADIPで規定された値から計算する。

IND

＝

記録速度v1におけるOPC手順の最適開始パワー値Pstart at v1(λactual)は，次の式によって決定する。

(

)

(

)

IND

actual

IND

actual

start

−

＋

＝

124

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書L

（参考）

基準サーボの使用法

序文

この附属書は，ドライブの実際のサーボシステムを設計する上で重要な，ディスクの（動的）機械特性

を測定する基準サーボについて記載するものであって，規定の一部ではない。

この実装は，ディスクの記録品質及びリードアウト信号を確保するため，ディスクの機械的偏位を小さ

くしなければならない。一般には，軸方向のトラッキングエラーは0.20 μmより小さくなければならない，

また半径方向のトラッキングエラーは，0.045 μmより小さくなければならない。

L.1

サーボ動作の近似

代表的な二次サーボのトラッキング特性は次による。

()

≈

··························································· (L.1)

ここに，

E(f)：周波数fのトラッキングエラー

X(f )：関連する偏差の振幅

f：偏位の周波数

f0：サーボの開ループ伝達関数が0 dB軸と交わる周波数

c：定数で，一般的には3

偏位は正弦波成分で表すことができる。

X(t)＝X(f)×cos ( 2π×f×t )························································· (L.2)

この偏位に関する加速度の振幅は偏位の周波数の2乗で増加する。

A(f)＝( 2π×f )2×X(f ) ····························································· (L.3)

偏位の周波数は，ドライブのピックアップヘッドの関連し，ディスクの記録層の速度に比例する。

結果として，加速度は，実際に回転するディスクの速度の2乗で増大する。

L.1.1 サーボシステムの制限

一般にサーボシステムは，二つの制限をもつ。

− 最大許容振幅X(f)で決まるアクチェータのストロークの制限Xlimit

− 最大許容加速度A(f )で決まるアクチェータの加速度の制限Alimit

低周波数において，A(f ) は，式(L.3)によって小さくなり，したがってX(f) が制限因子となる。

実際のサーボシステムの周波数特性の主成分において，約

()

limit

limit/

から約f0まではA(f )

が制限因子になる。式(L.1)及び式(L.3)から最大加速度と最大許容トラッキングエラーemaxとの関係は，次

の式で定義できる（f < f0のとき）。

max

)

(

························································ (L.4)

上記f0でサーボシステムは，偏位をトラックできない。これは，偏位が十分に小さくなければならないこ

とを意味する。

125

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L.2

実際の測定及びサーボ実装について

上記の近似から，高速回転でのトラッキングエラー及び加速度などのディスクの偏位は速度（周波数）

の2乗で増大し，サーボ実装について厳しい要求が生じる。最適なシステム性能を得るため，ディスクの

仕様とドライブの性能のよいバランスが必要となる。高速回転時には，ドライブのサーボの実用的なバン

ド幅値を容易にするためにディスクに更に厳しい要求が必要となる。

しかし，1倍速にて測定する場合は，そのように小さいディスクの偏位は非常に小さく，したがってノ

イズのようなエラー信号として読み込む。測定速度を50 Hz CAVまで増大して基準サーボを同じに保つと，

エラーE(f)は大きくなり，より正確に決定できる。

そのような測定条件の他の利点は，実際のドライブの状態により近くなるということがある。高速回転

速度において，“動的”偏位は，“静的”偏位よりも，ディスクの伸縮効果を減らすためにもより重要とな

る（伸縮効果は特に軸方向の偏位に対して肯定的な影響をもつ）。

図L.1−ディスク測定及びドライブ設計

L.2.1 他の速度への特性変換

実サーボ設計の設計のために，目的の記録速度にてディスクを取り扱う必要があり， 1x CLV及び50 Hz

CAVでの測定結果は，関連する実回転速度に変換しなければならない。この考察において，加速度は，最

も有用なパラメタとしてみられ，これはディスクの回転速度の2乗に依存する。正確ではないが，高速回

転速度でディスクは平たん（坦）にみられる伸縮効果が計算に取り込まれないので，幾つかの特定の半径

Rでの加速度の振幅の関係は，良好な1次近似を与える。

meas

act

speed

measureme

speed

actual

=VV

···························································· (L.5)

ここに， Vmeas ＝基準速度（3.49 m/s）(1x CLV測定条件)

又は，Vmeas ＝2π × 50 × R (50 Hz CAV測定条件)

Vact＝n × 3.49 m/s （CLVアプリケーション：9.5参照）

又は，Vact ＝2π × frot × R (CAVアプリケーション)

Aactual speedから，必要なバンド幅は次による。

max

act

···································································· (L.6)

ここに，

emax：良好な記録特性を得る最大許容トラッキングエラー

機械偏位をもつディスク

測定ツールは基準サーボ

ディスクの測定
− 準静的偏位：1x
− 動的偏位： 50 Hz

技術的限界をもつドライブ

高速ドライブでは高バンド幅が必要

サーボ設計は実速度に変換した

最大偏位に基づく

126

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L.3

軸方向トラッキングの計算

次の表は，測定条件及び測定条件（1x基準速度及び実アプリケーション速度）の要求から生じる加速度

の要求を示す（式番号を記す）。

L.3.1 すべてのディスクの基本要求

すべての記録速度のすべてのディスクは，1x基準速度（CLV）での基本要求を満たさなければならない

(表L.1参照)。比較的低回転速度での測定には，ディスクの（準）静的偏位が反映する理由による。

軸方向の振れ量は0.3 mm以下とし，軸方向トラッキングエラーは0.13 μm以下とする。

表L.1−すべてのディスクの基本要求

速度

半径24 mm

半径58 mm

測定条件

1x CLV

要求

emax ≦ 0.13 μm

Amax

(L.4)

8 mm/s2

アプリケー
ション条件

Amax

(L.5)

8 mm/s2

emax≦0.20 μmに必要なf0

(L.6)

1.7 kHz

2.4x

Amax

(L.5)

46 mm/s2

emax≦0.20 μmに必要なf0

(L.6)

4.2 kHz

Amax

(L.5)

128 mm/s2

emax≦0.20 μmに必要なf0

(L.6)

7.0 kHz

L.3.2 4xを超える記録速度のディスクの要求

4xを超える記録速度のすべてのディスクは，50 Hz回転速度(CAV)での次の要求も満たさなければなら

ない(表L.2参照)。8xまでの速度のほとんどのディスクは，CLVモードで記録する。これは，外径側ほど

軸方向偏位が増大することを意味する（外径ほど回転数が下がる。）。

半径 ≦ 29 mmにて軸方向残留トラッキングエラー ≦ 0.20 μm

半径 ≧ 29 mmにて軸方向残留トラッキングエラー ≦ 0.20×( r / 29 )2 μm

表L.2−4xを超える記録速度のディスクの要求

速度

半径24 mm

半径29 mm

半径58 mm

測定条件

50 Hz
CAV

要求

emax≦0.20 μm

emax≦0.80 μm

Amax

(L.4)

12 mm/s2

48 mm/s2

Amax

(L.5)

2.6 mm/s2

1.8 mm/s2

アプリケ
ーション
条件

6.6x

Amax

(L.5)

113 mm/s2

emax≦0.20 μmに必要なf0 (L.6)

6.5 kHz

Amax

(L.5)

−

113 mm/s2

emax≦0.20 μmに必要なf0 (L.6)

−

6.5 kHz

L.3.3 8xを超える記録速度のディスクの要求

8xを超える記録速度のすべてのディスクは，L.3.2に加え50 Hz回転速度(CAV)での次の要求も満たさな

ければならない（表L.3参照）。8xを超える速度（16xなど）のほとんどのディスクは，CAVモードで記

録する。これは，内径及び外径の軸方向偏位は同様になることを意味する。

軸方向残留トラッキングエラー≦0.40 μm

127

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2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

表L.3−8xを超える記録速度のディスクの要求

速度

半径24 mm

半径58 mm

測定条件

50 Hz CAV

要求

emax≦0.40 μm

注記参照

emax≦0.40 μm

Amax

(L.4)

24 mm/s2

Amax

(L.5)

5.1 mm/s2

0.88 mm/s2

アプリケーシ
ョン条件

6.6x

Amax

(L.5)

225 mm/s2

emax≦0.20 μmに必要なf0 (L.6)

9.2 kHz

L.3.4参照

16x

Amax

(L.5)

−

225 mm/s2

emax≦0.20 μmに必要なf0 (L.6)

−

9.2 kHz

L.3.4参照

注記 L.3.2及びL.3.3の結果から，8xを超える記録速度のディスクは，次の組合せ要求を満足しなければな

らない。

半径 ≦ 29 mmにて軸方向残留トラッキングエラー ≦ 0.20 μm
41 mm ≧ 半径 ≧ 29 mmにて軸方向残留トラッキングエラー ≦ 0.20×( r / 29 )2 μm
半径 ≧ 41 mmにて軸方向残留トラッキングエラー ≦ 0.40 μm

L.3.4 高速回転時の伸張効果

3 000 RPM以上の速度の場合，ディスクの伸張は，3 000 PRM (50 Hz)の測定速度よりも大きくなる。一

般的に，3 000 RPMから高速回転ではディスクの平面度は，よくなる。この改善は上述の式には含まれて

いないため，最悪の場合を表に示す。

局所的にやや高めのemaxを許し，結果として低いf0の要求となるが，実ディスクの伸張の結果，実際の

Amaxは，計算した最悪の場合の値より少し小さくなる。

16x (≈10 000 RPM)の場合，約8 kHzのバンド幅は，上述の測定条件下の要求を満足したディスクを取

り扱うのに十分である。

L.4

半径方向のトラッキングの計算

次の表は，測定条件及び測定条件（1x基準速度及び実アプリケーション速度）の要求から生じる加速度

の要求を示す（式番号を記す）。

L.4.1 すべてのディスクの基本要求

すべての記録速度のすべてのディスクは，1x基準速度(CLV)での基本要求を満たさなければならない

（表L.4参照）。比較的低回転速度での測定には，ディスクの（準）静的偏位が反映する理由による。

半径方向の振れ量は35 μm以下とし，半径方向トラッキングエラーは0.015 μm以下とする。

128

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表L.4−すべてのディスクの基本要求

速度

半径24 mm

半径58 mm

測定条件

1x CLV

要求

emax≦0.015 μm

Amax

(L.4)

1.1 mm/s2

アプリケー
ション条件

Amax

(L.5)

1.1 mm/s2

emax≦0.022 μm*に必要なf0

(L.6)

2.0 kHz

2.4x

Amax

(L.5)

6.5 mm/s2

emax≦0.045 μmに必要なf0

(L.6)

3.3 kHz

Amax

(L.5)

18 mm/s2

emax≦0.045 μmに必要なf0

(L.6)

5.5 kHz

注*

1xでは，元の仕様を保たなければならない。

L.4.2 4xを超える記録速度のディスクの要求

4xを超える記録速度のすべてのディスクは，50 Hz回転速度(CAV)での次の要求も満たさなければなら

ない(表L.5参照)。8xまでの速度のほとんどのディスクは，CLVモードで記録する。これは，外径側ほど

半径方向偏位が増大することを意味する（外径ほど回転数が下がる）。

半径 ≦ 29 mmにて半径方向残留トラッキングエラー ≦ 0.025 μm

半径 ≧ 29 mmにて半径方向残留トラッキングエラー ≦ 0.025×( r / 29 )2 μm

表L.5−4xを超える記録速度のディスクの要求

速度

半径24 mm

半径29 mm

半径58 mm

測定条件

50 Hz
CAV

要求

emax≦0.025 μm

emax≦0.100 μm

Amax

(L.4)

1.9 mm/s2

7.5 mm/s2

Amax

(L.5)

0.40 mm/s2

0.27 mm/s2

アプリケ
ーション
条件

6.6x

Amax

(L.5)

17.6 mm/s2

emax≦0.045 μmに必要なf0 (L.6)

5.4 kHz

Amax

(L.5)

−

17.6 mm/s2

emax≦0.045 μmに必要なf0 (L.6)

−

5.4 kHz

L.4.3 8xを超える記録速度のディスクの要求

8xを超える記録速度のすべてのディスクは，L.4.2に加え50 Hz回転速度(CAV)での次の要求も満たさな

ければならない(表L.6参照)。8xを超える速度（16xなど）のほとんどのディスクは，CAVモードで記録

する。これは，内径及び外径の軸方向偏位は同様になることを意味する。

半径方向残留トラッキングエラー ≦ 0.055 μm

129

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

表L.6−8xを超える記録速度のディスクの要求

速度

半径24 mm

半径58 mm

測定条件

50 Hz
CAV

要求

emax≦0.055 μm

注記参照

emax≦0.055 μm

Amax

(L.4)

4.1 mm/s2

Amax

(L.5)

0.88 mm/s2

0.15 mm/s2

アプリケー
ション条件

6.6x

Amax

(L.5)

38.7 mm/s2

emax≦0.045 μmに必要なf0 (L.6)

9.2 kHz

16x

Amax

(L.5)

−

38.7 mm/s2

emax≦0.045 μmに必要なf0 (L.6)

−

8.1 kHz

注記 L.4.2及びL.4.3の結果から，8xを超える記録速度のディスクは，次の組合せ要求を満足しなければな

らない。

半径 ≦ 29 mmにて半径方向残留トラッキングエラー ≦ 0.025 μm
43 mm ≧ 半径 ≧ 29 mmにて半径方向残留トラッキングエラー ≦ 0.025×( r / 29 )2 μm
半径 ≧ 43 mmにて半径方向残留トラッキングエラー ≦ 0.055 μm

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X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書M

（参考）

グルーブウォブル振幅の測定

序文

この附属書は，グルーブウォブル振幅の測定について記載するものであって，規定の一部ではない。

M.1 ウォブル信号及びウォブル振幅の関係

ウォブル振幅のnm値を直接測定することは容易でないが，正規化したウォブル信号から導くことがで

きる。その理論上の計算は，次によって与えられる。

ウォブル信号のピーク値IWは，次による。

sin

ここに，

A：ウォブル振幅

P：ラジアルエラー信号のトラックピッチ

A：ラジアルエラー信号のピーク値

図M.1にパラメタa，p，A及びIWpを示す。グルーブは，グルーブの平均化した中心からグルーブの実

際の中心の間で，最大偏位“a”（ウォブル振幅）を生じる。正規化したウォブル信号は，次による。

(

)

−

sin

Wpp

ここに， (I1−I2)pp：

2×A

ウォブル信号IWは，ウォブル振幅aだけでなくトラックピッチpに依存する。正規化によって，グルー

ブ寸法，光スポット形状及び光学収差の影響を除く。

M.2 正規化ウォブル信号の許容差

上述の正規化ウォブル信号の数式から，28.4で規定した許容差は，既知のトラックピッチ“p”= 0.74 μm

に対してnm値に変換する。

下限0.15は，a＝18 nmに相当する。

上限0.25は，a＝30 nmに相当する。

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X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

図M.1−グルーブのウォブル振幅

132

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書N
（参考）

ディスクの耐光性

序文

この附属書は，ディスクの耐光性について記載するものであって，規定の一部ではない。

N.1 概要

ディスクの耐光性は，ISO 105-B02に従った，空冷キセノンランプ及び試験装置によって試験する。

N.2 試験条件

ブラックパネル温度

：40 ℃未満

相対湿度

：70 ％〜80 ％

N.3 ディスクへの照明

垂直入射による基板透過。

ディスクは，ケースから取り出し，包装されていない。

N.4 規定

ディスクすべての規格は，European Wool Reference #5（ISO 105-B02参照）に一致するキセノンランプ

照明後に，満たされなければならない。

注記この試験によって，ディスクに明らかな変色があってはならない。

133

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書O
（参考）

輸送

序文

この附属書は，輸送について記載するものであって，規定の一部ではない。

O.1 概要

輸送は，例えば，異なる期間，様々な輸送方法によって，そして世界の各所で，広い範囲の温度及び湿

度の変動の中で行われるので，輸送又は包装の必す（須）条件を規定することは不可能とする。

O.2 包装

包装の形態は，送付元と受領先との間で合意を得ておくことが望ましいが，そのような合意がない場合

は，送付元の責任とする。次のような損害を考慮しておくことが望ましい。

O.2.1 温度及び湿度

断熱及び包装は，輸送の見込まれる期間中にわたる保存条件を維持するように設計することが望ましい。

O.2.2 衝撃負荷及び振動

a) ディスクの形状にひずみを与える機械的負荷を避ける。

b) ディスクの落下を避ける。

c) ディスクは，適切な衝撃吸収材料を含む堅い箱にこん包することが望ましい。

d) 個装箱は，清浄な内部並びに汚れ及び湿気の侵入を防ぐシールをした構造をもつことが望ましい。

134

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書P

（参考）

ビデオコンテンツプロテクション

（対応国際規格では，この附属書において，ビデオアプリケーションの場合のビデオコンテンツプロテ

クションについて記述しているが，この規格はデータアプリケーションについて記述しているものである

ため，この附属書は不要であり，不採用とした。）

135

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書Q
（参考）

ADIPの物理フォーマット情報の使い方

序文

この附属書は，ADIPの物理フォーマット情報の使い方について記載するものであって，規定の一部で

はない。

Q.1 ADIPの物理フォーマット情報の使い方

ADIPの物理フォーマット情報を十分に生かすために，次の規則を推奨ガイドラインとして記載する（図

Q.1参照）。

ドライブが，ADIPを読んで次の情報を確認する場合

1) バイト0のディスクカテゴリを確認する。

⇒ ディスクが+R又は+RWであるかを決定し，また片面か両面かの確認を行う（箇条3参照）。

ドライブが，ディスクアプリケーションコードを反映する場合

2) バイト17のアプリケーションコードを確認する。

⇒ ドライブが，特定のディスクアプリケーションコードの規則に従うことができない場合は，ド

ライブはディスクへの記録を阻止しなければならない。

ドライブが，“メディア認識”を行える場合（例えば，ドライブが，一義的にディスク製造業者及びメディ

アタイプを決定でき，そのディスクの最適な記録パラメタセットを自身のメモリにもっている場合）。

3) ディスク製造業者及びメディアタイプIDを確認する（バイト19〜29）。

⇒ ドライブのメモリから，この特定ディスクに最適な記録ストラテジを選ぶ。

ドライブが，メディア認識に失敗する場合

4) バイト0のバージョン番号を確認する。

⇒ バージョン番号が未知の場合，バイト32〜63の内容を使用しない。

⇒ バージョン番号が既知の場合，規格の修正版に従って，バイト32〜63を解釈する。

5) バイト18を調べて， EIブロックの有無を確認する。

⇒ EIブロックがない場合，基本記録ストラテジを使用する。

EIブロックがある場合

6) 存在する各EIブロックのフォーマット番号を確認する。

⇒ フォーマット番号が未知の場合，そのEIブロックの内容を使用しない。

⇒ フォーマット番号が既知の場合，正しいバージョン番号をもつ規格書に従って，EIブロックを

解釈する。

上述によって，ドライブが最適な記録速度及び記録ストラテジを次の選択肢の中から選択できる。

⇒ バイト32〜63で定義する基本記録ストラテジ (1x〜2.4x) を使用する。

⇒ 既知のEIブロックの一つから，記録ストラテジを使用する。

⇒ 関係するバイトに示されている，ドライブが実際に利用可能としている記録速度から，使用可

能な記録ストラテジを使用する（サポートする記録速度は，この規格の将来の版に適用する）。

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X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

注記一つのディスク上に一つ以上のEIブロックが存在する可能性がある。

図Q.1−ADIP内の物理フォーマット情報の使い方を示したフローチャート

137

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

附属書R
（参考）

現行及び将来の仕様で使用する値

序文

この附属書は，現行及び将来の仕様で使われる値について記載するものであって，規定の一部ではない。

R.1 現行及び将来の仕様で使用する値

この規格で指定するバイト設定値は，+Rフォーマットのディスクに適合する書換え形ディスクに関連す

る。近い将来，他の分類のディスクが規格化されることが見込まれる。したがって，次の値はこれら他の

ディスクのために使うことを推奨する。さらに取り得るビットパターンは，将来の規格を対象としている。

すべての規格は見直しをするので，この附属書の情報は，変更される可能性がある。したがって，指示

された規格の最新版を参照して，この情報の確認を行うことを推奨する。

識別データ

ビットb31

次の値に設定する。

“0”は，CLDフォーマットを示す。

“1”は，ゾーンフォーマットを示す。

ビットb30

次の値に設定する。

“0”は，ピットトラッキングを示す。

“1”は，グルーブトラッキングを示す。

ビットb29

次の値に設定する。

“0”は，PBSを使用した光学系で反射率が40 ％を超えるときを示す。

“1”は，PBSを使用した光学系で反射率が40 ％以下のときを示す。

ビットb28

予約済みで“0”に設定する。

ビットb27〜b26次の値に設定する。

“00”データゾーン

“01”リードインゾーン

“10”リードアウトゾーン

“11”ミドルゾーン

ビットb25

次の値に設定する。

“0”は，再生専用データを示す。

“1”は，再生専用データ以外を示す。

ビットb24

次の値に設定する。

“0”は，2層ディスクのレイヤ0を示す。

“1”は，2層ディスクのレイヤ1を示す。

“0”は，単層ディスクを示す。

ビットb23〜b0 物理セクタ番号を指定する。

リードインにあるADIPの物理フォーマット情報

バイト0 ディスクカテゴリ及びバージョン番号

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X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

ビットb7〜b4 ディスクカテゴリを指定する。

“0000”に設定する場合，これらは，DVD再生専用ディスクを示す。

“1001”に設定する場合，これらは，+RWディスクを示す。

“1010”に設定する場合，これらは，+R単層ディスクを示す。

ビットb3〜b0は，バージョン番号を指定する。同時にビットb7〜b4は，関連規格を規定する。

b7〜b4を“0000”，b3〜b0を“0001”に設定する場合，JIS X 6241及びJIS X 6242を示す。

b7〜b4を“1010”，b3〜b0を“0001”に設定する場合，この規格を示す。

b7〜b4を“1001”，b3〜b0を“0010”に設定する場合，+RWシステムを示す。

バイト1 ディスクサイズ及び最大転送レート

ビットb7〜b4は，ディスクサイズを指定する。

“0000”に設定する場合，120 mmディスクとする。

“0001”に設定する場合，80 mmディスクとする。

ビットb3〜b0は，最大転送レートを指定する。

“0000”に設定する場合，2.52 Mbits/sの最大転送レートとする。

“0001”に設定する場合，5.04 Mbits/sの最大転送レートとする。

“0010”に設定する場合，10.08 Mbits/sの最大転送レートとする。

“1111”に設定する場合，最大転送レートを指定しない。

バイト2 ディスク構造

ビットb7

“0”に設定する。

ビットb6 及びb5は，ディスクタイプを指定する。

“00”に設定する場合，単層記録とする。

“01”に設定する場合，2層記録とする。

ビットb4

“0”に設定する。

ビットb3〜b0は，レイヤタイプを指定する。

ビットb3

“0”に設定する。

ビットb2

次のように設定する。

“0”の場合，ディスクが書換え可能なデータゾーンをもっていないことを示す。

“1”の場合，ディスクが書換え可能なデータゾーンをもっていることを示す。

ビットb1

次のように設定する。

“0”の場合，ディスクが記録可能なデータゾーンを含まないことを示す。

“1”の場合，ディスクが記録可能なデータゾーンを含むことを示す。

ビットb0

次のように設定する。

“0”の場合，ディスクがエンボスで形成するデータゾーンを含まないことを示す。

“1”の場合，ディスクがエンボスで形成するデータゾーンを含むことを示す。

バイト3 記録密度

ビットb7〜b4は，平均チャネルビット長を指定する。

“0000”に設定する場合，0.133 μmとする。

“0001”に設定する場合，0.147 μmとする。

“0010”に設定する場合，0.205 μm〜0.218 μmの範囲の平均長とする。

“1000”に設定する場合，0.176 37 μmとする。

139

X 6251：2009 (ISO/IEC 17344：2006)

2019年7月1日の法改正により名称が変わりました。まえがきを除き，本規格中の「日本工業規格」を「日本産業規格」に読み替えてください。

ビットb3〜b0は，平均トラックピッチを指定する。

“0000”に設定する場合，0.74 μmのトラックピッチとする。

“0001”に設定する場合，0.80 μmのトラックピッチとする。